WO2022222293A1 - 存储设备测试方法、装置、电视机以及存储介质 - Google Patents
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
Definitions
- the present application relates to the field of storage technologies, and in particular, to a storage device testing method, apparatus, television, and computer-readable storage medium.
- EMMC embedded MultiMediaCard
- EMMC embedded MultiMediaCard
- the EMMC compatibility test is to test the quality and timing of the EMMC signal to be used with an instrument to obtain the test result, and to determine whether the EMMC to be used is qualified based on the test result.
- the obtained test result of the EMMC to be used has a low accuracy rate.
- the main purpose of the present application is to provide a storage device testing method, device, television set and computer-readable storage medium, aiming to solve the problem of obtaining the accuracy rate of the test result of the EMMC to be used by adopting the existing testing method in the prior art Less technical issues.
- the present application proposes a storage device testing method for a TV set, the method comprising the following steps:
- test results are obtained based on the stability test results, the performance test results, the burn-in test results, and the power-down reliability test results.
- the step of performing a stability test on the storage device to be detected to obtain a stability test result includes:
- the write script is used to write data to the storage device to be detected, obtain the playback state of the target multimedia report file and the writing speed of the storage device to be detected;
- the method further includes:
- the step of performing a read/write speed test on the storage device to be detected to obtain a performance test result includes:
- the performance test result is obtained based on the read speed test result and the write speed test result.
- the step of using the reading speed test script to test the storage device to be detected to obtain a reading speed test result includes:
- the storage device to be detected is tested by using the reading speed test script to obtain a reading speed test result.
- the step of performing a burn-in test on the storage device to be detected to obtain a burn-in test result includes:
- the television set When the television set is in a high temperature environment, using the aging test script, perform the test for the preset duration on the storage device to be detected, so as to obtain a second sub-aging test result;
- the burn-in test result is obtained based on the first sub-burn-in test result, the second sub-burn-in test result, and the third sub-burn-in test result.
- the step of performing a power-down reliability test on the storage device to be detected to obtain a reliability test result includes:
- the present application also proposes a storage device testing device for a TV set, the device comprising:
- the first test module is used to perform a stability test on the storage device to be detected to obtain a stability test result
- the second test module is used to perform a read and write speed test on the storage device to be detected to obtain a performance test result
- a third test module configured to perform an aging test on the storage device to be detected to obtain an aging test result
- a fourth test module configured to perform a power-down reliability test on the storage device to be detected to obtain a reliability test result
- An obtaining module is configured to obtain the test result based on the stability test result, the performance test result, the aging test result and the power-down reliability test result.
- the present application also proposes a TV set, the TV set includes: a memory, a processor and a storage device test program stored on the memory and running on the processor, the storage device When the device testing program is executed by the processor, the steps of the storage device testing method described in any of the above are implemented.
- the present application also proposes a computer-readable storage medium, where a storage device test program is stored on the computer-readable storage medium, and when the storage device test program is executed by a processor, any of the above-mentioned steps are implemented.
- the steps of a method for testing a storage device are implemented.
- the technical solution of the present application provides a storage device testing method, which is used in a TV set.
- the stability test result is obtained by performing a stability test on the storage device to be detected; and the read-write speed test is performed on the storage device to be detected to obtain performance test results; perform an aging test on the storage device to be detected to obtain an aging test result; perform a power-down reliability test on the storage device to be detected to obtain a reliability test result; based on the stability test results,
- the test results are obtained from the performance test results, the aging test results and the power-down reliability test results.
- the obtained test result only includes the signal instruction and timing information of the storage device to be tested, the test items in the test process are few, and the test result includes incomplete information, which makes the test result less accurate.
- the test results are obtained based on the stability test results, the performance test results, the aging test results, and the power-down reliability test results. For each test item, the information reported in the test result is more comprehensive, which makes the test result more accurate. Therefore, by using the storage device testing method of the present application, the accuracy rate of storage device testing is improved.
- FIG. 1 is a schematic structural diagram of a television set in a hardware operating environment involved in a solution according to an embodiment of the present application;
- FIG. 2 is a schematic flowchart of the first embodiment of the storage device testing method of the present application
- FIG. 3 is a structural block diagram of the first embodiment of the storage device testing apparatus of the present application.
- FIG. 1 is a schematic structural diagram of a television set in a hardware operating environment involved in the solution of an embodiment of the present application.
- a television includes at least one processor 301, a memory 302, and a storage device test program stored on the memory and executable on the processor, the storage device test program configured to implement the aforementioned Steps of a storage device test method.
- the processor 301 may include one or more processing cores, such as a 4-core processor, an 8-core processor, and the like.
- the processor 301 may adopt at least one hardware form of DSP (Digital Signal Processing, digital signal processing), FPGA (Field-Programmable Gate Array, field programmable gate array), PLA (Programmable Logic Array, programmable logic array) accomplish.
- the processor 301 may also include a main processor and a co-processor.
- the main processor is a processor used to process data in the wake-up state, and is also called a CPU (Central Processing Unit, central processing unit); A low-power processor for processing data in a standby state.
- CPU Central Processing Unit
- the processor 301 may be integrated with a GPU (Graphics Processing Unit, image processor), the GPU is used to render and draw the content that the display screen needs to display.
- the processor 301 may also include AI (Artificial Intelligence, artificial intelligence) processor, the AI processor is used to process the operation of the storage device test method, so that the storage device test method model can be trained and learned independently, and the efficiency and accuracy are improved.
- AI Artificial Intelligence, artificial intelligence
- Memory 302 may include one or more computer-readable storage media, which may be non-transitory. Memory 302 may also include high-speed random access memory, as well as non-volatile memory, such as one or more disk storage devices, flash storage devices. In some embodiments, a non-transitory computer-readable storage medium in the memory 302 is used to store at least one instruction, and the at least one instruction is used to be executed by the processor 301 to implement the storage device provided by the method embodiments in the present application testing method.
- the terminal may also optionally include: a communication interface 303 and at least one peripheral device.
- the processor 301, the memory 302 and the communication interface 303 may be connected through a bus or a signal line.
- Various peripheral devices can be connected to the communication interface 303 through a bus, a signal line or a circuit board.
- the peripheral device includes: at least one of a radio frequency circuit 304 , a display screen 305 and a power supply 306 .
- the communication interface 303 may be used to connect at least one peripheral device related to I/O (Input/Output) to the processor 301 and the memory 302 .
- the processor 301, the memory 302, and the communication interface 303 are integrated on the same chip or circuit board; in some other embodiments, any one or both of the processor 301, the memory 302, and the communication interface 303 are integrated It may be implemented on a separate chip or circuit board, which is not limited in this embodiment.
- the radio frequency circuit 304 is used to receive and transmit RF (Radio Frequency, radio frequency) signal, also known as electromagnetic signal.
- the radio frequency circuit 304 communicates with the communication network and other communication devices through electromagnetic signals.
- the radio frequency circuit 304 converts electrical signals into electromagnetic signals for transmission, or converts received electromagnetic signals into electrical signals.
- the radio frequency circuit 304 includes an antenna system, an RF transceiver, one or more amplifiers, a tuner, an oscillator, a digital signal processor, a codec chipset, a subscriber identity module card, and the like.
- the radio frequency circuit 304 may communicate with other terminals through at least one wireless communication protocol.
- the wireless communication protocol includes but is not limited to: metropolitan area network, mobile communication networks of various generations (2G, 3G, 4G and 5G), wireless local area network and/or WiFi (Wireless Fidelity, wireless fidelity) network.
- the radio frequency circuit 304 may further include a circuit related to NFC (Near Field Communication, short-range wireless communication), which is not limited in this application.
- the display screen 305 is used to display the UI (User Interface, user interface).
- the UI can include graphics, text, icons, video, and any combination thereof.
- the display screen 305 also has the ability to acquire touch signals on or above the surface of the display screen 305 .
- the touch signal may be input to the processor 301 as a control signal for processing.
- the display screen 305 may also be used to provide virtual buttons and/or virtual keyboards, also referred to as soft buttons and/or soft keyboards.
- the display screen 305 may be one, which is the front panel of the electronic device; in other embodiments, the display screen 305 may be at least two, which are respectively disposed on different surfaces of the electronic device or in a folded design; In some embodiments, the display screen 305 may be a flexible display screen disposed on a curved or folded surface of the electronic device. Even, the display screen 305 can also be set as a non-rectangular irregular figure, that is, a special-shaped screen.
- the display screen 305 can use LCD (LiquidCrystal Display, liquid crystal display), OLED (Organic Light-Emitting Diode, organic light-emitting diode) and other materials.
- Power supply 306 is used to power various components in the electronic device.
- the power source 306 may be alternating current, direct current, a primary battery, or a rechargeable battery.
- the rechargeable battery can support wired charging or wireless charging.
- the rechargeable battery can also be used to support fast charging technology.
- FIG. 1 does not constitute a limitation on the TV set, and may include more or less components than the one shown, or combine some components, or arrange different components.
- an embodiment of the present application also provides a computer-readable storage medium, where a storage device test program is stored on the computer-readable storage medium, and the storage device test program is executed by a processor to implement the storage device described above. Steps of the test method. Therefore, it will not be repeated here. In addition, the description of the beneficial effects of using the same method will not be repeated.
- program instructions may be deployed to execute on one television set, or multiple television sets located at one location, or alternatively, multiple television sets distributed across multiple locations and interconnected by a communication network implement.
- the above-mentioned computer-readable storage medium may be a magnetic disk, an optical disk, a read-only memory (Read-Only Memory, ROM) or a random memory (Random Memory) AccessMemory, RAM), etc.
- FIG. 2 is a schematic flowchart of the first embodiment of the storage device testing method of the present application.
- the method is used for a TV set, and the method includes the following steps:
- Step S11 Perform a stability test on the storage device to be detected to obtain a stability test result.
- the execution subject of the present application is a TV set, and the TV set is installed with a storage device test program.
- the storage device test method of the present application is implemented.
- the storage device to be detected in this application refers to the EMMC to be detected.
- EMMCs of the same brand and model have the same indicators, and only need to take out a part of them for sample testing.
- the EMMC to be detected is installed on a TV, and the TV executes the storage device testing method of the present application, so as to realize the detection of the EMMC to be detected.
- the step of performing a stability test on the storage device to be detected to obtain the stability test result includes: when the target multimedia file is obtained, storing the target multimedia file in the storage device to be detected; The target multimedia file is in the playback state, and when using the writing script to write data to the storage device to be detected, obtain the playback state of the target multimedia report file and the writing speed of the storage device to be detected; The writing speed and the playing state are used to obtain the stability test result.
- the target multimedia file of the present application is usually a video file, that is, when playing the video file stored in the storage device to be detected, use a writing script to write data to the storage device to be detected, and obtain the target The playing state of the multimedia report file and the writing speed of the storage device to be detected.
- count 0 counts the number of tests as 0
- copy the video files to the /storage/emulated/0/ directory, /storage/emulated/0/ is the virtual SD card partition, not really mount the SD card to the TV, but use the data partition of EMMC.
- Virtual SD card partition after that, enter the local media single to play the video file in a loop; in order to avoid interference during the test, use the command: stop android_ir_user, turn off the infrared function of the TV, and then execute the script emmc_write.sh.
- the stability test result of the EMMC to be tested is good stability (or qualified stability, etc.).
- Step S12 Perform a read/write speed test on the storage device to be detected to obtain a performance test result.
- the step of performing a read and write speed test on the storage device to be detected to obtain a performance test result includes: acquiring a preset storage space of the data partition of the storage device to be detected; based on the preset storage space , determine the number of valid blocks; based on the valid number of blocks, configure a preset writing speed test script and a preset reading speed test script to obtain a writing speed test script and a reading speed test script; use the writing speed test script to The storage device to be detected is tested to obtain a writing speed test result; the storage device to be detected is tested by using the reading speed test script to obtain a reading speed test result; based on the reading speed test result and the writing speed Test results, obtain the performance test results.
- the step of using the reading speed test script to test the storage device to be detected to obtain the reading speed test result includes: after the TV is restarted, using the reading speed test script to test the reading speed test script.
- the storage device to be tested is tested to obtain the reading speed test result.
- the data partition is about 25G.
- the value of count changes with the size of the partition. For example, if the size of the data partition is 25G, the count value is 25000, and the size of the data partition is 50G, then the count value is 50000. You need to use the count value Configure the preset reading speed test script and the preset writing speed test script.
- the size of the read and write files should be as large as possible, and the size of the data partition of EMMC should be connected as much as possible. , so the measured data is more accurate.
- Step S13 Perform an aging test on the storage device to be detected to obtain an aging test result.
- an aging test script is used to test the storage device to be detected for a preset duration to obtain a first sub-aging test result; when the TV set is in a high temperature environment When the TV is in a temperature cycle environment, use the aging test script to test the storage device to be tested for the preset duration to obtain a second sub-aging test result; when the TV is in a temperature cycle environment, use the A burn-in test script, which tests the storage device to be detected for a preset duration to obtain a third sub-aging test result; based on the first sub-aging test result, the second sub-aging test result and the third sub-aging test result Sub-aging test results to obtain the aging test results.
- the high temperature environment can be 90 degrees Celsius
- the low temperature environment can be -35 degrees Celsius
- the temperature cycle environment user can Determined based on actual needs, and specific parameters are not limited in this application.
- the preset time period may be 7 days.
- Step S14 Perform a power-down reliability test on the storage device to be detected to obtain a reliability test result.
- the step of performing a power-down reliability test on the to-be-detected storage device to obtain a reliability test result includes: when writing data to the to-be-detected storage device, disconnecting the to-be-detected storage device connecting the device to the power supply; reconnecting the storage device to be detected and the power supply; detecting the description information of the data in the storage device to be detected; obtaining the power failure reliability test result based on the description information.
- the description information is the data integrity description in the storage to be detected, that is, when the description information is that the data is complete, the power-down reliability test result of the storage device to be detected is that the power-down reliability is good (or the power-off reliability test of the storage device to be tested is qualified); when the description information is incomplete data, the power-off reliability test result of the storage device to be tested is poor power-off reliability (or the power-off reliability of the storage device to be tested is poor). Reliability test failed).
- This macro definition is the switch to turn on the EMMC power failure reliability test#define CONFIG_EMMC_HW_TEST; After the modification, recompile boot, burn the compiled fastboot-burn.bin, and connect the TV serial port to the computer; after restarting the TV power supply, it will automatically enter the EMMC power-off reliability test that loops 5000 times.
- the log information (log information) needs to be saved during the test process.
- the test time is long. After the test is stopped, please make sure not to turn on and off the power again, otherwise the final test result may not be seen. If "err: EMMC test fail” is printed after the test is stopped, or the test stops before 5000 cycles, it will fail. After 5000 tests are completed, there will be a print like "EMMC test complete, no error.”, the test is qualified.
- Error conditions include two types: CRC and illegal command, if the CRC detection of the command sent to a device with a certain address is incorrect, the command will not be executed and will not respond; Time-out conditions, the timeout period of read, write and erase operations, the general timeout period 10 times the typical time, the EMMC specification specifies the timeout for each operation.
- Step S15 Obtain the test result based on the stability test result, the performance test result, the aging test result, and the power-down reliability test result.
- test results described above are integrated to obtain a final test result, which includes the test results corresponding to the above four items respectively.
- test results of the above four items are all qualified, the final test result is also qualified; when at least one of the test results of the above four items is unqualified, the final test result is unqualified, and the test results will include specific Specific information on eligible and ineligible items.
- the technical solution of the present application provides a storage device testing method, which is used in a TV set.
- the stability test result is obtained by performing a stability test on the storage device to be detected; and the read-write speed test is performed on the storage device to be detected to obtain performance test results; perform an aging test on the storage device to be detected to obtain an aging test result; perform a power-down reliability test on the storage device to be detected to obtain a reliability test result; based on the stability test results,
- the test results are obtained from the performance test results, the aging test results and the power-down reliability test results.
- the obtained test result only includes the signal instruction and timing information of the storage device to be tested, the test items in the test process are few, and the test result includes incomplete information, which makes the test result less accurate.
- the test results are obtained based on the stability test results, the performance test results, the aging test results, and the power-down reliability test results. For each test item, the information reported in the test result is more comprehensive, which makes the test result more accurate. Therefore, by using the storage device testing method of the present application, the accuracy rate of storage device testing is improved.
- FIG. 3 is a structural block diagram of the first embodiment of the storage device testing device of the present application.
- the device is used in a television set, and the device includes:
- the first test module 10 is used to perform a stability test on the storage device to be detected to obtain a stability test result
- the second test module 20 is configured to perform a read and write speed test on the storage device to be detected to obtain a performance test result
- a third test module 30, configured to perform an aging test on the storage device to be detected to obtain an aging test result
- a fourth test module 40 configured to perform a power-down reliability test on the storage device to be detected to obtain a reliability test result
- An obtaining module 50 is configured to obtain the test result based on the stability test result, the performance test result, the aging test result and the power-down reliability test result.
Landscapes
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
一种存储设备测试方法，用于电视机，所述方法包括以下步骤：对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得掉电可靠性测试结果；基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，以获得测试结果。还公开一种存储设备测试装置、电视机以及计算机可读存储介质。
Description
本申请要求于2021年4月23日申请的、申请号为202110445516.7 的中国专利申请的优先权，其全部内容通过引用结合在本申请中。
本申请涉及存储技术领域，特别涉及一种存储设备测试方法、装置、电视机以及计算机可读存储介质。
EMMC（embedded MultiMediaCard）是一种嵌入式的存储设备，由于其可靠性较好，EMMC已经非常广泛的使用在各种的智能设备上。
随着供应链变更以及电视机更新换代，电视机厂商经常会更换电视机的EMMC。在对电视机的EMMC设备进行替换之前，需要按照EMMC器件的规格书，配置新的EMMC自身的参数，以对新的EMMC芯片进行全面测试，并在验证新的EMMC没有问题后才能导入试产。
目前，EMMC兼容性测试就是用仪器测试一下待使用的EMMC信号的质量及时序测试，以获得测试结果，基于测试结果确定待使用的EMMC是否合格。
但是，采用现有的测试方法，获得的待使用的EMMC的测试结果准确率较低。
本申请的主要目的是提供一种存储设备测试方法、装置、电视机以及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中采用现有的测试方法，获得的待使用的EMMC的测试结果准确率较低的技术问题。
为实现上述目的，本申请提出一种存储设备测试方法，用于电视机，所述方法包括以下步骤：
对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；
对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；
对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；
对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果；
基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。
在一实施例中，所述对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果的步骤，包括：
在获取到目标多媒体文件时，将所述目标多媒体文件存储到所述待检测存储设备；
在所述目标多媒体文件处于播放状态，且利用写入脚本对所述待检测存储设备进行数据写入时，获取所述目标多媒体报文件的播放状态和所述待检测存储设备的写入速度；
基于所述写入速度和所述播放状态，获得所述稳定性测试结果。
在一实施例中，所述在所述目标多媒体文件处于播放状态，且利用写入脚本对所述待检测存储设备进行数据写入时，获取所述目标多媒体报文件的播放状态和所述待检测存储设备的写入速度的步骤之前，所述方法还包括：
关闭所述电视机的红外遥控功能。
在一实施例中，所述对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果的步骤，包括：
获取所述待检测存储设备数据分区的预置存储空间；
基于所述预置存储空间，确定有效块数；
基于所述有效块数，配置预设写速测试脚本和预设读速测试脚本，以获得获得写速测试脚本和读速测试脚本；
利用所述写速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得写速测试结果；
利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果；
基于所述读速测试结果和所述写速测试结果，获得所述性能测试结果。
在一实施例中，所述利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果的步骤，包括：
在所述电视机重启之后，利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果。
在一实施例中，所述对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果的步骤，包括：
在所述电视机处于低温环境内时，利用老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行预设时长的测试，以获得第一子老化测试结果；
在所述电视机处于高温环境内时，利用所述老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行所述预设时长的测试，以获得第二子老化测试结果；
在所述电视机处于温度循环环境内时，利用所述老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行所述预设时长的测试，以获得第三子老化测试结果；
基于所述第一子老化测试结果、所述第二子老化测试结果和所述第三子老化测试结果，获得所述老化测试结果。
在一实施例中，所述对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果的步骤，包括：
在对所述待检测存储设备写入数据时，断开所述待检测存储设备与电源的连接；
重新连接所述待检测存储设备与所述电源；
检测所述待检测存储设备中数据的描述信息；
基于所述描述信息，获得所述掉电可靠性测试结果。
此外，为实现上述目的，本申请还提出了一种存储设备测试装置，用于电视机，所述装置包括：
第一测试模块，用于对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；
第二测试模块，用于对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；
第三测试模块，用于对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；
第四测试模块，用于对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果；
获得模块，用于基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。
此外，为实现上述目的，本申请还提出了一种电视机，所述电视机包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并在所述处理器上运行存储设备测试程序，所述存储设备测试程序被所述处理器执行时实现如上述任一项所述的存储设备测试方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本申请还提出了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有存储设备测试程序，所述存储设备测试程序被处理器执行时实现如上述任一项所述的存储设备测试方法的步骤。
本申请技术方案提出了一种存储设备测试方法，用于电视机，通过对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果；基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。
采用现有的测试方法，获得的测试结果只包括待检测的存储设备的信号指令和时序信息，测试过程的测试项目较少，测试结果包括的信息不全面，使得测试结果的准确率较低。而采用本申请的存储设备测试方法，基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果，测试过程中涉及多个测试项目，测试结果报的信息较全面，使得测试结果的准确率较高。所以，利用本申请的存储设备测试方法，提高了存储设备测试的准确率。
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本申请实施例方案涉及的硬件运行环境的电视机结构示意图；
图2为本申请存储设备测试方法第一实施例的流程示意图；
图3为本申请存储设备测试装置第一实施例的结构框图。
本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
参照图1，图1为本申请实施例方案涉及的硬件运行环境的电视机结构示意图。
通常，电视机包括：至少一个处理器301、存储器302以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的存储设备测试程序，所述存储设备测试程序配置为实现如前所述的存储设备测试方法的步骤。
处理器301可以包括一个或多个处理核心，比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器301可以采用DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理)、FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)、PLA(Programmable Logic Array，可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器301也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称CPU(Central ProcessingUnit，中央处理器)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器301可以在集成有GPU(Graphics
Processing Unit，图像处理器)，GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。处理器301还可以包括AI(Artificial
Intelligence，人工智能)处理器，该AI处理器用于处理有关存储设备测试方法操作，使得存储设备测试方法模型可以自主训练学习，提高效率和准确度。
存储器302可以包括一个或多个计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以是非暂态的。存储器302还可包括高速随机存取存储器，以及非易失性存储器，比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。在一些实施例中，存储器302中的非暂态的计算机可读存储介质用于存储至少一个指令，该至少一个指令用于被处理器301所执行以实现本申请中方法实施例提供的存储设备测试方法。
在一些实施例中，终端还可选包括有：通信接口303和至少一个外围设备。处理器301、存储器302和通信接口303之间可以通过总线或信号线相连。各个外围设备可以通过总线、信号线或电路板与通信接口303相连。具体地，外围设备包括：射频电路304、显示屏305和电源306中的至少一种。
通信接口303可被用于将I/O(Input/Output，输入/输出)相关的至少一个外围设备连接到处理器301和存储器302。在一些实施例中，处理器301、存储器302和通信接口303被集成在同一芯片或电路板上；在一些其他实施例中，处理器301、存储器302和通信接口303中的任意一个或两个可以在单独的芯片或电路板上实现，本实施例对此不加以限定。
射频电路304用于接收和发射RF(Radio
Frequency，射频)信号，也称电磁信号。射频电路304通过电磁信号与通信网络以及其他通信设备进行通信。射频电路304将电信号转换为电磁信号进行发送，或者，将接收到的电磁信号转换为电信号。可选地，射频电路304包括：天线系统、RF收发器、一个或多个放大器、调谐器、振荡器、数字信号处理器、编解码芯片组、用户身份模块卡等等。射频电路304可以通过至少一种无线通信协议来与其它终端进行通信。该无线通信协议包括但不限于：城域网、各代移动通信网络(2G、3G、4G及5G)、无线局域网和/或WiFi(Wireless Fidelity，无线保真)网络。在一些实施例中，射频电路304还可以包括NFC(Near Field Communication，近距离无线通信)有关的电路，本申请对此不加以限定。
显示屏305用于显示UI(User
Interface，用户界面)。该UI可以包括图形、文本、图标、视频及其它们的任意组合。当显示屏305是触摸显示屏时，显示屏305还具有采集在显示屏305的表面或表面上方的触摸信号的能力。该触摸信号可以作为控制信号输入至处理器301进行处理。此时，显示屏305还可以用于提供虚拟按钮和/或虚拟键盘，也称软按钮和/或软键盘。在一些实施例中，显示屏305可以为一个，电子设备的前面板；在另一些实施例中，显示屏305可以为至少两个，分别设置在电子设备的不同表面或呈折叠设计；在再一些实施例中，显示屏305可以是柔性显示屏，设置在电子设备的弯曲表面上或折叠面上。甚至，显示屏305还可以设置成非矩形的不规则图形，也即异形屏。显示屏305可以采用LCD(LiquidCrystal
Display，液晶显示屏)、OLED(Organic
Light-Emitting Diode,有机发光二极管)等材质制备。
电源306用于为电子设备中的各个组件进行供电。电源306可以是交流电、直流电、一次性电池或可充电电池。当电源306包括可充电电池时，该可充电电池可以支持有线充电或无线充电。该可充电电池还可以用于支持快充技术。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对电视机的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
此外，本申请实施例还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有存储设备测试程序，所述存储设备测试程序被处理器执行时实现如上文所述的存储设备测试方法的步骤。因此，这里将不再进行赘述。另外，对采用相同方法的有益效果描述，也不再进行赘述。对于本申请所涉及的计算机可读存储介质实施例中未披露的技术细节，请参照本申请方法实施例的描述。确定为示例，程序指令可被部署为在一个电视机上执行，或者在位于一个地点的多个电视机上执行，又或者，在分布在多个地点且通过通信网络互连的多个电视机备上执行。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，上述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，上述的计算机可读存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random
AccessMemory，RAM)等。
基于上述硬件结构，提出本申请存储设备测试方法的实施例。
参照图2，图2为本申请存储设备测试方法第一实施例的流程示意图，所述方法用于电视机，所述方法包括以下步骤：
步骤S11：对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果。
需要说明的是，本申请的执行主体是电视机，电视机安装有存储设备测试程序，电视机执行存储设备测试程序时，实现本申请的存储设备测试方法。其中，本申请的待检测的存储设备是指待检测的EMMC。
通常，同一品牌同一型号的EMMC，其各项指标是相同的，只需要在其中取出一部分进行抽样测试即可。通常，将待检测EMMC安装于电视机，电视机执行本申请的存储设备测试方法，以实现对待检测EMMC的检测。
具体的，所述对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果的步骤，包括：在获取到目标多媒体文件时，将所述目标多媒体文件存储到所述待检测存储设备；在所述目标多媒体文件处于播放状态，且利用写入脚本对所述待检测存储设备进行数据写入时，获取所述目标多媒体报文件的播放状态和所述待检测存储设备的写入速度；基于所述写入速度和所述播放状态，获得所述稳定性测试结果。
需要说明的是，本申请的目标多媒体文件通常是视频文件，即在播放待检测存储设备存储的视频文件时，利用写入脚本对所述待检测存储设备进行数据写入，并获取所述目标多媒体报文件的播放状态和所述待检测存储设备的写入速度。
具体应用中，首先，用touch /data/emmc_write.sh命名在/data目录下新建一个emmc_write.sh脚本文件；然后，用chmod 777 /data/emmc_write.sh命令修改文件权限；之后，更改emmc_write.sh脚本文件如下：
count = 0计测试次数为0
echo "start
EMMC write test..............." 重复“开始EMMC写入测试”
while [ $count !=
5000 ] 当累计测试次数=5000时
do
let
count=count+1 测试次数+1
echo "EMMC
write count >>>>>>>>>>>> $count
"
dd if=/dev/zero
of=/data/data/1 bs=1024000 count=25000 把/data/data清空操作
sync
done
echo "EMMC
write test pass..............."
再之后，把视频文件拷贝到/storage/emulated/0/目录下，/storage/emulated/0/为虚拟SD卡分区，不是真的把挂载SD卡到电视，是用EMMC的data分区做的虚拟SD卡分区；之后，进入本地媒体单曲循环播放此视频文件；为了避免测试过程中受到干扰，通过该命令：stop android_ir_user，关闭电视机的红外功能，然后执行脚本emmc_write.sh。运行5000次，在运行过程中确定视频播放是否正常（图像，声音是否正常，是否有出现卡顿现象），待检测EMMC的写速度是否有比较大的差异，并以此来获得待检测EMMC的稳定性测试结果。
当视频播放正常，且待检测EMMC的写速度差异不大时，待检测EMMC的稳定性测试结果为稳定性较好（或稳定性合格等）。
步骤S12：对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果。
具体的，所述对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果的步骤，包括：获取所述待检测存储设备数据分区的预置存储空间；基于所述预置存储空间，确定有效块数；基于所述有效块数，配置预设写速测试脚本和预设读速测试脚本，以获得写速测试脚本和读速测试脚本；利用所述写速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得写速测试结果；利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果；基于所述读速测试结果和所述写速测试结果，获得所述性能测试结果。其中，所述利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果的步骤，包括：在所述电视机重启之后，利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果。
具体应用中，使用df命令查看待检测存储设备的data分区（数据分区）的大小（预置存储空间的大小），然后，修改读写命令的count值，使得bs的值乘上count的值接近data分区的大小，以32G EMMC为例，data分区大概25G。
使用如下命令进行写速度测试，记录写速度（count的值随分区大小改变，例如，data分区大小为25G，则count值为25000，data分区大小为50G，则count值为50000。需要利用count值对预设读速测试脚本和预设写速测试脚本进行配置，另外，本申请中的预设读速测试脚本和预设写速测试脚本均可以用通等功能的测试命令代替），命令为：dd if=/dev/zero of=/data/data/1 bs=1024000
count=25000（此命令为写操作，把/data/data清空操作）；然后，重启电视使用如下命令进行读速度测试，记录读速度（count的值随分区大小而改变），命令为：dd
of=/dev/null if=/data/data/1 bs=1024000 count=25000。其中，一般进行读写性能测试时，先进行写性能测试，进行写测试时候，重启电视机后，再进行读测试，而且读写的文件大小要尽量大，尽可能接EMMC的data分区的大小，这样测出来的数据才是比较准确的。
步骤S13：对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果。
具体的，在所述电视机处于低温环境内时，利用老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行预设时长的测试，以获得第一子老化测试结果；在所述电视机处于高温环境内时，利用所述老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行所述预设时长的测试，以获得第二子老化测试结果；在所述电视机处于温度循环环境内时，利用所述老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行预设时长的测试，以获得第三子老化测试结果；基于所述第一子老化测试结果、所述第二子老化测试结果和所述第三子老化测试结果，获得所述老化测试结果。
需要说明的是，在对待检测存储设备进行老化测试时，需要涉及到低温环境、高温环境和温度循环环境，其中，高温环境可以是90摄氏度，低温环境可以是-35摄氏度，温度循环环境用户可以基于实际需求确定，具体参数本申请不做限制。另外，预设时长可以是7天。
具体应用中，创建一个mmc.sh脚本，更改如下：
sleep 10
count=1
while true
do
echo
".write.............$count"
sync
dd
of=/data/mmc_test if=/dev/block/mmcblk0p8
sync
count=$(($count+1))
echo
"..read...........$count"
sync
dd
if=/dev/block/mmcblk0p8 of=/dev/ram1
sync
count=$(($count+1))
rm
/data/mmc_test
然后，更改mmc.sh脚本的执行权限，chmod
777 /data/mmc.sh；再之后，将电视放入设定温度的温箱内，进行老化（高温环境、低温环境和温度循环环境）测试，执行脚本上述mmc.sh，并保存log文件（日志文件），以基于日志文件，获得老化测试结果。若测试过程中未出现EMMC报错和电视系统异常等问题，老化测试结果为待检测存储设备老化测试合格。
步骤S14：对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果。
具体的，所述对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果的步骤，包括：在对所述待检测存储设备写入数据时，断开所述待检测存储设备与电源的连接；重新连接所述待检测存储设备与所述电源；检测所述待检测存储设备中数据的描述信息；基于所述描述信息，获得所述掉电可靠性测试结果。
需要说明的是，所述描述信息即为待检测存储中的数据完整性描述，即，当描述信息为数据完整时，待检测存储设备的掉电可靠性测试结果为掉电可靠性较好（或待检测存储设备的掉电可靠性测试合格）；当描述信息为数据不完整时，待检测存储设备的掉电可靠性测试结果为掉电可靠性较差（或待检测存储设备的掉电可靠性测试不合格）。
具体应用中，device/Hisilicon/bigfish/sdk/source/boot/fastboot/include/confi
gs/s5.h文件中增加如下的宏定义，这个宏定义就是打开EMMC掉电可靠性测试的开关#define
CONFIG_EMMC_HW_TEST；修改完后，重新编译boot，烧录编译生成的fastboot-burn.bin，将电视机串口和电脑相连；重新电视机开关电源后，自动进入循环5000次的EMMC掉电可靠性测试。
测试过程中需保存log 信息（日志信息），测试时间较长，测试停止后请确保不要重新开关电源，否则可能看不到最终的测试结果。测试停止后如果有“err: EMMC test fail”打印，或者未满5000次循环测试就停止，则不合格。测试5000次完成后，会有“EMMC test complete, no error.”这样的打印，则测试合格。
另外，Error conditions（意外情况，以block块为单位进行读、写和擦除操作）包括两种：CRC
and illegal command，如果发送给某地址的设备的命令的CRC检测错误，则不会执行这条命令，也不会回应；Time-out conditions，读、写和擦除操作的超时时间，一般超时时间是典型时间的10倍，EMMC规格书中规定了每种操作的超时时间。
步骤S15：基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。
将上文所述的多个测试结果进行整合，获得最终的测试结果，测试结果包括上述四个项目分别对应的测试结果。
在上述四个项目的测试结果均为合格时，最终的测试结果也为合格；当上述四个项目的测试结果有至少一项不合格时，最终的测试结果为不合格，测试结果会包括具体合格项和不合格项的具体信息。
本申请技术方案提出了一种存储设备测试方法，用于电视机，通过对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果；基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。
采用现有的测试方法，获得的测试结果只包括待检测的存储设备的信号指令和时序信息，测试过程的测试项目较少，测试结果包括的信息不全面，使得测试结果的准确率较低。而采用本申请的存储设备测试方法，基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果，测试过程中涉及多个测试项目，测试结果报的信息较全面，使得测试结果的准确率较高。所以，利用本申请的存储设备测试方法，提高了存储设备测试的准确率。
参照图3，图3为本申请存储设备测试装置第一实施例的结构框图，所述装置用于电视机，所述装置包括：
第一测试模块10，用于对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；
第二测试模块20，用于对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；
第三测试模块30，用于对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；
第四测试模块40，用于对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果；
获得模块50，用于基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。
以上所述仅为本申请的可选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是在本申请的发明构思下，利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本申请的专利保护范围内。
Claims (20)
- 一种存储设备测试方法，其中，用于电视机，所述方法包括以下步骤：对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果；基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。
- 如权利要求1所述的方法，其中，所述对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果的步骤，包括：在获取到目标多媒体文件时，将所述目标多媒体文件存储到所述待检测存储设备；在所述目标多媒体文件处于播放状态，且利用写入脚本对所述待检测存储设备进行数据写入时，获取所述目标多媒体报文件的播放状态和所述待检测存储设备的写入速度；基于所述写入速度和所述播放状态，获得所述稳定性测试结果。
- 如权利要求2所述的方法，其中，所述在所述目标多媒体文件处于播放状态，且利用写入脚本对所述待检测存储设备进行数据写入时，获取所述目标多媒体报文件的播放状态和所述待检测存储设备的写入速度的步骤之前，所述方法还包括：关闭所述电视机的红外遥控功能。
- 如权利要求1所述的方法，其中，所述对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果的步骤，包括：获取所述待检测存储设备数据分区的预置存储空间；基于所述预置存储空间，确定有效块数；基于所述有效块数，配置预设写速测试脚本和预设读速测试脚本，以获得写速测试脚本和读速测试脚本；利用所述写速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得写速测试结果；利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果；基于所述读速测试结果和所述写速测试结果，获得所述性能测试结果。
- 如权利要求4所述的方法，其中，所述利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果的步骤，包括：在所述电视机重启之后，利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果。
- 如权利要求1所述的方法，其中，所述对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果的步骤，包括：在所述电视机处于低温环境内时，利用老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行预设时长的测试，以获得第一子老化测试结果；在所述电视机处于高温环境内时，利用所述老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行所述预设时长的测试，以获得第二子老化测试结果；在所述电视机处于温度循环环境内时，利用所述老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行所述预设时长的测试，以获得第三子老化测试结果；基于所述第一子老化测试结果、所述第二子老化测试结果和所述第三子老化测试结果，获得所述老化测试结果。
- 如权利要求1所述的方法，其中，所述对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果的步骤，包括：在对所述待检测存储设备写入数据时，断开所述待检测存储设备与电源的连接；重新连接所述待检测存储设备与所述电源；检测所述待检测存储设备中数据的描述信息；基于所述描述信息，获得所述掉电可靠性测试结果。
- 一种存储设备测试装置，其中，用于电视机，所述装置包括：第一测试模块，用于对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；第二测试模块，用于对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；第三测试模块，用于对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；第四测试模块，用于对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果；获得模块，用于基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。
- 一种电视机，其中，所述电视机包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并在所述处理器上运行存储设备测试程序，所述存储设备测试程序被所述处理器执行时实现如下步骤：对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果；基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。
- 如权利要求9所述的电视机，其中，所述对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果的步骤，包括：在获取到目标多媒体文件时，将所述目标多媒体文件存储到所述待检测存储设备；在所述目标多媒体文件处于播放状态，且利用写入脚本对所述待检测存储设备进行数据写入时，获取所述目标多媒体报文件的播放状态和所述待检测存储设备的写入速度；基于所述写入速度和所述播放状态，获得所述稳定性测试结果。
- 如权利要求10所述的电视机，其中，所述存储设备测试程序被所述处理器执行时实现如下步骤：关闭所述电视机的红外遥控功能。
- 如权利要求9所述的电视机，其中，所述对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果的步骤，包括：获取所述待检测存储设备数据分区的预置存储空间；基于所述预置存储空间，确定有效块数；基于所述有效块数，配置预设写速测试脚本和预设读速测试脚本，以获得写速测试脚本和读速测试脚本；利用所述写速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得写速测试结果；利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果；基于所述读速测试结果和所述写速测试结果，获得所述性能测试结果。
- 如权利要求12所述的电视机，其中，所述利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果的步骤，包括：在所述电视机重启之后，利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果。
- 如权利要求9所述的电视机，其中，所述对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果的步骤，包括：在所述电视机处于低温环境内时，利用老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行预设时长的测试，以获得第一子老化测试结果；在所述电视机处于高温环境内时，利用所述老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行所述预设时长的测试，以获得第二子老化测试结果；在所述电视机处于温度循环环境内时，利用所述老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行所述预设时长的测试，以获得第三子老化测试结果；基于所述第一子老化测试结果、所述第二子老化测试结果和所述第三子老化测试结果，获得所述老化测试结果。
- 一种计算机可读存储介质，其中，所述计算机可读存储介质上存储有存储设备测试程序，所述存储设备测试程序被处理器执行时实现如下步骤：对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果；基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。
- 如权利要求15所述的计算机可读存储介质，其中，所述对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果的步骤，包括：在获取到目标多媒体文件时，将所述目标多媒体文件存储到所述待检测存储设备；在所述目标多媒体文件处于播放状态，且利用写入脚本对所述待检测存储设备进行数据写入时，获取所述目标多媒体报文件的播放状态和所述待检测存储设备的写入速度；基于所述写入速度和所述播放状态，获得所述稳定性测试结果。
- 如权利要求16所述的计算机可读存储介质，其中，所述存储设备测试程序被处理器执行时实现如下步骤：关闭所述电视机的红外遥控功能。
- 如权利要求15所述的计算机可读存储介质，其中，所述对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果的步骤，包括：获取所述待检测存储设备数据分区的预置存储空间；基于所述预置存储空间，确定有效块数；基于所述有效块数，配置预设写速测试脚本和预设读速测试脚本，以获得写速测试脚本和读速测试脚本；利用所述写速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得写速测试结果；利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果；基于所述读速测试结果和所述写速测试结果，获得所述性能测试结果。
- 如权利要求18所述的计算机可读存储介质，其中，所述利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果的步骤，包括：在所述电视机重启之后，利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果。
- 如权利要求15所述的计算机可读存储介质，其中，所述对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果的步骤，包括：在所述电视机处于低温环境内时，利用老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行预设时长的测试，以获得第一子老化测试结果；在所述电视机处于高温环境内时，利用所述老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行所述预设时长的测试，以获得第二子老化测试结果；在所述电视机处于温度循环环境内时，利用所述老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行所述预设时长的测试，以获得第三子老化测试结果；基于所述第一子老化测试结果、所述第二子老化测试结果和所述第三子老化测试结果，获得所述老化测试结果。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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