CN103676231B - 一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及装置 - Google Patents

一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及装置 Download PDF

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Abstract

本发明实施例公开了提供一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，包括步骤：给待测液晶模组提供Flicker画面；利用一测量头扫描液晶模组，将液晶模组的亮度转换成电压信号，获得液晶模组的模拟亮度波形信号；接收测量头输出的模拟亮度波形信号，并转换成数字亮度波形信号；对数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频率波的幅值；通过特定频率波的幅值，获得所述液晶模组的Flicker闪烁值。本发明实施例还公开了相应的测量装置。实现本发明，可以实时测量得到的液晶模组的Flicker闪烁值，以便对Vcom进行调整，从而提高液晶模组产品的品质。

Description

一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及装置
技术领域
本发明涉及薄膜晶体管液晶显示器(ThinFilmTransistorLiquidCrystalDisplay,TFT-LCD)的测量技术，特别涉及一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及装置。
背景技术
在液晶面板的使用过程中，由于公共电极信号(Vcom)的极性切换会产生水平的条纹的闪烁现象，我们一般称之为Flicker现象。其中，Flicker闪烁值的数值大小，也直接反应了液晶面板的品质可靠性。通常Flicker闪烁值的数值越小，液晶面板产生图像残留(ImageSticking，IS)的风险越小，反之则风险越大。所以，如何测量Flicker闪烁值的数值大小以及控制Flicker闪烁值在预定范围之内是在液晶面板的设计及制造过程中需要面临的问题。
现有的技术中，对Flicker闪烁值进行测量通常采用诸如：FMA方法、JEITA方法以及VESA方法。现有的这几种测量方法的共同点是，用Flicker去反应人眼对闪烁的直观感受。FMA方法用亮度变化的交流分量比直流分量代表Flicker；而JEITA方法和VESA方法则是用FFT分频计量闪烁各频率的分贝值，再对全频谱积分或找到最大分贝值。这些方法虽然能够对人眼对闪烁的观察进行量化分析，但是并不能直接表示Vcom极性切换造成的Flicker现象。而且往往由于其他因素的影响，比如背光的闪烁、地线不稳定等因素导致测得的Flicker值不能准确反映Vcom偏移程度。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于，提供一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及装置，可以实时测量得到的液晶模组的Flicker闪烁值，以便对公共电极进行调整，从而提高液晶模组产品的品质。
为了解决上述技术问题，本发明的实施例的一方面提供一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，包括如下步骤：
给所述待测液晶模组提供Flicker画面；
利用一测量头扫描所述液晶模组，将所述液晶模组的亮度转换成电压信号，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号；
接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号，并转换成数字亮度波形信号；
对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频率波的幅值；
通过所述特定频率波的幅值，获得所述液晶模组的Flicker闪烁值；
其中，所述通过所述特定频率波的幅值，获得所述液晶模组的Flicker闪烁值的步骤具体为：
通过下述公式计算所述液晶模组的Flicker闪烁值：
F l i c = 20 × Log 10 V ( 30 H z / 60 H z ) V ( 0 H z )
其中，Flic为所述液晶模组的Flicker闪烁值，V(30Hz/60Hz)为当前公共电极信号的切换频率波的幅值，即30Hz或60Hz波的幅值，V(0Hz)为平均幅值；
其中，进一步包括：
根据所述计算出来的液晶模组的Flicker闪烁值，向所述液晶模组发送参数调节命令，以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数，以使所述液晶模组的Flicker闪烁值符合预定目标。。
其中，所述利用一测量头，扫描所述液晶模组，将所述液晶模组的度转换成电压信号，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号的步骤包括：
利用至少一个光电二极管获得所述液晶模组的亮度信号；
利用放大电路对所述亮度信号进行放大；
将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号。
其中，所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。
相应地，本发明实施例还一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置，包括：
测量头，用于扫描提供有Flicker画面的待测液晶模组，将所述液晶模组的亮度转换成电压信号，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号；
模数转换装置，接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号，并转换成数字亮度波形信号；
傅里叶变换装置，对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频率波的幅值；
计算装置，用于根据所述傅里叶变换装置获得的所述特定频率波的幅值，计算获得所述液晶模组的Flicker闪烁值；其中，所述计算装置通过下述公式计算所述液晶模组的Flicker闪烁值：
其中，Flic为所述液晶模组的Flicker闪烁值，V(30Hz/60Hz)为当前公共电极信号的切换频率波的幅值，V(0Hz)为平均幅值；
其中，进一步包括：
参数调整装置，用于根据所述计算出来的液晶模组的Flicker闪烁值，向所述液晶模组发送参数调节命令，以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数，以使所述液晶模组的Flicker闪烁值符合预定目标。
其中，所述测量头进一步包括：
至少一个光电二极管，用于获得所述液晶模组的亮度信号；
放大电路，与所述至少一个光电二极管电连接，用于对所述至少一个光电二极管所获得的亮度信号进行放大；
测量子单元，用于将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号。
其中，所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。
实施本发明实施例，具有如下有益效果：
根据本发明的实施例，由于在液晶模组显示Flicker画面时，扫描亮度信号，并通过傅里叶变换装置获得特定频率波(公共电极信号的切换频率)的幅值，并通过公式计算获得Flicker闪烁值；通过该实施例可以准确测量由于公共电极极性切换引起的Flicker现象，根据测量得到的Flicker闪烁值，可以使在生产液晶模组时公共电极调整更加准确，从而提高液晶模组产品的品质。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置的一个实施例的结构示意图；
图2是图1中测量头的一个实施例的结构示意图；
图3是图1中测量处理装置的一个实施例的结构示意图；
图4本发明一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法的一个实施例的主要流程示意图。
具体实施方式
下面参考附图对本发明的优选实施例进行描述。
请参照图1至3所示，示出了根据本发明一个实施例的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置的结构示意图。在本实施例中，该用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置包括：
测量头2，用于扫描提供有Flicker画面的待测液晶模组1，将液晶模组1的亮度转换成电压信号，获得液晶模组1的模拟亮度波形信号；
模数转换装置3，接收测量头2输出的模拟亮度波形信号，并转换成数字亮度波形信号；
测量处理装置4，用于为液晶模组1提供Flicker画面，并用于根模数转换装置3所输出的数字亮度波形信号计算获得该液晶模组的Flicker闪烁值。
该测量处理装置4可以通过印刷电路装配板(printedcircuitboardassembly，PCBA)5与液晶模组1相连接，向该液晶模组1提供Flicker画面，以及发送控制命令；其中，液晶模组1在收到Flicker画面后会出现闪烁现象，此时测量头1可以收集液晶模组1的模拟亮度波形信号。
如图2所示，示出了本发明中测量头1的一个实施例的结构示意图。在该实施例中，该测量头2进一步包括：
至少一个光电二极管20，用于收集液晶模组1的亮度信号，例如可以通过扫描的方式收集该液晶模组1的亮度信号，此处所收集到的亮度信号为模拟形式的亮度波形信号，下称为模拟亮度波形信号；具体地，可以采取一个光电二极管，也可以采用多个光电二极管，采用多个光电二极管可以提高采集数据的准确性；在一个实施例中，该光电二极管可以是Hamamatsu公司的S9219型号的光电二极管；
放大电路22，与至少一个光电二极管20电连接，用于将至少一个光电二极管22所获得的亮度信号进行放大；
测量子单元24，与放大电路22电连接，用于将至少一个放大后的亮度信号取平均值，获得液晶模组1的模拟亮度波形信号。
可以理解的是，在其他的实施例中，在该测量头1中可以采用一个光电二极管20，则可以省掉测量子单元24，直接将模拟亮度波形信号在通过放大电路22放大后输出。
如图3所示，示出了本发明中测量处理装置4的一个实施例的结构示意图。在该实施例中，该测量处理装置4进一步包括：
傅里叶变换装置40，对数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频率波的幅值，具体地，对数字亮度波形信号进行傅里叶变换，并得出频域空间(即各频率波的幅度信处)，其中，特定频率为液晶模组当前共公电极(Vcom)信号的切换频率，一般来说，该切换频率为30Hz或60Hz。
计算装置42，用于根据傅里叶变换装置40获得的特定频率波的幅值，计算获得液晶模组1的Flicker闪烁值。其中，计算装置42通过下述公式计算液晶模组1的Flicker闪烁值：
F l i c = 20 × Log 10 V ( 30 H z / 60 H z ) V ( 0 H z )
其中，Flic为液晶模组的Flicker闪烁值，V(30Hz/60Hz)为当前Vcom信号的切换频率波的幅值，即30Hz或60Hz波的幅值，V(0Hz)为平均幅值。
参数调整装置46，用于根据计算出来的液晶模组1的Flicker闪烁值，向液晶模组发送参数调节命令，以调节液晶模组1当前Vcom信号的参数，以使液晶模组1的Flicker闪烁值符合预定目标。
Flicker画面提供装置44，用于向液晶模组1提供Flicker画面，使液晶模组1产生闪烁效果。
如图4所示，示出了本发明一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法的一个实施例的主流程示意图，在该实施例中，该方法包括如下步骤：
步骤S40，给待测液晶模组提供Flicker画面，使该液晶模组显示该Flicker画面，出现闪烁效果；
步骤S41，确定该液晶模组Vcom极性切换的频率，一般来说液晶模组的Vcom极性切换频率为30Hz或60Hz；
步骤S42，利用一测量头，扫描液晶模组，将液晶模组的亮度转换成电压信号，获得液晶模组的模拟亮度波形信号；
步骤S43，利用一模数转换装置，接收测量头输出的模拟亮度波形信号，并转换成数字亮度波形信号；
步骤S44，对数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频率波的幅值，具体地，对数字亮度波形信号进行傅里叶变换，并得出频域空间(即各频率波的幅度信处)，其中，特定频率为液晶模组当前Vcom信号的切换频率；
步骤S46，通过特定频率波的幅值，获得液晶模组的Flicker闪烁值。具体地，测量处理装置42通过下述公式计算液晶模组1的Flicker闪烁值：
F l i c = 20 × Log 10 V ( 30 H z / 60 H z ) V ( 0 H z )
其中，Flic为液晶模组的Flicker闪烁值，V(30Hz/60Hz)为当前Vcom信号的切换频率波的幅值，即30Hz或60Hz波的幅值，V(0Hz)为平均幅值。
其中，该方法还进一步包括：
根据计算出来的液晶模组的Flicker闪烁值，向液晶模组发送参数调节命令，以调节液晶模组当前Vcom信号的参数(例如调节该Vcom信号的电压值大小、其DC端或AC端的输入)，以使液晶模组的Flicker闪烁值符合预定目标。
具体地，其中，利用一测量头，扫描液晶模组，将液晶模组的度转换成电压信号，获得液晶模组的模拟亮度波形信号的步骤包括：
利用至少一个光电二极管获得液晶模组的亮度信号，例如可以采用二个以上的光电二极管来收集液晶模组的亮度信号；
利用放大电路对亮度信号进行放大；
将至少一个放大后的亮度信号取平均值，获得液晶模组的模拟亮度波形信号，可以理解的是，如果在测量头只采用一个光电二极管，则可以省略该取平均值的步骤。
实施本发明实施例，具有如下有益效果：
根据本发明的实施例，由于在液晶模组显示Flicker画面时，扫描亮度信号，并通过傅里叶变换装置获得特定频率波(Vcom信号的切换频率)的幅值，并通过公式计算获得Flicker闪烁值；通过该实施例可以准确测量由于Vcom极性切换引起的Flicker现象，根据测量得到的Flicker闪烁值，可以使在生产液晶模组时Vcom调整更加准确，从而提高液晶模组产品的品质。
以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (6)

1.一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，其特征在于，包括如下步骤：
给待测液晶模组提供Flicker画面；
利用一测量头扫描所述液晶模组，将所述液晶模组的亮度转换成电压信号，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号；
接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号，并转换成数字亮度波形信号；
对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频率波的幅值；
通过所述特定频率波的幅值，获得所述液晶模组的Flicker闪烁值；
其中，通过下述公式计算所述液晶模组的Flicker闪烁值：
F l i c = 20 × Log 10 V ( 30 H z / 60 H z ) V ( 0 H z )
其中，Flic为所述液晶模组的Flicker闪烁值，V(30Hz/60Hz)为当前公共电极信号的切换频率波的幅值，V(0Hz)为平均幅值；
其中，进一步包括：
根据所述计算出来的液晶模组的Flicker闪烁值，向所述液晶模组发送参数调节命令，以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数，以使所述液晶模组的Flicker闪烁值符合预定目标。
2.如权利要求1所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，其特征在于，所述利用一测量头扫描所述液晶模组，将所述液晶模组的度转换成电压信号，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号的步骤包括：
利用至少一个光电二极管获得所述液晶模组的亮度信号；
利用放大电路对所述亮度信号进行放大；
将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号。
3.如权利要求1所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，其特征在于，所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。
4.一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置，其特征在于，包括：
测量头，用于扫描提供有Flicker画面的待测液晶模组，将所述液晶模组的亮度转换成电压信号，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号；
模数转换装置，接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号，并转换成数字亮度波形信号；
傅里叶变换装置，对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频率波的幅值；
计算装置，用于根据所述傅里叶变换装置获得的所述特定频率波的幅值，计算获得所述液晶模组的Flicker闪烁值；其中，所述计算装置通过下述公式计算所述液晶模组的Flicker闪烁值：
其中，Flic为所述液晶模组的Flicker闪烁值，V(30Hz/60Hz)为当前公共电极信号的切换频率波的幅值，V(0Hz)为平均幅值；
其中，进一步包括：
参数调整装置，用于根据所述计算出来的液晶模组的Flicker闪烁值，向所述液晶模组发送参数调节命令，以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数，以使所述液晶模组的Flicker闪烁值符合预定目标。
5.如权利要求4所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置，其特征在于，所述测量头进一步包括：
至少一个光电二极管，用于获得所述液晶模组的亮度信号；
放大电路，与所述至少一个光电二极管电连接，用于对所述至少一个光电二极管所获得的亮度信号进行放大；
测量子单元，用于将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号。
6.如权利要求5所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置，其特征在于，所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。
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