WO2021091142A1 - 센서 어셈블리 운용 방법 및 이를 지원하는 전자 장치 - Google Patents

센서 어셈블리 운용 방법 및 이를 지원하는 전자 장치 Download PDF

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WO2021091142A1
WO2021091142A1 PCT/KR2020/014675 KR2020014675W WO2021091142A1 WO 2021091142 A1 WO2021091142 A1 WO 2021091142A1 KR 2020014675 W KR2020014675 W KR 2020014675W WO 2021091142 A1 WO2021091142 A1 WO 2021091142A1
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sensor
change
electronic device
sensor assembly
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PCT/KR2020/014675
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정영선
김민수
최광호
이지우
임연욱
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삼성전자 주식회사
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    • H04M2201/38—Displays

Definitions

  • Various embodiments disclosed in this document relate to a technology for operating a sensor assembly according to a physical deformation of an electronic device.
  • the electronic device may measure a physical deformation of the electronic device by a user's body in contact with the electronic device using a sensor disposed therein, and detect a user input based on the measured sensing value.
  • the sensor inside the electronic device may determine the physical deformation as according to the user input, which indicates a malfunction of the sensor. Or reduce the reliability of detecting the user input.
  • Various embodiments disclosed in this document are, when physical deformation of an electronic device occurs due to an external force other than a user input (for example, an external shock), at least a part of a sensor for detecting a user input is adjusted to compensate for the physical deformation.
  • a method of operating a sensor assembly and an electronic device supporting the same can be provided.
  • An electronic device includes a housing including at least one key region on an outer surface, a sensor assembly disposed on an inner surface of the housing such that at least a portion is aligned with the at least one key region, and the sensor assembly It may include a processor that is operatively connected.
  • the processor receives a sensing value from the sensor assembly, checks a change in the sensing value for a specified time (e.g., receives a sensing value at a predetermined period for a specified time, or Check the change based on the received sensing values), if the magnitude of the change in the sensing value is constant over the specified value (or time), the sensor assembly to detect a user input for the at least one key area At least part of the first threshold applied to may be adjusted.
  • a method of operating a sensor assembly of an electronic device includes receiving a sensing value from a sensor assembly disposed on an inner surface of the housing so as to be at least partially aligned with at least one key area formed on an outer surface of a housing of the electronic device. , Checking a change in the sensing value for a specified time, and to detect a user input for the at least one key area when the magnitude of the change in the sensing value is constant greater than or equal to the specified value (or time) It may include an operation of adjusting at least a part of the first threshold applied to the sensor assembly.
  • a sensor for detecting a user input to the electronic device based on the physical deformation of the electronic device is adjusted to compensate for the physical deformation of the electronic device due to damage, so that the reliability of the user input detection by the sensor Can be improved.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating an electronic device including a sensor assembly according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating an arrangement form of a sensor assembly according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of a sensor assembly according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating a sensing value output from a sensor assembly in a first state according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating a sensing value output from a sensor assembly in a second state according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating an example of adjusting a threshold value of a sensor assembly in a second state according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating another example of adjusting a threshold value of a sensor assembly in a second state according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 8 is a diagram illustrating another example of adjusting a threshold value of a sensor assembly in a third state according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 9 is a diagram illustrating an example of determining a user input based on a sensing value of a sensor assembly in a third state according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 10 is a diagram illustrating another example of determining a user input based on a sensing value of a sensor assembly in a third state according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 11 is a diagram illustrating an example of a sensing value output from a sensor assembly in a fourth state according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 12 is a diagram illustrating an example of adjusting a threshold value of a sensor assembly in a fourth state according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 13 is a diagram illustrating another example of adjusting a threshold value of a sensor assembly in a fourth state according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 14 is a diagram illustrating another example of a sensing value output from a sensor assembly in a fourth state according to an exemplary embodiment.
  • 15 is a diagram illustrating an example of adjusting a threshold value of a sensor assembly in a fourth state according to an exemplary embodiment.
  • 16 is a diagram illustrating a user interface output by an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • 17 is a diagram illustrating a method of operating a sensor assembly of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 18 is a diagram illustrating an electronic device including a case according to various embodiments of the present disclosure.
  • 19 is a diagram illustrating an electronic device in a network environment according to an embodiment.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating an electronic device including a sensor assembly according to an exemplary embodiment
  • FIG. 2 is a diagram illustrating an arrangement form of a sensor assembly according to an exemplary embodiment
  • FIG. 3 is a sensor assembly according to an exemplary embodiment. It is a diagram showing the configuration of.
  • an electronic device 100 eg, a smart phone, a notebook computer, a head mounted display device, a smart watch, or a stylus pen
  • a sensor assembly 200 capable of detecting a user input (eg, pressure) may be included.
  • the user input may include, for example, contact of a user's body (eg, a finger) generated on an outer surface of the housing 120 forming at least a part of the exterior of the electronic device 100.
  • the sensor assembly 200 may measure physical deformation of the housing 120 according to the pressure of the user's body and output an electrical signal or data.
  • the electrical signal or data output from the sensor assembly 200 may be referred to to determine whether a user input to the electronic device 100 is generated (or received).
  • the housing 120 of the electronic device 100 includes a first plate (eg, a front plate), a second plate (eg, a rear plate) spaced apart from the first plate and disposed to face each other, And side members surrounding the space between the first plate and the second plate may be coupled to each other.
  • a touch screen display forming most of the front surface of the electronic device 100 is disposed above the first plate (for example, an upper portion of the first plate in a direction opposite to the second plate with respect to the first plate). Can be placed.
  • the components eg, printed circuit board, processor, memory, battery, etc.
  • FIG. 19 to be referred to through FIG. 19 to be described later.
  • a communication device may be disposed.
  • the electronic device 100 illustrated in FIG. 1 or 2 may represent at least a part of the inside of the electronic device 100 from which the second plate has been removed.
  • the housing 120 may include at least one key area 110 that is an area capable of receiving the user input.
  • the housing 120 forming the side of the electronic device 100 (for example, at least one of the left side member 120a and the right side member 120b based on the electronic device 100 shown in FIG. 1 ).
  • at least one key region 110 exposed to the outer surface of the housing 120 may be formed.
  • the at least one key region 110 may be formed over the entire side of the electronic device 100 or may be formed on a portion of the side surface of the electronic device 100.
  • the at least one key region 110 may be formed by gently protruding or indenting (eg, embossed or engraved) from the outer surface of the housing 120 so that the user can perceive it tactilely.
  • the at least one key region 110 may be formed to have a texture (eg, matte, glossy, or sand blasting) that is distinct from other parts of the housing 120.
  • the at least one key area 110 may include a symbol for visually recognized by a user or a user experience (UX) (for example, a designated color display or a line display).
  • UX user experience
  • the position at which the at least one key region 110 is formed on the housing 120 is not limited to the above or as illustrated, and the user's body (eg, finger) when the user's electronic device 100 is gripped. It may be formed at various locations on the housing 120 in which the user's body is in contact with or is easily accessible.
  • a user input to at least one key area 110 may be related to control of a designated function of the electronic device 100.
  • the electronic device 100 controls a volume up or down function of the output sound in response to a user input to the at least one key area 110, or the electronic device 100 You can control the power-on or power-off function of ).
  • the electronic device 100 activates an artificial intelligence assistant mounted on the electronic device 100 (or executes an artificial intelligence assistant application) in response to a user input to the at least one key area 110 Or control an operation (eg, image capture, image zoom in, and/or image zoom out) of a designated application (eg, a camera application) being executed.
  • an operation eg, image capture, image zoom in, and/or image zoom out
  • a sensor assembly 200 for sensing a user input to at least one key area 110 may be disposed inside the housing 120.
  • the sensor assembly 200 may be disposed in an inner area of the housing 120 in which at least a part of the sensor assembly 200 may be aligned with at least one key area 110 formed in the housing 120.
  • a first slit 121 supporting the arrangement of the sensor assembly 200 may be formed inside the housing 120.
  • the first slit 121 may extend, for example, along an inner sidewall of the housing 120 forming a side surface of the electronic device 100.
  • the first slit 121 may include a space formed by inserting an inner sidewall of the housing 120 in the direction of at least one key region 110.
  • the sensor assembly 200 may be accommodated and seated in the first slit 121.
  • at least a portion of the sensor assembly 200 may be adhered to the inner sidewall of the housing 120 through an adhesive member.
  • At least a part of the housing 120 including the at least one key region 110 may be deformed by the pressure of the user's body. have.
  • a set structure for supporting the physical deformation of the housing 120 eg, at least one second slit 123
  • the at least one second slit 123 may include, for example, an opening opened in one direction. Based on the opening, the at least one second slit 123 is deformed in response to the pressure of the user's body in contact with the at least one key region 110, thereby supporting easy physical deformation of the housing 120. I can.
  • the at least one second slit 123 includes a set structure of the electronic device 100, a product standard (eg, model or size) of the sensor assembly 200, a volume of the first slit 121, Alternatively, it may be omitted depending on the position where the sensor assembly 200 is disposed.
  • a product standard eg, model or size
  • At least one second slit 123 may be formed at a position corresponding to the at least one key region 110.
  • at least one second slit 123 and at least one key region 110 may correspond one-to-one.
  • a second slit 123 corresponding to the specific key area 110 may be formed in an inner area of the housing 120 corresponding to the specific key area 110.
  • the at least one second slit 123 has a relatively larger size (or area) than the at least one key region 110 so as to cover the at least one key region 110. Can be formed.
  • each of the at least one key region 110 and the at least one second slit 123 may be formed in plural.
  • the plurality of key regions 110 on the housing 120 may be formed to be spaced apart from each other.
  • the plurality of second slits 123 corresponding to the plurality of key regions 110 one-to-one may also be formed to be spaced apart from each other.
  • tensile stress or compressive stress according to the pressure of the user's body may act on the plurality of key regions 110.
  • the spaced area 125 between the plurality of second slits 123 is formed as a set structure to absorb the pressure of the user's body in contact between the plurality of key areas 110, Physical deformation of the housing 120 due to tensile stress or compressive stress acting on the key region 110 may be suppressed.
  • the sensor assembly 200 includes a plurality of flexible sensors 220 disposed to form a specified spacing between each other, a plurality of plates 210 disposed in a region between the plurality of flexible sensors 220, And a cover 230 accommodating the plurality of flexible sensors 220 and the plurality of plates 210.
  • the sensor assembly 200 includes a flexible printed circuit board 240 electrically connected to a plurality of flexible sensors 220 and a printed circuit board 130 disposed inside the housing 120 and the flexible printed circuit.
  • a connector 250 for electrically connecting the substrate 240 may be further included.
  • the sensor assembly 200 is a processor of the electronic device 100 mounted on the printed circuit board 130 based on the flexible printed circuit board 240 and the connector 250 (for example, 1820 in FIG. 18 ). ) And can be electrically connected. Electrical signals or data output when measuring physical deformation of the housing 120 may be transmitted to the processor 1820.
  • At least some of the plurality of plates 210 may be deformed by the pressure of the user's body according to the user input. For example, when a user's body comes into contact with a specific key area 110, a partial area of the housing 120 corresponding to the specific key area 110 may be deformed in a direction in which the pressure of the user's body acts. Of the plurality of plates 210, at least one plate 210 that is at least partially overlapped or aligned with the specific key region 110 may be deformed corresponding to the partial region deformation of the housing 120.
  • the second slit 123 corresponding to (or at least partially overlapped or aligned) with the specific key region 110
  • a physical deformation of a partial region of the housing 120 may be supported.
  • At least one flexible sensor 220 may measure physical deformation of the at least one plate 210 and output an electrical signal or data.
  • the physical deformation of the at least one plate 210 measured by the at least one flexible sensor 220 may be understood as measuring the physical deformation of the housing 120.
  • the electrical signal or data output from at least one flexible sensor 220 is transmitted to the processor 1820 mounted on the printed circuit board 130 through the flexible printed circuit board 240 and the connector 250 Can be.
  • the processor 1820 may process the electrical signal or data to control a function of the electronic device 100 corresponding to a user input to the specific key area 110.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating a sensing value output from a sensor assembly in a first state according to an exemplary embodiment.
  • a sensor assembly 200 adhesively disposed on an inner surface of the housing 120 of the electronic device 100 includes a plurality of channels (CH 1 to CH 7). It may include.
  • the sensor assembly 200 may include a plurality of channels CH 1 to CH 7 corresponding to each of the plurality of flexible sensors 220.
  • the plurality of channels CH 1 to CH 7 may include input/output interfaces ranging from the plurality of flexible sensors 220 to the processor of the electronic device 100 (eg, 1820 in FIG. 18 ). .
  • the plurality of channels CH 1 to CH 7 may transmit electrical resistance values output from the plurality of flexible sensors 220 to the processor 1820.
  • the plurality of flexible sensors 220 may output corresponding electrical resistance values according to physical deformation of the housing 120 (or at least one key region 110 formed in the housing 120 ).
  • the sensing value of the sensor assembly 200 corresponding to the electrical resistance value may be transmitted to the processor 1820 through a plurality of channels CH 1 to CH 7.
  • the electrical resistance value transmitted through the plurality of channels (CH 1 to CH 7) is within the specified data code range (eg -code min (about -16383) to +code max (about +16384)). I can have it.
  • the electrical resistance value may represent a base line value according to the specifications of the plurality of flexible sensors 220.
  • the electrical resistance value transmitted through the plurality of channels CH 1 to CH 7 is a threshold referenced for determining whether a user input to the at least one key region 110 has occurred (eg: A value having an amplitude of a specified size from the baseline value) can be applied.
  • the processor 1820 may generate a lookup table by individually mapping the baseline value and the threshold value to each of the plurality of flexible sensors 220. The lookup table may be stored in a memory (eg, 1830 of FIG. 18) of the electronic device 100.
  • the area of the housing 120 corresponding to the first key area 110 in a first state in which a user input is generated with respect to the first key area 110, the area of the housing 120 corresponding to the first key area 110 is It can be deformed in the direction in which the pressure acts.
  • the area of the peripheral housing 120 of the first key region 110 may be deformed in a direction opposite to the direction in which the pressure acts by tensile stress or compressive stress according to the pressure of the user's body.
  • the at least one first flexible sensor 220a and/or 220b corresponding to (or adjacent to) the position of the first key region 110 has an electrical resistance corresponding to the deformation in the pressure direction of the housing 120. Value can change.
  • the at least one second flexible sensor 220c and/or 220d corresponding to (or adjacent to) the peripheral position of the first key region 110 has an electrical resistance corresponding to the deformation in the opposite direction of the pressure of the housing 120.
  • Value can change.
  • the electrical resistance value transmitted through at least one first channel (CH 3 and/or CH 4) corresponding to the at least one first flexible sensor 220a and/or 220b is a positive value based on the baseline value.
  • the electrical resistance value transmitted through at least one second channel (CH 2 and/or CH 5) corresponding to the at least one second flexible sensor 220c and/or 220d is the baseline value. It can be changed to a negative value based on the standard.
  • the processor 1820 may compare the sensing value of the sensor assembly 200 with a lookup table stored in the memory 1830. For example, the processor 1820 compares the electrical resistance values transmitted from each of the plurality of channels (CH 1 to CH 7) with the baseline values for each of the plurality of flexible sensors 220 included in the lookup table. I can. In an embodiment, the processor 1820 may identify at least one electrical resistance value changed (or increased) to a positive value based on the base line value. Based on this, the processor 1820 may identify at least one first flexible sensor 220a and/or 220b that outputs the identified electrical resistance value.
  • the processor 1820 may compare the identified electrical resistance value with a threshold value mapped to the at least one first flexible sensor 220a and/or 220b based on the lookup table. According to an embodiment, when the electrical resistance value of the at least one first flexible sensor 220a and/or 220b changes (or increases) above the threshold value, the processor 1820 It is possible to determine the occurrence of a user input at a location corresponding to the flexible sensors 220a and/or 220b. The processor 1820 may control a function of the electronic device 100 related to the first key region 110 in response to the occurrence of a user input.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating a sensing value output by a sensor assembly in a second state according to an exemplary embodiment
  • FIG. 6 is a diagram illustrating an example of adjusting a threshold value of the sensor assembly in a second state according to an exemplary embodiment. to be.
  • a housing corresponding to the first key region 110 may be deformed in the direction in which the pressure caused by the external force acts.
  • the area of the peripheral housing 120 of the first key region 110 may be deformed in a direction opposite to the direction in which the pressure of the external force is applied by tensile stress or compressive stress according to the pressure of the external force.
  • the first key region among the plurality of flexible sensors 220 At least one first flexible sensor 220e and/or 220f corresponding to (or adjacent to) the position of 110 is through at least one first channel (CH 3 and/or CH 4), the baseline value The electrical resistance value changed (or increased) to a positive value based on may be output.
  • at least one second flexible sensor 220g and/or 220h corresponding to (or adjacent to) a peripheral position of the first key region 110 is at least one second channel (CH 2 and/or CH Through 5), the electrical resistance value changed (or increased) to a negative value based on the baseline value may be output.
  • the processor may cause a malfunction by determining that a user input has occurred with respect to the first key area 110.
  • the processor may cause a malfunction by determining that a user input has occurred with respect to the first key area 110.
  • the processor 1820 of the electronic device 100 may monitor a sensing value of the sensor assembly 200 received from a plurality of channels CH 1 to CH 7 in real time or according to a specified period. For example, the processor 1820 may convert the electrical resistance values of each of the plurality of flexible sensors 220 received from a plurality of channels (CH 1 to CH 7) to a base line mapped to each of the plurality of flexible sensors 220. Can be compared to the value. Based on this, the processor 1820 may identify an increased (or changed) electrical resistance value based on the baseline value.
  • the processor 1820 may calculate an increase amount (or change amount) of the identified electrical resistance value. Also, the processor 1820 may count a time during which an increase amount of the identified electrical resistance value is substantially constant or similarly maintained. In one embodiment, when the increased amount of the identified electrical resistance value is maintained for a specified time or longer (or when the identified electrical resistance value is maintained above a specified value), the processor 1820 delivers the identified electrical resistance value. Based on at least one first channel (CH 3 and/or CH 4), at least one first flexible sensor 220j and/or corresponding to the at least one first channel (CH 3 and/or CH 4) 220i) can be identified.
  • the processor 1820 has an external force (for example, the area of the housing 120 or the first key area 110) corresponding to (or adjacent to) the position of the at least one first flexible sensor 220j and/or 220i. : It can be determined that it has been physically deformed due to damage due to external impact). If the increase of the identified electrical resistance value is not maintained for a specified time or more, and the identified electrical resistance value represents a threshold value or more corresponding to at least one first flexible sensor 220j and/or 220i, The processor 1820 may determine the occurrence of a user input for the first key area 110.
  • the processor 1820 is configured to control the at least one first flexible sensor 220j and/or 220i stored in the lookup table. Threshold can be adjusted. For example, the processor 1820 may use a first threshold value stored as a threshold value of the at least one first flexible sensor 220j and/or 220i as a second threshold value (eg, a value greater than the first threshold value). Can be adjusted upward.
  • the amount of the increase from the first threshold to the second threshold may be determined in consideration of a change in the amount of displacement of the housing 120 that is physically deformed due to damage.
  • the housing 120 may be deformed to a displacement amount of the first size.
  • the processor 1820 increases the amount of change (or increase amount) calculated from the electrical resistance value of at least one first flexible sensor 220j and/or 220i.
  • the processor 1820 sets a specific value between 0 and 9 as the first threshold. It may be determined as a value for increasing the value to the second threshold value.
  • the processor 1820 increases the amount of the increase from the first threshold value to the second threshold value, the amount of increase calculated with respect to the electrical resistance value of at least one first flexible sensor 220j and/or 220i. (Or, the amount of change) may be randomly determined within a candidate group having a smaller size. Alternatively, the processor 1820 may randomly change and determine the amount that is increased from the first threshold value to the second threshold value according to a designated period within the candidate group.
  • FIG. 7 is a view showing another example of the threshold value adjustment of the sensor assembly in a second state according to an embodiment
  • FIG. 8 is another example of the threshold value adjustment of the sensor assembly in a third state according to an embodiment. It is a figure showing an example.
  • an area of the peripheral housing 120 of the first key region 110 damaged by an external force is The tensile stress or compressive stress according to the pressure of the external force may deform in a direction opposite to the direction in which the pressure of the external force is applied.
  • the at least one second flexible sensor 220m and/or 220n corresponding to (or adjacent to) the area of the peripheral housing 120 is increased (or changed) to a negative value based on the baseline value. You can print the value.
  • the processor of the electronic device 100 corresponds to (or adjacent to) the first key area 110. Or 220l) to a second threshold while adjusting at least one second flexible sensor 220m and/or corresponding to (or adjacent to) a peripheral position of the first key region 110 Alternatively, a third threshold value for 220n) may be set.
  • the processor 1820 may set a third threshold value that is increased to a negative value from an electrical resistance value output from at least one second flexible sensor 220m and/or 220n.
  • the processor 1820 determines a magnitude that increases from an electrical resistance value output by the at least one second flexible sensor 220m and/or 220n to a negative value, the at least one second flexible sensor 220m. And/or 220n) may be determined to be smaller than the amount of increase (or change) calculated for the electrical resistance value.
  • the processor 1820 may store the third threshold value increased to the negative value together with the first threshold value previously stored for the at least one second flexible sensor 220m and/or 220n on the lookup table.
  • At least one first key region 110 corresponding to (or adjacent to) the first key region 110 1 The amount of change (or increase) with respect to the electrical resistance value of the flexible sensor 220k and/or 220l is at least one second flexible sensor corresponding to (or adjacent to) a peripheral position of the first key area 110 It may indicate that the amount of change (or increase) relative to the electrical resistance value of (220m and/or 220n) is calculated relatively larger.
  • the operation of adjusting the first threshold value of the at least one first flexible sensor 220k and/or 220l to the second threshold value by the processor 1820 described with reference to FIG. 7 is the first threshold value. May include an operation of adjusting to a second threshold value increased to a size equal to or similar to an increase amount of the electrical resistance value of the at least one second flexible sensor 220m and/or 220n.
  • FIG. 9 is a diagram illustrating an example of determining a user input based on a sensing value of a sensor assembly in a third state according to an embodiment
  • FIG. 10 is a diagram illustrating a user based on a sensing value of a sensor assembly in a third state according to an embodiment It is a figure showing another example of the input judgment.
  • a processor of the electronic device 100 (eg, 1820 in FIG. 18) is in a third state in which a user input is generated for a first key area 110 damaged by an external force, at least one first A second threshold adjusted for the flexible sensors 220k and/or 220l and a third threshold set for at least one second flexible sensor 220m and/or 220n may be referred to.
  • the processor 1820 may increase (or change) and/or at least one second flexible sensor 220m and/or the amount of increase (or change) with respect to the electrical resistance value of at least one first flexible sensor 220k and/or 220l.
  • the increase (or change) of the electrical resistance value of 220n) is not maintained for more than a specified time, and the electrical resistance value of the at least one first flexible sensor 220k and/or 220l is greater than or equal to a second threshold, When the electrical resistance value of the at least one second flexible sensor 220m and/or 220n is greater than or equal to the third threshold, it may be determined that a user input has occurred with respect to the first key area 110.
  • an electrical resistance value output by (220o and/or 220p) may exceed a specified data code range (eg, +code max).
  • the processor 1820 is a value in which the electrical resistance value of the at least one first flexible sensor 220o and/or 220p corresponding to the first key region 110 is specified (eg, +code max (about +16384)). ))
  • a user input with reference to a third threshold value set in at least one second flexible sensor 220q and/or 220r corresponding to (or adjacent to) a peripheral position of the first key area 110 It can be determined whether or not.
  • the processor 1820 does not maintain the increase amount (or change amount) of the electrical resistance value output from the at least one second flexible sensor 220q and/or 220r for more than a specified time, and the at least one second flexible sensor 220q and/or 220r.
  • FIG. 11 is a diagram illustrating an example of a sensing value output by the sensor assembly in a fourth state according to an embodiment
  • FIG. 12 is a diagram illustrating an example of adjusting a threshold value of the sensor assembly in a fourth state according to an embodiment
  • FIG. 13 is a diagram illustrating another example of adjusting a threshold value of a sensor assembly in a fourth state according to an exemplary embodiment.
  • a partial region 221 of the sensor assembly 200 adhered to the inner sidewall of the housing 120 of the electronic device 100 through the adhesive member is an external force (eg, external impact) or adhesion. Due to the deterioration of the member's performance, adhesion with the inner sidewall of the housing 120 may be released.
  • a pressure is applied to a region of the sensor assembly 200 in which the de-adhesion starts. This may act, and the third flexible sensor 220s corresponding to (or adjacent to) one area of the sensor assembly 200 may output an electrical resistance value increased to a positive value based on a baseline value.
  • at least one key area 110 may be included in an area of the housing 120 corresponding to an area of the sensor assembly 200 where the release of the adhesion is started.
  • the processor maintains the change (or increase) of the electrical resistance value output from the third flexible sensor 220s for a specified time or longer (or the electrical resistance value).
  • the threshold value for the third flexible sensor 220s may be adjusted.
  • the processor 1820 increases the first threshold value of the third flexible sensor 220s stored in the lookup table to a size smaller than the increase amount calculated with respect to the electrical resistance value of the third flexible sensor 220s. It can be adjusted upward to the second threshold value.
  • the fourth flexible sensor 220t corresponding to the other area of the sensor assembly 200 has an electrical resistance equal or similar to an electrical resistance value (eg, a baseline value) output in a state in which the adhesion release does not occur. You can print the value.
  • an electrical resistance value eg, a baseline value
  • the fourth flexible sensor 220t When the adhesion of the sensor assembly 200 is not released, when a user input of applying a pressure of the first size to the area of the housing 120 corresponding to (or adjacent to) the fourth flexible sensor 220t occurs, the fourth The electrical resistance value of the first size may be output from the flexible sensor 220t. When the adhesion of the sensor assembly 200 is released, the fourth flexible sensor 220t has an electrical resistance of the first size even if the same user input for applying the pressure of the first size to the area of the housing 120 is generated. An electrical resistance value of a second size smaller than the value may be output.
  • the processor 1820 increases the first threshold value for the third flexible sensor 220s to a second threshold value, and at the same time increases the first threshold value for the fourth flexible sensor 220t to a second threshold. It can be adjusted down to the value. For example, the processor 1820 may reduce the amount of reduction from a first threshold value of the fourth flexible sensor 220t to a second threshold value from a first threshold value of the third flexible sensor 220s to a second threshold value. It can be determined by a smaller size than the increasing size.
  • FIG. 14 is a diagram illustrating another example of a sensing value output by a sensor assembly in a fourth state according to an embodiment
  • FIG. 15 is a diagram illustrating an example of adjusting a threshold value of the sensor assembly in a fourth state according to an embodiment It is a drawing shown.
  • some areas 222 and 223 of the sensor assembly 200 may have a shape that is curved at least once or more.
  • one region of the sensor assembly 200 where the release of adhesion is started and the other region of the sensor assembly, which is a curved region will have a pressure applied. I can.
  • a third flexible sensor 220u corresponding to (or adjacent to) one area of the sensor assembly 200 and a fourth flexible sensor corresponding to (or adjacent to) another area of the sensor assembly 200
  • the sensor 220v may output a resistance value increased to a positive value based on the baseline value.
  • the processor is a change amount (or increase amount) of the electrical resistance value output from the third flexible sensor 220u and the electrical resistance value output from the fourth flexible sensor 220v
  • the third flexible sensor 220u and the fourth flexible sensor 220v respectively Threshold can be adjusted.
  • the processor 1820 sets the first threshold value of the third flexible sensor 220u to a second threshold value that is increased to a size smaller than the amount of increase calculated with respect to the electrical resistance value of the third flexible sensor 220u.
  • the first threshold value of the fourth flexible sensor 220v can be adjusted upward to a second threshold value that is increased to a size smaller than the increase amount calculated with respect to the electrical resistance value of the fourth flexible sensor 220v. have.
  • 16 is a diagram illustrating a user interface output by an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • the processor of the electronic device 100 includes at least a portion of at least one key area 110a, 110b, and/or 110c formed on the outer surface of the housing 120. It can be determined that it is physically deformed due to damage caused by external force (eg, external impact). In this case, the processor 1820 may control the display 140 (eg, the display device 1860 of FIG. 18) of the electronic device 100 to output a designated user interface 10.
  • the processor 1820 may control the display 140 (eg, the display device 1860 of FIG. 18) of the electronic device 100 to output a designated user interface 10.
  • the user interface 10 is an area corresponding to the at least one key area 110a, 110b, and/or 110c. At least one of image information and text information may be output. In addition, the user interface 10 may output at least one of image information and text information indicating the physical deformation of the key region 110c according to the determination of the physical deformation of the key region 110c.
  • the processor 1820 when receiving a user input for at least one of the image information and text information, controls the function of the electronic device 100 related to the key area 110c on which the physical deformation is determined. Can be excluded for a specified period of time.
  • the processor 1820 when receiving a user input for at least one of the image information and text information, performs at least one other function of the electronic device 100 related to the key area 110c on which the physical deformation is determined. Information that can be controlled (eg, long press input for at least one other key 110a and/or 110b) may be output using the keys 110a and/or 110b of.
  • the processor 1820 may output a pop-up window including the information or may output a voice of an artificial intelligence assistant including the information.
  • the electronic device includes a housing including at least one key area on an outer surface, and at least a portion of the housing disposed on the inner surface of the housing to be aligned with the at least one key area.
  • a sensor assembly and a processor operatively connected to the sensor assembly, wherein the processor receives a sensing value from the sensor assembly, checks a change in the sensing value for a specified time, and When a sensing value is received at a periodic time, or a change is checked based on the sensing values received at a predefined period), if the magnitude of the change in the sensing value is constant over a specified value (or time) (or a specified value during the specified time) When maintained above or within a predetermined range including a specified value), it may be set to adjust at least a part of the first threshold applied to the sensor assembly in order to detect a user input for the at least one key area.
  • the processor receives sensing values from the sensor assembly, checks changes in sensing values for a specified time, and if the amount of change in sensing values is constant greater than or equal to a specified value, the at least one key area It may be set to adjust at least a part of the first threshold applied to the sensor assembly in order to detect a user input for.
  • the at least one key area includes a first key area
  • the sensor assembly includes at least one first flexible sensor adjacent to the first key area
  • the processor When the magnitude of the change with respect to the first sensing value of the at least one first flexible sensor is constant over the specified value (or time), other than the user input in the first area of the housing corresponding to the first key area It may be set to determine that a physical deformation has occurred due to an external force of.
  • the electronic device further includes a display, and the processor is configured to output a user interface indicating that a physical deformation caused by the external force has occurred in the first area of the housing using the display. Can be.
  • the processor may increase the first threshold value applied to the at least one first flexible sensor to a size smaller than a change in the first sensing value from the first threshold value. It can be set to adjust to 2 threshold values.
  • the processor may determine a size that is increased from the first threshold value applied to the at least one first flexible sensor to the second threshold value, which is smaller than the size of the change with respect to the first sensing value. It may be set to randomly determine within a candidate group having a value of.
  • the sensor assembly further includes at least one second flexible sensor adjacent to a second area of the housing, which is a periphery of the first key area, and the processor includes the at least one second flexible sensor. It may be set to apply to the at least one second flexible sensor a third threshold value that is increased from the second sensing value of the sensor to a size smaller than the amount of change with respect to the second sensing value.
  • the processor may determine a size increased from the first threshold value applied to the at least one first flexible sensor to the second threshold value, and the second sensing of the at least one second flexible sensor. It can be set to determine the same as the magnitude of the change to the value.
  • the processor may include a size of a change in the first sensing value of the at least one first flexible sensor and a change in the second sensing value of the at least one second flexible sensor.
  • the first sensing value is equal to or greater than the second threshold value
  • the second sensing value is equal to or greater than the third threshold value . It may be set to determine that a user input for the first key area has been generated.
  • the processor is configured that the magnitude of the change of the second sensing value of the at least one second flexible sensor is less than a specified value (or is not constant over a specified time), and the second sensing value When it is equal to or greater than the third threshold, it may be set to determine that a user input for the first key area has been generated.
  • the at least one key area includes a first key area
  • the sensor assembly includes at least one first flexible sensor adjacent to a position of the first key area
  • the processor Is, the magnitude of the change with respect to the first sensing value of the at least one first flexible sensor is less than a specified value (or is not constant for more than the specified time, or is substantially constant without change), and the first sensing When the value is greater than or equal to the first threshold, it may be set to determine that a user input for the first key area has been generated.
  • 17 is a diagram illustrating a method of operating a sensor assembly of an electronic device according to an exemplary embodiment.
  • a processor (eg, 1820 of FIG. 18) of an electronic device may receive a sensing value from a sensor assembly (eg, 200 of FIG. 1 ). For example, through a plurality of channels (eg, CH1 to CH7 in FIG. 4) corresponding to each of a plurality of flexible sensors (eg, 220 in FIG. 4) included in the sensor assembly 200, Electrical resistance values output from each of the plurality of flexible sensors 220 may be received.
  • a plurality of channels eg, CH1 to CH7 in FIG. 4
  • Electrical resistance values output from each of the plurality of flexible sensors 220 may be received.
  • the processor 1820 may check a change in the sensing value of the sensor assembly 200. For example, the processor 1820 may compare an electrical resistance value transmitted from each of the plurality of channels CH 1 to CH 7 with a baseline value for each of the plurality of flexible sensors 220. In this regard, the processor 1820 may refer to a lookup table stored in a memory (eg, 1830 of FIG. 18) of the electronic device 100. Baseline values for each of the plurality of flexible sensors 220 may be stored in the lookup table. In an embodiment, the processor 1820 may identify at least one electrical resistance value increased (or changed) to a positive value based on the base line value.
  • the processor 1820 may determine whether the magnitude of the change in the sensed value of the sensor assembly 200 is constant for more than a specified time (or whether it is within a specified value range). For example, the processor 1820 may calculate a change amount (or increase amount) of the identified electrical resistance value, and count a time during which the change amount of the identified electrical resistance value is substantially constant or similarly maintained. .
  • the processor 1820 May adjust the threshold value (or threshold level) applied to the sensor assembly 200.
  • the processor 1820 may identify at least one flexible sensor corresponding to the at least one channel based on at least one channel to which the identified electrical resistance value is transmitted.
  • the processor 1820 may adjust the first threshold value stored in the lookup table for the identified at least one flexible sensor as the second threshold value. For example, the processor 1820 may adjust the first threshold value to a second threshold value that is increased to a size smaller than a change amount (or increase amount) calculated with respect to the identified electrical resistance value of at least one flexible sensor. .
  • the method of operating a sensor assembly of an electronic device of the present invention receives a sensing value from a sensor assembly disposed on the inner surface of the housing so as to be at least partially aligned with at least one key area formed on the outer surface of the housing of the electronic device.
  • the sensor to detect a user input for the at least one key area when the operation to perform, check the change in the sensing value for a specified time, and when the magnitude of the change in the sensing value is constant beyond the specified time And adjusting at least a portion of the first threshold applied to the assembly.
  • the at least one key area includes a first key area
  • the sensor assembly includes at least one first flexible sensor adjacent to the first key area, and the sensing value
  • the operation of confirming a change in response may be performed in a first area of the housing corresponding to the first key area when the size of the change in the first sensing value of the at least one first flexible sensor is constant for more than the specified time. It may include an operation of determining that physical deformation has occurred due to an external force other than the user input.
  • the adjusting at least a portion of the first threshold may include determining the first threshold applied to the at least one first flexible sensor from the first threshold to the first sensing value. It may include an operation of adjusting to a second threshold value that is increased to a size smaller than the size of the change.
  • the adjusting of at least a part of the first threshold value may include an amount increasing from the first threshold value applied to the at least one first flexible sensor to the second threshold value, the first It may further include an operation of randomly determining within a candidate group having a value smaller than the magnitude of the change in the sensing value.
  • the sensor assembly further includes at least one second flexible sensor adjacent to a second area of the housing, which is a periphery of the first key area, and a second of the at least one second flexible sensor.
  • the method may further include applying a third threshold value, which is increased to a size smaller than the amount of change with respect to the second sensing value from the sensing value, to the at least one second flexible sensor.
  • the adjusting at least a portion of the first threshold value may include an amount of increasing from the first threshold value applied to the at least one first flexible sensor to the second threshold value, the at least one It may further include an operation of determining the same as the magnitude of the change with respect to the second sensing value of the second flexible sensor.
  • the method may include at least one of a change in the first sensing value of the at least one first flexible sensor and a change in the second sensing value of the at least one second flexible sensor.
  • the first sensing value is equal to or greater than the second threshold value
  • the second sensing value is equal to or greater than the third threshold value
  • the first key It may further include an operation of determining that a user input for the region has been generated.
  • the magnitude of the change with respect to the second sensing value of the at least one second flexible sensor is less than a specified value (or is not constant over the specified time), and the second sensing value If it is equal to or greater than the third threshold, determining that a user input for the first key area has been generated may be further included.
  • the at least one key area includes a first key area
  • the sensor assembly includes at least one first flexible sensor adjacent to a position of the first key area, and the sensing In the operation of checking a change in value, the magnitude of the change in the first sensing value of the at least one first flexible sensor is less than a specified value (or is not constant over the specified time), and the first sensing value When the value is equal to or greater than the first threshold, determining that a user input for the first key area has been generated may be included.
  • FIG. 18 is a diagram illustrating an electronic device including a case according to various embodiments of the present disclosure.
  • the electronic device 100 may include a cover case 300 that shields at least a part of the electronic device 100 from the outside.
  • the electronic device 100 may be mounted on the cover case 300 based on a detachable coupling between the housing (eg, 120 in FIG. 1) and the cover case 300, and the side surface of the electronic device 100 And at least a portion of the rear surface may be surrounded by the cover case 300 to be shielded from the outside.
  • the cover case 300 may include at least one key button 310.
  • a cover case corresponding to at least one key area eg, 110 in FIG. 1
  • At least one key button 310 may be formed in one area of 300.
  • the processor of the electronic device 100 may detect a coupling between the electronic device 100 and the cover case 300.
  • the electronic device 100 may include a Hall sensor in an inner area of the housing 120, and when the electronic device 100 and the cover case 300 are coupled, the cover case corresponding to the Hall sensor ( A magnetic material may be included in one area of 300).
  • the processor 1820 may determine whether the cover case 300 is coupled to the electronic device 100 based on a voltage change detected by the hall sensor based on the magnetic material of the cover case 300.
  • a pressure by the cover case 300 may be applied to at least one key area 110 formed in the housing 120.
  • at least a portion of the at least one key region 110 may be physically deformed based on the pressure by the cover case 300, and the housing 120 may be aligned with the at least one key region 110.
  • the sensor assembly 200 adhesively disposed on the inner surface may measure physical deformation of the at least one key region 110 and output a sensing value (eg, an electrical resistance value).
  • the processor 1820 determines whether to adjust the baseline value. For example, the processor 1820 determines the coupling of the cover case, and at least one of electrical resistance values transmitted from a plurality of channels (eg, CH1 to CH7 in FIG. 4) corresponding to the plurality of flexible sensors 220 When the increase amount for some electrical resistance values is kept constant or similar for a specified time or longer, the baseline value of at least one flexible sensor corresponding to the channel to which the at least some electrical resistance values are transmitted can be adjusted upward by a specified amount. have. According to an embodiment, the specified size may be determined as a size capable of compensating for a pressure applied to at least one key area 110 by the cover case 300.
  • the processor 1820 may adjust a baseline value for each of the plurality of flexible sensors 220 when the electronic device 100 is booted.
  • a physical deformation of the housing 120 (or at least one key area 110) of the electronic device 100 does not occur, or the cover case 300 is provided in the electronic device 100.
  • an electrical resistance value transferred from the plurality of channels CH1 to CH7 to the processor 1820 may represent a baseline value.
  • the processor 1820 may compare electrical resistance values received from the plurality of channels CH1 to CH7 with baseline values previously stored in the lookup table within a specified time after booting of the electronic device 100.
  • the processor 1820 compensates for the increase amount with a baseline value for at least one flexible sensor corresponding to the corresponding electrical resistance value. You can adjust it up to the size you can.
  • the electronic device includes a housing including at least one key area on an outer surface, a Hall sensor disposed in an inner area of the housing, and at least a part of the housing including the at least one key area.
  • a sensor assembly disposed on an inner surface of the housing and a processor operatively connected to the sensor assembly, wherein the processor determines a change in an output value of the Hall sensor, and determines a change in an output value of the Hall sensor. Then, a change in the sensing value transmitted from the sensor assembly is checked for a specified time, and if the magnitude of the change in the sensing value is constant beyond the specified time, detecting a user input for the at least one key area For this, it may be set to adjust at least a part of a base line value applied to the sensor assembly.
  • the electronic device includes a housing including at least one key area on an outer surface, and a cover case that is coupled to at least a portion of the housing and includes a material (eg, magnetic material) designated in one area.
  • a Hall sensor disposed on an inner area of the housing corresponding to the designated material, a sensor assembly disposed on an inner surface of the housing such that at least a portion thereof is aligned with the at least one key area, and operatively connected to the sensor assembly
  • a processor wherein the processor determines whether or not the cover case is coupled to the housing based on a change in the output value of the hall sensor, and when the cover case is coupled, it is transmitted from the sensor assembly.
  • 19 is a diagram illustrating an electronic device in a network environment according to an embodiment.
  • the electronic device 1801 communicates with the electronic device 1802 through a first network 1898 (for example, a short-range wireless communication network), or a second network 1899. It is possible to communicate with the electronic device 1804 or the server 1808 through (eg, a long-distance wireless communication network). According to an embodiment, the electronic device 1801 may communicate with the electronic device 1804 through the server 1808.
  • a first network 1898 for example, a short-range wireless communication network
  • a second network 1899 for example, a short-range wireless communication network
  • the electronic device 1804 or the server 1808 may communicate with the electronic device 1804 through the server 1808.
  • the electronic device 1801 includes a processor 1820, a memory 1830, an input device 1850, an audio output device 1855, a display device 1860, an audio module 1870, and a sensor module ( 1876), interface 1877, haptic module 1879, camera module 1880, power management module 1888, battery 1889, communication module 1890, subscriber identification module 1896, or antenna module 1897 ) Can be included.
  • at least one of these components (for example, the display device 1860 or the camera module 1880) may be omitted or one or more other components may be added to the electronic device 1801.
  • some of these components may be implemented as one integrated circuit.
  • the sensor module 1876 eg, a fingerprint sensor, an iris sensor, or an illuminance sensor
  • the display device 1860 eg, a display.
  • the processor 1820 executes, for example, software (eg, a program 1840) to implement at least one other component (eg, a hardware or software component) of the electronic device 1801 connected to the processor 1820. It can be controlled and can perform various data processing or operations. According to an embodiment, as at least part of data processing or operation, the processor 1820 may transfer commands or data received from other components (eg, the sensor module 1876 or the communication module 1890) to the volatile memory 1832 The command or data stored in the volatile memory 1832 may be processed, and result data may be stored in the nonvolatile memory 1834.
  • software eg, a program 1840
  • the processor 1820 may transfer commands or data received from other components (eg, the sensor module 1876 or the communication module 1890) to the volatile memory 1832
  • the command or data stored in the volatile memory 1832 may be processed, and result data may be stored in the nonvolatile memory 1834.
  • the processor 1820 includes a main processor 1821 (eg, a central processing unit or an application processor), and a coprocessor 1823 (eg, a graphics processing unit, an image signal processor) that can be operated independently or together. , A sensor hub processor, or a communication processor). Additionally or alternatively, the coprocessor 1823 may be configured to use lower power than the main processor 1821, or to be specialized for a designated function.
  • the secondary processor 1823 may be implemented separately from the main processor 1821 or as a part thereof.
  • the coprocessor 1823 is, for example, on behalf of the main processor 1821 while the main processor 1821 is in an inactive (eg, sleep) state, or the main processor 1821 is active (eg, an application execution). ), together with the main processor 1821, at least one of the components of the electronic device 1801 (for example, the display device 1860, the sensor module 1876, or the communication module 1890) It is possible to control at least some of the functions or states associated with it.
  • the coprocessor 1823 eg, an image signal processor or a communication processor
  • may be implemented as part of another functionally related component eg, a camera module 1880 or a communication module 1890). have.
  • the memory 1830 may store various data used by at least one component of the electronic device 1801 (eg, the processor 1820 or the sensor module 1876).
  • the data may include, for example, software (eg, the program 1840) and input data or output data for commands related thereto.
  • the memory 1830 may include a volatile memory 1832 or a nonvolatile memory 1834.
  • the program 1840 may be stored as software in the memory 1830, and may include, for example, an operating system 1842, middleware 1844, or an application 1846.
  • the input device 1850 may receive a command or data to be used for a component of the electronic device 1801 (eg, the processor 1820) from an external device (eg, a user) of the electronic device 1801.
  • the input device 1850 may include, for example, a microphone, a mouse, a keyboard, or a digital pen (eg, a stylus pen).
  • the sound output device 1855 may output an sound signal to the outside of the electronic device 1801.
  • the sound output device 1855 may include, for example, a speaker or a receiver.
  • the speaker can be used for general purposes such as multimedia playback or recording playback, and the receiver can be used to receive incoming calls.
  • the receiver may be implemented separately from or as a part of the speaker.
  • the display device 1860 may visually provide information to the outside of the electronic device 1801 (eg, a user).
  • the display device 1860 may include, for example, a display, a hologram device, or a projector and a control circuit for controlling the device.
  • the display device 1860 may include a touch circuitry set to sense a touch, or a sensor circuit (eg, a pressure sensor) set to measure the strength of a force generated by the touch. have.
  • the audio module 1870 may convert sound into an electrical signal, or conversely, may convert an electrical signal into sound. According to an embodiment, the audio module 1870 acquires sound through the input device 1850, the sound output device 1855, or an external electronic device directly or wirelessly connected to the electronic device 1801 (for example, Sound may be output through the electronic device 1802) (for example, a speaker or headphone).
  • the sensor module 1876 detects an operating state (eg, power or temperature) of the electronic device 1801, or an external environmental state (eg, a user state), and generates an electrical signal or data value corresponding to the detected state. can do.
  • the sensor module 1876 includes, for example, a gesture sensor, a gyro sensor, an atmospheric pressure sensor, a magnetic sensor, an acceleration sensor, a grip sensor, a proximity sensor, a color sensor, an infrared (IR) sensor, a biometric sensor, It may include a temperature sensor, a humidity sensor, or an illuminance sensor.
  • the interface 1877 may support one or more designated protocols that may be used to connect the electronic device 1801 to an external electronic device (eg, the electronic device 1802) directly or wirelessly.
  • the interface 1877 may include, for example, a high definition multimedia interface (HDMI), a universal serial bus (USB) interface, an SD card interface, or an audio interface.
  • HDMI high definition multimedia interface
  • USB universal serial bus
  • SD card interface Secure Digital Card
  • connection terminal 1878 may include a connector through which the electronic device 1801 can be physically connected to an external electronic device (eg, the electronic device 1802 ).
  • the connection terminal 1878 may include, for example, an HDMI connector, a USB connector, an SD card connector, or an audio connector (eg, a headphone connector).
  • the haptic module 1879 may convert an electrical signal into a mechanical stimulus (eg, vibration or movement) or an electrical stimulus that a user can perceive through tactile or motor sensations.
  • the haptic module 1879 may include, for example, a motor, a piezoelectric element, or an electrical stimulation device.
  • the camera module 1880 may capture a still image and a video.
  • the camera module 1880 may include one or more lenses, image sensors, image signal processors, or flashes.
  • the power management module 1888 may manage power supplied to the electronic device 1801. According to an embodiment, the power management module 1888 may be implemented as at least a part of, for example, a power management integrated circuit (PMIC).
  • PMIC power management integrated circuit
  • the battery 1889 may supply power to at least one component of the electronic device 1801.
  • the battery 1889 may include, for example, a non-rechargeable primary cell, a rechargeable secondary cell, or a fuel cell.
  • the communication module 1890 is a direct (eg, wired) communication channel or a wireless communication channel between the electronic device 1801 and an external electronic device (eg, the electronic device 1802, the electronic device 1804, or the server 1808). It is possible to support establishment and communication through the established communication channel.
  • the communication module 1890 operates independently of the processor 1820 (eg, an application processor) and may include one or more communication processors supporting direct (eg, wired) communication or wireless communication.
  • the communication module 1890 is a wireless communication module 1892 (eg, a cellular communication module, a short-range wireless communication module, or a global navigation satellite system (GNSS) communication module) or a wired communication module 1894 (eg : A LAN (local area network) communication module, or a power line communication module) may be included.
  • a corresponding communication module is a first network 1898 (for example, a short-range communication network such as Bluetooth, WiFi direct or IrDA (infrared data association)) or a second network 1899 (for example, a cellular network, the Internet, or It can communicate with external electronic devices through a computer network (for example, a telecommunication network such as a LAN or WAN).
  • the wireless communication module 1892 uses subscriber information stored in the subscriber identification module 1896 (eg, International Mobile Subscriber Identifier (IMSI)) within a communication network such as the first network 1898 or the second network 1899.
  • IMSI International Mobile Subscriber Identifier
  • the electronic device 1801 may be checked and authenticated.
  • the antenna module 1897 may transmit a signal or power to the outside (eg, an external electronic device) or receive from the outside.
  • the antenna module may include one antenna including a conductor formed on a substrate (eg, a PCB) or a radiator formed of a conductive pattern.
  • the antenna module 1897 may include a plurality of antennas. In this case, at least one antenna suitable for a communication method used in a communication network such as the first network 1898 or the second network 1899 is, for example, provided by the communication module 1890 from the plurality of antennas. Can be chosen.
  • the signal or power may be transmitted or received between the communication module 1890 and an external electronic device through the at least one selected antenna.
  • other components eg, RFIC
  • other than the radiator may be additionally formed as part of the antenna module 1897.
  • At least some of the components are connected to each other through a communication method (e.g., bus, general purpose input and output (GPIO), serial peripheral interface (SPI), or mobile industry processor interface (MIPI)) with peripheral devices) and signal (E.g. commands or data) can be exchanged with each other.
  • a communication method e.g., bus, general purpose input and output (GPIO), serial peripheral interface (SPI), or mobile industry processor interface (MIPI)
  • signal E.g. commands or data
  • the command or data may be transmitted or received between the electronic device 1801 and the external electronic device 1804 through the server 1808 connected to the second network 1899.
  • Each of the electronic devices 1802 and 1804 may be a device of the same or different type as the electronic device 1801.
  • all or part of the operations executed by the electronic device 1801 may be executed by one or more of the external electronic devices 1802, 1804, or 1808.
  • the electronic device 1801 needs to perform a function or service automatically or in response to a request from a user or another device, the electronic device 1801 does not execute the function or service by itself.
  • One or more external electronic devices receiving the request may execute at least a part of the requested function or service, or an additional function or service related to the request, and transmit a result of the execution to the electronic device 1801.
  • the electronic device 1801 may process the result as it is or additionally and provide it as at least a part of a response to the request.
  • cloud computing, distributed computing, or client-server computing technology may be used.
  • An electronic device may be a device of various types.
  • the electronic device may include, for example, a portable communication device (eg, a smart phone), a computer device, a portable multimedia device, a portable medical device, a camera, a wearable device, or a home appliance.
  • a portable communication device eg, a smart phone
  • a computer device e.g., a laptop, a desktop, a tablet, or a portable multimedia device.
  • portable medical device e.g., a portable medical device
  • camera e.g., a camera, a wearable device, or a home appliance.
  • a or B “at least one of A and B”, “at least one of A or B,” “A, B or C,” “at least one of A, B and C,” and “A”
  • Each of the phrases such as “at least one of, B, or C” may include any one of the items listed together in the corresponding one of the phrases, or all possible combinations thereof.
  • Terms such as “first”, “second”, or “first” or “second” may be used simply to distinguish the component from other Order) is not limited.
  • Some (eg, a first) component is referred to as “coupled” or “connected” to another (eg, a second) component, with or without the terms “functionally” or “communicatively”. When mentioned, it means that any of the above components may be connected to the other components directly (eg by wire), wirelessly, or via a third component.
  • module used in this document may include a unit implemented in hardware, software, or firmware, and may be used interchangeably with terms such as logic, logic blocks, parts, or circuits.
  • the module may be an integrally configured component or a minimum unit of the component or a part thereof that performs one or more functions.
  • the module may be implemented in the form of an application-specific integrated circuit (ASIC).
  • ASIC application-specific integrated circuit
  • Various embodiments of the present document include one or more commands stored in a storage medium (eg, internal memory 1836 or external memory 1838) that can be read by a machine (eg, electronic device 1801). It may be implemented as software (for example, a program 1840) including them.
  • the processor eg, the processor 1820 of the device (eg, the electronic device 1801) may call and execute at least one command among one or more commands stored from a storage medium. This enables the device to be operated to perform at least one function according to the at least one command invoked.
  • the one or more instructions may include code generated by a compiler or code executable by an interpreter.
  • the device-readable storage medium may be provided in the form of a non-transitory storage medium.
  • non-transitory only means that the storage medium is a tangible device and does not contain a signal (e.g., electromagnetic waves), and this term refers to the case where data is semi-permanently stored in the storage medium. It does not distinguish between temporary storage cases.
  • a signal e.g., electromagnetic waves
  • a method may be provided by being included in a computer program product.
  • Computer program products can be traded between sellers and buyers as commodities.
  • the computer program product is distributed in the form of a device-readable storage medium (e.g. compact disc read only memory (CD-ROM)), or through an application store (e.g. Play Store TM ) or two user devices (e.g., compact disc read only memory (CD-ROM)) It can be distributed (e.g., downloaded or uploaded) directly between, e.g. smartphones).
  • a device such as a server of a manufacturer, a server of an application store, or a memory of a relay server.
  • a component eg, a module or a program of each of the above-described components may include a singular number or a plurality of entities.
  • one or more components or operations among the above-described corresponding components may be omitted, or one or more other components or operations may be added.
  • a plurality of components eg, a module or program
  • the integrated component may perform one or more functions of each component of the plurality of components in the same or similar to that performed by the corresponding component among the plurality of components prior to the integration. .
  • operations performed by a module, program, or other component may be sequentially, parallel, repeatedly, or heuristically executed, or one or more of the operations may be executed in a different order or omitted. , Or one or more other actions may be added.

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Abstract

본 발명의 일 실시 예는, 외부 표면에 적어도 하나의 키 영역을 포함하는 하우징, 적어도 일부가 상기 적어도 하나의 키 영역과 정렬되도록 상기 하우징의 내부 표면에 배치되는 센서 어셈블리, 및 상기 센서 어셈블리와 작동적으로 연결되는 프로세서를 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 센서 어셈블리로부터 센싱 값을 전달받고, 지정된 시간 동안 상기 센싱 값에 대한 변화를 확인하고, 상기 센싱 값에 대한 변화의 크기가 상기 지정된 값 이상으로 일정하면, 상기 적어도 하나의 키 영역에 대한 사용자 입력을 감지하기 위하여 상기 센서 어셈블리에 적용된 제1 임계값의 적어도 일부를 조정하도록 설정된 전자 장치를 개시한다. 이 외에도, 명세서를 통하여 파악되는 다양한 실시 예가 가능하다.

Description

센서 어셈블리 운용 방법 및 이를 지원하는 전자 장치
본 문서에서 개시되는 다양한 실시 예들은, 전자 장치의 물리적 변형에 따른 센서 어셈블리의 운용 기술과 관련된다.
전자 장치가 다양한 서비스 또는 기능이 집약된 매체로 진화하면서, 전자 장치에 탑재되어 상기 서비스 또는 기능의 운용을 지원하는 전자 부품들이 다채로워지고 있다. 이에 상응하여, 전자 장치는 다수의 전자 부품을 수용하기 위해 구조적으로 개량되고 있으며, 그 일환으로 근래의 전자 장치에서는 사용자 입력을 수신하는 하드웨어 키가 제거되고 있다. 상기 하드웨어 키가 제거됨에 따라, 전자 장치의 내부에서 하드웨어 키가 점유하던 공간이 확보될 수 있고, 상기 공간의 활용을 통하여 전자 장치의 효율적 내부 공간 설계가 도모될 수 있다.
하드웨어 키가 제거된, 이른바 키리스(keyless) 구조의 전자 장치에 대한 사용자 입력 감지 방식이 제안되고 있다. 예를 들어, 전자 장치는 내부에 배치된 센서를 이용하여 상기 전자 장치에 접촉되는 사용자 신체에 의한 전자 장치의 물리적 변형을 측정하고, 측정된 센싱 값에 기초하여 사용자 입력을 감지할 수 있다.
그러나, 사용자 입력 이외의 외력(예: 외부 충격)에 의해 전자 장치의 물리적 변형이 발생하는 경우, 전자 장치 내부의 센서는 상기 물리적 변형을 사용자 입력에 따른 것으로 판단할 수 있고, 이는 센서의 오동작을 초래하거나, 사용자 입력 감지에 대한 신뢰도를 저감시킬 수 있다.
본 문서에서 개시되는 다양한 실시 예들은, 사용자 입력 이외의 외력(예: 외부 충격)에 의한 전자 장치의 물리적 변형 발생 시, 사용자 입력을 감지하는 센서의 적어도 일부가 상기 물리적 변형을 보상하도록 조정되는, 센서 어셈블리 운용 방법 및 이를 지원하는 전자 장치를 제공할 수 있다.
일 실시 예에 따른 전자 장치는, 외부 표면에 적어도 하나의 키 영역을 포함하는 하우징, 적어도 일부가 상기 적어도 하나의 키 영역과 정렬되도록 상기 하우징의 내부 표면에 배치되는 센서 어셈블리, 및 상기 센서 어셈블리와 작동적으로 연결되는 프로세서를 포함할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 센서 어셈블리로부터 센싱 값을 전달받고, 지정된 시간 동안 상기 센싱 값에 대한 변화를 확인하고(예: 지정된 시간 동안 일정 주기로 센싱 값을 수신하거나, 사전 정의된 주기로 수신된 센싱 값들을 기반으로 변화를 확인), 상기 센싱 값에 대한 변화의 크기가 상기 지정된 값(또는 시간) 이상으로 일정하면, 상기 적어도 하나의 키 영역에 대한 사용자 입력을 감지하기 위하여 상기 센서 어셈블리에 적용된 제1 임계값의 적어도 일부를 조정할 수 있다.
일 실시 예에 따른 전자 장치의 센서 어셈블리 운용 방법은, 상기 전자 장치의 하우징 외부 표면에 형성된 적어도 하나의 키 영역과 적어도 일부 정렬되도록 상기 하우징의 내부 표면에 배치된 센서 어셈블리로부터 센싱 값을 수신하는 동작, 지정된 시간 동안 상기 센싱 값에 대한 변화를 확인하는 동작, 및 상기 센싱 값에 대한 변화의 크기가 상기 지정된 값(또는 시간) 이상으로 일정하면 상기 적어도 하나의 키 영역에 대한 사용자 입력을 감지하기 위하여 상기 센서 어셈블리에 적용된 제1 임계값의 적어도 일부를 조정하는 동작을 포함할 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 전자 장치의 물리적 변형에 기초하여 상기 전자 장치에 대한 사용자 입력을 감지하는 센서가, 손상에 따른 전자 장치의 물리적 변형을 보상하도록 조정됨으로써, 상기 센서에 의한 사용자 입력 감지의 신뢰도가 향상될 수 있다.
이 외에, 본 문서를 통해 직접적 또는 간접적으로 파악되는 다양한 효과들이 제공될 수 있다.
도 1은 일 실시 예에 따른 센서 어셈블리를 포함하는 전자 장치를 도시한 도면이다.
도 2는 일 실시 예에 따른 센서 어셈블리의 배치 형태를 도시한 도면이다.
도 3은 일 실시 예에 따른 센서 어셈블리의 구성을 도시한 도면이다.
도 4는 일 실시 예에 따른 제1 상태에서 센서 어셈블리가 출력하는 센싱 값을 도시한 도면이다.
도 5는 일 실시 예에 따른 제2 상태에서 센서 어셈블리가 출력하는 센싱 값을 도시한 도면이다.
도 6은 일 실시 예에 따른 제2 상태에서 센서 어셈블리의 임계값 조정에 대한 일례를 도시한 도면이다.
도 7은 일 실시 예에 따른 제2 상태에서 센서 어셈블리의 임계값 조정에 대한 다른 일례를 도시한 도면이다.
도 8은 일 실시 예에 따른 제3 상태에서 센서 어셈블리의 임계값 조정에 대한 또 다른 일례를 도시한 도면이다.
도 9는 일 실시 예에 따른 제3 상태에서 센서 어셈블리의 센싱 값에 기반한 사용자 입력 판단의 일례를 도시한 도면이다.
도 10은 일 실시 예에 따른 제3 상태에서 센서 어셈블리의 센싱 값에 기반한 사용자 입력 판단의 다른 일례를 도시한 도면이다.
도 11은 일 실시 예에 따른 제4 상태에서 센서 어셈블리가 출력하는 센싱 값의 일례를 도시한 도면이다.
도 12는 일 실시 예에 따른 제4 상태에서 센서 어셈블리의 임계값 조정에 대한 일례를 도시한 도면이다.
도 13은 일 실시 예에 따른 제4 상태에서 센서 어셈블리의 임계값 조정에 대한 다른 일례를 도시한 도면이다.
도 14는 일 실시 예에 따른 제4 상태에서 센서 어셈블리가 출력하는 센싱 값의 다른 일례를 도시한 도면이다.
도 15는 일 실시 예에 따른 제4 상태에서 센서 어셈블리의 임계값 조정에 대한 일례를 도시한 도면이다.
도 16은 일 실시 예에 따른 전자 장치가 출력하는 사용자 인터페이스를 도시한 도면이다.
도 17은 일 실시 예에 따른 전자 장치의 센서 어셈블리 운용 방법을 도시한 도면이다.
도 18은 다양한 실시 예에 따른 케이스를 포함하는 전자 장치를 도시한 도면이다.
도 19는 일 실시 예에 따른 네트워크 환경 내의 전자 장치를 도시한 도면이다.
도면의 설명과 관련하여, 동일 또는 대응되는 구성요소에 대해서는 동일한 참조 번호가 부여될 수 있다.
이하, 본 발명의 다양한 실시 예가 첨부된 도면을 참조하여 기재된다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 실시 예의 다양한 변경(modification), 균등물(equivalent), 및/또는 대체물(alternative)을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
도 1은 일 실시 예에 따른 센서 어셈블리를 포함하는 전자 장치를 도시한 도면이고, 도 2는 일 실시 예에 따른 센서 어셈블리의 배치 형태를 도시한 도면이며, 도 3은 일 실시 예에 따른 센서 어셈블리의 구성을 도시한 도면이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 일 실시 예에 따른 전자 장치(100)(예: 스마트폰, 노트북, 헤드 마운트 디스플레이 장치, 스마트 워치, 또는 스타일러스 펜)는 상기 전자 장치(100)의 지정된 영역에 대한 사용자 입력(예: 압력)을 감지할 수 있는 센서 어셈블리(200)를 포함할 수 있다. 상기 사용자 입력은 예컨대, 전자 장치(100) 외관의 적어도 일부를 형성하는 하우징(120)의 외부 표면에서 발생한 사용자 신체(예: 손가락)의 접촉을 포함할 수 있다. 센서 어셈블리(200)는 상기 사용자 신체의 압력에 따른 하우징(120)의 물리적 변형을 측정하여 전기적 신호 또는 데이터를 출력할 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 센서 어셈블리(200)가 출력하는 전기적 신호 또는 데이터는 전자 장치(100)에 대한 사용자 입력의 발생 여부(또는, 수신 여부) 판단에 참조될 수 있다.
일 실시 예에서, 전자 장치(100)의 하우징(120)은 제1 플레이트(예: front plate), 상기 제1 플레이트와 지정된 간격으로 이격되어 마주보게 배치된 제2 플레이트(예: rear plate), 및 상기 제1 플레이트와 제2 플레이트 사이의 공간을 둘러싸는 측면 부재가 상호 결합되어 형성될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 제1 플레이트의 상부(예: 제1 플레이트를 기준하여 제2 플레이트에 반대 방향인 제1 플레이트의 상부)에는 전자 장치(100)의 전면 대부분을 형성하는 터치스크린 디스플레이가 배치될 수 있다. 상기 제1 플레이트와 제2 플레이트 사이의 공간에는 후술되는 도 19를 통하여 언급될 전자 장치(예: 도 19의 1801)의 구성요소들 중 적어도 일부(예: 인쇄회로기판, 프로세서, 메모리, 배터리, 및/또는 통신 장치)가 배치될 수 있다. 이와 관련하여, 도 1 또는 도 2에 도시된 전자 장치(100)는 상기 제2 플레이트가 제거된 전자 장치(100)의 내부의 적어도 일부를 나타낼 수 있다.
일 실시 예에서, 하우징(120)은 상기 사용자 입력을 수신할 수 있는 영역인 적어도 하나의 키 영역(110)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)의 측면을 형성하는 하우징(120)(예: 도 1에 도시된 전자 장치(100)를 기준하여 좌측 측면 부재(120a) 및 우측 측면 부재(120b) 중 적어도 하나)에는 상기 하우징(120)의 외부 표면에 노출되는 적어도 하나의 키 영역(110)이 형성될 수 있다. 다양한 실시 예에서, 적어도 하나의 키 영역(110)은 전자 장치(100)의 측면 전 영역에 걸쳐 형성되거나, 상기 측면의 일 부분에 형성될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 키 영역(110)은 사용자에게 촉각적으로 인지되도록 하우징(120)의 외부 표면으로부터 완만하게 돌출 또는 내입(예: 양각 또는 음각)되어 형성될 수 있다. 다른 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 키 영역(110)은 하우징(120)의 다른 부분과는 구별되는 질감(예: 무광, 유광, 또는 샌드 블라스팅(sand blasting))을 갖도록 형성될 수 있다. 또 다른 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 키 영역(110)은 사용자에게 시각적으로 인지되기 위한 심벌(symbol) 또는 UX(user Experience)(예: 지정된 색상 표시 또는 라인 표시)를 포함할 수 있다. 다양한 실시 예에 따르면, 하우징(120) 상에서 적어도 하나의 키 영역(110)이 형성되는 위치는 상술 또는 도시된 바로 제한되는 것은 아니며, 사용자의 전자 장치(100) 파지 시 사용자 신체(예: 손가락)가 접촉되는 위치 또는 사용자 신체의 접근이 용이한 하우징(120) 상의 다양한 위치에 형성될 수 있다.
일 실시 예에서, 적어도 하나의 키 영역(110)에 대한 사용자 입력은 전자 장치(100)의 지정된 기능 제어와 관계될 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)는 상기 적어도 하나의 키 영역(110)에 대한 사용자 입력에 대응하여, 출력 음향의 볼륨 업(up) 또는 볼륨 다운(down) 기능을 제어하거나, 전자 장치(100)의 전원 온(on) 또는 전원 오프(off) 기능을 제어할 수 있다. 또는, 전자 장치(100)는 적어도 하나의 키 영역(110)에 대한 사용자 입력에 대응하여, 전자 장치(100)에 탑재된 인공 지능 어시스턴트(assistant)의 활성화(또는, 인공 지능 어시스턴트 어플리케이션의 실행)를 제어하거나, 실행 중인 지정된 어플리케이션(예: 카메라 어플리케이션)의 동작(예: 영상 촬영, 영상 줌 인(zoom in), 및/또는 영상 줌 아웃(zoom out))을 제어할 수 있다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 하우징(120)의 내부에는 적어도 하나의 키 영역(110)에 대한 사용자 입력을 감지하는 센서 어셈블리(200)가 배치될 수 있다. 예를 들어, 센서 어셈블리(200)는 상기 센서 어셈블리(200)의 적어도 일부가 하우징(120)에 형성된 적어도 하나의 키 영역(110)과 정렬될 수 있는 하우징(120)의 내부 영역에 배치될 수 있다. 이와 관련하여, 하우징(120)의 내부에는 센서 어셈블리(200)의 배치를 지원하는 제1 슬릿(121)이 형성될 수 있다. 상기 제1 슬릿(121)은 예컨대, 전자 장치(100)의 측면을 형성하는 하우징(120)의 내부 측벽을 따라 연장될 수 있다. 상기 제1 슬릿(121)은 상기 하우징(120)의 내부 측벽이 적어도 하나의 키 영역(110) 방향으로 내입됨으로써 형성되는 공간을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 센서 어셈블리(200)는 상기 제1 슬릿(121)에 수용되어 안착될 수 있다. 또는 상기 센서 어셈블리(200)는 적어도 일부가 점착 부재를 통하여 상기 하우징(120)의 내부 측벽에 점착될 수 있다.
일 실시 예에서, 적어도 하나의 키 영역(110)에 사용자 신체가 접촉되는 경우, 상기 적어도 하나의 키 영역(110)을 포함하는 하우징(120)의 적어도 일부는 사용자 신체의 압력에 의해 변형될 수 있다. 이와 관련하여, 제1 슬릿(121)에 배치된 센서 어셈블리(200)와 인접하는 영역에는 상기 하우징(120)의 물리적 변형을 지원하기 위한 세트 구조(예: 적어도 하나의 제2 슬릿(123))가 형성될 수 있다. 상기 적어도 하나의 제2 슬릿(123)은 예컨대, 일 방향으로 개방된 오프닝(opening)을 포함할 수 있다. 상기 오프닝을 기반으로 상기 적어도 하나의 제2 슬릿(123)은 적어도 하나의 키 영역(110)에 접촉되는 사용자 신체의 압력에 상응하여 형상이 변형됨으로써, 하우징(120)의 용이한 물리적 변형을 지원할 수 있다. 다양한 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 제2 슬릿(123)은 전자 장치(100)의 세트 구조, 센서 어셈블리(200)의 제품 규격(예: 모델 또는 사이즈), 제1 슬릿(121)의 체적, 또는 센서 어셈블리(200)가 배치되는 위치에 따라 생략될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 제2 슬릿(123)은 적어도 하나의 키 영역(110)과 대응하는 위치에 형성될 수 있다. 예를 들어, 적어도 하나의 제2 슬릿(123) 및 적어도 하나의 키 영역(110)은 일대일 대응할 수 있다. 특정 키 영역(110)에 대응하는 하우징(120)의 내부 영역에는 상기 특정 키 영역(110)과 일대일 대응된 제2 슬릿(123)이 형성될 수 있다. 다양한 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 제2 슬릿(123)은 적어도 하나의 키 영역(110)을 커버할 수 있도록, 상기 적어도 하나의 키 영역(110)보다 상대적으로 큰 크기(또는, 면적)로 형성될 수 있다.
일 실시 예에서, 적어도 하나의 키 영역(110) 및 적어도 하나의 제2 슬릿(123) 각각은 복수로 형성될 수 있다. 이 경우, 하우징(120) 상에서 복수의 키 영역(110)은 상호 이격되어 형성될 수 있다. 상기 복수의 키 영역(110)과 일대일 대응하는 복수의 제2 슬릿(123) 역시 상호 간 이격되어 형성될 수 있다. 이와 관련하여, 복수의 키 영역(110) 사이에 사용자 신체가 접촉되는 경우, 상기 복수의 키 영역(110)에는 사용자 신체의 압력에 따른 인장 응력 또는 압축 응력이 작용할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 복수의 제2 슬릿(123) 사이의 이격 영역(125)은 세트 구조물로 형성되어 복수의 키 영역(110) 사이에 접촉되는 사용자 신체의 압력을 흡수함으로써, 상기 복수의 키 영역(110)에 작용하는 인장 응력 또는 압축 응력에 따른 하우징(120)의 물리적 변형을 억제할 수 있다.
일 실시 예에서, 센서 어셈블리(200)는 상호 간에 지정된 이격 간격을 형성하며 배치되는 복수의 플렉시블 센서(220), 상기 복수의 플렉시블 센서(220)들 사이 영역에 배치되는 복수의 플레이트(210), 및 상기 복수의 플렉시블 센서(220)와 복수의 플레이트(210)를 수용하는 커버(230)를 포함할 수 있다. 다양한 실시 예에서, 센서 어셈블리(200)는 복수의 플렉시블 센서(220)와 전기적으로 연결되는 플렉시블 인쇄회로기판(240) 및 하우징(120) 내부에 배치된 인쇄회로기판(130)과 상기 플렉시블 인쇄회로기판(240)을 전기적으로 연결하는 커넥터(250)를 더 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 센서 어셈블리(200)는 플렉시블 인쇄회로기판(240) 및 커넥터(250)를 기반으로 상기 인쇄회로기판(130)에 실장되는 전자 장치(100)의 프로세서(예: 도 18의 1820)와 전기적으로 연결될 수 있다. 하우징(120)의 물리적 변형 측정 시 출력하는 전기적 신호 또는 데이터를 상기 프로세서(1820)로 전달할 수 있다.
일 실시 예에서, 적어도 하나의 키 영역(110)에 대한 사용자 입력 발생 시, 복수의 플레이트(210) 중 적어도 일부는 상기 사용자 입력에 따른 사용자 신체의 압력에 의해 변형될 수 있다. 예를 들어, 특정 키 영역(110)에 사용자 신체가 접촉되면, 상기 특정 키 영역(110)에 해당하는 하우징(120)의 일부 영역이 상기 사용자 신체의 압력이 작용하는 방향으로 변형될 수 있다. 복수의 플레이트(210) 중 상기 특정 키 영역(110)과 적어도 일부 중첩 또는 정렬되는 적어도 하나의 플레이트(210)가 상기 하우징(120)의 일부 영역 변형에 상응하여 변형될 수 있다. 이 동작에서, 센서 어셈블리(200)에 인접하여 형성된 적어도 하나의 제2 슬릿(123) 중 상기 특정 키 영역(110)과 일대일 대응하는(또는, 적어도 일부 중첩 또는 정렬되는) 제2 슬릿(123)이 상기 특정 키 영역(110)에 접촉된 사용자 신체의 압력에 상응하여 변형됨으로써, 상기 하우징(120)의 일부 영역에 대한 물리적 변형이 지원될 수 있다.
일 실시 예에서, 적어도 하나의 플렉시블 센서(220)는 상기 적어도 하나의 플레이트(210)의 물리적 변형을 측정하여 전기적 신호 또는 데이터를 출력할 수 있다. 다양한 실시 예에 따르면, 적어도 하나의 플렉시블 센서(220)가 측정하는 적어도 하나의 플레이트(210)의 물리적 변형은 하우징(120)의 물리적 변형을 측정하는 것으로 이해될 수 있다. 일 실시 예에서, 적어도 하나의 플렉시블 센서(220)가 출력하는 전기적 신호 또는 데이터는 플렉시블 인쇄회로기판(240) 및 커넥터(250)를 통하여 인쇄회로기판(130)에 실장된 프로세서(1820)로 전달될 수 있다. 프로세서(1820)는 상기 전기적 신호 또는 데이터를 처리하여 상기 특정 키 영역(110)에 대한 사용자 입력에 대응하는 전자 장치(100)의 기능을 제어할 수 있다.
도 4는 일 실시 예에 따른 제1 상태에서 센서 어셈블리가 출력하는 센싱 값을 도시한 도면이다.
도 4를 참조하면, 전자 장치(100)의 하우징(120) 내부 표면(예: 전자 장치(100)의 내부 측벽)에 점착 배치되는 센서 어셈블리(200)는 복수의 채널(CH 1 내지 CH 7)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 센서 어셈블리(200)는 복수의 플렉시블 센서(220) 각각에 대응하는 복수의 채널(CH 1 내지 CH 7)을 포함할 수 있다. 다양한 실시 예에 따르면, 상기 복수의 채널(CH 1 내지 CH 7)은 복수의 플렉시블 센서(220)로부터 전자 장치(100)의 프로세서(예: 도 18의 1820)에 이르는 입출력 인터페이스를 포함할 수 있다.
일 실시 예에서, 복수의 채널(CH 1 내지 CH 7)은 복수의 플렉시블 센서(220)가 출력하는 전기적 저항 값을 프로세서(1820)로 전달할 수 있다. 예를 들어, 복수의 플렉시블 센서(220)는 하우징(120)(또는, 하우징(120)에 형성된 적어도 하나의 키 영역(110))의 물리적 변형에 따라 대응하는 전기적 저항 값을 출력할 수 있다. 상기 전기적 저항 값에 해당하는 센서 어셈블리(200)의 센싱 값은 복수의 채널(CH 1 내지 CH 7)을 통하여 프로세서(1820)로 전달될 수 있다. 이와 관련하여, 복수의 채널(CH 1 내지 CH 7)을 통해 전달되는 전기적 저항 값은 지정된 데이터 코드 레인지(예: -code min(약 -16383) 내지 +code max(약 +16384)) 내의 크기를 가질 수 있다. 하우징(120)의 물리적 변형이 발생하지 않았을 경우 상기 전기적 저항 값은 복수의 플렉시블 센서(220)의 규격에 따른 베이스 라인(base line) 값을 나타낼 수 있다.
일 실시 예에서, 복수의 채널(CH 1 내지 CH 7)을 통하여 전달되는 전기적 저항 값에는 적어도 하나의 키 영역(110)에 대한 사용자 입력의 발생 여부 판단에 참조되는 임계값(threshold)(예: 베이스 라인 값으로부터 지정된 크기의 폭(amplitude)을 갖는 값)이 적용될 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(1820)는 복수의 플렉시블 센서(220) 각각에 개별적으로 상기 베이스 라인 값 및 임계값을 매핑하여 룩업 테이블을 생성할 수 있다. 상기 룩업 테이블은 전자 장치(100)의 메모리(예: 도 18의 1830)에 저장될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 제1 키 영역(110)에 대하여 사용자 입력이 발생되는 제1 상태에서, 상기 제1 키 영역(110)에 해당하는 하우징(120) 영역은 상기 사용자 입력에 따른 사용자 신체의 압력이 작용하는 방향으로 변형될 수 있다. 또한, 상기 제1 키 영역(110)의 주변 하우징(120) 영역은 상기 사용자 신체의 압력에 따른 인장 응력 또는 압축 응력에 의해 상기 압력이 작용하는 방향의 반대 방향으로 변형될 수 있다. 이 경우, 제1 키 영역(110)의 위치에 대응하는(또는, 인접하는) 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220a 및/또는 220b)는 상기 하우징(120)의 압력 방향 변형에 상응하여 전기적 저항 값이 변화할 수 있다. 상기 제1 키 영역(110)의 주변 위치에 대응하는(또는, 인접하는) 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220c 및/또는 220d)는 상기 하우징(120)의 압력 반대 방향 변형에 상응하여 전기적 저항 값이 변화할 수 있다. 예컨대, 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220a 및/또는 220b)에 대응하는 적어도 하나의 제1 채널(CH 3 및/또는 CH 4)을 통해 전달된 전기적 저항 값은 베이스 라인 값을 기준하여 플러스 값으로 변화될 수 있고, 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220c 및/또는 220d)에 대응하는 적어도 하나의 제2 채널(CH 2 및/또는 CH 5)을 통해 전달된 전기적 저항 값은 베이스 라인 값을 기준하여 마이너스 값으로 변화될 수 있다.
일 실시 예에서, 프로세서(1820)는 센서 어셈블리(200)의 센싱 값을 메모리(1830)에 저장된 룩업 테이블과 비교할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 복수의 채널(CH 1 내지 CH 7) 각각으로부터 전달된 전기적 저항 값을, 상기 룩업 테이블에 포함된, 복수의 플렉시블 센서(220) 각각에 대한 베이스 라인 값과 비교할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(1820)는 상기 베이스 라인 값을 기준하여 플러스 값으로 변화(또는, 증가)한 적어도 하나의 전기적 저항 값을 식별할 수 있다. 이를 기반으로, 프로세서(1820)는 상기 식별된 전기적 저항 값을 출력한 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220a 및/또는 220b)를 식별할 수 있다.
일 실시 예에서, 프로세서(1820)는 식별된 전기적 저항 값을 룩업 테이블을 기반으로, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220a 및/또는 220b)에 매핑된 임계값과 비교할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220a 및/또는 220b)의 전기적 저항 값이 상기 임계값 이상으로 변화(또는, 증가)한 경우, 프로세서(1820)는 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220a 및/또는 220b)에 대응하는 위치의 사용자 입력 발생을 판단할 수 있다. 프로세서(1820)는 사용자 입력 발생에 대응하여, 제1 키 영역(110)과 관계된 전자 장치(100)의 기능을 제어할 수 있다.
도 5는 일 실시 예에 따른 제2 상태에서 센서 어셈블리가 출력하는 센싱 값을 도시한 도면이고, 도 6은 일 실시 예에 따른 제2 상태에서 센서 어셈블리의 임계값 조정에 대한 일례를 도시한 도면이다.
도 5를 참조하면, 하우징(120)의 외부 표면에 형성된 제1 키 영역(110)이 외력(예: 외부 충격)에 의해 손상된 제2 상태에서, 상기 제1 키 영역(110)에 해당하는 하우징(120) 영역은 외력에 의한 압력이 작용한 방향으로 변형될 수 있다. 또한, 제1 키 영역(110)의 주변 하우징(120) 영역은 상기 외력의 압력에 따른 인장 응력 또는 압축 응력에 의해 외력의 압력이 작용한 방향의 반대 방향으로 변형될 수 있다. 이 경우, 도 4를 통하여 전술한 제1 상태(예: 손상되지 않은 제1 키 영역(110)에 사용자 입력이 발생되는 상태)와 유사하게, 복수의 플렉시블 센서(220) 중 상기 제1 키 영역(110)의 위치에 대응하는(또는, 인접하는) 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220e 및/또는 220f)는 적어도 하나의 제1 채널(CH 3 및/또는 CH 4)을 통하여, 베이스 라인 값을 기준하여 플러스 값으로 변화(또는, 증가)한 전기적 저항 값을 출력할 수 있다. 또한, 상기 제1 키 영역(110)의 주변 위치에 대응하는(또는, 인접하는) 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220g 및/ 또는 220h)는 적어도 하나의 제2 채널(CH 2 및/또는 CH 5)을 통하여, 베이스 라인 값을 기준하여 마이너스 값으로 변화(또는, 증가)한 전기적 저항 값을 출력할 수 있다. 이에 따라, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220e 및/또는 220f)로부터 출력된 전기적 저항 값이 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220e 및/또는 220f)에 매핑된 임계값 이상을 나타내면, 프로세서(예: 도 18의 1820)는 제1 키 영역(110)에 대하여 사용자 입력이 발생한 것으로 판단하여 오동작을 초래할 수 있다. 이하에서는, 하우징(120)의 적어도 일부가 손상되어 물리적으로 변형된 상태에서, 상기 손상에 따른 하우징(120)의 물리적 변형을 보상하도록 센서 어셈블리(200)의 적어도 일부를 조정하는 다양한 실시 예를 설명하기로 한다.
도 6을 참조하면, 전자 장치(100)의 프로세서(1820)는 복수의 채널(CH 1 내지 CH 7)로부터 전달받는 센서 어셈블리(200)의 센싱 값을 실시간 또는 지정된 주기에 따라 모니터링할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 복수의 채널(CH 1 내지 CH 7)로부터 전달받는 복수의 플렉시블 센서(220) 각각의 전기적 저항 값을 상기 복수의 플렉시블 센서(220) 각각에 대하여 매핑된 베이스 라인 값과 비교할 수 있다. 이를 기반으로 프로세서(1820)는 상기 베이스 라인 값을 기준하여 증가(또는, 변화)한 전기적 저항 값을 식별할 수 있다.
일 실시 예에서, 상기 베이스 라인 값을 기준하여 플러스 값으로 증가한 전기적 저항 값이 식별되면, 프로세서(1820)는 식별된 전기적 저항 값의 증가량(또는, 변화량)을 산출할 수 있다. 또한, 프로세서(1820)는 상기 식별된 전기적 저항 값의 증가량이 실질적으로 일정하거나, 유사하게 유지되는 시간을 카운트할 수 있다. 일 실시 예에서, 식별된 전기적 저항 값의 증가량이 지정된 시간 이상으로 유지되는 경우(또는 식별된 전기적 저항 값이 지정된 값 이상으로 유지되는 경우), 프로세서(1820)는 상기 식별된 전기적 저항 값을 전달한 적어도 하나의 제1 채널(CH 3 및/또는 CH 4)에 기초하여, 상기 적어도 하나의 제1 채널(CH 3 및/또는 CH 4)에 대응하는 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220j 및/또는 220i)를 식별할 수 있다. 이 경우, 프로세서(1820)는 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220j 및/또는 220i)의 위치와 대응하는(또는, 인접하는) 하우징(120) 영역 또는 제1 키 영역(110)이 외력(예: 외부 충격)에 따른 손상에 의해 물리적으로 변형된 것으로 판단할 수 있다. 만일, 상기 식별된 전기적 저항 값의 증가량이 지정된 시간 이상으로 유지되지 않고, 상기 식별된 전기적 저항 값이 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220j 및/또는 220i)에 대응하는 임계값 이상을 나타내는 경우, 프로세서(1820)는 제1 키 영역(110)에 대한 사용자 입력 발생을 판단할 수 있다.
일 실시 예에서, 상기 하우징(120) 영역 또는 제1 키 영역(110)의 물리적 변형 판단에 따라, 프로세서(1820)는 룩업 테이블에 저장된 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220j 및/또는 220i)의 임계값을 조정할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220j 및/또는 220i)의 임계값으로 저장된 제1 임계값을 제2 임계값(예: 제1 임계 값보다 큰 값)으로 상향 조정할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 제1 임계값에서 제2 임계값으로 증가되는 크기는 손상에 의해 물리적으로 변형된 하우징(120)의 변위량 변화를 고려하여 결정될 수 있다. 이와 관련하여, 손상되지 않은 하우징(120)에 대하여, 제1 크기의 압력을 인가하는 사용자 입력 발생 시 상기 하우징(120)이 제1 크기의 변위량으로 변형될 수 있다. 외력에 의해 손상된 하우징(120)에 대하여 상기 제1 크기의 압력을 인가하는 사용자 입력이 동일하게 발생되더라도 상기 손상된 하우징(120)은 제1 크기의 변위량보다 작은 제2 크기의 변위량으로 변형될 수 있다. 이에 따라, 프로세서(1820)는 상기 제1 임계값에서 제2 임계값으로 증가되는 크기를, 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220j 및/또는 220i)의 전기적 저항 값으로부터 산출된 변화량(또는, 증가량)보다 작은 크기로 결정할 수 있다. 일례를 들면, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220j 및/또는 220i)의 전기적 저항 값에 대한 증가량이 10으로 산출되는 경우, 프로세서(1820)는 0 내지 9 사이의 특정 값을 상기 제1 임계값을 제2 임계값으로 증가시키기 위한 값으로 결정할 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 프로세서(1820)는 상기 제1 임계값으로부터 제2 임계값으로 증가되는 크기를, 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220j 및/또는 220i)의 전기적 저항 값에 대하여 산출된 증가량(또는, 변화량)보다 작은 크기의 값을 갖는 후보군 내에서 랜덤하게 결정할 수 있다. 또는, 프로세서(1820)는 상기 제1 임계값으로부터 제2 임계값으로 증가되는 크기를, 상기 후보군 내에서 지정된 주기에 따라 랜덤하게 변경하여 결정할 수 있다.
도 7은 일 실시 예에 따른 제2 상태에서 센서 어셈블리의 임계값 조정에 대한 다른 일례를 도시한 도면이고, 도 8은 일 실시 예에 따른 제3 상태에서 센서 어셈블리의 임계값 조정에 대한 또 다른 일례를 도시한 도면이다.
도 7을 참조하면, 전술된 제2 상태(예: 제1 키 영역(110)이 외력에 의해 손상된 상태)에서, 외력에 의해 손상된 제1 키 영역(110)의 주변 하우징(120) 영역은 상기 외력의 압력에 따른 인장 응력 또는 압축 응력에 의해 외력의 압력이 작용한 방향의 반대 방향으로 변형될 수 있다. 이 경우, 상기 주변 하우징(120) 영역에 대응하는(또는, 인접하는) 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220m 및/또는 220n)는 베이스 라인 값 기준 마이너스 값으로 증가(또는, 변화)한 전기적 저항 값을 출력할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 전자 장치(100)의 프로세서(예: 도 18의 1820)는 상기 제1 키 영역(110)에 대응하는(또는, 인접하는) 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220k 및/또는 220l)에 대한 제1 임계값을 제2 임계값으로 조정하는 동시에, 상기 제1 키 영역(110)의 주변 위치에 대응하는(또는, 인접하는) 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220m 및/또는 220n)에 대한 제3 임계값을 설정할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220m 및/또는 220n)가 출력하는 전기적 저항 값으로부터 마이너스 값으로 증가되는 제3 임계값을 설정할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 프로세서(1820)는 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220m 및/또는 220n)가 출력하는 전기적 저항 값으로부터 마이너스 값으로 증가되는 크기를, 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220m 및/또는 220n)의 전기적 저항 값에 대하여 산출되는 증가량(또는, 변화량)보다 작은 크기로 결정할 수 있다. 프로세서(1820)는 상기 마이너스 값으로 증가되는 제3 임계값을 룩업 테이블 상에 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220m 및/또는 220n)에 대하여 사전 저장된 제1 임계값과 함께 저장할 수 있다.
도 8을 참조하면, 외력에 의해 손상된 제1 키 영역(110)에 대하여 사용자 입력이 발생되는 제3 상태에서, 상기 제1 키 영역(110)에 대응하는(또는, 인접하는) 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220k 및/또는 220l)의 전기적 저항 값에 대한 변화량(또는, 증가량)은, 제1 키 영역(110)의 주변 위치에 대응하는(또는, 인접하는) 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220m 및/또는 220n)의 전기적 저항 값에 대한 변화량(또는, 증가량)보다 상대적으로 크게 산출됨을 나타낼 수 있다.
이를 고려하면, 도 7을 통하여 상술한 프로세서(1820)가 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220k 및/또는 220l)의 제1 임계값을 제2 임계값으로 조정하는 동작은, 상기 제1 임계값을 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220m 및/또는 220n)의 전기적 저항 값에 대한 증가량과 동일 또는 유사한 크기로 증가된 제2 임계값으로 조정하는 동작을 포함할 수 있다.
도 9는 일 실시 예에 따른 제3 상태에서 센서 어셈블리의 센싱 값에 기반한 사용자 입력 판단의 일례를 도시한 도면이고, 도 10은 일 실시 예에 따른 제3 상태에서 센서 어셈블리의 센싱 값에 기반한 사용자 입력 판단의 다른 일례를 도시한 도면이다.
도 9를 참조하면, 전자 장치(100)의 프로세서(예: 도 18의 1820)는 외력에 의해 손상된 제1 키 영역(110)에 대하여 사용자 입력이 발생되는 제3 상태에서, 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220k 및/또는 220l)에 대하여 조정된 제2 임계값과 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220m 및/또는 220n)에 대하여 설정된 제3 임계값을 참조할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220k 및/또는 220l)의 전기적 저항 값에 대한 증가량(또는, 변화량) 및/또는 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220m 및/또는 220n)의 전기적 저항 값에 대한 증가량(또는, 변화량)이 지정된 시간 이상으로 유지되지 않고, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220k 및/또는 220l)의 전기적 저항 값이 제2 임계값 이상을, 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220m 및/또는 220n)의 전기적 저항 값이 제3 임계값 이상을 나타내면, 제1 키 영역(110)에 대하여 사용자 입력이 발생한 것으로 판단할 수 있다.
도 10을 참조하면, 전자 장치(100)의 온도(또는, 전자 장치(100)의 운용 환경 온도)가 지정된 온도(예: 약 상온)를 기준하여 지정된 범위 이상으로 상승 또는 하강하는 경우, 제1 키 영역(110)이 외력에 의해 손상되지 않은 상태에서 복수의 플렉시블 센서(220)가 출력하는 전기적 저항 값(예: 베이스 라인 값)은 플러스 값으로 증가할 수 있다. 이 경우, 외력에 의해 손상된 제1 키 영역(110)에 대하여 사용자 입력이 발생되는 제3 상태에서, 상기 제1 키 영역(110)에 대응하는(또는, 인접하는) 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220o 및/또는 220p)가 출력하는 전기적 저항 값은 지정된 데이터 코드 레인지(예: +code max)를 초과할 수 있다.
이와 관련하여, 프로세서(1820)는 제1 키 영역(110)에 대응하는 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220o 및/또는 220p)의 전기적 저항 값이 지정된 값(예: +code max(약 +16384)) 이상인 경우, 상기 제1 키 영역(110)의 주변 위치에 대응하는(또는, 인접하는) 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220q 및/또는 220r)에 설정된 제3 임계값을 참조로 사용자 입력의 발생 여부를 판단할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220q 및/또는 220r)가 출력하는 전기적 저항 값의 증가량(또는, 변화량)이 지정된 시간 이상으로 유지되지 않고, 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서(220q 및/또는 220r)의 전기적 저항 값이 제3 임계값 이상을 나타내는 경우, 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서(220o 및/또는 220p)가 출력하는 전기적 저항 값의 증가 여부에 관계없이, 제1 키 영역(110)에 사용자 입력이 발생된 것으로 판단할 수 있다.
도 11은 일 실시 예에 따른 제4 상태에서 센서 어셈블리가 출력하는 센싱 값의 일례를 도시한 도면이고, 도 12는 일 실시 예에 따른 제4 상태에서 센서 어셈블리의 임계값 조정에 대한 일례를 도시한 도면이며, 도 13은 일 실시 예에 따른 제4 상태에서 센서 어셈블리의 임계값 조정에 대한 다른 일례를 도시한 도면이다.
도 11 및 도 12를 참조하면, 점착 부재를 통하여 전자 장치(100)의 하우징(120) 내부 측벽에 점착되는 센서 어셈블리(200)의 일부 영역(221)은, 외력(예: 외부 충격) 또는 점착 부재의 성능 저하로 인하여 상기 하우징(120)의 내부 측벽과의 점착이 해제될 수 있다. 이와 관련하여, 센서 어셈블리(200)의 일부 영역(221)이 상기 하우징(120)의 내부 측벽과 점착 해제된 제4 상태에서, 상기 점착의 해제가 시작되는 센서 어셈블리(200)의 일 영역에는 압력이 작용할 수 있고, 상기 센서 어셈블리(200)의 일 영역에 대응하는(또는, 인접하는) 제3 플렉시블 센서(220s)는 베이스 라인 값 기준 플러스 값으로 증가한 전기적 저항 값을 출력할 수 있다. 다양한 실시 예에 따르면, 상기 점착의 해제가 시작되는 센서 어셈블리(200)의 일 영역과 대응하는 하우징(120) 영역에는 적어도 하나의 키 영역(110)이 포함될 수 있다.
일 실시 예에서, 프로세서(예: 도 18의 1820)는 상기 제3 플렉시블 센서(220s)가 출력하는 전기적 저항 값의 변화량(또는, 증가량)이 지정된 시간 이상으로 유지되는 경우(또는 전기적 저항 값의 크기가 지정된 값 이상으로 유지되는 경우), 상기 제3 플렉시블 센서(220s)에 대한 임계값을 조정할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 룩업 테이블에 저장된 상기 제3 플렉시블 센서(220s)의 제1 임계값을, 상기 제3 플렉시블 센서(220s)의 전기적 저항 값에 대하여 산출된 증가량보다 작은 크기로 증가된 제2 임계값으로 상향 조정할 수 있다.
도 13을 참조하면, 상기 하우징(120)의 내부 측벽과의 점착이 해제된 센서 어셈블리(200)의 일부 영역(221)이 플랫(flat)한 형상을 갖는 경우, 상기 센서 어셈블리(200)의 일부 영역(221) 중 점착의 해제가 시작되는 센서 어셈블리(200)의 일 영역을 제외한 다른 영역에는 압력이 작용하지 않을 수 있다. 이 경우, 상기 센서 어셈블리(200)의 다른 영역에 대응하는 제4 플렉시블 센서(220t)는 상기 점착 해제가 발생하지 않은 상태에서 출력하는 전기적 저항 값(예: 베이스 라인 값)과 동일 또는 유사한 전기적 저항 값을 출력할 수 있다.
센서 어셈블리(200)의 점착이 해제되지 않은 경우, 제4 플렉시블 센서(220t)에 대응하는(또는, 인접하는) 하우징(120) 영역에 제1 크기의 압력을 인가하는 사용자 입력 발생 시 상기 제4 플렉시블 센서(220t)로부터 제1 크기의 전기적 저항 값이 출력될 수 있다. 센서 어셈블리(200)의 점착이 해제된 경우, 상기 하우징(120) 영역에 대하여 상기 제1 크기의 압력을 인가하는 사용자 입력이 동일하게 발생되더라도 제4 플렉시블 센서(220t)는 제1 크기의 전기적 저항 값보다 작은 제2 크기의 전기적 저항 값을 출력할 수 있다. 이에 따라, 프로세서(1820)는 상기 제3 플렉시블 센서(220s)에 대한 제1 임계값을 제2 임계값으로 상향 조정하는 동시에, 제4 플렉시블 센서(220t)에 대한 제1 임계값을 제2 임계값으로 하향 조정할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 제4 플렉시블 센서(220t)의 제1 임계값으로부터 제2 임계값으로 감소되는 크기를, 제3 플렉시블 센서(220s)의 제1 임계값으로부터 제2 임계값으로 증가하는 크기보다 작은 크기로 결정할 수 있다.
도 14는 일 실시 예에 따른 제4 상태에서 센서 어셈블리가 출력하는 센싱 값의 다른 일례를 도시한 도면이고, 도 15는 일 실시 예에 따른 제4 상태에서 센서 어셈블리의 임계값 조정에 대한 일례를 도시한 도면이다.
도 14 및 도 15를 참조하면, 센서 어셈블리(200)의 일부 영역(222 및 223)이 하우징(120)의 내부 측벽과 점착 해제된 제4 상태에서, 상기 센서 어셈블리(200)의 일부 영역(222 및 223)은 적어도 1회 이상으로 만곡(curve)된 형상을 갖을 수 있다. 이 경우, 상기 점착이 해제된 센서 어셈블리(200)의 일부 영역(222 및 223) 중 점착의 해제가 시작되는 센서 어셈블리(200)의 일 영역 및 만곡된 영역인 센서 어셈블리의 다른 영역에는 압력이 작용할 수 있다. 이에 따라, 상기 센서 어셈블리(200)의 일 영역에 대응하는(또는, 인접하는) 제3 플렉시블 센서(220u) 및 상기 센서 어셈블리(200)의 다른 영역에 대응하는(또는, 인접하는) 제4 플렉시블 센서(220v)는 베이스 라인 값 기준 플러스 값으로 증가한 저항 값을 출력할 수 있다.
일 실시 예에서, 프로세서(예: 도 18의 1820)는 상기 제3 플렉시블 센서(220u)가 출력하는 전기적 저항 값의 변화량(또는, 증가량) 및 제4 플렉시블 센서(220v)가 출력하는 전기적 저항 값의 변화량(또는, 증가량)이 지정된 시간 이상으로 유지되면(또는 전기적 저항 값의 크기가 지정된 값 이상으로 유지되면), 상기 제3 플레시블 센서(220u) 및 제4 플렉시블 센서(220v) 각각에 대한 임계값을 조정할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 제3 플렉시블 센서(220u)의 제1 임계값을 상기 제3 플렉시블 센서(220u)의 전기적 저항 값에 대하여 산출된 증가량보다 작은 크기로 증가된 제2 임계값으로 상향 조정하고, 유사하게 제4 플렉시블 센서(220v)의 제1 임계값을 상기 제4 플렉시블 센서(220v)의 전기적 저항 값에 대하여 산출된 증가량보다 작은 크기로 증가된 제2 임계값으로 상향 조정할 수 있다.
도 16은 일 실시 예에 따른 전자 장치가 출력하는 사용자 인터페이스를 도시한 도면이다.
도 16을 참조하면, 전자 장치(100)의 프로세서(예: 도 18의 1820)는 하우징(120)의 외부 표면에 형성된 적어도 하나의 키 영역(110a, 110b, 및/또는 110c) 중 적어도 일부가 외력(예: 외부 충격)에 따른 손상에 의해 물리적으로 변형된 것으로 판단할 수 있다. 이 경우, 프로세서(1820)는 상기 전자 장치(100)의 디스플레이(140)(예: 도 18의 표시 장치(1860))를 제어하여 지정된 사용자 인터페이스(10)를 출력할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 사용자 인터페이스(10)는 상기 적어도 하나의 키 영역(110a, 110b, 및/또는 110c)에 대응하는 영역으로, 해당 키 영역과 관계되는 전자 장치(100)의 기능에 대한 이미지 정보 및 텍스트 정보 중 적어도 하나를 출력할 수 있다. 또한, 사용자 인터페이스(10)는 상기 키 영역(110c)의 물리적 변형 판단에 따라, 해당 키 영역(110c)의 물리적 변형을 나타내는 이미지 정보 및 텍스트 정보 중 적어도 하나를 출력할 수 있다.
일 실시 예에서, 프로세서(1820)는 상기 이미지 정보 및 텍스트 정보 중 적어도 하나에 대한 사용자 입력을 수신하는 경우, 상기 물리적 변형이 판단된 키 영역(110c)과 관계되는 전자 장치(100)의 기능 제어를 지정된 시간 동안 배제할 수 있다. 또는, 프로세서(1820)는 상기 이미지 정보 및 텍스트 정보 중 적어도 하나에 대한 사용자 입력을 수신하는 경우, 상기 물리적 변형이 판단된 키 영역(110c)과 관계되는 전자 장치(100)의 기능을 다른 적어도 하나의 키(110a 및/또는 110b)를 이용하여 제어(예: 다른 적어도 하나의 키(110a 및/또는 110b)에 대한 롱 프레스 입력 등)할 수 있는 정보를 출력할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 상기 정보를 포함하는 팝업 창을 출력하거나, 상기 정보를 포함하는 인공 지능 어시스턴트의 음성을 출력할 수 있다.
상술한 다양한 실시 예에 따르면, 한 실시 예에 따른 전자 장치는, 외부 표면에 적어도 하나의 키 영역을 포함하는 하우징, 적어도 일부가 상기 적어도 하나의 키 영역과 정렬되도록 상기 하우징의 내부 표면에 배치되는 센서 어셈블리 및 상기 센서 어셈블리와 작동적으로 연결되는 프로세서를 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 센서 어셈블리로부터 센싱 값을 전달받고, 지정된 시간 동안 상기 센싱 값에 대한 변화를 확인하고(예: 지정된 시간 동안 일정 주기로 센싱 값을 수신하거나, 사전 정의된 주기로 수신된 센싱 값들을 기반으로 변화를 확인), 상기 센싱 값에 대한 변화의 크기가 지정된 값(또는 시간) 이상으로 일정하면(또는 상기 지정된 시간 동안 지정된 값 이상으로 유지되거나 지정된 값을 포함하는 일정 범위 이내로 유지되면), 상기 적어도 하나의 키 영역에 대한 사용자 입력을 감지하기 위하여 상기 센서 어셈블리에 적용된 제1 임계값의 적어도 일부를 조정하도록 설정될 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 프로세서는, 상기 센서 어셈블리로부터 센싱 값들을 전달받고, 지정된 시간 동안 센싱 값들의 변화를 확인하고, 상기 센싱 값들의 변화 크기가 지정된 값 이상으로 일정하면, 상기 적어도 하나의 키 영역에 대한 사용자 입력을 감지하기 위하여 상기 센서 어셈블리에 적용된 제1 임계값의 적어도 일부를 조정하도록 설정될 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 적어도 하나의 키 영역은, 제1 키 영역을 포함하고, 상기 센서 어셈블리는, 상기 제1 키 영역에 인접하는 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서를 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서의 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기가 상기 지정된 값(또는 시간) 이상으로 일정하면, 상기 제1 키 영역에 대응하는 상기 하우징의 제1 영역에 상기 사용자 입력 이외의 외력에 의한 물리적 변형이 발생된 것으로 판단하도록 설정될 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 전자 장치는 디스플레이를 더 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 디스플레이를 이용하여, 상기 하우징의 제1 영역에 상기 외력에 의한 물리적 변형이 발생하였음을 나타내는 사용자 인터페이스를 출력하도록 설정될 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서에 적용된 상기 제1 임계값을, 상기 제1 임계값으로부터 상기 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기보다 작은 크기로 증가되는 제2 임계값으로 조정하도록 설정될 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서에 적용된 상기 제1 임계값으로부터 상기 제2 임계값으로 증가되는 크기를, 상기 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기보다 작은 크기의 값을 갖는 후보군 내에서 랜덤하게 결정하도록 설정될 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 센서 어셈블리는, 상기 제1 키 영역의 주변인 상기 하우징의 제2 영역에 인접하는 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서를 더 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 제2 센싱 값으로부터 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기보다 작은 크기로 증가되는 제3 임계값을 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서에 적용하도록 설정될 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서에 적용된 상기 제1 임계값으로부터 상기 제2 임계값으로 증가되는 크기를, 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기와 동일하게 결정하도록 설정될 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서의 상기 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기 및 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기 중 적어도 하나가 상기 지정된 값(또는 시간) 이상으로 일정하지 않고(또는 지정된 값 미만이고), 상기 제1 센싱 값이 상기 제2 임계값 이상이며, 상기 제2 센싱 값이 상기 제3 임계값 이상인 경우, 상기 제1 키 영역에 대한 사용자 입력이 발생된 것으로 판단하도록 설정될 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기가 지정된 값 미만이고 (또는 지정된 시간 이상으로 일정하지 않고), 상기 제2 센싱 값이 상기 제3 임계값 이상인 경우, 상기 제1 키 영역에 대한 사용자 입력이 발생된 것으로 판단하도록 설정될 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 적어도 하나의 키 영역은, 제1 키 영역을 포함하고, 상기 센서 어셈블리는, 상기 제1 키 영역의 위치에 인접하는 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서를 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서의 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기가 지정된 값 미만이고(또는 상기 지정된 시간 이상으로 일정하지 않고, 또는 변화가 없이 실질적으로 일정하고), 상기 제1 센싱 값이 상기 제1 임계값 이상인 경우, 상기 제1 키 영역에 대한 사용자 입력이 발생된 것으로 판단하도록 설정될 수 있다.
도 17은 일 실시 예에 따른 전자 장치의 센서 어셈블리 운용 방법을 도시한 도면이다.
도 17을 참조하면, 동작 1701에서, 전자 장치(예: 도 1의 100)의 프로세서(예: 도 18의 1820)는 센서 어셈블리(예: 도 1의 200)로부터 센싱 값을 수신할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 상기 센서 어셈블리(200)가 포함하는 복수의 플렉시블 센서(예: 도 4의 220) 각각에 대응하는 복수의 채널(예: 도 4의 CH1 내지 CH7)을 통하여, 상기 복수의 플렉시블 센서(220) 각각이 출력하는 전기적 저항 값을 수신할 수 있다.
동작 1703에서, 프로세서(1820)는 상기 센서 어셈블리(200)의 센싱 값에 대한 변화를 확인할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 복수의 채널(CH 1 내지 CH 7) 각각으로부터 전달된 전기적 저항 값을 상기 복수의 플렉시블 센서(220) 각각에 대한 베이스 라인 값과 비교할 수 있다. 이와 관련하여, 프로세서(1820)는 전자 장치(100)의 메모리(예: 도 18의 1830)에 저장된 룩업 테이블을 참조할 수 있다. 상기 룩업 테이블에는, 상기 복수의 플렉시블 센서(220) 각각에 대한 베이스 라인 값이 저장될 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(1820)는 상기 베이스 라인 값을 기준하여 플러스 값으로 증가(또는, 변화)한 적어도 하나의 전기적 저항 값을 식별할 수 있다.
동작 1705에서, 프로세서(1820)는 센서 어셈블리(200)의 센싱 값에 대한 변화의 크기가 지정된 시간 이상으로 일정 한지 여부 (또는 지정된 값 범위 내에 있는지 여부)를 판단할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 상기 식별된 전기적 저항 값의 변화량(또는, 증가량)을 산출하고, 상기 식별된 전기적 저항 값의 변화량이 실질적으로 일정하거나, 유사하게 유지되는 시간을 카운트할 수 있다.
동작 1705에서 상기 식별된 전기적 저항 값의 변화량이 지정된 시간 이상으로 유지되는 것(예: 식별된 전기적 저항 값의 크기가 특정 값에서 지정된 시간 동안 유지됨)으로 판단되는 경우, 동작 1707에서, 프로세서(1820)는 센서 어셈블리(200)에 적용된 임계값(또는, 임계 레벨)을 조정할 수 있다. 이와 관련하여, 프로세서(1820)는 상기 식별된 전기적 저항 값을 전달한 적어도 하나의 채널에 기초하여 상기 적어도 하나의 채널에 대응하는 적어도 하나의 플렉시블 센서를 식별할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(1820)는 식별된 적어도 하나의 플렉시블 센서에 대하여 룩업 테이블에 저장된 제1 임계값을 제2 임계값으로 조정할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 상기 제1 임계값을 식별된 적어도 하나의 플렉시블 센서의 전기적 저항 값에 대하여 산출된 변화량(또는, 증가량)보다 작은 크기로 증가되는 제2 임계값으로 조정할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 전자 장치의 센서 어셈블리 운용 방법은 상기 전자 장치의 하우징 외부 표면에 형성된 적어도 하나의 키 영역과 적어도 일부 정렬되도록 상기 하우징의 내부 표면에 배치된 센서 어셈블리로부터 센싱 값을 수신하는 동작, 지정된 시간 동안 상기 센싱 값에 대한 변화를 확인하는 동작 및 상기 센싱 값에 대한 변화의 크기가 상기 지정된 시간 이상으로 일정하면, 상기 적어도 하나의 키 영역에 대한 사용자 입력을 감지하기 위하여 상기 센서 어셈블리에 적용된 제1 임계값의 적어도 일부를 조정하는 동작을 포함할 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 적어도 하나의 키 영역은, 제1 키 영역을 포함하고, 상기 센서 어셈블리는, 상기 제1 키 영역에 인접하는 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서를 포함하고, 상기 센싱 값에 대한 변화를 확인하는 동작은, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서의 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기가 상기 지정된 시간 이상으로 일정하면, 상기 제1 키 영역에 대응하는 상기 하우징의 제1 영역에 상기 사용자 입력 이외의 외력에 의한 물리적 변형이 발생된 것으로 판단하는 동작을 포함할 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 제1 임계값의 적어도 일부를 조정하는 동작은, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서에 적용된 상기 제1 임계값을, 상기 제1 임계값으로부터 상기 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기보다 작은 크기로 증가되는 제2 임계값으로 조정하는 동작을 포함할 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 제1 임계값의 적어도 일부를 조정하는 동작은, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서에 적용된 상기 제1 임계값으로부터 상기 제2 임계값으로 증가되는 크기를, 상기 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기보다 작은 크기의 값을 갖는 후보군 내에서 랜덤하게 결정하는 동작을 더 포함할 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 센서 어셈블리는, 상기 제1 키 영역의 주변인 상기 하우징의 제2 영역에 인접하는 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서를 더 포함하고, 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 제2 센싱 값으로부터 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기보다 작은 크기로 증가되는 제3 임계값을 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서에 적용하는 동작을 더 포함할 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 제1 임계값의 적어도 일부를 조정하는 동작은, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서에 적용된 상기 제1 임계값으로부터 상기 제2 임계값으로 증가되는 크기를, 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기와 동일하게 결정하는 동작을 더 포함할 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 방법은 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서의 상기 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기 및 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기 중 적어도 하나가 지정된 값 미만이고(또는 상기 지정된 시간 이상으로 일정하지 않고), 상기 제1 센싱 값이 상기 제2 임계값 이상이며, 상기 제2 센싱 값이 상기 제3 임계값 이상인 경우, 상기 제1 키 영역에 대한 사용자 입력이 발생된 것으로 판단하는 동작을 더 포함할 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 방법은 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기가 지정된 값 미만이고(또는 상기 지정된 시간 이상으로 일정하지 않고), 상기 제2 센싱 값이 상기 제3 임계값 이상인 경우, 상기 제1 키 영역에 대한 사용자 입력이 발생된 것으로 판단하는 동작을 더 포함할 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 상기 적어도 하나의 키 영역은, 제1 키 영역을 포함하고, 상기 센서 어셈블리는, 상기 제1 키 영역의 위치에 인접하는 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서를 포함하고, 상기 센싱 값에 대한 변화를 확인하는 동작은, 상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서의 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기가 지정된 값 미만이고(또는 상기 지정된 시간 이상으로 일정하지 않고), 상기 제1 센싱 값이 상기 제1 임계값 이상인 경우, 상기 제1 키 영역에 대한 사용자 입력이 발생된 것으로 판단하는 동작을 포함할 수 있다.
도 18은 다양한 실시 예에 따른 케이스를 포함하는 전자 장치를 도시한 도면이다.
도 18을 참조하면, 일 실시 예에 따른 전자 장치(100)는 상기 전자 장치(100)의 적어도 일부를 외부로부터 차폐하는 커버 케이스(300)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)는 하우징(예: 도 1의 120)과 커버 케이스(300) 간의 탈착 가능한 결합을 기반으로 커버 케이스(300)에 장착될 수 있고, 전자 장치(100)의 측면 및 후면 적어도 일부는 상기 커버 케이스(300)에 의해 둘러싸여 외부로부터 차폐될 수 있다. 다양한 실시 예에 따르면, 커버 케이스(300)는 적어도 하나의 키 버튼(310)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100) 및 커버 케이스(300)의 결합 시, 상기 전자 장치(100)의 하우징(120)에 형성된 적어도 하나의 키 영역(예: 도 1의 110)과 대응하는 커버 케이스(300)의 일 영역에는 적어도 하나의 키 버튼(310)이 형성될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 전자 장치(100)의 프로세서(예: 도 18의 1820)는 상기 전자 장치(100)와 커버 케이스(300) 간의 결합을 감지할 수 있다. 이와 관련하여, 전자 장치(100)는 하우징(120)의 내부 일 영역에 홀 센서를 포함할 수 있고, 전자 장치(100)와 커버 케이스(300) 간의 결합 시 상기 홀 센서에 대응하는 커버 케이스(300)의 일 영역에는 자성 물질이 포함될 수 있다. 프로세서(1820)는 상기 커버 케이스(300)의 자성 물질에 기초하여 홀 센서가 감지하는 전압 변화를 기반으로, 전자 장치(100)에 대한 커버 케이스(300)의 결합 유무를 판단할 수 있다.
일 실시 예에서, 전자 장치(100)에 커버 케이스(300)가 결합되는 경우, 하우징(120)에 형성된 적어도 하나의 키 영역(110)에는 상기 커버 케이스(300)에 의한 압력이 인가될 수 있다. 이에 따르면, 적어도 하나의 키 영역(110)은 상기 커버 케이스(300)에 의한 압력에 기반하여 적어도 일부가 물리적으로 변형될 수 있고, 적어도 하나의 키 영역(110)과 정렬되도록 하우징(120)의 내부 표면에 점착 배치된 센서 어셈블리(200)는 상기 적어도 하나의 키 영역(110)의 물리적 변형을 측정하여 센싱 값(예: 전기적 저항 값)을 출력할 수 있다.
상술과 관련하여, 프로세서(1820)는 전자 장치(100)에 대한 커버 케이스(300)의 결합이 판단되는 경우, 센서 어셈블리(200)가 포함하는 복수의 플렉시블 센서(예: 도 3의 220)의 베이스 라인 값에 대한 조정 여부를 판단할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(1820)는 상기 커버 케이스의 결합이 판단되고, 상기 복수의 플렉시블 센서(220)에 대응하는 복수의 채널(예: 도 4의 CH1 내지 CH7)로부터 전달받는 전기적 저항 값들 중 적어도 일부의 전기적 저항 값에 대한 증가량이 지정된 시간 이상으로 일정 또는 유사하게 유지되는 경우, 상기 적어도 일부의 전기적 저항 값을 전달한 채널에 대응하는 적어도 하나의 플렉시블 센서의 베이스 라인 값을 지정된 크기만큼 상향 조정할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 지정된 크기는 커버 케이스(300)에 의해 적어도 하나의 키 영역(110)에 인가되는 압력을 보상할 수 있는 크기로 결정될 수 있다.
다양한 실시 예에 따르면, 프로세서(1820)는 전자 장치(100)의 부팅 시 복수의 플렉시블 센서(220) 각각에 대한 베이스 라인 값을 조정할 수도 있다. 이와 관련하여 전술을 참조하면, 전자 장치(100)의 하우징(120)(또는, 적어도 하나의 키 영역(110))에 대한 물리적 변형이 발생하지 않거나, 상기 전자 장치(100)에 커버 케이스(300)가 결합되지 않은 경우, 복수의 채널(CH1 내지 CH7)로부터 프로세서(1820)로 전달되는 전기적 저항 값은 베이스 라인 값을 나타낼 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(1820)는 전자 장치(100)의 부팅 이후 지정된 시간 이내에, 복수의 채널(CH1 내지 CH7)로부터 전달받는 전기적 저항 값들을 룩업 테이블로 기 저장된 베이스 라인 값들과 비교할 수 있다. 상기 기 저장된 베이스 라인 값을 기준하여 지정된 크기 이상의 증가량을 갖는 전기적 저항 값이 존재하는 경우, 프로세서(1820)는 해당 전기적 저항 값에 대응하는 적어도 하나의 플렉시블 센서에 대한 베이스 라인 값을 상기 증가량을 보상할 수 있는 크기로 상향 조정할 수 있다.
상술한 본 발명의 실시 예에 따른 전자 장치는 외부 표면에 적어도 하나의 키 영역을 포함하는 하우징, 상기 하우징의 내부 일 영역에 배치되는 홀 센서, 적어도 일부가 상기 적어도 하나의 키 영역과 정렬되도록 상기 하우징의 내부 표면에 배치되는 센서 어셈블리 및 상기 센서 어셈블리와 작동적으로 연결되는 프로세서를 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 홀 센서의 출력 값에 대한 변화를 판단하고, 상기 홀 센서의 출력 값 변화가 판단되면, 상기 센서 어셈블리로부터 전달되는 센싱 값에 대한 변화를 지정된 시간 동안 확인하고, 상기 센싱 값에 대한 변화의 크기가 상기 지정된 시간 이상으로 일정하면, 상기 적어도 하나의 키 영역에 대한 사용자 입력을 감지하기 위하여 상기 센서 어셈블리에 적용된 베이스 라인(base line) 값의 적어도 일부를 조정하도록 설정될 수 있다.
상술한 본 발명의 실시 예에 따른 전자 장치는 외부 표면에 적어도 하나의 키 영역을 포함하는 하우징, 상기 하우징의 적어도 일부에 결합되고, 일 영역에 지정된 물질(예: 자성 물질)을 포함하는 커버 케이스, 상기 지정된 물질에 대응하는 상기 하우징의 내부 일 영역에 배치되는 홀 센서, 적어도 일부가 상기 적어도 하나의 키 영역과 정렬되도록 상기 하우징의 내부 표면에 배치되는 센서 어셈블리 및 상기 센서 어셈블리와 작동적으로 연결되는 프로세서를 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 홀 센서의 출력 값에 대한 변화에 기초하여 상기 하우징에 대한 상기 커버 케이스의 결합 유무를 판단하고, 상기 커버 케이스의 결합이 판단되면, 상기 센서 어셈블리로부터 전달되는 센싱 값에 대한 변화를 지정된 시간 동안 확인하고, 상기 센싱 값에 대한 변화의 크기가 상기 지정된 시간 이상으로 일정하면, 상기 적어도 하나의 키 영역에 대한 사용자 입력을 감지하기 위하여 상기 센서 어셈블리에 적용된 베이스 라인(base line) 값의 적어도 일부를 조정하도록 설정될 수 있다.
도 19는 일 실시 예에 따른 네트워크 환경 내의 전자 장치를 도시한 도면이다.
도 19를 참조하면, 네트워크 환경(1800)에서 전자 장치(1801)는 제 1 네트워크(1898)(예: 근거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(1802)와 통신하거나, 또는 제 2 네트워크(1899)(예: 원거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(1804) 또는 서버(1808)와 통신할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전자 장치(1801)는 서버(1808)를 통하여 전자 장치(1804)와 통신할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전자 장치(1801)는 프로세서(1820), 메모리(1830), 입력 장치(1850), 음향 출력 장치(1855), 표시 장치(1860), 오디오 모듈(1870), 센서 모듈(1876), 인터페이스(1877), 햅틱 모듈(1879), 카메라 모듈(1880), 전력 관리 모듈(1888), 배터리(1889), 통신 모듈(1890), 가입자 식별 모듈(1896), 또는 안테나 모듈(1897)을 포함할 수 있다. 어떤 실시예에서는, 전자 장치(1801)에는, 이 구성요소들 중 적어도 하나(예: 표시 장치(1860) 또는 카메라 모듈(1880))가 생략되거나, 하나 이상의 다른 구성 요소가 추가될 수 있다. 어떤 실시예에서는, 이 구성요소들 중 일부들은 하나의 통합된 회로로 구현될 수 있다. 예를 들면, 센서 모듈(1876)(예: 지문 센서, 홍채 센서, 또는 조도 센서)은 표시 장치(1860)(예: 디스플레이)에 임베디드된 채 구현될 수 있다.
프로세서(1820)는, 예를 들면, 소프트웨어(예: 프로그램(1840))를 실행하여 프로세서(1820)에 연결된 전자 장치(1801)의 적어도 하나의 다른 구성요소(예: 하드웨어 또는 소프트웨어 구성요소)을 제어할 수 있고, 다양한 데이터 처리 또는 연산을 수행할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 데이터 처리 또는 연산의 적어도 일부로서, 프로세서(1820)는 다른 구성요소(예: 센서 모듈(1876) 또는 통신 모듈(1890))로부터 수신된 명령 또는 데이터를 휘발성 메모리(1832)에 로드하고, 휘발성 메모리(1832)에 저장된 명령 또는 데이터를 처리하고, 결과 데이터를 비휘발성 메모리(1834)에 저장할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 프로세서(1820)는 메인 프로세서(1821)(예: 중앙 처리 장치 또는 어플리케이션 프로세서), 및 이와는 독립적으로 또는 함께 운영 가능한 보조 프로세서(1823)(예: 그래픽 처리 장치, 이미지 시그널 프로세서, 센서 허브 프로세서, 또는 커뮤니케이션 프로세서)를 포함할 수 있다. 추가적으로 또는 대체적으로, 보조 프로세서(1823)은 메인 프로세서(1821)보다 저전력을 사용하거나, 또는 지정된 기능에 특화되도록 설정될 수 있다. 보조 프로세서(1823)는 메인 프로세서(1821)와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.
보조 프로세서(1823)는, 예를 들면, 메인 프로세서(1821)가 인액티브(예: 슬립) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(1821)를 대신하여, 또는 메인 프로세서(1821)가 액티브(예: 어플리케이션 실행) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(1821)와 함께, 전자 장치(1801)의 구성요소들 중 적어도 하나의 구성요소(예: 표시 장치(1860), 센서 모듈(1876), 또는 통신 모듈(1890))와 관련된 기능 또는 상태들의 적어도 일부를 제어할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 보조 프로세서(1823)(예: 이미지 시그널 프로세서 또는 커뮤니케이션 프로세서)는 기능적으로 관련 있는 다른 구성 요소(예: 카메라 모듈(1880) 또는 통신 모듈(1890))의 일부로서 구현될 수 있다.
메모리(1830)는, 전자 장치(1801)의 적어도 하나의 구성요소(예: 프로세서(1820) 또는 센서 모듈(1876))에 의해 사용되는 다양한 데이터를 저장할 수 있다. 데이터는, 예를 들어, 소프트웨어(예: 프로그램(1840)) 및, 이와 관련된 명령에 대한 입력 데이터 또는 출력 데이터를 포함할 수 있다. 메모리(1830)는, 휘발성 메모리(1832) 또는 비휘발성 메모리(1834)를 포함할 수 있다.
프로그램(1840)은 메모리(1830)에 소프트웨어로서 저장될 수 있으며, 예를 들면, 운영 체제(1842), 미들 웨어(1844) 또는 어플리케이션(1846)을 포함할 수 있다.
입력 장치(1850)는, 전자 장치(1801)의 구성요소(예: 프로세서(1820))에 사용될 명령 또는 데이터를 전자 장치(1801)의 외부(예: 사용자)로부터 수신할 수 있다. 입력 장치(1850)은, 예를 들면, 마이크, 마우스, 키보드, 또는 디지털 펜(예: 스타일러스 펜)을 포함할 수 있다.
음향 출력 장치(1855)는 음향 신호를 전자 장치(1801)의 외부로 출력할 수 있다. 음향 출력 장치(1855)는, 예를 들면, 스피커 또는 리시버를 포함할 수 있다. 스피커는 멀티미디어 재생 또는 녹음 재생과 같이 일반적인 용도로 사용될 수 있고, 리시버는 착신 전화를 수신하기 위해 사용될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 리시버는 스피커와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.
표시 장치(1860)는 전자 장치(1801)의 외부(예: 사용자)로 정보를 시각적으로 제공할 수 있다. 표시 장치(1860)은, 예를 들면, 디스플레이, 홀로그램 장치, 또는 프로젝터 및 해당 장치를 제어하기 위한 제어 회로를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 표시 장치(1860)는 터치를 감지하도록 설정된 터치 회로(touch circuitry), 또는 상기 터치에 의해 발생되는 힘의 세기를 측정하도록 설정된 센서 회로(예: 압력 센서)를 포함할 수 있다.
오디오 모듈(1870)은 소리를 전기 신호로 변환시키거나, 반대로 전기 신호를 소리로 변환시킬 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 오디오 모듈(1870)은, 입력 장치(1850)를 통해 소리를 획득하거나, 음향 출력 장치(1855), 또는 전자 장치(1801)와 직접 또는 무선으로 연결된 외부 전자 장치(예: 전자 장치(1802)) (예: 스피커 또는 헤드폰))를 통해 소리를 출력할 수 있다.
센서 모듈(1876)은 전자 장치(1801)의 작동 상태(예: 전력 또는 온도), 또는 외부의 환경 상태(예: 사용자 상태)를 감지하고, 감지된 상태에 대응하는 전기 신호 또는 데이터 값을 생성할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 센서 모듈(1876)은, 예를 들면, 제스처 센서, 자이로 센서, 기압 센서, 마그네틱 센서, 가속도 센서, 그립 센서, 근접 센서, 컬러 센서, IR(infrared) 센서, 생체 센서, 온도 센서, 습도 센서, 또는 조도 센서를 포함할 수 있다.
인터페이스(1877)는 전자 장치(1801)이 외부 전자 장치(예: 전자 장치(1802))와 직접 또는 무선으로 연결되기 위해 사용될 수 있는 하나 이상의 지정된 프로토콜들을 지원할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 인터페이스(1877)는, 예를 들면, HDMI(high definition multimedia interface), USB(universal serial bus) 인터페이스, SD카드 인터페이스, 또는 오디오 인터페이스를 포함할 수 있다.
연결 단자(1878)는, 그를 통해서 전자 장치(1801)가 외부 전자 장치(예: 전자 장치(1802))와 물리적으로 연결될 수 있는 커넥터를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 연결 단자(1878)은, 예를 들면, HDMI 커넥터, USB 커넥터, SD 카드 커넥터, 또는 오디오 커넥터(예: 헤드폰 커넥터)를 포함할 수 있다.
햅틱 모듈(1879)은 전기적 신호를 사용자가 촉각 또는 운동 감각을 통해서 인지할 수 있는 기계적인 자극(예: 진동 또는 움직임) 또는 전기적인 자극으로 변환할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 햅틱 모듈(1879)은, 예를 들면, 모터, 압전 소자, 또는 전기 자극 장치를 포함할 수 있다.
카메라 모듈(1880)은 정지 영상 및 동영상을 촬영할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 카메라 모듈(1880)은 하나 이상의 렌즈들, 이미지 센서들, 이미지 시그널 프로세서들, 또는 플래시들을 포함할 수 있다.
전력 관리 모듈(1888)은 전자 장치(1801)에 공급되는 전력을 관리할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전력 관리 모듈(1888)은, 예를 들면, PMIC(power management integrated circuit)의 적어도 일부로서 구현될 수 있다.
배터리(1889)는 전자 장치(1801)의 적어도 하나의 구성 요소에 전력을 공급할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 배터리(1889)는, 예를 들면, 재충전 불가능한 1차 전지, 재충전 가능한 2차 전지 또는 연료 전지를 포함할 수 있다.
통신 모듈(1890)은 전자 장치(1801)와 외부 전자 장치(예: 전자 장치(1802), 전자 장치(1804), 또는 서버(1808))간의 직접(예: 유선) 통신 채널 또는 무선 통신 채널의 수립, 및 수립된 통신 채널을 통한 통신 수행을 지원할 수 있다. 통신 모듈(1890)은 프로세서(1820)(예: 어플리케이션 프로세서)와 독립적으로 운영되고, 직접(예: 유선) 통신 또는 무선 통신을 지원하는 하나 이상의 커뮤니케이션 프로세서를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 통신 모듈(1890)은 무선 통신 모듈(1892)(예: 셀룰러 통신 모듈, 근거리 무선 통신 모듈, 또는 GNSS(global navigation satellite system) 통신 모듈) 또는 유선 통신 모듈(1894)(예: LAN(local area network) 통신 모듈, 또는 전력선 통신 모듈)을 포함할 수 있다. 이들 통신 모듈 중 해당하는 통신 모듈은 제 1 네트워크(1898)(예: 블루투스, WiFi direct 또는 IrDA(infrared data association) 같은 근거리 통신 네트워크) 또는 제 2 네트워크(1899)(예: 셀룰러 네트워크, 인터넷, 또는 컴퓨터 네트워크(예: LAN 또는 WAN)와 같은 원거리 통신 네트워크)를 통하여 외부 전자 장치와 통신할 수 있다. 이런 여러 종류의 통신 모듈들은 하나의 구성 요소(예: 단일 칩)으로 통합되거나, 또는 서로 별도의 복수의 구성 요소들(예: 복수 칩들)로 구현될 수 있다. 무선 통신 모듈(1892)은 가입자 식별 모듈(1896)에 저장된 가입자 정보(예: 국제 모바일 가입자 식별자(IMSI))를 이용하여 제 1 네트워크(1898) 또는 제 2 네트워크(1899)와 같은 통신 네트워크 내에서 전자 장치(1801)를 확인 및 인증할 수 있다.
안테나 모듈(1897)은 신호 또는 전력을 외부(예: 외부 전자 장치)로 송신하거나 외부로부터 수신할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 안테나 모듈은 서브스트레이트(예: PCB) 위에 형성된 도전체 또는 도전성 패턴으로 이루어진 방사체를 포함하는 하나의 안테나를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 안테나 모듈(1897)은 복수의 안테나들을 포함할 수 있다. 이런 경우, 제 1 네트워크(1898) 또는 제 2 네트워크(1899)와 같은 통신 네트워크에서 사용되는 통신 방식에 적합한 적어도 하나의 안테나가, 예를 들면, 통신 모듈(1890)에 의하여 상기 복수의 안테나들로부터 선택될 수 있다. 신호 또는 전력은 상기 선택된 적어도 하나의 안테나를 통하여 통신 모듈(1890)과 외부 전자 장치 간에 송신되거나 수신될 수 있다. 어떤 실시 예에 따르면, 방사체 이외에 다른 부품(예: RFIC)이 추가로 안테나 모듈(1897)의 일부로 형성될 수 있다.
상기 구성요소들 중 적어도 일부는 주변 기기들과 통신 방식(예: 버스, GPIO(general purpose input and output), SPI(serial peripheral interface), 또는 MIPI(mobile industry processor interface))을 통해 서로 연결되고 신호(예: 명령 또는 데이터)를 상호간에 교환할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 명령 또는 데이터는 제 2 네트워크(1899)에 연결된 서버(1808)를 통해서 전자 장치(1801)와 외부의 전자 장치(1804)간에 송신 또는 수신될 수 있다. 전자 장치(1802, 1804) 각각은 전자 장치(1801)와 동일한 또는 다른 종류의 장치일 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전자 장치(1801)에서 실행되는 동작들의 전부 또는 일부는 외부 전자 장치들(1802, 1804, or 1808) 중 하나 이상의 외부 장치에서 실행될 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(1801)가 어떤 기능이나 서비스를 자동으로, 또는 사용자 또는 다른 장치로부터의 요청에 반응하여 수행해야 할 경우에, 전자 장치(1801)는 기능 또는 서비스를 자체적으로 실행시키는 대신에 또는 추가적으로, 하나 이상의 외부 전자 장치에 그 기능 또는 그 서비스의 적어도 일부를 수행하라고 요청할 수 있다. 상기 요청을 수신한 하나 이상의 외부 전자 장치들은 요청된 기능 또는 서비스의 적어도 일부, 또는 상기 요청과 관련된 추가 기능 또는 서비스를 실행하고, 그 실행의 결과를 전자 장치(1801)로 전달할 수 있다. 전자 장치(1801)는 상기 결과를, 그대로 또는 추가적으로 처리하여, 상기 요청에 대한 응답의 적어도 일부로서 제공할 수 있다. 이를 위하여, 예를 들면, 클라우드 컴퓨팅, 분산 컴퓨팅, 또는 클라이언트-서버 컴퓨팅 기술이 이용될 수 있다.
본 문서에 개시된 다양한 실시 예들에 따른 전자 장치는 다양한 형태의 장치가 될 수 있다. 전자 장치는, 예를 들면, 휴대용 통신 장치 (예: 스마트폰), 컴퓨터 장치, 휴대용 멀티미디어 장치, 휴대용 의료 기기, 카메라, 웨어러블 장치, 또는 가전 장치를 포함할 수 있다. 본 문서의 실시 예에 따른 전자 장치는 전술한 기기들에 한정되지 않는다.
본 문서의 다양한 실시 예들 및 이에 사용된 용어들은 본 문서에 기재된 기술적 특징들을 특정한 실시 예들로 한정하려는 것이 아니며, 해당 실시예의 다양한 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 또는 관련된 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 아이템에 대응하는 명사의 단수 형은 관련된 문맥상 명백하게 다르게 지시하지 않는 한, 상기 아이템 한 개 또는 복수 개를 포함할 수 있다. 본 문서에서, "A 또는 B", "A 및 B 중 적어도 하나","A 또는 B 중 적어도 하나,""A, B 또는 C," "A, B 및 C 중 적어도 하나,"및 "A, B, 또는 C 중 적어도 하나"와 같은 문구들 각각은 그 문구들 중 해당하는 문구에 함께 나열된 항목들 중 어느 하나, 또는 그들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. "제 1", "제 2", 또는 "첫째" 또는 "둘째"와 같은 용어들은 단순히 해당 구성요소를 다른 해당 구성요소와 구분하기 위해 사용될 수 있으며, 해당 구성요소들을 다른 측면(예: 중요성 또는 순서)에서 한정하지 않는다. 어떤(예: 제 1) 구성요소가 다른(예: 제 2) 구성요소에, "기능적으로" 또는 "통신적으로"라는 용어와 함께 또는 이런 용어 없이, "커플드" 또는 "커넥티드"라고 언급된 경우, 그것은 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로(예: 유선으로), 무선으로, 또는 제 3 구성요소를 통하여 연결될 수 있다는 것을 의미한다.
본 문서에서 사용된 용어 "모듈"은 하드웨어, 소프트웨어 또는 펌웨어로 구현된 유닛을 포함할 수 있으며, 예를 들면, 로직, 논리 블록, 부품, 또는 회로 등의 용어와 상호 호환적으로 사용될 수 있다. 모듈은, 일체로 구성된 부품 또는 하나 또는 그 이상의 기능을 수행하는, 상기 부품의 최소 단위 또는 그 일부가 될 수 있다. 예를 들면, 일 실시 예에 따르면, 모듈은 ASIC(application-specific integrated circuit)의 형태로 구현될 수 있다.
본 문서의 다양한 실시 예들은 기기(machine)(예: 전자 장치(1801)) 의해 읽을 수 있는 저장 매체(storage medium)(예: 내장 메모리(1836) 또는 외장 메모리(1838))에 저장된 하나 이상의 명령어들을 포함하는 소프트웨어(예: 프로그램(1840))로서 구현될 수 있다. 예를 들면, 기기(예: 전자 장치(1801))의 프로세서(예: 프로세서(1820))는, 저장 매체로부터 저장된 하나 이상의 명령어들 중 적어도 하나의 명령을 호출하고, 그것을 실행할 수 있다. 이것은 기기가 상기 호출된 적어도 하나의 명령어에 따라 적어도 하나의 기능을 수행하도록 운영되는 것을 가능하게 한다. 상기 하나 이상의 명령어들은 컴파일러에 의해 생성된 코드 또는 인터프리터에 의해 실행될 수 있는 코드를 포함할 수 있다. 기기로 읽을 수 있는 저장 매체는, 비일시적(non-transitory) 저장매체의 형태로 제공될 수 있다. 여기서, ‘비일시적’은 저장매체가 실재(tangible)하는 장치이고, 신호(signal)(예: 전자기파)를 포함하지 않는다는 것을 의미할 뿐이며, 이 용어는 데이터가 저장매체에 반영구적으로 저장되는 경우와 임시적으로 저장되는 경우를 구분하지 않는다.
일 실시 예에 따르면, 본 문서에 개시된 다양한 실시 예들에 따른 방법은 컴퓨터 프로그램 제품(computer program product)에 포함되어 제공될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 상품으로서 판매자 및 구매자 간에 거래될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체(예: compact disc read only memory (CD-ROM))의 형태로 배포되거나, 또는 어플리케이션 스토어(예: 플레이 스토어TM)를 통해 또는 두 개의 사용자 장치들(예: 스마트폰들) 간에 직접, 온라인으로 배포(예: 다운로드 또는 업로드)될 수 있다. 온라인 배포의 경우에, 컴퓨터 프로그램 제품의 적어도 일부는 제조사의 서버, 어플리케이션 스토어의 서버, 또는 중계 서버의 메모리와 같은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체에 적어도 일시 저장되거나, 임시적으로 생성될 수 있다.
다양한 실시 예들에 따르면, 상기 기술한 구성요소들 각각의 구성요소(예: 모듈 또는 프로그램)는 단수 또는 복수의 개체를 포함할 수 있다. 다양한 실시 예들에 따르면, 전술한 해당 구성요소들 중 하나 이상의 구성요소들 또는 동작들이 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 구성요소들 또는 동작들이 추가될 수 있다. 대체적으로 또는 추가적으로, 복수의 구성요소들(예: 모듈 또는 프로그램)은 하나의 구성요소로 통합될 수 있다. 이런 경우, 통합된 구성요소는 상기 복수의 구성요소들 각각의 구성요소의 하나 이상의 기능들을 상기 통합 이전에 상기 복수의 구성요소들 중 해당 구성요소에 의해 수행되는 것과 동일 또는 유사하게 수행할 수 있다. 다양한 실시 예들에 따르면, 모듈, 프로그램 또는 다른 구성요소에 의해 수행되는 동작들은 순차적으로, 병렬적으로, 반복적으로, 또는 휴리스틱하게 실행되거나, 상기 동작들 중 하나 이상이 다른 순서로 실행되거나, 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 동작들이 추가될 수 있다.

Claims (15)

  1. 전자 장치에 있어서,
    적어도 하나의 키 영역을 포함하는 하우징;
    적어도 일부가 상기 적어도 하나의 키 영역과 정렬되도록 상기 하우징의 일측에 배치되는 센서 어셈블리; 및
    상기 센서 어셈블리와 작동적으로 연결되는 프로세서;를 포함하고,
    상기 프로세서는,
    상기 센서 어셈블리로부터 센싱 값을 전달받고,
    지정된 시간 동안 상기 센싱 값에 대한 변화를 확인하고,
    상기 센싱 값에 대한 변화의 크기가 지정된 값 이상으로 일정하면, 상기 적어도 하나의 키 영역에 대한 사용자 입력을 감지하기 위하여 상기 센서 어셈블리에 적용된 제1 임계값의 적어도 일부를 조정하도록 설정된, 전자 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 키 영역은, 제1 키 영역을 포함하고,
    상기 센서 어셈블리는, 상기 제1 키 영역에 인접하는 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서를 포함하고,
    상기 프로세서는,
    상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서의 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기가 상기 지정된 값 이상으로 일정하면, 상기 제1 키 영역에 대응하는 상기 하우징의 제1 영역에 상기 사용자 입력 이외의 외력에 의한 물리적 변형이 발생된 것으로 판단하도록 설정된, 전자 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    디스플레이;를 더 포함하고,
    상기 프로세서는,
    상기 디스플레이를 이용하여, 상기 하우징의 제1 영역에 상기 외력에 의한 물리적 변형이 발생하였음을 나타내는 사용자 인터페이스를 출력하도록 설정된, 전자 장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 프로세서는,
    상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서에 적용된 상기 제1 임계값을, 상기 제1 임계값에서 상기 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기보다 작은 크기로 증가되는 제2 임계값으로 조정하도록 설정된, 전자 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 프로세서는,
    상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서에 적용된 상기 제1 임계값에서 상기 제2 임계값으로 증가되는 크기를, 상기 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기보다 작은 크기의 값을 갖는 후보군 내에서 랜덤하게 결정하도록 설정된, 전자 장치.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 센서 어셈블리는, 상기 제1 키 영역의 주변인 상기 하우징의 제2 영역에 인접하는 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서를 더 포함하고,
    상기 프로세서는,
    상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 제2 센싱 값으로부터 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기보다 작은 크기로 증가되는 제3 임계값을 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서에 적용하도록 설정된, 전자 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 프로세서는,
    상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서에 적용된 상기 제1 임계값에서 상기 제2 임계값으로 증가되는 크기를, 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기와 동일하게 결정하거나, 또는,
    상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서의 상기 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기 및 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기 중 적어도 하나가 상기 지정된 값 미만이고, 상기 제1 센싱 값이 상기 제2 임계값 이상이며, 상기 제2 센싱 값이 상기 제3 임계값 이상인 경우, 상기 제1 키 영역에 대한 사용자 입력이 발생된 것으로 판단하도록 설정된, 전자 장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 프로세서는,
    상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기가 상기 지정된 값 미만이고, 상기 제2 센싱 값이 상기 제3 임계값 이상인 경우, 상기 제1 키 영역에 대한 사용자 입력이 발생된 것으로 판단하도록 설정된, 전자 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 키 영역은, 제1 키 영역을 포함하고,
    상기 센서 어셈블리는, 상기 제1 키 영역의 위치에 인접하는 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서를 포함하고,
    상기 프로세서는,
    상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서의 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기가 상기 지정된 값 미만이고, 상기 제1 센싱 값이 상기 제1 임계값 이상인 경우, 상기 제1 키 영역에 대한 사용자 입력이 발생된 것으로 판단하도록 설정된, 전자 장치.
  10. 전자 장치의 센서 어셈블리 운용 방법에 있어서,
    상기 전자 장치의 하우징 외부 표면에 형성된 적어도 하나의 키 영역과 적어도 일부 정렬되도록 상기 하우징의 내부 표면에 배치된 센서 어셈블리로부터 센싱 값을 수신하는 동작;
    지정된 시간 동안 상기 센싱 값에 대한 변화를 확인하는 동작; 및
    상기 센싱 값에 대한 변화의 크기가 지정된 값 이상으로 일정하면, 상기 적어도 하나의 키 영역에 대한 사용자 입력을 감지하기 위하여 상기 센서 어셈블리에 적용된 제1 임계값의 적어도 일부를 조정하는 동작;을 포함하는, 센서 어셈블리 운용 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 키 영역은, 제1 키 영역을 포함하고,
    상기 센서 어셈블리는, 상기 제1 키 영역에 인접하는 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서를 포함하고,
    상기 센싱 값에 대한 변화를 확인하는 동작은,
    상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서의 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기가 상기 지정된 값 이상으로 일정하면, 상기 제1 키 영역에 대응하는 상기 하우징의 제1 영역에 상기 사용자 입력 이외의 외력에 의한 물리적 변형이 발생된 것으로 판단하는 동작;을 포함하는, 센서 어셈블리 운용 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 제1 임계값의 적어도 일부를 조정하는 동작은,
    상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서에 적용된 상기 제1 임계값을, 상기 제1 임계값에서 상기 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기보다 작은 크기로 증가되는 제2 임계값으로 조정하는 동작; 또는,
    상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서에 적용된 상기 제1 임계값에서 상기 제2 임계값으로 증가되는 크기를, 상기 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기보다 작은 크기의 값을 갖는 후보군 내에서 랜덤하게 결정하는 동작; 중 어느 하나의 동작을 더 포함하는, 센서 어셈블리 운용 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 센서 어셈블리는, 상기 제1 키 영역의 주변인 상기 하우징의 제2 영역에 인접하는 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서를 더 포함하고,
    상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 제2 센싱 값으로부터 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기보다 작은 크기로 증가되는 제3 임계값을 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서에 적용하는 동작;을 더 포함하는, 센서 어셈블리 운용 방법.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서에 적용된 상기 제1 임계값에서 상기 제2 임계값으로 증가되는 크기를, 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기와 동일하게 결정하는 동작;
    상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서의 상기 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기 및 상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기 중 적어도 하나가 상기 지정된 값 미만이고, 상기 제1 센싱 값이 상기 제2 임계값 이상이며, 상기 제2 센싱 값이 상기 제3 임계값 이상인 경우, 상기 제1 키 영역에 대한 사용자 입력이 발생된 것으로 판단하는 동작; 또는
    상기 적어도 하나의 제2 플렉시블 센서의 상기 제2 센싱 값에 대한 변화의 크기가 상기 지정된 값 미만이고, 상기 제2 센싱 값이 상기 제3 임계값 이상인 경우, 상기 제1 키 영역에 대한 사용자 입력이 발생된 것으로 판단하는 동작; 중 어느 하나의 동작을 더 포함하는, 센서 어셈블리 운용 방법.
  15. 제10항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 키 영역은, 제1 키 영역을 포함하고,
    상기 센서 어셈블리는, 상기 제1 키 영역의 위치에 인접하는 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서를 포함하고,
    상기 센싱 값에 대한 변화를 확인하는 동작은,
    상기 적어도 하나의 제1 플렉시블 센서의 제1 센싱 값에 대한 변화의 크기가 상기 지정된 값 미만이고, 상기 제1 센싱 값이 상기 제1 임계값 이상인 경우, 상기 제1 키 영역에 대한 사용자 입력이 발생된 것으로 판단하는 동작;을 포함하는, 센서 어셈블리 운용 방법.
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