JP2010118444A - Circuit board, and method of manufacturing circuit board - Google Patents

Circuit board, and method of manufacturing circuit board Download PDF

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Yasunori Karasawa
泰紀 柄澤
Tatsuo Fukuda
達夫 福田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a high-reliability circuit board used to control respective pixels for a display, especially, a flat panel display. <P>SOLUTION: There is provided the circuit board constituted so that a circuit chip is buried in a resin sheet for the circuit board made of an energy-beam curing type polymeric material, and the resin sheet is irradiated with an energy beam to be cured, wherein the silicon atom content of a sheet surface after curing on the side where the circuit chip is buried is ≤5 atm%. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、回路基板及び回路基板の製造方法に関する。さらに詳しくは、本発明は、誤作動や回路破壊が生じず信頼性の高い回路基板及び回路基板の製造方法に関するものである。   The present invention relates to a circuit board and a method for manufacturing the circuit board. More specifically, the present invention relates to a highly reliable circuit board and a circuit board manufacturing method that do not cause malfunction or circuit destruction.

従来、液晶ディスプレイで代表される平面ディスプレイにおいては、例えばガラス基板上にCVD法(化学的気相蒸着法)などにより絶縁膜、半導体膜などを順次積層し、半導体集積回路を作製するのと同じ工程を経て、画面を構成する各画素近傍に薄膜トランジスタ(TFT)などの微小電子デバイスを形成し、これにより各画素のオン、オフ、濃淡の制御が行われている。すなわち、ガラス基板上にて、TFTなどの微小電子デバイスをその場で作製しているのである。しかしながら、このような技術においては、工程が多段階で煩雑であってコスト高になるのを免れず、また、ディスプレイ面積が拡大すると、ガラス基板上に膜を形成するためのCVD装置なども大型化し、コストが飛躍的に上昇するなどの問題がある。
そこで、コスト削減を目的として、微小な結晶シリコン集積回路チップを印刷インクのように印刷原板に付着させ、それを印刷技術などの手段により、ディスプレイ用のガラス基板上の所定箇所に移し、固定させる技術が開示されている(例えば、特許文献1参照)。この場合、ガラス基板上に、予め高分子フィルムを形成しておき、これに微小な結晶シリコン集積回路チップを印刷技術などの手段で移し、熱成形や加熱プレスなどの方法により、該チップを高分子フィルムに埋め込むことが行われる。しかしながら、このような方法では、高分子フィルムの歪みや発泡などの不具合が発生しやすい上、加熱に時間がかかるため効率的ではない。
Conventionally, in a flat display represented by a liquid crystal display, for example, an insulating film, a semiconductor film, etc. are sequentially laminated on a glass substrate by a CVD method (chemical vapor deposition method) or the like to produce a semiconductor integrated circuit. Through the steps, a microelectronic device such as a thin film transistor (TFT) is formed in the vicinity of each pixel constituting the screen, thereby controlling on / off and light / dark of each pixel. That is, a microelectronic device such as a TFT is fabricated on the glass substrate on the spot. However, in such a technique, it is inevitable that the process is complicated in many steps and the cost is high, and when the display area is enlarged, a CVD apparatus for forming a film on a glass substrate is also large. There is a problem that the cost is drastically increased.
Therefore, for the purpose of cost reduction, a microcrystalline silicon integrated circuit chip is attached to a printing original plate like printing ink, and it is moved to a predetermined location on a glass substrate for display and fixed by means such as printing technology. A technique is disclosed (for example, see Patent Document 1). In this case, a polymer film is formed in advance on a glass substrate, and a microcrystalline silicon integrated circuit chip is transferred to the glass substrate by means of printing technology or the like, and the chip is raised by a method such as thermoforming or heating press. Embedding in a molecular film is performed. However, such a method is not efficient because defects such as distortion and foaming of the polymer film are likely to occur and heating takes time.

また、前記高分子フィルムの代わりにエネルギー線硬化型高分子材料からなる回路基板用樹脂シートを用いて、回路チップ埋め込み時及び埋め込み後のそれぞれの貯蔵弾性率を所定範囲にコントロールすることにより、加熱を行なわなくても回路チップ埋め込みが可能な回路基板用シートが開示されている(例えば、特許文献2参照)。
特開2003−248436号公報 特開2006−323335号公報
In addition, by using a resin sheet for a circuit board made of an energy beam curable polymer material instead of the polymer film, by controlling the storage elastic modulus at the time of circuit chip embedding and after embedding to a predetermined range, heating is performed. There has been disclosed a circuit board sheet that can be embedded without circuit chip (for example, see Patent Document 2).
JP 2003-248436 A JP 2006-323335 A

しかしながら、前記特許文献2における回路基板用樹脂シートにおいては、回路チップが埋め込まれた硬化シート表面に、回路用の配線パターン形成のためのフォトレジストを塗布した際に、フォトレジスト膜にピンホールやハジキといった不都合が発生し、その結果、最終的に形成される配線パターンが設計とは異なるものになり、誤作動や過大な電流による回路破壊などの問題が発生することが、本発明者らの研究により分かった。
また、上記問題を回避するために、フォトレジスト液を複数回塗布することは、工程の煩雑化の要因となり、歩留まりにも影響する。
本発明は、このような状況下になされたもので、ディスプレイ用、特に平面ディスプレイ用の各画素を制御するために用いられる信頼性の高い回路基板及び回路基板の製造方法を提供することを目的とする。
However, in the resin sheet for a circuit board in Patent Document 2, when a photoresist for forming a circuit wiring pattern is applied to the surface of a cured sheet in which circuit chips are embedded, pinholes or As a result, inconveniences such as repellency occur, and as a result, the finally formed wiring pattern is different from the design, and problems such as malfunction and circuit destruction due to excessive current occur. I found out through research.
In addition, in order to avoid the above problem, applying the photoresist solution a plurality of times causes a complicated process and affects the yield.
The present invention has been made under such circumstances, and an object of the present invention is to provide a highly reliable circuit board used for controlling each pixel for a display, particularly a flat display, and a method for manufacturing the circuit board. And

本発明者らは、前記目的を達成するために鋭意研究を重ねた結果、回路基板を製造するための回路基板用樹脂シートとして、エネルギー線硬化型高分子材料から得られたものを用い、かつその硬化後におけるシート表面のケイ素原子含有率が特定の値以下とすることにより、品質のよい回路基板を提供することができ、その目的を達成し得ることを見出し、この知見に基づいて本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明は、
[1]エネルギー線硬化型高分子材料から得られた回路基板用樹脂シートに回路チップを埋め込み、これにエネルギー線を照射して硬化させた回路基板であって、回路チップが埋め込まれた側の硬化後におけるシート表面のケイ素原子含有率が5原子%以下であることを特徴とする回路基板、
[2]回路チップが埋め込まれた側の表面に、配線が形成されてなる上記[1]項に記載の回路基板、
[3]エネルギー線硬化型高分子材料から得られた回路基板用樹脂シートと、回路基板用樹脂シートの回路チップが埋め込まれる側の面に貼合される対面フィルムとの間に回路チップを配置し、前記回路基板用樹脂シートに回路チップを埋め込みエネルギー線を照射して該回路基板用樹脂シートを硬化させ、対面フィルムを剥離することを特徴とする上記[1]又は[2]項に記載の回路基板の製造方法、及び
[4]対面フィルムの回路基板用樹脂シートに貼合される面が、シリコーン系剥離剤層を有さない上記[3]項に記載の回路基板の製造方法、
を提供するものである。
As a result of intensive research to achieve the above object, the present inventors used a resin sheet for a circuit board for producing a circuit board, obtained from an energy ray curable polymer material, and It has been found that by setting the silicon atom content on the sheet surface after curing to a specific value or less, it is possible to provide a high-quality circuit board and achieve its purpose. It came to complete.
That is, the present invention
[1] A circuit board in which a circuit chip is embedded in a resin sheet for a circuit board obtained from an energy beam curable polymer material and cured by irradiating it with energy rays, on the side where the circuit chip is embedded A circuit board having a silicon atom content of 5 atomic% or less on the surface of the sheet after curing;
[2] The circuit board according to the above item [1], wherein a wiring is formed on a surface on which the circuit chip is embedded,
[3] A circuit chip is disposed between a circuit board resin sheet obtained from an energy beam curable polymer material and a facing film bonded to a surface of the circuit board resin sheet on which the circuit chip is embedded. The circuit board resin sheet is embedded in a circuit chip, irradiated with energy rays to cure the circuit board resin sheet, and the facing film is peeled off. [1] or [2] [4] The method for producing a circuit board according to the above item [3], wherein the surface bonded to the circuit board resin sheet of the facing film has no silicone release agent layer,
Is to provide.

本発明によれば、ディスプレイ用、特に平面ディスプレイ用の各画素を制御するために回路チップが埋め込まれた信頼性の高い回路基板を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide a highly reliable circuit board in which a circuit chip is embedded in order to control each pixel for a display, particularly for a flat display.

まず、本発明の回路基板に用いられる回路基板用樹脂シートについて説明する。
[回路基板用樹脂シート]
本発明で用いる回路基板用樹脂シート(以下、単に樹脂シートと称することがある。)は、回路チップを埋め込むためのエネルギー線硬化型高分子材料から得られた樹脂シートである。
First, the resin sheet for circuit boards used for the circuit board of this invention is demonstrated.
[Resin sheet for circuit board]
The resin sheet for a circuit board used in the present invention (hereinafter sometimes simply referred to as a resin sheet) is a resin sheet obtained from an energy ray curable polymer material for embedding a circuit chip.

(エネルギー線硬化型高分子材料)
本発明において、エネルギー線硬化型高分子材料とは、電磁波又は荷電粒子線の中でエネルギー量子を有するもの、すなわち紫外線又は電子線などを照射することにより、架橋する高分子材料を指す。
本発明で用いる前記エネルギー線硬化型高分子材料としては、例えば、(メタ)アクリル酸エステル系重合体とエネルギー線硬化型重合性オリゴマー及び/又は重合性モノマーと所望により光重合開始剤を含む高分子材料を挙げることができる。
前記高分子材料において、(メタ)アクリル酸エステル系重合体としては、エステル部分のアルキル基の炭素数が1〜20の(メタ)アクリル酸エステルと、所望により用いられる活性水素をもつ官能基を有する単量体及び他の単量体との重合体、すなわち(メタ)アクリル酸エステル系重合体を好ましく挙げることができる。本発明において、「(メタ)アクリル酸・・・」とは「アクリル酸・・・」及び「メタクリル酸・・・」の両方を意味する。
(Energy ray curable polymer material)
In the present invention, the energy beam curable polymer material refers to a polymer material that has an energy quantum in an electromagnetic wave or a charged particle beam, that is, a polymer material that is cross-linked by irradiation with ultraviolet rays or electron beams.
Examples of the energy beam curable polymer material used in the present invention include a (meth) acrylate polymer, an energy beam curable polymerizable oligomer and / or a polymerizable monomer, and a photopolymerization initiator as required. Mention may be made of molecular materials.
In the polymer material, the (meth) acrylic acid ester-based polymer includes a (meth) acrylic acid ester having an alkyl group of 1 to 20 carbon atoms in the ester moiety and a functional group having active hydrogen that is used as desired. Preferred examples include a monomer having a monomer and a polymer with another monomer, that is, a (meth) acrylic acid ester polymer. In the present invention, "(meth) acrylic acid ..." means both "acrylic acid ..." and "methacrylic acid ...".

ここで、エステル部分のアルキル基の炭素数が1〜20の(メタ)アクリル酸エステルの例としては、(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸プロピル、(メタ)アクリル酸ブチル、(メタ)アクリル酸ペンチル、(メタ)アクリル酸ヘキシル、(メタ)アクリル酸シクロヘキシル、(メタ)アクリル酸2−エチルヘキシル、(メタ)アクリル酸イソオクチル、(メタ)アクリル酸デシル、(メタ)アクリル酸ドデシル、(メタ)アクリル酸ミリスチル、(メタ)アクリル酸パルミチル、(メタ)アクリル酸ステアリルなどが挙げられる。これらは単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
一方、所望により用いられる活性水素をもつ官能基を有する単量体としては、例えば(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸3−ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシブチル、(メタ)アクリル酸3−ヒドロキシブチル、(メタ)アクリル酸4−ヒドロキシブチルなどの(メタ)アクリル酸ヒドロキシアルキルエステルなどの水酸基含有単量体、(メタ)アクリル酸モノメチルアミノエチル、(メタ)アクリル酸モノエチルアミノエチル、(メタ)アクリル酸モノメチルアミノプロピル、(メタ)アクリル酸モノエチルアミノプロピルなどの(メタ)アクリル酸モノアルキルアミノアルキル;アクリル酸、メタクリル酸、クロトン酸、マレイン酸、イタコン酸、シトラコン酸などのエチレン性不飽和カルボン酸などを適宜用いることができる。
Here, examples of the (meth) acrylic acid ester having 1 to 20 carbon atoms of the alkyl group in the ester portion include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, (meth ) Butyl acrylate, pentyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, isooctyl (meth) acrylate, decyl (meth) acrylate, Examples include dodecyl (meth) acrylate, myristyl (meth) acrylate, palmityl (meth) acrylate, stearyl (meth) acrylate, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.
On the other hand, as a monomer having a functional group having active hydrogen, which is used as desired, for example, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 3-hydroxypropyl (meth) acrylate Hydroxyl-containing monomers such as (meth) acrylic acid hydroxyalkyl esters such as (meth) acrylic acid 2-hydroxybutyl, (meth) acrylic acid 3-hydroxybutyl, (meth) acrylic acid 4-hydroxybutyl, ) Monomethylaminoethyl acrylate, monoethylaminoethyl (meth) acrylate, monomethylaminopropyl (meth) acrylate, monoalkylaminoalkyl (meth) acrylate such as monoethylaminopropyl (meth) acrylate; acrylic acid, Ethylene such as methacrylic acid, crotonic acid, maleic acid, itaconic acid, citraconic acid Such emissions unsaturated carboxylic acids can be used as appropriate.

また、所望により用いられる他の単量体の例としては酢酸ビニル、プロピオン酸ビニルなどのビニルエステル類;エチレン、プロピレン、イソブチレンなどのオレフィン類;塩化ビニル、ビニリデンクロリドなどのハロゲン化オレフィン類;スチレン、α−メチルスチレンなどのスチレン系単量体;ブタジエン、イソプレン、クロロプレンなどのジエン系単量体;アクリロニトリル、メタクリロニトリルなどのニトリル系単量体;アクリルアミド、N−メチルアクリルアミド、N,N−ジメチルアクリルアミドなどのアクリルアミド類などが挙げられる。これらは単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。(メタ)アクリル酸エステル系重合体中、これらの単量体単位は、0〜30質量%含有することができる。
該高分子材料において、アクリル系重合体として用いられる(メタ)アクリル酸エステル系重合体は、その共重合形態については特に制限はなく、ランダム、ブロック、グラフト共重合体のいずれであってもよい。また、分子量は、重量平均分子量で5万〜200万が好ましい。
なお、上記重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により測定した標準ポリスチレン換算の値である。
本発明においては、この(メタ)アクリル酸エステル系重合体は1種を単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
Examples of other monomers used as desired include vinyl esters such as vinyl acetate and vinyl propionate; olefins such as ethylene, propylene and isobutylene; halogenated olefins such as vinyl chloride and vinylidene chloride; styrene Styrene monomers such as α-methylstyrene; diene monomers such as butadiene, isoprene and chloroprene; nitrile monomers such as acrylonitrile and methacrylonitrile; acrylamide, N-methylacrylamide, N, N- Examples include acrylamides such as dimethylacrylamide. These may be used alone or in combination of two or more. In the (meth) acrylic acid ester-based polymer, these monomer units can be contained in an amount of 0 to 30% by mass.
In the polymer material, the (meth) acrylic acid ester polymer used as the acrylic polymer is not particularly limited as to its copolymerization form, and may be any of random, block, and graft copolymers. . The molecular weight is preferably 50,000 to 2,000,000 in terms of weight average molecular weight.
In addition, the said weight average molecular weight is the value of standard polystyrene conversion measured by the gel permeation chromatography (GPC) method.
In the present invention, this (meth) acrylic acid ester-based polymer may be used alone or in combination of two or more.

また、エネルギー線硬化型重合性オリゴマーとしては、例えばポリエステルアクリレート系、エポキシアクリレート系、ウレタンアクリレート系、ポリエーテルアクリレート系、ポリブタジエンアクリレート系、シリコーンアクリレート系などのオリゴマーが挙げられる。ここで、ポリエステルアクリレート系オリゴマーとしては、例えば多価カルボン酸と多価アルコールの縮合によって得られる両末端に水酸基を有するポリエステルオリゴマーの水酸基を(メタ)アクリル酸でエステル化することにより、あるいは、多価カルボン酸にアルキレンオキシドを付加して得られるオリゴマーの末端の水酸基を(メタ)アクリル酸でエステル化することにより得ることができる。エポキシアクリレート系オリゴマーは、例えば、比較的低分子量のビスフェノール型エポキシ樹脂やノボラック型エポキシ樹脂のオキシラン環に、(メタ)アクリル酸を反応しエステル化することにより得ることができる。また、このエポキシアクリレート系オリゴマーを部分的に二塩基性カルボン酸無水物で変性したカルボキシル変性型のエポキシアクリレートオリゴマーも用いることができる。ウレタンアクリレート系オリゴマーは、例えば、ポリエーテルポリオールやポリエステルポリオールとポリイソシアナートの反応によって得られるポリウレタンオリゴマーを、(メタ)アクリル酸でエステル化することにより得ることができ、ポリオールアクリレート系オリゴマーは、ポリエーテルポリオールの水酸基を(メタ)アクリル酸でエステル化することにより得ることができる。
上記重合性オリゴマーの重量平均分子量は、GPC法で測定した標準ポリスチレン換算の値で、好ましくは500〜100,000、より好ましくは1,000〜70,000さらに好ましくは3,000〜40,000の範囲で選定される。
この重合性オリゴマーは、1種を単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
Examples of the energy ray curable polymerizable oligomer include oligomers such as polyester acrylate, epoxy acrylate, urethane acrylate, polyether acrylate, polybutadiene acrylate, and silicone acrylate. Here, as the polyester acrylate oligomer, for example, by esterifying hydroxyl groups of a polyester oligomer having hydroxyl groups at both ends obtained by condensation of a polyvalent carboxylic acid and a polyhydric alcohol with (meth) acrylic acid, It can be obtained by esterifying the terminal hydroxyl group of an oligomer obtained by adding alkylene oxide to a polyvalent carboxylic acid with (meth) acrylic acid. The epoxy acrylate oligomer can be obtained, for example, by reacting (meth) acrylic acid with an oxirane ring of a relatively low molecular weight bisphenol type epoxy resin or novolak type epoxy resin and esterifying it. A carboxyl-modified epoxy acrylate oligomer obtained by partially modifying this epoxy acrylate oligomer with a dibasic carboxylic acid anhydride can also be used. The urethane acrylate oligomer can be obtained, for example, by esterifying a polyurethane oligomer obtained by reaction of polyether polyol or polyester polyol with polyisocyanate with (meth) acrylic acid. It can be obtained by esterifying the hydroxyl group of ether polyol with (meth) acrylic acid.
The weight average molecular weight of the polymerizable oligomer is a value in terms of standard polystyrene measured by the GPC method, preferably 500 to 100,000, more preferably 1,000 to 70,000, still more preferably 3,000 to 40,000. It is selected in the range.
This polymerizable oligomer may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

一方、エネルギー線硬化型重合性モノマーとしては、例えば(メタ)アクリル酸シクロヘキシル、(メタ)アクリル酸2−エチルヘキシル、(メタ)アクリル酸ラウリル、(メタ)アクリル酸ステアリル、(メタ)アクリル酸イソボルニルなどの単官能性アクリル酸エステル類、ジ(メタ)アクリル酸1,4−ブタンジオールエステル、ジ(メタ)アクリル酸1,6−ヘキサンジオールエステル、ジ(メタ)アクリル酸ネオペンチルグリコールエステル、ジ(メタ)アクリル酸ポリエチレングリコールエステル、ジ(メタ)アクリル酸ネオペンチルグリコールアジペートエステル、ジ(メタ)アクリル酸ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコールエステル、ジ(メタ)アクリル酸ジシクロペンタニル、ジ(メタ)アクリル酸カプロラクトン変性ジシクロペンテニル、ジ(メタ)アクリル酸エチレンオキシド変性リン酸エステル、ジ(メタ)アクリル酸アリル化シクロヘキシル、ジ(メタ)アクリル酸イソシアヌレート、ジ(メタ)アクリル酸ジメチロールトリシクロデカン、トリ(メタ)アクリル酸トリメチロールプロパンエステル、トリ(メタ)アクリル酸ジペンタエリスリトールエステル、トリ(メタ)アクリル酸プロピオン酸変性ジペンタエリスリトールエステル、トリ(メタ)アクリル酸ペンタエリスリトールエステル、トリ(メタ)アクリル酸プロピレンオキシド変性トリメチロールプロパンエステル、イソシアヌル酸トリス(アクリロキシエチル)、ペンタ(メタ)アクリル酸プロピオン酸変性ジペンタエリスリトールエステル、ヘキサ(メタ)アクリル酸ジペンタエリスリトールエステル、ヘプタ(メタ)アクリル酸トリエリスリトールエステル、ヘキサ(メタ)アクリル酸カプロラクトン変性ジペンタエリスリトールエステル、カプロラクトン変性トリス(アクリロキシエチル)イソシアヌレートなど多官能性アクリル酸エステル類が挙げられる。これらの重合性モノマーは1種用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。   On the other hand, as the energy ray-curable polymerizable monomer, for example, cyclohexyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, lauryl (meth) acrylate, stearyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, etc. Monofunctional acrylic acid esters, di (meth) acrylic acid 1,4-butanediol ester, di (meth) acrylic acid 1,6-hexanediol ester, di (meth) acrylic acid neopentyl glycol ester, di ( (Meth) acrylic acid polyethylene glycol ester, di (meth) acrylic acid neopentyl glycol adipate ester, di (meth) acrylic acid hydroxypivalic acid neopentyl glycol ester, di (meth) acrylic acid dicyclopentanyl, di (meth) acrylic Acid caprolactone-modified dicyclopentenyl, di (meth) acrylate Ethylene oxide modified phosphoric acid ester, di (meth) acrylic acid allylated cyclohexyl, di (meth) acrylic acid isocyanurate, di (meth) acrylic acid dimethylol tricyclodecane, tri (meth) acrylic acid trimethylolpropane ester, Tri (meth) acrylic acid dipentaerythritol ester, tri (meth) acrylic acid propionic acid modified dipentaerythritol ester, tri (meth) acrylic acid pentaerythritol ester, tri (meth) acrylic acid propylene oxide modified trimethylolpropane ester, isocyanuric Acid tris (acryloxyethyl), penta (meth) acrylic acid propionic acid modified dipentaerythritol ester, hexa (meth) acrylic acid dipentaerythritol ester, hepta (meth) acrylic acid trierythritol ester Le, hexa (meth) acrylic acid caprolactone-modified dipentaerythritol ester, polyfunctional acrylates such as caprolactone-modified tris (acryloyloxyethyl) isocyanurate. These polymerizable monomers may be used alone or in combination of two or more.

また、エネルギー線として、通常紫外線又は電子線が照射されるが、紫外線を照射する際には、光重合開始剤を用いることができる。この光重合開始剤としては、例えばベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾイン−n−ブチルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテル、アセトフェノン、ジメチルアミノアセトフェノン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、1−[4−(2−ヒドロキシエトキシ)−フェニル]−2−ヒドロキシ−2−メチル−1−プロパン−1−オン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノン−1、ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フェニルフォスフィンオキサイド、2,4,6−トリメチルベンゾイル−ジフェニル−フォスフィンオキサイド、2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン、2,2−ジエトキシ−2−フェニルアセトフェノン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、2−ヒドロキシ−1−[4−[4−(2−ヒドロキシ−2−メチル−プロピオニル)−ベンジル]−フェニル]−2−メチル−プロパン−1−オン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノ−プロパン−1−オン、4−(2−ヒドロキシエトキシ)フェニル−2−(ヒドロキシ−2−プロピル)ケトン、ベンゾフェノン、p−フェニルベンゾフェノン、4,4'−ジエチルアミノベンゾフェノン、ジクロロベンゾフェノン、2−メチルアントラキノン、2−エチルアントラキノン、2−tert−ブチルアントラキノン、2−アミノアントラキノン、2−メチルチオキサントン、2−エチルチオキサントン、2−クロロチオキサントン、2,4−ジメチルチオキサントン、2,4−ジエチルチオキサントン、ベンジルジメチルケタール、アセトフェノンジメチルケタール、p−ジメチルアミン安息香酸エステル、オリゴ[2−ヒドロキシ−2−メチル−1−[4−(1−プロペニル)フェニル]プロパノン]などが挙げられる。これらは1種を用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
配合量は、上述のエネルギー線硬化型高分子材料の固形分100質量部に対し、通常0.01〜10質量部である。
Moreover, although an ultraviolet-ray or an electron beam is normally irradiated as an energy ray, when irradiating an ultraviolet-ray, a photoinitiator can be used. Examples of the photopolymerization initiator include benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin-n-butyl ether, benzoin isobutyl ether, acetophenone, dimethylaminoacetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 1- [4- (2-hydroxyethoxy) -phenyl] -2-hydroxy-2-methyl-1-propan-1-one, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl)- Butanone-1, bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) -phenylphosphine oxide, 2,4,6-trimethylbenzoyl-diphenyl-phosphine oxide, 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1 -On, 2,2-diethoxy- 2-phenylacetophenone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one, 2-hydroxy-1- [4- [4- (2-hydroxy-2-methyl-propionyl) -benzyl] -phenyl ] -2-Methyl-propan-1-one, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propan-1-one, 4- (2-hydroxy Ethoxy) phenyl-2- (hydroxy-2-propyl) ketone, benzophenone, p-phenylbenzophenone, 4,4′-diethylaminobenzophenone, dichlorobenzophenone, 2-methylanthraquinone, 2-ethylanthraquinone, 2-tert-butylanthraquinone, 2-aminoanthraquinone, 2-methylthioxanthone, 2-ethi Ruthioxanthone, 2-chlorothioxanthone, 2,4-dimethylthioxanthone, 2,4-diethylthioxanthone, benzyldimethyl ketal, acetophenone dimethyl ketal, p-dimethylamine benzoate, oligo [2-hydroxy-2-methyl-1- [4- (1-propenyl) phenyl] propanone] and the like. These may be used alone or in combination of two or more.
A compounding quantity is 0.01-10 mass parts normally with respect to 100 mass parts of solid content of the above-mentioned energy ray hardening-type polymeric material.

本発明においては、得られる回路基板用樹脂シートのエネルギー線による硬化時の体積収縮を抑え、かつ耐熱性を向上させるなどの目的で、当該エネルギー線硬化型材料に無機微粒子を含有させることができる。
前記無機微粒子としては、例えばチタン、ジルコニウム、スズ、アルミニウム、鉄などの各種金属元素の酸化物や炭化物などを用いることができる。
本発明においては、この無機微粒子は1種を単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。また、その平均粒子径は、透明性、均一分散性、体積収縮の抑制効果などの観点から、3〜50nmの範囲が好ましく、5〜30nmの範囲がより好ましい。なお、本発明における平均粒子径はBET法による算出値に基づくものである。
In the present invention, the energy ray-curable material can contain inorganic fine particles for the purpose of suppressing volume shrinkage at the time of curing by energy rays of the obtained resin sheet for circuit boards and improving heat resistance. .
Examples of the inorganic fine particles include oxides and carbides of various metal elements such as titanium, zirconium, tin, aluminum, and iron.
In the present invention, these inorganic fine particles may be used alone or in combination of two or more. The average particle diameter is preferably in the range of 3 to 50 nm, more preferably in the range of 5 to 30 nm, from the viewpoints of transparency, uniform dispersibility, volume shrinkage suppression effect, and the like. The average particle size in the present invention is based on a value calculated by the BET method.

前記エネルギー線硬化型高分子材料においては、本発明の効果が損なわれない範囲で、所望により、架橋剤、粘着付与剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、光安定剤、軟化剤などを添加することができる。
前記架橋剤としては、例えばポリイソシアナート化合物、エポキシ樹脂、メラミン樹脂、尿素樹脂、ジアルデヒド類、メチロールポリマー、アジリジン系化合物、金属キレート化合物、金属アルコキシド、金属塩などが挙げられるが、ポリイソシアナート化合物が好ましく用いられる。この架橋剤は、上述の(メタ)アクリル酸エステル系共重合体の固形分100質量部に対して、0〜30質量部配合することができる。
ここで、ポリイソシアナート化合物の例としては、トリレンジイソシアナート、ジフェニルメタンジイソシアナート、キシリレンジイソシアナートなどの芳香族ポリイソシアナート、ヘキサメチレンジイソシアナートなどの脂肪族ポリイソシアナート、イソホロンジイソシアナート、水素添加ジフェニルメタンジイソシアナートなどの脂環式ポリイソシアナートなど、及びそれらのビウレット体、イソシアヌレート体、さらにはエチレングリコール、プロピレングリコール、ネオペンチルグリコール、トリメチロールプロパン、ヒマシ油などの低分子活性水素含有化合物との反応物であるアダクト体などを挙げることができる。これらの架橋剤は1種を単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
In the energy ray curable polymer material, a crosslinking agent, a tackifier, an antioxidant, a UV absorber, a light stabilizer, a softening agent, and the like are added as desired as long as the effects of the present invention are not impaired. be able to.
Examples of the crosslinking agent include polyisocyanate compounds, epoxy resins, melamine resins, urea resins, dialdehydes, methylol polymers, aziridine compounds, metal chelate compounds, metal alkoxides, metal salts, and the like. A compound is preferably used. This crosslinking agent can be blended in an amount of 0 to 30 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the solid content of the above-mentioned (meth) acrylic acid ester copolymer.
Examples of polyisocyanate compounds include aromatic polyisocyanates such as tolylene diisocyanate, diphenylmethane diisocyanate, and xylylene diisocyanate, aliphatic polyisocyanates such as hexamethylene diisocyanate, and isophorone diisocyanate. Nalto, cycloaliphatic polyisocyanates such as hydrogenated diphenylmethane diisocyanate, etc., and their biurets, isocyanurates, and low molecular weights such as ethylene glycol, propylene glycol, neopentyl glycol, trimethylolpropane, castor oil The adduct body etc. which are a reaction material with an active hydrogen containing compound can be mentioned. These crosslinking agents may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

(回路基板用樹脂シートの作製)
以下に、本発明で用いる回路基板用樹脂シートの作製方法について説明するが、本発明はこれにより特に制限されるものではない。
剥離シートの剥離剤層上に、前記エネルギー線硬化型高分子材料を含む適当な濃度に調整された塗工液を、公知の方法、例えばナイフコート法、ロールコート法、バーコート法、ブレードコート法、ダイコート法、グラビアコート法などにより、所定の厚さになるように塗布・乾燥することによって1層構造の回路基板用樹脂シートが形成される。前記剥離シートは回路基板用樹脂シートの保管や保護のため積層されたままであってもよい。さらに、回路基板用樹脂シートの他方の面には、前記剥離シートとは剥離力の異なる剥離シートが積層されてもよいし、積層されずに後述する回路基板用シートの作製にそのまま使用されてもよい。
ここで、回路基板用樹脂シートの厚さは、その使用条件にもよるが、通常50〜1000μm程度であり、好ましくは80〜500μmである。なお、回路基板用樹脂シートの厚さを大きくする場合、前記回路基板用樹脂シートの製造方法により作製した樹脂層を積層することにより回路基板用樹脂シートとすることができる。
(Production of resin sheet for circuit board)
Hereinafter, a method for producing a resin sheet for circuit boards used in the present invention will be described, but the present invention is not particularly limited thereby.
On the release agent layer of the release sheet, a coating solution adjusted to an appropriate concentration containing the energy ray curable polymer material is applied to a known method such as knife coating, roll coating, bar coating, blade coating. A resin sheet for a circuit board having a single-layer structure is formed by applying and drying to a predetermined thickness by a method, a die coating method, a gravure coating method, or the like. The release sheet may remain laminated for storage and protection of the circuit board resin sheet. Furthermore, on the other surface of the resin sheet for circuit boards, a release sheet having a different release force from that of the release sheet may be laminated, or it may be used as it is for producing a circuit board sheet to be described later without being laminated. Also good.
Here, although the thickness of the resin sheet for circuit boards is based also on the use conditions, it is about 50-1000 micrometers normally, Preferably it is 80-500 micrometers. In addition, when enlarging the thickness of the resin sheet for circuit boards, it can be set as the resin sheet for circuit boards by laminating | stacking the resin layer produced with the manufacturing method of the said resin sheet for circuit boards.

前記剥離シートについては、当該回路基板用樹脂シートにおける、後述する支持体に貼合する側の剥離シートに特に制限はなく、ポリエチレンフィルムやポリプロピレンフィルムなどのポリオレフィンフィルム、ポリエチレンテレフタレートなどのポリエステルフィルムに、シリコーン樹脂などの剥離剤を塗布して剥離剤層を設けたものなどを用いることができる。
一方、当該樹脂シートにおける、回路チップを埋め込む側の剥離シートとしては、硬化後の回路基板用樹脂シートのケイ素原子含有率を5原子%以下とする観点からポリエチレンフィルムやポリプロピレンフィルムなどのポリオレフィンフィルム、ポリエチレンテレフタレートなどのポリエステルフィルムに、アルキド樹脂系剥離剤層、ポリブタジエン系剥離剤層、ポリエチレン系剥離剤層などの非シリコーン系剥離剤層を設けたもの、あるいはシリコーンの移行量の少ないシリコーン系剥離剤層を設けたものなどを用いることができる。シリコーンの移行量の少ないシリコーン系剥離剤としては、剥離コントロール剤(シリコーンレジン)やシリコーンオイル等の移行成分を実質的に含まないものが挙げられる。
この剥離シートの厚さは、通常20〜150μm程度である。
For the release sheet, there is no particular limitation on the release sheet on the side to be bonded to the support described later in the resin sheet for circuit board, polyolefin film such as polyethylene film or polypropylene film, polyester film such as polyethylene terephthalate, The thing etc. which apply | coated release agents, such as a silicone resin, and provided the release agent layer can be used.
On the other hand, as the release sheet on the side of embedding the circuit chip in the resin sheet, a polyolefin film such as a polyethylene film or a polypropylene film from the viewpoint of setting the silicon atom content of the resin sheet for a circuit board after curing to 5 atom% or less, Polyester film such as polyethylene terephthalate provided with non-silicone release agent layer such as alkyd resin release agent layer, polybutadiene release agent layer, polyethylene release agent layer, or silicone release agent with little silicone migration What provided the layer etc. can be used. Examples of the silicone-based release agent with a small amount of silicone migration include those that do not substantially contain a migration component such as a release control agent (silicone resin) or silicone oil.
The thickness of this release sheet is usually about 20 to 150 μm.

本発明の回路基板用樹脂シートは支持体上に形成されていてもよい。(以下、回路基板用シートという)
前記支持体については特に制限はなく、通常ディスプレイ用支持体として使用されている透明支持体の中から、任意のものを適宜選択して用いることができる。このような支持体としてはガラス基板、あるいは板状又はフィルム状のプラスチック支持体などを挙げることができる。ガラス基板としては、例えばソーダライムガラス、バリウム・ストロンチウム含有ガラス、アルミノケイ酸ガラス、鉛ガラス、ホウケイ酸ガラス、バリウムホウケイ酸ガラス、石英などからなる支持体を用いることができる。一方板状又はフィルム状のプラスチック支持体としては、例えばポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリエーテルスルフィド樹脂、ポリスルフォン樹脂、ポリシクロオレフィン樹脂などからなる支持体を用いることができる。これらの支持体の厚さは、用途に応じて適宜選定されるが、通常20μm〜5mm程度、好ましくは50μm〜2mmである。
The resin sheet for circuit boards of the present invention may be formed on a support. (Hereinafter referred to as circuit board sheet)
There is no restriction | limiting in particular about the said support body, From the transparent support body normally used as a support body for a display, arbitrary things can be selected suitably and can be used. Examples of such a support include a glass substrate, a plate-like or film-like plastic support, and the like. As the glass substrate, for example, a support made of soda lime glass, barium / strontium-containing glass, aluminosilicate glass, lead glass, borosilicate glass, barium borosilicate glass, quartz, or the like can be used. On the other hand, as a plate-like or film-like plastic support, for example, a support made of polycarbonate resin, acrylic resin, polyethylene terephthalate resin, polyether sulfide resin, polysulfone resin, polycycloolefin resin, or the like can be used. The thickness of these supports is appropriately selected depending on the application, but is usually about 20 μm to 5 mm, preferably 50 μm to 2 mm.

本発明の回路基板用シートを作製する方法に特に制限はないが、生産性の面から、例えば下記の第1の方法及び第2の方法を好ましく採用することができる。
第1の方法としては、当該回路基板用シートの作製に用いる樹脂シートとして、樹脂シートの片面に軽剥離型剥離シートが積層され、もう一方の面に重剥離型剥離シートが積層されてなる樹脂シートを使用し、まず、軽剥離型剥離シートを剥がし、その剥がした面を前記支持体と貼り合わせることにより回路基板用シートを作製する。
第2の方法としては、剥離シート上に前記の方法により回路基板用樹脂シートを作製し、その後、直接支持体と貼り合わせることにより回路基板用シートを作製する。
Although there is no restriction | limiting in particular in the method of producing the sheet | seat for circuit boards of this invention, From the surface of productivity, the following 1st method and 2nd method are preferably employable, for example.
As a first method, as a resin sheet used for manufacturing the circuit board sheet, a resin sheet in which a light release type release sheet is laminated on one side and a heavy release type release sheet is laminated on the other side Using the sheet, first, the light release type release sheet is peeled off, and the peeled surface is bonded to the support to produce a circuit board sheet.
As a second method, a circuit board resin sheet is prepared on the release sheet by the above-described method, and then directly bonded to a support to prepare a circuit board sheet.

次に、回路基板について説明する。
[回路基板]
本発明の回路基板は、前述のようにして作製された回路基板用樹脂シート面に、回路チップを埋め込み、これにエネルギー線を照射して硬化させ、回路チップが埋め込まれた側の硬化後におけるシート表面のケイ素原子含有率が5原子%以下であることを特徴とする。
本発明の回路基板は、下記の本発明の方法、すなわち、前述のエネルギー線硬化型高分子材料から得られた回路基板用樹脂シートと、回路基板用樹脂シートの回路チップが埋め込まれる側の面に貼合される対面フィルムとの間に回路チップを配置し、前記回路基板用樹脂シートに回路チップを埋め込みエネルギー線を照射して該回路基板用樹脂シートを硬化させ、対面フィルムを剥離することにより、製造することができる。
具体的には、回路基板用樹脂シートの回路チップが埋め込まれる面に向かい合うように貼合して用いられる対面フィルムの上に被埋め込み回路チップを置き、その上に回路基板用シートを回路基板用樹脂シート面(回路基板用樹脂シートが剥離シートと貼り合わされている場合は予め剥がして使用する)が該回路チップに接するように載置し、0.05〜2.0MPa程度の荷重下に該チップを、好ましくは0〜150℃、より好ましくは5〜100℃の温度で埋め込み、エネルギー線を照射して回路基板用樹脂シートを硬化させたのち、前記回路チップを置いていた対面フィルムを剥離することにより、本発明の回路基板が得られる。なお、加熱して回路チップを埋め込んだ場合には、エネルギー線の照射は、回路基板用樹脂シートが加熱された状態で行ってもよいし、室温に冷却されてから行ってもよい。
エネルギー線としては、通常紫外線又は電子線が用いられる。紫外線は、高圧水銀ランプ、フュージョン製Hランプ、キセノンランプなどで得られ、一方、電子線は電子線加速器などによって得られる。このエネルギー線の中では、特に紫外線が好適である。このエネルギー線の照射量としては、例えば紫外線の場合には、光量で100〜5000mJ/cm2が好ましく、電子線の場合には、10〜1000krad程度が好ましい。
Next, the circuit board will be described.
[Circuit board]
The circuit board of the present invention is obtained by embedding a circuit chip in the resin sheet surface for a circuit board produced as described above, irradiating it with energy rays and curing it, and after curing on the side where the circuit chip is embedded. The silicon atom content on the sheet surface is 5 atomic% or less.
The circuit board of the present invention is a surface of the circuit board resin sheet obtained from the following method of the present invention, that is, the circuit board resin sheet obtained from the energy beam curable polymer material described above, and the circuit board resin sheet embedded surface. A circuit chip is placed between the facing film to be bonded to the circuit board, the circuit chip is embedded in the resin sheet for circuit board, and the resin sheet for circuit board is cured by irradiating the energy ray to peel off the facing film. Can be manufactured.
Specifically, a circuit chip to be embedded is placed on a facing film that is used by being bonded so as to face a surface on which a circuit chip of the circuit board resin is embedded, and the circuit board sheet is placed on the circuit board. Place the resin sheet surface (if the resin sheet for circuit board is attached to the release sheet, peel it off in advance) so that it comes into contact with the circuit chip, and apply it under a load of about 0.05 to 2.0 MPa. The chip is embedded at a temperature of preferably 0 to 150 ° C., more preferably 5 to 100 ° C., and the resin film for circuit board is cured by irradiating energy rays, and then the facing film on which the circuit chip is placed is peeled off By doing so, the circuit board of the present invention is obtained. When the circuit chip is embedded by heating, the energy ray irradiation may be performed while the circuit board resin sheet is heated, or may be performed after cooling to room temperature.
As energy rays, ultraviolet rays or electron beams are usually used. Ultraviolet rays are obtained with a high-pressure mercury lamp, a fusion H lamp, a xenon lamp or the like, while an electron beam is obtained with an electron beam accelerator or the like. Among these energy rays, ultraviolet rays are particularly preferable. For example, in the case of ultraviolet rays, the irradiation amount of this energy beam is preferably 100 to 5000 mJ / cm 2 , and in the case of an electron beam, it is preferably about 10 to 1000 krad.

対面フィルムとしては、ある程度の剛性を有し、かつ硬化後の回路基板用樹脂シートに対して剥離性を有するものであればよく特に制限されず、例えばポリエチレン、ポリプロピレン、シクロポリオレフィンフィルムなどのポリオレフィン系フィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンナフタレートフィルムなどのポリエステル系フィルム、ポリイミドフィルムなどの樹脂シートやガラス板を挙げることができる。対面フィルムの厚さは、通常10〜1000μm程度、好ましくは20〜500μmである。
また、回路チップを埋め込む側の剥離シートとしてシリコーン系剥離剤層を設けた剥離シートを用いた際に、回路基板用樹脂シート表面にシリコーンが転移してSiが残存した場合であっても、対面フィルムとしてシリコーン系剥離剤層を有さないフィルムを貼合し、回路基板用樹脂シートを硬化した後、対面フィルムを剥離することにより、シリコーンを対面フィルムに転移させ、硬化後の回路基板用樹脂シートの回路チップが埋め込まれた側の表面のSi含有率を低減させることができる。Si含有率が5原子%を超えると配線形成時に回路基板に塗布するレジストにはじきやピンホールが生じ、設計通りの配線を形成することが困難である。Si含有率は4原子%以下であることが好ましく3.5原子%以下であることがより好ましい。Si原子含有率をこのような値とする方法としては、前述したように回路チップを埋め込む側の剥離シートを非シリコーン系剥離剤層を設けたもの、あるいはシリコーン移行量の少ないシリコーン系剥離剤層を設けたものとしたり、対面フィルムを用いて転移させるなどの方法が挙げられる。なお、Si含有率の測定は、後記するように、回路基板の回路が埋め込まれた側の硬化樹脂表面をX線電子分光法を用いて測定し、ケイ素(Si)と炭素(C)の量から次式により算出する。
{Si/(Si+C)}×100(原子%)
The facing film is not particularly limited as long as it has a certain degree of rigidity and can be peeled off from the cured resin sheet for circuit boards. For example, a polyolefin film such as polyethylene, polypropylene, cyclopolyolefin film, etc. Examples thereof include a film, a polyester film such as a polyethylene terephthalate film and a polyethylene naphthalate film, a resin sheet such as a polyimide film, and a glass plate. The thickness of the facing film is usually about 10 to 1000 μm, preferably 20 to 500 μm.
Further, when a release sheet provided with a silicone release agent layer is used as the release sheet on the side where the circuit chip is embedded, even if the silicon is transferred to the resin sheet surface for the circuit board and Si remains, After pasting a film that does not have a silicone release agent layer as a film and curing the resin sheet for circuit board, the facing film is peeled off to transfer the silicone to the facing film, and the cured resin for circuit board The Si content on the surface of the sheet on which the circuit chip is embedded can be reduced. If the Si content exceeds 5 atomic%, the resist applied to the circuit board at the time of wiring formation will cause repelling and pinholes, making it difficult to form wiring as designed. The Si content is preferably 4 atomic percent or less, and more preferably 3.5 atomic percent or less. As a method for setting the Si atom content to such a value, as described above, a release sheet on the side where the circuit chip is embedded is provided with a non-silicone release agent layer, or a silicone release agent layer with a small silicone migration amount. And a method of transferring using a facing film. As will be described later, the Si content is measured by measuring the cured resin surface of the circuit board on the side where the circuit is embedded using X-ray electron spectroscopy, and the amount of silicon (Si) and carbon (C). From the following equation.
{Si / (Si + C)} × 100 (atomic%)

図1は、回路基板用シートを用いて、回路チップを埋め込む方法の1例を示す工程説明図である。
まず、支持体1上に形成されてなる、未硬化状態のエネルギー線硬化型高分子材料から得られた回路基板用樹脂シート2を用意すると共に、対面フィルム4上に回路チップ3を置く[(a)]。次いで、回路基板用樹脂シート2を、回路チップ3に接するように載置し、荷重下に該チップを埋め込み、エネルギー線を照射して硬化させる[(b)]。この操作により、未硬化状態の回路基板用樹脂シート2は硬化層となり、その中に回路チップ3が埋め込まれ、固定されると共に、本発明の回路基板5が、対面フィルム4から容易に剥離される[(c)]。
このような方法によれば、高分子フィルムを加熱して回路チップを埋め込むのではなく、エネルギー線硬化型高分子材料を用いて、回路チップを埋め込み、その後硬化することにより、回路チップを固定化するため、高分子フィルムを用いる場合の不具合も生じにくく、操作時間も短縮でき、効率的である。
FIG. 1 is a process explanatory view showing an example of a method of embedding a circuit chip using a circuit board sheet.
First, a circuit board resin sheet 2 obtained from an uncured energy beam curable polymer material formed on the support 1 is prepared, and the circuit chip 3 is placed on the facing film 4 [( a)]. Next, the circuit board resin sheet 2 is placed so as to be in contact with the circuit chip 3, and the chip is embedded under load, and cured by irradiating energy rays [(b)]. By this operation, the uncured circuit board resin sheet 2 becomes a cured layer, in which the circuit chip 3 is embedded and fixed, and the circuit board 5 of the present invention is easily peeled from the facing film 4. [(C)].
According to such a method, instead of heating the polymer film to embed the circuit chip, the circuit chip is embedded by using an energy ray curable polymer material and then cured to fix the circuit chip. Therefore, problems when using the polymer film are less likely to occur, and the operation time can be shortened, which is efficient.

(配線形成)
このようにして、回路チップが埋め込まれ、硬化処理されて固定化されてなる回路基板は、通常その表面に配線(回路)が形成されている。
この配線形成の方法に特に制限はなく、従来行われている方法の中から、任意の方法を適宜選択して実施することができる。例えばフォトリソグラフィー技術を用いて配線形成を行うことができる。その1例を示すと、回路チップが埋め込まれ、硬化処理されてなる回路基板上に、まずポジ型又はネガ型のフォトレジスト液を塗布し、フォトレジスト層を形成する。フォトレジスト層の厚さは通常0.1〜1μmである。次いで、所定のマスクパターンを介して、上記フォトレジスト層を露光したのち、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液などのアルカリ現像液を用いて現像処理し、レジストパターンを形成させる。
次に、例えば配線材料としてのクロムターゲットやアルミニウムターゲットを用いたスパッタリングなどによって、上記レジストパターン上に、所定の厚さのクロムあるいはアルミニウムの膜を形成したのち、この回路基板用シートをエタノールなどのエッチング液に浸漬して、レジストのエッチングが行われる。本発明の回路基板を用いると上記フォトレジスト層にピンホールやハジキが生じないので、所望の配線を形成することができる。
(Wiring formation)
Thus, the circuit board in which the circuit chip is embedded, fixed by being cured is usually provided with wiring (circuit) on the surface thereof.
There is no particular limitation on the method of forming the wiring, and any method can be appropriately selected from the conventionally performed methods. For example, the wiring can be formed using a photolithography technique. As an example, a positive or negative photoresist solution is first applied on a circuit board in which a circuit chip is embedded and cured, thereby forming a photoresist layer. The thickness of the photoresist layer is usually 0.1 to 1 μm. Next, after exposing the photoresist layer through a predetermined mask pattern, the photoresist layer is developed using an alkaline developer such as an aqueous tetramethylammonium hydroxide solution to form a resist pattern.
Next, after a chromium or aluminum film having a predetermined thickness is formed on the resist pattern by, for example, sputtering using a chromium target or an aluminum target as a wiring material, the circuit board sheet is made of ethanol or the like. The resist is etched by dipping in an etching solution. When the circuit board of the present invention is used, pinholes and repellency do not occur in the photoresist layer, so that a desired wiring can be formed.

次に、本発明を実施例により、さらに詳細に説明するが、本発明は、これらの例によってなんら限定されるものではない。
なお、各例における諸特性は、以下に示す方法に従って求めた。
(1)表面Si含有率
回路基板の回路が埋め込まれた側の硬化樹脂表面のSi含有率(原子%)を、X線光電子分光法(XPS)を用いて、下記の条件で測定した。
測定装置:アルバックファイ社製「Quantum−2000」
X線源:AlKα(1486.6eV)
取り出し角度:45度
測定元素:珪素(Si)及び炭素(C)
なお、Si量は、Si/(Si+C)の値に100を乗じて、「原子%」で表示した。
(2)配線形成
配線形成は、フォトリソグラフィー法を用いて行った。回路基板の硬化層上にポジ型レジスト液[東京応化工業株式会社製、商品名「OFPR−800」]をスピンコーターにより回転数3000rpm、時間40秒で全面に均一に塗布し、その後100℃で5分間乾燥し、厚さ0.5μmのレジスト膜を形成した。次に、光透過部が幅200μmの配線パターンであるフォトマスクを使用し露光した。露光後、回路基板を現像液[東京応化工業株式会社製、商品名「NMD−3」]に1分間浸漬して、露光部のレジストを除去し、精製水で洗浄、100℃で5分間乾燥し現像を行った。その後、アルミニウム(Al)ターゲットを用いて、スパッタリングにより回路基板上に厚さ15nmのアルミニウム(Al)膜を形成した。スパッタリングはマグネトロン型スパッタ装置「ロック技研社製、装置名「PVS−WS」]を用いて、電力:2500W、圧力:2.0×10-1Pa、時間:10秒間の条件で行った。最後にエタノールに10分間浸漬し、レジストのエッチングを行い、チップ間にA1の配線を形成した。デジタル顕微鏡[(株)キーエンス製、商品名「デジタルマイクロスコープVHX−200」]を用いて倍率250倍で観察し、任意の10点で配線幅を測定し平均値を算出した。
(3)レジスト液の塗布ムラ
目視により、レジスト液の塗布ムラを観察した。
EXAMPLES Next, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited at all by these examples.
In addition, the various characteristics in each example were calculated | required according to the method shown below.
(1) Surface Si content The Si content (atomic%) on the surface of the cured resin on the side where the circuit of the circuit board was embedded was measured using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) under the following conditions.
Measuring device: “Quantum-2000” manufactured by ULVAC-PHI
X-ray source: AlKα (1486.6 eV)
Extraction angle: 45 degrees Measurement elements: silicon (Si) and carbon (C)
The amount of Si was expressed in “atomic%” by multiplying the value of Si / (Si + C) by 100.
(2) Wiring formation Wiring formation was performed using a photolithography method. A positive resist solution [manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd., trade name “OFPR-800”] is uniformly applied on the entire surface of the circuit board with a spin coater at a rotational speed of 3000 rpm for 40 seconds, and then at 100 ° C. It was dried for 5 minutes to form a resist film having a thickness of 0.5 μm. Next, it exposed using the photomask whose light transmission part is a wiring pattern with a width | variety of 200 micrometers. After the exposure, the circuit board is immersed in a developer [trade name “NMD-3” manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.] for 1 minute to remove the resist in the exposed area, washed with purified water, and dried at 100 ° C. for 5 minutes. And developed. Thereafter, an aluminum (Al) film having a thickness of 15 nm was formed on the circuit board by sputtering using an aluminum (Al) target. Sputtering was performed using a magnetron type sputtering apparatus “manufactured by Rock Giken Co., Ltd., apparatus name“ PVS-WS ”” under the conditions of power: 2500 W, pressure: 2.0 × 10 −1 Pa, time: 10 seconds. Finally, it was immersed in ethanol for 10 minutes, the resist was etched, and A1 wiring was formed between the chips. Using a digital microscope [manufactured by Keyence Co., Ltd., trade name “Digital Microscope VHX-200”], observation was performed at a magnification of 250 times, and the wiring width was measured at arbitrary 10 points to calculate an average value.
(3) Uneven coating of resist solution Uneven coating of the resist solution was visually observed.

実施例1
重量平均分子量10万のポリ(メタクリル酸メチル)固形分100質量部に対して、光重合開始剤である2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン[チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製、商品名「イルガキュア651」]固形分9.0質量部と、ジアクリル酸ジメチロールトリシクロデカン[共栄社化学社製、製品名「ライトアクリレートDCP−A」]固形分200質量部を加え、最後にメチルエチルケトンを加えて固形分濃度を38質量%に調整し、均一な溶液となるまで撹拌してエネルギー線硬化型高分子材料の塗工液とした。
調製した塗工液をナイフコーターによって、ポリエチレンテレフタレートフィルムの片面にシリコーン系剥離剤層が設けられた重剥離型剥離シート[リンテック社製、商品名「PET50C」]の剥離処理面に塗布し、100℃で90秒間加熱乾燥させ、エネルギー線硬化型高分子材料からなる厚さ50μmの樹脂層を形成した。同様にして、ポリエチレンテレフタレートフィルムの片面にシリコーン系剥離剤層が設けられた軽剥離型剥離シート[リンテック社製、商品名「PET38GS」]の剥離処理面にエネルギー線硬化型高分子材料からなる厚さ50μmの樹脂層を形成した。
これらの樹脂層同士が接するようにラミネータを用いて積層し、厚さ100μmの回路基板用樹脂シートを作製し、さらに軽剥離型剥離シートを剥離してガラス支持体に貼合して回路基板用シートとした。対面フィルムとしての厚さ100μmのシクロポリオレフィンフィルム[オプテス社製、商品名「ゼオノアZF−16」]に、回路チップ(厚さ50μm、縦3mm、横3mm)を2個置き、回路基板用シートの重剥離型剥離シートを剥離して該回路チップに接するように載置し、70℃下、0.2MPaの荷重をかけて埋め込み、フュージョン製Hバルブを光源とする紫外線(照度条件:400mW/cm2、光量条件:300mJ/cm2)を照射することによって回路基板用樹脂シートの硬化を行い回路基板を得た。その後、シクロポリオレフィンフィルムを剥離し、回路基板の硬化シート表面のSi含有率の測定、及び配線形成を行い、配線幅及びレジスト液の塗布ムラを観察した。その結果を第1表に示す。
Example 1
A photopolymerization initiator 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one [Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.] with respect to 100 parts by mass of poly (methyl methacrylate) solid content having a weight average molecular weight of 100,000 Product name “Irgacure 651”] solid content of 9.0 parts by mass and dimethylol tricyclodecane diacrylate [manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd., product name “Light Acrylate DCP-A”] solids content of 200 parts by mass are added. Methyl ethyl ketone was added to adjust the solid content concentration to 38% by mass, and the mixture was stirred until a uniform solution was obtained to obtain an energy ray curable polymer material coating solution.
The prepared coating solution was applied by a knife coater to the release-treated surface of a heavy release type release sheet [trade name “PET50C” manufactured by Lintec Co., Ltd.] having a silicone release agent layer on one side of a polyethylene terephthalate film. Heat drying at 90 ° C. for 90 seconds to form a 50 μm thick resin layer made of an energy ray curable polymer material. Similarly, a light release type release sheet [manufactured by Lintec Corporation, trade name “PET38GS”] having a silicone release agent layer provided on one side of a polyethylene terephthalate film has a thickness made of an energy ray curable polymer material on the release treated surface. A resin layer having a thickness of 50 μm was formed.
Laminator is laminated so that these resin layers are in contact with each other, a resin sheet for a circuit board having a thickness of 100 μm is prepared, and the light release type release sheet is further peeled and bonded to a glass support for circuit board use. A sheet was used. Two circuit chips (thickness 50 μm, length 3 mm, width 3 mm) are placed on a 100 μm-thick cyclopolyolefin film [trade name “Zeonor ZF-16” manufactured by Optes, Inc.] as a facing film, and a circuit board sheet The heavy release type release sheet is peeled off and placed so as to be in contact with the circuit chip, embedded under a load of 0.2 MPa at 70 ° C., and an ultraviolet ray using a fusion H bulb as a light source (illuminance condition: 400 mW / cm 2 and light quantity conditions: 300 mJ / cm 2 ) to cure the resin sheet for circuit board and obtain a circuit board. Thereafter, the cyclopolyolefin film was peeled off, the Si content on the cured sheet surface of the circuit board was measured, and the wiring was formed, and the wiring width and uneven application of the resist solution were observed. The results are shown in Table 1.

実施例2
実施例1において、対面フィルムとして厚さ38μmのポリエチレンテレフタレートフィルム[三菱化学ポリエステルフィルム社製、商品名「T−700」]を用いた以外は、実施例1と同様に実施した。その結果を第1表に示す。
実施例3
実施例1において、対面フィルムとして厚さ38μmのポリエチレンテレフタレートフィルム[三菱化学ポリエステルフィルム社製、商品名「T−100」]を用いた以外は、実施例1と同様に実施した。その結果を第1表に示す。
実施例4
実施例1において、重剥離型剥離シート[リンテック社製、商品名「PET50C」]の代わりに、ポリエチレンテレフタレートフィルムに低密度ポリエチレン系剥離剤層が設けられた非シリコーン系の剥離シート[リンテック(株)社製、商品名「PET38NA」厚さ60μm]を用いた以外は、実施例1と同様に実施した。その結果を第1表に示す。
Example 2
In Example 1, it carried out similarly to Example 1 except having used the 38-micrometer-thick polyethylene terephthalate film [Mitsubishi Chemical Polyester Film Co., Ltd. make, brand name "T-700"] as a facing film. The results are shown in Table 1.
Example 3
In Example 1, it carried out similarly to Example 1 except having used the polyethylene terephthalate film [Mitsubishi Chemical Polyester Film Co., Ltd. make, brand name "T-100"] as a facing film. The results are shown in Table 1.
Example 4
In Example 1, a non-silicone release sheet in which a low-density polyethylene release agent layer was provided on a polyethylene terephthalate film instead of a heavy release release sheet [trade name “PET50C” manufactured by Lintec Corporation] [Lintec Corporation This was carried out in the same manner as in Example 1, except that a product name “PET38NA” having a thickness of 60 μm was used. The results are shown in Table 1.

比較例1
実施例1において、対面フィルムをポリエチレンテレフタレートフィルムの片面にシリコーン系剥離剤層が設けられた重剥離型剥離シート[リンテック社製、商品名「PET382050」]を用いた以外は、実施例1と同様に実施した。その結果を第1表に示す。
比較例2
実施例1において対面フィルムをポリエチレンテレフタレートフィルムの片面にシリコーン系剥離剤層が設けられた重剥離型剥離シート[リンテック社製、商品名「PET3801」]を用いた以外は、実施例1と同様に実施した。その結果を第1表に示す。
Comparative Example 1
In Example 1, the facing film was the same as Example 1 except that a heavy release type release sheet [trade name “PET382020” manufactured by Lintec Corporation] in which a silicone release agent layer was provided on one side of a polyethylene terephthalate film was used. Implemented. The results are shown in Table 1.
Comparative Example 2
In Example 1, the facing film was the same as Example 1 except that a heavy release type release sheet [trade name “PET3801” manufactured by Lintec Corporation] in which a silicone release agent layer was provided on one side of a polyethylene terephthalate film was used. Carried out. The results are shown in Table 1.

Figure 2010118444
Figure 2010118444

第1表の結果から、対面フィルムとして、シリコーン系剥離剤層が設けられていないシートを用いれば、回路基板用樹脂シートの硬化後の表面Si含有率が5原子%以下となり、レジスト液の塗布ムラもなく設計通りの幅を有する配線パターンが得られることが分かった(実施例1〜3)。一方、Si含有率が5原子%を超えている比較例1〜2ではレジスト液の塗布ムラが生じてしまい配線幅が設計値よりはるかに大きくなってしまい、使用可能な配線を形成することは不可能であった。配線を形成させるにはレジスト液を再度塗布するなどの工程が必要となり、本発明によれば回路基板を作製するにあたり工程の簡略化につながると予想される。
なお、実施例4のように、回路基板用樹脂シートの回路チップが埋め込まれる側の面(対面フィルムが貼合される側)の剥離シートに、シリコーン系剥離剤層以外の剥離剤層を設けた剥離シートを用いた場合、Siは検出されず設計通りの幅を有する配線パターンが得られた。
From the results shown in Table 1, when a sheet without a silicone release agent layer is used as the facing film, the surface Si content after curing of the resin sheet for circuit boards is 5 atomic% or less, and the resist solution is applied. It was found that a wiring pattern having a designed width was obtained without any unevenness (Examples 1 to 3). On the other hand, in Comparative Examples 1 and 2 in which the Si content exceeds 5 atomic%, uneven application of the resist solution occurs, and the wiring width becomes much larger than the design value, so that usable wiring is formed. It was impossible. In order to form the wiring, a process such as re-application of a resist solution is required, and according to the present invention, it is expected that the process will be simplified in manufacturing the circuit board.
In addition, as in Example 4, a release agent layer other than the silicone release agent layer is provided on the release sheet on the side of the circuit board resin sheet on which the circuit chip is embedded (the side on which the facing film is bonded). When the release sheet was used, Si was not detected, and a wiring pattern having a designed width was obtained.

本発明の回路基板は、シート表面のSi含有率が5原子%以下であり、ディスプレイ用、特に平面ディスプレイ用の各画素を制御するために回路チップが埋め込まれた回路基板を提供することができる。   The circuit board of the present invention can provide a circuit board in which the Si content of the sheet surface is 5 atomic% or less and the circuit chip is embedded to control each pixel for display, particularly for flat display. .

回路基板用樹脂シートを用いて、本発明の回路基板を製造する方法の1例を示す工程説明図である。It is process explanatory drawing which shows one example of the method of manufacturing the circuit board of this invention using the resin sheet for circuit boards.

符号の説明Explanation of symbols

1 支持体
2 回路基板用樹脂シート
3 回路チップ
4 対面フィルム
5 回路基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Support body 2 Resin sheet | seat for circuit boards 3 Circuit chip 4 Face-to-face film 5 Circuit board

Claims (4)

エネルギー線硬化型高分子材料から得られた回路基板用樹脂シートに回路チップを埋め込み、これにエネルギー線を照射して硬化させた回路基板であって、回路チップが埋め込まれた側の硬化後におけるシート表面のケイ素原子含有率が5原子%以下であることを特徴とする回路基板。   A circuit board embedded with a circuit chip in a resin sheet for a circuit board obtained from an energy ray curable polymer material, and cured by irradiating it with energy rays, after curing on the side where the circuit chip is embedded A circuit board having a silicon atom content of 5 at% or less on a sheet surface. 回路チップが埋め込まれた側の表面に、配線が形成されてなる請求項1に記載の回路基板。   The circuit board according to claim 1, wherein wiring is formed on a surface on the side where the circuit chip is embedded. エネルギー線硬化型高分子材料から得られた回路基板用樹脂シートと、回路基板用樹脂シートの回路チップが埋め込まれる側の面に貼合される対面フィルムとの間に回路チップを配置し、前記回路基板用樹脂シートに回路チップを埋め込みエネルギー線を照射して該回路基板用樹脂シートを硬化させ、対面フィルムを剥離することを特徴とする請求項1又は2に記載の回路基板の製造方法。   A circuit chip is disposed between a resin sheet for a circuit board obtained from an energy ray curable polymer material and a facing film bonded to a surface on which the circuit chip of the resin sheet for a circuit board is embedded, The circuit board manufacturing method according to claim 1 or 2, wherein the circuit board resin sheet is embedded in the circuit board resin sheet, irradiated with energy rays to cure the circuit board resin sheet, and the facing film is peeled off. 対面フィルムの回路基板用樹脂シートに貼合される面が、シリコーン系剥離剤層を有さない請求項3に記載の回路基板の製造方法。   The manufacturing method of the circuit board of Claim 3 in which the surface bonded to the resin sheet for circuit boards of a facing film does not have a silicone type release agent layer.
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