CN116302763B - Micro LED显示屏的触控检测方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明属于显示屏加工检测技术领域，具体是Micro LED显示屏的触控检测方法及系统，触控检测系统包括服务器、触控检测分析模块、试验影响监测模块、生产追溯分析模块和预警提醒模块；本发明通过触控检测分析模块将显示屏的若干个检测区标记为触控损毁区、触控迟钝区和触控灵敏区，以及通过分析将显示屏标记为一级显示屏、二级显示屏或三级显示屏，生产追溯分析模块通过分析生成对应批次的批次合格信号或批次不合格信号，以有助于对应管理人员及时对应显示屏的生产加工原因排查判定并改善，以保证后续显示屏的品质，且通过试验影响监测模块在触控检测设备进行触控试验时进行影响分析以有助于保证后续的触控检测效果。

Description

Micro LED显示屏的触控检测方法及系统

技术领域

本发明涉及显示屏加工检测技术领域，具体是Micro LED显示屏的触控检测方法及系统。

背景技术

显示屏通常属于输入输出设备，是一种将一定的电子文件通过特定的传输设备显示到屏幕上再反射到人眼的显示工具，Micro LED显示屏属于显示屏的一种，Micro LED是新一代显示技术，比现有的OLED技术亮度更高、发光效率更好，且Micro LED显示屏的功耗更低；在Micro LED显示屏的加工生产过程中需要对屏幕的触控效果进行检测，主要通过操作人员基于触控检测设备来完成，目前在进行触控检测时普遍随机选择一个或多个区域进行检测，无法准确反馈显示屏各个区域的触控效果，以及无法将显示屏的触控效果和批次加工品质进行合理的等级评估，并且在进行检测操作时难以进行影响分析并预警和异常诊断，有待进行改善；

针对上述的技术缺陷，现提出一种解决方案。

发明内容

本发明的目的在于提供Micro LED显示屏的触控检测方法及系统，解决了现有技术无法准确反馈显示屏各个区域的触控效果，以及无法将显示屏的触控效果和批次加工品质进行合理的等级评估，且在进行检测操作时难以进行影响分析并预警和异常诊断的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

Micro LED显示屏的触控检测方法，包括以下步骤：

步骤一、将显示屏的屏幕划分为若干个检测区，通过触控检测设备将对应检测区进行多次触控试验；

步骤二、在触控检测设备进行触控试验时进行影响分析以生成试验影响合格信号或试验影响不合格信号，在生成试验影响不合格信号时将该次试验结果剔除，以及通过分析生成操控不合格信号或操控合格信号，预警提醒模块接收到操控不合格信号时发出对应预警；

步骤三、通过对检测区进行触控试验分析以将其标记为触控损毁区、触控迟钝区和触控灵敏区，以及通过分析将显示屏标记为一级显示屏、二级显示屏或三级显示屏，将分析标记信息发送至服务器；

步骤四、通过分析生成对应批次的批次合格信号或批次不合格信号，服务器将批次不合格信号经处理器发送至预警提醒模块和远程监管终端，预警提醒模块接收到批次不合格信号时发出对应预警。

进一步的，本发明还提出了Micro LED显示屏的触控检测系统，包括服务器、触控检测分析模块、试验影响监测模块、生产追溯分析模块和预警提醒模块，其中，触控检测分析模块，用于将显示屏的屏幕划分为若干个检测区，对检测区进行触控试验分析以将其标记为触控损毁区、触控迟钝区和触控灵敏区，以及通过分析将显示屏标记为一级显示屏、二级显示屏或三级显示屏，将分析标记信息发送至服务器；

试验影响监测模块，用于在触控检测设备进行触控试验时进行影响分析，通过分析生成试验影响合格信号或试验影响不合格信号，在生成试验影响不合格信号时将该次试验结果剔除，且将试验影响合格信号或试验影响不合格信号发送至服务器，以及通过分析生成操控不合格信号或操控合格信号，将操控合格信号或操控不合格信号发送至服务器，服务器将操控不合格信号发送至预警提醒模块，预警提醒模块接收到操控不合格信号时发出对应预警；

生产追溯分析模块，用于获取到所需触控检测的显示屏批次，以及通过分析生成对应批次的批次合格信号或批次不合格信号，将批次合格信号或批次不合格信号发送至服务器，服务器将批次不合格信号经处理器发送至预警提醒模块和远程监管终端，预警提醒模块接收到批次不合格信号时发出对应预警。

进一步的，触控检测分析模块的具体运行过程包括;

将显示屏的屏幕划分为若干个检测区，将检测区标记为i，i={1,2，…，n}，n表示检测区的数目且n为大于1的自然数；通过触控试验分析将检测区i标记为触控损毁区、触控迟钝区和触控灵敏区，获取到显示屏的屏幕中触控损坏区数量、触控迟钝区数量和触控灵敏区数量，将触控损毁区数量、触控迟钝区数量和触控灵敏区数量进行数值计算得到触控分析系数；

将触控分析系数与预设触控分析系数范围进行数值比较，若触控分析系数超过预设触控分析系数范围的最大值，则将对应显示屏标记为三级显示屏，若触控分析系数位于预设触控分析系数范围内，则将对应显示屏标记为二级显示屏，若触控分析系数未超过预设触控分析系数范围的最小值，则将对应显示屏标记为一级显示屏。

进一步的，触控试验分析的具体分析过程如下：

通过触控检测设备在显示屏的检测区i进行k次触控试验，将检测区i未能响应的触控试验次数标记为无响应频次，将无响应频次与数值k进行比值计算得到无响应占比值，将无响应占比值与预设无响应占比阈值进行数值比较，若无响应占比值超过预设无响应占比阈值，则将检测区i标记为触控损毁区。

进一步的，若无响应占比值未超过预设无响应占比阈值，则获取到检测区i得到响应的触控试验的点击时刻和反应时刻，将对应的反应时刻与点击时刻进行时间差计算得到触控响应时长，将超过预设触控响应时长阈值的触控响应时长标记为迟钝时长，将迟钝时长的数量与数值k进行比值计算得到迟钝占比值，将所有触控响应时长进行求和取平均值得到响应均值；

将无响应占比值、迟钝占比值和相应均值进行数值计算得到检测区i的检测系数，将检测系数与预设检测系数范围进行数值比较，若检测系数超过预设检测系数范围的最大值，则将检测区i标记为触控损毁区，若检测系数位于预设检测系数范围内，则将检测区i标记为触控迟钝区，若检测系数未超过预设检测系数范围的最小值，则将检测区i标记为触控灵敏区。

进一步的，试验影响监测模块的具体运行过程如下：

触控检测设备在进行显示屏屏幕的触控试验时，获取到触控施压量值和触控接触时长，将触控施压量值和触控接触时长与预设触控施压阈值和触控接触阈值分别进行数值比较，若触控施压量值超过预设触控施压阈值且触控接触时长超过预设触控接触阈值，则生成试验影响合格信号，否则生成试验影响不合格信号，在生成试验影响不合格信号时将该次试验结果剔除。

进一步的，试验影响监测模块的分析过程还包括：

设定影响监测时段，将影响监测时段内生成试验影响合格信号的次数和试验影响不合格信号的次数分别标记为影响合格频次和影响不合格频次，将影响不合格频次与影响合格频次进行比值计算得到不合格占比值，将影响不合格频次与不合格占比值进行数值计算得到操控稳定值，将操控稳定值与预设操控稳定阈值进行数值比较，若操控稳定值超过预设操控稳定阈值，则生成操控不合格信号，否则生成操控合格信号。

进一步的，生产追溯分析模块的具体分析过程包括：

获取到所需触控检测的显示屏批次，将对应显示屏批次标记为分析批次u，u={1,2，…，m}，m表示显示屏批次数量且m为大于1的自然数；获取到分析批次u中一级显示屏数量、二级显示屏和三级显示屏数量，将一级显示屏数量、二级显示屏和三级显示屏数量进行数值计算后得到批次追溯值，将批次追溯值与预设批次追溯阈值进行数值比较，若批次追溯值超过预设批次追溯阈值，则生成批次合格信号，若批次追溯值未超过预设批次追溯阈值，则生成批次不合格信号。

进一步的，服务器通信连接操控诊断模块，服务器将操控不合格信号发送至操控诊断模块，操控诊断模块接收到操控不合格信号时进行诊断分析，通过分析生成人员不合格信号或设备不合格信号，将人员不合格信号或设备不合格信号经服务器发送至预警提醒模块和远程监管终端。

进一步的，诊断分析的具体分析过程如下：

获取到对应触控检测设备的对应操作人员并标记为目标人员，以及获取到目标人员在历史过程中进行显示屏触控检测操作的总时长和其所进行触控检测操作的显示屏数量，将进行显示屏触控检测操作的总时长和其所进行触控检测操作的显示屏数量分别标记为工作时长值和工作数量值，将工作时长值和工作数量值进行数值计算得到操控经验系数；

以及获取到目标人员在历史过程中进行显示屏触控检测操作时的出错次数，将出错次数与工作时长值进行比值计算得到失误频率值，将失误频率值与出错次数进行数值计算得到操控失误系数；将操控经验系数和操控失误系数与预设操控经验系数阈值和预设操控失误系数阈值分别进行数值比较，若操控经验系数未超过预设操控经验系数阈值或操控失误系数超过操控失误系数，则生成人员不合格信号，否则生成设备不合格信号。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1、本发明中，通过触控检测分析模块将显示屏的屏幕划分为若干个检测区，对检测区进行触控试验分析以将其标记为触控损毁区、触控迟钝区和触控灵敏区，以及通过分析将显示屏标记为一级显示屏、二级显示屏或三级显示屏；生产追溯分析模块通过分析生成对应批次的批次合格信号或批次不合格信号，以有助于对应管理人员及时对应显示屏的生产加工原因排查判定并改善，以保证后续显示屏的品质；且通过试验影响监测模块在触控检测设备进行触控试验时进行影响分析以生成试验影响合格信号或试验影响不合格信号，在生成试验影响不合格信号时将该次试验结果剔除，且通过分析生成操控不合格信号或操控合格信号，预警提醒模块接收到操控不合格信号时发出对应预警，以提醒管理人员及时进行设备检查维护和人员监管调整，保证后续的触控检测效果；

2、本发明中，在生成操控不合格信号时，操控诊断模块进行诊断分析以生成人员不合格信号或设备不合格信号，实现操作稳定性异常的原因诊断排查，并将人员不合格信号或设备不合格信号经服务器发送至预警提醒模块和远程监管终端，对应管理人员在接收到人员不合格信号时以及时进行人员调整，并在后续加强对应人员的操作培训和指导监管；在接收到设备不合格信号时，对应管理人员及时进行对应触控检测设备的检修维护，以保证对应触控检测设备后续的检测效果和操控稳定性。

附图说明

为了便于本领域技术人员理解，下面结合附图对本发明作进一步的说明；

图1为本发明的方法流程图；

图2为本发明中实施例二的系统框图；

图3为本发明中实施例三的系统框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例

如图1所示，本发明提出的Micro LED显示屏的触控检测方法，包括以下步骤：

步骤一、将显示屏的屏幕划分为若干个检测区，通过触控检测设备将对应检测区进行多次触控试验；

步骤二、在触控检测设备进行触控试验时进行影响分析以生成试验影响合格信号或试验影响不合格信号，在生成试验影响不合格信号时将该次试验结果剔除，以及通过分析生成操控不合格信号或操控合格信号，预警提醒模块接收到操控不合格信号时发出对应预警；

步骤三、通过对检测区进行触控试验分析以将其标记为触控损毁区、触控迟钝区和触控灵敏区，以及通过分析将显示屏标记为一级显示屏、二级显示屏或三级显示屏，将分析标记信息发送至服务器；

步骤四、通过分析生成对应批次的批次合格信号或批次不合格信号，服务器将批次不合格信号经处理器发送至预警提醒模块和远程监管终端，预警提醒模块接收到批次不合格信号时发出对应预警。

实施例

如图2所示，本实施例与实施例1的区别在于，Micro LED显示屏的触控检测系统，包括服务器、触控检测分析模块、试验影响监测模块、生产追溯分析模块和预警提醒模块，其中，触控检测分析模块将显示屏的屏幕划分为若干个检测区，对检测区进行触控试验分析以将其标记为触控损毁区、触控迟钝区和触控灵敏区，以及通过分析将显示屏标记为一级显示屏、二级显示屏或三级显示屏，将分析标记信息发送至服务器；触控检测分析模块的具体运行过程如下;

将显示屏的屏幕划分为若干个检测区，将检测区标记为i，i={1,2，…，n}，n表示检测区的数目且n为大于1的自然数；通过触控检测设备在显示屏的检测区i进行k次触控试验，将检测区i未能响应的触控试验次数标记为无响应频次，将无响应频次与数值k进行比值计算得到无响应占比值WZ，将无响应占比值WZ与预设无响应占比阈值进行数值比较，若无响应占比值WZ超过预设无响应占比阈值，表明检测区i触控性能存在明显异常，则将检测区i标记为触控损毁区；

若无响应占比值WZ未超过预设无响应占比阈值，则获取到检测区i得到响应的触控试验的点击时刻和反应时刻，将对应的反应时刻与点击时刻进行时间差计算得到对应触控试验的触控响应时长，将超过预设触控响应时长阈值的触控响应时长标记为迟钝时长，将迟钝时长的数量与数值k进行比值计算得到迟钝占比值CZ，将所有触控响应时长进行求和取平均值得到响应均值XJ；

通过公式JX=tg1*WZ+tg2*CZ+tg3*XJ将无响应占比值WZ、迟钝占比值CZ和响应均值XJ进行数值计算后得到检测区i的检测系数JX；其中，tg1、tg2、tg3为预设权重系数，tg1＞tg2＞tg3＞0；检测系数JX的数值大小与无响应占比值WZ、迟钝占比值CZ和响应均值XJ均呈正比关系，无响应占比值WZ的数值越大、迟钝占比值CZ的数值越大、响应均值XJ的数值越大，则检测系数JX的数值越大，表明对应检测区i的触控性能越差；

将对应检测区i的检测系数JX与预设检测系数范围进行数值比较，若检测系数JX超过预设检测系数范围的最大值，则将检测区i标记为触控损毁区，若检测系数JX位于预设检测系数范围内，表明对应检测区i的触控性能一般，则将检测区i标记为触控迟钝区，若检测系数JX未超过预设检测系数范围的最小值，表明对应检测区i的触控性能较好，则将检测区i标记为触控灵敏区；

获取到显示屏的屏幕中触控损毁区数量SH、触控迟钝区数量CD和触控灵敏区数量LM，通过公式CF=（fu1*SH+fu2*CD）/（fu3*LM+1.125）将触控损毁区数量SH、触控迟钝区数量CD和触控灵敏区数量LM进行数值计算得到触控分析系数CF；其中，fu1、fu2、fu3为预设比例系数，fu1＞fu2＞fu3＞1；触控分析系数CF的数值大小与触控损毁区数量SH、触控迟钝区数量CD均呈正比关系，与触控灵敏区数量LM呈反比关系，触控分析系数CF的数值越大，表明对应显示屏的屏幕整体触控性能越差；

将触控分析系数CF与预设触控分析系数范围进行数值比较，若触控分析系数CF超过预设触控分析系数范围的最大值，表明对应显示屏的屏幕整体触控性能较差，则将对应显示屏标记为三级显示屏，若触控分析系数CF位于预设触控分析系数范围内，表明对应显示屏的屏幕整体触控性能一般，则将对应显示屏标记为二级显示屏，若触控分析系数CF未超过预设触控分析系数范围的最小值，表明对应显示屏的屏幕整体触控性能较好，则将对应显示屏标记为一级显示屏。

试验影响监测模块在触控检测设备进行触控试验时进行影响分析，通过分析生成试验影响合格信号或试验影响不合格信号，在生成试验影响不合格信号时将该次试验结果剔除，且将试验影响合格信号或试验影响不合格信号发送至服务器，以及通过分析生成操控不合格信号或操控合格信号，将操控合格信号或操控不合格信号发送至服务器，服务器将操控不合格信号发送至预警提醒模块，预警提醒模块接收到操控不合格信号时发出对应预警，以提醒管理人员及时进行设备检查维护和人员监管调整；试验影响监测模块的具体运行过程如下：

触控检测设备在进行显示屏屏幕的触控试验时，获取到触控施压量值SY和触控接触时长SC，触控施压量值SY表示进行触控试验时与显示屏屏幕接触时所产生的压力大小的数据量值，触控施压量值的数值越小，表明接触时所产生的压力越小；将触控施压量值SY和触控接触时长SC与预设触控施压阈值和触控接触阈值分别进行数值比较，若触控施压量值SY超过预设触控施压阈值且触控接触时长SC超过预设触控接触阈值，则生成试验影响合格信号，否则生成试验影响不合格信号，在生成试验影响不合格信号时将该次试验结果剔除；

设定影响监测时段，将影响监测时段内生成试验影响合格信号的次数和试验影响不合格信号的次数分别标记为影响合格频次YH和影响不合格频次YB，将影响不合格频次YB与影响合格频次YH进行比值计算得到不合格占比值BZ，通过公式CW=eg1*YB+eg2*BZ将影响不合格频次YB与不合格占比值BZ进行数值计算后得到操控稳定值CW；其中，eg1、eg2为预设权重系数，0＜eg1＜eg2；

并且，操控稳定值CW的数值大小与影响不合格频次YB与不合格占比值BZ均呈正比关系，操控稳定值CW的数值越大，表明影响监测时段所进行触控检测操作的整体操作效果越差；将操控稳定值CW与预设操控稳定阈值进行数值比较，若操控稳定值CW超过预设操控稳定阈值，则生成操控不合格信号，若操控稳定值CW未超过预设操控稳定阈值，则生成操控合格信号。

生产追溯分析模块获取到所需触控检测的显示屏批次，以及通过分析生成对应批次的批次合格信号或批次不合格信号，将批次合格信号或批次不合格信号发送至服务器，服务器将批次不合格信号经处理器发送至预警提醒模块和远程监管终端，预警提醒模块接收到批次不合格信号时发出对应预警，以提醒对应管理人员及时进行显示屏的生产加工原因排查判定并改善，以保证后续显示屏的品质；生产追溯分析模块的具体分析过程如下：

获取到所需触控检测的显示屏批次，将对应显示屏批次标记为分析批次u，u={1,2，…，m}，m表示显示屏批次数量且m为大于1的自然数；获取到分析批次u中一级显示屏数量YS、二级显示屏ES和三级显示屏数量FS，通过公式PS=ft1*YS+ft2/ES+ft3/FS将一级显示屏数量YS、二级显示屏ES和三级显示屏数量FS进行数值计算后得到批次追溯值PS；

其中，ft1、ft2、ft3为预设比例系数，0＜ft1＜ft2＜ft3；并且，批次追溯值PS的数值大小与一级显示屏数量YS呈正比，与二级显示屏ES和三级显示屏数量FS均呈反比关系，批次追溯值PS的数值越大，表明对应批次的显示屏触控性能越好；将批次追溯值PS与预设批次追溯阈值进行数值比较，若批次追溯值PS超过预设批次追溯阈值，则生成批次合格信号，若批次追溯值PS未超过预设批次追溯阈值，则生成批次不合格信号。

实施例

如图3所示，本实施例与实施例1、实施例2的区别在于，服务器通信连接操控诊断模块，服务器将操控不合格信号发送至操控诊断模块，操控诊断模块接收到操控不合格信号时进行诊断分析，诊断分析的具体分析过程如下：

获取到对应触控检测设备的对应操作人员并标记为目标人员，以及获取到目标人员在历史过程中进行显示屏触控检测操作的总时长和其所进行触控检测操作的显示屏数量，将进行显示屏触控检测操作的总时长和其所进行触控检测操作的显示屏数量分别标记为工作时长值GL和工作数量值GS，通过公式CJ=a1*GL+a2*GS将工作时长值GL和工作数量值GS进行数值计算后得到操控经验系数CJ；其中，a1、a2为取值均大于零的预设权重系数，a1＜a2；操控经验系数CJ的数值大小与工作时长值GL和工作数量值GS均呈正比关系，操控经验系数CJ的数值越大，表明对应操作人员的操作经验越丰富；

以及获取到目标人员在历史过程中进行显示屏触控检测操作时的出错次数CP，将出错次数与工作时长值进行比值计算得到失误频率值SP，通过公式CS=b1*SP+b2*CP将失误频率值SP与出错次数CP进行数值计算后得到操控失误系数CS；其中，b1、b2为预设权重系数，0＜b2＜b1；操控失误系数CS的数值大小与失误频率值SP与出错次数CP均呈正比关系，操控失误系数CS的数值越大，表明对应操作人员的操作状况越差；

将操控经验系数CJ和操控失误系数CS与预设操控经验系数阈值和预设操控失误系数阈值分别进行数值比较，若操控经验系数CJ未超过预设操控经验系数阈值或操控失误系数CS超过操控失误系数，表明因操作人员的因素而导致异常的可能性较大，则生成人员不合格信号，若操控经验系数CJ超过预设操控经验系数阈值且操控失误系数CS未超过操控失误系数，表明因操作人员的因素而导致异常的可能性较小，则生成设备不合格信号。

操控诊断模块通过分析生成人员不合格信号或设备不合格信号，实现操作稳定性异常的原因诊断排查，并将人员不合格信号或设备不合格信号经服务器发送至预警提醒模块和远程监管终端，对应管理人员在接收到人员不合格信号时，应当及时进行人员调整，并在后续加强对应人员的操作培训和指导监管；在接收到设备不合格信号时，对应管理人员应当及时进行对应触控检测设备的检修维护，以保证对应触控检测设备后续的检测效果和操控稳定性。

本发明的工作原理：使用时，通过触控检测分析模块将显示屏的屏幕划分为若干个检测区，对检测区进行触控试验分析以将其标记为触控损毁区、触控迟钝区和触控灵敏区，以及通过分析将显示屏标记为一级显示屏、二级显示屏或三级显示屏；生产追溯分析模块获取到所需触控检测的显示屏批次，以及通过分析生成对应批次的批次合格信号或批次不合格信号，以有助于对应管理人员及时对应显示屏的生产加工原因排查判定并改善，以保证后续显示屏的品质；且通过试验影响监测模块在触控检测设备进行触控试验时进行影响分析，通过分析生成试验影响合格信号或试验影响不合格信号，在生成试验影响不合格信号时将该次试验结果剔除，且通过分析生成操控不合格信号或操控合格信号，预警提醒模块接收到操控不合格信号时发出对应预警，以提醒管理人员及时进行设备检查维护和人员监管调整，保证后续的触控检测效果。

上述公式均是去量纲取其数值计算，公式是由采集大量数据进行软件模拟得到最近真实情况的一个公式，公式中的预设参数由本领域的技术人员根据实际情况进行设置。以上公开的本发明优选实施例只是用于帮助阐述本发明。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (1)

1.Micro LED显示屏的触控检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、将显示屏的屏幕划分为若干个检测区，通过触控检测设备将对应检测区进行多次触控试验；

步骤二、在触控检测设备进行触控试验时进行影响分析以生成试验影响合格信号或试验影响不合格信号，在生成试验影响不合格信号时将该次试验结果剔除，以及通过分析生成操控不合格信号或操控合格信号，预警提醒模块接收到操控不合格信号时发出对应预警；

步骤三、通过对检测区进行触控试验分析以将其标记为触控损毁区、触控迟钝区和触控灵敏区，以及通过分析将显示屏标记为一级显示屏、二级显示屏或三级显示屏，将分析标记信息发送至服务器；

步骤四、通过分析生成对应批次的批次合格信号或批次不合格信号，服务器将批次不合格信号经处理器发送至预警提醒模块和远程监管终端，预警提醒模块接收到批次不合格信号时发出对应预警；

Micro LED显示屏的触控检测系统，包括服务器、触控检测分析模块、试验影响监测模块、生产追溯分析模块和预警提醒模块，其中，触控检测分析模块，用于将显示屏的屏幕划分为若干个检测区，对检测区进行触控试验分析以将其标记为触控损毁区、触控迟钝区和触控灵敏区，以及通过分析将显示屏标记为一级显示屏、二级显示屏或三级显示屏，将分析标记信息发送至服务器；

试验影响监测模块，用于在触控检测设备进行触控试验时进行影响分析，通过分析生成试验影响合格信号或试验影响不合格信号，在生成试验影响不合格信号时将该次试验结果剔除，且将试验影响合格信号或试验影响不合格信号发送至服务器，以及通过分析生成操控不合格信号或操控合格信号，将操控合格信号或操控不合格信号发送至服务器，服务器将操控不合格信号发送至预警提醒模块，预警提醒模块接收到操控不合格信号时发出对应预警；

生产追溯分析模块，用于获取到所需触控检测的显示屏批次，以及通过分析生成对应批次的批次合格信号或批次不合格信号，将批次合格信号或批次不合格信号发送至服务器，服务器将批次不合格信号经处理器发送至预警提醒模块和远程监管终端，预警提醒模块接收到批次不合格信号时发出对应预警；

触控检测分析模块的具体运行过程包括;

将显示屏的屏幕划分为若干个检测区，将检测区标记为i，i={1,2，…，n}，n表示检测区的数目且n为大于1的自然数；通过触控试验分析将检测区i标记为触控损毁区、触控迟钝区和触控灵敏区，获取到显示屏的屏幕中触控损坏区数量、触控迟钝区数量和触控灵敏区数量，将触控损毁区数量、触控迟钝区数量和触控灵敏区数量进行数值计算得到触控分析系数；

将触控分析系数与预设触控分析系数范围进行数值比较，若触控分析系数超过预设触控分析系数范围的最大值，则将对应显示屏标记为三级显示屏，若触控分析系数位于预设触控分析系数范围内，则将对应显示屏标记为二级显示屏，若触控分析系数未超过预设触控分析系数范围的最小值，则将对应显示屏标记为一级显示屏；

触控试验分析的具体分析过程如下：

通过触控检测设备在显示屏的检测区i进行k次触控试验，将检测区i未能响应的触控试验次数标记为无响应频次，将无响应频次与数值k进行比值计算得到无响应占比值，将无响应占比值与预设无响应占比阈值进行数值比较，若无响应占比值超过预设无响应占比阈值，则将检测区i标记为触控损毁区；

若无响应占比值未超过预设无响应占比阈值，则获取到检测区i得到响应的触控试验的点击时刻和反应时刻，将对应的反应时刻与点击时刻进行时间差计算得到触控响应时长，将超过预设触控响应时长阈值的触控响应时长标记为迟钝时长，将迟钝时长的数量与数值k进行比值计算得到迟钝占比值，将所有触控响应时长进行求和取平均值得到响应均值；

将无响应占比值、迟钝占比值和相应均值进行数值计算得到检测区i的检测系数，将检测系数与预设检测系数范围进行数值比较，若检测系数超过预设检测系数范围的最大值，则将检测区i标记为触控损毁区，若检测系数位于预设检测系数范围内，则将检测区i标记为触控迟钝区，若检测系数未超过预设检测系数范围的最小值，则将检测区i标记为触控灵敏区；

试验影响监测模块的具体运行过程如下：

触控检测设备在进行显示屏屏幕的触控试验时，获取到触控施压量值和触控接触时长，将触控施压量值和触控接触时长与预设触控施压阈值和触控接触阈值分别进行数值比较，若触控施压量值超过预设触控施压阈值且触控接触时长超过预设触控接触阈值，则生成试验影响合格信号，否则生成试验影响不合格信号，在生成试验影响不合格信号时将该次试验结果剔除；

试验影响监测模块的分析过程还包括：

设定影响监测时段，将影响监测时段内生成试验影响合格信号的次数和试验影响不合格信号的次数分别标记为影响合格频次和影响不合格频次，将影响不合格频次与影响合格频次进行比值计算得到不合格占比值，将影响不合格频次与不合格占比值进行数值计算得到操控稳定值，将操控稳定值与预设操控稳定阈值进行数值比较，若操控稳定值超过预设操控稳定阈值，则生成操控不合格信号，否则生成操控合格信号；

生产追溯分析模块的具体分析过程包括：

获取到所需触控检测的显示屏批次，将对应显示屏批次标记为分析批次u，u={1,2，…，m}，m表示显示屏批次数量且m为大于1的自然数；获取到分析批次u中一级显示屏数量、二级显示屏和三级显示屏数量，将一级显示屏数量、二级显示屏和三级显示屏数量进行数值计算后得到批次追溯值，将批次追溯值与预设批次追溯阈值进行数值比较，若批次追溯值超过预设批次追溯阈值，则生成批次合格信号，若批次追溯值未超过预设批次追溯阈值，则生成批次不合格信号；

服务器通信连接操控诊断模块，服务器将操控不合格信号发送至操控诊断模块，操控诊断模块接收到操控不合格信号时进行诊断分析，通过分析生成人员不合格信号或设备不合格信号，将人员不合格信号或设备不合格信号经服务器发送至预警提醒模块和远程监管终端；

诊断分析的具体分析过程如下：

获取到对应触控检测设备的对应操作人员并标记为目标人员，以及获取到目标人员在历史过程中进行显示屏触控检测操作的总时长和其所进行触控检测操作的显示屏数量，将进行显示屏触控检测操作的总时长和其所进行触控检测操作的显示屏数量分别标记为工作时长值和工作数量值，将工作时长值和工作数量值进行数值计算得到操控经验系数；

以及获取到目标人员在历史过程中进行显示屏触控检测操作时的出错次数，将出错次数与工作时长值进行比值计算得到失误频率值，将失误频率值与出错次数进行数值计算得到操控失误系数；将操控经验系数和操控失误系数与预设操控经验系数阈值和预设操控失误系数阈值分别进行数值比较，若操控经验系数未超过预设操控经验系数阈值或操控失误系数超过操控失误系数，则生成人员不合格信号，否则生成设备不合格信号。