WO2012140980A1 - Translational movement device, michelson interferometer, and fourier transform spectrometer - Google Patents

Translational movement device, michelson interferometer, and fourier transform spectrometer Download PDF

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広瀬 悟
小坂 明
賢次 水本
祐司 延本
豊年 川崎
滋人 大森
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コニカミノルタホールディングス株式会社
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Abstract

A translational movement device (10), in which a moving part (43) moves reciprocally while maintaining a parallel attitude, comprises: elastic parts (41, 42); a fixed part (44); a moving part (43); and a drive receiving part (45M) which is attached to the moving part (43) and moves reciprocally together with the moving part (43) by receiving an electromagnetic force in a non-contact manner. The elastic parts (41, 42) and the moving part (43) constitute a parallel leaf spring structure (40) having one end (40a) secured to the fixed part (44). The drive receiving part (45M) receives the electromagnetic force such that the moving part (43) of the parallel leaf spring structure (40) oscillates at a resonant frequency. It becomes possible to improve the translational movement of the moving part in a case where the parallel leaf spring structure is caused to oscillate at the resonant frequency thereof.

Description

平行移動装置、マイケルソン干渉計、およびフーリエ変換分光分析装置Translation device, Michelson interferometer, and Fourier transform spectrometer
 本発明は、移動部が平行な姿勢を維持しつつ往復移動する平行移動装置、その平行移動装置を備えるマイケルソン干渉計、およびそのマイケルソン干渉計を備えるフーリエ変換分光分析装置に関する。 The present invention relates to a translation device in which a moving unit reciprocates while maintaining a parallel posture, a Michelson interferometer including the translation device, and a Fourier transform spectroscopic analysis device including the Michelson interferometer.
 特開平02-307037号公報(特許文献1)および特開昭61-085640号公報(特許文献2)に開示されるように、平行板ばね構造が知られる。平行板ばね構造においては、一端側が固定され、他端側の移動部は平行な姿勢を維持しつつ往復移動する。特許文献1に開示される平行板ばね構造は、移動部の振動(励振)のために圧電素子が用いられる。特許文献2に開示される平行板ばね構造は、移動部の振動(励振)のために永久磁石が用いられる。 A parallel leaf spring structure is known as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 02-307037 (Patent Document 1) and Japanese Patent Laid-Open No. 61-085640 (Patent Document 2). In the parallel leaf spring structure, one end side is fixed, and the moving part on the other end side reciprocates while maintaining a parallel posture. In the parallel leaf spring structure disclosed in Patent Document 1, a piezoelectric element is used for vibration (excitation) of the moving part. The parallel leaf spring structure disclosed in Patent Document 2 uses a permanent magnet for vibration (excitation) of the moving part.
特開平02-307037号公報Japanese Patent Laid-Open No. 02-307037 特開昭61-085640号公報Japanese Patent Laid-Open No. 61-085640
 本発明は、平行板ばね構造をその共振周波数で振動させる場合において、移動部における並進性を向上させることが可能な平行移動装置、その平行移動装置を備えるマイケルソン干渉計、およびそのマイケルソン干渉計を備えるフーリエ変換分光分析装置を提供することを目的とする。 The present invention relates to a translation device capable of improving the translation performance in the moving part when the parallel leaf spring structure is vibrated at the resonance frequency, a Michelson interferometer including the translation device, and the Michelson interference. An object of the present invention is to provide a Fourier transform spectroscopic analysis apparatus including a meter.
 本発明に基づく平行移動装置は、移動部が平行な姿勢を維持しつつ往復移動する平行移動装置であって、平板状の部材からそれぞれ構成され、間隔を空けて互いに対向配置された第1弾性部および第2弾性部と、上記第1弾性部および上記第2弾性部の各々の一端が固定された固定部と、上記第1弾性部および上記第2弾性部の各々の他端同士を接続するように設けられた上記移動部と、上記移動部に取り付けられ、電磁力を非接触で受けることによって上記移動部とともに往復移動する駆動受部と、を備え、上記第1弾性部、上記第2弾性部、および上記移動部によって、一端が上記固定部に固定された平行板ばね構造が構成され、上記駆動受部は、上記平行板ばね構造の上記移動部が共振周波数で振動するように上記電磁力を受ける。 The parallel movement device according to the present invention is a parallel movement device in which the moving portion reciprocates while maintaining a parallel posture, and is composed of flat plate-like members, which are arranged to face each other with a space therebetween. The first elastic portion and the second elastic portion; the fixed portion to which one end of each of the first elastic portion and the second elastic portion is fixed; and the other end of each of the first elastic portion and the second elastic portion. And a drive receiving unit that is attached to the moving unit and reciprocates together with the moving unit by receiving electromagnetic force in a non-contact manner, the first elastic unit, the first A parallel leaf spring structure in which one end is fixed to the fixed portion is configured by the two elastic portions and the moving portion, and the drive receiving portion is configured so that the moving portion of the parallel leaf spring structure vibrates at a resonance frequency. Receives the electromagnetic force.
 好ましくは、上記駆動受部は、磁石から構成される。好ましくは、上記駆動受部は、上記移動部から見て上記平行板ばね構造の上記一端側に取り付けられる。好ましくは、上記移動部は、上記第1弾性部および上記第2弾性部の間において上記平行板ばね構造の上記一端側に向かって延在する延在部を含み、上記駆動受部は、上記延在部の延在方向の先端に取り付けられる。 Preferably, the drive receiving unit is composed of a magnet. Preferably, the drive receiving portion is attached to the one end side of the parallel leaf spring structure as viewed from the moving portion. Preferably, the moving part includes an extending part extending toward the one end side of the parallel leaf spring structure between the first elastic part and the second elastic part, and the drive receiving part includes It attaches to the front-end | tip of the extension direction of an extension part.
 好ましくは、上記駆動受部は、上記第1弾性部および上記第2弾性部の長手方向において、上記第1弾性部および上記第2弾性部が弾性変形する領域の中央部に位置する。好ましくは、上記延在部は、上記移動部のうちの上記第1弾性部および上記第2弾性部の各々の上記他端同士を接続する部位とは別体として作製され、上記部位に対して取付固定されている。 Preferably, the drive receiving portion is located in a central portion of a region where the first elastic portion and the second elastic portion are elastically deformed in the longitudinal direction of the first elastic portion and the second elastic portion. Preferably, the extension part is manufactured separately from a part connecting the other ends of the first elastic part and the second elastic part of the moving part, and It is fixed.
 好ましくは、上記延在部の内部は中空状に形成され、上記移動部は、上記移動部側から上記駆動受部側に向かって延在する穴部を有する。好ましくは、本発明に基づく上記の平行移動装置は、上記移動部の移動量が所定の範囲以内となるように上記移動部の移動を規制するストッパーをさらに備える。好ましくは、上記移動部には、上記駆動受部が嵌め込まれる嵌合部が設けられる。 Preferably, the inside of the extending part is formed in a hollow shape, and the moving part has a hole extending from the moving part side toward the drive receiving part side. Preferably, the parallel movement device according to the present invention further includes a stopper for restricting the movement of the moving unit so that the moving amount of the moving unit is within a predetermined range. Preferably, the moving portion is provided with a fitting portion into which the drive receiving portion is fitted.
 本発明に基づくマイケルソン干渉計は、本発明に基づく上記の平行移動装置と、上記平行板ばね構造の上記他端側の外表面に露出するように設けられた移動鏡と、固定鏡と、光源と、上記光源が出射した光を上記固定鏡に向かう光と上記移動鏡に向かう光とに分割するとともに、上記固定鏡および上記移動鏡の各々に反射した光を合成し干渉光として出射するビームスプリッタと、上記干渉光を検出する検出器と、を備える。 A Michelson interferometer according to the present invention includes the parallel movement device according to the present invention, a movable mirror provided so as to be exposed on the outer surface on the other end side of the parallel leaf spring structure, a fixed mirror, The light source and the light emitted from the light source are divided into light directed to the fixed mirror and light directed to the movable mirror, and the light reflected on each of the fixed mirror and the movable mirror is combined and emitted as interference light. A beam splitter; and a detector for detecting the interference light.
 本発明に基づくフーリエ変換分光分析装置は、本発明に基づく上記のマイケルソン干渉計と、上記検出器が検出した上記干渉光のスペクトルを算出する演算部と、上記演算部によって得られた上記スペクトルを出力する出力部と、を備える。 A Fourier transform spectroscopic analyzer based on the present invention includes the Michelson interferometer based on the present invention, a calculation unit that calculates the spectrum of the interference light detected by the detector, and the spectrum obtained by the calculation unit. And an output unit for outputting.
 本発明によれば、平行板ばね構造をその共振周波数で振動させる場合において、移動部における並進性を向上させることが可能な平行移動装置、その平行移動装置を備えるマイケルソン干渉計、およびそのマイケルソン干渉計を備えるフーリエ変換分光分析装置を得ることができる。 According to the present invention, when a parallel leaf spring structure is vibrated at its resonance frequency, a translation device capable of improving the translation performance in the moving part, a Michelson interferometer including the translation device, and the Michael A Fourier transform spectroscopic analyzer equipped with a Son interferometer can be obtained.
実施の形態1における平行移動装置、その平行移動装置を備えるマイケルソン干渉計、およびそのマイケルソン干渉計を備えるフーリエ変換分光分析装置の構成を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the structure of the Fourier-transform spectroscopy analyzer provided with the translation apparatus in Embodiment 1, the Michelson interferometer provided with the translation apparatus, and the Michelson interferometer. 実施の形態1における平行移動装置を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing a translation device in the first embodiment. 図2中のIII-III線に沿った矢視断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line III-III in FIG. 2. 実施の形態1における平行移動装置が振動している様子を示す断面図である。It is sectional drawing which shows a mode that the parallel displacement apparatus in Embodiment 1 is vibrating. 図4中のV-V線に沿った矢視断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line VV in FIG. 4. (A)は、実施の形態1における平行移動装置に用いられる位置検出装置が、往復移動の上死点に位置する弾性部の位置を検出している様子を示す断面図である。(B)は、実施の形態1における平行移動装置に用いられる位置検出装置が、往復移動の下死点に位置する弾性部の位置を検出している様子を示す断面図である。(A) is sectional drawing which shows a mode that the position detection apparatus used for the translation apparatus in Embodiment 1 has detected the position of the elastic part located in the top dead center of reciprocation. (B) is sectional drawing which shows a mode that the position detection apparatus used for the translation apparatus in Embodiment 1 has detected the position of the elastic part located in the bottom dead center of reciprocation. 弾性部が上死点および下死点の間で往復移動する際の、弾性部の往復移動方向における変位(横軸)と受光器から出力される出力信号の大きさ(縦軸)との関係を示す図である。Relationship between the displacement of the elastic part in the reciprocating direction (horizontal axis) and the magnitude of the output signal output from the light receiver (vertical axis) when the elastic part reciprocates between the top dead center and the bottom dead center FIG. 時間(横軸)と往復移動する弾性部から得られる出力信号の大きさ(縦軸)との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between time (horizontal axis) and the magnitude | size (vertical axis) of the output signal obtained from the elastic part which reciprocates. 制御部が平行移動装置の駆動部を駆動周波数(横軸)で駆動させたときの機械的出力(出力信号)の大きさ(縦軸)と、制御部が平行移動機構の駆動部を所定の駆動信号で駆動させたときの駆動信号に対する機械的出力の位相(縦軸)と、を示す図である。The magnitude of the mechanical output (output signal) when the control unit drives the drive unit of the translation device at the drive frequency (horizontal axis) (vertical axis), and the control unit sets the drive unit of the translation mechanism to a predetermined level. It is a figure which shows the phase (vertical axis) of the mechanical output with respect to a drive signal when it drives with a drive signal. 図9中の周波数f(共振周波数)付近の図を拡大して示す図である。FIG. 10 is an enlarged view of a diagram in the vicinity of a frequency f 0 (resonance frequency) in FIG. 9. 実施の形態2における平行移動装置を示す断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view showing a translation device in a second embodiment. 実施の形態2における平行移動装置を示す斜視図である。FIG. 6 is a perspective view showing a translation device in a second embodiment. 実施の形態3における平行移動装置を示す断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view showing a translation device in a third embodiment. 実施の形態3における平行移動装置を示す斜視図である。FIG. 9 is a perspective view showing a translation device in a third embodiment. 実施の形態4における平行移動装置を示す平面図である。FIG. 10 is a plan view showing a translation device in a fourth embodiment. 図15中のXVI-XVI線に沿った矢視断面図である。FIG. 16 is a cross-sectional view taken along line XVI-XVI in FIG. 15. 実施の形態5における平行移動装置を示す平面図である。FIG. 10 is a plan view showing a translation device in a fifth embodiment. 図17中のXVIII-XVIII線に沿った矢視断面図である。FIG. 18 is a cross-sectional view taken along line XVIII-XVIII in FIG. 実施の形態5における平行移動装置の他の例を示す平面図である。FIG. 25 is a plan view showing another example of the parallel movement device in the fifth embodiment. 実施の形態6における平行移動装置を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the parallel displacement apparatus in Embodiment 6. 実施の形態6における平行移動装置が振動している様子を示す断面図である。It is sectional drawing which shows a mode that the parallel displacement apparatus in Embodiment 6 is vibrating. 実施の形態7における平行移動装置の分解した状態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the state which the parallel displacement apparatus in Embodiment 7 decomposed | disassembled. 実施の形態7における平行移動装置の組み立てられた状態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the assembled state of the parallel displacement apparatus in Embodiment 7. 実施の形態7における平行移動装置を示す断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view showing a translation device in a seventh embodiment. 実施の形態8における平行移動装置の一部(ストッパー)を分解した状態を示す斜視図である。FIG. 25 is a perspective view showing a state in which a part (stopper) of the parallel movement device in the eighth embodiment is disassembled. 実施の形態8における平行移動装置の組み立てられた状態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the assembled state of the parallel displacement apparatus in Embodiment 8.
 本発明に基づいた各実施の形態について、以下、図面を参照しながら説明する。各実施の形態の説明において、個数、量などに言及する場合、特に記載がある場合を除き、本発明の範囲は必ずしもその個数、量などに限定されない。各実施の形態の説明において、同一の部品、相当部品に対しては、同一の参照番号を付し、重複する説明は繰り返さない場合がある。特に制限が無い限り、各実施の形態に示す構成を適宜組み合わせて用いることは、当初から予定されていることである。 Embodiments according to the present invention will be described below with reference to the drawings. In the description of each embodiment, when referring to the number, amount, or the like, the scope of the present invention is not necessarily limited to the number, amount, or the like unless otherwise specified. In the description of each embodiment, the same parts and corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and redundant description may not be repeated. Unless there is a restriction | limiting in particular, it is planned from the beginning to use suitably combining the structure shown in each embodiment.
 [実施の形態1]
 (フーリエ変換分光分析装置100・マイケルソン干渉計1)
 図1を参照して、本実施の形態におけるフーリエ変換分光分析装置100およびマイケルソン干渉計1について説明する。フーリエ変換分光分析装置100は、マイケルソン干渉計1、演算部2、および出力部3を備えている。マイケルソン干渉計1は、平行移動装置10、分光光学系11、参照光学系21、光路補正装置31、位置検出装置70、および制御部90を含んでいる。
[Embodiment 1]
(Fourier transform spectrometer 100 Michelson interferometer 1)
With reference to FIG. 1, the Fourier-transform spectroscopy analyzer 100 and the Michelson interferometer 1 in this Embodiment are demonstrated. The Fourier transform spectroscopic analysis apparatus 100 includes a Michelson interferometer 1, a calculation unit 2, and an output unit 3. The Michelson interferometer 1 includes a parallel movement device 10, a spectroscopic optical system 11, a reference optical system 21, an optical path correction device 31, a position detection device 70, and a control unit 90.
 (分光光学系11)
 分光光学系11は、光源12、コリメート光学系13、ビームスプリッタ14、固定鏡15、移動鏡16、集光光学系17、検出器18、および平行移動装置10を有している。
(Spectral optical system 11)
The spectroscopic optical system 11 includes a light source 12, a collimating optical system 13, a beam splitter 14, a fixed mirror 15, a moving mirror 16, a condensing optical system 17, a detector 18, and a translation device 10.
 光源12は、分光用の光源である。光源12は、ハロゲンランプ等から構成され、赤外光等を含む広い波長のランプ光を出射する。光源12が出射した光は、参照光学系21(詳細は後述する)における光路合成鏡23に導入され、参照光源22(詳細は後述する)から出射された光と合成される。合成された光は光路合成鏡23から出射され、コリメート光学系13によって平行光に変換された後、ビームスプリッタ14に導入される。ビームスプリッタ14はハーフミラー等から構成される。ビームスプリッタ14に導入された光(入射光)は2光束に分割される。 The light source 12 is a light source for spectroscopy. The light source 12 is composed of a halogen lamp or the like, and emits lamp light having a wide wavelength including infrared light. The light emitted from the light source 12 is introduced into an optical path combining mirror 23 in the reference optical system 21 (details will be described later), and is combined with the light emitted from the reference light source 22 (details will be described later). The combined light is emitted from the optical path combining mirror 23, converted into parallel light by the collimating optical system 13, and then introduced into the beam splitter 14. The beam splitter 14 is composed of a half mirror or the like. The light (incident light) introduced into the beam splitter 14 is divided into two light beams.
 分割された光の一方は固定鏡15に照射される。固定鏡15の表面で反射した光(反射光)は、反射前と略同一の光路を通過してビームスプリッタ14に再び照射される。分割された光の他方は移動鏡16に照射される。移動鏡16の表面で反射した光(反射光)は、反射前と略同一の光路を通過してビームスプリッタ14に再び照射される。固定鏡15からの反射光および移動鏡16からの反射光は、ビームスプリッタ14によって合成される(重ね合わせられる)。 One side of the divided light is irradiated to the fixed mirror 15. The light reflected by the surface of the fixed mirror 15 (reflected light) passes through substantially the same optical path as before the reflection and is irradiated again to the beam splitter 14. The other of the divided lights is irradiated to the movable mirror 16. The light reflected by the surface of the movable mirror 16 (reflected light) passes through substantially the same optical path as before the reflection and is irradiated again to the beam splitter 14. The reflected light from the fixed mirror 15 and the reflected light from the moving mirror 16 are combined (superposed) by the beam splitter 14.
 ここで、分割された光の他方が移動鏡16の表面で反射する際、移動鏡16は平行移動装置10によって平行を維持した状態で矢印AR方向に往復移動(並進移動)している(詳細は後述する)。移動鏡16の往復移動によって、固定鏡15からの反射光と移動鏡16からの反射光との間には、光路長の差が生じる。固定鏡15からの反射光と移動鏡16からの反射光とは、ビームスプリッタ14で合成されることによって干渉光を形成する。 Here, when the other part of the divided light is reflected by the surface of the movable mirror 16, the movable mirror 16 is reciprocated (translated) in the direction of the arrow AR while being kept parallel by the translation device 10 (details). Will be described later). Due to the reciprocating movement of the movable mirror 16, a difference in optical path length occurs between the reflected light from the fixed mirror 15 and the reflected light from the movable mirror 16. The reflected light from the fixed mirror 15 and the reflected light from the movable mirror 16 are combined by the beam splitter 14 to form interference light.
 移動鏡16の位置に応じて光路長の差は連続的に変化する。光路長の差に応じて干渉光としての光の強度も連続的に変化する。光路長の差が、たとえば、コリメート光学系13からビームスプリッタ14に照射される光の波長の整数倍のとき、干渉光としての光の強度は最大となる。 The difference in optical path length changes continuously according to the position of the movable mirror 16. The intensity of light as interference light also changes continuously according to the difference in optical path length. When the difference in optical path length is, for example, an integral multiple of the wavelength of light irradiated from the collimating optical system 13 to the beam splitter 14, the intensity of light as interference light is maximized.
 干渉光を形成した光は試料Sに照射される。試料Sを透過した光は集光光学系17によって集光される。集光された光は、参照光学系21(詳細は後述する)における光路分離鏡24に導入される。検出器18は、光路分離鏡24から出射された光を干渉パターン(インターフェログラム)として検出する。この干渉パターンは、CPU(Central Processing Unit)等を含む演算部2に送られる。演算部2は、収集(サンプリング)した干渉パターンをアナログ形式からデジタル形式に変換し、変換後のデータをさらにフーリエ変換する。 The sample S is irradiated with the light forming the interference light. The light transmitted through the sample S is collected by the condensing optical system 17. The condensed light is introduced into the optical path separation mirror 24 in the reference optical system 21 (details will be described later). The detector 18 detects the light emitted from the optical path separation mirror 24 as an interference pattern (interferogram). This interference pattern is sent to the calculation unit 2 including a CPU (Central Processing Unit) and the like. The computing unit 2 converts the collected (sampled) interference pattern from an analog format to a digital format, and further performs Fourier transform on the converted data.
 フーリエ変換によって、試料Sを透過した光(干渉光)の波数(=1/波長)毎の光の強度を示すスペクトル分布が算出される。フーリエ変換後のデータは、出力部3を通して他の機器に出力されたりディスプレイ等に表示されたりする。このスペクトル分布に基づいて、試料Sの特性(たとえば、材料、構造、または成分量)が分析される。 The spectral distribution indicating the light intensity for each wave number (= 1 / wavelength) of the light (interference light) transmitted through the sample S is calculated by Fourier transform. The data after the Fourier transform is output to another device through the output unit 3 or displayed on a display or the like. Based on this spectral distribution, the characteristics (eg, material, structure, or amount of components) of the sample S are analyzed.
 (参照光学系21)
 参照光学系21は、コリメート光学系13、ビームスプリッタ14、固定鏡15、移動鏡16、集光光学系17、参照光源22、光路合成鏡23、光路分離鏡24、参照検出器25、および信号処理部26を有している。コリメート光学系13、ビームスプリッタ14、固定鏡15、移動鏡16、および集光光学系17は、分光光学系11および参照光学系21の双方の構成として共通している。
(Reference optical system 21)
The reference optical system 21 includes a collimating optical system 13, a beam splitter 14, a fixed mirror 15, a moving mirror 16, a condensing optical system 17, a reference light source 22, an optical path synthesis mirror 23, an optical path separation mirror 24, a reference detector 25, and a signal. A processing unit 26 is included. The collimating optical system 13, the beam splitter 14, the fixed mirror 15, the moving mirror 16, and the condensing optical system 17 are common to both the spectroscopic optical system 11 and the reference optical system 21.
 参照光源22は、半導体レーザ等の発光素子から構成され、赤色光等の光を出射する。上述のとおり、参照光源22から出射された光は光路合成鏡23に導入される。光路合成鏡23はハーフミラー(波長選択性のあるミラー)等から構成される。光源12から出射された光は光路合成鏡23を透過する。参照光源22から出射された光は光路合成鏡23によって反射される。 The reference light source 22 is composed of a light emitting element such as a semiconductor laser, and emits light such as red light. As described above, the light emitted from the reference light source 22 is introduced into the optical path combining mirror 23. The optical path combining mirror 23 is composed of a half mirror (a mirror having wavelength selectivity) and the like. The light emitted from the light source 12 passes through the optical path combining mirror 23. The light emitted from the reference light source 22 is reflected by the optical path combining mirror 23.
 光源12からの光および参照光源22からの光は、光路合成鏡23によって合成された状態で、光路合成鏡23から同一光路上に出射される。光路合成鏡23から出射された光は、コリメート光学系13によって平行光に変換された後、ビームスプリッタ14に導入されて2光束に分割される。 The light from the light source 12 and the light from the reference light source 22 are emitted from the optical path combining mirror 23 onto the same optical path in a state where they are combined by the optical path combining mirror 23. The light emitted from the optical path combining mirror 23 is converted into parallel light by the collimating optical system 13 and then introduced into the beam splitter 14 and split into two light beams.
 上述のとおり、分割された光の一方は固定鏡15に照射され、反射光としてビームスプリッタ14に再び照射される。分割された光の他方は移動鏡16に照射され、反射光としてビームスプリッタ14に再び照射される。固定鏡15からの反射光と移動鏡16からの反射光とは、ビームスプリッタ14で合成されることによって干渉光を形成する。 As described above, one of the divided lights is irradiated on the fixed mirror 15 and again irradiated on the beam splitter 14 as reflected light. The other of the divided lights is applied to the movable mirror 16 and is applied again to the beam splitter 14 as reflected light. The reflected light from the fixed mirror 15 and the reflected light from the movable mirror 16 are combined by the beam splitter 14 to form interference light.
 上述のとおり、干渉光を形成した光は試料Sに照射される。試料Sを透過した光は集光光学系17によって集光される。集光された光は、参照光学系21における光路分離鏡24に導入される。光路分離鏡24はハーフミラー(波長選択性のあるミラー)等から構成され、光路分離鏡24に導入された光(入射光)は2光束に分割される。 As described above, the sample S is irradiated with the light forming the interference light. The light transmitted through the sample S is collected by the condensing optical system 17. The condensed light is introduced into the optical path separation mirror 24 in the reference optical system 21. The optical path separation mirror 24 is composed of a half mirror (wavelength selective mirror) or the like, and the light (incident light) introduced into the optical path separation mirror 24 is divided into two light beams.
 光源12から出射され、光路合成鏡23、コリメート光学系13、ビームスプリッタ14、固定鏡15、移動鏡16、試料S、および集光光学系17を通して光路分離鏡24に導入された光は、光路分離鏡24を透過する。上述のとおり、光路分離鏡24を透過したこの光(干渉光)は、検出器18によって検出される。 The light emitted from the light source 12 and introduced into the optical path separation mirror 24 through the optical path synthesis mirror 23, the collimating optical system 13, the beam splitter 14, the fixed mirror 15, the movable mirror 16, the sample S, and the condensing optical system 17 The light passes through the separation mirror 24. As described above, this light (interference light) transmitted through the optical path separation mirror 24 is detected by the detector 18.
 一方、参照光源22から出射され、光路合成鏡23、コリメート光学系13、ビームスプリッタ14、固定鏡15、移動鏡16、試料S、および集光光学系17を通して光路分離鏡24に導入された光は、光路分離鏡24によって反射される。光路分離鏡24からの反射光(干渉光)は、4分割センサ等から構成される参照検出器25によって干渉パターンとして検出される。 On the other hand, light emitted from the reference light source 22 and introduced into the optical path separation mirror 24 through the optical path synthesis mirror 23, the collimating optical system 13, the beam splitter 14, the fixed mirror 15, the movable mirror 16, the sample S, and the condensing optical system 17. Is reflected by the optical path separation mirror 24. Reflected light (interference light) from the optical path separation mirror 24 is detected as an interference pattern by a reference detector 25 constituted by a quadrant sensor or the like.
 干渉光の干渉パターンは、CPU等を含む信号処理部26に送られる。信号処理部26は、収集した干渉パターンに基づいて光路分離鏡24からの反射光の強度を算出する。信号処理部26は、光路分離鏡24からの反射光の強度に基づいて、演算部2におけるサンプリングのタイミングを示す信号を生成することができる。演算部2におけるサンプリングのタイミングを示す信号は、公知の手段によって生成されることができる。 The interference pattern of the interference light is sent to a signal processing unit 26 including a CPU and the like. The signal processing unit 26 calculates the intensity of the reflected light from the optical path separation mirror 24 based on the collected interference pattern. Based on the intensity of the reflected light from the optical path separation mirror 24, the signal processing unit 26 can generate a signal indicating the sampling timing in the calculation unit 2. A signal indicating the sampling timing in the calculation unit 2 can be generated by a known means.
 信号処理部26は、光路分離鏡24からの反射光の強度に基づいて、2光路間における光の傾き(固定鏡15からの反射光と移動鏡16からの反射光との相対的な傾き)を算出することもできる。 Based on the intensity of the reflected light from the optical path separation mirror 24, the signal processing unit 26 tilts the light between the two optical paths (relative tilt between the reflected light from the fixed mirror 15 and the reflected light from the movable mirror 16). Can also be calculated.
 (光路補正装置31)
 光路補正装置31は、信号処理部26における検出結果(固定鏡15からの反射光と移動鏡16からの反射光との相対的な傾き)に基づいて、固定鏡15の姿勢(移動鏡16の表面に対する固定鏡15の表面の相対的な角度)を調整する。当該調整によって、固定鏡15における反射光の光路が補正され、2光路間での光の傾きを無くす(若しくは減少させる)ことが可能となる。光路補正装置31がマイケルソン干渉計1内に設けられていることによって、干渉光をより精度の高く生成することが可能となる。
(Optical path correction device 31)
Based on the detection result in the signal processing unit 26 (relative inclination between the reflected light from the fixed mirror 15 and the reflected light from the movable mirror 16), the optical path correction device 31 is configured to move the posture of the fixed mirror 15 (of the movable mirror 16). The relative angle of the surface of the fixed mirror 15 with respect to the surface is adjusted. By this adjustment, the optical path of the reflected light at the fixed mirror 15 is corrected, and the inclination of the light between the two optical paths can be eliminated (or reduced). By providing the optical path correction device 31 in the Michelson interferometer 1, it becomes possible to generate interference light with higher accuracy.
 (平行移動装置10)
 図2および図3を参照して、本実施の形態における平行移動装置10について説明する。図2は、平行移動装置10を示す斜視図である。図3は、図2中のIII-III線に沿った矢視断面図である。
(Translation device 10)
With reference to FIG. 2 and FIG. 3, the parallel displacement apparatus 10 in this Embodiment is demonstrated. FIG. 2 is a perspective view showing the translation device 10. 3 is a cross-sectional view taken along the line III-III in FIG.
 平行移動装置10は、弾性部41(第1弾性部)、弾性部42(第2弾性部)、移動部43、固定部44、および駆動部45を備えている。詳細は後述されるが、弾性部41、弾性部42、および移動部43によって平行板ばね構造40が構成されている。平行板ばね構造40は、弾性部41,42の幅方向において左右対称に構成されている。弾性部41および弾性部42は、略同一の長さを有し、平面視長方形の平板状に構成されている。各弾性部41,42の材質はシリコンまたは金属などである。各弾性部41,42は、同一方向に延在し、間隔を空けて相互に対向配置されている。 The parallel movement device 10 includes an elastic part 41 (first elastic part), an elastic part 42 (second elastic part), a moving part 43, a fixed part 44, and a driving part 45. Although details will be described later, the parallel leaf spring structure 40 is configured by the elastic portion 41, the elastic portion 42, and the moving portion 43. The parallel leaf spring structure 40 is configured symmetrically in the width direction of the elastic portions 41 and 42. The elastic part 41 and the elastic part 42 have substantially the same length, and are configured in a flat plate shape having a rectangular shape in plan view. The material of each elastic part 41, 42 is silicon or metal. Each elastic part 41 and 42 is extended in the same direction, and is mutually opposingly arranged at intervals.
 固定部44は、略直方体状に構成され、その材質は、ガラス、金属、またはセラミックなどである。固定部44は、弾性部41の一端41a側の裏面と弾性部42の一端42a側の表面とによって挟まれている。弾性部41および固定部44の間は、陽極接合によって接合されている。弾性部42および固定部44の間も、陽極接合によって接合されている。固定部44は、マイケルソン干渉計1(図1参照)内における他の構造機器(図示せず)に強固に固定されている。 The fixing portion 44 is configured in a substantially rectangular parallelepiped shape, and the material thereof is glass, metal, ceramic, or the like. The fixing portion 44 is sandwiched between the back surface on the one end 41 a side of the elastic portion 41 and the surface on the one end 42 a side of the elastic portion 42. The elastic portion 41 and the fixed portion 44 are joined by anodic bonding. The elastic portion 42 and the fixed portion 44 are also joined by anodic bonding. The fixing portion 44 is firmly fixed to another structural device (not shown) in the Michelson interferometer 1 (see FIG. 1).
 移動部43は、略直方体状に構成され、その材質は、ガラス、金属、またはセラミックなどである。移動部43は、弾性部41の他端41b側の裏面と弾性部42の他端42b側の表面とによって挟まれている。弾性部41および移動部43の間は、陽極接合によって接合されている。弾性部42および移動部43の間も、陽極接合によって接合されている。移動部43によって、弾性部41の他端41bと弾性部42の他端42bとが接続される。 The moving part 43 is formed in a substantially rectangular parallelepiped shape, and the material thereof is glass, metal, ceramic, or the like. The moving portion 43 is sandwiched between the back surface on the other end 41 b side of the elastic portion 41 and the surface on the other end 42 b side of the elastic portion 42. The elastic portion 41 and the moving portion 43 are joined by anodic bonding. The elastic portion 42 and the moving portion 43 are also joined by anodic bonding. The moving portion 43 connects the other end 41 b of the elastic portion 41 and the other end 42 b of the elastic portion 42.
 上述のとおり、弾性部41と、弾性部42と、移動部43とによって、平行板ばね構造40が構成されている。弾性部41の一端41aと弾性部42の一端42aとによって、平行板ばね構造40の一端40aが構成されている。弾性部41の他端41bと弾性部42の他端42bとによって、平行板ばね構造40の他端40bが構成されている。 As described above, the parallel leaf spring structure 40 is configured by the elastic portion 41, the elastic portion 42, and the moving portion 43. One end 40 a of the parallel leaf spring structure 40 is constituted by one end 41 a of the elastic portion 41 and one end 42 a of the elastic portion 42. The other end 40 b of the parallel leaf spring structure 40 is configured by the other end 41 b of the elastic portion 41 and the other end 42 b of the elastic portion 42.
 駆動部45(図3参照)は、いわゆるボイスコイルモータ(VCM:Voice Coil Motor)であり、コイル部45Cおよび磁石部45M(駆動受部)から構成されている。本実施の形態における駆動部45(コイル部45Cおよび磁石部45M)は、弾性部41および弾性部42の間に配置されている。 The drive part 45 (refer FIG. 3) is what is called a voice coil motor (VCM: Voice Coil Motor), and is comprised from the coil part 45C and the magnet part 45M (drive receiving part). The drive unit 45 (the coil unit 45C and the magnet unit 45M) in the present embodiment is disposed between the elastic unit 41 and the elastic unit 42.
 コイル部45Cは、マイケルソン干渉計1(図1参照)内における他の構造機器(図示せず)に固定されている。磁石部45Mは、移動部43に取り付けられている。本実施の形態における磁石部45Mは、移動部43の固定部44側の端面に設けられる。磁石部45Mは、移動部43から見て固定部44の一端40a側に位置している。磁石部45Mは、移動部43の上記端面において、(厚さ方向および幅方向の)中央部に配置される。磁石部45Mは、たとえばネオジムなどの永久磁石から構成される。 The coil part 45C is fixed to another structural device (not shown) in the Michelson interferometer 1 (see FIG. 1). The magnet unit 45M is attached to the moving unit 43. The magnet part 45M in the present embodiment is provided on the end face of the moving part 43 on the fixed part 44 side. The magnet part 45 </ b> M is located on the one end 40 a side of the fixed part 44 when viewed from the moving part 43. The magnet part 45M is disposed in the central part (in the thickness direction and the width direction) on the end face of the moving part 43. Magnet unit 45M is made of a permanent magnet such as neodymium, for example.
 以上のように構成される平行移動装置10において、移動鏡16は、弾性部41の他端41b側の表面40S(外表面)に固定される。詳細は後述されるが、位置検出装置70は、投光器71、受光器72、および接続部73から構成される。投光器71および受光器72は、平行移動装置10の弾性部41を挟んで対向配置される。 In the parallel movement device 10 configured as described above, the movable mirror 16 is fixed to the surface 40S (outer surface) of the elastic part 41 on the other end 41b side. Although details will be described later, the position detection device 70 includes a projector 71, a light receiver 72, and a connection unit 73. The light projector 71 and the light receiver 72 are arranged to face each other with the elastic part 41 of the translation device 10 interposed therebetween.
 (平行移動装置10の動作)
 図3および図4を参照して、平行移動装置10の動作について説明する。図3に示すように、コイル部45Cに所定の電圧が印加される。磁石部45Mは、コイル部45C周りに生じた磁界によって、弾性部41,42の厚さ方向(図3紙面上下方向)に変位する電磁力を非接触で受ける。
(Operation of the translation device 10)
The operation of the translation device 10 will be described with reference to FIGS. 3 and 4. As shown in FIG. 3, a predetermined voltage is applied to the coil portion 45C. The magnet part 45M receives the electromagnetic force displaced in the thickness direction (up and down direction in FIG. 3) of the elastic parts 41 and 42 in a non-contact manner by a magnetic field generated around the coil part 45C.
 コイル部45Cに交流電圧が印加された場合、ある時点においては、磁石部45Mは図3紙面上方向に変位しようとする電磁力を受け、他の時点においては、磁石部45Mは図3紙面下方向に変位しようとする電磁力を受ける。コイル部45Cに交流電圧が印加されることによって、これらの電磁力は磁石部45Mに対して交互に作用する。 When an AC voltage is applied to the coil unit 45C, the magnet unit 45M receives an electromagnetic force that tends to be displaced upward in FIG. 3 at some point, and the magnet unit 45M is below the page in FIG. Receives an electromagnetic force trying to displace in the direction. When an AC voltage is applied to the coil portion 45C, these electromagnetic forces act alternately on the magnet portion 45M.
 図4に示すように、コイル部45Cからの電磁力を受けて、磁石部45Mは、弾性部41,42の厚さ方向(矢印AR方向)に振幅Lで往復移動(振動)する。磁石部45Mとともに、移動部43も弾性部41,42の厚さ方向(矢印AR方向)に振幅Lで往復移動(振動)する。 As shown in FIG. 4, upon receiving the electromagnetic force from the coil portion 45C, the magnet portion 45M reciprocates (vibrates) with an amplitude L in the thickness direction (arrow AR direction) of the elastic portions 41 and 42. Along with the magnet portion 45M, the moving portion 43 also reciprocates (vibrates) with an amplitude L in the thickness direction (arrow AR direction) of the elastic portions 41 and 42.
 平行板ばね構造40の一端40aは固定端を構成し、平行板ばね構造40の他端40b側および移動部43は、自由端として振動する。弾性部41の表面41Sの他端41b側に設けられた移動鏡16は、平行な姿勢を維持しつつ矢印AR方向に振動(往復移動)する。移動鏡16の往復移動によって、マイケルソン干渉計1(図1参照)は干渉光を生成することが可能となる。詳細は次述されるが、弾性部41は、投光器71および受光器72の間においては振幅D1を持って往復移動する。 The one end 40a of the parallel leaf spring structure 40 constitutes a fixed end, and the other end 40b side of the parallel leaf spring structure 40 and the moving part 43 vibrate as free ends. The movable mirror 16 provided on the other end 41b side of the surface 41S of the elastic portion 41 vibrates (reciprocates) in the direction of the arrow AR while maintaining a parallel posture. By the reciprocation of the movable mirror 16, the Michelson interferometer 1 (see FIG. 1) can generate interference light. As will be described in detail below, the elastic portion 41 reciprocates between the projector 71 and the light receiver 72 with an amplitude D1.
 (位置検出装置70)
 図5を参照して、位置検出装置70について説明する。図5は、図4中のV-V線に沿った矢視断面図である。上述のとおり、弾性部41および弾性部42は、駆動部45(図3参照)からの駆動力を受けて、移動鏡16(図3参照)と同様に矢印AR方向に往復移動する。弾性部41の位相は、移動鏡16の位相と等価である。位置検出装置70は、投光器71、受光器72、および接続部73から構成される。位置検出装置70としては、たとえばフォトインタラプタ(登録商標)が用いられ得る。
(Position detection device 70)
The position detection device 70 will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line VV in FIG. As described above, the elastic part 41 and the elastic part 42 receive a driving force from the driving part 45 (see FIG. 3) and reciprocate in the direction of the arrow AR similarly to the movable mirror 16 (see FIG. 3). The phase of the elastic part 41 is equivalent to the phase of the movable mirror 16. The position detection device 70 includes a projector 71, a light receiver 72, and a connection unit 73. As the position detection device 70, for example, a photo interrupter (registered trademark) may be used.
 投光器71および受光器72は、弾性部41を挟んで対向するように固定配置される。弾性部41は、投光器71および受光器72の間で往復移動する。接続部73は、支持部74を挟んで、マイケルソン干渉計1(図1参照)内における所定の構造体75に固定される。 The light projector 71 and the light receiver 72 are fixedly arranged so as to face each other with the elastic portion 41 interposed therebetween. The elastic part 41 reciprocates between the projector 71 and the light receiver 72. The connecting portion 73 is fixed to a predetermined structure 75 in the Michelson interferometer 1 (see FIG. 1) with the support portion 74 interposed therebetween.
 投光器71は投光部71Aを有する。受光器72は受光部72Aを有する。投光部71Aから、幅Wを有する測定光80が出射される。測定光80は、受光部72Aに向かって投光される。受光部72Aに到達した測定光80は、受光部72Aによって受光される。 The projector 71 has a projector 71A. The light receiver 72 has a light receiving portion 72A. Measurement light 80 having a width W is emitted from the light projecting unit 71A. The measurement light 80 is projected toward the light receiving unit 72A. The measuring light 80 that has reached the light receiving part 72A is received by the light receiving part 72A.
 投光器71および受光器72は、弾性部41の往復移動方向(矢印AR方向)に対して傾いた状態で固定されている。投光部71Aおよび受光部72Aは、測定光80が弾性部41の往復移動方向(矢印AR方向)に対して斜めに交差するように配置される。換言すると、測定光80は、弾性部41の往復移動方向(矢印AR方向)に対して角度θだけ傾いている。 The light projector 71 and the light receiver 72 are fixed in a state where they are inclined with respect to the reciprocating direction (arrow AR direction) of the elastic portion 41. The light projecting unit 71A and the light receiving unit 72A are arranged so that the measurement light 80 obliquely intersects the reciprocating direction (arrow AR direction) of the elastic unit 41. In other words, the measurement light 80 is inclined by an angle θ with respect to the reciprocating direction (arrow AR direction) of the elastic portion 41.
 (位置検出装置70の動作)
 図6(A)および図6(B)を参照して、位置検出装置70の動作について説明する。図6(A)は、弾性部41が矢印AR1方向に移動し、往復移動の上死点に位置している状態を示す図である。図6(B)は、弾性部41が矢印AR2方向に移動し、往復移動の下死点に位置している状態を示す図である。図6(A)および図6(B)においては、図示上の便宜のため、支持部74および構造体75(図5参照)は図示されていない。
(Operation of the position detection device 70)
With reference to FIG. 6A and FIG. 6B, the operation of the position detection device 70 will be described. FIG. 6A is a diagram illustrating a state in which the elastic portion 41 moves in the direction of the arrow AR1 and is located at the top dead center of the reciprocating movement. FIG. 6B is a diagram illustrating a state in which the elastic portion 41 moves in the direction of the arrow AR2 and is located at the bottom dead center of the reciprocating movement. 6A and 6B, the support portion 74 and the structure 75 (see FIG. 5) are not shown for convenience of illustration.
 図6(A)に示すように、弾性部41が上死点に位置している際には、測定光80の一部は弾性部41によって遮られるとともに、測定光80の残部(幅W1)が受光部72Aに到達する。受光部72Aが受光する測定光80の受光量は、弾性部41が上死点に位置している際に最大となる。 As shown in FIG. 6A, when the elastic part 41 is located at the top dead center, a part of the measurement light 80 is blocked by the elastic part 41 and the remaining part of the measurement light 80 (width W1). Reaches the light receiving portion 72A. The amount of measurement light 80 received by the light receiving portion 72A is maximized when the elastic portion 41 is located at the top dead center.
 図6(B)に示すように、弾性部41が下死点に位置している際にも、測定光80の一部は弾性部41によって遮られるとともに、測定光80の残部(幅W2)が受光部72Aに到達する。幅W2は、幅W1より小さい。受光部72Aが受光する測定光80の受光量は、弾性部41が下死点に位置している際に最小となる。 As shown in FIG. 6B, even when the elastic part 41 is located at the bottom dead center, a part of the measurement light 80 is blocked by the elastic part 41 and the remaining part of the measurement light 80 (width W2). Reaches the light receiving portion 72A. The width W2 is smaller than the width W1. The amount of measurement light 80 received by the light receiving portion 72A is minimized when the elastic portion 41 is located at the bottom dead center.
 ここで、弾性部41が振幅D1で往復移動しているとする。振幅D1、測定光80の幅W、および、測定光80(測定光80の光束)と弾性部41の往復移動方向(矢印AR方向)との間の角度θの間には、次の式が成立する。
0<角度θ<sin-1(幅W/振幅D1)
 振幅D1、幅W、および角度θが上記の式を満足するように設定されることによって、弾性部41が上死点に位置している際に弾性部41によって所定の量の測定光80が遮られ、かつ、弾性部41が下死点に位置している際にも弾性部41によって他の所定の量の測定光80が遮られることができる。
Here, it is assumed that the elastic part 41 is reciprocatingly moved with the amplitude D1. Between the amplitude D1, the width W of the measurement light 80, and the angle θ between the measurement light 80 (the light beam of the measurement light 80) and the reciprocating direction (arrow AR direction) of the elastic portion 41, To establish.
0 <angle θ <sin −1 (width W / amplitude D1)
By setting the amplitude D1, the width W, and the angle θ so as to satisfy the above formula, when the elastic portion 41 is located at the top dead center, the elastic portion 41 causes a predetermined amount of measurement light 80 to be emitted. Even when the elastic portion 41 is blocked and located at the bottom dead center, another predetermined amount of the measuring light 80 can be blocked by the elastic portion 41.
 図7は、弾性部41が上死点Aおよび下死点Bの間で往復移動する際の、弾性部41の往復移動方向における変位X(横軸)と、受光部72Aが測定光80の上記残部を受光することによって受光器72から出力される出力信号Vの大きさ(縦軸)との関係を示す図である。 FIG. 7 shows the displacement X (horizontal axis) in the reciprocating direction of the elastic portion 41 when the elastic portion 41 reciprocates between the top dead center A and the bottom dead center B, and the light receiving portion 72A of the measuring light 80. It is a figure which shows the relationship with the magnitude | size (vertical axis | shaft) of the output signal V output from the light receiver 72 by light-receiving the said remainder.
 弾性部41の変位Xが上死点Aにあるとき、投光部71Aから受光部72Aに向かって投光される測定光80は、最も遮られない状態となる。受光部72Aにおいて検出される測定光80(上記残部)の受光量は最大となり、受光器72からの出力信号Vの大きさは最大値Vとなる。 When the displacement X of the elastic part 41 is at the top dead center A, the measurement light 80 projected from the light projecting part 71A toward the light receiving part 72A is in the most unobstructed state. The amount of the measurement light 80 (the remaining portion) detected by the light receiving unit 72A is maximized, and the magnitude of the output signal V from the light receiver 72 is the maximum value VA .
 弾性部41の変位Xが下死点Bにあるとき、投光部71Aから受光部72Aに向かって投光される測定光80は、最も遮られる状態となる。受光部72Aにおいて検出される測定光80(上記残部)の受光量は最小となり、受光器72からの出力信号Vの大きさも最小値Vとなる。 When the displacement X of the elastic part 41 is at the bottom dead center B, the measurement light 80 projected from the light projecting part 71A toward the light receiving part 72A is in the most blocked state. Received light amount of the measuring light 80 to be detected in the light receiving unit 72A (the remainder) is minimized, also the minimum value V B the magnitude of the output signal V from the light receiver 72.
 本実施の形態においては、弾性部41は平行移動装置10を構成している。弾性部41は、投光器71および受光器72の間で一直線方向に沿って精度高く往復移動する。上死点Aと下死点Bとの間で得られる出力信号Vの値は、線形性が高い。 In the present embodiment, the elastic portion 41 constitutes the parallel movement device 10. The elastic part 41 reciprocates with high accuracy along the straight line direction between the projector 71 and the light receiver 72. The value of the output signal V obtained between the top dead center A and the bottom dead center B is highly linear.
 図8に示すように、弾性部41が一直線方向に沿って精度高く往復移動することによって、往復移動する弾性部41から得られる出力信号Vと時間Tとの関係は、ばらつきの少ない均一な正弦波SWとして表される。 As shown in FIG. 8, the relationship between the output signal V obtained from the reciprocating elastic portion 41 and the time T is uniform sine with little variation as the elastic portion 41 reciprocates with high precision along a straight line direction. It is represented as a wave SW.
 この正弦波SWから、弾性部41の周波数および振幅(相対値)が得られる。弾性部41の周波数は、弾性部41の先端に取り付けられた移動鏡16の周波数と等価である。弾性部41の振幅は、相対値としては、移動鏡16の振幅と等価である。この正弦波SWから得られる弾性部41の振幅の値が大きくなることは、移動鏡16の振幅が大きくなることを意味する。この正弦波SWから得られる弾性部41の振幅の値が小さくなることは、移動鏡16の振幅も小さくなることを意味する。 The frequency and amplitude (relative value) of the elastic portion 41 are obtained from this sine wave SW. The frequency of the elastic part 41 is equivalent to the frequency of the movable mirror 16 attached to the tip of the elastic part 41. The amplitude of the elastic part 41 is equivalent to the amplitude of the movable mirror 16 as a relative value. An increase in the amplitude value of the elastic portion 41 obtained from the sine wave SW means that the amplitude of the movable mirror 16 increases. A decrease in the amplitude value of the elastic portion 41 obtained from the sine wave SW means that the amplitude of the movable mirror 16 also decreases.
 図1を再び参照して、上述のとおり、移動鏡16は平行移動装置10によって平行を維持した状態で矢印AR方向に往復移動している。位置検出装置70が弾性部41の周波数および振幅を検出することによって、移動鏡16の周波数および振幅が等価的に算出される。 Referring to FIG. 1 again, as described above, the movable mirror 16 is reciprocatingly moved in the direction of the arrow AR while maintaining parallelism by the parallel movement device 10. When the position detection device 70 detects the frequency and amplitude of the elastic portion 41, the frequency and amplitude of the movable mirror 16 are equivalently calculated.
 移動鏡16の往復移動によって、固定鏡15からの反射光と移動鏡16からの反射光との間に光路長の差が生じる。当該光路長の差を利用して干渉光が形成される。干渉光を形成した光は試料Sに照射され、フーリエ変換などの所定の演算によって得られたデータに基づいて、試料Sの特性(たとえば、材料、構造、または成分量)が分析される。 The reciprocation of the movable mirror 16 causes a difference in optical path length between the reflected light from the fixed mirror 15 and the reflected light from the movable mirror 16. Interference light is formed using the difference in optical path length. The light forming the interference light is irradiated onto the sample S, and the characteristics (for example, material, structure, or component amount) of the sample S are analyzed based on data obtained by a predetermined calculation such as Fourier transform.
 移動鏡16の変位に応じて干渉光の波長も変化する。波長のそれぞれ異なる干渉光が試料Sに照射され、フーリエ変換などの所定の演算によって、複数のデータが得られる。これらの複数のデータを積算することによって、試料Sの分析能が向上する。 The wavelength of the interference light changes according to the displacement of the movable mirror 16. The sample S is irradiated with interference light having different wavelengths, and a plurality of data is obtained by a predetermined calculation such as Fourier transform. By integrating the plurality of data, the analysis ability of the sample S is improved.
 複数のデータをより短い時間で得るためには、移動鏡16を高速で往復移動させる必要がある。このため、フーリエ変換分光分析装置100に使用されるマイケルソン干渉計1は、移動鏡16を共振周波数で振動させる。移動鏡16が共振周波数で振動することによって、共振のQ(クオリティーファクタ)が一種の外乱フィルタリングとして作用し、歪の少ない単振動と、大きな機械振動振幅とを得ることが可能となる。 In order to obtain a plurality of data in a shorter time, it is necessary to move the movable mirror 16 back and forth at high speed. For this reason, the Michelson interferometer 1 used in the Fourier transform spectroscopic analyzer 100 vibrates the movable mirror 16 at the resonance frequency. When the movable mirror 16 vibrates at the resonance frequency, the resonance Q (quality factor) acts as a kind of disturbance filtering, and it is possible to obtain a simple vibration with less distortion and a large mechanical vibration amplitude.
 移動鏡16の共振周波数は、移動鏡16を含む振動系の環境(温度、湿度、または経年によって移動鏡16等の取付角度に生じる位置ズレ等)に応じて変化する。マイケルソン干渉計1は、位置検出装置70および平行移動装置10にそれぞれ接続された制御部90を使用して、PLL(Phase Locked Loop)制御によって、移動鏡16が共振周波数で常に振動するように平行移動装置10を駆動する。 The resonance frequency of the movable mirror 16 varies depending on the environment of the vibration system including the movable mirror 16 (temperature, humidity, or positional deviation that occurs in the mounting angle of the movable mirror 16 due to aging, etc.). The Michelson interferometer 1 uses the control unit 90 connected to the position detection device 70 and the translation device 10 so that the movable mirror 16 always vibrates at the resonance frequency by PLL (Phase Locked Loop) control. The translation device 10 is driven.
 (PLL制御)
 図9を参照して、制御部90(図1参照)によるPLL制御について説明する。図9中の太点線で示される曲線は、制御部90が、平行移動装置10の駆動部45(図3参照)を駆動周波数fd(横軸)で駆動させたときの、機械的出力(出力信号Vm)の大きさ(縦軸)を示している。図9中の太実線で示される曲線は、制御部90が、平行移動装置10の駆動部45(図3参照)を所定の駆動信号で駆動させたときの、この駆動信号に対する上記の機械的出力(出力信号Vm)の位相θm(縦軸)を示している。
(PLL control)
The PLL control by the control unit 90 (see FIG. 1) will be described with reference to FIG. A curve indicated by a thick dotted line in FIG. 9 indicates a mechanical output (output) when the control unit 90 drives the drive unit 45 (see FIG. 3) of the translation device 10 at the drive frequency fd (horizontal axis). The magnitude (vertical axis) of the signal Vm) is shown. The curve indicated by the thick solid line in FIG. 9 indicates the above mechanical signal corresponding to the drive signal when the control unit 90 drives the drive unit 45 (see FIG. 3) of the translation device 10 with a predetermined drive signal. The phase θm (vertical axis) of the output (output signal Vm) is shown.
 図9に示すように、駆動部45に対する駆動周波数fdが周波数fであるときに、機械的出力(出力信号Vm)は最大となり、且つ位相θmに急激な変化が見られる。これは、駆動部45の固定部44からみた平行移動装置10を構成する部材の等価的な質量と、弾性係数と、内部損失、摩擦、若しくは空気摩擦等によって生じる損失係数とに基づく機械的な共振現象が原因である。 As shown in FIG. 9, when the drive frequency fd for the drive unit 45 is the frequency f 0 , the mechanical output (output signal Vm) is maximized and a sudden change is seen in the phase θm. This is based on an equivalent mass of members constituting the translation device 10 as viewed from the fixed portion 44 of the drive unit 45, an elastic coefficient, and a loss coefficient caused by internal loss, friction, air friction, or the like. The resonance phenomenon is the cause.
 制御部90(図1参照)は、上記の共振現象を得るためにPLL制御を行ない、上記の周波数f(共振周波数)に相当する交流信号(駆動信号Vd)で駆動部45を駆動させる。上述のとおり、移動鏡16を含む振動系の環境に応じて、平行板ばね構造40(移動鏡16)の共振周波数は常に変化する。制御部90は、駆動部45を駆動している際にも、位置検出装置70が検出する上記の正弦波SW(図8参照)の値に基づいて、駆動信号Vdの周波数(駆動周波数fd)を周波数fに追従させる(駆動周波数fdをフィードバックさせる)。 The control unit 90 (see FIG. 1) performs PLL control in order to obtain the resonance phenomenon described above, and drives the drive unit 45 with an AC signal (drive signal Vd) corresponding to the frequency f 0 (resonance frequency). As described above, the resonance frequency of the parallel leaf spring structure 40 (moving mirror 16) always changes according to the environment of the vibration system including the moving mirror 16. Even when the drive unit 45 is being driven, the control unit 90 determines the frequency of the drive signal Vd (drive frequency fd) based on the value of the sine wave SW (see FIG. 8) detected by the position detection device 70. Is made to follow the frequency f 0 (the drive frequency fd is fed back).
 図10は、図9中の周波数f付近の出力信号Vmおよび位相θmを拡大して示す図である。図10に示すように、出力信号Vmとして振動の変位X(図7参照)を取れば、周波数f(共振周波数)にて位相θmが90degだけ駆動信号Vdから遅れる。さらに高い周波数では、位相θmは駆動信号Vdに対して最大で180degだけ遅れる。 FIG. 10 is an enlarged view of the output signal Vm and the phase θm near the frequency f 0 in FIG. As shown in FIG. 10, if the vibration displacement X (see FIG. 7) is taken as the output signal Vm, the phase θm is delayed from the drive signal Vd by 90 degrees at the frequency f 0 (resonance frequency). At higher frequencies, the phase θm is delayed by a maximum of 180 deg with respect to the drive signal Vd.
 制御部90は、位置検出装置70から得られた上記の正弦波SW(図8参照)に基づいて、駆動信号Vdと機械出力(図7における変位X)との位相差を検出し、この位相差が常に90degとなるように駆動部45に対する駆動周波数fdを制御する。当該制御によって、駆動信号Vdの周波数(駆動周波数fd)は周波数fに追従する。 Based on the sine wave SW (see FIG. 8) obtained from the position detection device 70, the control unit 90 detects the phase difference between the drive signal Vd and the machine output (displacement X in FIG. 7). The drive frequency fd for the drive unit 45 is controlled so that the phase difference is always 90 deg. By this control, the frequency of the drive signal Vd (the drive frequency fd) follows the frequency f 0.
 以上のように、2信号間の位相差が常に所定の値となるように、内蔵する電圧制御発振器VCO(Voltage Controlled Oscillator)の発振周波数を負帰還制御するPLL制御によって、移動鏡16は共振周波数で常に振動される。 As described above, the movable mirror 16 has a resonance frequency by PLL control that negatively controls the oscillation frequency of the built-in voltage controlled oscillator VCO (Voltage Controlled Oscillator) so that the phase difference between the two signals is always a predetermined value. Always vibrated.
 (作用・効果)
 冒頭に説明した特開平02-307037号公報(特許文献1)は、1つの圧電素子を用いて平行板ばね構造を駆動している。1つの圧電素子を用いた駆動においては、圧電素子が、一方の弾性部に物理的に接触しつつ、この弾性部に駆動力を付与する。一方の弾性部から駆動力を受けるため、移動部は平行な姿勢を維持しつつ往復移動することが困難となる(移動部における並進性が低下し易くなる)。仮に、2つの圧電素子を用いたとしても、この2つの圧電素子が双方の弾性部のそれぞれに機械的に接触するように設けられる。この2つ圧電素子がそれぞれの弾性部に対してバランスよく駆動力を付与することは困難となる。また、2つの圧電素子の質量バランスの誤差も要因となって、移動部における並進性が低下し易くなる。
(Action / Effect)
Japanese Patent Laid-Open No. 02-307037 (Patent Document 1) described at the beginning uses a single piezoelectric element to drive a parallel leaf spring structure. In driving using one piezoelectric element, the piezoelectric element applies a driving force to the elastic part while physically contacting one elastic part. Since the driving force is received from one of the elastic portions, it is difficult for the moving portion to reciprocate while maintaining a parallel posture (translation at the moving portion is likely to be reduced). Even if two piezoelectric elements are used, the two piezoelectric elements are provided so as to be in mechanical contact with both of the elastic portions. It becomes difficult for these two piezoelectric elements to apply a driving force in a balanced manner to the respective elastic portions. Further, due to an error in the mass balance of the two piezoelectric elements, the translational property at the moving part is likely to be lowered.
 本実施の形態における平行移動装置10においては、磁石部45Mおよびコイル部45Cから構成される駆動部45(いわゆるボイスコイルモータ)が、非接触で移動部43に対して駆動力を付与する。平行移動装置10は、弾性部41およびまたは弾性部42に対して、圧電素子が直接接触して駆動力を付与するという構成を採用していない。平行移動装置10においては、駆動部45が、弾性部41および弾性部42の間に配置された移動部43に対して駆動力を非接触で付与する。平行移動装置10は、圧電素子を用いた構成に比べて、移動部43における高い並進性を得ることができる。 In the translation device 10 according to the present embodiment, the drive unit 45 (so-called voice coil motor) configured by the magnet unit 45M and the coil unit 45C applies a driving force to the moving unit 43 in a non-contact manner. The translation device 10 does not employ a configuration in which the piezoelectric element directly contacts the elastic portion 41 and / or the elastic portion 42 to apply a driving force. In the parallel movement device 10, the driving unit 45 applies a driving force to the moving unit 43 disposed between the elastic unit 41 and the elastic unit 42 in a non-contact manner. The translation device 10 can obtain a higher translational property in the moving unit 43 than a configuration using a piezoelectric element.
 平行移動装置10がマイケルソン干渉計1およびフーリエ変換分光分析装置100に用いられる場合、移動鏡16は、たとえば数mm~数cmの振幅で、1秒間に数十回程度で往復移動する。このように、移動鏡16が高速で往復移動される場合であっても、平行移動装置10によれば、移動部43および移動鏡16における高い並進性を得ることができる。平行移動装置10を備えるマイケルソン干渉計1およびフーリエ変換分光分析装置100によれば、高い分析能を得ることが可能となる。 When the translation device 10 is used in the Michelson interferometer 1 and the Fourier transform spectroscopic analysis device 100, the movable mirror 16 reciprocates several tens of times per second with an amplitude of several mm to several cm, for example. Thus, even when the movable mirror 16 is reciprocated at a high speed, according to the translation device 10, high translational properties in the moving unit 43 and the movable mirror 16 can be obtained. According to the Michelson interferometer 1 and the Fourier transform spectroscopic analyzer 100 including the translation device 10, it is possible to obtain high analytical performance.
 また、圧電素子を用いて平行板ばね構造を駆動する場合、圧電素子は弾性部に接着される。圧電素子が製作誤差などの要因によってずれた状態で接着されたとしても、圧電素子の貼り直しは容易ではない。一方、駆動部45(ボイスコイルモータ)の場合、移動部43に接着された磁石部45Mに対して、コイル部45Cの位置を相対的にずらすことによって、磁石部45Mの位置ずれが補正されることも可能である。 Also, when the parallel leaf spring structure is driven using a piezoelectric element, the piezoelectric element is bonded to the elastic portion. Even if the piezoelectric element is bonded in a state of being shifted due to a manufacturing error or the like, it is not easy to reattach the piezoelectric element. On the other hand, in the case of the drive unit 45 (voice coil motor), the positional shift of the magnet unit 45M is corrected by relatively shifting the position of the coil unit 45C with respect to the magnet unit 45M bonded to the moving unit 43. It is also possible.
 また、本実施の形態におけるフーリエ変換分光分析装置100によれば、マイケルソン干渉計1の移動鏡16が、制御部90のPLL制御によって共振周波数で振動する。複数のデータをより短い時間で得ることが可能となり、試料Sに対する分析能を向上させることができる。 Further, according to the Fourier transform spectroscopic analyzer 100 in the present embodiment, the movable mirror 16 of the Michelson interferometer 1 vibrates at the resonance frequency by the PLL control of the control unit 90. A plurality of data can be obtained in a shorter time, and the analysis ability for the sample S can be improved.
 なお、本実施の形態における平行移動装置10では、磁石部45Mが移動部43に取り付けられ、コイル部45Cがマイケルソン干渉計1またはフーリエ変換分光分析装置100を構成する他の機器に固定される。磁石部45Mが、コイル部45Cから電磁力を受ける「駆動受部」を構成している。 In the translation device 10 according to the present embodiment, the magnet unit 45M is attached to the movement unit 43, and the coil unit 45C is fixed to another device constituting the Michelson interferometer 1 or the Fourier transform spectrometer 100. . The magnet unit 45M constitutes a “drive receiving unit” that receives electromagnetic force from the coil unit 45C.
 これとは反対に、コイル部45Cが移動部43に取り付けられ、磁石部45Mがマイケルソン干渉計1またはフーリエ変換分光分析装置100を構成する他の機器に固定されてもよい。この場合、コイル部45Cが、磁石部45Mから(相対的に)電磁力を受ける「駆動受部」を構成する。当該構成によっても、上述の実施の形態1と同様の作用および効果を得ることができる。 On the contrary, the coil unit 45C may be attached to the moving unit 43, and the magnet unit 45M may be fixed to another device constituting the Michelson interferometer 1 or the Fourier transform spectrometer 100. In this case, the coil portion 45C constitutes a “drive receiving portion” that receives (relatively) electromagnetic force from the magnet portion 45M. Also with this configuration, the same operations and effects as those of the first embodiment can be obtained.
 [実施の形態2]
 図11および図12を参照して、実施の形態2における平行移動装置10Aについて説明する。図11は、平行移動装置10Aを示す断面図である。図12は、平行移動装置10Aを示す斜視図である。
[Embodiment 2]
With reference to FIGS. 11 and 12, a translation device 10A according to the second embodiment will be described. FIG. 11 is a cross-sectional view showing the translation device 10A. FIG. 12 is a perspective view showing the translation device 10A.
 図11および図12に示すように、磁石部45Mは、移動部43に設けられた嵌合部43Mに嵌め込まれていてもよい。嵌合部43Mは、移動部43の表面から凹むように設けられる。本実施の形態においては、嵌合部43Mは円柱状に凹設される。当該構成によっても、上述の実施の形態1と同様の作用および効果を得ることができる。また、嵌合部43Mによって、磁石部45Mの移動部43に対する取付上の利便性も向上する。また、磁石部45Mの形状は円柱形状に限らず、四角柱形状でもよい。対向するコイルの形状が四角形状に構成されることによって、磁界を有効に使うことが可能となる。 As shown in FIGS. 11 and 12, the magnet part 45 </ b> M may be fitted into a fitting part 43 </ b> M provided in the moving part 43. The fitting portion 43M is provided so as to be recessed from the surface of the moving portion 43. In the present embodiment, the fitting portion 43M is recessed in a cylindrical shape. Also with this configuration, the same operations and effects as those of the first embodiment can be obtained. Moreover, the fitting part 43M also improves the convenience in attachment to the moving part 43 of the magnet part 45M. Further, the shape of the magnet portion 45M is not limited to a cylindrical shape, and may be a quadrangular prism shape. By configuring the opposing coils in a quadrangular shape, it is possible to effectively use a magnetic field.
 [実施の形態3]
 図13および図14を参照して、実施の形態3における平行移動装置10Bについて説明する。図13は、平行移動装置10Bを示す断面図である。図14は、平行移動装置10Bを示す斜視図である。
[Embodiment 3]
With reference to FIG. 13 and FIG. 14, the parallel displacement apparatus 10B in Embodiment 3 is demonstrated. FIG. 13 is a cross-sectional view showing the translation device 10B. FIG. 14 is a perspective view showing the translation device 10B.
 図13および図14に示すように、磁石部45Mは、移動部43に設けられた嵌合部43Nに嵌め込まれていてもよい。嵌合部43Nは、移動部43の表面から突出するように設けられる。嵌合部43Nは、同一円周上に沿って間隔を空けて立壁状に配置される。当該構成によっても、上述の実施の形態1と同様の作用および効果を得ることができる。また、嵌合部43Nによって、磁石部45Mの移動部43に対する取付上の利便性も向上する。 As shown in FIGS. 13 and 14, the magnet part 45 </ b> M may be fitted into a fitting part 43 </ b> N provided in the moving part 43. The fitting portion 43N is provided so as to protrude from the surface of the moving portion 43. The fitting portions 43N are arranged in a standing wall shape at intervals along the same circumference. Also with this configuration, the same operations and effects as those of the first embodiment can be obtained. Moreover, the fitting part 43N also improves the convenience in attachment to the moving part 43 of the magnet part 45M.
 [実施の形態4]
 図15および図16を参照して、実施の形態4における平行移動装置10Cについて説明する。図15は、平行移動装置10Cを示す平面図である。図16は、図15中のXVI-XVI線に沿った矢視断面図である。
[Embodiment 4]
With reference to FIG. 15 and FIG. 16, a translation device 10C according to the fourth embodiment will be described. FIG. 15 is a plan view showing the translation device 10C. 16 is a cross-sectional view taken along the line XVI-XVI in FIG.
 図15および図16に示すように、磁石部45Mは、移動部43の固定部44とは反対側の表面に設けられていてもよい。この場合、コイル部45Cも、移動部43を挟んで固定部44とは反対側に配置される。固定部44は、弾性部41,42間には配置されず、磁石部45Mと対向するように配置される。当該構成によっても、上述の実施の形態1と同様の作用および効果を得ることができる。また、弾性部41,42間におけるレイアウト上の利便性も向上する。 15 and 16, the magnet part 45M may be provided on the surface of the moving part 43 opposite to the fixed part 44. In this case, the coil part 45 </ b> C is also arranged on the side opposite to the fixed part 44 with the moving part 43 interposed therebetween. The fixed portion 44 is not disposed between the elastic portions 41 and 42 but is disposed so as to face the magnet portion 45M. Also with this configuration, the same operations and effects as those of the first embodiment can be obtained. Moreover, the convenience on the layout between the elastic parts 41 and 42 is also improved.
 [実施の形態5]
 図17および図18を参照して、実施の形態5における平行移動装置10Dについて説明する。図17は、平行移動装置10Dを示す平面図である。図18は、図17中のXVIII-XVIII線に沿った矢視断面図である。
[Embodiment 5]
With reference to FIG. 17 and FIG. 18, a translation device 10D according to the fifth embodiment will be described. FIG. 17 is a plan view showing the translation device 10D. 18 is a cross-sectional view taken along the line XVIII-XVIII in FIG.
 図17および図18に示すように、磁石部45Mは、移動部43の両側面に設けられていてもよい。両側面に設けられた磁石部45Mに対応するように、コイル部45Cも移動部43の両外側にそれぞれ設けられる。当該構成によっても、上述の実施の形態1と同様の作用および効果を得ることができる。また、移動部43に対してより強い駆動力を付与することも可能となる。 As shown in FIGS. 17 and 18, the magnet part 45 </ b> M may be provided on both side surfaces of the moving part 43. Coil portions 45C are also provided on both outer sides of the moving portion 43 so as to correspond to the magnet portions 45M provided on both side surfaces. Also with this configuration, the same operations and effects as those of the first embodiment can be obtained. In addition, a stronger driving force can be applied to the moving unit 43.
 また、図19の平行移動装置10Eに示すように、磁石部45Mは、移動部43の両側面に埋め込まれるように設けられてもよい。 Further, as shown in the parallel movement device 10E of FIG. 19, the magnet unit 45M may be provided so as to be embedded on both side surfaces of the moving unit 43.
 [実施の形態6]
 図20および図21を参照して、実施の形態6における平行移動装置10Fについて説明する。図20は、平行移動装置10Fを示す断面図である。図21は、平行移動装置10Fが振動している様子を示す断面図である。
[Embodiment 6]
With reference to FIGS. 20 and 21, a translation device 10F according to the sixth embodiment will be described. FIG. 20 is a cross-sectional view showing the translation device 10F. FIG. 21 is a cross-sectional view showing a state in which the translation device 10F is vibrating.
 図20に示すように、平行移動装置10Fにおける移動部43は、延在部43Tを含む。延在部43Tは、弾性部41および弾性部42の間において、平行板ばね構造40の一端40a側に向かって延在する。延在部43Tは、直方体状に形成され、移動部43に対して垂直な方向に延在している。延在部43Tは、平板状に構成されても、棒状に構成されてもよい。磁石部45Mは、延在部43Tの延在方向(図20紙面右方向)の先端43Sに取り付けられる。 As shown in FIG. 20, the moving part 43 in the parallel moving device 10F includes an extending part 43T. The extending portion 43T extends between the elastic portion 41 and the elastic portion 42 toward the one end 40a side of the parallel leaf spring structure 40. The extending part 43T is formed in a rectangular parallelepiped shape and extends in a direction perpendicular to the moving part 43. The extending portion 43T may be configured in a flat plate shape or a rod shape. The magnet portion 45M is attached to the tip 43S in the extending direction of the extending portion 43T (the right direction in FIG. 20).
 図21を参照して、当該構成によっても、上述の実施の形態1と同様の作用および効果を得ることができる。また、当該構成によれば、駆動部45が平行板ばね構造40に対して駆動力を付与する位置(荷重点)が、固定部44(固定端側)に近づく。平行板ばね構造40の振動系としての重心も、固定部44(固定端側)に近づく。平行板ばね構造40の振動系として、安定した振動を得ることが可能となる。 Referring to FIG. 21, the same operation and effect as in the first embodiment can be obtained also by this configuration. Moreover, according to the said structure, the position (load point) which the drive part 45 provides a drive force with respect to the parallel leaf | plate spring structure 40 approaches the fixing | fixed part 44 (fixed end side). The center of gravity as the vibration system of the parallel leaf spring structure 40 also approaches the fixed portion 44 (fixed end side). As a vibration system of the parallel leaf spring structure 40, stable vibration can be obtained.
 図20に示すように、磁石部45Mは、弾性部41および弾性部42の長手方向において、弾性部41および弾性部42が弾性変形する領域R40の中央部に位置しているとよい。この場合、移動部43の固定部44側の端面部分および磁石部45Mの間の距離L10と、固定部44の移動部43側の端面部分および磁石部45Mの間の距離L20とが、同一の距離となる。当該構成によれば、平行板ばね構造40の振動系として、より安定した振動を得ることが可能となる。 As shown in FIG. 20, the magnet portion 45 </ b> M may be positioned in the center of the region R <b> 40 where the elastic portion 41 and the elastic portion 42 are elastically deformed in the longitudinal direction of the elastic portion 41 and the elastic portion 42. In this case, the distance L10 between the end surface portion on the fixed portion 44 side of the moving portion 43 and the magnet portion 45M and the distance L20 between the end surface portion on the moving portion 43 side of the fixed portion 44 and the magnet portion 45M are the same. Distance. According to this configuration, it is possible to obtain more stable vibration as the vibration system of the parallel leaf spring structure 40.
 [実施の形態7]
 図22~図24を参照して、実施の形態7における平行移動装置10Gについて説明する。図22は、平行移動装置10Gの分解した状態を示す斜視図である。図23は、平行移動装置10Gの組み立てられた状態を示す斜視図である。図24は、平行移動装置10Gを示す断面図である。
[Embodiment 7]
A translation device 10G according to the seventh embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 22 is a perspective view showing an exploded state of the translation device 10G. FIG. 23 is a perspective view showing an assembled state of the translation device 10G. FIG. 24 is a cross-sectional view showing the translation device 10G.
 図22および図23に示すように、平行移動装置10Gにおいては、平行板ばね構造40(固定部44)を固定するために、台座60が用いられる。図示上の便宜のため、図24においては台座60およびその他の詳細な部材については記載していない。 22 and 23, in the translation device 10G, a pedestal 60 is used to fix the parallel leaf spring structure 40 (fixing portion 44). For convenience of illustration, the pedestal 60 and other detailed members are not shown in FIG.
 台座60は、上方および前方がそれぞれ開放された容器状に形成され、中央に収容部60Sを有している。収容部60S内に、弾性部41、弾性部42、および移動部43から構成される平行板ばね構造40が固定部44とともに嵌め込まれる。平行板ばね構造40および固定部44が収容部60S内に嵌め込まれた状態で、弾性部41の表面上に固定板65および固定板66が設けられる。固定部44の側面には、固定板67が設けられる。 The pedestal 60 is formed in a container shape that is open at the top and the front, and has a receiving portion 60S in the center. A parallel leaf spring structure 40 including an elastic part 41, an elastic part 42, and a moving part 43 is fitted together with the fixed part 44 in the housing part 60 </ b> S. The fixing plate 65 and the fixing plate 66 are provided on the surface of the elastic portion 41 in a state where the parallel leaf spring structure 40 and the fixing portion 44 are fitted in the housing portion 60S. A fixing plate 67 is provided on the side surface of the fixing portion 44.
 固定板65は、開口部62Aおよび開口部62Bをそれぞれ有する。固定板65は、固定面64上に配置され、台座60の底板60Bとの間で弾性部41、固定部44、および弾性部42を挟み込む(図23参照)。固定板65を台座60に固定するためには、ボルト63A,63Bが用いられる。ボルト63Aは、固定板65の開口部62Aに差し込まれ、台座60の固定面64に設けられたネジ孔61Aに螺合する(矢印DRA参照)。ボルト63Bは、固定板65の開口部62Bに差し込まれ、台座60の固定面64に設けられたネジ孔61Bに螺合する(矢印DRB参照)。 The fixing plate 65 has an opening 62A and an opening 62B. The fixed plate 65 is disposed on the fixed surface 64, and sandwiches the elastic portion 41, the fixed portion 44, and the elastic portion 42 with the bottom plate 60B of the base 60 (see FIG. 23). In order to fix the fixing plate 65 to the base 60, bolts 63A and 63B are used. The bolt 63A is inserted into the opening 62A of the fixing plate 65 and is screwed into a screw hole 61A provided in the fixing surface 64 of the base 60 (see arrow DRA). The bolt 63B is inserted into the opening 62B of the fixing plate 65 and is screwed into a screw hole 61B provided in the fixing surface 64 of the base 60 (see arrow DRB).
 固定板66は、開口部62Cおよび開口部62Dをそれぞれ有する。固定板66は、固定面64Cおよび固定面64Dの上に橋渡し状に配置され、台座60の底板60Bとの間で弾性部41、固定部44、および弾性部42を挟み込む(図23参照)。固定板66を台座60に固定するためには、ボルト63C,63Dが用いられる。ボルト63Cは、固定板66の開口部62Cに差し込まれ、台座60の固定面64Cに設けられたネジ孔61Cに螺合する(矢印DRC参照)。ボルト63Dは、固定板66の開口部62Dに差し込まれ、台座60の固定面64Dに設けられたネジ孔61Dに螺合する(矢印DRD参照)。 The fixing plate 66 has an opening 62C and an opening 62D. The fixed plate 66 is arranged in a bridging manner on the fixed surface 64C and the fixed surface 64D, and sandwiches the elastic portion 41, the fixed portion 44, and the elastic portion 42 with the bottom plate 60B of the base 60 (see FIG. 23). In order to fix the fixing plate 66 to the base 60, bolts 63C and 63D are used. The bolt 63C is inserted into the opening 62C of the fixing plate 66 and is screwed into a screw hole 61C provided in the fixing surface 64C of the base 60 (see arrow DRC). The bolt 63D is inserted into the opening 62D of the fixing plate 66 and is screwed into a screw hole 61D provided in the fixing surface 64D of the base 60 (see arrow DRD).
 固定板67は、開口部62Eおよび開口部62Fをそれぞれ有する。固定板67は、固定面64Eおよび固定面64Fの上に橋渡し状に配置され、台座60の背面部69との間で固定部44を挟み込む(図23参照)。固定板67を台座60に固定するためには、ボルト63E,63Fが用いられる。ボルト63Eは、固定板67の開口部62Eに差し込まれ、台座60の固定面64Eに設けられたネジ孔61Eに螺合する(矢印DREおよび図23参照)。ボルト63Fは、固定板67の開口部62Fに差し込まれ、台座60の固定面64Fに設けられたネジ孔61Fに螺合する(矢印DRFおよび図23参照)。 The fixing plate 67 has an opening 62E and an opening 62F. The fixing plate 67 is arranged in a bridging manner on the fixing surface 64E and the fixing surface 64F, and sandwiches the fixing portion 44 with the back surface portion 69 of the base 60 (see FIG. 23). In order to fix the fixing plate 67 to the base 60, bolts 63E and 63F are used. The bolt 63E is inserted into the opening 62E of the fixing plate 67 and screwed into the screw hole 61E provided in the fixing surface 64E of the base 60 (see arrow DRE and FIG. 23). The bolt 63F is inserted into the opening 62F of the fixing plate 67 and is screwed into the screw hole 61F provided in the fixing surface 64F of the base 60 (see arrow DRF and FIG. 23).
 ボルト63A~63Fが台座60に締結されることによって、弾性部41、固定部44、および弾性部42(平行板ばね構造40の一端側)が、台座60に対して固定される。上述の実施の形態6(図20参照)と同様に、位置検出装置70は、投光器71、受光器72、および接続部73から構成される。投光器71および受光器72は、平行移動装置10の弾性部41を挟んで対向配置される(図23参照)。上述の実施の形態6(図20参照)と同様に、コイル部45Cは、弾性部41および弾性部42の間に配置される(図23参照)。 When the bolts 63A to 63F are fastened to the base 60, the elastic part 41, the fixing part 44, and the elastic part 42 (one end side of the parallel leaf spring structure 40) are fixed to the base 60. As in the above-described sixth embodiment (see FIG. 20), the position detection device 70 includes a projector 71, a light receiver 72, and a connection unit 73. The light projector 71 and the light receiver 72 are disposed to face each other with the elastic portion 41 of the translation device 10 interposed therebetween (see FIG. 23). As in the above-described sixth embodiment (see FIG. 20), the coil portion 45C is disposed between the elastic portion 41 and the elastic portion 42 (see FIG. 23).
 本実施の形態におけるコイル部45Cは、開口部62Gおよび開口部62Hをそれぞれ有する。コイル部45Cは、弾性部41および弾性部42の間において、台座60の固定面64Gおよび固定面64Hの上に橋渡し状に配置される(図23参照)。コイル部45Cを台座60に固定するためには、ボルト63G,63Hが用いられる。ボルト63Gは、コイル部45Cの開口部62Gに差し込まれ、台座60の固定面64Gに設けられたネジ孔61Gに螺合する(矢印DRGおよび図23参照)。ボルト63Hは、コイル部45Cの開口部62Hに差し込まれ、台座60の固定面64Hに設けられたネジ孔61Hに螺合する(矢印DRH参照)。 The coil portion 45C in the present embodiment has an opening 62G and an opening 62H. The coil portion 45C is arranged in a bridging manner on the fixed surface 64G and the fixed surface 64H of the base 60 between the elastic portion 41 and the elastic portion 42 (see FIG. 23). In order to fix the coil part 45C to the pedestal 60, bolts 63G and 63H are used. The bolt 63G is inserted into the opening 62G of the coil portion 45C and is screwed into a screw hole 61G provided in the fixing surface 64G of the base 60 (see arrow DRG and FIG. 23). The bolt 63H is inserted into the opening 62H of the coil portion 45C and screwed into a screw hole 61H provided in the fixing surface 64H of the base 60 (see arrow DRH).
 移動部43は、上述の実施の形態6(図20参照)と同様に、延在部43Qを含む。延在部43Qも、弾性部41および弾性部42の間において、平行板ばね構造40の一端(固定部44)側に向かって延在する。磁石部45Mは、延在部43Qの延在方向の先端43S(図24参照)に取り付けられる。 The moving part 43 includes the extending part 43Q as in the above-described sixth embodiment (see FIG. 20). The extending part 43Q also extends toward the one end (fixed part 44) side of the parallel leaf spring structure 40 between the elastic part 41 and the elastic part 42. The magnet portion 45M is attached to the distal end 43S (see FIG. 24) in the extending direction of the extending portion 43Q.
 図22~図24に示すように、本実施の形態の延在部43Qは、円筒状に形成される。延在部43Qの内部は中空状に形成される。移動部43の全体としては、移動部43側から磁石部45M(駆動受部)側に向かって延在する穴部43Hが形成される。穴部43Hの内部には、延在部43Qの後端43R側からおもり43Wを差し込むことができる。 As shown in FIGS. 22 to 24, the extending portion 43Q of the present embodiment is formed in a cylindrical shape. The inside of the extending part 43Q is formed in a hollow shape. As a whole of the moving part 43, a hole part 43H extending from the moving part 43 side toward the magnet part 45M (drive receiving part) side is formed. A weight 43W can be inserted into the hole 43H from the rear end 43R side of the extending portion 43Q.
 平行移動装置10Gが作製された際、平行板ばね構造40の現実の共振周波数と平行板ばね構造40の設計上の共振周波数との間には、製作誤差が生じる場合がある。平行移動装置10Gが作製された後、穴部43Hの内部におもり43Wを差し込むことによって、平行板ばね構造40の共振周波数を所望の値に調整することが可能となる。おもり43Wとしては、数、材質、または大きさなどに応じて、複数種類のものが準備されているとよい。 When the translation device 10G is manufactured, a manufacturing error may occur between the actual resonance frequency of the parallel leaf spring structure 40 and the design resonance frequency of the parallel leaf spring structure 40. After the translation device 10G is manufactured, the resonance frequency of the parallel leaf spring structure 40 can be adjusted to a desired value by inserting the weight 43W into the hole 43H. A plurality of types of weights 43W may be prepared according to the number, material, size, and the like.
 本実施の形態においては、穴部43Hの後端43R側が開放されているため、おもり43Wを穴部43Hの内部に容易に挿脱することができる。当該構成は、磁石部45Mとコイル部45Cとの間の間隔が狭い場合(たとえば間隔が1mm以下の場合など)に有効である。 In the present embodiment, since the rear end 43R side of the hole 43H is open, the weight 43W can be easily inserted into and removed from the hole 43H. This configuration is effective when the interval between the magnet portion 45M and the coil portion 45C is narrow (for example, when the interval is 1 mm or less).
 また、本実施の形態の延在部43Qは、移動部43のうちの弾性部41および弾性部42を接続する直方体状の部位とは別体として作製され、その部位に対して取付固定されるが、中空状の延在部43Qとしては、その部位と一体的に形成されていてもよい。本実施の形態における延在部43Qの後端43Rは、移動部43の端面から外部に向かって突出しているが、移動部43の端面と面一となるように構成されていてもよい。 In addition, the extending portion 43Q of the present embodiment is manufactured as a separate body from the rectangular parallelepiped portion that connects the elastic portion 41 and the elastic portion 42 of the moving portion 43, and is attached and fixed to the portion. However, the hollow extending portion 43Q may be formed integrally with the portion. The rear end 43R of the extending portion 43Q in the present embodiment protrudes outward from the end face of the moving portion 43, but may be configured to be flush with the end face of the moving portion 43.
 必要に応じて、おもり43Wは延在部43Qの外周面上に取り付けられてもよい。平行移動の並進性をより向上させるためには、おもり43Wは、できるだけ磁石部45Mに近い位置に配置されるとよい。 If necessary, the weight 43W may be attached on the outer peripheral surface of the extending portion 43Q. In order to further improve the parallel translation, the weight 43W is preferably arranged as close to the magnet portion 45M as possible.
 [実施の形態8]
 図25および図26を参照して、実施の形態8における平行移動装置10Hについて説明する。図25は、平行移動装置10Hの一部(ストッパー68)を分解した状態を示す斜視図である。図26は、平行移動装置10Hの組み立てられた状態を示す斜視図である。
[Embodiment 8]
With reference to FIGS. 25 and 26, a translation device 10H in the eighth embodiment will be described. FIG. 25 is a perspective view showing a state in which a part (stopper 68) of the translation device 10H is disassembled. FIG. 26 is a perspective view showing the assembled state of the translation device 10H.
 平行移動装置10Hにおいては、移動部43の移動量が所定の範囲以内となるように、移動部43の移動を規制するストッパー68(リミッター)が用いられる。ストッパー68は、平板状に形成され、中央に開口68Hを有し、両端に固定用の切り欠きを有する。本実施の形態のストッパー68は、台座60の前端面64Jおよび前端面64Kの表面上に橋渡し状に配置される。 In the parallel movement device 10H, a stopper 68 (limiter) that restricts the movement of the moving unit 43 is used so that the moving amount of the moving unit 43 is within a predetermined range. The stopper 68 is formed in a flat plate shape, has an opening 68H at the center, and has fixing notches at both ends. The stopper 68 of the present embodiment is arranged in a bridging manner on the surfaces of the front end face 64J and the front end face 64K of the base 60.
 ストッパー68を台座60に固定するためには、ボルト63J,63Kが用いられる。ボルト63Jは、ストッパー68の一方の切り欠き内に差し込まれ、台座60の前端面64Jに設けられたネジ孔61Jに螺合する(矢印DRJ参照)。ボルト63Kは、ストッパー68の他方の切り欠き内に差し込まれ、台座60の前端面64Kに設けられたネジ孔61Kに螺合する(矢印DRK参照)。 In order to fix the stopper 68 to the pedestal 60, bolts 63J and 63K are used. The bolt 63J is inserted into one notch of the stopper 68 and screwed into a screw hole 61J provided in the front end face 64J of the base 60 (see arrow DRJ). The bolt 63K is inserted into the other notch of the stopper 68 and screwed into a screw hole 61K provided in the front end face 64K of the base 60 (see arrow DRK).
 図26に示すように、ストッパー68が台座60に取付固定された状態においては、延在部43Qの後端43Rは、ストッパー68の開口68H内に位置する。平行移動装置10Hが搬送される際、振動などによって移動部43が揺れ動いたとしても、移動部43の移動量は開口68Hに当接することによってその最大値が規制される。平行板ばね構造40の劣化または破損は効果的に抑制され、平行移動装置10Hとしての長寿命化を図ることができる。 26, when the stopper 68 is attached and fixed to the pedestal 60, the rear end 43R of the extending portion 43Q is positioned in the opening 68H of the stopper 68. Even when the moving unit 43 is shaken by vibration or the like when the parallel moving device 10H is transported, the maximum value of the moving amount of the moving unit 43 is restricted by contacting the opening 68H. Deterioration or breakage of the parallel leaf spring structure 40 is effectively suppressed, and the life of the parallel moving device 10H can be extended.
 また、本実施の形態においては、ストッパー68と協働する部位として、延在部43Qの後端43Rが有効に活用される。移動部43の移動を規制するために延在部43Qとは別の部材を設ける必要が無いため、部品点数を削減できるという効果も得られる。 In the present embodiment, the rear end 43R of the extending portion 43Q is effectively used as a portion that cooperates with the stopper 68. Since it is not necessary to provide a member different from the extending portion 43Q in order to restrict the movement of the moving portion 43, an effect that the number of parts can be reduced is also obtained.
 以上、本発明に基づいた各実施の形態について説明したが、今回開示された各実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではない。本発明の技術的範囲は請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。 As mentioned above, although each embodiment based on this invention was described, each embodiment disclosed this time is an illustration and restrictive at no points. The technical scope of the present invention is defined by the terms of the claims, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.
 1 マイケルソン干渉計、2 演算部、3 出力部、10,10A,10B,10C,10D,10E,10F,10G,10H 平行移動装置、11 分光光学系、12 光源、13 コリメート光学系、14 ビームスプリッタ、15 固定鏡、16 移動鏡、17 集光光学系、18 検出器、21 参照光学系、22 参照光源、23 光路合成鏡、24 光路分離鏡、25 参照検出器、26 信号処理部、31 光路補正装置、40 平行板ばね構造、40S,41S 表面、40a,41a,42a 一端、40b,41b,42b 他端、41,42 弾性部、43 移動部、43H 穴部、43M,43N 嵌合部、43Q,43T 延在部、43R 後端、43S 先端、43W おもり、44 固定部、45 駆動部、45C コイル部、45M 磁石部、60 台座、60B 底板、60S 収容部、61A,61B,61C,61D,61E,61F,61G,61H,61J,61K ネジ孔、62A,62B,62C,62D,62E,62F,62G,62H 開口部、63A,63B,63C,63D,63E,63F,63G,63H,63J,63K ボルト、64,64C,64D,64E,64F,64G,64H 固定面、64J,64K 前端面、65,66,67 固定板、68 ストッパー、68H 開口、69 背面部、70 位置検出装置、71 投光器、71A 投光部、72 受光器、72A 受光部、73 接続部、74 支持部、75 構造体、80 測定光、90 制御部、100 フーリエ変換分光分析装置、D1,L 振幅、DRA,DRB,DRC,DRD,DRE,DRF,DRG,DRH,DRJ,DRK 矢印、L10,L20 距離、R40 領域、S 試料、W,W1,W2 幅。 1 Michelson interferometer, 2 computing unit, 3 output unit, 10, 10A, 10B, 10C, 10D, 10E, 10F, 10G, 10H parallel movement device, 11 spectroscopic optical system, 12 light source, 13 collimating optical system, 14 beam Splitter, 15 fixed mirror, 16 moving mirror, 17 condensing optical system, 18 detector, 21 reference optical system, 22 reference light source, 23 optical path synthesis mirror, 24 optical path separation mirror, 25 reference detector, 26 signal processing unit, 31 Optical path correction device, 40 parallel leaf spring structure, 40S, 41S surface, 40a, 41a, 42a one end, 40b, 41b, 42b other end, 41, 42 elastic part, 43 moving part, 43H hole part, 43M, 43N fitting part 43Q, 43T extension part, 43R rear end, 43S front end, 43W weight, 44 fixing part, 45 drive , 45C coil part, 45M magnet part, 60 base, 60B bottom plate, 60S accommodating part, 61A, 61B, 61C, 61D, 61E, 61F, 61G, 61H, 61J, 61K screw hole, 62A, 62B, 62C, 62D, 62E , 62F, 62G, 62H opening, 63A, 63B, 63C, 63D, 63E, 63F, 63G, 63H, 63J, 63K bolt, 64, 64C, 64D, 64E, 64F, 64G, 64H fixed surface, 64J, 64K front end Surface, 65, 66, 67 fixed plate, 68 stopper, 68H opening, 69 back surface, 70 position detector, 71 projector, 71A projector, 72 receiver, 72A receiver, 73 connection, 74 support, 75 Structure, 80 measurement light, 90 control unit, 100 Fourier transform spectroscopic analyzer , D1, L amplitude, DRA, DRB, DRC, DRD, DRE, DRF, DRG, DRH, DRJ, DRK arrows, L10, L20 distance, R40 region, S samples, W, W1, W2 width.

Claims (11)

  1.  移動部(43)が平行な姿勢を維持しつつ往復移動する平行移動装置(10)であって、
     平板状の部材からそれぞれ構成され、間隔を空けて互いに対向配置された第1弾性部(41)および第2弾性部(42)と、
     前記第1弾性部および前記第2弾性部の各々の一端(41a,42a)が固定された固定部(44)と、
     前記第1弾性部および前記第2弾性部の各々の他端(41b,42b)同士を接続するように設けられた前記移動部(43)と、
     前記移動部に取り付けられ、電磁力を非接触で受けることによって前記移動部とともに往復移動する駆動受部(45M)と、を備え、
     前記第1弾性部(41)、前記第2弾性部(42)、および前記移動部(43)によって、一端(40a)が前記固定部(44)に固定された平行板ばね構造(40)が構成され、
     前記駆動受部(45M)は、前記平行板ばね構造(40)の前記移動部(43)が共振周波数で振動するように前記電磁力を受ける、
    平行移動装置。
    A translation device (10) in which the moving unit (43) reciprocates while maintaining a parallel posture,
    A first elastic part (41) and a second elastic part (42), each of which is composed of a flat plate-like member and arranged to face each other with a space therebetween;
    A fixing portion (44) to which one end (41a, 42a) of each of the first elastic portion and the second elastic portion is fixed;
    The moving part (43) provided to connect the other ends (41b, 42b) of the first elastic part and the second elastic part;
    A drive receiving portion (45M) attached to the moving portion and reciprocating with the moving portion by receiving electromagnetic force in a non-contact manner;
    A parallel leaf spring structure (40) in which one end (40a) is fixed to the fixed portion (44) by the first elastic portion (41), the second elastic portion (42), and the moving portion (43). Configured,
    The drive receiving portion (45M) receives the electromagnetic force such that the moving portion (43) of the parallel leaf spring structure (40) vibrates at a resonance frequency.
    Translation device.
  2.  前記駆動受部(45M)は、磁石から構成される、
    請求項1に記載の平行移動装置。
    The drive receiving portion (45M) is composed of a magnet.
    The translation device according to claim 1.
  3.  前記駆動受部(45M)は、前記移動部(43)から見て前記平行板ばね構造(40)の前記一端(40a)側に取り付けられる、
    請求項1に記載の平行移動装置。
    The drive receiving portion (45M) is attached to the one end (40a) side of the parallel leaf spring structure (40) when viewed from the moving portion (43).
    The translation device according to claim 1.
  4.  前記移動部(43)は、前記第1弾性部(41)および前記第2弾性部(42)の間において前記平行板ばね構造(40)の前記一端(40a)側に向かって延在する延在部(43T)を含み、
     前記駆動受部(45M)は、前記延在部(43T)の延在方向の先端(43S)に取り付けられる、
    請求項1に記載の平行移動装置。
    The moving part (43) extends between the first elastic part (41) and the second elastic part (42) toward the one end (40a) side of the parallel leaf spring structure (40). Including part (43T),
    The drive receiving portion (45M) is attached to the distal end (43S) in the extending direction of the extending portion (43T).
    The translation device according to claim 1.
  5.  前記駆動受部(45M)は、前記第1弾性部(41)および前記第2弾性部(42)の長手方向において、前記第1弾性部(41)および前記第2弾性部(42)が弾性変形する領域(R40)の中央部に位置する、
    請求項4に記載の平行移動装置。
    In the drive receiving portion (45M), the first elastic portion (41) and the second elastic portion (42) are elastic in the longitudinal direction of the first elastic portion (41) and the second elastic portion (42). Located in the center of the region (R40) to be deformed,
    The translation device according to claim 4.
  6.  前記延在部(43T)は、前記移動部(43)のうちの前記第1弾性部(41)および前記第2弾性部(42)の各々の前記他端(41b,42b)同士を接続する部位とは別体として作製され、前記部位に対して取付固定されている、
    請求項4に記載の平行移動装置。
    The extension part (43T) connects the other ends (41b, 42b) of the first elastic part (41) and the second elastic part (42) of the moving part (43). It is produced as a separate body from the part, and is fixedly attached to the part.
    The translation device according to claim 4.
  7.  前記延在部(43T)の内部は中空状に形成され、
     前記移動部(43)は、前記移動部(43)側から前記駆動受部(45M)側に向かって延在する穴部(43H)を有する、
    請求項4に記載の平行移動装置。
    The extension portion (43T) is formed in a hollow shape,
    The moving part (43) has a hole (43H) extending from the moving part (43) side toward the drive receiving part (45M).
    The translation device according to claim 4.
  8.  前記移動部(43)の移動量が所定の範囲以内となるように前記移動部(43)の移動を規制するストッパー(68)をさらに備える、
    請求項1に記載の平行移動装置。
    A stopper (68) for restricting the movement of the moving part (43) so that the moving amount of the moving part (43) is within a predetermined range;
    The translation device according to claim 1.
  9.  前記移動部(43)には、前記駆動受部(45M)が嵌め込まれる嵌合部(43M,43N)が設けられる、
    請求項1に記載の平行移動装置。
    The moving part (43) is provided with fitting parts (43M, 43N) into which the drive receiving part (45M) is fitted.
    The translation device according to claim 1.
  10.  請求項1に記載の平行移動装置と、
     前記平行板ばね構造(40)の前記他端(40b)側の外表面(40S)に露出するように設けられた移動鏡(16)と、
     固定鏡(15)と、
     光源(12)と、
     前記光源が出射した光を前記固定鏡に向かう光と前記移動鏡に向かう光とに分割するとともに、前記固定鏡および前記移動鏡の各々に反射した光を合成し干渉光として出射するビームスプリッタ(14)と、
     前記干渉光を検出する検出器(18)と、を備える、
    マイケルソン干渉計。
    A translation device according to claim 1;
    A movable mirror (16) provided so as to be exposed on the outer surface (40S) on the other end (40b) side of the parallel leaf spring structure (40);
    A fixed mirror (15);
    A light source (12);
    A beam splitter that divides the light emitted from the light source into light directed toward the fixed mirror and light directed toward the movable mirror, and combines the light reflected on each of the fixed mirror and the movable mirror to emit as interference light ( 14)
    A detector (18) for detecting the interference light,
    Michelson interferometer.
  11.  請求項10に記載のマイケルソン干渉計と、
     前記検出器が検出した前記干渉光のスペクトルを算出する演算部(2)と、
     前記演算部によって得られた前記スペクトルを出力する出力部(3)と、を備える、
    フーリエ変換分光分析装置。
    Michelson interferometer according to claim 10,
    A calculation unit (2) for calculating a spectrum of the interference light detected by the detector;
    An output unit (3) for outputting the spectrum obtained by the arithmetic unit,
    Fourier transform spectroscopic analyzer.
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