WO2024075895A1 - Image processing system using confocal fluorescence microscope - Google Patents

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WO2024075895A1
WO2024075895A1 PCT/KR2022/019587 KR2022019587W WO2024075895A1 WO 2024075895 A1 WO2024075895 A1 WO 2024075895A1 KR 2022019587 W KR2022019587 W KR 2022019587W WO 2024075895 A1 WO2024075895 A1 WO 2024075895A1
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WO
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wavelength
probe
optical
beam splitter
optical fiber
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PCT/KR2022/019587
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French (fr)
Korean (ko)
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김규영
김영렬
황경민
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주식회사 브이픽스메디칼
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    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B1/00Instruments for performing medical examinations of the interior of cavities or tubes of the body by visual or photographical inspection, e.g. endoscopes; Illuminating arrangements therefor
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B90/00Instruments, implements or accessories specially adapted for surgery or diagnosis and not covered by any of the groups A61B1/00 - A61B50/00, e.g. for luxation treatment or for protecting wound edges
    • A61B90/90Identification means for patients or instruments, e.g. tags
    • A61B90/94Identification means for patients or instruments, e.g. tags coded with symbols, e.g. text
    • A61B90/96Identification means for patients or instruments, e.g. tags coded with symbols, e.g. text using barcodes
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    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
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    • A61B90/98Identification means for patients or instruments, e.g. tags using electromagnetic means, e.g. transponders
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes

Definitions

  • the present disclosure relates to an image processing system using a confocal fluorescence microscope, and more specifically, the structure of an optical system mounted on a confocal fluorescence microscope equipped with a multi-wavelength or short-wavelength laser beam, and the structure of the confocal fluorescence microscope. It relates to the structure of the probe cover provided on the probe and image stitching using a confocal fluorescence microscope.
  • Confocal fluorescence microscopy is used to observe organs inside the human body, such as the stomach, bronchi, esophagus, duodenum, and rectum, where lesions cannot be directly seen by medical experts, and to use them for cancer diagnosis or treatment such as surgery.
  • a fluorescent contrast agent that is harmless to the human body is first injected through the capillaries. Then, when the injected fluorescent agent spreads to the cell tissue through the capillaries, a laser beam is irradiated to the cell tissue while a confocal fluorescence microscope is in contact with the cell tissue (or lesion tissue), and is emitted from the cell tissue. Receives emission light. By performing imaging processing using the received and emitted light, cellular tissue can be observed at a magnified level at the microscopic level.
  • a laser beam of short wavelength or multiple wavelengths may be used.
  • the probe when the probe of a confocal fluorescence microscope is entered into the body, the probe may be covered with a sterilized probe cover to ensure the hygiene of the subject.
  • the field of view (fov) of a confocal fluorescence microscope is hundreds of um, and large-area images of several millimeters may be required for medical experts to observe and diagnose tissue images of lesions. Therefore, it is necessary to secure large-area images in the order of several millimeters by stitching tissue images of hundreds of micrometers.
  • a plurality of laser beams irradiated or radiated from a plurality of lasers must be focused on the optical fiber core. do.
  • optical members corresponding to each of the plurality of laser beams must be adjusted.
  • adjusting the optical system of a confocal fluorescence microscope equipped with a multi-wavelength laser beam is very difficult and may take a long time. Therefore, productivity in manufacturing optical module products equipped with the optical system may be low and tolerances between products may be large. Additionally, light efficiency may be reduced due to the number of optical members corresponding to each of the plurality of laser beams.
  • optical module products may be required to efficiently adjust the optical system of a confocal fluorescence microscope equipped with a multi-wavelength laser beam.
  • the distal end of the probe is changed due to the user's manipulation of the cover tip located at the distal end of the probe cover. Impact may be applied to the optical window, and such impact may cause the optical window to be damaged or detached from the probe cover.
  • an image processing device that is connected to a confocal fluorescence microscope and processes a plurality of images may need location information for each of the plurality of images in order to stitch the plurality of images.
  • a sensor module located on the probe body of a confocal fluorescence microscope may acquire location information of the probe body and/or sensor module when an image processing device acquires a plurality of images. Meanwhile, while the image processing device acquires a plurality of images, the probe tip of the confocal fluorescence microscope moves in a state of substantially contacting the tissue, and the position information of the plurality of images is the position information of the probe tip. may be substantially the same as Additionally, since the location of the probe body and the location of the probe tip (or distal end) are separated by a predetermined distance, the location information of the sensor module located in the probe body and the location information of the probe tip may be different.
  • the image processing device calibrates (or corrects) the positional information of the sensor module located in the probe body with the positional information of the probe tip and provides the corrected positional information of the probe tip (or distal end of the probe) adjacent to the tissue.
  • a method may be needed to obtain and stitch a plurality of images by projecting them onto a virtual plane based on the position information of the probe tip.
  • An optical system for irradiating an object, acquiring emission light emitted from the object, and processing the obtained emission light includes the first laser and the second optical fiber coupled to the first optical fiber.
  • It may include an optical fiber coupler coupled with two optical fibers and a third optical fiber, and an optical propagation module through which the first beam and the second beam output from the optical fiber coupler propagate.
  • the light propagation module includes an optical path along which the first beam, the second beam, and the emitted light propagate, a plurality of optical members, a first collimator coupled to the third optical fiber, and the It may include a second collimator coupled to a fourth optical fiber and coupled to a probe for irradiating the first beam and the second beam to the object.
  • An optical system that processes emitted light may include a first laser coupled to a first optical fiber, and a light propagation module through which the first beam output from the first laser propagates.
  • the light propagation module includes an optical path along which the first beam and the emitted light propagate, a plurality of optical members, a first collimator coupled to the first optical fiber, and the light propagation module. It may include a second collimator coupled to a second optical fiber and coupled to a probe for irradiating the first beam to the object.
  • a probe cover surrounding a probe of a confocal fluorescence microscope (or confocal endomicroscope) may include a cover tube.
  • the cover tube may include a first part accommodating the probe tube of the probe and a second part accommodating a probe nut located at a proximal end of the probe tube.
  • the first portion may include a first region having an outer diameter of a first length and a second region having an outer diameter of a second length longer than the first length.
  • a first protruding part may be formed on the outer surface of the second part, and a plurality of second protruding parts may be formed on the inner surface of the second part.
  • the probe cover is coupled to the distal end of the cover tube and may include a cover tip including an optical window and an elastic member.
  • the elastic member may surround the entire outer surface of the first region, a first side of the elastic member may be adhered to a portion of the second region, and a second side of the elastic member may be bonded to a portion of the optical window.
  • the probe cover may include a cover nut, and a receiving groove may be formed on an inner surface of the cover nut, and the receiving groove may be coupled to the first protrusion of the second portion.
  • the probe cover may include a cover drape that is fused and bonded over the entire outer surface of the cover nut.
  • the image processing device may include at least one processor included in the probe and electrically connected to a sensor that acquires location information.
  • the at least one processor may acquire a first image of a first region of the tissue at a first viewpoint using the probe, and obtain first location information of the sensor corresponding to the first viewpoint. there is.
  • the at least one processor acquires first calibrated location information as location information of the first image based on the first location information and a predetermined parameter, and uses the probe to obtain a second viewpoint. A second image of the second region of the tissue may be obtained.
  • the at least one processor acquires second location information of the sensor corresponding to the second viewpoint, and based on the second location information and the predetermined parameter, generates a second corrected image as location information of the second image.
  • Location information may be acquired, and the first image and the second image may be stitched based on the first corrected location information and the second corrected location information.
  • An image processing device that acquires a plurality of images through a probe of a confocal fluorescence microscope (or confocal endomicroscope) in an in-vivo environment according to an embodiment of the present disclosure It may include at least one processor electrically connected to a sensor that acquires location information included in the probe. At least one processor may acquire a first image of a first area of the tissue at a first viewpoint using the probe, and obtain first location information of the sensor corresponding to the first viewpoint. At least one processor may acquire first calibrated location information based on the first location information and a predetermined parameter, and may convert the first calibrated location information and the obtained first image into an image. It can be transmitted to an external device that performs stitching.
  • At least one processor may acquire a second image of a second region of the tissue at a second viewpoint using the probe, and obtain second location information of the sensor corresponding to the second viewpoint. . At least one processor may acquire second corrected location information based on the second location information and the predetermined parameter, and transmit the second corrected location information and the obtained second image to the external device. there is.
  • the optical system of a confocal fluorescence microscope equipped with a multi-wavelength laser beam can efficiently focus the multi-wavelength laser beam on the optical fiber core to have high concentrating efficiency by providing a collimator.
  • productivity of optical module products equipped with an optical system of a confocal fluorescence microscope can be increased, and tolerances between products can be reduced.
  • the optical system of a confocal fluorescence microscope equipped with a multi-wavelength laser beam can reduce the number of optical members by providing a collimator, thereby increasing light efficiency.
  • the optical system of the confocal fluorescence microscope is provided with a rail on which optical members can move, so that the user can selectively use a confocal fluorescence microscope equipped with a short-wavelength or multi-wavelength laser beam, User convenience can be increased.
  • the Impact in the process of attaching (inserting) the probe to the probe cover, even if the distal end of the probe impacts the optical window of the cover tip located at the distal end of the probe cover, the Impact can be alleviated by the elastic force of the elastic member, thereby preventing the optical window from being damaged or detached from the probe cover.
  • the elastic member of the cover tip prevents the optical window from being broken or detached from the probe cover, so that while observing the inside of the body through a probe covered with a probe cover, a part of the probe cover (e.g., It can prevent problems (broken optical windows) remaining in the body.
  • errors that may occur when stitching images due to differences in positional information between the sensor module and the probe tip can be reduced or prevented.
  • the location information of the image acquired through the confocal endoscopy microscope is obtained more precisely and the stitching of the images is performed precisely, thereby providing high-resolution stitched images to the user of the confocal endoscopy microscope. can do.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating a multi-wavelength optical system using a plurality of lasers as a light source according to an embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram for explaining an optical path included in a light propagation module according to an embodiment.
  • FIG. 3 explains a light propagation module including an optical path according to an embodiment.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
  • FIG. 5 is a diagram for explaining a light propagation module including a third filter according to an embodiment.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating an arrangement structure of a plurality of optical members of FIG. 5 in an optical path according to an embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram for explaining an arrangement structure of a plurality of optical members in an optical path according to an embodiment.
  • FIG. 8 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a first laser as a light source according to an embodiment.
  • FIG. 9 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a first laser as a light source according to an embodiment.
  • FIG. 10 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a second laser as a light source according to an embodiment.
  • FIG. 11 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a second laser as a light source according to an embodiment.
  • FIG. 12 is a diagram illustrating a multi-wavelength optical system using a plurality of lasers as a light source according to an embodiment.
  • FIG. 13 is a diagram for explaining a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
  • FIG. 14 is a diagram for explaining a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
  • FIG. 15 is a diagram for explaining the positions of a plurality of optical members in an optical system according to an embodiment.
  • FIG. 16 is a diagram for explaining specifications of a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
  • FIG. 17 is a diagram for explaining an optical system including one laser according to an embodiment.
  • FIG. 18 is a diagram for explaining an optical system including one laser according to an embodiment.
  • FIG. 19 is a diagram for explaining movement of a second beam splitter within an optical path according to an embodiment.
  • Figure 20 is a diagram for explaining a probe cover accommodating a probe according to one embodiment.
  • FIG. 21 is an enlarged view of portion A of FIG. 1 according to an embodiment.
  • FIG. 22 is an enlarged view of portion B of FIG. 1 according to an embodiment.
  • Figure 23 is a diagram for explaining a process in which an elastic member is stretched according to an embodiment.
  • Figure 24 is a diagram for explaining an elastic member according to one embodiment.
  • Figure 25 is a diagram for explaining an elastic member according to one embodiment.
  • Figure 26 is a diagram for explaining elastic members according to various embodiments.
  • Figure 27 is a diagram for explaining an elastic member including a guide portion according to various embodiments.
  • Figure 28 is a diagram for explaining an elastic member including an elastic member and a guide portion according to an embodiment.
  • FIG. 29 is a diagram for explaining an optical window formed of an elastic member according to an embodiment.
  • FIG. 30 is a diagram for explaining an optical window formed of an elastic member according to an embodiment.
  • FIG. 31 is a diagram for explaining an optical window formed of an elastic member according to an embodiment.
  • Figure 32 is a diagram showing an actual photo of a probe cover according to one embodiment.
  • Figure 33 is a diagram showing an actual photograph of a probe cover and a probe according to an embodiment.
  • FIG. 34 is a diagram illustrating a probe that does not include a bending portion and a probe cover for a probe that does not include a bending portion, according to an embodiment.
  • Figure 35 is a diagram for explaining a probe according to one embodiment.
  • Figure 36 is a diagram for explaining the difference between the position of the sensor module and the position of the probe tip according to one embodiment.
  • Figure 37 is a diagram for explaining stitching of images acquired through a probe according to an embodiment.
  • Figure 38 is a diagram for explaining a method of obtaining corrected location information according to an embodiment.
  • Figure 39 is a diagram for explaining a method of stitching a first image and a second image according to an embodiment.
  • Figure 40 is a diagram for explaining a method of stitching 3D images according to an embodiment.
  • FIG. 41 is a diagram illustrating a method of stitching multiple images using corrected location information according to an embodiment.
  • Figure 42 is a diagram for explaining programs mounted on an image processing device according to an embodiment.
  • Figure 43 is a diagram for explaining a first program and a second program mounted on different devices according to an embodiment.
  • FIG. 44 is a diagram for explaining an organization displayed in a panoramic display in the example of FIG. 8 according to an embodiment.
  • the present disclosure relates to an image processing system using a confocal fluorescence microscope, wherein the image processing system includes an optical system (e.g., light propagation module) of the confocal fluorescence microscope, and a plurality of lasers (or light sources).
  • Laser beams radiating from the optical system propagate to the probe of the confocal fluorescence microscope, the laser beams are irradiated from the probe to an object (e.g., body tissue), and the image processing system emits light from the object.
  • An image of the object can be obtained by processing the emitted light.
  • the image processing device may obtain a large-area image by stitching the acquired image.
  • a medical expert can diagnose a lesion on the object by observing a large-area image acquired through the image processing device.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating a multi-wavelength optical system using a plurality of lasers as a light source according to an embodiment.
  • a multi-wavelength optical system 101 (or multi-wavelength confocal fluorescence microscope) according to an embodiment includes a plurality of lasers 110, a light propagation module 120, and a plurality of optical fibers 130. ), optical fiber coupler 140, a plurality of collimators 150, first pinhole 161, second pinhole 162, first photodetector 171, second photodetector 172 ), and/or a probe 180.
  • the photodetector eg, the first photodetector 171 and the second photodetector 172) may include a photo multiplier tube (PMT).
  • PMT photo multiplier tube
  • the plurality of optical fibers 130 may include a first optical fiber 131, a second optical fiber 132, a third optical fiber 133, and/or a fourth optical fiber 134.
  • optical fiber in the present disclosure may refer to a member through which beams output from the plurality of lasers 110 pass, transmit, or propagate, and may be replaced by the term connection member.
  • the plurality of lasers 110 may include a first laser 111 and a second laser 112.
  • the plurality of lasers 110 may correspond to a light source in the optical system 101.
  • each of the plurality of lasers 110 may be a pigtail laser diode (LD).
  • LD pigtail laser diode
  • the first laser 111 may emit a first beam (or light ray) of a first wavelength (eg, a wavelength corresponding to 450 nm to 500 nm).
  • the first laser 111 may emit a first beam having a wavelength of the first value.
  • the first beam may correspond to light having a wavelength range of a specified range (eg, 450 nm to 500 nm), and the wavelength value of the highest peak among the wavelength values in the wavelength range may be the first value.
  • the second laser 112 may emit a second beam (or light ray) of a second wavelength (eg, a wavelength corresponding to 750 nm to 800 nm).
  • the second laser 112 may emit a second beam having a wavelength of a second value.
  • the second beam may correspond to light having a wavelength range of a specified range (eg, 750 nm to 800 nm), and the wavelength value of the highest peak among the wavelength values in the wavelength range may be the second value.
  • the first beam of the first laser 111 may be blue light (eg, cyan).
  • the second beam of the second laser 112 may be red light.
  • the plurality of lasers 110 may be connected to the optical fiber coupler 140.
  • the first laser 111 may be connected to the optical fiber coupler 140 through the first optical fiber 131
  • the second laser 112 may be connected to the optical fiber coupler 140 through the second optical fiber 132.
  • the optical fiber coupler 140 may be connected to the light propagation module 120.
  • the first collimator 151 may be connected to the light propagation module 120, and the optical fiber coupler 140 may be connected to the first collimator 151 of the light propagation module 120 through the third optical fiber 133. can be connected as a result, the optical fiber coupler 140 may be connected to the light propagation module 120 through the third optical fiber 133 and the first collimator 151.
  • the first collimator 151 may correspond to a fiber port.
  • the first collimator 151 may include a collimating lens.
  • the collimating lens may refer to a lens that adjusts the optical path of incident light to be parallel.
  • the collimating lens included in the first collimator 151 may be an achromatic coating lens to prevent chromatic aberration of two wavelengths.
  • the optical fiber coupler 140 is mentioned as a separate component from the first optical fiber 131, the second optical fiber 132, and the third optical fiber 133, but is not limited thereto.
  • the optical fiber coupler 140 may be understood as an element connected to the first optical fiber 131, the second optical fiber 132, and the third optical fiber 133.
  • the first beam and the second beam output from the optical fiber coupler 140 may be propagated to the light propagation module 120.
  • the first beam output from the first laser 111 is transmitted through the first optical fiber 131, the optical fiber coupler 140, the third optical fiber 133, and the first collimator 151 to the light propagation module 120.
  • the second beam output from the second laser 112 is transmitted through the second optical fiber 132, the optical fiber coupler 140, the third optical fiber 133, and the first collimator 151 to the light propagation module 120. ) can be spread.
  • the light propagation module 120 may include a plurality of optical members.
  • the light propagation module 120 includes a first beam splitter 121, a second beam splitter 122, a first filter 123, a second filter 124, and a first lens 125. ), and/or a second lens 126.
  • the first filter 123 may be disposed between the first beam splitter 121 and the first photodetector 171.
  • a first lens 125 may be disposed between the first filter 123 and the first photodetector 171.
  • a first lens 125 is disposed between the first lens 125 and the first photodetector 171.
  • a pinhole 161 may be disposed.
  • the second filter 124 may be disposed between the second beam splitter 122 and the second photodetector 172.
  • a second lens 126 may be disposed between the second filter 124 and the second photodetector 172.
  • a second pinhole 162 may be disposed between the second lens 126 and the second photodetector 172.
  • the light propagation module 120 may be connected to the probe 180.
  • the light propagation module 120 may include a second collimator 152, and the second collimator 152 may be connected to the probe 180 through the fourth optical fiber 134.
  • the second collimator 152 may correspond to a fiber port.
  • the second collimator 152 may include a collimating lens.
  • the collimating lens may refer to a lens that adjusts the optical path of incident light to be parallel.
  • the collimating lens included in the second collimator 151 may be an achromatic coating lens to prevent chromatic aberration of two wavelengths.
  • the first beam emitted from the first laser 111 may be incident on the object 190 (eg, a cell).
  • the first emission light formed as the first beam is irradiated to the object 190 may propagate to the first photodetector 171.
  • the first beam emitted from the first laser 111 may be reflected by the second beam splitter 122.
  • the first beam reflected by the second beam splitter 122 may pass through the first beam splitter 121 and propagate to the probe 180 through the fourth optical fiber 134.
  • the first beam propagated by the probe 180 may be incident on the object 190.
  • the first emission light formed as the first beam is irradiated to the object 190 may propagate to the light propagation module 120 through the fourth optical fiber 134.
  • the first emission light propagated through the light propagation module 120 may be reflected by the first beam splitter 121.
  • the first emission light reflected by the first beam splitter 121 may pass through the first filter 123, the first lens 125, and the first pinhole 161 and propagate to the first photodetector 171.
  • the first photodetector 171 may amplify the propagated first emission light.
  • the first emission light amplified by the first photodetector 171 may be used to observe the object 190 (eg, a cell) or a lesion associated with the object 190.
  • the first emission light may be formed by exciting the first beam.
  • the first emission light formed as the first beam of the first wavelength is incident on the object 190 may have a wavelength higher than the first wavelength.
  • the first filter 123 may correspond to a band pass filter.
  • the first lens 125 can adjust the focusing of the beam incident on the first lens 125.
  • the second beam emitted from the second laser 112 may be incident on the object 190 (eg, a cell).
  • the second emission light formed as the second beam is irradiated to the object 190 may propagate to the second photodetector 172.
  • the second beam emitted from the second laser 112 may be reflected by the second beam splitter 122.
  • the second beam reflected by the second beam splitter 122 may pass through the first beam splitter 121 and propagate to the probe 180 through the fourth optical fiber 143.
  • the second beam propagated through the probe 180 may be incident on the object 190.
  • the second emission light formed as the second beam is irradiated to the object 190 may propagate to the light propagation module 120 through the fourth optical fiber 134.
  • the second emission light propagated through the light propagation module 120 may pass through the first beam splitter 121.
  • the second emission light that has passed through the first beam splitter 121 may pass through the second filter 124, the second lens 126, and the second pinhole 162 and propagate to the second photodetector 172.
  • the second photodetector 172 may amplify the propagated second emission light.
  • the second emission light may be formed by exciting the second beam.
  • the second emission light formed as the second beam of the second wavelength is incident on the object 190 may have a wavelength higher than the second wavelength.
  • the second emission light amplified by the second photodetector 172 may be used to observe the object 190 (eg, a cell) or a lesion associated with the object 190.
  • the second filter 124 may correspond to a long pass filter.
  • the second lens 126 can adjust the focusing of the beam incident on the second lens 126.
  • the optical system 101 since the optical system 101 includes the optical fiber coupler 140, beams emitted from the plurality of lasers 110 can be easily gathered on the optical fiber.
  • the optical fiber coupler 140 when the optical fiber coupler 140 is not included in the optical system 101, the beams emitted from the plurality of lasers 110 are radiated in free space, so they are connected to one optical fiber (e.g., the third optical fiber 133). ) may be difficult to gather in.
  • the optical system 101 according to an embodiment includes an optical fiber coupler 140, the beams emitted from the plurality of lasers 110 are transmitted through one optical fiber (e.g., a third optical fiber) through the optical fiber coupler 140. It can be gathered relatively easily into the optical fiber 133).
  • the efficiency or light collection efficiency of gathering a plurality of beams into one optical fiber can be increased.
  • the term light propagation module of the present disclosure may be changed to a light propagation circuit, an optical circuit, a confocal fluorescence microscope, or an optical endoscope circuit.
  • propagate in the present disclosure may be replaced with the terms transfer, delivery, or transmit.
  • the plurality of lasers 110 of the present disclosure have been described as including two lasers (eg, the first laser 111 and the second laser 112), but this is only an example.
  • the plurality of lasers 110 may further include additional lasers that are distinct from the first laser 111 and the second laser 112.
  • the plurality of lasers 110 may further include a third laser, and the third laser may radiate or irradiate a beam of a different wavelength from the first laser 111 and the second laser 112. there is.
  • FIG. 2 is a diagram for explaining an optical path included in a light propagation module according to an embodiment.
  • the light propagation module 120 may include an optical path 210.
  • the optical path 210 may correspond to a propagation path of beams emitted from the first laser 111 and/or the second laser 112.
  • the optical path 210 may include a first part 211, a second part 212, and/or a third part 213.
  • the first part 211 may connect the first collimator 151 and the second collimator 152.
  • the first part 211 may include a first connection part 231 and a second connection part 232.
  • the first connection part 231 may be connected to the first collimator 151
  • the second connection part 232 may be connected to the second collimator 152.
  • the first connection part 231 may be referred to as a coupled part or joint where the first collimator 151 and the first part 211 are connected in FIG. 6, which will be described later.
  • the second connection part 231 may be referred to as a coupling part or joining part where the second collimator 152 and the first part 211 are connected in FIG. 6, which will be described later.
  • the second part 212 may extend from the first part 211 and be connected to the first photodetector 171.
  • the second part 212 may include a third connection part 233.
  • the third connection part 233 may be connected to the first photodetector 171.
  • the third part 213 may extend from the first part 211 and be connected to the second photodetector 172.
  • the third portion 213 may include a fourth connection portion 234.
  • the fourth connection portion 234 may be connected to the second photodetector 172.
  • grooves may be formed in the optical path 210 to accommodate a plurality of optical members.
  • the first portion 211 includes a first groove 221 for accommodating the beam splitter, a second groove 222 for accommodating the first beam splitter 121, and a second beam splitter 122.
  • a third groove 223 may be formed to accommodate.
  • a fourth groove 224 may be formed in the second portion 212 to accommodate the first filter 123.
  • a fifth groove 225 may be formed in the third portion 213 to accommodate the second filter 124, and a sixth groove 226 may be formed to accommodate the second filter 124. can be formed.
  • the optical path 210 may further include a fourth portion 214.
  • the fourth portion 214 may extend from the first portion 211 .
  • the fourth part 214 may be connected to the fifth connection part 235 to which the third collimator can be coupled. As a result, the fourth part 214 can connect the first part 211 and the fifth connection part 235.
  • the light propagation module 120 since the light propagation module 120 includes a plurality of grooves, the light propagation module 120 can be selectively used as a short-wavelength or multi-wavelength module.
  • the beam splitter when the light propagation module 120 is used as a short-wavelength module, the beam splitter may be disposed in only one of the first groove 221, the second groove 222, and the third groove 223.
  • the beam splitter when the light propagation module 120 is used as a multi-wavelength module, the beam splitter may be placed in only two of the first groove 221, the second groove 222, and the third groove 223. there is.
  • the light propagation module 120 can be selectively used as a short-wavelength module or a multi-wavelength module.
  • the beam splitter can be selectively used as a short-wavelength module or a multi-wavelength module. You can. Details about this are described later in FIG. 19.
  • the optical path 210 may have various shapes.
  • the optical path 210 may have a cylindrical shape.
  • the optical path 210 may have a rectangular parallelepiped shape.
  • the first part 211 of the optical path 210 may have a cylindrical shape
  • the second part 212 of the optical path 210 may have a rectangular parallelepiped shape.
  • a fixing member may be disposed in each of the plurality of grooves, and the fixing member may fix the optical member to the groove.
  • a fixing member may be disposed in the third groove 223, and the fixing member may fix the second beam splitter 122 disposed in the third groove 223 to the third groove 223. .
  • the optical path 210 is described as including a first part 211, a second part 212, a third part 213, and a fourth part 214, but this is only an example.
  • the optical path 210 may include only the first part 211, the second part 212, and the third part 213, and may not include the fourth part 214.
  • FIG. 3 an optical path not including the fourth portion 214 will be described.
  • the optical path 210 is described as including a first part 211, a second part 212, a third part 213, and a fourth part 214, but this is only an example.
  • the first part can be replaced by the first light path
  • the second part can be replaced by the second light path
  • the third part can be replaced by the third light path
  • the fourth part can be replaced by the fourth light path.
  • optical path in the present disclosure may be replaced with the term track, path, or duct.
  • FIG. 3 explains an optical propagation module including an optical path according to an embodiment.
  • the optical path 310 may include a first part 311, a second part 312, and a third part 313.
  • grooves may be formed in the optical path 310 to accommodate a plurality of optical members.
  • a first groove 321 for accommodating the first beam splitter 121 and a second groove 322 for accommodating the second beam splitter 122 may be formed in the first portion 311.
  • a third groove 323 may be formed in the second portion 312 to accommodate the first filter 123.
  • a fourth groove 324 may be formed in the third portion 313 to accommodate the second filter 124, and a fifth groove 325 may be formed to accommodate the second filter 124. can be formed.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
  • the first beam splitter 121 has a first wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 550 nm) and a second wavelength larger than the first wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 550 nm to 550 nm).
  • a beam having a wavelength corresponding to the first wavelength range may not be transmitted. That is, the first beam splitter 121 may reflect a beam having a wavelength between the first wavelength and the second wavelength.
  • the second beam splitter 122 may transmit a beam corresponding to a second wavelength band of a third wavelength (eg, a wavelength corresponding to about 750 nm to 850 nm) or more.
  • the third wavelength eg, a wavelength corresponding to approximately 750 nm to 850 nm
  • the second beam splitter 122 may not transmit a beam having a wavelength less than the third wavelength. That is, the second beam splitter 122 may reflect a beam having a wavelength less than the third wavelength.
  • the first filter 123 includes a fourth wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 530 nm) and a fifth wavelength that is larger than the fourth wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 530 nm to 600 nm). ) can transmit a beam having a wavelength corresponding to the third wavelength band.
  • the first filter 123 may block a beam having a wavelength lower than the fourth wavelength or higher than the fifth wavelength. Accordingly, the first filter may correspond to a band pass filter.
  • the second filter 124 may transmit a beam having a wavelength corresponding to a fourth wavelength band that is larger than the sixth wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 750 nm to 850 nm).
  • the sixth wavelength may be a larger wavelength than the fifth wavelength.
  • the second filter 124 may block a beam having a wavelength lower than the sixth wavelength. Accordingly, the second filter 124 may correspond to a long pass filter.
  • the first wavelength band of the first beam splitter 121 may at least partially overlap with the third wavelength band of the first filter 123.
  • the first emission light may be reflected from the first beam splitter 121, pass through the first filter 123, and propagate to the first photodetector 171. Accordingly, the first and third wavelength bands may overlap at least partially.
  • the second wavelength band of the second beam splitter 122 may at least partially overlap with the fourth wavelength band of the second filter 124.
  • the second emission light may need to pass through the second beam splitter 122 and the second filter 124 and propagate to the second photodetector 172. Accordingly, the second and fourth wavelength bands may overlap at least partially.
  • FIG. 5 is a diagram for explaining a light propagation module including a third filter according to an embodiment.
  • the light propagation module 120 may include a third filter 524 and/or a fourth filter 525.
  • the third filter 524 of FIG. 5 of the present disclosure may substantially correspond to the second filter 124 of FIG. 1 . That is, the third filter 524, like the second filter 124, may also correspond to a long pass filter (LPF).
  • LPF long pass filter
  • the embodiment of FIG. 5 of the present disclosure may be understood as an embodiment in which a fourth filter 525 is added to the embodiment of FIG. 1 .
  • the third filter 524 and the fourth filter 525 are disposed between the second beam splitter 122 and the second lens 126, resulting in higher filtering compared to the case where one filter is disposed. Efficiency can be secured.
  • the first beam splitter 121 may be placed in the first groove 221 of FIG. 2, and the second beam splitter 122 may be placed in the third groove 223 of FIG. 2. there is.
  • FIG. 6 is a diagram for explaining an arrangement structure of a plurality of optical members of FIG. 5 in an optical path according to an embodiment.
  • the light propagation module 120 may include a plurality of optical members, and the plurality of optical members may each be disposed in the optical path 210.
  • the first beam splitter 121 may be disposed in the first portion 211.
  • the first beam splitter 121 disposed in the first part 211 may transmit beams passing through the first part 211.
  • the first beam splitter 121 may transmit the first beam of the first laser 111 and the second beam of the second laser 112.
  • the first beam splitter 121 disposed in the first part 211 may reflect or transmit emitted light passing through the first part 211.
  • the first beam splitter 121 may reflect the first emission light passing through the first part 211 and transmit the second emission light passing through the first part 211.
  • the second beam splitter 122 may be disposed in the first portion 211.
  • the second beam splitter 122 disposed in the first part 211 may reflect beams passing through the first part 211.
  • the second beam splitter 122 may reflect the first beam of the first laser 111 and the second beam of the second laser.
  • the second beam splitter 122 disposed in the first part 211 may transmit the emitted light passing through the first part 211.
  • the second beam splitter 122 may transmit the second emission light passing through the first portion 211.
  • the first filter 123 may be disposed in the second portion 212.
  • the first filter 123 disposed in the second portion 212 may be a band pass filter that passes a designated wavelength band (eg, a wavelength band between the third and fourth wavelengths in FIG. 4).
  • the first lens 125 may be disposed in the second portion 212, and the first lens 125 may adjust the focusing of the incident first emitted light.
  • the third filter 524 may be disposed in the third portion 213.
  • the third filter 524 disposed in the third portion 213 may be a band-pass filter that passes a designated wavelength (e.g., a wavelength band greater than or equal to the sixth wavelength in FIG. 4).
  • the second lens 126 may be disposed in the third portion 213, and the second lens 126 may adjust the focusing of the incident second emitted light.
  • the fourth filter 525 may be disposed in the third portion 213.
  • the fourth filter 525 disposed in the third portion 213 may be a long pass filter (LPF) that passes a designated wavelength (e.g., a wavelength band greater than or equal to the sixth wavelength in FIG. 4).
  • LPF long pass filter
  • the light propagation module 120 is described as including both a third filter 524 and a fourth filter 525 in the third portion 213, but this is only an example.
  • the light propagation module 120 may include only the third filter 524 and the fourth filter 525. That is, at least one of the third filter 524 and the fourth filter 525 may be omitted.
  • the first portion 211 of the optical path 210 may connect the first collimator 151 and the second collimator 152.
  • the second part 212 of the optical path 210 may extend from the first part 211 and be connected to the first connection port 653, and the second part 212 may be connected to the first connection port 653. 1 can be connected to the photodetector 171.
  • the third part 213 of the optical path 210 may extend from the first part 211 and be connected to the second connection port 654, and the third part 213 may be connected to the second connection port 654. 2 can be connected to the photodetector 172.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating an arrangement structure of a plurality of optical members in an optical path according to an embodiment of the present invention.
  • the light propagation module 120 of FIG. 7 may not include the fourth filter 525 compared to the light propagation module of FIG. 6 .
  • FIG. 7 of the present disclosure may correspond to an embodiment in which the fourth filter 525 is removed from the embodiment of FIG. 6 .
  • FIG. 8 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a first laser as a light source according to an embodiment.
  • a short-wavelength optical system 801 (or short-wavelength confocal fluorescence microscope) according to an embodiment includes a first laser 811, a light propagation module 820, a first beam splitter 821, and a first laser 811.
  • 2 beam splitter 822, first optical fiber 831, second optical fiber 832, plurality of collimators 850, first filter 823, first lens 825, first pinhole 861, and /Or may include a first photo detector (photo multiplier tube) 871.
  • the photodetector 871 sequentially includes the first laser 111 of FIG. 1, the light propagation module 120, a plurality of collimators 150, the first filter 123, the first lens 125, and the first pinhole ( 161) and the first photodetector 171. Therefore, the first laser 111, the light propagation module 120, the plurality of collimators 150, the first filter 123, the first lens 125, the first pinhole 161, and
  • the description of the first photodetector 171 includes the first laser 811 of FIG. 8, the light propagation module 820, a plurality of collimators 850, the first filter 823, the first lens 825, and the first lens 825. 1 It can be applied to the pinhole 861 and the first photodetector 871.
  • the first beam splitter 821 and the second beam splitter 822 of FIG. 8 of the present disclosure may correspond to the first beam splitter 121 and the second beam splitter 122 of FIG. 1, respectively.
  • the first laser 811 may be connected to the first collimator 851 through the first optical fiber 831.
  • the light propagation module 820 may be connected to the probe through the second optical fiber 832.
  • the first collimator 851 and the second collimator 852 may each include a collimating lens.
  • the collimating lens may refer to a lens that adjusts the optical path of incident light to be parallel.
  • the collimating lenses included in each of the first collimator 851 and the second collimator 852 shown in FIG. 8 are collimators included in each of the first collimator 151 and the second collimator 152 shown in FIG. 1. Some of the features may be different from those of the camera lens.
  • the collimating lens in Figure 1 includes a function to adjust the optical path of the incident light to be parallel as well as a function to prevent chromatic aberration of the two wavelengths, but the collimating lens in Figure 8 has a function to adjust the optical path of the incident light to be parallel. It only has the function of adjusting the furnace to be parallel.
  • the first beam emitted from the first laser 811 may be reflected by the second beam splitter 822, and the first beam reflected by the second beam splitter 822 may be reflected by the first beam splitter 822. It can pass through the beam splitter 821.
  • the transmitted first beam splitter 821 may propagate to the probe through the second collimator 852 and the second optical fiber 832.
  • the first emission light may be formed as the first beam is incident from the probe to the object (eg, the object 190 in FIG. 1).
  • the first emission light may propagate to the light propagation module 820 through the second optical fiber 832.
  • the first emission light may be reflected by the first beam splitter 821.
  • the reflected first emission light may pass through the first filter 823, the first lens 825, and the first pinhole 861 and propagate to the first photodetector 871.
  • the first emission light has a relatively high wavelength compared to the first beam, so the first beam may pass through the first beam splitter 821, and the first emission light may pass through the first beam splitter (821). 821) and may be reflected.
  • the first beam splitter 821 may be placed in the second groove 222 of FIG. 2, and the second beam splitter 822 may be placed in the third groove 223 of FIG. 2. there is.
  • FIG. 9 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a first laser as a light source according to an embodiment.
  • a short-wavelength optical system 901 (or short-wavelength confocal fluorescence microscope) according to an embodiment includes a first laser 911, a light propagation module 920, a first optical fiber 931, and a second Optical fiber 932, second beam splitter 922, second filter 924, second lens 926, plurality of collimators 950, second pinhole 962, and/or first photodetector 971 ) may include.
  • the photodetector 971 sequentially includes the first laser 111 of FIG. 1, the light propagation module 120, a plurality of collimators 150, the second beam splitter 122, the second lens 126, and the second It may correspond to the pinhole 162 and the first photodetector 171. Therefore, the first laser 111, the light propagation module 120, the plurality of collimators 150, the second beam splitter 122, the second lens 126, and the second pinhole 162 of FIG.
  • the description of the first photodetector 171 includes the first laser 911, light propagation module 920, plurality of collimators 950, second beam splitter 922, and It can be applied to the second lens 926, the second pinhole 962, and the first photodetector 971.
  • the second filter 924 may be a band pass filter.
  • the first laser 911 may be connected to the first collimator 951 through the first optical fiber 931.
  • the light propagation module 920 may be connected to the probe through the second optical fiber 932.
  • the first beam emitted from the first laser 911 may be reflected by the second beam splitter 922, and the first beam reflected by the second beam splitter 922 may be reflected by the second beam splitter 922. It may propagate to the probe through the collimator 952 and the second optical fiber 932.
  • the first emission light may be formed as the first beam is incident from the probe to the object (eg, the object 190 in FIG. 1).
  • the first emission light may propagate to the light propagation module 920 through the second optical fiber 932.
  • the first emission light may pass through the second filter 924, the second lens 926, and the second pinhole 962 and propagate to the first photodetector 971.
  • the second beam splitter 922 may be placed in the third groove 223.
  • FIG. 10 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a second laser as a light source according to an embodiment.
  • a short-wavelength optical system 1001 (or short-wavelength confocal fluorescence microscope) according to an embodiment includes a second laser 1012, a light propagation module 1020, a first optical fiber 1031, and a second Optical fiber 1032, second beam splitter 1022, second filter 1024, second lens 1026, plurality of collimators 1050, second pinhole 1062, and/or second photodetector 1072 ) may include.
  • the pinhole 1062 and the second photodetector 1072 are sequentially connected to the second laser 112 of FIG. 1, the light propagation module 120, a plurality of collimators 150, the second beam splitter 122, and the second It may correspond to the filter 124, the second lens 126, the second pinhole 162, and the second photodetector 172.
  • the description of the second pinhole 162 and the second photodetector 172 includes the second laser 1012, the light propagation module 1020, the plurality of collimators 1050, and the second laser 1012, the light propagation module 1020, the plurality of collimators 1050, and 2 It can be applied to the beam splitter 1022, the second filter 1024, the second lens 1026, the second pinhole 1062, and the second photodetector 1072.
  • the second laser 1012 may be connected to the first collimator 1051 through the first optical fiber 1031.
  • the light propagation module 1020 may be connected to the probe through the second optical fiber 1032.
  • the second beam emitted from the second laser 1011 may be reflected by the second beam splitter 1022, and the second beam reflected by the second beam splitter 1022 may be reflected by the second beam splitter 1022. It may propagate to the probe through the collimator 1052 and the second optical fiber 1032.
  • second emission light may be formed as the second beam is incident from the probe to the object (eg, object 190 in FIG. 1).
  • the second emission light may propagate to the light propagation module 1020 through the second optical fiber 1032.
  • the second emission light may pass through the second filter 1024, the second lens 1026, and the second pinhole 1062 and propagate to the second photodetector 1072.
  • the second beam splitter 1022 may be placed in the third groove 223.
  • FIG. 11 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a second laser as a light source according to an embodiment.
  • a short-wavelength optical system 1101 (or short-wavelength confocal fluorescence microscope) according to an embodiment includes a second laser 1112, a light propagation module 1120, a first optical fiber 1131, and a second Optical fiber 1132, second beam splitter 1122, second filter 1124, second lens 1126, plurality of collimators 1150, second pinhole 1162, and/or second photodetector 1172 ) may include.
  • the photodetector 1172 sequentially includes the second laser 112 of FIG. 1, the light propagation module 120, a plurality of collimators 150, the second beam splitter 122, the second lens 126, and the second It may correspond to the pinhole 162 and the second photodetector 172. Therefore, the first laser 111, the light propagation module 120, the plurality of collimators 150, the second beam splitter 122, the second lens 126, and the second pinhole 162 of FIG.
  • the description of the second photodetector 172 includes the second laser 1112, light propagation module 1120, plurality of collimators 1150, second beam splitter 1122, and It can be applied to the second lens 1126, the second pinhole 1162, and the second photodetector 1172.
  • the second filter 1124 may be a band pass filter. Therefore, the second filter 1124 of FIG. 11 of the present disclosure may correspond to the second filter 924 of FIG. 9, and the description of the second filter 924 of FIG. 9 includes the second filter 1124 of FIG. 11. ) can be applied.
  • the second laser 1112 may be connected to the first collimator 1151 through the first optical fiber 1131.
  • the light propagation module 1120 may be connected to the probe through the second optical fiber 1132.
  • the second beam emitted from the second laser 1112 may be reflected by the second beam splitter 1122, and the second beam reflected by the second beam splitter 1122 may be reflected by the second beam splitter 1122. It may propagate to the probe through the collimator 1152 and the second optical fiber 1132.
  • second emission light may be formed as the second beam is incident from the probe to the object (eg, object 190 in FIG. 1).
  • the second emission light may propagate to the light propagation module 1120 through the second optical fiber 1132.
  • the second emission light may pass through the second filter 1124, the second lens 1126, and the second pinhole 1162 and propagate to the second photodetector 1172.
  • FIG. 12 is a diagram illustrating a multi-wavelength optical system using a plurality of lasers as a light source according to an embodiment.
  • a multi-wavelength optical system 1201 (or multi-wavelength confocal fluorescence microscope) according to an embodiment includes a plurality of lasers 1210, a light propagation module 1220, and a plurality of optical fibers 1230. ), an optical fiber coupler 140, a plurality of collimators 1250, a first pinhole 1261, a second pinhole 1262, a first photodetector 1271, a second photodetector 1272, and/or a probe ( 1280).
  • the plurality of lasers 1210 in FIG. 12 may include a different laser from the plurality of lasers 110 in FIG. 1 .
  • the plurality of lasers 1210 in FIG. 12 may include a first laser 1211 and a second laser 1212.
  • the first laser 1211 may emit a beam of a first wavelength (eg, a wavelength corresponding to 450 nm to 500 nm).
  • the second laser 1212 may emit a beam of a third wavelength (eg, a wavelength corresponding to between 350 nm and 450 nm).
  • first laser 111 that emits a beam of a first wavelength (e.g., a wavelength corresponding to 450 nm to 500 nm) and a second wavelength (e.g., 750 nm to 800 nm). It may include a second laser 112 that radiates a beam of a wavelength corresponding to the wavelength.
  • a first wavelength e.g., a wavelength corresponding to 450 nm to 500 nm
  • second wavelength e.g., 750 nm to 800 nm
  • the second laser 112 which emits a beam of the second wavelength (e.g., a wavelength corresponding to 750 nm to 800 nm) of FIG. 1, emits a beam of a third wavelength (e.g., a wavelength corresponding to between 350 nm and 450 nm). It may correspond to an embodiment in which the second laser 1212 emits a beam of a corresponding wavelength).
  • the second filter 1224 of FIG. 12 may be a band pass filter.
  • the second filter 1224 in FIG. 1 may be a long pass filter, while the second filter 1224 in FIG. 12 may be a band pass filter.
  • the second filter 1224 is described as one, but this is only an example.
  • the light propagation module 1220 may further include a second filter 1224 and a third filter disposed in parallel with the second filter 1224.
  • the plurality of lasers 1210 may include a first laser 1211 and a second laser 1212.
  • a plurality of lasers 1210 may correspond to light sources in the optical system 1201.
  • each of the plurality of lasers 1210 may be a pigtail laser diode (LD).
  • LD pigtail laser diode
  • the plurality of lasers 1210 may be connected to the optical fiber coupler 1240.
  • the first laser 1211 may be connected to the optical fiber coupler 1240 through the first optical fiber 1231
  • the second laser 1212 may be connected to the optical fiber coupler 1240 through the second optical fiber 1232. can be connected
  • the optical fiber coupler 1240 may be connected to the light propagation module 1220.
  • the light propagation module 1220 may include a first collimator 1251
  • the optical fiber coupler 1240 may connect the first collimator 1251 of the light propagation module 1220 through the third optical fiber 1233.
  • the optical fiber coupler 1240 may be connected to the light propagation module 1220 through the third optical fiber 1233 and the first collimator 1251.
  • the first collimator 1251 may correspond to a fiber port.
  • the first beam and the second beam output from the optical fiber coupler 1240 may be propagated to the light propagation module 1220.
  • the first beam output from the first laser 1211 is transmitted through the first optical fiber 1231, the optical fiber coupler 1240, the third optical fiber 1233, and the first collimator 1251 to the light propagation module 1220.
  • the second beam output from the second laser 1212 is transmitted through the second optical fiber 1232, the optical fiber coupler 1240, the third optical fiber 1233, and the first collimator 1251 to the light propagation module 1220. ) can be spread.
  • the light propagation module 1220 may include a plurality of optical members.
  • the light propagation module 1220 includes a first beam splitter 1221, a second beam splitter 1222, a first filter 1223, a second filter 1224, a first lens 1225, and/ Alternatively, it may include a second lens 1226.
  • a first filter 1223 may be disposed between the first beam splitter 1221 and the first photodetector 1271.
  • a first lens 1225 may be disposed between the first filter 1223 and the first photodetector 1271.
  • a first lens 1225 is disposed between the first lens 1225 and the first photodetector 1271.
  • a pinhole 1261 may be disposed.
  • a second filter 1224 may be disposed between the second beam splitter 1222 and the second photodetector 1272.
  • a second lens 1226 may be disposed between the second filter 1224 and the second photodetector 1272.
  • a second pinhole 1262 may be disposed between the second lens 1226 and the second photodetector 1272.
  • the light propagation module 1220 may be connected to the probe 1280.
  • the light propagation module 1220 may include a second collimator 1252, and the second collimator 1252 may be connected to the probe 1280 through the fourth optical fiber 1234.
  • the second collimator 1252 may correspond to a fiber port.
  • the first beam emitted from the first laser 1211 may be incident on the object 1290.
  • the first emission light formed as the first beam is irradiated to the object 1290 may propagate to the first photodetector 1271.
  • the first beam emitted from the first laser 1211 may be reflected by the second beam splitter 1222.
  • the first beam reflected by the second beam splitter 1222 may pass through the first beam splitter 1221 and propagate to the probe 1280 through the fourth optical fiber 1234.
  • the first beam propagated by the probe 1280 may be incident on the object 1290.
  • the first emission light formed as the first beam is irradiated to the object 1290 may propagate to the light propagation module 1220 through the fourth optical fiber 1234.
  • the first emission light propagated through the light propagation module 1220 may be reflected by the first beam splitter 1221.
  • the first emission light reflected by the first beam splitter 1221 may pass through the first filter 1223, the first lens 1225, and the first pinhole 1261 and propagate to the first photodetector 1271.
  • the first photodetector 1271 may amplify the propagated first emission light.
  • the first emission light may be formed by exciting the first beam.
  • the first emission light formed as the first beam of the first wavelength is incident on the object 1290 may have a wavelength higher than the first wavelength (eg, a wavelength corresponding to between 350 nm and 450 nm).
  • the first filter 1223 may correspond to a band pass filter.
  • the first lens 1225 can adjust the focusing of the beam incident on the first lens 1225.
  • the second beam emitted from the second laser 1212 may be incident on an object.
  • the second emission light formed as the second beam is irradiated to the object 1290 may propagate to the second photodetector 1272.
  • the second beam emitted from the second laser 1212 may be reflected by the second beam splitter 1222.
  • the second beam reflected by the second beam splitter 1222 may pass through the first beam splitter 1221 and propagate to the probe 1280 through the fourth optical fiber 1243.
  • the second beam propagated by the probe 1280 may be incident on the object.
  • the second emission light formed as the second beam is irradiated to the object may propagate to the light propagation module 1220 through the fourth optical fiber 1234.
  • the second emission light propagated through the light propagation module 1220 may pass through the first beam splitter 1221.
  • the second emission light that has passed through the first beam splitter 1221 may pass through the second filter 1224, the second lens 1226, and the second pinhole 1262 and propagate to the second photodetector 1272.
  • the second photodetector 1272 may amplify the propagated second emission light.
  • the second emission light may be formed by exciting the second beam.
  • the second emission light formed as the second beam of the second wavelength is incident on the object 1290 may have a wavelength higher than the second wavelength.
  • the second filter 1224 may correspond to a long pass filter.
  • the second lens 1226 may adjust the focusing of the beam incident on the second lens 1226.
  • the first photodetector 1271 may be a photodetector for a first beam of a first wavelength (eg, a wavelength corresponding to 350 nm to 450 nm).
  • the first photodetector 1271 may detect first emission emitted from the object 1290 in response to a first beam of a first wavelength (e.g., a wavelength corresponding to between 350 nm and 450 nm) being incident on the object 1290.
  • a first wavelength e.g., a wavelength corresponding to between 350 nm and 450 nm
  • the second photodetector 1272 may be a photodetector for a second beam of a third wavelength (eg, a wavelength corresponding to between 450 nm and 500 nm).
  • the second photodetector 1272 may detect a second beam of a second wavelength (e.g., a wavelength corresponding to between 450 nm and 500 nm) incident on the object 1290 to detect a second emission emitted from the object 1290.
  • Light can be received, and the second emitted light can be amplified.
  • FIG. 13 is a diagram for explaining a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
  • the first beam splitter 1221 has a seventh wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 500 nm) and an eighth wavelength larger than the seventh wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 500 nm to 500 nm).
  • the beam corresponding to the fifth wavelength band (wavelength corresponding to 550 nm) may not be transmitted. That is, the first beam splitter 1221 may reflect the beam corresponding to the fifth wavelength band between the seventh and eighth wavelengths.
  • the second beam splitter 1222 may transmit a beam corresponding to a sixth wavelength band greater than the eighth wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 500 nm).
  • the second beam splitter 1222 may not transmit a beam having a wavelength less than the ninth wavelength. That is, the second beam splitter 1222 can reflect a beam having a wavelength less than the ninth wavelength.
  • the first filter 1223 has a 10th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 400 nm to 450 nm) and an 11th wavelength larger than the 10th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 500 nm). ) can transmit the beam corresponding to the 7th wavelength band.
  • the first filter 1223 may block a beam having a wavelength lower than the tenth wavelength or greater than the eleventh wavelength. Accordingly, the first filter 1223 may correspond to a band pass filter.
  • the second filter 1224 includes a 12th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 530 nm) and a 13th wavelength larger than the 12th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 530 nm to 600 nm). ) can transmit the beam corresponding to the 8th wavelength band.
  • the second filter 1224 may block beams having a wavelength lower than the 12th wavelength or greater than the 13th wavelength. Accordingly, the second filter 1224 may correspond to a band pass filter.
  • FIG. 14 is a diagram for explaining a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
  • a multi-wavelength optical system 1401 (or multi-wavelength confocal fluorescence microscope) according to an embodiment includes a plurality of lasers 1410, a light propagation module 1420, and a plurality of optical fibers 1430. ), an optical fiber coupler 1440, a plurality of collimators 1450, a first pinhole 1461, a second pinhole 1462, a first photodetector 1471, and/or a second photodetector 1472. You can.
  • the light propagation module 1420 may include a plurality of optical members.
  • a plurality of optical members include a first beam splitter 1421, a second beam splitter 1422, a first filter 1423, a first lens 1424, a second filter 1425, and a second lens 1426. It can be included.
  • the plurality of optical members of the light propagation module 1420 of FIG. 14 may be arranged differently from the optical members of the light propagation module 1220 of FIG. 12.
  • the first beam splitter 1421 of FIG. 14 may be placed in the first groove 221 of FIG. 2.
  • the first beam splitter 1221 of FIG. 12 may be placed in the second groove 222 of FIG. 2.
  • the second beam splitter 1422 of FIG. 14 may be disposed in the second groove 222 of FIG. 2.
  • the second beam splitter 1222 of FIG. 12 may be placed in the third groove 223.
  • the first beam output from the optical fiber coupler 1440 may be reflected by the first beam splitter 1421.
  • the reflected first beam may propagate to the probe through the fourth optical fiber 1434, and the first beam may be output from the probe and reflected on an object (eg, the object 170 in FIG. 1).
  • the first emission light formed as the first beam is reflected by the object may propagate to the light propagation module 1420 through the probe and the fourth optical fiber 1434.
  • the first emission light may pass through the first beam splitter 1421, the second beam splitter 1422, the second filter 1425, the second lens 1426, and the second pinhole 1462.
  • the transmitted first emission light may propagate to the second photodetector 1472.
  • the second beam output from the optical fiber coupler 1440 may be reflected by the first beam splitter 1421.
  • the reflected second beam may propagate to the probe through the fourth optical fiber 1434, and the second beam may be output from the probe and reflected on an object (eg, the object 170 in FIG. 1).
  • the second emission light formed as the second beam reflects off the object may propagate to the light propagation module 1420 through the probe and the fourth optical fiber 1434.
  • the second emission light may pass through the first beam splitter 1421 and be reflected by the second beam splitter 1422.
  • the reflected second emission light may pass through the first filter 1423, the first lens 1424, and the first pinhole 1461, and may propagate to the first photodetector 1471.
  • FIG. 15 is a diagram for explaining the positions of a plurality of optical members in an optical system according to an embodiment.
  • the first collimator 1451 may be connected to the fourth portion 214 of the optical path 210.
  • the second collimator 1452 may be connected to the first portion 211 of the optical path 210.
  • the first connection port 1553 for connection to the first photodetector 1471 may be connected to the second portion 212.
  • the second connection port 1554 for connection to the second photodetector 1472 may be connected to the third portion 213.
  • the first beam splitter 1421 may be placed in the first groove 221, and the second beam splitter 1422 may be placed in the second groove 222.
  • the first filter 1423 may be placed in the fourth groove 224, and the second filter 1425 may be placed in the fifth groove 225.
  • the light propagation module 1420 may include a third filter 1525 in addition to the second filter 1425.
  • the third filter 1525 may be a band pass filter substantially the same as the second filter 1425.
  • the third filter 1525 may be disposed in the sixth groove 226.
  • the light propagation module 1420 is described as including a second filter 1425 and a third filter 1525, but this is only an example.
  • the light propagation module 1420 may include only one of the second filter 1425 and the third filter 1525.
  • FIG. 16 is a diagram for explaining specifications of a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
  • the first beam splitter 1421 has a 14th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 400 nm to 450 nm) and a 15th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 500 nm). It can transmit the 9th wavelength band between wavelengths).
  • the first beam splitter 1421 can transmit a 10th wavelength band between the 16th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 500 nm to 550 nm) and the 17th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 550 nm to 600 nm). there is.
  • the first beam splitter 1421 may transmit an 11th wavelength band that is greater than or equal to the 18th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 600 nm to 650 nm). As a result, the first beam splitter 1421 may have band pass characteristics that transmit a plurality of wavelength bands.
  • the second beam splitter 1422 may transmit a 12th wavelength band that is greater than or equal to the 19th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 500 nm). As a result, the second beam splitter 1422 may have long pass characteristics.
  • the first filter 1423 is a 13th wavelength between the 20th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 400 nm to 450 nm) and the 21st wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 500 nm) or less. Wavelengths can be transmitted.
  • the first filter 1423 may be a band pass filter.
  • the second filter 1425 is a 14th filter that is between the 22nd wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 530 nm) and the 23rd wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 530 nm to 600 nm) or less. Wavelengths can be transmitted.
  • the second filter 1425 may be a band pass filter.
  • FIG. 17 is a diagram for explaining an optical system including one laser according to an embodiment.
  • an optical system (or confocal fluorescence microscope) 1701 includes a second laser 1412, a light propagation module 1720, a first collimator 1451, and/or a second May include a collimator 1452.
  • the second laser 1412 may emit or irradiate a beam of a third wavelength (eg, 405 nm).
  • a third wavelength eg, 405 nm
  • the second laser 1412 may be connected to the first collimator 1451 through the first optical fiber 1431.
  • the first collimator 1451 is connected to the light propagation module 1720, and as a result, the second laser 1412 is connected to the light propagation module 17200 through the first optical fiber 14310 and the first collimator 1451. can be connected to
  • the light propagation module 1720 may be connected to the second optical fiber 1432 through the second collimator 1452, and as a result, the light propagation module 1720 connects the second optical fiber 1432 with the probe. can be connected
  • the light propagation module 1720 may include a first beam splitter 1421, a second beam splitter 1422, a first filter 1423, and a first lens 1424.
  • the beam of the third wavelength (e.g., a wavelength corresponding to 350 nm to 450 nm) emitted from the second laser 1412 is reflected by the first beam splitter 1421 and is sent to the second collimator 1452 and It may propagate to the second optical fiber 1432.
  • the propagated beam may be irradiated to an object (eg, the object 190 in FIG. 1), and emission light may be formed.
  • the formed emitted light may propagate to the second optical fiber 1432 through the probe.
  • the emitted light may pass through the first beam splitter 1421 and be reflected by the second beam splitter 1422.
  • the reflected emitted light may pass through the first filter 1423 and the first pinhole 1461 and propagate to the first photodetector 1471.
  • the beam of the third wavelength (e.g., a wavelength corresponding to 350 nm to 450 nm) emitted from the second laser 141 is reflected by the first beam splitter 1421, but the emitted light is emitted from the first beam.
  • the reason why the emitted light passes through the splitter 1421 is because it has a relatively higher wavelength than the third wavelength beam. That is, as the beam of the third wavelength is reflected by the object, the emitted light may be excited and may have a relatively higher wavelength than the beam of the third wavelength.
  • the first beam splitter 1421 may be placed in the first groove 221 of FIG. 2, and the second beam splitter 1422 may be placed in the second groove 222 of FIG. 2. there is.
  • FIG. 18 is a diagram for explaining an optical system including one laser according to an embodiment.
  • an optical system (or confocal fluorescence microscope) 1801 includes a second laser 1412, a light propagation module 1820, a first collimator 1451, and/or a second May include a collimator 1452.
  • the second laser 1412 may emit or irradiate a beam of a third wavelength (e.g., a wavelength corresponding to 350 nm to 450 nm).
  • a third wavelength e.g., a wavelength corresponding to 350 nm to 450 nm.
  • the second laser 1412 may be connected to the first collimator 1451 through the first optical fiber 1431.
  • the first collimator 1451 is connected to the light propagation module 1720, and as a result, the second laser 1412 is connected to the light propagation module 17200 through the first optical fiber 14310 and the first collimator 1451. can be connected to
  • the light propagation module 1720 may be connected to the second optical fiber 1432 through the second collimator 1452, and as a result, the light propagation module 1720 connects the second optical fiber 1432 with the probe. can be connected
  • the light propagation module 1820 may include a first beam splitter 1421, a second filter 1425, and a first lens 1426.
  • the beam of the third wavelength (e.g., a wavelength corresponding to 350 nm to 450 nm) emitted from the second laser 1412 is reflected by the first beam splitter 1421 and is sent to the second collimator 1452 and It may propagate to the second optical fiber 1432.
  • the propagated beam may be irradiated to an object (eg, the object 190 in FIG. 1), and emission light may be formed.
  • the formed emitted light may propagate to the second optical fiber 1432 through the probe.
  • Emitted light may pass through the first beam splitter 1421.
  • the reflected emitted light may pass through the second filter 1425 and the second pinhole 1462 and propagate to the first photodetector 1471.
  • the beam of the third wavelength (e.g., a wavelength corresponding to 350 nm to 450 nm) emitted from the second laser 141 is reflected by the first beam splitter 1421, but the emitted light is emitted from the first beam.
  • the reason why the emitted light passes through the splitter 1421 is because it has a relatively higher wavelength than the third wavelength beam. That is, as the third wavelength beam is irradiated to the object, the third wavelength beam may be excited, and the emitted light may have a relatively higher wavelength than the third wavelength beam.
  • FIG. 19 is a diagram for explaining movement of a second beam splitter within an optical path according to an embodiment.
  • FIG. 19 is a cross-section of the first part 211 viewed from the third part 213 toward the first part 211, based on the drawing of FIG. 15.
  • a first rail 1921 may be formed on the upper edge of the first part 211 of the optical path 210
  • a second rail 1922 may be formed on the lower edge of the first part 211.
  • the first rail 1921 and the second rail 1922 are aligned in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the optical path 210 at both ends of the slot into which the second beam splitter 1422 can be inserted. It can be formed according to Both ends of the slot may be second grooves 222.
  • At least one processor of the optical system 101 positions the second beam splitter in the first portion 211 within the optical path 210 or moves the second beam splitter so that the second beam splitter is It can be controlled to move to a space 1910 other than the optical path 210.
  • at least one processor controls the first rail 1921 and the second rail 1922 when the second beam splitter 1422 is to be utilized as in the embodiment of FIG. 17 to create a second beam splitter ( 1422) can be controlled to be located in the first part 211.
  • at least one processor controls the first rail 1921 and the second rail 1922 to split the second beam.
  • Splitter 1422 can be moved to space 1910.
  • the at least one processor redirects the second beam splitter 1422 located at the first location (e.g., within the first portion 211 of the optical path 210) to a second location (e.g., in space) according to specified conditions. 1910), or the second beam splitter 1422 located in the second position can be moved to the first position.
  • the light propagation module e.g., the light propagation module 1820
  • Beams or emitted light passing through the optical path 210 may not pass through the second beam splitter 1422.
  • the optical system 101 may increase compatibility of the light propagation module (eg, the light propagation module 1420) by controlling the position of the second beam splitter 1422.
  • beam splitters may be disposed in the first groove 221, the second groove 222, and the third groove 223 in the light propagation module 1420 shown in FIG. 15, respectively.
  • at least one processor may move some of the beam splitters into the optical path 210 and some of the beam splitters out of the optical path 210 when a predetermined condition is satisfied.
  • the light propagation module 1420 can perform both the functions of a light propagation module using multiple wavelengths and a light propagation module using a short wavelength.
  • the optical system 101 may further include a display, and at least one processor may display the status of beam splitters disposed in the grooves of the light propagation module 1420 on the display.
  • at least one processor may display that the first beam splitter 121 of the first groove 221 is not disposed in the first portion 221 (eg, is in an out state).
  • At least one processor may display that the second beam splitter 122 of the second groove 222 is disposed in the first portion 221 (eg, in state).
  • at least one processor notifies the user whether the light propagation module 1420 is currently being used as a multi-wavelength module or a short-wavelength module by displaying the status of the beam splitters disposed in the light propagation module 1420. ) can.
  • filters eg, first filter, second filter
  • At least one processor may transmit the status of optical members displayed on the display to an external device (eg, a user's terminal). For example, at least one processor may transmit the status of the optical members to an external device so that a user located at a distance from the optical system 101 can identify the status of the optical members.
  • an external device eg, a user's terminal
  • the beam splitters are fixed to the rail of the optical path 210, but this is only an example.
  • the beam splitters may be fixed to the groove (eg, the first groove 221) and not move.
  • the description is based on the second beam splitter 1422, but this is only an example, and the content described in FIG. 19 may be substantially applied to other beam splitters. For example, the content described in FIG. 19 may be equally applied to the first beam splitter 1421.
  • the description is based on the second beam splitter 1422, but this is only an example, and the content described in FIG. 19 may also be substantially applied to filters.
  • the content described in FIG. 19 may be equally applied to the first filter 1423, the second filter 1425, and the third filter 1525.
  • the movement of the second beam splitter 1422 is performed for the light propagation module 120 or at least one processor in the optical system 101, but this is only an example.
  • the second beam splitter 1422 may be moved according to user input to the light propagation module 120 or the optical system 101.
  • An optical system for irradiating an object, acquiring emission light emitted from the object, and processing the obtained emission light includes the first laser coupled to a first optical fiber and the laser coupled to a second optical fiber. 2 May include lasers.
  • the optical system connects the first optical fiber and the second optical fiber to a third optical fiber such that the first beam propagating through the first optical fiber and the second beam propagating through the second optical fiber simultaneously propagate through the third optical fiber. It may include an optical fiber coupler coupled to an optical fiber, and an optical propagation module through which the first beam and the second beam output from the optical fiber coupler propagate.
  • the light propagation module includes an optical path through which the first beam, the second beam, and the emitted light propagate, a plurality of optical members, a first collimator and a first beam coupled to the third optical fiber. And it may include a second collimator coupled to the fourth optical fiber and coupled to a probe for irradiating the second beam to the object.
  • the plurality of optical members of the light propagation module are a first beam splitter that does not transmit a beam having a wavelength corresponding to a wavelength band between the first wavelength and a second wavelength greater than the first wavelength, And it may include a second beam splitter that does not transmit a beam having a wavelength corresponding to a wavelength band below a third wavelength that is greater than the second wavelength.
  • a beam that is not transmitted through the first beam splitter may be reflected by the first beam splitter.
  • a beam that is not transmitted through the second beam splitter may be reflected by the second beam splitter.
  • the plurality of optical members of the light propagation module include a first filter that transmits only a beam having a wavelength corresponding to a wavelength band between a fourth wavelength and a fifth wavelength that is greater than the fourth wavelength, and the fifth wavelength. It may include a second filter that transmits a beam having a wavelength corresponding to a wavelength band greater than or equal to the sixth wavelength.
  • the first emission light emitted from the object in response to the first beam being irradiated to the object may have a wavelength corresponding to the wavelength range between the fourth wavelength and the fifth wavelength.
  • the second emission light emitted from the object in response to the second beam being irradiated to the object may have a wavelength corresponding to a wavelength range of the sixth wavelength or higher.
  • the light propagation module may further include a first photo detector (photo multiplier tube) and a second photo detector.
  • the optical path of the light propagation module includes a first part connecting the first collimator and the second collimator, a second part extending from the first part and connected to the first photodetector, and extending from the first part. It may include a third part connected to the second photodetector.
  • the first emission light emitted from the object in response to the first beam being incident on the object may propagate to the first photodetector.
  • Second emission light emitted from the object in response to the second beam being incident on the object may propagate to the second photodetector.
  • the light propagation module may include a first connection portion capable of being coupled to the first collimator and a fifth connection portion capable of being coupled to the third collimator.
  • the optical path of the light propagation module includes a fourth part connecting the first part and the fifth connection part, and the first connection part is determined based on optical characteristics of the first laser and the second laser, or A collimator corresponding to the one connection part may be coupled to one of the fifth connection parts.
  • the plurality of optical members may include a first beam splitter and a second beam splitter.
  • a first groove may be formed in the first portion of the optical path to accommodate the first beam splitter, and a second groove may be formed to accommodate the second beam splitter.
  • a first rail may be disposed in the second groove, and the second beam splitter may be fixed on the first rail.
  • the first beam and the second beam may be incident on the second beam splitter, and the second beam splitter may be incident on the first beam splitter.
  • the first beam and the second beam may not be incident on the second beam splitter.
  • the position of the second beam splitter on the first rail may be controlled by at least one processor included in the light propagation module or may be controlled according to user input.
  • the light propagation module includes a first beam splitter, a first filter, a first lens for controlling the focusing of the incident beam, a first pin hole, and a first photo detector (photo multiplier tube). It can be included.
  • the first filter may be disposed between the first beam splitter and the first photodetector.
  • the first lens may be disposed between the first filter and the first photodetector.
  • the first pinhole may be disposed between the first lens and the first photodetector through which the beam output from the first lens passes.
  • the central wavelength of the first emission light emitted from the object in response to the first beam being incident on the object may have a higher wavelength than the first wavelength of the first beam.
  • a central wavelength of second emission light emitted from the object in response to the second beam being incident on the object may have a higher wavelength than the second wavelength of the second beam.
  • the first wavelength of the first beam may be a wavelength corresponding to between 450 nm and 500 nm
  • the second wavelength of the second beam may be a wavelength corresponding to between 750 nm and 800 nm.
  • An optical system that processes emitted light may include a first laser coupled to a first optical fiber and a light propagation module through which the first beam output from the first laser propagates.
  • the light propagation module includes an optical path through which the first beam and the emitted light propagate to the object, a plurality of optical members, a first collimator coupled to the first optical fiber, and the light propagation module. It may include a second collimator coupled to a second optical fiber and coupled to a probe for irradiating the first beam propagating through the object to the object.
  • Figure 20 is a diagram for explaining a probe cover accommodating a probe according to one embodiment.
  • the optical system (or confocal endoscopic microscope) 2000 may include a probe cover 2001 and a probe 2002.
  • the probe cover 2001 may accommodate, cover, or surround the probe 2002.
  • the probe 2002 includes a probe body 2011, an optical fiber 2012, a bending portion 2013, a probe nut 2014, and/or a probe tube 2015. can do.
  • the optical fiber 2012 may be connected to one end of the probe body 2011.
  • the probe body 2011 may be referred to as a part of the optical system (or confocal endoscopic microscope) 2000 that the user grips.
  • the probe nut 2014 may be referred to as a component connecting the bending portion 2013 and the probe tube 2015. At least a portion of the probe tube 2015 may be introduced into the body.
  • the probe cover 2001 may include a cover tube 2020, a cover tip 2023, a cover nut 2030, and/or a drape 2040.
  • the drape 2040 may be referred to as vinyl that covers the probe body 2011 and the optical fiber 2012 and protects them from external substances.
  • Drape 2040 may be formed of polyethylene (PE).
  • the cover tube 2020 may include a first part 2021 and/or a second part 2022.
  • the cover tube 2020 includes a first part 2021 that receives the probe tube 2015, and a second part 2022 that receives the probe nut 2014 located at the proximal end of the probe tube 2015. ) may include.
  • the proximal end may be referred to as an end that is relatively adjacent to the user of the optical system 2000. Accordingly, the proximal end of the probe tube 2015 may be referred to as an end relatively adjacent to the probe body 2011 among the ends of the probe tube 2015. Therefore, it is obvious that in the present disclosure, the term proximal end can be replaced with the term proximal end adjacent to the user or the probe body 2011 held by the user.
  • the cover tip 2023 may include an optical window and/or an elastic member.
  • the configuration of the cover tip 2023 is described in detail in FIG. 22 below.
  • the cover nut 2030 may be coupled or engaged with the second portion 2022 of the cover tube 2020.
  • a protrusion may be formed on the second part 2022 of the cover tube 2020, and the cover nut 2030 may be coupled or fastened to the second part 2022.
  • the coupling structure of the cover tube 2020 and the cover nut 2030 is described in detail in FIG. 2 below.
  • the drape 2040 (or cover drape) may be fused and joined to the entire outer surface of the cover nut 2030.
  • the fusion may include at least one of heat, ultrasound, or adhesive.
  • the cover nut 2030 may be coupled or fastened to the second portion 2022 of the cover tube 2020.
  • the fastened cover nut 2030 may be combined with the drape 2040 through a heat fusion process.
  • the coupling structure of the cover nut 2030 and the drape is described in detail in FIG. 9 below.
  • the probe cover 2001 may include a marker attached to at least one of a cover tube 2020, a cover nut 2030, and a drape 2040.
  • the mark may correspond to an identification mark for authenticating or identifying the probe cover 2001.
  • the label may include at least one of a near-field communication (NFC) tag or a barcode.
  • the probe 2002 accommodated in the probe cover 2001 may be set to operate only when the probe cover 2001 is authenticated through an identification mark.
  • the probe 2002 may be set to operate only when the probe cover 2001 is certified as genuine through an identification mark.
  • a user can recognize an identification mark attached to the drape 2040 using an external device (eg, user equipment) and transmit information about the recognized identification mark to the probe 2002.
  • the probe 2002 may identify, determine, or check whether the probe cover 2001 to which the identification mark is attached is genuine based on information about the recognized identification mark.
  • the operation of identifying whether the probe cover 2001 to which the identification mark is attached is genuine based on information about the recognized identification mark may be performed by at least a processor of the probe 2002, but may be performed by an external device (e.g., It can also be performed by user equipment.
  • At least one processor of the probe 2002 or An external device may notify the user that an object (e.g., drape 2040) to which an identification mark is attached is not genuine.
  • the means of notifying the user may vary. For example, a message can be transmitted to an external device (eg, user equipment) or a message can be displayed on the display of the probe 2002.
  • the cover tube 2020 may have a first length L1.
  • the first part 2021 of the cover tube 2020 may have a second length L2, and the second part 2022 may have a third length L3.
  • the second length L2 may be relatively longer than the third length L3.
  • the first length (L1) may be 127.2 mm
  • the second length (L2) may be 114.4 mm
  • the third length (L3) may be 12.8 mm.
  • the first length L1 may have a value between about 126 and 128 mm.
  • the numerical example of the cover tube 2020 is only an example, and the cover tube 2020 may have various lengths.
  • the outer diameter of the cover tube 2020 may be constant. In one embodiment, the outer diameter of the cover tube 2020 may vary. For example, the outer diameter of the cover tube 2020 may gradually increase from the distal end of the cover tube 2020 to the proximal end of the cover tube 2020.
  • the distal end of the present disclosure may be referred to as an end or end portion relatively distant from the probe body 2011, and the proximal end may be referred to as an end or end portion relatively close to the probe body 2011. there is.
  • the probe cover 2001 may accommodate or surround at least a portion of the probe 2002 to block direct contact between the probe 2002 and the body.
  • the cover tube 2020 of the probe cover 2001 may surround the probe nut 2014 and the probe tube 2015, and may block contact between the probe nut 2014 and the probe tube 2015 and the outside. You can.
  • the drape 2040 of the probe cover 2001 may cover the probe body 2011 and the bending portion 2013 and block contact between the probe body 2011 and the bending portion 2013 and the outside.
  • the probe cover 2001 can prevent the probe 2002 from directly contacting the body or external space even if at least a portion of the probe 2002 is inserted into a part of the body, and hygiene can be ensured.
  • surround may be replaced with the term cover or encapsulate.
  • FIG. 21 is an enlarged view of portion A of FIG. 1 according to an embodiment.
  • the probe nut 2014 of the probe 2002 may connect the bending portion 2013 and the probe tube 2015.
  • the probe nut 2014 may correspond to a connection member that connects or couples the bending portion 2013 and the probe tube 2015.
  • the first part 2021 of the probe cover 2001 may cover at least a portion of the probe tube 2015.
  • the first part 2021 of the probe cover 2001 may correspond to the probe tube 2015.
  • the second part 2022 of the probe cover 2001 may surround at least a portion of the probe nut 2014.
  • the second part 2022 of the probe cover 2001 may correspond to the probe nut 2014.
  • the second portion 2022 of the probe cover 2001 may include a first protruding portion 2110 and a plurality of second protruding portions 2120.
  • a first protrusion 2110 may be formed on the outer surface of the second part 2022
  • a plurality of second protrusions 2120 may be formed on the inner surface of the second part 2022.
  • a cover nut 2030 may be coupled to the first protrusion 2110 of the second portion 2022.
  • the cover nut 2030 may include a groove corresponding to the first protrusion 2110. As the first protrusion 2110 is inserted into the groove of the cover nut 2030, the cover nut 2030 and the first protrusion 2110 may be coupled. As a result, the cover nut 2030 may be coupled to the second portion 2022 of the cover tube 2020 through the first protrusion 2110.
  • the first protrusion 2110 is formed in the second portion 2022 and the groove is formed in the cover nut 2030, but this is only an example.
  • a groove may be formed in the second part 2022 and a protrusion may be formed in the cover nut 2030, and as the protrusion of the cover nut 2030 enters the groove of the second part 2022, the second Portion 2022 and cover nut 2030 may be coupled.
  • the first protrusion 2110 may have a locking structure shape so as to be attached to the groove.
  • the shape of the locking structure may include a thread or luer-lock.
  • the first protrusion 2110 may have a screw thread shape or a luer lock shape.
  • FIG. 2 of the present disclosure it is explained that the first protrusion 2110 as a single screw thread is formed on the outer surface of the second part 2112, but this is only an example.
  • a plurality of distinct screw threads (or a plurality of protrusions) may be formed on the outer surface of the second portion 2112.
  • the second protrusions 2120 may include first protrusions 2121 and/or second protrusions 2122.
  • the second protrusions 2120 may include a first protrusion 2121 formed at a first point on the inner surface of the second portion 2022 (2121).
  • the second protrusions 2120 may include a second protrusion 2122 formed at a second point on the inner surface of the second portion 2022.
  • the second point may be a point that is symmetrical to the first point.
  • the second protrusions 2120 are formed at equal intervals along the circumferential line of the inner surface of the second part 2022, and the circumferential line may be located at the center of the second part 2022. there is.
  • the second protrusions 2120 may be substantially perpendicular to the longitudinal direction of the second portion 2022.
  • the second protrusions 2120 are described as including first protrusions 2121 (2121) and/or second protrusions 2122, but this is only an example and the second protrusions 2120 may vary in number. It may include protrusions.
  • the second protrusions 2120 may include third and fourth protrusions in addition to the first protrusions 2121 and 2122 .
  • the third and fourth protrusions are each formed on the inner surface of the second portion 2022 and may be symmetrical.
  • the probe nut 2014 may include grooves corresponding to the second protrusions 2120.
  • the probe nut 2014 may include a first groove 2014a corresponding to the first protrusion 2121 (2121) and/or a second groove 2014b corresponding to the second protrusion 2122. there is.
  • the cover tube 2020 may be fixed to the probe nut 2014.
  • the second protrusions 2120 are simply inserted into the grooves of the probe nut 2014 and fastened to fix the cover tube 2020 and the probe nut 2014, but this is only an example.
  • fixing members or adhesive members that increase friction may be disposed in the grooves of the probe nut 2014.
  • the second protrusions 2120 may be coupled to fixing members or adhesive members. As a result, the probe nut 2014 and the cover tube 2020 can be more strongly coupled.
  • the outer diameter of the probe tube 2015 may have a first width W1 (eg, about 5.3 mm).
  • An inside diameter of the probe tube 2015 adjacent to the probe nut 2014 may have a second width W2 (eg, about 4 mm). That is, the inner diameter of the proximal end of the probe tube 2015 may have a second width W2 (eg, about 4 mm).
  • W1 eg, about 5.3 mm
  • W2 eg, about 4 mm
  • the numerical example of the outer diameter and inner diameter of the probe tube 2015 is only an example and does not limit the present disclosure.
  • FIG. 22 is an enlarged view of portion B of FIG. 1 according to an embodiment.
  • the cover tip 2023 may include an elastic member 2211 and/or an optical window 2212.
  • the elastic member 2211 may be a material having an elastic modulus of a specified size or more.
  • the elastic member may include an elastic polymer (eg, polypropylene (PP)), silicon, and/or rubber.
  • the elastic member 2211 may be elastically stretched in a specified direction when a tensile force is applied in the specified direction.
  • the term elastic member in the present disclosure may be replaced with the term elastic material.
  • the optical window 2212 may be a window through which a beam (eg, a laser beam) or reflected light reflected from an object transmits.
  • the optical window 2212 may include a transparent material (eg, glass, silicon, silicon dioxide).
  • the optical window 2212 may have a second width W3.
  • the second width W3 may be about 7.0 mm.
  • the outer diameter of the optical window 2212 may also be substantially understood as the outer diameter of the cover tip 2023.
  • the elastic member 2211 may be adhered to the first portion 2021 of the cover tube 2020.
  • the first part 2021 includes a first area 2221 and a second radius having an outer diameter of a first radius (or length) D1. It may include a second area 2222 having an outer diameter of (or length) D2.
  • the elastic member 2211 may surround the entire outer surface of the first area 2221, and the elastic member 2211 may be attached to a portion of the second area 2222.
  • the second radius D2 may be longer than the first radius D1.
  • the first side of the elastic member 2231 may be adhered to the second area 2222, and the second side of the elastic member 2231 may be adhered to the optical window 2212.
  • the second surface of the elastic member 2231 may be opposite to the first surface.
  • the elastic member 2231 is described as being adhered to the optical window 2212, but this is only an example.
  • the elastic member 2231 may be disposed below the optical window 2212 to support the optical window 2212. Accordingly, the elastic member 2231 can be replaced with a supporting member having elastic force.
  • the optical window 2212 can be prevented from being damaged by the probe tube 2015 by being coupled or adhered to the optical window 2212 by the elastic member 2231.
  • the probe tube 2015 may apply pressure to the optical window 2212 due to a user's error or mechanical limitations. If the elastic member 2231 is not coupled to the optical window 2212, the optical window 2212 may be damaged by applied pressure.
  • the elastic member 2231 according to one embodiment is coupled to the optical window 2212, even if pressure is applied to the optical window 2212, the elastic member 2231 moves in a specified direction (e.g., in the cover tube 2020). It can be stretched in the longitudinal direction. As the elastic member 2231 elastically extends in a specified direction, the optical window 2212 may not be damaged or broken.
  • the cover tube 2020 may be integrally formed with the elastic member 2211, and the optical window 2212 may be adhered to the distal end of the cover tube 2020.
  • optical window 2212 can be glued or bonded to the distal end of first portion 2021 of cover tube 2020.
  • the inside diameter of the other end of the probe tube 2015 that is relatively far from the probe nut 2014 may have a fourth width W4 (eg, about 4.1 mm). That is, the inner diameter of the distal end of the probe tube 2015 may have a fourth width W4 (eg, about 4.1 mm).
  • W4 fourth width
  • the numerical example of the inner diameter of the probe tube 2015 is only an example and does not limit the present disclosure.
  • cover tube 2020, the elastic member 2211, and the optical window 2212 of the present disclosure have been described as separate configurations, but this is only an example.
  • the cover tube 2020, the elastic member 2211, and the optical window 2212 may be formed integrally.
  • the first part 2021 is described as including regions such as the first region 2221 and the second region 2222, but this is only an example.
  • the first area 2221 and the second area 2222 may also be referred to as a portion or part in a three-dimensional concept.
  • the first part 2021 may be described as including the first part 2221 and the second part 2222.
  • the first part 2021 may be described as including a first sub-part 2221 and a second sub-part 2222.
  • the first area 2221 and the second area 2222 may form an offset.
  • the first area 2221 may form a first staircase
  • the second area 2222 may form a second staircase.
  • the elastic member 2211 may be attached to the second step formed by the second region 2222. In one embodiment, the elastic member 2211 may have a height longer than the height from the second step to the first step.
  • the elastic member 2211 may include a third area 2211a forming a third step and a fourth area 2211b forming a fourth step.
  • the third area 2211a and the fourth area 2211b may form a step.
  • the optical window 2212 may be adhered or coupled to the third step formed by the third region 2211a.
  • the step between the third and fourth steps may substantially correspond to the thickness of the optical window 2212.
  • Figure 23 is a diagram for explaining a process in which an elastic member is stretched according to an embodiment.
  • the elastic member 2211 may have a height equal to the first height h1 from the reference height.
  • the optical window 2212 may have a height equal to the second height h2 from the reference height.
  • the elastic member 2211 may be elastically stretched in a designated direction.
  • the designated direction may refer to a height direction or a direction perpendicular to the optical window 2212.
  • the optical window 2212 may have a height equal to the third height h3 from the reference height. Therefore, when comparing before and after pressure is applied to the optical window 2212, the elastic member 2211 can be stretched by the third height (h3) - the second height (h2), and the optical window 2212 can be stretched by the third height (h3) - the second height (h2). Height (h3) - You can move up by the second height (h2). For example, assuming that the height of the elastic member 2211 is the fourth height (h4), the height of the elastic member 2211 after pressure is applied to the optical window 2212 is the fourth height (h4) + the third height ( h3) - may correspond to the second height (h2).
  • damage to the optical window 2212 may be reduced or prevented as the elastic member 2211 is extended through elastic force.
  • the radius of the outer diameter of the elastic member 2211 is the radius of the outer diameter of the first area 2221 (e.g., the first radius D1), and the radius of the outer diameter of the second area 2222 (e.g., may be larger than the second radius (D2).
  • the elastic member 2211 may have an outer diameter of the third radius (D3), and the third radius (D3) is the first radius (D1) and the third radius (D3). 2 It can be greater than the radius (D2).
  • the elastic member 2211 may have an outer diameter of various radii.
  • the radius of the outer diameter of the elastic member 2211 may have a value between the first radius D1 and the second radius D2.
  • the outer diameter of the elastic member 2211 may be smaller than the first radius D1 and the second radius D2, respectively.
  • the arrangement relationship between the elastic member 2211 and the first part 2021 of the present disclosure is only an example and the elastic member 2211 may be arranged in various ways on the first part 2021 of the cover tube 2020.
  • elastic members having various arrangement relationships and various radii of outer diameters are described.
  • Figure 24 is a diagram for explaining an elastic member according to one embodiment.
  • the elastic member 2411 may be inserted into the first part 2021.
  • the first side of the elastic member 2411 may be adhered to the optical window 2212, and the second side opposite to the first side may be adhered to the first portion 2021.
  • the inserted elastic member 2411 may be stretched when pressure is applied to the optical window 2212.
  • the elastic member 2411 may be elastically stretched as the probe tube 2015 contacts the optical window 2212 and applies pressure in a specified direction (e.g., a direction perpendicular to the optical window 2212). there is.
  • damage to the optical window 2212 may be reduced or prevented as the elastic member 2411 is extended through elastic force.
  • the elastic member 2411 of FIG. 24 of the present disclosure Comparing the elastic member 2411 of FIG. 24 of the present disclosure with the elastic member 2211 of FIG. 22, the elastic member 2411 of FIG. 24 is inserted into the first portion 2021, while the elastic member 2211 of FIG. 22 is inserted into the first portion 2021. ) may be disposed along the outer surface of the first area 2221 of the first portion 2021.
  • the description of the elastic member 2211 of FIG. 22 may be applied to the elastic member 2411 according to one embodiment as long as there is no contradiction.
  • the description of the arrangement relationship between the first and second areas 2221 and 2222 and the elastic member 2411 may not be applicable.
  • the description that the elastic member 2411 may be in contact with the first portion 2021 may be applied.
  • Figure 25 is a diagram for explaining an elastic member according to one embodiment.
  • the elastic member 2511 may surround the entire outer surface of the first area 2221, and the elastic member 2511 may be attached to a portion of the second area 2222.
  • the first area 2221 may have an outer diameter of a first radius D1
  • the second area 2222 may have an outer diameter of a second radius D2 that is larger than the first radius D1. You can.
  • the elastic member 2511 may have an outer diameter of a fourth radius D4 between the first radius D1 and the second radius D2.
  • the elastic member 2511 may be stretched when pressure is applied to the optical window 2212.
  • the elastic member 2511 may elastically stretch as the probe tube 2015 contacts the optical window 2212 and applies pressure in a specified direction (e.g., a direction perpendicular to the optical window 2212). there is.
  • damage to the optical window 2212 may be reduced or prevented as the elastic member 2511 is extended through elastic force.
  • the elastic member 2511 of FIG. 25 of the present disclosure Comparing the elastic member 2511 of FIG. 25 of the present disclosure with the elastic member 2211 of FIG. 3, the elastic member 2511 of FIG. 25 has a fourth radius between the first radius D1 and the second radius D2. While it has an outer diameter of the radius D4, the elastic member 2211 of FIG. 4 may have an outer diameter of a third radius D3 that is larger than each of the first radius D1 and the second radius D2.
  • the description of the elastic member 2211 of FIG. 22 may be applied to the elastic member 2511 according to one embodiment as long as there is no contradiction.
  • Figure 26 is a diagram for explaining elastic members according to various embodiments.
  • the elastic member 2611 may be adhered or coupled to the first portion 2021 of the cover tube 2020. For example, a portion of the first surface of the elastic member 2611 may be adhered to the second region 2222 of the first portion 2021. In one embodiment, the elastic member 2611 may not be adhered to the first area 2221. For example, the elastic member 2611 may surround the entire outer surface of the first region 2221 and may not be adhered to the outer surface of the first region 2221.
  • the elastic member 2611 of FIG. 26 of the present disclosure Comparing the elastic member 2611 of FIG. 26 of the present disclosure with the elastic member 2211 of FIG. 23, the elastic member 2611 of FIG. 26 has a height of the fifth height h5, whereas the elastic member 2611 of FIG. 23 has a height of the fifth height h5. (2211) may have a fourth height (h4) that is greater than the fifth height (h5).
  • a separate adhesive member e.g., adhesive tape
  • the elastic member 2611 and the first part 2021 may be connected by the adhesive member.
  • the adhesive member can be glued or bonded.
  • the optical window 2612 may have an outer diameter of the third radius D3. Comparing the optical window 2612 of FIG. 26 of the present disclosure with the optical window 2212 of FIG. 3, the optical window 2612 of FIG. 26 has a second radius D2 that is larger than the outer diameter of the cover tube 2020. 3 may have a radius D3, whereas the optical window 2212 of FIG. 22 may have an outer diameter that is substantially the same as the second radius D2, which is the outer diameter of the cover tube 2020.
  • the optical window 2612 of FIG. 26 may have a larger outer diameter than the optical window 2212 of FIG. 22.
  • the elastic member 2611 and the optical window 2612 may have a relatively large contact area compared to the embodiment of FIG. 22.
  • the optical window 2612 may have an outer diameter of the third radius D3, and the optical window 2612 having a large radius has a relatively large area compared to the elastic member 2611. It can be glued in.
  • the adhesive area between the elastic member and the optical window is smaller than when the probe cover 2001 includes the elastic member 2211 and the optical window 2212. It can increase. As the adhesive area increases, even if pressure is applied to the optical window 2612, the elastic member 2611 and the optical window 2612 are coupled relatively more strongly, thereby preventing damage to the optical window 2612.
  • the elastic member 2641 may have a sixth height h6.
  • the sixth height h6 may be longer than the fourth height h4 of the elastic member 2231 and the fifth height h5 of the elastic member 2611.
  • the elastic member 2641 may be in contact with or coupled to the second region 2632 of the first portion 2621.
  • the elastic member 2641 may surround the entire outer surface of the first region 2631 of the first portion 2621.
  • the elastic member 2641 may be adhered to a portion of the second portion 2632 while contacting the entire outer surface of the first portion 2621.
  • One area of the inner surface of the elastic member 2641 may be in contact with the entire outer surface of the first part 2621, and another area of the inner surface of the elastic member 2641 may not be in contact with the first part 2621.
  • the first area 2631 and the optical window 2212 may be spaced apart by a designated distance, and the designated distance may correspond to a length corresponding to the other area.
  • the first part 2621, the first area 2631, and the second area 2632 of the present disclosure relate to the first part 2021, the first area 2221, and the second area 2222, unless contradictory. The explanation may apply.
  • the elastic force of the elastic member 2641 may increase, and even if pressure is applied to the optical window 2212, a relatively longer length It can be expanded as much as For example, the elastic member 2641 may be stretched to a relatively greater length than the elastic member 2611.
  • Figure 27 is a diagram for explaining an elastic member including a guide portion according to various embodiments.
  • the probe cover 2001 may include an elastic member 2700, and the elastic member 2700 may include a body portion 2711 and a guide portion 2712. .
  • the body portion 2711 may correspond to the elastic member 2211 of FIG. 22 .
  • the guide portion 2712 may be referred to as an extension portion extending from the body portion 2711 of the elastic member 2700 in the inner direction of the first portion 2021.
  • the elastic member 2700 may further include a guide portion 2712 compared to the elastic member 2211 of FIG. 22. there is.
  • the elastic member 2700 may be adhered to the first area 2221 and the second area 2222 of the first part 2021.
  • the guide portion 2712 of the elastic member 2700 may be adhered to the first region 2221, and the body portion 2711 of the elastic member 2700 may be at least partially adhered to the second region 2222. It can be.
  • the elastic member 2700 may be adhered or coupled to the first step formed by the first region 2221 and the second step formed by the second region 2222.
  • the guide portion 2712 of the elastic member 2700 may be adhered to the first step formed by the first region 2221, and the body portion 2711 may be attached to the first step formed by the second region 2222. 2 Can be glued to stairs.
  • the elastic member 2211 of FIG. 22 is bonded only to the second region 2222, while the elastic member 8110 of FIG. 8 can be bonded to the first region 2221 and the second region 2222.
  • the elastic member 2700 may be bonded to the first part 2021 over a larger area than the elastic member 2211 of FIG. 22. Accordingly, even if pressure is applied to the optical window 2212, the elastic member 2700 can be prevented from being detached from the first portion 2021.
  • the elastic member 2700 since the elastic member 2700 includes the guide portion 2712, even if pressure (or impact) is applied to the optical window 2212, the pressure (or impact) is absorbed by the elastic member 2700. This can be done, and as a result, damage or detachment of the optical window 2212 can be prevented or reduced.
  • Figure 28 is a diagram for explaining an elastic member including an elastic member and a guide portion according to an embodiment.
  • the first portion 2820 of the cover tube may include a first area 2821 and a second area 2822.
  • the first area 2821 may be an area (or portion) having an inside diameter of the first radius D1.
  • the second area 2822 may be an area having an inner diameter of the fifth radius D5.
  • the first area 2821 and the second area 2822 of the first part 2820 of FIG. 28 are They can have different inner diameters.
  • the first area 2221 and the second area 2222 of the first portion 2021 of FIG. 3 may have substantially the same inner diameter.
  • first area 2821 and the second area 2822 of FIG. 28 have different inner diameters of the first radius D1 and the fifth radius D5, respectively, while the first area 2822 of FIG. 22 ( 2221) and the second area 2222 may have substantially the same inner diameter (eg, fourth width W4).
  • first area 2821 and the second area 2822 of the first portion 2820 of FIG. 28 may have substantially the same outer diameter.
  • the first area 2221 and the second area 2222 of the first portion 2021 of FIG. 22 may have different outer diameters.
  • the outer diameter of the first area 2221 of the first part 2021 in FIG. 22 is the first radius D1
  • the outer diameter of the second area 2222 of the first part 2021 is the second radius. It may be (D2).
  • the first part 2820 of FIG. 28 forms a lower step toward the inside of the cover tube 2020, while the first part 2021 of FIG. 22 forms a step toward the inside of the cover tube 2020.
  • the elastic member 2811 may be adhered to the first area 2821 and the second area 2822.
  • the elastic member 2830 may include a body portion 2831 and a guide portion 2832 extending from the body portion 2831. You can.
  • the body portion 2831 of the elastic member 2830 may substantially correspond to the elastic member 2811.
  • the guide part 2832 may be referred to as an extension part extending from the body part 2831 of the elastic member 2830 in the inner direction of the first part 2820.
  • the elastic member 2830 may be adhered to the first area 2821 and the second area 2822 of the first part 2820.
  • the elastic member 2830 since the elastic member 2830 includes a guide portion 2832, even if pressure is applied to the optical window 2212, the pressure (or impact) can be absorbed by the elastic member 2830, As a result, damage or detachment of the optical window 2212 may be prevented or reduced.
  • FIG. 29 is a diagram for explaining an optical window formed of an elastic member according to an embodiment.
  • the optical window 2912 may be formed of an elastic member (eg, silicone, rubber, polypropylene). Accordingly, the optical window 2912 may not need to be coupled to the first portion 2021 through a separate elastic member.
  • an elastic member eg, silicone, rubber, polypropylene
  • the optical window 2912 may be directly coupled to the first portion 2021.
  • optical window 2912 may be combined with first region 2221 and second region 2222.
  • the first area 2221 may be understood as an area whose outer diameter is the first radius D1
  • the second area 2222 may be understood as an area whose outer diameter is the second radius D2.
  • the optical window 2612 of FIG. 29 Comparing the optical window 2912 of FIG. 29 of the present disclosure with the optical window 2612 of FIG. 7, the optical window 2612 of FIG. 26 has a first elastic member through a separate elastic member (e.g., elastic member 2611). Can be combined with part (2021).
  • the optical window 2912 of FIG. 29 may not be coupled to the first part 2021 through a separate elastic member because at least a portion of the optical window 2912 is formed of an elastic member. That is, the optical window 2912 of FIG. 29 can be directly coupled to the first portion 2021.
  • the optical window 2912 in FIG. 26 may also be understood as an embodiment in which the optical window 2612 and the elastic member 2611 in FIG. 26 are integrally formed.
  • the outer diameter of the optical window 2912 formed integrally with the elastic member may be the third radius D3.
  • the optical window 2912 may be stretched relatively more elastically even when pressure is applied to the optical window 2912 .
  • the elastic member may be stretched by a tensile force according to the pressure.
  • the optical window 2912 may be immediately expanded in response to the pressure applied to the optical window.
  • FIG. 30 is a diagram for explaining an optical window formed of an elastic member according to an embodiment.
  • the optical window 3012 may be formed of an elastic member (eg, silicone, rubber, polypropylene). Accordingly, the optical window 3012 may not need to be coupled to the first portion 2820 through a separate elastic member.
  • an elastic member eg, silicone, rubber, polypropylene
  • the optical window 3012 may be directly coupled to the second region 2822.
  • one side of the optical window 3012 may be coupled to the second region 2822 of the first portion 2820.
  • the first area 2821 may be understood as an area whose inner diameter is the second radius D2
  • the second area 2822 may be understood as an area whose internal diameter is the first radius D1.
  • Both the outer diameter of the first area 2821 and the outer diameter of the second area 2822 may be the third radius D3.
  • the optical window 3012 may contact the first area 2821.
  • the optical window 3012 may contact along the inner surface of the first region 2821.
  • optical window 3012 may contact but not be coupled to first region 2821.
  • the optical window 3012 may not be glued or combined with the first region 2821 to further secure elasticity.
  • optical window 3012 is not combined with the first area 2821, and in another embodiment, the optical window 3012 may be combined with the first area 2821.
  • the outer diameter of the optical window 3012 formed integrally with the elastic member may be the second radius D2.
  • the optical window 3012 is described as being coupled to the second region 2822, but this is only an example, and the optical window 3012 may also be described as being inserted into the first portion 2820. You can.
  • the optical window 3012 may be stretched relatively more elastically even when pressure is applied to the optical window 3012.
  • the elastic member may be stretched by a tensile force according to the pressure.
  • the optical window 3012 may be immediately expanded in response to the pressure applied to the optical window.
  • FIG. 31 is a diagram for explaining an optical window formed of an elastic member according to an embodiment.
  • the first part 3120 may include a first area 3121 and a second area 3122.
  • the first part 3120, the first area 3121, and the second area 3122 of FIG. 31 of the present disclosure are respectively in that order the first part 2820, the first area 2821, and the second area of FIG. 28 of the present disclosure. It may correspond to the second area 2822. Therefore, the description of the first part 2820, the first area 2821, and the second area 2822 of FIG. 28 is the same as the first part 3120, the first area 3121 and the second area 2822 of FIG. 31 unless there is a contradiction. It may be applied to the second area 3122.
  • the first area 3121 may be understood as an area whose inner diameter is the second radius D2, and the second area 3122 may be understood as an area whose internal diameter is the first radius D1. Both the outer diameter of the first area 3121 and the outer diameter of the second area 3122 may be the third radius D3.
  • the optical window 3112 may have an outer diameter of the second radius D2. In one embodiment, optical window 3112 may be glued to second region 3122 of first portion 3120. In one embodiment, the optical window 3112 may contact the entire inner surface of the first region 3121 of the first portion 3120.
  • the optical window 3112 may be formed at least in part of an elastic material (eg, silicone, polypropylene).
  • the optical window 3112 may be formed of a transparent elastic material.
  • the optical window 3112 since at least a portion of the optical window 3112 is formed of an elastic member, it can be stretched relatively more elastically even when pressure is applied to the optical window 3112. For example, when an optical window is combined with a separate elastic member, pressure is applied to the optical window, and the elastic member may be stretched by a tensile force according to the pressure. On the other hand, when at least a portion of the optical window 3112 is formed of an elastic member as shown in FIG. 12, the optical window 3112 may be immediately expanded in response to the pressure applied to the optical window. As a result, when at least a portion of the optical window 3112 is formed of an elastic member, the optical window 3112 can be more effectively prevented from being damaged.
  • Figure 32 is a diagram showing an actual photo of a probe cover according to one embodiment.
  • the probe cover 2001 may include a cover tube 2020, a cover tip 2023, a cover nut 2030, and/or a drape 2040.
  • the cover tip 2023 may include an optical window and/or an elastic member.
  • the cover nut 2030 may be coupled or engaged to the cover tube 2020.
  • the drape 2040 may be heat-sealed and joined to the entire outer surface of the cover nut 2030.
  • the cover nut 2030 may be coupled or fastened to the cover tube 2020.
  • the fastened cover nut 2030 may be combined with the drape 2040 through a heat fusion process.
  • Figure 33 is a diagram showing an actual photograph of a probe cover and a probe according to an embodiment.
  • both ends of the cover tube 2020 may have different outer diameters.
  • the first end 3301 of the cover tube 2020 may have an outer diameter of the first length E1
  • the second end 3302 may have an outer diameter of the second length E2. You can have apocrypha.
  • the first end 3301 may correspond to the distal end, and the second end 3302 may correspond to the proximal end.
  • the first end 3301 may correspond to a user or an end relatively distant from the probe body (e.g., the probe body 2011 in FIG. 20) of the probe 2002 held by the user.
  • the second end 3302 may correspond to a user or an end relatively close to the probe body 2011 of the probe 2002 held by the user.
  • the second length E2 may be greater than the first length E1. That is, the outer diameter of the cover tube 2020 may gradually increase from the distal end (eg, first end 3301) to the proximal end (eg, second end 3302).
  • FIG. 34 is a diagram illustrating a probe that does not include a bending portion and a probe cover for a probe that does not include a bending portion, according to an embodiment.
  • an optical system (or confocal endoscopic microscope) 3400 may include a probe 3402 and a probe cover 3401 for accommodating (or covering) the probe 3402. You can.
  • the probe 2002 may include a probe body 3411, an optical fiber 3412, a probe nut 3414, and/or a probe tube 3415.
  • the optical fiber 3412 may be connected to one end of the probe body 3411.
  • the probe body 3411 may be referred to as a part of the optical system (or confocal endoscopic microscope) 3400 that the user grips.
  • the probe nut 3414 may be referred to as a component connecting the probe body 3411 and the probe tube 3415. At least a portion of the probe tube 3415 may be introduced into the body.
  • the probe 3402 of FIG. 34 of the present disclosure may be understood as a probe that does not include a bending portion 2013, unlike the probe 2002 of FIG. 20.
  • the probe cover 3401 may include a cover tube 3420 and a cover tip 3430.
  • the cover tube 3420 may include a first portion 3421 for receiving at least a portion of the probe tube 3415 and a second portion 3422 for receiving the probe nut 3414. .
  • the first part 3421 may include a first area 3421a and a second area 3421b.
  • the first area 3421a may have an outer diameter of a first radius
  • the second area 3421b may have an outer diameter of a second radius. The first radius may be smaller than the second radius.
  • the cover tube 3420 may include a space 3423 for accommodating at least a portion of the probe tube 3415.
  • Cover tube 3420 may include a space 1524 for receiving a probe nut 3414.
  • the cover tube 3420 may have a first length G1 (about 18.6 mm) in the longitudinal direction.
  • the cover tip 3430 may include an elastic member 3431 and an optical window 3432.
  • the elastic member 3431 may surround the entire outer surface of the first area 3421a.
  • the elastic member 3431 may be adhered or combined with the second region 3421b.
  • the elastic member 3431 may surround the entire outer surface of the first area 3421a but may not be adhered to the first area 3421a. That is, the elastic member 3431 may be adhered to a portion of the second region 3421b while contacting the entire outer surface of the first region 3421a.
  • the distal end of the cover tube 3420 may have an outer diameter of the second length G2 (approximately 7.0 mm).
  • the second area 3421b of the cover tube 3420 may have an outer diameter of the second length G2.
  • the first portion 3421 may have a third length G3 (approximately: 7.0 mm) in the longitudinal direction.
  • the numerical examples of the first length (G1), the second length (G2), and the third length (G3) described in FIG. 34 of the present disclosure are only examples and do not limit the present disclosure.
  • the drape may be heat-sealed over the entire outer surface of the second portion 3422.
  • the optical window 3432 can be prevented from being damaged by the probe tube 3415 by being coupled or adhered to the optical window 3432 by the elastic member 3431.
  • the probe tube 3415 may apply pressure to the optical window 3432 due to a user's error or mechanical limitations. If the elastic member 3431 is not coupled to the optical window 3432, the optical window 3432 may be damaged by applied pressure.
  • the elastic member 3431 according to one embodiment is coupled to the optical window 3432, even if pressure is applied to the optical window 3432, the elastic member 3431 moves in a specified direction (e.g., in the cover tube 3420). It can be stretched in the longitudinal direction. As the elastic member 3431 elastically extends in a specified direction, the optical window 3432 may not be damaged or broken.
  • a probe cover surrounding a probe of a confocal endomicroscope may include a cover tube.
  • the cover tube may include a first part accommodating the probe tube of the probe and a second part accommodating a probe nut located at a proximal end of the probe tube.
  • the first portion may include a first region having an outer diameter of a first length and a second region having an outer diameter of a second length longer than the first length.
  • a first protruding part may be formed on the outer surface of the second part, and a plurality of second protruding parts may be formed on the inner surface of the second part.
  • the probe cover is coupled to the distal end of the cover tube and may include a cover tip including an optical window and an elastic member.
  • the elastic member may surround the entire outer surface of the first region, a first side of the elastic member may be adhered to a portion of the second region, and a second side of the elastic member may be bonded to a portion of the optical window.
  • the probe cover may include a cover nut, and a receiving groove may be formed on an inner surface of the cover nut, and the receiving groove may be coupled to the first protrusion of the second portion.
  • the probe cover may include a cover drape joined by heat fusion over the entire outer surface of the cover nut.
  • the cover tube, the elastic member, and the optical window may be formed as one body.
  • the cover tube and the elastic member may be formed integrally, and the optical window may be adhered to the distal end of the cover tube.
  • the second length corresponding to the outer diameter of the second region may gradually increase from the distal end of the cover tube to the proximal end of the cover tube.
  • the plurality of second protrusions may be perpendicular to the longitudinal direction of the second portion.
  • a first protrusion among the plurality of second protrusions may be formed at a first point on the inner surface of the second portion.
  • a second protrusion among the plurality of second protrusions may be formed at a second point symmetrical to the first point on the inner surface of the second portion.
  • the second protrusions 2120 are formed at equal intervals along the circumferential line of the inner surface of the second part 2022, and the circumferential line may be located at the center of the second part 2022. there is.
  • the probe cover may further include a marker attached to at least one of the cover tube, the cover nut, and the cover drape.
  • the probe accommodated in the probe cover can be set to operate only when the probe cover is authenticated through the label.
  • the sign may include at least one of a near-field communication (NFC) tag or a barcode.
  • NFC near-field communication
  • the length of the cover tube may be less than 200 m.
  • the first area having an outer diameter of the first length and the second area having an outer diameter of the second length may form an offset.
  • the first area may form a first step
  • the second area may form a second step.
  • the elastic member may be adhered to the second end formed by the second region.
  • the elastic member may have a second height that is longer than the first height from the second end to the first end.
  • the elastic member may be adhered to the second end.
  • the elastic member may include a guide structure formed below the optical window to support the optical window.
  • the first protrusion may have the shape of a locking structure so as to be attached to the receiving groove.
  • the outer diameter of the elastic member may correspond to a third length that is longer than the second length.
  • the elastic member may include a third region and a fourth region having a step difference from the third region.
  • the third region may form a third stage and the fourth region may form a fourth stage.
  • the optical window may be located at the third end formed by the third region.
  • Figure 35 is a diagram for explaining a probe according to an embodiment.
  • a confocal endoscopic microscope (or optical system) 3500 may include a probe 3501 and/or an image processing device 3502 connected to the probe 3501.
  • the probe 3501 may include a probe body 3510, a bending portion 3520, and/or a probe tube 3530.
  • the image processing device 3502 may include at least one processor 3503, and the at least one processor 3503 may process images received by the image processing device 3502. there is. For example, at least one processor 3503 may stitch images received by the image processing device 3502.
  • the probe body 3510 may be referred to as a part of the probe 3501 that the user holds.
  • probe body 3510 may include the proximal end of probe 3501.
  • the proximal end of the probe 3501 may be referred to as an end included in the probe body 3510 among the ends of the probe 3501.
  • the probe body 3510 may include various modules or circuits associated with the probe 3501.
  • the probe body 3510 may include a sensor module 3511 in portion A.
  • the sensor module 3511 may include an acceleration sensor and/or a gyro sensor.
  • the sensor module 3511 may include an inertial measurement unit (IMU) sensor, a gesture sensor, a gyro sensor, a barometric pressure sensor, an acceleration sensor, a magnetic sensor, a grip sensor, an infrared (IR) sensor, a proximity sensor, a color sensor, It may include a humidity sensor, temperature sensor, biometric sensor, and/or illuminance sensor.
  • IMU inertial measurement unit
  • the bending portion 3520 may be bent by a specified angle, and the probe body 3510 and the probe tube 3530 may be connected through the bending portion 3520. In one embodiment, the probe body 3510 and the probe tube 3530 may form the specified angle.
  • the probe tube 3530 may include an optical fiber scanner 3531 and a lens (or light receiver) 3532.
  • the optical fiber scanner 3531 may radiate light to body tissues. Excitation light may be emitted from the tissue in response to irradiated light on the tissue (e.g., cell) of the body.
  • the lens 3532 or the light receiving unit may receive the emitted excitation light.
  • the sensor module 3511 may include an acceleration sensor and may measure the acceleration of the probe 3501 using the acceleration sensor.
  • the acceleration sensor may identify a first axis (e.g., x-axis), a second axis (e.g., y-axis), and a third axis (e.g., z-axis) based on the probe 3501, and the probe (3501)
  • a first axis e.g., x-axis
  • second axis e.g., y-axis
  • a third axis e.g., z-axis
  • At least one processor 3503 of the image processing device 3502 electrically connected to the sensor module 3511 provides location information (e.g., location information) of the probe 3501 based on the acceleration value measured through the acceleration sensor. : The position of the probe 3501 or the movement of the probe 3501 can be identified. For example, when the probe 3501 moves in the first direction or the second direction, at least one processor 3503 may identify the movement of the probe 3501 using the sensor module 3511, and the probe 3501 may identify the movement of the probe 3501. The location of (3501) can be identified.
  • the sensor module 3511 may include a gyro sensor and measure the angular velocity of the probe 3501 using the gyro sensor.
  • the gyro sensor may identify a first axis (e.g., x-axis), a second axis (e.g., y-axis), and a third axis (e.g., z-axis) based on the probe 3501, and the probe When (3501) rotates, the angular velocity value in each axis can be measured based on the three identified axes.
  • At least one processor 3503 electrically connected to the sensor module 3511 may identify the rotation of the probe 3501 based on the angular velocity value measured through the gyro sensor.
  • the sensor module 3511 may be referred to as a hardware component for detecting, identifying, or determining the location of the probe 3501 or the probe body 3510. there is. Accordingly, the term sensor module 3511 can be replaced with sensor, sensor circuit, or sensing circuit.
  • the image processing device 3502 includes at least one processor 3503, but this is only an example.
  • a processor for identifying the position or rotation of the probe body 3510 may be disposed within the probe body 3510.
  • a processor for identifying the position of the probe body 3510 may be disposed within the probe body 3510, and the rotation of the probe body 3510 may be identified by at least one processor 3503. there is. That is, at least one processor for identifying the position and rotation of the probe body 3510 may be disposed in the probe body 3510 and/or the image processing device 3502.
  • Figure 36 is a diagram for explaining the difference between the position of the sensor module and the position of the probe tip according to one embodiment.
  • the sensor module 3511 located within the probe body 3510 may have first location information.
  • the sensor module 3511 may acquire or measure location information of the sensor module 3511 at a first point in time.
  • the acquired first position information of the sensor module 3511 includes three-dimensional coordinates (e.g., x-axis), a second axis (e.g., y-axis), and a third axis (e.g., z-axis). It can be indicated with three dimensional coordinates.
  • the probe tip 3610 of the probe 3501 may have location information that is distinct from the first location information.
  • the difference between the position of the sensor module 3511 and the position of the probe tip 3610 may be determined in advance.
  • the difference between the position of the sensor module 3511 and the position of the probe tip 3610 is the relative position information between the sensor module 3511 and the probe tip 3610 within the probe 3501 and the direction toward which the probe tip 3610 is directed. May contain information about direction.
  • relative position information may include the length of the probe body 3510 including the sensor module 3511, the length of the probe tube 3530 including the probe tip 3610, and/or the length of the probe body 3510 and the probe tube.
  • the angle between ) may include information about. In one example, the angle between the probe body 3510 and the probe tube 3530 may substantially correspond to the bending angle of the bending portion 3520.
  • information about the direction in which the probe tip 3610 faces may be obtained from the gyro sensor of the sensor module 3511.
  • information about the direction in which the probe tip 3610 is facing may include an angle from a reference axis (e.g., x-axis), e.g. ) can be indicated.
  • the position of the probe tip 3610 is determined using the first point (o), the first vector (v1), and the second vector (v2) of the probe body 3510 where the sensor module 3511 is located.
  • the coordinates of the second point (p) may be calculated. For example, from the first point (o) to the third point (m) of the bending part 3520 may be indicated by the first vector (v1), and from the third point (m) to the second point (p) It may be indicated by the second vector (v2).
  • the coordinates of the second point (p) can be obtained by using the vector sum of the first point (o), the first vector (v1), and the second vector (v2).
  • the location information of the sensor module 3511 e.g., coordinates of the first point (o)
  • the first vector (v1) and the second vector (v2) are identified
  • the location information of the probe tip 3610 e.g., Coordinates of the second point (p) may be identified.
  • the first vector v1 is substantially the length of the probe body 3510 including the sensor module 3511, and the angle formed between the probe body 3510 and the probe tube 3530 (e.g. ) can be obtained through.
  • the second vector v2 can be substantially obtained through information about the length of the probe tube 3530 and the direction in which the probe tip 3610 faces.
  • At least one processor 3503 of the image processing device 3502 may stitch a plurality of images by projecting or orthographically projecting the plurality of images acquired by the probe 3501 onto a virtual plane. there is. In order for at least one processor 3503 to stitch a plurality of images, it is necessary to obtain location information corresponding to each of the plurality of images.
  • the sensor module 3511 in the probe 3501 is located in the probe body 3510, when at least one processor 3503 projects a plurality of images using the location information acquired by the sensor module 3511 Errors may occur.
  • At least one processor 3503 needs to calibrate (or correct) the position information of the sensor module 3511 with the position information of the probe tip 3610 adjacent to the tissue in order to minimize or prevent the occurrence of errors. .
  • the at least one processor 3503 provides calibrated location information of the sensor module 3511 based on the location information of the sensor module 3511 and the predetermined parameters described above. ) can be converted to . At least one processor 3503 may stitch a plurality of images using the corrected location information.
  • Figure 37 is a diagram for explaining stitching of images acquired through a probe according to an embodiment.
  • the probe 3501 can move, and images of tissues having different positions can be acquired.
  • the probe 3501 may acquire an image of the first region 311 of the tissue 3701.
  • the probe 3501 may acquire an image of the second region 3712 of the tissue 3701.
  • the probe 3501 may acquire an image of the third area 3713 of the tissue 3701, and at a fourth time point t4, the probe 3501 may acquire an image of the fourth area 3714. Images can be obtained.
  • each region of the tissue 3701 may need to be stitched.
  • the probe 3501 may acquire the fifth image of the fifth area 3725 at the first time point t1.
  • the probe 3501 may acquire the sixth image of the sixth area 3726 at the second time point t2.
  • the sixth area 3726 may include at least a portion of the fifth area 3725. That is, the sixth image may correspond to an image in which the fifth image acquired at the first time point t1 and the simple image acquired at the second time point t3 are stitched.
  • the probe 3501 may acquire the seventh image of the seventh area 3727 at the third time point t3.
  • the seventh image may correspond to an image in which the sixth image acquired at the second time point t2 and the simple image acquired at the third time point t3 are stitched.
  • the probe 3501 may acquire the eighth image of the eighth area 3728 at the fourth time point t4.
  • the eighth image may correspond to an image in which the seventh image acquired at the third time point t3 and the simple image acquired at the fourth time point t4 are stitched.
  • a simple image in the present disclosure may be referred to as an unstitched image.
  • a simple image is an image acquired by the probe 3501 at each time point and may be referred to as an unstitched image.
  • simple images can be understood as being referred to to distinguish them from stitched images.
  • Figure 38 is a diagram for explaining a method of obtaining corrected location information according to an embodiment.
  • At least one processor 3503 acquires a first image of a first region of the tissue at a first viewpoint (or corresponding to the first viewpoint) in operation 3801. You can.
  • at least one processor 3503 may acquire or capture a first image of a first region of tissue in the body at a first viewpoint using the probe 3501.
  • the probe 3501 may receive a user's input (e.g., an input to a button) at a first point in time, and the probe 3501 may determine the location of tissue in the body at the first point in time based on the received user input.
  • a first image of the first area may be acquired.
  • receiving user input and/or acquiring the first image of the probe 3501 may be performed under the control of at least one processor 3503.
  • the first image is generated when the optical fiber scanner 3531 of the probe 3501 radiates light to the tissue and the lens (or light receiver) 3532 of the probe 3501 emits excitation light ( It can be obtained while receiving excitation light.
  • At least one processor 3503 may acquire first location information of the sensor module 3511 corresponding to the first viewpoint in operation 3803.
  • the sensor module 3511 may include an acceleration sensor.
  • the acceleration sensor of the sensor module 3511 may acquire acceleration information of the probe 3501 at a first point in time.
  • At least one processor 3503 or an acceleration sensor may obtain first location information of the sensor module 3511 based on acceleration information of the probe 3501.
  • the acceleration sensor may obtain acceleration values (or acceleration information) of the sensor module 3511 corresponding to the first viewpoint.
  • At least one processor 3503 may obtain location information of the sensor module 3511 by integrating acceleration values of the sensor module 3511.
  • Position information obtained by integrating acceleration values may be indicated as coordinates according to three-dimensional coordinate systems.
  • three-dimensional coordinate systems may include a first axis (eg, x-axis), a second axis (eg, y-axis), and a third axis (eg, z-axis).
  • the first location information of the sensor module 3511 may be information about the relative location with respect to the reference location.
  • at least one processor 3503 may acquire the reference location of the sensor module 3511 at a reference time point before the first time point.
  • the sensor module 3511 may acquire the first position of the sensor module 3511 as a relative position with respect to the reference position at the reference time.
  • the first location information may include information about the first location of the sensor module 3511 at a first point in time.
  • At least one processor 3503 may obtain first angular velocity information measured by the sensor module 3511 at a first point in time. At least one processor 3503 may obtain the inclination of the probe 3501 using the angular velocity values included in the first angular velocity information.
  • At least one processor 3503 may obtain first corrected location information based on the first location information obtained in operation 3805 and a predetermined parameter.
  • the acquired first location information may correspond to the location of the sensor module 3511 within the probe body 3510.
  • the first corrected position information may correspond to the position of the probe tip 3610 of the probe 3501.
  • the probe tip 3610 is a part of the probe 3501 adjacent to the tissue, so the location information of the probe tip 3610 may substantially correspond to the location information of the tissue.
  • the first corrected position information of the probe tip 3610 at a first viewpoint includes a first axis (e.g., x-axis), a second axis (e.g., It may be indicated by three-dimensional coordinates including a y-axis) and a third axis (e.g., z-axis).
  • a first axis e.g., x-axis
  • a second axis e.g., It may be indicated by three-dimensional coordinates including a y-axis
  • a third axis e.g., z-axis
  • the first corrected location information may correspond to the location information of the first image.
  • the first corrected position information may correspond to the position information of the first image required when the first image is stitched.
  • the predetermined parameter is relative position information between the sensor module 3511 in the probe 3501 and the probe tip 3610 of the probe 3501 and/or direction information about the direction the probe tip 3610 is facing. may include.
  • the relative position information between the sensor module 3511 and the probe tip 3610 includes the length of the probe body 3510 including the sensor module 3511 and the probe tube 3530 including the probe tip 3610. It may include information about the length and/or the angle of the probe body 3510 and the probe tube 3530.
  • Probe tip 3610 of the present disclosure may be substantially referred to as the distal end of probe 3501. Accordingly, relative position information between the sensor module 3511 and the probe tip 3610 may be referred to as relative position information between the sensor module 3511 and the distal end of the probe 3501.
  • the probe 3501 is described as including a probe body 3510, a bending portion 3520, and a probe tube 3530, but this is only an example.
  • the probe 3501 may be conceptually comprised of a first part corresponding to the probe body 3510, a second part corresponding to the bending part 3520, and a third part corresponding to the probe tube 3530. It can be explained.
  • Figure 39 is a diagram for explaining a method of stitching a first image and a second image according to an embodiment.
  • At least one processor 3503 acquires a second image of a second region of the tissue at a second viewpoint (or corresponding to the second viewpoint) in operation 3907. You can.
  • At least one processor 3503 may acquire or capture a second image of a second region of tissue in the body from a second viewpoint using the probe 3501.
  • probe 3501 may receive a user's input (e.g., an input to a button) at a second point in time, and probe 3501 may determine tissue within the body at a second point in time based on the received user input.
  • a second image for the second area may be obtained.
  • reception of a user input and/or acquisition of a second image by the probe 3501 may be performed under the control of at least one processor 3503.
  • the second image is generated when the optical fiber scanner 3531 of the probe 3501 radiates light to the tissue and the lens (or light receiver) 3532 of the probe 3501 emits excitation light ( It can be obtained while receiving excitation light.
  • the second viewpoint may be referred to as a viewpoint distinct from the first viewpoint.
  • the second time point may be a time point after the first time point.
  • the interval between the first viewpoint and the second viewpoint may correspond to the reciprocal of the image frame rate, which represents the speed at which images of tissue are captured.
  • the interval between the first time point and the second time point may be substantially the same.
  • the interval between the first view and the second view may be 1/30 second.
  • the interval between the second time point and the third time point after the second time point may be 1/30 of a second. That is, the interval at which the probe 3501 acquires or photographs images of tissue may be substantially the same.
  • the interval between the first time point and the second time point may vary.
  • at least one processor 3503 may set an image frame rate indicating the speed at which images of tissue are taken to a first value (eg, 30 fps).
  • at least one processor 3503 may sense the movement speed of the probe 3501 via the sensor module 3511 while taking an image of tissue and adjust the image frame rate based on the detected movement speed. The value of can be maintained or changed.
  • the at least one processor 3503 may change the image frame rate to a second value (eg, 60 fps) greater than the first value when the detected movement speed is greater than or equal to the reference value. Therefore, the interval between the first time point and the second time point may be 1/60 second.
  • a second value eg, 60 fps
  • At least one processor 3503 may maintain the image frame rate at a first value (eg, 30 fps) when the detected movement speed is less than a reference value. Accordingly, the interval between the first viewpoint and the second viewpoint may be 1/30 second.
  • At least one processor 3503 may acquire second location information of the sensor module 3511 corresponding to the second viewpoint in operation 3909. At least one processor 3503 or an acceleration sensor may obtain second location information of the sensor module 3511 based on acceleration information of the probe 3501.
  • the second location information of the sensor module 3511 may be information about the relative location with respect to the reference location.
  • at least one processor 3503 may acquire the reference location of the sensor module 3511 at a reference time point before the first time point.
  • the sensor module 3511 may acquire the second position of the sensor module 3511 as a relative position with respect to the reference position at the reference time.
  • the second location information may include information about the second location of the sensor module 3511 corresponding to the second viewpoint.
  • the acceleration sensor may acquire acceleration values of the sensor module 3511 corresponding to the second viewpoint.
  • At least one processor 3503 may obtain second location information of the sensor module 3511 by integrating acceleration values of the sensor module 3511.
  • the second position information obtained by integrating the acceleration values may be indicated by coordinates according to three-dimensional coordinate systems.
  • three-dimensional coordinate systems may include a first axis (eg, x-axis), a second axis (eg, y-axis), and a third axis (eg, z-axis).
  • At least one processor 3503 may obtain second corrected location information based on the second location information obtained in operation 3911 and a predetermined parameter.
  • the acquired second location information may correspond to the location of the sensor module 3511 within the probe body 3510.
  • the second corrected position information may correspond to the position of the probe tip 3610 of the probe 3501.
  • the probe tip 3610 is a part of the probe 3501 adjacent to the tissue, so the location information of the probe tip 3610 may substantially correspond to the location information of the tissue.
  • the second corrected position information of the probe tip 3610 at the second viewpoint includes the first axis (e.g., x-axis) and the second axis (e.g., It may be indicated by three-dimensional coordinates including a y-axis) and a third axis (e.g., z-axis).
  • first axis e.g., x-axis
  • second axis e.g., It may be indicated by three-dimensional coordinates including a y-axis
  • a third axis e.g., z-axis
  • the second corrected location information may correspond to location information of the second image.
  • the second corrected position information may correspond to the position information of the second image required when the second image is stitched.
  • At least one processor 3503 may stitch the first image and the second image based on the first corrected location information and the second corrected location information in operation 3913.
  • the at least one processor 3503 may configure the first image so that the first image has first-axis coordinate information (e.g., x-coordinate) and second-axis coordinate information (e.g., y-coordinate) among the first corrected position information.
  • Images can be projected or orthogonally projected onto a virtual plane. That is, the at least one processor 3503 may project or orthographically project the first image onto a virtual plane by excluding the third axis coordinate information (eg, z coordinate) from the first corrected position information.
  • the virtual plane may consist of a first axis (eg, x-axis) and a second axis (eg, y-axis).
  • the at least one processor 3503 may configure the second image so that the second image has coordinates of the second axis (e.g., x-coordinate) and coordinate information of the second axis (e.g., y-coordinate) among the second corrected position information. can be projected or orthogonally projected onto a virtual plane. That is, at least one processor 3503 may project or orthographically project the second image onto a virtual plane by excluding the third axis coordinate information (eg, z coordinate) from the second corrected position information.
  • the second axis e.g., x-coordinate
  • coordinate information of the second axis e.g., y-coordinate
  • the first image is ( , ) may be projected (or orthogonally projected) onto a virtual plane to have coordinate information of ( , ) can be projected onto a virtual plane to have coordinate information.
  • the at least one processor 3503 may obtain an image in which the first image and the second image are stitched, and the stitched image may include the first region and the second region of the tissue.
  • FIGS. 35 to 49 of the present disclosure A method of stitching two-dimensional images is described in FIGS. 35 to 49 of the present disclosure, but this is only an example. The descriptions of FIGS. 35 to 49 can be equally applied to the method of stitching three-dimensional images.
  • Figure 40 a method of stitching 3D images using corrected position information is explained.
  • Figure 40 is a diagram for explaining a method of stitching 3D images according to an embodiment.
  • At least one processor 3503 processes the first axis (e.g., x-axis), the second axis (e.g., y-axis), and A three-dimensional image of the first area may be obtained based on first coordinate information of the third axis (eg, z-axis) and first direction information toward which the probe tip 3610 of the probe 3501 is heading.
  • first coordinate information as well as first direction information of the probe tube 3530 may be required. For example, even when the first coordinate information is the same, the 3D image may vary depending on the first direction information of the probe tube 3530.
  • the probe tube 3530 is tilted about 45 degrees and first coordinate information (e.g., , , ), the 3D image has the probe tube 3530 tilted at about -45 degrees and first coordinate information (e.g. ( , , ) may be different from the 3D image.
  • first coordinate information e.g. ( , , )
  • direction information of the probe tube 3530 may be required to obtain a more accurate 3D image.
  • the at least one processor 3503 processes a first axis (e.g., x-axis), a second axis (e.g., y-axis), and a third axis (e.g., A three-dimensional image of the second area may be obtained based on the second coordinate information of the z-axis) and the second direction information toward which the probe tip 3610 of the probe 3501 is heading.
  • a first axis e.g., x-axis
  • a second axis e.g., y-axis
  • a third axis e.g., A three-dimensional image of the second area may be obtained based on the second coordinate information of the z-axis
  • At least one processor 3503 may stitch the 3D image of the first area and the 3D image of the second area in operation 4005.
  • FIG. 41 is a diagram illustrating a method of stitching multiple images using corrected location information according to an embodiment.
  • the probe 3501 can image the surface of the tissue in real time while moving along the surface of the tissue.
  • the sensor module 3511 of the probe 3501 is configured at a reference point ( ) to the reference position for the sensor module 3511 ( ) coordinates can be obtained.
  • the reference position ( ) may include coordinates of each of the first axis (eg, x-axis), the second axis (eg, y-axis), and the third axis (eg, z-axis).
  • the baseline time point ( ) and reference position ( ) can be replaced by the terms start point and start position, respectively.
  • start point and start position respectively.
  • a reference point ( ) is the point in time when the user of the probe 3501 starts image acquisition using the probe 3501, or the user of the probe 3501 inputs a button or UI (user interface) on the display for image acquisition using the probe 3501. It can be referenced at one point in time.
  • the starting position is the reference point ( ) can be referred to as the location of the sensor module 3511 corresponding to.
  • At least one processor 3503 or sensor module 3511 is located at a reference position ( ), the location of the sensor module 3511 corresponding to each time point can be identified.
  • the sensor module 3511 detects a first viewpoint ( ) The first position of the sensor module 3511 corresponding to ( ) can be identified.
  • the sensor module 3511 detects a second viewpoint ( ) The second position of the sensor module 3511 corresponding to ( ) can be identified.
  • the sensor module 3511 provides a third viewpoint ( ) The third position of the sensor module 3511 corresponding to ( ) can be identified.
  • the first location ( ), second position ( ) and third position ( ) is the reference position ( ) may be a relative position.
  • At least one processor 3503 or sensor module 3511 is located at a reference position ( ), the position of the probe tip 3610 corresponding to each time point can be identified.
  • at least one processor 3503 operates at a first time point ( )
  • the first corrected position of the probe tip 3610 corresponding to ( ) can be identified.
  • at least one processor 3503 may perform a second time point ( )
  • the second corrected position of the probe tip 3610 corresponding to ( ) can be identified.
  • at least one processor 3503 may provide a third viewpoint ( )
  • the third corrected position of the probe tip 3610 corresponding to ( ) can be identified.
  • the first corrected position ( ), second corrected position ( ) and the third corrected position ( ) is the reference position ( ) may be a relative position.
  • At least one processor 3503 may identify corrected positions of the probe tip 3610 based on the positions of the sensor module 3511. For example, at least one processor 3503 may determine the first location ( ) and the first corrected position based on predetermined parameters ( ) can be identified. For example, at least one processor 3503 may be located at a second location ( ) and a second corrected position based on predetermined parameters ( ) can be identified. For example, at least one processor 3503 may be located at a third location ( ) and a third corrected position based on predetermined parameters ( ) can be identified.
  • the predetermined parameter may include a three-dimensional relative position vector from the sensor module 3511 to the probe tip 3610 and direction information about the direction the probe tip 3610 faces.
  • At least one processor 3503 or sensor module 3511 may identify direction information of the probe tip 3610. For example, at least one processor 3503 or sensor module 3511 operates at a first viewpoint ( ) corresponding to the first rotation angle ( ) can be identified. For example, at least one processor 3503 may perform a second time point ( ), corresponding to the second rotation angle ( ) can be identified. For example, at least one processor 3503 may provide a third viewpoint ( ), corresponding to the third rotation angle ( ) can be identified. In one example, at least one processor 3503 determines a first rotation angle ( ), second rotation angle ( ) and the third rotation angle ( ), the direction information (or rotation information) of the probe tip 3610 can be identified.
  • the direction information (or angle information) of the probe tip 3610 is information about the direction the probe tip 3610 faces based on a specified axis (e.g., the first axis, the second axis, and the third axis). Alternatively, it may be referred to as angle information formed by the probe tip 3610 based on a designated axis.
  • the first rotation angle ( ), second rotation angle ( ) and the third rotation angle ( ) may each correspond to a rotation quaternion.
  • the at least one processor 3503 probes the location information (e.g., first location information) of the sensor module 3511 using the direction information of the probe tip 3610 obtained based on the rotation angle. It can be converted into corrected position information of the tip 3610 (eg, first corrected position information).
  • location information e.g., first location information
  • corrected position information of the tip 3610 e.g, first corrected position information
  • At least one processor 3503 uses direction information of the probe tip 3610 and information about the three-dimensional relative position vector between the sensor module 3511 and the probe tip 3610 to detect the sensor module ( The position information of the probe tip 3610 may be converted into the corrected position information of the probe tip 3610. According to one embodiment, at least one processor 3503 or sensor module 3511 may determine the first corrected position (3511). ), second corrected position ( ) and the third corrected position ( ), a plurality of images can be projected or orthogonally projected onto the virtual plane 4110.
  • the at least one processor 3503 may determine the first image at a first corrected position ( )
  • the first image is placed on the virtual plane 4110 so that one coordinate value (e.g., the coordinate value of the third axis) among the coordinates (e.g., the coordinates of the first axis, the coordinate of the second axis, and the coordinate of the third axis) is removed. It can be projected.
  • At least one processor 3503 may determine the second image at a second corrected position ( )
  • the second image is placed on the virtual plane 4110 so that one coordinate value (e.g., the coordinate value of the third axis) among the coordinates (e.g., the coordinates of the first axis, the coordinate of the second axis, and the coordinate of the third axis) is removed. It can be projected.
  • At least one processor 3503 may determine the third image to be at a third corrected position ( )
  • the third image is placed on the virtual plane 4110 so that one coordinate value (e.g., the coordinate value of the third axis) among the coordinates (e.g., the coordinates of the first axis, the coordinate of the second axis, and the coordinate of the third axis) is removed. It can be projected. That is, the at least one processor 3503 is configured to match the coordinate values of one of the coordinates of the corrected positions of each of the first image, the second image, and the third image to each other.
  • the second image and the third image can be projected onto the virtual plane 4110. For example, among the coordinates of the corrected positions of the first image, the second image, and the third image, the Z-axis coordinate values may all be the same.
  • the first image, second image, and third image projected on the virtual plane 4110 may be displayed on one plane (eg, the virtual plane 4110).
  • the plurality of images may be stitched as they are projected onto one plane (eg, virtual plane 4110).
  • the accuracy of the plurality of projected images can be increased.
  • at least one processor 3503 may select a first location that is not the corrected locations ( ), second position ( ) and third position ( ), when projecting a plurality of images onto the virtual plane 4110, errors in the positions of the projected images may occur. This is the first position ( ), second position ( ) and third position ( ) may be because the location of the sensor module 3511 is relatively spaced from the tissue.
  • At least one processor 3503 may select the corrected positions (e.g., the first corrected position ( ), second corrected position ( ) and the third corrected position ( When a plurality of images are projected onto the virtual plane 4110 using )), errors in the positions of the projected images can be reduced or prevented.
  • First corrected position ( ), second corrected position ( ) and the third corrected position ( ) Each is the location of the probe tip 3610, and the probe tip 3610 may be relatively close to the tissue. That is, the location of the probe tip 3610 may substantially correspond to the location of the tissue.
  • the first corrected position ( ), second corrected position ( ) and the third corrected position ( ) at least one processor 3503 can reduce errors in the positions of projected images.
  • Figure 42 is a diagram for explaining programs mounted on an image processing device according to an embodiment.
  • the probe 3501 may include a sensor module 3511, and the probe 3501 may be connected to the light propagation module 4200 through an optical fiber.
  • the light propagation module 4200 may include a plurality of optical members (e.g., filters, beam splitters, lasers) and may be used as a propagation path for beams output from the lasers or reflected on tissue. It can be used as a propagation path for excitation light.
  • the image processing device 3502 may be electrically connected to the light propagation module 4200 and the probe 3501. In one embodiment, the image processing device 3502 may acquire images of tissue using the light propagation module 4200 and the probe 3501.
  • the image processing device 3502 may include a display 4210, and may display an image of the tissue on the display 4210 using programs mounted on the image processing device 3502.
  • the image processing device 3502 may be equipped with a first program 4201 and a second program 4202.
  • the first program 4201 and the second program 4202 are mounted on the image processing device 3502 and are organically connected to the hardware configuration (e.g., at least one processor 3503) within the image processing device 3502. can be combined.
  • the first program 4201 may transmit instructions to perform specified operations (eg, display display or image processing) to at least one processor 3503 in the image processing device 3502.
  • At least one processor 3503 may perform designated operations based on delivered instructions.
  • the first program 4201 includes at least one processor 3503 to display the image of the tissue being acquired or photographed through the probe 3501 and the light propagation module 4200 on the display 4210 in real time. ) can be controlled.
  • the first program 4201 may control at least one processor 3503 to display an image of a tissue being acquired or photographed in real time in the first area 4211 of the display 4210.
  • the second program 4202 may control at least one processor 3503 to stitch a plurality of images received.
  • the second program 4202 may control at least one processor 3503 to display the stitched image in the second area 4212 of the display 4210.
  • the first area 4211 and the second area 4212 are shown to share at least a portion of their edges, but this is only an example.
  • the first area 4211 and the second area 4212 may be displayed on the display 4210 to be spaced apart from each other.
  • the first area 4211 and the second area 4212 may share at least a portion of their edges and then become separated from each other in response to a user input.
  • the sizes of the first area 4211 and the second area 4212 may each be adjusted by user input (eg, touch input).
  • a first program 4201 processes images received through the probe 3501 and displays them in real time in the first area 4211 of the display 4210, and a plurality of images received through the probe 3501 are provided.
  • the second program 4202 for stitching the images into one image may be mounted on one device (eg, the image processing device 3502).
  • first program 4201 and the second program 4202 may be installed in different devices.
  • Figure 43 is a diagram for explaining a first program and a second program mounted on different devices according to an embodiment.
  • the second program 4302 may be mounted on the additional image processing device 4300.
  • the second program 4302 may be mounted on the additional image processing device 4300 and organically combined with a hardware component (eg, at least one processor) within the additional image processing device 4300.
  • the second program 4302 may transmit instructions to perform specified operations (eg, display display or image processing) to at least one processor in the additional image processing device 4300.
  • At least one processor may perform specified operations based on delivered instructions.
  • the additional image processing device 4300 may be physically spaced from the image processing device 3502. In one embodiment, additional image processing device 4300 may establish a communication connection with image processing device 3502. For example, additional image processing device 4300 may establish a wired or wireless communication connection with image processing device 3502.
  • the additional image processing device 4300 may receive a plurality of images acquired through the probe 3501 from the image processing device 3502.
  • at least one processor 3503 of the image processing device 3502 may establish a first communication connection with the additional image processing device 4300 and a first radio access technology (RAT).
  • At least one processor 3503 may establish a second communication connection between the additional image processing device 4300 and the second RAT in consideration of the number of images to be transmitted, the capacity of the transmitted images, and/or the communication state of the first RAT. there is.
  • At least one processor 3503 may transmit a plurality of images through a second communication connection of the second RAT.
  • the first communication connection of the first RAT may be maintained.
  • the at least one processor 3503 sends at least some of the plurality of images to the additional image processing device 4300 through the first communication connection of the first RAT. Can be transmitted. That is, some of the plurality of images may be transmitted to the additional image processing device 4300 through the first communication connection of the first RAT, and the remainder of the plurality of images may be additionally transmitted through the second communication connection of the second RAT. It may be transmitted to the image processing device 4300.
  • the first communication connection may be released.
  • At least one processor of the additional image processing device 4300 may identify a plurality of images received from the image processing device 3502. At least one processor may stitch a plurality of images received by instructions delivered by the second program 4302.
  • the additional image processing device 4300 may include an additional display 4310 and display a plurality of stitched images on the additional display 4310.
  • programs are mounted on different devices.
  • the first program 4201 and the second program 4202 may be mounted on one device (eg, image processing device 3502).
  • the first program 4201 may be mounted on the image processing device 3502
  • the second program 4202 may be mounted on the additional image processing device 4300.
  • the description of the operation of acquiring corrected location information described in FIGS. 35 to 42 may also be applied to the image processing device 3502 of FIG. 43 of the present disclosure.
  • the description of the stitching operation described in the embodiments of FIGS. 35 to 42 may be applied to the additional image processing device 4300. That is, the image processing device 3502 can transmit the corrected location information and images to the additional image processing device 4300, and the additional image processing device 4300 can stitch the corrected location information and the received images. .
  • the at least one processor 3503 of the image processing device 3502 acquires a first image of a first region of tissue at a first viewpoint using a probe 3501, and First location information of the sensor module 3511 corresponding to can be obtained.
  • At least one processor 3503 of the image processing device 3502 may acquire first calibrated location information based on the first location information and a predetermined parameter, and the first calibrated location information and The acquired first image may be transmitted to an additional image processing device 4300 that performs image stitching.
  • the at least one processor 3503 of the image processing device 3502 acquires a second image of the second region of the tissue at a second viewpoint using the probe 3501, and Second location information of the sensor corresponding to point 2 can be obtained. At least one processor 3503 acquires second corrected location information based on second location information and the predetermined parameter, and applies the second corrected location information and the acquired second image to the additional image processing device. It can be sent to (4300).
  • the additional image processing device 4300 may stitch the acquired first and second images based on the first corrected location information and the second corrected location information, respectively.
  • FIG. 44 is a diagram for explaining an organization displayed in a panoramic display in the example of FIG. 42 according to an embodiment.
  • At least one processor 3503 may display the first image 4411 received from the probe 3501 in the first area 4211 of the display 4210.
  • the first area 4211 can be understood as an area that displays the image that the probe 3501 is receiving (capturing) in real time.
  • the second area 4212 can be understood as an area that displays a user interface for managing and setting captured images.
  • the second area 4212 is not limited to the above-described functional area, and may function as an area for displaying a stitched image as mentioned in FIG. 42.
  • the second area 4212 may switch between a screen displaying a stitched image and a screen displaying a user interface for managing and setting captured images according to a user's input.
  • the first image 4411 may correspond to an image acquired or photographed by the probe 3501 at a first time point.
  • the first image 4411 is an image in which no stitching has been performed, and can be understood as a real-time captured image of tissue.
  • At least one processor 3503 may identify that a second image that is different from the first image 4411 is received from the probe 3501. At least one processor 3503 may generate a second stitching image 4412 as it receives the second image. Although not shown in FIG. 44 , at least one processor 3503 may display the second stitching image 4412 in the second area 4212. The second image corresponds to an image acquired or photographed by the probe 3501 at a second time point and may form part of the second stitched image 4412.
  • the second stitched image 4412 can be understood as a stitched image created by stitching the first image 4411 corresponding to the first viewpoint and the second image corresponding to the second viewpoint.
  • At least one processor 3503 may identify that a third image that is distinct from the second image is received from the probe 3501. At least one processor 3503 may generate a third stitching image 4413 as it receives the third image. Although not shown in FIG. 44 , at least one processor 3503 may display the third stitching image 4413 in the second area 4212. The third image corresponds to an image acquired or photographed by the probe 3501 at a third viewpoint and may form part of the third stitched image 4413.
  • At least one processor 3503 may identify that a fourth image that is distinct from the third image is received from the probe 3501. At least one processor 3503 may generate a fourth stitching image 4414 upon receiving the fourth image. Although not shown in FIG. 44 , at least one processor 3503 may display the fourth stitching image 4414 in the second area 4212. The fourth image corresponds to an image acquired or photographed by the probe 3501 at a fourth viewpoint and may form part of the fourth stitched image 4414.
  • At least one processor 3503 may continuously display tissue images in a panoramic manner on the display 4210.
  • An image processing device for stitching a plurality of images acquired through a probe of a confocal endomicroscope in an in-vivo environment is included in the probe and includes location information It may include at least one processor electrically connected to a sensor that acquires.
  • the at least one processor may acquire a first image of a first region of the tissue at a first viewpoint using the probe, and obtain first location information of the sensor corresponding to the first viewpoint. there is.
  • the at least one processor acquires first calibrated location information as location information of the first image, based on the first location information and a predetermined parameter, and uses the probe to obtain a second viewpoint. A second image of the second region of the tissue may be obtained.
  • the at least one processor acquires second location information of the sensor corresponding to the second viewpoint and, based on the second location information and the predetermined parameter, performs a second correction with the location information of the second image.
  • Location information may be obtained, and the first image and the second image may be stitched based on the first corrected location information and the second corrected location information.
  • the first image and the second image are generated when the optical fiber scanner of the probe radiates light to the tissue and the light receiver of the probe receives excitation light emitted from the tissue. It can be obtained while receiving light.
  • the at least one processor acquires the reference position of the sensor at a reference point before the first point in time, and acquires the first position of the sensor, which is a relative position with respect to the reference position of the sensor. You can. At least one processor may obtain the second position of the sensor, which is a relative position with respect to the reference position of the sensor at the second viewpoint.
  • the first position of the sensor may correspond to the first viewpoint, and the second position of the sensor may correspond to the second viewpoint.
  • the predetermined parameter may include relative position information between the sensor within the probe and the probe tip (or distal end) of the probe, and direction information regarding the direction in which the probe tip faces.
  • the relative position information may include information about the length of the probe body including the sensor, the length of the probe tube including the probe tip, and the angle between the probe body and the probe tube.
  • the first calibrated location information may include a first calibrated location of the probe tip of the probe at the first viewpoint.
  • the second corrected position information may include a second corrected position of the probe tip of the probe at the second viewpoint.
  • the first corrected position information of the probe tip at the first viewpoint and the second corrected position information of the probe tip at the second viewpoint are respectively a first axis, a second axis, and a second axis. It can be indicated by three dimensional coordinates including three axes.
  • the at least one processor is configured to display the first image on a virtual plane consisting of the first axis and the second axis, the coordinate information of the first axis among the first corrected position information, and the The first image may be projected to have coordinate information of the second axis.
  • At least one processor projects a second image on the virtual plane so that the second image has coordinate information of the first axis and coordinate information of the second axis among the second corrected position information, and the projected The first image and the projected second image may be stitched.
  • the at least one processor is configured to include first coordinate information of the first axis, the second axis, and the third axis of the first corrected position information and first direction information toward which the probe tip is directed. Based on this, a 3D image of the first area can be obtained. At least one processor determines the second region based on second coordinate information of the first axis, the second axis, and the third axis of the second corrected position information and second direction information toward which the probe tip is directed. A 3D image may be acquired, and the 3D image of the first area and the 3D image of the second area may be stitched.
  • the first corrected position may correspond to the position of the first region of the tissue
  • the second corrected position may correspond to the position of the second region of the tissue
  • the senor may include at least one of an inertial measurement unit (IMU) sensor, an acceleration sensor, or a gyro sensor.
  • IMU inertial measurement unit
  • the image processing device may further include a display, and the at least one processor may display one of the first image, the second image, or an image stitched based on the first image and the second image. At least one can be displayed on the display.
  • the display may include a first display area where the image acquired by the probe is displayed in real time and a second display area where the stitched image is displayed.
  • the first area may share at least a portion of an edge with the second area.
  • the at least one processor may display the first display area and the second display area to be spaced apart from each other on the display in response to a user input to the display.
  • the at least one processor sets an image frame rate indicating a speed of taking an image of the tissue to a first value, while taking an image of the tissue,
  • the moving speed of the probe can be detected through a sensor.
  • at least one processor may change the image frame rate to a second value greater than the first value.
  • the at least one processor may maintain the image frame rate at the first value.
  • the at least one processor may obtain first acceleration information and first angular velocity information measured by a sensor at a first point in time. Obtain location information of the sensor based on the acceleration values of the sensor included in the first acceleration information, and obtain inclination information of the probe based on the angular velocity values of the sensor included in the first angular velocity information. It can be obtained.
  • An image processing device that acquires a plurality of images through a probe of a confocal endomicroscope in an in-vivo environment according to an embodiment of the present disclosure includes a sensor that acquires location information included in the probe; It may include at least one processor that is electrically connected. The at least one processor acquires a first image of a first region of tissue at a first viewpoint using the probe, acquires first location information of the sensor corresponding to the first viewpoint, and obtains first position information of the sensor corresponding to the first viewpoint. First calibrated location information may be obtained based on the location information and predetermined parameters.
  • At least one processor transmits the first corrected position information and the acquired first image to an external device that performs image stitching, and uses the probe to perform a second measurement on a second region of the tissue at a second viewpoint.
  • An image may be acquired, and second location information of the sensor corresponding to the second viewpoint may be obtained.
  • At least one processor may acquire second corrected location information based on the second location information and the predetermined parameter, and transmit the second corrected location information and the obtained second image to the external device. there is.

Abstract

An optical system according to an embodiment of the present disclosure comprises: a first laser coupled to a first optical fiber and a second laser coupled to a second optical fiber; an optical fiber coupler comprising the first optical fiber, the second optical fiber, and a third optical fiber coupled to each other so that a first beam propagating through the first optical fiber and a second beam propagating through the second optical fiber are simultaneously propagated through the third optical fiber; and a light propagation module through which the first beam and the second beam output from the optical fiber coupler are propagated.

Description

공초점 형광 현미경을 이용한 이미지 처리 시스템Image processing system using confocal fluorescence microscopy
본 개시는 공초점 형광 현미경을 이용한 이미지 처리 시스템에 관한 것이며, 보다 구체적으로, 다파장 또는 단파장의 레이저(laser) 빔을 구비한 공초점 형광 현미경에 탑재된 광학 시스템의 구조, 공초점 형광 현미경의 프로브에 구비되는 프로브 커버의 구조, 공초점 형광 현미경을 이용한 이미지 스티칭에 관한 것이다.The present disclosure relates to an image processing system using a confocal fluorescence microscope, and more specifically, the structure of an optical system mounted on a confocal fluorescence microscope equipped with a multi-wavelength or short-wavelength laser beam, and the structure of the confocal fluorescence microscope. It relates to the structure of the probe cover provided on the probe and image stitching using a confocal fluorescence microscope.
위, 기관지, 식도, 십이지장, 직장 등, 의료 전문가가 병변을 직접 볼 수 없는 인체 내부의 장기를 관찰하여 암 진단이나 수술 등의 치료에 활용할 목적으로 공초점 형광 현미경이 사용되고 있다.Confocal fluorescence microscopy is used to observe organs inside the human body, such as the stomach, bronchi, esophagus, duodenum, and rectum, where lesions cannot be directly seen by medical experts, and to use them for cancer diagnosis or treatment such as surgery.
공초점 형광 현미경을 활용하여 인체 내부의 장기를 관찰하기 위해서 먼저 인체에 무해한 형광조영제를 모세혈관을 통해 주입한다. 그 다음 주입된 형광조형제가 모세혈관을 통해 세포 조직에 퍼지면, 공초점 형광 현미경을 세포 조직(또는 병변 조직)에 접촉한 상태에서 세포 조직에 레이저 빔을 조사(irradicate)하고, 상기 세포 조직으로부터 방출광(emission light)을 수광한다. 수광된 방출광을 이용하여 이미징 처리함으로써 세포 조직을 현미경 수준으로 확대하여 관찰할 수 있다.To observe organs inside the human body using a confocal fluorescence microscope, a fluorescent contrast agent that is harmless to the human body is first injected through the capillaries. Then, when the injected fluorescent agent spreads to the cell tissue through the capillaries, a laser beam is irradiated to the cell tissue while a confocal fluorescence microscope is in contact with the cell tissue (or lesion tissue), and is emitted from the cell tissue. Receives emission light. By performing imaging processing using the received and emitted light, cellular tissue can be observed at a magnified level at the microscopic level.
공초점 형광 현미경을 활용하여 세포 조직을 관찰하기 위해 세포 조직에 레이저 빔을 조사하는 과정에서, 단파장 또는 다파장(예: 두개 이상의 파장)의 레이저 빔이 활용될 수 있다.In the process of irradiating a laser beam to a cell tissue to observe the cell tissue using a confocal fluorescence microscope, a laser beam of short wavelength or multiple wavelengths (e.g., two or more wavelengths) may be used.
아울러 공초점 형광 현미경의 프로브가 신체 내부에 인입(entered)되는 경우, 피검자(subject)의 위생을 확보하기 위해서 프로브에는 멸균 처리된 프로브 커버가 씌워질 수 있다.In addition, when the probe of a confocal fluorescence microscope is entered into the body, the probe may be covered with a sterilized probe cover to ensure the hygiene of the subject.
또한 공초점 형광 현미경의 화각(field of view, fov)는 수백 um이며, 의료 전문가가 병변에 대한 조직 이미지를 관찰하여 진단하기 위해서는 수 mm 단위의 대면적 이미지가 필요할 수 있다. 따라서, 수백 um의 조직 이미지들을 스티칭(stitching)하여 수 mm 단위의 대면적 이미지를 확보할 필요가 있다.In addition, the field of view (fov) of a confocal fluorescence microscope is hundreds of um, and large-area images of several millimeters may be required for medical experts to observe and diagnose tissue images of lesions. Therefore, it is necessary to secure large-area images in the order of several millimeters by stitching tissue images of hundreds of micrometers.
다파장의 레이저 빔을 구비한 공초점 형광 현미경을 이용하여 세포 조직을 관찰하기 위해서는, 복수의 레이저(laser)들에서 조사(irradiate) 또는 방사(radiate)되는 복수의 레이저 빔들이 광섬유 코어에 집광되어야 한다.In order to observe cell tissue using a confocal fluorescence microscope equipped with a multi-wavelength laser beam, a plurality of laser beams irradiated or radiated from a plurality of lasers must be focused on the optical fiber core. do.
이때, 복수의 레이저 빔들이 모두 높은 집광 효율을 갖도록 광학 시스템(또는 광학 시스템의 광학 부재들)을 조정하기 위해, 복수의 레이저 빔들 각각에 대응하는 광학 부재들을 각각 조정해야한다. 즉, 다파장 레이저 빔을 구비한 공초점 형광 현미경의 광학 시스템을 조정하는 것은 난이도가 매우 높고, 긴 시간이 소요될 수 있다. 그러므로, 상기 광학 시스템을 구비한 광학 모듈 제품을 제작하는데 생산성이 떨어지고, 제품간 공차가 클 수 있다. 또한, 복수의 레이저 빔들 각각에 대응하는 다수의 광학 부재들로 인하여 광효율이 저하될 수 있다.At this time, in order to adjust the optical system (or optical members of the optical system) so that all of the plurality of laser beams have high light-gathering efficiency, optical members corresponding to each of the plurality of laser beams must be adjusted. In other words, adjusting the optical system of a confocal fluorescence microscope equipped with a multi-wavelength laser beam is very difficult and may take a long time. Therefore, productivity in manufacturing optical module products equipped with the optical system may be low and tolerances between products may be large. Additionally, light efficiency may be reduced due to the number of optical members corresponding to each of the plurality of laser beams.
따라서, 다파장의 레이저 빔을 구비한 공초점 형광 현미경의 광학 시스템을 효율적으로 조정하기 위한, 광학 모듈 제품의 구조적 특징이 요구될 수 있다.Therefore, structural features of optical module products may be required to efficiently adjust the optical system of a confocal fluorescence microscope equipped with a multi-wavelength laser beam.
아울러 공초점 형광 현미경(또는 공초점 내시현미경)의 프로브가 프로브 커버에 결착(삽입)되는 과정에서, 사용자의 조작으로 인해 프로브의 원위단(distal end)이 프로브 커버의 원위단에 위치한 커버 팁의 광학 창(optical window)에 충격을 가할 수 있고, 이와 같은 충격으로 인해 광학 창이 파손되거나 프로브 커버에서 탈착될 수 있다.In addition, during the process of attaching (inserting) the probe of a confocal fluorescence microscope (or confocal endoscopic microscope) to the probe cover, the distal end of the probe is changed due to the user's manipulation of the cover tip located at the distal end of the probe cover. Impact may be applied to the optical window, and such impact may cause the optical window to be damaged or detached from the probe cover.
따라서, 공초점 형광 현미경(또는 공초점 내시현미경)의 프로브가 프로브 커버에 결착(삽입)되는 과정에서, 프로브가 프로브 커버의 원위단에 위치한 커버 팁의 광학 창에 충격을 가하더라도, 광학 창이 손상되거나 탈착되지 않도록하는 프로브 커버의 구조적 특징이 요구될 수 있다.Therefore, in the process of attaching (inserting) the probe of a confocal fluorescence microscope (or confocal endoscopic microscope) to the probe cover, even if the probe impacts the optical window of the cover tip located at the distal end of the probe cover, the optical window is not damaged. Structural features of the probe cover that prevent it from being damaged or detached may be required.
또한 공초점 형광 현미경(또는 공초점 내시현미경)을 통해 획득한 조직에 대한 복수의 이미지들을 통해, 의료 전문가가 진단을 하기 위해서 복수의 이미지들은 스티칭되어야 한다. 다만, 공초점 형광 현미경에 연결되어, 복수의 이미지들을 처리하는 이미지 처리 장치는 복수의 이미지들 스티칭하기 위해 복수의 이미지들 각각의 위치 정보가 필요할 수 있다.Additionally, in order for a medical professional to make a diagnosis through multiple images of tissue acquired through a confocal fluorescence microscope (or confocal endoscopic microscope), the multiple images must be stitched. However, an image processing device that is connected to a confocal fluorescence microscope and processes a plurality of images may need location information for each of the plurality of images in order to stitch the plurality of images.
공초점 형광 현미경(또는 공초점 내시현미경)의 프로브 바디(body)에 위치한 센서 모듈은 이미지 처리 장치가 복수의 이미지들을 획득할 때, 프로브 바디 및/또는 센서 모듈의 위치 정보를 획득할 수 있다. 한편, 이미지 처리 장치가 복수의 이미지들을 획득하는 동안, 공초점 형광 현미경의 프로브 팁(tip)은 조직에 실질적으로 접촉된 상태로 이동하게 되며, 상기 복수의 이미지들의 위치 정보는 프로브 팁의 위치 정보와 실질적으로 동일할 수 있다. 또한 프로브 바디의 위치와 프로브 팁(또는 원위단)의 위치는 소정의 거리만큼 이격되어 차이가 있으므로, 프로브 바디에 위치한 센서 모듈의 위치 정보와 프로브 팁의 위치 정보는 상이할 수 있다. 따라서, 복수의 이미지들을 스티칭하기 위해 복수의 이미지들 각각의 위치 정보들을 이용해야하나, 복수의 이미지들의 위치로부터 소정 거리 이격된 위치에 배치된 센서 모듈의 위치 정보를 이용하여 복수의 이미지들을 스티칭함으로써 오차가 발생할 수 있다.A sensor module located on the probe body of a confocal fluorescence microscope (or confocal endoscopic microscope) may acquire location information of the probe body and/or sensor module when an image processing device acquires a plurality of images. Meanwhile, while the image processing device acquires a plurality of images, the probe tip of the confocal fluorescence microscope moves in a state of substantially contacting the tissue, and the position information of the plurality of images is the position information of the probe tip. may be substantially the same as Additionally, since the location of the probe body and the location of the probe tip (or distal end) are separated by a predetermined distance, the location information of the sensor module located in the probe body and the location information of the probe tip may be different. Therefore, in order to stitch a plurality of images, it is necessary to use the position information of each of the plurality of images, but by stitching the plurality of images using the position information of the sensor module located at a predetermined distance from the position of the plurality of images. Errors may occur.
따라서, 이미지 처리 장치는 프로브 바디에 위치한 센서 모듈의 위치 정보를 프로브 팁의 위치 정보로 캘리브레이션(또는, 보정)하여 조직(tissue)과 인접한 프로브 팁(또는, 프로브의 원위단)의 보정된 위치 정보를 획득하고, 프로브 팁의 위치 정보에 기반하여 복수의 이미지들을 가상의 평면에 투영하여 스티칭하는 방법이 필요할 수 있다.Therefore, the image processing device calibrates (or corrects) the positional information of the sensor module located in the probe body with the positional information of the probe tip and provides the corrected positional information of the probe tip (or distal end of the probe) adjacent to the tissue. A method may be needed to obtain and stitch a plurality of images by projecting them onto a virtual plane based on the position information of the probe tip.
본 개시의 일 실시 예에 따른 공초점 형광 현미경(confocal fluorescence microscope)에 탑재되어 제1 파장의 제1 빔을 출력하는 제1 레이저와 제2 파장의 제2 빔을 출력하는 제2 레이저를 객체(object)에 조사(irradiate)하고, 상기 객체로부터 방출된 방출광(emission light)을 획득하고, 상기 획득된 방출광을 처리하는 광학 시스템은, 제1 광섬유에 결합되는 상기 제1 레이저와 제2 광섬유에 결합되는 상기 제2 레이저, 상기 제1 광섬유를 통해 전파되는 상기 제1 빔과 상기 제2 광섬유를 통해 전파되는 상기 제2 빔이 제3 광섬유를 통해 동시에 전파되도록, 상기 제1 광섬유, 상기 제2 광섬유, 및 제3 광섬유로 결합된 광섬유 커플러, 및 상기 광섬유 커플러로부터 출력된 상기 제1 빔 및 상기 제2 빔이 전파되는 광 전파 모듈을 포함할 수 있다. 상기 광 전파 모듈은 상기 제1 빔, 상기 제2 빔, 및 상기 방출광이 전파되는 광로(optical path), 복수의 광학 부재들, 상기 제3 광섬유와 결합되는 제1 콜리메이터(collimator), 및 상기 제1 빔 및 상기 제2 빔을 상기 객체로 조사하기 위한 프로브(probe)와 결합된, 제4 광섬유와 결합되는 제2 콜리메이터를 포함할 수 있다.The object ( An optical system for irradiating an object, acquiring emission light emitted from the object, and processing the obtained emission light includes the first laser and the second optical fiber coupled to the first optical fiber. The second laser coupled to the first optical fiber, the first optical fiber, and the third optical fiber such that the first beam propagating through the first optical fiber and the second beam propagating through the second optical fiber are simultaneously propagated through the third optical fiber. It may include an optical fiber coupler coupled with two optical fibers and a third optical fiber, and an optical propagation module through which the first beam and the second beam output from the optical fiber coupler propagate. The light propagation module includes an optical path along which the first beam, the second beam, and the emitted light propagate, a plurality of optical members, a first collimator coupled to the third optical fiber, and the It may include a second collimator coupled to a fourth optical fiber and coupled to a probe for irradiating the first beam and the second beam to the object.
본 개시의 일 실시 예에 따른 공초점 형광 현미경(confocal fluorescence microscope)에 탑재되어 제1 파장의 제1 빔을 객체(object)에 조사하고, 상기 객체로부터 방출된 방출광을 획득하고, 상기 획득된 방출광을 처리하는 광학 시스템은, 제1 광섬유에 결합되는 제1 레이저, 및 상기 제1 레이저로부터 출력된 상기 제1 빔이 전파되는 광 전파 모듈을 포함할 수 있다. 상기 광 전파 모듈은 상기 제1 빔 및 상기 방출광이 전파되는 광로(optical path), 복수의 광학 부재들, 상기 제1 광섬유와 결합되는 제1 콜리메이터(collimator), 및 상기 광 전파 모듈을 통해 전파되는 상기 제1 빔을 상기 객체로 조사하기 위한 프로브와 결합된, 제2 광섬유와 결합되는 제2 콜리메이터를 포함할 수 있다.It is mounted on a confocal fluorescence microscope according to an embodiment of the present disclosure to irradiate a first beam of a first wavelength to an object, acquire emission light emitted from the object, and obtain the obtained An optical system that processes emitted light may include a first laser coupled to a first optical fiber, and a light propagation module through which the first beam output from the first laser propagates. The light propagation module includes an optical path along which the first beam and the emitted light propagate, a plurality of optical members, a first collimator coupled to the first optical fiber, and the light propagation module. It may include a second collimator coupled to a second optical fiber and coupled to a probe for irradiating the first beam to the object.
본 개시의 일 실시 예에 따른 공초점 형광 현미경(confocal fluorescence microscope)(또는 공초점 내시현미경(confocal endomicroscope))의 프로브(probe)를 둘러싸는 프로브 커버(cover)는 커버 튜브를 포함할 수 있다. 상기 커버 튜브는 상기 프로브의 프로브 튜브를 수용하는 제1 부분 및 상기 프로브 튜브의 근위단에 위치하는 프로브 너트를 수용하는 제2 부분을 포함할 수 있다. 상기 제1 부분은 제1 길이의 외경(outside diameter)을 가지는 제1 영역 및 상기 제1 길이보다 긴 제2 길이의 외경을 가지는 제2 영역을 포함할 수 있다. 상기 제2 부분의 외면(outer surface)에는 제1 돌출부(protruding part)가 형성될 수 있고, 상기 제2 부분의 내면(inner surface)에는 복수의 제2 돌출부들이 형성될 수 있다. 프로브 커버는 상기 커버 튜브의 원위단에 결합되고, 광학 창(optical window) 및 탄성 부재를 포함하는 커버 팁(cover tip)을 포함할 수 있다. 상기 탄성 부재는 상기 제1 영역의 외면 전체를 둘러싸고, 상기 탄성 부재의 제1 면은 상기 제2 영역의 일부에 접착되며, 상기 탄성 부재의 제2 면은 상기 광학 창의 일부에 접착될 수 있다. 프로브 커버는 커버 너트를 포함할 수 있고, 상기 커버 너트의 내면에는 수용홈이 형성되고, 상기 수용홈은 상기 제2 부분의 상기 제1 돌출부와 결착될 수 있다. 프로브 커버는 상기 커버 너트의 외면의 전체에 걸쳐 융착되어 결합된 커버 드레이프를 포함할 수 있다.A probe cover surrounding a probe of a confocal fluorescence microscope (or confocal endomicroscope) according to an embodiment of the present disclosure may include a cover tube. The cover tube may include a first part accommodating the probe tube of the probe and a second part accommodating a probe nut located at a proximal end of the probe tube. The first portion may include a first region having an outer diameter of a first length and a second region having an outer diameter of a second length longer than the first length. A first protruding part may be formed on the outer surface of the second part, and a plurality of second protruding parts may be formed on the inner surface of the second part. The probe cover is coupled to the distal end of the cover tube and may include a cover tip including an optical window and an elastic member. The elastic member may surround the entire outer surface of the first region, a first side of the elastic member may be adhered to a portion of the second region, and a second side of the elastic member may be bonded to a portion of the optical window. The probe cover may include a cover nut, and a receiving groove may be formed on an inner surface of the cover nut, and the receiving groove may be coupled to the first protrusion of the second portion. The probe cover may include a cover drape that is fused and bonded over the entire outer surface of the cover nut.
본 개시의 일 실시 예에 따른 in-vivo 환경에서 공초점 형광 현미경(confocal fluorescence microscope)(또는 공초점 내시현미경(confocal endomicroscope))의 프로브(probe)를 통해 획득된 복수 개의 이미지들을 스티칭(stitching)하는 이미지 처리 장치는 상기 프로브에 포함되고 위치 정보를 획득하는 센서와 전기적으로 연결되는 적어도 하나의 프로세서를 포함할 수 있다. 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 프로브를 이용하여 제1 시점에서 조직의 제1 영역(region)에 대한 제1 이미지를 획득하고, 상기 제1 시점에 대응하는 상기 센서의 제1 위치 정보를 획득할 수 있다. 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 제1 위치 정보 및 미리 결정된 파라미터에 기반하여, 상기 제1 이미지의 위치 정보로서 제1 보정된 위치 정보(calibrated location information)를 획득하고, 상기 프로브를 이용하여 제2 시점에서 상기 조직의 제2 영역에 대한 제2 이미지를 획득할 수 있다. 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 제2 시점에 대응하는 상기 센서의 제2 위치 정보를 획득하고, 상기 제2 위치 정보 및 상기 미리 결정된 파라미터에 기반하여, 상기 제2 이미지의 위치 정보로서 제2 보정된 위치 정보를 획득하고, 상기 제1 보정된 위치 정보 및 상기 제2 보정된 위치 정보에 기반하여 상기 제1 이미지와 상기 제2 이미지를 스티칭할 수 있다.Stitching a plurality of images acquired through a probe of a confocal fluorescence microscope (or confocal endomicroscope) in an in-vivo environment according to an embodiment of the present disclosure. The image processing device may include at least one processor included in the probe and electrically connected to a sensor that acquires location information. The at least one processor may acquire a first image of a first region of the tissue at a first viewpoint using the probe, and obtain first location information of the sensor corresponding to the first viewpoint. there is. The at least one processor acquires first calibrated location information as location information of the first image based on the first location information and a predetermined parameter, and uses the probe to obtain a second viewpoint. A second image of the second region of the tissue may be obtained. The at least one processor acquires second location information of the sensor corresponding to the second viewpoint, and based on the second location information and the predetermined parameter, generates a second corrected image as location information of the second image. Location information may be acquired, and the first image and the second image may be stitched based on the first corrected location information and the second corrected location information.
본 개시의 일 실시 예에 따른 in-vivo 환경에서 공초점 형광 현미경(confocal fluorescence microscope)(또는 공초점 내시현미경(confocal endomicroscope))의 프로브(probe)를 통해 복수 개의 이미지들을 획득하는 이미지 처리 장치는 상기 프로브에 포함된 위치 정보를 획득하는 센서와 전기적으로 연결되는 적어도 하나의 프로세서를 포함할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서는 상기 프로브를 이용하여 제1 시점에서 조직의 제1 영역에 대한 제1 이미지를 획득할 수 있고, 상기 제1 시점에 대응하는 상기 센서의 제1 위치 정보를 획득할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서는 상기 제1 위치 정보 및 미리 결정된 파라미터에 기반하여 제1 보정된 위치 정보(calibrated location information)를 획득할 수 있고, 상기 제1 보정된 위치 정보 및 상기 획득된 제1 이미지를 이미지 스티칭을 수행하는 외부 장치로 송신할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서는 상기 프로브를 이용하여 제2 시점에서 상기 조직의 제2 영역에 대한 제2 이미지를 획득할 수 있고, 상기 제2 시점에 대응하는 상기 센서의 제2 위치 정보를 획득할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서는 상기 제2 위치 정보 및 상기 미리 결정된 파라미터에 기반하여 제2 보정된 위치 정보를 획득하고, 상기 제2 보정된 위치 정보 및 상기 획득된 제2 이미지를 상기 외부 장치로 송신할 수 있다.An image processing device that acquires a plurality of images through a probe of a confocal fluorescence microscope (or confocal endomicroscope) in an in-vivo environment according to an embodiment of the present disclosure It may include at least one processor electrically connected to a sensor that acquires location information included in the probe. At least one processor may acquire a first image of a first area of the tissue at a first viewpoint using the probe, and obtain first location information of the sensor corresponding to the first viewpoint. At least one processor may acquire first calibrated location information based on the first location information and a predetermined parameter, and may convert the first calibrated location information and the obtained first image into an image. It can be transmitted to an external device that performs stitching. At least one processor may acquire a second image of a second region of the tissue at a second viewpoint using the probe, and obtain second location information of the sensor corresponding to the second viewpoint. . At least one processor may acquire second corrected location information based on the second location information and the predetermined parameter, and transmit the second corrected location information and the obtained second image to the external device. there is.
본 개시의 일 실시 예에 따르면, 다파장의 레이저 빔을 구비한 공초점 형광 현미경의 광학 시스템은 콜리메이터를 구비함으로써 다파장의 레이저 빔을 높은 집광 효율을 갖도록 광섬유 코어에 효율적으로 집광시킬 수 있다.According to an embodiment of the present disclosure, the optical system of a confocal fluorescence microscope equipped with a multi-wavelength laser beam can efficiently focus the multi-wavelength laser beam on the optical fiber core to have high concentrating efficiency by providing a collimator.
본 개시의 일 실시 예에 따르면, 공초점 형광 현미경의 광학 시스템을 구비한 광학 모듈 제품의 생산성이 증대될 수 있으며, 제품간의 공차가 줄어들 수 있다.According to an embodiment of the present disclosure, productivity of optical module products equipped with an optical system of a confocal fluorescence microscope can be increased, and tolerances between products can be reduced.
본 개시의 일 실시 예에 따르면, 다파장의 레이저 빔을 구비한 공초점 형광 현미경의 광학 시스템은 콜리메이터를 구비함으로써 광학 부재들의 개수를 감소시킬 수 있고, 이를 통해 광효율을 증대시킬 수 있다.According to an embodiment of the present disclosure, the optical system of a confocal fluorescence microscope equipped with a multi-wavelength laser beam can reduce the number of optical members by providing a collimator, thereby increasing light efficiency.
본 개시의 일 실시 예에 따르면, 공초점 형광 현미경의 광학 시스템은 광학 부재들이 이동할 수 있는 레일을 구비함으로써 사용자가 단파장 또는 다파장의 레이저 빔을 구비한 공초점 형광 현미경을 선택적으로 사용할 수 있고, 사용자의 사용 편의성이 증대될 수 있다.According to an embodiment of the present disclosure, the optical system of the confocal fluorescence microscope is provided with a rail on which optical members can move, so that the user can selectively use a confocal fluorescence microscope equipped with a short-wavelength or multi-wavelength laser beam, User convenience can be increased.
본 개시의 일 실시 예에 따르면, 프로브가 프로브 커버에 결착(삽입)되는 과정에서, 프로브의 원위단이 프로브 커버의 원위단에 위치한 커버 팁의 광학 창에 충격을 가하더라도, 커버 팁에 구비된 탄성 부재의 탄성력에 의해 충격이 완화될 수 있고, 이에 따라 광학 창이 파손되거나 프로브 커버에서 탈착되는 것을 방지할 수 있다.According to an embodiment of the present disclosure, in the process of attaching (inserting) the probe to the probe cover, even if the distal end of the probe impacts the optical window of the cover tip located at the distal end of the probe cover, the Impact can be alleviated by the elastic force of the elastic member, thereby preventing the optical window from being damaged or detached from the probe cover.
본 개시의 일 실시 예에 따르면, 커버 팁의 탄성 부재로 인해 광학 창이 파손되거나 프로브커버에서 탈착되는 것을 방지함으로써, 프로브 커버가 씌워진 프로브를 통해 신체 내부를 관찰하는 동안, 프로브 커버의 일부(예: 파손된 광학 창)가 신체 내에 잔존하는 문제(issue)를 예방할 수 있다.According to one embodiment of the present disclosure, the elastic member of the cover tip prevents the optical window from being broken or detached from the probe cover, so that while observing the inside of the body through a probe covered with a probe cover, a part of the probe cover (e.g., It can prevent problems (broken optical windows) remaining in the body.
본 개시의 일 실시 예에 따르면, 센서 모듈과 프로브 팁 간의 위치 정보의 차이로 인해 이미지들의 스티칭시 발생될 수 있는 오차가 감소되거나 방지될 수 있다.According to an embodiment of the present disclosure, errors that may occur when stitching images due to differences in positional information between the sensor module and the probe tip can be reduced or prevented.
본 개시의 일 실시 예에 따르면, 공초점 내시현미경을 통해 획득한 이미지의 위치 정보를 보다 정밀하게 획득하여 이미지들의 스티칭을 정교하게 수행함으로써, 공초점 내시현미경의 사용자에게 고해상도로 스티칭된 이미지를 제공할 수 있다.According to an embodiment of the present disclosure, the location information of the image acquired through the confocal endoscopy microscope is obtained more precisely and the stitching of the images is performed precisely, thereby providing high-resolution stitched images to the user of the confocal endoscopy microscope. can do.
이 외에, 본 개시를 통해 직접적 또는 간접적으로 파악되는 다양한 효과들이 제공될 수 있다.In addition, various effects that can be directly or indirectly realized through the present disclosure may be provided.
도 1은 일 실시 예에 따른 복수 개의 레이저들을 광원으로 활용하는 다파장 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 1 is a diagram illustrating a multi-wavelength optical system using a plurality of lasers as a light source according to an embodiment.
도 2는 일 실시 예에 따른 광 전파 모듈에 포함되는 광로를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 2 is a diagram for explaining an optical path included in a light propagation module according to an embodiment.
도 3은 일 실시 예에 따른 광로를 포함하는 광 전파 모듈을 설명한다.FIG. 3 explains a light propagation module including an optical path according to an embodiment.
도 4는 일 실시 예에 따른 제1 빔 스플리터, 제2 빔 스플리터, 제1 필터 및 제2 필터를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 4 is a diagram for explaining a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
도 5는 일 실시 예에 따른 제3 필터를 포함하는 광 전파 모듈을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 5 is a diagram for explaining a light propagation module including a third filter according to an embodiment.
도 6은 일 실시 예에 따른 도 5의 복수의 광학 부재들의 광로에서의 배치 구조를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 6 is a diagram illustrating an arrangement structure of a plurality of optical members of FIG. 5 in an optical path according to an embodiment.
도 7은 일 실시 예에 따른 복수의 광학 부재들의 광로에서의 배치 구조를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 7 is a diagram for explaining an arrangement structure of a plurality of optical members in an optical path according to an embodiment.
도 8은 일 실시 예에 따른 제1 레이저를 광원으로 활용하는 단파장 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 8 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a first laser as a light source according to an embodiment.
도 9는 일 실시 예에 따른 제1 레이저를 광원으로 활용하는 단파장 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 9 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a first laser as a light source according to an embodiment.
도 10은 일 실시 예에 따른 제2 레이저를 광원으로 활용하는 단파장 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 10 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a second laser as a light source according to an embodiment.
도 11은 일 실시 예에 따른 제2 레이저를 광원으로 활용하는 단파장 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 11 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a second laser as a light source according to an embodiment.
도 12는 일 실시 예에 따른 복수 개의 레이저들을 광원으로 활용하는 다파장 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 12 is a diagram illustrating a multi-wavelength optical system using a plurality of lasers as a light source according to an embodiment.
도 13은 일 실시 예에 따른 제1 빔 스플리터, 제2 빔 스플리터, 제1 필터 및 제2 필터를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 13 is a diagram for explaining a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
도 14는 일 실시 예에 따른 제1 빔 스플리터, 제2 빔 스플리터, 제1 필터 및 제2 필터를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 14 is a diagram for explaining a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
도 15는 일 실시 예에 따른 광학 시스템 내에서 복수의 광학 부재들의 위치를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 15 is a diagram for explaining the positions of a plurality of optical members in an optical system according to an embodiment.
도 16은 일 실시 예에 따른 제1 빔 스플리터, 제2 빔 스플리터, 제1 필터 및 제2 필터의 사양을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 16 is a diagram for explaining specifications of a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
도 17은 일 실시 예에 따른 하나의 레이저를 포함하는 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 17 is a diagram for explaining an optical system including one laser according to an embodiment.
도 18은 일 실시 예에 따른 하나의 레이저를 포함하는 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 18 is a diagram for explaining an optical system including one laser according to an embodiment.
도 19는 일 실시 예에 따른 광로 내 제2 빔 스플리터의 이동을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 19 is a diagram for explaining movement of a second beam splitter within an optical path according to an embodiment.
도 20은 일 실시 예에 따른 프로브를 수용하는 프로브 커버를 설명하기 위한 도면이다.Figure 20 is a diagram for explaining a probe cover accommodating a probe according to one embodiment.
도 21은 일 실시 예에 따른 도 1의 A 부분의 확대도이다.FIG. 21 is an enlarged view of portion A of FIG. 1 according to an embodiment.
도 22는 일 실시 예에 따른 도 1의 B 부분의 확대도이다.FIG. 22 is an enlarged view of portion B of FIG. 1 according to an embodiment.
도 23은 일 실시 예에 따른 탄성 부재가 신장되는 과정을 설명하기 위한 도면이다.Figure 23 is a diagram for explaining a process in which an elastic member is stretched according to an embodiment.
도 24는 일 실시 예에 따른 탄성 부재를 설명하기 위한 도면이다.Figure 24 is a diagram for explaining an elastic member according to one embodiment.
도 25는 일 실시 예에 따른 탄성 부재를 설명하기 위한 도면이다.Figure 25 is a diagram for explaining an elastic member according to one embodiment.
도 26은 다양한 실시 예들에 따른 탄성 부재들을 설명하기 위한 도면이다.Figure 26 is a diagram for explaining elastic members according to various embodiments.
도 27은 다양한 실시 예들에 따른 가이드 부분을 포함하는 탄성 부재를 설명하기 위한 도면이다.Figure 27 is a diagram for explaining an elastic member including a guide portion according to various embodiments.
도 28은 일 실시 예에 따른 탄성 부재 및 가이드 부분을 포함하는 탄성 부재를 설명하기 위한 도면이다.Figure 28 is a diagram for explaining an elastic member including an elastic member and a guide portion according to an embodiment.
도 29는 일 실시 예에 따른 탄성 부재로 형성되는 광학 창을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 29 is a diagram for explaining an optical window formed of an elastic member according to an embodiment.
도 30은 일 실시 예에 따른 탄성 부재로 형성되는 광학 창을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 30 is a diagram for explaining an optical window formed of an elastic member according to an embodiment.
도 31은 일 실시 예에 따른 탄성 부재로 형성되는 광학 창을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 31 is a diagram for explaining an optical window formed of an elastic member according to an embodiment.
도 32는 일 실시 예에 따른 프로브 커버의 실제 사진을 도시하는 도면이다.Figure 32 is a diagram showing an actual photo of a probe cover according to one embodiment.
도 33은 일 실시 예에 따른 프로브 커버 및 프로브의 실제 사진을 도시하는 도면이다.Figure 33 is a diagram showing an actual photograph of a probe cover and a probe according to an embodiment.
도 34는 일 실시 예에 따른 벤딩부를 포함하지 않는 프로브와 벤딩부를 포함하지 않는 프로브에 대한 프로브 커버를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 34 is a diagram illustrating a probe that does not include a bending portion and a probe cover for a probe that does not include a bending portion, according to an embodiment.
도 35는 일 실시 예에 따른 프로브를 설명하기 위한 도면이다.Figure 35 is a diagram for explaining a probe according to one embodiment.
도 36은 일 실시 예에 따른 센서 모듈의 위치와 프로브 팁의 위치 간 차이를 설명하기 위한 도면이다.Figure 36 is a diagram for explaining the difference between the position of the sensor module and the position of the probe tip according to one embodiment.
도 37은 일 실시 예에 따른 프로브를 통해 획득된 이미지들의 스티칭을 설명하기 위한 도면이다.Figure 37 is a diagram for explaining stitching of images acquired through a probe according to an embodiment.
도 38은 일 실시 예에 따른 보정된 위치 정보를 획득하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.Figure 38 is a diagram for explaining a method of obtaining corrected location information according to an embodiment.
도 39는 일 실시 예에 따른 제1 이미지와 제2 이미지를 스티칭하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.Figure 39 is a diagram for explaining a method of stitching a first image and a second image according to an embodiment.
도 40은 일 실시 예에 따른 3차원 이미지들을 스티칭하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.Figure 40 is a diagram for explaining a method of stitching 3D images according to an embodiment.
도 41은 일 실시 예에 따른 보정된 위치 정보를 이용하여 복수의 이미지들을 스티칭하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 41 is a diagram illustrating a method of stitching multiple images using corrected location information according to an embodiment.
도 42는 일 실시 예에 따른 이미지 처리 장치에 탑재된 프로그램들을 설명하기 위한 도면이다.Figure 42 is a diagram for explaining programs mounted on an image processing device according to an embodiment.
도 43은 일 실시 예에 따른 서로 다른 장치에 탑재된 제1 프로그램과 제2 프로그램을 설명하기 위한 도면이다.Figure 43 is a diagram for explaining a first program and a second program mounted on different devices according to an embodiment.
도 44는 일 실시 예에 따른 도 8의 실시 예에서 디스플레이 파노라마식으로 표시되는 조직을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 44 is a diagram for explaining an organization displayed in a panoramic display in the example of FIG. 8 according to an embodiment.
도면의 설명과 관련하여, 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일 또는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다.In relation to the description of the drawings, identical or similar reference numerals may be used for identical or similar components.
이하, 본 발명의 다양한 실시 예가 첨부된 도면을 참조하여 기재된다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 실시 예의 다양한 변경(modification), 균등물(equivalent), 및/또는 대체물(alternative)을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.Hereinafter, various embodiments of the present invention are described with reference to the accompanying drawings. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and should be understood to include various modifications, equivalents, and/or alternatives to the embodiments of the present invention.
본 개시는 공초점 형광 현미경을 이용한 이미지 처리 시스템에 관한 것으로, 상기 이미지 처리 시스템은 공초점 형광 현미경의 광학 시스템(예: 광 전파 모듈)을 포함하고, 복수의 레이저(laser)(또는 광원)들에서 방사되는 레이저 빔들이 상기 광학 시스템을 거쳐, 상기 공초점 형광 현미경의 프로브로 전파되며, 상기 프로브로부터 객체(예: 신체 조직)으로 상기 레이저 빔들이 조사되고, 상기 이미지 처리 시스템이 상기 객체로부터 방출된 방출광을 처리함으로써 상기 객체에 대한 이미지를 획득할 수 있다. 상기 이미지 처리 장치는 상기 획득한 이미지를 스티칭하여 대면적 이미지를 획득할 수 있다. 의료 전문가는 상기 이미지 처리 장치를 통해 획득한 대면적 이미지를 관찰함으로써 상기 객체에 대한 병변을 진단할 수 있다.The present disclosure relates to an image processing system using a confocal fluorescence microscope, wherein the image processing system includes an optical system (e.g., light propagation module) of the confocal fluorescence microscope, and a plurality of lasers (or light sources). Laser beams radiating from the optical system propagate to the probe of the confocal fluorescence microscope, the laser beams are irradiated from the probe to an object (e.g., body tissue), and the image processing system emits light from the object. An image of the object can be obtained by processing the emitted light. The image processing device may obtain a large-area image by stitching the acquired image. A medical expert can diagnose a lesion on the object by observing a large-area image acquired through the image processing device.
도 1은 일 실시 예에 따른 복수 개의 레이저들을 광원으로 활용하는 다파장 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 1 is a diagram illustrating a multi-wavelength optical system using a plurality of lasers as a light source according to an embodiment.
도 1을 참고하면, 일 실시 예에 따른 다파장 광학 시스템(101)(또는, 다파장 공초점 형광 현미경)은 복수의 레이저들(110), 광 전파 모듈(120), 복수의 광섬유들(130), 광섬유 커플러(fiber coupler)(140), 복수의 콜리메이터(collimator)(150), 제1 핀홀(161), 제2 핀홀(162), 제1 광검출기(171), 제2 광검출기(172), 및/또는 프로브(probe)(180)를 포함할 수 있다. 광검출기(예: 제1 광검출기(171), 제2 광검출기(172))는 PMT(photo multiplier tube)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1, a multi-wavelength optical system 101 (or multi-wavelength confocal fluorescence microscope) according to an embodiment includes a plurality of lasers 110, a light propagation module 120, and a plurality of optical fibers 130. ), optical fiber coupler 140, a plurality of collimators 150, first pinhole 161, second pinhole 162, first photodetector 171, second photodetector 172 ), and/or a probe 180. The photodetector (eg, the first photodetector 171 and the second photodetector 172) may include a photo multiplier tube (PMT).
일 실시 예에 따르면, 복수의 광섬유들(130)은 제1 광섬유(131), 제2 광섬유(132), 제3 광섬유(133) 및/또는 제4 광섬유(134)를 포함할 수 있다. 본 개시의 광섬유라는 용어는 복수의 레이저들(110)에서 출력되는 빔들이 통과, 전달 또는 전파되는 부재로 참조될 수 있으며, 연결 부재(connection member)라는 용어로 대체될 수 있다.According to one embodiment, the plurality of optical fibers 130 may include a first optical fiber 131, a second optical fiber 132, a third optical fiber 133, and/or a fourth optical fiber 134. The term optical fiber in the present disclosure may refer to a member through which beams output from the plurality of lasers 110 pass, transmit, or propagate, and may be replaced by the term connection member.
일 실시 예에 따르면, 복수의 레이저들(110)은 제1 레이저(111) 및 제2 레이저(112)를 포함할 수 있다. 복수의 레이저들(110)은 광학 시스템(101)에서 광원에 해당할 수 있다. 예를 들어, 복수의 레이저들(110)은 각각 피그테일(pigtail) 레이저 다이오드(laser diode, LD)일 수 있다. According to one embodiment, the plurality of lasers 110 may include a first laser 111 and a second laser 112. The plurality of lasers 110 may correspond to a light source in the optical system 101. For example, each of the plurality of lasers 110 may be a pigtail laser diode (LD).
일 실시 예에 따르면, 제1 레이저(111)는 제1 파장(예: 450nm 내지 500nm 사이에 해당하는 파장)의 제1 빔(또는, 광선)을 방사할 수 있다. 예를 들어, 제1 레이저(111)는 상기 제1 값의 파장을 갖는 제1 빔을 방사할 수 있다. 이는 상기 제1 빔이 상기 제1 값의 파장 값만 갖는다는 의미로 한정되지 않는다. 예를 들어, 상기 제1 빔은 지정된 범위의 파장대(예: 450nm 내지 500nm)를 갖는 광에 해당할 수 있으며, 상기 파장대의 파장 값들 중 가장 높은 피크의 파장 값이 상기 제1 값일 수 있다. 제2 레이저(112)는 제2 파장(예: 750nm 내지 800nm 사이에 해당하는 파장)의 제2 빔(또는, 광선)을 방사할 수 있다. 제2 레이저(112)는 제2 값의 파장을 갖는 제2 빔을 방사할 수 있다. 이는 상기 제2 빔이 상기 제2 값의 파장 값만 갖는다는 의미로 한정되지 않는다. 예를 들어, 상기 제2 빔은 지정된 범위의 파장대(예: 750nm 내지 800nm)를 갖는 광에 해당할 수 있으며, 상기 파장대의 파장 값들 중 가장 높은 피크의 파장 값이 상기 제2 값일 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 레이저(111)의 제1 빔은 청색광(예: cyan)일 수 있다. 제2 레이저(112)의 제2 빔은 적색광일 수 있다.According to one embodiment, the first laser 111 may emit a first beam (or light ray) of a first wavelength (eg, a wavelength corresponding to 450 nm to 500 nm). For example, the first laser 111 may emit a first beam having a wavelength of the first value. This is not limited to the meaning that the first beam only has a wavelength value of the first value. For example, the first beam may correspond to light having a wavelength range of a specified range (eg, 450 nm to 500 nm), and the wavelength value of the highest peak among the wavelength values in the wavelength range may be the first value. The second laser 112 may emit a second beam (or light ray) of a second wavelength (eg, a wavelength corresponding to 750 nm to 800 nm). The second laser 112 may emit a second beam having a wavelength of a second value. This is not limited to the meaning that the second beam only has a wavelength value of the second value. For example, the second beam may correspond to light having a wavelength range of a specified range (eg, 750 nm to 800 nm), and the wavelength value of the highest peak among the wavelength values in the wavelength range may be the second value. According to one embodiment, the first beam of the first laser 111 may be blue light (eg, cyan). The second beam of the second laser 112 may be red light.
일 실시 예에 따르면, 복수의 레이저들(110)은 광섬유 커플러(140)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 제1 레이저(111)는 제1 광섬유(131)를 통해 광섬유 커플러(140)와 연결될 수 있고, 제2 레이저(112)는 제2 광섬유(132)를 통해 광섬유 커플러(140)와 연결될 수 있다.According to one embodiment, the plurality of lasers 110 may be connected to the optical fiber coupler 140. For example, the first laser 111 may be connected to the optical fiber coupler 140 through the first optical fiber 131, and the second laser 112 may be connected to the optical fiber coupler 140 through the second optical fiber 132. can be connected
일 실시 예에 따르면, 광섬유 커플러(140)는 광 전파 모듈(120)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 광 전파 모듈(120)에는 제1 콜리메이터(151)가 연결될 수 있고, 광섬유 커플러(140)는 제3 광섬유(133)를 통해 광 전파 모듈(120)의 제1 콜리메이터(151)에 연결될 수 있다. 결과적으로, 광섬유 커플러(140)는 제3 광섬유(133) 및 제1 콜리메이터(151)를 통해 광 전파 모듈(120)에 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 콜리메이터(151)는 파이버 포트(fiber port)에 해당할 수 있다. 제1 콜리메이터(151)는 콜리메이팅 렌즈(collimating lens)를 포함할 수 있다. 상기 콜리메이팅 렌즈는 입사된 광의 광경로를 평행하도록 조정해주는 렌즈를 의미할 수 있다. 제1 콜리메이터(151)에 포함된 상기 콜리메이팅 렌즈는 두 파장의 색수차를 방지하기 위한 achromatic coating lens일 수 있다.According to one embodiment, the optical fiber coupler 140 may be connected to the light propagation module 120. For example, the first collimator 151 may be connected to the light propagation module 120, and the optical fiber coupler 140 may be connected to the first collimator 151 of the light propagation module 120 through the third optical fiber 133. can be connected As a result, the optical fiber coupler 140 may be connected to the light propagation module 120 through the third optical fiber 133 and the first collimator 151. In one embodiment, the first collimator 151 may correspond to a fiber port. The first collimator 151 may include a collimating lens. The collimating lens may refer to a lens that adjusts the optical path of incident light to be parallel. The collimating lens included in the first collimator 151 may be an achromatic coating lens to prevent chromatic aberration of two wavelengths.
일 실시 예에 따르면, 광섬유 커플러(140)는 제1 광섬유(131), 제2 광섬유(132), 및 제3 광섬유(133)와는 별도의 구성요소로 언급하였으나 이에 제한되지 않는다. 예를 들어, 광섬유 커플러(140)는 제1 광섬유(131), 제2 광섬유(132), 및 제3 광섬유(133)로 연결된 소자로 이해될 수 있다.According to one embodiment, the optical fiber coupler 140 is mentioned as a separate component from the first optical fiber 131, the second optical fiber 132, and the third optical fiber 133, but is not limited thereto. For example, the optical fiber coupler 140 may be understood as an element connected to the first optical fiber 131, the second optical fiber 132, and the third optical fiber 133.
일 실시 예에 따르면, 광 전파 모듈(120)로 광섬유 커플러(140)로부터 출력된 제1 빔 및 제2 빔이 전파될 수 있다. 예를 들어, 제1 레이저(111)에서 출력된 제1 빔은 제1 광섬유(131), 광섬유 커플러(140), 제3 광섬유(133) 및 제1 콜리메이터(151)를 통해 광 전파 모듈(120)로 전파될 수 있다. 예를 들어, 제2 레이저(112)에서 출력된 제2 빔은 제2 광섬유(132), 광섬유 커플러(140), 제3 광섬유(133) 및 제1 콜리메이터(151)를 통해 광 전파 모듈(120)로 전파될 수 있다.According to one embodiment, the first beam and the second beam output from the optical fiber coupler 140 may be propagated to the light propagation module 120. For example, the first beam output from the first laser 111 is transmitted through the first optical fiber 131, the optical fiber coupler 140, the third optical fiber 133, and the first collimator 151 to the light propagation module 120. ) can be spread. For example, the second beam output from the second laser 112 is transmitted through the second optical fiber 132, the optical fiber coupler 140, the third optical fiber 133, and the first collimator 151 to the light propagation module 120. ) can be spread.
일 실시 예에 따르면, 광 전파 모듈(120)은 복수의 광학 부재들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 광 전파 모듈(120)은 제1 빔 스플리터(beam splitter)(121), 제2 빔 스플리터(122), 제1 필터(123), 제2 필터(124), 제1 렌즈(125), 및/또는 제2 렌즈(126)를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the light propagation module 120 may include a plurality of optical members. For example, the light propagation module 120 includes a first beam splitter 121, a second beam splitter 122, a first filter 123, a second filter 124, and a first lens 125. ), and/or a second lens 126.
일 실시 예에 따르면, 제1 빔 스플리터(121)와 제1 광검출기(171) 사이에는 제1 필터(123)가 배치될 수 있다. 제1 필터(123)와 제1 광검출기(171) 사이에는 제1 렌즈(125)가 배치될 수 있다 일 실시 예에서, 제1 렌즈(125)와 제1 광검출기(171) 사이에는 제1 핀홀(161)이 배치될 수 있다.According to one embodiment, the first filter 123 may be disposed between the first beam splitter 121 and the first photodetector 171. A first lens 125 may be disposed between the first filter 123 and the first photodetector 171. In one embodiment, a first lens 125 is disposed between the first lens 125 and the first photodetector 171. A pinhole 161 may be disposed.
일 실시 예에 따르면, 제2 빔 스플리터(122)와 제2 광검출기(172) 사이에는 제2 필터(124)가 배치될 수 있다. 제2 필터(124)와 제2 광검출기(172) 사이에는 제2 렌즈(126)가 배치될 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 렌즈(126)와 제2 광검출기(172) 사이에는 제2 핀홀(162)이 배치될 수 있다.According to one embodiment, the second filter 124 may be disposed between the second beam splitter 122 and the second photodetector 172. A second lens 126 may be disposed between the second filter 124 and the second photodetector 172. In one embodiment, a second pinhole 162 may be disposed between the second lens 126 and the second photodetector 172.
일 실시 예에 따르면, 광 전파 모듈(120)은 프로브(180)와 연결될 수 있다. 예를 들어, 광 전파 모듈(120)은 제2 콜리메이터(152)를 포함할 수 있고, 제2 콜리메이터(152)는 제4 광섬유(134)를 통해 프로브(180)와 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 콜리메이터(152)는 파이버 포트(fiber port)에 해당할 수 있다. 제2 콜리메이터(152)는 콜리메이팅 렌즈를 포함할 수 있다. 상기 콜리메이팅 렌즈는 입사된 광의 광경로를 평행하도록 조정해주는 렌즈를 의미할 수 있다. 제2 콜리메이터(151)에 포함된 상기 콜리메이팅 렌즈는 두 파장의 색수차를 방지하기 위한 achromatic coating lens일 수 있다.According to one embodiment, the light propagation module 120 may be connected to the probe 180. For example, the light propagation module 120 may include a second collimator 152, and the second collimator 152 may be connected to the probe 180 through the fourth optical fiber 134. In one embodiment, the second collimator 152 may correspond to a fiber port. The second collimator 152 may include a collimating lens. The collimating lens may refer to a lens that adjusts the optical path of incident light to be parallel. The collimating lens included in the second collimator 151 may be an achromatic coating lens to prevent chromatic aberration of two wavelengths.
일 실시 예에 따르면, 제1 레이저(111)에서 방사되는 제1 빔은 객체(190)(예: 세포)에 입사될 수 있다. 제1 빔이 객체(190)에 조사됨에 따라 형성되는 제1 방출광은 제1 광검출기(171)로 전파될 수 있다. 예를 들어, 제1 레이저(111)에서 방사되는 제1 빔은 제2 빔 스플리터(122)에 의해 반사될 수 있다. 제2 빔 스플리터(122)에 반사된 제1 빔은 제1 빔 스플리터(121)를 투과하여 제4 광섬유(134)를 통해 프로브(180)로 전파될 수 있다. 프로브(180)로 전파된 제1 빔은 객체(190)에 입사될 수 있다. According to one embodiment, the first beam emitted from the first laser 111 may be incident on the object 190 (eg, a cell). The first emission light formed as the first beam is irradiated to the object 190 may propagate to the first photodetector 171. For example, the first beam emitted from the first laser 111 may be reflected by the second beam splitter 122. The first beam reflected by the second beam splitter 122 may pass through the first beam splitter 121 and propagate to the probe 180 through the fourth optical fiber 134. The first beam propagated by the probe 180 may be incident on the object 190.
일 예시에서, 제1 빔이 객체(190)에 조사됨에 따라 형성되는 제1 방출광은 제4 광섬유(134)를 통해 광 전파 모듈(120)로 전파될 수 있다. 광 전파 모듈(120)로 전파된 제1 방출광은 제1 빔 스플리터(121)에 반사될 수 있다. 제1 빔 스플리터(121)에 반사된 제1 방출광은 제1 필터(123), 제1 렌즈(125) 및 제1 핀홀(161)을 투과하여 제1 광검출기(171)로 전파될 수 있다. 제1 광검출기(171)는 전파된 제1 방출광을 증폭할 수 있다.In one example, the first emission light formed as the first beam is irradiated to the object 190 may propagate to the light propagation module 120 through the fourth optical fiber 134. The first emission light propagated through the light propagation module 120 may be reflected by the first beam splitter 121. The first emission light reflected by the first beam splitter 121 may pass through the first filter 123, the first lens 125, and the first pinhole 161 and propagate to the first photodetector 171. . The first photodetector 171 may amplify the propagated first emission light.
일 실시 예에 따르면, 제1 광검출기(171)에서 증폭된 제1 방출광은 객체(190)(예: 세포)의 관찰 또는 객체(190)와 연관된 병변의 관찰에 활용될 수 있다.According to one embodiment, the first emission light amplified by the first photodetector 171 may be used to observe the object 190 (eg, a cell) or a lesion associated with the object 190.
일 실시 예에 따르면, 제1 방출광은 제1 빔이 여기(excited)되어 형성될 수 있다. 예를 들어, 제1 파장의 제1 빔이 객체(190)에 입사함에 따라 형성되는 제1 방출광은 제1 파장보다 높은 파장을 가질 수 있다.According to one embodiment, the first emission light may be formed by exciting the first beam. For example, the first emission light formed as the first beam of the first wavelength is incident on the object 190 may have a wavelength higher than the first wavelength.
일 실시 예에 따르면, 제1 필터(123)는 밴드 패스 필터(band pass filter)에 해당할 수 있다. 제1 렌즈(125)는 제1 렌즈(125)에 입사되는 빔의 포커싱을 조절할 수 있다.According to one embodiment, the first filter 123 may correspond to a band pass filter. The first lens 125 can adjust the focusing of the beam incident on the first lens 125.
일 실시 예에 따르면, 제2 레이저(112)에서 방사되는 제2 빔은 객체(190)(예: 세포)에 입사될 수 있다. 제2 빔이 객체(190)에 조사됨에 따라 형성되는 제2 방출광은 제2 광검출기(172)로 전파될 수 있다. 예를 들어, 제2 레이저(112)에서 방사되는 제2 빔은 제2 빔 스플리터(122)에 의해 반사될 수 있다. 제2 빔 스플리터(122)에 반사된 제2 빔은 제1 빔 스플리터(121)를 투과하여 제4 광섬유(143)를 통해 프로브(180)로 전파될 수 있다. 프로브(180)로 전파된 제2 빔은 객체(190)에 입사될 수 있다.According to one embodiment, the second beam emitted from the second laser 112 may be incident on the object 190 (eg, a cell). The second emission light formed as the second beam is irradiated to the object 190 may propagate to the second photodetector 172. For example, the second beam emitted from the second laser 112 may be reflected by the second beam splitter 122. The second beam reflected by the second beam splitter 122 may pass through the first beam splitter 121 and propagate to the probe 180 through the fourth optical fiber 143. The second beam propagated through the probe 180 may be incident on the object 190.
일 예시에서, 제2 빔이 객체(190)에 조사됨에 따라 형성되는 제2 방출광은 제4 광섬유(134)를 통해 광 전파 모듈(120)로 전파될 수 있다. 광 전파 모듈(120)로 전파된 제2 방출광은 제1 빔 스플리터(121)를 투과할 수 있다. 제1 빔 스플리터(121)를 투과한 제2 방출광은 제2 필터(124), 제2 렌즈(126) 및 제2 핀홀(162)을 투과하여 제2 광검출기(172)로 전파될 수 있다. 제2 광검출기(172)는 전파된 제2 방출광을 증폭할 수 있다.In one example, the second emission light formed as the second beam is irradiated to the object 190 may propagate to the light propagation module 120 through the fourth optical fiber 134. The second emission light propagated through the light propagation module 120 may pass through the first beam splitter 121. The second emission light that has passed through the first beam splitter 121 may pass through the second filter 124, the second lens 126, and the second pinhole 162 and propagate to the second photodetector 172. . The second photodetector 172 may amplify the propagated second emission light.
일 실시 예에 따르면, 제2 방출광은 제2 빔이 여기(excited)되어 형성될 수 있다. 예를 들어, 제2 파장의 제2 빔이 객체(190)에 입사함에 따라 형성되는 제2 방출광은 제2 파장보다 높은 파장을 가질 수 있다.According to one embodiment, the second emission light may be formed by exciting the second beam. For example, the second emission light formed as the second beam of the second wavelength is incident on the object 190 may have a wavelength higher than the second wavelength.
일 실시 예에 따르면, 제2 광검출기(172)에서 증폭된 제2 방출광은 객체(190)(예: 세포)의 관찰 또는 객체(190)와 연관된 병변의 관찰에 활용될 수 있다.According to one embodiment, the second emission light amplified by the second photodetector 172 may be used to observe the object 190 (eg, a cell) or a lesion associated with the object 190.
일 실시 예에 따르면, 제2 필터(124)는 롱 패스 필터(long pass filter)에 해당할 수 있다. 제2 렌즈(126)는 제2 렌즈(126)에 입사되는 빔의 포커싱을 조절할 수 있다.According to one embodiment, the second filter 124 may correspond to a long pass filter. The second lens 126 can adjust the focusing of the beam incident on the second lens 126.
일 실시 예에 따르면, 광학 시스템(101)이 광섬유 커플러(140)를 포함함에 따라 복수의 레이저들(110)에서 방사되는 빔들은 광섬유에 용이하게 모일 수 있다. 예를 들어, 광섬유 커플러(140)가 광학 시스템(101)에 포함되지 않는 경우 복수의 레이저들(110)에서 방사되는 빔들은 자유 공간에 방사되기 때문에 하나의 광섬유(예: 제3 광섬유(133))에 모이기 어려울 수 있다. 반면에, 일 실시 예에 따른 광학 시스템(101)이 광섬유 커플러(140)를 포함하는 경우 복수의 레이저들(110)에서 방사되는 빔들은 광섬유 커플러(140)를 통해 하나의 광섬유(예: 제3 광섬유(133))에 상대적으로 용이하게 모일 수 있다. 결과적으로, 광학 시스템(101)이 광섬유 커플러(140)에 포함됨에 따라 복수의 빔들이 하나의 광섬유에 모이는 효율(또는, 광집 효율)이 증대될 수 있다. According to one embodiment, since the optical system 101 includes the optical fiber coupler 140, beams emitted from the plurality of lasers 110 can be easily gathered on the optical fiber. For example, when the optical fiber coupler 140 is not included in the optical system 101, the beams emitted from the plurality of lasers 110 are radiated in free space, so they are connected to one optical fiber (e.g., the third optical fiber 133). ) may be difficult to gather in. On the other hand, when the optical system 101 according to an embodiment includes an optical fiber coupler 140, the beams emitted from the plurality of lasers 110 are transmitted through one optical fiber (e.g., a third optical fiber) through the optical fiber coupler 140. It can be gathered relatively easily into the optical fiber 133). As a result, as the optical system 101 is included in the optical fiber coupler 140, the efficiency (or light collection efficiency) of gathering a plurality of beams into one optical fiber can be increased.
본 개시의 광 전파 모듈이라는 용어(term)는 광 전파 회로(circuit), 광학 회로(optical circuit), 공초점 형광 현미경, 광학 내시경 회로로 변경될 수 있다.The term light propagation module of the present disclosure may be changed to a light propagation circuit, an optical circuit, a confocal fluorescence microscope, or an optical endoscope circuit.
본 개시의 전파(propagate)하다라는 용어는 전송(transfer), 전달(delivery) 또는 송신(transmit)의 용어로 대체될 수 있다. The term propagate in the present disclosure may be replaced with the terms transfer, delivery, or transmit.
본 개시의 복수의 레이저들(110)은 2개의 레이저들(예: 제1 레이저(111) 및 제2 레이저(112))를 포함하는 것으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이다. 예를 들어, 복수의 레이저들(110)은 제1 레이저(111) 및 제2 레이저(112)와 구별되는 추가적인 레이저를 더 포함할 수 있다. 일 예시로, 복수의 레이저들(110)은 제3 레이저를 더 포함할 수 있으며, 제3 레이저는 제1 레이저(111) 및 제2 레이저(112)와 다른 파장의 빔을 방사 또는 조사할 수 있다.The plurality of lasers 110 of the present disclosure have been described as including two lasers (eg, the first laser 111 and the second laser 112), but this is only an example. For example, the plurality of lasers 110 may further include additional lasers that are distinct from the first laser 111 and the second laser 112. As an example, the plurality of lasers 110 may further include a third laser, and the third laser may radiate or irradiate a beam of a different wavelength from the first laser 111 and the second laser 112. there is.
도 2는 일 실시 예에 따른 광 전파 모듈에 포함되는 광로를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 2 is a diagram for explaining an optical path included in a light propagation module according to an embodiment.
도 2를 참고하면, 일 실시 예에 따른 광 전파 모듈(120)은 광로 (210)를 포함할 수 있다. 광로(210)는 제1 레이저(111) 및/또는 제2 레이저(112)에서 방사되는 빔들의 전파되는 경로(path)에 해당할 수 있다.Referring to FIG. 2, the light propagation module 120 according to one embodiment may include an optical path 210. The optical path 210 may correspond to a propagation path of beams emitted from the first laser 111 and/or the second laser 112.
일 실시 예에 따르면, 광로(210)는 제1 부분(211), 제2 부분(212), 및/또는 제3 부분(213)을 포함할 수 있다.According to one embodiment, the optical path 210 may include a first part 211, a second part 212, and/or a third part 213.
일 실시 예에 따르면, 제1 부분(211)은 제1 콜리메이터(151)와 제2 콜리메이터(152)를 연결할 수 있다. 예를 들어, 제1 부분(211)은 제1 연결 부분(231) 및 제2 연결 부분(232)을 포함할 수 있다. 제1 연결 부분(231)은 제1 콜리메이터(151)와 연결될 수 있고, 제2 연결 부분(232)은 제2 콜리메이터(152)와 연결될 수 있다. 일 예시에서, 제1 연결 부분(231)은 후술되는 도 6에서 제1 콜리메이터(151)와 제1 부분(211)이 연결되는 결합 부분(coupled part) 또는 접합 부분(joint)으로 참조될 수 있다. 일 예시에서, 제2 연결 부분(231)은 후술되는 도 6에서 제2 콜리메이터(152)와 제1 부분(211)이 연결되는 결합 부분 또는 접합 부분으로 참조될 수 있다.According to one embodiment, the first part 211 may connect the first collimator 151 and the second collimator 152. For example, the first part 211 may include a first connection part 231 and a second connection part 232. The first connection part 231 may be connected to the first collimator 151, and the second connection part 232 may be connected to the second collimator 152. In one example, the first connection part 231 may be referred to as a coupled part or joint where the first collimator 151 and the first part 211 are connected in FIG. 6, which will be described later. . In one example, the second connection part 231 may be referred to as a coupling part or joining part where the second collimator 152 and the first part 211 are connected in FIG. 6, which will be described later.
일 실시 예에 따르면, 제2 부분(212)은 제1 부분(211)으로부터 연장되어 제1 광검출기(171)와 연결될 수 있다. 예를 들어, 제2 부분(212)은 제3 연결 부분(233)을 포함할 수 있다. 제3 연결 부분(233)은 제1 광검출기(171)와 연결될 수 있다.According to one embodiment, the second part 212 may extend from the first part 211 and be connected to the first photodetector 171. For example, the second part 212 may include a third connection part 233. The third connection part 233 may be connected to the first photodetector 171.
일 실시 예에 따르면, 제3 부분(213)은 제1 부분(211)으로부터 연장되어 제2 광검출기(172)와 연결될 수 있다. 예를 들어, 제3 부분(213)은 제4 연결 부분(234)을 포함할 수 있다. 제4 연결 부분(234)은 제2 광검출기(172)와 연결될 수 있다.According to one embodiment, the third part 213 may extend from the first part 211 and be connected to the second photodetector 172. For example, the third portion 213 may include a fourth connection portion 234. The fourth connection portion 234 may be connected to the second photodetector 172.
일 실시 예에 따르면, 광로(210)에는 복수의 광학 부재들을 수용하기 위한 홈들이 형성될 수 있다. 예를 들어, 제1 부분(211)에는 빔 스플리터를 수용하기 위한 제1 홈(221), 제1 빔 스플리터(121)를 수용하기 위한 제2 홈(222), 및 제2 빔 스플리터(122)를 수용하기 위한 제3 홈(223)이 형성될 수 있다. 예를 들어, 제2 부분(212)에는 제1 필터(123)를 수용하기 위한 제4 홈(224)이 형성될 수 있다. 예를 들어, 제3 부분(213)에는 제2 필터(124)를 수용하기 위한 제5 홈(225)이 형성될 수 있고, 제2 필터(124)를 수용하기 위한 제6 홈(226)이 형성될 수 있다.According to one embodiment, grooves may be formed in the optical path 210 to accommodate a plurality of optical members. For example, the first portion 211 includes a first groove 221 for accommodating the beam splitter, a second groove 222 for accommodating the first beam splitter 121, and a second beam splitter 122. A third groove 223 may be formed to accommodate. For example, a fourth groove 224 may be formed in the second portion 212 to accommodate the first filter 123. For example, a fifth groove 225 may be formed in the third portion 213 to accommodate the second filter 124, and a sixth groove 226 may be formed to accommodate the second filter 124. can be formed.
일 실시 예에 따르면, 광로(210)는 제4 부분(214)을 더 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 제4 부분(214)은 제1 부분(211)에서 연장될 수 있다. 제4 부분(214)은 제3 콜리메이터가 결합될 수 있는 제5 연결 부분(235)에 연결될 수 있다. 결과적으로, 제4 부분(214)은 제1 부분(211)과 제5 연결 부분(235)을 연결할 수 있다.According to one embodiment, the optical path 210 may further include a fourth portion 214. In one embodiment, the fourth portion 214 may extend from the first portion 211 . The fourth part 214 may be connected to the fifth connection part 235 to which the third collimator can be coupled. As a result, the fourth part 214 can connect the first part 211 and the fifth connection part 235.
일 실시 예에 따르면, 광 전파 모듈(120)이 복수의 홈들을 포함함에 따라 광 전파 모듈(120)은 단파장 또는 다파장 모듈로 선택적으로 활용될 수 있다. 예를 들어, 광 전파 모듈(120)이 단파장 모듈로 사용되는 경우에는 제1 홈(221), 제2 홈(222) 및 제3 홈(223) 중 하나에만 빔 스플리터가 배치될 수 있다. 또 다른 예를 들어, 광 전파 모듈(120)이 다파장 모듈로 사용되는 경우에는 제1 홈(221), 제2 홈(222) 및 제3 홈(223) 중 두개에만 빔 스플리터가 배치될 수 있다. 결과적으로, 광 전파 모듈(120)은 단파장 모듈 또는 다파장 모듈로 선택적으로 활용될 수 있다.According to one embodiment, since the light propagation module 120 includes a plurality of grooves, the light propagation module 120 can be selectively used as a short-wavelength or multi-wavelength module. For example, when the light propagation module 120 is used as a short-wavelength module, the beam splitter may be disposed in only one of the first groove 221, the second groove 222, and the third groove 223. For another example, when the light propagation module 120 is used as a multi-wavelength module, the beam splitter may be placed in only two of the first groove 221, the second groove 222, and the third groove 223. there is. As a result, the light propagation module 120 can be selectively used as a short-wavelength module or a multi-wavelength module.
한편, 제1 홈(221), 제2 홈(222) 및 제3 홈(223)에 모두 빔 스플리터가 배치되는 경우에도 도 19에 개시되는 실시 예에서는 단파장 모듈 또는 다파장 모듈로 선택적으로 활용될 수 있다. 이에 대한 상세한 내용은 도 19에서 후술한다.Meanwhile, even when beam splitters are disposed in all of the first groove 221, the second groove 222, and the third groove 223, in the embodiment disclosed in FIG. 19, the beam splitter can be selectively used as a short-wavelength module or a multi-wavelength module. You can. Details about this are described later in FIG. 19.
일 실시 예에 따르면, 광로(210)는 다양한 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 광로(210)는 원기둥 형상을 가질 수 있다. 다만, 이는 일 예시일 뿐이다. 예를 들어, 광로(210)는 직육면체 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 광로(210)의 제1 부분(211)은 원기둥 형상을 가지고, 광로(210)의 제2 부분(212)은 직육면체 형상을 가질 수 있다.According to one embodiment, the optical path 210 may have various shapes. For example, the optical path 210 may have a cylindrical shape. However, this is just an example. For example, the optical path 210 may have a rectangular parallelepiped shape. For example, the first part 211 of the optical path 210 may have a cylindrical shape, and the second part 212 of the optical path 210 may have a rectangular parallelepiped shape.
일 실시 예에 따르면, 복수의 홈들에는 각각 고정 부재(fixing member)가 배치될 수 있고, 고정 부재는 광학 부재를 홈에 고정할 수 있다. 예를 들어, 제3 홈(223)에는 고정 부재가 배치될 수 있고, 고정 부재는 제3 홈(223)에 배치된 제2 빔 스플리터(122)를 제3 홈(223)에 고정할 수 있다.According to one embodiment, a fixing member may be disposed in each of the plurality of grooves, and the fixing member may fix the optical member to the groove. For example, a fixing member may be disposed in the third groove 223, and the fixing member may fix the second beam splitter 122 disposed in the third groove 223 to the third groove 223. .
본 개시에서 광로(210)가 제1 부분(211), 제2 부분(212), 제3 부분(213) 및 제4 부분(214)을 포함하는 것으로 설명하였으나 이는 일 예시일 뿐이다. 예를 들어, 광로(210)는 제1 부분(211), 제2 부분(212) 및 제3 부분(213)만을 포함할 수 있고, 제4 부분(214)을 포함하지 않을 수 있다. 이하, 도 3에서는 제4 부분(214)을 포함하지 않는 광로가 설명된다.In the present disclosure, the optical path 210 is described as including a first part 211, a second part 212, a third part 213, and a fourth part 214, but this is only an example. For example, the optical path 210 may include only the first part 211, the second part 212, and the third part 213, and may not include the fourth part 214. Hereinafter, in FIG. 3, an optical path not including the fourth portion 214 will be described.
본 개시에서는 광로(210)가 제1 부분(211), 제2 부분(212), 제3 부분(213) 및 제4 부분(214)을 포함하는 것으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이다. 예를 들어, 제1 부분은 제1 광로로 대체될 수 있고, 제2 부분은 제2 광로로 대체될 수 있고, 제3 부분은 제3 광로로 대체될 수 있고, 제4 부분은 제4 광로로 대체될 수 있다.In the present disclosure, the optical path 210 is described as including a first part 211, a second part 212, a third part 213, and a fourth part 214, but this is only an example. For example, the first part can be replaced by the first light path, the second part can be replaced by the second light path, the third part can be replaced by the third light path, and the fourth part can be replaced by the fourth light path. can be replaced with
본 개시의 광로(optical path)라는 용어는 선로(track), 경로(path) 또는 덕트(duct)라는 용어로 대체될 수 있다.The term optical path in the present disclosure may be replaced with the term track, path, or duct.
도 3은 일 실시 예에 따른 광로를 포함하는 광 전파 모듈을 설명한다.FIG. 3 explains an optical propagation module including an optical path according to an embodiment.
도 3을 참고하면, 일 실시 예에 따른 광로(310)는 제1 부분(311), 제2 부분(312), 및 제3 부분(313)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3 , the optical path 310 according to one embodiment may include a first part 311, a second part 312, and a third part 313.
일 실시 예에 따르면, 광로(310)에는 복수의 광학 부재들을 수용하기 위한 홈들이 형성될 수 있다. 예를 들어, 제1 부분(311)에는 제1 빔 스플리터(121)를 수용하기 위한 제1 홈(321), 및 제2 빔 스플리터(122)를 수용하기 위한 제2 홈(322)이 형성될 수 있다. 예를 들어, 제2 부분(312)에는 제1 필터(123)를 수용하기 위한 제3 홈(323)이 형성될 수 있다. 예를 들어, 제3 부분(313)에는 제2 필터(124)를 수용하기 위한 제4 홈(324)이 형성될 수 있고, 제2 필터(124)를 수용하기 위한 제5 홈(325)이 형성될 수 있다.According to one embodiment, grooves may be formed in the optical path 310 to accommodate a plurality of optical members. For example, a first groove 321 for accommodating the first beam splitter 121 and a second groove 322 for accommodating the second beam splitter 122 may be formed in the first portion 311. You can. For example, a third groove 323 may be formed in the second portion 312 to accommodate the first filter 123. For example, a fourth groove 324 may be formed in the third portion 313 to accommodate the second filter 124, and a fifth groove 325 may be formed to accommodate the second filter 124. can be formed.
도 4는 일 실시 예에 따른 제1 빔 스플리터, 제2 빔 스플리터, 제1 필터 및 제2 필터를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 4 is a diagram for explaining a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
도 4를 참고하면, 일 실시 예에 따른 제1 빔 스플리터(121)는 제1 파장(예: 약 450nm 내지 550nm 사이에 해당하는 파장)과 제1 파장보다 큰 제2 파장(예: 약 550nm 내지 650nm 사이에 해당하는 파장) 사이의 제1 파장대에 해당하는 파장을 가지는 빔을 투과시키지 않을 수 있다. 즉, 제1 빔 스플리터(121)는 제1 파장과 제2 파장 사이의 파장을 가지는 빔을 반사할 수 있다.Referring to FIG. 4, the first beam splitter 121 according to an embodiment has a first wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 550 nm) and a second wavelength larger than the first wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 550 nm to 550 nm). A beam having a wavelength corresponding to the first wavelength range (wavelength corresponding to 650 nm) may not be transmitted. That is, the first beam splitter 121 may reflect a beam having a wavelength between the first wavelength and the second wavelength.
일 실시 예에 따르면, 제2 빔 스플리터(122)는 제3 파장(예: 약 750nm 내지 850 nm 사이에 해당하는 파장) 이상의 제2 파장대에 해당하는 빔을 투과시킬 수 있다. 상기 제3 파장(예: 약 750nm 내지 850nm 사이에 해당하는 파장)는 상기 제2 파장(예: 약 550nm 내지 650nm 사이에 해당하는 파장)보다 큰 파장일 수 있다. 제2 빔 스플리터(122)는 상기 제3 파장 미만의 파장을 가지는 빔을 투과시키지 않을 수 있다. 즉, 제2 빔 스플리터(122)는 상기 제3 파장 미만의 파장을 가지는 빔을 반사시킬 수 있다.According to one embodiment, the second beam splitter 122 may transmit a beam corresponding to a second wavelength band of a third wavelength (eg, a wavelength corresponding to about 750 nm to 850 nm) or more. The third wavelength (eg, a wavelength corresponding to approximately 750 nm to 850 nm) may be a larger wavelength than the second wavelength (eg, a wavelength corresponding to approximately 550 nm to 650 nm). The second beam splitter 122 may not transmit a beam having a wavelength less than the third wavelength. That is, the second beam splitter 122 may reflect a beam having a wavelength less than the third wavelength.
일 실시 예에 따르면, 제1 필터(123)는 제4 파장(예: 약 450nm 내지 530nm 사이에 해당하는 파장) 및 제4 파장보다 큰 제5 파장(예: 약 530nm 내지 600nm 사이에 해당하는 파장) 사이의 제3 파장대에 해당하는 파장을 가지는 빔을 투과시킬 수 있다. 제1 필터(123)는 상기 제4 파장보다 낮거나 상기 제5 파장보다 큰 파장을 가지는 빔은 차단할 수 있다. 따라서, 제1 필터는 밴드 패스 필터에 해당할 수 있다.According to one embodiment, the first filter 123 includes a fourth wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 530 nm) and a fifth wavelength that is larger than the fourth wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 530 nm to 600 nm). ) can transmit a beam having a wavelength corresponding to the third wavelength band. The first filter 123 may block a beam having a wavelength lower than the fourth wavelength or higher than the fifth wavelength. Accordingly, the first filter may correspond to a band pass filter.
일 실시 예에 따르면, 제2 필터(124)는 제6 파장(예: 약 750nm 내지 850nm 사이에 해당하는 파장)보다 큰 제4 파장대에 해당하는 파장을 가지는 빔을 투과시킬 수 있다. 상기 제6 파장은 상기 제5 파장보다 큰 파장일 수 있다. 제2 필터(124)는 상기 제6 파장보다 낮은 파장을 가지는 빔을 차단할 수 있다. 따라서, 제2 필터(124)는 롱 패스 필터(long pass filter)에 해당할 수 있다.According to one embodiment, the second filter 124 may transmit a beam having a wavelength corresponding to a fourth wavelength band that is larger than the sixth wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 750 nm to 850 nm). The sixth wavelength may be a larger wavelength than the fifth wavelength. The second filter 124 may block a beam having a wavelength lower than the sixth wavelength. Accordingly, the second filter 124 may correspond to a long pass filter.
일 실시 예에 따르면, 제1 빔 스플리터(121)의 제1 파장대는 제1 필터(123)의 제3 파장대와 적어도 일부 중첩될 수 있다. 예를 들어, 제1 방출광은 제1 빔 스플리터(121)에서 반사되어 제1 필터(123)를 투과해서 제1 광검출기(171)로 전파되어야 할 수 있다. 따라서, 제1 파장대와 제3 파장대는 적어도 일부 중첩될 수 있다.According to one embodiment, the first wavelength band of the first beam splitter 121 may at least partially overlap with the third wavelength band of the first filter 123. For example, the first emission light may be reflected from the first beam splitter 121, pass through the first filter 123, and propagate to the first photodetector 171. Accordingly, the first and third wavelength bands may overlap at least partially.
일 실시 예에 따르면, 제2 빔 스플리터(122)의 제2 파장대는 제2 필터(124)의 제4 파장대와 적어도 일부 중첩될 수 있다. 예를 들어, 제2 방출광은 제2 빔 스플리터(122) 및 제2 필터(124)를 투과해서 제2 광검출기(172)로 전파되어야 할 수 있다. 따라서, 제2 파장대와 제4 파장대는 적어도 일부 중첩될 수 있다.According to one embodiment, the second wavelength band of the second beam splitter 122 may at least partially overlap with the fourth wavelength band of the second filter 124. For example, the second emission light may need to pass through the second beam splitter 122 and the second filter 124 and propagate to the second photodetector 172. Accordingly, the second and fourth wavelength bands may overlap at least partially.
도 5는 일 실시 예에 따른 제3 필터를 포함하는 광 전파 모듈을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 5 is a diagram for explaining a light propagation module including a third filter according to an embodiment.
도 5를 참고하면, 일 실시 예에 따른 광 전파 모듈(120)은 제3 필터(524) 및/또는 제4 필터(525)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 5 , the light propagation module 120 according to an embodiment may include a third filter 524 and/or a fourth filter 525.
본 개시의 도 5의 제3 필터(524)는 실질적으로 도 1의 제2 필터(124)에 대응할 수 있다. 즉, 제3 필터(524) 역시 제2 필터(124)와 마찬가지로 롱 패스 필터(LPF)에 해당할 수 있다. 본 개시의 도 5의 실시 예는 도 1의 실시 예에서 제4 필터(525)가 추가된 실시 예로 이해될 수 있다.The third filter 524 of FIG. 5 of the present disclosure may substantially correspond to the second filter 124 of FIG. 1 . That is, the third filter 524, like the second filter 124, may also correspond to a long pass filter (LPF). The embodiment of FIG. 5 of the present disclosure may be understood as an embodiment in which a fourth filter 525 is added to the embodiment of FIG. 1 .
일 실시 예에 따르면, 제2 빔 스플리터(122)와 제2 렌즈(126) 사이에 제3 필터(524) 및 제4 필터(525)가 배치됨에 따라 하나의 필터가 배치되는 경우에 비해서 높은 필터링 효율이 확보될 수 있다.According to one embodiment, the third filter 524 and the fourth filter 525 are disposed between the second beam splitter 122 and the second lens 126, resulting in higher filtering compared to the case where one filter is disposed. Efficiency can be secured.
일 실시 예에 따르면, 제1 빔 스플리터(121)는 도 2의 제1 홈(221)에 배치될 수 있고, 제2 빔 스플리터(122)는 도 2의 제3 홈(223)에 배치될 수 있다.According to one embodiment, the first beam splitter 121 may be placed in the first groove 221 of FIG. 2, and the second beam splitter 122 may be placed in the third groove 223 of FIG. 2. there is.
도 6은 일 실시 예에 따른 도 5의 복수의 광학 부재들의 광로에서의 배치 구조를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 6 is a diagram for explaining an arrangement structure of a plurality of optical members of FIG. 5 in an optical path according to an embodiment.
도 6을 참고하면, 일 실시 예에 따른 광 전파 모듈(120)은 복수의 광학 부재들을 포함할 수 있고, 복수의 광학 부재들은 각각 광로(210)에 배치될 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 빔 스플리터(121)는 제1 부분(211)에 배치될 수 있다. 제1 부분(211)에 배치된 제1 빔 스플리터(121)는 제1 부분(211)을 통과하는 빔들을 투과시킬 수 있다. 예를 들어, 제1 빔 스플리터(121)는 제1 레이저(111)의 제1 빔 및 제2 레이저(112)의 제2 빔을 투과시킬 수 있다. 제1 부분(211)에 배치된 제1 빔 스플리터(121)는 제1 부분(211)을 통과하는 방출광들을 반사시키거나 투과시킬 수 있다. 예를 들어, 제1 빔 스플리터(121)는 제1 부분(211)을 통과하는 제1 방출광을 반사시킬 수 있고, 제1 부분(211)을 통과하는 제2 방출광을 투과시킬 수 있다.Referring to FIG. 6 , the light propagation module 120 according to an embodiment may include a plurality of optical members, and the plurality of optical members may each be disposed in the optical path 210. In one embodiment, the first beam splitter 121 may be disposed in the first portion 211. The first beam splitter 121 disposed in the first part 211 may transmit beams passing through the first part 211. For example, the first beam splitter 121 may transmit the first beam of the first laser 111 and the second beam of the second laser 112. The first beam splitter 121 disposed in the first part 211 may reflect or transmit emitted light passing through the first part 211. For example, the first beam splitter 121 may reflect the first emission light passing through the first part 211 and transmit the second emission light passing through the first part 211.
일 실시 예에 따르면, 제2 빔 스플리터(122)는 제1 부분(211)에 배치될 수 있다. 제1 부분(211)에 배치된 제2 빔 스플리터(122)는 제1 부분(211)을 통과하는 빔들을 반사시킬 수 있다. 예를 들어, 제2 빔 스플리터(122)는 제1 레이저(111)의 제1 빔과 제2 레이저의 제2 빔을 반사시킬 수 있다. 제1 부분(211)에 배치된 제2 빔 스플리터(122)는 제1 부분(211)을 통과하는 방출광을 투과시킬 수 있다. 예를 들어, 제2 빔 스플리터(122)는 제1 부분(211)을 통과하는 제2 방출광을 투과시킬 수 있다.According to one embodiment, the second beam splitter 122 may be disposed in the first portion 211. The second beam splitter 122 disposed in the first part 211 may reflect beams passing through the first part 211. For example, the second beam splitter 122 may reflect the first beam of the first laser 111 and the second beam of the second laser. The second beam splitter 122 disposed in the first part 211 may transmit the emitted light passing through the first part 211. For example, the second beam splitter 122 may transmit the second emission light passing through the first portion 211.
일 실시 예에 따르면, 제1 필터(123)는 제2 부분(212)에 배치될 수 있다. 제2 부분(212)에 배치된 제1 필터(123)는 지정된 파장대(예: 도 4의 제3 파장과 제4 파장 사이의 파장대)을 통과시키는 밴드 패스 필터일 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 렌즈(125)는 제2 부분(212)에 배치될 수 있고, 제1 렌즈(125)는 입사되는 제1 방출광의 포커싱을 조절할 수 있다.According to one embodiment, the first filter 123 may be disposed in the second portion 212. The first filter 123 disposed in the second portion 212 may be a band pass filter that passes a designated wavelength band (eg, a wavelength band between the third and fourth wavelengths in FIG. 4). In one embodiment, the first lens 125 may be disposed in the second portion 212, and the first lens 125 may adjust the focusing of the incident first emitted light.
일 실시 예에 따르면, 제3 필터(524)는 제3 부분(213)에 배치될 수 있다. 제3 부분(213)에 배치된 제3 필터(524)는 지정된 파장(예: 도 4의 제6 파장 이상의 파장대)를 통과시키는 밴드 패스 필터일 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 렌즈(126)는 제3 부분(213)에 배치될 수 있고, 제2 렌즈(126)는 입사되는 제2 방출광의 포커싱을 조절할 수 있다.According to one embodiment, the third filter 524 may be disposed in the third portion 213. The third filter 524 disposed in the third portion 213 may be a band-pass filter that passes a designated wavelength (e.g., a wavelength band greater than or equal to the sixth wavelength in FIG. 4). In one embodiment, the second lens 126 may be disposed in the third portion 213, and the second lens 126 may adjust the focusing of the incident second emitted light.
일 실시 예에 따르면, 제4 필터(525)는 제3 부분(213)에 배치될 수 있다. 제3 부분(213)에 배치된 제4 필터(525)는 지정된 파장(예: 도 4의 제6 파장 이상의 파장대)를 통과시키는 롱 패스 필터(LPF)일 수 있다.According to one embodiment, the fourth filter 525 may be disposed in the third portion 213. The fourth filter 525 disposed in the third portion 213 may be a long pass filter (LPF) that passes a designated wavelength (e.g., a wavelength band greater than or equal to the sixth wavelength in FIG. 4).
본 개시의 도 6에서 광 전파 모듈(120)이 제3 부분(213)에 제3 필터(524) 및 제4 필터(525)를 모두 포함하는 것으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이다. 광 전파 모듈(120)은 제3 필터(524) 및 제4 필터(525) 하나만 포함할 수 있다. 즉, 제3 필터(524) 및 제4 필터(525) 중 적어도 하나는 생략될 수 있다.In FIG. 6 of the present disclosure, the light propagation module 120 is described as including both a third filter 524 and a fourth filter 525 in the third portion 213, but this is only an example. The light propagation module 120 may include only the third filter 524 and the fourth filter 525. That is, at least one of the third filter 524 and the fourth filter 525 may be omitted.
일 실시 예에 따르면, 광로(210)의 제1 부분(211)은 제1 콜리메이터(151)와 제2 콜리메이터(152)를 연결할 수 있다. 광로(210)의 제2 부분(212)은 제1 부분(211)에서 연장되어 제1 연결 포트(653)에 연결될 수 있고, 제2 부분(212)은 제1 연결 포트(653)를 통해 제1 광검출기(171)에 연결될 수 있다. 광로(210)의 제3 부분(213)은 제1 부분(211)에서 연장되어 제2 연결 포트(654)에 연결될 수 있고, 제3 부분(213)은 제2 연결 포트(654)를 통해 제2 광검출기(172)에 연결될 수 있다.According to one embodiment, the first portion 211 of the optical path 210 may connect the first collimator 151 and the second collimator 152. The second part 212 of the optical path 210 may extend from the first part 211 and be connected to the first connection port 653, and the second part 212 may be connected to the first connection port 653. 1 can be connected to the photodetector 171. The third part 213 of the optical path 210 may extend from the first part 211 and be connected to the second connection port 654, and the third part 213 may be connected to the second connection port 654. 2 can be connected to the photodetector 172.
도 7은 일 실시 예에 따른 일 실시 예에 따른 복수의 광학 부재들의 광로에서의 배치 구조를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 7 is a diagram illustrating an arrangement structure of a plurality of optical members in an optical path according to an embodiment of the present invention.
도 7을 참고하면, 일 실시 예에 따른 도 7의 광 전파 모듈(120)은 도 6의 광 전파 모듈에 비해서 제4 필터(525)를 포함하지 않을 수 있다.Referring to FIG. 7 , the light propagation module 120 of FIG. 7 according to an embodiment may not include the fourth filter 525 compared to the light propagation module of FIG. 6 .
본 개시의 도 7의 실시 예는 도 6의 실시 예에서 제4 필터(525)가 제거된 실시 예에 해당할 수 있다.The embodiment of FIG. 7 of the present disclosure may correspond to an embodiment in which the fourth filter 525 is removed from the embodiment of FIG. 6 .
도 8은 일 실시 예에 따른 제1 레이저를 광원으로 활용하는 단파장 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 8 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a first laser as a light source according to an embodiment.
도 8을 참고하면, 일 실시 예에 따른 단파장 광학 시스템(801)(또는, 단파장 공초점 형광 현미경)은 제1 레이저(811), 광 전파 모듈(820), 제1 빔 스플리터(821), 제2 빔 스플리터(822), 제1 광섬유(831), 제2 광섬유(832), 복수의 콜리메이터(850), 제1 필터(823), 제1 렌즈(825), 제1 핀홀(861), 및/또는 제1 광검출기(photo multiplier tube)(871)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 8, a short-wavelength optical system 801 (or short-wavelength confocal fluorescence microscope) according to an embodiment includes a first laser 811, a light propagation module 820, a first beam splitter 821, and a first laser 811. 2 beam splitter 822, first optical fiber 831, second optical fiber 832, plurality of collimators 850, first filter 823, first lens 825, first pinhole 861, and /Or may include a first photo detector (photo multiplier tube) 871.
본 개시의 도 8의 제1 레이저(811), 광 전파 모듈(820), 복수의 콜리메이터(850), 제1 필터(823), 제1 렌즈(825), 제1 핀홀(861) 및 제1 광검출기(871)은 순서대로 도 1의 제1 레이저(111), 광 전파 모듈(120), 복수의 콜리메이터(150), 제1 필터(123), 제1 렌즈(125), 제1 핀홀(161) 및 제1 광검출기(171)에 대응할 수 있다. 따라서, 본 개시의 도 1의 제1 레이저(111), 광 전파 모듈(120), 복수의 콜리메이터(150), 제1 필터(123), 제1 렌즈(125), 제1 핀홀(161) 및 제1 광검출기(171)에 대한 설명은 도 8의 제1 레이저(811), 광 전파 모듈(820), 복수의 콜리메이터(850), 제1 필터(823), 제1 렌즈(825), 제1 핀홀(861) 및 제1 광검출기(871)에 적용될 수 있다.8 of the present disclosure, the first laser 811, the light propagation module 820, a plurality of collimators 850, the first filter 823, the first lens 825, the first pinhole 861, and the first The photodetector 871 sequentially includes the first laser 111 of FIG. 1, the light propagation module 120, a plurality of collimators 150, the first filter 123, the first lens 125, and the first pinhole ( 161) and the first photodetector 171. Therefore, the first laser 111, the light propagation module 120, the plurality of collimators 150, the first filter 123, the first lens 125, the first pinhole 161, and The description of the first photodetector 171 includes the first laser 811 of FIG. 8, the light propagation module 820, a plurality of collimators 850, the first filter 823, the first lens 825, and the first lens 825. 1 It can be applied to the pinhole 861 and the first photodetector 871.
본 개시의 도 8의 제1 빔 스플리터(821) 및 제2 빔 스플리터(822)는 각각 도 1의 제1 빔 스플리터(121) 및 제2 빔 스플리터(122)에 대응할 수 있다. The first beam splitter 821 and the second beam splitter 822 of FIG. 8 of the present disclosure may correspond to the first beam splitter 121 and the second beam splitter 122 of FIG. 1, respectively.
일 실시 예에 따르면, 제1 레이저(811)는 제1 광섬유(831)를 통해 제1 콜리메이터(851)에 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 광 전파 모듈(820)은 제2 광섬유(832)를 통해 프로브에 연결될 수 있다. 제1 콜리메이터(851) 및 제2 콜리메이터(852)는 콜리메이팅 렌즈를 각각 포함할 수 있다. 상기 콜리메이팅 렌즈는 입사된 광의 광경로를 평행하도록 조정해주는 렌즈를 의미할 수 있다. 도 8에 도시된 제1 콜리메이터(851) 및 제2 콜리메이터(852)에 각각 포함된 콜리메이팅 렌즈는 도 1에 도시된 제1 콜리메이터(151) 및 제2 콜리메이터(152)에 각각 포함된 콜리메티팅 렌즈와 기능의 일부가 상이할 수 있다. 예를 들어, 도 1의 콜리메이팅 렌즈는 입사된 광의 광경로를 평행하도록 조정해주는 기능뿐 아니라, 두 파장의 색수차를 방지하기 위한 기능을 포함하고 있으나, 도 8의 콜리메이팅 렌즈는 입사된 광의 광경로를 평행하도록 조정해주는 기능만 구비하고 있다. According to one embodiment, the first laser 811 may be connected to the first collimator 851 through the first optical fiber 831. In one embodiment, the light propagation module 820 may be connected to the probe through the second optical fiber 832. The first collimator 851 and the second collimator 852 may each include a collimating lens. The collimating lens may refer to a lens that adjusts the optical path of incident light to be parallel. The collimating lenses included in each of the first collimator 851 and the second collimator 852 shown in FIG. 8 are collimators included in each of the first collimator 151 and the second collimator 152 shown in FIG. 1. Some of the features may be different from those of the camera lens. For example, the collimating lens in Figure 1 includes a function to adjust the optical path of the incident light to be parallel as well as a function to prevent chromatic aberration of the two wavelengths, but the collimating lens in Figure 8 has a function to adjust the optical path of the incident light to be parallel. It only has the function of adjusting the furnace to be parallel.
일 실시 예에 따르면, 제1 레이저(811)에서 방사된 제1 빔은 제2 빔 스플리터(822)에 의해 반사될 수 있고, 제2 빔 스플리터(822)에 의해 반사된 제1 빔은 제1 빔 스플리터(821)를 투과할 수 있다. 투과된 제1 빔 스플리터(821)는 제2 콜리메이터(852) 및 제2 광섬유(832)를 통해 프로브로 전파될 수 있다.According to one embodiment, the first beam emitted from the first laser 811 may be reflected by the second beam splitter 822, and the first beam reflected by the second beam splitter 822 may be reflected by the first beam splitter 822. It can pass through the beam splitter 821. The transmitted first beam splitter 821 may propagate to the probe through the second collimator 852 and the second optical fiber 832.
일 실시 예에 따르면, 프로브에서 객체(예: 도 1의 객체(190))로 제1 빔이 입사됨에 따라 제1 방출광이 형성될 수 있다. 제1 방출광은 제2 광섬유(832)를 통해 광 전파 모듈(820)로 전파될 수 있다. 제1 방출광은 제1 빔 스플리터(821)에 의해 반사될 수 있다. 반사된 제1 방출광은 제1 필터(823), 제1 렌즈(825) 및 제1 핀홀(861)을 통과해서 제1 광검출기(871)로 전파될 수 있다.According to one embodiment, the first emission light may be formed as the first beam is incident from the probe to the object (eg, the object 190 in FIG. 1). The first emission light may propagate to the light propagation module 820 through the second optical fiber 832. The first emission light may be reflected by the first beam splitter 821. The reflected first emission light may pass through the first filter 823, the first lens 825, and the first pinhole 861 and propagate to the first photodetector 871.
일 실시 예에 따르면, 제1 방출광은 제1 빔에 비해 상대적으로 높은 파장을 가지므로 제1 빔은 제1 빔 스플리터(821)를 통과할 수 있고, 제1 방출광은 제1 빔 스플리터(821)를 통과하지 못하고 반사될 수 있다.According to one embodiment, the first emission light has a relatively high wavelength compared to the first beam, so the first beam may pass through the first beam splitter 821, and the first emission light may pass through the first beam splitter (821). 821) and may be reflected.
일 실시 예에 따르면, 제1 빔 스플리터(821)는 도 2의 제2 홈(222)에 배치될 수 있고, 제2 빔 스플리터(822)는 도 2의 제3 홈(223)에 배치될 수 있다.According to one embodiment, the first beam splitter 821 may be placed in the second groove 222 of FIG. 2, and the second beam splitter 822 may be placed in the third groove 223 of FIG. 2. there is.
도 9는 일 실시 예에 따른 제1 레이저를 광원으로 활용하는 단파장 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 9 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a first laser as a light source according to an embodiment.
도 9를 참고하면, 일 실시 예에 따른 단파장 광학 시스템(901)(또는, 단파장 공초점 형광 현미경)은 제1 레이저(911), 광 전파 모듈(920), 제1 광섬유(931), 제2 광섬유(932), 제2 빔 스플리터(922), 제2 필터(924), 제2 렌즈(926), 복수의 콜리메이터(950), 제2 핀홀(962), 및/또는 제1 광검출기 (971)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 9, a short-wavelength optical system 901 (or short-wavelength confocal fluorescence microscope) according to an embodiment includes a first laser 911, a light propagation module 920, a first optical fiber 931, and a second Optical fiber 932, second beam splitter 922, second filter 924, second lens 926, plurality of collimators 950, second pinhole 962, and/or first photodetector 971 ) may include.
본 개시의 도 9의 제1 레이저(911), 광 전파 모듈(920), 복수의 콜리메이터(950), 제2 빔 스플리터(922), 제2 렌즈(926), 제2 핀홀(962) 및 제1 광검출기(971)는 순서대로 도 1의 제1 레이저(111), 광 전파 모듈(120), 복수의 콜리메이터(150), 제2 빔 스플리터(122), 제2 렌즈(126), 제2 핀홀(162) 및 제1 광검출기(171)에 대응할 수 있다. 따라서, 본 개시의 도 1의 제1 레이저(111), 광 전파 모듈(120), 복수의 콜리메이터(150), 제2 빔 스플리터(122), 제2 렌즈(126), 제2 핀홀(162) 및 제1 광검출기(171)에 대한 설명은 각각 순서대로 본 개시의 도 9의 제1 레이저(911), 광 전파 모듈(920), 복수의 콜리메이터(950), 제2 빔 스플리터(922), 제2 렌즈(926), 제2 핀홀(962) 및 제1 광검출기(971)에 적용될 수 있다.9 of the present disclosure, the first laser 911, the light propagation module 920, a plurality of collimators 950, the second beam splitter 922, the second lens 926, the second pinhole 962, and the 1 The photodetector 971 sequentially includes the first laser 111 of FIG. 1, the light propagation module 120, a plurality of collimators 150, the second beam splitter 122, the second lens 126, and the second It may correspond to the pinhole 162 and the first photodetector 171. Therefore, the first laser 111, the light propagation module 120, the plurality of collimators 150, the second beam splitter 122, the second lens 126, and the second pinhole 162 of FIG. 1 of the present disclosure And the description of the first photodetector 171 includes the first laser 911, light propagation module 920, plurality of collimators 950, second beam splitter 922, and It can be applied to the second lens 926, the second pinhole 962, and the first photodetector 971.
일 실시 예에 따르면, 제2 필터(924)는 밴드 패스 필터일 수 있다.According to one embodiment, the second filter 924 may be a band pass filter.
일 실시 예에 따르면, 제1 레이저(911)는 제1 광섬유(931)를 통해 제1 콜리메이터(951)에 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 광 전파 모듈(920)은 제2 광섬유(932)를 통해 프로브에 연결될 수 있다.According to one embodiment, the first laser 911 may be connected to the first collimator 951 through the first optical fiber 931. In one embodiment, the light propagation module 920 may be connected to the probe through the second optical fiber 932.
일 실시 예에 따르면, 제1 레이저(911)에서 방사된 제1 빔은 제2 빔 스플리터(922)에 의해 반사될 수 있고, 제2 빔 스플리터(922)에 의해 반사된 제1 빔은 제2 콜리메이터(952) 및 제2 광섬유(932)를 통해 프로브로 전파될 수 있다.According to one embodiment, the first beam emitted from the first laser 911 may be reflected by the second beam splitter 922, and the first beam reflected by the second beam splitter 922 may be reflected by the second beam splitter 922. It may propagate to the probe through the collimator 952 and the second optical fiber 932.
일 실시 예에 따르면, 프로브에서 객체(예: 도 1의 객체(190))로 제1 빔이 입사됨에 따라 제1 방출광이 형성될 수 있다. 제1 방출광은 제2 광섬유(932)를 통해 광 전파 모듈(920)로 전파될 수 있다. 제1 방출광은 제2 필터(924), 제2 렌즈(926) 및 제2 핀홀(962)을 통과해서 제1 광검출기(971)로 전파될 수 있다. According to one embodiment, the first emission light may be formed as the first beam is incident from the probe to the object (eg, the object 190 in FIG. 1). The first emission light may propagate to the light propagation module 920 through the second optical fiber 932. The first emission light may pass through the second filter 924, the second lens 926, and the second pinhole 962 and propagate to the first photodetector 971.
일 실시 예에 따르면, 제2 빔 스플리터(922)는 제3 홈(223)에 배치될 수 있다.According to one embodiment, the second beam splitter 922 may be placed in the third groove 223.
도 10은 일 실시 예에 따른 제2 레이저를 광원으로 활용하는 단파장 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 10 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a second laser as a light source according to an embodiment.
도 10을 참고하면, 일 실시 예에 따른 단파장 광학 시스템(1001)(또는, 단파장 공초점 형광 현미경)은 제2 레이저(1012), 광 전파 모듈(1020), 제1 광섬유(1031), 제2 광섬유(1032), 제2 빔 스플리터(1022), 제2 필터(1024), 제2 렌즈(1026), 복수의 콜리메이터(1050), 제2 핀홀(1062), 및/또는 제2 광검출기(1072)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 10, a short-wavelength optical system 1001 (or short-wavelength confocal fluorescence microscope) according to an embodiment includes a second laser 1012, a light propagation module 1020, a first optical fiber 1031, and a second Optical fiber 1032, second beam splitter 1022, second filter 1024, second lens 1026, plurality of collimators 1050, second pinhole 1062, and/or second photodetector 1072 ) may include.
본 개시의 도 10의 제2 레이저(1012), 광 전파 모듈(1020), 복수의 콜리메이터(1050), 제2 빔 스플리터(1022), 제2 필터(1024), 제2 렌즈(1026), 제2 핀홀(1062) 및 제2 광검출기(1072)는 순서대로 도 1의 제2 레이저(112), 광 전파 모듈(120), 복수의 콜리메이터(150), 제2 빔 스플리터(122), 제2 필터(124), 제2 렌즈(126), 제2 핀홀(162) 및 제2 광검출기(172)에 대응할 수 있다. 따라서, 본 개시의 도 1의 제2 레이저(112), 광 전파 모듈(120), 복수의 콜리메이터(150), 제2 빔 스플리터(122), 제2 필터(124), 제2 렌즈(126), 제2 핀홀(162) 및 제2 광검출기(172)에 대한 설명은 각각 순서대로 본 개시의 도 10의 제2 레이저(1012), 광 전파 모듈(1020), 복수의 콜리메이터(1050), 제2 빔 스플리터(1022), 제2 필터(1024), 제2 렌즈(1026), 제2 핀홀(1062) 및 제2 광검출기(1072)에 적용될 수 있다.10 of the present disclosure includes a second laser 1012, a light propagation module 1020, a plurality of collimators 1050, a second beam splitter 1022, a second filter 1024, a second lens 1026, 2 The pinhole 1062 and the second photodetector 1072 are sequentially connected to the second laser 112 of FIG. 1, the light propagation module 120, a plurality of collimators 150, the second beam splitter 122, and the second It may correspond to the filter 124, the second lens 126, the second pinhole 162, and the second photodetector 172. Accordingly, the second laser 112, the light propagation module 120, the plurality of collimators 150, the second beam splitter 122, the second filter 124, and the second lens 126 of FIG. 1 of the present disclosure. , the description of the second pinhole 162 and the second photodetector 172 includes the second laser 1012, the light propagation module 1020, the plurality of collimators 1050, and the second laser 1012, the light propagation module 1020, the plurality of collimators 1050, and 2 It can be applied to the beam splitter 1022, the second filter 1024, the second lens 1026, the second pinhole 1062, and the second photodetector 1072.
일 실시 예에 따르면, 제2 레이저(1012)는 제1 광섬유(1031)를 통해 제1 콜리메이터(1051)에 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 광 전파 모듈(1020)은 제2 광섬유(1032)를 통해 프로브에 연결될 수 있다.According to one embodiment, the second laser 1012 may be connected to the first collimator 1051 through the first optical fiber 1031. In one embodiment, the light propagation module 1020 may be connected to the probe through the second optical fiber 1032.
일 실시 예에 따르면, 제2 레이저(1011)에서 방사된 제2 빔은 제2 빔 스플리터(1022)에 의해 반사될 수 있고, 제2 빔 스플리터(1022)에 의해 반사된 제2 빔은 제2 콜리메이터(1052) 및 제2 광섬유(1032)를 통해 프로브로 전파될 수 있다.According to one embodiment, the second beam emitted from the second laser 1011 may be reflected by the second beam splitter 1022, and the second beam reflected by the second beam splitter 1022 may be reflected by the second beam splitter 1022. It may propagate to the probe through the collimator 1052 and the second optical fiber 1032.
일 실시 예에 따르면, 프로브에서 객체(예: 도 1의 객체(190))로 제2 빔이 입사됨에 따라 제2 방출광이 형성될 수 있다. 제2 방출광은 제2 광섬유(1032)를 통해 광 전파 모듈(1020)로 전파될 수 있다. 제2 방출광은 제2 필터(1024), 제2 렌즈(1026) 및 제2 핀홀(1062)을 통과해서 제2 광검출기(1072)로 전파될 수 있다.According to one embodiment, second emission light may be formed as the second beam is incident from the probe to the object (eg, object 190 in FIG. 1). The second emission light may propagate to the light propagation module 1020 through the second optical fiber 1032. The second emission light may pass through the second filter 1024, the second lens 1026, and the second pinhole 1062 and propagate to the second photodetector 1072.
일 실시 예에 따르면, 제2 빔 스플리터(1022)는 제3 홈(223)에 배치될 수 있다.According to one embodiment, the second beam splitter 1022 may be placed in the third groove 223.
도 11은 일 실시 예에 따른 제2 레이저를 광원으로 활용하는 단파장 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 11 is a diagram illustrating a short-wavelength optical system using a second laser as a light source according to an embodiment.
도 11을 참고하면, 일 실시 예에 따른 단파장 광학 시스템(1101)(또는, 단파장 공초점 형광 현미경)은 제2 레이저(1112), 광 전파 모듈(1120), 제1 광섬유(1131), 제2 광섬유(1132), 제2 빔 스플리터(1122), 제2 필터(1124), 제2 렌즈(1126), 복수의 콜리메이터(1150), 제2 핀홀(1162), 및/또는 제2 광검출기 (1172)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 11, a short-wavelength optical system 1101 (or short-wavelength confocal fluorescence microscope) according to an embodiment includes a second laser 1112, a light propagation module 1120, a first optical fiber 1131, and a second Optical fiber 1132, second beam splitter 1122, second filter 1124, second lens 1126, plurality of collimators 1150, second pinhole 1162, and/or second photodetector 1172 ) may include.
본 개시의 도 11의 제2 레이저(1112), 광 전파 모듈(1120), 복수의 콜리메이터(1150), 제2 빔 스플리터(1122), 제2 렌즈(1126), 제2 핀홀(1162) 및 제2 광검출기(1172)는 순서대로 도 1의 제2 레이저(112), 광 전파 모듈(120), 복수의 콜리메이터(150), 제2 빔 스플리터(122), 제2 렌즈(126), 제2 핀홀(162) 및 제2 광검출기(172)에 대응할 수 있다. 따라서, 본 개시의 도 1의 제1 레이저(111), 광 전파 모듈(120), 복수의 콜리메이터(150), 제2 빔 스플리터(122), 제2 렌즈(126), 제2 핀홀(162) 및 제2 광검출기(172)에 대한 설명은 각각 순서대로 본 개시의 도 9의 제2 레이저(1112), 광 전파 모듈(1120), 복수의 콜리메이터(1150), 제2 빔 스플리터(1122), 제2 렌즈(1126), 제2 핀홀(1162) 및 제2 광검출기(1172)에 적용될 수 있다.11 of the present disclosure, the second laser 1112, the light propagation module 1120, a plurality of collimators 1150, the second beam splitter 1122, the second lens 1126, the second pinhole 1162, and the first 2 The photodetector 1172 sequentially includes the second laser 112 of FIG. 1, the light propagation module 120, a plurality of collimators 150, the second beam splitter 122, the second lens 126, and the second It may correspond to the pinhole 162 and the second photodetector 172. Therefore, the first laser 111, the light propagation module 120, the plurality of collimators 150, the second beam splitter 122, the second lens 126, and the second pinhole 162 of FIG. 1 of the present disclosure And the description of the second photodetector 172 includes the second laser 1112, light propagation module 1120, plurality of collimators 1150, second beam splitter 1122, and It can be applied to the second lens 1126, the second pinhole 1162, and the second photodetector 1172.
일 실시 예에 따르면, 제2 필터(1124)는 밴드 패스 필터일 수 있다. 따라서, 본 개시의 도 11의 제2 필터(1124)는 도 9의 제2 필터(924)에 대응할 수 있고, 도 9의 제2 필터(924)에 대한 설명은 도 11의 제2 필터(1124)에 적용될 수 있다.According to one embodiment, the second filter 1124 may be a band pass filter. Therefore, the second filter 1124 of FIG. 11 of the present disclosure may correspond to the second filter 924 of FIG. 9, and the description of the second filter 924 of FIG. 9 includes the second filter 1124 of FIG. 11. ) can be applied.
일 실시 예에 따르면, 제2 레이저(1112)는 제1 광섬유(1131)를 통해 제1 콜리메이터(1151)에 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 광 전파 모듈(1120)은 제2 광섬유(1132)를 통해 프로브에 연결될 수 있다.According to one embodiment, the second laser 1112 may be connected to the first collimator 1151 through the first optical fiber 1131. In one embodiment, the light propagation module 1120 may be connected to the probe through the second optical fiber 1132.
일 실시 예에 따르면, 제2 레이저(1112)에서 방사된 제2 빔은 제2 빔 스플리터(1122)에 의해 반사될 수 있고, 제2 빔 스플리터(1122)에 의해 반사된 제2 빔은 제2 콜리메이터(1152) 및 제2 광섬유(1132)를 통해 프로브로 전파될 수 있다.According to one embodiment, the second beam emitted from the second laser 1112 may be reflected by the second beam splitter 1122, and the second beam reflected by the second beam splitter 1122 may be reflected by the second beam splitter 1122. It may propagate to the probe through the collimator 1152 and the second optical fiber 1132.
일 실시 예에 따르면, 프로브에서 객체(예: 도 1의 객체(190))로 제2 빔이 입사됨에 따라 제2 방출광이 형성될 수 있다. 제2 방출광은 제2 광섬유(1132)를 통해 광 전파 모듈(1120)로 전파될 수 있다. 제2 방출광은 제2 필터(1124), 제2 렌즈(1126) 및 제2 핀홀(1162)을 투과해서 제2 광검출기(1172)로 전파될 수 있다.According to one embodiment, second emission light may be formed as the second beam is incident from the probe to the object (eg, object 190 in FIG. 1). The second emission light may propagate to the light propagation module 1120 through the second optical fiber 1132. The second emission light may pass through the second filter 1124, the second lens 1126, and the second pinhole 1162 and propagate to the second photodetector 1172.
도 12는 일 실시 예에 따른 복수 개의 레이저들을 광원으로 활용하는 다파장 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 12 is a diagram illustrating a multi-wavelength optical system using a plurality of lasers as a light source according to an embodiment.
도 12를 참고하면, 일 실시 예에 따른 다파장 광학 시스템(1201)(또는, 다파장 공초점 형광 현미경)은 복수의 레이저들(1210), 광 전파 모듈(1220), 복수의 광섬유들(1230), 광섬유 커플러(140), 복수의 콜리메이터(1250), 제1 핀홀(1261), 제2 핀홀(1262), 제1 광검출기(1271), 제2 광검출기(1272), 및/또는 프로브(1280)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 12, a multi-wavelength optical system 1201 (or multi-wavelength confocal fluorescence microscope) according to an embodiment includes a plurality of lasers 1210, a light propagation module 1220, and a plurality of optical fibers 1230. ), an optical fiber coupler 140, a plurality of collimators 1250, a first pinhole 1261, a second pinhole 1262, a first photodetector 1271, a second photodetector 1272, and/or a probe ( 1280).
도 12의 복수의 레이저들(1210)은 도 1의 복수의 레이저들(110)과 다른 레이저를 포함할 수 있다. 예를 들어, 도 12의 복수의 레이저들(1210)은 제1 레이저(1211) 및 제2 레이저(1212)를 포함할 수 있다. 제1 레이저(1211)는 제1 파장(예: 450nm 내지 500nm 사이에 해당하는 파장)의 빔을 방사할 수 있다. 제2 레이저(1212)는 제3 파장(예: 350nm 내지 450nm 사이에 해당하는 파장)의 빔을 방사할 수 있다. 반면에, 도 1의 복수의 레이저들(110)은 제1 파장(예: 450nm 내지 500nm 사이에 해당하는 파장)의 빔을 방사하는 제1 레이저(111) 및 제2 파장(예: 750nm 내지 800nm 사이에 해당하는 파장)의 빔을 방사하는 제2 레이저(112)를 포함할 수 있다.The plurality of lasers 1210 in FIG. 12 may include a different laser from the plurality of lasers 110 in FIG. 1 . For example, the plurality of lasers 1210 in FIG. 12 may include a first laser 1211 and a second laser 1212. The first laser 1211 may emit a beam of a first wavelength (eg, a wavelength corresponding to 450 nm to 500 nm). The second laser 1212 may emit a beam of a third wavelength (eg, a wavelength corresponding to between 350 nm and 450 nm). On the other hand, the plurality of lasers 110 in FIG. 1 include a first laser 111 that emits a beam of a first wavelength (e.g., a wavelength corresponding to 450 nm to 500 nm) and a second wavelength (e.g., 750 nm to 800 nm). It may include a second laser 112 that radiates a beam of a wavelength corresponding to the wavelength.
결과적으로, 도 12의 실시 예는 도 1의 제2 파장(예: 750nm 내지 800nm 사이에 해당하는 파장)의 빔을 방사하는 제2 레이저(112)가 제3 파장(예: 350nm 내지 450nm 사이에 해당하는 파장)의 빔을 방사하는 제2 레이저(1212)로 대체된 실시 예에 해당할 수 있다.As a result, in the embodiment of FIG. 12, the second laser 112, which emits a beam of the second wavelength (e.g., a wavelength corresponding to 750 nm to 800 nm) of FIG. 1, emits a beam of a third wavelength (e.g., a wavelength corresponding to between 350 nm and 450 nm). It may correspond to an embodiment in which the second laser 1212 emits a beam of a corresponding wavelength).
도 12의 제2 필터(1224)는 도 1의 제2 필터(1224)와 다르게 밴드 패스 필터일 수 있다. 예를 들어, 도 1의 제2 필터(1224)는 롱 패스 필터 일 수 있고, 반면에 도 12의 제2 필터(1224)는 밴드 패스 필터일 수 있다. 또한, 도 12에서 제2 필터(1224)는 하나로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이다. 예를 들어, 광 전파 모듈(1220)은 제2 필터(1224) 및 제2 필터(1224)와 평행하게 배치되는 제3 필터를 더 포함할 수 있다.Unlike the second filter 1224 of FIG. 1, the second filter 1224 of FIG. 12 may be a band pass filter. For example, the second filter 1224 in FIG. 1 may be a long pass filter, while the second filter 1224 in FIG. 12 may be a band pass filter. Additionally, in FIG. 12, the second filter 1224 is described as one, but this is only an example. For example, the light propagation module 1220 may further include a second filter 1224 and a third filter disposed in parallel with the second filter 1224.
일 실시 예에 따르면, 복수의 레이저들(1210)은 제1 레이저(1211) 및 제2 레이저(1212)를 포함할 수 있다. 복수의 레이저들(1210)은 광학 시스템(1201)에서 광원에 해당할 수 있다. 예를 들어, 복수의 레이저들(1210)은 각각 피그테일(pigtail) 레이저 다이오드(laser diode, LD)일 수 있다.According to one embodiment, the plurality of lasers 1210 may include a first laser 1211 and a second laser 1212. A plurality of lasers 1210 may correspond to light sources in the optical system 1201. For example, each of the plurality of lasers 1210 may be a pigtail laser diode (LD).
일 실시 예에 따르면, 복수의 레이저들(1210)은 광섬유 커플러(1240)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 제1 레이저(1211)는 제1 광섬유(1231)를 통해 광섬유 커플러(1240)와 연결될 수 있고, 제2 레이저(1212)는 제2 광섬유(1232)를 통해 광섬유 커플러(1240)와 연결될 수 있다.According to one embodiment, the plurality of lasers 1210 may be connected to the optical fiber coupler 1240. For example, the first laser 1211 may be connected to the optical fiber coupler 1240 through the first optical fiber 1231, and the second laser 1212 may be connected to the optical fiber coupler 1240 through the second optical fiber 1232. can be connected
일 실시 예에 따르면, 광섬유 커플러(1240)는 광 전파 모듈(1220)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 광 전파 모듈(1220)에는 제1 콜리메이터(1251)를 포함할 수 있고, 광섬유 커플러(1240)는 제3 광섬유(1233)를 통해 광 전파 모듈(1220)의 제1 콜리메이터(1251)에 연결될 수 있다. 결과적으로, 광섬유 커플러(1240)는 제3 광섬유(1233) 및 제1 콜리메이터(1251)를 통해 광 전파 모듈(1220)에 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 콜리메이터(1251)는 파이버 포트(fiber port)에 해당할 수 있다.According to one embodiment, the optical fiber coupler 1240 may be connected to the light propagation module 1220. For example, the light propagation module 1220 may include a first collimator 1251, and the optical fiber coupler 1240 may connect the first collimator 1251 of the light propagation module 1220 through the third optical fiber 1233. can be connected to As a result, the optical fiber coupler 1240 may be connected to the light propagation module 1220 through the third optical fiber 1233 and the first collimator 1251. In one embodiment, the first collimator 1251 may correspond to a fiber port.
일 실시 예에 따르면, 광 전파 모듈(1220)로 광섬유 커플러(1240)로부터 출력된 제1 빔 및 제2 빔이 전파될 수 있다. 예를 들어, 제1 레이저(1211)에서 출력된 제1 빔은 제1 광섬유(1231), 광섬유 커플러(1240), 제3 광섬유(1233) 및 제1 콜리메이터(1251)를 통해 광 전파 모듈(1220)로 전파될 수 있다. 예를 들어, 제2 레이저(1212)에서 출력된 제2 빔은 제2 광섬유(1232), 광섬유 커플러(1240), 제3 광섬유(1233) 및 제1 콜리메이터(1251)를 통해 광 전파 모듈(1220)로 전파될 수 있다.According to one embodiment, the first beam and the second beam output from the optical fiber coupler 1240 may be propagated to the light propagation module 1220. For example, the first beam output from the first laser 1211 is transmitted through the first optical fiber 1231, the optical fiber coupler 1240, the third optical fiber 1233, and the first collimator 1251 to the light propagation module 1220. ) can be spread. For example, the second beam output from the second laser 1212 is transmitted through the second optical fiber 1232, the optical fiber coupler 1240, the third optical fiber 1233, and the first collimator 1251 to the light propagation module 1220. ) can be spread.
일 실시 예에 따르면, 광 전파 모듈(1220)은 복수의 광학 부재들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 광 전파 모듈(1220)은 제1 빔 스플리터(1221), 제2 빔 스플리터(1222), 제1 필터(1223), 제2 필터(1224), 제1 렌즈(1225), 및/또는 제2 렌즈(1226)를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the light propagation module 1220 may include a plurality of optical members. For example, the light propagation module 1220 includes a first beam splitter 1221, a second beam splitter 1222, a first filter 1223, a second filter 1224, a first lens 1225, and/ Alternatively, it may include a second lens 1226.
일 실시 예에 따르면, 제1 빔 스플리터(1221)와 제1 광검출기(1271) 사이에는 제1 필터(1223)가 배치될 수 있다. 제1 필터(1223)와 제1 광검출기(1271) 사이에는 제1 렌즈(1225)가 배치될 수 있다 일 실시 예에서, 제1 렌즈(1225)와 제1 광검출기(1271) 사이에는 제1 핀홀(1261)이 배치될 수 있다.According to one embodiment, a first filter 1223 may be disposed between the first beam splitter 1221 and the first photodetector 1271. A first lens 1225 may be disposed between the first filter 1223 and the first photodetector 1271. In one embodiment, a first lens 1225 is disposed between the first lens 1225 and the first photodetector 1271. A pinhole 1261 may be disposed.
일 실시 예에 따르면, 제2 빔 스플리터(1222)와 제2 광검출기(1272) 사이에는 제2 필터(1224)가 배치될 수 있다. 제2 필터(1224)와 제2 광검출기(1272) 사이에는 제2 렌즈(1226)가 배치될 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 렌즈(1226)와 제2 광검출기(1272) 사이에는 제2 핀홀(1262)이 배치될 수 있다.According to one embodiment, a second filter 1224 may be disposed between the second beam splitter 1222 and the second photodetector 1272. A second lens 1226 may be disposed between the second filter 1224 and the second photodetector 1272. In one embodiment, a second pinhole 1262 may be disposed between the second lens 1226 and the second photodetector 1272.
일 실시 예에 따르면, 광 전파 모듈(1220)은 프로브(1280)와 연결될 수 있다. 예를 들어, 광 전파 모듈(1220)은 제2 콜리메이터(1252)를 포함할 수 있고, 제2 콜리메이터(1252)는 제4 광섬유(1234)를 통해 프로브(1280)와 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 콜리메이터(1252)는 파이버 포트(fiber port)에 해당할 수 있다.According to one embodiment, the light propagation module 1220 may be connected to the probe 1280. For example, the light propagation module 1220 may include a second collimator 1252, and the second collimator 1252 may be connected to the probe 1280 through the fourth optical fiber 1234. In one embodiment, the second collimator 1252 may correspond to a fiber port.
일 실시 예에 따르면, 제1 레이저(1211)에서 방사되는 제1 빔은 객체(1290)에 입사될 수 있다. 제1 빔이 객체(1290)에 조사됨에 따라 형성되는 제1 방출광은 제1 광검출기(1271)로 전파될 수 있다. 예를 들어, 제1 레이저(1211)에서 방사되는 제1 빔은 제2 빔 스플리터(1222)에 의해 반사될 수 있다. 제2 빔 스플리터(1222)에 반사된 제1 빔은 제1 빔 스플리터(1221)를 투과하여 제4 광섬유(1234)를 통해 프로브(1280)로 전파될 수 있다. 프로브(1280)로 전파된 제1 빔은 객체(1290)에 입사될 수 있다. According to one embodiment, the first beam emitted from the first laser 1211 may be incident on the object 1290. The first emission light formed as the first beam is irradiated to the object 1290 may propagate to the first photodetector 1271. For example, the first beam emitted from the first laser 1211 may be reflected by the second beam splitter 1222. The first beam reflected by the second beam splitter 1222 may pass through the first beam splitter 1221 and propagate to the probe 1280 through the fourth optical fiber 1234. The first beam propagated by the probe 1280 may be incident on the object 1290.
일 예시에서, 제1 빔이 객체(1290)에 조사됨에 따라 형성되는 제1 방출광은 제4 광섬유(1234)를 통해 광 전파 모듈(1220)로 전파될 수 있다. 광 전파 모듈(1220)로 전파된 제1 방출광은 제1 빔 스플리터(1221)에 반사될 수 있다. 제1 빔 스플리터(1221)에 반사된 제1 방출광은 제1 필터(1223), 제1 렌즈(1225) 및 제1 핀홀(1261)을 투과하여 제1 광검출기(1271)로 전파될 수 있다. 제1 광검출기(1271)는 전파된 제1 방출광을 증폭할 수 있다.In one example, the first emission light formed as the first beam is irradiated to the object 1290 may propagate to the light propagation module 1220 through the fourth optical fiber 1234. The first emission light propagated through the light propagation module 1220 may be reflected by the first beam splitter 1221. The first emission light reflected by the first beam splitter 1221 may pass through the first filter 1223, the first lens 1225, and the first pinhole 1261 and propagate to the first photodetector 1271. . The first photodetector 1271 may amplify the propagated first emission light.
일 실시 예에 따르면, 제1 방출광은 제1 빔이 여기(excited)되어 형성될 수 있다. 예를 들어, 제1 파장의 제1 빔이 객체(1290)에 입사함에 따라 형성되는 제1 방출광은 제1 파장(예: 350nm 내지 450nm 사이에 해당하는 파장)보다 높은 파장을 가질 수 있다.According to one embodiment, the first emission light may be formed by exciting the first beam. For example, the first emission light formed as the first beam of the first wavelength is incident on the object 1290 may have a wavelength higher than the first wavelength (eg, a wavelength corresponding to between 350 nm and 450 nm).
일 실시 예에 따르면, 제1 필터(1223)는 밴드 패스 필터에 해당할 수 있다. 제1 렌즈(1225)는 제1 렌즈(1225)에 입사되는 빔의 포커싱을 조절할 수 있다.According to one embodiment, the first filter 1223 may correspond to a band pass filter. The first lens 1225 can adjust the focusing of the beam incident on the first lens 1225.
일 실시 예에 따르면, 제2 레이저(1212)에서 방사되는 제2 빔은 객체에 입사될 수 있다. 제2 빔이 객체(1290)에 조사됨에 따라 형성되는 제2 방출광은 제2 광검출기(1272)로 전파될 수 있다. 예를 들어, 제2 레이저(1212)에서 방사되는 제2 빔은 제2 빔 스플리터(1222)에 의해 반사될 수 있다. 제2 빔 스플리터(1222)에 반사된 제2 빔은 제1 빔 스플리터(1221)를 투과하여 제4 광섬유(1243)를 통해 프로브(1280)로 전파될 수 있다. 프로브(1280)로 전파된 제2 빔은 객체에 입사될 수 있다.According to one embodiment, the second beam emitted from the second laser 1212 may be incident on an object. The second emission light formed as the second beam is irradiated to the object 1290 may propagate to the second photodetector 1272. For example, the second beam emitted from the second laser 1212 may be reflected by the second beam splitter 1222. The second beam reflected by the second beam splitter 1222 may pass through the first beam splitter 1221 and propagate to the probe 1280 through the fourth optical fiber 1243. The second beam propagated by the probe 1280 may be incident on the object.
일 예시에서, 제2 빔이 객체에 조사됨에 따라 형성되는 제2 방출광은 제4 광섬유(1234)를 통해 광 전파 모듈(1220)로 전파될 수 있다. 광 전파 모듈(1220)로 전파된 제2 방출광은 제1 빔 스플리터(1221)를 투과할 수 있다. 제1 빔 스플리터(1221)를 투과한 제2 방출광은 제2 필터(1224), 제2 렌즈(1226) 및 제2 핀홀(1262)을 투과하여 제2 광검출기(1272)로 전파될 수 있다. 제2 광검출기(1272)는 전파된 제2 방출광을 증폭할 수 있다.In one example, the second emission light formed as the second beam is irradiated to the object may propagate to the light propagation module 1220 through the fourth optical fiber 1234. The second emission light propagated through the light propagation module 1220 may pass through the first beam splitter 1221. The second emission light that has passed through the first beam splitter 1221 may pass through the second filter 1224, the second lens 1226, and the second pinhole 1262 and propagate to the second photodetector 1272. . The second photodetector 1272 may amplify the propagated second emission light.
일 실시 예에 따르면, 제2 방출광은 제2 빔이 여기(excited)되어 형성될 수 있다. 예를 들어, 제2 파장의 제2 빔이 객체(1290)에 입사함에 따라 형성되는 제2 방출광은 제2 파장보다 높은 파장을 가질 수 있다.According to one embodiment, the second emission light may be formed by exciting the second beam. For example, the second emission light formed as the second beam of the second wavelength is incident on the object 1290 may have a wavelength higher than the second wavelength.
일 실시 예에 따르면, 제2 필터(1224)는 롱 패스 필터에 해당할 수 있다. 제2 렌즈(1226)는 제2 렌즈(1226)에 입사되는 빔의 포커싱을 조절할 수 있다.According to one embodiment, the second filter 1224 may correspond to a long pass filter. The second lens 1226 may adjust the focusing of the beam incident on the second lens 1226.
일 실시 예에 따르면, 제1 광검출기(1271)는 제1 파장(예: 350nm 내지 450nm 사이에 해당하는 파장)의 제1 빔을 위한 광검출기일 수 있다. 예를 들어, 제1 광검출기(1271)는 제1 파장(예: 350nm 내지 450nm 사이에 해당하는 파장)의 제1 빔이 객체(1290)에 입사된 것에 응답하여 상기 객체로부터 방출된 제1 방출광을 수신할 수 있고, 제1 방출광을 증폭할 수 있다. According to one embodiment, the first photodetector 1271 may be a photodetector for a first beam of a first wavelength (eg, a wavelength corresponding to 350 nm to 450 nm). For example, the first photodetector 1271 may detect first emission emitted from the object 1290 in response to a first beam of a first wavelength (e.g., a wavelength corresponding to between 350 nm and 450 nm) being incident on the object 1290. Light can be received, and the first emitted light can be amplified.
일 실시 예에 따르면, 제2 광검출기(1272)는 제3 파장(예: 450nm 내지 500nm 사이에 해당하는 파장)의 제2 빔을 위한 광검출기일 수 있다. 예를 들어, 제2 광검출기(1272)는 제2 파장(예: 450nm 내지 500nm 사이에 해당하는 파장)의 제2 빔이 객체(1290)에 입사된 것에 응답하여 상기 객체로부터 방출된 제2 방출광을 수신할 수 있고, 제2 방출광을 증폭할 수 있다.According to one embodiment, the second photodetector 1272 may be a photodetector for a second beam of a third wavelength (eg, a wavelength corresponding to between 450 nm and 500 nm). For example, the second photodetector 1272 may detect a second beam of a second wavelength (e.g., a wavelength corresponding to between 450 nm and 500 nm) incident on the object 1290 to detect a second emission emitted from the object 1290. Light can be received, and the second emitted light can be amplified.
도 13은 일 실시 예에 따른 제1 빔 스플리터, 제2 빔 스플리터, 제1 필터 및 제2 필터를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 13 is a diagram for explaining a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
도 13을 참고하면, 일 실시 예에 따른 제1 빔 스플리터(1221)는 제7 파장(예: 약 450nm 내지 500nm 사이에 해당하는 파장)과 제7 파장보다 큰 제8 파장(예: 약 500nm 내지 550nm 사이에 해당하는 파장) 사이의 제5 파장대에 해당하는 빔을 투과시키지 않을 수 있다. 즉, 제1 빔 스플리터(1221)는 제7 파장과 제8 파장 사이의 제5 파장대에 해당하는 빔을 반사할 수 있다.Referring to FIG. 13, the first beam splitter 1221 according to one embodiment has a seventh wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 500 nm) and an eighth wavelength larger than the seventh wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 500 nm to 500 nm). The beam corresponding to the fifth wavelength band (wavelength corresponding to 550 nm) may not be transmitted. That is, the first beam splitter 1221 may reflect the beam corresponding to the fifth wavelength band between the seventh and eighth wavelengths.
일 실시 예에 따르면, 제2 빔 스플리터(1222)는 상기 제8 파장보다 큰 제9 파장(예: 약 450nm 내지 500nm 사이에 해당하는 파장) 이상의 제6 파장대에 해당하는 빔을 투과시킬 수 있다. 제2 빔 스플리터(1222)는 상기 제9 파장 미만의 파장을 가지는 빔을 투과시키지 않을 수 있다. 즉, 제2 빔 스플리터(1222)는 상기 제9 파장 미만의 파장을 가지는 빔을 반사시킬 수 있다. According to one embodiment, the second beam splitter 1222 may transmit a beam corresponding to a sixth wavelength band greater than the eighth wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 500 nm). The second beam splitter 1222 may not transmit a beam having a wavelength less than the ninth wavelength. That is, the second beam splitter 1222 can reflect a beam having a wavelength less than the ninth wavelength.
일 실시 예에 따르면, 제1 필터(1223)는 제10 파장(예: 약 400nm 내지 450nm 사이에 해당하는 파장) 및 제10 파장보다 큰 제11 파장(예: 약 450nm 내지 500nm 사이에 해당하는 파장) 사이의 제7 파장대에 해당하는 빔을 투과시킬 수 있다. 제1 필터(1223)는 상기 제10 파장보다 낮거나 상기 제11 파장보다 큰 파장을 가지는 빔을 차단할 수 있다. 따라서, 제1 필터(1223)는 밴드 패스 필터에 해당할 수 있다.According to one embodiment, the first filter 1223 has a 10th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 400 nm to 450 nm) and an 11th wavelength larger than the 10th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 500 nm). ) can transmit the beam corresponding to the 7th wavelength band. The first filter 1223 may block a beam having a wavelength lower than the tenth wavelength or greater than the eleventh wavelength. Accordingly, the first filter 1223 may correspond to a band pass filter.
일 실시 예에 따르면, 제2 필터(1224)는 제12 파장(예: 약 450nm 내지 530nm 사이에 해당하는 파장) 및 제12 파장보다 큰 제13 파장(예: 약 530nm 내지 600nm 사이에 해당하는 파장) 사이의 제8 파장대에 해당하는 빔을 투과시킬 수 있다. 제2 필터(1224)는 상기 제12 파장보다 낮거나 상기 제13 파장보다 큰 파장을 가지는 빔은 차단할 수 있다. 따라서, 제2 필터(1224)는 밴드 패스 필터에 해당할 수 있다.According to one embodiment, the second filter 1224 includes a 12th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 530 nm) and a 13th wavelength larger than the 12th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 530 nm to 600 nm). ) can transmit the beam corresponding to the 8th wavelength band. The second filter 1224 may block beams having a wavelength lower than the 12th wavelength or greater than the 13th wavelength. Accordingly, the second filter 1224 may correspond to a band pass filter.
도 14는 일 실시 예에 따른 제1 빔 스플리터, 제2 빔 스플리터, 제1 필터 및 제2 필터를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 14 is a diagram for explaining a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
도 14를 참고하면, 일 실시 예에 따른 다파장 광학 시스템(1401)(또는, 다파장 공초점 형광 현미경)은 복수의 레이저들(1410), 광 전파 모듈(1420), 복수의 광섬유들(1430), 광섬유 커플러(1440), 복수의 콜리메이터(1450), 제1 핀홀(1461), 제2 핀홀(1462), 제1 광검출기(1471), 및/또는 제2 광검출기(1472)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 14, a multi-wavelength optical system 1401 (or multi-wavelength confocal fluorescence microscope) according to an embodiment includes a plurality of lasers 1410, a light propagation module 1420, and a plurality of optical fibers 1430. ), an optical fiber coupler 1440, a plurality of collimators 1450, a first pinhole 1461, a second pinhole 1462, a first photodetector 1471, and/or a second photodetector 1472. You can.
일 실시 예에 따르면, 도 14의 복수의 레이저들(1410), 복수의 광섬유들(1430), 광섬유 커플러(1440), 복수의 콜리메이터(1450), 제1 핀홀(1461), 제2 핀홀(1462), 제1 광검출기(1471) 및 제2 광검출기(1472)는 각각 순서대로 도 12의 복수의 레이저들(1210), 복수의 광섬유들(1230), 광섬유 커플러(1240), 복수의 콜리메이터(1250), 제1 핀홀(1261), 제2 핀홀(1262), 제1 광검출기(1271) 및 제2 광검출기(1272)에 대응할 수 있다.According to one embodiment, a plurality of lasers 1410, a plurality of optical fibers 1430, an optical fiber coupler 1440, a plurality of collimators 1450, a first pinhole 1461, and a second pinhole 1462 of FIG. 14 ), the first photodetector 1471 and the second photodetector 1472 respectively sequentially include a plurality of lasers 1210, a plurality of optical fibers 1230, an optical fiber coupler 1240, and a plurality of collimators ( 1250), the first pinhole 1261, the second pinhole 1262, the first photodetector 1271, and the second photodetector 1272.
일 실시 예에 따르면, 광 전파 모듈(1420)은 복수의 광학 부재들을 포함할 수 있다. 복수의 광학 부재들은 제1 빔 스플리터(1421), 제2 빔 스플리터(1422), 제1 필터(1423), 제1 렌즈(1424), 제2 필터(1425), 및 제2 렌즈(1426)를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the light propagation module 1420 may include a plurality of optical members. A plurality of optical members include a first beam splitter 1421, a second beam splitter 1422, a first filter 1423, a first lens 1424, a second filter 1425, and a second lens 1426. It can be included.
일 실시 예에 따르면, 도 14의 광 전파 모듈(1420)의 복수의 광학 부재들은 도 12의 광 전파 모듈(1220)의 광학 부재들과 다르게 배치될 수 있다.According to one embodiment, the plurality of optical members of the light propagation module 1420 of FIG. 14 may be arranged differently from the optical members of the light propagation module 1220 of FIG. 12.
예를 들어, 도 14의 제1 빔 스플리터(1421)는 도 2의 제1 홈(221)에 배치될 수 있다. 반면에, 도 12의 제1 빔 스플리터(1221)는 도 2의 제2 홈(222)에 배치될 수 있다. 또한, 도 14의 제2 빔 스플리터(1422) 도 2의 제2 홈(222)에 배치될 수 있다. 반면에, 도 12의 제2 빔 스플리터(1222)는 제3 홈(223)에 배치될 수 있다.For example, the first beam splitter 1421 of FIG. 14 may be placed in the first groove 221 of FIG. 2. On the other hand, the first beam splitter 1221 of FIG. 12 may be placed in the second groove 222 of FIG. 2. Additionally, the second beam splitter 1422 of FIG. 14 may be disposed in the second groove 222 of FIG. 2. On the other hand, the second beam splitter 1222 of FIG. 12 may be placed in the third groove 223.
일 실시 예에 따르면, 광섬유 커플러(1440)에서 출력된 제1 빔은 제1 빔 스플리터(1421)에 의해 반사될 수 있다. 반사된 제1 빔은 제4 광섬유(1434)를 통해 프로브로 전파될 수 있고, 제1 빔은 프로브에서 출력되어 객체(예: 도 1의 객체(170))에 반사될 수 있다. 제1 빔이 객체에 반사됨에 따라 형성되는 제1 방출광은 프로브 및 제4 광섬유(1434)를 통해 광 전파 모듈(1420)로 전파될 수 있다. 제1 방출광은 제1 빔 스플리터(1421), 제2 빔 스플리터(1422), 제2 필터(1425), 제2 렌즈(1426) 및 제2 핀홀(1462)을 투과할 수 있다. 투과된 제1 방출광은 제2 광검출기(1472)로 전파될 수 있다.According to one embodiment, the first beam output from the optical fiber coupler 1440 may be reflected by the first beam splitter 1421. The reflected first beam may propagate to the probe through the fourth optical fiber 1434, and the first beam may be output from the probe and reflected on an object (eg, the object 170 in FIG. 1). The first emission light formed as the first beam is reflected by the object may propagate to the light propagation module 1420 through the probe and the fourth optical fiber 1434. The first emission light may pass through the first beam splitter 1421, the second beam splitter 1422, the second filter 1425, the second lens 1426, and the second pinhole 1462. The transmitted first emission light may propagate to the second photodetector 1472.
일 실시 예에 따르면, 광섬유 커플러(1440)에서 출력된 제2 빔은 제1 빔 스플리터(1421)에 의해 반사될 수 있다. 반사된 제2 빔은 제4 광섬유(1434)를 통해 프로브로 전파될 수 있고, 제2 빔은 프로브에서 출력되어 객체(예: 도 1의 객체(170))에 반사될 수 있다. 제2 빔이 객체에 반사도미에 따라 형성되는 제2 방출광은 프로브 및 제4 광섬유(1434)를 통해 광 전파 모듈(1420)로 전파될 수 있다. 제2 방출광은 제1 빔 스플리터(1421)를 투과할 수 있고, 제2 빔 스플리터(1422)에 반사될 수 있다. 반사된 제2 방출광은 제1 필터(1423), 제1 렌즈(1424), 및 제1 핀홀(1461)을 투과할 수 있고, 제1 광검출기(1471)로 전파될 수 있다.According to one embodiment, the second beam output from the optical fiber coupler 1440 may be reflected by the first beam splitter 1421. The reflected second beam may propagate to the probe through the fourth optical fiber 1434, and the second beam may be output from the probe and reflected on an object (eg, the object 170 in FIG. 1). The second emission light formed as the second beam reflects off the object may propagate to the light propagation module 1420 through the probe and the fourth optical fiber 1434. The second emission light may pass through the first beam splitter 1421 and be reflected by the second beam splitter 1422. The reflected second emission light may pass through the first filter 1423, the first lens 1424, and the first pinhole 1461, and may propagate to the first photodetector 1471.
도 15는 일 실시 예에 따른 광학 시스템 내에서 복수의 광학 부재들의 위치를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 15 is a diagram for explaining the positions of a plurality of optical members in an optical system according to an embodiment.
도 15를 참고하면, 일 실시 예에 따른 제1 콜리메이터(1451)는 광로(210)의 제4 부분(214)과 연결될 수 있다. 제2 콜리메이터(1452)는 광로(210)의 제1 부분(211)과 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 광검출기(1471)와 연결을 위한 제1 연결 포트(1553)는 제2 부분(212)과 연결될 수 있다. 제2 광검출기(1472)와 연결을 위한 제2 연결 포트(1554)는 제3 부분(213)과 연결될 수 있다.Referring to FIG. 15 , the first collimator 1451 according to one embodiment may be connected to the fourth portion 214 of the optical path 210. The second collimator 1452 may be connected to the first portion 211 of the optical path 210. In one embodiment, the first connection port 1553 for connection to the first photodetector 1471 may be connected to the second portion 212. The second connection port 1554 for connection to the second photodetector 1472 may be connected to the third portion 213.
일 실시 예에 따르면, 제1 빔 스플리터(1421)는 제1 홈(221)에 배치될 수 있고, 제2 빔 스플리터(1422)는 제2 홈(222)에 배치될 수 있다. 제1 필터(1423)는 제4 홈(224)에 배치될 수 있고, 제2 필터(1425)는 제5 홈(225)에 배치될 수 있다. According to one embodiment, the first beam splitter 1421 may be placed in the first groove 221, and the second beam splitter 1422 may be placed in the second groove 222. The first filter 1423 may be placed in the fourth groove 224, and the second filter 1425 may be placed in the fifth groove 225.
일 실시 예에 따르면, 광 전파 모듈(1420)은 제2 필터(1425) 이외에 추가로 제3 필터(1525)를 포함할 수 있다. 제3 필터(1525)는 제2 필터(1425)와 실질적으로 동일하게 밴드 패스 필터일 수 있다. 제3 필터(1525)는 제6 홈(226)에 배치될 수 있다.According to one embodiment, the light propagation module 1420 may include a third filter 1525 in addition to the second filter 1425. The third filter 1525 may be a band pass filter substantially the same as the second filter 1425. The third filter 1525 may be disposed in the sixth groove 226.
본 개시의 도 15에서 광 전파 모듈(1420)이 제2 필터(1425) 및 제3 필터(1525)를 포함하는 것으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이다. 예를 들어, 광 전파 모듈(1420)은 제2 필터(1425) 및 제3 필터(1525) 중 하나만 포함할 수 있다.In FIG. 15 of the present disclosure, the light propagation module 1420 is described as including a second filter 1425 and a third filter 1525, but this is only an example. For example, the light propagation module 1420 may include only one of the second filter 1425 and the third filter 1525.
도 16은 일 실시 예에 따른 제1 빔 스플리터, 제2 빔 스플리터, 제1 필터 및 제2 필터의 사양을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 16 is a diagram for explaining specifications of a first beam splitter, a second beam splitter, a first filter, and a second filter according to an embodiment.
도 16을 참고하면, 일 실시 예에 따른 제1 빔 스플리터(1421)는 제14 파장(예: 약 400nm 내지 450nm 사이에 해당하는 파장)과 제15 파장(예: 약 450nm 내지 500nm 사이에 해당하는 파장) 사이의 제9 파장대를 투과시킬 수 있다. 제1 빔 스플리터(1421)는 제16 파장(예: 약 500nm 내지 550nm 사이에 해당하는 파장)과 제17 파장(예: 약 550nm 내지 600nm 사이에 해당하는 파장) 사이의 제10 파장대를 투과시킬 수 있다. 제1 빔 스플리터(1421)는 제18 파장(예: 약 600nm 내지 650nm 사이에 해당하는 파장) 이상의 제11 파장대를 투과시킬 수 있다. 결과적으로, 제1 빔 스플리터(1421)는 복수의 파장대를 투과시키는 밴드 패스(band pass)의 특성을 가질 수 있다.Referring to FIG. 16, the first beam splitter 1421 according to one embodiment has a 14th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 400 nm to 450 nm) and a 15th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 500 nm). It can transmit the 9th wavelength band between wavelengths). The first beam splitter 1421 can transmit a 10th wavelength band between the 16th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 500 nm to 550 nm) and the 17th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 550 nm to 600 nm). there is. The first beam splitter 1421 may transmit an 11th wavelength band that is greater than or equal to the 18th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 600 nm to 650 nm). As a result, the first beam splitter 1421 may have band pass characteristics that transmit a plurality of wavelength bands.
일 실시 예에 따르면, 제2 빔 스플리터(1422)는 제19 파장(예: 약 450nm 내지 500nm 사이에 해당하는 파장) 이상의 제12 파장대를 투과시킬 수 있다. 결과적으로, 제2 빔 스플리터(1422)는 롱 패스(long pass)의 특성을 가질 수 있다.According to one embodiment, the second beam splitter 1422 may transmit a 12th wavelength band that is greater than or equal to the 19th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 500 nm). As a result, the second beam splitter 1422 may have long pass characteristics.
일 실시 예에 따르면, 제1 필터(1423)는 제20 파장(예: 약 400nm 내지 450nm 사이에 해당하는 파장) 이상 제21 파장(예: 약 450nm 내지 500nm 사이에 해당하는 파장) 이하의 제13 파장대를 투과시킬 수 있다. 결과적으로, 제1 필터(1423)는 밴드 패스 필터일 수 있다.According to one embodiment, the first filter 1423 is a 13th wavelength between the 20th wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 400 nm to 450 nm) and the 21st wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 500 nm) or less. Wavelengths can be transmitted. As a result, the first filter 1423 may be a band pass filter.
일 실시 예에 따르면, 제2 필터(1425)는 제22 파장(예: 약 450nm 내지 530nm 사이에 해당하는 파장) 이상 제23 파장(예: 약 530nm 내지 600nm 사이에 해당하는 파장) 이하의 제14 파장대를 투과시킬 수 있다. 결과적으로, 제2 필터(1425)는 밴드 패스 필터일 수 있다.According to one embodiment, the second filter 1425 is a 14th filter that is between the 22nd wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 450 nm to 530 nm) and the 23rd wavelength (e.g., a wavelength corresponding to about 530 nm to 600 nm) or less. Wavelengths can be transmitted. As a result, the second filter 1425 may be a band pass filter.
도 17은 일 실시 예에 따른 하나의 레이저를 포함하는 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 17 is a diagram for explaining an optical system including one laser according to an embodiment.
도 17을 참고하면, 일 실시 예에 따른 광학 시스템(또는, 공초점 형광 현미경)(1701)은 제2 레이저(1412), 광 전파 모듈(1720), 제1 콜리메이터(1451) 및/또는 제2 콜리메이터(1452)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 17, an optical system (or confocal fluorescence microscope) 1701 according to an embodiment includes a second laser 1412, a light propagation module 1720, a first collimator 1451, and/or a second May include a collimator 1452.
일 실시 예에 따르면, 제2 레이저(1412)는 제3 파장(예: 405 nm)의 빔을 방사 또는 조사할 수 있다.According to one embodiment, the second laser 1412 may emit or irradiate a beam of a third wavelength (eg, 405 nm).
일 실시 예에 따르면, 제2 레이저(1412)는 제1 광섬유(1431)를 통해 제1 콜리메이터(1451)와 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 콜리메이터(1451)는 광 전파 모듈(1720)과 연결되므로 결과적으로, 제2 레이저(1412)는 제1 광섬유(14310 및 제1 콜리메이터(1451)를 통해 광 전파 모듈(17200과 연결될 수 있다.According to one embodiment, the second laser 1412 may be connected to the first collimator 1451 through the first optical fiber 1431. In one embodiment, the first collimator 1451 is connected to the light propagation module 1720, and as a result, the second laser 1412 is connected to the light propagation module 17200 through the first optical fiber 14310 and the first collimator 1451. can be connected to
일 실시 예에 따르면, 광 전파 모듈(1720)은 제2 콜리메이터(1452)를 통해 제2 광섬유(1432)와 연결될 수 있고, 결과적으로 광 전파 모듈(1720)은 제2 광섬유(1432)를 프로브와 연결될 수 있다.According to one embodiment, the light propagation module 1720 may be connected to the second optical fiber 1432 through the second collimator 1452, and as a result, the light propagation module 1720 connects the second optical fiber 1432 with the probe. can be connected
일 실시 예에 따르면, 광 전파 모듈(1720)은 제1 빔 스플리터(1421), 제2 빔 스플리터(1422), 제1 필터(1423) 및 제1 렌즈(1424)를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the light propagation module 1720 may include a first beam splitter 1421, a second beam splitter 1422, a first filter 1423, and a first lens 1424.
일 실시 예에 따르면, 제2 레이저(1412)에서 방사된 제3 파장(예: 350nm 내지 450nm 사이에 해당하는 파장)의 빔은 제1 빔 스플리터(1421)에 반사되어 제2 콜리메이터(1452) 및 제2 광섬유(1432)로 전파될 수 있다. 전파된 빔은 객체(예: 도 1의 객체(190))에 조사될 수 있고, 방출광이 형성될 수 있다. 형성된 방출광은 프로브를 통해 제2 광섬유(1432)로 전파될 수 있다. 방출광은 제1 빔 스플리터(1421)를 투과하고 제2 빔 스플리터(1422)에 반사될 수 있다. 반사된 방출광은 제1 필터(1423) 및 제1 핀홀(1461)을 투과하여 제1 광검출기(1471)로 전파될 수 있다.According to one embodiment, the beam of the third wavelength (e.g., a wavelength corresponding to 350 nm to 450 nm) emitted from the second laser 1412 is reflected by the first beam splitter 1421 and is sent to the second collimator 1452 and It may propagate to the second optical fiber 1432. The propagated beam may be irradiated to an object (eg, the object 190 in FIG. 1), and emission light may be formed. The formed emitted light may propagate to the second optical fiber 1432 through the probe. The emitted light may pass through the first beam splitter 1421 and be reflected by the second beam splitter 1422. The reflected emitted light may pass through the first filter 1423 and the first pinhole 1461 and propagate to the first photodetector 1471.
일 실시 예에 따르면, 제2 레이저(141)에서 방사된 제3 파장(예: 350nm 내지 450nm 사이에 해당하는 파장)의 빔은 제1 빔 스플리터(1421)에 반사되지만, 방출광은 제1 빔 스플리터(1421)를 투과하는 것은 방출광은 제3 파장의 빔에 비해 상대적으로 높은 파장을 가지기 때문이다. 즉, 제3 파장의 빔이 객체에 반사됨에 따라 방출광은 여기(excited)될 수 있고, 제3 파장의 빔보다 상대적으로 높은 파장을 가질 수 있다.According to one embodiment, the beam of the third wavelength (e.g., a wavelength corresponding to 350 nm to 450 nm) emitted from the second laser 141 is reflected by the first beam splitter 1421, but the emitted light is emitted from the first beam. The reason why the emitted light passes through the splitter 1421 is because it has a relatively higher wavelength than the third wavelength beam. That is, as the beam of the third wavelength is reflected by the object, the emitted light may be excited and may have a relatively higher wavelength than the beam of the third wavelength.
일 실시 예에 따르면, 제1 빔 스플리터(1421)는 도 2의 제1 홈(221)에 배치될 수 있고, 제2 빔 스플리터(1422)는 도 2의 제2 홈(222)에 배치될 수 있다.According to one embodiment, the first beam splitter 1421 may be placed in the first groove 221 of FIG. 2, and the second beam splitter 1422 may be placed in the second groove 222 of FIG. 2. there is.
도 18은 일 실시 예에 따른 하나의 레이저를 포함하는 광학 시스템을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 18 is a diagram for explaining an optical system including one laser according to an embodiment.
도 18을 참고하면, 일 실시 예에 따른 광학 시스템(또는, 공초점 형광 현미경)(1801)은 제2 레이저(1412), 광 전파 모듈(1820), 제1 콜리메이터(1451) 및/또는 제2 콜리메이터(1452)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 18, an optical system (or confocal fluorescence microscope) 1801 according to an embodiment includes a second laser 1412, a light propagation module 1820, a first collimator 1451, and/or a second May include a collimator 1452.
일 실시 예에 따르면, 제2 레이저(1412)는 제3 파장(예: 350nm 내지 450nm 사이에 해당하는 파장)의 빔을 방사 또는 조사할 수 있다.According to one embodiment, the second laser 1412 may emit or irradiate a beam of a third wavelength (e.g., a wavelength corresponding to 350 nm to 450 nm).
일 실시 예에 따르면, 제2 레이저(1412)는 제1 광섬유(1431)를 통해 제1 콜리메이터(1451)와 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 콜리메이터(1451)는 광 전파 모듈(1720)과 연결되므로 결과적으로, 제2 레이저(1412)는 제1 광섬유(14310 및 제1 콜리메이터(1451)를 통해 광 전파 모듈(17200과 연결될 수 있다.According to one embodiment, the second laser 1412 may be connected to the first collimator 1451 through the first optical fiber 1431. In one embodiment, the first collimator 1451 is connected to the light propagation module 1720, and as a result, the second laser 1412 is connected to the light propagation module 17200 through the first optical fiber 14310 and the first collimator 1451. can be connected to
일 실시 예에 따르면, 광 전파 모듈(1720)은 제2 콜리메이터(1452)를 통해 제2 광섬유(1432)와 연결될 수 있고, 결과적으로 광 전파 모듈(1720)은 제2 광섬유(1432)를 프로브와 연결될 수 있다.According to one embodiment, the light propagation module 1720 may be connected to the second optical fiber 1432 through the second collimator 1452, and as a result, the light propagation module 1720 connects the second optical fiber 1432 with the probe. can be connected
일 실시 예에 따르면, 광 전파 모듈(1820)은 제1 빔 스플리터(1421), 제2 필터(1425) 및 제1 렌즈(1426)를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the light propagation module 1820 may include a first beam splitter 1421, a second filter 1425, and a first lens 1426.
일 실시 예에 따르면, 제2 레이저(1412)에서 방사된 제3 파장(예: 350nm 내지 450nm 사이에 해당하는 파장)의 빔은 제1 빔 스플리터(1421)에 반사되어 제2 콜리메이터(1452) 및 제2 광섬유(1432)로 전파될 수 있다. 전파된 빔은 객체(예: 도 1의 객체(190))에 조사될 수 있고, 방출광이 형성될 수 있다. 형성된 방출광은 프로브를 통해 제2 광섬유(1432)로 전파될 수 있다. 방출광은 제1 빔 스플리터(1421)를 투과할 수 있다. 반사된 방출광은 제2 필터(1425) 및 제2 핀홀(1462)을 투과하여 제1 광검출기(1471)로 전파될 수 있다.According to one embodiment, the beam of the third wavelength (e.g., a wavelength corresponding to 350 nm to 450 nm) emitted from the second laser 1412 is reflected by the first beam splitter 1421 and is sent to the second collimator 1452 and It may propagate to the second optical fiber 1432. The propagated beam may be irradiated to an object (eg, the object 190 in FIG. 1), and emission light may be formed. The formed emitted light may propagate to the second optical fiber 1432 through the probe. Emitted light may pass through the first beam splitter 1421. The reflected emitted light may pass through the second filter 1425 and the second pinhole 1462 and propagate to the first photodetector 1471.
일 실시 예에 따르면, 제2 레이저(141)에서 방사된 제3 파장(예: 350nm 내지 450nm 사이에 해당하는 파장)의 빔은 제1 빔 스플리터(1421)에 반사되지만, 방출광은 제1 빔 스플리터(1421)를 투과하는 것은 방출광은 제3 파장의 빔에 비해 상대적으로 높은 파장을 가지기 때문이다. 즉, 제3 파장의 빔이 객체에 조사됨에 따라 상기 제3 파장의 빔은 여기(excited)될 수 있고, 방출광은 제3 파장의 빔보다 상대적으로 높은 파장을 가질 수 있다. According to one embodiment, the beam of the third wavelength (e.g., a wavelength corresponding to 350 nm to 450 nm) emitted from the second laser 141 is reflected by the first beam splitter 1421, but the emitted light is emitted from the first beam. The reason why the emitted light passes through the splitter 1421 is because it has a relatively higher wavelength than the third wavelength beam. That is, as the third wavelength beam is irradiated to the object, the third wavelength beam may be excited, and the emitted light may have a relatively higher wavelength than the third wavelength beam.
도 19는 일 실시 예에 따른 광로 내 제2 빔 스플리터의 이동을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 19 is a diagram for explaining movement of a second beam splitter within an optical path according to an embodiment.
도 19를 참고하면, 일 실시 예에 따른 광로(210)의 제1 부분(211)에는 제2 빔 스플리터(1422)가 배치될 수 있다. 도 19는, 도 15의 도면을 기준으로, 제1 부분(211)의 단면을 제3 부분(213)에서 제1 부분(211)을 향해 바라본 모습이다. 광로(210)의 제1 부분(211)의 상측 가장자리에 제1 레일(1921)이 형성될 수 있고, 제1 부분(211)의 하측 가장자리에 제2 레일(1922)이 형성될 수 있다. 예를 들어, 제1 레일(1921) 및 제2 레일(1922)은 제2 빔 스플리터(1422)가 삽입될 수 있는 슬롯(slot)의 양 끝단에서 광로(210)의 길이방향에 수직인 방향을 따라 형성될 수 있다. 상기 슬롯의 양 끝단은 제2 홈(222)일 수 있다.Referring to FIG. 19, a second beam splitter 1422 may be disposed in the first portion 211 of the optical path 210 according to one embodiment. FIG. 19 is a cross-section of the first part 211 viewed from the third part 213 toward the first part 211, based on the drawing of FIG. 15. A first rail 1921 may be formed on the upper edge of the first part 211 of the optical path 210, and a second rail 1922 may be formed on the lower edge of the first part 211. For example, the first rail 1921 and the second rail 1922 are aligned in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the optical path 210 at both ends of the slot into which the second beam splitter 1422 can be inserted. It can be formed according to Both ends of the slot may be second grooves 222.
일 실시 예에 따르면, 광학 시스템(101)의 적어도 하나의 프로세서는 제2 빔 스플리터를 광로(210) 내 제1 부분(211)에 위치시키거나, 제2 빔 스플리터를 이동시켜 제2 빔 스플리터가 광로(210) 외의 공간(1910)으로 이동하도록 제어할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서는 도 17의 실시 예와 같이 제2 빔 스플리터(1422)가 활용되어야하는 경우에 제1 레일(1921) 및 제2 레일(1922)을 제어하여 제2 빔 스플리터(1422)가 제1 부분(211)에 위치하도록 제어할 수 있다. 또 다른 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서는 도 18의 실시 예와 같이 제2 빔 스플리터(1422)가 활용되지 않는 경우에 제1 레일(1921) 및 제2 레일(1922)을 제어하여 제2 빔 스플리터(1422)를 공간(1910)으로 이동시킬 수 있다.According to one embodiment, at least one processor of the optical system 101 positions the second beam splitter in the first portion 211 within the optical path 210 or moves the second beam splitter so that the second beam splitter is It can be controlled to move to a space 1910 other than the optical path 210. For example, at least one processor controls the first rail 1921 and the second rail 1922 when the second beam splitter 1422 is to be utilized as in the embodiment of FIG. 17 to create a second beam splitter ( 1422) can be controlled to be located in the first part 211. For another example, when the second beam splitter 1422 is not utilized as in the embodiment of FIG. 18, at least one processor controls the first rail 1921 and the second rail 1922 to split the second beam. Splitter 1422 can be moved to space 1910.
결과적으로, 적어도 하나의 프로세서는 지정된 조건에 따라 제1 위치(예: 광로(210)의 제1 부분(211) 내)에 위치하는 제2 빔 스플리터(1422)를 제2 위치(예: 공간(1910))으로 이동시키거나, 제2 위치에 위치하는 제2 빔 스플리터(1422)를 제1 위치로 이동시킬 수 있다.As a result, the at least one processor redirects the second beam splitter 1422 located at the first location (e.g., within the first portion 211 of the optical path 210) to a second location (e.g., in space) according to specified conditions. 1910), or the second beam splitter 1422 located in the second position can be moved to the first position.
일 실시 예에 따르면, 제2 빔 스플리터(1422)가 광로(210)의 제1 부분(211) 밖으로 이동하여 공간(1910)에 위치하는 경우에는 광 전파 모듈(예: 광 전파 모듈(1820))의 광로(210)를 통과하는 빔들 또는 방출광들이 제2 빔 스플리터(1422)를 투과하지 않을 수 있다.According to one embodiment, when the second beam splitter 1422 moves out of the first part 211 of the optical path 210 and is located in the space 1910, the light propagation module (e.g., the light propagation module 1820) Beams or emitted light passing through the optical path 210 may not pass through the second beam splitter 1422.
일 실시 예에 따르면, 광학 시스템(101)은 제2 빔 스플리터(1422)의 위치를 제어함으로써 광 전파 모듈(예: 광 전파 모듈(1420))의 호환성을 증대시킬 수 있다. 예를 들어, 도 15에 도시된 광 전파 모듈(1420)에 제1 홈(221), 제2 홈(222) 및 제3 홈(223)에 각각 빔 스플리터들이 배치될 수 있다. 일 예시에서, 적어도 하나의 프로세서는 미리 결정된 조건을 만족하는 경우 빔 스플리터들 중 일부는 광로(210) 내로 이동시키고 일부는 광로(210) 밖으로 이동시킬 수 있다. According to one embodiment, the optical system 101 may increase compatibility of the light propagation module (eg, the light propagation module 1420) by controlling the position of the second beam splitter 1422. For example, beam splitters may be disposed in the first groove 221, the second groove 222, and the third groove 223 in the light propagation module 1420 shown in FIG. 15, respectively. In one example, at least one processor may move some of the beam splitters into the optical path 210 and some of the beam splitters out of the optical path 210 when a predetermined condition is satisfied.
결과적으로, 광 전파 모듈(1420)은 다파장을 이용하는 광 전파 모듈과 단파장을 이용하는 광 전파 모듈로서의 기능을 모두 수행할 수 있다.As a result, the light propagation module 1420 can perform both the functions of a light propagation module using multiple wavelengths and a light propagation module using a short wavelength.
일 실시 예에 따르면, 광학 시스템(101)은 디스플레이를 더 포함할 수 있고, 적어도 하나의 프로세서는 디스플레이에 광 전파 모듈(1420)의 홈들에 배치된 빔 스플리터들의 상태를 표시할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서는 제1 홈(221)의 제1 빔 스플리터(121)가 제1 부분(221)에 배치되지 않은 상태(예: out 상태)임을 표시할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서는 제2 홈(222)의 제2 빔 스플리터(122)가 제1 부분(221)에 배치된 상태(예: in 상태)임을 표시할 수 있다. 결과적으로, 적어도 하나의 프로세서는 광 전파 모듈(1420)에 배치된 빔 스플리터들의 상태를 표시함으로써 사용자에게 현재 광 전파 모듈(1420)이 다파장 모듈로 활용되고 있는지 단파장 모듈로 활용되고 있는지 알려줄(notify)수 있다. 광학 부재(예: 빔 스플리터)의 상태가 디스플레이에 표시될 수 있다는 설명은 필터들(예: 제1 필터, 제2 필터)에도 동일하게 적용될 수 있음을 통상의 기술자에게 자명하다.According to one embodiment, the optical system 101 may further include a display, and at least one processor may display the status of beam splitters disposed in the grooves of the light propagation module 1420 on the display. For example, at least one processor may display that the first beam splitter 121 of the first groove 221 is not disposed in the first portion 221 (eg, is in an out state). At least one processor may display that the second beam splitter 122 of the second groove 222 is disposed in the first portion 221 (eg, in state). As a result, at least one processor notifies the user whether the light propagation module 1420 is currently being used as a multi-wavelength module or a short-wavelength module by displaying the status of the beam splitters disposed in the light propagation module 1420. ) can. It is obvious to those skilled in the art that the explanation that the state of an optical member (eg, beam splitter) can be displayed on the display can equally be applied to filters (eg, first filter, second filter).
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서는 디스플레이에 표시된 광학 부재들의 상태를 외부 장치(예: 사용자의 단말)로 전송할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서는 광학 부재들의 상태를 외부 장치로 전송함으로써 광학 시스템(101)과 원거리에 위치한 사용자가 광학 부재들의 상태를 식별할 수 있도록 만들 수 있다.According to one embodiment, at least one processor may transmit the status of optical members displayed on the display to an external device (eg, a user's terminal). For example, at least one processor may transmit the status of the optical members to an external device so that a user located at a distance from the optical system 101 can identify the status of the optical members.
본 개시의 도 19에서는 빔 스플리터들이 광로(210)의 레일에 고정되는 것으로 설명하였으나 이는 일 예시일 뿐이다. 예를 들어, 본원의 도 1 내지 도 18의 실시 예에서 빔 스플리터들은 홈(예: 제1 홈(221))에 고정된 채로 움직이지 않을 수 있다.In FIG. 19 of the present disclosure, it is explained that the beam splitters are fixed to the rail of the optical path 210, but this is only an example. For example, in the embodiments of FIGS. 1 to 18 of the present application, the beam splitters may be fixed to the groove (eg, the first groove 221) and not move.
본 개시의 도 19에서는 제2 빔 스플리터(1422)를 기준으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이고, 다른 빔 스플리터에도 실질적으로 도 19에서 설명된 내용이 적용될 수 있다. 예를 들어, 도 19에서 설명되고 있는 내용은 제1 빔 스플리터(1421)에도 동일하게 적용될 수 있다.In FIG. 19 of the present disclosure, the description is based on the second beam splitter 1422, but this is only an example, and the content described in FIG. 19 may be substantially applied to other beam splitters. For example, the content described in FIG. 19 may be equally applied to the first beam splitter 1421.
본 개시의 도 19에서는 제2 빔 스플리터(1422)를 기준으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이고, 필터들에도 실질적으로 도 19에서 설명된 내용이 적용될 수 있다. 예를 들어, 도 19에서 설명되고 있는 내용은 제1 필터(1423), 제2 필터(1425), 및 제3 필터(1525)에도 동일하게 적용될 수 있다.In FIG. 19 of the present disclosure, the description is based on the second beam splitter 1422, but this is only an example, and the content described in FIG. 19 may also be substantially applied to filters. For example, the content described in FIG. 19 may be equally applied to the first filter 1423, the second filter 1425, and the third filter 1525.
본 개시에서는 제2 빔 스플리터(1422)의 이동이 광 전파 모듈(120) 또는 광학 시스템(101) 내의 적어도 하나의 프로세서에 위해서 수행되는 것으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이다. 제2 빔 스플리터(1422)는 광 전파 모듈(120) 또는 광학 시스템(101)에 대한 사용자 입력에 따라 이동될 수 있다.In the present disclosure, it has been described that the movement of the second beam splitter 1422 is performed for the light propagation module 120 or at least one processor in the optical system 101, but this is only an example. The second beam splitter 1422 may be moved according to user input to the light propagation module 120 or the optical system 101.
본 개시의 일 실시 예에 따른 공초점 형광 현미경(confocal fluorescence microscope)에 탑재되어 제1 파장의 제1 빔을 출력하는 제1 레이저와 제2 파장의 제2 빔을 출력하는 제2 레이저를 객체(object)에 조사(irradiate)하고, 상기 객체로부터 방출된 방출광을 획득하고, 상기 획득된 방출광을 처리하는 광학 시스템은 제1 광섬유에 결합되는 상기 제1 레이저와 제2 광섬유에 결합되는 상기 제2 레이저를 포함할 수 있다. 광학 시스템은 상기 제1 광섬유를 통해 전파되는 상기 제1 빔과 상기 제2 광섬유를 통해 전파되는 상기 제2 빔이 제3 광섬유를 통해 동시에 전파되도록, 상기 제1 광섬유 및 상기 제2 광섬유를 제3 광섬유로 결합하는 광섬유 커플러 및 상기 광섬유 커플러로부터 출력된 상기 제1 빔 및 상기 제2 빔이 전파되는 광 전파 모듈을 포함할 수 있다. 광 전파 모듈은 상기 제1 빔, 상기 제2 빔, 및 상기 방출광이 전파되는 광로(optical path), 복수의 광학 부재들, 상기 제3 광섬유와 결합되는 제1 콜리메이터(collimator) 및 제1 빔 및 상기 제2 빔을 상기 객체로 조사하기 위한 프로브와 결합된, 제4 광섬유와 결합되는 제2 콜리메이터를 포함할 수 있다.The object ( An optical system for irradiating an object, acquiring emission light emitted from the object, and processing the obtained emission light includes the first laser coupled to a first optical fiber and the laser coupled to a second optical fiber. 2 May include lasers. The optical system connects the first optical fiber and the second optical fiber to a third optical fiber such that the first beam propagating through the first optical fiber and the second beam propagating through the second optical fiber simultaneously propagate through the third optical fiber. It may include an optical fiber coupler coupled to an optical fiber, and an optical propagation module through which the first beam and the second beam output from the optical fiber coupler propagate. The light propagation module includes an optical path through which the first beam, the second beam, and the emitted light propagate, a plurality of optical members, a first collimator and a first beam coupled to the third optical fiber. And it may include a second collimator coupled to the fourth optical fiber and coupled to a probe for irradiating the second beam to the object.
일 실시 예에 따르면, 상기 광 전파 모듈의 상기 복수의 광학 부재들은 상기 제1 파장과 상기 제1 파장보다 큰 제2 파장 사이의 파장대에 해당하는 파장을 가지는 빔을 투과시키지 않는 제1 빔 스플리터, 및 상기 제2 파장보다 큰 제3 파장 이하의 파장대에 해당하는 파장을 가지는 빔을 투과시키지 않는 제2 빔 스플리터를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the plurality of optical members of the light propagation module are a first beam splitter that does not transmit a beam having a wavelength corresponding to a wavelength band between the first wavelength and a second wavelength greater than the first wavelength, And it may include a second beam splitter that does not transmit a beam having a wavelength corresponding to a wavelength band below a third wavelength that is greater than the second wavelength.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 빔 스플리터에 투과되지 않은 빔은 상기 제1 빔 스플리터에 반사될 수 있다. 상기 제2 빔 스플리터에 투과되지 않은 빔은 상기 제2 빔 스플리터에 반사될 수 있다.According to one embodiment, a beam that is not transmitted through the first beam splitter may be reflected by the first beam splitter. A beam that is not transmitted through the second beam splitter may be reflected by the second beam splitter.
일 실시 예에 따르면, 상기 광 전파 모듈의 상기 복수의 광학 부재들은 제4 파장과 상기 제4 파장보다 큰 제5 파장 사이의 파장대에 해당하는 파장을 가지는 빔만 투과하는 제1 필터 및 상기 제5 파장보다 큰 제6 파장 이상의 파장대에 해당하는 파장을 가지는 빔을 투과시키는 제2 필터를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the plurality of optical members of the light propagation module include a first filter that transmits only a beam having a wavelength corresponding to a wavelength band between a fourth wavelength and a fifth wavelength that is greater than the fourth wavelength, and the fifth wavelength. It may include a second filter that transmits a beam having a wavelength corresponding to a wavelength band greater than or equal to the sixth wavelength.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 빔이 상기 객체에 조사된 것에 응답하여 상기 객체로부터 방출된 제1 방출광은 상기 제4 파장과 상기 제5 파장 사이의 상기 파장대에 해당하는 파장을 가질 수 있다. 상기 제2 빔이 상기 객체에 조사된 것에 응답하여 상기 객체로부터 방출된 제2 방출광은 상기 제6 파장 이상의 파장대에 해당하는 파장을 가질 수 있다.According to one embodiment, the first emission light emitted from the object in response to the first beam being irradiated to the object may have a wavelength corresponding to the wavelength range between the fourth wavelength and the fifth wavelength. . The second emission light emitted from the object in response to the second beam being irradiated to the object may have a wavelength corresponding to a wavelength range of the sixth wavelength or higher.
일 실시 예에 따르면, 상기 광 전파 모듈은 제1 광검출기(photo multiplier tube) 및 제2 광검출기를 더 포함할 수 있다. 상기 광 전파 모듈의 상기 광로는 상기 제1 콜리메이터와 상기 제2 콜리메이터를 연결하는 제1 부분, 상기 제1 부분으로부터 연장되어 상기 제1 광검출기와 연결되는 제2 부분 및 상기 제1 부분으로부터 연장되어 상기 제2 광검출기와 연결되는 제3 부분을 포함할 수 있다.According to one embodiment, the light propagation module may further include a first photo detector (photo multiplier tube) and a second photo detector. The optical path of the light propagation module includes a first part connecting the first collimator and the second collimator, a second part extending from the first part and connected to the first photodetector, and extending from the first part. It may include a third part connected to the second photodetector.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 빔이 상기 객체에 입사된 것에 응답하여 상기 객체로부터 방출된 제1 방출광은 상기 제1 광검출기로 전파될 수 있다. 상기 제2 빔이 상기 객체에 입사된 것에 응답하여 상기 객체로부터 방출된 제2 방출광은 상기 제2 광검출기로 전파될 수 있다.According to one embodiment, the first emission light emitted from the object in response to the first beam being incident on the object may propagate to the first photodetector. Second emission light emitted from the object in response to the second beam being incident on the object may propagate to the second photodetector.
일 실시 예에 따르면, 상기 광 전파 모듈은 상기 제1 콜리메이터가 결합될 수 있는(capable of being coupled) 제1 연결 부분 및 제3 콜리메이터가 결합될 수 있는 제5 연결 부분을 포함할 수 있다. 상기 광 전파 모듈의 상기 광로는 상기 제1 부분과 상기 제5 연결 부분을 연결하는 제4 부분을 포함하고, 상기 제1 레이저와 상기 제2 레이저의 광학 특성에 기반하여 결정된 상기 제1 연결 부분 또는 상기 제5 연결 부분 중 하나의 연결 부분에, 상기 하나의 연결 부분과 대응되는 콜리메이터가 결합될 수 있다. According to one embodiment, the light propagation module may include a first connection portion capable of being coupled to the first collimator and a fifth connection portion capable of being coupled to the third collimator. The optical path of the light propagation module includes a fourth part connecting the first part and the fifth connection part, and the first connection part is determined based on optical characteristics of the first laser and the second laser, or A collimator corresponding to the one connection part may be coupled to one of the fifth connection parts.
일 실시 예에 따르면, 상기 복수의 광학 부재들은 제1 빔 스플리터 및 제2 빔 스플리터를 포함할 수 있다. 상기 광로의 상기 제1 부분에는 상기 제1 빔 스플리터를 수용하기 위한 제1 홈이 형성될 수 있고, 상기 제2 빔 스플리터를 수용하기 위한 제2 홈이 형성될 수 있다.According to one embodiment, the plurality of optical members may include a first beam splitter and a second beam splitter. A first groove may be formed in the first portion of the optical path to accommodate the first beam splitter, and a second groove may be formed to accommodate the second beam splitter.
일 실시 예에 따르면, 상기 제2 홈에는 제1 레일(rail)이 배치될 수 있고, 상기 제2 빔 스플리터는 상기 제1 레일 상에 고정될 수 있다. 상기 제2 빔 스플리터가 상기 제1 레일 상의 제1 위치에 있는 경우 상기 제1 빔 및 상기 제2 빔은 상기 제2 빔 스플리터로 입사(incident)될 수 있고, 상기 제2 빔 스플리터가 상기 제1 레일을 따라 상기 제1 위치에서 지정된 거리만큼 이동하는 경우 상기 제1 빔 및 상기 제2 빔은 상기 제2 빔 스플리터로 입사되지 않을 수 있다.According to one embodiment, a first rail may be disposed in the second groove, and the second beam splitter may be fixed on the first rail. When the second beam splitter is in the first position on the first rail, the first beam and the second beam may be incident on the second beam splitter, and the second beam splitter may be incident on the first beam splitter. When moving a specified distance from the first position along the rail, the first beam and the second beam may not be incident on the second beam splitter.
일 실시 예에 따르면, 상기 제2 빔 스플리터의 상기 제1 레일 상에서의 위치는 상기 광 전파 모듈에 포함되는 적어도 하나의 프로세서에 의해 제어되거나 사용자 입력에 따라 제어될 수 있다.According to one embodiment, the position of the second beam splitter on the first rail may be controlled by at least one processor included in the light propagation module or may be controlled according to user input.
일 실시 예에 따르면, 상기 광 전파 모듈은 제1 빔 스플리터, 제1 필터, 입사되는 빔의 포커싱을 조절하는 제1 렌즈, 제1 핀홀(pin hole) 및 제1 광검출기(photo multiplier tube)를 포함할 수 있다. 상기 제1 빔 스플리터와 상기 제1 광검출기 사이에는 상기 제1 필터가 배치될 수 있다. 상기 제1 필터와 상기 제1 광검출기 사이에는 상기 제1 렌즈가 배치될 수 있다. 상기 제1 렌즈와 상기 제1 광검출기 사이에는 상기 제1 렌즈에서 출력된 빔을 통과시키는 상기 제1 핀홀이 배치될 수 있다.According to one embodiment, the light propagation module includes a first beam splitter, a first filter, a first lens for controlling the focusing of the incident beam, a first pin hole, and a first photo detector (photo multiplier tube). It can be included. The first filter may be disposed between the first beam splitter and the first photodetector. The first lens may be disposed between the first filter and the first photodetector. The first pinhole may be disposed between the first lens and the first photodetector through which the beam output from the first lens passes.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 빔이 상기 객체에 입사된 것에 응답하여 상기 객체로부터 방출된 제1 방출광의 중심 파장이 상기 제1 빔의 상기 제1 파장보다 높은 파장을 가질 수 있다. 상기 제2 빔이 상기 객체에 입사된 것에 응답하여 상기 객체로부터 방출된 제2 방출광의 중심 파장이 상기 제2 빔의 상기 제2 파장보다 높은 파장을 가질 수 있다.According to one embodiment, the central wavelength of the first emission light emitted from the object in response to the first beam being incident on the object may have a higher wavelength than the first wavelength of the first beam. A central wavelength of second emission light emitted from the object in response to the second beam being incident on the object may have a higher wavelength than the second wavelength of the second beam.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 빔의 상기 제1 파장은 450nm 내지 500nm 사이에 해당하는 파장일 수 있고, 상기 제2 빔의 상기 제2 파장은 750nm 내지 800nm 사이에 해당하는 파장일 수 있다.According to one embodiment, the first wavelength of the first beam may be a wavelength corresponding to between 450 nm and 500 nm, and the second wavelength of the second beam may be a wavelength corresponding to between 750 nm and 800 nm.
본 개시의 일 실시 예에 따른 공초점 형광 현미경(confocal fluorescence microscope)에 탑재되어 제1 파장의 제1 빔을 객체(object)에 조사하고, 상기 객체로부터 방출된 방출광을 획득하고, 상기 획득된 방출광을 처리하는 광학 시스템은 제1 광섬유에 결합되는 제1 레이저 및 상기 제1 레이저로부터 출력된 상기 제1 빔이 전파되는 광 전파 모듈을 포함할 수 있다. 상기 광 전파 모듈은 상기 제1 빔 및 상기 방출광이 상기 객체에 전파되는 광로(optical path), 복수의 광학 부재들, 상기 제1 광섬유와 결합되는 제1 콜리메이터(collimator) 및 상기 광 전파 모듈을 통해 전파되는 상기 제1 빔을 상기 객체로 조사하기 위한 프로브와 결합된, 제2 광섬유와 결합되는 제2 콜리메이터를 포함할 수 있다.It is mounted on a confocal fluorescence microscope according to an embodiment of the present disclosure to irradiate a first beam of a first wavelength to an object, acquire emission light emitted from the object, and obtain the obtained An optical system that processes emitted light may include a first laser coupled to a first optical fiber and a light propagation module through which the first beam output from the first laser propagates. The light propagation module includes an optical path through which the first beam and the emitted light propagate to the object, a plurality of optical members, a first collimator coupled to the first optical fiber, and the light propagation module. It may include a second collimator coupled to a second optical fiber and coupled to a probe for irradiating the first beam propagating through the object to the object.
도 20은 일 실시 예에 따른 프로브를 수용하는 프로브 커버를 설명하기 위한 도면이다.Figure 20 is a diagram for explaining a probe cover accommodating a probe according to one embodiment.
도 20을 참고하면, 일 실시 예에 따르면, 광학 시스템(또는, 공초점 내시현미경)(2000)은 프로브 커버(2001) 및 프로브(2002)를 포함할 수 있다. 프로브 커버(2001)는 프로브(2002)를 수용(accommodate)하거나 감싸거나(cover), 둘러쌀(surround) 수 있다.Referring to FIG. 20, according to one embodiment, the optical system (or confocal endoscopic microscope) 2000 may include a probe cover 2001 and a probe 2002. The probe cover 2001 may accommodate, cover, or surround the probe 2002.
일 실시 예에 따르면, 프로브(2002)는 프로브 바디(body)(2011), 광섬유(2012), 벤딩부(bending portion)(2013), 프로브 너트(2014) 및/또는 프로브 튜브(2015)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 광섬유(2012)는 프로브 바디(2011)의 일 단에 연결될 수 있다. 프로브 바디(2011)는 광학 시스템(또는, 공초점 내시현미경)(2000)의 사용자가 파지(grip)하는 부분으로 참조될 수 있다. 프로브 너트(2014)는 벤딩부(2013)와 프로브 튜브(2015)를 연결하는 구성(component)으로 참조될 수 있다. 프로브 튜브(2015)의 적어도 일부는 신체 내로 인입될 수 있다.According to one embodiment, the probe 2002 includes a probe body 2011, an optical fiber 2012, a bending portion 2013, a probe nut 2014, and/or a probe tube 2015. can do. In one embodiment, the optical fiber 2012 may be connected to one end of the probe body 2011. The probe body 2011 may be referred to as a part of the optical system (or confocal endoscopic microscope) 2000 that the user grips. The probe nut 2014 may be referred to as a component connecting the bending portion 2013 and the probe tube 2015. At least a portion of the probe tube 2015 may be introduced into the body.
일 실시 예에 따르면, 프로브 커버(2001)는 커버 튜브(2020), 커버 팁(2023), 커버 너트(2030) 및/또는 드레이프(drape)(2040)를 포함할 수 있다. 드레이프(2040)는 프로브 바디(2011) 및 광섬유(2012)를 감싸 외부 물질로부터 보호하는 비닐로 참조될 수 있다. 드레이프(2040)는 폴리에틸렌(polyethylene, PE)으로 형성될 수 있다. 일 실시 예에서, 커버 튜브(2020)는 제1 부분(2021) 및/또는 제2 부분(2022)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 커버 튜브(2020)는 프로브 튜브(2015)를 수용하는 제1 부분(2021), 및 프로브 튜브(2015)의 근위단에 위치하는 프로브 너트(2014)를 수용하는 제2 부분(2022)을 포함할 수 있다.According to one embodiment, the probe cover 2001 may include a cover tube 2020, a cover tip 2023, a cover nut 2030, and/or a drape 2040. The drape 2040 may be referred to as vinyl that covers the probe body 2011 and the optical fiber 2012 and protects them from external substances. Drape 2040 may be formed of polyethylene (PE). In one embodiment, the cover tube 2020 may include a first part 2021 and/or a second part 2022. For example, the cover tube 2020 includes a first part 2021 that receives the probe tube 2015, and a second part 2022 that receives the probe nut 2014 located at the proximal end of the probe tube 2015. ) may include.
일 예시에서, 근위단(proximal end)은 광학 시스템(2000)의 사용자를 기준으로 상대적으로 인접한 일 단(end)으로 참조될 수 있다. 따라서, 프로브 튜브(2015)의 근위단은 실질적으로 프로브 튜브(2015)의 단들(ends) 중 상대적으로 프로브 바디(2011)와 인접한 단으로 참조될 수 있다. 따라서, 본 개시에서 근위단이라는 용어는 사용자 또는 사용자가 파지하는 프로브 바디(2011)와 인접한 일 단이라는 용어로 대체될 수 있음은 자명하다.In one example, the proximal end may be referred to as an end that is relatively adjacent to the user of the optical system 2000. Accordingly, the proximal end of the probe tube 2015 may be referred to as an end relatively adjacent to the probe body 2011 among the ends of the probe tube 2015. Therefore, it is obvious that in the present disclosure, the term proximal end can be replaced with the term proximal end adjacent to the user or the probe body 2011 held by the user.
일 실시 예에 따르면, 커버 팁(2023)은 광학 창(optical window) 및/또는 탄성 부재(elastic member)를 포함할 수 있다. 커버 팁(2023)의 구성은 이하 도 22에서 자세히 상술한다.According to one embodiment, the cover tip 2023 may include an optical window and/or an elastic member. The configuration of the cover tip 2023 is described in detail in FIG. 22 below.
일 실시 예에 따르면, 커버 너트(2030)는 커버 튜브(2020)의 제2 부분(2022)에 결합(coupled) 또는 체결(engaged)될 수 있다. 예를 들어, 커버 튜브(2020)의 제2 부분(2022)에 돌출부가 형성될 수 있고, 커버 너트(2030)는 제2 부분(2022)에 결합 또는 체결될 수 있다. 커버 튜브(2020)와 커버 너트(2030)의 결합 구조는 이하 도 2에서 자세히 서술된다.According to one embodiment, the cover nut 2030 may be coupled or engaged with the second portion 2022 of the cover tube 2020. For example, a protrusion may be formed on the second part 2022 of the cover tube 2020, and the cover nut 2030 may be coupled or fastened to the second part 2022. The coupling structure of the cover tube 2020 and the cover nut 2030 is described in detail in FIG. 2 below.
일 실시 예에 따르면, 드레이프(2040)(또는, 커버 드레이프)는 커버 너트(2030)의 외면 전체에 걸쳐 융착되어 결합될 수 있다. 상기 융착은 열, 초음파, 또는 접착제 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예를 들어, 커버 너트(2030)는 커버 튜브(2020)의 제2 부분(2022)에 결합 또는 체결될 수 있다. 체결된 커버 너트(2030)는 드레이프(2040)와 열융착 공정을 통해 결합될 수 있다. 커버 너트(2030)와 드레이프의 결합 구조는 이하 도 9에서 자세히 서술된다.According to one embodiment, the drape 2040 (or cover drape) may be fused and joined to the entire outer surface of the cover nut 2030. The fusion may include at least one of heat, ultrasound, or adhesive. For example, the cover nut 2030 may be coupled or fastened to the second portion 2022 of the cover tube 2020. The fastened cover nut 2030 may be combined with the drape 2040 through a heat fusion process. The coupling structure of the cover nut 2030 and the drape is described in detail in FIG. 9 below.
일 실시 예에 따르면, 프로브 커버(2001)는 커버 튜브(2020), 커버 너트(2030) 및 드레이프(2040) 중 적어도 하나의 부착된 표지(marker)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 표지는 프로브 커버(2001)를 인증 또는 식별하기 위한 식별 표지에 해당할 수 있다. 예를 들어, 표지는 NFC(near-field communication) 태그(tag) 또는 바코드 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the probe cover 2001 may include a marker attached to at least one of a cover tube 2020, a cover nut 2030, and a drape 2040. In one embodiment, the mark may correspond to an identification mark for authenticating or identifying the probe cover 2001. For example, the label may include at least one of a near-field communication (NFC) tag or a barcode.
일 실시 예에 따르면, 프로브 커버(2001)에 수용된 프로브(2002)는 식별 표지를 통해 프로브 커버(2001)가 인증된 경우에만 동작하도록 설정될 수 있다. 예를 들어, 프로브(2002)는 식별 표지를 통해 프로브 커버(2001)가 정품으로 인증된 경우에만 동작하도록 설정될 수 있다. 예를 들어, 사용자는 외부 장치(예: user equipment)를 이용해 드레이프(2040)에 부착된 식별 표지를 인식할 수 있고, 인식된 식별 표지에 대한 정보를 프로브(2002)로 전송할 수 있다. 프로브(2002)는 인식된 식별 표지에 대한 정보에 기반하여 식별 표지가 부착된 프로브 커버(2001)가 정품인지 식별(identify), 결정(determine), 또는 확인(check)할 수 있다.According to one embodiment, the probe 2002 accommodated in the probe cover 2001 may be set to operate only when the probe cover 2001 is authenticated through an identification mark. For example, the probe 2002 may be set to operate only when the probe cover 2001 is certified as genuine through an identification mark. For example, a user can recognize an identification mark attached to the drape 2040 using an external device (eg, user equipment) and transmit information about the recognized identification mark to the probe 2002. The probe 2002 may identify, determine, or check whether the probe cover 2001 to which the identification mark is attached is genuine based on information about the recognized identification mark.
일 실시 예에 따르면, 인식된 식별 표지에 대한 정보에 기반하여 식별 표지가 부착된 프로브 커버(2001)가 정품인지 식별하는 동작은 프로브(2002)의 적어도 프로세서가 수행할 수도 있지만 외부 장치(예: user equipment)가 수행할 수도 있다.According to one embodiment, the operation of identifying whether the probe cover 2001 to which the identification mark is attached is genuine based on information about the recognized identification mark may be performed by at least a processor of the probe 2002, but may be performed by an external device (e.g., It can also be performed by user equipment.
일 실시 예에 따르면, 부착된 식별 표지가 정품이 아닌 경우 또는 부착된 식별 표지가 프로브(2002) 또는 외부 서버의 메모리에 저장된 식별 표지와 일치하지 않는 경우, 프로브(2002)의 적어도 하나의 프로세서 또는 외부 장치(예: user equipment)는 식별 표지가 부착된 객체(예: 드레이프(2040))가 정품이 아님을 사용자에게 알릴 수 있다. 사용자에게 알리는 수단은 다양할 수 있다. 예를 들어, 외부 장치(예: user equipment)로 메시지를 송신하거나 프로브(2002)의 디스플레이에 메시지를 표시할 수 있다.According to one embodiment, if the attached identification mark is not genuine or the attached identification mark does not match the identification mark stored in the memory of the probe 2002 or an external server, at least one processor of the probe 2002 or An external device (e.g., user equipment) may notify the user that an object (e.g., drape 2040) to which an identification mark is attached is not genuine. The means of notifying the user may vary. For example, a message can be transmitted to an external device (eg, user equipment) or a message can be displayed on the display of the probe 2002.
일 실시 예에 따르면, 커버 튜브(2020)는 제1 길이(L1)를 가질 수 있다. 커버 튜브(2020)의 제1 부분(2021)은 제2 길이(L2)를 가질 수 있고, 제2 부분(2022)은 제3 길이(L3)를 가질 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 길이(L2)는 제3 길이(L3)에 비해 상대적으로 길 수 있다. 예를 들어, 제1 길이(L1)는 127.2 mm 일 수 있고, 제2 길이(L2)는 114.4 mm일 수 있고, 제3 길이(L3)는 12.8 mm일 수 있다. 또 다른 예를 들어, 제1 길이(L1)는 약 126 내지 128 mm 사이의 값을 가질 수 있다. 다만, 커버 튜브(2020)의 수치적인 예시는 일 예시일 뿐이고 커버 튜브(2020)는 다양한 길이를 가질 수 있다. According to one embodiment, the cover tube 2020 may have a first length L1. The first part 2021 of the cover tube 2020 may have a second length L2, and the second part 2022 may have a third length L3. In one embodiment, the second length L2 may be relatively longer than the third length L3. For example, the first length (L1) may be 127.2 mm, the second length (L2) may be 114.4 mm, and the third length (L3) may be 12.8 mm. As another example, the first length L1 may have a value between about 126 and 128 mm. However, the numerical example of the cover tube 2020 is only an example, and the cover tube 2020 may have various lengths.
일 실시 예에 따르면, 커버 튜브(2020)의 외경은 일정할 수 있다. 일 실시 예에서, 커버 튜브(2020)의 외경은 달라질 수 있다. 예를 들어, 커버 튜브(2020)의 원위단에서 커버 튜브(2020)의 근위단으로 갈수록 커버 튜브(2020)의 외경은 점진적으로 증가할 수 있다. 본 개시의 원위단은 프로브 바디(2011)와 상대적으로 먼 단(end) 또는 단부(end portion)로 참조될 수 있고, 근위단은 프로브 바디(2011)와 상대적으로 가까운 단 또는 단부로 참조될 수 있다.According to one embodiment, the outer diameter of the cover tube 2020 may be constant. In one embodiment, the outer diameter of the cover tube 2020 may vary. For example, the outer diameter of the cover tube 2020 may gradually increase from the distal end of the cover tube 2020 to the proximal end of the cover tube 2020. The distal end of the present disclosure may be referred to as an end or end portion relatively distant from the probe body 2011, and the proximal end may be referred to as an end or end portion relatively close to the probe body 2011. there is.
일 실시 예에 따르면, 프로브 커버(2001)는 프로브(2002)의 적어도 일부를 수용하거나 둘러싸서 프로브(2002)와 신체와의 직접적인 접촉을 차단할 수 있다. 예를 들어, 프로브 커버(2001)의 커버 튜브(2020)는 프로브 너트(2014) 및 프로브 튜브(2015)를 감쌀 수 있고, 프로브 너트(2014) 및 프로브 튜브(2015)와 외부와의 접촉을 차단할 수 있다. 프로브 커버(2001)의 드레이프(2040)는 프로브 바디(2011) 및 벤딩부(2013)를 감쌀 수 있고, 프로브 바디(2011) 및 벤딩부(2013)와 외부와의 접촉을 차단할 수 있다.According to one embodiment, the probe cover 2001 may accommodate or surround at least a portion of the probe 2002 to block direct contact between the probe 2002 and the body. For example, the cover tube 2020 of the probe cover 2001 may surround the probe nut 2014 and the probe tube 2015, and may block contact between the probe nut 2014 and the probe tube 2015 and the outside. You can. The drape 2040 of the probe cover 2001 may cover the probe body 2011 and the bending portion 2013 and block contact between the probe body 2011 and the bending portion 2013 and the outside.
따라서, 프로브 커버(2001)는 프로브(2002)의 적어도 일부가 신체의 일부에 인입되더라도 프로브(2002)가 신체 또는 외부 공간과 직접 접촉하는 것은 방지될 수 있고, 위생이 확보될 수 있다.Accordingly, the probe cover 2001 can prevent the probe 2002 from directly contacting the body or external space even if at least a portion of the probe 2002 is inserted into a part of the body, and hygiene can be ensured.
본 개시의 둘러싸다(surround)는 용어는 감싸다(cover), 또는 봉지하다(encapsulate)의 용어로 대체될 수 있다.In the present disclosure, the term surround may be replaced with the term cover or encapsulate.
도 21은 일 실시 예에 따른 도 1의 A 부분의 확대도이다.FIG. 21 is an enlarged view of portion A of FIG. 1 according to an embodiment.
도 21을 참고하면, 일 실시 예에 따른 프로브(2002)의 프로브 너트(2014)는 벤딩부(2013) 및 프로브 튜브(2015)를 연결할 수 있다. 프로브 너트(2014)는 벤딩부(2013) 및 프로브 튜브(2015)를 연결 또는 결합시키는 연결 부재(connection member)에 해당할 수 있다.Referring to FIG. 21, the probe nut 2014 of the probe 2002 according to one embodiment may connect the bending portion 2013 and the probe tube 2015. The probe nut 2014 may correspond to a connection member that connects or couples the bending portion 2013 and the probe tube 2015.
일 실시 예에 따르면, 프로브 커버(2001)의 제1 부분(2021)은 프로브 튜브(2015)의 적어도 일부를 감쌀 수 있다. 프로브 커버(2001)의 제1 부분(2021)은 프로브 튜브(2015)에 대응하는 부분일 수 있다.According to one embodiment, the first part 2021 of the probe cover 2001 may cover at least a portion of the probe tube 2015. The first part 2021 of the probe cover 2001 may correspond to the probe tube 2015.
일 실시 예에 따르면, 프로브 커버(2001)의 제2 부분(2022)은 프로브 너트(2014)의 적어도 일부를 감쌀 수 있다. 프로브 커버(2001)의 제2 부분(2022)은 프로브 너트(2014)에 대응하는 부분일 수 있다.According to one embodiment, the second part 2022 of the probe cover 2001 may surround at least a portion of the probe nut 2014. The second part 2022 of the probe cover 2001 may correspond to the probe nut 2014.
일 실시 예에 따르면, 프로브 커버(2001)의 제2 부분(2022)은 제1 돌출부(protruding portion)(2110) 및 복수의 제2 돌출부들(2120)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제2 부분(2022)의 외면에는 제1 돌출부(2110)가 형성될 수 있고, 제2 부분의 내면(inner surface)에는 복수의 제2 돌출부들(2120)이 형성될 수 있다.According to one embodiment, the second portion 2022 of the probe cover 2001 may include a first protruding portion 2110 and a plurality of second protruding portions 2120. For example, a first protrusion 2110 may be formed on the outer surface of the second part 2022, and a plurality of second protrusions 2120 may be formed on the inner surface of the second part 2022.
일 실시 예에 따르면, 제2 부분(2022)의 제1 돌출부(2110)에는 커버 너트(2030)가 결합될 수 있다. 예를 들어, 커버 너트(2030)는 제1 돌출부(2110)에 대응하는 홈을 포함할 수 있다. 커버 너트(2030)의 홈에 제1 돌출부(2110)가 인입됨에 따라 커버 너트(2030)와 제1 돌출부(2110)는 결합될 수 있다. 결과적으로, 커버 너트(2030)는 제1 돌출부(2110)를 통해 커버 튜브(2020)의 제2 부분(2022)과 결합될 수 있다.According to one embodiment, a cover nut 2030 may be coupled to the first protrusion 2110 of the second portion 2022. For example, the cover nut 2030 may include a groove corresponding to the first protrusion 2110. As the first protrusion 2110 is inserted into the groove of the cover nut 2030, the cover nut 2030 and the first protrusion 2110 may be coupled. As a result, the cover nut 2030 may be coupled to the second portion 2022 of the cover tube 2020 through the first protrusion 2110.
본 개시에서 제2 부분(2022)에 제1 돌출부(2110)가 형성되고 커버 너트(2030)에 홈이 형성되는 것으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이다. 예를 들어, 제2 부분(2022)에 홈이 형성되고 커버 너트(2030)에 돌출부가 형성될 수 있고, 제2 부분(2022)의 홈에 커버 너트(2030)의 돌출부가 인입됨에 따라 제2 부분(2022)과 커버 너트(2030)는 결합될 수 있다.In the present disclosure, it has been described that the first protrusion 2110 is formed in the second portion 2022 and the groove is formed in the cover nut 2030, but this is only an example. For example, a groove may be formed in the second part 2022 and a protrusion may be formed in the cover nut 2030, and as the protrusion of the cover nut 2030 enters the groove of the second part 2022, the second Portion 2022 and cover nut 2030 may be coupled.
일 실시 예에 따르면, 제1 돌출부(2110)는 상기 홈에 결착되도록, 잠금 구조의 형상을 가질 수 있다. 상기 잠금 구조의 형상은 나사산(thread) 또는 루어락(luer-lock)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 돌출부(2110)는 나사산 형상 또는 루어락 형상을 가질 수 있다. 본 개시의 도 2에서는 하나의 나사산으로서 제1 돌출부(2110)가 제2 부분(2112)의 외면에 형성되는 것으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이다. 제2 부분(2112)의 외면에는 구별되는 복수의 나사산들(또는, 복수의 돌출부)들이 형성될 수 있다.According to one embodiment, the first protrusion 2110 may have a locking structure shape so as to be attached to the groove. The shape of the locking structure may include a thread or luer-lock. For example, the first protrusion 2110 may have a screw thread shape or a luer lock shape. In FIG. 2 of the present disclosure, it is explained that the first protrusion 2110 as a single screw thread is formed on the outer surface of the second part 2112, but this is only an example. A plurality of distinct screw threads (or a plurality of protrusions) may be formed on the outer surface of the second portion 2112.
일 실시 예에 따르면, 제2 돌출부들(2120)은 제1 돌기(protrusion)(2121)(2121) 및/또는 제2 돌기(2122)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제2 돌출부들(2120)은 제2 부분(2022)의 내면의 제1 지점에 형성되는 제1 돌기(2121)(2121)를 포함할 수 있다. 제2 돌출부들(2120)은 제2 부분(2022)의 내면의 제2 지점에 형성되는 제2 돌기(2122)를 포함할 수 있다. 제2 지점은 제1 지점과 대칭인 지점일 수 있다.According to one embodiment, the second protrusions 2120 may include first protrusions 2121 and/or second protrusions 2122. For example, the second protrusions 2120 may include a first protrusion 2121 formed at a first point on the inner surface of the second portion 2022 (2121). The second protrusions 2120 may include a second protrusion 2122 formed at a second point on the inner surface of the second portion 2022. The second point may be a point that is symmetrical to the first point.
일 실시 예에 따르면, 제2 돌출부들(2120)은 제2 부분(2022)의 내면의 둘레 라인을 따라 동일한 간격마다 형성되며, 상기 둘레 라인은 상기 제2 부분(2022)의 중심에 위치할 수 있다.According to one embodiment, the second protrusions 2120 are formed at equal intervals along the circumferential line of the inner surface of the second part 2022, and the circumferential line may be located at the center of the second part 2022. there is.
일 실시 예에 따르면, 제2 돌출부들(2120)은 제2 부분(2022)의 길이 방향에 실질적으로 수직할 수 있다. According to one embodiment, the second protrusions 2120 may be substantially perpendicular to the longitudinal direction of the second portion 2022.
본 개시에서 제2 돌출부들(2120)이 제1 돌기(2121)(2121) 및/또는 제2 돌기(2122)를 포함하는 것으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이고 제2 돌출부들(2120)은 다양한 개수의 돌기들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제2 돌출부들(2120)은 제1 돌기(2121)(2121) 및 제2 돌기(2122) 이외에 제3 돌기 및 제4 돌기를 포함할 수 있다. 제3 돌기 및 제4 돌기는 각각 제2 부분(2022)의 내면에 형성되며 대칭일 수 있다.In the present disclosure, the second protrusions 2120 are described as including first protrusions 2121 (2121) and/or second protrusions 2122, but this is only an example and the second protrusions 2120 may vary in number. It may include protrusions. For example, the second protrusions 2120 may include third and fourth protrusions in addition to the first protrusions 2121 and 2122 . The third and fourth protrusions are each formed on the inner surface of the second portion 2022 and may be symmetrical.
일 실시 예에 따르면, 프로브 너트(2014)는 제2 돌출부들(2120)에 대응하는 홈들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 프로브 너트(2014)는 제1 돌기(2121)(2121)에 대응하는 제1 홈(2014a) 및/또는 제2 돌기(2122)에 대응하는 제2 홈(2014b)을 포함할 수 있다.According to one embodiment, the probe nut 2014 may include grooves corresponding to the second protrusions 2120. For example, the probe nut 2014 may include a first groove 2014a corresponding to the first protrusion 2121 (2121) and/or a second groove 2014b corresponding to the second protrusion 2122. there is.
일 실시 예에 따르면, 제2 돌출부들(2120)이 프로브 너트(2014)의 홈들에 인입됨에 따라 커버 튜브(2020)는 프로브 너트(2014)에 고정될 수 있다. 본 개시의 도 2에서는 커버 튜브(2020)와 프로브 너트(2014)의 고정을 위해서 단순히 제2 돌출부들(2120)이 프로브 너트(2014)의 홈들에 인입되어 체결되는 것으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이다. 예를 들어, 프로브 너트(2014)의 홈들에는 마찰력을 증대시키는 고정 부재들 또는 접착 부재들이 배치될 수 있다. 프로브 너트(2014)의 홈들에 제2 돌출부들(2120)이 각각 인입됨에 따라 제2 돌출부들(2120)은 고정 부재들 또는 접착 부재들과 결합할 수 있다. 결과적으로, 프로브 너트(2014)와 커버 튜브(2020)는 보다 강하게 결합될 수 있다.According to one embodiment, as the second protrusions 2120 enter the grooves of the probe nut 2014, the cover tube 2020 may be fixed to the probe nut 2014. In FIG. 2 of the present disclosure, it is explained that the second protrusions 2120 are simply inserted into the grooves of the probe nut 2014 and fastened to fix the cover tube 2020 and the probe nut 2014, but this is only an example. . For example, fixing members or adhesive members that increase friction may be disposed in the grooves of the probe nut 2014. As the second protrusions 2120 enter the grooves of the probe nut 2014, the second protrusions 2120 may be coupled to fixing members or adhesive members. As a result, the probe nut 2014 and the cover tube 2020 can be more strongly coupled.
일 실시 예에 따르면, 프로브 튜브(2015)의 외경(outside diameter)은 제1 너비(W1)(예: 약 5.3 mm)를 가질 수 있다. 프로브 튜브(2015) 중 프로브 너트(2014)와 인접한 일 단의 내경(inside diameter)은 제2 너비(W2)(예: 약 4 mm)를 가질 수 있다. 즉, 프로브 튜브(2015)의 근위단의 내경은 제2 너비(W2)(예: 약 4mm)를 가질 수 있다. 다만, 프로브 튜브(2015)의 외경 및 내경의 수치적 예시는 일 예시일 뿐이고 본 개시를 한정하지 않는다.According to one embodiment, the outer diameter of the probe tube 2015 may have a first width W1 (eg, about 5.3 mm). An inside diameter of the probe tube 2015 adjacent to the probe nut 2014 may have a second width W2 (eg, about 4 mm). That is, the inner diameter of the proximal end of the probe tube 2015 may have a second width W2 (eg, about 4 mm). However, the numerical example of the outer diameter and inner diameter of the probe tube 2015 is only an example and does not limit the present disclosure.
도 22는 일 실시 예에 따른 도 1의 B 부분의 확대도이다.FIG. 22 is an enlarged view of portion B of FIG. 1 according to an embodiment.
도 22을 참고하면, 일 실시 예에 따른 커버 팁(2023)은 탄성 부재(2211) 및/또는 광학 창(optical window)(2212)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 22, the cover tip 2023 according to one embodiment may include an elastic member 2211 and/or an optical window 2212.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2211)는 지정된 크기 이상의 탄성 계수를 가지는 물질일 수 있다. 예를 들어, 탄성 부재는 탄성 중합체(예: 폴리프로필렌(polypropylene, PP)) 실리콘(silicon), 및/또는 고무(rubber)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 탄성 부재(2211)는 지정된 방향으로 인장력이 가해지는 경우 상기 지정된 방향으로 탄력적으로 신장될 수 있다. 본 개시의 탄성 부재(elastic member)라는 용어는 탄성 물질(elastic material)라는 용어로 대체될 수 있다.According to one embodiment, the elastic member 2211 may be a material having an elastic modulus of a specified size or more. For example, the elastic member may include an elastic polymer (eg, polypropylene (PP)), silicon, and/or rubber. For example, the elastic member 2211 may be elastically stretched in a specified direction when a tensile force is applied in the specified direction. The term elastic member in the present disclosure may be replaced with the term elastic material.
일 실시 예에 따르면, 광학 창(2212)은 빔(예: 레이저 빔) 또는 객체에 반사된 반사광이 투과하는 윈도우일 수 있다. 예를 들어, 광학 창(2212)은 투명한 재질의 물질(예: 유리, 실리콘, 이산화 규소)을 포함할 수 있다.According to one embodiment, the optical window 2212 may be a window through which a beam (eg, a laser beam) or reflected light reflected from an object transmits. For example, the optical window 2212 may include a transparent material (eg, glass, silicon, silicon dioxide).
일 실시 예에 따르면, 광학 창(2212)은 제2 너비(W3)를 가질 수 있다. 예를 들어, 제2 너비(W3)는 약 7.0 mm일 수 있다. 광학 창(2212)의 외경은 실질적으로 커버 팁(2023)의 외경으로도 이해될 수 있다.According to one embodiment, the optical window 2212 may have a second width W3. For example, the second width W3 may be about 7.0 mm. The outer diameter of the optical window 2212 may also be substantially understood as the outer diameter of the cover tip 2023.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2211)는 커버 튜브(2020)의 제1 부분(2021)에 접착될 수 있다. 본 개시의 C 부분의 확대도를 참고하면, 예를 들어 제1 부분(2021)은 제1 반경(diameter)(또는, 길이)(D1)의 외경을 가지는 제1 영역(2221) 및 제2 반경(또는 길이)(D2)의 외경을 가지는 제2 영역(2222)을 포함할 수 있다. 일 예시에서, 탄성 부재(2211)는 제1 영역(2221)의 외면의 전체를 둘러 쌀 수 있고, 탄성 부재(2211)는 제2 영역(2222)의 일부에 접착될 수 있다. 일 예시에서, 제2 반경(D2)은 제1 반경(D1)보다 길 수 있다.According to one embodiment, the elastic member 2211 may be adhered to the first portion 2021 of the cover tube 2020. Referring to the enlarged view of part C of the present disclosure, for example, the first part 2021 includes a first area 2221 and a second radius having an outer diameter of a first radius (or length) D1. It may include a second area 2222 having an outer diameter of (or length) D2. In one example, the elastic member 2211 may surround the entire outer surface of the first area 2221, and the elastic member 2211 may be attached to a portion of the second area 2222. In one example, the second radius D2 may be longer than the first radius D1.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2231)의 제1 면은 제2 영역(2222)에 접착될 수 있고, 탄성 부재(2231)의 제2 면은 광학 창(2212)에 접착될 수 있다. 일 실시 예에서, 탄성 부재(2231)의 제2 면은 제1 면과 반대되는 면일 수 있다. 본 개시에서 탄성 부재(2231)가 광학 창(2212)에 접착되는 것으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이다. 예를 들어, 탄성 부재(2231)가 광학 창(2212)의 아래에 배치되어 광학 창(2212)을 지지하는 개념으로도 설명될 수 있다. 따라서, 탄성 부재(2231)는 탄성력을 가지는 지지 부재(supporting member)로 대체될 수 있다.According to one embodiment, the first side of the elastic member 2231 may be adhered to the second area 2222, and the second side of the elastic member 2231 may be adhered to the optical window 2212. In one embodiment, the second surface of the elastic member 2231 may be opposite to the first surface. In the present disclosure, the elastic member 2231 is described as being adhered to the optical window 2212, but this is only an example. For example, the elastic member 2231 may be disposed below the optical window 2212 to support the optical window 2212. Accordingly, the elastic member 2231 can be replaced with a supporting member having elastic force.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2231)에 광학 창(2212)에 결합 또는 접착됨에 따라 프로브 튜브(2015)에 의해 광학 창(2212)이 손상되는 것이 방지될 수 있다. 예를 들어, 커버 튜브(2020)가 프로브 튜브(2015)에 씌어지는 과정에서 사용자의 실수 또는 기구적 한계로 인하여 프로브 튜브(2015)는 광학 창(2212)에 압력을 가할 수 있다. 탄성 부재(2231)에 광학 창(2212)에 결합되어있지 않은 경우에는 광학 창(2212)은 가해진 압력에 의해서 손상될 수 있다. 반면에, 일 실시 예에 따른 탄성 부재(2231)가 광학 창(2212)에 결합됨에 따라 광학 창(2212)에 압력이 가해지더라도 탄성 부재(2231)는 지정된 방향(예: 커버 튜브(2020)의 길이 방향)으로 신장할 수 있다. 탄성 부재(2231)가 탄력적으로 지정된 방향으로 신장됨에 따라 광학 창(2212)은 손상되거나 부숴지지 않을 수 있다.According to one embodiment, the optical window 2212 can be prevented from being damaged by the probe tube 2015 by being coupled or adhered to the optical window 2212 by the elastic member 2231. For example, in the process of putting the cover tube 2020 on the probe tube 2015, the probe tube 2015 may apply pressure to the optical window 2212 due to a user's error or mechanical limitations. If the elastic member 2231 is not coupled to the optical window 2212, the optical window 2212 may be damaged by applied pressure. On the other hand, as the elastic member 2231 according to one embodiment is coupled to the optical window 2212, even if pressure is applied to the optical window 2212, the elastic member 2231 moves in a specified direction (e.g., in the cover tube 2020). It can be stretched in the longitudinal direction. As the elastic member 2231 elastically extends in a specified direction, the optical window 2212 may not be damaged or broken.
결과적으로, 탄성 부재(2231)가 광학 창(2212)에 결합됨에 따라 공초점 내시현미경을 이용해 병변을 관찰하는 도중에 발생할 수 있는 안전 문제(예: 광학 창(2212)의 손상)가 해소될 수 있고, 안정성이 확보될 수 있다.As a result, as the elastic member 2231 is coupled to the optical window 2212, safety problems (e.g., damage to the optical window 2212) that may occur during observation of lesions using a confocal endoscopic microscope can be eliminated. , stability can be secured.
일 실시 예에 따르면, 커버 튜브(2020)는 탄성 부재(2211)는 일체로 형성될 수 있고, 광학 창(2212)은 커버 튜브(2020)의 원위단에 접착될 수 있다. 예를 들어, 광학 창(2212)은 커버 튜브(2020)의 제1 부분(2021)의 원위단에 접착 또는 결합될 수 있다.According to one embodiment, the cover tube 2020 may be integrally formed with the elastic member 2211, and the optical window 2212 may be adhered to the distal end of the cover tube 2020. For example, optical window 2212 can be glued or bonded to the distal end of first portion 2021 of cover tube 2020.
일 실시 예에 따르면, 프로브 튜브(2015) 중 프로브 너트(2014)와 상대적으로 원거리에 있는 타 단의 내경(inside diameter)은 제4 너비(W4)(예: 약 4.1 mm)를 가질 수 있다. 즉, 프로브 튜브(2015)의 원위단의 내경은 제4 너비(W4)(예: 약 4.1 mm)를 가질 수 있다. 다만, 프로브 튜브(2015)의 내경의 수치적 예시는 일 예시일 뿐이고 본 개시를 한정하지 않는다.According to one embodiment, the inside diameter of the other end of the probe tube 2015 that is relatively far from the probe nut 2014 may have a fourth width W4 (eg, about 4.1 mm). That is, the inner diameter of the distal end of the probe tube 2015 may have a fourth width W4 (eg, about 4.1 mm). However, the numerical example of the inner diameter of the probe tube 2015 is only an example and does not limit the present disclosure.
본 개시의 커버 튜브(2020), 탄성 부재(2211) 및 광학 창(2212)은 별개의 구성으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이다. 일 실시 예에서, 커버 튜브(2020), 탄성 부재(2211) 및 광학 창(2212)은 일체로 형성될 수 있다.The cover tube 2020, the elastic member 2211, and the optical window 2212 of the present disclosure have been described as separate configurations, but this is only an example. In one embodiment, the cover tube 2020, the elastic member 2211, and the optical window 2212 may be formed integrally.
본 개시에서 제1 부분(2021)이 제1 영역(2221)과 제2 영역(2222)과 같이 영역(region)을 포함하는 것으로 설명되었으나, 이는 일 예시일 뿐이다. 제1 영역(2221) 및 제2 영역(2222) 역시 3차원적 개념으로 부분(portion) 또는 파트(part)로 참조될 수 있다. 예를 들어, 제1 부분(2021)이 제1 파트(2221) 및 제2 파트(2222)를 포함하는 개념으로 설명될 수 있다. 예를 들어, 제1 부분(2021)이 제1 서브 부분(2221) 및 제2 서브 부분(2222)을 포함하는 개념으로 설명될 수 있다.In the present disclosure, the first part 2021 is described as including regions such as the first region 2221 and the second region 2222, but this is only an example. The first area 2221 and the second area 2222 may also be referred to as a portion or part in a three-dimensional concept. For example, the first part 2021 may be described as including the first part 2221 and the second part 2222. For example, the first part 2021 may be described as including a first sub-part 2221 and a second sub-part 2222.
일 실시 예에 따르면, 제1 영역(2221)과 제2 영역(2222)은 단차(off-set)를 형성할 수 있다. 예를 들어, 제1 영역(2221)은 제1 계단을 형성할 수 있고, 제2 영역(2222)은 제2 계단을 형성할 수 있다.According to one embodiment, the first area 2221 and the second area 2222 may form an offset. For example, the first area 2221 may form a first staircase, and the second area 2222 may form a second staircase.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2211)는 제2 영역(2222)이 형성하는 제2 계단에 접착될 수 있다. 일 실시 예에서, 탄성 부재(2211)는 제2 계단에서부터 제1 계단 까지의 높이보다 긴 높이를 가질 수 있다.According to one embodiment, the elastic member 2211 may be attached to the second step formed by the second region 2222. In one embodiment, the elastic member 2211 may have a height longer than the height from the second step to the first step.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2211)는 제3 계단을 형성하는 제3 영역(2211a)과 제4 계단을 형성하는 제4 영역(2211b)을 포함할 수 있다. 제3 영역(2211a)과 제4 영역(2211b)은 단차를 형성할 수 있다. 광학 창(2212)은 제3 영역(2211a)이 형성하는 제3 계단에 접착 또는 결합될 수 있다. 일 실시 예에서, 제3 계단과 제4 계단 사이의 단차는 실질적으로 광학 창(2212)의 두께에 해당할 수 있다.According to one embodiment, the elastic member 2211 may include a third area 2211a forming a third step and a fourth area 2211b forming a fourth step. The third area 2211a and the fourth area 2211b may form a step. The optical window 2212 may be adhered or coupled to the third step formed by the third region 2211a. In one embodiment, the step between the third and fourth steps may substantially correspond to the thickness of the optical window 2212.
도 23은 일 실시 예에 따른 탄성 부재가 신장되는 과정을 설명하기 위한 도면이다.Figure 23 is a diagram for explaining a process in which an elastic member is stretched according to an embodiment.
도 23을 참고하면, 일 실시 예에 따른 광학 창(2212)에 압력이 적용되기 전에 탄성 부재(2211)는 기준 높이로부터 제1 높이(h1)만큼의 높이를 가질 수 있다. 일 실시 예에서, 광학 창(2212)은 기준 높이로부터 제2 높이(h2)만큼의 높이를 가질 수 있다.Referring to FIG. 23 , before pressure is applied to the optical window 2212 according to one embodiment, the elastic member 2211 may have a height equal to the first height h1 from the reference height. In one embodiment, the optical window 2212 may have a height equal to the second height h2 from the reference height.
일 실시 예에 따르면, 광학 창(2212)에 압력이 적용됨에 따라 탄성 부재(2211)는 지정된 방향으로 탄성 부재(2211)는 탄력적으로 신장될 수 있다. 일 실시 예에서, 지정된 방향이란 높이 방향 또는 광학 창(2212)에 수직한 방향으로 참조될 수 있다.According to one embodiment, as pressure is applied to the optical window 2212, the elastic member 2211 may be elastically stretched in a designated direction. In one embodiment, the designated direction may refer to a height direction or a direction perpendicular to the optical window 2212.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2211)가 신장됨에 따라 광학 창(2212)은 기준 높이로부터 제3 높이(h3)만큼의 높이를 가질 수 있다. 따라서, 광학 창(2212)에 압력이 적용되기 전과 후를 비교하면 탄성 부재(2211)는 제3 높이(h3) - 제2 높이(h2) 만큼 신장할 수 있고, 광학 창(2212)은 제3 높이(h3) - 제2 높이(h2) 만큼 위로 이동할 수 있다. 예를 들어, 탄성 부재(2211)의 높이를 제4 높이(h4)라 가정할 때 광학 창(2212)에 압력이 가해진 후 탄성 부재(2211)의 높이는 제4 높이(h4) + 제3 높이(h3) - 제2 높이(h2)에 해당할 수 있다.According to one embodiment, as the elastic member 2211 is extended, the optical window 2212 may have a height equal to the third height h3 from the reference height. Therefore, when comparing before and after pressure is applied to the optical window 2212, the elastic member 2211 can be stretched by the third height (h3) - the second height (h2), and the optical window 2212 can be stretched by the third height (h3) - the second height (h2). Height (h3) - You can move up by the second height (h2). For example, assuming that the height of the elastic member 2211 is the fourth height (h4), the height of the elastic member 2211 after pressure is applied to the optical window 2212 is the fourth height (h4) + the third height ( h3) - may correspond to the second height (h2).
일 실시 예에 따르면, 탄성력을 통해 탄성 부재(2211)가 신장됨에 따라 광학 창(2212)이 손상되는 것이 감소 또는 방지될 수 있다.According to one embodiment, damage to the optical window 2212 may be reduced or prevented as the elastic member 2211 is extended through elastic force.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2211)의 외경의 반경은 제1 영역(2221)의 외경의 반경(예: 제1 반경(D1), 및 제2 영역(2222)의 외경의 반경(예: 제2 반경(D2))보다 클 수 있다. 예를 들어, 탄성 부재(2211)는 제3 반경(D3)의 외경을 가질 수 있고, 제3 반경(D3)은 제1 반경(D1) 및 제2 반경(D2)보다 클 수 있다.According to one embodiment, the radius of the outer diameter of the elastic member 2211 is the radius of the outer diameter of the first area 2221 (e.g., the first radius D1), and the radius of the outer diameter of the second area 2222 (e.g., may be larger than the second radius (D2). For example, the elastic member 2211 may have an outer diameter of the third radius (D3), and the third radius (D3) is the first radius (D1) and the third radius (D3). 2 It can be greater than the radius (D2).
다만, 탄성 부재(2211)는 다양한 반경의 외경을 가질 수 있다. 예를 들어, 탄성 부재(2211)의 외경의 반경은 제1 반경(D1)과 제2 반경(D2) 사이의 값을 가질 수 있다. 예를 들어, 탄성 부재(2211)의 외경의 반경은 제1 반경(D1)과 제2 반경(D2) 각각 보다 작을 수 있다.However, the elastic member 2211 may have an outer diameter of various radii. For example, the radius of the outer diameter of the elastic member 2211 may have a value between the first radius D1 and the second radius D2. For example, the outer diameter of the elastic member 2211 may be smaller than the first radius D1 and the second radius D2, respectively.
본 개시의 탄성 부재(2211)와 제1 부분(2021)의 배치 관계는 일 예시일 뿐이며 탄성 부재(2211)는 커버 튜브(2020)의 제1 부분(2021)에 다양하게 배치될 수 있다. 이하, 도 24 및 도 25에서는 다양한 배치 관계 및 다양한 외경의 반경을 가지는 탄성 부재가 설명된다.The arrangement relationship between the elastic member 2211 and the first part 2021 of the present disclosure is only an example and the elastic member 2211 may be arranged in various ways on the first part 2021 of the cover tube 2020. Hereinafter, in FIGS. 24 and 25, elastic members having various arrangement relationships and various radii of outer diameters are described.
도 24는 일 실시 예에 따른 탄성 부재를 설명하기 위한 도면이다.Figure 24 is a diagram for explaining an elastic member according to one embodiment.
도 24를 참고하면, 일 실시 예에 따른 탄성 부재(2411)는 제1 부분(2021)내로 삽입(inserted)될 수 있다. 탄성 부재(2411)의 제1 면은 광학 창(2212)과 접착될 수 있고, 제1 면과 반대되는 제2 면은 제1 부분(2021)과 접착될 수 있다. Referring to FIG. 24, the elastic member 2411 according to one embodiment may be inserted into the first part 2021. The first side of the elastic member 2411 may be adhered to the optical window 2212, and the second side opposite to the first side may be adhered to the first portion 2021.
일 실시 예에 따르면, 삽입된 탄성 부재(2411)는 광학 창(2212)에 압력이 적용되는 경우에 신장될 수 있다. 예를 들어, 프로브 튜브(2015)가 광학 창(2212)에 접촉하고 지정된 방향(예: 광학 창(2212)에 수직한 방향)으로 압력을 가함에 따라 탄성 부재(2411)는 탄력적으로 신장될 수 있다.According to one embodiment, the inserted elastic member 2411 may be stretched when pressure is applied to the optical window 2212. For example, the elastic member 2411 may be elastically stretched as the probe tube 2015 contacts the optical window 2212 and applies pressure in a specified direction (e.g., a direction perpendicular to the optical window 2212). there is.
일 실시 예에 따르면, 탄성력을 통해 탄성 부재(2411)가 신장됨에 따라 광학 창(2212)이 손상되는 것이 감소 또는 방지될 수 있다.According to one embodiment, damage to the optical window 2212 may be reduced or prevented as the elastic member 2411 is extended through elastic force.
본 개시의 도 24의 탄성 부재(2411)와 도 22의 탄성 부재(2211)를 비교하면, 도 24의 탄성 부재(2411)는 제1 부분(2021)에 삽입되는데 반해서 도 22의 탄성 부재(2211)는 제1 부분(2021)의 제1 영역(2221)의 외면을 따라 배치될 수 있다.Comparing the elastic member 2411 of FIG. 24 of the present disclosure with the elastic member 2211 of FIG. 22, the elastic member 2411 of FIG. 24 is inserted into the first portion 2021, while the elastic member 2211 of FIG. 22 is inserted into the first portion 2021. ) may be disposed along the outer surface of the first area 2221 of the first portion 2021.
일 실시 예에 따른 탄성 부재(2411)에는 도 22의 탄성 부재(2211)에 대한 설명이 모순되지 않는 한 적용될 수 있다. 예를 들어, 제1 영역(2221) 및 제2 영역(2222)과 탄성 부재(2411) 간의 배치 관계에 대한 설명은 적용되지 않을 수 있다. 또 다른 예를 들어, 탄성 부재(2411)가 제1 부분(2021)에 접촉될 수 있다는 설명은 적용될 수 있다.The description of the elastic member 2211 of FIG. 22 may be applied to the elastic member 2411 according to one embodiment as long as there is no contradiction. For example, the description of the arrangement relationship between the first and second areas 2221 and 2222 and the elastic member 2411 may not be applicable. As another example, the description that the elastic member 2411 may be in contact with the first portion 2021 may be applied.
도 25는 일 실시 예에 따른 탄성 부재를 설명하기 위한 도면이다.Figure 25 is a diagram for explaining an elastic member according to one embodiment.
도 25를 참고하면, 일 실시 예에 따른 탄성 부재(2511)는 제1 영역(2221)의 외면의 전체를 둘러 쌀 수 있고, 탄성 부재(2511)는 제2 영역(2222)의 일부에 접착될 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 영역(2221)은 제1 반경(D1)의 외경을 가질 수 있고, 제2 영역(2222)은 제1 반경(D1)보다 큰 제2 반경(D2)의 외경을 가질 수 있다.Referring to FIG. 25, the elastic member 2511 according to one embodiment may surround the entire outer surface of the first area 2221, and the elastic member 2511 may be attached to a portion of the second area 2222. You can. In one embodiment, the first area 2221 may have an outer diameter of a first radius D1, and the second area 2222 may have an outer diameter of a second radius D2 that is larger than the first radius D1. You can.
일 시시 예에 따르면, 탄성 부재(2511)는 제1 반경(D1) 및 제2 반경(D2) 사이의 제4 반경(D4)의 외경을 가질 수 있다.According to one example, the elastic member 2511 may have an outer diameter of a fourth radius D4 between the first radius D1 and the second radius D2.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2511)는 광학 창(2212)에 압력이 적용되는 경우에 신장될 수 있다. 예를 들어, 프로브 튜브(2015)가 광학 창(2212)에 접촉하고 지정된 방향(예: 광학 창(2212)에 수직한 방향)으로 압력을 가함에 따라 탄성 부재(2511)는 탄력적으로 신장될 수 있다.According to one embodiment, the elastic member 2511 may be stretched when pressure is applied to the optical window 2212. For example, the elastic member 2511 may elastically stretch as the probe tube 2015 contacts the optical window 2212 and applies pressure in a specified direction (e.g., a direction perpendicular to the optical window 2212). there is.
일 실시 예에 따르면, 탄성력을 통해 탄성 부재(2511)가 신장됨에 따라 광학 창(2212)이 손상되는 것이 감소 또는 방지될 수 있다.According to one embodiment, damage to the optical window 2212 may be reduced or prevented as the elastic member 2511 is extended through elastic force.
본 개시의 도 25의 탄성 부재(2511)와 도 3의 탄성 부재(2211)를 비교하면, 도 25의 탄성 부재(2511)는 제1 반경(D1) 및 제2 반경(D2) 사이의 제4 반경(D4)의 외경을 가지는데 반해서 도 4의 탄성 부재(2211)는 제1 반경(D1) 및 제2 반경(D2) 각각보다 큰 제3 반경(D3)의 외경을 가질 수 있다.Comparing the elastic member 2511 of FIG. 25 of the present disclosure with the elastic member 2211 of FIG. 3, the elastic member 2511 of FIG. 25 has a fourth radius between the first radius D1 and the second radius D2. While it has an outer diameter of the radius D4, the elastic member 2211 of FIG. 4 may have an outer diameter of a third radius D3 that is larger than each of the first radius D1 and the second radius D2.
일 실시 예에 따른 탄성 부재(2511)에는 도 22의 탄성 부재(2211)에 대한 설명이 모순되지 않는 한 적용될 수 있다. The description of the elastic member 2211 of FIG. 22 may be applied to the elastic member 2511 according to one embodiment as long as there is no contradiction.
도 26은 다양한 실시 예들에 따른 탄성 부재들을 설명하기 위한 도면이다.Figure 26 is a diagram for explaining elastic members according to various embodiments.
도 26을 참고하면, 일 실시 예에 따른 탄성 부재(2611)는 커버 튜브(2020)의 제1 부분(2021)에 접착 또는 결합될 수 있다. 예를 들어, 탄성 부재(2611)의 제1 면 중 일부는 제1 부분(2021)의 제2 영역(2222)에 접착될 수 있다. 일 실시 예에서, 탄성 부재(2611)는 제1 영역(2221)과는 접착되지 않을 수 있다. 예를 들어, 탄성 부재(2611)는 제1 영역(2221)의 외면의 전체를 둘러쌀 수 있고, 제1 영역(2221)의 외면에 접착되지는 않을 수 있다.Referring to FIG. 26, the elastic member 2611 according to one embodiment may be adhered or coupled to the first portion 2021 of the cover tube 2020. For example, a portion of the first surface of the elastic member 2611 may be adhered to the second region 2222 of the first portion 2021. In one embodiment, the elastic member 2611 may not be adhered to the first area 2221. For example, the elastic member 2611 may surround the entire outer surface of the first region 2221 and may not be adhered to the outer surface of the first region 2221.
본 개시의 도 26의 탄성 부재(2611)와 도 23의 탄성 부재(2211)를 비교하면, 도 26의 탄성 부재(2611)는 제5 높이(h5)의 높이를 가지는데 반해서 도 23의 탄성 부재(2211)는 제5 높이(h5)보다 큰 제4 높이(h4)를 가질 수 있다.Comparing the elastic member 2611 of FIG. 26 of the present disclosure with the elastic member 2211 of FIG. 23, the elastic member 2611 of FIG. 26 has a height of the fifth height h5, whereas the elastic member 2611 of FIG. 23 has a height of the fifth height h5. (2211) may have a fourth height (h4) that is greater than the fifth height (h5).
일 실시 예에서, 탄성 부재(2611)와 제1 부분(2021) 사이에는 별도의 접착 부재(예: 접착 테이프)가 배치될 수 있고, 접착 부재에 의해 탄성 부재(2611)와 제1 부분(2021)은 접착 또는 결합될 수 있다.In one embodiment, a separate adhesive member (e.g., adhesive tape) may be disposed between the elastic member 2611 and the first part 2021, and the elastic member 2611 and the first part 2021 may be connected by the adhesive member. ) can be glued or bonded.
일 실시 예에 따르면, 광학 창(2612)은 제3 반경(D3)의 외경을 가질 수 있다. 본 개시의 도 26의 광학 창(2612)과 도 3의 광학 창(2212)을 비교하면, 도 26의 광학 창(2612)은 커버 튜브(2020)의 외경인 제2 반경(D2)보다 큰 제3 반경(D3)을 가질 수 있는데 반해서 도 22의 광학 창(2212)은 커버 튜브(2020)의 외경인 제2 반경(D2)과 실질적으로 동일한 외경을 가질 수 있다.According to one embodiment, the optical window 2612 may have an outer diameter of the third radius D3. Comparing the optical window 2612 of FIG. 26 of the present disclosure with the optical window 2212 of FIG. 3, the optical window 2612 of FIG. 26 has a second radius D2 that is larger than the outer diameter of the cover tube 2020. 3 may have a radius D3, whereas the optical window 2212 of FIG. 22 may have an outer diameter that is substantially the same as the second radius D2, which is the outer diameter of the cover tube 2020.
결과적으로, 도 26의 광학 창(2612)은 도 22의 광학 창(2212)에 비해 외경이 클 수 있다.As a result, the optical window 2612 of FIG. 26 may have a larger outer diameter than the optical window 2212 of FIG. 22.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2611)와 광학 창(2612)은 도 22의 실시 예에 비해서 상대적으로 넓은 접촉 면적을 가질 수 있다. 예를 들어, 도 22의 실시 예와 달리 광학 창(2612)은 제3 반경(D3)의 외경을 가질 수 있고, 넓은 반경을 가지는 광학 창(2612)은 탄성 부재(2611)와 상대적으로 넓은 면적에서 접착될 수 있다.According to one embodiment, the elastic member 2611 and the optical window 2612 may have a relatively large contact area compared to the embodiment of FIG. 22. For example, unlike the embodiment of FIG. 22, the optical window 2612 may have an outer diameter of the third radius D3, and the optical window 2612 having a large radius has a relatively large area compared to the elastic member 2611. It can be glued in.
따라서, 프로브 커버(2001)가 탄성 부재(2611) 및 광학 창(2612)을 포함하는 경우에는 탄성 부재(2211) 및 광학 창(2212)을 포함하는 경우에 비해 탄성 부재와 광학 창 간의 접착 면적이 증대될 수 있다. 접착 면적이 증대됨에 따라 광학 창(2612)에 압력이 가해지더라도 탄성 부재(2611)와 광학 창(2612)이 상대적으로 더 강하게 결합되어 광학 창(2612)의 손상이 방지될 수 있다.Therefore, when the probe cover 2001 includes the elastic member 2611 and the optical window 2612, the adhesive area between the elastic member and the optical window is smaller than when the probe cover 2001 includes the elastic member 2211 and the optical window 2212. It can increase. As the adhesive area increases, even if pressure is applied to the optical window 2612, the elastic member 2611 and the optical window 2612 are coupled relatively more strongly, thereby preventing damage to the optical window 2612.
일 실시 예에 따른 탄성 부재(2641)의 길이가 증가된 경우를 참고하면, 탄성 부재(2641)는 제6 높이(h6)를 가질 수 있다. 일 실시 예에 따른 제6 높이(h6)는 탄성 부재(2231)의 제4 높이(h4) 및 탄성 부재(2611)의 제5 높이(h5)보다 길 수 있다.Referring to a case in which the length of the elastic member 2641 according to an embodiment is increased, the elastic member 2641 may have a sixth height h6. The sixth height h6 according to one embodiment may be longer than the fourth height h4 of the elastic member 2231 and the fifth height h5 of the elastic member 2611.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2641)는 제1 부분(2621)의 제2 영역(2632)에 접촉 또는 결합될 수 있다. 탄성 부재(2641)는 제1 부분(2621)의 제1 영역(2631)의 외면의 전체를 둘러쌀 수 있다. 탄성 부재(2641)는 제1 부분(2621)의 외면의 전체에 접하면서 제2 부분(2632)의 일 부분에 접착될 수 있다. 탄성 부재(2641)의 내면의 일 영역은 제1 부분(2621)의 외면 전체에 접하고, 탄성 부재(2641)의 내면의 타 영역은 제1 부분(2621)에 접하지 않을 수 있다. 제1 영역(2631)과 광학 창(2212)은 지정된 거리만큼 이격될 수 있고, 상기 지정된 거리는 상기 타 영역에 대응하는 길이에 해당할 수 있다.According to one embodiment, the elastic member 2641 may be in contact with or coupled to the second region 2632 of the first portion 2621. The elastic member 2641 may surround the entire outer surface of the first region 2631 of the first portion 2621. The elastic member 2641 may be adhered to a portion of the second portion 2632 while contacting the entire outer surface of the first portion 2621. One area of the inner surface of the elastic member 2641 may be in contact with the entire outer surface of the first part 2621, and another area of the inner surface of the elastic member 2641 may not be in contact with the first part 2621. The first area 2631 and the optical window 2212 may be spaced apart by a designated distance, and the designated distance may correspond to a length corresponding to the other area.
본 개시의 제1 부분(2621), 제1 영역(2631) 및 제2 영역(2632)에는 모순되지 않는 한 제1 부분(2021), 제1 영역(2221) 및 제2 영역(2222)에 관한 설명이 적용될 수 있다.The first part 2621, the first area 2631, and the second area 2632 of the present disclosure relate to the first part 2021, the first area 2221, and the second area 2222, unless contradictory. The explanation may apply.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2641)의 높이(또는, 길이)가 증대됨에 따라 탄성 부재(2641)의 탄성력은 증가할 수 있고, 광학 창(2212)에 압력이 가해지더라도 상대적으로 더 많은 길이만큼 신장될 수 있다. 예를 들어, 탄성 부재(2641)는 탄성 부재(2611)에 비해서 상대적으로 더 많은 길이만큼 신장될 수 있다.According to one embodiment, as the height (or length) of the elastic member 2641 increases, the elastic force of the elastic member 2641 may increase, and even if pressure is applied to the optical window 2212, a relatively longer length It can be expanded as much as For example, the elastic member 2641 may be stretched to a relatively greater length than the elastic member 2611.
도 27은 다양한 실시 예들에 따른 가이드 부분을 포함하는 탄성 부재를 설명하기 위한 도면이다.Figure 27 is a diagram for explaining an elastic member including a guide portion according to various embodiments.
도 27을 참고하면, 일 실시 예에 따른 프로브 커버(2001)는 탄성 부재(2700)를 포함할 수 있고, 탄성 부재(2700)는 바디 부분(2711) 및 가이드 부분(2712)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 바디 부분(2711)은 도 22의 탄성 부재(2211)에 대응할 수 있다. 가이드 부분(2712)은 탄성 부재(2700)의 바디 부분(2711)로부터 제1 부분(2021)의 내측 방향으로 연장된 연장 부분으로 참조될 수 있다.Referring to FIG. 27, the probe cover 2001 according to one embodiment may include an elastic member 2700, and the elastic member 2700 may include a body portion 2711 and a guide portion 2712. . In one embodiment, the body portion 2711 may correspond to the elastic member 2211 of FIG. 22 . The guide portion 2712 may be referred to as an extension portion extending from the body portion 2711 of the elastic member 2700 in the inner direction of the first portion 2021.
본 개시의 도 27의 탄성 부재(2700)와 도 22의 탄성 부재(2211)를 비교하면, 탄성 부재(2700)는 도 22의 탄성 부재(2211)에 비해 가이드 부분(2712)을 더 포함할 수 있다.Comparing the elastic member 2700 of FIG. 27 of the present disclosure with the elastic member 2211 of FIG. 22, the elastic member 2700 may further include a guide portion 2712 compared to the elastic member 2211 of FIG. 22. there is.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2700)는 제1 부분(2021)의 제1 영역(2221) 및 제2 영역(2222)에 접착될 수 있다. 예를 들어, 탄성 부재(2700)의 가이드 부분(2712)은 제1 영역(2221)에 접착될 수 있고, 탄성 부재(2700)의 바디 부분(2711)은 제2 영역(2222)과 적어도 일부 접착될 수 있다. 탄성 부재(2700)는 제1 영역(2221)이 형성하는 제1 계단과 제2 영역(2222)이 형성하는 제2 계단에 접착 또는 결합될 수 있다. 예를 들어, 탄성 부재(2700)의 가이드 부분(2712)은 제1 영역(2221)이 형성하는 제1 계단에 접착될 수 있고, 바디 부분(2711)은 제2 영역(2222)이 형성하는 제2 계단에 접착될 수 있다.According to one embodiment, the elastic member 2700 may be adhered to the first area 2221 and the second area 2222 of the first part 2021. For example, the guide portion 2712 of the elastic member 2700 may be adhered to the first region 2221, and the body portion 2711 of the elastic member 2700 may be at least partially adhered to the second region 2222. It can be. The elastic member 2700 may be adhered or coupled to the first step formed by the first region 2221 and the second step formed by the second region 2222. For example, the guide portion 2712 of the elastic member 2700 may be adhered to the first step formed by the first region 2221, and the body portion 2711 may be attached to the first step formed by the second region 2222. 2 Can be glued to stairs.
결과적으로, 도 22의 탄성 부재(2211)는 제2 영역(2222)과만 접착되는데 반해서 도 8의 탄성 부재(8110는 제1 영역(2221) 및 제2 영역(2222)과 접착될 수 있다.As a result, the elastic member 2211 of FIG. 22 is bonded only to the second region 2222, while the elastic member 8110 of FIG. 8 can be bonded to the first region 2221 and the second region 2222.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2700)는 도 22의 탄성 부재(2211)에 비해 제1 부분(2021)과의 더 넓은 면적에서 접착될 수 있다. 따라서, 광학 창(2212)에 압력이 가해지더라도 탄성 부재(2700)가 제1 부분(2021)으로부터 탈착되는 것이 방지될 수 있다. According to one embodiment, the elastic member 2700 may be bonded to the first part 2021 over a larger area than the elastic member 2211 of FIG. 22. Accordingly, even if pressure is applied to the optical window 2212, the elastic member 2700 can be prevented from being detached from the first portion 2021.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2700)가 가이드 부분(2712)을 포함함에 따라 광학 창(2212)에 압력(또는 충격)이 가해지더라도 탄성 부재(2700)에 의해 압력(또는, 충격)이 흡수될 수 있고, 결과적으로 광학 창(2212)의 손상 또는 탈착이 방지되거나 감소될 수 있다.According to one embodiment, since the elastic member 2700 includes the guide portion 2712, even if pressure (or impact) is applied to the optical window 2212, the pressure (or impact) is absorbed by the elastic member 2700. This can be done, and as a result, damage or detachment of the optical window 2212 can be prevented or reduced.
도 28은 일 실시 예에 따른 탄성 부재 및 가이드 부분을 포함하는 탄성 부재를 설명하기 위한 도면이다.Figure 28 is a diagram for explaining an elastic member including an elastic member and a guide portion according to an embodiment.
도 28을 참고하면, 일 실시 예에 따른 커버 튜브의 제1 부분(2820)은 제1 영역(2821) 및 제2 영역(2822)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 28, the first portion 2820 of the cover tube according to one embodiment may include a first area 2821 and a second area 2822.
일 실시 예에 따르면, 제1 영역(2821)은 제1 반경(D1)의 내경(inside diameter)을 가지는 영역(또는, 부분)일 수 있다. 제2 영역(2822)은 제5 반경(D5)의 내경을 가지는 영역일 수 있다. According to one embodiment, the first area 2821 may be an area (or portion) having an inside diameter of the first radius D1. The second area 2822 may be an area having an inner diameter of the fifth radius D5.
본 개시의 도 28의 제1 부분(2820)과 도 3의 제1 부분(2021)을 비교하면, 도 28의 제1 부분(2820)의 제1 영역(2821)과 제2 영역(2822)은 서로 다른 내경을 가질 수 있다. 반면에 도 3의 제1 부분(2021)의 제1 영역(2221)과 제2 영역(2222)은 실질적으로 동일한 내경을 가질 수 있다.Comparing the first part 2820 of FIG. 28 of the present disclosure with the first part 2021 of FIG. 3, the first area 2821 and the second area 2822 of the first part 2820 of FIG. 28 are They can have different inner diameters. On the other hand, the first area 2221 and the second area 2222 of the first portion 2021 of FIG. 3 may have substantially the same inner diameter.
예를 들어, 도 28의 제1 영역(2821)과 제2 영역(2822)은 각각 제1 반경(D1) 및 제5 반경(D5)의 서로 다른 내경을 가지는데 반해서 도 22의 제1 영역(2221)과 제2 영역(2222)은 실질적으로 동일한 내경(예: 제4 너비(W4))을 가질 수 있다.For example, the first area 2821 and the second area 2822 of FIG. 28 have different inner diameters of the first radius D1 and the fifth radius D5, respectively, while the first area 2822 of FIG. 22 ( 2221) and the second area 2222 may have substantially the same inner diameter (eg, fourth width W4).
또한, 도 28의 제1 부분(2820)의 제1 영역(2821)과 제2 영역(2822)은 실질적으로 동일한 외경을 가질 수 있다. 반면에 도 22의 제1 부분(2021)의 제1 영역(2221)과 제2 영역(2222)은 서로 다른 외경을 가질 수 있다. 예를 들어, 도 22의 제1 부분(2021)의 제1 영역(2221)의 외경은 제1 반경(D1)이고, 제1 부분(2021)의 제2 영역(2222)의 외경은 제2 반경(D2)일 수 있다.Additionally, the first area 2821 and the second area 2822 of the first portion 2820 of FIG. 28 may have substantially the same outer diameter. On the other hand, the first area 2221 and the second area 2222 of the first portion 2021 of FIG. 22 may have different outer diameters. For example, the outer diameter of the first area 2221 of the first part 2021 in FIG. 22 is the first radius D1, and the outer diameter of the second area 2222 of the first part 2021 is the second radius. It may be (D2).
결과적으로, 도 28의 제1 부분(2820)은 커버 튜브(2020)의 내측 방향으로 갈수록 낮은 계단(step)을 형성하는데 반해서 도 22의 제1 부분(2021)은 커버 튜브(2020)의 내측 방향으로 갈수록 높은 계단을 형성할 수 있다.As a result, the first part 2820 of FIG. 28 forms a lower step toward the inside of the cover tube 2020, while the first part 2021 of FIG. 22 forms a step toward the inside of the cover tube 2020. The higher you go, the higher the stairs can be formed.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2811)는 제1 영역(2821) 및 제2 영역(2822)과 접착될 수 있다.According to one embodiment, the elastic member 2811 may be adhered to the first area 2821 and the second area 2822.
일 실시 예에 따른 가이드 부분(2832)을 포함하는 탄성 부재(2830)를 참고하면, 탄성 부재(2830)는 바디 부분(2831) 및 바디 부분(2831)에서 연장되는 가이드 부분(2832)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 탄성 부재(2830)의 바디 부분(2831)은 실질적으로 탄성 부재(2811)에 대응할 수 있다. Referring to the elastic member 2830 including the guide portion 2832 according to one embodiment, the elastic member 2830 may include a body portion 2831 and a guide portion 2832 extending from the body portion 2831. You can. In one embodiment, the body portion 2831 of the elastic member 2830 may substantially correspond to the elastic member 2811.
일 실시 예에 따르면, 가이드 부분(2832)은 탄성 부재(2830)의 바디 부분(2831)로부터 제1 부분(2820)의 내측 방향으로 연장된 연장 부분으로 참조될 수 있다.According to one embodiment, the guide part 2832 may be referred to as an extension part extending from the body part 2831 of the elastic member 2830 in the inner direction of the first part 2820.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2830)는 제1 부분(2820)의 제1 영역(2821) 및 제2 영역(2822)에 접착될 수 있다.According to one embodiment, the elastic member 2830 may be adhered to the first area 2821 and the second area 2822 of the first part 2820.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(2830)가 가이드 부분(2832)을 포함함에 따라 광학 창(2212)에 압력이 가해지더라도 탄성 부재(2830)에 의해 압력(또는, 충격)이 흡수될 수 있고, 결과적으로 광학 창(2212)의 손상 또는 탈착이 방지되거나 감소될 수 있다.According to one embodiment, since the elastic member 2830 includes a guide portion 2832, even if pressure is applied to the optical window 2212, the pressure (or impact) can be absorbed by the elastic member 2830, As a result, damage or detachment of the optical window 2212 may be prevented or reduced.
도 29는 일 실시 예에 따른 탄성 부재로 형성되는 광학 창을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 29 is a diagram for explaining an optical window formed of an elastic member according to an embodiment.
도 29를 참고하면, 일 실시 예에 따른 광학 창(2912)은 탄성 부재(예: 실리콘, 고무, 폴리 프로필렌)로 형성될 수 있다. 따라서, 광학 창(2912)은 별도의 탄성 부재를 통해 제1 부분(2021)에 결합될 필요가 없을 수 있다.Referring to FIG. 29, the optical window 2912 according to one embodiment may be formed of an elastic member (eg, silicone, rubber, polypropylene). Accordingly, the optical window 2912 may not need to be coupled to the first portion 2021 through a separate elastic member.
일 실시 예에 따르면, 광학 창(2912)은 제1 부분(2021)과 직접 결합될 수 있다. 예를 들어, 광학 창(2912)은 제1 영역(2221) 및 제2 영역(2222)과 결합될 수 있다. 제1 영역(2221)은 외경이 제1 반경(D1)인 영역이고, 제2 영역(2222)은 외경이 제2 반경(D2)인 영역으로 이해될 수 있다.According to one embodiment, the optical window 2912 may be directly coupled to the first portion 2021. For example, optical window 2912 may be combined with first region 2221 and second region 2222. The first area 2221 may be understood as an area whose outer diameter is the first radius D1, and the second area 2222 may be understood as an area whose outer diameter is the second radius D2.
본 개시의 도 29의 광학 창(2912)과 도 7의 광학 창(2612)을 비교하면, 도 26의 광학 창(2612)은 별도의 탄성 부재(예: 탄성 부재(2611))를 통해 제1 부분(2021)과 결합될 수 있다. 반면에 도 29의 광학 창(2912)은 광학 창(2912)의 적어도 일부가 탄성 부재로 형성되므로 별도의 탄성 부재를 통해 제1 부분(2021)과 결합되지 않을 수 있다. 즉, 도 29의 광학 창(2912)은 직접 제1 부분(2021)과 결합될 수 있다.Comparing the optical window 2912 of FIG. 29 of the present disclosure with the optical window 2612 of FIG. 7, the optical window 2612 of FIG. 26 has a first elastic member through a separate elastic member (e.g., elastic member 2611). Can be combined with part (2021). On the other hand, the optical window 2912 of FIG. 29 may not be coupled to the first part 2021 through a separate elastic member because at least a portion of the optical window 2912 is formed of an elastic member. That is, the optical window 2912 of FIG. 29 can be directly coupled to the first portion 2021.
결과적으로, 도의 광학 창(2912)은 도 26의 광학 창(2612)과 탄성 부재(2611)가 일체로 형성된 실시 예로도 이해될 수 있다. 탄성 부재와 일체로 형성된 광학 창(2912)의 외경은 제3 반경(D3)일 수 있다.As a result, the optical window 2912 in FIG. 26 may also be understood as an embodiment in which the optical window 2612 and the elastic member 2611 in FIG. 26 are integrally formed. The outer diameter of the optical window 2912 formed integrally with the elastic member may be the third radius D3.
일 실시 예에 따르면, 광학 창(2912)의 적어도 일부가 탄성 부재로 형성됨에 따라 광학 창(2912)에 압력이 가해지더라도 상대적으로 더 탄력적으로 신장될 수 있다. 예를 들어, 광학 창이 별도의 탄성 부재와 결합되는 경우에는 광학 창에 압력이 가해지고 압력에 따른 인장력에 의해 탄성 부재가 신장될 수 있다. 반면에, 도 29과 같이 광학 창(2912)의 적어도 일부가 탄성 부재로 형성되는 경우에는 광학 창에 가해지는 압력에 대응하여 곧바로 광학 창(2912)이 신장될 수 있다. 결과적으로, 광학 창(2912)의 적어도 일부가 탄성 부재로 형성되는 경우에는 보다 효과적으로 광학 창(2912)이 손상되는 것이 방지될 수 있다.According to one embodiment, since at least a portion of the optical window 2912 is formed of an elastic member, the optical window 2912 may be stretched relatively more elastically even when pressure is applied to the optical window 2912 . For example, when an optical window is combined with a separate elastic member, pressure is applied to the optical window, and the elastic member may be stretched by a tensile force according to the pressure. On the other hand, when at least a portion of the optical window 2912 is formed of an elastic member as shown in FIG. 29, the optical window 2912 may be immediately expanded in response to the pressure applied to the optical window. As a result, when at least a portion of the optical window 2912 is formed of an elastic member, the optical window 2912 can be more effectively prevented from being damaged.
도 30은 일 실시 예에 따른 탄성 부재로 형성되는 광학 창을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 30 is a diagram for explaining an optical window formed of an elastic member according to an embodiment.
도 30을 참고하면, 일 실시 예에 따른 광학 창(3012)은 탄성 부재(예: 실리콘, 고무, 폴리 프로필렌)로 형성될 수 있다. 따라서, 광학 창(3012)은 별도의 탄성 부재를 통해 제1 부분(2820)에 결합될 필요가 없을 수 있다.Referring to FIG. 30, the optical window 3012 according to one embodiment may be formed of an elastic member (eg, silicone, rubber, polypropylene). Accordingly, the optical window 3012 may not need to be coupled to the first portion 2820 through a separate elastic member.
일 실시 예에 따르면, 광학 창(3012)은 제2 영역(2822)과 직접 결합될 수 있다. 예를 들어, 광학 창(3012)의 일 면은 제1 부분(2820)의 제2 영역(2822)에 결합될 수 있다. 제1 영역(2821)은 내경이 제2 반경(D2)인 영역이고, 제2 영역(2822)은 내경이 제1 반경(D1)인 영역으로 이해될 수 있다. 제1 영역(2821)의 외경과 제2 영역(2822)의 외경 모두 제3 반경(D3)일 수 있다.According to one embodiment, the optical window 3012 may be directly coupled to the second region 2822. For example, one side of the optical window 3012 may be coupled to the second region 2822 of the first portion 2820. The first area 2821 may be understood as an area whose inner diameter is the second radius D2, and the second area 2822 may be understood as an area whose internal diameter is the first radius D1. Both the outer diameter of the first area 2821 and the outer diameter of the second area 2822 may be the third radius D3.
일 실시 예에 따르면, 광학 창(3012)은 제1 영역(2821)과 접촉할 수 있다. 예를 들어, 광학 창(3012)은 제1 영역(2821)의 내면을 따라 접촉할 수 있다. 일 실시 예에서, 광학 창(3012)은 제1 영역(2821)과 접촉하되 결합되지는 않을 수 있다. 예를 들어, 광학 창(3012)은 탄성력을 보다 확보하기 위해 제1 영역(2821)과 접착 또는 결합되지 않을 수 있다. According to one embodiment, the optical window 3012 may contact the first area 2821. For example, the optical window 3012 may contact along the inner surface of the first region 2821. In one embodiment, optical window 3012 may contact but not be coupled to first region 2821. For example, the optical window 3012 may not be glued or combined with the first region 2821 to further secure elasticity.
다만, 광학 창(3012)이 제1 영역(2821)과 결합되지 않는다는 것을 일 예시일 뿐이고, 다른 실시 예에서 광학 창(3012)은 제1 영역(2821)과 결합될 수 있다. 탄성 부재와 일체로 형성된 광학 창(3012)의 외경은 제2 반경(D2)일 수 있다.However, it is only an example that the optical window 3012 is not combined with the first area 2821, and in another embodiment, the optical window 3012 may be combined with the first area 2821. The outer diameter of the optical window 3012 formed integrally with the elastic member may be the second radius D2.
본 개시에서 광학 창(3012)이 제2 영역(2822)에 결합되는 것으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이고, 광학 창(3012)이 제1 부분(2820) 내에 삽입된(inserted) 개념으로도 설명될 수 있다.In the present disclosure, the optical window 3012 is described as being coupled to the second region 2822, but this is only an example, and the optical window 3012 may also be described as being inserted into the first portion 2820. You can.
일 실시 예에 따르면, 광학 창(3012)의 적어도 일부가 탄성 부재로 형성됨에 따라 광학 창(3012)에 압력이 가해지더라도 상대적으로 더 탄력적으로 신장될 수 있다. 예를 들어, 광학 창이 별도의 탄성 부재와 결합되는 경우에는 광학 창에 압력이 가해지고 압력에 따른 인장력에 의해 탄성 부재가 신장될 수 있다. 반면에, 도 30과 같이 광학 창(3012)의 적어도 일부가 탄성 부재로 형성되는 경우에는 광학 창에 가해지는 압력에 대응하여 곧바로 광학 창(3012)이 신장될 수 있다. 결과적으로, 광학 창(3012)의 적어도 일부가 탄성 부재로 형성되는 경우에는 보다 효과적으로 광학 창(3012)이 손상되는 것이 방지될 수 있다.According to one embodiment, since at least a portion of the optical window 3012 is formed of an elastic member, the optical window 3012 may be stretched relatively more elastically even when pressure is applied to the optical window 3012. For example, when an optical window is combined with a separate elastic member, pressure is applied to the optical window, and the elastic member may be stretched by a tensile force according to the pressure. On the other hand, when at least a portion of the optical window 3012 is formed of an elastic member as shown in FIG. 30, the optical window 3012 may be immediately expanded in response to the pressure applied to the optical window. As a result, when at least a portion of the optical window 3012 is formed of an elastic member, the optical window 3012 can be more effectively prevented from being damaged.
도 31은 일 실시 예에 따른 탄성 부재로 형성되는 광학 창을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 31 is a diagram for explaining an optical window formed of an elastic member according to an embodiment.
도 31을 참고하면, 일 실시 예에 따른 제1 부분(3120)은 제1 영역(3121) 및 제2 영역(3122)을 포함할 수 있다. 본 개시의 도 31의 제1 부분(3120), 제1 영역(3121) 및 제2 영역(3122)은 각각 순서대로 본 개시의 도 28의 제1 부분(2820), 제1 영역(2821) 및 제2 영역(2822)에 대응할 수 있다. 따라서, 도 28의 제1 부분(2820), 제1 영역(2821) 및 제2 영역(2822)에 대한 설명은 모순되지 않는 이상 도 31의 제1 부분(3120), 제1 영역(3121) 및 제2 영역(3122)에 적용될 수 있다. 제1 영역(3121)은 내경이 제2 반경(D2)인 영역이고, 제2 영역(3122)은 내경이 제1 반경(D1)인 영역으로 이해될 수 있다. 제1 영역(3121)의 외경과 제2 영역(3122)의 외경 모두 제3 반경(D3)일 수 있다.Referring to FIG. 31, the first part 3120 according to one embodiment may include a first area 3121 and a second area 3122. The first part 3120, the first area 3121, and the second area 3122 of FIG. 31 of the present disclosure are respectively in that order the first part 2820, the first area 2821, and the second area of FIG. 28 of the present disclosure. It may correspond to the second area 2822. Therefore, the description of the first part 2820, the first area 2821, and the second area 2822 of FIG. 28 is the same as the first part 3120, the first area 3121 and the second area 2822 of FIG. 31 unless there is a contradiction. It may be applied to the second area 3122. The first area 3121 may be understood as an area whose inner diameter is the second radius D2, and the second area 3122 may be understood as an area whose internal diameter is the first radius D1. Both the outer diameter of the first area 3121 and the outer diameter of the second area 3122 may be the third radius D3.
일 실시 예에 따르면, 광학 창(3112)은 제2 반경(D2)의 외경을 가질 수 있다. 일 실시 예에서, 광학 창(3112)은 제1 부분(3120)의 제2 영역(3122)에 접착될 수 있다. 일 실시 예에서, 광학 창(3112)은 제1 부분(3120)의 제1 영역(3121)의 내면의 전체에 걸쳐 접촉(contact)할 수 있다.According to one embodiment, the optical window 3112 may have an outer diameter of the second radius D2. In one embodiment, optical window 3112 may be glued to second region 3122 of first portion 3120. In one embodiment, the optical window 3112 may contact the entire inner surface of the first region 3121 of the first portion 3120.
일 실시 예에 따르면, 광학 창(3112)은 적어도 일부가 탄성 물질(예: 실리콘, 폴리 프로필렌)으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 광학 창(3112)은 투명한 재질의 탄성 물질로 형성될 수 있다.According to one embodiment, the optical window 3112 may be formed at least in part of an elastic material (eg, silicone, polypropylene). For example, the optical window 3112 may be formed of a transparent elastic material.
일 실시 예에 따르면, 광학 창(3112)의 적어도 일부가 탄성 부재로 형성됨에 따라 광학 창(3112)에 압력이 가해지더라도 상대적으로 더 탄력적으로 신장될 수 있다. 예를 들어, 광학 창이 별도의 탄성 부재와 결합되는 경우에는 광학 창에 압력이 가해지고 압력에 따른 인장력에 의해 탄성 부재가 신장될 수 있다. 반면에, 도 12와 같이 광학 창(3112)의 적어도 일부가 탄성 부재로 형성되는 경우에는 광학 창에 가해지는 압력에 대응하여 곧바로 광학 창(3112)이 신장될 수 있다. 결과적으로, 광학 창(3112)의 적어도 일부가 탄성 부재로 형성되는 경우에는 보다 효과적으로 광학 창(3112)이 손상되는 것이 방지될 수 있다.According to one embodiment, since at least a portion of the optical window 3112 is formed of an elastic member, it can be stretched relatively more elastically even when pressure is applied to the optical window 3112. For example, when an optical window is combined with a separate elastic member, pressure is applied to the optical window, and the elastic member may be stretched by a tensile force according to the pressure. On the other hand, when at least a portion of the optical window 3112 is formed of an elastic member as shown in FIG. 12, the optical window 3112 may be immediately expanded in response to the pressure applied to the optical window. As a result, when at least a portion of the optical window 3112 is formed of an elastic member, the optical window 3112 can be more effectively prevented from being damaged.
도 32는 일 실시 예에 따른 프로브 커버의 실제 사진을 도시하는 도면이다.Figure 32 is a diagram showing an actual photo of a probe cover according to one embodiment.
도 32를 참고하면, 일 실시 예에 따른 프로브 커버(2001)는 커버 튜브(2020), 커버 팁(2023), 커버 너트(2030) 및/또는 드레이프(2040)를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 32, the probe cover 2001 according to one embodiment may include a cover tube 2020, a cover tip 2023, a cover nut 2030, and/or a drape 2040.
일 실시 예에 따르면, 커버 팁(2023)은 광학 창 및/또는 탄성 부재(elastic member)를 포함할 수 있다. 커버 너트(2030)는 커버 튜브(2020)에 결합(coupled) 또는 체결(engaged)될 수 있다.According to one embodiment, the cover tip 2023 may include an optical window and/or an elastic member. The cover nut 2030 may be coupled or engaged to the cover tube 2020.
일 실시 예에 따르면, 드레이프(2040)는 커버 너트(2030)의 외면 전체에 걸쳐 열융착되어 결합될 수 있다. 예를 들어, 커버 너트(2030)는 커버 튜브(2020)에 결합 또는 체결될 수 있다. 체결된 커버 너트(2030)는 드레이프(2040)와 열융착 공정을 통해 결합될 수 있다. According to one embodiment, the drape 2040 may be heat-sealed and joined to the entire outer surface of the cover nut 2030. For example, the cover nut 2030 may be coupled or fastened to the cover tube 2020. The fastened cover nut 2030 may be combined with the drape 2040 through a heat fusion process.
도 33은 일 실시 예에 따른 프로브 커버 및 프로브의 실제 사진을 도시하는 도면이다.Figure 33 is a diagram showing an actual photograph of a probe cover and a probe according to an embodiment.
도 33을 참고하면, 일 실시 예에 따른 커버 튜브(2020)의 양 단(end)은 서로 다른 외경을 가질 수 있다. 예를 들어, 커버 튜브(2020)의 제1 단(end)(3301)은 제1 길이(E1)의 외경을 가질 수 있고, 제2 단(end)(3302)은 제2 길이(E2)의 외경을 가질 수 있다.Referring to FIG. 33, both ends of the cover tube 2020 according to one embodiment may have different outer diameters. For example, the first end 3301 of the cover tube 2020 may have an outer diameter of the first length E1, and the second end 3302 may have an outer diameter of the second length E2. You can have apocrypha.
일 실시 예에 따르면, 제1 단(3301)은 원위단에 해당할 수 있고, 제2 단(3302)은 근위단에 해당할 수 있다. 예를 들어, 제1 단(3301)은 사용자 또는 사용자가 파지하는 프로브(2002)의 프로브 바디(예: 도 20의 프로브 바디(2011))를 기준으로 상대적으로 먼 단(end)에 해당할 수 있다. 예를 들어, 제2 단(3302)은 사용자 또는 사용자가 파지하는 프로브(2002)의 프로브 바디(2011)를 기준으로 상대적으로 가까운 단(end)에 해당할 수 있다.According to one embodiment, the first end 3301 may correspond to the distal end, and the second end 3302 may correspond to the proximal end. For example, the first end 3301 may correspond to a user or an end relatively distant from the probe body (e.g., the probe body 2011 in FIG. 20) of the probe 2002 held by the user. there is. For example, the second end 3302 may correspond to a user or an end relatively close to the probe body 2011 of the probe 2002 held by the user.
일 실시 예에 따르면, 제2 길이(E2)는 제1 길이(E1)보다 클 수 있다. 즉, 커버 튜브(2020)의 외경은 원위단(예: 제1 단(3301))에서 근위단(예: 제2 단(3302))으로 갈수록 점진적으로 커질 수 있다.According to one embodiment, the second length E2 may be greater than the first length E1. That is, the outer diameter of the cover tube 2020 may gradually increase from the distal end (eg, first end 3301) to the proximal end (eg, second end 3302).
도 34는 일 실시 예에 따른 벤딩부를 포함하지 않는 프로브와 벤딩부를 포함하지 않는 프로브에 대한 프로브 커버를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 34 is a diagram illustrating a probe that does not include a bending portion and a probe cover for a probe that does not include a bending portion, according to an embodiment.
도 34를 참고하면, 일 실시 예에 따른 광학 시스템(또는, 공초점 내시현미경)(3400)은 프로브(3402) 및 프로브(3402)를 수용(또는 커버)하기 위한 프로브 커버(3401)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 34, an optical system (or confocal endoscopic microscope) 3400 according to an embodiment may include a probe 3402 and a probe cover 3401 for accommodating (or covering) the probe 3402. You can.
일 실시 예에 따르면, 프로브(2002)는 프로브 바디(body)(3411), 광섬유(3412), 프로브 너트(3414) 및/또는 프로브 튜브(3415)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 광섬유(3412)는 프로브 바디(3411)의 일 단에 연결될 수 있다. 프로브 바디(3411)는 광학 시스템(또는, 공초점 내시현미경)(3400)의 사용자가 파지(grip)하는 부분으로 참조될 수 있다. 프로브 너트(3414)는 프로브 바디(3411)와 프로브 튜브(3415)를 연결하는 구성(component)으로 참조될 수 있다. 프로브 튜브(3415)의 적어도 일부는 신체 내로 인입될 수 있다.According to one embodiment, the probe 2002 may include a probe body 3411, an optical fiber 3412, a probe nut 3414, and/or a probe tube 3415. In one embodiment, the optical fiber 3412 may be connected to one end of the probe body 3411. The probe body 3411 may be referred to as a part of the optical system (or confocal endoscopic microscope) 3400 that the user grips. The probe nut 3414 may be referred to as a component connecting the probe body 3411 and the probe tube 3415. At least a portion of the probe tube 3415 may be introduced into the body.
본 개시의 도 34의 프로브(3402)는 도 20의 프로브(2002)와 다르게 벤딩부(2013)를 포함하지 않는 프로브로 이해될 수 있다.The probe 3402 of FIG. 34 of the present disclosure may be understood as a probe that does not include a bending portion 2013, unlike the probe 2002 of FIG. 20.
일 실시 예에 따르면, 프로브 커버(3401)는 커버 튜브(3420) 및 커버 팁(3430)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 커버 튜브(3420)는 프로브 튜브(3415)의 적어도 일부를 수용하기 위한 제1 부분(3421) 및 프로브 너트(3414)를 수용하기 위한 제2 부분(3422)을 포함할 수 있다.According to one embodiment, the probe cover 3401 may include a cover tube 3420 and a cover tip 3430. In one embodiment, the cover tube 3420 may include a first portion 3421 for receiving at least a portion of the probe tube 3415 and a second portion 3422 for receiving the probe nut 3414. .
일 실시 예에 따르면, 제1 부분(3421)은 제1 영역(3421a) 및 제2 영역(3421b)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 영역(3421a)은 제1 반경의 외경을 가질 수 있고, 제2 영역(3421b)은 제2 반경의 외경을 가질 수 있다. 제1 반경은 제2 반경보다 작을 수 있다.According to one embodiment, the first part 3421 may include a first area 3421a and a second area 3421b. In one embodiment, the first area 3421a may have an outer diameter of a first radius, and the second area 3421b may have an outer diameter of a second radius. The first radius may be smaller than the second radius.
일 실시 예에 따르면, 커버 튜브(3420)는 프로브 튜브(3415)의 적어도 일부를 수용하기 위한 공간(3423)을 포함할 수 있다. 커버 튜브(3420)는 프로브 너트(3414)를 수용하기 위한 공간(1524)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 커버 튜브(3420)는 길이 방향으로 제1 길이(G1)(약: 18.6 mm)를 가질 수 있다.According to one embodiment, the cover tube 3420 may include a space 3423 for accommodating at least a portion of the probe tube 3415. Cover tube 3420 may include a space 1524 for receiving a probe nut 3414. In one embodiment, the cover tube 3420 may have a first length G1 (about 18.6 mm) in the longitudinal direction.
일 실시 예에 따르면, 커버 팁(3430)은 탄성 부재(3431) 및 광학 창(3432)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 탄성 부재(3431)는 제1 영역(3421a)의 외면의 전체를 둘러쌀 수 있다. 탄성 부재(3431)는 제2 영역(3421b)과 접착 또는 결합될 수 있다. 다만, 탄성 부재(3431)는 제1 영역(3421a)의 외면의 전체를 둘러싸더라도 제1 영역(3421a)과 접착되지 않은 상태일 수 있다. 즉, 탄성 부재(3431)는 제1 영역(3421a)의 외면 전체에 접하면서 제2 영역(3421b)의 일부에 접착될 수 있다.According to one embodiment, the cover tip 3430 may include an elastic member 3431 and an optical window 3432. In one embodiment, the elastic member 3431 may surround the entire outer surface of the first area 3421a. The elastic member 3431 may be adhered or combined with the second region 3421b. However, the elastic member 3431 may surround the entire outer surface of the first area 3421a but may not be adhered to the first area 3421a. That is, the elastic member 3431 may be adhered to a portion of the second region 3421b while contacting the entire outer surface of the first region 3421a.
일 실시 예에 따르면, 커버 튜브(3420)의 원위단은 제2 길이(G2)(약: 7.0 mm)의 외경을 가질 수 있다. 또 다른 예를 들어, 커버 튜브(3420)의 제2 영역(3421b)은 제2 길이(G2)의 외경을 가질 수 있다.According to one embodiment, the distal end of the cover tube 3420 may have an outer diameter of the second length G2 (approximately 7.0 mm). For another example, the second area 3421b of the cover tube 3420 may have an outer diameter of the second length G2.
일 실시 예에 따르면, 제1 부분(3421)은 길이 방향으로 제3 길이(G3)(약: 7.0 mm)를 가질 수 있다.According to one embodiment, the first portion 3421 may have a third length G3 (approximately: 7.0 mm) in the longitudinal direction.
본 개시의 도 34에서 설명된 제1 길이(G1), 제2 길이(G2) 및 제3 길이(G3)의 수치적 예시는 일 예시일 뿐이며, 본 개시를 한정하지 않는다.The numerical examples of the first length (G1), the second length (G2), and the third length (G3) described in FIG. 34 of the present disclosure are only examples and do not limit the present disclosure.
일 실시 예에 따르면, 도 34에 도시되지 않았으나, 드레이프는 제2 부분(3422)의 외면 전체에 걸쳐 열융착 될 수 있다. According to one embodiment, although not shown in FIG. 34, the drape may be heat-sealed over the entire outer surface of the second portion 3422.
일 실시 예에 따르면, 탄성 부재(3431)에 광학 창(3432)에 결합 또는 접착됨에 따라 프로브 튜브(3415)에 의해 광학 창(3432)이 손상되는 것이 방지될 수 있다. 예를 들어, 커버 튜브(3420)가 프로브 튜브(3415)에 씌어지는 과정에서 사용자의 실수 또는 기구적 한계로 인하여 프로브 튜브(3415)는 광학 창(3432)에 압력을 가할 수 있다. 탄성 부재(3431)에 광학 창(3432)에 결합되어있지 않은 경우에는 광학 창(3432)은 가해진 압력에 의해서 손상될 수 있다. 반면에, 일 실시 예에 따른 탄성 부재(3431)가 광학 창(3432)에 결합됨에 따라 광학 창(3432)에 압력이 가해지더라도 탄성 부재(3431)는 지정된 방향(예: 커버 튜브(3420)의 길이 방향)으로 신장할 수 있다. 탄성 부재(3431)가 탄력적으로 지정된 방향으로 신장됨에 따라 광학 창(3432)은 손상되거나 파손되지 않을 수 있다.According to one embodiment, the optical window 3432 can be prevented from being damaged by the probe tube 3415 by being coupled or adhered to the optical window 3432 by the elastic member 3431. For example, in the process of putting the cover tube 3420 on the probe tube 3415, the probe tube 3415 may apply pressure to the optical window 3432 due to a user's error or mechanical limitations. If the elastic member 3431 is not coupled to the optical window 3432, the optical window 3432 may be damaged by applied pressure. On the other hand, as the elastic member 3431 according to one embodiment is coupled to the optical window 3432, even if pressure is applied to the optical window 3432, the elastic member 3431 moves in a specified direction (e.g., in the cover tube 3420). It can be stretched in the longitudinal direction. As the elastic member 3431 elastically extends in a specified direction, the optical window 3432 may not be damaged or broken.
본 개시의 일 실시 예에 따른 공초점 내시현미경(confocal endomicroscope)의 프로브(probe)를 둘러싸는 프로브 커버(cover)는 커버 튜브를 포함할 수 있다. 상기 커버 튜브는 상기 프로브의 프로브 튜브를 수용하는 제1 부분 및 상기 프로브 튜브의 근위단에 위치하는 프로브 너트를 수용하는 제2 부분을 포함할 수 있다. 상기 제1 부분은 제1 길이의 외경(outside diameter)을 가지는 제1 영역 및 상기 제1 길이보다 긴 제2 길이의 외경을 가지는 제2 영역을 포함할 수 있다. 상기 제2 부분의 외면(outer surface)에는 제1 돌출부(protruding part)가 형성될 수 있고, 상기 제2 부분의 내면(inner surface)에는 복수의 제2 돌출부들이 형성될 수 있다. 프로브 커버는 상기 커버 튜브의 원위단에 결합되고, 광학 창(optical window) 및 탄성 부재를 포함하는 커버 팁(cover tip)을 포함할 수 있다. 상기 탄성 부재는 상기 제1 영역의 외면 전체를 둘러싸고, 상기 탄성 부재의 제1 면은 상기 제2 영역의 일부에 접착되며, 상기 탄성 부재의 제2 면은 상기 광학 창의 일부에 접착될 수 있다. 프로브 커버는 커버 너트를 포함할 수 있고, 상기 커버 너트의 내면에는 수용홈이 형성되고, 상기 수용홈은 상기 제2 부분의 상기 제1 돌출부와 결착될 수 있다. 프로브 커버는 상기 커버 너트의 외면의 전체에 걸쳐 열융착되어 결합된 커버 드레이프를 포함할 수 있다.A probe cover surrounding a probe of a confocal endomicroscope according to an embodiment of the present disclosure may include a cover tube. The cover tube may include a first part accommodating the probe tube of the probe and a second part accommodating a probe nut located at a proximal end of the probe tube. The first portion may include a first region having an outer diameter of a first length and a second region having an outer diameter of a second length longer than the first length. A first protruding part may be formed on the outer surface of the second part, and a plurality of second protruding parts may be formed on the inner surface of the second part. The probe cover is coupled to the distal end of the cover tube and may include a cover tip including an optical window and an elastic member. The elastic member may surround the entire outer surface of the first region, a first side of the elastic member may be adhered to a portion of the second region, and a second side of the elastic member may be bonded to a portion of the optical window. The probe cover may include a cover nut, and a receiving groove may be formed on an inner surface of the cover nut, and the receiving groove may be coupled to the first protrusion of the second portion. The probe cover may include a cover drape joined by heat fusion over the entire outer surface of the cover nut.
일 실시 예에 따르면, 상기 커버 튜브, 상기 탄성 부재 및 상기 광학 창은 일체로 형성될 수 있다.According to one embodiment, the cover tube, the elastic member, and the optical window may be formed as one body.
일 실시 예에 따르면, 상기 커버 튜브 및 상기 탄성 부재는 일체로 형성될 수 있고, 상기 광학 창은 상기 커버 튜브의 원위단에 접착될 수 있다.According to one embodiment, the cover tube and the elastic member may be formed integrally, and the optical window may be adhered to the distal end of the cover tube.
일 실시 예에 따르면, 상기 제2 영역의 외경에 해당하는 상기 제2 길이는 상기 커버 튜브의 원위단에서 상기 커버 튜브의 상기 근위단으로 갈수록 점진적으로 증가할 수 있다.According to one embodiment, the second length corresponding to the outer diameter of the second region may gradually increase from the distal end of the cover tube to the proximal end of the cover tube.
일 실시 예에 따르면, 상기 복수의 제2 돌출부들은 상기 제2 부분의 길이 방향에 수직할 수 있다. 상기 복수의 제2 돌출부들 중 제1 돌기(protrusion)는 상기 제2 부분의 상기 내면 중 제1 지점에 형성될 수 있다. 상기 복수의 제2 돌출부들 중 제2 돌기는 상기 제2 부분의 상기 내면 중 상기 제1 지점과 대칭인 제2 지점에 형성될 수 있다.According to one embodiment, the plurality of second protrusions may be perpendicular to the longitudinal direction of the second portion. A first protrusion among the plurality of second protrusions may be formed at a first point on the inner surface of the second portion. A second protrusion among the plurality of second protrusions may be formed at a second point symmetrical to the first point on the inner surface of the second portion.
일 실시 예에 따르면, 제2 돌출부들(2120)은 제2 부분(2022)의 내면의 둘레 라인을 따라 동일한 간격마다 형성되며, 상기 둘레 라인은 상기 제2 부분(2022)의 중심에 위치할 수 있다.According to one embodiment, the second protrusions 2120 are formed at equal intervals along the circumferential line of the inner surface of the second part 2022, and the circumferential line may be located at the center of the second part 2022. there is.
일 실시 예에 따른 프로브 커버는 상기 커버 튜브, 상기 커버 너트 및 상기 커버 드레이프 중 적어도 하나에 부착된 표지(marker)를 더 포함할 수 있다. 상기 표지를 통해 상기 프로브 커버가 인증된 경우에만 상기 프로브 커버에 수용된 상기 프로브가 동작하도록 설정될 수 있다.The probe cover according to one embodiment may further include a marker attached to at least one of the cover tube, the cover nut, and the cover drape. The probe accommodated in the probe cover can be set to operate only when the probe cover is authenticated through the label.
일 실시 예에 따르면, 상기 표지는 NFC(near-field communication) 태그(tag) 또는 바코드 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the sign may include at least one of a near-field communication (NFC) tag or a barcode.
일 실시 예에 따르면, 상기 커버 튜브의 길이는 200m 이내로 형성될 수 있다.According to one embodiment, the length of the cover tube may be less than 200 m.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 길이의 외경을 가지는 상기 제1 영역과 상기 제2 길이의 외경을 가지는 상기 제2 영역은 단차(off-set)를 형성할 수 있다. 상기 제1 영역은 제1 단(step)을 형성할 수 있고, 상기 제2 영역은 제2 단을 형성할 수 있다.According to one embodiment, the first area having an outer diameter of the first length and the second area having an outer diameter of the second length may form an offset. The first area may form a first step, and the second area may form a second step.
일 실시 예에 따르면, 상기 탄성 부재는 상기 제2 영역이 형성하는 상기 제2 단에 접착될 수 있다.According to one embodiment, the elastic member may be adhered to the second end formed by the second region.
일 실시 예에 따르면, 상기 탄성 부재는 상기 제2 단에서부터 상기 제1 단까지의 제1 높이보다 긴 제2 높이를 가질 수 있다.According to one embodiment, the elastic member may have a second height that is longer than the first height from the second end to the first end.
일 실시 예에 따르면, 상기 탄성 부재는 상기 제2 단에 접착될 수 있다. 상기 탄성 부재는 상기 광학 창의 아래에 형성되어 상기 광학 창을 지지하는 가이드 구조를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the elastic member may be adhered to the second end. The elastic member may include a guide structure formed below the optical window to support the optical window.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 돌출부는 상기 수용홈에 결착되도록, 잠금 구조의 형상을 가질 수 있다.According to one embodiment, the first protrusion may have the shape of a locking structure so as to be attached to the receiving groove.
일 실시 예에 따르면, 상기 탄성 부재의 외경은 상기 제2 길이보다 긴 제3 길이에 해당할 수 있다.According to one embodiment, the outer diameter of the elastic member may correspond to a third length that is longer than the second length.
일 실시 예에 따르며, 상기 탄성 부재는 제3 영역 및 상기 제3 영역과 단차를 가지는 제4 영역을 포함할 수 있다. 상기 제3 영역은 제3 단을 형성하고 상기 제4 영역은 제4 단을 형성할 수 있다. 상기 광학 창은 상기 제3 영역이 형성하는 상기 제3 단에 위치할 수 있다.According to one embodiment, the elastic member may include a third region and a fourth region having a step difference from the third region. The third region may form a third stage and the fourth region may form a fourth stage. The optical window may be located at the third end formed by the third region.
도 35는 일 실시 예에 따른 프로브를 설명하기 위한 도면이다.Figure 35 is a diagram for explaining a probe according to an embodiment.
도 35를 참고하면, 일 실시 예에 따른 공초점 내시현미경(또는, 광학 시스템)(3500)은 프로브(3501) 및/또는 프로브(3501)와 연결된 이미지 처리 장치(3502)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 35, a confocal endoscopic microscope (or optical system) 3500 according to an embodiment may include a probe 3501 and/or an image processing device 3502 connected to the probe 3501.
일 실시 예에 따른 프로브(3501)는 프로브 바디(body)(3510), 벤딩부(bending portion)(3520) 및/또는 프로브 튜브(3530)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 이미지 처리 장치(3502)는 적어도 하나의 프로세서(3503)를 포함할 수 있고, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 이미지 처리 장치(3502)가 수신한 이미지들을 처리(process)할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 이미지 처리 장치(3502)가 수신한 이미지들을 스티칭(stitching)할 수 있다.The probe 3501 according to one embodiment may include a probe body 3510, a bending portion 3520, and/or a probe tube 3530. In one embodiment, the image processing device 3502 may include at least one processor 3503, and the at least one processor 3503 may process images received by the image processing device 3502. there is. For example, at least one processor 3503 may stitch images received by the image processing device 3502.
일 실시 예에 따르면, 프로브 바디(3510)는 프로브(3501)의 사용자가 파지하는 부분으로 참조될 수 있다. 일 실시 예에서, 프로브 바디(3510)는 프로브(3501)의 근위단을 포함할 수 있다. 예를 들어, 프로브(3501)의 근위단이란 프로브(3501)의 단들(ends) 중 프로브 바디(3510)에 포함된 단으로 참조될 수 있다.According to one embodiment, the probe body 3510 may be referred to as a part of the probe 3501 that the user holds. In one embodiment, probe body 3510 may include the proximal end of probe 3501. For example, the proximal end of the probe 3501 may be referred to as an end included in the probe body 3510 among the ends of the probe 3501.
일 실시 예에 따르면, 프로브 바디(3510)는 프로브(3501)와 연관된 다양한 모듈들 또는 회로들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 프로브 바디(3510)는 A 부분에 센서 모듈(3511)을 포함할 수 있다. 센서 모듈(3511)은 가속도 센서 및/또는 자이로 센서를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the probe body 3510 may include various modules or circuits associated with the probe 3501. For example, the probe body 3510 may include a sensor module 3511 in portion A. The sensor module 3511 may include an acceleration sensor and/or a gyro sensor.
또 다른 예를 들어, 센서 모듈(3511)은 IMU(inertial measurement unit) 센서, 제스처 센서, 자이로 센서, 기압 센서, 가속도 센서, 마그네틱 센서, 그립 센서, IR(infrared) 센서, 근접 센서, 컬러 센서, 습도 센서, 온도 센서, 생체 센서 및/또는 조도 센서를 포함할 수 있다.For another example, the sensor module 3511 may include an inertial measurement unit (IMU) sensor, a gesture sensor, a gyro sensor, a barometric pressure sensor, an acceleration sensor, a magnetic sensor, a grip sensor, an infrared (IR) sensor, a proximity sensor, a color sensor, It may include a humidity sensor, temperature sensor, biometric sensor, and/or illuminance sensor.
일 실시 예에 따르면, 벤딩부(3520)는 지정된 각도만큼 휘어질 수 있고, 벤딩부(3520)를 통해 프로브 바디(3510)와 프로브 튜브(3530)는 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 프로브 바디(3510)와 프로브 튜브(3530)는 상기 지정된 각도를 이룰 수 있다.According to one embodiment, the bending portion 3520 may be bent by a specified angle, and the probe body 3510 and the probe tube 3530 may be connected through the bending portion 3520. In one embodiment, the probe body 3510 and the probe tube 3530 may form the specified angle.
일 실시 예에 따르면, 프로브 튜브(3530)는 광섬유 스캐너(3531) 및 렌즈(또는, 수광부)(3532)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 광섬유 스캐너(3531)는 신체의 조직에 조사광을 조사할 수 있다. 신체의 조직(예: 세포)에 조사된 조사광에 대응하여 조직으로부터 여기광(excitation light)이 방출될 수 있다. 렌즈(3532) 또는 수광부는 방출된 여기광을 수광(receive)할 수 있다.According to one embodiment, the probe tube 3530 may include an optical fiber scanner 3531 and a lens (or light receiver) 3532. In one embodiment, the optical fiber scanner 3531 may radiate light to body tissues. Excitation light may be emitted from the tissue in response to irradiated light on the tissue (e.g., cell) of the body. The lens 3532 or the light receiving unit may receive the emitted excitation light.
일 실시 예에 따르면, 센서 모듈(3511)은 가속도 센서를 포함할 수 있고, 가속도 센서를 이용하여 프로브(3501)의 가속도를 측정할 수 있다. 예를 들어, 가속도 센서는 프로브(3501)를 기준으로 제1 축(예: x축), 제2 축(예: y축) 및 제3 축(예: z축)을 식별할 수 있고, 프로브(3501) 또는 프로브 바디(3510)가 이동하는 경우 식별된 3개의 축을 기준으로 각각의 축방향으로의 가속도 값을 측정, 획득 또는 식별할 수 있다. According to one embodiment, the sensor module 3511 may include an acceleration sensor and may measure the acceleration of the probe 3501 using the acceleration sensor. For example, the acceleration sensor may identify a first axis (e.g., x-axis), a second axis (e.g., y-axis), and a third axis (e.g., z-axis) based on the probe 3501, and the probe (3501) Alternatively, when the probe body 3510 moves, acceleration values in each axial direction can be measured, acquired, or identified based on the three identified axes.
일 실시 예에 따르면, 센서 모듈(3511)과 전기적으로 연결된 이미지 처리 장치(3502)의 적어도 하나의 프로세서(3503)는 가속도 센서를 통해 측정한 가속도 값에 기반하여 프로브(3501)의 위치 정보(예: 프로브(3501)의 위치, 또는 프로브(3501)의 움직임)를 식별할 수 있다. 예를 들어, 프로브(3501)가 제1 방향 또는 제2 방향으로 이동하는 경우에 적어도 하나의 프로세서(3503)는 센서 모듈(3511)을 이용하여 프로브(3501)의 이동을 식별할 수 있고, 프로브(3501)의 위치를 식별할 수 있다.According to one embodiment, at least one processor 3503 of the image processing device 3502 electrically connected to the sensor module 3511 provides location information (e.g., location information) of the probe 3501 based on the acceleration value measured through the acceleration sensor. : The position of the probe 3501 or the movement of the probe 3501 can be identified. For example, when the probe 3501 moves in the first direction or the second direction, at least one processor 3503 may identify the movement of the probe 3501 using the sensor module 3511, and the probe 3501 may identify the movement of the probe 3501. The location of (3501) can be identified.
일 실시 예에 따르면, 센서 모듈(3511)은 자이로 센서를 포함할 수 있고, 자이로 센서를 이용하여 프로브(3501)의 각속도를 측정할 수 있다. 예를 들어, 자이로 센서는 프로브(3501)를 기준으로 제1 축(예: x축), 제2 축(예: y축) 및 제3 축(예: z축)을 식별할 수 있고, 프로브(3501)가 회전하는 경우 식별된 3개의 축을 기준으로 각각의 축에서의 각속도 값을 측정할 수 있다. According to one embodiment, the sensor module 3511 may include a gyro sensor and measure the angular velocity of the probe 3501 using the gyro sensor. For example, the gyro sensor may identify a first axis (e.g., x-axis), a second axis (e.g., y-axis), and a third axis (e.g., z-axis) based on the probe 3501, and the probe When (3501) rotates, the angular velocity value in each axis can be measured based on the three identified axes.
일 실시 예에 따르면, 센서 모듈(3511)과 전기적으로 연결된 적어도 하나의 프로세서(3503)는 자이로 센서를 통해 측정한 각속도 값에 기반하여 프로브(3501)의 회전을 식별할 수 있다.According to one embodiment, at least one processor 3503 electrically connected to the sensor module 3511 may identify the rotation of the probe 3501 based on the angular velocity value measured through the gyro sensor.
일 실시 예에 따르면, 센서 모듈(3511)은 프로브(3501) 또는 프로브 바디(3510)의 위치를 감지(detect), 식별(identify) 또는 결정(determine)하기 위한 하드웨어 구성(component)로 참조될 수 있다. 따라서, 센서 모듈(3511)이라는 용어는 센서(sensor), 센서 회로(sensor circuit) 또는 센싱 회로(sensing circuit)로 대체될 수 있다.According to one embodiment, the sensor module 3511 may be referred to as a hardware component for detecting, identifying, or determining the location of the probe 3501 or the probe body 3510. there is. Accordingly, the term sensor module 3511 can be replaced with sensor, sensor circuit, or sensing circuit.
본 개시의 도 35에서는 이미지 처리 장치(3502)에 적어도 하나의 프로세서(3503)가 포함되는 것으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이다. 예를 들어, 프로브 바디(3510)의 위치 또는 회전을 식별하기 위한 프로세서는 프로브 바디(3510) 내에 배치될 수 있다. 또 다른 예를 들어, 프로브 바디(3510)의 위치를 식별하기 위한 프로세서는 프로브 바디(3510) 내에 배치될 수 있고, 프로브 바디(3510)의 회전은 적어도 하나의 프로세서(3503)에 의해 식별될 수 있다. 즉, 프로브 바디(3510)의 위치 및 회전을 식별하기 위한 적어도 하나의 프로세서는 프로브 바디(3510) 및/또는 이미지 처리 장치(3502)에 배치될 수 있다.In FIG. 35 of the present disclosure, it is explained that the image processing device 3502 includes at least one processor 3503, but this is only an example. For example, a processor for identifying the position or rotation of the probe body 3510 may be disposed within the probe body 3510. As another example, a processor for identifying the position of the probe body 3510 may be disposed within the probe body 3510, and the rotation of the probe body 3510 may be identified by at least one processor 3503. there is. That is, at least one processor for identifying the position and rotation of the probe body 3510 may be disposed in the probe body 3510 and/or the image processing device 3502.
도 36은 일 실시 예에 따른 센서 모듈의 위치와 프로브 팁의 위치 간 차이를 설명하기 위한 도면이다.Figure 36 is a diagram for explaining the difference between the position of the sensor module and the position of the probe tip according to one embodiment.
도 36을 참고하면, 일 실시 예에 따른 프로브 바디(3510) 내에 위치하는 센서 모듈(3511)은 제1 위치 정보를 가질 수 있다. 예를 들어, 센서 모듈(3511)은 제1 시점에서 센서 모듈(3511)의 위치 정보를 획득 또는 측정할 수 있다. 획득된 센서 모듈(3511)의 제1 위치 정보는 제1 축(예: x축), 제2 축(예: y축) 및 제3 축(예: z축)을 포함하는 3차원 좌표들(three dimensional coordinates)로 지시(indicated)될 수 있다. 예를 들어, 제1 위치 정보는 o = (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000001
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000002
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000003
)로 지시될 수 있다.
Referring to FIG. 36, the sensor module 3511 located within the probe body 3510 according to one embodiment may have first location information. For example, the sensor module 3511 may acquire or measure location information of the sensor module 3511 at a first point in time. The acquired first position information of the sensor module 3511 includes three-dimensional coordinates (e.g., x-axis), a second axis (e.g., y-axis), and a third axis (e.g., z-axis). It can be indicated with three dimensional coordinates. For example, the first location information is o = (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000001
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000002
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000003
) can be indicated.
일 실시 예에 따르면, 프로브(3501)의 프로브 팁(3610)은 제1 위치 정보와 구별되는 위치 정보를 가질 수 있다. 예를 들어, 프로브 팁(3610)의 위치 정보는 p = (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000004
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000005
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000006
)로 지시될 수 있다. 따라서, 센서 모듈(3511)의 위치와 프로브 팁(3610)의 위치는 차이가 있을 수 있다.
According to one embodiment, the probe tip 3610 of the probe 3501 may have location information that is distinct from the first location information. For example, the position information of the probe tip 3610 is p = (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000004
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000005
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000006
) can be indicated. Accordingly, the location of the sensor module 3511 and the location of the probe tip 3610 may be different.
일 실시 예에 따르면, 센서 모듈(3511)의 위치와 프로브 팁(3610)의 위치 간의 차이는 미리 결정될 수 있다. 예를 들어, 센서 모듈(3511)의 위치와 프로브 팁(3610)의 위치 간의 차이는 프로브(3501) 내 센서 모듈(3511)과 프로브 팁(3610) 간의 상대적인 위치 정보 및 프로브 팁(3610)이 향하는 방향에 대한 정보를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the difference between the position of the sensor module 3511 and the position of the probe tip 3610 may be determined in advance. For example, the difference between the position of the sensor module 3511 and the position of the probe tip 3610 is the relative position information between the sensor module 3511 and the probe tip 3610 within the probe 3501 and the direction toward which the probe tip 3610 is directed. May contain information about direction.
예를 들어, 상대적인 위치 정보는 센서 모듈(3511)이 포함된 프로브 바디(3510)의 길이, 프로브 팁(3610)이 포함된 프로브 튜브(3530)의 길이 및/또는 프로브 바디(3510)와 프로브 튜브(3530) 간의 각도(예:
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000007
)에 대한 정보를 포함할 수 있다. 일 예시에서, 프로브 바디(3510)와 프로브 튜브(3530) 간의 각도는 실질적으로 벤딩부(3520)의 벤딩 각도에 해당할 수 있다.
For example, relative position information may include the length of the probe body 3510 including the sensor module 3511, the length of the probe tube 3530 including the probe tip 3610, and/or the length of the probe body 3510 and the probe tube. (3530) The angle between
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000007
) may include information about. In one example, the angle between the probe body 3510 and the probe tube 3530 may substantially correspond to the bending angle of the bending portion 3520.
예를 들어, 프로브 팁(3610)이 향하는 방향에 대한 정보는 센서 모듈(3511)의 자이로 센서로부터 획득될 수 있다. 예를 들어, 프로브 팁(3610)이 향하는 방향에 대한 정보는 기준 축(예: x 축)으로부터의 각도(예:
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000008
)로 지시될 수 있다.
For example, information about the direction in which the probe tip 3610 faces may be obtained from the gyro sensor of the sensor module 3511. For example, information about the direction in which the probe tip 3610 is facing may include an angle from a reference axis (e.g., x-axis), e.g.
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000008
) can be indicated.
일 실시 예에 따르면, 센서 모듈(3511)이 위치한 프로브 바디(3510)의 제1 지점(o), 제1 벡터(v1) 및 제2 벡터(v2)를 이용하여 프로브 팁(3610)의 위치인 제2 지점(p)의 좌표가 계산될 수 있다. 예를 들어, 제1 지점(o)에서 벤딩부(3520)의 제3 지점(m)까지는 제1 벡터(v1)로 지시될 수 있고, 제3 지점(m)에서부터 제2 지점(p)까지는 제2 벡터(v2)로 지시될 수 있다. 결과적으로, 제1 지점(o)과 제1 벡터(v1) 및 제2 벡터(v2)의 벡터 합을 이용하면 제2 지점(p)의 좌표가 획득될 수 있다. 즉, 센서 모듈(3511)의 위치 정보(예: 제1 지점(o)의 좌표)와 제1 벡터(v1) 및 제2 벡터(v2)만 식별되더라도 프로브 팁(3610)의 위치 정보(예: 제2 지점(p)의 좌표)가 식별될 수 있다.According to one embodiment, the position of the probe tip 3610 is determined using the first point (o), the first vector (v1), and the second vector (v2) of the probe body 3510 where the sensor module 3511 is located. The coordinates of the second point (p) may be calculated. For example, from the first point (o) to the third point (m) of the bending part 3520 may be indicated by the first vector (v1), and from the third point (m) to the second point (p) It may be indicated by the second vector (v2). As a result, the coordinates of the second point (p) can be obtained by using the vector sum of the first point (o), the first vector (v1), and the second vector (v2). That is, even if only the location information of the sensor module 3511 (e.g., coordinates of the first point (o)) and the first vector (v1) and the second vector (v2) are identified, the location information of the probe tip 3610 (e.g., Coordinates of the second point (p) may be identified.
일 실시 예에 따르면, 제1 벡터(v1)는 실질적으로 센서 모듈(3511)이 포함된 프로브 바디(3510)의 길이, 및 프로브 바디(3510)와 프로브 튜브(3530)가 이루는 각도(예:
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000009
)를 통해 획득될 수 있다. 제2 벡터(v2)는 실질적으로 프로브 튜브(3530)의 길이, 및 프로브 팁(3610)이 향하는 방향에 대한 정보를 통해 획득될 수 있다.
According to one embodiment, the first vector v1 is substantially the length of the probe body 3510 including the sensor module 3511, and the angle formed between the probe body 3510 and the probe tube 3530 (e.g.
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000009
) can be obtained through. The second vector v2 can be substantially obtained through information about the length of the probe tube 3530 and the direction in which the probe tip 3610 faces.
일 실시 예에 따르면, 이미지 처리 장치(3502)의 적어도 하나의 프로세서(3503)는 프로브(3501)가 획득한 복수의 이미지들을 가상의 평면에 투영(project) 또는 정사영함으로써 복수의 이미지들을 스티칭할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503)가 복수의 이미지들을 스티칭하기 위해서는 복수의 이미지들 각각에 대응하는 위치 정보를 획득해야할 필요가 있다.According to one embodiment, at least one processor 3503 of the image processing device 3502 may stitch a plurality of images by projecting or orthographically projecting the plurality of images acquired by the probe 3501 onto a virtual plane. there is. In order for at least one processor 3503 to stitch a plurality of images, it is necessary to obtain location information corresponding to each of the plurality of images.
다만, 프로브(3501) 내의 센서 모듈(3511)은 프로브 바디(3510)에 위치하기 때문에 적어도 하나의 프로세서(3503)가 센서 모듈(3511)이 획득한 위치 정보를 이용하여 복수의 이미지들을 투영하는 경우에는 오차가 발생할 수 있다.However, since the sensor module 3511 in the probe 3501 is located in the probe body 3510, when at least one processor 3503 projects a plurality of images using the location information acquired by the sensor module 3511 Errors may occur.
따라서, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 오차의 발생을 최소화하거나 방지하기 위해 센서 모듈(3511)의 위치 정보를 조직과 인접한 프로브 팁(3610)의 위치 정보로 캘리브레이션(또는, 보정)할 필요가 있다.Therefore, at least one processor 3503 needs to calibrate (or correct) the position information of the sensor module 3511 with the position information of the probe tip 3610 adjacent to the tissue in order to minimize or prevent the occurrence of errors. .
결과적으로, 일 실시 예에 따른 적어도 하나의 프로세서(3503)는 센서 모듈(3511)의 위치 정보와 상술된 미리 결정된 파라미터에 기반하여 센서 모듈(3511)의 위치 정보를 보정된 위치 정보(calibrated location information)로 변환할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503)는 보정된 위치 정보를 이용하여 복수의 이미지들을 스티칭할 수 있다.As a result, the at least one processor 3503 according to one embodiment provides calibrated location information of the sensor module 3511 based on the location information of the sensor module 3511 and the predetermined parameters described above. ) can be converted to . At least one processor 3503 may stitch a plurality of images using the corrected location information.
도 37은 일 실시 예에 따른 프로브를 통해 획득된 이미지들의 스티칭을 설명하기 위한 도면이다.Figure 37 is a diagram for explaining stitching of images acquired through a probe according to an embodiment.
도 37을 참고하면, 일 실시 예에 따른 프로브(3501)는 이동할 수 있고, 서로 다른 위치를 가지는 조직들의 이미지들이 획득될 수 있다. 예를 들어, 제1 시점(t1)에서 프로브(3501)는 조직(3701)의 제1 영역(311)의 이미지를 획득할 수 있다. 제2 시점(t2)에서 프로브(3501)는 조직(3701)의 제2 영역(3712)의 이미지를 획득할 수 있다. 제3 시점(t3)에서 프로브(3501)는 조직(3701)의 제3 영역(3713)의 이미지를 획득할 수 있고, 제4 시점(t4)에서 프로브(3501)는 제4 영역(3714)의 이미지를 획득할 수 있다.Referring to FIG. 37, the probe 3501 according to one embodiment can move, and images of tissues having different positions can be acquired. For example, at the first time point t1, the probe 3501 may acquire an image of the first region 311 of the tissue 3701. At the second time point t2, the probe 3501 may acquire an image of the second region 3712 of the tissue 3701. At a third time point t3, the probe 3501 may acquire an image of the third area 3713 of the tissue 3701, and at a fourth time point t4, the probe 3501 may acquire an image of the fourth area 3714. Images can be obtained.
한편, 조직(3701)의 병변을 사용자가 관찰하여 진단하기 위해서는 조직(3701)의 각 영역들이 스티칭되어야할 수 있다. 예를 들어, 프로브(3501)는 제1 시점(t1)에서 제5 영역(3725)의 제5 이미지를 획득할 수 있다. 프로브(3501)는 제2 시점(t2)에서 제6 영역(3726)의 제6 이미지를 획득할 수 있다. 일 예시에서, 제6 영역(3726)은 제5 영역(3725)의 적어도 일부를 포함할 수 있다. 즉, 제6 이미지는 제1 시점(t1)에 획득된 제5 이미지와 제2 시점(t3)에 획득된 단순 이미지가 스티칭된 이미지에 해당할 수 있다.Meanwhile, in order for a user to observe and diagnose a lesion in the tissue 3701, each region of the tissue 3701 may need to be stitched. For example, the probe 3501 may acquire the fifth image of the fifth area 3725 at the first time point t1. The probe 3501 may acquire the sixth image of the sixth area 3726 at the second time point t2. In one example, the sixth area 3726 may include at least a portion of the fifth area 3725. That is, the sixth image may correspond to an image in which the fifth image acquired at the first time point t1 and the simple image acquired at the second time point t3 are stitched.
예를 들어, 프로브(3501)는 제3 시점(t3)에서 제7 영역(3727)의 제7 이미지를 획득할 수 있다. 일 예시에서, 제7 이미지는 제2 시점(t2)에 획득된 제6 이미지와 제3 시점(t3)에 획득된 단순 이미지가 스티칭된 이미지에 해당할 수 있다. For example, the probe 3501 may acquire the seventh image of the seventh area 3727 at the third time point t3. In one example, the seventh image may correspond to an image in which the sixth image acquired at the second time point t2 and the simple image acquired at the third time point t3 are stitched.
예를 들어, 프로브(3501)는 제4 시점(t4)에서 제8 영역(3728)의 제8 이미지를 획득할 수 있다. 일 예시에서, 제8 이미지는 제3 시점(t3)에 획득된 제7 이미지와 제4 시점(t4)에 획득된 단순 이미지가 스티칭된 이미지에 해당할 수 있다.For example, the probe 3501 may acquire the eighth image of the eighth area 3728 at the fourth time point t4. In one example, the eighth image may correspond to an image in which the seventh image acquired at the third time point t3 and the simple image acquired at the fourth time point t4 are stitched.
본 개시의 단순 이미지란 스티칭되지 않은 이미지로 참조될 수 있다. 예를 들어, 단순 이미지란 프로브(3501)가 각 시점에 획득한 이미지로서 스티칭되지 않은 이미지로 참조될 수 있다. 즉, 단순 이미지는 스티칭 이미지와 구분하기 위해 지칭된 것으로 이해될 수 있다.A simple image in the present disclosure may be referred to as an unstitched image. For example, a simple image is an image acquired by the probe 3501 at each time point and may be referred to as an unstitched image. In other words, simple images can be understood as being referred to to distinguish them from stitched images.
도 38은 일 실시 예에 따른 보정된 위치 정보를 획득하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.Figure 38 is a diagram for explaining a method of obtaining corrected location information according to an embodiment.
도 38을 참고하면, 일 실시 예에 따른 적어도 하나의 프로세서(3503)는 동작 3801에서 제1 시점일 때(또는, 제1 시점에 대응하는) 조직의 제1 영역에 대한 제1 이미지를 획득할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 프로브(3501)를 이용하여 제1 시점에서 신체 내 조직의 제1 영역에 대한 제1 이미지를 획득 또는 촬영(capturing)할 수 있다. Referring to FIG. 38, at least one processor 3503 according to an embodiment acquires a first image of a first region of the tissue at a first viewpoint (or corresponding to the first viewpoint) in operation 3801. You can. For example, at least one processor 3503 may acquire or capture a first image of a first region of tissue in the body at a first viewpoint using the probe 3501.
예를 들어, 프로브(3501)는 제1 시점에서 사용자의 입력(예: 버튼에 대한 입력)을 수신할 수 있고, 프로브(3501)는 수신된 사용자 입력에 기반하여 제1 시점에서 신체 내 조직의 제1 영역에 대한 제1 이미지를 획득할 수 있다. 일 예시에서, 프로브(3501)의 사용자 입력 수신 및/또는 제1 이미지의 획득은 적어도 하나의 프로세서(3503)의 제어에 의해 수행될 수 있다.For example, the probe 3501 may receive a user's input (e.g., an input to a button) at a first point in time, and the probe 3501 may determine the location of tissue in the body at the first point in time based on the received user input. A first image of the first area may be acquired. In one example, receiving user input and/or acquiring the first image of the probe 3501 may be performed under the control of at least one processor 3503.
일 실시 예에 따르면, 제1 이미지는 프로브(3501)의 광섬유 스캐너(3531)가 조직에 조사광을 조사하고 프로브(3501)의 렌즈(또는, 수광부)(3532)가 조직으로부터 방출된 여기광(excitation light)을 수광하는 동안 획득될 수 있다.According to one embodiment, the first image is generated when the optical fiber scanner 3531 of the probe 3501 radiates light to the tissue and the lens (or light receiver) 3532 of the probe 3501 emits excitation light ( It can be obtained while receiving excitation light.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 동작 3803에서 제1 시점에 대응하는 센서 모듈(3511)의 제1 위치 정보를 획득할 수 있다. According to one embodiment, at least one processor 3503 may acquire first location information of the sensor module 3511 corresponding to the first viewpoint in operation 3803.
일 실시 예에 따르면, 센서 모듈(3511)은 가속도 센서를 포함할 수 있다. 센서 모듈(3511)의 가속도 센서는 제1 시점에서 프로브(3501)의 가속도 정보를 획득할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503) 또는 가속도 센서는 프로브(3501)의 가속도 정보에 기반하여 센서 모듈(3511)의 제1 위치 정보를 획득할 수 있다. According to one embodiment, the sensor module 3511 may include an acceleration sensor. The acceleration sensor of the sensor module 3511 may acquire acceleration information of the probe 3501 at a first point in time. At least one processor 3503 or an acceleration sensor may obtain first location information of the sensor module 3511 based on acceleration information of the probe 3501.
예를 들어, 가속도 센서는 제1 시점에 대응하는 센서 모듈(3511)의 가속도 값들(또는, 가속도 정보)을 획득할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503)는 센서 모듈(3511)의 가속도 값들을 적분하여 센서 모듈(3511)의 위치 정보를 획득할 수 있다. 가속도 값들이 적분되어 획득된 위치 정보는 3차원 좌표계들에 따른 좌표들로 지시될 수 있다. 일 예시에서, 3차원 좌표계들은 제1 축(예; x축), 제2 축(예; y축) 및 제3 축(예; z축)을 포함할 수 있다.For example, the acceleration sensor may obtain acceleration values (or acceleration information) of the sensor module 3511 corresponding to the first viewpoint. At least one processor 3503 may obtain location information of the sensor module 3511 by integrating acceleration values of the sensor module 3511. Position information obtained by integrating acceleration values may be indicated as coordinates according to three-dimensional coordinate systems. In one example, three-dimensional coordinate systems may include a first axis (eg, x-axis), a second axis (eg, y-axis), and a third axis (eg, z-axis).
일 실시 예에 따르면, 센서 모듈(3511)의 제1 위치 정보는 기준 위치에 대한 상대적인 위치에 대한 정보일 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제1 시점 이전의 기준 시점(reference time point)에서 센서 모듈(3511)의 기준 위치(reference location)를 획득할 수 있다. 일 예시에서, 센서 모듈(3511)은 기준 시점의 기준 위치에 대한 상대적인 위치로서 센서 모듈(3511)의 제1 위치를 획득할 수 있다. 일 예시에서, 제1 위치 정보는 제1 시점의 센서 모듈(3511)의 제1 위치에 대한 정보를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the first location information of the sensor module 3511 may be information about the relative location with respect to the reference location. For example, at least one processor 3503 may acquire the reference location of the sensor module 3511 at a reference time point before the first time point. In one example, the sensor module 3511 may acquire the first position of the sensor module 3511 as a relative position with respect to the reference position at the reference time. In one example, the first location information may include information about the first location of the sensor module 3511 at a first point in time.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제1 시점에서 센서 모듈(3511)에서 측정된 제1 각속도 정보를 획득할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제1 각속도 정보에 포함된 각속도 값들을 이용하여 프로브(3501)의 기울기(inclination)를 획득할 수 있다.According to one embodiment, at least one processor 3503 may obtain first angular velocity information measured by the sensor module 3511 at a first point in time. At least one processor 3503 may obtain the inclination of the probe 3501 using the angular velocity values included in the first angular velocity information.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 동작 3805에서 획득된 제1 위치 정보 및 미리 결정된 파라미터에 기반하여 제1 보정된 위치 정보를 획득할 수 있다. 예를 들어, 획득된 제1 위치 정보는 프로브 바디(3510) 내 센서 모듈(3511)의 위치에 해당할 수 있다. 제1 보정된 위치 정보는 프로브(3501)의 프로브 팁(3610)의 위치에 해당할 수 있다. 일 예시에서, 프로브 팁(3610)은 조직과 인접한 프로브(3501)의 부분이므로 프로브 팁(3610)의 위치 정보는 실질적으로 조직의 위치 정보에 해당할 수 있다.According to one embodiment, at least one processor 3503 may obtain first corrected location information based on the first location information obtained in operation 3805 and a predetermined parameter. For example, the acquired first location information may correspond to the location of the sensor module 3511 within the probe body 3510. The first corrected position information may correspond to the position of the probe tip 3610 of the probe 3501. In one example, the probe tip 3610 is a part of the probe 3501 adjacent to the tissue, so the location information of the probe tip 3610 may substantially correspond to the location information of the tissue.
일 실시 예에 따르면, 제1 시점에서(또는, 제1 시점에 대응하는) 상기 프로브 팁(3610)의 제1 보정된 위치 정보는 제1 축(예: x축), 제2 축(예: y축) 및 제3 축(예: z축)을 포함하는 3차원 좌표들로 지시될 수 있다.According to one embodiment, the first corrected position information of the probe tip 3610 at a first viewpoint (or corresponding to the first viewpoint) includes a first axis (e.g., x-axis), a second axis (e.g., It may be indicated by three-dimensional coordinates including a y-axis) and a third axis (e.g., z-axis).
일 실시 예에 따르면, 제1 보정된 위치 정보는 제1 이미지의 위치 정보에 해당할 수 있다. 예를 들어, 제1 보정된 위치 정보는 제1 이미지가 스티칭될 때 필요한 제1 이미지의 위치 정보에 해당할 수 있다.According to one embodiment, the first corrected location information may correspond to the location information of the first image. For example, the first corrected position information may correspond to the position information of the first image required when the first image is stitched.
일 실시 예에 따르면, 미리 결정된 파라미터는 프로브(3501) 내 센서 모듈(3511)과 프로브(3501)의 프로브 팁(3610) 간의 상대적인 위치 정보 및/또는 프로브 팁(3610)이 향하는 방향에 대한 방향 정보를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 센서 모듈(3511)과 프로브 팁(3610) 간의 상대적인 위치 정보는 센서 모듈(3511)이 포함된 프로브 바디(3510)의 길이, 프로브 팁(3610)을 포함하는 프로브 튜브(3530)의 길이, 및/또는 프로브 바디(3510)와 프로브 튜브(3530)의 각도에 대한 정보를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the predetermined parameter is relative position information between the sensor module 3511 in the probe 3501 and the probe tip 3610 of the probe 3501 and/or direction information about the direction the probe tip 3610 is facing. may include. In one embodiment, the relative position information between the sensor module 3511 and the probe tip 3610 includes the length of the probe body 3510 including the sensor module 3511 and the probe tube 3530 including the probe tip 3610. It may include information about the length and/or the angle of the probe body 3510 and the probe tube 3530.
본 개시의 프로브 팁(3610)은 실질적으로 프로브(3501)의 원위단으로 참조될 수 있다. 따라서, 센서 모듈(3511)과 프로브 팁(3610) 간의 상대적인 위치 정보는 센서 모듈(3511)과 프로브(3501)의 원위단 간의 상대적인 위치 정보로 참조될 수 있다. Probe tip 3610 of the present disclosure may be substantially referred to as the distal end of probe 3501. Accordingly, relative position information between the sensor module 3511 and the probe tip 3610 may be referred to as relative position information between the sensor module 3511 and the distal end of the probe 3501.
본 개시에서는 프로브(3501)가 프로브 바디(3510), 벤딩부(3520) 및 프로브 튜브(3530)를 포함하는 것으로 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이다. 예를 들어, 프로브(3501)가 프로브 바디(3510)에 해당하는 제1 부분, 벤딩부(3520)에 해당하는 제2 부분 및 프로브 튜브(3530)에 해당하는 제3 부분을 포함하는 개념으로도 설명될 수 있다.In the present disclosure, the probe 3501 is described as including a probe body 3510, a bending portion 3520, and a probe tube 3530, but this is only an example. For example, the probe 3501 may be conceptually comprised of a first part corresponding to the probe body 3510, a second part corresponding to the bending part 3520, and a third part corresponding to the probe tube 3530. It can be explained.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)가 획득된 제1 위치 정보 및 미리 결정된 파라미터를 이용하여 제1 보정된 위치 정보를 획득하는 과정은 다음과 같을 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제1 위치 정보로부터 센서 모듈(3511)의 좌표(예: 도 36의 o = (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000010
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000011
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000012
))를 획득할 수 있다. 일 예시에서, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 센서 모듈(3511)이 포함된 프로브 바디(3510)의 길이, 및 프로브 바디(3510)와 프로브 튜브(3530)의 각도에 대한 정보를 이용하여 제3 지점의 좌표(예: 도 36의 m = (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000013
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000014
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000015
))를 획득할 수 있다. 일 예시에서, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 프로브 튜브(3530)의 길이 및 프로브 팁(3610)이 향하는 방향에 대한 방향 정보를 이용하여 프로브 팁(3610)의 좌표(예: 도 36의 p = (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000016
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000017
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000018
))를 획득할 수 있다. 결과적으로, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제1 위치 정보 및 미리 결정된 파라미터를 통해 조직의 좌표와 실질적으로 동일한 프로브 팁(3610)의 제1 좌표를 획득할 수 있다. 프로브 팁(3610)의 제1 좌표는 제1 시점에 대응할 수 있고, 프로브 팁(3610)의 제1 좌표는 실질적으로 조직의 제1 영역의 좌표에 해당할 수 있다.
According to one embodiment, a process in which at least one processor 3503 obtains first corrected location information using the obtained first location information and a predetermined parameter may be as follows. For example, at least one processor 3503 determines the coordinates of the sensor module 3511 (e.g., o = (in FIG. 36) from the first location information.
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000010
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000011
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000012
)) can be obtained. In one example, the at least one processor 3503 uses information about the length of the probe body 3510 including the sensor module 3511 and the angle between the probe body 3510 and the probe tube 3530 to create a third The coordinates of the point (e.g. m = (in Figure 36)
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000013
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000014
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000015
)) can be obtained. In one example, at least one processor 3503 uses orientation information about the length of the probe tube 3530 and the direction in which the probe tip 3610 is facing to determine the coordinates of the probe tip 3610 (e.g., p = in FIG. 36 ). (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000016
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000017
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000018
)) can be obtained. As a result, the at least one processor 3503 may obtain the first coordinates of the probe tip 3610 that are substantially the same as the coordinates of the tissue through the first position information and the predetermined parameter. The first coordinates of the probe tip 3610 may correspond to a first viewpoint, and the first coordinates of the probe tip 3610 may substantially correspond to the coordinates of the first region of the tissue.
도 39는 일 실시 예에 따른 제1 이미지와 제2 이미지를 스티칭하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.Figure 39 is a diagram for explaining a method of stitching a first image and a second image according to an embodiment.
도 39를 참고하면, 일 실시 예에 따른 적어도 하나의 프로세서(3503)는 동작 3907에서 제2 시점일 때(또는, 제2 시점에 대응하는) 조직의 제2 영역에 대한 제2 이미지를 획득할 수 있다. Referring to FIG. 39, at least one processor 3503 according to an embodiment acquires a second image of a second region of the tissue at a second viewpoint (or corresponding to the second viewpoint) in operation 3907. You can.
예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 프로브(3501)를 이용하여 제2 시점에서 신체 내 조직의 제2 영역에 대한 제2 이미지를 획득 또는 촬영(capturing)할 수 있다. 예를 들어, 프로브(3501)는 제2 시점에서 사용자의 입력(예: 버튼에 대한 입력)을 수신할 수 있고, 프로브(3501)는 수신된 사용자 입력에 기반하여 제2 시점에서 신체 내 조직의 제2 영역에 대한 제2 이미지를 획득할 수 있다. 일 예시에서, 프로브(3501)의 사용자 입력 수신 및/또는 제2 이미지의 획득은 적어도 하나의 프로세서(3503)의 제어에 의해 수행될 수 있다. For example, at least one processor 3503 may acquire or capture a second image of a second region of tissue in the body from a second viewpoint using the probe 3501. For example, probe 3501 may receive a user's input (e.g., an input to a button) at a second point in time, and probe 3501 may determine tissue within the body at a second point in time based on the received user input. A second image for the second area may be obtained. In one example, reception of a user input and/or acquisition of a second image by the probe 3501 may be performed under the control of at least one processor 3503.
일 실시 예에 따르면, 제2 이미지는 프로브(3501)의 광섬유 스캐너(3531)가 조직에 조사광을 조사하고 프로브(3501)의 렌즈(또는, 수광부)(3532)가 조직으로부터 방출된 여기광(excitation light)을 수광하는 동안 획득될 수 있다.According to one embodiment, the second image is generated when the optical fiber scanner 3531 of the probe 3501 radiates light to the tissue and the lens (or light receiver) 3532 of the probe 3501 emits excitation light ( It can be obtained while receiving excitation light.
일 실시 예에 따르면, 제2 시점은 제1 시점과 구분되는 시점으로 참조될 수 있다. 예를 들어, 제2 시점은 제1 시점 이후의 시점일 수 있다.According to one embodiment, the second viewpoint may be referred to as a viewpoint distinct from the first viewpoint. For example, the second time point may be a time point after the first time point.
일 실시 예에 따르면, 제1 시점과 제2 시점의 간격은 조직에 대한 이미지를 촬영하는 속도를 나타내는 이미지 프레임 레이트(image frame rate)의 역수에 해당할 수 있다. According to one embodiment, the interval between the first viewpoint and the second viewpoint may correspond to the reciprocal of the image frame rate, which represents the speed at which images of tissue are captured.
일 실시 예에 따르면, 제1 시점과 제2 시점의 간격은 실질적으로 동일할 수 있다. 예를 들어, 이미지 프레임 레이트가 제1 값(예: 30 fps)으로 설정된 경우에 제1 시점과 제2 시점의 간격은 1/30초일 수 있다. 일 예시에서, 제2 시점과 제2 시점 이후의 제3 시점의 간격은 1/30초일 수 있다. 즉, 프로브(3501)가 조직의 이미지를 획득 또는 촬영하는 간격은 실질적으로 동일할 수 있다.According to one embodiment, the interval between the first time point and the second time point may be substantially the same. For example, when the image frame rate is set to a first value (eg, 30 fps), the interval between the first view and the second view may be 1/30 second. In one example, the interval between the second time point and the third time point after the second time point may be 1/30 of a second. That is, the interval at which the probe 3501 acquires or photographs images of tissue may be substantially the same.
일 실시 예에 따르면, 따라서, 제1 시점과 제2 시점의 간격은 달라질 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 조직에 대한 이미지를 촬영하는 속도를 나타내는 이미지 프레임 레이트를 제1 값(예: 30 fps)으로 설정할 수 있다. 일 예시에서, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 조직에 대한 이미지를 촬영하는 동안 센서 모듈(3511)을 통해 프로브(3501)의 이동 속도를 감지할 수 있고, 감지된 이동 속도에 기반하여 이미지 프레임 레이트의 값을 유지하거나 변경할 수 있다.According to one embodiment, the interval between the first time point and the second time point may vary. For example, at least one processor 3503 may set an image frame rate indicating the speed at which images of tissue are taken to a first value (eg, 30 fps). In one example, at least one processor 3503 may sense the movement speed of the probe 3501 via the sensor module 3511 while taking an image of tissue and adjust the image frame rate based on the detected movement speed. The value of can be maintained or changed.
일 예시에서, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 감지된 이동 속도가 기준 값 이상인 경우 이미지 프레임 레이트를 제1 값보다 큰 제2 값(에: 60 fps)으로 변경할 수 있다. 따라서, 제1 시점과 제2 시점 간의 간격은 1/60초일 수 있다In one example, the at least one processor 3503 may change the image frame rate to a second value (eg, 60 fps) greater than the first value when the detected movement speed is greater than or equal to the reference value. Therefore, the interval between the first time point and the second time point may be 1/60 second.
일 예시에서, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 감지된 이동 속도가 기준 값 미만인 경우 이미지 프레임 레이트를 제1 값(예: 30 fps)으로 유지할 수 있다. 따라서, 제1 시점과 제2 시점 간의 간격은 1/30초일 수 있다.In one example, at least one processor 3503 may maintain the image frame rate at a first value (eg, 30 fps) when the detected movement speed is less than a reference value. Accordingly, the interval between the first viewpoint and the second viewpoint may be 1/30 second.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 동작 3909에서 제2 시점에 대응하는 센서 모듈(3511)의 제2 위치 정보를 획득할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503) 또는 가속도 센서는 프로브(3501)의 가속도 정보에 기반하여 센서 모듈(3511)의 제2 위치 정보를 획득할 수 있다. According to one embodiment, at least one processor 3503 may acquire second location information of the sensor module 3511 corresponding to the second viewpoint in operation 3909. At least one processor 3503 or an acceleration sensor may obtain second location information of the sensor module 3511 based on acceleration information of the probe 3501.
일 실시 예에 따르면, 센서 모듈(3511)의 제2 위치 정보는 기준 위치에 대한 상대적인 위치에 대한 정보일 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제1 시점 이전의 기준 시점(reference time point)에서 센서 모듈(3511)의 기준 위치(reference location)를 획득할 수 있다. 일 예시에서, 센서 모듈(3511)은 기준 시점의 기준 위치에 대한 상대적인 위치로서 센서 모듈(3511)의 제2 위치를 획득할 수 있다. 제2 위치 정보는 제2 시점에 대응하는 센서 모듈(3511)의 제2 위치에 대한 정보를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the second location information of the sensor module 3511 may be information about the relative location with respect to the reference location. For example, at least one processor 3503 may acquire the reference location of the sensor module 3511 at a reference time point before the first time point. In one example, the sensor module 3511 may acquire the second position of the sensor module 3511 as a relative position with respect to the reference position at the reference time. The second location information may include information about the second location of the sensor module 3511 corresponding to the second viewpoint.
일 실시 예에 따르면, 가속도 센서는 제2 시점에 대응하는 센서 모듈(3511)의 가속도 값들을 획득할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503)는 센서 모듈(3511)의 가속도 값들을 적분하여 센서 모듈(3511)의 제2 위치 정보를 획득할 수 있다. 가속도 값들이 적분되어 획득된 제2 위치 정보는 3차원 좌표계들에 따른 좌표들로 지시될 수 있다. 일 예시에서, 3차원 좌표계들은 제1 축(예; x축), 제2 축(예; y축) 및 제3 축(예; z축)을 포함할 수 있다.According to one embodiment, the acceleration sensor may acquire acceleration values of the sensor module 3511 corresponding to the second viewpoint. At least one processor 3503 may obtain second location information of the sensor module 3511 by integrating acceleration values of the sensor module 3511. The second position information obtained by integrating the acceleration values may be indicated by coordinates according to three-dimensional coordinate systems. In one example, three-dimensional coordinate systems may include a first axis (eg, x-axis), a second axis (eg, y-axis), and a third axis (eg, z-axis).
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 동작 3911에서 획득된 제2 위치 정보 및 미리 결정된 파라미터에 기반하여 제2 보정된 위치 정보를 획득할 수 있다. 예를 들어, 획득된 제2 위치 정보는 프로브 바디(3510) 내 센서 모듈(3511)의 위치에 해당할 수 있다. 제2 보정된 위치 정보는 프로브(3501)의 프로브 팁(3610)의 위치에 해당할 수 있다. 일 예시에서, 프로브 팁(3610)은 조직과 인접한 프로브(3501)의 부분이므로 프로브 팁(3610)의 위치 정보는 실질적으로 조직의 위치 정보에 해당할 수 있다.According to one embodiment, at least one processor 3503 may obtain second corrected location information based on the second location information obtained in operation 3911 and a predetermined parameter. For example, the acquired second location information may correspond to the location of the sensor module 3511 within the probe body 3510. The second corrected position information may correspond to the position of the probe tip 3610 of the probe 3501. In one example, the probe tip 3610 is a part of the probe 3501 adjacent to the tissue, so the location information of the probe tip 3610 may substantially correspond to the location information of the tissue.
일 실시 예에 따르면, 제2 시점에서(또는, 제2 시점에 대응하는) 상기 프로브 팁(3610)의 제2 보정된 위치 정보는 제1 축(예: x축), 제2 축(예: y축) 및 제3 축(예: z축)을 포함하는 3차원 좌표들로 지시될 수 있다.According to one embodiment, the second corrected position information of the probe tip 3610 at the second viewpoint (or corresponding to the second viewpoint) includes the first axis (e.g., x-axis) and the second axis (e.g., It may be indicated by three-dimensional coordinates including a y-axis) and a third axis (e.g., z-axis).
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)가 획득된 제2 위치 정보 및 미리 결정된 파라미터를 이용하여 제2 보정된 위치 정보를 획득하는 과정은 다음과 같을 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제2 위치 정보로부터 센서 모듈(3511)의 좌표(예: 도 36의 o = (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000019
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000020
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000021
))를 획득할 수 있다. 일 예시에서, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 센서 모듈(3511)이 포함된 프로브 바디(3510)의 길이, 및 프로브 바디(3510)와 프로브 튜브(3530)의 각도에 대한 정보를 이용하여 제3 지점의 좌표(예: 도 36의 m = (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000022
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000023
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000024
))를 획득할 수 있다. 일 예시에서, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 프로브 튜브(3530)의 길이 및 프로브 팁(3610)이 향하는 방향에 대한 방향 정보를 이용하여 프로브 팁(3610)의 좌표(예: 도 36의 p = (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000025
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000026
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000027
))를 획득할 수 있다. 결과적으로, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제2 위치 정보 및 미리 결정된 파라미터를 통해 조직의 좌표와 실질적으로 동일한 프로브 팁(3610)의 제2 좌표를 획득할 수 있다. 프로브 팁(3610)의 제2 좌표는 제2 시점에 대응할 수 있고, 프로브 팁(3610)의 제2 좌표는 실질적으로 조직의 제2 영역의 좌표에 해당할 수 있다.
According to one embodiment, a process in which at least one processor 3503 obtains second corrected location information using the obtained second location information and a predetermined parameter may be as follows. For example, at least one processor 3503 determines the coordinates of the sensor module 3511 (e.g., o = (in FIG. 36) from the second location information.
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000019
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000020
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000021
)) can be obtained. In one example, the at least one processor 3503 uses information about the length of the probe body 3510 including the sensor module 3511 and the angle between the probe body 3510 and the probe tube 3530 to create a third The coordinates of the point (e.g. m = (in Figure 36)
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000022
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000023
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000024
)) can be obtained. In one example, at least one processor 3503 uses orientation information about the length of the probe tube 3530 and the direction in which the probe tip 3610 is facing to determine the coordinates of the probe tip 3610 (e.g., p = in FIG. 36 ). (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000025
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000026
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000027
)) can be obtained. As a result, the at least one processor 3503 may obtain the second coordinates of the probe tip 3610 that are substantially the same as the coordinates of the tissue through the second location information and the predetermined parameter. The second coordinates of the probe tip 3610 may correspond to the second viewpoint, and the second coordinates of the probe tip 3610 may substantially correspond to the coordinates of the second region of the tissue.
일 실시 예에 따르면, 제2 보정된 위치 정보는 제2 이미지의 위치 정보에 해당할 수 있다. 예를 들어, 제2 보정된 위치 정보는 제2 이미지가 스티칭될 때 필요한 제2 이미지의 위치 정보에 해당할 수 있다.According to one embodiment, the second corrected location information may correspond to location information of the second image. For example, the second corrected position information may correspond to the position information of the second image required when the second image is stitched.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 동작 3913에서 제1 보정된 위치 정보 및 제2 보정된 위치 정보에 기반하여 제1 이미지와 제2 이미지를 스티칭할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제1 이미지가 제1 보정된 위치 정보 중 제1 축의 좌표 정보(예: x 좌표) 및 제2 축의 좌표 정보(예; y 좌표)를 갖도록 제1 이미지를 가상의 평면 상에 투영 또는 정사영할 수 있다. 즉, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제1 보정된 위치 정보 중 제3 축의 좌표 정보(예; z 좌표)를 제외함으로써 제1 이미지를 가상의 평면 상에 투영 또는 정사영할 수 있다. 일 예시에서. 가상의 평면은 제1 축(예: x축) 및 제2 축(예; y축)으로 이루어질 수 있다.According to one embodiment, at least one processor 3503 may stitch the first image and the second image based on the first corrected location information and the second corrected location information in operation 3913. For example, the at least one processor 3503 may configure the first image so that the first image has first-axis coordinate information (e.g., x-coordinate) and second-axis coordinate information (e.g., y-coordinate) among the first corrected position information. Images can be projected or orthogonally projected onto a virtual plane. That is, the at least one processor 3503 may project or orthographically project the first image onto a virtual plane by excluding the third axis coordinate information (eg, z coordinate) from the first corrected position information. In one example. The virtual plane may consist of a first axis (eg, x-axis) and a second axis (eg, y-axis).
예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제2 이미지가 제2 보정된 위치 정보 중 제2 축의 좌표(예: x 좌표) 및 제2 축의 좌표 정보(예: y 좌표)를 갖도록 제2 이미지를 가상의 평면 상에 투영 또는 정사영할 수 있다. 즉, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제2 보정된 위치 정보 중 제3 축의 좌표 정보(예: z 죄표)를 제외함으로써 제2 이미지를 가상의 평면 상에 투영 또는 정사영할 수 있다.For example, the at least one processor 3503 may configure the second image so that the second image has coordinates of the second axis (e.g., x-coordinate) and coordinate information of the second axis (e.g., y-coordinate) among the second corrected position information. can be projected or orthogonally projected onto a virtual plane. That is, at least one processor 3503 may project or orthographically project the second image onto a virtual plane by excluding the third axis coordinate information (eg, z coordinate) from the second corrected position information.
예를 들어, 제1 이미지는 (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000028
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000029
)의 좌표 정보를 가지도록 가상의 평면 상에 투영(또는, 정사영)될 수 있고, 제2 이미지는 (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000030
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000031
)의 좌표 정보를 가지도록 가상의 평면 상에 투영될 수 있다. 결과적으로, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제1 이미지 및 제2 이미지가 스티칭된 이미지를 획득할 수 있고, 스티칭된 이미지에는 조직의 제1 영역 및 제2 영역이 포함될 수 있다.
For example, the first image is (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000028
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000029
) may be projected (or orthogonally projected) onto a virtual plane to have coordinate information of (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000030
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000031
) can be projected onto a virtual plane to have coordinate information. As a result, the at least one processor 3503 may obtain an image in which the first image and the second image are stitched, and the stitched image may include the first region and the second region of the tissue.
본 개시의 도 35 내지 도 49에서는 2차원(two-dimensional) 이미지들을 스티칭하는 방법이 설명되었으나 이는 일 예시일 뿐이다. 도 35 내지 도 49의 설명은 3차원(three-dimensional) 이미지들을 스티칭하는 방법에도 동일하게 적용될 수 있다. 이하, 도 40에서는 보정된 위치 정보를 이용하여 3차원 이미지들을 스티칭하는 방법이 설명된다.A method of stitching two-dimensional images is described in FIGS. 35 to 49 of the present disclosure, but this is only an example. The descriptions of FIGS. 35 to 49 can be equally applied to the method of stitching three-dimensional images. Hereinafter, in Figure 40, a method of stitching 3D images using corrected position information is explained.
도 40은 일 실시 예에 따른 3차원 이미지들을 스티칭하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.Figure 40 is a diagram for explaining a method of stitching 3D images according to an embodiment.
도 40을 참고하면, 일 실시 예에 따른 적어도 하나의 프로세서(3503)는 동작 4001에서 제1 보정된 위치 정보의 제1 축(예: x축), 제2 축(예: y축), 및 제3 축(예: z축)의 제1 좌표 정보와 프로브(3501)의 프로브 팁(3610)이 향하는 제1 방향 정보에 기반하여 제1 영역에 대한 3차원 이미지를 획득할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 영역에 대한 3차원 이미지를 획득하기 위해서 제1 좌표 정보뿐만 아니라 프로브 튜브(3530)의 제1 방향 정보가 필요할 수 있다. 예를 들어, 제1 좌표 정보가 동일한 경우에도 프로브 튜브(3530)의 제1 방향 정보에 따라 3차원 이미지가 달라질 수 있다. 일 예시예서, 프로브 튜브(3530)가 약 45도 기울어지고 제1 좌표 정보(예: (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000032
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000033
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000034
)를 가지는 경우의 3차원 이미지는 프로브 튜브(3530)가 약 -45도 기울어지고 제1 좌표 정보(예: (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000035
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000036
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000037
)를 가지는 경우의 3차원 이미지와는 다를 수 있다. 결과적으로, 보다 정확한 3차원 이미지를 획득하기 위해서는 프로브 튜브(3530)의 방향 정보가 필요할 수 있다.
Referring to FIG. 40, in operation 4001, at least one processor 3503 processes the first axis (e.g., x-axis), the second axis (e.g., y-axis), and A three-dimensional image of the first area may be obtained based on first coordinate information of the third axis (eg, z-axis) and first direction information toward which the probe tip 3610 of the probe 3501 is heading. In one embodiment, in order to acquire a 3D image of the first area, first coordinate information as well as first direction information of the probe tube 3530 may be required. For example, even when the first coordinate information is the same, the 3D image may vary depending on the first direction information of the probe tube 3530. In one example, the probe tube 3530 is tilted about 45 degrees and first coordinate information (e.g.,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000032
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000033
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000034
), the 3D image has the probe tube 3530 tilted at about -45 degrees and first coordinate information (e.g. (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000035
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000036
,
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000037
) may be different from the 3D image. As a result, direction information of the probe tube 3530 may be required to obtain a more accurate 3D image.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 동작 4003에서 제2 보정된 위치 정보의 제1 축(예: x축), 제2 축(예: y축), 및 제3 축(예: z축)의 제2 좌표 정보와 프로브(3501)의 프로브 팁(3610)이 향하는 제2 방향 정보에 기반하여, 상기 제2 영역에 대한 3차원 이미지를 획득할 수 있다.According to one embodiment, in operation 4003, the at least one processor 3503 processes a first axis (e.g., x-axis), a second axis (e.g., y-axis), and a third axis (e.g., A three-dimensional image of the second area may be obtained based on the second coordinate information of the z-axis) and the second direction information toward which the probe tip 3610 of the probe 3501 is heading.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 동작 4005에서 제1 영역의 3차원 이미지와 제2 영역의 3차원 이미지를 스티칭할 수 있다.According to one embodiment, at least one processor 3503 may stitch the 3D image of the first area and the 3D image of the second area in operation 4005.
도 41은 일 실시 예에 따른 보정된 위치 정보를 이용하여 복수의 이미지들을 스티칭하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 41 is a diagram illustrating a method of stitching multiple images using corrected location information according to an embodiment.
도 41을 참고하면, 프로브(3501)는 조직의 표면을 따라 이동하면서 조직의 표면을 실시간으로 촬영할 수 있다. 일 실시 예에 따른 프로브(3501)의 센서 모듈(3511)은 기준 시점(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000038
)에서 센서 모듈(3511)에 대한 기준 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000039
)의 좌표들을 획득할 수 있다. 일 실시 예에서, 기준 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000040
)의 좌표들은 제1 축(예: x축), 제2 축(예: y축) 및 제3 축(예: z축) 각각의 좌표를 포함할 수 있다.
Referring to FIG. 41, the probe 3501 can image the surface of the tissue in real time while moving along the surface of the tissue. The sensor module 3511 of the probe 3501 according to one embodiment is configured at a reference point (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000038
) to the reference position for the sensor module 3511 (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000039
) coordinates can be obtained. In one embodiment, the reference position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000040
) may include coordinates of each of the first axis (eg, x-axis), the second axis (eg, y-axis), and the third axis (eg, z-axis).
일 실시 예에서, 기준 시점(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000041
) 및 기준 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000042
)라는 용어는 각각 개시 시점 및 개시 위치라는 용어로 대체될 수 있다. 예를 들어, 기준 시점(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000043
)은 프로브(3501)의 사용자가 프로브(3501)를 이용한 이미지 획득을 개시한 시점 또는 프로브(3501)의 사용자가 프로브(3501)를 이용한 이미지 획득을 위한 버튼 또는 디스플레이 상의 UI(user interface)을 입력한 시점으로 참조될 수 있다. 예를 들어, 개시 위치는 기준 시점(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000044
)에 대응하는 센서 모듈(3511)의 위치로 참조될 수 있다.
In one embodiment, the baseline time point (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000041
) and reference position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000042
) can be replaced by the terms start point and start position, respectively. For example, at a reference point (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000043
) is the point in time when the user of the probe 3501 starts image acquisition using the probe 3501, or the user of the probe 3501 inputs a button or UI (user interface) on the display for image acquisition using the probe 3501. It can be referenced at one point in time. For example, the starting position is the reference point (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000044
) can be referred to as the location of the sensor module 3511 corresponding to.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503) 또는 센서 모듈(3511)은 기준 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000045
)를 기준으로 각 시점에 대응하는 센서 모듈(3511)의 위치를 식별할 수 있다. 예를 들어, 센서 모듈(3511)은 제1 시점(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000046
)에 대응하는 센서 모듈(3511)의 제1 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000047
)를 식별할 수 있다. 예를 들어, 센서 모듈(3511)은 제2 시점(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000048
)에 대응하는 센서 모듈(3511)의 제2 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000049
)를 식별할 수 있다. 예를 들어, 센서 모듈(3511)은 제3 시점(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000050
)에 대응하는 센서 모듈(3511)의 제3 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000051
)를 식별할 수 있다. 일 예시에서, 제1 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000052
), 제2 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000053
) 및 제3 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000054
)는 기준 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000055
)에 대한 상대적인 위치일 수 있다.
According to one embodiment, at least one processor 3503 or sensor module 3511 is located at a reference position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000045
), the location of the sensor module 3511 corresponding to each time point can be identified. For example, the sensor module 3511 detects a first viewpoint (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000046
) The first position of the sensor module 3511 corresponding to (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000047
) can be identified. For example, the sensor module 3511 detects a second viewpoint (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000048
) The second position of the sensor module 3511 corresponding to (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000049
) can be identified. For example, the sensor module 3511 provides a third viewpoint (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000050
) The third position of the sensor module 3511 corresponding to (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000051
) can be identified. In one example, the first location (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000052
), second position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000053
) and third position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000054
) is the reference position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000055
) may be a relative position.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503) 또는 센서 모듈(3511)은 기준 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000056
)를 기준으로 각 시점에 대응하는 프로브 팁(3610)의 위치를 식별할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제1 시점(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000057
)에 대응하는 프로브 팁(3610)의 제1 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000058
)를 식별할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제2 시점(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000059
)에 대응하는 프로브 팁(3610)의 제2 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000060
)를 식별할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제3 시점(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000061
)에 대응하는 프로브 팁(3610)의 제3 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000062
)를 식별할 수 있다. 일 예시에서, 제1 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000063
), 제2 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000064
) 및 제3 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000065
)는 기준 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000066
)에 대한 상대적인 위치일 수 있다.
According to one embodiment, at least one processor 3503 or sensor module 3511 is located at a reference position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000056
), the position of the probe tip 3610 corresponding to each time point can be identified. For example, at least one processor 3503 operates at a first time point (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000057
) The first corrected position of the probe tip 3610 corresponding to (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000058
) can be identified. For example, at least one processor 3503 may perform a second time point (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000059
) The second corrected position of the probe tip 3610 corresponding to (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000060
) can be identified. For example, at least one processor 3503 may provide a third viewpoint (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000061
) The third corrected position of the probe tip 3610 corresponding to (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000062
) can be identified. In one example, the first corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000063
), second corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000064
) and the third corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000065
) is the reference position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000066
) may be a relative position.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 센서 모듈(3511)의 위치들에 기반하여 프로브 팁(3610)의 보정된 위치들을 식별할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제1 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000067
) 및 미리 결정된 파라미터에 기반하여 제1 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000068
)를 식별할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제2 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000069
) 및 미리 결정된 파라미터에 기반하여 제2 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000070
)를 식별할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제3 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000071
) 및 미리 결정된 파라미터에 기반하여 제3 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000072
)를 식별할 수 있다.
According to one embodiment, at least one processor 3503 may identify corrected positions of the probe tip 3610 based on the positions of the sensor module 3511. For example, at least one processor 3503 may determine the first location (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000067
) and the first corrected position based on predetermined parameters (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000068
) can be identified. For example, at least one processor 3503 may be located at a second location (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000069
) and a second corrected position based on predetermined parameters (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000070
) can be identified. For example, at least one processor 3503 may be located at a third location (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000071
) and a third corrected position based on predetermined parameters (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000072
) can be identified.
일 실시 예에 따르면, 미리 결정된 파라미터는 센서 모듈(3511)로부터 프로브 팁(3610)까지의 3차원 상대 위치 벡터 및 프로브 팁(3610)이 향하는 방향에 대한 방향 정보를 포함할 수 있다. According to one embodiment, the predetermined parameter may include a three-dimensional relative position vector from the sensor module 3511 to the probe tip 3610 and direction information about the direction the probe tip 3610 faces.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503) 또는 센서 모듈(3511)은 프로브 팁(3610)의 방향 정보를 식별할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503) 또는 센서 모듈(3511)은 제1 시점(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000073
)에 대응하는 제1 회전 각도(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000074
)를 식별할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제2 시점(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000075
)에 대응하는 제2 회전 각도(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000076
)를 식별할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제3 시점(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000077
)에 대응하는 제3 회전 각도(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000078
)를 식별할 수 있다. 일 예시에서, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제1 회전 각도(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000079
), 제2 회전 각도(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000080
) 및 제3 회전 각도(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000081
)에 기반하여 프로브 팁(3610)의 방향 정보(또는, 회전 정보)를 식별할 수 있다.
According to one embodiment, at least one processor 3503 or sensor module 3511 may identify direction information of the probe tip 3610. For example, at least one processor 3503 or sensor module 3511 operates at a first viewpoint (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000073
) corresponding to the first rotation angle (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000074
) can be identified. For example, at least one processor 3503 may perform a second time point (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000075
), corresponding to the second rotation angle (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000076
) can be identified. For example, at least one processor 3503 may provide a third viewpoint (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000077
), corresponding to the third rotation angle (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000078
) can be identified. In one example, at least one processor 3503 determines a first rotation angle (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000079
), second rotation angle (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000080
) and the third rotation angle (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000081
), the direction information (or rotation information) of the probe tip 3610 can be identified.
예를 들어, 프로브 팁(3610)의 방향 정보(또는, 각도 정보)는 지정된 축(예: 제1 축, 제2 축, 제3 축)을 기준으로 프로브 팁(3610)이 향하는 방향에 대한 정보 또는 지정된 축을 기준으로 프로브 팁(3610)이 이루는 각도 정보로 참조될 수 있다.For example, the direction information (or angle information) of the probe tip 3610 is information about the direction the probe tip 3610 faces based on a specified axis (e.g., the first axis, the second axis, and the third axis). Alternatively, it may be referred to as angle information formed by the probe tip 3610 based on a designated axis.
일 실시 예에 따르면, 제1 회전 각도(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000082
), 제2 회전 각도(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000083
) 및 제3 회전 각도(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000084
)는 각각 회전 쿼터니언(rotation quternion)에 해당할 수 있다.
According to one embodiment, the first rotation angle (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000082
), second rotation angle (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000083
) and the third rotation angle (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000084
) may each correspond to a rotation quaternion.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 회전 각도에 기반하여 획득된 프로브 팁(3610)의 방향 정보를 이용하여 센서 모듈(3511)의 위치 정보(예: 제1 위치 정보)를 프로브 팁(3610)의 보정된 위치 정보(예: 제1 보정된 위치 정보)로 변환할 수 있다.According to one embodiment, the at least one processor 3503 probes the location information (e.g., first location information) of the sensor module 3511 using the direction information of the probe tip 3610 obtained based on the rotation angle. It can be converted into corrected position information of the tip 3610 (eg, first corrected position information).
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 프로브 팁(3610)의 방향 정보 및 센서 모듈(3511)과 프로브 팁(3610) 사이의 3차원 상대 위치 벡터에 대한 정보를 이용하여 센서 모듈(3511)의 위치 정보를 프로브 팁(3610)의 보정된 위치 정보로 변환할 수 있다.일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503) 또는 센서 모듈(3511)은 제1 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000085
), 제2 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000086
) 및 제3 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000087
)에 기반하여 복수의 이미지들을 가상의 평면(4110)에 투영 또는 정사영할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제1 이미지가 제1 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000088
)의 좌표들(예: 제1 축의 좌표, 제2 축의 좌표, 제3 축의 좌표) 중 하나의 좌표 값(예: 제3 축의 좌표 값)이 제거되도록 제1 이미지를 가상의 평면(4110)에 투영할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제2 이미지가 제2 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000089
)의 좌표들(예: 제1 축의 좌표, 제2 축의 좌표, 제3 축의 좌표) 중 하나의 좌표 값(예: 제3 축의 좌표 값)이 제거되도록 제2 이미지를 가상의 평면(4110)에 투영할 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제3 이미지가 제3 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000090
)의 좌표들(예: 제1 축의 좌표, 제2 축의 좌표, 제3 축의 좌표) 중 하나의 좌표 값(예: 제3 축의 좌표 값)이 제거되도록 제3 이미지를 가상의 평면(4110)에 투영할 수 있다. 즉, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 상기 제1 이미지, 상기 제2 이미지, 및 상기 제3 이미지 각각의 보정된 위치의 좌표들 중 하나의 좌표 값을 서로 일치시키도록, 상기 제1 이미지, 상기 제2 이미지, 및 상기 제3 이미지를 가상의 평면(4110)에 투영할 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 이미지, 상기 제2 이미지, 및 상기 제3 이미지의 보정된 위치의 좌표들 중 Z축 좌표 값은 모두 동일할 수 있다.
According to one embodiment, at least one processor 3503 uses direction information of the probe tip 3610 and information about the three-dimensional relative position vector between the sensor module 3511 and the probe tip 3610 to detect the sensor module ( The position information of the probe tip 3610 may be converted into the corrected position information of the probe tip 3610. According to one embodiment, at least one processor 3503 or sensor module 3511 may determine the first corrected position (3511).
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000085
), second corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000086
) and the third corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000087
), a plurality of images can be projected or orthogonally projected onto the virtual plane 4110. For example, the at least one processor 3503 may determine the first image at a first corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000088
) The first image is placed on the virtual plane 4110 so that one coordinate value (e.g., the coordinate value of the third axis) among the coordinates (e.g., the coordinates of the first axis, the coordinate of the second axis, and the coordinate of the third axis) is removed. It can be projected. For example, at least one processor 3503 may determine the second image at a second corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000089
) The second image is placed on the virtual plane 4110 so that one coordinate value (e.g., the coordinate value of the third axis) among the coordinates (e.g., the coordinates of the first axis, the coordinate of the second axis, and the coordinate of the third axis) is removed. It can be projected. For example, at least one processor 3503 may determine the third image to be at a third corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000090
) The third image is placed on the virtual plane 4110 so that one coordinate value (e.g., the coordinate value of the third axis) among the coordinates (e.g., the coordinates of the first axis, the coordinate of the second axis, and the coordinate of the third axis) is removed. It can be projected. That is, the at least one processor 3503 is configured to match the coordinate values of one of the coordinates of the corrected positions of each of the first image, the second image, and the third image to each other. The second image and the third image can be projected onto the virtual plane 4110. For example, among the coordinates of the corrected positions of the first image, the second image, and the third image, the Z-axis coordinate values may all be the same.
일 실시 예에 따르면, 가상의 평면(4110)에 투영된 제1 이미지, 제2 이미지 및 제3 이미지는 하나의 평면(예: 가상의 평면(4110))에 표시될 수 있다. 일 실시 예에서, 복수의 이미지들이 하나의 평면(예: 가상의 평면(4110))에 투영됨에 따라 복수의 이미지들은 스티칭될 수 있다.According to one embodiment, the first image, second image, and third image projected on the virtual plane 4110 may be displayed on one plane (eg, the virtual plane 4110). In one embodiment, the plurality of images may be stitched as they are projected onto one plane (eg, virtual plane 4110).
일 실시 예에 따르면, 복수의 이미지들을 가상의 평면(4110)에 투영할 때 제1 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000091
), 제2 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000092
) 및 제3 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000093
)가 이용됨에 따라 투영된 복수의 이미지들의 정확도가 높아질 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 프로세서(3503)가 보정된 위치들이 아닌 제1 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000094
), 제2 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000095
) 및 제3 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000096
)를 이용하여 복수의 이미지들을 가상의 평면(4110)에 투영하는 경우에는 투영된 이미지들의 위치에 대한 오차가 발생할 수 있다. 이는 제1 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000097
), 제2 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000098
) 및 제3 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000099
)는 조직과 상대적으로 이격된 센서 모듈(3511)의 위치이기 때문일 수 있다.
According to one embodiment, when projecting a plurality of images onto the virtual plane 4110, the first corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000091
), second corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000092
) and the third corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000093
) is used, the accuracy of the plurality of projected images can be increased. For example, at least one processor 3503 may select a first location that is not the corrected locations (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000094
), second position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000095
) and third position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000096
), when projecting a plurality of images onto the virtual plane 4110, errors in the positions of the projected images may occur. This is the first position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000097
), second position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000098
) and third position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000099
) may be because the location of the sensor module 3511 is relatively spaced from the tissue.
반면에, 일 실시 예에 따른 적어도 하나의 프로세서(3503)가 보정된 위치들(예: 제1 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000100
), 제2 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000101
) 및 제3 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000102
))을 이용하여 복수의 이미지를 가상의 평면(4110)에 투영하는 경우에는 투영된 이미지들의 위치에 대한 오차가 감소하거나 방지될 수 있다. 제1 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000103
), 제2 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000104
) 및 제3 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000105
) 각각은 프로브 팁(3610)의 위치이고, 프로브 팁(3610)은 조직과 상대적으로 가까울 수 있다. 즉, 프로브 팁(3610)의 위치는 실질적으로 조직의 위치에 해당할 수 있다. 결과적으로, 실제 조직의 위치에 해당하는 제1 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000106
), 제2 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000107
) 및 제3 보정된 위치(
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000108
)을 이용하는 경우에 적어도 하나의 프로세서(3503)는 투영된 이미지들의 위치에 대한 오차를 줄일 수 있다.
On the other hand, at least one processor 3503 according to an embodiment may select the corrected positions (e.g., the first corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000100
), second corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000101
) and the third corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000102
When a plurality of images are projected onto the virtual plane 4110 using )), errors in the positions of the projected images can be reduced or prevented. First corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000103
), second corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000104
) and the third corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000105
) Each is the location of the probe tip 3610, and the probe tip 3610 may be relatively close to the tissue. That is, the location of the probe tip 3610 may substantially correspond to the location of the tissue. As a result, the first corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000106
), second corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000107
) and the third corrected position (
Figure PCTKR2022019587-appb-img-000108
), at least one processor 3503 can reduce errors in the positions of projected images.
이하, 상술된 위치(예: 제1 위치) 및 미리 결정된 파라미터(예: 프로브 팁(3610)의 방향 정보)를 이용하여 보정된 위치(예: 제1 보정된 위치)를 결정 또는 식별하는 구체적인 방법을 설명한다. 다만. 이하 설명되는 구체적인 방법은 일 예시에 불과하며 본 개시를 한정하지 않는다.Hereinafter, a specific method for determining or identifying the corrected position (eg, first corrected position) using the above-described position (eg, first position) and a predetermined parameter (eg, direction information of the probe tip 3610). Explain. but. The specific method described below is only an example and does not limit the present disclosure.
도 42는 일 실시 예에 따른 이미지 처리 장치에 탑재된 프로그램들을 설명하기 위한 도면이다.Figure 42 is a diagram for explaining programs mounted on an image processing device according to an embodiment.
도 42를 참고하면, 일 실시 예에 따른 프로브(3501)는 센서 모듈(3511)을 포함할 수 있고, 프로브(3501)는 광 전파 모듈(4200)과 광섬유를 통해 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 광 전파 모듈(4200)은 복수의 광학 부재들(예: 필터, 빔 스플리터, 레이저들)을 포함할 수 있으며 레이저들로부터 출력된 빔들의 전파 경로로 활용되거나, 조직에 반사된 여기광들의 전파 경로로 활용될 수 있다.Referring to FIG. 42, the probe 3501 according to one embodiment may include a sensor module 3511, and the probe 3501 may be connected to the light propagation module 4200 through an optical fiber. In one embodiment, the light propagation module 4200 may include a plurality of optical members (e.g., filters, beam splitters, lasers) and may be used as a propagation path for beams output from the lasers or reflected on tissue. It can be used as a propagation path for excitation light.
일 실시 예에 따르면, 이미지 처리 장치(3502)는 광 전파 모듈(4200) 및 프로브(3501)와 전기적으로 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 이미지 처리 장치(3502)는 광 전파 모듈(4200) 및 프로브(3501)를 이용하여 조직의 이미지들을 획득할 수 있다.According to one embodiment, the image processing device 3502 may be electrically connected to the light propagation module 4200 and the probe 3501. In one embodiment, the image processing device 3502 may acquire images of tissue using the light propagation module 4200 and the probe 3501.
일 실시 예에 따르면, 이미지 처리 장치(3502)는 디스플레이(4210)를 포함할 수 있고, 이미지 처리 장치(3502)에 탑재된 프로그램들을 이용하여 디스플레이(4210)에 조직의 이미지를 표시할 수 있다.According to one embodiment, the image processing device 3502 may include a display 4210, and may display an image of the tissue on the display 4210 using programs mounted on the image processing device 3502.
일 실시 예에 따르면, 이미지 처리 장치(3502)에는 제1 프로그램(4201) 및 제2 프로그램(4202)이 탑재될 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 프로그램(4201) 및 제2 프로그램(4202)은 이미지 처리 장치(3502)에 탑재되어 이미지 처리 장치(3502) 내 하드웨어 구성(예: 적어도 하나의 프로세서(3503))와 유기적으로 결합될 수 있다. 예를 들어, 제1 프로그램(4201) 이미지 처리 장치(3502) 내 적어도 하나의 프로세서(3503)에 지정된 동작들(예: 디스플레이 표시 또는, 이미지 처리)을 수행하도록 인스트럭션(instruction)들을 전달할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503)는 전달된 인스트럭션들에 기반하여 지정된 동작들을 수행할 수 있다.According to one embodiment, the image processing device 3502 may be equipped with a first program 4201 and a second program 4202. In one embodiment, the first program 4201 and the second program 4202 are mounted on the image processing device 3502 and are organically connected to the hardware configuration (e.g., at least one processor 3503) within the image processing device 3502. can be combined. For example, the first program 4201 may transmit instructions to perform specified operations (eg, display display or image processing) to at least one processor 3503 in the image processing device 3502. At least one processor 3503 may perform designated operations based on delivered instructions.
일 실시 예에 따르면, 제1 프로그램(4201)은 프로브(3501) 및 광 전파 모듈(4200)을 통해 획득 또는 촬영되고 있는 조직의 이미지를 실시간으로 디스플레이(4210)에 표시하도록 적어도 하나의 프로세서(3503)를 제어할 수 있다. 예를 들어, 제1 프로그램(4201)은 적어도 하나의 프로세서(3503)를 제어하여 디스플레이(4210)의 제1 영역(4211)에 실시간으로 획득 또는 촬영되고 있는 조직이 이미지를 표시할 수 있다.According to one embodiment, the first program 4201 includes at least one processor 3503 to display the image of the tissue being acquired or photographed through the probe 3501 and the light propagation module 4200 on the display 4210 in real time. ) can be controlled. For example, the first program 4201 may control at least one processor 3503 to display an image of a tissue being acquired or photographed in real time in the first area 4211 of the display 4210.
일 실시 예에 따르면, 제2 프로그램(4202)은 적어도 하나의 프로세서(3503)가 수신한 복수의 이미지들을 스티칭하도록 제어할 수 있다. 제2 프로그램(4202)은 적어도 하나의 프로세서(3503)가 스티칭된 이미지를 디스플레이(4210)의 제2 영역(4212)에 표시하도록 제어할 수 있다. According to one embodiment, the second program 4202 may control at least one processor 3503 to stitch a plurality of images received. The second program 4202 may control at least one processor 3503 to display the stitched image in the second area 4212 of the display 4210.
본 개시의 도 42에서는 제1 영역(4211)과 제2 영역(4212)이 서로 가장자리의 적어도 일부를 공유하는 것으로 도시되었으나, 이는 일 예시일 뿐이다. 제1 영역(4211)과 제2 영역(4212)은 디스플레이(4210) 상에서 서로 이격되게 표시될 수 있다. 또 다른 예로서, 제1 영역(4211)과 제2 영역(4212)은 서로 가장자리의 적어도 일부를 공유하다가 사용자 입력에 응답하여 서로 이격될 수 있다. 또 다른 예로서, 제1 영역(4211)과 제2 영역(4212)의 크기는 사용자 입력(예: 터치 입력)에 의해 각각 조절될 수 있다.In FIG. 42 of the present disclosure, the first area 4211 and the second area 4212 are shown to share at least a portion of their edges, but this is only an example. The first area 4211 and the second area 4212 may be displayed on the display 4210 to be spaced apart from each other. As another example, the first area 4211 and the second area 4212 may share at least a portion of their edges and then become separated from each other in response to a user input. As another example, the sizes of the first area 4211 and the second area 4212 may each be adjusted by user input (eg, touch input).
일 실시 예에 따르면, 프로브(3501)를 통해 수신한 이미지를 처리하고 디스플레이(4210)의 제1 영역(4211)에 실시간으로 표시하는 제1 프로그램(4201)과 프로브(3501)를 통해 수신한 복수의 이미지들을 하나의 이미지로 스티칭하기 위한 제2 프로그램(4202)은 하나의 장치(예: 이미지 처리 장치(3502)에 탑재될 수 있다.According to one embodiment, a first program 4201 processes images received through the probe 3501 and displays them in real time in the first area 4211 of the display 4210, and a plurality of images received through the probe 3501 are provided. The second program 4202 for stitching the images into one image may be mounted on one device (eg, the image processing device 3502).
다만, 이는 일 예시일 뿐이고 제1 프로그램(4201)과 제2 프로그램(4202)은 서로 다른 장치에 탑재될 수 있다.However, this is only an example, and the first program 4201 and the second program 4202 may be installed in different devices.
도 43은 일 실시 예에 따른 서로 다른 장치에 탑재된 제1 프로그램과 제2 프로그램을 설명하기 위한 도면이다.Figure 43 is a diagram for explaining a first program and a second program mounted on different devices according to an embodiment.
도 43을 참고하면, 일 실시 예에 따른 제2 프로그램(4302)은 추가 이미지 처리 장치(4300)에 탑재될 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 프로그램(4302)은 추가 이미지 처리 장치(4300)에 탑재되어 추가 이미지 처리 장치(4300) 내 하드웨어 구성(예: 적어도 하나의 프로세서)와 유기적으로 결합될 수 있다. 예를 들어, 제2 프로그램(4302)은 추가 이미지 처리 장치(4300) 내 적어도 하나의 프로세서에 지정된 동작들(예: 디스플레이 표시 또는, 이미지 처리)을 수행하도록 인스트럭션들을 전달할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서는 전달된 인스트럭션들에 기반하여 지정된 동작들을 수행할 수 있다.Referring to FIG. 43, the second program 4302 according to one embodiment may be mounted on the additional image processing device 4300. In one embodiment, the second program 4302 may be mounted on the additional image processing device 4300 and organically combined with a hardware component (eg, at least one processor) within the additional image processing device 4300. For example, the second program 4302 may transmit instructions to perform specified operations (eg, display display or image processing) to at least one processor in the additional image processing device 4300. At least one processor may perform specified operations based on delivered instructions.
일 실시 예에 따르면, 추가 이미지 처리 장치(4300)는 이미지 처리 장치(3502)와는 물리적으로 이격될 수 있다. 일 실시 예에서, 추가 이미지 처리 장치(4300)는 이미지 처리 장치(3502)와 통신 연결을 수립할 수 있다. 예를 들어, 추가 이미지 처리 장치(4300)는 이미지 처리 장치(3502)와 유선 또는 무선 통신 연결을 수립할 수 있다.According to one embodiment, the additional image processing device 4300 may be physically spaced from the image processing device 3502. In one embodiment, additional image processing device 4300 may establish a communication connection with image processing device 3502. For example, additional image processing device 4300 may establish a wired or wireless communication connection with image processing device 3502.
일 실시 예에 따르면, 추가 이미지 처리 장치(4300)는 이미지 처리 장치(3502)로부터 프로브(3501)를 통해 획득된 복수의 이미지들을 수신할 수 있다. 일 실시 예에서, 이미지 처리 장치(3502)의 적어도 하나의 프로세서(3503)는 추가 이미지 처리 장치(4300)와 제1 RAT(radio access technology)의 제1 통신 연결을 수립할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503)는 송신할 이미지의 개수, 송신 이미지의 용량 및/또는 제1 RAT의 통신 상태를 고려하여 추가 이미지 처리 장치(4300)와 제2 RAT의 제2 통신 연결을 수립할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제2 RAT의 제2 통신 연결을 통해 복수의 이미지들을 송신할 수 있다.According to one embodiment, the additional image processing device 4300 may receive a plurality of images acquired through the probe 3501 from the image processing device 3502. In one embodiment, at least one processor 3503 of the image processing device 3502 may establish a first communication connection with the additional image processing device 4300 and a first radio access technology (RAT). At least one processor 3503 may establish a second communication connection between the additional image processing device 4300 and the second RAT in consideration of the number of images to be transmitted, the capacity of the transmitted images, and/or the communication state of the first RAT. there is. At least one processor 3503 may transmit a plurality of images through a second communication connection of the second RAT.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)가 제2 RAT의 제2 통신 연결을 추가 이미지 처리 장치(4300)와 수립하더라도 제1 RAT의 제1 통신 연결은 유지될 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제2 RAT의 제2 통신 연결의 통신 상태가 열화되는 경우에 복수의 이미지들 중 적어도 일부를 제1 RAT의 제1 통신 연결을 통해 추가 이미지 처리 장치(4300)로 전송할 수 있다. 즉, 복수의 이미지들 중 일부는 제1 RAT의 제1 통신 연결을 통해 추가 이미지 처리 장치(4300)로 전송될 수 있고, 복수의 이미지들 중 나머지는 제2 RAT의 제2 통신 연결을 통해 추가 이미지 처리 장치(4300)로 전송될 수 있다. 또 다른 예로서, 적어도 하나의 프로세서(3503)가 제2 RAT의 제2 통신 연결을 추가 이미지 처리 장치(4300)와 수립하는 경우에는 제1 통신 연결은 해제될 수 있다.According to one embodiment, even if at least one processor 3503 establishes a second communication connection of the second RAT with the additional image processing device 4300, the first communication connection of the first RAT may be maintained. When the communication state of the second communication connection of the second RAT deteriorates, the at least one processor 3503 sends at least some of the plurality of images to the additional image processing device 4300 through the first communication connection of the first RAT. Can be transmitted. That is, some of the plurality of images may be transmitted to the additional image processing device 4300 through the first communication connection of the first RAT, and the remainder of the plurality of images may be additionally transmitted through the second communication connection of the second RAT. It may be transmitted to the image processing device 4300. As another example, when at least one processor 3503 establishes a second communication connection of the second RAT with the additional image processing device 4300, the first communication connection may be released.
일 실시 예에 따르면, 추가 이미지 처리 장치(4300)의 적어도 하나의 프로세서는 이미지 처리 장치(3502)로부터 수신된 복수의 이미지들을 식별할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서는 제2 프로그램(4302)이 전달한 인스트럭션들에 의해 수신된 복수의 이미지들을 스티칭할 수 있다.According to one embodiment, at least one processor of the additional image processing device 4300 may identify a plurality of images received from the image processing device 3502. At least one processor may stitch a plurality of images received by instructions delivered by the second program 4302.
일 실시 예에 따르면, 추가 이미지 처리 장치(4300)는 추가 디스플레이(4310)를 포함할 수 있고, 추가 디스플레이(4310)에 스티칭된 복수의 이미지들을 표시할 수 있다.According to one embodiment, the additional image processing device 4300 may include an additional display 4310 and display a plurality of stitched images on the additional display 4310.
본 개시의 도 43의 실시 예는 도 42의 실시 예와 다르게 프로그램들이 서로 다른 장치에 탑재된다. 예를 들어, 도 42의 실시 예에서는 제1 프로그램(4201) 및 제2 프로그램(4202)이 하나의 장치(예: 이미지 처리 장치(3502))에 탑재될 수 있다. 반면에 도 43의 실시 예에서는 제1 프로그램(4201)은 이미지 처리 장치(3502)에 탑재되고, 제2 프로그램(4202)은 추가 이미지 처리 장치(4300)에 탑재될 수 있다.In the embodiment of FIG. 43 of the present disclosure, unlike the embodiment of FIG. 42, programs are mounted on different devices. For example, in the embodiment of FIG. 42, the first program 4201 and the second program 4202 may be mounted on one device (eg, image processing device 3502). On the other hand, in the embodiment of FIG. 43, the first program 4201 may be mounted on the image processing device 3502, and the second program 4202 may be mounted on the additional image processing device 4300.
본 개시의 도 43의 이미지 처리 장치(3502)에도 도 35 내지 도 42에서 설명되었던 보정된 위치 정보를 획득하는 동작에 대한 설명은 적용될 수 있다. 다만, 도 35 내지 도 42의 실시 예에서 설명된 스티칭하는 동작에 대한 설명은 추가 이미지 처리 장치(4300)에 적용될 수 있다. 즉, 이미지 처리 장치(3502)는 보정된 위치 정보와 이미지들을 추가 이미지 처리 장치(4300)로 송신할 수 있고, 추가 이미지 처리 장치(4300)가 보정된 위치 정보와 수신된 이미지들을 스티칭할 수 있다.The description of the operation of acquiring corrected location information described in FIGS. 35 to 42 may also be applied to the image processing device 3502 of FIG. 43 of the present disclosure. However, the description of the stitching operation described in the embodiments of FIGS. 35 to 42 may be applied to the additional image processing device 4300. That is, the image processing device 3502 can transmit the corrected location information and images to the additional image processing device 4300, and the additional image processing device 4300 can stitch the corrected location information and the received images. .
일 실시 예에 따르면, 이미지 처리 장치(3502)의 상기 적어도 하나의 프로세서(3503)는 프로브(3501)를 이용하여 제1 시점에서 조직의 제1 영역에 대한 제1 이미지를 획득하고, 제1 시점에 대응하는 센서 모듈(3511)의 제1 위치 정보를 획득할 수 있다. 이미지 처리 장치(3502)의 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제1 위치 정보 및 미리 결정된 파라미터에 기반하여 제1 보정된 위치 정보(calibrated location information)를 획득할 수 있고, 제1 보정된 위치 정보 및 상기 획득된 제1 이미지를 이미지 스티칭을 수행하는 추가 이미지 처리 장치(4300)로 송신할 수 있다.According to one embodiment, the at least one processor 3503 of the image processing device 3502 acquires a first image of a first region of tissue at a first viewpoint using a probe 3501, and First location information of the sensor module 3511 corresponding to can be obtained. At least one processor 3503 of the image processing device 3502 may acquire first calibrated location information based on the first location information and a predetermined parameter, and the first calibrated location information and The acquired first image may be transmitted to an additional image processing device 4300 that performs image stitching.
일 실시 예에 따르면, 이미지 처리 장치(3502)의 적어도 하나의 프로세서(3503)는 상기 프로브(3501)를 이용하여 제2 시점에서 상기 조직의 제2 영역에 대한 제2 이미지를 획득하고, 상기 제2 시점에 대응하는 상기 센서의 제2 위치 정보를 획득할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제2 위치 정보 및 상기 미리 결정된 파라미터에 기반하여 제2 보정된 위치 정보를 획득하고, 상기 제2 보정된 위치 정보 및 상기 획득된 제2 이미지를 상기 추가 이미지 처리 장치(4300)로 송신할 수 있다.According to one embodiment, the at least one processor 3503 of the image processing device 3502 acquires a second image of the second region of the tissue at a second viewpoint using the probe 3501, and Second location information of the sensor corresponding to point 2 can be obtained. At least one processor 3503 acquires second corrected location information based on second location information and the predetermined parameter, and applies the second corrected location information and the acquired second image to the additional image processing device. It can be sent to (4300).
일 실시 예에 따르면, 추가 이미지 처리 장치(4300)는 획득된 제1 이미지 및 제2 이미지를 각각 제1 보정된 위치 정보 및 제2 보정된 위치 정보에 기반하여 스티칭할 수 있다.According to one embodiment, the additional image processing device 4300 may stitch the acquired first and second images based on the first corrected location information and the second corrected location information, respectively.
도 44는 일 실시 예에 따른 도 42의 실시 예에서 디스플레이 파노라마식으로 표시되는 조직을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 44 is a diagram for explaining an organization displayed in a panoramic display in the example of FIG. 42 according to an embodiment.
도 44를 참고하면, 일 실시 예에 따른 적어도 하나의 프로세서(3503)는 디스플레이(4210)의 제1 영역(4211)에 프로브(3501)로부터 수신된 제1 이미지(4411)를 표시할 수 있다. 제1 영역(4211)은 프로브(3501)가 실시간으로 수신(촬영)하고 있는 이미지를 표시하는 영역으로 이해될 수 있다. 제2 영역(4212)은 촬영 이미지들을 관리 및 설정하는 사용자 인터페이스를 표시하는 영역으로 이해될 수 있다. 다만, 제2 영역(4212)은 상술한 기능의 영역으로 제한되지 않으며, 도 42에서 언급된 바와 같이 스티칭 이미지를 표시하는 영역으로서 기능할 수도 있다. 다른 예를 들어, 제2 영역(4212)은 사용자의 입력에 따라 스티칭 이미지를 표시하는 화면과 촬영 이미지들을 관리 및 설정하는 사용자 인터페이스를 표시하는 화면이 전환될 수 있다. 제1 이미지(4411)는 제1 시점에 프로브(3501)에서 획득 또는 촬영된 이미지에 해당할 수 있다. 제1 이미지(4411)는 스티칭이 수행되지 않은 이미지이며, 조직에 대한 실시간 촬영 이미지로 이해될 수 있다.Referring to FIG. 44 , at least one processor 3503 according to an embodiment may display the first image 4411 received from the probe 3501 in the first area 4211 of the display 4210. The first area 4211 can be understood as an area that displays the image that the probe 3501 is receiving (capturing) in real time. The second area 4212 can be understood as an area that displays a user interface for managing and setting captured images. However, the second area 4212 is not limited to the above-described functional area, and may function as an area for displaying a stitched image as mentioned in FIG. 42. For another example, the second area 4212 may switch between a screen displaying a stitched image and a screen displaying a user interface for managing and setting captured images according to a user's input. The first image 4411 may correspond to an image acquired or photographed by the probe 3501 at a first time point. The first image 4411 is an image in which no stitching has been performed, and can be understood as a real-time captured image of tissue.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 프로브(3501)로부터 제1 이미지(4411)와 구별되는 제2 이미지가 수신됨을 식별할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제2 이미지를 수신함에 따라 제2 스티칭 이미지(4412)를 생성할 수 있다. 도 44에 도시되지 않았으나, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제2 스티칭 이미지(4412)를 제2 영역(4212)에 표시할 수 있다. 제2 이미지는 제2 시점에 프로브(3501)에서 획득 또는 촬영된 이미지에 해당하며 제2 스티칭 이미지(4412)의 일부를 구성할 수 있다. According to one embodiment, at least one processor 3503 may identify that a second image that is different from the first image 4411 is received from the probe 3501. At least one processor 3503 may generate a second stitching image 4412 as it receives the second image. Although not shown in FIG. 44 , at least one processor 3503 may display the second stitching image 4412 in the second area 4212. The second image corresponds to an image acquired or photographed by the probe 3501 at a second time point and may form part of the second stitched image 4412.
결과적으로, 제2 스티칭 이미지(4412)는 제1 시점에 대응하는 제1 이미지(4411)와 제2 시점에 대응하는 제2 이미지를 스티칭함으로서 생성된 스티칭 이미지로 이해될 수 있다.As a result, the second stitched image 4412 can be understood as a stitched image created by stitching the first image 4411 corresponding to the first viewpoint and the second image corresponding to the second viewpoint.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 프로브(3501)로부터 제2 이미지와 구별되는 제3 이미지가 수신됨을 식별할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제3 이미지를 수신함에 따라 제3 스티칭 이미지(4413)를 생성할 수 있다. 도 44에 도시되지 않았으나, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제3 스티칭 이미지(4413)를 제2 영역(4212)에 표시할 수 있다. 제3 이미지는 제3 시점에 프로브(3501)에서 획득 또는 촬영된 이미지에 해당하며 제3 스티칭 이미지(4413)의 일부를 구성할 수 있다.According to one embodiment, at least one processor 3503 may identify that a third image that is distinct from the second image is received from the probe 3501. At least one processor 3503 may generate a third stitching image 4413 as it receives the third image. Although not shown in FIG. 44 , at least one processor 3503 may display the third stitching image 4413 in the second area 4212. The third image corresponds to an image acquired or photographed by the probe 3501 at a third viewpoint and may form part of the third stitched image 4413.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 프로브(3501)로부터 제3 이미지와 구별되는 제4 이미지가 수신됨을 식별할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제4 이미지를 수신함에 따라 제4 스티칭 이미지(4414)를 생성할 수 있다. 도 44에 도시되지 않았으나, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 제4 스티칭 이미지(4414)를 제2 영역(4212)에 표시할 수 있다. 제4 이미지는 제4 시점에 프로브(3501)에서 획득 또는 촬영된 이미지에 해당하며 제4 스티칭 이미지(4414)의 일부를 구성할 수 있다.According to one embodiment, at least one processor 3503 may identify that a fourth image that is distinct from the third image is received from the probe 3501. At least one processor 3503 may generate a fourth stitching image 4414 upon receiving the fourth image. Although not shown in FIG. 44 , at least one processor 3503 may display the fourth stitching image 4414 in the second area 4212. The fourth image corresponds to an image acquired or photographed by the probe 3501 at a fourth viewpoint and may form part of the fourth stitched image 4414.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 프로세서(3503)는 디스플레이(4210)에 조직의 이미지들을 파노라마식으로 연속적으로 표시할 수 있다.According to one embodiment, at least one processor 3503 may continuously display tissue images in a panoramic manner on the display 4210.
본 개시의 일 실시 예에 따른 in-vivo 환경에서 공초점 내시현미경(confocal endomicroscope)의 프로브(probe)를 통해 획득된 복수 개의 이미지들을 스티칭(stitching)하는 이미지 처리 장치는 상기 프로브에 포함되고 위치 정보를 획득하는 센서와 전기적으로 연결되는 적어도 하나의 프로세서를 포함할 수 있다. 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 프로브를 이용하여 제1 시점에서 조직의 제1 영역(region)에 대한 제1 이미지를 획득하고, 상기 제1 시점에 대응하는 상기 센서의 제1 위치 정보를 획득할 수 있다. 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 제1 위치 정보 및 미리 결정된 파라미터에 기반하여, 상기 제1 이미지의 위치 정보로써 제1 보정된 위치 정보(calibrated location information)를 획득하고, 상기 프로브를 이용하여 제2 시점에서 상기 조직의 제2 영역에 대한 제2 이미지를 획득할 수 있다. 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 제2 시점에 대응하는 상기 센서의 제2 위치 정보를 획득하고, 상기 제2 위치 정보 및 상기 미리 결정된 파라미터에 기반하여, 상기 제2 이미지의 위치 정보로써 제2 보정된 위치 정보를 획득하고, 상기 제1 보정된 위치 정보 및 상기 제2 보정된 위치 정보에 기반하여 상기 제1 이미지와 상기 제2 이미지를 스티칭할 수 있다.An image processing device for stitching a plurality of images acquired through a probe of a confocal endomicroscope in an in-vivo environment according to an embodiment of the present disclosure is included in the probe and includes location information It may include at least one processor electrically connected to a sensor that acquires. The at least one processor may acquire a first image of a first region of the tissue at a first viewpoint using the probe, and obtain first location information of the sensor corresponding to the first viewpoint. there is. The at least one processor acquires first calibrated location information as location information of the first image, based on the first location information and a predetermined parameter, and uses the probe to obtain a second viewpoint. A second image of the second region of the tissue may be obtained. The at least one processor acquires second location information of the sensor corresponding to the second viewpoint and, based on the second location information and the predetermined parameter, performs a second correction with the location information of the second image. Location information may be obtained, and the first image and the second image may be stitched based on the first corrected location information and the second corrected location information.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 이미지 및 상기 제2 이미지는 상기 프로브의 광섬유 스캐너가 상기 조직에 조사광을 조사하고 상기 프로브의 수광부(light receiver)가 상기 조직으로부터 방출된 여기광(excitation light)을 수광(receive)하는 동안 획득될 수 있다.According to one embodiment, the first image and the second image are generated when the optical fiber scanner of the probe radiates light to the tissue and the light receiver of the probe receives excitation light emitted from the tissue. It can be obtained while receiving light.
일 실시 예에 따르면, 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 제1 시점 이전의 기준 시점에서 상기 센서의 기준 위치를 획득하고, 상기 센서의 상기 기준 위치에 대한 상대적인 위치인 상기 센서의 제1 위치를 획득할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서는 상기 제2 시점에서 상기 센서의 상기 기준 위치에 대한 상대적인 위치인 상기 센서의 제2 위치를 획득할 수 있다. 상기 센서의 상기 제1 위치는 상기 제1 시점에 대응하고, 상기 센서의 상기 제2 위치는 상기 제2 시점에 대응할 수 있다.According to one embodiment, the at least one processor acquires the reference position of the sensor at a reference point before the first point in time, and acquires the first position of the sensor, which is a relative position with respect to the reference position of the sensor. You can. At least one processor may obtain the second position of the sensor, which is a relative position with respect to the reference position of the sensor at the second viewpoint. The first position of the sensor may correspond to the first viewpoint, and the second position of the sensor may correspond to the second viewpoint.
일 실시 예에 따르면, 상기 미리 결정된 파라미터는 상기 프로브 내 상기 센서와 상기 프로브의 프로브 팁(또는, 원위단) 간의 상대적인 위치 정보, 및 상기 프로브 팁이 향하는 방향에 대한 방향 정보를 포함할 수 있다. 상기 상대적인 위치 정보는 상기 센서가 포함된 프로브 바디의 길이, 상기 프로브 팁을 포함하는 프로브 튜브의 길이, 및 상기 프로브 바디와 상기 프로브 튜브 간의 각도에 대한 정보를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the predetermined parameter may include relative position information between the sensor within the probe and the probe tip (or distal end) of the probe, and direction information regarding the direction in which the probe tip faces. The relative position information may include information about the length of the probe body including the sensor, the length of the probe tube including the probe tip, and the angle between the probe body and the probe tube.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 보정된 위치 정보는 상기 제1 시점에서 상기 프로브의 프로브 팁의 제1 보정된 위치(calibrated location)를 포함할 수 있다. 상기 제2 보정된 위치 정보는 상기 제2 시점에서 상기 프로브의 상기 프로브 팁의 제2 보정된 위치를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the first calibrated location information may include a first calibrated location of the probe tip of the probe at the first viewpoint. The second corrected position information may include a second corrected position of the probe tip of the probe at the second viewpoint.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 시점에서 상기 프로브 팁의 상기 제1 보정된 위치 정보 및 상기 제2 시점에서 상기 프로브 팁의 상기 제2 보정된 위치 정보는 각각 제1 축, 제2 축 및 제3 축을 포함하는 3차원 좌표들(three dimensional coordinates)로 지시될 수 있다. According to one embodiment, the first corrected position information of the probe tip at the first viewpoint and the second corrected position information of the probe tip at the second viewpoint are respectively a first axis, a second axis, and a second axis. It can be indicated by three dimensional coordinates including three axes.
일 실시 예에 따르면, 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 제1 축 및 상기 제2 축으로 이루어진 가상의 평면 상에, 상기 제1 이미지가 상기 제1 보정된 위치 정보 중 상기 제1 축의 좌표 정보 및 상기 제2 축의 좌표 정보를 갖도록 상기 제1 이미지를 투영할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서는 상기 가상의 평면 상에, 상기 제2 이미지가 상기 제2 보정된 위치 정보 중 상기 제1 축의 좌표 정보 및 상기 제2 축의 좌표 정보를 갖도록 제2 이미지를 투영하고, 상기 투영된 제1 이미지와 상기 투영된 제2 이미지를 스티칭할 수 있다. According to one embodiment, the at least one processor is configured to display the first image on a virtual plane consisting of the first axis and the second axis, the coordinate information of the first axis among the first corrected position information, and the The first image may be projected to have coordinate information of the second axis. At least one processor projects a second image on the virtual plane so that the second image has coordinate information of the first axis and coordinate information of the second axis among the second corrected position information, and the projected The first image and the projected second image may be stitched.
일 실시 예에 따르면, 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 제1 보정된 위치 정보의 상기 제1 축, 상기 제2 축, 및 상기 제3 축의 제1 좌표 정보와 상기 프로브 팁이 향하는 제1 방향 정보에 기반하여, 상기 제1 영역에 대한 3차원 이미지를 획득할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서는 상기 제2 보정된 위치 정보의 상기 제1 축, 상기 제2 축, 및 상기 제3 축의 제2 좌표 정보와 상기 프로브 팁이 향하는 제2 방향 정보에 기반하여, 상기 제2 영역에 대한 3차원 이미지를 획득하고, 상기 제1 영역의 상기 3차원 이미지와 상기 제2 영역의 상기 3차원 이미지를 스티칭할 수 있다. According to one embodiment, the at least one processor is configured to include first coordinate information of the first axis, the second axis, and the third axis of the first corrected position information and first direction information toward which the probe tip is directed. Based on this, a 3D image of the first area can be obtained. At least one processor determines the second region based on second coordinate information of the first axis, the second axis, and the third axis of the second corrected position information and second direction information toward which the probe tip is directed. A 3D image may be acquired, and the 3D image of the first area and the 3D image of the second area may be stitched.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 보정된 위치는 상기 조직의 상기 제1 영역의 위치에 대응하고, 상기 제2 보정된 위치는 상기 조직의 상기 제2 영역의 위치에 대응할 수 있다.According to one embodiment, the first corrected position may correspond to the position of the first region of the tissue, and the second corrected position may correspond to the position of the second region of the tissue.
일 실시 예에 따르면, 상기 센서는 IMU(inertial measurement unit) 센서, 가속도 센서 또는 자이로 센서 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. According to one embodiment, the sensor may include at least one of an inertial measurement unit (IMU) sensor, an acceleration sensor, or a gyro sensor.
일 실시 예에 따른 이미지 처리 장치는 디스플레이를 더 포함할 수 있고, 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 제1 이미지, 상기 제2 이미지, 또는 상기 제1 이미지와 상기 제2 이미지에 기반하여 스티칭된 이미지 중 적어도 하나를 상기 디스플레이에 표시할 수 있다.The image processing device according to an embodiment may further include a display, and the at least one processor may display one of the first image, the second image, or an image stitched based on the first image and the second image. At least one can be displayed on the display.
일 실시 예에 따르면, 상기 디스플레이는 상기 프로브가 획득한 이미지가 실시간으로 표시되는 제1 디스플레이 영역 및 상기 스티칭된 이미지가 표시되는 제2 디스플레이 영역을 포함할 수 있다.According to one embodiment, the display may include a first display area where the image acquired by the probe is displayed in real time and a second display area where the stitched image is displayed.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 영역은 상기 제2 영역과 가장자리의 적어도 일부를 공유할 수 있다. 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 디스플레이에 대한 사용자 입력에 응답하여 상기 제1 디스플레이 영역과 상기 디스플레이 제2 영역을 상기 디스플레이 상에서 이격되게 표시할 수 있다.According to one embodiment, the first area may share at least a portion of an edge with the second area. The at least one processor may display the first display area and the second display area to be spaced apart from each other on the display in response to a user input to the display.
일 실시 예에 따르면, 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 조직에 대한 이미지를 촬영하는 속도를 나타내는 이미지 프레임 레이트(image frame rate)를 제1 값으로 설정하여, 상기 조직에 대한 이미지를 촬영하는 동안, 상기 센서를 통해 상기 프로브의 이동 속도를 감지할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서는 상기 감지된 이동 속도가 기준 값 이상인 경우, 상기 이미지 프레임 레이트를 상기 제1 값보다 큰 제2 값으로 변경할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서는 상기 감지된 이동 속도가 상기 기준 값 미만인 경우, 상기 이미지 프레임 레이트는 상기 제1 값을 유지할 수 있다.According to one embodiment, the at least one processor sets an image frame rate indicating a speed of taking an image of the tissue to a first value, while taking an image of the tissue, The moving speed of the probe can be detected through a sensor. When the detected movement speed is greater than or equal to a reference value, at least one processor may change the image frame rate to a second value greater than the first value. When the detected movement speed is less than the reference value, the at least one processor may maintain the image frame rate at the first value.
일 실시 예에 따르면, 상기 적어도 하나의 프로세서는 제1 시점에서 센서에서 측정된 제1 가속도 정보 및 제1 각속도 정보를 획득할 수 있다. 상기 제1 가속도 정보에 포함된 상기 센서의 가속도 값들에 기반하여 상기 센서의 위치 정보를 획득하고, 상기 제1 각속도 정보에 포함된 상기 센서의 각속도 값들에 기반하여 상기 프로브의 기울기(inclination) 정보를 획득할 수 있다.According to one embodiment, the at least one processor may obtain first acceleration information and first angular velocity information measured by a sensor at a first point in time. Obtain location information of the sensor based on the acceleration values of the sensor included in the first acceleration information, and obtain inclination information of the probe based on the angular velocity values of the sensor included in the first angular velocity information. It can be obtained.
본 개시의 일 실시 예에 따른 in-vivo 환경에서 공초점 내시현미경(confocal endomicroscope)의 프로브(probe)를 통해 복수 개의 이미지들을 획득하는 이미지 처리 장치는 상기 프로브에 포함된 위치 정보를 획득하는 센서와 전기적으로 연결되는 적어도 하나의 프로세서를 포함할 수 있다. 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 프로브를 이용하여 제1 시점에서 조직의 제1 영역에 대한 제1 이미지를 획득하고, 상기 제1 시점에 대응하는 상기 센서의 제1 위치 정보를 획득하고, 상기 제1 위치 정보 및 미리 결정된 파라미터에 기반하여 제1 보정된 위치 정보(calibrated location information)를 획득할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서는 상기 제1 보정된 위치 정보 및 상기 획득된 제1 이미지를 이미지 스티칭을 수행하는 외부 장치로 송신하고, 상기 프로브를 이용하여 제2 시점에서 상기 조직의 제2 영역에 대한 제2 이미지를 획득하고, 상기 제2 시점에 대응하는 상기 센서의 제2 위치 정보를 획득할 수 있다. 적어도 하나의 프로세서는 상기 제2 위치 정보 및 상기 미리 결정된 파라미터에 기반하여 제2 보정된 위치 정보를 획득하고, 상기 제2 보정된 위치 정보 및 상기 획득된 제2 이미지를 상기 외부 장치로 송신할 수 있다.An image processing device that acquires a plurality of images through a probe of a confocal endomicroscope in an in-vivo environment according to an embodiment of the present disclosure includes a sensor that acquires location information included in the probe; It may include at least one processor that is electrically connected. The at least one processor acquires a first image of a first region of tissue at a first viewpoint using the probe, acquires first location information of the sensor corresponding to the first viewpoint, and obtains first position information of the sensor corresponding to the first viewpoint. First calibrated location information may be obtained based on the location information and predetermined parameters. At least one processor transmits the first corrected position information and the acquired first image to an external device that performs image stitching, and uses the probe to perform a second measurement on a second region of the tissue at a second viewpoint. An image may be acquired, and second location information of the sensor corresponding to the second viewpoint may be obtained. At least one processor may acquire second corrected location information based on the second location information and the predetermined parameter, and transmit the second corrected location information and the obtained second image to the external device. there is.

Claims (15)

  1. 공초점 형광 현미경(confocal fluorescence microscope)에 탑재되어 제1 파장의 제1 빔을 출력하는 제1 레이저와 제2 파장의 제2 빔을 출력하는 제2 레이저를 객체(object)에 조사(irradiate)하고, 상기 객체로부터 방출된 방출광(emission light)을 획득하고, 상기 획득된 방출광을 처리하는 광학 시스템에 있어서,It is mounted on a confocal fluorescence microscope and irradiates a first laser that outputs a first beam of a first wavelength and a second laser that outputs a second beam of a second wavelength to the object. , in an optical system for acquiring emission light emitted from the object and processing the obtained emission light,
    제1 광섬유에 결합되는 상기 제1 레이저와 제2 광섬유에 결합되는 상기 제2 레이저;The first laser coupled to a first optical fiber and the second laser coupled to a second optical fiber;
    상기 제1 광섬유를 통해 전파되는 상기 제1 빔과 상기 제2 광섬유를 통해 전파되는 상기 제2 빔이 제3 광섬유를 통해 동시에 전파되도록, 상기 제1 광섬유, 상기 제2 광섬유, 및 제3 광섬유로 결합된 광섬유 커플러; 및The first optical fiber, the second optical fiber, and the third optical fiber such that the first beam propagating through the first optical fiber and the second beam propagating through the second optical fiber are simultaneously propagated through the third optical fiber. Combined fiber optic coupler; and
    상기 광섬유 커플러로부터 출력된 상기 제1 빔 및 상기 제2 빔이 전파되는 광 전파 모듈을 포함하고,Comprising an optical propagation module through which the first beam and the second beam output from the optical fiber coupler propagate,
    상기 광 전파 모듈은: The optical propagation module:
    상기 제1 빔, 상기 제2 빔, 및 상기 방출광이 전파되는 광로(optical path);an optical path along which the first beam, the second beam, and the emitted light propagate;
    복수의 광학 부재들; a plurality of optical members;
    상기 제3 광섬유와 결합되는 제1 콜리메이터(collimator); 및A first collimator coupled to the third optical fiber; and
    상기 제1 빔 및 상기 제2 빔을 상기 객체로 조사하기 위한 프로브(probe)와 결합된, 제4 광섬유와 결합되는 제2 콜리메이터를 포함하는, 광학 시스템.An optical system comprising a second collimator coupled to a fourth optical fiber coupled to a probe for directing the first beam and the second beam to the object.
  2. 청구항 1에 있어서,In claim 1,
    상기 광 전파 모듈의 상기 복수의 광학 부재들은:The plurality of optical members of the light propagation module are:
    상기 제1 파장과 상기 제1 파장보다 큰 제2 파장 사이의 파장대에 해당하는 파장을 가지는 빔을 투과시키지 않는 제1 빔 스플리터, 및A first beam splitter that does not transmit a beam having a wavelength corresponding to a wavelength band between the first wavelength and a second wavelength greater than the first wavelength, and
    상기 제2 파장보다 큰 제3 파장 이하의 파장대에 해당하는 파장을 가지는 빔을 투과시키지 않는 제2 빔 스플리터를 포함하는, 광학 시스템.An optical system comprising a second beam splitter that does not transmit a beam having a wavelength corresponding to a wavelength band below a third wavelength that is greater than the second wavelength.
  3. 청구항 2에 있어서,In claim 2,
    상기 제1 빔 스플리터에 투과되지 않은 빔은 상기 제1 빔 스플리터에 반사되고,The beam that is not transmitted through the first beam splitter is reflected by the first beam splitter,
    상기 제2 빔 스플리터에 투과되지 않은 빔은 상기 제2 빔 스플리터에 반사되는, 광학 시스템.An optical system wherein a beam that is not transmitted through the second beam splitter is reflected by the second beam splitter.
  4. 청구항 1에 있어서,In claim 1,
    상기 광 전파 모듈의 상기 복수의 광학 부재들은:The plurality of optical members of the light propagation module are:
    제4 파장과 상기 제4 파장보다 큰 제5 파장 사이의 파장대에 해당하는 파장을 가지는 빔만 투과하는 제1 필터; 및a first filter that transmits only beams having a wavelength corresponding to a wavelength range between a fourth wavelength and a fifth wavelength greater than the fourth wavelength; and
    상기 제5 파장보다 큰 제6 파장 이상의 파장대에 해당하는 파장을 가지는 빔을 투과시키는 제2 필터를 포함하는, 광학 시스템.An optical system comprising a second filter that transmits a beam having a wavelength corresponding to a sixth wavelength or greater than the fifth wavelength.
  5. 청구항 4에 있어서,In claim 4,
    상기 제1 빔이 상기 객체에 조사된 것에 응답하여 상기 객체로부터 방출된 제1 방출광은 상기 제4 파장과 상기 제5 파장 사이의 상기 파장대에 해당하는 파장을 가지고,The first emission light emitted from the object in response to the first beam being irradiated to the object has a wavelength corresponding to the wavelength band between the fourth wavelength and the fifth wavelength,
    상기 제2 빔이 상기 객체에 조사된 것에 응답하여 상기 객체로부터 방출된 제2 방출광은 상기 제6 파장 이상의 파장대에 해당하는 파장을 가지는, 광학 시스템.The optical system, wherein the second emission light emitted from the object in response to the second beam being irradiated to the object has a wavelength corresponding to a wavelength band of the sixth wavelength or higher.
  6. 청구항 1에 있어서,In claim 1,
    상기 광 전파 모듈은 제1 광검출기 및 제2 광검출기를 더 포함하고, The light propagation module further includes a first photodetector and a second photodetector,
    상기 광 전파 모듈의 상기 광로는:The optical path of the light propagation module is:
    상기 제1 콜리메이터와 상기 제2 콜리메이터를 연결하는 제1 부분;A first part connecting the first collimator and the second collimator;
    상기 제1 부분으로부터 연장되어 상기 제1 광검출기와 연결되는 제2 부분; 및a second part extending from the first part and connected to the first photodetector; and
    상기 제1 부분으로부터 연장되어 상기 제2 광검출기와 연결되는 제3 부분을 포함하는, 광학 시스템.An optical system comprising a third portion extending from the first portion and connected to the second photodetector.
  7. 청구항 6에 있어서,In claim 6,
    상기 제1 빔이 상기 객체에 조사된 것에 응답하여 상기 객체로부터 방출된 제1 방출광은 상기 제1 광검출기로 전파되고,The first emission light emitted from the object in response to the first beam being irradiated to the object propagates to the first photodetector,
    상기 제2 빔이 상기 객체에 조사된 것에 응답하여 상기 객체로부터 방출된 제2 방출광은 상기 제2 광검출기로 전파되는, 광학 시스템.and wherein second emission light emitted from the object in response to irradiating the object with the second beam propagates to the second photodetector.
  8. 청구항 6에 있어서,In claim 6,
    상기 광 전파 모듈은 상기 제1 콜리메이터가 결합될 수 있는(capable of being coupled) 제1 연결 부분(connection portion) 및 제3 콜리메이터가 결합될 수 있는 제2 연결 부분을 포함하고,The light propagation module includes a first connection portion capable of being coupled to the first collimator and a second connection portion capable of being coupled to the third collimator,
    상기 광 전파 모듈의 상기 광로는 상기 제1 부분과 상기 제2 연결 부분을 연결하는 제4 부분을 포함하고,The optical path of the light propagation module includes a fourth part connecting the first part and the second connection part,
    상기 제1 레이저와 상기 제2 레이저의 광학 특성에 기반하여 결정된 상기 제1 연결 부분 또는 상기 제2 연결 부분 중 하나의 연결 부분에, 상기 하나의 연결 부분과 대응되는 콜리메이터가 결합되는, 광학 시스템.An optical system in which a collimator corresponding to the one connection part is coupled to one of the first connection part or the second connection part determined based on the optical characteristics of the first laser and the second laser.
  9. 청구항 6에 있어서, In claim 6,
    상기 복수의 광학 부재들은 제1 빔 스플리터 및 제2 빔 스플리터를 포함하고,The plurality of optical members include a first beam splitter and a second beam splitter,
    상기 광로의 상기 제1 부분에는: In the first portion of the optical path:
    상기 제1 빔 스플리터를 수용하기 위한 제1 홈이 형성되고,A first groove is formed to accommodate the first beam splitter,
    상기 제2 빔 스플리터를 수용하기 위한 제2 홈이 형성되는, 광학 시스템.An optical system, wherein a second groove is formed to receive the second beam splitter.
  10. 청구항 9에 있어서,In claim 9,
    상기 제2 홈에는 제1 레일(rail)이 배치되고,A first rail is disposed in the second groove,
    상기 제2 빔 스플리터는 상기 제1 레일 상에 고정되고,The second beam splitter is fixed on the first rail,
    상기 제2 빔 스플리터가 상기 제1 레일 상의 제1 위치에 있는 경우 상기 제1 빔 및 상기 제2 빔은 상기 제2 빔 스플리터로 입사(incident)되고,The first beam and the second beam are incident on the second beam splitter when the second beam splitter is in a first position on the first rail,
    상기 제2 빔 스플리터가 상기 제1 레일을 따라 상기 제1 위치에서 지정된 거리만큼 이동하는 경우 상기 제1 빔 및 상기 제2 빔은 상기 제2 빔 스플리터로 입사되지 않는, 광학 시스템.and wherein the first beam and the second beam are not incident on the second beam splitter when the second beam splitter moves a specified distance from the first position along the first rail.
  11. 청구항 10에 있어서,In claim 10,
    상기 제2 빔 스플리터의 상기 제1 레일 상에서의 위치는 상기 광 전파 모듈에 포함되는 적어도 하나의 프로세서에 의해 제어되거나 사용자 입력에 따라 제어되는, 광학 시스템.The position of the second beam splitter on the first rail is controlled by at least one processor included in the light propagation module or controlled according to user input.
  12. 청구항 1에 있어서,In claim 1,
    상기 광 전파 모듈은 제1 빔 스플리터, 제1 필터, 입사되는 빔의 포커싱을 조절하는 제1 렌즈, 제1 핀홀(pin hole) 및 제1 광검출기를 포함하고,The light propagation module includes a first beam splitter, a first filter, a first lens for controlling focusing of an incident beam, a first pin hole, and a first photodetector,
    상기 제1 빔 스플리터와 상기 제1 광검출기 사이에는 상기 제1 필터가 배치되고,The first filter is disposed between the first beam splitter and the first photodetector,
    상기 제1 필터와 상기 제1 광검출기 사이에는 상기 제1 렌즈가 배치되고,The first lens is disposed between the first filter and the first photodetector,
    상기 제1 렌즈와 상기 제1 광검출기 사이에는 상기 제1 렌즈에서 출력된 빔을 통과시키는 상기 제1 핀홀이 배치되는, 광학 시스템.An optical system wherein the first pinhole through which the beam output from the first lens passes is disposed between the first lens and the first photodetector.
  13. 청구항 1에 있어서,In claim 1,
    상기 제1 빔이 상기 객체에 조사된 것에 응답하여 상기 객체로부터 방출된 제1 방출광의 중심 파장이 상기 제1 빔의 상기 제1 파장보다 높은 파장을 가지고,The central wavelength of the first emission light emitted from the object in response to the first beam being irradiated to the object has a higher wavelength than the first wavelength of the first beam,
    상기 제2 빔이 상기 객체에 조사된 것에 응답하여 상기 객체로부터 방출된 제2 방출광의 중심 파장이 상기 제2 빔의 상기 제2 파장보다 높은 파장을 가지는, 광학 시스템.An optical system, wherein a central wavelength of second emission light emitted from the object in response to irradiation of the second beam on the object has a higher wavelength than the second wavelength of the second beam.
  14. 청구항 1에 있어서,In claim 1,
    상기 제1 빔의 상기 제1 파장은 450nm 내지 500nm 사이에 해당하는 파장이고, The first wavelength of the first beam is a wavelength corresponding to between 450 nm and 500 nm,
    상기 제2 빔의 상기 제2 파장은 750nm 내지 800nm 사이에 해당하는 파장인, 광학 시스템.The second wavelength of the second beam is a wavelength corresponding to between 750 nm and 800 nm.
  15. 공초점 형광 현미경(confocal fluorescence microscope)에 탑재되어 제1 파장의 제1 빔을 객체(object)에 조사하고, 상기 객체로부터 방출된 방출광을 획득하고, 상기 획득된 방출광을 처리하는 광학 시스템에 있어서,An optical system mounted on a confocal fluorescence microscope radiates a first beam of a first wavelength to an object, acquires emission light emitted from the object, and processes the obtained emission light. Because,
    제1 광섬유에 결합되는 제1 레이저; 및a first laser coupled to the first optical fiber; and
    상기 제1 레이저로부터 출력된 상기 제1 빔이 전파되는 광 전파 모듈을 포함하고,Comprising a light propagation module through which the first beam output from the first laser propagates,
    상기 광 전파 모듈은: The optical propagation module:
    상기 제1 빔 및 상기 방출광이 전파되는 광로(optical path);an optical path along which the first beam and the emitted light propagate;
    복수의 광학 부재들,a plurality of optical members,
    상기 제1 광섬유와 결합되는 제1 콜리메이터(collimator); 및A first collimator coupled to the first optical fiber; and
    상기 광 전파 모듈을 통해 전파되는 상기 제1 빔을 상기 객체로 조사하기 위한 프로브와 결합된, 제2 광섬유와 결합되는 제2 콜리메이터를 포함하는, 광학 시스템.An optical system comprising a second collimator coupled with a second optical fiber coupled with a probe for irradiating the first beam propagating through the light propagation module to the object.
PCT/KR2022/019587 2022-10-05 2022-12-05 Image processing system using confocal fluorescence microscope WO2024075895A1 (en)

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