WO2020137010A1 - 表示装置 - Google Patents

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WO2020137010A1
WO2020137010A1 PCT/JP2019/034738 JP2019034738W WO2020137010A1 WO 2020137010 A1 WO2020137010 A1 WO 2020137010A1 JP 2019034738 W JP2019034738 W JP 2019034738W WO 2020137010 A1 WO2020137010 A1 WO 2020137010A1
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circuit
strain gauge
signal lines
display device
signal
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PCT/JP2019/034738
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中西　貴之
高田　直樹
雄飛 柿木
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株式会社ジャパンディスプレイ
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    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means

Definitions

  • the present invention relates to a display device.
  • a configuration is known in which a piezoelectric sensor is superposed on a panel provided with pixels to detect a pressing force applied to a display device (for example, Patent Document 1).
  • the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a display device capable of detecting a pressing force applied to a panel without separately stacking a structure dedicated to pressing force detection.
  • a display device includes a plurality of scan lines which extend in a row direction and are arranged in a column direction, a plurality of signal lines which extend in a column direction, and are arranged in a row direction, and a driver which is supplied to the scan lines.
  • a pixel driven based on a signal and a pixel signal supplied to the signal line, a panel provided with the plurality of scanning lines and the plurality of signal lines, and two or more first of the plurality of scanning lines A first switching unit that opens and closes a connection path that connects a predetermined number of scanning lines in series, or that opens and closes a connection path that connects a second predetermined number of signal lines of two or more of the plurality of signal lines in series At least one of two switching units, a first circuit including the first predetermined number of scanning lines connected in series by the first switching unit, and the second predetermined unit connected in series by the second switching unit.
  • a detection circuit that detects the pressing force applied to the panel based on the potential detected by applying a current to at least one of the second circuits including a number of signal lines.
  • FIG. 1 is a plan view showing the main configuration of the display device of the embodiment.
  • FIG. 2 is a sectional view taken along line AA of FIG.
  • FIG. 3 is a block diagram showing the main configuration related to touch detection.
  • FIG. 4 is an explanatory diagram of the capacitive touch detection method.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating an example of waveforms of the touch drive signal and the touch detection signal.
  • FIG. 6 is a diagram showing an example of a module having a touch detection function.
  • FIG. 7 is a sectional view showing a schematic sectional structure of the display panel of the embodiment.
  • FIG. 8 is a perspective view showing the relationship between the drive electrodes and the touch detection electrodes used for touch detection in the embodiment.
  • FIG. 9 is a circuit diagram showing an array of pixels in the embodiment.
  • FIG. 10 is a schematic plan view showing a configuration provided in the circuit layer and a circuit connected to the configuration.
  • FIG. 11 is a schematic cross-sectional view showing a laminated structure of circuit layers.
  • FIG. 12 is a schematic circuit diagram showing the configuration of the strain gauge circuit.
  • FIG. 13 is a schematic circuit diagram showing a connection state when the scanning line shown in FIG. 12 transmits a scanning signal.
  • FIG. 14 is a schematic circuit diagram showing the configuration of the strain gauge circuit.
  • FIG. 15 is a timing chart schematically showing the relationship of signals in the operation control of the display device in which the display period, the touch detection period, and the pressing force detection period are included in one frame period.
  • FIG. 16 is a schematic diagram showing the relationship between the touch detection position detected during the touch detection period and the strain gauge circuit connected to the detection circuit during the pressing force detection period.
  • FIG. 17 is a diagram showing a second circuit configured by using the strain gauge circuit shown in FIG. 16 and the second reference wiring.
  • FIG. 18 is a diagram showing the strain gauge circuit shown in FIG. 16 and a first circuit configured using the first reference wiring.
  • FIG. 19 is a flowchart showing the operation flow of the display device.
  • FIG. 20 is an equivalent circuit diagram showing a first configuration example of the pressing force detection unit according to Modification 1.
  • FIG. 1 is a plan view showing the main configuration of the display device 1 of the embodiment.
  • FIG. 2 is a sectional view taken along line AA of FIG.
  • the display device 1 displays an image in the display area OA.
  • a frame PF on which an image is not displayed is provided around the display area OA.
  • one direction is the H direction (row direction) and the other direction is the V direction (column direction).
  • a direction orthogonal to the H direction and the V direction is the Z direction (stacking direction).
  • the display device 1 includes a display panel PA.
  • the display panel PA includes a first substrate 2 and a second substrate 3.
  • a polarizing plate 35 is attached to the display surface side of the display panel PA.
  • a backlight BL is arranged on the back side of the display panel PA.
  • An air gap AG is provided between the display panel PA and the backlight BL.
  • the backlight BL is arranged in the housing FL.
  • the housing FL has a box-like shape with the display panel PA side open.
  • the housing FL is attached to the back side of the display panel PA with the frame ME and the cushion CU sandwiched therebetween.
  • the display panel PA is illuminated by the backlight BL from the back side.
  • the display panel PA is a so-called liquid crystal whose display content is switched by controlling the orientation of the liquid crystal LC (see FIG. 9) included in the liquid crystal layer 6 sealed between the first substrate 2 and the second substrate 3. It functions as a display device 20 (described later).
  • the liquid crystal layer 6 is sandwiched between the first substrate 2 and the second substrate 3 and is laterally closed by the seal member SE to be sealed by the display panel PA.
  • the frame PF is arranged between the second substrate 3 and the seal member SE.
  • the first substrate 2 includes a glass substrate 21, a circuit layer 90 and an insulating layer 24 laminated on the glass substrate 21. Further, the first substrate 2 is provided with a COG 19 and a flexible printed circuit board (FPC: Flexible Printed Circuits) 25.
  • the COG 19 controls the operations of the display panel PA and the backlight BL.
  • the FPC 25 transmits a signal input from an external control circuit (for example, the control unit 11 described later) to the COG 19.
  • the signals are various signals related to the operations of the display panel PA and the backlight BL.
  • a cover glass CG is arranged on the display surface side of the polarizing plate 35.
  • the exposed surface of the cover glass CG functions as the display surface SA.
  • the display panel PA of the embodiment has a configuration for detecting a touch operation on the display surface SA. The configuration will be described with reference to FIGS. 3 to 8. Note that FIG. 1 and the like schematically show a case where a touch operation is performed by a human finger F.
  • FIG. 3 is a block diagram showing the main configuration related to touch detection.
  • the display device 1 includes a display panel PA, a control unit 11, a gate driver 12, a source driver 13, a drive electrode driver 14, and a touch detection circuit unit 40.
  • the display device 1 is a display device in which the display panel PA has a touch detection function.
  • the display panel PA is a so-called in-cell type device in which a liquid crystal display device 20 using a liquid crystal display element as a display element and an electrostatic capacitance type touch detection device 30 are integrated.
  • the display panel PA may be a so-called on-cell type device in which the capacitance type touch detection device 30 is mounted on the liquid crystal display device 20 using the liquid crystal display element as a display element.
  • the liquid crystal display device 20 is a device that sequentially scans and displays one horizontal line at a time according to a scanning signal Vscan supplied from the gate driver 12, as described later.
  • the control unit 11 supplies control signals to the gate driver 12, the source driver 13, the drive electrode driver 14, and the touch detection circuit unit 40 based on the video signal Vdisp supplied from the outside, and these are synchronized with each other. It is a circuit for controlling so as to operate.
  • the gate driver 12 sequentially selects one horizontal line to be a display drive target of the display panel PA based on a control signal supplied from the control unit 11.
  • the source driver 13 supplies a pixel signal Vpix to each pixel Pix of the display panel PA, which will be described later, based on the control signal supplied from the control unit 11.
  • the drive electrode driver 14 supplies a drive signal Vcom to a drive electrode VCOM, which will be described later, of the display panel PA based on the control signal supplied from the control unit 11.
  • the touch detection device 30 operates based on the basic principle of capacitive touch detection and outputs a touch detection signal Vdet. In the embodiment, touch detection is performed by the mutual capacitance method.
  • FIG. 4 is an explanatory diagram of the capacitive touch detection method.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating an example of waveforms of the touch drive signal Vcomt and the touch detection signal Vdet.
  • the capacitive element C1 in FIG. 4 includes a pair of electrodes that are arranged so as to face each other with the dielectric material D in between.
  • the pair of electrodes are, for example, a drive electrode VCOM and a touch detection electrode TDL shown in FIG. 8 described later.
  • One end of the capacitive element C1 is connected to the AC signal source (driving signal source) S, and the other end is connected to the voltage detection circuit (touch detection unit) DET.
  • the voltage detection circuit DET is, for example, an integration circuit included in the analog LPF (Low Pass Filter) unit 42 shown in FIG.
  • the voltage detection circuit DET converts the fluctuation of the current I 0 according to the AC rectangular wave Sg into the fluctuation of the voltage (waveform V 0 of the solid line).
  • the capacitance formed by the finger F is in contact with or in the vicinity of the touch detection electrode TDL, so that The electrostatic capacitance corresponding to the fringe between the electrodes is blocked, and acts as a capacitive element C1′ having a smaller capacitance value than that of the capacitive element C1.
  • the current I 1 flows through the capacitive element C1′.
  • the voltage detection circuit DET converts the fluctuation of the current I 1 according to the AC rectangular wave Sg into the fluctuation of the voltage (dotted waveform V 1 ).
  • the waveform V 1 has a smaller amplitude than the waveform V 0 described above.
  • of the voltage difference between the waveform V 0 and the waveform V 1 changes according to the influence of an external object such as the finger F from the outside. Since the voltage detection circuit DET accurately detects the absolute value
  • the touch detection device 30 is configured to sequentially scan one detection block at a time in accordance with a drive signal Vcom (touch drive signal Vcomt described later) supplied from the drive electrode driver 14 to perform touch detection.
  • Vcom touch drive signal Vcomt described later
  • the touch detection device 30 outputs a touch detection signal Vdet for each detection block from a plurality of touch detection electrodes TDL, which will be described later, through the voltage detection circuit DET and supplies the touch detection signal Vdet to the A/D conversion unit 43 of the touch detection circuit unit 40. It is supposed to do.
  • the touch detection electrode TDL is formed of, for example, ITO (Indium Tin Oxide).
  • the touch detection circuit unit 40 touches the touch detection device 30 based on the control signal supplied from the control unit 11 and the touch detection signal Vdet supplied from the touch detection device 30 of the display panel PA (contact state described above). It is a circuit that detects the presence/absence of the touch panel and obtains the coordinates and the like in the touch detection area when there is a touch.
  • the touch detection circuit unit 40 includes an analog LPF (Low Pass Filter) unit 42, an A/D conversion unit 43, a signal processing unit 44, a coordinate extraction unit 45, and a detection timing control unit 46.
  • LPF Low Pass Filter
  • the analog LPF unit 42 receives the touch detection signal Vdet supplied from the touch detection device 30, removes the high frequency component (noise component) included in the touch detection signal Vdet, extracts the touch component, and outputs the low frequency components. It is a passing analog filter.
  • a resistor R for applying a DC potential (0 V) is connected between each of the input terminals of the analog LPF section 42 and the ground.
  • a switch may be provided, and the direct-current potential (0 V) may be given by turning on the switch for a predetermined time.
  • the A/D conversion unit 43 is a circuit that samples each analog signal output from the analog LPF unit 42 and converts it into a digital signal at a timing synchronized with the touch drive signal Vcomt.
  • the signal processing unit 44 includes a digital filter that reduces frequency components (noise components) included in the output signal of the A/D conversion unit 43 other than the frequency at which the touch drive signal Vcomt is sampled.
  • the signal processing unit 44 is a logic circuit that detects the presence or absence of a touch on the touch detection device 30 based on the output signal of the A/D conversion unit 43.
  • the signal processing unit 44 performs a process of extracting only the voltage difference of the finger F.
  • the voltage difference due to the finger F is the absolute value
  • the signal processing unit 44 may calculate the average of the absolute values
  • the signal processing unit 44 can reduce the influence of noise.
  • the signal processing unit 44 compares the detected difference voltage due to the finger F with a predetermined threshold voltage, and if the voltage is equal to or higher than this threshold voltage, the signal processing unit 44 determines that the external proximity object is in contact with the external proximity object. If it is less than the threshold voltage, it is determined that the external proximity object is in a non-contact state. In this way, the touch detection circuit unit 40 can perform touch detection.
  • the coordinate extraction unit 45 is a logic circuit that obtains touch panel coordinates when a touch is detected by the signal processing unit 44.
  • the detection timing control unit 46 controls the A/D conversion unit 43, the signal processing unit 44, and the coordinate extraction unit 45 to operate in synchronization with each other.
  • the coordinate extraction unit 45 outputs the touch panel coordinates as a signal output Vout.
  • FIG. 6 is a diagram showing an example of a module having a touch detection function. As shown in FIG. 6, when the display device 1 is mounted on a module, the drive electrode driver 14 described above may be formed on the glass substrate 21.
  • the display device 1 has a display panel PA, a drive electrode driver 14, and a COG (Chip On Glass) 19.
  • This display panel PA schematically shows a drive electrode VCOM and a touch detection electrode TDL formed so as to intersect with the drive electrode VCOM in a three-dimensional manner.
  • the output of the touch detection electrode TDL is connected to the touch detection circuit section 40 (see FIG. 3) via the terminal section T including an FPC or the like.
  • the drive electrode driver 14 is formed on the glass substrate 21.
  • the COG 19 is a chip mounted on the glass substrate 21 and has various circuits necessary for display operation such as the control unit 11, the gate driver 12, and the source driver 13 shown in FIG. 2 built therein.
  • the COG 19 may further include the drive electrode driver 14 therein.
  • FIG. 7 is a sectional view showing a schematic sectional structure of the display panel PA of the embodiment.
  • the display panel PA includes the first substrate 2, the second substrate 3, and the liquid crystal layer 6 as described above.
  • the first substrate 2 includes the glass substrate 21, the insulating layer 24, and the circuit layer 90 described above, and the plurality of pixel electrodes 22 arranged in a matrix on the insulating layer 24.
  • the second substrate 3 includes a glass substrate 31, a color filter 32 formed on one surface of the glass substrate 31, and a plurality of drive electrodes VCOM formed on the lower layer side of the insulating layer 24.
  • the drive electrode VCOM is formed on the opposite side of the glass substrate 31.
  • a touch detection electrode TDL which is a detection electrode of the touch detection device 30 is formed. Further, the polarizing plate 35 described above is arranged on the touch detection electrode TDL.
  • color filter 32 for example, color filters colored in three colors of red (R), green (G), and blue (B) are periodically arranged, and R and G are provided in each pixel Pix shown in FIG. 10 described above. , B are associated as one set.
  • the color filter 32 faces the liquid crystal layer 6 in the Z direction.
  • the color of the color filter 32 is not limited to the combination of three colors of red (R), green (G), and blue (B), and may be a combination of other colors.
  • white (W) may be included.
  • the color filter may be omitted, and in this case, it becomes white.
  • a light-transmissive resin may be used for the color filter to make it white.
  • the drive electrode VCOM of the embodiment functions as a common drive electrode of the liquid crystal display device 20 and also as a drive electrode of the touch detection device 30.
  • one drive electrode VCOM is arranged so as to correspond to one pixel electrode 22 (pixel electrode 22 forming one row).
  • the drive electrode VCOM of the embodiment faces the pixel electrode 22 in the Z direction.
  • the drive electrode VCOM is configured such that the drive signal Vcom is applied from the drive electrode driver 14 to the drive electrode VCOM via a contact conductive column having conductivity (not shown).
  • the liquid crystal layer 6 modulates light passing therethrough according to the state of the electric field, and for example, IPS (In Plane Switching) including FFS (Fringe Field Switching) that uses a lateral electric field. ), liquid crystal LC of various modes such as TN (Twisted Nematic) using vertical electric field, VA (Vertical Alignment), ECB (Electrically Controlled Birefringence).
  • IPS In Plane Switching
  • FFS Fe Field Switching
  • VA Vertical Alignment
  • ECB Electrodefringence
  • Alignment films are arranged between the liquid crystal layer 6 and the first substrate 2 and between the liquid crystal layer 6 and the second substrate 3, respectively, and the incident side polarization is provided on the lower surface side of the first substrate 2. Plates may be arranged.
  • FIG. 8 is a perspective view showing the relationship between the drive electrodes VCOM and the touch detection electrodes TDL used for touch detection in the embodiment.
  • the touch detection device 30 includes a drive electrode VCOM and a touch detection electrode TDL provided on the second substrate 3.
  • the drive electrode VCOM may be provided on the first substrate 2.
  • the drive electrode VCOM is laminated on the back surface side of the pixel electrode 22, for example, while being insulated from the pixel electrode 22 and the circuit layer 90.
  • Each of the plurality of drive electrodes VCOM extends in the H direction to form a plurality of stripe-shaped electrode patterns.
  • the drive signal Vcom is sequentially supplied to each drive electrode VCOM by the drive electrode driver 14, and line-sequential scanning drive is performed in a time division manner.
  • Each of the plurality of touch detection electrodes TDL extends in the V direction to form a striped electrode pattern.
  • the touch detection electrode TDL faces the drive electrode VCOM in the Z direction.
  • Each electrode pattern of the touch detection electrode TDL is connected to the input of the analog LPF section 42 of the touch detection circuit section 40.
  • the electrode patterns intersecting with each other by the drive electrode VCOM and the touch detection electrode TDL generate a capacitance at the intersection.
  • the drive electrode driver 14 drives the drive electrode blocks so as to perform time-divisional line-sequential scanning, whereby one detection block of the drive electrodes VCOM is sequentially selected. Further, in the touch detection device 30, the touch detection of one detection block is performed by outputting the touch detection signal Vdet from the touch detection electrode TDL.
  • the electrode pattern in which the drive electrodes VCOM and the touch detection electrodes TDL intersect forms a capacitive touch sensor in a matrix. Therefore, by scanning the entire touch detection surface of the touch detection device 30, it is possible to detect the position where the external proximity object (for example, the finger F) comes into contact with or comes close to the display area OA.
  • FIG. 9 is a circuit diagram showing the arrangement of the pixels Pix in the embodiment.
  • a scanning line 70 also referred to as a gate line 70
  • a pixel signal Vpix can be transmitted to each pixel electrode 22.
  • Wirings such as the signal line 80 provided in the are formed.
  • the liquid crystal display device 20 shown in FIG. 9 has a plurality of pixels Pix arranged in a matrix.
  • the pixel Pix includes a TFT (Thin Film Transistor) element Tr and a liquid crystal LC.
  • the TFT element Tr is composed of a thin film transistor (see FIG. 11).
  • the liquid crystal LC is driven by an electric field between the pixel electrode 22 connected to the source or drain of the TFT element Tr and the drive electrode VCOM.
  • the pixel Pix is connected to another pixel Pix belonging to the same row of the liquid crystal display device 20 by the scanning line 70.
  • the scanning signal Vscan is supplied from the gate driver 12 to the scanning line 70.
  • the pixel Pix is connected to another pixel Pix belonging to the same column of the liquid crystal display device 20 by a signal line 80.
  • the pixel signal Vpix is supplied from the source driver 13 to the signal line 80.
  • the pixel Pix is connected to another pixel Pix belonging to the same row of the liquid crystal display device 20 by the drive electrode VCOM.
  • the drive electrode VCOM is connected to the drive electrode driver 14, and the drive signal Vcom is supplied from the drive electrode driver 14. That is, in this example, a plurality of pixels Pix belonging to the same row share one drive electrode VCOM.
  • the gate driver 12 shown in FIG. 3 is formed in a matrix on the liquid crystal display device 20 by applying the scanning signal Vscan to the gate of the TFT element Tr of the pixel Pix via the scanning line 70 shown in FIG.
  • One row (one horizontal line) of the existing pixels Pix is sequentially selected as a display drive target.
  • the source driver 13 shown in FIG. 3 supplies the pixel signal Vpix to each pixel Pix forming one horizontal line sequentially selected by the gate driver 12 via the signal line 80 shown in FIG. Then, in these pixels Pix, display of one horizontal line is performed in accordance with the supplied pixel signal Vpix.
  • the drive electrode driver 14 shown in FIG. 3 applies the drive signal Vcom and drives the drive electrode VCOM for each block including a predetermined number of drive electrodes VCOM shown in FIG.
  • one horizontal line is sequentially selected by driving the gate driver 12 so that the scanning line 70 is time-divisionally line-sequentially scanned.
  • the source driver 13 supplies the pixel signal Vpix to the pixels Pix belonging to one horizontal line, so that the display is performed one horizontal line at a time.
  • the drive electrode driver 14 applies the drive signal Vcom to the block including the drive electrode VCOM corresponding to the one horizontal line.
  • the display panel PA has a configuration for detecting a pressing force applied by a touch operation on the cover glass CG. The configuration will be described with reference to FIGS. 10 to 19.
  • FIG. 10 is a schematic plan view showing a configuration provided in the circuit layer 90 and a circuit connected to the configuration.
  • the scanning lines 70 and the signal lines 80 are arranged on the circuit layer 90 so as to intersect each other in a plan view.
  • the scanning line 70 and the signal line 80 are insulated (see FIG. 11).
  • FIG. 11 is a schematic cross-sectional view showing the laminated structure of the circuit layer 90.
  • the insulating layer 58 a is provided on the substrate 21.
  • a semiconductor layer 61 is provided on the insulating layer 58a.
  • a gate electrode 64 (gate line GCL) is provided on the semiconductor layer 61 via an insulating layer 58b.
  • the drain electrode 63 and the source electrode 62 (signal line SGL) are provided on the gate electrode 64 (gate line GCL) via the insulating layer 58c.
  • the drive electrode VCOM is provided on the drain electrode 63 and the source electrode 62 (signal line SGL) via the insulating layers 58d and 58e.
  • the pixel electrode 22 is provided on the drive electrode VCOM via the insulating layer 24.
  • An alignment film 34 is provided on the pixel electrode 22.
  • the alignment film 33 faces the alignment film 34 with the liquid crystal layer 6 interposed therebetween. Wirings 44, 45, 46, 47, 48 described later are provided on the
  • the pixel electrode 22 is connected to the drain electrode 63 of the pixel transistor Tr via the contact hole H11.
  • the semiconductor layer 61 is connected to the drain electrode 63 via the contact hole H12.
  • the semiconductor layer 61 intersects with the gate electrode 64 in a plan view.
  • the gate electrode 64 is connected to the gate line GCL and is provided so as to project from one side of the gate line GCL.
  • the semiconductor layer 61 extends to a position overlapping the source electrode 62 and is electrically connected to the source electrode 62 through the contact hole H13.
  • the source electrode 62 is connected to the signal line SGL and protrudes from one side of the signal line SGL.
  • the material of the semiconductor layer 61 known materials such as polysilicon and oxide semiconductor can be used.
  • TAOS Transparent Amorphous Oxide Semiconductor, transparent amorphous oxide semiconductor
  • the ability to hold the voltage for image display for a long time (holding ratio) is good, and the display quality can be improved.
  • a known insulating material can be used as a material for the insulating layers 24, 58a, 58b, 58c, 58d, 58e.
  • TEOS Tetra Ethyl Ortho Silicate
  • SiO 2 silicon oxide film
  • a channel portion (not shown) is provided in a portion overlapping the gate electrode 64. It is preferable that the light-shielding layer 65 is provided at a position overlapping the channel portion and has a larger area than the channel portion. Since the light shielding layer 65 is provided, the light that enters the semiconductor layer 61 from the backlight is shielded.
  • the gate electrode 64 functions as the scanning line 70.
  • One of the source electrode 62 and the drain electrode 63 (for example, the source electrode 62) functions as the signal line 80, and the other is connected to the pixel electrode 22.
  • the pixel electrode 22 has a plurality of strip electrodes 22a and a connecting portion 22b.
  • the strip electrodes 22a are provided along the signal line SGL, and a plurality of strip electrodes 22a are arranged in the direction along the gate line GCL.
  • the connecting portion 22b connects the end portions of the strip electrode 22a.
  • the scanning line 70 extends in the H direction.
  • a plurality of scanning lines 70 are arranged in the V direction on the circuit layer 90.
  • the signal line 80 extends in the V direction.
  • On the circuit layer 90 a plurality of signal lines 80 are arranged in the H direction.
  • a first switch block SBY1 is provided on one end side of the first predetermined number of scanning lines 70 that are continuously arranged in the V direction.
  • a second switch block SBY2 is provided on the other end side of the first predetermined number of scanning lines 70.
  • the first switch block SBY1 and the second switch block SB2 are individually provided for each of the first predetermined number of scanning lines 70.
  • the first predetermined number of scan lines 70 are connected to the gate driver 12 and the detection circuit 50 via the first switch block SBY1.
  • the first predetermined number of scanning lines 70, one first switch block SBY1 and one second switch block SB2 form a strain gauge circuit Y.
  • FIG. 12 is a schematic circuit diagram showing the configuration of the strain gauge circuit Y.
  • FIG. 12 shows the connection state of the scanning lines 70 during the pressing force detection period P3 (described later).
  • reference numerals 701, 702, 703, and 704 are given for the purpose of distinguishing the first predetermined number (for example, 4) of the scanning lines 70. It is assumed that the scanning line 701, the scanning line 702, the scanning line 703, and the scanning line 704 are arranged in this order along the V direction.
  • the case where the first predetermined number is 4 is taken as an example, but the first predetermined number may be an integer of 2 or more.
  • the first switch block SBY1 includes a switch SW11, a switch SW12, a switch SW13, a switch SW14, a switch SW15, a switch SW16, and a switch SW17.
  • Each switch SW is, for example, a thin film transistor, and its opening/closing is controlled by a switching circuit 60 described later. Further, each switch SW may be a thin film transistor having the same configuration as the TFT element Tr.
  • the switch SW11 opens and closes the connection between the one end side of the scanning line 701 and the detection circuit 50.
  • the switch SW11 and the detection circuit 50 are connected via a connection line 76.
  • the switch SW12 opens and closes a connection between one end side of the scanning line 702 and one end side of the scanning line 703.
  • the switch SW13 opens and closes the connection between the one end side of the scanning line 704 and the detection circuit 50.
  • the switch SW11 and the detection circuit 50 are connected via a connection line 76.
  • the switch SW14 opens and closes the connection between the one end side of the scanning line 701 and the gate driver 12.
  • the switch SW14 and the gate driver 12 are connected via a connection line 751.
  • the switch SW15 opens and closes the connection between the one end side of the scanning line 702 and the gate driver 12.
  • the switch SW15 and the gate driver 12 are connected via a connection line 752.
  • the switch SW16 opens and closes the connection between the one end side of the scanning line 703 and the gate driver 12.
  • the switch SW16 and the gate driver 12 are connected via a connection line 753.
  • the switch SW17 opens and closes the connection between the one end side of the scanning line 704 and the gate driver 12.
  • the switch SW17 and the gate driver 12 are connected via a connection line 754.
  • the second switch block SB2 includes a switch SW21 and a switch SW22.
  • the switch SW21 opens and closes the connection between the other end of the scanning line 701 and the other end of the scanning line 702.
  • the switch SW22 opens and closes the connection between the other end of the scanning line 703 and the other end of the scanning line 704.
  • the switching circuit 60 controls the opening and closing of the switches included in the first switch block SBY1 and the second switch block SB2.
  • the strain gauge circuit Y is connected to the detection circuit 50, as shown in FIG. 12, the switches SW11, SW12, SW13, SW21 and SW22 are in the connected state, and the switches SW14, SW15, SW16 and SW17 are in the disconnected state. Become.
  • the scanning line 701, the scanning line 702, the scanning line 703, and the scanning line 704 are connected together.
  • the switch SW11 is in the connected state
  • the scanning line 701 and the detection circuit 50 are connected.
  • the switch SW13 is in the connected state
  • the scanning line 704 and the detection circuit 50 are connected.
  • the strain gauge circuit Y is provided so as to be connectable to the detection circuit 50.
  • the switches SW14, SW15, SW16, and SW17 are in a non-connection state, so that the scanning lines 701, 702, 703, 704 and the gate driver 12 are not connected. It becomes a state.
  • FIG. 13 is a schematic circuit diagram showing a connection state when the scanning line 70 shown in FIG. 12 transmits the scanning signal Vscan.
  • the scanning line 70 is in the connection state shown in FIG. 13 during the display period P1 (described later).
  • the strain gauge circuit Y is connected to the gate driver 12, as shown in FIG. 13, the switches SW11, SW12, SW13, SW21, SW22 are in a non-connection state, and the switches SW14, SW15, SW16, SW17 are in a connection state. Become.
  • the scan lines 701, 702, 703, and 704 are electrically independent as individual scan lines 70 because the switches SW21, SW12, and SW22 are not connected. Further, since the switch SW11 is in the non-connection state, the scanning line 701 and the detection circuit 50 are in the non-connection state. Further, since the switch SW13 is in the non-connection state, the scanning line 704 and the detection circuit 50 are in the non-connection state. In addition, the switches SW14, SW15, SW16, and SW17 are connected to each other, so that the scanning lines 701, 702, 703, and 704 are individually connected to the gate driver 12.
  • the scanning lines 701, 702, and 703 are opened and closed by opening and closing the switches included in the first switch block SBY1 and the second switch block SB2.
  • the first state D1 (FIG. 12) in which the scanning line 704 and the scanning line 704 are connected to the detection circuit 50 and the scanning lines 701, 702, 703, and 704 are individually connected to the gate driver 12.
  • Two states D2 (FIG. 13) can be switched.
  • the first substrate 2 has a plurality of strain gauge circuits Y arranged along the V direction.
  • reference numerals Y1, Y2, Y3,..., Ym are attached for the purpose of distinguishing between the strain gauge circuits Y having different positions in the V direction.
  • the strain gauge circuits Y1, Y2, Y3,..., Ym are the strain gauge circuits Y described with reference to FIGS.
  • the number of strain gauge circuits Y shown in FIG. 10 is m (m is an integer of 4 or more), but the number of strain gauge circuits Y may be an integer of 1 or more. That is, the strain gauge circuit Y may be one or may be plural.
  • the circuit layer 90 is provided with first reference wirings ref_Y1 and ref_Y2.
  • the first reference wirings ref_Y1 and ref_Y2 are wirings that serve as a reference for the electrical resistance value of the strain gauge circuit Y in the first state D1.
  • the first reference wirings ref_Y1 and ref_Y2 each include, for example, a first predetermined number of wiring patterns arranged in the V direction.
  • the first predetermined number of the wiring patterns included in the first reference wirings ref_Y1 and ref_Y2 are preferably made of the same material, the same thickness, and the same length as the scanning line 70.
  • the first reference wirings ref_Y1 and ref_Y2 are formed in the same layer as the scanning line 70, that is, in the same material and in the same process.
  • the wiring pattern is continuous as in the strain gauge circuit Y in the first state D1. However, the wiring pattern is physically continuous without a switch. Both ends of the continuous wiring pattern of the first reference wirings ref_Y1 and ref_Y2 are connected to the detection circuit 50 via connection lines 78 and 79, respectively.
  • the number of switches SW12 and the number of switches included in the second switch block SB2 depend on the first predetermined number. For example, when the first predetermined number is 6, the number of switches having the same function as the switch SW12 included in the first switch block SBY1 is 2. In this case, the number of switches included in the second switch block SB2 is three. On the other hand, when the first predetermined number is 2, the switch SW12 is omitted. In this case, the number of switches included in the second switch block SB2 is one.
  • the detection circuit 50 and the switching circuit 60 may be integrated in the COG 19 or may be provided as a circuit separate from the COG 19.
  • the detection circuit 50 and the switching circuit 60 may be provided on the first substrate 2 or the FPC 25. When provided on the first substrate 2, the detection circuit 50 and the switching circuit 60 are arranged in a region overlapping the frame PF in a plan view.
  • FIG. 14 is a schematic circuit diagram showing the configuration of the strain gauge circuit X.
  • the first switch block SBX1 is provided on one end side of the second predetermined number of signal lines 80 that are continuously arranged in the H direction.
  • a second switch block SBX2 is provided on the other end side of the second predetermined number of signal lines 80.
  • the first switch block SBX1 and the second switch block SB2 are individually provided for each of the second predetermined number of signal lines 80.
  • the second predetermined number of signal lines 80 are connected to the selector SL and the detection circuit 50 via the first switch block SBX1.
  • the second predetermined number of signal lines 80, one first switch block SBX1 and one second switch block SB2 form a strain gauge circuit X.
  • the selector SL is a circuit interposed between the source driver 13 and the signal line 80.
  • the selector SL switches the connection relationship between the source driver 13 and the signal line 80 so that the pixel signal Vpix output from the source driver 13 is transmitted to the signal line 80 of the column of the corresponding pixel Pix.
  • the selector SL may be provided in the source driver 13.
  • the second predetermined number is 4 is taken as an example, but the second predetermined number may be an integer of 2 or more, like the first predetermined number.
  • the strain gauge circuit X is provided so that it can switch between the first state D1 and the second state D2.
  • the first substrate 2 has a plurality of strain gauge circuits X arranged along the H direction.
  • reference numerals X1, X2, X3,..., Xn are given to distinguish the strain gauge circuits X having different positions in the H direction.
  • the strain gauge circuits X1, X2, X3,..., Xn are the strain gauge circuits X described above.
  • the number of strain gauge circuits X shown in FIG. 10 is n (n is an integer of 4 or more), but the number of strain gauge circuits X may be an integer of 1 or more. That is, the number of strain gauge circuits X may be one or more.
  • connection lines 86 and the connection lines 87 extending from the strain gauge circuits X3 and Xn shown in FIG. 10 are omitted, they are actually connected to the detection circuit 50 like the strain gauge circuit X1. To be done.
  • the circuit layer 90 is provided with second reference wirings ref_X1 and ref_X2.
  • the second reference wirings ref_X1 and ref_X2 are wirings that serve as a reference for the electrical resistance value of the strain gauge circuit X in the first state D1.
  • each of the second reference wirings ref_X1 and ref_X2 includes, for example, a second predetermined number of wiring patterns arranged in the V direction.
  • the second predetermined number of the wiring patterns included in the second reference wirings ref_X1 and ref_X2 are preferably made of the same material, the same thickness, and the same length as the signal line 80.
  • the second reference wirings ref_X1 and ref_X2 are formed in the same layer as the signal line 80, that is, in the same material and in the same process.
  • the wiring pattern is continuous as in the strain gauge circuit X in the first state D1. However, the wiring pattern is physically continuous without a switch. Both ends of the continuous wiring pattern of the second reference wirings ref_X1 and ref_X2 are connected to the detection circuit 50 via connection lines 88 and 89, respectively.
  • the first reference wirings ref_Y1 and ref_Y2 and the second reference wirings ref_X1 and ref_X2 are arranged at positions overlapping the frame PF in plan view.
  • connection line 75, the connection line 76, the connection line 77, the first reference wirings ref_Y1 and ref_Y2, the connection line 78, and the connection line 79 are provided in the same layer as the scanning line 70, but are provided in different layers. Good.
  • the connection line 85, the connection line 86, the connection line 87, the connection line 88, the connection line 89, and the second reference wirings ref_X1 and ref_X2 are provided in the same layer as the signal line 80, for example, but in different layers. Good.
  • FIG. 15 is a timing chart schematically showing a signal relationship in the operation control of the display device 1 in which the display period P1, the touch detection period P2, and the pressing force detection period P3 are included in one frame (F: Frame) period. ..
  • the display period P11 shown in FIG. 15 is the display period P1 in the next 1F period performed after the pressing force detection period P3.
  • Gate1, Gate2, and Gate3 shown in FIG. 15 indicate output timings of the scanning signal Vscan output to different scanning lines 70, respectively. Further, Sig1, Sig2, and Sig3 represent pixel signals Vpix output to different signal lines 80, respectively.
  • the pixel signal Vpix output at that timing is supplied to the pixel Pix including the TFT element Tr that is turned on according to the scanning signal Vscan.
  • the alignment of the liquid crystal in each pixel Pix is updated or maintained. That is, the degree of light transmission of each pixel Pix is updated or maintained in the display period P1, and thus the image displayed in the display area OA is updated or maintained.
  • the strain gauge circuit X and the strain gauge circuit Y in the display period P1 are in the second state D2. Further, the potential of the drive electrode VCOM during the display period P1 is maintained at the potential for display (drive electrode VCOM).
  • VCOM1 and VCOM2 shown in FIG. 15 indicate output timings of the AC rectangular wave Sg output to different drive electrodes VCOM, respectively.
  • Rx represents the detection timing of the touch detection signal Vdet detected from the touch detection electrode TDL.
  • the touch detection period P2 it can be detected based on the touch detection signal Vdet whether or not the touch operation is performed at the position in the V direction where the drive electrode VCOM driven according to the AC rectangular wave Sg is provided. Become. That is, touch detection is performed in the touch detection period P2.
  • Pselect shown in FIG. 15 is an output of a signal for operating the switching circuit 60 to connect the strain gauge circuit X and the strain gauge circuit Y corresponding to the position of the touch operation detected during the touch detection period P2 to the detection circuit 50. Indicates the timing.
  • some strain gauge circuits X and some strain gauge circuits Y corresponding to the position of the touch operation are in the first state D1 and are connected to the detection circuit 50.
  • the potential of the drive electrode VCOM during the pressing force detection period P3 is maintained at the shield potential DC for suppressing the noise generation of the scanning line 70 and the signal line 80.
  • the shield potential DC is, for example, a ground potential (ground potential).
  • FIG. 16 is a schematic diagram showing the relationship between the touch detection position AP detected during the touch detection period P2 and the strain gauge circuit X and the strain gauge circuit Y connected to the detection circuit 50 during the pressing force detection period P3. is there.
  • two strain gauge circuits X located closer to the touch detection position AP detected during the touch detection period P2 and two strain gauge circuits Y located closer to the touch detection position AP. And are used to detect the pressing force.
  • the switching circuit 60 causes the first switch blocks SBX1, SBY1, and the second switch block SB2 to bring the two strain gauge circuits X and the two strain gauge circuits Y into the first state D1 during the pressing force detection period P3. Toggle the included switches.
  • two strain gauge circuits X located closer to the touch detection position AP are a strain gauge circuit X1 and a strain gauge circuit X2. Further, in FIG. 16, the two strain gauge circuits Y located closer to the touch detection position AP are the strain gauge circuit Y2 and the strain gauge circuit Y3.
  • FIG. 17 is a diagram showing a second circuit CA configured by using the strain gauge circuits X1 and X2 shown in FIG. 16 and the second reference wirings ref_X1 and ref_X2.
  • the detection circuit 50 connects the two strain gauge circuits X located closer to the touch detection position AP and the second reference wirings ref_X1 and ref_X2 to form a circuit that functions as a Wheatstone bridge.
  • one end of the strain gauge circuit X1 is connected to one end of the second reference wiring ref_X1.
  • the other end of the strain gauge circuit X1 is connected to one end of the second reference wiring ref_X2.
  • one end of the strain gauge circuit X2 is connected to the other end of the second reference wiring ref_X1.
  • the other end of the strain gauge circuit X2 is connected to the other end of the second reference wiring ref_X2.
  • one end side of the second reference wiring ref_X1 has a relative high potential (VH) and the other end side of the second reference wiring ref_X2 has a relative low potential (VL), so that the circuit is formed.
  • the detection circuit 50 detects the strain gauge circuit X1 based on the potential difference between the potential (Va(X)) on the other end side of the second reference wiring ref_X1 and the potential (Vb(X)) on the one end side of the second reference wiring ref_X2.
  • the pressing force corresponding to the degree of strain occurring in the strain gauge circuit X2 is detected.
  • the detection circuit 50 detects the pressing force based on the difference between the resistance values of the strain gauge circuit.
  • FIG. 18 is a diagram showing a first circuit CB configured by using the strain gauge circuits Y2 and Y3 shown in FIG. 16 and the first reference wirings ref_Y1 and ref_Y2.
  • the detection circuit 50 connects the two strain gauge circuits Y located closer to the touch detection position AP and the first reference wirings ref_Y1 and ref_Y2 to form a circuit that functions as a Wheatstone bridge.
  • one end of the strain gauge circuit Y2 is connected to one end of the first reference wiring ref_Y1.
  • the other end of the strain gauge circuit Y2 is connected to one end of the first reference wiring ref_Y2.
  • one end of the strain gauge circuit Y3 is connected to the other end of the first reference wiring ref_Y1.
  • the other end of the strain gauge circuit Y3 and the other end of the first reference wiring ref_Y2 are connected.
  • one end side of the first reference wiring ref_Y1 has a relative high potential (VH) and the other end side of the first reference wiring ref_Y2 has a relative low potential (VL), so that the circuit is formed.
  • the detection circuit 50 detects the strain gauge circuit Y1 based on the potential difference between the potential (Va(Y)) on the other end side of the first reference wiring ref_Y1 and the potential (Vb(Y)) on the one end side of the first reference wiring ref_Y2. And the pressing force corresponding to the degree of strain occurring in the strain gauge circuit Y2 is detected.
  • the position in the H direction and the position in the V direction corresponding to the touch detection position AP intersect.
  • the first substrate 2 is distorted around the position. Along with this, distortion also occurs in the scanning lines 70 and the signal lines 80. Therefore, by using the strain gauge circuit X and the strain gauge circuit Y to function as a circuit (Wheatstone bridge) for detecting strain, the pressing force corresponding to the degree of strain can be detected.
  • the relationship between the degree of strain occurring in the strain gauge circuit X and strain gauge circuit Y and the derived pushing force is arbitrary.
  • the detection circuit 50 detects the degree of strain generated in the strain gauge circuit X and the strain gauge circuit Y from the potential difference generated in the Wheatstone bridge, and associates the degree of strain with the magnitude of the pressing force that causes the strain.
  • the degree of strain may be converted into pressing force based on the reference data.
  • the detection circuit 50 may derive the magnitude of the pressing force from the potential difference based on the reference data that directly associates the potential difference generated in the Wheatstone bridge with the magnitude of the pressing force that causes the distortion caused by the potential difference. Good.
  • the reference data is the strain generated in the strain gauge circuit X and the strain gauge circuit Y when a predetermined pressing force is applied to the display device 1 at a predetermined position in the display area OA. It is obtained by measuring the change in the potential difference caused by the degree in advance.
  • the reference data may be held by the detection circuit 50, or may be held by another storage circuit that is provided so that the detection circuit 50 can refer to the reference data.
  • the detection circuit 50 holds information indicating a reference potential difference when a touch operation and a pressing force associated with the touch operation are not present, and is obtained from a circuit that functions as a Wheatstone bridge (see FIGS. 17 and 18).
  • a configuration in which "whether or not a pressing force is applied (whether or not distortion is generated)" is binary-determined based on the difference between the potential difference and the reference potential difference may be used.
  • the switching circuit 60 identifies the touch detection position AP based on the signal output Vout input to the switching circuit 60, and the strain gauge circuit X corresponding to the touch detection position AP and It controls the first switch blocks SBX1 and SBY1 and the second switch block SB2 of the strain gauge circuit Y. Then, when the strain gauge circuit X and the strain gauge circuit Y in the first state D1 are connected, the detection circuit 50 automatically establishes the circuit connection of the Wheatstone bridge described with reference to FIGS. 17 and 18. A constant current is applied to the device to detect strain (pushing force) based on the potential difference.
  • the mechanism of the pressing force detection control corresponding to the touch detection is not limited to this.
  • a dedicated circuit for specifying the strain gauge circuit X and the strain gauge circuit Y corresponding to the touch detection position AP may be provided, and the circuit may control the operations of the detection circuit 50 and the switching circuit 60.
  • FIG. 19 is a flowchart showing the flow of operation of the display device 1.
  • the pixel signal Vpix is written to the pixel Pix during the display period P1 (step S1).
  • touch detection is performed during the touch detection period P2 (step S2).
  • the switching circuit 60 determines whether a touch operation has been detected based on the signal output Vout (step S3).
  • the switching circuit 60 selects the two strain gauge circuits X and the two strain gauge circuits Y according to the touch detection position AP, and the two strain gauge circuits X. And the opening and closing of the switches included in the first switch blocks SBX1, SBY1 and the second switch block SB2 of the two strain gauge circuits Y to the first state D1, and the two strain gauge circuits X and the two strain gauge circuits. Y is connected to the detection circuit 50 (step S4).
  • the detection circuit 50 includes the Wheatstone bridge including the two strain gauge circuits X connected in step S4 and the second reference wirings ref_X1 and ref_X2, and the two strain gauge circuits Y connected in step S4 and the first reference wiring ref_Y1, Based on the potential difference detected by the Wheatstone bridge including ref_Y2, the pressing force corresponding to the strain generated in the two strain gauge circuits X and the two strain gauge circuits Y is detected (step S5).
  • step S6 After the processing of step S5 or when the touch operation is not detected in step S3 (step S3; No), the process moves to step S1 again unless the operation of the display device 1 is completed (step S6; No). When the operation of the display device 1 ends (step S6; Yes), the process performed by the display device 1 ends.
  • the display device 1 of the embodiment includes the plurality of scanning lines 70, the plurality of signal lines 80, the pixels Pix, the display panel PA, and at least one of the first switching unit and the second switching unit. ,
  • the detection circuit 50 The plurality of scanning lines 70 extend in the row direction (H direction) and are arranged in the column direction (V direction).
  • the plurality of signal lines 80 extend in the column direction (V direction) and are arranged in the row direction (H direction).
  • the pixel Pix is driven based on the drive signal Vcom supplied to the scanning line 70 and the pixel signal Vpix supplied to the signal line 80.
  • the display panel PA is provided with a plurality of scanning lines 70 and a plurality of signal lines 80.
  • the function of the first switching unit is that in the strain gauge circuit Y, the first switch block SBY1 that opens and closes the connection path that connects in series two or more first predetermined number of scanning lines 70 among the plurality of scanning lines 70.
  • the function of the second switching unit is that in the strain gauge circuit X, the first switch block SBX1 that opens and closes the connection path that connects the second predetermined number of signal lines 80 of two or more of the plurality of signal lines 80 in series.
  • the detection circuit 50 detects the pressing force applied to the display panel PA based on the potential detected by applying a current (constant current) to at least one of the first circuit CB and the second circuit CA.
  • the first circuit CB includes a first predetermined number of scan lines 70 connected in series by the first switch block SBY1 and the second switch block SBY2 of the strain gauge circuit Y.
  • the second circuit CA includes a second predetermined number of signal lines 80 connected in series by the first switch block SBX1 and the second switch block SBX2 of the strain gauge circuit X.
  • first reference wirings ref_Y1 and ref_Y2 correspond to the length of the series of the first predetermined number of scanning lines 70 connected in series by the first switch block SBY1 and the second switch block SB2 of the strain gauge circuit Y.
  • Has a length to The first circuit CB includes first reference wirings ref_Y1 and ref_Y2. Therefore, it is possible to detect strain and pressing force with higher accuracy using the circuit configuration that functions as a Wheatstone bridge.
  • first switch block SBY1 and the second switch block SB2 of the strain gauge circuit Y include switches (switches SW12, SW21, SW22) for connecting one ends of two scanning lines 70 adjacent to each other in the column direction (V direction). Including. Therefore, the scanning lines 70 can be connected in series with a simple structure.
  • the second reference wirings ref_X1 and ref_X2 correspond to the length of the second predetermined number of signal lines 80 connected in series by the first switch block SBX1 and the second switch block SB2 of the strain gauge circuit X.
  • Has a length to The second circuit CA includes second reference wirings ref_X1 and ref_X2. Therefore, it is possible to detect strain and pressing force with higher accuracy using the circuit configuration that functions as a Wheatstone bridge.
  • first switch block SBX1 and the second switch block SB2 of the strain gauge circuit X include switches (switches SW12, SW21, SW22) for connecting one ends of two signal lines 80 adjacent to each other in the row direction (H direction). Including. Therefore, the signal line 80 can be connected in series with a simple configuration.
  • the touch detection device 30 that detects a touch operation on the display surface SA is provided, and the detection circuit 50 includes the first circuit CB including the strain gauge circuit Y corresponding to the touch detection position AP and the strain gauge corresponding to the touch detection position AP.
  • the pressing force applied to the display panel PA is detected based on the potential detected by passing a current through at least one of the second circuits CA including the circuit X. Therefore, the strain and the pressing force that can occur around the touch detection position AP can be detected more reliably. Note that the description with reference to FIG.
  • each touch detection position AP exemplifies a case where the touch detection position AP is one place, but when the touch detection position AP exists in a plurality of places in the display area OA, each touch detection position AP
  • the first circuit CB and the second circuit CA may be set individually. Therefore, the strain and the pressing force of the entire display panel PA can be detected in more detail.
  • the detection circuit 50 supplies a current to a first circuit CB including two sets of strain gauge circuits Y corresponding to the touch detection position AP and a second circuit CA including two sets of strain gauge circuits X corresponding to the touch detection position AP.
  • the pressing force applied to the display panel PA is detected based on the electric potential detected by flowing the current. Therefore, the strain and the pressing force that can occur around the touch detection position AP can be detected more reliably.
  • the touch detection device 30 of the embodiment performs touch detection by a so-called mutual capacitance method, but the touch detection method is not limited to this.
  • a so-called self-capacitance method in which touch detection is performed based on a change in self-capacitance of the touch detection electrode TDL due to a touch operation may be adopted.
  • the touch detection device 30 can be omitted.
  • the touch detection period P2 is omitted, and the display period P1 and the pressing force detection period P3 are alternately performed.
  • two strain gauge circuits X and two strain gauge circuits Y are provided.
  • the two strain gauge circuits X each include the scan lines 70 that are half or less of the total number of the scan lines 70.
  • the two strain gauge circuits Y each include the signal lines 80 that are half or less of the total number of the signal lines 80.
  • the display panel PA is a transmissive liquid crystal display panel
  • the present invention is not limited to this.
  • a transflective or reflective liquid crystal display panel a display panel using organic electroluminescence (EL), other self-luminous display panel, or an electrophoretic element is included.
  • Any flat panel type image display device such as an electronic paper type display panel can be used. Needless to say, the present invention can be applied to medium to small size to large size without any particular limitation.
  • only one of the strain gauge circuit X and the strain gauge circuit Y may be provided. That is, the other of the strain gauge circuit X and the strain gauge circuit Y may be omitted. In that case, only one of the strain gauge circuit X and the strain gauge circuit Y is connected to the detection circuit 50 in the pressing force detection period P3.
  • FIG. 20 is an equivalent circuit diagram showing a configuration example of the pressing force detection unit.
  • the first pressing force sensor 141 and the second pressing force sensor 142 are connected in series between the positive power supply potential VDD and the ground potential GND, The mode in which the midpoint voltage VOUT is output to the detection circuit 43 is illustrated.
  • the detection circuit 43 detects the pressing force applied to the display area OA based on the midpoint voltage VOUT between the first pressing force sensor 141 and the second pressing force sensor 142. ..
  • the semiconductor resistance element 411 of the first pressing force sensor 141 can be regarded as a variable resistance whose resistance value changes according to the pressing force applied to the display area 11a. ..
  • the first pressing force sensor 141 is, for example, one of the strain gauge circuit X and the strain gauge circuit Y.
  • the second pressing force sensor 142 is the second reference wiring ref_X1 and ref_X2 when the first pressing force sensor 141 is the strain gauge circuit X.
  • the second pressing force sensor 142 is the first reference wiring ref_Y1 and ref_Y2 when the first pressing force sensor 141 is the strain gauge circuit Y.
  • the positive power supply potential VDD, the ground potential GND, and the midpoint voltage VOUT are either inside the detection circuit 50 or connected under the control of the detection circuit 50.
  • Modification 2 For example, assuming that a pressing force is applied at the position of the strain gauge circuit Y3, the strains of the strain gauge circuit Y1 and the strain gauge circuit Y3 should be different. Therefore, if a constant current is applied to the strain gauge circuit Y1 and the strain gauge circuit Y3 under this assumption, the potential difference between the strain gauge circuit Y1 and the strain gauge circuit Y3 should be different.
  • the potential difference here refers to the potential difference between the potential (Va(Y)) on the other end side of the first reference wiring ref_Y1 and the potential (Vb(Y)) on the one end side of the first reference wiring ref_Y2.
  • the position of the pressing force can be detected by such a difference in the potential difference. Further, the pressing force can be measured by the reference data that associates the potential difference with the magnitude of the pressing force that causes the potential difference.
  • the reference data is held in the detection circuit 50, for example, and is referred to by the calculation in the detection circuit 50.
  • the description of the present invention can be as follows. (1) A plurality of scanning lines extending in the row direction and arranged in the column direction, a plurality of signal lines extending in the column direction and arranged in the row direction, and electrically connected to the plurality of scanning lines and the plurality of signal lines. A plurality of pixels to be connected, the plurality of scanning lines, the plurality of signal lines, and a display area in which the plurality of pixels are provided, and a first predetermined number of scanning of two or more of the plurality of scanning lines.
  • a first switching unit that opens and closes a connection path that connects the lines in series
  • a second switching unit that opens and closes a connection path that connects a second predetermined number of two or more signal lines of the plurality of signal lines in series
  • a first circuit including at least one of the first switching unit and the first predetermined number of scanning lines connected in series by the first switching unit, and the second predetermined number of signals connected in series by the second switching unit.
  • a detection circuit that detects a pressing force applied to the display area based on a potential detected by applying a current to at least one of the second circuits including a line.
  • the display device which has a length and in which the first circuit includes the first reference wiring.
  • the first switching unit includes a switch that connects one ends of two scanning lines adjacent to each other in the column direction.
  • the first reference wiring is arranged in a frame area around the display area.
  • the second switching unit and the second reference wiring are provided, and the second reference wiring has the same length as a series of the second predetermined number of signal lines connected in series by the second switching unit.
  • the display device according to any one of (1) to (4), which has a length and in which the second circuit includes the second reference wiring.
  • the display device wherein the second switching unit includes a switch that connects one ends of two signal lines adjacent to each other in the row direction.
  • the second reference wiring is arranged in a frame area around the display area.
  • a touch detection unit that detects a touch operation in the display area is provided, and the detection circuit detects a pressing force with respect to a position where the touch operation is detected.
  • a first switching unit that opens and closes a connection path that connects the lines in series, and a second switching unit that opens and closes a connection path that connects a second predetermined number of two or more signal lines of the plurality of signal lines in series At least one of the first reference line electrically connected to one end of the series of the first predetermined number of scanning lines connected in series, and the series of the second series connected in series.
  • At least one of the second reference wirings electrically connected to one end of the predetermined number of signal lines, the scanning line and the first reference wiring, and at least one of the signal line and the second reference wiring are electrically connected.
  • a detection circuit connected to the first reference line, the first reference line having the same length as the length of the first predetermined number of scan lines connected in series, and The second reference wiring has the same length as the length of the second predetermined number of signal lines connected in series.
  • the display device according to any one of (9) to (11), including a touch detection unit that detects a touch operation in the display area.
  • a touch detection unit that detects a touch operation in the display area.
  • the display device according to any one of (9) to (12), wherein at least one of the first reference wiring and the second reference wiring is arranged in a frame area around the display area.

Abstract

表示装置は、行方向に延出して列方向に並ぶ複数の走査線と、列方向に延出して行方向に並ぶ複数の信号線と、複数の走査線と複数の信号線に電気的に接続される複数の画素と、複数の走査線、複数の信号線、及び複数の画素が設けられた表示領域と、複数の走査線のうち２以上の第１の所定数の走査線を直列に接続する接続路を開閉する第１切替部、及び、複数の信号線のうち２以上の第２の所定数の信号線を直列に接続する接続路を開閉する第２切替部の少なくとも一方と、第１切替部によって直列に接続された第１の所定数の走査線を含む第１回路及び第２切替部によって直列に接続された第２の所定数の信号線を含む第２回路の少なくとも一方に電流を流すことで検出された電位に基づいて表示領域に加わる押力を検出する検出回路とを備える。

Description

表示装置
　本発明は、表示装置に関する。
　画素が設けられたパネルに圧電センサを重畳配置して表示装置に加わる押力を検知する構成が知られている（例えば特許文献１）。
特開２０１５－２１２７０８号公報
　しかしながら、圧電センサのような押力検知専用の構成を別途重ねることなくパネルに加わる押力を検知可能な表示装置が求められていた。
　本発明は、上記の課題に鑑みてなされたもので、押力検知専用の構成を別途重ねることなくパネルに加わる押力を検知可能な表示装置を提供することを目的とする。
　本発明の一態様による表示装置は、行方向に延出して列方向に並ぶ複数の走査線と、列方向に延出して行方向に並ぶ複数の信号線と、前記走査線に供給される駆動信号と前記信号線に供給される画素信号に基づいて駆動される画素と、前記複数の走査線及び前記複数の信号線が設けられたパネルと、前記複数の走査線のうち２以上の第１の所定数の走査線を直列に接続する接続路を開閉する第１切替部又は前記複数の信号線のうち２以上の第２の所定数の信号線を直列に接続する接続路を開閉する第２切替部の少なくとも一方と、前記第１切替部によって直列に接続された前記第１の所定数の走査線を含む第１回路及び前記第２切替部によって直列に接続された前記第２の所定数の信号線を含む第２回路の少なくとも一方に電流を流すことで検出された電位に基づいて前記パネルに加わる押力を検出する検出回路と、を備える。
図１は、実施形態の表示装置の主要構成を示す平面図である。 図２は、図１のＡ－Ａ断面図である。 図３は、タッチ検出に係る主要構成を示すブロック図である。 図４は、静電容量型タッチ検出方式の説明図である。 図５は、タッチ駆動信号及びタッチ検出信号の波形の一例を表す図である。 図６は、タッチ検出機能を実装したモジュールの一例を示す図である。 図７は、実施形態の表示パネルの概略断面構造を表す断面図である。 図８は、実施形態でタッチ検出に用いられる駆動電極及びタッチ検出電極の関係を表す斜視図である。 図９は、実施形態における画素の配列を表す回路図である。 図１０は、回路層に設けられている構成及び当該構成と接続される回路を示す概略平面図である。 図１１は、回路層の積層構造を示す模式的な断面図である。 図１２は、ひずみゲージ回路の構成を示す概略的な回路図である。 図１３は、図１２に示す走査線が走査信号を伝送する場合の接続状態を示す概略的な回路図である。 図１４は、ひずみゲージ回路の構成を示す概略的な回路図である。 図１５は、１フレーム期間内に表示期間、タッチ検出期間及び押力検出期間が含まれる表示装置の動作制御における信号の関係を模式的に示すタイミングチャートである。 図１６は、タッチ検出期間中に検出されたタッチ検出位置と、押力検出期間中に検出回路と接続されるひずみゲージ回路との関係を示す模式図である。 図１７は、図１６に示すひずみゲージ回路と、第２基準配線とを用いて構成される第２回路を示す図である。 図１８は、図１６に示すひずみゲージ回路と、第１基準配線を用いて構成される第１回路を示す図である。 図１９は、表示装置の動作の流れを示すフローチャートである。 図２０は、変形例１に係る押力検出部の第１構成例を示す等価回路図である。
　以下に、実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、発明の主旨を保っての適宜変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有されるものである。また、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。
　図１は、実施形態の表示装置１の主要構成を示す平面図である。図２は、図１のＡ－Ａ断面図である。表示装置１は、表示領域ＯＡ内に画像を表示する。表示領域ＯＡの周囲には、画像が表示されない額縁ＰＦが設けられている。
　以下、表示領域ＯＡ内にマトリクス状に配置される画素Ｐｉｘ（図９参照）の並び方向のうち、一方向をＨ方向（行方向）とし、他方向をＶ方向（列方向）とする。また、Ｈ方向及びＶ方向に直交する方向をＺ方向（積層方向）とする。なお、実施形態で参照する各図のＨ方向、Ｖ方向、Ｚ方向の比率は実際の表示装置１の寸法を示すものでない。表示装置１のＨ方向、Ｖ方向、Ｚ方向の比率は、適宜変更可能である。
　表示装置１は、表示パネルＰＡを備える。表示パネルＰＡは、第１基板２と第２基板３とを備える。表示パネルＰＡの表示面側には、偏光板３５が取付けられている。表示パネルＰＡの背面側には、バックライトＢＬが配置されている。表示パネルＰＡとバックライトＢＬとの間には、エアギャップＡＧが設けられている。バックライトＢＬは、筐体ＦＬ内に配置されている。筐体ＦＬの形状は、表示パネルＰＡ側が開放された箱体状である。筐体ＦＬは、枠体ＭＥ及びクッションＣＵを挟んで、表示パネルＰＡの背面側に取り付けられている。
　表示パネルＰＡは、背面側からバックライトＢＬに照明される。表示パネルＰＡは、第１基板２と第２基板３との間に封止された液晶層６に含まれる液晶ＬＣ（図９参照）の配向が制御されることで、表示内容が切り替わる所謂液晶表示デバイス２０（後述）として機能する。
　液晶層６は、第１基板２と第２基板３とに挟まれ、側方をシール部材ＳＥによって塞がれることで表示パネルＰＡに封止される。額縁ＰＦは、第２基板３とシール部材ＳＥとの間に配置されている。
　第１基板２は、ガラス基板２１と、ガラス基板２１に積層された回路層９０及び絶縁層２４を含む。また、第１基板２にはＣＯＧ１９とフレキシブルプリント基板（ＦＰＣ：Flexible　Printed　Circuits）２５が設けられている。ＣＯＧ１９は、表示パネルＰＡ及びバックライトＢＬの動作を制御する。ＦＰＣ２５は、外部の制御回路（例えば、後述する制御部１１）から入力される信号をＣＯＧ１９に伝送する。当該信号は、表示パネルＰＡ及びバックライトＢＬの動作に関する各種の信号である。
　偏光板３５の表示面側には、カバーガラスＣＧが配置されている。実施形態では、カバーガラスＣＧの露出面が表示面ＳＡとして機能する。実施形態の表示パネルＰＡは、表示面ＳＡに対するタッチ操作を検出するための構成を備える。当該構成について、図３から図８を参照して説明する。なお、図１等では、ヒトの指Ｆによってタッチ操作が行われる場合を模式的に示す。
　図３は、タッチ検出に係る主要構成を示すブロック図である。表示装置１は、表示パネルＰＡと、制御部１１と、ゲートドライバ１２と、ソースドライバ１３と、駆動電極ドライバ１４と、タッチ検出回路部４０とを備えている。表示装置１は、表示パネルＰＡがタッチ検出機能を内蔵した表示デバイスである。表示パネルＰＡは、表示素子として液晶表示素子を用いている液晶表示デバイス２０と静電容量型のタッチ検出デバイス３０とを一体化した、いわゆるインセルタイプの装置である。なお、表示パネルＰＡは、表示素子として液晶表示素子を用いている液晶表示デバイス２０の上に、静電容量型のタッチ検出デバイス３０を装着した、いわゆるオンセルタイプの装置であってもよい。
　液晶表示デバイス２０は、後述するように、ゲートドライバ１２から供給される走査信号Ｖｓｃａｎに従って、１水平ラインずつ順次走査して表示を行うデバイスである。制御部１１は、外部より供給された映像信号Ｖｄｉｓｐに基づいて、ゲートドライバ１２、ソースドライバ１３、駆動電極ドライバ１４、及びタッチ検出回路部４０に対してそれぞれ制御信号を供給し、これらが互いに同期して動作するように制御する回路である。
　ゲートドライバ１２は、制御部１１から供給される制御信号に基づいて、表示パネルＰＡの表示駆動の対象となる１水平ラインを順次選択する。ソースドライバ１３は、制御部１１から供給される制御信号に基づいて、表示パネルＰＡの、後述する各画素Ｐｉｘに画素信号Ｖｐｉｘを供給する。駆動電極ドライバ１４は、制御部１１から供給される制御信号に基づいて、表示パネルＰＡの、後述する駆動電極ＶＣＯＭに駆動信号Ｖｃｏｍを供給する。
　タッチ検出デバイス３０は、静電容量型タッチ検出の基本原理に基づいて動作し、タッチ検出信号Ｖｄｅｔを出力する。実施形態では、相互容量方式にてタッチ検出を行う。
　図４は、静電容量型タッチ検出方式の説明図である。図５は、タッチ駆動信号Ｖｃｏｍｔ及びタッチ検出信号Ｖｄｅｔの波形の一例を表す図である。図４の容量素子Ｃ１は、誘電体Ｄを挟んで互いに対向配置された一対の電極を備えている。当該一対の電極は、例えば、後述する図８に示す駆動電極ＶＣＯＭとタッチ検出電極ＴＤＬである。容量素子Ｃ１は、その一端が交流信号源（駆動信号源）Ｓに接続され、他端は電圧検出回路（タッチ検出部）ＤＥＴに接続される。電圧検出回路ＤＥＴは、例えば図３に示すアナログＬＰＦ（Low　Pass　Filter）部４２に含まれる積分回路である。
　交流信号源Ｓから、一対の電極の一方（例えば、駆動電極ＶＣＯＭ）に所定の周波数（例えば数ｋＨｚ～数百ｋＨｚ程度）の交流矩形波Ｓｇを印加すると、他方（例えば、タッチ検出電極ＴＤＬ）に接続された電圧検出回路ＤＥＴを介して、出力波形（タッチ検出信号Ｖｄｅｔ）が現れる。なお、この交流矩形波Ｓｇは、後述するタッチ駆動信号Ｖｃｏｍｔに相当するものである。
　表示領域ＯＡに対して指Ｆ（図８参照）が接触（又は近接）していない状態（非接触状態）では、容量素子Ｃ１に対する充放電に伴って、容量素子Ｃ１の容量値に応じた電流Ｉ０が流れる。図５に示すように、電圧検出回路ＤＥＴは、交流矩形波Ｓｇに応じた電流Ｉ０の変動を電圧の変動（実線の波形Ｖ０）に変換する。
　一方、表示領域ＯＡに対して指Ｆが接触（又は近接）した状態（接触状態）では、指Ｆによって形成される静電容量がタッチ検出電極ＴＤＬと接している又は近傍にあることにより、一対の電極間にあるフリンジ分の静電容量が遮られ、容量素子Ｃ１の容量値よりも容量値の小さい容量素子Ｃ１’として作用する。そして、図４に示す等価回路でみると、容量素子Ｃ１’に電流Ｉ１が流れる。図５に示すように、電圧検出回路ＤＥＴは、交流矩形波Ｓｇに応じた電流Ｉ１の変動を電圧の変動（点線の波形Ｖ１）に変換する。この場合、波形Ｖ１は、上述した波形Ｖ０と比べて振幅が小さくなる。これにより、波形Ｖ０と波形Ｖ１との電圧差分の絶対値｜ΔＶ｜は、指Ｆなどの外部からの近接する物体の影響に応じて変化することになる。なお、電圧検出回路ＤＥＴは、波形Ｖ０と波形Ｖ１との電圧差分の絶対値｜ΔＶ｜を精度良く検出するため、回路内のスイッチングにより、交流矩形波Ｓｇの周波数に合わせて、コンデンサの充放電をリセットする期間ＲＥＳＥＴを設けた動作とすることがより好ましい。
　タッチ検出デバイス３０は、駆動電極ドライバ１４から供給される駆動信号Ｖｃｏｍ（後述するタッチ駆動信号Ｖｃｏｍｔ）に従って、１検出ブロックずつ順次走査してタッチ検出を行うようになっている。
　タッチ検出デバイス３０は、複数の後述するタッチ検出電極ＴＤＬから、電圧検出回路ＤＥＴを介して、検出ブロックごとにタッチ検出信号Ｖｄｅｔを出力し、タッチ検出回路部４０のＡ／Ｄ変換部４３に供給するようになっている。タッチ検出電極ＴＤＬは、例えば、ＩＴＯ（Indium　Tin　Oxide）で形成されている。
　タッチ検出回路部４０は、制御部１１から供給される制御信号と、表示パネルＰＡのタッチ検出デバイス３０から供給されたタッチ検出信号Ｖｄｅｔに基づいて、タッチ検出デバイス３０に対するタッチ（上述した接触状態）の有無を検出し、タッチがある場合においてタッチ検出領域におけるその座標などを求める回路である。このタッチ検出回路部４０はアナログＬＰＦ（Low　Pass　Filter）部４２と、Ａ／Ｄ変換部４３と、信号処理部４４と、座標抽出部４５と、検出タイミング制御部４６とを備えている。
　アナログＬＰＦ部４２は、タッチ検出デバイス３０から供給されたタッチ検出信号Ｖｄｅｔを入力とし、タッチ検出信号Ｖｄｅｔに含まれる高い周波数成分（ノイズ成分）を除去し、タッチ成分を取り出してそれぞれ出力する低域通過アナログフィルタである。アナログＬＰＦ部４２の入力端子のそれぞれと接地との間には、直流電位（０Ｖ）を与えるための抵抗Ｒが接続されている。なお、この抵抗Ｒに代えて、例えばスイッチを設け、所定の時間にこのスイッチをオン状態にすることにより直流電位（０Ｖ）を与えるようにしてもよい。
　Ａ／Ｄ変換部４３は、タッチ駆動信号Ｖｃｏｍｔに同期したタイミングで、アナログＬＰＦ部４２から出力されるアナログ信号をそれぞれサンプリングしてデジタル信号に変換する回路である。
　信号処理部４４は、Ａ／Ｄ変換部４３の出力信号に含まれる、タッチ駆動信号Ｖｃｏｍｔをサンプリングした周波数以外の周波数成分（ノイズ成分）を低減するデジタルフィルタを備えている。信号処理部４４は、Ａ／Ｄ変換部４３の出力信号に基づいて、タッチ検出デバイス３０に対するタッチの有無を検出する論理回路である。信号処理部４４は、指Ｆによる差分の電圧のみ取り出す処理を行う。この指Ｆによる差分の電圧は、上述した波形Ｖ０と波形Ｖ１との差分の絶対値｜ΔＶ｜である。信号処理部４４は、１検出ブロック当たりの絶対値｜ΔＶ｜を平均化する演算を行い、絶対値｜ΔＶ｜の平均値を求めてもよい。これにより、信号処理部４４は、ノイズによる影響を低減できる。信号処理部４４は、検出した指Ｆによる差分の電圧を所定のしきい値電圧と比較し、このしきい値電圧以上であれば、外部から近接する外部近接物体の接触状態と判断し、しきい値電圧未満であれば、外部近接物体の非接触状態と判断する。このようにして、タッチ検出回路部４０はタッチ検出が可能となる。
　座標抽出部４５は、信号処理部４４においてタッチが検出されたときに、そのタッチパネル座標を求める論理回路である。検出タイミング制御部４６は、Ａ／Ｄ変換部４３と、信号処理部４４と、座標抽出部４５とが同期して動作するように制御する。座標抽出部４５は、タッチパネル座標を信号出力Ｖｏｕｔとして出力する。
　図６は、タッチ検出機能を実装したモジュールの一例を示す図である。図６に示すように、表示装置１は、モジュールへ実装するにあたり、ガラス基板２１上に上述した駆動電極ドライバ１４を形成してもよい。
　図６に示すように、表示装置１は、表示パネルＰＡと、駆動電極ドライバ１４と、ＣＯＧ（Chip　On　Glass）１９とを有している。この表示パネルＰＡは、駆動電極ＶＣＯＭと、駆動電極ＶＣＯＭと立体交差するように形成されたタッチ検出電極ＴＤＬとを模式的に示している。タッチ検出電極ＴＤＬの出力は、ＦＰＣ等を含む端子部Ｔを介してタッチ検出回路部４０（図３参照）と接続されている。駆動電極ドライバ１４は、ガラス基板２１に形成されている。ＣＯＧ１９は、ガラス基板２１に実装されたチップであり、図２に示した制御部１１、ゲートドライバ１２、ソースドライバ１３など、表示動作に必要な各回路を内蔵したものである。なお、ＣＯＧ１９は、さらに駆動電極ドライバ１４を内蔵してもよい。
　図７は、実施形態の表示パネルＰＡの概略断面構造を表す断面図である。表示パネルＰＡは、上述のように、第１基板２と、第２基板３と、液晶層６とを備えている。第１基板２は、上述のガラス基板２１、絶縁層２４及び回路層９０と、絶縁層２４上にマトリックス状に配置された複数の画素電極２２とを有する。第２基板３は、ガラス基板３１と、ガラス基板３１の一方の面に形成されたカラーフィルタ３２と、絶縁層２４の下層側に形成された複数の駆動電極ＶＣＯＭとを含む。駆動電極ＶＣＯＭは、ガラス基板３１の反対側に形成されている。ガラス基板３１の他方の面には、タッチ検出デバイス３０の検出電極であるタッチ検出電極ＴＤＬが形成されている。さらに、このタッチ検出電極ＴＤＬの上には、上述の偏光板３５が配置されている。
　カラーフィルタ３２は、例えば赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３色に着色されたカラーフィルタを周期的に配列して、上述した図１０に示す各画素ＰｉｘにＲ、Ｇ、Ｂの３色が１組として対応付けられている。カラーフィルタ３２は、Ｚ方向において、液晶層６と対向する。なお、カラーフィルタ３２の色は、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３色の組み合わせに限られるものでなく、他の色の組み合わせであってもよい。例えば、白（Ｗ）を含んでいてもよい。また、カラーフィルタは、無くてもよく、この場合白色となる。あるいは、カラーフィルタに光透過性の樹脂を用いて白色としてもよい。
　実施形態の駆動電極ＶＣＯＭは、液晶表示デバイス２０の共通駆動電極として機能するとともに、タッチ検出デバイス３０の駆動電極としても機能する。本実施形態では、一つの駆動電極ＶＣＯＭが一つの画素電極２２（一行を構成する画素電極２２）に対応するように配置されている。実施形態の駆動電極ＶＣＯＭは、Ｚ方向において、画素電極２２と対向する。駆動電極ＶＣＯＭは、図示しない導電性を有するコンタクト導電柱を介して、駆動電極ドライバ１４から駆動電極ＶＣＯＭに駆動信号Ｖｃｏｍが印加されるようになっている。
　液晶層６は、電界の状態に応じてそこを通過する光を変調するものであり、例えば、横電界を用いるＦＦＳ（Fringe　Field　Switching：フリンジフィールドスイッチング）を含むＩＰＳ（In　Plane　Switching：インプレーンスイッチング）、縦電界を用いるＴＮ（Twisted　Nematic：ツイステッドネマティック）、ＶＡ（Vertical　Alignment：垂直配向）、ＥＣＢ（Electrically　Controlled　Birefringence：電界制御複屈折）等の各種モードの液晶ＬＣが用いられる。本実施形態では、ＦＦＳモードの液晶ＬＣの例を示す。
　なお、液晶層６と第１基板２との間、及び液晶層６と第２基板３との間には、それぞれ配向膜が配置され、また、第１基板２の下面側には入射側偏光板が配置されてもよい。
　図８は、実施形態でタッチ検出に用いられる駆動電極ＶＣＯＭ及びタッチ検出電極ＴＤＬの関係を表す斜視図である。実施形態のタッチ検出デバイス３０は、第２基板３に設けられた、駆動電極ＶＣＯＭ及びタッチ検出電極ＴＤＬにより構成されている。なお、駆動電極ＶＣＯＭは、第１基板２に設けられていてもよい。その場合、駆動電極ＶＣＯＭは、例えば画素電極２２の背面側に画素電極２２及び回路層９０と絶縁されて積層される。
　複数の駆動電極ＶＣＯＭは、各々がＨ方向に延出し、複数のストライプ状の電極パターンを形成している。タッチ検出動作を行う際は、各駆動電極ＶＣＯＭに駆動電極ドライバ１４によって駆動信号Ｖｃｏｍが順次供給され、時分割的に線順次走査駆動が行われるようになっている。複数のタッチ検出電極ＴＤＬは、各々がＶ方向に延出し、ストライプ状の電極パターンを形成している。タッチ検出電極ＴＤＬは、Ｚ方向において、駆動電極ＶＣＯＭと対向している。タッチ検出電極ＴＤＬの各電極パターンは、タッチ検出回路部４０のアナログＬＰＦ部４２の入力にそれぞれ接続されている。駆動電極ＶＣＯＭとタッチ検出電極ＴＤＬにより互いに交差した電極パターンは、その交差部分に静電容量を生じさせる。
　タッチ検出デバイス３０では、タッチ検出動作を行う際、駆動電極ドライバ１４が駆動電極ブロックとして時分割的に線順次走査するように駆動することにより、駆動電極ＶＣＯＭの１検出ブロックが順次選択される。また、タッチ検出デバイス３０では、タッチ検出電極ＴＤＬからタッチ検出信号Ｖｄｅｔを出力することにより、１検出ブロックのタッチ検出が行われる。駆動電極ＶＣＯＭとタッチ検出電極ＴＤＬとが交差した電極パターンは、静電容量式タッチセンサをマトリックス状に構成している。よって、タッチ検出デバイス３０のタッチ検出面全体にわたって走査することにより、表示領域ＯＡ内のける外部近接物体（例えば、指Ｆ）の接触または近接が生じた位置の検出が可能となっている。
　次に、表示に関する主要構成について、図９を参照して説明する。図９は、実施形態における画素Ｐｉｘの配列を表す回路図である。回路層９０には、図９に示す各画素Ｐｉｘを駆動するための走査信号Ｖｓｃａｎを伝送可能に設けられた走査線７０（ゲート線７０ともいう）、各画素電極２２に画素信号Ｖｐｉｘを伝送可能に設けられた信号線８０等の配線が形成されている。図９に示す液晶表示デバイス２０は、マトリックス状に配列した複数の画素Ｐｉｘを有している。画素Ｐｉｘは、ＴＦＴ（Thin　Film　Transistor）素子Ｔｒ及び液晶ＬＣを備えている。ＴＦＴ素子Ｔｒは、薄膜トランジスタにより構成される（図１１参照）。液晶ＬＣは、ＴＦＴ素子Ｔｒのソース又はドレインに接続される画素電極２２と、駆動電極ＶＣＯＭとの間の電界で駆動される。
　画素Ｐｉｘは、走査線７０により、液晶表示デバイス２０の同じ行に属する他の画素Ｐｉｘと互いに接続されている。走査線７０には、ゲートドライバ１２より走査信号Ｖｓｃａｎが供給される。また、画素Ｐｉｘは、信号線８０により、液晶表示デバイス２０の同じ列に属する他の画素Ｐｉｘと互いに接続されている。信号線８０には、ソースドライバ１３より画素信号Ｖｐｉｘが供給される。さらに、画素Ｐｉｘは、駆動電極ＶＣＯＭにより、液晶表示デバイス２０の同じ行に属する他の画素Ｐｉｘと互いに接続されている。駆動電極ＶＣＯＭは、駆動電極ドライバ１４と接続され、駆動電極ドライバ１４より駆動信号Ｖｃｏｍが供給される。つまり、この例では、同じ一行に属する複数の画素Ｐｉｘが一本の駆動電極ＶＣＯＭを共有するようになっている。
　図３に示すゲートドライバ１２は、走査信号Ｖｓｃａｎを、図９に示す走査線７０を介して、画素ＰｉｘのＴＦＴ素子Ｔｒのゲートに印加することにより、液晶表示デバイス２０にマトリックス状に形成されている画素Ｐｉｘのうちの１行（１水平ライン）を表示駆動の対象として順次選択する。図３に示すソースドライバ１３は、画素信号Ｖｐｉｘを、図９に示す信号線８０を介して、ゲートドライバ１２により順次選択される１水平ラインを構成する各画素Ｐｉｘにそれぞれ供給する。そして、これらの画素Ｐｉｘでは、供給される画素信号Ｖｐｉｘに応じて、１水平ラインの表示が行われるようになっている。図３に示す駆動電極ドライバ１４は、駆動信号Ｖｃｏｍを印加し、図９に示す所定の本数の駆動電極ＶＣＯＭからなるブロックごとに駆動電極ＶＣＯＭを駆動する。
　上述したように、液晶表示デバイス２０は、ゲートドライバ１２が走査線７０を時分割的に線順次走査するように駆動することにより、１水平ラインが順次選択される。また、液晶表示デバイス２０は、１水平ラインに属する画素Ｐｉｘに対して、ソースドライバ１３が画素信号Ｖｐｉｘを供給することにより、１水平ラインずつ表示が行われる。この表示動作を行う際、駆動電極ドライバ１４は、その１水平ラインに対応する駆動電極ＶＣＯＭを含むブロックに対して駆動信号Ｖｃｏｍを印加するようになっている。
　さらに、表示パネルＰＡは、カバーガラスＣＧに対するタッチ操作により加えられる押力を検出するための構成を備える。当該構成について、図１０から図１９を参照して説明する。
　図１０は、回路層９０に設けられている構成及び当該構成と接続される回路を示す概略平面図である。回路層９０には、走査線７０と信号線８０とが平面視で交差するよう配置されている。走査線７０と信号線８０とは絶縁されている（図１１参照）。
　図１１は、回路層９０の積層構造を示す模式的な断面図である。絶縁層５８ａは、基板２１の上に設けられている。絶縁層５８ａの上には半導体層６１が設けられている。半導体層６１の上には、絶縁層５８ｂを介してゲート電極６４（ゲート線ＧＣＬ）が設けられている。ゲート電極６４（ゲート線ＧＣＬ）の上には、絶縁層５８ｃを介してドレイン電極６３及びソース電極６２（信号線ＳＧＬ）が設けられる。ドレイン電極６３及びソース電極６２（信号線ＳＧＬ）の上には、絶縁層５８ｄ及び絶縁層５８ｅを介して駆動電極ＶＣＯＭが設けられる。駆動電極ＶＣＯＭの上には、絶縁層２４を介して画素電極２２が設けられる。画素電極２２の上には配向膜３４が設けられる。また、配向膜３３は、液晶層６を挟んで配向膜３４と対向する。なお、絶縁層５８ｄ上には、後述する配線４４，４５，４６，４７，４８が設けられる。
　画素電極２２は、コンタクトホールＨ１１を介して画素トランジスタＴｒのドレイン電極６３と接続されている。半導体層６１は、コンタクトホールＨ１２を介してドレイン電極６３に接続される。半導体層６１は、平面視でゲート電極６４と交差する。ゲート電極６４はゲート線ＧＣＬに接続され、ゲート線ＧＣＬの一辺から突出して設けられている。半導体層６１は、ソース電極６２と重畳する位置まで延びて、コンタクトホールＨ１３を介してソース電極６２と電気的に接続される。ソース電極６２は、信号線ＳＧＬに接続され、信号線ＳＧＬの一辺から突出している。
　半導体層６１の材料としては、ポリシリコンや酸化物半導体などの公知の材料を用いることができる。例えばＴＡＯＳ（Ｔｒａｎｓｐａｒｅｎｔ　Ａｍｏｒｐｈｏｕｓ　Ｏｘｉｄｅ　Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ、透明アモルファス酸化物半導体）を用いることで、映像表示用の電圧を長時間保持する能力（保持率）が良く、表示品位を向上させることができる。
　絶縁層２４，５８ａ，５８ｂ，５８ｃ，５８ｄ，５８ｅの材料としては、公知の絶縁材料を用いることができる。例えば、絶縁層５８ｂの材料としては、ＴＥＯＳ（Ｔｅｔｒａ　Ｅｔｈｙｌ　Ｏｒｔｈｏ　Ｓｉｌｉｃａｔｅ）を用いることができる。また、例えば、絶縁層５８ｃの材料としては、シリコン酸化膜（ＳｉＯ２）を用いることができる。
　半導体層６１において、ゲート電極６４と重畳する部分にチャネル部（図示しない）が設けられている。遮光層６５は、チャネル部と重なる位置に設けられ、チャネル部よりも大きい面積を有していることが好ましい。遮光層６５を設けているので、例えばバックライトから半導体層６１に入射する光が遮光される。
　ゲート電極６４は、走査線７０として機能する。ソース電極６２又はドレイン電極６３の一方（例えば、ソース電極６２）は、信号線８０として機能し、他方は、画素電極２２と接続される。画素電極２２は、複数の帯状電極２２ａと、連結部２２ｂとを有する。帯状電極２２ａは、信号線ＳＧＬに沿って設けられ、ゲート線ＧＣＬに沿った方向に複数配列されている。連結部２２ｂは、帯状電極２２ａの端部同士を連結する。
　走査線７０に走査信号Ｖｓｃａｎが印加されることで、信号線８０に出力された画素信号Ｖｐｉｘに応じた電圧が半導体層６１を介して画素電極２２に印加される。これによって、画素Ｐｉｘの液晶ＬＣが制御される。
　図１０に示すように、走査線７０は、Ｈ方向に延出する。回路層９０には、複数の走査線７０がＶ方向に並ぶ。信号線８０は、Ｖ方向に延出する。回路層９０には、複数の信号線８０がＨ方向に並ぶ。
　Ｖ方向に連続して並ぶ第１の所定数の走査線７０の一端側には、第１スイッチブロックＳＢＹ１が設けられている。また、第１の所定数の走査線７０の他端側には、第２スイッチブロックＳＢＹ２が設けられている。第１スイッチブロックＳＢＹ１及び第２スイッチブロックＳＢ２は、当該第１の所定数の走査線７０毎に個別に設けられる。当該第１の所定数の走査線７０は、第１スイッチブロックＳＢＹ１を介してゲートドライバ１２及び検出回路５０と接続される。当該第１の所定数の走査線７０と、１つの第１スイッチブロックＳＢＹ１と、１つの第２スイッチブロックＳＢ２は、ひずみゲージ回路Ｙを構成する。
　図１２は、ひずみゲージ回路Ｙの構成を示す概略的な回路図である。図１２は押力検出期間Ｐ３（後述）中の走査線７０の接続状態を示している。図１２では、第１の所定数（例えば４）の走査線７０を区別する目的で、符号７０１，７０２，７０３，７０４を付している。Ｖ方向に沿って走査線７０１、走査線７０２、走査線７０３、走査線７０４の順に並んでいるものとする。図１０、図１２及び後述する図１３を参照した説明では、第１の所定数が４である場合を例としているが、第１の所定数は２以上の整数であればよい。
　第１スイッチブロックＳＢＹ１は、スイッチＳＷ１１、スイッチＳＷ１２、スイッチＳＷ１３、スイッチＳＷ１４、スイッチＳＷ１５、スイッチＳＷ１６及びスイッチＳＷ１７を含む。各スイッチＳＷは、例えば薄膜トランジスタであり、後述する切り替え回路６０により、開閉が制御される。さらに、各スイッチＳＷはＴＦＴ素子Ｔｒと同じ構成を有する薄膜トランジスタであってもよい。
　スイッチＳＷ１１は、走査線７０１の一端側と検出回路５０との間の接続を開閉する。スイッチＳＷ１１と検出回路５０とは、接続線７６を介して接続される。スイッチＳＷ１２は、走査線７０２の一端側と走査線７０３の一端側との間の接続を開閉する。スイッチＳＷ１３は、走査線７０４の一端側と検出回路５０との間の接続を開閉する。スイッチＳＷ１１と検出回路５０とは、接続線７６を介して接続される。
　スイッチＳＷ１４は、走査線７０１の一端側とゲートドライバ１２との間の接続を開閉する。スイッチＳＷ１４とゲートドライバ１２とは、接続線７５１を介して接続される。スイッチＳＷ１５は、走査線７０２の一端側とゲートドライバ１２との間の接続を開閉する。スイッチＳＷ１５とゲートドライバ１２とは、接続線７５２を介して接続される。スイッチＳＷ１６は、走査線７０３の一端側とゲートドライバ１２との間の接続を開閉する。スイッチＳＷ１６とゲートドライバ１２とは、接続線７５３を介して接続される。スイッチＳＷ１７は、走査線７０４の一端側とゲートドライバ１２との間の接続を開閉する。スイッチＳＷ１７とゲートドライバ１２とは、接続線７５４を介して接続される。接続線７５１，７５２，７５３，７５４を区別しない場合、接続線７５と記載する（図１０参照）。
　第２スイッチブロックＳＢ２は、スイッチＳＷ２１及びスイッチＳＷ２２を含む。スイッチＳＷ２１は、走査線７０１の他端側と走査線７０２の他端側との間の接続を開閉する。スイッチＳＷ２２は、走査線７０３の他端側と走査線７０４の他端側との間の接続を開閉する。
　第１スイッチブロックＳＢＹ１及び第２スイッチブロックＳＢ２に含まれるスイッチの開閉は、切替回路６０によって制御される。ひずみゲージ回路Ｙが検出回路５０に接続される場合、図１２に示すように、スイッチＳＷ１１，ＳＷ１２，ＳＷ１３，ＳＷ２１，ＳＷ２２が接続状態になり、スイッチＳＷ１４，ＳＷ１５，ＳＷ１６，ＳＷ１７が非接続状態になる。
　スイッチＳＷ１２，ＳＷ２１，ＳＷ２２が接続状態になることで、走査線７０１と走査線７０２と走査線７０３と走査線７０４とが一続きになる。また、スイッチＳＷ１１が接続状態になることで、走査線７０１と検出回路５０とが接続される。また、スイッチＳＷ１３が接続状態になることで、走査線７０４と検出回路５０とが接続される。このように、ひずみゲージ回路Ｙは、検出回路５０と接続可能に設けられている。また、ひずみゲージ回路Ｙが検出回路５０と接続される場合、スイッチＳＷ１４，ＳＷ１５，ＳＷ１６，ＳＷ１７が非接続状態になることで、走査線７０１，７０２，７０３，７０４とゲートドライバ１２とが非接続状態になる。
　図１３は、図１２に示す走査線７０が走査信号Ｖｓｃａｎを伝送する場合の接続状態を示す概略的な回路図である。走査線７０は表示期間Ｐ１（後述）中に、図１３に示す接続状態となる。ひずみゲージ回路Ｙがゲートドライバ１２に接続される場合、図１３に示すように、スイッチＳＷ１１，ＳＷ１２，ＳＷ１３，ＳＷ２１，ＳＷ２２が非接続状態になり、スイッチＳＷ１４，ＳＷ１５，ＳＷ１６，ＳＷ１７が接続状態になる。
　スイッチＳＷ２１，ＳＷ１２，ＳＷ２２が非接続状態になることで、走査線７０１，７０２，７０３，７０４は個別の走査線７０として電気的に独立する。また、スイッチＳＷ１１が非接続状態になることで、走査線７０１と検出回路５０とが非接続状態になる。また、スイッチＳＷ１３が非接続状態になることで、走査線７０４と検出回路５０とが非接続状態になる。また、スイッチＳＷ１４，ＳＷ１５，ＳＷ１６，ＳＷ１７が接続状態になることで、走査線７０１，７０２，７０３，７０４は個別にゲートドライバ１２と接続される。
　図１２及び図１３を参照して説明したように、ひずみゲージ回路Ｙは、第１スイッチブロックＳＢＹ１及び第２スイッチブロックＳＢ２に含まれるスイッチの開閉によって、走査線７０１と走査線７０２と走査線７０３と走査線７０４とが一続きになった状態で検出回路５０と接続される第１状態Ｄ１（図１２）と、走査線７０１，７０２，７０３，７０４が個別にゲートドライバ１２と接続される第２状態Ｄ２（図１３）とを切替可能に設けられている。
　図１０に示すように、第１基板２は、Ｖ方向に沿って並ぶ複数のひずみゲージ回路Ｙを有する。図１０及び後述する図１６では、Ｖ方向の位置が異なるひずみゲージ回路Ｙを区別する目的で、符号Ｙ１，Ｙ２，Ｙ３，…，Ｙｍを付している。ひずみゲージ回路Ｙ１，Ｙ２，Ｙ３，…，Ｙｍはそれぞれ、図１２及び図１３を参照して説明したひずみゲージ回路Ｙである。図１０に示すひずみゲージ回路Ｙの数はｍ（ｍは、４以上の整数）であるが、ひずみゲージ回路Ｙの数は１以上の整数であればよい。すなわち、ひずみゲージ回路Ｙは１つであってもよいし、複数であってもよい。
　また、図１０に示すように、回路層９０には、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２が設けられている。第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２は、第１状態Ｄ１である場合のひずみゲージ回路Ｙの電気抵抗値の基準になる配線である。具体的には、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２はそれぞれ、例えばＶ方向に並ぶ第１の所定数の配線パターンを含む。第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２が含む第１の所定数の当該配線パターンはそれぞれ、走査線７０と同じ材料、同じ太さ、及び長さが好ましい。本実施形態では、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２は走査線７０と同層、すなわち同じ材料及び同じ工程で形成される。当該配線パターンは、第１状態Ｄ１のひずみゲージ回路Ｙと同様、一続きになっている。ただし、当該配線パターンは、スイッチを介さず物理的に連続している。第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２の一続きの配線パターンの両端は、それぞれ接続線７８，７９を介して検出回路５０と接続される。
　なお、スイッチＳＷ１２の数及び第２スイッチブロックＳＢ２に含まれるスイッチの数は、第１の所定数に応じる。例えば、第１の所定数が６の場合、第１スイッチブロックＳＢＹ１が含むスイッチＳＷ１２と同様の機能のスイッチの数は２になる。また、この場合、第２スイッチブロックＳＢ２に含まれるスイッチの数が３になる。一方、第１の所定数が２の場合、スイッチＳＷ１２は省略される。また、この場合、第２スイッチブロックＳＢ２に含まれるスイッチの数が１になる。
　また、検出回路５０及び切替回路６０は、ＣＯＧ１９に統合されていてもよいし、ＣＯＧ１９と別個の回路として設けられてもよい。また、検出回路５０及び切替回路６０は、第１基板２に設けられてもよいし、ＦＰＣ２５に設けられてもよい。第１基板２に設けられる場合の検出回路５０及び切替回路６０は、平面視で額縁ＰＦと重なる領域に配置される。
　図１４は、ひずみゲージ回路Ｘの構成を示す概略的な回路図である。図１１、図１２及び図１３を参照して走査線７０を用いたひずみゲージ回路Ｙについて上述したが、図１１及び図１４に示すように、信号線８０も同様にひずみゲージ回路Ｘを構成する。Ｈ方向に連続して並ぶ第２の所定数の信号線８０の一端側には、第１スイッチブロックＳＢＸ１が設けられている。また、第２の所定数の信号線８０の他端側には、第２スイッチブロックＳＢＸ２が設けられている。第１スイッチブロックＳＢＸ１及び第２スイッチブロックＳＢ２は、当該第２の所定数の信号線８０毎に個別に設けられる。当該第２の所定数の信号線８０は、第１スイッチブロックＳＢＸ１を介してセレクタＳＬ及び検出回路５０と接続される。当該第２の所定数の信号線８０と、１つの第１スイッチブロックＳＢＸ１と、１つの第２スイッチブロックＳＢ２は、ひずみゲージ回路Ｘを構成する。
　なお、セレクタＳＬは、ソースドライバ１３と信号線８０との間に介在する回路である。セレクタＳＬは、ソースドライバ１３から出力される画素信号Ｖｐｉｘが対応する画素Ｐｉｘのカラム（列）の信号線８０に伝送されるようソースドライバ１３と信号線８０との接続関係を切り替える。なお、セレクタＳＬはソースドライバ１３の中に設けられていてもよい。
　図１０を参照した説明では、第２の所定数が４である場合を例としているが、第２の所定数は、第１の所定数と同様、２以上の整数であればよい。
　ひずみゲージ回路Ｘは、ひずみゲージ回路Ｙと同様、第１状態Ｄ１と第２状態Ｄ２とを切替可能に設けられている。図１２及び図１３を参照した説明におけるひずみゲージ回路Ｙ、第１の所定数、Ｖ方向、走査線７０、接続線７５、接続線７６、接続線７７、ゲートドライバ１２及び走査信号Ｖｓｃａｎを、それぞれ、ひずみゲージ回路Ｘ、第２の所定数、Ｈ方向、信号線８０、接続線８５、接続線８６、接続線８７、セレクタＳＬ及び画素信号Ｖｐｉｘと読み替えることで、ひずみゲージ回路Ｘの構成が説明される（図１４参照）。
　図１０に示すように、第１基板２は、Ｈ方向に沿って並ぶ複数のひずみゲージ回路Ｘを有する。図１０及び後述する図１６では、Ｈ方向の位置が異なるひずみゲージ回路Ｘを区別する目的で、符号Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３，…，Ｘｎを付している。ひずみゲージ回路Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３，…，Ｘｎはそれぞれ、上述のひずみゲージ回路Ｘである。図１０に示すひずみゲージ回路Ｘの数はｎ（ｎは、４以上の整数）であるが、ひずみゲージ回路Ｘの数は１以上の整数であればよい。すなわち、ひずみゲージ回路Ｘは１つであってもよいし、複数であってもよい。
　なお、図１０に示すひずみゲージ回路Ｘ３，Ｘｎから延出する接続線８６及び接続線８７は一部の図示が省略されているが、実際にはひずみゲージ回路Ｘ１と同様、検出回路５０に接続される。
　また、図１０に示すように、回路層９０には、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２が設けられている。第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２は、第１状態Ｄ１である場合のひずみゲージ回路Ｘの電気抵抗値の基準になる配線である。具体的には、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２はそれぞれ、例えばＶ方向に並ぶ第２の所定数の配線パターンを含む。第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２が含む第２の所定数の当該配線パターンはそれぞれ、信号線８０と同じ材料、同じ太さ、及び長さであることが好ましい。本実施形態では、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２は信号線８０と同層、すなわち同じ材料及び同じ工程で形成される。当該配線パターンは、第１状態Ｄ１のひずみゲージ回路Ｘと同様、一続きになっている。ただし、当該配線パターンは、スイッチを介さず物理的に連続している。第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２の一続きの配線パターンの両端は、それぞれ接続線８８，８９を介して検出回路５０と接続される。
　第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２及び第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２は、平面視で額縁ＰＦと重なる位置に配置される。
　また、接続線７５、接続線７６、接続線７７、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２、接続線７８及び接続線７９は、例えば走査線７０と同層に設けられるが、異なる層に設けられていてもよい。また、接続線８５、接続線８６、接続線８７、接続線８８、接続線８９、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２は、例えば信号線８０と同層に設けられるが、異なる層に設けられていてもよい。
　図１５は、１フレーム（Ｆ：Frame）期間内に表示期間Ｐ１、タッチ検出期間Ｐ２及び押力検出期間Ｐ３が含まれる表示装置１の動作制御における信号の関係を模式的に示すタイミングチャートである。なお、図１５に示す表示期間Ｐ１１は、押力検出期間Ｐ３の後に行われる次の１Ｆ期間内における表示期間Ｐ１である。
　図１５に示すＧａｔｅ１，Ｇａｔｅ２，Ｇａｔｅ３は、それぞれ異なる走査線７０に出力される走査信号Ｖｓｃａｎの出力タイミングを示す。また、Ｓｉｇ１，Ｓｉｇ２，Ｓｉｇ３は、それぞれ異なる信号線８０に出力される画素信号Ｖｐｉｘを示す。表示期間Ｐ１中には、走査信号Ｖｓｃａｎに応じてＯＮになったＴＦＴ素子Ｔｒを含む画素Ｐｉｘに対して、そのタイミングに出力されている画素信号Ｖｐｉｘが供給される。これによって、各画素Ｐｉｘにおける液晶の配向が更新又は維持される。すなわち、表示期間Ｐ１において各画素Ｐｉｘの光の透過の度合いが更新又は維持されることで、表示領域ＯＡ内に表示される画像が更新又は維持される。
　なお、表示期間Ｐ１中のひずみゲージ回路Ｘ及びひずみゲージ回路Ｙは、第２状態Ｄ２である。また、表示期間Ｐ１中の駆動電極ＶＣＯＭの電位は、表示のための電位（駆動電極ＶＣＯＭ）で保たれる。
　図１５に示すＶＣＯＭ１，ＶＣＯＭ２は、それぞれ異なる駆動電極ＶＣＯＭに出力される交流矩形波Ｓｇの出力タイミングを示す。また、Ｒｘは、タッチ検出電極ＴＤＬから検出されるタッチ検出信号Ｖｄｅｔの検出タイミングを示す。タッチ検出期間Ｐ２中には、交流矩形波Ｓｇに応じて駆動された駆動電極ＶＣＯＭが設けられているＶ方向の位置でタッチ操作が行われているかどうかをタッチ検出信号Ｖｄｅｔに基づいて検出可能になる。すなわち、タッチ検出期間Ｐ２においてタッチ検出が行われる。
　図１５に示すＰｓｅｌｅｃｔは、タッチ検出期間Ｐ２中に検出されたタッチ操作の位置に対応するひずみゲージ回路Ｘ及びひずみゲージ回路Ｙと検出回路５０とを接続するよう切替回路６０を動作させる信号の出力タイミングを示す。実施形態では、押力検出期間Ｐ３中、タッチ操作の位置に対応する一部のひずみゲージ回路Ｘ及び一部のひずみゲージ回路Ｙが第１状態Ｄ１になって検出回路５０と接続される。なお、押力検出期間Ｐ３中の駆動電極ＶＣＯＭの電位は、走査線７０及び信号線８０のノイズ発生を抑制するためのシールド電位ＤＣで保たれる。シールド電位ＤＣは、例えば接地電位（グランド電位）である。
　図１６は、タッチ検出期間Ｐ２中に検出されたタッチ検出位置ＡＰと、押力検出期間Ｐ３中に検出回路５０と接続されるひずみゲージ回路Ｘ及びひずみゲージ回路Ｙとの関係を示す模式図である。実施形態では、表示領域ＯＡ内においてタッチ検出期間Ｐ２中に検出されたタッチ検出位置ＡＰにより近い位置にある２つのひずみゲージ回路Ｘと、タッチ検出位置ＡＰにより近い位置にある２つのひずみゲージ回路Ｙとが押力検出に用いられる。切替回路６０は、当該２つのひずみゲージ回路Ｘと当該２つのひずみゲージ回路Ｙとを押力検出期間Ｐ３中に第１状態Ｄ１にするよう第１スイッチブロックＳＢＸ１，ＳＢＹ１、第２スイッチブロックＳＢ２に含まれるスイッチを切り替える。図１６においてタッチ検出位置ＡＰにより近い位置にある２つのひずみゲージ回路Ｘは、ひずみゲージ回路Ｘ１とひずみゲージ回路Ｘ２である。また、図１６においてタッチ検出位置ＡＰにより近い位置にある２つのひずみゲージ回路Ｙは、ひずみゲージ回路Ｙ２とひずみゲージ回路Ｙ３である。
　図１７は、図１６に示すひずみゲージ回路Ｘ１，Ｘ２と、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２とを用いて構成される第２回路ＣＡを示す図である。検出回路５０は、タッチ検出位置ＡＰにより近い位置にある２つのひずみゲージ回路Ｘと、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２とを接続してホイートストンブリッジとして機能する回路を形成する。具体的には、図１７に示すように、ひずみゲージ回路Ｘ１の一端と、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１の一端とが接続される。また、ひずみゲージ回路Ｘ１の他端と、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ２の一端とが接続される。また、ひずみゲージ回路Ｘ２の一端と、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１の他端とが接続される。また、ひずみゲージ回路Ｘ２の他端と、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ２の他端とが接続される。検出回路５０は、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１の一端側を相対的な高電位（ＶＨ）とし、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ２の他端側を相対的な低電位（ＶＬ）とすることで、この回路に定電流を流す。検出回路５０は、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１の他端側の電位（Ｖａ（Ｘ））と第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ２の一端側の電位（Ｖｂ（Ｘ））との電位差に基づいて、ひずみゲージ回路Ｘ１及びひずみゲージ回路Ｘ２に生じているひずみの度合いに対応する押力を検出する。換言すれば、検出回路５０は、ひずみゲージ回路の抵抗値の差に基づいて押力を検出する。
　図１８は、図１６に示すひずみゲージ回路Ｙ２，Ｙ３と、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２とを用いて構成される第１回路ＣＢを示す図である。検出回路５０は、タッチ検出位置ＡＰにより近い位置にある２つのひずみゲージ回路Ｙと、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２とを接続してホイートストンブリッジとして機能する回路を形成する。具体的には、図１８に示すように、ひずみゲージ回路Ｙ２の一端と、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１の一端とが接続される。また、ひずみゲージ回路Ｙ２の他端と、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ２の一端とが接続される。また、ひずみゲージ回路Ｙ３の一端と、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１の他端とが接続される。また、ひずみゲージ回路Ｙ３の他端と、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ２の他端とが接続される。検出回路５０は、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１の一端側を相対的な高電位（ＶＨ）とし、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ２の他端側を相対的な低電位（ＶＬ）とすることで、この回路に定電流を流す。検出回路５０は、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１の他端側の電位（Ｖａ（Ｙ））と第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ２の一端側の電位（Ｖｂ（Ｙ））との電位差に基づいて、ひずみゲージ回路Ｙ１及びひずみゲージ回路Ｙ２に生じているひずみの度合いに対応する押力を検出する。
　タッチ操作に伴い、タッチ検出位置ＡＰからカバーガラスＣＧ、偏光板３５を介して表示パネルＰＡに押力が加えられると、タッチ検出位置ＡＰに対応するＨ方向の位置とＶ方向の位置との交差位置を中心として、第１基板２がひずむ。これに伴い、走査線７０及び信号線８０にもひずみが生じる。そこで、ひずみゲージ回路Ｘ及びひずみゲージ回路Ｙを用いてひずみを検出するための回路（ホイートストンブリッジ）として機能させることで、ひずみの度合いに対応する押力を検出することができる。
　ひずみゲージ回路Ｘ、ひずみゲージ回路Ｙに生じているひずみの度合いと、導出される押力との関係は任意である。例えば、検出回路５０は、ホイートストンブリッジで生じた電位差からひずみゲージ回路Ｘ、ひずみゲージ回路Ｙに生じているひずみの度合いを検出し、ひずみの度合いと当該ひずみを生じさせる押力の大きさとを対応付ける参照データに基づいてひずみの度合いを押力に変換するようにしてもよい。また、検出回路５０は、ホイートストンブリッジで生じる電位差と当該電位差が生じるひずみの原因となる押力の大きさとを直接対応付ける参照データに基づいて、電位差から押力の大きさを導出するようにしてもよい。いずれの場合であっても、参照データは、表示装置１に対して予め定められた押力を表示領域ＯＡ内の所定位置に加えた場合にひずみゲージ回路Ｘ、ひずみゲージ回路Ｙに生じるひずみの度合いによって生じる電位差の変化を事前に測定することで得られる。参照データは、検出回路５０が保持していてもよいし、検出回路５０から参照可能に設けられた他の記憶回路が保持していてもよい。
　なお、検出回路５０は、タッチ操作及びタッチ操作に伴う押押力がない場合の基準となる電位差を示す情報を保持し、ホイートストンブリッジとして機能する回路（図１７、図１８参照）から得られた電位差と当該基準となる電位差との差異に基づいて「押力が加わっているか否か（ひずみが生じているかどうか）」を２値的に判定する構成であってもよい。
　実施形態では、図１２に示すように、切替回路６０に入力される信号出力Ｖｏｕｔに基づいて、切替回路６０がタッチ検出位置ＡＰを特定して当該タッチ検出位置ＡＰに対応するひずみゲージ回路Ｘ及びひずみゲージ回路Ｙの第１スイッチブロックＳＢＸ１，ＳＢＹ１及び第２スイッチブロックＳＢ２を制御する。そして、第１状態Ｄ１になったひずみゲージ回路Ｘ及びひずみゲージ回路Ｙが接続された場合に検出回路５０が自動的に図１７及び図１８を参照して説明したホイートストンブリッジの回路接続を成立させて定電流を流し、電位差に基づいてひずみ（押力）を検出する仕組みである。ただし、タッチ検出に対応する押力検出制御の仕組みはこれに限られるものでない。例えば、タッチ検出位置ＡＰに対応するひずみゲージ回路Ｘ及びひずみゲージ回路Ｙを特定する専用の回路を設け、当該回路が検出回路５０及び切替回路６０の動作を制御するようにしてもよい。
　図１９は、表示装置１の動作の流れを示すフローチャートである。まず、表示期間Ｐ１中に画素Ｐｉｘに対する画素信号Ｖｐｉｘの書き込みが行われる（ステップＳ１）。次に、タッチ検出期間Ｐ２中にタッチ検出が行われる（ステップＳ２）。切替回路６０は、信号出力Ｖｏｕｔに基づいてタッチ操作が検出されたか判定する（ステップＳ３）。
　タッチ操作が検出された場合（ステップＳ３；Ｙｅｓ）、切替回路６０は、タッチ検出位置ＡＰに応じた２つのひずみゲージ回路Ｘ及び２つのひずみゲージ回路Ｙを選択し、当該２つのひずみゲージ回路Ｘ及び２つのひずみゲージ回路Ｙの第１スイッチブロックＳＢＸ１，ＳＢＹ１及び第２スイッチブロックＳＢ２に含まれるスイッチの開閉を制御して第１状態Ｄ１にし、当該２つのひずみゲージ回路Ｘ及び２つのひずみゲージ回路Ｙを検出回路５０に接続する（ステップＳ４）。検出回路５０は、ステップＳ４で接続された２つのひずみゲージ回路Ｘと第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２とを含むホイートストンブリッジ及びステップＳ４で接続された２つのひずみゲージ回路Ｙと第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２とを含むホイートストンブリッジで検出された電位差に基づいて、当該２つのひずみゲージ回路Ｘ及び２つのひずみゲージ回路Ｙに生じているひずみに対応する押力を検出する（ステップＳ５）。
　ステップＳ５の処理後又はステップＳ３でタッチ操作が検出されなかった場合（ステップＳ３；Ｎｏ）、表示装置１の動作が終了していない限り（ステップＳ６；Ｎｏ）、再度ステップＳ１に移行する。表示装置１の動作が終了した場合（ステップＳ６；Ｙｅｓ）、表示装置１で行われる処理は終了する。
　以上説明したように、実施形態の表示装置１は、複数の走査線７０と、複数の信号線８０と、画素Ｐｉｘと、表示パネルＰＡと、第１切替部及び第２切替部の少なくとも一方と、検出回路５０と、を備える。複数の走査線７０は、行方向（Ｈ方向）に延出して列方向（Ｖ方向）に並ぶ。複数の信号線８０は、列方向（Ｖ方向）に延出して行方向（Ｈ方向）に並ぶ。画素Ｐｉｘは、走査線７０に供給される駆動信号Ｖｃｏｍと信号線８０に供給される画素信号Ｖｐｉｘに基づいて駆動される。表示パネルＰＡには、複数の走査線７０及び複数の信号線８０が設けられている。第１切替部として機能するのは、ひずみゲージ回路Ｙにおいて、複数の走査線７０のうち２以上の第１の所定数の走査線７０を直列に接続する接続路を開閉する第１スイッチブロックＳＢＹ１及び第２スイッチブロックＳＢ２である。第２切替部として機能するのは、ひずみゲージ回路Ｘにおいて、複数の信号線８０のうち２以上の第２の所定数の信号線８０を直列に接続する接続路を開閉する第１スイッチブロックＳＢＸ１及び第２スイッチブロックＳＢ２である。検出回路５０は、第１回路ＣＢ及び第２回路ＣＡの少なくとも一方に電流（定電流）を流すことで検出された電位に基づいて表示パネルＰＡに加わる押力を検出する。第１回路ＣＢは、ひずみゲージ回路Ｙの第１スイッチブロックＳＢＹ１及び第２スイッチブロックＳＢＹ２によって直列に接続された第１の所定数の走査線７０を含む。第２回路ＣＡは、ひずみゲージ回路Ｘの第１スイッチブロックＳＢＸ１及び第２スイッチブロックＳＢＸ２によって直列に接続された第２の所定数の信号線８０を含む。
　従って、走査線７０及び信号線８０の少なくとも一方を利用してひずみゲージとして機能する回路を構成することができ、押力検知専用の構成を別途表示パネルＰＡに重ねることなく表示パネルＰＡに加わる押力を検知することができる。
　また、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２は、ひずみゲージ回路Ｙの第１スイッチブロックＳＢＹ１及び第２スイッチブロックＳＢ２によって直列に接続された一続きの第１の所定数の走査線７０の長さに対応する長さを有する。第１回路ＣＢは、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２を含む。従って、ホイートストンブリッジとして機能する回路構成を利用したより高精度なひずみ及び押力の検出を行うことができる。
　また、ひずみゲージ回路Ｙの第１スイッチブロックＳＢＹ１及び第２スイッチブロックＳＢ２は、列方向（Ｖ方向）に隣接する２つの走査線７０の一端同士を接続するスイッチ（スイッチＳＷ１２，ＳＷ２１，ＳＷ２２）を含む。従って、簡易な構成で走査線７０を直列に接続することができる。
　また、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２は、ひずみゲージ回路Ｘの第１スイッチブロックＳＢＸ１及び第２スイッチブロックＳＢ２によって直列に接続された一続きの第２の所定数の信号線８０の長さに対応する長さを有する。第２回路ＣＡは、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２を含む。従って、ホイートストンブリッジとして機能する回路構成を利用したより高精度なひずみ及び押力の検出を行うことができる。
　また、ひずみゲージ回路Ｘの第１スイッチブロックＳＢＸ１及び第２スイッチブロックＳＢ２は、行方向（Ｈ方向）に隣接する２つの信号線８０の一端同士を接続するスイッチ（スイッチＳＷ１２，ＳＷ２１，ＳＷ２２）を含む。従って、簡易な構成で信号線８０を直列に接続することができる。
　また、表示面ＳＡに対するタッチ操作を検出するタッチ検出デバイス３０を備え、検出回路５０は、タッチ検出位置ＡＰに対応するひずみゲージ回路Ｙを含む第１回路ＣＢ及びタッチ検出位置ＡＰに対応するひずみゲージ回路Ｘを含む第２回路ＣＡの少なくとも一方に電流を流すことで検出された電位に基づいて表示パネルＰＡに加わる押力を検出する。従って、タッチ検出位置ＡＰを中心に発生しうるひずみ及び押力をより確実に検出することができる。なお、図１６を参照した説明では、タッチ検出位置ＡＰが１箇所である場合を例示しているが、タッチ検出位置ＡＰが表示領域ＯＡ内の複数個所に存在する場合、各タッチ検出位置ＡＰで個別に第１回路ＣＢ及び第２回路ＣＡを設定してもよい。従って、表示パネルＰＡ全体のひずみ及び押力をより詳細に検出することができる。
　また、検出回路５０は、タッチ検出位置ＡＰに対応する２組のひずみゲージ回路Ｙを含む第１回路ＣＢ及びタッチ検出位置ＡＰに対応する２組のひずみゲージ回路Ｘを含む第２回路ＣＡに電流を流すことで検出された電位に基づいて表示パネルＰＡに加わる押力を検出する。従って、タッチ検出位置ＡＰを中心に発生しうるひずみ及び押力をより確実に検出することができる。
　なお、実施形態のタッチ検出デバイス３０は所謂相互静電容量方式でタッチ検出を行っているが、タッチ検出の方式はこれに限られるものでない。例えば、タッチ操作に伴うタッチ検出電極ＴＤＬの自己静電容量の変化に基づいてタッチ検出を行う所謂自己静電容量方式を採用してもよい。
　また、タッチ検出デバイス３０は省略可能である。この場合、タッチ検出期間Ｐ２が省略され、表示期間Ｐ１と押力検出期間Ｐ３とが交互に実施される。また、この場合、ひずみゲージ回路Ｘ及びひずみゲージ回路Ｙはそれぞれ２つ設けられる。また、この場合、２つのひずみゲージ回路Ｘは、それぞれ走査線７０の総数の半分以下の走査線７０を含む。また、この場合、２つのひずみゲージ回路Ｙは、それぞれ信号線８０の総数の半分以下の信号線８０を含む。
　また、実施形態では、表示パネルＰＡが透過型の液晶表示パネルである場合を例示したが、これに限られるものでない。その他の表示パネルの適用例として、半透過型又は反射型の液晶表示パネル、有機エレクトロルミネセンス（ＥＬ：Electroluminescence）を利用した表示パネル、その他の自発光型表示パネル、あるいは電気泳動素子等を有する電子ペーパー型表示パネル等、あらゆるフラットパネル型の画像表示装置が挙げられる。また、中小型から大型まで、特に限定することなく適用が可能であることは言うまでもない。
　また、ひずみゲージ回路Ｘ又はひずみゲージ回路Ｙの一方のみを備えていてもよい。すなわち、ひずみゲージ回路Ｘ又はひずみゲージ回路Ｙの他方は省略されてもよい。その場合、押力検出期間Ｐ３において検出回路５０と接続されるのは、ひずみゲージ回路Ｘ又はひずみゲージ回路Ｙの一方のみとなる。
（変形例１）
　図２０は、押力検出部の構成例を示す等価回路図である。図２０に示す構成例において、押力検出部１４０は、正電源電位ＶＤＤと接地電位ＧＮＤとの間に、第１の押力センサ１４１と第２の押力センサ１４２とが直列に接続され、中点電圧ＶＯＵＴが検出回路４３に出力される態様を例示している。　
　検出回路４３は、第１の押力センサ１４１と第２の押力センサ１４２との中点電圧ＶＯＵＴに基づき、表示領域ＯＡに加えられた押力を検出する。　
　第１の押力センサ１４１の半導体抵抗素子４１１は、表示領域１１ａに加えられた押力によって抵抗値が変化する可変抵抗と見做せる。　
　第１の押力センサ１４１は、例えばひずみゲージ回路Ｘ又はひずみゲージ回路Ｙの一方である。第２の押力センサ１４２は、第１の押力センサ１４１がひずみゲージ回路Ｘである場合、第２基準配線ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２である。また、第２の押力センサ１４２は、第１の押力センサ１４１がひずみゲージ回路Ｙである場合、第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２である。
　正電源電位ＶＤＤ、接地電位ＧＮＤ、中点電圧ＶＯＵＴは、検出回路５０内にあるか、検出回路５０の制御によりそれぞれ接続される。
（変形例２）
　例えば、ひずみゲージ回路Ｙ３の位置で押力が加わっていると仮定すると、ひずみゲージ回路Ｙ１とひずみゲージ回路Ｙ３のひずみは異なるはずである。従って、この仮定の下でひずみゲージ回路Ｙ１及びひずみゲージ回路Ｙ３に定電流を流した場合、ひずみゲージ回路Ｙ１とひずみゲージ回路Ｙ３では電位差が異なるものになるはずである。ここでいう電位差とは、上述の第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ１の他端側の電位（Ｖａ（Ｙ））と第１基準配線ｒｅｆ＿Ｙ２の一端側の電位（Ｖｂ（Ｙ））との電位差をさす。このような電位差の相違によって、押力の位置が検出可能になる。また、電位差と、当該電位差を生じさせる押力の大きさとを対応付ける参照データにより、押力が測定可能になる。当該参照データは、例えば検出回路５０で保持され、検出回路５０内の演算で参照される。
　また、本実施形態において述べた態様によりもたらされる他の作用効果について本明細書記載から明らかなもの、又は当業者において適宜想到し得るものについては、当然に本発明によりもたらされるものと解される。
　本発明の記載は、以下のようにすることができる。
（１）行方向に延出して列方向に並ぶ複数の走査線と、列方向に延出して行方向に並ぶ複数の信号線と、前記複数の走査線と前記複数の信号線に電気的に接続される複数の画素と、前記複数の走査線、前記複数の信号線、及び前記複数の画素が設けられた表示領域と、前記複数の走査線のうち２以上の第１の所定数の走査線を直列に接続する接続路を開閉する第１切替部、及び、前記複数の信号線のうち２以上の第２の所定数の信号線を直列に接続する接続路を開閉する第２切替部の少なくとも一方と、前記第１切替部によって直列に接続された前記第１の所定数の走査線を含む第１回路及び前記第２切替部によって直列に接続された前記第２の所定数の信号線を含む第２回路の少なくとも一方に電流を流すことで検出された電位に基づいて前記表示領域に加わる押力を検出する検出回路と、を備える表示装置。
（２）前記第１切替部と第１基準配線を備え、前記第１基準配線は、前記第１切替部によって直列に接続された一続きの前記第１の所定数の走査線の長さと同じ長さを有し、前記第１回路は、前記第１基準配線を含む（１）に記載の表示装置。
（３）前記第１切替部は、前記列方向に隣接する２つの走査線の一端同士を接続するスイッチを含む（２）に記載の表示装置。
（４）前記第１基準配線は、前記表示領域の周囲の額縁領域に配置される（２）又は（３）に記載の表示装置。
（５）前記第２切替部と第２基準配線を備え、前記第２基準配線は、前記第２切替部によって直列に接続された一続きの前記第２の所定数の信号線の長さと同じ長さを有し、前記第２回路は、前記第２基準配線を含む（１）から（４）のいずれか一つに記載の表示装置。
（６）前記第２切替部は、前記行方向に隣接する２つの信号線の一端同士を接続するスイッチを含む（５）に記載の表示装置。
（７）前記第２基準配線は、前記表示領域の周囲の額縁領域に配置される（５）又は（６）に記載の表示装置。
（８）前記表示領域でタッチ操作を検出するタッチ検出部を備え、前記検出回路は、前記タッチ操作が検出された位置に対する押力を検出する（１）から（７）のいずれか１つに記載の表示装置。
（９）行方向に延出して列方向に並ぶ複数の走査線と、列方向に延出して行方向に並ぶ複数の信号線と、前記複数の走査線と前記複数の信号線に電気的に接続される複数の画素と、前記複数の走査線、前記複数の信号線、及び前記複数の画素が設けられた表示領域と、前記複数の走査線のうち２以上の第１の所定数の走査線を直列に接続する接続路を開閉する第１切替部、及び、前記複数の信号線のうち２以上の第２の所定数の信号線を直列に接続する接続路を開閉する第２切替部の少なくとも一方と、直列に接続された一続きの前記第１の所定数の走査線の一端と電気的に接続される第１基準配線、及び、直列に接続された一続きの前記第２の所定数の信号線の一端と電気的に接続される第２基準配線の少なくとも一方と、前記走査線と前記第１基準配線、並びに、前記信号線と前記第２基準配線の少なくとも一方と電気的に接続される、検出回路と、を有し、前記第１基準配線は、前記直列に接続された一続きの前記第１の所定数の走査線の長さと、同じ長さを有し、前記第２基準配線は、前記直列に接続された一続きの前記第２の所定数の信号線の長さと、同じ長さを有する表示装置。
（１０）前記第１切替部は、前記列方向に隣接する２つの走査線の一端同士を接続するスイッチを含む（９）に記載の表示装置。
（１１）前記第２切替部は、前記行方向に隣接する２つの信号線の一端同士を接続するスイッチを含む（９）又は（１０）に記載の表示装置。
（１２）前記表示領域でタッチ操作を検出するタッチ検出部を備える（９）から（１１）のいずれか一つに記載の表示装置。
（１３）前記第１基準配線及び前記第２基準配線の少なくとも一方は、前記表示領域の周囲の額縁領域に配置される（９）から（１２）のいずれか一つに記載の表示装置。
１　　表示装置
３０　タッチ検出デバイス
５０　検出回路
７０　走査線
８０　信号線
ＣＡ　第２回路
ＣＢ　第１回路
ＰＡ　表示パネル
Ｐｉｘ　画素
ｒｅｆ＿Ｘ１，ｒｅｆ＿Ｘ２　第２基準配線
ｒｅｆ＿Ｙ１，ｒｅｆ＿Ｙ２　第１基準配線
ＳＢ１　第１スイッチブロック
ＳＢ２　第２スイッチブロック
ＳＷ１１，ＳＷ１２，ＳＷ１３，ＳＷ１４，ＳＷ１５，ＳＷ１６，ＳＷ１７，ＳＷ２１，ＳＷ２２　スイッチ

Claims (13)

  1. 　行方向に延出して列方向に並ぶ複数の走査線と、
    　列方向に延出して行方向に並ぶ複数の信号線と、
    　前記複数の走査線と前記複数の信号線に電気的に接続される複数の画素と、
    　前記複数の走査線、前記複数の信号線、及び前記複数の画素が設けられた表示領域と、
    　前記複数の走査線のうち２以上の第１の所定数の走査線を直列に接続する接続路を開閉する第１切替部、及び、前記複数の信号線のうち２以上の第２の所定数の信号線を直列に接続する接続路を開閉する第２切替部の少なくとも一方と、
    　前記第１切替部によって直列に接続された前記第１の所定数の走査線を含む第１回路及び前記第２切替部によって直列に接続された前記第２の所定数の信号線を含む第２回路の少なくとも一方に電流を流すことで検出された電位に基づいて前記表示領域に加わる押力を検出する検出回路と、
    　を備える表示装置。
  2. 　前記第１切替部と第１基準配線を備え、
    　前記第１基準配線は、前記第１切替部によって直列に接続された一続きの前記第１の所定数の走査線の長さと同じ長さを有し、
    　前記第１回路は、前記第１基準配線を含む
    　請求項１に記載の表示装置。
  3. 　前記第１切替部は、前記列方向に隣接する２つの走査線の一端同士を接続するスイッチを含む
    　請求項２に記載の表示装置。
  4. 　前記第１基準配線は、前記表示領域の周囲の額縁領域に配置される
    　請求項２又は３に記載の表示装置。
  5. 　前記第２切替部と第２基準配線を備え、
    　前記第２基準配線は、前記第２切替部によって直列に接続された一続きの前記第２の所定数の信号線の長さと同じ長さを有し、
    　前記第２回路は、前記第２基準配線を含む
    　請求項１から４のいずれか一項に記載の表示装置。
  6. 　前記第２切替部は、前記行方向に隣接する２つの信号線の一端同士を接続するスイッチを含む
    　請求項５に記載の表示装置。
  7. 　前記第２基準配線は、前記表示領域の周囲の額縁領域に配置される
    　請求項５又は６に記載の表示装置。
  8. 　前記表示領域でタッチ操作を検出するタッチ検出部を備え、
    　前記検出回路は、前記タッチ操作が検出された位置に対する押力を検出する
    　請求項１から７のいずれか一項に記載の表示装置。
  9. 　行方向に延出して列方向に並ぶ複数の走査線と、
    　列方向に延出して行方向に並ぶ複数の信号線と、
    　前記複数の走査線と前記複数の信号線に電気的に接続される複数の画素と、
    　前記複数の走査線、前記複数の信号線、及び前記複数の画素が設けられた表示領域と、
    　前記複数の走査線のうち２以上の第１の所定数の走査線を直列に接続する接続路を開閉する第１切替部、及び、前記複数の信号線のうち２以上の第２の所定数の信号線を直列に接続する接続路を開閉する第２切替部の少なくとも一方と、
    　直列に接続された一続きの前記第１の所定数の走査線の一端と電気的に接続される第１基準配線、及び、直列に接続された一続きの前記第２の所定数の信号線の一端と電気的に接続される第２基準配線の少なくとも一方と、
    　前記走査線と前記第１基準配線、並びに、前記信号線と前記第２基準配線の少なくとも一方と電気的に接続される、検出回路と、
    　を有し、
    　前記第１基準配線は、前記直列に接続された一続きの前記第１の所定数の走査線の長さと、同じ長さを有し、
    　前記第２基準配線は、前記直列に接続された一続きの前記第２の所定数の信号線の長さと、同じ長さを有する
    　表示装置。
  10. 　前記第１切替部は、前記列方向に隣接する２つの走査線の一端同士を接続するスイッチを含む
    　請求項９に記載の表示装置。
  11. 　前記第２切替部は、前記行方向に隣接する２つの信号線の一端同士を接続するスイッチを含む
    　請求項９又は１０に記載の表示装置。
  12. 　前記表示領域でタッチ操作を検出するタッチ検出部を備える
    　請求項９から１１のいずれか一項に記載の表示装置。
  13. 　前記第１基準配線及び前記第２基準配線の少なくとも一方は、前記表示領域の周囲の額縁領域に配置される
    　請求項９から１２のいずれか一項に記載の表示装置。
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