WO2015066946A1 - 一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及装置 - Google Patents

一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2015066946A1
WO2015066946A1 PCT/CN2013/087668 CN2013087668W WO2015066946A1 WO 2015066946 A1 WO2015066946 A1 WO 2015066946A1 CN 2013087668 W CN2013087668 W CN 2013087668W WO 2015066946 A1 WO2015066946 A1 WO 2015066946A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
liquid crystal
crystal module
flicker
flicker value
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/CN2013/087668
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
戴叶
康志聪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority to US14/234,625 priority Critical patent/US9304340B2/en
Publication of WO2015066946A1 publication Critical patent/WO2015066946A1/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/0247—Flicker reduction other than flicker reduction circuits used for single beam cathode-ray tubes
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/06—Adjustment of display parameters
    • G09G2320/0693—Calibration of display systems
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2360/00—Aspects of the architecture of display systems
    • G09G2360/14—Detecting light within display terminals, e.g. using a single or a plurality of photosensors
    • G09G2360/145—Detecting light within display terminals, e.g. using a single or a plurality of photosensors the light originating from the display screen
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2360/00—Aspects of the architecture of display systems
    • G09G2360/16—Calculation or use of calculated indices related to luminance levels in display data

Definitions

  • the present invention relates to a thin film transistor liquid crystal display (TFT-LCD) measurement technology, and more particularly to a method and apparatus for measuring a liquid crystal module Flicker flash value.
  • TFT-LCD thin film transistor liquid crystal display
  • the polarity of the common electrode signal switches to produce horizontal streaking, which is commonly referred to as the Flicker phenomenon.
  • the value of the Flicker flicker value directly reflects the quality reliability of the LCD panel.
  • the smaller the value of the Flicker flash value the lower the risk of image sticking (IS) on the LCD panel, and vice versa. Therefore, how to measure the value of the Flicker flicker value and control the Flicker flicker value within the predetermined range are the problems that need to be faced in the design and manufacture of the LCD panel.
  • the measurement of the Flicker flicker value is usually performed by, for example, the FMA method, the JEITA method, and the VESA method.
  • FMA method uses the AC component of the luminance change to represent the Flicker as the DC component; while the JEITA method and the VESA method use the FFT crossover to measure the decibel value of each frequency, and then integrate the full spectrum or find the maximum decibel value.
  • these methods can quantify the observation of flicker in the human eye, they do not directly indicate the Flicker phenomenon caused by Vcom polarity switching. Moreover, due to other factors, such as flashing of the backlight and unstable ground, the measured Flicker value cannot accurately reflect the Vcom offset.
  • the technical problem to be solved by the present invention is to provide a liquid crystal module Flicker for measuring
  • the method and device for flashing values can measure the Flicker flicker value of the obtained liquid crystal module in real time, so as to adjust the common electrode, thereby improving the quality of the liquid crystal module product.
  • an aspect of an embodiment of the present invention provides a method for measuring a flicker value of a liquid crystal module Flicker, which includes the following steps:
  • the specific frequency is a switching frequency of a current common electrode signal of the liquid crystal module.
  • the step of obtaining the Flicker flicker value of the liquid crystal module by using the amplitude of the specific frequency wave is specifically:
  • the Flicker flicker value of the liquid crystal module is calculated by the following formula:
  • Flic is the Flicker flicker value of the liquid crystal module
  • V@ (30Hz/60Hz) is the amplitude of the switching frequency wave of the current common electrode signal
  • V@(0Hz) is the average amplitude
  • another aspect of the embodiments of the present invention provides a method for measuring a flicker value of a liquid crystal module Flicker, which includes the following steps:
  • Flic is the Flicker flicker value of the liquid crystal module
  • V@ (30Hz/60Hz) is the amplitude of the switching frequency wave of the current common electrode signal
  • V@(0Hz) is the average amplitude
  • the step of scanning the liquid crystal module by using a measuring head, converting the degree of the liquid crystal module into a voltage signal, and obtaining an analog brightness waveform signal of the liquid crystal module includes:
  • the specific frequency is a switching frequency of a current common electrode signal of the liquid crystal module.
  • the specific frequency further includes:
  • a further aspect of the embodiments of the present invention provides a device for measuring a flicker value of a liquid crystal module Flicker, which includes:
  • a measuring head for scanning a liquid crystal module to be tested provided with a Flicker picture, converting a brightness of the liquid crystal module into a voltage signal, and obtaining an analog brightness waveform signal of the liquid crystal module;
  • An analog to digital conversion device receiving an analog brightness waveform signal output by the measuring head, and converting the signal into a digital brightness waveform signal;
  • the brightness signal is scanned when the liquid crystal module displays the Flicker picture, and the amplitude of the specific frequency wave (the switching frequency of the common electrode signal) is obtained by the Fourier transform device, Flicker is obtained by formula calculation.
  • Flicker value by this embodiment, the Flicker phenomenon caused by the polarity switching of the common electrode can be accurately measured, and according to the measured Flicker flicker value, It can make the adjustment of the common electrode more accurate in the production of the liquid crystal module, thereby improving the mouth of the liquid crystal module product.
  • FIG. 1 is a schematic structural view of an embodiment of an apparatus for measuring a flicker value of a liquid crystal module Flicker according to the present invention
  • Figure 2 is a schematic structural view of an embodiment of the measuring head of Figure 1;
  • FIG. 3 is a schematic structural view of an embodiment of the measurement processing device of FIG. 1;
  • Fig. 4 is a main flow diagram showing an embodiment of a method for measuring a Flicker flicker value of a liquid crystal module according to the present invention.
  • FIG. 1 to 3 there is shown a schematic structural view of an apparatus for measuring a flicker value of a liquid crystal module Flicker according to an embodiment of the present invention.
  • the measuring processing device 4 can be connected to the liquid crystal module 1 through a printed circuit board assembly (PCBA) 5, and the Flicker painting is provided to the liquid crystal module 1. And the sending control command; wherein, the liquid crystal module 1 will flicker after receiving the Flicker picture, and the measuring head 1 can collect the analog brightness waveform signal of the liquid crystal module 1.
  • Fig. 2 a schematic structural view of an embodiment of the measuring head 1 of the present invention is shown.
  • the measuring head 2 further includes: at least one photodiode 20 for collecting the brightness signal of the liquid crystal module 1, for example, the brightness signal of the liquid crystal module 1 can be collected by scanning, which is collected here.
  • Step S46 obtaining a Flicker flicker value of the liquid crystal module by using a magnitude of the specific frequency wave.
  • the measurement processing device 42 calculates the Flicker flicker value of the liquid crystal module 1 by the following formula: @(30Hz/60Hz)

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，包括步骤：给待测液晶模组（1）提供Flicker画面；利用一测量头（2）扫描液晶模组，将液晶模组的亮度转换成电压信号，获得液晶模组的模拟亮度波形信号；接收测量头输出的模拟亮度波形信号，并转换成数字亮度波形信号；对数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频率波的幅值；通过特定频率波的幅值，获得液晶模组的Flicker闪烁值；通过实时测量得到的液晶模组（1）的Flicker闪烁值，以便对Vcom进行调整，从而提高了液晶模组产品的品质。还公开了相应的测量装置。

Description

一种用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方法及装置
本申请要求于 2013 年 11 月 8 日提交中国专利局、 申请号为 201310550178.9、发明名称为 "一种用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方法 及装置" 的中国专利申请的优先权， 上述专利的全部内容通过引用结合在本 申请中。 技术领域
本发明涉及薄膜晶体管液晶显示器（ Thin Film Transistor Liquid Crystal Display, TFT-LCD )的测量技术， 特别涉及一种用于测量液晶模组 Flicker闪 烁值的方法及装置。
背景技术
在液晶面板的使用过程中， 由于公共电极信号 （Vcom ) 的极性切换会 产生水平的条纹的闪烁现象， 我们一般称之为 Flicker现象。 其中， Flicker 闪烁值的数值大小， 也直接反应了液晶面板的品质可靠性。 通常 Flicker 闪 烁值的数值越小， 液晶面板产生图像残留（Image Sticking, IS )的风险越小， 反之则风险越大。所以，如何测量 Flicker闪烁值的数值大小以及控制 Flicker 闪烁值在预定范围之内是在液晶面板的设计及制造过程中需要面临的问题。
现有的技术中， 对 Flicker闪烁值进行测量通常采用诸如： FMA方法、 JEITA方法以及 VESA方法。 现有的这几种测量方法的共同点是， 用 Flicker 去反应人眼对闪烁的直观感受。 FMA 方法用亮度变化的交流分量比直流分 量代表 Flicker; 而 JEITA方法和 VESA方法则是用 FFT分频计量闪烁各频 率的分贝值， 再对全频谱积分或找到最大分贝值。 这些方法虽然能够对人眼 对闪烁的观察进行量化分析， 但是并不能直接表示 Vcom极性切换造成的 Flicker现象。 而且往往由于其他因素的影响， 比如背光的闪烁、 地线不稳定 等因素导致测得的 Flicker值不能准确反映 Vcom偏移程度。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于， 提供一种用于测量液晶模组 Flicker 闪烁值的方法及装置， 可以实时测量得到的液晶模组的 Flicker 闪烁值， 以 便对公共电极进行调整， 从而提高液晶模组产品的品质。
为了解决上述技术问题，本发明的实施例的一方面提供一种用于测量液 晶模组 Flicker闪烁值的方法， 其中， 包括如下步骤：
给待测液晶模组提供 Flicker画面；
利用一测量头扫描所述液晶模组，将所述液晶模组的亮度转换成电压信 号， 获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号；
接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号， 并转换成数字亮度波形信 号；
对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换， 获得特定频率波的幅值； 通过所述特定频率波的幅值， 获得所述液晶模组的 Flicker闪烁值。 其中， 所述利用一测量头扫描所述液晶模组， 将所述液晶模组的度转换 成电压信号， 获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号的步骤包括：
利用至少一个光电二极管获得所述液晶模组的亮度信号；
利用放大电路对所述亮度信号进行放大；
将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值 , 获得所述液晶模组的模拟 亮度波形信号。
其中， 所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。 其中， 所述通过所述特定频率波的幅值， 获得所述液晶模组的 Flicker 闪烁值的步骤具体为：
通过下述公式计算所述液晶模组的 Flicker闪烁值：
V@(3 Hz/60Hz)
Flic = 20x log10 v Hz)
其中， Flic为所述液晶模组的 Flicker闪烁值， V@ ( 30Hz/60Hz )为当 前公共电极信号的切换频率波的幅值， V@ ( 0Hz ) 为平均幅值。
其中， 进一步包括：
根据所述计算出来的液晶模组的 Flicker 闪烁值， 向所述液晶模组发送 参数调节命令， 以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数， 以使所述液 晶模组的 Flicker闪烁值符合预定目标。 相应地， 本发明实施例的另一方面提供一种用于测量液晶模组 Flicker 闪烁值的方法， 其中， 包括如下步骤：
给待测液晶模组提供 Flicker画面；
利用一测量头扫描所述液晶模组，将所述液晶模組的亮度转换成电压信 号， 获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号；
接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号， 并转换成数字亮度波形信 号；
对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换， 获得特定频率波的幅值； 通过所述特定频率波的幅值， 获得所述液晶模组的 Flicker 闪烁值， 具 体地， 通过下述公式计算所述液晶模组的 Flicker闪烁值：
V@(30Hz/60Hz)
Flic = 20x log10 v@ 0Hz)
其中， Flic为所述液晶模组的 Flicker闪烁值， V@ ( 30Hz/60Hz ) 为当 前公共电极信号的切换频率波的幅值， V@ ( 0Hz )为平均幅值。
其中， 所述利用一测量头扫描所述液晶模组， 将所述液晶模组的度转换 成电压信号， 获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号的步骤包括：
利用至少一个光电二极管获得所述液晶模组的亮度信号；
利用放大电路对所述亮度信号进行放大；
将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值，获得所述液晶模组的模拟 亮度波形信号。
其中， 所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。 其中， 进一步包括：
根据所述计算出来的液晶模组的 Flicker 闪烁值， 向所述液晶模组发送 参数调节命令， 以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数， 以使所述液 晶模组的 Flicker闪烁值符合预定目标。
相应地，本发明实施例的再一方面提供了一种用于测量液晶模组 Flicker 闪烁值的装置， 其中， 包括：
测量头， 用于扫描提供有 Flicker画面的待测液晶模组， 将所述液晶模 组的亮度转换成电压信号 , 获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号； 模数转换装置， 接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号， 并转换成数 字亮度波形信号；
傅里叶变换装置， 对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换， 获得特定 频率波的幅值；
计算装置， 用于根据所述傅里叶变换装置获得的所述特定频率波的幅 值， 计算获得所述液晶模组的 Flicker闪烁值。
其中， 所述测量头进一步包括：
至少一个光电二极管， 用于获得所述液晶模组的亮度信号；
放大电路， 与所述至少一个光电二极管电连接， 用于对所述至少一个光 电二极管所获得的亮度信号进行放大；
测量子单元， 用于将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值， 获得所 述液晶模组的模拟亮度波形信号。
其中， 所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。 其中， 所述测量处理装置通过下述公式计算所述液晶模组的 Flicker 闪 烁值：
F@(30Hz/60Hz)
Flic = 20x log10 v@i0Hz)
其中， Flic为所述液晶模组的 Flicker闪烁值， V@ ( 30Ηζ/60Ηζ )为当 前公共电极信号的切换频率波的幅值， V@ ( ΟΗζ ) 为平均幅值。
其中， 进一步包括：
Flicker画面提供装置 44， 用于向液晶模组 1提供 Flicker画面； 或 /以及 参数调整装置， 用于根据所述计算出来的液晶模组的 Flicker 闪烁值， 向所述液晶模组发送参数调节命令， 以调节所述液晶模组当前公共电极信号 的参数， 以使所述液晶模组的 Flicker闪烁值符合预定目标。
实施本发明实施例， 具有如下有益效果：
根据本发明的实施例， 由于在液晶模组显示 Flicker画面时， 扫描亮度 信号， 并通过傅里叶变换装置获得特定频率波（公共电极信号的切换频率） 的幅值， 并通过公式计算获得 Flicker 闪烁值； 通过该实施例可以准确测量 由于公共电极极性切换引起的 Flicker现象，根据测量得到的 Flicker闪烁值， 可以使在生产液晶模组时公共电极调整更加准确，从而提高液晶模组产品的 口口 臾 附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案， 下面将对实 施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍， 显而易见地， 下面 描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例， 对于本领域普通技术人员来讲， 在不付出创造性劳动的前提下， 还可以根据这些附图获得其他的附图。
图 1是本发明一种用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的装置的一个实施 例的结构示意图；
图 2是图 1中测量头的一个实施例的结构示意图；
图 3是图 1中测量处理装置的一个实施例的结构示意图；
图 4本发明一种用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方法的一个实施例 的主要流程示意图。
具体实施方式
下面参考附图对本发明的优选实施例进行描述。 请参照图 1至 3所示， 示出了根据本发明一个实施例的用于测量液晶模 组 Flicker 闪烁值的装置的结构示意图。 在本实施例中， 该用于测量液晶模 组 Flicker闪烁值的装置包括： 测量头 2, 用于扫描提供有 Flicker画面的待测液晶模组 1 , 将液晶模组 1的亮度转换成电压信号， 获得液晶模组 1的模拟亮度波形信号； 模数转换装置 3 , 接收测量头 2输出的模拟亮度波形信号， 并转换成数 字亮度波形信号； 测量处理装置 4, 用于为液晶模组 1提供 Flicker画面， 并用于根模数转 换装置 3所输出的数字亮度波形信号计算获得该液晶模组的 Flicker闪烁值。 该测量处理装置 4 可以通过印刷电路装配板 （printed circuit board assembly, PCBA ) 5与液晶模组 1相连接， 向该液晶模组 1提供 Flicker画 面， 以及发送控制命令； 其中， 液晶模组 1在收到 Flicker画面后会出现闪 烁现象， 此时测量头 1可以收集液晶模组 1的模拟亮度波形信号。 如图 2所示， 示出了本发明中测量头 1的一个实施例的结构示意图。 在 该实施例中， 该测量头 2进一步包括： 至少一个光电二极管 20,用于收集液晶模组 1的亮度信号，例如可以通 过扫描的方式收集该液晶模组 1的亮度信号，此处所收集到的亮度信号为模 拟形式的亮度波形信号， 下称为模拟亮度波形信号； 具体地， 可以采取一个 光电二极管， 也可以采用多个光电二极管， 采用多个光电二极管可以提高采 集数据的准确性；在一个实施例中，该光电二极管可以是 Hamamatsu公司的 S9219型号的光电二极管； 放大电路 22, 与至少一个光电二极管 20电连接， 用于将至少一个光电 二极管 22所获得的亮度信号进行放大； 测量子单元 24, 与放大电路 22电连接， 用于将至少一个放大后的亮度 信号取平均值， 获得液晶模组 1的模拟亮度波形信号。 可以理解的是， 在其他的实施例中， 在该测量头 1中可以采用一个光电 二极管 20, 则可以省掉测量子单元 24, 直接将模拟亮度波形信号在通过放 大电路 22放大后输出。 如图 3所示， 示出了本发明中测量处理装置 4的一个实施例的结构示意 图。 在该实施例中， 该测量处理装置 4进一步包括： 傅里叶变换装置 40,对数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频 率波的幅值， 具体地， 对数字亮度波形信号进行傅里叶变换， 并得出频域空 间 （即各频率波的幅度信处）， 其中， 特定频率为液晶模组当前共公电极 ( Vcom )信号的切换频率， 一般来说， 该切换频率为 30Hz或 60Hz。 计算装置 42, 用于根据傅里叶变换装置 40获得的特定频率波的幅值， 计算获得液晶模组 1的 Flicker闪烁值。 其中， 测量处理装置 42通过下述公 式计算液晶模组 1的 Flicker闪烁值： V@(30Hz/60Hz)
Flic = 20x log10 v@i0Hz)
其中， Flic为液晶模组的 Flicker闪烁值， V@( 30Hz/60Hz )为当前 Vcom 信号的切换频率波的幅值， 即 30Hz或 60Hz波的幅值， V@ ( 0Hz ) 为平均 幅值。
参数调整装置 46， 用于根据计算出来的液晶模组 1的 Flicker闪烁值， 向液晶模组发送参数调节命令， 以调节液晶模组 1当前 Vcom信号的参数， 以使液晶模组 1的 Flicker闪烁值符合预定目标。
Flicker画面提供装置 44, 用于向液晶模组 1提供 Flicker画面， 使液晶 模组 1产生闪烁效果。
如图 4所示， 示出了本发明一种用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方 法的一个实施例的主流程示意图， 在该实施例中， 该方法包括如下步骤： 步骤 S40，给待测液晶模组提供 Flicker画面，使该液晶模组显示该 Flicker 画面， 出现闪烁效果； 步骤 S41 , 确定该液晶模组 Vcom极性切换的频率， 一般来说液晶模组 的 Vcom极性切换频率为 30Hz或 60Hz; 步骤 S42, 利用一测量头， 扫描液晶模组， 将液晶模组的亮度转换成电 压信号， 获得液晶模组的模拟亮度波形信号； 步骤 S43 ,利用一模数转换装置，接收测量头输出的模拟亮度波形信号， 并转换成数字亮度波形信号； 步骤 S44, 对数字亮度波形信号进行傅里叶变换， 获得特定频率波的幅 值， 具体地， 对数字亮度波形信号进行傅里叶变换， 并得出频域空间 （即各 频率波的幅度信处）， 其中， 特定频率为液晶模组当前 Vcom信号的切换频 率；
步骤 S46, 通过特定频率波的幅值， 获得液晶模组的 Flicker闪烁值。 具 体地， 测量处理装置 42通过下述公式计算液晶模组 1的 Flicker闪烁值： @(30Hz/60Hz)
Flic = 20x log10 v,Hz)
其中， Flic为液晶模组的 Flicker闪烁值， V@( 30Ηζ/60Ηζ )为当前 Vcom 信号的切换频率波的幅值， 即 30Ηζ或 60Ηζ波的幅值， V@ ( 0Hz )为平均 幅值。
其中， 该方法还进一步包括：
根据计算出来的液晶模组的 Flicker 闪烁值， 向液晶模组发送参数调节 命令， 以调节液晶模组当前 Vcom信号的参数（例如调节该 Vcom信号的电 压值大小、 其 DC端或 AC端的输入；)， 以使液晶模组的 Flicker闪烁值符合 预定目标。
具体地， 其中， 利用一测量头， 扫描液晶模组， 将液晶模组的度转换成 电压信号， 获得液晶模组的模拟亮度波形信号的步骤包括：
利用至少一个光电二极管获得液晶模组的亮度信号， 例如可以采用二个 以上的光电二极管来收集液晶模组的亮度信号；
利用放大电路对亮度信号进行放大；
将至少一个放大后的亮度信号取平均值， 获得液晶模组的模拟亮度波形 信号， 可以理解的是， 如果在测量头只采用一个光电二极管， 则可以省略该 取平均值的步骤。
实施本发明实施例， 具有如下有益效果：
根据本发明的实施例， 由于在液晶模组显示 Flicker画面时， 扫描亮度 信号， 并通过傅里叶变换装置获得特定频率波（Vcom信号的切换频率） 的 幅值， 并通过公式计算获得 Flicker 闪烁值； 通过该实施例可以准确测量由 于 Vcom极性切换引起的 Flicker现象， 根据测量得到的 Flicker闪烁值， 可 以使在生产液晶模组时 Vcom调整更加准确，从而提高液晶模组产品的品质。
以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已， 当然不能以此来限定本发明 之权利范围， 因此等同变化， 仍属本发明所涵盖的范围。

Claims

权 利 要 求
1、一种用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方法，其中， 包括如下步骤： 给待测液晶模组提供 Flicker画面； 利用一测量头扫描所述液晶模组，将所述液晶模组的亮度转换成电压信 号， 获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号； 接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号， 并转换成数字亮度波形信
对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换， 获得特定频率波的幅值； 通过所述特定频率波的幅值， 获得所述液晶模组的 Flicker闪烁值。
2、如权利要求 1所述的用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方法，其中， 所述利用一测量头扫描所述液晶模组， 将所述液晶模组的度转换成电压信 号， 获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号的步骤包括： 利用至少一个光电二极管获得所述液晶模组的亮度信号； 利用放大电路对所述亮度信号进行放大； 将所迷至少一个放大后的亮度信号取平均值， 获得所述液晶模组的模拟 亮度波形信号。
3、如权利要求 1所述的用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方法，其中， 所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。
4、如权利要求 3所述的用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方法，其中， 所述通过所述特定频率波的幅值， 获得所述液晶模组的 Flicker 闪烁值的步 骤具体为：
通过下述公式计算所述液晶模组的 Flicker闪烁值：
V@(30Hz/ 60Hz)
Flic= 20x log10 v®. 其中， Flic为所述液晶模组的 Flicker闪烁值， V@ ( 30Hz/60Hz ) 为当 前公共电极信号的切换频率波的幅值， V@ ( 0Hz ) 为平均幅值。
5、如权利要求 2所述的用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方法，其中， 进一步包括：
根据所述计算出来的液晶模组的 Flicker 闪烁值， 向所述液晶模组发送 参数调节命令， 以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数， 以使所述液 晶模组的 Flicker闪烁值符合预定目标。
6、如权利要求 4所述的用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方法，其中， 进一步包括：
根据所述计算出来的液晶模组的 Flicker 闪烁值， 向所述液晶模组发送 参数调节命令， 以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数， 以使所述液 晶模组的 Flicker闪烁值符合预定目标。
7、一种用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方法，其中， 包括如下步骤： 给待测液晶模组提供 Flicker画面； 利用一测量头扫描所述液晶模组，将所述液晶模组的亮度转换成电压信 号， 获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号； 接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号， 并转换成数字亮度波形信 号； 对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换， 获得特定频率波的幅值； 通过所述特定频率波的幅值， 获得所述液晶模组的 Flicker 闪烁值， 具 体地， 通过下述公式计算所述液晶模组的 Flicker闪烁值：
V@(30Hz/ 6 Hz)
Flic = 20x log10
其中， Flic为所述液晶模组的 Flicker闪烁值， V@ ( 30Hz/60Hz )为当 前公共电极信号的切换频率波的幅值， V@ ( 0Hz ) 为平均幅值。
8、如权利要求 7所述的用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方法，其中， 所述利用一测量头扫描所述液晶模组， 将所述液晶模组的度转换成电压信 号 , 获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号的步骤包括： 利用至少一个光电二极管获得所述液晶模组的亮度信号； 利用放大电路对所述亮度信号进行放大； 将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值 ,获得所述液晶模组的模拟 亮度波形信号。
9、如权利要求 8所述的用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方法，其中， 所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。
10、 如权利要求 7所述的用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方法， 其 中， 进一步包括：
根据所述计算出来的液晶模组的 Flicker 闪烁值， 向所述液晶模组发送 参数调节命令， 以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数， 以使所述液 晶模组的 Flicker闪烁值符合预定目标。
11、如权利要求 9所述的用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的方法，其中， 进一步包括：
根据所述计算出来的液晶模组的 Flicker 闪烁值， 向所述液晶模组发送 参数调节命令， 以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数， 以使所述液 晶模组的 Flicker闪烁值符合预定目标。
12、 一种用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的装置， 其中， 包括： 测量头， 用于扫描提供有 Flicker画面的待测液晶模组， 将所述液晶模 组的亮度转换成电压信号， 获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号；
模数转换装置， 接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号， 并转换成数 字亮度波形信号； 傅里叶变换装置， 对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换， 获得特定 频率波的幅值； 计算装置， 用于根据所述傅里叶变换装置获得的所述特定频率波的幅 值， 计算获得所述液晶模组的 Flicker闪烁值。
13、 如权利要求 12所述的用于测量液晶模組 Flicker闪烁值的装置， 其 中， 所述测量头进一步包括： 至少一个光电二极管， 用于获得所述液晶模组的亮度信号； 放大电路， 与所述至少一个光电二极管电连接， 用于对所述至少一个光 电二极管所获得的亮度信号进行放大； 测量子单元， 用于将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值， 获得所 述液晶模组的模拟亮度波形信号。
14、 如权利要求 13所述的用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的装置， 其 中， 所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。
15、 如权利要求 14所述的用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的装置， 其 中， 所述测量处理装置通过下述公式计算所述液晶模组的 Flicker闪烁值：
V@(30Hz/60Hz)
Flic = 20x log10 v@ z) ―
其中， Flic为所述液晶模组的 Flicker闪烁值， V@ ( 30Hz/60Hz )为当 前公共电极信号的切换频率波的幅值， V@ ( 0Hz )为平均幅值。
16、 如权利要求 13所述的用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的装置， 其 中， 进一步包括：
Flicker画面提供装置 44, 用于向液晶模组 1提供 Flicker画面； 或 /以及 参数调整装置， 用于根据所述计算出来的液晶模组的 Flicker 闪烁值， 向所述液晶模组发送参数调节命令， 以调节所述液晶模组当前公共电极信号 的参数， 以使所述液晶模组的 Flicker闪烁值符合预定目标。
17、 如权利要求 15所述的用于测量液晶模组 Flicker闪烁值的装置， 其 中， 进一步包括：
Flicker画面提供装置 44， 用于向液晶模组 1提供 Flicker画面； 或 /以及 参数调整装置， 用于根据所述计算出来的液晶模组的 Flicker 闪烁值， 向所述液晶模组发送参数调节命令， 以调节所述液晶模组当前公共电极信号 的参数， 以使所述液晶模组的 Flicker闪烁值符合预定目标。
PCT/CN2013/087668 2013-11-08 2013-11-22 一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及装置 Ceased WO2015066946A1 (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/234,625 US9304340B2 (en) 2013-11-08 2013-11-22 Method and Device for Measuring Flicker Value of Liquid Crystal Modules

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310550178.9A CN103676231B (zh) 2013-11-08 2013-11-08 一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及装置
CN201310550178.9 2013-11-08

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2015066946A1 true WO2015066946A1 (zh) 2015-05-14

Family

ID=50314284

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/CN2013/087668 Ceased WO2015066946A1 (zh) 2013-11-08 2013-11-22 一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9304340B2 (zh)
CN (1) CN103676231B (zh)
WO (1) WO2015066946A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113936579A (zh) * 2021-12-17 2022-01-14 深圳精智达技术股份有限公司 一种lcd显示屏闪烁值的测量方法及相关装置

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104700759B (zh) * 2015-03-17 2017-09-22 武汉精测电子技术股份有限公司 显示面板亮度频谱分析装置及分析方法
CN104900213B (zh) * 2015-06-05 2017-08-11 武汉精测电子技术股份有限公司 液晶模组亮度调节装置和方法
CN104952419B (zh) * 2015-07-28 2017-12-05 昆山龙腾光电有限公司 显示面板闪烁度调整装置及方法
CN105976746A (zh) * 2016-07-26 2016-09-28 武汉华星光电技术有限公司 Flicker调节以及装置
CN106683603B (zh) 2017-01-10 2019-08-06 Oppo广东移动通信有限公司 一种闪屏处理方法及终端
CN108169932B (zh) * 2017-11-29 2020-11-03 武汉精立电子技术有限公司 一种基于快速JEITA算法的Flicker调节方法及装置
CN108614366B (zh) * 2018-03-14 2021-05-25 昆山龙腾光电股份有限公司 显示面板的测量装置
CN108919533B (zh) * 2018-08-07 2021-04-27 京东方科技集团股份有限公司 显示面板测试方法及装置、电子设备
CN109147709B (zh) * 2018-10-10 2021-05-11 武汉精测电子集团股份有限公司 一种多点调节液晶面板Flicker的方法及装置
CN109656037A (zh) * 2019-01-02 2019-04-19 海的电子科技(苏州)有限公司 基于光电二极管的显示屏闪烁度的测量方法
CN110491317B (zh) * 2019-07-09 2024-01-30 深圳市汉弘达电子科技有限公司 Lcm闪烁管控自动烧录装置及方法
CN110211523B (zh) * 2019-07-26 2019-11-05 武汉精立电子技术有限公司 一种远距离测量液晶模组Flicker闪烁值的方法、装置及系统
US11847988B2 (en) * 2019-08-02 2023-12-19 Sitronix Technology Corporation Driving method for flicker suppression of display panel and driving circuit thereof
CN112394218A (zh) * 2019-08-16 2021-02-23 宇瞻科技股份有限公司 信号测量电路及所适用的光学模块
CN111025698A (zh) * 2019-12-26 2020-04-17 惠州市华星光电技术有限公司 用于测量显示面板闪烁度的检测装置及检测方法
CN111443509B (zh) * 2020-05-13 2022-11-22 深圳市全洲自动化设备有限公司 一种用于检测lcd液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法
CN111653227A (zh) * 2020-07-07 2020-09-11 蚌埠国显科技有限公司 一种液晶显示模组vcom电压烧录方法及装置
JP7666191B2 (ja) * 2021-07-27 2025-04-22 コニカミノルタ株式会社 光計測装置、光計測方法、データ処理装置及びプログラム
CN115728041A (zh) * 2022-11-21 2023-03-03 上海研鼎信息技术有限公司 一种显示屏测试方法及设备
JP2024147278A (ja) * 2023-04-03 2024-10-16 株式会社ジャパンディスプレイ 発光制御方法及び発光タイミング設定方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63179331A (ja) * 1987-01-20 1988-07-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置の駆動電圧設定方法
KR100228279B1 (ko) * 1996-11-29 1999-11-01 윤종용 플리커 평가 장치
CN1519560A (zh) * 2003-01-24 2004-08-11 牧德科技股份有限公司 液晶显示面板的检测方法及其系统
CN1801305A (zh) * 2005-01-04 2006-07-12 三星电子株式会社 液晶显示器以及用于自动调整其闪烁的方法和系统
CN101650481A (zh) * 2008-08-14 2010-02-17 比亚迪股份有限公司 一种液晶显示器调试方法及系统
CN102645593A (zh) * 2011-03-31 2012-08-22 京东方科技集团股份有限公司 一种确定液晶显示器的公共电极电压的方法及装置
CN103267627A (zh) * 2012-12-14 2013-08-28 上海中航光电子有限公司 显示面板闪烁测定仪及闪烁度获取方法
CN103366657A (zh) * 2013-07-17 2013-10-23 青岛海信电器股份有限公司 Flicker调节系统

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63179331A (ja) * 1987-01-20 1988-07-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置の駆動電圧設定方法
KR100228279B1 (ko) * 1996-11-29 1999-11-01 윤종용 플리커 평가 장치
CN1519560A (zh) * 2003-01-24 2004-08-11 牧德科技股份有限公司 液晶显示面板的检测方法及其系统
CN1801305A (zh) * 2005-01-04 2006-07-12 三星电子株式会社 液晶显示器以及用于自动调整其闪烁的方法和系统
CN101650481A (zh) * 2008-08-14 2010-02-17 比亚迪股份有限公司 一种液晶显示器调试方法及系统
CN102645593A (zh) * 2011-03-31 2012-08-22 京东方科技集团股份有限公司 一种确定液晶显示器的公共电极电压的方法及装置
CN103267627A (zh) * 2012-12-14 2013-08-28 上海中航光电子有限公司 显示面板闪烁测定仪及闪烁度获取方法
CN103366657A (zh) * 2013-07-17 2013-10-23 青岛海信电器股份有限公司 Flicker调节系统

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113936579A (zh) * 2021-12-17 2022-01-14 深圳精智达技术股份有限公司 一种lcd显示屏闪烁值的测量方法及相关装置
CN113936579B (zh) * 2021-12-17 2022-03-04 深圳精智达技术股份有限公司 一种lcd显示屏闪烁值的测量方法及相关装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN103676231A (zh) 2014-03-26
US9304340B2 (en) 2016-04-05
CN103676231B (zh) 2016-03-30
US20150129749A1 (en) 2015-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2015066946A1 (zh) 一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及装置
CN104361873B (zh) 显示参数的调整方法、装置及液晶显示系统
US11302275B2 (en) Method and device for adjusting greyscale of display panel solving problem of ineffectiveness of eliminating unevenness caused by inaccurate mura compensation value
CN108169932B (zh) 一种基于快速JEITA算法的Flicker调节方法及装置
CN205140484U (zh) 显示面板闪烁度测试装置
CN110211523B (zh) 一种远距离测量液晶模组Flicker闪烁值的方法、装置及系统
US9653036B2 (en) Method and system for adjusting gamma voltage, and electronic device
WO2014131241A1 (zh) 显示模组伽马曲线调节装置和显示模组产线光学调试装置
CN103257468B (zh) 一种基于参考亮度的液晶显示器响应时间测量方法
CN103761945B (zh) 一种TFT-LCD液晶屏的Gamma曲线调整方法及调整装置
WO2013170588A1 (zh) 公共电极电压的设定方法及装置
CN110428761B (zh) 一种非接触式测量液晶模组Flicker闪烁值的方法、装置及系统
CN104698638B (zh) 一种调试画面闪烁的方法及装置、液晶显示面板
CN103267627A (zh) 显示面板闪烁测定仪及闪烁度获取方法
CN103810963A (zh) 一种显示装置画面显示质量调制方法及装置
CN103617783B (zh) 液晶模组像素亮度调节方法及系统
CN105989808B (zh) 液晶显示器的伽玛曲线校正方法
CN111025698A (zh) 用于测量显示面板闪烁度的检测装置及检测方法
CN113516937A (zh) 驱动方法和显示装置
CN103474011B (zh) 显示面板反应速度的测量器与相关方法
CN101650481A (zh) 一种液晶显示器调试方法及系统
KR101958450B1 (ko) 액정표시장치와 이의 구동방법
CN104700759A (zh) 显示面板亮度频谱分析装置及分析方法
CN110942738A (zh) 显示面板的闪烁值的测量装置及测量方法
CN201274152Y (zh) 一种逐点亮度调整的系统

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 14234625

Country of ref document: US

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 13896952

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 13896952

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1