WO2019215248A1 - Method for replacing a first chip of a multi-pixel led module - Google Patents

Method for replacing a first chip of a multi-pixel led module Download PDF

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WO2019215248A1
WO2019215248A1 PCT/EP2019/061855 EP2019061855W WO2019215248A1 WO 2019215248 A1 WO2019215248 A1 WO 2019215248A1 EP 2019061855 W EP2019061855 W EP 2019061855W WO 2019215248 A1 WO2019215248 A1 WO 2019215248A1
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chip
component
contact point
contact
pixel
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PCT/EP2019/061855
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Inventor
Tilman Ruegheimer
Frank Singer
Original Assignee
Osram Opto Semiconductors Gmbh
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0753Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • HELECTRICITY
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    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls

Definitions

  • the invention relates to a method for replacing a ers th chip of a multi-pixel LED module by a second chip and a multi-pixel LED module, which is adapted to carry out the proceedings.
  • a disadvantage of this revision method is that this is very complex and thereby ent hen high production costs, should be defective individual chips of the multi-pixel LED module.
  • Multi-pixel LED modules may comprise between one hundred and four hundred pixels on a substrate, where each pixel may comprise up to four colors (red, green, blue, white). Common are pixels with three colors (red, green, blue).
  • An object of the invention is to provide an improved method for replacing a chip on a multi-pixel LED module be. Another object of the invention is to provide a corresponding multi-pixel LED module. This object is achieved with the method and the multi-pixel LED module of the independent claims. Further advantageous embodiments before are specified in the dependent patent entitlements.
  • the defective, first chip to be replaced is first identified. This may include a functional test of the multi-pixel LED module angeord Neten chips. Subsequently, a first trace of the multi-pixel LED module is severed. The defective first chip can remain in the multi-pixel LED module.
  • the fürtren NEN of the first conductor can be made such that the ers te chip can no longer be energized.
  • the multi-pixel LED module provides pads for the second chip.
  • the second chip is introduced only after identifying the first chip on the contact points of the multi-pixel LED module. It may be provided that the contact Stel len are covered by an insulating layer, wherein the Iso lationstik is at least partially removed from the contact points before attaching the second chip. This reduces the number of second chips needed.
  • the second chip is already arranged before identifying the first chip on the multi-pixel LED module.
  • each pixel may already have a second chip.
  • first and second chips can be integrated in the same process step in the multi-pixel LED module, whereby the manufacturing process is simplified.
  • the first chip and the second chip are connected in parallel.
  • the first trace is connected to the first chip. By severing the first trace, the electrical connection of the first chip is thus interrupted.
  • the first chip and the second chip are connected in series.
  • the first interconnect bridges the second chip or pads for the second chip. Before the first interconnect is cut through, current can flow through the first chip and through the first interconnect; after the first interconnect has been severed, the current flows through the second chip.
  • a first bridge is he provides, with the first chip is short-circuited.
  • the first bypass can be created by applying an electrically conductive material.
  • the separation of the first conductor track by means of laser ablation takes place.
  • the first chip and the second chip are arranged in a component, wherein the component can be configured as an SMD component.
  • the component has contacts to printed conductors on a printed circuit board, wherein for carrying out the method, the first printed conductor is severed on the printed circuit board.
  • the component can contain further chips, for example for further colors of the pixel.
  • the first chip is arranged in a first component and the second chip is arranged in a second component.
  • the components can be designed as SMD components.
  • the components assign contacts Tracks on a circuit board, wherein the implementation of the method, the first trace is severed on the circuit board.
  • the first component may include a third chip, while a fourth chip may be arranged in the second component. These can provide additional colors of the pixel. Further, it can be provided, analogous to the separation of the first conductor track to sever a second conductor, whereby the method is carried out analogously for the third and fourth chip.
  • a multi-pixel LED module has a printed circuit board, a first chip, pads for a second chip and a first trace.
  • the first conductor track is designed in such a way that the first conductor track can be severed at a predetermined first position. As a result, the method according to the invention can be carried out.
  • a second chip is connected to the pads. This allows the second chip integrated before the implementation of the inventive method in the multi-pixel LED module who the.
  • each pixel has a first chip and a first trace.
  • the first chip is arranged in a first component and the second chip is arranged in a second component.
  • the components can be designed as SMD components.
  • the components have Kon contacts to tracks on a circuit board, wherein for carrying out the method, the first conductor can be cut terplatte on the Lei.
  • the first component contains a third chip, while a fourth chip is arranged in the second component. These provide further colors of the pox. Furthermore, it can be provided, analogous to the separate the first trace to sever a second trace, thereby the method can be carried out analogously for the third and fourth chip.
  • Fig. 1 is a circuit diagram of a parallel circuit of chips
  • Fig. FIG. 2 shows a circuit diagram of a series connection of chips, where a first chip bridges a first chip
  • FIG. 1 is a circuit diagram of a parallel circuit of chips
  • Fig. 1 shows a circuit diagram of a series connection of chips, where a first chip bridges a first chip
  • FIG. 2 shows a circuit diagram of a series connection of chips, where a first chip bridges a first chip
  • Fig. 3 is a circuit diagram of another series circuit of
  • Chips whereby a later to be applied first bridging is possible
  • Fig. 4 is a plan view of a first pixel
  • Fig. 5 is a plan view of the first pixel after a
  • Fig. 7 is a plan view of a second pixel
  • FIG. 11 is a plan view of contact points of a third Pi xels
  • FIG. 12 shows a third component
  • Fig. 13 is a plan view of the third pixel after a
  • Fig. 14 is a plan view of pads of a fourth Pi xels
  • Fig. 15 is a fourth component
  • 16 is a plan view of the fourth pixel after a
  • Fig. 17 is a multi-pixel LED module.
  • Fig. 1 shows a circuit diagram 100 of a parallel circuit 101 of chips 110, 120, wherein a first chip 110 is disposed in a first branch 102 of the parallel circuit 101 and a second chip 120 in a second branch 103 of the parallel circuit 101 is arranged.
  • the first branch 102 may be formed by a first conductor track.
  • a first interruption point 104 is arranged in the first branch 102. If the first chip 110 is identified as defective, the first chip 110 may be replaced by the second chip 120. Since the first branch 102 is interrupted at the first interruption point 104, which can be configured as a severing of a first conductor track.
  • a voltage applied to the parallel circuit 101 is then applied only to the second chip 120.
  • the second chip 120 may be arranged as defective in the second branch 103 before or after identifying the first chip 110.
  • an electrical contacting of the first chip 110 is interrupted.
  • 2 shows a circuit diagram 100 of a series circuit 105 of a first chip 110 and a second chip 120.
  • the second chip 120 is bridged with a bridging branch 106.
  • a first interruption point 104 is arranged in the bridging branch 106.
  • the first chip 110 is electrically contacted when a voltage is applied to the series circuit 105. Since the resistance of the bridging branch 106 is significantly lower than the resistance of the second chip 120, no or only a very small current flows through the second chip 120. If the bridging branch 106 is interrupted at the first interruption point 104, the current can only continue over flow the second chip 120. As a result, instead of the defective first chip 110, the second chip 120 can be put into operation.
  • Fig. 3 shows a circuit diagram 100 of a series circuit 105 egg nes first chip 110 and a second chip 120, which corresponds to the circuit diagram of Fig. 2, unless described below differences.
  • a short-circuit branch 107 is arranged parallel to the first chip 110.
  • the short-circuit branch 107 may be additionally short-circuited to bridge the first chip 110. Thereby, if a defect of the first chip 110 leads to an interruption of the electrical contact within the first chip 110, the second chip 120 can nevertheless be taken into operation. In the diagram of Fig. 2, this would not be possible.
  • the chips 110, 120 of FIGS. 1 to 3 may be LED chips emitting in an identical wavelength range.
  • the chips 110, 120 may be a pixel or part of a pixel of a multi-pixel LED module. Should the first chip 110 fail, it may be replaced by the second chip 120.
  • the interruption at the first point of interruption can be designed as cutting through a first printed conductor of a multiplying LED module.
  • the chips 110, 120 being light-emitting chips in one pixel of a multi-pixel LED module.
  • FIG. 4 shows a plan view of a first pixel 130.
  • a first contact track 131 serves as an anode and is arranged on an upper side of a carrier 136 visible in FIG. 4.
  • the carrier 136 can be designed as a printed circuit board.
  • a second contact track 132 serves as the first cathode and is arranged within the carrier 136 or on an underside of the carrier 136 and is shown by dashed lines for this reason.
  • Via a first via 161 the second contact path is connected to the top side of the carrier and from there via a first conductor track 141 to a first contact point 151.
  • a second contact point 152 is connected to the first contact track 131 via a second conductor track 142.
  • a first chip 110 is disposed between the first pad 151 and the second pad 152. As a result, the first chip 110 can be driven via the first contact track 131 and the second contact track 132.
  • a third contact point 153 is connected to the first conductor track 141 via a third conductor track 143.
  • a fourth contact point 154 is connected to the second conductor 142 via a fourth conductor 144.
  • a second chip 120 is disposed between the third contact point 153 and the fourth contact point 154. As a result, the second chip 120 can likewise be driven via the first contact track 131 and the second contact track 132.
  • the first chip 110 and the second chip 120 are connected in parallel.
  • the first interconnect 141 between the first contact point 151 and the third interconnect 143 may be interrupted so that the connection between the second contact strip 132 and the first chip 110 is interrupted. It can be provided that the second chip 120 is first placed on the third contact point 153 and the fourth contact point 154 after the first chip 110 has been identified as defective. Alternatively, the second chip 120 may have already been placed prior to this identification.
  • the contact points 151, 152, 153, 154 may be covered with an insulating layer. Then, before the placement of the second chip 120 and before the interruption of the first trace 141, the insulation layer is at least partially removed.
  • the first chip 110 and the second chip 120 can thereby emit white light or light of a specific color and thereby form a pixel 130 for a monochrome multi-pixel LED module.
  • Several such pixels 130 can be arranged adjacent to each other, wherein the first contact track 131 and the second contact track 132 are each connected to the neigh disclosed pixels and the individual pixels 130 can be controlled via a known matrix drive
  • the first pixel 130 of FIG. 4 contains further, optional chips 171, 172, 181, 182.
  • a third contact track 133 serves as the second cathode and is connected via a second via 162 and a fifth track 145 to a fifth contact point 155. Between the fifth contact point 155 and the second contact point 152, a third chip 171 is angeord net.
  • the third contact track 133 is connected via a third via 163 and a sixth track 146 with a sixth contact point 156. Between the sixth contact point 156 and the fourth contact point 154, a fourth chip 172 is arranged. Thereby, the third chip 171 and the fourth chip 172 are connected in parallel.
  • the third chip 171 may be replaced by the fourth chip 172 analogous to replacing the first chip 110 by the second chip 120.
  • a fourth contact path 134 serving as a third cathode is via a fourth via 164 and a seventh trace 147 connected to a seventh pad 157.
  • a fifth chip 181 is arranged between the seventh Contact point 157 and the second contact point 152.
  • the fourth contact track 134 is connected to an eighth contact point 158 via a fifth via 165 and an eighth conductor 148.
  • a sixth chip 182 is arranged.
  • the fifth chip 181 and the sixth chip 182 are connected in parallel.
  • the first chip 110 and the second chip 120 can emit red light here.
  • the third chip 171 and the fourth chip 172 can emit green light.
  • the fifth chip 181 and the sixth chip 182 can emit blue light.
  • the pixel 130 can then be used in an RGB display.
  • Fig. 5 shows a plan view of the pixel 130 of Fig. 4, in which the first conductor 141, the second conductor 142, the fifth conductor 145 and the seventh conductor 147 are un interrupted. As a result, the first chip 110, the third chip 171 and the fifth chip 181 are no longer contacted.
  • the interruption of the second trace 142 is not absolutely necessary, but allows the reduction of unwanted capacitive effects.
  • the chips may also be arranged in a component.
  • 6 shows a plan view of a lower side of a component 190.
  • the component 190 contains ent neither the first chip 110, the third chip 171 and the fifth chip 181 or the second chip 120, the fourth chip 172 and the sixth chip 182.
  • the bottom has a first solder pad 191, a second solder pad 192, a third solder pad 193, and a fourth solder pad 194.
  • the first chip 110 or the second chip 120 is disposed between the first solder pad 191 and the second solder pad 192.
  • the third chip 171 and the fourth chip 172 are between the third solder pad 193 and the second solder pad 192 arranged.
  • the fifth chip 181 and the sixth chip 182 is between tween the fourth solder pad 194 and the second solder pad 192 is arranged. This allows the member 190 to the first contact 151, the second contact point 152, the fifth contact point 155 and the seventh contact point 157 or on the third contact point 153, the fourth contact point 154, the sixth contact point 156 and the eighth contact Stel le 158 placed become.
  • the interruption of the conductor tracks can be carried out analogously to FIGS. 4 and 5.
  • FIG. 7 shows a plan view of a second pixel 130, in which a first chip 110 and a second chip 120 are not connected in parallel, but in series.
  • the pixel 130 in turn, has a first contact track 131 arranged on a carrier 136, which serves as an anode. Further, a second contact track 132 is disposed on a lower side or within the Trä gers 136 and dashed lines Darge presents for this reason.
  • a first contact point 151 is connected to the first contact track 131. Via a first via 161, the second contact track 132 is connected to a second contact point 152, a third contact point 153 and a fourth contact point 154. Between the first contact point 151 and the second contact point 152, the first chip 110 is arranged.
  • the first conductor track 141 thus forms a first bypass 221 with which the second chip 120 is short-circuited. If a voltage is applied between the first contact track 131 and the second contact track 132, the first chip 110 lights up. If the first chip 110 should be defective due to an internal short circuit, the first track 141 is severed in the region of the first bypass 221 so that now the second chip 120 can be put into operation.
  • the second pixel 130 of FIG. 7 includes further optional chips 171, 172, 181, 182.
  • a fifth pad 155 is connected to the first contact track 131.
  • a sixth contact point 156 and a seventh contact point 157 are connected to a ner third trace 143 and ver with a second via 162 connected.
  • the second via 162 leads to a third contact track 133.
  • Via a third via 163 and a third track 143 the third contact track 133 is connected to an eighth contact point 158.
  • a third chip 171 is angeord net.
  • a fourth chip is arranged between the seventh contact point 157 and the eighth contact point 158.
  • the second interconnect 142, the second via 162 and the third contact path 133 between the second via 162 and the third via 163 form a second bypass 222, with which the fourth chip 172 is short-circuited.
  • the fourth chip 172 can be put into operation.
  • a ninth pad 211 is connected to the first contact track 131.
  • a fourth contact track 134 is connected via a fourth via 164 and a fourth interconnect 144 to a tenth contact point 212, an eleventh contact point 213 and a twelfth contact point 214.
  • a fifth chip 181 is disposed between the ninth pad 211 and the tenth pad 212, a sixth chip 182 is disposed between the eleventh pad 213 and the twelfth pad 214.
  • the fourth conductor 144 forms a third bypass 223, with which the sixth chip 182 is short-circuited. By separating the fourth interconnect 144 in the third bypass 223, the sixth chip 182 can be put into operation.
  • Fig. 8 shows a plan view of an underside of a construction part 190, which may include the first chip 110, the third chip 171 and the fifth chip 181 or the second chip 120, the four th chip 172 and the sixth chip 182.
  • the component has six solder pads 195, the clocking on the first Kon 151, the second contact point 152, the fifth Kon contact point 155, the sixth contact point 156, the ninth contact point 211 and the tenth contact point 212 or the third contact point 153, the fourth contact point 154, the seventh pad 157, the eighth pad 158, the eleventh pad 213, and the twelfth pad 214 may be applied.
  • FIG. 9 shows a top view of the pixel 130 of FIG.
  • FIG. 10 shows a plan view of the pixel of FIG. 9, in which additionally a first bridging 231 has been applied between the first printed conductor 141 and the first contact track 131.
  • the first bypass 231 closes the first chip 110 briefly.
  • a second bridging 232 has been applied between tween the first conductor 141 and the second conductor 142, which bridges the third chip 171.
  • a third bypass 233 between the first contact track 131 and the fourth track 144 bridges the fifth chip 181.
  • the bridges 231, 232, 233 can also be applied individually.
  • FIG. 11 shows a plan view of contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 of a third pixel 130.
  • a first contact track 131 is arranged on an upper side of a carrier 136.
  • a second contact track 132 is angeord net.
  • the second contact track 132 is connected via a first via 161 to a first interconnect 141 and via the first interconnect 141 to a first contact point 151 and a second contact point 152.
  • the first conductor 141 forms egg nen first bypass 221 and closes the first contact point 151 with the second contact point 152 briefly.
  • a member mounted on the first pad 151, the second pad 152, and the third pad 153 may include a first chip 110 between the second pad 152 and the third pad 153 and a second chip 120 between the first pad 151 and the second pad 152 included.
  • the circuit of the chips 110, 120 is then ana log for interconnection of the chips 110, 120 of FIG. 7th
  • a fourth contact point 154 is connected via a third interconnect 143 to a fourth contact point 154 and via a second via 162 with a third contact path 134.
  • the third interconnect 143 forms a second bypass 222 between the fourth contact point 154 and the fifth contact point 155.
  • a sixth contact point 156 is connected via a fourth interconnect 144 to a seventh contact point 157 and via a third via 163 to a fourth contact path 134.
  • the fourth interconnect 144 forms a third bypass 223 between the six th contact point 156 and the seventh contact point 157 ,
  • a component placed on the contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 can then each contain two identical chips in series, via the first contact point 151, the second contact point 152 and the third contact point 153 or the fourth contact point 154 , the fifth contact point 155 and the third contact point 153 or the sixth contact point 156, the seventh contact point 157 and the third contact point 153 are contacted.
  • Fig. 12 shows a plan view of an upper side of a construction part 190, which on the contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 of FIG. 11 can be placed.
  • the component 190 contains a first component contact point 241 and a second component contact point 242, between which a second chip 120 is arranged.
  • a first chip 110 is arranged between the second component contact point 242 and a third component contact point 243.
  • a first component via 251 ver binds the first component pad 241 with a Untersei te of the component 190 and can be connected to the first contact point 151.
  • a second component via 252 connects the second component pad 242 to the underside of the component 190, and thus can communicate with the second pad 152 get connected.
  • a third component via 253 connects the third component contact point 243 to the bottom of the construction part 190 and can thus ver with the third contact point 153 a related party. This results, when the component 190 is placed on the contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 of FIG. 11, an analogous to FIG. 7 contacting the first chip 110 and the second chip 120th Matter den first bypass 221 is then the second chip 120 bridges over.
  • the component 190 further optionally includes a fourth component contact point 244 and a fifth component contact point 245.
  • a third chip 171 is between the fifth component contact point 245 and the third component contact point 243 angeord net.
  • a fourth chip 172 is arranged between the fourth component contact point 244 and the fifth component contact point 245. Via a fourth component via 254, the fourth component contact point 244 is connected to the fourth contact point 154 when the component 190 contacts the contact points 151,
  • the fifth component pad 245 is connected via a fifth component via 255 to the fifth pad 155.
  • the component 190 comprises a sixth component contact point 246 and a seventh component contact point 247.
  • a fifth chip 181 is disposed between the seventh component contact point 247 and the third component contact point 243.
  • a sixth chip 182 is arranged between the sixth component contact point 246 and the seventh component contact point 247.
  • Via a sixth component via 256, the sixth construction partial contact point 246 is connected to the sixth contact point 156, when the component 190 contacts the contact points 151, 152,
  • the seventh component contact point 247 is connected via a seventh construction part via 257 to the seventh contact point 157.
  • bypasses 221, 222, 223 have each been severed to the second chip 120, the fourth chip 172 and the sixth chip 182 to operate. Not all bypasses 221, 222, 223 need to be severed, a severing of the first bypass 221 is sufficient to put the second chip 120 into operation.
  • the second bypass 222 is guided via a fourth via 164 and a fifth via 165 and via a bypass track 224, wherein the bypass track 224 is not arranged on the upper side of the carrier 136, analogously to, for example, the second contact track 132.
  • a ers te bridging 231 which connects the first conductor 141 with the second conductor 142.
  • the first chip 110 is bridged.
  • a second bypass 232 connects the third track 143 with the first contact track 131.
  • a third bridge 233 connects the fourth track 144 with the first contact track 131. Applying the third lock is possible because the second bypass 222 passes via the bypass track 224 below the first track 131 Surface of the carrier 136 is guided.
  • FIG. 14 shows a plan view of contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158 of a fourth pixel 130, which corresponds to the third pixel 130 of FIG. 11, unless differences are described below.
  • the third contact point 153 is connected to the second conductor track with a fifth contact track 135 guided on the upper side of the carrier 136.
  • An eighth contact point 158 is connected via a fifth interconnect 145 to the first contact path 131 verbun.
  • the second bypass is performed analogously to FIG. 13 via a fourth via 164, a fifth via 165 and a bypass track 224.
  • FIG. 15 shows a plan view of a component 190 which can be placed on the contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 of the fourth pixel 130 of FIG. 14 and which corresponds to the component 190 of FIG. 12 unless the differences are described below.
  • the third component contact parts 243 is connected only to the first chip 110, but not to the third chip 171 and the fifth chip 181.
  • the third chip 171 and the fifth chip 181 are connected to an ei ner eighth component pad 248, which via an eighth component via 258 with the eighth contact point 158 can be connected.
  • the first chip 110 can be referred to as the second chip 120 via the second contact path
  • the 132 and the fifth contact track 135 are operated with a different voltage than the further chips 171, 172, 181, 182, via the first contact track 131 and the third contact track
  • the fourth contact track 134 can be controlled. If the first chip 110 and the second chip 120 emit red light blue or green light is emitted by the further chips 171, 172, 181, 182, this enables a simpler driving of the chips 110, 120, 171, 172, 181, 182.
  • bypasses 221, 222, 223 are severed analogous to FIG. 13.
  • the second chip 120 By severing the first bypass 221, the second chip 120 can be put into operation.
  • the fourth chip 172 By severing the second bypass 222, the fourth chip 172 can be put into operation.
  • the sixth chip 182 can be put into operation.
  • a first bridge 231 between the first conductor 141 and the second Lei terbahn 142 for bridging the first chip 110 a two te bridging 232 between the third conductor 143 and the first contact path 131 for bridging the third chip 171 and a third bypass 233 between the fourth interconnect 144 and the fifth interconnect 145 for bridging the fifth chip 181.
  • FIG. 17 shows a plan view of a section of a multi-pixel LED display 260.
  • Four pixels 130 are arranged in a rectangle.
  • the pixels 130 initially correspond to the pixels as described in FIG. 14, the component 190 of FIG. 15 being respectively connected to the contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158 is attached.
  • first contact track 131 and the fifth contact track 135 are formed continuously in a first direction aneinan the adjacent pixels 130 and the second contact track 132, the third contact track 133 and the fourth contact track 134 is configured to be continuous for adjacent pixels 130 in a second direction.
  • the first chip 110, the third chip 171 and the fifth chip 181 have been identified as defective.
  • the interconnects forming the bypasses 221, 222, 223 were cut to operate the second chip 120, the fourth chip 172 and the sixth chip 182.
  • the bypasses 231, 232, 233 were applied analogously to FIG. 16 in order to remove the defective chips 110,
  • the separation of the bypasses 221, 222, 223 forming tracks can be done by laser ablation.
  • bypasses 221, 222, 223 have at one point a predetermined minimum distance to the neigh th conductor tracks, so that the material removed by laser ablation material does not lead to short circuits.
  • This minimum distance can assume a predetermined value and be for example between ten and fifty, preferably between twenty and twenty-five microns.
  • the creation of the bridges 231, 232, 233 can be done by applying a conductive material, for example, via a local evaporation process.
  • a conductive material for example, via a local evaporation process.
  • masks can be used to apply the conductive material only to certain areas.
  • the above-described exemplary embodiments of the pixels 130 may also be assembled analogously to a multipixel LED display 260.
  • the contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214 may be designed as solder pads, whereby a simple attachment of the chips 110, 120, 171, 172, 181, 182 and / or the device 190 with the chips 110, 120, 171, 172, 181, 182 is made possible.
  • an insulating layer may be applied to the carrier 136 such that the contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214 and the printed conductors 141, 142,
  • 143, 144, 145, 146, 147, 148, if present in the pixel 130, are covered by the insulating material and only the chips 110, 120, 171, 172, 181, 182 and / or the components 190 protrude from the insulating material.
  • Tracks 141, 142, 143, 144, 145, 146, 147, 148, if present in pixel 130, may be referred to as by vapor deposition
  • Multipixel LED displays 260 may be constructed of tiles of one hundred to four hundred pixels. If tiles with sixteen pixels in a first direction and eighteen pixels in a second direction are used, a tile contains two hundred and eighty-eight pixels. For example, if the production of a pixel with a probability of one percent leads to a defective pixel, the binomial distribution results in only 75 percent of the tiles being produced without any defective pixels.
  • the described procedural ren for replacing a first chip of a multi-pixel LED module by a second chip can be generated at the same probability for a defective pixel over 99, 9 percent of the tiles without defective pixels. To achieve such a yield without the described method, the defect rate would have to be less than 3.5 pixels per million pixels produced. Consequently, the method described results in significant cost advantages in the production of multi-pixel LED modules.

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Abstract

The invention relates to a method for replacing a first chip of a multi-pixel LED module with a second chip, the first chip being defective. According to the invention, the first chip is identified and then a first conductor track of the multi-pixel LED module is cut through.

Description

VERFAHREN ZUM ERSETZEN EINES ERSTEN CHIPS EINES MEHRPIXEL- PROCESS FOR REPLACING A FIRST CHIP OF A MULTIPIXEL
LED-MODULS LED MODULE
BESCHREIBUNG  DESCRIPTION
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Ersetzen eines ers ten Chips eines Mehrpixel-LED-moduls durch einen zweiten Chip sowie ein Mehrpixel-LED-Modul , das zur Durchführung des Ver fahrens eingerichtet ist. The invention relates to a method for replacing a ers th chip of a multi-pixel LED module by a second chip and a multi-pixel LED module, which is adapted to carry out the proceedings.
Diese Patentanmeldung nimmt die Priorität der deutschen Pa tentanmeldung 10 2018 111 174.6 vom 09.05.2018 in Anspruch, deren Inhalt durch Rückbezug vollumfänglich aufgenommen wird. This patent application takes the priority of the German Pa tentanmeldung 10 2018 111 174.6 from 09.05.2018 to claim, the contents of which is fully incorporated by reference.
Während der Produktion von Mehrpixel-LED-Modulen können die se, falls einzelne Chips sich als defekt heraussteilen, dadurch überarbeitet werden, dass Lötstellen des betroffenen Chips durch lokales Erwärmen erweicht werden. Anschließend kann der defekte Chip abgenommen werden. Nach einer Wieder aufbereitung der Lötstellen kann ein neuer Chip eingesetzt und verlötet werden. Dies ist beispielsweise als Oberflächen montage (SMT) durchführbar. During the production of multi-pixel LED modules, if individual chips are found to be defective, they can be reworked by soldering solder joints of the affected chip being softened by local heating. Subsequently, the defective chip can be removed. After a reprocessing of the solder joints, a new chip can be used and soldered. This can be carried out, for example, as surface mounting (SMT).
Nachteilig an diesem Überarbeitungsverfahren ist, dass dieses sehr aufwändig ist und dadurch hohe Produktionskosten entste hen, sollten einzelne Chips des Mehrpixel-LED-Moduls defekt sein . A disadvantage of this revision method is that this is very complex and thereby ent hen high production costs, should be defective individual chips of the multi-pixel LED module.
Mehrpixel-LED-Module können dabei zwischen einhundert und vierhundert Pixel auf einem Substrat umfassen, wobei jeder Pixel bis zu vier Farben (rot, grün, blau, weiß) umfassen kann. Gängig sind Pixel mit drei Farben (rot, grün, blau) . Multi-pixel LED modules may comprise between one hundred and four hundred pixels on a substrate, where each pixel may comprise up to four colors (red, green, blue, white). Common are pixels with three colors (red, green, blue).
Eine Aufgabe der Erfindung ist es, ein verbessertes Verfahren zum Ersetzen eines Chips auf einem Mehrpixel-LED-Modul be reitzustellen. Eine weitere Aufgabe der Erfindung ist es, ein entsprechendes Mehrpixel-LED-Modul bereitzustellen. Diese Aufgabe wird mit dem Verfahren und dem Mehrpixel-LED- Modul der unabhängigen Patentansprüche gelöst. Weitere vor teilhafte Ausgestaltungen sind in den abhängigen Patentan sprüchen angegeben. An object of the invention is to provide an improved method for replacing a chip on a multi-pixel LED module be. Another object of the invention is to provide a corresponding multi-pixel LED module. This object is achieved with the method and the multi-pixel LED module of the independent claims. Further advantageous embodiments before are specified in the dependent patent entitlements.
In einem Verfahren zum Ersetzen eines ersten Chips eines Mehrpixel-LED-Moduls durch einen zweiten Chip wird zunächst der zu ersetzende, defekte, erste Chip identifiziert. Dies kann einen Funktionstest der im Mehrpixel-LED-Modul angeord neten Chips umfassen. Anschließend wird eine erste Leiterbahn des Mehrpixel-LED-Moduls durchtrennt. Der defekte erste Chip kann dabei im Mehrpixel-LED-Modul verbleiben. Das Durchtren nen der ersten Leiterbahn kann derart erfolgen, dass der ers te Chip nicht mehr bestromt werden kann. In a method for replacing a first chip of a multi-pixel LED module with a second chip, the defective, first chip to be replaced is first identified. This may include a functional test of the multi-pixel LED module angeord Neten chips. Subsequently, a first trace of the multi-pixel LED module is severed. The defective first chip can remain in the multi-pixel LED module. The Durchtren NEN of the first conductor can be made such that the ers te chip can no longer be energized.
Dadurch, dass der erste Chip im Mehrpixel-LED-Modul verblei ben kann, entfallen mehrere aufwändige Verfahrensschritte des bisher bekannten Überarbeitungsverfahrens. Das Verfahren kann also kostengünstiger durchgeführt werden. The fact that the first chip in the multi-pixel LED module can ben ben, eliminating several complex steps of the previously known revision method. The method can therefore be carried out more cheaply.
In einer Ausführungsform des Verfahrens stellt das Mehrpixel- LED-Modul Kontaktstellen für den zweiten Chip bereit. Der zweite Chip wird erst nach dem Identifizieren des ersten Chips auf den Kontaktstellen des Mehrpixel-LED-Moduls ange bracht. Dabei kann es vorgesehen sein, dass die Kontaktstel len durch eine Isolationsschicht bedeckt sind, wobei die Iso lationsschicht vor dem Anbringen des zweiten Chips zumindest teilweise von den Kontaktstellen entfernt wird. Dadurch wird die Anzahl der benötigten zweiten Chips reduziert. In one embodiment of the method, the multi-pixel LED module provides pads for the second chip. The second chip is introduced only after identifying the first chip on the contact points of the multi-pixel LED module. It may be provided that the contact Stel len are covered by an insulating layer, wherein the Iso lationsschicht is at least partially removed from the contact points before attaching the second chip. This reduces the number of second chips needed.
In einer Ausführungsform des Verfahrens ist der zweite Chip bereits vor dem Identifizieren des ersten Chips auf dem Mehr pixel-LED-Modul angeordnet. Insbesondere kann jeder Pixel be reits einen zweiten Chip aufweisen. Dadurch können erste und zweite Chips im selben Verfahrensschritt in das Mehrpixel- LED-Modul integriert werden, wodurch der Herstellungsprozess vereinfacht wird. In einer Ausführungsform des Verfahrens sind der erste Chip und der zweite Chip parallel geschaltet. Die erste Leiterbahn ist mit dem ersten Chip verbunden. Durch das Durchtrennen der ersten Leiterbahn wird die elektrische Verbindung des ersten Chips also unterbrochen. In one embodiment of the method, the second chip is already arranged before identifying the first chip on the multi-pixel LED module. In particular, each pixel may already have a second chip. As a result, first and second chips can be integrated in the same process step in the multi-pixel LED module, whereby the manufacturing process is simplified. In one embodiment of the method, the first chip and the second chip are connected in parallel. The first trace is connected to the first chip. By severing the first trace, the electrical connection of the first chip is thus interrupted.
In einer Ausführungsform des Verfahrens sind der erste Chip und der zweite Chip in Serie geschaltet. Die erste Leiterbahn überbrückt den zweiten Chip oder Kontaktstellen für den zwei ten Chip. Vor dem Durchtrennen der ersten Leiterbahn kann Strom durch den ersten Chip und durch die erste Leiterbahn fließen, nach dem Durchtrennen der ersten Leiterbahn fließt der Strom durch den zweiten Chip. Bei diesem Verfahren kann zusätzlich vorgesehen sein, dass eine erste Überbrückung er stellt wird, mit der der erste Chip kurzgeschlossen wird. Die erste Überbrückung kann durch ein Aufbringen eines elektrisch leitfähigen Materials erstellt werden. In one embodiment of the method, the first chip and the second chip are connected in series. The first interconnect bridges the second chip or pads for the second chip. Before the first interconnect is cut through, current can flow through the first chip and through the first interconnect; after the first interconnect has been severed, the current flows through the second chip. In this method, in addition, it may be provided that a first bridge is he provides, with the first chip is short-circuited. The first bypass can be created by applying an electrically conductive material.
In einer Ausführungsform des Verfahrens erfolgt das Durch trennen der ersten Leiterbahn mittels Laserabtragung. Dabei kann ein Laserstrahl auf die erste Leiterbahn gerichtet wer den, wobei Material der ersten Leiterbahn aufgrund des Laser strahls abgetragen und so die erste Leiterbahn durchtrennt wird . In one embodiment of the method, the separation of the first conductor track by means of laser ablation takes place. In this case, a laser beam directed to the first conductor who the, wherein material of the first conductor track removed due to the laser beam and thus the first conductor is severed.
In einer Ausführungsform des Verfahrens sind der erste Chip und der zweite Chip in einem Bauteil angeordnet, wobei das Bauteil als SMD-Bauteil ausgestaltet sein kann. Das Bauteil weist Kontakte zu Leiterbahnen auf einer Leiterplatte auf, wobei zur Durchführung des Verfahrens die erste Leiterbahn auf der Leiterplatte durchtrennt wird. Das Bauteil kann dabei weitere Chips enthalten, beispielsweise für weitere Farben des Pixels. In one embodiment of the method, the first chip and the second chip are arranged in a component, wherein the component can be configured as an SMD component. The component has contacts to printed conductors on a printed circuit board, wherein for carrying out the method, the first printed conductor is severed on the printed circuit board. The component can contain further chips, for example for further colors of the pixel.
In einer Ausführungsform des Verfahrens ist der erste Chip in einem ersten Bauteil angeordnet und der zweite Chip in einem zweiten Bauteil angeordnet. Die Bauteile können als SMD- Bauteile ausgestaltet sein. Die Bauteile weisen Kontakte zu Leiterbahnen auf einer Leiterplatte auf, wobei zur Durchfüh rung des Verfahrens die erste Leiterbahn auf der Leiterplatte durchtrennt wird. Das erste Bauteil kann dabei einen dritten Chip enthalten, während ein vierter Chip im zweiten Bauteil angeordnet sein kann. Diese können weitere Farben des Pixels bereitstellen . Ferner kann vorgesehen sein, analog zum Durch trennen der ersten Leiterbahn eine zweite Leiterbahn zu durchtrennen, wobei dadurch das Verfahren analog für den dritten und vierten Chip durchgeführt wird. In one embodiment of the method, the first chip is arranged in a first component and the second chip is arranged in a second component. The components can be designed as SMD components. The components assign contacts Tracks on a circuit board, wherein the implementation of the method, the first trace is severed on the circuit board. The first component may include a third chip, while a fourth chip may be arranged in the second component. These can provide additional colors of the pixel. Further, it can be provided, analogous to the separation of the first conductor track to sever a second conductor, whereby the method is carried out analogously for the third and fourth chip.
Ein Mehrpixel-LED-Modul weist eine Leiterplatte, einen ersten Chip, Kontaktstellen für einen zweiten Chip sowie eine erste Leiterbahn auf. Die erste Leiterbahn ist derart ausgeführt, dass die erste Leiterbahn an einer vorgegebenen ersten Stelle durchtrennt werden kann. Dadurch kann das erfindungsgemäße Verfahren durchgeführt werden. A multi-pixel LED module has a printed circuit board, a first chip, pads for a second chip and a first trace. The first conductor track is designed in such a way that the first conductor track can be severed at a predetermined first position. As a result, the method according to the invention can be carried out.
In einer Ausführungsform des Mehrpixel-LED-Moduls ist ein zweiter Chip mit den Kontaktstellen verbunden. Dadurch kann der zweite Chip bereits vor der Durchführung des erfindungs gemäßen Verfahrens in das Mehrpixel-LED-Modul integriert wer den . In one embodiment of the multi-pixel LED module, a second chip is connected to the pads. This allows the second chip integrated before the implementation of the inventive method in the multi-pixel LED module who the.
In einer Ausführungsform des Mehrpixel-LED-Moduls weist jeder Pixel einen ersten Chip und eine erste Leiterbahn auf. In one embodiment of the multi-pixel LED module, each pixel has a first chip and a first trace.
Dadurch kann das Verfahren auf alle Pixel des Mehrpixel-LED- Moduls angewendet werden.  This allows the method to be applied to all pixels of the multi-pixel LED module.
In einer Ausführungsform des Mehrpixel-LED-Moduls ist der erste Chip in einem ersten Bauteil angeordnet und der zweite Chip in einem zweiten Bauteil angeordnet. Die Bauteile können als SMD-Bauteile ausgestaltet sein. Die Bauteile weisen Kon takte zu Leiterbahnen auf einer Leiterplatte auf, wobei zur Durchführung des Verfahrens die erste Leiterbahn auf der Lei terplatte durchtrennt werden kann. Das erste Bauteil enthält dabei einen dritten Chip, während ein vierter Chip im zweiten Bauteil angeordnet ist. Diese stellen weitere Farben des Pi xels bereit. Ferner kann vorgesehen sein, analog zum Durch- trennen der ersten Leiterbahn eine zweite Leiterbahn zu durchtrennen, wobei dadurch das Verfahren analog für den dritten und vierten Chip durchgeführt werden kann. In one embodiment of the multi-pixel LED module, the first chip is arranged in a first component and the second chip is arranged in a second component. The components can be designed as SMD components. The components have Kon contacts to tracks on a circuit board, wherein for carrying out the method, the first conductor can be cut terplatte on the Lei. The first component contains a third chip, while a fourth chip is arranged in the second component. These provide further colors of the pox. Furthermore, it can be provided, analogous to the separate the first trace to sever a second trace, thereby the method can be carried out analogously for the third and fourth chip.
Die oben beschriebenen Eigenschaften, Merkmale und Vorteile dieser Erfindung, sowie die Art und Weise, wie diese erreicht werden, werden klarer und deutlicher verständlich im Zusam menhang mit der folgenden Beschreibung der Ausführungsbei spiele, die im Zusammenhang mit den Zeichnungen näher erläu tert werden. Dabei zeigen in jeweils schematisierter Darstel lung The above-described features, features and advantages of this invention, as well as the manner in which these are achieved, will become clearer and more clearly understood in connection with the following description of the Ausführungsbei games, the erläu closer in connection with the drawings. This show in each case schematic representation
Fig. 1 ein Schaltbild einer Parallelschaltung von Chips; Fig . 2 ein Schaltbild einer Serienschaltung von Chips, wo bei einer erste Leiterbahn einen ersten Chip Über brückt ; Fig. 1 is a circuit diagram of a parallel circuit of chips; Fig. FIG. 2 shows a circuit diagram of a series connection of chips, where a first chip bridges a first chip; FIG.
Fig. 3 ein Schaltbild einer weiteren Serienschaltung von Fig. 3 is a circuit diagram of another series circuit of
Chips, wobei eine später aufzubringende erste Über brückung möglich ist;  Chips, whereby a later to be applied first bridging is possible;
Fig. 4 eine Draufsicht auf einen ersten Pixel; Fig. 4 is a plan view of a first pixel;
Fig. 5 eine Draufsicht auf den ersten Pixel, nachdem eine Fig. 5 is a plan view of the first pixel after a
Leiterbahn durchtrennt wurde;  Conductor track was severed;
Fig. 6 ein erstes Bauteil; 6 shows a first component;
Fig. 7 eine Draufsicht auf einen zweiten Pixel; Fig. 7 is a plan view of a second pixel;
Fig . ein zweites Bauteil; Fig. a second component;
Fig. 9 eine Draufsicht auf den zweiten Pixel, nachdem eine 9 is a plan view of the second pixel after a
Leiterbahn durchtrennt wurde;  Conductor track was severed;
Fig. 10 eine Draufsicht auf den zweiten Pixel, nachdem eine 10 is a plan view of the second pixel after a
Überbrückung aufgebracht wurde; Fig. 11 eine Draufsicht auf Kontaktstellen eines dritten Pi xels; Bridging was applied; Fig. 11 is a plan view of contact points of a third Pi xels;
Fig. 12 ein drittes Bauteil; FIG. 12 shows a third component; FIG.
Fig. 13 eine Draufsicht auf den dritten Pixel, nachdem eine Fig. 13 is a plan view of the third pixel after a
Leiterbahn durchtrennt und eine Überbrückung aufge bracht wurde;  Conductor track was severed and a bridging was brought up;
Fig. 14 eine Draufsicht auf Kontaktstellen eines vierten Pi xels; Fig. 14 is a plan view of pads of a fourth Pi xels;
Fig. 15 ein viertes Bauteil; Fig. 15 is a fourth component;
Fig. 16 eine Draufsicht auf den vierten Pixel, nachdem eine 16 is a plan view of the fourth pixel after a
Leiterbahn durchtrennt und eine Überbrückung aufge bracht wurde;  Conductor track was severed and a bridging was brought up;
Fig. 17 ein Mehrpixel-LED-Modul . Fig. 17 is a multi-pixel LED module.
Fig. 1 zeigt ein Schaltbild 100 einer Parallelschaltung 101 von Chips 110, 120, wobei ein erster Chip 110 in einem ersten Zweig 102 der Parallelschaltung 101 angeordnet ist und ein zweiter Chip 120 in einem zweiten Zweig 103 der Parallel schaltung 101 angeordnet ist. Der erste Zweig 102 kann dabei durch eine erste Leiterbahn gebildet sein. Im ersten Zweig 102 ist eine erste Unterbrechungsstelle 104 angeordnet. Wenn der erste Chip 110 als defekt identifiziert wird, kann der erste Chip 110 durch den zweiten Chip 120 ersetzt werden. Da zu wird der erste Zweig 102 an der ersten Unterbrechungsstel le 104 unterbrochen, was als Durchtrennen einer ersten Lei terbahn ausgestaltet sein kann. Eine an der Parallelschaltung 101 anliegende Spannung liegt dann nur noch am zweiten Chip 120 an. Der zweite Chip 120 kann dabei vor oder nach dem Identifizieren des ersten Chips 110 als defekt im zweiten Zweig 103 angeordnet werden. Durch das Unterbrechen des ers ten Zweigs 102 an der ersten Unterbrechungsstelle 104 wird eine elektrische Kontaktierung des ersten Chips 110 unterbro chen . Fig. 2 zeigt ein Schaltbild 100 einer Serienschaltung 105 ei nes ersten Chips 110 und eines zweiten Chips 120. Der zweite Chip 120 ist mit einem Überbrückungszweig 106 überbrückt. Im Überbrückungszweig 106 ist eine erste Unterbrechungsstelle 104 angeordnet. Zunächst ist der erste Chip 110 elektrisch kontaktiert, wenn eine Spannung an die Serienschaltung 105 angelegt wird. Da der Widerstand des Überbrückungszweigs 106 deutlich geringer ist als der Widerstand des zweiten Chips 120, fließt kein oder nur ein sehr geringer Strom durch den zweiten Chip 120. Wenn der Überbrückungszweig 106 an der ers ten Unterbrechungsstelle 104 unterbrochen wird, kann der Strom nur noch über den zweiten Chip 120 fließen. Dadurch kann anstelle des defekten ersten Chips 110 der zweite Chip 120 in Betrieb genommen werden. Fig. 1 shows a circuit diagram 100 of a parallel circuit 101 of chips 110, 120, wherein a first chip 110 is disposed in a first branch 102 of the parallel circuit 101 and a second chip 120 in a second branch 103 of the parallel circuit 101 is arranged. The first branch 102 may be formed by a first conductor track. In the first branch 102, a first interruption point 104 is arranged. If the first chip 110 is identified as defective, the first chip 110 may be replaced by the second chip 120. Since the first branch 102 is interrupted at the first interruption point 104, which can be configured as a severing of a first conductor track. A voltage applied to the parallel circuit 101 is then applied only to the second chip 120. The second chip 120 may be arranged as defective in the second branch 103 before or after identifying the first chip 110. By interrupting the first branch 102 at the first interruption point 104, an electrical contacting of the first chip 110 is interrupted. 2 shows a circuit diagram 100 of a series circuit 105 of a first chip 110 and a second chip 120. The second chip 120 is bridged with a bridging branch 106. In the bridging branch 106, a first interruption point 104 is arranged. First, the first chip 110 is electrically contacted when a voltage is applied to the series circuit 105. Since the resistance of the bridging branch 106 is significantly lower than the resistance of the second chip 120, no or only a very small current flows through the second chip 120. If the bridging branch 106 is interrupted at the first interruption point 104, the current can only continue over flow the second chip 120. As a result, instead of the defective first chip 110, the second chip 120 can be put into operation.
Fig. 3 zeigt ein Schaltbild 100 einer Serienschaltung 105 ei nes ersten Chips 110 und eines zweiten Chips 120, welches dem Schaltbild der Fig. 2 entspricht, sofern im Folgenden keine Unterschiede beschrieben sind. Ein Kurzschlusszweig 107 ist parallel zum ersten Chip 110 angeordnet. Neben dem Unterbre chen des Überbrückungszweigs 106 an der ersten Unterbre chungsstelle 104 kann zusätzlich der Kurzschlusszweig 107 kurzgeschlossen werden, um den ersten Chip 110 zu überbrü cken. Dadurch kann, wenn ein Defekt des ersten Chips 110 zu einer Unterbrechung des elektrischen Kontakts innerhalb des ersten Chips 110 führt, der zweite Chip 120 trotzdem in Be trieb genommen werden. Im Schaltbild der Fig. 2 wäre dies nicht möglich. Fig. 3 shows a circuit diagram 100 of a series circuit 105 egg nes first chip 110 and a second chip 120, which corresponds to the circuit diagram of Fig. 2, unless described below differences. A short-circuit branch 107 is arranged parallel to the first chip 110. In addition to the interruption of the bridging branch 106 at the first interrupter 104, the short-circuit branch 107 may be additionally short-circuited to bridge the first chip 110. Thereby, if a defect of the first chip 110 leads to an interruption of the electrical contact within the first chip 110, the second chip 120 can nevertheless be taken into operation. In the diagram of Fig. 2, this would not be possible.
Die Chips 110, 120 der Fig. 1 bis 3 können LED-Chips sein, die in einem identischen Wellenlängenbereich abstrahlen. Die Chips 110, 120 können einen Pixel oder einen Teil eines Pi xels eines Multipixel-LED-Moduls sein. Sollte der erste Chip 110 ausfallen, kann er durch den zweiten Chip 120 ersetzt werden . Das Unterbrechen an der ersten Unterbrechungsstelle kann da bei als Durchtrennen einer ersten Leiterbahn eines Multipi- xel-LED-Moduls ausgestaltet sein. The chips 110, 120 of FIGS. 1 to 3 may be LED chips emitting in an identical wavelength range. The chips 110, 120 may be a pixel or part of a pixel of a multi-pixel LED module. Should the first chip 110 fail, it may be replaced by the second chip 120. The interruption at the first point of interruption can be designed as cutting through a first printed conductor of a multiplying LED module.
Im Folgenden werden Ausführungsbeispiele der in den Fig. 1 bis 3 gezeigten Reparaturmöglichkeiten gezeigt, wobei die Chips 110, 120 dabei lichtemittierende Chips in einem Pixel eines Multipixel-LED-Moduls sind. Exemplary embodiments of the repair options shown in FIGS. 1 to 3 are shown below, the chips 110, 120 being light-emitting chips in one pixel of a multi-pixel LED module.
Fig. 4 zeigt eine Draufsicht auf einen ersten Pixel 130. Eine erste Kontaktbahn 131 dient dabei als Anode und ist auf einer in Fig. 4 sichtbaren Oberseite eines Trägers 136 angeordnet. Der Träger 136 kann dabei als Leiterplatte ausgeführt sein. Eine zweite Kontaktbahn 132 dient als erste Kathode und ist innerhalb des Trägers 136 beziehungsweise an einer Unterseite des Trägers 136 angeordnet und aus diesem Grund gestrichelt dargestellt. Über ein erstes Via 161 ist die zweite Kontakt bahn mit der Oberseite des Trägers verbunden und von dort über eine erste Leiterbahn 141 mit einer ersten Kontaktstelle 151. Eine zweite Kontaktstelle 152 ist mit der ersten Kon taktbahn 131 über eine zweite Leiterbahn 142 verbunden. Ein erster Chip 110 ist zwischen der ersten Kontaktstelle 151 und der zweiten Kontaktstelle 152 angeordnet. Dadurch kann der erste Chip 110 über die erste Kontaktbahn 131 und die zweite Kontaktbahn 132 angesteuert werden. Eine dritte Kontaktstelle 153 ist mit der ersten Leiterbahn 141 über eine dritte Lei terbahn 143 verbunden. Eine vierte Kontaktstelle 154 ist mit der zweiten Leiterbahn 142 über eine vierte Leiterbahn 144 verbunden. Ein zweiter Chip 120 ist zwischen der dritten Kon taktstelle 153 und der vierten Kontaktstelle 154 angeordnet. Dadurch kann der zweite Chip 120 ebenfalls über die erste Kontaktbahn 131 und die zweite Kontaktbahn 132 angesteuert werden. Der erste Chip 110 und der zweite Chip 120 sind dabei parallel geschaltet. FIG. 4 shows a plan view of a first pixel 130. A first contact track 131 serves as an anode and is arranged on an upper side of a carrier 136 visible in FIG. 4. The carrier 136 can be designed as a printed circuit board. A second contact track 132 serves as the first cathode and is arranged within the carrier 136 or on an underside of the carrier 136 and is shown by dashed lines for this reason. Via a first via 161, the second contact path is connected to the top side of the carrier and from there via a first conductor track 141 to a first contact point 151. A second contact point 152 is connected to the first contact track 131 via a second conductor track 142. A first chip 110 is disposed between the first pad 151 and the second pad 152. As a result, the first chip 110 can be driven via the first contact track 131 and the second contact track 132. A third contact point 153 is connected to the first conductor track 141 via a third conductor track 143. A fourth contact point 154 is connected to the second conductor 142 via a fourth conductor 144. A second chip 120 is disposed between the third contact point 153 and the fourth contact point 154. As a result, the second chip 120 can likewise be driven via the first contact track 131 and the second contact track 132. The first chip 110 and the second chip 120 are connected in parallel.
Wenn der erste Chip 110 als defekt identifiziert wird, kann die erste Leiterbahn 141 zwischen der ersten Kontaktstelle 151 und der dritten Leiterbahn 143 unterbrochen werden, so dass die Verbindung zwischen der zweiten Kontaktbahn 132 und dem ersten Chip 110 unterbrochen wird. Es kann vorgesehen sein, dass der zweite Chip 120 erst auf die dritte Kontakt stelle 153 und die vierte Kontaktstelle 154 aufgesetzt wird, nachdem der erste Chip 110 als defekt identifiziert wurde. Alternativ kann der zweite Chip 120 schon vor dieser Identi fizierung platziert worden sein. Die Leiterbahnen 141, 142,If the first chip 110 is identified as being defective, the first interconnect 141 between the first contact point 151 and the third interconnect 143 may be interrupted so that the connection between the second contact strip 132 and the first chip 110 is interrupted. It can be provided that the second chip 120 is first placed on the third contact point 153 and the fourth contact point 154 after the first chip 110 has been identified as defective. Alternatively, the second chip 120 may have already been placed prior to this identification. The printed conductors 141, 142,
143, 144 sowie die Kontaktstellen 151, 152, 153, 154 können mit einer Isolationsschicht bedeckt sein. Dann wird vor dem Platzieren des zweiten Chips 120 sowie vor dem Unterbrechen der ersten Leiterbahn 141 die Isolationsschicht zumindest teilweise entfernt. 143, 144 and the contact points 151, 152, 153, 154 may be covered with an insulating layer. Then, before the placement of the second chip 120 and before the interruption of the first trace 141, the insulation layer is at least partially removed.
Der erste Chip 110 und der zweite Chip 120 können dabei wei ßes Licht oder Licht einer bestimmten Farbe emittieren und dadurch einen Pixel 130 für ein Einfarbiges Mehrpixel-LED- Modul bilden. Mehrere solcher Pixel 130 können aneinander an grenzend angeordnet werden, wobei die erste Kontaktbahn 131 und die zweite Kontaktbahn 132 dabei jeweils mit den benach barten Pixeln verbunden sind und die einzelnen Pixel 130 über eine bekannte Matrixansteuerung angesteuert werden können The first chip 110 and the second chip 120 can thereby emit white light or light of a specific color and thereby form a pixel 130 for a monochrome multi-pixel LED module. Several such pixels 130 can be arranged adjacent to each other, wherein the first contact track 131 and the second contact track 132 are each connected to the neigh disclosed pixels and the individual pixels 130 can be controlled via a known matrix drive
Der erste Pixel 130 der Fig. 4 enthält weitere, optionale Chips 171, 172, 181, 182. Eine dritte Kontaktbahn 133 dient als zweite Kathode und ist über ein zweites Via 162 und eine fünfte Leiterbahn 145 mit einer fünften Kontaktstelle 155 verbunden. Zwischen der fünften Kontaktstelle 155 und der zweiten Kontaktstelle 152 ist ein dritter Chip 171 angeord net. Die dritte Kontaktbahn 133 ist über ein drittes Via 163 und eine sechste Leiterbahn 146 mit einer sechsten Kontakt stelle 156 verbunden. Zwischen der sechsten Kontaktstelle 156 und der vierten Kontaktstelle 154 ist ein vierter Chip 172 angeordnet. Dadurch sind der dritte Chip 171 und der vierte Chip 172 parallel geschaltet. Durch ein Unterbrechen der fünften Leiterbahn 145 kann der dritte Chip 171 durch den vierten Chip 172 ersetzt werden analog zum Ersetzen des ers ten Chips 110 durch den zweiten Chip 120. Ferner ist eine vierte Kontaktbahn 134, die als dritte Kathode dient, über ein viertes Via 164 und eine siebte Leiterbahn 147 mit einer siebten Kontaktstelle 157 verbunden. Zwischen der siebten Kontaktstelle 157 und der zweiten Kontaktstelle 152 ist ein fünfter Chip 181 angeordnet. Die vierte Kontaktbahn 134 ist über ein fünftes Via 165 und eine achte Leiterbahn 148 mit einer achten Kontaktstelle 158 verbunden. Zwischen der achten Kontaktstelle 158 und der vierten Kontaktstelle 154 ist ein sechster Chip 182 angeordnet. Dadurch sind der fünfte Chip 181 und der sechste Chip 182 parallel geschaltet. Durch ein Unterbrechen der siebten Leiterbahn 147 kann der fünfte Chip 181 durch den sechsten Chip 182 ersetzt werden analog zum Er setzen des ersten Chips 110 durch den zweiten Chip 120. The first pixel 130 of FIG. 4 contains further, optional chips 171, 172, 181, 182. A third contact track 133 serves as the second cathode and is connected via a second via 162 and a fifth track 145 to a fifth contact point 155. Between the fifth contact point 155 and the second contact point 152, a third chip 171 is angeord net. The third contact track 133 is connected via a third via 163 and a sixth track 146 with a sixth contact point 156. Between the sixth contact point 156 and the fourth contact point 154, a fourth chip 172 is arranged. Thereby, the third chip 171 and the fourth chip 172 are connected in parallel. By interrupting the fifth interconnect 145, the third chip 171 may be replaced by the fourth chip 172 analogous to replacing the first chip 110 by the second chip 120. Further, a fourth contact path 134 serving as a third cathode is via a fourth via 164 and a seventh trace 147 connected to a seventh pad 157. Between the seventh Contact point 157 and the second contact point 152, a fifth chip 181 is arranged. The fourth contact track 134 is connected to an eighth contact point 158 via a fifth via 165 and an eighth conductor 148. Between the eighth contact point 158 and the fourth contact point 154, a sixth chip 182 is arranged. As a result, the fifth chip 181 and the sixth chip 182 are connected in parallel. By interrupting the seventh conductive line 147, the fifth chip 181 can be replaced by the sixth chip 182, analogous to the setting of the first chip 110 by the second chip 120.
Der erste Chip 110 sowie der zweite Chip 120 können dabei ro tes Licht emittieren. Der dritte Chip 171 sowie der vierte Chip 172 können dabei grünes Licht emittieren. Der fünfte Chip 181 sowie der sechste Chip 182 können dabei blaues Licht emittieren. Der Pixel 130 kann dann in einem RGB-Display zum Einsatz kommen. The first chip 110 and the second chip 120 can emit red light here. The third chip 171 and the fourth chip 172 can emit green light. The fifth chip 181 and the sixth chip 182 can emit blue light. The pixel 130 can then be used in an RGB display.
Fig. 5 zeigt eine Draufsicht auf den Pixel 130 der Fig. 4, bei dem die erste Leiterbahn 141, die zweite Leiterbahn 142, die fünfte Leiterbahn 145 sowie die siebte Leiterbahn 147 un terbrochen sind. Dadurch sind der erste Chip 110, der dritte Chip 171 sowie der fünfte Chip 181 nicht mehr kontaktiert.Fig. 5 shows a plan view of the pixel 130 of Fig. 4, in which the first conductor 141, the second conductor 142, the fifth conductor 145 and the seventh conductor 147 are un interrupted. As a result, the first chip 110, the third chip 171 and the fifth chip 181 are no longer contacted.
Das Unterbrechen der zweiten Leiterbahn 142 ist zwar nicht zwingend erforderlich, ermöglicht jedoch die Reduzierung von unerwünschten kapazitiven Effekten. Although the interruption of the second trace 142 is not absolutely necessary, but allows the reduction of unwanted capacitive effects.
Anstelle der Anordnung der Chips 110, 120, 171, 172, 181, 182 auf dem Träger 136 können die Chips auch in einem Bauteil an geordnet sein. Fig. 6 zeigt eine Draufsicht auf eine Unter seite eines Bauteils 190. Das Bauteil 190 enthält dabei ent weder den ersten Chip 110, den dritten Chip 171 und den fünf ten Chip 181 oder den zweiten Chip 120, den vierten Chip 172 und den sechsten Chip 182. Die Unterseite weist ein erstes Lötpad 191, ein zweites Lötpad 192, ein drittes Lötpad 193 und ein viertes Lötpad 194 auf. Der erste Chip 110 bezie hungsweise der zweite Chip 120 ist zwischen dem ersten Lötpad 191 und dem zweiten Lötpad 192 angeordnet. Der dritte Chip 171 beziehungsweise der vierte Chip 172 ist zwischen dem dritten Lötpad 193 und dem zweiten Lötpad 192 angeordnet. Der fünfte Chip 181 beziehungsweise der sechste Chip 182 ist zwi schen dem vierten Lötpad 194 und dem zweiten Lötpad 192 ange ordnet. Dadurch kann das Bauteil 190 auf die erste Kontakt stelle 151, die zweite Kontaktstelle 152, die fünfte Kontakt stelle 155 und die siebte Kontaktstelle 157 beziehungsweise auf die dritte Kontaktstelle 153, die vierte Kontaktstelle 154, die sechste Kontaktstelle 156 und die achte Kontaktstel le 158 aufgesetzt werden. Das Unterbrechen der Leiterbahnen kann analog zu den Fig. 4 und 5 ausgeführt werden. Instead of the arrangement of the chips 110, 120, 171, 172, 181, 182 on the carrier 136, the chips may also be arranged in a component. 6 shows a plan view of a lower side of a component 190. The component 190 contains ent neither the first chip 110, the third chip 171 and the fifth chip 181 or the second chip 120, the fourth chip 172 and the sixth chip 182. The bottom has a first solder pad 191, a second solder pad 192, a third solder pad 193, and a fourth solder pad 194. The first chip 110 or the second chip 120 is disposed between the first solder pad 191 and the second solder pad 192. The third chip 171 and the fourth chip 172 are between the third solder pad 193 and the second solder pad 192 arranged. The fifth chip 181 and the sixth chip 182 is between tween the fourth solder pad 194 and the second solder pad 192 is arranged. This allows the member 190 to the first contact 151, the second contact point 152, the fifth contact point 155 and the seventh contact point 157 or on the third contact point 153, the fourth contact point 154, the sixth contact point 156 and the eighth contact Stel le 158 placed become. The interruption of the conductor tracks can be carried out analogously to FIGS. 4 and 5.
Fig. 7 zeigt eine Draufsicht auf einen zweiten Pixel 130, bei dem ein erster Chip 110 und ein zweiter Chip 120 nicht paral lel, sondern in Serie geschaltet sind. Der Pixel 130 weist wiederum eine auf einem Träger 136 angeordnete erste Kontakt bahn 131 auf, die als Anode dient. Ferner ist eine zweite Kontaktbahn 132 auf einer Unterseite oder innerhalb des Trä gers 136 angeordnet und aus diesem Grund gestrichelt darge stellt. Eine erste Kontaktstelle 151 ist mit der ersten Kon taktbahn 131 verbunden. Über ein erstes Via 161 ist die zwei te Kontaktbahn 132 mit einer zweiten Kontaktstelle 152, einer dritten Kontaktstelle 153 sowie einer vierten Kontaktstelle 154 verbunden. Zwischen der ersten Kontaktstelle 151 und der zweiten Kontaktstelle 152 ist der erste Chip 110 angeordnet. Zwischen der dritten Kontaktstelle 153 und der vierten Kon taktstelle 154 ist der zweite Chip angeordnet. Die erste Lei terbahn 141 bildet also einen ersten Bypass 221, mit dem der zweite Chip 120 kurzgeschlossen ist. Wird zwischen erster Kontaktbahn 131 und zweiter Kontaktbahn 132 eine Spannung an gelegt, so leuchtet der erste Chip 110. Falls der erste Chip 110 aufgrund eines internen Kurzschlusses defekt sein sollte, wird die erste Leiterbahn 141 im Bereich des ersten Bypasses 221 durchtrennt, so dass nun der zweite Chip 120 in Betrieb genommen werden kann. 7 shows a plan view of a second pixel 130, in which a first chip 110 and a second chip 120 are not connected in parallel, but in series. The pixel 130, in turn, has a first contact track 131 arranged on a carrier 136, which serves as an anode. Further, a second contact track 132 is disposed on a lower side or within the Trä gers 136 and dashed lines Darge presents for this reason. A first contact point 151 is connected to the first contact track 131. Via a first via 161, the second contact track 132 is connected to a second contact point 152, a third contact point 153 and a fourth contact point 154. Between the first contact point 151 and the second contact point 152, the first chip 110 is arranged. Between the third contact point 153 and the fourth Kon contact point 154, the second chip is arranged. The first conductor track 141 thus forms a first bypass 221 with which the second chip 120 is short-circuited. If a voltage is applied between the first contact track 131 and the second contact track 132, the first chip 110 lights up. If the first chip 110 should be defective due to an internal short circuit, the first track 141 is severed in the region of the first bypass 221 so that now the second chip 120 can be put into operation.
Der zweite Pixel 130 der Fig. 7 enthält weitere, optionale Chips 171, 172, 181, 182. Eine fünfte Kontaktstelle 155 ist mit der ersten Kontaktbahn 131 verbunden. Eine sechste Kon taktstelle 156 und eine siebte Kontaktstelle 157 sind mit ei- ner dritten Leiterbahn 143 und mit einer zweiten Via 162 ver bunden. Das zweite Via 162 führt zu einer dritten Kontaktbahn 133. Über ein drittes Via 163 und eine dritte Leiterbahn 143 ist die dritte Kontaktbahn 133 mit einer achten Kontaktstelle 158 verbunden. Zwischen der fünften Kontaktstelle 155 und der sechsten Kontaktstelle 156 ist ein dritter Chip 171 angeord net. Zwischen der siebten Kontaktstelle 157 und der achten Kontaktstelle 158 ist ein vierter Chip angeordnet. Die zweite Leiterbahn 142, das zweite Via 162 sowie die dritte Kontakt bahn 133 zwischen dem zweiten Via 162 und dem dritten Via 163 bilden einen zweiten Bypass 222, mit dem der vierte Chip 172 kurzgeschlossen ist. Durch Durchtrennen der zweiten Leiter bahn 142 im zweiten Bypass 222 kann der vierte Chip 172 in Betrieb genommen werden. Eine neunte Kontaktstelle 211 ist mit der ersten Kontaktbahn 131 verbunden. Eine vierte Kon taktbahn 134 ist über ein viertes Via 164 und eine vierte Leiterbahn 144 mit einer zehnten Kontaktstelle 212, einer elften Kontaktstelle 213 sowie einer zwölften Kontaktstelle 214 verbunden. Ein fünfter Chip 181 ist zwischen der neunten Kontaktstelle 211 und der zehnten Kontaktstelle 212 angeord net, ein sechster Chip 182 ist zwischen der elften Kontakt stelle 213 und der zwölften Kontaktstelle 214 angeordnet. Die vierte Leiterbahn 144 bildet einen dritten Bypass 223, mit dem der sechste Chip 182 kurzgeschlossen ist. Durch Durch trennen der vierten Leiterbahn 144 im dritten Bypass 223 kann der sechste Chip 182 in Betrieb genommen werden. The second pixel 130 of FIG. 7 includes further optional chips 171, 172, 181, 182. A fifth pad 155 is connected to the first contact track 131. A sixth contact point 156 and a seventh contact point 157 are connected to a ner third trace 143 and ver with a second via 162 connected. The second via 162 leads to a third contact track 133. Via a third via 163 and a third track 143, the third contact track 133 is connected to an eighth contact point 158. Between the fifth contact point 155 and the sixth contact point 156, a third chip 171 is angeord net. Between the seventh contact point 157 and the eighth contact point 158, a fourth chip is arranged. The second interconnect 142, the second via 162 and the third contact path 133 between the second via 162 and the third via 163 form a second bypass 222, with which the fourth chip 172 is short-circuited. By severing the second conductor track 142 in the second bypass 222, the fourth chip 172 can be put into operation. A ninth pad 211 is connected to the first contact track 131. A fourth contact track 134 is connected via a fourth via 164 and a fourth interconnect 144 to a tenth contact point 212, an eleventh contact point 213 and a twelfth contact point 214. A fifth chip 181 is disposed between the ninth pad 211 and the tenth pad 212, a sixth chip 182 is disposed between the eleventh pad 213 and the twelfth pad 214. The fourth conductor 144 forms a third bypass 223, with which the sixth chip 182 is short-circuited. By separating the fourth interconnect 144 in the third bypass 223, the sixth chip 182 can be put into operation.
Fig. 8 zeigt eine Draufsicht auf eine Unterseite eines Bau teils 190, welches den ersten Chip 110, den dritten Chip 171 und den fünften Chip 181 oder den zweiten Chip 120, den vier ten Chip 172 und den sechsten Chip 182 enthalten kann. Das Bauteil weist sechs Lötpads 195 auf, die auf die erste Kon taktstelle 151, die zweite Kontaktstelle 152, die fünfte Kon taktstelle 155, die sechste Kontaktstelle 156, die neunte Kontaktstelle 211 und die zehnte Kontaktstelle 212 oder die dritte Kontaktstelle 153, die vierte Kontaktstelle 154, die siebte Kontaktstelle 157, die achte Kontaktstelle 158, die elfte Kontaktstelle 213 und die zwölfte Kontaktstelle 214 aufgebracht werden kann. Fig. 9 zeigt eine Draufsicht auf den Pixel 130 der Fig. 7, bei dem der erste Bypass 221, der zweite Bypass 222 und der dritte Bypass 223 durchtrennt worden sind. Dadurch sind der zweite Chip 120, der vierte Chip 172 und der sechste Chip 182 in Betrieb genommen worden. Die Bypässe 221, 222, 223 können auch einzeln durchtrennt werden. Fig. 8 shows a plan view of an underside of a construction part 190, which may include the first chip 110, the third chip 171 and the fifth chip 181 or the second chip 120, the four th chip 172 and the sixth chip 182. The component has six solder pads 195, the clocking on the first Kon 151, the second contact point 152, the fifth Kon contact point 155, the sixth contact point 156, the ninth contact point 211 and the tenth contact point 212 or the third contact point 153, the fourth contact point 154, the seventh pad 157, the eighth pad 158, the eleventh pad 213, and the twelfth pad 214 may be applied. FIG. 9 shows a top view of the pixel 130 of FIG. 7 in which the first bypass 221, the second bypass 222 and the third bypass 223 have been severed. As a result, the second chip 120, the fourth chip 172 and the sixth chip 182 have been put into operation. The bypasses 221, 222, 223 can also be severed individually.
Fig. 10 zeigt eine Draufsicht auf den Pixel der Fig. 9, bei dem zusätzlich eine erste Überbrückung 231 zwischen der ers ten Leiterbahn 141 und der ersten Kontaktbahn 131 aufgebracht wurde. Die erste Überbrückung 231 schließt dabei den ersten Chip 110 kurz. Ferner ist eine zweite Überbrückung 232 zwi schen der ersten Leiterbahn 141 und der zweiten Leiterbahn 142 aufgebracht worden, die den dritten Chip 171 überbrückt. Eine dritte Überbrückung 233 zwischen der ersten Kontaktbahn 131 und der vierten Leiterbahn 144 überbrückt den fünften Chip 181. Die Überbrückungen 231, 232, 233 können auch ein zeln aufgebracht werden. FIG. 10 shows a plan view of the pixel of FIG. 9, in which additionally a first bridging 231 has been applied between the first printed conductor 141 and the first contact track 131. The first bypass 231 closes the first chip 110 briefly. Further, a second bridging 232 has been applied between tween the first conductor 141 and the second conductor 142, which bridges the third chip 171. A third bypass 233 between the first contact track 131 and the fourth track 144 bridges the fifth chip 181. The bridges 231, 232, 233 can also be applied individually.
Es kann vorgesehen sein, alle Chips 110, 120, 171, 172, 181, 182 in einem Bauteil 190 anzuordnen. It can be provided to arrange all the chips 110, 120, 171, 172, 181, 182 in a component 190.
Fig. 11 zeigt eine Draufsicht auf Kontaktstellen 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 eines dritten Pixels 130. Auf einer Oberseite eines Trägers 136 ist eine erste Kontaktbahn 131 angeordnet. Auf einer Unterseite des Trägers 136 oder inner halb des Trägers 136 ist eine zweite Kontaktbahn 132 angeord net. Die zweite Kontaktbahn 132 ist über ein erstes Via 161 mit einer ersten Leiterbahn 141 und über die erste Leiterbahn 141 mit einer ersten Kontaktstelle 151 und einer zweiten Kon taktstelle 152 verbunden. Die erste Leiterbahn 141 bildet ei nen ersten Bypass 221 und schließt die erste Kontaktstelle 151 mit der zweiten Kontaktstelle 152 kurz. Ein auf die erste Kontaktstelle 151, die zweite Kontaktstelle 152 und die drit te Kontaktstelle 153 aufgesetztes Bauteil kann einen ersten Chip 110 zwischen der zweiten Kontaktstelle 152 und der drit ten Kontaktstelle 153 sowie einen zweiten Chip 120 zwischen der ersten Kontaktstelle 151 und der zweiten Kontaktstelle 152 enthalten. Die Schaltung der Chips 110, 120 ist dann ana log zur Verschaltung der Chips 110, 120 der Fig. 7. FIG. 11 shows a plan view of contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 of a third pixel 130. A first contact track 131 is arranged on an upper side of a carrier 136. On an underside of the carrier 136 or inner half of the carrier 136, a second contact track 132 is angeord net. The second contact track 132 is connected via a first via 161 to a first interconnect 141 and via the first interconnect 141 to a first contact point 151 and a second contact point 152. The first conductor 141 forms egg nen first bypass 221 and closes the first contact point 151 with the second contact point 152 briefly. A member mounted on the first pad 151, the second pad 152, and the third pad 153 may include a first chip 110 between the second pad 152 and the third pad 153 and a second chip 120 between the first pad 151 and the second pad 152 included. The circuit of the chips 110, 120 is then ana log for interconnection of the chips 110, 120 of FIG. 7th
Optional, aber ebenfalls in Fig. 11 dargestellt sind weitere Kontaktstellen 154, 155, 156, 157, die der Kontaktierung wei terer Chips dienen können. Eine vierte Kontaktstelle 154 ist über eine dritte Leiterbahn 143 mit einer vierten Kontakt stelle 154 verbunden und über ein zweites Via 162 mit einer dritten Kontaktbahn 134. Die dritte Leiterbahn 143 bildet zwischen der vierten Kontaktstelle 154 und der fünften Kon taktstelle 155 einen zweiten Bypass 222. Eine sechste Kon taktstelle 156 ist über eine vierte Leiterbahn 144 mit einer siebten Kontaktstelle 157 verbunden und über ein drittes Via 163 mit einer vierten Kontaktbahn 134. Die vierte Leiterbahn 144 bildet dabei einen dritten Bypass 223 zwischen der sechs ten Kontaktstelle 156 und der siebten Kontaktstelle 157. Optionally, but also shown in Fig. 11 are further contact points 154, 155, 156, 157, which can serve the contacting wei terer chips. A fourth contact point 154 is connected via a third interconnect 143 to a fourth contact point 154 and via a second via 162 with a third contact path 134. The third interconnect 143 forms a second bypass 222 between the fourth contact point 154 and the fifth contact point 155. A sixth contact point 156 is connected via a fourth interconnect 144 to a seventh contact point 157 and via a third via 163 to a fourth contact path 134. The fourth interconnect 144 forms a third bypass 223 between the six th contact point 156 and the seventh contact point 157 ,
Ein auf die Kontaktstellen 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 aufgesetztes Bauteil kann dann jeweils zwei identische Chips in Serie beinhalten, die über die erste Kontaktstelle 151, die zweite Kontaktstelle 152 und die dritte Kontaktstelle 153 beziehungsweise die vierte Kontaktstelle 154, die fünfte Kon taktstelle 155 und die dritte Kontaktstelle 153 beziehungs weise sechste Kontaktstelle 156, die siebte Kontaktstelle 157 und die dritte Kontaktstelle 153 kontaktiert sind. A component placed on the contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 can then each contain two identical chips in series, via the first contact point 151, the second contact point 152 and the third contact point 153 or the fourth contact point 154 , the fifth contact point 155 and the third contact point 153 or the sixth contact point 156, the seventh contact point 157 and the third contact point 153 are contacted.
Fig. 12 zeigt eine Draufsicht auf eine Oberseite eines Bau teils 190, welches auf die Kontaktstellen 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 der Fig. 11 aufgesetzt werden kann. Das Bauteil 190 enthält eine erste Bauteilkontaktstelle 241 und eine zweite Bauteilkontaktstelle 242, zwischen denen ein zweiter Chip 120 angeordnet ist. Ein erster Chip 110 ist zwischen der zweiten Bauteilkontaktstelle 242 und einer dritten Bauteil kontaktstelle 243 angeordnet. Ein erstes Bauteilvia 251 ver bindet die erste Bauteilkontaktstelle 241 mit einer Untersei te des Bauteils 190 und kann so mit der ersten Kontaktstelle 151 verbunden werden. Ein zweites Bauteilvia 252 verbindet die zweite Bauteilkontaktstelle 242 mit der Unterseite des Bauteils 190 und kann so mit der zweiten Kontaktstelle 152 verbunden werden. Ein drittes Bauteilvia 253 verbindet die dritte Bauteilkontaktstelle 243 mit der Unterseite des Bau teils 190 und kann so mit der dritten Kontaktstelle 153 ver bunden werden. Dadurch ergibt sich, wenn das Bauteil 190 auf die Kontaktstellen 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 der Fig. 11 aufgesetzt wird, eine zu Fig. 7 analoge Kontaktierung des ersten Chips 110 beziehungsweise des zweiten Chips 120. Über den ersten Bypass 221 ist dann der zweite Chip 120 über brückt . Fig. 12 shows a plan view of an upper side of a construction part 190, which on the contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 of FIG. 11 can be placed. The component 190 contains a first component contact point 241 and a second component contact point 242, between which a second chip 120 is arranged. A first chip 110 is arranged between the second component contact point 242 and a third component contact point 243. A first component via 251 ver binds the first component pad 241 with a Untersei te of the component 190 and can be connected to the first contact point 151. A second component via 252 connects the second component pad 242 to the underside of the component 190, and thus can communicate with the second pad 152 get connected. A third component via 253 connects the third component contact point 243 to the bottom of the construction part 190 and can thus ver with the third contact point 153 a related party. This results, when the component 190 is placed on the contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 of FIG. 11, an analogous to FIG. 7 contacting the first chip 110 and the second chip 120th Über den first bypass 221 is then the second chip 120 bridges over.
Das Bauteil 190 umfasst ferner optional eine vierte Bauteil kontaktstelle 244 und eine fünfte Bauteilkontaktstelle 245. Ein dritter Chip 171 ist zwischen der fünften Bauteilkontakt stelle 245 und der dritten Bauteilkontaktstelle 243 angeord net. Ein vierter Chip 172 ist zwischen der vierten Bauteil kontaktstelle 244 und der fünften Bauteilkontaktstelle 245 angeordnet. Über ein viertes Bauteilvia 254 ist die vierte Bauteilkontaktstelle 244 mit der vierten Kontaktstelle 154 verbunden, wenn das Bauteil 190 auf die Kontaktstellen 151,The component 190 further optionally includes a fourth component contact point 244 and a fifth component contact point 245. A third chip 171 is between the fifth component contact point 245 and the third component contact point 243 angeord net. A fourth chip 172 is arranged between the fourth component contact point 244 and the fifth component contact point 245. Via a fourth component via 254, the fourth component contact point 244 is connected to the fourth contact point 154 when the component 190 contacts the contact points 151,
152, 153, 154, 155, 156, 157 der Fig. 11 aufgesetzt ist. Ana log ist die fünfte Bauteilkontaktstelle 245 über ein fünftes Bauteilvia 255 mit der fünften Kontaktstelle 155 verbunden. 152, 153, 154, 155, 156, 157 of FIG. 11 is placed. Analogously, the fifth component pad 245 is connected via a fifth component via 255 to the fifth pad 155.
Zusätzlich umfasst das Bauteil 190 eine sechste Bauteilkon taktstelle 246 und eine siebte Bauteilkontaktstelle 247. Ein fünfter Chip 181 ist zwischen der siebten Bauteilkontaktstel le 247 und der dritten Bauteilkontaktstelle 243 angeordnet. Ein sechster Chip 182 ist zwischen der sechsten Bauteilkon taktstelle 246 und der siebten Bauteilkontaktstelle 247 ange ordnet. Über ein sechstes Bauteilvia 256 ist die sechste Bau teilkontaktstelle 246 mit der sechsten Kontaktstelle 156 ver bunden, wenn das Bauteil 190 auf die Kontaktstellen 151, 152,In addition, the component 190 comprises a sixth component contact point 246 and a seventh component contact point 247. A fifth chip 181 is disposed between the seventh component contact point 247 and the third component contact point 243. A sixth chip 182 is arranged between the sixth component contact point 246 and the seventh component contact point 247. Via a sixth component via 256, the sixth construction partial contact point 246 is connected to the sixth contact point 156, when the component 190 contacts the contact points 151, 152,
153, 154, 155, 156, 157 der Fig. 11 aufgesetzt ist. Analog ist die siebte Bauteilkontaktstelle 247 über ein siebtes Bau teilvia 257 mit der siebten Kontaktstelle 157 verbunden. 153, 154, 155, 156, 157 of FIG. 11 is placed. Analogously, the seventh component contact point 247 is connected via a seventh construction part via 257 to the seventh contact point 157.
Fig. 13 zeigt eine Draufsicht auf die Kontaktstellen 151,13 shows a plan view of the contact points 151,
152, 153, 154, 155, 156, 157 des dritten Pixels 130, wobei die Bypässe 221, 222, 223 jeweils durchtrennt wurden, um den zweiten Chip 120, den vierten Chip 172 und den sechsten Chip 182 in Betrieb zu nehmen. Es müssen nicht alle Bypässe 221, 222, 223 durchtrennt werden, eine Durchtrennung des ersten Bypasses 221 reicht aus, um den zweiten Chip 120 in Betrieb zu nehmen. 152, 153, 154, 155, 156, 157 of the third pixel 130, wherein the bypasses 221, 222, 223 have each been severed to the second chip 120, the fourth chip 172 and the sixth chip 182 to operate. Not all bypasses 221, 222, 223 need to be severed, a severing of the first bypass 221 is sufficient to put the second chip 120 into operation.
Der zweite Bypass 222 ist über ein viertes Via 164 und ein fünftes Via 165 und über eine Bypassbahn 224 geführt, wobei die Bypassbahn 224 nicht auf der Oberseite des Trägers 136 angeordnet ist, analog zu beispielsweise der zweiten Kontakt bahn 132. The second bypass 222 is guided via a fourth via 164 and a fifth via 165 and via a bypass track 224, wherein the bypass track 224 is not arranged on the upper side of the carrier 136, analogously to, for example, the second contact track 132.
Optional, aber ebenfalls in Fig. 13 dargestellt ist eine ers te Überbrückung 231, die die erste Leiterbahn 141 mit der zweiten Leiterbahn 142 verbindet. Dadurch wird der erste Chip 110 überbrückt. Eine zweite Überbrückung 232 verbindet die dritte Leiterbahn 143 mit der ersten Kontaktbahn 131. Eine dritte Überbrückung 233 verbindet die vierte Leiterbahn 144 mit der ersten Kontaktbahn 131. Ein Aufbringen der dritten Überbrückung ist dadurch möglich, dass der zweite Bypass 222 über die Bypassbahn 224 unterhalb der Oberfläche des Trägers 136 geführt ist. Optionally, but also shown in Fig. 13 is a ers te bridging 231, which connects the first conductor 141 with the second conductor 142. As a result, the first chip 110 is bridged. A second bypass 232 connects the third track 143 with the first contact track 131. A third bridge 233 connects the fourth track 144 with the first contact track 131. Applying the third lock is possible because the second bypass 222 passes via the bypass track 224 below the first track 131 Surface of the carrier 136 is guided.
Fig. 14 zeigt eine Draufsicht auf Kontaktstellen 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158 eines vierten Pixels 130, wel cher dem dritten Pixel 130 der Fig. 11 entspricht, sofern im Folgenden keine Unterschiede beschrieben sind. Die dritte Kontaktstelle 153 ist mit der zweiten Leiterbahn mit einer an der Oberseite des Trägers 136 geführten fünften Kontaktbahn 135 verbunden. Eine achte Kontaktstelle 158 ist über eine fünfte Leiterbahn 145 mit der ersten Kontaktbahn 131 verbun den. Der zweite Bypass ist analog zu Fig. 13 über ein viertes Via 164, ein fünftes Via 165 und eine Bypassbahn 224 geführt. 14 shows a plan view of contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158 of a fourth pixel 130, which corresponds to the third pixel 130 of FIG. 11, unless differences are described below. The third contact point 153 is connected to the second conductor track with a fifth contact track 135 guided on the upper side of the carrier 136. An eighth contact point 158 is connected via a fifth interconnect 145 to the first contact path 131 verbun. The second bypass is performed analogously to FIG. 13 via a fourth via 164, a fifth via 165 and a bypass track 224.
Fig. 15 zeigt eine Draufsicht auf ein Bauteil 190, welches auf die Kontaktstellen 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 des vierten Pixels 130 der Fig. 14 aufgesetzt werden kann, und das dem Bauteil 190 der Fig. 12 entspricht, sofern im Folgen den keine Unterschiede beschrieben sind. Die dritte Bauteil- kontaktsteile 243 ist nur mit dem ersten Chip 110 verbunden, nicht jedoch mit dem dritten Chip 171 und dem fünften Chip 181. Der dritte Chip 171 und der fünfte Chip 181 sind mit ei ner achten Bauteilkontaktstelle 248 verbunden, welche über ein achtes Bauteilvia 258 mit der achten Kontaktstelle 158 verbunden werden kann. Dadurch können der erste Chip 110 be ziehungsweise der zweite Chip 120 über die zweite Kontaktbahn15 shows a plan view of a component 190 which can be placed on the contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157 of the fourth pixel 130 of FIG. 14 and which corresponds to the component 190 of FIG. 12 unless the differences are described below. The third component contact parts 243 is connected only to the first chip 110, but not to the third chip 171 and the fifth chip 181. The third chip 171 and the fifth chip 181 are connected to an ei ner eighth component pad 248, which via an eighth component via 258 with the eighth contact point 158 can be connected. As a result, the first chip 110 can be referred to as the second chip 120 via the second contact path
132 und die fünfte Kontaktbahn 135 mit einer anderen Spannung betrieben werden als die weiteren Chips 171, 172, 181, 182, die über die erste Kontaktbahn 131 und die dritte Kontaktbahn132 and the fifth contact track 135 are operated with a different voltage than the further chips 171, 172, 181, 182, via the first contact track 131 and the third contact track
133 beziehungsweise die vierte Kontaktbahn 134 angesteuert werden können. Wenn der erste Chip 110 und der zweite Chip 120 rot abstrahlen blaues beziehungsweise grünes Licht von den weiteren Chips 171, 172, 181, 182 abgestrahlt wird, er möglicht dies eine einfachere Ansteuerung der Chips 110, 120, 171, 172, 181, 182. 133 and the fourth contact track 134 can be controlled. If the first chip 110 and the second chip 120 emit red light blue or green light is emitted by the further chips 171, 172, 181, 182, this enables a simpler driving of the chips 110, 120, 171, 172, 181, 182.
Fig. 16 zeigt die Kontaktstellen 151, 152, 153, 154, 155,16 shows the contact points 151, 152, 153, 154, 155,
156, 157, 158 der Fig. 14, wobei die Bypässe 221, 222, 223 analog zu Fig. 13 durchtrennt sind. Durch die Durchtrennung des ersten Bypasses 221 kann der zweite Chip 120 in Betrieb genommen werden. Durch die Durchtrennung des zweiten Bypasses 222 kann der vierte Chip 172 in Betrieb genommen werden. 156, 157, 158 of FIG. 14, wherein the bypasses 221, 222, 223 are severed analogous to FIG. 13. By severing the first bypass 221, the second chip 120 can be put into operation. By severing the second bypass 222, the fourth chip 172 can be put into operation.
Durch die Durchtrennung des dritten Bypasses 223 kann der sechste Chip 182 in Betrieb genommen werden. Optional, aber ebenfalls in Fig. 16 dargestellt sind eine erste Überbrückung 231 zwischen der ersten Leiterbahn 141 und der zweiten Lei terbahn 142 zur Überbrückung des ersten Chips 110, eine zwei te Überbrückung 232 zwischen der dritten Leiterbahn 143 und der ersten Kontaktbahn 131 zur Überbrückung des dritten Chips 171 und eine dritte Überbrückung 233 zwischen der vierten Leiterbahn 144 und der fünften Leiterbahn 145 zur Überbrü ckung des fünften Chips 181.  By the transection of the third bypass 223, the sixth chip 182 can be put into operation. Optionally, but also shown in Fig. 16 are a first bridge 231 between the first conductor 141 and the second Lei terbahn 142 for bridging the first chip 110, a two te bridging 232 between the third conductor 143 and the first contact path 131 for bridging the third chip 171 and a third bypass 233 between the fourth interconnect 144 and the fifth interconnect 145 for bridging the fifth chip 181.
Fig. 17 zeigt eine Draufsicht auf einen Ausschnitt eines Mul- tipixel-LED-Displays 260. Vier Pixel 130 sind in einem Recht eck angeordnet. Die Pixel 130 entsprechen dabei zunächst den Pixeln wie in Fig. 14 beschrieben, wobei das Bauteil 190 der Fig. 15 jeweils auf die Kontaktstellen 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158 aufgesetzt ist. Die Kontaktbahnen 131,FIG. 17 shows a plan view of a section of a multi-pixel LED display 260. Four pixels 130 are arranged in a rectangle. In this case, the pixels 130 initially correspond to the pixels as described in FIG. 14, the component 190 of FIG. 15 being respectively connected to the contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158 is attached. The contact tracks 131,
132, 133, 134, 135 sind dabei durchgehend über benachbarte Pixel 130 geführt, wobei die erste Kontaktbahn 131 und die fünfte Kontaktbahn 135 für in einer ersten Richtung aneinan der angrenzende Pixel 130 durchgehend ausgebildet sind und die zweite Kontaktbahn 132, die dritte Kontaktbahn 133 und die vierte Kontaktbahn 134 für in einer zweiten Richtung an einander angrenzende Pixel 130 durchgehend ausgebildet sind. 132, 133, 134, 135 are thereby continuously passed over adjacent pixels 130, wherein the first contact track 131 and the fifth contact track 135 are formed continuously in a first direction aneinan the adjacent pixels 130 and the second contact track 132, the third contact track 133 and the fourth contact track 134 is configured to be continuous for adjacent pixels 130 in a second direction.
Im Pixel 130 rechts unten sind der erste Chip 110, der dritte Chip 171 sowie der fünfte Chip 181 als defekt identifiziert worden. Anschließend wurden die die Bypässe 221, 222, 223 bildenden Leiterbahnen durchtrennt, um den zweiten Chip 120, den vierten Chip 172 sowie den sechsten Chip 182 in Betrieb zu nehmen. Ferner wurden die Überbrückungen 231, 232, 233 analog zu Fig. 16 aufgebracht, um die defekten Chips 110,In the pixel 130 bottom right, the first chip 110, the third chip 171 and the fifth chip 181 have been identified as defective. Subsequently, the interconnects forming the bypasses 221, 222, 223 were cut to operate the second chip 120, the fourth chip 172 and the sixth chip 182. Furthermore, the bypasses 231, 232, 233 were applied analogously to FIG. 16 in order to remove the defective chips 110,
171, 181 zu überbrücken. 171, 181 to bridge.
Die Durchtrennung der die Bypässe 221, 222, 223 bildenden Leiterbahnen kann dabei mittels Laserabtragung erfolgen. The separation of the bypasses 221, 222, 223 forming tracks can be done by laser ablation.
Hierzu ist es vorteilhaft, wenn die Bypässe 221, 222, 223 an einer Stelle einen vorgegebenen Mindestabstand zu benachbar ten Leiterbahnen aufweisen, damit das mittels Laserabtragung abgetragene Material nicht zu Kurzschlüssen führt. Dieser Mindestabstand kann einen vorgegeben Wert annehmen und bei spielsweise zwischen zehn und fünfzig, bevorzugt zwischen zwanzig und fünfundzwanzig Mikrometer betragen. For this purpose, it is advantageous if the bypasses 221, 222, 223 have at one point a predetermined minimum distance to the neigh th conductor tracks, so that the material removed by laser ablation material does not lead to short circuits. This minimum distance can assume a predetermined value and be for example between ten and fifty, preferably between twenty and twenty-five microns.
Das Erstellen der Überbrückungen 231, 232, 233 kann dabei mittels Aufbringen eines leitfähigen Materials erfolgen, bei spielsweise über einen lokalen Aufdampfprozess . Dabei können Masken zum Einsatz kommen, um das leitfähige Material nur auf bestimmte Bereiche aufzubringen. The creation of the bridges 231, 232, 233 can be done by applying a conductive material, for example, via a local evaporation process. In this case, masks can be used to apply the conductive material only to certain areas.
Anstelle des vierten Pixels 130 der Fig. 14 können auch die zuvor beschriebenen Ausführungsbeispiele der Pixel 130 analog zu einen Multipixel-LED-Display 260 zusammengesetzt werden. Die Kontaktstellen 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214 können als Lötpads ausgestaltet sein, wodurch ein einfaches Anbringen der Chips 110, 120, 171, 172, 181, 182 und/oder der Bauelemente 190 mit den Chips 110, 120, 171, 172, 181, 182 ermöglicht wird. Es kann zusätzlich eine isolierende Schicht auf den Träger 136 aufgebracht sein der art, dass die Kontaktstellen 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214 und die Leiterbahnen 141, 142,Instead of the fourth pixel 130 of FIG. 14, the above-described exemplary embodiments of the pixels 130 may also be assembled analogously to a multipixel LED display 260. The contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214 may be designed as solder pads, whereby a simple attachment of the chips 110, 120, 171, 172, 181, 182 and / or the device 190 with the chips 110, 120, 171, 172, 181, 182 is made possible. In addition, an insulating layer may be applied to the carrier 136 such that the contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214 and the printed conductors 141, 142,
143, 144, 145, 146, 147, 148, sofern im Pixel 130 vorhanden, vom isolierenden Material bedeckt sind und nur die Chips 110, 120, 171, 172, 181, 182 und/oder die Bauelemente 190 aus dem isolierenden Material hervorragen. Die Kontaktstellen 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214 und die143, 144, 145, 146, 147, 148, if present in the pixel 130, are covered by the insulating material and only the chips 110, 120, 171, 172, 181, 182 and / or the components 190 protrude from the insulating material. The contact points 151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214 and the
Leiterbahnen 141, 142, 143, 144, 145, 146, 147, 148, sofern im Pixel 130 vorhanden, können als mittels Aufdampfen Tracks 141, 142, 143, 144, 145, 146, 147, 148, if present in pixel 130, may be referred to as by vapor deposition
und/oder galvanischem Aufbringen und/oder Aufdrucken auf den Träger ausgebildete leitende Bereiche ausgeführt sein. and / or electroplating and / or printing on the support formed conductive regions.
Multipixel-LED-Displays 260 können aus Kacheln mit einhundert bis vierhundert Pixeln aufgebaut sein. Wenn Kacheln mit sech zehn Pixeln in einer ersten Richtung und achtzehn Pixeln in einer zweiten Richtung verwendet werden, enthält eine Kachel zweihundertachtundachtzig Pixel. Wenn beispielsweise die Pro duktion eines Pixels mit einer Wahrscheinlichkeit von einem Promille zu einem defekten Pixel führt, ergibt sich aus der Binomialverteilung, dass nur 75 Prozent der Kacheln ohne de fekte Pixel produziert werden. Durch das beschrieben Verfah ren zum Ersetzen eines ersten Chips eines Mehrpixel-LED- Moduls durch einen zweiten Chip können bei gleicher Wahr scheinlichkeit für einen defekten Pixel über 99, 9 Prozent der Kacheln ohne defekte Pixel erzeugt werden. Um eine solche Ausbeute ohne das beschriebene Verfahren zu erzielen müsste die Defektrate unter 3,5 Pixel pro produzierter Million Pixel liegen. Folglich ergeben sich aus dem beschriebenen Verfahren deutliche Kostenvorteile bei der Produktion von Mehrpixel- LED-Modulen . Multipixel LED displays 260 may be constructed of tiles of one hundred to four hundred pixels. If tiles with sixteen pixels in a first direction and eighteen pixels in a second direction are used, a tile contains two hundred and eighty-eight pixels. For example, if the production of a pixel with a probability of one percent leads to a defective pixel, the binomial distribution results in only 75 percent of the tiles being produced without any defective pixels. By the described procedural ren for replacing a first chip of a multi-pixel LED module by a second chip can be generated at the same probability for a defective pixel over 99, 9 percent of the tiles without defective pixels. To achieve such a yield without the described method, the defect rate would have to be less than 3.5 pixels per million pixels produced. Consequently, the method described results in significant cost advantages in the production of multi-pixel LED modules.
Obwohl die Erfindung im Detail durch die bevorzugten Ausfüh rungsbeispiele näher illustriert und beschrieben wurde, ist die Erfindung nicht durch die offenbarten Beispiele einge schränkt und andere Variationen können vom Fachmann hieraus abgeleitet werden, ohne den Schutzumfang der Erfindung zu verlassen . Although the invention has been illustrated and described in detail by the preferred Ausfüh approximately examples, is the invention is not limited by the disclosed examples, and other variations can be deduced therefrom by those skilled in the art without departing from the scope of the invention.
BEZUGSZEICHENLISTE LIST OF REFERENCE NUMBERS
100 Schaltbild 100 circuit diagram
101 Parallelschaltung  101 parallel connection
102 erster Zweig  102 first branch
103 zweiter Zweig  103 second branch
104 erste Unterbrechungsstelle  104 first point of interruption
105 Serienschaltung  105 series connection
106 Überbrückungszweig  106 Bridging branch
107 Kurzschlusszweig  107 short circuit branch
110 erster Chip 110 first chip
120 zweiter Chip 120 second chip
130 Pixel 130 pixels
131 erste Kontaktbahn  131 first contact track
132 zweite Kontaktbahn  132 second contact track
133 dritte Kontaktbahn  133 third contact track
134 vierte Kontaktbahn  134 fourth contact track
136 Träger 136 carriers
141 erste Leiterbahn 141 first trace
142 zweite Leiterbahn  142 second trace
143 dritte Leiterbahn  143 third track
144 vierte Leiterbahn  144 fourth track
145 fünfte Leiterbahn  145 fifth trace
146 sechste Leiterbahn  146 sixth track
147 siebte Leiterbahn  147 seventh track
148 achte Leiterbahn  148th eighth track
151 erste Kontaktstelle 151 first contact point
152 zweite Kontaktstelle  152 second contact point
153 dritte Kontaktstelle  153 third contact point
154 vierte Kontaktstelle  154 fourth contact point
155 fünfte Kontaktstelle  155 fifth contact point
156 sechste Kontaktstelle  156 sixth contact point
157 siebte Kontaktstelle  157 seventh contact point
158 achte Kontaktstelle 161 erstes Via 158 eighth contact point 161 first Via
162 zweites Via  162 second via
163 drittes Via  163 third Via
164 viertes Via  164 fourth Via
165 fünftes Via  165 fifth via
171 dritter Chip 171 third chip
172 vierter Chip  172 fourth chip
181 fünfter Chip  181 fifth chip
182 sechster Chip  182 sixth chip
190 Bauteil 190 component
191 erstes Lötpad  191 first solder pad
192 zweites Lötpad  192 second solder pad
193 drittes Lötpad  193 third solder pad
194 viertes Lötpad  194 fourth solder pad
195 Lötpad  195 solder pad
211 neunte Kontaktstelle 211 ninth contact point
212 zehnte Kontaktstelle  212 tenth contact point
213 elfte Kontaktstelle  213 eleventh contact point
214 zwölfte Kontaktstelle  214 twelfth contact point
221 erster Bypass 221 first bypass
222 zweiter Bypass  222 second bypass
223 dritter Bypass  223 third bypass
224 Bypassbahn  224 Bypass track
231 erste Überbrückung 231 first bridge
232 zweite Überbrückung  232 second bypass
233 dritte Überbrückung  233 third bridging
241 erste Bauteilkontaktstelle241 first component contact point
242 zweite Bauteilkontaktstelle242 second component contact point
243 dritte Bauteilkontaktstelle243 third component contact point
244 vierte Bauteilkontaktstelle244 fourth component contact point
245 fünfte Bauteilkontaktstelle 246 sechste Bauteilkontaktstelle245 fifth component contact point 246 sixth component contact point
247 siebte Bauteilkontaktstelle247 seventh component contact point
248 achte Bauteilkontaktstelle 248 eighth component contact point
251 erstes Bauteilvia 251 first component via
252 zweites Bauteilvia  252 second component via
253 drittes Bauteilvia  253 third component via
254 viertes Bauteilvia  254 fourth component via
255 fünftes Bauteilvia  255 fifth component via
256 sechstes Bauteilvia  256 sixth component via
257 siebtes Bauteilvia  257 seventh component via
258 achtes Bauteilvia  258 eighth component via
260 Multipixel-LED-Display 260 multi-pixel LED display

Claims

PATENTANS PRUCHE PATENTAN'S REQUEST
1. Verfahren zum Ersetzen eines ersten Chips (110) eines A method of replacing a first chip (110) of a
Mehrpixel-LED-Moduls (260) durch einen zweiten Chip  Multi-pixel LED module (260) through a second chip
(120), wobei der erste Chip (110) defekt ist, mit den folgenden Schritten:  (120), wherein the first chip (110) is defective, with the following steps:
- Identifizieren des ersten Chips (110);  - identifying the first chip (110);
- Durchtrennen einer ersten Leiterbahn (141) des Mehr- pixel-LED-Moduls (260);  - severing a first trace (141) of the multi-pixel LED module (260);
wobei der erste Chip (110) und der zweite Chip (120) in Serie geschaltet sind und wobei die erste Leiterbahn (141) den zweiten Chip (120) überbrückt.  wherein the first chip (110) and the second chip (120) are connected in series and wherein the first conductor (141) bridges the second chip (120).
2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Mehrpixel-LED-Modul2. The method of claim 1, wherein the multi-pixel LED module
(260) Kontaktstellen (151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214) für den zweiten Chip (120) be reitstellt und der zweite Chip (120) nach dem Identifi zieren des ersten Chips (110) auf den Kontaktstellen ( 151 , 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214) des Mehrpixel-LED-Moduls (260) angebracht wird. (260) contact points (151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214) for the second chip (120) BE REITES and the second chip (120) after the Identifi adorn the first chip (110) is mounted on the pads (151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214) of the multi-pixel LED module (260).
3. Verfahren nach Anspruch 2, wobei die Kontaktstellen ( 151 ,3. The method according to claim 2, wherein the contact points (151,
152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214) durch eine Isolationsschicht bedeckt sind und wobei vor dem Anbringen des zweiten Chips (120) die Isolations schicht zumindest teilweise von den Kontaktstellen ( 151 , 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214) entfernt wird. 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214) are covered by an insulating layer and wherein before the attachment of the second chip (120), the insulation layer at least partially from the contact points (151, 152 , 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214).
4. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der zweite Chip (120) bereits auf dem Mehrpixel-LED-Modul (260) vor dem Identi fizieren des ersten Chips (110) angeordnet ist. 4. The method of claim 1, wherein the second chip (120) is already on the multi-pixel LED module (260) before identifying the first fic of the first chip (110) is arranged.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei eine erste Überbrückung (231) derart erstellt wird, dass der erste Chip (110) kurzgeschlossen wird. 5. The method according to any one of claims 1 to 4, wherein a first bypass (231) is created such that the first chip (110) is short-circuited.
6. Verfahren nach Anspruch 5, wobei die erste Überbrückung (231) durch ein Aufbringen eines elektrisch leitfähigen Materials erstellt wird. 6. The method of claim 5, wherein the first bridge (231) is created by applying an electrically conductive material.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei das 7. The method according to any one of claims 1 to 6, wherein the
Durchtrennen der ersten Leiterbahn (141) mittels Laserab tragung erfolgt.  Cutting the first conductor (141) takes place by means of Laserab transmission.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei der 8. The method according to any one of claims 1 to 7, wherein the
erste Chip (141) in einem ersten Bauteil (190) angeordnet ist und der zweite Chip (120) in einem zweiten Bauteil (190) angeordnet ist und wobei das erste Bauteil (190) einen dritten Chip (171) enthält, wobei das zweite Bau teil (190) einen vierten Chip (172) enthält.  the first chip (141) is arranged in a first component (190) and the second chip (120) is arranged in a second component (190) and wherein the first component (190) contains a third chip (171), the second construction part (190) includes a fourth chip (172).
9. Mehrpixel-LED-Modul (260), aufweisend einen Träger (136), einen ersten Chip (110), Kontaktstellen (151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214) für einen zweiten Chip (120) sowie eine erste Leiterbahn (141), wo bei die erste Leiterbahn (141) derart ausgeführt ist, dass die erste Leiterbahn (141) an einer vorgegebenen Stelle durchtrennt werden kann, wobei der erste Chip (110) und die Kontaktstellen (151, 152, 153, 154, 155,A multi-pixel LED module (260) comprising a carrier (136), a first chip (110), pads (151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214 ) for a second chip (120) and a first conductor track (141), where the first conductor track (141) is designed in such a way that the first conductor track (141) can be severed at a predetermined location, the first chip (110) and the contact points (151, 152, 153, 154, 155,
156, 157, 158, 211, 212, 213, 214) in Serie geschaltet sind und wobei die erste Leiterbahn (141) der Überbrü ckung der Kontaktstellen (151, 152, 153, 154, 155, 156,156, 157, 158, 211, 212, 213, 214) are connected in series and wherein the first conductor track (141) of the bridging of the contact points (151, 152, 153, 154, 155, 156,
157, 158, 211, 212, 213, 214) dient. 157, 158, 211, 212, 213, 214).
10. Mehrpixel-LED-Modul (260) nach Anspruch 9, wobei ein 10. multi-pixel LED module (260) according to claim 9, wherein a
zweiter Chip (120) mit den Kontaktstellen (151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214) verbunden ist .  second chip (120) is connected to the contact points (151, 152, 153, 154, 155, 156, 157, 158, 211, 212, 213, 214).
11. Mehrpixel-LED-Modul (260) nach Anspruch 9 oder 10, wobei eine erste Überbrückung (231) auf den Träger (136) derart aufgebracht werden kann, dass der erste Chip (110) durch die erste Überbrückung (231) überbrückt wird. 11. Multi-pixel LED module (260) according to claim 9 or 10, wherein a first bridge (231) on the support (136) in such a way it can be applied that the first chip (110) is bridged by the first bridging (231).
12. Mehrpixel-LED-Modul (260) nach einem der Ansprüche 9 bis 11, wobei jeder Pixel (130) einen ersten Chip (110) und eine erste Leiterbahn (141) aufweist. The multi-pixel LED module (260) of any one of claims 9 to 11, wherein each pixel (130) comprises a first chip (110) and a first trace (141).
13. Mehrpixel-LED-Modul (260) nach einem der Ansprüche 9 bis 12, wobei der erste Chip (110) in einem ersten Bauteil (190) angeordnet ist und der zweite Chip (120) in einem zweiten Bauteil (190) angeordnet ist und wobei das erste Bauteil (190) einen dritten Chip (171) enthält, wobei das zweite Bauteil (190) einen vierten Chip (172) enthält. 13. Multi-pixel LED module (260) according to one of claims 9 to 12, wherein the first chip (110) in a first component (190) is arranged and the second chip (120) in a second component (190) is arranged and wherein the first component (190) includes a third chip (171), the second component (190) including a fourth chip (172).
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