WO2017188531A1 - Stranded wire having etched grooves and method for manufacturing same - Google Patents

Stranded wire having etched grooves and method for manufacturing same Download PDF

Info

Publication number
WO2017188531A1
WO2017188531A1 PCT/KR2016/012594 KR2016012594W WO2017188531A1 WO 2017188531 A1 WO2017188531 A1 WO 2017188531A1 KR 2016012594 W KR2016012594 W KR 2016012594W WO 2017188531 A1 WO2017188531 A1 WO 2017188531A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
plating layer
etching groove
etching
wire
pattern
Prior art date
Application number
PCT/KR2016/012594
Other languages
French (fr)
Korean (ko)
Inventor
박평렬
김상호
Original Assignee
홍덕산업(주)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 홍덕산업(주) filed Critical 홍덕산업(주)
Publication of WO2017188531A1 publication Critical patent/WO2017188531A1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C2/00Hot-dipping or immersion processes for applying the coating material in the molten state without affecting the shape; Apparatus therefor
    • C23C2/34Hot-dipping or immersion processes for applying the coating material in the molten state without affecting the shape; Apparatus therefor characterised by the shape of the material to be treated
    • C23C2/36Elongated material
    • C23C2/38Wires; Tubes
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D7/00Electroplating characterised by the article coated
    • C25D7/06Wires; Strips; Foils
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D7/00Electroplating characterised by the article coated
    • C25D7/06Wires; Strips; Foils
    • C25D7/0607Wires
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/32Processing objects by plasma generation
    • H01J2237/33Processing objects by plasma generation characterised by the type of processing
    • H01J2237/334Etching

Definitions

  • the present invention relates to a stranded wire having an etching groove and a method of manufacturing the same, and more particularly, to form a pattern having various depths and shapes in a wire plating layer stranded using a plasma apparatus to improve adhesion to rubber. It relates to a stranded wire with grooves and a method of manufacturing the same.
  • wires are used for various purposes, and a plurality of wires are twisted and used as wires.
  • Stranded wire can be used for various purposes such as steel cords, belt cords, wire ropes, bridge wire ropes, and the like. These stranded wires are used after plating on the surface according to the application and then bonded to rubber, etc., and improving the adhesive strength between the stranded wire and rubber is an important factor in terms of service life and stability of the stranded wire. .
  • a steel cord used as a tire reinforcement is used by thinly coating a brass plating having a weight ratio of 62:38 to 70:30 of Cu and Zn on the surface of the steel wire to improve adhesion to rubber.
  • the adhesion between the rubber and the steel cord decreases due to heat, moisture, etc. while the tire is running, and the rubber and the steel cord may be separated, resulting in the destruction of the tire. That is, moisture or oxygen and excessive heat act on the adhesive interface between the rubber and the steel cord, which degrades the adhesion of the rubber to the tire, and affects tire life and affects the stability of the tire.
  • a third alloy layer such as cobalt, nickel, molybdenum, and chromium was added to a binary alloy plating layer of copper and zinc to form a ternary alloy layer.
  • this method has an advantage of suppressing corrosion, but has a problem in that the drawability is lowered and the adhesive strength is lowered after the drawing process.
  • oil is coated on the surface, or various compounds such as paranitroaniline, benzotriazole-based compound, cyclohexylamine borate-based compound, and phenolic compound are applied to the adhesive force between the wire and rubber. Is improving.
  • the present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and more particularly, a twisted-pair wire having an etching groove capable of improving adhesion to rubber by forming patterns of various depths and shapes in the wire plating layer stranded using a plasma apparatus. And to a method for producing the same.
  • Stranded wire formed with an etching groove of the present invention for achieving the above object is a strand formed by twisting a plurality of wires; And a plating layer formed on the strand surface, wherein the plating layer is etched by a plasma apparatus to have an etching groove having a pattern.
  • Stranded wire having an etching groove of the present invention for achieving the above object is twisted a plurality of the strands to form a wire rope, the etching groove is preferably provided in the plating layer formed on the surface of the wire rope.
  • the shape of the etching groove is made of a regular pattern
  • the interval of the etching groove is made of a regular pattern
  • the shape of the etching groove is preferably made of any one of a U-shaped, V-shaped, directional wave shape.
  • the pattern of the stranded wire with the etching groove of the present invention for achieving the above object is made of an irregular pattern in which the shape of the etching groove is formed at random, the interval of the etching groove is formed at random,
  • the depth of the etching groove is preferably 0.3 ⁇ m or more to 100 ⁇ m or less, and the plating layer may be any one of a brass plating layer, a bronze plating layer, a zinc plating layer, an alumina plating layer, a copper plating layer, a tin plating layer, a nickel plating layer, a chromium plating layer, a cobalt plating layer, and a cadmium plating layer. It is preferable that it consists of one plating layer.
  • a method for manufacturing a stranded wire having an etching groove includes a wire preparation step; A plating step of plating the wire to form a plating layer; A twisted pair step of twisting a plurality of the wires to form strands; And etching a surface of the strand by a plasma apparatus to form an etching groove having a pattern in the plating layer formed on the surface of the strand.
  • the plasma apparatus of the method for manufacturing a stranded wire having an etching groove according to the present invention uses a plasma apparatus of room temperature atmospheric pressure or vacuum type, and the plasma generation gas used in the plasma apparatus includes an inert gas, It is preferable to use at least one of Ar, H2, and N2, and the plasma apparatus uses an RF power apparatus, and the voltage of the RF power apparatus is 3 kV or more and 80 kV or less, and the amount of gas injected into the plasma apparatus. It is preferable to make silver into 1 L / M or more and 500 L / M, and to form the depth of the said etching groove to 0.3 (eta) m or more and 100 (eta) m or less.
  • the plating layer of the stranded wire manufacturing method of the etching groove of the present invention for achieving the above object is a brass plating layer, bronze plating layer, zinc plating layer, alumina plating layer, copper plating layer, tin plating layer, nickel plating layer, chrome plating layer, cobalt plating layer,
  • the cadmium plating layer is formed of any one of the plating layers, and the plating step may further include a drawing step of drawing the plated wire formed through the plating step, and the stranding step may include a plurality of strands formed.
  • a wire rope forming step of twisting the wire rope to form a wire rope wherein the surface etching step includes etching the wire rope with a plasma apparatus to form an etching groove having a pattern in the plating layer formed on the wire rope surface. It is desirable to.
  • the present invention relates to a stranded wire having an etching groove capable of improving adhesion to rubber by forming patterns of various depths and shapes in a wire plating layer stranded by using a plasma apparatus, and a method of manufacturing the same.
  • a plasma apparatus a plasma apparatus
  • the contact area is widened by the etching grooves, thereby improving adhesion to rubber.
  • the stranded wire with the etching groove of the present invention and the manufacturing method thereof has the advantage that the surface treatment without the problem of deterioration of physical properties of the wire by the heat or the oxidation of the plating layer by using an atmospheric pressure or vacuum plasma apparatus, plasma apparatus There is an environmentally friendly advantage by using any one of the inert gas, Ar, H2, N2 which is harmless to the human body.
  • FIG. 1 is a process chart of a method for manufacturing a stranded wire having an etching groove according to the present invention.
  • FIG. 2 is a view showing a strand formed with an etching groove according to an embodiment of the present invention.
  • FIG 3 is a view illustrating a wire rope having an etching groove according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a view showing an etching groove having a regular pattern according to an embodiment of the present invention.
  • 5 (a), 5 (b) and 5 (c) are diagrams illustrating the shape of an etching groove having a regular pattern according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a view showing an etching groove having an irregular pattern according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a view illustrating a depth of an etching groove according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a diagram illustrating a plasma apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • 9 (a) and 9 (b) are views illustrating a process of forming an etching groove according to an embodiment of the present invention.
  • 10 (a) and 10 (b) are a result table and a graph showing the adhesive force according to the depth of the etching groove according to an embodiment of the present invention.
  • the present invention relates to a stranded wire having an etching groove and a method of manufacturing the same, and more particularly, to form a pattern having various depths and shapes in a wire plating layer stranded using a plasma apparatus to improve adhesion to rubber. It relates to a stranded wire with grooves and a method of manufacturing the same.
  • the stranded wire 100 having the etching groove of the present invention may be used for various purposes. Steel cords, belt cords, wire ropes, can be used for wire rope for bridges, etc. If it can improve the adhesion between the twisted wire formed by twisting a plurality of wires and rubber can be used for a variety of purposes.
  • the stranded wire 100 having the etching grooves of the present invention may be bonded to other materials other than rubber, and when the adhesive grooves are bonded to other materials than rubber, the etching wires may be formed to improve the adhesive strength.
  • the stranded wire 100 having the etching groove of the present invention includes a strand 111 formed by twisting a plurality of wires 112, a plating layer 120, and an etching groove 130.
  • the wired wire manufacturing method in which the etching groove is formed of the present invention includes a wire preparation step (S100), a plating step (S200), a stranded wire step (S400), and a surface etching step (S600).
  • the wire preparation step (S100) is a step before plating the wire 112, and may include a wire pickling and coating and a primary drawing step. Since the wire pickling and coating, and the primary drawing step is a known technique, a detailed description thereof will be omitted. The wire pickling and coating, and the primary drawing step may be omitted if necessary, of course, other processing before plating may be made.
  • the plating step (S200) is a step of forming the plating layer 120 on the wire 112 by plating the wire 112.
  • the plating layer 120 formed on the wire 112 may be a brass plating layer, a bronze plating layer, a zinc plating layer, an alumina plating layer, a copper plating layer, a tin plating layer, a nickel plating layer, a chromium plating layer, a cobalt plating layer, or a cadmium plating layer according to the use of the wire.
  • the plating layer made of various alloys in addition to the brass plating layer, bronze plating layer, zinc plating layer, alumina plating layer, copper plating layer, tin plating layer, nickel plating layer, chrome plating layer, cobalt plating layer, cadmium plating layer may be formed.
  • the plating layer made of various alloys in addition to the brass plating layer, bronze plating layer, zinc plating layer, alumina plating layer, copper plating layer, tin plating layer, nickel plating layer, chrome plating layer, cobalt plating layer, cadmium plating layer may be formed.
  • the plating layer made of various alloys in addition to the brass plating layer, bronze plating layer, zinc plating layer, alumina plating layer, copper plating layer, tin plating layer, nickel plating layer, chrome plating layer, cobalt plating layer, cadmium plating layer may be formed.
  • the plating layer made of various alloys in addition to the brass plating layer, bronze plating layer,
  • the plating layer 120 may be made of a brass plating layer.
  • the plating layer 120 is a galvanized layer, and in the case of a wire rope for bridges, the plating layer 120 is a galvanized layer.
  • An alumina plating layer is used in the case of steel cords used in automobiles.
  • the plating step (S200) may comprise a drawing step (S300) for drawing the plated wire formed through the plating step (S200).
  • the wire 112 may be plated to form the plating layer 120 and then wired.
  • the wire drawing step S300 may be omitted as necessary.
  • the twisted pair step (S400) is a step of forming the strands 111 by twisting a plurality of the wires 112.
  • the wire 112 may be used as a single wire, but the plurality of wires 112 are twisted according to the strength side and the purpose of use of the wire.
  • the strand 111 may be manufactured by twisting a plurality of the wires 112 around one wire 112.
  • a method of manufacturing the strand 111 by twisting a plurality of the wires 112 is not limited thereto, and the strand 111 may be manufactured by twisting the wire 112 in various ways according to the purpose of the wire. Of course it can.
  • the twisted pair step S400 may include a wire rope forming step S500 that twists a plurality of strands 111 to form a wire rope 110. That is, the wire rope 110 is made by twisting a plurality of the strands 111 again.
  • the strand 111 and the wire rope 110 are basically used by twisting the wire 112, and the wire 112 may be properly twisted in consideration of the use purpose and strength of the wire. have. (If necessary, the wire rope forming step S500 may be omitted.)
  • the stranded wire 100 having the etching grooves of the present invention is formed with etching grooves on a surface thereof, which will be described below with reference to the strands 111.
  • the description related to the formation of the etching groove on the surface of the strand 111 to be described above may mean a description related to the formation of the etching groove on the surface of the wire rope 110 formed by twisting the strand 111.
  • the description related to the formation of the etching groove on the surface of the strand 111 to be described above may mean a description related to the formation of the etching groove on the surface of the wire rope 110 formed by twisting the strand 111.
  • the strand 111 formed through the plating step S200 and the stranded wire step S400 is surface-etched by the plasma apparatus 140, and is formed on the surface of the strand 111.
  • the etching groove 130 having the pattern is formed in the plating layer 120. That is, the etching groove 130 is formed on the surface of the strand 111 by plasma treatment on the surface of the strand 111 formed by twisting a plurality of wires 112. It is formed in the plating layer 120.
  • the surface etching step (S600) may surface-etch the wire rope 110 with the plasma apparatus 140, thereby providing the wire rope 110.
  • the etching groove having a pattern is formed in the plating layer 120 formed on the surface thereof.
  • the surface etching step (S600) comprises the strand 111, the plating layer 120, the plating layer 120 ), A stranded wire 100 having an etching groove having an etching groove 130 having a pattern is formed through surface etching.
  • the etching groove 130 having a pattern provided in the plating layer 120 may have various shapes. Referring to FIG. 4, the pattern of the etching groove 130 may be formed as a regular pattern. The regular pattern is provided with a plurality of the etching groove 130, the shape of the etching groove 130 is a constant shape, the interval between the etching groove 130 is made constant.
  • the etching groove 130 may have a triangular etching groove 131, a U-type etching groove 132, a directional wavy etching groove 133, and the like. It may be made in the shape of.
  • the directional wavy etching groove 133 is formed in a shape having a constant inclination from one end of the etching groove to the other end.
  • the shape of the etching groove 130 is not limited thereto, but may be formed in various shapes as long as the contact area can be improved to improve adhesive strength.
  • the etching groove 130 may be formed of a spiral etching groove, a groove-type etching groove, a void-type etching groove, and the like.
  • the etch groove 130 is provided with the etching groove 130 in a spiral along the wire 100, the spiral etching groove may be made of a double spiral.
  • the Pour type etching grooves and the Void type etching grooves are modified forms of the U type etching grooves 132.
  • the modified form of the U-type etching groove 132 may be formed in a semicircular shape, it may be made in the shape of an arc of a circle.
  • the arc shape of a circle can be represented by a stiff arc when the line connecting two points is shorter than the diameter of the circle and an arc when it is longer than the diameter of the circle.
  • the pattern of the etching groove 130 may be formed in an irregular pattern.
  • a plurality of etching grooves 130 are provided, the shapes of the etching grooves 130 are randomly formed, and the intervals of the etching grooves 130 are randomly formed. That is, in the irregular pattern, the etching groove 130 is formed in the plating layer 120 without a predetermined rule.
  • the irregular pattern does not need to consider the spacing and shape of the etching groove 130 has the advantage of easy manufacturing.
  • the etching groove 130 is not limited thereto and may be formed in various shapes.
  • the etching groove 130 may be formed in a constant shape, the interval of the etching groove 130 may be formed at random, the shape of the etching groove 130 is made random, the etching groove 130 May be formed to be constant.
  • the depth of the etching groove 130 is preferably 0.3 ⁇ m or more and 100 ⁇ m or less.
  • 6 illustrates a shape in which the etching groove 130 is not constant, but the depth of the etching groove 130 is preferably 0.3 ⁇ m or more to 100 ⁇ m or less even in the case of a certain shape of the groove 130.
  • the etching groove 130 may be formed by the plasma apparatus 140, and the plasma apparatus 140 may form the etching groove 130 in atomic units.
  • the etching groove 130 may be formed by removing Cu atoms and Zn atoms from the surface of the plating layer 120.
  • the radius of the Cu atom is 0.128 ⁇ m
  • the atomic radius of Zn is 0.133 ⁇ m. Therefore, the depth of the etching groove 130 may be formed in a unit of 0.3 ⁇ m or more which is the minimum atomic unit.
  • the general thickness of the plating layer 120 is 250 ⁇ m. Accordingly, when the depth of the etching groove 130 is too deep, the plating layer 120 may be removed to lower the adhesive strength. Accordingly, the thickness of the etching groove 130 is preferably 100 ⁇ m or less.
  • the etching groove 130 is formed by the plasma apparatus 140 in the surface etching step S600, and the pattern of the etching groove 130 and the etching groove 130 are formed by the plasma apparatus 140.
  • the shape of the can be adjusted.
  • the plasma apparatus 140 includes a supply table 141, a winder 142, a plasma chamber 143, a gas inlet 144, a gas outlet 145, and a radio frequency (RF) power device ( 146, rotary roller 147, rotary or turbo pump 148.
  • RF radio frequency
  • the strand 111 is mounted on the supply stage 141, and then wound around the winding unit 142 by passing through the plasma chamber 143. Wire it to work. Thereafter, gas is introduced into the plasma chamber 143 through the gas inlet 144 and a voltage is applied to the RF power device 146.
  • the injected gas is converted into a plasma state by the voltage applied to the RF power device 146, and the injected gas is divided into free cations and free electrons.
  • the rotary roller 147 is a device for using the strand 111 as a negative electrode, the strand 111 is in contact with the rotary roller 147 to have a negative electrode.
  • free cations formed by the RF power device 146 are accelerated to the surface of the strand 111, and the surface of the strand 111 is formed.
  • the etching groove 130 is formed on the surface while the metal atoms on the surface of the strand 111 are separated while colliding. (Ie, referring to FIG. 9A, the etching grooves 130 are formed in the plating layer 120 while the metal atoms of the plating layer 120 are separated.)
  • the plasma device 140 may be formed of an atmospheric plasma device or a vacuum plasma device.
  • the rotary or turbo pump 148 is used in a vacuum plasma apparatus, and the rotary or turbo pump 148 causes the atmospheric pressure in the plasma chamber 143 to be low or lower than atmospheric pressure in order to increase the efficiency of etching. After the plasma treatment can be performed.
  • the rotary or turbo pump 148 may be used by installing Bernoulli's law to install the air pressure in the plasma chamber 143 at both the wire inlet and the outlet to form a low pressure or a vacuum.
  • the shape of the etching groove 130 may be applied to the pattern of various shapes by applying the anisotropic etching principle. For example, in the case of the plating layer 120 having the FCC lattice structure, since the 110 surface has a lower surface density than the 111 surface, the etching speed is increased during the plasma treatment. It is possible to form a V-type pattern using this.
  • FIG. 9A is a view showing that the etching groove 130 is formed in a brass plating layer (made of Cu and Zn), and FIG. 9 (B) illustrates the etching groove 130 in a bronze plating layer (made of Cu and Sn). ) Is a drawing showing that formed.
  • FIG. 9 (a) it can be seen that the metal atoms (Cu and Zn) of the wire surface on which the brass plating layer is formed are formed to form the V-type etching groove 130, and refer to FIG. 9 (b).
  • the metal atoms (Cu, Sn) on the surface of the bronze plated layer are formed, the U-type etching grooves 130 may be formed.
  • the voltage of the RF power device 146 is 3kV or more and 80kV or less, and the supply power is preferably 1kW or more and 4kW or less. Do. In the RF power device 146, as the voltage is increased, the acceleration of the free cation is increased, thereby increasing the particle energy, thereby increasing the amount of plated particles falling off.
  • the voltage of the RF power device 146 is 3 kV or more and 80 kV or less, the power supply is 1 kW or more and 4 kW or less, and the size of the RF power device 146 voltage and the power supply is adjusted to adjust the size of the etching groove 130.
  • the depth can be made 0.3 m or more and 100 m or less.
  • the depth of the etching groove 130 or the interval of the etching groove 130 may be adjusted as the plasma treatment time is changed by adjusting the gas input amount or the moving speed of the plated wire.
  • the gas injection amount is preferably 1 L / M or more and 500 L / M.
  • the plasma apparatus 140 for forming the etching groove 130 may preferably use a low temperature atmospheric plasma apparatus or a vacuum plasma apparatus to prevent oxidation of the physical properties of the wire material and the surface of the plating layer.
  • a high temperature plasma apparatus used may have a problem of deterioration of wire properties due to heat or oxidation of a plating layer.
  • the low temperature atmospheric plasma or the vacuum plasma utilizes high neutrality and high reactivity by applying a high voltage between two electrodes to create a plasma state. Etching the surface through this has the advantage that the surface can be treated without affecting the material properties of the heat.
  • an atmospheric plasma apparatus or a vacuum plasma apparatus can be selectively used.
  • Atmospheric pressure plasma device does not need a separate pump for making the air pressure in the plasma chamber 143 to a vacuum has the advantage that it is easy to use.
  • the vacuum plasma apparatus requires a separate equipment (rotary or turbo pump 148) to make the air pressure in the plasma chamber 143 into a vacuum state, but the vacuum plasma apparatus has an advantage of improving surface etching efficiency compared to atmospheric pressure.
  • the atmospheric pressure in the plasma chamber 143 may be made into a vacuum state, and the atmospheric pressure in the plasma chamber 143 may be made into a low pressure state having an air pressure smaller than atmospheric pressure.
  • the plasma generation gas used in the plasma device 140 may use at least one of an inert gas, Ar, H 2, and N 2.
  • Inert gases, Ar, H2, N2 is a gas harmless to the human body, there is an environmentally friendly advantage compared to the prior art to improve the adhesion of the wire by applying a variety of compounds harmful to the conventional body.
  • an etching groove is formed in a steel cord used in an automobile.
  • the following examples are for illustrative purposes only and are not intended to limit the invention.
  • the stranded wire 100 having the etching groove of the present invention may be used for various purposes, such as a belt cord, a wire rope, and a wire rope for a bridge, in addition to a steel cord.
  • the carbon rod is 0.82% by weight and the wire rod (5.5mm diameter) is fresh to 1.75mm, and then heat-treated and brass plating (Cu: 62.5% ⁇ -brass, plating amount: 4g / kg (thickness: 1.65um) 3 wires (Cu: 63%, ⁇ -brass, plating amount: 3.5g / kg (thickness: 240 ⁇ m)) with a twisting length of 16mm, and then attached to the surface through the plasma apparatus.
  • plasma treatment was performed while gradually increasing the supply voltage of the RF power generator in the range of 3 kV to 80 kV and the Ar and H2 gas inputs were 5 L / M.
  • the etching grooves of the wires were provided with V-type etching grooves by using the difference in the etching rate depending on the lattice plane in the FCC structure, which is the lattice structure of ⁇ -brass plating.
  • the surface etch groove depth was formed from the minimum atomic unit of 0.3 ⁇ m to the maximum plating layer thickness of 250 ⁇ m.
  • a general steel wire product without the plasma treatment was selected as a comparative example.
  • the T-test method was applied by the method of ASTM D2229-04. (The T-test method is a well-known method in the method of ASTM D2229-04, and a detailed description thereof is omitted.)
  • Figure 10 (a) is a result of the adhesion test according to the surface etching groove depth of the steel cord, Figure 10 (b) shows this graphically.
  • the surface area of the wire increases as the etching groove depth increases, and the adhesive force increases as the surface area of the wire increases.
  • the adhesion decreases when the etching groove depth is 100 ⁇ m or more. This means that if the etching groove depth is too deep as described above, the plating layer is removed and the adhesive force is lowered. Therefore, the depth of the etching groove is preferably 0.3? M or more and 100? M or less.
  • the cutting load is similar. This shows that the etching grooves generated by the plasma treatment do not reduce the cutting load of the steel cord. That is, the stranded wire in which the etching groove of this invention was formed can improve adhesive force, without reducing a cutting load.
  • the present invention relates to a stranded wire having an etching groove capable of improving adhesion to rubber by forming patterns of various depths and shapes in a wire plating layer using a plasma apparatus, and a method of manufacturing the same. As a result, the contact area becomes wider, and thus the adhesive force with the rubber is improved.
  • the stranded wire with the etching groove of the present invention and the method of manufacturing the same by using an atmospheric plasma apparatus or a vacuum plasma apparatus there is an advantage that can be surface treated without problems of physical properties of the wire due to heat or oxidation of the plating layer,
  • the gas used in the plasma apparatus uses any one of inert gas, Ar, H2, and N2, which is harmless to the human body, there is an environmentally friendly advantage.
  • the stranded wire in which the etching groove of the present invention is formed has a main effect of improving the adhesion with rubber, etc.
  • other side effects may occur as the etching groove is formed.
  • the grease coating force may be improved, and the adhesive force with the polymer may be improved.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Ropes Or Cables (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)

Abstract

The present invention relates to a wire having etched grooves and a method for manufacturing same, the method enabling enhanced adhesion with rubber by means of forming a pattern of various depths and shapes on a plating layer of a stranded wire by using a plasma apparatus. The stranded wire, having etched grooves, comprises: a strand which is formed by means of stranding a plurality of wires; and a plating layer which is formed on the surface of the strand, wherein the plating layer has etched grooves surface-etched by means of a plasma apparatus and having a pattern. The method for manufacturing the stranded wire having etched grooves comprises: a wire preparing step; a plating step for plating wires and thus forming a plating layer; a stranding step for stranding the plurality of wires and thus forming a strand; and a surface-etching step for surface-etching the strand by means of a plasma apparatus and thus forming etched grooves, having a pattern, on the plating layer formed on the surface of the strand.

Description

에칭 홈이 형성된 연선 와이어 및 그 제조방법 Stranded Wire with Etched Grooves and Manufacturing Method Thereof
본 발명은 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 및 그 제조방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 플라즈마 장치를 이용하여 연선된 와이어 도금층에 다양한 깊이와 형상의 패턴을 형성시켜 고무와의 접착력을 향상시킬 수 있는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 및 그 제조방법에 관한 것이다. The present invention relates to a stranded wire having an etching groove and a method of manufacturing the same, and more particularly, to form a pattern having various depths and shapes in a wire plating layer stranded using a plasma apparatus to improve adhesion to rubber. It relates to a stranded wire with grooves and a method of manufacturing the same.
일반적으로 와이어는 다양한 용도로 사용되며, 복수 개의 와이어를 꼬아서 연선된 와이어를 사용한다. 연선된 와이어는 스틸 코드, 벨트 코드, 와이어 로프, 교량용 와이어 로프 등 다양한 용도로 사용될 수 있다. 이러한 연선된 와이어는 용도에 따라 표면에 도금을 한 후 고무 등과 접착을 하여 사용되며, 연선된 와이어와 고무 등과의 접착력을 향상시키는 것은 연선된 와이어의 사용수명, 안정성 등의 측면에서 중요한 요소가 된다. In general, wires are used for various purposes, and a plurality of wires are twisted and used as wires. Stranded wire can be used for various purposes such as steel cords, belt cords, wire ropes, bridge wire ropes, and the like. These stranded wires are used after plating on the surface according to the application and then bonded to rubber, etc., and improving the adhesive strength between the stranded wire and rubber is an important factor in terms of service life and stability of the stranded wire. .
가령, 타이어 보강재로 사용되는 스틸코드는 고무와의 접착력을 향상시키기 위해 Cu와 Zn의 중량비가 62:38 내지 70:30인 황동 도금을 강선표면에 얇게 피막하여 사용한다. 그러나 타이어 주행 중 열, 수분 등에 의해 고무와 스틸코드의 접착력이 저하되고, 이로 인해 고무와 스틸코드가 분리되어 타이어의 파괴현상이 발생할 수 있다. 즉, 고무와 스틸코드의 접착계면에 수분이나 산소 그리고 과도한 열 등이 작용하여 고무와의 접착이 열화됨에 따라 타이어 수명에 치명적인 영향을 주게 되며, 타이어 사용의 안정성에 영향을 미치게 된다. For example, a steel cord used as a tire reinforcement is used by thinly coating a brass plating having a weight ratio of 62:38 to 70:30 of Cu and Zn on the surface of the steel wire to improve adhesion to rubber. However, the adhesion between the rubber and the steel cord decreases due to heat, moisture, etc. while the tire is running, and the rubber and the steel cord may be separated, resulting in the destruction of the tire. That is, moisture or oxygen and excessive heat act on the adhesive interface between the rubber and the steel cord, which degrades the adhesion of the rubber to the tire, and affects tire life and affects the stability of the tire.
타이어 보강재로 사용되는 스틸코드 외에도 연선된 와이어의 접착력을 향상시키는 것은 다양한 용도로 사용되는 연선된 와이어의 수명 및 안정성 등의 측면에서 매우 중요한 요소가 될 것이다. 이와 같은 와이어와 고무 등과의 접착력을 향상시키기 위해 종래에는 다양한 기술 들의 사용 되어 왔다. In addition to the steel cord used as a tire reinforcement, improving the adhesion of the stranded wire will be a very important factor in terms of the life and stability of the stranded wire used in various applications. Various techniques have been used in the past to improve the adhesion between the wire and rubber.
종래에는 황동도금을 한 스틸코드에 시효 접착력을 향상시키기 위하여 구리와 아연의 2원 합금 도금층에 코발트, 니켈, 몰리브덴, 크롬 등의 제3원소를 추가하여 3원 합금층을 형성시켜 사용하였다. 그러나 이러한 방법은 부식을 억제하는 장점이 있으나, 인발 가공 시 신성성이 떨어지고 인발 가공 후 접착력이 낮아지는 문제점이 있다. Conventionally, in order to improve aging adhesion to brass plated steel cords, a third alloy layer such as cobalt, nickel, molybdenum, and chromium was added to a binary alloy plating layer of copper and zinc to form a ternary alloy layer. However, this method has an advantage of suppressing corrosion, but has a problem in that the drawability is lowered and the adhesive strength is lowered after the drawing process.
이외에도, 와이어의 고무 등과의 접착력을 향상시키기 위해 표면에 오일을 도포하거나, 파라니트로아닐린, 벤조트리아졸계 화합물, 사이클로 헥실아민 보레이트계 화합물, 페놀계 화합물 등 다양한 화합물을 도포하여 와이어와 고무 등과의 접착력을 향상시키고 있다. In addition, in order to improve the adhesive strength of the wire with rubber or the like, oil is coated on the surface, or various compounds such as paranitroaniline, benzotriazole-based compound, cyclohexylamine borate-based compound, and phenolic compound are applied to the adhesive force between the wire and rubber. Is improving.
그러나 오일을 도포하는 경우 도포되는 오일양의 불균일성이 접착력에 영향을 미칠 수 있으며, 오일의 성분에 따라 와이어가 부식되는 정도가 다른 문제점이 있다. 이외의 다른 화합물의 경우는 인체에 유해하고 환경 문제를 일으킬 수 있기 때문에 사용이 제한되며, 와이어 불균일하게 도포되어 접착력에 영향을 미칠 수 있으며 도포되는 화합물에 인해 새롭게 발생되는 물질에 의해 접착력이 떨어지는 문제점이 발생할 수 있다. However, when the oil is applied, the non-uniformity of the amount of oil applied may affect the adhesion, and there is a problem that the degree of corrosion of the wire is different depending on the oil component. In the case of other compounds, their use is restricted because they are harmful to the human body and may cause environmental problems. Wires may be unevenly applied, which may affect the adhesion, and the adhesion may be degraded by the newly generated material due to the applied compound. This can happen.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 더욱 상세하게는 플라즈마 장치를 이용하여 연선된 와이어 도금층에 다양한 깊이와 형상의 패턴을 형성시켜 고무와의 접착력을 향상시킬 수 있는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 및 그 제조방법에 관한 것이다. The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and more particularly, a twisted-pair wire having an etching groove capable of improving adhesion to rubber by forming patterns of various depths and shapes in the wire plating layer stranded using a plasma apparatus. And to a method for producing the same.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어는 복수 개의 와이어가 꼬여서 형성된 스트랜드; 및 상기 스트랜드 표면에 형성되는 도금층;을 포함하며, 상기 도금층은 플라즈마 장치에 의해 표면 에칭되어 패턴을 갖는 에칭 홈;이 마련되는 것을 특징으로 하는 것이다. Stranded wire formed with an etching groove of the present invention for achieving the above object is a strand formed by twisting a plurality of wires; And a plating layer formed on the strand surface, wherein the plating layer is etched by a plasma apparatus to have an etching groove having a pattern.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어는 복수 개의 상기 스트랜드를 꼬아서 와이어 로프를 형성하며, 상기 에칭 홈은 상기 와이어 로프 표면에 형성되는 상기 도금층에 마련되는 것이 바람직하다.  Stranded wire having an etching groove of the present invention for achieving the above object is twisted a plurality of the strands to form a wire rope, the etching groove is preferably provided in the plating layer formed on the surface of the wire rope.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어의 상기 패턴은, 상기 에칭 홈의 형상이 일정한 형상으로 이루어지며, 상기 에칭 홈의 간격이 일정하게 이루어져 있는 규칙형 패턴으로 이루어지며, 상기 에칭 홈의 형상은 U형, V형, 방향성 물결형 중 어느 한 형상으로 이루어진 것이 바람직하다.The pattern of the stranded wire formed with an etching groove of the present invention for achieving the above object, the shape of the etching groove is made of a regular pattern, the interval of the etching groove is made of a regular pattern, The shape of the etching groove is preferably made of any one of a U-shaped, V-shaped, directional wave shape.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어의 상기 패턴은, 상기 에칭 홈의 형상이 랜덤하게 형성되며, 상기 에칭 홈의 간격이 랜덤하게 형성되는 불규칙형 패턴으로 이루어지고, 상기 에칭 홈의 깊이는 0.3ηm 이상 내지 100ηm 이하인 것이 바람직하며, 상기 도금층은 황동 도금층, 청동 도금층, 아연도금층, 알루마 도금층, 구리 도금층, 주석 도금층, 니켈 도금층, 크롬 도금층, 코발트 도금층, 카드뮴 도금층 중 어느 하나의 도금층으로 이루어지는 것이 바람직하다. The pattern of the stranded wire with the etching groove of the present invention for achieving the above object is made of an irregular pattern in which the shape of the etching groove is formed at random, the interval of the etching groove is formed at random, The depth of the etching groove is preferably 0.3ηm or more to 100ηm or less, and the plating layer may be any one of a brass plating layer, a bronze plating layer, a zinc plating layer, an alumina plating layer, a copper plating layer, a tin plating layer, a nickel plating layer, a chromium plating layer, a cobalt plating layer, and a cadmium plating layer. It is preferable that it consists of one plating layer.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 제조방법은 와이어 준비 단계; 상기 와이어를 도금하여 도금층을 형성하는 도금 단계; 복수 개의 상기 와이어를 꼬아서 스트랜드를 형성시키는 연선 단계; 상기 스트랜드를 플라즈마 장치로 표면 에칭하여, 상기 스트랜드 표면에 형성되어 있는 상기 도금층에 패턴을 갖는 에칭 홈을 형성하는 표면 에칭 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 것이다. In order to achieve the above object, a method for manufacturing a stranded wire having an etching groove according to the present invention includes a wire preparation step; A plating step of plating the wire to form a plating layer; A twisted pair step of twisting a plurality of the wires to form strands; And etching a surface of the strand by a plasma apparatus to form an etching groove having a pattern in the plating layer formed on the surface of the strand.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 제조방법의 상기 플라즈마 장치는 상온 대기압 방식 또는 진공 방식의 플라즈마 장치를 사용하며, 상기 플라즈마 장치에 사용되는 플라즈마 발생용 가스는 비활성 가스, Ar, H₂, N₂중 어느 하나 이상을 사용하는 것이 바람직하며, 상기 플라즈마 장치는 RF 전력장치를 사용하며, 상기 RF 전력장치의 전압은 3kV 이상 내지 80kV 이하로 하며, 상기 플라즈마 장치에 투입되는 가스 투입량은 1 L/M 이상 내지 500 L/M로 하여, 상기 에칭 홈의 깊이를 0.3ηm 이상 내지 100ηm 이하로 형성하는 것이 바람직하다. In order to achieve the above object, the plasma apparatus of the method for manufacturing a stranded wire having an etching groove according to the present invention uses a plasma apparatus of room temperature atmospheric pressure or vacuum type, and the plasma generation gas used in the plasma apparatus includes an inert gas, It is preferable to use at least one of Ar, H₂, and N₂, and the plasma apparatus uses an RF power apparatus, and the voltage of the RF power apparatus is 3 kV or more and 80 kV or less, and the amount of gas injected into the plasma apparatus. It is preferable to make silver into 1 L / M or more and 500 L / M, and to form the depth of the said etching groove to 0.3 (eta) m or more and 100 (eta) m or less.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 제조방법의 상기 도금층은 황동 도금층, 청동 도금층, 아연도금층, 알루마 도금층, 구리 도금층, 주석 도금층, 니켈 도금층, 크롬 도금층, 코발트 도금층, 카드뮴 도금층 중 어느 하나의 도금층으로 이루어지는 것이 바람직하며, 상기 도금 단계는, 상기 도금 단계를 통해 형성된 상기 도금된 와이어를 신선하는 신선단계를 더 포함하는 것이 바람직하며, 상기 연선 단계는 형성된 상기 스트랜드를 복수 개 꼬아서 와이어 로프를 형성하는 와이어 로프 형성단계를 포함하며, 상기 표면 에칭 단계는, 상기 와이어 로프를 플라즈마 장치로 표면 에칭하여, 상기 와이어 로프 표면에 형성되는 상기 도금층에 패턴을 갖는 에칭 홈을 형성하는 것이 바람직하다.The plating layer of the stranded wire manufacturing method of the etching groove of the present invention for achieving the above object is a brass plating layer, bronze plating layer, zinc plating layer, alumina plating layer, copper plating layer, tin plating layer, nickel plating layer, chrome plating layer, cobalt plating layer, Preferably, the cadmium plating layer is formed of any one of the plating layers, and the plating step may further include a drawing step of drawing the plated wire formed through the plating step, and the stranding step may include a plurality of strands formed. A wire rope forming step of twisting the wire rope to form a wire rope, wherein the surface etching step includes etching the wire rope with a plasma apparatus to form an etching groove having a pattern in the plating layer formed on the wire rope surface. It is desirable to.
본 발명은 플라즈마 장치를 이용하여 연선된 와이어 도금층에 다양한 깊이와 형상의 패턴을 형성시켜 고무와의 접착력을 향상시킬 수 있는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 및 그 제조방법에 관한 것으로, 플라즈마 장치에 의해 형성된 에칭 홈에 의해 접촉면적이 넓어지고 이로 인해 고무와의 접착력이 향상되는 장점이 있다. The present invention relates to a stranded wire having an etching groove capable of improving adhesion to rubber by forming patterns of various depths and shapes in a wire plating layer stranded by using a plasma apparatus, and a method of manufacturing the same. There is an advantage that the contact area is widened by the etching grooves, thereby improving adhesion to rubber.
또한, 본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 및 그 제조방법은 대기압 또는 진공 플라즈마 장치를 사용함에 따라, 열에 의한 와이어의 물성저하나 도금층이 산화되는 문제 없이 표면처리 할 수 있는 장점이 있으며, 플라즈마 장치에 사용되는 가스를 인체에 무해한 비활성 가스, Ar, H₂, N₂중 어느 하나를 사용함에 따라 친환경적인 장점이 있다. In addition, the stranded wire with the etching groove of the present invention and the manufacturing method thereof has the advantage that the surface treatment without the problem of deterioration of physical properties of the wire by the heat or the oxidation of the plating layer by using an atmospheric pressure or vacuum plasma apparatus, plasma apparatus There is an environmentally friendly advantage by using any one of the inert gas, Ar, H₂, N₂ which is harmless to the human body.
도 1은 본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 제조방법에 대한 공정도이다1 is a process chart of a method for manufacturing a stranded wire having an etching groove according to the present invention.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 에칭 홈이 형성된 스트랜드를 나타내는 도면이다. 2 is a view showing a strand formed with an etching groove according to an embodiment of the present invention.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 에칭 홈이 형성된 와이어 로프를 나타내는 도면이다. 3 is a view illustrating a wire rope having an etching groove according to an embodiment of the present invention.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 규칙형 패턴을 갖는 에칭 홈을 나타내는 도면이다. 4 is a view showing an etching groove having a regular pattern according to an embodiment of the present invention.
도 5(a), 도 5(b), 도 5(c)는 본 발명의 일 실시 예에 따른 규칙형 패턴을 갖는 에칭 홈의 형상을 나타내는 도면이다. 5 (a), 5 (b) and 5 (c) are diagrams illustrating the shape of an etching groove having a regular pattern according to an embodiment of the present invention.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 불규칙형 패턴을 갖는 에칭 홈을 나타내는 도면이다. 6 is a view showing an etching groove having an irregular pattern according to an embodiment of the present invention.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 에칭 홈의 깊이를 나타내는 도면이다. 7 is a view illustrating a depth of an etching groove according to an embodiment of the present invention.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 장치를 나타내는 도면이다. 8 is a diagram illustrating a plasma apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 9(a) 및 도 9(b)는 본 발명의 일 실시 예에 따른 에칭 홈이 형성되는 과정을 나타내는 도면이다. 9 (a) and 9 (b) are views illustrating a process of forming an etching groove according to an embodiment of the present invention.
도 10(a) 및 도 10(b)는 본 발명의 일 실시 예에 따라 에칭 홈의 깊이에 따른 접착력을 나타내는 결과 표 및 그래프이다. 10 (a) and 10 (b) are a result table and a graph showing the adhesive force according to the depth of the etching groove according to an embodiment of the present invention.
본 발명은 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 및 그 제조방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 플라즈마 장치를 이용하여 연선된 와이어 도금층에 다양한 깊이와 형상의 패턴을 형성시켜 고무와의 접착력을 향상시킬 수 있는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 및 그 제조방법에 관한 것이다. The present invention relates to a stranded wire having an etching groove and a method of manufacturing the same, and more particularly, to form a pattern having various depths and shapes in a wire plating layer stranded using a plasma apparatus to improve adhesion to rubber. It relates to a stranded wire with grooves and a method of manufacturing the same.
본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어(100)는 다양한 용도로 사용될 수 있다. 스틸코드, 벨트 코드, 와이어로프, 교량용 와이어 로프 등에 사용될 수 있으며, 복수 개의 와이어를 꼬아서 형성된 연선 와이어와 고무와의 접착력을 향상시킬 수 있는 것이라면 다양한 용도로 사용될 수 있음은 물론이다. 본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어(100)는 고무 이외에 다른 소재와 접착될 수 있으며, 고무 이외의 다른 소재와 접착하였을 때 에칭 홈을 형성하여 접착력을 향상시킬 수 있는 것이다. The stranded wire 100 having the etching groove of the present invention may be used for various purposes. Steel cords, belt cords, wire ropes, can be used for wire rope for bridges, etc. If it can improve the adhesion between the twisted wire formed by twisting a plurality of wires and rubber can be used for a variety of purposes. The stranded wire 100 having the etching grooves of the present invention may be bonded to other materials other than rubber, and when the adhesive grooves are bonded to other materials than rubber, the etching wires may be formed to improve the adhesive strength.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 통해 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명 에칭 홈이 형성된 연선 와이어(100)는 복수 개의 와이어(112)가 꼬여서 형성된 스트랜드(111), 도금층(120), 에칭 홈(130)을 포함하여 구성되며, 본 발명 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 제조방법은 와이어 준비 단계(S100), 도금 단계(S200), 연선 단계(S400), 표면 에칭 단계(S600)를 포함하여 구성된다. 1 to 3, the stranded wire 100 having the etching groove of the present invention includes a strand 111 formed by twisting a plurality of wires 112, a plating layer 120, and an etching groove 130. The wired wire manufacturing method in which the etching groove is formed of the present invention includes a wire preparation step (S100), a plating step (S200), a stranded wire step (S400), and a surface etching step (S600).
도 1을 참조하면, 상기 와이어 준비 단계(S100)는 상기 와이어(112)를 도금하기 전의 단계로, 와이어 산세 및 코팅, 1차 신선 단계로 이루어질 수 있다. 상기 와이어 산세 및 코팅, 상기 1차 신선 단계는 공지된 기술이므로 상세한 설명은 생략한다. 상기 와이어 산세 및 코팅, 상기 1차 신선 단계는 필요에 따라서는 생략될 수도 있으며, 도금을 하기 전의 다른 가공이 이루어질 수 있음은 물론이다.Referring to FIG. 1, the wire preparation step (S100) is a step before plating the wire 112, and may include a wire pickling and coating and a primary drawing step. Since the wire pickling and coating, and the primary drawing step is a known technique, a detailed description thereof will be omitted. The wire pickling and coating, and the primary drawing step may be omitted if necessary, of course, other processing before plating may be made.
상기 도금 단계(S200)는 상기 와이어(112)를 도금하여 상기 와이어(112)에 도금층(120)을 형성하는 단계이다. 상기 와이어(112)에 형성되는 상기 도금층(120)은 와이어의 사용 용도에 따라 황동 도금층, 청동 도금층, 아연 도금층, 알루마 도금층, 구리 도금층, 주석 도금층, 니켈 도금층, 크롬 도금층, 코발트 도금층, 카드뮴 도금층 중 어느 하나로 형성될 수 있으며, 황동 도금층, 청동 도금층, 아연 도금층, 알루마 도금층, 구리 도금층, 주석 도금층, 니켈 도금층, 크롬 도금층, 코발트 도금층, 카드뮴 도금층 중 이외에도 다양한 합금으로 이루어진 도금층이 형성될 수 있음은 물론이다. The plating step (S200) is a step of forming the plating layer 120 on the wire 112 by plating the wire 112. The plating layer 120 formed on the wire 112 may be a brass plating layer, a bronze plating layer, a zinc plating layer, an alumina plating layer, a copper plating layer, a tin plating layer, a nickel plating layer, a chromium plating layer, a cobalt plating layer, or a cadmium plating layer according to the use of the wire. It may be formed of any one of, the plating layer made of various alloys in addition to the brass plating layer, bronze plating layer, zinc plating layer, alumina plating layer, copper plating layer, tin plating layer, nickel plating layer, chrome plating layer, cobalt plating layer, cadmium plating layer may be formed. Of course.
일반적으로 자동차에 사용되는 스틸코드의 경우 상기 도금층(120)이 황동 도금층으로 이루어질 수 있으며, 벨트 코드의 경우 상기 도금층(120)이 아연 도금층, 교량용 와이어 로프의 경우 상기 도금층(120)이 아연 도금층, 알루마 도금층으로 이루어질 수 있다. In general, in the case of steel cords used in automobiles, the plating layer 120 may be made of a brass plating layer. In the case of a belt cord, the plating layer 120 is a galvanized layer, and in the case of a wire rope for bridges, the plating layer 120 is a galvanized layer. , An alumina plating layer.
상기 도금 단계(S200)는 상기 도금 단계(S200)를 통해 형성된 도금된 와이어를 신선하는 신선 단계(S300)를 포함하여 이루어질 수 있다. 즉, 상기 와이어(112)를 도금하여 상기 도금층(120)을 형성한 후 이를 신선하는 과정을 거칠 수 있으며, 상기 신선 단계(S300)는 필요에 따라서는 생략될 수 있다. The plating step (S200) may comprise a drawing step (S300) for drawing the plated wire formed through the plating step (S200). In other words, the wire 112 may be plated to form the plating layer 120 and then wired. The wire drawing step S300 may be omitted as necessary.
상기 연선 단계(S400)는 복수 개의 상기 와이어(112)를 꼬아서 상기 스트랜드(111)를 형성시키는 단계이다. 상기 와이어(112)의 경우 단일 와이어로 사용될 수 있으나, 강도 측면과 와이어의 사용목적에 따라 복수 개의 상기 와이어(112)를 꼬아서 사용하게 된다. The twisted pair step (S400) is a step of forming the strands 111 by twisting a plurality of the wires 112. The wire 112 may be used as a single wire, but the plurality of wires 112 are twisted according to the strength side and the purpose of use of the wire.
도 2를 참조하면, 하나의 상기 와이어(112)를 중심으로(심선) 복수 개의 상기 와이어(112)를 꼬아서 상기 스트랜드(111)를 제조할 수 있다. 복수 개의 상기 와이어(112)를 꼬아서 상기 스트랜드(111)를 제조하는 방법은 이에 한정하는 것은 아니며, 와이어의 용도에 따라 다양한 방법으로 상기 와이어(112)를 꼬아서 상기 스트랜드(111)를 제조할 수 있음은 물론이다. Referring to FIG. 2, the strand 111 may be manufactured by twisting a plurality of the wires 112 around one wire 112. A method of manufacturing the strand 111 by twisting a plurality of the wires 112 is not limited thereto, and the strand 111 may be manufactured by twisting the wire 112 in various ways according to the purpose of the wire. Of course it can.
도 3을 참조하면, 상기 연선 단계(S400)는 복수 개의 상기 스트랜드(111)를 꼬아서 와이어 로프(110)를 형성하는 와이어 로프 형성 단계(S500)를 포함하여 이루어질 수 있다. 즉, 복수 개의 상기 스트랜드(111)를 다시 한번 꼬아서 상기 와이어 로프(110)를 만드는 것이다. 상기 스트랜드(111), 상기 와이어 로프(110)는 모두 기본적으로 상기 와이어(112)를 꼬아서 사용하는 것으로, 와이어의 사용 용도와 강도 등을 고려하여 적절하게 상기 와이어(112)를 꼬아서 사용할 수 있다. (필요에 따라서는 상기 와이어 로프 형성 단계(S500)는 생략가능하다.)Referring to FIG. 3, the twisted pair step S400 may include a wire rope forming step S500 that twists a plurality of strands 111 to form a wire rope 110. That is, the wire rope 110 is made by twisting a plurality of the strands 111 again. The strand 111 and the wire rope 110 are basically used by twisting the wire 112, and the wire 112 may be properly twisted in consideration of the use purpose and strength of the wire. have. (If necessary, the wire rope forming step S500 may be omitted.)
본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어(100)는 표면에 에칭 홈이 형성되는 것으로, 이하 상기 스트랜드(111)를 중심으로 설명하기로 한다. 다만, 상술할 상기 스트랜드(111) 표면에 에칭 홈이 형성되는 것과 관련된 설명은 상기 스트랜드(111)가 꼬여서 형성된 상기 와이어 로프(110) 표면에 에칭 홈이 형성되는 것과 관련된 설명을 의미할 수 있음은 물론이다. The stranded wire 100 having the etching grooves of the present invention is formed with etching grooves on a surface thereof, which will be described below with reference to the strands 111. However, the description related to the formation of the etching groove on the surface of the strand 111 to be described above may mean a description related to the formation of the etching groove on the surface of the wire rope 110 formed by twisting the strand 111. Of course.
상기 표면 에칭 단계(S600)는 상기 도금 단계(S200) 및 상기 연선 단계(S400)를 통해 형성된 상기 스트랜드(111)를 플라즈마 장치(140)로 표면 에칭하여, 상기 스트랜드(111) 표면에 형성되어 있는 상기 도금층(120)에 패턴을 갖는 에칭 홈(130)을 형성하는 단계이다. 즉, 복수 개의 와이어(112)가 꼬여서 형성된 상기 스트랜드(111) 표면에 플라즈마 처리를 통해 상기 에칭 홈(130)을 형성시키는 것으로, 상기 에칭 홈(130)은 상기 스트랜드(111) 표면에 형성되어 있는 상기 도금층(120)에 형성되어 있는 것이다. (상기 스트랜드(111)를 꼬아서 상기 와이어 로프(110)가 형성된다면, 상기 표면 에칭 단계(S600)는 상기 와이어 로프(110)를 상기 플라즈마 장치(140)로 표면 에칭하여, 상기 와이어 로프(110) 표면에 형성되는 상기 도금층(120)에 패턴을 갖는 에칭 홈을 형성하는 것이다.) In the surface etching step S600, the strand 111 formed through the plating step S200 and the stranded wire step S400 is surface-etched by the plasma apparatus 140, and is formed on the surface of the strand 111. The etching groove 130 having the pattern is formed in the plating layer 120. That is, the etching groove 130 is formed on the surface of the strand 111 by plasma treatment on the surface of the strand 111 formed by twisting a plurality of wires 112. It is formed in the plating layer 120. (If the wire rope 110 is formed by twisting the strand 111, the surface etching step (S600) may surface-etch the wire rope 110 with the plasma apparatus 140, thereby providing the wire rope 110. The etching groove having a pattern is formed in the plating layer 120 formed on the surface thereof.
상기 와이어 준비 단계(S100), 상기 도금 단계(S200), 상기 연선 단계(S400), 상기 표면 에칭 단계(S600)를 거쳐 상기 스트랜드(111), 상기 도금층(120)을 포함하며, 상기 도금층(120)에는 표면 에칭을 통하여 패턴을 갖는 에칭 홈(130)이 마련된 에칭 홈이 형성된 연선 와이어(100)가 제조된다. After the wire preparation step (S100), the plating step (S200), the stranded wire step (S400), the surface etching step (S600) comprises the strand 111, the plating layer 120, the plating layer 120 ), A stranded wire 100 having an etching groove having an etching groove 130 having a pattern is formed through surface etching.
상기 도금층(120)에 마련되는 패턴을 갖는 상기 에칭 홈(130)은 다양한 형상으로 이루어질 수 있다. 도 4를 참조하면, 상기 에칭 홈(130)의 상기 패턴은 규칙형 패턴으로 이루어질 수 있다. 상기 규칙형 패턴은 복수 개의 상기 에칭 홈(130)이 마련되고, 상기 에칭 홈(130)의 형상이 일정한 형상으로 이루어져 있으며, 상기 에칭 홈(130)의 간격이 일정하게 이루어져 있는 것이다. The etching groove 130 having a pattern provided in the plating layer 120 may have various shapes. Referring to FIG. 4, the pattern of the etching groove 130 may be formed as a regular pattern. The regular pattern is provided with a plurality of the etching groove 130, the shape of the etching groove 130 is a constant shape, the interval between the etching groove 130 is made constant.
도 5(a),(b),(c)를 참조하면, 상기 에칭 홈(130)의 형상은 삼각형 에칭홈(131), U형 에칭홈(132), 방향성 물결형 에칭 홈(133) 등의 형상으로 이루어질 수 있다. 상기 방향성 물결형 에칭 홈(133)은 에칭 홈 일단에서 타단으로 일정한 경사를 갖는 형상으로 이루어진 것이다. 상기 에칭 홈(130)의 형상은 이에 한정하는 것은 아니며, 이외에도 접촉면적을 넓혀 접착력을 향상시킬 수 있다면 다양한 형상으로 이루어질 수 있음은 물론이다. Referring to FIGS. 5A, 5B, and 5C, the etching groove 130 may have a triangular etching groove 131, a U-type etching groove 132, a directional wavy etching groove 133, and the like. It may be made in the shape of. The directional wavy etching groove 133 is formed in a shape having a constant inclination from one end of the etching groove to the other end. The shape of the etching groove 130 is not limited thereto, but may be formed in various shapes as long as the contact area can be improved to improve adhesive strength.
가령 상기 에칭 홈(130)은 나선형 에칭 홈, 공공(Pours)형 에칭 홈, 기공(Void)형 에칭 홈 등으로 이루어질 수 있다. 여기서 상기 나선형 에칭홈은 상기 와이어(100)를 따라 나선형으로 상기 에칭 홈(130)이 마련된 것이며, 상기 나선형 에칭 홈은 이중 나선형으로도 이루어질 수 있다. 상기 공공(Pour)형 에칭 홈, 기공(Void)형 에칭 홈은 상기 U형 에칭 홈(132)의 변형된 형태이다. 상기 U형 에칭 홈(132)의 변형 형태는 반원형으로 이루어질 수 있으며, 원의 호 형태로 이루어질 수 있다. 원의 호 형태는 두 점을 잇는 선분이 원의 지름보다 짧을 때의 열호와 원의 지름보다 길 때의 우호의 형태로 나타날 수 있다. For example, the etching groove 130 may be formed of a spiral etching groove, a groove-type etching groove, a void-type etching groove, and the like. Here, the etch groove 130 is provided with the etching groove 130 in a spiral along the wire 100, the spiral etching groove may be made of a double spiral. The Pour type etching grooves and the Void type etching grooves are modified forms of the U type etching grooves 132. The modified form of the U-type etching groove 132 may be formed in a semicircular shape, it may be made in the shape of an arc of a circle. The arc shape of a circle can be represented by a stiff arc when the line connecting two points is shorter than the diameter of the circle and an arc when it is longer than the diameter of the circle.
도 6을 참조하면, 상기 에칭 홈(130)의 상기 패턴은 불규칙형 패턴으로 이루어질 수 있다. 상기 불규칙형 패턴은 복수 개의 상기 에칭 홈(130)이 마련되고, 상기 에칭 홈(130)의 형상이 랜덤하게 형성되며, 상기 에칭 홈(130)의 간격이 랜덤하게 형성되는 것이다. 즉, 상기 불규칙형 패턴은 일정한 규칙이 없이 상기 에칭 홈(130)이 상기 도금층(120)에 형성되는 것이다. 상기 불규칙형 패턴은 상기 에칭 홈(130)의 간격 및 형상을 고려하지 않아도 되므로 제작이 간편한 장점이 있다. Referring to FIG. 6, the pattern of the etching groove 130 may be formed in an irregular pattern. In the irregular pattern, a plurality of etching grooves 130 are provided, the shapes of the etching grooves 130 are randomly formed, and the intervals of the etching grooves 130 are randomly formed. That is, in the irregular pattern, the etching groove 130 is formed in the plating layer 120 without a predetermined rule. The irregular pattern does not need to consider the spacing and shape of the etching groove 130 has the advantage of easy manufacturing.
상기 에칭 홈(130)은 이에 한정되는 것은 아니며, 다양한 형상으로 이루어질 수 있음은 물론이다. 가령, 상기 에칭 홈(130)은 일정한 형상으로 이루어지고, 상기 에칭 홈(130)의 간격이 랜덤하게 형성될 수 있으며, 상기 에칭 홈(130)의 형상은 랜덤하게 이루어지며, 상기 에칭 홈(130)의 간격이 일정하게 형성될 수도 있다. The etching groove 130 is not limited thereto and may be formed in various shapes. For example, the etching groove 130 may be formed in a constant shape, the interval of the etching groove 130 may be formed at random, the shape of the etching groove 130 is made random, the etching groove 130 May be formed to be constant.
도 7을 참조하면, 상기 에칭 홈(130)의 깊이는 0.3ηm 이상 내지 100ηm 이하가 바람직하다. 도 6은 상기 에칭 홈(130)이 일정하지 않은 형상을 나타내고 있으나, 상기 홈(130)의 일정한 형상의 경우에도 상기 에칭 홈(130)의 깊이는 0.3ηm 이상 내지 100ηm 이하가 바람직하다. Referring to FIG. 7, the depth of the etching groove 130 is preferably 0.3 μm or more and 100 μm or less. 6 illustrates a shape in which the etching groove 130 is not constant, but the depth of the etching groove 130 is preferably 0.3 ηm or more to 100 ηm or less even in the case of a certain shape of the groove 130.
상기 에칭 홈(130)은 상기 플라즈마 장치(140)에 의해 형성되며, 상기 플라즈마 장치(140)는 원자 단위로 상기 에칭 홈(130)을 형성할 수 있다. 본 발명의 일 실시 예에 따르면, 상기 도금층(120)이 황동 도금층인 경우 Cu 원자와 Zn 원자를 상기 도금층(120) 표면에서 제거하여 상기 에칭 홈(130)을 형성할 수 있다. 이때 상기 Cu 원자의 반경은 0.128ηm, Zn의 원자 반경은 0.133ηm 이다. 따라서, 상기 에칭 홈(130)의 깊이는 최소 원자 단위인 0.3ηm 이상 단위로 형성할 수 있다. The etching groove 130 may be formed by the plasma apparatus 140, and the plasma apparatus 140 may form the etching groove 130 in atomic units. According to an embodiment of the present disclosure, when the plating layer 120 is a brass plating layer, the etching groove 130 may be formed by removing Cu atoms and Zn atoms from the surface of the plating layer 120. At this time, the radius of the Cu atom is 0.128ηm, the atomic radius of Zn is 0.133ηm. Therefore, the depth of the etching groove 130 may be formed in a unit of 0.3ηm or more which is the minimum atomic unit.
또한, 상기 도금층(120)의 일반적인 두께는 250ηm 이다. 따라서, 상기 에칭 홈(130)의 깊이가 지나치게 깊어지면 오히려 상기 도금층(120)이 제거되어 접착력이 낮아지는 경우가 발생할 수 있다. 이에 따라 상기 에칭 홈(130)의 두께는 100ηm 이하로 하는 것이 바람직하다. In addition, the general thickness of the plating layer 120 is 250 ηm. Accordingly, when the depth of the etching groove 130 is too deep, the plating layer 120 may be removed to lower the adhesive strength. Accordingly, the thickness of the etching groove 130 is preferably 100 ηm or less.
상기 에칭 홈(130)은 상기 표면 에칭 단계(S600)에서 상기 플라즈마 장치(140)에 의해 형성되며, 상기 플라즈마 장치(140)에 의해 상기 에칭 홈(130)의 상기 패턴과 상기 에칭 홈(130)의 형상을 조절할 수 있다. The etching groove 130 is formed by the plasma apparatus 140 in the surface etching step S600, and the pattern of the etching groove 130 and the etching groove 130 are formed by the plasma apparatus 140. The shape of the can be adjusted.
상기 플라즈마 장치(140)와 상기 플라즈마 장치(140)에 의해 상기 에칭 홈(130)이 형성되는 과정을 살펴보면 다음과 같다. Looking at the process of forming the etching groove 130 by the plasma device 140 and the plasma device 140 as follows.
도 8을 살펴보면, 상기 플라즈마 장치(140)는 공급대(141), 권취기(142), 플라즈마 챔버(143), 가스 투입구(144), 가스 배출구(145), RF(Radio Frequency) 전력장치(146), 회전식 롤러(147), 로터리 또는 터보 펌프(148)로 이루어진다. (여기서, 상기 로터리 또는 터보 펌프(148)는 진공 플라즈마 장치에 사용되며, 대기압 플라즈마 장치에서는 생략되어 사용될 수 있다.) Referring to FIG. 8, the plasma apparatus 140 includes a supply table 141, a winder 142, a plasma chamber 143, a gas inlet 144, a gas outlet 145, and a radio frequency (RF) power device ( 146, rotary roller 147, rotary or turbo pump 148. (The rotary or turbo pump 148 may be used in a vacuum plasma apparatus and may be omitted in an atmospheric plasma apparatus.)
상기 플라즈마 장치(140)로 상기 에칭 홈(130)을 형성하기 위해 상기 스트랜드(111)를 상기 공급대(141)에 장착 후 상기 플라즈마 챔버(143)를 통과시켜 상기 권취기(142)에 감아 연속 작업이 될 수 있도록 배선한다. 그 이후 상기 플라즈마 챔버(143) 안으로 상기 가스 투입구(144)를 통해 가스를 투입하고 상기 RF 전력장치(146)로 전압을 인가한다. In order to form the etching groove 130 by the plasma apparatus 140, the strand 111 is mounted on the supply stage 141, and then wound around the winding unit 142 by passing through the plasma chamber 143. Wire it to work. Thereafter, gas is introduced into the plasma chamber 143 through the gas inlet 144 and a voltage is applied to the RF power device 146.
상기 RF 전력장치(146)에 인가된 전압에 의해 투입된 가스가 플라즈마 상태로 변환되고, 투입된 가스는 자유 양이온과 자유 전자로 나누어지게 된다. 상기 회전식 롤러(147)는 상기 스트랜드(111)를 음전극으로 사용하기 위한 장치로, 상기 회전식 롤러(147)와 접촉하여 상기 스트랜드(111)는 음전극을 띄게 된다. 상기 회전식 롤러(147)에 의해 상기 스트랜드(111)가 음전극을 띄게 되면, 상기 RF 전력장치(146)에 의해 형성된 자유 양이온이 상기 스트랜드(111)에 표면으로 가속되고, 상기 스트랜드(111) 표면과 충돌하면서 상기 스트랜드(111) 표면의 금속 원자들이 떨어져 나가면서 표면에 상기 에칭 홈(130)이 형성된다. (즉, 도 9(a)를 참조하면, 상기 도금층(120)의 금속 원자들이 떨어져 나가면서 상기 도금층(120)에 상기 에칭 홈(130)이 형성되는 것이다.) The injected gas is converted into a plasma state by the voltage applied to the RF power device 146, and the injected gas is divided into free cations and free electrons. The rotary roller 147 is a device for using the strand 111 as a negative electrode, the strand 111 is in contact with the rotary roller 147 to have a negative electrode. When the strand 111 floats the negative electrode by the rotary roller 147, free cations formed by the RF power device 146 are accelerated to the surface of the strand 111, and the surface of the strand 111 is formed. The etching groove 130 is formed on the surface while the metal atoms on the surface of the strand 111 are separated while colliding. (Ie, referring to FIG. 9A, the etching grooves 130 are formed in the plating layer 120 while the metal atoms of the plating layer 120 are separated.)
*여기서, 상기 플라즈마 장치(140)는 대기압 플라즈마 장치 또는 진공 플라즈마 장치로 이루어질 수 있다. 상기 로터리 또는 터보 펌프(148)는 진공 플라즈마 장치에 사용되는 것으로, 에칭의 효율을 높이기 위하여 상기 로터리 또는 터보 펌프(148)로 상기 플라즈마 챔버(143) 내의 기압을 대기압보다 낮은 저기압 또는 진공 상태로 만든 후 플라즈마 처리를 할 수 있다. 상기 로터리 또는 터보 펌프(148)의 구성은 베르누이 법칙을 적용하여 플라즈마 챔버(143) 내의 기압을 저기압 또는 진공을 만들기 위하여 와이어 투입구 및 출구 양쪽에 설치하여 사용할 수 있다. Here, the plasma device 140 may be formed of an atmospheric plasma device or a vacuum plasma device. The rotary or turbo pump 148 is used in a vacuum plasma apparatus, and the rotary or turbo pump 148 causes the atmospheric pressure in the plasma chamber 143 to be low or lower than atmospheric pressure in order to increase the efficiency of etching. After the plasma treatment can be performed. The rotary or turbo pump 148 may be used by installing Bernoulli's law to install the air pressure in the plasma chamber 143 at both the wire inlet and the outlet to form a low pressure or a vacuum.
상기 에칭 홈(130)의 형상은 이방성 식각 원리를 응용하여 다양한 형상의 패턴을 부여할 수 있다. 가령, FCC 격자 구조를 갖는 상기 도금층(120)의 경우 110 면이 111면 보다 면밀도가 낮기 때문에 플라즈마 처리 시 에칭 속도가 빠르게 된다. 이를 이용하여 V형 형태의 패턴형성이 가능하다. The shape of the etching groove 130 may be applied to the pattern of various shapes by applying the anisotropic etching principle. For example, in the case of the plating layer 120 having the FCC lattice structure, since the 110 surface has a lower surface density than the 111 surface, the etching speed is increased during the plasma treatment. It is possible to form a V-type pattern using this.
도 9(a)는 황동 도금층(Cu 와 Zn으로 이루어진)에 상기 에칭 홈(130)이 형성된 것을 나타내는 도면이며, 도 9(b)는 청동 도금층(Cu와 Sn으로 이루어진)에 상기 에칭 홈(130)이 형성된 것을 나타내는 도면이다. 도 9(a)를 참조하면, 황동 도금층이 형성된 와이어 표면의 금속 원자(Cu, Zn)들이 떨어져 나가면서 V형 상기 에칭 홈(130)을 형성하는 것을 알 수 있으며, 도 9(b)를 참조하면, 청동 도금층이 형성된 와이어 표면의 금속 원자(Cu, Sn)들이 떨어져 나가면서 U형 상기 에칭 홈(130)을 형성하는 것을 알 수 있다. FIG. 9A is a view showing that the etching groove 130 is formed in a brass plating layer (made of Cu and Zn), and FIG. 9 (B) illustrates the etching groove 130 in a bronze plating layer (made of Cu and Sn). ) Is a drawing showing that formed. Referring to FIG. 9 (a), it can be seen that the metal atoms (Cu and Zn) of the wire surface on which the brass plating layer is formed are formed to form the V-type etching groove 130, and refer to FIG. 9 (b). When the metal atoms (Cu, Sn) on the surface of the bronze plated layer are formed, the U-type etching grooves 130 may be formed.
또한, 상기 에칭 홈(130)의 깊이를 0.3ηm 이상 내지 100ηm 이하로 하기 위해 상기 RF 전력장치(146)의 전압을 3kV 이상 내지 80kV 이하로 하며, 공급 전력은 1kW 이상 내지 4kW 이하로 하는 것이 바람직하다. 상기 RF 전력장치(146)는 전압을 증가시킬수록 자유 양이온의 가속도가 빨라져 입자 에너지가 증가하게 되고, 이에 따라 떨어져 나가는 도금 입자들의 양이 많아지게 된다. 상기 RF 전력장치(146)의 전압을 3kV 이상 내지 80kV 이하, 공급 전력은 1kW 이상 내지 4kW 이하로 하고, 상기 RF 전력장치(146) 전압 및 공급전력의 크기를 조절하여 상기 에칭 홈(130)의 깊이를 0.3ηm 이상 내지 100ηm 이하로 할 수 있게 된다. In addition, in order to make the depth of the etching groove 130 to 0.3ηm or more and 100ηm or less, the voltage of the RF power device 146 is 3kV or more and 80kV or less, and the supply power is preferably 1kW or more and 4kW or less. Do. In the RF power device 146, as the voltage is increased, the acceleration of the free cation is increased, thereby increasing the particle energy, thereby increasing the amount of plated particles falling off. The voltage of the RF power device 146 is 3 kV or more and 80 kV or less, the power supply is 1 kW or more and 4 kW or less, and the size of the RF power device 146 voltage and the power supply is adjusted to adjust the size of the etching groove 130. The depth can be made 0.3 m or more and 100 m or less.
이와 함께, 가스 투입량 또는 도금된 와이어의 이동속도를 조절하여 플라즈마 처리 시간을 변화시킴에 따라 상기 에칭 홈(130)의 깊이 또는 상기 에칭 홈(130)의 간격을 조절할 수 있다. 상기 에칭 홈(130)의 깊이를 0.3ηm 이상 내지 100ηm 이하로 하기 위해서는 상기 가스 투입량 1 L/M 이상 내지 500 L/M로 하는 것이 바람직하다. In addition, the depth of the etching groove 130 or the interval of the etching groove 130 may be adjusted as the plasma treatment time is changed by adjusting the gas input amount or the moving speed of the plated wire. In order to set the depth of the etching groove 130 to 0.3? M or more and 100? M or less, the gas injection amount is preferably 1 L / M or more and 500 L / M.
상기 에칭 홈(130)을 형성하기 위한 상기 플라즈마 장치(140)는 와이어 소재의 물성 및 도금층 표면의 산화를 방지하기 위하여 저온 대기압 플라즈마 장치 또는 진공 플라즈마 장치를 사용하는 것이 바람직하다. 일반적으로 사용되는 고온 플라즈마 장치는 열에 의한 와이어의 물성저하나 도금층이 산화되는 문제가 발생할 수 있다. 그러나 저온 대기압 플라즈마 또는 진공 플라즈마는 고온 플라즈마와 달리 2개의 전극 사이에 높은 전압을 가하여 플라즈마 상태를 만드는 것으로 전체적으로 중성을 띄면서 높은 반응성을 가지게 되는 것을 활용하는 것이다. 이를 통해 표면을 에칭하면 열에 의한 소재의 물성에 영향을 주지 않고 표면처리가 가능한 장점이 있다. The plasma apparatus 140 for forming the etching groove 130 may preferably use a low temperature atmospheric plasma apparatus or a vacuum plasma apparatus to prevent oxidation of the physical properties of the wire material and the surface of the plating layer. In general, a high temperature plasma apparatus used may have a problem of deterioration of wire properties due to heat or oxidation of a plating layer. However, unlike the high temperature plasma, the low temperature atmospheric plasma or the vacuum plasma utilizes high neutrality and high reactivity by applying a high voltage between two electrodes to create a plasma state. Etching the surface through this has the advantage that the surface can be treated without affecting the material properties of the heat.
본 발명에서는 대기압 플라즈마 장치 또는 진공 플라즈마 장치를 선택적으로 사용할 수 있다. 대기압 플라즈마 장치는 상기 플라즈마 챔버(143) 내의 기압을 진공으로 만들기 위한 별도의 펌프가 필요하지 않아 사용이 간편한 장점이 있다. 진공 플라즈마 장치는 플라즈마 챔버(143) 내의 기압을 진공 상태로 만들기 위해 별도의 장비(로터리 또는 터보 펌프(148))가 필요하지만, 진공 플라즈마 장치는 대기압 대비 표면 에칭 효율을 높일 수 있는 장점이 있다. 진공 플라즈마 장치를 사용시 플라즈마 챔버(143) 내의 기압을 진공 상태로 만들어 사용할 수 있으며, 상기 플라즈마 챔버(143) 내의 기압을 대기압 보다 작은 기압을 갖는 저기압 상태로도 만들어 사용할 수도 있다. In the present invention, an atmospheric plasma apparatus or a vacuum plasma apparatus can be selectively used. Atmospheric pressure plasma device does not need a separate pump for making the air pressure in the plasma chamber 143 to a vacuum has the advantage that it is easy to use. The vacuum plasma apparatus requires a separate equipment (rotary or turbo pump 148) to make the air pressure in the plasma chamber 143 into a vacuum state, but the vacuum plasma apparatus has an advantage of improving surface etching efficiency compared to atmospheric pressure. When the vacuum plasma apparatus is used, the atmospheric pressure in the plasma chamber 143 may be made into a vacuum state, and the atmospheric pressure in the plasma chamber 143 may be made into a low pressure state having an air pressure smaller than atmospheric pressure.
상기 플라즈마 장치(140)에 사용되는 플라즈마 발생용 가스는 비활성 가스, Ar, H₂, N₂중 어느 하나 이상을 사용하는 것이 바람직하다. 비활성 가스, Ar, H₂, N₂는 인체에 무해한 가스로, 종래의 인체에 유해한 다양한 화합물을 도포하여 와이어의 접착력을 향상시키는 종래 기술에 비해 친환경적인 장점이 있다. The plasma generation gas used in the plasma device 140 may use at least one of an inert gas, Ar, H 2, and N 2. Inert gases, Ar, H₂, N₂ is a gas harmless to the human body, there is an environmentally friendly advantage compared to the prior art to improve the adhesion of the wire by applying a variety of compounds harmful to the conventional body.
이하에서는 실시 예를 들어 본 발명을 보다 상세히 설명한다. Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples.
다음의 실시 예는 자동차에 사용되는 스틸 코드에 에칭 홈을 형성시킨 것이다. 하기 실시 예는 설명의 목적을 위한 것으로 본 발명을 제한하기 위한 것은 아니다. 본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어(100)는 스틸 코드 이외에도 벨트 코드, 와이어로프, 교량용 와이어 로프 등 다양한 용도로 사용될 수 있음은 물론이다. In the following example, an etching groove is formed in a steel cord used in an automobile. The following examples are for illustrative purposes only and are not intended to limit the invention. The stranded wire 100 having the etching groove of the present invention may be used for various purposes, such as a belt cord, a wire rope, and a wire rope for a bridge, in addition to a steel cord.
[실시 예][Example]
먼저, 탄소 함량이 0.82중량%이고 직경이 5.5mm인 와이어 로드(Wire rod)를 1.75mm로 신선한 후 열처리 및 황동도금(Cu : 62.5% α-brass, 도금부착량 : 4g/kg(두께 : 1.65um))을 실시하고 직경 0.30mm까지 신선한 소선 3가닥(Cu : 63%, α-brass, 도금부착량 : 3.5g/kg (두께 : 240ηm) 을 16mm의 꼬임길이로 연선한 후 플라즈마 장치를 통하여 표면에 다양한 깊이의 에칭 홈을 부여하였다. 이때 에칭 홈의 깊이를 조정하기 위하여 RF 전력기의 공급 전압을 3kV 이상 내지 80kV 이하 범위에서 점차 증가시키면서 플라즈마 처리를 실시하였으며, Ar 및 H₂가스 투입량은 5L/M, 1L/M로 하였다. 또한, 와이어의 에칭 홈의 형상은 α-brass 도금의 격자 구조인 FCC구조에서 격자면에 따라 식각 속도가 차이는 나는 것을 이용하여 V형 형태의 에칭 홈을 부여하였다.First, the carbon rod is 0.82% by weight and the wire rod (5.5mm diameter) is fresh to 1.75mm, and then heat-treated and brass plating (Cu: 62.5% α-brass, plating amount: 4g / kg (thickness: 1.65um) 3 wires (Cu: 63%, α-brass, plating amount: 3.5g / kg (thickness: 240ηm)) with a twisting length of 16mm, and then attached to the surface through the plasma apparatus. In order to adjust the depth of the etching grooves, plasma treatment was performed while gradually increasing the supply voltage of the RF power generator in the range of 3 kV to 80 kV and the Ar and H₂ gas inputs were 5 L / M. In addition, the etching grooves of the wires were provided with V-type etching grooves by using the difference in the etching rate depending on the lattice plane in the FCC structure, which is the lattice structure of α-brass plating.
표면 에칭 홈 깊이는 최소 원자 단위인 0.3ηm에서부터 최대 도금층 두께 수준인 250ηm 수준으로 형성하였다. 플라즈마 처리를 통한 에칭 홈의 깊이가 접착력에 미치는 영향을 확인하기 위하여 플라즈마 처리를 하지 않은 일반적인 스틸와이어 제품을 비교예로 선정하였다. 제조된 시편들의 고무와의 접착력을 평가하기 위하여 ASTM D2229-04의 방법으로 T-test 방식을 적용하였다. (ASTM D2229-04의 방법으로 T-test 방식은 공지된 방법으로 그 상세한 설명은 생략한다.)The surface etch groove depth was formed from the minimum atomic unit of 0.3ηm to the maximum plating layer thickness of 250ηm. In order to confirm the effect of the depth of the etching groove through the plasma treatment on the adhesive force, a general steel wire product without the plasma treatment was selected as a comparative example. In order to evaluate the adhesive strength of the prepared specimens with rubber, the T-test method was applied by the method of ASTM D2229-04. (The T-test method is a well-known method in the method of ASTM D2229-04, and a detailed description thereof is omitted.)
도 10(a)는 스틸 코드의 표면 에칭 홈 깊이에 따른 접착력 시험 결과이며, 도 10(b)는 이를 그래프로 나타낸 것이다. Figure 10 (a) is a result of the adhesion test according to the surface etching groove depth of the steel cord, Figure 10 (b) shows this graphically.
도 10(a) 및 도 10(b)의 결과를 살펴보면, 에칭 홈 깊이가 증가함에 따라 와이어의 표면적이 증가하며, 와이어의 표면적 증가에 따라 접착력이 증가하는 것을 알 수 있다. 그러나 에칭 홈 깊이가 100ηm 이상이 되면 접착력이 하락하는 것을 알 수 있다. 이는 상술한 바와 같이 에칭 홈 깊이를 너무 깊게 하면 도금층이 제거되어 오히려 접착력이 낮아지는 것이며, 따라서 에칭 홈의 깊이는 0.3ηm 이상 내지 100ηm 이하로 하는 것이 바람직하다. Referring to the results of FIGS. 10 (a) and 10 (b), it can be seen that the surface area of the wire increases as the etching groove depth increases, and the adhesive force increases as the surface area of the wire increases. However, it can be seen that the adhesion decreases when the etching groove depth is 100 ηm or more. This means that if the etching groove depth is too deep as described above, the plating layer is removed and the adhesive force is lowered. Therefore, the depth of the etching groove is preferably 0.3? M or more and 100? M or less.
또한, 실시 예와 비교 예 제품을 살펴보면 절단하중이 유사한 것을 알 수 있다. 이는 플라즈마 처리에 의해 발생한 에칭 홈은 스틸 코드의 절단 하중이 감소시키지 않는 것을 알 수 있다. 즉, 본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어는 절단하중을 감소시키지 않으면서 접착력을 향상시킬 수 있는 것이다. In addition, looking at the Example and Comparative Example products, it can be seen that the cutting load is similar. This shows that the etching grooves generated by the plasma treatment do not reduce the cutting load of the steel cord. That is, the stranded wire in which the etching groove of this invention was formed can improve adhesive force, without reducing a cutting load.
상술한 본 발명의 에칭 홈이 형성된 와이어 및 그 제조방법은 다음과 같은 효과가 있다. The above-described wire and etching method of the etching groove of the present invention have the following effects.
본 발명은 플라즈마 장치를 이용하여 와이어 도금층에 다양한 깊이와 형상의 패턴을 형성시켜 고무와의 접착력을 향상시킬 수 있는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 및 그 제조방법에 관한 것으로, 플라즈마 장치에 의해 형성된 에칭 홈에 의해 접촉면적이 넓어지고 이로 인해 고무와의 접착력이 향상되는 장점이 있다. The present invention relates to a stranded wire having an etching groove capable of improving adhesion to rubber by forming patterns of various depths and shapes in a wire plating layer using a plasma apparatus, and a method of manufacturing the same. As a result, the contact area becomes wider, and thus the adhesive force with the rubber is improved.
또한, 본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 및 그 제조방법은 대기압 플라즈마 장치 또는 진공 플라즈마 장치를 사용함에 따라, 열에 의한 와이어의 물성저하나 도금층이 산화되는 문제 없이 표면처리 할 수 있는 장점이 있으며, 플라즈마 장치에 사용되는 가스를 인체에 무해한 비활성 가스, Ar, H₂, N₂중 어느 하나를 사용함에 따라 친환경적인 장점이 있다. In addition, the stranded wire with the etching groove of the present invention and the method of manufacturing the same by using an atmospheric plasma apparatus or a vacuum plasma apparatus, there is an advantage that can be surface treated without problems of physical properties of the wire due to heat or oxidation of the plating layer, As the gas used in the plasma apparatus uses any one of inert gas, Ar, H₂, and N₂, which is harmless to the human body, there is an environmentally friendly advantage.
본 발명의 에칭 홈이 형성된 연선 와이어는 고무 등과의 잡착력을 향상시키는 주된 효과가 있으나, 그 이외에도 에칭 홈이 형성됨에 따라 부수적인 효과가 발생할 있음은 물론이다. 가령, 와이어 로프의 경우 에칭 홈이 형성됨에 따라 그리스 도포력이 향상될 수 있으며, 폴리머 등과의 접착력이 향상될 수 있는 효과가 있다. Although the stranded wire in which the etching groove of the present invention is formed has a main effect of improving the adhesion with rubber, etc., other side effects may occur as the etching groove is formed. For example, in the case of the wire rope, as the etching grooves are formed, the grease coating force may be improved, and the adhesive force with the polymer may be improved.
이상에서 다양한 실시 예를 들어 본 발명을 설명하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 본 발명의 권리범위로부터 합리적으로 해석될 수 있는 것이라면 무엇이나 본 발명의 권리범위에 속하는 것은 당연하다.While the present invention has been described with reference to various embodiments, it is not limited thereto, and any thing that can be reasonably interpreted from the scope of the present invention will naturally belong to the scope of the present invention.

Claims (14)

  1. 복수 개의 와이어가 꼬여서 형성된 스트랜드; 및A strand formed by twisting a plurality of wires; And
    상기 스트랜드 표면에 형성되는 도금층;을 포함하며, It includes; plating layer formed on the strand surface,
    상기 도금층은 플라즈마 장치에 의해 표면 에칭되어 패턴을 갖는 에칭 홈;이 마련되는 것을 특징으로 하는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어. The plating layer is surface-etched by the plasma device; etching grooves having a pattern; wire strands with an etching groove, characterized in that provided.
  2. 제1항에 있어서, The method of claim 1,
    복수 개의 상기 스트랜드를 꼬아서 와이어 로프를 형성하며, Twisting the plurality of strands to form a wire rope,
    상기 에칭 홈은 상기 와이어 로프 표면에 형성되는 상기 도금층에 마련되는 것을 특징으로 하는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어. The stranded wire having the etching groove, wherein the etching groove is provided in the plating layer formed on the wire rope surface.
  3. 제1항에 있어서, The method of claim 1,
    상기 에칭 홈의 상기 패턴은, The pattern of the etching groove,
    상기 에칭 홈의 형상이 일정한 형상으로 이루어지며,The shape of the etching groove is made of a constant shape,
    상기 에칭 홈의 간격이 일정하게 이루어져 있는 규칙형 패턴으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어.A stranded wire having an etching groove, wherein the etching groove is formed in a regular pattern having a constant interval between the etching grooves.
  4. 제1항에 있어서, The method of claim 1,
    상기 에칭 홈의 상기 패턴은, The pattern of the etching groove,
    상기 에칭 홈의 형상이 일정한 형상으로 이루어지며,The shape of the etching groove is made of a constant shape,
    상기 에칭 홈의 간격이 랜덤하게 형성되는 것을 특징으로 하는 에칭 홈이 형성된 와이어.Etching grooves formed wire, characterized in that the interval between the etching grooves are formed at random.
  5. 제3항 또는 제4항에 있어서, The method according to claim 3 or 4,
    상기 에칭 홈의 형상은 U형, V형, 방향성 물결형 중 어느 한 형상으로 이루어진 것을 특징으로 하는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어.The shape of the etching groove is a stranded wire having an etching groove, characterized in that formed in any one of a U-shaped, V-shaped, directional wave shape.
  6. 제1항에 있어서, The method of claim 1,
    상기 에칭 홈의 상기 패턴은,The pattern of the etching groove,
    상기 에칭 홈의 형상이 랜덤하게 형성되며, The etching groove is randomly formed,
    상기 에칭 홈의 간격이 랜덤하게 형성되는 불규칙형 패턴으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어.Stranded wire having an etching groove, characterized in that consisting of an irregular pattern in which the interval between the etching grooves are formed at random.
  7. 제1항에 있어서, The method of claim 1,
    상기 에칭 홈의 깊이는 0.3ηm 이상 내지 100ηm 이하인 것을 특징으로 하는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어. A stranded wire with an etching groove, wherein the depth of the etching groove is 0.3? M or more and 100? M or less.
  8. 제1항에 있어서, The method of claim 1,
    상기 도금층은 황동 도금층, 청동 도금층, 아연도금층, 알루마 도금층, 구리 도금층, 주석 도금층, 니켈 도금층, 크롬 도금층, 코발트 도금층, 카드뮴 도금층 중 어느 하나의 도금층으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어.The plating layer is a stranded wire having an etching groove, characterized in that the plating layer is made of any one of a brass plating layer, bronze plating layer, galvanized layer, alumina plating layer, copper plating layer, tin plating layer, nickel plating layer, chromium plating layer, cobalt plating layer, cadmium plating layer. .
  9. 와이어 준비 단계; Wire preparation step;
    상기 와이어를 도금하여 도금층을 형성하는 도금 단계; A plating step of plating the wire to form a plating layer;
    복수 개의 상기 와이어를 꼬아서 스트랜드를 형성시키는 연선 단계;A twisted pair step of twisting a plurality of the wires to form strands;
    상기 스트랜드를 플라즈마 장치로 표면 에칭하여, 상기 스트랜드 표면에 형성되어 있는 상기 도금층에 패턴을 갖는 에칭 홈을 형성하는 표면 에칭 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 제조방법.And etching a surface of the strand with a plasma apparatus to form an etching groove having a pattern in the plating layer formed on the surface of the strand.
  10. 제9항에 있어서, The method of claim 9,
    상기 플라즈마 장치는 상온 대기압 방식의 플라즈마 장치 또는 진공 플라즈마 장치를 사용하며, The plasma apparatus uses a plasma apparatus or a vacuum plasma apparatus of room temperature atmospheric pressure,
    상기 플라즈마 장치에 사용되는 플라즈마 발생용 가스는 비활성 가스, Ar, H₂, N₂중 어느 하나 이상을 사용하는 것을 특징으로 하는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 제조방법.Plasma generating gas used in the plasma apparatus is an inert gas, Ar, H₂, N2 using a stranded wire manufacturing method having an etching groove, characterized in that using any one or more.
  11. 제9항에 있어서, The method of claim 9,
    상기 플라즈마 장치는 RF 전력장치를 사용하며, The plasma device uses an RF power device,
    상기 RF 전력장치의 전압은 3kV 이상 내지 80kV 이하로 하며, The voltage of the RF power device is more than 3kV to less than 80kV,
    상기 플라즈마 장치에 투입되는 가스 투입량은 1 L/M 이상 내지 500 L/M로 하여,The amount of gas introduced into the plasma apparatus is 1 L / M or more and 500 L / M,
    상기 에칭 홈의 깊이를 0.3ηm 이상 내지 100ηm 이하로 형성하는 것을 특징으로 하는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 제조방법.A method for manufacturing a stranded wire having an etching groove, wherein the etching groove has a depth of 0.3? M or more and 100? M or less.
  12. 제9항에 있어서, The method of claim 9,
    상기 도금층은 황동 도금층, 청동 도금층, 아연도금층, 알루마 도금층, 구리 도금층, 주석 도금층, 니켈 도금층, 크롬 도금층, 코발트 도금층, 카드뮴 도금층 중 어느 하나의 도금층으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 제조방법.The plating layer is a stranded wire having an etching groove, characterized in that the plating layer is made of any one of a brass plating layer, bronze plating layer, galvanized layer, alumina plating layer, copper plating layer, tin plating layer, nickel plating layer, chromium plating layer, cobalt plating layer, cadmium plating layer. Manufacturing method.
  13. 제9항에 있어서, The method of claim 9,
    상기 도금 단계는,The plating step,
    상기 도금 단계를 통해 형성된 상기 도금된 와이어를 신선하는 신선단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 제조방법. The method of claim 1, further comprising a drawing step of drawing the plated wire formed through the plating step.
  14. 제9항에 있어서, The method of claim 9,
    상기 연선 단계는 형성된 상기 스트랜드를 복수 개 꼬아서 와이어 로프를 형성하는 와이어 로프 형성단계를 포함하며, The stranding step includes a wire rope forming step of forming a wire rope by twisting a plurality of the formed strands,
    상기 표면 에칭 단계는, The surface etching step,
    상기 와이어 로프를 플라즈마 장치로 표면 에칭하여, 상기 와이어 로프 표면에 형성되는 상기 도금층에 패턴을 갖는 에칭 홈을 형성하는 것을 특징으로 하는 에칭 홈이 형성된 연선 와이어 제조방법. And etching the wire rope with a plasma apparatus to form an etching groove having a pattern in the plating layer formed on the surface of the wire rope.
PCT/KR2016/012594 2016-04-26 2016-11-04 Stranded wire having etched grooves and method for manufacturing same WO2017188531A1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2016-0051102 2016-04-26
KR1020160051102A KR20170122037A (en) 2016-04-26 2016-04-26 Stranded Wire Having Etching Groove and Manufacturing Method thereof

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2017188531A1 true WO2017188531A1 (en) 2017-11-02

Family

ID=60160913

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/KR2016/012594 WO2017188531A1 (en) 2016-04-26 2016-11-04 Stranded wire having etched grooves and method for manufacturing same

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR20170122037A (en)
WO (1) WO2017188531A1 (en)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100217288B1 (en) * 1995-03-30 1999-09-01 기쿠카와 겐이치 Wire rope
KR100248461B1 (en) * 1996-07-03 2000-05-01 홍건희 Pneumatic radial tire
EP1059380A2 (en) * 1999-06-03 2000-12-13 Hongduk Steel Cord Co., Ltd. Reinforcing steel cord for rubber products, method and device for producing such steel cords
JP2009248102A (en) * 2008-04-02 2009-10-29 Bridgestone Corp Steel wire material, steel wire, steel cord and pneumatic tire
KR20130057509A (en) * 2011-11-24 2013-06-03 금호타이어 주식회사 Cord of tire belt

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100217288B1 (en) * 1995-03-30 1999-09-01 기쿠카와 겐이치 Wire rope
KR100248461B1 (en) * 1996-07-03 2000-05-01 홍건희 Pneumatic radial tire
EP1059380A2 (en) * 1999-06-03 2000-12-13 Hongduk Steel Cord Co., Ltd. Reinforcing steel cord for rubber products, method and device for producing such steel cords
JP2009248102A (en) * 2008-04-02 2009-10-29 Bridgestone Corp Steel wire material, steel wire, steel cord and pneumatic tire
KR20130057509A (en) * 2011-11-24 2013-06-03 금호타이어 주식회사 Cord of tire belt

Also Published As

Publication number Publication date
KR20170122037A (en) 2017-11-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2015167142A1 (en) Wavy monowire for cutting
CN104318986A (en) Anti-static, anti-corrosion, waterproof and stretching-resistant insulated cable
CN104167252B (en) A kind of rail traffic vehicles high-voltage power cable and technological process thereof
WO2017188531A1 (en) Stranded wire having etched grooves and method for manufacturing same
WO2017131273A1 (en) Wavy monowire for cutting
WO2017188530A1 (en) Wire having etched grooves and method for manufacturing same
GB2354874A (en) Flexible conductor
JP6792799B2 (en) Manufacturing method of high-speed signal transmission cable and high-speed signal transmission cable
WO2014021524A1 (en) Alloy powder, alloy powder core, and method for producing same
WO2020218640A1 (en) Steel cord for rubber reinforcement and manufacturing method therefor
CN2847464Y (en) Low smoke halogen-free low poisonous rolling stock cable for rail transit
CN112820455B (en) Low-noise flexible cable and manufacturing method thereof
RU193843U1 (en) ELECTRIC FLEXIBLE CABLE
KR20210087882A (en) Communication cable
RU2792217C1 (en) Self-supporting insulated wire
RU2695317C1 (en) Steel-aluminium high-strength, high-temperature insulated wire for overhead power transmission line
CN205542021U (en) Silicon rubber insulation and chlorosulfonation jacketed cable
CN207319742U (en) A kind of elevator cable
CN215417592U (en) Aluminum alloy core power cable for frequency converter
CN201984871U (en) Mobile high temperature resistant cable
CN214336379U (en) Optical fiber composite flat cable
CN209183296U (en) A kind of thin-walled low smoke and zero halogen cross-linking radiation rolling stock cable
CN202940036U (en) Whitening ultraviolet-proof bulk shielding instrument cable for ships
CN216053959U (en) Aluminum alloy core overhead insulated cable
CN213150398U (en) Light anti-interference composite cable for airplane

Legal Events

Date Code Title Description
NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 16900604

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 16900604

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1