WO2020088198A1 - Système d'imagerie par rétrodiffusion, système d'inspection par balayage et procédé d'imagerie par rétrodiffusion - Google Patents

Système d'imagerie par rétrodiffusion, système d'inspection par balayage et procédé d'imagerie par rétrodiffusion Download PDF

Info

Publication number
WO2020088198A1
WO2020088198A1 PCT/CN2019/109936 CN2019109936W WO2020088198A1 WO 2020088198 A1 WO2020088198 A1 WO 2020088198A1 CN 2019109936 W CN2019109936 W CN 2019109936W WO 2020088198 A1 WO2020088198 A1 WO 2020088198A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
backscatter
signal
scanning
imaging system
backscattered
Prior art date
Application number
PCT/CN2019/109936
Other languages
English (en)
Chinese (zh)
Inventor
于昊
王伟珍
迟豪杰
刘必成
胡煜
孙尚民
李荐民
李元景
陈志强
Original Assignee
同方威视技术股份有限公司
同方威视科技江苏有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 同方威视技术股份有限公司, 同方威视科技江苏有限公司 filed Critical 同方威视技术股份有限公司
Priority to PL437748A priority Critical patent/PL437748A1/pl
Publication of WO2020088198A1 publication Critical patent/WO2020088198A1/fr

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/203—Measuring back scattering

Definitions

  • a first aspect of the present disclosure provides a backscatter imaging system, including:
  • the backscattered line source is configured to have the first scanning state when performing each column of scanning or to have the first scanning state when continuously performing more than two columns of scanning.
  • correcting the second backscatter signal with a correction signal formed from the first backscatter signal to obtain a modified backscatter signal includes subtracting the correction signal and correction from the second backscatter signal The product of the coefficients forms the modified backscatter signal.
  • FIG. 6 is a backscattered image without interference removal generated when the backscatter imaging system of the scanning inspection system is disturbed by scattered rays formed by the transmission rays of the transmission imaging system.
  • the arc-shaped surface of the sector box 2 is provided with a collimating slit for X-rays.
  • the circumferential angle of the collimating slit is the light-emitting angle of the sector box 2.
  • Each beam hole can only transmit X-rays when it is in the light-emitting area covered by the light-emitting angle of the sector box 2, and it cannot transmit X-rays when each beam hole is outside the light-emitting area of the sector box 2.
  • FIGS. 7 to 9 Comparing FIGS. 7 to 9 with FIGS. 5 and 6, it can be seen that after the backscatter image imaging methods of the embodiments of the present disclosure are used to remove the interference of the scattered rays formed by the transmitted rays of the transmission imaging system, the backscattered image in the second scanning state Closer to the situation of the non-transmission imaging system shown in FIG. 6, the overall image of the backscattered image is clear and the imaging quality is better.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

L'invention concerne un système d'imagerie par rétrodiffusion, un système d'inspection par balayage et un procédé d'imagerie par rétrodiffusion. Le système d'imagerie par rétrodiffusion comprend : une source de rayonnement de rétrodiffusion configurée pour, pendant l'exécution du balayage, présenter un premier état de balayage dans lequel aucun faisceau de balayage n'est émis et un deuxième état de balayage dans lequel un faisceau de balayage est émis ; un détecteur de rétrodiffusion conçu pour détecter un premier signal de rétrodiffusion lorsque la source de rayonnement de rétrodiffusion du système d'imagerie de rétrodiffusion se trouve dans le premier état de balayage et pour détecter un deuxième signal de rétrodiffusion lorsque la source de rayonnement de rétrodiffusion se trouve dans le deuxième état de balayage ; un dispositif de commande signalé au détecteur de rétrodiffusion et conçu pour corriger le deuxième signal de rétrodiffusion à l'aide d'un signal de correction formé selon le premier signal de rétrodiffusion afin d'obtenir un signal de rétrodiffusion corrigé et en vue de former des informations graphiques en fonction du signal de rétrodiffusion corrigé ; et un dispositif d'imagerie signalé au dispositif de commande destiné à générer une image de rétrodiffusion dans le deuxième état de balayage selon les informations graphiques. Le système d'imagerie par rétrodiffusion peut réduire l'influence des interférences externes sur le système d'imagerie, de sorte qu'une image de rétrodiffusion obtenue est nette.
PCT/CN2019/109936 2018-11-01 2019-10-08 Système d'imagerie par rétrodiffusion, système d'inspection par balayage et procédé d'imagerie par rétrodiffusion WO2020088198A1 (fr)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL437748A PL437748A1 (pl) 2018-11-01 2019-10-08 Układ do obrazowania rozproszeniem wstecznym, układ do kontroli skanowaniem oraz sposób obrazowania rozproszeniem wstecznym

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811291946.2 2018-11-01
CN201811291946.2A CN109142404B (zh) 2018-11-01 2018-11-01 背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2020088198A1 true WO2020088198A1 (fr) 2020-05-07

Family

ID=64807443

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/CN2019/109936 WO2020088198A1 (fr) 2018-11-01 2019-10-08 Système d'imagerie par rétrodiffusion, système d'inspection par balayage et procédé d'imagerie par rétrodiffusion

Country Status (3)

Country Link
CN (1) CN109142404B (fr)
PL (1) PL437748A1 (fr)
WO (1) WO2020088198A1 (fr)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109142404B (zh) * 2018-11-01 2024-06-11 同方威视技术股份有限公司 背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN200947086Y (zh) * 2006-05-19 2007-09-12 清华大学 探测器阵列及设备
CN202929217U (zh) * 2012-08-21 2013-05-08 同方威视技术股份有限公司 可监测人体携带放射性物质的背散射人体安检系统
US20150117610A1 (en) * 2013-10-28 2015-04-30 Kla-Tencor Corporation Methods and apparatus for measuring semiconductor device overlay using x-ray metrology
CN105607111A (zh) * 2014-11-05 2016-05-25 中国科学院高能物理研究所 一种γ核素识别方法
CN106442585A (zh) * 2016-10-17 2017-02-22 北京君和信达科技有限公司 背散射辐射成像系统
WO2018072074A1 (fr) * 2016-10-18 2018-04-26 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. Détecteur de rayonnement approprié pour une source de rayonnement pulsé
CN109142404A (zh) * 2018-11-01 2019-01-04 同方威视技术股份有限公司 背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法
CN209148568U (zh) * 2018-11-01 2019-07-23 同方威视技术股份有限公司 背散射成像系统和扫描检查系统

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7099434B2 (en) * 2002-11-06 2006-08-29 American Science And Engineering, Inc. X-ray backscatter mobile inspection van
RU2448342C2 (ru) * 2006-08-11 2012-04-20 Эмерикэн Сайэнс Энд Энджиниэринг, Инк. Система контроля объекта (варианты)
US8908831B2 (en) * 2011-02-08 2014-12-09 Rapiscan Systems, Inc. Covert surveillance using multi-modality sensing
CN105445303B (zh) * 2015-12-29 2019-02-19 清华大学 手持式背散射成像仪及其成像方法
CN106841256B (zh) * 2017-02-17 2023-11-21 清华大学 多视角背散射检查系统和多视角背散射检查方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN200947086Y (zh) * 2006-05-19 2007-09-12 清华大学 探测器阵列及设备
CN202929217U (zh) * 2012-08-21 2013-05-08 同方威视技术股份有限公司 可监测人体携带放射性物质的背散射人体安检系统
US20150117610A1 (en) * 2013-10-28 2015-04-30 Kla-Tencor Corporation Methods and apparatus for measuring semiconductor device overlay using x-ray metrology
CN105607111A (zh) * 2014-11-05 2016-05-25 中国科学院高能物理研究所 一种γ核素识别方法
CN106442585A (zh) * 2016-10-17 2017-02-22 北京君和信达科技有限公司 背散射辐射成像系统
WO2018072074A1 (fr) * 2016-10-18 2018-04-26 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. Détecteur de rayonnement approprié pour une source de rayonnement pulsé
CN109142404A (zh) * 2018-11-01 2019-01-04 同方威视技术股份有限公司 背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法
CN209148568U (zh) * 2018-11-01 2019-07-23 同方威视技术股份有限公司 背散射成像系统和扫描检查系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN109142404A (zh) 2019-01-04
PL437748A1 (pl) 2022-01-31
CN109142404B (zh) 2024-06-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6269142B1 (en) Interrupted-fan-beam imaging
US20110019799A1 (en) Spatial sequenced backscatter portal
CN106841256B (zh) 多视角背散射检查系统和多视角背散射检查方法
US7706502B2 (en) Cargo container inspection system and apparatus
WO2017101471A1 (fr) Méthode et système d'analyse de liquide
EP2963455B1 (fr) Système d'inspection de sécurité à rétrodiffusion de rayons x ayant une source de rayons x distribuée et procédé utilisant celui-ci
AU2017265073B2 (en) Inspection devices, inspection methods and inspection systems
JP5204089B2 (ja) 大気源からの粒子を用いた放射能測定値の補正
JP6732805B2 (ja) マルチモーダル検出システムおよび方法
US20080298546A1 (en) Cargo container inspection method
JP6538811B2 (ja) 検査装置及びコンテナを検査する方法
WO2020088198A1 (fr) Système d'imagerie par rétrodiffusion, système d'inspection par balayage et procédé d'imagerie par rétrodiffusion
US10215717B2 (en) Detection of an object within a volume of interest
CN110325846A (zh) 采用衍射检测器的样本检查设备
CN209148568U (zh) 背散射成像系统和扫描检查系统
CN103901064B (zh) 射线发射装置、成像系统及检查方法
CN206573504U (zh) 多视角背散射检查系统
US9689812B2 (en) Systems and methods for generating two-dimensional images from projection data
US8354651B2 (en) Positron emission imaging device and method of using the same
CN108078580A (zh) 放射成像方法及其系统
CN211652615U (zh) 一种x射线反散射和透射的组合式安全检测仪
WO2023125286A1 (fr) Dispositif d'inspection à source multifaisceaux et procédé d'inspection
CN111856605A (zh) 一种多视角垂直底照x射线安检机
US9618462B2 (en) Systems and methods for imaging and determining a signature of an object
CN117607179A (zh) 一种背散射成像装置及安检系统

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 19879517

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 19879517

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1