JP4892719B2 - 断層計測装置及び断層計測方法 - Google Patents
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Description
春名正光、他3名、"光ファイバPZT位相変調器を用いたインビボ高速OCT"2004年11月、平成16年度日本光学会年次学術講演会、講演予稿集
以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づいて説明する。図1は本発明に係る断層計測装置の構成を示すブロック図である。図において、1は1.3μmの波長帯域を有し、発振スペクトル幅が約50nmの低コヒーレンス光源としてのSLD(Super Luminescent Diode)である。
2 光ファイバ
2a 参照光路
2b 信号光路
3 光ファイバカプラ
4、5 光位相変調器
6 参照光ミラー
7 照射部
7a、7c レンズ
7b ガルバノミラー
7d PZNアクチュエータ
8 ファンクションジェネレータ
9 ガルバノミラードライバ
10 処理部
10a インタフェース部
10b RAM
10c 表示部
10d 記憶部
10e 入力部
10f CPU
11 光検出器
12 フィルタ
13 広帯域増幅器
14 A/D変換器
15 D/A変換器
16 PZNドライバ
17 ディレイユニット
18 スライサ
19 光電脈波計
Claims (3)
- 低コヒーレンス光源からの光を参照光及び信号光に分離して夫々参照光路及び信号光路に導き、分離した信号光を被検査体表面に照射し、照射点を該被検査体表面に沿って走査しつつ、参照光の光路長を変化させて、前記参照光の光路長に対応する被検査体表面からの深層位置で反射した信号光と前記参照光路の路端で反射させた参照光との光干渉に基づいて被検査体の断層を計測する断層計測装置において、
被検査体に内在する細動脈の脈波を取得する取得手段と、
信号光の焦点位置を調節する調節手段と、
被検査体の表面に信号光の焦点位置を調節した場合に計測される被検査体の断層に基づいて、被検査体の表面と被検査体に内在する細動脈との画像上の距離を被検査体の平均屈折率の2乗で除算した値を、被検査体に内在する細動脈近傍に信号光の焦点位置を移動するための移動距離として算出する算出手段と
を備え、
前記算出手段で算出した移動距離に基づいて前記細動脈近傍に信号光の焦点位置を前記調節手段で調節するようにしてあり、
前記取得手段によって取得した脈波に基づいて細動脈の拡張期に同期した第1タイミング信号及び前記細動脈の収縮期に同期した第2タイミング信号を出力する出力手段と、
該出力手段から出力した第1タイミング信号及び第2タイミング信号が所定回数繰り返される都度、第1トリガ信号及び第2トリガ信号を生成する生成手段と
を備え、
該生成手段で生成した第1トリガ信号及び第2トリガ信号に同期して照射点を被検査体表面に沿って走査して前記細動脈の拡張期及び収縮期の断層を計測するようにしてあることを特徴とする断層計測装置。 - 信号光と反射光との干渉信号をヘテロダイン検波して得られる電気信号の所定の周波数帯域成分を通過させるフィルタを備え、
該フィルタは、
参照光の光路長を変化させる速度により定まる参照光のドップラシフト周波数を中心として、細動脈の血流速度及びその血流方向と信号光との角度に基づくドップラシフト周波数の変動帯域幅を包含する通過帯域を有することを特徴とする請求項1に記載の断層計測装置。 - 低コヒーレンス光源からの光を参照光及び信号光に分離して夫々参照光路及び信号光路に導き、分離した信号光を被検査体表面に照射し、照射点を該被検査体表面に沿って走査しつつ、参照光の光路長を変化させて、前記参照光の光路長に対応する被検査体表面からの深層位置で反射した信号光と前記参照光路の路端で反射させた参照光との光干渉に基づいて被検査体の断層を計測する断層計測方法において、
被検査体に内在する細動脈の脈波を取得し、
被検査体の表面に信号光の焦点位置を調節し、
計測された被検査体の断層に基づいて、被検査体の表面と被検査体に内在する細動脈との画像上の距離を被検査体の平均屈折率の2乗で除算した値を、被検査体に内在する細動脈近傍に信号光の焦点位置を移動するための移動距離として算出し、
算出された移動距離に基づいて前記細動脈近傍に信号光の焦点位置を調節し、
取得された脈波に基づいて細動脈の拡張期に同期した第1タイミング信号及び前記細動脈の収縮期に同期した第2タイミング信号を出力し、
出力された第1タイミング信号及び第2タイミング信号が所定回数繰り返される都度、第1トリガ信号及び第2トリガ信号を生成し、
生成された第1トリガ信号及び第2トリガ信号に同期して照射点を被検査体表面に沿って走査して前記細動脈の拡張期又は収縮期の断層を計測することを特徴とする断層計測方法。
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