WO2019035441A1 - Measurement device - Google Patents

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朋之 池上
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キヤノン株式会社
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Abstract

Provided is a measurement device which is capable of appropriately performing imaging using full-range optical coherence tomography (OCT) imaging and imaging using normal OCT, despite having a simple configuration. The present invention is provided with: a light source; a measurement optical system which guides, to an object to be examined, a line image into which measurement light from the light source is formed; a reference optical system which adjusts the optical path length of reference light from the light source; a line beam forming optical system for the reference light which is provided to the reference optical system, and which gives the reference light a linear shape; a mirror which is provided to the reference optical system, and which is capable of setting the reflection angle of the reference light; a multiplexing means which multiplexes the reference light which has passed through the reference optical system, and the measurement light which has passed through the object to be examined, to generate coherent light; and a light receiving means which receives the coherent light and generates an output signal. The signal processing of the output signal is different in cases when the mirror has a prescribed angle than in cases when the mirror is set to an angle other than the prescribed angle.

Description

計測装置Measuring device
 本発明は、被検査物の光干渉像を取得する計測装置に関する。 The present invention relates to a measurement apparatus for acquiring an optical interference image of an object to be inspected.
 眼科分野において、計測光を被検眼の前眼部或いは眼底で走査し、該被検眼の検査を行う計測装置が知られている。中でも、近年、非侵襲で眼底及び前眼部の断層を観察/計測できる光干渉断層計測法(Optical Coherence Tomography:OCT)を用いた装置(以下OCT装置という)の普及が進んでいる。OCTでは、低コヒーレント光(測定光)を被検眼に照射し、被検眼からのその戻り光と参照光とを合波させた干渉光を用いて、被検眼の断層に関する情報を得ている。また、この測定光を被検眼の例えば眼底上の所定範囲に走査することで、該所定範囲の3次元断層情報が得られる。当該方法を具現化するOCT装置は、医療において研究から臨床まで広く使われている。 In the field of ophthalmology, there is known a measuring apparatus which scans measurement light at the anterior segment or the fundus of an eye to be examined and examines the eye to be examined. Among them, in recent years, a device (hereinafter referred to as an OCT device) using an optical coherence tomography (OCT) capable of noninvasively observing / measuring a tomographic image of the fundus and the anterior segment has been in widespread use. In OCT, low coherent light (measurement light) is irradiated to the eye to be examined, and information on a tomographic image of the eye to be examined is obtained using interference light obtained by combining the return light from the eye to be examined and the reference light. Further, by scanning this measurement light in a predetermined range on, for example, the fundus of the eye to be examined, three-dimensional tomographic information in the predetermined range can be obtained. An OCT apparatus embodying the method is widely used in medicine from research to clinic.
 OCTは、タイムドメインOCT及びフーリエドメインOCTの2種に大別されている。更に、フーリエドメインOCTには、スペクトラルドメインOCT(SD-OCT)とスウェプトソースOCT(SS-OCT)とがある。これらフーリエドメインOCTは、広い波長帯域を有する光を利用し、得られた干渉光を分光して信号取得を行い、取得した信号にフーリエ変換等の処理を施すことで、被検眼の断層に関する情報を得ている。広帯域光を用いるSD-OCTは、得られた干渉光を分光器により空間的に分光して周波数毎の情報を得ている。広帯域光として波長掃引光源からの光を用いるSS-OCTでは、時間的に異なる波長の光を用いて得られた干渉光を、時間的に分光して周波数毎の情報を得ている。 OCT is roughly classified into two types, time domain OCT and Fourier domain OCT. Furthermore, Fourier domain OCT includes spectral domain OCT (SD-OCT) and swept source OCT (SS-OCT). The Fourier domain OCT uses light having a wide wavelength band, separates the obtained interference light to perform signal acquisition, and performs processing such as Fourier transformation on the acquired signal to obtain information on a tomographic image of the eye to be examined. You are getting In the SD-OCT using broadband light, the obtained interference light is spatially dispersed by a spectrometer to obtain information for each frequency. In SS-OCT using light from a wavelength-swept light source as broad-band light, interference light obtained using light of wavelengths different temporally is temporally dispersed to obtain information for each frequency.
 例えば測定時間の短縮化を目的として、スポット状の測定光を用いるのではなく、線状に成形した測定光を用いて断層情報を得るライン走査式マイケルソン型のOCT装置(以下ラインOCT装置という)が非特許文献1に紹介されている。該ラインOCT装置では、光源から射出した光の断面形状をコリメータレンズ及びシリンドリカルレンズを用いてライン状に成形し、被検眼の眼底上に測定光をラインビームとして照射する。そして眼底から戻ってきた測定光と、同様にライン状に成形した参照光とを合波させ、発生した干渉光をラインセンサで受光する。従来、Aスキャンとして眼底にスポット光を照射し、Bスキャンとして該スポット光をライン走査して取得していた情報を、該ラインOCT装置によればスポット光が一列に並んだラインビームとして一度に取得することができる。これにより、従来のBスキャンに対応する信号の取得時間を大幅に短縮させることができる。 For example, for the purpose of shortening measurement time, a line scanning Michelson-type OCT apparatus (hereinafter referred to as a line OCT apparatus) that obtains tomographic information using measurement light shaped in a linear shape instead of using spot measurement light Is introduced in Non-Patent Document 1. In the line OCT apparatus, the cross-sectional shape of light emitted from the light source is formed into a line shape using a collimator lens and a cylindrical lens, and measurement light is irradiated as a line beam on the fundus of the eye to be examined. Then, the measurement light returned from the fundus and the reference light similarly shaped in a line are combined, and the generated interference light is received by the line sensor. Conventionally, the fundus is irradiated with spot light as A scan, and information obtained by line scanning the spot light as B scan is obtained at one time as a line beam in which the spot light is lined up according to the line OCT apparatus. It can be acquired. Thereby, the acquisition time of the signal corresponding to the conventional B scan can be shortened significantly.
 OCTにおいて、データ解析又は処理において課題となっている種々のアーチファクトがあり、そのひとつに複素共役アーチファクトの問題がある。干渉信号は実数値として検出されるので、フーリエ変換処理により再構成された深さ方向プロファイルには、複素共役曖昧性(complex conjugate ambiguity)が発生する。具体的には、測定光路の光路長が参照光路の光路長に等しいゼロ遅延位置に対し、実像とは反対側に、実像の鏡像として複素共役アーチファクトが現れる。鏡像が実像に重なるとOCTデータの誤解析につながり得る。この複素共役アーチファクトは、眼底の広い範囲の断層情報を得ようとした場合、或いは眼底の深い位置までの断層情報を得ようとした場合において生じやすい。 In OCT, there are various artifacts that have been a problem in data analysis or processing, one of which is the problem of complex conjugate artifacts. Since the interference signal is detected as a real value, complex conjugate ambiguity occurs in the depth direction profile reconstructed by Fourier transform processing. Specifically, a complex conjugate artifact appears as a mirror image of the real image on the opposite side of the real image with respect to the zero delay position where the optical path length of the measurement optical path is equal to the optical path length of the reference optical path. Overlapping of the mirror image on the real image can lead to misanalysis of the OCT data. This complex conjugate artifact is likely to occur when trying to obtain tomographic information of a wide range of the fundus or when trying to obtain tomographic information up to a deep position of the fundus.
 非特許文献1では、複素共役アーチファクトを除去する手段として、ラインOCTに位相シフト法を適用したフルレンジOCT撮像技術が提案されている。即ち、ライン状に形成された参照光の波面に一定の傾斜を与え、Bスキャン方向(参照光延在方向)に等間隔の時間遅延を与えることで位相シフトを発生させる。この状態で得られた干渉信号に対して、通常のAスキャン方向ではなく、Bスキャンの空間方向にフーリエ変換処理を行い、信号を解析することで、複素共役干渉信号を取得する。取得された複素共役干渉信号をゼロ値とし、残された信号に対して通常のフーリエ変換処理を行うことにより、複素共役アーチファクトを除去した断層像が得られることが開示されている。 Non-Patent Document 1 proposes a full-range OCT imaging technique in which a phase shift method is applied to line OCT as means for removing complex conjugate artifacts. That is, a predetermined inclination is given to the wave front of the reference light formed in a line shape, and a phase shift is generated by giving equal time delays in the B scan direction (reference light extension direction). The interference signal obtained in this state is subjected to Fourier transform processing in the spatial direction of B scan instead of the normal A scan direction, and the signal is analyzed to obtain a complex conjugate interference signal. It is disclosed that a tomographic image from which a complex conjugate artifact has been removed can be obtained by setting the acquired complex conjugate interference signal to a zero value and performing normal Fourier transform processing on the remaining signal.
 しかし、このように複素共役干渉信号をゼロ値としてしまうことにより、実際に画像形成に用いられるデータが1/2に減少し、横解像力が劣化してしまう。即ち、非特許文献1に提案されるフルレンジOCT撮像技術では、良好な画像深度と横解像力とは両立しない。しかし、実際の被検眼の診断に際しては、上述した広範囲或いは深い位置までの断層情報と、それほど広範囲も深さ位置も必要無いが横解像度が高い画像が得られる断層情報とを適宜取得できることが望まれる。即ち、例えば被検眼の局所的に狭い範囲を詳細に観察したいケースや、一方で大まかに全体的な構造を広い範囲で観察したいケースなど、ケースバイケースで観察方法を切り替える手段が望まれる。 However, by setting the complex conjugate interference signal to a zero value in this way, the data actually used for image formation is reduced to 1⁄2, and the lateral resolution is degraded. That is, in the full-range OCT imaging technology proposed in Non-Patent Document 1, good image depth and lateral resolution are not compatible. However, in actual diagnosis of the eye to be examined, it is preferable that tomographic information up to the wide range or deep position mentioned above and tomographic information from which an image with high lateral resolution is obtained although the wide range or depth position is not necessary can be acquired appropriately. Be That is, means for switching the observation method on a case-by-case basis is desired, for example, a case where it is desired to observe a locally narrow area of the subject's eye in detail or a case where an overall structure is roughly observed in a wide area.
 本発明は以上の状況に鑑みたものであって、簡易な構成であってもフルレンジOCT撮像技術による撮像と通常のOCTによる撮像とを適宜実行することができる計測装置の提供を目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a measurement apparatus capable of appropriately performing imaging with a full-range OCT imaging technology and imaging with a normal OCT even with a simple configuration.
 上記課題を解決するために、本発明の一態様に係る計測装置は、
 光源と、
 前記光源からの測定光を成形したライン像を被検査物に導く測定光学系と、
 前記光源からの参照光の光路長を調整する参照光学系と、
 前記参照光学系に設けられた、前記参照光の形状をライン状に形成する参照光用ラインビーム形成光学系と、
 前記参照光学系に設けられた、前記参照光の反射角度を設定可能なミラーと、
 前記参照光学系を経た前記参照光と前記被検査物を経た前記測定光とを合波させて干渉光を生成する合波手段と、
 前記干渉光を受光して出力信号を生成する受光手段と、
を備え、前記ミラーが所定の角度の場合と前記所定の角度以外の角度に設定された場合で、前記出力信号の信号処理が異なることを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned subject, a measuring device concerning one mode of the present invention,
Light source,
A measurement optical system for guiding a line image obtained by shaping the measurement light from the light source to an object to be inspected;
A reference optical system for adjusting an optical path length of reference light from the light source;
A reference beam line beam forming optical system provided in the reference optical system for forming the shape of the reference light in a line shape;
A mirror provided in the reference optical system and capable of setting a reflection angle of the reference light;
Combining means for combining the reference light passing through the reference optical system and the measurement light passing through the inspection object to generate interference light;
Light receiving means for receiving the interference light and generating an output signal;
The signal processing of the output signal is different depending on whether the mirror has a predetermined angle or an angle other than the predetermined angle.
 本発明によれば、簡易な構成であってもフルレンジOCT撮像技術による撮像と通常のOCTによる撮像とを適宜実行することができる。 According to the present invention, even with a simple configuration, imaging by full-range OCT imaging technology and imaging by normal OCT can be appropriately performed.
本発明の第1の実施例に係るラインOCT装置の光学系を説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating the optical system of the line OCT apparatus which concerns on the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施例に係るラインOCT装置の制御部を説明するためのブロック図である。It is a block diagram for demonstrating the control part of the line OCT apparatus which concerns on the 1st Example of this invention. 図1に示した参照光学系における参照光用ラインビーム形成光学系、波面傾斜ミラー、及び参照光用リレーレンズ系の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the line beam formation optical system for reference lights, a wave-front inclination mirror, and the relay lens system for reference lights in the reference optical system shown in FIG. 図1に示した参照光学系における参照光用ラインビーム形成光学系、波面傾斜ミラー、及び参照光用リレーレンズ系の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the line beam formation optical system for reference lights, a wave-front inclination mirror, and the relay lens system for reference lights in the reference optical system shown in FIG. 通常得られる断層像と位相シフトにより得られる断層像とを例示する図である。It is a figure which illustrates a tomogram usually obtained and a tomogram obtained by phase shift. 周波数分布の分離を説明するための図である。It is a figure for demonstrating isolation | separation of frequency distribution. 参照光波面の傾斜の微調整に伴う断層像の傾斜の変化を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the change of the inclination of a tomogram accompanying fine adjustment of the inclination of a reference light wave front. 参照光波面の傾斜の微調整に伴う周波数分布の分離を説明するための図である。It is a figure for demonstrating isolation | separation of frequency distribution accompanying fine adjustment of the inclination of a reference light wave front. 参照光波面のデフォーカスの制御を説明するための参照光学系におけるライン像形成光学系、波面傾斜ミラー、及び参照用リレーレンズ系の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the line image formation optical system in a reference optical system for demonstrating control of the defocus of a reference light wave front, a wave-front inclination mirror, and the relay lens system for a reference. 参照光波面のデフォーカスの制御に伴う断層像の湾曲の変化を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the change of the curvature of the tomogram accompanying control of the defocus of a reference light wave front. 参照光波面のデフォーカスの制御に伴う周波数分布の分離を説明するための図である。It is a figure for demonstrating isolation | separation of frequency distribution accompanying control of defocus of a reference light wave front. 参照光波面の傾斜及びデフォーカスの制御に伴う断層像の変化を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the change of the tomogram accompanying control of the inclination of a reference light wave front, and defocus. 第1の実施例に係る制御アプリケーションのユーザインターフェース画面を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the user interface screen of the control application which concerns on a 1st Example. 第1の実施例に係る制御アプリケーションのユーザインターフェース画面を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the user interface screen of the control application which concerns on a 1st Example. 本発明の第2の実施例に係るラインOCT装置の光学系を説明するための概略構成図である。It is a schematic block diagram for demonstrating the optical system of the line OCT apparatus which concerns on the 2nd Example of this invention.
 以下、本発明を実施するための例示的な実施例を、図面を参照して詳細に説明する。ただし、以下の実施例で説明される寸法、材料、形状、及び構成要素の相対的な位置等は任意であり、本発明が適用される装置の構成又は様々な条件に応じて変更できる。また、図面において、同一であるか又は機能的に類似している要素を示すために図面間で同じ参照符号を用いる。 Hereinafter, exemplary embodiments for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. However, the dimensions, materials, shapes, relative positions of components, etc. described in the following embodiments are arbitrary, and can be changed according to the configuration of the apparatus to which the present invention is applied or various conditions. Also, in the drawings, like reference numerals are used to indicate identical or functionally similar elements.
[第1の実施例]
 以下の実施例では、本発明を適用した計測装置としてラインOCT装置を例として説明する。参照する図1はラインOCT装置の光学系を説明するための概略構成図であり、図2は当該ラインOCT装置の制御部を説明するためのラインOCT装置の全体構成を示すブロック図である。なお、本実施例で示すラインOCT装置はマッハツェンダー式の干渉系を有する。しかしながら、本発明はマイケルソン式の干渉系を用いる構成としてもよい。
First Embodiment
In the following embodiments, a line OCT apparatus will be described as an example of a measurement apparatus to which the present invention is applied. FIG. 1 to be referred to is a schematic configuration view for explaining an optical system of the line OCT apparatus, and FIG. 2 is a block diagram showing an entire configuration of the line OCT apparatus for explaining a control unit of the line OCT apparatus. Note that the line OCT apparatus shown in this embodiment has a Mach-Zehnder interference system. However, the present invention may be configured to use a Michelson-type interference system.
 本実施例に係るラインOCT装置におけるOCT光学系は、光源001、カプラ002、ラインビーム形成光学系101、サンプル光学系(測定光学系)102、参照光学系103、ビームスプリッタ025、及び受光光学系104を有する。波長掃引可能な光源001(SS光源)より射出された光は光ファイバによりカプラ(光カプラ)002に導かれ、所望の分割比で該カプラ002によって測定光と参照光とに分割される。測定光はラインビーム形成光学系101へ、参照光は参照光学系103へと各々光ファイバを介して導かれる。なお、光源001からの光は光ファイバによって導かれ且つカプラ002により分割されているが、空間光として導き且つビームスプリッタ等によって分割されてもよい。 The OCT optical system in the line OCT apparatus according to the present embodiment includes a light source 001, a coupler 002, a line beam forming optical system 101, a sample optical system (measurement optical system) 102, a reference optical system 103, a beam splitter 025, and a light receiving optical system. Having 104. The light emitted from the wavelength sweepable light source 001 (SS light source) is guided to a coupler (optical coupler) 002 by an optical fiber, and is divided into measurement light and reference light by the coupler 002 with a desired division ratio. The measurement light is guided to the line beam forming optical system 101, and the reference light is guided to the reference optical system 103 through an optical fiber. The light from the light source 001 is guided by an optical fiber and split by the coupler 002, but may be guided as spatial light and split by a beam splitter or the like.
(ラインビーム形成光学系)
 ラインビーム形成光学系101は、カプラ002側から順に、コリメータレンズ003、シリンドリカルレンズ004、及びレンズ005を有する。カプラ002より分割された測定光は、ラインビーム形成光学系101へ導かれ、コリメータレンズ003によりコリメート光とされる。該コリメート光は更に、シリンドリカルレンズ004及びレンズ005によって、仮想平面006上で断面形状がライン状のラインビームに成形される。なお、図中、実線は紙面に垂直のサジタル方向において仮想平面006上で集光する光線を、破線は紙面に平行のタンジェンシャル方向において仮想平面006上でコリメートされている光線をそれぞれ示している。
(Line beam forming optical system)
The line beam forming optical system 101 has a collimator lens 003, a cylindrical lens 004, and a lens 005 in order from the coupler 002 side. The measurement light split by the coupler 002 is guided to the line beam forming optical system 101, and is collimated by the collimator lens 003. The collimated light is further shaped by the cylindrical lens 004 and the lens 005 into a line beam whose cross-sectional shape is a line on the virtual plane 006. In the figure, a solid line indicates a light beam condensed on the virtual plane 006 in the sagittal direction perpendicular to the paper, and a broken line indicates a light beam collimated on the virtual plane 006 in the tangential direction parallel to the paper. .
(サンプル光学系)
 測定光は、ビームスプリッタ025を通過してサンプル光学系102へ導かれる。サンプル光学系102は、ビームスプリッタ025側から順に、フォーカスレンズ007、絞り008、ガルバノメトリックミラー009、レンズ010、及び対物レンズ011を有する。ガルバノメトリックミラー009は、被検眼012の前眼部と略共役な位置に配置され、光軸に対する角度が可変とされている。レンズ010及び対物レンズ011は、対物レンズ系を形成し、測定光を被検眼012へ導いて眼底上にラインビームを照射する。
(Sample optical system)
The measurement light passes through the beam splitter 025 and is guided to the sample optical system 102. The sample optical system 102 includes, in order from the beam splitter 025 side, a focus lens 007, an aperture 008, a galvanometric mirror 009, a lens 010, and an objective lens 011. The galvanometric mirror 009 is disposed at a position substantially conjugate with the anterior segment of the subject eye 012, and the angle with respect to the optical axis is variable. The lens 010 and the objective lens 011 form an objective lens system, and guide measurement light to the eye 012 to irradiate a line beam onto the fundus.
 フォーカスレンズ007は、後述するフォーカス駆動部0081によって光軸上を移動可能とされている。該フォーカスレンズ007は、仮想平面006と被検眼012の眼底とが光学的に共役になるように、光軸上の位置が制御される。また、眼底上に照射された測定光(ラインビーム)は、ガルバノメトリックミラー009の回転駆動により、ラインビームの状態で眼底上を走査される。被検眼012の眼底で反射散乱した測定光は、戻り光としてサンプル光学系102内の上述した光学要素を逆に伝わった後、ビームスプリッタ025に至る。該ビームスプリッタ025によって反射された戻り光は受光光学系104へ導かれ、後述する仮想平面026上で、ライン状の測定光(戻り光)を形成する。 The focus lens 007 is movable on the optical axis by a focus drive unit 0081 described later. The position on the optical axis of the focus lens 007 is controlled such that the virtual plane 006 and the fundus of the eye 012 are optically conjugate. Further, the measurement light (line beam) irradiated onto the fundus is scanned on the fundus in the state of a line beam by rotational driving of the galvanometric mirror 009. The measurement light reflected and scattered by the fundus of the eye to be inspected 012 is transmitted back to the above-described optical element in the sample optical system 102 as return light, and then reaches the beam splitter 025. The return light reflected by the beam splitter 025 is guided to the light receiving optical system 104, and forms linear measurement light (return light) on a virtual plane 026 described later.
(受光光学系)
 受光光学系104では、ビームスプリッタ025の射出面近傍に位置する仮想平面026が、被検眼012の眼底及び仮想平面006と光学的に共役となっている。更に該仮想平面026は、レンズ027及びレンズ028を介してラインセンサ029の受光面とも共役となっている。このため、眼底上のラインビームの照射位置から反射散乱された測定光(戻り光)がラインセンサ029へと達し、結像することになる。
(Light receiving optical system)
In the light receiving optical system 104, a virtual plane 026 located in the vicinity of the exit surface of the beam splitter 025 is optically conjugate to the fundus of the eye 012 and the virtual plane 006. Furthermore, the virtual plane 026 is also conjugated with the light receiving surface of the line sensor 029 via the lens 027 and the lens 028. Therefore, the measurement light (return light) reflected and scattered from the irradiation position of the line beam on the fundus reaches the line sensor 029 and forms an image.
(参照光学系)
 一方、カプラ002より分割された参照光は、光ファイバを経て参照光学系103へ導かれる。参照光学系103は、コリメータレンズ014、NDフィルター015、ミラー016、ミラー018、レトロリフレクタ017、ミラー019、シリンドリカルレンズ020、レンズ021、波面傾斜ミラー022、レンズ023、及びレンズ024を有する。これら構成は、該光ファイバの射出端より順に配置される。コリメータレンズ014によりコリメート光とされた参照光は、NDフィルター015を通過して所定光量に減衰される。これにより、眼底を経た測定光と参照光との光量差の調整がなされる。その後、参照光はコリメートされた状態を保持したまま、ミラー016及びミラー018で反射され、光軸方向に移動可能なレトロリフレクタ017で折り返され、ミラー018、ミラー016、及びミラー019で反射される。更に、該参照光はシリンドリカルレンズ020及びレンズ021によってその形状が成形され、波面傾斜ミラー022上に中間像としてのライン状のラインビームを形成する。中間像としてのラインビームを中間ライン像と称する場合がある。シリンドリカルレンズ020及びレンズ021は参照光用ラインビーム形成レンズ系を構成する。波面傾斜ミラー022上に形成されたライン状の中間像はレンズ023及びレンズ024を介し、ビームスプリッタ025を透過して、仮想平面026上で参照光によるラインビームを形成する。レンズ023及びレンズ024は参照光用リレーレンズ系を構成する。仮想平面026は上述のようにラインセンサ029の受光面とも共役となっているため、結果として、中間ラインビームはラインセンサ029の受光面と共役関係となる。
(Reference optical system)
On the other hand, the reference light split by the coupler 002 is guided to the reference optical system 103 through the optical fiber. The reference optical system 103 includes a collimator lens 014, an ND filter 015, a mirror 016, a mirror 018, a retro reflector 017, a mirror 019, a cylindrical lens 020, a lens 021, a wavefront tilt mirror 022, a lens 023, and a lens 024. These configurations are arranged in order from the exit end of the optical fiber. The reference light collimated by the collimator lens 014 passes through the ND filter 015 and is attenuated to a predetermined light amount. Thereby, adjustment of the light quantity difference of the measurement light and reference light which passed the fundus is made. Thereafter, the reference light is reflected by the mirror 016 and the mirror 018 while keeping the collimated state, is reflected by the retroreflector 017 movable in the optical axis direction, and is reflected by the mirror 018, the mirror 016 and the mirror 019 . Further, the reference light is shaped by the cylindrical lens 020 and the lens 021 to form a linear line beam as an intermediate image on the wavefront tilt mirror 022. The line beam as an intermediate image may be referred to as an intermediate line image. The cylindrical lens 020 and the lens 021 constitute a line beam forming lens system for reference light. The line-like intermediate image formed on the wavefront tilt mirror 022 passes through the beam splitter 025 through the lens 023 and the lens 024 to form a line beam of reference light on the virtual plane 026. The lens 023 and the lens 024 constitute a relay lens system for reference light. Since the virtual plane 026 is also conjugate with the light receiving surface of the line sensor 029 as described above, as a result, the intermediate line beam is in a conjugate relationship with the light receiving surface of the line sensor 029.
(干渉光学系)
 本実施例において、干渉光学系はビームスプリッタ025により構成される。参照光学系103を経た参照光とサンプル光学系102を介して被検眼012の眼底を経た測定光とは、ビームスプリッタ025により合波され、仮想平面026上で参照光と測定光の各々のラインビームが干渉する。該干渉したラインビームは、レンズ027及びレンズ028を介してラインセンサ029で受光され、得られた出力信号が該ラインセンサ029より出力される。
(Interferometric optics)
In the present embodiment, the interference optical system is constituted by the beam splitter 025. The reference light that has passed through the reference optical system 103 and the measurement light that has passed through the fundus of the subject's eye 012 via the sample optical system 102 are combined by the beam splitter 025 and each line of the reference light and measurement light is on the virtual plane 026. The beams interfere. The interfered line beam is received by the line sensor 029 through the lens 027 and the lens 028, and the obtained output signal is output from the line sensor 029.
(偏光調整)
 上述したラインOCT装置の光学系において、カプラ002から参照光学系103に至る光ファイバには、該光ファイバを複数の環状に束ねた偏光調整用パドル013が配される。該偏光調整用パドル013には、それを駆動する偏光調整駆動部0061が併せて配されている。本ラインOCT装置は、これら構成によって、測定光と参照光との干渉状態が良くなるように、測定光の偏光状態に対する参照光の偏光状態を調整できるようになっている。
(Polarization adjustment)
In the optical system of the line OCT apparatus described above, in the optical fiber from the coupler 002 to the reference optical system 103, a polarization adjusting paddle 013, in which the optical fibers are bound in a plurality of rings, is disposed. A polarization adjustment drive unit 0061 for driving the polarization adjustment paddle 013 is disposed in addition to the polarization adjustment paddle 013. With this configuration, the line OCT apparatus can adjust the polarization state of the reference light with respect to the polarization state of the measurement light so as to improve the interference state between the measurement light and the reference light.
(制御系)
 図2に示すように、本実施例におけるラインOCT装置は、上述したOCT光学系加えて、サンプリング部030、メモリ031、信号処理部032、モニタ033、操作入力部034、及び制御部035を含む制御系を有する。制御部035は汎用のコンピュータ等により構成され、サンプリング部030、メモリ031、信号処理部032、モニタ033、及び操作入力部034と接続される。そして、これら構成への制御信号等の入力、これら構成からの出力信号の受信等を行う。
(Control system)
As shown in FIG. 2, the line OCT apparatus in the present embodiment includes a sampling unit 030, a memory 031, a signal processing unit 032, a monitor 033, an operation input unit 034, and a control unit 035 in addition to the OCT optical system described above. It has a control system. The control unit 035 is configured by a general-purpose computer or the like, and is connected to the sampling unit 030, the memory 031, the signal processing unit 032, the monitor 033, and the operation input unit 034. Then, input of control signals and the like to these configurations, reception of output signals from these configurations, and the like are performed.
 操作入力部034は制御部035への指示を行うための入力装置であり、例えばキーボード、マウス等により構成される。モニタ033は制御部035から送られる各種情報や各種画像、操作入力部034の操作に従ったマウスカーソル等を表示する。サンプリング部030はラインセンサ029と接続されて、該ラインセンサ029を制御して所定のタイミングにて干渉信号を取得する。メモリ031は取得した干渉信号、ガルバノメトリックミラー009の位置情報、干渉信号より生成した画像等の計測に関する各種情報、及び計測を実行するための各種プログラム等を記憶する。信号処理部032はサンプリング部030が取得した干渉信号に対してフーリエ変換等の処理を施し、輝度情報、断層像等の断層情報を生成する。なお、図中ここで述べた制御部035、モニタ033等はそれぞれ個別に示されているが、これらは一部又は全体が一体として構成されていてもよい。また、制御部035とOCT光学系とが一体として構成されてもよい。 The operation input unit 034 is an input device for instructing the control unit 035, and is configured of, for example, a keyboard, a mouse, and the like. The monitor 033 displays various information and various images sent from the control unit 035, a mouse cursor according to the operation of the operation input unit 034, and the like. The sampling unit 030 is connected to the line sensor 029 and controls the line sensor 029 to acquire an interference signal at a predetermined timing. The memory 031 stores the acquired interference signal, position information of the galvanometric mirror 009, various information related to measurement of an image generated from the interference signal, various programs for executing the measurement, and the like. The signal processing unit 032 performs processing such as Fourier transform on the interference signal acquired by the sampling unit 030 to generate tomographic information such as luminance information and a tomographic image. Note that although the control unit 035, the monitor 033, and the like described herein are individually shown in the drawing, they may be configured integrally or partially. Further, the control unit 035 and the OCT optical system may be integrally configured.
 制御部035は、上述した構成の他に、光源001、ラインセンサ029、ミラー駆動部051、偏光調整駆動部0061、リフレクタ駆動部0071、フォーカス駆動部0081、及びガルバノ駆動部0091にも接続されている。これら構成はOCT光学系の各構成の制御のためのものであり、これによりOCT光学系における各構成に対する制御部035による制御も可能となっている。フォーカス駆動部0081は、フォーカスレンズ007を光軸方向に移動させ、該フォーカスレンズ007の光軸上の位置を制御する。ガルバノ駆動部0091は、ガルバノメトリックミラー009を駆動してライン状の測定光の眼底上の走査を行わせる。リフレクタ駆動部0071は、レトロリフレクタ017を光軸方向に移動させ、測定光の光路長と参照光の光路長との光路長差を調整する。制御部035は更に、光源001の発光制御、及びサンプリング部030に対する干渉信号の取得タイミングの制御等も行う。 The control unit 035 is also connected to the light source 001, the line sensor 029, the mirror drive unit 051, the polarization adjustment drive unit 0061, the reflector drive unit 0071, the focus drive unit 0081, and the galvano drive unit 0091 in addition to the configuration described above. There is. These configurations are for control of each configuration of the OCT optical system, and control of each configuration in the OCT optical system by the control unit 035 is also possible. The focus driver 0081 moves the focus lens 007 in the optical axis direction to control the position of the focus lens 007 on the optical axis. The galvano drive unit 0091 drives the galvanometric mirror 009 to scan the fundus of the line-shaped measurement light. The reflector drive unit 0071 moves the retroreflector 017 in the optical axis direction, and adjusts the optical path length difference between the optical path length of the measurement light and the optical path length of the reference light. The control unit 035 further performs light emission control of the light source 001, control of acquisition timing of an interference signal to the sampling unit 030, and the like.
(スキャン制御)
 上述したように、ラインセンサ029からの出力信号は、サンプリング部030により取得される。その際、ガルバノメトリックミラー009のガルバノ駆動角度は、ガルバノ駆動部0091により制御されている。サンプリング部030は、任意のガルバノ駆動角度における光源001の1回の波長掃引に対応してラインセンサ0029の画素毎にこの出力信号を取得して各々の画素が1つの干渉信号を得る。そして、次のガルバノ駆動角度においても、光源001の1回の波長掃引に対応してラインセンサ029の画素毎にこの出力信号を取得して次の干渉信号を得る。以降はこの繰り返しで干渉信号が次々に取得される。サンプリング部030で取得された干渉信号は、メモリ031にガルバノ駆動角度と共に記憶される。ガルバノ駆動角度は、眼底上における測定光の走査位置と対応付けられる。メモリ031に記憶された干渉信号は、信号処理部032により、周波数解析され、眼底上の位置に対応付けられる。以上の処理により生成された被検眼012の眼底の断層像は、メモリ031に記憶されると共にモニタ033に表示される。このように、ガルバノ駆動角度の情報を干渉信号に併せて取得することによって、三次元の眼底ボリューム像を生成し、モニタ033に表示することもできる。
(Scan control)
As described above, the output signal from the line sensor 029 is acquired by the sampling unit 030. At this time, the galvano drive angle of the galvanometric mirror 009 is controlled by the galvano drive unit 0091. The sampling unit 030 obtains this output signal for each pixel of the line sensor 0029 corresponding to one wavelength sweep of the light source 001 at an arbitrary galvano drive angle, and each pixel obtains one interference signal. Then, also at the next galvano drive angle, this output signal is acquired for each pixel of the line sensor 029 in response to one wavelength sweep of the light source 001 to obtain the next interference signal. Thereafter, interference signals are acquired one after another by this repetition. The interference signal acquired by the sampling unit 030 is stored in the memory 031 together with the galvano drive angle. The galvano drive angle is associated with the scanning position of the measurement light on the fundus. The interference signal stored in the memory 031 is frequency-analyzed by the signal processing unit 032 and associated with the position on the fundus. The tomographic image of the fundus of the eye to be examined 012 generated by the above processing is stored in the memory 031 and displayed on the monitor 033. As described above, a three-dimensional fundus volume image can be generated and displayed on the monitor 033 by acquiring information of the galvano drive angle together with the interference signal.
(参照光用リレーレンズ系)
 図3A及び3Bは、図1に示した参照光学系103中の一部である、シリンドリカルレンズ020、レンズ021、波面傾斜ミラー022、レンズ023及びレンズ024を詳細に図示したものである。シリンドリカルレンズ020及びレンズ021により波面傾斜ミラー022上に中間ライン像が形成される。本実施例においては、図3Aに示す波面傾斜ミラー022は光軸に対して45度方向に配置されており、これにより反射後の参照光の中心軸は後の光学系の光軸に一致する。
(Relay lens system for reference light)
FIGS. 3A and 3B illustrate in detail the cylindrical lens 020, the lens 021, the wavefront tilt mirror 022, the lens 023 and the lens 024 which are a part of the reference optical system 103 shown in FIG. An intermediate line image is formed on the wavefront tilting mirror 022 by the cylindrical lens 020 and the lens 021. In the present embodiment, the wavefront tilt mirror 022 shown in FIG. 3A is disposed in the 45-degree direction with respect to the optical axis, whereby the central axis of the reference light after reflection coincides with the optical axis of the later optical system. .
 ここでレンズ023及びレンズ024の位置関係について説明する。レンズ023の焦点距離をF23とすると、レンズ023は波面傾斜ミラー022からF23だけ離れた距離に配置される。即ち、レンズ023の前側焦点面に中間ライン像が一致する。このとき、レンズ023の後側焦点面である仮想平面SPには中間ライン像の瞳像が形成される。つまり、中間ライン像においてコリメートされていた実線で示すサジタル方向の光線は仮想平面SP上で集光し、一方で中間ライン像において集光されていた破線で示すタンジェンシャル方向の光線は仮想平面SP上でコリメートされた状態になる。即ち、ライン軸が90度回転したような状態で、仮想平面SP上に中間ライン像の瞳像として形成される。 Here, the positional relationship between the lens 023 and the lens 024 will be described. Assuming that the focal length of the lens 023 is F23, the lens 023 is disposed at a distance from the wavefront tilting mirror 022 by F23. That is, the intermediate line image coincides with the front focal plane of the lens 023. At this time, a pupil image of an intermediate line image is formed on a virtual plane SP which is a back focal plane of the lens 023. That is, the light beam in the sagittal direction indicated by the solid line collimated in the intermediate line image is condensed on the virtual plane SP, while the light beam in the tangential direction indicated by the dashed line collected in the intermediate line image is the virtual plane SP It is collimated above. That is, in a state in which the line axis is rotated by 90 degrees, a pupil image of an intermediate line image is formed on the virtual plane SP.
 一方、レンズ024の焦点距離をF24とすると、レンズ024は仮想平面SPからF24だけ離れた距離に配置される。即ち、レンズ024の前側焦点面に仮想平面SPが一致する。このとき、レンズ024の後側焦点面には、中間ライン像がリレーされたラインビームが形成される。F23とF24が等しければこれらラインビームは等倍であり、異なればその比に応じた倍率がかかったラインビームとなる。このレンズ024の後側焦点面を、サンプル光学系102を経た測定光(戻り光)のライン像が形成される仮想平面026に一致するように参照光学系全体を配置すれば、仮想平面026上において参照光と測定光とが合波することになる。従って、この状態で得られた位相シフトの無い干渉信号からは、例えば後述する図4における断層像Ta1として示されるように、傾きの無い断層図が得られる。 On the other hand, when the focal length of the lens 024 is F24, the lens 024 is disposed at a distance F24 from the virtual plane SP. That is, the virtual plane SP coincides with the front focal plane of the lens 024. At this time, a line beam relayed to the intermediate line image is formed on the back focal plane of the lens 024. If F23 and F24 are equal, these line beams are equal and if different, they become line beams with a magnification corresponding to the ratio. If the entire reference optical system is arranged so that the back focal plane of the lens 024 coincides with the virtual plane 026 on which the line image of the measurement light (return light) passing through the sample optical system 102 is formed, the virtual plane 026 is obtained. The reference light and the measurement light are combined in Therefore, from the interference signal having no phase shift obtained in this state, a tomogram having no inclination is obtained as shown, for example, as a tomogram Ta1 in FIG. 4 described later.
(波面の傾斜)
 ここで、参照光においては、後述するフルレンジ処理のために波面に傾斜を与えることが必要になる。図3Bは波面傾斜ミラー022に45度とは異なる傾斜を与えた場合である。波面傾斜ミラー022の傾斜変化は、ミラー駆動部0051により該波面傾斜ミラー022に取り付けられた不図示のステッピングモータ等を介して、制御部035により駆動制御することができる。波面傾斜ミラー022に45+θ/2度だけの傾斜を与えると反射後の参照光の中心角度はθだけ傾斜する。このとき、コリメート方向の光線は一様にθだけ傾斜し、同時に参照光の等位相面である波面もθだけ傾斜する。レンズ023を通過した参照光は仮想平面SP上に瞳像を形成するが、その形成位置はF23×tanθだけシフトする。その後、レンズ024で仮想平面026上にリレーされた参照光のラインビームが形成される。しかし、仮想平面SP上の瞳像がF23×tanθだけシフトしているために、仮想平面026に向かうコリメート光線はこれに併せて一様にθ’だけ傾斜することになる。即ち、仮想平面026上における参照光の波面はθ’だけ傾斜することになる。ここで、F23=F24である場合は、θ’=-θであり、F23≠F24である場合は、θ’=-θ×F23/F24の関係となる。なお、波面傾斜ミラー022の傾斜は1軸方向のタンジェンシャル方向にのみ与えているため、実線で示すサジタル方向の光線の結像関係は不変である。
(Slope of wavefront)
Here, in the reference light, it is necessary to tilt the wavefront for the full range processing described later. FIG. 3B shows the case where the wavefront tilt mirror 022 is given a tilt different from 45 degrees. The tilt change of the wavefront tilting mirror 022 can be controlled by the control unit 035 through a stepping motor (not shown) or the like attached to the wavefront tilting mirror 022 by the mirror driving unit 0051. When the wavefront tilt mirror 022 is given a tilt of 45 + θ / 2 degrees, the central angle of the reference light after reflection is tilted by θ. At this time, the light beam in the collimating direction is uniformly inclined by θ, and at the same time, the wavefront which is an equiphase surface of the reference light is also inclined by θ. The reference light having passed through the lens 023 forms a pupil image on the virtual plane SP, but the formation position is shifted by F23 × tan θ. Thereafter, a lens 024 forms a line beam of reference light relayed on the virtual plane 026. However, since the pupil image on the virtual plane SP is shifted by F23 × tan θ, the collimated beam directed to the virtual plane 026 is also inclined uniformly by θ ′. That is, the wavefront of the reference light on the virtual plane 026 is inclined by θ ′. Here, in the case of F23 = F24, θ ′ = − θ, and in the case of F23 ≠ F24, the relationship of θ ′ = − θ × F23 / F24 is established. Since the inclination of the wavefront inclination mirror 022 is given only in the tangential direction of one axial direction, the imaging relationship of the rays in the sagittal direction indicated by the solid line is unchanged.
 ここで、波面傾斜ミラー022上の中間ライン像は、レンズ023及びレンズ024を介して仮想平面026上と共役の関係になっている。このために、波面傾斜ミラー022の光軸中心で反射した参照光の中心は、仮想平面026面上でシフトすることなく、再び光学系の光軸上に到達する。このような構成にすることにより、例えば参照光がシフトすることによるケラレや光強度分布の低下などを引き起こすことが無く、理想的に参照光の波面の変化のみを与えることができる。なお、参照光用リレーレンズ系の構成はここで示されるものに限定されず、波面傾斜ミラー022上に形成された中間ライン像が仮想平面026上にリレーされる構成であれば、種々変更が可能である。 Here, the intermediate line image on the wavefront tilt mirror 022 is in a conjugate relationship with the virtual plane 026 via the lens 023 and the lens 024. For this reason, the center of the reference light reflected at the optical axis center of the wavefront tilt mirror 022 reaches the optical axis of the optical system again without being shifted on the imaginary plane 026. With such a configuration, it is possible to ideally provide only a change in the wavefront of the reference light without causing, for example, vignetting due to a shift of the reference light or a decrease in light intensity distribution. The configuration of the reference light relay lens system is not limited to that shown here, and various changes may be made as long as the intermediate line image formed on the wavefront tilt mirror 022 is relayed on the virtual plane 026. It is possible.
(フルレンジ処理)
 図4は、信号処理部032により得られた、被検眼012の眼底の断層像の例を示す。Ta1は参照光の波面に傾斜(角度θ)を与えない場合に取得された断層像である。これに対し、波面傾斜ミラー022により参照光の波面に傾斜(角度θ)を与えると、Tb1のように全体が傾斜したような断層像が得られる。波面の一様な傾斜は、一般に位相シフトと呼ばれ、Bスキャン方向に一様に位相の遅れを生じさせることになるため、断層像Tb1は断層像Ta1の形状に加え、線形的に深さ位置が変化する関係になる。
(Full range processing)
FIG. 4 shows an example of a tomogram of the fundus of the eye to be examined 012 obtained by the signal processing unit 032. Ta1 is a tomogram acquired when the wavefront of the reference light is not inclined (angle θ). On the other hand, when the wavefront of the reference light is inclined (angle θ) by the wavefront inclination mirror 022, a tomographic image in which the whole is inclined like Tb1 is obtained. The uniform inclination of the wavefront is generally referred to as a phase shift, and causes a uniform phase delay in the B-scan direction, so that the tomographic image Tb1 has a linear depth in addition to the shape of the tomographic image Ta1. The position changes.
 図5は、信号処理部032によるフルレンジ処理と称する処理過程の例である。フルレンジ処理では非特許文献1で開示されている次の処理を行う。まず、ラインセンサ029により取得された被検眼012からの干渉信号に対し、Bスキャン方向にフーリエ変換処理を行い、得られたデータの構造の周波数解析を行う。これにより、分離可能な、周波数信号の正像(実像)と鏡像とが得られる。周波数信号の鏡像を除去した後に、正像に対して逆フーリエ変換処理を行うことで、元の干渉信号の複素信号を得ることができる。この複素信号を通常のOCT信号処理と同様にAスキャン方向にフーリエ変換することにより、鏡像が除去された断層像が取得できる。 FIG. 5 is an example of a processing process called full range processing by the signal processing unit 032. In the full range processing, the following processing disclosed in Non-Patent Document 1 is performed. First, Fourier transform processing is performed on the interference signal from the subject eye 012 acquired by the line sensor 029 in the B-scan direction, and frequency analysis of the structure of the acquired data is performed. As a result, a separable true image (real image) and a mirror image of the frequency signal are obtained. After removing the mirror image of the frequency signal, the complex image of the original interference signal can be obtained by performing inverse Fourier transform processing on the normal image. By Fourier-transforming this complex signal in the A-scan direction in the same manner as ordinary OCT signal processing, it is possible to acquire a tomographic image from which the mirror image has been removed.
 従来の通常のOCT信号処理であれば、正像と鏡像とが重なり合わずに離れた領域からしか正確な断層情報が得られず、このため得られる深度情報に制限があった。これに対し、フルレンジ処理では、ゼロ遅延位置であっても鏡像と分離された正像が得られることから、より深い深度まで断層情報を得ることが可能となる。なお、ここで述べた処理を行うことにより、鏡像に対応するデータが削減されることから横方向の解像度は半減する。これに対しては、解像度に優れた断層像を得ようとした場合には、波面傾斜ミラー022に角度θの傾きを与えず、参照光の波面を傾斜させずにデータを取得することで対処できる。 In the case of the conventional ordinary OCT signal processing, accurate tomographic information can be obtained only from an area apart from the normal image and the mirror image without overlapping each other, which limits the obtained depth information. On the other hand, in the full range processing, since the correct image separated from the mirror image is obtained even at the zero delay position, it is possible to obtain tomographic information to a deeper depth. Note that, by performing the processing described here, the horizontal resolution is reduced by half because the data corresponding to the mirror image is reduced. To cope with this, when it is intended to obtain a tomographic image excellent in resolution, the wavefront tilt mirror 022 is not given an inclination at the angle θ, and the data is acquired without tilting the wavefront of the reference light. it can.
 図5に示すグラフの横軸は周波数であり、縦軸は強度である。実線で示す周波数分布Sa1は参照光の波面に傾斜を与えない状態で周波数解析をした際の周波数分布である。これは図4における断層像Ta1に対応する。同図において、周波数の+側にピークを有する分布が正像に、-側にピークを有する分布が鏡像に対応する。この分布はゼロ周波数をまたがる形で広がっており、更には左右対称で生成される正像と鏡像とが重なった状態になっている。この状態だと、鏡像の分離除去は容易ではない。また、正像と鏡像とが重なった領域は正しい断層情報を表示することが難しいことからこの領域を避け、残された比較的浅い深度での断層情報しか用いることができない。 The horizontal axis of the graph shown in FIG. 5 is frequency, and the vertical axis is intensity. The frequency distribution Sa1 indicated by a solid line is a frequency distribution when the frequency analysis is performed in a state where the wavefront of the reference light is not inclined. This corresponds to the tomographic image Ta1 in FIG. In the figure, a distribution having a peak on the + side of the frequency corresponds to a normal image, and a distribution having a peak on the − side corresponds to a mirror image. This distribution spreads across the zero frequency, and furthermore, a mirror image and an orthoimage generated in left-right symmetry overlap. In this state, separation and removal of the mirror image is not easy. In addition, it is difficult to display correct tomographic information in the region where the normal image and the mirror image overlap, so it is possible to avoid this region and to use only the tomographic information at a relatively shallow depth left.
 一方、破線で示す周波数分布Sb1は参照光の波面に傾斜を与えた状態で周波数解析をした際の周波数分布である。これは図4における断層像Tb1に対応する。この場合、両分布は互いにゼロ周波数から離れた位置に位置しており、更には正像と鏡像とが分離された状態になっている。具体的には、光源001の中心波長をλcとすれば、ラインセンサ029に到達する光線において、ラインセンサの隣り合う画素間でλc/4の位相差を一様に与えるように波面傾斜ミラー022の傾斜角度が設定されると良好に周波数分布の分離が可能になる。このような状態であれば、図5に示した周波数分布が得られ、鏡像の周波数信号は容易にゼロ値に設定でき、鏡像の除去が可能となる。従って、波長掃引された光における広範な波長からの断層情報の取得が可能となり、より深い深度からの断層情報を得ることができる。 On the other hand, the frequency distribution Sb1 indicated by a broken line is a frequency distribution when frequency analysis is performed in a state where the wavefront of the reference light is inclined. This corresponds to the tomographic image Tb1 in FIG. In this case, the two distributions are located apart from each other at the zero frequency, and further, the normal image and the mirror image are separated. Specifically, assuming that the central wavelength of the light source 001 is λ c, the wavefront tilt mirror 022 is such that, in a light beam reaching the line sensor 029, a phase difference of λ c / 4 is uniformly given between adjacent pixels of the line sensor. When the inclination angle of is set, separation of the frequency distribution becomes possible well. In such a state, the frequency distribution shown in FIG. 5 is obtained, and the mirror image frequency signal can be easily set to a zero value, and the mirror image can be removed. Therefore, acquisition of tomographic information from a wide range of wavelengths in wavelength-swept light is possible, and tomographic information from a deeper depth can be obtained.
(傾斜の微調整)
 ここで、上述した正像と鏡像との重なり部分の大きさ等は、断層像を取得しようとする被検眼012の眼底の光軸に垂直な面に対する傾斜の大きさにも依存する。図6は、被検眼012の眼底の周辺等、大きな傾斜がある領域に対して、参照光の波面に傾斜を与えて取得した断層像を示している。図6における断層像Ta2は参照光の波面に固定値で傾斜を与えた場合に得られる断層像を示している。この例においては、元々の眼底の構造に大きな傾斜があるために、参照光の波面の傾斜により与えられた位相の変化量が不足しており、それらの合計として取得される断層像に十分な傾斜が生じていない。図7は図6に示した断層像各々に対応する周波数分布を示しており、周波数分布Sa2は断層像Ta2に対応している。周波数分布Sa2は一部がゼロ周波数にまたがっており、更に正像と鏡像がわずかに重なっている。このため、上述したように鏡像のみを除去することは容易ではない。
(Fine adjustment of inclination)
Here, the size and the like of the overlapping portion between the normal image and the mirror image also depends on the size of the inclination with respect to the plane perpendicular to the optical axis of the fundus of the eye 012 to be acquired. FIG. 6 shows a tomogram acquired by giving an inclination to the wavefront of the reference light to an area with a large inclination such as the periphery of the fundus of the eye to be examined 012. A tomogram Ta2 in FIG. 6 shows a tomogram obtained when the wavefront of the reference light is inclined at a fixed value. In this example, since the original fundus structure has a large inclination, the amount of change in phase given by the inclination of the reference light wavefront is insufficient, which is sufficient for the tomographic image acquired as the sum of them. There is no inclination. FIG. 7 shows the frequency distribution corresponding to each of the tomographic images shown in FIG. 6, and the frequency distribution Sa2 corresponds to the tomographic image Ta2. The frequency distribution Sa2 partially crosses the zero frequency, and further, an orthoimage and a mirror image slightly overlap. For this reason, it is not easy to remove only the mirror image as described above.
 一方、図6における断層像Tb2は、断層像Ta2の傾きを参照して、参照光の波面に十分な傾斜を与えて得た断層像である。具体的には、上述した固定値として波面傾斜ミラー022に与えていた傾斜に対して、ミラー駆動部0051により更なる傾斜を付加してより大きな位相シフトを参照光の波面に与えている。この例において、図7における周波数分布Sb2に示すように、正像及び鏡像の両周波数分布がゼロ周波数にまたがることがなく、更に正像と鏡像とが分離された状態になっている。このような状態であれば、鏡像の周波数信号は容易にゼロ値に設定することができ、鏡像の除去が可能となる。即ち、波面傾斜ミラー022の傾斜角度を好適に制御することにより、様々な傾斜を持つ被検眼012の眼底に対しても、広範な領域に渡って所望の傾斜を与えた断層像を取得することが可能になる。 On the other hand, the tomographic image Tb2 in FIG. 6 is a tomographic image obtained by giving a sufficient inclination to the wavefront of the reference light with reference to the inclination of the tomographic image Ta2. Specifically, with respect to the tilt given to the wavefront tilt mirror 022 as the fixed value described above, a further tilt is added by the mirror driving unit 0051 to give a larger phase shift to the wavefront of the reference light. In this example, as shown in the frequency distribution Sb2 in FIG. 7, both the normal and mirror frequency distributions do not cross the zero frequency, and the normal and mirror images are separated. In such a state, the mirror frequency signal can be easily set to a zero value, and the mirror image can be removed. That is, by suitably controlling the tilt angle of the wavefront tilt mirror 022, a tomographic image having a desired tilt can be obtained over a wide area even for the fundus of the subject eye 012 having various tilts. Becomes possible.
(湾曲の調整)
 ここで、強度近視眼の様に、眼底に大きな湾曲を持つ例を考える。この様な被検眼が対象となる場合には、フルレンジ処理における周波数分布が大きな広がりを有する。このため、例え波面の傾斜による位相シフトを与えたとしても、良好に鏡像を分離することは容易ではない。このような被検眼を対象とする場合、参照光学系103においてコリメート光を発散させることにより対処できる。
(Adjustment of curvature)
Here, consider an example in which the fundus has a large curvature as in the case of intense myopia. When such an eye to be examined is an object, the frequency distribution in the full range processing has a large spread. For this reason, even if a phase shift due to the inclination of the wavefront is given, it is not easy to separate mirror images well. When targeting such an eye to be examined, it can be dealt with by diverging collimated light in the reference optical system 103.
 図8は、このような被検眼への対処を目的とし、参照光学系103のコリメート光を発散させる場合の波面の変化の様子を説明する図である。なお、この場合、参照光学系103中のシリンドリカルレンズ020を、光軸方向に駆動させることが必要である。このため、図1に示した構成に対し、シリンドリカルレンズ020を光軸方向にフォーカス駆動するシリンドリカルレンズ駆動部(不図示)が加えられる。ここで、該シリンドリカルレンズ駆動部により、シリンドリカルレンズ020を初期位置より矢印の方向にデフォーカスさせる。この場合、レンズ021を通過後の破線で示すタンジェンシャル方向の光束はコリメートされた状態ではなく、発散された状態になる。一方で、このデフォーカス効果はタンジェンシャル方向の成分のみに寄与するため、実線で示すサジタル方向の光線の結像関係は不変である。なお、該シリンドリカルレンズ駆動部は、例えば制御部35により制御される独立した構成としてもよく、制御部035或いはフォーカス駆動部0081により包含或いは兼用される構成としてもよい。 FIG. 8 is a view for explaining the appearance of the change of the wavefront in the case of diverging the collimated light of the reference optical system 103 for the purpose of coping with such an eye to be examined. In this case, it is necessary to drive the cylindrical lens 020 in the reference optical system 103 in the optical axis direction. Therefore, a cylindrical lens drive unit (not shown) for focusing and driving the cylindrical lens 020 in the optical axis direction is added to the configuration shown in FIG. Here, the cylindrical lens 020 is defocused from the initial position in the direction of the arrow by the cylindrical lens driving unit. In this case, the light beam in the tangential direction indicated by the broken line after passing through the lens 021 is not collimated but diverged. On the other hand, the defocusing effect contributes only to the component in the tangential direction, so the imaging relationship of the rays in the sagittal direction indicated by the solid line is unchanged. The cylindrical lens drive unit may be configured to be independent, for example, controlled by the control unit 35, or may be configured to be included or shared by the control unit 035 or the focus drive unit 0081.
 波面傾斜ミラー022上においては発散したラインビームとして中間像が形成され、波面傾斜ミラー022の反射により参照光の波面には傾斜が与えられる。反射後の参照光は、レンズ023及びレンズ024により仮想平面026上で発散したラインビームとしてリレーされる。このとき、レンズ023により形成される瞳像は、仮想平面SPよりも後面にある。従って、レンズ024により生じるタンジェンシャル方向の発散光束の等位相面からなる波面WFは、円弧状に湾曲し、光束の中心領域よりも周辺領域が遅れて仮想平面026上に到達することになる。即ち、仮想平面026上においては、周辺領域の方がより光路長が長い光線が検出されることになる。なお、シリンドリカルレンズ020を逆方向にデフォーカスさせた場合は、逆に仮想平面026上の周辺領域よりも中心領域が遅れて参照光が到達することになる。 An intermediate image is formed on the wavefront tilt mirror 022 as a diverging line beam, and the wavefront of the reference light is tilted by the reflection of the wavefront tilt mirror 022. The reflected reference light is relayed by the lens 023 and the lens 024 as a diverging line beam on the virtual plane 026. At this time, the pupil image formed by the lens 023 is on the rear side of the virtual plane SP. Accordingly, the wavefront WF formed of the equiphase surface of the divergent light beam in the tangential direction generated by the lens 024 is curved in an arc shape, and the peripheral region lags behind the central region of the light beam and reaches the virtual plane 026. That is, on the virtual plane 026, a light beam whose optical path length is longer in the peripheral region is detected. In addition, when the cylindrical lens 020 is defocused in the reverse direction, the central region is later delayed than the peripheral region on the virtual plane 026, and the reference light arrives.
 図9は、上述した眼底に大きな湾曲を持つ被検眼012の眼底に対して、波面傾斜ミラー022を傾斜させた状態で取得した断層像の例を示す図である。断層像Ta3は、シリンドリカルレンズ020が初期位置にある状態、即ち参照光が通常どおりコリメートされた状態で取得した断層像の例である。図に示されるように、断層像Ta3は眼底の湾曲の影響を受け、中心領域は深度が深く、周辺部分は深度が浅い断層像となっている。即ち、該断層像Ta3は、中心領域から周辺領域に渡って、様々な傾斜の成分を持つ構造となっている。図10は図9に示した断層像各々に対応する周波数分布を示しており、周波数分布Sa3は断層像Ta3に対応している。周波数分布Sa3は、眼底の構造の影響により広い周波数分布となっており、一部がゼロ周波数にまたがっており、更に正像と鏡像がわずかに重なっている。このため、上述したように鏡像のみの除去することは容易ではない。 FIG. 9 is a view showing an example of a tomogram acquired in a state in which the wavefront inclination mirror 022 is tilted with respect to the fundus of the subject eye 012 having a large curvature in the fundus described above. The tomographic image Ta3 is an example of a tomographic image acquired in a state where the cylindrical lens 020 is at the initial position, that is, in a state in which the reference light is collimated as usual. As shown in the figure, the tomographic image Ta3 is affected by the curvature of the fundus, and the central region is deep and the peripheral portion is shallow. That is, the tomogram Ta3 has a structure having various inclination components from the central area to the peripheral area. FIG. 10 shows the frequency distribution corresponding to each of the tomographic images shown in FIG. 9, and the frequency distribution Sa3 corresponds to the tomographic image Ta3. The frequency distribution Sa3 has a wide frequency distribution due to the influence of the structure of the fundus, and a part of the frequency distribution Sa3 crosses the zero frequency, and further, the normal image and the mirror image slightly overlap. For this reason, it is not easy to remove only the mirror image as described above.
 一方、図9における断層像Tb3は、シリンドリカルレンズ020をデフォーカスさせた状態で得ている断層像である。具体的には、シリンドリカルレンズ020をシリンドリカルレンズ駆動部により光軸方向においてレンズ021方向に移動させ、図中WFにて示される波面を参照光に与えている。なお、本実施例では、断層像Ta3を参照して、この処理を実行することとしている。同図に示されるように、参照光をデフォーカスさせたことにより、参照光自体の周辺領域の光路長の増加分が、元々の眼底の周辺部分の深度の浅さを相殺することとなる。従って、得られる断層像は、全体が一様な傾斜の成分を持つ構造となる。図10に示した例では、周波数分布Sb3に示すように、周波数分布がより狭い範囲に抑えられ、ゼロ周波数にまたがることがなく、更に正像と鏡像とが分離された状態になっている。このような状態であれば、鏡像の周波数信号は容易にゼロ値に設定ができ、鏡像の除去が可能となる。従って、眼底の湾曲により様々な傾斜成分を持つ被検眼012が対象となる場合であっても、所望の周波数分布に収まる断層像を取得することが可能になる。 On the other hand, the tomographic image Tb3 in FIG. 9 is a tomographic image obtained in a state in which the cylindrical lens 020 is defocused. Specifically, the cylindrical lens 020 is moved in the direction of the lens 021 in the optical axis direction by the cylindrical lens drive unit, and the wavefront indicated by WF in the drawing is given to the reference light. In the present embodiment, this process is performed with reference to the tomographic image Ta3. As shown in the figure, by defocusing the reference light, an increase in the optical path length of the peripheral region of the reference light itself offsets the shallowness of the depth of the peripheral portion of the original fundus. Therefore, the tomogram to be obtained has a structure having a component of uniform slope as a whole. In the example shown in FIG. 10, as shown in the frequency distribution Sb3, the frequency distribution is suppressed to a narrower range, does not span zero frequency, and the normal image and the mirror image are further separated. In such a state, the mirror frequency signal can be easily set to a zero value, and the mirror image can be removed. Therefore, even when the subject eye 012 having various tilt components is targeted by the curvature of the fundus, it is possible to acquire a tomogram that fits within a desired frequency distribution.
(ロールオフ感度向上)
 また、波面傾斜ミラー022の傾斜及びシリンドリカルレンズ020のデフォーカスの調整による、参照光の波面の制御により、次のような効果も得られる。図11は、強度近視眼の眼底周辺領域を撮像した場合の断層像を例示している。同図において、断層像Ta4によれば、被検眼が強度近視のために全体に大きな湾曲があり、周辺領域のために全体が傾斜した状態になっている。このような状態においては、断層像Ta4の左の領域は深度が浅い位置にあり、中心及び右の領域は深度が深い位置にある。一般にフーリエドメインOCTの原理特性として、ロールオフ感度特性があり、断層像の上端の領域は干渉信号の周波数が低く、高い感度が得られる。そして、断層像の下方になり深度が深くなるにつれて、干渉信号の周波数が高くなり、サンプリング部030による信号サンプリングがローパスフィルタとして作用し、感度が低下する。従って、断層像Ta4においては、左の領域は感度が高く、中心及び右の領域は感度が低い画像になり、全体として良好な感度の画像が得られない。
(Improved roll-off sensitivity)
The following effects can also be obtained by controlling the wavefront of the reference light by adjusting the inclination of the wavefront inclination mirror 022 and the defocus of the cylindrical lens 020. FIG. 11 exemplifies a tomogram in the case of imaging the fundus oculi peripheral region of the intensity myopic eye. In the same figure, according to the tomogram Ta4, the eye to be examined has a large curvature in its entirety for myopia intensities, and the whole is in a tilted state for a peripheral region. In such a state, the left region of the tomographic image Ta4 is at a shallow position, and the central and right regions are at a deep position. In general, there is a roll-off sensitivity characteristic as a principle characteristic of Fourier domain OCT, and the region at the upper end of the tomogram has a low frequency of an interference signal and high sensitivity can be obtained. Then, as the depth of the tomographic image becomes lower and the depth becomes deeper, the frequency of the interference signal becomes higher, the signal sampling by the sampling unit 030 acts as a low pass filter, and the sensitivity is lowered. Therefore, in the tomographic image Ta4, the left region is high in sensitivity, and the center and right regions are low in sensitivity, and an image with good sensitivity as a whole can not be obtained.
 一方、断層像Tb4は、波面傾斜ミラー022の傾斜及びシリンドリカルレンズ020のデフォーカスの調整により、参照光の波面を好適に制御して得られたものである。具体的な調整として、まず波面傾斜ミラー022を被検眼012の周辺領域に合わせて調整し、参照光の波面に傾斜を与えることにより、湾曲が左右対称に近づいた状態を得る。続いて、シリンドリカルレンズ020を光軸方向に動かしてデフォーカスさせ、全体の湾曲の平坦化を図る。なお、どの程度まで平坦化するか否かについては、例えば、断層像を参照して判断してもよく、図10に示すように周波数分布の分離ができるか否かに基づいて判断すればよい。この様にして得られる断層像を成形することで、全体の干渉信号の周波数を低く抑え、全体として良好な感度の画像が取得できる。 On the other hand, the tomographic image Tb4 is obtained by suitably controlling the wavefront of the reference light by adjusting the inclination of the wavefront inclination mirror 022 and the defocus of the cylindrical lens 020. As a specific adjustment, first, the wavefront inclination mirror 022 is adjusted according to the peripheral region of the subject eye 012 and the wavefront of the reference light is inclined to obtain a state in which the curvature approaches symmetrical in the left-right direction. Subsequently, the cylindrical lens 020 is moved in the direction of the optical axis to defocus, thereby flattening the entire curvature. In addition, it may be judged with reference to a tomogram, for example, based on whether or not the frequency distribution can be separated as shown in FIG. . By shaping the tomogram obtained in this manner, the frequency of the entire interference signal can be suppressed low, and an image with good sensitivity as a whole can be obtained.
 このように、シリンドリカルレンズ020のフォーカス制御及び波面傾斜ミラー022の角度制御を実行することにより、フルレンジ処理を適用しない場合であっても、断層像の画質が向上する効果も見込める。ただし、以上の操作により得られた断層像Tb4は、結果として通常とは異なる形状の断層像となってしまうことに留意する必要がある。しかし、シリンドリカルレンズ020のフォーカス制御及び波面傾斜ミラー022の角度制御における両制御量は既知である。よって、これらを取得し、該両制御量に基づいて、断層像における画像の画素を再配置する画像処理を実行することにより、通常の断層像Ta4の形状のまま、画質が向上した画像が得られる。 As described above, by executing the focus control of the cylindrical lens 020 and the angle control of the wavefront tilting mirror 022, even when the full range processing is not applied, an effect of improving the image quality of the tomographic image can be expected. However, it should be noted that the tomogram Tb4 obtained by the above operation results in a tomogram of a shape different from normal. However, both control amounts in focus control of the cylindrical lens 020 and angle control of the wavefront tilt mirror 022 are known. Therefore, by acquiring these and performing image processing for rearranging the pixels of the image in the tomogram based on the both control amounts, an image with improved image quality is obtained with the normal shape of the tomogram Ta4. Be
(GUI)
 次に、本発明におけるラインOCT装置の制御方法について説明する。該ラインOCT装置においては、通常の撮影モードと、フルレンジ処理を行う撮影モード(以降、フルレンジモード)との切り替え機能を有している。即ち、波面傾斜ミラー022及びシリンドリカルレンズ020の動作制御、並びに信号処理部032による干渉信号の処理方法は、フルレンモードのオンオフと連動して切り替えられる。また、表示される断層像の画像解像度もこの切り替えに応じて変更される。
(GUI)
Next, the control method of the line OCT apparatus in the present invention will be described. The line OCT apparatus has a switching function between a normal imaging mode and an imaging mode for performing full range processing (hereinafter, full range mode). That is, the operation control of the wavefront tilt mirror 022 and the cylindrical lens 020, and the processing method of the interference signal by the signal processing unit 032 are switched in conjunction with the on / off of the full lens mode. Further, the image resolution of the tomogram to be displayed is also changed according to this switching.
 図12A及び12Bは、モニタ033上に表示された制御アプリケーションのユーザインターフェース画面の例を示す。図12Aは、フルレンジモードがオフの場合の表示画面の一例を示している。モニタ033上には、画像表示のために、例えば断層像表示部201a、前眼部観察画像表示部202、及び眼底観察画像表示部203が配置される。また、併せて、例えばフォーカス駆動制御スライダ204、参照系リフレクタ駆動制御スライダ205、OCT観察プレビュー開始ボタン206、OCT撮影ボタン207、フルレンジモードボタン208、及び画角切り替えボタン209が表示される。 12A and 12B show examples of user interface screens of the control application displayed on the monitor 033. FIG. 12A shows an example of a display screen when the full range mode is off. On the monitor 033, for example, a tomographic image display unit 201a, an anterior eye observation image display unit 202, and a fundus observation image display unit 203 are disposed to display an image. In addition, for example, a focus drive control slider 204, a reference system reflector drive control slider 205, an OCT observation preview start button 206, an OCT imaging button 207, a full range mode button 208, and an angle of view switching button 209 are displayed.
 断層像表示部201aは、本OCT光学系により取得した断層像を表示する。前眼部観察画像表示部202は、被検眼012のアライメントのために用いる前眼部観察光学系(不図示)により取得した前眼部観察画像を表示する。眼底観察画像表示部203は、眼底の観察領域の指定のために用いる眼底観察光学系(不図示)により取得した眼底観察画像を表示する。ユーザは操作入力部034を用いて、上述したスライダの調整或いはボタンのオンオフ操作を行うことにより、ラインOCT装置に対する各種指令を入力する。例えば、フルレンジモードボタン208のオンオフ操作を行うことにより、フルレンジモードのオンオフを切り替える。 The tomogram display unit 201a displays a tomogram acquired by the present OCT optical system. The anterior eye observation image display unit 202 displays an anterior eye observation image acquired by an anterior eye observation optical system (not shown) used for alignment of the subject eye 012. The fundus oculi observation image display unit 203 displays a fundus oculi observation image acquired by the fundus oculi observation optical system (not shown) used for specifying the observation region of the fundus oculi. The user uses the operation input unit 034 to input various commands to the line OCT apparatus by performing the above-described slider adjustment or button on / off operation. For example, by performing the on / off operation of the full range mode button 208, the on / off of the full range mode is switched.
 フルレンジモードがオフの場合の表示例を図12Aに示す。この表示例では、フルレンジモードがオフであるために、断層像表示部201aには撮像深度が通常の狭い範囲となった断層像が表示されている。この表示条件において強度近視眼の様な湾曲の大きい眼底を撮像した場合には、深度範囲が不足して図のように断層像の周辺領域が折り返して表示され、眼底の広範囲の観察には不適切となってしまう。 A display example when the full range mode is off is shown in FIG. 12A. In this display example, since the full range mode is off, a tomographic image in which the imaging depth is within a normal narrow range is displayed on the tomographic image display unit 201a. When imaging a fundus with a large curvature like myopic myocardium under this display condition, the depth range is insufficient and the peripheral region of the tomogram is folded back and displayed as shown in the figure, which is unsuitable for wide-area observation of the fundus It becomes.
 一方、図12Bはフルレンジモードがオンの場合の表示例を示している。操作入力部034を介してフルレンジモードボタン208をオンにすると、波面傾斜ミラー022の傾斜角度が調整されると共に、信号処理手段032においてフルレンジ処理が適用された断層像が取得される。図12Bの断層像表示部201bには、フルレンジ処理に対応した断層像が表示される。この場合、フルレンジ処理により深度範囲が倍増されるため、断層像表示部では取得された断層像の画像高さが倍に表示される。また、フルレンジ処理の過程で横方向の画素解像度は半分になるために、画像幅を維持するように2倍にリサイズされる。その際の画像幅維持のための補間処理には、一般的な、バイリニア補間、バイキュービック補間等が用いられる。このように、制御部035を表示制御部として用い、モニタ033の制御様式を自動で変更させることにより、切り替えボタンのみの簡便なユーザ操作で、光学系を含めたフルレンジ処理に関わる一連の複雑な制御を連動して切り替えることができる。 On the other hand, FIG. 12B shows a display example when the full range mode is on. When the full range mode button 208 is turned on via the operation input unit 034, the tilt angle of the wavefront tilt mirror 022 is adjusted, and a tomogram to which the full range processing is applied is acquired in the signal processing means 032. A tomogram corresponding to the full range processing is displayed on the tomogram display unit 201b of FIG. 12B. In this case, since the depth range is doubled by the full range processing, the image height of the acquired tomogram is doubled in the tomogram display unit. In addition, since the horizontal pixel resolution is halved in the process of full range processing, the image is resized twice to maintain the image width. General bilinear interpolation, bicubic interpolation or the like is used for interpolation processing for maintaining the image width at that time. As described above, by using the control unit 035 as a display control unit and automatically changing the control mode of the monitor 033, a series of complex operations related to the full range processing including the optical system can be performed by a simple user operation of only the switching button. Control can be switched in conjunction.
(解析機能)
 なお、フルレンジモードのオンオフ切り替えにおいては、制御部035における解析機能についても、其々得られる断層像の特徴に対応するように、該切り替えに応じて連動させて切り替えてもよい。具体的には、フルレンジ処理なしの場合、得られる断層像には深度範囲が狭く、且つ横解像度が細かいといった特徴がある。この特徴に適した、比較的狭い範囲を詳細に解析する機能としては、黄斑部解析機能や視神経乳頭解析機能等が考えられる。一方、フルレンジ処理ありの場合は、得られる断層図には深度範囲が広いために眼底周辺部の断層像の折り返しが生じにくい反面、横解像度が粗いといった特徴がある。この特徴に適した、広い範囲を大まかに解析する機能としては網膜厚分布解析機能等が考えられ、眼底周辺部までを含めた解析を行うことにより緑内障などの疾患の早期発見につながる可能性が高い。即ち、フルレンジモードボタン208のオンオフ切り替えにより、それぞれに適した解析モードが連動して実行されてもよい。
(Analysis function)
In the on / off switching of the full range mode, the analysis function of the control unit 035 may be interlocked and switched according to the switching so as to correspond to the feature of the tomogram obtained each time. Specifically, without full range processing, the obtained tomogram is characterized in that the depth range is narrow and the lateral resolution is fine. As a function for analyzing a relatively narrow range in detail suitable for this feature, a macular area analysis function, an optic disc analysis function, etc. can be considered. On the other hand, when full range processing is performed, the tomographic image to be obtained is characterized in that although the depth range is wide, aliasing of the tomographic image around the fundus is difficult to occur, but the lateral resolution is coarse. A function to roughly analyze a wide range suitable for this feature may be the reticular film thickness distribution analysis function, etc. The analysis including up to the periphery of the fundus may lead to early detection of diseases such as glaucoma. high. That is, when the full range mode button 208 is switched on and off, analysis modes suitable for each may be executed in conjunction.
 以上に述べたように、本発明の第1の実施例では、ラインOCT装置による眼底の撮像において、該眼底の構造に応じて、波面傾斜ミラー022の光軸に対する傾斜角度を調整することとしている。即ち、フルレンジ処理が必要な眼底構造の場合には、参照光の光束の波面に一様の位相差を与え、得られた干渉信号にフルレンジ処理を適用することにより、深度が倍増した断層像の取得を可能としている。また、フルレンジ処理が不要な場合には、傾斜角度の調整によって波面に与える位相差を無くし、深度が比較的浅くとも解像度に優れた断層像の取得を可能としている。更には、モニタ画面上のユーザインターフェース操作により、光学系、信号処理、及び解析モードの変更を、このフルレンジ処理のオンオフに連動させてこのオンオフ切り替えを容易にしている。これにより、様々な眼底構造を持つ被検眼に対する診断、或いは診断に応じた断層像の取得及び解析が可能になる。 As described above, in the first embodiment of the present invention, in the imaging of the fundus by the line OCT apparatus, the inclination angle of the wavefront tilting mirror 022 with respect to the optical axis is adjusted according to the structure of the fundus. . That is, in the case of a fundus structure that requires full range processing, a uniform phase difference is given to the wavefront of the light beam of the reference light, and full range processing is applied to the obtained interference signal to obtain a tomogram with doubled depth. It is possible to acquire. In addition, when the full range processing is unnecessary, the phase difference given to the wavefront is eliminated by adjusting the inclination angle, and it is possible to obtain a tomographic image with excellent resolution even if the depth is relatively shallow. Furthermore, the on / off switching is facilitated by interlocking the on / off switching of the optical system, the signal processing, and the analysis mode with the on / off of the full range processing by the user interface operation on the monitor screen. This makes it possible to diagnose the subject eye having various fundus structures or to acquire and analyze a tomogram according to the diagnosis.
 例えば、参照光の波面の傾斜を可変にする場合、非特許文献1のように、波面の傾斜の発生を参照ミラーにおける二面鏡の相対角度のみで実現させることも考えられる。しかし、このような構成とした場合、仮にこの相対角度を変化させると、ラインセンサ上において所望の傾斜の変化だけでなく、同時に光路のシフトずれが生じてしまう。これを回避する一つの手段としては、例えば干渉系をマッハツェンダー型として構成した上で、ゴニオステージを用いて、ラインセンサ中心を回転軸として参照光学系全体を回転させる構成も考えられる。しかしこのような対応は、装置の大幅な大型化や、大規模なステージ移動による干渉系の精度悪化が懸念される。上述した第1の実施例に示した構成とすることにより、ライン形状光束を用いたOCTにおいて、撮影深度増大のための参照光波面の傾斜の切り替えを、簡易な構成で実現することができる。従って、簡易な構成であってもフルレンジOCT撮像技術による撮像と通常のOCTによる撮像とを適宜実行することができる。 For example, in the case of making the inclination of the wavefront of the reference light variable, it is also conceivable to realize the generation of the inclination of the wavefront only at the relative angle of the two mirrors in the reference mirror as in Non-patent Document 1. However, in such a configuration, if this relative angle is changed, not only the change of the desired inclination on the line sensor but also the shift deviation of the optical path occurs simultaneously. As one means for avoiding this, for example, a configuration may be considered in which the interference system is configured as a Mach-Zehnder type, and then the entire reference optical system is rotated using the gonio stage with the center of the line sensor as the rotation axis. However, such a response may cause the equipment to be significantly enlarged or the accuracy of the interference system to be deteriorated due to large-scale stage movement. With the configuration shown in the first embodiment described above, in the OCT using a line-shaped light flux, switching of the inclination of the reference light wavefront for increasing the photographing depth can be realized with a simple configuration. Therefore, even with a simple configuration, imaging by full-range OCT imaging technology and imaging by normal OCT can be appropriately performed.
 以上に述べたように、本実施例に係る計測装置は、光源001と、サンプル光学系102と、参照光学系103と、合波手段(ビームスプリッタ025)と、受光手段(ラインセンサ029)と、信号処理部032とを備える。また、該計測装置は更に、参照光用ライン像形成光学系と、参照光用リレー光学系と、傾斜ミラーとを備える。サンプル光学系102は、光源001からの光を分割して得た測定光をライン像として成形して被検査物(被検眼012の眼底)に導く。参照光学系は、測定光に対応して光源001からの光を分割して得た参照光の光路長を調整する。合波手段は、参照光学系を経た参照光と眼底を経た測定光とを合波させて干渉光を生成し、受光手段は該干渉光を受光して出力信号を生成する。信号処理部032は、この出力信号に上述したフーリエ変換等の処理を施して、眼底の断層像等の測定情報を出力する。 As described above, the measurement apparatus according to this embodiment includes the light source 001, the sample optical system 102, the reference optical system 103, the beam combining means (beam splitter 025), and the light receiving means (line sensor 029). , And a signal processing unit 032. In addition, the measurement apparatus further includes a reference light line image forming optical system, a reference light relay optical system, and an inclined mirror. The sample optical system 102 shapes the measurement light obtained by dividing the light from the light source 001 as a line image and guides it to the object to be inspected (the fundus of the eye to be inspected 012). The reference optical system adjusts the optical path length of the reference light obtained by dividing the light from the light source 001 corresponding to the measurement light. The combining means combines the reference light passing through the reference optical system and the measurement light passing through the fundus to generate interference light, and the light receiving means receives the interference light to generate an output signal. The signal processing unit 032 subjects the output signal to the above-described processing such as Fourier transform, and outputs measurement information such as a tomographic image of the fundus.
 参照光用ライン像形成光学系は、上述した実施例ではシリンドリカルレンズ020及びレンズ021より構成されて、参照光の中間ライン像を形成する。参照光用リレー光学系は第1のレンズ(レンズ023)及び第2のレンズ(レンズ024)を少なくとも備え、中間ライン像とラインセンサ029とを共役関係とする。また、該中間ライン像の結像位置には傾斜ミラー(波面傾斜ミラー022)が配されて、ライン状とされた該参照光を反射して参照光用リレー光学系に導く。また、該傾斜ミラーは、該参照光の反射角度を変更可能となっており、光軸に対する傾斜角度を変更することにより参照光の波面に傾斜(位相シフト)を与える。 The line image forming optical system for reference light is constituted of the cylindrical lens 020 and the lens 021 in the above-mentioned embodiment to form an intermediate line image of the reference light. The reference light relay optical system includes at least a first lens (lens 023) and a second lens (lens 024), and the intermediate line image and the line sensor 029 have a conjugate relationship. Further, an inclined mirror (wavefront inclined mirror 022) is disposed at the image forming position of the intermediate line image, and the reference light in a line shape is reflected and guided to a reference light relay optical system. Further, the tilt mirror can change the reflection angle of the reference light, and gives a tilt (phase shift) to the wavefront of the reference light by changing the tilt angle with respect to the optical axis.
 該参照光用リレー光学系を構成するレンズは単体から構成されてもよいが、レンズ群はとして構成してもよい。この場合、該参照光用リレー光学系は、第1のレンズ群及び第2のレンズ群から構成される。ここで、該参照光学系では、該第1のレンズ群の前側焦点面に中間ライン像が一致し、第2のレンズ群の後側焦点面に受光手段の光学面が一致し、第1のレンズ群の後側焦点面と第2のレンズ群の前側焦点面が一致する光学系配置となっている。なお、これら光学系は、参照光の光路長を調整するという意味での参照光学系とは独立して配置されてもよい。なお、上述したように、本実施例において受光手段はラインセンサを備える。しかし、同等の機能を有するものであれば該ラインセンサには限定されない。 Although the lens which comprises this relay optical system for reference lights may be comprised from single-piece | unit, you may comprise as a lens group. In this case, the reference light relay optical system is composed of a first lens group and a second lens group. Here, in the reference optical system, the intermediate line image coincides with the front focal plane of the first lens group, the optical surface of the light receiving means coincides with the rear focal plane of the second lens group, The optical system arrangement is such that the back focal plane of the lens group coincides with the front focal plane of the second lens group. These optical systems may be disposed independently of the reference optical system in the sense of adjusting the optical path length of the reference light. As described above, in the present embodiment, the light receiving means includes a line sensor. However, the line sensor is not limited as long as it has the same function.
 また、上述した実施例において、計測装置は測定光をラインビームとして成形するラインビーム形成光学系101を更に備える。該ラインビーム形成光学系101は、直交する2つの経線方向の曲率が異なるラインビーム形成レンズを備える。本実施例では該ラインビーム形成レンズとしてシリンドリカルレンズ004を用いる。また、該計測装置は、光源001からの光を測定光と参照光とに分割する分割手段(カプラ002)を更に備える。また、参照光学系103は参照光から生成するラインビームとして第2のラインビームを形成し、ビームスプリッタ025はラインビームと該第2のラインビームとを合波させてライン状の干渉光を生成する。 In the embodiment described above, the measuring apparatus further includes a line beam forming optical system 101 for forming the measurement light as a line beam. The line beam forming optical system 101 is provided with line beam forming lenses having different curvatures in two meridian directions orthogonal to each other. In this embodiment, a cylindrical lens 004 is used as the line beam forming lens. In addition, the measurement apparatus further includes a dividing unit (coupler 002) that divides the light from the light source 001 into the measurement light and the reference light. Further, the reference optical system 103 forms a second line beam as a line beam generated from the reference light, and the beam splitter 025 combines the line beam and the second line beam to generate a line-like interference light. Do.
 信号処理手段032は、ラインセンサ029からの出力信号を周波数解析して得られた実像と鏡像とから鏡像を除去して測定情報を生成する上述したフルレンジ処理を行う。また、上述した実施例において、計測装置は、傾斜ミラー(波面傾斜ミラー022)における参照光の反射角度を制御する制御部035を更に備える。該制御部035は、信号処理部032におけるフルレンジ処理を行うか否かに応じて、傾斜ミラーの参照光の反射角度を変更する。また、該計測装置は、測定情報を表示する表示手段(モニタ033)を更に備える。制御部035は、信号処理部032におけるフルレンジ処理を行うか否かに応じて、表示手段による測定情報の表示様式を、例えば図12Aから図12Bの様式に変更する。また、参照光用ラインビーム形成光学系(シリンドリカルレンズ020及びレンズ021)は、例えば制御部035或いはフォーカス駆動部0081によってデフォーカス可能とすることが好ましい。これにより、眼底に大きな湾曲を持つ被検眼012の眼底に対しても適当な計測が可能となる。また、該計測装置は、測定光のライン像を、被検査物(被検眼012の眼底)においてライン像の延在方向とは垂直な方向に走査する走査手段(ガルバノメトリックミラー009)を更に備える。そして、光源001には、射出する光の波長を掃引する波長掃引型光源を用いている。 The signal processing means 032 performs the above-described full range processing of generating measurement information by removing a mirror image from a real image and a mirror image obtained by frequency analysis of an output signal from the line sensor 029. In the embodiment described above, the measurement apparatus further includes a control unit 035 that controls the reflection angle of the reference light in the tilt mirror (wavefront tilt mirror 022). The control unit 035 changes the reflection angle of the reference light of the tilt mirror depending on whether or not the full range processing in the signal processing unit 032 is performed. Further, the measuring device further includes display means (monitor 033) for displaying the measurement information. The control unit 035 changes the display mode of the measurement information by the display unit, for example, from FIG. 12A to FIG. 12B depending on whether or not the full range processing in the signal processing unit 032 is performed. Further, it is preferable that the reference beam line beam forming optical system (cylindrical lens 020 and lens 021) can be defocused by, for example, the control unit 035 or the focus driving unit 0081. Thus, appropriate measurement can be performed on the fundus of the subject eye 012 having a large curvature in the fundus. The measurement apparatus further includes a scanning unit (galvanometric mirror 009) for scanning the line image of the measurement light in a direction perpendicular to the extending direction of the line image on the test object (the fundus of the subject eye 012). . As the light source 001, a wavelength sweeping type light source for sweeping the wavelength of the light to be emitted is used.
[第2の実施例]
(変倍切り替え)
 本実施例は、光学系が変倍可能である点が上述した第1の実施例と異なる。OCT装置においては、眼底を広画角にて撮影したい場合或いは狭画角にて部分的に高分解能で撮影したい場合等、状況に応じて画角が切り替えられることが好ましい。広画角で撮影する場合には、周辺部で断層像が折り返しやすいため、より広い深度より信号が得られることが優先されることが多い。また、一方で、狭画角にて高分解能で撮影する場合には、より細かい画像解像度が優先されることが多い。その際に、其々の状況に適してフルレンジモードが連動して切り替わると、ユーザの操作性が向上する。本実施例は、このような要請に対応するものである。
Second Embodiment
(Change magnification)
The present embodiment differs from the above-described first embodiment in that the optical system is variable in magnification. In the OCT apparatus, it is preferable that the angle of view be switched according to the situation, for example, when it is desired to photograph the fundus at a wide angle of view or when it is desired to partially photograph at a narrow angle of view with high resolution. When imaging is performed at a wide angle of view, it is often prioritized to obtain a signal at a wider depth because a tomogram is easily folded at the periphery. On the other hand, in the case of photographing with high resolution at a narrow angle of view, finer image resolution is often prioritized. At this time, if the full range mode is switched in conjunction with the appropriate situation for each situation, the operability of the user is improved. The present embodiment addresses such a request.
 図13に、本実施例に係るOCT光学系の概略構成図を示す。なお、本実施例において、第1の実施例で述べた構成と同様の構成に関しては同じ参照符号を用いることによりここでの説明を省略する。以下では、第1の実施例と異なる構成について詳述する。本実施例に係るOCT光学系では、サンプル光学系102において、第1の実施例に比べて測定光の焦点距離をより小さくする対物レンズ011bが配置されている点において異なる。 FIG. 13 shows a schematic configuration diagram of an OCT optical system according to the present example. In the present embodiment, the same reference numerals are used for the same components as those described in the first embodiment, and the description thereof is omitted. Below, the configuration different from the first embodiment will be described in detail. The OCT optical system according to the present embodiment differs in that, in the sample optical system 102, an objective lens 011b is disposed, which makes the focal length of measurement light smaller than in the first embodiment.
 対物レンズの焦点距離を小さくすることで、測定光の破線で示すタンジェンシャル方向の光束は、被検眼012により大きな画角で入射する。このために、タンジェンシャル方向に関しては眼底を広画角で撮像することができる。一方、実線で示すサジタル方向の光束は、瞳孔に照射されるビーム径が小さくなるために、眼底における集光スポットが大きくなり、横分解能が低下する。また、逆に対物レンズ011bの焦点距離が長い場合は、ここで述べた特性とは対照的な特性となり、画角が狭く、横分解能が向上した断層像が取得できる。 By reducing the focal length of the objective lens, the light beam in the tangential direction indicated by the broken line of the measurement light is incident on the subject eye 012 at a large angle of view. For this reason, the fundus can be imaged at a wide angle of view in the tangential direction. On the other hand, in the sagittal direction light beam indicated by the solid line, the diameter of the beam irradiated to the pupil becomes smaller, so the focused spot on the fundus becomes larger and the lateral resolution is lowered. Conversely, when the focal length of the objective lens 011 b is long, the characteristics contrast with the characteristics described here, and a tomogram with a narrow angle of view and improved lateral resolution can be obtained.
 このように対物レンズ011bの焦点距離を可変にすることにより、画角及び横分解能を制御することができる。具体的な構成としては、例えば、装置内部に大小の焦点距離を持つ複数の対物レンズ011を内蔵し、電動駆動によるこれらを交換することにより、焦点距離を可変とすることができる。又は対物レンズ011を装置本体とは別体に着脱可能に構成し、ユーザの手作業により交換する方式としてもよい。更には交換ではなく、複数のレンズから構成されるズーム光学系を対物レンズ011の位置或いは対物レンズ011とレンズ010とが並べられる位置に配置し、これにより焦点距離を可変としても良い。なお、ここでは可変部を対物レンズとしたが、レンズ010の焦点距離を変更することによりサンプル光学系102を変倍としてもよい。即ち、サンプル光学系102における測定倍率を任意に変更可能であれば、具体的構成についてはここで述べたものに限られない。 By thus making the focal length of the objective lens 011 b variable, it is possible to control the angle of view and the lateral resolution. As a specific configuration, for example, a plurality of objective lenses 011 having large and small focal distances are built in the apparatus, and the focal distances can be made variable by replacing them by electric drive. Alternatively, the objective lens 011 may be configured separately from the apparatus main body so as to be removable, and may be replaced manually by the user. Furthermore, instead of replacement, a zoom optical system composed of a plurality of lenses may be disposed at the position of the objective lens 011 or at the position where the objective lens 011 and the lens 010 are arranged, thereby making the focal length variable. Here, although the variable part is an objective lens, the sample optical system 102 may be changed in magnification by changing the focal length of the lens 010. That is, as long as the measurement magnification in the sample optical system 102 can be arbitrarily changed, the specific configuration is not limited to the one described here.
 次に、以上に述べたサンプル光学系102における変倍の操作とフルレンジモードと連動させて実行する制御の流れについて述べる。図12Aに示すように、モニタ033に表示される制御アプリケーション用のユーザインターフェース画面には、画角切り替えボタン209が配置されている。例えば強度近視眼等の診断において、広画角で眼底を撮像したい場合には、ユーザ操作により画角切り替えボタン209を用いて広画角撮像制御状態(以下、広画角モード)が選択される。この操作により、制御部035により、対物レンズ011の焦点距離が切り替わると共に、フルレンジモードがオンとなる。これに従い、波面傾斜ミラー022の傾斜角度、シリンドリカルレンズ020のデフォーカス、信号処理部032による干渉信号の処理様式、モニタ033の表示画像解像度が連動して切り替えられる。なお、このときフルレンジモードボタン208はオンの状態に自動表示される。また、対物レンズ011をユーザの手作業による交換する構成とした場合には、対物レンズモジュールに検知センサを設けることで、交換作業の完了と共に自動で広画角モード及びフルレンジモードが連動して切り替わる制御としてもよい。 Next, the flow of control executed in conjunction with the magnification change operation and the full range mode in the sample optical system 102 described above will be described. As shown in FIG. 12A, on the user interface screen for control application displayed on the monitor 033, a view angle switching button 209 is arranged. For example, when it is desired to image the fundus at a wide angle of view in the diagnosis of a strong myopia eye etc., a wide angle of view imaging control state (hereinafter, wide angle of view mode) is selected by user operation using the angle of view switching button 209. By this operation, the focal length of the objective lens 011 is switched by the control unit 035, and the full range mode is turned on. In accordance with this, the tilt angle of the wavefront tilt mirror 022, the defocus of the cylindrical lens 020, the processing mode of the interference signal by the signal processing unit 032, and the display image resolution of the monitor 033 are switched in conjunction. At this time, the full range mode button 208 is automatically displayed in the on state. Further, when the objective lens 011 is configured to be manually replaced by the user, by providing a detection sensor in the objective lens module, the wide field angle mode and the full range mode are automatically switched in conjunction with completion of the replacement work. It is good also as control.
 即ち、本実施例に係る計測装置において、サンプル光学系102は、被検査物(被検眼012の眼底)に測定光を照射する際の画角を変更する光学変倍系を備える。光学変倍系には、例えばレンズを011から011bに変更する構成が対応する。この場合、制御部035は、光学変倍系の画角の変更に応じて、上述したフルレンジ処理を行うか否か、参照光の波面傾斜ミラー022からの反射角度、及びモニタ033の断層像の表示様式を変更する。以上の構成により、被検眼の眼底の特徴に応じて、撮影画角及び撮影深度を連動させて切り替えることで、簡便なユーザ操作で、光学系を含めた一連の複雑な制御を連動して切り替えることができる。 That is, in the measurement apparatus according to the present embodiment, the sample optical system 102 includes an optical variable magnification system that changes the angle of view when the measurement object is irradiated to the test object (the fundus of the subject eye 012). The optical variable magnification system corresponds to, for example, a configuration in which the lens is changed from 011 to 011 b. In this case, the control unit 035 determines whether or not the above-described full range processing is performed according to the change of the angle of view of the optical magnification changing system, the reflection angle of the reference light from the wavefront tilt mirror 022, and the tomographic image of the monitor 033. Change the display style. With the above configuration, the imaging angle of view and the imaging depth are interlocked and switched according to the feature of the fundus of the eye to be examined, and a series of complex controls including the optical system are interlocked and switched by simple user operation. be able to.
(その他の実施例)
 上述した実施例では、被検査物として人間の目の特に眼底(網膜)を例としている。しかし、被検査物は眼底に限定されず、前眼部、硝子体等であってもよい。また、眼に限定されず、皮膚、臓器等であってもよい。この場合、上述したラインOCT装置は、眼科装置以外の例えば内視鏡等の医療機器用の計測装置としても構成することができる。
(Other embodiments)
In the above-described embodiment, the fundus of the human eye (retina) is taken as an example of the object to be examined. However, the object to be examined is not limited to the fundus, and may be an anterior segment, vitreous body, or the like. Moreover, it is not limited to eyes, and skin, an organ, etc. may be sufficient. In this case, the line OCT apparatus described above can also be configured as a measurement apparatus for medical equipment such as an endoscope other than the ophthalmologic apparatus.
 また、本発明は、上述の実施例の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。 In addition, the present invention provides a program that implements one or more functions of the above-described embodiments to a system or apparatus via a network or a storage medium, and one or more processors in a computer of the system or apparatus execute the program. It can also be realized by a process of reading out and executing. It can also be implemented by a circuit (eg, an ASIC) that implements one or more functions.
 以上に、実施例を参照して本発明について説明したが、本発明は上述した実施例に限定するものではない。本発明の趣旨に反しない範囲で変更された発明、及び本発明と均等な発明も本発明に含まれる。また、上述した各実施例及び各変形例は、本発明の趣旨に反しない範囲で適宜組み合わせることができる。 Although the present invention has been described above with reference to the examples, the present invention is not limited to the examples described above. Inventions modified without departing from the spirit of the present invention and inventions equivalent to the present invention are also included in the present invention. Moreover, each Example and each modification which were mentioned above can be combined suitably in the range which does not deviate from the meaning of this invention.
 この出願は2017年8月17日に出願された日本国特許出願番号2017-157500の優先権を主張するものであり、その内容を引用してこの出願の一部とするものである。 This application claims priority to Japanese Patent Application No. 2017-157500 filed on Aug. 17, 2017, the contents of which are incorporated herein by reference.
101 ラインビーム形成光学系
102 サンプル光学系(測定光学系)
103 参照光学系
104 撮影光学系
001 光源
002 カプラ
011 対物レンズ
012 被検眼
022 波面傾斜ミラー
032 信号処理部
033 モニタ
034 操作入力部

 
101 Line Beam Forming Optical System 102 Sample Optical System (Measurement Optical System)
103 Reference optical system 104 Photography optical system 001 Light source 002 Coupler 011 Objective lens 012 Eye to be examined 022 Wave front tilt mirror 032 Signal processing unit 033 Monitor 034 Operation input unit

Claims (13)

  1.  光源と、
     前記光源からの測定光を成形したラインビームを被検査物に導く測定光学系と、
     前記光源からの参照光の光路長を調整する参照光学系と、
     前記参照光学系に設けられた、前記参照光の形状をライン状に形成する参照光用ラインビーム形成光学系と、
     前記参照光学系に設けられた、前記参照光の反射角度を設定可能なミラーと、
     前記参照光学系を経た前記参照光と前記被検査物を経た前記測定光とを合波させて干渉光を生成する合波手段と、
     前記干渉光を受光して出力信号を生成する受光手段と、
     を備え、
     前記ミラーが所定の角度の場合と前記所定の角度以外の角度に設定された場合で、前記出力信号の信号処理が異なることを特徴とする計測装置。
    Light source,
    A measurement optical system for guiding a line beam formed by measuring the measurement light from the light source to an object to be inspected;
    A reference optical system for adjusting an optical path length of reference light from the light source;
    A reference beam line beam forming optical system provided in the reference optical system for forming the shape of the reference light in a line shape;
    A mirror provided in the reference optical system and capable of setting a reflection angle of the reference light;
    Combining means for combining the reference light passing through the reference optical system and the measurement light passing through the inspection object to generate interference light;
    Light receiving means for receiving the interference light and generating an output signal;
    Equipped with
    A measuring apparatus characterized in that the signal processing of the output signal differs depending on whether the mirror has a predetermined angle or an angle other than the predetermined angle.
  2.  前記受光手段と共役関係の位置を生成する参照光用リレー光学系を更に備え、
     前記ミラーは前記位置に配置されることを特徴とする請求項1記載の計測装置。
    The optical system further includes a reference light relay optical system that generates a position in a conjugate relationship with the light receiving unit.
    The measuring apparatus according to claim 1, wherein the mirror is disposed at the position.
  3.  前記参照光用リレー光学系は第1のレンズ群及び第2のレンズ群から構成され、前記第1のレンズ群の前側焦点面に前記共役関係が一致し、前記第2のレンズ群の後側焦点面に前記受光手段の受光面が一致し、前記第1のレンズ群の後側焦点面と前記第2のレンズ群の前側焦点面が一致する光学系配置になっていることを特徴とする請求項2に記載の計測装置。 The reference light relay optical system includes a first lens group and a second lens group, and the conjugate relationship matches the front focal plane of the first lens group, and the rear side of the second lens group An optical system arrangement is characterized in that the light receiving surface of the light receiving means coincides with the focal plane, and the back focal plane of the first lens group coincides with the front focal plane of the second lens group. The measuring device according to claim 2.
  4.  前記受光手段は、ラインセンサを含むことを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の計測装置。 The measuring apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the light receiving unit includes a line sensor.
  5.  前記測定光の形状を前記ライン状に成形するラインビーム形成光学系を更に備え、
     前記ラインビーム形成光学系は、直交する2つの経線方向の曲率が異なるラインビーム形成レンズを備えることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の計測装置。
    It further comprises a line beam forming optical system for forming the shape of the measurement light into the line shape,
    The measurement apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the line beam forming optical system includes line beam forming lenses having different curvatures in two meridian directions orthogonal to each other.
  6.  前記光源からの光を前記測定光と前記参照光とに分割する分割手段を更に備え、
     前記分割手段で分割後に、前記測定光の前記ラインビームと前記参照光の前記ラインビームを形成し、
     前記合波手段は、前記被検査物を経た前記ラインビームと前記参照光学系を経た前記ラインビームとを合波させてライン状の前記干渉光を生成することを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載の計測装置。
    It further comprises a dividing means for dividing the light from the light source into the measurement light and the reference light,
    After being divided by the dividing means, the line beam of the measurement light and the line beam of the reference light are formed;
    6. The light source according to claim 1, wherein the combining means combines the line beam passing through the inspection object and the line beam passing through the reference optical system to generate the line-like interference light. The measuring device according to any one of the above.
  7.  前記出力信号を処理して前記被検査物の断層情報を出力する信号処理手段を更に備え、
     前記信号処理手段は、前記ミラーが前記所定の角度以外の角度に設定された場合は前記出力信号を周波数解析して得られた実像と鏡像とから鏡像を除去して前記断層情報を生成するフルレンジ処理を行うことを特徴とする請求項1乃至6の何れか1項に記載の計測装置。
    It further comprises signal processing means for processing the output signal and outputting tomographic information of the inspection object,
    The signal processing means is a full range for generating the tomographic information by removing a mirror image from a real image and a mirror image obtained by performing frequency analysis on the output signal when the mirror is set to an angle other than the predetermined angle. The measuring apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein the processing is performed.
  8.  前記ミラーの前記反射角度を制御する制御手段を更に備え、
     前記制御手段は、前記信号処理手段における前記フルレンジ処理を行うか否かに応じて、前記反射角度を変更することを特徴とする請求項7に記載の計測装置。
    And control means for controlling the reflection angle of the mirror.
    The measurement apparatus according to claim 7, wherein the control unit changes the reflection angle in accordance with whether or not the full range processing is performed in the signal processing unit.
  9.  前記断層情報を表示する表示手段を更に備え、
     前記制御手段は、前記信号処理手段における前記フルレンジ処理を行うか否かに応じて、前記表示手段による前記断層情報の表示様式を変更することを特徴とする請求項8に記載の計測装置。
    It further comprises display means for displaying the tomographic information,
    9. The measurement apparatus according to claim 8, wherein the control means changes the display mode of the tomographic information by the display means in accordance with whether or not the full range process is performed in the signal processing means.
  10.  前記測定光学系は、前記被検査物に前記測定光を照射する際の画角を変更する光学変倍系を備え、
     前記制御手段は、該光学変倍系の前記画角の変更に応じて、前記信号処理、前記反射角度、及び前記表示様式を変更することを特徴とする請求項9に記載の計測装置。
    The measurement optical system includes an optical variable magnification system that changes an angle of view when the measurement light is irradiated to the inspection object,
    10. The measurement apparatus according to claim 9, wherein the control means changes the signal processing, the reflection angle, and the display style in accordance with a change in the angle of view of the optical magnification change system.
  11.  前記参照光用ラインビーム形成光学系は、参照光のフォーカス位置を変更可能であることを特徴とする請求項1乃至10の何れか1項に記載の計測装置。 The measurement apparatus according to any one of claims 1 to 10, wherein the reference beam line beam forming optical system is capable of changing the focus position of the reference beam.
  12.  前記ラインビームを、前記被検査物において前記ラインビームの延在方向とは垂直な方向に走査する走査手段を更に備えることを特徴とする請求項1乃至11の何れか1項に記載の計測装置。 The measuring apparatus according to any one of claims 1 to 11, further comprising: a scanning unit configured to scan the line beam in a direction perpendicular to the extending direction of the line beam on the inspection object. .
  13.  前記光源は射出する光の波長を掃引する波長掃引型光源であることを特徴とする請求項1乃至12の何れか1項に記載の計測装置。

     
    The measurement apparatus according to any one of claims 1 to 12, wherein the light source is a wavelength sweeping type light source that sweeps the wavelength of light to be emitted.

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