WO2021145471A1 - Appareil de mesure de lentille - Google Patents

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WO2021145471A1
WO2021145471A1 PCT/KR2020/000643 KR2020000643W WO2021145471A1 WO 2021145471 A1 WO2021145471 A1 WO 2021145471A1 KR 2020000643 W KR2020000643 W KR 2020000643W WO 2021145471 A1 WO2021145471 A1 WO 2021145471A1
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stage
lens
rotation
axis
measuring device
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English (en)
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Inventor
최승열
김상천
권도우
류형숙
목진명
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엘지전자 주식회사
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties

Definitions

  • the present invention is to provide a lens measuring device for automating the lens measurement.
  • the present invention is to provide a lens measuring device capable of reducing the occurrence of measurement errors.
  • the second axis of rotation may intersect to form an intersection with the third axis of rotation.
  • the lens specimen 200 is an object to be measured by the lens measuring apparatus 100 according to an embodiment of the present invention, and may include a plurality of lenses 210 , and may be, for example, a mobile lens.
  • the lens 210 specification of the lens specimen 200 may be measured by the measurement unit 60 .
  • the measuring unit 60 of the lens measuring apparatus 100 may measure various lens specifications by measuring the surface shape of the lens 210 and/or the distance to the lens 210 .
  • the second stage 20 may be positioned in a negative direction on the horizontal axis with respect to the first stage 10 and may be connected to the first stage 10 .
  • the second stage 20 may include a second rotating body 20a that rotates based on a second rotational axis a2 parallel to the horizontal axis.
  • the second rotating body 20a may have a disc shape that can be rotated based on the second rotating shaft a2, but the shape of the second rotating body 20a is not limited to the above description, and the second rotating shaft a2 is not limited thereto. ), if it is a rotatable shape, it will be said that it includes a shape that can be easily designed and changed by a person skilled in the art.

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

Selon un mode de réalisation de la présente invention, un appareil de mesure de lentille comprend : par rapport à un axe de largeur, à un axe de longueur et à un axe de hauteur qui sont perpendiculaires entre eux, une unité de mesure qui est positionnée sur l'axe de hauteur et mesure des échantillons de lentille ; et une unité d'étage qui modifie les positions des échantillons de lentille. L'unité d'étage comprend : un premier étage qui maintient les échantillons de lentille et comprend un premier corps rotatif conçu pour tourner autour d'un premier axe de rotation parallèle à l'axe de hauteur ; et un second étage qui est positionné dans la direction négative de l'axe de largeur par rapport au premier étage et couplé au premier étage, et comprend un second corps rotatif conçu pour tourner autour d'un second axe de rotation parallèle à l'axe de largeur.
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0933387A (ja) * 1995-07-24 1997-02-07 Asahi Optical Co Ltd マーキング機能を有する検査装置および方法
JP2000292313A (ja) * 1999-04-05 2000-10-20 Seiko Epson Corp 眼鏡用レンズの保持方法、保持装置及びそれを用いた検査方法、検査装置
JP2007078594A (ja) * 2005-09-15 2007-03-29 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 微小平面の角度測定装置
JP2008533439A (ja) * 2005-02-01 2008-08-21 テイラー・ホブソン・リミテッド 測定器具
KR100956894B1 (ko) * 2009-07-30 2010-05-11 (주) 툴이즈 고정도 광학 측정장치

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0933387A (ja) * 1995-07-24 1997-02-07 Asahi Optical Co Ltd マーキング機能を有する検査装置および方法
JP2000292313A (ja) * 1999-04-05 2000-10-20 Seiko Epson Corp 眼鏡用レンズの保持方法、保持装置及びそれを用いた検査方法、検査装置
JP2008533439A (ja) * 2005-02-01 2008-08-21 テイラー・ホブソン・リミテッド 測定器具
JP2007078594A (ja) * 2005-09-15 2007-03-29 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 微小平面の角度測定装置
KR100956894B1 (ko) * 2009-07-30 2010-05-11 (주) 툴이즈 고정도 광학 측정장치

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