WO2024038954A1 - X선 감쇄 필터를 포함하는 원통형 배터리 비파괴 검사 장치 및 비파괴 검사 장치 방법 - Google Patents

X선 감쇄 필터를 포함하는 원통형 배터리 비파괴 검사 장치 및 비파괴 검사 장치 방법 Download PDF

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panel detector
destructive testing
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Definitions

  • the present disclosure relates to a non-destructive inspection device and inspection method for a cylindrical battery based on X-rays, and more specifically, to a device for inspecting a cylindrical battery that senses an It's about method.
  • An X-ray generator (X-ray tube) generates Inspection devices using X-rays, such as medical imaging diagnostic devices, non-destructive testing devices, or semiconductor chip inspection devices, include X-ray generating devices.
  • the path lengths through which the X-rays penetrate inside the cylindrical battery are different depending on the thickness of the cylindrical battery.
  • the difference in path length through which X-rays pass through the cylindrical battery increases, and the degree of attenuation of X-rays incident on the Therefore, if the X-rays are not compensated according to the path length through which the X-rays pass inside the cylindrical battery, imaging inside the cylindrical battery may not be smooth.
  • An embodiment of the present disclosure provides a cylindrical battery non-destructive inspection device and inspection method that can obtain a smoothed signal regardless of the path length of X-rays passing through the cylindrical battery based on an X-ray attenuation filter.
  • a cylindrical battery non-destructive inspection device includes an X-ray tube that irradiates X-rays generated by incident electrons on a target through an emission window, and It includes a flat panel detector that senses and converts it into an electrical signal, and an X-ray attenuation filter disposed between the flat panel detector and the X-ray tube to reduce the intensity of the passing X-ray, and The thickness of the line attenuation filter can vary.
  • a cylindrical battery non-destructive testing method is a method in which at least part of each step is performed by a processor, including the steps of placing at least a portion of the cylindrical battery between a flat panel detector and an Controlling the X-ray tube to irradiate X-rays, and X-rays irradiated from the X-ray tube and passing through an It includes the step of sensing and converting into an electrical signal by a flat panel detector, and the thickness of the X-ray attenuation filter in a direction perpendicular to the area of the flat panel detector may change.
  • the non-destructive inspection device and inspection method according to an embodiment of the present disclosure can provide improved inspection images of a cylindrical battery.
  • the non-destructive inspection device and inspection method according to an embodiment of the present disclosure can provide an inspection image of the interior of a cylindrical battery with uniform intensity.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of a non-destructive testing device according to an embodiment of the present disclosure.
  • Figure 2 is a schematic perspective view of an X-ray attenuation filter according to an embodiment of the present disclosure.
  • FIG 3 is a schematic side view of an X-ray attenuation filter according to another embodiment of the present disclosure.
  • Figure 4 is a block diagram illustrating the configuration of a control unit of a non-destructive testing device according to an embodiment of the present disclosure.
  • Figure 5 is a flowchart of a non-destructive testing method according to an embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 1 a cylindrical battery non-destructive testing device equipped with an X-ray attenuation filter according to an embodiment of the present disclosure will be described.
  • the battery to be inspected may be a cylindrical battery 200, and a single battery or multiple batteries may be transported to the inspection location along a path by a transport means.
  • An X-ray tube 110 and a flat panel detector 120 may be placed at the inspection position, and the X-rays irradiated from the X-rays may be sensed by the flat panel detector 120 and converted into electrical signals to obtain an X-ray image.
  • the cylindrical battery subject to inspection may have a jelly roll structure.
  • the X-ray tube 110 may be an open type or closed type X-ray tube. In the case of an open On the other hand, in the case of a sealed A cathode may be available.
  • the X-ray tube 110 may have an emission window through which X-rays generated by electrons extracted from the cathode are incident on a target material (for example, tungsten) through the internal space of the X-ray tube 110 are emitted to the outside.
  • a target material for example, tungsten
  • the flat panel detector 120 senses the X-rays that are irradiated and extracted from the
  • At least a portion of the X-rays penetrating the side of the cylindrical battery 200 pass through the X-ray attenuation filter 130 disposed between the flat panel detector 120 and the can do.
  • the X-ray attenuation filter 130 may reduce the intensity of the X-rays passing through the X-ray attenuation filter in the path through which the X-rays pass.
  • the X-ray attenuation filter may include a metal portion made of metal, and the metal may be made of aluminum (Al), copper (Cu), or another metallic material.
  • the X-ray attenuation filter may be made of a resin material mixed with a material such as metal powder. Any material that can reduce the intensity of X-rays can be used.
  • the X-ray attenuation filter 130 may be configured such that the degree of attenuation of the
  • a side view of the X-ray attenuation filter 130 is shown as viewed from a direction parallel to the longitudinal central axis of the cylindrical battery 200.
  • the X-ray attenuation filter 130 includes a curved surface curved in the direction of the It can be seen that the thickness of the X-ray attenuation filter 130 changes in the direction perpendicular to the central axis of the direction, and the thickness of the It can be seen that the thickness of the X-ray attenuation filter 130 increases in the direction corresponding to the other outer end of the panel detector 120. Accordingly, the degree of attenuation of the As a result, even when the intensity of the X-rays passing through the side in the far outer circumferential direction also have their intensity attenuated by the
  • the X-ray attenuation filter 130 may include a guide portion that can be coupled to the flat panel detector 120, such as a latch, coupler, slit, jig, bolt, and nut.
  • the X-ray attenuation filter 130 can be used in temporary or non-temporary combination with the flat panel detector 120, and can be changed depending on the thickness or type of the cylindrical battery 200 and combined with the flat panel detector 120. . In one embodiment, when the can do.
  • the control unit 140 of the inspection device determines that the cylindrical battery 200 transported along the transfer path is located at a preset location, and controls the X-ray inspection images can be obtained.
  • the configuration of the control unit 140 will be described below with reference to FIG. 4.
  • Figure 2 is a perspective view of the X-ray attenuation filter 130.
  • the X-ray attenuation filter 130 may be made at least in part of a material that reduces the intensity of passing X-rays, and includes a curved surface 131.
  • the curved surface 131 may be coupled to the flat panel detector 130 to face the X-ray tube 110 and the cylindrical battery 200.
  • the X-ray attenuation filter 130 is configured to have different thicknesses along the curved surface 131, the portion corresponding to the low thickness (H1) corresponds to the outer end of the flat panel detector 120, and the portion corresponding to the high thickness (H2) ) may be coupled to the flat panel detector 120 so that the portion corresponding to it corresponds to the other outer end of the flat panel detector 120.
  • Figure 3 is a side view of the X-ray attenuation filter 130a viewed from the direction extending in the longitudinal direction of the cylindrical battery 200.
  • the X-ray attenuation filter 130a has a structure formed by extending the X-ray attenuation filter 130 of FIGS. 1 and 2 symmetrically left and right.
  • the control unit of the inspection device controls the can do.
  • the X-ray attenuation filter 130a of FIG. 3 may be made of a material that reduces the intensity of X-rays, and the flat panel detector 120a may be thinner than the thickness of the It can be seen that the thickness of the X-ray attenuation filter 120a becomes thicker in the direction corresponding to the outer edges of both sides.
  • control unit 140 of the inspection device according to an embodiment of the present disclosure will be described with reference to FIG. 4.
  • the control unit 140 is connected wired or wirelessly to the A memory 142 that stores a code that executes (143), a processor 143 that controls the It may include a display 144 that displays and an interface 145 for use by users, etc.
  • the communication unit 141 may include a communication interface for communicating with the X-ray tube 110 or the flat panel detector 120.
  • the communication interface may include a wireless communication unit or a wired communication unit.
  • the wireless communication unit may include at least one of a mobile communication module, a wireless Internet module, a short-range communication module, and a location information module.
  • the mobile communication module transmits and receives wireless signals with at least one of a base station, an external terminal, and a server on a mobile communication network built according to LTE (Long Term Evolution), a communication method for mobile communication.
  • LTE Long Term Evolution
  • the wireless Internet module is a module for wireless Internet access that can be built into or external to the inspection device, and can be used for WLAN (Wireless LAN), Wi-Fi (Wireless-Fidelity), Wi-Fi (Wireless Fidelity) Direct, and DLNA (Digital Living). Network Alliance), etc. may be used.
  • WLAN Wireless LAN
  • Wi-Fi Wireless-Fidelity
  • Wi-Fi Wireless Fidelity
  • DLNA Digital Living). Network Alliance
  • the short-range communication module is a module for transmitting and receiving data through short-range communication, including BluetoothTM, RFID (Radio Frequency Identification), Infrared Data Association (IrDA), UWB (Ultra Wideband), ZigBee, and NFC (Near Field). Communication), etc. can be used.
  • RFID Radio Frequency Identification
  • IrDA Infrared Data Association
  • UWB Ultra Wideband
  • ZigBee ZigBee
  • NFC Near Field). Communication
  • control unit 140 may include an input unit or an output unit as an interface 145 for user input.
  • the input unit includes a user interface (UI: User Interface) including a microphone and a touch interface for receiving information from the user, and the user interface may include a mouse, a keyboard, as well as mechanical and electronic interfaces implemented in the device. As long as the user's command can be input, the method and form are not particularly limited.
  • the electronic interface includes a display capable of touch input.
  • the output unit is used to deliver information to the user by displaying the output of the inspection device to the outside, and may include a display, LED, speaker, etc. for displaying visual output, auditory output, or tactile output.
  • the control unit 140 may include a peripheral device interface unit for data transfer with various types of connected external devices, and may include a memory card port, an external device I/O (Input/Output) port, etc. It can be included.
  • a peripheral device interface unit for data transfer with various types of connected external devices, and may include a memory card port, an external device I/O (Input/Output) port, etc. It can be included.
  • the processor 143 of the control unit 140 checks the type of X-ray attenuation filter mounted on the flat panel detector 120 and determines whether the type of cylindrical battery being inspected corresponds to the type of X-ray attenuation filter. You can check it.
  • the X-ray attenuation filter may be equipped with an NFC chip containing ID information, a magnet sensor, an IrDA port, etc., and the type is not particularly limited.
  • a non-destructive testing method for a cylindrical battery according to an embodiment of the present disclosure will be described with reference to FIG. 5 . Detailed description of parts that overlap with the description given with reference to FIGS. 1 to 4 will be omitted.
  • the inspection device controls the transfer device to place at least a portion of the cylindrical battery between the flat panel detector and the
  • the X-ray tube can be controlled to irradiate X-rays through the X-ray tube (S120).
  • the inspection device senses the X-rays irradiated from the X-ray tube and passed through at least a portion of the cylindrical battery and an Electrical signals can be configured into image signals and displayed on a display device.
  • the X-ray attenuation filter in the path through which the The thickness of changes, and the thickness of the X-ray attenuation filter may increase as it moves from the center of the flat panel detector to the outskirts.
  • the inspection device checks the type of X-ray attenuation filter mounted on the flat panel detector, checks whether the type of cylindrical battery being inspected corresponds to the type of can do.
  • Computer-readable media includes all types of recording devices that store data that can be read by a computer system. Examples of computer-readable media include HDD (Hard Disk Drive), SSD (Solid State Disk), SDD (Silicon Disk Drive), ROM, RAM, CD-ROM, magnetic tape, floppy disk, optical data storage device, etc. There is. Additionally, the computer may include a processor for each device.
  • program may be specially designed and configured for the present disclosure, or may be known and usable by those skilled in the art of computer software.
  • Examples of programs may include not only machine language code such as that created by a compiler, but also high-level language code that can be executed by a computer using an interpreter or the like.

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Abstract

본 개시의 일 실시 예에 따른 원통형 배터리 비파괴 검사 장치는, 타겟에 전자를 입사시켜서 발생된 X선을 출사창을 통하여 조사하는 X선관, X선관에서 조사되어 원통형 배터리의 적어도 일부를 통과한 X선을 센싱하여 전기적 신호로 변환하는 플랫 패널 디텍터 및 플랫 패널 디텍터와 X선관 사이에 배치되어 통과하는 X선의 세기를 감소시키는 X선 감쇄 필터를 포함하고, 플랫 패널 디텍터의 면적에 대하여 수직인 방향의 X선 감쇄 필터의 두께가 변화할 수 있다.

Description

X선 감쇄 필터를 포함하는 원통형 배터리 비파괴 검사 장치 및 비파괴 검사 장치 방법
본 개시는 X선에 기반한 원통형 배터리 비파괴 검사 장치 및 검사 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 X선 감쇄 필터에 기반하여 원통형 배터리의 두께를 보상하여 X선 신호를 센싱하는 원통형 배터리를 검사하는 장치 및 방법에 관한 것이다.
X선 발생 장치(X선관)는 캐소드에서 방출된 전자가 가속되어 타겟에 부딪히면서 전자의 에너지가 열 에너지와 X선으로 변환되는 현상을 이용하여 X선을 발생시킨다. 의료 영상 진단 장치, 비파괴 검사장치 또는 반도체 칩 검사장치 등과 같은 X선을 이용한 검사장치는 X선 발생 장치를 포함한다.
종래 원통형 배터리의 X선에 기반한 비파괴 검사 장치가 존재한다. 예를 들어, 선행기술 1은 연속적으로 이송되는 다수 개의 배터리를 회전 이송 방식으로 검사 위치로 이송시켜 검사하는 회전 이송 구조의 X선 검사 장치를 개시한다.
선행기술 1은 원통형 배터리의 길이 방향에 수직한 측면에서 X선관에서 발생한 X선이 원통형 배터리를 통과하여 반대편의 디텍터에 입사하고, 디텍터는 이를 전기적 신호로 변환한다.
선행기술 1: 한국 등록특허공보 제10-2300230호(2021.09.03. 등록)
원통형 배터리의 길이 방향에 수직한 측면에서 X선이 통과할 경우, 원통형 배터리의 두께에 따라 원통형 배터리 내부의 X선이 관통하는 경로 길이가 서로 다르다. 이 경우, 원통형 배터리가 커질수록 원통형 배터리 내부의 X선이 관통하는 경로 길이 차이가 커지고, X선 디텍터에 입사되는 X선의 감쇄 정도가 픽셀마다 매우 커질 수 있다. 따라서, 원통형 배터리 내부의 X선이 관통하는 경로 길이에 따라 X선을 보상하지 않으면 원통형 배터리 내부의 영상화가 원활하지 못할 수 있다. 예를 들어, 원통형 배터리의 길이 방향의 중심 축에 가까운 중심부를 정밀하게 관찰하기 위하여 조사되는 X선의 세기를 증가시킬 경우, 원통형 배터리의 중심부로부터 먼 외곽을 통과한 X선은 중심부보다 덜 감쇄되므로 디텍터 픽셀에서 포화(saturation)되어 정확한 신호를 획득할 수 없는 문제점을 발견하였다.
본 개시의 일 실시 예는 X선 감쇄 필터에 기반하여 원통형 배터리를 통과하는 X선의 경로 길이에 무관하게 평활화된 신호를 획득할 수 있는 원통형 배터리 비파괴 검사 장치 및 검사 방법을 제공한다.
본 개시의 일 실시 예에 따른 원통형 배터리 비파괴 검사 장치는, 타겟에 전자를 입사시켜서 발생된 X선을 출사창을 통하여 조사하는 X선관, X선관에서 조사되어 원통형 배터리의 적어도 일부를 통과한 X선을 센싱하여 전기적 신호로 변환하는 플랫 패널 디텍터 및 플랫 패널 디텍터와 X선관 사이에 배치되어 통과하는 X선의 세기를 감소시키는 X선 감쇄 필터를 포함하고, 플랫 패널 디텍터의 면적에 대하여 수직인 방향의 X선 감쇄 필터의 두께가 변화할 수 있다.
본 개시의 일 실시 예에 따른 원통형 배터리 비파괴 검사 방법은 각 단계의 적어도 일부가 프로세서에 의해 수행되는 방법으로서, 플랫 패널 디텍터와 X선관 사이에 원통형 배터리의 적어도 일부를 배치시키는 단계, 출사창을 통하여 X선을 조사하도록 X선관을 제어하는 단계 및 X선관에서 조사되어 원통형 배터리의 적어도 일부 및 플랫 패널 디텍터와 X선관 사이에 배치되어 통과하는 X선의 세기를 감소시키는 X선 감쇄 필터를 통과한 X선을 플랫 패널 디텍터에서 센싱하여 전기적 신호로 변환하는 단계를 포함하고, 플랫 패널 디텍터의 면적에 대하여 수직인 방향의 X선 감쇄 필터의 두께가 변화할 수 있다.
본 개시의 실시 예에 따른 비파괴 검사 장치 및 검사 방법은 원통형 배터리의 향상된 검사 영상을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시 예에 따른 비파괴 검사 장치 및 검사 방법은 원통형 배터리의 내부를 균일한 세기로 구성한 검사 영상을 제공할 수 있다.
도 1은 본 개시의 일 실시 예에 따른 비파괴 검사 장치의 개략적인 도면이다.
도 2는 본 개시의 일 실시 예에 따른 X선 감쇄 필터의 개략적인 사시도이다.
도 3은 본 개시의 다른 실시 예에 따른 X선 감쇄 필터의 개략적인 측면도이다.
도 4는 본 개시의 일 실시 예에 따른 비파괴 검사 장치의 제어부 구성을 설명하는 블럭도이다.
도 5는 본 개시의 일 실시 예에 따른 비파괴 검사 방법의 흐름도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 명세서에 개시된 실시 예를 상세히 설명하되, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 유사한 구성요소는 동일한 참조 번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소에 대한 접미사 "모듈" 및 "부"는 명세서 작성의 용이함만이 고려되어 부여되거나 혼용되는 것으로서, 그 자체로 서로 구별되는 의미 또는 역할을 갖는 것은 아니다. 또한, 본 명세서에 개시된 실시 예를 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 명세서에 개시된 실시 예의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 첨부된 도면은 본 명세서에 개시된 실시 예를 쉽게 이해할 수 있도록 하기 위한 것일 뿐, 첨부된 도면에 의해 본 명세서에 개시된 기술적 사상이 제한되지 않으며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
제1, 제2 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.
도 1을 참조하여 본 개시의 일 실시 예에 따른 X선 감쇄 필터를 구비한 원통형 배터리 비파괴 검사 장치를 설명한다.
검사 대상인 배터리는 원통 형상의 원통형 배터리(200)일 수 있고, 단독의 배터리 또는 다수 개의 배터리가 이송 수단에 의하여 경로를 따라 검사 위치로 이송될 수 있다. 검사 위치에 X선관(110) 및 플랫 패널 디텍터(120)가 배치될 수 있고, X선관(110)에서 조사된 X선이 원통형 배터리(200)의 길이 방향에 수직한 측면을 투과하고, 투과한 X선이 플랫 패널 디텍터(120)에 의하여 센싱되어 전기적인 신호로 변환되어 엑스레이 이미지가 획득될 수 있다. 검사 대상이 되는 원통형 배터리는 젤리 롤(jelly roll) 구조일 수 있다.
일 실시 예에서, X선관(110)은 개방형(Open Type) 또는 밀봉형(Closed Type) X선관일 수 있다. 개방형 X선관(110)인 경우, 캐소드의 수명이 다하거나 장애가 발생한 경우 소스부를 오픈하여 내부의 캐소드등의 전자총의 전부 또는 일부를 교체 또는 수리 가능하다. 이와 달리 밀봉형 X선관(110)인 경우 소스부의 내부 개방이 불가능하여 캐소드의 수명이 다하거나 장애가 발생한 경우 캐소드의 교체가 불가능하고 전체 X선 발생 장치의 교환을 필요로 하지만, 내부 진공도가 높아 장수명 캐소드를 사용 가능할 수 있다.
X선관(110)은 캐소드에서 인출된 전자가 X선관(110)의 내부 공간을 통하여 타겟 물질(예를 들어, 텅스텐)에 입사하여 생성된 X선이 외부로 방출되는 출사창이 형성될 수 있다. 출사창을 통해서 X선관(110)의 외부로 인출 및 조사된 X선은 원통형 배터리(200)의 길이 방향인 측면을 통하여 입사하고 반대측 측면을 통하여 출사된 후, 플랫 패널 디텍터(120)에 입사할 수 있다.
플랫 패널 디텍터(120)는 X선관(110)에서 조사 및 인출되어 원통형 배터리(200)의 적어도 일부를 통과한 X선을 센싱하여 전기적 신호로 변환한다.
원통형 배터리(200)의 측면을 관통한 X선의 적어도 일부는 플랫 패널 디텍터(120)와 X선관(110) 사이에 배치된 X선 감쇄 필터(130)를 통과한 후 플랫 패널 디텍터(120)에 입사할 수 있다.
X선 감쇄 필터(130)는 X선이 통과되는 경로의 X선 감쇄 필터는 통과하는 X선의 세기를 감소시킬 수 있다. 일 실시 예에서, X선 감쇄 필터는 금속으로 구성된 금속부를 포함하할 수 있고 금속은 알루미늄(Al), 구리(Cu) 또는 다른 금속 물질로 구성될 수 있다. 다른 실시 예에서, X선 감쇄 필터 금속 파우더 등의 물질이 혼합된 수지 물질로 구성될 수 있다. X선의 세기를 감소시킬 수 있는 물질은 모두 사용될 수 있다.
X선 감쇄 필터(130)는 X선 중 원통형 배터리(200)의 길이 방향의 중심축에서 먼 외주 방향의 측면을 통과한 X선일수록 X선의 감쇄 정도가 큰 형태로 구성될 수 있다.
도 1을 참조하면, 원통형 배터리(200)의 길이 방향의 중심축에 평행인 방향에서 바라본 X선 감쇄 필터(130)의 측면을 도시한다. 도 1에서 확인 가능한 것처럼, X선 감쇄 필터(130)는 X선관(110) 방향으로 만곡한 곡면을 포함하고, 플랫 패널 디텍터(130)의 면적에 대하여 수직인 방향(원통형 배터리(200)의 길이 방향의 중심축에 수직인 방향)으로 X선 감쇄 필터(130)의 두께가 변화하는 것을 확인할 수 있고, 플랫 패널 디텍터(120)의 외곽 일단에 대응되는 X선 감쇄 필터(130)의 두께에서 플랫 패널 디텍터(120)의 외곽 타단에 대응되는 방향으로 갈수록 X선 감쇄 필터(130)의 두께가 두꺼워지는 것을 확인할 수 있다. 따라서, X선 중 원통형 배터리(200)의 길이 방향의 중심축에서 먼 외주 방향의 측면을 통과한 X선일수록 X선의 감쇄 정도가 커질 수 있다. 그 결과, 원통형 배터리(200)의 길이 방향의 중심축에 가까워 두께가 두꺼운 부위를 정밀하게 검사하기 위해 X선의 강도를 증가시키는 경우에도, X선 중 원통형 배터리(200)의 길이 방향의 중심축에서 먼 외주 방향의 측면을 통과한 X선 역시 X선 감쇄 필터(130)에 의해서 X선 강도가 감쇄되어 플랫 패널 디텍터(120)의 픽셀을 포화시키지 않고 정상적으로 센싱될 수 있다.
일 실시 예에서, X선 감쇄 필터(130)는 래치, 커플러, 슬릿, 지그, 볼트 및 너트 등의 플랫 패널 디텍터(120)와 결합 가능한 가이드부를 포함할 수 있다. X선 감쇄 필터(130)는 플랫 패널 디텍터(120)와 일시적 또는 비 일시적으로 결합되어 사용될 수 있고, 원통형 배터리(200)의 두께 또는 종류에 따라 변경되어 플랫 패널 디텍터(120)에 결합될 수 있다. 일 실시 예에서, X선 감쇄 필터(130)가 플랫 패널 디텍터(120)에 결합되거나 연결되면, 제어부(140)는 자동적으로 감지하고 X선 감쇄 필터(130)의 정보가 표시된 인터랙티브 그래픽 디스플레이를 표시할 수 있다.
검사 장치의 제어부(140)는 이송 경로를 따라 이송되는 원통형 배터리(200)가 미리 설정된 곳에 위치하는 것을 판단하고, X선관(110) 및 플랫 패널 디텍터(120)를 제어하여 원통형 배터리(200)의 X선 검사 영상을 획득할 수 있다. 제어부(140)의 구성은 아래에서 도 4를 참조하여 설명한다.
도 2를 참조하여 본 개시의 일 실시 예에 따른 X선 감쇄 필터(130)를 설명한다. 도 2는 X선 감쇄 필터(130)의 사시도이다.
X선 감쇄 필터(130)는 통과하는 X선의 세기를 감소시키는 물질로 적어도 일부가 구성될 수 있고, 만곡한 곡면(131)을 포함한다. 곡면(131)은 X선관(110) 및 원통형 배터리(200)를 대향하도록 플랫 패널 디텍터(130)에 결합될 수 있다.
X선 감쇄 필터(130)는 만곡한 곡면(131)을 따라 서로 두께가 다르게 구성되고, 낮은 두께(H1)에 대응하는 부분이 플랫 패널 디텍터(120)의 외곽 일단에 대응되고, 높은 두께(H2)에 대응하는 부분이 플랫 패널 디텍터(120)의 외곽 타단에 대응되도록 플랫 패널 디텍터(120)에 결합될 수 있다.
X선 감쇄 필터(130)는 만곡한 곡면(131)의 곡률 반경은 검사 대상인 원통형 배터리(200)의 종류 또는 측면 두께 또는 길이 방향의 중심축을 중심으로 하는 반지름의 크기에 따라 다를 수 있다.
도 3을 참조하여 본 개시의 다른 실시 예에 따른 X선 감쇄 필터(130a)를 설명한다. 도 3은 X선 감쇄 필터(130a)를 원통형 배터리(200)의 길이 방향의 연장된 방향에서 바라본 X선 감쇄 필터(130a)의 측면도이다.
도 3을 참조하면, X선 감쇄 필터(130a)는 도 1 및 도 2의 X선 감새 필터(130)를 좌우 대칭적으로 연장하여 구성한 구조를 확인할 수 있다. 이 경우, 검사 장치의 제어부는 원통형 배터리(200)가 X선 감쇄 필터(130a) 및 플랫 패널 디텍터(120a)의 중심에 위치할 때 검사 영상을 획득하도록 X선관 및 플랫 패널 디텍터(120a)를 제어할 수 있다.
도 3의 X선 감쇄 필터(130a) X선의 세기를 감소시키는 물질로 구성될 수 있고, 플랫 패널 디텍터(120a)의 중간에 대응되는 X선 감쇄 필터(120a)의 두께보다 플랫 패널 디텍터(120a)의 양측 외곽에 대응되는 방향일수록 X선 감쇄 필터(120a)의 두께가 두꺼워지는 것을 확인할 수 있다.
도 4를 참조하여 본 개시의 일 실시 예에 따른 검사 장치의 제어부(140) 를 설명한다.
제어부(140)는 X선관(110) 및 플랫 패널 디텍터(120)과 유선 또는 무선으로 연결되어 제어 신호를 전송하거나 센싱 신호를 수신하는 통신부(141), X선 감쇄 필터의 종류에 관한 정보 및 프로세서(143)를 실행시키는 코드를 저장하는 메모리(142), X선관(110) 및 플랫 패널 디텍터(120)를 제어하는 프로세서(143), 플랫 패널 디텍터(120)에서 센싱한 신호에 기반한 검사 영상 등을 표시하는 디스플레이(144), 사용자 등의 사용을 위한 인터페이스(145)를 포함할 수 있다.
일 실시 예에서, 통신부(141)는 X선관(110) 또는 플랫 패널 디텍터(120)과 통신을 수행하기 위한 통신 인터페이스를 포함할 수 있다.
통신 인터페이스는 무선 통신부 또는 유선 통신부를 포함할 수 있다.
무선 통신부는, 이동통신 모듈, 무선 인터넷 모듈, 근거리 통신 모듈, 위치정보 모듈 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
이동통신 모듈은, 이동통신을 위한 통신방식인 LTE(Long Term Evolution) 등에 따라 구축된 이동 통신망 상에서 기지국, 외부의 단말, 서버 중 적어도 하나와 무선 신호를 송수신한다.
무선 인터넷 모듈은 무선 인터넷 접속을 위한 모듈로서, 검사 장치에 내장되거나 외장될 수 있고, WLAN(Wireless LAN), Wi-Fi(Wireless-Fidelity), Wi-Fi(Wireless Fidelity) Direct, DLNA(Digital Living Network Alliance) 등이 사용될 수 있다.
근거리 통신 모듈은 근거리 통신을 통하여 데이터 송수신을 위한 모듈로서, 블루투스(Bluetooth™), RFID(Radio Frequency Identification), 적외선 통신(Infrared Data Association; IrDA), UWB(Ultra Wideband), ZigBee, NFC(Near Field Communication) 등을 사용할 수 수 있다.
일 실시 예에서, 제어부(140)는 사용자의 입력을 위한 인터페이스(145)로서 입력부 또는 출력부를 포함할 수 있다.
입력부는 마이크로폰, 사용자로부터 정보를 입력 받기 위한 터치 인터페이스를 포함하는 사용자 인터페이스(UI: User Interface)를 포함하고, 사용자 인터페이스는 마우스, 키보드뿐만 아니라 장치에 구현된 기계식, 전자식 인터페이스 등을 포함할 수 있고 사용자의 명령을 입력 가능한 것이라면 특별히 그 방식과 형태를 한정하지 않는다. 전자식 인터페이스는 터치 입력 가능한 디스플레이를 포함한다.
출력부는 검사 장치의 출력을 외부에 표출하여 사용자에게 정보를 전달하기 위한 것으로서, 시각적 출력, 청각적 출력 또는 촉각적 출력을 표출하기 위한 디스플레이, LED, 스피커 등을 포함할 수 있다.
제어부(140)는 다양한 종류의 연결된 외부 기기와의 데이터 전송을 위한 주변 장치 인터페이스부를 포함할 수 있고, 메모리 카드(memory card) 포트, 외부 장치 I/O(Input/Output) 포트(port) 등을 포함할 수 있다.
일 실시 예에서, 제어부(140)의 프로세서(143)는 플랫 패널 디텍터(120)에 장착된 X선 감쇄 필터의 종류를 확인하고, 검사 중인 원통형 배터리의 종류가 X선 감쇄 필터의 종류에 대응하는지 확인할 수 있다. 이를 위해서, X선 감쇄 필터는 ID 정보가 포함된 NFC 칩, 마그넷 센서, IrDA 포트 등을 구비할 수 있고, 특별히 그 종류를 한정하지 않는다.
도 5를 참조하여 본 개시의 일 실시 예에 따른 원통형 배터리의 비파괴 검사 방법을 설명한다. 도 1 내지 4를 참조하여 한 설명과 중복되는 부분은 자세한 설명을 생략한다.
검사 장치는 플랫 패널 디텍터와 X선관 사이에 원통형 배터리의 적어도 일부를 배치시키도록 이송 장치를 제어하고(S110), 원통형 배터리가 미리 설정된 위치에 도달한 경우 또는 이송 장치도 동작하는 상시 동안 출사창을 통하여 X선을 조사하도록 X선관을 제어할 수 있다(S120).
검사 장치는 X선관에서 조사되어 원통형 배터리의 적어도 일부 및 플랫 패널 디텍터와 X선관 사이에 배치되는 X선 감쇄 필터를 통과한 X선을 플랫 패널 디텍터에서 센싱하여 전기적 신호로 변환(S130)한 후, 전기적 신호를 영상 신호로 구성하여 디스플레이 장치에 표시할 수 있다.
여기에서, X선 감쇄 필터 중 X선이 통과되는 경로의 X선 감쇄 필터는 통과하는 X선의 세기를 감소시키는 물질을 포함할 수 있고, 플랫 패널 디텍터의 면적에 대하여 수직인 방향의 X선 감쇄 필터의 두께가 변화하고, 플랫 패널 디텍터의 중심에서 외곽으로 갈수록 X선 감쇄 필터의 두께가 클 수 있다.
일 실시 예에서, 검사 장치는 플랫 패널 디텍터에 장착된 X선 감쇄 필터의 종류를 확인하고, 검사 중인 원통형 배터리의 종류가 X선 감쇄 필터의 종류에 대응하는지 확인하여 서로 대응되지 않는 경우 알람을 표시할 수 있다.
전술한 본 개시는, 프로그램이 기록된 매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 매체는, 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 매체의 예로는, HDD(Hard Disk Drive), SSD(Solid State Disk), SDD(Silicon Disk Drive), ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피 디스크, 광 데이터 저장 장치 등이 있다. 또한, 상기 컴퓨터는 각 장치의 프로세서를 포함할 수도 있다.
한편, 상기 프로그램은 본 개시를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것이거나 컴퓨터 소프트웨어 분야의 통상의 기술자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수 있다. 프로그램의 예에는, 컴파일러에 의하여 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용하여 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드도 포함될 수 있다.
본 개시의 명세서(특히 특허청구범위에서)에서 "상기"의 용어 및 이와 유사한 지시 용어의 사용은 단수 및 복수 모두에 해당하는 것일 수 있다. 또한, 본 개시에서 범위(range)를 기재한 경우 상기 범위에 속하는 개별적인 값을 적용한 발명을 포함하는 것으로서(이에 반하는 기재가 없다면), 발명의 상세한 설명에 상기 범위를 구성하는 각 개별적인 값을 기재한 것과 같다.
본 개시에 따른 방법을 구성하는 단계들에 대하여 명백하게 순서를 기재하거나 반하는 기재가 없다면, 상기 단계들은 적당한 순서로 행해질 수 있다. 반드시 상기 단계들의 기재 순서에 따라 본 개시가 한정되는 것은 아니다. 본 개시에서 모든 예들 또는 예시적인 용어(예들 들어, 등등)의 사용은 단순히 본 개시를 상세히 설명하기 위한 것으로서 특허청구범위에 의해 한정되지 않는 이상 상기 예들 또는 예시적인 용어로 인해 본 개시의 범위가 한정되는 것은 아니다. 또한, 통상의 기술자는 다양한 수정, 조합 및 변경이 부가된 특허청구범위 또는 그 균등물의 범주 내에서 설계 조건 및 인자(factor)에 따라 구성될 수 있음을 알 수 있다.
따라서, 본 개시의 사상은 상기 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 또는 이로부터 등가적으로 변경된 모든 범위는 본 개시의 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.

Claims (8)

  1. 타겟에 전자를 입사시켜서 발생된 X선을 출사창을 통하여 조사하는 X선관;
    상기 X선관에서 조사되어 원통형 배터리의 적어도 일부를 통과한 X선을 센싱하여 전기적 신호로 변환하는 플랫 패널 디텍터; 및
    상기 플랫 패널 디텍터와 상기 X선관 사이에 배치되어 통과하는 X선의 세기를 감소시키는 X선 감쇄 필터를 포함하고,
    상기 플랫 패널 디텍터의 면적에 대하여 수직인 방향의 상기 X선 감쇄 필터의 두께가 변화하는,
    원통형 배터리 비파괴 검사 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 X선 감쇄 필터는 상기 X선관 방향으로 만곡한 곡면을 포함하는,
    원통형 배터리 비파괴 검사 장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 플랫 패널 디텍터의 면적에 대하여 수직인 방향의 상기 X선 감쇄 필터의 두께는 상기 플랫 패널 디텍터의 외곽 일단에 대응되는 상기 X선 감쇄 필터의 두께보다 상기 플랫 패널 디텍터의 외곽 타단에 대응되는 상기 X선 감쇄 필터의 두께가 두꺼운,
    원통형 배터리 비파괴 검사 장치.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 X선 감쇄 필터는 상기 플랫 패널 디텍터에 탈착 가능하도록 설정된 가이드부를 포함하는,
    원통형 배터리 비파괴 검사 장치.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 X선 감쇄 필터의 종류에 관한 정보를 저장하는 메모리를 더 포함하는,
    원통형 배터리 비파괴 검사 장치.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 플랫 패널 디텍터에 장착된 상기 X선 감쇄 필터의 종류를 확인하고, 검사 중인 원통형 배터리의 종류가 상기 X선 감쇄 필터의 종류에 대응하는지 확인하도록 설정된 프로세서를 더 포함하는,
    원통형 배터리 비파괴 검사 장치.
  7. 각 단계의 적어도 일부가 프로세서에 의해 수행되는 방법으로서,
    플랫 패널 디텍터와 X선관 사이에 원통형 배터리의 적어도 일부를 배치시키는 단계;
    출사창을 통하여 X선을 조사하도록 상기 X선관을 제어하는 단계; 및
    상기 X선관에서 조사되어 원통형 배터리의 적어도 일부 및 상기 플랫 패널 디텍터와 상기 X선관 사이에 배치되어 통과하는 X선의 세기를 감소시키는 X선 감쇄 필터를 통과한 X선을 상기 플랫 패널 디텍터에서 센싱하여 전기적 신호로 변환하는 단계를 포함하고,
    상기 플랫 패널 디텍터의 면적에 대하여 수직인 방향의 상기 X선 감쇄 필터의 두께가 변화하는,
    원통형 배터리 비파괴 검사 방법.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 플랫 패널 디텍터에 장착된 상기 X선 감쇄 필터의 종류를 확인하고, 검사 중인 원통형 배터리의 종류가 상기 X선 감쇄 필터의 종류에 대응하는지 확인하는 단계를 더 포함하는,
    원통형 배터리 비파괴 검사 방법.
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050008512A (ko) * 2003-07-15 2005-01-21 지이 메디컬 시스템즈 글로발 테크놀러지 캄파니 엘엘씨 Ｘ선 분포 조정 필터 장치 및 그것을 이용한 ｘ선 ｃｔ 장치
US20050058254A1 (en) * 2003-09-12 2005-03-17 Toth Thomas Louis Methods and apparatus for target angle heel effect compensation
KR20150041239A (ko) * 2013-10-07 2015-04-16 삼성전자주식회사 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법
JP2017116282A (ja) * 2015-12-21 2017-06-29 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線検査システム、及び、放射線検出装置の調整方法
CN114527149A (zh) * 2021-12-27 2022-05-24 深圳市日联科技有限公司 动力卷绕电池的x射线穿透式补偿检测装置及方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102300230B1 (ko) 2020-01-09 2021-09-09 (주)자비스 회전 이송 구조의 엑스레이 검사 장치

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050008512A (ko) * 2003-07-15 2005-01-21 지이 메디컬 시스템즈 글로발 테크놀러지 캄파니 엘엘씨 Ｘ선 분포 조정 필터 장치 및 그것을 이용한 ｘ선 ｃｔ 장치
US20050058254A1 (en) * 2003-09-12 2005-03-17 Toth Thomas Louis Methods and apparatus for target angle heel effect compensation
KR20150041239A (ko) * 2013-10-07 2015-04-16 삼성전자주식회사 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법
JP2017116282A (ja) * 2015-12-21 2017-06-29 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線検査システム、及び、放射線検出装置の調整方法
CN114527149A (zh) * 2021-12-27 2022-05-24 深圳市日联科技有限公司 动力卷绕电池的x射线穿透式补偿检测装置及方法

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