WO2014101310A1 - 素玻璃激光检查机及素玻璃检查方法 - Google Patents

素玻璃激光检查机及素玻璃检查方法 Download PDF

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WO2014101310A1
WO2014101310A1 PCT/CN2013/070086 CN2013070086W WO2014101310A1 WO 2014101310 A1 WO2014101310 A1 WO 2014101310A1 CN 2013070086 W CN2013070086 W CN 2013070086W WO 2014101310 A1 WO2014101310 A1 WO 2014101310A1
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laser
platform
light
image sensor
plain glass
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PCT/CN2013/070086
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Inventor
林勇佑
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深圳市华星光电技术有限公司
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    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
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    • G01N2021/9513—Liquid crystal panels

Definitions

  • the present invention relates to the field of liquid crystal displays, and more particularly to a plain glass force of a liquid crystal panel in a liquid crystal display. Background technique
  • CTR cathode ray tube
  • the liquid crystal display has many advantages such as thin body, power saving, and no radiation, and has been widely used.
  • Most of the liquid crystal displays on the market are backlight type liquid crystal displays, which include a liquid crystal panel and a backlight module.
  • the working principle of the liquid crystal panel is to place liquid crystal molecules in two parallel glass substrates, and the liquid crystal molecules are controlled to change direction by the circuit on the glass substrate, and the light of the backlight module is refracted to produce a picture. Since the liquid crystal panel itself does not emit light, the light source provided by the backlight module needs to be used to display the image normally. Therefore, the backlight module becomes one of the key components of the liquid crystal display.
  • the backlight module is divided into a side-entry backlight module and a direct-lit backlight module according to different incident positions of the light source.
  • a light source such as a CCFL (Cold Cathode Fluorescent Lamp) or an LED (Light Emitting Diode) is disposed behind the liquid crystal panel, and a surface light source is directly formed and supplied to the liquid crystal panel.
  • the side-lit backlight module has a backlight LED strip (Lightbar) disposed on the edge of the back panel behind the liquid crystal panel, and the light emitted by the LED strip is from the light-emitting surface of the light guide plate (LGP, Light Guide Plate).
  • the light guide plate enters the light guide plate, is reflected and diffused, and is emitted from the light exit surface of the light guide plate, and is supplied to the liquid crystal display panel through the optical film group to form a surface light source.
  • the processing of the plain glass is involved, and the processed glass is inspected by a plain glass laser inspection machine.
  • the existing plain glass laser inspection machine adopts a top pin type platform 100, so when the plain glass 200 is inspected, it is easy to cause contamination on the back surface of the glass 200 (for example, Roller Mark, roller mark) to cause laser ( Reflecting, at this time, the image sensor 300 (also known as a charge-coupled device, CCD) receives the reflected light, and mistakenly believes that particles on the front surface of the glass 200 cause misjudgment of the plain glass 200. This phenomenon requires rework or scrapping, which reduces productivity and yield. It also increases working hours and costs. Summary of the invention
  • the object of the present invention is to provide a plain glass laser inspection machine, which can improve the influence of dirt on the back surface of the plain glass, avoid false detection, accurately determine whether the product is abnormal, avoid misoperation or scrapping of the product, and improve production efficiency. And the yield rate, reducing working hours and reducing production costs.
  • Another object of the present invention is to provide a method for inspecting a plain glass, which is simple in operation, can avoid mis-work or scrap caused by misdetection of the product, improve production efficiency and yield, reduce working hours, and reduce production cost.
  • the present invention provides a plain glass laser inspection machine, comprising: a body, a platform disposed on the body, a light absorbing layer disposed on the upper surface of the platform, and a laser emitter disposed on the body and disposed opposite to the platform; An image sensor disposed above the platform and opposite to the laser emitter, the platform being used for flat placement of the donor glass.
  • the light absorbing layer is formed by coating a light absorbing material on the platform.
  • the laser emitter includes a laser head and a mirror disposed opposite the laser head, the mirror reflecting light emitted by the laser head onto the platform.
  • the image sensor includes a light detecting head electrically connected to the body for receiving light reflected by the laser head and reflected by the glass.
  • the main body includes: a housing and a circuit structure disposed in the housing, the circuit structure includes a power module and a processing module, the power module is electrically connected to the processing module, the image sensor, and the laser transmitter, and the processing module is further The image sensor and the laser emitter are electrically connected.
  • the invention also provides a plain glass laser inspection machine, comprising: a body, a platform disposed on the body, a light absorbing layer disposed on the upper surface of the platform, a laser emitter disposed on the body and disposed opposite to the platform, and disposed above the platform An image sensor disposed relative to the laser emitter, the platform being used for flat placement of the donor glass;
  • the light absorbing layer is formed by coating a light absorbing material on the platform;
  • the laser emitter comprises a laser head and a mirror disposed opposite to the laser head, the mirror reflecting the light emitted by the laser head onto the platform;
  • the image sensor includes a light detecting head, and the light detecting head is electrically connected to the body, and is configured to receive the light reflected by the laser head and reflected by the plain glass;
  • the main body includes: a housing and a circuit structure disposed in the housing, the circuit structure includes a power module and a processing module, and the power module is electrically connected to the processing module, the image sensor, and the laser transmitter, and the processing module It is also electrically connected to the image sensor and the laser emitter.
  • the invention also provides a method for inspecting a plain glass, comprising the steps of:
  • Step 1 Providing a glass laser inspection machine, the glass laser inspection machine comprises: a body, a platform disposed on the body, a light absorbing layer disposed on the upper surface of the platform, and a laser emitter disposed on the body and disposed opposite to the platform, An image sensor disposed above the platform and disposed relative to the laser emitter, the platform being used for placing the plain glass flat;
  • Step 2 providing a plain glass to be inspected, and placing the plain glass on the platform;
  • Step 3 starting the laser emitter and starting the image sensor to scan the surface of the plain glass to be inspected, part of the light emitted by the laser emitter is reflected by the plain glass and enters the image sensor, and the light partially refracted into the glass is absorbed by the light absorbing layer;
  • Step 4 The image sensor sends the detected image information to the body
  • Step 5 The body analyzes the inspection result according to the received image information.
  • the light absorbing layer is formed by coating a light absorbing material on the platform.
  • the laser emitter includes a laser head and a mirror disposed relative to the laser head, the mirror reflecting light emitted by the laser head onto the platform.
  • the image sensor includes a light detecting head electrically connected to the body for receiving light reflected by the laser head and reflected by the glass.
  • the main body includes: a housing and a circuit structure disposed in the housing, the circuit structure includes a power module and a processing module, the power module is electrically connected to the processing module, the image sensor, and the laser transmitter, and the processing module is further The image sensor and the laser emitter are electrically connected.
  • the invention has the beneficial effects that the plain glass laser inspection machine of the invention adopts a flat-type platform to place the plain glass, and a light absorption layer is arranged on the platform to avoid the light reflection caused by the dirt on the back surface of the plain glass, thereby causing false detection of the image sensor. Therefore, it is possible to accurately judge whether the product is abnormal or not, avoid misoperation or scrapping of the product, improve production efficiency and yield, reduce working hours, and reduce production cost;
  • the method for inspecting the glass of the invention is simple in operation and can well avoid the product.
  • the mis-work or scrap caused by misdetection improves production efficiency and yield, reduces working hours, and reduces production costs.
  • FIG. 1 is a schematic structural view of a conventional plain glass laser inspection machine
  • FIG. 2 is a schematic structural view of a plain glass laser inspection machine of the present invention
  • FIG. 3 is a flow chart of a method for inspecting a plain glass of the present invention. detailed description
  • the present invention provides a plain glass laser inspection machine, comprising: a body (not shown), a platform 10 disposed on the body, a light absorbing layer 20 disposed on an upper surface of the platform 10, and disposed on the body
  • a laser emitter 30 disposed opposite the platform 10
  • an image sensor (CCD) 40 disposed above the platform 10 and disposed relative to the laser emitter 30, the platform 10 is used for flat placement of the donor glass 50.
  • the body has a common function of the existing plain glass laser inspection machine. After the plain glass 50 to be inspected is placed on the platform 10, the laser emitter 30 emits laser light, and the body activates the image sensor 40 to the plain glass. The surface of the 50 is scanned, and the laser is reflected by the glass 50 to the image sensor 40.
  • the image sensor 40 transmits the acquired image information to the body, and the body analyzes the inspection result of the inspection, and the surface of the glass 50 has particles. At this time, the signal received on the image sensor 40 is enhanced, thereby determining whether or not particles are present on the surface of the plain glass 50.
  • the glass laser inspection machine can improve the influence of the dirt on the back surface of the plain glass 50, avoid false detection, accurately determine whether the product is abnormal, avoid misoperation or scrapping of the product, improve production efficiency and yield, and reduce Working hours and reducing production costs.
  • the light absorbing layer 20 is configured to absorb light incident from the permeable glass 50 to prevent reflection of incident light, thereby causing false detection of the image sensor 40.
  • the light absorbing layer 20 is formed by applying a light absorbing material to the stage 10, or may be formed by sticking a light absorbing film to the stage 10.
  • the laser emitter 30 includes a laser head 32 and a mirror 34 disposed opposite the laser head 32.
  • the laser head 32 emits laser light and reflects the laser light through the mirror 34 to the surface of the plain glass 50, and the light is partially reflected to
  • the image sensor 40 receives, partially refracts onto the light absorbing layer 20, and absorbs it to the light absorbing layer 20.
  • the image sensor 40 includes a light detecting head (not shown).
  • the light detecting head is electrically connected to the body.
  • the detecting head collects the reflected light on the surface of the plain glass 50, and uses the reflected light to determine whether there is a particle on the front surface of the plain glass. .
  • the main body includes: a housing and a circuit structure (not shown) disposed in the housing, the circuit structure includes a power module and a processing module, and the power module and the processing module, the image sensor 40, and the laser transmitter 30 are electrically Connect, and then provide power to it.
  • the processing module is also associated with image transmission
  • the sensor 40 and the laser emitter 30 are electrically connected, control the conduction or disconnection of the laser emitter 30, and analyze the image information transmitted by the image sensor 40 to obtain an inspection result of the inspection of the plain glass.
  • the results of this inspection include: Qualified or unqualified. If it is not qualified, the specific quantity, size and position of the particles are also analyzed.
  • the present invention also provides a method for inspecting a plain glass comprising the following steps:
  • Step 1 providing a glass laser inspection machine, the glass laser inspection machine comprises: a body (not shown), a platform 10 disposed on the body, a light absorbing layer 20 disposed on the upper surface of the platform 10, and disposed on the body a laser emitter 30 disposed opposite the platform 10, an image sensor 40 disposed above the platform 10 and disposed opposite to the laser emitter 30, the platform 10 being used for the flat placement of the donor glass 50;
  • the light absorbing layer 20 is configured to absorb the light incident from the permeable glass 50 to prevent the incident light from being reflected, thereby causing false detection of the image sensor 40.
  • the light absorbing layer 20 is formed by coating a light absorbing material on the stage 10, or may be formed by sticking a light absorbing film to the stage 10.
  • the laser emitter 30 includes a laser head 32 and a mirror 34 disposed opposite the laser head 32.
  • the laser head 32 emits laser light and reflects the laser light through the mirror 34 to the surface of the plain glass 50, and the light is partially reflected to
  • the image sensor 40 receives, partially refracts onto the light absorbing layer 20, and absorbs it to the light absorbing layer 20.
  • the image sensor 40 includes a light detecting head (not shown).
  • the light detecting head is electrically connected to the body. The detecting head collects the reflected light on the surface of the plain glass 50, and uses the reflected light to determine whether the front surface of the plain glass 50 exists. particle.
  • the main body includes: a housing and a circuit structure (not shown) disposed in the housing, the circuit structure includes a power module and a processing module, and the power module and the processing module, the image sensor 40, and the laser transmitter 30 are electrically Connect, and then provide power to it.
  • the processing module is further electrically connected to the image sensor 40 and the laser emitter 30, controls the conduction or disconnection of the laser emitter 30, and analyzes the image information transmitted by the image sensor 40 to obtain an inspection result of the inspection of the plain glass. .
  • Step 2 providing a plain glass 50 to be inspected, and placing the plain glass 50 on the platform 10;
  • Step 3 Start the laser emitter 30 and activate the image sensor 40 to scan the surface of the plain glass 50.
  • the light emitted by the laser emitter 30 passes through the reflection of the plain glass 50 and enters the image sensor 40, partially refracting the light in the glass 50. Absorbed by the light absorbing layer 20;
  • the laser head 32 is activated to emit laser light, and the light detecting head is activated to scan the surface of the plain glass 50, and the light detecting head receives the light reflected by the plain glass 50.
  • Step 4 The image sensor 40 transmits the detected image information to the body. In this step, the image sensor 40 obtains image information of the upper surface of the plain glass 50 according to the received light reflected by the plain glass 50.
  • Step 5 The body analyzes the inspection result according to the received image information.
  • the signal received on the image sensor 40 is enhanced, thereby determining whether or not particles are present on the surface of the plain glass 50.
  • the results of this inspection include: Qualified or unqualified. If it is not qualified, the specific quantity, size and position of the particles are also analyzed.
  • the present invention provides a plain glass laser inspection machine, which uses a flat-mounted platform to place plain glass, and a light-absorbing layer is disposed on the platform to avoid light reflection caused by dirt on the back surface of the glass to cause an image sensor. Misdetection, can accurately determine whether the product is really abnormal, avoid misoperation or scrapping of the product, improve production efficiency and yield, reduce working hours, and reduce production cost;
  • the method for inspecting the glass of the invention is simple and can be well avoided Mistakes or scrapping caused by mis-inspection of products, increasing production efficiency and yield, reducing working hours, and reducing production costs.

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Abstract

一种素玻璃激光检查机及素玻璃检查方法，该检查机包括：本体、设于本体上的平台（10）、设于平台（10）上面的吸光层（20）、设于本体上并相对平台（10）设置的激光发射器、设于平台（10）上方并相对激光发射器设置的图像传感器（40），该平台（10）用于供素玻璃（50）平贴放置。所述素玻璃激光检查机采用平贴式的平台（10）来放置素玻璃（50），并在该平台（10）上设置吸光层（20）、避免素玻璃（50）背面脏污引起的光反射而造成图像传感器（40）误检，能够准确地判断产品是否真正存在异常，避免造成产品的误重工或报废，提高生产效率及良品率，减少工时，降低成本；所述素玻璃检查方法操作简单，可以很好地避免产品的误检造成的误重工或报废，提高生产效率及良品率，减少工时，降低生产成本。

Description

素玻璃激光检查机及素玻璃检查方法 技术领域
本发明涉及液晶显示器领域， 尤其涉及液晶显示器中液晶面板的素玻 璃力口工。 背景技术
现今科技蓬勃发展， 信息商品种类推陈出新， 满足了大众不同的需 求。 早期显示器多半为阴极射线管 （Cathode Ray Tube, CRT )显示器， 由 于其体积庞大与耗电量大， 而且所产生的辐射对于长时间使用显示器的使 用者而言， 有危害身体的问题。 因此， 现今市面上的显示器渐渐将由液晶 显示器（ Liquid Crystal Display, LCD )取代旧有的 CRT显示器。
液晶显示器具有机身薄、 省电、 无辐射等众多优点， 得到了广泛的应 用。 现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器， 其包括液晶面 板及背光模组（backlight module ) 。 液晶面板的工作原理是在两片平行的 玻璃基板当中放置液晶分子， 通过玻璃基板上的电路来控制液晶分子改变 方向， 将背光模组的光线折射出来产生画面。 由于液晶面板本身不发光， 需要借由背光模组提供的光源来正常显示影像， 因此， 背光模组成为液晶 显示器的关键零组件之一。 背光模组依照光源入射位置的不同分成侧入式 背光模组与直下式背光模组两种。 直下式背光模组是将发光光源例如 CCFL(Cold Cathode Fluorescent Lamp , 阴极萤光灯管）或 LED(Light Emitting Diode, 发光二极管）设置在液晶面板后方， 直接形成面光源提供 给液晶面板。 而侧入式背光模组是将背光源 LED 灯条（Lightbar )设于液 晶面板侧后方的背板边缘， LED 灯条发出的光线从导光板（LGP , Light Guide Plate ) 一侧的入光面进入导光板， 经反射和扩散后从导光板出光面 射出， 在经由光学膜片组， 以形成面光源提供给液晶显示面板。
在液晶显示面板的生产过程中涉及素玻璃的加工， 采用素玻璃激光检 查机对加工后的素玻璃进行检查。 请参阅图 1 , 现有的素玻璃激光检查机 采用顶 pin式的平台 100, 故在进行素玻璃 200检查时， 容易因素玻璃 200 背面有脏污（例如 Roller Mark, 滚轮标记）导致激光（ Laser )反射， 此时 图像传感器 300 (又名电荷耦合元件， Charge-coupled Device, CCD )接收 到该反射光， 误认为素玻璃 200正面上的微粒 ( Particle ) , 造成对素玻璃 200 的误判， 这种现象就需要重工或报废， 在降低生产效率及良品率的同 时也增加工时及成本。 发明内容
本发明的目的在于提供一种素玻璃激光检查机， 改善素玻璃背面脏污 对检查的影响， 避免误检， 准确地判断产品是否真正存在异常， 避免造成 产品的误重工或报废， 提高生产效率及良品率， 减少工时， 降低生产成 本。
本发明的另一目的在于提供一种素玻璃检查方法， 操作简单， 可以很 好地避免产品的误检造成的误重工或报废， 提高生产效率及良品率， 减少 工时， 降低生产成本。
为实现上述目的， 本发明提供一种素玻璃激光检查机， 包括： 本体、 设于本体上的平台、 设于平台上表面的吸光层、 设于本体上并相对平台设 置的激光发射器、 设于平台上方并相对激光发射器设置的图像传感器， 所 述平台用于供素玻璃平贴放置。
所述吸光层由吸光材料涂覆于所述平台上而形成。
所述激光发射器包括一激光头及一相对激光头设置的反射镜， 所述反 射镜将所述激光头出射的光反射至平台上。
所述图像传感器包括一光探测头， 所述光探测头与本体电性连接， 用 于接收激光头发射出来的经由素玻璃反射后的光线。
所述本体包括： 壳体及设于壳体内的电路结构， 所述电路结构包括一 电源模块及处理模块， 该电源模块与处理模块、 图像传感器及激光发射器 电性连接， 该处理模块还与图像传感器及激光发射器电性连接。
本发明还提供一种素玻璃激光检查机， 包括： 本体、 设于本体上的平 台、 设于平台上表面的吸光层、 设于本体上并相对平台设置的激光发射 器、 设于平台上方并相对激光发射器设置的图像传感器， 所述平台用于供 素玻璃平贴放置；
其中， 所述吸光层由吸光材料涂覆于所述平台上而形成；
其中， 所述激光发射器包括一激光头及一相对激光头设置的反射镜， 所述反射镜将所述激光头发射的光线反射至平台上；
其中， 所述图像传感器包括一光探测头， 所述光探测头与本体电性连 接， 用于接收激光头发射出来的经由素玻璃反射后的光线；
其中， 所述本体包括： 壳体及设于壳体内的电路结构， 所述电路结构 包括一电源模块及处理模块， 该电源模块与处理模块、 图像传感器及激光 发射器电性连接， 该处理模块还与图像传感器及激光发射器电性连接。 本发明还提供一种素玻璃检查方法， 包括以下步骤：
步骤 1、 提供一素玻璃激光检查机， 该素玻璃激光检查机包括： 本 体、 设于本体上的平台、 设于平台上表面的吸光层、 设于本体上并相对平 台设置的激光发射器、 设于平台上方并相对激光发射器设置的图像传感 器， 所述平台用于供素玻璃平贴放置；
步骤 2、 提供一待检查的素玻璃， 并将该素玻璃平贴放置于该平台 上；
步骤 3、 启动激光发射器并启动图像传感器对待检查的素玻璃表面进 行扫描， 激光发射器发出的部分光线经过素玻璃的反射后进入图像传感 器， 部分折射进素玻璃内的光线由吸光层吸收；
步骤 4、 所述图像传感器将探测到的图像信息发送给本体；
步骤 5、 所述本体根据接收到的图像信息分析得出检查结果。
所述吸光层由吸光材料涂覆于所述平台上而形成。
所述激光发射器包括一激光头及一相对激光头设置的反射镜， 所述反 射镜将所述激光头发射的光反射至平台上。
所述图像传感器包括一光探测头， 所述光探测头与本体电性连接， 用 于接收激光头发射出来的经由素玻璃反射后的光线。
所述本体包括： 壳体及设于壳体内的电路结构， 所述电路结构包括一 电源模块及处理模块， 该电源模块与处理模块、 图像传感器及激光发射器 电性连接， 该处理模块还与图像传感器及激光发射器电性连接。
本发明的有益效果： 本发明素玻璃激光检查机采用平贴式的平台来放 置素玻璃， 并在该平台上设置吸光层， 避免素玻璃背面脏污引起的光线反 射而造成图像传感器的误检， 从而能够准确地判断产品是否真正存在异 常， 避免造成产品的误重工或报废， 提高生产效率及良品率， 减少工时， 降低生产成本； 本发明素玻璃检查方法操作简单， 可以很好地避免产品的 误检造成的误重工或报废， 提高生产效率及良品率， 减少工时， 降低生产 成本。
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容， 请参阅以下有关本 发明的详细说明与附图， 然而附图仅提供参考与说明用， 并非用来对本发 明加以限制。 附图说明
下面结合附图， 通过对本发明的具体实施方式详细描述， 将使本发明 的技术方案及其它有益效果显而易见。 附图中，
图 1为现有素玻璃激光检查机的结构示意图；
图 2为本发明素玻璃激光检查机的结构示意图；
图 3为本发明素玻璃检查方法的流程图。 具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果， 以下结合本发明 的优选实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图 1 , 本发明提供一种素玻璃激光检查机， 其包括： 本体（未 图示） 、 设于本体上的平台 10、 设于平台 10上表面的吸光层 20、 设于本 体上并相对平台 10设置的激光发射器 30、 设于平台 10上方并相对激光发 射器 30设置的图像传感器（CCD ) 40, 所述平台 10用于供素玻璃 50平 贴放置。 所述本体具有现有的素玻璃激光检查机的常用功能， 将待检测的 素玻璃 50平贴放置于该平台 10上后， 该激光发射器 30发射出激光， 本 体启动图像传感器 40对素玻璃 50表面进行扫描， 激光经素玻璃 50反射 至图像传感器 40, 该图像传感器 40将获取到的图像信息发送给本体， 该 本体分析得出该次检查的检查结果， 当素玻璃 50表面上有微粒时， 图像 传感器 40上接收的信号会增强， 借此进行判断素玻璃 50表面是否存在微 粒。 通过该素玻璃激光检查机可以改善素玻璃 50 背面脏污对检查的影 响， 避免误检， 准确地判断产品是否真正存在异常， 避免造成产品的误重 工或报废， 提高生产效率及良品率， 减少工时及降低生产成本。
所述吸光层 20用于吸收透过素玻璃 50入射进来的光线， 避免入射进 来的光线发生反射， 造成图像传感器 40的误检。 该吸光层 20由吸光材料 涂覆于所述平台 10上而形成， 也可以采用吸光膜粘贴至该平台 10上而形 成。
所述激光发射器 30 包括一激光头 32及一相对激光头 32设置的反射 镜 34, 所述激光头 32发出激光并经过反射镜 34将激光反射至素玻璃 50 表面， 该些光部分反射给图像传感器 40接收， 部分折射到吸光层 20上， 给吸光层 20吸收。 所述图像传感器 40包括一光探测头 （未标示） ， 该光 探测头与本体电性连接， 该探测头采集素玻璃 50表面的反射光， 利用该 些反射光判断素玻璃正表面是否存在微粒。
所述本体包括： 壳体及设于壳体内的电路结构 （未图示） ， 所述电路 结构包括一电源模块及处理模块， 该电源模块与处理模块、 图像传感器 40 及激光发射器 30 电性连接， 进而为其提供电源。 该处理模块还与图像传 感器 40及激光发射器 30 电性连接， 控制该激光发射器 30 的导通或断 开， 并分析图像传感器 40传送过来的图像信息， 得出检查该素玻璃的检 查结果。 该检查结果包括： 合格或不合格。 若不合格还分析出微粒具体的 数量、 大小及位置。
请参阅图 2及 3 , 本发明还提供一种素玻璃检查方法， 其包括以下步 骤：
步骤 1、 提供一素玻璃激光检查机， 该素玻璃激光检查机包括： 本体 (未图示） 、 设于本体上的平台 10、 设于平台 10上表面的吸光层 20、 设 于本体上并相对平台 10设置的激光发射器 30、 设于平台 10上方并相对激 光发射器 30设置的图像传感器 40, 所述平台 10用于供素玻璃 50平贴放 置；
其中， 所述吸光层 20用于吸收透过素玻璃 50入射进来的光线， 避免 入射进来的光线发生反射， 造成图像传感器 40的误检。 该吸光层 20由吸 光材料涂覆于所述平台 10上而形成， 也可以采用吸光膜粘贴至该平台 10 上而形成。
所述激光发射器 30 包括一激光头 32及一相对激光头 32设置的反射 镜 34, 所述激光头 32发出激光并经过反射镜 34将激光反射至素玻璃 50 表面， 该些光部分反射给图像传感器 40接收， 部分折射到吸光层 20上， 给吸光层 20吸收。 所述图像传感器 40包括一光探测头 （未标示） ， 该光 探测头与本体电性连接， 该探测头采集素玻璃 50表面的反射光， 利用该 些反射光判断素玻璃 50正表面是否存在微粒。
所述本体包括： 壳体及设于壳体内的电路结构 （未图示） ， 所述电路 结构包括一电源模块及处理模块， 该电源模块与处理模块、 图像传感器 40 及激光发射器 30 电性连接， 进而为其提供电源。 该处理模块还与图像传 感器 40及激光发射器 30 电性连接， 控制该激光发射器 30 的导通或断 开， 并分析图像传感器 40传送过来的图像信息， 得出检查该素玻璃的检 查结果。
步骤 2、 提供一待检查的素玻璃 50, 并将该素玻璃 50 平贴放置于该 平台 10上；
步骤 3、 启动激光发射器 30并启动图像传感器 40对待检查素玻璃 50 表面进行扫描， 激光发射器 30发出的光线经过素玻璃 50的反射后进入图 像传感器 40, 部分折射进素玻璃 50内的光线由吸光层 20吸收；
启动激光头 32发射出激光， 并启动光探测头对素玻璃 50表面进行扫 描， 所述光探测头接收素玻璃 50反射的光线。 步骤 4、 所述图像传感器 40将探测到的图像信息发送给本体； 在本步骤中， 图像传感器 40根据接收到的素玻璃 50反射的光线来 得出素玻璃 50的上表面的图像信息。
步骤 5、 所述本体根据接收到的图像信息分析得出检查结果。
当素玻璃 50表面上有微粒时， 图像传感器 40上接收的信号会增强， 借此进行判断该素玻璃 50表面是否存在微粒。 该检查结果包括： 合格或 不合格。 若不合格还分析出微粒具体的数量、 大小及位置。
综上所述， 本发明提供一种素玻璃激光检查机， 采用平贴式的平台来 放置素玻璃， 并在该平台上设置吸光层， 避免素玻璃背面脏污引起的光反 射而造成图像传感器误检， 能够准确地判断产品是否真正存在异常， 避免 造成产品的误重工或报废， 提高生产效率及良品率， 减少工时， 降低生产 成本； 本发明素玻璃检查方法操作简单， 可以很好地避免产品的误检造成 的误重工或报废， 提高生产效率及良品率， 减少工时， 降低生产成本。
以上所述， 对于本领域的普通技术人员来说， 可以根据本发明的技术 方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形， 而所有这些改变和变形 都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims

权 利 要 求
1、 一种素玻璃激光检查机， 包括： 本体、 设于本体上的平台、 设于 平台上表面的吸光层、 设于本体上并相对平台设置的激光发射器、 设于平 台上方并相对激光发射器设置的图像传感器， 所述平台用于供素玻璃平贴 放置。
2、 如权利要求 1 所述的素玻璃激光检查机， 其中， 所述吸光层由吸 光材料涂覆于所述平台上而形成。
3、 如权利要求 1 所述的素玻璃激光检查机， 其中， 所述激光发射器 包括一激光头及一相对激光头设置的反射镜， 所述反射镜将所述激光头发 射的光线反射至平台上。
4、 如权利要求 3 所述的素玻璃激光检查机， 其中， 所述图像传感器 包括一光探测头， 所述光探测头与本体电性连接， 用于接收激光头发射出 来的经由素玻璃反射后的光线。
5、 如权利要求 1 所述的素玻璃激光检查机， 其中， 所述本体包括： 壳体及设于壳体内的电路结构， 所述电路结构包括一电源模块及处理模 块， 该电源模块与处理模块、 图像传感器及激光发射器电性连接， 该处理 模块还与图像传感器及激光发射器电性连接。
6、 一种素玻璃激光检查机， 包括： 本体、 设于本体上的平台、 设于 平台上表面的吸光层、 设于本体上并相对平台设置的激光发射器、 设于平 台上方并相对激光发射器设置的图像传感器， 所述平台用于供素玻璃平贴 放置；
其中， 所述吸光层由吸光材料涂覆于所述平台上而形成；
其中， 所述激光发射器包括一激光头及一相对激光头设置的反射镜， 所述反射镜将所述激光头发射的光线反射至平台上；
其中， 所述图像传感器包括一光探测头， 所述光探测头与本体电性连 接， 用于接收激光头发射出来的经由素玻璃反射后的光线；
其中， 所述本体包括： 壳体及设于壳体内的电路结构， 所述电路结构 包括一电源模块及处理模块， 该电源模块与处理模块、 图像传感器及激光 发射器电性连接， 该处理模块还与图像传感器及激光发射器电性连接。
7、 一种素玻璃检查方法， 包括以下步骤：
步骤 1、 提供一素玻璃激光检查机， 该素玻璃激光检查机包括： 本 体、 设于本体上的平台、 设于平台上表面的吸光层、 设于本体上并相对平 台设置的激光发射器、 设于平台上方并相对激光发射器设置的图像传感 器， 所述平台用于供素玻璃平贴放置；
步骤 2、 提供一待检查的素玻璃， 并将该素玻璃平贴放置于该平台 上；
步骤 3、 启动激光发射器并启动图像传感器对待检查的素玻璃表面进 行扫描， 激光发射器发出的部分光线经过素玻璃的反射后进入图像传感 器， 部分折射进素玻璃内的光线由吸光层吸收；
步骤 4、 所述图像传感器将探测到的图像信息发送给本体；
步骤 5、 所述本体根据接收到的图像信息分析得出检查结果。
8、 如权利要求 7 所述的素玻璃检查方法， 其中， 所述吸光层由吸光 材料涂覆于所述平台上而形成。
9、 如权利要求 7 所述的素玻璃检查方法， 其中， 所述激光发射器包 括一激光头及一相对激光头设置的反射镜， 所述反射镜将所述激光头发射 的光线反射至平台上。
10、 如权利要求 9所述的素玻璃检查方法， 其中， 所述图像传感器包 括一光探测头， 所述光探测头与本体电性连接， 用于接收激光头发射出来 的经由素玻璃反射后的光线。
11、 如权利要求 7 所述的素玻璃检查方法， 其中， 所述本体包括： 壳 体及设于壳体内的电路结构， 所述电路结构包括一电源模块及处理模块， 该电源模块与处理模块、 图像传感器及激光发射器电性连接， 该处理模块 还与图像传感器及激光发射器电性连接。
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