WO2022138441A1 - High frequency module and communication apparatus - Google Patents

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大介 吉田
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Abstract

A high frequency module of the present invention comprises: a mounting substrate having a first main surface and a second main surface opposing each other; a filter disposed on the first main surface of the mounting substrate; a resin layer disposed on the first main surface of the mounting substrate and covering at least a part of the filter; a metal layer covering a surface of the resin layer and connected to ground; and a solder bump connecting the filter and the metal layer. The filter includes a first filter surface disposed on the first main surface side of the mounting substrate, and a second filter surface opposing the first filter surface. The filter includes a plurality of first electrodes provided on the first filter surface side and connected to the mounting substrate, and a second electrode provided on the second filter surface side for ground connection. The solder bump is disposed on the second electrode and connects the second electrode and the metal layer.

Description

高周波モジュール及び通信装置High frequency module and communication equipment
 本発明は、高周波モジュール及び通信装置に関する。 The present invention relates to a high frequency module and a communication device.
 例えば、特許文献1は、モジュール基板の実装面上に実装された電子部品が樹脂で封止されたモジュールを開示している。特許文献1に記載のモジュールは、モジュール基板と、モジュール基板の実装面上に実装された電子部品と、電子部品の側面を被膜するように実装面上に設けられた樹脂層と、を備え、電子部品及び樹脂層それぞれの上面が同一面を形成している。 For example, Patent Document 1 discloses a module in which electronic components mounted on a mounting surface of a module substrate are sealed with a resin. The module described in Patent Document 1 includes a module board, an electronic component mounted on the mounting surface of the module board, and a resin layer provided on the mounting surface so as to cover the side surface of the electronic component. The upper surfaces of the electronic components and the resin layer each form the same surface.
国際公開第2014/013831号International Publication No. 2014/013831
 しかしながら、電子部品及び基板の小型化に伴い、特許文献1に記載のモジュールでは、電子部品のグランドを十分に確保できない場合がある。 However, due to the miniaturization of electronic components and substrates, the module described in Patent Document 1 may not be able to sufficiently secure the ground for electronic components.
 本発明は、電子部品及び基板の小型化に伴い、電子部品のグランドを十分に確保できる高周波モジュール及び通信装置を提供することを目的とする。 It is an object of the present invention to provide a high frequency module and a communication device that can sufficiently secure the ground of electronic components with the miniaturization of electronic components and substrates.
 本発明の一態様の高周波モジュールは、
 互いに対向する第1主面及び第2主面を有する実装基板と、
 前記実装基板の前記第1主面に配置されるフィルタと、
 前記実装基板の前記第1主面に配置され、且つ前記フィルタの少なくとも一部を覆う樹脂層と、
 前記樹脂層の表面を覆い、グランドに接続される金属層と、
 前記フィルタと前記金属層とを接続する半田バンプと、
を備え、
 前記フィルタは、前記実装基板の前記第1主面側に配置される第1フィルタ面と、前記第1フィルタ面と対向する第2フィルタ面とを有し、
 前記フィルタは、
 前記第1フィルタ面側に設けられ、且つ前記実装基板と接続される複数の第1電極と、
 前記第2フィルタ面側に設けられたグランド接続用の第2電極と、
を有し、
 前記半田バンプは、前記第2電極に配置され、前記第2電極と前記金属層とを接続する。
The high frequency module of one aspect of the present invention is
A mounting board having a first main surface and a second main surface facing each other,
A filter arranged on the first main surface of the mounting board and
A resin layer arranged on the first main surface of the mounting substrate and covering at least a part of the filter.
A metal layer that covers the surface of the resin layer and is connected to the ground,
A solder bump that connects the filter and the metal layer,
Equipped with
The filter has a first filter surface arranged on the first main surface side of the mounting board and a second filter surface facing the first filter surface.
The filter is
A plurality of first electrodes provided on the first filter surface side and connected to the mounting substrate, and
The second electrode for ground connection provided on the second filter surface side and
Have,
The solder bump is arranged on the second electrode and connects the second electrode and the metal layer.
 本発明の一態様の通信装置は、
 前述の高周波モジュールと、
 前記高周波モジュールに接続されており、高周波信号を信号処理する信号処理回路と、
を備える。
The communication device of one aspect of the present invention is
With the high frequency module mentioned above,
A signal processing circuit connected to the high-frequency module and processing high-frequency signals,
To prepare for.
 本発明によれば、電子部品及び基板の小型化に伴い、電子部品のグランドを十分に確保できる高周波モジュール及び通信装置を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a high frequency module and a communication device that can sufficiently secure a ground for electronic components with the miniaturization of electronic components and substrates.
本発明に係る実施の形態1の高周波モジュールを備える通信装置の例示的な回路構成図である。FIG. 3 is an exemplary circuit configuration diagram of a communication device including the high frequency module of the first embodiment according to the present invention. 本発明に係る実施の形態1の高周波モジュールの一例の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of an example of the high frequency module of Embodiment 1 which concerns on this invention. 図2の高周波モジュールのフィルタの一例の概略平面図である。It is a schematic plan view of an example of the filter of the high frequency module of FIG. 図3のフィルタをA-A線で切断した断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of the filter of FIG. 3 cut along the line AA. 本発明に係る実施の形態1の高周波モジュールの製造方法の例示的なフローチャートである。It is an exemplary flowchart of the manufacturing method of the high frequency module of Embodiment 1 which concerns on this invention. 高周波モジュールの製造方法の工程の一例を示す概略図である。It is a schematic diagram which shows an example of the process of the manufacturing method of a high frequency module. 高周波モジュールの製造方法の工程の一例を示す概略図である。It is a schematic diagram which shows an example of the process of the manufacturing method of a high frequency module. 高周波モジュールの製造方法の工程の一例を示す概略図である。It is a schematic diagram which shows an example of the process of the manufacturing method of a high frequency module. 高周波モジュールの製造方法の工程の一例を示す概略図である。It is a schematic diagram which shows an example of the process of the manufacturing method of a high frequency module. 変形例1の高周波モジュールの概略断面図である。It is the schematic sectional drawing of the high frequency module of the modification 1. FIG. 変形例2の高周波モジュールの概略断面図である。It is the schematic sectional drawing of the high frequency module of the modification 2. 変形例3の高周波モジュールの概略断面図である。It is the schematic sectional drawing of the high frequency module of the modification 3. FIG. 図9の高周波モジュールのフィルタの一例の概略平面図である。It is a schematic plan view of an example of the filter of the high frequency module of FIG. 本発明に係る実施の形態2の高周波モジュールの一例の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of an example of the high frequency module of Embodiment 2 which concerns on this invention.
(本発明に至った経緯)
 近年、高周波モジュールの小型化の要望が高まっていることから、例えば、フィルタなどの電子部品をより小さくすること、及び電子部品を実装する実装基板をより小さくすることが求められている。
(Background to the present invention)
In recent years, there has been an increasing demand for miniaturization of high-frequency modules, and therefore, for example, it is required to make electronic components such as filters smaller and to make the mounting board on which electronic components are mounted smaller.
 例えば、実装基板にフィルタを実装するモジュールにおいて、フィルタは実装基板と対向する側にグランド電極を有している。フィルタのグランド電極は、バンプを介して実装基板のグランドパターンに接続されている。 For example, in a module for mounting a filter on a mounting board, the filter has a ground electrode on the side facing the mounting board. The ground electrode of the filter is connected to the ground pattern of the mounting board via bumps.
 しかしながら、フィルタを小さくすると、実装基板と対向する側にグランド電極を配置するスペースを十分に確保することが難しくなる。このため、フィルタの小型化に伴い、フィルタのグランドの確保が難しくなる。 However, if the filter is made smaller, it becomes difficult to secure a sufficient space for arranging the ground electrode on the side facing the mounting board. Therefore, as the size of the filter becomes smaller, it becomes difficult to secure the ground of the filter.
 実装基板を小さくすると、実装基板においてグランドパターンを十分に確保することが難しくなる。あるいは、実装基板を小さくすると、実装基板のグランドパターンの位置が制限されるため、フィルタのグランド電極と対向する位置に実装基板のグランドパターンを配置することが難しくなる。この場合、実装基板では、配線パターンがグランドパターンからフィルタのグランド電極と対向する位置まで引き回される。フィルタのグランド電極は、バンプ及び配線パターンを介して実装基板のグランドパターンに接続される。 If the mounting board is made smaller, it becomes difficult to secure a sufficient ground pattern on the mounting board. Alternatively, if the mounting board is made smaller, the position of the ground pattern of the mounting board is limited, so that it becomes difficult to arrange the ground pattern of the mounting board at a position facing the ground electrode of the filter. In this case, on the mounting board, the wiring pattern is routed from the ground pattern to the position facing the ground electrode of the filter. The ground electrode of the filter is connected to the ground pattern of the mounting board via bumps and wiring patterns.
 このような場合、配線パターンの引き回しによって十分な減衰特性を得ることができない場合がある。また、配線パターンの引き回しによって実装基板の小型化が阻害され、結果としてモジュールの小型化を実現できなくなる場合がある。 In such a case, it may not be possible to obtain sufficient damping characteristics due to the routing of the wiring pattern. In addition, the routing of the wiring pattern hinders the miniaturization of the mounting board, and as a result, the miniaturization of the module may not be realized.
 以上のように、電子部品及び基板の小型化に伴い、電子部品及び基板ともにグランドの確保が難しくなるという問題がある。 As described above, there is a problem that it becomes difficult to secure a ground for both electronic components and boards due to the miniaturization of electronic components and boards.
 そこで、本発明者らは、フィルタを覆う樹脂層の表面にグランドに接続される金属層を配置し、半田バンプを介してフィルタを金属層に接続することによって、電子部品のグランドを十分に確保できる高周波モジュールの構成を見出し、以下の発明に至った。 Therefore, the present inventors sufficiently secure the ground of electronic components by arranging a metal layer connected to the ground on the surface of the resin layer covering the filter and connecting the filter to the metal layer via solder bumps. He found a possible high-frequency module configuration and came up with the following invention.
 本発明の第1態様の高周波モジュールは、互いに対向する第1主面及び第2主面を有する実装基板と、前記実装基板の前記第1主面に配置されるフィルタと、前記実装基板の前記第1主面に配置され、且つ前記フィルタの少なくとも一部を覆う樹脂層と、前記樹脂層の表面を覆い、グランドに接続される金属層と、前記フィルタと前記金属層とを接続する半田バンプと、を備え、前記フィルタは、前記実装基板の前記第1主面側に配置される第1フィルタ面と、前記第1フィルタ面と対向する第2フィルタ面とを有し、前記フィルタは、前記第1フィルタ面側に設けられ、且つ前記実装基板と接続される複数の第1電極と、前記第2フィルタ面側に設けられたグランド接続用の第2電極と、を有し、前記半田バンプは、前記第2電極に配置され、前記第2電極と前記金属層とを接続する。 The high-frequency module according to the first aspect of the present invention includes a mounting board having a first main surface and a second main surface facing each other, a filter arranged on the first main surface of the mounting board, and the mounting board. A resin layer arranged on the first main surface and covering at least a part of the filter, a metal layer covering the surface of the resin layer and connected to the ground, and a solder bump connecting the filter and the metal layer. The filter has a first filter surface arranged on the first main surface side of the mounting substrate, and a second filter surface facing the first filter surface. The solder has a plurality of first electrodes provided on the first filter surface side and connected to the mounting substrate, and a second electrode for ground connection provided on the second filter surface side. The bump is arranged on the second electrode and connects the second electrode and the metal layer.
 本発明の第2態様の高周波モジュールにおいて、前記半田バンプは、前記樹脂層から露出し、前記金属層と接続される接続面を有していてもよい。 In the high frequency module of the second aspect of the present invention, the solder bump may have a connecting surface exposed from the resin layer and connected to the metal layer.
 本発明の第3態様の高周波モジュールにおいて、前記複数の第1電極は、受信信号用の信号経路に接続される受信電極と、送信信号用の信号経路に接続される送信電極とのうち少なくともいずれか一方、を含み、前記フィルタの高さ方向において、前記半田バンプは、前記受信電極及び前記送信電極と重ならない位置に配置されていてもよい。 In the high frequency module of the third aspect of the present invention, the plurality of first electrodes are at least one of a receiving electrode connected to a signal path for a received signal and a transmitting electrode connected to a signal path for a transmitted signal. On the other hand, the solder bump may be arranged at a position that does not overlap with the receiving electrode and the transmitting electrode in the height direction of the filter.
 本発明の第4態様の高周波モジュールにおいて、前記フィルタは、回路電極を有する弾性波フィルタであり、前記フィルタの高さ方向において、前記半田バンプは、前記回路電極と重ならない位置に配置されていてもよい。 In the high frequency module of the fourth aspect of the present invention, the filter is an elastic wave filter having a circuit electrode, and the solder bump is arranged at a position not overlapping with the circuit electrode in the height direction of the filter. May be good.
 本発明の第5態様の高周波モジュールにおいて、前記フィルタは、送信信号用の信号経路に設けられている送信フィルタを有していてもよい。 In the high frequency module of the fifth aspect of the present invention, the filter may have a transmission filter provided in the signal path for the transmission signal.
 本発明の第6態様の高周波モジュールにおいて、前記フィルタは、受信信号用の信号経路に設けられている受信フィルタを有していてもよい。 In the high frequency module of the sixth aspect of the present invention, the filter may have a reception filter provided in the signal path for the reception signal.
 本発明の第7態様の高周波モジュールにおいて、前記フィルタを複数備え、前記半田バンプを複数備え、前記複数のフィルタは、第1フィルタと、第2フィルタと、を有し、前記第1フィルタの第1高さは、前記第2フィルタの第2高さと異なっており、前記複数の半田バンプは、前記第1フィルタの前記第2フィルタ面に配置される第1半田バンプと、前記第2フィルタの前記第2フィルタ面に配置される第2半田バンプと、を有し、前記第1半田バンプの第3高さは、前記第2半田バンプの第4高さと異なっていてもよい。 The high-frequency module according to the seventh aspect of the present invention includes a plurality of the filters, a plurality of the solder bumps, and the plurality of filters include a first filter and a second filter, and the first filter is the first. The one height is different from the second height of the second filter, and the plurality of solder bumps are the first solder bump arranged on the second filter surface of the first filter and the second filter. It has a second solder bump arranged on the second filter surface, and the third height of the first solder bump may be different from the fourth height of the second solder bump.
 本発明の第8態様の高周波モジュールにおいて、前記樹脂層は、前記実装基板の前記第1主面側において、前記第1主面と接する第1樹脂面と、前記第1樹脂面と対向する第2樹脂面と、を有し、前記金属層は、前記第2樹脂面に配置されていてもよい。 In the high-frequency module of the eighth aspect of the present invention, the resin layer has a first resin surface in contact with the first main surface and a first resin surface facing the first resin surface on the first main surface side of the mounting substrate. It has two resin surfaces, and the metal layer may be arranged on the second resin surface.
 本発明の第9態様の高周波モジュールにおいて、前記金属層は、金属膜で形成されていてもよい。 In the high frequency module of the ninth aspect of the present invention, the metal layer may be formed of a metal film.
 本発明の第10態様の高周波モジュールにおいては、前記実装基板の前記第1主面側に配置され、且つ前記樹脂層により覆われている回路素子をさらに備えていてもよい。 The high-frequency module according to the tenth aspect of the present invention may further include a circuit element arranged on the first main surface side of the mounting substrate and covered with the resin layer.
 本発明の第11態様の高周波モジュールにおいては、前記フィルタの高さは、前記回路素子の高さよりも小さく、
 前記半田バンプを含む前記フィルタの全体高さは、前記回路素子の高さよりも大きくてもよい。
In the high frequency module of the eleventh aspect of the present invention, the height of the filter is smaller than the height of the circuit element.
The total height of the filter including the solder bumps may be larger than the height of the circuit element.
 本発明の第12態様の高周波モジュールにおいては、前記実装基板の前記第2主面に配置される外部接続端子をさらに備えていてもよい。 The high frequency module of the twelfth aspect of the present invention may further include an external connection terminal arranged on the second main surface of the mounting board.
 本発明の第13態様の高周波モジュールにおいて、前記実装基板の前記第2主面は、露出していてもよい。 In the high frequency module of the thirteenth aspect of the present invention, the second main surface of the mounting substrate may be exposed.
 本発明の第14態様の高周波モジュールにおいては、前記実装基板の前記第2主面側に配置される回路素子をさらに備えていてもよい。 The high-frequency module according to the 14th aspect of the present invention may further include a circuit element arranged on the second main surface side of the mounting board.
 本発明の第15態様の通信装置において、前記第1~14態様のいずれか一態様の高周波モジュールと、前記高周波モジュールに接続されており、高周波信号を信号処理する信号処理回路と、を備える。 The communication device of the fifteenth aspect of the present invention includes a high frequency module of any one of the first to fourteenth aspects and a signal processing circuit connected to the high frequency module and processing a high frequency signal.
 以下、本発明に係る実施の形態1について、添付の図面を参照しながら説明する。また、各図においては、説明を容易なものとするため、各要素を誇張して示している。 Hereinafter, Embodiment 1 according to the present invention will be described with reference to the attached drawings. Further, in each figure, each element is exaggerated for the sake of easy explanation.
 また、以下において、平行および垂直等の要素間の関係性を示す用語、矩形状等の要素の形状を示す用語、ならびに、数値範囲は、厳格な意味のみを表すのではなく、実質的に同等な範囲、例えば数%程度の差異をも含むことを意味する。 In addition, in the following, terms indicating relationships between elements such as parallel and vertical, terms indicating the shape of elements such as rectangles, and numerical ranges do not mean only strict meanings, but are substantially equivalent. It means that it includes a range, for example, a difference of about several percent.
 また、本開示の回路構成において、「接続される」とは、接続端子および/または配線導体で直接接続される場合だけでなく、他の回路部品を介して電気的に接続される場合も含む。また、「AおよびBの間に接続される」とは、AおよびBの間でAおよびBの両方に接続されることを意味する。 Further, in the circuit configuration of the present disclosure, "connected" includes not only the case of being directly connected by a connection terminal and / or a wiring conductor, but also the case of being electrically connected via other circuit components. .. Also, "connected between A and B" means connected to both A and B between A and B.
 以下の各図において、x軸およびy軸は、基板の主面と平行な平面上で互いに直交する軸である。また、z軸は、基板の主面に垂直な軸であり、その正方向は上方向を示し、その負方向は下方向を示す。 In each of the following figures, the x-axis and the y-axis are axes orthogonal to each other on a plane parallel to the main surface of the substrate. Further, the z-axis is an axis perpendicular to the main surface of the substrate, the positive direction thereof indicates an upward direction, and the negative direction thereof indicates a downward direction.
 また、本開示のモジュール構成において、「平面視」とは、z軸正側からxy平面に物体を正投影して見ることを意味する。「部品が基板の主面に配置される」とは、部品が基板の主面と接触した状態で主面上に配置されることに加えて、部品が主面と接触せずに主面の上方に配置されること、および、部品の一部が主面側から基板内に埋め込まれて配置されることを含む。 Further, in the module configuration of the present disclosure, "planar view" means that an object is projected orthographically projected onto the xy plane from the positive side of the z-axis. "Parts are placed on the main surface of the board" means that in addition to the parts being placed on the main surface in contact with the main surface of the board, the parts are placed on the main surface without contacting the main surface. It includes being arranged above and having a part of the component embedded in the substrate from the main surface side.
 また、以下において、基板に実装されたA、BおよびCにおいて、「基板(または基板の主面)の平面視において、AとBとの間にCが配置されている」とは、基板の平面視においてA内の任意の点とB内の任意の点とを結ぶ複数の線分の少なくとも1つがCの領域を通ることを意味する。また、基板の平面視とは、基板および基板に実装された回路素子を基板の主面に平行な平面に正投影して見ることを意味する。 Further, in the following, in A, B and C mounted on the substrate, "C is arranged between A and B in the plan view of the substrate (or the main surface of the substrate)" means that the substrate is used. It means that at least one of a plurality of line segments connecting an arbitrary point in A and an arbitrary point in B passes through the region C in a plan view. Further, the plan view of the substrate means that the substrate and the circuit elements mounted on the substrate are orthographically projected onto a plane parallel to the main surface of the substrate.
 また、以下において、「送信経路」とは、高周波送信信号が伝搬する配線、当該配線に直接接続された電極、および当該配線または当該電極に直接接続された端子等で構成された伝送線路であることを意味する。また、「受信経路」とは、高周波受信信号が伝搬する配線、当該配線に直接接続された電極、および当該配線または当該電極に直接接続された端子等で構成された伝送線路であることを意味する。 Further, in the following, the "transmission path" is a transmission line composed of a wiring through which a high-frequency transmission signal propagates, an electrode directly connected to the wiring, and a wiring or a terminal directly connected to the electrode. Means that. Further, the "reception path" means a transmission line composed of a wiring through which a high-frequency reception signal propagates, an electrode directly connected to the wiring, and a wiring or a terminal directly connected to the electrode. do.
(実施の形態1)
[通信装置]
 図1は、本発明に係る実施の形態1の高周波モジュール100を備える通信装置300の例示的な回路構成図である。図1に示すように、通信装置300は、高周波モジュール100と、高周波モジュール100に接続され、高周波信号を信号処理する信号処理回路301と、を備える。
(Embodiment 1)
[Communication device]
FIG. 1 is an exemplary circuit configuration diagram of a communication device 300 including the high frequency module 100 according to the first embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the communication device 300 includes a high frequency module 100 and a signal processing circuit 301 connected to the high frequency module 100 and processing a high frequency signal.
 通信装置300は、例えば、携帯電話(例えば、スマートフォン)であるが、これに限らず、例えば、ウェアラブル端末(例えば、スマートウォッチ)であってもよい。高周波モジュール100は、例えば、4G(第4世代移動通信)規格、5G(第5世代移動通信)規格に対応可能なモジュールである。4G規格は、例えば、3GPP LTE規格(LTE:Long Term Evolution)である。5G規格は、例えば、5G NR(New Radio)である。高周波モジュール100は、キャリアアグリゲーション及びデュアルコネクティビティに対応可能なモジュールである。 The communication device 300 is, for example, a mobile phone (for example, a smartphone), but is not limited to this, and may be, for example, a wearable terminal (for example, a smart watch). The high frequency module 100 is a module capable of supporting, for example, a 4G (4th generation mobile communication) standard and a 5G (5th generation mobile communication) standard. The 4G standard is, for example, a 3GPP LTE standard (LTE: LongTermEvolution). The 5G standard is, for example, 5G NR (New Radio). The high frequency module 100 is a module capable of supporting carrier aggregation and dual connectivity.
 高周波モジュール100は、例えば、信号処理回路301から入力された送信信号(高周波信号)を増幅してアンテナ310に出力できるように構成されている。また、高周波モジュール100は、アンテナ310から入力された受信信号(高周波信号)を増幅して信号処理回路301に出力できるように構成されている。信号処理回路301は、高周波モジュール100の構成要素ではなく、高周波モジュール100を備える通信装置300の構成要素である。高周波モジュール100は、例えば、通信装置300が備える信号処理回路301によって制御される。通信装置300は、高周波モジュール100と、信号処理回路301と、を備える。通信装置300は、アンテナ310を更に備える。通信装置300は、高周波モジュール100が実装された回路基板を更に備える。回路基板は、例えば、プリント配線板である。回路基板は、グランド電位が与えられるグランド電極を有する。 The high frequency module 100 is configured so that, for example, a transmission signal (high frequency signal) input from the signal processing circuit 301 can be amplified and output to the antenna 310. Further, the high frequency module 100 is configured to amplify the received signal (high frequency signal) input from the antenna 310 and output it to the signal processing circuit 301. The signal processing circuit 301 is not a component of the high frequency module 100, but a component of the communication device 300 including the high frequency module 100. The high frequency module 100 is controlled by, for example, the signal processing circuit 301 included in the communication device 300. The communication device 300 includes a high frequency module 100 and a signal processing circuit 301. The communication device 300 further includes an antenna 310. The communication device 300 further includes a circuit board on which the high frequency module 100 is mounted. The circuit board is, for example, a printed wiring board. The circuit board has a ground electrode to which a ground potential is applied.
 信号処理回路301は、例えば、RF信号処理回路302と、ベースバンド信号処理回路303と、を含む。RF信号処理回路302は、例えば、RFIC(Radio Frequency Integrated Circuit)であり、高周波信号に対する信号処理を行う。RF信号処理回路302は、例えば、ベースバンド信号処理回路303から出力された高周波信号(送信信号)に対してアップコンバート等の信号処理を行い、信号処理が行われた高周波信号を出力する。また、RF信号処理回路302は、例えば、高周波モジュール100から出力された高周波信号(受信信号)に対してダウンコンバート等の信号処理を行い、信号処理が行われた高周波信号をベースバンド信号処理回路303へ出力する。ベースバンド信号処理回路303は、例えば、BBIC(Baseband Integrated Circuit)である。ベースバンド信号処理回路303は、ベースバンド信号からI相信号及びQ相信号を生成する。ベースバンド信号は、例えば、外部から入力される音声信号、画像信号等である。ベースバンド信号処理回路303は、I相信号とQ相信号とを合成することでIQ変調処理を行って、送信信号を出力する。この際、送信信号は、所定周波数の搬送波信号を、当該搬送波信号の周期よりも長い周期で振幅変調した変調信号(IQ信号)として生成される。ベースバンド信号処理回路303で処理された受信信号は、例えば、画像信号として画像表示のために、又は、音声信号として通話のために使用される。高周波モジュール100は、アンテナ310と信号処理回路301のRF信号処理回路302との間で高周波信号(受信信号、送信信号)を伝達する。 The signal processing circuit 301 includes, for example, an RF signal processing circuit 302 and a baseband signal processing circuit 303. The RF signal processing circuit 302 is, for example, an RFIC (Radio Frequency Integrated Circuit), and performs signal processing on a high frequency signal. The RF signal processing circuit 302 performs signal processing such as up-conversion on the high frequency signal (transmission signal) output from the baseband signal processing circuit 303, and outputs the signal processed high frequency signal. Further, the RF signal processing circuit 302 performs signal processing such as down-conversion on the high frequency signal (received signal) output from the high frequency module 100, and uses the processed high frequency signal as a baseband signal processing circuit. Output to 303. The baseband signal processing circuit 303 is, for example, a BBIC (Baseband Integrated Circuit). The baseband signal processing circuit 303 generates an I-phase signal and a Q-phase signal from the baseband signal. The baseband signal is, for example, an audio signal, an image signal, or the like input from the outside. The baseband signal processing circuit 303 performs IQ modulation processing by synthesizing an I-phase signal and a Q-phase signal, and outputs a transmission signal. At this time, the transmission signal is generated as a modulation signal (IQ signal) in which a carrier signal having a predetermined frequency is amplitude-modulated with a period longer than the period of the carrier signal. The received signal processed by the baseband signal processing circuit 303 is used, for example, for displaying an image as an image signal or for a call as an audio signal. The high frequency module 100 transmits a high frequency signal (received signal, transmitted signal) between the antenna 310 and the RF signal processing circuit 302 of the signal processing circuit 301.
 高周波モジュール100は、パワーアンプ111と、ローノイズアンプ121と、を備える。また、高周波モジュール100は、複数(図示例では2つ)の送信フィルタ112A,112Bと、複数(図示例では2つ)の受信フィルタ122A,122Bと、を備える。また、高周波モジュール100は、出力整合回路113と、入力整合回路123と、を備える。また、高周波モジュール100は、第1スイッチ104と、第2スイッチ105と、第3スイッチ106と、を備える。また、高周波モジュール100は、コントローラ115を備える。また、高周波モジュール100は、複数の外部接続端子80を備える。複数の外部接続端子80は、アンテナ端子81と、信号入力端子82と、信号出力端子83と、制御端子84と、を含む。 The high frequency module 100 includes a power amplifier 111 and a low noise amplifier 121. Further, the high frequency module 100 includes a plurality of transmission filters 112A and 112B (two in the illustrated example) and a plurality of reception filters 122A and 122B (two in the illustrated example). Further, the high frequency module 100 includes an output matching circuit 113 and an input matching circuit 123. Further, the high frequency module 100 includes a first switch 104, a second switch 105, and a third switch 106. Further, the high frequency module 100 includes a controller 115. Further, the high frequency module 100 includes a plurality of external connection terminals 80. The plurality of external connection terminals 80 include an antenna terminal 81, a signal input terminal 82, a signal output terminal 83, and a control terminal 84.
 パワーアンプ111は、送信信号用の信号経路T1に設けられている。パワーアンプ111は、入力端子及び出力端子を有する。パワーアンプ111は、入力端子に入力された第1周波数帯域の送信信号を増幅して出力端子に出力する。第1周波数帯域は、例えば、第1通信バンドと第2通信バンドとを含む。第1通信バンドは、送信フィルタ112Aを通る送信信号に対応し、例えば、3GPP LTE規格のBand11である。第2通信バンドは、送信フィルタ112Bを通る送信信号に対応し、例えば、3GPP LTE規格のBand22である。 The power amplifier 111 is provided in the signal path T1 for the transmission signal. The power amplifier 111 has an input terminal and an output terminal. The power amplifier 111 amplifies the transmission signal of the first frequency band input to the input terminal and outputs it to the output terminal. The first frequency band includes, for example, a first communication band and a second communication band. The first communication band corresponds to the transmission signal passing through the transmission filter 112A, and is, for example, Band 11 of the 3GPP LTE standard. The second communication band corresponds to the transmission signal passing through the transmission filter 112B, and is, for example, Band 22 of the 3GPP LTE standard.
 パワーアンプ111の入力端子は、信号入力端子82に接続されている。パワーアンプ111の入力端子は、信号入力端子82を介して信号処理回路301に接続される。信号入力端子82は、外部回路(例えば、信号処理回路301)からの高周波信号(送信信号)を高周波モジュール100に入力するための端子である。パワーアンプ111の出力端子は、出力整合回路113を介して第2スイッチ105の共通端子150に接続されている。パワーアンプ111は、コントローラ115によって制御される。 The input terminal of the power amplifier 111 is connected to the signal input terminal 82. The input terminal of the power amplifier 111 is connected to the signal processing circuit 301 via the signal input terminal 82. The signal input terminal 82 is a terminal for inputting a high frequency signal (transmission signal) from an external circuit (for example, a signal processing circuit 301) to the high frequency module 100. The output terminal of the power amplifier 111 is connected to the common terminal 150 of the second switch 105 via the output matching circuit 113. The power amplifier 111 is controlled by the controller 115.
 ローノイズアンプ121は、受信信号用の信号経路R1に設けられている。ローノイズアンプ121は、入力端子及び出力端子を有する。ローノイズアンプ121は、入力端子に入力された第2周波数帯域の受信信号を増幅して出力端子から出力する。第2周波数帯域は、例えば、第1周波数帯域と同じであり、第1通信バンドと第2通信バンドとを含む。 The low noise amplifier 121 is provided in the signal path R1 for the received signal. The low noise amplifier 121 has an input terminal and an output terminal. The low noise amplifier 121 amplifies the received signal of the second frequency band input to the input terminal and outputs it from the output terminal. The second frequency band is, for example, the same as the first frequency band, and includes a first communication band and a second communication band.
 ローノイズアンプ121の入力端子は、入力整合回路123を介して第3スイッチ106の共通端子160に接続されている。ローノイズアンプ121の出力端子は、信号出力端子83に接続されている。ローノイズアンプ121の出力端子は、例えば、信号出力端子83を介して信号処理回路301に接続される。信号出力端子83は、ローノイズアンプ121からの高周波信号(受信信号)を外部回路(例えば、信号処理回路301)へ出力するための端子である。 The input terminal of the low noise amplifier 121 is connected to the common terminal 160 of the third switch 106 via the input matching circuit 123. The output terminal of the low noise amplifier 121 is connected to the signal output terminal 83. The output terminal of the low noise amplifier 121 is connected to the signal processing circuit 301 via, for example, the signal output terminal 83. The signal output terminal 83 is a terminal for outputting a high frequency signal (received signal) from the low noise amplifier 121 to an external circuit (for example, a signal processing circuit 301).
 送信フィルタ112Aは、例えば、第1通信バンドの送信帯域を通過帯域とするフィルタである。送信フィルタ112Bは、例えば、第2通信バンドの送信帯域を通過帯域とするフィルタである。送信フィルタ112A,112Bは、送信信号用の信号経路T1(T11,T12)に設けられている。 The transmission filter 112A is, for example, a filter whose pass band is the transmission band of the first communication band. The transmission filter 112B is, for example, a filter whose pass band is the transmission band of the second communication band. The transmission filters 112A and 112B are provided in the signal path T1 (T11, T12) for the transmission signal.
 受信フィルタ122Aは、例えば、第1通信バンドの受信帯域を通過帯域とするフィルタである。受信フィルタ122Bは、例えば、第2通信バンドの受信帯域を通過帯域とするフィルタである。受信フィルタ122A,122Bは、受信信号用の信号経路R1(R11,R12)に設けられている。 The reception filter 122A is, for example, a filter whose pass band is the reception band of the first communication band. The reception filter 122B is, for example, a filter having a reception band of the second communication band as a pass band. The reception filters 122A and 122B are provided in the signal path R1 (R11, R12) for the reception signal.
 第1スイッチ104は、共通端子140と、複数(図示例では2つ)の選択端子141,142と、を有する。共通端子140は、アンテナ端子81に接続されている。アンテナ端子81には、アンテナ310が接続される。選択端子141は、送信フィルタ112Aの出力端子と受信フィルタ122Aの入力端子との接続点に接続されている。選択端子142は、送信フィルタ112Bの出力端子と受信フィルタ122Bの入力端子との接続点に接続されている。第1スイッチ104は、例えば、共通端子140に複数の選択端子141,142のうち少なくとも1つを接続可能なスイッチである。ここで、第1スイッチ104は、例えば、一対一及び一対多の接続が可能なスイッチである。 The first switch 104 has a common terminal 140 and a plurality of (two in the illustrated example) selection terminals 141 and 142. The common terminal 140 is connected to the antenna terminal 81. An antenna 310 is connected to the antenna terminal 81. The selection terminal 141 is connected to a connection point between the output terminal of the transmission filter 112A and the input terminal of the reception filter 122A. The selection terminal 142 is connected to a connection point between the output terminal of the transmission filter 112B and the input terminal of the reception filter 122B. The first switch 104 is, for example, a switch capable of connecting at least one of a plurality of selection terminals 141 and 142 to the common terminal 140. Here, the first switch 104 is, for example, a switch capable of one-to-one and one-to-many connections.
 第1スイッチ104は、送信信号用の信号経路T1(T11,T12)と受信信号用の信号経路R1(R11,R12)との両方に設けられている。より詳細には、第1スイッチ104は、パワーアンプ111と出力整合回路113と第2スイッチ105と送信フィルタ112Aとが設けられている送信信号用の信号経路T11に設けられている。また、第1スイッチ104は、パワーアンプ111と出力整合回路113と第2スイッチ105と送信フィルタ112Bとが設けられている送信信号用の信号経路T12に設けられている。また、第1スイッチ104は、受信フィルタ122Aと第3スイッチ106と入力整合回路123とローノイズアンプ121とが設けられている受信信号用の信号経路R11に設けられている。また、第1スイッチ104は、受信フィルタ122Bと第3スイッチ106と入力整合回路123とローノイズアンプ121とが設けられている受信信号用の信号経路R12に設けられている。 The first switch 104 is provided in both the signal path T1 (T11, T12) for the transmission signal and the signal path R1 (R11, R12) for the reception signal. More specifically, the first switch 104 is provided in the signal path T11 for the transmission signal provided with the power amplifier 111, the output matching circuit 113, the second switch 105, and the transmission filter 112A. Further, the first switch 104 is provided in the signal path T12 for the transmission signal provided with the power amplifier 111, the output matching circuit 113, the second switch 105, and the transmission filter 112B. Further, the first switch 104 is provided in the signal path R11 for the received signal provided with the reception filter 122A, the third switch 106, the input matching circuit 123, and the low noise amplifier 121. Further, the first switch 104 is provided in the signal path R12 for the received signal provided with the reception filter 122B, the third switch 106, the input matching circuit 123, and the low noise amplifier 121.
 第1スイッチ104は、例えば、信号処理回路301によって制御される。第1スイッチ104は、信号処理回路301のRF信号処理回路302からの制御信号に従って、共通端子140と複数の選択端子141,142との接続状態を切り替える。第1スイッチ104は、例えば、スイッチIC(Integrated Circuit)である。 The first switch 104 is controlled by, for example, the signal processing circuit 301. The first switch 104 switches the connection state between the common terminal 140 and the plurality of selection terminals 141 and 142 according to the control signal from the RF signal processing circuit 302 of the signal processing circuit 301. The first switch 104 is, for example, a switch IC (Integrated Circuit).
 第2スイッチ105は、共通端子150と、複数(図示例では2つ)の選択端子151,152と、を有する。共通端子150は、出力整合回路113を介してパワーアンプ111の出力端子に接続されている。選択端子151は、送信フィルタ112Aの入力端子に接続されている。選択端子152は、送信フィルタ112Bの入力端子に接続されている。第2スイッチ105は、例えば、共通端子150に複数の選択端子151,152のうち少なくとも1つを接続可能なスイッチである。ここで、第2スイッチ105は、例えば、一対一及び一対多の接続が可能なスイッチである。第2スイッチ105は、互いに通信バンドの異なる複数の送信信号用の信号経路T11,T12を切り替える機能を有するスイッチである。 The second switch 105 has a common terminal 150 and a plurality of (two in the illustrated example) selection terminals 151 and 152. The common terminal 150 is connected to the output terminal of the power amplifier 111 via the output matching circuit 113. The selection terminal 151 is connected to the input terminal of the transmission filter 112A. The selection terminal 152 is connected to the input terminal of the transmission filter 112B. The second switch 105 is, for example, a switch capable of connecting at least one of a plurality of selection terminals 151 and 152 to the common terminal 150. Here, the second switch 105 is, for example, a switch capable of one-to-one and one-to-many connections. The second switch 105 is a switch having a function of switching signal paths T11 and T12 for a plurality of transmission signals having different communication bands from each other.
 第2スイッチ105は、例えば、信号処理回路301によって制御される。第2スイッチ105は、信号処理回路301のRF信号処理回路302からの制御信号に従って、共通端子150と複数の選択端子151,152との接続状態を切り替える。第2スイッチ105は、例えば、スイッチICである。 The second switch 105 is controlled by, for example, the signal processing circuit 301. The second switch 105 switches the connection state between the common terminal 150 and the plurality of selection terminals 151 and 152 according to the control signal from the RF signal processing circuit 302 of the signal processing circuit 301. The second switch 105 is, for example, a switch IC.
 第3スイッチ106は、共通端子160と、複数(図示例では2つ)の選択端子161,162と、を有する。共通端子160は、入力整合回路123を介してローノイズアンプ121の入力端子に接続されている。選択端子161は、受信フィルタ122Aの出力端子に接続されている。選択端子162は、受信フィルタ122Bの出力端子に接続されている。第3スイッチ106は、例えば、共通端子160に複数の選択端子161,162のうち少なくとも1つを接続可能なスイッチである。ここで、第3スイッチ106は、例えば、一対一及び一対多の接続が可能なスイッチである。第3スイッチ106は、互いに通信バンドの異なる複数の受信信号用の信号経路R11,R12を切り替える機能を有するスイッチである。 The third switch 106 has a common terminal 160 and a plurality of (two in the illustrated example) selection terminals 161, 162. The common terminal 160 is connected to the input terminal of the low noise amplifier 121 via the input matching circuit 123. The selection terminal 161 is connected to the output terminal of the reception filter 122A. The selection terminal 162 is connected to the output terminal of the reception filter 122B. The third switch 106 is, for example, a switch capable of connecting at least one of a plurality of selection terminals 161, 162 to the common terminal 160. Here, the third switch 106 is, for example, a switch capable of one-to-one and one-to-many connections. The third switch 106 is a switch having a function of switching signal paths R11 and R12 for a plurality of received signals having different communication bands from each other.
 第3スイッチ106は、例えば、信号処理回路301によって制御される。第3スイッチ106は、信号処理回路301のRF信号処理回路302からの制御信号に従って、共通端子160と複数の選択端子161,162との接続状態を切り替える。第3スイッチ106は、例えば、スイッチICである。 The third switch 106 is controlled by, for example, the signal processing circuit 301. The third switch 106 switches the connection state between the common terminal 160 and the plurality of selection terminals 161, 162 according to the control signal from the RF signal processing circuit 302 of the signal processing circuit 301. The third switch 106 is, for example, a switch IC.
 出力整合回路113は、パワーアンプ111の出力端子と第2スイッチ105の共通端子150との間の信号経路に設けられている。出力整合回路113は、パワーアンプ111と送信フィルタ112A,112Bとのインピーダンス整合をとるための回路である。出力整合回路113は、例えば、1つのインダクタで構成されるが、これに限らず、例えば、複数のインダクタ及び複数のキャパシタを含む場合もある。 The output matching circuit 113 is provided in the signal path between the output terminal of the power amplifier 111 and the common terminal 150 of the second switch 105. The output matching circuit 113 is a circuit for achieving impedance matching between the power amplifier 111 and the transmission filters 112A and 112B. The output matching circuit 113 is composed of, for example, one inductor, but is not limited to this, and may include, for example, a plurality of inductors and a plurality of capacitors.
 入力整合回路123は、ローノイズアンプ121の入力端子と第3スイッチ106の共通端子160との間の信号経路に設けられている。入力整合回路123は、ローノイズアンプ121と受信フィルタ122A,122Bとのインピーダンス整合をとるための回路である。入力整合回路123は、例えば、1つのインダクタで構成されているが、これに限らず、例えば、複数のインダクタ及び複数のキャパシタを含む場合もある。 The input matching circuit 123 is provided in the signal path between the input terminal of the low noise amplifier 121 and the common terminal 160 of the third switch 106. The input matching circuit 123 is a circuit for impedance matching between the low noise amplifier 121 and the receiving filters 122A and 122B. The input matching circuit 123 is composed of, for example, one inductor, but is not limited to this, and may include, for example, a plurality of inductors and a plurality of capacitors.
 コントローラ115は、パワーアンプ111と接続されている。また、コントローラ115は、制御端子84を介して信号処理回路301に接続されている。コントローラ115は、信号処理回路301のRF信号処理回路302からの制御信号に従ってパワーアンプ111を制御する。 The controller 115 is connected to the power amplifier 111. Further, the controller 115 is connected to the signal processing circuit 301 via the control terminal 84. The controller 115 controls the power amplifier 111 according to the control signal from the RF signal processing circuit 302 of the signal processing circuit 301.
[高周波モジュール]
 高周波モジュール100の構造の一例について、図2~4を参照して説明する。図2は、本発明に係る実施の形態1の高周波モジュール100の一例の概略断面図である。図3は、図2の高周波モジュール100のフィルタ20の一例の概略平面図である。図4は、図3のフィルタ20をA-A線で切断した断面図である。図中のX,Y,Z方向は、高周波モジュール100の縦方向、横方向、高さ方向をそれぞれ示す。
[High frequency module]
An example of the structure of the high frequency module 100 will be described with reference to FIGS. 2 to 4. FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of an example of the high frequency module 100 according to the first embodiment of the present invention. FIG. 3 is a schematic plan view of an example of the filter 20 of the high frequency module 100 of FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view of the filter 20 of FIG. 3 cut along the line AA. The X, Y, and Z directions in the figure indicate the vertical direction, the horizontal direction, and the height direction of the high frequency module 100, respectively.
 図2に示すように、高周波モジュール100は、実装基板10、複数のフィルタ20、樹脂層30、金属層40及び複数の半田バンプ50を備える。複数のフィルタ20は、実装基板10上に実装され、且つ樹脂層30に覆われている。また、実装基板10上には、複数の回路素子60が配置され、樹脂層30に覆われている。樹脂層30の表面には、金属層40が配置されており、金属層40はグランドに接続されている。複数のフィルタ20は、複数の半田バンプ50を介して金属層40とグランド接続されている。 As shown in FIG. 2, the high frequency module 100 includes a mounting substrate 10, a plurality of filters 20, a resin layer 30, a metal layer 40, and a plurality of solder bumps 50. The plurality of filters 20 are mounted on the mounting substrate 10 and covered with the resin layer 30. Further, a plurality of circuit elements 60 are arranged on the mounting substrate 10 and are covered with a resin layer 30. A metal layer 40 is arranged on the surface of the resin layer 30, and the metal layer 40 is connected to the ground. The plurality of filters 20 are ground-connected to the metal layer 40 via the plurality of solder bumps 50.
 以下、高周波モジュール100の構成要素について詳細に説明する。 Hereinafter, the components of the high frequency module 100 will be described in detail.
<実装基板>
 実装基板10は、実装基板10の厚さ方向D1において互いに対向する第1主面PS1及び第2主面PS2を有する。実装基板10は、例えば、複数の誘電体層及び複数の導電層を含む多層基板である。複数の誘電体層及び複数の導電層は、実装基板10の厚さ方向D1において積層されている。複数の導電層は、層ごとに定められた所定パターンに形成されている。複数の導電層の各々は、実装基板10の厚さ方向D1に直交する一平面内において1つ又は複数の導体部を含む。各導電層の材料は、例えば、銅である。実装基板10は、例えば、LTCC(Low Temperature Co-fired Ceramics)基板である。実装基板10は、LTCC基板に限らず、例えば、プリント配線板、HTCC(High Temperature Co-fired Ceramics)基板、又は樹脂多層基板であってもよい。
<Mounting board>
The mounting board 10 has a first main surface PS1 and a second main surface PS2 facing each other in the thickness direction D1 of the mounting board 10. The mounting substrate 10 is, for example, a multilayer substrate including a plurality of dielectric layers and a plurality of conductive layers. The plurality of dielectric layers and the plurality of conductive layers are laminated in the thickness direction D1 of the mounting substrate 10. The plurality of conductive layers are formed in a predetermined pattern defined for each layer. Each of the plurality of conductive layers includes one or a plurality of conductor portions in one plane orthogonal to the thickness direction D1 of the mounting substrate 10. The material of each conductive layer is, for example, copper. The mounting substrate 10 is, for example, an LTCC (Low Temperature Co-fired Ceramics) substrate. The mounting substrate 10 is not limited to the LTCC substrate, and may be, for example, a printed wiring board, an HTCC (High Temperature Co-fired Ceramics) substrate, or a resin multilayer substrate.
 また、実装基板10は、LTCC基板に限らず、例えば、配線構造体であってもよい。配線構造体は、例えば、多層構造体である。多層構造体は、少なくとも1つの絶縁層と、少なくとも1つの導電層と、を含む。絶縁層は、所定パターンに形成されている。絶縁層が複数の場合は、複数の絶縁層は、層ごとに定められた所定パターンに形成されている。導電層は、絶縁層の所定パターンとは異なる所定パターンに形成されている。導電層が複数の場合は、複数の導電層は、層ごとに定められた所定パターンに形成されている。導電層は、1つ又は複数の再配線部を含んでいてもよい。配線構造体では、多層構造体の厚さ方向において互いに対向する2つの面のうち第1面が実装基板10の第1主面PS1であり、第2面が実装基板10の第2主面PS2である。配線構造体は、例えば、インタポーザであってもよい。インタポーザは、シリコン基板を用いたインタポーザであってもよいし、多層で構成された基板であってもよい。 Further, the mounting board 10 is not limited to the LTCC board, and may be, for example, a wiring structure. The wiring structure is, for example, a multi-layer structure. The multilayer structure includes at least one insulating layer and at least one conductive layer. The insulating layer is formed in a predetermined pattern. When there are a plurality of insulating layers, the plurality of insulating layers are formed in a predetermined pattern determined for each layer. The conductive layer is formed in a predetermined pattern different from the predetermined pattern of the insulating layer. When there are a plurality of conductive layers, the plurality of conductive layers are formed in a predetermined pattern determined for each layer. The conductive layer may include one or more rewiring portions. In the wiring structure, the first surface of the two surfaces facing each other in the thickness direction of the multilayer structure is the first main surface PS1 of the mounting board 10, and the second surface is the second main surface PS2 of the mounting board 10. Is. The wiring structure may be, for example, an interposer. The interposer may be an interposer using a silicon substrate or a substrate composed of multiple layers.
 実装基板10の第1主面PS1及び第2主面PS2は、実装基板10の厚さ方向D1において離れており、実装基板10の厚さ方向D1に交差する。実装基板10における第1主面PS1は、例えば、実装基板10の厚さ方向D1に直交しているが、例えば、厚さ方向D1に直交しない面として導体部の側面等を含んでいてもよい。また、実装基板10における第2主面PS2は、例えば、実装基板10の厚さ方向D1に直交しているが、例えば、厚さ方向D1に直交しない面として、導体部の側面等を含んでいてもよい。また、実装基板10の第1主面PS1及び第2主面PS2は、微細な凹凸、凹部又は凸部が形成されていてもよい。実装基板10の厚さ方向D1からの平面視で、実装基板10は、長方形状であるが、これに限らず、例えば、正方形状であってもよい。 The first main surface PS1 and the second main surface PS2 of the mounting board 10 are separated in the thickness direction D1 of the mounting board 10 and intersect with the thickness direction D1 of the mounting board 10. The first main surface PS1 in the mounting board 10 is, for example, orthogonal to the thickness direction D1 of the mounting board 10, but may include, for example, the side surface of the conductor portion as a surface not orthogonal to the thickness direction D1. .. Further, the second main surface PS2 of the mounting board 10 is, for example, orthogonal to the thickness direction D1 of the mounting board 10, but includes, for example, a side surface of a conductor portion as a surface not orthogonal to the thickness direction D1. You may. Further, the first main surface PS1 and the second main surface PS2 of the mounting substrate 10 may have fine irregularities, concave portions or convex portions. The mounting board 10 has a rectangular shape in a plan view from the thickness direction D1 of the mounting board 10, but the mounting board 10 is not limited to this, and may be, for example, a square shape.
 実装基板10には、複数の電子部品が実装されている。本明細書等において「実装されている」とは、電子部品が実装基板10に配置されていること(機械的に接続されていること)と、電子部品が実装基板10(の適宜の導体部)と電気的に接続されていることと、を含む。高周波モジュール100では、複数の電子部品が実装基板10の第1主面PS1及び第2主面PS2に配置されている。 A plurality of electronic components are mounted on the mounting board 10. In the present specification and the like, "mounted" means that the electronic component is arranged on the mounting board 10 (mechanically connected) and that the electronic component is mounted on the mounting board 10 (appropriate conductor portion). ) And being electrically connected, including. In the high frequency module 100, a plurality of electronic components are arranged on the first main surface PS1 and the second main surface PS2 of the mounting substrate 10.
 複数の電子部品は、例えば、複数のフィルタ20の他に回路を構成する回路素子60を含む。回路素子60は、パワーアンプ111及びローノイズアンプ121等であってもよい。また、回路素子60は、出力整合回路113及び入力整合回路123などの回路を構成する素子を含んでいてもよい。高周波モジュール100では、実装基板10の第1主面PS1に、複数のフィルタ20(複数の送信フィルタ112A,112B及び複数の受信フィルタ122A,122B)、パワーアンプ111、出力整合回路113、コントローラ115及び入力整合回路123が実装されている。また、実装基板10の第1主面PS1には、第1スイッチ104、第2スイッチ105及び第3スイッチ106が実装されている。実装基板10の第2主面PS2に、複数の外部接続端子80及びローノイズアンプ121が実装されている。なお、実装基板10における回路素子60の実装位置はこれに限定されない。 The plurality of electronic components include, for example, a circuit element 60 constituting a circuit in addition to the plurality of filters 20. The circuit element 60 may be a power amplifier 111, a low noise amplifier 121, or the like. Further, the circuit element 60 may include an element constituting a circuit such as an output matching circuit 113 and an input matching circuit 123. In the high frequency module 100, a plurality of filters 20 (a plurality of transmission filters 112A, 112B and a plurality of reception filters 122A, 122B), a power amplifier 111, an output matching circuit 113, a controller 115, and a plurality of filters 20 (a plurality of transmission filters 112A, 112B and a plurality of reception filters 122A, 122B) are placed on the first main surface PS1 of the mounting board 10. The input matching circuit 123 is mounted. Further, the first switch 104, the second switch 105, and the third switch 106 are mounted on the first main surface PS1 of the mounting board 10. A plurality of external connection terminals 80 and a low noise amplifier 121 are mounted on the second main surface PS2 of the mounting board 10. The mounting position of the circuit element 60 on the mounting board 10 is not limited to this.
 高周波モジュール100では、複数の電子部品を実装基板10の両面に振り分けて配置することができる。したがって、片面にすべての電子部品が配置される場合よりも実装基板10の面積を縮小することができ、高周波モジュール100の小型化を実現できる。さらに、高周波送信信号を伝送する第1スイッチ104、第2スイッチ105及び第3スイッチ106と、高周波受信信号を伝送するローノイズアンプ121とを互いに異なる主面に配置できる。したがって、第1スイッチ104、第2スイッチ105及び第3スイッチ106とローノイズアンプ121との磁界結合、電界結合、又は電磁界結合を抑制でき、送信回路及び受信回路間のアイソレーション特性を向上させることができる。 In the high frequency module 100, a plurality of electronic components can be distributed and arranged on both sides of the mounting board 10. Therefore, the area of the mounting board 10 can be reduced as compared with the case where all the electronic components are arranged on one side, and the high frequency module 100 can be downsized. Further, the first switch 104, the second switch 105, and the third switch 106 for transmitting the high frequency transmission signal and the low noise amplifier 121 for transmitting the high frequency reception signal can be arranged on different main surfaces. Therefore, magnetic field coupling, electric field coupling, or electromagnetic field coupling between the first switch 104, the second switch 105, and the third switch 106 and the low noise amplifier 121 can be suppressed, and the isolation characteristics between the transmission circuit and the reception circuit can be improved. Can be done.
 パワーアンプ111は、例えば、互いに対向する第1面及び第2面を有する基板と、この基板の第1面側に形成されたトランジスタを有する回路部(IC部)と、を含むICチップである。基板は、例えば、ガリウム砒素基板である。回路部は、パワーアンプ111の入力端子に入力された送信信号を増幅する機能を有する。トランジスタは、例えば、HBT(Heterojunction Bipolar Transistor)である。パワーアンプ111は、例えば、直流カット用のキャパシタを含んでいてもよい。パワーアンプ111を含むICチップは、基板の第1面及び第2面のうち第1面が実装基板10の第1主面PS1側となるように実装基板10の第1主面PS1にフリップチップ実装されている。例えば、実装基板10の厚さ方向D1からの平面視で、パワーアンプ111を含むICチップの外周形状は、四角形状である。パワーアンプ111を含むICチップにおける基板は、ガリウム砒素基板に限らず、シリコン基板、シリコンゲルマニウム基板、又は窒化ガリウム基板等であってもよい。また、トランジスタは、HBT等のバイポーラトランジスタに限らず、例えば、FET(Field Effect Transistor)であってもよい。FETは、例えば、MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor)であってもよい。 The power amplifier 111 is an IC chip including, for example, a substrate having a first surface and a second surface facing each other, and a circuit unit (IC unit) having a transistor formed on the first surface side of the substrate. .. The substrate is, for example, a gallium arsenide substrate. The circuit unit has a function of amplifying a transmission signal input to the input terminal of the power amplifier 111. The transistor is, for example, an HBT (Heterojunction Bipolar Transistor). The power amplifier 111 may include, for example, a capacitor for cutting DC. The IC chip including the power amplifier 111 is a flip chip on the first main surface PS1 of the mounting board 10 so that the first surface of the first surface and the second surface of the board is on the first main surface PS1 side of the mounting board 10. It has been implemented. For example, in a plan view from the thickness direction D1 of the mounting substrate 10, the outer peripheral shape of the IC chip including the power amplifier 111 is a quadrangular shape. The substrate in the IC chip including the power amplifier 111 is not limited to the gallium arsenide substrate, but may be a silicon substrate, a silicon germanium substrate, a gallium nitride substrate, or the like. Further, the transistor is not limited to a bipolar transistor such as an HBT, and may be, for example, a FET (Field Effect Transistor). The FET may be, for example, a MOSFET (Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor).
 出力整合回路113におけるインダクタは、例えば、チップインダクタである。出力整合回路113におけるインダクタは、例えば、実装基板10の第1主面PS1に実装されているが、これに限らない。例えば、実装基板10の厚さ方向D1からの平面視で、インダクタの外周形状は、四角形状である。 The inductor in the output matching circuit 113 is, for example, a chip inductor. The inductor in the output matching circuit 113 is, for example, mounted on the first main surface PS1 of the mounting board 10, but is not limited to this. For example, the outer peripheral shape of the inductor is a quadrangular shape in a plan view from the thickness direction D1 of the mounting substrate 10.
 コントローラ115は、例えば、プログラムを記憶したメモリと、CPU(Central Processing Unit)などのプロセッサに対応する処理回路を備える。例えば、コントローラ115においては、プロセッサがメモリに記憶されたプログラムを実行する。 The controller 115 includes, for example, a memory for storing a program and a processing circuit corresponding to a processor such as a CPU (Central Processing Unit). For example, in the controller 115, the processor executes a program stored in the memory.
 入力整合回路123におけるインダクタは、例えば、チップインダクタである。入力整合回路123におけるインダクタは、例えば、実装基板10の第1主面PS1に実装されているが、これに限らない。例えば、実装基板10の厚さ方向D1からの平面視で、インダクタの外周形状は、四角形状である。 The inductor in the input matching circuit 123 is, for example, a chip inductor. The inductor in the input matching circuit 123 is, for example, mounted on the first main surface PS1 of the mounting board 10, but is not limited to this. For example, the outer peripheral shape of the inductor is a quadrangular shape in a plan view from the thickness direction D1 of the mounting substrate 10.
 第1スイッチ104、第2スイッチ105及び第3スイッチ106の各々は、スイッチICである。より詳細には、第1スイッチ104、第2スイッチ105及び第3スイッチ106の各々は、例えば、互いに対向する第1面及び第2面を有する基板と、この基板の第1面側に形成されたFET(Field Effect Transistor)を有する回路部(IC部)と、を含むICチップである。基板は、例えば、シリコン基板である。回路部は、共通端子と複数の選択端子との接続状態を切り替える機能を有する機能部である。例えば、実装基板10の厚さ方向D1からの平面視で、第1スイッチ104、第2スイッチ105及び第3スイッチ106の各々を構成するICチップの外周形状は、四角形状である。第1スイッチ104、第2スイッチ105及び第3スイッチ106の各々は、基板の第1面及び第2面のうち第1面が実装基板10の第1主面PS1側となるように実装基板10の第1主面PS1にフリップチップ実装されている。 Each of the first switch 104, the second switch 105, and the third switch 106 is a switch IC. More specifically, each of the first switch 104, the second switch 105, and the third switch 106 is formed, for example, on a substrate having first and second surfaces facing each other and on the first surface side of the substrate. It is an IC chip including a circuit unit (IC unit) having a FET (Field Effect Transistor). The substrate is, for example, a silicon substrate. The circuit unit is a functional unit having a function of switching a connection state between a common terminal and a plurality of selection terminals. For example, in a plan view from the thickness direction D1 of the mounting board 10, the outer peripheral shape of the IC chip constituting each of the first switch 104, the second switch 105, and the third switch 106 is a quadrangular shape. Each of the first switch 104, the second switch 105, and the third switch 106 has a mounting board 10 such that the first side of the first side and the second side of the board is on the first main surface PS1 side of the mounting board 10. The flip chip is mounted on the first main surface PS1 of the above.
 ローノイズアンプ121は、例えば、互いに対向する第1面及び第2面を有する基板と、この基板の第1面側に形成された回路部(IC部)と、を含むICチップである。基板は、例えば、シリコン基板である。回路部は、ローノイズアンプ121の入力端子に入力された受信信号を増幅する機能を有する。ローノイズアンプ121は、基板の第1面及び第2面のうち第1面が実装基板10の第2主面PS2側となるように実装基板10の第2主面PS2にフリップチップ実装されている。例えば、実装基板10の厚さ方向D1からの平面視で、ローノイズアンプ121の外周形状は、四角形状である。 The low noise amplifier 121 is an IC chip including, for example, a substrate having a first surface and a second surface facing each other, and a circuit unit (IC unit) formed on the first surface side of the substrate. The substrate is, for example, a silicon substrate. The circuit unit has a function of amplifying a received signal input to the input terminal of the low noise amplifier 121. The low noise amplifier 121 is flip-chip mounted on the second main surface PS2 of the mounting board 10 so that the first surface of the first surface and the second surface of the board is on the second main surface PS2 side of the mounting board 10. .. For example, the outer peripheral shape of the low noise amplifier 121 is a quadrangular shape in a plan view from the thickness direction D1 of the mounting substrate 10.
 複数の外部接続端子80は、実装基板10の第2主面PS2に配置されている。複数の外部接続端子80の材料は、例えば、金属(例えば、銅、銅合金等)である。複数の外部接続端子80は、アンテナ端子81、信号入力端子82、信号出力端子83及び制御端子84を含む。アンテナ端子81は、アンテナ310に接続される。信号入力端子82、信号出力端子83及び制御端子84は、信号処理回路301に接続される。 The plurality of external connection terminals 80 are arranged on the second main surface PS2 of the mounting board 10. The material of the plurality of external connection terminals 80 is, for example, a metal (for example, copper, a copper alloy, etc.). The plurality of external connection terminals 80 include an antenna terminal 81, a signal input terminal 82, a signal output terminal 83, and a control terminal 84. The antenna terminal 81 is connected to the antenna 310. The signal input terminal 82, the signal output terminal 83, and the control terminal 84 are connected to the signal processing circuit 301.
<複数のフィルタ>
 複数のフィルタ20は、実装基板10の第1主面PS1側に配置される。複数のフィルタ20は、複数の送信フィルタ112A,112B及び複数の受信フィルタ122A,122Bを有する。
<Multiple filters>
The plurality of filters 20 are arranged on the first main surface PS1 side of the mounting board 10. The plurality of filters 20 have a plurality of transmission filters 112A and 112B and a plurality of reception filters 122A and 122B.
 フィルタ20は、実装基板10の第1主面PS1側に配置される第1フィルタ面PS3と、第1フィルタ面PS3と対向する第2フィルタ面PS4と、を有する。フィルタ20は、複数の第1電極21及び複数の第2電極22を有する。複数の第1電極21は、第1フィルタ面PS3側に設けられ、実装基板10と接続される。複数の第2電極22は、第2フィルタ面PS4側に設けられる。 The filter 20 has a first filter surface PS3 arranged on the first main surface PS1 side of the mounting board 10, and a second filter surface PS4 facing the first filter surface PS3. The filter 20 has a plurality of first electrodes 21 and a plurality of second electrodes 22. The plurality of first electrodes 21 are provided on the PS3 side of the first filter surface and are connected to the mounting substrate 10. The plurality of second electrodes 22 are provided on the PS4 side of the second filter surface.
 図2及び図3に示すように、複数の第1電極21は、受信電極Rx、送信電極Tx、アンテナ電極ANT及び複数のダミー電極Dmを有する。受信電極Rxは、受信信号用の信号経路R1(R11,R12)に接続される。送信電極Txは、送信信号用の信号経路T1(T11,T12)に接続される。アンテナ電極ANTは、アンテナ端子81を介してアンテナ310に接続される。複数のダミー電極Dmは、実装基板10の第1主面PS1上でフィルタ20を固定するために用いられる電極である。複数のダミー電極Dmは、実装基板10と電気的に接続されていない。実施の形態1では、複数のダミー電極Dmの数は3つである。なお、複数のダミー電極Dmの数は3つに限定されない。 As shown in FIGS. 2 and 3, the plurality of first electrodes 21 have a receiving electrode Rx, a transmitting electrode Tx, an antenna electrode ANT, and a plurality of dummy electrodes Dm. The receiving electrode Rx is connected to the signal path R1 (R11, R12) for the received signal. The transmission electrode Tx is connected to the signal path T1 (T11, T12) for the transmission signal. The antenna electrode ANT is connected to the antenna 310 via the antenna terminal 81. The plurality of dummy electrodes Dm are electrodes used for fixing the filter 20 on the first main surface PS1 of the mounting substrate 10. The plurality of dummy electrodes Dm are not electrically connected to the mounting substrate 10. In the first embodiment, the number of the plurality of dummy electrodes Dm is three. The number of the plurality of dummy electrodes Dm is not limited to three.
 複数の第1電極21は、等間隔に配置されている。実施の形態1では、複数の第1電極21は、2行3列で配置されている。具体的には、フィルタ20の第2フィルタ面PS4上において、フィルタ20の横方向(Y方向)の1行目にダミー電極Dm、アンテナ電極ANT、ダミー電極Dmの順に配置されており、フィルタ20の横方向(Y方向)の2行目に受信電極Rx、ダミー電極Dm、送信電極Txの順に配置されている。なお、複数の第1電極21の配置は、これに限定されない。 The plurality of first electrodes 21 are arranged at equal intervals. In the first embodiment, the plurality of first electrodes 21 are arranged in 2 rows and 3 columns. Specifically, on the second filter surface PS4 of the filter 20, the dummy electrode Dm, the antenna electrode ANT, and the dummy electrode Dm are arranged in this order in the first row in the lateral direction (Y direction) of the filter 20, and the filter 20 is arranged. The receiving electrode Rx, the dummy electrode Dm, and the transmitting electrode Tx are arranged in this order on the second row in the lateral direction (Y direction). The arrangement of the plurality of first electrodes 21 is not limited to this.
 実施の形態1では、複数の送信フィルタ112A,112Bは、送信電極Txを信号経路T1(T11,T12)に電気的に接続しているが、受信電極Rxを信号経路R1(R11,R12)に電気的に接続していない。また、複数の受信フィルタ122A,122Bは、受信電極Rxを信号経路R1(R11,R12)に電気的に接続しているが、送信電極Txを信号経路T1(T11,T12)に電気的に接続していない。なお、複数の送信フィルタ112A,112Bは、受信電極Rxを有していなくてもよい。複数の受信フィルタ122A,122Bは、送信電極Txを有していなくてもよい。 In the first embodiment, the plurality of transmission filters 112A and 112B electrically connect the transmission electrode Tx to the signal path T1 (T11, T12), but connect the reception electrode Rx to the signal path R1 (R11, R12). Not electrically connected. Further, the plurality of receiving filters 122A and 122B electrically connect the receiving electrode Rx to the signal path R1 (R11, R12), but electrically connect the transmitting electrode Tx to the signal path T1 (T11, T12). Not done. The plurality of transmission filters 112A and 112B may not have the reception electrode Rx. The plurality of reception filters 122A and 122B may not have the transmission electrode Tx.
 複数の第2電極22は、フィルタ20のグランド接続用のグランド電極である。実施の形態1では、フィルタ20の高さ方向(Z方向)において、複数の第2電極22は受信電極Rx及び送信電極Txと重ならない位置に配置されている。即ち、フィルタ20の高さ方向(Z方向)において、複数の第2電極22は受信電極Rx及び送信電極Txと対向しない位置に配置されている。なお、フィルタ20の高さ方向(Z方向)において、複数の第2電極22は複数のダミー電極Dmと重なる位置に配置されていてもよい。あるいは、フィルタ20の高さ方向(Z方向)において、複数の第2電極22は複数の第1電極21に重ならない位置に配置されていてもよい。 The plurality of second electrodes 22 are ground electrodes for connecting the ground of the filter 20. In the first embodiment, the plurality of second electrodes 22 are arranged at positions that do not overlap with the receiving electrode Rx and the transmitting electrode Tx in the height direction (Z direction) of the filter 20. That is, in the height direction (Z direction) of the filter 20, the plurality of second electrodes 22 are arranged at positions that do not face the receiving electrode Rx and the transmitting electrode Tx. In the height direction (Z direction) of the filter 20, the plurality of second electrodes 22 may be arranged at positions overlapping with the plurality of dummy electrodes Dm. Alternatively, in the height direction (Z direction) of the filter 20, the plurality of second electrodes 22 may be arranged at positions that do not overlap the plurality of first electrodes 21.
 また、図4に示すように、複数のフィルタ20の高さ方向(Z方向)において、複数の第2電極22は、回路部26の複数の回路電極29と重ならない位置に配置されている。 Further, as shown in FIG. 4, in the height direction (Z direction) of the plurality of filters 20, the plurality of second electrodes 22 are arranged at positions that do not overlap with the plurality of circuit electrodes 29 of the circuit unit 26.
 複数の第1電極21及び複数の第2電極22は、導電性の材料で形成されている。例えば、複数の第1電極21及び複数の第2電極22は、銅等の金属で形成されている。例えば、フィルタ20の高さ方向(Z方向)から見て、複数の第1電極21及び複数の第2電極22は、円形状を有する。 The plurality of first electrodes 21 and the plurality of second electrodes 22 are made of a conductive material. For example, the plurality of first electrodes 21 and the plurality of second electrodes 22 are made of a metal such as copper. For example, when viewed from the height direction (Z direction) of the filter 20, the plurality of first electrodes 21 and the plurality of second electrodes 22 have a circular shape.
 複数の第2電極22には、複数の半田バンプ50が配置される。複数の第2電極22は、複数の半田バンプ50を介して金属層40に接続される。 A plurality of solder bumps 50 are arranged on the plurality of second electrodes 22. The plurality of second electrodes 22 are connected to the metal layer 40 via the plurality of solder bumps 50.
 フィルタ20は、例えば、ラダー型フィルタであり、複数(例えば、4つ)の直列腕共振子と、複数(例えば、3つ)の並列腕共振子と、を有する。フィルタ20は、例えば、弾性波フィルタである。弾性波フィルタは、複数の直列腕共振子及び複数の並列腕共振子の各々が弾性波共振子により構成されている。弾性波フィルタは、例えば、弾性表面波を利用する表面弾性波フィルタである。 The filter 20 is, for example, a ladder type filter, and has a plurality of (for example, four) series arm resonators and a plurality of (for example, three) parallel arm resonators. The filter 20 is, for example, an elastic wave filter. In the elastic wave filter, each of the plurality of series arm resonators and the plurality of parallel arm resonators is composed of elastic wave resonators. The surface acoustic wave filter is, for example, a surface acoustic wave filter that utilizes a surface acoustic wave.
 表面弾性波フィルタでは、複数の直列腕共振子及び複数の並列腕共振子の各々は、例えば、SAW(Surface Acoustic Wave)共振子である。 In the surface acoustic wave filter, each of the plurality of series arm resonators and the plurality of parallel arm resonators is, for example, a SAW (Surface Acoustic Wave) resonator.
 フィルタ20は、例えば、ベアチップの弾性波フィルタである。例えば、実装基板10の厚さ方向D1からの平面視で、フィルタ20の外周形状は、四角形状である。フィルタ20は、実装基板10の第1主面PS1にフリップチップ実装されている。 The filter 20 is, for example, a bare chip elastic wave filter. For example, the outer peripheral shape of the filter 20 is a quadrangular shape in a plan view from the thickness direction D1 of the mounting substrate 10. The filter 20 is flip-chip mounted on the first main surface PS1 of the mounting board 10.
 図4に示すように、表面弾性波フィルタを構成するフィルタ20は、基板23、スペーサ層24、カバー部材25、回路部26、複数の第3電極27及び複数のビア導体28を含む。回路部26は、複数の回路電極29を有する。 As shown in FIG. 4, the filter 20 constituting the surface acoustic wave filter includes a substrate 23, a spacer layer 24, a cover member 25, a circuit unit 26, a plurality of third electrodes 27, and a plurality of via conductors 28. The circuit unit 26 has a plurality of circuit electrodes 29.
 基板23は、圧電基板である。圧電基板は、例えば、リチウムニオベイト基板である。基板23は、実装基板10の第1主面PS1と対向する側に回路部26の回路素子を実装する実装面PS5を有する。基板23の実装面PS5と対向する側には、フィルタ20の第2フィルタ面PS4が形成されている。 The substrate 23 is a piezoelectric substrate. The piezoelectric substrate is, for example, a lithium niobate substrate. The board 23 has a mounting surface PS5 on which the circuit elements of the circuit unit 26 are mounted on the side of the mounting board 10 facing the first main surface PS1. The second filter surface PS4 of the filter 20 is formed on the side of the substrate 23 facing the mounting surface PS5.
 基板23の実装面PS5には、スペーサ層24及びカバー部材25が配置されている。スペーサ層24は、実装基板10の厚さ方向D1からの平面視で、複数の回路電極29を囲んでいる。例えば、実装基板10の厚さ方向D1からの平面視で、スペーサ層24は、矩形枠状である。スペーサ層24は、電気絶縁性を有する。例えば、スペーサ層24の材料は、エポキシ樹脂、ポリイミド等である。 A spacer layer 24 and a cover member 25 are arranged on the mounting surface PS5 of the substrate 23. The spacer layer 24 surrounds a plurality of circuit electrodes 29 in a plan view from the thickness direction D1 of the mounting substrate 10. For example, the spacer layer 24 has a rectangular frame shape in a plan view from the thickness direction D1 of the mounting substrate 10. The spacer layer 24 has electrical insulation. For example, the material of the spacer layer 24 is an epoxy resin, polyimide, or the like.
 カバー部材25は、実装基板10の厚さ方向D1において基板23と対向するようにスペーサ層24上に配置されている。カバー部材25は、実装基板10の厚さ方向D1において複数の回路電極29と重複し、かつ、実装基板10の厚さ方向D1において複数の回路電極29から離れている。例えば、カバー部材25は、平板状である。カバー部材25は、電気絶縁性を有する。例えば、カバー部材25の材料は、エポキシ樹脂、ポリイミド等である。カバー部材25においてスペーサ層24と接する側と反対側には、フィルタ20の第1フィルタ面PS3が形成されている。第1フィルタ面PS3にはフィルタ20の複数の第1電極21が配置されており、複数の第1電極21は、例えば、バンプ70を介して実装基板10と接続されている。 The cover member 25 is arranged on the spacer layer 24 so as to face the substrate 23 in the thickness direction D1 of the mounting substrate 10. The cover member 25 overlaps with the plurality of circuit electrodes 29 in the thickness direction D1 of the mounting substrate 10 and is separated from the plurality of circuit electrodes 29 in the thickness direction D1 of the mounting substrate 10. For example, the cover member 25 has a flat plate shape. The cover member 25 has electrical insulation. For example, the material of the cover member 25 is an epoxy resin, polyimide, or the like. The first filter surface PS3 of the filter 20 is formed on the side of the cover member 25 opposite to the side in contact with the spacer layer 24. A plurality of first electrodes 21 of the filter 20 are arranged on the first filter surface PS3, and the plurality of first electrodes 21 are connected to the mounting substrate 10 via, for example, bumps 70.
 フィルタ20は、基板23とスペーサ層24とカバー部材25とで囲まれた空間SP1を有する。空間SP1には、空気、不活性ガス(例えば、窒素ガス)等の気体が入っている。 The filter 20 has a space SP1 surrounded by a substrate 23, a spacer layer 24, and a cover member 25. The space SP1 contains a gas such as air or an inert gas (for example, nitrogen gas).
 回路部26は、複数の回路電極29を有する。複数の回路電極29は、複数の直列腕共振子に一対一に対応する複数のIDT(Interdigital Transducer)電極と、複数の並列腕共振子に一対一に対応する複数のIDT電極と、を有している。 The circuit unit 26 has a plurality of circuit electrodes 29. The plurality of circuit electrodes 29 have a plurality of IDT (Interdigital Transducer) electrodes having a one-to-one correspondence with the plurality of series arm resonators, and a plurality of IDT electrodes having a one-to-one correspondence with the plurality of parallel arm resonators. ing.
 複数の第3電極27は、基板23の実装面PS5に形成され、回路部26に電気的に接続されている。複数の第3電極27は、基板23の実装面PS5側でスペーサ層24に覆われている。例えば、複数の第3電極27のそれぞれは、パッド電極である。 The plurality of third electrodes 27 are formed on the mounting surface PS5 of the substrate 23 and are electrically connected to the circuit unit 26. The plurality of third electrodes 27 are covered with a spacer layer 24 on the mounting surface PS5 side of the substrate 23. For example, each of the plurality of third electrodes 27 is a pad electrode.
 複数のビア導体28は、基板23、スペーサ層24及びカバー部材25の内部に形成されている。基板23の内部に形成されるビア導体28は、第2電極22と第3電極27とを電気的に接続する。スペーサ層24及びカバー部材25の内部に形成されるビア導体28は、第1電極21(受信電極Rx)と第3電極27とを電気的に接続する。 The plurality of via conductors 28 are formed inside the substrate 23, the spacer layer 24, and the cover member 25. The via conductor 28 formed inside the substrate 23 electrically connects the second electrode 22 and the third electrode 27. The via conductor 28 formed inside the spacer layer 24 and the cover member 25 electrically connects the first electrode 21 (reception electrode Rx) and the third electrode 27.
<樹脂層>
 樹脂層30は、実装基板10の第1主面PS1側において実装基板10の第1主面PS1に配置されている複数の電子部品の各々の少なくとも一部を覆っている。また、樹脂層30は、実装基板10の第2主面PS2側において実装基板10の第2主面PS2に配置されている複数の電子部品の各々の少なくとも一部を覆っている。実施の形態1では、樹脂層30は、複数のフィルタ20の他、複数の回路素子60を覆っている。具体的には、樹脂層30は、実装基板10の第1主面PS1側において複数の送信フィルタ112A,112B、複数の受信フィルタ122A,122B、パワーアンプ111、出力整合回路113、コントローラ115及び入力整合回路123を覆っている。樹脂層30は、実装基板10の第2主面PS2側において複数の外部接続端子80及びローノイズアンプ121を覆っている。
<Resin layer>
The resin layer 30 covers at least a part of each of a plurality of electronic components arranged on the first main surface PS1 of the mounting board 10 on the first main surface PS1 side of the mounting board 10. Further, the resin layer 30 covers at least a part of each of a plurality of electronic components arranged on the second main surface PS2 of the mounting board 10 on the second main surface PS2 side of the mounting board 10. In the first embodiment, the resin layer 30 covers a plurality of circuit elements 60 in addition to the plurality of filters 20. Specifically, the resin layer 30 includes a plurality of transmission filters 112A and 112B, a plurality of reception filters 122A and 122B, a power amplifier 111, an output matching circuit 113, a controller 115 and an input on the first main surface PS1 side of the mounting board 10. It covers the matching circuit 123. The resin layer 30 covers a plurality of external connection terminals 80 and a low noise amplifier 121 on the second main surface PS2 side of the mounting substrate 10.
 樹脂層30は、実装基板10の第1主面PS1上に配置され、第1主面PS1及び第1主面PS1上の電子部品を覆っている。樹脂層30は、第1主面PS1上の電子部品の機械強度及び耐湿性等の信頼性を確保する機能を有する。 The resin layer 30 is arranged on the first main surface PS1 of the mounting substrate 10 and covers the first main surface PS1 and the electronic components on the first main surface PS1. The resin layer 30 has a function of ensuring reliability such as mechanical strength and moisture resistance of electronic components on the first main surface PS1.
 樹脂層30は、ブロック状である。実装基板10の第1主面PS1側において、樹脂層30は、実装基板10の第1主面PS1に接する第1樹脂面31と、第1樹脂面31と対向する第2樹脂面32と、を有する。第2樹脂面32は、平坦な面である。第2樹脂面32には、複数の半田バンプ50が露出している。具体的には、第2樹脂面32には、複数の半田バンプ50の接続面51が露出している。第2樹脂面32と接続面51とは、連続したフラット面を形成している。 The resin layer 30 is block-shaped. On the first main surface PS1 side of the mounting substrate 10, the resin layer 30 includes a first resin surface 31 in contact with the first main surface PS1 of the mounting substrate 10, and a second resin surface 32 facing the first resin surface 31. Has. The second resin surface 32 is a flat surface. A plurality of solder bumps 50 are exposed on the second resin surface 32. Specifically, the connection surface 51 of the plurality of solder bumps 50 is exposed on the second resin surface 32. The second resin surface 32 and the connecting surface 51 form a continuous flat surface.
 実装基板10の第2主面PS2側において、樹脂層30は、実装基板10の第2主面PS2に接する第3樹脂面33と、第3樹脂面33と対向する第4樹脂面34と、を有する。第4樹脂面34は、平坦な面である。第4樹脂面34には、複数の外部接続端子80が露出している。 On the second main surface PS2 side of the mounting substrate 10, the resin layer 30 includes a third resin surface 33 in contact with the second main surface PS2 of the mounting substrate 10, and a fourth resin surface 34 facing the third resin surface 33. Has. The fourth resin surface 34 is a flat surface. A plurality of external connection terminals 80 are exposed on the fourth resin surface 34.
 樹脂層30は、樹脂を含む。樹脂層30は、樹脂の他にフィラーを含んでいてもよい。 The resin layer 30 contains a resin. The resin layer 30 may contain a filler in addition to the resin.
<金属層>
 金属層40は、樹脂層30の表面を覆っている。金属層40は、少なくとも樹脂層30の第2樹脂面32を覆っている。実施の形態1では、金属層40は、樹脂層30の第4樹脂面34を除いて、樹脂層30の表面を覆っている。即ち、金属層40は、樹脂層30の第2樹脂面32と、第2樹脂面32と第4樹脂面34とを接続する樹脂側面と、を覆っている。金属層40は、高周波モジュール100の内外の電磁シールドとして使用できる。
<Metal layer>
The metal layer 40 covers the surface of the resin layer 30. The metal layer 40 covers at least the second resin surface 32 of the resin layer 30. In the first embodiment, the metal layer 40 covers the surface of the resin layer 30 except for the fourth resin surface 34 of the resin layer 30. That is, the metal layer 40 covers the second resin surface 32 of the resin layer 30 and the resin side surface connecting the second resin surface 32 and the fourth resin surface 34. The metal layer 40 can be used as an electromagnetic shield inside and outside the high frequency module 100.
 金属層40は、グランドに接続されている。金属層40は、実装基板10のグランドパターンの少なくとも一部に接続されている。これにより、金属層40の電位をグランドパターンの電位と同じにすることができる。あるいは、金属層40は、高周波モジュール100を搭載する基板のグランドに接続されてもよい。実施の形態1では、金属層40は、実装基板10の側面に配置されており、実装基板10のグランドパターンに接続されている。このようにして、金属層40は、グランド電位に設定される。 The metal layer 40 is connected to the ground. The metal layer 40 is connected to at least a part of the ground pattern of the mounting substrate 10. Thereby, the potential of the metal layer 40 can be made the same as the potential of the ground pattern. Alternatively, the metal layer 40 may be connected to the ground of the substrate on which the high frequency module 100 is mounted. In the first embodiment, the metal layer 40 is arranged on the side surface of the mounting board 10 and is connected to the ground pattern of the mounting board 10. In this way, the metal layer 40 is set to the ground potential.
 金属層40は、例えばスパッタ法により形成された金属薄膜であり、樹脂層30の第2樹脂面32及び樹脂側面と、実装基板10の側面と、を覆うように形成されている。金属層40は、グランド電位に設定され、外来ノイズが高周波モジュール100を構成する回路部品に侵入することを抑制する。 The metal layer 40 is, for example, a metal thin film formed by a sputtering method, and is formed so as to cover the second resin surface 32 and the resin side surface of the resin layer 30, and the side surface of the mounting substrate 10. The metal layer 40 is set to the ground potential and suppresses external noise from entering the circuit components constituting the high frequency module 100.
 金属層40の材料は、例えば、1つ又は複数種の金属を含む。実施の形態1では、金属層40は、第1層、第2層及び第3層を含む。第1層、第2層及び第3層は、それぞれ、第1SUS層、Cu層及び第2SUS層である。第1SUS層及び第2SUS層の各々の材料は、FeとNiとCrとを含む合金である。Cu層の材料は、Cuを含む。金属層40では、第1層と第2層と第3層とのうち第2層の抵抗率が、第1層及び第3層それぞれの抵抗率よりも低い。第1層は、第2層よりも樹脂層30との密着性の優れた材料である。第3層の材料は、第2層よりも耐酸化性の優れた材料である。また、金属層40では、第2層の厚さが第1層及び第3層それぞれよりも厚い。第1層、第2層及び第3層は、それぞれ、第1Ti層、Cu層及び第2Ti層であってもよい。また、第1層、第2層及び第3層は、それぞれ、第1Ti層、Au層及び第2Ti層であってもよい。 The material of the metal layer 40 includes, for example, one or more kinds of metals. In the first embodiment, the metal layer 40 includes a first layer, a second layer, and a third layer. The first layer, the second layer and the third layer are a first SUS layer, a Cu layer and a second SUS layer, respectively. Each material of the first SUS layer and the second SUS layer is an alloy containing Fe, Ni, and Cr. The material of the Cu layer contains Cu. In the metal layer 40, the resistivity of the second layer of the first layer, the second layer, and the third layer is lower than the resistivity of each of the first layer and the third layer. The first layer is a material having better adhesion to the resin layer 30 than the second layer. The material of the third layer is a material having better oxidation resistance than the second layer. Further, in the metal layer 40, the thickness of the second layer is thicker than that of the first layer and the third layer, respectively. The first layer, the second layer and the third layer may be the first Ti layer, the Cu layer and the second Ti layer, respectively. Further, the first layer, the second layer and the third layer may be the first Ti layer, the Au layer and the second Ti layer, respectively.
<複数の半田バンプ>
 複数の半田バンプ50は、複数の第2電極22に配置され、複数の第2電極22と金属層40とを接続する。本明細書等において「接続する」とは、複数の半田バンプ50が複数の第2電極22と金属層とを電気的に接続することと、複数の半田バンプ50が複数の第2電極22と金属層とを物理的に接合することを、を含む。複数の第2電極22はグランド電極であり、金属層40はグランドに接続されている。このため、フィルタ20の複数の第2電極22を複数の半田バンプ50を介して金属層40に電気的に接続することによって、フィルタ20のグランドを容易に確保できる。
<Multiple solder bumps>
The plurality of solder bumps 50 are arranged on the plurality of second electrodes 22, and connect the plurality of second electrodes 22 and the metal layer 40. In the present specification and the like, "connecting" means that a plurality of solder bumps 50 electrically connect a plurality of second electrodes 22 and a metal layer, and a plurality of solder bumps 50 are connected to a plurality of second electrodes 22. Includes physically joining with the metal layer. The plurality of second electrodes 22 are ground electrodes, and the metal layer 40 is connected to the ground. Therefore, by electrically connecting the plurality of second electrodes 22 of the filter 20 to the metal layer 40 via the plurality of solder bumps 50, the ground of the filter 20 can be easily secured.
 半田バンプ50は、略ボール形状を有している。また、半田バンプ50は、金属層40と接続される接続面51を有する。接続面51は、フィルタ20を覆う樹脂層30から露出した面である。半田バンプ50において、接続面51は第2電極22と接続される側と反対側に形成されている。実施の形態1では、接続面51は、凹凸を有している。なお、接続面51は、凹凸面を有していなくてもよく、平坦に形成されていてもよい。半田バンプ50の材料は、例えば、Sn-Ag-Cuであってもよい。 The solder bump 50 has a substantially ball shape. Further, the solder bump 50 has a connection surface 51 connected to the metal layer 40. The connection surface 51 is a surface exposed from the resin layer 30 that covers the filter 20. In the solder bump 50, the connection surface 51 is formed on the side opposite to the side connected to the second electrode 22. In the first embodiment, the connection surface 51 has irregularities. The connecting surface 51 may not have an uneven surface and may be formed flat. The material of the solder bump 50 may be, for example, Sn-Ag-Cu.
 図3及び図4に示すように、複数の半田バンプ50は、フィルタ20の高さ方向(Z方向)において、受信電極Rx及び送信電極Txと重ならない位置に配置されている。即ち、複数の半田バンプ50は、フィルタ20の高さ方向(Z方向)において、受信電極Rx及び送信電極Txと対向しない位置に配置されている。これにより、複数の半田バンプ50と受信電極Rx及び送信電極Txとの間で寄生容量が生じることを抑制できる。このように構成された高周波モジュール100は、フィルタ20の第2フィルタ面PS4を覆うようにグランド電極が形成されている場合と比較して、寄生容量の抑制という点において特に優位性がある。また、複数の半田バンプ50は、複数のフィルタ20の高さ方向(Z方向)において、複数の回路電極29と重ならない位置に配置されている。これにより、複数の半田バンプ50と複数の回路電極29との間で寄生容量が生じることを抑制できる。 As shown in FIGS. 3 and 4, the plurality of solder bumps 50 are arranged at positions that do not overlap with the receiving electrode Rx and the transmitting electrode Tx in the height direction (Z direction) of the filter 20. That is, the plurality of solder bumps 50 are arranged at positions that do not face the receiving electrode Rx and the transmitting electrode Tx in the height direction (Z direction) of the filter 20. As a result, it is possible to suppress the occurrence of parasitic capacitance between the plurality of solder bumps 50 and the receiving electrode Rx and the transmitting electrode Tx. The high frequency module 100 configured in this way is particularly advantageous in suppressing parasitic capacitance as compared with the case where the ground electrode is formed so as to cover the second filter surface PS4 of the filter 20. Further, the plurality of solder bumps 50 are arranged at positions that do not overlap with the plurality of circuit electrodes 29 in the height direction (Z direction) of the plurality of filters 20. As a result, it is possible to suppress the occurrence of parasitic capacitance between the plurality of solder bumps 50 and the plurality of circuit electrodes 29.
[高周波モジュールの製造方法]
 次に、高周波モジュール100の製造方法の一例について、図5及び図6A~6Dを用いて説明する。図5は、本発明に係る実施の形態1の高周波モジュール100の製造方法の例示的なフローチャートである。図6A~6Dは、高周波モジュール100の製造方法の工程の一例を示す概略図である。
[Manufacturing method of high frequency module]
Next, an example of a method for manufacturing the high frequency module 100 will be described with reference to FIGS. 5 and 6A to 6D. FIG. 5 is an exemplary flowchart of the method for manufacturing the high frequency module 100 according to the first embodiment of the present invention. 6A to 6D are schematic views showing an example of a process of a manufacturing method of the high frequency module 100.
 図5に示すように、高周波モジュール100の製造方法は、ステップST1~ST4を含む。なお、ステップST1~ST4は、製造システムによって実施される。製造システムは、例えば、実装装置、樹脂層形成装置、切削装置及び金属層形成装置を備える。実装装置は、電子部品を実装基板10に実装する装置である。樹脂層形成装置は、実装基板10に樹脂層30を形成する装置である。切削装置は、樹脂層30を切削する装置である。金属層形成装置は、樹脂層30の表面に金属層40を形成する装置である。なお、製造システムの構成要素は、例示であり、これらに限定されない。 As shown in FIG. 5, the method for manufacturing the high frequency module 100 includes steps ST1 to ST4. In addition, steps ST1 to ST4 are carried out by a manufacturing system. The manufacturing system includes, for example, a mounting device, a resin layer forming device, a cutting device, and a metal layer forming device. The mounting device is a device for mounting electronic components on the mounting board 10. The resin layer forming apparatus is an apparatus for forming the resin layer 30 on the mounting substrate 10. The cutting device is a device that cuts the resin layer 30. The metal layer forming apparatus is an apparatus for forming a metal layer 40 on the surface of the resin layer 30. The components of the manufacturing system are examples and are not limited thereto.
 図5及び図6Aに示すように、ステップST1では、実装装置が実装基板10に電子部品を配置する。具体的には、実装装置は、実装基板10の第1主面PS1上に複数のフィルタ20を配置する。また、実装装置は、実装基板10の第1主面PS1及び第2主面PS2に複数の回路素子60を配置する。 As shown in FIGS. 5 and 6A, in step ST1, the mounting device arranges electronic components on the mounting board 10. Specifically, the mounting device arranges a plurality of filters 20 on the first main surface PS1 of the mounting board 10. Further, the mounting device arranges a plurality of circuit elements 60 on the first main surface PS1 and the second main surface PS2 of the mounting board 10.
 また、ステップST1においては、実装装置は、フィルタ20の第2フィルタ面PS4上に設けられた複数の第2電極22上に、略ボール形状の複数の半田バンプ50を形成する。また、実装装置は、複数の半田バンプ50を含むフィルタ20の全体高さH1を他の複数の回路素子60の高さよりも高くなるように、複数の第2電極22上に複数の半田バンプ50を形成する。フィルタ20の全体高さH1とは、実装基板10の第1主面PS1から複数の半田バンプ50の頂点までの高さである。なお、複数の半田バンプ50の高さにばらつきがある場合、最も低い半田バンプ50の頂点と実装基板10の第1主面PS1との間の距離が、フィルタ20の全体高さH1となる。 Further, in step ST1, the mounting device forms a plurality of solder bumps 50 having a substantially ball shape on the plurality of second electrodes 22 provided on the second filter surface PS4 of the filter 20. Further, the mounting device has a plurality of solder bumps 50 on the plurality of second electrodes 22 so that the total height H1 of the filter 20 including the plurality of solder bumps 50 is higher than the heights of the other plurality of circuit elements 60. To form. The total height H1 of the filter 20 is the height from the first main surface PS1 of the mounting substrate 10 to the vertices of the plurality of solder bumps 50. When the heights of the plurality of solder bumps 50 vary, the distance between the lowest apex of the solder bumps 50 and the first main surface PS1 of the mounting board 10 is the total height H1 of the filter 20.
 図5及び図6Bに示すように、ステップST2では、樹脂層形成装置が、電子部品が配置された実装基板10に樹脂層30を形成する。具体的には、樹脂層形成装置が、実装基板10の第1主面PS1側及び第2主面PS2側の両方において、電子部品を覆うように樹脂層30を形成する。 As shown in FIGS. 5 and 6B, in step ST2, the resin layer forming apparatus forms the resin layer 30 on the mounting substrate 10 on which the electronic components are arranged. Specifically, the resin layer forming apparatus forms the resin layer 30 so as to cover the electronic components on both the first main surface PS1 side and the second main surface PS2 side of the mounting substrate 10.
 また、樹脂層形成装置は、実装基板10の第1主面PS1側に形成される樹脂層30の第1高さH2は、フィルタ20の全体高さH1よりも高くなるように、実装基板10の第1主面PS1側に樹脂層30を形成する。樹脂層30の第1高さH2とは、実装基板10の第1主面PS1と接する第1樹脂面31から第2樹脂面32までの距離である。 Further, in the resin layer forming apparatus, the mounting substrate 10 is such that the first height H2 of the resin layer 30 formed on the first main surface PS1 side of the mounting substrate 10 is higher than the overall height H1 of the filter 20. The resin layer 30 is formed on the PS1 side of the first main surface of the above. The first height H2 of the resin layer 30 is the distance from the first resin surface 31 in contact with the first main surface PS1 of the mounting substrate 10 to the second resin surface 32.
 図5及び図6Cに示すように、ステップST3では、切削装置が、樹脂層30と半田バンプ50を切削する。具体的には、ステップST3では、切削装置は、実装基板10の第1主面PS1側に配置される樹脂層30の第2樹脂面32を切削することによって、樹脂層30の第1高さH2を第2高さH3まで小さくする。切削後の樹脂層30の第2高さH3は、切削後における実装基板10の第1主面PS1と接する第1樹脂面31から第2樹脂面32までの距離である。切削後の樹脂層30の第2高さH3は、切削前のフィルタ20の全体高さH1よりも小さい。また、切削後の樹脂層30の第2高さH3は、複数の回路素子60の高さH4,H5よりも大きい。 As shown in FIGS. 5 and 6C, in step ST3, the cutting device cuts the resin layer 30 and the solder bump 50. Specifically, in step ST3, the cutting apparatus cuts the second resin surface 32 of the resin layer 30 arranged on the first main surface PS1 side of the mounting substrate 10 to obtain the first height of the resin layer 30. H2 is reduced to the second height H3. The second height H3 of the resin layer 30 after cutting is the distance from the first resin surface 31 in contact with the first main surface PS1 of the mounting substrate 10 after cutting to the second resin surface 32. The second height H3 of the resin layer 30 after cutting is smaller than the overall height H1 of the filter 20 before cutting. Further, the second height H3 of the resin layer 30 after cutting is larger than the heights H4 and H5 of the plurality of circuit elements 60.
 このように、切削装置は、樹脂層30の第2樹脂面32を切削して、樹脂層30の高さを小さくすることによって、半田バンプ50を樹脂層30から露出させる。樹脂層30と共に半田バンプ50が切削されることによって、半田バンプ50の上面に平坦な接続面51が形成される。接続面51は樹脂層30から露出しており、樹脂層30の第2樹脂面32と連続した面を形成している。 In this way, the cutting device cuts the second resin surface 32 of the resin layer 30 to reduce the height of the resin layer 30 to expose the solder bumps 50 from the resin layer 30. By cutting the solder bump 50 together with the resin layer 30, a flat connection surface 51 is formed on the upper surface of the solder bump 50. The connecting surface 51 is exposed from the resin layer 30 and forms a surface continuous with the second resin surface 32 of the resin layer 30.
 図5及び図6Dに示すように、金属層形成装置が、樹脂層30の表面に金属層40を形成する。具体的には、金属層形成装置は、樹脂層30の第2樹脂面32と樹脂側面に金属層40を形成する。例えば、金属層40は、スパッタ法、蒸着法、又は印刷法によって形成される。 As shown in FIGS. 5 and 6D, the metal layer forming apparatus forms the metal layer 40 on the surface of the resin layer 30. Specifically, the metal layer forming apparatus forms the metal layer 40 on the second resin surface 32 and the resin side surface of the resin layer 30. For example, the metal layer 40 is formed by a sputtering method, a vapor deposition method, or a printing method.
 このように、高周波モジュール100の製造方法は、ステップST1~ST4を実施することによって高周波モジュール100を製造できる。 As described above, in the method for manufacturing the high frequency module 100, the high frequency module 100 can be manufactured by carrying out steps ST1 to ST4.
[効果]
 実施の形態1に係る高周波モジュール100及び通信装置300によれば、以下の効果を奏することができる。
[effect]
According to the high frequency module 100 and the communication device 300 according to the first embodiment, the following effects can be obtained.
 高周波モジュール100は、実装基板10、複数のフィルタ20、樹脂層30、金属層40及び複数の半田バンプ50を備える。実装基板10は、互いに対向する第1主面PS1及び第2主面PS2を有する。複数のフィルタ20は、実装基板10の第1主面PS1に配置されている。樹脂層30は、実装基板10の第1主面PS1に配置され、且つ複数のフィルタ20の少なくとも一部を覆っている。金属層40は、樹脂層30の表面を覆い、グランドに接続されている。複数の半田バンプ50は、複数のフィルタ20と金属層40とを接続する。複数のフィルタ20のそれぞれは、実装基板10の第1主面PS1側に配置される第1フィルタ面PS3と、第1フィルタ面PS3と対向する第2フィルタ面PS4とを有する。複数のフィルタ20のそれぞれは、複数の第1電極21及び複数の第2電極22を有する。複数の第1電極21は、第1フィルタ面PS3側に設けられ、且つ実装基板10と接続される。複数の第2電極22は、第2フィルタ面PS4側に設けられたグランド接続用の電極である。複数の半田バンプ50は、複数の第2電極22に配置され、複数の第2電極22と金属層40とを接続している。 The high frequency module 100 includes a mounting substrate 10, a plurality of filters 20, a resin layer 30, a metal layer 40, and a plurality of solder bumps 50. The mounting board 10 has a first main surface PS1 and a second main surface PS2 facing each other. The plurality of filters 20 are arranged on the first main surface PS1 of the mounting board 10. The resin layer 30 is arranged on the first main surface PS1 of the mounting substrate 10 and covers at least a part of the plurality of filters 20. The metal layer 40 covers the surface of the resin layer 30 and is connected to the ground. The plurality of solder bumps 50 connect the plurality of filters 20 and the metal layer 40. Each of the plurality of filters 20 has a first filter surface PS3 arranged on the first main surface PS1 side of the mounting board 10, and a second filter surface PS4 facing the first filter surface PS3. Each of the plurality of filters 20 has a plurality of first electrodes 21 and a plurality of second electrodes 22. The plurality of first electrodes 21 are provided on the PS3 side of the first filter surface and are connected to the mounting substrate 10. The plurality of second electrodes 22 are electrodes for ground connection provided on the second filter surface PS4 side. The plurality of solder bumps 50 are arranged on the plurality of second electrodes 22, and connect the plurality of second electrodes 22 and the metal layer 40.
 このような構成により、電子部品である複数のフィルタ20のグランドを十分に確保できる。具体的には、フィルタ20においては、実装基板10の第1主面PS1側に配置される第1フィルタ面PS3と対向する第2フィルタ面PS4にグランド接続用の複数の第2電極22を有している。複数の第2電極22と金属層40とは、複数の半田バンプ50を介して電気的に接続されている。このように、高周波モジュール100では、複数の第2電極22の上方に配置された金属層40に、複数の半田バンプ50を介して電気的に接続できるため、フィルタ20のグランドを十分に確保できる。なお、「グランドを十分に確保できる」とは、電子部品のグランドが取れている状態であればよい。例えば、「グランドを十分に確保できる」とは、電子部品のグランド電極がグランドに電気的に接続されている状態であればよい。実施の形態1では、フィルタ20の第2電極22が半田バンプ50を介して金属層40に電気的に接続されている状態であればよい。 With such a configuration, it is possible to sufficiently secure the ground of a plurality of filters 20 which are electronic components. Specifically, the filter 20 has a plurality of second electrodes 22 for ground connection on the second filter surface PS4 facing the first filter surface PS3 arranged on the first main surface PS1 side of the mounting board 10. is doing. The plurality of second electrodes 22 and the metal layer 40 are electrically connected via the plurality of solder bumps 50. As described above, in the high frequency module 100, the metal layer 40 arranged above the plurality of second electrodes 22 can be electrically connected to the metal layer 40 via the plurality of solder bumps 50, so that the ground of the filter 20 can be sufficiently secured. .. It should be noted that "sufficient grounding can be secured" as long as the electronic components are grounded. For example, "sufficient ground can be secured" means that the ground electrode of the electronic component is electrically connected to the ground. In the first embodiment, the second electrode 22 of the filter 20 may be electrically connected to the metal layer 40 via the solder bump 50.
 また、フィルタ20のグランドを実装基板10のグランドパターンに接続しなくてもよいため、フィルタ20のグランド接続のために配線パターンを引き回すことなどをしなくてもよい。 Further, since the ground of the filter 20 does not have to be connected to the ground pattern of the mounting board 10, it is not necessary to route the wiring pattern for the ground connection of the filter 20.
 また、フィルタ20の上方のスペースをグランド接続するために有効活用することができるため、実装基板10の第1主面PS1上に配置する素子の数を減らすことができる。これにより、高周波モジュール100の小型化を実現できる。 Further, since the space above the filter 20 can be effectively used for ground connection, the number of elements arranged on the first main surface PS1 of the mounting board 10 can be reduced. This makes it possible to reduce the size of the high frequency module 100.
 また、半田バンプ50を介してフィルタ20の熱が金属層40に伝達されるため、フィルタ20の放熱性を向上させることができる。これにより、フィルタ20の温度特性の安定化を図ることができる。 Further, since the heat of the filter 20 is transferred to the metal layer 40 via the solder bump 50, the heat dissipation of the filter 20 can be improved. This makes it possible to stabilize the temperature characteristics of the filter 20.
 複数の半田バンプ50は、樹脂層30から露出し、金属層40と接続される接続面51を有する。このような構成により、複数の半田バンプ50と金属層40との接触が容易となり、フィルタ20のグランドの確保がより容易となる。また、複数の半田バンプ50と金属層40との接触面積を大きくできるため、複数の半田バンプ50と金属層40との間の熱の伝達効率を向上させることができる。これにより、フィルタ20の放熱性を更に向上させることができる。また、半田バンプ50を切削することによって接続面51を形成する場合、接続面51に凹凸が形成される。金属層40が例えばスパッタ法などによって形成される金属薄膜である場合、接続面51に凹凸があることによって、接続面51と金属層40との接触面積を大きくできる。したがって、単に接続面を形成する場合と比べて、切削により凹凸のある接続面51を形成する方が、接続面51と金属層40との接触面積を大きくでき、放熱性を向上させることができる。 The plurality of solder bumps 50 have a connection surface 51 exposed from the resin layer 30 and connected to the metal layer 40. With such a configuration, the contact between the plurality of solder bumps 50 and the metal layer 40 becomes easy, and it becomes easier to secure the ground of the filter 20. Further, since the contact area between the plurality of solder bumps 50 and the metal layer 40 can be increased, the heat transfer efficiency between the plurality of solder bumps 50 and the metal layer 40 can be improved. This makes it possible to further improve the heat dissipation of the filter 20. Further, when the connecting surface 51 is formed by cutting the solder bump 50, unevenness is formed on the connecting surface 51. When the metal layer 40 is a metal thin film formed by, for example, a sputtering method, the contact area between the connection surface 51 and the metal layer 40 can be increased due to the unevenness of the connection surface 51. Therefore, it is possible to increase the contact area between the connection surface 51 and the metal layer 40 and improve the heat dissipation by forming the connection surface 51 having irregularities by cutting, as compared with the case of simply forming the connection surface. ..
 複数の第1電極21は、受信信号用の信号経路R1(R11,R12)に接続される受信電極Rxと、送信信号用の信号経路T1(T11,T12)に接続される送信電極Txとのうち少なくともいずれか一方、を含む。複数のフィルタ20の高さ方向(Z方向)において、複数の半田バンプ50は、受信電極Rx及び送信電極Txと重ならない位置に配置されている。このような構成により、複数の半田バンプ50と受信電極Rx及び送信電極Txとの間で寄生容量が生じることを抑制できる。 The plurality of first electrodes 21 are a receiving electrode Rx connected to a signal path R1 (R11, R12) for receiving signals and a transmitting electrode Tx connected to a signal path T1 (T11, T12) for transmitting signals. Includes at least one of them. In the height direction (Z direction) of the plurality of filters 20, the plurality of solder bumps 50 are arranged at positions that do not overlap with the receiving electrode Rx and the transmitting electrode Tx. With such a configuration, it is possible to suppress the occurrence of parasitic capacitance between the plurality of solder bumps 50 and the receiving electrode Rx and the transmitting electrode Tx.
 複数のフィルタ20は、複数の回路電極29を有する弾性波フィルタであり、複数のフィルタ20の高さ方向(Z方向)において、複数の半田バンプ50は、複数の回路電極29と重ならない位置に配置されている。このような構成により、複数の半田バンプ50と複数の回路電極29との間で寄生容量が生じることを抑制できる。 The plurality of filters 20 are elastic wave filters having a plurality of circuit electrodes 29, and the plurality of solder bumps 50 are located at positions where the plurality of solder bumps 50 do not overlap with the plurality of circuit electrodes 29 in the height direction (Z direction) of the plurality of filters 20. Have been placed. With such a configuration, it is possible to suppress the occurrence of parasitic capacitance between the plurality of solder bumps 50 and the plurality of circuit electrodes 29.
 複数のフィルタ20は、送信信号用の信号経路T1(T11,T12)に設けられている複数の送信フィルタ112A,112Bを有する。このような構成により、複数の送信フィルタ112A,112Bのグランドを容易に確保できると共に、放熱性を向上させることができる。一般的に送信電力は受信電力よりも大きくなりやすい。複数のフィルタ20は、抵抗成分に信号が流れることによって発熱するため、信号の電力が大きくなるほど発熱量が大きくなる。このため、複数の送信フィルタ112A,112Bは、複数の受信フィルタ122A,122Bよりも発熱しやすい傾向にある。高周波モジュール100においては、複数の送信フィルタ112A,112Bが複数の半田バンプ50を介して金属層40に接続されている。これにより、複数の送信フィルタ112A,112Bで発生した熱が複数の半田バンプ50を介して金属層40に伝達され、放熱される。その結果、複数の送信フィルタ112A,112Bの温度特性の安定化を図ることができる。 The plurality of filters 20 have a plurality of transmission filters 112A and 112B provided in the signal path T1 (T11, T12) for the transmission signal. With such a configuration, it is possible to easily secure the ground of the plurality of transmission filters 112A and 112B, and it is possible to improve the heat dissipation. Generally, the transmission power tends to be larger than the reception power. Since the plurality of filters 20 generate heat when a signal flows through the resistance component, the amount of heat generated increases as the power of the signal increases. Therefore, the plurality of transmission filters 112A and 112B tend to generate heat more easily than the plurality of reception filters 122A and 122B. In the high frequency module 100, a plurality of transmission filters 112A and 112B are connected to the metal layer 40 via a plurality of solder bumps 50. As a result, the heat generated by the plurality of transmission filters 112A and 112B is transferred to the metal layer 40 via the plurality of solder bumps 50 and dissipated. As a result, it is possible to stabilize the temperature characteristics of the plurality of transmission filters 112A and 112B.
 複数のフィルタ20は、受信信号用の信号経路R1(R11,R12)に設けられている複数の受信フィルタ122A,122Bを有する。このような構成により、複数の受信フィルタ122A,122Bのグランドを容易に確保できる。また、複数の受信フィルタ122A,122Bの電気的特性を向上させることができる。高周波モジュール100においては、複数の受信フィルタ122A,122Bが複数の半田バンプ50を介して金属層40に電気的に接続されている。これにより、高周波モジュール100は、複数の受信フィルタ122A,122Bがバンプ及び配線パターンを介して実装基板10のグランドパターンに電気的に接続される従来の構成に比べて、複数の受信フィルタ122A,122Bとグランドまでの電気的経路を短くできる。複数の受信フィルタ122A,122Bとグランドまでの電気的な経路が短くすることによって、十分な減衰を得ることができる。また、従来の構成においては、引き回された配線パターンにノイズが乗って、グランドではなく複数の受信フィルタ122A,122B側に不要信号と流れてしまう懸念がある。高周波モジュール100では、従来の構成と比べて、複数の受信フィルタ122A,122Bとグランドまでの電気的な経路が短くできるため、不要信号を低減することができる。 The plurality of filters 20 have a plurality of reception filters 122A and 122B provided in the signal path R1 (R11, R12) for the reception signal. With such a configuration, the ground of a plurality of reception filters 122A and 122B can be easily secured. Further, the electrical characteristics of the plurality of receiving filters 122A and 122B can be improved. In the high frequency module 100, the plurality of receiving filters 122A and 122B are electrically connected to the metal layer 40 via the plurality of solder bumps 50. As a result, the high frequency module 100 has a plurality of reception filters 122A and 122B, as compared with a conventional configuration in which a plurality of reception filters 122A and 122B are electrically connected to the ground pattern of the mounting board 10 via bumps and wiring patterns. And the electrical path to the ground can be shortened. Sufficient attenuation can be obtained by shortening the electrical path to the plurality of receive filters 122A and 122B and the ground. Further, in the conventional configuration, there is a concern that noise may be added to the routed wiring pattern and unnecessary signals may flow to the plurality of reception filters 122A and 122B instead of the ground. In the high frequency module 100, the electric paths to the plurality of reception filters 122A and 122B and the ground can be shortened as compared with the conventional configuration, so that unnecessary signals can be reduced.
 樹脂層30は、実装基板10の第1主面PS1側において、第1主面PS1と接する第1樹脂面31と、第1樹脂面31と対向する第2樹脂面32と、を有し、金属層40は、第2樹脂面32に配置されている。このような構成により、フィルタ20の上方に金属層40が配置されるため、複数の半田バンプ50による複数の第2電極22と金属層40との接続がより容易となる。これにより、複数のフィルタ20のグランドをより容易に確保できる。 The resin layer 30 has a first resin surface 31 in contact with the first main surface PS1 and a second resin surface 32 facing the first resin surface 31 on the first main surface PS1 side of the mounting substrate 10. The metal layer 40 is arranged on the second resin surface 32. With such a configuration, since the metal layer 40 is arranged above the filter 20, it becomes easier to connect the plurality of second electrodes 22 and the metal layer 40 by the plurality of solder bumps 50. As a result, the ground of the plurality of filters 20 can be secured more easily.
 金属層40は、金属膜で形成されている。このような構成により、樹脂層30の表面に形成される金属層40の表面積を大きくしつつ、高周波モジュール100の小型化を実現できる。 The metal layer 40 is formed of a metal film. With such a configuration, it is possible to reduce the size of the high frequency module 100 while increasing the surface area of the metal layer 40 formed on the surface of the resin layer 30.
 高周波モジュール100は、実装基板10の第1主面PS1側に配置され、且つ樹脂層30により覆われている回路素子60をさらに備える。このような構成においても、複数のフィルタ20のグランドを容易に確保できる。 The high frequency module 100 further includes a circuit element 60 arranged on the first main surface PS1 side of the mounting board 10 and covered with a resin layer 30. Even in such a configuration, the ground of the plurality of filters 20 can be easily secured.
 高周波モジュール100は、実装基板10の第2主面PS2に配置される外部接続端子80をさらに備える。このような構成においても、複数のフィルタ20のグランドを容易に確保できる。 The high frequency module 100 further includes an external connection terminal 80 arranged on the second main surface PS2 of the mounting board 10. Even in such a configuration, the ground of the plurality of filters 20 can be easily secured.
 高周波モジュール100は、実装基板10の第2主面PS2側に配置される回路素子60をさらに備える。このような構成により、実装基板10の第2主面PS2側において、回路素子60が配置されているような構成においても、複数のフィルタ20のグランドを容易に確保できる。実装基板10の第2主面PS2側に回路素子60が配置されない構成の場合、第2主面PS2側にグランドパターンを形成することが容易である。第2主面PS2側に回路素子60を配置する場合、第2主面PS2側にグランドパターンを形成するスペースが低減する。高周波モジュール100においては、実装基板10の第2主面PS2側に回路素子60が配置されている場合であっても、フィルタ20を金属層40にグランド接続することができる。このため、複数のフィルタ20のグランドを容易に確保できる。 The high frequency module 100 further includes a circuit element 60 arranged on the second main surface PS2 side of the mounting board 10. With such a configuration, the grounds of the plurality of filters 20 can be easily secured even in a configuration in which the circuit element 60 is arranged on the second main surface PS2 side of the mounting board 10. When the circuit element 60 is not arranged on the second main surface PS2 side of the mounting board 10, it is easy to form a ground pattern on the second main surface PS2 side. When the circuit element 60 is arranged on the second main surface PS2 side, the space for forming the ground pattern on the second main surface PS2 side is reduced. In the high frequency module 100, the filter 20 can be ground-connected to the metal layer 40 even when the circuit element 60 is arranged on the second main surface PS2 side of the mounting substrate 10. Therefore, the ground of the plurality of filters 20 can be easily secured.
 通信装置300は、高周波モジュール100と、高周波モジュール100に接続されており、高周波信号を信号処理する信号処理回路301と、を備える。このような構成により、電子部品である複数のフィルタ20のグランドを容易に確保できる。 The communication device 300 includes a high-frequency module 100 and a signal processing circuit 301 that is connected to the high-frequency module 100 and processes high-frequency signals. With such a configuration, it is possible to easily secure the ground of a plurality of filters 20 which are electronic components.
 なお、実施の形態1では、高周波モジュール100及び通信装置300の回路構成の一例を説明するものであって、上述した例に限定されない。高周波モジュール100は、回路構成として、例えば、MIMO(Multi Input Multi Output)対応の高周波フロントエンド回路を有していてもよい。 Note that the first embodiment describes an example of the circuit configuration of the high frequency module 100 and the communication device 300, and is not limited to the above-mentioned example. The high-frequency module 100 may have, for example, a high-frequency front-end circuit compatible with MIMO (Multi Input Multi Output) as a circuit configuration.
 実施の形態1では、フィルタ20がラダー型フィルタである例について説明したが、これに限定されない。例えば、フィルタ20は縦結合共振子型弾性表面波フィルタであってもよい。 In the first embodiment, an example in which the filter 20 is a ladder type filter has been described, but the present invention is not limited to this. For example, the filter 20 may be a longitudinally coupled resonator type surface acoustic wave filter.
 実施の形態1では、フィルタ20が表面弾性波を利用する弾性波フィルタである例について説明したが、これに限定されない。例えば、フィルタ20は、バルク弾性波、弾性境界波、板波等を利用する弾性波フィルタであってもよい。あるいは、フィルタ20は、積層LCフィルタ又は多層LCフィルタであってもよい。 In the first embodiment, an example in which the filter 20 is a surface acoustic wave filter using a surface acoustic wave has been described, but the present invention is not limited to this. For example, the filter 20 may be an elastic wave filter that utilizes bulk elastic waves, elastic boundary waves, plate waves, and the like. Alternatively, the filter 20 may be a laminated LC filter or a multilayer LC filter.
 実施の形態1では、高周波モジュール100が複数のフィルタ20を備える例について説明したが、これに限定されない。高周波モジュール100は、1つ又は複数のフィルタ20を備えていればよい。例えば、高周波モジュール100は、1つ又は複数の送信フィルタを備え、受信フィルタを備えていなくてもよい。あるいは、高周波モジュール100は、1つ又は複数の受信フィルタを備え、送信フィルタを備えていなくてもよい。 In the first embodiment, an example in which the high frequency module 100 includes a plurality of filters 20 has been described, but the present invention is not limited to this. The high frequency module 100 may include one or more filters 20. For example, the high frequency module 100 may include one or more transmit filters and may not include receive filters. Alternatively, the high frequency module 100 may include one or more receive filters and may not include transmit filters.
 実施の形態1では、フィルタ20が複数の第2電極22を有する例について説明したが、これに限定されない。フィルタ20は1つ又は複数の第2電極22を有していればよい。 In the first embodiment, an example in which the filter 20 has a plurality of second electrodes 22 has been described, but the present invention is not limited to this. The filter 20 may have one or more second electrodes 22.
 実施の形態1では、複数の第1電極21が受信電極Rx、送信電極Tx、アンテナ電極ANT及び複数のダミー電極Dmを有する例について説明したが、これに限定されない。例えば、フィルタ20が送信フィルタである場合、複数の第1電極21は送信電極Tx及びアンテナ電極ANTを有していればよい。フィルタ20が受信フィルタである場合、複数の第1電極21は受信電極Rx及びアンテナ電極ANTを有していればよい。また、複数の第1電極21はダミー電極Dmを有していなくてもよい。 In the first embodiment, an example in which the plurality of first electrodes 21 have a receiving electrode Rx, a transmitting electrode Tx, an antenna electrode ANT, and a plurality of dummy electrodes Dm has been described, but the present invention is not limited thereto. For example, when the filter 20 is a transmission filter, the plurality of first electrodes 21 may have a transmission electrode Tx and an antenna electrode ANT. When the filter 20 is a reception filter, the plurality of first electrodes 21 may have a reception electrode Rx and an antenna electrode ANT. Further, the plurality of first electrodes 21 do not have to have the dummy electrode Dm.
 実施の形態1では、フィルタ20が複数の半田バンプ50を有する例について説明したが、これに限定されない。フィルタ20は1つ又は複数の半田バンプ50を有していればよい。 In the first embodiment, an example in which the filter 20 has a plurality of solder bumps 50 has been described, but the present invention is not limited to this. The filter 20 may have one or more solder bumps 50.
 実施の形態1では、複数の第2電極22及び複数の半田バンプ50がフィルタ20の高さ方向(Z方向)において、受信電極Rx及び送信電極Txと重ならない位置に配置されている例について説明したが、これに限定されない。また、複数の第2電極22及び複数の半田バンプ50は、複数のフィルタ20の高さ方向(Z方向)において、複数の回路電極29と重ならない位置に配置されている例について説明したが、これに限定されない。複数の第2電極22及び複数の半田バンプ50は、フィルタ20の第2フィルタ面PS4上に配置されていればよい。 In the first embodiment, an example will be described in which a plurality of second electrodes 22 and a plurality of solder bumps 50 are arranged at positions that do not overlap with the receiving electrode Rx and the transmitting electrode Tx in the height direction (Z direction) of the filter 20. However, it is not limited to this. Further, the example in which the plurality of second electrodes 22 and the plurality of solder bumps 50 are arranged at positions that do not overlap with the plurality of circuit electrodes 29 in the height direction (Z direction) of the plurality of filters 20 has been described. Not limited to this. The plurality of second electrodes 22 and the plurality of solder bumps 50 may be arranged on the second filter surface PS4 of the filter 20.
 実施の形態1では、半田バンプ50が略ボール形状を有する例について説明したが、これに限定されない。例えば、半田バンプ50は、フィルタ20の高さ方向(Z方向)から見て、略楕円形状を有していてもよい。 In the first embodiment, an example in which the solder bump 50 has a substantially ball shape has been described, but the present invention is not limited to this. For example, the solder bump 50 may have a substantially elliptical shape when viewed from the height direction (Z direction) of the filter 20.
 実施の形態1では、金属層40が樹脂層30の第2樹脂面32と樹脂側面に配置されている例について説明したが、これに限定されない。金属層40は樹脂層30の第2樹脂面に配置されていればよい。樹脂層30の樹脂側面には金属層40が配置されていなくてもよい。 In the first embodiment, an example in which the metal layer 40 is arranged on the second resin surface 32 and the resin side surface of the resin layer 30 has been described, but the present invention is not limited to this. The metal layer 40 may be arranged on the second resin surface of the resin layer 30. The metal layer 40 may not be arranged on the resin side surface of the resin layer 30.
 実施の形態1では、実装基板10の第2主面PS2側に回路素子60が配置されている例について説明したが、これに限定されない。例えば、実装基板10の第2主面PS2側に回路素子60が配置されていなくてもよい。 In the first embodiment, an example in which the circuit element 60 is arranged on the second main surface PS2 side of the mounting board 10 has been described, but the present invention is not limited to this. For example, the circuit element 60 may not be arranged on the second main surface PS2 side of the mounting board 10.
 実施の形態1では、実装基板10の第2主面PS2側に樹脂層30が配置されている例について説明したが、これに限定されない。例えば、実装基板10の第2主面PS2側に樹脂層30が配置されていなくてもよい。 In the first embodiment, an example in which the resin layer 30 is arranged on the second main surface PS2 side of the mounting substrate 10 has been described, but the present invention is not limited to this. For example, the resin layer 30 may not be arranged on the second main surface PS2 side of the mounting substrate 10.
 実施の形態1では、高周波モジュール100の製造方法がステップST1~ST4を含む例について説明したが、これに限定されない。例えば、高周波モジュール100の製造方法は、追加のステップを含んでいてもよい。あるいは、これらのステップが統合及び/又は分割されてもよい。 In the first embodiment, an example in which the manufacturing method of the high frequency module 100 includes steps ST1 to ST4 has been described, but the present invention is not limited to this. For example, the method of manufacturing the high frequency module 100 may include additional steps. Alternatively, these steps may be integrated and / or split.
[変形例1]
 図7は、変形例1の高周波モジュール100Aの概略断面図である。図7に示すように、高周波モジュール100Aは、1つのフィルタ20を備える。高周波モジュール100Aにおいて、フィルタ20は送信フィルタ112Aである。このような構成においても、複数のフィルタ20のグランドを容易に確保できる。
[Modification 1]
FIG. 7 is a schematic cross-sectional view of the high frequency module 100A of Modification 1. As shown in FIG. 7, the high frequency module 100A includes one filter 20. In the high frequency module 100A, the filter 20 is a transmission filter 112A. Even in such a configuration, the ground of the plurality of filters 20 can be easily secured.
 なお、変形例1では、高周波モジュール100Aのフィルタ20が送信フィルタ112Aである例について説明したが、これに限定されない。例えば、高周波モジュール100Aのフィルタ20は受信フィルタ122Aであってもよい。 In the first modification, the example in which the filter 20 of the high frequency module 100A is the transmission filter 112A has been described, but the present invention is not limited to this. For example, the filter 20 of the high frequency module 100A may be the reception filter 122A.
[変形例2]
 図8は、変形例2の高周波モジュール100Bの概略断面図である。図8に示すように、高周波モジュール100Bでは、実装基板10の第2主面PS2が露出している。具体的には、実装基板10の第2主面PS2側に樹脂層30を配置しておらず、外部接続端子80が配置されている。また、実装基板10の第2主面PS2側には、ローノイズアンプ121などの回路素子60が配置されていない。このような構成においても、複数のフィルタ20のグランドを容易に確保できる。
[Modification 2]
FIG. 8 is a schematic cross-sectional view of the high frequency module 100B of Modification 2. As shown in FIG. 8, in the high frequency module 100B, the second main surface PS2 of the mounting substrate 10 is exposed. Specifically, the resin layer 30 is not arranged on the second main surface PS2 side of the mounting board 10, but the external connection terminal 80 is arranged. Further, the circuit element 60 such as the low noise amplifier 121 is not arranged on the second main surface PS2 side of the mounting board 10. Even in such a configuration, the ground of the plurality of filters 20 can be easily secured.
[変形例3]
 図9は、変形例3の高周波モジュール100Cの概略断面図である。図10は、図9の高周波モジュール100Cのフィルタ20Aの一例の概略平面図である。図9及び図10に示すように、高周波モジュール100Cのフィルタ20Aでは、第2電極22A及び半田バンプ50Aがフィルタ20Aの高さ方向(Z方向)から見て、長手方向(Y方向)を有する。第2電極22A及び半田バンプ50Aは、フィルタ20Aの高さ方向(Z方向)において、複数の第1電極21と重ならない位置に配置されている。具体的には、第2電極22A及び半田バンプ50Aは、フィルタ20Aの高さ方向(Z方向)から見て中央に配置されている。
[Modification 3]
FIG. 9 is a schematic cross-sectional view of the high frequency module 100C of Modification 3. FIG. 10 is a schematic plan view of an example of the filter 20A of the high frequency module 100C of FIG. As shown in FIGS. 9 and 10, in the filter 20A of the high frequency module 100C, the second electrode 22A and the solder bump 50A have a longitudinal direction (Y direction) when viewed from the height direction (Z direction) of the filter 20A. The second electrode 22A and the solder bump 50A are arranged at positions that do not overlap with the plurality of first electrodes 21 in the height direction (Z direction) of the filter 20A. Specifically, the second electrode 22A and the solder bump 50A are arranged in the center when viewed from the height direction (Z direction) of the filter 20A.
 半田バンプ50Aは、長手方向(Y方向)を有する接続面51Aを有する。接続面51Aは、実施の形態1の接続面51と比べて面積を大きく取ることができる。このような構成により、半田バンプ50と金属層40との接触面積を大きくできるため、半田バンプ50と金属層40との接続の安定性を向上させることができる。また、放熱性を更に向上させることができる。 The solder bump 50A has a connection surface 51A having a longitudinal direction (Y direction). The connection surface 51A can take a larger area than the connection surface 51 of the first embodiment. With such a configuration, the contact area between the solder bump 50 and the metal layer 40 can be increased, so that the stability of the connection between the solder bump 50 and the metal layer 40 can be improved. Moreover, the heat dissipation can be further improved.
(実施の形態2)
 本発明に係る実施の形態2の高周波モジュールについて説明する。
(Embodiment 2)
The high frequency module of the second embodiment which concerns on this invention will be described.
 実施の形態2では、主に実施の形態1と異なる点について説明する。実施の形態2においては、実施の形態1と同一又は同等の構成については同じ符号を付して説明する。また、実施の形態2では、実施の形態1と重複する記載は省略する。 The second embodiment mainly describes the differences from the first embodiment. In the second embodiment, the same or equivalent configurations as those in the first embodiment will be described with the same reference numerals. Further, in the second embodiment, the description overlapping with the first embodiment is omitted.
 実施の形態2では、複数のフィルタが高さの異なる第1フィルタ及び第2フィルタを含む点、及び第1フィルタの第1半田バンプの高さと第2フィルタの第2半田バンプの高さとが異なる点で、実施の形態1と異なる。 In the second embodiment, a plurality of filters include a first filter and a second filter having different heights, and the height of the first solder bump of the first filter and the height of the second solder bump of the second filter are different. In that respect, it differs from the first embodiment.
 図11は、本発明に係る実施の形態2の高周波モジュール100Dの一例の概略断面図である。図11に示すように、高周波モジュール100Dでは、複数のフィルタ20は、第1フィルタ20B及び第2フィルタ20Cを有する。第1フィルタ20Bの第1高さH11は、第2フィルタ20Cの第2高さH12と異なっている。具体的には、第2フィルタ20Cの第2高さH12は、第1フィルタ20Bの第1高さH11よりも大きい。 FIG. 11 is a schematic cross-sectional view of an example of the high frequency module 100D according to the second embodiment of the present invention. As shown in FIG. 11, in the high frequency module 100D, the plurality of filters 20 have a first filter 20B and a second filter 20C. The first height H11 of the first filter 20B is different from the second height H12 of the second filter 20C. Specifically, the second height H12 of the second filter 20C is larger than the first height H11 of the first filter 20B.
 複数の半田バンプ50は、第1フィルタ20Bの第2フィルタ面PS4に配置される複数の第1半田バンプ50Bと、第2フィルタ20Cの第2フィルタ面PS4に配置される複数の第2半田バンプ50Cと、を有する。複数の第1半田バンプ50Bの第3高さH13は、複数の第2半田バンプ50Cの第4高さH14と異なっている。具体的には、複数の第1半田バンプ50Bの第3高さH13は、複数の第2半田バンプ50Cの第4高さH14より小さい。 The plurality of solder bumps 50 include a plurality of first solder bumps 50B arranged on the second filter surface PS4 of the first filter 20B and a plurality of second solder bumps arranged on the second filter surface PS4 of the second filter 20C. It has 50C and. The third height H13 of the plurality of first solder bumps 50B is different from the fourth height H14 of the plurality of second solder bumps 50C. Specifically, the third height H13 of the plurality of first solder bumps 50B is smaller than the fourth height H14 of the plurality of second solder bumps 50C.
 実施の形態2では、実装基板10の第1主面PS1側に配置される複数の回路素子60の高さH15,H16は、第1フィルタ20Bの第1高さH11及び第2フィルタ20Cの第2高さH12よりも大きい。即ち、第1フィルタ20Bの第1高さH11及び第2フィルタ20Cの第2高さH12は、複数の回路素子60の高さH15,H16より小さい。また、第1半田バンプ50Bを含む第1フィルタ20Bの全体の高さ「H11+H13」は、複数の回路素子60の高さH15,H16より大きい。第2半田バンプ50Cを含む第2フィルタ20Cの全体の高さ「H12+H14」は、複数の回路素子60の高さH15,H16より大きい。なお、第1半田バンプ50Bを含む第1フィルタ20Bの全体の高さ「H11+H13」とは、第1フィルタ20Bの第1高さH11と第1半田バンプ50Bの第3高さH13との合計であり、実装基板10の第1主面PS1から複数の第1半田バンプ50Bの頂点までの距離を意味する。第2半田バンプ50Cを含む第2フィルタ20Cの全体の高さ「H12+H14」とは、第2フィルタ20Cの第2高さH12と第2半田バンプ50Cの第4高さH14との合計であり、実装基板10の第1主面PS1から複数の第2半田バンプ50Cの頂点までの距離を意味する。 In the second embodiment, the heights H15 and H16 of the plurality of circuit elements 60 arranged on the first main surface PS1 side of the mounting board 10 are the first heights H11 of the first filter 20B and the second filter 20C. 2 Height is larger than H12. That is, the first height H11 of the first filter 20B and the second height H12 of the second filter 20C are smaller than the heights H15 and H16 of the plurality of circuit elements 60. Further, the overall height "H11 + H13" of the first filter 20B including the first solder bump 50B is larger than the heights H15 and H16 of the plurality of circuit elements 60. The overall height "H12 + H14" of the second filter 20C including the second solder bump 50C is larger than the heights H15 and H16 of the plurality of circuit elements 60. The total height "H11 + H13" of the first filter 20B including the first solder bump 50B is the total of the first height H11 of the first filter 20B and the third height H13 of the first solder bump 50B. It means the distance from the first main surface PS1 of the mounting board 10 to the vertices of the plurality of first solder bumps 50B. The overall height "H12 + H14" of the second filter 20C including the second solder bump 50C is the total of the second height H12 of the second filter 20C and the fourth height H14 of the second solder bump 50C. It means the distance from the first main surface PS1 of the mounting board 10 to the vertices of the plurality of second solder bumps 50C.
 なお、本明細書においては、第1高さH11、第2高さH12、第3高さH13及び第4高さH14は、それぞれ、高さH11、高さH12、高さH13及び高さH14と称してもよい。 In the present specification, the first height H11, the second height H12, the third height H13, and the fourth height H14 are the height H11, the height H12, the height H13, and the height H14, respectively. It may be called.
[効果]
 実施の形態2に係る高周波モジュール100Dによれば、以下の効果を奏することができる。
[effect]
According to the high frequency module 100D according to the second embodiment, the following effects can be obtained.
 高周波モジュール100Dにおいては、複数のフィルタ20は、第1フィルタ20Bと、第2フィルタ20Cと、を有する。第1フィルタ20Bの第1高さH11は、第2フィルタ20Cの第2高さH12と異なっている。複数の半田バンプ50は、第1フィルタ20Bの第2フィルタ面PS4に配置される複数の第1半田バンプ50Bと、第2フィルタ20Cの第2フィルタ面PS4に配置される複数の第2半田バンプ50Cと、を有する。複数の第1半田バンプ50Bの第3高さH13は、複数の第2半田バンプ50Cの第4高さH14と異なっている。 In the high frequency module 100D, the plurality of filters 20 include a first filter 20B and a second filter 20C. The first height H11 of the first filter 20B is different from the second height H12 of the second filter 20C. The plurality of solder bumps 50 include a plurality of first solder bumps 50B arranged on the second filter surface PS4 of the first filter 20B and a plurality of second solder bumps arranged on the second filter surface PS4 of the second filter 20C. It has 50C and. The third height H13 of the plurality of first solder bumps 50B is different from the fourth height H14 of the plurality of second solder bumps 50C.
 このような構成により、高さの異なる複数のフィルタ20B,20Cを有する高周波モジュール100Cであっても、複数のフィルタ20B,20Cのグランドを容易に確保できる。 With such a configuration, even in the high frequency module 100C having a plurality of filters 20B and 20C having different heights, the ground of the plurality of filters 20B and 20C can be easily secured.
 複数のフィルタ20(20B,20C)の高さH11,H12は、実装基板10の第1主面PS1側に配置される複数の回路素子60の高さH15,H16よりも小さく、複数の半田バンプ50を含む複数のフィルタ20(20B,20C)の全体高さ「H13+H14」は、複数の回路素子60の高さH15,H16よりも大きい。このような構成により、複数のフィルタ20の高さH11,H12が、他の複数の回路素子60の高さH15,H16よりも小さい場合であっても、複数の半田バンプ50(50B,50C)を用いて、複数のフィルタ20のグランドを容易に確保できる。 The heights H11 and H12 of the plurality of filters 20 (20B and 20C) are smaller than the heights H15 and H16 of the plurality of circuit elements 60 arranged on the first main surface PS1 side of the mounting board 10, and a plurality of solder bumps. The overall height "H13 + H14" of the plurality of filters 20 (20B, 20C) including 50 is larger than the heights H15 and H16 of the plurality of circuit elements 60. With such a configuration, even if the heights H11 and H12 of the plurality of filters 20 are smaller than the heights H15 and H16 of the other plurality of circuit elements 60, the plurality of solder bumps 50 (50B and 50C) Can be easily secured for the grounds of the plurality of filters 20.
 なお、実施の形態2では、複数の半田バンプ50が複数の第1半田バンプ50B及び複数の第2半田バンプ50Cを有する例について説明したが、これに限定されない。複数の半田バンプ50は、1つ又は複数の第1半田バンプ50B及び1つ又は複数の第2半田バンプ50Cを有していればよい。 In the second embodiment, an example in which the plurality of solder bumps 50 have a plurality of first solder bumps 50B and a plurality of second solder bumps 50C has been described, but the present invention is not limited thereto. The plurality of solder bumps 50 may have one or more first solder bumps 50B and one or more second solder bumps 50C.
 実施の形態2では、実装基板10の第1主面PS1側に配置される複数の回路素子60の高さH15,H16が、第1フィルタ20Bの第1高さH11及び第2フィルタ20Cの第2高さH12よりも大きい例について説明したが、これに限定されない。例えば、第1フィルタ20Bの第1高さH11及び第2フィルタ20Cの第2高さH12は、複数の回路素子60の高さH15,H16より大きくてもよい。 In the second embodiment, the heights H15 and H16 of the plurality of circuit elements 60 arranged on the first main surface PS1 side of the mounting board 10 are the first heights H11 of the first filter 20B and the second filter 20C. 2 An example having a height larger than H12 has been described, but the present invention is not limited to this. For example, the first height H11 of the first filter 20B and the second height H12 of the second filter 20C may be larger than the heights H15 and H16 of the plurality of circuit elements 60.
 本発明は、添付図面を参照しながら好ましい実施形態に関連して充分に記載されているが、この技術の熟練した人々にとっては種々の変形や修正は明白である。そのような変形や修正は、添付した特許請求の範囲による本発明の範囲から外れない限りにおいて、その中に含まれると理解されるべきである。 Although the present invention has been fully described in connection with preferred embodiments with reference to the accompanying drawings, various modifications and modifications are obvious to those skilled in the art. It should be understood that such modifications and modifications are included within the scope of the invention as long as it does not deviate from the scope of the invention according to the appended claims.
 本発明の高周波モジュールは、通信装置等に適用できる。 The high frequency module of the present invention can be applied to communication devices and the like.
 10 実装基板
 20,20A,20B,20C フィルタ
 21 第1電極
 22 第2電極
 23 基板
 24 スペーサ層
 25 カバー部材
 26 回路部
 27 第3電極
 28 ビア導体
 29 回路電極
 30 樹脂層
 31 第1樹脂面
 32 第2樹脂面
 33 第3樹脂面
 34 第4樹脂面
 40 金属層
 50,50A,50B,50C 半田バンプ
 51,51A 接続面
 60 回路素子
 70 バンプ
 80 外部接続端子
 81 アンテナ端子
 82 信号入力端子
 83 信号出力端子
 84 制御端子
 100,100A,100B,100C、100D 高周波モジュール
 104 第1スイッチ
 140 共通端子
 141,142 選択端子
 105 第2スイッチ
 150 共通端子
 151,152 選択端子
 106 第3スイッチ
 160 共通端子
 161,162 選択端子
 111 パワーアンプ
 112A,112B 送信フィルタ
 113 出力整合回路
 115 コントローラ
 121 ローノイズアンプ
 122A,122B 受信フィルタ
 123 入力整合回路
 300 通信装置
 301 信号処理回路
 302 RF信号処理回路
 303 ベースバンド信号処理回路
 310 アンテナ
 H1,H2,H3,H4,H5,H11,H12,H13,H14,H15,H16 高さ
 PS1 第1主面
 PS2 第2主面
 PS3 第1フィルタ面
 PS4 第2フィルタ面
 PS5 実装面
10 Mounting board 20, 20A, 20B, 20C Filter 21 1st electrode 22 2nd electrode 23 Board 24 Spacer layer 25 Cover member 26 Circuit part 27 3rd electrode 28 Via conductor 29 Circuit electrode 30 Resin layer 31 1st resin surface 32 No. 2 Resin surface 33 3rd resin surface 34 4th resin surface 40 Metal layer 50, 50A, 50B, 50C Solder bump 51, 51A Connection surface 60 Circuit element 70 Bump 80 External connection terminal 81 Antenna terminal 82 Signal input terminal 83 Signal output terminal 84 Control terminal 100, 100A, 100B, 100C, 100D High frequency module 104 1st switch 140 Common terminal 141,142 Selection terminal 105 2nd switch 150 Common terminal 151,152 Selection terminal 106 3rd switch 160 Common terminal 161, 162 Selection terminal 111 Power Amplifier 112A, 112B Transmission Filter 113 Output Matching Circuit 115 Controller 121 Low Noise Amplifier 122A, 122B Receive Filter 123 Input Matching Circuit 300 Communication Device 301 Signal Processing Circuit 302 RF Signal Processing Circuit 303 Baseband Signal Processing Circuit 310 Antennas H1, H2 H3, H4, H5, H11, H12, H13, H14, H15, H16 Height PS1 1st main surface PS2 2nd main surface PS3 1st filter surface PS4 2nd filter surface PS5 mounting surface

Claims (15)

  1.  互いに対向する第1主面及び第2主面を有する実装基板と、
     前記実装基板の前記第1主面に配置されるフィルタと、
     前記実装基板の前記第1主面に配置され、且つ前記フィルタの少なくとも一部を覆う樹脂層と、
     前記樹脂層の表面を覆い、グランドに接続される金属層と、
     前記フィルタと前記金属層とを接続する半田バンプと、
    を備え、
     前記フィルタは、前記実装基板の前記第1主面側に配置される第1フィルタ面と、前記第1フィルタ面と対向する第2フィルタ面とを有し、
     前記フィルタは、
     前記第1フィルタ面側に設けられ、且つ前記実装基板と接続される複数の第1電極と、
     前記第2フィルタ面側に設けられたグランド接続用の第2電極と、
    を有し、
     前記半田バンプは、前記第2電極に配置され、前記第2電極と前記金属層とを接続する、
    高周波モジュール。
    A mounting board having a first main surface and a second main surface facing each other,
    A filter arranged on the first main surface of the mounting board and
    A resin layer arranged on the first main surface of the mounting substrate and covering at least a part of the filter.
    A metal layer that covers the surface of the resin layer and is connected to the ground,
    A solder bump that connects the filter and the metal layer,
    Equipped with
    The filter has a first filter surface arranged on the first main surface side of the mounting board and a second filter surface facing the first filter surface.
    The filter is
    A plurality of first electrodes provided on the first filter surface side and connected to the mounting substrate, and
    The second electrode for ground connection provided on the second filter surface side and
    Have,
    The solder bump is arranged on the second electrode and connects the second electrode and the metal layer.
    High frequency module.
  2.  前記半田バンプは、前記樹脂層から露出し、前記金属層と接続される接続面を有する、
    請求項1に記載の高周波モジュール。
    The solder bump has a connecting surface that is exposed from the resin layer and is connected to the metal layer.
    The high frequency module according to claim 1.
  3.  前記複数の第1電極は、受信信号用の信号経路に接続される受信電極と、送信信号用の信号経路に接続される送信電極とのうち少なくともいずれか一方、を含み、
     前記フィルタの高さ方向において、前記半田バンプは、前記受信電極及び前記送信電極と重ならない位置に配置されている、
    請求項1又は2に記載の高周波モジュール。
    The plurality of first electrodes include at least one of a receiving electrode connected to a signal path for a received signal and a transmitting electrode connected to a signal path for a transmitted signal.
    In the height direction of the filter, the solder bumps are arranged at positions that do not overlap with the receiving electrode and the transmitting electrode.
    The high frequency module according to claim 1 or 2.
  4.  前記フィルタは、回路電極を有する弾性波フィルタであり、
     前記フィルタの高さ方向において、前記半田バンプは、前記回路電極と重ならない位置に配置されている、
    請求項1~3のいずれか一項に記載の高周波モジュール。
    The filter is an elastic wave filter having circuit electrodes.
    The solder bumps are arranged at positions that do not overlap with the circuit electrodes in the height direction of the filter.
    The high frequency module according to any one of claims 1 to 3.
  5.  前記フィルタは、送信信号用の信号経路に設けられている送信フィルタを有する、
    請求項1~4のいずれか一項に記載の高周波モジュール。
    The filter has a transmission filter provided in the signal path for the transmission signal.
    The high frequency module according to any one of claims 1 to 4.
  6.  前記フィルタは、受信信号用の信号経路に設けられている受信フィルタを有する、
    請求項1~5のいずれか一項に記載の高周波モジュール。
    The filter has a receive filter provided in the signal path for the receive signal.
    The high frequency module according to any one of claims 1 to 5.
  7.  前記フィルタを複数備え、
     前記半田バンプを複数備え、
     前記複数のフィルタは、第1フィルタと、第2フィルタと、を有し、
     前記第1フィルタの第1高さは、前記第2フィルタの第2高さと異なっており、
     前記複数の半田バンプは、前記第1フィルタの前記第2フィルタ面に配置される第1半田バンプと、前記第2フィルタの前記第2フィルタ面に配置される第2半田バンプと、を有し、
     前記第1半田バンプの第3高さは、前記第2半田バンプの第4高さと異なっている、
    請求項1~6のいずれか一項に記載の高周波モジュール。
    With multiple of the above filters
    With multiple solder bumps
    The plurality of filters include a first filter and a second filter.
    The first height of the first filter is different from the second height of the second filter.
    The plurality of solder bumps include a first solder bump arranged on the second filter surface of the first filter and a second solder bump arranged on the second filter surface of the second filter. ,
    The third height of the first solder bump is different from the fourth height of the second solder bump.
    The high frequency module according to any one of claims 1 to 6.
  8.  前記樹脂層は、前記実装基板の前記第1主面側において、前記第1主面と接する第1樹脂面と、前記第1樹脂面と対向する第2樹脂面と、を有し、
     前記金属層は、前記第2樹脂面に配置されている、
    請求項1~7のいずれか一項に記載の高周波モジュール。
    The resin layer has a first resin surface in contact with the first main surface and a second resin surface facing the first resin surface on the first main surface side of the mounting substrate.
    The metal layer is arranged on the second resin surface.
    The high frequency module according to any one of claims 1 to 7.
  9.  前記金属層は、金属膜で形成されている、
    請求項1~8のいずれか一項に記載の高周波モジュール。
    The metal layer is formed of a metal film,
    The high frequency module according to any one of claims 1 to 8.
  10.  前記実装基板の前記第1主面側に配置され、且つ前記樹脂層により覆われている回路素子をさらに備える、
    請求項1~9のいずれか一項に記載の高周波モジュール。
    Further comprising a circuit element arranged on the first main surface side of the mounting substrate and covered with the resin layer.
    The high frequency module according to any one of claims 1 to 9.
  11.  前記フィルタの高さは、前記回路素子の高さよりも小さく、
     前記半田バンプを含む前記フィルタの全体高さは、前記回路素子の高さよりも大きい、
    請求項10に記載の高周波モジュール。
    The height of the filter is smaller than the height of the circuit element,
    The total height of the filter including the solder bumps is larger than the height of the circuit element.
    The high frequency module according to claim 10.
  12.  前記実装基板の前記第2主面に配置される外部接続端子をさらに備える、
    請求項1~11のいずれか一項に記載の高周波モジュール。
    Further comprising an external connection terminal arranged on the second main surface of the mounting board.
    The high frequency module according to any one of claims 1 to 11.
  13.  前記実装基板の前記第2主面は、露出している、
    請求項1~12のいずれか一項に記載の高周波モジュール。
    The second main surface of the mounting board is exposed.
    The high frequency module according to any one of claims 1 to 12.
  14.  前記実装基板の前記第2主面側に配置される回路素子をさらに備える、
    請求項1~12のいずれか一項に記載の高周波モジュール。
    Further, a circuit element arranged on the second main surface side of the mounting board is provided.
    The high frequency module according to any one of claims 1 to 12.
  15.  請求項1~14のいずれか一項に記載の高周波モジュールと、
     前記高周波モジュールに接続されており、高周波信号を信号処理する信号処理回路と、
    を備える、
    通信装置。
    The high frequency module according to any one of claims 1 to 14,
    A signal processing circuit connected to the high-frequency module and processing high-frequency signals,
    To prepare
    Communication device.
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