JP3332906B2 - Method of manufacturing image forming apparatus - Google Patents

Method of manufacturing image forming apparatus

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JP3332906B2 JP2000191584A JP2000191584A JP3332906B2 JP 3332906 B2 JP3332906 B2 JP 3332906B2 JP 2000191584 A JP2000191584 A JP 2000191584A JP 2000191584 A JP2000191584 A JP 2000191584A JP 3332906 B2 JP3332906 B2 JP 3332906B2
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  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、画像形成装置の製
造方法、画像形成装置の製造装置および前記製造方法に
よって製造される画像形成装置に関する。
The present invention relates to a method for manufacturing an image forming apparatus, an apparatus for manufacturing an image forming apparatus, and an image forming apparatus manufactured by the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、電子放出素子としては大別し
て熱電子放出素子と冷陰極電子放出素子を用いた2種類
のものが知られている。冷陰極電子放出素子には電界放
出型(以下、FE型という)、金属/絶縁層/金属型
(以下、MIM型という)や表面伝導型電子放出素子等
がある。
2. Description of the Related Art Conventionally, two types of electron-emitting devices using a thermionic electron-emitting device and a cold-cathode electron-emitting device have been known. The cold cathode electron-emitting device includes a field emission type (hereinafter, referred to as an FE type), a metal / insulating layer / metal type (hereinafter, referred to as an MIM type), a surface conduction electron-emitting device, and the like.

【0003】FE型の例としては W.P.Dyke
& W.W.Dolan,”Field Emissi
on”,Advance in Electron P
hysics,8,89(1956) あるいはC.
A.Spindt,”PHYSICAL Proper
ties of thin−film field e
mission cathodes with mol
ybdenum cones”,J.Appl.Phy
s.,47,5248(1976) 等に開示されたも
のが知られている。
As an example of the FE type, W. P. Dyke
& W. W. Dolan, "Field Emissi
on ", Advance in Electron P
physics, 8, 89 (1956) or C.I.
A. Spindt, "PHYSICAL Proper
ties of thin-film field e
mission cathodes with mol
ybdenum cones ", J. Appl. Phys.
s. , 47, 5248 (1976).

【0004】MIM型の例としては C.A.Mea
d,”Operation of Tunnel−Em
ission Devices”,J.Appl.Ph
ys.,32,646(1961)等に開示されたもの
が知られている。
As an example of the MIM type, C.I. A. Mea
d, “Operation of Tunnel-Em
issue Devices ", J. Appl. Ph.
ys. , 32, 646 (1961).

【0005】表面伝導型電子放出素子型の例としては、
M.I.Elinson,Radio Eng.Ele
ctron Phys.,10,1290(1965)
等に開示されたものがある。
Examples of the surface conduction electron-emitting device type include:
M. I. Elinson, Radio Eng. Ele
ctron Phys. , 10, 1290 (1965)
And the like.

【0006】表面伝導型電子放出素子は、基板上に形成
された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことに
より電子放出が生ずる現象を利用するものである。この
表面伝導型電子放出素子としては、前記エリンソン等に
よるSnO2薄膜を用いたもの、Au薄膜によるもの
[G.Dittmer:”Thin Solis Fi
lms,”9,317(1972)]、In23/Sn
2薄膜によるもの[M.Hartwell and
C.G.Fonstad:”IEEETrans.ED
Conf.”,519(1975)]、カーボン薄膜
によるもの[荒木久 他:真空、第26巻、第1号、2
2頁(1983)]等が報告されている。
The surface conduction electron-emitting device utilizes a phenomenon in which electron emission occurs when a current flows in a small-area thin film formed on a substrate in parallel with the film surface. Examples of the surface conduction electron-emitting device include a device using an SnO 2 thin film by Elinson et al. And a device using an Au thin film [G. Dittmer: "Thin Solis Fi
lms, "9,317 (1972)] , In 2 O 3 / Sn
O 2 due to the thin film [M. Hartwell and
C. G. FIG. Fonstad: "IEEETrans.ED"
Conf. , 519 (1975)], using a carbon thin film [Hisashi Araki et al .: Vacuum, Vol. 26, No. 1, 2
2 (1983)].

【0007】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な素子構成として、前述のM.ハートウェルの素子構成
を図7に模式的に示す。図7において、71は基板、7
2,73は素子電極、74は導電性膜で、H型形状のパ
ターンに、スパッタにより形成された金属酸化物薄膜等
からなり、後述の通電フォーミングと呼ばれる通電処理
により、電子放出部75が形成される。なお、図中の素
子電極間隔Lは、0.5〜1mm、W’は、0.1mm
で設定されている。
[0007] A typical device configuration of these surface conduction electron-emitting devices is described in the aforementioned M.A. FIG. 7 schematically shows an element configuration of the Hartwell. In FIG. 7, 71 is a substrate, 7
Reference numerals 2 and 73 denote device electrodes, 74 denotes a conductive film, and is formed of a metal oxide thin film or the like formed by sputtering in an H-shaped pattern. The electron emission portion 75 is formed by an energization process called energization forming described later. Is done. In the drawing, the element electrode interval L is 0.5 to 1 mm, and W ′ is 0.1 mm
Is set with

【0008】従来、これらの表面伝導型電子放出素子に
おいては、電子放出を行う前に導電性膜74を予め通電
フォーミングと呼ばれる通電処理によって電子放出部7
5を形成するのが一般的であった。すなわち、通電フォ
ーミングとは、前記導電性薄膜74両端に、直流電圧あ
るいは非常にゆっくりとした昇電圧、例えば1V/分程
度を印加通電し、導電性薄膜を局所的に破壊、変形もし
くは変質せしめ、電気的に高抵抗な状態にした電子放出
部75を形成することである。
Conventionally, in these surface-conduction type electron-emitting devices, before the electron emission, the conductive film 74 is subjected to an electron emission portion 7 by an energization process called energization forming.
It was common to form 5. That is, the energization forming means applying a DC voltage or a very slowly increasing voltage, for example, about 1 V / min, to both ends of the conductive thin film 74 and energizing the conductive thin film 74 to locally destroy, deform or deteriorate the conductive thin film. The purpose is to form the electron emitting portion 75 in a state of being electrically high in resistance.

【0009】なお、電子放出部75は、導電性膜74の
一部に亀裂が発生しその亀裂付近から電子放出が行われ
る。前記通電フォーミング処理をした表面伝導型電子放
出素子は、上述導電性薄膜74に電圧を印加し、素子に
電流を流すことにより、上述の電子放出部75より電子
を放出せしめるものである。
In the electron emitting portion 75, a crack is generated in a part of the conductive film 74, and electrons are emitted from the vicinity of the crack. The surface conduction type electron-emitting device which has been subjected to the energization forming process is configured to apply a voltage to the conductive thin film 74 and cause a current to flow through the device, thereby causing the electron-emitting portion 75 to emit electrons.

【0010】前記表面伝導型電子放出素子において、表
面伝導型電子放出素子の電子放出部に、炭素、あるいは
/ないし、その化合物を、活性化工程と呼ぶ新規な製造
方法によって形成することにより、電子放出特性を著し
く改善する提案(特開平7−235255号公報)が行
われている。
In the above-mentioned surface conduction electron-emitting device, the electron is formed by forming carbon and / or a compound thereof in the electron-emitting portion of the surface conduction electron-emitting device by a novel manufacturing method called an activation step. A proposal has been made to significantly improve the emission characteristics (Japanese Patent Laid-Open No. Hei 7-235255).

【0011】ここで、活性化工程とは、前記表面伝導型
電子放出素子の製造方法において、一対の電極と導電性
膜とを形成した素子を真空雰囲気の中に設置し、フォー
ミング工程を施した後、真空雰囲気中に炭素を有する有
機材料気体を導入し、前記素子に適宜選択されたパルス
状の電圧を数分〜数十分間、印加する工程である。本工
程は、電子放出素子の特性、すなわち、電子放出電流I
eが、電圧に対してしきい値をもちながら、著しく増加
し、改善される工程である。
Here, the activation step refers to the step of forming a pair of electrodes and a conductive film in a vacuum atmosphere and performing a forming step in the method of manufacturing a surface conduction electron-emitting device. Thereafter, an organic material gas containing carbon is introduced into a vacuum atmosphere, and a pulse voltage appropriately selected is applied to the device for several minutes to several tens of minutes. In this step, the characteristics of the electron-emitting device, that is, the electron emission current I
This is a process in which e is significantly increased and improved while having a threshold value with respect to the voltage.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の電子放出素子を用いた画像形成装置においては、下
記のような問題を生ずる場合がある。 (1) 大型の画像形成装置においては、複数の電子放
出素子を形成した電子源基板(リアプレート)と、蛍光
体等が形成されたフェイスプレートとを所望の相対位置
を保つように位置決めし、数mm以下の所定の距離で組
み合わせて仮止めを施した後、フリットガラス等の接着
部材が軟化する温度まで昇温し加圧して張り合わせ、真
空外囲器を形成している(この工程を加熱封着工程と呼
ぶ)が、電子源基板とフェイスプレートの距離が小さ
く、ガスに対するコンダクタンスが小さいために、前記
封着工程に続く画像形成装置内の排気工程において、排
気管を介して十分な真空度まで排気するのに時間がかか
る、あるいは短時間で上記排気工程を終了すると上記装
置内の真空度が悪い、ないしは圧力むらが生じ、その結
果安定した電子放出特性に必要な真空度が得られない場
合があった。
However, in the image forming apparatus using the above-mentioned conventional electron-emitting device, the following problems may occur. (1) In a large-sized image forming apparatus, an electron source substrate (rear plate) on which a plurality of electron-emitting devices are formed and a face plate on which a phosphor or the like is formed are positioned so as to maintain a desired relative position, After a temporary fixing is performed by combining them at a predetermined distance of several mm or less, the temperature is raised to a temperature at which the adhesive member such as frit glass is softened, and the two members are pressed and bonded to form a vacuum envelope. However, since the distance between the electron source substrate and the face plate is small and the conductance with respect to gas is small, a sufficient vacuum is provided through an exhaust pipe in the exhaust step in the image forming apparatus following the sealing step. It takes a long time to exhaust the gas, or if the evacuation process is completed in a short time, the degree of vacuum in the device becomes poor or the pressure becomes uneven, resulting in a stable electron emission characteristic. In some cases, the degree of vacuum required for the properties could not be obtained.

【0013】また、電子放出素子と蛍光体との相対配置
は色ずれ等を防ぐために高い位置精度を要求されるが、
封着工程での熱膨張や封着に用いられるフリットガラス
の軟化による位置ずれ等により必要とされる位置精度が
得られない場合があった。真空内で封着したものとして
特開平6−196094号公報において、低融点ロッド
ガラスを用い、重ね合わせて真空装置へ導入する方法が
開示されているが、この場合においてもフリット溶融に
よるずれが避けられない。
The relative arrangement between the electron-emitting device and the phosphor requires high positional accuracy in order to prevent color misregistration.
In some cases, a required positional accuracy cannot be obtained due to a thermal expansion in a sealing step or a positional shift due to softening of frit glass used for sealing. Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 6-19694 discloses a method in which low-melting rod glass is used as a material sealed in a vacuum and superposed and introduced into a vacuum apparatus. I can't.

【0014】さらに前記画像形成装置に用いられる電子
放出素子が表面伝導型電子放出素子の場合、前記表面伝
導型電子放出素子の活性化工程に伴うガスの真空外囲器
内への導入においては、前記フェイスプレートとリアプ
レートの間隔を数mm以下に保って張り合わされた真空
外囲器内に、排気管を介して前記ガスの導入が行なわれ
るため、排気管および真空外囲器のガスに対するコンダ
クタンスが小さく、容器(真空外囲器)内全域にわたっ
て、一定の圧力を得にくく、一定になるまで長時間を要
する等、製造上の問題があった。
Further, when the electron-emitting device used in the image forming apparatus is a surface-conduction electron-emitting device, when introducing the gas into the vacuum envelope in the step of activating the surface-conduction electron-emitting device, Since the gas is introduced through a gas exhaust pipe into a vacuum envelope that is bonded with the distance between the face plate and the rear plate kept at a few mm or less, the conductance of the gas in the exhaust pipe and the vacuum envelope with respect to the gas is performed. And it is difficult to obtain a constant pressure over the entire area of the container (vacuum envelope), and it takes a long time until the pressure becomes constant.

【0015】(2) 表面伝導型電子放出素子において
は前記活性化工程を行った後、電子源の基板、あるいは
画像形成装置を構成する部材、例えば、蛍光体を有する
フェイスプレートには、活性化工程で用いたガス、およ
び水、酸素、CO,CO2、水素等が吸着されており、
電子放出特性の安定化、および残存するガスによる放電
等を防ぐには、該吸着されたガス等を除去する必要があ
り、そのためには、前記封着工程の後に真空外囲器をベ
ーキングしながら排気管を介して排気する工程が必要で
あった。
(2) In the surface conduction type electron-emitting device, after the activation step is performed, the substrate of the electron source or a member constituting the image forming apparatus, for example, a face plate having a phosphor is activated. The gas used in the process and water, oxygen, CO, CO 2 , hydrogen, etc. are adsorbed,
In order to stabilize the electron emission characteristics, and to prevent discharge or the like due to the remaining gas, it is necessary to remove the adsorbed gas or the like, and for that purpose, after baking the vacuum envelope after the sealing step. A step of exhausting through an exhaust pipe was required.

【0016】しかし、この工程は容器および排気管のガ
スに対するコンダクタンスが小さいために部材から発生
するガスを必ずしも十分に排気できずに安定した電子放
出特性が得られず、輝度むらや寿命の低下等が発生する
場合があった。
However, in this step, since the conductance of the gas in the container and the exhaust pipe is small, the gas generated from the member cannot always be sufficiently exhausted, so that stable electron emission characteristics cannot be obtained, and uneven brightness and shortening of the life are required. May occur.

【0017】さらに、これら問題点を解決し、脱ガスし
た各部材への水、酸素、水素、CO,CO2等の再吸着
による再汚染の発生しない一貫した画像形成装置の製造
装置が望まれていた。
Further, it is desirable to solve these problems and to provide a consistent apparatus for manufacturing an image forming apparatus in which recontamination does not occur due to re-adsorption of water, oxygen, hydrogen, CO, CO 2 and the like to each degassed member. I was

【0018】本発明の目的は、上記の問題点が解消され
た画像形成装置の製造方法、および画像形成装置の製造
装置、および該製造方法により製造される画像形成装置
を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a method of manufacturing an image forming apparatus, an apparatus of manufacturing an image forming apparatus, and an image forming apparatus manufactured by the manufacturing method, in which the above-mentioned problems have been solved.

【0019】[0019]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの本発明は、蛍光体励起手段が配置された第1の基板
と、前記蛍光体励起手段により発光する蛍光体が配置さ
れた第2の基板とを、接合材を介して封着した画像形成
装置の製造方法であって、 (1)チャンバー内において、第1の加熱手段と第2の
加熱手段の間に前記第1の基板と前記第2の基板とを封
着部を接触させない状態で保持して、前記チャンバー内
の真空排気を行いながら、前記第1の基板と前記第2の
基板と接合材とを封着温度まで加熱する加熱工程と、 (2)前記チャンバー内が真空排気されている状態で、
前記封着部を接触させて前記第1の基板と前記第2の基
板とを前記接合材を介して封着する封着工程と、を有す
ることを特徴とする画像形成装置の製造方法である
In order to achieve the above object, the present invention provides a first substrate on which phosphor excitation means is arranged.
And a phosphor that emits light by the phosphor excitation means is disposed.
Image formation in which the separated second substrate is sealed via a bonding material
It is a manufacturing method of an apparatus, (1) In a chamber, the 1st heating means and the 2nd
Sealing the first substrate and the second substrate between heating means
Hold the attachment part in a state where it does not contact, and
While evacuating the first substrate and the second substrate,
A heating step of heating the substrate and the bonding material to a sealing temperature; (2) in a state where the chamber is evacuated,
The sealing portion is brought into contact with the first substrate and the second substrate.
And a sealing step of sealing the board with the bonding material.
A method for manufacturing an image forming apparatus .

【0020】[0020]

【0021】[0021]

【0022】[0022]

【0023】[0023]

【0024】[0024]

【0025】[0025]

【0026】[0026]

【0027】[0027]

【0028】[0028]

【0029】本発明においては、電子源基板とフェイス
プレートをガスに対する十分なコンダクタンスが得られ
るだけの間隔を離して封着温度まで昇温し、部材からの
脱ガスを十分行った後で張り合わせることで、真空度の
高い真空容器が形成でき、安定した電子放出特性を得る
ことができる。また、表面伝導型電子放出素子を用いる
場合には電子源基板とフェイスプレートをガスに対する
十分なコンダクタンスが得られるだけの間隔を離して活
性化ガスを導入することにより容易に電子源基板に活性
化ガスを行き亘らせることができ、均一な活性化を行う
ことが可能となる。
In the present invention, the temperature of the electron source substrate and the face plate are raised to the sealing temperature with an interval sufficient to obtain a sufficient conductance to the gas, and after the degassing from the member is sufficiently performed, the substrates are bonded. Thereby, a vacuum container with a high degree of vacuum can be formed, and stable electron emission characteristics can be obtained. When a surface conduction electron-emitting device is used, the electron source substrate and the face plate are easily activated by introducing an activating gas with a sufficient distance between the electron source substrate and the face plate to obtain sufficient conductance to the gas. The gas can be spread, and uniform activation can be performed.

【0030】さらに、電子源基板とフェイスプレートの
間隔を離したままで封着温度まで昇温し、排気を行って
封着を行うことにより部材に吸着している活性化ガス等
を取り除く工程と兼ねることができるため、電子放出特
性に影響する真空度の向上と熱処理工程の短縮を行うこ
とができる。
Further, the temperature is raised to the sealing temperature with the space between the electron source substrate and the face plate kept apart, and exhaustion is performed for sealing to remove the activated gas or the like adsorbed on the member. Therefore, the degree of vacuum affecting the electron emission characteristics can be improved and the heat treatment step can be shortened.

【0031】[0031]

【0032】[0032]

【0033】上記発明においては、前記第1の基板と第
2の基板が接合されることによって、気密な空間が形成
される。第1の基板と第2の基板の間には、枠やスペー
サがあってもよい。気密な空間の雰囲気には、接合する
際の雰囲気が反映される。よって、気密空間内が要求さ
れる雰囲気になるような雰囲気に、接合の際の雰囲気を
調整しておくとよい。このとき、該雰囲気の調整を、第
1の基板と第2の基板の間隙が、接合後の間隙よりも大
きい状態で行うことにより、該調整された雰囲気が、よ
り気密空間(接合後に気密空間になる部分)の雰囲気に
反映し易くなるため好適である。
In the above invention, an airtight space is formed by joining the first substrate and the second substrate. A frame or a spacer may be provided between the first substrate and the second substrate. The atmosphere in the airtight space reflects the atmosphere at the time of joining. Therefore, it is preferable that the atmosphere at the time of bonding be adjusted to an atmosphere that provides a required atmosphere in the hermetic space. At this time, by adjusting the atmosphere in a state in which the gap between the first substrate and the second substrate is larger than the gap after bonding, the adjusted atmosphere is more airtight space (airtight space after bonding). This is preferable because it is easily reflected in the atmosphere of the portion where

【0034】[0034]

【0035】[0035]

【0036】[0036]

【0037】[0037]

【0038】[0038]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施態様を具体的
に説明する。本発明の製造方法の一例および平板型画像
形成装置用製造装置を図1に示す。図1において10は
真空チャンバ、11は活性化工程等に使用されるガス等
を真空チャンバ内に導入するためのガス導入管、12は
真空排気用の排気管、141は画像表示部分を含むフェ
イスプレート、145は電子源が形成されているリアプ
レート、22は支持枠、23は141と145と22を
接続するための接合部材であり、主に低融点ガラスから
なるフリットガラスである。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be specifically described below. FIG. 1 shows an example of the manufacturing method of the present invention and a manufacturing apparatus for a flat plate type image forming apparatus. In FIG. 1, reference numeral 10 denotes a vacuum chamber, 11 denotes a gas introduction pipe for introducing a gas or the like used in an activation step or the like into the vacuum chamber, 12 denotes an exhaust pipe for evacuation, and 141 denotes a face including an image display portion. Plate 145 is a rear plate on which an electron source is formed, 22 is a support frame, and 23 is a joining member for connecting 141, 145 and 22 and is a frit glass mainly made of low melting point glass.

【0039】図1では接合部材23は、フェイスプレー
トおよびリアプレートに予め形成されているが、支持枠
22のフェイスプレートおよびリアプレートへの接合面
に予め形成してもよい。また、フリットガラスは仮焼成
により、有機物を予め除去しておくことが望ましい。
Although the joining member 23 is formed in advance on the face plate and the rear plate in FIG. 1, it may be formed in advance on the joining surface of the support frame 22 to the face plate and the rear plate. It is desirable that the frit glass be preliminarily baked to remove organic substances.

【0040】30はフェスプレートのX,Y,θ方向の
位置を調整するための位置調整手段であるステージ、3
1はフェイスプレートを加熱するための加熱手段である
加熱板、32はフェイスプレートのZ方向位置調整手段
であり、フェイスプレート、リアプレートおよび支持枠
を接触させた後に加圧する機構を兼ねている。33はリ
アプレートのX,Y,θ方向の位置を調整するための位
置調整手段であるステージ、34はリアプレートを加熱
するための加熱手段である加熱板である。
Reference numeral 30 denotes a stage which is a position adjusting means for adjusting the position of the festival plate in the X, Y, and θ directions;
Reference numeral 1 denotes a heating plate as heating means for heating the face plate, and 32 denotes a Z-direction position adjusting means for the face plate, which also serves as a mechanism for pressing the face plate, the rear plate, and the support frame after contacting them. Reference numeral 33 denotes a stage as position adjusting means for adjusting the position of the rear plate in the X, Y, and θ directions, and reference numeral 34 denotes a heating plate as heating means for heating the rear plate.

【0041】図1においてはフェイスプレートが装置上
方、リアプレートが装置下方に設置されているが設置場
所はこれに限定されるものではなく、どちらを上方に設
置するかは適宜選択すればよい。また、フェイスプレー
トおよびリアプレートのX,Y,θ方向位置調整手段で
あるステージ30,33は、必ずしもフェイスプレー
ト、リアプレート双方に必要ではない。また、加熱板と
ステージ30,33との間には、断熱材等の断熱構造を
有することが好ましい。
In FIG. 1, the face plate is installed above the apparatus and the rear plate is installed below the apparatus. However, the installation place is not limited to this, and it may be appropriately selected which is installed above. The stages 30, 33, which are means for adjusting the position of the face plate and the rear plate in the X, Y, and θ directions, are not necessarily required for both the face plate and the rear plate. Further, it is preferable to have a heat insulating structure such as a heat insulating material between the heating plate and the stages 30 and 33.

【0042】フェイスプレート141、およびリアプレ
ート145は不図示の固定治具により加熱板31,34
にそれぞれ固定されている。このとき電子源が表面伝導
型電子放出素子を使用するものであれば、前述したフォ
ーミングを予め行ってもよく、またこの真空チャンバ内
で行ってもよい。また、支持枠22のリアプレート14
5、およびフェイスプレート141への接着個所には予
めフリットガラスが配設されている。
The face plate 141 and the rear plate 145 are connected to the heating plates 31 and 34 by a fixing jig (not shown).
Respectively. At this time, if the electron source uses a surface conduction electron-emitting device, the above-described forming may be performed in advance, or may be performed in the vacuum chamber. Also, the rear plate 14 of the support frame 22
5 and a frit glass are previously arranged at a bonding position to the face plate 141.

【0043】また、大型の表示パネルを構成するときに
はスペーサと呼ばれる耐大気圧構造体を予めフェイスプ
レート側もしくは電子源側に接着しておくが、このとき
同時に支持枠をフェイスプレート側もしくは電子源側に
接着しておいても構わない。このように加熱板31,3
4にそれぞれフェイスプレート、電子源(リアプレー
ト)を固定し、十分なガスに対するコンダクタンスを確
保できる距離をおいてガラスフリットの軟化点付近まで
温度を上昇させながら排気口12から真空排気を行う。
When a large display panel is constructed, an anti-atmospheric structure called a spacer is bonded in advance to the face plate side or the electron source side. At this time, the support frame is simultaneously attached to the face plate side or the electron source side. It may be adhered to. Thus, the heating plates 31 and 3
4, a face plate and an electron source (rear plate) are fixed to each other, and evacuation is performed from the exhaust port 12 while increasing the temperature to near the softening point of the glass frit while maintaining a sufficient conductance for gas.

【0044】電子源が表面伝導型電子放出素子を用いる
ものであれば、コンダクタンスを確保(フェイスプレー
トとリアプレートとを支持枠の高さ以上に離した状態)
したままで活性化ガスを導入し、前述した活性化を行っ
た後、ガラスフリットの軟化点付近まで温度を上昇させ
ながら排気することが、活性化ガスの吸着等の影響を回
避する上で好ましく、また、ある程度ガスが残った状態
で加熱する方が、フェイスプレート、リアプレート、支
持枠等が均一に加熱されるので好ましい(図1(a)参
照)。
If the electron source uses a surface conduction electron-emitting device, conductance is ensured (in a state where the face plate and the rear plate are separated from each other by a height equal to or higher than the height of the support frame).
After introducing the activating gas while performing the above-described activation, it is preferable to perform exhaust while increasing the temperature to around the softening point of the glass frit in order to avoid the influence of the adsorption of the activating gas and the like. Further, it is preferable to heat in a state in which some gas remains, because the face plate, the rear plate, the support frame, and the like are uniformly heated (see FIG. 1A).

【0045】十分に真空排気を行い、部材からの脱ガス
やガラスフリットから発生する水や酸素等が所望の値以
下になったことをチャンバ内雰囲気測定装置にて確認し
た後にフェイスプレートとリアプレートが所定の位置関
係を保つようにフェイスプレートのX,Y,θ方向調節
ステージ30、あるいはリアプレートのX,Y,θ方向
調節ステージ33、あるいはその両方を用いてフェイス
プレートとリアプレートの相対位置関係の調節を行いな
がらフェースプレートのZ方向調整機構を用いてフェイ
スプレートとリアプレート、および支持枠を接触させ、
加圧を行う。
After sufficiently evacuating and confirming that degassing from members and water and oxygen generated from the glass frit have become equal to or less than desired values by a chamber atmosphere measuring device, a face plate and a rear plate are used. The relative position between the face plate and the rear plate using the X, Y, and θ direction adjustment stage 30 of the face plate and / or the X, Y, and θ direction adjustment stage 33 of the rear plate so as to maintain a predetermined positional relationship. While adjusting the relationship, the face plate and the rear plate are brought into contact with the support frame using the Z-direction adjusting mechanism of the face plate,
Pressurize.

【0046】一定時間加圧、およびフェイスプレートと
リアプレートの相対位置の調整を行いながら温度を保持
した後、所定の温度プロファイルにて温度を下げ、ガラ
スフリットを硬化させて張り合せを行う(図1(b)参
照)。なお、フェイスプレートとリアプレートの相対位
置の調整はガラスフリットの軟化点より所望の温度まで
下がり、フリットが硬化し始めならがもある程度の流動
性を保っている状態まで行われる。
After maintaining the temperature while applying pressure for a certain period of time and adjusting the relative position between the face plate and the rear plate, the temperature is lowered according to a predetermined temperature profile, and the glass frit is hardened and bonded. 1 (b)). The relative position between the face plate and the rear plate is adjusted to a desired temperature from the softening point of the glass frit to a state where the frit starts to harden but maintains some fluidity.

【0047】さらに温度を下げてガラスフリットを完全
に硬化させた後、室温程度まで徐々に冷却し、真空チャ
ンバから取り出す(図1(c)参照)。なお、ここで
は、電子放出素子として、表面伝導型電子放出素子を用
いたが、本発明はこれに限るものではない。電子放出素
子として電界放出型電子放出素子等、前述の冷陰極電子
放出素子に好ましく適用される。
After the temperature is further lowered to completely cure the glass frit, the glass frit is gradually cooled to about room temperature and taken out of the vacuum chamber (see FIG. 1C). Here, a surface conduction electron-emitting device is used as the electron-emitting device, but the present invention is not limited to this. The electron-emitting device is preferably applied to the above-mentioned cold cathode electron-emitting device such as a field emission electron-emitting device.

【0048】また、さらに電子放出素子として電界放出
型電子放出素子を用いた際には、ガス導入管11から封
着前に水素を導入し、封着された真空容器内に水素を残
存させ、エミッターの酸化による電子放出特性の経時劣
化を抑制することができる。なお水素の分圧としては、
10-7〜10-3ミリバール程度が好ましい。
Further, when a field emission type electron-emitting device is used as the electron-emitting device, hydrogen is introduced from the gas introduction tube 11 before sealing, and hydrogen is left in the sealed vacuum vessel. It is possible to suppress deterioration with time of the electron emission characteristics due to oxidation of the emitter. In addition, as the partial pressure of hydrogen,
It is preferably about 10 -7 to 10 -3 mbar.

【0049】上記活性化ガス導入に用いたガス導入管1
1をプラズマを発生させるためのガスを導入するために
用いれば、プラズマディスプレイパネル(PDP)の製
造にも適用できる。このように、本発明の製造装置は平
板型画像形成装置であれば、どのようなタイプのもので
あれ、フレキシブルに対応可能である。
Gas introduction pipe 1 used for introducing the activation gas
If 1 is used to introduce a gas for generating plasma, it can be applied to the manufacture of a plasma display panel (PDP). As described above, the manufacturing apparatus of the present invention can be flexibly adapted to any type of flat image forming apparatus.

【0050】[0050]

【実施例】実施例により本発明をさらに詳細に説明する
が、本発明はこれら実施例によりなんら限定されるもの
ではない。
EXAMPLES The present invention will be described in more detail with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

【0051】[実施例1]本発明の第1の実施例におい
て、図6に示す構成の画像形成装置を作製した。本実施
例では、冷陰極電子放出素子である表面伝導型電子放出
素子を電子放出素子として、複数個リアプレートに形成
し、フェイスプレートには、蛍光体を設置し、有効表示
エリアを対角15インチとする縦と横の比が3:4のカ
ラー画像形成装置を作成した。まず、本発明の画像形成
装置を図6を用いて説明し、次にその製造方法を製造フ
ローを示す図2、および図1を参照しながら説明する。
Embodiment 1 In the first embodiment of the present invention, an image forming apparatus having the structure shown in FIG. 6 was manufactured. In the present embodiment, a plurality of surface conduction electron-emitting devices, which are cold cathode electron-emitting devices, are formed on the rear plate as electron-emitting devices. A color image forming apparatus having an aspect ratio of 3: 4 was prepared. First, the image forming apparatus of the present invention will be described with reference to FIG. 6, and then the manufacturing method will be described with reference to FIGS.

【0052】図6は、実施例に用いた画像形成装置の斜
視図であり、内部構造を示すためにパネルの1部を切り
欠いて示している。図中、65はリアプレート、66は
支持枠、67はフェースプレートであり、65〜67に
より表示パネルの内部を真空に維持するための気密容器
を形成している。気密容器を組み立てるに当たっては各
部材の接合に十分な強度と気密性を保持させるため封着
する必要がある。
FIG. 6 is a perspective view of the image forming apparatus used in the embodiment, in which a part of the panel is cut away to show the internal structure. In the figure, 65 is a rear plate, 66 is a support frame, 67 is a face plate, and 65-67 form an airtight container for maintaining the inside of the display panel at a vacuum. In assembling the airtight container, it is necessary to seal each member so as to maintain sufficient strength and airtightness for joining.

【0053】リアプレート65上には、表面伝導型放出
素子62が、N×M個形成されている。(N,Mは2以
上の正の整数で、目的とする表示画素数に応じ適宜設定
される。例えば、高品位テレビジョンの表示を目的とし
た表示装置においては、N=3000、M=1000以
上の数を設定することが望ましい。本実施例において
は、N=333、M=250とした)。
On the rear plate 65, N × M surface conduction electron-emitting devices 62 are formed. (N and M are positive integers of 2 or more and are set as appropriate according to the target number of display pixels. For example, in a display device for displaying high-definition television, N = 3000 and M = 1000. It is desirable to set the above number, and in this embodiment, N = 333 and M = 250).

【0054】前記N×M個の表面伝導型放出素子は、M
本の行方向配線63(下配線とも呼ぶ)とN本の列方向
配線64(上配線とも呼ぶ)により単純マトリクス配線
されている。続いて図7を用いて説明する。図7は、表
面伝導型電子放出素子の構成を示す模式図であり、図7
(a)は平面図、図7(b)は断面図である。図7にお
いて71は基板、72と73は素子電極、74は導電性
薄膜、75は電子放出部である。
The N × M surface conduction electron-emitting devices are M
Simple matrix wiring is performed by the row wirings 63 (also called lower wirings) and the N column wirings 64 (also called upper wirings). Next, description will be made with reference to FIG. FIG. 7 is a schematic diagram showing the configuration of the surface conduction electron-emitting device.
7A is a plan view, and FIG. 7B is a cross-sectional view. 7, reference numeral 71 denotes a substrate, 72 and 73 denote device electrodes, 74 denotes a conductive thin film, and 75 denotes an electron-emitting portion.

【0055】素子電極72,73を通じて、導電性薄膜
74にフォーミング処理を施すことで、導電性薄膜を局
所的に破壊、変形もしくは変質せしめ、電気的に高抵抗
な状態にした電子放出部75を形成し、さらに、放出電
流を著しく改善する活性化工程を該表面伝導型電子放出
素子の上述導電性薄膜74に電圧を印加し、素子に電流
を流すことにより、上述の電子放出部75より電子を放
出せしめる(従来技術で述べた特開平7−235255
号公報の開示例と同様)のものである。
By subjecting the conductive thin film 74 to a forming process through the device electrodes 72 and 73, the conductive thin film is locally destroyed, deformed or deteriorated, and the electron-emitting portion 75 in an electrically high-resistance state is formed. An activation step of forming and further improving the emission current is performed by applying a voltage to the conductive thin film 74 of the surface conduction electron-emitting device and passing a current through the device, thereby causing the electron emission portion 75 to emit electrons. (Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 7-235255 described in the prior art).
(Similar to the disclosure example of Japanese Patent Application Publication No. H10-26095).

【0056】また、フェースプレート67の下面には、
蛍光膜68が形成されている。本実施例はカラー表示装
置であるため、蛍光膜68の部分にはCRTの分野で用
いられる赤、緑、青、の3原色の蛍光体が塗り分けられ
ている。各色の蛍光体は、例えば図8(a)に示すよう
にストライプ状に塗り分けられ、蛍光体のストライプの
間には黒色の導電体81が設けてある。
On the lower surface of the face plate 67,
A fluorescent film 68 is formed. Since the present embodiment is a color display device, phosphors of three primary colors of red, green, and blue used in the field of CRT are separately applied to a portion of the fluorescent film 68. The phosphors of each color are separately applied in stripes as shown in FIG. 8A, for example, and black conductors 81 are provided between the stripes of the phosphors.

【0057】黒色の導電体81を設ける目的は、電子ビ
ームの照射位置に多少のずれがあっても表示色にずれが
生じないようにすることや、外光の反射を防止して表示
コントラストの低下を防ぐこと、電子ビームにより蛍光
膜のチャージアップを防止すること等である。黒色の導
電体81には、黒鉛を主成分として用いたが、上記の目
的に適するものであればこれ以外の材料を用いてもよ
い。
The purpose of providing the black conductor 81 is to prevent the display color from being shifted even if the electron beam irradiation position is slightly shifted, and to prevent the reflection of external light to improve the display contrast. It is to prevent the phosphor film from being lowered and to prevent the fluorescent film from being charged up by the electron beam. Although graphite is used as a main component for the black conductor 81, any other material may be used as long as it is suitable for the above purpose.

【0058】また、3原色の蛍光体の塗り分け方は前記
図8(a)に示したストライプ状の配列に限られるもの
ではなく、例えば図8(b)に示すようなデルタ状配列
や、それ以外の配列であってもよい。なお、モノクロー
ムの表示パネルを作成する場合には、単色の蛍光体材料
を蛍光膜68に用いればよく、また黒色導電材料は必ず
しも用いなくてもよい。
The method of applying the three primary color phosphors is not limited to the stripe arrangement shown in FIG. 8A, but may be, for example, a delta arrangement as shown in FIG. Other arrangements may be used. When a monochrome display panel is formed, a monochromatic phosphor material may be used for the phosphor film 68, and a black conductive material may not be necessarily used.

【0059】また、蛍光膜68のリアプレート側の面に
は、CRTの分野では公知のメタルバック69を設けて
ある。メタルバック69を設けた目的は、蛍光膜68が
発する光の一部を鏡面反射して光利用率を向上させるこ
とや、負イオンの衝突から蛍光膜68を保護すること
や、電子ビーム加速電圧を印加するための電極として作
用させることや、蛍光膜68を励起した電子の導電路と
して作用させること等である。メタルバック69は、蛍
光膜69をフェースプレート基板67上に形成した後、
蛍光膜表面を平滑化処理し、その上にAlを真空蒸着す
る方法により形成した。なお、蛍光膜68に低電圧用の
蛍光体材料を用いた場合には、メタルバック69は用い
ない。
A metal back 69 known in the field of CRTs is provided on the surface of the fluorescent film 68 on the rear plate side. The purpose of providing the metal back 69 is to improve the light utilization rate by mirror-reflecting a part of the light emitted from the fluorescent film 68, to protect the fluorescent film 68 from the collision of negative ions, and to increase the electron beam acceleration voltage. To act as an electrode for applying an electric field, and to act as a conductive path for the excited electrons of the fluorescent film 68. After forming the fluorescent film 69 on the face plate substrate 67, the metal back 69
The surface of the phosphor film was smoothed, and Al was formed thereon by vacuum deposition. When a fluorescent material for low voltage is used for the fluorescent film 68, the metal back 69 is not used.

【0060】また、本実施例では用いなかったが、加速
電圧の印加用や蛍光膜の導電性向上を目的として、フェ
ースプレート基板67と蛍光膜68との間に、例えばI
TOを材料とする透明電極を設けてもよい。
Although not used in this embodiment, for the purpose of applying an acceleration voltage and improving the conductivity of the fluorescent film, for example, an I
A transparent electrode made of TO may be provided.

【0061】また、Dx1〜DxmおよびDy1〜Dy
n/ならびにHvは、当該表示パネルと不図示の電気回
路とを電気的に接続するために設けた気密構造の電気接
続用端子である。Dx1〜Dxmはマルチ電子ビーム源
の行方向配線63と、Dy1〜Dynはマルチ電子ビー
ム源の列方向配線64と、Hvはフェースプレートのメ
タルバック69と、それぞれ電気的に接続している。
Dx1 to Dxm and Dy1 to Dy
n / and Hv are electric connection terminals of an airtight structure provided for electrically connecting the display panel to an electric circuit (not shown). Dx1 to Dxm are electrically connected to the row direction wiring 63 of the multi-electron beam source, Dy1 to Dyn are electrically connected to the column direction wiring 64 of the multi-electron beam source, and Hv is electrically connected to the metal back 69 of the face plate.

【0062】以上、本発明の製造方法を適用した画像形
成装置の基本構成を説明した。次に、図1〜2を用いて
本発明の画像形成装置の製造方法について説明する。
The basic configuration of the image forming apparatus to which the manufacturing method of the present invention has been applied has been described. Next, a method for manufacturing the image forming apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0063】(リアプレートの作成) (R−1) 青板ガラスを洗浄し、シリコン酸化膜をス
パッタ法で形成したリアプレート上に下配線をスクリー
ン印刷で形成した。次に、下配線と上配線間に層間絶縁
層を形成する。さらに、上配線を形成した。次に、下配
線と上配線とに接続された素子電極を形成した。
(Preparation of Rear Plate) (R-1) The blue plate glass was washed, and a lower wiring was formed by screen printing on a rear plate on which a silicon oxide film was formed by a sputtering method. Next, an interlayer insulating layer is formed between the lower wiring and the upper wiring. Further, an upper wiring was formed. Next, device electrodes connected to the lower wiring and the upper wiring were formed.

【0064】(R−2) 次いで、PdOからなる導電
性薄膜をスパッタ法で形成した後、パターニングし、所
望の形態とした。
(R-2) Next, a conductive thin film made of PdO was formed by a sputtering method and then patterned to obtain a desired form.

【0065】(R−3) 支持枠を固定するためのフリ
ットガラスを印刷によって、所望の位置に形成した。以
上の工程により、単純マトリクス配線した表面伝導型放
出素子、支持枠用の接着材等が形成されたリアプレート
を作成した。
(R-3) Frit glass for fixing the support frame was formed at a desired position by printing. Through the above steps, a rear plate on which a surface conduction electron-emitting device having a simple matrix wiring, an adhesive for a support frame, and the like were formed.

【0066】(フェースプレートの作成) (F−1) 青板ガラス基板に蛍光体、黒色導電体を印
刷法により形成した。蛍光膜の内面側表面の平滑化処理
を行い、その後Alを真空蒸着等を用いて堆積させメタ
ルバックを形成した。
(Preparation of Face Plate) (F-1) A phosphor and a black conductor were formed on a blue plate glass substrate by a printing method. A smoothing treatment was performed on the inner surface of the fluorescent film, and then Al was deposited using vacuum evaporation or the like to form a metal back.

【0067】(F−2) 支持枠を固定するためのフリ
ットガラスを印刷によって、所望の位置に形成した。以
上の工程により、3原色の蛍光体がストライプ状に配設
された蛍光体、および支持枠用の接着材等をフェイスプ
レートに形成した。
(F-2) Frit glass for fixing the support frame was formed at a desired position by printing. Through the above steps, the phosphor in which the phosphors of the three primary colors are arranged in a stripe shape, an adhesive for the support frame, and the like were formed on the face plate.

【0068】(FR−1) 次に、上記工程により作成
されたフェイスプレート、リアプレートおよび支持枠を
本発明の製造装置である真空チャンバ内に導入し、それ
ぞれ、加熱板31,34に固定した後、真空排気を行っ
た(図1(a)参照)。
(FR-1) Next, the face plate, the rear plate, and the support frame prepared in the above steps were introduced into a vacuum chamber, which is a manufacturing apparatus of the present invention, and fixed to heating plates 31, 34, respectively. Thereafter, evacuation was performed (see FIG. 1A).

【0069】(FR−2) 十分な真空度に達した後
で、容器外端子Dxo1〜DoxmとDoy1〜Doy
nを通じ電子放出素子に電圧を印加し、導電性薄膜4に
フォーミング工程を行った。その後、活性化ガスとして
アセトンを10-4Torr導入して、活性化を行った。
(FR-2) After reaching a sufficient degree of vacuum, the external terminals Dxo1 to Doxm and Doy1 to Doy
A voltage was applied to the electron-emitting device through n, and a forming process was performed on the conductive thin film 4. Thereafter, acetone was introduced as an activating gas at 10 -4 Torr to perform activation.

【0070】(FR−3) 真空排気を行いながら所定
のプロファイルにて温度を上昇させ、フェイスプレー
ト、リアプレートに吸着した活性化ガスや水、酸素、一
酸化炭素等の脱ガスを行いながら封着温度まで昇温し
た。このときの封着温度は接着に用いるフリットガラス
によって決定されるが、この場合は410℃に設定し
た。
(FR-3) The temperature is raised with a predetermined profile while evacuating, and sealing is performed while degassing activated water, water, oxygen, carbon monoxide and the like adsorbed on the face plate and the rear plate. The temperature was raised to the deposition temperature. The sealing temperature at this time is determined by the frit glass used for bonding, and in this case, it was set to 410 ° C.

【0071】(FR−4) 10-7Torr程度の真空
度まで排気した後、封着温度を保ちつつ30および33
に示すX,Y,θの調整ステージにて電子源とフェイス
プレートの位置合わせを行いながら電子源、フェイスプ
レート、支持枠を接触させ、加圧させた状態を10分間
保持した後、毎分3℃で温度を下げていき、封着温度か
ら10℃下げたところで位置合わせを中止し、30およ
び33のステージをフリーにし、室温まで徐冷した(図
1(b)参照)。
(FR-4) After evacuation to a degree of vacuum of about 10 -7 Torr, 30 and 33 were maintained while maintaining the sealing temperature.
After the electron source, the face plate, and the support frame are brought into contact with each other while the electron source and the face plate are aligned on the X, Y, and θ adjustment stages shown in FIG. The temperature was lowered at 10 ° C., and when the sealing temperature was lowered by 10 ° C., the alignment was stopped, the stages 30 and 33 were set free, and the temperature was gradually cooled to room temperature (see FIG. 1B).

【0072】(FR−5) 室温まで冷却した後、真空
チャンバから取り出し、封止後の真空度を維持するため
に、高周波加熱法によりゲッター処理を行った(図1
(c)参照)。
(FR-5) After cooling to room temperature, it was taken out of the vacuum chamber and subjected to a getter treatment by a high-frequency heating method to maintain the degree of vacuum after sealing (FIG. 1).
(C)).

【0073】以上のようにして完成した、本発明の製造
方法により製造された画像表示装置において、各電子放
出素子には、容器外端子Dx1〜Dxm,Dy1〜Dy
nを通じ、走査信号および変調信号を不図示の信号発生
手段よりそれぞれ、印加することにより、電子放出さ
せ、高圧端子Hvを通じ、メタルバック69に数kV以
上の高圧を印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜68に
衝突させ、励起・発光させることにより画像を表示し
た。その結果、電子放出素子、蛍光体の位置ずれがな
く、位置ずれに起因した輝度ばらつきや、混色は観察さ
れなかった。
In the image display device manufactured by the manufacturing method of the present invention completed as described above, each electron-emitting device has external terminals Dx1 to Dxm and Dy1 to Dy.
n, a scanning signal and a modulation signal are applied from signal generation means (not shown) to emit electrons, and a high voltage of several kV or more is applied to the metal back 69 through the high voltage terminal Hv to accelerate the electron beam. An image was displayed by colliding with the fluorescent film 68 to excite and emit light. As a result, there was no misalignment of the electron-emitting device and the phosphor, and no luminance variation or color mixing due to the misalignment was observed.

【0074】[実施例2]本発明の第2の実施例は、電
子放出素子は、冷陰極電子放出素子の一種である電界放
出素子を用いた画像形成装置であり、軽量化を図るため
に、耐大気圧部材として、スペーサを設置した場合であ
る。
[Embodiment 2] A second embodiment of the present invention is an image forming apparatus in which an electron-emitting device is a field emission device which is a kind of cold cathode electron-emitting device. In this case, a spacer is provided as an anti-atmospheric pressure member.

【0075】まず、電界放出素子について図9を用いて
説明し、次いで、上記電界放出素子を用いた画像形成装
置について、図10を用いて説明する。図9において、
131はリアプレート、132はフェイスプイレート、
133は陰極、134はゲード電極、135はゲート/
陰極間の絶縁層、138はゲートと収束電極間の絶縁
層、136は収束電極である。図10において、141
はフェイスプレート、143は支持枠、145はリアプ
レート、147はスペーサである。
First, the field emission device will be described with reference to FIG. 9, and then, an image forming apparatus using the field emission device will be described with reference to FIG. In FIG.
131 is a rear plate, 132 is a face pile,
133 is a cathode, 134 is a gate electrode, 135 is a gate /
An insulating layer between the cathodes, 138 is an insulating layer between the gate and the focusing electrode, and 136 is a focusing electrode. In FIG.
Is a face plate, 143 is a support frame, 145 is a rear plate, and 147 is a spacer.

【0076】画像形成装置の有効表示エリアの大きさ
は、縦と横の比が3:4で、対角10インチである。な
お、フェイスプレート141、リアプレート145間の
間隙は1.5mmである。次に、工程図2、作成概念図
1を用い、本発明の画像形成装置の製造方法について説
明する。
The size of the effective display area of the image forming apparatus is such that the aspect ratio is 3: 4 and the diagonal is 10 inches. The gap between the face plate 141 and the rear plate 145 is 1.5 mm. Next, a method for manufacturing the image forming apparatus of the present invention will be described with reference to a process diagram 2 and a conceptual diagram 1 of production.

【0077】(リアプレートの作成) (R−1) 青板ガラスを基板として洗浄し、公知の方
法によって、図9に示す陰極(エミッター)、ゲート電
極、配線等を作成した。なお、陰極材料はMoとした。
(Preparation of Rear Plate) (R-1) A blue plate glass was used as a substrate for washing, and a cathode (emitter), a gate electrode, wiring and the like shown in FIG. 9 were prepared by a known method. The cathode material was Mo.

【0078】(R−2) 支持枠を固定するためのフリ
ットガラスを印刷によって、所望の位置に形成した。
(R-2) Frit glass for fixing the support frame was formed at a desired position by printing.

【0079】以上の工程により、リアプレートに単純マ
トリクス配線した、電界放出型放出素子、支持枠用の接
着材を形成した。
Through the above steps, an adhesive for the field emission type emission device and the support frame, which was wired in a simple matrix on the rear plate, was formed.

【0080】(フェースプレートの作成) (F−1) 青板ガラス基板に透明導電体、蛍光体、黒
色導電体を印刷法により形成した。蛍光膜の内面側表面
の平滑化処理を行い、その後Alを真空蒸着等を用いて
堆積させメタルバックを形成した。
(Formation of Face Plate) (F-1) A transparent conductor, a phosphor and a black conductor were formed on a blue glass substrate by a printing method. A smoothing treatment was performed on the inner surface of the fluorescent film, and then Al was deposited using vacuum evaporation or the like to form a metal back.

【0081】(F−2) 青板ガラスを基板として、支
持枠を固定するためのフリットガラスを印刷によって、
所望の位置に形成した。さらに、スペーサを黒色導体
に、フリットで接着した。以上の工程により、3原色の
蛍光体がストライプ状に配設された蛍光体、および支持
枠用の接着材、スペーサ等をフェイスプレートに形成し
た。
(F-2) Using blue plate glass as a substrate, frit glass for fixing a support frame is printed by
Formed at desired locations. Further, the spacer was bonded to the black conductor with a frit. Through the above steps, the phosphor in which the phosphors of the three primary colors are arranged in stripes, the adhesive for the support frame, the spacer, and the like were formed on the face plate.

【0082】(FR−1) 次に、実施例1と同様に、
上記フェイスプレート、リアプレートおよび支持枠を真
空チャンバ内に導入し、真空排気を行った。
(FR-1) Next, as in the first embodiment,
The face plate, the rear plate, and the support frame were introduced into a vacuum chamber and evacuated.

【0083】(FR−2) 真空排気を行いながら所定
のプロファイルにて温度を上昇させ、水、酸素、一酸化
炭素等の脱ガスを行いながら封着温度まで昇温した。こ
のときの封着温度は接着に用いるフリットガラスによっ
て決定されるが、この場合は410℃に設定した(図1
(a)参照)。
(FR-2) The temperature was raised with a predetermined profile while evacuating, and the temperature was raised to the sealing temperature while degassing water, oxygen, carbon monoxide and the like. The sealing temperature at this time is determined by the frit glass used for bonding, and in this case, it was set at 410 ° C. (FIG. 1).
(A)).

【0084】(FR−3) 10-7Torr程度の真空
度まで排気し、真空容器を封着した後、容器を内部に水
素が残るように、真空チャンバ内に導入管11から水素
の分圧が10-5ミリバールになるように水素を導入し
た。その後、封着温度を保ちつつ30および33に示す
X,Y,θの調整ステージにて電子源とフェイスプレー
トの位置合わせを行いながら電子源、フェイスプレー
ト、支持枠を接触させ、加圧させた状態を10分間保持
した後、毎分3℃で温度を下げていき、封着温度から1
0℃下げたところで位置合わせを中止し、30および3
3のステージをフリーにし、室温まで冷却した(図1
(b)参照)。
(FR-3) After evacuating to a degree of vacuum of about 10 -7 Torr and sealing the vacuum vessel, the partial pressure of hydrogen was introduced from the introduction pipe 11 into the vacuum chamber so that hydrogen remained in the vessel. Was introduced so as to be 10 -5 mbar. Thereafter, the electron source, the face plate, and the support frame were brought into contact with each other while adjusting the positions of the electron source and the face plate on the X, Y, and θ adjustment stages 30 and 33 while maintaining the sealing temperature, and pressurized. After maintaining the state for 10 minutes, the temperature is lowered at 3 ° C.
When the temperature was lowered by 0 ° C, the alignment was stopped.
The stage 3 was set free and cooled to room temperature (Fig. 1
(B)).

【0085】(FR−4) 室温まで冷却した後、真空
チャンバから取り出して、封止後の真空度を維持するた
めに、高周波加熱法によりゲッター処理を行った(図1
(c)参照)。
(FR-4) After cooling to room temperature, it was taken out of the vacuum chamber and subjected to a getter treatment by a high-frequency heating method to maintain the degree of vacuum after sealing (FIG. 1).
(C)).

【0086】以上のようにして完成した、本発明の製造
方法による図10に示す画像表示装置において、各電子
放出素子には、容器外端子を通じ、信号の不図示の信号
発生手段よりそれぞれ、印加することにより、電子放出
させ、高圧端子Hvを通じ、メタルバックに2kVの高
圧を印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜に衝突させ、
励起・発光させることにより画像を表示した。その結
果、電子放出素子、蛍光体の位置ずれがなく、位置ずれ
に起因した輝度ばらつきや、混色は観察されなかった。
In the image display device shown in FIG. 10 which is completed by the manufacturing method of the present invention as described above, each of the electron-emitting devices is applied with a signal from a signal generating means (not shown) through a terminal outside the container. By doing so, electrons are emitted, a high voltage of 2 kV is applied to the metal back through the high voltage terminal Hv, and the electron beam is accelerated to collide with the fluorescent film,
An image was displayed by excitation and light emission. As a result, there was no misalignment of the electron-emitting device and the phosphor, and no luminance variation or color mixing due to the misalignment was observed.

【0087】[実施例3]本実施例は、表面伝導型電子
放出素子を用いた画像形成装置の製造装置の例である。
以下、図4の工程フロー図と図5の装置模式図を用いて
説明する。まず、装置について説明する。
[Embodiment 3] This embodiment is an example of an apparatus for manufacturing an image forming apparatus using a surface conduction electron-emitting device.
Hereinafter, description will be made with reference to the process flow chart of FIG. 4 and the schematic diagram of the apparatus of FIG. First, the device will be described.

【0088】本実施例の製造装置において、10はロー
ドロック式真空チャンバ、42はオイルフリーの真空排
気装置、39は活性化工程に用いるガスのボンベ、37
はフォーミングおよび活性化工程に用いる電圧源、34
はリアプレート加熱装置、34'はフェイスプレート加
熱装置、30,33はリアプレートもしくはフェイスプ
レートの位置微調整機構、32はフェイスプレートある
いはリアプレートをZ軸方向に移動し、また、フェイス
プレートとリアプレートの加圧する機構、36はフェイ
スプレートおよびリアプレートに形成された位置合わせ
用パターン(アライメントマーク)の位置を観測するた
めの検出手段であるCCD、35はリアプレートに形成
された位置合わせ用のパターン(アライメントマーク)
とフェイスプレートに形成されたパターンを照らすため
の光源、40は36から信号を受け取ってフェイスプレ
ートとリアプレートの相対位置関係を算出する画像認識
/演算装置、41は40からの情報をもとにフェイスプ
レートのX,Y,θ調整ステージにフィードバックをか
ける位置制御装置である。
In the manufacturing apparatus of this embodiment, 10 is a load lock type vacuum chamber, 42 is an oil-free vacuum exhaust device, 39 is a gas cylinder used in the activation step, 37
Is a voltage source used for forming and activating steps, 34
Is a rear plate heating device, 34 'is a face plate heating device, 30 and 33 are mechanisms for finely adjusting the position of the rear plate or face plate, 32 is a mechanism for moving the face plate or rear plate in the Z-axis direction. A mechanism for pressing the plate, 36 is a CCD which is a detection means for observing the position of a positioning pattern (alignment mark) formed on the face plate and the rear plate, and 35 is a positioning means formed on the rear plate. Pattern (alignment mark)
And a light source for illuminating a pattern formed on the face plate, 40 is an image recognition / arithmetic device which receives a signal from 36 and calculates a relative positional relationship between the face plate and the rear plate, and 41 is based on information from 40 This is a position control device that applies feedback to the X, Y, and θ adjustment stages of the face plate.

【0089】なお、図1と同符号のものは図1と同じも
のを表す。CCD36は位置調整ステージ30,33と
加熱板34,34’に形成された観測用孔201,20
1を通じてフェイスプレートおよびリアプレート上に形
成された位置合わせ用パターンを観測する。
The same reference numerals as those in FIG. 1 indicate the same as those in FIG. The CCD 36 has observation holes 201, 20 formed in the position adjustment stages 30, 33 and the heating plates 34, 34 '.
1 to observe the alignment patterns formed on the face plate and the rear plate.

【0090】画像認識/演算装置40はこのCCD36
からの信号を受け取り、対応する位置合わせ用パターン
を一つの画面に合成し、その相対位置関係を算出する。
位置制御装置41はこの相対位置関係が所定の位置関係
になるようにX,Y,θ調整ステージを制御する。この
ようにしてフェイスプレート141とリアプレート14
5を所定の位置関係になるように保つことができる。
The image recognition / arithmetic device 40 is provided with the CCD 36
And synthesizes the corresponding positioning pattern on one screen, and calculates the relative positional relationship.
The position control device 41 controls the X, Y, θ adjustment stage so that the relative positional relationship becomes a predetermined positional relationship. Thus, the face plate 141 and the rear plate 14
5 can be maintained in a predetermined positional relationship.

【0091】また、活性化の電圧印加用の電圧源37は
フォーミングのために用いることもできる。なお、本実
施例においてはフェースプレートとリアプレートの相対
位置の調整はフェイスプレートのX,Y,θ調整ステー
ジ30のみを用いて行った。次に製造方法を説明する。
The voltage source 37 for applying the activation voltage can be used for forming. In this embodiment, the adjustment of the relative position between the face plate and the rear plate was performed using only the X, Y, and θ adjustment stages 30 of the face plate. Next, the manufacturing method will be described.

【0092】(フェイスプレートの作成工程) (F−1) 青板ガラス基板に、蛍光体、黒色導電体を
印刷法により形成した。蛍光膜の内面側表面の平滑化処
理を行い、その後Alを真空蒸着等を用いて堆積させメ
タルバックを形成した。
(Face Plate Forming Step) (F-1) A phosphor and a black conductor were formed on a blue plate glass substrate by a printing method. A smoothing treatment was performed on the inner surface of the fluorescent film, and then Al was deposited using vacuum evaporation or the like to form a metal back.

【0093】(F−2) 高さ(フェイスプレートとリ
アプレートとの間隔)が2mmの支持枠をフェイスプレ
ートの周縁部にフリットガラスにて接着した。また、支
持枠のリアプレートとの接着部には、フリットガラスを
ディスペンサー法にて配置した。
(F-2) A support frame having a height (the distance between the face plate and the rear plate) of 2 mm was bonded to the periphery of the face plate with frit glass. In addition, frit glass was disposed by a dispenser method at a bonding portion between the support frame and the rear plate.

【0094】(リアプレートの作成) (R−1) 実施例1と同様にして、青板ガラスを洗浄
し、シリコン酸化膜をスパッタ法で形成したリアプレー
ト上に下配線をスクリーン印刷で形成した。次に、下配
線と上配線間に層間絶縁層を形成する。さらに、上配線
を形成した。次に、下配線と上配線とに接続された素子
電極を形成した。
(Preparation of Rear Plate) (R-1) In the same manner as in Example 1, the blue plate glass was washed, and the lower wiring was formed by screen printing on the rear plate on which a silicon oxide film was formed by sputtering. Next, an interlayer insulating layer is formed between the lower wiring and the upper wiring. Further, an upper wiring was formed. Next, device electrodes connected to the lower wiring and the upper wiring were formed.

【0095】(R−2) 次いで、PdOからなる導電
性薄膜をスパッタ法で形成した後、パターニングし、所
望の形態とした。
(R-2) Next, a conductive thin film made of PdO was formed by sputtering, and then patterned to obtain a desired form.

【0096】(R−3) 上配線および下配線を通じて
素子電極間に形成された導電性薄膜に電圧を印加し、フ
ォーミングを行った。以上の工程により、リアプレート
を作成した。
(R-3) Forming was performed by applying a voltage to the conductive thin film formed between the device electrodes through the upper wiring and the lower wiring. Through the above steps, a rear plate was prepared.

【0097】(FR−1) 上記の工程により作成した
フェイスプレート、リアプレートを真空チャンバに導入
し、加熱装置34,34'にそれぞれ固定した後、真空
排気を行った。
(FR-1) The face plate and the rear plate prepared in the above steps were introduced into a vacuum chamber, fixed to the heating devices 34 and 34 ', respectively, and then evacuated.

【0098】(FR−2) フェイスプレートとリアプ
レートとの間隔を10cmとした状態で、活性化ガスと
してアセトンを10-4Torr、不図示のガス流量制御
装置を通して導入し、活性化用の電圧源37により電圧
を印加し、活性化を行った。
(FR-2) With the distance between the face plate and the rear plate being 10 cm, acetone was introduced as an activating gas at 10 -4 Torr through a gas flow rate control device (not shown), and the voltage for activation was increased. A voltage was applied by the source 37 to activate the device.

【0099】(FR−3) 真空排気を行いながら所定
のプロファイルにて温度を上昇させ、吸着した活性化ガ
スや水、酸素、一酸化炭素等の脱ガスを行いながら封着
温度まで昇温した。このときの封着温度は接着に用いる
フリットガラスによって決定されるが、この場合は41
0℃に設定した。
(FR-3) The temperature was raised with a predetermined profile while performing vacuum evacuation, and the temperature was raised to the sealing temperature while performing degassing of the adsorbed activated gas, water, oxygen, carbon monoxide and the like. . The sealing temperature at this time is determined by the frit glass used for the bonding.
It was set to 0 ° C.

【0100】(FR−4) 10-7Torr程度の真空
度まで排気した後、封着温度を保ちつつ30に示すX,
Y,θの調整ステージにてリアプレートとフェイスプレ
ートの位置合わせを行いながら加圧およびZ軸移動機構
によりフェイスプレート141を下降させ、リアアプレ
ート、フェイスプレート、支持枠を接触させ、加圧させ
た状態を10分間保持した後、毎分3℃で温度を下げて
いき、封着温度から10℃下げたところで位置合わせを
中止し、加熱板34に固定されたリアプレートの固定を
解除し、X,Y方向に自由に動けるようにした。続いて
室温まで徐冷した。
(FR-4) After evacuating to a degree of vacuum of about 10 -7 Torr, X, 30 shown at 30 was maintained while maintaining the sealing temperature.
While adjusting the position of the rear plate and the face plate on the Y and θ adjustment stages, the face plate 141 is lowered by the pressurizing and Z-axis moving mechanism, and the rear plate, the face plate, and the support frame are brought into contact with each other and pressurized. After maintaining the state for 10 minutes, the temperature is lowered at 3 ° C. per minute, the positioning is stopped when the temperature is lowered by 10 ° C. from the sealing temperature, and the fixing of the rear plate fixed to the heating plate 34 is released. It can move freely in the X and Y directions. Subsequently, it was gradually cooled to room temperature.

【0101】(FR−5) 室温程度まで冷却した後、
真空チャンバから取り出し、封止後の真空度を維持する
ために、高周波加熱法でゲッター処理を行った。
(FR-5) After cooling to about room temperature,
After being taken out of the vacuum chamber, getter processing was performed by a high-frequency heating method in order to maintain the degree of vacuum after sealing.

【0102】以上のように完成した本発明の製造方法に
より製造された図6に示す画像表示装置において、各電
子放出素子には、容器外端子Dx1〜Dxm,Dy1〜
Dynを通じ、走査信号および変調信号の不図示の信号
発生手段よりそれぞれ、印加することにより、電子放出
させ、高圧端子Hvを通じ、メタルバック69に4kV
の高圧を印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜68に衝
突させ、励起・発光させることにより画像を表示した。
その結果、電子放出素子、蛍光体の位置ずれがなく、位
置ずれに起因した輝度ばらつきや、混色は観察されなか
った。
In the image display device shown in FIG. 6 manufactured by the manufacturing method of the present invention completed as described above, each electron-emitting device has external terminals Dx1 to Dxm, Dy1 to Dy1.
By applying scanning signals and modulation signals from a signal generation means (not shown) through Dyn, electrons are emitted, and 4 kV is applied to the metal back 69 through the high voltage terminal Hv.
The high voltage was applied to accelerate the electron beam, collided with the fluorescent film 68, and excited and emitted light to display an image.
As a result, there was no misalignment of the electron-emitting device and the phosphor, and no luminance variation or color mixing due to the misalignment was observed.

【0103】[実施例4]本実施例では、実施例1で作
成した画像形成装置に画像信号を入力して画像を表示さ
せた例を示す。先ず、入力された画像信号から、走査信
号と変調信号を作成した。該走査信号にしたがって容器
外端子Dx1〜Dxmを順次走査しながら、Dy1〜D
ynを通じて変調信号をそれぞれ入力した。本実施例に
おいては、正確な画像を表示することができた。これ
は、放出された電子が所定の位置に照射されているため
であると考えられる。
[Embodiment 4] In this embodiment, an example is shown in which an image signal is input to the image forming apparatus created in Embodiment 1 and an image is displayed. First, a scanning signal and a modulation signal were created from the input image signal. While sequentially scanning the external terminals Dx1 to Dxm according to the scanning signal, Dy1 to Dy1
Modulated signals were input through yn. In this embodiment, an accurate image could be displayed. It is considered that this is because the emitted electrons are applied to a predetermined position.

【0104】[0104]

【発明の効果】上記のように、本発明の画像形成装置の
製造方法により、封着温度近傍において電子源と画像形
成部材を所定の位置関係に保ちながら部材を張り合わせ
て真空外囲器を形成するため、熱膨張やフリットガラス
の軟化等による相対位置のずれを補正することができ、
電子源基板とフェイスプレートを高い位置精度で張り合
わせることができ、位置ずれに起因する輝度むらや混色
のない、高品位な画像形成装置を作製することができ
る。
As described above, according to the method of manufacturing an image forming apparatus of the present invention, a vacuum envelope is formed by bonding members while maintaining a predetermined positional relationship between an electron source and an image forming member near a sealing temperature. Therefore, it is possible to correct the relative position shift due to thermal expansion or softening of the frit glass, etc.
The electron source substrate and the face plate can be bonded with high positional accuracy, and a high-quality image forming apparatus free from uneven brightness and color mixture due to positional displacement can be manufactured.

【0105】また、電子源基板とフェイスプレートをガ
スに対する十分なコンダクタンスが得られるだけの間隔
を離して封着温度まで昇温し、部材からの脱ガスを十分
行った後で張り合わせることにより、真空度の高い真空
容器が形成でき、安定した電子放出特性を得ることがで
きる。
Also, the temperature of the electron source substrate and the face plate are raised to the sealing temperature with an interval sufficient to obtain a sufficient conductance to the gas, and after the degassing from the member has been sufficiently performed, the substrates are bonded to each other. A vacuum container having a high degree of vacuum can be formed, and stable electron emission characteristics can be obtained.

【0106】また、表面伝導型電子放出素子を用いる場
合には電子源基板とフェイスプレートをガスに対する十
分なコンダクタンスが得られるだけの間隔を離して、活
性化ガスを導入することにより、容易に電子源基板に活
性化ガスを行き亘らせることができ、均一な活性化を行
うことが可能となり、電子放出素子毎の特性が揃うた
め、画像形成装置を形成した際に、輝度むらのない表示
品位の優れた画像形成装置が作製される。
When a surface conduction electron-emitting device is used, the electron source substrate and the face plate are separated from each other by a distance enough to obtain a sufficient conductance to the gas, and the activation gas is introduced so that electrons can be easily emitted. Since the activation gas can be spread over the source substrate, uniform activation can be performed, and the characteristics of each electron-emitting device are uniform, so that when an image forming apparatus is formed, a display without uneven brightness can be obtained. A high-quality image forming apparatus is manufactured.

【0107】また、電子源基板とフェイスプレートの間
隔を離したままで封着温度まで昇温し、排気を行って封
着を行うことにより、部材に吸着している活性化ガス等
を取り除く工程と兼ねることができるので、電子放出特
性に影響する真空度の向上と熱処理工程の短縮とが実現
され、高品質で安定な画像形成装置が作製される等の顕
著な効果が奏される。
Further, a step of raising the temperature to the sealing temperature while leaving the gap between the electron source substrate and the face plate, and performing the sealing by performing the exhaust to remove the activated gas or the like adsorbed on the member. Since it can also serve as an improvement, the improvement of the degree of vacuum affecting the electron emission characteristics and the shortening of the heat treatment step are realized, and remarkable effects such as the production of a high-quality and stable image forming apparatus are achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の製造方法を概念的に示す製造工程説明
図。
FIG. 1 is an explanatory view of a manufacturing process conceptually showing a manufacturing method of the present invention.

【図2】実施例1の画像形成装置の製造方法の製造工程
フローを示すブロック図。
FIG. 2 is a block diagram illustrating a manufacturing process flow of the method for manufacturing the image forming apparatus according to the first embodiment.

【図3】実施例2の画像形成装置の製造方法の製造工程
フローを示すブロック図。
FIG. 3 is a block diagram illustrating a manufacturing process flow of a method for manufacturing an image forming apparatus according to a second embodiment.

【図4】実施例3の画像形成装置の製造方法の製造工程
フローを示すブロック図。
FIG. 4 is a block diagram illustrating a manufacturing process flow of a method for manufacturing an image forming apparatus according to a third embodiment.

【図5】本発明の画像形成装置の製造装置例を示す摸式
図。
FIG. 5 is a schematic view showing an example of a manufacturing apparatus of the image forming apparatus of the present invention.

【図6】実施例1で作製した画像形成装置を示す斜視
図。
FIG. 6 is a perspective view illustrating the image forming apparatus manufactured in the first embodiment.

【図7】実施例1で用いた冷陰極の表面伝導型電子放出
素子を示す摸式図。
FIG. 7 is a schematic diagram showing a cold cathode surface conduction electron-emitting device used in Example 1.

【図8】実施例1で用いた蛍光膜の例を示す摸式図。FIG. 8 is a schematic diagram showing an example of a fluorescent film used in Example 1.

【図9】実施例2で作製した画像形成装置に用いた電界
放出素子を示す摸式図。
FIG. 9 is a schematic view showing a field emission device used in the image forming apparatus manufactured in Example 2.

【図10】実施例2で作製した画像形成装置を示す摸式
図。
FIG. 10 is a schematic diagram illustrating the image forming apparatus manufactured in the second embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 真空チャンバ 11 ガス導入管 12 真空排気用排気管 22,66,143 支持枠 23 フェイスプレート、リアプレートと支持枠との
接合部材 30 フェイスプレート用X,Y,θ調節ステージ 31 フェイスプレート用加熱板 32 フェイスプレート用Z調節機構 33 リアプレート用X,Y,θ調節ステージ 34 リアプレート用加熱板 35 リアプレート側位置合わせパターン観測用CC
D 36 フェイスプレート側位置合わせパターン観測用
CCD 37 活性化工程用電圧源 39 活性化工程用ガスボンベ 40 画像認識/演算装置 41 位置調節ステージ制御装置 42 オイルフリーの真空排気装置 62 表面伝導型放出素子 65,131,145 リアプレート 67,132,141 フェイスプレート 68 蛍光膜 69 メタルバック 71 基板 72,73 素子電極 74 導電性薄膜 75 電子放出部 81 黒色の導電体 91 フェイスプレート側位置合わせ用パターン 92 リアプレート側位置合わせ用パターン 133 陰極 134 ゲート電極 135 ゲート/陰極間の絶縁層 136 収束電極 147 スペーサ 201 リアプレート側位置合わせパターン用観測孔 202 フェイスプレート側位置合わせパターン用観
測孔
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Vacuum chamber 11 Gas introduction pipe 12 Vacuum exhaust exhaust pipe 22, 66, 143 Support frame 23 Joining member between face plate, rear plate and support frame 30 X, Y, θ adjustment stage for face plate 31 Heating plate for face plate 32 Z adjustment mechanism for face plate 33 X, Y, θ adjustment stage for rear plate 34 Heating plate for rear plate 35 CC for observing alignment pattern on rear plate side
D 36 CCD for observing alignment pattern on face plate side 37 Voltage source for activation process 39 Gas cylinder for activation process 40 Image recognition / arithmetic device 41 Position adjustment stage control device 42 Oil-free vacuum exhaust device 62 Surface conduction type emission element 65 , 131, 145 Rear plate 67, 132, 141 Face plate 68 Fluorescent film 69 Metal back 71 Substrate 72, 73 Device electrode 74 Conductive thin film 75 Electron emission section 81 Black conductor 91 Face plate side alignment pattern 92 Rear plate Side alignment pattern 133 Cathode 134 Gate electrode 135 Insulating layer between gate / cathode 136 Focusing electrode 147 Spacer 201 Observation hole for rear plate side alignment pattern 202 Observation hole for face plate side alignment pattern

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小山 信也 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 審査官 渡戸 正義 (56)参考文献 特開 昭61−42837(JP,A) 欧州特許出願公開788130(EP,A 2) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01J 9/26 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (72) Inventor Shinya Koyama 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Examiner in Canon Inc. Masayoshi Watado (56) References JP-A-61-42837 (JP, A) European Patent Application Publication 788130 (EP, A2) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01J 9/26

Claims (11)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 蛍光体励起手段が配置された第1の基板
と、前記蛍光体励起手段により発光する蛍光体が配置さ
れた第2の基板とを、接合材を介して封着した画像形成
装置の製造方法であって、 (1)チャンバー内において、第1の加熱手段と第2の
加熱手段の間に前記第1の基板と前記第2の基板とを封
着部を接触させない状態で保持して、前記チャンバー内
の真空排気を行いながら、前記第1の基板と前記第2の
基板と接合材とを封着温度まで加熱する加熱工程と、 (2)前記チャンバー内が真空排気されている状態で、
前記封着部を接触させて前記第1の基板と前記第2の基
板とを前記接合材を介して封着する封着工程と、を有す
ることを特徴とする画像形成装置の製造方法。
1. An image forming apparatus comprising: a first substrate on which phosphor exciting means is arranged; and a second substrate on which phosphors emitting light by the phosphor exciting means are arranged, via a bonding material. A method of manufacturing an apparatus, comprising: (1) in a chamber, a state in which a sealing portion is not brought into contact between a first substrate and a second substrate between a first heating unit and a second heating unit; A heating step of holding and heating the first substrate, the second substrate, and the bonding material to a sealing temperature while evacuating the chamber, and (2) evacuating the chamber. In the state
A method of manufacturing an image forming apparatus, comprising: a sealing step of contacting the sealing portion to seal the first substrate and the second substrate via the bonding material.
【請求項2】 前記第1の基板と第2の基板との封着
が、支持枠及び接合材を介して行なわれる請求項1に記
載の画像形成装置の製造方法。
2. A sealing between the first substrate and the second substrate, method of manufacturing an image forming apparatus according to claim 1 which is carried out through the support frame and the bonding material.
【請求項3】 前記第1の基板と第2の基板とを前記支
持枠の高さよりも大きい間隔で対向配置した状態で前記
加熱工程が行なわれる請求項2に記載の画像形成装置の
製造方法。
3. The method for manufacturing an image forming apparatus according to claim 2, wherein the heating step is performed in a state where the first substrate and the second substrate are arranged to face each other at an interval larger than the height of the support frame. .
【請求項4】 前記蛍光体励起手段が、電子放出素子で
ある請求項1〜3のいずれかに記載の画像形成装置の製
造方法。
4. The method for manufacturing an image forming apparatus according to claim 1, wherein said phosphor exciting means is an electron-emitting device.
【請求項5】 前記電子放出素子が、表面伝導型電子放
出素子である請求項4に記載の画像形成装置の製造方
法。
Wherein said electron-emitting device, method of manufacturing an image forming apparatus according to claim 4 is a surface conduction electron-emitting device.
【請求項6】 前記電子放出素子が、電界放出型電子放
出素子である請求項4に記載の画像形成装置の製造方
法。
Wherein said electron-emitting device, method of manufacturing an image forming apparatus according to claim 4 is a field emission type electron-emitting device.
【請求項7】 前記封着工程の前に、前記表面伝導型電
子放出素子のフォーミング工程を有する請求項5に記載
の画像形成装置の製造方法。
7. The method for manufacturing an image forming apparatus according to claim 5, further comprising a forming step of said surface conduction electron-emitting device before said sealing step.
【請求項8】 前記フォーミング工程の後、前記封着工
程の前に、前記表面伝導型電子放出素子の活性化工程を
有する請求項7に記載の画像形成装置の製造方法。
After wherein said forming step and before the sealing step, the manufacturing method of the image forming apparatus according to claim 7 having an activation process of the surface conduction electron-emitting devices.
【請求項9】 前記接合材が、低融点ガラスフリットで
ある請求項1〜8のいずれかに記載の画像形成装置の製
造方法。
9. The method for manufacturing an image forming apparatus according to claim 1, wherein said bonding material is a low melting point glass frit.
【請求項10】 第1の基板と第2の基板とを有してお
り、前記第1の基板と第2の基板は対向配置されてお
り、該第1の基板と第2の基板の間に外部に対して気密
な空間を有しており、該気密な空間に蛍光体と該蛍光体
を励起する手段を有する画像形成装置の製造方法であっ
て、 (1)チャンバー内において、第1の加熱手段と第2の
加熱手段の間に前記第1の基板と前記第2の基板とを封
着部を接触させない状態で保持して、前記チャンバー内
の真空排気を行いながら、前記第1の基板と前記第2の
基板と接合材とを封着温度まで加熱する加熱工程と、 (2)該加熱工程の後、前記チャンバー内に水素または
プラズマを発生させるガスが導入されている状態で、前
記封着部を接触させて前記第1の基板と前記第2の基板
とを前記接合材を介して封着する封着工程と、を有する
ことを特徴とする画像形成装置の製造方法。
10. A semiconductor device comprising a first substrate and a second substrate, wherein the first substrate and the second substrate are arranged to face each other, and between the first substrate and the second substrate. A method for manufacturing an image forming apparatus, which has an airtight space with respect to the outside, and has a phosphor and means for exciting the phosphor in the airtight space, wherein: The first substrate and the second substrate are held between the heating means and the second heating means in a state where the sealing portion is not in contact with the first heating means and the second heating means, and the first chamber is evacuated while the chamber is evacuated. A heating step of heating the substrate, the second substrate, and the bonding material to a sealing temperature; and (2) after the heating step, in a state in which hydrogen or a gas for generating plasma is introduced into the chamber. Contacting the sealing portion and bonding the first substrate and the second substrate to the bonding material; Method of manufacturing an image forming apparatus characterized by having a sealing step of sealing with.
【請求項11】 前記第1の基板は前記第1の加熱手段11. The first substrate is provided with a first heating means.
に、前記第2の基板は前記第2の加熱手段に、それぞれThe second substrate is provided to the second heating means, respectively.
固定されている請求項1〜10のいずれかに記載の画像The image according to any one of claims 1 to 10, which is fixed.
形成装置の製造方法。Manufacturing method of forming apparatus.
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