WO2018210216A1 - 传输数据的方法、芯片、收发机和计算机可读存储介质 - Google Patents

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WO2018210216A1
WO2018210216A1 PCT/CN2018/086796 CN2018086796W WO2018210216A1 WO 2018210216 A1 WO2018210216 A1 WO 2018210216A1 CN 2018086796 W CN2018086796 W CN 2018086796W WO 2018210216 A1 WO2018210216 A1 WO 2018210216A1
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bit
polar code
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polarized channels
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PCT/CN2018/086796
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戴胜辰
张华滋
李榕
张公正
黄凌晨
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华为技术有限公司
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    • H03M13/63—Joint error correction and other techniques
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    • H03M13/6362—Error control coding in combination with rate matching by puncturing
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    • H04L1/0072—Error control for data other than payload data, e.g. control data

Definitions

  • the present application relates to the field of wireless communications and, more particularly, to a method, chip, transceiver, and computer readable storage medium for transmitting data.
  • polar code allows the information transmission rate in the channel to theoretically reach the Shannon channel capacity.
  • the encoding and decoding algorithm of the polar code is simple and easy to implement. Therefore, polar coding has received more and more attention as a new type of channel coding.
  • the coded bits generated by the polar coding method are decoded by the successive cancellation (SC) algorithm at the receiving end, a polarization phenomenon occurs, so that some bits in the u are transmitted through the equivalent high reliability channel, and are high.
  • the probability is translated, and the remaining bits in u are transmitted through the equivalent low-reliability channel and are translated at a low probability.
  • the above equivalent high-reliability channel and the equivalent low-reliability channel are polarized channels of the polar code.
  • the information bits can be placed in the bit position corresponding to the highly reliable polarized channel for polar encoding and transmission, so that the transmission reliability of the information bits is high.
  • the bit position corresponding to the less reliable polarized channel may not transmit valid data, and only some bits with a value of 0 (this bit may be referred to as a frozen bit) may be transmitted.
  • the reliability of the eight polarized channels can be calculated in advance, and it is found through calculation that the reliability of the polarized channel corresponding to the bit positions ⁇ u 4 , u 6 , u 7 , u 8 ⁇ is much larger than the bit position ⁇ u 1 , u 2 .
  • the reliability of the polarized channel corresponding to u 3 , u 5 ⁇ therefore, the bit positions ⁇ u 4 , u 6 , u 7 , u 8 ⁇ can be set as information bit positions, and the bit positions ⁇ u 1 , u 2 , u 3 , u 5 ⁇ is set to the frozen bit position.
  • 4 information bits can be encoded into 8 coded bits.
  • the coded bits can be subjected to subsequent processing such as modulation, and the processed data is transmitted to the receiving end via the noise channel.
  • Common polar codes including check information include a cyclic redundancy check (CRC) polar code, a parity check (PC) polar code, and the like.
  • CRC cyclic redundancy check
  • PC parity check
  • the related prior art does not specify the bit position of the check bit in the check information in the polar code. If the bit position of the check bit in the polar code is not suitable, the codec performance of the polar code may be lowered.
  • the present application provides a method, a chip, a transceiver, and a computer readable storage medium for transmitting data, which can improve the coding performance of a polar code.
  • the first aspect provides a method for transmitting data, including: acquiring K information bits, K is a positive integer not less than 1; determining a bit to be encoded, where the to-be-coded bit includes (K+P) bits, (K+P) bits include the K information bits and P parity bits, the K information bits corresponding to K polarization channels, and the P parity bits include T first type parity bits
  • the T first type of parity bits are parity PC bits, and the reliability of the polarization channels corresponding to the T first type of parity bits is greater than the reliability of the K polarization channels.
  • a second aspect provides a method for transmitting data, including: receiving coded bits transmitted by a transmitting end; performing polar decoding on the coded bits to obtain decoded bits, where the decoded bits include (K+P) bits
  • the (K+P) bits include K information bits and P parity bits, the K information bits corresponding to K polarization channels, and the P parity bits include T first type check bits Bits, the T first type of parity bits are parity PC bits, and the reliability of the polarization channels corresponding to the T first type of parity bits is greater than the reliability of the K polarization channels.
  • the (K + P) bits to generate encoded bits of the one-matrix (K + P) line, the smallest row weight (K + P) line is W 1
  • the The maximum row weight corresponding to the T first type check bits is less than or equal to W 2 , where W 2 represents the minimum value other than W 1 among the row weights of the (K+P) rows, W 1 and W 2 a positive integer not less than 1, P and T are both non-negative integers, and T ⁇ P, K, W 1 and W 2 are positive integers not less than 1; using the P parity bits To the K information bits A small number of information bits are verified.
  • an apparatus for transmitting data may be, for example, a transmitter, which may be a terminal device or a base station, the means for transmitting data comprising means for performing the method of the first aspect Module.
  • an apparatus for transmitting data which may be, for example, a receiver, which may be a terminal device or a base station, the means for transmitting data comprising means for performing the method of the second aspect Module.
  • a chip comprising: a memory for storing a program; a processor, configured to execute a program stored in the memory, to perform the following operations: acquiring K information bits, where K is not less than 1 An integer; determining a bit to be encoded, the bit to be encoded comprising (K+P) bits, the (K+P) bits comprising the K information bits and P parity bits, the K information bits Corresponding to K polarization channels, the P parity bits include T first type parity bits, the T first type parity bits are parity PC bits, and the T first class calibration The reliability of the polarized channel corresponding to the bit is greater than the minimum of the reliability of the K polarized channels, wherein P and T are both non-negative integers, and T ⁇ P; polar encoding the bit to be encoded to obtain code bits, the (K + P) bits to generate encoded bits of the correspondence matrix (K + P) line, the (K + P) minimum row line weight W 1, the said first type
  • a chip comprising: a memory for storing a program; and a processor, configured to execute a program stored in the memory, to perform the following operations: performing polar decoding on the coded bits received from the transmitting end Obtaining decoded bits, the decoded bits comprising (K+P) bits, the (K+P) bits comprising K information bits and P parity bits, the K information bits corresponding to K bits a polarization channel, the P parity bits include T first type parity bits, the T first type parity bits are parity PC bits, and the T first type parity bits correspond to The reliability of the polarized channel is greater than the minimum of the reliability of the K polarized channels, and the (K+P) bits are one-to-one corresponding to the (K+P) rows in the generating matrix of the encoded bits.
  • the minimum row weight of the (K+P) row is W 1
  • the maximum row weight corresponding to the T first class parity bits is less than or equal to W 2
  • W 2 represents the (K+P) row
  • W 1 and W 2 are positive integers not less than 1
  • P and T are both non-negative integers
  • T are both non-negative integers
  • T T ⁇ P, K, W 1 and W 2 Not small a positive integer of 1; at least part of the information bits of the K information bits are verified by the P parity bits.
  • a transmitter comprising the chip of the fifth aspect, the transmitter further comprising a transmitter for transmitting the coded bits to the receiving end.
  • the transmitter may be a terminal device or a base station.
  • a receiver comprising the chip according to the sixth aspect, the receiver further comprising a receiver for receiving coded bits transmitted by the transmitting end.
  • the receiver may be a terminal device or a base station.
  • a computer readable storage medium having stored therein instructions that, when run on a transmitter, cause the transmitter to perform the method of the first aspect.
  • a computer readable storage medium is provided, the instructions stored in the computer readable storage medium, when executed on a receiver, cause the receiver to perform the method of the second aspect.
  • a computer program product comprising instructions for causing a transmitter to perform the method of the first aspect when operating on a transmitter is provided.
  • a computer program product comprising instructions which, when run on a receiver, cause the receiver to perform the method of the second aspect.
  • the (K+P) row includes t1 first target rows, and the t1 first target rows have a row weight of W 1 , and the t1 first
  • the target row one-to-one corresponds to t1 polarization channels
  • the T first-type parity bits include f1 first-type parity bits
  • the f1 first-type parity bits correspond to the t1 polarization channels.
  • the (K + P) th line contains a second target t2, line weight of the second target t2 row are W 2, the second t2
  • the target row one-to-one corresponds to t2 polarization channels
  • the T first-type parity bits include f2 first-type parity bits
  • the f2 first-type parity bits correspond to the t2 polarization channels.
  • the P check bits include f3 second type check bits, and the f3 second type check bits are PC bits, and the f3 second bits are The reliability of the polarization channel corresponding to the class parity bit is less than the reliability of the K polarization channels, where f3 is a positive integer not less than 1, and f3 ⁇ P.
  • the T first type check bits correspond to T polarized channels
  • the f3 second type check bits correspond to polarized channels are M polarized channels.
  • the residual polarized channel other than the polarized channel corresponding to the puncturing operation and/or the shortening operation in the channel, M is not less than 1 positive integer.
  • the T first type check bits correspond to T polarized channels
  • the f3 second type check bits correspond to polarized channels are M polarized channels.
  • f3 polarized channels having the highest polarization channel number except the K polarized channels and the T polarized channels, wherein the M polarized channels are the polar coded or the polar coded In the polarization channel, except for the puncturing operation and/or the remaining polarization channel other than the polarization channel corresponding to the shortening operation, M is not less than 1 positive integer.
  • the location sequence number of each of the P check bits in the to-be-coded bit or the decoded bit is verified by the PC bit.
  • the difference between the position numbers of each information bit in the bit to be encoded or the decoded bit is an integer multiple of a preset prime number.
  • the P parity bits are PC bits; or the P parity bits comprise PC bits and CRC bits.
  • the technical solution provided by the present application sets T first type check bits to a bit position with a lower row weight.
  • the bit position corresponding to the bit position is lower, and the reliability of the polarized channel corresponding to the bit position is It is also relatively low. Therefore, the setting of the bit position of the check bit provided by the present application can effectively avoid the parity bit occupying the polarized channel with high reliability, thereby avoiding the degradation of the coding performance of the polar code caused by the inappropriate setting of the check bit position. .
  • FIG. 1 is a diagram showing an example of encoding of a polar code having a code length of 8.
  • FIG. 2 is a schematic flowchart of a method for transmitting data according to an embodiment of the present application.
  • FIG. 3 is a schematic flowchart of a configuration of a polar code provided by an embodiment of the present application.
  • FIG. 4 is a schematic flowchart of a method for data transmission according to another embodiment of the present application.
  • FIG. 5 is a schematic structural diagram of an apparatus for transmitting data according to an embodiment of the present application.
  • FIG. 6 is a schematic structural diagram of an apparatus for transmitting data according to another embodiment of the present application.
  • FIG. 7 is a schematic structural diagram of a chip provided by an embodiment of the present application.
  • FIG. 8 is a schematic structural diagram of a chip provided by an embodiment of the present application.
  • FIG. 9 is a schematic structural diagram of a transmitter provided by an embodiment of the present application.
  • FIG. 10 is a schematic structural diagram of a receiver provided by an embodiment of the present application.
  • a polar code having a code length of N corresponds to a generator matrix, which is usually a matrix of N ⁇ N.
  • the row weight (or hanmming weight) of each row of the generation matrix can be represented by the number of bits in the row that have a value of "1".
  • a polar code having a code length of N corresponds to N polarized channels, and N polarized channels are associated with each other to generate N rows (or N row vectors) of the matrix.
  • a conventional polar code divides a polarized channel into a polarized channel (or a frozen bit subchannel) corresponding to a frozen bit and a polarized channel (or an information bit subchannel) corresponding to an information bit.
  • the PC Polar code Compared with the traditional polar code and the CRC polar code (or CRC auxiliary polar code), the PC Polar code has a better code spacing and a block error rate under the successive cancellation list (SCL) algorithm. , BLER) is low, so PC polar code has high application potential.
  • the information bits are first pre-coded before the polar encoding.
  • the verification precoding process is briefly described as follows: The information bits verified by each parity bit are determined according to a preset verification rule.
  • the check rule describes the relationship between the check bits and the information bits they check. For example, the check rule may be set such that the difference between the bit position number of the check bit and the bit position number of the information bit satisfies certain conditions.
  • the check rule must be determined, and the information bits verified by each check bit are determined.
  • the information bits and the check bits together form a check equation.
  • the coded bits obtained after the polar coding are subjected to rate matching processing.
  • the length of the encoded vector is generally represented by N
  • the length of the information vector is represented by K.
  • the code length to be transmitted may be set to a code length of any length. Therefore, for the polar code, the encoded vector rate needs to be matched to a transmission vector of arbitrary length, and the vector before the rate matching can be referred to as a mother code vector.
  • the length of the mother code vector is denoted as N
  • the length of the transmission vector after rate matching is denoted as N 0 .
  • N is typically an integer power of 2
  • N 0 may be any positive integer.
  • rate matching of the polar code may be at least one of the following rate matching methods: repetition, puncture, and shortening.
  • rate matching is usually performed in a repeated manner. Specifically, some or all of the bits in the mother code vector of length N may be repeated until the vector length reaches N 0 and then transmitted.
  • N 0 >N the rate matching and the shortening method are usually used for rate matching. Specifically, some coded bits in the mother code vector may be deleted (or not transmitted) such that the vector length is reduced to N 0 and then transmitted.
  • Common polar codes including check information include CRC polar codes, PC polar codes, and the like.
  • the related art does not specify the bit position of the check information in the polar code. If the bit position of the check bit in the polar code is not suitable, the codec performance of the polar code may be lowered.
  • FIG. 2 is a schematic flowchart of a method for transmitting data according to an embodiment of the present application.
  • the method of Figure 2 includes:
  • K in the embodiment of the present application is not specifically limited, and may be any positive integer not less than 1.
  • the value of K can be any positive integer from 12-22 bits.
  • the value of K may be less than 12 or greater than 22.
  • the information content of the K information bits is not specifically limited in the embodiment of the present application.
  • it may be control information (or signaling) in an uplink control channel and/or a downlink control channel in any wireless communication system.
  • the wireless communication system may be, for example, a global system for mobile communication (GSM) system, a code division multiple access (CDMA) system, or a wideband code division multiple access (WCDMA) system.
  • GSM global system for mobile communication
  • CDMA code division multiple access
  • WCDMA wideband code division multiple access
  • GPRS general packet radio service
  • LTE long term evolution
  • LTE-A advanced long term evolution
  • Universal mobile telecommunication system UMTS
  • NR new radio
  • the to-be-coded bit includes (K+P) bits, and the (K+P) bits include the K information bits and P parity bits, and the K information bits Corresponding to K polarization channels, the P parity bits include T first type parity bits, the T first type parity bits are parity PC bits, and the T first class calibration
  • the reliability of the polarized channel corresponding to the bit is greater than the minimum of the reliability of the K polarized channels, where P and T are both non-negative integers and T ⁇ P.
  • P may be a preset value, but the value of P in the embodiment of the present application is not specifically limited, and may be determined according to factors such as the value of the information bit K and the value of the code length N of the polar code. For example, P can be set to 6, 8, or 10.
  • P check bits may be, for example, PC bits, or any combination of CRC bits or PC bits.
  • both P and T are positive integers not less than one.
  • the P check bits comprise at least one PC bit.
  • the P check bits may contain 0 PC bits.
  • the CRC polynomial corresponding to the CRC bits is not specifically limited in this embodiment of the present application.
  • P parity bits may include 3 CRC bits, and the CRC polynomial corresponding to the 3 CRC bits may be 1+x+x 3 ; alternatively, as another implementation manner , P parity bits may comprise four CRC bits, CRC bits corresponding to the four CRC polynomial may be the 1 + x + x 2 + x 3 + x 4; alternatively, as a further implementation, P a The parity bit may contain 5 CRC bits, and the CRC polynomial corresponding to the 5 CRC bits may be 1+x 2 +x 3 +x 4 +x 5 .
  • bits to be encoded may also contain frozen bits.
  • polar coding bits to be encoded to obtain coded bits (K + P) bits to generate encoded bits correspondence matrix (K + P) line, the smallest row weight (K + P) line of W 1
  • the maximum row weight corresponding to the T first type check bits is less than or equal to W 2 , where W 2 represents the minimum value other than W 1 among the row weights of the (K+P) row, and both W 1 and W 2 A positive integer not less than one.
  • W 1 and W 2 are the minimum and minor values of the row weight corresponding to the (K+P) row, respectively.
  • W 2 may also be the third lowest value or the fourth lowest value of the line weight of the (K+P) line.
  • the generation matrix mentioned in the present application may be the original generation matrix G, or may be the generation matrix G' after considering the rate matching factor.
  • the original generation G is usually a matrix of N ⁇ N
  • the generation matrix G' after considering the rate matching factor is a matrix formed by deleting the remaining row vectors after the row vector corresponding to the target bit position from the matrix G.
  • the target bit position is a bit position corresponding to the punch operation and/or a bit position corresponding to the shortening operation.
  • the T first type check bits are located at a bit position with a lower row weight.
  • the bit position corresponding to the bit position is lower, and the reliability of the polarized channel corresponding to the bit position is also relatively Low. Therefore, the setting manner of the bit position of the check bit provided by the embodiment of the present application can effectively avoid the check bit occupying the polarized channel with high reliability, thereby avoiding the coding code of the polar code caused by the check bit position setting being inappropriate. Performance is declining.
  • the reliability of the polarization channel corresponding to the first type of parity bits is set to be greater than the minimum reliability of the polarization channel corresponding to the K information bits, and the first type of parity bits can be avoided to some extent. The probability of transmission error improves the verification capability of the first type of parity bits, thereby improving the coding performance of the polar code as a whole.
  • the polar code generally uses the SCL algorithm for polar decoding, and the decoding performance of the SCL algorithm is generally a compromise between the code distance and the reliability of the polar code.
  • the bit position of the P check bits is set to a bit position with a smaller row weight, which can improve the code distance of the polar code to a certain extent, thereby improving the decoding performance of the polar code.
  • (K + P) comprising a row of first target t1 row
  • the row of first target t1 row weights are W 1
  • t1 t1 a first target row correspond polarizations Channel
  • T first type check bits include f1 first type check bits
  • f1 first type check bits correspond to f1 polarized channels with the highest reliability among t1 polarized channels, where t1 and f1 Both are positive integers not less than 1, and t1 ⁇ (K + P), f1 ⁇ P.
  • t1 may be a first target row (K + P) in all rows row lines is W 1.
  • the polarized channel corresponding to the f1 first type check bits is selected as the most reliable polarized channel in the t1 polarized channels (corresponding to each polarized channel with a line weight of W 1 ), thereby To ensure that the f1 first-type parity bits do not occupy a highly reliable polarized channel, the transmission reliability of the f1 first-type parity bits is maximized, thereby improving the f1 first class. Check bit verification capability.
  • the (K+P) row includes t2 second target rows, the t2 second target rows have a row weight of W 2 , and the t2 second target rows correspond to the t2 polarizations.
  • T first type check bits include f2 first type check bits, f2 first type check bits correspond to f2 polarized channels with the highest reliability among t2 polarized channels, where t2 and f2 Both are positive integers not less than 1, and t2 ⁇ (K + P), f2 ⁇ P.
  • t2 may be a first target row (K + P) in all rows row weight W 2 of the row.
  • the polarized channel corresponding to the f2 first type check bits is selected as the most reliable polarized channel in the t2 polarized channels (corresponding to each polarized channel with a line weight of W 2 ), thereby Ensure that the f2 first-type parity bits do not occupy a highly reliable polarized channel, and maximize the transmission reliability of the f2 first-type parity bits, thereby improving the f2 first class.
  • Check bit verification capability is selected as the most reliable polarized channel in the t2 polarized channels (corresponding to each polarized channel with a line weight of W 2 ), thereby Ensure that the f2 first-type parity bits do not occupy a highly reliable polarized channel, and maximize the transmission reliability of the f2 first-type parity bits, thereby improving the f2 first class.
  • the P check bits include f3 second type check bits, the f3 second type check bits are PC bits, and the f3 second type check bits correspond to the polarized channel.
  • the reliability is less than the reliability of K polarized channels, where f3 is a positive integer not less than 1, and f3 ⁇ P.
  • the reliability of the polarized channel corresponding to the f3 second type check bits is less than the reliability of the K polarized channels, and the reliability of the polarized channel corresponding to the f3 second type check bits may be less than the maximum value. The minimum value of the reliability of the K polarized channels.
  • a second type of check bit is added to the information bit, and the reliability of the polarized channel corresponding to the second type of check bit is less than the reliability of the polarized channel corresponding to the information bit, which means that the second type of check
  • the bits do not affect the overall transmission reliability of the information bits.
  • the embodiment of the present application provides additional check bits for the information bits without affecting the overall transmission reliability of the information bits, thereby further enhancing the coding and decoding performance of the polar code.
  • the polar code including the first/second type check bits may be constructed in an off-line manner. In actual use, the polar code including the first/second type check bits may be directly used for the polar coding and decoding.
  • the construction of the polar code including the first/second type check bits will be exemplified below with reference to FIG. 3.
  • the first type of parity bits corresponding to the row containing a first weight of W f1 type and check bits corresponding to a row weight of a second category W f2 parity bit 2 but the embodiment of the present application
  • the first type of parity bits may also include only the first type of parity bits with a corresponding row weight of W 1 or only the second type of parity bits with a corresponding row weight of W 2 .
  • the total number of the first type of parity bits and the second type of parity bits can be determined by factors such as the code length N of the polar code and the number K of information bits. For example, in the case where the code length of the polar code is 64, the number of the first/second type parity bits can be limited to 8.
  • the values of f1, f2, and f3 described in step 310 may be any possible values of f1, f2, and f3 in the case where the total number of parity bits of the first type and the second type of parity bits are determined.
  • the total number of the first type of parity bits and the second type of parity bits is 8, and the value of f1 can be set to 2, the value of f2 is set to 6, and the value of f3 is set to 2, and then The flow shown in Figure 3 is performed.
  • the bit positions of the K information bits, the f1 first type parity bits, and the f2 second type parity bits may be initially selected according to the reliability of the polarization channel.
  • the code length of the polar code is N, including N bit positions, and the (K+f1+f2) bit positions with the highest reliability of the corresponding polarization channel can be selected from the N bit positions.
  • the row weight of the row corresponding to the (K + f1 + f2) bit positions in the generation matrix can be determined.
  • the generator matrix may be the original generator matrix G or a generator matrix G' that takes into account rate matching factors.
  • the original generation G is a matrix of N ⁇ N
  • G′ is a matrix formed by deleting the remaining row vectors after the row vector corresponding to the target bit position from the matrix G.
  • the target bit position is a bit position corresponding to the punch operation and/or a bit position corresponding to the shortening operation. Then, according to the row weight of the (K + f1 + f2) corresponding to bit positions of the row select travel weight minimum value W min, as W 1, and selecting a small value travel times weight as W 2.
  • W 2 is usually 2W 1 .
  • corresponding to the row weight of less than 1 W bit position is set to freeze bit position.
  • f2 bit positions may be selected from all the bit positions corresponding to the line weight W 2 as the bit positions of the f2 first type check bits according to the reliability from high to low.
  • f1 bit positions may be selected from all the bit positions corresponding to the line weight W 1 as the bit positions of the f1 first type check bits according to the reliability from high to low.
  • K information bit positions are selected.
  • step 360 is the bit remaining in addition to the first bit of parity bit, the puncturing operation, and/or the bit position corresponding to the shortening operation (if any), the frozen bit position determined in step 330. position.
  • the K bit positions with the highest reliability of the corresponding polarized channel in the remaining bit positions may be selected as the bit positions of the K information bits.
  • f3 second type check bit positions are selected.
  • step 370 is the freeze bits determined in step 330, except for the information bit position, the first type of check bit position, the puncturing operation, and/or the bit position corresponding to the shortening operation (if any). The remaining bit position outside the location.
  • the f3 bit positions with the highest reliability of the corresponding polarization channel may be selected from the remaining bit positions as the bit positions of the f3 second type check bits.
  • the f3 bit positions with the highest bit position number may be selected from the remaining bit positions as the bit positions of the f3 second type check bits. For parity, the higher the sequence number of the check bit position, the more information bits that may be verified.
  • check equation needs to be constructed to determine which information bits are checked for each parity bit.
  • the check equation can be constructed by means of cyclic shift, or the check equation can be constructed according to the principle of maximizing the number of information bits for check bit verification, or it can be polar.
  • the principle of the transmission performance optimization of the code is used to construct the check equation.
  • the embodiment of the present application does not specifically limit this. The following detailed description will be made in conjunction with specific embodiments, and details are not described herein.
  • the bit position corresponding to the check bit can be converted.
  • the check rule may be set such that the difference between the sequence number of the check bit position and the sequence number of the information bit position of the check bit check is an integer multiple of a fixed prime number (eg, an integer multiple of 5). According to this principle, if the difference between the sequence number of a certain check bit position and the sequence number of all information bit positions is not equal to an integral multiple of the fixed prime number, the check bit position can be degraded to a frozen bit position.
  • the process described in FIG. 3 is a process after determining the values of f1, f2, and f3.
  • various combinations of values of f1, f2, and f3 can be traversed, and the flow shown in FIG. 3 is executed once for each combination of values to obtain a specific form of the polar code under the combination of values. Then, the performance of the polar code corresponding to each value combination is tested to obtain a polar code with better performance.
  • the performance of the polar code can be expressed by the value of the required signal-to-noise ratio at a specific BLER value. The smaller the signal-to-noise ratio, the higher the performance of the polar code.
  • the value of a parameter in f1, f2, and f3 may also be limited in advance to reduce the number of value combinations that need to be traversed, and improve the construction efficiency of the polar code.
  • the sum of f1, f2, and f3 can be limited to 8, and the value of f3 is limited to 2.
  • the sum of f1, f2, and f3 may be limited to 8.
  • the T first type check bits correspond to T polarized channels
  • the f3 second type check bits correspond to the polarized channels are K polarizations in the M polarized channels.
  • the most reliable f3 polarized channels except the channel and the T polarized channels, and the M polarized channels are the polarized channels corresponding to the puncturing operation and/or the shortening operation in the polar encoded polarized channel
  • the residual polarization channel, M is not less than 1 positive integer.
  • M may be equal to N.
  • the N bit positions of the polar code have some bit positions that are removed by subsequent puncturing operations and/or shortening operations.
  • the embodiment of the present application first excludes the bit positions from the N bit positions, and obtains the remaining M bit positions, where the M bit positions correspond to M polarized channels.
  • (K+T) polarized channels in the M polarized channels are occupied by K information bits and T first type check bits, and f3 second type check bits occupy M polarized channels
  • the most reliable f3 polarized channels except the (K+T) polarized channels can maximize the transmission reliability of the second type of parity bits.
  • the T first type check bits correspond to T polarized channels
  • the f3 second type check bits correspond to the polarized channels are K polarizations in the M polarized channels.
  • the f3 polarized channels with the highest polarization channel number other than the channel and the T polarized channels, and the M polarized channels are polarized channels corresponding to the puncturing operation and/or the shortening operation in the polar encoded polarized channel
  • M is not less than 1 positive integer.
  • M may be equal to N.
  • the N bit positions of the polar code have some bit positions that are removed by subsequent puncturing operations and/or shortening operations.
  • the embodiment of the present application first excludes the bit positions from the N bit positions, and obtains the remaining M bit positions, where the M bit positions correspond to M polarized channels.
  • (K+T) polarized channels in the M polarized channels are occupied by K information bits and T first type check bits, and f3 second type check bits occupy M polarized channels The f3 polarized channels with the highest polarization channel number except the (K+T) polarized channels.
  • bit position of the polar code is i, indicating that the bit position is the i-th bit position among the N bit positions of the polar code, and the bit number corresponding to the bit position is also i, and i is positive.
  • An integer and 1 ⁇ i ⁇ N or 0 ⁇ i ⁇ N-1.
  • a position number of each of the P check bits in the to-be-coded bit and a position number of each information bit verified by each PC bit in the to-be-coded bit The difference is an integer multiple of the preset prime number.
  • the difference between the position number of the information bit and the position number of the check bit is an integer multiple of the preset prime number.
  • the value of the preset prime number is not specifically limited in the embodiment of the present application, and may be, for example, 5 or 3. This type of calibration equation is simple and easy to implement.
  • any information bit u i in the check equation can correspond to the row vector in the generator matrix as g i
  • the PC bit u j corresponds to the generation matrix.
  • Hamming Weight g k satisfies the above conditions may increase the polar codes from code to some extent, improve the performance of polar codec codes.
  • the method for transmitting data provided by the embodiment of the present application is described in detail with reference to FIG. 2 from the perspective of the transmitting end.
  • the method for transmitting data according to the embodiment of the present application is described below with reference to FIG.
  • the data processing process described by the transmitting end and the data processing process described by the receiving end are basically mutually inverse processes.
  • the decoding bits obtained by the receiver at the receiving end described in FIG. 4 are corresponding to the bits to be encoded in FIG. 2. Therefore, for the sake of brevity, the repeated description is omitted as appropriate.
  • FIG. 4 is a schematic flowchart of a method for data transmission according to another embodiment of the present application.
  • the method of Figure 4 includes:
  • the decoded bits include (K+P) bits, and the (K+P) bits include K information bits and P checksums.
  • Bits the K information bits correspond to K polarization channels
  • the P parity bits include T first type parity bits
  • the T first type parity bits are parity PC bits
  • the reliability of the polarized channel corresponding to the T first type of check bits is greater than the minimum of the reliability of the K polarized channels
  • the (K+P) bits correspond to the coded bits one by one.
  • the minimum row weight of the (K+P) row is W1
  • the maximum row weight corresponding to the T parity bits is less than or equal to W2, where W2 represents the K+P)
  • the minimum value of the row weight other than W1, W1 and W2 are positive integers not less than 1
  • P and T are non-negative integers
  • T ⁇ P, K, W1 and W2 A positive integer not less than one.
  • the T first type check bits are located at a bit position with a lower row weight.
  • the bit position corresponding to the bit position is lower, and the reliability of the polarized channel corresponding to the bit position is also relatively Low. Therefore, the setting manner of the bit position of the check bit provided by the embodiment of the present application can effectively avoid the check bit occupying the polarized channel with high reliability, thereby avoiding the coding code of the polar code caused by the check bit position setting being inappropriate. Performance is declining.
  • the reliability of the polarization channel corresponding to the first type of parity bits is set to be greater than the minimum reliability of the polarization channel corresponding to the K information bits, and the first type of parity bits can be avoided to some extent. The probability of transmission error improves the verification capability of the first type of parity bits, thereby improving the coding performance of the polar code as a whole.
  • (K + P) comprising a row of first target t1 row
  • the row of first target t1 row weights are W 1
  • t1 t1 a first target row correspond polarizations Channel
  • T first type check bits include f1 first type check bits
  • f1 first type check bits correspond to f1 polarized channels with the highest reliability among t1 polarized channels, where t1 and f1 Both are positive integers not less than 1, and t1 ⁇ (K + P), f1 ⁇ P.
  • the (K+P) row includes t2 second target rows, the t2 second target rows have a row weight of W 2 , and the t2 second target rows correspond to the t2 polarizations.
  • T first type check bits include f2 first type check bits, f2 first type check bits correspond to f2 polarized channels with the highest reliability among t2 polarized channels, where t2 and f2 Both are positive integers not less than 1, and t2 ⁇ (K + P), f2 ⁇ P.
  • K information bits correspond to K polarized channels
  • P check bits include f3 second type check bits
  • f3 second type check bits are PC bits
  • f3 The reliability of the polarization channel corresponding to the second type of parity bits is less than the reliability of the K polarization channels, where f3 is a positive integer not less than 1, and f3 ⁇ P.
  • the T first type check bits correspond to T polarized channels
  • the f3 second type check bits correspond to the polarized channels are K polarizations in the M polarized channels.
  • the most reliable f3 polarized channels except the channel and the T polarized channels, and the M polarized channels are the polarized channels corresponding to the puncturing operation and/or the shortening operation in the polar decoded polarized channel
  • the outer residual polarization channel, M is not less than 1 positive integer.
  • the T first type check bits correspond to T polarized channels
  • the f3 second type check bits correspond to the polarized channels are K polarizations in the M polarized channels.
  • the f3 polarized channels with the highest polarization channel number other than the channel and the T polarized channels, and the M polarized channels are polarizations corresponding to the punching operation and/or the shortening operation in the polar decoded polarized channel
  • the residual polarization channel outside the channel, M is not less than 1 positive integer.
  • a position number of each of the P check bits in the decoded bit and a position number of each information bit verified in each of the PC bits in the decoded bit The difference is an integer multiple of the preset prime number.
  • each of the P check bits and each information bit verified by each PC bit satisfy the following conditions:
  • the Hamming weight of g k is greater than the Hamming weight of each of g i and g j ;
  • the Hamming weight of g k is greater than the minimum Hamming weight of g i and g j ;
  • g i denotes a row vector corresponding to each PC bit in the generation matrix
  • g j denotes a row vector corresponding to each information bit in the generation matrix
  • g k mod(g i + g j , 2), mod (.) indicates the modulo operation.
  • the P check bits are all PC bits; or the P check bits comprise PC bits and CRC bits.
  • Embodiment 1 is a diagrammatic representation of Embodiment 1:
  • the parity bits in this embodiment are all PC bits.
  • the check equation is generated by using a cyclic shift register, and the number of bits of the cyclic shift register is selected to be 5 (the difference between the position number indicating the check bit and the position number of the information bit is an integer multiple of 5 ).
  • bit position of the second type of check bits is selected in this embodiment as follows: from the remaining bit positions (excluding the information bit position, the first type of check bit position, the puncturing or the bit position corresponding to the shortening operation) The bit position of the bit position is selected as the bit position of the second type of parity bit with the highest bit reliability corresponding to the polarization channel.
  • bit position of the bit position is selected as the bit position of the second type of parity bit with the highest bit reliability corresponding to the polarization channel.
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
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  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
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  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the first embodiment limits the total number of check bits to 8, but the total number of check bits of the actually given polar code is not necessarily 8, which is due to the position number of each check bit and each information bit.
  • the position number of the position does not satisfy the preset check equation, that is, the position number of the check bit and the position number of the information bit are not integer multiples of 5, so the check bit cannot verify any information bits.
  • the present embodiment degrades the parity bit position into a frozen bit position, which is the same in the subsequent embodiments.
  • Embodiment 2 is a diagrammatic representation of Embodiment 1:
  • the second embodiment is similar to the first embodiment except that the total number of the first type of parity bits and the second type of parity bits is limited to eight, and the number of second type of parity bits is not limited to two. .
  • the structure of the polar code constructed in the second embodiment is as follows:
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
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  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • Embodiment 3 is a diagrammatic representation of Embodiment 3
  • the third embodiment is substantially similar to the first embodiment except that the first embodiment removes the bit position from the remaining bit position (excluding the information bit position, the first type of parity bit position, the puncturing or the bit position corresponding to the shortening operation).
  • the two bit positions with the highest reliability of the corresponding polarization channel are selected as the bit positions of the second type of check bits, and the third embodiment selects the position number from the remaining bit positions (the position number is the position number of the bit position, which is also the pole
  • the position number of the channel is the highest 2 bit positions as the bit position of the second type of bit.
  • the structure of the polar code constructed in the third embodiment is as follows:
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
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  • Embodiment 4 is a diagrammatic representation of Embodiment 4:
  • the fourth embodiment is substantially similar to the third embodiment, except that the third embodiment limits the number of the second type of check bits to two, and the fourth embodiment does not limit the number of the second type of check bits, and only defines the first type of calibration.
  • the sum of the check bits and the second type of check bits is 8.
  • the structure of the polar code constructed in the fourth embodiment is as follows:
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
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  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • Embodiment 5 is a diagrammatic representation of Embodiment 5:
  • Embodiments 1 to 4 define at least one of the following conditions: the total number of parity bits of the first type and the second type of parity bits, the number of parity bits of the second type, and the selection of the second type of parity bits
  • the fifth embodiment does not limit the above conditions, and traverses various combinations of information bit positions and check bit positions, and verifies the combination performance by experiments.
  • the form of the polar code constructed in the fifth embodiment is as follows:
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .
  • the remaining bit positions other than the bit positions listed above are the information bit positions. .

Landscapes

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Abstract

一种传输数据的方法、芯片、收发机和计算机可读存储介质。该方法包括：获取K个信息比特；确定待编码比特，待编码比特包含(K+P)个比特，(K+P)个比特包含K个信息比特和P个校验比特，K个信息比特对应K个极化信道，P个校验比特包含T个第一类校验比特，T个第一类校验比特均为PC比特，T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于K个极化信道的可靠度的最小值；对待编码比特进行polar编码，得到编码比特，(K+P)个比特一一对应编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，T个第一类校验比特对应的最大行重小于等于W 2，其中W 2表示(K+P)行的行重中的次小值。

Description

传输数据的方法、芯片、收发机和计算机可读存储介质
本申请要求于2017年05月15日提交中国专利局、申请号为201710339409.X、申请名称为“传输数据的方法、芯片、收发机和计算机可读存储介质”的中国专利申请的优先权，其全部内容通过引用结合在本申请中。
技术领域
本申请涉及无线通信领域，并且更具体地，涉及一种传输数据的方法、芯片、收发机和计算机可读存储介质。
背景技术
极化码(polar码)的使用使得信道中的信息传输速率理论上可以达到香农信道容量。此外，polar码的编译码算法简单，易于实现。因此，polar编码作为一种新型的信道编码方式，得到越来越多的关注。
polar编码可由x＝u·F n表示，其中u表示长度为n的二进制向量，F n为克罗内克(Kronecker)变换矩阵。F n也可称为polar码的生成矩阵。
Figure PCTCN2018086796-appb-000001
为2×2矩阵
Figure PCTCN2018086796-appb-000002
的Kronecker积。
polar编码方式生成的编码比特在接收端通过逐次消除(successive cancellation，SC)算法进行译码之后，会产生极化现象，使得u中的一部分比特会经过等效高可靠信道进行传输，并以高概率被译对，u中的剩余比特会经过等效低可靠信道进行传输，并以低概率被译对，以上等效高可靠信道和等效低可靠信道即为polar码的极化信道。
充分利用polar编码的极化现象可以提高信息传输的可靠性。例如，可以将信息比特放置在可靠度较高的极化信道对应的比特位置进行polar编码和传输，使得信息比特的传输可靠性较高。可靠度较低的极化信道对应的比特位置可以不传输有效数据，仅传输一些取值为0的比特(该比特可以称为冻结比特)。
以图1为例进行说明，图1中的polar码的码长N＝8，对应8个极化信道。可以预先计算该8个极化信道的可靠度，经过计算发现比特位置{u 4,u 6,u 7,u 8}对应的极化信道的可靠度远大于比特位置{u 1,u 2,u 3,u 5}对应的极化信道的可靠度，因此，可以将比特位置{u 4,u 6,u 7,u 8}设置为信息比特位置，将比特位置{u 1,u 2,u 3,u 5}设置为冻结比特位置。这样一来，就可以将4个信息比特编码成8个编码比特。然后，可以对编码比特进行调制等后续处理，并将处理后的数据经过噪声信道传输至接收端。
为了增强polar码的编译码性能，相关现有技术在传统polar码中添加了校验信息，形成改进型polar码。常见的包含校验信息的polar码包括循环冗余校验(cyclic redundancy check，CRC)polar码、奇偶校验(parity check，PC)polar码等。
但是，相关现有技术并未对校验信息中的校验比特在polar码中的比特位置进行规定， 如果校验比特在polar码中的比特位置不合适，可能降低polar码的编译码性能。
发明内容
本申请提供一种传输数据的方法、芯片、收发机和计算机可读存储介质，可以提高polar码的编译码性能。
第一方面，提供一种传输数据的方法，包括：获取K个信息比特，K为不小于1的正整数；确定待编码比特，所述待编码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含所述K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，其中P和T均为非负整数，且T≤P；对所述待编码比特进行polar编码，得到编码比特，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W 1，所述T个第一类校验比特对应的最大行重小于或等于W 2，其中W 2表示所述(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数；向接收端传输所述编码比特。
第二方面，提供一种传输数据的方法，包括：接收发送端传输的编码比特；对所述编码比特进行polar译码，得到译码比特，所述译码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W 1，所述T个第一类校验比特对应的最大行重小于或等于W 2，其中W 2表示所述(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数，P和T均为非负整数，且T≤P，K、W 1和W 2均为不小于1的正整数；利用所述P个校验比特对所述K个信息比特中的至少部分信息比特进行校验。
第三方面，提供一种传输数据的装置，该传输数据的装置例如可以是发射机，该发射机可以是终端设备或基站，该传输数据的装置包含用于执行第一方面所述的方法的模块。
第四方面，提供一种传输数据的装置，该传输数据的装置例如可以是接收机，该接收机可以是终端设备或基站，该传输数据的装置包含用于执行第二方面所述的方法的模块。
第五方面，提供一种芯片，包括：存储器，用于存储程序；处理器，用于执行所述存储器中存储的程序，以执行以下操作：获取K个信息比特，K为不小于1的正整数；确定待编码比特，所述待编码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含所述K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，其中P和T均为非负整数，且T≤P；对所述待编码比特进行polar编码，得到编码比特，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W 1，所述T个第一类校验比特对应的最大行重小于或等于W 2，其中W 2表示所述(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数。
第六方面，提供一种芯片，包括：存储器，用于存储程序；处理器，用于执行所述存储器中存储的程序，以执行以下操作：对从发射端接收到的编码比特进行polar译码，得到译码比特，所述译码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W 1，所述T个第一类校验比特对应的最大行重小于或等于W 2，其中W 2表示所述(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数，P和T均为非负整数，且T≤P，K、W 1和W 2均为不小于1的正整数；利用所述P个校验比特对所述K个信息比特中的至少部分信息比特进行校验。
第七方面，提供一种发射机，包括如第五方面所述的芯片，所述发射机还包括发送器，用于向接收端传输所述编码比特。所述发射机可以是终端设备，也可以是基站。
第八方面，提供一种接收机，包括如第六方面所述的芯片，所述接收机还包括接收器，用于接收发送端传输的编码比特。所述接收机可以是终端设备，也可以是基站。
第九方面，提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在发射机上运行时，使得发射机执行第一方面所述的方法。
第十方面，提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在接收机上运行时，使得接收机执行第二方面所述的方法。
第十一方面，提供一种包含指令的计算机程序产品，当其在发射机上运行时，使得发射机执行第一方面所述的方法。
第十二方面，提供一种包含指令的计算机程序产品，当其在接收机上运行时，使得接收机执行第二方面所述的方法。
可选地，在上述某些实现方式中，所述(K+P)行包含t1个第一目标行，所述t1个第一目标行的行重均为W 1，所述t1个第一目标行一一对应t1个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f1个第一类校验比特，所述f1个第一类校验比特对应所述t1个极化信道中的可靠度最高的f1个极化信道，其中t1和f1均为不小于1的正整数，且t1＜(K+P)，f1≤P。
可选地，在上述某些实现方式中，所述(K+P)行包含t2个第二目标行，所述t2个第二目标行的行重均为W 2，所述t2个第二目标行一一对应t2个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f2个第一类校验比特，所述f2个第一类校验比特对应所述t2个极化信道中的可靠度最高的f2个极化信道，其中t2和f2均为不小于1的正整数，且t2＜(K+P)，f2≤P。
可选地，在上述某些实现方式中，所述P个校验比特包含f3个第二类校验比特，所述f3个第二类校验比特均为PC比特，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度小于所述K个极化信道的可靠度，其中f3为不小于1的正整数，且f3≤P。
可选地，在上述某些实现方式中，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的可靠度最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar编码或polar译码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
可选地，在上述某些实现方式中，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的极化信道序号最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar编码或polar译码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
可选地，在上述某些实现方式中，所述P个校验比特中的每个PC比特在所述待编码比特或译码比特中的位置序号与所述每个PC比特所校验的每个信息比特在所述待编码比特或译码比特中的位置序号之差为预设质数的整数倍。
可选地，在上述某些实现方式中，所述P个校验比特包含中的每个PC比特和所述每个PC比特所校验的每个信息比特满足如下条件：如果g i＝g j，则g k的汉明重量大于g i和g j各自的汉明重量；如果g i≠g j，则g k的汉明重量大于g i和g j的汉明重量的最小值；其中g i表示所述生成矩阵中的与所述每个PC比特对应的行向量，g j表示所述生成矩阵中的与所述每个信息比特对应的行向量，g k＝mod(g i+g j,2)，mod(.)表示取模操作。
可选地，在上述某些实现方式中，所述P个校验比特均为PC比特；或所述P个校验比特包含PC比特和CRC比特。
本申请提供的技术方案将T个第一类校验比特设置在对应行重较低的比特位置，一般而言，比特位置对应的行重较低，该比特位置对应的极化信道的可靠度也相对偏低。因此，本申请提供的校验比特的比特位置的设置方式可以有效避免校验比特占用可靠度较高的极化信道，从而可以避免校验比特位置设置不合适导致的polar码的编译码性能下降。
附图说明
图1是码长为8的polar码的编码方式的示例图。
图2是本申请一个实施例提供的传输数据的方法的示意性流程图。
图3是本申请实施例提供的polar码的构造方式的示意性流程图。
图4是本申请另一实施例提供的输数据的方法的示意性流程图。
图5是本申请一个实施例提供的传输数据的装置的示意性结构图。
图6是本申请另一实施例提供的传输数据的装置的示意性结构图。
图7是本申请一个实施例提供的芯片的示意性结构图。
图8是本申请一个实施例提供的芯片的示意性结构图。
图9是本申请实施例提供的发射机的示意性结构图。
图10是本申请实施例提供的接收机的示意性结构图。
具体实施方式
为了便于理解，先对polar码的相关概念进行简单介绍。
码长为N的polar码对应生成矩阵，该生成矩阵通常为N×N的矩阵。生成矩阵的每一行的行重(或称汉明重量(hanmming weight))可以通过该行中取值为“1”的比特数量表示。
码长为N的polar码对应N个极化信道，且N个极化信道一一对应生成矩阵的N行(或N个行向量)。传统polar码将极化信道划分为冻结比特对应的极化信道(或称冻结 比特子信道)和信息比特对应的极化信道(或称信息比特子信道)两类。对于传统polar码而言，polar码的最小码距与生成矩阵中的与信息比特对应的行的行重有关，下面以N＝4为例进行举例说明。
假设生成矩阵的形式如下：
Figure PCTCN2018086796-appb-000003
由上式可以看出，生成矩阵的第1行到第4行的行重分别为1,2,2,4。假设信息比特的个数K＝2，且该2个信息比特对应的极化信道分别为极化信道3和极化信道4，由于极化信道3对应生成矩阵的第3行，极化信道4对应生成矩阵的第4行，因此，基于该生成矩阵构造出的polar码的最小码距为生成矩阵的第3行的行重和第4行的行重中的最小行重，即该polar码的最小码距为2。
相比于传统polar码以及CRC polar码(或称CRC辅助polar码)，PC polar码在逐次消除列表(successive cancellation list，SCL)算法下具有较好的码距，且误块率(block error rate，BLER)较低，因此PC polar码具有较高的应用潜力。对于PC polar码而言，在进行polar编码前，会先对信息比特进行校验预编码。校验预编码过程简要叙述如下：按照预设的校验规则，确定每个校验比特所校验的信息比特。校验规则描述的是校验比特与其所校验的信息比特之间的关联关系。例如，可以将校验规则设定为：校验比特的比特位置序号与信息比特的比特位置序号之差满足一定条件。校验规则一定确定，每个校验比特所校验的信息比特也就确定下来。信息比特和校验比特共同形成一个校验方程。校验方程的成员中最后一位为校验比特，其值由校验方程中其它成员的模二和。比如校验方程为[1 3 5 7]，则第1,3,5比特位置为信息比特位置，若其值分别为u 1,u 3,u 5，则校验比特位置的值u 7＝mod(u 1+u 3+u 5,2)。
一般情况下，经过polar编码之后得到的编码比特会经过速率匹配处理，下面对polar码的速率匹配方式进行简单介绍。
在信道编码文献中，一般用N表示编码后的向量(编码比特组成的向量)的长度，用K表示信息向量(信息比特组成的向量)的长度。在通信系统中，受限于系统设计，待传输的码长可能会被设置为任意长度的码长。因此，对于polar码而言，需要将编码后的向量速率匹配至任意长度的发送向量，而速率匹配之前的向量可以称为母码向量。为了方便描述，下面将母码向量的长度记为N，将速率匹配之后的发送向量长度记为N 0。N一般为2的整数次幂，N 0可以是任意正整数。
polar码的速率匹配的基本方式有多种，例如可以是以下速率匹配方式中的至少一种：重复(repetition)、打孔(puncture)和缩短(shorten)。当N<N 0时，通常采用重复方式进行速率匹配。具体地，可以将长度为N的母码向量中的部分或全部比特进行重复，直到向量长度达到N 0之后再进行发送。当N 0>N时，通常采用打孔方式和缩短方式进行速率匹配。具体地，可以删除(或不发送)母码向量中的某些编码比特，使得向量长度缩减为N 0后再进行发送。
为了增强polar码的编译码性能，相关技术在传统polar码中添加了校验信息，形成改 进型polar码。常见的包含校验信息的polar码包括CRC polar码、PC polar码等。
但是，相关技术并未对校验信息在polar码中的比特位置进行规定，如果校验比特在polar码中的比特位置不合适，可能降低polar码的编译码性能。
下面将结合附图2，对本申请实施例进行描述。
图2是本申请一个实施例提供的传输数据的方法的示意性流程图。图2的方法包括：
210、获取K个信息比特，K为不小于1的正整数。
本申请实施例对K的取值不做具体限定，可以是不小于1的任意正整数。作为一个示例，K的取值可以为12-22比特中的任意正整数。作为另一个示例，K的取值可以小于12，也可以大于22。
还应理解，本申请实施例对K个信息比特的信息内容不做具体限定。例如，可以是任意无线通信系统中的上行控制信道和/或下行控制信道中的控制信息(或信令)。该无线通信系统例如可以是全球移动通讯(global system for mobile communication，GSM)系统、码分多址(code division multiple access，CDMA)系统、宽带码分多址(wideband code division multiple access，WCDMA)系统、通用分组无线业务(general packet radio service，GPRS)、长期演进(long term evolution，LTE)系统、先进的长期演进(advanced long term evolution，LTE-A)系统、通用移动通信系统(universal mobile telecommunication system，UMTS)、NR(new radio)等。
220、确定待编码比特，所述待编码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含所述K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，其中P和T均为非负整数，且T≤P。
需要说明的是，P可以是预设值，但本申请实施例对P的取值不做具体限定，可以视信息比特K的取值、polar码的码长N的取值等因素确定。例如，可以将P设定为6，8或10。
本申请实施例对P个校验比特的类型不做具体限定，例如可以是PC比特，也可以是CRC比特或PC比特的任意组合。可选地，在一些实施例中，P和T均为不小于1的正整数。可选地，在一些实施例中，P个校验比特包含至少一个PC比特。可选地，在一些实施例中，P个校验比特可以包含0个PC比特。
在P个校验比特包含CRC比特的情况下，本申请实施例对CRC比特对应的CRC多项式不做具体限定。
可选地，作为一种实现方式，P个校验比特可以包含3个CRC比特，该3个CRC比特对应的CRC多项式可以是1+x+x 3；可选地，作为另一种实现方式，P个校验比特可以包含4个CRC比特，该4个CRC比特对应的CRC多项式可以是1+x+x 2+x 3+x 4；可选地，作为又一种实现方式，P个校验比特可以包含5个CRC比特，该5个CRC比特对应的CRC多项式可以是1+x 2+x 3+x 4+x 5。
应理解，待编码比特还可以包含冻结比特。
230、对待编码比特进行polar编码，得到编码比特，(K+P)个比特一一对应编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，(K+P)行的最小行重为W 1，T个第一类校验比特对应的最大行 重小于或等于W 2，其中W 2表示(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数。
换句话说，W 1和W 2分别为(K+P)行对应的行重的最小值和次小值。可替换地，在一些实施例中，W 2也可以是(K+P)行的行重中的倒数第3小的值或倒数第4小的值。
应理解，以polar码的码长等于N为例，本申请提及的生成矩阵可以是原始的生成矩阵G，也可以是考虑了速率匹配因素之后的生成矩阵G’。原始的生成G通常为N×N的矩阵，考虑了速率匹配因素之后的生成矩阵G’是从矩阵G中删除目标比特位置对应的行向量之后的剩余行向量所形成的矩阵。该目标比特位置为打孔操作对应的比特位置和/或缩短操作对应的比特位置。
240、向接收端传输编码比特。
本申请实施例中，T个第一类校验比特位于对应行重较低的比特位置，一般而言，比特位置对应的行重较低，该比特位置对应的极化信道的可靠度也相对偏低。因此，本申请实施例提供的校验比特的比特位置的设置方式可以有效避免校验比特占用可靠度较高的极化信道，从而可以避免校验比特位置设置不合适导致的polar码的编译码性能下降。此外，本申请实施将第一类校验比特对应的极化信道的可靠度设置为大于K个信息比特对应的极化信道的可靠度的最小值，能够一定程度上避免第一类校验比特传输错误的概率，提升第一类校验比特的校验能力，从而可以整体上提升polar码的编译码性能。
进一步地，polar码一般采用SCL算法进行polar译码，SCL算法的译码的性能一般是polar码的码距和可靠度的折中，当polar码的码长适中(如N＝64)时，SCL算法的这一特性更为突出。本申请实施例将P个校验比特的比特位置设置在对应行重较小的比特位置，可以一定程度上提升polar码的码距，进而提升polar码的译码性能。
可选地，作为一个实施例，(K+P)行包含t1个第一目标行，t1个第一目标行的行重均为W 1，t1个第一目标行一一对应t1个极化信道，T个第一类校验比特包含f1个第一类校验比特，f1个第一类校验比特对应t1个极化信道中的可靠度最高的f1个极化信道，其中t1和f1均为不小于1的正整数，且t1＜(K+P)，f1≤P。
应理解，t1个第一目标行可以是(K+P)行中的所有行重为W 1的行。
本申请实施例将f1个第一类校验比特对应的极化信道选取为t1个极化信道(对应行重为W 1的各极化信道)中的可靠度最高的极化信道，从而在保证f1个第一类校验比特不会占用可靠度较高的极化信道的前提下，最大程度提升将该f1个第一类校验比特的传输可靠性，从而提升该f1个第一类校验比特的校验能力。
可选地，作为一个实施例，(K+P)行包含t2个第二目标行，t2个第二目标行的行重均为W 2，t2个第二目标行一一对应t2个极化信道，T个第一类校验比特包含f2个第一类校验比特，f2个第一类校验比特对应t2个极化信道中的可靠度最高的f2个极化信道，其中t2和f2均为不小于1的正整数，且t2＜(K+P)，f2≤P。
应理解，t2个第一目标行可以是(K+P)行中的所有行重为W 2的行。
本申请实施例将f2个第一类校验比特对应的极化信道选取为t2个极化信道(对应行重为W 2的各极化信道)中的可靠度最高的极化信道，从而在保证f2个第一类校验比特不会占用可靠度较高的极化信道的前提下，最大程度提升将该f2个第一类校验比特的传输可靠性，从而提升该f2个第一类校验比特的校验能力。
可选地，作为一个实施例，P个校验比特包含f3个第二类校验比特，f3个第二类校验比特均为PC比特，f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度小于K个极化信道的可靠度，其中f3为不小于1的正整数，且f3≤P。
应理解，f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度小于K个极化信道的可靠度可以指f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度的最大值小于K个极化信道的可靠度的最小值。
本申请实施例为信息比特添加了第二类校验比特，第二类校验比特对应的极化信道的可靠度均小于信息比特对应的极化信道的可靠度，意味着第二类校验比特不会影响信息比特整体的传输可靠性。换句话说，本申请实施例在不影响信息比特整体传输可靠性的前提下，为信息比特提供了额外的校验比特，从而可能进一步增强polar码的编译码性能。
应理解，可以采用离线的方式对包含第一/二类校验比特的polar码进行构造，实际使用时，直接使用包含第一/二类校验比特的polar码进行polar编译码即可。
下面结合图3，对包含第一/二类校验比特的polar码的构造方式进行举例说明。在下面的例子中，第一类校验比特包含对应行重为W 1的f1个第一类校验比特和对应行重为W 2的f2个第二类校验比特，但本申请实施例不限于此，第一类校验比特也可以仅包含对应行重为W 1的第一类校验比特或仅包含对应行重为W 2的第二类校验比特。
310、确定f1、f2和f3的取值。
首先，需要对第一类校验比特和第二类校验比特的总数进行限制，如限制为8。第一类校验比特和第二类校验比特的总数可以视polar码的码长N，以及信息比特的数量K等因素确定。例如，在polar码的码长为64的情况下，可以将第一/二类校验比特的数量限定为8。步骤310描述的f1、f2和f3的取值可以是在第一类校验比特和第二类校验比特的总数确定的情况下，f1、f2、f3的任意一种可能的取值。例如，第一类校验比特和第二类校验比特的总数为8，可以将f1的取值设定为2，f2的取值设定为6，f3的取值设定为2，然后执行图3所示的流程。
320、确定W 1和W 2。
具体地，可以按照极化信道的可靠度对K个信息比特、f1个第一类校验比特、f2个第二类校验比特的比特位置进行初选。例如，polar码的码长为N，包含N个比特位置，可以从该N个比特位置中选取出对应极化信道可靠度最高的(K+f1+f2)个比特位置。接着，可以确定生成矩阵中的与该(K+f1+f2)个比特位置对应的行的行重。该生成矩阵可以是原始的生成矩阵G，也可以是考虑了速率匹配因素的生成矩阵G’。原始的生成G为N×N的矩阵，G’为从矩阵G中删除目标比特位置对应的行向量之后的剩余行向量所形成的矩阵。该目标比特位置为打孔操作对应的比特位置和/或缩短操作对应的比特位置。然后，可以根据该(K+f1+f2)个比特位置对应的行的行重，选取出行重的最小值W min，作为W 1，并选取出行重的次小值，作为W 2。以生成矩阵为原始生成矩阵为例，W 2通常为2W 1。
330、将对应行重小于W 1的比特位置设置为冻结比特位置。
340、从所有对应行重为W 2的比特位置中选取f2个比特位置，作为上述f2个第一类校验比特的比特位置。
可选地，可以按可靠度从高到低，从所有对应行重为W 2的比特位置中选取f2个比特位置，作为上述f2个第一类校验比特的比特位置。
350、从所有对应行重为W 1的比特位置中选取f1个比特位置，作为上述f1个第一类校验比特的比特位置。
可选地，可以按可靠度从高到低，从所有对应行重为W 1的比特位置中选取f1个比特位置，作为上述f1个第一类校验比特的比特位置。
360、在剩余比特位置中，选取K个信息比特位置。
应理解，步骤360中的剩余位置是除去第一类校验比特、打孔操作和/或缩短操作对应的比特位置(如果有的话)、步骤330确定出的冻结比特位置之外剩余的比特位置。
例如，可以将剩余比特位置中的对应极化信道的可靠度最高的K个比特位置选取为K个信息比特的比特位置。
370、在剩余比特位置中，选取f3个第二类校验比特位置。
应理解，步骤370描述的剩余比特位置是除去信息比特位置、第一类校验比特位置、打孔操作和/或缩短操作对应的比特位置(如果有的话)、步骤330确定出的冻结比特位置之外剩余的比特位置。
f3个第二类校验比特的选取方式可以有多种。作为一个示例，可以从剩余比特位置中选取对应极化信道可靠度最高的f3个比特位置作为f3个第二类校验比特的比特位置。作为另一个示例，可以从剩余比特位置中选取比特位置序号最高的f3个比特位置作为f3个第二类校验比特的比特位置。对于奇偶校验而言，校验比特位置的序号越高，可能校验到的信息比特的数量就越多。
380、构造校验方程。
信息比特、第一类校验比特和第二类校验比特的比特位置确定之后，需要构建校验方程，以确定每个校验比特校验哪些信息比特。校验方程的构造方式可以有多种，例如，可以采用循环移位的方式构造校验方程，也可以按照校验比特校验的信息比特数量最大化的原则构造校验方程，或者可以按照polar码的传输性能最优化的原则构造校验方程，本申请实施例对此不做具体限定，下文会结合具体的实施例进行详细描述，此处不再详述。在构造出校验方程之后，如果按照校验方程的校验规则，某个校验比特无法校验到位于该校验比特之前的任何一个信息比特，则该校验比特对应的比特位置可以转换成冻结比特对应的比特位置。例如，可以将校验规则设置为：校验比特位置的序号与该校验比特校验的信息比特位置的序号之差为固定质数的整数倍(如5的整数倍)。按照这一原则，如果某个校验比特位置的序号与所有信息比特特位置的序号之差均不等于该固定质数的整数倍，可以将该校验比特位置退化为冻结比特位置。
需要说明的是，如果polar码的速率匹配方式为打孔和/或缩短，在比特位置的选取过程中，需要跳过打孔和/或缩短操作对应的比特位置。
还需要说明的是，图3描述的过程是在确定f1、f2、f3取值之后的一次处理过程。在构造polar码时，可以遍历f1、f2、f3的各种取值组合，并按照每种取值组合执行一次图3所示的流程，以得到该取值组合下的polar码的具体形式。然后将各取值组合对应的polar码的性能进行测试，得到性能较优的polar码。polar码的性能可以通过特定BLER值下所需的信噪比的取值表示，信噪比取值越小，polar码的性能越高。或者，在一些实施中，可以将f1、f2、f3中的某个参数的取值也预先进行限制，以减少需要遍历的取值组合的数量，提高polar码的构造效率。例如，可以f1、f2、f3之和限制为8，并将f3的取值限制 为2。又如，可以仅限定f1、f2、f3之和为8。
可选地，作为一个实施例，T个第一类校验比特对应T个极化信道，f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除K个极化信道和T个极化信道之外的可靠度最高的f3个极化信道，M个极化信道为polar编码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
应理解，如果polar码的速率匹配方式不是打孔操作或缩短操作，则M可以等于N。
以polar码的速率匹配方式为打孔操作或缩短操作为例为例，则polar码的N个比特位置存在一些会被后续打孔操作和/或缩短操作所去除的比特位置。本申请实施例先从N个比特位置中排除这些比特位置，得到剩余的M个比特位置，该M个比特位置对应M个极化信道。该M个极化信道中的(K+T)个极化信道会被K个信息比特和T个第一类校验比特占用，f3个第二类校验比特占用的是M个极化信道中的除该(K+T)个极化信道之外的可靠度最高的f3个极化信道，从而可以最大程度提高第二类校验比特的传输可靠度。
可选地，作为一个实施例，T个第一类校验比特对应T个极化信道，f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除K个极化信道和T个极化信道之外的极化信道序号最高的f3个极化信道，M个极化信道为polar编码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
应理解，如果polar码的速率匹配方式不是打孔操作或缩短操作，则M可以等于N。
以polar码的速率匹配方式为打孔操作或缩短操作为例为例，则polar码的N个比特位置存在一些会被后续打孔操作和/或缩短操作所去除的比特位置。本申请实施例先从N个比特位置中排除这些比特位置，得到剩余的M个比特位置，该M个比特位置对应M个极化信道。该M个极化信道中的(K+T)个极化信道会被K个信息比特和T个第一类校验比特占用，f3个第二类校验比特占用的是M个极化信道中的除该(K+T)个极化信道之外的极化信道序号最高的f3个极化信道。
应理解，polar码的比特位置的序号为i，表示该比特位置为polar码的N个比特位置中的第i个比特位置，该比特位置对应的极化信道的序号也为i，i为正整数，且1≤i≤N或0≤i≤N-1。
PC比特对应的极化信道序号越高，该PC比特在polar码的比特位置越靠后，该PC比特能够校验到的信息比特的数量就可能越多，增大了信息比特被校验的概率。
可选地，作为一个实施例，P个校验比特中的每个PC比特在待编码比特中的位置序号与每个PC比特所校验的每个信息比特在待编码比特中的位置序号之差为预设质数的整数倍。
本申请实施例提供的校验方程中的信息比特与校验比特需要满足如下关系：信息比特的位置序号与校验比特的位置序号之差是预设质数的整数倍。本申请实施例对预设质数的取值不做具体限定，例如可以是5，也可以是3。这种校验方程形式简单，易于实现。
可选地，作为一个实施例，P个校验比特中的每个PC比特和每个PC比特所校验的每个信息比特满足如下条件：如果g i＝g j，则g k的汉明重量大于g i和g j各自的汉明重量；如果g i≠g j，则g k的汉明重量大于g i和g j的汉明重量的最小值；其中g i表示生成矩阵中的与每个PC比特对应的行向量，g j表示生成矩阵中的与每个信息比特对应的行向量，g k＝mod(g i+g j,2)，mod(.)表示取模操作。
以校验方程为[…,u i,…,u j]进行举例说明，校验方程中的任一信息比特u i可以对应生成矩阵中的行向量为g i，PC比特u j对应生成矩阵中的行向量为g j，g i和g j的模二和向量g k的汉明重量满足如下条件：如果g i＝g j，则g k的汉明重量大于g i和g j各自的汉明重量；如果g i≠g j，则g k的汉明重量大于g i和g j的汉明重量的最小值；其中g i表示生成矩阵中的与每个PC比特对应的行向量，g j表示生成矩阵中的与每个信息比特对应的行向量，g k＝mod(g i+g j,2)，mod(.)表示取模操作。g k的汉明重量满足上述条件可以一定程度上增大polar码的码距，提升polar码的编译码性能。
上文中结合图2，从发送端的角度详细描述了本申请实施例提供的传输数据的方法，下面将结合图4，从接收端的角度描述据本申请实施例提供的传输数据的方法。
应理解，发送端描述的数据处理过程与接收端描述的数据处理过程基本上互为逆过程。例如，图4描述的接收端经过polar译码得到的译码比特对应于图2中的待编码比特。因此，为了简洁，适当省略重复的描述。
图4是本申请另一实施例提供的输数据的方法的示意性流程图。图4的方法包括：
410、接收发送端传输的编码比特。
420、对所述编码比特进行polar译码，得到译码比特，所述译码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W1，所述T个校验比特对应的最大行重小于或等于W2，其中W2表示所述(K+P)行的行重中的除W1之外的最小值，W1和W2均为不小于1的正整数，P和T均为非负整数，且T≤P，K、W1和W2均为不小于1的正整数。
430、利用P个校验比特对K个信息比特中的至少部分信息比特进行校验。
本申请实施例中，T个第一类校验比特位于对应行重较低的比特位置，一般而言，比特位置对应的行重较低，该比特位置对应的极化信道的可靠度也相对偏低。因此，本申请实施例提供的校验比特的比特位置的设置方式可以有效避免校验比特占用可靠度较高的极化信道，从而可以避免校验比特位置设置不合适导致的polar码的编译码性能下降。此外，本申请实施将第一类校验比特对应的极化信道的可靠度设置为大于K个信息比特对应的极化信道的可靠度的最小值，能够一定程度上避免第一类校验比特传输错误的概率，提升第一类校验比特的校验能力，从而可以整体上提升polar码的编译码性能。
可选地，作为一个实施例，(K+P)行包含t1个第一目标行，t1个第一目标行的行重均为W 1，t1个第一目标行一一对应t1个极化信道，T个第一类校验比特包含f1个第一类校验比特，f1个第一类校验比特对应t1个极化信道中的可靠度最高的f1个极化信道，其中t1和f1均为不小于1的正整数，且t1＜(K+P)，f1≤P。
可选地，作为一个实施例，(K+P)行包含t2个第二目标行，t2个第二目标行的行重均为W 2，t2个第二目标行一一对应t2个极化信道，T个第一类校验比特包含f2个第一类校验比特，f2个第一类校验比特对应t2个极化信道中的可靠度最高的f2个极化信道，其中t2和f2均为不小于1的正整数，且t2＜(K+P)，f2≤P。
可选地，作为一个实施例，K个信息比特对应K个极化信道，P个校验比特包含f3 个第二类校验比特，f3个第二类校验比特均为PC比特，f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度小于K个极化信道的可靠度，其中f3为不小于1的正整数，且f3≤P。
可选地，作为一个实施例，T个第一类校验比特对应T个极化信道，f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除K个极化信道和T个极化信道之外的可靠度最高的f3个极化信道，M个极化信道为polar译码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
可选地，作为一个实施例，T个第一类校验比特对应T个极化信道，f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除K个极化信道和T个极化信道之外的极化信道序号最高的f3个极化信道，M个极化信道为polar译码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
可选地，作为一个实施例，P个校验比特中的每个PC比特在译码比特中的位置序号与每个PC比特所校验的每个信息比特在译码比特中的位置序号之差为预设质数的整数倍。
可选地，作为一个实施例，P个校验比特中的每个PC比特和每个PC比特所校验的每个信息比特满足如下条件：
如果g i＝g j，则g k的汉明重量大于g i和g j各自的汉明重量；
如果g i≠g j，则g k的汉明重量大于g i和g j的汉明重量的最小值；
其中g i表示生成矩阵中的与每个PC比特对应的行向量，g j表示生成矩阵中的与每个信息比特对应的行向量，g k＝mod(g i+g j,2)，mod(.)表示取模操作。
可选地，作为一个实施例，P个校验比特均为PC比特；或P个校验比特包含PC比特和CRC比特。
下面结合具体的实施例对图2-图4描述的数据传输过程中所使用的polar码的具体形式进行举例说明。应注意，下面的例子仅仅是为了帮助本领域技术人员理解本申请实施例，而非要将本申请实施例限于所例示的具体数值或具体场景。本领域技术人员根据所给出的例子，显然可以进行各种等价的修改或变化，这样的修改或变化也落入本申请实施例的范围内。
实施例一：
本实施例中的校验比特均为PC比特。进一步地，本实施例采用循环移位寄存器的方式生产校验方程，且循环移位寄存器的位数选取为5(表示校验比特的位置序号和信息比特的位置序号之差为5的整数倍)。此外，本实施例中的母码向量的长度N＝64，第一类校验比特和第二类校验比特的总数为8，第二类校验比特的个数限定为2。此外，本实施例对第二类校验比特的比特位置的选取方式限定如下：从剩余比特位置(除去信息比特位置、第一类校验比特位置、打孔或缩短操作对应的比特位置之外的比特位置)中选取对应极化信道可靠度最高的2个比特位置作为第二类校验比特的比特位置。在上述条件限制下，下面对实施例一构造出的polar码的可能的形式进行举例说明。
当M＝48，K＝12时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[43],[44],[48],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[58],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[53,58],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]，即位置序号为58的校验比特用于校验位置序号为53的信息比特；位置序号为60的校验比特用于校验位置序号为30,45,55的信息比特；位置序号为61的校验比特用于校验位置序号为31,46,51的信息比特；位置序号为62的校验比特用于校验位置序号为47,57的信息比特。后文出现的校验方程中的校验比特和信息比特的定义方式和校验关系与以上描述类似，后续不再详述。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝48，K＝13时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[56],[58],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝48，K＝14时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[56],[58],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝48，K＝15时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[56],[58],[60],[62]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝48，K＝16时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝48，K＝17时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝48，K＝18时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝48，K＝19时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[42],[44],[49],[50],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[27,42],[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝48，K＝20时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝48，K＝21时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[48]}。
polar码的校验比特比特位置的序号：
{[42],[44],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[27,42],[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝48，K＝22时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[42],[49],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[27,42],[29,39,44,49],[27,47,52],[31,46,51,56],[30,45,50,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝64，K＝12时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[43],[44],[48],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[55],[59],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[30,45,55],[54,59],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝64，K＝13时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52]}。
polar码的校验比特比特位置的序号：
{[39],[55],[56],[59],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[30,45,55],[31,46,51,56],[29,54,59],[30,45,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝64，K＝14时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[55],[56],[59],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[30,45,55],[31,46,51,56],[29,54,59],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝64，K＝15时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52]}。
polar码的校验比特比特位置的序号：
{[39],[56],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[31,46,51,56],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝64，K＝16时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[5 0]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[52],[54],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[27,47,52],[29,39,54],[31,46,51,56],[27,47,57],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝64，K＝17时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[50],[52],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[27,47,57],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝64，K＝18时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝19时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[23,43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、 校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
当M＝64，K＝20时，：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[50],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝21时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝22时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[28],[42],[44],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[23,28],[27,42],[29,39,44],[29,39,49],[15,30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
应理解，实施例一将校验比特的总数限定为8，但实际给出的polar码的校验比特的总数并不一定为8，这是由于某些校验比特的位置序号与各信息比特的位置序号均不满足预设的校验方程，即校验比特的位置序号与信息比特的位置序号均不是5的整数倍，因此该校验比特无法校验任何信息比特。在这种情况下，本实施例将该校验比特位置退化成冻 结比特位置，后续实施例同理。
实施例二：
实施例二与实施例一大致类似，不同之处在于实施例二仅限定第一类校验比特和第二类校验比特的总数限定为8，不限定第二类校验比特的数量为2。实施例二构造出的polar码的结构如下：
M＝48，K＝12时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[43],[44],[48],[49],[50],[52]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[56],[58],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[31,46,51,56],[53,58],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝13时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[56],[58],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝14时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[52],[56],[58],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝15时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[52],[56],[58],[60],[62]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝16时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[30,45,50],[47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝17时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[44],[50],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[29,44],[30,45,50],[47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝18时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝19时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[42],[44],[49],[50],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[27,42],[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝20时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[42],[44],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[27,42],[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝21时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[28],[41],[44],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[23,28],[31,41],[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝22时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[40],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[28],[38],[41],[42],[49],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[23,28],[23,38],[31,41],[27,42],[29,39,44,49],[27,47,52],[31,46,51,56],[30,45,50,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝12时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[43],[44],[48],[49],[50],[52]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[55],[56],[59],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[30,45,55],[31,46,51,56],[54,59],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝13时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[55],[56],[59],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[30,45,55],[31,46,51,56],[29,54,59],[30,45,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝14时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[52],[55],[56],[59],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[47,52],[30,45,55],[31,46,51,56],[29,54,59],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝15时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[52],[56],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝16时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[50],[52],[54],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[30,45,50],[27,47,52],[29,39,54],[31,46,51,56],[27,47,57],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝17时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[50],[52],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[27,47,57],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝18时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝19时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[23,43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝20时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[42],[44],[49],[50],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[27,42],[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝21时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[28],[42],[44],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[23,28],[27,42],[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝22时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[28],[41],[42],[44],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[23,28],[31,41],[27,42],[29,39,44],[29,39,49],[15,30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
实施例三：
实施例三与实施例一大致类似，不同之处在于实施例一从剩余比特位置(除去信息比特位置、第一类校验比特位置、打孔或缩短操作对应的比特位置之外的比特位置)中选取对应极化信道可靠度最高的2个比特位置作为第二类校验比特的比特位置，实施例三从该剩余比特位置中选取位置序号(该位置序号是比特位置的位置序号，也是极化信道的位置序号)最高的2个比特位置作为第二类比特的比特位置。实施例三构造出的polar码的结构如下：
M＝48，K＝12时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[43],[44],[48],[49],[50]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[52],[56],[58],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[47,52],[31,46,51,56],[53,58],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝13时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[52],[56],[58],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝14时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[52],[54],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[47,52],[29,54],[31,46,51,56],[47,57],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝15时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[52],[56],[58],[60],[62]}。
polar码的校验方程：
[47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝16时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[30,45,50],[47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝17时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[30,45,50],[47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝18时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝19时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[49],[50],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝20时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝21时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[48],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[23,43,48],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝22时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[48],[49],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[23,43,48],[29,39,44,49],[27,47,52],[31,46,51,56],[30,45,50,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝12时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[43],[44],[48],[49],[50]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[52],[55],[56],[59],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[47,52],[30,45,55],[31,46,51,56],[54,59],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝13时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[52],[55],[56],[59],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[47,52],[30,45,55],[31,46,51,56],[54,59],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝14时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[52],[55],[56],[59],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[47,52],[30,45,55],[31,46,51,56],[29,54,59],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝15时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[52],[56],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、 校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝16时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[50],[52],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[30,45,50],[47,52],[31,46,51,56],[47,57],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝17时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[49],[50],[52],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[27,47,57],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝18时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝19时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[2 1],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[48],[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[23,43,48],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[23,43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝20时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[49],[50],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝21时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[48],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[23,43,48],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝22时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[42],[44],[48],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[27,42],[29,39,44],[23,43,48],[29,39,49],[15,30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、 校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
实施例四：
实施例四与实施例三大致类似，不同之处在于实施例三将第二类校验比特的数量限定为2，实施例四不限定第二类校验比特的数量，仅限定第一类校验比特和第二类校验比特的总和为8。实施例四构造出的polar码的结构如下：
M＝48，K＝12时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[43],[44],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[50],[52],[56],[58],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[30,45,50],[47,52],[31,46,51,56],[53,58],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝13时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[50],[52],[56],[58],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[30,45,50],[47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝14时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[49],[50],[52],[54],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,49],[30,45,50],[47,52],[29,54],[31,46,51,56],[47,57],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝15时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[48],[49],[50],[52],[56],[58],[60],[62]}。
polar码的校验方程：
[43,48],[29,49],[30,45,50],[47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝16时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[48],[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[43,48],[29,49],[30,45,50],[47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝17时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[48],[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[43,48],[29,39,49],[30,45,50],[47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝18时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝19时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[49],[50],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝20时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[48],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[43,48],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝21时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[31,41],[27,42],[29,39,44],[23,43,48],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝22时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[40],[41],[42],[48],[49],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[30,40],[31,41],[27,42],[23,43,48],[29,39,44,49],[27,47,52],[31,46,51,56],[30,45,50,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝12时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[43],[44],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[50],[52],[55],[56],[59],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[30,45,50],[47,52],[30,45,55],[31,46,51,56],[54,59],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝13时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[50],[52],[55],[56],[59],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[30,45,50],[47,52],[30,45,55],[31,46,51,56],[54,59],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝14时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[49],[50],[52],[55],[56],[59],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[29,49],[30,45,50],[47,52],[30,45,55],[31,46,51,56],[29,54,59],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝15时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[39],[40],[41],[42],[44]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[48],[49],[50],[52],[56],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[43,48],[29,49],[30,45,50],[47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位 置。
M＝64，K＝16时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[49],[50],[52],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,49],[30,45,50],[47,52],[31,46,51,56],[47,57],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝17时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[49],[50],[52],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[27,47,57],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝18时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[48],[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[43,48],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝19时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[48],[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[23,43,48],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[23,43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝20时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[42],[44],[48],[49],[50],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[27,42],[29,39,44],[23,43,48],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝21时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[31,41],[27,42],[29,39,44],[23,43,48],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝21时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[31,41],[27,42],[29,39,44],[23,43,48],[29,39,49],[15,30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、 校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
实施例五：
实施例一至四对以下条件中的至少一种进行了限定：第一类校验比特和第二类校验比特的总数量，第二类校验比特的数量，第二类校验比特的选取方式，校验方程的具体形式，实施例五对上述条件不进行限定，对信息比特位置和校验比特位置的各种组合方式进行遍历，并通过实验验证性能较优的组合方式。实施例五构造出的polar码的形式如下：
M＝48，K＝12时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[36],[37],[38],[40],[42],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[35],[39],[41],[44],[46],[49],[50],[52],[53],[54],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[30,35],[29,39],[31,41],[29,44],[30,46],[29,49],[30,45,50],[47,52],[43,53],[29,54],[31,51,56],[47,57],[43,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝13时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[30],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52],[56],[60]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[43],[45],[46],[57],[58]}。
polar码的校验方程：
[23,39],[29,43],[29,45],[27,46],[54,57],[23,58]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝14时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[29],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38] ,[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[43],[45],[46],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[23,39],[30,43],[23,45],[23,46],[53,58],[27,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝15时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[56],[58],[60],[62]}。
polar码的校验方程：
[23,39],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝16时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[37],[38],[42]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[34],[35],[36],[39],[40],[41],[44],[48],[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,34],[30,35],[31,36],[29,39],[30,40],[31,41],[29,44],[43,48],[29,49],[30,45,50],[47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝17时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[33],[38]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[32],[34],[35],[36],[37],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[27,32],[29,34],[30,35],[31,36],[27,37],[30,40],[31,41],[27,42],[29,39,44],[43,48],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[27,47,57],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝18时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝19时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[42],[44],[49],[50],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[27,42],[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝20时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[33],[38]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[32],[34],[35],[36],[37],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[27,32],[29,34],[30,35],[31,36],[27,37],[30,40],[31,41],[27,42],[29,39,44],[43,48],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝21时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[23,28],[27,32],[23,33],[29,34],[30,35],[31,36],[27,37],[23,38],[30,40],[31,41],[27,42],[29,39,44],[23,43,48],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝48，K＝22时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的打孔或缩短操作对应的比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15]}。
polar码的冻结比特位置的序号：
{[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[44],[48],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[23,28],[27,32],[23,33],[29,34],[30,35],[31,36],[27,37],[23,38],[30,40],[31,41],[29,39,44],[23,43,48],[29,39,49],[30,45,50],[27,42,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝12时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[36],[37],[38],[40],[42],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[35],[39],[41],[44],[46],[49],[50],[52],[53],[54],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[30,35],[29,39],[31,41],[29,44],[31,46],[29,49],[30,45,50],[47,52],[43,53],[29,54],[31,51,56],[47,57],[43,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝13时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[36],[37],[38],[40],[42],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[35],[39],[41],[44],[49],[50],[52],[53],[54],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[30,35],[29,39],[31,41],[29,44],[29,49],[30,45,50],[47,52],[43,53],[29,54],[31,46,51,56],[47,57],[43,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝14时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[55],[56],[59],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[30,45,55],[31,46,51,56],[29,54,59],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝15时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[27],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[44],[48],[49],[50],[52]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[39],[56],[60],[61],[62]}。
polar码的校验方程：
[29,39],[31,46,51,56],[30,45,55,60],[31,46,51,61],[47,57,62]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝16时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[36],[38],[40],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[35],[37],[41],[42],[44],[49],[50],[52],[54],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[30,35],[27,37],[31,41],[27,42],[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[29,39,54],[31,46,51,56],[27,47,57],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝17时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[36],[38],[40],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[35],[37],[41],[42],[44],[49],[50],[52],[56],[57],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[30,35],[27,37],[31,41],[27,42],[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[27,47,57],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝18时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[23],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝19时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[49],[50],[52],[56],[58],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[23,43,53,58],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝20时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48],[49]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[50],[52],[56],[60]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56],[30,45,55,60]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝21时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[15],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[25],[26],[28],[32],[33],[34],[35],[36],[37],[38],[40],[41],[42],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[44],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[29,39,44],[29,39,49],[30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
M＝64，K＝22时，可以采用如下形式的polar码：
polar码的冻结比特位置的序号：
{[0],[1],[2],[3],[4],[5],[6],[7],[8],[9],[10],[11],[12],[13],[14],[16],[17],[18],[19],[20],[21],[22],[24],[26],[32],[33],[34],[36],[40],[48]}。
polar码的校验比特位置的序号：
{[25],[28],[35],[37],[38],[41],[42],[44],[49],[50],[52],[56]}。
polar码的校验方程：
[15,25],[23,28],[15,30,35],[27,37],[23,38],[31,41],[27,42],[29,39,44],[29,39,49],[15,30,45,50],[27,47,52],[31,46,51,56]。
polar码的64个比特位置中的除上述列举的比特位置(即打孔操作对应的比特位置、校验比特对应的比特位置、冻结比特对应的比特位置)之外的剩余比特位置为信息比特位置。
应理解，在实施例一至实施例五中，比特位置的编号是从[0]开始的，但本申请实施例不限于此，也可以从[1]开始。
还应理解，实施例一至实施例五是以校验比特是PC比特为例进行说明的，但本申请实施不限于此，还可以是CRC比特和PC比特的结合。例如，可以限制校验比特的总数为6，该6个校验比特可以包含3个CRC比特和3个PC比特。在确定校验比特的比特位置时，可以先确定3个CRC比特的比特位置，再将3个PC比特分布在其他比特位置上；也可以先确定3个PC比特的比特位置，再将CRC比特分布在其他比特位置上。
下面对本申请的装置实施例进行描述，由于装置实施例可以执行上述方法，因此未详细描述的部分可以参见前面各方法实施例。
图5是本申请一个实施例提供的传输数据的装置的示意性结构图。图5的传输数据的装置500可以执行上文中的由发射端执行的各个步骤。该装置500例如可以是发射机，该发射机可以是终端设备，也可以是基站(或称接入网设备)。装置500包括：
获取模块510，用于获取K个信息比特，K为不小于1的正整数；
确定模块520，用于确定待编码比特，所述待编码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含所述K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，其中P和T均为非负整数，且T≤P；
编码模块530，用于对所述待编码比特进行polar编码，得到编码比特，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W 1，所述T个第一类校验比特对应的最大行重小于或等于W 2，其中W 2表示所述(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数；
传输模块540，用于向接收端传输所述编码比特。
可选地，在一些实施例中，所述(K+P)行包含t1个第一目标行，所述t1个第一目标行的行重均为W 1，所述t1个第一目标行一一对应t1个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f1个第一类校验比特，所述f1个第一类校验比特对应所述t1个极化信道中的可靠度最高的f1个极化信道，其中t1和f1均为不小于1的正整数，且t1＜(K+P)，f1≤P。
可选地，在一些实施例中，所述(K+P)行包含t2个第二目标行，所述t2个第二目标行的行重均为W 2，所述t2个第二目标行一一对应t2个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f2个第一类校验比特，所述f2个第一类校验比特对应所述t2个极化信道中的可靠度最高的f2个极化信道，其中t2和f2均为不小于1的正整数，且t2＜(K+P)，f2≤P。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特包含f3个第二类校验比特，所述f3个第二类校验比特均为PC比特，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度小于所 述K个极化信道的可靠度，其中f3为不小于1的正整数，且f3≤P。
可选地，在一些实施例中，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的可靠度最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar编码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
可选地，在一些实施例中，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的极化信道序号最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar编码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特中的每个PC比特在所述待编码比特中的位置序号与所述每个PC比特所校验的每个信息比特在所述待编码比特中的位置序号之差为预设质数的整数倍。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特包含中的每个PC比特和所述每个PC比特所校验的每个信息比特满足如下条件：如果g i＝g j，则g k的汉明重量大于g i和g j各自的汉明重量；如果g i≠g j，则g k的汉明重量大于g i和g j的汉明重量的最小值；其中g i表示所述生成矩阵中的与所述每个PC比特对应的行向量，g j表示所述生成矩阵中的与所述每个信息比特对应的行向量，g k＝mod(g i+g j,2)，mod(.)表示取模操作。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特均为PC比特；或所述P个校验比特包含PC比特和循环冗余校验CRC比特。
图6是本申请另一实施例提供的传输数据的装置的示意性结构图。图5的传输数据的装置600可以执行上文中的由接收端执行的各个步骤。该装置600例如可以是接收机，该接收机可以是终端设备，也可以是基站(或称接入网设备)。装置600包括：
接收模块610，用于接收发送端传输的编码比特；
译码模块620，用于对所述编码比特进行polar译码，得到译码比特，所述译码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W 1，所述T个第一类校验比特对应的最大行重小于或等于W 2，其中W 2表示所述(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数，P和T均为非负整数，且T≤P，K、W 1和W 2均为不小于1的正整数；
校验模块630，用于利用所述P个校验比特对所述K个信息比特中的至少部分信息比特进行校验。
可选地，在一些实施例中，所述(K+P)行包含t1个第一目标行，所述t1个第一目标行的行重均为W 1，所述t1个第一目标行一一对应t1个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f1个第一类校验比特，所述f1个第一类校验比特对应所述t1个极化信道中的可靠度 最高的f1个极化信道，其中t1和f1均为不小于1的正整数，且t1＜(K+P)，f1≤P。
可选地，在一些实施例中，所述(K+P)行包含t2个第二目标行，所述t2个第二目标行的行重均为W 2，所述t2个第二目标行一一对应t2个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f2个第一类校验比特，所述f2个第一类校验比特对应所述t2个极化信道中的可靠度最高的f2个极化信道，其中t2和f2均为不小于1的正整数，且t2＜(K+P)，f2≤P。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特包含f3个第二类校验比特，所述f3个第二类校验比特均为PC比特，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度小于所述K个极化信道的可靠度，其中f3为不小于1的正整数，且f3≤P。
可选地，在一些实施例中，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的可靠度最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar译码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
可选地，在一些实施例中，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的极化信道序号最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar译码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特中的每个PC比特在所述译码比特中的位置序号与所述每个PC比特所校验的每个信息比特在所述译码比特中的位置序号之差为预设质数的整数倍。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特中的每个PC比特和所述每个PC比特所校验的每个信息比特满足如下条件：如果g i＝g j，则g k的汉明重量大于g i和g j各自的汉明重量；如果g i≠g j，则g k的汉明重量大于g i和g j的汉明重量的最小值；其中g i表示所述生成矩阵中的与所述每个PC比特对应的行向量，g j表示所述生成矩阵中的与所述每个信息比特对应的行向量，g k＝mod(g i+g j,2)，mod(.)表示取模操作。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特均为PC比特；或所述P个校验比特包含PC比特和CRC比特。
图7是本申请一个实施例提供的芯片的示意性结构图。图7的芯片700执行的操作与图2对应，为了简洁，适当省略重复的描述。芯片700包括：
存储器710，用于存储程序；
处理器720(该处理器例如可以是基带处理器)，用于执行所述存储器中存储的程序，以执行以下操作：
获取K个信息比特，K为不小于1的正整数；
确定待编码比特，所述待编码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含所述K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，其中P和T均为非负整数，且T≤P；
对所述待编码比特进行polar编码，得到编码比特，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W 1，所述T个第一类校验比特对应的最大行重小于或等于W 2，其中W 2表示所述(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数。
可选地，在一些实施例中，所述(K+P)行包含t1个第一目标行，所述t1个第一目标行的行重均为W 1，所述t1个第一目标行一一对应t1个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f1个第一类校验比特，所述f1个第一类校验比特对应所述t1个极化信道中的可靠度最高的f1个极化信道，其中t1和f1均为不小于1的正整数，且t1＜(K+P)，f1≤P。
可选地，在一些实施例中，所述(K+P)行包含t2个第二目标行，所述t2个第二目标行的行重均为W 2，所述t2个第二目标行一一对应t2个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f2个第一类校验比特，所述f2个第一类校验比特对应所述t2个极化信道中的可靠度最高的f2个极化信道，其中t2和f2均为不小于1的正整数，且t2＜(K+P)，f2≤P。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特包含f3个第二类校验比特，所述f3个第二类校验比特均为PC比特，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度小于所述K个极化信道的可靠度，其中f3为不小于1的正整数，且f3≤P。
可选地，在一些实施例中，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的可靠度最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar编码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
可选地，在一些实施例中，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的极化信道序号最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar编码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特中的每个PC比特在所述待编码比特中的位置序号与所述每个PC比特所校验的每个信息比特在所述待编码比特中的位置序号之差为预设质数的整数倍。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特包含中的每个PC比特和所述每个PC比特所校验的每个信息比特满足如下条件：如果g i＝g j，则g k的汉明重量大于g i和g j各自的汉明重量；如果g i≠g j，则g k的汉明重量大于g i和g j的汉明重量的最小值；其中g i表示所述生成矩阵中的与所述每个PC比特对应的行向量，g j表示所述生成矩阵中的与所述每个信息比特对应的行向量，g k＝mod(g i+g j,2)，mod(.)表示取模操作。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特均为PC比特；或所述P个校验比特包含PC比特和CRC比特。
图8是本申请一个实施例提供的芯片的示意性结构图。图8的芯片800执行的操作与图4对应，为了简洁，适当省略重复的描述。芯片800包括：
存储器810，用于存储程序；
处理器820(该处理器例如可以是基带处理器)，用于执行所述存储器中存储的程序， 以执行以下操作：
对从发射端接收到的编码比特进行polar译码，得到译码比特，所述译码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W 1，所述T个第一类校验比特对应的最大行重小于或等于W 2，其中W 2表示所述(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数，P和T均为非负整数，且T≤P，K、W 1和W 2均为不小于1的正整数；
利用所述P个校验比特对所述K个信息比特中的至少部分信息比特进行校验。
可选地，在一些实施例中，所述(K+P)行包含t1个第一目标行，所述t1个第一目标行的行重均为W 1，所述t1个第一目标行一一对应t1个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f1个第一类校验比特，所述f1个第一类校验比特对应所述t1个极化信道中的可靠度最高的f1个极化信道，其中t1和f1均为不小于1的正整数，且t1＜(K+P)，f1≤P。
可选地，在一些实施例中，所述(K+P)行包含t2个第二目标行，所述t2个第二目标行的行重均为W 2，所述t2个第二目标行一一对应t2个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f2个第一类校验比特，所述f2个第一类校验比特对应所述t2个极化信道中的可靠度最高的f2个极化信道，其中t2和f2均为不小于1的正整数，且t2＜(K+P)，f2≤P。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特包含f3个第二类校验比特，所述f3个第二类校验比特均为PC比特，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度小于所述K个极化信道的可靠度，其中f3为不小于1的正整数，且f3≤P。
可选地，在一些实施例中，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的可靠度最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar译码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
可选地，在一些实施例中，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的极化信道序号最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar译码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特中的每个PC比特在所述译码比特中的位置序号与所述每个PC比特所校验的每个信息比特在所述译码比特中的位置序号之差为预设质数的整数倍。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特中的每个PC比特和所述每个PC比特所校验的每个信息比特满足如下条件：如果g i＝g j，则g k的汉明重量大于g i和g j各自的汉明重量；如果g i≠g j，则g k的汉明重量大于g i和g j的汉明重量的最小值；其中g i表示所述生成矩阵中的与所述每个PC比特对应的行向量，g j表示所述生成矩阵中的与所述每个信 息比特对应的行向量，g k＝mod(g i+g j,2)，mod(.)表示取模操作。
可选地，在一些实施例中，所述P个校验比特均为PC比特；或所述P个校验比特包含PC比特和循环冗余校验CRC比特。
图9是本申请实施例提供的发射机的示意性结构图。图9的发射机900例如可以是终端设备，也可以是基站(或称接入网设备)。发射机900可以包括芯片700。发射机900还可以包括发送器910，用于向接收端传输编码比特。
图10是本申请实施例提供的接收机的示意性结构图。图10的接收机1000例如可以是终端设备，也可以是基站(或称接入网设备)。接收机1000可以包括芯片800。接收机1000还可以包括接收器1010，用于向接收端传输编码比特。
在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其他任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本申请实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(digital subscriber line，DSL))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质(例如，软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如数字视频光盘(digital video disc，DVD))、或者半导体介质(例如固态硬盘(solid state disk，SSD))等。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟 悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (58)

  1. 一种传输数据的方法，其特征在于，包括：
    获取K个信息比特，K为不小于1的正整数；
    确定待编码比特，所述待编码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含所述K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，其中P和T均为非负整数，且T≤P；
    对所述待编码比特进行polar编码，得到编码比特，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W 1，所述T个第一类校验比特对应的最大行重小于或等于W 2，其中W 2表示所述(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数；
    向接收端传输所述编码比特。
  2. 如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述(K+P)行包含t1个第一目标行，所述t1个第一目标行的行重均为W 1，所述t1个第一目标行一一对应t1个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f1个第一类校验比特，所述f1个第一类校验比特对应所述t1个极化信道中的可靠度最高的f1个极化信道，其中t1和f1均为不小于1的正整数，且t1＜(K+P)，f1≤P。
  3. 如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述(K+P)行包含t2个第二目标行，所述t2个第二目标行的行重均为W 2，所述t2个第二目标行一一对应t2个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f2个第一类校验比特，所述f2个第一类校验比特对应所述t2个极化信道中的可靠度最高的f2个极化信道，其中t2和f2均为不小于1的正整数，且t2＜(K+P)，f2≤P。
  4. 如权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述P个校验比特包含f3个第二类校验比特，所述f3个第二类校验比特均为PC比特，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度小于所述K个极化信道的可靠度，其中f3为不小于1的正整数，且f3≤P。
  5. 如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的可靠度最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar编码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
  6. 如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的极化信道序号最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar编码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
  7. 如权利要求1-6中任一项所述的方法，其特征在于，所述P个校验比特中的每个PC比特在所述待编码比特中的位置序号与所述每个PC比特所校验的每个信息比特在所述待编码比特中的位置序号之差为预设质数的整数倍。
  8. 如权利要求1-7中任一项所述的方法，其特征在于，所述P个校验比特包含中的每个PC比特和所述每个PC比特所校验的每个信息比特满足如下条件：
    如果g i＝g j，则g k的汉明重量大于g i和g j各自的汉明重量；
    如果g i≠g j，则g k的汉明重量大于g i和g j的汉明重量的最小值；
    其中g i表示所述生成矩阵中的与所述每个PC比特对应的行向量，g j表示所述生成矩阵中的与所述每个信息比特对应的行向量，g k＝mod(g i+g j,2)，mod(.)表示取模操作。
  9. 如权利要求1-8中任一项所述的方法，其特征在于，所述P个校验比特均为PC比特；或所述P个校验比特包含PC比特和循环冗余校验CRC比特。
  10. 一种传输数据的方法，其特征在于，包括：
    接收发送端传输的编码比特；
    对所述编码比特进行polar译码，得到译码比特，所述译码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W 1，所述T个第一类校验比特对应的最大行重小于或等于W 2，其中W 2表示所述(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数，P和T均为非负整数，且T≤P，K、W 1和W 2均为不小于1的正整数；
    利用所述P个校验比特对所述K个信息比特中的至少部分信息比特进行校验。
  11. 如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述(K+P)行包含t1个第一目标行，所述t1个第一目标行的行重均为W 1，所述t1个第一目标行一一对应t1个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f1个第一类校验比特，所述f1个第一类校验比特对应所述t1个极化信道中的可靠度最高的f1个极化信道，其中t1和f1均为不小于1的正整数，且t1＜(K+P)，f1≤P。
  12. 如权利要求10或11所述的方法，其特征在于，所述(K+P)行包含t2个第二目标行，所述t2个第二目标行的行重均为W 2，所述t2个第二目标行一一对应t2个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f2个第一类校验比特，所述f2个第一类校验比特对应所述t2个极化信道中的可靠度最高的f2个极化信道，其中t2和f2均为不小于1的正整数，且t2＜(K+P)，f2≤P。
  13. 如权利要求10-12中任一项所述的方法，其特征在于，所述P个校验比特包含f3个第二类校验比特，所述f3个第二类校验比特均为PC比特，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度小于所述K个极化信道的可靠度，其中f3为不小于1的正整数，且f3≤P。
  14. 如权利要求13所述的方法，其特征在于，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的可靠度最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述 polar译码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
  15. 如权利要求13所述的方法，其特征在于，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的极化信道序号最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar译码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
  16. 如权利要求10-15中任一项所述的方法，其特征在于，所述P个校验比特中的每个PC比特在所述译码比特中的位置序号与所述每个PC比特所校验的每个信息比特在所述译码比特中的位置序号之差为预设质数的整数倍。
  17. 如权利要求10-16中任一项所述的方法，其特征在于，所述P个校验比特中的每个PC比特和所述每个PC比特所校验的每个信息比特满足如下条件：
    如果g i＝g j，则g k的汉明重量大于g i和g j各自的汉明重量；
    如果g i≠g j，则g k的汉明重量大于g i和g j的汉明重量的最小值；
    其中g i表示所述生成矩阵中的与所述每个PC比特对应的行向量，g j表示所述生成矩阵中的与所述每个信息比特对应的行向量，g k＝mod(g i+g j,2)，mod(.)表示取模操作。
  18. 如权利要求10-17中任一项所述的方法，其特征在于，所述P个校验比特均为PC比特；或所述P个校验比特包含PC比特和循环冗余校验CRC比特。
  19. 一种芯片，其特征在于，包括：
    存储器，用于存储程序；
    处理器，用于执行所述存储器中存储的程序，以执行以下操作：
    获取K个信息比特，K为不小于1的正整数；
    确定待编码比特，所述待编码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含所述K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，其中P和T均为非负整数，且T≤P；
    对所述待编码比特进行polar编码，得到编码比特，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W 1，所述T个第一类校验比特对应的最大行重小于或等于W 2，其中W 2表示所述(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数。
  20. 如权利要求19所述的芯片，其特征在于，所述(K+P)行包含t1个第一目标行，所述t1个第一目标行的行重均为W 1，所述t1个第一目标行一一对应t1个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f1个第一类校验比特，所述f1个第一类校验比特对应所述t1个极化信道中的可靠度最高的f1个极化信道，其中t1和f1均为不小于1的正整数，且t1＜(K+P)，f1≤P。
  21. 如权利要求19或20所述的芯片，其特征在于，所述(K+P)行包含t2个第二目标行，所述t2个第二目标行的行重均为W 2，所述t2个第二目标行一一对应t2个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f2个第一类校验比特，所述f2个第一类校验比特对应所述 t2个极化信道中的可靠度最高的f2个极化信道，其中t2和f2均为不小于1的正整数，且t2＜(K+P)，f2≤P。
  22. 如权利要求19-21中任一项所述的芯片，其特征在于，所述P个校验比特包含f3个第二类校验比特，所述f3个第二类校验比特均为PC比特，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度小于所述K个极化信道的可靠度，其中f3为不小于1的正整数，且f3≤P。
  23. 如权利要求22所述的芯片，其特征在于，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的可靠度最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar编码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
  24. 如权利要求22所述的芯片，其特征在于，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的极化信道序号最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar编码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
  25. 如权利要求19-24中任一项所述的芯片，其特征在于，所述P个校验比特中的每个PC比特在所述待编码比特中的位置序号与所述每个PC比特所校验的每个信息比特在所述待编码比特中的位置序号之差为预设质数的整数倍。
  26. 如权利要求19-25中任一项所述的芯片，其特征在于，所述P个校验比特包含中的每个PC比特和所述每个PC比特所校验的每个信息比特满足如下条件：
    如果g i＝g j，则g k的汉明重量大于g i和g j各自的汉明重量；
    如果g i≠g j，则g k的汉明重量大于g i和g j的汉明重量的最小值；
    其中g i表示所述生成矩阵中的与所述每个PC比特对应的行向量，g j表示所述生成矩阵中的与所述每个信息比特对应的行向量，g k＝mod(g i+g j,2)，mod(.)表示取模操作。
  27. 如权利要求19-26中任一项所述的芯片，其特征在于，所述P个校验比特均为PC比特；或所述P个校验比特包含PC比特和循环冗余校验CRC比特。
  28. 一种芯片，其特征在于，包括：
    存储器，用于存储程序；
    处理器，用于执行所述存储器中存储的程序，以执行以下操作：
    对从发射端接收到的编码比特进行polar译码，得到译码比特，所述译码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W 1，所述T个第一类校验比特对应的最大行重小于或等于W 2，其中W 2表示所述(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数，P和T均为非负整数，且T≤P，K、W 1和W 2均为不小于1的正整数；
    利用所述P个校验比特对所述K个信息比特中的至少部分信息比特进行校验。
  29. 如权利要求28所述的芯片，其特征在于，所述(K+P)行包含t1个第一目标行，所述t1个第一目标行的行重均为W 1，所述t1个第一目标行一一对应t1个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f1个第一类校验比特，所述f1个第一类校验比特对应所述t1个极化信道中的可靠度最高的f1个极化信道，其中t1和f1均为不小于1的正整数，且t1＜(K+P)，f1≤P。
  30. 如权利要求28或29所述的芯片，其特征在于，所述(K+P)行包含t2个第二目标行，所述t2个第二目标行的行重均为W 2，所述t2个第二目标行一一对应t2个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f2个第一类校验比特，所述f2个第一类校验比特对应所述t2个极化信道中的可靠度最高的f2个极化信道，其中t2和f2均为不小于1的正整数，且t2＜(K+P)，f2≤P。
  31. 如权利要求28-30中任一项所述的芯片，其特征在于，所述P个校验比特包含f3个第二类校验比特，所述f3个第二类校验比特均为PC比特，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度小于所述K个极化信道的可靠度，其中f3为不小于1的正整数，且f3≤P。
  32. 如权利要求31所述的芯片，其特征在于，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的可靠度最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar译码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
  33. 如权利要求31所述的芯片，其特征在于，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的极化信道序号最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar译码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
  34. 如权利要求28-33中任一项所述的芯片，其特征在于，所述P个校验比特中的每个PC比特在所述译码比特中的位置序号与所述每个PC比特所校验的每个信息比特在所述译码比特中的位置序号之差为预设质数的整数倍。
  35. 如权利要求28-34中任一项所述的芯片，其特征在于，所述P个校验比特中的每个PC比特和所述每个PC比特所校验的每个信息比特满足如下条件：
    如果g i＝g j，则g k的汉明重量大于g i和g j各自的汉明重量；
    如果g i≠g j，则g k的汉明重量大于g i和g j的汉明重量的最小值；
    其中g i表示所述生成矩阵中的与所述每个PC比特对应的行向量，g j表示所述生成矩阵中的与所述每个信息比特对应的行向量，g k＝mod(g i+g j,2)，mod(.)表示取模操作。
  36. 如权利要求28-35中任一项所述的芯片，其特征在于，所述P个校验比特均为PC比特；或所述P个校验比特包含PC比特和循环冗余校验CRC比特。
  37. 一种发射机，其特征在于，包括如权利要求19-27中任一项所述的芯片，所述发射机还包括发送器，用于向接收端传输所述编码比特。
  38. 一种接收机，其特征在于，包括如权利要求28-36中任一项所述的芯片，所述接 收机还包括接收器，用于接收发送端传输的编码比特。
  39. 一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在发射机上运行时，使得发射机执行权利要求1-9中任一项所述的方法。
  40. 一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在接收机上运行时，使得接收机执行权利要求10-18中任一项所述的方法。
  41. 一种传输数据的装置，其特征在于，所述装置包括：
    获取模块，用于获取K个信息比特，K为不小于1的正整数；
    确定模块，用于确定待编码比特，所述待编码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含所述K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，其中P和T均为非负整数，且T≤P；
    编码模块，用于对所述待编码比特进行polar编码，得到编码比特，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W 1，所述T个第一类校验比特对应的最大行重小于或等于W 2，其中W 2表示所述(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数；
    传输模块，用于向接收端传输所述编码比特。
  42. 如权利要求41所述的装置，其特征在于，所述(K+P)行包含t1个第一目标行，所述t1个第一目标行的行重均为W 1，所述t1个第一目标行一一对应t1个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f1个第一类校验比特，所述f1个第一类校验比特对应所述t1个极化信道中的可靠度最高的f1个极化信道，其中t1和f1均为不小于1的正整数，且t1＜(K+P)，f1≤P。
  43. 如权利要求41或者42所述的装置，其特征在于，所述(K+P)行包含t2个第二目标行，所述t2个第二目标行的行重均为W 2，所述t2个第二目标行一一对应t2个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f2个第一类校验比特，所述f2个第一类校验比特对应所述t2个极化信道中的可靠度最高的f2个极化信道，其中t2和f2均为不小于1的正整数，且t2＜(K+P)，f2≤P。
  44. 如权利要求41-43中任一项所述的装置，其特征在于，所述P个校验比特包含f3个第二类校验比特，所述f3个第二类校验比特均为PC比特，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度小于所述K个极化信道的可靠度，其中f3为不小于1的正整数，且f3≤P。
  45. 如权利要求44所述的装置，其特征在于，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的可靠度最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar编码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
  46. 如权利要求44所述的装置，其特征在于，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的极化信道序号最高的f3个极化信道，所述M个极化信道 为所述polar编码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
  47. 如权利要求41-46中任一项所述的装置，其特征在于，所述P个校验比特中的每个PC比特在所述待编码比特中的位置序号与所述每个PC比特所校验的每个信息比特在所述待编码比特中的位置序号之差为预设质数的整数倍。
  48. 如权利要求41-47中任一项所述的装置，其特征在于，所述P个校验比特包含中的每个PC比特和所述每个PC比特所校验的每个信息比特满足如下条件：
    如果g i＝g j，则g k的汉明重量大于g i和g j各自的汉明重量；
    如果g i≠g j，则g k的汉明重量大于g i和g j的汉明重量的最小值；
    其中g i表示所述生成矩阵中的与所述每个PC比特对应的行向量，g j表示所述生成矩阵中的与所述每个信息比特对应的行向量，g k＝mod(g i+g j,2)，mod(.)表示取模操作。
  49. 如权利要求41-48中任一项所述的装置，其特征在于，所述P个校验比特均为PC比特；或所述P个校验比特包含PC比特和循环冗余校验CRC比特。
  50. 一种传输数据的装置，其特征在于，所述装置包括：
    接收模块，用于接收发送端传输的编码比特；
    译码模块，用于对所述编码比特进行polar译码，得到译码比特，所述译码比特包含(K+P)个比特，所述(K+P)个比特包含K个信息比特和P个校验比特，所述K个信息比特对应K个极化信道，所述P个校验比特包含T个第一类校验比特，所述T个第一类校验比特均为奇偶校验PC比特，所述T个第一类校验比特对应的极化信道的可靠度均大于所述K个极化信道的可靠度的最小值，所述(K+P)个比特一一对应所述编码比特的生成矩阵中的(K+P)行，所述(K+P)行的最小行重为W 1，所述T个第一类校验比特对应的最大行重小于或等于W 2，其中W 2表示所述(K+P)行的行重中的除W 1之外的最小值，W 1和W 2均为不小于1的正整数，P和T均为非负整数，且T≤P，K、W 1和W 2均为不小于1的正整数；
    校验模块，用于利用所述P个校验比特对所述K个信息比特中的至少部分信息比特进行校验。
  51. 如权利要求50所述的装置，其特征在于，所述(K+P)行包含t1个第一目标行，所述t1个第一目标行的行重均为W 1，所述t1个第一目标行一一对应t1个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f1个第一类校验比特，所述f1个第一类校验比特对应所述t1个极化信道中的可靠度最高的f1个极化信道，其中t1和f1均为不小于1的正整数，且t1＜(K+P)，f1≤P。
  52. 如权利要求50或者51所述的装置，其特征在于，所述(K+P)行包含t2个第二目标行，所述t2个第二目标行的行重均为W 2，所述t2个第二目标行一一对应t2个极化信道，所述T个第一类校验比特包含f2个第一类校验比特，所述f2个第一类校验比特对应所述t2个极化信道中的可靠度最高的f2个极化信道，其中t2和f2均为不小于1的正整数，且t2＜(K+P)，f2≤P。
  53. 如权利要求50-52中任一项所述的装置，其特征在于，所述P个校验比特包含f3个第二类校验比特，所述f3个第二类校验比特均为PC比特，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道的可靠度小于所述K个极化信道的可靠度，其中f3为不小于1的正整数， 且f3≤P。
  54. 如权利要求53所述的装置，其特征在于，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的可靠度最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar编码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
  55. 如权利要求53所述的装置，其特征在于，所述T个第一类校验比特对应T个极化信道，所述f3个第二类校验比特对应的极化信道为M个极化信道中的除所述K个极化信道和所述T个极化信道之外的极化信道序号最高的f3个极化信道，所述M个极化信道为所述polar编码的极化信道中的除打孔操作和/或缩短操作对应的极化信道之外的剩余极化信道，M为不小于1正整数。
  56. 如权利要求50-55中任一项所述的装置，其特征在于，所述P个校验比特中的每个PC比特在所述待编码比特中的位置序号与所述每个PC比特所校验的每个信息比特在所述待编码比特中的位置序号之差为预设质数的整数倍。
  57. 如权利要求50-56中任一项所述的装置，其特征在于，所述P个校验比特包含中的每个PC比特和所述每个PC比特所校验的每个信息比特满足如下条件：
    如果g i＝g j，则g k的汉明重量大于g i和g j各自的汉明重量；
    如果g i≠g j，则g k的汉明重量大于g i和g j的汉明重量的最小值；
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