WO2020104015A1 - Prüfvorrichtung, prüfsystem und prüfverfahren - Google Patents

Prüfvorrichtung, prüfsystem und prüfverfahren

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WO2020104015A1
WO2020104015A1 PCT/EP2018/081877 EP2018081877W WO2020104015A1 WO 2020104015 A1 WO2020104015 A1 WO 2020104015A1 EP 2018081877 W EP2018081877 W EP 2018081877W WO 2020104015 A1 WO2020104015 A1 WO 2020104015A1
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WO
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transmission interface
optical
housing
data transmission
interface
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Application number
PCT/EP2018/081877
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English (en)
French (fr)
Inventor
Josef Pollinger
Original Assignee
Lisa Dräxlmaier GmbH
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Publication date
Application filed by Lisa Dräxlmaier GmbH filed Critical Lisa Dräxlmaier GmbH
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
    • G01R19/2513Arrangements for monitoring electric power systems, e.g. power lines or loads; Logging
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B60VEHICLES IN GENERAL
    • B60RVEHICLES, VEHICLE FITTINGS, OR VEHICLE PARTS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B60R21/00Arrangements or fittings on vehicles for protecting or preventing injuries to occupants or pedestrians in case of accidents or other traffic risks
    • B60R21/01Electrical circuits for triggering passive safety arrangements, e.g. airbags, safety belt tighteners, in case of vehicle accidents or impending vehicle accidents
    • B60R21/017Electrical circuits for triggering passive safety arrangements, e.g. airbags, safety belt tighteners, in case of vehicle accidents or impending vehicle accidents including arrangements for providing electric power to safety arrangements or their actuating means, e.g. to pyrotechnic fuses or electro-mechanic valves
    • B60R21/0173Diagnostic or recording means therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/005Testing of electric installations on transport means
    • G01R31/006Testing of electric installations on transport means on road vehicles, e.g. automobiles or trucks

Definitions

  • the present invention relates to a test device for decoupled testing of an electrical system. Furthermore, the present invention discloses a corresponding test system and a corresponding test method.
  • the present invention is explained below mainly in connection with the testing of vehicle systems. It is understood that the present invention can also be used with other electrical systems.
  • Airbag modules contain a certain amount of explosives. Such systems must therefore be tested in a safe environment so that detonation of the detonator is reliably prevented.
  • an electrical resistance measurement is usually carried out using an electrical test system. In the event of a malfunction of the test system or due to external influences from the surroundings of this test system, an inadmissibly high electrical current can be generated, which ignites the airbag module.
  • Typical current values for airbag modules are:
  • the first optical data transmission interface is designed to exchange data with the second optical data transmission interface
  • the first optical energy transmission interface is designed to transmit electrical energy to the second optical energy transmission interface
  • the measurement interface can be coupled to the electrical system.
  • a test system according to the invention has: an electrical system, and a test device according to the present invention, the measuring unit of the test device being integrated in the electrical system.
  • the present invention is based on the knowledge that a line-based testing of electrical systems enables the transmission of high fault voltages and currents. Furthermore, the present invention takes into account the fact that an active measuring circuit or electronics is usually required on the electrical system or DUT (Device Under Test) side.
  • the electrical system is coupled to the measuring system via lines or cables.
  • High currents and voltages can be transmitted to or from the electrical system via such cables or lines.
  • the present invention provides the test device in which the signal processing unit and the measuring unit are provided separately from one another.
  • separated means that these two units are at least electrically or galvanically separated from one another.
  • the signal processing unit has an energy supply interface, via which it is supplied with electrical energy.
  • the energy supply interface can be a conventional 230 V interface, for example.
  • the signal processing unit can be coupled to the electrical energy network via the energy supply interface, for example via a conventional cable with a mains plug.
  • the relevant components for example control units and computers, can consequently be supplied with electrical energy, which are required for controlling and / or evaluating the measurement process.
  • those elements which are required to carry out the actual measurement can be arranged in the measuring unit.
  • the data from the signal processing unit for controlling the measuring electronics can be transmitted via the first optical data transmission interface and the second optical data transmission interface and can be evaluated by the measuring electronics.
  • the measured values obtained can then be transmitted from the second optical data transmission interface to the first optical data transmission interface and evaluated in the signal processing unit.
  • Optical data transmission can e.g. with the help of a (bidirectional) optocoupler.
  • a (bidirectional) optocoupler can be provided as an integrated component.
  • such an optocoupler can also be constructed discretely. This enables the individual components, e.g. Transmitting diode and receiving diode / transistor, spatially separated from each other.
  • the data is consequently transmitted between the signal processing unit and the measuring unit in a contactless and galvanically isolated manner.
  • the first optical energy transmission interface is provided in the signal processing unit in order to transmit electrical energy.
  • the second optical energy transmission interface is provided in the measuring unit in order to receive the electrical energy. Since the interfaces for energy transmission are also made contactless, the measuring unit is completely electrically or galvanically decoupled from the signal processing unit. As a result, no overvoltages or currents can be transmitted from the signal processing unit to the measuring unit or vice versa.
  • the housings of the signal processing unit and the measuring unit can be shielded and / or grounded accordingly.
  • Battery systems such as Used in e-mobility, have a high stored energy and can therefore provide high direct currents and high direct voltages. Since battery systems are energy storage devices, they cannot, of course, be switched off. This can be particularly problematic in the event of an error.
  • the test system comprises the electronic system and the test device.
  • the measuring unit is integrated directly into the electronic system.
  • the signal processing unit can be used as a mobile unit, e.g. as a mobile unit for a service technician.
  • service technicians can e.g. also carry out measurements on high-voltage systems without them coming into direct contact with live parts.
  • a backflow of high voltages into the mobile signal processing unit can be reliably prevented.
  • the measuring unit can have a detection device which is coupled to the second optical data transmission interface and which is designed to detect physical quantities relating to the electrical system and to output them via the second optical data transmission interface.
  • the detection device can also be referred to as measuring electronics.
  • the detection device contains those components and / or circuits that are required to detect the physical quantities in the electrical system.
  • the physical quantities to be recorded can e.g. Currents, voltages and / or tem peratures or the like.
  • the detection device can consequently have corresponding sensors for detecting these variables, which can be coupled to the electrical system or feed lines of the electrical system.
  • the detection device can have a control unit or a control computer. This can e.g. be designed as a microcontroller.
  • the control unit can primarily serve to record the measured values relating to the physical quantities and to transmit these measured values via the second optical data transmission interface. Additional functions, such as Timer functions, trigger functions and the like can be provided in the signal processing unit.
  • control unit can also be implemented in the control unit.
  • trigger functions and timer functions can also be provided in the control unit.
  • complete test programs can also be stored in the control unit and the control unit can be designed to execute or execute these test programs. It is understood that e.g. An external trigger can be transmitted to the control unit via the first optical data transmission interface and the second optical data transmission interface, which causes the start of such a test program.
  • control unit can have, for example, a microcontroller which can be designed for operation at low voltages.
  • microcontrollers are also referred to as low-power microcontrollers or ultra-low-power microcontrollers and can be designed, for example, for operating voltages from 1 V to 5 V or the like.
  • the detection device can be coupled to the second optical energy transmission interface and can be supplied with electrical energy via the second optical energy transmission interface.
  • the second optical energy transmission interface serves to receive the electrical energy required to supply the elements of the measuring unit.
  • the detection device can be an active element, it can also be supplied with electrical energy via the second optical energy transmission interface.
  • the second optical energy transmission interface can be designed such that it can only supply the energy required to operate the measuring unit, but e.g. not the amount of energy required to ignite a squib in an airbag module.
  • the second optical energy transmission interface can consequently be dimensioned in such a way that the maximum voltages and currents provided are below the corresponding limit values.
  • the first optical energy transmission interface can have a light source
  • the second optical energy transmission interface can have a photovoltaic generator
  • the energy transmission between the first optical energy transmission interface and the second optical energy transmission interface can consequently take place in a similar way to the energy generation with a solar cell which is illuminated by the sun.
  • the first optical energy transmission interface can have a light source which emits a controlled luminous flux.
  • the light source can e.g. an LED, a laser diode, a lamp or any other light source.
  • the second optical energy transmission interface can have a photovoltaic generator, for example a solar cell or the like.
  • a photovoltaic generator for example a solar cell or the like.
  • the generator can receive the emitted light from the first optical energy transmission interface and convert it into electrical energy.
  • further circuits or circuit elements can be provided which can adapt the voltage generated by the photovoltaic generator accordingly.
  • a corresponding DC / DC converter or the like can be provided.
  • the second optical energy transmission interface can be designed in such a way that the electrical energy generated does not exceed a predetermined threshold.
  • the photovoltaic generator can e.g. be designed such that it saturates so that the maximum current that can be generated or the level of the voltage that can be generated is correspondingly limited.
  • the signal processing unit can have a measurement control unit which is designed to generate control signals for the detection device and to output them via the first optical data transmission interface.
  • the measurement control unit can be designed to process test programs and to generate corresponding control signals for the detection device.
  • control signals can e.g. are received and processed in a control unit of the measuring device.
  • Possible control signals can e.g. include starting / stopping a measurement.
  • Other control signals can also be configuration commands that set configuration parameters in the control unit of the detection device.
  • Such parameters can e.g. Output voltages and output currents for measuring interfaces, or measuring ranges for
  • the logic for processing a test program can also be stored in the control unit of the measuring device.
  • the measurement control unit can e.g. via the first optical data transmission interface. transfer the test programs and initiate the execution of a test program.
  • the signal processing unit can be arranged in a first housing, and the measuring unit can be arranged in a second housing, which are optically coupled to one another such that a transmission of light between the first optical data transmission interface and the second optical data transmission interface as well as light from the first optical energy transmission interface to the second optical energy transmission interface is possible.
  • the signal processing unit and the measuring unit can be arranged in different housings, it is possible to shield the housings from one another very efficiently. It only has to be ensured that the optical connection for the data transmission interfaces and the optical connection for the energy transmission interfaces are free and undisturbed. So e.g. a corresponding air gap between the Ge housings be available.
  • optical connections from each other e.g. can be separated by tubes or walls.
  • the light can be transmitted from the first optical energy transmission interface to the second optical energy transmission interface with light of a different wavelength than the light for the data transmission between the first data transmission interface and the second data transmission interface. This can prevent mutual interference.
  • the first housing can be formed as the first half of a total housing and the second housing can be formed as the second half of the total housing.
  • a disk made of optically transparent material can be arranged in the overall housing between the first half and the second half.
  • test device can be constructed very compactly.
  • the signal processing unit in one housing half and the measuring unit in the second housing half, the individual units can be constructed and protected separately. The entire housing then only offers a protected environment for optical data and energy transmission.
  • An optional cutting disc e.g. made of plastic such as plexiglass, can ensure an optimal optical connection. At the same time, the insulation between the two housing halves can be improved.
  • the first housing and the second housing can be coupled to one another via optical waveguides.
  • the housings are coupled to one another in such a way that light signals can be transmitted between the first optical data transmission interface and the second optical data transmission interface and from the first optical energy transmission interface to the second optical energy transmission interface.
  • the signal processing unit and the measuring unit can be placed anywhere and the distance between the two can be approximately any size.
  • Figure 1 is a block diagram of an embodiment of a test device according to the present invention.
  • FIG. 2 shows a block diagram of a further exemplary embodiment of a test device according to the present invention
  • FIG. 3 shows a block diagram of an exemplary embodiment of an overall housing according to the present invention.
  • FIG. 4 is a flowchart of an embodiment of a test method according to the present invention.
  • the figures are merely schematic representations and serve only to explain the invention.
  • the same or equivalent elements are provided with the same reference characters throughout.
  • FIG. 1 shows a block diagram of a test device 100 for decoupled testing of an electrical system.
  • the test device 100 has a signal processing unit 101 and a measuring unit 107.
  • the signal processing unit 101 has an energy supply interface 102 as well as a first optical energy transmission interface 104 and a first optical data transmission interface 103.
  • the measuring unit 107 has a second optical data transmission interface 108 and a second optical energy transmission interface 109, both of which are coupled to a measuring interface 110.
  • the energy supply interface 102 serves to supply the test device 100 with electrical energy.
  • the power supply interface 102 can e.g. be a 230 V or 1 10 V interface, via which the test device 100 can be coupled to a public electricity network.
  • the energy supply interface 102 is coupled to the first optical energy transmission interface 104 and to the first optical data transmission interface 103 in order to supply them with electrical energy 105.
  • the first optical energy transmission interface 104 also serves to transmit the electrical energy 105 optically, that is to say without contact, to the second optical energy transmission interface 109.
  • the first optical energy transmission interface 104 and the second optical energy transmission interface 109 consequently form a unidirectional path for energy transmission.
  • the first optical data transmission interface 103 serves to exchange data with the second optical data transmission interface 108.
  • the first optical data transmission interface 103 and the second optical energy transmission interface 109 consequently form a bidirectional communication channel for data communication.
  • the measurement interface 1 10 can be coupled with an electrical system, also called a DUT, and is used to detect physical quantities 106 in the electrical system.
  • the measurement interface 1 10 is supplied with electrical energy by the second optical energy transmission interface 109 and outputs the detected physical quantities 106 via the second optical data transmission interface 108.
  • a control device can be provided in the signal processing unit 101.
  • a corresponding control device can also be provided in the measuring unit 107.
  • a control device in the signal processing unit 101 can execute a test program and generate corresponding control commands for the control device in the measuring unit 107.
  • the control device in the measuring unit 107 can return the corresponding detected physical quantities 106.
  • the first optical data transmission interface 103 and the second optical data transmission interface 108 e.g. designed as an optocoupler, e.g. a serial data protocol can be used for data transmission.
  • any data protocol can also be selected for the transmission of the data. For example, simple on-off keying can be used.
  • the interfaces between the signal processing unit 101 and the measuring unit 107 are designed as optical interfaces, that is to say galvanically isolated.
  • An error voltage e.g. caused by an error in the voltage supply of the signal processing unit 101 cannot consequently propagate to the measuring unit 107.
  • Airbags are advantageous when testing devices.
  • an error voltage e.g. when testing a high-voltage battery, do not propagate from the measuring unit 107 to the signal processing unit 101.
  • FIG. 2 shows a block diagram of a further test device 200.
  • the test device 200 has a signal processing unit 201 and a measuring unit 207.
  • the signal processing unit 201 has a power supply interface 202 for connection to a 230 volt supply network, which is arranged in a control cabinet 213.
  • a measuring control unit designed as a control PC 212 is provided, which is controlled by the switching is coupled through a cable 225 to a first housing 214.
  • the energy supply interface 202 is also coupled to the first housing 214 by the control cabinet 213 via the cable 225. It goes without saying that several separate cables can also be provided for this connection.
  • a control circuit 215 is arranged in the first housing 214.
  • the control circuit 215 is supplied with electrical energy from the control cabinet 213 by the energy supply interface 202 and is in communicative connection with the control PC 212. It is understood that the control PC 212 in other versions e.g. can also be integrated in the control cabinet 213 and e.g. can be run as an embedded PC.
  • the first optical data transmission interface and the second optical data transmission interface are designed as optocouplers 222.
  • the first optical energy transfer interface has a light source 220 and the second optical energy transfer interface has a photovoltaic generator 221, e.g. a solar cell on.
  • a detection device 218 is provided in the measuring unit 207, which is coupled to the photovoltaic generator 221 and the optocoupler 222.
  • the detection device 218 is used for sequence control and measurement value acquisition in the measuring unit 207 and is coupled to the electrical system 250 via the measurement interface 210.
  • Detector 218 may e.g. a microcontroller with appropriate peripherals for energy supply, measured value acquisition and data communication.
  • test device 200 for example, errors in the voltage supply of the power supply interface 202 and the control PC 212 can occur. Such an error can also occur, for example, in the connection between control cabinet 213 and first housing 214. Overvoltages and overcurrents can therefore occur in signal processing unit 201. However, due to the optical interfaces between signal processing unit 201 and measuring unit 207, fault voltages and fault currents cannot be passed on to measuring unit 207.
  • parts of the signal processing unit 201 are arranged in a first housing 214.
  • the measuring unit 207 is arranged in a second housing 217. It goes without saying that the two housings 214, 217 can each be parts of an overall housing (see, for example, FIG. 3).
  • first housing 214 and the second housing 217 can also be set up separately from one another and e.g. be coupled to one another by optical fibers.
  • the second housing 217 can also be integrated in the electrical system 250.
  • FIG. 3 shows a block diagram of an overall housing 323 mentioned above.
  • the total housing 323 has two housing halves, the upper housing half corresponding to the first housing 314 and the lower housing half corresponding to the second housing 317.
  • the interiors of the two housing halves are covered by a disc made of optically transparent material 322, e.g. a glass plate, separated from each other to improve the insulation between the two zones.
  • the signal processing unit is arranged in the first housing 314.
  • This has a carrier board 326 which carries an optical receiver 327 and an optical transmitter 328.
  • the receiver 327 and the transmitter 328 e.g. can be separated by a partition or the like, so that light from the transmitter 328 does not interfere with the reception of the receiver 327.
  • the receiver 327 and the transmitter 328 together form the first optical data transmission interface.
  • light sources 329 e.g. arranged in the form of LEDs, which emit light when the current is applied accordingly.
  • a circuit board 331 is also arranged in the second housing 317.
  • the circuit board 331 carries an optical transmitter 332 opposite the receiver 327 and a receiver 333 opposite the transmitter 328.
  • solar modules 334 are arranged, which serve to generate energy.
  • an electrical circuit 335 is arranged, which can have, for example, the above-mentioned microcontroller and the corresponding peripheral elements.
  • the circuit board 331 is also coupled to the measurement interface 310.
  • the circuit 335 can consequently be used to detect the physical quantities in an electrical system.
  • FIG. 4 shows a flow diagram of a test method for decoupled testing of an electrical system 250.
  • a first step S1 of the transmission energy is transmitted from a signal processing unit 101, 201 via a first optical energy transmission interface 104.
  • the transmitted energy is received in a measuring unit 107, 207 via a second optical energy transmission interface 109.
  • a measurement is carried out on the electrical system 250 via a measurement interface 110, 210, 310 of the measurement unit 107, 207.
  • test data are transmitted between the signal processing unit 101, 201 and the measuring unit 107, 207 via a first optical data transmission interface 103 of the signal processing unit 101, 201 and a second optical data transmission interface 108 of the measuring unit 107, 207.
  • 207 physical quantities 219 relating to the electrical system 250 can e.g. are detected with a detection device 218 and output via the second optical data transmission interface 108.
  • the first optical energy transmission interface 104 can emit light from a light source 220.
  • the second optical energy transmission interface 109 can generate electrical energy 105 with a photovoltaic generator 221 from the emitted light.
  • a measurement control unit 212 can generate control signals for the detection device 218 and output them via the first optical data transmission interface 103.
  • measurement programs or test programs can be transmitted to a control device in the measuring unit 107, 207 and executed there.
  • the signal processing unit 101, 201 can be arranged in a first housing 214, 314.
  • the measuring unit 107, 207 can be arranged in a second housing 217, 317.
  • Both housings 214, 314, 217, 317 can be optically coupled to one another in such a way that light is transmitted between the first optical data transmission interface 103 and the second optical data transmission interface 108 and light from the first optical energy transmission interface 104 to the second optical energy transmission interface 109 .
  • the first housing 214, 314 can form a first half of an overall housing 323.
  • the second housing 217, 317 bil a second half of the entire housing 323.
  • a disc 322 made of optically transparent material can be arranged in the overall housing 323 between the first half and the second half.
  • first housing 214, 314 and the second housing 217, 317 can be coupled to one another via optical waveguides. Consequently, light can be transmitted between the first optical data transmission interface 103 and the second optical data transmission interface 108 and from the first optical energy transmission interface 104 to the second optical energy transmission interface 109 via the optical waveguide.

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Abstract

Die vorliegende Erfindung offenbart eine Prüfvorrichtung (100, 200) zum entkoppelten Prüfen eines elektrischen Systems (250). Die Prüfvorrichtung (100, 200) weist auf: eine Signalverarbeitungseinheit (101, 201), welche eine Energieversorgungsschnittstelle (102, 202) und eine erste optische Datenübertragungsschnittstelle (103) und eine erste optische Energieübertragungsschnittstelle (104) aufweist, und eine Messeinheit (107, 207), welche eine zweite optische Datenübertragungsschnittstelle (108) und eine zweite optische Energieübertragungsschnittstelle (109) und eine Messschnittstelle (110, 210, 310) aufweist, wobei die erste optische Datenübertragungsschnittstelle (103) ausgebildet ist, Daten (106) mit der zweiten optischen Datenübertragungsschnittstelle (108) auszutauschen, und wobei die erste optische Energieübertragungsschnittstelle (104) ausgebildet ist, elektrische Energie (105) an die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle (109) zu übermitteln, und wobei die Messschnittstelle (110, 210, 310) mit dem elektrischen System (250) koppelbar ist. Ferner offenbart die vorliegende Erfindung ein entsprechendes Prüfsystem und ein entsprechendes Prüfverfahren.

Description

PRÜFVORRICHTUNG, PRUFSYSTEM UND PRÜFVERFAHREN
Technisches Gebiet
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung zum entkoppelten Prüfen eines elektri schen Systems. Ferner offenbart die vorliegende Erfindung ein entsprechendes Prüfsystem und ein entsprechendes Prüfverfahren.
Stand der Technik
Die vorliegende Erfindung wird im Folgenden hauptsächlich in Verbindung mit der Prüfung von Fahrzeugsystemen erläutert. Es versteht sich, dass die vorliegende Erfindung ebenfalls mit anderen elektrischen Systemen eingesetzt werden kann.
Bei der Herstellung von Fahrzeugsystemen, wie z.B. einem elektrisch auslösenden Airbag, müssen diese Fahrzeugsysteme umfassend getestet bzw. qualifiziert werden.
Dabei weisen z.B. Airbag-Module eine gewisse Menge an Sprengstoff auf. Solche Systeme müssen folglich in einer sicheren Umgebung getestet werden, sodass ein Zünden der Sprengkapsel sicher unterbunden wird.
Um festzustellen, ob Airbag-Module korrekt mit dem Leitungssatz verbunden wurden, wird üblicherweise eine elektrische Widerstands-Messung mit Hilfe einer elektrischen Prüfanlage durchgeführt. Bei einer Fehlfunktion der Prüfanlage oder durch äußere Einflüsse aus der Umgebung dieser Prüfanlage kann ein unzulässig hoher elektrischer Strom generiert wer den, welcher das Airbag-Modul zündet.
Typische Stromwerte für Airbag-Module sind:
- No Fire-Strom: < 0.4 A bei < 10 Sekunden und < 85°C (Airbag zündet nicht) - All Fire-Strom: >= 1.2 A > 2 Millisekunden und > -35°C (Airbag zündet)
Da elektrische Systeme üblicherweise elektrisch kontaktiert werden müssen, um diese zu vermessen, können im Fehlerfall folglich hohe Ströme und Spannungen von den Messgerä ten und den Leitungen zu dem Prüfling bzw. zurück vom Prüfling übertragen werden.
Dies kann beim Prüfen von elektrischen Systemen, wie z.B. Airbags, zum ungewollten Zün den der Sprengladung führen. Beim Prüfen von Hochspannungssystemen, wie z.B. Fahr zeugbatterien für Elektrofahrzeuge, kann dies dazu führen, dass hohe elektrische Spannun gen zu den Bedienkonsolen übertragen werden.
Beschreibung der Erfindung
Eine Aufgabe der Erfindung ist es daher, unter Einsatz konstruktiv möglichst einfacher Mittel, ein sicheres Prüfen elektrischer Systeme zu ermöglichen.
Die Aufgabe wird durch die Gegenstände der unabhängigen Ansprüche gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen, der Beschreibung und den begleitenden Figuren angegeben. Insbesondere können die unabhängigen Ansprüche einer Anspruchskategorie auch analog zu den abhängigen Ansprüchen einer anderen An spruchskategorie weitergebildet sein.
Eine erfindungsgemäße Prüfvorrichtung zum entkoppelten Prüfen eines elektrischen Sys tems weist auf: eine Signalverarbeitungseinheit, welche eine Energieversorgungsschnittstelle und eine erste optische Datenübertragungsschnittstelle und eine erste optische Energieüber tragungsschnittstelle aufweist, und eine Messeinheit, welche eine zweite optische Daten übertragungsschnittstelle und eine zweite optische Energieübertragungsschnittstelle und eine Messschnittstelle aufweist, wobei die erste optische Datenübertragungsschnittstelle ausgebildet ist, Daten mit der zweiten optischen Datenübertragungsschnittstelle auszutau schen, und wobei die erste optische Energieübertragungsschnittstelle ausgebildet ist, elektri sche Energie an die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle zu übermitteln, und wobei die Messschnittstelle mit dem elektrischen System koppelbar ist. Ein erfindungsgemäßes Prüfsystem weist auf: ein elektrisches System, und eine Prüfvorrich tung gemäß der vorliegenden Erfindung, wobei die Messeinheit der Prüfvorrichtung in das elektrische System integriert ist.
Ein erfindungsgemäßes Prüfverfahren zum entkoppelten Prüfen eines elektrischen Systems weist die folgenden Schritte auf: Aussenden von Energie von einer Signalverarbeitungsein heit über eine erste optische Energieübertragungsschnittstelle, Empfangen der ausgesende ten Energie in einer Messeinheit über eine zweite optische Energieübertragungsschnittstelle, Durchführen einer Messung an dem elektrischen System über eine Messschnittstelle der Messeinheit, und Übermitteln von Prüfdaten zwischen der Signalverarbeitungseinheit und der Messeinheit über eine erste optische Datenübertragungsschnittstelle der Signalverarbei tungseinheit und eine zweite optische Datenübertragungsschnittstelle der Messeinheit.
Die vorliegende Erfindung basiert auf der Erkenntnis, dass eine leitungsbasierte Prüfung elektrischer Systeme die Übertragung hoher Fehlerspannungen und -Ströme ermöglicht. Ferner nimmt die vorliegende Erfindung Rücksicht darauf, dass auf der Seite des elektri schen Systems bzw. DUTs (Device Under Test) üblicherweise eine aktive Messschaltung o- der Elektronik benötigt wird.
Bei üblichen Messsystemen wird das elektrische System, wie oben erläutert, über Leitungen bzw. Kabel mit dem Messsystem gekoppelt. Über solche Kabel bzw. Leitungen können hohe Ströme und Spannungen zu bzw. von dem elektrischen System übertragen werden.
Um dies zu vermeiden, sieht die vorliegende Erfindung die Prüfvorrichtung vor, bei welcher die Signalverarbeitungseinheit und die Messeinheit getrennt voneinander bereitgestellt wer den. Getrennt bedeutet in diesem Zusammenhang, dass diese zwei Einheiten zumindest elektrisch bzw. galvanisch voneinander getrennt sind.
Dazu weist die Signalverarbeitungseinheit eine Energieversorgungsschnittstelle auf, über welche sie mit elektrischer Energie versorgt wird. Die Energieversorgungsschnittstelle kann z.B. eine herkömmliche 230-V-Schnittstelle sein. Die Signalverarbeitungseinheit kann über die Energieversorgungsschnittstelle z.B. über ein übliches Kabel mit Netzstecker mit dem elektrischen Energienetz gekoppelt werden. In der Signalverarbeitungseinheit können folglich die relevanten Komponenten, z.B. Steuer einheiten und -Computer mit elektrischer Energie versorgt werden, die zur Steuerung und/o der Auswertung des Messvorgangs benötigt werden.
In der Messeinheit dagegen können diejenigen Elemente angeordnet werden, welche zum Durchführen der eigentlichen Messung benötigt werden, also die Messelektronik. Die Daten aus der Signalverarbeitungseinheit zur Steuerung der Messelektronik können über die erste optische Datenübertragungsschnittstelle und die zweite optische Datenübertragungsschnitt stelle übermittelt werden und von der Messelektronik ausgewertet werden. Die gewonnenen Messwerte können dann von der zweiten optischen Datenübertragungsschnittstelle an die erste optische Datenübertragungsschnittstelle übermittelt werden und in der Signalverarbei tungseinheit ausgewertet werden.
Die optische Datenübertragung kann z.B. mit Hilfe eines (bidirektionalen) Optokopplers erfol gen. Es versteht sich, dass ein solcher Optokoppler als integrierter Baustein bereitgestellt werden kann. Um die Entkopplung der Signalverarbeitungseinheit und der Messeinheit zu erhöhen kann ein solcher Optokoppler aber auch diskret aufgebaut werden. Dies ermöglicht es, die einzelnen Bauteile, z.B. Sendediode und Empfangsdiode/-Transistor, räumlich vonei nander zu trennen.
Die Übertragung der Daten erfolgt folglich zwischen der Signalverarbeitungseinheit und der Messeinheit kontaktlos und galvanisch getrennt. Allerdings ist es zusätzlich nötig, die Kom ponenten der Messeinheit auch mit elektrischer Energie zu versorgen.
Zur Übertragung elektrischer Energie zur Versorgung der Elemente der Messeinheit ist in der Signalverarbeitungseinheit die erste optische Energieübertragungsschnittstelle vorgesehen, um elektrische Energie zu übertragen. In der Messeinheit ist die zweite optische Energie übertragungsschnittstelle vorgesehen, um die elektrische Energie zu empfangen. Da auch die Schnittstellen zur Energieübertragung kontaktlos ausgeführt sind, ist die Messeinheit elektrisch bzw. galvanisch vollständig von der Signalverarbeitungseinheit entkoppelt. Es kön nen folglich keine Überspannungen bzw. -Ströme von der Signalverarbeitungseinheit zur Messeinheit bzw. umgekehrt übertragen werden. Es versteht sich, dass die Gehäuse der Signalverarbeitungseinheit und der Messeinheit ent sprechend geschirmt und/oder geerdet werden können. Insbesondere können die Gehäuse ESD-konform (ESD = ElectroStatic Discharge) ausgeführt werden, sodass Spannungen aus statischen Entladungen nicht an das elektrische System übertragen werden können.
Bei der Prüfung von Systemen wie Airbags kann folglich vermieden werden, dass diese auf Grund von Überspannungen zünden.
Batteriesysteme wie z.B. in der E-Mobilität eingesetzt, besitzen eine hohe gespeicherte Energie und können daher hohe Gleichströme und hohe Gleichspannungen bereitstellen. Da es sich bei Batteriesystemen um Energiespeicher handelt, lassen sich diese naturgemäß nicht abschalten. Dies kann insbesondere im Fehlerfall problematisch sein.
Mit Hilfe der vorliegenden Erfindung können solche elektrischen Systeme aber problemlos vermessen werden. Es besteht im Fehlerfall dennoch keine Gefahr, dass hohe Spannungen bzw. Ströme an die Bedienelemente bzw. andere elektrische Systeme übertragen werden.
Das Prüfsystem gemäß der vorliegenden Erfindung weist das elektronische System und die Prüfvorrichtung auf. Dabei ist die Messeinheit direkt in das elektronische System integriert. Die Signalverarbeitungseinheit kann dagegen als mobile Einheit, z.B. als mobile Einheit für einen Servicetechniker, ausgeführt sein.
Damit können Servicetechniker z.B. auch Messungen an Hochspannungsanlagen durchfüh ren, ohne dass sie direkt mit spannungsführenden Teilen in Kontakt kommen könnten. Insbe sondere kann ein Rückfluss hoher Spannungen in die mobile Signalverarbeitungseinheit si cher unterbunden werden.
Weitere Ausführungsformen und Weiterbildungen ergeben sich aus den Unteransprüchen sowie aus der Beschreibung unter Bezugnahme auf die Figuren.
In einer Ausführungsform kann die Messeinheit eine Erfassungseinrichtung aufweisen, wel che mit der zweiten optischen Datenübertragungsschnittstelle gekoppelt ist und welche aus gebildet ist, physikalische Größen betreffend das elektrische System zu erfassen und über die zweite optische Datenübertragungsschnittstelle auszugeben. Die Erfassungseinrichtung kann auch als Messelektronik bezeichnet werden. Die Erfas sungseinrichtung beinhaltet diejenigen Komponenten und/oder Schaltungen, die benötigt werden, um die physikalischen Größen in dem elektrischen System zu erfassen.
Die zu erfassenden physikalischen Größen können z.B. Ströme, Spannungen und/oder Tem peraturen oder dergleichen sein. Die Erfassungseinrichtung kann folglich entsprechende Sensoren zur Erfassung dieser Größen aufweisen, die mit dem elektrischen System bzw. Zuleitungen des elektrischen Systems gekoppelt sein können.
Es versteht sich, dass die Erfassungseinrichtung eine Steuereinheit bzw. einen Steuerrech ner aufweisen kann. Dieser kann z.B. als ein Mikrocontroller ausgebildet sein.
Die Steuereinheit kann vorwiegend der Erfassung der Messwerte zu den physikalischen Grö ßen und der Übertragung dieser Messwerte über die zweite optische Datenübertragungs schnittstelle dienen. Weiterführende Funktionen, wie z.B. Timer-Funktionen, Trigger-Funktio nen und dergleichen können in der Signalverarbeitungseinheit bereitgestellt werden.
Zusätzlich kann in der Steuereinheit aber auch zumindest ein Teil der weiterführenden Funk tionen implementiert werden. Beispielsweise können Trigger-Funktionen und Timer-Funktio nen auch in der Steuereinheit bereitgestellt werden. Ferner können in der Steuereinheit auch vollständige Prüfprogramme hinterlegt werden und die Steuereinheit kann ausgebildet sein, diese Prüfprogramme auszuführen bzw. abzuarbeiten. Es versteht sich, dass z.B. ein exter ner Trigger über die erste optische Datenübertragungsschnittstelle und die zweite optische Datenübertragungsschnittstelle an die Steuereinheit übermittelt werden kann, der den Start eines solchen Prüfprogramms veranlasst.
Es versteht sich, dass die Steuereinheit z.B. einen Mikrocontroller aufweisen kann, der für den Betrieb bei niedrigen Spannungen ausgelegt sein kann. Solche Mikrocontroller werden auch als Low-Power Microcontroller oder Ultra-Low-Power Microcontroller bezeichnet und können z.B. für Betriebsspannungen von 1 V - 5 V oder dergleichen ausgelegt sein. In noch einer Ausführungsform kann die Erfassungseinrichtung mit der zweiten optischen Energieübertragungsschnittstelle gekoppelt sein und über die zweite optische Energieüber tragungsschnittstelle mit elektrischer Energie versorgbar sein.
Die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle dient dazu, die zur Versorgung der Ele mente der Messeinheit nötige elektrische Energie zu empfangen.
Da die Erfassungseinrichtung, wie oben bereits erläutert, ein aktives Element sein kann, kann diese ebenfalls über die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle mit elektri scher Energie versorgt werden.
Dabei kann die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle derart ausgebildet sein, dass sie lediglich die zum Betrieb der Messeinheit benötigte Energie liefern kann, aber z.B. nicht die Energiemenge, die nötig ist, um eine Zündpille in einem Airbagmodul zu zünden.
Die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle kann folglich derart dimensioniert sein, dass die maximal bereitgestellten Spannungen und Ströme unter den entsprechenden Grenzwerten liegen.
In einer weiteren Ausführungsform kann die erste optische Energieübertragungsschnittstelle eine Lichtquelle aufweisen, und die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle kann einen photovoltaischen Generator aufweisen.
Die Energieübertragung zwischen erster optischer Energieübertragungsschnittstelle und zweiter optischer Energieübertragungsschnittstelle kann folglich ähnlich erfolgen, wie die Energieerzeugung mit einer Solarzelle, die von der Sonne beschienen wird.
Um eine kontrollierte Umgebung und Energieübertragungsstrecke zu schaffen, kann die erste optische Energieübertragungsschnittstelle eine Lichtquelle aufweisen, welche einen kontrollierten Lichtstrom aussendet. Die Lichtquelle kann z.B. eine LED, eine Laser-Diode, eine Lampe oder jede andere Lichtquelle sein.
Die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle kann einen photovoltaischen Genera tor, also z.B. eine Solarzelle oder dergleichen, aufweisen. Ein solcher photovoltaischer Ge- nerator kann das ausgesendete Licht von der ersten optischen Energieübertragungsschnitt stelle empfangen und in elektrische Energie umwandeln. Es versteht sich, dass weitere Schaltungen bzw. Schaltungselemente bereitgestellt werden können, welche die von dem photovoltaischen Generator erzeugte Spannung entsprechend anpassen können. Beispiels weise kann ein entsprechender DC/DC Wandler oder dergleichen vorgesehen werden.
Wie oben bereits ausgeführt, kann die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle der art ausgelegt sein, dass die erzeugte elektrische Energie eine vorgegebene Schwelle nicht überschreitet. Dazu kann der photovoltaische Generator z.B. derart ausgebildet sein, dass er in die Sättigung gerät, sodass der maximal erzeugbare Strom bzw. die Höhe der erzeugba ren Spannung entsprechend begrenzt wird.
In noch einer weiteren Ausführungsform kann die Signalverarbeitungseinheit eine Messsteu ereinheit aufweisen, welche ausgebildet ist, Steuersignale für die Erfassungseinrichtung zu erzeugen und über die erste optische Datenübertragungsschnittstelle auszugeben.
Die Messsteuereinheit kann ausgebildet sein, Prüfprogramme abzuarbeiten und entspre chende Steuersignale für die Erfassungseinrichtung zu erzeugen. Solche Steuersignale kön nen z.B. in einer Steuereinheit der Messeinrichtung empfangen und verarbeitet werden. Mögliche Steuersignale können z.B. das Starten/Stoppen einer Messung beinhalten. Andere Steuersignale können auch Konfigurationsbefehle sein, die in der Steuereinheit der Erfas sungseinrichtung Konfigurationsparameter setzen. Solche Parameter können z.B. Ausgangs spannungen und Ausgangsströme für Messschnittstellen, oder Messbereiche für
Messeingänge sein.
Wie oben bereits erläutert, kann die Logik zur Abarbeitung eines Prüfprogramms auch in der Steuereinheit der Messeinrichtung hinterlegt sein. Die Messsteuereinheit kann in diesem Fall über die erste optische Datenübertragungsschnittstelle z.B. die Prüfprogramme übertragen und die Abarbeitung eines Prüfprogramms initiieren.
In einer weiteren Ausführungsform kann die Signalverarbeitungseinheit in einem ersten Ge häuse angeordnet sein, und die Messeinheit in einem zweiten Gehäuse angeordnet sein, welche optisch derart miteinander gekoppelt sind, dass eine Übertragung von Licht zwischen der ersten optischen Datenübertragungsschnittstelle und der zweiten optischen Datenüber tragungsschnittstelle sowie von Licht von der ersten optischen Energieübertragungsschnitt stelle an die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle möglich ist.
Da die Signalverarbeitungseinheit und die Messeinheit in unterschiedlichen Gehäusen ange ordnet sein können, ist es möglich, die Gehäuse sehr effizient gegeneinander abzuschirmen. Es muss lediglich sichergestellt sein, dass die optische Verbindung für die Datenübertra gungsschnittstellen und die optische Verbindung für die Energieübertragungsschnittstellen frei und ungestört sind. Es kann also z.B. eine entsprechende Luftstrecke zwischen den Ge häusen vorhanden sein.
Es versteht sich, dass die optischen Verbindungen voneinander z.B. durch Röhren oder Wände getrennt sein können. Ferner versteht sich, dass die Übertragung des Lichts von der ersten optischen Energieübertragungsschnittstelle zu der zweiten optischen Energieübertra gungsschnittstelle mit Licht einer anderen Wellenlänge erfolgen kann, als sie das Licht für die Datenübertragung zwischen erster Datenübertragungsschnittstelle und zweiter Daten übertragungsschnittstelle aufweist. Dadurch kann eine gegenseitige Beeinflussung vermie den werden.
In noch einer Ausführungsform kann das erste Gehäuse als erste Hälfte eines Gesamtge häuses ausgebildet sein und das zweite Gehäuse kann als zweite Hälfte des Gesamtgehäu ses ausgebildet sein. Zusätzlich kann eine Scheibe aus optisch durchlässigem Material in dem Gesamtgehäuse zwischen der ersten Hälfte und der zweiten Hälfte angeordnet sein.
Werden die zwei einzelnen Gehäuse als Hälften eines Gesamtgehäuses bereitgestellt, kann die Prüfvorrichtung sehr kompakt aufgebaut werden. Durch die Anordnung der Signalverar beitungseinheit in einer Gehäusehälfte und der Messeinheit in der zweiten Gehäusehälfte können die einzelnen Einheiten separate aufgebaut und geschützt werden. Das Gesamtge häuse bietet dann lediglich eine geschützte Umgebung für die optische Daten- und Energie übertragung.
Durch eine optionale Trennscheibe, z.B. aus Kunststoff wie Plexiglas, kann eine optimale op tische Verbindung sichergestellt werden. Gleichzeitig kann die Isolierung zwischen den zwei Gehäusehälften verbessert werden. In einer weiteren Ausführungsform können das erste Gehäuse und das zweite Gehäuse über Lichtwellenleiter miteinander gekoppelt sein.
Da lediglich Licht bzw. Lichtimpulse oder -Signale zwischen der Signalverarbeitungseinheit und der Messeinheit übertragen werden müssen, können diese auch mit Hilfe von Lichtwel lenleitern übertragen werden. Dabei sind die Gehäuse derart miteinander gekoppelt, dass eine Übertragung von Lichtsignalen zwischen der ersten optischen Datenübertragungs schnittstelle und der zweiten optischen Datenübertragungsschnittstelle und von der ersten optischen Energieübertragungsschnittstelle zu der zweiten optischen Energieübertragungs schnittstelle möglich ist.
Dies bedeutet, dass die Signalverarbeitungseinheit und die Messeinheit beliebig platziert und der Abstand zwischen den beiden annähernd beliebig groß sein kann.
Kurze Figurenbeschreibung
Nachfolgend werden vorteilhafte Ausführungsbeispiele der Erfindung unter Bezugnahme auf die begleitenden Figuren erläutert. Es zeigen:
Figur 1 ein Blockschaltbild eines Ausführungsbeispiels einer Prüfvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung;
Figur 2 ein Blockschaltbild eines weiteren Ausführungsbeispiels einer Prüfvorrichtung ge mäß der vorliegenden Erfindung;
Figur 3 ein Blockschaltbild eines Ausführungsbeispiels eines Gesamtgehäuses gemäß der vorliegenden Erfindung; und
Figur 4 ein Ablaufdiagramm eines Ausführungsbeispiels eines Prüfverfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung. Die Figuren sind lediglich schematische Darstellungen und dienen nur der Erläuterung der Erfindung. Gleiche oder gleichwirkende Elemente sind durchgängig mit den gleichen Be zugszeichen versehen.
Detaillierte Beschreibung
Figur 1 zeigt ein Blockschaltbild einer Prüfvorrichtung 100 zum entkoppelten Prüfen eines elektrischen Systems. Die Prüfvorrichtung 100 weist eine Signalverarbeitungseinheit 101 und eine Messeinheit 107 auf. Die Signalverarbeitungseinheit 101 weist eine Energieversor gungsschnittstelle 102 sowie eine erste optische Energieübertragungsschnittstelle 104 und eine erste optische Datenübertragungsschnittstelle 103 auf. Die Messeinheit 107 weist eine zweite optische Datenübertragungsschnittstelle 108 und eine zweite optische Energieüber tragungsschnittstelle 109 auf, die beide mit einer Messschnittstelle 1 10 gekoppelt sind.
Die Energieversorgungsschnittstelle 102 dient dazu, die Prüfvorrichtung 100 mit elektrischer Energie zu versorgen. Die Energieversorgungsschnittstelle 102 kann z.B. eine 230 V oder 1 10 V Schnittstelle sein, über welche die Prüfvorrichtung 100 mit einem öffentlichen Strom netz gekoppelt werden kann.
Die Energieversorgungsschnittstelle 102 ist mit der ersten optischen Energieübertragungs schnittstelle 104 und mit der ersten optischen Datenübertragungsschnittstelle 103 gekoppelt, um diese mit elektrischer Energie 105 zu versorgen.
Die erste optische Energieübertragungsschnittstelle 104 dient ferner dazu, die elektrische Energie 105 auf optischem Weg, also kontaktlos, zur zweiten optischen Energieübertra gungsschnittstelle 109 zu übertragen. Die erste optische Energieübertragungsschnittstelle 104 und die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle 109 bilden folglich einen unidi- rektionalen Weg zur Energieübertragung.
Die erste optische Datenübertragungsschnittstelle 103 dagegen dient dazu, Daten mit der zweiten optischen Datenübertragungsschnittstelle 108 auszutauschen. Die erste optische Datenübertragungsschnittstelle 103 und die zweite optische Energieübertragungsschnitt stelle 109 bilden folglich einen bidirektionalen Kommunikationskanal zur Datenkommunika tion. Die Messschnittstelle 1 10 kann mit einem elektrischen System, auch DUT genannt, gekop pelt werden und dient dazu, in dem elektrischen System physikalische Größen 106 zu erfas sen. Die Messschnittstelle 1 10 wird von der zweiten optischen Energieübertragungsschnitt stelle 109 mit elektrischer Energie versorgt und gibt die erfassten physikalischen Größen 106 über die zweite optische Datenübertragungsschnittstelle 108 aus.
Es versteht sich, dass in der Signalverarbeitungseinheit 101 eine Steuereinrichtung vorgese hen sein kann. Ebenso kann eine entsprechende Steuereinrichtung in der Messeinheit 107 vorgesehen sein. Beispielsweise kann eine Steuereinrichtung in der Signalverarbeitungsein heit 101 ein Prüfprogramm abarbeiten und für die Steuereinrichtung in der Messeinheit 107 entsprechende Steuerbefehle erzeugen. Die Steuereinrichtung in der Messeinheit 107 kann die entsprechenden erfassten physikalischen Größen 106 zurückliefern. Werden die erste optische Datenübertragungsschnittstelle 103 und die zweite optische Datenübertragungs schnittstelle 108 z.B. als Optokoppler ausgeführt, kann z.B. ein serielles Datenprotokoll für die Datenübertragung genutzt werden. Es versteht sich, dass aber auch ein beliebiges Da tenprotokoll für die Übertragung der Daten gewählt werden kann. Beispielsweise kann ein einfaches On-Off-Keying verwendet werden.
Bei der Prüfvorrichtung 100 sind die Schnittstellen zwischen Signalverarbeitungseinheit 101 und Messeinheit 107 als optische Schnittstellen, also galvanisch getrennt, ausgeführt. Eine Fehlerspannung, z.B. durch einen Fehler in der Spannungsversorgung der Signalverarbei tungseinheit 101 verursacht, kann sich folglich nicht zu der Messeinheit 107 fortpflanzen.
Dies ist z.B. bei der Prüfung von Geräten wir Airbags vorteilhaft.
Gleichzeitig kann sich eine Fehlerspannung z.B. bei der Prüfung einer Hochspannungsbatte rie nicht von der Messeinheit 107 zu der Signalverarbeitungseinheit 101 fortpflanzen.
Figur 2 zeigt ein Blockschaltbild einer weiteren Prüfvorrichtung 200. Die Prüfvorrichtung 200 weist eine Signalverarbeitungseinheit 201 und eine Messeinheit 207 auf. Die Signalverarbei tungseinheit 201 weist eine Energieversorgungsschnittstelle 202 zum Anschluss an ein 230 Volt Versorgungsnetz auf, die in einem Schaltschrank 213 angeordnet ist. Ferner ist eine als Steuer-PC 212 ausgeführte Messsteuereinheit vorgesehen, welche durch den Schalt- schrank hindurch über ein Kabel 225 mit einem ersten Gehäuse 214 gekoppelt ist. Die Ener gieversorgungsschnittstelle 202 ist ebenfalls durch den Schaltschrank 213 über das Kabel 225 mit dem ersten Gehäuse 214 gekoppelt. Es versteht sich, dass auch mehrere separate Kabel für diese Verbindung vorgesehen sein können.
In dem ersten Gehäuse 214 ist eine Ansteuerschaltung 215 angeordnet. Die Ansteuerschal tung 215 wird aus dem Schaltschrank 213 von der Energieversorgungsschnittstelle 202 mit elektrischer Energie versorgt und steht mit dem Steuer-PC 212 in kommunikativer Verbin dung. Es versteht sich, dass der Steuer-PC 212 in anderen Ausführungen z.B. auch in den Schaltschrank 213 integriert werden kann und z.B. als Embedded-PC ausgeführt werden kann.
Bei der Prüfvorrichtung 200 sind die erste optische Datenübertragungsschnittstelle und die zweite optische Datenübertragungsschnittstelle als Optokoppler 222 ausgebildet. Die erste optische Energieübertragungsschnittstelle weist eine Lichtquelle 220 auf und die zweite opti sche Energieübertragungsschnittstelle weist einen photovoltaischen Generator 221 , z.B. eine Solarzelle, auf.
In der Messeinheit 207 ist eine Erfassungseinrichtung 218 vorgesehen, welche mit dem pho tovoltaischen Generator 221 und dem Optokoppler 222 gekoppelt ist.
Die Erfassungseinrichtung 218 dient der Ablaufsteuerung und Messwerterfassung in der Messeinheit 207 und ist über die Messschnittstelle 210 mit dem elektrischen System 250 ge koppelt. Die Erfassungseinrichtung 218 kann z.B. einen Mikrocontroller mit entsprechender Peripherie für die Energieversorgung, Messwerterfassung und Datenkommunikation aufwei sen.
Bei der Prüfvorrichtung 200 können z.B. Fehler in der Spannungsversorgung der Energiever sorgungsschnittstelle 202 und des Steuer-PC 212 auftreten. Ein solcher Fehler kann ferner z.B. in der Verbindung zwischen Schaltschrank 213 und erstem Gehäuse 214 auftreten. Es können also in der Signalverarbeitungseinheit 201 Überspannungen und Überströme auftre ten. Auf Grund der optischen Schnittstellen zwischen Signalverarbeitungseinheit 201 und Messeinheit 207 können Fehlerspannungen und Fehlerströme aber nicht an die Messeinheit 207 weitergeleitet werden. Bei der Prüfvorrichtung 200 sind Teile der Signalverarbeitungseinheit 201 in einem ersten Gehäuse 214 angeordnet. Die Messeinheit 207 ist in einem zweiten Gehäuse 217 angeord net. Es versteht sich, dass die zwei Gehäuse 214, 217 jeweils Teile eines Gesamtgehäuses sein können (siehe z.B. Fig. 3).
Allerdings können das erste Gehäuse 214 und das zweite Gehäuse 217 auch separat vonei nander aufgestellt werden und z.B. durch Lichtwellenleiter miteinander gekoppelt sein. Insbe sondere kann das zweite Gehäuse 217 auch in dem elektrischen System 250 integriert sein.
Figur 3 zeigt ein Blockschaltbild eines oben erwähnten Gesamtgehäuses 323. Das Ge samtgehäuses 323 weist zwei Gehäusehälften auf, wobei die obere Gehäusehälfte dem ers ten Gehäuse 314 entspricht und die untere Gehäusehälfte dem zweiten Gehäuse 317 ent spricht. Die Innenräume der zwei Gehäusehälften werden durch eine Scheibe aus optisch durchlässigem Material 322, z.B. eine Glasplatte, voneinander getrennt, um die Isolierung zwischen den zwei Zonen zu verbessern.
In dem ersten Gehäuse 314 ist die Signalverarbeitungseinheit angeordnet. Diese weist eine Trägerplatine 326 auf, welche einen optischen Empfänger 327 und einen optischen Sender 328 trägt. Es versteht sich, dass der Empfänger 327 und der Sender 328 z.B. durch eine Trennwand oder dergleichen getrennt sein können, sodass Licht des Senders 328 den Emp fang des Empfängers 327 nicht stört. Der Empfänger 327 und der Sender 328 bilden ge meinsam die erste optische Datenübertragungsschnittstelle. Neben dem Sender 328 sind auf der Platine 326 ferner Lichtquellen 329 z.B. in Form von LEDs angeordnet, welche bei ent sprechender Bestromung Licht aussenden.
In dem zweiten Gehäuse 317 ist ebenfalls eine Platine 331 angeordnet. Die Platine 331 trägt gegenüber dem Empfänger 327 einen optischen Sender 332 und gegenüber dem Sender 328 einen Empfänger 333. Gegenüber den Lichtquellen 329 sind Solarmodule 334 angeord net, welche der Energiegewinnung dienen. Zwischen den Solarmodulen 334 und der Platine 331 ist eine elektrische Schaltung 335 angeordnet, welche z.B. den oben erwähnten Mikro kontroller und die entsprechenden Peripherieelemente aufweisen kann. Die Platine 331 ist ferner mit der Messschnittstelle 310 gekoppelt. Die Schaltung 335 kann folglich genutzt wer den, physikalische Größen in einem elektrischen System zu erfassen. Zum leichteren Verständnis werden in der folgenden Beschreibung die Bezugszeichen zu den Figuren 1 -3 als Referenz beibehalten.
Figur 4 zeigt ein Ablaufdiagramm eines Prüfverfahrens zum entkoppelten Prüfen eines elektrischen Systems 250.
In einem ersten Schritt S1 des Aussendens wird Energie von einer Signalverarbeitungsein heit 101 , 201 über eine erste optische Energieübertragungsschnittstelle 104 ausgesendet. In einem zweiten Schritt des Empfangens S2 wird die ausgesendete Energie in einer Messein heit 107, 207 über eine zweite optische Energieübertragungsschnittstelle 109 empfangen. In einem dritten Schritt S3 des Durchführens wird eine Messung an dem elektrischen System 250 über eine Messschnittstelle 1 10, 210, 310 der Messeinheit 107, 207 durchgeführt. In ei nem vierten Schritt S4 des Übermitteins werden Prüfdaten zwischen der Signalverarbei tungseinheit 101 , 201 und der Messeinheit 107, 207 über eine erste optische Datenübertra gungsschnittstelle 103 der Signalverarbeitungseinheit 101 , 201 und eine zweite optische Da tenübertragungsschnittstelle 108 der Messeinheit 107, 207 übermittelt.
In der Messeinheit 107, 207 können physikalische Größen 219 betreffend das elektrische System 250 z.B. mit einer Erfassungseinrichtung 218 erfasst werden und über die zweite op tische Datenübertragungsschnittstelle 108 ausgegeben werden.
Zur Übertragung elektrischer Energie kann die erste optische Energieübertragungsschnitt stelle 104 Licht aus einer Lichtquelle 220 aussenden. Die zweite optische Energieübertra gungsschnittstelle 109 kann aus dem ausgesendeten Licht elektrische Energie 105 mit ei nem photovoltaischen Generator 221 erzeugen.
Um den Ablauf einer Prüfung bzw. Messung zu steuern kann z.B. in der Signalverarbeitungs einheit 101 , 201 eine Messsteuereinheit 212 Steuersignale für die Erfassungseinrichtung 218 erzeugen und über die erste optische Datenübertragungsschnittstelle 103 ausgeben. Alter nativ können z.B. Messprogramme oder Prüfprogramme an eine Steuereinrichtung in der Messeinheit 107, 207 übertragen werden und dort ausgeführt werden. Zur elektrischen T rennung der Signalverarbeitungseinheit 101 , 201 und der Messeinheit 107, 207 kann die Signalverarbeitungseinheit 101 , 201 in einem ersten Gehäuse 214, 314 ange ordnet sein. Die Messeinheit 107, 207 kann in einem zweiten Gehäuse 217, 317 angeordnet sein. Beide Gehäuse 214, 314, 217, 317 können optisch derart miteinander gekoppelt wer den, dass Licht zwischen der ersten optischen Datenübertragungsschnittstelle 103 und der zweiten optischen Datenübertragungsschnittstelle 108 sowie von Licht von der ersten opti schen Energieübertragungsschnittstelle 104 an die zweite optische Energieübertragungs schnittstelle 109 übertragen wird.
Das erste Gehäuse 214, 314 kann eine erste Hälfte eines Gesamtgehäuses 323 bilden. Ebenso kann das zweite Gehäuse 217, 317 eine zweite Hälfte des Gesamtgehäuses 323 bil den. Optional kann eine Scheibe 322 aus optisch durchlässigem Material in dem Gesamtge häuse 323 zwischen der ersten Hälfte und der zweiten Hälfte angeordnet sein.
Ferner können das erste Gehäuse 214, 314 und das zweite Gehäuse 217, 317 über Licht wellenleiter miteinander gekoppelt sein. Licht kann folglich zwischen der ersten optischen Datenübertragungsschnittstelle 103 und der zweiten optischen Datenübertragungsschnitt stelle 108 sowie von der ersten optischen Energieübertragungsschnittstelle 104 an die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle 109 über den Lichtwellenleiter übertragen werden.
Da es sich bei den vorhergehend detailliert beschriebenen Vorrichtungen und Verfahren um Ausführungsbeispiele handelt, können sie in üblicher weise vom Fachmann in einem weiten Umfang modifiziert werden, ohne den Bereich der Erfindung zu verlassen. Insbesondere sind die mechanischen Anordnungen und die Größenverhältnisse der einzelnen Elemente zuei nander lediglich beispielhaft. BEZUGSZEICHENLISTE
100, 200 Prüfvorrichtung
101 , 201 Signalverarbeitungseinheit
102, 202 Energieversorgungsschnittstelle
103 erste optische Datenübertragungsschnittstelle
104 erste optische Energieübertragungsschnittstelle
105 elektrische Energie
106 Daten
107, 207 Messeinheit
108 zweite optische Datenübertragungsschnittstelle
109 zweite optische Energieübertragungsschnittstelle
1 10, 210, 310 Messschnittstelle
212 Messsteuereinheit
213 Schaltschrank
214, 314 erstes Gehäuse
215 Ansteuerschaltung
217, 317 zweites Gehäuse
218 Erfassungseinrichtung
219 physikalische Größe
220 Lichtquelle
221 photovoltaischen Generator
222 Optokoppler
322 optisch durchlässige Platte
323 Gesamtgehäuse
225, 325 Kabel
326 Platine
327 Empfänger
328 Sender
329 Lichtquelle 331 Platine
332 Sender
333 Empfänger
334 Solarmodule 335 Schaltung
250 elektrisches System

Claims

ANSPRÜCHE
1 . Prüfvorrichtung (100, 200) zum entkoppelten Prüfen eines elektrischen Systems (250), aufweisend: eine Signalverarbeitungseinheit (101 , 201 ), welche eine Energieversorgungsschnittstelle (102, 202) und eine erste optische Datenübertragungsschnittstelle (103) und eine erste opti sche Energieübertragungsschnittstelle (104) aufweist, und eine Messeinheit (107, 207), welche eine zweite optische Datenübertragungsschnittstelle (108) und eine zweite optische Energieübertragungsschnittstelle (109) und eine Messschnitt stelle (1 10, 210, 310) aufweist, wobei die erste optische Datenübertragungsschnittstelle (103) ausgebildet ist, Daten (106) mit der zweiten optischen Datenübertragungsschnittstelle (108) auszutauschen, und wobei die erste optische Energieübertragungsschnittstelle (104) ausgebildet ist, elektrische Energie (105) an die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle (109) zu übermitteln, wobei die Messschnittstelle (1 10, 210, 310) mit dem elektrischen System (250) koppelbar ist.
2. Prüfvorrichtung (100, 200) nach Anspruch 1 , wobei die Messeinheit (107, 207) eine Erfassungseinrichtung (218) aufweist, welche mit der zweiten optischen Datenübertragungs schnittstelle (108) gekoppelt ist und welche ausgebildet ist, physikalische Größen (219) be treffend das elektrische System (250) über die Messschnittstelle (1 10, 210, 310) zu erfassen und über die zweite optische Datenübertragungsschnittstelle (108) auszugeben.
3. Prüfvorrichtung (100, 200) nach Anspruch 2, wobei die Erfassungseinrichtung (218) mit der zweiten optischen Energieübertragungsschnittstelle (109) gekoppelt ist und über die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle (109) mit elektrischer Energie versorgbar ist.
4. Prüfvorrichtung (100, 200) nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die erste op tische Energieübertragungsschnittstelle (104) eine Lichtquelle (220) aufweist, und wobei die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle (109) einen photovoltaischen Generator (221 ) aufweist.
5. Prüfvorrichtung (100, 200) nach einem der vorherigen Ansprüche 2 bis 4, wobei die Signalverarbeitungseinheit (101 , 201 ) eine Messsteuereinheit (212) aufweist, welche ausge bildet ist, Steuersignale für die Erfassungseinrichtung (218) zu erzeugen und über die erste optische Datenübertragungsschnittstelle (103) auszugeben.
6. Prüfvorrichtung (100, 200) nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Signal verarbeitungseinheit (101 , 201 ) in einem ersten Gehäuse (214, 314) angeordnet ist, und wo bei die Messeinheit (107, 207) in einem zweiten Gehäuse (217, 317) angeordnet ist, welche optisch derart miteinander gekoppelt sind, dass eine Übertragung von Licht zwischen der ersten optischen Datenübertragungsschnittstelle (103) und der zweiten optischen Datenüber tragungsschnittstelle (108) sowie von Licht von der ersten optischen Energieübertragungs schnittstelle (104) an die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle (109) möglich ist.
7. Prüfvorrichtung (100, 200) nach Anspruch 6, wobei das erste Gehäuse (214, 314) als erste Hälfte eines Gesamtgehäuses (323) ausgebildet ist und wobei das zweite Gehäuse (217, 317) als zweite Hälfte des Gesamtgehäuses (323) ausgebildet ist, insbesondere wobei eine Scheibe (322) aus optisch durchlässigem Material in dem Gesamtgehäuse (323) zwi schen der ersten Hälfte und der zweiten Hälfte angeordnet ist.
8. Prüfvorrichtung (100, 200) nach Anspruch 6, wobei das erste Gehäuse (214, 314) und das zweite Gehäuse (217, 317) über Lichtwellenleiter miteinander gekoppelt sind.
9. Prüfsystem aufweisend: ein elektrisches System (250), und eine Prüfvorrichtung (100, 200) nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Messeinheit (107, 207) der Prüfvorrichtung (100, 200) in das elektrische System (250) integriert ist.
10. Prüfverfahren zum entkoppelten Prüfen eines elektrischen Systems (250), aufwei send die Schritte:
Aussenden (S1 ) von Energie von einer Signalverarbeitungseinheit (101 , 201 ) über eine erste optische Energieübertragungsschnittstelle (104),
Empfangen (S2) der ausgesendeten Energie in einer Messeinheit (107, 207) über eine zweite optische Energieübertragungsschnittstelle (109),
Durchführen (S3) einer Messung an dem elektrischen System (250) über eine Messschnitt stelle (1 10, 210, 310) der Messeinheit (107, 207), und
Übermitteln (S4) von Prüfdaten zwischen der Signalverarbeitungseinheit (101 , 201 ) und der Messeinheit (107, 207) über eine erste optische Datenübertragungsschnittstelle (103) der Signalverarbeitungseinheit (101 , 201 ) und eine zweite optische Datenübertragungsschnitt stelle (108) der Messeinheit (107, 207).
1 1. Prüfverfahren nach Anspruch 10, wobei in der Messeinheit (107, 207) mit einer Erfas sungseinrichtung (218) physikalische Größen (219) betreffend das elektrische System (250) erfasst werden und über die zweite optische Datenübertragungsschnittstelle (108) ausgege ben werden.
12. Prüfverfahren nach einem der vorherigen Ansprüche 10 bis 1 1 , wobei die erste opti sche Energieübertragungsschnittstelle (104) Licht aus einer Lichtquelle (220) aussendet, und wobei die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle (109) elektrische Energie (105) mit einem photovoltaischen Generator (221 ) erzeugt.
13. Prüfverfahren nach einem der vorherigen Ansprüche 1 1 bis 12, wobei in der Signal verarbeitungseinheit (101 , 201 ) eine Messsteuereinheit (212) Steuersignale für die Erfas sungseinrichtung (218) erzeugt und über die erste optische Datenübertragungsschnittstelle (103) ausgibt.
14. Prüfverfahren nach einem der vorherigen Ansprüche 1 1 bis 13, wobei die Signalver arbeitungseinheit (101 , 201 ) in einem ersten Gehäuse (214, 314) angeordnet ist, und wobei die Messeinheit (107, 207) in einem zweiten Gehäuse (217, 317) angeordnet ist, welche op tisch derart miteinander gekoppelt werden, dass Licht zwischen der ersten optischen Daten übertragungsschnittstelle (103) und der zweiten optischen Datenübertragungsschnittstelle (108) sowie von Licht von der ersten optischen Energieübertragungsschnittstelle (104) an die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle (109) übertragen wird.
15. Prüfverfahren nach Anspruch 14, wobei das erste Gehäuse (214, 314) eine erste Hälfte eines Gesamtgehäuses (323) bildet und wobei das zweite Gehäuse (217, 317) eine zweite Hälfte des Gesamtgehäuses (323) bildet, insbesondere wobei eine Scheibe (322) aus optisch durchlässigem Material in dem Gesamtgehäuse (323) zwischen der ersten Hälfte und der zweiten Hälfte angeordnet ist; oder wobei das erste Gehäuse (214, 314) und das zweite Gehäuse (217, 317) über Lichtwellenlei ter miteinander gekoppelt sind und Licht zwischen der ersten optischen Datenübertragungs- Schnittstelle (103) und der zweiten optischen Datenübertragungsschnittstelle (108) sowie von Licht von der ersten optischen Energieübertragungsschnittstelle (104) an die zweite optische Energieübertragungsschnittstelle (109) über den Lichtwellenleiter übertragen wird.
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