JP2007326195A - Electrode substrate, electrostatic actuator, droplet discharging head, droplet discharging device, electrostatic drive device, and manufacturing method of those - Google Patents

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Koji Kitahara
浩司 北原
Satoshi Fujisawa
里志 藤沢
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electrode substrate having an insulating film which prevents lowering of insulating pressure resistance, does not peel due to repeated collision, and has excellent drive durability; an electrostatic actuator having the electrode substrate, and a manufacturing method thereof. <P>SOLUTION: The manufacturing method comprises a step generating electrostatic force in a space with a vibrating plate 22 which is a moving electrode opposite at a predetermined interval, and forming an individual electrode 12 which is a fixed electrode for displacing the vibrating plate 22 on the electrode substrate 10; and a step alternately repeating deposition processing forming an electrode side insulating film 15 covering at least the individual electrode 12 and surface modification processing washing and surface-modifying of the insulating film, until the electrode side insulating film 15 with required thickness is formed. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、微細加工素子において、加わった力により可動部が変位等し、動作等を行う静電アクチュエータ、液滴吐出ヘッド等の静電駆動デバイス等やそれらの製造方法に関するものである。   The present invention relates to an electrostatic actuator, an electrostatic drive device such as a droplet discharge head, etc., which moves and moves by a force applied by a force applied in a microfabricated element, and a manufacturing method thereof.

例えばシリコン等を加工して微小な素子等を形成する微細加工技術(MEMS:Micro Electro Mechanical Systems)が急激な進歩を遂げている。微細加工技術により形成される微細加工素子の例としては、例えば液滴吐出方式のプリンタのような記録(印刷)装置で用いられている液滴吐出ヘッド(インクジェットヘッド)、マイクロポンプ、光可変フィルタ、モータのような静電アクチュエータ等がある。   For example, micro electro mechanical systems (MEMS) that process silicon or the like to form microelements and the like have made rapid progress. Examples of microfabricated elements formed by microfabrication technology include, for example, a droplet discharge head (inkjet head), a micropump, and an optical variable filter used in a recording (printing) apparatus such as a droplet discharge type printer. There are electrostatic actuators such as motors.

ここで、微細加工素子の一例として静電アクチュエータを利用した液滴吐出ヘッドについて説明する。液滴吐出方式の記録(印刷)装置は、家庭用、工業用を問わず、あらゆる分野の印刷に利用されている。液滴吐出方式とは、例えば複数のノズルを有する液滴吐出ヘッドを対象物との間で相対移動させ、対象物の所定の位置に液滴を吐出させて印刷等の記録をするものである。この方式は、液晶(Liquid Crystal)を用いた表示装置を作製する際のカラーフィルタ、有機化合物等の電界発光(ElectroLuminescence )素子を用いた表示パネル(OLED)、DNA、タンパク質等、生体分子のマイクロアレイ等の製造にも利用されている。   Here, a droplet discharge head using an electrostatic actuator will be described as an example of a microfabricated element. A droplet discharge type recording (printing) apparatus is used for printing in various fields regardless of whether it is for home use or industrial use. In the droplet discharge method, for example, a droplet discharge head having a plurality of nozzles is moved relative to an object, and droplets are discharged to a predetermined position of the object to record printing or the like. . This method uses a color filter for manufacturing a display device using liquid crystal, a display panel using an electroluminescence element such as an organic compound (OLED), a microarray of biomolecules such as DNA and protein. Etc. are also used in the manufacture of

液滴吐出ヘッドの中で、流路の一部に液体を溜めておく吐出室を備え、吐出室の少なくとも一面の壁(ここでは、底部の壁とし、以下、この壁のことを振動板ということにする)を撓ませて(動作させて)形状変化により吐出室内の圧力を高め、連通するノズルから液滴を吐出させる方法がある。静電アクチュエータの場合、可動部となる振動板を変位させる力として、例えば、振動板を可動電極とし、振動板と一定距離を空けて対向する固定された電極(固定電極)との間に発生する静電気力(ここでは、特に静電引力を用いている。以下、静電力という)を利用している。このような静電アクチュエータの製造方法としては、例えば、振動板が加工形成されたシリコン基板と基板表面の凹部内に固定電極(例えばITO(Indium Tin Oxide:インジウム錫酸化物))を形成したガラス基板とを、例えば陽極接合するのが一般的である。   In the droplet discharge head, a discharge chamber for storing liquid in a part of the flow path is provided, and at least one wall of the discharge chamber (here, referred to as a bottom wall, hereinafter referred to as a diaphragm) There is a method in which the pressure in the discharge chamber is increased by changing the shape by bending (being operated), and droplets are discharged from the communicating nozzle. In the case of an electrostatic actuator, for example, a force that displaces the diaphragm that becomes a movable part is generated between a fixed electrode (fixed electrode) that faces the diaphragm with a certain distance from the diaphragm, for example. Electrostatic force (here, particularly electrostatic attraction is used, hereinafter referred to as electrostatic force) is used. As a method for manufacturing such an electrostatic actuator, for example, a glass substrate in which a diaphragm is processed and a fixed electrode (for example, ITO (Indium Tin Oxide)) is formed in a recess on the surface of the substrate. For example, the substrate is generally anodically bonded.

また、上記のような静電力を利用した静電アクチュエータにおいて、可動電極(振動板)と固定電極との接触による短絡及び損傷を防止して信頼性を高めるため、振動板及び固定電極のそれぞれの対向表面に絶縁膜を形成する場合もある(例えば、特許文献1参照)。   Further, in the electrostatic actuator using the electrostatic force as described above, in order to prevent short circuit and damage due to contact between the movable electrode (diaphragm) and the fixed electrode and to improve reliability, In some cases, an insulating film is formed on the opposing surface (see, for example, Patent Document 1).

特開2003−080708号公報JP 2003-080708 A

ここで、ガラス基板上に形成した固定電極表面を絶縁膜で覆うためには、450℃以下の温度で絶縁膜を成膜することが好ましい。そこで、シリコンへの絶縁膜形成と同様のプラズマCVD法(Chemical Vapor Deposition :化学的気相堆積法)を用いた酸化シリコンによる成膜方法が考えられる。   Here, in order to cover the surface of the fixed electrode formed on the glass substrate with an insulating film, it is preferable to form the insulating film at a temperature of 450 ° C. or lower. Therefore, a silicon oxide film forming method using a plasma CVD method (Chemical Vapor Deposition) similar to that for forming an insulating film on silicon can be considered.

上記の文献では特に説明されていないが、シリコン上に成膜する要領でITOからなる固定電極上に酸化シリコンの絶縁膜を形成しても、固定電極上の酸化シリコン膜は絶縁耐圧が低く、そのため短絡による貼り付き等が生じやすくなる。また、結合エネルギが低く、膜密度が低いため、衝突耐久性も低く振動板が繰りかえし衝突することによる膜剥がれも発生しやすくなるという課題を有していた。   Although not specifically described in the above document, even if a silicon oxide insulating film is formed on a fixed electrode made of ITO in the manner of forming a film on silicon, the silicon oxide film on the fixed electrode has a low withstand voltage, Therefore, sticking due to a short circuit is likely to occur. In addition, since the binding energy is low and the film density is low, there is a problem that the durability against collision is low and the film is easily peeled off due to repeated collision of the diaphragm.

本発明は上記課題に鑑み、電極上に絶縁膜を形成する場合において、絶縁耐圧の低下がなく、また繰り返し衝突によっても膜剥がれのない駆動耐久特性に優れた電極基板、その電極基板を有する静電アクチュエータ、その製造方法等を提供することを目的とする。   In view of the above-described problems, the present invention provides an electrode substrate excellent in driving durability characteristics in which an insulating film is not lowered when an insulating film is formed on an electrode and the film is not peeled off even by repeated collisions. An object of the present invention is to provide an electric actuator, a manufacturing method thereof, and the like.

本発明に係る電極基板の製造方法は、所定の間隔で対向する可動電極を変位させるための固定電極を基板上に形成する工程と、少なくとも固定電極を覆う絶縁膜を形成する成膜処理と絶縁膜の洗浄及び表面改質を行う表面改質処理とを、所望の厚さの絶縁膜が成膜されるまで交互に繰り返す工程とを有する。
本発明によれば、成膜処理と表面改質処理とを交互に繰り返し、緻密な膜にしながら徐々に所望の厚さの絶縁膜を形成するようにしたので、絶縁耐圧及び駆動耐久性を有し、貼り付きによる駆動不能、膜剥がれが生じにくく、優れた電極基板を製造することができる。
The electrode substrate manufacturing method according to the present invention includes a step of forming a fixed electrode on a substrate for displacing movable electrodes facing each other at a predetermined interval, and a film forming process and an insulation for forming an insulating film covering at least the fixed electrode. And a step of alternately repeating the surface modification treatment for cleaning the film and modifying the surface until an insulating film having a desired thickness is formed.
According to the present invention, the film formation process and the surface modification process are alternately repeated, and the insulating film having a desired thickness is gradually formed while forming a dense film. In addition, it is difficult to drive and film peeling due to sticking, and an excellent electrode substrate can be manufactured.

また、本発明に係る電極基板の製造方法は、TEOSを原料としたCVD法による成膜処理を行って形成した酸化シリコン膜を絶縁膜とする。
本発明によれば、TEOSを原料にしたので、他の材料と比しても、緻密な膜を形成することができる。
In the electrode substrate manufacturing method according to the present invention, a silicon oxide film formed by performing a film forming process by a CVD method using TEOS as a raw material is used as an insulating film.
According to the present invention, since TEOS is used as a raw material, a dense film can be formed as compared with other materials.

また、本発明に係る電極基板の製造方法は、O2プラズマによる絶縁膜の表面改質処理を行う。
本発明によれば、表面改質処理をO2プラズマ処理により行うようにしたので、特にTEOSの分解により生じる炭素を膜表面から効率よく除去し、また、活性化を図ることができる。
In the electrode substrate manufacturing method according to the present invention, the surface modification treatment of the insulating film by O 2 plasma is performed.
According to the present invention, since the surface modification treatment is performed by O 2 plasma treatment, carbon generated particularly by the decomposition of TEOS can be efficiently removed from the film surface and activated.

また、本発明に係る電極基板の製造方法は、基板に対する成膜処理と表面改質処理とを同じチャンバ内で行う。
本発明によれば、一連の処理を同じチャンバ内で行うようにしたので、基板搬送等の手間を省くことができる。また、パーティクル等が付着することもないため、効率よく処理を行うことができる。
In the electrode substrate manufacturing method according to the present invention, the film formation process and the surface modification process for the substrate are performed in the same chamber.
According to the present invention, since a series of processes are performed in the same chamber, it is possible to save troubles such as substrate transportation. In addition, since particles or the like do not adhere, processing can be performed efficiently.

また、本発明に係る静電アクチュエータの製造方法は、上記の電極基板の製造方法を適用し、可動電極を有する静電アクチュエータを製造する。
本発明によれば、絶縁耐圧及び駆動耐久性を有する電極基板を製造し、静電アクチュエータを製造するようにしたので、長寿命で安定して駆動する静電アクチュエータを製造することができる。
Moreover, the manufacturing method of the electrostatic actuator which concerns on this invention applies said electrode substrate manufacturing method, and manufactures the electrostatic actuator which has a movable electrode.
According to the present invention, since the electrode substrate having the withstand voltage and the driving durability is manufactured and the electrostatic actuator is manufactured, the electrostatic actuator that can be driven stably with a long life can be manufactured.

また、本発明に係る液滴吐出ヘッドの製造方法は、上記の静電アクチュエータの製造方法を適用し、可動電極となる振動板により液体を加圧して液滴を吐出する液滴吐出ヘッドを製造する。
本発明によれば、絶縁耐圧及び駆動耐久性を有する電極基板による静電アクチュエータを有する液滴吐出ヘッドを製造するようにしたので、長寿命で安定して液滴を吐出することができる液滴吐出ヘッドを製造することができる。
Also, a manufacturing method of a droplet discharge head according to the present invention applies the above-described manufacturing method of an electrostatic actuator, and manufactures a droplet discharge head that discharges droplets by pressurizing a liquid with a diaphragm serving as a movable electrode. To do.
According to the present invention, since the droplet discharge head having the electrostatic actuator using the electrode substrate having the withstand voltage and the driving durability is manufactured, the droplet that can stably discharge the droplet with a long life. A discharge head can be manufactured.

また、本発明に係る液滴吐出装置の製造方法は、上記の液滴吐出ヘッドの製造方法を適用して液滴吐出装置を製造する。
本発明によれば、絶縁耐圧及び駆動耐久性を有する液滴吐出ヘッドにより液滴吐出装置を製造するようにしたので、長寿命で安定した液滴吐出装置を製造することができる。
The manufacturing method of the droplet discharge device according to the present invention applies the above-described manufacturing method of the droplet discharge head to manufacture the droplet discharge device.
According to the present invention, since the droplet discharge device is manufactured by the droplet discharge head having the withstand voltage and the driving durability, it is possible to manufacture a droplet discharge device that has a long life and is stable.

また、本発明に係る静電駆動デバイスの製造方法は、上記の静電アクチュエータの製造方法を適用してデバイスを製造する。
本発明によれば、絶縁耐圧及び駆動耐久性を有する電極基板による静電アクチュエータによりデバイスを製造するようにしたので、長寿命で安定して駆動する静電駆動デバイスを製造することができる。
Moreover, the manufacturing method of the electrostatic drive device which concerns on this invention applies a manufacturing method of said electrostatic actuator, and manufactures a device.
According to the present invention, since the device is manufactured by the electrostatic actuator using the electrode substrate having the withstand voltage and the driving durability, it is possible to manufacture the electrostatic driving device that is driven stably with a long life.

また、本発明に係る電極基板は、上記の製造方法により製造されたものである。
本発明によれば、駆動不能、膜剥がれが生じにくく、絶縁耐圧及び駆動耐久性を有する電極基板を得ることができる。
The electrode substrate according to the present invention is manufactured by the above manufacturing method.
According to the present invention, it is possible to obtain an electrode substrate that cannot be driven and is unlikely to peel off and has a dielectric strength and driving durability.

また、本発明に係る静電アクチュエータは、上記の電極基板を備える。
本発明によれば、絶縁耐圧及び駆動耐久性を有し、長寿命で安定して駆動する静電アクチュエータを得ることができる。
An electrostatic actuator according to the present invention includes the above electrode substrate.
According to the present invention, it is possible to obtain an electrostatic actuator that has a withstand voltage and a driving durability, and is driven stably with a long life.

また、本発明に係る液滴吐出ヘッドは、上記の静電アクチュエータを備える。
本発明によれば、絶縁耐圧及び駆動耐久性を有し、長寿命で安定して液滴を吐出できる液滴吐出ヘッドを得ることができる。
A droplet discharge head according to the present invention includes the electrostatic actuator described above.
According to the present invention, it is possible to obtain a droplet discharge head that has a dielectric strength and driving durability and can discharge droplets stably with a long lifetime.

また、本発明に係る液滴吐出装置は、上記の液滴吐出ヘッドを備える。
本発明によれば、絶縁耐圧及び駆動耐久性を有し、長寿命で安定した液滴吐出装置を得ることができる。
A droplet discharge apparatus according to the present invention includes the above-described droplet discharge head.
According to the present invention, it is possible to obtain a droplet discharge device that has a withstand voltage and a driving durability and has a long life and is stable.

また、本発明に係る静電駆動デバイスは、上記の静電アクチュエータを備える。
本発明によれば、絶縁耐圧及び駆動耐久性を有し、長寿命で安定して駆動する静電駆動デバイスを得ることができる。
An electrostatic drive device according to the present invention includes the electrostatic actuator described above.
According to the present invention, it is possible to obtain an electrostatic drive device that has a withstand voltage and a drive durability and can be driven stably with a long life.

実施の形態1.
図1は本発明の実施の形態1に係る液滴吐出ヘッドを分解して表した図である。図1では液滴吐出ヘッドの一部を示している。本実施の形態では、例えば静電方式で駆動する静電アクチュエータを用いるデバイスの代表として、フェイスイジェクト型の液滴吐出ヘッドについて説明する(なお、構成部材を図示し、見やすくするため、図1を含め、以下の図面では各構成部材の大きさの関係が実際のものと異なる場合がある。また、図の上側を上とし、下側を下として説明する)。
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 is an exploded view of a droplet discharge head according to Embodiment 1 of the present invention. FIG. 1 shows a part of the droplet discharge head. In this embodiment, for example, as a representative of a device using an electrostatic actuator driven by an electrostatic method, a face eject type liquid droplet ejection head will be described (in order to illustrate components and make them easy to see, FIG. In addition, in the following drawings, the size relationship of each component may be different from the actual one, and the upper side of the drawing is described as the upper side and the lower side is described as the lower side).

図1に示すように本実施の形態に係る液滴吐出ヘッドは、電極基板10、キャビティ基板20及びノズル基板30の3つの基板が下から順に積層されて構成される。本実施の形態では、電極基板10とキャビティ基板20とは陽極接合により接合する。また、キャビティ基板20とノズル基板30とはエポキシ樹脂等の接着剤を用いて接合する。   As shown in FIG. 1, the droplet discharge head according to the present embodiment is configured by laminating three substrates of an electrode substrate 10, a cavity substrate 20, and a nozzle substrate 30 in order from the bottom. In the present embodiment, the electrode substrate 10 and the cavity substrate 20 are bonded by anodic bonding. The cavity substrate 20 and the nozzle substrate 30 are bonded using an adhesive such as an epoxy resin.

電極基板10は、厚さ約1mmの例えばホウ珪酸系の耐熱硬質ガラス等の基板を主要な材料としている。本実施形態では、ガラス基板とするが、例えば単結晶シリコンを基板とすることもできる。電極基板10の表面には、後述するキャビティ基板20の吐出室21となる凹部に合わせ、例えば深さ約0.3μmを有する複数の凹部11が形成されている。そして、凹部11の内側(特に底部)に、キャビティ基板20の各吐出室21(振動板22)と対向するように固定電極となる個別電極12が設けられ、さらにリード部13及び端子部14が一体となって設けられている(以下、特に区別する必要がない限り、これらを合わせて個別電極12として説明する)。振動板22と個別電極12との間には、振動板22が撓む(変位する)ことができる一定のギャップ(空隙)が凹部11により形成されている。個別電極12は、例えばスパッタ法により、ITOを0.1μmの厚さで凹部11の内側に成膜することで形成される。さらに本実施の形態においては、個別電極12上に、振動板22と個別電極12との間を電気的に絶縁し、個別電極12を保護するためのTEOS膜(ここでは、Tetraethyl orthosilicate Tetraethoxysilane:テトラエチルオルソシリケート(珪酸エチル)を原料ガスとして用いてできるSiO2膜をいう)である電極側絶縁膜15を、プラズマCVD(TEOS−pCVDともいう)法を用いて、約0.09μm(90nm)成膜し、個別電極12を覆っている。TEOSを原料ガスとして用いることにより、他の材料で膜を形成する場合に比べてさらに緻密な膜を形成することができる。また、電極基板10には、他にも外部のタンク(図示せず)から供給された液体を取り入れる流路となる液体供給口16となる貫通穴が設けられている。電極側絶縁膜15の成膜方法を含む電極基板10の作製方法については後述する。 The electrode substrate 10 is mainly made of a substrate such as a borosilicate heat-resistant hard glass having a thickness of about 1 mm. In the present embodiment, the glass substrate is used, but single crystal silicon may be used as the substrate, for example. On the surface of the electrode substrate 10, a plurality of recesses 11 having a depth of about 0.3 μm, for example, are formed in alignment with the recesses that become the discharge chambers 21 of the cavity substrate 20 described later. The individual electrodes 12 serving as fixed electrodes are provided inside the recess 11 (particularly at the bottom) so as to face each discharge chamber 21 (vibrating plate 22) of the cavity substrate 20, and the lead portion 13 and the terminal portion 14 are further provided. They are provided integrally (hereinafter, these are collectively described as individual electrodes 12 unless otherwise distinguished). Between the diaphragm 22 and the individual electrode 12, a certain gap (gap) that allows the diaphragm 22 to bend (displace) is formed by the recess 11. The individual electrode 12 is formed by depositing ITO with a thickness of 0.1 μm inside the recess 11 by, for example, sputtering. Further, in the present embodiment, a TEOS film (here, Tetraethyl orthosilicate Tetraethoxysilane: tetraethyl) for electrically insulating the diaphragm 22 and the individual electrode 12 and protecting the individual electrode 12 on the individual electrode 12 is provided. The electrode-side insulating film 15, which is an orthosilicate (which is an SiO 2 film formed using ethyl silicate) as a source gas), is formed by using a plasma CVD (also referred to as TEOS-pCVD) method to a thickness of about 0.09 μm (90 nm). A film is formed and the individual electrode 12 is covered. By using TEOS as a source gas, a denser film can be formed as compared with the case where a film is formed using another material. In addition, the electrode substrate 10 is provided with a through-hole serving as a liquid supply port 16 serving as a flow path for taking in liquid supplied from an external tank (not shown). A method for manufacturing the electrode substrate 10 including a method for forming the electrode-side insulating film 15 will be described later.

キャビティ基板20は、例えば表面が(110)面方位のシリコン単結晶基板(以下、シリコン基板という)を主要な材料としている。キャビティ基板20には、吐出させる液体を一時的にためる吐出室21となる凹部(底壁が可動電極となる振動板22となっている)及びリザーバ24となる凹部が形成されている。さらに、キャビティ基板20の下面(電極基板10と対向する面)には、電極側絶縁膜15と同様に、個別電極12との間を電気的に絶縁等するためのTEOS膜である振動板側絶縁膜23を0.1μm成膜している。ここでは振動板側絶縁膜23をTEOS膜で成膜しているが、例えばAl23(酸化アルミニウム(アルミナ))等を用いてもよい。また、各吐出室21に液体を供給するリザーバ(共通液室)24となる凹部が形成されている。さらに、外部の電力供給手段(図示せず)から基板(振動板22)に個別電極12と反対の極性の電荷を供給する際の端子となる共通電極端子27を備えている。 The cavity substrate 20 is mainly made of, for example, a silicon single crystal substrate (hereinafter referred to as a silicon substrate) whose surface is (110) plane orientation. The cavity substrate 20 is formed with a recess that becomes a discharge chamber 21 for temporarily storing a liquid to be discharged (the bottom wall is a vibration plate 22 that becomes a movable electrode) and a recess that becomes a reservoir 24. Further, on the lower surface of the cavity substrate 20 (the surface facing the electrode substrate 10), like the electrode-side insulating film 15, the diaphragm side which is a TEOS film for electrically insulating the individual electrodes 12 and the like. An insulating film 23 is formed to a thickness of 0.1 μm. Here, the diaphragm-side insulating film 23 is formed of a TEOS film, but Al 2 O 3 (aluminum oxide (alumina)) or the like may be used, for example. In addition, a recess is formed which becomes a reservoir (common liquid chamber) 24 for supplying a liquid to each discharge chamber 21. Furthermore, a common electrode terminal 27 is provided which serves as a terminal for supplying a charge having a polarity opposite to that of the individual electrode 12 from an external power supply means (not shown) to the substrate (diaphragm 22).

ノズル基板30についても、例えばシリコン基板を主要な材料とする。ノズル基板30には、複数のノズル孔31が形成されている。各ノズル孔31は、振動板22の駆動により加圧された液体を液滴として外部に吐出する。ノズル孔31を複数段で形成すると、液滴を吐出する際の直進性向上が期待できるため、本実施の形態ではノズル孔31を2段で形成する。本実施の形態では、振動板22が撓むことでリザーバ24方向に加わる圧力を緩衝するダイヤフラム32がさらに設けられている。また、吐出室21とリザーバ24とを連通させるための溝となるオリフィス33が設けられている。   The nozzle substrate 30 is also mainly made of a silicon substrate, for example. A plurality of nozzle holes 31 are formed in the nozzle substrate 30. Each nozzle hole 31 discharges liquid pressurized by driving the diaphragm 22 to the outside as droplets. If the nozzle holes 31 are formed in a plurality of stages, an improvement in straightness when discharging droplets can be expected. In this embodiment, the nozzle holes 31 are formed in two stages. In the present embodiment, a diaphragm 32 is further provided for buffering the pressure applied in the direction of the reservoir 24 as the diaphragm 22 is bent. Further, an orifice 33 serving as a groove for communicating the discharge chamber 21 and the reservoir 24 is provided.

図2は液滴吐出ヘッドの断面図である。図2において、吐出室21はノズル孔31から吐出させる液体をためておく。吐出室21の底壁である振動板22を撓ませることにより、吐出室21内の圧力を高め、ノズル孔31から液滴を吐出させる。ここで、本実施の形態では、電極とすることができ、かつエッチング工程の際に都合がよい高濃度のボロンドープ層をシリコン基板に形成し、振動板22を構成するものとする。また、異物、水分(水蒸気)等がギャップに入り込まないように、ギャップを外気から遮断し、密閉するために電極取り出し口26に封止材25が設けられている。   FIG. 2 is a cross-sectional view of the droplet discharge head. In FIG. 2, the discharge chamber 21 stores liquid to be discharged from the nozzle hole 31. By deflecting the diaphragm 22 which is the bottom wall of the discharge chamber 21, the pressure in the discharge chamber 21 is increased and liquid droplets are discharged from the nozzle holes 31. Here, in the present embodiment, a high-concentration boron-doped layer that can be used as an electrode and is convenient for the etching process is formed on the silicon substrate to constitute the diaphragm 22. In addition, a sealing material 25 is provided at the electrode outlet 26 in order to block the gap from outside air and seal it so that foreign matter, moisture (water vapor) and the like do not enter the gap.

例えばドライバIC等の発振駆動回路41は、FPC(Flexible Print Circuit)、ワイヤ等の配線42を介して電気的に端子部14、共通電極端子27と接続され、個別電極12、キャビティ基板20(振動板22)に電荷(電力)の供給及び停止を制御する。発振駆動回路41は例えば24kHzで発振し、例えば0Vと30Vのパルス電位を個別電極12に印加して電荷供給を行う。発振駆動回路41が発振駆動することにより、個別電極12に電荷を供給して正に帯電させ、振動板22を相対的に負に帯電させると、静電気力により個別電極12に引き寄せられて撓む。これにより吐出室21の容積は広がる。そして電荷供給を止めると振動板22は元に戻るが、そのときの吐出室21の容積も元に戻り、その圧力により差分の液滴が吐出する。この液滴が例えば記録対象となる記録紙に着弾することによって印刷等の記録が行われる。   For example, the oscillation drive circuit 41 such as a driver IC is electrically connected to the terminal portion 14 and the common electrode terminal 27 via a wiring 42 such as an FPC (Flexible Print Circuit) and a wire, and the individual electrode 12 and the cavity substrate 20 (vibration) The supply and stop of charge (electric power) to the plate 22) are controlled. The oscillation drive circuit 41 oscillates at 24 kHz, for example, and supplies charges by applying pulse potentials of 0 V and 30 V, for example, to the individual electrodes 12. When the oscillation drive circuit 41 oscillates and drives, the electric charge is supplied to the individual electrode 12 to be positively charged, and when the diaphragm 22 is relatively negatively charged, it is attracted to the individual electrode 12 by the electrostatic force and bends. . This increases the volume of the discharge chamber 21. When the supply of electric charge is stopped, the diaphragm 22 returns to its original state, but the volume of the discharge chamber 21 at that time also returns to its original state, and a differential droplet is discharged by the pressure. Recording such as printing is performed when the droplets land on a recording sheet to be recorded, for example.

図3は電極基板10の製造工程を表す図である。図3に基づいて液滴吐出ヘッドに係る電極基板10の製造について説明する。実際には電極基板10は、ウェハ状のガラス基板で複数個分を同時形成する。そして、他の基板と接合等をした後、個々に切り離して液滴吐出ヘッドを製造するが、図3では1つの液滴吐出ヘッドの電極基板10の一部分だけを示している。   FIG. 3 is a diagram illustrating a manufacturing process of the electrode substrate 10. The manufacture of the electrode substrate 10 according to the droplet discharge head will be described with reference to FIG. Actually, a plurality of electrode substrates 10 are simultaneously formed with a wafer-like glass substrate. Then, after bonding with another substrate, etc., the droplet discharge head is manufactured separately, but only a part of the electrode substrate 10 of one droplet discharge head is shown in FIG.

約1mmのガラス基板51の一方の面に対し、例えば、クロム(Cr)膜52を0.03μm成膜する。そして、さらに金(Au)膜53を0.07μm成膜する(図3(a))。ここでクロムは金をマスクとしてガラス基板をエッチングする際の下地材となる。クロム膜52、金膜53の形成は、CVD法、物理的蒸着(PVD:Physical Vapor Deposition )法等の方法で行う。例えば、PVD法としては、スパッタ、真空蒸着、イオンプレーティング等の方法がある。   For example, a chromium (Cr) film 52 is formed to a thickness of 0.03 μm on one surface of a glass substrate 51 of about 1 mm. Further, a gold (Au) film 53 is formed to a thickness of 0.07 μm (FIG. 3A). Here, chromium serves as a base material when the glass substrate is etched using gold as a mask. The chromium film 52 and the gold film 53 are formed by a method such as a CVD method or a physical vapor deposition (PVD) method. For example, as the PVD method, there are methods such as sputtering, vacuum deposition, and ion plating.

金膜53の成膜後、金膜53上の全面にフォトレジスト(図示せず)を塗布する。そして、フォトリソグラフィ(Photolithography)法を用いて、金膜53上の全面に塗布したフォトレジスト用の感光性樹脂をマスクアライナ等で露光し、現像液で現像することで、ガラス基板51に、後に電極基板10の凹部11となる部分を形成するためのフォトレジストパターンを形成する。   After the gold film 53 is formed, a photoresist (not shown) is applied to the entire surface of the gold film 53. Then, by using a photolithography method, the photoresist photosensitive resin coated on the entire surface of the gold film 53 is exposed with a mask aligner or the like, and developed with a developer. A photoresist pattern for forming a portion to be the recess 11 of the electrode substrate 10 is formed.

そして、例えば、塩酸又は硫酸(クロム膜52の場合)、あるいは王水又は酸素や水の存在下でシアン化物イオンを含む溶液(金膜53の場合)によりウェットエッチングを行い、金膜53及びクロム膜52の不要な部分を除去する。その後、フォトレジストを除去する。これによりガラス基板51上には、クロム膜52及び金膜53による凹部11となる部分のエッチングパターンが形成される(図3(b))。   Then, for example, wet etching is performed with hydrochloric acid or sulfuric acid (in the case of the chromium film 52), or a solution containing cyanide ions in the presence of aqua regia or oxygen or water (in the case of the gold film 53), and thereby the gold film 53 and the chromium film are formed. Unnecessary portions of the film 52 are removed. Thereafter, the photoresist is removed. Thereby, the etching pattern of the part used as the recessed part 11 by the chromium film | membrane 52 and the gold film | membrane 53 is formed on the glass substrate 51 (FIG.3 (b)).

次に、例えばフッ酸水溶液(HF)によりガラス基板51をウェットエッチングすることで凹部11を形成する(図3(c))。そして、ウェットエッチングを行い、金膜53及びクロム膜52を除去する(図3(d))。さらに、スパッタ法等により、ガラス基板51の凹部11を形成した面に、個別電極12となるITO膜54を0.1μm成膜する(図3(e))。その後、さらにその面にフォトレジスト(図示せず)を塗布し、フォトリソグラフィ法を用いて、前述と同様に、個別電極12を形成するためのフォトレジストパターンを形成する。そして、ITO膜54をエッチングし、(リード部13、端子部14を含めた)個別電極12を形成する(図3(f))。そして、ドリル等による穿孔、サンドブラスト法等で液体供給口16となる貫通穴を形成する(図3(g))。   Next, the recess 11 is formed by wet-etching the glass substrate 51 with, for example, a hydrofluoric acid aqueous solution (HF) (FIG. 3C). Then, wet etching is performed to remove the gold film 53 and the chromium film 52 (FIG. 3D). Further, an ITO film 54 to be the individual electrode 12 is formed to a thickness of 0.1 μm on the surface of the glass substrate 51 where the concave portion 11 is formed by sputtering or the like (FIG. 3E). Thereafter, a photoresist (not shown) is further applied to the surface, and a photoresist pattern for forming the individual electrodes 12 is formed using the photolithography method as described above. Then, the ITO film 54 is etched to form the individual electrode 12 (including the lead portion 13 and the terminal portion 14) (FIG. 3 (f)). And the through-hole used as the liquid supply port 16 is formed by the drilling etc., the sandblasting method, etc. (FIG.3 (g)).

図4は電極側絶縁膜15形成工程の処理の流れ(シーケンス)を表す図である。本実施の形態では、図4(a)に示すような手順で個別電極12を覆う電極側絶縁膜15を形成する。図4(b)はシリコン上に酸化シリコン膜を形成する際に行われている従来の手順を表す。従来、図4(b)のシーケンスにおいて、高周波出力は380W、低周波出力は300W、圧力は333Pa、TEOS流量130ml /min(=cm3 /60s)(130sccm)、酸素流量1200ml/min(1200sccm)の条件で7秒間成膜処理を行った後、3秒間の表面改質処理(O2プラズマ処理)を行っている(S11〜S14)。 FIG. 4 is a diagram showing a processing flow (sequence) in the electrode-side insulating film 15 forming step. In the present embodiment, the electrode-side insulating film 15 that covers the individual electrodes 12 is formed by the procedure as shown in FIG. FIG. 4B shows a conventional procedure performed when a silicon oxide film is formed on silicon. Conventionally, in the sequence of FIG. 4B, the high frequency output is 380 W, the low frequency output is 300 W, the pressure is 333 Pa, and the TEOS flow rate is 130 ml. / Min (= cm 3 / 60s ) (130sccm), after 7 seconds film forming process under conditions of an oxygen flow rate of 1200ml / min (1200sccm), carried out for three seconds the surface modification treatment (O 2 plasma treatment) (S11 to S14).

図4(a)に示すように、まず、ガラス基板51をチャンバ内に入れる(S1)。以下の工程は、そのチャンバ内で一連の工程で行われる。チャンバ内のガラス基板51を約3分間加熱して、基板温度を約420℃に上昇させる(S2)。まず、高周波出力が300W、圧力が360Pa、酸素流量1000ml/min(1000sccm)の条件で7秒間、表面改質処理を行い、ガラス基板51(個別電極12を含む)の洗浄(特に有機物)及び表面改質(酸素を含む官能基形成による表面の活性化)を行う(S3)。特にITOにおいては、表面改質により仕事関数等、電気的特性の向上も期待できる。   As shown in FIG. 4A, first, the glass substrate 51 is placed in the chamber (S1). The following steps are performed in a series of steps in the chamber. The glass substrate 51 in the chamber is heated for about 3 minutes to raise the substrate temperature to about 420 ° C. (S2). First, surface modification treatment was performed for 7 seconds under the conditions of a high-frequency output of 300 W, a pressure of 360 Pa, and an oxygen flow rate of 1000 ml / min (1000 sccm) to clean the glass substrate 51 (including the individual electrodes 12) (especially organic matter) and the surface Modification (activation of the surface by forming a functional group containing oxygen) is performed (S3). In particular, ITO can be expected to improve the electrical characteristics such as work function by surface modification.

次にガラス基板51を取り出すことなく、高周波出力は300W、低周波出力は400W、圧力は360Pa、TEOS流量80ml/min(80sccm)、酸素流量1000ml/min(1000sccm)の条件で2秒間成膜処理を行い、電極側絶縁膜15となる酸化シリコン膜56を0.03μm(30nm)堆積させ、成膜する(S4)。   Next, without taking out the glass substrate 51, a film formation process is performed for 2 seconds under conditions of a high frequency output of 300 W, a low frequency output of 400 W, a pressure of 360 Pa, a TEOS flow rate of 80 ml / min (80 sccm), and an oxygen flow rate of 1000 ml / min (1000 sccm). Then, a silicon oxide film 56 to be the electrode-side insulating film 15 is deposited by 0.03 μm (30 nm) to form a film (S4).

そして、上記と同様に、高周波出力が300W、低周波出力は400W、圧力が360Pa、酸素流量1000ml/min(1000sccm)の条件で7秒間、表面改質処理を行い、電極側絶縁膜15の洗浄(特にTEOSの分解によりできる炭素及び炭素化合物(有機物)の除去)及び表面改質(活性化)を行う(S5)。   Then, in the same manner as described above, surface modification treatment is performed for 7 seconds under the conditions of a high frequency output of 300 W, a low frequency output of 400 W, a pressure of 360 Pa, and an oxygen flow rate of 1000 ml / min (1000 sccm) to clean the electrode-side insulating film 15. (In particular, removal of carbon and carbon compound (organic matter) formed by decomposition of TEOS) and surface modification (activation) are performed (S5).

以上の成膜処理と表面改質処理とをさらに交互に2回ずつ行い(S6〜S9)、最終的に、約0.09μm(90nm)の電極側絶縁膜15を形成する(図3(h))。そしてチャンバからガラス基板51を取り出す(S10)。   The film formation process and the surface modification process are alternately performed twice (S6 to S9). Finally, an electrode-side insulating film 15 having a thickness of about 0.09 μm (90 nm) is formed (FIG. 3 (h) )). Then, the glass substrate 51 is taken out from the chamber (S10).

この段階では端子部14上にも酸化シリコン膜が形成されているため、このまま配線42と接着すると電気的特性が悪く、電荷供給ができない。そこで、取り出したガラス基板51に端子部14(電極取り出し口26)の部分を開口した、メタルマスク61を取り付け、端子部14上の電極側絶縁膜15を除去するために、ドライエッチングを行う(図3(i))。ドライエッチング終了後、メタルマスク61を取り外して電極基板10が完成する(図3(j))。   At this stage, since the silicon oxide film is also formed on the terminal portion 14, if it is adhered to the wiring 42 as it is, the electrical characteristics are poor and the charge cannot be supplied. Therefore, a metal mask 61 having an opening at the terminal portion 14 (electrode outlet 26) is attached to the glass substrate 51 taken out, and dry etching is performed to remove the electrode-side insulating film 15 on the terminal portion 14 ( FIG. 3 (i)). After the dry etching is completed, the metal mask 61 is removed to complete the electrode substrate 10 (FIG. 3 (j)).

図5は液滴吐出ヘッドの製造工程を表す図である。一方、例えば、シリコン基板71の片面(電極基板10との接合面側となる)を鏡面研磨し、220μmの厚みの基板とする(図5(a))。次にシリコン基板71のボロンドープ層72を形成する面を、B23を主成分とする固体の拡散源に対向させて石英ボートにセット後、さらに縦型炉にセットして、炉内を窒素雰囲気にし、温度を1050℃に上昇させて7時間保持することで、ボロン(B)をシリコン基板71中に拡散させ、ボロンドープ層72を形成する。さらにボロンドープ層72を形成した面に、例えば、図4(b)に示すシーケンス(S11〜S14)に基づいて、プラズマCVD法により振動板側絶縁膜25を0.1μm成膜する(図5(b))。 FIG. 5 is a diagram illustrating a manufacturing process of the droplet discharge head. On the other hand, for example, one side of the silicon substrate 71 (on the side of the bonding surface with the electrode substrate 10) is mirror-polished to obtain a substrate having a thickness of 220 μm (FIG. 5A). Next, the surface on which the boron doped layer 72 of the silicon substrate 71 is formed is set on a quartz boat so as to face a solid diffusion source mainly composed of B 2 O 3 , and then set in a vertical furnace, Boron (B) is diffused into the silicon substrate 71 by forming a nitrogen atmosphere, raising the temperature to 1050 ° C. and holding it for 7 hours, thereby forming a boron doped layer 72. Further, on the surface on which the boron doped layer 72 is formed, for example, based on the sequence (S11 to S14) shown in FIG. b)).

シリコン基板71と電極基板10とを例えば、360℃に加熱した後、電極基板10に負極、シリコン基板71に正極を接続して約800Vの電圧を印加し、陽極接合を行う。そして、陽極接合した後の基板(以下、接合済み基板という)において、シリコン基板71側表面の研削、ウェットエッチング等を行い、シリコン基板71部分の厚みを約50μmにする(図5(c))。   After the silicon substrate 71 and the electrode substrate 10 are heated to, for example, 360 ° C., a negative electrode is connected to the electrode substrate 10 and a positive electrode is connected to the silicon substrate 71, and a voltage of about 800 V is applied to perform anodic bonding. Then, in the substrate after the anodic bonding (hereinafter referred to as a bonded substrate), the surface of the silicon substrate 71 side is ground, wet-etched, etc., so that the thickness of the silicon substrate 71 portion is about 50 μm (FIG. 5C). .

次に、ウェットエッチングを行ったシリコン基板71側表面に対し、上記のようにTEOSを用いた酸化シリコンによるエッチングマスク(以下、TEOSエッチングマスクという)73を1.5μm成膜する。そして、吐出室21、リザーバ24、電極取出し口26となる部分に対し、TEOSエッチングマスク73のレジストパターニングを施す。フッ酸水溶液でそれらの部分のTEOSエッチングマスク73をエッチングし、TEOSエッチングマスク73をパターニングする。ここで、吐出室21となる部分については、TEOSエッチングマスク73がなくなり、シリコン基板が露出するまでエッチングを行う。一方、本実施の形態では、リザーバ24の底部分を厚くし、できる限り剛性を確保するため、少なくともリザーバ24となる部分についてはTEOSエッチングマスク73の厚みを0.3μm残しておくことにする。ここでは残すTEOSエッチングマスク73の厚みを0.3μmとするが、所望するリザーバ24の深さ(底部分の厚さ)によって、TEOSエッチングマスク73の厚みを調整する。そして、エッチングした後にレジストを剥離する(図5(d))。   Next, an etching mask (hereinafter referred to as a TEOS etching mask) 73 made of silicon oxide using TEOS 73 is formed on the surface of the silicon substrate 71 on which wet etching has been performed, as described above. Then, resist patterning of the TEOS etching mask 73 is performed on the portions that become the discharge chamber 21, the reservoir 24, and the electrode outlet 26. These portions of the TEOS etching mask 73 are etched with a hydrofluoric acid aqueous solution, and the TEOS etching mask 73 is patterned. Here, the portion that becomes the discharge chamber 21 is etched until the TEOS etching mask 73 disappears and the silicon substrate is exposed. On the other hand, in the present embodiment, in order to make the bottom portion of the reservoir 24 thick and to ensure rigidity as much as possible, the thickness of the TEOS etching mask 73 is left at 0.3 μm at least for the portion that becomes the reservoir 24. Here, the thickness of the remaining TEOS etching mask 73 is 0.3 μm, but the thickness of the TEOS etching mask 73 is adjusted according to the desired depth of the reservoir 24 (thickness of the bottom portion). Then, after etching, the resist is peeled off (FIG. 5D).

次に、接合済み基板を35wt%、3wt%の濃度の水酸化カリウム水溶液に順に浸してエッチングを行う。2種類の濃度の異なる水酸化カリウム水溶液を用いたエッチングを行うことによって、形成される振動板22の面荒れを抑制し、厚み精度を高めることができる。その結果、液滴吐出ヘッドの吐出性能を安定化することができる。ウェットエッチングを終了すると、接合済み基板をフッ酸水溶液に浸し、シリコン基板71表面のTEOSエッチングマスク73を剥離する(図5(e))。   Next, etching is performed by sequentially immersing the bonded substrate in an aqueous potassium hydroxide solution having a concentration of 35 wt% and 3 wt%. By performing etching using two types of potassium hydroxide aqueous solutions having different concentrations, surface roughness of the diaphragm 22 to be formed can be suppressed and thickness accuracy can be improved. As a result, the discharge performance of the droplet discharge head can be stabilized. When the wet etching is finished, the bonded substrate is immersed in a hydrofluoric acid aqueous solution, and the TEOS etching mask 73 on the surface of the silicon substrate 71 is peeled off (FIG. 5E).

シリコン基板71上において電極取り出し口26となる部分のシリコンを除去し、開口する。その後、電極取り出し口26の端部にあるキャビティ基板20と各凹部11との間で形成されるギャップの開口部に沿って、例えばエポキシ樹脂を流し込んだり、酸化シリコンを堆積させたりして封止材25を形成する(図5(f))。さらに、例えばプラチナ(Pt)をターゲットとしてスパッタ等を行い、共通電極端子27を形成する。これにより、接合済み基板に行う加工処理は完了する。なお、ここでは特に詳細に説明しないが、上記の工程中においてギャップ部分について疎水化処理を行うことが望ましい。   On the silicon substrate 71, a portion of the silicon that becomes the electrode outlet 26 is removed and opened. Thereafter, sealing is performed by pouring, for example, epoxy resin or depositing silicon oxide along the opening of the gap formed between the cavity substrate 20 at the end of the electrode outlet 26 and each recess 11. A material 25 is formed (FIG. 5F). Further, for example, sputtering is performed using platinum (Pt) as a target to form the common electrode terminal 27. Thereby, the processing performed on the bonded substrate is completed. Although not described in detail here, it is desirable to perform a hydrophobizing process on the gap portion during the above steps.

あらかじめ作製していたノズル基板30を、例えばエポキシ系接着剤により、接合済み基板のキャビティ基板20側から接着する。そして、例えばダイシングラインに沿ってダイシングを行い、個々の液滴吐出ヘッドに切断し、液滴吐出ヘッドが完成する(図5(g))。装置を構成する際には、例えば発振駆動回路41と接続された配線42と液滴吐出ヘッドの端子部14とをACF(Anisotropic Conductive Film )等により接合する。   The nozzle substrate 30 prepared in advance is bonded from the cavity substrate 20 side of the bonded substrate, for example, with an epoxy adhesive. Then, for example, dicing is performed along a dicing line, and the liquid droplet ejection head is cut into individual liquid droplet ejection heads, thereby completing the liquid droplet ejection head (FIG. 5G). When configuring the apparatus, for example, the wiring 42 connected to the oscillation drive circuit 41 and the terminal portion 14 of the droplet discharge head are joined by an ACF (Anisotropic Conductive Film) or the like.

図6は本実施の形態の電極側絶縁膜15の耐久結果を表す図である。ここでは、従来のシーケンス及び条件、従来のシーケンス及び本実施の形態の条件並びに本実施の形態のシーケンス及び条件の3パターンについて、膜剥がれ発生が確認されるまでの液滴吐出回数の結果を示している。従来及び本実施の形態の成膜処理条件及び表面改質処理条件についてはそれぞれ図6(b)、図6(c)に示している。   FIG. 6 is a diagram showing a durability result of the electrode-side insulating film 15 of the present embodiment. Here, the results of the number of droplet ejection until the occurrence of film peeling is confirmed for the conventional sequence and conditions, the conventional sequence and the conditions of the present embodiment, and the three patterns of the sequence and conditions of the present embodiment are shown. ing. FIG. 6B and FIG. 6C show the film forming process conditions and the surface modification process conditions of the conventional and this embodiment, respectively.

従来のシーケンス及び条件では吐出回数が約5千万〜1億回であったものが、従来のシーケンス及び本実施の形態の条件の場合は約1億回となり、さらに本実施の形態のシーケンス及び条件の場合は約6億回となっている。以上より、シーケンスを改良することで、駆動耐久性が飛躍的に向上することがわかる。また、絶縁耐圧についても、従来は2MV/cmであったものが、8MV/cmとなり、大幅に向上した。したがって、短絡によって振動板22が個別電極12に貼り付いてしまうのを防ぐことができる。   In the conventional sequence and conditions, the number of ejections was about 50 million to 100 million times, but in the case of the conventional sequence and the conditions of the present embodiment, it becomes about 100 million times. In the case of conditions, it is about 600 million times. From the above, it can be seen that the drive durability is dramatically improved by improving the sequence. Also, with respect to the withstand voltage, what was conventionally 2 MV / cm is 8 MV / cm, which is a significant improvement. Therefore, it is possible to prevent the diaphragm 22 from sticking to the individual electrode 12 due to a short circuit.

以上のように実施の形態1によれば、電極側絶縁膜15を形成する際、成膜処理と表面改質処理とを交互に複数回行うことで、緻密な膜にしながら徐々に所望の厚さの電極側絶縁膜15を形成するようにしたので、従来、シリコン基板に成膜するために従来行われていた処理の流れ(シーケンス)に比べて格段の絶縁耐圧及び駆動耐久性を有し、貼り付きによる駆動不能、膜剥がれが生じにくく、優れた電極基板10を製造し、得ることができる。これにより、長寿命で安定して液滴吐出を行うことができる液滴吐出ヘッドを得ることができる。また、成膜処理において、TEOSを原料ガスとして用いるようにしたので、緻密な膜を形成することができる。さらに表面改質処理をO2プラズマ処理により行うようにしたので、特にTEOSの分解により生じる炭素(炭素化合物)を、二酸化炭素等にして膜表面から効率よく除去し、また、表面に酸素原子が結合することで、活性化を図ることができる。また、成膜処理及び表面改質処理に係る一連の処理を同じチャンバ内で行うようにしたので、基板搬送等の手間を省くことができる。また、パーティクル等が付着することもないため、効率よく処理を行うことができる。 As described above, according to the first embodiment, when the electrode-side insulating film 15 is formed, the film forming process and the surface modification process are alternately performed a plurality of times, so that the desired thickness is gradually increased while forming a dense film. Since the electrode-side insulating film 15 is formed, it has much higher withstand voltage and driving durability than the conventional process flow (sequence) for forming a film on a silicon substrate. Inability to drive due to sticking and film peeling hardly occur, and an excellent electrode substrate 10 can be manufactured and obtained. Thereby, it is possible to obtain a droplet discharge head that can stably discharge droplets with a long lifetime. Further, since TEOS is used as the source gas in the film formation process, a dense film can be formed. Furthermore, since the surface modification treatment is performed by O 2 plasma treatment, carbon (carbon compound) generated by the decomposition of TEOS is effectively removed from the film surface by using carbon dioxide or the like, and oxygen atoms are present on the surface. By linking, activation can be achieved. In addition, since a series of processes related to the film forming process and the surface modification process are performed in the same chamber, it is possible to save time and labor for transporting the substrate. In addition, since particles or the like do not adhere, processing can be performed efficiently.

実施の形態2.
上述の実施の形態において、電極側絶縁膜15の形成は、2秒の成膜処理を3回、7秒の表面改質処理を4回交互に行ったが、これに限定するものではない。例えば、成膜処理の時間が1秒の場合、約0.01μm(10nm)の膜を形成することができるが、成膜処理と表面改質処理とを繰り返し行って、特に表面改質処理の回数が増えることにより、さらに緻密な膜を成膜できる。ここで、成膜処理の時間が1秒よりも少なくなると、圧力、流量、周波数パワー等の制御が困難になってくることから、成膜処理は1秒以上が望ましい。また、以上のようにしてできる電極側絶縁膜15の膜厚については特に限定しないが、少なくとも0.02μm(20nm)あることが望ましい。ただし、厚すぎると、ギャップの容積を減らす等、吐出性能に影響を与えることになる。
Embodiment 2. FIG.
In the above-described embodiment, the electrode-side insulating film 15 is formed by alternately performing the film forming process for 2 seconds 3 times and the surface modifying process for 7 seconds 4 times. However, the present invention is not limited to this. For example, when the film formation time is 1 second, a film having a thickness of about 0.01 μm (10 nm) can be formed. By increasing the number of times, a denser film can be formed. Here, if the time of the film forming process is less than 1 second, it becomes difficult to control the pressure, the flow rate, the frequency power, and the like. The film thickness of the electrode-side insulating film 15 formed as described above is not particularly limited, but is desirably at least 0.02 μm (20 nm). However, if it is too thick, it will affect the discharge performance, such as reducing the volume of the gap.

実施の形態3.
また、上述の実施の形態では、TEOSを用いた酸化膜を形成するようにしている。緻密な膜形成にはTEOSが有効な材料であるが、例えばCVD法で膜を形成する場合には、SiH4 (モノシラン)等、他の材料を用いて電極側絶縁膜15を形成するようにしてもよい。また、スパッタ法により成膜を行うことも可能である。
Embodiment 3 FIG.
In the above-described embodiment, an oxide film using TEOS is formed. TEOS is an effective material for forming a dense film. However, in the case of forming a film by, for example, the CVD method, the electrode-side insulating film 15 is formed using another material such as SiH 4 (monosilane). May be. It is also possible to form a film by sputtering.

また、上述の実施の形態の成膜は、電極側絶縁膜15に対して行うものであったが、例えば、振動板側絶縁膜23についても同様の方法でさらに緻密な膜を形成するようにしてもよい。   In addition, the film formation in the above-described embodiment is performed on the electrode-side insulating film 15, but for example, a denser film may be formed on the diaphragm-side insulating film 23 by the same method. May be.

実施の形態4.
上述の実施の形態では、電極基板10、キャビティ基板20及びノズル基板30の3つの基板が積層されて構成された液滴吐出ヘッドについて説明したがこれに限定されるものではない。例えば、吐出室とリザーバとをそれぞれ別の基板に形成し、積層した4層の基板で構成した液滴吐出ヘッドについても適用することができる。
Embodiment 4 FIG.
In the above-described embodiment, the liquid droplet ejection head configured by laminating the three substrates of the electrode substrate 10, the cavity substrate 20, and the nozzle substrate 30 has been described. However, the present invention is not limited to this. For example, the present invention can also be applied to a droplet discharge head that includes a discharge chamber and a reservoir formed on separate substrates and configured by stacking four layers of substrates.

実施の形態5.
図7は上述の実施の形態で製造した液滴吐出ヘッドを用いた液滴吐出装置(プリンタ100)の外観図である。また、図8は液滴吐出装置の主要な構成手段の一例を表す図である。図7及び図8の液滴吐出装置は液滴吐出方式(インクジェット方式)による印刷を目的とする。また、いわゆるシリアル型の装置である。図8において、被印刷物であるプリント紙110が支持されるドラム101と、プリント紙110にインクを吐出し、記録を行う液滴吐出ヘッド102とで主に構成される。また、図示していないが、液滴吐出ヘッド102にインクを供給するためのインク供給手段がある。プリント紙110は、ドラム101の軸方向に平行に設けられた紙圧着ローラ103により、ドラム101に圧着して保持される。そして、送りネジ104がドラム101の軸方向に平行に設けられ、液滴吐出ヘッド102が保持されている。送りネジ104が回転することによって液滴吐出ヘッド102がドラム101の軸方向に移動するようになっている。
Embodiment 5 FIG.
FIG. 7 is an external view of a droplet discharge apparatus (printer 100) using the droplet discharge head manufactured in the above-described embodiment. FIG. 8 is a diagram illustrating an example of main components of the droplet discharge device. 7 and 8 is intended for printing by a droplet discharge method (inkjet method). Further, it is a so-called serial type device. In FIG. 8, a drum 101 that supports a printing paper 110 that is a printing object and a droplet discharge head 102 that discharges ink onto the printing paper 110 and performs recording are mainly configured. Although not shown, there is an ink supply means for supplying ink to the droplet discharge head 102. The print paper 110 is held by being pressed against the drum 101 by a paper press roller 103 provided parallel to the axial direction of the drum 101. A feed screw 104 is provided parallel to the axial direction of the drum 101, and the droplet discharge head 102 is held. As the feed screw 104 rotates, the droplet discharge head 102 moves in the axial direction of the drum 101.

一方、ドラム101は、ベルト105等を介してモータ106により回転駆動される。また、プリント制御手段107は、印画データ及び制御信号に基づいて送りネジ104、モータ106を駆動させ、また、ここでは図示していないが、発振駆動回路を駆動させて振動板4を振動させ、制御をしながらプリント紙110に印刷を行わせる。   On the other hand, the drum 101 is rotationally driven by a motor 106 via a belt 105 or the like. Further, the print control unit 107 drives the feed screw 104 and the motor 106 based on the print data and the control signal, and although not shown here, drives the oscillation drive circuit to vibrate the diaphragm 4, Printing is performed on the print paper 110 while controlling.

ここでは液体をインクとしてプリント紙110に吐出するようにしているが、液滴吐出ヘッドから吐出する液体はインクに限定されない。例えば、カラーフィルタとなる基板に吐出させる用途においては、カラーフィルタ用の顔料を含む液体、有機化合物等の電界発光素子を用いた表示パネル(OLED等)の基板に吐出させる用途においては、発光素子となる化合物を含む液体、基板上に配線する用途においては、例えば導電性金属を含む液体を、それぞれの装置において設けられた液滴吐出ヘッドから吐出させるようにしてもよい。また、液滴吐出ヘッドをディスペンサとし、生体分子のマイクロアレイとなる基板に吐出する用途に用いる場合では、DNA(Deoxyribo Nucleic Acids :デオキシリボ核酸)、他の核酸(例えば、Ribo Nucleic Acid:リボ核酸、Peptide Nucleic Acids:ペプチド核酸等)タンパク質等のプローブを含む液体を吐出させるようにしてもよい。その他、布等の染料の吐出等にも利用することができる。   Here, the liquid is ejected onto the print paper 110 as ink, but the liquid ejected from the droplet ejection head is not limited to ink. For example, in an application to be discharged onto a substrate to be a color filter, a light emitting element is used in an application to be discharged onto a substrate of a display panel (OLED or the like) using an electroluminescent element such as a liquid containing a color filter pigment or an organic compound For example, a liquid containing a conductive metal and a liquid containing a conductive metal may be discharged from a droplet discharge head provided in each device. In addition, when the droplet discharge head is used as a dispenser and is used for discharging onto a substrate that is a microarray of biomolecules, DNA (Deoxyribo Nucleic Acids: deoxyribonucleic acid), other nucleic acids (for example, Ribo Nucleic Acid: ribonucleic acid, Peptide (Nucleic Acids: peptide nucleic acids, etc.) A liquid containing a probe such as a protein may be discharged. In addition, it can also be used for discharging dyes such as cloth.

実施の形態6.
図9は本発明を利用した波長可変光フィルタを表す図である。上述の実施の形態は、液滴吐出ヘッドを例として説明したが、本発明は液滴吐出ヘッドだけに限定されず、他の微細加工による静電アクチュエータを利用した静電型のデバイスにも適用することができる。例えば、図9の波長可変光フィルタは、ファブリ・ペロー干渉計の原理を利用し、可動鏡120と固定鏡121との間隔を変化させながら選択した波長の光を出力するものである。可動鏡120を変位させるためには、可動鏡120が設けられている、シリコンを材料とする可動体122を変位させる。そのために固定電極123と可動体122(可動鏡120)とを所定の間隔(ギャップ)で対向配置する。ここで、固定電極123に設ける電極側絶縁膜126に対し、上記のような方法で膜を形成するようにしてもよい。
Embodiment 6 FIG.
FIG. 9 is a diagram showing a wavelength tunable optical filter using the present invention. In the above-described embodiment, the droplet discharge head has been described as an example. However, the present invention is not limited to the droplet discharge head, and may be applied to an electrostatic type device using an electrostatic actuator by other fine processing. can do. For example, the wavelength tunable optical filter shown in FIG. 9 uses the principle of a Fabry-Perot interferometer and outputs light of a selected wavelength while changing the distance between the movable mirror 120 and the fixed mirror 121. In order to displace the movable mirror 120, the movable body 122 made of silicon and provided with the movable mirror 120 is displaced. For this purpose, the fixed electrode 123 and the movable body 122 (movable mirror 120) are arranged to face each other at a predetermined interval (gap). Here, a film may be formed by the above-described method on the electrode-side insulating film 126 provided on the fixed electrode 123.

同様にモータ、センサ、SAWフィルタのような振動素子(レゾネータ)、波長可変光フィルタ、ミラーデバイス等、他の種類の微細加工のアクチュエータ、圧力センサ等のセンサ等にも上述の封止部の形成等を適用することができる。   Similarly, the above-described sealing portion is also formed on other types of microfabricated actuators such as motors, sensors, SAW filters, resonator elements such as SAW filters, tunable optical filters, mirror devices, and pressure sensors. Etc. can be applied.

実施の形態1に係る液滴吐出ヘッドを分解して表した図である。2 is an exploded view of a droplet discharge head according to Embodiment 1. FIG. 液滴吐出ヘッドの断面図である。It is sectional drawing of a droplet discharge head. 電極基板10の製造工程を表す図である。3 is a diagram illustrating a manufacturing process of the electrode substrate 10. FIG. 実施の形態1の液滴吐出ヘッドの製造工程(その1)を表す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a manufacturing process (No. 1) of the droplet discharge head according to the first embodiment. 実施の形態1の液滴吐出ヘッドの製造工程(その2)を表す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a manufacturing process (No. 2) of the droplet discharge head according to the first embodiment. 本実施の形態の電極側絶縁膜15の耐久結果を表す図である。It is a figure showing the endurance result of electrode side insulating film 15 of this embodiment. 液滴吐出ヘッドを用いた液滴吐出装置の外観図である。It is an external view of a droplet discharge device using a droplet discharge head. 液滴吐出装置の主要な構成手段の一例を表す図である。It is a figure showing an example of the main structural means of a droplet discharge apparatus. 本発明を利用した波長可変光フィルタを表す図である。It is a figure showing the wavelength variable optical filter using this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10 電極基板、11 凹部、12 個別電極、13 リード部、14 端子部、15 電極側絶縁膜、16 液体供給口、20 キャビティ基板、21 吐出室、22 振動板、23 振動板側絶縁膜、24 リザーバ、25 封止材、26 電極取り出し口、27 共通電極端子、30 ノズル基板、31 ノズル孔、32 ダイヤフラム、33 オリフィス、41 発振駆動回路、42 配線、51 ガラス基板、52 クロム膜、53 金膜、54 ITO膜、61 メタルマスク、71 シリコン基板、72 ボロンドープ層、73 エッチングマスク、100 プリンタ、101 ドラム、102 液滴吐出ヘッド、103 紙圧着ローラ、104 送りネジ、105 ベルト、106 モータ、107 プリント制御手段、110 プリント紙、120 可動鏡、121 固定鏡、122 可動体、123 固定電極、124 固定電極端子、125 封止材、126 電極側絶縁膜。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Electrode substrate, 11 Recessed part, 12 Individual electrode, 13 Lead part, 14 Terminal part, 15 Electrode side insulating film, 16 Liquid supply port, 20 Cavity board, 21 Discharge chamber, 22 Vibration plate, 23 Vibration plate side insulating film, 24 Reservoir, 25 Sealing material, 26 Electrode outlet, 27 Common electrode terminal, 30 Nozzle substrate, 31 Nozzle hole, 32 Diaphragm, 33 Orifice, 41 Oscillation drive circuit, 42 Wiring, 51 Glass substrate, 52 Chrome film, 53 Gold film , 54 ITO film, 61 metal mask, 71 silicon substrate, 72 boron doped layer, 73 etching mask, 100 printer, 101 drum, 102 droplet discharge head, 103 paper pressure roller, 104 feed screw, 105 belt, 106 motor, 107 print Control means, 110 print paper, 120 movable mirror, 121 fixed mirror, 12 2 movable body, 123 fixed electrode, 124 fixed electrode terminal, 125 sealing material, 126 electrode side insulating film.

Claims (13)

所定の間隔で対向する可動電極を変位させるための固定電極を基板上に形成する工程と、
少なくとも固定電極を覆う絶縁膜を形成する成膜処理と前記絶縁膜の洗浄及び表面改質を行う表面改質処理とを、所望の厚さの絶縁膜が成膜されるまで交互に繰り返す工程と
を有することを特徴とする電極基板の製造方法。
Forming a fixed electrode on the substrate for displacing the movable electrodes facing each other at a predetermined interval;
A step of alternately repeating a film forming process for forming an insulating film covering at least the fixed electrode and a surface modifying process for cleaning and surface modifying the insulating film until an insulating film having a desired thickness is formed; A method for manufacturing an electrode substrate, comprising:
TEOSを原料としたCVD法による成膜処理を行って形成した酸化シリコン膜を前記絶縁膜とすることを特徴とする請求項1記載の電極基板の製造方法。   2. The method of manufacturing an electrode substrate according to claim 1, wherein the insulating film is a silicon oxide film formed by performing a film forming process by a CVD method using TEOS as a raw material. 2プラズマによる前記絶縁膜の前記表面改質処理を行うことを特徴とする請求項1又は2記載の電極基板の製造方法。 The method for manufacturing an electrode substrate according to claim 1, wherein the surface modification treatment of the insulating film is performed by O 2 plasma. 前記基板に対する前記成膜処理と前記表面改質処理とを同じチャンバ内で行うことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の電極基板の製造方法。   The method for manufacturing an electrode substrate according to claim 1, wherein the film forming process and the surface modification process for the substrate are performed in the same chamber. 請求項1〜4のいずれかに記載の電極基板の製造方法を適用し、前記可動電極を有する静電アクチュエータを製造することを特徴とする静電アクチュエータの製造方法。   A method for manufacturing an electrostatic actuator, comprising applying the method for manufacturing an electrode substrate according to claim 1 to manufacture an electrostatic actuator having the movable electrode. 請求項5に記載の静電アクチュエータの製造方法を適用し、前記可動電極となる振動板により液体を加圧して液滴を吐出する液滴吐出ヘッドを製造することを特徴とする液滴吐出ヘッドの製造方法。   6. A droplet discharge head that applies the method for manufacturing an electrostatic actuator according to claim 5 to manufacture a droplet discharge head that discharges droplets by pressurizing a liquid with a vibration plate serving as the movable electrode. Manufacturing method. 請求項6に記載の液滴吐出ヘッドの製造方法を適用して液滴吐出装置を製造することを特徴とする液滴吐出装置の製造方法。   A method for manufacturing a droplet discharge device, wherein the droplet discharge device is manufactured by applying the method for manufacturing a droplet discharge head according to claim 6. 請求項5に記載の静電アクチュエータの製造方法を適用してデバイスを製造することを特徴とする静電駆動デバイスの製造方法。   A method for manufacturing an electrostatic drive device, wherein the device is manufactured by applying the method for manufacturing an electrostatic actuator according to claim 5. 請求項1〜4のいずれかに記載の製造方法により製造されたことを特徴とする電極基板。   An electrode substrate manufactured by the manufacturing method according to claim 1. 請求項9記載の電極基板を備えることを特徴とする静電アクチュエータ。   An electrostatic actuator comprising the electrode substrate according to claim 9. 請求項10記載の静電アクチュエータを備えることを特徴とする液滴吐出ヘッド。   A droplet discharge head comprising the electrostatic actuator according to claim 10. 請求項11記載の液滴吐出ヘッドを備えることを特徴とする液滴吐出装置。   A droplet discharge apparatus comprising the droplet discharge head according to claim 11. 請求項10記載の静電アクチュエータを備えることを特徴とする静電駆動デバイス。
An electrostatic drive device comprising the electrostatic actuator according to claim 10.
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