JP3346595B2 - 光ファイバの波長分散測定方法 - Google Patents
光ファイバの波長分散測定方法Info
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Description
測定方法に関するものである。
や光ファイバを利用した全光スイッチング回路等を設計
する際の最も重要なパラメータの1つである。波長分散
D[ps/nm/km]は、中心波長λ[nm]の光パルスが被測
定光ファイバ内で生ずる相対群遅延時間td(λ)[ps]
を測定し、 D=1/L・dtd (λ)/dλ で求められる。ここで、L[km]は被測定光ファイバの
条長である。
測定波長範囲をカバーする十分な広さのスペクトルを持
つことが必要である。従来、数mの短尺光ファイバの測
定では、光源として可干渉長の十分短いハロゲンランプ
等のCW白色光源を用い、マッハ・ツェンダあるいはマ
イケルソンの干渉計を構成し、参照光と被測定光ファイ
バによる分散の影響を受けた光との干渉のコントラスト
が最大になるときの2つの干渉腕の光路差から相対群遅
延時間td (λ)を求めて波長分散Dを算出した。一
方、長尺の光ファイバの測定では短パルス光や強度変調
された光信号が被測定光ファイバによって受けた群遅延
量の波長依存性から波長分散Dを算出した。この場合は
異なる波長のパルス光源を複数用いるか、ファブリ・ペ
ローレーザ等のマルチ縦モードレーザの利得スイッチパ
ルス光が利用される。従って、波長−遅延時間特性は離
散的に得られるため、セルマイヤーの分散公式を仮定し
て内挿したtd (λ)から波長分散特性を算出した。
イバの分散測定には、従来、空間コヒーレンスの悪い低
パワーな白色光源を用いたため、被測定光ファイバに高
いパワーでの結合は無理であり、このことは干渉の検出
感度を劣化させた。また、上記長尺ファイバの分散測定
では、上述したように離散的な波長−遅延時間特性から
内挿公式によって分散特性を求めるため誤差を誘引し易
く、特に分散フラットファイバ等の特殊な分散特性を有
する光ファイバへの適用は無理であった。
続した広い波長範囲にわたって短パルス光群を出力す
る、いわゆる白色パルス光源が必要とされていた。
わたって短パルス光群を出力する白色パルス光源を用い
て光ファイバの波長分散を測定し得る方法を提供するこ
とにある。
め、請求項1では、白色パルス光源の出力光を2分岐
し、その一方を時間遅延の参照光とし、もう一方を条長
Lの被測定光ファイバに入射し、上記参照光に含まれる
中心波長λのパルス成分が遅延時間検出手段によって観
測される観測時間tin(λ)に対する、上記被測定光フ
ァイバの出力光に含まれる中心波長λのパルス成分が遅
延時間検出手段によって観測される観測時間tout
(λ)の相対時間差td (λ)=tout (λ)−tin
(λ)を上記波長λの関数として測定し、D=1/L・
dtd (λ)/dλから波長分散Dを求める光ファイバ
の波長分散測定方法において、上記白色パルス光源が、
少なくとも1組の励起用短パルス光源と励起用光ファイ
バとから構成され、上記白色パルス光源の出力光を中心
波長λの可変波長バンドパスフィルタによって分光する
ステップと、上記被測定光ファイバの出力光が遅延時間
検出手段によって観測される観測時間tout (λ)を求
め、上記参照光が遅延時間検出手段によって観測される
観測時間tin(λ)を求めるステップと、上記可変波長
バンドパスフィルタの中心波長λを変化させて上記観測
時間tin(λ)及びtout (λ)を測定し、上記相対時
間差td (λ)を求めるステップとを有することを特徴
とする。また請求項2では、少なくとも1組の励起用短
パルス光源と励起用光ファイバとから構成される白色パ
ルス光源の出力光において、励起用短パルスを励起用光
ファイバに入射した際に該励起用光ファイバから出力さ
れる出力光のうち、ある中心波長λ1 のパルス成分の観
測時間tin(λ1 )に対する、任意の中心波長λのパル
ス成分の観測時間tin(λ)の相対時間差Δtin(λ)
=tin(λ)−tin(λ1 )を波長の関数として前もっ
て測定した上で、上記励起用光ファイバから出力される
出力光を条長Lの被測定光ファイバの一端に入射し、そ
の他端からの出力光に含まれる、ある中心波長λ2 のパ
ルス成分の観測時間tout (λ2 )に対する、任意の中
心波長λのパルス成分の観測時間tout (λ)の相対時
間差Δtout (λ)=tout (λ)−tout (λ2 )を
波長の関数として測定し、D=1/L・d(Δtout
(λ)−Δtin(λ))/dλから波長分散Dを求める
ことを特徴とする。
生で利用した、高ピークパワー短パルス光が誘起する誘
導ラマン散乱及び変調不安定による利得スペクトルを図
6に示す。1-1 は誘導ラマン散乱による利得スペクト
ル、1-2 は変調不安定による利得スペクトルをあらわ
す。誘導ラマン散乱による利得スペクトルは励起光の中
心周波数に対し低周波側にのみ現れるが、変調不安定の
利得スペクトルは励起光の中心周波数に関し対称に広が
る。白色パルス光の実際の発生例を図7、図8に示す。
2-1 は励起短パルス光(ピークパワー105 W、半値全幅
4.5ps 、中心波長λ0 =1.3139μm)のスペクトル、2-
2 はこれを励起用光ファイバ(単一モード、零分散波長
λZD=1.309μm、条長450 m)に通した出力スペクトル
である。図8は被測定光の波長成分の時間的推移を表す
時間分解分光像で被測定光ファイバ通過後の像も記載し
た。3-1 、3-2 は各々2-1 、2-2 に対応する像である。
3-3 は被測定光ファイバ(零分散波長λZD=1.309 μ
m、条長450 m)通過後の像で、入射前の像3-2 と比べ
明かに被測定光ファイバによる群遅延の影響が観測され
る。スペクトル広がりが入射前と比べ広がっているのは
光源からの残留励起光パルスの影響であると思われる。
この例では、変調不安定利得を積極的に利用するため、
励起用短パルス光の中心波長と励起用光ファイバの零分
散波長を接近させた。このため、励起光波長の両側1.25
5 〜1.350 μmにわたって半値全幅数psのパルスが発生
可能になった。誘導ラマン利得を積極的に利用するため
には励起用短パルス光の中心波長と励起用光ファイバの
零分散波長を離し、変調不安定利得の効果を抑えればよ
い。この場合の発生例はM.N.Islam, G.Sucha, I.Bar-Jo
seph, M.Wegener, J.P.Gordon, and D.S.Chemla, "Broa
d bandwidths from frequency-shifting solitons in f
ibers, "Optics Letters. 14巻,7号,370〜372頁,19
89 年に記載されている。この観測例によれば、波長の
連続したサブピコ秒の半値全幅をもつ短パルス光が長波
長方向に数100 nmにわたって得られる。このように、
出力光の波長範囲は励起光波長と励起用ファイバの分散
の選定によって可変となる。
以下に述べる。図1は、マッハ・ツェンダ干渉計型の構
成を用いた第1の実施例である。この図で、4-1 は広波
長範囲の白色パルス光源、4-2 は可変波長バンドパスフ
ィルタ、4-3 は可変波長バンドパスフィルタ4-2 の出力
を被測定ファイバへの入射パルス光と参照パルス光に分
岐する光分岐器、4-4 は被測定ファイバ、4-5 は光結合
器、4-6 はストリークカメラ等の遅延時間検出手段であ
る。この構成は、数mの短尺ファイバの分散を測定する
干渉法や、または長尺ファイバの近端測定の場合に適し
ている。白色パルス光源4-1 の構成例を図2に示す。5-
1 は励起用短パルス光源、5-2 は励起用光ファイバ、5-
3 は励起光を除去するための帯域除去フィルタである。
上記帯域除去フィルタ5-3 を備えることによって、残留
励起光パルスが被測定光ファイバに侵入することを防げ
るため、被測定光ファイバ内で生じるスペクトル広がり
を含む不要な非線形効果を抑えることが可能となる。こ
の動作を図3の時間分解分光像を用いて説明する。6-1
は白色パルス光の被測定光ファイバ入射直前の像、6-2
はその被測定光ファイバ出射直後の像、6-3 は参照パル
ス光、6-4 は被測定ファイバ4-4 を通過後のパルス光で
ある。白色パルス光から可変波長バンドパスフィルタ4-
2 によって切り出された短パルス光6-3 、6-4 の観測時
間tin(λ)、tout (λ)を中心波長λの関数として
測定する。白色パルス光源のスペクトル連続性から、求
めるtd (λ)=tout (λ)−tin(λ)は任意の波
長間隔で測定できるため、波長分散 D=1/L・dtd (λ)/dλ を高い精度で測定できる。
ルス成分の波長−相対遅延時間依存性Δtin(λ)をあ
らかじめ測定した上で、被測定光ファイバの出力光の波
長成分間の相対遅延時間Δtout (λ)を測定し、相対
遅延時間td (λ)=Δtout (λ)−Δtin(λ)を
求める方法である。この構成図を図4に示す。7-1 は白
色パルス光源、7-2 は被測定光ファイバ、7-3 光分岐
器、7-4 は通過バンドの中心波長がλ2 の光バンドパス
フィルタ、7-5 は可変波長光バンドパスフィルタ、7-6
は光結合器、7-7 は遅延時間検出手段である。この動作
を図5の時間分解分光像を用いて説明する。8-1 は白色
パルス光源の出力光の被測定光ファイバ7-2 への入射直
前の像、8-2 は被測定光ファイバ出射直後の像、8-3 、
8-4 は被測定光ファイバ7-2 への入射光に含まれる中心
波長λ1 、λのパルス成分の像、8-5 、8-6 は被測定光
ファイバ7-2 の出力光に含まれる中心波長λ2 、λのパ
ルス成分の像である。この実施例では、λ1 を固定し
て、像8-3 、8-4 から被測定ファイバ7-2 の入力光成分
間の相対遅延時間Δtin(λ)=tin(λ)−tin(λ
1 )をあらかじめ求めておき、λ2 を固定して、像8-5
、8-6 から被測定ファイバ7-2 の出力光成分間の相対
遅延時間Δtout (λ)=tout (λ)−tout (λ2
)を測定する。求めるtd (λ)はtd (λ)=Δto
ut (λ)−Δtin(λ)で与えられる。td (λ)は
λ1 、λ2 の違いにより、tin(λ1 )−tout (λ2
)の不定性を生ずるが、これはDを求める波長微分に
よって消失する。本実施例では、Δtin(λ)を一度測
定しておけば、Δtout (λ)の毎測定時に測定する必
要はない。従って、第2の実施例は、被測定ファイバに
対する温度変化等の外部擾乱に強く、敷設された光ファ
イバの遠端測定にも適用可能な方法である。
ァイバ分散測定用に、高ピークパワーの短パルス光に励
起されて光ファイバ中で発生する白色パルス光を利用し
た。これによって、簡単な構成で数100 nmの波長範囲
にわたって連続的な中心波長をもったピコ秒からフェム
ト秒級の短パルス群からなる白色パルス光の発生が可能
となる。出力光波長範囲は励起光波長と励起用ファイバ
の分散の選定によって変えることができる。この稠密な
スペクトルを持つ白色パルス光源を用いれば、任意の波
長に対する群遅延時間を測定できるため、分散式の仮定
なしに光ファイバ分散が測定できる。更に、この白色パ
ルス光は光ファイバ中で発生するため、高い効率で被測
定ファイバに結合し、高感度の分散測定が可能となる。
ペクトルを示す図
を示した図
像)を示す図
調不安定による利得スペクトル、2-1 …励起短パルス光
のスペクトル、2-2 …励起用光ファイバの出力スペクト
ル、3-1 …短パルス励起光の時間分解分光像、3-2 …励
起用光ファイバの出力光の時間分解分光像、3-3 …被測
定光ファイバの出力光の時間分解分光像、4-1 …白色パ
ルス光源、4-2 …可変波長バンドパスフィルタ、4-3 …
光分岐器、4-4 …被測定ファイバ、4-5 …光結合器、4-
6 …遅延時間検出手段、5-1 …励起用短パルス光源、5-
2 …励起用光ファイバ、5-3 …帯域除去フィルタ、6-1
…白色パルス光の被測定光ファイバ入射直前の像、6-2
…被測定光ファイバ出射直後の像、6-3 …参照パルス光
の像、6-4 …参照パルス光6-3 が被測定ファイバを通過
後の像、7-1 …白色パルス光源、7-2 …被測定ファイ
バ、7-3 …光分岐器、7-4 …通過バンドの中心波長がλ
2 の光バンドパスフィルタ、7-5 …可変波長光バンドパ
スフィルタ、7-6 …光結合器、7-7 …遅延時間検出手
段、8-1 …白色パルス光の被測定光ファイバへの入射直
前の像、8-2 …被測定光ファイバ出射直後の像、8-3 …
被測定光ファイバへの入射光に含まれる中心波長λ1 の
パルス成分の像、8-4 …被測定光ファイバへの入射光に
含まれる中心波長λのパルス成分の像、8-5 …被測定光
ファイバの出力光に含まれる中心波長λ2 のパルス成分
の像、8-6 …被測定光ファイバの出力光に含まれる中心
波長λのパルス成分の像。
Claims (2)
- 【請求項1】 白色パルス光源の出力光を2分岐し、そ
の一方を時間遅延の参照光とし、もう一方を条長Lの被
測定光ファイバに入射し、上記参照光に含まれる中心波
長λのパルス成分が遅延時間検出手段によって観測され
る観測時間tin(λ)に対する、上記被測定光ファイバ
の出力光に含まれる中心波長λのパルス成分が遅延時間
検出手段によって観測される観測時間tout (λ)の相
対時間差td (λ)=tout (λ)−tin(λ)を上記
波長λの関数として測定し、 D=1/L・dtd (λ)/dλ から波長分散Dを求める光ファイバの波長分散測定方法
において、 上記白色パルス光源が、少なくとも1組の励起用短パル
ス光源と励起用光ファイバとから構成され、 上記白色パルス光源の出力光を中心波長λの可変波長バ
ンドパスフィルタによって分光するステップと、 上記被測定光ファイバの出力光が遅延時間検出手段によ
って観測される観測時間tout (λ)を求め、上記参照
光が遅延時間検出手段によって観測される観測時間tin
(λ)を求めるステップと、 上記可変波長バンドパスフィルタの中心波長λを変化さ
せて上記観測時間tin(λ)及びtout (λ)を測定
し、上記相対時間差td (λ)を求めるステップとを有
することを特徴とする光ファイバの波長分散測定方法。 - 【請求項2】 少なくとも1組の励起用短パルス光源と
励起用光ファイバとから構成される白色パルス光源の出
力光において、励起用短パルスを励起用光ファイバに入
射した際に該励起用光ファイバから出力される出力光の
うち、ある中心波長λ1 のパルス成分の観測時間tin
(λ1 )に対する、任意の中心波長λのパルス成分の観
測時間tin(λ)の相対時間差Δtin(λ)=tin
(λ)−tin(λ1 )を波長の関数として前もって測定
した上で、上記励起用光ファイバから出力される出力光
を条長Lの被測定光ファイバの一端に入射し、その他端
からの出力光に含まれる、ある中心波長λ2 のパルス成
分の観測時間tout (λ2 )に対する、任意の中心波長
λのパルス成分の観測時間tout (λ)の相対時間差Δ
tout (λ)=tout (λ)−tout (λ2 )を波長の
関数として測定し、 D=1/L・d(Δtout (λ)−Δtin(λ))/dλ から波長分散Dを求めることを特徴とする光ファイバの
波長分散測定方法。
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JP32796692A JP3346595B2 (ja) | 1992-12-08 | 1992-12-08 | 光ファイバの波長分散測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP32796692A JP3346595B2 (ja) | 1992-12-08 | 1992-12-08 | 光ファイバの波長分散測定方法 |
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Publication Number | Publication Date |
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JPH06174592A JPH06174592A (ja) | 1994-06-24 |
JP3346595B2 true JP3346595B2 (ja) | 2002-11-18 |
Family
ID=18205002
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32796692A Expired - Lifetime JP3346595B2 (ja) | 1992-12-08 | 1992-12-08 | 光ファイバの波長分散測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP3631025B2 (ja) | 1998-12-24 | 2005-03-23 | アンリツ株式会社 | 波長分散測定装置及び偏波分散測定装置 |
JP2002250679A (ja) * | 2001-02-23 | 2002-09-06 | Toshio Goto | 波長分散測定装置 |
JP4853255B2 (ja) * | 2006-11-27 | 2012-01-11 | 横河電機株式会社 | ガス分析装置 |
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-
1992
- 1992-12-08 JP JP32796692A patent/JP3346595B2/ja not_active Expired - Lifetime
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