WO2020019429A1 - 显示面板的测试装置及测试方法 - Google Patents

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display panel
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dac
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王美红
童培谦
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Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
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    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Definitions

  • the invention relates to the testing field of displays, and in particular to a testing device and a testing method for a display panel.
  • Flat panel display technology is an indispensable part of modern life and has a wide range of applications.
  • the main application fields of flat panel display technology include smart phones, tablet computers, notebook computers, televisions, etc., and they may play an important role in emerging fields such as automotive electronics, industrial control, electronic tags, and smart medical treatment.
  • the display screen As the interface of human-computer interaction, is continuously expanding with the increase in the number of terminal devices such as smartphones, and the demand for panels and shipping area are increasing year by year.
  • the existing panel testing device has a tedious operation process, resulting in a long test time, which in turn leads to a low efficiency of panel testing, which is not conducive to large-scale production of panel testing.
  • the present invention provides a testing device for a display panel to solve the existing testing device of a display. Due to the need to connect multiple wires, the operation process is cumbersome, and the detection efficiency is affected.
  • the invention provides a test device for a display panel, including:
  • the MCU module electrical monitoring module, power module, FPGA module, UI display module connected to the MCU module, optical monitoring module connected to the UI display module, and GOA signal processing module connected to the FPGA module, respectively DAC module;
  • the power module, the GOA signal processing module, the DAC module, the electrical monitoring module, and the optical monitoring module are respectively connected to a display panel to be tested;
  • the FPGA module includes a clock module SPI communication module, GOA timing module, DAC control module;
  • the power module receives power configuration information sent from the MCU module, and supplies power to the display panel;
  • the GOA signal processing module receives GOA from the FPGA module The timing signal outputs the corresponding GOA timing to the display panel;
  • the MCU module sends a DATA voltage signal or picture information to the FPGA module, and then passes the DAC module to output the corresponding DATA voltage or Pixel voltage;
  • the MCU module applies power to the display panel through the electrical monitoring module and the optical monitoring module, respectively. And optical characteristics in real time.
  • the GOA signal processing module includes an analog switch and a GOA output unit.
  • the analog switch is respectively connected to the power module, the FPGA module, and the GOA output unit.
  • the GOA output unit is connected to the GOA output unit.
  • the display panel is connected.
  • the digital-to-analog converter is connected to the FPGA module and the operational amplifier, and the DAC output unit is connected to the operational amplifier and the display panel, respectively.
  • the power module includes a tunable power source and a power output unit, the tunable power source is connected to the MCU module and the power output unit, and the power output unit is connected to the display panel.
  • the present invention also provides a test method for a display panel, including the following steps:
  • the MCU module sends GOA timing parameters to the FPGA module, the FPGA module sends the corresponding GOA timing to the GOA signal processing module, and the GOA signal processing module outputs the GOA timing to the display panel;
  • the MCU module sends a set DATA voltage signal to the FPGA module, the FAGA module generates and outputs a timing for controlling a DAC chip to the DAC module, and the DAC module generates a corresponding DATA voltage and outputs it to all Mentioned display panel;
  • the MCU module sends the type information of the picture to be lit to the FPGA module.
  • the FPGA module generates and outputs the timing for controlling the DAC chip.
  • the DAC module generates the corresponding pixel voltage and outputs it to the display panel. ;
  • the MCU module records the electrical parameters of the display panel by reading the current and voltage values of the electrical monitoring module;
  • the UI display module communicates with the optical monitoring module to obtain optical parameters of the display panel.
  • the test method further includes:
  • the MCU module sends power configuration information to a power module, and the power module outputs a power voltage to the display panel.
  • step S30 after the DAC module generates a corresponding DATA voltage, the voltage is amplified by an operational amplifier before being output to the display panel.
  • the step S60 further includes:
  • the UI module communicates with the MCU module to obtain electrical parameters of the display panel.
  • the present invention also provides a test device for a display panel, including:
  • the MCU module electrical monitoring module, power module, FPGA module, UI display module connected to the MCU module, optical monitoring module connected to the UI display module, and GOA signal processing module connected to the FPGA module, respectively DAC module;
  • the power module receives the signals from the MCU The power configuration information sent by the module supplies power to the display panel;
  • the GOA signal processing module receives the GOA timing signal from the FPGA module and outputs the corresponding GOA timing to the display panel;
  • the MCU module sends a DATA voltage signal Or picture information is sent to the FPGA module, and then passes through the DAC module to output the corresponding DATA voltage or pixel voltage to the display panel;
  • the MCU module passes the electrical monitoring module and the optical monitoring module, respectively, The electrical and optical characteristics of the display panel are monitored in real time.
  • the GOA signal processing module includes an analog switch and a GOA output unit.
  • the analog switch is respectively connected to the power module, the FPGA module, and the GOA output unit.
  • the GOA output unit is connected to the GOA output unit.
  • the display panel is connected.
  • the DAC module includes a digital-to-analog converter, an operational amplifier, and a DAC output unit.
  • the digital-to-analog converter is connected to the FPGA module and the operational amplifier, and the DAC output unit is connected to the operational amplifier and the display panel, respectively.
  • the power module includes a tunable power source and a power output unit, the tunable power source is connected to the MCU module and the power output unit, and the power output unit is connected to the display panel.
  • the invention has the beneficial effects that, by integrating the FPGA chip and the MCU chip, the invention can not only drive the panel quickly and effectively, but also collect the electrical and optical characteristics of the panel, and analyze the luminous quality of the panel.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of an overall structure of a test device of a display panel according to the present invention
  • FIG. 2 is a schematic diagram of an FPGA internal architecture of a test device for a display panel of the present invention
  • FIG. 3 is a flowchart of steps of a method for testing a display panel according to the present invention.
  • the present invention is directed to an existing test device for a display panel. Since the testing equipment requires multiple wires to be connected, the operation process is cumbersome, and the contact of each wire interface is likely to be poor, thereby causing the problem of low detection efficiency. This embodiment can solve this defect.
  • the present invention provides a test device for a display panel, including: an MCU module 10; an electrical monitoring module 20, a power module, an FPGA module 30; an optical monitoring module 50; a GOA signal processing module; and a DAC module.
  • the electrical monitoring module 20, the optical monitoring module 50, the power module, the GOA signal processing module, and the DAC module are respectively connected to the display panel 90 to be tested.
  • the GOA signal processing module includes an analog switch 601 and the GOA output unit 602.
  • the DAC module includes a digital-to-analog converter 701, an operational amplifier 702, and a DAC output unit.
  • An input terminal of the digital-to-analog converter 701 is connected to the FPGA module 30, and an output terminal of the digital-to-analog converter 701 is connected to the FPGA module 30.
  • the operational amplifier 702 is connected.
  • the power supply module includes a tunable power supply 801 and a power output unit 802.
  • An input terminal of the tunable power supply 801 is connected to the MCU module 10.
  • An output terminal of the tunable power supply 801 is connected to the analog switch 601 and the analog switch.
  • the power output unit 802 is connected.
  • the power output unit 802, the GOA output unit 602, and the DAC output unit 703 are connected to the display panel 90, respectively.
  • the internal architecture of the FPGA module 30 includes a clock module 301, a GOA timing module 302, an SPI communication module 303, and a DAC control module 304.
  • the clock module 301 functions as a timer.
  • the GOA timing module 302 is used to generate the time when each pixel GATE (gate) is sequentially turned on.
  • the SPI communication module is used for the FPGA module 30 to communicate with the MCU module 10, and the DAC control module 304 is used for Control the digital-to-analog converter 701, that is, a DAC chip.
  • the MCU module 10 communicates with the UI display module, and an operator controls the MCU module through an interface program on the UI module.
  • the MCU module 10 controls and adjusts the voltage required by the display panel 90 by controlling the power module.
  • the MCU module 10 passes the GOA timing parameters required by the display panel 90 to the FPGA module 30 through the SPI interface, the FPGA module 30 outputs the corresponding GOA timing, the analog switch 601 is turned on, and the GOA timing is received, The amplitude of the AC signal is amplified and output to the display panel 90 through the GOA output unit 602.
  • the MCU module 10 transmits the DATA voltage control signal required by the panel to the FPGA module 30 through SPI communication, and the FPGA module 30 output can control the timing of the digital-to-analog converter 701 to generate a DATA voltage.
  • the operational amplifier 702 amplifies the DATA voltage, and finally outputs the DATA voltage required by the display panel 90 through the DAC output unit 703.
  • the MCU After the display panel 90 is lit, the MCU reads the current and voltage values of the electrical monitoring module 20 and records the data, communicates with the UI display module 40, and transmits the data to the UI Display module 40.
  • the optical monitoring module 50 communicates with the UI display module 40 and transmits the monitored optical performance parameters such as color coordinates and brightness of the display panel 90 to the UI display module 40.
  • the present invention also provides a test method for a display panel.
  • the test method uses the above test device for testing.
  • the test method includes the following steps:
  • the MCU module power module sends power configuration information, and the power module outputs a power voltage to the display panel.
  • the power supply module includes a tunable power supply and a power output unit.
  • the tunable power supply can transform an AC power supply and provide a required voltage to a display panel to be tested.
  • the tunable power supply is based on the MCU module. As a center, it is controlled by a software program.
  • the tunable power supply has flexible control, high precision, fast response speed, few components, and high reliability.
  • the MCU module sends GOA timing parameters to the FPGA module, the FPGA module sends the corresponding GOA timing to the GOA signal processing module, and the GOA signal processing module outputs the GOA timing to the display panel;
  • the GOA signal processing module includes an analog switch and a GOA output unit.
  • the analog switch When the analog switch is on, it receives the corresponding GOA timing and amplifies the AC signal.
  • the GOA output unit outputs the display panel. For the required GOA timing, pixels are scanned by corresponding scan lines on the display panel.
  • the MCU module sends a set DATA voltage signal to the FPGA module, the FAGA module generates and outputs a timing for controlling a DAC chip to the DAC module, and the DAC module generates a corresponding DATA voltage and outputs it to all Mentioned display panel;
  • the DAC module includes an operational amplifier and a DAC output unit in addition to a digital-to-analog converter.
  • the digital-to-analog converter transmits the output DATA voltage signal to the operational amplifier.
  • the DAC output unit outputs a DATA voltage required by the display panel.
  • the MCU module sends the type information of the picture to be lit to the FPGA module.
  • the FPGA module generates and outputs the timing for controlling the DAC chip.
  • the DAC module generates the corresponding pixel voltage and outputs it to the display panel. ;
  • the MCU module records the electrical parameters of the display panel by reading the current and voltage values of the electrical monitoring module;
  • the UI display module communicates with the optical monitoring module to obtain optical parameters of the display panel.
  • the UI display module also communicates with the MCU module. On the one hand, the MCU module is controlled, and then the FPGA module is controlled; on the other hand, the MCU module transmits the display panel to the UI display module. Electrical parameters.
  • the present invention can not only drive the panel quickly and effectively, but also collect the electrical and optical characteristics of the panel, and analyze the luminous quality of the panel.

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Abstract

一种显示面板的测试装置，包括MCU模块（10）、电性监测模块（20）、电源模块、FPGA模块（30）、UI显示模块（40）、光学监测模块（50）、GOA信号处理模块、DAC模块；GOA信号处理模块接收来自FPGA模块（30）的GOA时序信号，向显示面板输出相应的GOA时序；MCU模块（10）将DATA电压信号或图片信息发送至FPGA模块（30），再经过DAC模块向显示面板输出相应的DATA电压或像素电压。

Description

显示面板的测试装置及测试方法 技术领域
本发明涉及显示器的测试领域，尤其涉及一种显示面板的测试装置及测试方法。
 背景技术
平板显示技术是现代生活中不可或缺的一部分，应用领域十分广泛。目前，平板显示技术主要的应用领域包括智能手机、平板电脑、笔记本电脑、电视等，并且未来有可能在汽车电子、工业控制、电子标签、智慧医疗等新兴领域扮演重要角色。随着互联网的普及，智能化趋势的不断推进，显示屏作为人机交互的界面，其市场规模正在随着智能手机等终端设备数量的增加而不断扩大，面板需求量和出货面积逐年递增。
随着面板产量的逐年递增，在面板产出后，如何更加快捷、有效地检测面板的发光品质，是面板市场普遍关注的话题。目前的检测设备通常需要各种线材进行连接，操作过程较为繁琐，且由于测试系统需采用各种线材连接，容易导致接口接触不良，造成测试结果的不可靠。
综上所述，现有的面板测试装置存在操作过程繁琐，导致测试时间长，进而导致面板检测的效率低下，不利于大规模生产的面板检测。
 技术问题
本发明提供一种显示面板的测试装置，以解决现有的显示器的检测装置，由于需要连接多个线材，导致操作过程繁琐，进而影响检测的效率问题。
 技术解决方案
本发明提供一种显示面板的测试装置，包括：
MCU模块，分别与所述MCU模块连接的电性监测模块、电源模块、FPGA模块、UI显示模块，与所述UI显示模块连接的光学监测模块，分别与所述FPGA模块连接的GOA信号处理模块、DAC模块；所述电源模块、所述GOA信号处理模块、所述DAC模块、所述电性监测模块以及所述光学监测模块分别与待测显示面板连接；其中，所述FPGA模块包括时钟模块、SPI通讯模块、GOA时序模块、DAC控制模块；所述电源模块接收来自所述MCU模块发送的电源配置信息，向所述显示面板供电；所述GOA信号处理模块接收来自所述FPGA模块的GOA时序信号，向所述显示面板输出相应的GOA时序；所述MCU模块将DATA电压信号或图片信息发送至所述FPGA模块，再经过所述DAC模块，向所述显示面板输出相应的DATA电压或像素电压；所述MCU模块分别通过所述电性监测模块和所述光学监测模块，对所述显示面板的电学特性和光学特性进行实时监测。
根据本发明一实施例，所述GOA信号处理模块包括模拟开关和GOA输出单元，所述模拟开关分别与所述电源模块、所述FPGA模块以及所述GOA输出单元连接，所述GOA输出单元与所述显示面板连接。
根据本发明一实施例，所述DAC模块包括数模转换器、运算放大器以及DAC输出单元。
根据本发明一实施例，所述数模转换器分别与所述FPGA模块、所述运算放大器连接，所述DAC输出单元分别与所述运算放大器和所述显示面板连接。
根据本发明一实施例，所述电源模块包括可调谐电源和电源输出单元，所述可调谐电源分别与所述MCU模块和所述电源输出单元连接，所述电源输出单元与所述显示面板连接。
本发明还提供一种显示面板的测试方法，包括以下步骤：
S20，MCU模块向FPGA模块发送GOA时序参数，所述FPGA模块向GOA信号处理模块发送相应的GOA时序，所述GOA信号处理模块向所述显示面板输出所述GOA时序；
S30，所述MCU模块向所述FPGA模块发送设定的DATA电压信号，所述FAGA模块向所述DAC模块产生并输出控制DAC芯片的时序，所述DAC模块产生相应的DATA电压，输出到所述显示面板；
S40，所述MCU模块将待点亮的图片类型信息发送给所述FPGA模块，所述FPGA模块产生并输出控制DAC芯片的时序，所述DAC模块产生相应的像素电压，输出到所述显示面板；
S50，所述MCU模块通过读取电性监测模块的电流电压值，记录所述显示面板的电学参数；
S60，UI显示模块与光学监测模块通讯，获取所述显示面板的光学参数。
根据本发明一实施例，所述测试方法还包括：
S10，所述MCU模块向电源模块发送电源配置信息，所述电源模块向所述显示面板输出电源电压。
根据本发明一实施例，在所述S30步骤中，所述DAC模块产生相应的DATA电压后，先经过运算放大器进行电压的放大，再输出到所述显示面板。
根据本发明一实施例，所述S60步骤还包括：
所述UI模块与所述MCU模块通讯，获取所述显示面板的电性参数。
本发明还提供一种显示面板的测试装置，包括：
MCU模块，分别与所述MCU模块连接的电性监测模块、电源模块、FPGA模块、UI显示模块，与所述UI显示模块连接的光学监测模块，分别与所述FPGA模块连接的GOA信号处理模块、DAC模块；所述电源模块、所述GOA信号处理模块、所述DAC模块、所述电性监测模块以及所述光学监测模块分别与待测显示面板连接；所述电源模块接收来自所述MCU模块发送的电源配置信息，向所述显示面板供电；所述GOA信号处理模块接收来自所述FPGA模块的GOA时序信号，向所述显示面板输出相应的GOA时序；所述MCU模块将DATA电压信号或图片信息发送至所述FPGA模块，再经过所述DAC模块，向所述显示面板输出相应的DATA电压或像素电压；所述MCU模块分别通过所述电性监测模块和所述光学监测模块，对所述显示面板的电学特性和光学特性进行实时监测。
根据本发明一实施例，所述GOA信号处理模块包括模拟开关和GOA输出单元，所述模拟开关分别与所述电源模块、所述FPGA模块以及所述GOA输出单元连接，所述GOA输出单元与所述显示面板连接。
根据本发明一实施例，所述DAC模块包括数模转换器、运算放大器以及DAC输出单元。
根据本发明一实施例，所述数模转换器分别与所述FPGA模块、所述运算放大器连接，所述DAC输出单元分别与所述运算放大器和所述显示面板连接。
根据本发明一实施例，所述电源模块包括可调谐电源和电源输出单元，所述可调谐电源分别与所述MCU模块和所述电源输出单元连接，所述电源输出单元与所述显示面板连接。
 有益效果
本发明的有益效果为：本发明通过集成FPGA芯片和MCU芯片，既能快速、有效地驱动面板，也能对面板的电学和光学特性进行采集，分析面板的发光品质。
 附图说明
为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明显示面板的测试装置的整体结构示意图；
图2为本发明显示面板的测试装置的FPGA内部架构示意图；
图3为本发明显示面板的测试方法的步骤流程图。
 本发明的实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示。
本发明针对现有的显示面板的测试装置，由于检测设备需要多种线材连接，操作过程繁琐，且容易导致各个线材接口接触不良，进而导致检测效率低下的问题，本实施例能够解决该缺陷。
如图1所示，本发明提供一种显示面板的测试装置，包括：MCU模块10；电性监测模块20、电源模块、FPGA模块30；光学监测模块50；GOA信号处理模块；DAC模块。
所述MCU模块10分别与所述电性监测模块20、所述UI显示模块40、所述FPGA模块30、以及所述电源模块连接。
所述电性监测模块20、所述光学监测模块50、所述电源模块、所述GOA信号处理模块、以及所述DAC模块分别与待测的显示面板90连接。
其中，所述GOA信号处理模块包括模拟开关601和所述GOA输出单元602。
所述DAC模块包括数模转换器701、运算放大器702、以及DAC输出单元，所述数模转换器701的输入端与所述FPGA模块30连接，所述数模转换器701的输出端与所述运算放大器702连接。
所述电源模块包括可调谐电源801和电源输出单元802，所述可调谐电源801的输入端与所述MCU模块10连接，所述可调谐电源801的输出端与所述模拟开关601和所述电源输出单元802连接。
所述电源输出单元802、所述GOA输出单元602、以及所述DAC输出单元703分别与所述显示面板90连接。
如图2所示，所述FPGA模块30内部架构包括：时钟模块301、GOA时序模块302、SPI通讯模块303、DAC控制模块304；其中，所述时钟模块301起到定时器的作用，所述GOA时序模块302用以生成每个像元GATE（栅极）依次打开的时间，所述SPI通讯模块用以所述FPGA模块30与所述MCU模块10进行通讯，所述DAC控制模块304用以控制所述数模转换器701，即DAC芯片。
所述MCU模块10与所述UI显示模块进行通讯，操作人员通过所述UI模块上的界面化程序来控制所述MCU模块。
所述MCU模块10通过控制电源模块，控制和调节所述显示面板90所需的电压。
所述MCU模块10通过SPI接口，将所述显示面板90所需的GOA时序参数传递给所述FPGA模块30，所述FPGA模块30输出相应的GOA时序，模拟开关601打开，接收该GOA时序，并进行交流信号幅值的放大，经过所述GOA输出单元602，输出到所述显示面板90。
所述MCU模块10通过SPI通讯将面板所需的DATA电压控制讯号传递给所述FPGA模块30，所述FPGA模块30输出可控制所述数模转换器701的时序，产生DATA电压，经过所述运算放大器702，进行DATA电压的放大，最后经所述DAC输出单元703输出所述显示面板90所需的DATA电压。
所述显示面板90点亮后，MCU通过读取所述电性监测模块20的电流、电压值，并将数据记录下来，与所述UI显示模块40进行通讯，将该数据传输给所述UI显示模块40。
所述光学监测模块50与所述UI显示模块40进行通讯，将监测到的所述显示面板90的色坐标、亮度等光学性能参数传送到所述UI显示模块40。
本发明还提供一种显示面板的测试方法，所述测试方法用上述测试装置来进行测试，所述测试方法包括以下步骤：
S10，MCU模块电源模块发送电源配置信息，所述电源模块向所述显示面板输出电源电压。
其中，所述电源模块包括可调谐电源和电源输出单元，所述可调谐电源可将交流电源进行变压，提供给待测的显示面板所需的电压，所述可调谐电源以所述MCU模块为中心，通过软件程序来控制，所述可调谐电源控制灵活、精度高、响应速度快、所用元件少、可靠性高。
S20，所述MCU模块向FPGA模块发送GOA时序参数，所述FPGA模块向GOA信号处理模块发送相应的GOA时序，所述GOA信号处理模块向所述显示面板输出所述GOA时序；
其中，所述GOA信号处理模块包括模拟开关和GOA输出单元，所述模拟开关处于打开状态时，接收相应的GOA时序，进行交流信号的放大，通过所述GOA输出单元，输出所述显示面板所需的GOA时序，所述显示面板上的相应的扫描线对像素进行扫描。
S30，所述MCU模块向所述FPGA模块发送设定的DATA电压信号，所述FAGA模块向所述DAC模块产生并输出控制DAC芯片的时序，所述DAC模块产生相应的DATA电压，输出到所述显示面板；
其中，所述DAC模块除了包括数模转换器以外，还包括运算放大器和DAC输出单元，所述数模转换器将输出的DATA电压信号传送到所述运算放大器，经过DATA电压的放大，再经过所述DAC输出单元输出所述显示面板需要的DATA电压。
S40，所述MCU模块将待点亮的图片类型信息发送给所述FPGA模块，所述FPGA模块产生并输出控制DAC芯片的时序，所述DAC模块产生相应的像素电压，输出到所述显示面板；
S50，所述MCU模块通过读取电性监测模块的电流电压值，记录所述显示面板的电学参数；
S60，UI显示模块与光学监测模块通讯，获取所述显示面板的光学参数。
其中，所述UI显示模块还与所述MCU模块进行通讯，一方面控制所述MCU模块，进而控制所述FPGA模块；另一方面，所述MCU模块向所述UI显示模块输送所述显示面板的电学参数。
有益效果：本发明通过集成FPGA芯片和MCU芯片，既能快速、有效地驱动面板，也能对面板的电学和光学特性进行采集，分析面板的发光品质。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (14)

  1. 一种显示面板的测试装置，其中，包括：
    MCU模块；
    分别与所述MCU模块连接的电性监测模块、电源模块、FPGA模块、UI显示模块；
    与所述UI显示模块连接的光学监测模块；
    分别与所述FPGA模块连接的GOA信号处理模块、DAC模块；
    所述电源模块、所述GOA信号处理模块、所述DAC模块、所述电性监测模块以及所述光学监测模块分别与待测显示面板连接；
    其中，所述FPGA模块包括时钟模块、SPI通讯模块、GOA时序模块、DAC控制模块；
    所述电源模块接收来自所述MCU模块发送的电源配置信息，向所述显示面板供电；
    所述GOA信号处理模块接收来自所述FPGA模块的GOA时序信号，向所述显示面板输出相应的GOA时序；
    所述MCU模块将DATA电压信号或图片信息发送至所述FPGA模块，再经过所述DAC模块，向所述显示面板输出相应的DATA电压或像素电压；
    所述MCU模块分别通过所述电性监测模块和所述光学监测模块，对所述显示面板的电学特性和光学特性进行实时监测。
  2. 根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述GOA信号处理模块包括模拟开关和GOA输出单元，所述模拟开关分别与所述电源模块、所述FPGA模块以及所述GOA输出单元连接，所述GOA输出单元与所述显示面板连接。
  3. 根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述DAC模块包括数模转换器、运算放大器以及DAC输出单元。
  4. 根据权利要求3所述的测试装置，其中，所述数模转换器分别与所述FPGA模块、所述运算放大器连接，所述DAC输出单元分别与所述运算放大器和所述显示面板连接。
  5. 根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述电源模块包括可调谐电源和电源输出单元，所述可调谐电源分别与所述MCU模块和所述电源输出单元连接，所述电源输出单元与所述显示面板连接。
  6. 一种显示面板的测试方法，其中，包括以下步骤：
    S20，MCU模块向FPGA模块发送GOA时序参数，所述FPGA模块向GOA信号处理模块发送相应的GOA时序，所述GOA信号处理模块向所述显示面板输出所述GOA时序；
    S30，所述MCU模块向所述FPGA模块发送设定的DATA电压信号，所述FAGA模块向所述DAC模块产生并输出控制DAC芯片的时序，所述DAC模块产生相应的DATA电压，输出到所述显示面板；
    S40，所述MCU模块将待点亮的图片类型信息发送给所述FPGA模块，所述FPGA模块产生并输出控制DAC芯片的时序，所述DAC模块产生相应的像素电压，输出到所述显示面板；
    S50，所述MCU模块通过读取电性监测模块的电流电压值，记录所述显示面板的电学参数；
    S60，UI显示模块与光学监测模块通讯，获取所述显示面板的光学参数。
  7. 根据权利要求6所述的测试方法，其中，所述测试方法还包括：
    S10，所述MCU模块向电源模块发送电源配置信息，所述电源模块向所述显示面板输出电源电压。
  8. 根据权利要求6所述的测试方法，其中，在所述S30步骤中，所述DAC模块产生相应的DATA电压后，先经过运算放大器进行电压的放大，再输出到所述显示面板。
  9. 根据权利要求6所述的测试方法，其中，所述S60步骤还包括：
    所述UI模块与所述MCU模块通讯，获取所述显示面板的电性参数。
  10. 一种显示面板的测试装置，其中，包括：
    MCU模块；
    分别与所述MCU模块连接的电性监测模块、电源模块、FPGA模块、UI显示模块；
    与所述UI显示模块连接的光学监测模块；
    分别与所述FPGA模块连接的GOA信号处理模块、DAC模块；
    所述电源模块、所述GOA信号处理模块、所述DAC模块、所述电性监测模块以及所述光学监测模块分别与待测显示面板连接；
    所述电源模块接收来自所述MCU模块发送的电源配置信息，向所述显示面板供电；
    所述GOA信号处理模块接收来自所述FPGA模块的GOA时序信号，向所述显示面板输出相应的GOA时序；
    所述MCU模块将DATA电压信号或图片信息发送至所述FPGA模块，再经过所述DAC模块，向所述显示面板输出相应的DATA电压或像素电压；
    所述MCU模块分别通过所述电性监测模块和所述光学监测模块，对所述显示面板的电学特性和光学特性进行实时监测。
  11. 根据权利要求10所述的测试装置，其中，所述GOA信号处理模块包括模拟开关和GOA输出单元，所述模拟开关分别与所述电源模块、所述FPGA模块以及所述GOA输出单元连接，所述GOA输出单元与所述显示面板连接。
  12. 根据权利要求10所述的测试装置，其中，所述DAC模块包括数模转换器、运算放大器以及DAC输出单元。
  13. 根据权利要求12所述的测试装置，其中，所述数模转换器分别与所述FPGA模块、所述运算放大器连接，所述DAC输出单元分别与所述运算放大器和所述显示面板连接。
  14. 根据权利要求10所述的测试装置，其中，所述电源模块包括可调谐电源和电源输出单元，所述可调谐电源分别与所述MCU模块和所述电源输出单元连接，所述电源输出单元与所述显示面板连接。
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