CN110398682A - 触控测试装置和触控测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种触控测试装置和触控测试方法，涉及触控测试技术领域，实现对敲击触控进行测试。该触控测试装置包括：伸缩机构，所述伸缩机构包括本体和连接于所述本体的伸缩部，所述伸缩部用于相对于所述本体伸缩运动；触控部件，所述触控部件连接于所述伸缩机构的伸缩部，所述伸缩部用于带动所述触控部件敲击触摸屏；获取单元，所述获取单元用于获取所述触控部件敲击所述触摸屏的实际检测坐标点；运算单元，所述运算单元用于计算所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点与所述实际检测坐标点之间的触控坐标误差。该触控测试装置主要用于触摸屏的敲击触控测试。

Description

触控测试装置和触控测试方法

技术领域

本发明涉及触控测试技术领域，尤其涉及一种触控测试装置和触控测试方法。

背景技术

随着智能设备的蓬勃发展，触摸屏凭借其既满足人们快速查阅信息的需求，又具有易于交互等优点，其市场化进程逐步加快。为了获得合格的触摸屏，通常需要对触摸屏进行测试。

目前，对触摸屏的触控测试方法为：在触摸屏上进行划线测试，即沿着触摸屏表面的平行方向进行触控测试，然而，在实际触控交互过程中，敲击触控响应的准确性是衡量触控测试的一项重要指标，因此急需实现对敲击触控的测试。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种触控测试装置和触控测试方法，实现对敲击触控进行测试。

为达到上述目的，本发明主要提供如下技术方案：

一方面，本发明实施例提供一种触控测试装置，包括：

伸缩机构，所述伸缩机构包括本体和连接于所述本体的伸缩部，所述伸缩部用于相对于所述本体伸缩运动；

触控部件，所述触控部件连接于所述伸缩机构的伸缩部，所述伸缩部用于带动所述触控部件敲击触摸屏；

获取单元，所述获取单元用于获取所述触控部件敲击所述触摸屏的实际检测坐标点；

运算单元，所述运算单元用于计算所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点与所述实际检测坐标点之间的触控坐标误差。

具体地，所述伸缩机构用于带动所述触控部件多次敲击触摸屏；

所述获取单元用于获取所述触控部件多次敲击所述触摸屏的多个实际检测坐标点，所述运算单元用于计算所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点分别与多个所述实际检测坐标点之间的距离的最大值，该最大值为所述触控部件敲击所述触摸屏的触控坐标误差。

进一步地，上述的触控测试装置还包括：

移动机构，所述移动机构连接于所述伸缩机构的本体，所述移动机构用于带动所述本体至少沿平行于所述触摸屏的方向移动。

具体地，所述触控部件的数量为多个，所述伸缩机构的数量与所述触控部件的数量相同，每个所述伸缩机构的伸缩部分别连接于每个所述触控部件；

多个所述伸缩机构的本体均连接于一个所述移动机构。

具体地，所述触控测试装置包括控制单元，多个所述伸缩机构分别连接于所述控制单元，所述控制单元用于控制多个所述伸缩机构的伸缩部依照预设次序依次交替伸缩运动，以带动相应的所述触控部件依照所述预设次序依次交替敲击触摸屏。

进一步地，上述的触控测试装置还包括：

载台，所述载台用于放置所述触摸屏。

另一方面，本发明实施例提供一种触控测试方法，包括：

通过控制触控部件进行敲击触摸屏；

获取所述触控部件敲击所述触摸屏的实际检测坐标点；

计算所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点与所述实际检测坐标点之间的触控坐标误差。

进一步地，所述通过控制触控部件进行敲击触摸屏之前，还包括：

通过移动机构控制所述触控部件移动至相对于所述触摸屏的目标触控位置。

具体地，所述触控部件的数量为多个；

所述通过控制触控部件进行敲击触摸屏，具体为：

控制多个所述触控部件依照预设次序依次交替敲击触摸屏。

具体地，所述获取所述触控部件敲击所述触摸屏的实际检测坐标点，具体为：

获取任一所述触控部件多次敲击所述触摸屏的多个实际检测坐标点；

所述计算所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点与所述实际检测坐标点之间的触控坐标误差，具体为：

根据计算式

计算所述触控部件敲击所述触摸屏的触控坐标误差，其中，x_a为任一所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点，x_r1…x_rn分别为多个所述实际检测坐标点。

本发明实施例提供的一种触控测试装置和触控测试方法，通过伸缩机构带动触控部件敲击触摸屏，通过获取单元获取触控部件敲击触摸屏的实际检测坐标点，通过运算单元计算触控部件敲击触摸屏的目标坐标点与实际检测坐标点之间的触控坐标误差，以实现触摸屏的敲击触控测试，进一步完善了触摸屏的触控交互测试，有助于对触摸屏的触控测试的准确性提供更加客观公正的结果。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种触控测试装置的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种触控测试装置的组成框图；

图3为本发明实施例提供的多个触控部件依照预设次序依次交替敲击触摸屏的示意图；

图4为本发明实施例提供的一种触控测试方法的流程图；

图5为本发明实施例提供的另一种触控测试方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1和图2所示，本发明实施例提供一种触控测试装置，包括：伸缩机构1，伸缩机构1包括本体和连接于本体的伸缩部(图中未示出)，伸缩部用于相对于本体伸缩运动；触控部件2，触控部件2连接于伸缩机构1的伸缩部，伸缩部用于带动触控部件2敲击触摸屏3；获取单元4，获取单元4用于获取触控部件2敲击触摸屏3的实际检测坐标点；运算单元5，运算单元5用于计算触控部件2敲击触摸屏3的目标坐标点与实际检测坐标点之间的触控坐标误差。

其中，伸缩机构1可以为电动缸或液压缸，或者其他能够进行直线往复运动的传动机构等，此处不作限定，以液压缸为例，液压缸的缸筒为本体，液压缸的活塞杆为伸缩部；伸缩机构1带动触控部件2敲击触摸屏3的次数、速度、时间等均可进行控制，采用本领域技术人员能够实现的方式即可，此处不作限定。

触控部件2可以为能够在触摸屏3上进行触控的测试棒，测试棒与触摸屏3相触碰的端部可以设计为凸弧形，以利于测试棒与触摸屏3完全触碰上。

当触控部件2敲击触摸屏3时，触控部件2敲击触摸屏3的实际检测坐标点通过获取单元4进行获取，实际检测坐标点与触控部件2敲击触摸屏3的目标坐标点会有位置偏差，其中，目标坐标点为预先设定好的触控位置，使触控部件2位于触摸屏3的目标坐标点的上方位置，然后通过伸缩机构1带动触控部件2进行敲击触摸屏3，敲击触摸屏3时获取单元4获取到的坐标点为实际检测坐标点。获取单元4可以为触控传感器等，采用现有技术中能够实现获取触控的实际检测坐标点的部件即可，此处不作限定。

计算获取到的实际检测坐标点与目标坐标点之间的触控坐标误差，通过运算单元5进行计算，其中，可以采用处理器来完成该计算，则运算单元5为处理器的运算逻辑部件。实际检测坐标点与目标坐标点之间的触控坐标误差即为两坐标点之间的距离值。

本发明实施例提供的一种触控测试装置，通过伸缩机构带动触控部件敲击触摸屏，通过获取单元获取触控部件敲击触摸屏的实际检测坐标点，通过运算单元计算触控部件敲击触摸屏的目标坐标点与实际检测坐标点之间的触控坐标误差，以实现触摸屏的敲击触控测试，进一步完善了触摸屏的触控交互测试，有助于对触摸屏的触控测试的准确性提供更加客观公正的结果。

具体地，伸缩机构1用于带动触控部件2多次敲击触摸屏3；获取单元4用于获取触控部件2多次敲击触摸屏3的多个实际检测坐标点，运算单元5用于计算触控部件2敲击触摸屏3的目标坐标点分别与多个实际检测坐标点之间的距离的最大值，该最大值为触控部件2敲击触摸屏3的触控坐标误差。当使一触控部件2位于触摸屏3的目标坐标点的上方位置，并进行多次敲击触摸屏3时，获取单元4获取到多次实际检测坐标点，将该多次实际检测坐标点的数据传输至运算单元5，运算单元5利用下述计算式计算触控坐标误差，计算式为：

其中，x_a为该触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点，x_r1…x_rn分别为获取单元获取到的多个实际检测坐标点。其中，计算多次触控交互响应的误差值，然后选取最大值，能够使计算结果更加准确可靠。

本发明实施例提供的触控测试装置还包括：移动机构6，移动机构6连接于伸缩机构1的本体，移动机构6用于带动本体至少沿平行于触摸屏3的方向移动。通过移动机构6可使连接于伸缩机构1的触控部件2移动至触摸屏3的目标坐标点的上方位置，其中，移动机构6可包括连接于伸缩机构1本体的移动臂以及连接于移动臂的驱动机构(图中未示出)，通过驱动机构控制移动臂的移动位置，可采用本领域技术人员能够实现的方式即可，此处不作限定，根据测试要求，通过移动机构6带动连接于伸缩机构1的触控部件2沿预设轨迹移动，移动机构6至少可以沿平行于触摸屏3的方向移动，即x和y方向，也可以设计为能够沿垂直于触摸屏3的方向移动，即z方向，以调节触控部件2距离触摸屏3的高度；很容易想到的，移动机构6可带动触控部件2在触摸屏3上进行划线测试，即沿着触摸屏3表面的平行方向进行触控测试。

具体地，触控部件2的数量为多个，伸缩机构1的数量与触控部件2的数量相同，每个伸缩机构1的伸缩部分别连接于每个触控部件2；多个伸缩机构1的本体均连接于一个移动机构6。一个移动机构6可同时带动多个伸缩机构1相对于触摸屏3移动，每个伸缩机构1分别连接有一个触控部件2，可分别控制每个触控部件2敲击触摸屏3，实现多点敲击触控操作，每个触控部件2敲击触摸屏3的动作相互之间可不受影响。

具体地，触控测试装置包括控制单元7，多个伸缩机构1分别连接于控制单元7，控制单元7用于控制多个伸缩机构1的伸缩部依照预设次序依次交替伸缩运动，以带动相应的触控部件2依照预设次序依次交替敲击触摸屏3。参见图3，控制多个伸缩机构1带动多个触控部件2依照预设次序依次交替敲击触摸屏3，可以采用处理器来完成，则控制单元7为处理器的控制部件。控制单元7还可控制伸缩机构1的伸缩部的伸缩次数、时间、速度等，以相应的控制触控部件2敲击触摸屏3的次数、时间、速度等，采用本领域技术人员能够实现的方式即可，此处不作限定。交替敲击触摸屏3，可使获取单元4每次获取到一个实际检测坐标点，可有效保证获取到实际检测坐标点准确可靠。

本发明实施例提供的触控测试装置还包括：载台8，载台8用于放置触摸屏3。其中，载台8上可以设置有固定结构，以固定触摸屏3，载台8适宜制成水平面，以将触摸屏3水平放置在载台8上，并使触摸屏3固定不动，通过控制移动机构6和伸缩机构1来完成触控部件2敲击触摸屏3的触控交互响应测试。

实现触摸屏的敲击触控测试，使得进一步完善了触摸屏的触控交互测试，有助于对触摸屏的触控测试的准确性提供更加客观公正的结果。

如图4所示，本发明实施例提供一种触控测试方法，包括：

101、通过控制触控部件进行敲击触摸屏。

可采用上述实施例的触控测试装置进行触摸屏的敲击触控测试，具体地，参见图1和图2，触控测试装置包括：伸缩机构1，伸缩机构1包括本体和连接于本体的伸缩部，伸缩部用于相对于本体伸缩运动；触控部件2，触控部件2连接于伸缩机构1的伸缩部，伸缩部用于带动触控部件2敲击触摸屏3；其中，触控测试装置的结构以及工作原理与上述实施例相同，此处不再赘述。

102、获取触控部件敲击触摸屏的实际检测坐标点。

参见图1和图2，当触控部件2敲击触摸屏3时，可通过获取单元4获取触控部件2敲击触摸屏3的实际检测坐标点，其中，获取单元4可以为触控传感器等，采用现有技术中能够实现获取触控的实际检测坐标点的部件即可，此处不作限定。使触控部件2位于触摸屏3的目标坐标点的上方位置后，控制触控部件2敲击触摸屏3，其中，目标坐标点为预先设定好的触控位置，实际检测坐标点与触控部件2敲击触摸屏3的目标坐标点会有位置偏差。

103、计算触控部件敲击触摸屏的目标坐标点与实际检测坐标点之间的触控坐标误差。

其中，实际检测坐标点与目标坐标点之间的触控坐标误差即为两坐标点之间的距离值，参见图1和图2，该步骤可通过运算单元5来完成，运算单元5可为处理器的运算逻辑部件。

本发明实施例提供的一种触控测试方法，通过控制触控部件进行敲击触摸屏，获取触控部件敲击触摸屏的实际检测坐标点，计算触控部件敲击触摸屏的目标坐标点与实际检测坐标点之间的触控坐标误差，以实现触摸屏的敲击触控测试，进一步完善了触摸屏的触控交互测试，有助于对触摸屏的触控测试的准确性提供更加客观公正的结果。

如图5所示，本发明实施例还提供一种触控测试方法，包括：

201、通过移动机构控制触控部件移动至相对于触摸屏的目标触控位置。

可采用上述实施例的触控测试装置进行触摸屏的敲击触控测试，具体地，参见图1和图2，触控测试装置包括：移动机构6、伸缩机构1和触控部件2，移动机构6连接于伸缩机构1，用于带动伸缩机构1至少沿平行于触摸屏3的方向移动，触控部件2连接于伸缩机构1，伸缩机构1用于带动触控部件2敲击触摸屏3；根据测试要求，通过移动机构6带动连接于伸缩机构1的触控部件2沿预设轨迹移动，移动机构6至少可以沿平行于触摸屏的方向移动，即x和y方向，也可以设计为能够沿垂直于触摸屏3的方向移动，即z方向，以调节触控部件2距离触摸屏3的高度；很容易想到的，移动机构6可带动触控部件2在触摸屏3上进行划线测试，即沿着触摸屏3表面的平行方向进行触控测试。

具体地，触控部件2的数量为多个，一个移动机构6可同时带动多个伸缩机构1相对于触摸屏3移动，每个伸缩机构1分别连接有一个触控部件2，可分别控制每个触控部件2敲击触摸屏3，实现多点敲击触控操作，每个触控部件2敲击触摸屏3的动作相互之间可不受影响。

202、控制多个触控部件依照预设次序依次交替敲击触摸屏。

参见图1、图2和图3，该步骤可通过控制单元7来完成，控制单元7可为处理器的控制部件，控制单元7可控制伸缩机构1依照预设次序依次交替伸缩运动，以带动相应的触控部件2依照预设次序依次交替敲击触摸屏3。控制单元7还可控制伸缩机构1的伸缩部的伸缩次数、时间、速度等，以相应的控制触控部件2敲击触摸屏3的次数、时间、速度等，采用本领域技术人员能够实现的方式即可，此处不作限定。

203、获取任一触控部件多次敲击触摸屏的多个实际检测坐标点。

参见图1和图2，当使一触控部件2位于触摸屏3的目标坐标点的上方位置，并进行多次敲击触摸屏3时，获取到的是多次实际检测坐标点，需要说明的是，该触控部件2相对于触摸屏3的同一触控位置的目标坐标点不变。

204、根据计算式

计算触控部件敲击触摸屏的触控坐标误差，其中，x_a为任一触控部件敲击触摸屏的目标坐标点，x_r1…x_rn分别为多个实际检测坐标点。

也就是说，将一触控部件每一次敲击的触控交互响应的误差值计算出来，然后取最大值，作为该触控部件敲击触摸屏的触控坐标误差，计算结果更加准确可靠。

本发明实施例提供的一种触控测试方法，通过控制触控部件进行敲击触摸屏，获取触控部件敲击触摸屏的实际检测坐标点，计算触控部件敲击触摸屏的目标坐标点与实际检测坐标点之间的触控坐标误差，以实现触摸屏的敲击触控测试，进一步完善了触摸屏的触控交互测试，有助于对触摸屏的触控测试的准确性提供更加客观公正的结果。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种触控测试装置，其特征在于，包括：

伸缩机构，所述伸缩机构包括本体和连接于所述本体的伸缩部，所述伸缩部用于相对于所述本体伸缩运动；

触控部件，所述触控部件连接于所述伸缩机构的伸缩部，所述伸缩部用于带动所述触控部件敲击触摸屏；

获取单元，所述获取单元用于获取所述触控部件敲击所述触摸屏的实际检测坐标点；

运算单元，所述运算单元用于计算所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点与所述实际检测坐标点之间的触控坐标误差。

2.根据权利要求1所述的触控测试装置，其特征在于，

所述伸缩机构用于带动所述触控部件多次敲击触摸屏；

所述获取单元用于获取所述触控部件多次敲击所述触摸屏的多个实际检测坐标点，所述运算单元用于计算所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点分别与多个所述实际检测坐标点之间的距离的最大值，该最大值为所述触控部件敲击所述触摸屏的触控坐标误差。

3.根据权利要求1所述的触控测试装置，其特征在于，还包括：

移动机构，所述移动机构连接于所述伸缩机构的本体，所述移动机构用于带动所述本体至少沿平行于所述触摸屏的方向移动。

4.根据权利要求3所述的触控测试装置，其特征在于，

所述触控部件的数量为多个，所述伸缩机构的数量与所述触控部件的数量相同，每个所述伸缩机构的伸缩部分别连接于每个所述触控部件；

多个所述伸缩机构的本体均连接于一个所述移动机构。

5.根据权利要求4所述的触控测试装置，其特征在于，

所述触控测试装置包括控制单元，多个所述伸缩机构分别连接于所述控制单元，所述控制单元用于控制多个所述伸缩机构的伸缩部依照预设次序依次交替伸缩运动，以带动相应的所述触控部件依照所述预设次序依次交替敲击触摸屏。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的触控测试装置，其特征在于，还包括：

载台，所述载台用于放置所述触摸屏。

7.一种触控测试方法，其特征在于，包括：

通过控制触控部件进行敲击触摸屏；

获取所述触控部件敲击所述触摸屏的实际检测坐标点；

计算所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点与所述实际检测坐标点之间的触控坐标误差。

8.根据权利要求7所述的触控测试方法，其特征在于，所述通过控制触控部件进行敲击触摸屏之前，还包括：

通过移动机构控制所述触控部件移动至相对于所述触摸屏的目标触控位置。

9.根据权利要求8所述的触控测试方法，其特征在于，

所述触控部件的数量为多个；

所述通过控制触控部件进行敲击触摸屏，具体为：

控制多个所述触控部件依照预设次序依次交替敲击触摸屏。

10.根据权利要求7至9中任一项所述的触控测试方法，其特征在于，

所述获取所述触控部件敲击所述触摸屏的实际检测坐标点，具体为：

获取任一所述触控部件多次敲击所述触摸屏的多个实际检测坐标点；

所述计算所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点与所述实际检测坐标点之间的触控坐标误差，具体为：

根据计算式

计算所述触控部件敲击所述触摸屏的触控坐标误差，其中，x_a为任一所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点，x_r1…x_rn分别为多个所述实际检测坐标点。