JP2007328761A - 電子コンポーネントのための温度制御方法及び温度制御システム - Google Patents

電子コンポーネントのための温度制御方法及び温度制御システム Download PDF

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Abstract

【課題】不必要なファンの騒音、過度の熱、および電力消費を回避するために、電子コンポーネントのためのより精密な温度制御方法及びシステムを提供すること。
【解決手段】電子コンポーネントのための温度制御方法及びシステムを提供し、その方法及びシステムには複数の温度センサが電子コンポーネントの各領域に配置される。温度制御方法は、複数の感知温度値を獲得するステップと、各領域に設定された温度制御閾値と温度制御動作の関係を記録している温度制御テーブルを検索するステップと、温度制御テーブルを頼りに温度制御閾値よりも大きな感知温度値に対応する温度制御動作を選択するステップと、温度制御動作を開始して、感知温度値を温度制御閾値以下にするステップとを含む。
【選択図】図1

Description

本発明は、温度制御方法及びシステム、特に電子コンポーネントの温度制御方法及び温度制御システムに関する。
近年、集積回路の設計及び製造技術の更なる向上に伴い、コンピュータコンポーネントのチップの動作速度及び処理性能は益々進歩している。しかしながら、一般的に言って、電子チップの動作速度が速ければ速い程、処理性能は高く、電子チップはより多くの熱を発生する。しかしながら、高温度の動作環境は、電子チップの耐用年数に影響を及ぼす重要な要因である。従って、良好な放熱環境を効果的に提供する方法は、コンピュータシステムの設計における重要課題である。
コンピュータメインボードは、プリント回路基板と様々な回路特性の電子部品との組み合わせの製品である。時々、製造プロセスにおけるエラーが回路における電流の不平衡を引き起こすことがあり、従って、更に結果として電子部品又はコンピュータメインボードの部分的な領域において高温度になる。しかしながら、現在は、例えば放熱ファンといった一般的に使用される冷却機構のほとんどが、実際の温度に従ってファンの回転速度を調節することができない。いくつかの設計では実際の環境に従ってファンの回転速度を調節することができるが、回路の不平衡電流によって温度が上昇するという問題は解決できず、最終的にチップセット及びプロセッサなどの電子部品の焼損という結果になる。
また、コンピュータの動作速度が徐々に進歩するにつれて、ファンの回転速度を向上して電子チップの動作環境の温度を維持することが必要である。しかしながら、インターネットの閲覧及び文書処理などの多くの場合において、コンピュータシステムは全速力の動作モードで動作する必要はない。従って、コンピュータユーザのほとんどは常に不必要なファンの騒音、過度の熱、及び電力消費に悩まされる。
更に、動作中の電子コンポーネントが発熱した時、部分的な領域のみが高温度になるか、周辺領域におけるいくつかの要素が比較的高温度になる。もし一つの放熱板のみを使用して全電子コンポーネントからの熱を放散するなら、効率性及びエネルギー消費の点で非経済的である。
従って、電子コンポーネントの各領域において実際に感知(検知)温度に従って温度及び冷却を制御し、それによって不必要なファンの騒音、過度の熱、および電力消費を回避するために、電子コンポーネントのためのより精密な温度制御方法及びシステムを提供することが本研究者たちの解決すべき課題である。
上記の問題に鑑み、本発明の主な目的は、電子コンポーネントの各領域において実際に感知温度に従って温度及び冷却を制御し、それによって安全に動作する範囲内で電子コンポーネントの温度を制御するために、電子コンポーネントのための温度制御方法を提供することである。
従って、上記の目的を達成するために、本発明は、電子コンポーネントの各領域に複数の温度センサを配置した、電子コンポーネントのための温度制御方法及びシステムを提供する。温度制御方法は、各領域で複数の感知温度値を獲得するステップと、各領域に設定された温度制御閾値と温度制御動作(例えば、第1のファン制御、第2のファン制御、中央演算処理装置(CPU)の動作性能制御、第3のファン制御、第4のファン制御、及び電源の出力電流平衡制御)の関係を記録している温度制御テーブルを検索するステップと、その後、温度制御テーブルを頼りに温度制御閾値よりも大きな感知温度値に対応する温度制御動作を選択するステップと、温度制御動作を開始して、感知温度値を各領域に設定された温度制御閾値以下にするステップから成る。
従って、本発明は、コンピュータメインボードの電子コンポーネントの各領域の実際、感知温度に従って、温度閾値を超過した温度を有する領域の温度制御動作を即座に実行するための温度制御方法を提供する。温度制御方法は、電子コンポーネントの温度を安全な動作の範囲内に制御するために、温度制御テーブルを検索することで関連する制御情報を獲得し、対応する温度制御動作を実行する。
また、上記の目的を達成するために、本発明によって提供された電子コンポーネントのための温度制御方法は、電子コンポーネントの各領域に配置された複数の温度センサから成り、且つ以下のステップから成る。まず、各領域の複数の感知温度値を獲得する。各領域の感知温度値の一つが温度制御閾値よりも大きい場合、一次温度制御動作(第1のファン制御、第2のファン制御、第3のファン制御、及び第4のファン制御)を開始する。隣接する領域の感知温度値が異なる場合、二次温度制御動作(例えば、電源の出力電流平衡制御)を開始する。そして、各領域の感知温度値の一つが未だに温度制御閾値よりも大きい場合、三次温度制御動作(例えば、CPUの動作性能制御)を開始して、感知温度値を温度制御閾値以下にする。
更に、上記の目的を達成するために、本発明によって提供された電子コンポーネントのための温度制御システムは、電子コンポーネントの感知温度値を獲得するための、電子コンポーネントの各領域に配置された複数の温度センサと、各領域に設定された温度制御閾値と温度制御動作の関係を記録している、温度制御テーブルと、温度制御テーブルに依存して温度制御閾値よりも大きな感知温度値に対応する温度制御動作を選択する、温度分析モジュールと、選択された温度制御動作を開始して、感知温度値を温度制御閾値以下にする、温度制御処理モジュールから成る。
更に、上記の目的を達成するために、本発明によって提供された電子コンポーネントのための温度制御システムは、電子コンポーネントの感知温度値を獲得するための、電子コンポーネントの各領域に配置された複数の温度センサと、感知温度値を獲得して分析結果を生成するために分析するための、温度分析モジュール、分析結果が各領域の感知温度値の一つが温度制御閾値よりも大きいことを示す場合、一次温度制御動作を開始する、第1の温度制御処理モジュール、隣接する領域の感知温度値が異なる場合、二次温度制御動作を開始する、第2の温度制御処理モジュール、及び、分析結果が各領域の感知温度値の一つが未だに温度制御閾値よりも大きいことを示す場合、三次温度制御動作を開始する、第3の温度制御処理モジュールから成る。
電子コンポーネントのための温度制御の本方法及び本システムによって、電子コンポーネントの温度を安全な動作の範囲内に確実に維持するために、様々な冷却機構を電子コンポーネントの実際の動作温度に従う温度制御のために好適に使用することができる。その他の態様において、冷却機構(例えば、放熱ファン)は全速力の動作モードで稼動せず、従って不必要なファンの騒音を回避する。
本発明の利用可能性の更なる範囲は、以下に与えられる詳細な記述から明らかとなる。しかしながら、本発明の精神及び範囲内での様々な変更及び変形は、本詳細な記述から当業者に明らかとなるので、詳細な記述及び具体例は、本発明の好適な実施形態を示す一方で、専ら例示として与えられているに過ぎないことは理解されるべきである。
専ら例示として以下に与えられているに過ぎず、従って本発明を制限するものではない詳細な記述から、本発明はより完全に明らかとなる。
本発明の第1の実施形態に従う温度制御方法のステップのフローチャートの図1を参照する。複数の温度センサは、コンピュータメインボードの電子コンポーネント(例えば、チップセット、電力トランジスタ、CPU、図形処理装置、又はメモリ)の各領域に配置される。温度制御方法は、まず各領域の複数の感知温度値を温度センサ10(図2に示す)によって獲得するが(ステップ100)、感知温度値は所定の時間周期(例えば、5秒又は20秒)でサンプリングすることによって得られる。その後、感知温度値のための温度制御テーブルを検索すし、温度制御テーブルには各領域に設定された温度制御閾値と温度制御動作の関係が記録されており(ステップ101)、温度制御テーブルはコンピュータシステムの記憶装置に予め設定、又は基本入出力システム(BIOS)のデータに記憶される。
その後、温度制御テーブルに依存して、各領域に設定された温度制御閾値よりも大きな感知温度値に対応する温度制御動作が選択される(ステップ102)。従って、温度制御動作は蓄積型のものか単一型のものであり、第1のファン制御、第2のファン制御、CPUの動作性能制御、第3のファン制御、第4のファン制御、及び電源の出力電流平衡制御から成る。上記の第1乃至第4のファンは、熱発生領域からの熱を放散するために電子コンポーネントの各領域に配置され、配置されたファンの数は上記の記述に制限されない。最終的に、選択された温度制御動作が開始され、感知温度値を各領域に設定された温度制御閾値以下にする(ステップ103)。
更に、本発明の第1の実施形態は、コンピュータアプリケーションプログラムに組み込まれる。ユーザは、アイコン又はその他の類似の選択インターフェイスを通して手動又は自動で各領域の温度閾値を設定できる。
本発明の第1の実施形態に従うシステムのブロック図の図2を参照する。システムは温度センサ10、温度制御テーブル20、温度分析モジュール30、及び温度制御処理モジュール40から成る。
温度センサ10は、コンピュータメインボードの電子コンポーネントの各領域の実際に感知温度値を獲得するために、コンピュータメインボードの電子コンポーネントの各領域に配置され、電子コンポーネントは、チップセット(例えば、サウスブリッジ又はノースブリッジ)、電力トランジスタ、CPU、図形処理装置、及びメモリ(例えば本実施形態におけるCPU50)から成る。実際には、温度センサ10は、熱結合センサ、熱抵抗器、又は赤外線センサであり得る。更に、例示の都合上、9つの温度センサ10が図2及び図4に示されているが、それは温度センサ10の数を制限することを意図するものではない。
温度制御テーブル20は各領域に設定された温度制御閾値と温度制御動作の関係を記録する。温度制御テーブル20は、コンピュータシステムの記憶装置に予め設定、又はBIOSのデータに記憶されており、それを以下の表に示す。
Figure 2007328761
5つの温度閾値が例示のために上記のテーブルに記載されており、温度制御動作は全部で32種類有する。例えば、動作1は第1のファン制御であり、動作2は電流平衡制御であり、動作3は動作性能制御であり、動作4は第1のファン制御及び電流平衡制御であり、動作5は第2のファン制御であり、動作6は第3のファン制御であり、動作7は第2のファン制御及び電流平衡制御…、などである。従って、感知温度値が第1の温度閾値、第3の温度閾値、及び第5の温度閾値を超過する場合、動作1の温度制御動作を開始する。感知温度値が第1の温度閾値及び第2の温度閾値を超過する場合、動作2の温度制御動作を開始する・・・、などである。
温度分析モジュール30は、温度センサ10及び温度制御テーブル20それぞれに接続されており、温度制御テーブル20に依存して各領域に設定された温度制御閾値よりも大きな感知温度値に対応する温度制御動作を選択し、関連する温度制御動作を処理して実行するための温度制御処理モジュール40に選択された温度制御動作を出力するために使用される。
温度制御処理モジュール40は、温度分析モジュール30に接続されており、感知温度値を温度制御閾値以下にするように、温度分析モジュール30によって選択された温度制御動作を開始するために使用される。温度制御動作は第1のファン41制御、第2のファン42制御、CPUの動作性能制御(スロットリングレジスタ51によって達成される)、第3のファン43制御、第4のファン44制御、及び電源の出力電流平衡制御(電流平衡コントローラ46によって達成される)から成る。CPUの上記の動作性能制御は全速力の性能の割合、例えば、全速力の動作の100%、90%、85%、75%、65%。50%、45%、又は35%で表現される。
コンピュータメインボードの中核モジュールであるCPU50は、温度センサ10及びスロットリングレジスタ51に接続され、様々なモジュール同士間の信号を処理するために使用される。
スロットリングレジスタ51は、CPU50の動作性能を制御するため、CPU50、図形処理装置60、温度制御テーブル20、及び温度制御処理モジュール40に夫々接続されている。
また、第1のファン41、第2のファン42、第3のファン43、及び第4のファン44のためのファン制御回路は、実際はパルス幅変調(PWM)回路又は電圧制御回路によって実現できる。ファンの動作は多段階回転速度制御又は無段階回転速度制御であり得る。
本発明の第2の実施形態に従う温度制御方法のステップのフローチャートの図3を参照する。複数の温度センサはコンピュータメインボードの電子コンポーネント(例えば、チップセット、電力トランジスタ、CPU,図形処理装置、メモリ等)の各領域に配置される。温度制御方法は、まず各領域の複数の感知温度値を温度センサ10(図4に示す)によって獲得するが(ステップ200)、感知温度値は所定の時間周期(例えば、5秒又は20秒)でサンプリングすることによって得られる。そして、感知温度値と温度制御閾値の関係が分析され、各領域の感知温度値の一つが温度制御閾値よりも大きい場合、一次温度制御動作を開始するが(ステップ201)、一次温度制御動作はチップセットのファン制御、CPUのファン制御、図形処理装置のファン制御、及びメインフレームのファン制御から成る。
その後、感知温度値と温度制御閾値の関係が分析される。隣接する領域から得られた感知温度値が異なる場合、二次温度制御動作を開始するが(ステップ202)、二次温度制御動作は、電源のための出力電流平衡制御(電流平衡コントローラ46によって達成される)である。
最後に、感知温度値と温度制御閾値の関係が再度分析される。各領域の感知温度値の一つが未だに温度制御閾値よりも大きい場合、三次温度制御動作を開始して、感知温度値を温度制御閾値以下にするが(ステップ203)、三次温度制御動作はCPUに対する動作性能制御及び図形処理装置に対する動作性能制御から成る。
本発明の第2の実施形態に従うシステムのブロック図の図4を参照する。第1の実施形態と異なり、温度制御テーブル20は第2の実施形態では省略される。温度センサ10、温度分析モジュール30、第1の温度制御処理モジュール40a、第2の温度制御処理モジュール40b、及び第3の温度制御処理モジュール40cを含むモジュールの一部は第1の実施形態のものと同じであり、詳細はここで再度図示されない。
温度分析モジュール30は、温度センサ10によって感知された隣接する領域の温度値間の関係及び各領域の温度閾値と感知温度値の関係を分析するために、温度センサ10に接続されている。そして、分析結果が生成されて対応する温度制御処理モジュールに出力されるが、温度閾値は、ユーザに設定又は予め設定される方式で、コンピュータシステムの記憶装置に記憶、又はBIOSのデータに記憶されている。
第1の温度制御処理モジュール40aは温度分析モジュール30に接続されている。分析結果が各領域の感知温度値の一つが温度制御閾値よりも大きいことを示す場合、一次温度制御動作が開始されるが、一次温度制御動作は第1のファン制御、第2のファン制御、第3のファン制御、及び第4のファン制御から成る。
第2の温度制御処理モジュール40bは温度分析モジュール30に接続されている。分析結果が隣接する領域の感知温度値が異なることを示す場合、二次温度制御動作を開始するが、二次温度制御動作は電源のための出力電流平衡制御(電流平衡コントローラ46によって達成される)である。
第3の温度制御処理モジュール40cは温度分析モジュール30に接続されている。分析結果は各領域の感知温度値の一つが未だに温度制御閾値よりも大きいことを示す場合、三次温度制御動作を開始し、三次温度制御動作はCPUのための動作性能制御である。
電子コンポーネントのための温度制御方法及びシステムの使用によって、コンピュータメインボードにおける様々な冷却機構が、現在の実際の動作温度に従ってコンピュータメインボードの電子コンポーネントに良好な温度制御を実施し、それによって電子コンポーネントの温度を確実に安全な動作の範囲内にする。その他の様態では、冷却機構(例えば、放熱ファン)は通常、全負荷状態で稼動せず、従って不必要なファンの騒音を回避する。
また、全ての電子コンポーネント及び周辺要素が熱源であり、且つその動作が互いに関連し合う場合、温度制御を全ての電子コンポーネント及び周辺要素で実施するために、感知領域を拡大できる。図5(温度センサ10の配列を示すのみ)に示すように、CPU50に隣接する全ての電力素子52が熱源であり、且つその動作が互いに関連し合う。この時、感知領域を拡大してCPU50及び電力素子52を覆い、それによってCPU50及び電力素子52共において温度制御を実施する。
本発明は上述したように、様々に変更されても良いことは明らかである。そのような変更は本発明の精神及び範囲からの逸脱と見なされるべきではなく、当業者に明らかであるような全てのそのような変形は特許請求の範囲内に含まれる。
本発明の第1の実施形態に従う温度制御方法のステップのフローチャートである。 本発明の第1の実施形態に従う電子コンポーネントのための温度制御システムのブロック図である。 本発明の第2の実施形態に従う電子コンポーネントのための温度制御方法のステップのフローチャートである。 本発明の第2の実施形態に従う電子コンポーネントのための温度制御システムのブロック図である。 本発明の実施形態に従う電子コンポーネントの温度感知領域の概略図である。

Claims (22)

  1. 電子コンポーネントの各領域に複数の温度センサを配置した、電子コンポーネントのための温度制御方法であって、
    各領域の複数の感知温度値を獲得するステップと、
    各領域に設定された温度制御閾値と温度制御動作の関係を記録している温度制御テーブルを検索するステップと、
    温度制御テーブルに依存して温度制御閾値よりも大きな感知温度値に対応する温度制御動作を選択するステップと、
    温度制御動作を開始して、感知温度値を温度制御閾値以下にするステップから成る、
    電子コンポーネントのための温度制御方法。
  2. 温度制御動作は、第1のファン制御、第2のファン制御、中央演算処理装置(CPU)の動作性能制御、第3のファン制御、第4のファン制御、及び電源の出力電流平衡制御から成る一群から選択された一つの動作であることを特徴とする請求項1に記載の電子コンポーネントのための温度制御方法。
  3. CPUの動作性能制御はCPUのスロットリング制御によって達成されることを特徴とする請求項2に記載の電子コンポーネントのための温度制御方法。
  4. 本方法はコンピュータプログラムに組み込まれることを特徴とする請求項1に記載の電子コンポーネントのための温度制御方法。
  5. コンピュータプログラムはコンピュータハードディスクに記憶されることを特徴とする請求項4に記載の電子コンポーネントのための温度制御方法。
  6. コンピュータプログラムのユーザインターフェイスはアイコン選択インターフェイスであることを特徴とする請求項4に記載の電子コンポーネントのための温度制御方法。
  7. 電子コンポーネントの各領域に複数の温度センサを配置した、電子コンポーネントのための温度制御方法であって、
    各領域の複数の感知温度値を獲得するステップと、
    各領域の感知温度値の一つが温度制御閾値よりも大きい場合、一次温度制御動作を開始するステップと、
    隣接する領域の感知温度値が異なる場合、二次温度制御動作を開始するステップと、
    各領域の感知温度値の一つが温度制御閾値よりも大きい場合、感知温度値を温度制御閾値以下にするように、三次温度制御動作を開始するステップから成る、
    電子コンポーネントのための温度制御方法。
  8. 一次温度制御動作は、第1のファン制御、第2のファン制御、第3のファン制御、及び第4のファン制御から成る一群から選択された一つの動作であることを特徴とする請求項7に記載の電子コンポーネントのための温度制御方法。
  9. 二次温度制御動作は電源の出力電流平衡制御であることを特徴とする請求項7に記載の電子コンポーネントのための温度制御方法。
  10. 三次温度制御動作はCPUの動作性能制御であることを特徴とする請求項7に記載の電子コンポーネントのための温度制御方法。
  11. 本方法はコンピュータプログラムに組み込まれることを特徴とする請求項7に記載の電子コンポーネントのための温度制御方法。
  12. コンピュータプログラムはコンピュータハードディスクに記憶されることを特徴とする請求項11に記載の電子コンポーネントのための温度制御方法。
  13. コンピュータプログラムのユーザインターフェイスはアイコン選択インターフェイスであることを特徴とする請求項11に記載の電子コンポーネントのための温度制御方法。
  14. 電子コンポーネントのための温度制御システムであって、
    電子コンポーネントの感知温度値を獲得するための、電子コンポーネントの各領域に配置された複数の温度センサと、
    各領域の温度制御閾値と温度制御動作の関係を記録するための温度制御テーブルと、
    温度制御テーブルに依存して温度制御閾値よりも大きな感知温度値に対応する温度制御動作を選択するための温度分析モジュールと、
    選択された温度制御動作を開始して、感知温度値を温度制御閾値以下にする、温度制御処理モジュールから成る、
    電子コンポーネントのための温度制御システム。
  15. 温度センサは、熱結合センサ、熱抵抗器、及び赤外線センサから成る一群から選択されることを特徴とする請求項14に記載の電子コンポーネントのための温度制御システム。
  16. 温度制御動作は、第1のファン制御、第2のファン制御、CPUの動作性能制御、第3のファン制御、第4のファン制御、及び電源の出力電流平衡制御から成る一群から選択された一つの動作であることを特徴とする請求項14に記載の電子コンポーネントのための温度制御システム。
  17. CPUの動作性能制御はCPUのスロットリング制御によって達成されることを特徴とする請求項16に記載の電子コンポーネントのための温度制御システム。
  18. いくつかの領域の感知温度値が異なる場合、電源の出力電流平衡制御が実行されることを特徴とする請求項16に記載の電子コンポーネントのための温度制御システム。
  19. 電子コンポーネントのための温度制御システムであって、
    電子コンポーネントの感知温度値を獲得するための、コンピュータメインボードの電子コンポーネントの各領域に配置された複数の温度センサと、
    感知温度値を分析して分析結果を生成するための温度分析モジュールと、
    分析結果は、各領域の感知温度値の一つが温度制御閾値よりも大きいことを示す場合、一次温度制御動作を開始するための第1の温度制御処理モジュールと、
    隣接する領域の感知温度値が異なる場合、二次温度制御動作を開始するための第2の温度制御処理モジュールと、
    分析結果が各領域の感知温度値の一つが未だに温度制御閾値よりも大きいことを示す場合、三次温度制御動作を開始するための第3の温度制御処理モジュールから成る、
    電子コンポーネントのための温度制御システム。
  20. 一次温度制御動作は、第1のファン制御、第2のファン制御、第3のファン制御、及び第4のファン制御から成る一群から選択された一つの動作であることを特徴とする請求項19に記載の電子コンポーネントのための温度制御システム。
  21. 二次温度制御動作は電源の出力電流平衡制御であることを特徴とする請求項19に記載の電子コンポーネントのための温度制御システム。
  22. 三次温度制御動作はCPUの動作性能制御であることを特徴とする請求項19に記載の電子コンポーネントのための温度制御システム。
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Cited By (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009129095A1 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Temperature control within disk drive testing systems
WO2009129118A1 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Temperature control within disk drive testing systems
WO2009129466A2 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Dependent temperature control within storage device testing systems
WO2009129104A2 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Temperature control within disk drive testing systems
US7778031B1 (en) 2009-07-15 2010-08-17 Teradyne, Inc. Test slot cooling system for a storage device testing system
US7890207B2 (en) 2008-04-17 2011-02-15 Teradyne, Inc. Transferring storage devices within storage device testing systems
US7908029B2 (en) 2008-06-03 2011-03-15 Teradyne, Inc. Processing storage devices
US7911778B2 (en) 2008-04-17 2011-03-22 Teradyne, Inc. Vibration isolation within disk drive testing systems
US7929303B1 (en) 2010-02-02 2011-04-19 Teradyne, Inc. Storage device testing system cooling
US7932734B2 (en) 2009-07-15 2011-04-26 Teradyne, Inc. Individually heating storage devices in a testing system
US7940529B2 (en) 2009-07-15 2011-05-10 Teradyne, Inc. Storage device temperature sensing
US7945424B2 (en) 2008-04-17 2011-05-17 Teradyne, Inc. Disk drive emulator and method of use thereof
US7987018B2 (en) 2008-04-17 2011-07-26 Teradyne, Inc. Transferring disk drives within disk drive testing systems
US7996174B2 (en) 2007-12-18 2011-08-09 Teradyne, Inc. Disk drive testing
US8041449B2 (en) 2008-04-17 2011-10-18 Teradyne, Inc. Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems
JP2012008295A (ja) * 2010-06-24 2012-01-12 Fuji Xerox Co Ltd 画像形成装置
US8116079B2 (en) 2009-07-15 2012-02-14 Teradyne, Inc. Storage device testing system cooling
JP2012073731A (ja) * 2010-09-28 2012-04-12 Nec Personal Computers Ltd 情報処理装置、異常温度検出方法及びプログラム
US8238099B2 (en) 2008-04-17 2012-08-07 Teradyne, Inc. Enclosed operating area for disk drive testing systems
US8405971B2 (en) 2007-12-18 2013-03-26 Teradyne, Inc. Disk drive transport, clamping and testing
US8547123B2 (en) 2009-07-15 2013-10-01 Teradyne, Inc. Storage device testing system with a conductive heating assembly
US8628239B2 (en) 2009-07-15 2014-01-14 Teradyne, Inc. Storage device temperature sensing
KR20140126395A (ko) * 2012-02-24 2014-10-30 퀄컴 인코포레이티드 열 인식 디바이스 부트를 위한 시스템 및 방법
US8964361B2 (en) 2010-07-21 2015-02-24 Teradyne, Inc. Bulk transfer of storage devices using manual loading
US9001456B2 (en) 2010-08-31 2015-04-07 Teradyne, Inc. Engaging test slots
US9459312B2 (en) 2013-04-10 2016-10-04 Teradyne, Inc. Electronic assembly test system
US9779780B2 (en) 2010-06-17 2017-10-03 Teradyne, Inc. Damping vibrations within storage device testing systems
JP2017201442A (ja) * 2016-05-02 2017-11-09 株式会社明電舎 コンピュータ機器の温度監視方法およびコンピュータ機器
CN111142640A (zh) * 2019-12-31 2020-05-12 联想(北京)有限公司 一种电子设备的控制方法
US10725091B2 (en) 2017-08-28 2020-07-28 Teradyne, Inc. Automated test system having multiple stages
US10775408B2 (en) 2018-08-20 2020-09-15 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
US10845410B2 (en) 2017-08-28 2020-11-24 Teradyne, Inc. Automated test system having orthogonal robots
US10948534B2 (en) 2017-08-28 2021-03-16 Teradyne, Inc. Automated test system employing robotics
US10983145B2 (en) 2018-04-24 2021-04-20 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
US11226390B2 (en) 2017-08-28 2022-01-18 Teradyne, Inc. Calibration process for an automated test system
US11754622B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Thermal control system for an automated test system
US11754596B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Test site configuration in an automated test system
US11867749B2 (en) 2020-10-22 2024-01-09 Teradyne, Inc. Vision system for an automated test system
US11899042B2 (en) 2020-10-22 2024-02-13 Teradyne, Inc. Automated test system
US11953519B2 (en) 2020-10-22 2024-04-09 Teradyne, Inc. Modular automated test system

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200746983A (en) * 2006-06-09 2007-12-16 Giga Byte Tech Co Ltd Temperature control method of electronic component, and the system thereof component
JP4655100B2 (ja) * 2008-03-27 2011-03-23 ソニー株式会社 情報処理装置、及び冷却ファンの制御方法
TWI398756B (zh) * 2008-05-29 2013-06-11 Asus Technology Suzhou Co Ltd 管理功率消耗的電腦系統及其相關方法
FR2932946A1 (fr) * 2008-06-23 2009-12-25 Thomson Licensing Procede de commande d'un ventilateur en fonction de la position d'un appareil, et appareil mettant en oeuvre le procede.
CN102253700A (zh) * 2010-05-20 2011-11-23 英业达科技有限公司 风扇控制系统
US8594856B2 (en) 2011-02-15 2013-11-26 Nuvoton Technology Corporation Processor cooling by temperature range and multiple algorithm fan speed control
CN102900688A (zh) * 2011-07-26 2013-01-30 技嘉科技股份有限公司 风扇的转速控制方法及其装置
WO2013033182A1 (en) * 2011-08-29 2013-03-07 Powerquest Llc Compact computer cooling methods and apparatus
US9823990B2 (en) * 2012-09-05 2017-11-21 Nvidia Corporation System and process for accounting for aging effects in a computing device
US9436497B2 (en) * 2012-09-10 2016-09-06 Apple Inc. Linking multiple independent control systems to distribute response
TW201426262A (zh) * 2012-12-26 2014-07-01 Giga Byte Tech Co Ltd 電子裝置及其控制方法
US9541971B2 (en) * 2013-06-28 2017-01-10 International Business Machines Corporation Multiple level computer system temperature management for cooling fan control
US9618945B2 (en) 2013-09-22 2017-04-11 Microsoft Technology Licensing, Llc Monitoring surface temperature of devices
US20150148981A1 (en) * 2013-11-24 2015-05-28 Qualcomm Incorporated System and method for multi-correlative learning thermal management of a system on a chip in a portable computing device
CN104881064A (zh) * 2014-02-28 2015-09-02 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 温度控制系统
US9625890B2 (en) * 2014-03-28 2017-04-18 Intel Corporation Coordinating control loops for temperature control
US9829867B2 (en) * 2014-09-12 2017-11-28 Celestica Technology Consultancy (Shanghai) Co., Ltd. Fan control system and method thereof
CN104486126A (zh) * 2014-12-22 2015-04-01 山东超越数控电子有限公司 一种基于ast2400芯片的系统管理方法
US9785157B2 (en) * 2015-03-30 2017-10-10 Mediatek Inc. Method for controlling circuit modules within chip and associated system on chip
CN106227259A (zh) * 2016-08-04 2016-12-14 深圳市华讯星通讯有限公司 一种温度控制系统与方法
CN106647995A (zh) * 2016-12-14 2017-05-10 英业达科技有限公司 风扇监控系统
US10289179B2 (en) * 2017-04-21 2019-05-14 Intel Corporation Dynamic control of liquid cooling pumps to provide thermal cooling uniformity
TWI638258B (zh) * 2017-05-12 2018-10-11 瑞昱半導體股份有限公司 散熱裝置控制方法及電子裝置
JP2019009913A (ja) * 2017-06-26 2019-01-17 オムロン株式会社 電源装置
TWI652567B (zh) 2017-12-26 2019-03-01 技嘉科技股份有限公司 可分區散熱的散熱裝置及具散熱裝置之主機板
CN110196608A (zh) * 2018-02-26 2019-09-03 北京视联动力国际信息技术有限公司 一种终端散热装置和基于终端散热装置的散热控制方法
US10488901B1 (en) * 2018-09-20 2019-11-26 Dell Products L.P. Dynamic thermal responses for computing components
CN109708425A (zh) * 2018-12-07 2019-05-03 青岛海尔股份有限公司 一种冰箱的控制方法
US11714469B2 (en) * 2018-12-14 2023-08-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Temperature control management of electronic device based on number of heat-emitting components in compartment
TWI703432B (zh) * 2018-12-28 2020-09-01 技嘉科技股份有限公司 元件功耗切換電路及其主機板
CN111381643A (zh) * 2018-12-28 2020-07-07 技嘉科技股份有限公司 元件功耗切换电路及其主机板
US11127106B2 (en) 2019-06-28 2021-09-21 Intel Corporation Runtime flip stability characterization
US11409341B2 (en) 2019-10-01 2022-08-09 Intel Corporation Repeating graphics render pattern detection

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06196645A (ja) * 1992-12-24 1994-07-15 Kawasaki Steel Corp 集積回路用保護回路
JPH1093010A (ja) * 1996-07-25 1998-04-10 Konami Co Ltd 半導体集積回路基板の過熱保護装置
JPH10307648A (ja) * 1997-05-09 1998-11-17 Toshiba Corp コンピュータシステムおよびそのクーリング制御方法
JP2001313364A (ja) * 2000-02-23 2001-11-09 Denso Corp パワーmosトランジスタの過熱保護装置及び記録媒体

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11296488A (ja) * 1998-04-09 1999-10-29 Hitachi Ltd 電子機器
JP2000180267A (ja) * 1998-12-14 2000-06-30 Toshiba Tec Corp 電子機器
JP4078248B2 (ja) * 2003-05-09 2008-04-23 シャープ株式会社 録画再生装置
US6928380B2 (en) * 2003-10-30 2005-08-09 International Business Machines Corporation Thermal measurements of electronic devices during operation
US6880345B1 (en) * 2003-11-04 2005-04-19 Intel Corporation Cooling system for an electronic component
US7401644B2 (en) * 2004-03-26 2008-07-22 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Computer systems and related methods for cooling such systems
US20060161375A1 (en) * 2004-12-30 2006-07-20 Allen Duberstein Optimizing processing speed based on measured temperatures
TW200746983A (en) * 2006-06-09 2007-12-16 Giga Byte Tech Co Ltd Temperature control method of electronic component, and the system thereof component

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06196645A (ja) * 1992-12-24 1994-07-15 Kawasaki Steel Corp 集積回路用保護回路
JPH1093010A (ja) * 1996-07-25 1998-04-10 Konami Co Ltd 半導体集積回路基板の過熱保護装置
JPH10307648A (ja) * 1997-05-09 1998-11-17 Toshiba Corp コンピュータシステムおよびそのクーリング制御方法
JP2001313364A (ja) * 2000-02-23 2001-11-09 Denso Corp パワーmosトランジスタの過熱保護装置及び記録媒体

Cited By (72)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8549912B2 (en) 2007-12-18 2013-10-08 Teradyne, Inc. Disk drive transport, clamping and testing
US8405971B2 (en) 2007-12-18 2013-03-26 Teradyne, Inc. Disk drive transport, clamping and testing
US7996174B2 (en) 2007-12-18 2011-08-09 Teradyne, Inc. Disk drive testing
US8467180B2 (en) 2007-12-18 2013-06-18 Teradyne, Inc. Disk drive transport, clamping and testing
US7911778B2 (en) 2008-04-17 2011-03-22 Teradyne, Inc. Vibration isolation within disk drive testing systems
US8655482B2 (en) 2008-04-17 2014-02-18 Teradyne, Inc. Enclosed operating area for storage device testing systems
WO2009129100A1 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Dependent temperature control within disk drive testing systems
WO2009129400A2 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Temperature control within storage device testing systems
WO2009129400A3 (en) * 2008-04-17 2009-12-23 Teradyne, Inc. Temperature control within storage device testing systems
WO2009129403A3 (en) * 2008-04-17 2009-12-23 Teradyne, Inc. Temperature control within storage device testing systems
WO2009129104A3 (en) * 2008-04-17 2010-02-18 Teradyne, Inc. Temperature control within disk drive testing systems
WO2009129466A3 (en) * 2008-04-17 2010-03-04 Teradyne, Inc. Dependent temperature control within storage device testing systems
WO2009129431A3 (en) * 2008-04-17 2010-03-04 Teradyne, Inc. Temperature control within storage device testing systems
US8712580B2 (en) 2008-04-17 2014-04-29 Teradyne, Inc. Transferring storage devices within storage device testing systems
US7848106B2 (en) 2008-04-17 2010-12-07 Teradyne, Inc. Temperature control within disk drive testing systems
US7890207B2 (en) 2008-04-17 2011-02-15 Teradyne, Inc. Transferring storage devices within storage device testing systems
US7904211B2 (en) 2008-04-17 2011-03-08 Teradyne, Inc. Dependent temperature control within disk drive testing systems
WO2009129095A1 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Temperature control within disk drive testing systems
US8160739B2 (en) 2008-04-17 2012-04-17 Teradyne, Inc. Transferring storage devices within storage device testing systems
WO2009129403A2 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Temperature control within storage device testing systems
WO2009129104A2 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Temperature control within disk drive testing systems
US8482915B2 (en) 2008-04-17 2013-07-09 Teradyne, Inc. Temperature control within disk drive testing systems
WO2009129431A2 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Temperature control within storage device testing systems
US7945424B2 (en) 2008-04-17 2011-05-17 Teradyne, Inc. Disk drive emulator and method of use thereof
CN102067057A (zh) * 2008-04-17 2011-05-18 泰拉丁公司 在磁盘驱动器测试系统中的温度控制
US7987018B2 (en) 2008-04-17 2011-07-26 Teradyne, Inc. Transferring disk drives within disk drive testing systems
WO2009129466A2 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Dependent temperature control within storage device testing systems
US8451608B2 (en) 2008-04-17 2013-05-28 Teradyne, Inc. Temperature control within storage device testing systems
US8041449B2 (en) 2008-04-17 2011-10-18 Teradyne, Inc. Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems
WO2009129118A1 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Temperature control within disk drive testing systems
US8095234B2 (en) 2008-04-17 2012-01-10 Teradyne, Inc. Transferring disk drives within disk drive testing systems
US8305751B2 (en) 2008-04-17 2012-11-06 Teradyne, Inc. Vibration isolation within disk drive testing systems
US8102173B2 (en) 2008-04-17 2012-01-24 Teradyne, Inc. Thermal control system for test slot of test rack for disk drive testing system with thermoelectric device and a cooling conduit
US8117480B2 (en) 2008-04-17 2012-02-14 Teradyne, Inc. Dependent temperature control within disk drive testing systems
US8238099B2 (en) 2008-04-17 2012-08-07 Teradyne, Inc. Enclosed operating area for disk drive testing systems
US8140182B2 (en) 2008-04-17 2012-03-20 Teradyne, Inc. Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems
US7908029B2 (en) 2008-06-03 2011-03-15 Teradyne, Inc. Processing storage devices
US8086343B2 (en) 2008-06-03 2011-12-27 Teradyne, Inc. Processing storage devices
US8547123B2 (en) 2009-07-15 2013-10-01 Teradyne, Inc. Storage device testing system with a conductive heating assembly
US7932734B2 (en) 2009-07-15 2011-04-26 Teradyne, Inc. Individually heating storage devices in a testing system
US7778031B1 (en) 2009-07-15 2010-08-17 Teradyne, Inc. Test slot cooling system for a storage device testing system
US8116079B2 (en) 2009-07-15 2012-02-14 Teradyne, Inc. Storage device testing system cooling
US7995349B2 (en) 2009-07-15 2011-08-09 Teradyne, Inc. Storage device temperature sensing
US8466699B2 (en) 2009-07-15 2013-06-18 Teradyne, Inc. Heating storage devices in a testing system
US7940529B2 (en) 2009-07-15 2011-05-10 Teradyne, Inc. Storage device temperature sensing
US8279603B2 (en) 2009-07-15 2012-10-02 Teradyne, Inc. Test slot cooling system for a storage device testing system
US7920380B2 (en) 2009-07-15 2011-04-05 Teradyne, Inc. Test slot cooling system for a storage device testing system
US8628239B2 (en) 2009-07-15 2014-01-14 Teradyne, Inc. Storage device temperature sensing
US7929303B1 (en) 2010-02-02 2011-04-19 Teradyne, Inc. Storage device testing system cooling
US8687356B2 (en) 2010-02-02 2014-04-01 Teradyne, Inc. Storage device testing system cooling
US9779780B2 (en) 2010-06-17 2017-10-03 Teradyne, Inc. Damping vibrations within storage device testing systems
JP2012008295A (ja) * 2010-06-24 2012-01-12 Fuji Xerox Co Ltd 画像形成装置
US8964361B2 (en) 2010-07-21 2015-02-24 Teradyne, Inc. Bulk transfer of storage devices using manual loading
US9001456B2 (en) 2010-08-31 2015-04-07 Teradyne, Inc. Engaging test slots
JP2012073731A (ja) * 2010-09-28 2012-04-12 Nec Personal Computers Ltd 情報処理装置、異常温度検出方法及びプログラム
KR20140126395A (ko) * 2012-02-24 2014-10-30 퀄컴 인코포레이티드 열 인식 디바이스 부트를 위한 시스템 및 방법
KR102023314B1 (ko) * 2012-02-24 2019-11-04 퀄컴 인코포레이티드 열 인식 디바이스 부트를 위한 시스템 및 방법
US9459312B2 (en) 2013-04-10 2016-10-04 Teradyne, Inc. Electronic assembly test system
JP2017201442A (ja) * 2016-05-02 2017-11-09 株式会社明電舎 コンピュータ機器の温度監視方法およびコンピュータ機器
US11226390B2 (en) 2017-08-28 2022-01-18 Teradyne, Inc. Calibration process for an automated test system
US10725091B2 (en) 2017-08-28 2020-07-28 Teradyne, Inc. Automated test system having multiple stages
US10845410B2 (en) 2017-08-28 2020-11-24 Teradyne, Inc. Automated test system having orthogonal robots
US10948534B2 (en) 2017-08-28 2021-03-16 Teradyne, Inc. Automated test system employing robotics
US10983145B2 (en) 2018-04-24 2021-04-20 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
US10775408B2 (en) 2018-08-20 2020-09-15 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
CN111142640B (zh) * 2019-12-31 2021-11-16 联想(北京)有限公司 一种电子设备的控制方法
CN111142640A (zh) * 2019-12-31 2020-05-12 联想(北京)有限公司 一种电子设备的控制方法
US11754622B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Thermal control system for an automated test system
US11754596B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Test site configuration in an automated test system
US11867749B2 (en) 2020-10-22 2024-01-09 Teradyne, Inc. Vision system for an automated test system
US11899042B2 (en) 2020-10-22 2024-02-13 Teradyne, Inc. Automated test system
US11953519B2 (en) 2020-10-22 2024-04-09 Teradyne, Inc. Modular automated test system

Also Published As

Publication number Publication date
US8201416B2 (en) 2012-06-19
TW200746983A (en) 2007-12-16
US7836717B2 (en) 2010-11-23
US20100235014A1 (en) 2010-09-16
US20070296408A1 (en) 2007-12-27
TWI301045B (ja) 2008-09-11

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Publication Publication Date Title
JP2007328761A (ja) 電子コンポーネントのための温度制御方法及び温度制御システム
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