WO2023119503A1 - 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法 - Google Patents

感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2023119503A1
WO2023119503A1 PCT/JP2021/047629 JP2021047629W WO2023119503A1 WO 2023119503 A1 WO2023119503 A1 WO 2023119503A1 JP 2021047629 W JP2021047629 W JP 2021047629W WO 2023119503 A1 WO2023119503 A1 WO 2023119503A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
resin composition
photosensitive resin
photosensitive
component
acid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2021/047629
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
直輝 山下
颯人 澤本
佳歩 山口
恭之 大山
有理紗 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Corp
Original Assignee
Resonac Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Resonac Corp filed Critical Resonac Corp
Priority to KR1020247001948A priority Critical patent/KR102888849B1/ko
Priority to PCT/JP2021/047629 priority patent/WO2023119503A1/ja
Priority to US18/291,075 priority patent/US20240337934A1/en
Priority to CN202180100882.7A priority patent/CN117693715A/zh
Priority to KR1020257038431A priority patent/KR20250171388A/ko
Priority to JP2023568892A priority patent/JP7747063B2/ja
Priority to TW111148689A priority patent/TW202330649A/zh
Publication of WO2023119503A1 publication Critical patent/WO2023119503A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Priority to JP2025148445A priority patent/JP2025175070A/ja
Ceased legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22—Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/28—Applying non-metallic protective coatings
    • H05K3/285—Permanent coating compositions
    • H05K3/287—Photosensitive compositions
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004—Photosensitive materials
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004—Photosensitive materials
    • G03F7/027—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004—Photosensitive materials
    • G03F7/027—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • G03F7/028—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with photosensitivity-increasing substances, e.g. photoinitiators
    • G03F7/031—Organic compounds not covered by group G03F7/029
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004—Photosensitive materials
    • G03F7/027—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • G03F7/032—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with binders
    • G03F7/033—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with binders the binders being polymers obtained by reactions only involving carbon-to-carbon unsaturated bonds, e.g. vinyl polymers
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004—Photosensitive materials
    • G03F7/038—Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004—Photosensitive materials
    • G03F7/038—Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable
    • G03F7/0388—Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable with ethylenic or acetylenic bands in the side chains of the photopolymer
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004—Photosensitive materials
    • G03F7/09—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers
    • G03F7/105—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers having substances, e.g. indicators, for forming visible images
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004—Photosensitive materials
    • G03F7/09—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers
    • G03F7/115—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers having supports or layers with means for obtaining a screen effect or for obtaining better contact in vacuum printing
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0073—Masks not provided for in groups H05K3/02 - H05K3/46, e.g. for photomechanical production of patterned surfaces
    • H05K3/0082—Masks not provided for in groups H05K3/02 - H05K3/46, e.g. for photomechanical production of patterned surfaces characterised by the exposure method of radiation-sensitive masks
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/06—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
    • H05K3/061—Etching masks
    • H05K3/064—Photoresists
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22—Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/28—Applying non-metallic protective coatings

Definitions

  • the present disclosure relates to a photosensitive resin composition for permanent resist, a photosensitive element, a printed wiring board, and a method for manufacturing a printed wiring board.
  • a photosensitive resin composition used for forming a permanent resist for example, a photocurable resin composition containing an acid-modified vinyl group-containing epoxy resin, an elastomer, a photopolymerization initiator, a diluent, and a curing agent as essential components is known. (see Patent Document 1).
  • the photosensitive resin composition used to form the permanent resist is required to have higher resolution.
  • An object of the present disclosure is to provide a photosensitive resin composition having excellent resolution, a photosensitive element using the photosensitive resin composition, a printed wiring board, and a method for manufacturing a printed wiring board.
  • One aspect of the present disclosure contains (A) an acid-modified vinyl group-containing resin, (B) a photopolymerization initiator, and (C) a photopolymerizable compound, wherein the photopolymerizable compound contains an ethylenically unsaturated group.
  • the present invention relates to a photosensitive resin composition for permanent resist, comprising a photopolymerizable compound having 4 or more and a photopolymerizable compound having 3 or less ethylenically unsaturated groups.
  • Another aspect of the present disclosure relates to a photosensitive element comprising a support film and a photosensitive layer formed on the support film, the photosensitive layer containing the photosensitive resin composition described above.
  • Another aspect of the present disclosure relates to a printed wiring board comprising a permanent resist containing a cured product of the photosensitive resin composition described above.
  • Another aspect of the present disclosure includes a step of forming a photosensitive layer on a substrate using the photosensitive resin composition or photosensitive element described above, and a step of exposing and developing the photosensitive layer to form a resist pattern. and a step of curing the resist pattern to form a permanent resist.
  • a photosensitive resin composition having excellent resolution, a photosensitive element using the photosensitive resin composition, a printed wiring board, and a method for manufacturing a printed wiring board.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a photosensitive element according to this embodiment
  • step includes not only independent steps, but also steps that are indistinguishable from other steps, as long as the intended action of that step is achieved.
  • layer includes not only a shape structure formed over the entire surface but also a shape structure formed partially when viewed as a plan view.
  • a numerical range indicated using "-" indicates a range including the numerical values before and after "-" as the minimum and maximum values, respectively.
  • the upper limit value or lower limit value of the numerical range at one step may be replaced with the upper limit value or lower limit value of the numerical range at another step.
  • the upper or lower limits of the numerical ranges may be replaced with the values shown in the examples.
  • the multiple substances present in the composition means the total amount of
  • (meth)acrylate means at least one of “acrylate” and its corresponding “methacrylate”, and the same applies to other similar expressions such as (meth)acrylic acid and (meth)acryloyl. is.
  • solid content refers to the non-volatile content excluding volatile substances (water, solvents, etc.) contained in the photosensitive resin composition, and is liquid at room temperature (around 25° C.), syrup-like, or It also contains a waxy component.
  • a photosensitive resin composition for a permanent resist contains (A) an acid-modified vinyl group-containing resin, (B) a photopolymerization initiator, and (C) a photopolymerizable compound, and the photopolymerizable
  • the compound includes a photopolymerizable compound having 4 or more ethylenically unsaturated groups and a photopolymerizable compound having 3 or less ethylenically unsaturated groups.
  • the photosensitive resin composition according to this embodiment is a negative photosensitive resin composition, and a cured film of the photosensitive resin composition can be used as a permanent resist.
  • the photosensitive resin composition according to this embodiment contains an acid-modified vinyl group-containing resin as component (A).
  • the acid-modified vinyl group-containing resin is not particularly limited as long as it has a vinyl group that is a photopolymerizable ethylenically unsaturated bond and an alkali-soluble acidic group.
  • Examples of the acidic group possessed by the acid-modified vinyl group-containing resin include a carboxy group, a sulfo group, and a phenolic hydroxyl group. Among these, a carboxy group is preferable from the viewpoint of resolution.
  • acid-modified vinyl group-containing resins examples include acid-modified epoxy (meth)acrylates.
  • Acid-modified epoxy (meth)acrylate is a resin obtained by acid-modifying epoxy (meth)acrylate, which is a reaction product of an epoxy resin and an organic acid having a vinyl group.
  • an acid-modified epoxy (meth)acrylate for example, an ester obtained by reacting an epoxy resin (a) with a vinyl group-containing monocarboxylic acid (b) is added with a saturated or unsaturated polybasic acid anhydride (c). Additional addition reactants can be used.
  • epoxy resin (a) examples include bisphenol novolak type epoxy resin, novolak type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, triphenolmethane type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, and dicyclopentadiene type epoxy resins.
  • Vinyl group-containing monocarboxylic acids (b) include, for example, acrylic acid, dimers of acrylic acid, methacrylic acid, ⁇ -furfurylacrylic acid, ⁇ -styrylacrylic acid, cinnamic acid, crotonic acid, and ⁇ -cyanocinnamon.
  • Acrylic acid derivatives such as acids, semi-ester compounds that are reaction products of hydroxyl group-containing (meth)acrylates and dibasic acid anhydrides, vinyl group-containing monoglycidyl ethers or vinyl group-containing monoglycidyl esters and dibasic acid anhydrides and a half-ester compound which is a reaction product of
  • hydroxyl group-containing (meth)acrylates examples include hydroxyethyl acrylate, hydroxyethyl methacrylate, hydroxypropyl acrylate, hydroxypropyl methacrylate, hydroxybutyl acrylate, hydroxybutyl methacrylate, and polyethylene.
  • Glycol monoacrylate polyethylene glycol monomethacrylate, trimethylolpropane diacrylate, trimethylolpropane dimethacrylate, pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol trimethacrylate, dipentaerythritol pentaacrylate, pentaerythritol pentamethacrylate, glycidyl acrylate, and glycidyl methacrylate are mentioned.
  • dibasic acid anhydrides examples include succinic anhydride, maleic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, phthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, ethyltetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, and methylhexahydrophthalic anhydride. , ethylhexahydrophthalic anhydride, and itaconic anhydride.
  • Saturated or unsaturated polybasic acid anhydrides (c) include, for example, succinic anhydride, maleic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, phthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, ethyltetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride , methylhexahydrophthalic anhydride, ethylhexahydrophthalic anhydride, and itaconic anhydride.
  • tetrahydrophthalic anhydride may be used as the polybasic acid anhydride from the viewpoint of obtaining a photosensitive resin composition capable of forming a pattern with excellent resolution.
  • the acid value of component (A) is not particularly limited.
  • the acid value of component (A) may be 30 mgKOH/g or more, 40 mgKOH/g or more, or 50 mgKOH/g or more from the viewpoint of improving the solubility of the unexposed area in an alkaline aqueous solution.
  • the acid value of component (A) may be 150 mgKOH/g or less, 120 mgKOH/g or less, or 100 mgKOH/g or less from the viewpoint of improving the electrical properties of the cured film.
  • the weight average molecular weight (Mw) of component (A) is not particularly limited.
  • the Mw of component (A) may be 3000 or more, 4000 or more, or 5000 or more from the viewpoint of improving the adhesiveness of the cured film.
  • the Mw of component (A) may be 30,000 or less, 25,000 or less, or 18,000 or less from the viewpoint of improving the resolution of the photosensitive layer. Mw can be measured by a gel permeation chromatography (GPC) method.
  • the content of component (A) in the photosensitive resin composition is 20 to 70 based on the total solid content of the photosensitive resin composition, from the viewpoint of improving the heat resistance, electrical properties and chemical resistance of the permanent resist. % by weight, 25-60% by weight, or 30-50% by weight.
  • (B) component photoinitiator
  • the photopolymerization initiator that is the component (B) is not particularly limited as long as it can polymerize the component (A).
  • (B) component may be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.
  • component (B) examples include benzoin compounds such as benzoin, benzoin methyl ether, and benzoin isopropyl ether; -dichloroacetophenone, 1-hydroxycyclohexylphenyl ketone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1-(4-morpholinophenyl)-butanone-1,2-methyl-[4-(methylthio)phenyl]-2-morpholino- Acetophenone compounds such as 1-propane and N,N-dimethylaminoacetophenone; Anthraquinones such as 2-methylanthraquinone, 2-ethylanthraquinone, 2-tert-butylanthraquinone, 1-chloroanthraquinone, 2-amylanthraquinone, and 2-aminoanthraquinone Compounds; thioxanthone compounds such as 2,4-dimethylthioxanthone, 2,4-diethylthi
  • the content of component (B) in the photosensitive resin composition is not particularly limited. Alternatively, it may be 1 to 5% by mass.
  • the photosensitive resin composition according to the present embodiment uses, as the component (C), a photopolymerizable compound having 4 or more ethylenically unsaturated groups and a photopolymerizable compound having 3 or less ethylenically unsaturated groups. By doing so, the resolution of the photosensitive resin composition can be improved.
  • the ethylenically unsaturated group is not particularly limited as long as it is a photopolymerizable group.
  • Component (C) is a photopolymerizable compound having no acidic group.
  • a photopolymerizable compound having 4 or more ethylenically unsaturated groups may have 4 to 10, 4 to 8, or 5 to 7 ethylenically unsaturated groups.
  • photopolymerizable compounds having 4 or more ethylenically unsaturated groups include dipentaerythritol hexa(meth)acrylate, dipentaerythritol penta(meth)acrylate, and tetramethylolmethane tetra(meth)acrylate.
  • the component (C) preferably contains dipentaerythritol hexa(meth)acrylate from the viewpoint of improving the sensitivity of the photosensitive resin composition.
  • the photopolymerizable compound having 3 or less ethylenically unsaturated groups includes a photopolymerizable compound having one ethylenically unsaturated group, a photopolymerizable compound having two ethylenically unsaturated groups, and an ethylenically unsaturated group. At least one selected from the group consisting of photopolymerizable compounds having three can be used.
  • the component (C) preferably contains a photopolymerizable compound having one ethylenically unsaturated group from the viewpoint of further enhancing the resolution of the photosensitive resin composition. From the viewpoint of increasing the film strength of the permanent resist, the component (C) preferably contains a photopolymerizable compound having two or three ethylenically unsaturated groups.
  • the photopolymerizable compound having 3 or less ethylenically unsaturated groups includes a photopolymerizable compound having a dicyclopentadiene skeleton, a photopolymerizable compound having an isocyanate group, and a blocked isocyanate group from the viewpoint of further improving resolution. It may be at least one selected from the group consisting of photopolymerizable compounds and photopolymerizable compounds having an oxyalkylene group.
  • photopolymerizable compounds having one ethylenically unsaturated group include (meth)acrylates having a dicyclopentadiene skeleton such as dicyclopentanyl methacrylate and dicyclopentanyl acrylate; 2-isocyanatoethyl methacrylate; - (meth) acrylates having an isocyanate group such as isocyanatoethyl acrylate, 2-(2-methacryloyloxyethyloxy) ethyl isocyanate, 2-(2-acryloyloxyethyloxy) ethyl isocyanate; 2-[0-(1' -methylpropylideneamino)carboxyamino]ethyl methacrylate, 2-[(3,5-dimethylpyrazolyl)carbonylamino]ethyl methacrylate, and (meth)acrylates having a blocked isocyanate group.
  • Photopolymerizable compounds having two ethylenically unsaturated groups include, for example, ethylene glycol di(meth)acrylate, propylene glycol di(meth)acrylate, tetraethylene glycol di(meth)acrylate, 1,6-hexanediol di Alkylene di(meth)acrylates such as (meth)acrylate, 1,9-nonanediol di(meth)acrylate, 1,10 decanediol di(meth)acrylate, neopentyl glycol di(meth)acrylate; polyethylene glycol di(meth)acrylate; ) Polyalkylene glycol di(meth)acrylates such as acrylate, polypropylene glycol di(meth)acrylate, and polyethylene/polypropylene glycol di(meth)acrylate; and EO-modified bisphenol A di(meth)acrylate, PO-modified bisphenol A di(meth) Examples include alkylene oxide-modified di
  • photopolymerizable compounds having three ethylenically unsaturated groups include trimethylolpropane tri(meth)acrylate, dipentaerythritol tri(meth)acrylate, tetramethylolmethane tri(meth)acrylate, and EO-modified trimethylolpropane.
  • examples include tri(meth)acrylate, PO-modified trimethylolpropane tri(meth)acrylate, and EO,PO-modified trimethylolpropane tri(meth)acrylate.
  • the content of component (C) may be 2 to 30% by mass, 3 to 20% by mass, or 3 to 15% by mass based on the total solid content of the photosensitive resin composition.
  • the content of component (C) is 2% by mass or more, the photosensitivity of the photosensitive resin composition can be easily improved, and when it is 30% by mass or less, the heat resistance of the permanent resist can be easily improved.
  • the content of the photopolymerizable compound having 3 or less ethylenically unsaturated groups is 1% by mass or more based on the total solid content of the photosensitive resin composition, from the viewpoint of further increasing the resolution of the photosensitive resin composition. It may be 2% by mass or more, or 3% by mass or more. From the viewpoint of further improving the film strength of the permanent resist, the content of the photopolymerizable compound having 3 or less ethylenically unsaturated groups is 20% by mass or less and 15% by mass based on the total solid content of the photosensitive resin composition. or less, or 10% by mass or less.
  • the photosensitive resin composition according to the present embodiment may further contain an inorganic filler as component (D).
  • component (D) By containing the component (D), the adhesive strength, reliability, etc. of the permanent mask resist can be improved.
  • Component may be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.
  • inorganic fillers include silica, alumina, titania, tantalum oxide, zirconia, silicon nitride, barium titanate, barium carbonate, magnesium carbonate, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, lead titanate, lead zirconate titanate, titanium Lead lanthanum zirconate, gallium oxide, spinel, mullite, cordierite, talc, aluminum titanate, yttria-containing zirconia, barium silicate, boron nitride, calcium carbonate, barium sulfate, calcium sulfate, zinc oxide, magnesium titanate, Hydrotalcite, mica, calcined kaolin, and carbon.
  • the component (D) may contain silica from the viewpoint of improving the heat resistance of the permanent resist, and may contain barium sulfate from the viewpoint of improving the heat resistance and adhesive strength of the permanent resist. From the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler, an inorganic filler previously surface-treated with alumina or an organic silane compound may be used.
  • the average particle size of the inorganic filler may be 0.01 ⁇ m or more, 0.1 ⁇ m or more, 0.2 ⁇ m or more, or 0.3 ⁇ m or more, and may be 5.0 ⁇ m or less, 3.0 ⁇ m or less, 2.0 ⁇ m or less, or It may be 1.5 ⁇ m or less.
  • the content of component (D) may be 5 to 70% by mass, 6 to 60% by mass, or 10 to 50% by mass based on the total solid content of the photosensitive resin composition.
  • the content of the component (D) is within the above range, the low coefficient of thermal expansion, heat resistance, film strength, etc. can be further improved.
  • thermosetting resin thermosetting resin
  • the photosensitive resin composition according to this embodiment may further contain a thermosetting resin as component (E).
  • a thermosetting resin as component (E).
  • the heat resistance, adhesiveness, chemical resistance, etc. of the cured film (permanent resist) formed from the photosensitive resin composition can be improved.
  • Component may be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.
  • component (E) examples include epoxy resins, phenol resins, unsaturated imide resins, cyanate resins, isocyanate resins, benzoxazine resins, oxetane resins, amino resins, unsaturated polyester resins, allyl resins, dicyclopentadiene resins, silicone Resins, triazine resins, and melamine resins are included.
  • epoxy resins include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, hydrogenated bisphenol A type epoxy resin, brominated bisphenol A type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, novolac type epoxy resin, and biphenyl type epoxy resin. , naphthalene-type epoxy resins, dicyclopentadiene-type epoxy resins, hydantoin-type epoxy resins, triglycidyl isocyanurate, and bixylenol-type epoxy resins.
  • the content of component (E) may be 2 to 30% by mass, 5 to 25% by mass, or 8 to 20% by mass based on the total solid content of the photosensitive resin composition.
  • the content of component (E) is within the above range, the heat resistance of the formed cured film can be further improved while maintaining good developability.
  • the photosensitive resin composition of the present embodiment may further contain a pigment as the component (F) from the viewpoint of improving the identifiability or appearance of the manufacturing apparatus.
  • a coloring agent that develops a desired color can be used when, for example, wiring is hidden.
  • component (F) include phthalocyanine blue, phthalocyanine green, iodine green, diazo yellow, crystal violet, titanium oxide, carbon black, and naphthalene black.
  • the content of the component (F) is 0.1 to 10% by mass, 0.5 to 8% by mass, or 1 to It may be 5% by mass.
  • the photosensitive resin composition according to this embodiment may further contain an elastomer as the (G) component.
  • an elastomer as the (G) component.
  • component (G) examples include styrene-based elastomers, olefin-based elastomers, urethane-based elastomers, polyester-based elastomers, polyamide-based elastomers, acrylic-based elastomers, and silicone-based elastomers. These elastomers are composed of a hard segment component that contributes to heat resistance and strength, and a soft segment component that contributes to flexibility and toughness.
  • Styrenic elastomers include, for example, styrene-butadiene-styrene block copolymers, styrene-isoprene-styrene block copolymers, styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymers, and styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymers.
  • styrene derivatives such as ⁇ -methylstyrene, 3-methylstyrene, 4-propylstyrene and 4-cyclohexylstyrene can be used as components constituting the styrene-based elastomer.
  • olefinic elastomers include ethylene-propylene copolymers, ethylene- ⁇ -olefin copolymers, ethylene- ⁇ -olefin-nonconjugated diene copolymers, propylene- ⁇ -olefin copolymers, butene- ⁇ - Olefin copolymers, ethylene-propylene-diene copolymers, dicyclopentadiene, 1,4-hexadiene, cyclooctadiene, methylenenorbornene, ethylidenenorbornene, butadiene, copolymerization of non-conjugated dienes such as isoprene with ⁇ -olefins and carboxylic acid-modified butadiene-acrylonitrile copolymers.
  • urethane-based elastomer a compound composed of a hard segment composed of a low-molecular-weight (short-chain) diol and diisocyanate and a soft segment composed of a high-molecular-weight (long-chain) diol and diisocyanate can be used.
  • short-chain diols examples include ethylene glycol, propylene glycol, 1,4-butanediol, and bisphenol A.
  • the number average molecular weight of the short-chain diol is preferably 48-500.
  • long-chain diols examples include polypropylene glycol, polytetramethylene oxide, poly(1,4-butylene adipate), poly(ethylene-1,4-butylene adipate), polycaprolactone, poly(1,6-hexylene carbonate). ), and poly(1,6-hexylene-neopentylene adipate).
  • the number average molecular weight of the long-chain diol is preferably 500-10,000.
  • polyester-based elastomer a compound obtained by polycondensing a dicarboxylic acid or its derivative and a diol compound or its derivative can be used.
  • dicarboxylic acids examples include aromatic dicarboxylic acids such as terephthalic acid, isophthalic acid and naphthalenedicarboxylic acid; aliphatic dicarboxylic acids having 2 to 20 carbon atoms such as adipic acid, sebacic acid and dodecanedicarboxylic acid; and cyclohexanedicarboxylic acid. and alicyclic dicarboxylic acids.
  • Dicarboxylic acid can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.
  • diol compounds include aliphatic diols such as ethylene glycol, 1,3-propanediol, 1,4-butanediol, 1,6-hexanediol, and 1,10-decanediol; 1,4-cyclohexanediol, etc. and aromatic diols such as bisphenol A, bis-(4-hydroxyphenyl)methane, bis-(4-hydroxy-3-methylphenyl)propane and resorcinol.
  • aromatic diols such as bisphenol A, bis-(4-hydroxyphenyl)methane, bis-(4-hydroxy-3-methylphenyl)propane and resorcinol.
  • polyester-based elastomer it is possible to use a multi-block copolymer having an aromatic polyester (eg, polybutylene terephthalate) as a hard segment component and an aliphatic polyester (eg, polytetramethylene glycol) as a soft segment component.
  • aromatic polyester eg, polybutylene terephthalate
  • aliphatic polyester eg, polytetramethylene glycol
  • polyester-based elastomers There are various grades of polyester-based elastomers depending on the types, ratios, and molecular weights of hard segments and soft segments.
  • Polyamide-based elastomers are roughly divided into two types: polyether block amide type and polyether ester block amide type, which use polyamide for the hard segment and polyether or polyester for the soft segment.
  • Polyamides include, for example, polyamide-6, polyamide-11, and polyamide-12.
  • Polyethers include, for example, polyoxyethylene glycol, polyoxypropylene glycol, and polytetramethylene glycol.
  • (Meth)acrylic acid esters include, for example, methyl (meth)acrylate, ethyl (meth)acrylate, butyl (meth)acrylate, methoxyethyl (meth)acrylate, and ethoxyethyl (meth)acrylate.
  • the acrylic elastomer may be a compound obtained by copolymerizing (meth)acrylic acid ester and acrylonitrile, or may be a compound obtained by further copolymerizing a monomer having a functional group serving as a cross-linking point.
  • Monomers with functional groups include, for example, glycidyl methacrylate and allyl glycidyl ether.
  • acrylic elastomers include acrylonitrile-butyl acrylate copolymer, acrylonitrile-butyl acrylate-ethyl acrylate copolymer, methyl methacrylate-butyl acrylate-methacrylic acid copolymer, and acrylonitrile-butyl acrylate-glycidyl methacrylate copolymer. are mentioned.
  • acrylic elastomer acrylonitrile-butyl acrylate-glycidyl methacrylate copolymer or methyl methacrylate-butyl acrylate-methacrylic acid copolymer is preferable, and methyl methacrylate-butyl acrylate-methacrylic acid copolymer is more preferable.
  • a silicone elastomer is a compound whose main component is organopolysiloxane.
  • Organopolysiloxanes include, for example, polydimethylsiloxane, polymethylphenylsiloxane, and polydiphenylsiloxane.
  • the silicone-based elastomer may be a compound obtained by partially modifying an organopolysiloxane with a vinyl group, an alkoxy group, or the like.
  • the (G) component may contain a carboxylic acid-modified butadiene-acrylonitrile copolymer or a hydroxyl group-containing polyester elastomer from the viewpoint of improving the adhesion of the cured film.
  • the content of component (G) may be 2 to 50 parts by mass, 4 to 45 parts by mass, 6 to 40 parts by mass, or 10 to 35 parts by mass with respect to 100 parts by mass of component (A).
  • the content of component (G) is within the above range, the elastic modulus of the cured film in the high temperature region becomes low, and the unexposed areas are more easily eluted with the developer.
  • the photosensitive resin composition according to the present embodiment may further contain various additives as necessary.
  • Additives include, for example, polymerization inhibitors such as hydroquinone, methylhydroquinone, hydroquinone monomethyl ether, catechol, and pyrogallol; thickeners such as bentone and montmorillonite; antifoaming agents such as silicone, fluorine, and vinyl resin; ring agents; and flame retardants such as brominated epoxy compounds, acid-modified brominated epoxy compounds, antimony compounds, phosphate compounds, aromatic condensed phosphates, and halogen-containing condensed phosphates.
  • the photosensitive resin composition according to the present embodiment contains a solvent for dissolving and dispersing each component, thereby facilitating coating on a substrate and forming a coating film of uniform thickness.
  • solvents examples include ketones such as methyl ethyl ketone and cyclohexanone; aromatic hydrocarbons such as toluene, xylene and tetramethylbenzene; methyl cellosolve, butyl cellosolve, methyl carbitol, butyl carbitol, propylene glycol monomethyl ether, and dipropylene glycol monoethyl.
  • Glycol ethers such as ether, dipropylene glycol diethyl ether, triethylene glycol monoethyl ether; esters such as ethyl acetate, butyl acetate, butyl cellosolve acetate, carbitol acetate; aliphatic hydrocarbons such as octane and decane; and petroleum ether, petroleum.
  • Petroleum solvents such as naphtha, hydrogenated petroleum naphtha, and solvent naphtha can be mentioned.
  • a solvent may be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.
  • the blending amount of the solvent is not particularly limited, but the ratio of the solvent in the photosensitive resin composition may be 10 to 50% by mass, 20 to 40% by mass, or 25 to 35% by mass.
  • the photosensitive resin composition of the present embodiment can be prepared by uniformly mixing each of the above components with a roll mill, bead mill, or the like.
  • the photosensitive element according to this embodiment includes a support film and a photosensitive layer containing the photosensitive resin composition described above.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a photosensitive element according to this embodiment. As shown in FIG. 1, the photosensitive element 1 comprises a support film 10 and a photosensitive layer 20 formed on the support film 10. As shown in FIG. 1,
  • the photosensitive resin composition according to the present embodiment is coated on the support film 10 by a known method such as reverse roll coating, gravure roll coating, comma coating, or curtain coating, and then the coating is dried.
  • a known method such as reverse roll coating, gravure roll coating, comma coating, or curtain coating, and then the coating is dried.
  • the support film examples include polyester films such as polyethylene terephthalate and polybutylene terephthalate, and polyolefin films such as polypropylene and polyethylene.
  • the thickness of the support film may be, for example, 5-100 ⁇ m.
  • the thickness of the photosensitive layer may be, for example, 5-50 ⁇ m, 5-40 ⁇ m, or 10-30 ⁇ m.
  • the surface roughness of the support film is not particularly limited, but the arithmetic mean roughness (Ra) may be 1000 nm or less, 500 nm or less, or 250 nm or less.
  • the drying temperature may be 60-120°C, 70-110°C, or 80-100°C.
  • the drying time may be 1-60 minutes, 2-30 minutes, or 5-20 minutes.
  • a protective film 30 covering the photosensitive layer 20 may be further provided on the photosensitive layer 20 .
  • the photosensitive element 1 can also have a protective film 30 laminated on the surface of the photosensitive layer 20 opposite to the surface in contact with the support film 10 .
  • a polymer film such as polyethylene or polypropylene may be used.
  • a printed wiring board according to the present embodiment comprises a permanent resist containing a cured product of the photosensitive resin composition according to the present embodiment.
  • the method for producing a printed wiring board according to the present embodiment includes the steps of forming a photosensitive layer on a substrate using the photosensitive resin composition or photosensitive element described above, and exposing and developing the photosensitive layer to form a resist pattern. and curing the resist pattern to form a permanent resist. An example of each step will be described below.
  • a substrate such as a copper clad laminate is prepared, and a photosensitive layer is formed on the substrate.
  • the photosensitive layer may be formed by applying a photosensitive resin composition onto a substrate and drying the composition. Examples of methods for applying the photosensitive resin composition include screen printing, spraying, roll coating, curtain coating, and electrostatic coating.
  • the drying temperature may be 60-120°C, 70-110°C, or 80-100°C.
  • the drying time may be 1-7 minutes, 1-6 minutes, or 2-5 minutes.
  • the photosensitive layer may be formed on the substrate by peeling off the protective film from the photosensitive element and laminating the photosensitive layer.
  • a method of laminating the photosensitive layer for example, there is a method of thermal lamination using a laminator.
  • Actinic rays include, for example, electron beams, ultraviolet rays, and X-rays, preferably ultraviolet rays.
  • Low-pressure mercury lamps, high-pressure mercury lamps, extra-high pressure mercury lamps, halogen lamps, and the like can be used as the light source.
  • the exposure dose may be 10-2000 mJ/cm 2 , 100-1500 mJ/cm 2 , or 300-1000 mJ/cm 2 .
  • the developing method includes, for example, a dipping method and a spray method.
  • alkaline aqueous solutions such as potassium hydroxide, sodium hydroxide, sodium carbonate, potassium carbonate, and tetramethylammonium hydroxide can be used.
  • a pattern cured film can be formed by subjecting the resist pattern to at least one of post-exposure and post-heating.
  • the exposure dose of the post-exposure may be 100-5000 mJ/cm 2 , 500-2000 mJ/cm 2 , or 700-1500 J/cm 2 .
  • the heating temperature for post-heating may be 100 to 200°C, 120 to 180°C, or 135 to 165°C.
  • the heating time for post-heating may be 5 minutes to 12 hours, 10 minutes to 6 hours, or 30 minutes to 2 hours.
  • the permanent resist according to this embodiment can be used as an interlayer insulating layer or a surface protective layer of a semiconductor device.
  • a semiconductor element provided with an interlayer insulating layer or a surface protective layer formed from a cured film of the above photosensitive resin composition, and an electronic device including the semiconductor element can be produced.
  • the semiconductor element may be, for example, a memory, a package, or the like having a multilayer wiring structure, a rewiring structure, or the like.
  • Examples of electronic devices include mobile phones, smart phones, tablet terminals, personal computers, and hard disk suspensions.
  • B-1 2-methyl-[4-(methylthio)phenyl]-2-morpholino-1-propane (manufactured by IGM Resins BV, trade name “Omirad 907”)
  • B-2 2,4-diethylthioxanthone (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., trade name “DETX-S”)
  • B-3 4,4'-bis(diethylamino)benzophenone (EAB)
  • EAB 4,4'-bis(diethylamino)benzophenone
  • C-1 Dipentaerythritol hexaacrylate (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., trade name “DPHA”)
  • C-2 Dicyclopentanyl acrylate (manufactured by Showa Denko Materials Co., Ltd., trade name "FA-513AS”)
  • C-3 Dicyclopentanyl methacrylate (manufactured by Showa Denko Materials Co., Ltd
  • Photosensitive resin composition Each component was blended in the amounts shown in Table 1 (parts by mass, equivalent to solid content) and kneaded in a three-roll mill. After that, carbitol acetate was added so that the solid content concentration was 60% by mass to prepare a photosensitive resin composition.
  • a polyethylene terephthalate film (manufactured by Teijin Limited, trade name “G2-16”) having a thickness of 16 ⁇ m was prepared as a support film.
  • the photosensitive resin composition was coated on the support film so that the thickness after drying was 10 ⁇ m, and dried at 75° C. for 30 minutes using a hot air convection dryer to form a photosensitive layer.
  • a polyethylene film (manufactured by Tamapoly Co., Ltd., trade name "NF-15”) was laminated as a protective film on the surface of the photosensitive layer opposite to the side in contact with the support film to obtain a photosensitive element. .
  • a 0.6 mm-thick copper-clad laminate (manufactured by Showa Denko Materials Co., Ltd., trade name “MCL-E-67”) was prepared. While peeling and removing the protective film from the photosensitive element, a press-type vacuum laminator (manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd., trade name "MVLP-500”) is used to press on the copper-clad laminate at a pressure of 0.4 MPa.
  • the photosensitive layer was laminated at a hot plate temperature of 80° C., vacuuming time of 25 seconds, lamination pressing time of 25 seconds, and atmospheric pressure of 4 kPa or less to obtain a laminate.
  • a test piece having The test piece was observed using a metallurgical microscope and evaluated according to the following criteria.
  • Photosensitive element 10
  • Support film 20
  • Photosensitive layer 30
  • Protective film

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Structural Engineering (AREA)
  • Architecture (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Polymerisation Methods In General (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Graft Or Block Polymers (AREA)

Abstract

本開示は、（Ａ）酸変性ビニル基含有樹脂、（Ｂ）光重合開始剤、及び（Ｃ）光重合性化合物を含有し、前記光重合性化合物が、エチレン性不飽和基を４以上有する光重合性化合物と、エチレン性不飽和基を３以下有する光重合性化合物と、を含む、永久レジスト用の感光性樹脂組成物に関する。

Description

感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法
　本開示は、永久レジスト用の感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法に関する。
　各種電子機器の高性能化に伴い半導体の高集積化が進行している。それに伴い、プリント配線板、半導体パッケージ基板等に形成される永久レジスト（ソルダーレジスト）には、様々な性能が要求されている。
　永久レジストの形成に用いる感光性樹脂組成物として、例えば、酸変性ビニル基含有エポキシ樹脂、エラストマー、光重合開始剤、希釈剤、及び硬化剤を必須成分とする光硬化性樹脂組成物が知られている（特許文献１参照）。
特開平１１－２４０９３０号公報
　半導体素子の高集積化による半導体パッケージ基板の配線の狭ピッチ化に伴い、永久レジストの形成に用いられる感光性樹脂組成物には、より高い解像性を有することが求められている。
　本開示は、優れた解像性を有する感光性樹脂組成物、該感光性樹脂組成物を用いた感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法を提供することを目的とする。
　本開示の一側面は、（Ａ）酸変性ビニル基含有樹脂、（Ｂ）光重合開始剤、及び（Ｃ）光重合性化合物を含有し、前記光重合性化合物が、エチレン性不飽和基を４以上有する光重合性化合物と、エチレン性不飽和基を３以下有する光重合性化合物と、を含む、永久レジスト用の感光性樹脂組成物に関する。
　本開示の他の一側面は、支持フィルムと、支持フィルム上に形成された感光層とを備え、感光層が、上述の感光性樹脂組成物を含む、感光性エレメントに関する。
　本開示の他の一側面は、上述の感光性樹脂組成物の硬化物を含む永久レジストを具備する、プリント配線板に関する。
　本開示の他の一側面は、基板上に、上述の感光性樹脂組成物又は感光性エレメントを用いて感光層を形成する工程と、感光層を露光及び現像してレジストパターンを形成する工程と、レジストパターンを硬化して永久レジストを形成する工程と、を備える、プリント配線板の製造方法に関する。
　本開示によれば、優れた解像性を有する感光性樹脂組成物、該感光性樹脂組成物を用いた感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法を提供することができる。
本実施形態に係る感光性エレメントを模式的に示す断面図である。
　以下、本開示について詳細に説明する。本明細書において、「工程」との語は、独立した工程だけではなく、その工程の所期の作用が達成される限り、他の工程と明確に区別できない工程も含む。「層」との語は、平面図として観察したときに、全面に形成されている形状の構造に加え、一部に形成されている形状の構造も包含される。「～」を用いて示された数値範囲は、「～」の前後に記載される数値をそれぞれ最小値及び最大値として含む範囲を示す。本明細書中に段階的に記載されている数値範囲において、ある段階の数値範囲の上限値又は下限値は、他の段階の数値範囲の上限値又は下限値に置き換えてもよい。本明細書中に記載されている数値範囲において、その数値範囲の上限値又は下限値は、実施例に示されている値に置き換えてもよい。
　本明細書において組成物中の各成分の量について言及する場合、組成物中に各成分に該当する物質が複数存在する場合には、特に断らない限り、組成物中に存在する当該複数の物質の合計量を意味する。
　本明細書において、「（メタ）アクリレート」とは、「アクリレート」及びそれに対応する「メタクリレート」の少なくとも一方を意味し、（メタ）アクリル酸、（メタ）アクリロイル等の他の類似表現についても同様である。本明細書において、「固形分」とは、感光性樹脂組成物に含まれる揮発する物質（水、溶剤等）を除いた不揮発分を指し、室温（２５℃付近）で液状、水飴状、又はワックス状の成分も含む。
［感光性樹脂組成物］
　本実施形態に係る永久レジスト用の感光性樹脂組成物は、（Ａ）酸変性ビニル基含有樹脂、（Ｂ）光重合開始剤、及び（Ｃ）光重合性化合物を含有し、前記光重合性化合物が、エチレン性不飽和基を４以上有する光重合性化合物と、エチレン性不飽和基を３以下有する光重合性化合物と、を含む。本実施形態に係る感光性樹脂組成物は、ネガ型の感光性樹脂組成物であり、感光性樹脂組成物の硬化膜は、永久レジストとして用いることができる。以下、本実施形態の感光性樹脂組成物で用いられる各成分についてより詳細に説明する。
（（Ａ）成分：酸変性ビニル基含有樹脂）
　本実施形態に係る感光性樹脂組成物は、（Ａ）成分として酸変性ビニル基含有樹脂を含有する。酸変性ビニル基含有樹脂は、光重合性のエチレン性不飽和結合であるビニル基と、アルカリ可溶性の酸性基を有していれば特に限定されない。酸変性ビニル基含有樹脂が有する酸性基としては、例えば、カルボキシ基、スルホ基、及びフェノール性水酸基が挙げられる。これらの中でも、解像性の観点から、カルボキシ基が好ましい。
　酸変性ビニル基含有樹脂としては、例えば、酸変性エポキシ（メタ）アクリレートが挙げられる。酸変性エポキシ（メタ）アクリレートは、エポキシ樹脂とビニル基を有する有機酸との反応物であるエポキシ（メタ）アクリレートを酸変性した樹脂である。酸変性エポキシ（メタ）アクリレートとして、例えば、エポキシ樹脂（ａ）とビニル基含有モノカルボン酸（ｂ）とを反応させて得られるエステル化物に、飽和又は不飽和多塩基酸無水物（ｃ）を付加した付加反応物を用いることができる。
　エポキシ樹脂（ａ）としては、例えば、ビスフェノールノボラック型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂、ビスフェノールＦ型エポキシ樹脂、トリフェノールメタン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、及びジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂が挙げられる。
　ビニル基含有モノカルボン酸（ｂ）としては、例えば、アクリル酸、アクリル酸の二量体、メタクリル酸、β－フルフリルアクリル酸、β－スチリルアクリル酸、桂皮酸、クロトン酸、α－シアノ桂皮酸等のアクリル酸誘導体、水酸基含有（メタ）アクリレートと二塩基酸無水物との反応生成物である半エステル化合物、ビニル基含有モノグリシジルエーテル又はビニル基含有モノグリシジルエステルと二塩基酸無水物との反応生成物である半エステル化合物が挙げられる。
　水酸基含有（メタ）アクリレート、ビニル基含有モノグリシジルエーテル及びビニル基含有モノグリシジルエステルとしては、例えば、ヒドロキシエチルアクリレート、ヒドロキシエチルメタクリレート、ヒドロキシプロピルアクリレート、ヒドロキシプロピルメタクリレート、ヒドロキシブチルアクリレート、ヒドロキシブチルメタクリレート、ポリエチレングリコールモノアクリレート、ポリエチレングリコールモノメタクリレート、トリメチロールプロパンジアクリレート、トリメチロールプロパンジメタクリレート、ペンタエリスルトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールトリメタクリレート、ジペンタエリスリトールペンタアクリレート、ペンタエリスリトールペンタメタクリレート、グリシジルアクリレート、及びグリシジルメタクリレートが挙げられる。
　二塩基酸無水物としては、例えば、無水コハク酸、無水マレイン酸、テトラヒドロ無水フタル酸、無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、エチルテトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、エチルヘキサヒドロ無水フタル酸、及び無水イタコン酸が挙げられる。
　飽和又は不飽和多塩基酸無水物（ｃ）としては、例えば、無水コハク酸、無水マレイン酸、テトラヒドロ無水フタル酸、無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、エチルテトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、エチルヘキサヒドロ無水フタル酸、及び無水イタコン酸が挙げられる。これらの中でも、解像性に優れたパターンを形成できる感光性樹脂組成物を得る観点から、多塩基酸無水物としてテトラヒドロ無水フタル酸を用いてもよい。
　（Ａ）成分の酸価は、特に限定されない。（Ａ）成分の酸価は、未露光部のアルカリ水溶液への溶解性を向上する観点から、３０ｍｇＫＯＨ／ｇ以上、４０ｍｇＫＯＨ／ｇ以上、又は５０ｍｇＫＯＨ／ｇ以上であってもよい。（Ａ）成分の酸価は、硬化膜の電気特性を向上する観点から、１５０ｍｇＫＯＨ／ｇ以下、１２０ｍｇＫＯＨ／ｇ以下、又は１００ｍｇＫＯＨ／ｇ以下であってもよい。
　（Ａ）成分の重量平均分子量（Ｍｗ）は、特に限定されない。（Ａ）成分のＭｗは、硬化膜の密着性を向上する観点から、３０００以上、４０００以上、又は５０００以上であってもよい。（Ａ）成分のＭｗは、感光層の解像性を向上する観点から、３００００以下、２５０００以下、又は１８０００以下であってもよい。Ｍｗは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィ（ＧＰＣ）法により測定することができる。
　感光性樹脂組成物中における（Ａ）成分の含有量は、永久レジストの耐熱性、電気特性及び耐薬品性を向上させる観点から、感光性樹脂組成物の固形分全量を基準として、２０～７０質量％、２５～６０質量％、又は３０～５０質量％であってもよい。
（（Ｂ）成分：光重合開始剤）
　（Ｂ）成分である光重合開始剤としては、（Ａ）成分を重合させることができれば、特に限定されない。（Ｂ）成分は、１種を単独で又は２種以上を組み合わせて用いてよい。
　（Ｂ）成分としては、例えば、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル等のベンゾイン化合物；アセトフェノン、２，２－ジメトキシ－２－フェニルアセトフェノン、２，２－ジエトキシ－２－フェニルアセトフェノン、１，１－ジクロロアセトフェノン、１－ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、２－ベンジル－２－ジメチルアミノ－１－（４－モルホリノフェニル）－ブタノン－１、２－メチル－［４－（メチルチオ）フェニル］－２－モルフォリノ－１－プロパン、Ｎ，Ｎ－ジメチルアミノアセトフェノン等のアセトフェノン化合物；２－メチルアントラキノン、２－エチルアントラキノン、２－ｔｅｒｔ－ブチルアントラキノン、１－クロロアントラキノン、２－アミルアントラキノン、２－アミノアントラキノン等のアントラキノン化合物；２，４－ジメチルチオキサントン、２，４－ジエチルチオキサントン、２－クロロチオキサントン、２，４－ジイソプロピルチオキサントン等のチオキサントン化合物；アセトフェノンジメチルケタール、ベンジルジメチルケタール等のケタール化合物；ベンゾフェノン、メチルベンゾフェノン、４，４’－ジクロロベンゾフェノン、４，４’－ビス（ジエチルアミノ）ベンゾフェノン、ミヒラーズケトン、４－ベンゾイル－４’－メチルジフェニルサルファイド等のベンゾフェノン化合物；２－（ｏ－クロロフェニル）－４，５－ジフェニルイミダゾール二量体、２－（ｏ－クロロフェニル）－４，５－ジ（ｍ－メトキシフェニル）イミダゾール二量体、２－（ｏ－フルオロフェニル）－４，５－ジフェニルイミダゾール二量体、２－（ｏ－メトキシフェニル）－４，５－ジフェニルイミダゾール二量体、２－（ｐ－メトキシフェニル）－４，５－ジフェニルイミダゾール二量体、２，４－ジ（ｐ－メトキシフェニル）－５－フェニルイミダゾール二量体、２－（２，４－ジメトキシフェニル）－４，５－ジフェニルイミダゾール二量体等のイミダゾール化合物；９－フェニルアクリジン、１，７－ビス（９，９’－アクリジニル）ヘプタン等のアクリジン化合物；２，４，６－トリメチルベンゾイルジフェニルホスフィンオキサイド等のアシルフォスフィンオキサイド化合物；１，２－オクタンジオン－１－［４－（フェニルチオ）フェニル］－２－（Ｏ－ベンゾイルオキシム）、１－［９－エチル－６－（２－メチルベンゾイル）－９Ｈ－カルバゾール－３－イル］エタノン１－（Ｏ－アセチルオキシム）、１－フェニル－１，２－プロパンジオン－２－［Ｏ－（エトキシカルボニル）オキシム］等のオキシムエステル化合物；及びＮ，Ｎ－ジメチルアミノ安息香酸エチルエステル、Ｎ，Ｎ－ジメチルアミノ安息香酸イソアミルエステル、ペンチル－４－ジメチルアミノベンゾエート、トリエチルアミン、トリエタノールアミン等の三級アミン化合物が挙げられる。
　感光性樹脂組成物中における（Ｂ）成分の含有量は、特に限定されないが、感光性樹脂組成物の固形分全量を基準として、０．２～１５質量％、０．５～１０質量％、又は１～５質量％であってもよい。
（（Ｃ）成分：光重合性化合物）
　本実施形態に係る感光性樹脂組成物は、（Ｃ）成分として、エチレン性不飽和基を４以上有する光重合性化合物と、エチレン性不飽和基を３以下有する光重合性化合物と、を併用することで、感光性樹脂組成物の解像性を向上することができる。エチレン性不飽和基は、光重合性を有する基であれば特に限定されない。（Ｃ）成分は、酸性基を有しない光重合性化合物である。
　（Ｃ）成分がエチレン性不飽和基を４以上有する光重合性化合物を含むことで、感光性樹脂組成物の光硬化による架橋密度を上げ、永久レジストの耐熱性及び電気絶縁性を向上することができる。エチレン性不飽和基を４以上有する光重合性化合物は、エチレン性不飽和基を４～１０、４～８、又は５～７有してもよい。
　エチレン性不飽和基を４以上有する光重合性化合物として、例えば、ジペンタエリスリトールヘキサ（メタ）アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ（メタ）アクリレート、及びテトラメチロールメタンテトラ（メタ）アクリレートが挙げられる。（Ｃ）成分は、感光性樹脂組成物の感度を向上する観点から、ジペンタエリスリトールヘキサ（メタ）アクリレートを含むことが好ましい。
　（Ｃ）成分がエチレン性不飽和基を３以下有する光重合性化合物を含むことで、感光性樹脂組成物の解像性を高めることができる。エチレン性不飽和基を３以下有する光重合性化合物としては、エチレン性不飽和基を１つ有する光重合性化合物、エチレン性不飽和基を２つ有する光重合性化合物、及びエチレン性不飽和基を３つ有する光重合性化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種を用いることができる。（Ｃ）成分は、感光性樹脂組成物の解像性をより高める観点から、エチレン性不飽和基を１つ有する光重合性化合物を含むことが好ましい。（Ｃ）成分は、永久レジストの膜強度を高める観点からは、エチレン性不飽和基を２つ又は３つ有する光重合性化合物を含むことが好ましい。
　エチレン性不飽和基を３以下有する光重合性化合物は、解像性をより向上する観点から、ジシクロペンタジエン骨格を有する光重合性化合物、イソシアネート基を有する光重合性化合物、ブロックイソシアネート基を有する光重合性化合物、及びオキシアルキレン基を有する光重合性化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種であってもよい。
　エチレン性不飽和基を１つ有する光重合性化合物としては、例えば、ジシクロペンタニルメタクリレート、ジシクロペンタニルアクリレート等のジシクロペンタジエン骨格を有する（メタ）アクリレート；２－イソシアナトエチルメタクリレート、２－イソシアナトエチルアクリレート、２－（２－メタクリロイルオキシエチルオキシ）エチルイソシアネート、２－（２－アクリロイルオキシエチルオキシ）エチルイソシアネート等のイソシアネート基を有する（メタ）アクリレート；２－［０－（１’－メチルプロピリデンアミノ）カルボキシアミノ］エチルメタクリラート、２－［（３，５－ジメチルピラゾリル）カルボニルアミノ］エチルメタクリレート等のブロックイソシアネート基を有する（メタ）アクリレートが挙げられる。
　エチレン性不飽和基を２つ有する光重合性化合物としては、例えば、エチレングリコールジ（メタ）アクリレート、プロピレングリコールジ（メタ）アクリレート、テトラエチレングリコールジ（メタ）アクリレート、１，６－ヘキサンジオールジ（メタ）アクリレート、１，９－ノナンジオールジ（メタ）アクリレート、１，１０デカンジオールジ（メタ）アクリレート、ネオペンチルグリコールジ（メタ）アクリレート等のアルキレンジ（メタ）アクリレート；ポリエチレングリコールジ（メタ）アクリレート、ポリプロピレングリコールジ（メタ）アクリレート、ポリエチレン・ポリプロピレングリコールジ（メタ）アクリレート等のポリアルキレングリコールジ（メタ）アクリレート；及びＥＯ変性ビスフェノールＡジ（メタ）アクリレート、ＰＯ変性ビスフェノールＡジ（メタ）アクリレート等のアルキレンオキサイド変性ジ（メタ）アクリレートが挙げられる。「ＥＯ変性」とはエチレンオキサイド（ＥＯ）基のブロック構造を有するものであることを意味し、「ＰＯ変性」とはプロピレンオキサイド（ＰＯ）基のブロック構造を有するものであることを意味する。
　エチレン性不飽和基を３つ有する光重合性化合物としては、例えば、トリメチロールプロパントリ（メタ）アクリレート、ジペンタエリスリトールトリ（メタ）アクリレート、テトラメチロールメタントリ（メタ）アクリレート、ＥＯ変性トリメチロールプロパントリ（メタ）アクリレート、ＰＯ変性トリメチロールプロパントリ（メタ）アクリレート、及びＥＯ，ＰＯ変性トリメチロールプロパントリ（メタ）アクリレートが挙げられる。
　（Ｃ）成分の含有量は、感光性樹脂組成物の固形分全量基準として、２～３０質量％、３～２０質量％、又は３～１５質量％であってもよい。（Ｃ）成分の含有量が２質量％以上であると、感光性樹脂組成物の光感度を向上し易くなり、３０質量％以下であると、永久レジストの耐熱性を向上し易くなる。
　エチレン性不飽和基を３以下有する光重合性化合物の含有量は、感光性樹脂組成物の解像性をより高める観点から、感光性樹脂組成物の固形分全量を基準として１質量％以上、２質量％以上、又は３質量％以上であってもよい。エチレン性不飽和基を３以下有する光重合性化合物の含有量は、永久レジストの膜強度をより向上する観点から、感光性樹脂組成物の固形分全量を基準として２０質量％以下、１５質量％以下、又は１０質量％以下であってもよい。
（（Ｄ）成分：無機フィラー）
　本実施形態に係る感光性樹脂組成物は、（Ｄ）成分として無機フィラーを更に含有してもよい。（Ｄ）成分を含有することで、永久マスクレジストの接着強度、信頼性等を向上することができる。（Ｄ）成分は、１種を単独で又は２種以上を組み合わせて用いてよい。
　無機フィラーとしては、例えば、シリカ、アルミナ、チタニア、酸化タンタル、ジルコニア、窒化ケイ素、チタン酸バリウム、炭酸バリウム、炭酸マグネシウム、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、チタン酸鉛、チタン酸ジルコン酸鉛、チタン酸ジルコン酸ランタン鉛、酸化ガリウム、スピネル、ムライト、コーディエライト、タルク、チタン酸アルミニウム、イットリア含有ジルコニア、ケイ酸バリウム、窒化ホウ素、炭酸カルシウム、硫酸バリウム、硫酸カルシウム、酸化亜鉛、チタン酸マグネシウム、ハイドロタルサイト、雲母、焼成カオリン、及びカーボンが挙げられる。
　（Ｄ）成分は、永久レジストの耐熱性を向上する観点から、シリカを含んでもよく、永久レジストの耐熱性及び接着強度を向上する観点から、硫酸バリウムを含んでもよい。無機フィラーの分散性を向上する観点から、予めアルミナ又は有機シラン化合物で表面処理された無機フィラーを用いてもよい。
　無機フィラーの平均粒径は、０．０１μｍ以上、０．１μｍ以上、０．２μｍ以上、又は０．３μｍ以上であってもよく、５．０μｍ以下、３．０μｍ以下、２．０μｍ以下、又は１．５μｍ以下であってもよい。
　（Ｄ）成分の含有量は、感光性樹脂組成物の固形分全量を基準として５～７０質量％、６～６０質量％、又は１０～５０質量％であってもよい。（Ｄ）成分の含有量が上記範囲内であると、低熱膨張率、耐熱性、膜強度等をより向上させることができる。
（（Ｅ）成分：熱硬化性樹脂）
　本実施形態に係る感光性樹脂組成物は、（Ｅ）成分として熱硬化性樹脂を更に含有してもよい。（Ｅ）成分を用いることで、感光性樹脂組成物から形成される硬化膜（永久レジスト）の耐熱性、接着性、耐薬品性等を向上させることができる。（Ｅ）成分は、１種を単独で又は２種以上を組み合わせて用いてよい。
　（Ｅ）成分としては、例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、不飽和イミド樹脂、シアネート樹脂、イソシアネート樹脂、ベンゾオキサジン樹脂、オキセタン樹脂、アミノ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、アリル樹脂、ジシクロペンタジエン樹脂、シリコーン樹脂、トリアジン樹脂、及びメラミン樹脂が挙げられる。
　エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂、ビスフェノールＦ型エポキシ樹脂、水添ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂、臭素化ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂、ビスフェノールＳ型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ヒダントイン型エポキシ樹脂、トリグリシジルイソシアヌレート、及びビキシレノール型エポキシ樹脂が挙げられる。
　（Ｅ）成分の含有量は、感光性樹脂組成物の固形分全量を基準として、２～３０質量％、５～２５質量％、又は８～２０質量％であってもよい。（Ｅ）成分の含有量を、上記範囲内であると、良好な現像性を維持しつつ、形成される硬化膜の耐熱性をより向上することができる。
（（Ｆ）成分：顔料）
　本実施形態の感光性樹脂組成物は、製造装置の識別性又は外観を向上させる観点から、（Ｆ）成分として顔料を更に含有してもよい。（Ｆ）成分としては、配線を隠蔽する等の際に所望の色を発色する着色剤を用いることができる。（Ｆ）成分としては、例えば、フタロシアニンブルー、フタロシアニングリーン、アイオディングリーン、ジアゾイエロー、クリスタルバイオレット、酸化チタン、カーボンブラック、及びナフタレンブラックが挙げられる。
　（Ｆ）成分の含有量は、配線をより隠蔽させる観点から、感光性樹脂組成物中の固形分全量を基準として、０．１～１０質量％、０．５～８質量％、又は１～５質量％であってもよい。
（（Ｇ）成分：エラストマー）
　本実施形態に係る感光性樹脂組成物は、（Ｇ）成分としてエラストマーを更に含有してもよい。（Ｇ）成分を含有することにより、（Ａ）成分の硬化収縮による樹脂内部の歪み（内部応力）に起因する可とう性及び接着強度の低下を抑えることができる。
　（Ｇ）成分としては、例えば、スチレン系エラストマー、オレフィン系エラストマー、ウレタン系エラストマー、ポリエステル系エラストマー、ポリアミド系エラストマー、アクリル系エラストマー、及びシリコーン系エラストマーが挙げられる。これらのエラストマーは、耐熱性及び強度に寄与するハードセグメント成分と、柔軟性及び強靭性に寄与するソフトセグメント成分から構成されている。
　スチレン系エラストマーとしては、例えば、スチレン－ブタジエン－スチレンブロックコポリマー、スチレン－イソプレン－スチレンブロックコポリマー、スチレン－エチレン－ブチレン－スチレンブロックコポリマー、及びスチレン－エチレン－プロピレン－スチレンブロックコポリマーが挙げられる。スチレン系エラストマーを構成する成分としては、スチレンの他に、α－メチルスチレン、３－メチルスチレン、４－プロピルスチレン、４－シクロヘキシルスチレン等のスチレン誘導体を用いることができる。
　オレフィン系エラストマーとしては、例えば、エチレン－プロピレン共重合体、エチレン－α－オレフィン共重合体、エチレン－α－オレフィン－非共役ジエン共重合体、プロピレン－α－オレフィン共重合体、ブテン－α－オレフィン共重合体、エチレン－プロピレン－ジエン共重合体、ジシクロペンタジエン、１，４－ヘキサジエン、シクロオクタジエン、メチレンノルボルネン、エチリデンノルボルネン、ブタジエン、イソプレン等の非共役ジエンとα－オレフィンとの共重合体、及びカルボン酸変性ブタジエン－アクリロニトリル共重合体が挙げられる。
　ウレタン系エラストマーとして、低分子（短鎖）ジオール及びジイソシアネートからなるハードセグメントと、高分子（長鎖）ジオール及びジイソシアネートからなるソフトセグメントとから構成される化合物を用いることができる。
　短鎖ジオールとしては、例えば、エチレングリコール、プロピレングリコール、１，４－ブタンジオール、及びビスフェノールＡが挙げられる。短鎖ジオールの数平均分子量は、４８～５００が好ましい。
　長鎖ジオールとしては、例えば、ポリプロピレングリコール、ポリテトラメチレンオキサイド、ポリ（１，４－ブチレンアジペート）、ポリ（エチレン－１，４－ブチレンアジペート）、ポリカプロラクトン、ポリ（１，６－ヘキシレンカーボネート）、及びポリ（１，６－ヘキシレン－ネオペンチレンアジペート）が挙げられる。長鎖ジオールの数平均分子量は、５００～１００００が好ましい。
　ポリエステル系エラストマーとしては、ジカルボン酸又はその誘導体と、ジオール化合物又はその誘導体とを重縮合した化合物を用いることができる。
　ジカルボン酸としては、例えば、テレフタル酸、イソフタル酸、ナフタレンジカルボン酸等の芳香族ジカルボン酸；アジピン酸、セバシン酸、ドデカンジカルボン酸等の炭素数２～２０の脂肪族ジカルボン酸；及びシクロヘキサンジカルボン酸等の脂環族ジカルボン酸が挙げられる。ジカルボン酸は１種を単独で又は２種以上を組み合わせて用いることができる。
　ジオール化合物としては、例えば、エチレングリコール、１，３－プロパンジオール、１，４－ブタンジオール、１，６－ヘキサンジオール、１，１０－デカンジオール等の脂肪族ジオール；１，４－シクロヘキサンジオール等の脂環族ジオール；及びビスフェノールＡ、ビス－（４－ヒドロキシフェニル）メタン、ビス－（４－ヒドロキシ－３－メチルフェニル）プロパン、レゾルシン等の芳香族ジオールが挙げられる。
　ポリエステル系エラストマーとして、芳香族ポリエステル（例えば、ポリブチレンテレフタレート）をハードセグメント成分に、脂肪族ポリエステル（例えば、ポリテトラメチレングリコール）をソフトセグメント成分にしたマルチブロック共重合体を用いることができる。ハードセグメント及びソフトセグメントの種類、比率、分子量の違いによりさまざまなグレードのポリエステル系エラストマーがある。
　ポリアミド系エラストマーは、ハードセグメントにポリアミドを、ソフトセグメントにポリエーテル又はポリエステルを用いた、ポリエーテルブロックアミド型とポリエーテルエステルブロックアミド型との２種類に大別される。ポリアミドとしては、例えば、ポリアミド－６、ポリアミド－１１、及びポリアミド－１２が挙げられる。ポリエーテルとしては、例えば、ポリオキシエチレングリコール、ポリオキシプロピレングリコール、及びポリテトラメチレングリコールが挙げられる。
　アクリル系エラストマーは、（メタ）アクリル酸エステルに基づく構成単位を主成分として含む化合物を用いることができる。（メタ）アクリル酸エステルとしては、例えば、メチル（メタ）アクリレート、エチル（メタ）アクリレート、ブチル（メタ）アクリレート、メトキシエチル（メタ）アクリレート、及びエトキシエチル（メタ）アクリレートが挙げられる。アクリル系エラストマーは、（メタ）アクリル酸エステルと、アクリロニトリルとを共重合した化合物であってもよく、架橋点となる官能基を有するモノマーを更に共重合した化合物であってもよい。官能基を有するモノマーとしては、例えば、グリシジルメタクリレート及びアリルグリシジルエーテルが挙げられる。
　アクリル系エラストマーとしては、例えば、アクリロニトリル－ブチルアクリレート共重合体、アクリロニトリル－ブチルアクリレート－エチルアクリレート共重合体、メチルメタクリレート－ブチルアクリレート－メタクリル酸共重合体、及びアクリロニトリル－ブチルアクリレート－グリシジルメタクリレート共重合体が挙げられる。アクリル系エラストマーとして、アクリロニトリル－ブチルアクリレート－グリシジルメタクリレート共重合体又はメチルメタクリレート－ブチルアクリレート－メタクリル酸共重合体が好ましく、メチルメタクリレート－ブチルアクリレート－メタクリル酸共重合体がより好ましい。
　シリコーン系エラストマーは、オルガノポリシロキサンを主成分とする化合物である。オルガノポリシロキサンとしては、例えば、ポリジメチルシロキサン、ポリメチルフェニルシロキサン、及びポリジフェニルシロキサンが挙げられる。シリコーン系エラストマーは、オルガノポリシロキサンの一部をビニル基、アルコキシ基等で変性した化合物であってもよい。
　（Ｇ）成分は、硬化膜の密着性を向上する観点から、カルボン酸変性ブタジエン－アクリロニトリル共重合体又は水酸基を有するポリエステル系エラストマーを含んでもよい。
　（Ｇ）成分の含有量は、（Ａ）成分１００質量部に対して、２～５０質量部、４～４５質量部、６～４０質量部、又は１０～３５質量部であってもよい。（Ｇ）成分の含有量が上記範囲内であると、硬化膜の高温領域での弾性率が低くなり、かつ未露光部が現像液でより溶出し易くなる。
（その他の成分）
　本実施形態に係る感光性樹脂組成物には、必要に応じて、各種添加剤を更に含有してもよい。添加剤としては、例えば、ハイドロキノン、メチルハイドロキノン、ハイドロキノンモノメチルエーテル、カテコール、ピロガロール等の重合禁止剤；ベントン、モンモリロナイト等の増粘剤；シリコーン系、フッ素系、ビニル樹脂系の消泡剤；シランカップリング剤；及び臭素化エポキシ化合物、酸変性臭素化エポキシ化合物、アンチモン化合物、ホスフェート化合物、芳香族縮合リン酸エステル、含ハロゲン縮合リン酸エステル等の難燃剤が挙げられる。
（溶剤）
　本実施形態に係る感光性樹脂組成物は、各成分を溶解・分散させるため溶剤を含有することにより、基板上への塗布を容易にし、均一な厚さの塗膜を形成できる。
　溶剤としては、例えば、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン；トルエン、キシレン、テトラメチルベンゼン等の芳香族炭化水素；メチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、メチルカルビトール、ブチルカルビトール、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、ジプロピレングリコールジエチルエーテル、トリエチレングリコールモノエチルエーテル等のグリコールエーテル；酢酸エチル、酢酸ブチル、ブチルセロソルブアセテート、カルビトールアセテート等のエステル；オクタン、デカン等の脂肪族炭化水素；及び石油エーテル、石油ナフサ、水添石油ナフサ、ソルベントナフサ等の石油系溶剤が挙げられる。溶剤は１種を単独で又は２種以上を組み合わせて用いてよい。
　溶剤の配合量は、特に限定されないが、感光性樹脂組成物中の溶剤の割合が１０～５０質量％、２０～４０質量％、又は２５～３５質量％であってもよい。
　本実施形態の感光性樹脂組成物は、上述の各成分をロールミル、ビーズミル等で均一に混合することにより調製することができる。
［感光性エレメント］
　本実施形態に係る感光性エレメントは、支持フィルムと、上述した感光性樹脂組成物を含む感光層とを備える。図１は、本実施形態に係る感光性エレメントを模式的に示す断面図である。図１に示されるように、感光性エレメント１は、支持フィルム１０と、支持フィルム１０上に形成された感光層２０とを備えている。
　感光性エレメント１は、本実施形態に係る感光性樹脂組成物を、リバースロールコート、グラビアロールコート、コンマコート、カーテンコート等の公知の方法で支持フィルム１０上に塗布した後、塗膜を乾燥して感光層２０を形成することで作製することができる。
　支持フィルムとしては、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート等のポリエステルフィルム、ポリプロピレン、ポリエチレン等のポリオレフィンフィルムが挙げられる。支持フィルムの厚さは、例えば、５～１００μｍであってもよい。感光層の厚さは、例えば、５～５０μｍ、５～４０μｍ、又は１０～３０μｍであってもよい。支持フィルムの表面粗さは特に限定されないが、算術平均粗さ（Ｒａ）が１０００ｎｍ以下、５００ｎｍ以下、又は２５０ｎｍ以下であってもよい。
　塗膜の乾燥は、熱風乾燥、遠赤外線又は近赤外線を用いた乾燥を用いることができる。乾燥温度は、６０～１２０℃、７０～１１０℃、又は８０～１００℃であってもよい。乾燥時間は、１～６０分、２～３０分、又は５～２０分であってもよい。
　感光層２０上には、感光層２０を被覆する保護フィルム３０を更に備えていてもよい。感光性エレメント１は、感光層２０の支持フィルム１０と接する面とは反対側の面に保護フィルム３０を積層することもできる。保護フィルム３０としては、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン等の重合体フィルムを用いてもよい。
［プリント配線板］
　本実施形態に係るプリント配線板は、本実施形態に係る感光性樹脂組成物の硬化物を含む永久レジストを具備する。
　本実施形態に係るプリント配線板の製造方法は、基板上に、上述の感光性樹脂組成物又は感光性エレメントを用いて感光層を形成する工程と、感光層を露光及び現像してレジストパターンを形成する工程と、レジストパターンを硬化して永久レジストを形成する工程と、を備える。以下、各工程の一例について説明する。
　まず、銅張積層板等の基板を準備し、該基板上に、感光層を形成する。感光層は、基板上に感光性樹脂組成物を塗布し乾燥することで形成してもよい。感光性樹脂組成物を塗布する方法としては、例えば、スクリーン印刷法、スプレー法、ロールコート法、カーテンコート法、及び静電塗装法が挙げられる。乾燥温度は、６０～１２０℃、７０～１１０℃、又は８０～１００℃であってもよい。乾燥時間は、１～７分間、１～６分間、又は２～５分間であってよい。
　感光層は、基板上に、感光性エレメントから保護フィルムを剥離して感光層をラミネートすることで形成してもよい。感光層をラミネートする方法としては、例えば、ラミネータを用いて熱ラミネートする方法が挙げられる。
　次に、感光層にネガフィルムを直接接触又は支持フィルムを介して接触させて、活性光線を照射して露光する。活性光線としては，例えば、電子線、紫外線、及びＸ線が挙げられ、好ましくは紫外線である。光源としては、低圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、ハロゲンランプ等を使用することができる。露光量は、１０～２０００ｍＪ／ｃｍ２、１００～１５００ｍＪ／ｃｍ２、又は３００～１０００ｍＪ／ｃｍ２であってもよい。
　露光後、未露光部を現像液で除去することにより、レジストパターンを形成する。現像方法としては、例えば、ディッピング法及びスプレー法が挙げられる。現像液としては、例えば、水酸化カリウム、水酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム、水酸化テトラメチルアンモニウム等のアルカリ水溶液が使用できる。
　レジストパターンに対して、後露光及び後加熱の少なくとも一方の処理することによって、パターン硬化膜（永久レジスト）を形成することができる。後露光の露光量は、１００～５０００ｍＪ／ｃｍ２、５００～２０００ｍＪ／ｃｍ２、又は７００～１５００Ｊ／ｃｍ２であってもよい。後加熱の加熱温度は、１００～２００℃、１２０～１８０℃、又は１３５～１６５℃であってもよい。後加熱の加熱時間は、５分～１２時間、１０分～６時間、又は３０分～２時間であってもよい。
　本実施形態に係る永久レジストは、半導体素子の層間絶縁層又は表面保護層として用いることができる。上述の感光性樹脂組成物の硬化膜から形成された層間絶縁層又は表面保護層を備える半導体素子、該半導体素子を含む電子デバイスを作製することができる。半導体素子は、例えば、多層配線構造、再配線構造等を有する、メモリ、パッケージ等であってよい。電子デバイスとしては、例えば、携帯電話、スマートフォン、タブレット型端末、パソコン、及びハードディスクサスペンションが挙げられる。本実施形態に係る感光性樹脂組成物により形成されるパターン硬化膜を備えることで、信頼性に優れた半導体素子及び電子デバイスを提供することができる。
　以下、実施例により本開示を更に詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
（合成例１）
　ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂（日本化薬株式会社製、商品名「ＸＤ－１０００」）２５０質量部、アクリル酸７０質量部、メチルハイドロキノン０．５質量部、及びカルビトールアセテート１２０質量部を９０℃で撹拌しながら混合した。混合液を６０℃に冷却し、トリフェニルホスフィン２質量部を加え、１００℃で溶液の酸価が１ｍｇＫＯＨ／ｇになるまで反応させた。反応液に、テトラヒドロ無水フタル酸９８質量部及びカルビトールアセテート８５０質量部を加え、８０℃に加熱で６時間反応させた。その後、反応液を室温まで冷却し、（Ａ）成分としての酸変性エポキシアクリレート樹脂（Ａ－１）の溶液（固形分濃度６５質量％）を得た。
（合成例２）
　ビスフェノールＦノボラック型エポキシ樹脂（ＤＩＣ株式会社製、商品名「ＥＸＡ－７３７６」）３５０質量部、アクリル酸７０質量部、メチルハイドロキノン０．５質量部、及びカルビトールアセテート１２０質量部を９０℃で撹拌しながら混合した。混合液を６０℃に冷却し、トリフェニルホスフィン２質量部を加え、１００℃で溶液の酸価が１ｍｇＫＯＨ／ｇ以下になるまで反応させた。反応液に、テトラヒドロ無水フタル酸９８質量部及びカルビトールアセテート８５０質量部を加え、８０℃で６時間反応させた。その後、反応液を室温まで冷却し、（Ａ）成分としての酸変性エポキシアクリレート（Ａ－２）の溶液（固形分濃度：７３質量％）を得た。
　（Ｂ）～（Ｇ）成分として、以下の材料を準備した。
Ｂ－１：２－メチル－［４－（メチルチオ）フェニル］－２－モルフォリノ－１－プロパン（ＩＧＭ　Ｒｅｓｉｎｓ　Ｂ．Ｖ．製、商品名「Ｏｍｉｒａｄ　９０７」）
Ｂ－２：２，４－ジエチルチオキサントン（日本化薬株式会社製、商品名「ＤＥＴＸ－Ｓ」）
Ｂ－３：４，４’－ビス（ジエチルアミノ）ベンゾフェノン（ＥＡＢ）
Ｃ－１：ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート（日本化薬株式会社製、商品名「ＤＰＨＡ」）
Ｃ－２：ジシクロペンタニルアクリレート（昭和電工マテリアルズ株式会社製、商品名「ＦＡ－５１３ＡＳ」）
Ｃ－３：ジシクロペンタニルメタクリレート（昭和電工マテリアルズ株式会社製、商品名「ＦＡ－５１３Ｍ」）
Ｃ－４：２－イソシアナトエチルメタクリレート（昭和電工株式会社製、商品名「カレンズ　ＭＯＩ」）
Ｃ－５：２－［０－（１’－メチルプロピリデンアミノ）カルボキシアミノ］エチルメタクリラート（昭和電工株式会社製、商品名「カレンズ　ＭＯＩ－ＢＭ」）
Ｃ－６：（ＰＯ）（ＥＯ）（ＰＯ）変性ジメタクリレート（昭和電工マテリアルズ株式会社製、商品名「ＦＡ－０２４Ｍ」）
Ｃ－７：トリメチロールプロパントリメタクリレート（新中村化学株式会社製、商品名「ＴＭＰＴ」）
Ｄ－１：シリカ（平均粒径０．５μｍ）
Ｅ－１：ビスフェノールノボラック型エポキシ樹脂（日本化薬株式会社製、商品名「ＲＥ－３０６」）
Ｅ－２：ビフェニル型エポキシ樹脂（三菱ケミカル株式会社製、商品名「ＹＸ４０００」）
Ｆ－１：フタロシアニングリーン（山陽色素株式会社製）
［感光性樹脂組成物］
　表１に示す配合量（質量部、固形分換算量）で各成分を配合し、３本ロールミルで混練した。その後、固形分濃度が６０質量％になるようにカルビトールアセテートを加えて、感光性樹脂組成物を調製した。
［感光性エレメント］
　支持フィルムとして、厚さ１６μｍのポリエチレンテレフタレートフィルム（帝人株式会社製、商品名「Ｇ２－１６」）を準備した。支持フィルム上に、感光性樹脂組成物を、乾燥後の厚さが１０μｍとなるように塗布し、熱風対流式乾燥機を用いて７５℃で３０分間乾燥し、感光層を形成した。次いで、感光層の支持フィルムと接している側とは反対側の表面上に、ポリエチレンフィルム（タマポリ株式会社製、商品名「ＮＦ－１５」）を保護フィルムとして貼り合わせ、感光性エレメントを得た。
（解像性）
　厚さ０．６ｍｍの銅張積層基板（昭和電工マテリアルズ株式会社製、商品名「ＭＣＬ－Ｅ－６７」）を準備した。感光性エレメントから保護フィルムを剥離除去しながら、銅張積層基板上に、プレス式真空ラミネータ（株式会社名機製作所製、商品名「ＭＶＬＰ－５００」）を用いて、圧着圧力０．４ＭＰａ、プレス熱板温度８０℃、真空引き時間２５秒間、ラミネートプレス時間２５秒間、気圧：４ｋＰａ以下で、感光層をラミネートして、積層体を得た。次いで、所定サイズのビアパターンを有するネガマスクを介して、ｉ線露光装置（ウシオ株式会社製、商品名「ＵＸ－２２４０ＳＭ―ＸＪ－０１」）を用いて、１００～１０００ｍＪ／ｃｍ２の範囲で５０ｍＪ／ｃｍ２ずつ変化させながら感光層を露光した。その後、１質量％の炭酸ナトリウム水溶液を用いて、３０℃での最短現像時間（感光層の未露光部が除去される最短時間）の２倍に相当する時間、１．７６５×１０５Ｐａの圧力でスプレー現像し、未露光部を溶解現像した。次に、紫外線露光装置を用いて、２０００ｍＪ／ｃｍ２の露光量で露光した後、１６０℃で１時間加熱して、銅張積層基板上に、所定サイズのビアパターンが設けられた硬化膜を有する試験片を作製した。上記試験片を、金属顕微鏡を用いて観察し、以下の基準で評価した。
Ａ：開口するマスク径の最小径が２０μｍ以下であった。
Ｂ：開口するマスク径の最小径が２０μｍを超え、２５μｍ以下であった。
Ｃ：開口するマスク径の最小径が２５μｍを超えた。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
　１…感光性エレメント、１０…支持フィルム、２０…感光層、３０…保護フィルム。

Claims (9)

  1. 　（Ａ）酸変性ビニル基含有樹脂、（Ｂ）光重合開始剤、及び（Ｃ）光重合性化合物を含有し、
    　前記光重合性化合物が、エチレン性不飽和基を４以上有する光重合性化合物と、エチレン性不飽和基を３以下有する光重合性化合物と、を含む、永久レジスト用の感光性樹脂組成物。
  2. 　前記エチレン性不飽和基を３以下有する光重合性化合物が、ジシクロペンタジエン骨格を有する、請求項１に記載の感光性樹脂組成物。
  3. 　前記エチレン性不飽和基を３以下有する光重合性化合物が、イソシアネート基、ブロックイソシアネート基、又はオキシアルキレン基を有する、請求項１に記載の感光性樹脂組成物。
  4. 　（Ｄ）無機フィラーを更に含有する、請求項１～３のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物。
  5. 　（Ｅ）熱硬化性樹脂を更に含有する、請求項１～４のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物。
  6. 　（Ｆ）顔料を更に含有する、請求項１～５のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物。
  7. 　支持フィルムと、前記支持フィルム上に形成された感光層とを備え、
    　前記感光層が、請求項１～６のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物を含む、感光性エレメント。
  8. 　請求項１～６のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物の硬化物を含む永久レジストを具備する、プリント配線板。
  9. 　基板上に、請求項１～６のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物又は請求項７に記載の感光性エレメントを用いて感光層を形成する工程と、
    　前記感光層を露光及び現像してレジストパターンを形成する工程と、
    　前記レジストパターンを硬化して永久レジストを形成する工程と、
    を備える、プリント配線板の製造方法。
PCT/JP2021/047629 2021-12-22 2021-12-22 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法 Ceased WO2023119503A1 (ja)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020247001948A KR102888849B1 (ko) 2021-12-22 2021-12-22 감광성 수지 조성물, 감광성 엘리먼트, 프린트 배선판, 및 프린트 배선판의 제조 방법
PCT/JP2021/047629 WO2023119503A1 (ja) 2021-12-22 2021-12-22 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法
US18/291,075 US20240337934A1 (en) 2021-12-22 2021-12-22 Photosensitive resin composition, photosensitive element, printed wiring board, and method for producing printed wiring board
CN202180100882.7A CN117693715A (zh) 2021-12-22 2021-12-22 感光性树脂组合物、感光性元件、印刷线路板及印刷线路板的制造方法
KR1020257038431A KR20250171388A (ko) 2021-12-22 2021-12-22 감광성 수지 조성물, 감광성 엘리먼트, 프린트 배선판, 및 프린트 배선판의 제조 방법
JP2023568892A JP7747063B2 (ja) 2021-12-22 2021-12-22 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法
TW111148689A TW202330649A (zh) 2021-12-22 2022-12-19 感光性樹脂組成物、感光性元件、印刷配線板、及印刷配線板之製造方法
JP2025148445A JP2025175070A (ja) 2021-12-22 2025-09-08 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2021/047629 WO2023119503A1 (ja) 2021-12-22 2021-12-22 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2023119503A1 true WO2023119503A1 (ja) 2023-06-29

Family

ID=86901615

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2021/047629 Ceased WO2023119503A1 (ja) 2021-12-22 2021-12-22 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20240337934A1 (ja)
JP (2) JP7747063B2 (ja)
KR (2) KR20250171388A (ja)
CN (1) CN117693715A (ja)
TW (1) TW202330649A (ja)
WO (1) WO2023119503A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2026075115A1 (ja) * 2024-10-02 2026-04-09 株式会社レゾナック 電子材料用組成物及び電子材料の製造方法
WO2026075114A1 (ja) * 2024-10-02 2026-04-09 株式会社レゾナック 電子材料用組成物及び電子材料の製造方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20240134277A1 (en) * 2021-12-22 2024-04-25 Resonac Corporation Photosensitive resin composition, photosensitive element, printed wiring board, and method for manufacturing printed wiring board

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019119818A (ja) * 2018-01-09 2019-07-22 味の素株式会社 樹脂組成物
JP2019183020A (ja) * 2018-04-11 2019-10-24 株式会社Adeka 重合性組成物、ブラックマトリクス用感光性組成物及びカラーフィルタ
JP2019207321A (ja) * 2018-05-29 2019-12-05 旭化成株式会社 感光性樹脂組成物、感光性樹脂組成物を用いた転写フィルム、樹脂パターン製造方法、及び硬化膜パターンの製造方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3247091B2 (ja) 1997-11-28 2002-01-15 日立化成工業株式会社 光硬化性樹脂組成物及びこれを用いた感光性エレメント
CN110058490A (zh) * 2011-08-10 2019-07-26 日立化成株式会社 感光性树脂组合物、感光性薄膜、永久抗蚀剂以及永久抗蚀剂的制造方法
JP6402710B2 (ja) * 2013-03-07 2018-10-10 日立化成株式会社 感光性樹脂組成物、それを用いたドライフィルム、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019119818A (ja) * 2018-01-09 2019-07-22 味の素株式会社 樹脂組成物
JP2019183020A (ja) * 2018-04-11 2019-10-24 株式会社Adeka 重合性組成物、ブラックマトリクス用感光性組成物及びカラーフィルタ
JP2019207321A (ja) * 2018-05-29 2019-12-05 旭化成株式会社 感光性樹脂組成物、感光性樹脂組成物を用いた転写フィルム、樹脂パターン製造方法、及び硬化膜パターンの製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2026075115A1 (ja) * 2024-10-02 2026-04-09 株式会社レゾナック 電子材料用組成物及び電子材料の製造方法
WO2026075114A1 (ja) * 2024-10-02 2026-04-09 株式会社レゾナック 電子材料用組成物及び電子材料の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW202330649A (zh) 2023-08-01
KR20250171388A (ko) 2025-12-08
CN117693715A (zh) 2024-03-12
JP2025175070A (ja) 2025-11-28
KR102888849B1 (ko) 2025-11-21
US20240337934A1 (en) 2024-10-10
JP7747063B2 (ja) 2025-10-01
KR20240024196A (ko) 2024-02-23
JPWO2023119503A1 (ja) 2023-06-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2025175070A (ja) 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法
JP2025124702A (ja) 感光性樹脂組成物、感光性樹脂フィルム、多層プリント配線板及び半導体パッケージ、並びに多層プリント配線板の製造方法
JP5387896B2 (ja) 感光性樹脂組成物及びこれを用いた感光性エレメント
JP2012255925A (ja) 感光性樹脂組成物、並びにこれを用いた感光性エレメント及び永久レジスト
JP7501710B2 (ja) 感光性樹脂組成物、感光性樹脂フィルム、多層プリント配線板及び半導体パッケージ、並びに多層プリント配線板の製造方法及び感光性樹脂組成物の製造方法
JP2025142001A (ja) 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法
WO2024166766A1 (ja) 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法
KR102893888B1 (ko) 감광성 수지 조성물, 감광성 엘리먼트, 프린트 배선판, 및 프린트 배선판의 제조 방법
JP7729386B2 (ja) 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法
JP2025098756A (ja) 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板及びその製造方法、並びに、酸変性ビニル基含有樹脂
WO2025262762A1 (ja) 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、及びプリント配線板
WO2023140289A1 (ja) 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法
WO2024209640A1 (ja) 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法
JP2025098759A (ja) 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板及びその製造方法
WO2025173477A1 (ja) 絶縁フィルム
WO2024135741A1 (ja) 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板、及びプリント配線板の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 21968940

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20247001948

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2023568892

Country of ref document: JP

Ref document number: 1020247001948

Country of ref document: KR

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 202180100882.7

Country of ref document: CN

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 21968940

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1