JP2009026119A - メモリ制御装置、信頼性判定期間の更新方法、及びデータの書込み方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】フラッシュメモリと、計時部と、温度検出部と、制御プロセッサとを備えた情報処理装置が実行するフラッシュメモリ管理処理では、フラッシュメモリにデータが書き込まれると、信頼性判定値を最大値とし、以後、規定時間が経過する毎に、動作温度に基づく経過減算値を算出して(S130)、その経過減算値を信頼性判定値から減算することにより、信頼性判定値を更新する(S140)。読出し要求が出力されれば、読出減算値を信頼性判定値から減算することにより、信頼性判定値を更新する(S180)。順次更新される信頼性判定値が規定閾値以下となった場合、フラッシュメモリからデータを読み出し、その読み出したデータを書込み処理する(S230)。
【選択図】図3
Description
また、浮遊ゲートに保持される電荷量は、データ記憶装置にデータを書込んだ後、そのデータを長時間放置した場合、シリコン材料に含まれる不純物と、浮遊ゲートに保持されるべき電荷とが結びついて浮遊ゲートから電荷が抜け出ること(以下、この現象をデータの劣化と称す)により低下する。このため、この種の情報処理装置では、データ記憶装置に書き込んだデータと、データ記憶装置から読み出されるデータとが一致しなくなり、データ記憶装置に記憶されるデータの信頼性を維持することができない可能性があった。
つまり、本発明のメモリ制御装置によれば、データ記憶装置の動作温度によるデータの劣化速度の変化が反映された信頼性の高い信頼性判定期間を用いて、再書込みの必要性を判定することができる。これにより、本発明のメモリ制御装置によれば、データ記憶装置に記憶されたデータの信頼性が低下する前の適切なタイミングにて、データの再書込みが実行されることになり、データ記憶装置に記憶されているデータの信頼性を維持することができる。
さらに、本発明のメモリ制御装置における短縮率設定手段は、請求項4に記載のように、メモリ制御装置が起動された時に、動作温度を取得するように構成されていることが望ましい。
そこで、本発明のメモリ制御装置は、請求項5に記載のように、データ読出手段が読出制御を実行するための読出要求が取得された場合、第二判定期間更新手段が、予め設定された設定期間を信頼性判定期間から減算することにより、判定期間格納手段に格納されている信頼性判定期間を更新するように構成されていても良い。
このような本発明のメモリ制御装置における第二判定期間更新手段は、請求項6に記載のように、温度検出手段を介して動作温度を取得し、その動作温度が高いほど設定時間を長くするように構成されていることが望ましい。
また、本発明は、浮遊ゲートに電荷を保持することでデータを記憶する不揮発性の半導体メモリからなるデータ記憶装置に書込データを書き込む書込制御を実行してから、その書込データの信頼性が維持されるものとして予め設定された信頼性担保期間を最大の期間として有し、書込制御を実行してからの経過時間に従って順次短縮される信頼性判定期間が予め規定された規定閾値以下である場合に、データ記憶装置から読み出したデータを書込データとして、書込制御を実行するメモリ制御装置での信頼性判定期間の更新方法としてなされたものでも良い。
図1は、本発明が適用された情報処理装置を備え、車両に搭載されたナビゲーション装置1の概略構成を示したブロック図である。
そして、操作スイッチ群6は、表示装置8の表示面と一体に構成されたタッチパネル、及び表示装置8の周囲に設けられたキースイッチ等から構成されている。なお、タッチパネルと表示装置8とは積層一体化されており、タッチパネルには、感圧方式、電磁誘導方式、静電容量方式、あるいはこれらを組み合わせた方式など各種の方式があるが、その何れを用いてもよい。
〈情報処理装置について〉
次に、本発明の主要部である情報処理装置20について説明する。
情報処理装置20は、処理プログラム等を格納するROM21と、データを一時的に格納するRAM22と、ナビゲーション装置1の使用者によって入力されたデータ等を格納するフラッシュメモリ35と、時刻を計時する計時部23と、フラッシュメモリ35の動作温度を検出する温度検出部24と、ROM21や、RAM22に格納されたプログラムに従って、各種処理を実行する制御プロセッサ30と、ROM21に格納された処理プログラムやデータ等を、制御プロセッサ30を介すことなくRAM22や、フラッシュメモリ35に転送するDMAコントローラ25とを備えている。
〈フラッシュメモリ管理処理〉
次に、制御プロセッサ30が実行するフラッシュメモリ管理処理について説明する。
このフラッシュメモリ管理処理が起動されると、まず、S110にて、計時部23から現在の時刻を取得し、予め規定された規定時間(本実施形態では、15分とする)経過したか否かを判定する。そして、その判定の結果、規定時間が経過しているものと判定された場合、S120へと進む。つまり、本フラッシュメモリ管理処理が起動されてから、もしくは前回S120へと進んでから、規定時間が経過していれば、S120へと進む。
そのS130では、S120で取得した動作温度に基づき、経過減算値を算出する。具体的に、本実施形態では、S120で取得した動作温度での温度係数を、ROM21に格納された第一温度係数マップから読出し、その読出した温度係数を規定時間に掛け合わせたものを経過減算値とする。したがって、S120で取得される動作温度が高いほど、S130で算出される経過減算値は大きなものとなる。
続くS220では、S210にて算出されたリフレッシュアドレスを指定して、フラッシュメモリ35からデータを読み出す。
なお、S200での判定の結果、全ての記憶ブロック36についての信頼性判定値が規定閾値よりも大きいものと判定された場合にも、S110へと戻る。
〈読出し処理について〉
次に、フラッシュメモリ管理処理にて実行される読出し処理について説明する。
この読出し処理は、フラッシュメモリ管理処理のS180にて起動されると、まず、S410では、読出し要求により、フラッシュメモリ35から読み出されるべきデータが格納されている記憶ブロック36のアドレス(以下、読出アドレスとする)を算出する。以下、読出し処理において、読出し要求により読み出されるデータを読出データと称す。
続くS430では、温度検出部24を介して動作温度を取得して、S440へと進み、そのS440では、読出減算値を算出する。具体的に、本実施形態では、ROM21に格納された第一温度係数マップから、S430で取得した動作温度での温度係数を読出し、その読出した温度係数を、予め設定された設定時間に掛け合わせることにより読出減算値を算出する。
そして、S450では、S440にて算出した読出減算値を、S420にてデータを読み出した記憶ブロック36についての信頼性判定値から減算することにより、その記憶ブロック36についての信頼性判定値を更新して、S460へと進む。
そのS470では、先のS420にて読み出したデータを、動作温度が予め規定された規定温度未満であれば、フラッシュメモリ35に書込み、動作温度が規定温度以上であれば、RAM22に書込む書込み処理を実行する。
〈書込み処理について〉
次に、フラッシュメモリ管理処理にて実行される書込み処理について説明する。
この書込み処理は、フラッシュメモリ管理処理のS160、S230、読出し処理のS470にて起動されると、まず、S310では、温度検出部24を介して動作温度を取得する。
さらに、S370では、今回の書込み処理の実行以前に実行された書込み処理にて、退避データがRAM22に格納されたか否かを判定する。そして、判定の結果、退避データがRAM22に格納されているものと判定された場合には、S380へと進む。具体的に、本実施形態では、退避フラグがハイレベルであれば、退避データがRAM22に格納されているものと判断する。
〈終了時処理について〉
次に、フラッシュメモリ管理処理にて実行される終了時処理について説明する。
この終了時処理は、フラッシュメモリ管理処理のS250にて起動されると、まず、S510では、現在(即ち、終了時)の年月日、及び時刻(以下、終了時刻とする)を計時部23から取得する。続くS520では、S510にて取得した終了時刻を、フラッシュメモリ35に格納する。
〈起動処理について〉
次に、制御プロセッサ30が実行する起動処理について説明する。
この起動処理は、ナビゲーション装置1に電源の供給が開始された時(例えば、イグニッションキーがONとなった時)に起動され、起動されると、まず、S610にて、フラッシュメモリ35に格納されている全ての記憶ブロック36についての信頼性判定値をRAM22に転送すると共に、現在(即ち、起動時)の年月日、及び時刻(以下、起動時刻とする)を計時部23から取得する。
本実施形態では、具体的に、放置時間に対応する温度係数と、その放置時間とを掛け合わせることにより、放置減算値を算出している。ただし、起動処理における温度係数は、図9(B)に示すように、ナビゲーション装置1への電源供給が停止されていた月と、時刻とによって一律に決定される。
そして、S670では、ナビゲーション装置1の各部を起動する周知のリセット処理を実行し、その後、フラッシュメモリ管理処理や、経路設定処理等を起動する。
〈情報処理装置の動作例について〉
次に、情報処理装置20の動作例(即ち、フラッシュメモリ管理処理の実行例)について説明する。
情報処理装置20では、例えば、図10に示すように、書込み処理が実行されることにより、フラッシュメモリ35の第一記憶ブロック36aにデータが書き込まれると、その第一記憶ブロック36aについての信頼性判定値を最大値にリセット、即ち、信頼性担保値へと更新する。
[本実施形態の効果]
以上説明したように、本実施形態の情報処理装置20によれば、動作温度を考慮することにより、データの劣化速度を正確に反映した信頼性判定値を算出することができる。この結果、フラッシュメモリ35に記憶されたデータの信頼性が低下する前に、そのデータを読み出して再書込みすることができ、フラッシュメモリ35に記憶されたデータの信頼性を維持することができる。
[その他の実施形態]
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において様々な態様にて実施することができる。
また、上記実施形態における温度係数マップは、第一温度係数マップと、第二温度係数マップとの二つのマップから構成されていたが、一つのマップから構成されていても良いし、温度検出部24を介して取得される動作温度に従って、温度係数が算出されるような数式として表されていても良い。
Claims (11)
- 浮遊ゲートに電荷を保持することでデータを記憶する不揮発性の半導体メモリからなるデータ記憶装置に書込データを書き込む書込制御を実行するデータ書込手段と、前記データ記憶装置からデータを読み出す読出制御を実行するデータ読出手段とを備えたメモリ制御装置であって、
前記データ書込手段が書込制御を実行してから、そのデータの信頼性が維持されるものとして予め設定された期間を信頼性担保期間とし、前記信頼性担保期間を最大の期間として、前記データ書込手段が書込制御を実行してからの経過時間である書込経過時間に従って短縮される信頼性判定期間を格納する判定期間格納手段と、
前記データ記憶装置周辺の温度を表す動作温度を検出する温度検出手段と、
前記書込経過時間と、前記信頼性判定期間の短縮される期間との割合を短縮率として、前記温度検出手段を介して動作温度を取得する毎に、その取得した動作温度に基づき、前記動作温度が高いほど大きな前記短縮率を設定する短縮率設定手段と、
前記短縮率設定手段で短縮率が設定される毎に、その設定された短縮率に従って、前記判定期間格納手段に格納されている信頼性判定期間を更新する第一判定期間更新手段と、
前記判定期間格納手段に格納されている信頼性判定期間が予め規定された規定閾値以下である場合、前記データ記憶装置から読み出したデータを書込データとして、前記データ書込手段に書込制御を実行させる再書込手段と
を備えることを特徴とするメモリ制御装置。 - 前記第一判定期間更新手段は、
前記短縮率設定手段で設定される短縮率と、前記動作温度の取得間隔とに基づいて、前記短縮率が大きいほど、及び前記取得間隔が長いほど、長い期間を示す減算期間を算出し、前記信頼性判定期間から減算期間を減算することにより、前記判定期間格納手段に格納されている信頼性判定期間を更新することを特徴とする請求項1に記載のメモリ制御装置。 - 前記短縮率設定手段は、
予め規定された規定時間毎に、前記動作温度を取得することを特徴とする請求項2に記載のメモリ制御装置。 - 前記短縮率設定手段は、
当該メモリ制御装置が起動された時に、前記動作温度を取得することを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれかに記載のメモリ制御装置。 - 前記データ読出手段が読出制御を実行するための読出要求が取得された場合、予め設定された設定期間を前記信頼性判定期間から減算することにより、前記判定期間格納手段に格納されている信頼性判定期間を更新する第二判定期間更新手段を備えることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれかに記載のメモリ制御装置。
- 前記第二判定期間更新手段は、
前記温度検出手段を介して前記動作温度を取得し、その動作温度が高いほど前記設定時間を長くすることを特徴とする請求項5に記載のメモリ制御装置。 - 前記データ記憶装置とは別に設けられ、予め規定された規定温度以上でのデータの信頼性が前記データ記憶装置よりも低下し難いメモリを退避メモリとして、前記温度検出手段を介して取得した動作温度が前記規定温度以上である場合に、前記書込データを前記退避メモリに記憶し、前記温度検出手段を介して取得する動作温度が前記規定温度未満となるまでの間、前記データ書込手段の動作を禁止するデータ退避手段と、
前記データ退避手段による禁止が解除されると、前記退避メモリに記憶させたデータを前記書込データとして、前記データ書込手段に書込制御を実行させる退避データ再書込手段と
を備えることを特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれかに記載のメモリ制御装置。 - 浮遊ゲートに電荷を保持することでデータを記憶する不揮発性の半導体メモリからなるデータ記憶装置に書込データを書き込む書込制御を実行するデータ書込手段を備えたメモリ制御装置であって、
前記データ記憶装置周辺の温度を表す動作温度を検出する温度検出手段と、
前記データ記憶装置とは別に設けられ、予め規定された規定温度以上でのデータの信頼性が前記データ記憶装置よりも低下し難いメモリを退避メモリとして、前記温度検出手段を介して取得した動作温度が前記規定温度以上である場合に、前記書込データを前記退避メモリに記憶し、前記温度検出手段を介して取得する動作温度が前記規定温度未満となるまでの間、前記データ書込手段の動作を禁止するデータ退避手段と、
前記データ退避手段による禁止が解除されると、前記退避メモリに記憶させたデータを前記書込データとして、前記データ書込手段に書込制御を実行させる退避データ再書込手段と
を備えることを特徴とするメモリ制御装置。 - 前記データ記憶装置は、フラッシュEEPROMを用いたものであることを特徴とする請求項1ないし請求項8のいずれかに記載のメモリ制御装置。
- 浮遊ゲートに電荷を保持することでデータを記憶する不揮発性の半導体メモリからなるデータ記憶装置に書込データを書き込む書込制御を実行してから、その書込データの信頼性が維持されるものとして予め設定された期間を信頼性担保期間とし、前記信頼性担保期間を最大の期間として有し、前記書込制御を実行してからの経過時間に従って順次短縮される期間を信頼性判定期間として、前記信頼性判定期間が予め規定された規定閾値以下である場合に、前記データ記憶装置から読み出したデータを前記書込データとして、前記書込制御を実行するメモリ制御装置での信頼性判定期間の更新方法であって、
前記データ記憶装置周辺の温度を表す動作温度を取得する動作温度取得過程と、
前記信頼性判定期間で短縮される期間と経過時間との割合を短縮率とし、前記動作温度取得過程で取得された動作温度に基づき、前記動作温度が高いほど短縮率を増加させると共に、その短縮率に従って前記信頼性判定期間を更新する判定期間更新過程と
を有することを特徴とする信頼性判定期間の更新方法。 - 浮遊ゲートに電荷を保持することでデータを記憶する不揮発性の半導体メモリからなるデータ記憶装置、または前記データ記憶装置とは別に設けられ、予め規定された規定温度以上でのデータの信頼性が前記データ記憶装置よりも低下し難いメモリである退避メモリを制御するメモリ制御装置が実行するデータの書込み方法であって、
前記データ記憶装置周辺の温度を表す動作温度を取得する動作温度取得過程と、
前記動作温度取得過程で取得された動作温度が前記規定温度以上である場合に、前記退避メモリにデータを記憶し、前記動作温度取得過程で取得した動作温度が前記規定温度未満となるまでの間、前記データ記憶装置へのデータの書込みを禁止するデータ退避過程と、
前記データ退避過程での禁止が解除されると、前記退避メモリに記憶させたデータを前記データ記憶装置に書き込む退避データ再書込過程と
を有することを特徴とするデータの書込み方法。
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