WO2022201843A1 - Chamber device and manufacturing method for electronic device - Google Patents

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Abstract

A chamber device (CH) is provided with an inside housing (50) that includes a passage port through which light generated by excitation of a laser gas in an interior space passes; and an outside housing (70) that surrounds at least part of the inside housing (50) from sides in the traveling direction of the light. The chamber device (CH) is provided with a partition wall (80) disposed between the inside housing (50) and the outside housing (70) and secured to the inside housing (50) and the outside housing (70).

Description

チャンバ装置、及び電子デバイスの製造方法CHAMBER APPARATUS AND ELECTRONIC DEVICE MANUFACTURING METHOD
 本開示は、チャンバ装置、及び電子デバイスの製造方法に関する。 The present disclosure relates to a chamber apparatus and an electronic device manufacturing method.
 近年、半導体露光装置においては、半導体集積回路の微細化及び高集積化につれて、解像力の向上が要請されている。このため、露光用光源から放出される光の短波長化が進められている。例えば、露光用のガスレーザ装置としては、波長約248nmのレーザ光を出力するKrFエキシマレーザ装置、ならびに波長約193nmのレーザ光を出力するArFエキシマレーザ装置が用いられる。 In recent years, semiconductor exposure apparatuses have been required to improve their resolution as semiconductor integrated circuits have become finer and more highly integrated. For this reason, efforts are being made to shorten the wavelength of the light emitted from the exposure light source. For example, as gas laser devices for exposure, a KrF excimer laser device that outputs laser light with a wavelength of about 248 nm and an ArF excimer laser device that outputs laser light with a wavelength of about 193 nm are used.
 KrFエキシマレーザ装置及びArFエキシマレーザ装置の自然発振光のスペクトル線幅は、350pm~400pmと広い。そのため、KrF及びArFレーザ光のような紫外線を透過する材料で投影レンズを構成すると、色収差が発生してしまう場合がある。その結果、解像力が低下し得る。そこで、ガスレーザ装置から出力されるレーザ光のスペクトル線幅を、色収差が無視できる程度となるまで狭帯域化する必要がある。そのため、ガスレーザ装置のレーザ共振器内には、スペクトル線幅を狭帯域化するために、狭帯域化素子(エタロンやグレーティング等)を含む狭帯域化モジュール(Line Narrowing Module:LNM)が備えられる場合がある。以下では、スペクトル線幅が狭帯域化されるガスレーザ装置を狭帯域化ガスレーザ装置という。 The spectral line width of the spontaneous oscillation light of the KrF excimer laser device and the ArF excimer laser device is as wide as 350 pm to 400 pm. Therefore, if the projection lens is made of a material that transmits ultraviolet light, such as KrF and ArF laser light, chromatic aberration may occur. As a result, resolution can be reduced. Therefore, it is necessary to narrow the spectral line width of the laser light output from the gas laser device to such an extent that the chromatic aberration can be ignored. Therefore, in the laser resonator of the gas laser device, a line narrowing module (LNM) including a band narrowing element (etalon, grating, etc.) is provided in order to narrow the spectral line width. There is Hereinafter, a gas laser device whose spectral line width is narrowed will be referred to as a band-narrowed gas laser device.
特開2002-176220号公報JP-A-2002-176220
概要Overview
 本開示の一態様によるチャンバ装置は、内部空間においてレーザガスの励起によって発生する光が通過する通過口を含む内側筐体と、光の進行方向の側方から内側筐体の少なくとも一部を囲う外側筐体と、側方における内側筐体及び外側筐体の間に配置され、内側筐体及び外側筐体に固定される隔壁とを備えてもよい。 A chamber apparatus according to one aspect of the present disclosure includes an inner housing including a passage opening through which light generated by excitation of a laser gas in an internal space passes, and an outer side surrounding at least a portion of the inner housing from the side in the light traveling direction. It may comprise a housing, and a partition disposed laterally between the inner housing and the outer housing and fixed to the inner housing and the outer housing.
 本開示の一態様による電子デバイスの製造方法は、内部空間においてレーザガスの励起によって発生する光が通過する通過口を含む内側筐体と、光の進行方向の側方から内側筐体の少なくとも一部を囲う外側筐体と、内側筐体及び外側筐体の間に配置され、内側筐体及び外側筐体に固定される隔壁と、を備えるチャンバ装置を備えるガスレーザ装置によってレーザ光を生成し、レーザ光を露光装置に出力し、電子デバイスを製造するために、露光装置内で感光基板上にレーザ光を露光してもよい。 A method for manufacturing an electronic device according to one aspect of the present disclosure includes an inner housing including a passage opening through which light generated by excitation of a laser gas in an internal space passes; and a partition wall disposed between the inner housing and the outer housing and fixed to the inner housing and the outer housing. Laser light may be exposed onto a photosensitive substrate in the exposure apparatus for outputting the light to the exposure apparatus and manufacturing an electronic device.
 本開示のいくつかの実施形態を、単なる例として、添付の図面を参照して以下に説明する。
図1は、電子デバイスの製造装置の全体の概略構成例を示す模式図である。 図2は、比較例のガスレーザ装置の全体の概略構成例を示す模式図である。 図3は、図2に示すチャンバ装置のレーザ光の進行方向に垂直な断面図である。 図4は、実施形態のガスレーザ装置の全体の概略構成例を示す模式図である。 図5は、内側筐体を囲う外側筐体、及び温度調節器を示す斜視図である。 図6は、図4に示すチャンバ装置のレーザ光の進行方向に垂直な断面図である。 図7は、内側筐体及び隔壁を囲う外側本体部を示す斜視図である。 図8は、冷却フィンと隔壁との位置関係を示す図である。
Several embodiments of the present disclosure are described below, by way of example only, with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is a schematic diagram showing an example of the overall configuration of an electronic device manufacturing apparatus. FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of the overall configuration of a gas laser device of a comparative example. FIG. 3 is a cross-sectional view of the chamber apparatus shown in FIG. 2 perpendicular to the traveling direction of laser light. FIG. 4 is a schematic diagram showing a schematic configuration example of the entire gas laser device of the embodiment. FIG. 5 is a perspective view showing an outer housing surrounding an inner housing and a temperature controller. FIG. 6 is a cross-sectional view of the chamber apparatus shown in FIG. 4 perpendicular to the traveling direction of laser light. FIG. 7 is a perspective view showing the outer body surrounding the inner housing and the partition. FIG. 8 is a diagram showing the positional relationship between cooling fins and partition walls.
実施形態embodiment
1.電子デバイスの露光工程で使用される電子デバイスの製造装置の説明
2.比較例のガスレーザ装置の説明
 2.1 構成
 2.2 動作
 2.3 課題
3.実施形態のチャンバ装置の説明
 3.1 構成
 3.2 作用・効果
1. Description of the electronic device manufacturing apparatus used in the electronic device exposure process2. Description of Gas Laser Apparatus of Comparative Example 2.1 Configuration 2.2 Operation 2.3 Problem 3. Description of Chamber Apparatus of Embodiment 3.1 Configuration 3.2 Action and Effect
 以下、本開示の実施形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。
 以下に説明される実施形態は、本開示のいくつかの例を示すものであって、本開示の内容を限定するものではない。また、各実施形態で説明される構成及び動作の全てが本開示の構成及び動作として必須であるとは限らない。なお、同一の構成要素には同一の参照符号を付して、重複する説明を省略する。
Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described in detail with reference to the drawings.
The embodiments described below show some examples of the present disclosure and do not limit the content of the present disclosure. Also, not all the configurations and operations described in each embodiment are essential as the configurations and operations of the present disclosure. In addition, the same reference numerals are given to the same components, and redundant explanations are omitted.
1.電子デバイスの露光工程で使用される電子デバイスの製造装置の説明
 図1は、電子デバイスの露光工程で使用される電子デバイスの製造装置の全体の概略構成例を示す模式図である。図1に示すように、露光工程で使用される製造装置は、ガスレーザ装置100及び露光装置200を含む。露光装置200は、複数のミラー211,212,213を含む照明光学系210と、投影光学系220とを含む。照明光学系210は、ガスレーザ装置100から入射するレーザ光によって、レチクルステージRTのレチクルパターンを照明する。投影光学系220は、レチクルを透過するレーザ光を、縮小投影してワークピーステーブルWT上に配置される不図示のワークピースに結像させる。ワークピースは、フォトレジストが塗布される半導体ウエハ等の感光基板である。露光装置200は、レチクルステージRTとワークピーステーブルWTとを同期して平行移動させることにより、レチクルパターンを反映するレーザ光をワークピースに露光する。以上のような露光工程によって半導体ウエハにデバイスパターンを転写することで電子デバイスである半導体デバイスを製造することができる。
1. 1. Description of Electronic Device Manufacturing Apparatus Used in Electronic Device Exposure Process FIG. 1 is a schematic diagram showing an example of the overall schematic configuration of an electronic device manufacturing apparatus used in an electronic device exposure process. As shown in FIG. 1, the manufacturing apparatus used in the exposure process includes a gas laser device 100 and an exposure device 200. As shown in FIG. Exposure apparatus 200 includes an illumination optical system 210 including a plurality of mirrors 211 , 212 and 213 and a projection optical system 220 . The illumination optical system 210 illuminates the reticle pattern on the reticle stage RT with laser light incident from the gas laser device 100 . The projection optical system 220 reduces and projects the laser light transmitted through the reticle to form an image on a workpiece (not shown) placed on the workpiece table WT. The workpiece is a photosensitive substrate, such as a semiconductor wafer, to which photoresist is applied. The exposure apparatus 200 synchronously translates the reticle stage RT and the workpiece table WT to expose the workpiece to laser light reflecting the reticle pattern. A semiconductor device, which is an electronic device, can be manufactured by transferring a device pattern onto a semiconductor wafer through the exposure process as described above.
2.比較例のガスレーザ装置の説明
 2.1 構成
 比較例のガスレーザ装置100について説明する。なお、本開示の比較例とは、出願人のみによって知られていると出願人が認識している形態であって、出願人が自認している公知例ではない。
2. 2. Description of Gas Laser Apparatus of Comparative Example 2.1 Configuration A gas laser apparatus 100 of a comparative example will be described. It should be noted that the comparative example of the present disclosure is a form that the applicant recognizes as being known only by the applicant, and is not a known example that the applicant self-admits.
 図2は、本例のガスレーザ装置100の全体の概略構成例を示す模式図である。ガスレーザ装置100は、例えば、アルゴン(Ar)、フッ素(F)、及びネオン(Ne)を含む混合ガスを使用するArFエキシマレーザ装置である。この場合、ガスレーザ装置100は、中心波長が約193nmのパルスレーザ光を出力する。ガスレーザ装置100は、ArFエキシマレーザ装置以外のガスレーザ装置であってもよく、例えば、クリプトン(Kr)、F、及びNeを含む混合ガスを使用するKrFエキシマレーザ装置であってもよい。この場合、ガスレーザ装置100は、中心波長が約248nmのパルスレーザ光を出射する。レーザ媒質であるAr、F、及びNeを含む混合ガスやレーザ媒質であるKr、F、及びNeを含む混合ガスは、レーザガスと呼ばれる場合がある。なお、ArFエキシマレーザ装置及びKrFエキシマレーザ装置のそれぞれで使用される混合ガスでは、Neの代わりにヘリウム(He)が用いられてもよい。 FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of the overall configuration of the gas laser device 100 of this example. Gas laser device 100 is, for example, an ArF excimer laser device that uses a mixed gas containing argon (Ar), fluorine ( F2), and neon (Ne). In this case, the gas laser device 100 outputs pulsed laser light with a center wavelength of approximately 193 nm. The gas laser device 100 may be a gas laser device other than an ArF excimer laser device, for example, a KrF excimer laser device using a mixed gas containing krypton (Kr), F 2 and Ne. In this case, the gas laser device 100 emits pulsed laser light with a central wavelength of about 248 nm. A mixed gas containing Ar, F 2 and Ne as laser media and a mixed gas containing Kr, F 2 and Ne as laser media are sometimes called laser gas. Helium (He) may be used instead of Ne in the mixed gas used in each of the ArF excimer laser device and the KrF excimer laser device.
 本例のガスレーザ装置100は、筐体110と、筐体110の内部空間に配置されるレーザ発振器130、モニタモジュール150、レーザガス供給装置170、レーザガス排気装置180、及びレーザプロセッサ190と、を主な構成として含む。 The gas laser device 100 of this example mainly includes a housing 110, a laser oscillator 130, a monitor module 150, a laser gas supply device 170, a laser gas exhaust device 180, and a laser processor 190 arranged in the internal space of the housing 110. Including as configuration.
 レーザ発振器130は、チャンバ装置CHと、充電器141と、パルスパワーモジュール143と、リアミラー145と、出力結合ミラー147と、を主な構成として含む。 The laser oscillator 130 includes a chamber device CH, a charger 141, a pulse power module 143, a rear mirror 145, and an output coupling mirror 147 as main components.
 図2においては、レーザ光の進行方向に略垂直な方向からみたチャンバ装置CHの内部構成が示されている。また、図3は、図2に示すチャンバ装置CHのレーザ光の進行方向に垂直な断面図である。チャンバ装置CHは、筐体30と、ウインドウ31a,31bと、電極32a,32bと、絶縁部33と、電極ホルダ部36と、ガイド39A,39B,39Cと、誘電体パイプ42と、内電極43と、外電極44と、クロスフローファン46と、熱交換器47と、圧力センサ48とを主な構成として備える。 FIG. 2 shows the internal configuration of the chamber device CH as seen from a direction substantially perpendicular to the traveling direction of the laser light. 3 is a cross-sectional view of the chamber device CH shown in FIG. 2 perpendicular to the traveling direction of the laser light. The chamber device CH includes a housing 30, windows 31a and 31b, electrodes 32a and 32b, an insulating portion 33, an electrode holder portion 36, guides 39A, 39B and 39C, a dielectric pipe 42, and an inner electrode 43. , an outer electrode 44 , a cross-flow fan 46 , a heat exchanger 47 and a pressure sensor 48 as main components.
 図2に示すように、筐体30は、上記のレーザガスの励起によって光が発生する内部空間を含む。レーザガスは、レーザガス供給装置170から配管を介して筐体30の内部空間に供給される。レーザガスの励起によって発生する上記した光は、ウインドウ31a,31bに進行する。 As shown in FIG. 2, the housing 30 includes an internal space in which light is generated by excitation of the laser gas. A laser gas is supplied from a laser gas supply device 170 to the internal space of the housing 30 through a pipe. The light generated by excitation of the laser gas travels to windows 31a and 31b.
 ウインドウ31aは筐体30におけるレーザ光の進行方向における一端側に位置し、ウインドウ31bは筐体30におけるレーザ光の進行方向における他端側に位置している。ウインドウ31a,31bは、レーザ光のP偏光の反射が抑制されるように、レーザ光の進行方向に対してブリュースター角をなすように傾けられている。ウインドウ31aは筐体30の孔に嵌め込まれ、ウインドウ31bはウインドウ31a側の上記孔とは反対側の孔に嵌め込まれる。 The window 31a is located on one end side of the housing 30 in the traveling direction of the laser light, and the window 31b is located on the other end side of the housing 30 in the traveling direction of the laser light. The windows 31a and 31b are tilted at a Brewster angle with respect to the traveling direction of the laser light so as to suppress the reflection of the P-polarized light of the laser light. The window 31a is fitted into the hole of the housing 30, and the window 31b is fitted into the hole on the opposite side of the window 31a.
 電極32a,32bの長手方向はレーザ光の進行方向に沿っており、電極32a,32bは筐体30の内部空間において互いに対向して配置されている。筐体30における電極32aと電極32bとの間の空間は、ウインドウ31aとウインドウ31bとにより挟まれている。電極32a,32bは、グロー放電によりレーザ媒質を励起するための主放電電極である。本例では、電極32aがカソードであり、電極32bがアノードである。 The longitudinal direction of the electrodes 32a and 32b is along the traveling direction of the laser beam, and the electrodes 32a and 32b are arranged in the internal space of the housing 30 so as to face each other. A space between the electrodes 32a and 32b in the housing 30 is sandwiched between windows 31a and 31b. The electrodes 32a and 32b are main discharge electrodes for exciting the laser medium by glow discharge. In this example, electrode 32a is the cathode and electrode 32b is the anode.
 図3に示すように、電極32aは、絶縁部33によって支持されている。絶縁部33は、筐体30に連続する開口を塞いでいる。絶縁部33は、絶縁体を含む。絶縁体には、例えば、Fガスとの反応性が低いアルミナセラミックスを挙げることができる。絶縁部33のうちの電極32aを支持する部分の横断面の幅は、電極32aに向かい合う電極32bに向かって狭まっている。これにより、絶縁部33は、筐体30内のレーザガスがクロスフローファン46の送風によってクロスフローファン46側から電極32a及び電極32bの間を流れるように、レーザガスをガイドする。図3においては、筐体30の内部空間におけるレーザガスの流れを太線の矢印で示している。レーザガスは、クロスフローファン46、電極32aと電極32bとの間、熱交換器47、及びクロスフローファン46の順に循環する。また、絶縁部33には、導電部材からなるフィードスルー34が埋め込まれている。フィードスルー34は、パルスパワーモジュール143から供給される電圧を電極32aに印加する。 As shown in FIG. 3, the electrode 32a is supported by the insulating portion 33. As shown in FIG. The insulating portion 33 closes the opening that continues to the housing 30 . The insulating portion 33 includes an insulator. Examples of insulators include alumina ceramics, which have low reactivity with F 2 gas. The width of the cross section of the portion of the insulating portion 33 that supports the electrode 32a narrows toward the electrode 32b facing the electrode 32a. Thereby, the insulating part 33 guides the laser gas in the housing 30 so that the laser gas in the housing 30 flows between the electrodes 32 a and 32 b from the cross flow fan 46 side by the cross flow fan 46 . In FIG. 3, the flow of the laser gas in the internal space of the housing 30 is indicated by thick arrows. The laser gas circulates through the cross-flow fan 46, between the electrodes 32a and 32b, the heat exchanger 47, and the cross-flow fan 46 in this order. A feedthrough 34 made of a conductive member is embedded in the insulating portion 33 . The feedthrough 34 applies the voltage supplied from the pulse power module 143 to the electrode 32a.
 電極32bは、電極ホルダ部36に支持されていると共に、電極ホルダ部36に電気的に接続されている。電極ホルダ部36は、配線37を介して筐体30に電気的に接続されている。電極ホルダ部36上には、ガイド39A,39B,39Cが設けられている。ガイド39A,39B,39Cのそれぞれの材料には、例えば、Fガスとの反応性が低い多孔質のニッケル金属を挙げることができる。電極32bは、ガイド39Aとガイド39Bとにより挟み込まれて電極ホルダ部36上に固定されている。 The electrode 32 b is supported by the electrode holder portion 36 and electrically connected to the electrode holder portion 36 . The electrode holder portion 36 is electrically connected to the housing 30 via wiring 37 . Guides 39A, 39B, and 39C are provided on the electrode holder portion 36 . Materials for each of the guides 39A, 39B, and 39C include, for example, porous nickel metal, which has low reactivity with F2 gas. The electrode 32b is fixed on the electrode holder portion 36 by being sandwiched between the guides 39A and 39B.
 誘電体パイプ42、内電極43、及び外電極44は、レーザ光の進行方向に沿って配置されている。誘電体パイプ42の形状は、例えば、円筒状である。誘電体パイプ42は、例えば、酸化アルミニウム等の誘電体から成る。内電極43は、棒状であり、誘電体パイプ42の貫通孔内において誘電体パイプ42に沿って配置されている。図2に示すように、誘電体パイプ42の両端には、固定パイプ42a,42bが接続されている。一方の固定パイプ42aの貫通孔内には、内電極43の一端に接続される不図示の配線が配置されている。また、他方の固定パイプ42bの貫通孔内には、内電極43の他端に接続される不図示の配線が配置されている。これら配線は、フィードスルー34に接続されている。このため、フィードスルー34は、上記のようにパルスパワーモジュール143から供給される電圧を内電極43に印加する。 The dielectric pipe 42, the inner electrode 43, and the outer electrode 44 are arranged along the traveling direction of the laser light. The shape of the dielectric pipe 42 is, for example, cylindrical. The dielectric pipe 42 is made of a dielectric such as aluminum oxide. The inner electrode 43 is rod-shaped and arranged along the dielectric pipe 42 inside the through hole of the dielectric pipe 42 . As shown in FIG. 2, fixed pipes 42a and 42b are connected to both ends of the dielectric pipe 42. As shown in FIG. A wiring (not shown) connected to one end of the inner electrode 43 is arranged in the through hole of one fixed pipe 42a. A wiring (not shown) connected to the other end of the inner electrode 43 is arranged in the through hole of the other fixed pipe 42b. These wirings are connected to feedthroughs 34 . Therefore, the feedthrough 34 applies the voltage supplied from the pulse power module 143 to the inner electrode 43 as described above.
 外電極44の一端は、誘電体パイプ42の外周面の一部に接触している。また、外電極44の他端は、電極ホルダ部36に電気的に接続されている。従って、外電極44は、電極ホルダ部36を介して電極32bに電気的に接続されていると共に、電極ホルダ部36及び配線37を介して筐体30に電気的に接続されている。外電極44は一端と他端との間において屈曲しており、屈曲部は誘電体パイプ42の長手方向に垂直な面内方向において屈曲している。また、屈曲により、外電極44の一端は、誘電体パイプ42の外周面を押すように誘電体パイプ42の外周面に接触している。外電極44は、例えば黄銅から成る。 One end of the outer electrode 44 is in contact with part of the outer peripheral surface of the dielectric pipe 42 . Also, the other end of the outer electrode 44 is electrically connected to the electrode holder portion 36 . Therefore, the outer electrode 44 is electrically connected to the electrode 32 b via the electrode holder portion 36 and electrically connected to the housing 30 via the electrode holder portion 36 and the wiring 37 . The outer electrode 44 is bent between one end and the other end, and the bent portion is bent in the in-plane direction perpendicular to the longitudinal direction of the dielectric pipe 42 . Also, due to the bending, one end of the outer electrode 44 is in contact with the outer peripheral surface of the dielectric pipe 42 so as to press the outer peripheral surface of the dielectric pipe 42 . The outer electrode 44 is made of brass, for example.
 外電極44の他端には不図示のねじ孔が設けられており、外電極44はねじ孔に螺入されるねじ45によってガイド39Bに固定されている。この状態で、外電極44の一端が誘電体パイプ42の外周面に押し付けられて接触している。誘電体パイプ42の外周面のうちの外電極44の一端が接触する接触部位と概ね反対側の部位は、ガイド39Cに接している。従って、外電極44が誘電体パイプ42を押圧しても、誘電体パイプ42はガイド39Cにより支えられる。 A screw hole (not shown) is provided at the other end of the outer electrode 44, and the outer electrode 44 is fixed to the guide 39B by a screw 45 screwed into the screw hole. In this state, one end of the outer electrode 44 is pressed against and contacts the outer peripheral surface of the dielectric pipe 42 . A portion of the outer peripheral surface of the dielectric pipe 42 substantially opposite to the contact portion with which one end of the outer electrode 44 contacts is in contact with the guide 39C. Therefore, even if the outer electrode 44 presses the dielectric pipe 42, the dielectric pipe 42 is supported by the guide 39C.
 内電極43と外電極44とは、誘電体パイプ42を介して対向している。内電極43と外電極44とにパルスパワーモジュール143から高電圧が印加されることで、誘電体パイプ42及び外電極44の近傍にコロナ放電が生じる。このコロナ放電は、電極32a,32b間に生じるグロー放電を補助する。従って、内電極43及び外電極44は、電極32a,32bが起こすグロー放電を補助する予備電離電極である。 The inner electrode 43 and the outer electrode 44 face each other with the dielectric pipe 42 interposed therebetween. A corona discharge is generated near the dielectric pipe 42 and the outer electrode 44 by applying a high voltage from the pulse power module 143 to the inner electrode 43 and the outer electrode 44 . This corona discharge assists the glow discharge that occurs between the electrodes 32a, 32b. Therefore, the inner electrode 43 and the outer electrode 44 are preionization electrodes that assist the glow discharge caused by the electrodes 32a and 32b.
 電極ホルダ部36を基準として電極32b側と反対側における筐体30の内部空間には、クロスフローファン46が配置されている。筐体30の内部空間において、クロスフローファン46が配置される空間は、電極32a,32b間の空間と連通している。このため、クロスフローファン46が回転することで、筐体30の内部空間に封入されるレーザガスは図3において太線の矢印で示すように所定の方向に循環する。クロスフローファン46は、筐体30の外部に配置されているモータ46aに接続されている。モータ46aが回転すると、クロスフローファン46は回転する。モータ46aのON、OFFや回転数は、レーザプロセッサ190による制御によって調節される。従って、レーザプロセッサ190は、モータ46aを制御することで、筐体30の内部空間を循環するレーザガスの循環速度を調節することができる。 A cross-flow fan 46 is arranged in the internal space of the housing 30 on the side opposite to the electrode 32b side with respect to the electrode holder portion 36 . In the internal space of the housing 30, the space in which the cross-flow fan 46 is arranged communicates with the space between the electrodes 32a and 32b. Therefore, by rotating the cross-flow fan 46, the laser gas enclosed in the internal space of the housing 30 circulates in a predetermined direction as indicated by the thick arrow in FIG. The cross-flow fan 46 is connected to a motor 46 a arranged outside the housing 30 . When the motor 46a rotates, the cross flow fan 46 rotates. The ON/OFF and rotation speed of the motor 46a are adjusted under the control of the laser processor 190. FIG. Therefore, the laser processor 190 can adjust the circulation speed of the laser gas circulating in the internal space of the housing 30 by controlling the motor 46a.
 クロスフローファン46の脇には熱交換器47が配置されている。クロスフローファン46の送風により循環するレーザガスの少なくとも一部はこの熱交換器47を通過し、熱交換器47によりレーザガスの温度が調節される。 A heat exchanger 47 is arranged beside the cross flow fan 46 . At least part of the laser gas circulated by the cross-flow fan 46 passes through the heat exchanger 47, and the heat exchanger 47 adjusts the temperature of the laser gas.
 図2に戻り、本例のガスレーザ装置100の説明を続ける。充電器141は、パルスパワーモジュール143の中に設けられる不図示のコンデンサを所定の電圧で充電する直流電源装置である。充電器141は、筐体30の外部に配置されており、パルスパワーモジュール143に接続されている。パルスパワーモジュール143は、レーザプロセッサ190によって制御されるスイッチ143aを含む。スイッチ143aがレーザプロセッサ190の制御によってOFFからONになると、パルスパワーモジュール143は、充電器141から印加される電圧を昇圧してパルス状の高電圧を生成し、この高電圧を電極32a,32bに印加する。高電圧が印加されると、電極32aと電極32bとの間の絶縁が破壊され、放電が起こる。この放電のエネルギーにより、筐体30内のレーザ媒質が励起されて高エネルギー準位に移行する。励起されるレーザ媒質が、その後低エネルギー準位に移行するとき、そのエネルギー準位差に応じた光を放出する。放出される光は、ウインドウ31a,31bに進行する。 Returning to FIG. 2, the description of the gas laser device 100 of this example is continued. The charger 141 is a DC power supply device that charges a capacitor (not shown) provided in the pulse power module 143 with a predetermined voltage. The charger 141 is arranged outside the housing 30 and connected to the pulse power module 143 . Pulse power module 143 includes a switch 143 a controlled by laser processor 190 . When the switch 143a is turned on from off under the control of the laser processor 190, the pulse power module 143 boosts the voltage applied from the charger 141 to generate a pulse-like high voltage, and applies this high voltage to the electrodes 32a and 32b. applied to When a high voltage is applied, the insulation between the electrodes 32a and 32b is broken and discharge occurs. The energy of this discharge excites the laser medium in the housing 30 to shift to a high energy level. When the excited laser medium then shifts to a lower energy level, it emits light corresponding to the energy level difference. The emitted light travels to windows 31a, 31b.
 リアミラー145はウインドウ31aと対向し、出力結合ミラー147はウインドウ31bと対向している。リアミラー145には高反射膜がコートされており、出力結合ミラー147には部分反射膜がコートされている。リアミラー145は、ウインドウ31aから出射するレーザ光を高い反射率で反射して筐体30に戻す。出力結合ミラー147は、ウインドウ31bから出力されるレーザ光のうちの一部を透過させて、他の一部を反射させてウインドウ31bを介して筐体30の内部空間に戻す。出力結合ミラー147は、例えば、フッ化カルシウムの基板に誘電体多層膜が成膜される素子で構成される。 The rear mirror 145 faces the window 31a, and the output coupling mirror 147 faces the window 31b. The rear mirror 145 is coated with a highly reflective film, and the output coupling mirror 147 is coated with a partially reflective film. The rear mirror 145 reflects the laser beam emitted from the window 31 a with high reflectance and returns it to the housing 30 . The output coupling mirror 147 transmits part of the laser light output from the window 31b, reflects another part, and returns it to the internal space of the housing 30 via the window 31b. The output coupling mirror 147 is composed of, for example, an element in which a dielectric multilayer film is formed on a calcium fluoride substrate.
 従って、リアミラー145と出力結合ミラー147とでファブリペロー型のレーザ共振器が構成され、筐体30はレーザ共振器の光路上に配置される。筐体30から出射するレーザ光は、リアミラー145と出力結合ミラー147との間で往復する。往復するレーザ光は、電極32aと電極32bとの間のレーザゲイン空間を通過する度に増幅される。増幅される光の一部は、パルスレーザ光として出力結合ミラー147を透過する。 Therefore, the rear mirror 145 and the output coupling mirror 147 constitute a Fabry-Perot laser resonator, and the housing 30 is arranged on the optical path of the laser resonator. The laser light emitted from housing 30 reciprocates between rear mirror 145 and output coupling mirror 147 . The reciprocating laser light is amplified each time it passes through the laser gain space between the electrodes 32a and 32b. Part of the amplified light passes through the output coupling mirror 147 as pulsed laser light.
 リアミラー145は、筐体30の一端側に接続されている筐体145aの内部空間に不図示のダンパを介して固定される。また、出力結合ミラー147は、筐体30の他端側に接続されている光路管147aの内部空間に不図示のダンパを介して固定される。 The rear mirror 145 is fixed in the internal space of a housing 145a connected to one end of the housing 30 via a damper (not shown). Also, the output coupling mirror 147 is fixed in the internal space of the optical path tube 147a connected to the other end side of the housing 30 via a damper (not shown).
 モニタモジュール150は、出力結合ミラー147を透過するパルスレーザ光の光路上に配置されている。モニタモジュール150は、筐体151と、ビームスプリッタ152と、集光レンズ153と、光センサ154とを主な構成として含む。筐体151には開口が連続しており、この開口を囲むように光路管147aが接続されている。このため、筐体151の内部空間は、この開口を通じて光路管147aの内部空間と連通している。筐体151の内部空間には、ビームスプリッタ152、集光レンズ153、及び光センサ154が配置されている。 The monitor module 150 is arranged on the optical path of the pulsed laser light that passes through the output coupling mirror 147 . The monitor module 150 includes a housing 151, a beam splitter 152, a condenser lens 153, and an optical sensor 154 as main components. The housing 151 has a continuous opening, and an optical path tube 147a is connected so as to surround the opening. Therefore, the internal space of the housing 151 communicates with the internal space of the optical path tube 147a through this opening. A beam splitter 152 , a condenser lens 153 , and an optical sensor 154 are arranged in the internal space of the housing 151 .
 ビームスプリッタ152は、出力結合ミラー147を透過するパルスレーザ光を高い透過率で出射ウインドウ161に透過させると共に、パルスレーザ光の一部を集光レンズ153に向けて反射する。集光レンズ153は、パルスレーザ光を光センサ154の受光面に集光する。光センサ154は、受光面に入射するパルスレーザ光のパルスエネルギの実測値であるパルスエネルギEを計測する。光センサ154は、レーザプロセッサ190に電気的に接続されており、計測するパルスエネルギEを示す信号をレーザプロセッサ190に出力する。 The beam splitter 152 allows the pulsed laser light that passes through the output coupling mirror 147 to pass through the output window 161 with high transmittance, and reflects part of the pulsed laser light toward the condenser lens 153 . Condensing lens 153 converges the pulsed laser light onto the light receiving surface of optical sensor 154 . The optical sensor 154 measures the pulse energy E, which is the measured value of the pulse energy of the pulsed laser light incident on the light receiving surface. Optical sensor 154 is electrically connected to laser processor 190 and outputs a signal to laser processor 190 indicative of the pulse energy E to be measured.
 モニタモジュール150の筐体151における光路管147aが接続される側と反対側には、開口が連続しており、この開口を囲むように光路管161aが接続されている。このため、筐体151の内部空間と光路管161aの内部空間とは、互いに連通している。また、光路管161aは、筐体110に接続されている。筐体110における光路管161aに囲まれる位置には、出射ウインドウ161が設けられている。モニタモジュール150のビームスプリッタ152を透過する光は、出射ウインドウ161から筐体110の外部の露光装置200に出射する。 An opening is continuous on the opposite side of the housing 151 of the monitor module 150 to the side to which the optical path tube 147a is connected, and the optical path tube 161a is connected so as to surround this opening. Therefore, the internal space of the housing 151 and the internal space of the optical path tube 161a communicate with each other. Also, the optical path tube 161 a is connected to the housing 110 . An exit window 161 is provided at a position surrounded by the optical path tube 161 a in the housing 110 . Light transmitted through the beam splitter 152 of the monitor module 150 is emitted from the emission window 161 to the exposure apparatus 200 outside the housing 110 .
 光路管147a,161aや、筐体145a,151の内部空間には、パージガスが充填されている。パージガスには、酸素等の不純物の少ない高純度窒素等の不活性ガスが含まれる。パージガスは、筐体110の外に配置されている不図示のパージガス供給源から、不図示の配管を通じて光路管147a,161aや筐体145a,151の内部空間に供給される。 The optical path tubes 147a, 161a and the internal spaces of the housings 145a, 151 are filled with a purge gas. The purge gas contains an inert gas such as high-purity nitrogen containing few impurities such as oxygen. The purge gas is supplied from a purge gas supply source (not shown) arranged outside the housing 110 to the internal spaces of the optical pipes 147a and 161a and the housings 145a and 151 through pipes (not shown).
 圧力センサ48は、筐体30の内部空間の圧力を計測する。圧力センサ48は、レーザプロセッサ190に電気的に接続されており、計測する圧力を示す信号をレーザプロセッサ190に出力する。 The pressure sensor 48 measures the pressure in the internal space of the housing 30. The pressure sensor 48 is electrically connected to the laser processor 190 and outputs to the laser processor 190 a signal indicative of the pressure to be measured.
 レーザガス供給装置170は、筐体110の外部に配置される不図示のレーザガス供給源から配管を介してレーザガスを供給される。レーザガス供給装置170には、不図示のバルブや流量調節弁が設けられると共に、筐体30に接続される他の配管が接続されている。レーザガス供給装置170は、レーザプロセッサ190からの制御信号により、複数のガスを所望の組成比で混合してレーザガスとし、当該レーザガスをこの他の配管を介して筐体30の内部空間にレーザガスを供給する。 The laser gas supply device 170 is supplied with laser gas through a pipe from a laser gas supply source (not shown) arranged outside the housing 110 . The laser gas supply device 170 is provided with valves and flow control valves (not shown), and is connected to other pipes connected to the housing 30 . The laser gas supply device 170 mixes a plurality of gases at a desired composition ratio to form a laser gas according to a control signal from the laser processor 190, and supplies the laser gas to the internal space of the housing 30 via another pipe. do.
 レーザガス排気装置180には、筐体30に接続される配管が接続されている。レーザガス排気装置180は、不図示の排気ポンプを含み、排気ポンプによって配管を介して筐体30の内部空間のガスを筐体110の内部空間内に排気する。この際、レーザガス排気装置180は、レーザプロセッサ190からの制御信号により排気量等を調節し、筐体30の内部空間から排気されるガスに対して所定の処理をする。 A pipe connected to the housing 30 is connected to the laser gas exhaust device 180 . The laser gas evacuation device 180 includes an evacuation pump (not shown), and evacuates the gas in the internal space of the housing 30 into the internal space of the housing 110 through piping by the evacuation pump. At this time, the laser gas exhaust device 180 adjusts the exhaust amount and the like according to the control signal from the laser processor 190 and performs predetermined processing on the gas exhausted from the internal space of the housing 30 .
 また、筐体110には、排気ダクト111が設けられている。ガスは、排気ダクト111から筐体110の外部に排気される。当該ガスは、レーザガス排気装置180によって筐体30の内部空間から筐体110の内部空間に排気されるガスや、不図示の構成により光路管147a,161a内等から筐体110の内部空間に排気されるガスである。 In addition, the housing 110 is provided with an exhaust duct 111 . The gas is exhausted to the outside of the housing 110 through the exhaust duct 111 . The gas is exhausted from the internal space of the housing 30 to the internal space of the housing 110 by the laser gas exhaust device 180, or is discharged from the optical path tubes 147a and 161a to the internal space of the housing 110 by a configuration not shown. is the gas that is
 本開示のレーザプロセッサ190は、制御プログラムが記憶される記憶装置と、制御プログラムを実行するCPUとを含む処理装置である。レーザプロセッサ190は、本開示に含まれる各種処理を実行するために特別に構成又はプログラムされている。また、レーザプロセッサ190は、ガスレーザ装置100全体を制御する。また、レーザプロセッサ190は、露光装置200の露光プロセッサ290に電気的に接続されており、露光プロセッサ290との間で各種信号を送受信する。 The laser processor 190 of the present disclosure is a processing device that includes a storage device that stores control programs and a CPU that executes the control programs. Laser processor 190 is specially configured or programmed to perform various processes contained in this disclosure. Also, the laser processor 190 controls the entire gas laser device 100 . The laser processor 190 is also electrically connected to the exposure processor 290 of the exposure apparatus 200 and transmits and receives various signals to and from the exposure processor 290 .
 2.2 動作
 次に、比較例のガスレーザ装置100の動作について説明する。
2.2 Operation Next, the operation of the gas laser device 100 of the comparative example will be described.
 ガスレーザ装置100がパルスレーザ光を出射する前の状態で、光路管147a,161aの内部空間や、筐体145a,151の内部空間には、不図示のパージガス供給源からパージガスが充填される。また、筐体30の内部空間には、レーザガス供給装置170からレーザガスが供給される。レーザガスが供給されると、レーザプロセッサ190はモータ46aを制御してクロスフローファン46を回転させる。クロスフローファン46の回転によって、レーザガスは筐体30の内部空間を循環する。 Before the gas laser device 100 emits a pulsed laser beam, the internal spaces of the optical path tubes 147a and 161a and the internal spaces of the housings 145a and 151 are filled with a purge gas from a purge gas supply source (not shown). A laser gas is supplied from a laser gas supply device 170 to the internal space of the housing 30 . When the laser gas is supplied, the laser processor 190 controls the motor 46a to rotate the cross flow fan 46. As shown in FIG. The rotation of the cross-flow fan 46 circulates the laser gas in the internal space of the housing 30 .
 ガスレーザ装置100がパルスレーザ光を出射する際には、レーザプロセッサ190は、露光プロセッサ290から目標パルスエネルギEtを示す信号及び発光トリガ信号を受信する。目標パルスエネルギEtは、露光工程で使用されるパルスエネルギの目標値である。レーザプロセッサ190は、パルスエネルギが目標パルスエネルギEtとなるように充電器141に所定の充電電圧Vhvを設定すると共に、発光トリガ信号に同期させてスイッチ143aをONにする。これにより、パルスパワーモジュール143は、充電器141に保持されている電気エネルギーからパルス状の高電圧を生成し、電極32aと電極32bとの間、及び内電極43と外電極44との間に高電圧が印加される。ただし、内電極43と外電極44との間に高電圧が印加されるタイミングは、電極32aと電極32bとの間に高電圧が印加されるタイミングよりも僅かに早い。内電極43と外電極44との間に高電圧が印加されると、誘電体パイプ42の近傍にコロナ放電が生じ、紫外光が放射される。また、紫外光が電極32aと電極32bとの間のレーザガスを照射すると、電極32aと電極32bとの間のレーザガスが予備電離される。予備電離後において、電極32aと電極32bとの間に高電圧が印加されると、電極32aと電極32bとの間の絶縁が破壊され放電が起こる。放電によって音響波が生成され、当該音響波はガイド39A,39B,39Cに吸収される。当該吸収によってガイド39A,39B,39Cでの超音波の反射が抑制され、電極32aと電極32bとの間への音響波の進行が抑制される。これにより、不安定な放電が抑制され、ガスレーザ装置100から出射する光のエネルギーの安定性の低下が抑制される。 When the gas laser device 100 emits pulsed laser light, the laser processor 190 receives from the exposure processor 290 a signal indicating the target pulse energy Et and a light emission trigger signal. The target pulse energy Et is a target value of pulse energy used in the exposure process. The laser processor 190 sets a predetermined charging voltage Vhv in the charger 141 so that the pulse energy becomes the target pulse energy Et, and turns on the switch 143a in synchronization with the light emission trigger signal. As a result, the pulse power module 143 generates a pulsed high voltage from the electrical energy held in the charger 141 to generate a pulsed high voltage between the electrodes 32a and 32b and between the inner electrode 43 and the outer electrode 44. A high voltage is applied. However, the timing at which the high voltage is applied between the inner electrode 43 and the outer electrode 44 is slightly earlier than the timing at which the high voltage is applied between the electrodes 32a and 32b. When a high voltage is applied between the inner electrode 43 and the outer electrode 44, corona discharge is generated near the dielectric pipe 42 and ultraviolet light is emitted. Further, when the ultraviolet light irradiates the laser gas between the electrodes 32a and 32b, the laser gas between the electrodes 32a and 32b is preionized. After the preliminary ionization, when a high voltage is applied between the electrodes 32a and 32b, the insulation between the electrodes 32a and 32b is broken and discharge occurs. Acoustic waves are generated by the discharge and are absorbed by the guides 39A, 39B, 39C. The absorption suppresses the reflection of the ultrasonic waves on the guides 39A, 39B, and 39C, and suppresses the propagation of the acoustic waves between the electrodes 32a and 32b. As a result, unstable discharge is suppressed, and deterioration in the stability of the energy of light emitted from the gas laser device 100 is suppressed.
 また、上記したように放電が起こると、この放電のエネルギーにより、電極32aと電極32bとの間のレーザガスに含まれるレーザ媒質は励起状態とされて、基底状態に戻る際に自然放出光を放出する。この光の一部は、紫外線であり、ウインドウ31aを透過する。透過する光は、リアミラー145で反射される。リアミラー145で反射される光は、再びウインドウ31aから筐体30の内部空間に伝搬する。筐体30の内部空間に伝搬する光により、励起状態のレーザ媒質は誘導放出を起こし、光が増幅される。光は、ウインドウ31bを透過して、出力結合ミラー147に進行する。光の一部は出力結合ミラー147を透過して、残りの一部は出力結合ミラー147によって反射されてウインドウ31bを透過して筐体30の内部空間に伝搬する。筐体30の内部空間に伝搬する光は、上記したようにリアミラー145に進行する。こうして、所定の波長の光がリアミラー145と出力結合ミラー147との間を往復する。光は筐体30の内部空間における放電空間を通過するたびに増幅され、レーザ発振が起こる。そして、レーザ光の一部は、パルスレーザ光として出力結合ミラー147を透過して、ビームスプリッタ152に進行する。 When a discharge occurs as described above, the laser medium contained in the laser gas between the electrodes 32a and 32b is excited by the energy of this discharge, and emits spontaneous emission light when returning to the ground state. do. Part of this light is ultraviolet rays and passes through the window 31a. The transmitted light is reflected by rear mirror 145 . The light reflected by the rear mirror 145 propagates through the window 31a into the internal space of the housing 30 again. The light propagating in the internal space of the housing 30 causes stimulated emission in the laser medium in an excited state, thereby amplifying the light. The light passes through window 31 b and travels to output coupling mirror 147 . A portion of the light is transmitted through the output coupling mirror 147 and the remaining portion is reflected by the output coupling mirror 147, transmitted through the window 31b, and propagated into the internal space of the housing 30. FIG. Light propagating in the internal space of housing 30 travels to rear mirror 145 as described above. Thus, light of a given wavelength travels back and forth between the rear mirror 145 and the output coupling mirror 147 . The light is amplified each time it passes through the discharge space in the internal space of the housing 30, causing laser oscillation. A portion of the laser light passes through the output coupling mirror 147 as pulsed laser light and travels to the beam splitter 152 .
 ビームスプリッタ152に進行するパルスレーザ光のうちの一部は、ビームスプリッタ152で反射される。反射されるパルスレーザ光は光センサ154で受光され、光センサ154は受光するパルスレーザ光のパルスエネルギEを計測する。光センサ154は、計測するパルスエネルギEを示す信号をレーザプロセッサ190に出力する。レーザプロセッサ190は、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとの差ΔEが許容範囲内になるように、充電器141の充電電圧Vhvをフィードバック制御する。差ΔEが許容範囲内となると、パルスレーザ光はビームスプリッタ152及び出射ウインドウ161を透過して露光装置200に入射する。このパルスレーザ光は、中心波長が約193nmの紫外線であるArFレーザ光である。 A portion of the pulsed laser light traveling to the beam splitter 152 is reflected by the beam splitter 152 . The reflected pulsed laser light is received by the optical sensor 154, and the optical sensor 154 measures the pulse energy E of the received pulsed laser light. Optical sensor 154 outputs a signal to laser processor 190 indicative of the pulse energy E to be measured. Laser processor 190 feedback-controls charging voltage Vhv of charger 141 so that difference ΔE between pulse energy E and target pulse energy Et is within an allowable range. When the difference ΔE falls within the allowable range, the pulsed laser light passes through the beam splitter 152 and the exit window 161 and enters the exposure apparatus 200 . This pulsed laser light is ArF laser light, which is ultraviolet light with a center wavelength of about 193 nm.
 筐体30の内部空間の圧力は圧力センサ48によって計測されており、圧力センサ48からの圧力を示す信号がレーザプロセッサ190に入力される。レーザプロセッサ190は、充電電圧Vhvが許容範囲の最大値よりも高い場合、圧力センサ48からの信号を基にレーザガス供給装置170を制御し、筐体30の内部空間の圧力が所定圧力となるまで、レーザガスを筐体30の内部空間に供給する。また、レーザプロセッサ190は、充電電圧Vhvが許容範囲の最小値よりも低い場合、当該信号を基にレーザガス排気装置180を制御し、当該圧力が所定圧力となるまで、レーザガスを筐体30の内部空間から排気する。 The pressure in the internal space of the housing 30 is measured by the pressure sensor 48, and a signal indicating the pressure from the pressure sensor 48 is input to the laser processor 190. When the charging voltage Vhv is higher than the maximum allowable range, the laser processor 190 controls the laser gas supply device 170 based on the signal from the pressure sensor 48 until the pressure in the internal space of the housing 30 reaches a predetermined pressure. , supplies the laser gas to the internal space of the housing 30 . Further, when the charging voltage Vhv is lower than the minimum value of the allowable range, the laser processor 190 controls the laser gas exhaust device 180 based on the signal, and discharges the laser gas into the housing 30 until the pressure reaches a predetermined pressure. Exhaust from the space.
 2.3 課題
 比較例のチャンバ装置CHでは、レーザガスの励起によって光が発生する際に、筐体30の内部空間における温度が上昇してしまうことがある。温度が上昇すると、当該内部空間における温度分布に偏りが生じることがある。また、レーザガスがレーザガス供給装置170から筐体30の内部空間に供給されると、当該内部空間における圧力が上昇する。温度上昇による筐体30の熱膨張、温度分布の偏りによる筐体30の内部空間における熱膨張差、及び圧力の上昇によって、筐体30が変形してしまうことがある。筐体30が変形してしまうと、筐体30から出射するレーザ光の進行方向が予め想定される進行方向から変化してしまうことがある。この変化によって、ガスレーザ装置100から露光装置200に向かって出射するレーザ光の進行方向も予め想定される進行方向から変化してしまうことがある。従って、ガスレーザ装置100の信頼性が低下するという懸念が生じる。
2.3 Problems In the chamber device CH of the comparative example, the temperature in the internal space of the housing 30 may rise when light is generated by excitation of the laser gas. When the temperature rises, the temperature distribution in the internal space may become uneven. Further, when the laser gas is supplied from the laser gas supply device 170 to the internal space of the housing 30, the pressure in the internal space increases. The housing 30 may be deformed due to thermal expansion of the housing 30 due to a temperature rise, a difference in thermal expansion in the internal space of the housing 30 due to uneven temperature distribution, and an increase in pressure. If the housing 30 is deformed, the traveling direction of the laser light emitted from the housing 30 may change from the previously assumed traveling direction. Due to this change, the traveling direction of the laser light emitted from the gas laser device 100 toward the exposure device 200 may also change from the previously assumed traveling direction. Therefore, there arises a concern that the reliability of the gas laser device 100 is lowered.
 そこで、以下の実施形態では、ガスレーザ装置100の信頼性の低下が抑制され得るチャンバ装置CHが例示される。 Therefore, in the following embodiments, a chamber device CH capable of suppressing deterioration in reliability of the gas laser device 100 is illustrated.
3.実施形態のチャンバ装置の説明
 次に、実施形態のチャンバ装置CHについて説明する。なお、上記において説明した構成と同様の構成については同一の符号を付し、特に説明する場合を除き、重複する説明は省略する。また、一部の図面では、見易さのため、部材の一部を省略または簡略して記載している場合がある。
3. Description of Chamber Device of Embodiment Next, the chamber device CH of the embodiment will be described. In addition, the same reference numerals are given to the same configurations as those described above, and duplicate descriptions will be omitted unless otherwise specified. Also, in some drawings, some of the members may be omitted or simplified for clarity.
 3.1 構成
 図4は、本実施形態のガスレーザ装置100の全体の概略構成例を示す模式図である。図4においては、レーザ光の進行方向に略垂直な方向からみたチャンバ装置CHの内部構成が示されている。図5は、チャンバ装置CHにおける内側筐体50を囲う外側筐体70、及び温度調節器93を示す斜視図である。図6は、図4に示すチャンバ装置CHのレーザ光の進行方向に垂直な断面図である。図6では、比較例と同様に、レーザガスの流れを太線の矢印で示している。
3.1 Configuration FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of the overall configuration of the gas laser device 100 of this embodiment. FIG. 4 shows the internal configuration of the chamber device CH as viewed from a direction substantially perpendicular to the traveling direction of the laser light. FIG. 5 is a perspective view showing the outer housing 70 surrounding the inner housing 50 and the temperature controller 93 in the chamber device CH. FIG. 6 is a cross-sectional view of the chamber device CH shown in FIG. 4 perpendicular to the traveling direction of the laser light. In FIG. 6, as in the comparative example, the flow of the laser gas is indicated by thick arrows.
 本実施形態のチャンバ装置CHにおいて、チャンバ装置CHの筐体の構成が比較例の筐体30の構成と異なっている。本実施形態のチャンバ装置CHは、筒状の内側筐体50と、内側筐体50を外側から囲う外側筐体70と、レーザ光の進行方向の側方における内側筐体50と外側筐体70との間の隙間に配置される隔壁80と、温度センサ91と、温度調節器93とを主な構成として備える。 In the chamber device CH of the present embodiment, the configuration of the housing of the chamber device CH is different from the configuration of the housing 30 of the comparative example. The chamber device CH of the present embodiment includes a cylindrical inner housing 50, an outer housing 70 surrounding the inner housing 50 from the outside, and the inner housing 50 and the outer housing 70 on the sides in the traveling direction of the laser light. , a temperature sensor 91, and a temperature adjuster 93 as main components.
 内側筐体50は、比較例の筐体30と同様に、レーザガスの励起によって光が発生する内部空間を含む。この内部空間には、比較例の筐体30の内部空間と同様に、電極32a,32bと、絶縁部33と、電極ホルダ部36と、ガイド39A,39B,39Cと、誘電体パイプ42と、内電極43と、外電極44と、クロスフローファン46と、熱交換器47と、圧力センサ48とが配置される。レーザガス供給装置170及びレーザガス排気装置180のそれぞれの配管は、外側筐体70を貫通して内側筐体50の内部空間に連通する。内側筐体50の長手方向は内側筐体50の内部空間におけるレーザ光の進行方向に沿っており、レーザ光は筒状の内側筐体50の両端の通過口である開口50a,50bを通過する。このような内側筐体50は、内側筐体50の内部空間を進行するレーザ光の周囲を囲う。 The inner housing 50 includes an internal space in which light is generated by excitation of the laser gas, similar to the housing 30 of the comparative example. Like the internal space of the housing 30 of the comparative example, this internal space includes electrodes 32a and 32b, an insulating portion 33, an electrode holder portion 36, guides 39A, 39B and 39C, a dielectric pipe 42, An inner electrode 43, an outer electrode 44, a cross-flow fan 46, a heat exchanger 47, and a pressure sensor 48 are arranged. Each pipe of the laser gas supply device 170 and the laser gas exhaust device 180 passes through the outer housing 70 and communicates with the internal space of the inner housing 50 . The longitudinal direction of the inner housing 50 is along the traveling direction of the laser light in the inner space of the inner housing 50, and the laser light passes through the openings 50a and 50b, which are passage holes at both ends of the cylindrical inner housing 50. . Such an inner housing 50 encloses the laser beam traveling through the internal space of the inner housing 50 .
 図7は、内側筐体50及び隔壁80を囲う外側筐体70の外側本体部71を示す斜視図である。図7では、内側筐体50及び隔壁80のうち外側本体部71によって囲われている部分を破線で示している。 FIG. 7 is a perspective view showing the outer body portion 71 of the outer housing 70 surrounding the inner housing 50 and the partition wall 80. FIG. In FIG. 7, portions of the inner housing 50 and the partition wall 80 that are surrounded by the outer body portion 71 are indicated by dashed lines.
 図6及び図7に示すように、内側筐体50は、内側筐体50の長手方向において長い長方形状の底板51aと、半円形状の1対の曲面板51b,51cとを主な構成として含む。それぞれの曲面板51b,51cは、同じ大きさである。内側筐体50の長手方向に沿って底板51a及び曲面板51b,51cを見る場合において、曲面板51b,51cは、底板51aを基準にして左右対称に配置されており、互いに離れる方向に膨らむように湾曲している。底板51aの幅方向において、曲面板51bの一端の外周面は底板51aの一端の内面に、曲面板51cの一端の外周面は底板51aの他端の内面に、ロウ付けによって固定される。ロウ付けにおいて、曲面板51b,51cは、底板51aとの接触部分全体においてロウ付けされる。これにより、当該固定部分から内側筐体50の外部へのレーザガスの漏れが抑制される。また、曲面板51b,51cの他端の一部は、底板51aに概ね垂直な方向において内側筐体50の外側に向かって折れ曲がる。折れ曲がるそれぞれの他端は上記のようにロウ付けによって固定され、枠状の突起53が設けられる。枠状の突起53は内側筐体50の長手方向に長い長方形状であり、枠状の突起53の内側には開口50cが設けられる。開口50cは、内側筐体50の長手方向に長い長方形状であり、絶縁部33によって塞がれる。内側筐体50の長手方向における突起53よりも外側において、折れ曲がるそれぞれの曲面板51b,51cの他端の残りの一部は底板51aに向かい合うよう折れ曲がり、残りの一部はロウ付けによって互いに固定される。 As shown in FIGS. 6 and 7, the inner housing 50 mainly includes a rectangular bottom plate 51a elongated in the longitudinal direction of the inner housing 50 and a pair of semicircular curved plates 51b and 51c. include. Each of the curved plates 51b and 51c has the same size. When looking at the bottom plate 51a and the curved plates 51b and 51c along the longitudinal direction of the inner housing 50, the curved plates 51b and 51c are arranged symmetrically with respect to the bottom plate 51a, and bulge away from each other. is curved. In the width direction of the bottom plate 51a, the outer peripheral surface of one end of the curved plate 51b is fixed to the inner surface of one end of the bottom plate 51a, and the outer peripheral surface of one end of the curved plate 51c is fixed to the inner surface of the other end of the bottom plate 51a by brazing. In brazing, the curved plates 51b and 51c are brazed over the entire contact portion with the bottom plate 51a. This suppresses leakage of the laser gas from the fixed portion to the outside of the inner housing 50 . Part of the other ends of the curved plates 51b and 51c are bent toward the outside of the inner housing 50 in a direction substantially perpendicular to the bottom plate 51a. The other end of each bent portion is fixed by brazing as described above, and a frame-shaped projection 53 is provided. The frame-shaped projection 53 has a rectangular shape elongated in the longitudinal direction of the inner housing 50, and an opening 50c is provided inside the frame-shaped projection 53. As shown in FIG. The opening 50 c has a rectangular shape elongated in the longitudinal direction of the inner housing 50 and is closed by the insulating portion 33 . Outside the projection 53 in the longitudinal direction of the inner housing 50, the remaining portions of the other ends of the bent curved plates 51b and 51c are bent so as to face the bottom plate 51a, and the remaining portions are fixed to each other by brazing. be.
 底板51aの板厚は、内側筐体50における底板51a以外の板である曲面板51b,51cの板厚よりも厚くされている。例えば、底板51aの板厚は5mm以上7mm以下であり、曲面板51b,51cの板厚は1mm以上3mm以下である。このように、内側筐体50の板厚は、1mm以上7mm以下である。平板である底板51aが曲面板51b,51cよりも厚い場合、底板51aが曲面板51b,51cと同じ厚みの場合よりも、底板51aの強度が上がる。また、底板51aが平板である場合、底板51aが内側筐体50の中心軸から離れる方向に膨らむように湾曲している曲面板である場合よりも、チャンバ装置CHの容積が少なくなる。容積が少なくなると、レーザガス供給装置170からのレーザガスの消費量が少なくなり、ガスレーザ装置100全体が小型となる。内側筐体50の材質には、例えば、ニッケル合金、フェライト系ステンレス、または二相系ステンレスを挙げることができる。例えば、ニッケル合金はモネルであり、モネルの線膨張係数は13.9×10-6/℃である。例えば、フェライト系ステンレスはSUS430であり、SUS430の線膨張係数は10.4×10-6/℃である。また、例えば、二相系ステンレスはSUS329J4Lであり、SUS329J4Lの線膨張係数は13.0×10-6/℃である。 The plate thickness of the bottom plate 51a is thicker than the plate thickness of the curved plates 51b and 51c, which are plates other than the bottom plate 51a in the inner housing 50. As shown in FIG. For example, the plate thickness of the bottom plate 51a is 5 mm or more and 7 mm or less, and the plate thickness of the curved plates 51b and 51c is 1 mm or more and 3 mm or less. Thus, the plate thickness of the inner housing 50 is 1 mm or more and 7 mm or less. When the bottom plate 51a, which is a flat plate, is thicker than the curved plates 51b and 51c, the strength of the bottom plate 51a is higher than when the bottom plate 51a has the same thickness as the curved plates 51b and 51c. Further, when the bottom plate 51a is a flat plate, the volume of the chamber device CH is smaller than when the bottom plate 51a is a curved plate that swells in a direction away from the central axis of the inner housing 50 . When the volume is reduced, the consumption of laser gas from the laser gas supply device 170 is reduced, and the entire gas laser device 100 is made compact. Examples of the material of the inner housing 50 include nickel alloy, ferritic stainless steel, and duplex stainless steel. For example, a nickel alloy is Monel, which has a coefficient of linear expansion of 13.9×10 −6 /°C. For example, ferritic stainless steel is SUS430, and the coefficient of linear expansion of SUS430 is 10.4×10 -6 /°C. Further, for example, the duplex stainless steel is SUS329J4L, and the coefficient of linear expansion of SUS329J4L is 13.0×10 −6 /°C.
 図6に示すように、内側筐体50の内周面の一部には、冷却フィン57がロウ付けによって固定される。ロウ付けにおいて、冷却フィン57は、内側筐体50の内周面との接触部分全体においてロウ付けされる。図6では、冷却フィン57が底板51aの表面及び曲面板51bの内周面に固定される例が示されている。冷却フィン57は、クロスフローファン46によって内側筐体50の内部空間を循環するレーザガスの進行方向において、電極32aと電極32bとの間の空間よりも下流側に配置される。冷却フィン57は、内側筐体50の内部空間においてレーザ光の進行経路の側方に配置されており、レーザ光を遮光しない。内側筐体50の内部空間における熱は、冷却フィン57を介して内側筐体50の外部に放出される。冷却フィン57は図6及び後述する図8以外の図面では図示を省略している。 As shown in FIG. 6, cooling fins 57 are fixed to a part of the inner peripheral surface of the inner housing 50 by brazing. In brazing, the cooling fins 57 are brazed over the entire contact portion with the inner peripheral surface of the inner housing 50 . FIG. 6 shows an example in which the cooling fins 57 are fixed to the surface of the bottom plate 51a and the inner peripheral surface of the curved plate 51b. The cooling fins 57 are arranged downstream of the space between the electrodes 32 a and 32 b in the traveling direction of the laser gas circulating in the internal space of the inner housing 50 by the cross flow fan 46 . The cooling fins 57 are arranged on the side of the traveling path of the laser light in the inner space of the inner housing 50 and do not block the laser light. Heat in the internal space of the inner housing 50 is radiated to the outside of the inner housing 50 via the cooling fins 57 . The cooling fins 57 are omitted in the drawings other than FIG. 6 and FIG. 8 to be described later.
 図5、図6、及び図7に示すように、外側筐体70は、レーザ光の進行方向の側方、前方、及び後方から内側筐体50を囲う。このような外側筐体70は、外側本体部71と、蓋板73と、前面板75と、後面板77とを主な構成として含む。 As shown in FIGS. 5, 6, and 7, the outer housing 70 surrounds the inner housing 50 from the side, front, and rear in the traveling direction of the laser light. Such an outer housing 70 includes an outer body portion 71, a lid plate 73, a front plate 75, and a rear plate 77 as main components.
 外側本体部71は、内側筐体50を側方から囲うと共に側方に開口70cを含む板である。このような外側本体部71の横断面は例えばU字形状であり、外側本体部71は、内側筐体50の底板51a、曲面板51b,51c、及び突起53の側方においてそれぞれに向かい合って配置される。外側本体部71は内側筐体50と概ね同じ長さであり、外側本体部71の長手方向は内側筐体50の長手方向に沿っている。 The outer body portion 71 is a plate that encloses the inner housing 50 from the side and includes an opening 70c on the side. The cross section of the outer main body portion 71 is, for example, U-shaped, and the outer main body portion 71 is arranged to face the bottom plate 51a, the curved plates 51b and 51c, and the projections 53 of the inner housing 50 on the sides thereof. be done. The outer main body portion 71 has approximately the same length as the inner housing 50 , and the longitudinal direction of the outer main body portion 71 is along the longitudinal direction of the inner housing 50 .
 蓋板73は、外側本体部71の両端及び両端の開口70cに配置され、外側本体部71の開口70c側を覆う。蓋板73には、内側筐体50の突起53が嵌まり込む開口73cが連続する。また、蓋板73には蓋板73の上面に連続する溝が連続する。溝は、開口73cの周囲に設けられ、内側筐体50の長手方向に長い長方形状である。溝には、蓋板73と絶縁部33との間を封止する封止部材79が配置される。封止部材79は、例えば、メタルシールである。 The cover plates 73 are arranged at both ends of the outer body portion 71 and the openings 70c at both ends, and cover the openings 70c side of the outer body portion 71 . The cover plate 73 continues with an opening 73c into which the protrusion 53 of the inner housing 50 is fitted. Further, the cover plate 73 is provided with a groove continuous with the upper surface of the cover plate 73 . The groove is provided around the opening 73 c and has a rectangular shape elongated in the longitudinal direction of the inner housing 50 . A sealing member 79 for sealing between the cover plate 73 and the insulating portion 33 is arranged in the groove. The sealing member 79 is, for example, a metal seal.
 また、蓋板73は、外側本体部71の長手方向に直交する方向において外側本体部71の側面よりも外側に向かって突出する突出部73aを含む。当該側面とは、内側筐体50の底板51aの幅方向において、外側本体部71のうちの曲面板51b,51cと向かい合う面である。突出部73aは、直交方向における蓋板73の両端側のそれぞれに設けられる。それぞれの突出部73aは、蓋板73に対して外側本体部71の側面に向かって当該側面を囲うように折れ曲がる。この場合における突出部73aの折れ曲がり角度は、例えば25°以上35°以下である。また、突出部73aの長さは、例えば100mm以上150mm以下である。この長さは、突出部73aの折れ曲がり部から当該折れ曲がり部から最も離れた端までの長さであり、外側本体部71の側面と当該端との間の長さではない。図6では、折れ曲がり部は、当該側面の側方に位置している例を示しているが、側面の縁に位置してもよい。 The lid plate 73 also includes a protruding portion 73a that protrudes outward from the side surface of the outer main body portion 71 in the direction perpendicular to the longitudinal direction of the outer main body portion 71 . The side surface is a surface facing the curved plates 51b and 51c of the outer body portion 71 in the width direction of the bottom plate 51a of the inner housing 50 . The protrusions 73a are provided on both end sides of the cover plate 73 in the orthogonal direction. Each protruding portion 73a is bent toward the side surface of the outer body portion 71 with respect to the cover plate 73 so as to surround the side surface. The bending angle of the projecting portion 73a in this case is, for example, 25° or more and 35° or less. Moreover, the length of the projecting portion 73a is, for example, 100 mm or more and 150 mm or less. This length is the length from the bent portion of the projecting portion 73a to the farthest end from the bent portion, not the length between the side surface of the outer body portion 71 and the end. Although FIG. 6 shows an example in which the bent portion is located on the side of the side surface, the bent portion may be located on the edge of the side surface.
 なお、蓋板73のうちの突出部73aを除く平面領域の面内方向は底板51aの面内方向に平行であり、突出部73aは面内方向に沿って外側本体部71の側面よりも外側に向かって突出してもよい。或いは、突出部73aは、外側本体部71の側面とは反対側に折れ曲がってもよい。突出部73aの長さは、外側本体部71の側面に向かって折れ曲がる場合において最も短く、外側本体部71の側面に向かって折れ曲がる場合と、外側本体部71の側面とは反対側に向かって折れ曲がる場合と、面内方向に沿って突出する場合との順で長くなる。 The in-plane direction of the planar region of the cover plate 73 excluding the projecting portion 73a is parallel to the in-plane direction of the bottom plate 51a, and the projecting portion 73a is located outside the side surface of the outer body portion 71 along the in-plane direction. may protrude toward Alternatively, the projecting portion 73 a may be bent to the side opposite to the side surface of the outer main body portion 71 . The length of the protruding portion 73a is the shortest when it is bent toward the side surface of the outer body portion 71, and when it is bent toward the side surface of the outer body portion 71, it is bent toward the side opposite to the side surface of the outer body portion 71. , and the case of protruding along the in-plane direction.
 図5に示すように、前面板75は、内側筐体50及び外側本体部71の長手方向において、内側筐体50の一端側における開口50a及び開口50aの周縁部と、外側筐体70の一端側における開口及び開口の周縁部とに配置される。前面板75には、開口75aが連続する。開口75aは、内側筐体50の開口50aと概ね同じ大きさ及び形状であり、前面板75が内側筐体50の一端側及び外側本体部71の一端側に取り付けられると開口50aに重なる。前面板75には、出力結合ミラー147を保持する不図示の出力側ホルダが取り付けられる。出力側ホルダは、出力結合ミラー147が開口50aに向かい合うように、前面板75に取り付けられる。 As shown in FIG. 5 , the front panel 75 includes an opening 50 a at one end of the inner housing 50 , a peripheral portion of the opening 50 a , and one end of the outer housing 70 in the longitudinal direction of the inner housing 50 and the outer main body 71 . are positioned at the openings at the sides and at the perimeter of the openings. The front plate 75 is continuous with an opening 75a. The opening 75a has approximately the same size and shape as the opening 50a of the inner housing 50, and overlaps the opening 50a when the front panel 75 is attached to one end of the inner housing 50 and one end of the outer main body 71. An output-side holder (not shown) that holds the output coupling mirror 147 is attached to the front plate 75 . The output side holder is attached to the front plate 75 so that the output coupling mirror 147 faces the opening 50a.
 後面板77は、内側筐体50及び外側本体部71の長手方向において、内側筐体50の他端側における開口50b及び開口50bの周縁部と、外側筐体70の他端側における開口及び開口の周縁部とに配置される。後面板77には、不図示の開口が連続する。開口は、内側筐体50の開口50bと概ね同じ大きさ及び形状であり、後面板77が内側筐体50の他端側及び外側本体部71の他端側に取り付けられると開口50bに重なる。後面板77には、リアミラー145を保持する不図示のリア側ホルダが取り付けられる。リア側ホルダは、リアミラー145が内側筐体50の開口50bに向かい合うように、後面板77に取り付けられる。従って、本実施形態のチャンバ装置CHでは、筐体145aは、不要となり得る。 In the longitudinal direction of the inner housing 50 and the outer main body 71, the rear plate 77 includes the opening 50b at the other end of the inner housing 50 and the peripheral edge of the opening 50b, and the opening and the opening at the other end of the outer housing 70. is located at the periphery of the An opening (not shown) continues to the rear plate 77 . The opening has approximately the same size and shape as the opening 50b of the inner housing 50, and overlaps the opening 50b when the rear plate 77 is attached to the other end side of the inner housing 50 and the other end side of the outer body portion 71. A rear-side holder (not shown) that holds the rear mirror 145 is attached to the rear plate 77 . The rear holder is attached to the rear plate 77 so that the rear mirror 145 faces the opening 50b of the inner housing 50. As shown in FIG. Therefore, the housing 145a may be unnecessary in the chamber device CH of the present embodiment.
 外側筐体70では、隔壁80が設けられるため、外側筐体70の強度は内側筐体50の強度よりも低くされてもよい。このため、外側本体部71、蓋板73、前面板75、及び後面板77のそれぞれの板厚は、内側筐体50の板厚よりも薄くされてもよい。それぞれの板厚が薄いと、それぞれの板厚が内側筐体50の板厚と同じまたは厚い場合よりも、チャンバ装置のCHの重量が少なくなる。外側本体部71、蓋板73、前面板75、及び後面板77のそれぞれの板厚は、例えば1mm以上3mm以下である。外側本体部71、蓋板73、前面板75、及び後面板77の材質には、内側筐体50と同様に、例えば、ニッケル合金を挙げることができる。 Since the partition wall 80 is provided in the outer housing 70 , the strength of the outer housing 70 may be lower than the strength of the inner housing 50 . Therefore, the plate thickness of each of the outer body portion 71 , the lid plate 73 , the front plate 75 , and the rear plate 77 may be made thinner than the plate thickness of the inner housing 50 . When each plate thickness is thin, the weight of CH of the chamber device is smaller than when each plate thickness is the same as or thicker than the plate thickness of the inner housing 50 . The thickness of each of the outer main body portion 71, the lid plate 73, the front plate 75, and the rear plate 77 is, for example, 1 mm or more and 3 mm or less. The material of the outer body portion 71 , the lid plate 73 , the front plate 75 , and the rear plate 77 can be, for example, a nickel alloy, like the inner casing 50 .
 図6及び図7に示すように、隔壁80は複数であり、それぞれの隔壁80は内側筐体50、外側本体部71、及び突出部73aを除く蓋板73を支持する支持部材である。隔壁80は、内側筐体50の外周面及び外側筐体70の内周面に、ロウ付けによって固定される。ロウ付けにおいて、隔壁80は、内側筐体50の外周面との接触部分全体及び外側筐体70の内周面との接触部分全体のそれぞれにおいてロウ付けされる。外側筐体70の内周面とは、外側本体部71の内周面と突出部73aを除く蓋板73の裏面とである。 As shown in FIGS. 6 and 7, there are a plurality of partition walls 80, and each partition wall 80 is a support member that supports the inner casing 50, the outer body portion 71, and the cover plate 73 excluding the projecting portion 73a. The partition wall 80 is fixed to the outer peripheral surface of the inner housing 50 and the inner peripheral surface of the outer housing 70 by brazing. In the brazing, the partition wall 80 is brazed at each of the entire contact portion with the outer peripheral surface of the inner housing 50 and the entire contact portion with the inner peripheral surface of the outer housing 70 . The inner peripheral surface of the outer casing 70 is the inner peripheral surface of the outer main body portion 71 and the rear surface of the cover plate 73 excluding the projecting portion 73a.
 それぞれの隔壁80は、隔壁80の面内方向が内側筐体50の長手方向に略垂直な方向に沿って配置されている状態で、内側筐体50の長手方向に所定の間隔をあけて並列に配置されている。従って、複数の隔壁80のうちのある隔壁80の表面は当該隔壁80に隣り合う隔壁80の裏面に向かい合い、隣り合う隔壁80は隙間をあけて配置されている。隔壁80は、内側筐体50と外側本体部71との間の隙間を内側筐体50の長手方向に直交する方向において仕切ると共に、当該隙間を内側筐体50の長手方向において前後に仕切る壁である。また、前面板75及び前面板75に隣り合う隔壁80の間と、後面板77及び後面板77に隣り合う隔壁80の間とにも、隙間が設けられる。図7では、11の隔壁80が配置されている例を示しているが、隔壁80は少なくとも1つ配置されていればよい。 The respective partition walls 80 are arranged in parallel with each other in the longitudinal direction of the inner casing 50 with a predetermined interval in a state in which the in-plane direction of the partition walls 80 is arranged along a direction substantially perpendicular to the longitudinal direction of the inner casing 50 . are placed in Therefore, the surface of a certain partition wall 80 among the plurality of partition walls 80 faces the rear surface of the partition wall 80 adjacent to the partition wall 80, and the adjacent partition walls 80 are arranged with a gap therebetween. The partition 80 is a wall that partitions the gap between the inner housing 50 and the outer main body portion 71 in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the inner housing 50 and partitions the gap into front and rear in the longitudinal direction of the inner housing 50 . be. Further, gaps are also provided between the front plate 75 and the partition walls 80 adjacent to the front plate 75 and between the rear plate 77 and the partition walls 80 adjacent to the rear plate 77 . Although FIG. 7 shows an example in which 11 partition walls 80 are arranged, at least one partition wall 80 may be arranged.
 図8は、冷却フィン57と隔壁80との位置関係を示す図である。図8に示すように、内側筐体50の内周面には複数の冷却フィン57が配置される。それぞれの冷却フィン57は、隔壁80と同様に、冷却フィン57の面内方向が内側筐体50の長手方向に略垂直な方向に沿って配置されている状態で、内側筐体50の長手方向に所定の間隔をあけて並列に配置されている。また、隔壁80及び冷却フィン57は、内側筐体50の長手方向に沿って交互に配置される。冷却フィン57は、内側筐体50の長手方向において隣り合う隔壁80の概ね中間に配置されることが好ましい。従って、隣り合う隔壁80の間の長さは、隣り合う冷却フィン57の間の長さと概ね同じである。なお、それぞれの間の長さが同じである場合において、冷却フィン57は隣り合う隔壁80の概ね中間に配置されていなくてもよい。図8では、複数の冷却フィン57が配置されている例を示しているが、冷却フィン57は1つ配置されていてもよいし配置されていなくてもよい。また、複数の冷却フィン57が内側筐体50の周方向に沿って配置されていてもよい。この場合、隣り合う冷却フィン57は、互いに離れて配置されていてもよいし、互いに接して配置されていてもよい。 FIG. 8 is a diagram showing the positional relationship between the cooling fins 57 and the partition wall 80. FIG. As shown in FIG. 8 , a plurality of cooling fins 57 are arranged on the inner peripheral surface of the inner housing 50 . Each of the cooling fins 57 is arranged along the longitudinal direction of the inner housing 50 with the in-plane direction of the cooling fins 57 arranged along the direction substantially perpendicular to the longitudinal direction of the inner housing 50, similarly to the partition wall 80 . are arranged in parallel at predetermined intervals. Also, the partition walls 80 and the cooling fins 57 are alternately arranged along the longitudinal direction of the inner housing 50 . Preferably, the cooling fins 57 are arranged approximately midway between the partition walls 80 adjacent in the longitudinal direction of the inner housing 50 . Therefore, the length between adjacent partition walls 80 is approximately the same as the length between adjacent cooling fins 57 . In addition, when the length between them is the same, the cooling fins 57 do not have to be arranged substantially in the middle of the adjacent partition walls 80 . Although FIG. 8 shows an example in which a plurality of cooling fins 57 are arranged, one cooling fin 57 may or may not be arranged. Also, a plurality of cooling fins 57 may be arranged along the circumferential direction of the inner housing 50 . In this case, adjacent cooling fins 57 may be arranged apart from each other, or may be arranged in contact with each other.
 温度センサ91は、内側筐体50の内部空間の温度を測定する。図4及び図5に示す温度調節器93は、温度調節器93の不図示のポンプによって冷却媒体を内側筐体50と外側本体部71との間の隙間に供給し、冷却媒体によって内側筐体50を冷却するチラーである。温度センサ91及び温度調節器93は、レーザプロセッサ190に電気的に接続されている。温度センサ91は内側筐体50の内部空間の温度を示す信号をレーザプロセッサ190に出力し、レーザプロセッサ190は当該信号を基に冷却媒体の温度を示す信号を温度調節器93に出力する。冷却媒体は、液体であるが、気体でもよい。温度調節器93は、レーザプロセッサ190からの信号を基に冷却媒体の温度を調節する。冷却媒体の設定温度は例えば20℃以上70℃以下であり、流路を流れる冷却媒体の温度範囲は設定温度の±3℃であることが好ましい。 The temperature sensor 91 measures the temperature of the internal space of the inner housing 50 . The temperature adjuster 93 shown in FIGS. 4 and 5 supplies a cooling medium to the gap between the inner housing 50 and the outer main body 71 using a pump (not shown) of the temperature adjuster 93, and the cooling medium cools the inner housing. 50 is a chiller. Temperature sensor 91 and temperature controller 93 are electrically connected to laser processor 190 . The temperature sensor 91 outputs a signal indicating the temperature of the internal space of the inner housing 50 to the laser processor 190, and the laser processor 190 outputs a signal indicating the temperature of the cooling medium to the temperature controller 93 based on the signal. The cooling medium is liquid, but it can also be gas. A temperature controller 93 adjusts the temperature of the cooling medium based on the signal from the laser processor 190 . The set temperature of the cooling medium is, for example, 20° C. or higher and 70° C. or lower, and the temperature range of the cooling medium flowing through the flow path is preferably ±3° C. of the set temperature.
 温度調節器93は、前面板75に設けられる流入口75dに接続される配管93a及び後面板77に設けられる流出口77dに接続される配管93bに接続される。流出口77dは、図5では隠れて図示されていないが、図8で図示している。温度調節器93は、冷却媒体を、温度調節器93、配管93a、内側筐体50と外側本体部71との間の隙間、配管93b、及び温度調節器93の順で循環させる。なお、温度調節器93は、冷却媒体を、上記とは逆に循環させてもよい。内側筐体50と外側本体部71との間の隙間を流れる冷却媒体の流路は、前面板75と前面板75に隣り合う隔壁80との間の隙間、隣り合う隔壁80の間のそれぞれの隙間、及び後面板77と後面板77に隣り合う隔壁80との間の隙間である。隣り合う隔壁80の間のそれぞれの隙間は、当該隔壁80と、曲面板51b,51cと、突起53と、外側本体部71と、蓋板73とによって囲まれる。 The temperature adjuster 93 is connected to a pipe 93a connected to an inlet 75d provided on the front plate 75 and a pipe 93b connected to an outlet 77d provided to the rear plate 77. The outflow port 77d is hidden and not shown in FIG. 5, but is shown in FIG. The temperature adjuster 93 circulates the cooling medium through the temperature adjuster 93, the pipe 93a, the gap between the inner housing 50 and the outer body portion 71, the pipe 93b, and the temperature adjuster 93 in this order. Note that the temperature controller 93 may circulate the cooling medium in the opposite direction to the above. The flow path of the cooling medium flowing through the gap between the inner housing 50 and the outer main body 71 is the gap between the front plate 75 and the partition wall 80 adjacent to the front plate 75, and the gap between the partition walls 80 adjacent to the front plate 75. and a gap between the rear plate 77 and the partition wall 80 adjacent to the rear plate 77 . Each gap between adjacent partition walls 80 is surrounded by the partition walls 80 , the curved plates 51 b and 51 c , the projections 53 , the outer body portion 71 and the cover plate 73 .
 図6、図7、及び図8に示すように、チャンバ装置CHは、内側筐体50の長手方向における隔壁80と同じ位置に設けられ、隣り合う隙間のうちの一方の隙間から当該隙間に隣り合う他方の隙間に冷却媒体が流れる通路80aをさらに含む。また、図7及び図8では、通路80aは、隔壁80に設けられる開口である例が示されている。通路80aは、流路の一部である。冷却媒体は、前面板75側から後面板77側において、前面板75側の隙間から通路80aを通過して当該隙間に隣り合う後面板77側の隙間に流れる。内側筐体50の長手方向に沿って見る場合において、隣り合う隔壁80のうちの一方の隔壁80の通路80aは、他方の隔壁80の通路80aと重ならない位置に設けられる。従って、一方の隔壁80の通路80aの少なくとも一部は、内側筐体50の周方向において、他方の隔壁80の通路80aからずれて位置する。また、図7及び図8では、内側筐体50の長手方向に沿って見る場合に、一方の隔壁80の通路80aは、隙間において冷却媒体が流れない非流通領域を基準として他方の隔壁80の通路80aとは反対側に設けられる例を示している。非流通領域とは、底板51aの面内方向において曲面板51b,51cそれぞれの突起53の間の領域である。内側筐体50の長手方向に沿って見る場合において、例えば、冷却媒体は、前面板75側の隙間を内側筐体50の周方向において時計回りに流れ、当該隙間に隣り合う後面板77側の隙間を当該周方向において反時計回りに流れる。従って、冷却媒体は、隣り合う隙間のそれぞれにおいて逆方向に流れる。それぞれの隙間における冷却媒体の流れを図7において破線の矢印で図示している。図7では見易さのため、それぞれの流れを1つ図示している。流路において、上記したように隔壁80は内側筐体50の外周面との接触部分全体及び外側筐体70の内周面との接触部分全体のそれぞれにおいてロウ付けされる。従って、当該接触部分からの冷却媒体の漏れが抑制され、冷却媒体は通路80aを経由して隣り合う隙間のうちの一方の隙間から他方の隙間に流れる。 As shown in FIGS. 6, 7, and 8, the chamber device CH is provided at the same position as the partition wall 80 in the longitudinal direction of the inner housing 50, and is adjacent to one of the adjacent gaps. The other mating gap further includes a passage 80a through which a cooling medium flows. 7 and 8 show an example in which the passage 80a is an opening provided in the partition wall 80. As shown in FIG. Passage 80a is part of the flow path. From the front plate 75 side to the rear plate 77 side, the cooling medium passes through the passage 80a from the gap on the front plate 75 side and flows into the gap on the rear plate 77 side adjacent to the gap. When viewed along the longitudinal direction of the inner housing 50 , the passage 80 a of one of the adjacent partitions 80 is provided at a position that does not overlap the passage 80 a of the other partition 80 . Therefore, at least a portion of the passage 80a of one partition 80 is positioned offset from the passage 80a of the other partition 80 in the circumferential direction of the inner housing 50. As shown in FIG. 7 and 8, when viewed along the longitudinal direction of the inner housing 50, the passage 80a of one of the partitions 80 is defined by the non-circulation area of the other of the partitions 80, where the cooling medium does not flow in the gap. An example provided on the side opposite to the passage 80a is shown. The non-flow area is an area between the projections 53 of the curved plates 51b and 51c in the in-plane direction of the bottom plate 51a. When viewed along the longitudinal direction of the inner housing 50, for example, the cooling medium flows clockwise in the circumferential direction of the inner housing 50 through the gap on the front plate 75 side, and flows in the rear plate 77 side adjacent to the gap. It flows counterclockwise in the circumferential direction through the gap. Therefore, the cooling medium flows in opposite directions in each of the adjacent gaps. The flow of the cooling medium in each gap is illustrated by dashed arrows in FIG. In FIG. 7, one of each flow is illustrated for ease of viewing. In the flow path, as described above, the partition wall 80 is brazed at the entire contact portion with the outer peripheral surface of the inner housing 50 and the entire contact portion with the inner peripheral surface of the outer housing 70 . Therefore, leakage of the cooling medium from the contact portion is suppressed, and the cooling medium flows from one of the adjacent gaps to the other through the passage 80a.
 3.2 作用・効果
 本実施形態のチャンバ装置CHは、レーザガスの励起によって発生する光が通過する通過口である開口50a,50bを含む内側筐体50と、光の進行方向の側方から内側筐体50を囲う外側筐体70と、内側筐体50及び外側筐体70の間に配置され、内側筐体50及び外側筐体70に固定される隔壁80とを備える。
3.2 Functions and Effects The chamber device CH of the present embodiment includes an inner housing 50 including openings 50a and 50b, which are passage ports through which light generated by excitation of a laser gas passes, An outer housing 70 surrounding the housing 50 and a partition wall 80 arranged between the inner housing 50 and the outer housing 70 and fixed to the inner housing 50 and the outer housing 70 are provided.
 チャンバ装置CH内では、レーザガスの励起によって光が発生する際に、内側筐体50の内部空間における温度が上昇してしまうことがある。温度が上昇すると、当該内部空間における温度分布に偏りが生じることがある。また、レーザガスがレーザガス供給装置170から内側筐体50の内部空間に供給されると、当該内部空間における圧力が上昇する。温度上昇による内側筐体50の熱膨張、温度分布の偏りによる内側筐体50の内部空間における熱膨張差、及び圧力の上昇によって、内側筐体50が変形しようとする。しかしながら、本実施形態のチャンバ装置CHでは、内側筐体50の当該変形は、内側筐体50の外周面に固定される隔壁80及び隔壁80が固定される外側筐体70によって抑制され得る。例えば、熱膨張及び圧力上昇によって内側筐体50が広がるように変形しようとしても、内側筐体50の広がりは隔壁80及び外側筐体70によって抑制され得る。また、内側筐体50が縮むように変形しようとしても、内側筐体50の縮みは隔壁80及び外側筐体70によって抑制され得る。このように内側筐体50の変形が抑制されると、内側筐体50から出射するレーザ光の進行方向は予め想定される進行方向からの変化を抑制され得る。当該変化が抑制されると、ガスレーザ装置100から露光装置200に向かって出射する光の進行方向は予め想定される進行方向からの変化を抑制され得る。従って、ガスレーザ装置100の信頼性の低下が抑制され得る。 Inside the chamber device CH, the temperature in the inner space of the inner housing 50 may rise when light is generated by excitation of the laser gas. When the temperature rises, the temperature distribution in the internal space may become uneven. Further, when the laser gas is supplied from the laser gas supply device 170 to the internal space of the inner housing 50, the pressure in the internal space increases. The inner housing 50 tries to deform due to thermal expansion of the inner housing 50 due to temperature rise, thermal expansion difference in the internal space of the inner housing 50 due to uneven temperature distribution, and pressure increase. However, in the chamber device CH of this embodiment, the deformation of the inner housing 50 can be suppressed by the partition wall 80 fixed to the outer peripheral surface of the inner housing 50 and the outer housing 70 to which the partition wall 80 is fixed. For example, even if the inner housing 50 tries to expand due to thermal expansion and pressure rise, the expansion of the inner housing 50 can be suppressed by the partition wall 80 and the outer housing 70 . Moreover, even if the inner housing 50 tries to deform so as to shrink, the shrinkage of the inner housing 50 can be suppressed by the partition wall 80 and the outer housing 70 . When the deformation of the inner housing 50 is suppressed in this way, the traveling direction of the laser light emitted from the inner housing 50 can be suppressed from changing from the previously assumed traveling direction. If the change is suppressed, the traveling direction of the light emitted from the gas laser device 100 toward the exposure device 200 can be suppressed from changing from the previously assumed traveling direction. Therefore, deterioration in reliability of the gas laser device 100 can be suppressed.
 また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、隔壁80及び外側筐体70が内側筐体50の変形を抑制するため、隔壁80及び外側筐体70が設けられていない状態に比べて内側筐体50の板厚が薄くなり得る。従って、隔壁80及び外側筐体70が配置されても、チャンバ装置CHの重量が少なくなり得、チャンバ装置CHの取り扱いが容易になり得る。また、隔壁80及び外側筐体70が設けられていない状態で内側筐体50の変形を抑制するためには、内側筐体50の剛性を上げる必要がある。剛性を上げるためには、内側筐体50の板厚を厚くする必要がある。本実施形態のチャンバ装置CHでは、隔壁80及び外側筐体70が内側筐体50の変形を抑制するため、内側筐体50の板厚が厚くなることが不要になり得る。また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、隔壁80及び外側筐体70によって、チャンバ装置CHの剛性が上がり得る。 In addition, in the chamber device CH of the present embodiment, since the partition wall 80 and the outer housing 70 suppress deformation of the inner housing 50, the deformation of the inner housing 50 is reduced compared to the state where the partition wall 80 and the outer housing 70 are not provided. thickness can be reduced. Therefore, even if the partition wall 80 and the outer housing 70 are arranged, the weight of the chamber device CH can be reduced, and the handling of the chamber device CH can be facilitated. Further, in order to suppress deformation of the inner housing 50 in a state where the partition wall 80 and the outer housing 70 are not provided, it is necessary to increase the rigidity of the inner housing 50 . In order to increase the rigidity, it is necessary to increase the plate thickness of the inner housing 50 . In the chamber device CH of the present embodiment, since the partition wall 80 and the outer housing 70 suppress deformation of the inner housing 50, it may not be necessary to increase the plate thickness of the inner housing 50. FIG. Moreover, in the chamber device CH of the present embodiment, the rigidity of the chamber device CH can be increased by the partition wall 80 and the outer housing 70 .
 また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、隔壁80は複数である。この場合、隔壁80が1つである場合に比べて、内側筐体50の変形が抑制され得、チャンバ装置CHの剛性が上がり得る。 Also, in the chamber device CH of the present embodiment, there are a plurality of partition walls 80 . In this case, the deformation of the inner housing 50 can be suppressed and the rigidity of the chamber device CH can be increased compared to the case where there is only one partition wall 80 .
 また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、蓋板73は、外側本体部71の側面よりも外側に向かって突出する突出部73aを含む。突出部73aが設けられる場合では、突出部73aが設けられない場合に比べて、蓋板73の剛性は突出部73aが設けられる分だけ上がる。従って、内側筐体50が変形しようとしても、蓋板73は内側筐体50の変形を抑制し、内側筐体50の変形による蓋板73の変形も抑制され得る。また、上記したように蓋板73の剛性が上がるため、突出部73aが設けられない場合に比べて、蓋板73の変形が抑制され得、突出部73aを含む蓋板73の板厚は薄くなり得る。従って、突出部73aが設けられても、チャンバ装置CHの重量が少なくなり得、チャンバ装置CHの取り扱いが容易になり得る。 In addition, in the chamber device CH of the present embodiment, the cover plate 73 includes a protruding portion 73a that protrudes outward from the side surface of the outer main body portion 71 . When the projecting portion 73a is provided, the rigidity of the cover plate 73 is increased by the amount of the projecting portion 73a provided, compared to the case where the projecting portion 73a is not provided. Therefore, even if the inner housing 50 tries to deform, the lid plate 73 suppresses deformation of the inner housing 50 , and deformation of the lid plate 73 due to deformation of the inner housing 50 can also be suppressed. In addition, since the rigidity of the lid plate 73 increases as described above, deformation of the lid plate 73 can be suppressed compared to the case where the protrusion 73a is not provided, and the plate thickness of the lid plate 73 including the protrusion 73a is thin. can be. Therefore, even if the projecting portion 73a is provided, the weight of the chamber device CH can be reduced, and the handling of the chamber device CH can be facilitated.
 また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、突出部73aが蓋板73に対して外側本体部71の側面に向かって折れ曲がる。この場合、突出部73aが外側本体部71の側面から離れる方向に向かって折れ曲がる場合と比較して、それぞれの場合で蓋板73が同じ剛性を備えようとすると、突出部73aは短くなり得る。従って、チャンバ装置CHの重量は、少なくなり得る。 Further, in the chamber device CH of the present embodiment, the protruding portion 73a is bent toward the side surface of the outer main body portion 71 with respect to the cover plate 73 . In this case, if the cover plate 73 has the same rigidity in each case as compared with the case where the projecting portion 73a is bent away from the side surface of the outer body portion 71, the projecting portion 73a can be shortened. Therefore, the weight of the chamber device CH can be reduced.
 また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、冷却フィン57が内側筐体50の内周面に配置されており、内側筐体50の内部空間における熱は、冷却フィン57、内側筐体50、隔壁80、及び外側筐体70を介して外側筐体70の外部に放出される。冷却フィン57が配置される場合では、冷却フィン57が配置されていない場合に比べて、放熱量が増え、内側筐体50の温度上昇及び内側筐体50の内部空間における温度分布の偏りが抑制され得、内側筐体50の変形が抑制され得る。 Further, in the chamber device CH of the present embodiment, the cooling fins 57 are arranged on the inner peripheral surface of the inner housing 50, and the heat in the internal space of the inner housing 50 is dissipated through the cooling fins 57, the inner housing 50, and the partition wall. 80 and the outer housing 70 to the outside of the outer housing 70 . In the case where the cooling fins 57 are arranged, the amount of heat dissipation is increased compared to the case where the cooling fins 57 are not arranged, and the temperature rise of the inner housing 50 and the deviation of the temperature distribution in the inner space of the inner housing 50 are suppressed. and deformation of the inner housing 50 can be suppressed.
 また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、冷却フィン57は複数である。この場合、冷却フィン57が1つである場合に比べて、放熱量が増える。放熱量が増えると、内側筐体50の温度上昇及び内側筐体50の内部空間における温度分布の偏りがより抑制され得、内側筐体50の変形がより抑制され得る。 Also, in the chamber device CH of the present embodiment, there are a plurality of cooling fins 57 . In this case, the amount of heat released increases compared to the case where the number of cooling fins 57 is one. When the amount of heat released increases, the temperature rise of the inner housing 50 and the uneven temperature distribution in the internal space of the inner housing 50 can be further suppressed, and the deformation of the inner housing 50 can be further suppressed.
 また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、隔壁80及び冷却フィン57は、光の進行方向に沿って、交互に配置される。隣り合う隔壁80の間における内側筐体50の剛性は、隔壁80が位置する部分における内側筐体50の剛性に比べて、隔壁80が配置されていないため、下がる。上記のように隔壁80及び冷却フィン57が交互に配置される場合、隔壁80が内側筐体50を介して冷却フィン57に隣り合って配置される場合に比べて、隣り合う隔壁80の間における内側筐体50の剛性は、冷却フィン57が配置されるため、上がる。従って、隔壁80が内側筐体50を介して冷却フィン57に隣り合って配置される場合に比べて、内側筐体50の変形は、抑制され得る。なお、冷却フィン57は、隔壁80と同じ位置に、つまり、内側筐体50を介して隔壁80に隣り合って配置されてもよい。 In addition, in the chamber device CH of the present embodiment, the partition walls 80 and the cooling fins 57 are arranged alternately along the light traveling direction. The rigidity of the inner housing 50 between the adjacent partitions 80 is lower than the rigidity of the inner housing 50 at the portion where the partitions 80 are located because the partitions 80 are not arranged. When the partition walls 80 and the cooling fins 57 are arranged alternately as described above, the distance between the adjacent partition walls 80 is greater than when the partition walls 80 are arranged adjacent to the cooling fins 57 via the inner housing 50 . The rigidity of the inner housing 50 is increased due to the arrangement of the cooling fins 57 . Therefore, deformation of the inner housing 50 can be suppressed compared to the case where the partition wall 80 is arranged adjacent to the cooling fins 57 via the inner housing 50 . The cooling fins 57 may be arranged at the same position as the partition wall 80 , that is, adjacent to the partition wall 80 with the inner housing 50 interposed therebetween.
 また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、冷却フィン57は、隣り合う隔壁80の中間に配置される。この場合、冷却フィン57が隣り合う隔壁80の間においてどちらか一方の隔壁80に偏って配置される場合に比べて、内側筐体50の長手方向における内側筐体50の強度分布の変化が抑制され得、内側筐体50の変形が抑制され得る。なお、隣り合う隔壁80間の長さは、隣り合う冷却フィン57間の長さと異なっていてもよい。 Also, in the chamber device CH of the present embodiment, the cooling fins 57 are arranged between the adjacent partition walls 80 . In this case, the change in the strength distribution of the inner housing 50 in the longitudinal direction of the inner housing 50 is suppressed as compared with the case where the cooling fins 57 are arranged unevenly on one of the partition walls 80 between the adjacent partition walls 80. and deformation of the inner housing 50 can be suppressed. The length between adjacent partition walls 80 may be different from the length between adjacent cooling fins 57 .
 また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、内側筐体50及び外側筐体70の間において隔壁80によって区分けられる隣り合う隙間は、冷却媒体が流れる流路である。隙間に冷却媒体が流れると、冷却媒体は、内側筐体50の外周面に接し、内側筐体50を直接冷却する。冷却媒体が内側筐体50を冷却すると、内側筐体50の温度上昇が抑制され得、内側筐体50の変形が抑制され得る。 In addition, in the chamber device CH of the present embodiment, the adjacent gaps partitioned by the partition wall 80 between the inner housing 50 and the outer housing 70 are channels through which the cooling medium flows. When the cooling medium flows through the gap, the cooling medium comes into contact with the outer peripheral surface of the inner housing 50 and directly cools the inner housing 50 . When the cooling medium cools the inner housing 50, the temperature rise of the inner housing 50 can be suppressed, and the deformation of the inner housing 50 can be suppressed.
 また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、流路は内側筐体50の外側に設けられる。この場合、流路が内側筐体50の内側に設けられる場合に比べて、内側筐体50の内部空間におけるレーザガスの循環経路における流路抵抗が減り、クロスフローファン46のモータ46aの出力が低減し得る。 In addition, in the chamber device CH of the present embodiment, the channel is provided outside the inner housing 50 . In this case, compared with the case where the flow path is provided inside the inner housing 50, the flow path resistance in the circulation path of the laser gas in the internal space of the inner housing 50 is reduced, and the output of the motor 46a of the cross flow fan 46 is reduced. can.
 また、冷却媒体が内側筐体50を冷却すると、冷却媒体が内側筐体50を冷却しない場合に比べて、熱交換器47の熱容量が少なくなり得る、或いは熱交換器47が不要となり得る。従って、チャンバ装置CHの重量は、少なくなり得る。なお、冷却フィン57が配置されても、熱交換器47の容量が少なくなり得る、或いは熱交換器47が不要となり得る。また、温度調節器93は配置されなくてもよく、冷却媒体は隙間を流れなくてもよい。 Also, when the cooling medium cools the inner housing 50, the heat capacity of the heat exchanger 47 may be reduced, or the heat exchanger 47 may be unnecessary, compared to when the cooling medium does not cool the inner housing 50. Therefore, the weight of the chamber device CH can be reduced. Even if the cooling fins 57 are arranged, the capacity of the heat exchanger 47 may be reduced, or the heat exchanger 47 may be unnecessary. Also, the temperature adjuster 93 may not be arranged, and the cooling medium may not flow through the gap.
 また、本実施形態のチャンバ装置CHは、レーザ光の進行方向における隔壁80と同じ位置に設けられ、隣り合う隙間のうちの一方の隙間から他方の隙間に冷却媒体が流れる通路80aを含む。通路80aが設けられていない場合において冷却媒体がそれぞれの隙間を流れるためには、それぞれの隙間に配管を連結する必要がある。しかしながら、通路80aが設けられることによって、それぞれの隙間に配管を連結する必要がなくなり、チャンバ装置CHの重量は少なくなり得る。また、前面板75に流入口75dが設けられ、後面板77に流出口77dが設けられることによって、冷却媒体はそれぞれの隙間を流れることで流路を循環し得る。 In addition, the chamber device CH of the present embodiment includes a passage 80a provided at the same position as the partition wall 80 in the traveling direction of the laser beam, and through which the cooling medium flows from one of the adjacent gaps to the other gap. In order for the cooling medium to flow through the respective gaps when the passage 80a is not provided, it is necessary to connect pipes to the respective gaps. However, provision of the passages 80a eliminates the need to connect pipes to the respective gaps, and the weight of the chamber device CH can be reduced. In addition, since the front plate 75 is provided with the inlet 75d and the rear plate 77 is provided with the outlet 77d, the cooling medium can circulate through the flow path by flowing through the respective gaps.
 なお、通路80aがそれぞれの隔壁80に設けられておらず、それぞれの隙間に配管が連結されて、冷却媒体がそれぞれの隙間に流れてもよい。冷却媒体が上記のように循環する場合、冷却媒体が上流側から下流側に流れる過程において、内側筐体50からの熱によって冷却媒体の温度が上昇し、冷却媒体が内側筐体50を想定よりも冷却しないことがある。しかしながら、冷却媒体がそれぞれの隙間に流れる場合では、冷却媒体が上記のように循環する場合に比べて、冷却媒体の温度の変化が抑制され得、内側筐体50が冷却され得、内側筐体50の変形が抑制され得る。 The passages 80a may not be provided in the respective partition walls 80, and pipes may be connected to the respective gaps so that the cooling medium flows through the respective gaps. When the cooling medium circulates as described above, the temperature of the cooling medium rises due to the heat from the inner housing 50 in the course of the cooling medium flowing from the upstream side to the downstream side, and the cooling medium flows through the inner housing 50 more than expected. may not cool down. However, when the cooling medium flows through the respective gaps, compared with the case where the cooling medium circulates as described above, the change in the temperature of the cooling medium can be suppressed, the inner housing 50 can be cooled, and the inner housing can be cooled. 50 deformation can be suppressed.
 通路80aは、全ての隔壁80に配置されていなくてもよい。例えば前面板75側から5番目の隔壁80に通路80aが設けられていない場合、前面板75側から1番目から5番目の隙間が1つの流路となり、前面板75側から6番目から12番目の隙間が上記流路とは別の流路となる。この場合、それぞれの流路に配管を連結して、それぞれの流路に冷却媒体が流れてもよい。また、1つの隔壁80に複数の通路80aが設けられてもよい。 The passages 80a do not have to be arranged in all the partition walls 80. For example, if the passage 80a is not provided in the fifth partition wall 80 from the front plate 75 side, the first to fifth gaps from the front plate 75 side form one flow path, and the sixth to twelfth gaps from the front plate 75 side become one channel. is a flow path different from the flow path described above. In this case, a pipe may be connected to each flow path, and the cooling medium may flow through each flow path. Also, one partition 80 may be provided with a plurality of passages 80a.
 また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、光の進行方向に沿って見る場合において、隣り合う隔壁80のうちの一方の隔壁80の通路80aは、他方の隔壁80の通路80aと重ならない位置に設けられる。これにより、冷却媒体は隣り合う隙間のそれぞれで逆方向に流れ得る。 In addition, in the chamber device CH of the present embodiment, the passage 80a of one partition 80 of the adjacent partitions 80 is positioned so as not to overlap the passage 80a of the other partition 80 when viewed along the traveling direction of light. be provided. This allows the cooling medium to flow in opposite directions in each of the adjacent gaps.
 また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、外側筐体70は、内側筐体50のうちの通過口を含む面を囲う板を含み、当該板には通過口に向かい合うと共にレーザ光の少なくとも一部を反射するミラーが配置される。通過口が開口50aである場合、板は前面板75であり、ミラーは出力結合ミラー147である。前面板75には、出力側ホルダを介して開口50aに向かい合う出力結合ミラー147が配置される。前面板75が内側筐体50に配置されても、上記したように内側筐体50の変形が抑制されるため、出力結合ミラー147を含む前面板75のずれが抑制され得る。仮に出力結合ミラー147を含む前面板75がずれてしまうと、出力結合ミラー147を透過するレーザ光の進行方向が予め想定される進行方向から変化してしまうことがある。しかしながら、上記のように前面板75のずれが抑制されると、出力結合ミラー147を透過するレーザ光の進行方向は予め想定される進行方向からの変化を抑制され得る。当該変化が抑制されると、ガスレーザ装置100から露光装置200に向かって出射する光の進行方向は予め想定される進行方向からの変化を抑制され得る。従って、ガスレーザ装置100の信頼性の低下が抑制され得る。また、出力結合ミラー147が前面板75に配置されると、比較例のガスレーザ装置100で説明した光路管147aにおけるダンパが不要となり得る。従って、チャンバ装置CHの重量は少なくなり得る。また、モニタモジュール150の筐体151が前面板75に連結されれば、光路管147aが不要となり得、チャンバ装置CHの重量は少なくなり得る。 In addition, in the chamber device CH of the present embodiment, the outer housing 70 includes a plate that surrounds the surface of the inner housing 50 that includes the passage opening, and the plate faces the passage opening and at least part of the laser beam A mirror is placed to reflect the If the passage is aperture 50 a , the plate is front plate 75 and the mirror is output coupling mirror 147 . An output coupling mirror 147 is arranged on the front plate 75 so as to face the opening 50a via an output side holder. Even if the front plate 75 is arranged in the inner housing 50, the deformation of the inner housing 50 is suppressed as described above, so that the displacement of the front plate 75 including the output coupling mirror 147 can be suppressed. If the front plate 75 including the output coupling mirror 147 is displaced, the traveling direction of the laser light passing through the output coupling mirror 147 may change from the expected traveling direction. However, when the displacement of the front plate 75 is suppressed as described above, the traveling direction of the laser light passing through the output coupling mirror 147 can be suppressed from changing from the previously assumed traveling direction. If the change is suppressed, the traveling direction of the light emitted from the gas laser device 100 toward the exposure device 200 can be suppressed from changing from the previously assumed traveling direction. Therefore, deterioration in reliability of the gas laser device 100 can be suppressed. Further, when the output coupling mirror 147 is arranged on the front plate 75, the damper in the optical path tube 147a described in the gas laser device 100 of the comparative example may be unnecessary. Therefore, the weight of the chamber device CH can be reduced. Also, if the housing 151 of the monitor module 150 is connected to the front plate 75, the optical path tube 147a can be eliminated, and the weight of the chamber device CH can be reduced.
 また、通過口が開口50bである場合、板は後面板77であり、ミラーはリアミラー145である。後面板77には、リア側ホルダを介して開口50bに向かい合うリアミラー145が配置される。この場合においても、前面板75と同様に、リアミラー145を含む後面板77のずれが抑制され得、ガスレーザ装置100の信頼性の低下が抑制され得る。また、リアミラー145が後面板77に配置されると、比較例のガスレーザ装置100で説明した筐体145a及びダンパが不要となり得る。従って、チャンバ装置CHの重量は少なくなり得る。 Further, when the passage port is the opening 50b, the plate is the rear plate 77 and the mirror is the rear mirror 145. A rear mirror 145 is arranged on the rear plate 77 so as to face the opening 50b via a rear holder. Also in this case, similarly to the front plate 75, the displacement of the rear plate 77 including the rear mirror 145 can be suppressed, and the deterioration of the reliability of the gas laser device 100 can be suppressed. Further, when the rear mirror 145 is arranged on the rear plate 77, the case 145a and the damper described in the gas laser device 100 of the comparative example may be unnecessary. Therefore, the weight of the chamber device CH can be reduced.
 また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、蓋板73には、絶縁部33と、蓋板73と絶縁部33との間を封止する封止部材79とが配置される。この場合、封止部材79が配置されない場合と比べて、外側筐体70の外部から内部への酸素等の不純物の侵入が抑制され得、レーザガスの交換回数が少なくなり得る。また、本実施形態のチャンバ装置CHでは、蓋板73の材質はニッケル合金であり、封止部材79はメタルシールである。絶縁部33のアルミナセラミックスの線膨張係数は、例えば7.2×10-6/℃である。また、例えば、ニッケル合金はモネルであり、モネルとアルミナセラミックスとの線膨張係数は、モネル、SUS430、及びSUS329J4L以外に比べて小さくなり得、蓋板73に対する絶縁部33の相対的に位置ずれが抑制され得る。位置ずれが抑制されると、位置ずれによってガスレーザの漏れが発生し易いものの封止性能が高いメタルシールを封止部材79として用いることができる。メタルシールが用いられると、メタルシール以外の封止部材が用いられる場合に比べて、封止の信頼性がより向上する。 Further, in the chamber device CH of the present embodiment, the cover plate 73 is provided with the insulating portion 33 and a sealing member 79 for sealing between the cover plate 73 and the insulating portion 33 . In this case, intrusion of impurities such as oxygen from the outside of the outer housing 70 into the inside of the outer housing 70 can be suppressed, and the number of times the laser gas is replaced can be reduced, compared to the case where the sealing member 79 is not arranged. Moreover, in the chamber device CH of the present embodiment, the material of the lid plate 73 is a nickel alloy, and the sealing member 79 is a metal seal. The linear expansion coefficient of alumina ceramics of the insulating portion 33 is, for example, 7.2×10 −6 /°C. Further, for example, the nickel alloy is Monel, and the coefficient of linear expansion between Monel and alumina ceramics can be smaller than those other than Monel, SUS430, and SUS329J4L. can be suppressed. If the positional displacement is suppressed, a metal seal that is likely to cause gas laser leakage due to the positional displacement but has high sealing performance can be used as the sealing member 79 . When a metal seal is used, the reliability of sealing is further improved compared to the case where a sealing member other than a metal seal is used.
 本実施形態のチャンバ装置CHでは、通路80aは、開口としているが、これに限定される必要はない。例えば、隔壁80の一部が内側筐体50及び外側筐体70の少なくとも一方から離れて配置され、通路80aは当該一部と内側筐体50及び外側筐体70の少なくとも一方との間の隙間であってもよい。このような通路80aとして、例えば、隔壁80の一部が例えば曲面板51bの他端側及び曲面板51b側の突起53から離れて配置され、曲面板51bの他端側と突起53と隔壁80と蓋板73との間の隙間が挙げられる。なお、当該隙間は、曲面板51c側に設けられてもよい。或いは、通路80aは、隔壁80に設けられる切り欠き及び切り欠きにおける開口を塞ぐ蓋板73によって形成されてもよい。外側筐体70は、内側筐体50の少なくとも一部を囲ってもよい。外側筐体70は、少なくともレーザ光の進行方向の側方から内側筐体50を囲ってもよい。外側本体部71は、内側筐体50よりも長くても短くてもよい。冷却フィン57は内側筐体50の内周面に、隔壁80は内側筐体50の外周面及び外側筐体70の内周面に、溶接によって固定されてもよい。内側筐体50及び外側筐体70との間に配置され、それぞれに固定される部材は、隔壁80に限定される必要はない。当該部材は内側筐体50、外側本体部71、及び突出部73aを除く蓋板73を支持すればよく、当該部材には例えば内側筐体50と外側筐体70の外側本体部71とを支持する棒状の部材が挙げられる。棒状の部材は、複数であり、スポークのように内側筐体50の中心軸を基準に内側筐体50の外周面から外側本体部71の内周面及び突出部73aを除く蓋板73の裏面に向かって放射状に伸びてもよい。また、複数の隔壁80が内側筐体50の周方向に沿って配置されていてもよい。この場合、隣り合う隔壁は、互いに離れて配置されていてもよいし、互いに接して配置されていてもよい。冷却フィン57は、外側筐体70の外周面に配置されてもよい。冷却媒体の流路に温度センサが設けられてもよい。温度センサは、流路を流れる冷却媒体の温度を測定する。温度センサは、レーザプロセッサ190に電気的に接続されており、冷却媒体の温度を示す信号をレーザプロセッサ190に出力する。レーザプロセッサ190は、当該信号と温度センサ91からの信号とを基に冷却媒体の温度を示す信号を温度調節器93に出力してもよい。 Although the passage 80a is an opening in the chamber device CH of the present embodiment, it is not necessary to be limited to this. For example, a portion of the partition wall 80 is disposed away from at least one of the inner housing 50 and the outer housing 70, and the passage 80a is a gap between the portion and at least one of the inner housing 50 and the outer housing 70. may be As such a passage 80a, for example, a part of the partition wall 80 is arranged apart from the other end side of the curved plate 51b and the protrusion 53 on the curved plate 51b side, and the other end side of the curved plate 51b, the protrusion 53 and the partition wall 80 and the cover plate 73 . Note that the gap may be provided on the side of the curved plate 51c. Alternatively, the passage 80a may be formed by a notch provided in the partition wall 80 and a cover plate 73 that closes the opening in the notch. Outer housing 70 may surround at least a portion of inner housing 50 . The outer housing 70 may surround the inner housing 50 at least from the sides in the traveling direction of the laser light. The outer body portion 71 may be longer or shorter than the inner housing 50 . The cooling fins 57 may be fixed to the inner peripheral surface of the inner housing 50, and the partition wall 80 may be fixed to the outer peripheral surface of the inner housing 50 and the inner peripheral surface of the outer housing 70 by welding. The member arranged between the inner housing 50 and the outer housing 70 and fixed to each does not need to be limited to the partition wall 80 . The members only need to support the inner housing 50, the outer main body portion 71, and the cover plate 73 excluding the protruding portion 73a. A rod-shaped member that There are a plurality of rod-shaped members, which extend from the outer peripheral surface of the inner housing 50 to the inner peripheral surface of the outer main body portion 71 and the rear surface of the cover plate 73 excluding the projecting portion 73a with the central axis of the inner housing 50 as a reference, like spokes. may radiate toward Also, a plurality of partition walls 80 may be arranged along the circumferential direction of the inner housing 50 . In this case, adjacent partition walls may be arranged apart from each other, or may be arranged in contact with each other. The cooling fins 57 may be arranged on the outer peripheral surface of the outer housing 70 . A temperature sensor may be provided in the flow path of the cooling medium. A temperature sensor measures the temperature of the cooling medium flowing through the flow path. The temperature sensor is electrically connected to laser processor 190 and outputs a signal to laser processor 190 indicative of the temperature of the coolant. Based on this signal and the signal from the temperature sensor 91 , the laser processor 190 may output a signal indicating the temperature of the cooling medium to the temperature controller 93 .
 上記の説明は、制限ではなく単なる例示を意図している。従って、請求の範囲を逸脱することなく本開示の実施形態に変更を加えることができることは、当業者には明らかである。また、本開示の実施形態を組み合わせて使用することも当業者には明らかである。
 本明細書及び請求の範囲全体で使用される用語は、明記が無い限り「限定的でない」用語と解釈されるべきである。たとえば、「含む」、「有する」、「備える」、「具備する」などの用語は、「記載されたもの以外の構成要素の存在を除外しない」と解釈されるべきである。また、修飾語「1つの」は、「少なくとも1つ」又は「1又はそれ以上」を意味すると解釈されるべきである。また、「A、B及びCの少なくとも1つ」という用語は、「A」「B」「C」「A+B」「A+C」「B+C」又は「A+B+C」と解釈されるべきであり、さらに、それらと「A」「B」「C」以外のものとの組み合わせも含むと解釈されるべきである。
The descriptions above are intended to be illustrative only, not limiting. Accordingly, it will be apparent to those skilled in the art that modifications can be made to the embodiments of the present disclosure without departing from the scope of the claims. It will also be apparent to those skilled in the art that the embodiments of the present disclosure may be used in combination.
Terms used throughout the specification and claims should be interpreted as "non-limiting" unless explicitly stated otherwise. For example, the terms "including,""having,""comprising,""comprising," etc. are to be interpreted as "does not exclude the presence of elements other than those listed." Also, the modifier "a" should be interpreted to mean "at least one" or "one or more." Also, the term "at least one of A, B and C" shall be interpreted as "A", "B", "C", "A+B", "A+C", "B+C" or "A+B+C", and further and combinations other than "A,""B," and "C."

Claims (20)

  1.  内部空間においてレーザガスの励起によって発生する光が通過する通過口を含む内側筐体と、
     前記光の進行方向の側方から前記内側筐体の少なくとも一部を囲う外側筐体と、
     前記内側筐体及び前記外側筐体の間に配置され、前記内側筐体及び前記外側筐体に固定される隔壁と、
     を備える
     チャンバ装置。
    an inner housing including a passage opening through which light generated by excitation of the laser gas in the inner space passes;
    an outer housing that surrounds at least a portion of the inner housing from the side of the light traveling direction;
    a partition disposed between the inner housing and the outer housing and fixed to the inner housing and the outer housing;
    A chamber apparatus.
  2.  請求項1に記載のチャンバ装置であって、
     前記隔壁は、複数であり
     それぞれの前記隔壁は、前記光の進行方向に間隔をあけて並列に配置される。
    The chamber apparatus of claim 1, comprising:
    There are a plurality of the partition walls, and the partition walls are arranged in parallel at intervals in the traveling direction of the light.
  3.  請求項1に記載のチャンバ装置であって、
     前記外側筐体は、
      前記内側筐体を前記側方から囲うと共に前記側方に開口を含む外側本体部と、
      前記開口を覆う蓋板と、
     を含み、
     前記蓋板は、前記外側本体部の側面よりも外側に向かって突出する突出部を含む。
    The chamber apparatus of claim 1, comprising:
    The outer housing is
    an outer body portion that encloses the inner housing from the side and includes an opening on the side;
    a cover plate covering the opening;
    including
    The cover plate includes a protrusion that protrudes outward from the side surface of the outer main body.
  4.  請求項3に記載のチャンバ装置であって、
     前記突出部は、前記側面に向かって折れ曲がる。
    A chamber apparatus according to claim 3, wherein
    The protrusion is bent toward the side surface.
  5.  請求項4に記載のチャンバ装置であって、
     前記突出部のうちの折れ曲がり部から前記突出部の端までの前記突出部の長さは、100mm以上150mm以下である。
    A chamber apparatus according to claim 4,
    The length of the protrusion from the bent portion of the protrusion to the end of the protrusion is 100 mm or more and 150 mm or less.
  6.  請求項1に記載のチャンバ装置であって、
     前記内側筐体の内周面に配置される冷却フィンをさらに備える。
    The chamber apparatus of claim 1, comprising:
    It further comprises cooling fins arranged on the inner peripheral surface of the inner housing.
  7.  請求項6に記載のチャンバ装置であって、
     前記冷却フィンは、複数であり、
     それぞれの前記冷却フィンは、前記光の進行方向に間隔をあけて並列に配置される。
    A chamber apparatus according to claim 6, wherein
    The cooling fins are plural,
    Each of the cooling fins is arranged in parallel with an interval in the traveling direction of the light.
  8.  請求項7に記載のチャンバ装置であって、
     前記隔壁は、複数であり、
     それぞれの前記隔壁は、間隔をあけて前記光の進行方向に並列に配置され、
     前記隔壁及び前記冷却フィンは、前記光の進行方向に沿って、交互に配置される。
    A chamber apparatus according to claim 7, wherein
    The partition is plural,
    The respective partition walls are arranged in parallel in the traveling direction of the light at intervals,
    The partition walls and the cooling fins are alternately arranged along the traveling direction of the light.
  9.  請求項8に記載のチャンバ装置であって、
     前記冷却フィンは、隣り合う前記隔壁の中間に配置される。
    A chamber apparatus according to claim 8,
    The cooling fins are arranged between the adjacent partition walls.
  10.  請求項1に記載のチャンバ装置であって、
     前記内側筐体及び前記外側筐体の間において前記隔壁によって区分けられる隙間は、冷却媒体が流れる流路である。
    The chamber apparatus of claim 1, comprising:
    A gap partitioned by the partition wall between the inner housing and the outer housing is a flow path through which a cooling medium flows.
  11.  請求項10に記載のチャンバ装置であって、
     前記光の進行方向における前記隔壁と同じ位置に設けられ、隣り合う前記隙間のうちの一方の前記隙間から他方の前記隙間に前記冷却媒体が流れる通路をさらに含む。
    11. The chamber apparatus of claim 10, comprising
    The cooling medium further includes a passage provided at the same position as the partition wall in the traveling direction of the light and through which the cooling medium flows from one of the adjacent gaps to the other gap.
  12.  請求項11に記載のチャンバ装置であって、
     前記隔壁は、複数であり、
     それぞれの前記隔壁は、間隔をあけて前記光の進行方向に並列に配置され、
     前記光の進行方向に沿って見る場合において、隣り合う隔壁のうちの一方の前記隔壁と前記光の進行方向において同じ位置に設けられる前記通路は、前記一方の隔壁に隣り合う他方の前記隔壁と前記光の進行方向において同じ位置に設けられる前記通路と重ならない位置に設けられる。
    12. The chamber apparatus of claim 11, comprising
    The partition is plural,
    The respective partition walls are arranged in parallel in the traveling direction of the light at intervals,
    When viewed along the traveling direction of the light, the passage provided at the same position as one of the adjacent partitions in the traveling direction of the light is the same as the other partition adjacent to the one partition. It is provided at a position that does not overlap with the passage provided at the same position in the traveling direction of the light.
  13.  請求項10に記載のチャンバ装置であって、
     前記冷却媒体の温度を調節する温度調節器をさらに備える。
    11. The chamber apparatus of claim 10, comprising
    A temperature controller is further provided for adjusting the temperature of the cooling medium.
  14.  請求項1に記載のチャンバ装置であって、
     前記外側筐体は、前記内側筐体のうちの前記通過口を含む面を囲う板を含み、
     前記板には、前記通過口に向かい合うと共に前記光の少なくとも一部を反射するミラーが配置される。
    The chamber apparatus of claim 1, comprising:
    The outer housing includes a plate surrounding a surface of the inner housing that includes the passage opening,
    A mirror is arranged on the plate to face the passage opening and to reflect at least part of the light.
  15.  請求項1に記載のチャンバ装置であって、
     前記外側筐体は、
      前記内側筐体を前記側方から囲うと共に前記側方に開口を含む外側本体部と、
      前記開口を覆う蓋板と、
     を含み、
     前記蓋板には、絶縁部と、前記蓋板と前記絶縁部との間を封止する封止部材とが配置される。
    The chamber apparatus of claim 1, comprising:
    The outer housing is
    an outer body portion that encloses the inner housing from the side and includes an opening on the side;
    a cover plate covering the opening;
    including
    An insulating portion and a sealing member for sealing between the cover plate and the insulating portion are arranged on the cover plate.
  16.  請求項15に記載のチャンバ装置であって、
     前記蓋板の材質は、ニッケル合金であり、
     前記封止部材は、メタルシールである。
    16. The chamber apparatus of claim 15, comprising
    The material of the cover plate is a nickel alloy,
    The sealing member is a metal seal.
  17.  請求項1に記載のチャンバ装置であって、
     前記内側筐体の板厚は、7mm以下である。
    The chamber apparatus of claim 1, comprising:
    The plate thickness of the inner housing is 7 mm or less.
  18.  請求項1に記載のチャンバ装置であって、
     前記外側筐体の板厚は、3mm以下である。
    The chamber apparatus of claim 1, comprising:
    The plate thickness of the outer housing is 3 mm or less.
  19.  請求項1に記載のチャンバ装置であって、
     前記外側筐体の板厚は、前記内側筐体の板厚よりも薄い。
    The chamber apparatus of claim 1, comprising:
    The plate thickness of the outer casing is thinner than the plate thickness of the inner casing.
  20.  電子デバイスの製造方法であって、
     内部空間においてレーザガスの励起によって発生する光が通過する通過口を含む内側筐体と、
     前記光の進行方向の側方から前記内側筐体の少なくとも一部を囲う外側筐体と、
     前記内側筐体及び前記外側筐体の間に配置され、前記内側筐体及び前記外側筐体に固定される隔壁と、
     を備えるチャンバ装置を備えるガスレーザ装置によってレーザ光を生成し、
     前記レーザ光を露光装置に出力し、
     電子デバイスを製造するために、前記露光装置内で感光基板上に前記レーザ光を露光すること
     を含む電子デバイスの製造方法。
    A method for manufacturing an electronic device,
    an inner housing including a passage opening through which light generated by excitation of the laser gas in the inner space passes;
    an outer housing that surrounds at least a portion of the inner housing from the side of the light traveling direction;
    a partition disposed between the inner housing and the outer housing and fixed to the inner housing and the outer housing;
    generating laser light by a gas laser apparatus comprising a chamber apparatus comprising
    outputting the laser light to an exposure device;
    A method of manufacturing an electronic device, comprising: exposing a photosensitive substrate with the laser light in the exposure apparatus to manufacture the electronic device.
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