JP2000100677A - Device and method for separating sample and manufacture of substrate - Google Patents

Device and method for separating sample and manufacture of substrate

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JP2000100677A
JP2000100677A JP10272156A JP27215698A JP2000100677A JP 2000100677 A JP2000100677 A JP 2000100677A JP 10272156 A JP10272156 A JP 10272156A JP 27215698 A JP27215698 A JP 27215698A JP 2000100677 A JP2000100677 A JP 2000100677A
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Japan
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separation
sample
holding unit
layer
substrate
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JP10272156A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazutaka Yanagida
一隆 柳田
Kiyobumi Sakaguchi
清文 坂口
Kazuaki Omi
和明 近江
Takao Yonehara
隆夫 米原
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Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the occurrence of defects in samples at the time of separating the samples. SOLUTION: A laminated substrate 101 is held between substrate holding sections 102 and 103 in such a way that the sections 102 and 103 press the substrate 101 against each other from both sides. While the substrate 101 is rotated, the substrate 101 is separated into single substrates from a porous layer 101b by a jet by spraying the jet from a nozzle 136. In the first stage of separation, the substrate 101 is pressed with a spring 117. As the separation progresses, the already separated parts of the substrate warp due to the pressure of the jet constituting medium (water) injected into the substrate 101. When the warping amounts become larger, the substrate holding section 103 retreats and a transmitting plate 120 comes into contact with springs 118 and 119. When the plate 120 comes into contact with the springs 118 and 119, the second stage of separation starts. In the second stage, the substrate 101 is pressed by the springs 117-119. In the second stage, therefore, the laminated substrate 101 is pressed with strong pressing forces.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、試料の分離装置及
び分離方法並びに基板の製造方法に係り、例えば、内部
に分離用の層を有する板状の試料の分離に好適な分離装
置及び分離方法並びにこれらを適用した基板の製造方法
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus and a method for separating a sample, and a method for manufacturing a substrate. For example, the present invention relates to an apparatus and a method suitable for separating a plate-shaped sample having a separation layer inside. Further, the present invention relates to a method for manufacturing a substrate to which the above-described methods are applied.

【0002】[0002]

【従来の技術】絶縁層上に単結晶Si層を有する基板と
して、SOI(silicon on insulator)構造を有する基
板(SOI基板)が知られている。このSOI基板を採
用したデバイスは、通常のSi基板では達成し得ない数
々の優位点を有する。この優位点としては、例えば、以
下のものが挙げられる。 (1)誘電体分離が容易で高集積化に適している。 (2)放射線耐性に優れている。 (3)浮遊容量が小さく、素子の動作速度の高速化が可
能である。 (4)ウェル工程が不要である。 (5)ラッチアップを防止できる。 (6)薄膜化による完全な空乏型電解効果トランジスタ
の形成が可能である。
2. Description of the Related Art As a substrate having a single crystal Si layer on an insulating layer, a substrate (SOI substrate) having an SOI (silicon on insulator) structure is known. Devices using this SOI substrate have a number of advantages that cannot be achieved with a normal Si substrate. The advantages include, for example, the following. (1) Dielectric separation is easy and suitable for high integration. (2) Excellent radiation resistance. (3) The stray capacitance is small, and the operation speed of the element can be increased. (4) No well step is required. (5) Latch-up can be prevented. (6) A complete depletion type field effect transistor can be formed by thinning.

【0003】SOI構造は、上記のような様々な優位点
を有するため、ここ数十年、その形成方法に関する研究
が進められてきた。
[0003] Since the SOI structure has various advantages as described above, research on a forming method thereof has been advanced in recent decades.

【0004】SOI技術としては、古くは、単結晶サフ
ァイア基板上にSiをCVD(化学気層成長)法でヘテ
ロエピタキシ成長させて形成するSOS(silicon on s
apphire)技術が知られている。このSOS技術は、最
も成熟したSOI技術として一応の評価を得たものの、
Si層と下地のサファイア基板との界面における格子不
整合による大量の結晶欠陥の発生、サファイア基板を構
成するアルミニウムのSi層への混入、基板の価格、大
面積化への遅れ等の理由により実用化が進んでいない。
As an SOI technique, SOS (silicon on s) is conventionally formed by forming Si on a single crystal sapphire substrate by heteroepitaxial growth by a CVD (chemical vapor deposition) method.
apphire) technology is known. Although this SOS technology has gained a reputation as the most mature SOI technology,
Practical due to large number of crystal defects due to lattice mismatch at the interface between the Si layer and the underlying sapphire substrate, mixing of aluminum constituting the sapphire substrate into the Si layer, cost of the substrate, delay in increasing the area, etc. Has not progressed.

【0005】SOS技術に次いで各種SOI技術が登場
した。このSOI技術に関して、結晶欠陥の低減や製造
コストの低減等を目指して様々な方法が試みられてき
た。この方法としては、基板に酸素イオンを注入して埋
め込み酸化層を形成する方法、酸化膜を挟んで2枚のウ
ェハを貼り合わせて一方のウェハを研磨又はエッチング
して、薄い単結晶Si層を酸化膜上に残す方法、更に
は、酸化膜が形成されたSi基板の表面から所定の深さ
に水素イオンを打ち込み、他方の基板と貼り合わせた後
に、加熱処理等により該酸化膜上に薄い単結晶Si層を
残して、貼り合わせた基板(他方の基板)を剥離する方
法等が挙げられる。
[0005] Next to the SOS technology, various SOI technologies have appeared. With respect to this SOI technology, various methods have been attempted with the aim of reducing crystal defects and reducing manufacturing costs. As this method, a method of implanting oxygen ions into a substrate to form a buried oxide layer, bonding two wafers with an oxide film interposed therebetween, and polishing or etching one of the wafers to form a thin single-crystal Si layer A method of leaving on an oxide film, furthermore, hydrogen ions are implanted at a predetermined depth from the surface of the Si substrate on which the oxide film is formed, and after bonding with the other substrate, a thin film is formed on the oxide film by heat treatment or the like. A method of removing the bonded substrate (the other substrate) while leaving the single crystal Si layer, or the like can be given.

【0006】本出願人は、特開平5−21338号にお
いて、新たなSOI技術を開示した。この技術は、多孔
質層が形成された単結晶半導体基板上に非多孔質単結晶
層(単結晶Si層を含む)を形成した第1の基板を、絶
縁層を介して第2の基板に貼り合わせ、その後、多孔質
層で両基板を分離し、第2の基板に非多孔質単結晶層を
移し取るものである。この技術は、SOI層の膜厚均一
性が優れていること、SOI層の結晶欠陥密度を低減し
得ること、SOI層の表面平坦性が良好であること、高
価な特殊仕様の製造装置が不要であること、数100Å
〜10μm程度の範囲のSOI膜を有するSOI基板を
同一の製造装置で製造可能なこと等の点で優れている。
The present applicant has disclosed a new SOI technique in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 5-21338. According to this technique, a first substrate in which a non-porous single crystal layer (including a single crystal Si layer) is formed on a single crystal semiconductor substrate in which a porous layer is formed is connected to a second substrate via an insulating layer. After bonding, the two substrates are separated by a porous layer, and the non-porous single crystal layer is transferred to a second substrate. This technology has an excellent thickness uniformity of the SOI layer, can reduce the crystal defect density of the SOI layer, has a good surface flatness of the SOI layer, and does not require an expensive special specification manufacturing apparatus. Is, several hundred dollars
It is excellent in that an SOI substrate having an SOI film in a range of about 10 μm to about 10 μm can be manufactured by the same manufacturing apparatus.

【0007】更に、本出願人は、特開平7−30288
9号において、上記の第1の基板と第2の基板とを貼り
合わせた後に、第1の基板を破壊することなく第2の基
板から分離し、その後、分離した第1の基板の表面を平
滑にして再度多孔質層を形成し、これを再利用する技術
を開示した。この技術は、第1の基板を無駄なく使用で
きるため、製造コストを大幅に低減することができ、製
造工程も単純であるという優れた利点を有する。
[0007] Further, the present applicant has disclosed in
In No. 9, after the first substrate and the second substrate are bonded to each other, the first substrate is separated from the second substrate without breaking, and then the separated surface of the first substrate is removed. A technique has been disclosed in which a porous layer is formed again after smoothing and reused. This technique has excellent advantages that the first substrate can be used without waste, so that the manufacturing cost can be greatly reduced and the manufacturing process is simple.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上記の技術において、
2枚の基板を貼り合わせた基板(以下、貼り合わせ基
板)を多孔質層で分離する際、分離される各基板に損傷
を与えることなく、再現性良く分離することが望まれ
る。
In the above technique,
When a substrate in which two substrates are bonded to each other (hereinafter, a bonded substrate) is separated by a porous layer, it is desired that the separated substrates be separated with good reproducibility without damaging the separated substrates.

【0009】本発明は、上記の背景に鑑みてなされたも
のであり、例えば、内部に分離用の層を有する板状の試
料(例えば、貼り合わせ基板)の分離に好適な装置及び
方法を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above background, and provides, for example, an apparatus and method suitable for separating a plate-like sample (for example, a bonded substrate) having a separation layer inside. The purpose is to do.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明の第1の側面に係
る分離装置は、内部に分離用の層を有する板状の試料を
該分離用の層で分離する分離装置であって、試料を保持
する保持部と、前記保持部により保持された試料に向け
て流体を噴射し、これにより前記分離用の層で該試料を
分離するための噴射部と、前記保持部が試料を押圧する
ように前記保持部に力を印加する印加部とを備え、前記
印加部は、試料の分離の進行に応じて前記保持部に印加
する力を変更することを特徴とする。
A separation apparatus according to a first aspect of the present invention is a separation apparatus for separating a plate-like sample having a separation layer therein by the separation layer, the separation apparatus comprising: A holding unit for holding the liquid, a fluid is ejected toward the sample held by the holding unit, and an ejection unit for separating the sample by the separation layer, whereby the holding unit presses the sample. And an application unit for applying a force to the holding unit, wherein the application unit changes the force applied to the holding unit in accordance with the progress of separation of the sample.

【0011】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記印加部は、試料の分離の進行に
応じて前記保持部が該試料を押圧する力が増加するよう
に、前記保持部に印加する力を変更することが好まし
い。
In the above-described separation apparatus according to the first aspect of the present invention, for example, the application unit may be configured so that a force of the holding unit pressing the sample increases as the separation of the sample progresses. It is preferable to change the force applied to the holding unit.

【0012】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記印加部は、分離の第1段階で
は、前記保持部に相対的に小さい力で試料を押圧させ、
分離の第2段階では、前記保持部に相対的に大きい力で
試料を押圧させるように、前記保持部に印加する力を変
更することが好ましい。
[0012] In the separation apparatus according to the first aspect of the present invention, for example, in the first stage of separation, the applying section causes the holding section to press the sample with a relatively small force,
In the second stage of separation, it is preferable to change the force applied to the holding unit so that the sample is pressed by the holding unit with a relatively large force.

【0013】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記印加部は、分離の最終段階に達
する前に、前記保持部が試料を押圧する力が増加するよ
うに、前記保持部に印加する力を変更することが好まし
い。
[0013] In the separation apparatus according to the first aspect of the present invention, for example, the application unit may be configured to increase the force with which the holding unit presses the sample before reaching the final stage of separation. It is preferable to change the force applied to the holding unit.

【0014】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記印加部は、前記保持部に対して
継続的に力を印加する第1印加部と、試料の分離された
部分が流体の圧力によって反ることにより前記保持部が
所定距離以上後退した時に前記保持部に対して力を印加
する第2印加部とを有することが好ましい。
In the separation apparatus according to the first aspect of the present invention, for example, the application unit includes a first application unit that continuously applies a force to the holding unit, and a separated portion of the sample. And a second application unit that applies a force to the holding unit when the holding unit retreats by a predetermined distance or more due to warping due to the pressure of the fluid.

【0015】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記第1及び第2印加部は、バネに
より前記保持部に力を印加することが好ましい。
In the separation device according to the first aspect of the present invention, for example, the first and second application sections preferably apply a force to the holding section by a spring.

【0016】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記印加部は、前記保持部に力を印
加するためのアクチュエータと、前記アクチュエータが
発生する力を変更する変更部とを備えることが好まし
い。
In the separation device according to the first aspect of the present invention, for example, the application unit includes an actuator for applying a force to the holding unit, and a changing unit for changing a force generated by the actuator. It is preferable to provide

【0017】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記印加部は、前記保持部に力を印
加するためのエアシリンダと、前記エアシリンダに供給
する空気の圧力を変更する変更部とを備えることが好ま
しい。
In the separation device according to the first aspect of the present invention, for example, the application unit changes an air cylinder for applying a force to the holding unit and a pressure of air supplied to the air cylinder. It is preferable to include a change unit that performs the change.

【0018】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記保持部に連結された軸部材と、
試料の面に略直交する方向に移動可能な状態で前記軸部
材を支持するガイド機構とを更に備え、これにより前記
保持部が試料の面に略直交する方向に移動することを可
能にしたことが好ましい。
In the separating apparatus according to the first aspect of the present invention, for example, a shaft member connected to the holding portion;
A guide mechanism for supporting the shaft member in a state movable in a direction substantially perpendicular to the surface of the sample, whereby the holding unit can be moved in a direction substantially perpendicular to the surface of the sample. Is preferred.

【0019】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記ガイド機構は、前記軸部材に対
して高圧の気体を噴射し、該気体の圧力により前記軸部
材を支持することが好ましい。
In the separation device according to the first aspect of the present invention, for example, the guide mechanism injects a high-pressure gas to the shaft member and supports the shaft member by the pressure of the gas. Is preferred.

【0020】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記ガイド機構は、前記軸部材を支
持するエアガイドを有することが好ましい。
In the separation device according to the first aspect of the present invention, for example, the guide mechanism preferably has an air guide for supporting the shaft member.

【0021】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記噴射部から噴射された流体が、
前記保持部に連結された機構の全部又は所定部分に付着
することを防止するためのカバー部材を更に備えること
が好ましい。
[0021] In the separation device according to the first aspect of the present invention, for example, the fluid injected from the injection unit is
It is preferable to further include a cover member for preventing the mechanism from being attached to all or a predetermined portion of the mechanism connected to the holding portion.

【0022】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記噴射部から噴射された流体が前
記印加部に付着することを防止するためのカバー部材を
更に備えることが好ましい。
In the separation device according to the first aspect of the present invention, it is preferable that the separation device further includes, for example, a cover member for preventing the fluid ejected from the ejection unit from adhering to the application unit.

【0023】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記噴射部から噴射された流体が前
記印加部及び前記ガイド機構に付着することを防止する
ためのカバー部材を更に備えることが好ましい。
In the separation device according to the first aspect of the present invention, for example, the separation device further includes a cover member for preventing fluid ejected from the ejection unit from adhering to the application unit and the guide mechanism. Is preferred.

【0024】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記カバー部材は、前記保持部及び
該保持部に連結された部材の移動に際して実質的な摩擦
を発生させない構造を有するシール部材を含むことが好
ましい。
[0024] In the separation device according to the first aspect of the present invention, for example, the cover member has a structure that does not generate substantial friction when the holding portion and the member connected to the holding portion move. It is preferable to include a sealing member.

【0025】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記シール部材は、ラビリンスシー
ルを含むことが好ましい。
In the separation device according to the first aspect of the present invention, for example, the seal member preferably includes a labyrinth seal.

【0026】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記シール部材は、ベローズを含む
ことが好ましい。
In the separation device according to the first aspect of the present invention, for example, the seal member preferably includes a bellows.

【0027】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記カバー部材により覆われた空間
内に気体を供給し、これにより該空間内を外気圧よりも
高くするための供給口を更に備えることが好ましい。
In the separation apparatus according to the first aspect of the present invention, for example, a gas is supplied into a space covered by the cover member, and thereby the gas is supplied to make the inside of the space higher than the outside pressure. Preferably, it further comprises a mouth.

【0028】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記分離用の層に略直交する軸を中
心として、前記保持部により保持された試料を回転させ
るための駆動源を更に備え、試料を回転させながら分離
することが好ましい。
In the separation apparatus according to the first aspect of the present invention, for example, a driving source for rotating the sample held by the holding section around an axis substantially orthogonal to the separation layer is provided. Further, it is preferable to separate the sample while rotating it.

【0029】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記分離用の層は、脆弱な構造の層
であることが好ましい。
In the separation device according to the first aspect of the present invention, for example, the separation layer is preferably a layer having a fragile structure.

【0030】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記脆弱な構造の層は、多孔質層で
あることが好ましい。
[0030] In the separation device according to the first aspect of the present invention, for example, the layer having the fragile structure is preferably a porous layer.

【0031】上記の本発明の第1の側面に係る分離装置
において、例えば、前記脆弱な構造の層は、微小気泡層
であることが好ましい。
In the separation device according to the first aspect of the present invention, for example, the layer having the fragile structure is preferably a microbubble layer.

【0032】本発明の第2の側面に係る分離装置は、内
部に分離用の層を有する板状の試料を該分離用の層で分
離する分離装置であって、試料を保持する保持部と、前
記保持部により保持された試料に向けて流体を噴射し、
これにより前記分離用の層で該試料を分離するための噴
射部と、試料の面に略直交する方向に移動可能な状態で
前記保持部を支持する支持機構と、試料の分離された部
分が流体の圧力によって反ることに伴う前記保持部の後
退動作をその後退量に応じて制御する制御部とを備える
ことを特徴とする。
A separation device according to a second aspect of the present invention is a separation device for separating a plate-shaped sample having a separation layer therein by the separation layer, comprising: a holding portion for holding the sample; Ejecting a fluid toward the sample held by the holding unit,
Thus, the jetting unit for separating the sample in the separation layer, a support mechanism that supports the holding unit in a state that can be moved in a direction substantially perpendicular to the surface of the sample, and a separated portion of the sample A control unit that controls a retreat operation of the holding unit caused by warping due to the pressure of the fluid in accordance with a retreat amount.

【0033】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記制御部は、前記保持部が試料を
押圧する方向に、前記保持部に力を印加する印加部を有
し、前記印加部は、前記保持部の後退量の増加に応じて
前記保持部が該試料を押圧する力が増加するように、前
記保持部に印加する力を変更することが好ましい。
In the separation apparatus according to the second aspect of the present invention, for example, the control unit has an application unit that applies a force to the holding unit in a direction in which the holding unit presses the sample, It is preferable that the application unit changes a force applied to the holding unit so that a force of the holding unit pressing the sample increases in accordance with an increase in a retreat amount of the holding unit.

【0034】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記印加部は、分離の第1段階で
は、前記保持部に相対的に小さい力で試料を押圧させ、
分離の第2段階では、前記保持部に相対的に大きい力で
試料を押圧させるように、前記保持部に印加する力を変
更することが好ましい。
[0034] In the separation apparatus according to the second aspect of the present invention, for example, in the first stage of separation, the application section causes the holding section to press the sample with a relatively small force,
In the second stage of separation, it is preferable to change the force applied to the holding unit so that the sample is pressed by the holding unit with a relatively large force.

【0035】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記印加部は、分離の最終段階に達
する前に、前記保持部が試料を押圧する力が増加するよ
うに、前記保持部に印加する力を変更することが好まし
い。
In the above-described separation apparatus according to the second aspect of the present invention, for example, the applying unit may increase the force of pressing the sample by the holding unit before reaching the final stage of separation. It is preferable to change the force applied to the holding unit.

【0036】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記印加部は、前記保持部に対して
継続的に力を印加する第1印加部と、試料の分離された
部分が流体の圧力によって反ることにより前記保持部が
所定距離以上後退した時に前記保持部に対して力を印加
する第2印加部とを有することが好ましい。
In the separation apparatus according to the second aspect of the present invention, for example, the application unit includes a first application unit that continuously applies a force to the holding unit, and a separated portion of the sample. And a second application unit that applies a force to the holding unit when the holding unit retreats by a predetermined distance or more due to warping due to the pressure of the fluid.

【0037】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記第1及び第2印加部は、バネに
より前記保持部に力を印加することが好ましい。
In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, it is preferable that the first and second application units apply a force to the holding unit by a spring.

【0038】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記印加部は、前記保持部に力を印
加するためのアクチュエータと、前記アクチュエータが
発生する力を制御する制御部とを備えることが好まし
い。
In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, the application section includes an actuator for applying a force to the holding section, and a control section for controlling a force generated by the actuator. It is preferable to provide

【0039】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記印加部は、前記保持部に力を印
加するためのエアシリンダと、前記エアシリンダに供給
する空気の圧力を調整する調整部とを備えることが好ま
しい。
In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, the application section adjusts an air cylinder for applying a force to the holding section and a pressure of air supplied to the air cylinder. It is preferable to include an adjusting unit that performs the adjustment.

【0040】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記制御部は、前記保持部の後退量
が所定距離に達した場合に、更なる前記保持部の後退を
制限することが好ましい。
[0040] In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, the control unit restricts further retreat of the holding unit when the retreat amount of the holding unit reaches a predetermined distance. Is preferred.

【0041】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記制御部は、前記保持部が試料を
押圧する方向に前記保持部に力を印加する印加部と、前
記保持部の後退量が所定距離に達した場合に、更なる前
記保持部の後退を制限する制限部材とを更に備えること
が好ましい。
[0041] In the separation apparatus according to the second aspect of the present invention, for example, the control unit includes: an application unit that applies a force to the holding unit in a direction in which the holding unit presses the sample; It is preferable to further comprise a restricting member for further restricting the holding portion from retreating when the retreat amount reaches a predetermined distance.

【0042】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記印加部は、バネにより前記保持
部に力を印加することが好ましい。
In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, the applying section preferably applies a force to the holding section by a spring.

【0043】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記支持機構は、前記保持部に連結
された軸部材と、試料面に略直交する方向に移動可能な
状態で前記軸部材を支持するガイド機構とを有すること
が好ましい。
In the above-described separation apparatus according to the second aspect of the present invention, for example, the support mechanism may include a shaft member connected to the holding portion and a shaft member movable in a direction substantially perpendicular to a sample surface. It is preferable to have a guide mechanism for supporting the shaft member.

【0044】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記ガイド機構は、前記軸部材に対
して高圧の気体を噴射し、該気体の圧力により前記軸部
材を支持することが好ましい。
[0044] In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, the guide mechanism injects a high-pressure gas to the shaft member and supports the shaft member by the pressure of the gas. Is preferred.

【0045】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記ガイド機構は、前記軸部材を支
持するエアガイドを有することが好ましい。
In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, the guide mechanism preferably has an air guide for supporting the shaft member.

【0046】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記噴射部から噴射された流体が、
前記保持部に連結された機構の全部又は所定部分に付着
することを防止するためのカバー部材を更に備えること
が好ましい。
In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, the fluid ejected from the ejection unit is
It is preferable to further include a cover member for preventing the mechanism from being attached to all or a predetermined portion of the mechanism connected to the holding portion.

【0047】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記噴射部から噴射された流体が前
記制御部に付着することを防止するためのカバー部材を
更に備えることが好ましい。
In the separation device according to the second aspect of the present invention, it is preferable that the separation device further includes, for example, a cover member for preventing the fluid ejected from the ejection unit from adhering to the control unit.

【0048】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記噴射部から噴射された流体が前
記制御部及び前記ガイド機構に付着することを防止する
ためのカバー部材を更に備えることが好ましい。
[0048] In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, a cover member for preventing the fluid ejected from the ejection unit from adhering to the control unit and the guide mechanism is further provided. Is preferred.

【0049】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記カバー部材は、前記保持部及び
該保持部に連結された部材の移動に際して実質的な摩擦
を発生させない構造を有するシール部材を含むことが好
ましい。
In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, the cover member has a structure that does not generate substantial friction when the holding portion and the member connected to the holding portion move. It is preferable to include a sealing member.

【0050】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記シール部材は、ラビリンスシー
ルを含むことが好ましい。
In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, the seal member preferably includes a labyrinth seal.

【0051】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記シール部材は、ベローズを含む
ことが好ましい。
In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, the seal member preferably includes a bellows.

【0052】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記カバー部材によりシールされた
空間内に気体を供給し、これにより該空間内を外気圧よ
りも高くするための供給口を更に備えることが好まし
い。
In the separation apparatus according to the second aspect of the present invention, for example, a gas is supplied into a space sealed by the cover member, thereby supplying the gas in the space higher than the outside pressure. Preferably, it further comprises a mouth.

【0053】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記分離用の層に略直交する軸を中
心として試料が回転するように、前記保持部を回転させ
るための駆動源を更に備え、試料を回転させながら分離
することが好ましい。
In the separation apparatus according to the second aspect of the present invention, for example, a drive source for rotating the holding unit such that the sample rotates about an axis substantially orthogonal to the separation layer. Preferably, the sample is further separated while rotating.

【0054】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記分離用の層は、脆弱な構造の層
であることが好ましい。
In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, the separation layer is preferably a layer having a fragile structure.

【0055】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記脆弱な構造の層は、多孔質層で
あることが好ましい。
In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, the layer having the fragile structure is preferably a porous layer.

【0056】上記の本発明の第2の側面に係る分離装置
において、例えば、前記脆弱な構造の層は、微小気泡層
であることが好ましい。
In the separation device according to the second aspect of the present invention, for example, the layer having a fragile structure is preferably a microbubble layer.

【0057】本発明の第3の側面に係る分離装置は、試
料を分離する分離装置であって、試料を保持する保持部
と、前記保持部に連結された軸部材と、試料の面に略直
交する方向に移動可能な状態で前記軸部材を支持するガ
イド機構と、前記保持部により保持された試料に向けて
流体を噴射し、これにより前記分離用の層で該試料を分
離するための噴射部とを備え、前記ガイド機構は、前記
軸部材に対して高圧の気体を噴射し、該気体の圧力によ
り前記軸部材を支持することを特徴とする。
A separation device according to a third aspect of the present invention is a separation device for separating a sample, wherein a holding portion for holding the sample, a shaft member connected to the holding portion, and a surface substantially parallel to the surface of the sample. A guide mechanism for supporting the shaft member in a state in which the sample can be moved in the orthogonal direction, and a fluid for jetting a fluid toward the sample held by the holding unit, thereby separating the sample in the separation layer. An ejecting section, wherein the guide mechanism ejects a high-pressure gas to the shaft member, and supports the shaft member by the pressure of the gas.

【0058】上記の本発明の第3の側面に係る分離装置
において、例えば、前記ガイド機構は、前記軸部材を支
持するエアガイドを有することが好ましい。
In the separation device according to the third aspect of the present invention, for example, the guide mechanism preferably has an air guide that supports the shaft member.

【0059】上記の本発明の第3の側面に係る分離装置
において、例えば、前記噴射部から噴射された流体が、
前記軸部材及び前記及び前記ガイド機構の全部又は所定
部分に付着することを防止するためのカバー部材を更に
備えることが好ましい。
In the separation device according to the third aspect of the present invention, for example, the fluid ejected from the ejection unit is
It is preferable to further include a cover member for preventing the shaft member and the guide mechanism from adhering to all or a predetermined portion thereof.

【0060】上記の本発明の第3の側面に係る分離装置
において、例えば、前記カバー部材は、前記保持部及び
該保持部に連結された機構の移動に際して実質的な摩擦
を発生させない構造を有するシール部材を含むことが好
ましい。
[0060] In the separating apparatus according to the third aspect of the present invention, for example, the cover member has a structure that does not generate substantial friction when the holding portion and a mechanism connected to the holding portion move. It is preferable to include a sealing member.

【0061】上記の本発明の第3の側面に係る分離装置
において、例えば、前記シール部材は、ラビリンスシー
ルを含むことが好ましい。
[0061] In the separation device according to the third aspect of the present invention, for example, the seal member preferably includes a labyrinth seal.

【0062】上記の本発明の第3の側面に係る分離装置
において、例えば、前記シール部材は、ベローズを含む
ことが好ましい。
[0062] In the separation device according to the third aspect of the present invention, for example, the seal member preferably includes a bellows.

【0063】本発明の第4の側面に係る分離装置は、試
料を分離する分離装置であって、試料を保持する保持部
と、前記保持部に連結された軸部材と、試料面に略直交
する方向に移動可能な状態で前記軸部材を支持するガイ
ド機構と、前記保持部により保持された試料に向けて流
体を噴射し、これにより前記分離用の層で該試料を分離
するための噴射部と、前記噴射部から噴射された流体
が、前記軸部材及び前記ガイド機構の全部又は所定部分
に付着することを防止するためのカバー部材とを備え、
前記カバー部材は、前記保持部及び該保持部に連結され
た部材の移動に際して実質的な摩擦を発生させない構造
を有するシール部材を含むことを特徴とする。
A separation device according to a fourth aspect of the present invention is a separation device for separating a sample, wherein a holding portion for holding the sample, a shaft member connected to the holding portion, and a substantially perpendicular to the sample surface. A guide mechanism for supporting the shaft member in a state capable of moving in a direction in which the fluid is ejected, and ejecting a fluid toward the sample held by the holding portion, thereby ejecting the sample at the separation layer. And a cover member for preventing fluid ejected from the ejection unit from adhering to all or a predetermined portion of the shaft member and the guide mechanism,
The cover member includes a seal member having a structure that does not substantially cause friction when the holding portion and a member connected to the holding portion move.

【0064】上記の本発明の第4の側面に係る分離装置
において、例えば、前記シール部材は、ラビリンスシー
ルを含むことが好ましい。
In the separation device according to the fourth aspect of the present invention, for example, the seal member preferably includes a labyrinth seal.

【0065】上記の本発明の第4の側面に係る分離装置
において、例えば、前記シール部材は、ベローズを含む
ことが好ましい。
In the separation device according to the fourth aspect of the present invention, for example, the seal member preferably includes a bellows.

【0066】本発明の第5の側面に係る分離方法は、内
部に分離用の層を有する試料を分離する分離方法であっ
て、保持部により試料を押圧して保持する工程と、前記
保持部により保持された試料に向けて流体を噴射するこ
とにより前記分離用の層で該試料を分離する分離工程
と、前記分離工程の進行に応じて前記保持部が試料を押
圧する力を変更する変更工程とを有することを特徴とす
る。
A separation method according to a fifth aspect of the present invention is a separation method for separating a sample having a separation layer therein, the step of pressing and holding the sample by a holding unit, A separation step of separating the sample by the separation layer by injecting a fluid toward the sample held by the method, and changing the force by which the holding unit presses the sample according to the progress of the separation step. And a process.

【0067】上記の本発明の第5の側面に係る分離方法
において、例えば、前記変更工程では、試料の分離の進
行に応じて前記保持部が試料を押圧する力を増加させる
ことが好ましい。
In the separation method according to the fifth aspect of the present invention, for example, in the changing step, it is preferable to increase the force of the holding unit pressing the sample as the separation of the sample progresses.

【0068】上記の本発明の第5の側面に係る分離方法
において、例えば、前記変更工程では、分離の第1段階
では、前記保持部が試料を押圧する力を相対的に小さく
し、分離の第2段階では、前記保持部が試料を押圧する
力を相対的に大きくすることが好ましい。
In the separation method according to the fifth aspect of the present invention, for example, in the changing step, in the first stage of separation, the force of pressing the sample by the holding unit is relatively reduced, and In the second stage, it is preferable that the force with which the holding unit presses the sample is relatively increased.

【0069】上記の本発明の第5の側面に係る分離方法
において、例えば、前記変更工程では、分離の最終段階
に達する前に、前記保持部が試料を押圧する力を増加さ
せることが好ましい。
[0069] In the separation method according to the fifth aspect of the present invention, for example, in the changing step, it is preferable to increase the force with which the holding unit presses the sample before reaching the final stage of separation.

【0070】上記の本発明の第5の側面に係る分離方法
において、例えば、前記分離用の層は、脆弱な構造の層
であることが好ましい。
In the separation method according to the fifth aspect of the present invention, for example, the separation layer is preferably a layer having a fragile structure.

【0071】上記の本発明の第5の側面に係る分離方法
において、例えば、前記脆弱な構造の層は、多孔質層で
あることが好ましい。
In the above-described separation method according to the fifth aspect of the present invention, for example, the layer having a fragile structure is preferably a porous layer.

【0072】上記の本発明の第5の側面に係る分離方法
において、例えば、前記脆弱な構造の層は、微小気泡層
であることが好ましい。
In the separation method according to the fifth aspect of the present invention, for example, the layer having a fragile structure is preferably a microbubble layer.

【0073】本発明の第6の側面に係る分離方法は、内
部に分離用の層を有する試料を分離する分離方法であっ
て、保持部により試料を保持する工程と、前記保持部に
より保持された試料に向けて流体を噴射することにより
前記分離用の層で該試料を分離する分離工程と、試料の
分離された部分が流体の圧力によって反ることに伴う前
記保持部の後退をその後退量に応じて制御する制御工程
とを有することを特徴とする。
A separation method according to a sixth aspect of the present invention is a separation method for separating a sample having a separation layer therein, the step of holding the sample by a holding unit, and the step of holding the sample by the holding unit. A separating step of separating the sample by the separation layer by injecting a fluid toward the sample, and a retreating of the holding section caused by a separated portion of the sample being warped by the pressure of the fluid. And a control step of controlling according to the amount.

【0074】上記の本発明の第6の側面に係る分離方法
において、例えば、前記制御工程では、前記保持部の後
退量の増加に応じて前記保持部が試料を押圧する力を増
加させることが好ましい。
In the separation method according to the sixth aspect of the present invention, for example, in the control step, the force with which the holding unit presses the sample may be increased in accordance with an increase in the amount of retreat of the holding unit. preferable.

【0075】上記の本発明の第6の側面に係る分離方法
において、例えば、前記制御工程では、分離の第1段階
では、前記保持部が試料を押圧する力を相対的に小さく
し、分離の第2段階では、前記保持部が試料を押圧する
力を相対的に大きくすることが好ましい。
In the above-described separation method according to the sixth aspect of the present invention, for example, in the control step, in the first stage of separation, the force with which the holding unit presses the sample is made relatively small, and In the second stage, it is preferable that the force with which the holding unit presses the sample is relatively increased.

【0076】上記の本発明の第6の側面に係る分離方法
において、例えば、前記制御工程では、分離の最終段階
に達する前に、前記保持部が試料を押圧する力を増加さ
せることが好ましい。
In the separation method according to the sixth aspect of the present invention, for example, in the control step, it is preferable to increase the force of the holding unit pressing the sample before reaching the final stage of separation.

【0077】上記の本発明の第6の側面に係る分離方法
において、例えば、前記制御工程では、前記保持部の後
退量が所定距離に達した場合に、更なる前記保持部の後
退を制限することが好ましい。
In the separation method according to the sixth aspect of the present invention, for example, in the control step, when the retreat amount of the holding part reaches a predetermined distance, further retreat of the holding part is limited. Is preferred.

【0078】上記の本発明の第6の側面に係る分離方法
において、例えば、前記分離用の層は、脆弱な構造の層
であることが好ましい。
In the separation method according to the sixth aspect of the present invention, for example, the separation layer is preferably a layer having a fragile structure.

【0079】上記の本発明の第6の側面に係る分離方法
において、例えば、前記脆弱な構造の層は、多孔質層で
あることが好ましい。
In the above-described separation method according to the sixth aspect of the present invention, for example, the layer having a fragile structure is preferably a porous layer.

【0080】上記の本発明の第6の側面に係る分離方法
において、例えば、前記脆弱な構造の層は、微小気泡層
であることが好ましい。
In the separation method according to the sixth aspect of the present invention, for example, it is preferable that the layer having the fragile structure is a microbubble layer.

【0081】本発明の第7の側面に係る基板の製造方法
は、基板の製造方法であって、内部に脆弱な構造の層を
有する第1の基板を第2の基板に貼り合わせて、貼り合
わせ基板を作成する作成工程と、上記の第1乃至第4の
側面に係る分離装置のいずれかにより前記貼り合わせ基
板を前記脆弱な層で分離する分離工程と、前記分離工程
の後に前記第2の基板側に残った脆弱な層を除去する除
去工程とを有することを特徴とする。
The method for manufacturing a substrate according to the seventh aspect of the present invention is a method for manufacturing a substrate, comprising: bonding a first substrate having a layer having a fragile structure therein to a second substrate; A forming step of forming a bonded substrate, a separating step of separating the bonded substrate at the fragile layer by any of the separating devices according to the first to fourth aspects, and a step of separating the second substrate after the separating step. Removing the fragile layer remaining on the substrate side.

【0082】本発明の第8の側面に係る基板の製造方法
は、内部に脆弱な構造の層を有する第1の基板を第2の
基板に貼り合わせて、貼り合わせ基板を作成する作成工
程と、上記の第5又は第6の側面に係る分離方法により
前記貼り合わせ基板を前記脆弱な層で分離する分離工程
と、前記分離工程の後に前記第2の基板側に残った脆弱
な層を除去する除去工程とを有することを特徴とする。
A method of manufacturing a substrate according to an eighth aspect of the present invention includes a manufacturing step of bonding a first substrate having a layer having a fragile structure therein to a second substrate to form a bonded substrate. A separation step of separating the bonded substrate at the fragile layer by the separation method according to the fifth or sixth aspect, and removing a fragile layer remaining on the second substrate after the separation step. And a removing step.

【0083】[0083]

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら本
発明の好適な実施の形態を説明する。
Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

【0084】図1は、本発明の好適な実施の形態に係る
SOI基板の製造を方法を工程順に説明する図である。
FIG. 1 is a view for explaining a method of manufacturing an SOI substrate according to a preferred embodiment of the present invention in the order of steps.

【0085】図1(a)に示す工程では、単結晶Si基
板11を準備して、その表面に陽極化成等により多孔質
Si層12を形成する。次いで、図1(b)に示す工程
では、多孔質Si層12上に非多孔質単結晶Si層13
をエピタキシャル成長法により形成し、その上に絶縁層
(例えば、SiO2層)15を形成する。これにより、
第1の基板()が形成される。
In the step shown in FIG. 1A, a single crystal Si substrate 11 is prepared, and a porous Si layer 12 is formed on the surface thereof by anodization or the like. Next, in a step shown in FIG. 1B, a non-porous single-crystal Si layer 13 is formed on the porous Si layer 12.
Is formed by an epitaxial growth method, and an insulating layer (for example, an SiO 2 layer) 15 is formed thereon. This allows
A first substrate () is formed.

【0086】図1(c)に示す工程では、第2の基板1
4()を準備し、絶縁層15が面するようにして第1
の基板()と第2の基板14()とを室温で密着さ
せる。その後、陽極接合、加圧若しくは熱処理又はこれ
らを組合わせた処理により第1の基板()と第2の基
板14()とを貼り合わせる。この処理により、絶縁
層15と第2の基板14()とが強固に結合される。
なお、絶縁層15は、上記のように非多孔質単結晶Si
層13の上に形成しても良いが、第2の基板14()
の上に形成しても良く、両者に形成しても良く、結果と
して、第1の基板と第2の基板を密着させた際に、図1
(c)に示す状態になれば良い。
In the step shown in FIG. 1C, the second substrate 1
4 () is prepared, and the first layer is placed so that the insulating layer 15 faces.
The substrate () and the second substrate () are brought into close contact with each other at room temperature. After that, the first substrate () and the second substrate 14 () are bonded to each other by anodic bonding, pressing, heat treatment, or a combination thereof. By this processing, the insulating layer 15 and the second substrate 14 () are firmly bonded.
The insulating layer 15 is made of non-porous single-crystal Si as described above.
Although it may be formed on the layer 13, the second substrate 14 ()
1 and may be formed on both. As a result, when the first substrate and the second substrate are brought into close contact with each other, FIG.
The state shown in FIG.

【0087】図1(d)に示す工程では、貼り合わせた
2枚の基板を、多孔質Si層12の部分で分離する。こ
れにより、第2の基板側(''+)は、多孔質Si層
12''/単結晶Si層13/絶縁層15/単結晶Si基
板14の積層構造となる。一方、第1の基板側(')
は、単結晶Si基板11上に多孔質Si層12’を有す
る構造となる。
In the step shown in FIG. 1D, the two bonded substrates are separated from each other at the porous Si layer 12. Thereby, the second substrate side ("+") has a laminated structure of the porous Si layer 12 "/ the single-crystal Si layer 13 / the insulating layer 15 / the single-crystal Si substrate 14. On the other hand, on the first substrate side (')
Has a structure having a porous Si layer 12 ′ on a single-crystal Si substrate 11.

【0088】分離後の基板(’)は、残留した多孔質
Si層12’を除去し、必要に応じて、その表面を平坦
化することにより、再び第1の基板()を形成するた
めの単結晶Si基板11として使用される。
The substrate (′) after the separation is used to form the first substrate () again by removing the remaining porous Si layer 12 ′ and flattening the surface as necessary. Used as a single crystal Si substrate 11.

【0089】貼り合わせた基板を分離した後、図1
(e)に示す工程では、第2の基板側(''+)の表
面の多孔質層12''を選択的に除去する。これにより、
単結晶Si層13/絶縁層15/単結晶Si基板14の
積層構造、すなわち、SOI構造を有する基板が得られ
る。
After separating the bonded substrates, FIG.
In the step shown in (e), the porous layer 12 '' on the surface of the second substrate side ("+") is selectively removed. This allows
A substrate having a stacked structure of single crystal Si layer 13 / insulating layer 15 / single crystal Si substrate 14, that is, a substrate having an SOI structure is obtained.

【0090】第2の基板としては、例えば、単結晶Si
基板の他、絶縁性基板(例えば、石英基板)や光透過性
基板(例えば、石英基板)等が好適である。
As the second substrate, for example, single crystal Si
In addition to the substrate, an insulating substrate (for example, a quartz substrate) and a light-transmitting substrate (for example, a quartz substrate) are suitable.

【0091】この実施の形態では、2枚の基板を貼り合
わせた後にこれを分離する処理を容易にするために、分
離用の領域に脆弱な構造の多孔質層12を形成するが、
この多孔質層の代わりに、例えば、微小気泡層を形成し
てもよい。微小気泡層は、例えば、半導体基板にイオン
を注入することにより形成することができる。
In this embodiment, a porous layer 12 having a fragile structure is formed in a region for separation in order to facilitate a process of separating two substrates after they are bonded to each other.
Instead of this porous layer, for example, a microbubble layer may be formed. The microbubble layer can be formed, for example, by implanting ions into a semiconductor substrate.

【0092】この実施の形態においては、図1(d)に
示す工程、すなわち、貼り合わせ基板を分離する工程の
少なくとも一部において、分離用の層である多孔質Si
層に向けて液体又は気体(流体)を噴射することにより
該分離用の層で貼り合わせ基板を2枚に分離する分離装
置を使用する。
In this embodiment, in at least a part of the step shown in FIG. 1D, ie, the step of separating the bonded substrate, the separation layer of porous Si is used.
A separation apparatus is used in which a liquid or a gas (fluid) is jetted toward the layer to separate the bonded substrates into two at the separation layer.

【0093】[分離装置の基本構成]この分離装置は、
ウォータージェット法を適用したものである。一般に、
ウォータジェット法は、水を高速、高圧の束状の流れに
して対象物に対して噴射して、セラミックス、金属、コ
ンクリート、樹脂、ゴム、木材等の切断、加工、表面の
塗膜の除去、表面の洗浄等を行う方法である(「ウォー
タージェット」第1巻1号(1984年)第4ページ参
照)。
[Basic Configuration of Separation Apparatus]
The water jet method was applied. In general,
In the water jet method, water is jetted onto a target in a high-speed, high-pressure bundle flow to cut, process, remove coating films on the surface of ceramics, metal, concrete, resin, rubber, wood, etc. This is a method of cleaning the surface (see “Water Jet”, Vol. 1, No. 1, (1984), page 4).

【0094】この分離装置は、脆弱な構造部分である貼
り合わせ基板の多孔質層(分離用の層)に対して、基板
の面方向に、高速、高圧の流体を束状の流れにして噴射
して、多孔質層を選択的に崩壊させることにより、多孔
質層の部分で基板を分離するものである。以下では、こ
の束状の流れを「ジェット」という。また、ジェットを
構成する流体を「ジェット構成媒体」という。ジェット
構成媒体としては、水、アルコール等の有機溶媒、弗
酸、硝酸その他の酸、水酸化カリウムその他のアルカ
リ、空気、窒素ガス、炭酸ガス、希ガス、エッチングガ
スその他の気体、或いはプラズマ等であってもよい。
In this separation apparatus, a high-speed, high-pressure fluid is jetted into a porous layer (separation layer) of a bonded substrate, which is a fragile structure, in the direction of the surface of the substrate in a bundled flow. Then, the substrate is separated at the portion of the porous layer by selectively collapsing the porous layer. Hereinafter, this bundled flow is referred to as a “jet”. Further, the fluid constituting the jet is referred to as “jet constituting medium”. As a jet constituting medium, water, an organic solvent such as alcohol, hydrofluoric acid, nitric acid and other acids, potassium hydroxide and other alkalis, air, nitrogen gas, carbon dioxide gas, rare gas, etching gas and other gases, or plasma, etc. There may be.

【0095】この分離装置を半導体装置の製造工程、例
えば、貼り合わせ基板の分離工程に適用する場合、ジェ
ット構成媒体としては、不純物金属やパーティクル等を
極力除去した純水を使用することが好ましい。
When this separation apparatus is applied to a manufacturing process of a semiconductor device, for example, a separation process of a bonded substrate, it is preferable to use pure water from which impurity metals, particles and the like have been removed as much as possible as a jet constituting medium.

【0096】ジェットの噴射条件は、例えば、分離用の
領域(例えば、多孔質層)の種類、貼り合わせ基板の外
周部の形状等に応じて決定すればよい。ジェットの噴射
条件として、例えば、ジェット構成媒体に加える圧力、
ジェットの走査速度、ノズルの幅又は径(ジェットの径
と略同一)、ノズル形状、ノズルと分離用の領域との距
離、ジェット構成媒体の流量等は、重要なパラメータと
なる。
The jet injection conditions may be determined according to, for example, the type of the separation area (for example, the porous layer), the shape of the outer peripheral portion of the bonded substrate, and the like. Jet injection conditions include, for example, pressure applied to the jet constituent medium,
The scanning speed of the jet, the width or diameter of the nozzle (substantially the same as the diameter of the jet), the nozzle shape, the distance between the nozzle and the separation area, the flow rate of the jet constituting medium, and the like are important parameters.

【0097】貼り合わせ基板の分離方法には、例えば、
1)貼り合わせ面付近に対して該貼り合わせ面に平行に
ジェットを挟入すると共にノズルを該貼り合わせ面に沿
って走査する方法、2)貼り合わせ面付近に対して該貼
り合わせ面に平行にジェットを挟入すると共に貼り合わ
せ基板を走査する方法、3)貼り合わせ面付近に対して
該貼り合わせ面に平行にジェットを挟入すると共にノズ
ル付近を腰として扇状にジェットを走査する方法、4)
貼り合わせ面付近に対して該貼り合わせ面に平行にジェ
ットを挟入すると共に該貼り合わせ基板の略中心を軸と
して該貼り合わせ基板を回転させる方法(貼り合わせ基
板が円盤状の場合に特に有効)等がある。
The method for separating the bonded substrates includes, for example,
1) A method in which a jet is inserted parallel to the bonding surface in the vicinity of the bonding surface and the nozzle is scanned along the bonding surface, and 2) The nozzle is parallel to the bonding surface in the vicinity of the bonding surface. 3) a method in which a jet is inserted and a bonded substrate is scanned, and 3) a method in which a jet is inserted in parallel with the bonding surface with respect to the vicinity of the bonding surface and the jet is scanned in a fan shape with the nozzle vicinity as a hip. 4)
A method in which a jet is inserted in the vicinity of the bonding surface in parallel with the bonding surface and the bonded substrate is rotated about the center of the bonded substrate as an axis (particularly effective when the bonded substrate has a disk shape). ).

【0098】以下、本発明の好適な実施の形態を列挙す
る。なお、以下の各実施の形態に係る分離装置は、内部
に脆弱な構造部である多孔質層又は微小気泡層を有する
貼り合わせ基板の分離に好適であるが、例えば内部に脆
弱な構造部を有する他の試料の分離にも好適である。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be listed. The separation device according to each of the following embodiments is suitable for separating a bonded substrate having a porous layer or a microbubble layer that is a fragile structure inside, for example, a fragile structure inside. It is also suitable for the separation of other specimens.

【0099】[第1の実施の形態]図2は、本発明の第
1の実施の形態に係る分離装置の概略的な構成を示す図
である。この分離装置100は、同一の中心軸上に存在
する基板保持部102及び103を有し、この基板所持
部102及び103により貼り合わせ基板101を両側
から挟むようにして押圧して保持する。貼り合わせ基板
101は、内部に脆弱な構造の層である多孔質層101
bを有し、この分離装置100により、この多孔質層1
01bの部分で2枚の基板101a及び101cに分離
される。この分離装置100においては、例えば、基板
101aが図1における第1の基板側(’)、基板1
01cが図1における第2の基板側(’’+)にな
るようにセットする。
[First Embodiment] FIG. 2 is a diagram showing a schematic configuration of a separation apparatus according to a first embodiment of the present invention. The separation apparatus 100 has substrate holding portions 102 and 103 located on the same central axis, and holds the bonded substrate 101 by sandwiching the bonded substrate 101 from both sides by the substrate holding portions 102 and 103. The bonded substrate 101 includes a porous layer 101 having a fragile structure inside.
b, and the porous layer 1
01b separates the two substrates 101a and 101c. In the separation apparatus 100, for example, the substrate 101a is the first substrate side (') in FIG.
01c is set on the second substrate side ("+") in FIG.

【0100】この分離装置100では、一対の基板保持
部102及び103により貼り合わせ基板101を両側
から挟むようにして保持し、モータ107が発生する回
転力により貼り合わせ基板101を回転させながら、ノ
ズル136から噴射されるジェットにより貼り合わせ基
板101を分離する。貼り合わせ基板101の分離は、
外周部から中心部に向かって渦巻状に進行する。より具
体的には、貼り合わせ基板101の分離は、既に分離さ
れた領域(分離領域)と未だ分離されていない領域(未
分離領域)との境界が渦巻状の軌跡を描くようにして進
行する。分離領域は、内部に注入されたジェット構成媒
体の圧力により反る。分離が進行して、この反りが大き
くなると、基板保持部103は、貼り合わせ基板101
に押圧されて徐々に後退する。
In the separation apparatus 100, the bonded substrate 101 is held by a pair of substrate holding units 102 and 103 so as to sandwich the bonded substrate 101 from both sides. The bonded substrate 101 is separated by the jet jet. Separation of the bonded substrate 101
It spirals from the outer periphery toward the center. More specifically, the separation of the bonded substrate 101 proceeds in such a manner that a boundary between a region already separated (separated region) and a region not yet separated (unseparated region) draws a spiral trajectory. . The separation region is warped by the pressure of the jet constituting medium injected therein. When the separation proceeds and the warp increases, the substrate holding unit 103 moves the bonded substrate 101
And gradually retreats.

【0101】基板保持部102は、ベアリング112を
介して支持台134に回転可能に軸支された回転軸10
4の一端に連結され、この回転軸104の他端にはモー
タ107の回転軸が連結されている。従って、モータ1
07の発生する回転力により、基板保持部102により
保持された貼り合わせ基板101が回転することにな
る。このモータ107は、不図示のコントローラにより
制御され、該コントローラから支持される回転速度で回
転軸104を回転させる。
The substrate holding unit 102 includes a rotating shaft 10 rotatably supported by a support table 134 via a bearing 112.
4, and the other end of the rotating shaft 104 is connected to a rotating shaft of a motor 107. Therefore, the motor 1
The bonded substrate 101 held by the substrate holding unit 102 is rotated by the rotation force generated by 07. The motor 107 is controlled by a controller (not shown), and rotates the rotating shaft 104 at a rotation speed supported by the controller.

【0102】基板保持部102には、真空吸着機構が設
けられており、この真空吸着機構は、真空ライン10
5、シール用の回転リング106及び真空継手108を
介して外部の真空ポンプに接続されている。
The substrate holding section 102 is provided with a vacuum suction mechanism.
5. It is connected to an external vacuum pump via a rotary ring 106 for sealing and a vacuum joint 108.

【0103】支持台134には、基板保持部102の後
端側の部分(ジェット構成媒体が付着することが好まし
くない部分)、例えば、ベアリング112、シール用の
リング106、モータ107等にジェット構成媒体(例
えば、水)が付着することを防止するためのカバー11
1が取り付けられている。カバー111には、空気等の
気体をカバー111内に供給するための供給口109
と、該気体を外部に排出するための排気口110とが設
けられている。この供給口109からカバー111内に
気体を供給して、カバー111の内部を外気圧より高め
に維持することにより、カバー111内にジェット構成
媒体が進入することを防止することができる。
The support table 134 has a rear end portion (a portion where the jet forming medium is not preferably adhered) of the substrate holding portion 102, for example, a bearing 112, a sealing ring 106, a motor 107, and the like. Cover 11 for preventing a medium (for example, water) from adhering.
1 is attached. The cover 111 has a supply port 109 for supplying a gas such as air into the cover 111.
And an exhaust port 110 for discharging the gas to the outside. By supplying gas into the cover 111 from the supply port 109 and keeping the inside of the cover 111 higher than the outside air pressure, it is possible to prevent the jet forming medium from entering the cover 111.

【0104】基板保持部103は、支持体131のエア
ガイド(エアスライド)130により回転可能かつ往復
動可能に軸支された回転軸113の一端に連結されてい
る。エアガイド130は、回転軸113の周囲から回転
軸113に向けて高圧の気体(例えば、空気)を吹きつ
け、該気体の圧力により回転軸113を支持する。従っ
て、回転軸113が回転又は往復動する際の抵抗(摩
擦)は、極めて小さく抑えられている。従って、回転軸
113及びそれに連結された基板保持部103は、滑ら
かに回転すると共に往復動する。
The substrate holding section 103 is connected to one end of a rotating shaft 113 rotatably and reciprocally supported by an air guide (air slide) 130 of a support 131. The air guide 130 blows high-pressure gas (for example, air) from around the rotation shaft 113 toward the rotation shaft 113, and supports the rotation shaft 113 by the pressure of the gas. Therefore, the resistance (friction) when the rotating shaft 113 rotates or reciprocates is kept extremely small. Therefore, the rotating shaft 113 and the substrate holding part 103 connected thereto rotate smoothly and reciprocate.

【0105】基板支持部103には、真空吸着機構が設
けられており、この真空吸着機構は、真空ライン114
及びロータリー式の真空継手116を介して外部の真空
ポンプに接続されている。
The substrate support section 103 is provided with a vacuum suction mechanism.
And a rotary vacuum joint 116 connected to an external vacuum pump.

【0106】回転軸113には、ベアリング123を介
して伝達板120が環装されている。また、回転軸11
3には、リング部材113aが固定されている。更に、
回転軸113には、伝達板120を押し出す方向に該伝
達板120に力を印加するバネ(第1の印加部)117
が環装されている。この力は、伝達板120及びリング
部材113a、更には回転軸113を介して基板保持部
103に伝達される。即ち、バネ117により、基板保
持部103には、貼り合わせ基板101を押圧する方向
に力が作用する。
A transmission plate 120 is mounted on the rotating shaft 113 via a bearing 123. Also, the rotating shaft 11
3, a ring member 113a is fixed. Furthermore,
A spring (first application unit) 117 that applies a force to the transmission plate 120 in a direction in which the transmission plate 120 is pushed out is provided on the rotation shaft 113.
Is installed. This force is transmitted to the substrate holding unit 103 via the transmission plate 120, the ring member 113a, and the rotation shaft 113. That is, a force acts on the substrate holding unit 103 in the direction of pressing the bonded substrate 101 by the spring 117.

【0107】伝達板120には、往復動ガイド121、
122を介して夫々ガイド軸128、129が緩挿され
ている。この往復動ガイド121,122は、例えば上
記のようなエアガイドで構成することが好ましい。ガイ
ド軸128,129には、夫々バネ(第2印加部)11
8、119が環装されている。バネ118及び119
は、貼り合わせ基板101の分離された領域(分離領
域)がジェット構成媒体の圧力によって反ることによ
り、基板保持部103が所定距離だけ後退(図2におい
ては右方向に移動)した時に、伝達板121を押し戻す
方向に該伝達板121に力を印加する。この実施の形態
では、往復動ガイド(121,122)、ガイド軸(12
8,129)及びバネ(118,119)を2組備えて
いるが、これは1組でも良いし、3組以上でもよい。
The transmission plate 120 has a reciprocating guide 121,
Guide shafts 128 and 129 are loosely inserted through 122, respectively. It is preferable that the reciprocating guides 121 and 122 are constituted by, for example, the air guide as described above. Each of the guide shafts 128 and 129 has a spring (second applying unit) 11.
8, 119 are mounted. Springs 118 and 119
When the substrate holding unit 103 is retracted by a predetermined distance (moves rightward in FIG. 2) due to the separated area (separated area) of the bonded substrate 101 warping due to the pressure of the jet forming medium, the transmission is performed. A force is applied to the transmission plate 121 in a direction in which the plate 121 is pushed back. In this embodiment, the reciprocating guides (121, 122) and the guide shaft (12
8, 129) and two sets of springs (118, 119), but may be one set or three or more sets.

【0108】支持体131には、基板保持部103の後
端側の部分(ジェット構成媒体が付着することが好まし
くない部分)、例えば、伝達板120、ベアリング12
3、往復動ガイド121及び122、バネ117〜11
9、エアガイド130及び回転軸113等を覆うカバー
124が取り付けられている。
The support 131 has a portion on the rear end side of the substrate holding portion 103 (a portion on which the jet forming medium is not preferably adhered), such as the transmission plate 120 and the bearing 12.
3, reciprocating guides 121 and 122, springs 117 to 11
9, a cover 124 that covers the air guide 130, the rotating shaft 113, and the like is attached.

【0109】また、カバー124には、回転軸114を
通すための開口部が設けられ、この開口部には、カバー
124の内部にジェット構成媒体が進入することを防止
するためのシール部材としてのラビリンスシール125
が設けられている。このようにラビリンスシール125
を採用することにより、回転軸114の回転又は往復動
の際の実質的な抵抗(摩擦)を排除することができる。
これにより、回転軸114は、滑らかに回転し往復動す
る。
The cover 124 is provided with an opening through which the rotating shaft 114 passes. The opening serves as a seal member for preventing the jet medium from entering the inside of the cover 124. Labyrinth seal 125
Is provided. Thus, the labyrinth seal 125
By adopting the above, substantial resistance (friction) at the time of rotation or reciprocation of the rotating shaft 114 can be eliminated.
Thereby, the rotating shaft 114 rotates smoothly and reciprocates.

【0110】カバー124には、空気等の気体をカバー
124の内部に供給するための供給口127と、該気体
を外部に排出するための排気口126とが設けられてい
る。この供給口127からカバー124内に気体を供給
して、カバー124の内部を外気圧より高めに維持する
ことにより、カバー124内にジェット構成媒体が進入
することを防止することができる。カバー124内に供
給された気体は、排気口126の他、ラビリンスシール
125やエアガイド130を介して外部に排出される。
従って、ジェット構成媒体がラビリンスシール125や
エアガイド130に進入することを効果的に防止するこ
とができる。
The cover 124 is provided with a supply port 127 for supplying a gas such as air to the inside of the cover 124 and an exhaust port 126 for discharging the gas to the outside. By supplying a gas into the cover 124 from the supply port 127 and keeping the inside of the cover 124 higher than the outside air pressure, it is possible to prevent the jet forming medium from entering the cover 124. The gas supplied into the cover 124 is exhausted to the outside via the labyrinth seal 125 and the air guide 130 in addition to the exhaust port 126.
Therefore, it is possible to effectively prevent the jet forming medium from entering the labyrinth seal 125 and the air guide 130.

【0111】支持体131は、支持台134に固定され
たエアシリンダ133のピストンロッド132に連結さ
れており、エアシリンダ133により駆動される。具体
的には、エアシリンダ133がピストンロッド132を
押し出すことにより支持体132が前進(図2において
左方向に移動)し、基板保持部102及び103により
貼り合わせ基板101が両側から押圧される。また、エ
アシリンダ133がぴストンロッド132を収容するこ
とにより、支持体132が後退(図2において右方向に
移動)し、基板保持部102と基板保持部103とが引
き離される。
The support 131 is connected to a piston rod 132 of an air cylinder 133 fixed to a support table 134, and is driven by the air cylinder 133. Specifically, when the air cylinder 133 pushes out the piston rod 132, the support 132 moves forward (moves leftward in FIG. 2), and the bonded substrates 101 are pressed from both sides by the substrate holders 102 and 103. Further, when the air cylinder 133 accommodates the peston rod 132, the support 132 moves backward (moves rightward in FIG. 2), and the substrate holding unit 102 and the substrate holding unit 103 are separated.

【0112】貼り合わせ基板101を分離する際は、図
2に示すようにして貼り合わせ基板101を保持した状
態で、ポンプ137から高圧のジェット構成媒体をノズ
ル136に送り込み、シャッタ135を開けばよい。こ
れにより、ノズル136から噴射されたジェットが貼り
合わせ基板101の多孔質層101bに挟入される。
When the bonded substrate 101 is separated, a high-pressure jet forming medium is sent from the pump 137 to the nozzle 136 and the shutter 135 is opened while holding the bonded substrate 101 as shown in FIG. . Thus, the jet ejected from the nozzle 136 is sandwiched between the porous layers 101b of the bonded substrate 101.

【0113】以上のように、この分離装置100では、
貼り合わせ基板101の分離の第1段階、即ち、貼り合
わせ基板101が反ることによる基板保持部103の後
退量が所定距離に達する前の段階では、バネ(第1印加
部)117を作用させて基板保持部103により貼り合
わせ基板101を押圧する。そして、分離の第2段階、
即ち、貼り合わせ基板101が反ることによる基板保持
部103の後退量が所定距離に達した後の段階では、バ
ネ(第1印加部)117の他、バネ(第2印加部)11
8を作用させて基板保持部103により貼り合わせ基板
101を押圧する。
As described above, in this separation apparatus 100,
In the first stage of separation of the bonded substrate 101, ie, before the amount of retreat of the substrate holding unit 103 due to warping of the bonded substrate 101 reaches a predetermined distance, the spring (first application unit) 117 is actuated. Then, the bonded substrate 101 is pressed by the substrate holding unit 103. And the second stage of separation,
That is, in a stage after the amount of retreat of the substrate holding unit 103 due to the warp of the bonded substrate 101 reaches a predetermined distance, the spring (first application unit) 117 and the spring (second application unit) 11
8, the bonded substrate 101 is pressed by the substrate holding unit 103.

【0114】即ち、この分離装置100では、貼り合わ
せ基板101の分離の進行に応じて基板保持部103に
印加する力を変更する。より具体的には、この分離装置
100では、貼り合わせ基板101の分離の進行に応じ
て基板保持部103に印加する力を増大させ、分離の最
終段階において基板保持部103が急速に後退すること
を防止する。
That is, in the separation apparatus 100, the force applied to the substrate holding unit 103 is changed according to the progress of the separation of the bonded substrate 101. More specifically, in the separation apparatus 100, the force applied to the substrate holding unit 103 is increased in accordance with the progress of separation of the bonded substrate 101, and the substrate holding unit 103 is rapidly retracted in the final stage of separation. To prevent

【0115】また、別の観点から考えると、この分離装
置100では、基板保持部103の後退量に応じて基板
保持部103の後退動作を制御する。より具体的には、
この分離装置100では、貼り合わせ基板101の分離
領域が流体によって反ることに伴う基板保持部103の
後退動作を、基板保持部103に印加する力を増大させ
ることにより制御し、分離の最終段階において基板保持
部103が急速に後退することを防止する。
From another viewpoint, the separating apparatus 100 controls the retreat operation of the substrate holder 103 according to the amount of retreat of the substrate holder 103. More specifically,
In the separation apparatus 100, the retreating operation of the substrate holding unit 103 accompanying the warping of the separation region of the bonded substrate 101 by the fluid is controlled by increasing the force applied to the substrate holding unit 103, and the final stage of separation is performed. Prevents the substrate holding unit 103 from retreating rapidly.

【0116】上記のように、貼り合わせ基板101の分
離の最終段階において基板保持部103が急速に後退す
ることを防止することにより、最終段階で分離される部
分の多孔質層101bが引き剥がされる現象を防止し、
これにより欠陥の発生を防止することができる。
As described above, by preventing the substrate holder 103 from retreating rapidly in the final stage of separation of the bonded substrate 101, the portion of the porous layer 101b separated in the final stage is peeled off. Prevent the phenomenon,
This can prevent defects from occurring.

【0117】前述のように、貼り合わせ基板101に
は、内部(基板101aと基板101cとの間)に注入
されたジェット構成媒体の圧力により分離領域に反りが
生じる。分離が進行し、貼り合わせ基板101の中央部
付近を分離する段階に至ると、この反りにより基板保持
部103が後退を開始する。この段階では、基板保持部
103が貼り合わせ基板101を押圧する力が小さい方
が、分離領域の反り量が大きくなるため、貼り合わせ基
板101の内部に注入されたジェット構成媒体の圧力に
よる分離力(基板101aと基板101cとを引き離す
方向に作用する力)が分離領域と未分離領域の境界に効
率的に作用し、分離が効率的に進行する。
As described above, in the bonded substrate 101, the separation region is warped by the pressure of the jet forming medium injected into the inside (between the substrate 101a and the substrate 101c). When the separation proceeds and reaches the stage where the vicinity of the center of the bonded substrate 101 is separated, the warpage causes the substrate holding unit 103 to start retreating. At this stage, the smaller the force with which the substrate holding unit 103 presses the bonded substrate 101, the larger the amount of warpage of the separation region, and thus the separation force due to the pressure of the jet constituent medium injected into the bonded substrate 101. (The force acting in the direction of separating the substrate 101a and the substrate 101c) efficiently acts on the boundary between the separation region and the unseparated region, and the separation proceeds efficiently.

【0118】しかしながら、分離の最終段階では、分離
力が急速に大きくなる一方で、未分離領域が急速に小さ
くなるために基板101aと基板101cとの結合力が
急速に小さくなる。従って、基板保持部103が貼り合
わせ基板101を押圧する力が十分でない場合、基板保
持部103を急速に後退させながら未分離領域の反りが
急速に大きくなる。その結果、未分離領域に分離力が集
中して作用し、該未分離領域が一括して引き剥がされて
欠陥を発生させる可能性がある。
However, in the final stage of separation, the separation force rapidly increases, while the unseparated region rapidly decreases, so that the bonding force between the substrate 101a and the substrate 101c rapidly decreases. Therefore, when the force with which the substrate holding unit 103 presses the bonded substrate 101 is not sufficient, the warpage of the unseparated region rapidly increases while the substrate holding unit 103 is rapidly retracted. As a result, there is a possibility that the separating force acts on the unseparated area in a concentrated manner, and the unseparated area is peeled off at once to cause a defect.

【0119】そこで、上記のように、貼り合わせ基板1
01の分離の最終段階において基板保持部103が急速
に後退することを防止することにより、欠陥の発生を防
止することが好ましい。
Then, as described above, the bonded substrate 1
It is preferable to prevent the occurrence of defects by preventing the substrate holding unit 103 from retreating rapidly in the final stage of the separation of No. 01.

【0120】また、この分離装置100では、前述のよ
うに、基板保持部103に連結された回転軸113をエ
アガイド130により支持するため、回転軸113が往
復動する際の抵抗が極めて小さく抑えられている。従っ
て、基板保持部103は、分離の進行に伴って滑らかに
後退する。その結果、上記の欠陥の発生をより効果的に
防止することができる。
Further, in the separation apparatus 100, as described above, the rotating shaft 113 connected to the substrate holding unit 103 is supported by the air guide 130, so that the resistance when the rotating shaft 113 reciprocates is extremely small. Have been. Therefore, the substrate holding unit 103 smoothly retreats as the separation proceeds. As a result, it is possible to more effectively prevent the above-described defects from occurring.

【0121】この理由は、次の通りである。回転軸11
3が往復動する際の抵抗が大きい場合、当然に、動摩擦
係数と静止摩擦係数との差が大きいと言える。従って、
回転軸113は、後退時に所謂ノッキングを起す可能性
がある。この場合、基板保持部103が瞬間的に後退
し、これにより未分離領域に対して分離力が集中して作
用し、該未分離領域が一括して引き剥がされて欠陥が生
じる可能性がある。そこで、上記のように、回転軸11
3の後退、即ち、基板保持部103の後退を滑らかにす
ることが好ましい。このように、基板保持部103の後
退を滑らかにすることにより、貼り合わせ基板101の
分離の進行に応じて基板保持部103に印加する力を変
更しない場合においても、上記の欠陥の発生を防止する
ことができる。
The reason is as follows. Rotating shaft 11
When the resistance of the reciprocating motion of the motor 3 is large, it can be said that the difference between the dynamic friction coefficient and the static friction coefficient is large. Therefore,
The rotating shaft 113 has a possibility of causing so-called knocking at the time of retreat. In this case, the substrate holding portion 103 is instantaneously retracted, whereby the separating force acts intensively on the unseparated region, and the unseparated region may be peeled off at once to cause a defect. . Therefore, as described above, the rotating shaft 11
3, that is, it is preferable to smooth the retreat of the substrate holding unit 103. In this way, by smoothing the retreat of the substrate holding unit 103, even when the force applied to the substrate holding unit 103 is not changed in accordance with the progress of the separation of the bonded substrate 101, the occurrence of the above-described defect is prevented. can do.

【0122】また、この分離装置100では、前述のよ
うに、カバー124を設けると共に、カバー124の開
口部からカバー124内にジェット構成媒体が進入する
ことを防止するためのシール部材として、回転軸114
の往復動の際の実質的な抵抗を排除したラビリンスシー
ル125を採用している。従って、シール部材(ラビリ
ンスシール125)にジェット構成媒体が付着した場合
においても、回転軸113の往復動の際の抵抗の増大が
小さく、ノッキングが発生する可能性が低い。その結
果、上記の欠陥の発生をより効果的に防止することがで
きる。
Further, in the separating apparatus 100, as described above, the cover 124 is provided, and the rotating shaft serves as a seal member for preventing the jet constituting medium from entering the cover 124 from the opening of the cover 124. 114
A labyrinth seal 125 that eliminates substantial resistance during the reciprocating motion of the motor is adopted. Therefore, even when the jet forming medium adheres to the seal member (labyrinth seal 125), the increase in resistance during reciprocation of the rotating shaft 113 is small, and the possibility of knocking is low. As a result, it is possible to more effectively prevent the above-described defects from occurring.

【0123】更に、この分離装置100では、前述のよ
うに、カバー124内に気体を供給することにより、カ
バー124内の気圧を外気圧よりも高く維持する。従っ
て、この分離装置100では、ジェット構成媒体がラビ
リンスシール125やエアガイド130に進入すること
を効果的に防止し、ノッキングの発生を更に効率的に防
止することができる。
Further, in the separation device 100, as described above, by supplying gas into the cover 124, the pressure inside the cover 124 is maintained higher than the outside pressure. Therefore, in the separation device 100, the jet constituent medium can be effectively prevented from entering the labyrinth seal 125 and the air guide 130, and the occurrence of knocking can be more efficiently prevented.

【0124】以下、この分離装置100による貼り合わ
せ基板101の分離処理の手順を説明する。
Hereinafter, the procedure of the separation processing of the bonded substrate 101 by the separation apparatus 100 will be described.

【0125】まず、エアシリンダ133により支持体1
31を後退(図2において右方向に移動)させ、基板保
持部102と基板保持部103との間に相応の間隔を設
ける。そして、基板保持部102と基板保持部103と
の間に、例えば搬送ロボット等により貼り合わせ基板1
01を搬送し、基板保持部102及び103の中心軸と
貼り合わせ基板101の中心とを位置合わせする。その
後、エアシリンダ133により支持体131を前進(図
2において左方向に移動)させ、基板保持部103によ
り貼り合わせ基板101を押圧させる(図2に示す状
態)。この状態で、貼り合わせ基板101には、エアシ
リンダ133の駆動力とバネ117の力とが作用し、基
板保持部102と基板保持部103とにより両側から挟
むようにして押圧して保持される。
First, the support 1 is moved by the air cylinder 133.
31 is moved backward (moved to the right in FIG. 2) to provide a corresponding space between the substrate holding unit 102 and the substrate holding unit 103. Then, between the substrate holding unit 102 and the substrate holding unit 103, the bonded substrate 1
01 is conveyed, and the center axes of the substrate holding units 102 and 103 and the center of the bonded substrate 101 are aligned. Thereafter, the support 131 is moved forward (moves to the left in FIG. 2) by the air cylinder 133, and the bonded substrate 101 is pressed by the substrate holder 103 (the state shown in FIG. 2). In this state, the driving force of the air cylinder 133 and the force of the spring 117 act on the bonded substrate 101, and the bonded substrate 101 is pressed and held by the substrate holding unit 102 and the substrate holding unit 103 so as to be sandwiched from both sides.

【0126】次いで、基板保持部102及び103の真
空吸着機構を作動させて、基板保持部102及び103
に貼り合わせ基板101を吸着する。なお、必ずしも貼
り合わせ基板101を基板保持部102及び103に吸
着する必要はないが、吸着することにより、貼り合わせ
基板101をより安定的に保持することができる。
Next, the vacuum suction mechanism of the substrate holding units 102 and 103 is operated to operate the substrate holding units 102 and 103.
Then, the bonded substrate 101 is sucked. Note that the bonded substrate 101 does not necessarily need to be adsorbed to the substrate holding units 102 and 103, but by adhering, the bonded substrate 101 can be held more stably.

【0127】次いで、モータ107を作動させて貼り合
わせ基板101を所定の回転速度で回転させる。この
時、回転軸104、基板保持部102、貼り合わせ基板
101、基板保持部103、回転軸113は、一体的に
回転する。
Next, the bonded substrate 101 is rotated at a predetermined rotation speed by operating the motor 107. At this time, the rotating shaft 104, the substrate holding unit 102, the bonded substrate 101, the substrate holding unit 103, and the rotating shaft 113 rotate integrally.

【0128】次いで、ポンプ137を作動させてノズル
136にジェット構成媒体(例えば、水)を送り込む。
そして、ジェットが安定したら、シャッタ135を開い
て、貼り合わせ基板101の多孔質層101bにジェッ
トを挟入させる。これにより、貼り合わせ基板101の
多孔質層101bには、ジェットによる衝撃力と、貼り
合わせ基板101の内部に注入されるジェット構成媒体
の圧力による分離力とが作用し、分離が進行する。この
実施の形態では、ジェットの圧力は、例えば500kg
f/平方cm程度が好適であり、ノズル136の径は、
例えば0.1mm程度が好適である。
Next, the pump 137 is operated to feed a jet forming medium (eg, water) to the nozzle 136.
When the jet is stabilized, the shutter 135 is opened, and the jet is sandwiched between the porous layers 101b of the bonded substrate 101. As a result, the impact force due to the jet and the separating force due to the pressure of the jet constituting medium injected into the bonded substrate 101 act on the porous layer 101b of the bonded substrate 101, and the separation proceeds. In this embodiment, the jet pressure is, for example, 500 kg
f / square cm is preferable, and the diameter of the nozzle 136 is
For example, about 0.1 mm is suitable.

【0129】図3は、分離の第1段階における貼り合わ
せ基板101及び分離装置100の一部の様子を模式的
に示す図である。図3に示すように、分離の第1段階
(初期段階を含む)では、貼り合わせ基板101の外周
部の既に分離された領域がジェット構成媒体の圧力によ
り反るようにして分離が進行する。しかし、この段階で
は、貼り合わせ基板101の中央部は分離されていない
ため、基板保持部103が後退(図3において右方向に
移動)することはない。従って、貼り合わせ基板101
には、バネ118及び119による力は作用せず、バネ
117による力が作用して基板保持部103により押圧
させる。なお、貼り合わせ基板101を基板保持部10
2及び103の真空吸着機構により保持する場合は、分
離の第1段階では、貼り合わせ基板101を両側に引き
離す方向に引っ張りながら保持してもよいし、貼り合わ
せ基板101に対して押圧力や引っ張り力を作用させず
に保持してもよい。
FIG. 3 is a diagram schematically showing a state of a part of the bonded substrate 101 and the separation apparatus 100 in the first stage of separation. As shown in FIG. 3, in the first stage (including the initial stage) of the separation, the separation proceeds such that the already separated region on the outer peripheral portion of the bonded substrate 101 is warped by the pressure of the jet constituting medium. However, at this stage, since the central portion of the bonded substrate 101 is not separated, the substrate holding portion 103 does not retreat (move rightward in FIG. 3). Therefore, the bonded substrate 101
Are not acted on by the springs 118 and 119, but are acted on by the force of the spring 117 to be pressed by the substrate holder 103. Note that the bonded substrate 101 is attached to the substrate holding unit 10.
In the case of holding by the vacuum suction mechanisms 2 and 103, in the first stage of separation, the bonded substrate 101 may be held while being pulled in a direction of separating the bonded substrate 101 to both sides, or a pressing force or a pulling force may be applied to the bonded substrate 101. It may be held without applying force.

【0130】図4は、分離の第2段階における貼り合わ
せ基板101及び分離装置100の一部の様子を模式的
に示す図である。分離の第2段階(分離の最終段階を含
む)になると、図4に示すように、貼り合わせ基板10
1の分離が中央部付近まで進行し、貼り合わせ基板10
1の内部に注入させるジェット構成媒体の圧力による基
板101a及び基板101cの反り量が大きくなる。こ
れにより、基板保持部103が後退(図4において右方
向に移動)すると共に伝達板120が後退し、図4に示
すように、伝達板120がバネ118及び119に当接
する。
FIG. 4 is a diagram schematically showing a state of a part of the bonded substrate 101 and the separation apparatus 100 in the second stage of separation. At the second stage of separation (including the final stage of separation), as shown in FIG.
1 proceeds to near the center, and the bonded substrate 10
The warpage of the substrate 101a and the substrate 101c due to the pressure of the jet forming medium injected into the inside of the substrate 101 increases. As a result, the substrate holding unit 103 moves backward (moves rightward in FIG. 4), and the transmission plate 120 moves backward, so that the transmission plate 120 comes into contact with the springs 118 and 119 as shown in FIG.

【0131】この段階では、基板保持部103は、バネ
117の他、バネ118及び119による力も受けて、
貼り合わせ基板101を押圧する。即ち、貼り合わせ基
板101は、より大きな力で基板保持部103により押
圧される。これにより、分離の最終段階において、基板
保持部103が急速に後退して基板101a及び基板1
01cに欠陥が生じることを防止することができる。
At this stage, the substrate holder 103 receives not only the spring 117 but also the forces of the springs 118 and 119,
The bonded substrate 101 is pressed. That is, the bonded substrate 101 is pressed by the substrate holding unit 103 with a larger force. As a result, in the final stage of separation, the substrate holding unit 103 rapidly retracts, and the substrate 101a and the substrate 1
01c can be prevented from being defective.

【0132】ここで、伝達板120(基板保持部10
3)が、どの程度後退した時にバネ118及び119を
作用させるかに関しては、例えば、ジェットの径や圧
力、貼り合わせ基板101の寸法や強度、基板保持部1
03の寸法、バネ117乃至119のバネ定数等に応じ
て適宜変更することができる。この実施の形態では、例
えば、伝達板120(基板保持部103)が0.1mm
後退した時に、バネ118及び119が作用するように
構成されている。
Here, the transmission plate 120 (substrate holder 10)
Regarding the extent to which the springs 118 and 119 act when 3) is retracted, for example, the diameter and pressure of the jet, the size and strength of the bonded substrate 101, the substrate holding unit 1
It can be changed as appropriate according to the size of 03, the spring constant of the springs 117 to 119, and the like. In this embodiment, for example, the transmission plate 120 (the substrate holding portion 103) has a thickness of 0.1 mm.
When retracted, the springs 118 and 119 are configured to operate.

【0133】なお、上記の説明においては、説明の便宜
上、分離の開始直後を分離の初期段階、分離の完了直前
から分離の完了までを分離の最終段階とし、分離を開始
してから基板保持部103が後退して伝達板120がバ
ネ118及び119に当接するまでを分離の第1段階、
それ以降を分離の第2段階としている。
In the above description, for the sake of convenience, immediately after the start of the separation, the initial stage of the separation, and immediately before the completion of the separation until the completion of the separation, the final stage of the separation. The first stage of separation is performed until 103 is retracted and the transmission plate 120 contacts the springs 118 and 119,
The subsequent stage is the second stage of separation.

【0134】分離が完了したら、シャッタ135を閉じ
て貼り合わせ基板101に対するジェットの挟入を停止
させ、ポンプ137及びモータ107を停止させる。
When the separation is completed, the shutter 135 is closed to stop the jet from being inserted into the bonded substrate 101, and the pump 137 and the motor 107 are stopped.

【0135】次いで、エアシリンダ133により支持体
131を後退させて、基板101a及び101cを引き
離す。そして、例えば、搬送ロボットのロボットハンド
に基板101a及び101cを吸着させた後に、基板保
持部102及び103による吸着を解除し、該搬送ロボ
ットに基板101a及び101cを引き渡す。
Next, the support 131 is moved backward by the air cylinder 133 to separate the substrates 101a and 101c. Then, for example, after the substrates 101a and 101c are sucked by the robot hand of the transfer robot, the suction by the substrate holding units 102 and 103 is released, and the substrates 101a and 101c are delivered to the transfer robot.

【0136】[第2の実施の形態]図5は、本発明の第
2の実施の形態に係る分離装置の概略的な構成を示す図
である。なお、第1の実施の形態に係る分離装置100
と同一の構成要素には、同一の符号を付している。
[Second Embodiment] FIG. 5 is a diagram showing a schematic configuration of a separation apparatus according to a second embodiment of the present invention. The separation device 100 according to the first embodiment
The same components as those described above are denoted by the same reference numerals.

【0137】第2の実施の形態に係る分離装置200
は、第1の実施の形態に係る分離装置100におけるバ
ネ118及び119の代わりに、伝達板120の後退量
を所定の距離に制限するための制限部材201及び20
2を有する。
The separation device 200 according to the second embodiment
Are limiting members 201 and 20 for limiting the retreat amount of the transmission plate 120 to a predetermined distance instead of the springs 118 and 119 in the separation device 100 according to the first embodiment.
2

【0138】即ち、第1の実施の形態に係る分離装置1
00では、基板保持部103が所定距離以上(例えば、
0.1mm以上)後退した場合に、伝達板120を介し
て基板保持部103に力(抗力)を印加するが、第2の
実施の形態に係る分離装置200では、基板保持部10
3が所定距離以上後退しないように、その後退量を制限
する。
That is, the separation apparatus 1 according to the first embodiment
In the case of 00, the substrate holding unit 103 is not less than a predetermined distance (for example,
When retracted (0.1 mm or more), a force (drag) is applied to the substrate holding unit 103 via the transmission plate 120. However, in the separation device 200 according to the second embodiment, the substrate holding unit 10
The amount of retreat is limited so that 3 does not retreat more than a predetermined distance.

【0139】制限部材201、202は、例えばリング
状の形状を有し、夫々ガイド軸128、129に固定さ
れている。この実施の形態では、往復動ガイド(12
1,122)、ガイド軸(128,129)及び制限部
材(201,202)を2組備えているが、これは1組
でも良いし、3組以上でもよい。、なお、他の構成要素
に関しては、第1の実施の形態に係る分離装置100と
第2の実施の形態に係る分離装置200とは同様である
ので説明を省略する。
The restricting members 201 and 202 have, for example, a ring shape and are fixed to the guide shafts 128 and 129, respectively. In this embodiment, a reciprocating guide (12
1, 122), two sets of guide shafts (128, 129) and restriction members (201, 202), but these may be one set or three or more sets. Note that the other components are the same as those of the separation device 100 according to the first embodiment and the separation device 200 according to the second embodiment, and a description thereof will be omitted.

【0140】以下、この分離装置200による貼り合わ
せ基板101の分離処理の手順を説明する。
Hereinafter, the procedure of the separation processing of the bonded substrate 101 by the separation apparatus 200 will be described.

【0141】まず、エアシリンダ133により支持体1
31を後退(図5において右方向に移動)させ、基板保
持部102と基板保持部103との間に相応の間隔を設
ける。そして、基板保持部102と基板保持部103と
の間に、例えば搬送ロボット等により貼り合わせ基板1
01を搬送し、基板保持部102及び103の中心軸と
貼り合わせ基板101の中心とを位置合わせする。その
後、エアシリンダ133により支持体131を前進(図
5において左方向に移動)させ、基板保持部103によ
り貼り合わせ基板101を押圧させる(図5に示す状
態)。この状態で、貼り合わせ基板101には、エアシ
リンダ133の駆動力とバネ117の力とが作用し、基
板保持部102と基板保持部103とにより両側から挟
むようにして押圧して保持される。
First, the support 1 is moved by the air cylinder 133.
31 is moved backward (moved to the right in FIG. 5) to provide an appropriate space between the substrate holding unit 102 and the substrate holding unit 103. Then, between the substrate holding unit 102 and the substrate holding unit 103, the bonded substrate 1
01 is conveyed, and the center axes of the substrate holding units 102 and 103 and the center of the bonded substrate 101 are aligned. Thereafter, the support 131 is moved forward (moves leftward in FIG. 5) by the air cylinder 133, and the bonded substrate 101 is pressed by the substrate holding unit 103 (the state shown in FIG. 5). In this state, the driving force of the air cylinder 133 and the force of the spring 117 act on the bonded substrate 101, and the bonded substrate 101 is pressed and held by the substrate holding unit 102 and the substrate holding unit 103 so as to be sandwiched from both sides.

【0142】次いで、基板保持部102及び103の真
空吸着機構を作動させて、基板保持部102及び103
に貼り合わせ基板101を吸着する。なお、必ずしも貼
り合わせ基板101を基板保持部102及び103に吸
着する必要はないが、吸着することにより、貼り合わせ
基板101をより安定的に保持することができる。
Next, the vacuum suction mechanism of the substrate holding units 102 and 103 is operated to operate the substrate holding units 102 and 103.
Then, the bonded substrate 101 is sucked. Note that the bonded substrate 101 does not necessarily need to be adsorbed to the substrate holding units 102 and 103, but by adhering, the bonded substrate 101 can be held more stably.

【0143】次いで、モータ107を作動させて貼り合
わせ基板101を所定の回転速度で回転させる。この
時、回転軸104、基板保持部102、貼り合わせ基板
101、基板保持部103、回転軸113は、一体的に
回転する。
Next, the bonded substrate 101 is rotated at a predetermined rotation speed by operating the motor 107. At this time, the rotating shaft 104, the substrate holding unit 102, the bonded substrate 101, the substrate holding unit 103, and the rotating shaft 113 rotate integrally.

【0144】次いで、ポンプ137を作動させてノズル
136にジェット構成媒体(例えば、水)を送り込む。
そして、ジェットが安定したら、シャッタ135を開い
て、貼り合わせ基板101の多孔質層101bにジェッ
トを挟入させる。これにより、貼り合わせ基板101の
多孔質層101bには、ジェットによる衝撃力と、貼り
合わせ基板101の内部に注入されるジェット構成媒体
の圧力による分離力とが作用し、分離が進行する。この
実施の形態では、ジェットの圧力は、例えば500kg
f/平方cm程度が好適であり、ノズル136の径は、
例えば0.1mm程度が好適である。
Next, the pump 137 is operated to feed a jet forming medium (for example, water) to the nozzle 136.
When the jet is stabilized, the shutter 135 is opened, and the jet is sandwiched between the porous layers 101b of the bonded substrate 101. As a result, the impact force due to the jet and the separating force due to the pressure of the jet constituting medium injected into the bonded substrate 101 act on the porous layer 101b of the bonded substrate 101, and the separation proceeds. In this embodiment, the jet pressure is, for example, 500 kg
f / square cm is preferable, and the diameter of the nozzle 136 is
For example, about 0.1 mm is suitable.

【0145】図6は、分離の第1段階における貼り合わ
せ基板101及び分離装置200の一部の様子を模式的
に示す図である。図6に示すように、分離の第1段階
(初期段階を含む)では、貼り合わせ基板101の外周
部の既に分離された領域(分離領域)がジェット構成媒
体の圧力により反るようにして分離が進行する。しか
し、この段階では、貼り合わせ基板101の中央部は分
離されていないため、基板保持部103が後退(図6に
おいて右方向に移動)することはない。従って、伝達板
120は、制限部材201及び202とは接触しない。
なお、貼り合わせ基板101を基板保持部102及び1
03の真空吸着機構により保持する場合は、分離の第1
段階では、貼り合わせ基板101を両側に引き離す方向
に引っ張りながら保持してもよいし、貼り合わせ基板1
01に対して押圧力や引っ張り力を作用させずに保持し
てもよい。
FIG. 6 is a diagram schematically showing a state of a part of the bonded substrate 101 and the separation apparatus 200 in the first stage of separation. As shown in FIG. 6, in the first stage (including the initial stage) of the separation, the already separated region (separation region) on the outer peripheral portion of the bonded substrate 101 is deflected by the pressure of the jet constituting medium. Progresses. However, at this stage, since the central portion of the bonded substrate 101 is not separated, the substrate holding portion 103 does not retreat (move rightward in FIG. 6). Therefore, the transmission plate 120 does not contact the restriction members 201 and 202.
Note that the bonded substrate 101 is attached to the substrate holding units 102 and 1
03 is held by the vacuum suction mechanism of
At this stage, the bonded substrate 101 may be held while being pulled in the direction in which the bonded substrate 101 is separated from both sides.
01 may be held without applying any pressing force or pulling force.

【0146】図7は、分離の第2段階における貼り合わ
せ基板101及び分離装置200の一部の様子を模式的
に示す図である。分離の第2段階(分離の最終段階を含
む)になると、図7に示すように、貼り合わせ基板10
1の分離が中央部付近まで進行し、貼り合わせ基板10
1の内部に注入させるジェット構成媒体の圧力による基
板101a及び基板101cの反り量が大きくなる。こ
れにより、基板保持部103が後退(図7において右方
向に移動)すると共に伝達板120が後退し、図7に示
すように、伝達板120が制限部材201及び202に
当接する。そして、制限部材201及び202により基
板保持部103の更なる後退が制限される。
FIG. 7 is a diagram schematically showing a state of a part of the bonded substrate 101 and the separation apparatus 200 in the second stage of separation. At the second stage of separation (including the final stage of separation), as shown in FIG.
1 proceeds to near the center, and the bonded substrate 10
The warpage of the substrate 101a and the substrate 101c due to the pressure of the jet forming medium injected into the inside of the substrate 101 increases. As a result, the substrate holding unit 103 moves backward (moves rightward in FIG. 7), and the transmission plate 120 moves backward. As shown in FIG. 7, the transmission plate 120 comes into contact with the restricting members 201 and 202. Further, further retreat of the substrate holding unit 103 is restricted by the restriction members 201 and 202.

【0147】以上のように、制限部材201及び202
により基板保持部103の所定距離以上の後退を制限す
ることにより、分離の最終段階において、基板保持部1
03が急速に後退して基板101a及び基板101cに
欠陥が生じることを防止することができる。
As described above, the limiting members 201 and 202
In the final stage of separation, the substrate holding unit 1
03 can be prevented from rapidly retreating and causing defects in the substrates 101a and 101c.

【0148】ここで、伝達板120(基板保持部10
3)の後退量をどの程度に制限するかに関しては、例え
ば、ジェットの径や圧力、貼り合わせ基板101の寸法
や強度、基板保持部103の寸法、バネ117乃至11
9のバネ定数等に応じて適宜変更することができる。こ
の実施の形態では、例えば、伝達板120(基板保持部
103)の後退量を例えば0.1mm程度に制限してい
る。
Here, the transmission plate 120 (substrate holder 10)
3) Regarding how much the retreat amount is limited, for example, the diameter and pressure of the jet, the size and strength of the bonded substrate 101, the size of the substrate holding unit 103, the springs 117 to 11
9 can be appropriately changed according to the spring constant and the like. In this embodiment, for example, the retreat amount of the transmission plate 120 (substrate holder 103) is limited to, for example, about 0.1 mm.

【0149】なお、上記の説明においては、説明の便宜
上、分離の開始直後を分離の初期段階、分離の完了直前
から分離の完了までを分離の最終段階とし、分離を開始
してから伝達板120が制限部材201及び202に当
接するまでを分離の第1段階、それ以降を分離の第2段
階としている。
In the above description, for the sake of convenience, immediately after the start of the separation, the initial stage of the separation, and immediately before the completion of the separation until the completion of the separation, the final stage of the separation. Is the first stage of separation until it contacts the limiting members 201 and 202, and the second stage of separation thereafter.

【0150】分離が完了したら、シャッタ135を閉じ
て貼り合わせ基板101に対するジェットの挟入を停止
させ、ポンプ137及びモータ107を停止させる。
When the separation is completed, the shutter 135 is closed to stop the jet from being inserted into the bonded substrate 101, and the pump 137 and the motor 107 are stopped.

【0151】次いで、エアシリンダ133により支持体
131を後退させて、基板101a及び101cを引き
離す。そして、例えば、搬送ロボットにより基板101
a及び101cを吸着させた後に、基板保持部102及
び103による吸着を解除し、該搬送ロボットに基板1
01a及び101cを引き渡す。
Next, the support 131 is moved backward by the air cylinder 133 to separate the substrates 101a and 101c. Then, for example, the substrate 101 is transferred by the transfer robot.
a and 101c, the suction by the substrate holding units 102 and 103 is released, and the transfer robot 1
Hand over 01a and 101c.

【0152】[第3の実施の形態]図8は、本発明の好
適な実施の形態に係る分離装置の一部の概略構成を示す
図である。第3の実施の形態では、第1の実施の形態に
係る分離装置100におけるラビリンスシール125の
代わりにベローズ125’を採用している。なお、他の
構成要素及び分離処理の手順に関しては第1の実施の形
態と同様である。
[Third Embodiment] FIG. 8 is a diagram showing a schematic configuration of a part of a separation apparatus according to a preferred embodiment of the present invention. In the third embodiment, a bellows 125 'is used instead of the labyrinth seal 125 in the separation device 100 according to the first embodiment. The other components and the procedure of the separation process are the same as in the first embodiment.

【0153】ベローズ125’は、カバー124の開口
部に固定されており、シール部材として機能する。ベロ
ーズ125’の先端部は、基板保持部材103の裏面に
圧接されており、基板保持部材103の往復動(図8に
おいて左又は右方向への移動)に応じて伸縮し、カバー
124内部にジェット構成媒体が進入することを防止す
る。
The bellows 125 'is fixed to the opening of the cover 124 and functions as a sealing member. The tip of the bellows 125 ′ is pressed against the back surface of the substrate holding member 103, and expands and contracts in accordance with the reciprocating movement (movement to the left or right in FIG. 8) of the substrate holding member 103, and jets into the cover 124. Prevent the constituent media from entering.

【0154】[第4の実施の形態]図9は、本発明の好
適な実施の形態に係る分離装置の一部の概略構成を示す
図である。第4の実施の形態では、第2の実施の形態に
係る分離装置200におけるラビリンスシール125の
代わりにベローズ125’を採用している。なお、他の
構成要素及び分離処理の手順に関しては第2の実施の形
態と同様である。
[Fourth Embodiment] FIG. 9 is a diagram showing a schematic configuration of a part of a separation apparatus according to a preferred embodiment of the present invention. In the fourth embodiment, a bellows 125 'is used instead of the labyrinth seal 125 in the separation device 200 according to the second embodiment. The other components and the procedure of the separation process are the same as in the second embodiment.

【0155】ベローズ125’は、カバー124の開口
部に固定されており、シール部材として機能する。ベロ
ーズ125’の先端部は、基板保持部材103の裏面に
圧接されており、基板保持部材103の往復動(図9に
おいて左又は右方向への移動)に応じて伸縮し、カバー
124内部にジェット構成媒体が進入することを防止す
る。
The bellows 125 'is fixed to the opening of the cover 124, and functions as a sealing member. The tip of the bellows 125 ′ is pressed against the back surface of the substrate holding member 103, and expands and contracts in accordance with the reciprocating movement (movement to the left or right in FIG. 9) of the substrate holding member 103, and jets into the cover 124. Prevent the constituent media from entering.

【0156】[第5の実施の形態]図10は、本発明の
第5の実施の形態に係る分離装置の概略的な構成を示す
図である。この分離装置300は、同一の中心軸上に存
在する基板保持部301及び302を有し、この基板保
持部301及び302により貼り合わせ基板101を両
側から挟むようにして押圧して保持する。貼り合わせ基
板101は、内部に脆弱な構造の層である多孔質層10
1bを有し、この分離装置300により、この多孔質層
101bの部分で2枚の基板101a及び101cに分
離される。この分離装置100においては、例えば、基
板101が図1における第1の基板側(’)、基板1
01cが図1における第2の基板側(’’+)にな
るようにセットする。
[Fifth Embodiment] FIG. 10 is a diagram showing a schematic configuration of a separation apparatus according to a fifth embodiment of the present invention. The separation device 300 has substrate holding portions 301 and 302 located on the same central axis, and presses and holds the bonded substrate 101 by sandwiching the bonded substrate 101 from both sides. The bonded substrate 101 has a porous layer 10 having a fragile structure inside.
1b, and is separated into two substrates 101a and 101c at the portion of the porous layer 101b by the separation device 300. In the separation apparatus 100, for example, the substrate 101 is the first substrate side (') in FIG.
01c is set on the second substrate side ("+") in FIG.

【0157】基板保持部301は、ベアリング304を
介して支持台309に回転可能に軸支された回転軸30
3の一端に連結され、この回転軸303の他端にはモー
タ305の回転軸が連結されている。従って、モータ3
05が発生する回転力により、基板保持部301に押圧
された貼り合わせ基板101が回転することになる。こ
のモータ305は、コントローラ314により制御さ
れ、該コントローラ314から指示される回転速度で回
転軸303を回転させたり、回転を停止させたりする。
The substrate holding unit 301 includes a rotary shaft 30 rotatably supported by a support table 309 via a bearing 304.
3 and the other end of the rotating shaft 303 is connected to the rotating shaft of a motor 305. Therefore, the motor 3
The bonded substrate 101 pressed by the substrate holding unit 301 is rotated by the rotational force generated by the 05. The motor 305 is controlled by the controller 314, and rotates the rotation shaft 303 at a rotation speed specified by the controller 314 or stops the rotation.

【0158】基板保持部302は、往復回転ガイド30
7により摺動可能かつ回転可能に軸支された回転軸30
6に連結されている。回転軸306の後端は、エアシリ
ンダ308のピストンロッドに連結されている。往復動
ガイド307は、第1乃至第4の実施の形態のように、
往復動の際の抵抗(摩擦)が小さいガイド部材(例え
ば、エアガイド)で構成することが好ましい。この理由
は、前述の通りである。
The substrate holder 302 is provided with the reciprocating rotary guide 30.
7, a rotating shaft 30 slidably and rotatably supported
6. The rear end of the rotation shaft 306 is connected to a piston rod of the air cylinder 308. The reciprocating guide 307 is, as in the first to fourth embodiments,
It is preferable to form the guide member (for example, an air guide) having a small resistance (friction) during reciprocation. The reason is as described above.

【0159】エアシリンダ308には、互いに異なる値
に設定された第1及び第2レギュレータ311及び31
2から三股弁310を介して圧縮空気が供給される。レ
ギュレータ311及び312には、コントローラ314
により制御される電磁弁313を介して圧力源からの圧
縮空気が選択的に供給される。従って、エアシリンダ3
08には、コントローラ314の制御の下、互いに異な
る圧力の圧縮空気が選択的に供給される。これにより、
エアシリンダ308は、基板保持部302に対して2種
類の力(第1及び第2の力)を選択的に印加することが
できる。
The air cylinder 308 has first and second regulators 311 and 31 set to different values from each other.
Compressed air is supplied through the two-way three-way valve 310. The regulators 311 and 312 include a controller 314.
Compressed air from a pressure source is selectively supplied via an electromagnetic valve 313 controlled by the controller. Therefore, the air cylinder 3
08 is selectively supplied with compressed air having different pressures under the control of the controller 314. This allows
The air cylinder 308 can selectively apply two types of forces (first and second forces) to the substrate holding unit 302.

【0160】貼り合わせ基板101を分離する際は、図
10に示すようにして貼り合わせ基板を保持した状態
で、ポンプ315から高圧のジェット構成媒体をノズル
316に送り込み、シャッタ317を開けばよい。これ
により、ノズル316から噴射されたジェットが貼り合
わせ基板101の多孔質層101bに挟入される。
When the bonded substrate 101 is separated, a high-pressure jet forming medium is sent from the pump 315 to the nozzle 316 and the shutter 317 is opened while the bonded substrate is held as shown in FIG. Thus, the jet ejected from the nozzle 316 is sandwiched between the porous layers 101b of the bonded substrate 101.

【0161】この実施の形態においても、第1乃至第4
の実施の形態と同様に、往復動ガイド307等にジェッ
ト構成媒体が付着することを防止するためのカバー部材
(カバー部材124に相当)やシール部材(ラビリンス
シール125又はベローズ125’に相当)を設けるこ
とが好ましい。更に、カバー内の空間の気圧を外気圧よ
りも高くし、カバー内やシール部材にジェット構成媒体
が進入することを防止することが好ましい。
In this embodiment also, the first to fourth
Similarly to the embodiment, a cover member (corresponding to the cover member 124) and a seal member (corresponding to the labyrinth seal 125 or the bellows 125 ') for preventing the jet constituting medium from adhering to the reciprocating guide 307 and the like are provided. Preferably, it is provided. Further, it is preferable that the pressure in the space inside the cover is higher than the outside pressure to prevent the jet forming medium from entering the inside of the cover and the seal member.

【0162】以下、この分離装置300による貼り合わ
せ基板101の分離処理の手順を説明する。
Hereinafter, a procedure of the separation processing of the bonded substrate 101 by the separation apparatus 300 will be described.

【0163】まず、エアシリンダ308により基板保持
部302を後退(図10のいて右に移動)させて、基板
保持部301と基板保持部302との間に相応の間隔を
設ける。そして、基板保持部301と基板保持部302
との間に、例えば搬送ロボット等により貼り合わせ基板
101を搬送し、基板保持部301及び302の中心軸
と貼り合わせ基板101の中心とを位置合わせする。
First, the substrate holding section 302 is moved backward (moved to the right in FIG. 10) by the air cylinder 308 to provide an appropriate gap between the substrate holding section 301 and the substrate holding section 302. Then, the substrate holding unit 301 and the substrate holding unit 302
For example, the bonded substrate 101 is transported by a transport robot or the like, and the center axes of the substrate holding units 301 and 302 and the center of the bonded substrate 101 are aligned.

【0164】次いで、コントローラ314により電磁弁
313を制御して、第1レギュレータ311から三股弁
310を介してエアシリンダ308に第1の圧力の圧縮
空気を供給する。この時、エアシリンダ308は、基板
保持部302を前進させて、貼り合わせ基板101は、
第1の力(例えば、600gf)で押圧して保持され
る。
Next, the controller 314 controls the solenoid valve 313 to supply compressed air of the first pressure from the first regulator 311 to the air cylinder 308 via the three-way valve 310. At this time, the air cylinder 308 advances the substrate holding unit 302, and the bonded substrate 101
It is pressed and held by a first force (for example, 600 gf).

【0165】次いで、コントローラ314による制御の
下、モータ305を作動させて貼り合わせ基板101を
所定の回転速度で回転させる。この時、回転軸303、
基板保持部301、貼り合わせ基板101、基板保持部
302、回転軸306、及びエアシリンダ308のピス
トンロッドは、一体的に回転する。
Next, under the control of the controller 314, the motor 305 is operated to rotate the bonded substrate 101 at a predetermined rotation speed. At this time, the rotating shaft 303,
The substrate holder 301, the bonded substrate 101, the substrate holder 302, the rotating shaft 306, and the piston rod of the air cylinder 308 rotate integrally.

【0166】次いで、ポンプ315を作動させてノズル
316にジェット構成媒体(例えば、水)を送り込む。
そして、ジェットが安定したら、シャッタ316を開い
て、貼り合わせ基板101の多孔質層101bにジェッ
トを挟入させる。これにより、貼り合わせ基板101の
多孔質層101bには、ジェットによる衝撃力と、貼り
合わせ基板101の内部に注入させるジェット構成媒体
の圧力による分離力とが作用し、分離の第1段階が開始
される。この実施の形態では、ジェットの圧力は、例え
ば500kgf/平方cm程度が好適であり、ノズル3
16の径は、例えば0.1mm程度が好適である。
Next, the pump 315 is operated to feed a jet forming medium (eg, water) to the nozzle 316.
When the jet is stabilized, the shutter 316 is opened, and the jet is inserted into the porous layer 101b of the bonded substrate 101. As a result, the impact force of the jet and the separating force due to the pressure of the jet forming medium injected into the bonded substrate 101 act on the porous layer 101b of the bonded substrate 101, and the first stage of separation starts. Is done. In this embodiment, the jet pressure is preferably, for example, about 500 kgf / square cm.
The diameter of 16 is preferably, for example, about 0.1 mm.

【0167】次いで、分離の最終段階に達する前に、第
1段階から第2段階に移行させる。具体的には、コント
ローラ314により電磁弁313を制御して、第1レギ
ュレータ311への圧縮空気の供給、即ち、エアシリン
ダ308に対する第1の圧力の圧縮空気の供給を遮断
し、その代わりに、第2レギュレータ312から三股弁
310を介してエアシリンダ308に第2の圧力の圧縮
空気を供給する。この時、エアシリンダ308は、基板
保持部302を貼り合わせ基板101に対して第2の力
(例えば、1.5kgf)の力で押圧する。
Next, before reaching the final stage of the separation, the first stage is shifted to the second stage. Specifically, the controller 314 controls the solenoid valve 313 to shut off the supply of compressed air to the first regulator 311, that is, the supply of compressed air at the first pressure to the air cylinder 308. The compressed air of the second pressure is supplied from the second regulator 312 to the air cylinder 308 via the three-way valve 310. At this time, the air cylinder 308 presses the substrate holding unit 302 against the bonded substrate 101 with a second force (for example, 1.5 kgf).

【0168】なお、上記の説明においては、説明の便宜
上、第1レギュレータ311からエアシリンダ308に
圧縮空気を供給し、第1の力で貼り合わせ基板101を
押圧して保持しながら分離する段階を第1段階、第2レ
ギュレータ312からエアシリンダ308に圧縮空気を
供給し、第2の力で貼り合わせ基板101を押圧して保
持しながら分離する段階を第2段階としている。
In the above description, for convenience of description, the step of supplying compressed air from the first regulator 311 to the air cylinder 308 and pressing and holding the bonded substrate 101 with the first force to separate the bonded substrate 101 is described. The first stage, a stage in which compressed air is supplied from the second regulator 312 to the air cylinder 308 and the bonded substrate 101 is separated while being pressed and held by the second force, is a second stage.

【0169】以上のように、分離の最終段階に達する前
に、基板保持部302に印加する力を増加させることに
より(第1段階から第2段階への以降)、分離の最終段
階において、基板保持部302が急速に後退して基板1
01a及び基板101cに欠陥が生じることを防止する
ことができる。
As described above, by increasing the force applied to the substrate holding section 302 before the final stage of separation (from the first stage to the second stage), the substrate is moved to the final stage of the separation. The holding unit 302 is rapidly retracted and the substrate 1
01a and the substrate 101c can be prevented from being defective.

【0170】ここで、分離の第1段階及び第2段階にお
いて基板保持部302により貼り合わせ基板101を押
圧する力(エアシリンダ308に供給する圧縮空気の圧
力)は、例えば、ジェットの径や圧力、貼り合わせ基板
101の寸法や強度、基板保持部302の寸法等に応じ
て適宜変更することができる。この実施の形態では、分
離の第1段階では、貼り合わせ基板101を例えば60
0gfの力で押圧し、分離の第2段階では、貼り合わせ
基板101を例えば1.5kgfの力で押圧する。 分
離の第1段階から第2段階への以降は、例えば時間によ
り制御することができる。
Here, in the first and second stages of separation, the force (pressure of compressed air supplied to the air cylinder 308) for pressing the bonded substrate 101 by the substrate holding portion 302 is, for example, the diameter or pressure of the jet. The size and strength of the bonded substrate 101, the size of the substrate holder 302, and the like can be changed as appropriate. In this embodiment, in the first stage of separation, the bonded substrate 101
In the second stage of separation, the bonded substrate 101 is pressed with a force of, for example, 1.5 kgf. The transition from the first stage to the second stage of the separation can be controlled, for example, by time.

【0171】分離が完了したら、シャッタ317を閉じ
て貼り合わせ基板101に対するジェットの挟入を停止
させ、ポンプ315及びモータ305を停止させる。
When the separation is completed, the shutter 317 is closed to stop the jet from being inserted into the bonded substrate 101, and the pump 315 and the motor 305 are stopped.

【0172】次いで、例えば搬送ロボットのロボットハ
ンドに基板101a及び101cを吸着させた後に、基
板保持部302を後退させ、該搬送ロボットにより10
1a及び101cを搬送する。
Next, for example, after the substrates 101a and 101c are sucked by the robot hand of the transfer robot, the substrate holding unit 302 is moved backward, and
Convey 1a and 101c.

【0173】[0173]

【発明の効果】本発明によれば、例えば、内部に分離用
の層を有する板状の試料(例えば、貼り合わせ基板)の
分離に好適な装置及び方法を提供することができる。
According to the present invention, for example, an apparatus and a method suitable for separating a plate-like sample (for example, a bonded substrate) having a separation layer inside can be provided.

【0174】例えば、本発明によれば、分離の際に試料
に欠陥が発生することを防止することができる。
For example, according to the present invention, it is possible to prevent defects from occurring in a sample during separation.

【0175】[0175]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の好適な実施の形態に係るSOI基板の
製造を方法を工程順に説明する図である。
FIG. 1 is a view illustrating a method of manufacturing an SOI substrate according to a preferred embodiment of the present invention in the order of steps.

【図2】本発明の第1の実施の形態に係る分離装置の概
略的な構成を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a schematic configuration of a separation device according to the first embodiment of the present invention.

【図3】分離の第1段階における貼り合わせ基板及び分
離装置の一部の様子を模式的に示す図である。
FIG. 3 is a diagram schematically showing a state of a part of a bonded substrate and a separation device in a first stage of separation.

【図4】分離の第2段階における貼り合わせ基板及び分
離装置の一部の様子を模式的に示す図である。
FIG. 4 is a diagram schematically showing a state of a part of a bonded substrate and a separation device in a second stage of separation.

【図5】本発明の第2の実施の形態に係る分離装置の概
略的な構成を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a schematic configuration of a separation device according to a second embodiment of the present invention.

【図6】分離の第1段階における貼り合わせ基板及び分
離装置の一部の様子を模式的に示す図である。
FIG. 6 is a diagram schematically showing a state of a part of a bonded substrate and a separation device in a first stage of separation.

【図7】分離の第2段階における貼り合わせ基板及び分
離装置の一部の様子を模式的に示す図である。
FIG. 7 is a diagram schematically showing a state of a bonded substrate and a part of a separation device in a second stage of separation.

【図8】本発明の第3の実施の形態に係る分離装置の一
部の概略構成を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a schematic configuration of a part of a separation device according to a third embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第4の実施の形態に係る分離装置の一
部の概略構成を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing a schematic configuration of a part of a separation device according to a fourth embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第5の実施の形態に係る分離装置の
概略的な構成を示す図である。
FIG. 10 is a diagram illustrating a schematic configuration of a separation device according to a fifth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 分離装置 101 貼り合わせ基板 101a,101c 基板 101b 多孔質層 102,103 基板保持部 104,113 回転軸 105,114 真空ライン 106 回転リング 107 モータ 108 真空継手 109 供給口 110 排気口 111 カバー 112 ベアリング 116 真空継手 117 バネ(第1印加部) 118,119 バネ(第2印加部) 120 伝達板 121,122 往復動ガイド 123 ベアリング 124 カバー 125 ラビリンスシール 126 排気口 127 供給口 128,129 ガイド軸 130 エアガイド(エアスライド) 131 支持体 132 ピストンロッド 133 エアシリンダ 134 支持台 135 シャッタ 136 ノズル 137 ポンプ 200 分離装置 201,202 制限部材 125’ ベローズ 300 分離装置 301,302 基板保持部 303,306 回転軸 304 ベアリング 305 モータ 307 往復動ガイド 308 エアシリンダ 309 支持台 310 三股弁 311 第1レギュレータ 312 第2レギュレータ 313 電磁弁 314 コントローラ 315 ポンプ 316 ノズル 317 シャッタ REFERENCE SIGNS LIST 100 Separation device 101 Bonded substrate 101a, 101c Substrate 101b Porous layer 102, 103 Substrate holding unit 104, 113 Rotating shaft 105, 114 Vacuum line 106 Rotating ring 107 Motor 108 Vacuum joint 109 Supply port 110 Exhaust port 111 Cover 112 Bearing 116 Vacuum joint 117 Spring (first application section) 118, 119 Spring (second application section) 120 Transmission plate 121, 122 Reciprocating guide 123 Bearing 124 Cover 125 Labyrinth seal 126 Exhaust port 127 Supply port 128, 129 Guide shaft 130 Air guide (Air slide) 131 Support member 132 Piston rod 133 Air cylinder 134 Support stand 135 Shutter 136 Nozzle 137 Pump 200 Separation device 201, 202 Restriction member 125 'Velo 3300 Separating device 301,302 Substrate holding unit 303,306 Rotating shaft 304 Bearing 305 Motor 307 Reciprocating guide 308 Air cylinder 309 Support base 310 Tripod valve 311 First regulator 312 Second regulator 313 Solenoid valve 314 Controller 315 Pump 316 Nozzle 317 Shutter

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 近江 和明 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 米原 隆夫 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Kazuaki Omi 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Inside Canon Inc. (72) Inventor Takao Yonehara 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Non Corporation

Claims (73)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 内部に分離用の層を有する板状の試料を
該分離用の層で分離する分離装置であって、 試料を保持する保持部と、 前記保持部により保持された試料に向けて流体を噴射
し、これにより前記分離用の層で該試料を分離するため
の噴射部と、 前記保持部が試料を押圧するように前記保持部に力を印
加する印加部と、 を備え、前記印加部は、試料の分離の進行に応じて前記
保持部に印加する力を変更することを特徴とする分離装
置。
1. A separation device for separating a plate-shaped sample having a separation layer therein by the separation layer, comprising: a holding unit for holding the sample; And a jetting unit for separating the sample with the separation layer, thereby applying a force to the holding unit so that the holding unit presses the sample. The separation device, wherein the application unit changes a force applied to the holding unit according to progress of separation of the sample.
【請求項2】 前記印加部は、試料の分離の進行に応じ
て前記保持部が該試料を押圧する力が増加するように、
前記保持部に印加する力を変更することを特徴とする請
求項1に記載の分離装置。
2. The method according to claim 1, wherein the applying unit increases a force with which the holding unit presses the sample as the separation of the sample progresses.
The separation device according to claim 1, wherein a force applied to the holding unit is changed.
【請求項3】 前記印加部は、分離の第1段階では、前
記保持部に相対的に小さい力で試料を押圧させ、分離の
第2段階では、前記保持部に相対的に大きい力で試料を
押圧させるように、前記保持部に印加する力を変更する
ことを特徴とする請求項1に記載の分離装置。
3. The application section causes the holding section to press the sample with a relatively small force in the first stage of separation, and the sample section applies a relatively large force to the holding section in the second stage of separation. The separation device according to claim 1, wherein a force applied to the holding unit is changed so as to press.
【請求項4】 前記印加部は、分離の最終段階に達する
前に、前記保持部が試料を押圧する力が増加するよう
に、前記保持部に印加する力を変更することを特徴とす
る請求項1に記載の分離装置。
4. The method according to claim 1, wherein the applying unit changes a force applied to the holding unit so that a force pressing the sample on the sample increases before reaching a final stage of separation. Item 2. The separation device according to Item 1.
【請求項5】 前記印加部は、 前記保持部に対して継続的に力を印加する第1印加部
と、 試料の分離された部分が流体の圧力によって反ることに
より前記保持部が所定距離以上後退した時に前記保持部
に対して力を印加する第2印加部と、 を有することを特徴とする請求項1に記載の分離装置。
5. The application unit includes: a first application unit that continuously applies a force to the holding unit; and a holding unit that is separated by a predetermined distance by warping a separated portion of a sample by a pressure of a fluid. The separation device according to claim 1, further comprising: a second application unit configured to apply a force to the holding unit when retracted.
【請求項6】 前記第1及び第2印加部は、バネにより
前記保持部に力を印加することを特徴とする請求項5に
記載の分離装置。
6. The separation device according to claim 5, wherein the first and second application units apply a force to the holding unit by a spring.
【請求項7】 前記印加部は、 前記保持部に力を印加するためのアクチュエータと、 前記アクチュエータが発生する力を変更する変更部と、 を備えることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいず
れか1項に記載の分離装置。
7. The application unit according to claim 1, wherein the application unit includes: an actuator for applying a force to the holding unit; and a change unit for changing a force generated by the actuator. The separation device according to any one of the above.
【請求項8】 前記印加部は、 前記保持部に力を印加するためのエアシリンダと、 前記エアシリンダに供給する空気の圧力を変更する変更
部と、 を備えることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいず
れか1項に記載の分離装置。
8. The apparatus according to claim 1, wherein the applying unit includes: an air cylinder for applying a force to the holding unit; and a changing unit for changing a pressure of air supplied to the air cylinder. The separation device according to claim 4.
【請求項9】 前記保持部に連結された軸部材と、 試料の面に略直交する方向に移動可能な状態で前記軸部
材を支持するガイド機構と、 を更に備え、これにより前記保持部が試料の面に略直交
する方向に移動することを可能にしたことを特徴とする
請求項1乃至請求項8のいずれか1項に記載の分離装
置。
9. A shaft member connected to the holding portion, and a guide mechanism for supporting the shaft member so as to be movable in a direction substantially perpendicular to the surface of the sample, whereby the holding portion The separation device according to any one of claims 1 to 8, wherein the separation device can be moved in a direction substantially perpendicular to a surface of the sample.
【請求項10】 前記ガイド機構は、前記軸部材に対し
て高圧の気体を噴射し、該気体の圧力により前記軸部材
を支持することを特徴とする請求項9に記載の分離装
置。
10. The separation device according to claim 9, wherein the guide mechanism ejects high-pressure gas to the shaft member and supports the shaft member by the pressure of the gas.
【請求項11】 前記ガイド機構は、前記軸部材を支持
するエアガイドを有することを特徴とする請求項9に記
載の分離装置。
11. The separation device according to claim 9, wherein the guide mechanism has an air guide that supports the shaft member.
【請求項12】 前記噴射部から噴射された流体が、前
記保持部に連結された機構の全部又は所定部分に付着す
ることを防止するためのカバー部材を更に備えることを
特徴とする請求項1乃至請求項11のいずれか1項に記
載の分離装置。
12. The apparatus according to claim 1, further comprising a cover member for preventing the fluid ejected from the ejection unit from adhering to all or a predetermined portion of the mechanism connected to the holding unit. The separation device according to any one of claims 11 to 11.
【請求項13】 前記噴射部から噴射された流体が前記
印加部に付着することを防止するためのカバー部材を更
に備えることを特徴とする請求項1乃至請求項11のい
ずれか1項に記載の分離装置。
13. The apparatus according to claim 1, further comprising a cover member for preventing a fluid ejected from the ejection unit from adhering to the application unit. Separation equipment.
【請求項14】 前記噴射部から噴射された流体が前記
印加部及び前記ガイド機構に付着することを防止するた
めのカバー部材を更に備えることを特徴とする請求項9
乃至請求項11のいずれか1項に記載の分離装置。
14. The apparatus according to claim 9, further comprising a cover member for preventing the fluid ejected from the ejection unit from adhering to the application unit and the guide mechanism.
The separation device according to any one of claims 11 to 11.
【請求項15】 前記カバー部材は、前記保持部及び該
保持部に連結された部材の移動に際して実質的な摩擦を
発生させない構造を有するシール部材を含むことを特徴
とする請求項12乃至請求項14のいずれか1項に記載
の分離装置。
15. The cover member according to claim 12, wherein the cover member includes a seal member having a structure that does not substantially cause friction when the holding portion and a member connected to the holding portion are moved. 15. The separation device according to any one of 14.
【請求項16】 前記シール部材は、ラビリンスシール
を含むことを特徴とする請求項15に記載の分離装置。
16. The separation device according to claim 15, wherein the seal member includes a labyrinth seal.
【請求項17】 前記シール部材は、ベローズを含むこ
とを特徴とする請求項15に記載の分離装置。
17. The separation device according to claim 15, wherein the seal member includes a bellows.
【請求項18】 前記カバー部材により覆われた空間内
に気体を供給し、これにより該空間内を外気圧よりも高
くするための供給口を更に備えることを特徴とする請求
項12乃至請求項17のいずれか1項に記載の分離装
置。
18. The apparatus according to claim 12, further comprising a supply port for supplying gas into a space covered by said cover member, whereby the inside of said space is made higher than the outside air pressure. 18. The separation device according to any one of items 17 to 17.
【請求項19】 前記分離用の層に略直交する軸を中心
として、前記保持部により保持された試料を回転させる
ための駆動源を更に備え、試料を回転させながら分離す
ることを特徴とする請求項1乃至請求項18のいずれか
1項に記載の分離装置。
19. The apparatus according to claim 19, further comprising a driving source for rotating the sample held by the holding section around an axis substantially perpendicular to the separation layer, wherein the sample is separated while rotating. The separation device according to any one of claims 1 to 18.
【請求項20】 前記分離用の層は、脆弱な構造の層で
あることを特徴とする請求項1乃至請求項19のいずれ
か1項に記載の分離装置。
20. The separation apparatus according to claim 1, wherein the separation layer is a layer having a fragile structure.
【請求項21】 前記脆弱な構造の層は、多孔質層であ
ることを特徴とする請求項20に記載の分離装置。
21. The separation device according to claim 20, wherein the layer having the fragile structure is a porous layer.
【請求項22】 前記脆弱な構造の層は、微小気泡層で
あることを特徴とする請求項20に記載の分離装置。
22. The separation device according to claim 20, wherein the layer having the fragile structure is a microbubble layer.
【請求項23】 内部に分離用の層を有する板状の試料
を該分離用の層で分離する分離装置であって、 試料を保持する保持部と、 前記保持部により保持された試料に向けて流体を噴射
し、これにより前記分離用の層で該試料を分離するため
の噴射部と、 試料の面に略直交する方向に移動可能な状態で前記保持
部を支持する支持機構と、 試料の分離された部分が流体の圧力によって反ることに
伴う前記保持部の後退動作をその後退量に応じて制御す
る制御部と、 を備えることを特徴とする分離装置。
23. A separation apparatus for separating a plate-shaped sample having a separation layer therein by the separation layer, comprising: a holding section for holding the sample; A jetting unit for jetting a fluid through the separation layer to thereby separate the sample in the separation layer; a support mechanism for supporting the holding unit in a state movable in a direction substantially perpendicular to the surface of the sample; A control unit that controls a retreat operation of the holding unit in accordance with a retreat amount when the separated part warps due to a pressure of a fluid.
【請求項24】 前記制御部は、前記保持部が試料を押
圧する方向に、前記保持部に力を印加する印加部を有
し、前記印加部は、前記保持部の後退量の増加に応じて
前記保持部が該試料を押圧する力が増加するように、前
記保持部に印加する力を変更することを特徴とする請求
項23に記載の分離装置。
24. The control unit has an application unit that applies a force to the holding unit in a direction in which the holding unit presses the sample, and the application unit is configured to respond to an increase in the amount of retreat of the holding unit. 24. The separation apparatus according to claim 23, wherein a force applied to the holding unit is changed so that a force of the holding unit pressing the sample increases.
【請求項25】 前記印加部は、分離の第1段階では、
前記保持部に相対的に小さい力で試料を押圧させ、分離
の第2段階では、前記保持部に相対的に大きい力で試料
を押圧させるように、前記保持部に印加する力を変更す
ることを特徴とする請求項23に記載の分離装置。
25. The method according to claim 25, wherein the applying unit includes:
Changing the force applied to the holding unit so that the holding unit presses the sample with a relatively small force, and in the second stage of separation, the holding unit presses the sample with a relatively large force. 24. The separation device according to claim 23, wherein:
【請求項26】 前記印加部は、分離の最終段階に達す
る前に、前記保持部が試料を押圧する力が増加するよう
に、前記保持部に印加する力を変更することを特徴とす
る請求項23に記載の分離装置。
26. The apparatus according to claim 26, wherein the applying unit changes a force applied to the holding unit so that a force of pressing the sample by the holding unit increases before reaching a final stage of separation. Item 24. The separation device according to item 23.
【請求項27】 前記印加部は、 前記保持部に対して継続的に力を印加する第1印加部
と、 試料の分離された部分が流体の圧力によって反ることに
より前記保持部が所定距離以上後退した時に前記保持部
に対して力を印加する第2印加部と、 を有することを特徴とする請求項23に記載の分離装
置。
27. The application unit, comprising: a first application unit that continuously applies a force to the holding unit; and a holding unit that is separated by a predetermined distance by warping a separated portion of the sample by a pressure of a fluid. 24. The separation device according to claim 23, further comprising: a second application unit that applies a force to the holding unit when retracted.
【請求項28】 前記第1及び第2印加部は、バネによ
り前記保持部に力を印加することを特徴とする請求項2
7に記載の分離装置。
28. The apparatus according to claim 2, wherein the first and second applying units apply a force to the holding unit by a spring.
8. The separation device according to 7.
【請求項29】 前記印加部は、 前記保持部に力を印加するためのアクチュエータと、 前記アクチュエータが発生する力を調整する調整部と、 を備えることを特徴とする請求項23乃至請求項26の
いずれか1項に記載の分離装置。
29. The apparatus according to claim 23, wherein the applying unit includes: an actuator for applying a force to the holding unit; and an adjusting unit for adjusting a force generated by the actuator. The separation device according to any one of the above.
【請求項30】 前記印加部は、 前記保持部に力を印加するためのエアシリンダと、 前記エアシリンダに供給する空気の圧力を調整する調整
部と、 を備えることを特徴とする請求項23乃至請求項26の
いずれか1項に記載の分離装置。
30. The application unit according to claim 23, wherein the application unit includes an air cylinder for applying a force to the holding unit, and an adjustment unit for adjusting a pressure of air supplied to the air cylinder. 27. The separation device according to claim 26.
【請求項31】 前記制御部は、前記保持部の後退量が
所定距離に達した場合に、更なる前記保持部の後退を制
限することを特徴とする請求項23に記載の分離装置。
31. The separation apparatus according to claim 23, wherein when the amount of retreat of the holding unit reaches a predetermined distance, the control unit further restricts further retreat of the holding unit.
【請求項32】 前記制御部は、 前記保持部が試料を押圧する方向に前記保持部に力を印
加する印加部と、 前記保持部の後退量が所定距離に達した場合に、更なる
前記保持部の後退を制限する制限部材と、 を更に備えることを特徴とする請求項23に記載の分離
装置。
32. The control unit, further comprising: an application unit configured to apply a force to the holding unit in a direction in which the holding unit presses the sample; and further comprising, when a retreat amount of the holding unit reaches a predetermined distance, The separation device according to claim 23, further comprising: a restriction member configured to restrict retreat of the holding unit.
【請求項33】 前記印加部は、バネにより前記保持部
に力を印加することを特徴とする請求項32に記載の分
離装置。
33. The separation device according to claim 32, wherein the applying unit applies a force to the holding unit by a spring.
【請求項34】 前記支持機構は、 前記保持部に連結された軸部材と、 試料面に略直交する方向に移動可能な状態で前記軸部材
を支持するガイド機構と、 を有することを特徴とする請求項23乃至請求項33の
いずれか1項に記載の分離装置。
34. The support mechanism, comprising: a shaft member connected to the holding portion; and a guide mechanism for supporting the shaft member in a state movable in a direction substantially orthogonal to a sample surface. The separation device according to any one of claims 23 to 33.
【請求項35】 前記ガイド機構は、前記軸部材に対し
て高圧の気体を噴射し、該気体の圧力により前記軸部材
を支持することを特徴とする請求項34に記載の分離装
置。
35. The separation device according to claim 34, wherein the guide mechanism ejects high-pressure gas to the shaft member, and supports the shaft member by the pressure of the gas.
【請求項36】 前記ガイド機構は、前記軸部材を支持
するエアガイドを有することを特徴とする請求項34に
記載の分離装置。
36. The separation device according to claim 34, wherein the guide mechanism has an air guide that supports the shaft member.
【請求項37】 前記噴射部から噴射された流体が、前
記保持部に連結された機構の全部又は所定部分に付着す
ることを防止するためのカバー部材を更に備えることを
特徴とする請求項23乃至請求項36のいずれか1項に
記載の分離装置。
37. The apparatus according to claim 23, further comprising a cover member for preventing the fluid ejected from the ejection unit from adhering to all or a predetermined portion of the mechanism connected to the holding unit. 37. The separation device according to claim 36.
【請求項38】 前記噴射部から噴射された流体が前記
制御部に付着することを防止するためのカバー部材を更
に備えることを特徴とする請求項23乃至請求項36の
いずれか1項に記載の分離装置。
38. The apparatus according to claim 23, further comprising a cover member for preventing a fluid ejected from the ejection unit from adhering to the control unit. Separation equipment.
【請求項39】 前記噴射部から噴射された流体が前記
制御部及び前記ガイド機構に付着することを防止するた
めのカバー部材を更に備えることを特徴とする請求項3
4乃至請求項36のいずれか1項に記載の分離装置。
39. The apparatus according to claim 3, further comprising a cover member for preventing the fluid ejected from the ejection unit from adhering to the control unit and the guide mechanism.
The separation device according to any one of claims 4 to 36.
【請求項40】 前記カバー部材は、前記保持部及び該
保持部に連結された部材の移動に際して実質的な摩擦を
発生させない構造を有するシール部材を含むことを特徴
とする請求項37乃至請求項39のいずれか1項に記載
の分離装置。
40. The cover member according to claim 37, wherein the cover member includes a seal member having a structure that does not substantially cause friction when the holding portion and a member connected to the holding portion are moved. 40. The separation device according to any one of 39.
【請求項41】 前記シール部材は、ラビリンスシール
を含むことを特徴とする請求項40に記載の分離装置。
41. The separation device according to claim 40, wherein the seal member includes a labyrinth seal.
【請求項42】 前記シール部材は、ベローズを含むこ
とを特徴とする請求項40に記載の分離装置。
42. The separation device according to claim 40, wherein the seal member includes a bellows.
【請求項43】 前記カバー部材によりシールされた空
間内に気体を供給し、これにより該空間内を外気圧より
も高くするための供給口を更に備えることを特徴とする
請求項41乃至請求項43のいずれか1項に記載の分離
装置。
43. The apparatus according to claim 41, further comprising a supply port for supplying a gas into the space sealed by the cover member, whereby the inside of the space is made higher than the outside air pressure. 43. The separation device according to any one of 43.
【請求項44】 前記分離用の層に略直交する軸を中心
として試料が回転するように、前記保持部を回転させる
ための駆動源を更に備え、試料を回転させながら分離す
ることを特徴とする請求項23乃至請求項43のいずれ
か1項に記載の分離装置。
44. The apparatus further comprises a drive source for rotating the holding portion so that the sample rotates around an axis substantially orthogonal to the separation layer, wherein the sample is separated while rotating. The separation device according to any one of claims 23 to 43.
【請求項45】 前記分離用の層は、脆弱な構造の層で
あることを特徴とする請求項23乃至請求項44のいず
れか1項に記載の分離装置。
45. The separation apparatus according to claim 23, wherein the separation layer is a layer having a fragile structure.
【請求項46】 前記脆弱な構造の層は、多孔質層であ
ることを特徴とする請求項45に記載の分離装置。
46. The separation device according to claim 45, wherein the layer having the fragile structure is a porous layer.
【請求項47】 前記脆弱な構造の層は、微小気泡層で
あることを特徴とする請求項45に記載の分離装置。
47. The separation device according to claim 45, wherein the layer having the fragile structure is a microbubble layer.
【請求項48】 試料を分離する分離装置であって、 試料を保持する保持部と、 前記保持部に連結された軸部材と、 試料の面に略直交する方向に移動可能な状態で前記軸部
材を支持するガイド機構と、 前記保持部により保持された試料に向けて流体を噴射
し、これにより前記分離用の層で該試料を分離するため
の噴射部と、 を備え、前記ガイド機構は、前記軸部材に対して高圧の
気体を噴射し、該気体の圧力により前記軸部材を支持す
ることを特徴とする分離装置。
48. A separation device for separating a sample, comprising: a holding portion for holding the sample; a shaft member connected to the holding portion; and a shaft movable in a direction substantially perpendicular to a surface of the sample. A guide mechanism for supporting the member, and an ejection unit for ejecting a fluid toward the sample held by the holding unit, thereby separating the sample at the separation layer. A high-pressure gas is injected to the shaft member, and the shaft member is supported by the pressure of the gas.
【請求項49】 前記ガイド機構は、前記軸部材を支持
するエアガイドを有することを特徴とする請求項48に
記載の分離装置。
49. The separation device according to claim 48, wherein the guide mechanism has an air guide for supporting the shaft member.
【請求項50】 前記噴射部から噴射された流体が、前
記軸部材及び前記及び前記ガイド機構の全部又は所定部
分に付着することを防止するためのカバー部材を更に備
えることを特徴とする請求項48又は請求項49に記載
の分離装置。
50. The apparatus according to claim 50, further comprising a cover member for preventing the fluid ejected from said ejecting portion from adhering to all or a predetermined portion of said shaft member and said guide mechanism. 50. The separation device according to claim 48 or 49.
【請求項51】 前記カバー部材は、前記保持部及び該
保持部に連結された機構の移動に際して実質的な摩擦を
発生させない構造を有するシール部材を含むことを特徴
とする請求項50に記載の分離装置。
51. The cover member according to claim 50, wherein the cover member includes a seal member having a structure that does not generate substantial friction when the holding portion and a mechanism connected to the holding portion move. Separation device.
【請求項52】 前記シール部材は、ラビリンスシール
を含むことを特徴とする請求項51に記載の分離装置。
52. The separation device according to claim 51, wherein the seal member includes a labyrinth seal.
【請求項53】 前記シール部材は、ベローズを含むこ
とを特徴とする請求項51に記載の分離装置。
53. The separation device according to claim 51, wherein the seal member includes a bellows.
【請求項54】 試料を分離する分離装置であって、 試料を保持する保持部と、 前記保持部に連結された軸部材と、 試料面に略直交する方向に移動可能な状態で前記軸部材
を支持するガイド機構と、 前記保持部により保持された試料に向けて流体を噴射
し、これにより前記分離用の層で該試料を分離するため
の噴射部と、 前記噴射部から噴射された流体が、前記軸部材及び前記
ガイド機構の全部又は所定部分に付着することを防止す
るためのカバー部材と、 を備え、前記カバー部材は、前記保持部及び該保持部に
連結された部材の移動に際して実質的な摩擦を発生させ
ない構造を有するシール部材を含むことを特徴とする分
離装置。
54. A separation device for separating a sample, comprising: a holding portion for holding a sample; a shaft member connected to the holding portion; and a shaft member movable in a direction substantially perpendicular to a sample surface. A jet mechanism for jetting a fluid toward the sample held by the holding unit, thereby separating the sample at the separation layer, and a fluid jetted from the jet unit A cover member for preventing the shaft member and the guide mechanism from adhering to all or a predetermined portion of the guide member, wherein the cover member moves when the holding portion and the member connected to the holding portion move. A separation device comprising a seal member having a structure that does not substantially cause friction.
【請求項55】 前記シール部材は、ラビリンスシール
を含むことを特徴とする請求項54に記載の分離装置。
55. The separation device according to claim 54, wherein the seal member includes a labyrinth seal.
【請求項56】 前記シール部材は、ベローズを含むこ
とを特徴とする請求項54に記載の分離装置。
56. The separation device according to claim 54, wherein the seal member includes a bellows.
【請求項57】 内部に分離用の層を有する試料を分離
する分離方法であって、 保持部により試料を押圧して保持する工程と、 前記保持部により保持された試料に向けて流体を噴射す
ることにより前記分離用の層で該試料を分離する分離工
程と、 前記分離工程の進行に応じて前記保持部が試料を押圧す
る力を変更する変更工程と、 を有することを特徴とする分離方法。
57. A separation method for separating a sample having a separation layer therein, wherein the holding unit presses and holds the sample, and ejects a fluid toward the sample held by the holding unit. A separation step of separating the sample by the separation layer, and a changing step of changing a force with which the holding unit presses the sample according to the progress of the separation step. Method.
【請求項58】 前記変更工程では、試料の分離の進行
に応じて前記保持部が試料を押圧する力を増加させるこ
とを特徴とする請求項57に記載の分離方法。
58. The separation method according to claim 57, wherein, in the changing step, a force of the holding unit pressing the sample is increased as the separation of the sample progresses.
【請求項59】 前記変更工程では、分離の第1段階で
は、前記保持部が試料を押圧する力を相対的に小さく
し、分離の第2段階では、前記保持部が試料を押圧する
力を相対的に大きくすることを特徴とする請求項57に
記載の分離方法。
59. In the changing step, in the first stage of separation, the force by which the holding unit presses the sample is relatively reduced. In the second stage of separation, the force by which the holding unit presses the sample is reduced. 58. The method according to claim 57, wherein the separation is made relatively large.
【請求項60】 前記変更工程では、分離の最終段階に
達する前に、前記保持部が試料を押圧する力を増加させ
ることを特徴とする請求項57に記載の分離方法。
60. The separation method according to claim 57, wherein in the changing step, a force of pressing the sample by the holding unit is increased before reaching a final stage of separation.
【請求項61】 前記分離用の層は、脆弱な構造の層で
あることを特徴とする請求項57乃至請求項60のいず
れか1項に記載の分離方法。
61. The separation method according to claim 57, wherein the separation layer is a layer having a fragile structure.
【請求項62】 前記脆弱な構造の層は、多孔質層であ
ることを特徴とする請求項61に記載の分離方法。
62. The separation method according to claim 61, wherein the layer having the fragile structure is a porous layer.
【請求項63】 前記脆弱な構造の層は、微小気泡層で
あることを特徴とする請求項61に記載の分離方法。
63. The separation method according to claim 61, wherein the layer having a fragile structure is a microbubble layer.
【請求項64】 内部に分離用の層を有する試料を分離
する分離方法であって、 保持部により試料を保持する工程と、 前記保持部により保持された試料に向けて流体を噴射す
ることにより前記分離用の層で該試料を分離する分離工
程と、 試料の分離された部分が流体の圧力によって反ることに
伴う前記保持部の後退をその後退量に応じて制御する制
御工程と、 を有することを特徴とする分離方法。
64. A separation method for separating a sample having a separation layer therein, comprising: a step of holding the sample by a holding unit; and ejecting a fluid toward the sample held by the holding unit. A separation step of separating the sample with the separation layer, and a control step of controlling the retreat of the holding unit due to the separated portion of the sample being warped by the pressure of the fluid in accordance with the retreat amount. A separation method, comprising:
【請求項65】 前記制御工程では、前記保持部の後退
量の増加に応じて前記保持部が試料を押圧する力を増加
させることを特徴とする請求項64に記載の分離方法。
65. The separation method according to claim 64, wherein, in the control step, a force with which the holding unit presses the sample increases in accordance with an increase in a retreat amount of the holding unit.
【請求項66】 前記制御工程では、分離の第1段階で
は、前記保持部が試料を押圧する力を相対的に小さく
し、分離の第2段階では、前記保持部が試料を押圧する
力を相対的に大きくすることを特徴とする請求項64に
記載の分離方法。
66. In the control step, in the first stage of separation, the force by which the holding unit presses the sample is relatively reduced, and in the second stage of separation, the force by which the holding unit presses the sample is reduced. 65. The method of claim 64, wherein the separation is relatively large.
【請求項67】 前記制御工程では、分離の最終段階に
達する前に、前記保持部が試料を押圧する力を増加させ
ることを特徴とする請求項64に記載の分離方法。
67. The separation method according to claim 64, wherein in the control step, before reaching the final stage of the separation, the force by which the holding unit presses the sample is increased.
【請求項68】 前記制御工程では、前記保持部の後退
量が所定距離に達した場合に、更なる前記保持部の後退
を制限することを特徴とする請求項64に記載の分離方
法。
68. The separation method according to claim 64, wherein in the control step, when the retreat amount of the holding unit reaches a predetermined distance, further retreat of the holding unit is limited.
【請求項69】 前記分離用の層は、脆弱な構造の層で
あることを特徴とする請求項64乃至請求項68のいず
れか1項に記載の分離方法。
69. The separation method according to claim 64, wherein the separation layer is a layer having a fragile structure.
【請求項70】 前記脆弱な構造の層は、多孔質層であ
ることを特徴とする請求項69に記載の分離方法。
70. The separation method according to claim 69, wherein the layer having a fragile structure is a porous layer.
【請求項71】 前記脆弱な構造の層は、微小気泡層で
あることを特徴とする請求項69に記載の分離方法。
71. The separation method according to claim 69, wherein the layer having a fragile structure is a microbubble layer.
【請求項72】 基板の製造方法であって、 内部に脆弱な構造の層を有する第1の基板を第2の基板
に貼り合わせて、貼り合わせ基板を作成する作成工程
と、 請求項1乃至請求項19及び請求項23乃至請求項44
及び請求項48乃至請求項56のいずれか1項に記載の
分離装置により前記貼り合わせ基板を前記脆弱な層で分
離する分離工程と、 前記分離工程の後に前記第2の基板側に残った脆弱な層
を除去する除去工程と、 を有することを特徴とする基板の製造方法。
72. A method for manufacturing a substrate, comprising: a step of bonding a first substrate having a layer having a fragile structure therein to a second substrate to form a bonded substrate; Claim 19 and Claims 23 to 44
A separation step of separating the bonded substrate at the fragile layer by the separation device according to any one of claims 48 to 56; and a fragile layer remaining on the second substrate after the separation step. And a removing step of removing a critical layer.
【請求項73】 基板の製造方法であって、 内部に脆弱な構造の層を有する第1の基板を第2の基板
に貼り合わせて、貼り合わせ基板を作成する作成工程
と、 請求項57乃至請求項60及び請求項64乃至請求項6
8のいずれか1項に記載の分離方法により前記貼り合わ
せ基板を前記脆弱な層で分離する分離工程と、 前記分離工程の後に前記第2の基板側に残った脆弱な層
を除去する除去工程と、 を有することを特徴とする基板の製造方法。
73. A method for manufacturing a substrate, comprising: a step of bonding a first substrate having a layer having a fragile structure therein to a second substrate to form a bonded substrate; Claim 60 and Claims 64 to 6
8. A separation step of separating the bonded substrate at the fragile layer by the separation method according to any one of 8 above, and a removing step of removing the fragile layer remaining on the second substrate after the separation step A method for manufacturing a substrate, comprising:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020090151A (en) * 2001-05-25 2002-11-30 캐논 가부시끼가이샤 Plate member separating apparatus and method

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