WO2023135977A1 - Current detecting device, and method for manufacturing same - Google Patents

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一裕 原
裕 小澤
正樹 北川
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Abstract

The present invention relates to a current detecting device and a method for manufacturing the same, and more particularly relates to a current detecting device provided with a shunt resistor, and a method for manufacturing the current detecting device. A current detecting unit (2) comprises: a plurality of pairs of voltage detection contacts (8A to 8H) electrically connected to a pair of electrodes (6, 7) of a shunt resistor (1); a plurality of pairs of voltage signal lines (9A to 9H) connected respectively to the plurality of voltage detection contacts (8A to 8H); a plurality of pairs of conductor element connection terminals (15A to 15H) connected respectively to the plurality of pairs of voltage signal lines (9A to 9H); and a pair of conductor elements (20, 21) attached to any one pair of conductor element connection terminals among the plurality of pairs of conductor element connection terminals (15A to 15H). The pair of conductor element connection terminals is selected in advance on the basis of an actual measurement result of a temperature coefficient of resistance of the shunt resistor (1).

Description

電流検出装置およびその製造方法Current detection device and manufacturing method thereof
 本発明は、電流検出装置およびその製造方法に関し、特にシャント抵抗器を備えた電流検出装置、および電流検出装置の製造方法に関する。 The present invention relates to a current detection device and its manufacturing method, and more particularly to a current detection device having a shunt resistor and a current detection device manufacturing method.
 シャント抵抗器は、電流検出用途に広く用いられている。温度変動の影響が小さい電流検出を可能とするために、シャント抵抗器には、その抵抗温度係数(TCR)はできるだけ0に近いことが要請されている。抵抗温度係数(TCR)とは、温度変化による抵抗値の変化の割合を示す指標であり、抵抗温度係数(TCR)が0に近づくほど抵抗値の変化が小さくなる。シャント抵抗器のTCRを改善するために、例えば、マンガニン(登録商標)などのTCRが小さい合金が抵抗体の材料として使用されることがある。 Shunt resistors are widely used for current sensing applications. A shunt resistor is required to have a temperature coefficient of resistance (TCR) as close to zero as possible in order to enable current detection that is less affected by temperature fluctuations. The temperature coefficient of resistance (TCR) is an index that indicates the rate of change in resistance due to temperature change. As the temperature coefficient of resistance (TCR) approaches zero, the change in resistance decreases. To improve the TCR of a shunt resistor, a low TCR alloy, such as Manganin®, is sometimes used as the resistor material.
 シャント抵抗器を備えた電流検出装置は、インバータ装置、コンバータ装置、電気自動車のバッテリ監視BMS(Battery Management System)、電力網のエネルギ貯蔵装置BSS(Battery Storage System)などのさまざまな用途に用いられる。特に、バッテリエネルギ蓄積量を監視する用途では、初期測定精度(出荷調整精度)、温度変動に対する測定精度、経年変化に対する測定精度が、他の用途よりもさらに重要とされている。電流検出装置は、システムの全体に必要なバッテリ容量設計に影響し、システムコストを左右する。このため、電流検出装置には、電流の広範囲において高い測定精度が求められている。 A current detection device equipped with a shunt resistor is used in various applications such as inverter devices, converter devices, electric vehicle battery monitoring BMS (Battery Management System), and power grid energy storage device BSS (Battery Storage System). In particular, for battery energy storage monitoring applications, initial measurement accuracy (shipment adjustment accuracy), measurement accuracy for temperature fluctuations, and measurement accuracy for aging are more important than other applications. The current sensing device influences the battery capacity design required for the overall system and drives the system cost. Therefore, the current detection device is required to have high measurement accuracy over a wide range of current.
特表2003-518763号公報Japanese Patent Publication No. 2003-518763
 電流検出基板は、シャント抵抗器の電圧測定位置での電圧降下を測定することにより、電流を検出する。0にできるだけ近いTCRを持つシャント抵抗器を達成するために、シャント抵抗器の電圧測定位置はシミュレーションによって理論的に決められる。しかしながら、シャント抵抗器には、その寸法の僅かな違いや、材料組成の僅かな違い、電流検出基板の取り付け位置の違いがある。このような差違は、理論的な電圧測定位置と、実際の最適位置との間に差違を生じさせ、結果として電流測定精度を低下させる。 The current detection board detects current by measuring the voltage drop at the voltage measurement position of the shunt resistor. In order to achieve a shunt resistor with a TCR as close to zero as possible, the voltage measurement positions of the shunt resistor are theoretically determined by simulation. However, shunt resistors have slight differences in their dimensions, slight differences in material composition, and differences in mounting position of the current detection substrate. Such discrepancies cause discrepancies between the theoretical voltage measurement position and the actual optimum position, resulting in reduced current measurement accuracy.
 そこで、本発明は、実際の抵抗温度係数(TCR)を0に近づけ、電流測定精度を向上させることができる電流検出装置を提供する。 Therefore, the present invention provides a current detection device capable of bringing the actual temperature coefficient of resistance (TCR) close to 0 and improving the accuracy of current measurement.
 一態様では、抵抗体および該抵抗体の両側に接続された一対の電極を有するシャント抵抗器と、前記シャント抵抗器に電気的に接続された電流検出部を備え、前記電流検出部は、前記一対の電極に電気的に接続された複数対の電圧検出接点と、前記複数対の電圧検出接点にそれぞれ接続された複数対の電圧信号配線と、前記複数対の電圧信号配線にそれぞれ接続された複数対の導体素子接続端子と、前記複数対の導体素子接続端子のうちのいずれか一対の導体素子接続端子に取り付けられた一対の導体素子を備え、前記一対の導体素子接続端子は、前記シャント抵抗器の抵抗温度係数の実測結果に基づいて予め選択されたものである、電流検出装置が提供される。 In one aspect, it comprises a shunt resistor having a resistor and a pair of electrodes connected to both sides of the resistor, and a current detection unit electrically connected to the shunt resistor, wherein the current detection unit includes the a plurality of pairs of voltage detection contacts electrically connected to a pair of electrodes; a plurality of pairs of voltage signal wirings respectively connected to the plurality of pairs of voltage detection contacts; and a plurality of pairs of voltage signal wirings respectively connected to the plurality of pairs of voltage detection contacts. a plurality of pairs of conductor element connection terminals; and a pair of conductor elements attached to any one pair of the conductor element connection terminals of the plurality of pairs of conductor element connection terminals, wherein the pair of conductor element connection terminals are connected to the shunt. A current sensing device is provided that has been preselected based on actual measurements of the temperature coefficient of resistance of the resistor.
 一態様では、予め選択された前記一対の導体素子接続端子は、前記複数対の電圧検出接点のうち、前記シャント抵抗器の抵抗温度係数が最も0に近い一対の電圧検出接点に電気的に接続されている。
 一態様では、前記複数対の電圧検出接点は、前記抵抗体の両側に沿って配列されている。
 一態様では、前記電流検出部は、基台プレートと、前記基台プレートを貫通して延びる複数対のスルーホールを備え、前記複数対のスルーホールは、前記複数対の電圧信号配線上に設けられており、かつ前記複数対の電圧検出接点と前記複数対の導体素子接続端子との間に位置している。
 一態様では、前記複数対の導体素子接続端子は前記基台プレートの表側に配置され、前記複数対の電圧検出接点は前記基台プレートの裏側に配置されている。
 一態様では、前記複数対の電圧検出接点は、前記一対の電極に面接続された一対の接点パッドから構成されている。
 一態様では、前記一対の接点パッドは、前記シャント抵抗器の前記抵抗体の両側に隣接して配置されており、前記複数対の電圧信号配線は、前記一対の接点パッドの内側縁に接続されている。
 一態様では、前記シャント抵抗器は、その幅方向に突出する突出部を有し、前記抵抗体の一部および前記一対の電極の一部は、前記突出部を構成しており、前記一対の接点パッドは、前記突出部を構成する前記一対の電極の一部に面接続されている。
 一態様では、前記一対の導体素子は、一対の抵抗器である。
In one aspect, the preselected pair of conductive element connection terminals are electrically connected to a pair of voltage detection contacts in which the temperature coefficient of resistance of the shunt resistor is closest to 0 among the plurality of pairs of voltage detection contacts. It is
In one aspect, the plurality of pairs of voltage sensing contacts are arranged along opposite sides of the resistor.
In one aspect, the current detector includes a base plate and a plurality of pairs of through holes extending through the base plate, and the plurality of pairs of through holes are provided on the plurality of pairs of voltage signal wirings. and located between the plurality of pairs of voltage sensing contacts and the plurality of pairs of conductive element connecting terminals.
In one aspect, the plurality of pairs of conductive element connecting terminals are arranged on the front side of the base plate, and the plurality of pairs of voltage detection contacts are arranged on the back side of the base plate.
In one aspect, the plurality of pairs of voltage sensing contacts comprise a pair of contact pads surface-connected to the pair of electrodes.
In one aspect, the pair of contact pads are positioned adjacent opposite sides of the resistor of the shunt resistor, and the pairs of voltage signal wires are connected to inner edges of the pair of contact pads. ing.
In one aspect, the shunt resistor has a projection projecting in its width direction, a part of the resistor and a part of the pair of electrodes constitute the projection, and the pair of A contact pad is surface-connected to a portion of the pair of electrodes forming the protrusion.
In one aspect, the pair of conductive elements is a pair of resistors.
 一態様では、シャント抵抗器および電流検出部を製造し、前記シャント抵抗器は、抵抗体および該抵抗体の両側に接続された一対の電極を有しており、前記電流検出部は、複数対の電圧検出接点と、前記複数対の電圧検出接点にそれぞれ接続された複数対の電圧信号配線と、前記複数対の電圧信号配線にそれぞれ接続された複数対の導体素子接続端子を備えており、前記複数対の電圧検出接点を前記一対の電極に電気的に接続し、前記シャント抵抗器の抵抗温度係数の実測結果に基づいて、前記複数対の導体素子接続端子から予め選択された一対の導体素子接続端子に、一対の導体素子を取り付ける、電流検出装置の製造方法が提供される。
 一態様では、前記一対の導体素子を取り付けることは、前記複数対の電圧検出接点のうち、前記シャント抵抗器の抵抗温度係数が最も0に近い一対の電圧検出接点に電気的に接続されている一対の導体素子接続端子に、一対の導体素子を取り付けることである。
In one aspect, a shunt resistor and a current sensing portion are manufactured, the shunt resistor having a resistor and a pair of electrodes connected to opposite sides of the resistor, the current sensing portion comprising a plurality of pairs of electrodes. voltage detection contacts, a plurality of pairs of voltage signal wirings respectively connected to the plurality of pairs of voltage detection contacts, and a plurality of pairs of conductor element connection terminals respectively connected to the plurality of pairs of voltage signal wirings, A pair of conductors preselected from the plurality of pairs of conductor element connection terminals, electrically connecting the plurality of pairs of voltage detection contacts to the pair of electrodes, and based on an actual measurement result of the temperature coefficient of resistance of the shunt resistor. A method for manufacturing a current detection device is provided, in which a pair of conductor elements are attached to element connection terminals.
In one aspect, mounting the pair of conductive elements is electrically connected to a pair of voltage sensing contacts in which the temperature coefficient of resistance of the shunt resistor is closest to 0 among the plurality of pairs of voltage sensing contacts. It is to attach a pair of conductor elements to a pair of conductor element connection terminals.
 本発明によれば、シャント抵抗器の電極に接する複数対の電圧検出接点が設けられているので、シャント抵抗器の抵抗温度係数が最も0に近い電圧検出接点に対応する導体素子接続端子に導体素子を取り付けることができる。特に、抵抗温度係数の実測結果に基づいて、シャント抵抗器の抵抗温度係数が最も0に近い電圧検出接点を決定することにより、温度特性に優れ、かつ測定精度の高い電流検出装置を提供することができる。 According to the present invention, since a plurality of pairs of voltage detection contacts are provided in contact with the electrodes of the shunt resistor, the conductor is connected to the conductor element connection terminal corresponding to the voltage detection contact whose temperature coefficient of resistance of the shunt resistor is closest to zero. element can be attached. In particular, by determining the voltage detection contact with the temperature coefficient of resistance of the shunt resistor that is closest to 0 based on the actual measurement result of the temperature coefficient of resistance, a current detection device with excellent temperature characteristics and high measurement accuracy is provided. can be done.
シャント抵抗器の一実施形態を模式的に示す平面図である。1 is a plan view schematically showing one embodiment of a shunt resistor; FIG. 図1に示すシャント抵抗器の斜視図である。2 is a perspective view of the shunt resistor shown in FIG. 1; FIG. 図1に示すシャント抵抗器と、このシャント抵抗器上に配置された電流検出部を備えた電流検出装置の一実施形態を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing an embodiment of a current detection device including the shunt resistor shown in FIG. 1 and a current detection section arranged on the shunt resistor; 図3に示す電流検出装置の平面図である。FIG. 4 is a plan view of the current detection device shown in FIG. 3; シャント抵抗器に電気的に接続される電流検出部の一実施形態を示す平面図である。FIG. 4 is a plan view showing one embodiment of a current detection section electrically connected to a shunt resistor; 図5のA-A線断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view taken along line AA of FIG. 5; 温度変化によるシャント抵抗器の抵抗値の変化率のシミュレーション結果を示すグラフである。7 is a graph showing simulation results of the rate of change in resistance value of a shunt resistor due to temperature changes. 電流検出装置の製造方法の一実施形態を説明するためのフローチャートである。4 is a flow chart for explaining an embodiment of a method for manufacturing a current detection device; 電流検出装置を構成するシャント抵抗器の他の実施形態を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing another embodiment of a shunt resistor that constitutes a current detection device; 図9に示すシャント抵抗器に電気的に接続される電流検出部の一実施形態を示す平面図である。FIG. 10 is a plan view showing one embodiment of a current detection section electrically connected to the shunt resistor shown in FIG. 9; 図9に示すシャント抵抗器に図10に示す電流検出部が連結された電流検出装置を示す斜視図である。11 is a perspective view showing a current detection device in which the current detection unit shown in FIG. 10 is connected to the shunt resistor shown in FIG. 9; FIG. 電流検出装置を構成するシャント抵抗器のさらに他の実施形態を示す斜視図である。FIG. 11 is a perspective view showing still another embodiment of a shunt resistor that constitutes a current detection device; 図12に示すシャント抵抗器に図10に示す電流検出部が連結された電流検出装置を示す斜視図である。13 is a perspective view showing a current detection device in which the current detection unit shown in FIG. 10 is connected to the shunt resistor shown in FIG. 12; FIG.
 以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。図1は、シャント抵抗器の一実施形態を模式的に示す平面図であり、図2は、図1に示すシャント抵抗器の斜視図である。図1および図2に示すように、シャント抵抗器1は、所定の厚みと幅を有する抵抗体5と、抵抗体5の両側5a,5bに接続された高導電性金属からなる一対の電極6,7とを備えている。具体的には、電極6は、抵抗体5の一方側5aに接続されており、電極7は、抵抗体5の他方側5bに接続されている。電極7の構成は、電極6の構成と同じであり、電極6と電極7は抵抗体5に関して対称に配置されている。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view schematically showing one embodiment of the shunt resistor, and FIG. 2 is a perspective view of the shunt resistor shown in FIG. As shown in FIGS. 1 and 2, the shunt resistor 1 includes a resistor 5 having a predetermined thickness and width, and a pair of electrodes 6 made of highly conductive metal connected to both sides 5a and 5b of the resistor 5. , 7. Specifically, the electrode 6 is connected to one side 5 a of the resistor 5 , and the electrode 7 is connected to the other side 5 b of the resistor 5 . The configuration of the electrode 7 is the same as that of the electrode 6 , and the electrodes 6 and 7 are arranged symmetrically with respect to the resistor 5 .
 抵抗体5の材料の例として、銅-ニッケル系合金、銅-マンガン系合金、鉄-クロム系合金、ニッケル-クロム系合金等の合金が挙げられる。電極6,7を構成する高導電性金属の例としては、銅(Cu)が挙げられる。抵抗体5の両側5a,5bは、電極6,7に溶接(例えば、電子ビーム溶接、レーザービーム溶接、または、ろう接)などの手段によって接続(接合)されている。 Examples of materials for the resistor 5 include alloys such as copper-nickel alloys, copper-manganese alloys, iron-chromium alloys, and nickel-chromium alloys. An example of a highly conductive metal forming the electrodes 6 and 7 is copper (Cu). Both sides 5a and 5b of the resistor 5 are connected (bonded) to electrodes 6 and 7 by welding (for example, electron beam welding, laser beam welding, or brazing).
 本実施形態では、抵抗体5は、電極6,7よりも薄く、抵抗体5の表側面は、電極6,7の表側面よりも低い。ただし、一実施形態では、抵抗体5の厚さは、電極6,7の厚さと同じであってもよい。シャント抵抗器1は、その幅方向に突出する突出部11を有している。より具体的には、抵抗体5の一部および一対の電極6,7の一部は、突出部11を構成している。突出部11は、上から見たときに矩形状の形状を有している。 In this embodiment, the resistor 5 is thinner than the electrodes 6 and 7, and the front surface of the resistor 5 is lower than the front surfaces of the electrodes 6 and 7. However, in one embodiment, the thickness of the resistor 5 may be the same as the thickness of the electrodes 6,7. The shunt resistor 1 has a projecting portion 11 projecting in its width direction. More specifically, a portion of the resistor 5 and a portion of the pair of electrodes 6 and 7 form a projecting portion 11 . The projecting portion 11 has a rectangular shape when viewed from above.
 図3は、図1に示すシャント抵抗器1と、このシャント抵抗器1上に配置された電流検出部2を備えた電流検出装置の一実施形態を示す斜視図であり、図4は、図3に示す電流検出装置の平面図である。突出部11を構成する一対の電極6,7の一部は、後述するように、電流検出部2に電気的に接続される。電流検出部2は、増幅器31、演算装置33などが配置された基台プレート3を有している。この基台プレート3は、シャント抵抗器1の電極6,7に固定されている。 FIG. 3 is a perspective view showing an embodiment of a current detection device comprising the shunt resistor 1 shown in FIG. 1 and a current detection section 2 arranged on the shunt resistor 1, and FIG. 3 is a plan view of the current detection device shown in FIG. A part of the pair of electrodes 6 and 7 forming the projecting portion 11 is electrically connected to the current detecting portion 2 as described later. The current detector 2 has a base plate 3 on which an amplifier 31, an arithmetic device 33, and the like are arranged. This base plate 3 is fixed to the electrodes 6 and 7 of the shunt resistor 1 .
 図5は、シャント抵抗器1に電気的に接続される電流検出部2の一実施形態を示す平面図である。図5に示すように、電流検出部2は、複数対の電圧検出接点8A~8Hと、複数対の電圧検出接点8A~8Hにそれぞれ接続された複数対の電圧信号配線9A~9Hと、複数対の電圧信号配線9A~9Hにそれぞれ接続された複数対の導体素子接続端子15A~15Hと、複数対の導体素子接続端子15A~15Hのうちのいずれか一対の導体素子接続端子に接続された導体素子20,21を備えている。 FIG. 5 is a plan view showing an embodiment of the current detector 2 electrically connected to the shunt resistor 1. FIG. As shown in FIG. 5, the current detection unit 2 includes a plurality of pairs of voltage detection contacts 8A to 8H, a plurality of pairs of voltage signal wirings 9A to 9H respectively connected to the plurality of pairs of voltage detection contacts 8A to 8H, and a plurality of A plurality of pairs of conductor element connection terminals 15A to 15H respectively connected to the pairs of voltage signal wirings 9A to 9H and a pair of conductor element connection terminals among the plurality of pairs of conductor element connection terminals 15A to 15H. Conductive elements 20, 21 are provided.
 電圧検出接点8A~8H、電圧信号配線9A~9H、および導体素子接続端子15A~15Hは、基台プレート3に配置されている。基台プレート3の材料の例としては、ガラスエポキシなどの樹脂が挙げられる。複数対の電圧検出接点8A~8Hは、基台プレート3がシャント抵抗器1に固定されたとき、シャント抵抗器1の一対の電極6,7に電気的に接続される。 The voltage detection contacts 8A to 8H, voltage signal wirings 9A to 9H, and conductor element connection terminals 15A to 15H are arranged on the base plate 3. Examples of the material of the base plate 3 include resin such as glass epoxy. A plurality of pairs of voltage sensing contacts 8A-8H are electrically connected to a pair of electrodes 6, 7 of the shunt resistor 1 when the base plate 3 is fixed to the shunt resistor 1. As shown in FIG.
 複数対の電圧検出接点8A~8Hは、シャント抵抗器1の抵抗体5の両側5a,5bに沿って配列されている。したがって、電極6,7の端面6a,7aから複数対の電圧検出接点8A~8Hまでの距離は異なっている。本実施形態では、4対の電圧検出接点8A~8Hが設けられているが、5対またはそれよりも多い電圧検出接点が設けられてもよい。あるいは、2~3対の電圧検出接点が設けられてもよい。 A plurality of pairs of voltage detection contacts 8A to 8H are arranged along both sides 5a and 5b of the resistor 5 of the shunt resistor 1. Therefore, the distances from the end surfaces 6a, 7a of the electrodes 6, 7 to the plurality of pairs of voltage detection contacts 8A-8H are different. Although four pairs of voltage sensing contacts 8A-8H are provided in this embodiment, five or more pairs of voltage sensing contacts may be provided. Alternatively, 2-3 pairs of voltage sensing contacts may be provided.
 本実施形態では、複数対の電圧検出接点8A~8Hは、一対の電極6,7に面接続された一対の接点パッド25,26から構成されている。より具体的には、一対の接点パッド25,26は、突出部11を構成する電極6,7の一部に接続されており、複数対の電圧検出接点8A~8Hは接点パッド25,26の各部位から構成されている。したがって、複数対の電圧検出接点8A~8Hは、突出部11を構成する電極6,7の一部に電気的に接続されている。一実施形態では、接点パッド25,26は設けられず、複数対の電圧検出接点8A~8Hが別々に一対の電極6,7に接続されてもよい。本実施形態では、一対の接点パッド25,26は、はんだ付けなどの手段によって一対の電極6,7に面接続される。 In this embodiment, the plurality of pairs of voltage detection contacts 8A-8H are composed of a pair of contact pads 25, 26 surface-connected to a pair of electrodes 6, 7. More specifically, the pair of contact pads 25 and 26 are connected to part of the electrodes 6 and 7 forming the projecting portion 11, and the plurality of pairs of voltage detection contacts 8A to 8H are connected to the contact pads 25 and 26. It consists of each part. Therefore, the plurality of pairs of voltage detection contacts 8A-8H are electrically connected to part of the electrodes 6, 7 forming the projecting portion 11. As shown in FIG. In one embodiment, contact pads 25, 26 may not be provided and multiple pairs of voltage sensing contacts 8A-8H may be separately connected to pairs of electrodes 6,7. In this embodiment, the pair of contact pads 25, 26 are surface-connected to the pair of electrodes 6, 7 by means of soldering or the like.
 一対の接点パッド25,26が一対の電極6,7に面接続されることにより、電流検出部2とシャント抵抗器1との電気的接続が確立される。一対の接点パッド25,26は、シャント抵抗器1の抵抗体5の両側5a,5bに隣接して配置されており、複数対の電圧信号配線9A~9Hは、一対の接点パッド25,26の内側縁に接続されている。したがって、複数対の電圧検出接点8A~8Hは、一対の接点パッド25,26の内側縁から構成され、これら電圧検出接点8A~8Hは、電極6,7の内側縁に電気的に接続される。このように、複数対の電圧検出接点8A~8Hは、シャント抵抗器1の抵抗体5の近くに位置しているので、電流測定精度が電極6,7自体の抵抗の影響を受けにくい。 By surface-connecting the pair of contact pads 25 and 26 to the pair of electrodes 6 and 7, an electrical connection between the current detector 2 and the shunt resistor 1 is established. A pair of contact pads 25, 26 are positioned adjacent opposite sides 5a, 5b of the resistor 5 of the shunt resistor 1, and multiple pairs of voltage signal wires 9A-9H connect the pair of contact pads 25, 26. connected to the inner edge. Thus, multiple pairs of voltage sensing contacts 8A-8H are formed from the inner edges of a pair of contact pads 25, 26, and these voltage sensing contacts 8A-8H are electrically connected to the inner edges of electrodes 6,7. . In this way, since the multiple pairs of voltage detection contacts 8A-8H are located near the resistor 5 of the shunt resistor 1, the current measurement accuracy is less affected by the resistance of the electrodes 6 and 7 themselves.
 本実施形態では、複数対の電圧検出接点8A~8Hは、突出部11を構成する電極6,7の一部に電気的に接続される。シャント抵抗器1は、抵抗体5の一部および電極6,7の一部から構成される突出部11を有することで、突出部11の電極6,7に温度が変化しても電位が変わらない位置が現れ、その位置で電圧を検出すると、シャント抵抗器1の抵抗温度係数が0に近づくことがシミュレーション結果および実測結果から分かっている。 In this embodiment, the multiple pairs of voltage detection contacts 8A to 8H are electrically connected to a part of the electrodes 6 and 7 forming the projecting portion 11. The shunt resistor 1 has a projecting portion 11 composed of a part of the resistor 5 and a part of the electrodes 6 and 7, so that the potential of the electrodes 6 and 7 of the projecting portion 11 changes even if the temperature changes. It is known from simulation results and actual measurement results that the temperature coefficient of resistance of the shunt resistor 1 approaches zero when a voltage is detected at a position where there is no resistance.
 電流検出部2は、基台プレート3を貫通して延びる複数対のスルーホール30A~30Hを備えている。これらスルーホール30A~30Hは、電圧信号配線9A~9H上にそれぞれ設けられており、かつ電圧検出接点8A~8Hと導体素子接続端子15A~15Hとの間に位置している。電圧信号配線9A~9Hの一方の端部は電圧検出接点8A~8Hにそれぞれ接続され、電圧信号配線9A~9Hの他方の端部は導体素子接続端子15A~15Hにそれぞれ接続されている。 The current detector 2 has a plurality of pairs of through holes 30A-30H extending through the base plate 3. These through holes 30A-30H are provided on the voltage signal wirings 9A-9H, respectively, and located between the voltage detection contacts 8A-8H and the conductor element connection terminals 15A-15H. One ends of the voltage signal wirings 9A-9H are connected to the voltage detection contacts 8A-8H, respectively, and the other ends of the voltage signal wirings 9A-9H are connected to the conductive element connecting terminals 15A-15H, respectively.
 電圧検出接点8A~8Hは、基台プレート3の裏側に配置され、導体素子接続端子15A~15Hは、基台プレート3の表側に配置されている。スルーホール30A~30Hは、基台プレート3の裏側から表側まで延びており、電圧信号配線9A~9Hは、スルーホール30A~30Hを経由して基台プレート3の裏側から表側に延びている。 The voltage detection contacts 8A to 8H are arranged on the back side of the base plate 3, and the conductor element connection terminals 15A to 15H are arranged on the front side of the base plate 3. The through holes 30A-30H extend from the back side to the front side of the base plate 3, and the voltage signal wirings 9A-9H extend from the back side to the front side of the base plate 3 via the through holes 30A-30H.
 図6は、図5のA-A線断面図である。図6に示すように、スルーホール30C,30Dは、基台プレート3の裏側から表側まで延びており、電圧信号配線9C,9Dは、基台プレート3の裏側にある電圧検出接点8C,8Dからスルーホール30C,30Dを経由して基台プレート3の表側に延びている。図6から分かるように、シャント抵抗器1の抵抗体5の表側面は、電極6,7の表側面よりも低い位置にあり、抵抗体5はスルーホール30C,30Dおよび電圧信号配線9C,9Dには接触しない。図示しないが、電圧検出接点8A~8B,8E~8H、電圧信号配線9A~9B,9E~9H、スルーホール30A~30B,30E~30Hの配置も同様である。 FIG. 6 is a cross-sectional view along line AA in FIG. As shown in FIG. 6, the through holes 30C and 30D extend from the back side to the front side of the base plate 3, and the voltage signal wirings 9C and 9D are connected from the voltage detection contacts 8C and 8D on the back side of the base plate 3. It extends to the front side of the base plate 3 via the through holes 30C and 30D. As can be seen from FIG. 6, the front surface of the resistor 5 of the shunt resistor 1 is positioned lower than the front surfaces of the electrodes 6 and 7, and the resistor 5 has through holes 30C and 30D and voltage signal wirings 9C and 9D. do not come into contact with Although not shown, the arrangement of voltage detection contacts 8A-8B, 8E-8H, voltage signal wirings 9A-9B, 9E-9H, and through holes 30A-30B, 30E-30H are the same.
 図5に戻り、電流検出部2は、電圧信号配線9A~9Hを通じて取り出した電圧信号を増幅する増幅器31と、増幅した電圧信号をデジタル信号に変換するA/D変換器32と、デジタル信号を受け取って電流値に演算する演算装置33(例えば小型コンピュータ)と、電流検出部2から電流値を出力するコネクタ34と、をさらに備えている。一実施形態では、電流検出部2は温度センサなどをさらに備えてもよい。 Returning to FIG. 5, the current detection unit 2 includes an amplifier 31 that amplifies the voltage signal extracted through the voltage signal wirings 9A to 9H, an A/D converter 32 that converts the amplified voltage signal into a digital signal, and a digital signal. Further provided is an arithmetic device 33 (for example, a small computer) for receiving and calculating a current value, and a connector 34 for outputting the current value from the current detector 2 . In one embodiment, the current detector 2 may further include a temperature sensor or the like.
 複数対の導体素子接続端子15A~15Hは、一対の配線35,36を通じて増幅器31に接続されている。導体素子接続端子15A~15Hの一方の端部は、対応する電圧信号配線9A~9Hにそれぞれ接続されており、導体素子接続端子15A~15Hの他方の端部は、配線35,36に接続されている。配線35,36の間にはコンデンサ37が配置されている。 A plurality of pairs of conductor element connection terminals 15A to 15H are connected to an amplifier 31 through a pair of wirings 35,36. One ends of the conductor element connection terminals 15A to 15H are connected to the corresponding voltage signal wirings 9A to 9H, respectively, and the other ends of the conductor element connection terminals 15A to 15H are connected to the wirings 35 and 36. ing. A capacitor 37 is arranged between the wirings 35 and 36 .
 導体素子接続端子15A~15Hの各対は、電気的に分離した2つの端子から構成されており、導体素子20,21がいずれか一対の導体素子接続端子に取り付けられたときにその対の導体素子接続端子の電気的接続が確立される。図5に示す例では、導体素子20,21は、導体素子接続端子15E,15Fに取り付けられており、導体素子接続端子15E,15Fの電気的接続を確立する。 Each pair of the conductor element connection terminals 15A to 15H is composed of two electrically separated terminals, and when the conductor elements 20 and 21 are attached to any pair of the conductor element connection terminals, the conductors of the pair are connected. An electrical connection is established between the element connection terminals. In the example shown in FIG. 5, the conductive elements 20, 21 are attached to the conductive element connection terminals 15E, 15F to establish the electrical connection of the conductive element connection terminals 15E, 15F.
 一対の電圧検出接点8E,8Fは、一対の電圧検出接点8E,8F間の電圧信号を増幅する増幅器31に接続され、増幅器31は、増幅した電圧信号をデジタル信号へ変換するA/D変換器32に接続され、A/D変換器32は、デジタル信号を電流値に演算する演算装置33に接続され、演算装置33は、電流検出部2から電流値を出力するコネクタ34に接続される。これにより、電流検出部2から電流値を出力することができる。一実施形態では、温度センサによって、シャント抵抗器1もしくはその周囲温度を測定し、演算装置33は、補正をかけた上で電流値を演算してもよい。 The pair of voltage detection contacts 8E, 8F are connected to an amplifier 31 that amplifies the voltage signal between the pair of voltage detection contacts 8E, 8F, and the amplifier 31 is an A/D converter that converts the amplified voltage signal into a digital signal. 32 , the A/D converter 32 is connected to an arithmetic device 33 for calculating a current value from the digital signal, and the arithmetic device 33 is connected to a connector 34 for outputting the current value from the current detector 2 . Thereby, the current value can be output from the current detection unit 2 . In one embodiment, the shunt resistor 1 or its ambient temperature may be measured by a temperature sensor, and the arithmetic unit 33 may calculate the current value after correction.
 導体素子20,21の例としては、0よりも高い抵抗値(例えば10Ω)を有する抵抗器、抵抗値が実質的に0であるジャンパー抵抗器が挙げられる。 Examples of the conductor elements 20 and 21 include a resistor having a resistance value higher than 0 (for example, 10Ω) and a jumper resistor having a resistance value of substantially 0.
 一対の導体素子20,21は、シャント抵抗器1の抵抗温度係数の実測結果に基づいて予め選択された一対の導体素子接続端子15E,15Fに取り付けられている。より具体的には、予め選択された一対の導体素子接続端子15E,15Fは、複数対の電圧検出接点8A~8Hのうち、シャント抵抗器1の抵抗温度係数(TCR)が最も0に近い一対の電圧検出接点8E,8Fに電気的に接続されている。シャント抵抗器1の抵抗温度係数(TCR)が最も0に近いことには、シャント抵抗器1の抵抗温度係数(TCR)が0であることも含まれる。 The pair of conductor elements 20 and 21 are attached to a pair of conductor element connection terminals 15E and 15F selected in advance based on the actual measurement result of the temperature coefficient of resistance of the shunt resistor 1. More specifically, the preselected pair of conductive element connection terminals 15E and 15F is the pair of voltage detection contacts 8A to 8H whose temperature coefficient of resistance (TCR) of the shunt resistor 1 is closest to 0. are electrically connected to the voltage detection contacts 8E and 8F of the . The temperature coefficient of resistance (TCR) of the shunt resistor 1 being closest to zero also includes the temperature coefficient of resistance (TCR) of the shunt resistor 1 being zero.
 図7は、温度変化によるシャント抵抗器1の抵抗値の変化率のシミュレーション結果を示すグラフである。図7において、縦軸はシャント抵抗器1の抵抗値の変化率を表し、横軸はシャント抵抗器1の温度を表している。図7から分かるように、電圧検出接点8A~8Hの位置によって、抵抗値の変化率の傾き、すなわち抵抗温度係数(TCR)が変わる。シャント抵抗器1には、温度変化にかかわらず、その抵抗値が変わらないこと、すなわち抵抗温度係数(TCR)ができるだけ0に近いことが求められる。 FIG. 7 is a graph showing simulation results of the rate of change in the resistance value of the shunt resistor 1 due to temperature changes. In FIG. 7 , the vertical axis represents the change rate of the resistance value of the shunt resistor 1 and the horizontal axis represents the temperature of the shunt resistor 1 . As can be seen from FIG. 7, the slope of the rate of change of the resistance value, ie the temperature coefficient of resistance (TCR), changes depending on the positions of the voltage detection contacts 8A to 8H. The shunt resistor 1 is required to have a constant resistance value regardless of changes in temperature, that is, to have a temperature coefficient of resistance (TCR) as close to zero as possible.
 図7に示すシミュレーション結果によれば、電圧検出接点8E,8Fでのシャント抵抗器1の抵抗温度係数(TCR)が最も0に近い。したがって、電圧検出接点8E,8Fに電気的に接続されている導体素子接続端子15E,15Fに導体素子20,21を取り付けると、良好な抵抗温度係数(TCR)が達成できると期待される。 According to the simulation results shown in FIG. 7, the temperature coefficient of resistance (TCR) of the shunt resistor 1 at the voltage detection contacts 8E and 8F is closest to 0. Accordingly, when the conductive elements 20, 21 are attached to the conductive element connection terminals 15E, 15F electrically connected to the voltage detection contacts 8E, 8F, it is expected that a good temperature coefficient of resistance (TCR) can be achieved.
 その一方で、シャント抵抗器には、寸法の僅かな違いや、材料組成の僅かな違い、電流検出部2の取り付け位置の違いがありうる。このような差違は、シミュレーション結果から得られた理論的な電圧測定位置と、実際の最適位置との間に差違を生じさせる。 On the other hand, shunt resistors can have slight differences in dimensions, slight differences in material composition, and differences in the mounting position of the current detection unit 2 . Such a difference causes a difference between the theoretical voltage measurement position obtained from the simulation results and the actual optimum position.
 そこで、以下のようにして、導体素子20,21を取り付ける前に、実際に温度変化によるシャント抵抗器1の抵抗値の変化率、すなわち抵抗温度係数(TCR)を測定し、その測定結果に基づいて、抵抗温度係数が最も0に近い電圧検出接点、すなわち導体素子20,21を取り付けるべき導体素子接続端子を決定する。抵抗温度係数(TCR)の測定は、シャント抵抗器1と電流検出部2とを電気的に接続した後に行う。 Therefore, in the following manner, before attaching the conductor elements 20 and 21, the rate of change in the resistance value of the shunt resistor 1 due to temperature changes, that is, the temperature coefficient of resistance (TCR) is actually measured. to determine the voltage detection contact whose temperature coefficient of resistance is closest to 0, that is, the conductive element connecting terminal to which the conductive elements 20 and 21 should be attached. The temperature coefficient of resistance (TCR) is measured after the shunt resistor 1 and the current detector 2 are electrically connected.
 まず、シミュレーション結果に基づき、最も良好な抵抗温度係数が得られた電圧検出接点8E,8Fでのシャント抵抗器1の抵抗温度係数を測定する。具体的には、スルーホール30E,30Fまたは導体素子接続端子15E,15Fにピンボードなどにより抵抗計のセンス線(図示せず)を電気的に接続し、シャント抵抗器1の電極6,7にプローブなどにより抵抗計のフォース線(図示せず)を接続する。シャント抵抗器1の温度を基準温度(例えば、25℃)にし、抵抗計によって抵抗値を測定する。シャント抵抗器1の温度を試験温度(例えば、150℃)にし、抵抗計によって抵抗値を測定する。基準温度、試験温度および各温度での抵抗値から抵抗温度係数を算出する。 First, based on the simulation results, the temperature coefficient of resistance of the shunt resistor 1 at the voltage detection contacts 8E and 8F where the best temperature coefficient of resistance was obtained is measured. Specifically, the sense wires (not shown) of the ohmmeter are electrically connected to the through holes 30E, 30F or the conductor element connection terminals 15E, 15F by a pin board or the like, and the electrodes 6, 7 of the shunt resistor 1 A probe or the like is used to connect the force line (not shown) of the ohmmeter. The temperature of the shunt resistor 1 is set to a reference temperature (for example, 25° C.), and the resistance value is measured with an ohmmeter. The temperature of the shunt resistor 1 is set to the test temperature (for example, 150° C.) and the resistance value is measured with an ohmmeter. Calculate the temperature coefficient of resistance from the reference temperature, the test temperature, and the resistance value at each temperature.
 抵抗温度係数の測定結果がシミュレーション結果に実質的に一致していれば、導体素子20,21の取り付け位置は、導体素子接続端子15E,15Fに決定される。抵抗温度係数の測定結果がシミュレーション結果と大きく異なっている場合は、他の電圧検出接点での抵抗温度係数を、同じようにして順番に測定する。そして、最も良好な(すなわち最も0に近い)抵抗温度係数が得られた電圧検出接点に接続されている導体素子接続端子が、導体素子20,21の取り付け位置に決定される。 If the measurement results of the temperature coefficient of resistance substantially match the simulation results, the mounting positions of the conductor elements 20 and 21 are determined to the conductor element connection terminals 15E and 15F. If the measured result of the temperature coefficient of resistance is significantly different from the simulation result, measure the temperature coefficient of resistance of the other voltage detection contacts in the same manner in turn. Then, the conductive element connecting terminal connected to the voltage detection contact that has the best (that is, closest to 0) temperature coefficient of resistance is determined as the mounting position of the conductive elements 20 and 21 .
 電流検出部2がシャント抵抗器1に対して角度ずれしていることもありうる。そのような場合には、例えば、図5において、導体素子20を、導体素子接続端子15Eに取り付け、他の導体素子21を導体素子接続端子15Dまたは15Hに取り付けてもよい。 It is possible that the current detection unit 2 is angularly displaced with respect to the shunt resistor 1. In such a case, for example, in FIG. 5, the conductor element 20 may be attached to the conductor element connection terminal 15E and the other conductor element 21 may be attached to the conductor element connection terminal 15D or 15H.
 図8は、上述した電流検出装置の製造方法の一実施形態を説明するためのフローチャートである。
 ステップ1では、シャント抵抗器1および電流検出部2を製造する。上述したように、シャント抵抗器1は、抵抗体5および該抵抗体5の両側5a,5bに接続された一対の電極6,7を有している。電流検出部2は、複数対の電圧検出接点8A~8Hと、複数対の電圧検出接点8A~8Hにそれぞれ接続された複数対の電圧信号配線9A~9Hと、複数対の電圧信号配線9A~9Hにそれぞれ接続された複数対の導体素子接続端子15A~15Hを備えている。
FIG. 8 is a flow chart for explaining an embodiment of the method for manufacturing the current detection device described above.
In step 1, the shunt resistor 1 and the current detector 2 are manufactured. As mentioned above, the shunt resistor 1 has a resistor 5 and a pair of electrodes 6, 7 connected to opposite sides 5a, 5b of the resistor 5. As shown in FIG. The current detection unit 2 includes a plurality of pairs of voltage detection contacts 8A to 8H, a plurality of pairs of voltage signal wirings 9A to 9H respectively connected to the plurality of pairs of voltage detection contacts 8A to 8H, and a plurality of pairs of voltage signal wirings 9A to 8H. It has a plurality of pairs of conductor element connection terminals 15A-15H each connected to 9H.
 上記ステップ1において、シャント抵抗器1および電流検出部2は、同時に製造されてもよいし、あるいはシャント抵抗器1を先に製造し、電流検出部2を後に製造してもよいし、あるいは電流検出部2を先に製造し、シャント抵抗器1を後に製造してもよい。 In step 1 above, the shunt resistor 1 and the current detection unit 2 may be manufactured at the same time, or the shunt resistor 1 may be manufactured first and the current detection unit 2 may be manufactured later, or the current detection unit 2 may be manufactured later. The detector 2 may be manufactured first, and the shunt resistor 1 may be manufactured later.
 ステップ2では、電流検出部2をシャント抵抗器1に電気的に接続する。より具体的には、複数対の電圧検出接点8A~8Hを一対の電極6,7に電気的に接続する。
 ステップ3では、シャント抵抗器1の抵抗温度係数の実測結果に基づいて、複数対の導体素子接続端子15A~15Hから予め選択された一対の導体素子接続端子に、一対の導体素子20,21を取り付ける。より具体的には、複数対の電圧検出接点8A~8Hのうち、シャント抵抗器1の抵抗温度係数が最も0に近い一対の電圧検出接点に電気的に接続されている導体素子接続端子に、一対の導体素子20,21を取り付ける。
In step 2 , the current detection section 2 is electrically connected to the shunt resistor 1 . More specifically, a plurality of pairs of voltage detection contacts 8A-8H are electrically connected to a pair of electrodes 6,7.
In step 3, a pair of conductor elements 20 and 21 are connected to a pair of conductor element connection terminals selected in advance from the plurality of pairs of conductor element connection terminals 15A to 15H based on the actual measurement result of the temperature coefficient of resistance of the shunt resistor 1. Install. More specifically, among the plurality of pairs of voltage detection contacts 8A to 8H, the conductive element connection terminal electrically connected to the pair of voltage detection contacts in which the temperature coefficient of resistance of the shunt resistor 1 is closest to 0, A pair of conductor elements 20, 21 are attached.
 以下に説明するように、電圧検出接点8A~8Hの構成は、図5に示す接点パッド25,26を用いた実施形態に限られない。図9は、電流検出装置を構成するシャント抵抗器1の他の実施形態を示す斜視図であり、図10は図9に示すシャント抵抗器1に電気的に接続される電流検出部2の一実施形態を示す平面図であり、図11は、図9に示すシャント抵抗器1に図10に示す電流検出部2が連結された電流検出装置を示す斜視図である。図9乃至図11に示す実施形態の特に説明しない構成および動作は、図1乃至図7を参照して説明した実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。 As described below, the configuration of the voltage detection contacts 8A-8H is not limited to the embodiment using the contact pads 25, 26 shown in FIG. FIG. 9 is a perspective view showing another embodiment of the shunt resistor 1 that constitutes the current detection device, and FIG. 10 shows a part of the current detection section 2 electrically connected to the shunt resistor 1 shown in FIG. 11 is a plan view showing an embodiment, and FIG. 11 is a perspective view showing a current detection device in which a current detection part 2 shown in FIG. 10 is connected to the shunt resistor 1 shown in FIG. 9. FIG. The configurations and operations of the embodiment shown in FIGS. 9 to 11 that are not particularly described are the same as those of the embodiment described with reference to FIGS. 1 to 7, so redundant description thereof will be omitted.
 図9に示す実施形態のシャント抵抗器1は、図1に示すような突出部11を備えていない。また、図10に示すように、本実施形態の電流検出部2は、図5に示すような接点パッド25,26を備えていなく、複数対の電圧検出接点8A~8Hは、互いに分離されている。複数対の電圧検出接点8A~8Hは、基台プレート3の裏側から表側まで貫通するスルーホールから構成されている。これら複数対の電圧検出接点8A~8Hが抵抗体5の両側5a,5bに沿って配列されていることは、図5に示す実施形態と同じである。複数対の電圧検出接点8A~8Hが一対の電極6,7に接続されることにより、電流検出装置とシャント抵抗器1との電気的接続が確立される。 The shunt resistor 1 of the embodiment shown in FIG. 9 does not have the projecting portion 11 as shown in FIG. Further, as shown in FIG. 10, the current detection section 2 of the present embodiment does not have the contact pads 25 and 26 shown in FIG. there is A plurality of pairs of voltage detection contacts 8A to 8H are formed of through holes penetrating through the base plate 3 from the back side to the front side. The fact that these multiple pairs of voltage detection contacts 8A to 8H are arranged along both sides 5a and 5b of the resistor 5 is the same as in the embodiment shown in FIG. An electrical connection between the current detection device and the shunt resistor 1 is established by connecting a plurality of pairs of voltage detection contacts 8A-8H to a pair of electrodes 6,7.
 図12および図13は、電流検出装置のさらに他の実施形態を示す図である。より具体的には、図12は、電流検出装置を構成するシャント抵抗器1のさらに他の実施形態を示す斜視図であり、図13は、図12に示すシャント抵抗器1に図10に示す電流検出部2が連結された電流検出装置を示す斜視図である。図12および図13に示す実施形態の特に説明しない構成および動作は、図1乃至図7を参照して説明した実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。 12 and 13 are diagrams showing still another embodiment of the current detection device. More specifically, FIG. 12 is a perspective view showing still another embodiment of the shunt resistor 1 constituting the current detection device, and FIG. 13 shows the shunt resistor 1 shown in FIG. 2 is a perspective view showing a current detection device to which a current detection section 2 is connected; FIG. The configuration and operation of the embodiment shown in FIGS. 12 and 13 that are not particularly described are the same as those of the embodiment described with reference to FIGS. 1 to 7, so redundant description thereof will be omitted.
 図12に示すように、シャント抵抗器1は、一対の電極6,7に固定された複数対のピン端子40A~40Hを備えている。これらの複数対のピン端子40A~40Hは、抵抗体5の両側5a,5bに沿って配列されている。本実施形態の電流検出部2は、図10に示す電流検出部2と同じ構成である。図13に示すように、ピン端子40A~40Hは、スルーホールからなる電圧検出接点8A~8Hにそれぞれ挿入され、これにより、電流検出部2とシャント抵抗器1との電気的接続が確立される。 As shown in FIG. 12, the shunt resistor 1 has a plurality of pairs of pin terminals 40A-40H fixed to a pair of electrodes 6,7. These multiple pairs of pin terminals 40A to 40H are arranged along both sides 5a and 5b of the resistor 5. As shown in FIG. The current detector 2 of this embodiment has the same configuration as the current detector 2 shown in FIG. As shown in FIG. 13, pin terminals 40A to 40H are inserted into voltage detection contacts 8A to 8H formed of through holes, respectively, thereby establishing electrical connection between current detection section 2 and shunt resistor 1. .
 上述した実施形態は、本発明が属する技術分野における通常の知識を有する者が本発明を実施できることを目的として記載されたものである。上記実施形態の種々の変形例は、当業者であれば当然になしうることであり、本発明の技術的思想は他の実施形態にも適用しうる。したがって、本発明は、記載された実施形態に限定されることはなく、特許請求の範囲によって定義される技術的思想に従った最も広い範囲に解釈されるものである。 The above-described embodiments are described for the purpose of enabling those who have ordinary knowledge in the technical field to which the present invention belongs to implement the present invention. Various modifications of the above embodiments can be made by those skilled in the art, and the technical idea of the present invention can be applied to other embodiments. Accordingly, the present invention is not limited to the described embodiments, but is to be construed in its broadest scope in accordance with the technical spirit defined by the claims.
 本発明は、シャント抵抗器を備えた電流検出装置、および電流検出装置の製造方法に利用可能である。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be used for a current detection device having a shunt resistor and a method for manufacturing the current detection device.
 1   シャント抵抗器
 2   電流検出部
 3   基台プレート
 5   抵抗体
 6,7   電極
 8A~8H   電圧検出接点
 9A~9H   電圧信号配線
11   突出部
15A~15H   導体素子接続端子
20,21   導体素子
25,26   接点パッド
30A~30H   スルーホール
31   増幅器
32   A/D変換器
33   演算装置
34   コネクタ
35,36   配線
37   コンデンサ
40A~40H   ピン端子
1 shunt resistor 2 current detection unit 3 base plate 5 resistor 6, 7 electrodes 8A to 8H voltage detection contacts 9A to 9H voltage signal wiring 11 protrusions 15A to 15H conductor element connection terminals 20, 21 conductor elements 25, 26 contacts Pads 30A to 30H Through hole 31 Amplifier 32 A/D converter 33 Arithmetic unit 34 Connectors 35, 36 Wiring 37 Capacitors 40A to 40H Pin terminals

Claims (11)

  1.  抵抗体および該抵抗体の両側に接続された一対の電極を有するシャント抵抗器と、
     前記シャント抵抗器に電気的に接続された電流検出部を備え、
     前記電流検出部は、
      前記一対の電極に電気的に接続された複数対の電圧検出接点と、
      前記複数対の電圧検出接点にそれぞれ接続された複数対の電圧信号配線と、
      前記複数対の電圧信号配線にそれぞれ接続された複数対の導体素子接続端子と、
      前記複数対の導体素子接続端子のうちのいずれか一対の導体素子接続端子に取り付けられた一対の導体素子を備え、
     前記一対の導体素子接続端子は、前記シャント抵抗器の抵抗温度係数の実測結果に基づいて予め選択されたものである、電流検出装置。
    a shunt resistor having a resistor and a pair of electrodes connected to opposite sides of the resistor;
    A current detection unit electrically connected to the shunt resistor,
    The current detection unit is
    a plurality of pairs of voltage sensing contacts electrically connected to the pair of electrodes;
    a plurality of pairs of voltage signal wires respectively connected to the plurality of pairs of voltage detection contacts;
    a plurality of pairs of conductor element connection terminals respectively connected to the plurality of pairs of voltage signal wiring;
    a pair of conductor elements attached to one pair of the conductor element connection terminals of the plurality of pairs of conductor element connection terminals;
    The current detecting device, wherein the pair of conductive element connecting terminals are selected in advance based on the result of actual measurement of the temperature coefficient of resistance of the shunt resistor.
  2.  予め選択された前記一対の導体素子接続端子は、前記複数対の電圧検出接点のうち、前記シャント抵抗器の抵抗温度係数が最も0に近い一対の電圧検出接点に電気的に接続されている、請求項1に記載の電流検出装置。 The pair of preselected conductive element connection terminals are electrically connected to a pair of voltage detection contacts, among the plurality of pairs of voltage detection contacts, for which the temperature coefficient of resistance of the shunt resistor is closest to 0. The current detection device according to claim 1.
  3.  前記複数対の電圧検出接点は、前記抵抗体の両側に沿って配列されている、請求項1または2に記載の電流検出装置。 The current detection device according to claim 1 or 2, wherein the plurality of pairs of voltage detection contacts are arranged along both sides of the resistor.
  4.  前記電流検出部は、
      基台プレートと、
      前記基台プレートを貫通して延びる複数対のスルーホールを備え、
     前記複数対のスルーホールは、前記複数対の電圧信号配線上に設けられており、かつ前記複数対の電圧検出接点と前記複数対の導体素子接続端子との間に位置している、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の電流検出装置。
    The current detection unit is
    a base plate;
    a plurality of pairs of through holes extending through the base plate;
    3. The plurality of pairs of through-holes are provided on the plurality of pairs of voltage signal wires and located between the plurality of pairs of voltage detection contacts and the plurality of pairs of conductive element connection terminals. 4. The current detection device according to any one of 1 to 3.
  5.  前記複数対の導体素子接続端子は前記基台プレートの表側に配置され、前記複数対の電圧検出接点は前記基台プレートの裏側に配置されている、請求項4に記載の電流検出装置。 The current detection device according to claim 4, wherein the plurality of pairs of conductive element connection terminals are arranged on the front side of the base plate, and the plurality of pairs of voltage detection contacts are arranged on the back side of the base plate.
  6.  前記複数対の電圧検出接点は、前記一対の電極に面接続された一対の接点パッドから構成されている、請求項1乃至5のいずれか一項に記載の電流検出装置。 The current detection device according to any one of claims 1 to 5, wherein said plurality of pairs of voltage detection contacts comprise a pair of contact pads surface-connected to said pair of electrodes.
  7.  前記一対の接点パッドは、前記シャント抵抗器の前記抵抗体の両側に隣接して配置されており、
     前記複数対の電圧信号配線は、前記一対の接点パッドの内側縁に接続されている、請求項6に記載の電流検出装置。
    the pair of contact pads are positioned adjacent opposite sides of the resistor of the shunt resistor;
    7. The current sensing device of claim 6, wherein said pairs of voltage signal wires are connected to inner edges of said pair of contact pads.
  8.  前記シャント抵抗器は、その幅方向に突出する突出部を有し、前記抵抗体の一部および前記一対の電極の一部は、前記突出部を構成しており、
     前記一対の接点パッドは、前記突出部を構成する前記一対の電極の一部に面接続されている、請求項6または7に記載の電流検出装置。
    The shunt resistor has a protrusion that protrudes in its width direction, and a part of the resistor and a part of the pair of electrodes constitute the protrusion,
    8. The current detection device according to claim 6, wherein said pair of contact pads are surface-connected to a part of said pair of electrodes forming said projecting portion.
  9.  前記一対の導体素子は、一対の抵抗器である、請求項1乃至8のいずれか一項に記載の電流検出装置。 The current detection device according to any one of claims 1 to 8, wherein the pair of conductor elements are a pair of resistors.
  10.  シャント抵抗器および電流検出部を製造し、前記シャント抵抗器は、抵抗体および該抵抗体の両側に接続された一対の電極を有しており、前記電流検出部は、複数対の電圧検出接点と、前記複数対の電圧検出接点にそれぞれ接続された複数対の電圧信号配線と、前記複数対の電圧信号配線にそれぞれ接続された複数対の導体素子接続端子を備えており、
     前記複数対の電圧検出接点を前記一対の電極に電気的に接続し、
     前記シャント抵抗器の抵抗温度係数の実測結果に基づいて、前記複数対の導体素子接続端子から予め選択された一対の導体素子接続端子に、一対の導体素子を取り付ける、電流検出装置の製造方法。
    A shunt resistor and a current sensing section are manufactured, the shunt resistor having a resistor and a pair of electrodes connected to opposite sides of the resistor, the current sensing section comprising a plurality of pairs of voltage sensing contacts. and a plurality of pairs of voltage signal wirings respectively connected to the plurality of pairs of voltage detection contacts, and a plurality of pairs of conductor element connection terminals respectively connected to the plurality of pairs of voltage signal wirings,
    electrically connecting the plurality of pairs of voltage sensing contacts to the pair of electrodes;
    A method of manufacturing a current detection device, comprising attaching a pair of conductor elements to a pair of conductor element connection terminals preselected from the plurality of pairs of conductor element connection terminals based on the result of actual measurement of the temperature coefficient of resistance of the shunt resistor.
  11.  前記一対の導体素子を取り付けることは、前記複数対の電圧検出接点のうち、前記シャント抵抗器の抵抗温度係数が最も0に近い一対の電圧検出接点に電気的に接続されている一対の導体素子接続端子に、一対の導体素子を取り付けることである、請求項10に記載の電流検出装置の製造方法。 Attaching the pair of conductor elements includes a pair of conductor elements electrically connected to a pair of voltage detection contacts in which the temperature coefficient of resistance of the shunt resistor is closest to 0 among the plurality of pairs of voltage detection contacts. 11. The method of manufacturing the current detection device according to claim 10, wherein the connection terminal is attached with a pair of conductive elements.
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