JP3406884B2 - Integrated circuit device and liquid crystal display device using the same - Google Patents

Integrated circuit device and liquid crystal display device using the same

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JP3406884B2 JP2000046408A JP2000046408A JP3406884B2 JP 3406884 B2 JP3406884 B2 JP 3406884B2 JP 2000046408 A JP2000046408 A JP 2000046408A JP 2000046408 A JP2000046408 A JP 2000046408A JP 3406884 B2 JP3406884 B2 JP 3406884B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、多数の増幅回路な
どの電子回路を集積化した集積回路装置及び液晶ディス
プレイ装置に係り、特にチップ間のバイアス電流のばら
つきを低減させた集積回路装置およびこれを駆動回路の
増幅回路として用いた液晶ディスプレイ装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an integrated circuit device in which electronic circuits such as a large number of amplifier circuits are integrated and a liquid crystal display device, and more particularly, to an integrated circuit device in which variations in bias current between chips are reduced. The present invention relates to a liquid crystal display device using a drive circuit as an amplifier circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】本発明は、多数の増幅回路などの電子回
路を集積化した集積回路装置及び液晶ディスプレイ装置
に係り、特にチップ間のバイアス電流のばらつきを低減
させた集積回路装置およびこれを駆動回路の増幅回路と
して用いた液晶ディスプレイ装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an integrated circuit device and a liquid crystal display device in which electronic circuits such as a large number of amplifier circuits are integrated, and more particularly, to an integrated circuit device in which variations in bias current between chips are reduced and to drive the same. The present invention relates to a liquid crystal display device used as an amplifier circuit of a circuit.

【0003】従来の液晶ディスプレイ装置におけるディ
スプレイ駆動回路は、ディジタル画像信号(以下、RG
B信号)を記憶する、一水平ラインに必要な画素数と同
数の第1の記憶素子と、RGB信号を記憶するタイミン
グパルスを転送するシフトレジスタと、記憶素子に記憶
されたRGB信号を一水平期間の周期でさらに記憶する
第2の記憶素子と、第2の記憶素子に記憶された一水平
ラインのRGB信号をアナログ値に変換するD/A変換
器(DAC)群と、このDAC群によりアナログ値に変
換されたRGB信号を入力し、液晶ディスプレイパネル
の信号線及び液晶セルを駆動するための増幅回路群から
構成される。アナログ値に変換されたRBG信号の電圧
が印加された液晶セルは、電圧値に応じて光の透過率を
変えることで、対応する画素の明るさを決定する。
A display driving circuit in a conventional liquid crystal display device uses a digital image signal (hereinafter, RG).
B signal), a first memory element having the same number as the number of pixels required for one horizontal line, a shift register for transferring a timing pulse for storing the RGB signal, and one horizontal signal for the RGB signal stored in the memory element. A second storage element that further stores in a cycle of a period, a D / A converter (DAC) group that converts an RGB signal of one horizontal line stored in the second storage element into an analog value, and this DAC group It is composed of an amplifier circuit group for inputting RGB signals converted into analog values and driving signal lines and liquid crystal cells of a liquid crystal display panel. The liquid crystal cell to which the voltage of the RBG signal converted into the analog value is applied determines the brightness of the corresponding pixel by changing the light transmittance according to the voltage value.

【0004】ここで、増幅回路群のバイアス電流は、1
つのバイアス回路で発生されたバイアス信号に従って設
定される。具体的には、バイアス回路内で発生した電流
Ibiasを該バイアス回路内に設けられたダイオード接続
されたトランジスタに供給し、このトランジスタのゲー
ト電圧を増幅回路群の各増幅回路に供給する。
Here, the bias current of the amplifier circuit group is 1
It is set according to the bias signals generated by the two bias circuits. Specifically, the current Ibias generated in the bias circuit is supplied to the diode-connected transistor provided in the bias circuit, and the gate voltage of this transistor is supplied to each amplifier circuit of the amplifier circuit group.

【0005】各増幅回路では、トランジスタのゲート電
圧が各増幅回路のトランジスタのゲートに印加され電流
に変換される。この変換電流がバイアス電流として用い
られる。すなわち、バイアス回路のトランジスタと増幅
回路のトランジスタはカレントミラー回路を構成し、バ
イアス回路のトランジスタがカレントミラー回路の入力
側トランジスタ、増幅回路のトランジスタがカレントミ
ラー回路の出力側トランジスタとなる。
In each amplifier circuit, the gate voltage of the transistor is applied to the gate of the transistor of each amplifier circuit and converted into a current. This converted current is used as the bias current. That is, the transistor of the bias circuit and the transistor of the amplification circuit form a current mirror circuit, and the transistor of the bias circuit serves as the input side transistor of the current mirror circuit and the transistor of the amplification circuit serves as the output side transistor of the current mirror circuit.

【0006】液晶ディスプレイ装置の仕様にもよるが、
増幅回路群に含まれる増幅回路の個数は、例えば液晶デ
ィジタルパネルにアモルファスシリコンTFTを用いた
もので、3000個というように非常に多い。従って、
集積回路化に当たり増幅回路群を1チップで構成するこ
とは困難であるため、複数のチップで構成することが一
般的である。この場合、バイアス回路も各チップ毎に設
けられることになる。一般には、1チップ内に300個
程度の増幅回路が組み込まれる。
Depending on the specifications of the liquid crystal display device,
The number of amplifying circuits included in the amplifying circuit group is very large, for example, 3000, which uses an amorphous silicon TFT in a liquid crystal digital panel. Therefore,
Since it is difficult to configure the amplifier circuit group with one chip when integrated into an integrated circuit, it is common to configure with a plurality of chips. In this case, the bias circuit is also provided for each chip. Generally, about 300 amplifier circuits are incorporated in one chip.

【0007】これら増幅回路はチップ内に列をなして集
積化されており、カレントミラー回路の入力側トランジ
スタ(バイアス回路のトランジスタ)は、この増幅回路
の列のいずれかの端に配置されている。例えば、左端の
増幅回路の隣に入力側トランジスタが配置されている。
These amplifier circuits are integrated in a row in a chip, and the input side transistors (transistors of the bias circuit) of the current mirror circuit are arranged at either end of the row of this amplifier circuit. . For example, the input side transistor is arranged next to the amplifier circuit at the left end.

【0008】バイアス回路のトランジスタおよび増幅回
路のトランジスタには通常、MOSトランジスタが用い
られる。MOSトランジスタの閾値電圧(Vt)は、一
般に異なるチップ間でも同一チップ内でも、ある範囲内
でばらつきを生じる。ここで、増幅回路のトランジスタ
の閾値電圧がばらついても、1チップ内の増幅回路の個
数が300個といったように多いときには、一般に異な
るチップ間でも増幅回路内のトランジスタのばらつき具
合いに大差はない。
MOS transistors are usually used as the transistors of the bias circuit and the transistors of the amplifier circuit. The threshold voltage (Vt) of a MOS transistor generally varies within a certain range even between different chips and the same chip. Here, even if the threshold voltage of the transistors in the amplifier circuit varies, when the number of amplifier circuits in one chip is large, such as 300, there is generally no great difference in the degree of variation in the transistors in the amplifier circuit between different chips.

【0009】しかし、バイアス回路内のダイオード接続
されたトランジスタの閾値電圧がチップ間でばらつく
と、このばらつきに応じて増幅回路内のトランジスタに
流れるバイアス電流がばらつくため、これがチップ間の
消費電流の差や特性の差として現れる。チップ間の消費
電流の差は、液晶ディスプレイ装置の電源設計に重要な
影響を及ぼすため、好ましくない。また、チップ間の特
性のばらつきは、液晶ディスプレイ装置の画質を劣化さ
せる要因となる。
However, if the threshold voltage of the diode-connected transistor in the bias circuit varies between chips, the bias current flowing in the transistor in the amplifier circuit varies according to this variation, which results in a difference in current consumption between chips. And appear as a difference in characteristics. The difference in current consumption between chips has an important influence on the power supply design of the liquid crystal display device and is not preferable. Further, variations in characteristics between chips cause deterioration of image quality of the liquid crystal display device.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の液晶ディスプレイ装置に使用される増幅回路における
バイアス回路構成では、チップ内の増幅回路の多数のト
ランジスタに流れるバイアス電流がチップ間でばらつく
ことにより、チップ間で消費電流や特性が異なってしま
うという問題点があった。
As described above, in the bias circuit configuration in the amplifier circuit used in the conventional liquid crystal display device, the bias currents flowing in a large number of transistors of the amplifier circuit in the chip vary among the chips. As a result, there is a problem in that the current consumption and characteristics differ among the chips.

【0011】本発明は、チップ間のバイアス電流のばら
つきが少なく、チップ間での消費電流や特性の差を小さ
くした集積回路装置及びこれを駆動回路に用いて設計を
容易とし、かつ画質劣化を低減させた液晶ディスプレイ
装置を提供することを目的とする。
According to the present invention, the variation in bias current between chips is small, and the difference in current consumption and characteristics between chips is reduced, and an integrated circuit device using the same for a drive circuit facilitates design and also reduces image quality. An object is to provide a reduced liquid crystal display device.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明は、複数の電子回
路と、バイアス電流を設定するための入力電流を受け、
前記複数の電子回路内に分散して配置され、ダイオード
接続された複数の入力側トランジスタと、入力電流に対
応した出力電流を複数の電子回路にバイアス電流として
それぞれ供給する複数の出力トランジスタからなるカレ
ントミラー回路とを1チップ内に集積化した集積回路装
置を提供する。
The present invention comprises a plurality of electronic circuits and an input current for setting a bias current,
A current consisting of a plurality of diode-connected input side transistors distributed in the plurality of electronic circuits and a plurality of output transistors each supplying an output current corresponding to the input current to the plurality of electronic circuits as a bias current. Provided is an integrated circuit device in which a mirror circuit is integrated in one chip.

【0013】本発明によると、複数の電子回路はチップ
内にアレイ状に集積化され、入力側トランジスタは複数
の電子回路の列のL個(Lは、1以上の正数)おきの電
子回路内に分散して配置される。
According to the present invention, a plurality of electronic circuits are integrated in a chip in the form of an array, and the input side transistors are every L (L is a positive number of 1 or more) electronic circuits of the plurality of electronic circuit columns. It is distributed and arranged inside.

【0014】本発明によると、複数の電子回路はチップ
内にアレイ状に集積化され、複数の電子回路内のダイオ
ード接続された入力側トランジスタのうち、複数の電子
回路の列のM個(Mは、1以上の正数)の入力側トラン
ジスタおきにP個(Pは、P≦Mの正数)のみを前記出
力側トランジスタと共にカレントミラー回路を形成する
ように結線して使用される。
According to the present invention, the plurality of electronic circuits are integrated in an array in a chip, and among the diode-connected input side transistors in the plurality of electronic circuits, M (M) rows of the plurality of electronic circuits are arranged. Is used by connecting only P pieces (P is a positive number of P ≦ M) for every input side transistor of 1 or more) so as to form a current mirror circuit together with the output side transistor.

【0015】このように本発明の集積回路装置では、各
電子回路内のバイアス電流を発生する出力側トランジス
タとともにカレントミラー回路を構成するダイオード接
続された複数の入力側トランジスタが設けられ、これら
トランジスタが分散して配置されることにより、チップ
毎の入力側トランジスタの閾値電圧のばらつきの平均値
がチップ間でほぼ均等になる。従って、入力側トランジ
スタと出力側トランジスタのマッチングが向上し、チッ
プ間での消費電流や特性の差が低減される。
As described above, the integrated circuit device of the present invention is provided with a plurality of diode-connected input-side transistors which form a current mirror circuit together with an output-side transistor which generates a bias current in each electronic circuit. By arranging in a distributed manner, the average value of the variations in the threshold voltage of the input side transistor for each chip becomes substantially equal among the chips. Therefore, the matching between the input side transistor and the output side transistor is improved, and the current consumption and the difference in characteristics between chips are reduced.

【0016】本発明は、複数の画素と各画素に画像信号
を選択的に与えるための信号線及び該信号線と交差する
走査線が配列形成された液晶ディスプレイと、画像信号
を増幅して前記信号線に供給する増幅回路群を含んで構
成され、前記信号線を駆動する駆動回路と、前記走査線
を選択する選択回路とで構成され、前記増幅回路群は、
所定数の単位で複数のチップ内に集積化され、前記チッ
プの各々は、バイアス電流を設定するための入力電流を
受け、ダイオード接続された複数の入力側トランジスタ
と、前記入力電流に対応した出力電流を前記増幅回路に
バイアス電流としてそれぞれ供給する複数の出力トラン
ジスタからなるカレントミラー回路を集積化しており、
前記複数の入力側トランジスタは、前記チップの各々に
組み込まれた前記複数の増幅回路内に分散して配置され
る、液晶ディスプレイ装置を提供する。
According to the present invention, a plurality of pixels, a liquid crystal display in which a signal line for selectively applying an image signal to each pixel and a scanning line intersecting with the signal line are arranged, and the image signal is amplified to amplify the image signal. The amplification circuit group is configured to include an amplification circuit group that supplies the signal line, and is configured by a drive circuit that drives the signal line and a selection circuit that selects the scanning line.
Integrated in a plurality of chips in a predetermined number of units, each of the chips receives an input current for setting a bias current, a plurality of diode-connected input side transistors, and an output corresponding to the input current. Integrating a current mirror circuit consisting of a plurality of output transistors that respectively supply a current as a bias current to the amplifier circuit,
The plurality of input-side transistors provide a liquid crystal display device in which the plurality of input-side transistors are dispersedly arranged in the plurality of amplifier circuits incorporated in each of the chips.

【0017】このように本発明による集積回路装置を用
いて液晶ディスプレイ装置の駆動回路における増幅回路
群を構成すると、チップ間での消費電流や特性の差が小
さいために、特に電源の設計が容易であり、かつ特性ば
らつきによる画質劣化の少ない液晶ディスプレイ装置を
実現することができる。
As described above, when the amplifier circuit group in the drive circuit of the liquid crystal display device is configured by using the integrated circuit device according to the present invention, the difference in the current consumption and the characteristics between the chips is small, so that the design of the power supply is particularly easy. In addition, it is possible to realize a liquid crystal display device in which image quality deterioration due to characteristic variations is small.

【0018】本発明は、バイアス電流を設定するための
設定電圧を受けて出力電流を前記電子回路にバイアス電
流として供給する複数の出カトランジスタと、前記複数
の電子回路内に分散して配置され、前記設定電圧を受け
て監視電流を出力する複数の監視トランジスタと、前記
監視電流と設定入力電流との差に応じた電圧を増幅して
前記設定電圧を出力する増幅器とにより構成される集積
回路装置を提供する。
According to the present invention, a plurality of output transistors for receiving a set voltage for setting a bias current and supplying an output current to the electronic circuit as a bias current, and distributedly arranged in the plurality of electronic circuits. An integrated circuit including a plurality of monitoring transistors that receive the set voltage and output a monitor current, and an amplifier that amplifies a voltage according to a difference between the monitor current and the set input current and outputs the set voltage Provide a device.

【0019】本発明は、複数の画素と、各画素に画像信
号を選択的に与えるための信号線とその信号線と交差す
る走査線が配列形成された液晶ディスプレイと、画像信
号を増幅して前記信号線に供給する増幅回路群と、前記
信号線を駆動する駆動回路と、前記走査線を選択する選
択回路とで構成され、前記増幅回路群は、所定数の単位
で複数のチップ内に集積化され、前記チップの各々は、
バイアス電流を設定するための設定電圧を受けて出力電
流を前記増幅回路にバイアス電流として供給する複数の
出カトランジスタと、前記複数の増幅回路内に分散して
配置され、前記設定電圧を受けて監視電流を出力する複
数の監視トランジスタと、前記監視電流と設定入力電流
の差に応じた電圧を増幅して前記設定電圧を出力する増
幅器とにより構成される液晶ディスプレイ装置を提供す
る。
According to the present invention, a plurality of pixels, a liquid crystal display in which a signal line for selectively applying an image signal to each pixel and a scanning line intersecting with the signal line are arranged, and an image signal is amplified. The amplifier circuit group that supplies the signal lines, a drive circuit that drives the signal lines, and a selection circuit that selects the scanning lines are included in the plurality of chips in a predetermined number of units. Integrated, each of the chips is
A plurality of output transistors that receive a set voltage for setting a bias current and supply an output current to the amplifier circuit as a bias current, and a plurality of output transistors that are arranged in a distributed manner in the plurality of amplifier circuits and receive the set voltage. Provided is a liquid crystal display device including a plurality of monitoring transistors that output a monitoring current and an amplifier that amplifies a voltage according to a difference between the monitoring current and a set input current and outputs the set voltage.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】図1は、本発明を適用した液晶デ
ィスプレイ装置を示している。この液晶ディスプレイ装
置は、液晶ディスプレイパネル10と、画像信号を信号
線に供給するための液晶ディスプレイ駆動回路12、及
び走査線を選択的に駆動する走査線選択回路13により
構成される。液晶ディスプレイパネル10はマトリクス
状に配列される多数の液晶セル11と、画像信号が供給
される複数本の信号線14と、これら信号線14と交差
している複数本の走査線15により構成される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows a liquid crystal display device to which the present invention is applied. The liquid crystal display device includes a liquid crystal display panel 10, a liquid crystal display drive circuit 12 for supplying an image signal to a signal line, and a scanning line selection circuit 13 for selectively driving a scanning line. The liquid crystal display panel 10 is composed of a large number of liquid crystal cells 11 arranged in a matrix, a plurality of signal lines 14 to which an image signal is supplied, and a plurality of scanning lines 15 intersecting these signal lines 14. It

【0021】液晶ディスプレイ装置のディスプレイ駆動
回路12はディジタル画像信号(以下、RGB信号)を
記憶する一水平ラインに必要な画素数と同数の記憶素子
22と、RGB信号を記憶するタイミングパルスを転送
するシフトレジスタ21と、記憶素子22に記憶された
RGB信号を一水平期間の周期でさらに記憶する記憶素
子23と、記憶素子23に記憶された一水平ラインのR
GB信号をアナログ値に変換するD/A変換器(DA
C)群24と、DAC群24によりアナログ値に変換さ
れたRGB信号を入力し、液晶ディスプレイパネルの信
号線14及び液晶セル11を駆動するための増幅回路群
25から構成される。アナログ値に変換されたRBG信
号の電圧が印加された液晶セル11は、電圧値に応じて
光の透過率を変えることで、対応する画素の明るさを決
定する。
The display drive circuit 12 of the liquid crystal display device transfers the same number of storage elements 22 as the number of pixels required for one horizontal line for storing a digital image signal (hereinafter, RGB signal) and a timing pulse for storing the RGB signal. The shift register 21, the storage element 23 that further stores the RGB signals stored in the storage element 22 in a cycle of one horizontal period, and the R of one horizontal line stored in the storage element 23.
D / A converter (DA that converts the GB signal into an analog value
C) Group 24 and an amplifier circuit group 25 for inputting RGB signals converted into analog values by the DAC group 24 and driving the signal lines 14 and the liquid crystal cells 11 of the liquid crystal display panel. The liquid crystal cell 11 to which the voltage of the RBG signal converted into the analog value is applied changes the light transmittance according to the voltage value to determine the brightness of the corresponding pixel.

【0022】図3は、上記液晶ディスプレイ装置に用い
られる本発明の第1の実施形態に係る1チップ構成の集
積回路装置を示している。この集積回路装置は、複数
(N)の増幅回路31〜3Nを有する。増幅回路31〜
3Nは、例えば図1に示した液晶ディスプレイ装置の液
晶ディスプレイ駆動回路12内に含まれる図2中の増幅
回路群25の一部を構成しており、チップ内に図の左右
方向に沿って直線状の列をなすように並べて配置されて
いる。
FIG. 3 shows an integrated circuit device having a one-chip structure according to the first embodiment of the present invention, which is used in the above liquid crystal display device. This integrated circuit device has a plurality (N) of amplifier circuits 31 to 3N. Amplifier circuit 31-
3N constitutes, for example, a part of the amplifier circuit group 25 in FIG. 2 included in the liquid crystal display drive circuit 12 of the liquid crystal display device shown in FIG. 1, and is linear in the chip along the horizontal direction of the drawing. Are arranged side by side to form a line.

【0023】増幅回路31〜3Nには、ダイオード接続
されたトランジスタMR1〜MRNをそれぞれの入力側
トランジスタとし、トランジスタM1〜MNをそれぞれ
の出力側トランジスタとするバイアス用のカレントミラ
ー回路がそれぞれ設けられている。これらのトランジス
タMR1〜MRN,M1〜MNは、この例ではMOSト
ランジスタにより構成される。
The amplifier circuits 31 to 3N are respectively provided with bias current mirror circuits in which the diode-connected transistors MR1 to MRN are used as input side transistors and the transistors M1 to MN are used as output side transistors. There is. These transistors MR1 to MRN and M1 to MN are composed of MOS transistors in this example.

【0024】入力側トランジスタMR1〜MRNのゲー
トとドレインは互いに接続され、即ちダイオード接続さ
れ、さらにバイアス電流設定用の電流Ibiasが供給され
るライン、即ちバイアス電流設定ラインBLに接続され
ている。入力側トランジスタMR1〜MRNのソース
は、電源ラインVssに接続されている。出力側トラン
ジスタM1〜MNのゲートは、入力側トランジスタMR
1〜MRNのゲートおよびドレイン、つまりバイアス電
流設定ラインBLに接続され、ソースは電源ラインVs
sに接続される。さらに、出力側トランジスタM1〜M
Nのドレインは、増幅回路11〜1N内のバイアス電流
を受ける回路に接続される。
The gates and drains of the input-side transistors MR1 to MRN are connected to each other, that is, are diode-connected, and are further connected to a line to which a bias current setting current I bias is supplied, that is, a bias current setting line BL. The sources of the input side transistors MR1 to MRN are connected to the power supply line Vss. The gates of the output side transistors M1 to MN are connected to the input side transistor MR.
1 to MRN gates and drains, that is, connected to the bias current setting line BL, and the source is the power supply line Vs.
connected to s. Further, output side transistors M1 to M
The drain of N is connected to the circuit that receives the bias current in the amplifier circuits 11 to 1N.

【0025】本実施形態では、上述のようにバイアス回
路を構成するカレントミラー回路における入力側トラン
ジスタMR1〜MRNが各増幅回路31〜3Nに分散し
て配置されている点が特徴である。即ち、本実施形態で
は、バイアス電流設定ラインBLからのバイアス電流設
定用の電流IbiasがN個の増幅回路31〜3Nのトラン
ジスタMR1〜MRNに入力される。これら入力側トラ
ンジスタMR1〜MRNが増幅回路31〜3Nのバイア
ス電流を発生させる出力側トランジスタM1〜MNに近
接して配置される。即ち、図4に示されるように入力側
トランジスタMRが出力側トランジスタMに近接配置さ
れる。図4の回路パターンが増幅回路31〜3Nの全体
について回路パターンを構成すると図5に示されるよう
に各々が図4の回路パターンを示す複数の回路パターン
が一列に接続された形態となる。
The present embodiment is characterized in that the input side transistors MR1 to MRN in the current mirror circuit forming the bias circuit as described above are arranged in a distributed manner in the amplifier circuits 31 to 3N. That is, in the present embodiment, the bias current setting current Ibias from the bias current setting line BL is input to the transistors MR1 to MRN of the N amplifier circuits 31 to 3N. These input side transistors MR1 to MRN are arranged close to the output side transistors M1 to MN that generate the bias currents of the amplifier circuits 31 to 3N. That is, as shown in FIG. 4, the input side transistor MR is arranged close to the output side transistor M. When the circuit pattern of FIG. 4 constitutes a circuit pattern for all of the amplifier circuits 31 to 3N, a plurality of circuit patterns each showing the circuit pattern of FIG. 4 are connected in a line as shown in FIG.

【0026】このような本実施形態の構成により、以下
のようにして従来の問題点が解決される。
With the configuration of this embodiment as described above, the conventional problems can be solved as follows.

【0027】ダイオード接続された入力側トランジスタ
MR1〜MRNのそれぞれのゲート・ソース間電圧は、
トランジスタMR1〜MRNのそれぞれにIbias/Nの
電流が流れたときのトランジスタMR1〜MRNの各々
のゲート・ソース電圧の平均値に近い値となる。
The gate-source voltage of each of the diode-connected input side transistors MR1 to MRN is
The value is close to the average value of the gate-source voltage of each of the transistors MR1 to MRN when a current of Ibias / N flows in each of the transistors MR1 to MRN.

【0028】ここで、入力側トランジスタMR1〜MR
Nの閾値電圧(V)のばらつきをΔVRiとし、出力
側トランジスタM1〜MNの閾値電圧のばらつきをΔV
とする。このとき、ΔVRiの統計的期待値はゼロで
あり、ΔVRiの実際の平均値も統計的期待値に近い値
をとる、即ちゼロに近い値となる。このため、入力側ト
ランジスタMR1〜MRNの閾値電圧、つまりゲート・
ソース間電圧のチップ間でのばらつきを低減することが
できる。一方、出力側トランジスタM1〜MNの閾値電
圧のばらつきΔVには、チップ間で大きな差はない。
従って、増幅回路31〜3Nによる消費電流のチップ間
での差を低減することができ、増幅回路31〜3Nのチ
ップ間での特性の差も低減させることができる。
Here, the input side transistors MR1 to MR
The variation in the threshold voltage (V t ) of N is ΔV Ri, and the variation in the threshold voltage of the output transistors M1 to MN is ΔV Ri.
i . At this time, the statistical expected value of [Delta] V Ri is zero, the actual average value of the [Delta] V Ri also takes a value close to the statistical expectation, that is, a value close to zero. Therefore, the threshold voltage of the input side transistors MR1 to MRN, that is, the gate
It is possible to reduce variations in the source-to-source voltage between chips. On the other hand, there is no great difference between the chips in the variation ΔV i of the threshold voltage of the output side transistors M1 to MN.
Therefore, it is possible to reduce the difference in the consumption current between the chips of the amplifier circuits 31 to 3N and the difference in the characteristics between the chips of the amplifier circuits 31 to 3N.

【0029】上記のことを更に説明すると以下のように
なる。
The above will be further described as follows.

【0030】MOSトランジスタに流れるドレイン電流
は次式で表される。
The drain current I d flowing through the MOS transistor is expressed by the following equation.

【0031】 Id ∝ k(VGS - Vt)2 (1) 但し、VGSはMOSトランジスタのゲート・ソース電
圧、Vはスレショルド電圧、そしてkは係数である。
I d ∝ k (V GS -V t ) 2 (1) where V GS is the gate-source voltage of the MOS transistor, V t is the threshold voltage, and k is a coefficient.

【0032】多数個のトランジスタが設けられる場合、
ドレイン電流の和Iは次式(2)(3)のように表さ
れる。ΔViは閾値電圧Vのばらつきを表す。
When a large number of transistors are provided,
The sum I d of drain currents is expressed by the following equations (2) and (3). ΔV i represents the variation in the threshold voltage V t .

【0033】[0033]

【数1】 [Equation 1]

【0034】と近似できる。よって、ドレイン電流の和
はほぼ一定となる。同様に、バイアス電流Iにつ
いて考えると、バイアス電流Iは次式(5)のように
表される。
Can be approximated by Therefore, the sum I d of drain currents is almost constant. Similarly, considering the bias current I b, the bias current I b is expressed by the following equation (5).

【0035】 Ib ∝ k (VGS - Vt + ΔV)2 (5) 多数個のMOSトランジスタがあると、バイアス電流I
は次式(6)のように表される。但し、ΔV iはトラ
ンジスタMRの閾値電圧のばらつきを表す。
I b ∝ k (V GS −V t + ΔV R ) 2 (5) When there are a large number of MOS transistors, the bias current I
b is expressed by the following equation (6). However, ΔV R i represents the variation in the threshold voltage of the transistor MR j .

【0036】[0036]

【数2】 [Equation 2]

【0037】閾値電圧のばらつきΔV iはトランジスタ
の数が増えると統計的にゼロに近くなる。故に、第2の
項は統計的にゼロと見なせる。また、ΣΔVRj 2はΣ(VGS
-Vt) 2に比べて非常に小さいので無視できる。従って、
バイアス電流Ibは(VGS - Vt) 2で決まり、実質的にV
GSは変化しない。つまり、所定のバイアス電流Ibを
複数個並列に接続したトランジスタに加えれば、各々の
トランジスタのVtにばらつきがあっても、チップ間で
ばらつきが生じないことになる。
Variation in threshold voltage ΔVR iIs a transistor
As the number of increases, it becomes statistically close to zero. Therefore, the second
The term can be considered statistically zero. Also, ΣΔVRj 2Is Σ (VGS
-Vt) 2It is so small compared to that it can be ignored. Therefore,
Bias current IbIs (VGS-Vt) 2And is effectively V
GSDoes not change. That is, the predetermined bias current Ib
If you add multiple transistors connected in parallel,
Even if the Vt of the transistor varies,
There will be no variation.

【0038】このように本実施形態によると、増幅回路
31〜3Nのチップ間での消費電流の差および特性の差
を低減できる。従って、これらの増幅回路31〜3Nを
集積化したチップを例えば図2中に示した増幅回路群2
5に適用して、図1に示した液晶ディスプレイ装置の液
晶ディスプレイ駆動回路12を構成すると、集積化され
た液晶ディスプレイ駆動回路12のチップ間での消費電
流および特性のばらつきを小さくできるので、その設
計、特に電源の設計が容易になると共に、特性のばらつ
きによる画質劣化を低減することができる。
As described above, according to this embodiment, it is possible to reduce the difference in current consumption and the difference in characteristics between the chips of the amplifier circuits 31 to 3N. Therefore, a chip in which these amplifier circuits 31 to 3N are integrated is used, for example, as an amplifier circuit group 2 shown in FIG.
5 to configure the liquid crystal display drive circuit 12 of the liquid crystal display device shown in FIG. 1, it is possible to reduce variations in current consumption and characteristics among the integrated liquid crystal display drive circuit 12 chips. The design, particularly the design of the power supply, can be facilitated, and the image quality deterioration due to the characteristic variation can be reduced.

【0039】次に、図6を用いて本発明の第2の実施形
態に係る集積回路装置について説明する。
Next, an integrated circuit device according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0040】第1の実施形態では、前述したようにカレ
ントミラー回路の入力側トランジスタMR1〜MRNは
1チップ内の増幅回路31〜3Nの個数Nで除したサイ
ズを持つ。ここで、増幅回路31〜3Nの個数Nは、例
えば300というような大きな値をとることが多いの
で、入力側トランジスタMR1〜MRNはサイズの非常
に小さなトランジスタとなり、事実上形成するのが不可
能となるか、もしくは非常に困難となる場合がある。
In the first embodiment, as described above, the input side transistors MR1 to MRN of the current mirror circuit have a size divided by the number N of the amplifier circuits 31 to 3N in one chip. Here, since the number N of the amplifier circuits 31 to 3N often takes a large value such as 300, the input side transistors MR1 to MRN are transistors having a very small size, which is practically impossible to form. Or it can be very difficult.

【0041】図6に示す本実施形態は、この点を改良し
たものであり、列をなすように配置された複数(N)の
増幅回路41〜4NのL個(Lは、1以上の正数、本実
施形態ではL=2)毎に増幅回路内に、入力側トランジ
スタMR1〜MR(N/L)が分散して配置されてい
る。言い換えれば、入力側トランジスタの分割数をN/
Lとして、その分割された入力側トランジスタMR1〜
MR(N/L)がL個おきの増幅回路41,43,…,
4Nに配置されている。
The present embodiment shown in FIG. 6 is an improvement of this point, and a plurality of (N) amplifier circuits 41 to 4N arranged in a row are L in number (L is a positive value of 1 or more). The number of input side transistors MR1 to MR (N / L) is distributed and arranged in the amplifier circuit for each number (L = 2 in this embodiment). In other words, the number of divisions of the input side transistor is N /
As L, the divided input side transistors MR1 to MR1
MR (N / L) amplifier circuits 41, 43, ...
It is located at 4N.

【0042】なお、第1の実施形態と同様に、入力側ト
ランジスタMR1〜MR(N/L)のゲートおよびドレ
インは電流Ibiasが供給されるバイアス電流設定ライン
に接続され、ソースは電源ラインVssに接続されてい
る。
As in the first embodiment, the gates and drains of the input side transistors MR1 to MR (N / L) are connected to the bias current setting line to which the current Ibias is supplied, and the source is connected to the power supply line Vss. It is connected.

【0043】このようにすると、入力側トランジスタM
R1〜MR(N/L)のサイズは、第1の実施形態の場
合に比較してN/Lとなり、集積化がより容易となる。
また、第1の実施形態とほぼ同様の効果を得ることがで
きる。
In this way, the input side transistor M
The size of R1 to MR (N / L) is N / L as compared with the case of the first embodiment, and integration is easier.
Further, it is possible to obtain substantially the same effect as that of the first embodiment.

【0044】図7は、本発明の第3の実施形態に係る集
積回路装置の構成を示している。チップ内に列をなして
配置された複数(N)の増幅回路51〜5Nのダイオー
ド接続されたトランジスタのうち、増幅回路51〜5N
の列のM個(Mは、1以上の正数)おきのP個(Pは、
P≦Mの正数)のみが出力側トランジスタと共にカレン
トミラー回路を形成するように結線して使用される。
FIG. 7 shows the configuration of an integrated circuit device according to the third embodiment of the present invention. Of the plurality (N) of amplifier circuits 51 to 5N diode-connected transistors arranged in a row in the chip, the amplifier circuits 51 to 5N
Every M (M is a positive number greater than or equal to 1) P columns (P is
Only a positive number (P ≦ M) is used by wiring so as to form a current mirror circuit together with the output side transistor.

【0045】図7は、M=2,P=1の場合の例であ
り、1個おきの増幅回路51,53,…,5(N−1)
内のダイオード接続されたトランジスタMR1,MR
2,…,MR(N/2)のみ、ドレインおよびゲートが
バイアス電流設定用の電流Ibiasを供給するバイアス電
流設定ラインに接続され、出力側トランジスタM1〜M
Nと共にカレントミラー回路を構成している。他の増幅
回路52,…,5N内のダイオード接続されたトランジ
スタMD1,…,MD(N/2)は、ドレインおよびゲ
ートが電源ラインVssに接続されており、カレントミ
ラー回路を形成していない。
FIG. 7 shows an example in the case of M = 2 and P = 1. Every other amplifying circuit 51, 53, ..., 5 (N-1).
-Connected transistors MR1 and MR
2, ..., MR (N / 2) only, the drain and the gate are connected to the bias current setting line that supplies the bias current setting current Ibias, and the output side transistors M1 to M
A current mirror circuit is constructed with N. , MD (N / 2), which are diode-connected transistors in the other amplifier circuits 52, ..., 5N, have drains and gates connected to the power supply line Vss and do not form a current mirror circuit.

【0046】このようにすると、集積回路化に適した構
成となる。一般的に、同一の複数の回路を集積化すると
きは、レイアウトの効率を高めるために一つの基本パタ
ーンの回路のレイアウトを行い、これを繰り返し用いる
ことが多い。本実施形態では、これを利用してレイアウ
ト効率を高めている。
In this way, the structure is suitable for integration into an integrated circuit. Generally, when the same plurality of circuits are integrated, it is often the case that a circuit having one basic pattern is laid out in order to improve the layout efficiency and this is repeatedly used. In this embodiment, this is utilized to improve the layout efficiency.

【0047】すなわち、図8(a)に示すようにダイオ
ード接続されたトランジスタとダイオード接続されてい
ないトランジスタからなる基本回路に対応する、図9
(a)に示される基本パターンがN組用意される。これ
らN組の基本パターンが列をなして配置される。そし
て、図8(b)に示すように、図8(a)の基本回路に
おけるダイオード接続されたトランジスタのドレインお
よびゲートと、ダイオード接続されていないトランジス
タのドレインをバイアス電流設定ライン(図の上側のラ
イン)に接続し、さらに両トランジスタのソースを電源
ラインVss(図の下側のライン)に接続する。これに
より、図9(b)に示される回路パターンが形成され
る。この回路パターンが、例えば図7における入力側ト
ランジスタMR1と出力側トランジスタM1に対応す
る。
That is, as shown in FIG. 8A, a basic circuit including a diode-connected transistor and a non-diode-connected transistor is shown in FIG.
N sets of basic patterns shown in (a) are prepared. These N sets of basic patterns are arranged in rows. Then, as shown in FIG. 8B, the drain and gate of the diode-connected transistor and the drain of the transistor not diode-connected in the basic circuit of FIG. Line), and the sources of both transistors are connected to the power supply line Vss (the lower line in the figure). As a result, the circuit pattern shown in FIG. 9B is formed. This circuit pattern corresponds to, for example, the input side transistor MR1 and the output side transistor M1 in FIG.

【0048】また、図8(c)に示すように、図8
(a)の基本パターンの回路におけるダイオード接続さ
れていないトランジスタのドレインのみをバイアス電流
設定ライン(図の上側のライン)に接続し、ダイオード
接続されたトランジスタのドレイン、ゲートおよびソー
スと、ダイオード接続されていないトランジスタのソー
スを電源ラインVss(図の下側のライン)に接続す
る。これにより、図9(c)に示される回路パターンが
形成される。この回路パターンは、例えば図7における
カレントミラー回路を形成しないダイオード接続された
トランジスタMD1とカレントミラー回路の出力側トラ
ンジスタM2に相当する。
Further, as shown in FIG.
In the circuit of the basic pattern of (a), only the drains of the transistors not diode-connected are connected to the bias current setting line (the upper line in the figure), and the drains, gates and sources of the diode-connected transistors are diode-connected. The source of the non-transistor is connected to the power supply line Vss (the lower line in the figure). As a result, the circuit pattern shown in FIG. 9C is formed. This circuit pattern corresponds to, for example, the diode-connected transistor MD1 that does not form the current mirror circuit in FIG. 7 and the output side transistor M2 of the current mirror circuit.

【0049】図6の増幅回路42の場合、図9(a)の
トランジスタMRが無接続状態にされ、トランジスタM
のみがバイアス設定ラインBLおよび電源ラインに接続
される。
In the case of the amplifier circuit 42 of FIG. 6, the transistor MR of FIG.
Only the bias setting line BL and the power supply line are connected.

【0050】図10は、本発明の第5の実施形態に係る
集積回路装置の構成を示す図であり、チップ内に列状に
配置された複数(N)の増幅回路61〜6Nのアレイの
両端に、カレントミラー回路のダイオード接続された入
力側トランジスタMR1,MR2がそれぞれ配置されて
いる。また、これまでの実施形態と同様にトランジスタ
MR1,MR2のゲートおよびドレインは電流Ibiasが
供給されるバイアス電流設定ラインBLに接続され、ソ
ースは電源ラインVssに接続されている。
FIG. 10 is a diagram showing the configuration of an integrated circuit device according to a fifth embodiment of the present invention, which is an array of a plurality (N) of amplifier circuits 61 to 6N arranged in a row in a chip. Input-side transistors MR1 and MR2, which are diode-connected to the current mirror circuit, are arranged at both ends. Further, similarly to the previous embodiments, the gates and drains of the transistors MR1 and MR2 are connected to the bias current setting line BL to which the current Ibias is supplied, and the sources are connected to the power supply line Vss.

【0051】本実施形態によると、カレントミラー回路
を形成する入力側トランジスタMR1,MR2と増幅回
路61〜6N内の出力側トランジスタM1〜MNとの距
離を短くして両トランジスタのマッチングを良くし、カ
レントミラー回路の特性ばらつきを低減することができ
る。
According to the present embodiment, the distance between the input side transistors MR1 and MR2 forming the current mirror circuit and the output side transistors M1 to MN in the amplifier circuits 61 to 6N is shortened to improve matching between both transistors. It is possible to reduce variations in characteristics of the current mirror circuit.

【0052】また、本実施形態では増幅回路61〜6N
が既存の1チップ集積回路として存在している場合、こ
の集積回路にトランジスタMR1,MR2を付加するの
みで実現できるという利点がある。
Further, in this embodiment, the amplifier circuits 61 to 6N are provided.
Is present as an existing one-chip integrated circuit, there is an advantage that it can be realized only by adding the transistors MR1 and MR2 to this integrated circuit.

【0053】図11は、本発明の第6の実施形態に係る
集積回路装置の構成を示す。本実施形態は、チップ内に
並べられた複数の増幅回路の途中にバイアス用のカレン
トミラー回路を設けた例である。すなわち、増幅回路7
1,…,7i,7(i+1),…,7Nのうち、増幅回
路7iとこれに隣接する増幅回路7(i+1)との間
に、カレントミラー回路のダイオード接続された入力側
トランジスタMR2,MR3が配置されている。さら
に、本実施形態では第4の実施形態と同様に、両端の増
幅回路71,7Nの外側にも、カレントミラー回路のダ
イオード接続された入力側トランジスタMR1,MR2
がそれぞれ配置されている。
FIG. 11 shows the configuration of an integrated circuit device according to the sixth embodiment of the present invention. The present embodiment is an example in which a bias current mirror circuit is provided in the middle of a plurality of amplifier circuits arranged in a chip. That is, the amplifier circuit 7
, ..., 7i, 7 (i + 1), ..., 7N, between the amplifying circuit 7i and the amplifying circuit 7 (i + 1) adjacent thereto, diode-connected input side transistors MR2, MR3 of the current mirror circuit. Are arranged. Further, in the present embodiment, similarly to the fourth embodiment, the diode-connected input side transistors MR1 and MR2 of the current mirror circuit are also provided outside the amplifier circuits 71 and 7N at both ends.
Are arranged respectively.

【0054】また、これまでの実施形態と同様に、それ
ぞれの入力側トランジスタMR1,MR2,MR3,M
R4のゲートおよびドレインは電流Ibiasが供給される
バイアス電流設定ラインBLに接続され、ソースは電源
ラインVssに接続されている。
Further, as in the above-described embodiments, the respective input side transistors MR1, MR2, MR3, M are provided.
The gate and drain of R4 are connected to the bias current setting line BL to which the current Ibias is supplied, and the source is connected to the power supply line Vss.

【0055】次に、これまでの実施形態で説明した増幅
回路を説明する。図12に示される増幅回路は入力増幅
段と出力増幅段と抵抗Rfとにより構成される。入力増
幅段は、差動トランジスタ対(a pair of differential
transistors)を構成するトランジスタMp1,Mp2と
該差動トランジスタ対にテール電流(tail current)を与
えるトランジスタMp4による電流源(current source)
および差動トランジスタ対の二つの出力端であるドレイ
ンに電流入力端および電流出力端が接続されたトランジ
スタMn1,Mn2によるカレントミラー回路とで構成
される。出力増幅段は、トランジスタMp3,Mn3に
よるコンプリメンタリトランジスタ対によって構成され
る。なお、MpxはPチャネルMOSトランジスタ、M
nxはNチャネルMOSトランジスタをそれぞれ表す。
Next, the amplifier circuits described in the above embodiments will be described. The amplifier circuit shown in FIG. 12 includes an input amplifier stage, an output amplifier stage, and a resistor Rf. The input amplification stage is a pair of differential transistors.
transistors and the transistors Mp1 and Mp2 constituting the transistors and a current source by a transistor Mp4 which gives a tail current to the differential transistor pair.
And a current mirror circuit composed of transistors Mn1 and Mn2 in which a current input terminal and a current output terminal are connected to drains which are two output terminals of the differential transistor pair. The output amplification stage is composed of a complementary transistor pair including transistors Mp3 and Mn3. Mpx is a P-channel MOS transistor, M
nx represents an N-channel MOS transistor, respectively.

【0056】この増幅回路によると、出力増幅段の出力
端(トランジスタMn3およびMp3のドレイン)と信
号出力端子OUT間に挿入された抵抗Rfと容量性負荷
CLの容量成分により、開ループ周波数特性に第1のゼ
ロ点が形成され、このゼロ点で位相が進むことにより、
ポールによる位相の遅れを補償することができる。すな
わち、利得が1となるときの位相と−180゜の差であ
る位相余裕を大きくすることができるので、増幅回路の
動作安定化のための位相補償容量Cfを基本的に必要と
せず、また位相補償容量Cfを必要とする場合でも、そ
の値は非常に小さくてよいので、チップ面積を削減する
ことができる、という利点を有する。この作用について
は、米国特許出願No.09/128,414に詳しく
説明されている。
According to this amplifier circuit, the open loop frequency characteristic is improved by the resistance component Rf inserted between the output terminal of the output amplification stage (the drains of the transistors Mn3 and Mp3) and the signal output terminal OUT and the capacitive component CL. The first zero point is formed, and the phase advances at this zero point,
The phase delay due to the pole can be compensated. That is, since the phase margin, which is the difference between the phase when the gain is 1 and −180 °, can be increased, the phase compensation capacitance Cf for stabilizing the operation of the amplifier circuit is basically unnecessary, and Even when the phase compensation capacitance Cf is required, its value may be very small, and thus there is an advantage that the chip area can be reduced. Regarding this effect, US Pat. 09 / 128,414.

【0057】ここで、図12におけるダイオード接続さ
れたトランジスタMp5およびバイアス電流源Ib1
は、トランジスタMp3,MP4のゲートバイアスを決
定するため、カレントミラー回路の出力側トランジスタ
Mi(i=1,2,…,N)によって構成される。
Here, the diode-connected transistor Mp5 and the bias current source Ib1 in FIG.
Is composed of output side transistors Mi (i = 1, 2, ..., N) of the current mirror circuit for determining the gate bias of the transistors Mp3 and MP4.

【0058】図13は、他の増幅回路を示す。図12に
示した増幅回路では、破線で示すように出力増幅段の出
力端(トランジスタMn3およびMp3のドレイン)か
ら負側の信号入力端子IN−に帰還を施したボルテージ
フォロア構成の場合、立上がりのスルーレート(slew r
ate)はトランジスタMp3から供給される電流と容量
性負荷CLの値により決定され、トランジスタMp3か
ら供給される電流が小さいため、十分なスルーレートが
得られない。
FIG. 13 shows another amplifier circuit. In the amplifier circuit shown in FIG. 12, in the case of a voltage follower configuration in which feedback is provided from the output end of the output amplifier stage (the drains of the transistors Mn3 and Mp3) to the negative-side signal input terminal IN-, as shown by the broken line, the voltage riser rises. Slew rate (slew r
ate) is determined by the current supplied from the transistor Mp3 and the value of the capacitive load CL. Since the current supplied from the transistor Mp3 is small, a sufficient slew rate cannot be obtained.

【0059】この点を改善するため、図13の増幅回路
は入力信号電圧が正側に変動したことを検出して、出力
増幅段のバイアス電流を供給するトランジスタMp3の
出力電流を増加させることにより、立上がりのスルーレ
ートを改善している。すなわち、トランジスタMn4,
Mp6により入力信号電圧が正極性に変化したことを検
出し、入力信号電圧が正極性に変動したときにトランジ
スタMp7をオンさせて、電流源ILより供給される電
流をトランジスタMp3のゲートバイアスを決定してい
るダイオード接続されたトランジスタMp5に流し、ト
ランジスタMp3のゲートバイアスの電圧を大きくする
構成となっている。
In order to improve this point, the amplifier circuit of FIG. 13 detects that the input signal voltage has changed to the positive side and increases the output current of the transistor Mp3 which supplies the bias current of the output amplifier stage. , The rising slew rate has been improved. That is, the transistors Mn4,
Mp6 detects that the input signal voltage has changed to the positive polarity, turns on the transistor Mp7 when the input signal voltage changes to the positive polarity, and determines the gate bias of the transistor Mp3 with the current supplied from the current source IL. The voltage is applied to the diode-connected transistor Mp5 that is connected to the transistor Mp3 to increase the gate bias voltage of the transistor Mp3.

【0060】さらに詳細に説明すると、トランジスタM
p6は電流源を構成し、そのゲートはバイアス電流決定
用トランジスタMp5のドレインおよびゲートに接続さ
れている。トランジスタMp7はゲートがトランジスタ
Mn4およびMp6のドレインに接続され、ソースがバ
イアス電流決定用トランジスタMp5のドレインおよび
ゲートに接続され、ドレインが電流源ILに接続されて
いる。
Explaining in more detail, the transistor M
p6 constitutes a current source, and its gate is connected to the drain and gate of the bias current determining transistor Mp5. The gate of the transistor Mp7 is connected to the drains of the transistors Mn4 and Mp6, the source is connected to the drain and gate of the bias current determining transistor Mp5, and the drain is connected to the current source IL.

【0061】説明を簡単にするために、トランジスタM
n4と入力増幅段2のトランジスタMn1は同一サイ
ズ、つまりW/L(WはMOSトランジスタのチャネル
幅、LはMOSトランジスタのチャネル長)が同一であ
るとし、また、トランジスタMp6のサイズ(W/L)
Mp6は、入力増幅段2の電流源トランジスタMp4の
サイズ(W/L)Mp4の0.6倍であるとする。
To simplify the description, the transistor M
n4 and the transistor Mn1 of the input amplification stage 2 have the same size, that is, W / L (W is the channel width of the MOS transistor, L is the channel length of the MOS transistor) is the same, and the size of the transistor Mp6 (W / L )
It is assumed that Mp6 is 0.6 times the size (W / L) Mp4 of the current source transistor Mp4 of the input amplification stage 2.

【0062】信号入力端子IN,IN間に印加され
る電圧がゼロまたは負のとき、つまり、正側の信号入力
端子INの電圧が負側の信号入力端子INの電圧よ
り低いときは、トランジスタMn1にトランジスタMp
4から供給される電流の半分以下の電流が流れ、このト
ランジスタMn1の電流がトランジスタMn4によりコ
ピーされる。このとき、トランジスタMp6から供給さ
れる電流は、トランジスタMp4より供給される電流の
0.6倍であり、トランジスタMn4に流れる電流より
大きいため、トランジスタMp6のドレイン電圧が高く
なり、トランジスタMp7はオフとなるため、電流源I
Lから供給される電流はトランジスタMp5に加算され
ない。
[0062] The signal input terminal IN +, IN - when the voltage applied is zero or negative while, that is, the positive side of the signal input terminal IN + voltage of the signal input terminal IN of the negative side - is lower than the voltage Is a transistor Mp
A current of less than half the current supplied from 4 flows, and the current of this transistor Mn1 is copied by the transistor Mn4. At this time, the current supplied from the transistor Mp6 is 0.6 times the current supplied from the transistor Mp4, and is larger than the current flowing in the transistor Mn4. Therefore, the drain voltage of the transistor Mp6 becomes high and the transistor Mp7 is turned off. Therefore, the current source I
The current supplied from L is not added to the transistor Mp5.

【0063】一方、信号入力端子IN,IN間に印
加される入力信号電圧が所定の正極性の電圧以上のと
き、つまり、正側の信号入力端子INの電圧が負側の
信号入力端子INの電圧より所定値以上高いときは、
トランジスタMn1にトランジスタMp4から供給され
る電流の0.6倍より大きい電流が流れ、このトランジ
スタMn1の電流がトランジスタMn4によりコピーさ
れる。このとき、トランジスタMp6から供給される電
流は、トランジスタMp4から供給される電流の0.6
倍であり、トランジスタMn4に流れる電流より小さい
ため、トランジスタMp6のドレイン電圧が低くなり、
トランジスタMp7はオンとなる。これにより、電流源
ILから供給される電流はトランジスタMp7を介して
バイアス電流決定用トランジスタMp5に加算されるた
め、トランジスタMp5のゲート・ソース間電圧は大き
くなり、トランジスタMp3から供給される電流も大き
くなる。
[0063] On the other hand, the signal input terminal IN +, IN - when the input signal voltage to be applied is equal to or larger than a predetermined positive voltage during, that is, the signal input of the positive-side of the signal input terminal IN + voltage of the negative side terminal iN - is higher than a predetermined value than the voltage of,
A current larger than 0.6 times the current supplied from the transistor Mp4 flows through the transistor Mn1, and the current of the transistor Mn1 is copied by the transistor Mn4. At this time, the current supplied from the transistor Mp6 is 0.6 times the current supplied from the transistor Mp4.
Since it is doubled and smaller than the current flowing through the transistor Mn4, the drain voltage of the transistor Mp6 becomes low,
The transistor Mp7 is turned on. As a result, the current supplied from the current source IL is added to the bias current determination transistor Mp5 via the transistor Mp7, so that the gate-source voltage of the transistor Mp5 increases and the current supplied from the transistor Mp3 also increases. Become.

【0064】このように図13の増幅回路は、入力信号
電圧が正極性に変化するときに出力増幅段3のトランジ
スタMp3から供給される電流が大きくなるように制御
できるので、立上がりのスルーレートを改善することが
できるという利点を有する。
As described above, the amplifier circuit of FIG. 13 can control so that the current supplied from the transistor Mp3 of the output amplifier stage 3 becomes large when the input signal voltage changes to the positive polarity, so that the rising slew rate is increased. It has the advantage that it can be improved.

【0065】ここで、図12および図13におけるダイ
オード接続されたトランジスタMp5およびバイアス電
流源Ib1は、トランジスタMp3,MP4のゲートバ
イアスを決定するためのものであり、バイアス電流源I
b1が先に示したカレントミラー回路の出力側トランジ
スタMi(i=1,2,…,N)によって構成される。
さらに、図13における電流源ILについても同様に構
成することができる。
Here, the diode-connected transistor Mp5 and the bias current source Ib1 in FIGS. 12 and 13 are for determining the gate bias of the transistors Mp3 and MP4, and the bias current source Ib.
b1 is composed of the output side transistors Mi (i = 1, 2, ..., N) of the current mirror circuit described above.
Further, the current source IL in FIG. 13 can be similarly configured.

【0066】図14は、本発明の第6の実施形態に係る
集積回路装置を示す。この集積回路装置は、複数(N)
の増幅回路120−1〜120−Nを有する。増幅回路
120−1〜120−Nは、例えば、図1に示した液晶
ディスプレイ装置の液晶ディスプレイ駆動回路12内に
含まれる、図2中の増幅回路群25の一部を構成してお
り、例えば、チップ内に図の左右方向に沿って直線状に
配列される。増幅回路120−1〜120−Nには、バ
イアス電流供給用のトランジスタM1〜MNと、バイア
ス電流供給用のトランジスタM1〜MNから供給される
バイアス電流を監視するため、同じゲート電圧を入力す
る監視トランジスタMF1〜MFNがそれぞれ設けられ
ている。即ち、増幅回路120−1〜120−Nの各々
は、ゲートが互いに接続され、かつソースが互いに接続
される、バイアス電流供給用のトランジスタM1〜MN
の1つと監視トランジスタMF1〜MFNの1つとによ
り構成される。監視トランジスタMF1〜MFNの各々
のドレインはトランジスタMB1とMB2で構成される
カレントミラー回路に接続される。
FIG. 14 shows an integrated circuit device according to the sixth embodiment of the present invention. This integrated circuit device has a plurality (N)
Of amplifier circuits 120-1 to 120-N. The amplifier circuits 120-1 to 120-N form, for example, a part of the amplifier circuit group 25 in FIG. 2 included in the liquid crystal display drive circuit 12 of the liquid crystal display device shown in FIG. , Are arranged linearly in the chip along the left-right direction of the drawing. The same gate voltage is input to the amplifier circuits 120-1 to 120-N in order to monitor the bias currents supplied from the bias current supply transistors M1 to MN and the bias current supply transistors M1 to MN. Transistors MF1 to MFN are provided respectively. That is, in each of the amplifier circuits 120-1 to 120-N, the gates are connected to each other and the sources are connected to each other.
, And one of the monitoring transistors MF1 to MFN. The drains of the monitoring transistors MF1 to MFN are connected to a current mirror circuit composed of the transistors MB1 and MB2.

【0067】バイアス電流設定用の電流Ibiasは、トラ
ンジスタMB1とMB2で構成されるカレントミラー回
路を介して、監視トランジスタMF1〜MFNから出力
される電流の和と比較され、トランジスタMB2のドレ
イン端で電流の差に応じた電圧に変換され、増幅器A1
により増幅され、トランジスタM1〜MNとトランジス
タMF1〜MFNのゲートに共通に印加される。
The current Ibias for setting the bias current is compared with the sum of the currents output from the monitoring transistors MF1 to MFN via the current mirror circuit composed of the transistors MB1 and MB2, and the current at the drain end of the transistor MB2 is compared. Is converted into a voltage according to the difference between
And is applied to the gates of the transistors M1 to MN and the transistors MF1 to MFN in common.

【0068】説明を簡単にするため、例えば、出カトラ
ンジスタMi(i=1〜N)は各々同じサイズであり、
また、監視トランジスタMFi(i=1〜N)のサイズ
も各々同じとする。さらに、トランジスタMFi(i=
1〜N)のゲート幅/ゲート長(以下、W/L)をトラ
ンジスタMi(i=1〜N)のW/Lの1/Nとする。
全てのトランジスタMiならびに全てのトランジスタM
Fiのマッチングが取れている場合、トランジスタMi
とトランジスタMFiのゲートに同じ電圧が印加されて
いるので、トランジスタMFiに流れる電流Ifiは、ト
ランジスタMiに流れる電流Iiの1/Nである。トラ
ンジスタMFiのドレインは共通に接続されているの
で、トランジスタMFiに流れる電流は加算され、その
和はトランジスタMiに流れる電流Iiと等しくなる。
In order to simplify the explanation, for example, the output transistors Mi (i = 1 to N) have the same size,
Further, the sizes of the monitoring transistors MFi (i = 1 to N) are also the same. Further, the transistor MFi (i =
The gate width / gate length (hereinafter, W / L) of 1 to N) is 1 / N of W / L of the transistor Mi (i = 1 to N).
All transistors Mi and all transistors M
If Fi is matched, the transistor Mi
Since the same voltage is applied to the gate of the transistor MFi, the current Ifi flowing in the transistor MFi is 1 / N of the current Ii flowing in the transistor Mi. Since the drains of the transistors MFi are commonly connected, the currents flowing through the transistors MFi are added, and the sum is equal to the current Ii flowing through the transistor Mi.

【0069】このトランジスタMFiに流れる電流の和
は、設定したい電流IbiasとトランジスタMB2のドレ
イン端で比較され、電流IbiasがトランジスタMFiに
流れる電流の和より大きい場合には、トランジスタMB
2のドレイン電圧が高くなる。このドレイン電圧は、増
幅器A1にて増幅され、トランジスタMiならびにトラ
ンジスタMFiのゲート電圧を高くして、トランジスタ
MFiに流れる電流を大きくし、トランジスタMFiに
流れる電流の和が電流Ibiasと同じなる。また、逆に電
流IbiasがトランジスタMFiに流れる電流の和より小
さい場合では、トランジスタMB2のドレイン電圧が低
くなる。このドレイン電圧は、増幅器A1にて増幅さ
れ、トランジスタMiならびにトランジスタMFiのゲ
ート電圧を低くして、トランジスタMFiに流れる電流
を小さくし、トランジスタMFiに流れる電流の和が電
流Ibiasと同じになる。
The sum of the currents flowing in the transistor MFi is compared with the current Ibias to be set at the drain end of the transistor MB2. If the current Ibias is larger than the sum of the currents flowing in the transistor MFi, the transistor MBi is transmitted.
2 has a higher drain voltage. This drain voltage is amplified by the amplifier A1 to increase the gate voltages of the transistor Mi and the transistor MFi to increase the current flowing through the transistor MFi, and the sum of the currents flowing through the transistor MFi becomes the same as the current Ibias. On the contrary, when the current Ibias is smaller than the sum of the currents flowing in the transistor MFi, the drain voltage of the transistor MB2 becomes low. This drain voltage is amplified by the amplifier A1, lowers the gate voltage of the transistor Mi and the transistor MFi, reduces the current flowing through the transistor MFi, and the sum of the currents flowing through the transistor MFi becomes the same as the current I bias .

【0070】本実施形態では、上述したように各増幅回
路120−1〜120−Nに分散して監視トランジスタ
が配置されている点が特徴である。つまり、従来は1個
であった監視トランジスタMFが、本実施形態では増幅
回路120−1〜120−Nの個数Nに対応するN個の
監視トランジスタMF1〜MFNが設けられ、これらの
監視トランジスタMF1〜MFNが各増幅回路120−
1〜120−Nのバイアス電流を発生させる出カトラン
ジスタM1〜MNに近接して配置される。
The present embodiment is characterized in that the monitoring transistors are arranged in a distributed manner in each of the amplifier circuits 120-1 to 120-N as described above. That is, the monitoring transistor MF, which is one in the past, is provided with N monitoring transistors MF1 to MFN corresponding to the number N of the amplifier circuits 120-1 to 120-N in the present embodiment, and these monitoring transistors MF1 are provided. ~ MFN is each amplifier circuit 120-
It is arranged close to the output transistors M1 to MN that generate bias currents of 1 to 120-N.

【0071】このような本実施形態の構成により、以下
のようにして従来のトランジスタの閾値電圧のばらつき
による問題点が解決される。
With the structure of this embodiment as described above, the problems due to the variation in the threshold voltage of the conventional transistor are solved as follows.

【0072】監視トランジスタMF1−MFNに共通に
加えられているゲート・ソース間電圧は、トランジスタ
MFl〜MFNにそれぞれIbias/Nの電流が流れた時
のトランジスタMF1−MFNの各々のゲート・ソース
間電圧の平均値に近い値となる。
The gate-source voltage commonly applied to the monitoring transistors MF1 to MFN is the gate-source voltage of each of the transistors MF1 to MFN when a current of I bias / N flows through each of the transistors MF1 to MFN. The value is close to the average value of the voltage.

【0073】ここで、監視トランジスタMF1〜MFN
の閾値電圧(Vt)のばらつきを△VFとし、出カトラ
ンジスタM1〜MNの閾値電圧のばらつきを△VNとす
ると、△VFの統計的期待値はゼロであり、実際の平均
値も統計的期待値に近い値、即ちゼロに近い値となる。
トランジスタMFiを流れる電流の合計は次のように表
される:
Here, the monitoring transistors MF1 to MFN
If the variation in the threshold voltage (Vt) of ΔVF is ΔVF and the variation in the threshold voltage of the output transistors M1 to MN is ΔVN, the statistical expected value of ΔVF is zero, and the actual average value is also statistically expected. The value is close to the value, that is, close to zero.
The total current flowing through the transistor MFi is expressed as:

【0074】[0074]

【数3】 [Equation 3]

【0075】これは、トランジスタMF9〜MFNに流
す電流の和がIdのとき、閾値電圧のばらつきΔVFi
あってもΔVFi=0のときとほぼ等しいVGSとなること
を意味する。従って、トランジスタM1〜MNから供給
されるバイアス電流の平均値はIbiasに近付くため、増
幅回路120−1〜120−Nの消費電流の和は、チッ
プ間によらず、増幅回路120−1〜120−Nの各々
のバイアス電流がIbi asである時の増幅回路120−1
〜120−Nの消費電流の和に近付くので、チップ間の
消費電流の差を低減することができる。また、消費電流
のチップ間での差を低減することで、増幅回路120−
1〜120−Nのチップ間での特性の差も低減させるこ
とができる。このように本実施形態によると、増幅回路
120−1〜120−Nのチップ間での消費電流の差お
よび特性の差を低減できる。従って、これらの増幅回路
120−1〜120−Nを集積化したチップを例えば図
2中に示した増幅回路群25に適用して、図1に示した
液晶ディスプレイ装置の液晶ディスプレイ駆動回路を構
成すると、集積化された液晶ディスプレイ駆動回路12
のチップ間での消費電流および特性のばらつきを小さく
できるので、その設計、特にバイアス回路の設計が容易
になると共に、特性のばらつきによる画質劣化を低減で
きる。
This means that when the sum of the currents flowing through the transistors MF9 to MFN is Id, even if there is a variation ΔV Fi in the threshold voltage, the VGS becomes almost equal to that when ΔV Fi = 0. Therefore, since the average value of the bias currents supplied from the transistors M1 to MN approaches I bias , the sum of the consumption currents of the amplifier circuits 120-1 to 120-N is the same regardless of the chips. 120-N amplifier circuit when each of the bias current is I bi the as of 120-1
Since the sum of the consumption currents of 120 to N is approached, the difference in the consumption current between the chips can be reduced. Further, by reducing the difference in consumption current between chips, the amplifier circuit 120-
It is also possible to reduce the difference in characteristics between chips of 1 to 120-N. As described above, according to this embodiment, it is possible to reduce the difference in current consumption and the difference in characteristics between the chips of the amplifier circuits 120-1 to 120-N. Therefore, a chip in which these amplifier circuits 120-1 to 120-N are integrated is applied to the amplifier circuit group 25 shown in FIG. 2, for example, to configure a liquid crystal display drive circuit of the liquid crystal display device shown in FIG. Then, the integrated liquid crystal display drive circuit 12
Since it is possible to reduce variations in current consumption and characteristics between chips, it is possible to facilitate the design, especially the design of the bias circuit, and reduce image quality deterioration due to variations in characteristics.

【0076】図15は、図14の集積回路装置の増幅器
A1を、トランジスタMA1と電流源IB1とで構成し
たソースフォロアにて実現した第7の実施形態を示して
いる。
FIG. 15 shows a seventh embodiment in which the amplifier A1 of the integrated circuit device of FIG. 14 is realized by a source follower composed of a transistor MA1 and a current source IB1.

【0077】図16は、第8の実施形態の集積回路装置
を示している。この実施例によると、図14の集積回路
装置の増幅器A1が、増幅器A1の入力電圧に応じた電
流を発生させるトランジスタMA10と、このトランジ
スタMA10に流れる電流とバイアス電流IB2の差電
流を入力とするダイオード接続されたトランジスタMA
11と、トランジスタMA11と共にカレントミラーを
構成し、トランジスタMA10に流れる電流とバイアス
電流IB2の差電流を折り返して出力するトランジスタ
MA12と、この電流を入力するダイオード接続された
トランジスタMA13とより構成される。このトランジ
スタMA13は出カトランジスタM1〜MNならびに監
視トランジスタMF1〜MFNとでカレントミラーを構
成している。
FIG. 16 shows an integrated circuit device according to the eighth embodiment. According to this embodiment, the amplifier A1 of the integrated circuit device of FIG. 14 receives as its input the transistor MA10 that generates a current according to the input voltage of the amplifier A1 and the difference current between the current flowing through the transistor MA10 and the bias current IB2. Diode-connected transistor MA
11, a transistor MA11, which forms a current mirror together with the transistor MA11, returns a difference current between the current flowing in the transistor MA10 and the bias current IB2 and outputs the current, and a diode-connected transistor MA13 which inputs the current. The transistor MA13 forms a current mirror with the output transistors M1 to MN and the monitoring transistors MF1 to MFN.

【0078】説明を簡単にするため、トランジスタMA
10〜MA12のサイズは同じとし、トランジスタMA
13のサイズはトランジスタM1〜MNのサイズと等し
いとする。また、IB2=2Ibiasとする。
To simplify the description, the transistor MA
10 to MA12 have the same size, and the transistor MA
It is assumed that the size of 13 is equal to the size of the transistors M1 to MN. Further, IB2 = 2Ibias.

【0079】トランジスタMA10で増幅器A1の入力
電圧に応じて発生した電流をバイアス電流IB2と比較
し、差電流は、トランジスタMA11とMA12による
カレントミラーにて折り返される。この差電流がIbias
より大きい時、監視トランジスタMF1〜MFNの各々
に流れる電流の平均値は、1bias/Nより大きくなり、
よって、監視トランジスタMF1〜MFNの電流の和は
biasより大きくなるため、トランジスタMB2のドレ
イン電圧は下がる。よって、増幅器A1の入力トランジ
スタMA10のゲート・ソース電圧が大きくなり、バイ
アス電流IB2との差電流がIbiasに近付く。
The current generated in the transistor MA10 according to the input voltage of the amplifier A1 is compared with the bias current IB2, and the difference current is reflected by the current mirror formed by the transistors MA11 and MA12. This difference current is I bias
When larger, the average value of the current flowing through each of the monitoring transistors MF1 to MFN becomes larger than 1 bias / N,
Therefore, the sum of the currents of the monitoring transistors MF1 to MFN becomes larger than I bias , and the drain voltage of the transistor MB2 decreases. Therefore, the gate-source voltage of the input transistor MA10 of the amplifier A1 increases, and the difference current from the bias current I B2 approaches I bias .

【0080】トランジスタMA10で増幅器A1の入力
電圧に応じて発生した電流とバイアス電流IB2の差電
流がIbiasより小さい時、監視トランジスタMF1〜M
FNの各々に流れる電流の平均値は、Ibias/Nより小
さくなり、よって、監視トランジスタMF1〜MFNの
電流の和はIbiasより小さくなるため、トランジスタM
B2のドレイン電圧は上がる。よって、増幅器A1の人
カトランジスタMA10のゲート・ソース電圧が小さく
なり、入力電圧に応じて発生した電流とバイアス電流I
B2との差電流がIbiasに近付く。
[0080] During differential current between the current and the bias current I B2 generated in response to the input voltage of the amplifier A1 at the transistor MA10 is lower than I bias, monitoring transistor MF1~M
The average value of the current flowing through each of the FNs is smaller than I bias / N, and thus the sum of the currents of the monitoring transistors MF1 to MFN is smaller than I bias , and thus the transistor M
The drain voltage of B2 rises. Therefore, the gate-source voltage of the amplifier transistor MA10 of the amplifier A1 becomes small, and the current generated according to the input voltage and the bias current I
The difference current with B2 approaches I bias .

【0081】一般に、監視トランジスタMFを1チップ
に集積化した増幅回路の個数Nで割ると、例えば、増幅
回路の個数が300と大きな値をとることが多いので、
監視トランジスタMFi(i=1〜N)は、非常に小さ
なトランジスタとなり、事実上形成するのが不可能な場
合がある。この時は、分割数をN/L(Lは正数)と
し、監視トランジスタMFiを増幅回路のL個おきに配
置することでも同様の効果を得ることができる。
In general, when the number of the amplifier circuits integrated on one chip is divided by the number N of the amplifier circuits integrated in one chip, the number of the amplifier circuits generally takes a large value of 300.
The monitoring transistors MFi (i = 1 to N) are very small transistors and may be virtually impossible to form. At this time, the same effect can be obtained by setting the number of divisions to N / L (L is a positive number) and arranging the monitoring transistors MFi every L pieces of the amplifier circuit.

【0082】図17は、L=2とした第9の実施形態に
係る集積回路装置を示している。
FIG. 17 shows an integrated circuit device according to the ninth embodiment in which L = 2.

【0083】図18の第10の実施形態に係る集積回路
装置のように出カトランジスタMi(i=1−N)や監
視トランジスタMFi(i=1〜N)とカレントミラー
を構成する増幅器A1のダイオード接続された複数のト
ランジスタMA13−1〜MA13−(N/2)が、増
幅回路24−1〜24−Nに複数の監視トランジスタM
Fiと交互に配置しても良い。
As in the integrated circuit device according to the tenth embodiment of FIG. 18, the output transistor Mi (i = 1-N) and the monitoring transistor MFi (i = 1-N) and the amplifier A1 forming a current mirror are formed. A plurality of diode-connected transistors MA13-1 to MA13- (N / 2) are provided in the amplifier circuits 24-1 to 24-N to monitor the plurality of monitoring transistors M.
It may be arranged alternately with Fi.

【0084】さらに、図19に示す第11の実施形態に
係る集積回路装置のように、2つの監視トランジスタ
が、複数の増幅回路のアレイの両端に配置されること
で、監視トランジスタMF1とMF2と増幅回路内のト
ランジスタM1〜MNとの距離を短くし、マッチングを
良くして、ばらつきを低減することもできる。この時、
図20に示す第12の実施形態様のように増幅器A1の
ダイオード接続されたトランジスタMA13−1、13
−2が、複数の増幅回路126−1〜126−Nのアレ
イの両端に配置しても良い。
Further, as in the integrated circuit device according to the eleventh embodiment shown in FIG. 19, two monitoring transistors are arranged at both ends of an array of a plurality of amplifier circuits, so that the monitoring transistors MF1 and MF2 are connected to each other. Variations can be reduced by shortening the distance from the transistors M1 to MN in the amplifier circuit to improve matching. At this time,
The diode-connected transistors MA13-1, 13 of the amplifier A1 as in the twelfth embodiment shown in FIG.
-2 may be arranged at both ends of the array of the plurality of amplifier circuits 126-1 to 126-N.

【0085】図21は、増幅器A1を差動増幅回路を用
いて構成した第13の実施形態に係る集積回路装置を示
す。これによると、差動増幅回路の負入力をダイオード
接続したトランジスタMB1のドレインに接続すること
により、トランジスタMB1とMB2のドレイン電圧が
等しくなるように制御をかけることができる。これによ
りトランジスタMB1とMB2で構成されるカレントミ
ラーの精度も上げることができる。
FIG. 21 shows an integrated circuit device according to the thirteenth embodiment in which the amplifier A1 is constructed by using a differential amplifier circuit. According to this, by connecting the negative input of the differential amplifier circuit to the drain of the diode-connected transistor MB1, it is possible to control so that the drain voltages of the transistors MB1 and MB2 become equal. As a result, the accuracy of the current mirror formed by the transistors MB1 and MB2 can be improved.

【0086】図22に示す第14の実施形態に係る集積
回路装置は、図21の増幅器A1に差動増幅回路を用い
て構成されている。この差動増幅回路は、入力差動対を
なすトランジスタMA22,MA23と入力差動対に電
流を供給するトランジスタMA21と、トランジスタM
A22の出力電流を入力し、増幅回路128−1〜12
8−NのトランジスタM1〜MNならびに監視トランジ
スタMF1〜MFNと共にカレントミラーを構成するダ
イオード接続されたトランジスタMA24により構成さ
れる。この例では、差動増幅回路の入力電圧が差動増幅
回路の動作範囲に入るよう、ダイオード接続したトラン
ジスタMB3を用いてトランジスタMB1のドレイン電
圧をレベルシフトしている。また、ダイオード接続した
トランジスタMB4は、トランジスタMB2のドレイン
電圧がトランジスタMB1のドレイン電圧と等しくなる
ように挿入したレベルシフト用のトランジスタである。
The integrated circuit device according to the fourteenth embodiment shown in FIG. 22 is configured by using a differential amplifier circuit for the amplifier A1 of FIG. This differential amplifier circuit includes transistors MA22 and MA23 forming an input differential pair, a transistor MA21 supplying a current to the input differential pair, and a transistor M.
The output current of A22 is input, and the amplifier circuits 128-1 to 12-12
8-N transistors M1 to MN and monitoring transistors MF1 to MFN, and a diode-connected transistor MA24 forming a current mirror. In this example, the drain voltage of the transistor MB1 is level-shifted using the diode-connected transistor MB3 so that the input voltage of the differential amplifier circuit falls within the operating range of the differential amplifier circuit. The diode-connected transistor MB4 is a level shift transistor inserted so that the drain voltage of the transistor MB2 becomes equal to the drain voltage of the transistor MB1.

【0087】説明を簡単にするためトランジスタMA2
1のW/LはトランジスタMB1のW/Lの2倍とす
る。よって、トランジスタMA21にはIbiasの2倍の
電流が流れている。また、トランジスタMB3,MB
4,MA22,MA23は同じサイズとする。さらに、
トランジスタMA24とトランジスタM1〜MNのサイ
ズは等しいとする。
To simplify the description, the transistor MA2
The W / L of 1 is twice the W / L of the transistor MB1. Therefore, a current twice as large as I bias flows in the transistor MA21. Also, the transistors MB3 and MB
4, MA22 and MA23 have the same size. further,
It is assumed that the transistor MA24 and the transistors M1 to MN have the same size.

【0088】トランジスタMA23のゲートに印加され
る増幅器Alの正入力電圧は、トランジスタMA22の
ゲートに印加される負入力電圧、つまり、トランジスタ
MB1のドレイン電圧をダイオード接続したトランジス
タMB3によりゲート・ソース間電圧分をレベルシフト
した電圧と比較される。監視トランジスタMF1〜MF
Nに流れる電流の和が、トランジスタMB1とMB2に
よりカレントミラーで折り返されたバイアス電流Ibias
より大きく、正入力電圧が負入力電圧より低い時は、ト
ランジスタMA21から供給される電流の半分以上がト
ランジスタMA23に流れ、トランジスタMA22に流
れる電流はIbiasより小さくなる。トランジスタMA2
2に流れる電流は、ダイオード接続したトランジスタM
A24に入力され、トランジスタMA24のゲート電圧
は小さくなり、監視トランジスタMF1〜MFNに流れ
る電流の和が小さくなり、Ibiasに近付くように動作す
る。また、監視トランジスタMF1〜MFNに流れる電
流の和が、トランジスタMB1とMB2によりカレント
ミラーで折り返されたバイアス電流Ibiasより小さく、
正入力電圧が負入力電圧より高い時は、トランジスタM
A21から供給される電流の半分以下がトランジスタM
A23に流れ、トランジスタMA22に流れる電流はI
biasより大きくなる。トランジスタMA22に流れる電
流は、ダイオード接続したトランジスタMA24に入力
され、トランジスタMA24のゲート電圧は大きくな
り、監視トランジスタMF1〜MFNに流れる電流の和
が大きくなり、Ibiasに近付くように動作する。
The positive input voltage of the amplifier Al applied to the gate of the transistor MA23 is the negative input voltage applied to the gate of the transistor MA22, that is, the gate-source voltage of the transistor MB3 in which the drain voltage of the transistor MB1 is diode-connected. The voltage is compared with the voltage level-shifted. Monitoring transistors MF1 to MF
The sum of the currents flowing through N is the bias current I bias folded by the current mirror by the transistors MB1 and MB2.
When it is larger and the positive input voltage is lower than the negative input voltage, half or more of the current supplied from the transistor MA21 flows to the transistor MA23, and the current flowing to the transistor MA22 becomes smaller than Ibias. Transistor MA2
The current flowing through 2 is the diode-connected transistor M
The gate voltage of the transistor MA24 that is input to A24 decreases, the sum of the currents flowing through the monitoring transistors MF1 to MFN decreases, and the transistors operate to approach Ibias. Further, the sum of the currents flowing through the monitoring transistors MF1 to MFN is smaller than the bias current I bias folded by the current mirror by the transistors MB1 and MB2,
When the positive input voltage is higher than the negative input voltage, the transistor M
Less than half of the current supplied from A21 is transistor M
The current flowing in A23 and flowing in the transistor MA22 is I
Greater than bias . The current flowing in the transistor MA22 is input to the diode-connected transistor MA24, the gate voltage of the transistor MA24 increases, the sum of the currents flowing in the monitoring transistors MF1 to MFN increases, and the transistor MA24 operates so as to approach I bias .

【0089】[0089]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の集積回路
装置では、複数の増幅回路などの電子回路のバイアス回
路を構成するカレントミラー回路において、出力側トラ
ンジスタを各電子回路に設けると共に、入力側トランジ
スタを複数の電子回路に分散して配置するか、あるいは
両側の電子回路に隣接して配置することにより、チップ
間での入力側トランジスタの閾値電圧のばらつきを小さ
くして、チップ間での消費電流や特性の差を小さくする
ことができる。
As described above, in the integrated circuit device of the present invention, in the current mirror circuit which constitutes the bias circuit of the electronic circuit such as a plurality of amplifier circuits, the output side transistor is provided in each electronic circuit and the input circuit is provided. By arranging the side transistors in multiple electronic circuits, or by arranging them adjacent to the electronic circuits on both sides, it is possible to reduce the variation in the threshold voltage of the input side transistors between chips, and The difference in current consumption and characteristics can be reduced.

【0090】また、本発明によれば、このような集積回
路装置を駆動回路に用いて特に電源の設計が容易で、し
かもチップ間の特性差による画質劣化を低減させた液晶
ディスプレイ装置を提供することができる。
Further, according to the present invention, there is provided a liquid crystal display device in which such an integrated circuit device is used for a drive circuit, the design of the power supply is particularly easy, and the image quality deterioration due to the characteristic difference between chips is reduced. be able to.

【0091】更に、複数の監視トランジスタが、各回路
内のバイアス電流を発生する出カトランジスタに隣接し
て配置されることにより、監視トランジスタと各回路内
のバイアス電流を発生するトランジスタのマッチングを
向上することができ、チップ間での消費電流や特性の差
を低減することができる。
Further, by arranging the plurality of monitoring transistors adjacent to the output transistor which generates the bias current in each circuit, the matching between the monitoring transistor and the transistor which generates the bias current in each circuit is improved. Therefore, it is possible to reduce the consumption current and the difference in characteristics between chips.

【0092】更に、本発明による集積回路装置を用いて
液晶ディスプレイ装置の駆動回路における増幅回路群を
構成すると、チップ間での消費電流や特性の差が小さい
ために、特性ばらつきによる画質劣化の少ない液晶ディ
スプレイ装置を実現することができる。
Further, when the amplifier circuit group in the drive circuit of the liquid crystal display device is configured by using the integrated circuit device according to the present invention, the difference in current consumption and characteristics between the chips is small, and therefore the image quality deterioration due to the characteristic variation is small. A liquid crystal display device can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】液晶ディスプレイ装置の構成を示す図FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a liquid crystal display device.

【図2】図1における液晶ディスプレイ駆動回路の構成
を示す図
FIG. 2 is a diagram showing a configuration of a liquid crystal display drive circuit in FIG.

【図3】本発明の第1の実施形態に係る集積回路装置の
構成を示す図
FIG. 3 is a diagram showing a configuration of an integrated circuit device according to a first embodiment of the present invention.

【図4】入力側トランジスタと出力側トランジスタとの
配列パターンを示す図
FIG. 4 is a diagram showing an arrangement pattern of input side transistors and output side transistors.

【図5】図3の集積回路装置のトランジスタ配列パター
ンを示す図
5 is a diagram showing a transistor array pattern of the integrated circuit device of FIG.

【図6】本発明の第2の実施形態に係る集積回路装置の
構成を示す図
FIG. 6 is a diagram showing a configuration of an integrated circuit device according to a second embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第3の実施形態に係る集積回路装置の
構成を示す図
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of an integrated circuit device according to a third embodiment of the present invention.

【図8】同実施形態を説明するためのバイアス回路部分
の基本回路と最終回路を示す図
FIG. 8 is a diagram showing a basic circuit and a final circuit of a bias circuit portion for explaining the embodiment.

【図9】図8の基本回路および最終回路にそれぞれ対応
する基本パターンおよび最終パターンを示す図
9 is a diagram showing a basic pattern and a final pattern corresponding to the basic circuit and the final circuit of FIG. 8, respectively.

【図10】本発明の第4の実施形態に係る集積回路装置
の構成を示す図
FIG. 10 is a diagram showing a configuration of an integrated circuit device according to a fourth embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第5の実施形態に係る集積回路装置
の構成を示す図
FIG. 11 is a diagram showing a configuration of an integrated circuit device according to a fifth embodiment of the present invention.

【図12】本発明が適用される増幅回路の構成例を示す
FIG. 12 is a diagram showing a configuration example of an amplifier circuit to which the present invention is applied.

【図13】本発明が適用される増幅回路の他の構成例を
示す図
FIG. 13 is a diagram showing another configuration example of an amplifier circuit to which the present invention is applied.

【図14】本発明の第6の実施形態に係る集積回路装置
の構成を示す図
FIG. 14 is a diagram showing a configuration of an integrated circuit device according to a sixth embodiment of the present invention.

【図15】本発明の第7の実施形態に係る集積回路装置
の構成を示す図
FIG. 15 is a diagram showing a configuration of an integrated circuit device according to a seventh embodiment of the present invention.

【図16】本発明の第8の実施形態に係る集積回路装置
の構成を示す図
FIG. 16 is a diagram showing a configuration of an integrated circuit device according to an eighth embodiment of the present invention.

【図17】本発明の第9の実施形態に係る集積回路装置
の構成を示す図
FIG. 17 is a diagram showing a configuration of an integrated circuit device according to a ninth embodiment of the present invention.

【図18】本発明の第10の実施形態に係る集積回路装
置の構成を示す図
FIG. 18 is a diagram showing a configuration of an integrated circuit device according to a tenth embodiment of the present invention.

【図19】本発明の第11の実施形態に係る集積回路装
置の構成を示す図
FIG. 19 is a diagram showing a configuration of an integrated circuit device according to an eleventh embodiment of the present invention.

【図20】本発明の第12の実施形態に係る集積回路装
置の構成を示す図
FIG. 20 is a diagram showing a configuration of an integrated circuit device according to a twelfth embodiment of the present invention.

【図21】本発明の第13の実施形態に係る集積回路装
置の構成を示す図
FIG. 21 is a diagram showing a configuration of an integrated circuit device according to a thirteenth embodiment of the present invention.

【図22】本発明の第14の実施形態に係る集積回路装
置の構成を示す図
FIG. 22 is a diagram showing a configuration of an integrated circuit device according to a fourteenth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…液晶ディスプレイ 11…液晶セル 12…液晶ディスプレイ駆動回路 13…走査線選択回路 14…信号線 15…走査線 21…シフトレジスタ 22…記憶素子 23…記憶素子 24…D/A変換器 25…増幅回路群 26…バイアス回路 31〜3N…増幅回路 61〜6N…増幅回路 MR1〜MRN…入力側トランジスタ M1〜MN…出力側トランジスタ Ibias…バイアス電流設定用電流 Vss…電源ライン 10 ... Liquid crystal display 11 ... Liquid crystal cell 12 ... Liquid crystal display drive circuit 13 ... Scan line selection circuit 14 ... Signal line 15 ... Scan line 21 ... Shift register 22 ... Storage element 23 ... Storage element 24 ... D / A converter 25 ... Amplifying circuit group 26 ... Bias circuit 31-3N ... Amplification circuit 61-6N ... Amplifying circuit MR1 to MRN ... Input side transistors M1-MN ... Output side transistor Ibias ... Bias current setting current Vss ... power supply line

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H03F 3/68 H03F 3/68 Z (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G09G 3/36 G02F 1/133 505 G09G 3/20 611 G09G 3/20 623 H03F 3/343 H03F 3/68 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 7 identification code FI H03F 3/68 H03F 3/68 Z (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G09G 3/36 G02F 1 / 133 505 G09G 3/20 611 G09G 3/20 623 H03F 3/343 H03F 3/68

Claims (14)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 複数の増幅回路が同一チップ内に列をな
して集積化された集積回路装置において: 前記複数の増幅回路のL個(Lは、1以上の整数)おき
に設けられたダイオード接続された複数の入力側トラン
ジスタと;前記複数の増幅回路に夫々設けられた複数の
出力側トランジスタとを有し;前記入力側トランジスタ
と前記出力側トランジスタとでカレントミラー回路を構
成し、前記入力側トランジスタは前記増幅回路に供給す
るバイアス電流を設定するための入力電流を受け、前記
出力側トランジスタは前記入力電流に対応した出力電流
を前記増幅回路にバイアス電流として夫々供給すること
を特徴とする集積回路装置。
1. An integrated circuit device in which a plurality of amplifier circuits are integrated in a row in the same chip: A diode provided for every L (L is an integer of 1 or more) of the plurality of amplifier circuits. A plurality of input side transistors connected to each other; and a plurality of output side transistors respectively provided in the plurality of amplifier circuits; a current mirror circuit is formed by the input side transistors and the output side transistors, and the input The side transistor receives an input current for setting a bias current to be supplied to the amplifier circuit, and the output side transistor supplies an output current corresponding to the input current to the amplifier circuit as a bias current, respectively. Integrated circuit device.
【請求項2】 複数の増幅回路が同一チップ内に列をな
して集積化された集積回路装置において: 前記複数の増幅回路におのおの配置された複数のダイオ
ード接続されたトランジスタと;前記複数の増幅回路に
夫々設けられた複数の出力側トランジスタとを有し;前
記複数のダイオード接続されたトランジスタのうち前記
複数の増幅回路のM個(Mは、1以上の整数)おきにP
個(Pは、P≦Mの整数)のみを入力側トランジスタと
して結線して用い前記出力側トランジスタとでカレント
ミラー回路を構成し、前記入力側トランジスタは前記増
幅回路に供給するバイアス電流を設定するための入力電
流を受け前記出力側トランジスタは前記入力電流に対応
した出力電流を前記増幅回路にバイアス電流として夫々
供給することを特徴とする集積回路装置。
2. In an integrated circuit device in which a plurality of amplifier circuits are integrated in a row in the same chip: a plurality of diode-connected transistors arranged in each of the plurality of amplifier circuits; and a plurality of amplifiers. A plurality of output side transistors respectively provided in the circuit; and P for every M (M is an integer of 1 or more) of the plurality of amplifier circuits among the plurality of diode-connected transistors.
Only (P is an integer of P ≦ M) is connected and used as an input side transistor to form a current mirror circuit with the output side transistor, and the input side transistor sets a bias current to be supplied to the amplifier circuit. Receiving an input current for supplying the output current to the amplifier circuit as a bias current, the output side transistor supplies an output current corresponding to the input current to the amplifier circuit.
【請求項3】 複数の増幅回路が同一チップ内に列をな
して集積化された集積回路装置において: 前記複数の増幅回路の列の両端に配置された二つの入力
側トランジスタと;前記複数の増幅回路に夫々設けられ
た複数の出力側トランジスタとを有し;前記入力側トラ
ンジスタと前記出力側トランジスタとでカレントミラー
回路を構成し、前記入力側トランジスタは前記増幅回路
に供給するバイアス電流を設定するための入力電流を受
け、前記出力側トランジスタは前記入力電流に対応した
出力電流を前記増幅回路にバイアス電流として夫々供給
することを特徴とする集積回路装置。
3. An integrated circuit device in which a plurality of amplifier circuits are integrated in a row in the same chip: two input side transistors arranged at both ends of the plurality of amplifier circuits; A plurality of output side transistors respectively provided in the amplifying circuit; the input side transistor and the output side transistor constitute a current mirror circuit, and the input side transistor sets a bias current to be supplied to the amplifying circuit. The integrated circuit device, wherein the output side transistor supplies an output current corresponding to the input current to the amplifier circuit as a bias current, respectively.
【請求項4】 複数の画素と各画素に画像信号を選択的
に与えるための信号線及び該信号線と交差する走査線が
配列形成された液晶ディスプレイと;画像信号を増幅し
て前記信号線に供給する増幅回路群を含んで構成され、
前記信号線を駆動する駆動回路と;前記走査線を選択す
る選択回路とを有する液晶ディスプレイ装置において: 前記増幅回路群は、所定の複数の増幅回路が同一駆動回
路チップ内に列をなして集積化されており; 前記駆動回路チップは、前記増幅回路のL個(Lは、1
以上の整数)おきに設けられたダイオード接続された複
数の入力側トランジスタと;前記増幅回路に夫々設けら
れた複数の出力側トランジスタとを有し;前記入力側ト
ランジスタと前記出力側トランジスタとでカレントミラ
ー回路を構成し、前記入力側トランジスタは前記増幅回
路に供給するバイアス電流を設定するための入力電流を
受け、前記出力側トランジスタは前記入力電流に対応し
た出力電流を前記増幅回路にバイアス電流として夫々供
給することを特徴とする液晶ディスプレイ装置。
4. A liquid crystal display in which a plurality of pixels, a signal line for selectively applying an image signal to each pixel, and a scanning line intersecting with the signal line are formed; and the signal line is amplified to amplify the image signal. Is configured to include an amplifier circuit group that supplies
In a liquid crystal display device having a drive circuit for driving the signal line; and a selection circuit for selecting the scanning line: In the amplification circuit group, a plurality of predetermined amplification circuits are integrated in a row in the same drive circuit chip. The drive circuit chips are L (where L is 1) of the amplifier circuit.
A plurality of diode-connected input-side transistors that are provided every other integer; and a plurality of output-side transistors that are respectively provided in the amplifier circuit; currents in the input-side transistor and the output-side transistor A mirror circuit is configured, the input side transistor receives an input current for setting a bias current supplied to the amplification circuit, and the output side transistor uses an output current corresponding to the input current as a bias current to the amplification circuit. A liquid crystal display device characterized by being supplied respectively.
【請求項5】 複数の画素と各画素に画像信号を選択的
に与えるための信号線及び該信号線と交差する走査線が
配列形成された液晶ディスプレイと;画像信号を増幅し
て前記信号線に供給する増幅回路群を含んで構成され、
前記信号線を駆動する駆動回路と;前記走査線を選択す
る選択回路とを有する液晶ディスプレイ装置において: 前記増幅回路群は、所定の複数の増幅回路が同一駆動回
路チップ内に列をなして集積化されており; 前記駆動回路チップは、前記複数の増幅回路の列の両端
に配置された二つの入力側トランジスタと;前記複数の
増幅回路に夫々設けられた複数の出力側トランジスタと
を有し;前記入力側トランジスタと前記出力側トランジ
スタとでカレントミラー回路を構成し、前記入力側トラ
ンジスタは前記増幅回路に供給するバイアス電流を設定
するための入力電流を受け前記出力側トランジスタは前
記入力電流に対応した出力電流を前記増幅回路にバイア
ス電流として夫々供給することを特徴とする液晶ディス
プレイ装置。
5. A liquid crystal display in which a plurality of pixels, a signal line for selectively applying an image signal to each pixel, and a scanning line intersecting with the signal line are formed; and the signal line is amplified to amplify the image signal. Is configured to include an amplifier circuit group that supplies
In a liquid crystal display device having a drive circuit for driving the signal line; and a selection circuit for selecting the scanning line: In the amplification circuit group, a plurality of predetermined amplification circuits are integrated in a row in the same drive circuit chip. The drive circuit chip has two input-side transistors arranged at both ends of the row of the plurality of amplifier circuits; and a plurality of output-side transistors provided in each of the plurality of amplifier circuits. A current mirror circuit is configured by the input side transistor and the output side transistor, the input side transistor receives an input current for setting a bias current to be supplied to the amplification circuit, and the output side transistor receives the input current. A liquid crystal display device, wherein a corresponding output current is supplied to the amplifier circuit as a bias current, respectively.
【請求項6】 1チップ内にアレイ状に集積化された複
数の増幅回路と; 前記複数の増幅回路にそれぞれ設けられ、バイアス電流
を設定するための設定電圧を受けて出力電流を前記増幅
回路にバイアス電流として供給する複数の出カ側トラン
ジスタと; 前記複数の増幅回路のL個(Lは、1以上の整数)おき
に前記増幅回路内に分散して配置され、前記設定電圧を
受けて監視電流を出力する複数の監視トランジスタと; 前記監視電流と設定入力電流との差に応じた電圧を増幅
して前記設定電圧を出力する増幅器とにより構成される
集積回路装置。
6. A plurality of amplifying circuits integrated in one chip in an array form; each amplifying circuit provided in each of the plurality of amplifying circuits receives a set voltage for setting a bias current, and outputs an output current from the amplifying circuit. A plurality of output-side transistors that are supplied as bias currents to each of the plurality of L-side amplifiers (L is an integer of 1 or more) distributed in the amplifier circuits and receiving the set voltage. An integrated circuit device comprising: a plurality of monitoring transistors that output a monitoring current; and an amplifier that amplifies a voltage according to a difference between the monitoring current and a set input current and outputs the set voltage.
【請求項7】 前記増幅器は、ソースフォロア或は、エ
ミッタフォロアにて構成される請求項6記載の集積回路
装置。
7. The integrated circuit device according to claim 6, wherein the amplifier comprises a source follower or an emitter follower.
【請求項8】 1チップ内にアレイ状に集積化された複
数の増幅回路と; 前記複数の増幅回路にそれぞれ設けられ、バイアス電流
を設定するための設定電圧を受けて出力電流を前記増幅
回路にバイアス電流として供給する複数の出カ側トラン
ジスタと; 前記複数の増幅回路内に分散して配置され、前記設定電
圧を受けて監視電流を出力する複数の監視トランジスタ
と; 前記監視電流と設定入力電流との差に応じた電圧を増幅
して前記設定電圧を出力する増幅器とを備え; 前記増幅器は、前記複数の出カ側トランジスタとともに
カレントミラーを構成し、並列に接続される複数のダイ
オード接続トランジスタを有する出力段を含み、前記複
数のダイオード接続トランジスタは前記複数の増幅回路
のM個(Mは、1以上の整数)おきに前記増幅回路内に
分散して配置されることを特徴とする集積回路装置。
8. A plurality of amplifier circuits integrated in one chip in an array form; each amplifier circuit provided with each of the plurality of amplifier circuits, receiving a set voltage for setting a bias current, and outputting an output current to the amplifier circuit. A plurality of output-side transistors that are supplied as bias currents to the plurality of monitoring transistors; a plurality of monitoring transistors that are distributed in the plurality of amplifier circuits and that output a monitoring current upon receiving the set voltage; An amplifier that amplifies a voltage according to a difference with a current and outputs the set voltage; the amplifier constitutes a current mirror together with the plurality of output side transistors, and a plurality of diode connections connected in parallel An output stage having a transistor, wherein the plurality of diode-connected transistors are provided in each of the plurality of amplifying circuits every M number (M is an integer of 1 or more) of the amplification circuit. Integrated circuit apparatus characterized by being arranged in a dispersed within.
【請求項9】 1チップ内にアレイ状に集積化された複
数の増幅回路と; 前記複数の増幅回路にそれぞれ設けられ、バイアス電流
を設定するための設定電圧を受けて出力電流を前記増幅
回路にバイアス電流として供給する複数の出カ側トラン
ジスタと; 前記複数の増幅回路のアレイの両端に配置され、前記設
定電圧を受けて監視電流を出力する2つの監視トランジ
スタと; 前記監視電流と設定入力電流との差に応じた電圧を増幅
して前記設定電圧を出力する増幅器とにより構成される
集積回路装置。
9. A plurality of amplifying circuits integrated in one chip in an array form; each amplifying circuit provided in each of the plurality of amplifying circuits receives a set voltage for setting a bias current, and outputs an output current from the amplifying circuit. A plurality of output-side transistors that are supplied as bias currents to the two; two monitoring transistors that are arranged at both ends of the array of the plurality of amplifier circuits and that output a monitoring current upon receiving the set voltage; An integrated circuit device comprising: an amplifier that amplifies a voltage according to a difference from a current and outputs the set voltage.
【請求項10】 1チップ内にアレイ状に集積化された
複数の増幅回路と; 前記複数の増幅回路にそれぞれ設けられ、バイアス電流
を設定するための設定電圧を受けて出力電流を前記増幅
回路にバイアス電流として供給する複数の出カ側トラン
ジスタと; 前記複数の増幅回路内に分散して配置され、前記設定電
圧を受けて監視電流を出力する複数の監視トランジスタ
と; 前記監視電流と設定入力電流との差に応じた電圧を増幅
して前記設定電圧を出力する増幅器とを備え; 前記増幅器は、前記複数の出カ側トランジスタとともに
カレントミラーを構成し、並列に接続される複数のダイ
オード接続トランジスタを有する出力段を含み、前記複
数のダイオード接続トランジスタは前記複数の増幅回路
のアレイの両端に配置されることを特徴とする集積回路
装置。
10. A plurality of amplifying circuits integrated in one chip in an array form; each amplifying circuit provided in each of the plurality of amplifying circuits, receiving a set voltage for setting a bias current, and outputting the output current to the amplifier circuit. A plurality of output-side transistors that are supplied as bias currents to the plurality of monitoring transistors; a plurality of monitoring transistors that are distributed in the plurality of amplifier circuits and that output a monitoring current upon receiving the set voltage; An amplifier that amplifies a voltage according to a difference with a current and outputs the set voltage; the amplifier constitutes a current mirror together with the plurality of output side transistors, and a plurality of diode connections connected in parallel An output stage having a transistor, the plurality of diode-connected transistors being arranged at opposite ends of the array of amplifier circuits. Integrated circuit device.
【請求項11】 複数の画素と各画素に画像信号を選択
的に与えるための信号線及び該信号線と交差する走査線
が配列形成された液晶ディスプレイと;画像信号を増幅
して前記信号線に供給する増幅回路群を含んで構成さ
れ、前記信号線を駆動する駆動回路と;前記走査線を選
択する選択回路とを有する液晶ディスプレイ装置におい
て: 前記増幅回路群は、同一駆動回路チップ内にアレイ状に
集積化された複数の増幅回路を含み; 前記駆動回路チップは、前記複数の増幅回路にそれぞれ
設けられ、バイアス電流を設定するための設定電圧を受
けて出力電流を前記増幅回路にバイアス電流として供給
する複数の出カ側トランジスタと;前記複数の増幅回路
のL個(Lは、1以上の整数)おきに前記増幅回路内に
分散して配置され、前記設定電圧を受けて監視電流を出
力する複数の監視トランジスタと;前記監視電流と設定
入力電流との差に応じた電圧を増幅して前記設定電圧を
出力する増幅器とにより構成されることを特徴とする液
晶ディスプレイ装置。
11. A liquid crystal display in which a plurality of pixels, a signal line for selectively applying an image signal to each pixel, and a scanning line intersecting with the signal line are formed; and the signal line is amplified to amplify the image signal. In a liquid crystal display device including a drive circuit for driving the signal line, the drive circuit configured to include an amplifier circuit group for supplying to the signal line; and a selection circuit for selecting the scanning line: A plurality of amplifier circuits integrated in an array; the drive circuit chips are respectively provided in the plurality of amplifier circuits, receive a set voltage for setting a bias current, and bias an output current to the amplifier circuit. A plurality of output side transistors which are supplied as currents; L number of the plurality of amplification circuits (L is an integer of 1 or more) are distributed and arranged in the amplification circuit, and the set voltage is set. A liquid crystal display comprising: a plurality of monitoring transistors that receive and output a monitoring current; and an amplifier that amplifies a voltage according to a difference between the monitoring current and a set input current and outputs the set voltage. apparatus.
【請求項12】 複数の画素と各画素に画像信号を選択
的に与えるための信号線及び該信号線と交差する走査線
が配列形成された液晶ディスプレイと;画像信号を増幅
して前記信号線に供給する増幅回路群を含んで構成さ
れ、前記信号線を駆動する駆動回路と;前記走査線を選
択する選択回路とを有する液晶ディスプレイ装置におい
て: 前記増幅回路群は、同一駆動回路チップ内にアレイ状に
集積化された複数の増幅回路を含み; 前記駆動回路チップは、前記複数の増幅回路にそれぞれ
設けられ、バイアス電流を設定するための設定電圧を受
けて出力電流を前記増幅回路にバイアス電流として供給
する複数の出カ側トランジスタと;前記複数の増幅回路
内に分散して配置され、前記設定電圧を受けて監視電流
を出力する複数の監視トランジスタと;前記監視電流と
設定入力電流との差に応じた電圧を増幅して前記設定電
圧を出力する増幅器とを備え; 前記増幅器は、前記複数の出カ側トランジスタとともに
カレントミラーを構成し、並列に接続される複数のダイ
オード接続トランジスタを有する出力段を含み、前記複
数のダイオード接続トランジスタは前記複数の増幅回路
のM個(Mは、1以上の整数)おきに前記増幅回路内に
分散して配置されることを特徴とする液晶ディスプレイ
装置。
12. A liquid crystal display in which a plurality of pixels, a signal line for selectively applying an image signal to each pixel, and a scanning line intersecting with the signal line are formed; and the signal line is amplified to amplify the image signal. In a liquid crystal display device including a drive circuit for driving the signal line, the drive circuit configured to include an amplifier circuit group for supplying to the signal line; and a selection circuit for selecting the scanning line: A plurality of amplifier circuits integrated in an array; the drive circuit chips are respectively provided in the plurality of amplifier circuits, receive a set voltage for setting a bias current, and bias an output current to the amplifier circuit. A plurality of output side transistors which are supplied as current; a plurality of monitoring transistors which are dispersedly arranged in the plurality of amplifier circuits and which receive the set voltage and output a monitoring current And; an amplifier that amplifies a voltage corresponding to the difference between the monitoring current and the set input current to output the set voltage; the amplifier constitutes a current mirror together with the plurality of output side transistors, and the parallel An output stage having a plurality of diode-connected transistors connected to each other, wherein the plurality of diode-connected transistors are distributed in the amplifier circuit every M (M is an integer of 1 or more) of the plurality of amplifier circuits. A liquid crystal display device characterized by being arranged.
【請求項13】 複数の画素と各画素に画像信号を選択
的に与えるための信号線及び該信号線と交差する走査線
が配列形成された液晶ディスプレイと;画像信号を増幅
して前記信号線に供給する増幅回路群を含んで構成さ
れ、前記信号線を駆動する駆動回路と;前記走査線を選
択する選択回路とを有する液晶ディスプレイ装置におい
て: 前記増幅回路群は、同一駆動回路チップ内にアレイ状に
集積化された複数の増幅回路を含み; 前記駆動回路チップは、前記複数の増幅回路にそれぞれ
設けられ、バイアス電流を設定するための設定電圧を受
けて出力電流を前記増幅回路にバイアス電流として供給
する複数の出カ側トランジスタと;前記複数の増幅回路
のアレイの両端に配置され、前記設定電圧を受けて監視
電流を出力する2つの監視トランジスタと;前記監視電
流と設定入力電流との差に応じた電圧を増幅して前記設
定電圧を出力する増幅器とにより構成される液晶ディス
プレイ装置。
13. A liquid crystal display in which a plurality of pixels, a signal line for selectively applying an image signal to each pixel, and a scanning line intersecting with the signal line are formed, and the signal line is amplified to amplify the image signal. In a liquid crystal display device including a drive circuit for driving the signal line, the drive circuit configured to include an amplifier circuit group for supplying to the signal line; and a selection circuit for selecting the scanning line: A plurality of amplifier circuits integrated in an array; the drive circuit chips are respectively provided in the plurality of amplifier circuits, receive a set voltage for setting a bias current, and bias an output current to the amplifier circuit. A plurality of output side transistors which are supplied as currents; two monitor transistors which are arranged at both ends of the array of the plurality of amplifier circuits and which receive the set voltage and output a monitor current. Star and; the liquid crystal display device constructed by amplifying a voltage corresponding to the difference between the monitored current and setting the input current by an amplifier for outputting the setting voltage.
【請求項14】複数の画素と各画素に画像信号を選択的
に与えるための信号線及び該信号線と交差する走査線が
配列形成された液晶ディスプレイと;画像信号を増幅し
て前記信号線に供給する増幅回路群を含んで構成され、
前記信号線を駆動する駆動回路と;前記走査線を選択す
る選択回路とを有する液晶ディスプレイ装置において: 前記増幅回路群は、同一駆動回路チップ内にアレイ状に
集積化された複数の増幅回路を含み; 前記駆動回路チップは、前記複数の増幅回路にそれぞれ
設けられ、バイアス電流を設定するための設定電圧を受
けて出力電流を前記増幅回路にバイアス電流として供給
する複数の出カ側トランジスタと;前記複数の増幅回路
内に分散して配置され、前記設定電圧を受けて監視電流
を出力する複数の監視トランジスタと;前記監視電流と
設定入力電流との差に応じた電圧を増幅して前記設定電
圧を出力する増幅器とを備え; 前記増幅器は、前記複数の出カ側トランジスタとともに
カレントミラーを構成し、並列に接続される複数のダイ
オード接続トランジスタを有する出力段を含み、前記複
数のダイオード接続トランジスタは前記複数の増幅回路
のアレイの両端に配置されることを特徴とする液晶ディ
スプレイ装置。
14. A liquid crystal display in which a plurality of pixels, a signal line for selectively applying an image signal to each pixel, and a scanning line intersecting with the signal line are formed; and the signal line is amplified to amplify the image signal. Is configured to include an amplifier circuit group that supplies
In a liquid crystal display device having a drive circuit that drives the signal lines; and a selection circuit that selects the scanning lines: the amplifier circuit group includes a plurality of amplifier circuits integrated in an array in the same drive circuit chip. The drive circuit chip is provided in each of the plurality of amplifier circuits, receives a set voltage for setting a bias current, and supplies an output current to the amplifier circuit as a bias current, and a plurality of output side transistors; A plurality of monitoring transistors which are dispersedly arranged in the plurality of amplifier circuits and which output a monitoring current upon receiving the set voltage; and amplifying a voltage according to a difference between the monitoring current and a set input current to set the setting. An amplifier that outputs a voltage; the amplifier constitutes a current mirror together with the plurality of output side transistors, and a plurality of diodes connected in parallel. Includes an output stage having a de-connected transistors, the plurality of diode-connected transistor liquid crystal display apparatus characterized by being arranged at both ends of the array of the plurality of amplifier circuits.
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