WO2024101473A1 - 빅데이터 기반 특허 분석 서비스 제공 방법 및 장치 - Google Patents

빅데이터 기반 특허 분석 서비스 제공 방법 및 장치 Download PDF

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WO2024101473A1
WO2024101473A1 PCT/KR2022/017610 KR2022017610W WO2024101473A1 WO 2024101473 A1 WO2024101473 A1 WO 2024101473A1 KR 2022017610 W KR2022017610 W KR 2022017610W WO 2024101473 A1 WO2024101473 A1 WO 2024101473A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
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analysis
interest
company
technology
information
Prior art date
Application number
PCT/KR2022/017610
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
마창환
김종훈
이종민
정지원
Original Assignee
사단법인 한국산업기술진흥협회
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 사단법인 한국산업기술진흥협회 filed Critical 사단법인 한국산업기술진흥협회
Priority to PCT/KR2022/017610 priority Critical patent/WO2024101473A1/ko
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Definitions

  • One embodiment of the present invention relates to a method and device for providing a big data-based patent analysis service.
  • Patent value evaluation systems include KPEG of the Korea Patent Information Institute, SMART of the Korea Invention Promotion Association, PatentRatings of OceanTomo of the United States, and PatentScore of IPB (now PatentResult) of Japan.
  • Japanese IPB's PatentScore system uses progress information as an important evaluation element under the assumption that progress information related to various actions of applicants, third parties, and examiners over the entire life cycle of a patent has a significant impact on estimating the value of a patent. It is reflected as
  • the core of the above-mentioned evaluation systems is to increase the reliability of evaluation results, and although efforts are being made to increase reliability, they are currently unable to secure the high reliability desired by users. Therefore, a patent analysis service is needed to generate more reliable evaluation results.
  • This embodiment is based on big data that provides analysis results of one of the company analysis report, company of interest analysis report, and technology of interest analysis report based on the entered company information, company technology information, company information of interest, and technology information of interest.
  • the purpose is to provide a method and device for providing patent analysis services.
  • the company's analysis unit generates the company's analysis results based on the company's patent information, company's technology information, and company's researcher information;
  • a company-of-interest analysis unit that generates company-of-interest information based on the input company-of-interest information, technology information of the company-of-interest, and researcher information of the company-of-interest;
  • a technology-of-interest analysis unit that generates technology-of-interest analysis results based on the input technology-of-interest information; It provides a patent analysis device comprising a patent value evaluation unit that generates a patent value evaluation result based on the company analysis result, the interest technology analysis result, and the interest technology analysis result.
  • a plurality of patent information is extracted based on the input company information or company information, and then included in the patent information are the number of applications, number of registrations, number of examiner citations, inventor information, number of families, etc. It has the effect of processing information based on and providing analysis results of any one of the company analysis report, interest company analysis report, and interest technology analysis report.
  • Figure 1 is a diagram schematically showing a big data-based patent analysis service providing system according to this embodiment.
  • Figures 2a, 2b, 2c, and 2d are diagrams showing the service menu configuration according to this embodiment.
  • FIG. 3 is a block diagram schematically showing the patent analysis device according to this embodiment.
  • Figure 4 is a block diagram schematically showing the company's analysis unit according to this embodiment.
  • FIG. 5 is a block diagram schematically showing the interest company analysis unit according to this embodiment.
  • Figure 6 is a block diagram schematically showing the technology of interest analysis unit according to this embodiment.
  • Figure 7 is a diagram showing the patent evaluation, patent dispute, and researcher search modules linked to the patent value evaluation unit according to this embodiment.
  • Figures 8a and 8b are diagrams showing a patent analysis report according to this embodiment.
  • Figure 1 is a diagram schematically showing a big data-based patent analysis service providing system according to this embodiment.
  • the big data-based patent analysis service providing system includes a terminal 110, a network 120, and a patent analysis device 130.
  • the components included in the big data-based patent analysis service provision system are not necessarily limited to this.
  • the terminal 110 refers to an electronic device that performs data communication with the patent analysis device 130 via the network 120 according to the user's key operations.
  • the terminal 110 is equipped with a memory for storing a program or protocol for communicating with the patent analysis device 130 via the network 120, and a microprocessor for executing the program to operate and control the program.
  • the terminal 110 is a smart phone, tablet, laptop, personal computer (PC), personal digital assistant (PDA), and portable multimedia player (PMP). It may be an electronic device such as a player, a wireless communication terminal, or a media player.
  • PC personal computer
  • PDA personal digital assistant
  • PMP portable multimedia player
  • the terminal 110 is a variety of devices including communication devices such as a communication modem for communicating with various devices or wired and wireless networks, memory for storing various programs and data, and a microprocessor for calculating and controlling the programs by executing them. am.
  • the memory is computer memory such as random access memory (RAM), read only memory (ROM), flash memory, optical disk, magnetic disk, and solid state disk (SSD). It may be a readable recording/storage medium.
  • a microprocessor may be programmed to selectively perform one or more of the operations and functions described in the specification.
  • a microprocessor may be implemented in whole or in part as hardware such as an application specific integrated circuit (ASIC) of a specific configuration.
  • ASIC application specific integrated circuit
  • the network 120 refers to a network that can transmit and receive data using the Internet protocol using various wired and wireless communication technologies such as the Internet network, intranet network, mobile communication network, and satellite communication network.
  • the patent analysis device 130 interacts with the terminal 110 using the network 120.
  • the patent analysis device 130 may be implemented in hardware in the form of a typical web server or network server.
  • the patent analysis device 130 generally communicates with an unspecified number of clients or other servers via an open computer network such as the Internet.
  • the patent analysis device 130 refers to a computer system and computer software (web server program) that derives and provides work results corresponding to work performance requests from a client or other web server.
  • web server program computer software
  • the patent analysis device 130 includes a series of application programs running on a web server or various databases built inside the device.
  • the patent analysis device 130 extracts a plurality of patent information based on company information or company information input from the terminal 110.
  • the patent analysis device 130 processes information based on the number of applications, number of registrations, number of examiner citations, inventor information, number of families, etc. included in the extracted patent information.
  • the patent analysis device 130 provides the terminal 110 with an analysis result of one of the company analysis report, the company analysis report of interest, and the technology analysis report of interest based on the processed information.
  • Figures 2a, 2b, 2c, and 2d are diagrams showing the service menu configuration according to this embodiment.
  • the patent analysis device 130 provides ‘Report Application’, ‘Report Application Details’, ‘1:1 Inquiry’, and ‘FAQ’ as a basic service menu structure.
  • the patent analysis device 130 displays a page where a report request can be made on the screen.
  • the patent analysis device 130 selects US, KR, CN, JP, Enter at least one country among EPs.
  • the patent analysis device 130 receives country information from the terminal 110 and then inputs a specific company name through the ‘Company Name Search’ item.
  • the patent analysis device 130 receives a ‘report request’ input from the terminal 110, it generates and outputs a ‘company analysis report of interest’ corresponding to the input name of a specific company in a specific country.
  • the patent analysis device 130 selects US, KR, CN, JP, Enter at least one country among EPs.
  • the patent analysis device 130 receives country information from the terminal 110 and then inputs a specific technology name through the ‘technology name search’ item.
  • the patent analysis device 130 receives a ‘report request’ input from the terminal 110, it generates and outputs a ‘technology of interest analysis report’ corresponding to the input specific technology name of the specific country.
  • the patent analysis device 130 displays the 'number' of the issued 'In-house Analysis Report', 'Company Analysis Report of Interest', and 'Technology Analysis Report of Interest', ‘Report Type’, ‘Target Keyword’, ‘Status’, and ‘Request Date’ are output in list form.
  • FIG. 3 is a block diagram schematically showing the patent analysis device according to this embodiment.
  • the patent analysis device 130 includes a company analysis unit 310, a company of interest analysis unit 320, a technology of interest analysis unit 330, and a patent value evaluation unit 340. Components included in the patent analysis device 130 are not necessarily limited thereto.
  • Each component included in the patent analysis device 130 is connected to a communication path connecting software modules or hardware modules within the device and can operate organically with each other. These components communicate using one or more communication buses or signal lines.
  • Each component of the patent analysis device 130 shown in FIG. 3 refers to a unit that processes at least one function or operation, and may be implemented as a software module, a hardware module, or a combination of software and hardware.
  • the company's analysis unit 310 generates the company's analysis results based on the company's patent information, company's technology information, and company's researcher information.
  • the company's analysis unit 310 extracts at least one information of the patent application number, applicant (company name), business registration number, and corporation number from the input company patent information, and extracts the extracted patent application number, applicant (company name), business registration number, Using one or more of the following information: corporate number, inventor information, and company representative information, the company generates its own patent analysis results, its own technology analysis results, its own researcher analysis results, and its own event analysis results.
  • the company's analysis unit 310 generates the company's patent analysis results using the patent application number, applicant, company name, business registration number, and corporation number extracted from the company's patent information.
  • the company's analysis unit 310 generates its own technology analysis results using technology names, technology fields, and keywords extracted from the company's technology information.
  • the company's analysis unit 310 generates the company's researcher analysis results based on the company's researcher information.
  • the in-house analysis unit 310 generates in-house event analysis results based on the in-house patent analysis results, in-house technology analysis results, and in-house researcher analysis results.
  • the company's analysis unit 310 is based on the company's patent information (patent application number, applicant (company name), business registration number, corporation number, inventor information, company representative information), number of applications, number of registrations, registration rate, number of examiner citations, and lagging. Analyze companies holding patents, extract the number of patents purchased, and the number of patents sold.
  • the company's analysis unit 310 generates its own patent analysis results including at least one of the number of applications, number of registrations, registration rate, number of examiner citations, analysis of companies holding trailing patents, number of patent purchases, and number of patent sales.
  • the company's analysis department Based on the company's technology information (technology name, technology field, keywords), the company's analysis department (310) performs portfolio indicator analysis results, investment indicator analysis results, interest indicator analysis results, R&D continuity analysis results, dispute indicator analysis results, and ratio indicator analysis results. creates .
  • the company's analysis unit 310 outputs its own technology analysis results including at least one of the following: portfolio indicator analysis results, investment indicator analysis results, interest indicator analysis results, R&D continuity analysis results, conflict indicator analysis results, and ratio indicator analysis results. .
  • Our analysis unit 310 generates the number of invention patents, number of citations, number of global patent families, patent share within the affiliated company, and evaluation index per patent based on the company's researcher information (inventor name).
  • the company's analysis unit 310 generates analysis results by its researchers, including at least one of the number of invention patents, number of citations, number of global patent families, patent share within the affiliated company, and evaluation index per patent.
  • the company's analysis department (310) analyzes patent transaction history, dispute history analysis, examiner citation count analysis, family patent analysis, national R&D-related analysis, and M&A occurrence based on the company's patent analysis results, company technology analysis results, and company researcher analysis results. Generate analysis.
  • the company's analysis unit 310 generates company event results including at least one of patent transaction history analysis, dispute history analysis, examiner citation count analysis, family patent analysis, national R&D-related analysis, and M&A occurrence analysis.
  • the interested company analysis unit 320 generates interested company information based on the inputted interested company information, interested company technical information, and interested company researcher information.
  • the interested company analysis unit 320 extracts at least one of the applicant (company name), keywords, inventor information, and company representative information from the entered interested company information, and extracts the extracted applicant (company name), keywords, inventor information, and company representative information. Using the information, patent analysis results for companies of interest, corporate technology analysis results, corporate researcher analysis results, and corporate event analysis results are generated.
  • the company of interest analysis unit 320 generates patent analysis results of the company of interest based on the applicant, company name, keywords, inventor information, and company representative information extracted from the company of interest information.
  • the company of interest analysis unit 320 generates technology analysis results of the company of interest based on the technology name, technology field, and keywords extracted from the technology information of the company of interest.
  • the company of interest analysis unit 320 generates analysis results of researchers of the company of interest based on the inventor's name extracted from the information of the researcher of the company of interest.
  • the company of interest analysis unit 320 generates an event analysis result of the company of interest based on the patent analysis result of the company of interest, the technology analysis result of the company of interest, and the analysis result of the company of interest researcher.
  • the interested company analysis unit 320 analyzes companies holding trailing patents, analyzes the number of examiner citations, and generates the number of patent applications based on the applicant (company name), keywords, inventor information, and company representative information extracted from the entered interested company information. .
  • the company of interest analysis unit 320 generates a patent analysis result of the company of interest including at least one of analysis of companies holding trailing patents, analysis of examiner citations, and number of patent applications.
  • the interested company analysis unit 320 provides portfolio index analysis results, investment index analysis results, interest index analysis results, R&D continuity analysis results, dispute index analysis results, and Generate ratio indicator analysis results.
  • the company of interest analysis unit 320 provides technical analysis results of companies of interest, including at least one of the following: portfolio indicator analysis results, investment indicator analysis results, interest indicator analysis results, R&D continuity analysis results, conflict indicator analysis results, and ratio indicator analysis results. Print out.
  • the interested company analysis unit 320 generates the number of invention patents, number of citations, number of global patent families, patent share within the affiliated company, and evaluation index per patent based on the interested company information (inventor name).
  • the interested company analysis unit 320 generates an analysis result of interested company researchers including at least one of the number of invention patents, number of citations, number of global patent families, patent share within the affiliated company, and evaluation index per patent.
  • the interested company analysis department (320) analyzes patent transaction history, dispute history analysis, examiner citation count analysis, family patent analysis, and national R&D-related data based on the patent analysis results of interested companies, technology analysis results of interested companies, and researcher analysis results of interested companies. Analysis, generate M&A occurrence analysis.
  • the interested company analysis unit 320 generates interested company event results including at least one of patent transaction history analysis, dispute history analysis, examiner citation count analysis, family patent analysis, national R&D-related analysis, and M&A occurrence analysis.
  • the technology of interest analysis unit 330 generates a technology of interest analysis result based on the input technology of interest information and technology of interest researcher information.
  • the technology of interest analysis unit 330 extracts at least one of the technology field, technology name, and technology keyword from the input technology of interest information, and uses the extracted information of the technology field, technology name, and technology keyword to provide detailed information on the technology of interest. Generates analysis results, technology of interest patent analysis results, technology of interest researcher analysis results, and technology of interest event analysis results.
  • the technology of interest analysis unit 330 generates a detailed technology of interest analysis result and a patent analysis result of the technology of interest based on the technology field, technology name, and technology keyword extracted from the technology of interest information.
  • the technology-of-interest analysis unit 330 generates the result of the technology-of-interest researcher analysis based on the inventor information extracted from the technology-of-interest researcher information.
  • the technology-of-interest analysis unit 330 generates a technology-of-interest event analysis result based on the detailed technology-of-interest analysis result, the technology-of-interest patent analysis result, and the technology-of-interest researcher analysis result.
  • the technology of interest analysis unit 330 provides detailed analysis results of the technology of interest for companies corresponding to the applicants who filed the most technology fields, technology names, and technology keywords based on the input technology information (technology field, technology name, technology keyword). create
  • the technology of interest analysis unit 330 is based on the input technology of interest information (technology field, technology name, technology keyword), rapidly growing keyword analysis results, newly appearing keyword analysis results, specialized keyword analysis results, co-occurring keyword analysis results, and R&D recommended keywords. Generate analysis results.
  • the technology of interest analysis unit 330 outputs a patent analysis result of the technology of interest including at least one of keyword analysis results, newly appearing keyword analysis results, specialized keyword analysis results, co-occurring keyword analysis results, and R&D recommended keyword analysis results.
  • the technology of interest analysis unit 330 analyzes the number of invention patents of the researcher, the number of citations, the global patent family analysis, the technology share analysis, and the technology concentration rate analysis, based on the entered information about the researcher on the technology of interest (inventor name). , Generates patent evaluation index analysis results.
  • the technology of interest analysis unit 330 is a technology of interest that includes at least one of the following: an analysis result of the number of invention patents, an analysis result of the number of citations, a global patent family analysis result, a technology share analysis result, a technology concentration rate analysis result, and a patent evaluation index analysis result. Prints the results of the researcher's analysis.
  • the technology of interest analysis unit 330 is based on the detailed analysis of the technology of interest, the patent analysis result of the technology of interest, and the result of the researcher analysis of the technology of interest. Generates national R&D-related analysis results and M&A occurrence analysis results.
  • the technology of interest analysis unit 330 is a technology of interest event that includes at least one of the following: transaction history analysis results, dispute history analysis results, examiner citation count analysis results, family patent analysis results, national R&D-related analysis results, and M&A occurrence analysis results. Print the analysis results.
  • patent value evaluation department provides patent value evaluation results (Korean patent evaluation, U.S. patent evaluation, Japanese patent evaluation, comprehensive analysis of verdicts, rights stability evaluation) based on the company's analysis results, technology analysis results of interest, and technology analysis results of interest. creates .
  • the patent value evaluation unit 340 is a Korean patent evaluation unit that generates value table, summary, standard, and professional evaluation results.
  • the patent value evaluation department (340) forms a value table ( Value Table) provides evaluation results.
  • the patent value evaluation department (340) is a key summary evaluation report on Korean patents, and includes evaluation indices such as survival index (PSI), comprehensive evaluation grade, rights, technicality, and commerciality, as well as evaluation indices for detailed items to calculate them. Provides summary evaluation results including:
  • the patent value evaluation department (340) provides a key summary evaluation report on Korean patents, including summary report information, patent bibliographic information, patent duration, patent family, prior art list, patent administrative processing information, technology field average evaluation index, It provides standard evaluation results including the PQI index calculated using the OECD evaluation method.
  • the patent value evaluation department (340) is an expert who includes information from standard reports on Korean patents, as well as analysis of major applicants within similar patent groups, trend analysis by year, lists of similar patents, and relative scores within the entire patent group and similar patent groups. Provides professional evaluation results.
  • the patent value evaluation unit 340 evaluates US patents and generates value table, summary, standard, and professional evaluation results.
  • the patent value evaluation unit 340 forms a value table ( Value Table) provides evaluation results.
  • the patent value evaluation department (340) is a key summary evaluation report on U.S. patents, which includes evaluation indices such as survival index (PSI), comprehensive evaluation grade, rights, technicality, and commerciality, as well as evaluation indices for detailed items to calculate them. Provides summary evaluation results including:
  • the patent value evaluation department (340) calculates U.S. patents using summary report information, patent bibliographic information, patent duration, patent family, prior art list, patent administration processing information, technology field average evaluation index, and OECD evaluation method. Provides standard evaluation results including PQI index, citation level, etc.
  • the patent value evaluation department (340) is an expert who includes information from standard reports on U.S. patents, as well as analysis of major applicants within similar patent groups, trend analysis by year, lists of similar patents, and relative scores within the entire patent group and similar patent groups. Provides professional evaluation results.
  • the patent value evaluation unit 340 evaluates Japanese patents and generates value table, summary, and standard evaluation results.
  • the patent value evaluation unit 340 is a value table containing evaluation indices for 7 items including rights, technology, commerciality, survival index, comprehensive evaluation grade, final patent rights expiration date, and expected patent remaining period for Japanese patents. (Value Table) Provides evaluation results.
  • the patent value evaluation department (340) is a key summary evaluation report on Japanese patents, including evaluation indices such as survival index (PSI), comprehensive evaluation grade, rights, technicality, and commerciality, and evaluation indices for detailed items to calculate them. Provides summary evaluation results including.
  • evaluation indices such as survival index (PSI), comprehensive evaluation grade, rights, technicality, and commerciality, and evaluation indices for detailed items to calculate them. Provides summary evaluation results including.
  • the patent value evaluation department (340) uses summary report information, patent bibliographic information, patent duration, patent family, prior art list, patent administrative processing information, technology field average evaluation index, and OECD evaluation methods for Japanese patents. Provides standard evaluation results including calculated PQI index, citation level, etc.
  • the patent value evaluation department (340) provides a comprehensive analysis report (portfolio analysis, customer-customized report) of the evaluation results.
  • the patent value evaluation department (340) includes portfolio analysis of all patents requested for evaluation by task, technology, applicant, and yearly trends, and allows customers to freely select desired evaluation items and patent analysis scope. We provide customized evaluation reports.
  • the patent value evaluation department 340 provides a rights stability evaluation report.
  • the patent value evaluation department (340) is a report that qualitatively determines the validity and invalidity of a patent considering the high inefficiency of registered patents (domestic: 60-70%), and the researcher directly determines the reasons for invalidity and prior invalid patents. We qualitatively evaluate the stability of rights through data analysis, etc. and provide a quantified analysis report.
  • Figure 4 is a block diagram schematically showing the company's analysis unit according to this embodiment.
  • the in-house analysis unit 310 generates in-house analysis results based on the entered in-house patent information.
  • the company's analysis unit 310 extracts at least one information of the patent application number, applicant (company name), business registration number, and corporation number from the input company patent information, and extracts the extracted patent application number, applicant (company name), business registration number, Using one or more of the following information: corporate number, inventor information, and company representative information, the company generates its own patent analysis results, its own technology analysis results, its own researcher analysis results, and its own event analysis results.
  • the company's analysis unit 310 includes the company's patent analysis unit 410, its technology analysis unit 420, its researcher analysis unit 430, and its event analysis unit 440. Components included in the company's analysis unit 310 are not necessarily limited to this.
  • the company's patent analysis unit 410 calculates the number of applications and registrations based on one or more of the following information extracted from the company's patent information: patent application number, patent application number, applicant, company name, business registration number, corporation number, inventor information, and company representative information. After generating the registration rate, number of examiner citations, analysis results of companies holding trailing patents, number of patent purchases, and number of patent sales, it generates its own patent analysis results that include at least one of the generated components.
  • the company's patent analysis department (410) is based on the company's patent information (patent application number, applicant (company name), business registration number, corporation number, inventor information, company representative information), number of applications, number of registrations, registration rate, number of examiner citations, Analyze companies holding trailing patents, extract the number of patent purchases, and the number of patent sales.
  • the company's patent analysis unit 410 generates company patent analysis results including at least one of the number of applications, number of registrations, registration rate, number of examiner citations, analysis of companies holding trailing patents, number of patent purchases, and number of patent sales.
  • the company's patent analysis department (410) checks the number of examiner citations for the company's registered patents. In order to check the trend in the number of examiner citations for the company's patents, the company's patent analysis department (410) checks the number of times the examiner cites the company's patents when receiving an opinion submission notice or rejection notice. In other words, the company's patent analysis unit 410 uses the number of examiner citations to determine the index used when a patent office examiner cites the company's patents when examining subsequent patents and when notifying or rejecting an opinion submission.
  • the company's patent analysis department (410) checks the total number of patents registered in the relevant year among the company's current patents. Our patent analysis department (410) confirms the section where patent applications are increasing based on the number of patent registrations.
  • the company's patent analysis department (410) evaluates the patents held by the company in a specific technology field, such as the number of applied/registered patents, number of citations, number of foreign patent families, evaluation index per patent, market share and concentration in the technology field, etc. Check indicator information.
  • the company's patent analysis unit 410 generates convergence as an indicator of how many technologies are included per patent based on the average CPC number of the rights holder's patents.
  • the company's patent analysis unit 410 checks the total number of patents held (All).
  • Our patent analysis unit 410 counts the number of patents in the name of the right holder.
  • the number of patents filed in the name of the right holder and disclosed or registered and the number of disclosed or registered patents whose purchase is confirmed are included in the total number of patents held, and patents for which each is confirmed are excluded.
  • Our patent analysis unit 410 confirms precedence (in field.to com.).
  • the company's patent analysis unit 410 confirms the precedence in the technology field of each target company.
  • the company's patent analysis unit 410 statistically compares and calculates the application date distribution of all patents in the technology field and the application date distribution of invention patents of target companies in the technology field.
  • the company's patent analysis unit 410 checks the market share (in field). The company's patent analysis unit 410 calculates the patent share in the target field for each target company. The company's patent analysis unit 410 calculates the patent share based on the number of patents held by the target company in the target field / the total number of patents in the target field.
  • Our patent analysis unit 410 checks the concentration rate (on field).
  • the company's patent analysis department 410 checks the concentration rate in the target field for each target company.
  • the company's patent analysis unit 410 calculates the concentration rate to the extent that the target company's patents are concentrated in the target field.
  • the company's patent analysis unit 410 calculates the concentration rate as the number of patents of the target company in the target field / the total number of patents of the target company.
  • Our patent analysis unit 410 checks the examiner citation share in the target field for each target company.
  • the company's patent analysis unit 410 calculates the examiner citation share in the target field for each target company based on the number of examiner citations received by the target company's patents in the target field / the number of examiner citations received by all patents in the target field.
  • the company's technology analysis department (420) provides portfolio indicator analysis results, investment indicator analysis results, interest indicator analysis results, R&D continuity analysis results, dispute indicator analysis results, and ratio indicators based on the technology name, technology field, and keywords extracted from the company's technology information. After generating the analysis results, we generate our own technical analysis results that include at least one of the generated components.
  • the company's technology analysis department (420) performs portfolio indicator analysis results, investment indicator analysis results, interest indicator analysis results, R&D continuity analysis results, dispute indicator analysis results, and ratio indicator analysis. generate results.
  • the company's technology analysis unit 420 outputs its technology analysis results, which include at least one of the following: portfolio indicator analysis results, investment indicator analysis results, interest indicator analysis results, R&D continuity analysis results, conflict indicator analysis results, and ratio indicator analysis results. do.
  • the company's researcher analysis unit (430) generates the number of invention patents, number of citations, number of global patent families, patent share within the affiliated company, and evaluation index per patent based on the inventor name extracted from the company's researcher information, and then the generated components.
  • Our researchers produce analysis results that include at least one of the following:
  • the company's researcher analysis unit 430 generates the number of invention patents, number of citations, number of global patent families, patent share within the affiliated company, and evaluation index per patent based on the company's researcher information (inventor name).
  • the company's researcher analysis unit 430 generates the company's researcher analysis results including at least one of the number of invention patents, number of citations, number of global patent families, patent share within the affiliated company, and evaluation index per patent.
  • the company's researcher analysis unit 430 confirms the market share by using the company's patent market share in each technology field, the total number of patents of the company in the technology field / the total number of patents in the technology field.
  • the company's event analysis department (440) is based on the company's patent analysis results, company technology analysis results, and company researcher analysis results, patent transaction history analysis results, dispute history analysis results, examiner citation count analysis results, family patent analysis results, and national R&D As a result of the related analysis, after generating the M&A occurrence analysis result, the company generates its own event result that includes at least one of the generated components.
  • the company's event analysis department (440) analyzes patent transaction history, dispute history analysis, examiner citation count analysis, family patent analysis, national R&D-related analysis, and M&A based on the company's patent analysis results, company technology analysis results, and company researcher analysis results. Create an occurrence analysis.
  • the company's event analysis unit 440 generates company event results including at least one of patent transaction history analysis, dispute history analysis, examiner citation count analysis, family patent analysis, national R&D-related analysis, and M&A occurrence analysis.
  • the company's event analysis department collects historical information such as the unique project number, department name, research project name, research project name, host institution, and research period for patents applied for through the project when performing national R&D. Confirm.
  • the company's event analysis unit 440 extracts patents or utility models containing private information and recognizes them as national R&D patents.
  • FIG. 5 is a block diagram schematically showing the interest company analysis unit according to this embodiment.
  • the company-of-interest analysis unit 320 generates company-of-interest information based on the entered company-of-interest information.
  • the interested company analysis unit 320 extracts at least one of the applicant (company name), keywords, inventor information, and company representative information from the entered interested company information, and extracts the extracted applicant (company name), keywords, inventor information, and company representative information. Using the information, patent analysis results for companies of interest, corporate technology analysis results, corporate researcher analysis results, and corporate event analysis results are generated.
  • the company of interest analysis unit 320 includes a company of interest patent analysis unit 510, a technology analysis unit of the company of interest 520, a company of interest researcher analysis unit 530, and a company of interest event analysis unit 540. do. Components included in the interested company analysis unit 320 are not necessarily limited to this.
  • the interested company patent analysis department (510) analyzes companies holding trailing patents, analyzes the number of examiner citations, and generates the number of patent applications based on the applicant, company name, keyword, inventor information, and company representative information extracted from the interested company information. Generate patent analysis results for companies of interest that include at least one of the specified components.
  • the interested company patent analysis department (510) analyzes companies holding trailing patents, analyzes the number of examiner citations, and generates the number of patent applications based on the applicant (company name), keywords, inventor information, and company representative information extracted from the input company information of interest. do.
  • the company of interest patent analysis unit 510 generates a patent analysis result of the company of interest including at least one of analysis of companies holding trailing patents, analysis of examiner citations, and number of patent applications.
  • the patent analysis department of the company of interest (510) checks the number of examiner citations for the registered patents included in the patent analysis results of the company of interest, and uses the number of examiner citations to cite the patents of the company of interest when the patent office examiner examines subsequent patents. Therefore, it is recognized as an index used when notifying opinion submission or deciding on rejection.
  • the patent analysis department for companies of interest (510) checks the total number of patent registrations by specific year among the patents currently held by companies of interest included in the patent analysis results for companies of interest, and determines whether patent applications are on the rise based on the total number of patent registrations. Check.
  • the interested company patent analysis department (510) analyzes the number of applied/registered patents, number of citations, number of foreign patent families, evaluation index per patent, market share and concentration rate in the technology field for the patents of the interested company included in the patent analysis results of the interested company. Check the included evaluation indicator information.
  • the interested company patent analysis unit 510 generates convergence as an indicator of how many technologies are included per patent based on the average CPC number of patents of the right holder of the cited patent included in the interested company patent analysis results.
  • the interested company patent analysis department (510) checks the total number of patents held (All) included in the interested company patent analysis results, and determines the number of patents in the name of the right holder. The number of patents filed and disclosed or registered in the name of the right holder and the number of disclosed or registered patents confirmed to be purchased are included in the total number of patents held.
  • the patent analysis department of companies of interest (510) checks the priority in the technology field of each target company included in the patent analysis results of the companies of interest, and determines the distribution of application dates for all patents in the technology field and the distribution of application dates for invention patents of target companies in the technology field. It is calculated by statistically comparing.
  • the patent analysis department for companies of interest calculates the patent share in the target field for each target company included in the patent analysis results for the company of interest, based on the number of patents held by the target company in the target field / the total number of patents in the target field. Calculate the patent share.
  • the patent analysis department of the company of interest (510) checks the concentration rate in the target field for each target company included in the patent analysis results of the company of interest, calculates the concentration rate to the extent to which the target company's patents are concentrated in the target field, and calculates the concentration rate for the target company in the target field.
  • the concentration rate is calculated as the number of patents / the total number of patents of the target company.
  • the patent analysis department of the company of interest (510) checks the share of examiner citations in the target field for each target company included in the patent analysis results of the company of interest, and determines the number of examiner citations received by the target company's patent in the target field / the total number of examiner citations in the target field.
  • the examiner citation share in the target field for each target company is calculated based on the number of examiner citations received by the patent.
  • the interested company technology analysis department (520) provides portfolio indicator analysis results, investment indicator analysis results, interest indicator analysis results, R&D continuity analysis results, and dispute indicator analysis results based on the technology name, technology field, and keywords extracted from the interested company technology information. After generating the ratio indicator analysis results, a technical analysis result of the company of interest is generated that includes at least one of the generated components.
  • the interested company technology analysis department (520) provides portfolio indicator analysis results, investment indicator analysis results, interest indicator analysis results, R&D continuity analysis results, and dispute indicator analysis results based on the input company technology information (technology name, technology field, keyword). , generate ratio indicator analysis results.
  • the technology analysis department of companies of interest provides technical analysis results of companies of interest, including at least one of portfolio indicator analysis results, investment indicator analysis results, interest indicator analysis results, R&D continuity analysis results, conflict indicator analysis results, and ratio indicator analysis results. outputs.
  • the interested company researcher analysis unit 530 generates the number of invention patents, number of citations, number of global patent families, patent share within the affiliated company, and evaluation index per patent based on the inventor name extracted from the interested company researcher information. Generate research results for companies of interest that include at least one of the components.
  • the interest company researcher analysis unit 530 generates the number of invention patents, number of citations, number of global patent families, patent share within the affiliated company, and evaluation index per patent based on the interest company researcher information (inventor name).
  • the interested company researcher analysis unit 530 generates an interested company researcher analysis result that includes at least one of the number of invention patents, number of citations, number of global patent families, patent share within the affiliated company, and evaluation index per patent.
  • the interested company event analysis department (540) performs patent transaction history analysis results, dispute history analysis results, examiner citation count analysis results, and family patent analysis based on the interested company patent analysis results, interested company technology analysis results, and interested company researcher analysis results. After generating the results, national R&D-related analysis results, and M&A occurrence analysis results, an interest company event result containing at least one of the generated components is generated.
  • the interested company event analysis department (540) conducts patent transaction history analysis, dispute history analysis, examiner citation count analysis, family patent analysis, and national R&D based on the interesting company patent analysis results, interested company technology analysis results, and interested company researcher analysis results. Create related analysis and M&A occurrence analysis.
  • the interested company event analysis unit 540 generates interested company event results including at least one of patent transaction history analysis, dispute history analysis, examiner citation count analysis, family patent analysis, national R&D-related analysis, and M&A occurrence analysis. .
  • Figure 6 is a block diagram schematically showing the technology of interest analysis unit according to this embodiment.
  • the technology of interest analysis unit 330 generates a technology of interest analysis result based on the input technology of interest information.
  • the technology of interest analysis unit 330 extracts at least one of the technology field, technology name, and technology keyword from the input technology of interest information, and uses the extracted information of the technology field, technology name, and technology keyword to provide detailed information on the technology of interest. Generates analysis results, technology of interest patent analysis results, technology of interest researcher analysis results, and technology of interest event analysis results.
  • the technology of interest analysis unit 330 includes a detailed technology of interest analysis unit 610, a technology of interest patent analysis unit 620, a technology of interest researcher analysis unit 630, and a technology of interest event analysis unit 640. do. Components included in the technology of interest analysis unit 330 are not necessarily limited to this.
  • the technology-of-interest detailed analysis unit 610 is based on the technology field, technology name, and technology keyword extracted from the technology-of-interest information, including fast-growing keyword analysis results, newly appearing keyword analysis results, specialized keyword analysis results, co-occurring keyword analysis results, and R&D recommended keywords. After generating the analysis results, a patent analysis result of the technology of interest is generated that includes at least one of the generated components.
  • the technology-of-interest detailed analysis unit 610 provides a detailed analysis result of the technology-of-interest for companies corresponding to the applicants who filed the most technology fields, technology names, and technology keywords based on the inputted technology-of-interest information (technology field, technology name, technology keyword). creates .
  • the technology patent analysis department (620) is based on the technology field, technology name, and technology keywords extracted from the technology information of interest. After generating the analysis results, a patent analysis result of the technology of interest is generated that includes at least one of the generated components.
  • the technology of interest patent analysis unit 620 recommends co-occurring keywords and R&D recommended keywords.
  • the technology-of-interest patent analysis unit 620 defines a specific keyword and a keyword that appears simultaneously in one patent as co-occurring keywords.
  • the technology-of-interest patent analysis unit 620 verifies the keywords that appear in the content of co-occurring keywords for a specific technology by sorting them in reverse order of the date of first co-appearance.
  • the technology of interest patent analysis unit 620 checks the first simultaneous appearance date of the first keyword among the plurality of keywords, confirms the most recent simultaneous appearance date, and determines that the first keyword and the second keyword are initially and recently together in the same publication. Check the date shown.
  • the technology-of-interest patent analysis unit 620 algorithmically recommends keywords that have never appeared together in the same patent as a specific keyword as R&D recommendation keywords.
  • the technology of interest patent analysis unit 620 selects keywords from the patent set of the relevant technology or company, including the most recent 5 years, the previous 5 years, the most recent 4 years, the previous 4 years, the most recent 3 years, the previous 3 years, and the most recent 2. Keywords with a higher appearance rate are selected as fast-growing keywords based on the arithmetic average of the appearance rate of 2018, the previous 2 years, the most recent year, and the previous 1 year.
  • the technology of interest patent analysis unit 620 selects newly appearing keywords among the keywords in the patent set of the technology of interest or the company of interest by providing analysis information in the order of their appearance by quarter over the past two years (eight quarters).
  • the technology of interest patent analysis unit 620 determines my patent set by measuring the ratio (TF-IDF) of keywords in the patent set of the technology of interest or the company of interest that do not appear in the remaining sets except for patents present in the selected patent set. Select highly specialized keywords that can represent you.
  • the technology of interest patent analysis unit 620 analyzes the number of appearances by year using highly specialized keywords.
  • the technology of interest patent analysis department provides rapid growth keyword analysis results, newly appearing keyword analysis results, specialized keyword analysis results, co-occurring keyword analysis results, and R&D recommendations based on the input technology information of interest (technology field, technology name, technology keyword). Generate keyword analysis results.
  • the technology of interest patent analysis unit 620 outputs a patent analysis result of the technology of interest including at least one of keyword analysis results, newly appearing keyword analysis results, specialized keyword analysis results, co-occurring keyword analysis results, and R&D recommended keyword analysis results. .
  • the technology of interest patent analysis unit 620 checks co-occurring keywords and R&D recommended keywords.
  • the technology-of-interest patent analysis unit 620 defines a specific keyword and a keyword that appears simultaneously in one patent as co-occurring keywords.
  • the technology-of-interest patent analysis unit 620 verifies the keywords that appear in the content of co-occurring keywords for a specific technology by sorting them in reverse order of the date of first co-appearance.
  • the technology of interest patent analysis unit 620 checks the first simultaneous appearance date of the first keyword among the plurality of keywords and confirms the most recent simultaneous appearance date.
  • the technology-of-interest patent analysis unit 620 checks the dates when the first and second keywords first and most recently appeared together on the same publication. In other words, the technology-of-interest patent analysis unit 620 allows you to quickly identify recent related technology trends by looking at keywords that appear together with keywords in a specific technology field.
  • the technology-of-interest patent analysis unit 620 algorithmically recommends keywords that have never appeared together in the same patent as a specific keyword as R&D recommendation keywords, similar to the concept of recommending new friends on SNS.
  • the technology of interest patent analysis unit 620 provides R&D recommended keywords and provides good materials for new inventions.
  • the technology of interest patent analysis unit 620 recognizes the input keyword and each keyword as co-occurring keywords, but does not recognize each keyword and recommended keyword as co-occurring keywords.
  • the technology of interest patent analysis unit 620 selects keywords from the patent set of the relevant technology or company, including the last 5 years and the previous 5 years, the last 4 years and the previous 4 years, the last 3 years and the previous 3 years, and the most recent 2 years. Keywords with a higher appearance rate are selected as fast-growing keywords based on the arithmetic average of the appearance rate of 2018, the previous 2 years, the most recent year, and the previous 1 year.
  • the technology of interest patent analysis unit 620 selects newly appearing keywords among keywords in the patent set of the relevant technology or company by providing analysis information in the order of their appearance by quarter over the past two years (8 quarters).
  • the technology of interest patent analysis unit 620 determines my patent set by measuring the ratio (TF-IDF) of keywords in the patent set of the relevant technology or company that appear frequently in my patent set but do not appear in the other sets except mine. Select highly specialized keywords that can represent you.
  • the technology of interest patent analysis unit 620 analyzes the number of appearances by year using highly specialized keywords.
  • the technology of interest researcher analysis unit 630 is based on the inventor's name extracted from the information of the researcher of the technology of interest.
  • the researcher's invention patent number analysis result, citation count analysis result, global patent family analysis result, technology share analysis result, and technology concentration rate analysis result are performed.
  • a researcher analysis result of the technology of interest is generated that includes at least one of the generated components.
  • the technology of interest researcher analysis unit 630 analyzes the number of invention patents of the researcher, the number of citations, the global patent family analysis, the technology share analysis, and the technology concentration rate based on the information (inventor name) entered by the researcher on the technology of interest. As a result, patent evaluation index analysis results are generated.
  • the interested technology researcher analysis unit 630 is interested in including at least one of the following: invention patent number analysis results, citation count analysis results, global patent family analysis results, technology share analysis results, technology concentration rate analysis results, and patent evaluation index analysis results. Prints technical researcher analysis results.
  • the interest technology researcher analysis unit 630 calculates the concentration rate (on field) of companies in each technology field as the company's total number of patents in the target field / the company's total number of patents.
  • the technology of interest event analysis unit 640 is based on the detailed analysis of the technology of interest, the patent analysis result of the technology of interest, and the result of the researcher analysis of the technology of interest.
  • the transaction history analysis result, dispute history analysis result, examiner citation count analysis result, and family patent analysis result After generating national R&D-related analysis results and M&A occurrence analysis results, an analysis result of a technology event of interest containing at least one of the generated components is generated.
  • the technology of interest event analysis unit 640 is based on the detailed analysis of the technology of interest, the patent analysis result of the technology of interest, and the result of the researcher analysis of the technology of interest.
  • the transaction history analysis result, dispute history analysis result, examiner citation count analysis result, and family patent analysis result generates national R&D-related analysis results and M&A occurrence analysis results.
  • the technology of interest event analysis unit 640 includes technologies of interest including at least one of the following: transaction history analysis results, dispute history analysis results, examiner citation count analysis results, family patent analysis results, national R&D-related analysis results, and M&A occurrence analysis results. Outputs event analysis results.
  • Figure 7 is a diagram showing the patent evaluation, patent dispute, and researcher search modules linked to the patent value evaluation unit according to this embodiment.
  • the patent value evaluation unit 340 is additionally linked to the patent evaluation unit 720, the patent dispute prediction unit 730, and the researcher unit search unit 740.
  • the patent evaluation unit 720 collects at least one dispute patent set including patents used in a patent dispute and at least one non-dispute patent set from the company analysis results, interest technology analysis results, and interest technology analysis results.
  • the patent evaluation unit 720 generates patent evaluation element values for a plurality of preset patent evaluation factors for a plurality of dispute patents included in the dispute patent set and a plurality of non-dispute patents included in the non-dispute patent set. .
  • the patent evaluation unit 720 sets patent evaluation element values as explanatory variable values for disputed patents and non-disputed patents.
  • the patent evaluation unit 720 sets the dispute patent grant value granted to the dispute patent and the non-dispute patent grant value granted to the non-dispute patent as the response variable value and performs preset statistical processing to evaluate at least one preset patent. Create a model.
  • the patent evaluation unit 720 includes a first patent evaluation unit 722, a second patent evaluation unit 724, and a third patent evaluation unit 726.
  • the first patent evaluation unit 722 determines at least one set of disputed patents and at least one set of non-disputed patents including patents used in at least one type of patent dispute from the company's analysis results, technology of interest analysis results, and technology of interest analysis results. Get it.
  • the first patent evaluation unit 722 calculates patent evaluation factor values for a plurality of preset patent evaluation factors for a plurality of dispute patents constituting the dispute patent set and a plurality of non-dispute patents constituting the non-dispute patent set. create
  • the first patent evaluation unit 722 sets patent evaluation element values as explanatory variable values for dispute patents and non-dispute patents.
  • the first patent evaluation unit 722 sets the dispute patent grant value granted to the dispute patent to be different from the dispute patent grant value.
  • the first patent evaluation unit 722 generates at least one preset patent evaluation model by performing preset statistical processing using the nondispute patent grant value granted to the nondispute patent as a response variable value.
  • the first patent evaluation unit 722 grants a first dispute patent grant value that is differently granted depending on the properties of the dispute patent, or grants a second dispute patent grant value that grants a dispute patent grant value only on whether or not a dispute has occurred, regardless of the properties of the dispute patent. Give a value.
  • the first patent evaluation unit 722 sets the size of the non-dispute patent set to be equal to or larger than the size of the dispute patent set.
  • the first patent evaluation unit 722 generates a first non-dispute set extracted from the entire patent set while sharing one or more statistical properties of the dispute patent set.
  • the first patent evaluation unit 722 generates a second non-dispute set that is randomly extracted.
  • the first patent evaluation unit 722 sets the attributes of the disputed patent as one or more of multiple dispute attributes, co-defendant attributes, and co-participant attributes.
  • the first patent evaluation unit 722 sets the attribute in which the disputed patent is related to multiple disputes as the multiple dispute attribute.
  • the first patent evaluation unit 722 sets attributes related to a dispute in which a disputed patent raises a dispute against multiple courts as co-defendant attributes.
  • the first patent evaluation unit 722 sets an attribute in which at least one other disputed patent is also involved in a dispute involving a disputed patent as a joint participation attribute.
  • the first patent evaluation unit 722 assigns a higher dispute patent grant value if the dispute patent has multiple dispute attributes than if the dispute patent does not have multiple dispute attributes.
  • the first patent evaluation unit 722 grants a higher value for the disputed patent than when the disputed patent does not have the co-defendant attribute.
  • the first patent evaluation unit 722 grants a lower grant value to the disputed patent than when the dispute patent does not have the joint participation attribute.
  • the first patent evaluation unit 722 determines the total number of disputes related to the dispute patent and the time distribution properties of all disputes when the dispute patent has multiple dispute attributes. , it is assigned by reference to one or more of the distribution properties for each dispute in the entire dispute. If the disputed patent has co-defendant properties, the first patent evaluation unit 722 makes an award by referring to one or more of the properties of the total number of courts to which the disputed patent is related, the average number of courts per dispute, and the statistical distribution of the number of courts per dispute. do. When the disputed patent has a joint participation property, the first patent evaluation unit 722 assigns the disputed patent with reference to one or more of the average share of the disputed patent and the statistical distribution property of the average share in the dispute involving the disputed patent.
  • the first patent evaluation unit 722 assigns the first dispute patent grant value through statistical processing and multiple regression analysis.
  • the first patent evaluation unit 722 assigns a second dispute patent grant value through statistical processing and classification analysis.
  • the first patent evaluation unit 722 extracts individual patents belonging to a plurality of extracted patent sets extracted from the entire registered patent set consisting of registered patents to create a patent evaluation model.
  • the first patent evaluation unit 722 includes explanatory variable values for at least one explanatory variable generated from patent data generated before a preset reference time in a preset time unit, and for a plurality of explanatory variables preset for each individual patent. Creates an explanatory variable value.
  • the first patent evaluation unit 722 determines whether the patent survives based on a preset reference time, and performs a preset survival analysis using the value corresponding to survival as a response variable.
  • the first patent evaluation unit 722 generates at least one patent evaluation model using one or more of the survival analysis results. For survival analysis, the first patent evaluation unit 722 uses explanatory variable values for each explanatory variable generated in preset time units, or accumulates one or more of the explanatory variable values for each explanatory variable generated in preset time units. use.
  • the first patent evaluation unit 722 sets the preset time unit to one or more of the unit of each year, the unit of each quarter, or the preset statutory annual registration standard period unit of the patent.
  • the first patent evaluation unit 722 sets the time unit in years.
  • the first patent evaluation unit 722 targets the registration date of individual patents and the preset end point. Based on the preset specific date every year, it targets patents registered before the specific date each year among the entire set of registered patents. Create explanatory variable values for each explanatory variable.
  • the first patent evaluation unit 722 determines survival depending on whether or not the patent is registered annually.
  • the first patent evaluation unit 722 sets different response variable values corresponding to survival depending on whether annual leave registration is maintained or if annual leave registration is extinguished before the reference time.
  • the first patent evaluation unit 722 generates one or more of the risk function, intensity function, and survival function as a result of survival analysis.
  • the first patent evaluation unit 722 generates a patent evaluation model as a function of time.
  • the first patent evaluation unit 722 generates a plurality of patent evaluation model values for a plurality of patents included in the entire registered patent set consisting of patents registered with a plurality of patent evaluation models.
  • the first patent evaluation unit 722 determines the explanatory variable values by referring to the plurality of patent evaluation model values of the related patents related to the individual patents and extracting the explanatory variable values from the entire registered patent set by referring to at least one or more individual patents belonging to the plurality of extracted patent sets. Creates the explanatory variable value of the explanatory variable.
  • the first patent evaluation unit 722 generates an additional patent evaluation model for the extracted patent set using explanatory variable values generated with reference to a plurality of patent evaluation model values.
  • the first patent evaluation unit 722 generates a plurality of patent evaluation model values using a plurality of patent evaluation models.
  • the first patent evaluation unit 722 generates a plurality of patent evaluation models and additional patent evaluation models using a preset statistical method.
  • the first patent evaluation unit 722 generates a plurality of patent evaluation models and an additional patent evaluation model using one of a plurality of recursive model establishment method and an additional recursive model establishment method.
  • the first patent evaluation unit 722 generates an explanatory variable value using one or more of a citation-related explanatory variable, a citation-related explanatory variable, an inventor-related explanatory variable, and a rights holder-related explanatory variable.
  • the first patent evaluation unit 722 searches for the existence of at least one child patent of an individual patent and generates explanatory variable values of the citation-related explanatory variables using a plurality of patent evaluation model values of the searched child patents.
  • the first patent evaluation unit 722 searches for the existence of at least one parent patent of an individual patent and generates explanatory variable values of citation-related explanatory variables using a plurality of patent evaluation model values of the searched parent patents.
  • the first patent evaluation unit 722 evaluates explanatory variables related to the inventor in units of a patent set consisting of at least one patent in which the inventor is included.
  • the first patent evaluation unit 722 evaluates explanatory variables related to the right holder in units of patent sets consisting of at least one patent in which the right holder is included.
  • the first patent evaluation unit 722 searches for the existence of at least one patent in which the inventor is included, and generates explanatory variable values of explanatory variables related to the inventor using a plurality of patent evaluation model values of the searched patents.
  • the first patent evaluation unit 722 searches for the existence of at least one patent in which the right holder is included, and generates explanatory variable values of explanatory variables related to the right holder using a plurality of patent evaluation model values of the searched patents.
  • the second patent evaluation unit 724 receives evaluation target designation information from the terminal 110.
  • the second patent evaluation unit 724 receives evaluation results corresponding to evaluation target designation information from the company's analysis results, interest technology analysis results, and interest technology analysis results.
  • the second patent evaluation unit 724 provides evaluation information including evaluation results to the terminal 110.
  • the second patent evaluation unit 724 generates evaluation results in units of patent sets consisting of at least one patent.
  • the second patent evaluation unit 724 collects at least one first patent evaluation element value for the first patent set consisting of at least one patent.
  • the second patent evaluation unit 724 collects at least one second patent evaluation element value for at least one second patent set consisting of a plurality of patents.
  • the second patent evaluation unit 724 provides at least one single evaluation object evaluation result value for at least one single evaluation object with at least one preset evaluation model using the first patent evaluation element value and the second patent evaluation element value. creates .
  • the second patent evaluation unit 724 assigns an attribute value characterizing a single evaluation target that matches at least one of the bibliographic information of the patents constituting the first patent set.
  • the second patent evaluation unit 724 generates a patent set that is either a single element patent set consisting of one star patent or a complex element patent set consisting of two or more patents.
  • the second patent evaluation unit 724 collects any one of a search word input, a link input that can match the search word, and a file input that can match the search word as evaluation target designation information.
  • the second patent evaluation unit 724 generates a first patent set consisting of two or more patents.
  • the second patent evaluation unit 724 generates the first patent evaluation element value using the evaluation element value for each patent obtained for each individual patent constituting the first patent set.
  • the second patent evaluation unit 724 generates the second patent evaluation factor value using the evaluation factor value for each patent obtained for each individual patent constituting the second patent set.
  • the second patent evaluation unit 724 generates a first patent set having at least one first patent set characteristic value.
  • the second patent evaluation unit 724 generates a second patent set having at least one second patent set characteristic value.
  • the second patent evaluation unit 724 assigns a second patent set characteristic value that is the same characteristic value series as the first patent set characteristic value and is a superset.
  • the second patent evaluation unit 724 assigns the first patent set characteristic value and the second patent set characteristic value, which is a heterogeneous characteristic value series.
  • the second patent evaluation unit 724 calculates the number of references, number of citations, number of related lawsuits, number of related quasi-litigations, number of plaintiffs in disputed patents, number of courts in disputed patents, number of assignments, and annual leave of the patents constituting the first patent set.
  • a first patent evaluation element value is generated using at least one attribute satisfaction evaluation value for an attribute satisfaction patent set consisting of patents that satisfy at least one attribute during the registration period.
  • the second patent evaluation unit 724 generates a first patent evaluation element value using one or more of at least one preset attribute satisfaction value.
  • the second patent evaluation unit 724 determines the number of references, number of citations, number of related lawsuits, number of related quasi-litigations, number of plaintiffs in disputed patents, number of courts in disputed patents, number of assignments, and annual leave of the patents constituting the second patent set.
  • a second patent evaluation element value is generated using at least one attribute satisfaction evaluation value for a set of attribute satisfaction patents consisting of patents that satisfy at least one attribute during the registration period.
  • the second patent evaluation unit 724 cites the patents constituting the first patent set, the patents constituting the first patent set, or applies at least one period limitation, patents cited, or lawsuits or disputes in which the patents are used. Satisfies at least one of the following restrictions: at least one right holder restriction, at least one right holder attribute restriction, at least one plaintiff or jury restriction, at least one technology field restriction, at least one industry field restriction, and at least one country restriction.
  • the first patent evaluation element value is generated based on the target.
  • the second patent evaluation unit 724 cites the patents constituting the first patent set, the patents constituting the first patent set, or applies at least one period limitation, patents cited, or lawsuits or disputes in which the patents are used. Generate a second patent evaluation factor value that satisfies at least one of the following restrictions: at least one right holder, plaintiff or lawyer's restriction, at least one technical field restriction, at least one industrial field restriction, and at least one country restriction. do.
  • the second patent evaluation unit 724 includes the size of the right holder, the amount of patents held by the right holder, the institutional properties of the right holder and pre-set evaluation information about the right holder, the pre-set calculation information about the right holder's patent portfolio, the pre-set dispute perspective information about the right holder, Any one or more of the at least one category of information granted to the right holder is assigned as a right holder attribute.
  • the second patent evaluation unit 724 determines at least one of the patent classifications using one or more of IPC, USPC, FT, FI, and ECLA or category classifications formed through preset processing or preset categorization of patent classifications. Set to technology field.
  • the second patent evaluation unit 724 sets any one or more of at least one individual patent, at least one right holder, at least one inventor, at least one technical field, and at least one country as a single evaluation target.
  • the second patent evaluation unit 724 collects selection information about the evaluation model from the terminal 110.
  • the second patent evaluation unit 724 receives evaluation results generated by an evaluation model that has received selection information.
  • the second patent evaluation unit 724 transmits evaluation information including the inputted evaluation result to the terminal 110.
  • the second patent evaluation unit 724 generates patent evaluation element values for each patent evaluation element.
  • the second patent evaluation unit 724 generates an evaluation model using one or more of a formula using patent evaluation element values, a conditional expression, a formula including a condition, and a conditional expression including a formula.
  • the second patent evaluation unit 724 stores the evaluation results of a single evaluation target.
  • the second patent evaluation unit 724 collects evaluation results from the stored evaluation results of a single evaluation object.
  • the second patent evaluation unit 724 divides the properties of a single evaluation object into attributes and stores them as a single evaluation object evaluation result.
  • the second patent evaluation unit 724 assigns the properties of a single evaluation object by combining any one or two or more of individual patents, individual rights holders, individual inventors, and individual patent classifications.
  • the second patent evaluation unit 724 sets the first patent set and the second patent set as the same set or as a true subset.
  • the third patent evaluation unit 726 builds a database using data included in the patent publication and data obtained from information outside the patent publication.
  • the third patent evaluation unit 726 extracts data related to the patent to be evaluated from the database, creates an evaluation screen to be provided to the terminal 110 from the extracted data, and transmits it.
  • the third patent evaluation unit 726 evaluates an evaluation menu section that includes an evaluation section showing names and values for evaluation parameters related to the patent to be evaluated and menus that allow the terminal 110 to select an evaluation viewpoint. Provided on screen.
  • the third patent evaluation unit 726 reorganizes and outputs the evaluation menu section with evaluation parameters corresponding to the selected menu.
  • the third patent evaluation unit 726 When constructing a patent database, the third patent evaluation unit 726 generates basic parameter values from data included in the patent publication and data obtained from information other than the patent publication. The third patent evaluation unit 726 generates extended parameter values using basic parameter values. The third patent evaluation unit 726 creates a patent database by storing the generated basic parameter values and extended parameter values for each patent. The third patent evaluation unit 726 updates the patent database using data included in the new patent publication and information outside the patent publication.
  • the third patent evaluation unit 726 generates basic parameter values from data included in the patent publication and data obtained from information other than the patent publication when constructing the right holder database.
  • the third patent evaluation unit 726 generates extended parameter values using basic parameter values.
  • the third patent evaluation unit 726 stores the generated basic parameter values and extended parameter values for each right holder to create a right holder database.
  • the third patent evaluation unit 726 updates the rights holder database using data included in the new patent publication and information other than the patent publication.
  • the third patent evaluation unit 726 When constructing a technical classification database, the third patent evaluation unit 726 generates basic parameter values from data included in the patent publication and data obtained from information other than the patent publication. The third patent evaluation unit 726 generates extended parameter values using basic parameter values. The third patent evaluation unit 726 creates a technical classification database by storing the generated basic parameter values and extended parameter values by technical classification. The third patent evaluation unit 726 updates the technical classification database using data included in the new patent publication and information other than the patent publication.
  • the third patent evaluation unit 726 determines that at least some of the evaluation parameter values included in the evaluation screen corresponding to at least one menu among the menus included in the evaluation menu section are extended parameter values. Include it.
  • the third patent evaluation unit 726 generates basic parameter values from data included in the patent publication and data obtained from information other than the patent publication.
  • the third patent evaluation unit 726 creates a patent database by storing the generated basic parameter values for each patent.
  • the third patent evaluation unit 726 updates the patent database using data included in the new patent publication and information outside the patent publication.
  • the third patent evaluation unit 726 generates basic parameter values from data included in the patent publication and data obtained from information other than the patent publication.
  • the third patent evaluation unit 726 stores the generated basic parameter values for each right holder to create a right holder database.
  • the third patent evaluation unit 726 updates the rights holder database using data included in the new patent publication and information other than the patent publication.
  • the third patent evaluation unit 726 generates basic parameter values from data included in the patent publication and data obtained from information other than the patent publication.
  • the third patent evaluation unit 726 creates a technical classification database by storing the generated basic parameter values by technical classification.
  • the third patent evaluation unit 726 updates the technical classification database using data included in the new patent publication and information other than the patent publication.
  • the third patent evaluation unit 726 uses basic parameter values to generate in real time at least some of the evaluation parameter values included in the evaluation screen corresponding to at least one menu among the menus included in the evaluation menu section.
  • the third patent evaluation unit 726 outputs an evaluation screen including a bibliographic section showing at least some of the bibliographic information including the title of the invention for the patent to be evaluated and a rating section showing the grade for the patent to be evaluated.
  • the third patent evaluation unit 726 outputs a rating section containing some of the evaluation grade, evaluation score, and percentile value for the patent to be evaluated.
  • the third patent evaluation unit 726 includes a hyperlink in the bibliography section to confirm the current right holder, and when the terminal 110 selects the hyperlink, it accesses the official patent information site through the link and identifies the current right holder of the patent to be evaluated. Provides real-time information about
  • the third patent evaluation unit 726 outputs information other than the patent gazette, including litigation-related information, transaction information, and security right information.
  • the third patent evaluation unit 726 reorganizes menus in the evaluation menu section according to data related to the patent to be evaluated.
  • the patent dispute prediction unit 730 collects a set of disputed patents including a plurality of litigation patents and quasi-litigation patents from the company's analysis results, interest technology analysis results, and interest technology analysis results.
  • the patent dispute prediction unit 730 collects dispute information about disputed patents included in the disputed patent set.
  • the patent dispute prediction unit 730 assigns dispute numerical values to dispute patents included in the dispute patent set.
  • the patent dispute prediction unit 730 determines the dispute numerical value and the non-dispute numerical value for a non-dispute patent set including a dispute patent set to which a dispute numerical value is assigned and a plurality of non-dispute patents to which the dispute numerical value is assigned as a non-dispute numerical standard value. Set the reference value as the response variable value.
  • the patent dispute prediction unit 730 establishes at least one patent dispute risk quantification model using statistical techniques using explanatory variable values for a plurality of explanatory variables for disputed patents and non-dispute patents.
  • the patent dispute prediction unit 730 includes a first patent dispute prediction unit 732 and a second patent dispute prediction unit 734.
  • the first patent dispute prediction unit 732 collects a self-patent set including at least one patent from the company analysis result, the technology-of-interest analysis result, and the technology-of-interest analysis result.
  • the first patent dispute prediction unit 732 collects at least one target patent set that has a preset relationship with the own patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 collects a target patent set including at least one patent.
  • the first patent dispute prediction unit 732 collects at least one self-patent set that has a preset relationship with the target patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 collects at least one dispute prediction model value for each patent for individual patents constituting the target patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 generates at least one dispute prediction information using dispute prediction model values for each patent.
  • the first patent dispute prediction unit 732 sets the patent set created or managed by the user or the information system as its own patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 limits the self-patent set using a preset set limitation option or divides it into two or more partial patent sets by applying a preset division criterion.
  • the first patent dispute prediction unit 732 sets the patent set created or managed by the user or the patent information system as the target patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 limits the target patent set using a preset set limitation option or divides it into two or more partial patent sets by applying a preset division criterion.
  • the first patent dispute prediction unit 732 generates a target patent set consisting of patents that have a preset relationship with the self-patents constituting the self-patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 sets one or more relationships among a citation-cited patent relationship, a similar patent group relationship in a text mining technique, and a similar technology patent relationship in patent classification as a preset relationship.
  • the first patent dispute prediction unit 732 sets target patents to have a preset relationship with two or more own patents.
  • the first patent dispute prediction unit 732 can quantify relevance.
  • the first patent dispute prediction unit 732 performs quantification including one or more of the frequency of relevance and intensity of relevance.
  • the first patent dispute prediction unit 732 sets the number of self-patents with a preset relevance corresponding to the target patent as the relevance frequency.
  • the first patent dispute prediction unit 732 generates the strength of relevance using one or more of citation-cited patent relationship information, similar patent group relationship information, and similar technology patent relationship information.
  • the first patent dispute prediction unit 732 uses one or more of citation-citation depth information and citation-citation type information to generate the strength of relationship with citation-citation patent relationship information.
  • the first patent dispute prediction unit 732 uses the similarity information between the own patent and the target patent to generate the strength of relationship with similar patent group relationship information.
  • the first patent dispute prediction unit 732 includes extracted keywords extracted from the self-patent and the target patent, citation-citation information generated from the reference information of the self-patent and the target patent, and at least one type extracted from the self-patent and the target patent. Similarity information is generated using one or more of the patent classification and at least one higher level patent classification of the patent classification system to which the patent classification belongs.
  • the first patent dispute prediction unit 732 determines one or more of the match depth, match frequency, and match sequence in the patent classification system to which the patent class belongs, for at least one type of patent classification included in the own patent and the target patent.
  • the strength of relevance is created using similar technology patent relationship information.
  • the first patent dispute prediction unit 732 includes at least one citation perspective dispute prediction element, at least one multi-dispute patent perspective dispute prediction element, at least one multi-dispute trigger perspective dispute prediction element, and at least one multi-dispute technology group perspective.
  • a dispute prediction model value for each patent is generated using the dispute prediction element value of one or more dispute prediction elements selected among the dispute prediction elements.
  • the first patent dispute prediction unit 732 generates a dispute prediction model value for each patent in real time for the target patent, or calls it from the dispute prediction model value DB for each patent that stores the previously created dispute prediction model value for each patent, thereby creating a patent dispute prediction model value. Collect star conflict prediction model values.
  • the first patent dispute prediction unit 732 responds to dispute prediction information for each target patent corresponding to the input self-patent set, dispute prediction information for at least one target patent group corresponding to the input self-patent set, and the input self-patent set. Dispute prediction information for a target patent set, dispute prediction information for each target patent corresponding to at least one partial self-patent set, and dispute prediction information for at least one target patent group corresponding to at least one partial self-patent set. Generates dispute prediction information including.
  • the first patent dispute prediction unit 732 generates dispute prediction information including one or more of at least one set dispute prediction information value, at least one dispute prediction analysis information, and at least one dispute prediction basis information.
  • the first patent dispute prediction unit 732 receives only patents that meet preset conditions as target patents or patents that meet preset conditions (user settings, patent information system settings, rights holder conditions, relevance conditions, individual patent attribute conditions). Only collected as own patents.
  • the first patent dispute prediction unit 732 is configured to determine at least one of at least one target patent constituting the target patent set and at least one partial target patent set to which a preset division criterion or a preset selection criterion is applied to the target patent set. A preset ranking is assigned.
  • the first patent dispute prediction unit 732 generates a ranking according to a ranking generation rule using one or more of relevance frequency, relevance intensity, dispute prediction model value, and user-input relevance information.
  • the first patent dispute prediction unit 732 collects target patent sets for each divided partial self-patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 generates each partial target patent set corresponding to the partial self-patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 collects self-patent sets for each divided partial target patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 generates dispute prediction information for each partial self-patent set corresponding to the partial target patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 collects a plurality of self-patent sets.
  • the first patent dispute prediction unit 732 collects two or more self-patent sets as a target patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 generates dispute prediction information for each target patent set corresponding to two or more self-patent sets.
  • the first patent dispute prediction unit 732 collects a plurality of target patent sets.
  • the first patent dispute prediction unit 732 collects self-patent sets for each of two or more target patent sets.
  • the first patent dispute prediction unit 732 generates dispute prediction information for each self-patent set corresponding to two or more target patent sets.
  • the first patent dispute prediction unit 732 collects at least one user patent set created or selected by the user as a target patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 determines whether at least one of the self-patents constituting the self-patent set and at least one of the target patents constituting the user patent set has a citation-cited patent relationship and a similar patent group according to a text mining technique. Relationship, the relationship between the user patent set and the own patent set is calculated using one or more relationships among similar technology patent relationships in patent classification.
  • the first patent dispute prediction unit 732 generates dispute prediction information for each patent.
  • the first patent dispute prediction unit 732 generates dispute prediction information for each divided or selected self-patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 generates dispute prediction information for each segmented or selected target patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 selects or divides the self-patent set or the target patent set according to the method of selection or division by the user or the method of division by the preset selection standard or division standard of the continuous system.
  • the first patent dispute prediction unit 732 uses one or more of the holder name, holder attributes, patent technology classification, and at least one preset evaluation value of the target patent constituting the target patent set to set a selection standard or division standard. Set .
  • the first patent dispute prediction unit 732 sets the rights holder attribute to one or more of at least one attribute specified by the system and at least one attribute specified by the user.
  • the first patent dispute prediction unit 732 calculates a qualitative evaluation element value evaluated using one or more of at least one qualitative evaluation element for the target patent.
  • the first patent dispute prediction unit 732 performs a preset set operation on the obtained primary target patent set, and then calculates the dispute prediction model value for each patent for the secondary target patents constituting the secondary target patent set. Collect.
  • the first patent dispute prediction unit 732 performs one or more of the following: deletion of the primary target patent constituting the primary target patent set, limitation of the primary target patent set, and addition of a new patent to the secondary target patent set. This is done to create a secondary target patent set.
  • the first patent dispute prediction unit 732 generates dispute prediction information by reflecting the user weight information obtained from the user.
  • the first patent dispute prediction unit 732 provides weight information for each target patent set by the user for each individual target patent for one or more of the target patents constituting the target patent set, and weight information for each attribute set for each attribute of the target patent. , one or more of the citation-citation weight information set for the citation-cited relationship, the text mining weight information set for the text mining relationship, and the similar technology patent relationship weight information set for the similar technology patent relationship in patent classification. Generate user weight information using .
  • the first patent dispute prediction unit 732 sets dispute prediction element values as explanatory variable values for dispute patents and non-dispute patents, and grants them differently from the dispute patent grant value and dispute patent grant value granted to the dispute patent.
  • the non-dispute patent grant value granted to the disputed patent is set as the response variable value, and preset statistical processing is performed to generate a dispute prediction model value.
  • the first patent dispute prediction unit 732 performs statistical processing using a machine learning algorithm using an ensemble technique using a tree.
  • the second patent dispute prediction unit 734 collects a set of disputed patents consisting of a plurality of litigation patents and quasi-litigation patents from the company's analysis results, interest technology analysis results, and interest technology analysis results.
  • the second patent dispute prediction unit 734 collects dispute information related to the disputed patents for the disputed patents constituting the disputed patent set.
  • the second patent dispute prediction unit 734 assigns a numerical dispute value to the disputed patents belonging to the disputed patent set.
  • the second patent dispute prediction unit 734 calculates the dispute numerical value and the Set the dispute numerical standard value as the response variable value.
  • the second patent dispute prediction unit 734 establishes at least one patent dispute risk quantification model using statistical techniques using explanatory variable values for a plurality of explanatory variables for disputed patents and non-dispute patents.
  • the second patent dispute prediction unit 734 processes dispute information and generates a dispute numerical value.
  • the second patent dispute prediction unit 734 generates dispute information including at least one of dispute occurrence information and dispute party information.
  • the second patent dispute prediction unit 734 sets different types of dispute numerical values for each disputed patent.
  • the second patent dispute prediction unit 734 uses a patent dispute risk quantification model to assign a patent dispute risk quantification model value to the population patents to which dispute patents and non-dispute patents belong.
  • the second patent dispute prediction unit 734 sets one or more of the patents used in the trial or the patents used in the reexamination as quasi-litigation patents.
  • the second patent dispute prediction unit 734 sets one or more of the patents used in lawsuits under judicial jurisdiction or the patents used in lawsuits under executive branch jurisdiction as litigation patents.
  • the second patent dispute prediction unit 734 processes one or more of the number of disputes, dispute time, type of dispute, number of plaintiffs, and number of defensives of the disputed patent to calculate a dispute numerical value.
  • the second patent dispute prediction unit 734 calculates a numerical dispute value by processing information on independent lawsuits in disputes that occurred in a preset time period when the disputed patent was used.
  • the second patent dispute prediction unit 734 sets the number of lawsuits that do not share the same longest string in the court name as the number of independent courts.
  • the second patent dispute prediction unit 734 collects the disputed patent set as a subset of the entire disputed patent set.
  • the second patent dispute prediction unit 734 sets the non-dispute patent set as a subset of the entire non-dispute patent set.
  • the second patent dispute prediction unit 734 sets the disputed patent set and the non-disputed patent set to have at least one shared attribute.
  • the second patent dispute prediction unit 734 sets the sharing attribute to sharing at a specific point in time.
  • the second patent dispute prediction unit 734 generates response variable values and explanatory variable values based on a specific point in time.
  • the second patent dispute prediction unit 734 generates response variable values based on a period from a specific point in time to the end of the model.
  • the second patent dispute prediction unit 734 generates explanatory variable values based on the time from model initiation to a specific point in time.
  • the second patent dispute prediction unit 734 generates a dispute numerical value by processing one or more of the technology group, country group, industry group, period group, right holder attribute group, and party attribute group to which the disputed patent belongs.
  • the second patent dispute prediction unit 734 collects a set of disputed patents consisting of a plurality of litigation patents and quasi-litigation patents.
  • the second patent dispute prediction unit 734 collects dispute information related to the disputed patents for the disputed patents constituting the disputed patent set.
  • the second patent dispute prediction unit 734 assigns a numerical dispute value to the disputed patents belonging to the disputed patent set.
  • the second patent dispute prediction unit 734 performs weighted sampling of disputed patents from a set of disputed patents to which numerical dispute values are assigned.
  • the second patent dispute prediction unit 734 samples non-dispute patents from a set of non-dispute patents for which no numerical dispute value is assigned.
  • the second patent dispute prediction unit 734 performs statistical modeling using weighted sampled disputed patents and non-disputed patents.
  • the second patent dispute prediction unit 734 determines a dispute patent set consisting of dispute patents assigned a dispute numerical value and weighted sampling, and a non-dispute patent set consisting of a plurality of non-dispute patents assigned a non-dispute numerical standard value. Set the numerical value and non-conflict numerical reference value as the response variable value.
  • the second patent dispute prediction unit 734 establishes at least one patent dispute risk quantification model by applying statistical techniques using explanatory variable values for a plurality of explanatory variables for disputed patents and non-dispute patents.
  • the second patent dispute prediction unit 734 processes dispute information and generates a dispute numerical value.
  • the second patent dispute prediction unit 734 generates dispute information including at least one of dispute occurrence information and dispute party information.
  • the second patent dispute prediction unit 734 sets the type of dispute numerical value so that it can be different for each disputed patent.
  • the second patent dispute prediction unit 734 generates weighted sampling using the dispute numerical value.
  • the second patent dispute prediction unit 734 processes one or more of the number of disputes, dispute time, type of dispute, number of plaintiffs, and number of defensives of the disputed patent to generate a dispute numerical value.
  • the second patent dispute prediction unit 734 processes information on independent lawsuits in disputes that occurred in a preset time period when the disputed patent was used and generates a dispute numerical value.
  • the second patent dispute prediction unit 734 generates a dispute numerical value based on the number of disputes in a preset time point section.
  • the second patent dispute prediction unit 734 sets the dispute patent set as a subset of the entire dispute patent set.
  • the second patent dispute prediction unit 734 sets the non-dispute patent set as a subset of the entire non-dispute patent set.
  • the second patent dispute prediction unit 734 sets the dispute patent set and the non-dispute patent set as having at least one shared attribute.
  • the second patent dispute prediction unit 734 sets the sharing attribute to sharing at a specific point in time.
  • the second patent dispute prediction unit 734 generates response variable values and explanatory variable values based on a specific point in time.
  • the second patent dispute prediction unit 734 generates response variable values based on a period from a specific point in time to the end of the model.
  • the second patent dispute prediction unit 734 generates explanatory variable values based on the time from model initiation to a specific point in time.
  • the second patent dispute prediction unit 734 uses a patent dispute risk quantification model to assign a patent dispute risk quantification model value to the population patents to which dispute patents and non-dispute patents belong.
  • the researcher unit search unit 740 collects a set of inventor-level patents related to the inventor on a per-inventor basis from the company's analysis results, the technology-of-interest analysis results, and the technology-of-interest analysis results.
  • the researcher unit search unit 740 generates a cited patent set for the inventor unit patent set or a partial patent set of the inventor unit patent set.
  • the researcher unit search unit 740 separates the cited patents belonging to the cited patent set into groups and generates analysis information using the group cited patent set as a document set to be analyzed.
  • the researcher unit search unit 740 generates an inventor unit patent set consisting of patents in which a specific inventor is registered as an inventor.
  • the researcher unit search unit 740 modifies the inventor name information during application or after registration.
  • the researcher unit search unit 740 sets one selected from the forward citation patent set and the backward citation patent set as the cited patent set.
  • the researcher unit search unit 740 creates a group unit using applicant, patent classification, time information, country information, and inventor information.
  • the researcher unit search unit 740 includes a first researcher unit search unit 742, a second researcher unit search unit 744, and a third researcher unit search unit 746.
  • the first researcher unit search unit 742 verifies the application holder's name information from the company's analysis results, interest technology analysis results, and interest technology analysis results.
  • the first researcher unit search unit 742 collects at least one patent document applied for or registered in the name of the applicant.
  • the first researcher unit search unit 742 integrates hierarchical patent information on an application holder basis.
  • the first researcher unit search unit 742 extracts at least one inventor listed as an inventor in the patent document.
  • the first researcher unit search unit 742 hierarchically integrates patent information by inventor unit based on the inventor's name.
  • the first researcher unit search unit 742 manages patent document information in which the inventor is registered.
  • the first researcher unit search unit 742 manages patent document information applied or registered in the name of the applicant.
  • the first researcher unit search unit 742 collects inventor designation information from the application holder.
  • the first researcher unit search unit 742 transmits the extracted inventor list information to the application holder.
  • the first researcher unit search unit 742 collects inventor selection information from the inventor list information transmitted from the application holder.
  • the first researcher unit search unit 742 queries the database operating system (DBMS) that manages the patent information database for the name information of the application holder using a query language to confirm the name information of the application holder.
  • DBMS database operating system
  • the first researcher unit search unit 742 receives and verifies the name information of the applicant as a search keyword from the patent information search engine.
  • the first researcher unit search unit 742 indexes patent information accessible to the search engine.
  • the first researcher unit search unit 742 manages patent document information in which the inventor is registered using the application number as a key value.
  • the first researcher unit search unit 742 receives the application holder's name information as a search keyword from a patent information search engine and verifies the application holder's name information.
  • the first researcher unit search unit 742 builds a patent information index database that indexes patent information accessible to a search engine.
  • the first researcher unit search unit 742 searches the patent information index database in preset time units using the input patent classification symbol information as a search word. When new patent document information corresponding to patent classification symbol information is searched as a result of the search, the first researcher unit search unit 742 manages the searched patent document information under the application number.
  • the second researcher unit search unit 744 collects inventor information from the company's analysis results, interest technology analysis results, and interest technology analysis results.
  • the second researcher unit search unit 744 collects a set of inventor unit patents related to the inventor on an inventor unit basis.
  • the second researcher unit search unit 744 generates a cited patent set for the inventor unit patent set or the partial patent set of the inventor unit patent set.
  • the second researcher unit search unit 744 processes cited patents belonging to the cited patent set into at least one or more groups, uses the cited patent set of each group as a document set to be analyzed, and generates at least one analysis information.
  • the second researcher unit search unit 744 generates an inventor unit patent set consisting of patents in which the inventor is registered as an inventor.
  • the second researcher unit search unit 744 corrects the inventor name information during application or after registration.
  • the second researcher unit search unit 744 sets one selected from the forward cited patent set and the backward cited patent set as the cited patent set.
  • the second researcher unit search unit 744 creates a group unit using at least one of applicant, patent classification, time information, country information, and inventor.
  • the second researcher unit search unit 744 sets the set corresponding to the applicant in the group unit as a patent set consisting of patents applied or registered by the applicant.
  • the second researcher unit search unit 744 modifies the set of patents applied or registered by the applicant.
  • the second researcher unit search unit 744 modifies the applicant name information according to a merger, change in the applicant name, or reduction or addition of the applicant.
  • the second researcher unit search unit 744 generates a partial patent set using at least one of patent classification, time information, country information, and inventor.
  • the second researcher unit search unit 744 generates analysis information for a patent set to which at least one or more of restrictions, rankings, and groupings are applied to the cited patent set.
  • the second researcher unit search unit 744 limits or groups using at least one of patent classification, time information, country information, and inventor.
  • the third researcher unit search unit 746 uses researcher recommendation request information from the company's analysis results, interest technology analysis results, and interest technology analysis results to collect a plurality of patent identification keys to be used for generating researcher recommendation information.
  • the third researcher unit search unit 746 collects at least one unit recommendation algorithm corresponding to the unit recommendation item.
  • the third researcher unit search unit 746 collects recommendation-based information corresponding to the patent identification key necessary for generating researcher recommendation information using the patent identification key.
  • the third researcher unit search unit 746 applies a unit recommendation algorithm to recommendation base information corresponding to the patent identification key to generate at least one unit recommendation information.
  • the third researcher unit search unit 746 generates two or more unit recommendation information.
  • the third researcher unit search unit 746 generates ranking information about researchers by applying a ranking algorithm to a plurality of unit recommendation information.
  • the third researcher unit search unit 746 receives researcher recommendation request information as a single keyword.
  • the third researcher unit search unit 746 obtains the patent identification key by querying a table or search index containing at least one keyword using a single keyword as a search condition to collect the patent identification key.
  • the third researcher unit search unit 746 uses a single keyword as a search condition and extracts at least one complex keyword including a single keyword.
  • the third researcher unit search unit 746 collects a patent identification key by querying a table or search index containing at least one keyword using a complex keyword as a search condition.
  • the third researcher unit search unit 746 uses a single keyword as a search condition and first searches for identical keywords that are acknowledged to be identical to the single keyword.
  • the third researcher unit search unit 746 collects a patent identification key by querying a single keyword and an identical keyword to a table or search index containing at least one keyword.
  • the third researcher unit search unit 746 uses a single keyword as a search condition and first searches for identical keywords that are acknowledged to be identical to the single keyword. If there is an identical keyword, the third researcher unit search unit 746 extracts a single keyword or at least one composite keyword including the identical keyword using the single keyword and the identical keyword as search conditions.
  • the third researcher unit search unit 746 collects a patent identification key by querying a table or search index containing at least one keyword using a complex keyword as a search condition.
  • the third researcher unit search unit 746 generates a unit recommendation algorithm per researcher using recommendation base information corresponding to a plurality of patent identification keys.
  • the third researcher unit search unit 746 essentially uses recommendation base information corresponding to the patent identification key for each researcher that corresponds only to the researcher among the researcher recommendation request information, and optionally uses recommendation base information corresponding to the population patent identification key corresponding to the researcher recommendation request information. The information is used to create a unit recommendation algorithm.
  • the third researcher unit search unit 746 generates recommendation-based information corresponding to the patent identification key for each patent.
  • the third researcher unit search unit 746 uses one or more of the internal attributes of the patent that are created time-independently or time-dependently, the event attribute in which the patent is used, the patent-related subject attribute, the patent management attribute, and the attribute of the related patent. Generate recommendation-based information corresponding to the patent identification key.
  • the third researcher unit search unit 746 generates internal attributes using one or more of the bibliographic information-based attributes, specification-based attributes, and patent classification attributes included in the patent.
  • the third researcher unit search unit 746 searches for patents by using one or more of the following: transaction attributes related to patents, license establishment and release attributes, collateral establishment and release attributes, litigation attributes in which patents are used, and patent-related dispute attributes. Create a usage event property.
  • the third researcher unit search unit 746 generates patent-related subject attributes using one or more of the attributes of the applicant for the patent, the attribute of the agent, and, in the case of a transaction patent, the attributes of the current owner and the previous owner, and the attributes of the examiner.
  • the third researcher unit search unit 746 generates patent affiliation group attributes using one or more of the standard patent organization attributes, standard patent pool attributes, and national R&D patent attributes.
  • the third researcher unit search unit 746 generates the properties of the related patent using one or more of the cited patent properties, reference patent properties, family patent properties, and similar patent properties.
  • the third researcher unit search unit 746 generates the attributes of the cited patent using one or more of the total cited attributes, the examiner cited attributes, and the OA cited attributes.
  • the third researcher unit search unit 746 generates the properties of the reference patent using one or more of the total reference properties, examiner reference properties, and OA reference properties.
  • the third researcher unit search unit 746 generates family patent attributes using one or more of domestic family attributes, country-specific family attributes, and overseas integrated family attributes.
  • the third researcher unit search unit 746 generates similar patent attributes using one or more of keyword-based similar patent attributes, citation network-based similar patent attributes, and patent classification-based similar patent attributes.
  • the third researcher unit search unit 746 generates a plurality of keywords extracted from a set of core keywords subject to at least one researcher recommendation as a plurality of researcher recommendation request information.
  • the third researcher unit search unit 746 generates a plurality of rights holders extracted from a set of rights holders to be recommended by at least one researcher as a plurality of researcher recommendation request information.
  • the third researcher unit search unit 746 generates a plurality of patent classifications extracted from at least one researcher recommendation target patent classification set as a plurality of researcher recommendation request information.
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  • the third researcher unit search unit 746 collects recommendation-based information corresponding to the patent identification key necessary for generating researcher recommendation information using the patent identification key.
  • the third researcher unit search unit 746 applies a unit recommendation algorithm to recommendation base information corresponding to the patent identification key to generate at least one unit recommendation information.
  • the third researcher unit search unit 746 searches and collects unit recommendation information previously generated as researcher recommendation request information.
  • Figures 8a and 8b are diagrams showing a patent analysis report according to this embodiment.
  • the patent analysis device 130 is a 'technology analysis report of interest', which includes 'patent trends', 'patent application disclosure trends', 'patent registration trends', and 'patent trends' for specific countries for specific technologies.
  • the patent analysis device 130 is a 'company analysis report of interest', which includes 'patent trends', 'patent application disclosure trends', and 'patent registration trends' for a specific country of a specific company (Company A).

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  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)

Abstract

빅데이터 기반 특허 분석 서비스 제공 방법 및 장치를 개시한다. 본 실시예는 입력된 자사기업 정보, 자사기술정보, 관심기업 정보, 관심기술정보를 기반으로 자사분석보고서, 관심기업 분석보고서, 관심기술 분석보고서 중 어느 하나의 분석 결과를 제공하도록 하는 빅데이터 기반 특허 분석 서비스 제공 방법 및 장치를 제공한다.

Description

빅데이터 기반 특허 분석 서비스 제공 방법 및 장치
본 발명의 일 실시예는 빅데이터 기반 특허 분석 서비스 제공 방법 및 장치에 관한 것이다.
이하에 기술되는 내용은 단순히 본 실시예와 관련되는 배경 정보만을 제공할 뿐 종래기술을 구성하는 것이 아니다.
최근 들어, 지식 재산이 R&D, 경영의 요소를 넘어, 경제의 차원에서 대접받고 있다. 일반적인 지식 재산권 개념에 더하여, 비즈니스, 지식 재산 유동화, 글로벌 라이센싱을 추가로 포함하는 다양한 측면들이 부상하고 있다.
최근 지식 재산 트렌드를 지원하는 기초적인 토대 중의 하나가 지식 재산권의 특허권에 대한 가치 산정이다.
특허권에 대한 가치를 산정하기 위한 방법으로 실물 옵션(real option) 등과 같은 다양한 방법들이 도입되고 있다. 하지만, 전문가를 활용하는 가치 평가 방법은 단위 특허당 평가 비용이 많이 들고, 시간도 오래 걸려 대량의 특허에 적용할 수 없다는 문제가 있다.
특허권에 대한 가치를 산정하기 위한 다른 방법으로 특허의 가치를 시스템적으로 평가해 주는 방법이 있다. 특허 가치 평가 시스템으로는 한국특허정보원의 KPEG, 한국발명진흥회의 SMART, 미국 OceanTomo사의 PatentRatings, 일본 IPB(현재는 PatentResult)사의 PatentScore 등이 있다.
미국 OceanTomo 사의 PatentRatings 시스템은 특허권 보유자들의 특허권 연차 등록(갱신)을 판단할 때, 다양한 점에서 유지 시의 예상 이익(benefit)을 유지에 필요한 비용과 비교 형량하여 합리적으로 판단한다. PatentRatings 시스템은 평균적으로 가치 있는 특허를 덜 가치 있는 특허보다 오래 유지되도록 한다. PatentRatings 시스템은 특허의 가치를 로그 정규 분포적 특징을 지닌 기본 가정을 반영한다.
일본 IPB사의 PatentScore 시스템은 특허의 전체 라이프 사이클에 대하여 출원인, 제3자 및 심사관의 각종 액션(Action)과 관계된 경과 정보가 특허의 가치를 추정하는데 큰 영향을 미친다는 가정 하에 경과 정보를 중요한 평가 요소로 반영한다.
전술한 평가 시스템들은 평가 결과의 신뢰성을 높이는 것이 핵심이 되며, 신뢰성을 높이기 위해 노력하고 있으나, 현식적으로 사용자들이 원하는 높은 신뢰성을 확보하진 못한 상태이다. 따라서, 보다 신뢰성 높은 평가 결과를 생성하기 위한 특허 분석 서비스를 필요로 한다.
본 실시예는 입력된 자사기업 정보, 자사기술정보, 관심기업 정보, 관심기술정보를 기반으로 자사분석보고서, 관심기업 분석보고서, 관심기술 분석보고서 중 어느 하나의 분석 결과를 제공하도록 하는 빅데이터 기반 특허 분석 서비스 제공 방법 및 장치를 제공하는 데 목적이 있다.
본 실시예의 일 측면에 의하면, 입력받은 자사 특허 정보, 자사 기술 정보, 자사 연구자 정보를 기반으로 자사 분석 결과를 생성하는 자사 분석부; 입력받은 관심기업 정보, 관심기업 기술정보, 관심기업 연구자 정보를 기반으로 관심기업 정보를 생성하는 관심기업 분석부; 입력받은 관심기술 정보를 기반으로 관심기술 분석 결과를 생성하는 관심기술 분석부; 상기 자사 분석 결과, 상기 관심기술 분석 결과, 상기 관심기술 분석 결과를 기반으로 특허가치 평가 결과를 생성하는 특허가치 평가부를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치를 제공한다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 실시예에 의하면, 입력된 기업 정보 또는 기업정보를 기반으로 복수의 특허 정보를 추출한 후 특허 정보에 포함된 출원건수, 등록건수, 심사관 피인용수, 발명자 정보, 패밀리수 등을 기반으로 정보를 가공처리하여 자사분석보고서, 관심기업 분석보고서, 관심기술 분석보고서 중 어느 하나의 분석 결과를 제공할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 실시예에 따른 빅데이터 기반 특허 분석 서비스 제공 시스템을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2a,2b,2c,2d는 본 실시예에 따른 서비스 메뉴 구성을 나타낸 도면이다.
도 3은 본 실시예에 따른 특허 분석 장치를 개략적으로 나타낸 블럭 구성도이다.
도 4는 본 실시예에 따른 자사 분석부를 개략적으로 나타낸 블럭 구성도이다.
도 5는 본 실시예에 따른 관심기업 분석부를 개략적으로 나타낸 블럭 구성도이다.
도 6은 본 실시예에 따른 관심기술 분석부를 개략적으로 나타낸 블럭 구성도이다.
도 7은 본 실시예에 따른 특허가치 평가부와 연동하는 특허 평가, 특허 분쟁, 연구자 검색 모듈을 나타낸 도면이다.
도 8a,8b는 본 실시예에 따른 특허 분석 보고서를 나타낸 도면이다.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
110: 단말기
120: 네트워크
130: 특허 분석 장치
이하, 본 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.
도 1은 본 실시예에 따른 빅데이터 기반 특허 분석 서비스 제공 시스템을 개략적으로 나타낸 도면이다.
본 실시예에 따른 빅데이터 기반 특허 분석 서비스 제공 시스템은 단말기(110), 네트워크(120), 특허 분석 장치(130)를 포함한다. 빅데이터 기반 특허 분석 서비스 제공 시스템에 포함된 구성요소는 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
단말기(110)는 사용자의 키 조작에 따라 네트워크(120)를 경유하여 특허 분석 장치(130)와 데이터 통신을 수행하는 전자 기기를 의미한다. 단말기(110)는 네트워크(120)를 경유하여 특허 분석 장치(130)와 통신하기 위한 프로그램 또는 프로토콜을 저장하기 위한 메모리, 해당 프로그램을 실행하여 연산 및 제어하기 위한 마이크로프로세서 등을 구비한다.
단말기(110)는 스마트폰(Smart Phone), 태블릿(Tablet), 랩톱(Laptop), 개인용 컴퓨터(PC: Personal Computer), 개인 휴대 단말기(PDA: Personal Digital Assistant), 휴대형 멀티미디어 플레이어(PMP: Portable Multimedia Player), 무선 통신 단말기(Wireless Communication Terminal), 미디어 플레이어 등과 같은 전자 기기일 수 있다.
단말기(110)는 각종 기기 또는 유무선 네트워크와 통신을 수행하기 위한 통신 모뎀 등의 통신 장치, 각종 프로그램과 데이터를 저장하기 위한 메모리, 프로그램을 실행하여 연산 및 제어하기 위한 마이크로프로세서 등을 구비하는 다양한 장치이다. 적어도 일 실시예에 따르면, 메모리는 램(Random Access Memory: RAM), 롬(Read Only Memory: ROM), 플래시 메모리, 광 디스크, 자기 디스크, 솔리드 스테이트 디스크(Solid State Disk: SSD) 등의 컴퓨터로 판독 가능한 기록/저장매체일 수 있다. 적어도 일 실시예에 따르면, 마이크로프로세서는 명세서상에 기재된 동작과 기능을 하나 이상 선택적으로 수행하도록 프로그램될 수 있다. 적어도 일 실시예에 따르면, 마이크로프로세서는 전체 또는 부분적으로 특정한 구성의 주문형반도체(Application Specific Integrated Circuit: ASIC) 등의 하드웨어로써 구현될 수 있다.
네트워크(120)는 인터넷망, 인트라넷망, 이동통신망, 위성 통신망 등 다양한 유무선 통신 기술을 이용하여 인터넷 프로토콜로 데이터를 송수신할 수 있는 망을 의미한다.
특허 분석 장치(130)는 네트워크(120)를 이용하여 단말기(110)와 연동한다.
특허 분석 장치(130)는 하드웨어적으로 통상적인 웹서버(Web Server) 또는 네트워크 서버의 형태로 구현될 수 있다. 특허 분석 장치(130)는 일반적으로 인터넷과 같은 개방형 컴퓨터 네트워크를 경유하여 불특정 다수 클라이언트 또는 다른 서버와 통신한다.
특허 분석 장치(130)는 클라이언트 또는 다른 웹서버의 작업수행 요청에 대응하는 작업 결과를 도출하여 제공하는 컴퓨터 시스템, 컴퓨터 소프트웨어(웹서버 프로그램)를 의미한다. 특허 분석 장치(130)는 전술한 웹서버 프로그램 이외에, 웹서버상에서 동작하는 일련의 응용 프로그램(Application Program) 또는 장치 내부에 구축되어 있는 각종 데이터베이스를 포함한다.
본 실시예에 따른 특허 분석 장치(130)는 단말기(110)로부터 입력된 기업 정보 또는 기업정보를 기반으로 복수의 특허 정보를 추출한다. 특허 분석 장치(130)는 추출된 특허 정보에 포함된 출원건수, 등록건수, 심사관 피인용수, 발명자 정보, 패밀리수 등을 기반으로 정보를 가공 처리한다. 특허 분석 장치(130)는 가공 처리된 정보를 기반으로 자사분석보고서, 관심기업 분석보고서, 관심기술 분석보고서 중 어느 하나의 분석 결과를 단말기(110)로 제공한다.
도 2a,2b,2c,2d는 본 실시예에 따른 서비스 메뉴 구성을 나타낸 도면이다.
특허 분석 장치(130)는 기본 서비스의 메뉴구성으로 ‘리포트 신청’, ‘리포트 신청내역’, ‘1:1 문의’, ‘FAQ’를 제공한다.
도 2a에 도시된 바와 같이, 특허 분석 장치(130)는 ‘로그인’이 완료되면, 화면 상에 리포트 신청이 가능한 페이지가 출력되도록 한다.
도 2b에 도시된 바와 같이, 특허 분석 장치(130)는 사용자가 원하는 기업을 선택하면, 기업 분석 리포트를 생성하기 위해, 단말기(110)로부터 ‘국가 선택’항목으로 US, KR, CN, JP, EP 중 적어도 하나 이상의 국가를 입력받는다. 특허 분석 장치(130)는 단말기(110)로부터 국가 정보를 입력받은 후 ‘기업명 검색’ 항목으로 특정 기업명을 입력받는다. 특허 분석 장치(130)는 단말기(110)로부터 ‘보고서 신청’을 입력받으면, 입력된 특정 국가의 특정 기업명에 해당하는 ‘관심기업 분석보고서’를 생성하여 출력한다.
도 2c에 도시된 바와 같이, 특허 분석 장치(130)는 사용자가 원하는 기술을 선택하면, 기술 분석 리포트를 생성하기 위해, 단말기(110)로부터 ‘국가 선택’항목으로 US, KR, CN, JP, EP 중 적어도 하나 이상의 국가를 입력받는다. 특허 분석 장치(130)는 단말기(110)로부터 국가 정보를 입력받은 후 ‘기술명 검색’ 항목으로 특정 기술명을 입력받는다. 특허 분석 장치(130)는 단말기(110)로부터 ‘보고서 신청’을 입력받으면, 입력된 특정 국가의 특정 기술명에 해당하는 ‘관심기술 분석보고서’를 생성하여 출력한다.
도 2d에 도시된 바와 같이, 특허 분석 장치(130)는 ‘리포트 신청내역’이 선택되면, 발행된 ‘자사분석보고서’, ‘관심기업 분석보고서’, ‘관심기술 분석보고서’의 ‘번호’, ‘리포트 유형’, ‘대상 키워드’, ‘상태’, ‘요청일시’를 리스트 형태로 출력한다.
도 3은 본 실시예에 따른 특허 분석 장치를 개략적으로 나타낸 블럭 구성도이다.
본 실시예에 따른 특허 분석 장치(130)는 자사 분석부(310), 관심기업 분석부(320), 관심기술 분석부(330), 특허가치 평가부(340)를 포함한다. 특허 분석 장치(130)에 포함된 구성요소는 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
특허 분석 장치(130)에 포함된 각 구성요소는 장치 내부의 소프트웨어적인 모듈 또는 하드웨어적인 모듈을 연결하는 통신 경로에 연결되어 상호 간에 유기적으로 동작할 수 있다. 이러한 구성요소는 하나 이상의 통신 버스 또는 신호선을 이용하여 통신한다.
도 3에 도시된 특허 분석 장치(130)의 각 구성요소는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 소프트웨어적인 모듈, 하드웨어적인 모듈 또는 소프트웨어와 하드웨어의 결합으로 구현될 수 있다.
자사 분석부(310)는 입력받은 자사 특허 정보, 자사 기술 정보, 자사 연구자 정보를 기반으로 자사 분석 결과를 생성한다.
자사 분석부(310)는 입력된 자사 특허 정보로부터 특허출원번호, 출원인(기업명), 사업자 번호, 법인 번호 중 적어도 하나 이상의 정보를 추출하고, 추출된 특허출원번호, 출원인(기업명), 사업자 번호, 법인 번호, 발명자 정보, 기업 대표자 정보 중 하나 이상의 정보를 이용하여 자사 특허 분석 결과, 자시 기술 분석 결과, 자사 연구자 분석 결과, 자사 이벤트 분석 결과를 생성한다.
자사 분석부(310)는 자사 특허 정보로부터 추출된 특허출원번호, 출원인, 기업명, 사업자 번호, 법인 번호를 이용하여 자사 특허 분석 결과를 생성한다. 자사 분석부(310)는 자사 기술 정보로부터 추출된 기술명, 기술분야, 키워드를 이용하여 자시 기술 분석 결과를 생성한다. 자사 분석부(310)는 자사 연구자 정보를 기반으로 자사 연구자 분석 결과를 생성한다. 자사 분석부(310)는 자사 특허 분석 결과, 자사 기술 분석 결과, 자사 연구자 분석 결과를 기반으로 자사 이벤트 분석 결과를 생성한다.
자사 분석부(310)는 자사 특허 정보(특허출원번호, 출원인(기업명), 사업자 번호, 법인 번호, 발명자 정보, 기업 대표자 정보)를 기반으로 출원건수, 등록건수, 등록률, 심사관 피인용수, 후행특허 보유기업 분석, 특허 매입 수, 특허 매각 수를 추출한다.
자사 분석부(310)는 출원건수, 등록건수, 등록률, 심사관 피인용수, 후행특허 보유기업 분석, 특허 매입 수, 특허 매각 수 중 적어도 하나 이상을 포함하는 자사 특허 분석 결과를 생성한다.
자사 분석부(310)는 자사 기술 정보(기술명, 기술분야, 키워드)를 기반으로 포트폴리오 지표 분석 결과, 투자지표 분석 결과, 관심지표 분석 결과, R&D 연속성 분석 결과, 분쟁지표 분석 결과, 비율지표 분석 결과를 생성한다.
자사 분석부(310)는 포트폴리오 지표 분석 결과, 투자지표 분석 결과, 관심지표 분석 결과, R&D 연속성 분석 결과, 분쟁지표 분석 결과, 비율지표 분석 결과 중 적어도 하나 이상을 포함하는 자사 기술 분석 결과를 출력한다.
자사 분석부(310)는 자사 연구자 정보(발명자명)를 기반으로 발명 특허수, 피인용수, 글로벌 특허 패밀리수, 소속기업내 특허점유율, 특허당 평가지표를 생성한다. 자사 분석부(310)는 발명 특허수, 피인용수, 글로벌 특허 패밀리수, 소속기업내 특허점유율, 특허당 평가지표 중 적어도 하나 이상을 포함하는 자사 연구자 분석 결과를 생성한다.
자사 분석부(310)는 자사 특허 분석 결과, 자사 기술 분석 결과, 자사 연구자 분석 결과를 기반으로 특허 거래이력 분석, 분쟁이력 분석, 심사관 피인용수 분석, 패밀리 특허 분석, 국가 R&D 관련 분석, M&A 발생 분석을 생성한다. 자사 분석부(310)는 특허 거래이력 분석, 분쟁이력 분석, 심사관 피인용수 분석, 패밀리 특허 분석, 국가 R&D 관련 분석, M&A 발생 분석 중 적어도 하나 이상을 포함하는 자사 이벤트 결과를 생성한다.
관심기업 분석부(320)는 입력받은 관심기업 정보, 관심기업 기술정보, 관심기업 연구자 정보를 기반으로 관심기업 정보를 생성한다.
관심기업 분석부(320)는 입력된 관심기업 정보로부터 출원인(기업명), 키워드, 발명자 정보, 기업 대표자 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 추출하고, 추출된 출원인(기업명), 키워드, 발명자 정보, 기업 대표자 정보를 이용하여 관심기업 특허분석 결과, 기업 기술분석 결과, 기업 연구자 분석 결과, 기업 이벤트 분석 결과를 생성한다.
관심기업 분석부(320)는 관심기업 정보로부터 추출된 출원인, 기업명, 키워드, 발명자 정보, 기업 대표자 정보를 기반으로 관심기업 특허분석 결과를 생성한다. 관심기업 분석부(320)는 관심기업 기술정보로부터 추출된 기술명, 기술분야, 키워드를 기반으로 관심기업 기술 분석 결과를 생성한다. 관심기업 분석부(320)는 관심기업 연구자 정보로부터 추출된 발명자명을 기반으로 관심기업 연구자 분석 결과를 생성한다. 관심기업 분석부(320)는 관심기업 특허 분석 결과, 관심기업 기술 분석 결과, 관심기업 연구자 분석 결과를 기반으로 관심기업 이벤트 분석 결과를 생성한다.
관심기업 분석부(320)는 입력받은 관심기업 정보로부터 추출된 출원인(기업명), 키워드, 발명자 정보, 기업 대표자 정보를 기반으로 후행특허 보유기업 분석, 심사관 피인용수 분석, 특허출원 수를 생성한다. 관심기업 분석부(320)는 후행특허 보유기업 분석, 심사관 피인용수 분석, 특허출원 수 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기업 특허 분석 결과를 생성한다.
관심기업 분석부(320)는 입력받은 관심기업 기술 정보(기술명, 기술분야, 키워드)를 기반으로 포트폴리오 지표 분석 결과, 투자지표 분석 결과, 관심지표 분석 결과, R&D 연속성 분석 결과, 분쟁지표 분석 결과, 비율지표 분석 결과를 생성한다.
관심기업 분석부(320)는 포트폴리오 지표 분석 결과, 투자지표 분석 결과, 관심지표 분석 결과, R&D 연속성 분석 결과, 분쟁지표 분석 결과, 비율지표 분석 결과 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기업 기술 분석 결과를 출력한다.
관심기업 분석부(320)는 관심기업 정보(발명자명)를 기반으로 발명 특허수, 피인용수, 글로벌 특허 패밀리수, 소속기업내 특허점유율, 특허당 평가지표를 생성한다. 관심기업 분석부(320)는 발명 특허수, 피인용수, 글로벌 특허 패밀리수, 소속기업내 특허점유율, 특허당 평가지표 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기업 연구자 분석 결과를 생성한다.
관심기업 분석부(320)는 관심기업 특허 분석 결과, 관심기업 기술 분석 결과, 관심기업 연구자 분석 결과를 기반으로 특허 거래이력 분석, 분쟁이력 분석, 심사관 피인용수 분석, 패밀리 특허 분석, 국가 R&D 관련 분석, M&A 발생 분석을 생성한다.
관심기업 분석부(320)는 특허 거래이력 분석, 분쟁이력 분석, 심사관 피인용수 분석, 패밀리 특허 분석, 국가 R&D 관련 분석, M&A 발생 분석 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기업 이벤트 결과를 생성한다.
관심기술 분석부(330)는 입력받은 관심기술 정보, 관심기술 연구자 정보를 기반으로 관심기술 분석 결과를 생성한다.
관심기술 분석부(330)는 입력된 관심기술 정보로부터 기술분야, 기술명, 기술키워드를 중 적어도 하나 이상의 정보를 추출하고, 추출된 기술분야, 기술명, 기술키워드 중 하나 이상의 정보를 이용하여 관심기술 상세분석 결과, 관심기술 특허분석 결과, 관심기술 연구자분석 결과, 관심기술 이벤트 분석 결과를 생성한다.
관심기술 분석부(330)는 관심기술 정보로부터 추출된 기술분야, 기술명, 기술키워드를 기반으로 관심기술 상세분석 결과, 관심기술 특허 분석 결과를 생성한다. 관심기술 분석부(330)는 관심기술 연구자 정보로부터 추출된 발명자 정보를 기반으로 관심기술 연구자분석 결과를 생성한다. 관심기술 분석부(330)는 관심기술 상세분석 결과, 관심기술 특허분석 결과, 관심기술 연구자분석 결과를 기반으로 관심기술 이벤트 분석 결과를 생성한다.
관심기술 분석부(330)는 입력받은 관심기술 정보(기술분야, 기술명, 기술키워드)를 기반으로 기술분야, 기술명, 기술키워드를 가장 많이 출원한 출원인에 대응하는 기업에 대해 관심기술 상세분석 결과를 생성한다.
관심기술 분석부(330)는 입력받은 관심기술 정보(기술분야, 기술명, 기술키워드)를 기반으로 급성장 키워드 분석 결과, 신규등장 키워드 분석 결과, 특화 키워드 분석 결과, 동시출현 키워드 분석 결과, R&D 추천 키워드 분석 결과를 생성한다.
관심기술 분석부(330)는 키워드 분석 결과, 신규등장 키워드 분석 결과, 특화 키워드 분석 결과, 동시출현 키워드 분석 결과, R&D 추천 키워드 분석 결과 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기술 특허 분석 결과를 출력한다.
관심기술 분석부(330)는 입력받은 관심기술 연구자 정보(발명자명)를 기반으로 연구자의 발명 특허수 분석 결과, 피인용수 분석 결과, 글로벌 특허 패밀리 분석 결과, 기술 점유율 분석 결과, 기술 집중률 분석 결과, 특허 평가지표 분석 결과를 생성한다.
관심기술 분석부(330)는 발명 특허수 분석 결과, 피인용수 분석 결과, 글로벌 특허 패밀리 분석 결과, 기술 점유율 분석 결과, 기술 집중률 분석 결과, 특허 평가지표 분석 결과 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기술 연구자분석 결과를 출력한다.
관심기술 분석부(330)는 관심기술 상세분석 결과, 관심기술 특허분석 결과, 관심기술 연구자분석 결과를 기반으로 거래이력 분석 결과, 분쟁이력 분석 결과, 심사관 피인용수 분석 결과, 패밀리 특허 분석 결과, 국가 R&D 관련 분석 결과, M&A 발생 분석 결과를 생성한다.
관심기술 분석부(330)는 거래이력 분석 결과, 분쟁이력 분석 결과, 심사관 피인용수 분석 결과, 패밀리 특허 분석 결과, 국가 R&D 관련 분석 결과, M&A 발생 분석 결과 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기술 이벤트 분석 결과를 출력한다.
특허가치 평가부(340)는 자사 분석 결과, 관심기술 분석 결과, 관심기술 분석 결과를 기반으로 특허가치 평가 결과(한국특허평가, 미국특허평가, 일본특허평가, 평결과 종합분석, 권리안정성 평가)를 생성한다.
특허가치 평가부(340)는 한국특허 평가로서, 가치 테이블형(Value Table), 요약형(Summary), 표준형(Standard), 전문가형(Professional) 평가 결과를 생성한다.
특허가치 평가부(340)는 한국특허에 대해 권리성, 기술성, 상업성, 생존지수, 종합평가등급, 최종특허권리만료일, 예상특허잔존기간 이상 7개 항목에 대한 평가지수를 포함하는 가치 테이블형(Value Table) 평가 결과를 제공한다.
특허가치 평가부(340)는 한국특허에 대해 핵심요약평가보고서로서, 생존지수(PSI), 종합평가등급, 권리성, 기술성, 상업성 등의 평가지수와 이를 산출하기 위한 세부항목에 대한 평가지수를 포함하는 요약형(Summary) 평가 결과를 제공한다.
특허가치 평가부(340)는 한국특허에 대해 핵심요약평가보고서로서, 요약형 보고서 정보와 특허의 서지사항, 특허존속기간, 특허패밀리, 선행기술목록, 특허행정처리정보, 기술분야평균평가지수, OECD의 평가방식으로 산출된 PQI지수 등을 포함하는 표준형(Standard) 평가 결과를 제공한다.
특허가치 평가부(340)는 한국특허에 대해 표준형 보고서의 정보와 함께 유사특허군내의 주요출원인분석, 연도별 동향분석, 유사특허목록, 전체특허군과 유사특허군 내의 상대점수 등을 포함하는 전문가형(Professional) 평가 결과를 제공한다.
특허가치 평가부(340)는 미국특허 평가로서, 가치 테이블형(Value Table), 요약형(Summary), 표준형(Standard), 전문가형(Professional) 평가 결과를 생성한다.
특허가치 평가부(340)는 미국특허에 대해 권리성, 기술성, 상업성, 생존지수, 종합평가등급, 최종특허권리만료일, 예상특허잔존기간 이상 7개 항목에 대한 평가지수를 포함하는 가치 테이블형(Value Table) 평가 결과를 제공한다.
특허가치 평가부(340)는 미국특허에 대해 핵심요약평가보고서로서, 생존지수(PSI), 종합평가등급, 권리성, 기술성, 상업성 등의 평가지수와 이를 산출하기 위한 세부항목에 대한 평가지수를 포함하는 요약형(Summary) 평가 결과를 제공한다.
특허가치 평가부(340)는 미국특허에 대해 요약형 보고서 정보와 특허의 서지사항, 특허존속기간, 특허패밀리, 선행기술목록, 특허행정처리정보, 기술분야평균평가지수, OECD의 평가방식으로 산출된 PQI지수, 인용도 등을 포함하는 표준형(Standard) 평가 결과를 제공한다.
특허가치 평가부(340)는 미국특허에 대해 표준형 보고서의 정보와 함께 유사특허군내의 주요출원인분석, 연도별 동향분석, 유사특허목록, 전체특허군과 유사특허군 내의 상대점수 등을 포함하는 전문가형(Professional) 평가 결과를 제공한다.
특허가치 평가부(340)는 일본국특허 평가로서, 가치 테이블형(Value Table), 요약형(Summary), 표준형(Standard) 평가 결과를 생성한다.
특허가치 평가부(340)는 일본국특허에 대해 권리성, 기술성, 상업성, 생존지수, 종합평가등급, 최종특허권리만료일, 예상특허잔존기간 이상 7개 항목에 대한 평가지수를 포함하는 가치 테이블형(Value Table) 평가 결과를 제공한다.
특허가치 평가부(340)는 일본국특허에 대해 핵심요약평가보고서로서, 생존지수(PSI), 종합평가등급, 권리성, 기술성, 상업성 등의 평가지수와 이를 산출하기 위한 세부항목에 대한 평가지수를 포함하는 요약형(Summary) 평가 결과를 제공한다.
특허가치 평가부(340)는 일본국특허에 대해 요약형 보고서 정보와 특허의 서지사항, 특허존속기간, 특허패밀리, 선행기술목록, 특허행정처리정보, 기술분야평균평가지수, OECD의 평가방식으로 산출된 PQI지수, 인용도 등을 포함하는 표준형(Standard) 평가 결과를 제공한다.
특허가치 평가부(340)는 평가결과 종합분석보고서(포트폴리오(Portfolio) 분석, 고객맞춤형보고서)를 제공한다.
특허가치 평가부(340)는 평가의뢰한 전체 특허들에 대한 과제별, 기술별, 출원인별, 연도별 동향 등의 포트폴리오 분석이 포함되며, 고객이 원하는 평가항목과 특허분석범위를 자유롭게 선택할 수 있는 고객맞춤형 평가보고서를 제공한다.
특허가치 평가부(340)는 권리안정성 평가보고서를 제공한다. 특허가치 평가부(340)는 등록특허의 무효율이 높은 점(국내:60~70%)을 고려하여 특허의 유효성과 무효성을 정성적으로 판단한 보고서로, 연구원이 직접 무효사유, 선행무효특허자료분석 등을 통하여 권리의 안정성을 정성적으로 평가하고 이를 수치화한 분석보고서를 제공한다.
도 4는 본 실시예에 따른 자사 분석부를 개략적으로 나타낸 블럭 구성도이다.
자사 분석부(310)는 입력된 자사 특허 정보를 기반으로 자사 분석 결과를 생성한다.
자사 분석부(310)는 입력된 자사 특허 정보로부터 특허출원번호, 출원인(기업명), 사업자 번호, 법인 번호 중 적어도 하나 이상의 정보를 추출하고, 추출된 특허출원번호, 출원인(기업명), 사업자 번호, 법인 번호, 발명자 정보, 기업 대표자 정보 중 하나 이상의 정보를 이용하여 자사 특허 분석 결과, 자시 기술 분석 결과, 자사 연구자 분석 결과, 자사 이벤트 분석 결과를 생성한다.
본 실시예에 따른 자사 분석부(310)는 자사 특허 분석부(410), 자사 기술 분석부(420), 자사 연구자 분석부(430), 자사 이벤트 분석부(440)를 포함한다. 자사 분석부(310)에 포함된 구성요소는 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
자사 특허 분석부(410)는 자사 특허 정보로부터 추출된 특허출원번호, 특허출원번호, 출원인, 기업명, 사업자 번호, 법인 번호, 발명자 정보, 기업 대표자 정보 중 하나 이상의 정보를 기반으로 출원건수, 등록건수, 등록률, 심사관 피인용수, 후행특허 보유기업 분석 결과, 특허 매입 수, 특허 매각 수를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 자사 특허 분석 결과를 생성한다.
자사 특허 분석부(410)는 자사 특허 정보(특허출원번호, 출원인(기업명), 사업자 번호, 법인 번호, 발명자 정보, 기업 대표자 정보)를 기반으로 출원건수, 등록건수, 등록률, 심사관 피인용수, 후행특허 보유기업 분석, 특허 매입 수, 특허 매각 수를 추출한다.
자사 특허 분석부(410)는 출원건수, 등록건수, 등록률, 심사관 피인용수, 후행특허 보유기업 분석, 특허 매입 수, 특허 매각 수 중 적어도 하나 이상을 포함하는 자사 특허 분석 결과를 생성한다.
자사 특허 분석부(410)는 자사특허의 등록특허에 대한 심사관 피인용수를 확인한다. 자사 특허 분석부(410)는 자사 특허에 대한 심사관 피인용수 동향을 확인하기 위해 심사관이 의견제출통지 또는 거절 통지시 자사의 보유 특허를 인용하는 횟수를 확인한다. 다시 말해, 자사 특허 분석부(410)는 심사관 피인용수를 이용하여 특허청 심사관이 후행 특허들을 심사할때 자사 특허들을 인용해서 의견제출통지 또는 거절 결정시 활용하는 지수로 확인한다.
자사 특허 분석부(410)는 특허 등록 동향을 확인하기 위해, 자사의 현재 보유중인 특허 중 해당 년도에 등록된 총 건수를 확인한다. 자사 특허 분석부(410)는 특허 등록 건수를 기반으로 특허 출원이 증가추세구간을 확인한다.
자사 특허 분석부(410)는 자사가 특정 기술 분야에서 보유하고 있는 특허에 대한 출원/등록 특허수, 피인용수, 해외 특허 패밀리수, 특허당 평가 지표, 기술 분야에 대한 점유율과 집중 등과 같은 평가 지표 정보를 확인한다. 자사 특허 분석부(410)는 권리자의 특허 들의 평균 CPC 개수로 특허당 얼마나 많은 기술을 포함하고 있는지 파악가능한 지표로서 융합성을 생성한다.
자사 특허 분석부(410)는 전체 보유 특허수(All)를 확인한다. 자사 특허 분석부(410)는 권리자의 이름으로 된 특허수. 권리자의 이름으로 출원하여 공개되거나 또는 등록된 특허수와 매입이 확인된 공개 또는 등록 특허수를 전체 보유 특허수에 포함시키고, 각이 확인된 특허를 제외시킨다.
자사 특허 분석부(410)는 선행성(in field.to com.)을 확인한다. 자사 특허 분석부(410)는 타겟 기업별 기술 분야에서의 선행성을 확인한다. 자사 특허 분석부(410)는 기술 분야에서 전체 특허의 출원일 분포와 기술 분야의 타겟 기업의 발명 특허의 출원일 분포를 통계학적으로 비교하여 산출한다.
자사 특허 분석부(410)는 점유율(in field)을 확인한다. 자사 특허 분석부(410)는 타겟 기업별 타겟 분야에서의 특허 점유율을 산출한다. 자사 특허 분석부(410)는 타겟 분야에서 보유하고 있는 타겟 기업의 특허수 / 타겟 분야의 전체 특허수를 기반으로 특허 점유율을 산출한다.
자사 특허 분석부(410)는 집중률(on field)을 확인한다. 자사 특허 분석부(410)는 타겟 기업별 타겟 분야로의 집중률을 확인한다. 자사 특허 분석부(410)는 타겟 기업의 특허가 타겟 분야로 집중되는 정도로 집중률을 산출한다. 자사 특허 분석부(410)는 타겟 분야의 타겟기업의 특허수 / 타겟 기업의 전체 특허수로 집중률을 산출한다.
자사 특허 분석부(410)는 타겟 기업별 타겟 분야에서의 심사관 피인용 점유율을 확인한다. 자사 특허 분석부(410)는 타겟 분야의 타겟 기업의 특허가 받은 심사관 피인용수 / 타겟 분야의 전체 특허가 받은 심사관 피인용수로 타겟 기업별 타겟 분야에서의 심사관 피인용 점유율을 산출한다.
자사 기술 분석부(420)는 자사 기술 정보로부터 추출된 기술명, 기술분야, 키워드를 기반으로 포트폴리오 지표 분석 결과, 투자지표 분석 결과, 관심지표 분석 결과, R&D 연속성 분석 결과, 분쟁지표 분석 결과, 비율지표 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 자사 기술 분석 결과를 생성한다.
자사 기술 분석부(420)는 자사 기술 정보(기술명, 기술분야, 키워드)를 기반으로 포트폴리오 지표 분석 결과, 투자지표 분석 결과, 관심지표 분석 결과, R&D 연속성 분석 결과, 분쟁지표 분석 결과, 비율지표 분석 결과를 생성한다.
자사 기술 분석부(420)는 포트폴리오 지표 분석 결과, 투자지표 분석 결과, 관심지표 분석 결과, R&D 연속성 분석 결과, 분쟁지표 분석 결과, 비율지표 분석 결과 중 적어도 하나 이상을 포함하는 자사 기술 분석 결과를 출력한다.
자사 연구자 분석부(430)는 자사 연구자 정보로부터 추출된 발명자명을 기반으로 발명 특허수, 피인용수, 글로벌 특허 패밀리수, 소속기업내 특허점유율, 특허당 평가지표를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 자사 연구자 분석 결과를 생성한다.
자사 연구자 분석부(430)는 자사 연구자 정보(발명자명)를 기반으로 발명 특허수, 피인용수, 글로벌 특허 패밀리수, 소속기업내 특허점유율, 특허당 평가지표를 생성한다.
자사 연구자 분석부(430)는 발명 특허수, 피인용수, 글로벌 특허 패밀리수, 소속기업내 특허점유율, 특허당 평가지표 중 적어도 하나 이상을 포함하는 자사 연구자 분석 결과를 생성한다.
자사 연구자 분석부(430)는 점유율(in field)을 확인하기 위해 기술 분야별 기업의 특허 점유율로서, 기술 분야에 대한 기업의 전체 특허 수 / 기술 분야의 전체 특허 수를 이용하여 점유율을 확인한다.
자사 이벤트 분석부(440)는 자사 특허 분석 결과, 자사 기술 분석 결과, 자사 연구자 분석 결과를 기반으로 특허 거래이력 분석 결과, 분쟁이력 분석 결과, 심사관 피인용수 분석 결과, 패밀리 특허 분석 결과, 국가 R&D 관련 분석 결과, M&A 발생 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 자사 이벤트 결과를 생성한다.
자사 이벤트 분석부(440)는 자사 특허 분석 결과, 자사 기술 분석 결과, 자사 연구자 분석 결과를 기반으로 특허 거래이력 분석, 분쟁이력 분석, 심사관 피인용수 분석, 패밀리 특허 분석, 국가 R&D 관련 분석, M&A 발생 분석을 생성한다.
자사 이벤트 분석부(440)는 특허 거래이력 분석, 분쟁이력 분석, 심사관 피인용수 분석, 패밀리 특허 분석, 국가 R&D 관련 분석, M&A 발생 분석 중 적어도 하나 이상을 포함하는 자사 이벤트 결과를 생성한다.
자사 이벤트 분석부(440)는 국가 R&D 특허를 확인하기 위해 국가 R&D 수행시 해당 과제를 통하여 출원한 특허들은 과제고유번호, 부처명, 연구사업명, 연구과제명, 주관기관, 연구기간 등의 사사정보를 확인한다. 자사 이벤트 분석부(440)는 사사정보를 포함하고 있는 특허나 실용신안들을 추출하여 국가 R&D 특허로 인지한다.
도 5는 본 실시예에 따른 관심기업 분석부를 개략적으로 나타낸 블럭 구성도이다.
관심기업 분석부(320)는 입력된 관심기업 정보를 기반으로 관심기업 정보를 생성한다.
관심기업 분석부(320)는 입력된 관심기업 정보로부터 출원인(기업명), 키워드, 발명자 정보, 기업 대표자 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 추출하고, 추출된 출원인(기업명), 키워드, 발명자 정보, 기업 대표자 정보를 이용하여 관심기업 특허분석 결과, 기업 기술분석 결과, 기업 연구자 분석 결과, 기업 이벤트 분석 결과를 생성한다.
본 실시예에 따른 관심기업 분석부(320)는 관심기업 특허분석부(510), 관심기업 기술분석부(520), 관심기업 연구자 분석부(530), 관심기업 이벤트 분석부(540)를 포함한다. 관심기업 분석부(320)에 포함된 구성요소는 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
관심기업 특허분석부(510)는 관심기업 정보로부터 추출된 출원인, 기업명, 키워드, 발명자 정보, 기업 대표자 정보를 기반으로 후행특허 보유기업 분석, 심사관 피인용수 분석, 특허출원 수를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기업 특허 분석 결과를 생성한다.
관심기업 특허분석부(510)는 입력받은 관심기업 정보로부터 추출된 출원인(기업명), 키워드, 발명자 정보, 기업 대표자 정보를 기반으로 후행특허 보유기업 분석, 심사관 피인용수 분석, 특허출원 수를 생성한다.
관심기업 특허분석부(510)는 후행특허 보유기업 분석, 심사관 피인용수 분석, 특허출원 수 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기업 특허 분석 결과를 생성한다.
관심기업 특허분석부(510)는 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 등록특허에 대한 심사관 피인용수를 확인하고, 심사관 피인용수를 이용하여 특허청 심사관이 후행 특허들을 심사할때 관심기업 특허들을 인용해서 의견제출통지 또는 거절 결정시 활용하는 지수로 인지한다.
관심기업 특허분석부(510)는 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 현재 보유중인 관심기업 특허 중 특정년도별로 등록된 총 특허 등록 건수를 확인하고, 총 특허 등록 건수를 기반으로 특허 출원이 증가추세구간을 확인한다.
관심기업 특허분석부(510)는 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 관심기업 특허에 대한 출원/등록 특허수, 피인용수, 해외 특허 패밀리수, 특허당 평가 지표, 기술 분야에 대한 점유율과 집중률을 포함하는 평가 지표 정보를 확인한다.
관심기업 특허분석부(510)는 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 피인용특허에 대한 권리자의 특허 들의 평균 CPC 개수로 특허당 얼마나 많은 기술을 포함하고 있는지 파악한 지표로서 융합성을 생성한다.
관심기업 특허분석부(510)는 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 전체 보유 특허수(All)를 확인하고, 권리자의 이름으로된 특허수. 권리자의 이름으로 출원하여 공개되거나 등록된 특허수와 매입이 확인된 공개 또는 등록 특허수를 전체 보유 특허수에 포함시킨다.
관심기업 특허분석부(510)는 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 타겟 기업별 기술 분야에서의 선행성을 확인하고, 기술 분야에서 전체 특허의 출원일 분포와 기술 분야의 타겟 기업의 발명 특허의 출원일 분포를 통계학적으로 비교하여 산출한다.
관심기업 특허분석부(510)는 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 타겟 기업별 타겟 분야에서의 특허 점유율을 산출하고, 타겟 분야에서 보유하고 있는 타겟 기업의 특허수 / 타겟 분야의 전체 특허수를 기반으로 특허 점유율을 산출한다.
관심기업 특허분석부(510)는 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 타겟 기업별 타겟 분야로의 집중률을 확인하고, 타겟 기업의 특허가 타겟 분야로 집중되는 정도로 집중률을 산출하며, 타겟 분야의 타겟기업의 특허수 / 타겟 기업의 전체 특허수로 집중률을 산출한다.
관심기업 특허분석부(510)는 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 타겟 기업별 타겟 분야에서의 심사관 피인용 점유율을 확인하고, 타겟 분야의 타겟 기업의 특허가 받은 심사관 피인용수 / 타겟 분야의 전체 특허가 받은 심사관 피인용수로 타겟 기업별 타겟 분야에서의 심사관 피인용 점유율을 산출한다.
관심기업 기술분석부(520)는 관심기업 기술 정보로부터 추출된 기술명, 기술분야, 키워드를 기반으로 포트폴리오 지표 분석 결과, 투자지표 분석 결과, 관심지표 분석 결과, R&D 연속성 분석 결과, 분쟁지표 분석 결과, 비율지표 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기업 기술 분석 결과를 생성한다.
관심기업 기술분석부(520)는 입력받은 관심기업 기술 정보(기술명, 기술분야, 키워드)를 기반으로 포트폴리오 지표 분석 결과, 투자지표 분석 결과, 관심지표 분석 결과, R&D 연속성 분석 결과, 분쟁지표 분석 결과, 비율지표 분석 결과를 생성한다.
관심기업 기술분석부(520)는 포트폴리오 지표 분석 결과, 투자지표 분석 결과, 관심지표 분석 결과, R&D 연속성 분석 결과, 분쟁지표 분석 결과, 비율지표 분석 결과 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기업 기술 분석 결과를 출력한다.
관심기업 연구자 분석부(530)는 관심기업 연구자 정보로부터 추출된 발명자명을 기반으로 발명 특허수, 피인용수, 글로벌 특허 패밀리수, 소속기업내 특허점유율, 특허당 평가지표를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기업 연구자 분석 결과를 생성한다.
관심기업 연구자 분석부(530)는 관심기업 연구자 정보(발명자명)를 기반으로 발명 특허수, 피인용수, 글로벌 특허 패밀리수, 소속기업내 특허점유율, 특허당 평가지표를 생성한다.
관심기업 연구자 분석부(530)는 발명 특허수, 피인용수, 글로벌 특허 패밀리수, 소속기업내 특허점유율, 특허당 평가지표 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기업 연구자 분석 결과를 생성한다.
관심기업 이벤트 분석부(540)는 관심기업 특허 분석 결과, 관심기업 기술 분석 결과, 관심기업 연구자 분석 결과를 기반으로 특허 거래이력 분석 결과, 분쟁이력 분석 결과, 심사관 피인용수 분석 결과, 패밀리 특허 분석 결과, 국가 R&D 관련 분석 결과, M&A 발생 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기업 이벤트 결과를 생성한다.
관심기업 이벤트 분석부(540)는 관심기업 특허 분석 결과, 관심기업 기술 분석 결과, 관심기업 연구자 분석 결과를 기반으로 특허 거래이력 분석, 분쟁이력 분석, 심사관 피인용수 분석, 패밀리 특허 분석, 국가 R&D 관련 분석, M&A 발생 분석을 생성한다.
관심기업 이벤트 분석부(540)는 특허 거래이력 분석, 분쟁이력 분석, 심사관 피인용수 분석, 패밀리 특허 분석, 국가 R&D 관련 분석, M&A 발생 분석 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기업 이벤트 결과를 생성한다.
도 6은 본 실시예에 따른 관심기술 분석부를 개략적으로 나타낸 블럭 구성도이다.
관심기술 분석부(330)는 입력된 관심기술 정보를 기반으로 관심기술 분석 결과를 생성한다. 관심기술 분석부(330)는 입력된 관심기술 정보로부터 기술분야, 기술명, 기술키워드를 중 적어도 하나 이상의 정보를 추출하고, 추출된 기술분야, 기술명, 기술키워드 중 하나 이상의 정보를 이용하여 관심기술 상세분석 결과, 관심기술 특허분석 결과, 관심기술 연구자분석 결과, 관심기술 이벤트 분석 결과를 생성한다.
본 실시예에 따른 관심기술 분석부(330)는 관심기술 상세 분석부(610), 관심기술 특허 분석부(620), 관심기술 연구자 분석부(630), 관심기술 이벤트 분석부(640)를 포함한다. 관심기술 분석부(330)에 포함된 구성요소는 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
관심기술 상세 분석부(610)는 관심기술 정보로부터 추출된 기술분야, 기술명, 기술키워드를 기반으로 급성장 키워드 분석 결과, 신규등장 키워드 분석 결과, 특화 키워드 분석 결과, 동시출현 키워드 분석 결과, R&D 추천 키워드 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기술 특허 분석 결과를 생성한다.
관심기술 상세 분석부(610)는 입력받은 관심기술 정보(기술분야, 기술명, 기술키워드)를 기반으로 기술분야, 기술명, 기술키워드를 가장 많이 출원한 출원인에 대응하는 기업에 대해 관심기술 상세분석 결과를 생성한다.
관심기술 특허 분석부(620)는 관심기술 정보로부터 추출된 기술분야, 기술명, 기술키워드를 기반으로 급성장 키워드 분석 결과, 신규등장 키워드 분석 결과, 특화 키워드 분석 결과, 동시출현 키워드 분석 결과, R&D 추천 키워드 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기술 특허 분석 결과를 생성한다.
관심기술 특허 분석부(620)는 동시출현키워드, R&D 추천 키워드를 추천한다. 관심기술 특허 분석부(620)는 특정 키워드와 동시에 하나의 특허에서 같이 등장한 키워드를 동시출현키워드로 정의한다. 관심기술 특허 분석부(620)는 특정 기술에 대해 동시출현키워드 콘텐츠에서 최초 동시 출현일 역순으로 정렬하여 출연한 키워드를 확인한다. 관심기술 특허 분석부(620)는 복수의 키워드 중 제1 키워드의 최초 동시 출현일을 확인하고, 최근 동시 출현일을 확인하고, 제1 키워드와 제2 키워드가 최초와 최근에 동일한 공보상에 함께 나타난 날짜를 확인한다. 관심기술 특허 분석부(620)는 특정 키워드와 동일 특허 상에서 같이 등장한 적은 없는 키워드를 알고리즘적으로 R&D 추천 키워드로 추천한다.
관심기술 특허 분석부(620)는 해당 기술 또는 해당 기업의 특허 집합의 키워드들 중 최근 5년, 그 이전 5년, 최근 4년, 그 이전 4년, 최근 3년, 그 이전 3년, 최근 2년과 그 이전 2년, 최근 1년과 그 이전 1년의 등장률의 산술평균으로 등장률이 더 높은 키워드들을 급성장 키워드로 선정한다.
관심기술 특허 분석부(620)는 관심기술 또는 관심 기업의 특허 집합의 키워드들 중에서 최근 2년(8분기) 동안 분기별로 등장한 순으로 분석 정보를 제공하여 신규 등장 키워드를 선정한다.
관심기술 특허 분석부(620)는 관심기술 또는 관심 기업의 특허 집합의 키워드들 중 기 선택된 특허집합에 존재하는 특허를 제외한 나머지 집합에 등장하지 않는 비율(TF-IDF)을 측정하여 나의 특허 집합을 대표할 수 있는 특화성 높은 키워드를 선정한다. 관심기술 특허 분석부(620)는 특화성 높은 키워드를 이용하여 연도별로 등장횟수를 분석한다.
관심기술 특허 분석부(620)는 입력받은 관심기술 정보(기술분야, 기술명, 기술키워드)를 기반으로 급성장 키워드 분석 결과, 신규등장 키워드 분석 결과, 특화 키워드 분석 결과, 동시출현 키워드 분석 결과, R&D 추천 키워드 분석 결과를 생성한다. 관심기술 특허 분석부(620)는 키워드 분석 결과, 신규등장 키워드 분석 결과, 특화 키워드 분석 결과, 동시출현 키워드 분석 결과, R&D 추천 키워드 분석 결과 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기술 특허 분석 결과를 출력한다.
관심기술 특허 분석부(620)는 동시출현키워드와 R&D 추천 키워드를 확인한다. 관심기술 특허 분석부(620)는 특정 키워드와 동시에 하나의 특허에서 같이 등장한 키워드를 동시출현키워드로 정의한다. 관심기술 특허 분석부(620)는 특정 기술에 대해 동시출현키워드 콘텐츠에서 최초 동시 출현일 역순으로 정렬하여 출연한 키워드를 확인한다. 관심기술 특허 분석부(620)는 복수의 키워드 중 제1 키워드의 최초 동시 출현일을 확인하고, 최근 동시 출현일을 확인한다. 관심기술 특허 분석부(620)는 제1 키워드와 제2 키워드가 최초와 최근에 동일한 공보 상에 함께 나타난 날짜를 확인한다. 다시 말해, 관심기술 특허 분석부(620)는 특정 기술분야의 키워드 함께 나타나는 키워드들을 보면서 최근의 관련 기술 동향을 빠르게 파악할 수 있도록 한다.
관심기술 특허 분석부(620)는 SNS에서 새로운 친구를 추천하는 개념처럼 특정 키워드와 동일 특허 상에서 같이 등장한 적은 없는 키워드를 알고리즘적으로 R&D 추천 키워드로 추천한다. 관심기술 특허 분석부(620)는 R&D 추천 키워드를 제공하여 신규 발명을 하기에 좋은 소재를 제공한다.
관심기술 특허 분석부(620)는 입력 키워드와 매개 키워드는 동시 출현 키워드로 인지하나 매개 키워드와 추천 키워드는 동시 출현 키워드로 인지하지 않는다
관심기술 특허 분석부(620)는 해당 기술 또는 해당 기업의 특허 집합의 키워드들 중에서 최근 5년과 그 이전 5년, 최근 4년과 그 이전 4년, 최근 3년과 그 이전 3년, 최근 2년과 그 이전 2년, 최근 1년과 그 이전 1년의 등장률의 산술평균으로 등장률이 더 높은 키워드들을 급성장 키워드로 선정한다.
관심기술 특허 분석부(620)는 해당 기술 또는 해당 기업의 특허 집합의 키워드들 중에서 최근 2년(8분기) 동안 분기별로 등장한 순으로 분석 정보를 제공하여 신규 등장 키워드를 선정한다.
관심기술 특허 분석부(620)는 해당 기술 또는 해당 기업의 특허 집합의 키워드들 중에서 나의 특허집합에는 많이 등장하지만, 나를 제외한 나머지 집합에는 등장하지 않는 비율(TF-IDF)을 측정하여 나의 특허 집합을 대표할 수 있는 특화성 높은 키워드를 선정한다. 관심기술 특허 분석부(620)는 특화성 높은 키워드를 이용하여 연도별로 등장횟수를 분석한다.
관심기술 연구자 분석부(630)는 관심기술 연구자 정보로부터 추출된 발명자명을 기반으로 연구자의 발명 특허수 분석 결과, 피인용수 분석 결과, 글로벌 특허 패밀리 분석 결과, 기술 점유율 분석 결과, 기술 집중률 분석 결과, 특허 평가지표 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기술 연구자분석 결과를 생성한다.
관심기술 연구자 분석부(630)는 입력받은 관심기술 연구자 정보(발명자명)를 기반으로 연구자의 발명 특허수 분석 결과, 피인용수 분석 결과, 글로벌 특허 패밀리 분석 결과, 기술 점유율 분석 결과, 기술 집중률 분석 결과, 특허 평가지표 분석 결과를 생성한다.
관심기술 연구자 분석부(630)는 발명 특허수 분석 결과, 피인용수 분석 결과, 글로벌 특허 패밀리 분석 결과, 기술 점유율 분석 결과, 기술 집중률 분석 결과, 특허 평가지표 분석 결과 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기술 연구자분석 결과를 출력한다.
관심기술 연구자 분석부(630)는 기술 분야별 기업의 기술 분야로의 집중률로, 계산식은 타겟 분야에 대한 기업의 전체 특허 수 / 기업의 전체 특허 수로 집중률(on field)을 산출한다.
관심기술 이벤트 분석부(640)는 관심기술 상세분석 결과, 관심기술 특허분석 결과, 관심기술 연구자분석 결과를 기반으로 거래이력 분석 결과, 분쟁이력 분석 결과, 심사관 피인용수 분석 결과, 패밀리 특허 분석 결과, 국가 R&D 관련 분석 결과, M&A 발생 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기술 이벤트 분석 결과를 생성한다.
관심기술 이벤트 분석부(640)는 관심기술 상세분석 결과, 관심기술 특허분석 결과, 관심기술 연구자분석 결과를 기반으로 거래이력 분석 결과, 분쟁이력 분석 결과, 심사관 피인용수 분석 결과, 패밀리 특허 분석 결과, 국가 R&D 관련 분석 결과, M&A 발생 분석 결과를 생성한다.
관심기술 이벤트 분석부(640)는 거래이력 분석 결과, 분쟁이력 분석 결과, 심사관 피인용수 분석 결과, 패밀리 특허 분석 결과, 국가 R&D 관련 분석 결과, M&A 발생 분석 결과 중 적어도 하나 이상을 포함하는 관심기술 이벤트 분석 결과를 출력한다.
도 7은 본 실시예에 따른 특허가치 평가부와 연동하는 특허 평가, 특허 분쟁, 연구자 검색 모듈을 나타낸 도면이다.
본 실시예에 따른 특허가치 평가부(340)는 추가로 특허 평가부(720), 특허 분쟁 예측부(730), 연구자 단위 검색부(740)와 연동한다.
특허 평가부(720)는 자사 분석 결과, 관심기술 분석 결과, 관심기술 분석 결과로부터 특허 분쟁에 사용된 특허를 포함하는 적어도 하나 이상의 분쟁 특허 집합과 적어도 하나 이상의 비분쟁 특허 집합을 수집한다. 특허 평가부(720)는 분쟁 특허 집합에 포함된 복수의 분쟁 특허들과 비분쟁 특허 집합에 포함된 복수의 비분쟁 특허들에 대하여 기 설정된 복수의 특허 평가 요소에 대한 특허 평가 요소값을 생성한다.
특허 평가부(720)는 분쟁 특허와 비분쟁 특허에 대하여, 특허 평가 요소값을 설명 변수값으로 설정한다. 특허 평가부(720)는 분쟁 특허에 부여된 분쟁 특허 부여값과 비분쟁 특허에 부여된 비분쟁 특허 부여값을 반응 변수값으로 설정하여 기 설정된 통계학적 처리를 수행하여 기 설정된 적어도 하나 이상의 특허 평가 모델을 생성한다.
특허 평가부(720)는 제1 특허 평가부(722), 제2 특허 평가부(724), 제3 특허 평가부(726)를 포함한다.
제1 특허 평가부(722)는 자사 분석 결과, 관심기술 분석 결과, 관심기술 분석 결과로부터 적어도 한 종류 이상의 특허 분쟁에 사용된 특허를 포함하는 적어도 하나 이상의 분쟁 특허 집합과 적어도 하나 이상의 비분쟁 특허 집합을 입수한다. 제1 특허 평가부(722)는 분쟁 특허 집합을 구성하는 복수의 분쟁 특허들과 비분쟁 특허 집합을 구성하는 복수의 비분쟁 특허들에 대하여 기 설정된 복수의 특허 평가 요소에 대한 특허 평가 요소값을 생성한다.
제1 특허 평가부(722)는 분쟁 특허와 비분쟁 특허에 대하여, 특허 평가 요소값을 설명 변수값으로 설정한다. 제1 특허 평가부(722)는 분쟁 특허에 부여된 분쟁 특허 부여값과 분쟁 특허 부여값과 다르게 설정한다. 제1 특허 평가부(722)는 비분쟁 특허에 부여된 비분쟁 특허 부여값을 반응 변수값으로 하여 기 설정된 통계학적 처리를 수행하여 기 설정된 적어도 하나 이상의 특허 평가 모델을 생성한다.
제1 특허 평가부(722)는 분쟁 특허의 속성에 따라 다르게 부여되는 제1 분쟁 특허 부여값을 부여하거나 분쟁 특허의 속성과 무관하게 분쟁 발생 여부로만 분쟁 특허 부여값을 부여하는 제2 분쟁 특허 부여값을 부여한다.
제1 특허 평가부(722)는 비분쟁 특허 집합의 크기를 분쟁 특허 집합의 크기보다 같거나, 큰 것인 것으로 설정한다. 제1 특허 평가부(722)는 분쟁 특허 집합의 통계학적 속성 중 어느 하나 이상을 공유하면서 전체 특허 집합에서 추출되는 제1 비분쟁 집합을 생성한다. 제1 특허 평가부(722)는 랜덤하게 추출되는 제2 비분쟁 집합을 생성한다.
제1 특허 평가부(722)는 복수 분쟁 속성, 공동 피고수 속성, 공동 참여 속성 중 어느 하나 이상인 것으로 분쟁 특허의 속성을 설정한다. 제1 특허 평가부(722)는 분쟁 특허가 복수의 분쟁에 관련되는 속성을 복수 분쟁 속성으로 설정한다. 제1 특허 평가부(722)는 분쟁 특허가 복수의 피고를 상대로 분쟁을 제기하는 분쟁에 관련되는 속성을 공동 피고 속성으로 설정한다. 제1 특허 평가부(722)는 분쟁 특허가 관련된 분쟁에 적어도 하나 이상의 다른 분쟁 특허도 관련되는 속성을 공동 참여 속성으로 설정한다.
제1 특허 평가부(722)는 공동 참여 속성에 제1 분쟁 특허 부여값을 부여할 때, 분쟁 특허가 복수 분쟁 속성을 가질 경우 분쟁 특허 부여값을 복수 분쟁 속성을 가지지 않을 경우보다 높게 부여한다. 제1 특허 평가부(722)는 분쟁 특허가 공동 피고 속성을 가질 경우에는 분쟁 특허 부여값을 공동 피고 속성을 가지지 않을 경우보다 높게 부여한다. 제1 특허 평가부(722)는 분쟁 특허가 공동 참여 속성을 가질 경우에는 분쟁 특허 부여값을 공동 참여 속성을 가지지 않을 경우보다 낮게 부여한다.
제1 특허 평가부(722)는 분쟁 특허 부여값에 제1 분쟁 특허 부여값을 부여할 때, 분쟁 특허가 복수 분쟁 속성을 가지는 경우, 분쟁 특허가 관련되는 전체 분쟁수, 전체 분쟁의 시간별 분포 속성, 전체 분쟁의 피고별 분포 속성 중 어느 하나 이상을 참조하여 부여한다. 제1 특허 평가부(722)는 분쟁 특허가 공동 피고 속성을 가지는 경우, 분쟁 특허가 관련되는 전체 피고수, 분쟁 당 평균 피고수, 분쟁당 피고수의 통계적 분포 속성 중 어느 하나 이상을 참조하여 부여한다. 제1 특허 평가부(722)는 분쟁 특허가 공동 참여 속성을 가지는 경우, 분쟁 특허가 관련되는 분쟁에서 분쟁 특허의 평균 지분, 평균 지분의 통계적 분포 속성 중 어느 하나 이상을 참조하여 부여한다.
제1 특허 평가부(722)는 통계학적 처리를 다중 회귀 분석으로 제1 분쟁 특허 부여값을 부여한다. 제1 특허 평가부(722)는 통계학적 처리를 분류 분석으로 제2 분쟁 특허 부여값을 부여한다.
제1 특허 평가부(722)는 특허 평가 모델의 생성을 위해 등록된 특허로 구성되는 전체 등록 특허 집합에서 추출한 복수의 추출 특허 집합에 속하는 개별 특허를 추출한다. 제1 특허 평가부(722)는 기 설정된 시간 단위로 기설정된 기준 시간 이전에 발생된 특허 데이터로 생성되는 적어도 하나 이상의 설명 변수별 설명 변수값을 포함하여, 개별 특허별로 기 설정된 복수의 설명 변수별 설명 변수값을 생성한다. 제1 특허 평가부(722)는 기 설정된 기준 시간을 기준으로 특허의 생존 여부를 결정하고, 생존 여부에 대응되는 값을 반응 변수로 하여 기설정된 생존 분석을 수행한다. 제1 특허 평가부(722)는 생존 분석의 수행 결과 중 어느 하나 이상을 사용하여 적어도 하나 이상의 특허 평가 모델을 생성한다. 제1 특허 평가부(722)는 생존 분석을 위해 기설정된 시간 단위로 생성된 설명 변수별 설명 변수값을 사용하거나, 기설정된 시간 단위로 생성된 설명 변수별 설명 변수값 중 어느 하나 이상을 누계하여 사용한다.
제1 특허 평가부(722)는 매년 단위, 매분기 단위 또는 특허의 기설정된 법정된 연차 등록 기준 기간 단위 중 어느 하나 이상으로 기 설정된 시간 단위를 설정한다. 제1 특허 평가부(722)는 연도 단위로 시간 단위를 설정한다. 제1 특허 평가부(722)는 개별 특허의 등록일과 기 설정된 종료 시점까지를 대상으로, 매년마다 기설정된 특정일을 기준으로, 전체 등록 특허 집합 중에서 매년마다의 특정일 이전까지 등록된 특허를 대상으로 설명 변수별 설명 변수값을 생성한다.
제1 특허 평가부(722)는 연차 등록 여부에 따라 생존 여부를 판단한다. 제1 특허 평가부(722)는 연차 등록이 유지되는 경우, 기준 시간 이전에 연차 등록이 소멸된 경우에 따라 생존 여부에 대응되는 반응 변수값을 다르게 설정한다.
제1 특허 평가부(722)는 위험 함수, 강도 함수, 생존 함수 중 어느 하나 이상을 생존 분석의 수행 결과로 생성한다. 제1 특허 평가부(722)는 시간의 함수로 특허 평가 모델을 생성한다.
제1 특허 평가부(722)는 복수의 특허 평가 모델로 등록된 특허로 구성되는 전체 등록 특허 집합에 포함되는 복수의 특허에 대하여 복수의 특허 평가 모델값을 생성한다. 제1 특허 평가부(722)는 설명 변수값을 개별 특허와 관련되는 관련 특허의 복수의 특허 평가 모델값을 참조하여 전체 등록 특허 집합에서 추출한 복수의 추출 특허 집합에 속하는 개별 특허에 대한 적어도 하나 이상의 설명 변수의 설명 변수값을 생성한다. 제1 특허 평가부(722)는 복수의 특허 평가 모델값을 참조하여 생성되는 설명 변수값을 사용하여, 추출 특허 집합을 대상으로 추가 특허 평가 모델을 생성한다.
제1 특허 평가부(722)는 복수의 특허 평가 모델을 사용하여 복수의 특허 평가 모델값을 생성한다. 제1 특허 평가부(722)는 복수의 특허 평가 모델값 기 설정된 통계학적 방법을 사용하여 복수의 특허 평가 모델 및 추가 특허 평가 모델을 생성한다.
제1 특허 평가부(722)는 복수의 재귀 모델 수립 방법, 추가 재귀 모델 수립 방법 중 어느 하나의 방법을 사용하여 복수의 특허 평가 모델 및 추가 특허 평가 모델을 생성한다. 제1 특허 평가부(722)는 인용 관련 설명 변수, 피인용 관련 설명 변수, 발명자 관련 설명 변수, 권리자 관련 설명 변수 중 어느 하나 이상을 이용하여 설명 변수값을 생성한다.
제1 특허 평가부(722)는 개별 특허의 적어도 하나 이상의 자식 특허의 존재를 조회하고, 조회된 자식 특허의 복수의 특허 평가 모델값을 사용하여 피인용 관련 설명 변수의 설명 변수값을 생성한다. 제1 특허 평가부(722)는 개별 특허의 적어도 하나 이상의 부모 특허의 존재를 조회하고, 조회된 부모 특허의 복수의 특허 평가 모델값을 사용하여 인용 관련 설명 변수의 설명 변수값을 생성한다.
제1 특허 평가부(722)는 발명자가 포함되어 있는 적어도 하나 이상의 특허로 이루어진 특허 집합 단위로 발명자 관련 설명 변수를 평가한다. 제1 특허 평가부(722)는 권리자가 포함되어 있는 적어도 하나 이상의 특허로 이루어진 특허 집합 단위로 권리자 관련 설명 변수를 평가한다. 제1 특허 평가부(722)는 발명자가 포함되어 있는 적어도 하나 이상의 특허의 존재를 조회하고, 조회된 특허의 복수의 특허 평가 모델값을 사용하여 발명자 관련 설명 변수의 설명 변수값을 생성한다.
제1 특허 평가부(722)는 권리자가 포함되어 있는 적어도 하나 이상의 특허의 존재를 조회하고, 조회된 특허의 복수의 특허 평가 모델값을 사용하여 권리자 관련 설명 변수의 설명 변수값을 생성한다.
제2 특허 평가부(724)는 단말기(110)로부터 평가 대상 지정 정보를 입력 받는다. 제2 특허 평가부(724)는 자사 분석 결과, 관심기술 분석 결과, 관심기술 분석 결과로부터 평가 대상 지정 정보에 대응되는 평가 결과값을 입력받는다. 제2 특허 평가부(724)는 평가 결과값이 포함된 평가 정보를 단말기(110)에 제공한다.
제2 특허 평가부(724)는 어도 하나 이상의 특허로 이루어지는 특허 집합 단위로 평가 결과값을 생성한다. 제2 특허 평가부(724)는 적어도 하나 이상의 특허로 이루어진 제1 특허 집합에 대하여 적어도 하나 이상의 제1 특허 평가 요소값을 수집한다. 제2 특허 평가부(724)는 복수의 특허로 이루어진 적어도 하나 이상의 제2 특허 집합에 대하여 적어도 하나 이상의 제2 특허 평가 요소값을 수집한다.
제2 특허 평가부(724)는 제1 특허 평가 요소값과 제2 특허 평가 요소값을 사용하는 기 설정된 적어도 하나 이상 평가 모델로 적어도 하나 이상의 단일 평가 대상에 대하여 적어도 하나 이상의 단일 평가 대상 평가 결과값을 생성한다.
제2 특허 평가부(724)는 제1 특허 집합을 구성하는 특허의 서지 정보 중 적어도 하나 이상과 일치하는 단일 평가 대상을 특징짓는 속성값을 부여한다. 제2 특허 평가부(724)는 별 특허 1개로 이루어진 단일 원소 특허 집합과 2 이상의 특허로 이루어진 복합 원소 특허 집합 중 어느 하나인 특허 집합을 생성한다.
제2 특허 평가부(724)는 검색어 입력, 검색어를 대응시킬 수 있는 링크 입력, 검색어를 대응시킬 수 있는 파일 입력 중 어느 하나를 평가 대상 지정 정보로 수집한다.
제2 특허 평가부(724)는 2 이상의 특허로 구성되는 제1 특허 집합을 생성한다. 제2 특허 평가부(724)는 제1 특허 집합을 구성하는 개별 특허별로 입수되는 특허별 평가 요소값을 사용하여 제1 특허 평가 요소값을 생성한다. 제2 특허 평가부(724)는 제2 특허 집합을 구성하는 개별 특허별로 입수되는 특허별 평가 요소값을 사용하여 제2 특허 평가 요소값을 생성한다.
제2 특허 평가부(724)는 적어도 하나 이상의 제1 특허 집합 특성값을 갖는 제1 특허 집합을 생성한다. 제2 특허 평가부(724)는 적어도 하나 이상의 제2 특허 집합 특성값을 갖는 제2 특허 집합을 생성한다. 제2 특허 평가부(724)는 제1 특허 집합 특성값과 동일한 특성값 계열이면서 상위 집합인 제2 특허 집합 특성값을 부여한다. 제2 특허 평가부(724)는 제1 특허 집합 특성값과 이질적인 특성값 계열인 제2 특허 집합 특성값을 부여한다.
제2 특허 평가부(724)는 제1 특허 집합을 구성하는 특허들의 레퍼런스수, 피인용수, 관련 소송수, 관련 준소송수, 분쟁 특허의 원고수, 분쟁 특허의 피고수, 양도 회수, 연차 등록 기간, 기 설정된 적어도 하나 이상의 속성 만족을 하는 특허들로 구성되는 속성 만족 특허 집합에 대한 적어도 하나 이상의 속성 만족 평가값을 이용하여 제1 특허 평가 요소값을 생성한다.
제2 특허 평가부(724)는 기 설정된 적어도 하나 이상의 속성 만족 여부값 중 어느 하나 이상을 사용하여 제1 특허 평가 요소값을 생성한다. 제2 특허 평가부(724)는 제2 특허 집합을 구성하는 특허들의 레퍼런스수, 피인용수, 관련 소송수, 관련 준소송수, 분쟁 특허의 원고수, 분쟁 특허의 피고수, 양도 회수, 연차 등록 기간, 기 설정된 적어도 하나 이상의 속성 만족을 하는 특허들로 구성되는 속성 만족 특허 집합에 대한 적어도 하나 이상의 속성 만족 평가값 중 어느 하나 이상을 사용하여 제2 특허 평가 요소값을 생성한다.
제2 특허 평가부(724)는 제1 특허 집합을 구성하는 특허, 제1 특허 집합을 구성하는 특허를 인용하거나, 인용받는 특허, 특허가 사용된 소송 또는 분쟁에 대하여, 적어도 하나 이상의 기간 제한, 적어도 하나 이상의 권리자의 제한, 적어도 하나 이상의 권리자 속성의 제한, 적어도 하나 이상의 원고나 피고의 제한, 적어 하나 이상의 기술 분야 제한, 적어도 하나 이상의 산업 분야 제한, 적어도 하나 이상의 국가 제한 중 어느 하나 이상의 제한을 충족하는 것을 대상으로 제1 특허 평가 요소값을 생성한다.
제2 특허 평가부(724)는 제1 특허 집합을 구성하는 특허, 제1 특허 집합을 구성하는 특허를 인용하거나, 인용받는 특허, 특허가 사용된 소송 또는 분쟁에 대하여, 적어도 하나 이상의 기간 제한, 적어도 하나 이상의 권리자나, 원고나 피고의 제한, 적어 하나 이상의 기술 분야 제한, 적어도 하나 이상의 산업 분야 제한, 적어도 하나 이상의 국가 제한 중 어느 하나 이상의 제한을 충족하는 것을 대상으로 제2 특허 평가 요소값을 생성한다.
제2 특허 평가부(724)는 권리자 규모, 권리자의 특허 보유량, 권리자의 기관 속성 및 권리자에 대한 기 설정된 평가 정보, 권리자의 특허 포트폴리오에 대한 기 설정된 계산 정보, 권리자에 대한 기설정된 분쟁 관점 정보, 권리자에 대하여 부여된 적어도 하나 이상의 카테고리 정보 중 어느 하나 이상을 권리자 속성으로 부여한다.
제2 특허 평가부(724)는 IPC, USPC, FT, FI, ECLA 중 어느 하나 이상을 사용하는 특허 분류 또는 특허 분류를 기설정된 처리 또는 기설정된 카테고리화를 통하여 형성되는 카테고리 분류 중 어느 하나 이상을 기술 분야로 설정한다.
제2 특허 평가부(724)는 적어도 하나 이상의 개별 특허, 적어도 하나 이상의 권리자, 적어도 1인 이상의 발명자, 적어도 하나 이상의 기술 분야, 적어도 하나 이상의 국가 중 어느 하나 이상을 단일 평가 대상으로 설정한다.
제2 특허 평가부(724)는 단말기(110)로부터 평가 모델에 대한 선택 정보를 수집한다. 제2 특허 평가부(724)는 선택 정보를 입수 받은 평가 모델로 생성된 평가 결과값을 입력 받는다. 제2 특허 평가부(724)는 입력받은 평가 결과값을 포함한 평가 정보를 단말기(110)로 평가 정보를 전송한다.
제2 특허 평가부(724)는 특허 평가 요소별로 특허 평가 요소값을 생성한다. 제2 특허 평가부(724)는 특허 평가 요소값을 사용하는 수식, 조건식, 조건을 포함하는 수식, 수식을 포함하는 조건식 중 어느 하나 이상을 이용하여 평가 모델을 생성한다.
제2 특허 평가부(724)는 단일 평가 대상 평가 결과값을 기 저장한다. 제2 특허 평가부(724)는 저장된 단일 평가 대상 평가 결과값으로부터 평가 결과값으로 수집한다. 제2 특허 평가부(724)는 단일 평가 대상의 속성별로 구분되어 단일 평가 대상 평가 결과값으로 저장한다. 제2 특허 평가부(724)는 개별 특허, 개별 권리자, 개별 발명자, 개별 특허 분류 중 어느 하나 또는 어느 2 이상의 조합하여 단일 평가 대상의 속성을 부여한다. 제2 특허 평가부(724)는 제1 특허 집합과 제2 특허 집합을 동일한 집합으로 설정하거나 진부분 집합으로 설정한다.
제3 특허 평가부(726)는 특허공보에 포함된 데이터 및 특허공보외 정보에서 얻은 데이터를 이용하여 데이터베이스를 구축한다. 제3 특허 평가부(726)는 평가 대상 특허가 특정되면, 데이터베이스로부터 평가대상특허와 관련한 데이터를 추출하고, 추출된 데이터로부터 단말기(110)에 제공할 평가 화면을 생성하여 전송한다. 제3 특허 평가부(726)는 평가 대상 특허와 관련 있는 평가 파라미터들에 대한 명칭들과 값들을 보여주는 평가 섹션과 단말기(110)가 평가 관점을 선택할 수 있도록 한 메뉴들을 포함하는 평가 메뉴 섹션을 평가 화면으로 제공한다. 제3 특허 평가부(726)는 단말기(110)가 어느 하나의 메뉴를 선택했을 때, 선택된 메뉴에 대응하는 평가 파라미터들로 평가 메뉴 섹션을 재구성하여 출력한다.
제3 특허 평가부(726)는 특허 데이터베이스 구축시 특허공보에 포함된 데이터와 특허공보외 정보에서 얻은 데이터에서 기본 파라미터값들을 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 기본 파라미터값들을 이용하여 확장 파라미터값들을 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 생성된 기본 파라미터값 및 확장 파라미터값들을 특허별로 저장하여 특허 데이터베이스를 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 새로운 특허공보에 포함된 데이터와 특허공보외 정보를 이용하여 특허 데이터베이스를 갱신한다.
제3 특허 평가부(726)는 권리자 데이터베이스 구축시 특허공보에 포함된 데이터와 특허공보외 정보에서 얻은 데이터에서 기본 파라미터값들을 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 기본 파라미터값들을 이용하여 확장 파라미터값들을 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 생성된 기본 파라미터값들 및 확장 파라미터값들을 권리자별로 저장하여 권리자 데이터베이스를 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 새로운 특허공보에 포함된 데이터와 특허공보외 정보를 이용하여 권리자 데이터베이스를 갱신한다.
제3 특허 평가부(726)는 기술분류 데이터베이스 구축시 특허공보에 포함된 데이터와 특허공보외 정보에서 얻은 데이터에서 기본 파라미터값들을 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 기본 파라미터값들을 이용하여 확장 파라미터값들을 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 생성된 기본 파라미터값들 및 확장 파라미터값들을 기술분류별로 저장하여 기술분류 데이터베이스를 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 새로운 특허공보에 포함된 데이터와 특허공보외 정보를 이용하여 기술분류 데이터베이스를 갱신한다.
제3 특허 평가부(726)는 평가 화면 생성시 평가메뉴섹션에 포함된 메뉴들 중 적어도 하나의 메뉴에 대응하는 평가 화면에 포함된 평가파라미터값들 중 적어도 일부는 확장 파라미터값들 중 적어도 일부를 포함시킨다.
제3 특허 평가부(726)는 특허공보에 포함된 데이터와 특허공보외 정보에서 얻은 데이터에서 기본 파라미터값들을 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 생성된 기본 파라미터값들을 특허별로 저장하여 특허 데이터베이스를 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 새로운 특허공보에 포함된 데이터와 특허공보외 정보를 이용하여 특허 데이터베이스를 갱신한다.
제3 특허 평가부(726)는 특허공보에 포함된 데이터와 특허공보외 정보에서 얻은 데이터에서 기본 파라미터값들을 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 생성된 기본 파라미터값들을 권리자별로 저장하여 권리자 데이터베이스를 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 새로운 특허공보에 포함된 데이터와 특허공보외 정보를 이용하여 권리자 데이터베이스를 갱신한다.
제3 특허 평가부(726)는 특허공보에 포함된 데이터와 특허공보외 정보에서 얻은 데이터에서 기본 파라미터값들을 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 생성된 기본 파라미터값들을 기술분류별로 저장하여 기술분류 데이터베이스를 생성한다. 제3 특허 평가부(726)는 새로운 특허공보에 포함된 데이터와 특허공보외 정보를 이용하여 기술분류 데이터베이스를 갱신한다.
제3 특허 평가부(726)는 기본 파라미터값들을 이용하여 평가메뉴섹션에 포함된 메뉴들 중 적어도 하나의 메뉴에 대응하는 평가 화면에 포함된 평가파라미터값들 중 적어도 일부를 실시간으로 생성한다.
제3 특허 평가부(726)는 평가 대상 특허에 대한 발명의 명칭을 포함한 서지적 사항 중 적어도 일부를 보여주는 서지 섹션과 평가 대상 특허에 대한 등급을 보여주는 등급 섹션을 포함하는 평가 화면을 출력한다. 제3 특허 평가부(726)는 평가 대상 특허에 대하여 평가 등급, 평가점수 및 백분위 값 중 일부를 포함하는 등급 섹션을 출력한다.
제3 특허 평가부(726)는 서지 섹션에 현재권리자를 확인하기 위한 하이퍼링크를 포함시키고, 단말기(110)가 하이퍼링크를 선택하면 링크를 통해 공식특허정보사이트에 접속하여 평가 대상 특허의 현재권리자에 관한 실시간 정보를 제공한다.
제3 특허 평가부(726)는 소송관련 정보, 거래정보, 담보권 정보를 포함하는 특허공보외 정보를 출력한다. 제3 특허 평가부(726)는 평가메뉴섹션에 평가 대상 특허와 관련한 데이터에 따라 메뉴들을 재구성한다.
특허 분쟁 예측부(730)는 자사 분석 결과, 관심기술 분석 결과, 관심기술 분석 결과로부터 복수의 소송 특허 및 준 소송 특허를 포함하는 분쟁 특허 집합을 수집한다. 특허 분쟁 예측부(730)는 분쟁 특허 집합에 포함된 분쟁 특허에 대한 분쟁 정보를 수집한다. 특허 분쟁 예측부(730)는 분쟁 특허 집합에 포함된 분쟁 특허에 대한 분쟁 수치값을 부여한다.
특허 분쟁 예측부(730)는 분쟁 수치값이 부여된 분쟁 특허 집합과 분쟁 수치값이 비분쟁 수치 기준값으로 부여되는 복수의 비분쟁 특허를 포함하는 비분쟁 특허 집합에 대하여, 분쟁 수치값과 비분쟁 수치 기준값을 반응 변수값으로 설정한다. 특허 분쟁 예측부(730)는 분쟁 특허와 비분쟁 특허에 대하여 복수의 설명 변수별 설명 변수값을 사용하여 통계학적 기법을 사용하여 적어도 하나 이상의 특허 분쟁 리스크 계량 모델을 수립한다.
특허 분쟁 예측부(730)는 제1 특허 분쟁 예측부(732), 제2 특허 분쟁 예측부(734)를 포함한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 자사 분석 결과, 관심기술 분석 결과, 관심기술 분석 결과로부터 적어도 하나 이상의 특허를 포함하는 자기 특허 집합을 수집한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 자기 특허 집합과 기 설정된 관련성을 가지는 적어도 하나 이상의 타겟 특허 집합을 수집한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 적어도 하나 이상의 특허를 포함하는 타겟 특허 집합을 수집한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 타겟 특허 집합과 기 설정된 관련성을 가지는 적어도 하나 이상의 자기 특허 집합을 수집한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 타겟 특허 집합을 구성하는 개별 특허에 대하여 적어도 하나 이상의 특허별 분쟁 예측 모델값을 수집한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 특허별 분쟁 예측 모델값을 이용하여 적어도 하나 이상의 분쟁 예측 정보를 생성한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 사용자 또는 정보 시스템에서 생성하거나 관리하는 특허 집합을 자기 특허 집합으로 설정한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 자기 특허 집합을 기 설정된 집합 한정 옵션을 사용하여 한정하거나, 기 설정된 분할 기준을 적용하여 2 이상의 부분 특허 집합으로 분할한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 사용자 또는 특허 정보 시스템에서 생성하거나 관리하는 특허 집합을 타겟 특허 집합으로 설정한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 타겟 특허 집합을 기 설정된 집합 한정 옵션을 사용하여 한정하거나, 기 설정된 분할 기준을 적용하여 2 이상의 부분 특허 집합으로 분할한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 자기 특허 집합을 구성하는 자기 특허들과 기 설정된 관련성을 가지는 특허들로 이루어지는 타겟 특허 집합을 생성한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 인용-피인용 특허 관계, 텍스트 마이닝 기법 상의 유사 특허군 관계, 특허 분류 상 유사 기술 특허 관계 중 어느 하나 이상의 관계를 기 설정된 관련성으로 설정한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 2 이상의 자기 특허들과 기 설정된 관련성을 가지도록 타겟 특허들을 설정한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 관련성을 계량화할 수 있다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 관련성 빈도 및 관련성 강도 중 어느 하나 이상을 포함하는 계량화를 수행한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 타겟 특허에 대응되는 기 설정된 관련성을 가지는 자기 특허의 개수를 관련성 빈도로 설정한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 인용-피인용 특허 관계 정보, 유사 특허군 관계 정보 및 유사 기술 특허 관계 정보 중 어느 하나 이상을 사용하여 관련성 강도를 생성한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 인용-피인용 깊이 정보 및 인용-피인용 종류 정보 중 어느 하나 이상을 사용하여 인용-피인용 특허 관계 정보로 관련성 강도를 생성한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 자기 특허와 타겟 특허의 유사도 정보를 사용하여 유사 특허군 관계 정보로 관련성 강도를 생성한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 자기 특허와 타겟 특허에서 추출되는 추출 키워드, 자기 특허와 타겟 특허의 레퍼런스 정보에서 생성되는 인용-피인용 정보, 자기 특허와 타겟 특허에서 추출되는 적어도 한 종류 이상의 특허 분류, 특허 분류가 속하는 특허 분류 체계 상의 특허 분류의 적어도 한 단계 이상의 상위 특허 분류 중 어느 하나 이상을 이용하여 유사도 정보를 생성한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 자기 특허와 타겟 특허에 포함되어 있는 적어도 한 종류 이상의 특허 분류에 대하여, 특허 분류가 속하는 특허 분류 체계 상에서의 일치 깊이, 일치 빈도 및 일치 서열 중 어느 하나 이상을 이용하여 유사 기술 특허 관계 정보로 관련성 강도를 생성한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 적어도 하나 이상의 인용 관점 분쟁 예측 요소, 적어도 하나 이상의 다분쟁 특허 관점 분쟁 예측 요소, 적어도 하나 이상의 다분쟁 유발자 관점 분쟁 예측 요소, 적어도 하나 이상의 다분쟁 기술군 관점 분쟁 예측 요소 중 선택되는 어느 하나 이상의 분쟁 예측 요소의 분쟁 예측 요소값을 이용하여 특허별 분쟁 예측 모델값을 생성한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 타겟 특허에 대하여 실시간으로 특허별 분쟁 예측 모델값을 생성하거나, 기 생성된 특허별 분쟁 예측 모델값을 저장하고 있는 특허별 분쟁 예측 모델값 DB에서 호출하여 특허별 분쟁 예측 모델값 수집한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 입력받은 자기 특허 집합에 대응되는 타겟 특허별 분쟁 예측 정보, 입력받은 자기 특허 집합에 대응되는 적어도 하나 이상의 타겟 특허군별 분쟁 예측 정보, 입력받은 자기 특허 집합에 대응되는 타겟 특허 집합에 대한 분쟁 예측 정보, 적어도 하나 이상의 부분 자기 특허 집합에 대응되는 타겟 특허별 분쟁 예측 정보, 적어도 하나 이상의 부분 자기 특허 집합에 대응되는 적어도 하나 이상의 타겟 특허군별 분쟁 예측 정보 중 어느 하나 이상을 포함하는 분쟁 예측 정보를 생성한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 설정된 적어도 하나 이상의 분쟁 예측 정보값, 적어도 하나 이상의 분쟁 예측 분석 정보, 적어도 하나 이상의 분쟁 예측 근거 정보 중 어느 하나 이상을 포함하는 분쟁 예측 정보를 생성한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 기 설정된 조건을 충족하는 특허만을 타겟 특허로 입력받거나 기 설정된 조건(사용자 설정, 특허 정보 시스템 설정, 권리자 조건, 관련성 조건, 개별 특허 속성 조건)을 충족하는 특허만을 자기 특허로 수집한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 타겟 특허 집합을 구성하는 적어도 하나 이상의 타겟 특허 및 타겟 특허 집합에 대하여 기 설정된 분할 기준 또는 기 설정된 선별 기준을 적용한 적어도 하나 이상의 부분 타겟 특허 집합 중 어느 하나 이상은 기설정된 랭킹을 부여한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 관련성 빈도, 관련성 강도, 분쟁 예측 모델값 및 사용자 입력 관련성 정보 중 어느 하나 이상을 사용하는 랭킹 생성 규칙에 따라서 랭킹을 생성한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 분할된 부분 자기 특허 집합별로 타겟 특허 집합을 수집한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 부분 자기 특허 집합에 대응되는 부분 타겟 특허 집합별로 생성한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 분할된 부분 타겟 특허 집합별로 자기 특허 집합을 수집한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 부분 타겟 특허 집합에 대응되는 부분 자기 특허 집합별로 분쟁 예측 정보를 생성한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 복수의 자기 특허 집합으로 수집한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 2 이상의 자기 특허 집합별로 타겟 특허 집합으로 수집한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 2 이상의 자기 특허 집합에 대응되는 타겟 특허 집합별로 분쟁 예측 정보를 생성한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 복수의 타겟 특허 집합을 수집한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 2 이상의 타겟 특허 집합별로 자기 특허 집합을 수집한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 2 이상의 타겟 특허 집합에 대응되는 자기 특허 집합별로 분쟁 예측 정보를 생성한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 사용자가 생성하거나 선택하는 적어도 하나 이상의 사용자 특허 집합을 타겟 특허 집합으로 수집한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 자기 특허 집합을 구성하는 자기 특허 중 적어도 어느 하나와 사용자 특허 집합을 구성하는 타겟 특허 중 적어도 어느 하나가 인용-피인용 특허 관계, 텍스트 마이닝 기법 상의 유사 특허군 관계, 특허 분류 상 유사 기술 특허 관계 중 어느 하나 이상의 관계를 이용하여 사용자 특허 집합과 자기 특허 집합 간의 관련성을 계산한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 자기 특허별로 분쟁 예측 정보를 생성한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 분할되거나 선별되는 자기 특허 집합별로 분쟁 예측 정보를 생성한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 분할되거나 선별되는 타겟 특허 집합별로 분쟁 예측 정보를 생성한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 사용자에 의해서 선별되거나 분할되는 방식 또는 상시 시스템의 기 설정된 선별 기준이나 분할 기준에 의해 분할되는 방식에 따라 자기 특허 집합 또는 타겟 특허 집합을 선별하거나 분할한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 타겟 특허 집합을 구성하는 타겟 특허의 권리자명, 권리자 속성, 특허 기술 분류, 기 설정된 적어도 하나 이상의 평가값 중 어느 하나 이상을 이용하여 기 설정된 선별 기준이나 분할 기준을 설정한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 시스템이 지정하는 적어도 하나 이상의 속성 및 사용자가 지정하는 적어도 하나 이상의 속성 중 어느 하나 이상으로 권리자 속성을 설정한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 타겟 특허에 대한 적어도 하나 이상의 질적 평가 요소 중 어느 하나 이상을 사용하여 평가된 질적 평가 요소값을 계산한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 입수된 1차 타겟 특허 집합에 대하여 기 설정된 집합 연산을 수행한 후 생성되는 2차 타겟 특허 집합을 구성하는 2차 타겟 특허를 대상으로 특허별 분쟁 예측 모델값을 수집한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 1차 타겟 특허 집합을 구성하는 1차 타겟 특허에 대한 삭제, 1차 타겟 특허 집합에 대한 한정, 2차 타겟 특허 집합으로의 신규 특허 추가 중 어느 하나 이상을 실시하여 2차 타겟 특허 집합을 생성한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 사용자로부터 입수 받은 사용자 가중치 정보를 반영하여 분쟁 예측 정보를 생성한다. 제1 특허 분쟁 예측부(732)는 타겟 특허 집합을 구성하는 타겟 특허 중 어느 하나 이상에 대하여 개별 타겟 특허별로 사용자가 설정하는 타겟 특허별 가중치 정보, 타겟 특허의 개별 속성에 설정하는 속성별 가중치 정보, 인용-피인용 관계에 대해 설정하는 인용-피인용 가중치 정보, 텍스트 마이닝 관계에 대해 설정하는 텍스트 마이닝 가중치 정보, 특허 분류상 유사 기술 특허 관계에 대해 설정하는 유사 기술 특허 관계 가중치 정보 중 어느 하나 이상을 이용하여 사용자 가중치 정보를 생성한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 분쟁 특허와 비분쟁 특허에 대하여, 분쟁 예측 요소값을 설명 변수값으로 설정하고, 분쟁 특허에 부여된 분쟁 특허 부여값과 분쟁 특허 부여값과 다르게 부여되며 비분쟁 특허에 부여된 비분쟁 특허 부여값을 반응 변수값으로 설정하여 기 설정된 통계학적 처리를 수행하여 분쟁 예측 모델값을 생성한다.
제1 특허 분쟁 예측부(732)는 트리(tree)를 활용한 앙상블 기법을 사용하는 기계 학습 계열의 알고리즘을 사용하여 통계학적 처리를 수행한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 자사 분석 결과, 관심기술 분석 결과, 관심기술 분석 결과로부터 복수의 소송 특허 및 준 소송 특허로 구성되는 분쟁 특허 집합을 수집한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 특허 집합을 구성하는 분쟁 특허에 대하여, 분쟁 특허와 관련된 분쟁 정보를 수집한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 특허 집합에 속하는 분쟁 특허에 대하여 분쟁 수치값을 부여한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 수치값이 부여된 분쟁 특허 집합과 분쟁 수치값이 비분쟁 수치 기준값으로 부여되는 복수의 비분쟁 특허로 구성되는 비분쟁 특허 집합에 대하여, 분쟁 수치값과 비분쟁 수치 기준값을 반응 변수값으로 설정한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 특허와 비분쟁 특허에 대하여 복수의 설명 변수별 설명 변수값을 사용하여 통계학적 기법을 사용하여 적어도 하나 이상의 특허 분쟁 리스크 계량 모델을 수립한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 정보를 처리하여 분쟁 수치값을 생성한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 발생 정보 및 분쟁 당사자 정보 중 어느 하나 이상을 포함하는 분쟁 정보를 생성한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 특허별로 분쟁 수치값의 종류를 다르게 설정한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 특허 분쟁 리스크 계량 모델을 사용하여 분쟁 특허와 비분쟁 특허가 속하는 모집단 특허에 대하여 특허 분쟁 리스크 계량 모델값을 부여한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 심판에 사용된 특허나 재심사(reexam)에 사용된 특허 중 어느 하나 이상을 준 소송 특허로 설정한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 법부 관할 소송에 사용된 특허나, 행정부 관할 소송에 사용된 특허 중 어느 하나 이상을 소송 특허로 설정한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 특허의 분쟁수, 분쟁 시점, 분쟁 종류, 원고수와 피고수 중 어느 하나 이상을 처리하여 분쟁 수치값을 계산한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 특허가 사용된 기 설정된 시점 구간에서 발생한 분쟁에서의 독립 피고수 정보를 처리하여 분쟁 수치값을 계산한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 피고 명칭에서 최장 동일 문자열을 공유하지 않는 피고의 개수를 독립 피고수로 설정한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 전체 분쟁 특허 집합의 부분 집합으로 분쟁 특허 집합을 수집한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 전체 비분쟁 특허 집합의 부분 집합으로 비분쟁 특허 집합을 설정한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 적어도 하나 이상의 공유 속성을 갖도록 분쟁 특허 집합과 비분쟁 특허 집합을 설정한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 특정 시점 공유로 공유 속성을 설정한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 특정 시점을 기준으로 반응 변수값 및 설명 변수값을 생성한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 특정 시점 이후부터 모델 종단 시점까지를 기준으로 반응 변수값을 생성한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 모델 개시 시점부터 특정 시점까지를 기준으로 설명 변수값을 생성한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 특허가 속하는 기술군, 국가군, 산업군, 시기군, 및 권리자 속성군, 당사자 속성군 중 어느 하나 이상을 처리하여 분쟁 수치값을 생성한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 복수의 소송 특허 및 준 소송 특허로 구성되는 분쟁 특허 집합을 수집한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 특허 집합을 구성하는 분쟁 특허에 대하여, 분쟁 특허와 관련된 분쟁 정보를 수집한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 특허 집합에 속하는 분쟁 특허에 대하여 분쟁 수치값을 부여한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 수치값이 부여된 분쟁 특허 집합에서 분쟁 특허를 가중 샘플링한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 수치값이 부여되지 않은 비분쟁 특허 집합에서 비분쟁 특허를 샘플링한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 가중 샘플링된 분쟁 특허와 비분쟁 특허를 사용하여 통계 모델링을 수행한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 수치값이 부여되고 가중 샘플링된 분쟁 특허로 구성되는 분쟁 특허 집합과 비분쟁 수치 기준값이 부여되는 복수의 비분쟁 특허로 구성되는 비분쟁 특허 집합에 대하여, 분쟁 수치 값과 비분쟁 수치 기준값을 반응 변수값으로 설정한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 특허와 비분쟁 특허에 대하여 복수의 설명 변수별 설명 변수값을 사용하여 통계학적 기법을 적용하여 적어도 하나 이상의 특허 분쟁 리스크 계량 모델을 수립한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 정보를 처리하여 분쟁 수치값을 생성한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 발생 정보 및 분쟁 당사자 정보 중 어느 하나 이상을 포함하는 분쟁 정보를 생성한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 특허별로 다를 수 있도록 분쟁 수치값의 종류를 설정한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 수치값을 사용하여 가중 샘플링을 생성한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 특허의 분쟁수, 분쟁 시점, 분쟁 종류, 원고수와 피고수 중 어느 하나 이상을 처리하여 분쟁 수치값을 생성한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 분쟁 특허가 사용된 기 설정된 시점 구간에서 발생한 분쟁에서의 독립 피고수 정보를 처리하여 분쟁 수치값을 생성한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 기 설정된 시점 구간의 분쟁 회수로 분쟁 수치값을 생성한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 전체 분쟁 특허 집합의 부분 집합으로 분쟁 특허 집합을 설정한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 전체 비분쟁 특허 집합의 부분 집합으로 비분쟁 특허 집합을 설정한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 적어도 하나 이상의 공유 속성을 가지는 것인 것으로 분쟁 특허 집합과 비분쟁 특허 집합을 설정한다.
제2 특허 분쟁 예측부(734)는 특정 시점 공유로 공유 속성을 설정한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 특정 시점을 기준으로 반응 변수값 및 설명 변수값을 생성한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 특정 시점 이후부터 모델 종단 시점까지를 기준으로 반응 변수값을 생성한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 모델 개시 시점부터 특정 시점까지를 기준으로 설명 변수값을 생성한다. 제2 특허 분쟁 예측부(734)는 특허 분쟁 리스크 계량 모델을 사용하여 분쟁 특허와 비분쟁 특허가 속하는 모집단 특허에 대하여 특허 분쟁 리스크 계량 모델값을 부여한다.
연구자 단위 검색부(740)는 자사 분석 결과, 관심기술 분석 결과, 관심기술 분석 결과로부터 발명자 단위로 발명자와 관련된 발명자 단위 특허 집합을 수집한다. 연구자 단위 검색부(740)는 발명자 단위 특허 집합 또는 발명자 단위 특허 집합의 부분 특허 집합에 대하여 인용 특허 집합을 생성한다. 연구자 단위 검색부(740)는 인용 특허 집합에 속하는 인용 특허를 그룹 단위로 분리하여 그룹 단위의 인용 특허 집합을 분석 대상 문건 집합으로 분석 정보를 생성한다.
연구자 단위 검색부(740)는 특정 발명자가 발명자로 등재되어 있는 특허로 구성되는 발명자 단위 특허 집합을 생성한다. 연구자 단위 검색부(740)는 출원 중 또는 등록 후에서의 발명자 명의 정보를 수정한다. 연구자 단위 검색부(740)는 전방 인용 특허 집합 및 후방 인용 특허 집합 중에서 선택되는 어느 하나를 인용 특허 집합으로 설정한다. 연구자 단위 검색부(740)는 출원인, 특허 분류, 시간 정보, 국가 정보, 및 발명자 정보를 이용하여 그룹 단위를 생성한다.
연구자 단위 검색부(740)는 제1 연구자 단위 검색부(742), 제2 연구자 단위 검색부(744), 제3 연구자 단위 검색부(746)를 포함한다.
제1 연구자 단위 검색부(742)는 출원 명의인의 명의 정보를 자사 분석 결과, 관심기술 분석 결과, 관심기술 분석 결과로부터 확인한다. 제1 연구자 단위 검색부(742)는 출원 명의인의 명의로 출원되거나 등록된 적어도 하나 이상의 특허 문건을 수집한다. 제1 연구자 단위 검색부(742)는 출원 명의인 단위로 계층적 특허 정보를 통합한다. 제1 연구자 단위 검색부(742)는 특허 문건에 발명자로 등재된 적어도 하나 이상의 발명자를 추출한다. 제1 연구자 단위 검색부(742)는 발명자 명의를 기준으로 하는 발명자 단위로 계층적으로 특허 정보를 통합한다. 제1 연구자 단위 검색부(742)는 발명자가 등재되어 있는 특허 문건 정보를 관리한다. 제1 연구자 단위 검색부(742)는 출원 명의인 명의로 출원되거나 등록된 특허 문건 정보를 관리한다.
제1 연구자 단위 검색부(742)는 출원 명의인으로부터 발명자 지정 정보를 수집한다. 제1 연구자 단위 검색부(742)는 출원 명의인에게 추출된 발명자의 목록 정보를 전송한다. 제1 연구자 단위 검색부(742)는 출원 명의인으로부터 전송된 발명자의 목록 정보로부터 발명자 선택 정보를 수집한다.
제1 연구자 단위 검색부(742)는 출원 명의인의 명의 정보를 확인하기 위해 특허 정보 데이터베이스를 관리하는 데이터베이스운영시스템(DBMS)에 질의어(query)로 출원 명의인의 명의 정보를 질의한다.
제1 연구자 단위 검색부(742)는 특허 정보 검색 엔진이 검색 키워드로 출원 명의인의 명의 정보를 입력받아 확인한다. 제1 연구자 단위 검색부(742)는 검색 엔진이 접근 가능한 특허 정보를 인덱스화한다.
제1 연구자 단위 검색부(742)는 발명자가 등재되어 있는 특허 문건 정보는 출원번호를 키값으로 관리한다. 제1 연구자 단위 검색부(742)는 특허 정보 검색 엔진이 검색 키워드로 출원 명의인의 명의 정보를 입력받아 출원 명의인의 명의 정보를 확인한다. 제1 연구자 단위 검색부(742)는 검색 엔진이 접근 가능한 특허 정보를 인덱스화한 특허 정보 인덱스 데이터베이스를 구축한다.
제1 연구자 단위 검색부(742)는 입력된 특허 분류 기호 정보를 검색어로 하여 기설정된 시간 단위로 특허 정보 인덱스 데이터베이스를 대상으로 검색을 수행한다. 제1 연구자 단위 검색부(742)는 검색 결과 특허 분류 기호 정보에 대응되는 신규한 특허 문건 정보가 검색되는 경우, 출원번호하에 검색된 특허 문건 정보를 관리한다.
제2 연구자 단위 검색부(744)는 자사 분석 결과, 관심기술 분석 결과, 관심기술 분석 결과로부터 발명자 정보를 수집한다. 제2 연구자 단위 검색부(744)는 발명자 단위로 발명자와 관련된 발명자 단위 특허 집합을 수집한다. 제2 연구자 단위 검색부(744)는 발명자 단위 특허 집합 또는 발명자 단위 특허 집합의 부분 특허 집합에 대하여 인용 특허 집합을 생성한다.
제2 연구자 단위 검색부(744)는 인용 특허 집합에 속하는 인용 특허를 적어도 하나 이상의 그룹 단위로 처리하여 그룹 단위의 인용 특허 집합을 분석 대상 문건 집합으로 하여 적어도 하나 이상의 분석 정보를 생성한다.
제2 연구자 단위 검색부(744)는 발명자가 발명자로 등재되어 있는 특허로 구성되는 발명자 단위 특허 집합을 생성한다. 제2 연구자 단위 검색부(744)는 출원 중 또는 등록 후에서의 발명자 명의 정보의 수정한다.
제2 연구자 단위 검색부(744)는 전방 인용 특허 집합 및 후방 인용 특허 집합 중에서 선택되는 어느 하나를 인용 특허 집합으로 설정한다. 제2 연구자 단위 검색부(744)는 적어도 하나 이상의 출원인, 특허 분류, 시간 정보, 국가 정보, 및 발명자 중 어느 하나 이상을 사용하여 그룹 단위를 생성한다.
제2 연구자 단위 검색부(744)는 출원인이 그룹의 단위로 사용되는 경우, 그룹 단위의 출원인에 대응되는 집합을 출원인이 출원하거나 등록한 특허로 구성되는 특허 집합으로 설정한다. 제2 연구자 단위 검색부(744)는 출원 명의인이 출원하거나 등록한 특허 집합에 대한 수정한다.
제2 연구자 단위 검색부(744)는 합병, 출원인 명칭의 변경, 출원인의 감축이나 추가에 따라 출원인 명의 정보를 수정한다. 제2 연구자 단위 검색부(744)는 적어도 하나 이상의 특허 분류, 시간 정보, 국가 정보, 및 발명자 중 어느 하나 이상을 사용하여 부분 특허 집합을 생성한다. 제2 연구자 단위 검색부(744)는 인용 특허 집합에 대한 적어도 하나 이상의 제한, 랭킹 및 그룹핑 중 어느 하나 이상이 적용된 특허 집합에 대하여 분석 정보를 생성한다. 제2 연구자 단위 검색부(744)는 적어도 하나 이상의 특허 분류, 시간 정보, 국가 정보, 및 발명자 중 어느 하나 이상을 사용하여 제한되거나 그룹핑한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 자사 분석 결과, 관심기술 분석 결과, 관심기술 분석 결과로부터 연구자 추천 요청 정보를 사용하여 연구자 추천 정보의 생성에 사용할 복수의 특허 식별키를 수집한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 단위 추천 항목에 대응되는 적어도 하나 이상의 단위 추천 알고리즘 수집한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 특허 식별키로 연구자 추천 정보 생성에 필요한 특허 식별키 대응 추천 기반 정보를 수집한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 단위 추천 알고리즘을 특허 식별키 대응 추천 기반 정보에 적용하여 적어도 하나 이상의 단위 추천 정보 생성한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 2 이상 복수 개의 단위 추천 정보를 생성한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 복수 개의 단위 추천 정보에 랭킹 알고리즘을 적용하여 연구자에 대한 랭킹 정보를 생성한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 연구자 추천 요청 정보를 단일 키워드로 입력받는다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 특허 식별키 수집을 위해 단일 키워드를 검색 조건으로 하여 적어도 하나 이상의 키워드 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별키를 입수한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 단일 키워드를 검색 조건으로 하여 단일 키워드를 포함하는 적어도 하나 이상의 복합 키워드를 추출한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 복합 키워드를 검색 조건으로 하여 적어도 하나 이상의 키워드 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별키를 수집한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 단일 키워드를 검색 조건으로 하여, 단일 키워드와 동일성이 인정되는 동일성 키워드를 우선 탐색한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 동일성 키워드가 있는 경우, 단일 키워드와 동일성 키워드를 적어도 하나 이상의 키워드 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별키를 수집한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 단일 키워드를 검색 조건으로 하여, 단일 키워드와 동일성이 인정되는 동일성 키워드를 우선 탐색한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 동일성 키워드가 있는 경우, 단일 키워드와 동일성 키워드를 검색 조건으로 하여 단일 키워드 또는 동일성 키워드를 포함하는 적어도 하나 이상의 복합 키워드를 추출한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 복합 키워드를 검색 조건으로 하여 적어도 하나 이상의 키워드 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별키를 수집한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 연구자 단위로 복수의 특허 식별키 대응 추천 기반 정보를 사용하여 단위 추천 알고리즘을 생성한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 연구자 추천 요청 정보 중 연구자에만 대응되는 연구자별 특허 식별키 대응 추천 기반 정보를 필수적으로 사용하고, 선택적으로 연구자 추천 요청 정보에 대응되는 모집단 특허 식별키 대응 추천 기반 정보를 사용하여 단위 추천 알고리즘을 생성한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 특허별로 특허 식별키 대응 추천 기반 정보를 생성한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 시간 독립적 또는 시간 종속적으로 생성되는 특허의 내부적 속성, 특허가 사용된 이벤트 속성, 특허 관련 주체 속성, 특허 관리 속성 및 관련 특허의 속성 중 어느 하나 이상을 이용하여 특허 식별키 대응 추천 기반 정보를 생성한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 특허에 포함된 서지 사항 기반 속성, 명세서 기반 속성, 특허 분류 속성 중 어느 하나 이상을 이용하여 내부적 속성을 생성한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 특허와 관련된 거래 속성, 라이선스의 설정과 해제 속성, 담보의 설정과 해제 속성, 특허가 사용된 소송 속성, 특허와 관련된 분쟁 속성 중 어느 하나 이상을 이용하여 특허 사용 이벤트 속성을 생성한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 특허의 출원인 속성, 대리인 속성, 거래 특허인 경우 현재 권리자와 직전 권리자 속성, 심사관 속성 중 어느 하나 이상을 이용하여 특허 관련 주체 속성을 생성한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 표준 특허 기구 속성, 표준 특허풀 속성, 국가 R&D 특허 속성 중 어느 하나 이상을 이용하여 특허 소속 집단 속성을 생성한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 피인용 특허의 속성, 레퍼런스 특허 속성, 패밀리 특허 속성, 유사 특허 속성 중 어느 하나 이상을 이용하여 관련 특허의 속성을 생성한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 전체 피인용 속성, 심사관 피인용 속성 및 OA 피인용 속성 중 어느 하나 이상을 이용하여 피인용 특허의 속성을 생성한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 전체 레퍼런스속성, 심사관 레퍼런스 속성 및 OA 레퍼런스 속성 중 어느 하나 이상을 이용하여 레퍼런스 특허의 속성을 생성한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 국내 패밀리 속성, 국가별 패밀리 속성, 해외 통합 패밀리 속성 중 어느 하나 이상을 이용하여 패밀리 특허 속성을 생성한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 키워드 기반 유사 특허 속성, 인용 네트워크 기반 유사 특허 속성, 특허 분류 기반 유사 특허 속성 중 어느 하나 이상을 이용하여 유사 특허 속성을 생성한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 적어도 하나 이상의 연구자 추천 대상 핵심 키워드 집합에서 추출하는 복수의 키워드를 복수 개의 연구자 추천 요청 정보로 생성한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 적어도 하나 이상의 연구자 추천 대상 권리자 집합에서 추출하는 복수의 권리자를 복수 개의 연구자 추천 요청 정보로 생성한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 적어도 하나 이상의 연구자 추천 대상 특허 분류 집합에서 추출하는 복수의 특허 분류를 복수 개의 연구자 추천 요청 정보로 생성한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 키워드, 권리자, 특허 분류 중 어느 2 이상을 사용하여 생성되는 복합 단위 연구자 추천 요청 정보를 복수 개의 연구자 추천 요청 정보로 생성한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 단일 키워드를 검색 조건으로 하여 적어도 하나 이상의 키워드 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별키를 수집한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 단일 키워드를 검색 조건으로 하여 단일 키워드를 포함하는 적어도 하나 이상의 복합 키워드를 추출한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 복합 키워드를 검색 조건으로 하여 적어도 하나 이상의 키워드 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별키를 수집한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 단일 키워드를 검색 조건으로 하여, 단일 키워드와 동일성이 인정되는 동일성 키워드를 우선 탐색한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 동일성 키워드가 있는 경우, 단일 키워드와 동일성 키워드를 적어도 하나 이상의 키워드 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별키를 수집한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 단일 키워드를 검색 조건으로 하여, 단일 키워드와 동일성이 인정되는 동일성 키워드를 우선 탐색한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 동일성 키워드가 있는 경우, 단일 키워드와 동일성 키워드를 검색 조건으로 하여 단일 키워드 또는 동일성 키워드를 포함하는 적어도 하나 이상의 복합 키워드를 추출한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 복합 키워드를 검색 조건으로 하여 적어도 하나 이상의 키워드 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별 키를 수집한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 복수 키워드를 OR 검색 조건으로 하여 적어도 하나 이상의 키워드 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별키를 수집한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 복수 키워드를 OR 검색 조건으로 하여 단일 키워드를 포함하는 적어도 하나 이상의 복합 키워드를 추출한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 복합 키워드를 검색 조건으로 하여 적어도 하나 이상의 키워드 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별키를 수집한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 복수 키워드를 OR 검색 조건으로 하여, 복수 키워드와 동일성이 인정되는 동일성 키워드를 우선 탐색한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 동일성 키워드가 있는 경우, 복수 키워드와 동일성 키워드를 적어도 하나 이상의 키워드 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별키를 수집한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 복수 키워드를 OR 검색 조건으로 하여, 복수 키워드와 동일성이 인정되는 동일성 키워드를 우선 탐색한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 동일성 키워드가 있는 경우, 복수 키워드와 동일성 키워드를 검색 조건으로 하여 복수 키워드 또는 동일성 키워드를 포함하는 적어도 하나 이상의 복합 키워드를 추출한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 복합 키워드를 검색 조건으로 하여 적어도 하나 이상의 키워드 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별키를 수집한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 권리자 명칭이 단일 명칭인 경우에는 단일 권리자 명칭을 검색 조건으로 하여 적어도 하나 이상의 권리자 명칭 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별키를 수집한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 권리자 명칭이 복수 개일 경우에는 복수 권리자 명칭의 처리는 개별 권리자 명칭별로 처리하거나 복수 권리자 명칭을 1개의 단일 개념 권리자 명칭 집합으로 처리한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 연구자 추천 요청 정보가 특허 번호 집합인 경우, 특허 번호 집합에 포함된 특허 번호들을 OR 검색 조건으로 하여 적어도 하나 이상의 특허 번호 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별키를 수집한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 특허 번호 집합에 포함된 특허 번호들을 OR 검색 조건으로 하여 적어도 하나 이상의 특허 번호 포함 테이블 또는 검색 인덱스에 질의하여 특허 식별키를 수집한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 단말기(110)로부터 연구자 추천 요청 정보를 수집한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 실시간 처리 판단 알고리즘을 적용하여 진단을 수행한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 진단 결과를 반영하여 단위 추천 정보를 생성한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 생성된 단위 추천 정보 정보를 포함한 연구자 추천 정보를 단말기(110)로 전송한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 진단 결과가 실시간 처리 대상인 경우, 연구자 추천 요청 정보를 사용하여 연구자 추천 정보의 생성에 사용할 복수의 특허 식별키를 수집한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 단위 추천 항목에 대응되는 적어도 하나 이상의 단위 추천 알고리즘을 수집한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 특허 식별키로 연구자 추천 정보 생성에 필요한 특허 식별키 대응 추천 기반 정보를 수집한다.
제3 연구자 단위 검색부(746)는 단위 추천 알고리즘을 특허 식별키 대응 추천 기반 정보에 적용하여 적어도 하나 이상의 단위 추천 정보 생성한다. 제3 연구자 단위 검색부(746)는 진단 결과가 비 실시간 처리 대상인 경우에는 연구자 추천 요청 정보로 기 생성된 단위 추천 정보를 검색하여 수집한다.
도 8a,8b는 본 실시예에 따른 특허 분석 보고서를 나타낸 도면이다.
도 8a에 도시된 바와 같이, 특허 분석 장치(130)는 ‘관심기술 분석보고서’로서, 특정 기술에 대한 특정 국가에 대한 ‘특허 동향’, ‘특허 출원 공개 동향’, ‘특허 등록 동향’, ‘심사관 피인용수 동향’, ‘관련 기업’, ‘특허 보유 기업’, ‘기술분야의 특허 기업 분석’, ‘기술분야의 특허 기업 분석-경쟁 기업’, ‘기술분야의 특허 기업 분석-신규 등장 키워드’, ‘기술분야의 특허 기업 분석-보유 특허’, ‘전문 기업’, ‘키워드 동향’, ‘급성장 키워드’, ‘신규 등장 키워드’, ‘특화성 키워드’, ‘연구자’, ‘선도 연구자’를 포함하는 보고서를 생성한다.
도 8b에 도시된 바와 같이, 특허 분석 장치(130)는 ‘관심기업 분석보고서’로서, 특정 기업(A사)의 특정 국가에 대한 ‘특허 동향’, ‘특허 출원 공개 동향’, ‘특허 등록 동향’, ‘심사관 피인용수 동향’, ‘관련 기업’, ‘피인용 특허 보유 기업’, ‘기술 카테고리’, ‘종합 비교’, ‘기업의 기술 분야’, ‘특정 기술 분야에서 특정 기업의 특정 국가 특허 포트폴리오 동향’, ‘특정 기술 분야에서 특정 기업의 특정 국가 특허의 경쟁 기업’, ‘특정 기술 분야에서 특정 기업의 특정 국가 특허의 최근 급성장 키워드’, ‘특정 기술 분야에서 특정 기업의 특정 국가 특허’, ‘피인용 특허 보유 기업’, ‘키워드 동향’, ‘급성장 키워드’, ‘신규 등장 키워드’, ‘특화성 키워드’, ‘연구자’, ‘기업의 연구자’, ‘특허’, ‘보유 특허’를 포함하는 보고서를 생성한다.
이상의 설명은 본 실시예의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 실시예가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 실시예들은 본 실시예의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 실시예의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 실시예의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 실시예의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

Claims (34)

  1. 입력받은 자사 특허 정보, 자사 기술 정보, 자사 연구자 정보를 기반으로 자사 분석 결과를 생성하는 자사 분석부;
    입력받은 관심기업 정보, 관심기업 기술정보, 관심기업 연구자 정보를 기반으로 관심기업 정보를 생성하는 관심기업 분석부;
    입력받은 관심기술 정보, 관심기술 연구자 정보를 기반으로 관심기술 분석 결과를 생성하는 관심기술 분석부;
    상기 자사 분석 결과, 상기 관심기업 분석 결과, 상기 관심기술 분석 결과를 기반으로 특허가치 평가 결과를 생성하는 특허가치 평가부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 자사 분석부는
    상기 자사 특허 정보로부터 추출된 특허출원번호, 출원인, 기업명, 사업자 번호, 법인 번호를 이용하여 자사 특허 분석 결과를 생성하고, 상기 자사 기술 정보로부터 추출된 기술명, 기술분야, 키워드를 이용하여 자시 기술 분석 결과를 생성하고, 상기 자사 연구자 정보를 기반으로 자사 연구자 분석 결과를 생성하고, 상기 자사 특허 분석 결과, 상기 자사 기술 분석 결과, 상기 자사 연구자 분석 결과를 기반으로 자사 이벤트 분석 결과를 생성하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 자사 특허 정보로부터 추출된 상기 특허출원번호, 상기 특허출원번호, 상기 출원인, 상기 기업명, 상기 사업자 번호, 상기 법인 번호, 상기 발명자 정보, 상기 기업 대표자 정보 중 하나 이상의 정보를 기반으로 출원건수, 등록건수, 등록률, 심사관 피인용수, 후행특허 보유기업 분석 결과, 특허 매입 수, 특허 매각 수를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 상기 자사 특허 분석 결과를 생성하는 자사 특허 분석부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 자사 기술 정보로부터 추출된 상기 기술명, 상기 기술분야, 상기 키워드를 기반으로 포트폴리오 지표 분석 결과, 투자지표 분석 결과, 관심지표 분석 결과, R&D 연속성 분석 결과, 분쟁지표 분석 결과, 비율지표 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 상기 자사 기술 분석 결과를 생성하는 자사 기술 분석부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 자사 연구자 정보로부터 추출된 상기 발명자명을 기반으로 발명 특허수, 피인용수, 글로벌 특허 패밀리수, 소속기업내 특허점유율, 특허당 평가지표를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 상기 자사 연구자 분석 결과를 생성하는 자사 연구자 분석부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  6. 제2항에 있어서,
    상기 자사 특허 분석 결과, 상기 자사 기술 분석 결과, 상기 자사 연구자 분석 결과를 기반으로 특허 거래이력 분석 결과, 분쟁이력 분석 결과, 심사관 피인용수 분석 결과, 패밀리 특허 분석 결과, 국가 R&D 관련 분석 결과, M&A 발생 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 상기 자사 이벤트 결과를 생성하는 자사 이벤트 분석부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 관심기업 분석부는,
    상기 관심기업 정보로부터 추출된 출원인, 기업명, 키워드, 발명자 정보, 기업 대표자 정보를 기반으로 관심기업 특허분석 결과를 생성하고, 상기 관심기업 기술정보로부터 추출된 기술명, 기술분야, 키워드를 기반으로 관심기업 기술 분석 결과를 생성하고, 상기 관심기업 연구자 정보로부터 추출된 발명자명을 기반으로 관심기업 연구자 분석 결과를 생성하고, 상기 관심기업 특허 분석 결과, 상기 관심기업 기술 분석 결과, 상기 관심기업 연구자 분석 결과를 기반으로 관심기업 이벤트 분석 결과를 생성하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 관심기업 정보로부터 추출된 상기 출원인, 상기 기업명, 상기 키워드, 상기 발명자 정보, 상기 기업 대표자 정보를 기반으로 후행특허 보유기업 분석, 심사관 피인용수 분석, 특허출원 수를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 상기 관심기업 특허 분석 결과를 생성하는 관심기업 특허분석부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 관심기업 기술 정보로부터 추출된 상기 기술명, 상기 기술분야, 상기 키워드를 기반으로 포트폴리오 지표 분석 결과, 투자지표 분석 결과, 관심지표 분석 결과, R&D 연속성 분석 결과, 분쟁지표 분석 결과, 비율지표 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 상기 관심기업 기술 분석 결과를 생성하는 관심기업 기술분석부;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  10. 제7항에 있어서,
    상기 관심기업 연구자 정보로부터 추출된 상기 발명자명을 기반으로 발명 특허수, 피인용수, 글로벌 특허 패밀리수, 소속기업내 특허점유율, 특허당 평가지표를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 상기 관심기업 연구자 분석 결과를 생성하는 관심기업 연구자 분석부;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  11. 제7항에 있어서,
    상기 관심기업 특허 분석 결과, 상기 관심기업 기술 분석 결과, 상기 관심기업 연구자 분석 결과를 기반으로 특허 거래이력 분석 결과, 분쟁이력 분석 결과, 심사관 피인용수 분석 결과, 패밀리 특허 분석 결과, 국가 R&D 관련 분석 결과, M&A 발생 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 상기 관심기업 이벤트 결과를 생성하는 관심기업 이벤트 분석부;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  12. 제8항에 있어서,
    상기 관심기업 특허분석부는
    상기 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 등록특허에 대한 심사관 피인용수를 확인하고, 상기 심사관 피인용수를 이용하여 특허청 심사관이 후행 특허들을 심사할 때 관심기업 특허들을 인용해서 의견제출통지 또는 거절 결정시 활용하는 지수로 인지하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  13. 제8항에 있어서,
    상기 관심기업 특허분석부는
    상기 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 현재 보유중인 관심기업 특허 중 특정년도별로 등록된 총 특허 등록 건수를 확인하고, 상기 총 특허 등록 건수를 기반으로 특허 출원이 증가추세구간을 확인하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  14. 제8항에 있어서,
    상기 관심기업 특허분석부는
    상기 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 관심기업 특허에 대한 출원/등록 특허수, 피인용수, 해외 특허 패밀리수, 특허당 평가 지표, 기술 분야에 대한 점유율과 집중률을 포함하는 평가 지표 정보를 확인하고, 상기 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 피인용특허에 대한 권리자의 특허 들의 평균 CPC 개수로 특허당 얼마나 많은 기술을 포함하고 있는지 파악한 지표로서 융합성을 생성하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  15. 제8항에 있어서,
    상기 관심기업 특허분석부는
    상기 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 전체 보유 특허수(All)를 확인하고, 권리자의 이름으로된 특허수. 권리자의 이름으로 출원하여 공개되거나 등록된 특허수와 매입이 확인된 공개 또는 등록 특허수를 전체 보유 특허수에 포함시키는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  16. 제8항에 있어서,
    상기 관심기업 특허분석부는
    상기 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 타겟 기업별 기술 분야에서의 선행성을 확인하고, 기술 분야에서 전체 특허의 출원일 분포와 기술 분야의 타겟 기업의 발명 특허의 출원일 분포를 통계학적으로 비교하여 산출하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  17. 제8항에 있어서,
    상기 관심기업 특허분석부는
    상기 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 타겟 기업별 타겟 분야에서의 특허 점유율을 산출하고, 타겟 분야에서 보유하고 있는 타겟 기업의 특허수 / 타겟 분야의 전체 특허수를 기반으로 특허 점유율을 산출하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  18. 제8항에 있어서,
    상기 관심기업 특허분석부는
    상기 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 타겟 기업별 타겟 분야로의 집중률을 확인하고, 타겟 기업의 특허가 타겟 분야로 집중되는 정도로 집중률을 산출하며, 타겟 분야의 타겟기업의 특허수 / 타겟 기업의 전체 특허수로 집중률을 산출하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  19. 제8항에 있어서,
    상기 관심기업 특허분석부는
    상기 관심기업 특허 분석 결과에 포함된 타겟 기업별 타겟 분야에서의 심사관 피인용 점유율을 확인하고, 타겟 분야의 타겟 기업의 특허가 받은 심사관 피인용수 / 타겟 분야의 전체 특허가 받은 심사관 피인용수로 타겟 기업별 타겟 분야에서의 심사관 피인용 점유율을 산출하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  20. 제1항에 있어서,
    상기 관심기술 분석부는,
    상기 관심기술 정보로부터 추출된 기술분야, 기술명, 기술키워드를 기반으로 관심기술 상세분석 결과, 관심기술 특허 분석 결과를 생성하고, 상기 관심기술 연구자 정보로부터 추출된 발명자 정보를 기반으로 관심기술 연구자분석 결과를 생성하고, 상기 관심기술 상세분석 결과, 상기 관심기술 특허분석 결과, 상기 관심기술 연구자분석 결과를 기반으로 관심기술 이벤트 분석 결과를 생성하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  21. 제20항에 있어서,
    상기 관심기술 정보로부터 추출된 상기 기술분야, 상기 기술명, 상기 기술키워드를 기반으로 급성장 키워드 분석 결과, 신규등장 키워드 분석 결과, 특화 키워드 분석 결과, 동시출현 키워드 분석 결과, R&D 추천 키워드 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 상기 관심기술 특허 분석 결과를 생성하는 관심기술 상세 분석부;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  22. 제20항에 있어서,
    상기 관심기술 정보로부터 추출된 상기 기술분야, 상기 기술명, 상기 기술키워드를 기반으로 급성장 키워드 분석 결과, 신규등장 키워드 분석 결과, 특화 키워드 분석 결과, 동시출현 키워드 분석 결과, R&D 추천 키워드 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 상기 관심기술 특허 분석 결과를 생성하는 관심기술 특허 분석부;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  23. 제20항에 있어서,
    상기 관심기술 연구자 정보로부터 추출된 상기 발명자명을 기반으로 연구자의 발명 특허수 분석 결과, 피인용수 분석 결과, 글로벌 특허 패밀리 분석 결과, 기술 점유율 분석 결과, 기술 집중률 분석 결과, 특허 평가지표 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 상기 관심기술 연구자분석 결과를 생성하는 관심기술 연구자 분석부;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  24. 제20항에 있어서,
    상기 관심기술 상세분석 결과, 상기 관심기술 특허분석 결과, 상기 관심기술 연구자분석 결과를 기반으로 거래이력 분석 결과, 분쟁이력 분석 결과, 심사관 피인용수 분석 결과, 패밀리 특허 분석 결과, 국가 R&D 관련 분석 결과, M&A 발생 분석 결과를 생성한 후 생성된 구성요소 중 적어도 하나 이상을 포함하는 상기 관심기술 이벤트 분석 결과를 생성하는 관심기술 이벤트 분석부;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  25. 제22항에 있어서,
    상기 관심기술 특허 분석부는
    동시출현키워드, R&D 추천 키워드를 추천하되,
    특정 키워드와 동시에 하나의 특허에서 같이 등장한 키워드를 상기 동시출현키워드로 정의하고, 특정 기술에 대해 상기 동시출현키워드 콘텐츠에서 최초 동시 출현일 역순으로 정렬하여 출연한 키워드를 확인하고, 복수의 키워드 중 제1 키워드의 최초 동시 출현일을 확인하고, 최근 동시 출현일을 확인하고, 상기 제1 키워드와 제2 키워드가 최초와 최근에 동일한 공보상에 함께 나타난 날짜를 확인하며,
    상기 특정 키워드와 동일 특허 상에서 같이 등장한 적은 없는 키워드를 알고리즘적으로 상기 R&D 추천 키워드로 추천하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  26. 제22항에 있어서,
    상기 관심기술 특허 분석부는
    해당 기술 또는 해당 기업의 특허 집합의 키워드들 중 최근 5년, 그 이전 5년, 최근 4년, 그 이전 4년, 최근 3년, 그 이전 3년, 최근 2년과 그 이전 2년, 최근 1년과 그 이전 1년의 등장률의 산술평균으로 등장률이 더 높은 키워드들을 급성장 키워드로 선정하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  27. 제22항에 있어서,
    상기 관심기술 특허 분석부는
    관심기술 또는 관심 기업의 특허 집합의 키워드들 중에서 최근 2년(8분기) 동안 분기별로 등장한 순으로 분석 정보를 제공하여 신규 등장 키워드를 선정하고, 관심기술 또는 관심 기업의 특허 집합의 키워드들 중 기 선택된 특허집합에 존재하는 특허를 제외한 나머지 집합에 등장하지 않는 비율(TF-IDF)을 측정하여 나의 특허 집합을 대표할 수 있는 특화성 높은 키워드를 선정하며, 상기 특화성 높은 키워드를 이용하여 연도별로 등장횟수를 분석하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  28. 제1항에 있어서,
    상기 특허가치 평가부는,
    상기 자사 분석 결과, 상기 관심기술 분석 결과, 상기 관심기술 분석 결과를 기반으로 국가별특허에 대한 가치 테이블형(Value Table), 요약형(Summary), 표준형(Standard), 전문가형(Professional) 평가 결과를 생성하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  29. 제28항에 있어서,
    상기 특허가치 평가부는,
    한국, 미국, 일본특허에 대해 권리성, 기술성, 상업성, 생존지수, 종합평가등급, 최종특허권리만료일, 예상특허잔존기간에 대한 평가지수를 포함하는 가치 테이블형(Value Table) 평가 결과를 생성하며,
    한국, 미국, 일본특허에 대해 핵심요약평가보고서로서, 생존지수(PSI), 종합평가등급, 권리성, 기술성, 상업성 등의 평가지수와 이를 산출하기 위한 세부항목에 대한 평가지수를 포함하는 요약형(Summary) 평가 결과를 생성하며,
    한국, 미국, 일본특허에 대해 핵심요약평가보고서로서, 요약형 보고서 정보와 특허의 서지사항, 특허존속기간, 특허패밀리, 선행기술목록, 특허행정처리정보, 기술분야평균평가지수, OECD의 평가방식으로 산출된 PQI지수 등을 포함하는 표준형(Standard) 평가 결과를 생성하며,
    한국, 미국특허에 대해 유사특허군내의 주요출원인분석, 연도별 동향분석, 유사특허목록, 전체특허군과 유사특허군 내의 상대점수 등을 포함하는 전문가형(Professional) 평가 결과를 생성하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  30. 제28항에 있어서,
    상기 특허가치 평가부는,
    평가의뢰한 전체 특허들에 대한 과제별, 기술별, 출원인별, 연도별 동향의 포트폴리오 분석을 포함하며, 기 선택된 평가항목과 특허분석범위를 포함하는 평가결과 종합분석보고서를 생성하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  31. 제28항에 있어서,
    상기 특허가치 평가부는,
    등록특허의 무효율을 기반으로 특허의 유효성과 무효성을 정성적으로 판단하여, 연구원 직접 무효사유, 선행무효특허자료분석을 포함하여 권리의 안정성을 정성적으로 평가하고 이를 수치화한 권리안정성 평가보고서를 생성하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  32. 제1항에 있어서,
    상기 자사 분석 결과, 상기 관심기술 분석 결과, 상기 관심기술 분석 결과로부터 특허 분쟁에 사용된 특허를 포함하는 적어도 하나 이상의 분쟁 특허 집합과 적어도 하나 이상의 비분쟁 특허 집합을 수집하고, 상기 분쟁 특허 집합에 포함된 복수의 분쟁 특허들과 상기 비분쟁 특허 집합에 포함된 복수의 비분쟁 특허들에 대하여 기 설정된 복수의 특허 평가 요소에 대한 특허 평가 요소값을 생성하고, 상기 분쟁 특허와 상기 비분쟁 특허에 대하여, 특허 평가 요소값을 설명 변수값으로 설정하고, 상기 분쟁 특허에 부여된 분쟁 특허 부여값과 상기 비분쟁 특허에 부여된 비분쟁 특허 부여값을 반응 변수값으로 설정하여 기 설정된 통계학적 처리를 수행하여 기 설정된 적어도 하나 이상의 특허 평가 모델을 생성하는 특허 평가부
    를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  33. 제1항에 있어서,
    상기 자사 분석 결과, 상기 관심기술 분석 결과, 상기 관심기술 분석 결과로부터 복수의 소송 특허 및 준 소송 특허를 포함하는 분쟁 특허 집합을 수집하고, 상기 분쟁 특허 집합에 포함된 분쟁 특허에 대한 분쟁 정보를 수집하고, 상기 분쟁 특허 집합에 포함된 상기 분쟁 특허에 대한 분쟁 수치값을 부여하고, 상기 분쟁 수치값이 부여된 상기 분쟁 특허 집합과 상기 분쟁 수치값이 비분쟁 수치 기준값으로 부여되는 복수의 비분쟁 특허를 포함하는 비분쟁 특허 집합에 대하여, 상기 분쟁 수치값과 상기 비분쟁 수치 기준값을 반응 변수값으로 설정하고, 상기 분쟁 특허와 상기 비분쟁 특허에 대하여 복수의 설명 변수별 설명 변수값을 사용하여 통계학적 기법을 사용하여 적어도 하나 이상의 특허 분쟁 리스크 계량 모델을 수립하는 특허 분쟁 예측부
    를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
  34. 제1항에 있어서,
    상기 자사 분석 결과, 상기 관심기술 분석 결과, 상기 관심기술 분석 결과로부터 발명자 단위로 발명자와 관련된 발명자 단위 특허 집합을 수집하고, 상기 발명자 단위 특허 집합 또는 상기 발명자 단위 특허 집합의 부분 특허 집합에 대하여 인용 특허 집합을 생성하고, 상기 인용 특허 집합에 속하는 인용 특허를 그룹 단위로 분리하여 그룹 단위의 인용 특허 집합을 분석 대상 문건 집합으로 분석 정보를 생성하고, 특정 발명자가 발명자로 등재되어 있는 특허로 구성되는 발명자 단위 특허 집합을 생성하고, 출원 중 또는 등록 후에서의 발명자 명의 정보의 수정하고, 전방 인용 특허 집합 및 후방 인용 특허 집합 중에서 선택되는 어느 하나를 상기 인용 특허 집합으로 설정하고, 출원인, 특허 분류, 시간 정보, 국가 정보, 및 발명자 정보를 이용하여 그룹 단위를 생성하는 연구자 단위 검색부
    를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 특허 분석 장치.
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