JP2016134437A - ファイバーリングレーザー、光パルス、及び光断層画像化装置 - Google Patents
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<1> 励起光を発生する励起光源と、
前記励起光が入射される第1の光カップラーと、
前記第1の光カップラーから入射された前記励起光によって励起されるYb添加ファイバーと、
前記励起光源が前記励起光を発生するとき、前記励起光によって励起された前記Yb添加ファイバーが放出する放出光を伝搬する第1のシングルモードファイバーと、
前記励起光が前記Yb添加ファイバーに入射する方向と逆方向の光伝搬を防ぐためのアイソレーターと、
を備え、前記放出光から光パルスを形成するファイバーリングレーザーであって、
前記第1のシングルモードファイバーの長さが55cm以上68cm以下であることを特徴とするファイバーリングレーザーである。
前記ファイバーリングレーザーにおいては、励起光源が発生した前記励起光が前記Yb添加ファイバーに入射すると、前記放出光が放出される。前記放出光が前記第1のシングルモードファイバーを伝播し、前記アイソレーターを透過し、前記ファイバーリングレーザーのリング状の光路を周回すると、前記光パルスが形成される。このとき、前記第1のシングルモードファイバーの長さが55cm以上68cm以下であるがために、眼底部分の生体組織の画像化に好適な、略1050nmに中心波長を有する100nm〜110nmの広帯域な光パルスが形成される。
<2> 前記<1>に記載のファイバーリングレーザーによって生成されることを特徴とする光パルスである。
<3> 前記<1>に記載のファイバーリングレーザーと、
前記ファイバーリングレーザーから入射される前記光パルスを測定光及び参照光に分岐する分岐部と、
前記測定光を被測定物体に照射し、前記被測定物体からの反射光を受光する照射受光部と、
前記測定光が前記被測定物体に照射されたときに、前記反射光と前記参照光との干渉光を測定して測定データを生成する干渉光測定部と、
前記測定データから、前記被測定物体の複数の深さ位置における前記反射光の強度を算出して前記被測定物体の深さ方向の一次元断層画像を生成する画像生成部と、
を備えることを特徴とする光断層画像化装置である。
前記光断層画像化装置においては、前記<1>に記載のファイバーリングレーザーが前記光パルスを前記分岐部に入射すると、前記光パルスは、前記測定光及び前記参照光に分岐される。前記分岐部が前記測定光を前記照射受光部に入射し、前記照射受光部が前記測定光を前記被測定物体に照射すると、前記被測定物体から前記反射光が反射される。前記照射受光部が前記反射光を受光し、前記反射光を前記干渉光測定部に入射すると、前記測定光及び前記参照光の前記干渉光が測定され、前記測定データが生成される。前記画像生成部が前記測定データを入力すると、前記被測定物体の深さ方向の一次元断層画像が生成される。
本発明に係るファイバーリングレーザーが発生するノイズライク光パルスは、眼底の診断用として光断層画像化装置に好適に使用でき、例えば、緑内障の発生機構に迫ることも期待できる。
ファイバーリングレーザー1000を設置する際に、Yb添加ファイバー1030及び第1のシングルモードファイバー1040の長さ及び配置を決定すると、それに応じて励起光がYb添加ファイバー1030及び第1のシングルモードファイバー1040を伝搬した時の偏光状態が決定される。
<1> 励起光を発生する励起光源と、
前記励起光が入射される第1の光カップラーと、
前記第1の光カップラーから入射された前記励起光によって励起されるYb添加ファイバーと、
前記励起光源が前記励起光を発生するとき、前記励起光によって励起された前記Yb添加ファイバーが放出する放出光を伝搬する第1のシングルモードファイバーと、
前記励起光が前記Yb添加ファイバーに入射する方向と逆方向の光伝搬を防ぐためのアイソレーターと、
を備え、前記放出光から光パルスを形成するファイバーリングレーザーであって、
前記第1のシングルモードファイバーの長さが55cm以上68cm以下であることを特徴とするファイバーリングレーザーである。
<2> 前記Yb添加ファイバーの前記励起光の中心波長における吸収損失が2700dB/m以上2800dB/m以下であり、前記Yb添加ファイバーの長さが20cm以上29cm以下である、前記<1>に記載のファイバーリングレーザーである。
<3> 前記Yb添加ファイバーの前記励起光の中心波長における吸収損失が2700dB/m以上2800dB/m以下であり、前記Yb添加ファイバーの長さを1としたときの前記第1のシングルモードファイバーの長さが、1.964以上2.428以下である、前記<1>に記載のファイバーリングレーザーである。
<4> 前記第1のシングルモードファイバーの長さが58cmである、前記<1>から<3>のいずれかに記載のファイバーリングレーザーである。
<5> 前記第1のシングルモードファイバーから出射される前記励起光及び前記放出光が入射される第1のコリメーターと、
前記第1のコリメーターから出射される前記励起光及び前記放出光が入射される第1のλ/4波長板及び第1のλ/2波長板と、
前記第1のλ/4波長板及び第1のλ/2波長板から出射される前記励起光及び前記放出光から、前記光パルスの一部を分離する偏光素子と、
をさらに備える、前記<1>から<4>のいずれかに記載のファイバーリングレーザーである。
<6> 前記偏光素子は、偏光ビームスプリッターである、前記<5>に記載のファイバーリングレーザーである。
<7> 前記偏光素子から出射される前記光パルスの群速度分散を補償するための分散補償光学素子と、
前記分散補償光学素子から出射された前記励起光及び前記放出光を反射して前記アイソレーターに入射する第1のミラーと、
をさらに備える、前記<1>から<6>のいずれかに記載のファイバーリングレーザーである。
<8> 前記分散補償光学素子は、
平行に配置された第1の回折格子及び第2の回折格子と、
第2のミラーと、
を備え、
前記励起光が前記第1の回折格子及び前記第2の回折格子で回折され、前記第2のミラーで反射され、次いで前記第2の回折格子及び前記第1の回折格子で回折されると、前記光パルスの群速度分散による影響が補償される、前記<7>に記載のファイバーリングレーザーである。
<9> 前記アイソレーターから出射される前記放出光が入射される第2のλ/4波長板と、
前記第2のλ/4波長板から出射される前記励起光及び前記放出光が入射される第2のコリメーターと、
前記第2のコリメーターと第1の光カップラーとを結合する、第2のシングルモードファイバーと、
を備える、前記<1>から<8>のいずれかに記載のファイバーリングレーザーである。
<10> 前記励起光源は、波長略915nmの光又は波長略975nmの励起光を発生するレーザーダイオードである、前記<1>から<9>のいずれかに記載のファイバーリングレーザーである。
<11> 前記<1>から<10>のいずれかに記載のファイバーリングレーザーによって生成された光パルスである。
<12>
前記<1>から<10>のいずれかに記載のファイバーリングレーザーと、
前記ファイバーリングレーザーから入射される光パルスを測定光及び参照光に分岐する分岐部と、
前記測定光を被測定物体に照射し、前記被測定物体からの反射光を受光する照射受光部と、
前記測定光が前記被測定物体に照射されたときに、前記反射光と前記参照光との干渉光を測定して測定データを生成する干渉光測定部と、
前記測定データから、前記被測定物体の複数の深さ位置における前記反射光の強度を算出して前記被測定物体の深さ方向の一次元断層画像を生成する画像生成部と、
を備える光断層画像化装置である。
<13> 前記干渉光測定部は、分光素子と光センサとを備え、
前記分光素子が、入射された前記干渉光を波長成分に分解し、
前記光センサが、波長成分に分解された前記干渉光の波長成分毎の強度を測定することにより測定データを生成する、前記<12>に記載の光断層画像化装置である。
<14> 前記画像生成部は、フーリエ変換を用いて前記測定データから前記被測定物体の複数の深さ位置における前記反射光の強度を算出する、前記<12>から<13>のいずれかに記載の光断層画像化装置である。
<15> 前記照射検出部は、前記被測定物体の深さ方向に垂直な面内で前記被測定物体を走査する走査部を備え、前記画像生成部は、前記走査部が走査した前記面内のそれぞれの位置において生成された前記一次元断層画像から、前記測定物の3次元断層画像を生成する、前記<12>から<14>のいずれかに記載の光断層画像化装置である。
Claims (11)
- 励起光を発生する励起光源と、
前記励起光が入射される第1の光カップラーと、
前記第1の光カップラーから入射された前記励起光によって励起されるYb添加ファイバーと、
前記励起光源が前記励起光を発生するとき、前記励起光によって励起された前記Yb添加ファイバーが放出する放出光を伝搬する第1のシングルモードファイバーと、
前記励起光が前記Yb添加ファイバーに入射する方向と逆方向の光伝搬を防ぐためのアイソレーターと、
を備え、前記放出光から光パルスを形成するファイバーリングレーザーであって、
前記第1のシングルモードファイバーの長さが55cm以上68cm以下であることを特徴とするファイバーリングレーザー。 - 前記Yb添加ファイバーの前記励起光の中心波長における吸収損失が2700dB/m以上2800dB/m以下であり、前記Yb添加ファイバーの長さが20cm以上29cm以下である、請求項1に記載のファイバーリングレーザー。
- 前記Yb添加ファイバーの前記励起光の中心波長における吸収損失が2700dB/m以上2800dB/m以下であり、前記Yb添加ファイバーの長さを1としたときの前記第1のシングルモードファイバーの長さが、1.964以上2.428以下である、請求項1に記載のファイバーリングレーザー。
- 前記第1のシングルモードファイバーから出射される前記励起光及び前記放出光が入射される第1のコリメーターと、
前記第1のコリメーターから出射される前記励起光及び前記放出光が入射される第1のλ/4波長板及び第1のλ/2波長板と、
前記第1のλ/4波長板及び第1のλ/2波長板から出射される前記励起光及び前記放出光から、前記光パルスの一部を分離する偏光素子と、
をさらに備える、請求項1から3のいずれかに記載のファイバーリングレーザー。 - 前記偏光素子から出射される前記光パルスの群速度分散を補償するための分散補償光学素子と、
前記分散補償光学素子から出射された前記励起光及び前記放出光を反射して前記アイソレーターに入射する第1のミラーと、
をさらに備える、請求項1から4のいずれかに記載のファイバーリングレーザー。 - 前記分散補償光学素子は、
平行に配置された第1の回折格子及び第2の回折格子と、
第2のミラーと、
を備え、
前記励起光が前記第1の回折格子及び前記第2の回折格子で回折され、前記第2のミラーで反射され、次いで前記第2の回折格子及び前記第1の回折格子で回折されると、前記光パルスの群速度分散による影響が補償される、請求項5に記載のファイバーリングレーザー。 - 前記アイソレーターから出射される前記放出光が入射される第2のλ/4波長板と、
前記第2のλ/4波長板から出射される前記励起光及び前記放出光が入射される第2のコリメーターと、
前記第2のコリメーターと前記第1の光カップラーとを結合する、第2のシングルモードファイバーと、
を備える、請求項1から6のいずれかに記載のファイバーリングレーザー。 - 請求項1から7のいずれかに記載のファイバーリングレーザーによって生成されることを特徴とする光パルス。
- 請求項1から7のいずれかに記載のファイバーリングレーザーと、
前記ファイバーリングレーザーから入射される光パルスを測定光及び参照光に分岐する分岐部と、
前記測定光を被測定物体に照射し、前記被測定物体からの反射光を受光する照射受光部と、
前記測定光が前記被測定物体に照射されたときに、前記反射光と前記参照光との干渉光を測定して測定データを生成する干渉光測定部と、
前記測定データから、前記被測定物体の複数の深さ位置における前記反射光の強度を算出して前記被測定物体の深さ方向の一次元断層画像を生成する画像生成部と、
を備えることを特徴とする光断層画像化装置。 - 前記干渉光測定部は、分光素子と光センサとを備え、
前記分光素子が、入射された前記干渉光を波長成分に分解し、
前記光センサが、波長成分に分解された前記干渉光の波長成分毎の強度を測定することにより測定データを生成する、請求項9に記載の光断層画像化装置。 - 前記照射検出部は、前記被測定物体の深さ方向に垂直な面内で前記被測定物体を走査する走査部を備え、前記画像生成部は、前記走査部が走査した前記面内のそれぞれの位置において生成された前記一次元断層画像から、前記測定物の3次元断層画像を生成する、請求項9から10のいずれかに記載の光断層画像化装置。
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