WO2016142484A3 - Vorrichtung zum bestimmen eines schalterzustands, schaltervorrichtung, verfahren zum bestimmen eines schalterzustands und computerprogramm - Google Patents
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Abstract
Eine Vorrichtung umfasst einen Spannungsmesser und eine Verarbeitungseinrichtung. Der Spannungsmesser ist konfiguriert, um eine Spannung zwischen einem Steueranschluss und einem Leistungsanschluss eines halbleiterbasierten Schalters zu messen und um ein Messsignal zu erhalten. Die Verarbeitungseinrichtung ist ausgebildet, um das Messsignal mit einem Referenzsignal zu vergleichen, und um basierend auf dem Vergleich einen Zustand einer Schalteranordnung, die den halbleiterbasierten Schalter umfasst, zu bestimmen.
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US6145107A (en) * | 1995-07-07 | 2000-11-07 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for early failure recognition in power semiconductor modules |
WO2005052610A1 (de) * | 2003-11-04 | 2005-06-09 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Schaltervorrichtung |
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