WO2020117123A3 - Dispositif d'ouverture et agencement d'analyseur - Google Patents

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Abstract

L'invention concerne un dispositif d'ouverture (31) pouvant être fixé à un système de lentille (13) comprenant une première extrémité (36), et une seconde extrémité (37) à une certaine distance de la première extrémité (36). Le dispositif d'ouverture comprend une paroi de surface d'extrémité (40) ayant une surface d'extrémité (S) et un moyen d'ouverture (39) comprenant au moins une ouverture (38), le dispositif d'ouverture (31) étant destiné à être agencé de sorte que la surface d'extrémité (S) soit située face à une surface d'échantillon (Ss) qui émet des particules à partir d'une région qui s'étend le long d'une première direction (a). Le système de lentilles (13) est agencé pour former un faisceau de particules chargées, émis à partir de la surface d'échantillon (Ss). Le moyen d'ouverture (39) dans la surface d'extrémité (S) s'étend le long d'une seconde direction (b), le dispositif d'ouverture (31) étant destiné à être agencé de sorte que la seconde direction (b) soit sensiblement alignée le long de la première direction (a) afin de maximiser le nombre de particules qui entrent dans le moyen d'ouverture (39).
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090152460A1 (en) * 2007-11-13 2009-06-18 Carl Zeiss Nts Gmbh System for Processing an Object
US20110186719A1 (en) * 2005-11-07 2011-08-04 Fibics Incorporated Apparatus and method for surface modification using charged particle beams

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110186719A1 (en) * 2005-11-07 2011-08-04 Fibics Incorporated Apparatus and method for surface modification using charged particle beams
US20090152460A1 (en) * 2007-11-13 2009-06-18 Carl Zeiss Nts Gmbh System for Processing an Object

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ANONYMOUS: "4er Set Salzstreuer Pfefferstreuer Streuer Gewürzstreuer gewürzgläser Pfeffer Salz Glas Metall Mühle gelb rot blau grün: Amazon.de: Küche & Haushalt", 21 September 2016 (2016-09-21), XP055668726, Retrieved from the Internet <URL:https://www.amazon.de/Salzstreuer-Pfefferstreuer-Streuer-Gewürzstreuer-gewürzgläser/dp/B076Q7RYCB> [retrieved on 20200214] *

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