WO2012017641A1 - アレイ管理装置、方法、集積回路およびプログラム - Google Patents

アレイ管理装置、方法、集積回路およびプログラム Download PDF

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WO2012017641A1
WO2012017641A1 PCT/JP2011/004369 JP2011004369W WO2012017641A1 WO 2012017641 A1 WO2012017641 A1 WO 2012017641A1 JP 2011004369 W JP2011004369 W JP 2011004369W WO 2012017641 A1 WO2012017641 A1 WO 2012017641A1
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WO
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array
storage
failure
concern
failures
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PCT/JP2011/004369
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紹二 大坪
幸　裕弘
吉希 寺田
勝彦 廣瀬
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パナソニック株式会社
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    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/16—Error detection or correction of the data by redundancy in hardware
    • G06F11/20—Error detection or correction of the data by redundancy in hardware using active fault-masking, e.g. by switching out faulty elements or by switching in spare elements
    • G06F11/2053—Error detection or correction of the data by redundancy in hardware using active fault-masking, e.g. by switching out faulty elements or by switching in spare elements where persistent mass storage functionality or persistent mass storage control functionality is redundant
    • G06F11/2094—Redundant storage or storage space
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/008—Reliability or availability analysis

Definitions

  • the present invention relates to an array management apparatus and method for managing an array that manages a plurality of storages with a predetermined RAID configuration.
  • RAID Redundant Array of Inexpensive Disks
  • RAID Redundant Array of Inexpensive Disks
  • the allowable number of failures indicating the number of storage failures allowed by the array is determined by the RAID level, the number of storages managed by the array (see the number 6E), and the like. .
  • the allowable number of failures is one.
  • the allowable number of failures is two (see FIG. 22).
  • spare storage is in a standby state until the storage managed by the array fails.
  • the failed storage is logically exchanged with the spare storage.
  • a method has been proposed in which the storage is replaced with spare storage.
  • the above conventional technology is a technology for replacing a storage that is highly likely to fail with a spare storage.
  • the above prior art cannot determine whether or not a plurality of storages fail in units of arrays to be managed. Accordingly, there is a case where another storage is used in vain even though the array does not originally need to be replaced.
  • An object of the present invention is to solve the above-described conventional problems, and to provide an array management apparatus capable of reducing the failure rate of an array of failure concern without wastefully using another storage.
  • an array management apparatus of the present invention is an array management apparatus that manages a plurality of arrays that manage a plurality of storages with a predetermined RAID configuration.
  • the allowable number of failures indicating the number of storage failures allowed by the array is calculated for each array, the number of possible failures indicating the number of storage devices with a possibility of failure is calculated for each array, and the plurality of arrays Among the plurality of storages managed by the identified failure concern array, the failure concern array specifying unit for specifying the failure concern array in which the number of failure concerns exceeds the allowable number of failures, and the plurality of storages managed by the specified failure concern array
  • a sound storage specifying unit that identifies a sound storage that is a storage that is less likely to fail than the specified storage that is concerned about failure, and an exchange unit that exchanges the specified questionable storage and the specified sound storage. Is an array management apparatus.
  • FIG. 1 is an implementation image diagram according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 2 is a configuration diagram of an example of the array management apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a system configuration diagram of an example of the array management apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a configuration diagram of an example of the array management apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a system configuration diagram of an example of the array management apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a flowchart showing the flow of processing of the array management unit in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a flowchart showing a processing flow of the failure concern array specifying unit in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 is an implementation image diagram according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 2 is a configuration diagram of an example of the array management apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is
  • FIG. 8 is a flowchart for acquiring the allowable number of failures for each array according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is a flowchart for acquiring the number of feared failures for each array according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a flowchart for acquiring the degree of failure concern for each storage according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 11 is a flowchart for calculating the degree of concern for failure according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 12 is a flowchart showing the flow of processing of the failure concern storage specifying unit in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 13 is a flowchart showing the flow of processing of the healthy storage specifying unit in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 14 is a flowchart in which the replacement target array specifying process is added to the process flow of the array management unit according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 15 is a flowchart showing a process flow of the replacement target array specifying unit in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 16 is a flowchart for calculating the number of replacements for each array in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 17 is a flowchart showing the flow of processing of the array management unit in the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 18 is a flowchart showing the flow of processing of the storage replacement determination unit in the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 19 is a diagram illustrating a management table.
  • FIG. 20 is a diagram illustrating a plurality of arrays before replacement and a plurality of arrays after replacement.
  • FIG. 21 is a diagram showing the number of replacements of each array.
  • FIG. 22 shows an array.
  • FIG. 23 is a diagram showing a management table and the like.
  • FIG. 24 is a diagram illustrating a specific example of the system.
  • FIG. 25 is a diagram illustrating the allowable number of failures and the number of failures.
  • FIG. 26 is a flowchart showing the flow of processing when the occurrence of a storage failure is taken into consideration.
  • FIG. 27 is a flowchart of the process of identifying the failure concern array in S1710 of FIG.
  • FIG. 28 is a flowchart showing details of the process in S1820 of FIG.
  • the array management apparatus of the embodiment manages an array management apparatus (array management unit 100, array 61, 62, etc. in FIG. 20) that manages a plurality of arrays 6 that manage a plurality of storages 4A (FIG. 22) with a predetermined RAID configuration. Digital recorder 10, system 1, array management unit 7). From the RAID configuration of each array 6, an allowable number of failures 6D (FIG. 25, for example, 2) that indicates the number of storage failures allowed by each array 6 is calculated for each array 6, and there is a possibility of failure storage that may fail. The number 6A (FIG. 22) of fear of failure indicating the number of 4a (FIG. 22) is calculated for each array 6, and the number 6A of fear of failure (first array in FIG.
  • a failure concern storage identification unit 102 is provided that identifies a failure concern storage (storage 4aXa in FIG. 20) from among the plurality of storages 4A managed by the identified failure concern array.
  • a healthy storage (storage 4bXa in FIG. 20) that is a storage for exchanging with the identified failure concern storage (storage 4aXa) and is less likely to fail than the identified failure concern storage (storage 4aXa). Etc.) is provided.
  • a replacement unit 105 is provided for exchanging the identified failure concern storage (storage 4aXa) and the identified healthy storage (storage 4bXa or the like).
  • a plurality of storages 4 including a plurality of storages 4A1 (FIG. 20) constituting the first array 61 (FIG. 20) and a plurality of storages 4A2 constituting the second array 62.
  • a part of (FIG. 24) (such as the two storages 4 from the top in FIG. 24) is provided in the first residence (the first part 1Ha), and the other part is the second May be provided in the second residence 1Hb.
  • the failure concern array specifying unit may specify the first array 61 from a plurality of arrays (the first and second arrays 61, 62, etc.).
  • the replacement target array specifying unit inside or outside the array management apparatus specifies the second array 62 from the plurality of arrays 61 and 62.
  • the exchange unit includes the possibility-of-failure storage 4aXa included in the specified first array 61 and the possibility of failure described above in the specified storage-related storage included in the specified second array 62. It may be replaced with the healthy storage 4bXa, which has a lower possibility of failure.
  • the sound storage 4bXa included in the second array 62 having the relatively small number 6Ab1 of fear of failure may be specified, and the specified sound storage 4bXa may be replaced with the specified failure concern storage 4aXa.
  • the sound storage specifying unit may specify a storage (storage 4bXa or the like) that is not the storage 4A1 managed by the failure concern array 61 as the sound storage 4bXa.
  • the specified healthy storage 4bXa may be included in an exchange target array (second array 62) included in a plurality of arrays (first, second arrays 61, 62, etc.).
  • the replacement target array 62 is an array (second array 62) different from the failure concern array 61, and the replacement target array (second array 62) includes one failure concern storage 4aXa and Even if the number 6Abx (2 in FIG. 25) of the fear of failure of the replacement target array 62N after the replacement with the healthy storage 4bXa does not exceed the allowable number of failures 6D (2 in FIG. 25) of the replacement target array 62 Good.
  • the entire array failure rate can be reduced by exchanging with a healthy replacement target array (second array 62).
  • the replacement target array is an array in which the number 6A (FIG. 22) of fear of failure is smaller than the allowable number of failures 6D, that is, the surplus number 6C is 1 or more.
  • the number of healthy storages specified in the replacement target array may be two or more, for example.
  • the number of healthy storages identified is less than the surplus number 6C (the maximum replaceable number in FIG. 18) (FIG. 18). In other cases, the number may be larger than the surplus number 6C (see YES in S1640).
  • the replacement target array is healthy, but if it is larger than the surplus number 6C (YES in S1640), it is exceptionally unhealthy and unusable. Sound.
  • the number of the healthy storages to be identified (the number that needs to be relieved) is equal to or less than the surplus number 6C (maximum replaceable number) (NO in S1640), it is as follows. In other words, in that case, when up to the healthy storage is replaced, there is no excess storage that is a healthy storage in which the number of feared failures after the replacement of the healthy storage exceeds the allowable failure number 6C. On the other hand, when the surplus number is greater than 6C (YES in S1640), there is excess storage.
  • the array management apparatus further includes a storage replacement determination unit 106, and the storage replacement determination unit 106 exchanges the specified failure concern storage and the specified healthy storage included in the replacement target array. After that, it is determined whether or not the number of feared failures of the replacement target array exceeds the allowable failure number 6D of the replacement target array (whether or not the healthy storage is excess storage) (S1630 in FIG. 18). In the case where it is determined that the storage unit is exceeded (determined that it is excess storage) (YES in S1640), the specified failure concern storage for any specified healthy storage And the specified healthy storage may not be exchanged (S1660).
  • any specified healthy storage is not replaced (S1660), and a large amount of data (for example, several gigabytes to several tens of bytes) Gigabyte) data transfer (unnecessary processing) is avoided, and deterioration caused by the data transfer can be avoided. As a result, deterioration due to data transfer can be sufficiently reduced to the extent necessary for this type of system (see FIG. 24).
  • FIG. 1 is an implementation image diagram of the array management apparatus of the first embodiment.
  • the digital recorder 10 is connected to the storages 11 to 18 via the networks 20 to 28.
  • the digital recorder 10 has the purpose of managing and storing digital data such as image data taken by a digital camera.
  • the digital recorder 10 can store the digital data redundantly in the storages 11 to 18 by incorporating the array management unit 100 (FIG. 2 and the like) inside.
  • the networks 20 to 28 may be wireless as well as wired. Also, instead of the networks 20 to 28, USB (Universal Serial Bus), eSATA (External Serial ATA), IEEE 1394 (The Institute of Electrical and Electronic Electronics Engineers, Inc. 1394), IDE (Integrated Drive Electronics), Serial ATA (Advanced A communication bus such as Technology (Attachment), SCSI (Small Computer System Interface), or SAS (Serial Attached SCSI) may be used. In addition to using these communication buses, storages corresponding to the communication bus may be used as the storages 11 to 18. The storages 11 to 18 may be stored inside the housing of the digital recorder 10.
  • USB Universal Serial Bus
  • eSATA Extended Serial ATA
  • IEEE 1394 The Institute of Electrical and Electronic Electronics Engineers, Inc. 1394
  • IDE Integrated Drive Electronics
  • Serial ATA Advanced A communication bus such as Technology (Attachment), SCSI (Small Computer System Interface), or SAS (Serial Attached SCSI)
  • the array management apparatus may be considered to be, for example, the system 1, may be considered to be composed only of the digital recorder 10 in the system 1, and is a functional block realized in the digital recorder 10. It may be considered that it consists only of the array management unit 100.
  • FIG. 2 is a configuration diagram of an example of the array management apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • the array management device is a device that manages a storage array (such as an array (storage array) 61).
  • a storage array is a device that enables data to be stored redundantly in a plurality of storages included in the storage array by using a technique such as RAID.
  • the array management apparatus includes a plurality of storage arrays 61 to 62 and an array management unit 100 for managing the plurality of storage arrays 61 and the like.
  • one or more spare storages 5 which are storages not managed by the array may be further provided.
  • an embodiment that does not include a spare storage will be described, and an embodiment that includes a spare storage will be described in a third embodiment to be described later.
  • the array management unit 100 includes a failure concern array identification unit 101 that identifies a failure concern array, a failure concern storage identification unit 102 that identifies failure concern storage, a healthy storage identification unit 104 that identifies sound storage, and a failure concern storage. And an exchange unit 105 that performs logical exchange with the healthy storage (see FIG. 4).
  • the failure concern array is an array in which data loss of stored data may occur due to failure of storage managed by the array.
  • the failure-prone storage is a storage in which a failure is a concern.
  • the sound storage is storage that has no fear of failure.
  • the array management unit 100 may further include a replacement target array specifying unit 103 (FIG. 2) for specifying a replacement target array in addition to the above.
  • a replacement target array specifying unit 103 FIG. 2 for specifying a replacement target array in addition to the above.
  • the replacement target array is an array that manages sound storage that can be a target of storage replacement with the failure concern array.
  • the array management unit 100 may perform processing for determining whether or not the failure concern in the failure concern array is resolved by logical replacement of the failure concern storage and the healthy storage.
  • a storage replacement determination unit 106 (FIG. 2) that determines whether to perform replacement by performing this processing may be provided.
  • the array management unit 100 (see FIG. 4) that does not include the replacement target array specifying unit 103 (FIG. 2) is, for example, a replacement target array specifying unit provided outside the array management unit 100 (outside the digital recorder 10). 103 may be used or may have other forms.
  • the components 101 to 106 can be realized by LSI (Large Scale Integration).
  • an integrated circuit 100L in which the functions of the failure concern array specifying unit 101 and the like are realized may be provided.
  • the integrated circuit 100L may be provided in the digital recorder 10, for example.
  • the integrated circuit 100L may be a part or all of the array management unit 100, for example.
  • FIG. 3 is a system configuration diagram of the array management apparatus according to the first embodiment.
  • the digital recorder 10 includes a ROM 301 that records various processing programs, a CPU 302 that performs overall processing, a RAM 303 that temporarily records data, and a lower-level transfer control unit 304 that controls data transfer between the storages 11 to 18. And a higher-order transfer control unit 305 that controls data transfer with other devices such as a digital camera.
  • the components 101 to 106 are stored as programs in the ROM 301, for example, and the processing of each component is executed by the CPU 302.
  • the digital recorder 10 may include a computer (information processing apparatus) that performs information processing by the CPU 302 or the like.
  • the computer may store programs such as the failure concern array specifying unit 101 in the ROM 301 or the like.
  • the functions of the failure concern array specifying unit 101 and the like may be realized in the digital recorder 10 by executing each stored program by a computer.
  • FIG. 5 a case where there is no failure concern array specifying unit 101 or the like is illustrated.
  • FIG. 6 is a flowchart showing a processing flow of the array management unit 100 in the present embodiment.
  • the failure concern array identification unit 101 identifies the failure concern array.
  • the failure concern storage identification unit 102 identifies the failure concern storage from the storages managed by the failure concern array.
  • the sound storage specifying unit 104 specifies the sound storage to be replaced.
  • the exchange unit 105 performs a logical exchange between the storage concerned with failure and the healthy storage.
  • FIG. 7 is a flowchart showing the process flow of S410 of FIG.
  • failure concern array specifying unit 101 The operation of the failure concern array specifying unit 101 will be described in detail with reference to FIG.
  • the allowable number of failures indicating the number of storage failures allowed by the array is specified for each array.
  • failure concern number 6A indicating the number of failure concern storages that may fail is specified for each array.
  • the failure allowable number and the failure concern number specified in S510 and S520 are used, and in S530, an array in which the failure concern number exceeds the failure allowable number is set as a failure concern array.
  • an array having two units of fear of failure and one unit of allowable number of failures satisfies the condition of S530, and thus can be a failure concern array.
  • an array in which the number of feared failures exceeds the allowable number of failures may be specified as the failure-related array.
  • the threshold value Ta is the same value (for example, two) as the value of the allowable failure number 6D (FIGS. 22 and 25), and is a value determined by the allowable failure number 6D.
  • the array (first array 61) in which the number of feared failures (deteriorated number) 6A is the number of feared failures 6Aa2 within the range Ra (FIG. 25) larger than the threshold value Ta (first array 61) is the failure concern array. It may be specified.
  • FIG. 20 which will be described later, an example in which the first array 61 of FIG. 20 is specified as a failure concern array is shown.
  • failure concern array candidates when there are a plurality of arrays that may be a failure concern array (failure concern array candidates), for example, from the number of failure concerns (for example, the failure concern number 6Aa2 in FIG. 25) to the allowable number of failures (failure in FIG. 25).
  • the array having the largest number obtained by subtracting the allowable number 6D) may be the failure concern array.
  • an arbitrary array may be selected from a plurality of arrays (failure concern array candidates) that can be a failure concern array. Further, the values of the number of possible failures (for example, those exceeding the allowable number of failures) may be selected in descending order of the allowable number of failures, and the processing of S420 to S440 in FIG. 6 may be sequentially performed on each array. good.
  • FIG. 8 is a flowchart showing the process flow of S510 in FIG.
  • a RAID level indicating the type of RAID configuration in the array is acquired.
  • branching is performed as follows according to the acquired RAID level.
  • the number of storages managed by the array is acquired in S630, and the number obtained by subtracting 1 from the number of storages is set as the allowable number of failures in the array in S640.
  • RAID level is any one of 2 to 5
  • 1 is set as the allowable number of failures in the array in S650.
  • RAID level is 6, in S660, 2 is set as the allowable number of failures in the array (see the allowable failure number 6D in FIG. 22).
  • redundancy management method such as triple parity
  • the allowable number of failures is calculated according to the characteristics of the redundancy management method.
  • FIG. 9 is a flowchart showing the process flow of S520 of FIG.
  • a failure concern level indicating the level of concern that a storage failure will occur for all storages managed by the array is acquired for each storage. That is, the failure concern degree of each storage is acquired.
  • the number of storages whose failure concern degree exceeds a predetermined value is set as the failure concern number in the array.
  • the predetermined value is 0.2.
  • FIG. 10 is a flowchart showing the process flow of S710 of FIG.
  • the acquired warranty period information may be, for example, the warranty period (data) 100f1 illustrated in FIG.
  • storage drive time information is acquired.
  • the drive time information acquired is, for example, the time from the current date to the start date specified by specifying the date when the use of the storage is started. May be specified. More specifically, for example, the acquired drive time information may be the use start date (data) 100f2 shown in FIG.
  • a failure concern degree is calculated in S830.
  • the calculated failure concern degree is set as the storage failure concern degree.
  • information recorded in the ROM in advance may be used, or may be acquired using the Internet.
  • storage self-diagnosis information (such as SM ART) may be used as a method of acquiring storage drive time information.
  • the elapsed time from the first startup the read error rate, the write error rate, the number of data rewrites, the number of times the power is turned on, the operating temperature, and the impact due to acceleration above a predetermined value
  • Information such as the number of times the power is received, the cumulative value of the power-on time, and the cumulative value of the read / write operation time may be acquired.
  • FIG. 11 is a flowchart showing the flow of the process of S830 in FIG.
  • S910 it is determined whether the driving time exceeds the guaranteed time.
  • S920 the result of determination in S910 is received, and branching is performed as follows.
  • the predetermined value is set as the failure concern level in S930. As an example, it is 0.
  • the degree of concern is calculated so that the degree of concern increases with the increase of the driving time in S940, and the degree of concern is determined to be a concern about failure in S950.
  • the degree of concern about the failure of the storage acquired from FIG. 10 is as follows.
  • the degree of failure concern it is affected by the elapsed time from the first startup, the read error rate, the write error rate, the number of data rewrites, the number of times the power is turned on, the operating temperature, and the acceleration exceeding the specified value.
  • information on the number of times that the power has been turned on, a cumulative value of the time during which the power is turned on, a cumulative value of the time during which the read / write operation is performed may be used.
  • the failure concern degree may be calculated using these.
  • the calculated failure concern degree is, for example, whether or not the driving time (for example, the time from the current date to the start date of use 100f2) exceeds the guaranteed time (guaranteed period 100f1). (See failure concern degree 100fx in FIG. 23).
  • FIG. 12 is a flowchart showing the process flow of S420 of FIG.
  • the degree of concern for failure is calculated for each storage for all the storages included in the failure concern array.
  • a storage having a failure concern degree exceeding a predetermined value is designated as a failure concern storage.
  • processing flow of S1010 is the same as the processing of the flowchart of FIG. Note that instead of executing the calculation of the concern degree of failure, the value calculated in the process of S410 can be recorded and used in S420.
  • FIG. 13 is a flowchart showing the flow of the process of S430 in FIG.
  • the failure concern degree in the failure concern storage is set as a failure concern reference value.
  • a storage in which the failure concern degree does not exceed the failure concern reference value is set as a healthy storage.
  • the failure concern level reference value is 0.5
  • a storage with a failure concern level of 0.1 matches the condition of S1120 and can be a sound storage.
  • a corresponding arbitrary storage is selected as the healthy storage from the plurality of healthy storage candidates.
  • a plurality of healthy storages may be selected, and the processing of S440 in FIG. 6 may be performed in order for each healthy storage.
  • the storage managed by the failure concern array may be excluded from the selection target.
  • processing described with reference to FIGS. 14 and 15 below may be performed.
  • FIG. 14 is a flowchart showing the flow of processing for specifying the replacement target array before specifying the healthy storage.
  • the replacement target array before specifying the healthy storage (S430), the replacement target array may be specified, and the healthy storage may be selected from the storages managed by the specified replacement target array (FIG. 6). 14 S1210, S430, etc.).
  • FIG. 15 is a flowchart showing the process flow of S1210.
  • the values acquired in the processing of S410 can be recorded and used in S1210.
  • an array in which the allowable number of failures exceeds the number of feared failures is set as the replacement target array.
  • an array having two failure tolerance units and one failure concern unit number satisfies the condition of S1310, and thus can be replaced.
  • the threshold value Tb may be a value obtained by subtracting 1 (see an increased number 6F, which will be described later) from the value of the allowable number of failures 6D (FIGS. 25 and 22), for example.
  • FIG. 20 which will be described later, an example in which the second array 62 of FIG. 20 is specified as the replacement target array is shown.
  • the number of possible failures is determined from the allowable number of failures (for example, the allowable number of failures 6D in FIG. 22).
  • the array with the largest value is the replacement target array.
  • an arbitrary array may be selected from a plurality of arrays that can be replaced.
  • an array may be selected in descending order of the value obtained by subtracting the number of feared failures from the allowable number of failures, and the processing of S430 to S440 in FIG. 14 may be performed on each array in order.
  • the number of storages for which healthy storage is replaced in each array is described below. It is also possible to specify the healthy storages of the calculated number of exchanges in S430 and repeat the process of S440 to perform the exchange for each array in order.
  • the replacement target array may be specified (S1210).
  • the storage of the specified replacement target array may be specified as a healthy storage.
  • processing described with reference to FIG. 16 below may be performed.
  • FIG. 16 is a flowchart of a process for calculating the number of replacements of each array in a plurality of arrays that can be replaced.
  • the value obtained by subtracting the allowable failure number from the failure concern number in the failure concern array is set as the concern-resolving necessary number.
  • the number of replacements in each array is initialized to 0 for all replacement target array candidates.
  • the remaining number of replaceable units in each array is initialized with a value obtained by subtracting the number of possible failures from the allowable number of failures.
  • the largest replaceable remaining number is specified from all the replacement target array candidates, and the value of the remaining replaceable number specified at that time is set as the maximum replaceable remaining number.
  • the number of replacement of the selected array is increased by 1, and the remaining number of replaceable arrays of the selected array is decreased by 1.
  • S1480 it is determined whether the total number of replacements in all the arrays is less than the number necessary to eliminate the concern.
  • an array with the number of exchanges of 1 or more calculated by the above processing is used as an exchange target array, and the number of storages for which healthy storage is exchanged is the number of exchanges calculated above.
  • FIG. 21 is a diagram showing initial values, the number of exchanges, and the like in the process of selecting arrays A and B.
  • the necessary number of concerns to be identified in S1410 is 2, and the replacement target array candidates are array A, array B, and array C (first row in the table of FIG. 21).
  • the initial value of the remaining exchangeable number is set to 2 in array A, 2 in array B, and 1 in array C (second row).
  • the array A and the array B are selected as the replacement target arrays according to the flowchart of FIG. 16 (third row). The number of exchanges at that time is one for both array A and array B (fourth row).
  • a logical storage that is a virtual storage managed by a part or all of one or a plurality of physical storages is used instead of a physical storage. May be.
  • the storage drive time information and the guarantee time information in S810 and S820 are the drive time information and guarantee of the physical storage that manages the logical storage. Use time information.
  • the failure concern level is calculated in S710 for all the managed physical storages, and the storage value with the highest failure concern level is obtained. Adopt as the degree of concern about failure in logical storage.
  • FIG. 17 is a flowchart showing a processing flow of the array management unit 100 in the present embodiment.
  • the storage replacement determination unit 106 determines whether to replace the failure concern array and the healthy storage.
  • the exchange is performed only when it is determined to be performed (YES in S1520, S440), and when it is determined not to be performed, it may not be performed (NO in S1520).
  • FIG. 18 is a flowchart showing the process flow of S1510 of FIG.
  • the value obtained by subtracting the allowable number of failures from the number of possible failures in the failure concerned array is set as the necessary number for solving the concern.
  • the value obtained by subtracting the number of failure concerns from the allowable number of failures in the replacement target array is set as the maximum replaceable number.
  • S1630 it is determined whether the concern-required required number (S1610) exceeds the maximum replaceable number (S1620).
  • the number of failure concerns when the number of failure concerns is 4 and the allowable number of failures is 2, the number of concerns necessary to be solved is 2.
  • the maximum replaceable number when the allowable number of failures is 2 and the number of possible failures is 1, the maximum replaceable number is 1. Therefore, since the necessary number of concerns needs to exceed the maximum replaceable number, it is determined that the replacement is not performed (YES in S1640, S1660).
  • S1210 there may be a plurality of arrays (exchange target array candidates) that can become replacement target arrays.
  • the maximum number of replaceable units in S1620 is calculated for all replacement target array candidates, and the maximum of all replacement target array candidates is calculated.
  • the total value of the replaceable number may be the maximum replaceable number in S1630.
  • the form of processing for determining whether or not to exchange may be specifically the above-described form or another form.
  • a predetermined setting such as a setting in the array management unit 100
  • a determination is made to replace (S1520). YES), if not set, it may be determined not to replace (NO in S1520).
  • the processing flow of the array management unit 100 in this embodiment is the same as that in FIG.
  • the sound storage specifying unit 104 specifies sound storage.
  • all spare storages can be treated as sound storages. Further, the spare storage may be selected as a healthy storage with priority over the storage managed by the array.
  • FIG. 26 is a flowchart showing the flow of processing when the occurrence of a storage failure is taken into consideration.
  • the processing other than S1710 is the same as the processing in the step corresponding to that step in FIG.
  • the processing in each step of S420, S430, and S440 in FIG. 26 is the same as the processing in S420 of FIG.
  • FIG. 27 is a flowchart showing details of the processing for identifying the failure concern array in S1710 of FIG.
  • an array in which the sum of the number of failed storages acquired in S1820 and the number of feared failures exceeds the allowable number of failures is defined as a failure-aware array.
  • FIG. 28 is a flowchart showing details of the processing in S1820 of FIG.
  • a failed storage is detected for all the storages managed by the array. That is, out of all the storages, the failed storage is detected and specified.
  • the failure storage detection method includes general methods such as the presence / absence of a response to a storage access request, a method based on an error response, a method based on ECC parity mismatch, and a method based on file system mount failure.
  • the method in the above may be used.
  • the storage in which the failure is a concern and the storage in one of the arrays in which the failure is not a concern are exchanged.
  • the processing of S710 may be executed only when a storage failure is detected in S1910.
  • the array management apparatus of this embodiment is typically realized as an LSI which is a semiconductor integrated circuit. These may be individually made into one chip, or may be made into one chip so as to include a part or all of them.
  • the name used here is LSI, but it may also be called IC, system LSI, super LSI, or ultra LSI depending on the degree of integration.
  • circuit integration is not limited to LSI's, and implementation using dedicated circuitry or general purpose processors is also possible.
  • An FPGA Field Programmable Gate Array
  • reconfigurable processor that can reconfigure the connection and setting of circuit cells inside the LSI may be used.
  • a drawing device suitable for various purposes can be configured by combining a semiconductor chip on which the array management apparatus of this embodiment is integrated and a display for drawing an image.
  • the present invention can be used as information drawing means in mobile phones, televisions, digital video recorders, digital video cameras, car navigation systems, and the like.
  • a display a cathode ray tube (CRT), a liquid crystal, a PDP (plasma display panel), a flat display such as an organic EL, a projection display typified by a projector, or the like can be combined.
  • the possibility of occurrence of a failure is estimated from the drive time and the number of storages where the possibility of failure exceeds the threshold (the number of possible failures) is calculated. Then, an array having a high risk of data loss (failure concern array) is identified from the number of failure concerns and the allowable number of failures determined by the RAID level, the number of storages managed by the array, and the like. Then, only the storage that is included in the failure concern array and has a high possibility of occurrence of a failure is replaced with a storage that has a low possibility of occurrence of the failure. As a result, it is possible to reduce the concern of data loss in the failure concern array without using another storage wastefully.
  • FIG. 24 shows the system 1.
  • the system 1 shown in FIG. 1 specifically, for example, as shown in FIG. 24, the first portion 1Ha provided in the first residence and the second portion provided in the second residence. 2 portion 1Hb. More specifically, for example, distribution to three or more houses may be performed. That is, for example, there may be third to Tth residences (3 ⁇ T).
  • the system 1 may include third to Tth portions provided in the third to Tth residences. Each of the third to Tth portions may be provided with one or more of a plurality of storages 4 to be described later.
  • the system 1 may further include other parts.
  • the first residence is a residence of a child couple who is used to operating devices such as home appliances (digital recorder 10, digital recorder 10b, etc.), and the second residence is a parent couple who is not used to the operation. May be a dwelling.
  • the system 1 may be, for example, a consumer system that does not include an enterprise device.
  • the digital recorder 10 and the plurality of storages 4 are home appliances.
  • the system 1 is a system that exists in the enterprise system such as a business system and does not have a human equivalent to a professional administrator.
  • a plurality of storages 4 may be provided.
  • a part of the plurality of storages 4 provided may be provided in the first part 1Ha, and the other part may be provided in the second part 1Hb.
  • an array management unit 100 for controlling the operation of each storage 4 may be provided.
  • the one or more storages 4 included in the system 1 may be so-called online storage (not shown).
  • the array management unit 100 may be, for example, a functional block in the digital recorder 10 provided in the first portion 1Ha and connected to the television in the first residence.
  • the system 1 may have a plurality of array management units 7.
  • each array management unit 7 may have the same function as the function of the array management unit 100 of the digital recorder 10.
  • one of the plurality of array management units 7 may be included in the digital recorder 10b (FIG. 24) provided in the second portion 1Hb.
  • One of the plurality of array management units 7 may be provided in one storage 4 (storage 4c) provided in the second portion 1Hb.
  • One of the plurality of array management units 7 may be provided in a dedicated device (not shown) for managing the array.
  • the array management unit 100 may control the operation of each storage 4 when, for example, the array management unit 7 that executes control is selected from the plurality of array management units 7. Note that this selection process may be performed through communication between a plurality of array management units 7, for example.
  • the array management unit 100 provided in the digital recorder 10 may control the operation of each storage 4 provided in the second portion 1Hb, for example, via the Internet INT.
  • such an array 6 may be configured by two or more storages 4A (FIG. 22) among the plurality of storages 4 included in the system 1.
  • the number 6E of FIG. 22 indicates the number of storages 4 (four in FIG. 22) included in the two or more storages 4A constituting the array 6.
  • the failure allowable number 6D (for example, two) indicates the number of data loss in the array 6 when a failure occurs in the number of storages 4 larger than the allowable failure number 6D. In other words, no data loss occurs when a failure occurs in the number of storages 4 of the number of allowable failures 6D or less.
  • the number of storage 4 in which a failure has occurred is 0, for example.
  • the storage 4 is a storage 4a that is prone to failure and has (large) deterioration, or a storage 4b that hardly has a failure and does not have (large) deterioration.
  • FIG. 23 shows a management table (data 100T).
  • the above determination may be performed by, for example, the storage determination unit 100f in FIG.
  • the data 100fd (management table 100T) shown in FIG. 23 includes a guarantee period 100f1 of the storage 4 to be determined and a use start date 100f2.
  • warranty period 100f1 is, for example, data indicating a period of reference values published by the manufacturer of the storage 4 as a period during which no failure occurs.
  • the use start date 100f2 is data indicating the date on which use of the storage 4 is started.
  • the use start date 100f2 indicates data indicating the time from the current date to the indicated use start date as the drive time of the storage 4 by indicating the use start date of the storage 4. It is.
  • the drive time information described above may be, for example, the use start date 100f2.
  • the drive time information (use start date 100f2) may be stored in the storage 4, and the stored drive time information may be acquired by the array management unit 100 and used.
  • the failure concern degree 100fx may be calculated from such data 100fd (storage determination unit 100f).
  • the calculated failure concern degree 100fx is a value larger than a predetermined threshold (for example, a constant, the above-described failure concern degree reference value, etc.), the storage 4 deteriorates (large). This indicates that it is determined that the storage 4a has.
  • a predetermined threshold for example, a constant, the above-described failure concern degree reference value, etc.
  • the storage 4 deteriorates (large). This indicates that it is determined that the storage 4a has.
  • the calculated failure concern degree 100fx is a value equal to or smaller than the threshold value (for example, a value smaller than the threshold value), it indicates that the storage 4b does not have.
  • this calculation method may be specifically the method shown in FIG. That is, for example, the calculated failure concern degree 100fx corresponds to whether or not the driving time (such as “current date” ⁇ “use start date 100f2”) exceeds the guaranteed time (guaranteed period 100f1). (Refer to the description of “current date-start date of use> warranty period?” In FIG. 23).
  • data 100 fd of the storage 4 may be stored in association with each storage 4. In the determination, the data 100fd associated with the storage 4 to be determined may be used.
  • the number of deteriorated units (the number of failure concerns) 6A (FIG. 22, for example, 1 unit) indicating the number of storages 4A determined as the storage 4a is calculated. May be.
  • this calculation may be performed by, for example, the array processing unit 100a illustrated in FIG.
  • the failure concern array specifying unit 101 and the replacement target array specifying unit 103 described above may be included in the array processing unit 100a and may be a part of the array processing unit 100a.
  • the allowable number of failures 6D for example, two
  • two failure-prone numbers 6Aa1 and 6Aa2 one and three
  • the second array 62 shows the two failure concern numbers 6Ab1 and 6Ab2 (one and two).
  • the calculated number of degraded arrays 6 (number of feared failures) 6A described above is the number of degraded items (number of potential concerns 6Aa1, 6Ab1) equal to or less than the threshold T (the threshold Ta or the threshold Tb in FIG. 25).
  • the threshold value T the number of possible failures 6Aa2, 6Ab2 (array processing unit 100a in FIG. 22).
  • the array 6 may be detected whether the array 6 is an array in which the number of deteriorated units 6A is smaller than the threshold value T and is small and is unlikely to cause data loss, or is larger than the threshold value T and is likely to cause data loss.
  • FIG. 20 shows the system 1.
  • system 1M system 1 before the storage is replaced
  • system 1N lower system 1
  • a plurality of arrays 6 may be configured.
  • first array 61M and the second array 62M in the upper stage of FIG. 20 indicate the first array 61 and the second array 62 before the storage is replaced, and the lower first array.
  • 61N and the second array 62N indicate the first array 61 and the second array 62 after the replacement.
  • the allowable number of failures 6D (FIG. 22) of the plurality of arrays 6 may be the same.
  • the allowable number of faults 6D shown in FIG. 25 indicates the same number as that of each other.
  • the first array 61 (first array 61M) may be specified (array processing unit 100a).
  • the second array 62 (second array) detected from among the plurality of arrays 6 to have a small number of deteriorated units 6A (the number of failure fear units 6Ab1, one unit) that is equal to or less than the threshold value T (threshold value Tb). 62M) may also be specified (array processing unit 100a).
  • the threshold Ta is, for example, the same value (two) as the value of the allowable number of failures 6D (two) of the array (first array 61) where detection is performed.
  • the specified first array 61 (first array 61M) has a number of deteriorated units (the number 6Aa2, the number of failure fears) that is larger than the threshold Ta (two units) of the same number as the allowable number of failures 6D of the first array 61. 3).
  • the failure concern number 6Aa2 of the identified first array 61 is the number in the range Ra larger than the threshold Ta shown in FIG.
  • the number 6Aa2 (three) of fear of failure is schematically indicated by three “deterioration” characters attached to the first array 61M.
  • the threshold value Tb may be, for example, a value obtained by subtracting 1 from the allowable number of failures 6D (FIG. 25, 2) of the array in which detection is performed (second array 62). .
  • the number of deteriorated 6Bs of the second array 62 to be detected may be such a number of deteriorated items (the number of failure fears 6Ab1, 1) equal to or less than the threshold Tb (1) reduced by 1.
  • the failure concern number 6Ab1 of the second array 62 specified is the number in the range Rb shown in FIG.
  • FIG. 20 the number 6Ab1 (1 unit) of which there is a possibility of failure is schematically shown by one “deterioration” character attached to the second array 62M.
  • the above-described failure concern array may be, for example, the first array 61 specified.
  • the above-described replacement target array may be the second array 62.
  • the storage 4aXa (FIG. 20) including the deterioration included in the specified first array 61 and the storage 4bXa (FIG. 20) including the deterioration included in the specified second array 62 are included. They may be exchanged (exchange unit 105).
  • exchange performed is, for example, a so-called logical exchange.
  • the exchange that is performed may be referred to as a swap, for example.
  • the storage 4aXa of the first array 61 to be replaced is, for example, two or more degraded storages 4a (FIGS. 20 and 22) of the first array 61.
  • the storage 4bXa (FIG. 20) of the second array 62 to be replaced is one of the two or more storage 4b (FIGS. 20 and 22) having no deterioration included in the second array 62.
  • the storage 4b specified by the sound storage specifying unit 104 may be used.
  • the data of the storage 4aXa of the first array 61 may be moved to a predetermined storage unit (not shown). After this movement, the data in the storage 4bXa in the second array 62 (second array 62M) may be moved to the storage 4aXa in the first array 61. Thereafter, the data in the storage 4aXa in the first array 61 after being moved to the storage unit may be moved to the storage 4bXa in the second array 62.
  • the data in the storage 4aXa and the data in the storage 4bXa may be exchanged to exchange data (actual data exchange control unit 105a in FIG. 23).
  • each storage 4 is included by the data 100T of FIG.
  • an array 6 (number or the like) including the storage 4 may be stored in association with each storage 4 (each column in the table of FIG. 23).
  • the storage 4aXa (for example, the third storage) is included in the first array 61
  • the storage 4bXa (for example, the fifth storage) is included in the second array 62 (FIG. 23).
  • the data 100T is updated (changed) when the storage is replaced, and after the update, the storage 4aXa is included in the second array 62, and the storage 4bXa is included in the first array 61. (Table updating unit 105b).
  • the data 100T may be stored, for example, by the management table storage unit 100S (FIG. 23).
  • the management table storage unit 100S may specifically be a part of the array management unit 100, for example. That is, for example, the management table storage unit 100S may be a part of the exchange unit 105 or a part of the lower-level transfer control unit 304.
  • the management table storage unit 100S may have other forms.
  • each storage 4 (storage 4aXa, 4bXa) may be subjected to the following control before updating. That is, before the update, control may be performed so that the array 6 (the first array 61 and the second array 62) indicated to include the storage 4 is operated as the storage 4.
  • each storage 4 (storage 4aXa, 4bXa) may be subjected to the following control after the update.
  • the array 6 (second array 62, first array 61) indicated to be included may be controlled to operate as the storage 4.
  • These controls may be performed by, for example, the lower-level transfer control unit 304 (FIGS. 23, 3 and 7).
  • communication of data written and read by an application executed in the digital recorder 10 may be performed via the higher-order transfer control unit 305 (FIG. 3). Then, the low-order transfer control unit 304 may execute writing and reading of data to be communicated with respect to the appropriate array 6.
  • the deterioration number 6A (the number of failure concerns) of the array 6 (see the first array 61) including the storage 4aXa having deterioration is equal to the threshold T ( In the case of the number of deteriorated units (threshold failure number 6Aa1) equal to or less than the threshold value Ta), the exchange with the storage 4bXa that does not have deterioration is not performed.
  • the system 1 is a consumer system and the cost that can be borne by the user is smaller than the cost that can be borne by an enterprise device or the like, the generated cost is It can be made at a lower cost for consumer use.
  • the storage 4bXa that is exchanged and has no deterioration may be included in the second array 62.
  • the storage 4bXa may be a storage 4 that stores and uses data even before replacement. That is, the storage 4bXa is not a spare storage (see the background art description).
  • the spare storage is, for example, a storage that does not store data before the spare storage is used for replacement.
  • the spare storage can be made unnecessary, and the number of spare storages 5 (FIG. 2) provided can be reduced.
  • the storage 4bXa to be replaced is the storage 4 included in the second array 62 that has a small number of deteriorated units (the number 6Ab1 that is likely to fail).
  • FIG. 20 it is schematically indicated by a circle added to the second array 62N that the storage 4a having deterioration in the second array 62N is sufficiently small.
  • system 1 may be provided with one or more spare storages 5 (FIG. 2).
  • the plurality of storages 4 included in the system may include one or more spare storages 5 (FIG. 2).
  • each spare storage 5 is, for example, a storage 4 that does not store data and is not used before the spare storage 5 is replaced.
  • the spare storage 5 may be specified as the storage 4 to be exchanged with the storage 4aXa of the specified first array 61 (the healthy storage specifying unit 104).
  • the identified spare storage 5 may be replaced with the storage 4aXa of the first array 61 (exchange unit 105).
  • the number of spare storages 5 may be decreased by one for each replacement.
  • the spare storage 5 may be specified before the number becomes zero, and the storage 4 (storage 4bXa) included in the array 6 may be specified after the number becomes zero.
  • the spare storage 5 is specified as the storage 4 to be replaced, the data is transferred from the storage 4 to be replaced (spare storage 5) to the storage 4aXa having the above-described deterioration. Such processing may not be performed.
  • the number of the arrays 6 included in the system 1 may be two, three, or another number.
  • a plurality of arrays 6 (second array 62 and third array 63) having a deteriorated number (failure allowable number) 6A smaller than the threshold Tb (FIG. 25) may be specified by the array processing unit 100a. .
  • one storage 4aXa (FIG. 20) having degradation in the first array 61 may be replaced with the storage 4bXa having no degradation in the specified second array 62.
  • the other storage 4aXb having deterioration in the first array 61 may be exchanged with the storage 4bXb having no deterioration in the specified third array 63.
  • a plurality of storage 4aX having deterioration may be replaced with a plurality of storage 4bX having no deterioration.
  • the plurality of storage 4bX having no deterioration are included in, for example, a plurality of different arrays 6 (second array 62 and third array 63) as shown in FIG. May be.
  • the plurality of storage 4bX having no deterioration may be included in the same array 6 (for example, the second array 62) (not shown).
  • processing corresponding to the sum of the surplus number 6C (FIG. 22) in the plurality of specified replacement target arrays may be performed.
  • processing may be performed in accordance with the number of units (the necessary number for solving the concern) obtained by subtracting the allowable number of failures 6D from the number of storage 4a having degradation in the failure concern array (first array 61).
  • the replacement is performed only when the sum of the surplus number 6C is larger than the necessary number to solve the concern, and when it is not large, one storage 4 may not be replaced.
  • the storage 4 having the sum of the surplus number 6C may be replaced (see FIG. 16).
  • FIG. 19 shows an example of the data structure of the data 100T.
  • the specific data configuration of the data 100T may be various configurations.
  • each storage 4 (number, etc.) included in the array 6 may be stored.
  • the data 100fd (FIG. 23) may not be included in the data 100T.
  • the threshold T is the number determined from the allowable number of faults 6D of the array 6. That is, the threshold T is the same number (threshold Ta) as the allowable failure number 6D, or the number by which 1 is subtracted (threshold Tb).
  • the range R (the range Ra greater than the threshold Ta and the range Rb equal to or less than the threshold Tb in FIG. 25) is specified by the threshold T.
  • the deteriorated number 6A number of feared failures
  • a range R for example, a range Ra
  • the storage is exchanged only when it is determined to be within the range R (exchange between the storages 4aXa and 4bXa). When it is determined that it is outside the range R, the exchange is not performed.
  • the known prior art lacks some or all of the plurality of configurations and does not produce a synergistic effect.
  • the present technology is different from the conventional example.
  • the array management device of the present invention can be used for various purposes.
  • this array management apparatus may be an information display device that stores displayed information by a plurality of arrays.

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Abstract

　デジタルレコーダー（１０）は、無駄に別のストレージを使用してしまうことなく、かつ、故障懸念アレイの故障率を下げることができ、複数のアレイの中から、故障懸念台数が故障許容台数を超える故障懸念アレイを特定する故障懸念アレイ特定部（１０１）と、特定された前記故障懸念アレイが管理する故障懸念ストレージと、特定された健全ストレージとを交換する交換部（１０５）とを備える。

Description

アレイ管理装置、方法、集積回路およびプログラム
　本発明は、複数のストレージを所定のＲＡＩＤ構成で管理するアレイを管理するアレイ管理装置および方法に関するものである。
　ストレージアレイ装置では、大容量化および高性能化を図ると共に、必要な信頼性を確保するためのＲＡＩＤ（Ｒｅｄｕｎｄａｎｔ　Ａｒｒａｙｓ　ｏｆ　Ｉｎｅｘｐｅｎｓｉｖｅ　Ｄｉｓｋｓ）技術が一般的に用いられている。ＲＡＩＤでは、その構成の種類により、複数の形態が存在する。そして、それらの形態のうちで、レベル１からレベル６までの各形態では、冗長化構成による、信頼性の向上を図ることが可能であることは良く知られている。
　このようなストレージアレイ装置では、アレイが管理するストレージに障害が発生した時、アレイは縮退（ｄｅｇｒａｄｅ）状態となる。故障ストレージを、正常なストレージと交換後、アレイが管理する他のストレージから、データを復旧し、交換を行った正常なストレージへ、復旧データをコピーすることで、アレイは、縮退状態から通常状態へ復旧する。
　また、アレイが許容する、ストレージの故障台数を示す故障許容台数（図２２の故障許容台数６Ｄを参照）は、ＲＡＩＤレベル、および、アレイが管理するストレージ台数（台数６Ｅ参照）等により決定される。例えば、ＲＡＩＤ５では、最大で一重故障を許容するため、故障許容台数は１台となる。一方、ＲＡＩＤ６では、一重故障および二重故障を許容するため、故障許容台数は、２台となる（図２２参照）。故障許容台数を超える多重故障が発生した場合、回復不能なデータ損失が発生する。
　さらに、スペアストレージを用いることで、更なる信頼性の向上を図るストレージアレイ装置も存在する。一般的に、スペアストレージは、アレイが管理するストレージが故障するまでは、待機状態であり、アレイが管理するストレージにおいて故障が発生した時には、故障したストレージは、スペアストレージと論理的に交換される。加えて、例えば、アレイが管理するストレージの、故障発生の可能性を推測し、故障発生前に、スペアストレージに、データのコピーを行う手法、あるいは、故障発生の可能性が高いストレージを、アレイから外し、スペアストレージと交換する手法が提案されている。
　このような、従来の技術としては、例えば特許文献１、特許文献２に記載された技術が知られている。
特開２００５－１２２３３８号公報 特開２００８－２５０５６６号公報
　上記従来技術は、故障する可能性が高いストレージを、スペアストレージと交換する技術である。しかし、上記従来技術は、複数のストレージを、管理するアレイ単位で故障するかどうか判断することができない。従って、本来、ストレージを交換する必要がないアレイであるにも関わらず、無駄に別のストレージを使用してしまう場合が発生してしまう。
　さらに、上記従来手法は、スペアストレージの使用を前提としているが、スペアストレージの使用は、コストの増加を意味する。
　つまり、アレイの故障率を下げるために、無駄にストレージを使用してしまうという課題がある。
　本発明は、上記従来の課題を解決するものであり、無駄に別のストレージを使用してしまうことなく、かつ、故障懸念アレイの故障率を下げることができるアレイ管理装置を提供することを目的とする。
　上記目的を達成するために、本発明のアレイ管理装置は、複数のストレージを所定のＲＡＩＤ構成で管理するアレイを、複数管理するアレイ管理装置であって、前記各アレイのＲＡＩＤ構成から、前記各アレイが許容する、ストレージの故障台数を示す故障許容台数を前記アレイ毎に算出し、故障する可能性がある故障懸念ストレージの台数を示す故障懸念台数を前記アレイ毎に算出し、前記複数のアレイの中から、前記故障懸念台数が、前記故障許容台数を超える故障懸念アレイを特定する故障懸念アレイ特定部と、特定された前記故障懸念アレイが管理する前記複数のストレージの中から、前記故障懸念ストレージを特定する故障懸念ストレージ特定部と、特定された前記故障懸念ストレージと交換するためのストレージであって、特定された前記故障懸念ストレージよりも、故障する可能性が低いストレージである健全ストレージを特定する健全ストレージ特定部と、前記特定された故障懸念ストレージと前記特定された健全ストレージとを交換する交換部とを備えるアレイ管理装置である。
　本発明によれば、無駄に別のストレージを使用してしまうことなく、かつ、故障懸念アレイの故障率を下げることができるという効果が得られる。
図１は、本発明の実施形態１における実施イメージ図である。 図２は、本発明の実施形態１におけるアレイ管理装置の一例の構成図である。 図３は、本発明の実施形態１におけるアレイ管理装置の一例のシステム構成図である。 図４は、本発明の実施形態１におけるアレイ管理装置の一例の構成図である。 図５は、本発明の実施形態１におけるアレイ管理装置の一例のシステム構成図である。 図６は、本発明の実施形態１におけるアレイ管理部の処理の流れを示すフロー図である。 図７は、本発明の実施形態１における故障懸念アレイ特定部の処理の流れを示すフロー図である。 図８は、本発明の実施形態１における故障許容台数をアレイ毎に取得するフロー図である。 図９は、本発明の実施形態１における故障懸念台数をアレイ毎に取得するフロー図である。 図１０は、本発明の実施形態１における故障懸念度をストレージ毎に取得するフロー図である。 図１１は、本発明の実施形態１における故障懸念度を算出するフロー図である。 図１２は、本発明の実施形態１における故障懸念ストレージ特定部の処理の流れを示すフロー図である。 図１３は、本発明の実施形態１における健全ストレージ特定部の処理の流れを示すフロー図である。 図１４は、本発明の実施形態１におけるアレイ管理部の処理の流れにおいて、交換対象アレイの特定処理を追加したフロー図である。 図１５は、本発明の実施形態１における交換対象アレイ特定部の処理の流れを示すフロー図である。 図１６は、本発明の実施形態１における、交換対象アレイに対して各アレイの交換数を算出するフロー図である。 図１７は、本発明の実施形態２におけるアレイ管理部の処理の流れを示すフロー図である。 図１８は、本発明の実施形態２におけるストレージ交換判断部の処理の流れを示すフロー図である。 図１９は、管理テーブルを示す図である。 図２０は、交換前の複数のアレイと、交換後の複数のアレイを示す図である。 図２１は、各アレイの交換数等を示す図である。 図２２は、アレイを示す図である。 図２３は、管理テーブル等を示す図である。 図２４は、システムの具体例を示す図である。 図２５は、故障許容台数、および故障懸念台数を示す図である。 図２６は、ストレージ故障の発生を考慮した場合の処理の流れを示したフローチャートである。 図２７は、図２６のＳ１７１０の故障懸念アレイを特定する処理のフローチャートである。 図２８は、図２７のＳ１８２０の処理の詳細を示すフローチャートである。
　以下、本発明の実施形態におけるアレイ管理装置について、図面を参照しながら説明する。
　実施形態のアレイ管理装置は、複数のストレージ４Ａ（図２２）を所定のＲＡＩＤ構成で管理するアレイ６を、複数（図２０のアレイ６１～６２等）管理するアレイ管理装置（アレイ管理部１００、デジタルレコーダー１０、システム１、アレイ管理部７）である。各アレイ６のＲＡＩＤ構成から、各アレイ６が許容する、ストレージの故障台数を示す故障許容台数６Ｄ（図２５、例えば２台）をアレイ６毎に算出し、故障する可能性がある故障懸念ストレージ４ａ（図２２）の台数を示す故障懸念台数６Ａ（図２２）をアレイ６毎に算出し、複数のアレイ（アレイ６１、６２等）の中から、故障懸念台数６Ａ（図２０の第１のアレイ６１での３台）が、故障許容台数６Ｄ（例えば、図２２での２台）を超える故障懸念アレイ（第１のアレイ６１）を特定する故障懸念アレイ特定部１０１を備える。特定された故障懸念アレイが管理する複数のストレージ４Ａの中から、故障懸念ストレージ（図２０のストレージ４ａＸａ）を特定する故障懸念ストレージ特定部１０２を備える。特定された故障懸念ストレージ（ストレージ４ａＸａ）と交換するためのストレージであって、特定された故障懸念ストレージ（ストレージ４ａＸａ）よりも、故障する可能性が低いストレージである健全ストレージ（図２０のストレージ４ｂＸａ等）を特定する健全ストレージ特定部１０４を備える。特定された故障懸念ストレージ（ストレージ４ａＸａ）と、特定された健全ストレージ（ストレージ４ｂＸａ等）とを交換する交換部１０５を備える。
　これにより、無駄に別のストレージを使用してしまうことなく、かつ、故障懸念アレイの故障率を下げることができる。
　つまり、具体的には、例えば、第１のアレイ６１（図２０）を構成する複数のストレージ４Ａ１（図２０）と、第２のアレイ６２を構成する複数のストレージ４Ａ２とを含む複数のストレージ４（図２４）のうちの一部（図２４での、上から２つのストレージ４など）は、第１の住居（にある第１の部分１Ｈａ）に設けられ、他の一部は、第２の住居（にある第２の部分１Ｈｂ）に設けられてもよい。故障懸念アレイ特定部は、複数のアレイ（第１、第２のアレイ６１、６２など）から、第１のアレイ６１を特定してもよい。特定される当該アレイ（第１のアレイ６１）においては、故障懸念台数（図２５の故障懸念台数６Ａａ２、３台）が、故障許容台数６Ｄ（２台）から決まる予め定められた第１の閾値Ｔａ（故障許容台数６Ｄ（２台）と同じ台数（２台））よりも大きくてもよい。当該アレイ管理装置の内部または外部などにある交換対象アレイ特定部は、複数のアレイ６１、６２から第２のアレイ６２を特定する。特定される当該アレイ（第２のアレイ６２）においては、故障懸念台数（故障懸念台数６Ａｂ１）が、故障許容台数６Ｄ（２台）から決まる予め定められた第２の閾値Ｔｂ（２－１＝１台）以下でもよい。交換部は、特定された第１のアレイ６１に含まれる、故障する可能性がある故障懸念ストレージ４ａＸａを、特定された第２のアレイ６２に含まれる、当該故障懸念ストレージでの上述の可能性よりも低い、故障する可能性を有する前記健全ストレージ４ｂＸａと交換してもよい。
　こうして、比較的小さい故障懸念台数６Ａｂ１を有する第２のアレイ６２に含まれる健全ストレージ４ｂＸａが特定されて、特定された健全ストレージ４ｂＸａと、特定された故障懸念ストレージ４ａＸａとが交換されてもよい。
　こうして、特定された健全ストレージ４ｂＸａと、特定された故障懸念ストレージ４ａＸａとの交換のみがされて、他の交換がされず、適切な交換のみがされ、不適切な交換がされるのが回避できる。
　そして、例えば、健全ストレージ特定部は、健全ストレージ４ｂＸａとして、故障懸念アレイ６１が管理するストレージ４Ａ１ではないストレージ（ストレージ４ｂＸａ等）を特定してもよい。
　これにより、同一のアレイ内での交換（第１のアレイ６１のストレージ同士での交換）を行わないことで、無駄な処理を減らすことができる。
　そして、例えば、特定される健全ストレージ４ｂＸａは、複数のアレイ（第１、第２のアレイ６１、６２等）に含まれる交換対象アレイ（第２のアレイ６２）に含まれてもよい。当該交換対象アレイ６２は、故障懸念アレイ６１とは異なるアレイ（第２のアレイ６２）であり、交換対象アレイ（第２のアレイ６２）は、１台の故障懸念ストレージ４ａＸａと、１台の前記健全ストレージ４ｂＸａとが交換された後における、交換対象アレイ６２Ｎの故障懸念台数６Ａｂｘ（図２５では２台）が、交換対象アレイ６２の故障許容台数６Ｄ（図２５では２台）を超えないアレイでもよい。
　これにより、健全な交換対象アレイ（第２のアレイ６２）との間での交換をすることで、全体のアレイ故障率を減らすことができる。
　ここで、交換対象アレイは、故障懸念台数６Ａ（図２２）が、故障許容台数６Ｄよりも小さく、つまり、余裕台数６Ｃが１以上であるアレイである。
　そして、交換対象アレイにおける、特定される健全ストレージの個数は、例えば、２個以上でもよい。
　具体的には、例えば、ある場合には、特定される健全ストレージの個数（図１８における懸念解消必要台数）が、余裕台数６Ｃ（図１８の最大交換可能台数）以下である一方で（図１８のＳ１６４０のＮＯを参照）、別の場合には、余裕台数６Ｃよりも多くてもよい（Ｓ１６４０のＹＥＳを参照）。
　そして、余裕台数６Ｃ以下である場合には（Ｓ１６４０のＮＯ）、交換対象アレイは、健全であるが、余裕台数６Ｃより多い場合には（Ｓ１６４０のＹＥＳ）、例外的に、健全ではなく、不健全である。
　なお、ここで、特定される健全ストレージの個数（懸念解消必要台数）が、余裕台数６Ｃ（最大交換可能台数）以下である場合には（Ｓ１６４０のＮＯ）、次の通りである。つまり、その場合には、その健全ストレージまでが交換されると、その健全ストレージの交換の後における故障懸念台数が、故障許容台数６Ｃを超えてしまう健全ストレージである超過ストレージがない。一方で、余裕台数６Ｃより多い場合には（Ｓ１６４０のＹＥＳ）、超過ストレージがある。
　そこで、例えば、アレイ管理装置は、さらに、ストレージ交換判断部１０６を備え、ストレージ交換判断部１０６は、特定された故障懸念ストレージと、交換対象アレイに含まれる、特定された健全ストレージとが交換された後における、当該交換対象アレイの故障懸念台数が、当該交換対象アレイの故障許容台数６Ｄを超えるか否か（当該健全ストレージが、超過ストレージであるか否か）を判断し（図１８のＳ１６３０を参照）、交換部は、超えるとの判断（超過ストレージであるとの判断）がされた場合には（Ｓ１６４０のＹＥＳ）、特定された、何れの健全ストレージについても、特定された故障懸念ストレージと、特定された健全ストレージとの間の交換をしなくてもよい（Ｓ１６６０）。
　これにより、超過ストレージがあると判断され、交換対象アレイが健全でなく、健全な交換対象アレイが存在しない場合には（Ｓ１６４０のＹＥＳ）、無駄な処理（交換に伴う、データ転送など）を行わない。このことで、処理量を減らすことができる。
　つまり、これにより、超過ストレージがないと判断される場合には（Ｓ１６４０のＮＯ）、交換がされて（Ｓ１６５０）、データ損失の発生が回避されることが維持できる。
　一方で、超過ストレージがあると判断される場合には（Ｓ１６４０のＹＥＳ）、特定された、何れの健全ストレージについても、交換がされず（Ｓ１６６０）、大量のデータ（例えば、数ギガバイト～数１０ギガバイト）のデータ転送（無駄な処理）がされるのが回避され、そのデータ転送で生じる劣化が回避できる。これにより、この種のシステム（図２４を参照）で必要な程度に十分に、データ転送による劣化が小さくできる。
　これにより、データ損失の発生回避が維持されるのに加えて、劣化が十分に小さいことが両立できる。
　（実施形態１）
　　（１－１．概要）
　まず、本発明の実施形態１のアレイ管理装置の概要について説明する。
　図１は、実施形態１のアレイ管理装置の実施イメージ図である。
　例えば、デジタルレコーダー１０は、ネットワーク２０～２８により、ストレージ１１～１８と接続される。デジタルレコーダー１０は、デジタルカメラで撮影された、画像データ等のデジタルデータの管理・保存することを、目的として有する。デジタルレコーダー１０は、アレイ管理部１００（図２等）を内部に組み込むことにより、デジタルデータを、ストレージ１１～１８に冗長化保存することを可能とする。
　なお、ネットワーク２０～２８は、有線はもちろん、無線を用いても良い。また、ネットワーク２０～２８の代わりに、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）、ｅＳＡＴＡ（External Serial ATA）、ＩＥＥＥ１３９４（The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. 1394）、ＩＤＥ（Integrated Drive Electronics）、シリアルＡＴＡ（Advanced Technology Attachment）、ＳＣＳＩ（Small Computer System Interface）、ＳＡＳ（Serial Attached SCSI）等の通信バスを用いてもよい。そして、これらの通信バスを用いると共に、ストレージ１１～１８として、前記通信バスに対応するストレージを用いても良い。また、ストレージ１１～１８は、デジタルレコーダー１０の筐体内部に格納されても良い。
　なお、実施形態のアレイ管理装置は、例えば、システム１であると考えられてもよいし、システム１における、デジタルレコーダー１０のみからなると考えられてもよいし、デジタルレコーダー１０に実現される機能ブロックであるアレイ管理部１００のみからなると考えられてもよい。
　以上が、アレイ管理装置の概要についての説明である。
　　（１－２．構成）
　次に、本発明の実施形態１のアレイ管理装置の構成について説明する。
　図２は、本発明の実施形態１におけるアレイ管理装置の一例の構成図である。
　アレイ管理装置は、ストレージアレイ（アレイ（ストレージアレイ）６１等）を管理する装置である。
　ストレージアレイは、ＲＡＩＤ等の技術を用いることで、当該ストレージアレイに含まれる複数のストレージに対して、データを冗長化保存することを可能とする装置である。
　アレイ管理装置は、複数のストレージアレイ６１～６２と、それら複数のストレージアレイ６１等を管理するためのアレイ管理部１００とを備える。
　なお、より具体的には、例えば、アレイによって管理されないストレージであるスペアストレージ５の１台以上をさらに備えても良い。実施形態１では、スペアストレージを備えない実施の形態について説明し、スペアストレージを備える実施の形態については、後述の実施形態３にて説明する。
　アレイ管理部１００は、故障懸念アレイを特定する故障懸念アレイ特定部１０１と、故障懸念ストレージを特定する故障懸念ストレージ特定部１０２と、健全ストレージを特定する健全ストレージ特定部１０４と、故障懸念ストレージと、健全ストレージとの間の論理的交換を行う交換部１０５とを備える（図４参照）。
　ここで、故障懸念アレイは、アレイが管理するストレージの故障による、格納されるデータのデータ損失の発生が懸念されるアレイである。そして、故障懸念ストレージは、故障が懸念されるストレージである。そして、健全ストレージは、故障の懸念を持たないストレージである。
　なお、さらに具体的には、アレイ管理部１００は、上記に加えて、さらに、交換対象アレイを特定する交換対象アレイ特定部１０３（図２）を備えても良い。
　ここで、交換対象アレイは、故障懸念アレイとのストレージ交換の対象となり得る健全ストレージを管理するアレイである。
　さらに、アレイ管理部１００は、上記に加えて、故障懸念ストレージと、健全ストレージとの論理的交換により、故障懸念アレイにおける故障の懸念が解消されるかを判断する処理がされてもよい。つまり、この処理をすることで、交換を実施するかを決定するストレージ交換判断部１０６（図２）を備えても良い。
　なお、交換対象アレイ特定部１０３（図２）を備えないアレイ管理部１００（図４参照）は、例えば、アレイ管理部１００の外部（デジタルレコーダー１０の外部）に設けられた交換対象アレイ特定部１０３を利用してもよいし、その他の形態を有してもよい。
　なお、実施形態１では、上記の判断を行わない実施の形態について説明し、上記の判断を行う実施の形態については、実施形態２にて説明する。
　なお、上記構成要素１０１～１０６については、ＬＳＩ（Large Scale Integration）により実現することもできる。
　つまり、例えば、これら故障懸念アレイ特定部１０１等の機能が実現された集積回路１００Ｌが設けられてもよい。そして、この集積回路１００Ｌは、例えば、デジタルレコーダー１０に設けられてもよい。そして、集積回路１００Ｌは、例えば、アレイ管理部１００の一部または全部でもよい。
　図３は、実施形態１におけるアレイ管理装置のシステム構成図である。
　デジタルレコーダー１０は、各種処理プログラムを記録するＲＯＭ３０１と、全体の処理を司るＣＰＵ３０２と、一時的にデータを記録するＲＡＭ３０３と、ストレージ１１～１８とのデータ転送を制御する下位側転送制御部３０４と、デジタルカメラ等、他の装置とのデータ転送を制御する上位側転送制御部３０５とを備える。なお、構成要素１０１～１０６については、例えば、ＲＯＭ３０１内にプログラムとして保存され、ＣＰＵ３０２により、それぞれの構成要素の処理が実行される。
　なお、こうして、例えば、デジタルレコーダー１０は、ＣＰＵ３０２等により情報処理を行うコンピュータ（情報処理装置）を含んでもよい。そして、このコンピュータにより、ＲＯＭ３０１等で、故障懸念アレイ特定部１０１等のプログラムがそれぞれ記憶されてもよい。そして、記憶された、それぞれのプログラムがコンピュータにより実行されることにより、故障懸念アレイ特定部１０１等の機能が、デジタルレコーダー１０に実現されてもよい。
　なお、図５においては、故障懸念アレイ特定部１０１等のないケースが例示される。
　以上が本発明の実施形態のアレイ管理装置の構成についての説明である。
　　（１－３．動作）
　次に、アレイ管理装置の動作について説明する。
　図６は、本実施形態におけるアレイ管理部１００の処理の流れを示すフローチャートである。
　Ｓ４１０では、故障懸念アレイ特定部１０１により、故障懸念アレイの特定を行う。
　Ｓ４２０では、故障懸念ストレージ特定部１０２により、故障懸念アレイが管理するストレージの中から、故障懸念ストレージの特定を行う。
　Ｓ４３０では、健全ストレージ特定部１０４により、交換対象となる健全ストレージの特定を行う。
　Ｓ４４０では、交換部１０５により、故障懸念ストレージと、健全ストレージとの論理的交換を行う。
　なお、上記処理を定期的に実行しても良い。
　図７は、図６のＳ４１０の処理の流れを示すフローチャートである。
　故障懸念アレイ特定部１０１の動作について、図７を用いて詳しく説明する。
　まず、Ｓ５１０では、アレイが許容するストレージの故障台数を示す故障許容台数（図２２の故障許容台数６Ｄを参照）を、アレイ毎に特定する。
　Ｓ５２０では、故障する可能性がある故障懸念ストレージの台数を示す故障懸念台数（故障懸念台数６Ａを参照）を、アレイ毎に特定する。
　Ｓ５１０とＳ５２０にて特定した、故障許容台数および故障懸念台数を利用し、Ｓ５３０では、故障懸念台数が、故障許容台数を超えるアレイを、故障懸念アレイとする。例として、故障懸念台数が２台、故障許容台数が１台のアレイは、Ｓ５３０の条件に合致するため、故障懸念アレイとなり得る。
　なお、このように、例えば、故障懸念台数が故障許容台数を超えるアレイが、故障懸念アレイとして特定されてもよい。
　つまり、例えば、故障懸念台数（劣化台数）６Ａ（図２２）が、閾値Ｔａ（図２５）よりも大きい（閾値Ｔａを超える）故障懸念台数６Ａａ２であるアレイが、故障懸念アレイとして特定されてもよい。ここで、閾値Ｔａは、故障許容台数６Ｄ（図２２、図２５）の値と同じ値（例えば２台）であり、故障許容台数６Ｄにより決まる値である。なお、換言すれば、故障懸念台数（劣化台数）６Ａが、この閾値Ｔａよりも大きい範囲Ｒａ（図２５）内の故障懸念台数６Ａａ２であるアレイ（第１のアレイ６１）が、故障懸念アレイとして特定されてもよい。
　なお、後述される図２０においては、図２０の第１のアレイ６１が、故障懸念アレイとして特定される例が、示される。
　Ｓ５３０にて、故障懸念アレイとなり得るアレイ（故障懸念アレイ候補）が複数存在する場合には、例えば、故障懸念台数（例えば、図２５の故障懸念台数６Ａａ２など）から故障許容台数（図２５の故障許容台数６Ｄ）を減じた数が、最大のアレイを、故障懸念アレイとしてもよい。
　なお、故障懸念アレイとなり得る複数のアレイ（故障懸念アレイ候補）の中から、任意のアレイを選択しても良い。また、故障懸念台数（例えば、故障許容台数以上のもの）から故障許容台数を減じた値が大きい順に選択し、図６のＳ４２０～Ｓ４４０の処理を、それぞれのアレイに対して、順に行っても良い。
　図８は、図７のＳ５１０の処理の流れを示すフローチャートである。
　まず、Ｓ６１０では、アレイにおけるＲＡＩＤ構成の種類を示すＲＡＩＤレベルを取得し、Ｓ６２０では、取得されたＲＡＩＤレベルに応じて、以下の通り分岐する。
　前記ＲＡＩＤレベルが１の場合、Ｓ６３０にて、アレイが管理するストレージ台数を取得し、Ｓ６４０にて、上記ストレージ台数から１を減じた台数を、アレイにおける故障許容台数とする。
　例として、３台のストレージに対して、ＲＡＩＤ１を用いて、同一のデータの書き込みを行い、つまり、書き込みを行うデータを、３台のストレージの何れにも書き込む冗長化アレイの場合を考える。この場合、アレイが管理するストレージ台数は、３台であるため、故障許容台数は２となる。
　また、前記ＲＡＩＤレベルが、２ないし５の何れか１つである場合、Ｓ６５０にて、１を、アレイにおける故障許容台数とする。
　また、前記ＲＡＩＤレベルが６の場合、Ｓ６６０にて、２を、アレイにおける故障許容台数とする（図２２の故障許容台数６Ｄを参照）。
　Ｓ６７０にて、分岐の処理がされることにより、上記の処理を、全てのアレイに対して繰り返し行う。つまり、それぞれのアレイについて、上記の処理が行われる。
　なお、ＲＡＩＤレベルが、１ないし６の何れにも該当しない冗長化管理手法（トリプルパリティなど）を用いても良い。ＲＡＩＤレベルが、１ないし６の何れにも該当しない冗長化管理手法を用いる場合、冗長化管理手法の特性に応じて、故障許容台数の算出を行う。
　図９は、図７のＳ５２０の処理の流れを示すフローチャートである。
　まず、Ｓ７１０では、アレイが管理する全ストレージに対して、ストレージ故障が発生する懸念の高さを示す故障懸念度を、ストレージ毎に取得する。つまり、それぞれのストレージの故障懸念度が取得される。
　Ｓ７２０では、故障懸念度が所定値を超えるストレージの台数を、アレイにおける故障懸念台数とする。例として、所定値は、０．２とする。
　Ｓ７３０にて、分岐の処理がされて、上記の処理を、全てのアレイに対して繰り返し行う。
　図１０は、図９のＳ７１０の処理の流れを示すフローチャートである。
　まず、Ｓ８１０では、ストレージ保証期間情報を取得する。なお、取得される保証期間情報は、具体的には、例えば、図２３に示される保証期間（のデータ）１００ｆ１でもよい。
　Ｓ８２０では、ストレージの駆動時間情報を取得する。なお、取得される駆動時間情報は、例えば、ストレージの使用が開始された年月日を特定することにより、現在の年月日から、特定される、開始の年月日までの時間を駆動時間として特定してもよい。より具体的には、例えば、取得される駆動時間情報は、図２３に示される使用開始年月日（のデータ）１００ｆ２でもよい。
　Ｓ８１０とＳ８２０にて取得した、保証期間情報と駆動時間情報とを利用して、Ｓ８３０では、故障懸念度の算出を行う。Ｓ８４０では、上記算出した故障懸念度を、ストレージの故障懸念度とする。
　Ｓ８５０にて、分岐の処理をして、上記の処理を、全てのストレージに対して繰り返し行う。
　なお、ストレージの保証期間情報の取得方法として、予めＲＯＭに記録された情報を用いても良いし、インターネットを用いて、取得しても良い。
　さらに、ストレージの駆動時間情報の取得方法として、ストレージの自己診断情報（Ｓ．Ｍ．Ａ．Ｒ．Ｔ．など）を用いても良い。
　さらに、ストレージの故障懸念度の算出を行うために、初回起動からの経過時間、読込みエラー発生率、書き込みエラー発生率、データの書き換え回数、電源投入回数、動作温度、所定値以上の加速度による衝撃を受けた回数、電源が投入されている時間の累積値、読み書き動作が行われている時間の累積値などの情報を取得しても良い。
　図１１は、図１０のＳ８３０の処理の流れを示すフローチャートである。
　まず、Ｓ９１０では、駆動時間が、保証時間を超えるかの判断を行い、Ｓ９２０では、Ｓ９１０での判断の結果を受けて、以下の通り分岐を行う。
　駆動時間が保証時間を超えないとの判断がされた場合（Ｓ９２０のＮＯ）、Ｓ９３０にて、所定値を、故障懸念度とする。例として、０とする。
　駆動時間が保証時間を超える場合（Ｓ９２０のＹＥＳ）、Ｓ９４０にて、駆動時間の増加に伴い、懸念度が増大するように、懸念度を算出し、Ｓ９５０にて、上記懸念度を、故障懸念度とする。例として、駆動時間を６００００時間、保証時間を４００００時間とした時には、駆動時間から保証時間を減じた値（２００００時間）に対して、保証時間（４００００時間）を除した値（２００００時間÷４００００時間＝０．５、つまり５０％）を算出し、０．５を故障懸念度とする。
　なお、図１０により取得した、ストレージの故障懸念度について、次の通りである。つまり、故障懸念度の算出を行うために、初回起動からの経過時間、読込みエラー発生率、書き込みエラー発生率、データの書き換え回数、電源投入回数、動作温度、所定値以上の加速度による衝撃を受けた回数の情報、電源が投入されている時間の累積値、読み書き動作が行われている時間の累積値などを用いてもよい。これらを用いて、故障懸念度の算出を行っても良い。
　このように、算出される故障懸念度は、例えば、駆動時間（例えば、現在の年月日から、使用開始年月日１００ｆ２までの時間）が、保証時間（保証期間１００ｆ１）を超えるか否かに基づいた値でもよい（図２３の故障懸念度１００ｆｘを参照）。
　図１２は、図６のＳ４２０の処理の流れを示すフローチャートである。
　次に、故障懸念ストレージ特定部１０２の動作について、図１２を用いて、詳しく説明する。
　まず、Ｓ１０１０では、故障懸念アレイに含まれる、全てのストレージに対して、故障懸念度を、ストレージ毎に算出する。
　Ｓ１０２０にて、故障懸念度が、所定値を超えるストレージを、故障懸念ストレージとする。
　なお、Ｓ１０１０の処理の流れについては、図１０のフローチャートの処理と同一であるため、詳しい説明を省略する。なお、故障懸念度の算出を実行する代わりに、Ｓ４１０の処理の内部で算出した値を記録しておき、Ｓ４２０において使用することもできる。
　図１３は、図６のＳ４３０の処理の流れを示すフローチャートである。
　次に、健全ストレージ特定部１０４の動作について、図１３を用いて、詳しく説明する。Ｓ１１１０にて、故障懸念ストレージにおける故障懸念度を、故障懸念度基準値とする。
　なお、Ｓ１０１０の処理については、図１０のフローチャートの処理と同一であるため、詳しい説明を省略する。なお、故障懸念度の算出を実行する代わりに、Ｓ４１０の処理の内部で算出した値を記録しておき、Ｓ４３０において使用することもできる。
　Ｓ１１２０にて、故障懸念度が、故障懸念度基準値を超えないストレージを、健全ストレージとする。例として、故障懸念度基準値を０．５としたとき、故障懸念度が０．１のストレージは、Ｓ１１２０の条件に合致するため、健全ストレージとなり得る。
　なお、健全ストレージとなり得るストレージ（健全ストレージ候補）が、複数存在する場合、例えば、それら複数の健全ストレージ候補から、該当する、任意のストレージを、健全ストレージとして選択する。また、例えば、複数の健全ストレージを選択し、図６のＳ４４０の処理を、それぞれの健全ストレージに対して、順に行っても良い。
　なお、健全ストレージを選択する際に、故障懸念アレイが管理するストレージについては、選択の対象から除外しても良い。
　なお、より具体的には、例えば、以下の図１４、図１５を参照して説明される処理が行われてもよい。
　図１４は、健全ストレージの特定を行う前に、交換対象アレイの特定を行う処理の流れを示すフローチャートである。
　つまり、図６において、健全ストレージの特定（Ｓ４３０）を行う前に、交換対象アレイの特定を行い、特定された交換対象アレイが管理するストレージの中から、健全ストレージを選択しても良い（図１４のＳ１２１０、Ｓ４３０等を参照）。
　図１５は、Ｓ１２１０の処理の流れを示すフローチャートである。
　次に、交換対象アレイ特定部１０３の動作について、図１５を用いて、詳しく説明する。
　なお、Ｓ５１０、Ｓ５２０の処理については、それぞれ、図８、図９のフローチャートの処理と同一であるため、詳しい説明を省略する。
　なお、故障許容台数、故障懸念台数をアレイ毎に取得する代わりに、Ｓ４１０の処理の内部で取得した値を記録しておき、Ｓ１２１０において使用することもできる。
　Ｓ１３１０では、故障許容台数が、故障懸念台数を超えるアレイを、交換対象アレイとする。例として、故障許容台数が２台、故障懸念台数が１台のアレイは、Ｓ１３１０の条件に合致するため、交換対象アレイとなり得る。
　つまり、こうして、例えば、故障懸念台数６Ａ（図２２）が、閾値Ｔｂ（図２５）以下で、閾値Ｔｂ以下の範囲Ｒｂ内の故障懸念台数６Ａｂ１であるアレイが、交換対象アレイとして特定されてもよい。そして、閾値Ｔｂは、上述のように、例えば、故障許容台数６Ｄ（図２５、図２２）の値から１（後述される、増加台数６Ｆを参照）が減じられた値でもよい。
　なお、後述される図２０においては、図２０の第２のアレイ６２が、交換対象アレイとして特定される例が、示される。
　Ｓ１３１０にて、交換対象アレイとなり得るアレイ（交換対象アレイ候補）が、複数存在する場合、故障許容台数（例えば、図２２の故障許容台数６Ｄ）から、故障懸念台数（例えば、故障懸念台数６Ａｂ１）を減じた値（図２２の交換可能残台数６Ｃを参照）が最大のアレイを、交換対象アレイとする。
　なお、交換対象アレイとなり得る複数のアレイの中から、任意のアレイを選択しても良い。また、故障許容台数から、故障懸念台数を減じた値が大きい順に、アレイを選択し、図１４のＳ４３０～Ｓ４４０の処理を、それぞれのアレイに対して、順に行っても良い。
　また、さらに具体的には、例えば、Ｓ１３１０にて、交換対象となり得るアレイが複数存在する場合、各アレイにおいて、健全ストレージを交換するストレージ数を、以下で説明される、図１６のフローチャートの処理により算出し、算出された交換数だけの健全ストレージを、Ｓ４３０にて特定し、Ｓ４４０の処理を繰り返して交換する処理を、それぞれのアレイに対して順に行っても良い。
　こうして、Ｓ４１０、Ｓ４２０、Ｓ４３０の処理（図６、図１４）がされるのに際して、具体的には、例えば、交換対象アレイの特定がされてもよい（Ｓ１２１０）。
　そして、Ｓ４３０では、特定された交換対象アレイのストレージが、健全ストレージとして特定されてもよい。
　また、例えば、以下の図１６を参照して説明される処理が行われてもよい。
　図１６は、交換対象となり得る複数のアレイにおいて、各アレイの交換数を算出する処理のフローチャートである。
　まず、Ｓ１４１０では、故障懸念アレイにおける故障懸念台数から、故障許容台数を減じた値を、懸念解消必要台数とする。
　Ｓ１４２０では、全交換対象アレイ候補に対して、各アレイにおける交換数を０に初期化する。
　Ｓ１４３０では、全交換対象アレイ候補において、各アレイにおける交換可能残台数を、故障許容台数から故障懸念台数を減じた値で、初期化する。
　Ｓ１４４０にて、全交換対象アレイ候補の中で、交換可能残台数が最大のものを特定し、その時の、特定された、交換可能残台数の値を、最大交換可能残台数とする。
　Ｓ１４５０では、前記最大交換可能残台数が０超であるかを判断し、処理を分岐する。
　最大交換可能残台数が０超で無いと判断される場合（Ｓ１４５０のＮＯ）、処理を抜け、Ｓ１４９０を実行する。
　一方、最大交換可能残台数が０超であると判断される場合（Ｓ１４５０のＹＥＳ）、Ｓ１４６０にて、全交換対象アレイ候補の中で、交換可能残台数の値が最大であるアレイの中から、任意のアレイを選択する（Ｓ１４６０）。
　そして、Ｓ１４７０にて、前記選択アレイの交換数を、１増加させると共に、前記選択アレイの交換可能残台数を、１減少させる。Ｓ１４８０にて、全アレイにおける交換数の合算値が、懸念解消必要台数未満であるかを判断する。
　全アレイにおける交換数の合算値が、懸念解消必要台数未満で無いと判断される場合（Ｓ１４８０のＮＯ）、処理を抜け、Ｓ１４９０を実行する。
　一方、全アレイにおける交換数の合算値が、懸念解消必要台数未満であると判断される場合（Ｓ１４８０のＹＥＳ）、Ｓ１４４０～Ｓ１４７０の処理を、繰り返す。つまり、Ｓ１４５０において、最大交換可能残台数が０超でない状態と判断される状態となるか（（Ｓ１４５０のＮＯ）、または、Ｓ１４８０において、全アレイにおける交換数の合算値が、懸念解消必要台数未満でないと判断される状態となるまで（Ｓ１４８０のＮＯ）、Ｓ１４４０～Ｓ１４７０の処理を、繰り返す。
　Ｓ１４９０では、上記の処理により算出した、交換数が１以上のアレイを、交換対象アレイとし、健全ストレージの交換を行うストレージ台数を、上記で算出した交換数とする。
　図２１は、アレイＡ、Ｂが選択される処理における、初期値、交換数などを示す図である。
　例として、Ｓ１４１０において特定される懸念解消必要台数を２、交換対象アレイ候補を、アレイＡ、アレイＢ、アレイＣの３台とする（図２１の表の第１行）。そして、Ｓ１４３０における、交換可能残台数の初期値を、それぞれ、アレイＡにおいて２、アレイＢにおいて２、アレイＣにおいて１とする（第２行）。こうした時、図１６のフローチャートにより、交換対象アレイとして、アレイＡ、アレイＢが選択される（第３行）。また、その時の交換数は、アレイＡ、アレイＢ共に、１台となる（第４行）。
　なお、さらに具体的には、例えば、ストレージとして、物理ストレージの代わりに、１台もしくは複数台の物理ストレージの、一部もしくは全ての領域により管理される仮想的ストレージである、論理ストレージを利用しても良い。
　なお、具体的には、例えば、ストレージとして、論理ストレージを利用する場合には、Ｓ８１０、Ｓ８２０における、ストレージの駆動時間情報、保証時間情報として、論理ストレージを管理する物理ストレージの駆動時間情報、保証時間情報を使用する。ただし、論理ストレージが、複数の物理ストレージにより管理されている場合、例えば、管理している全物理ストレージに対して、Ｓ７１０の故障懸念度の算出を行い、最も故障懸念度が高いストレージの値を、論理ストレージにおける故障懸念度として採用する。
　以上が、本発明の実施形態１のアレイ管理装置の動作についての説明である。
　次にその他の実施の形態について説明する。
　（実施形態２）
　本実施形態では、ストレージ交換判断部１０６による判断処理を行う場合について、説明を行う。
　図１７は、本実施形態におけるアレイ管理部１００の処理の流れを示すフローチャートである。
　Ｓ４１０、Ｓ４２０、Ｓ４３０、Ｓ４４０、Ｓ１２１０の処理は、実施形態１で説明した処理と同一であるため、詳しい説明を省略する。
　Ｓ１５１０では、ストレージ交換判断部１０６により、故障懸念アレイと、健全ストレージとの交換を行うかどうか判断する。
　Ｓ１５２０では、Ｓ１５１０の判断の結果を受けて、交換を行うと判断された場合には（Ｓ１５２０のＹＥＳ）、Ｓ４４０の交換処理を行い、交換を行わないと判断された場合には（Ｓ１５２０のＮＯ）、交換処理を行わないように分岐する。
　なお、上記処理を、定期的に実行しても良い。
　こうして、より具体的には、例えば、故障懸念アレイと、健全ストレージとの交換を行う否かの判断がされてもよい（Ｓ１５２０）。そして、行うと判断された場合にのみ、交換が行われ（Ｓ１５２０のＹＥＳ、Ｓ４４０）、行わないと判断された場合には、行われなくてもよい（Ｓ１５２０のＮＯ）。
　図１８は、図１７のＳ１５１０の処理の流れを示すフローチャートである。
　次に、ストレージ交換判断部１０６の動作について、図１８を用いて、詳しく説明する。
　Ｓ１６１０にて、故障懸念アレイにおいての、故障懸念台数から、故障許容台数を減じた値を、懸念解消必要台数とする。
　Ｓ１６２０にて、交換対象アレイにおいての、故障許容台数から、故障懸念台数を減じた値を、最大交換可能台数とする。
　Ｓ１６３０にて、懸念解消必要台数（Ｓ１６１０）が、最大交換可能台数（Ｓ１６２０）を超えるかの判断を行う。
　Ｓ１６４０では、Ｓ１６３０の判断の結果を受けて、懸念解消必要台数が、最大交換可能台数を超えると判断される場合には（Ｓ１６４０のＹＥＳ）、交換を行わないと判断し（Ｓ１６６０）、超えない場合には（Ｓ１６４０のＮＯ）、交換を行うと判断する（Ｓ１６５０）。
　例として、故障懸念アレイにおいて、故障懸念台数が４、故障許容台数が２の場合、懸念解消必要台数は２となる。また、交換対象アレイにおいて、故障許容台数が２、故障懸念台数が１の場合、最大交換可能台数は、１となる。従って、懸念解消必要台数が、最大交換可能台数を超えるため、交換を行わないと判断する（Ｓ１６４０のＹＥＳ、Ｓ１６６０）。
　なお、具体的には、Ｓ１２１０において、交換対象アレイとなり得るアレイ（交換対象アレイ候補）が、複数存在してもよい。
　そして、このように、Ｓ１２１０で、交換対象アレイ候補が複数存在する場合において、全ての交換対象アレイ候補に対して、Ｓ１６２０の、最大交換可能台数の算出を行い、全ての交換対象アレイ候補における最大交換可能台数の合算値を、Ｓ１６３０における最大交換可能台数としても良い。
　例として、交換対象アレイとなり得るアレイ（交換対象アレイ候補）が２つ存在し、それぞれの交換対象アレイ候補の最大交換可能台数が１であるとする。このとき、それらの、交換対象アレイ候補の最大交換可能台数の合算値が、１＋１＝２となる。そして、懸念解消必要台数が、２である場合を想定する。この場合、懸念解消必要台数（２）が、交換対象アレイ候補の最大交換可能台数の合算値（２）を超えないため、交換を行うと判断する（Ｓ１６４０のＮＯ、Ｓ１６５０）。
　なお、交換をするか否かの判断（図１７のＳ１５１０、Ｓ４４０）の処理の形態は、具体的には、上述の形態でもよいし、他の形態でもよい。例えば、具体的には、この判断においては、ユーザによる、アレイ管理部１００への設定などの、予め定められた設定（コンフィギュレーション）がされた場合には、交換をする判断がされ（Ｓ１５２０のＹＥＳ）、設定されない場合には、交換をしないとの判断がされてもよい（Ｓ１５２０のＮＯ）。
　（実施形態３）
　本実施形態では、スペアストレージを用いる場合について説明を行う。
　本実施形態におけるアレイ管理部１００の処理の流れは、図６と同一となる。
　Ｓ４１０、Ｓ４２０、Ｓ４４０の処理は実施形態１と同一であるため、詳しい説明を省略する。
　Ｓ４３０では、健全ストレージ特定部１０４により、健全ストレージの特定を行う。
　なお、Ｓ４３０において、全てのスペアストレージを、健全ストレージとして扱うこともできる。また、スペアストレージを、アレイにより管理されているストレージよりも優先的に健全ストレージとして選択しても良い。
　（実施形態４）
　本実施形態４では、ストレージ故障の発生を検出した場合について、説明を行う。
　図２６は、ストレージ故障の発生を考慮した場合の処理の流れを示したフローチャートである。
　図２６における、Ｓ１７１０以外での処理は、図６における、そのステップに対応するステップでの処理と同一となる。図２６における、Ｓ４２０、Ｓ４３０、Ｓ４４０のそれぞれのステップでの処理については、実施形態１の図６のＳ４２０等の処理と同一であるため、詳しい説明を省略する。
　図２７は、図２６のＳ１７１０における、故障懸念アレイを特定する処理の詳細を示すフローチャートである。
　次に、図２６のＳ１７１０における、故障懸念アレイを特定する処理のフローを、図２７を用いて、より詳細に説明する。
　まず、Ｓ５１０で、故障許容台数を、アレイ毎に取得する。なお、Ｓ５１０の処理の詳細は、実施形態１における、図７のＳ５１０での処理と同一であるため、詳しい説明を省略する。
　次に、Ｓ１８２０で、故障ストレージ台数と、故障懸念台数とのそれぞれを、アレイ毎に取得する。
　次に、Ｓ１８３０で、Ｓ１８２０で取得された故障ストレージ台数と、故障懸念台数との合計が、故障許容台数を超えるアレイを、故障懸念アレイとする。
　図２８は、図２７のＳ１８２０の処理の詳細を示すフローチャートである。
　次に、図２８を用いて、図２７のＳ１８２０について、より詳細に説明する。
　まず、Ｓ１９１０で、アレイが管理する全ストレージに対して、故障しているストレージを検出する。つまり、全ストレージのうちから、故障しているストレージが検出され、特定される。
　なお、故障ストレージの検出方法は、例えば、ストレージアクセス要求への応答の有無や、エラー応答に基づく方法、ＥＣＣパリティの不整合に基づく方法、ファイルシステムのマウント失敗に基づく方法など、一般的な手法での方法等でもよい。
　このＳ１９１０以降の、Ｓ７１０、Ｓ７２０、Ｓ７３０での処理は、実施形態１で説明した、図９のＳ７１０等での処理と同一であるため、詳しい説明を省略する。
　本実施形態４では、例えば、故障許容台数が２台である、ＲＡＩＤ６などのアレイにおいて、１台のストレージ故障が発生し、さらに、別の１台のストレージの故障が懸念される場合において、次の通りである。
　つまり、この場合において、故障が懸念されるストレージと、故障が懸念されないアレイのうちの１台のストレージとを交換する。
　このことにより、ストレージ故障が発生したアレイの中で、更にもう１台のストレージ故障が発生する可能性を低減することが出来、その結果、データ消失の可能性を低減することが出来る、という効果を有する。
　また、図２８において、Ｓ７１０の処理は、Ｓ１９１０で、ストレージ故障を検出した場合にのみ、実行するとしても良い。
　これにより、不必要な故障懸念ストレージ確認処理を省略することで、電力消費低減や、ストレージ長寿命化を実現できるという効果を有する。
　（その他）
　なお、本実施例のアレイ管理装置は、典型的には、半導体集積回路であるＬＳＩとして実現される。これらは、個別に１チップ化されてもよいし、一部または全てを含むように、１チップ化されても良い。ここでは、ＬＳＩとしたが、集積度の違いにより、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩと呼称されることもある。
　また、集積回路化の手法は、ＬＳＩに限るものではなく、専用回路または汎用プロセッサで実現しても良い。ＬＳＩ製造後に、プログラムすることが可能なＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）や、ＬＳＩ内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサを利用しても良い。
　さらには、半導体技術の進歩、または、派生する別技術により、ＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて、機能ブロックの集積化を行っても良い。バイオ技術の適応などが可能性として有り得る。
　さらに、加えて、本実施形態のアレイ管理装置を集積化した半導体チップと、画像を描画するためのディスプレイとを組み合わせて、様々な用途に応じた描画機器を構成することができる。携帯電話やテレビ、デジタルビデオレコーダー、デジタルビデオカメラ、カーナビゲーション等における情報描画手段として、本発明を利用することが可能である。ディスプレイとしては、ブラウン管（ＣＲＴ）の他、液晶やＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、有機ＥＬなどのフラットディスプレイ、プロジェクターを代表とする投射型ディスプレイなどと組み合わせることが可能である。
　要約すれば、こうして、ストレージアレイ内の個々のストレージ毎に、駆動時間等から、故障発生の可能性を推測し、故障発生の可能性が閾値を超えるストレージ数（故障懸念台数）を算出する。そして、故障懸念台数と、ＲＡＩＤレベルや、アレイが管理するストレージ数等により決定される故障許容台数とから、データ損失発生の懸念が高いアレイ（故障懸念アレイ）を特定する。そして、故障懸念アレイに含まれる、故障発生の可能性が高いストレージのみが、故障発生の可能性が、より低いストレージと交換される。このことにより、無駄に別のストレージを使用することなく、故障懸念アレイにおける、データ損失の懸念を低下させることができる。
　図２４により、システム１が示される。
　なお、図１に示されるシステム１は、具体的には、例えば、図２４に示されるように、第１の住居に設けられた第１の部分１Ｈａと、第２の住居に設けられた第２の部分１Ｈｂとを含んでもよい。なお、より具体的には、例えば、３つ以上の住居への分散がされてもよい。つまり、例えば、第３～第Ｔの住居があってもよい（３≦Ｔ）。そして、システム１は、第３～第Ｔの住居に設けられた、第３～第Ｔの部分を含んでもよい。そして、第３～第Ｔの部分のそれぞれは、後述される複数のストレージ４のうちの１つ以上が設けられてもよい。なお、システム１は、さらに、その他の部分を含んでもよい。
　ここで、例えば、第１の住居は、家電製品等の機器（デジタルレコーダー１０、デジタルレコーダー１０ｂ等）の操作に慣れた子供夫婦の住居で、第２の住居は、操作に慣れていない親夫婦の住居でもよい。
　つまり、システム１は、例えば、エンタプライズ機器を含まない、民生用のシステムでもよい。例えば、デジタルレコーダー１０、複数のストレージ４のうちの一部または全部は、家電である。
　つまり、具体的には、システム１は、業務システムなどの、エンタプライズ系においては存在する、専門の管理者に相当する人間が存在しないシステムなどである。
　そして、このようなシステム１において、次の動作がされてもよい。
　つまり、システム１において、複数のストレージ４（図１のストレージ１１～１８参照）が設けられてもよい。
　そして、設けられる複数のストレージ４のうちの一部は、第１の部分１Ｈａに設けられ、他の一部は、第２の部分１Ｈｂに設けられてもよい。
　そして、それぞれのストレージ４の動作を制御するアレイ管理部１００（図２を参照）が設けられてもよい。
　なお、システム１に含まれる１つまたは複数のストレージ４は、いわゆるオンラインストレージ（図略）でもよい。
　アレイ管理部１００は、例えば、第１の部分１Ｈａに設けられた、第１の住居にあるテレビに接続されたデジタルレコーダー１０における機能ブロックでもよい。
　なお、システム１は、複数のアレイ管理部７を有してもよい。ここで、例えば、それぞれのアレイ管理部７は、デジタルレコーダー１０のアレイ管理部１００の機能と同様の機能を有してもよい。
　なお、例えば、これら複数のアレイ管理部７のうちの１つを、第２の部分１Ｈｂに設けられたデジタルレコーダー１０ｂ（図２４）が有してもよい。また、複数のアレイ管理部７のうちの１つは、第２の部分１Ｈｂに設けられた１つのストレージ４（ストレージ４ｃ）に設けられてもよい。複数のアレイ管理部７のうちの１つは、アレイの管理のための専用の装置（図略）に設けられてもよい。
　そして、アレイ管理部１００は、例えば、これらの複数のアレイ管理部７のうちから、制御を実行するアレイ管理部７として選択された場合に、それぞれのストレージ４の動作を制御してもよい。なお、この選択の処理は、例えば、複数のアレイ管理部７の間の通信を通じて行われてもよい。
　なお、デジタルレコーダー１０に設けられたアレイ管理部１００は、例えば、インターネットＩＮＴを介して、第２の部分１Ｈｂに設けられた、それぞれのストレージ４の動作を制御してもよい。
　図２２により、アレイ６（図２等参照）が示される。
　そして、システム１に含まれる複数のストレージ４のうちの、２以上のストレージ４Ａ（図２２）により、このようなアレイ６が構成されてもよい。
　ここで、図２２の台数６Ｅにより、アレイ６を構成する２以上のストレージ４Ａに含まれる、ストレージ４の台数（図２２では、４台）が示される。
　そして、故障許容台数６Ｄ（例えば２台）により、当該故障許容台数６Ｄよりも多い台数のストレージ４で、故障が発生した場合に、アレイ６において、データ損失が発生する台数が示される。すなわち、当該故障許容台数６Ｄ以下の台数のストレージ４で、故障が発生した場合には、データ損失が発生しない。
　なお、故障が発生したストレージ４の台数は、例えば０台である。
　そして、ストレージ４が、故障が発生し易く、（大きな）劣化を有するストレージ４ａであるか、故障が発生し難く、（大きな）劣化を有さないストレージ４ｂであるかが判定されてもよい。
　図２３により、管理テーブル（データ１００Ｔ）が示される。
　上述の判定は、例えば、図２３のストレージ判定部１００ｆにより行われてもよい。
　ここで、図２３に示されるデータ１００ｆｄ（管理テーブル１００Ｔ）は、判定がされるストレージ４の保証期間１００ｆ１と、使用開始年月日１００ｆ２とを含む。
　ここで、保証期間１００ｆ１は、例えば、故障が生じない期間として、ストレージ４のメーカにより公表された参考値の期間を示すデータ等である。そして、使用開始年月日１００ｆ２は、ストレージ４の使用が開始された年月日を示すデータ等である。
　なお、使用開始年月日１００ｆ２は、ストレージ４の使用開始年月日を示すことにより、現在の年月日から、示される使用開始年月日までの時間を、ストレージ４の駆動時間として示すデータである。先述された駆動時間情報は、例えば、この使用開始年月日１００ｆ２でもよい。
　なお、駆動時間情報（使用開始年月日１００ｆ２）は、ストレージ４に記憶され、記憶された駆動時間情報がアレイ管理部１００に取得されて、利用されてもよい。
　そして、このようなデータ１００ｆｄから、故障懸念度１００ｆｘが算出されてもよい（ストレージ判定部１００ｆ）。
　ここで、算出される故障懸念度１００ｆｘは、予め定められた閾値（例えば、定数、先述の故障懸念度基準値など）よりも大きい値である場合には、ストレージ４が、（大きな）劣化を有するストレージ４ａと判定されたことを示す。そして、算出される故障懸念度１００ｆｘは、逆に、当該閾値以下の値（例えば、当該閾値より小さい値）である場合には、有さないストレージ４ｂであることを示す。
　この故障懸念度１００ｆｘが算出されることにより、ストレージ４ａであるか、ストレージ４ｂであるかの判定がされてもよい。
　なお、この算出の方法は、具体的には、先述の図１１等での方法でもよい。つまり、例えば、算出される故障懸念度１００ｆｘは、駆動時間（「現在の年月日」－「使用開始年月日１００ｆ２」など）が、保証時間（保証期間１００ｆ１）を超えるか否かに対応した値などでもよい（図２３の「現在年月－使用開始年月＞保証期間？」の記載を参照）。
　なお、図２３により示されるように、それぞれのストレージ４に対応付けて、そのストレージ４のデータ１００ｆｄが記憶されてもよい。そして、判定に際して、判定がされるストレージ４に対応付けられたデータ１００ｆｄが利用されてもよい。
　そして、アレイ６に含まれる複数のストレージ４Ａ（図２２）のうちで、ストレージ４ａと判定されたストレージ４Ａの個数を示す劣化台数（故障懸念台数）６Ａ（図２２、例えば１台等）が算出されてもよい。
　なお、この算出は、例えば、図２２に示されるアレイ処理部１００ａにより行われてもよい。先述された、故障懸念アレイ特定部１０１および交換対象アレイ特定部１０３は、具体的には、例えば、このアレイ処理部１００ａに含まれ、アレイ処理部１００ａの一部などでもよい。
　図２５により、故障許容台数６Ｄ（例えば２台）と、第１のアレイ６１（後述の図２０）の２つの故障懸念台数６Ａａ１、６Ａａ２（１台、３台）と、第２のアレイ６２（図２０）の２つの故障懸念台数６Ａｂ１、６Ａｂ２（１台、２台）とが示される。
　そして、先述された、算出された、アレイ６の劣化台数（故障懸念台数）６Ａが、閾値Ｔ（図２５の閾値Ｔａまたは閾値Ｔｂ）以下の劣化台数（故障懸念台数６Ａａ１、６Ａｂ１）であるか、閾値Ｔよりも大きい劣化台数（故障懸念台数６Ａａ２、６Ａｂ２）であるかが検知されてもよい（図２２のアレイ処理部１００ａ）。
　つまり、アレイ６が、劣化台数６Ａが閾値Ｔ以下で、小さく、データの損失が発生し難いアレイか、閾値Ｔより大きく、データの損失が発生し易いアレイかが検知されてもよい。
　図２０により、システム１が示される。
　なお、図２０の上段のシステム１（システム１Ｍ）は、ストレージの交換がされる前におけるシステム１を示し、下段のシステム１（システム１Ｎ）は、交換がされた後のシステム１を示す。
　システム１においては、複数のアレイ６（例えば、図２０の第１のアレイ６１、第２のアレイ６２など）が構成されてもよい。
　なお、ここで、図２０上段の第１のアレイ６１Ｍ、第２のアレイ６２Ｍは、ストレージの交換がされる前の第１のアレイ６１、第２のアレイ６２を示し、下段の第１のアレイ６１Ｎ、第２のアレイ６２Ｎは、交換がされた後の第１のアレイ６１、第２のアレイ６２を示す。
　ここで、例えば、設けられた複数のアレイ６（第１のアレイ６１、第２のアレイ６２等）の故障許容台数６Ｄ（図２２）は、互いに同じでもよい。例えば、図２５に示される故障許容台数６Ｄは、このような、互いに同じである台数を示す。
　そして、複数のアレイ６（第１のアレイ６１、第２のアレイ６２）のうちから、閾値Ｔ（閾値Ｔａ）よりも大きい劣化台数（故障懸念台数６Ａａ２、３台）を有することが検知される第１のアレイ６１（第１のアレイ６１Ｍ）が特定されてもよい（アレイ処理部１００ａ）。
　また、これらの複数のアレイ６のうちから、閾値Ｔ（閾値Ｔｂ）以下の小さい劣化台数６Ａ（故障懸念台数６Ａｂ１、１台）を有することが検知される第２のアレイ６２（第２のアレイ６２Ｍ）も特定されてもよい（アレイ処理部１００ａ）。
　ここで、閾値Ｔａは、図２５に示されるように、例えば、検知が行われるアレイ（第１のアレイ６１）の故障許容台数６Ｄ（２台）の値と同じ値（２台）である。
　つまり、特定される第１のアレイ６１（第１のアレイ６１Ｍ）は、第１のアレイ６１の故障許容台数６Ｄと同じ台数の閾値Ｔａ（２台）よりも大きい劣化台数（故障懸念台数６Ａａ２、３台）を有する。
　なお、換言すれば、特定される第１のアレイ６１の故障懸念台数６Ａａ２は、図２５に示される、閾値Ｔａより大きい範囲Ｒａ内の台数である。
　なお、図２０においては、この故障懸念台数６Ａａ２（３台）が、第１のアレイ６１Ｍに付された、３個の「劣化」の文字により模式的に示される。
　一方、図２５に示されるように、閾値Ｔｂは、例えば、検知が行われるアレイ（第２のアレイ６２）の故障許容台数６Ｄ（図２５、２台）から、１が減じられた値でもよい。
　つまり、検知される第２のアレイ６２の劣化台数６Ｂは、このような、１が減じられた閾値Ｔｂ（１台）以下の劣化台数（故障懸念台数６Ａｂ１、１台）でもよい。
　つまり、特定される第２のアレイ６２の故障懸念台数６Ａｂ１は、図２５に示される、閾値Ｔｂ以下である範囲Ｒｂ内の台数である。
　なお、図２０では、この故障懸念台数６Ａｂ１（１台）が、第２のアレイ６２Ｍに付された、１個の「劣化」の文字により、模式的に示される。
　なお、先述された故障懸念アレイは、例えば、特定される、この第１のアレイ６１でもよい。そして、先述された交換対象アレイは、この第２のアレイ６２でもよい。
　そして、特定された第１のアレイ６１に含まれる、劣化を有するストレージ４ａＸａ（図２０）と、特定された第２のアレイ６２に含まれる、劣化を有さないストレージ４ｂＸａ（図２０）とが交換されてもよい（交換部１０５）。
　なお、行われる交換は、例えば、いわゆる論理的な交換である。行われる交換は、例えば、スワップと呼ばれてもよい。
　なお、交換がされる、第１のアレイ６１のストレージ４ａＸａは、例えば、第１のアレイ６１の２以上の、劣化を有するストレージ４ａ（図２０、２２）の中から、故障懸念ストレージ特定部１０２により特定されるストレージ４ａでもよい。
　同様に、例えば、交換がされる、第２のアレイ６２のストレージ４ｂＸａ（図２０）は、第２のアレイ６２が有する、２以上の、劣化を有さないストレージ４ｂ（図２０、２２）の中から、健全ストレージ特定部１０４により特定されるストレージ４ｂでもよい。
　そして、さらに具体的には、例えば、ストレージの交換がされるのに際して、第１のアレイ６１のストレージ４ａＸａのデータが、予め定められた記憶部（図略）に移動されてもよい。この移動の後に、第２のアレイ６２（第２のアレイ６２Ｍ）のストレージ４ｂＸａのデータが、第１のアレイ６１のストレージ４ａＸａに移動されてもよい。そして、この後に、上記の記憶部に移動された後における、第１のアレイ６１のストレージ４ａＸａのデータが、第２のアレイ６２のストレージ４ｂＸａに移動されてもよい。
　つまり、こうして、ストレージ４ａＸａのデータと、ストレージ４ｂＸａのデータとが交換されて、データの交換が行われてもよい（図２３の実データ交換制御部１０５ａ）。
　そして、図２３のデータ１００Ｔにより、それぞれのストレージ４が、何れのアレイ６に含まれるかが特定されてもよい。つまり、例えば、それぞれのストレージ４（図２３の表の各列）に対応付けて、そのストレージ４が含まれるアレイ６（の番号等）が記憶されてもよい。
　そして、ストレージの交換の前においては、記憶されるデータ１００Ｔ（図２３）により、次のことが示されてもよい。そのこととは、ストレージ４ａＸａ（例えば３番のストレージ）が、第１のアレイ６１に含まれ、ストレージ４ｂＸａ（例えば５番のストレージ）が、第２のアレイ６２に含まれることである（図２３の、データ１００Ｔの表の第１～第３行等）。
　そして、データ１００Ｔは、ストレージの交換に際して更新（変更）されて、更新の後においては、ストレージ４ａＸａが第２のアレイ６２に含まれ、ストレージ４ｂＸａが、第１のアレイ６１に含まれることを示してもよい（テーブル更新部１０５ｂ）。
　なお、データ１００Ｔは、例えば、管理テーブル記憶部１００Ｓ（図２３）により記憶されてもよい。なお、管理テーブル記憶部１００Ｓは、具体的には、例えば、アレイ管理部１００の一部でもよい。つまり、例えば、管理テーブル記憶部１００Ｓは、交換部１０５の一部でもよいし、下位側転送制御部３０４の一部でもよい。また、管理テーブル記憶部１００Ｓは、その他の形態を有してもよい。
　そして、それぞれのストレージ４（ストレージ４ａＸａ、４ｂＸａ）は、更新の前においては、次の制御がされてもよい。つまり、更新の前において、そのストレージ４が含まれることが示されるアレイ６（第１のアレイ６１、第２のアレイ６２）のストレージ４としての動作をさせる制御がされてもよい。
　そして、それぞれのストレージ４（ストレージ４ａＸａ、４ｂＸａ）は、更新の後においては、次の制御がされてもよい。つまり、更新の後において、含まれることが示されるアレイ６（第２のアレイ６２、第１のアレイ６１）のストレージ４としての動作をさせる制御がされてもよい。
　これらの制御は、例えば、下位側転送制御部３０４（図２３、図３、図７）により行われてもよい。
　なお、例えば、デジタルレコーダー１０で実行されるアプリケーションが書き込み、読み出しをするデータの通信が、上位側転送制御部３０５（図３）を介して行われてもよい。そして、下位側転送制御部３０４が、通信がされるデータの書き込み、読み出しを、適切なアレイ６に対して実行してもよい。
　これにより、システム１において、劣化を有するストレージ４ａＸａがあっても、劣化を有するストレージ４ａＸａが含まれるアレイ６（第１のアレイ６１を参照）の劣化台数６Ａ（故障懸念台数）が、閾値Ｔ（閾値Ｔａ）以下の劣化台数（故障懸念台数６Ａａ１）である場合には、劣化を有さないストレージ４ｂＸａとの間での交換が、行われない。
　これにより、交換の回数が少なくできる。
　なお、これにより、ひいては、交換に伴う、ストレージ４ａＸａなどの各装置の駆動が回避されて、各装置の寿命が長くされ、コストが小さくできる。
　これにより、システム１が、民生用のシステムで、ユーザの負担が可能であるコストが、エンタプライズ機器などで、負担が可能であるコストよりも小さいにも関わらず、発生するコストが、そのような、民生用での、より小さいコストにできる。
　他方で、アレイ６（第１のアレイ６１）の劣化台数６Ａ（故障懸念台数）が、閾値Ｔ（閾値Ｔａ）よりも大きい劣化台数（故障懸念台数６Ａａ２）である場合には、交換が行われる。
　これにより、第１のアレイ６１で、データの損失が発生してしまうことが回避できる。
　これにより、適切な、十分に小さいコストと、データの損失の発生の回避とが両立できる。
　そして、このように、より具体的には、例えば、交換が行われる、劣化を有さないストレージ４ｂＸａは、第２のアレイ６２に含まれてもよい。
　つまり、このストレージ４ｂＸａは、交換の前までも、データを記憶し、利用されるストレージ４でもよい。すなわち、このストレージ４ｂＸａは、スペアストレージ（背景技術の説明を参照）ではない。ここで、スペアストレージは、例えば、そのスペアストレージが交換に利用される前には、データの記憶をしないストレージである。
　このため、交換がされるにも関わらず、スペアストレージが不要にできたり、設けられるスペアストレージ５（図２）の個数が少なくできる。
　これにより、ひいては、例えば、スペアストレージの購入、駆動、および保守などに要する費用が不要になるなどして、必要なコストが、より確実に、適切な、十分に小さいコストにできる。
　そして、一方で、交換がされるストレージ４ｂＸａは、小さい劣化台数（故障懸念台数６Ａｂ１）を有する第２のアレイ６２に含まれるストレージ４である。
　このため、交換の後における第２のアレイ６２Ｎでの、劣化を有するストレージ４ａの個数が小さくできて、交換の後に、第２のアレイ６２Ｎで、データの損失が発生することが回避できる（少なくできる）。なお、図２０においては、第２のアレイ６２Ｎでの、劣化を有するストレージ４ａが十分に少ないことが、第２のアレイ６２Ｎに付された丸印により模式的に示される。
　これにより、スペアストレージでないストレージ（第２のアレイ６２のストレージ）との交換がされるにも関わらず、第１のアレイ６１以外（第２のアレイ６２）で、データ損失が発生してしまうことが回避されて、データ損失の発生が、確実に回避できる。
　なお、システム１には、１個以上のスペアストレージ５（図２）が設けられてもよい。
　つまり、システムに含まれる複数のストレージ４は、１個以上のスペアストレージ５（図２）を含んでもよい。
　ここで、それぞれのスペアストレージ５は、例えば、そのスペアストレージ５が交換される前においては、データの記憶をせず、利用されないストレージ４などである。
　そして、ある局面においては、特定された第１のアレイ６１のストレージ４ａＸａと交換がされるストレージ４として、スペアストレージ５が特定されてもよい（健全ストレージ特定部１０４）。
　そして、特定されたスペアストレージ５が、第１のアレイ６１のストレージ４ａＸａと交換されてもよい（交換部１０５）。
　なお、具体的には、例えば、スペアストレージ５の個数が、交換の度に、１個ずつ少なくなってもよい。そして、個数が、０個になるよりも前には、スペアストレージ５が特定され、０個になって以後には、アレイ６に含まれるストレージ４（ストレージ４ｂＸａ）が特定されてもよい。
　なお、交換がされるストレージ４として、スペアストレージ５が特定された場合には、上述された、劣化を有するストレージ４ａＸａへの、交換がされるストレージ４（スペアストレージ５）からの、データの移動などの処理は、されなくてもよい。
　なお、図２０により、第３のアレイ６３が示される。
　なお、システム１に含まれるアレイ６の個数は、２個でもよいし、３個でもよいし、他の個数でもよい。
　そして、劣化台数（故障許容台数）６Ａが、閾値Ｔｂ（図２５）より小さい複数のアレイ６（第２のアレイ６２と、第３のアレイ６３）が、アレイ処理部１００ａにより特定されてもよい。
　そして、第１のアレイ６１における、劣化を有する一方のストレージ４ａＸａ（図２０）が、特定された第２のアレイ６２の、劣化を有さないストレージ４ｂＸａと交換されてもよい。
　そして、第１のアレイ６１における、劣化を有する他方のストレージ４ａＸｂが、特定された第３のアレイ６３の、劣化を有さないストレージ４ｂＸｂと交換されてもよい。
　こうして、複数の、劣化を有するストレージ４ａＸが、複数の、劣化を有さないストレージ４ｂＸと交換されてもよい。
　そして、それらの、複数の、劣化を有さないストレージ４ｂＸは、図２０に示されるように、例えば、互いに異なる複数のアレイ６（第２のアレイ６２と、第３のアレイ６３）に含まれてもよい。
　なお、それらの、複数の、劣化を有さないストレージ４ｂＸは、互いに同一のアレイ６（例えば、第２のアレイ６２）に含まれてもよい（図略）。
　そして、例えば、特定された複数の交換対象アレイ（第２のアレイ６２、第３のアレイ６３等）における余裕台数６Ｃ（図２２）の和に応じた処理がされてもよい。
　そして、故障懸念アレイ（第１のアレイ６１）における、劣化を有するストレージ４ａの個数から、故障許容台数６Ｄが減じられた台数（懸念解消必要台数）に応じた処理がされてもよい。
　つまり、上記の、余裕台数６Ｃの和が、懸念解消必要台数よりも多い場合にのみ、交換が行われ、多くない場合には、１つのストレージ４の交換もされなくてもよい。
　また、例えば、余裕台数６Ｃの和が、懸念解消必要台数よりも多くない場合でも、余裕台数６Ｃの和の台数のストレージ４については、交換がされてもよい（図１６を参照）。
　なお、図１９により、データ１００Ｔのデータ構成の一例が示される。
　データ１００Ｔの具体的なデータ構成は、種々の構成であってよい。
　例えば、図１９に示されるように、データ１００Ｔでは、アレイ６毎に、そのアレイ６に含まれる、それぞれのストレージ４（の番号等）を記憶してもよい。
　また、データ１００ｆｄ（図２３）は、データ１００Ｔに含まれなくてもよい。
　なお、このように、閾値Ｔ（閾値Ｔａ、閾値Ｔｂ）は、アレイ６の故障許容台数６Ｄから決まる台数である。つまり、閾値Ｔは、故障許容台数６Ｄと同じ台数（閾値Ｔａ）、または、１が減じられた台数（閾値Ｔｂ）などである。
　この閾値Ｔにより、範囲Ｒ（図２５における、閾値Ｔａより大きい範囲Ｒａ、閾値Ｔｂ以下の範囲Ｒｂ）が特定される。
　そして、それぞれのアレイ６（第１のアレイ６１、第２のアレイ６２）について、そのアレイ６の劣化台数６Ａ（故障懸念台数）が、範囲Ｒ（例えば範囲Ｒａ）内か否かの判定がされる。そして、範囲Ｒ内と判定される場合にのみ、ストレージの交換（ストレージ４ａＸａ、４ｂＸａの間の交換）がされ、範囲Ｒ外と判定される場合には、交換がされない。
　こうして、システム１においては、アレイ毎に判定がされ、アレイ毎の判定に基づいて、交換するか否かが変更される。このような処理をしない技術に基づいて、システム１に想到することは困難である。
　こうして、複数の構成が組み合わせられて、組み合わせからの相乗効果が生じる。これに対して、知られる従来例では、これらの複数の構成のうちの一部または全部を欠き、相乗効果は生じない。この点で、本技術は、従来例とは相違する。
　なお、上記のシステムにおける、単なる細部については、例えば、単なる、公知の技術が適用されただけの形態にされてもよいし、更なる改良発明が施された形態などにされてもよいし、如何なる形態にされてもよい。
　以上、実施形態および変形例を説明したが、本発明は、これらの実施の形態および変形例に限定されるものではない。本発明の主旨を逸脱しない範囲で、これらの実施の形態および変形例に対して当業者が思いつく各種変形を施して得られる形態や、これらの実施の形態および変形例における構成要素を任意に組み合わせて実現される形態も、本発明に含まれる。
　本発明のアレイ管理装置は、様々な用途に利用可能である。
　具体的には、例えば、携帯電話や携帯音楽プレーヤー、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ等の電池駆動の携帯表示端末や、テレビ、デジタルビデオレコーダー、カーナビゲーション等の高解像度の情報表示機器において利用される。そして、これらの情報表示端末等における、メニュー表示や、Ｗｅｂブラウザ、エディタ、ＥＰＧ、地図表示、テレビ放送の表示等における情報表示手段として、利用価値が高い。つまり、例えば、本アレイ管理装置は、表示される情報を、複数のアレイにより記憶する情報表示機器等でもよい。
　５　スペアストレージ
　１０　デジタルレコーダー
　１１～１８　ストレージ
　２０～２８　ネットワーク
　６１～６２　ストレージアレイ
　１００　アレイ管理部
　１０１　故障懸念アレイ特定部
　１０２　故障懸念ストレージ特定部
　１０３　交換対象アレイ特定部
　１０４　健全ストレージ特定部
　１０５　交換部
　１０６　ストレージ交換判断部
　３０１　ＲＯＭ
　３０２　ＣＰＵ
　３０３　ＲＡＭ
　３０４　下位側転送制御部
　３０５　上位側転送制御部

Claims (11)

  1. 　複数のストレージを所定のＲＡＩＤ構成で管理するアレイを、複数管理するアレイ管理装置であって、
    　前記各アレイのＲＡＩＤ構成から、前記各アレイが許容する、ストレージの故障台数を示す故障許容台数を前記アレイ毎に算出し、
    　故障する可能性がある故障懸念ストレージの台数を示す故障懸念台数を前記アレイ毎に算出し、
    　前記複数のアレイの中から、前記故障懸念台数が、前記故障許容台数を超える故障懸念アレイを特定する故障懸念アレイ特定部と、
    　特定された前記故障懸念アレイが管理する前記複数のストレージの中から、前記故障懸念ストレージを特定する故障懸念ストレージ特定部と、
    　特定された前記故障懸念ストレージと交換するためのストレージであって、特定された前記故障懸念ストレージよりも、故障する可能性が低いストレージである健全ストレージを特定する健全ストレージ特定部と、
    　特定された前記故障懸念ストレージと、特定された前記健全ストレージとを交換する交換部とを備えるアレイ管理装置。
  2. 　前記健全ストレージ特定部は、前記健全ストレージとして、前記故障懸念アレイが管理するストレージではないストレージを特定する請求項１記載のアレイ管理装置。
  3. 　特定される前記健全ストレージは、複数の前記アレイに含まれる交換対象アレイに含まれ、
    　当該交換対象アレイは、前記故障懸念アレイとは異なるアレイであり、
    　前記交換対象アレイは、前記故障懸念ストレージと、前記健全ストレージとが交換された後における、前記交換対象アレイの前記故障懸念台数が、前記交換対象アレイの前記故障許容台数を超えないアレイである請求項１又は２に記載のアレイ管理装置。
  4. 　前記アレイ管理装置は、さらに、ストレージ交換判断部を備え、
    　前記ストレージ交換判断部は、特定された前記故障懸念ストレージと、交換対象アレイに含まれる、特定された前記健全ストレージとが交換された後における、当該交換対象アレイの前記故障懸念台数が、当該交換対象アレイの前記故障許容台数を超えるか否かを判断し、
    　前記交換部は、超えるとの判断がされた場合には、特定された前記故障懸念ストレージと、特定された前記健全ストレージとの間の交換をしない請求項１又は２に記載のアレイ管理装置。
  5. 　前記故障懸念アレイ特定部は、前記各ストレージの保証期間を示す保証期間情報および駆動時間を示す駆動時間情報を用いて、前記各ストレージが故障する可能性を示す故障懸念度を、前記ストレージ毎に算出し、
    　前記故障懸念アレイ特定部は、前記各ストレージの前記故障懸念度を用いて、故障する可能性がある前記故障懸念ストレージの台数を示す前記故障懸念台数を、前記アレイ毎に算出し、
    　前記故障懸念ストレージ特定部は、前記故障懸念度を用いて、特定された前記故障懸念アレイが管理する前記複数のストレージの中から、前記故障懸念ストレージを特定し、
    　前記健全ストレージ特定部は、前記故障懸念度を用いて、特定された前記交換対象アレイが管理する前記複数のストレージの中から、前記健全ストレージを特定する請求項１～４の何れか１項に記載のアレイ管理装置。
  6. 　交換対象アレイ特定部を備え、
    　第１の前記アレイを構成する前記複数のストレージと、第２の前記アレイを構成する前記複数のストレージとを含む複数の前記ストレージのうちの一部は、第１の住居に設けられ、
    　他の一部は、第２の住居に設けられ、
    　前記故障懸念アレイ特定部は、複数の前記アレイから、当該アレイにおいては、前記故障懸念台数が、前記故障許容台数から決まる予め定められた第１の閾値よりも大きい第１のアレイを特定し、
    　前記交換対象アレイ特定部は、複数の前記アレイから、当該アレイにおいては、前記故障懸念台数が、前記故障許容台数から決まる予め定められた第２の閾値以下である第２のアレイを特定し、
    　前記交換部は、特定された第１の前記アレイに含まれる、故障する可能性がある前記故障懸念ストレージを、特定された第２の前記アレイに含まれる、当該故障懸念ストレージでの前記可能性よりも低い、故障する可能性を有する前記健全ストレージと交換する請求項１記載のアレイ管理装置。
  7. 　前記交換対象アレイ特定部は、複数の第２の前記アレイを特定し、
    　それぞれの第２の前記アレイでの前記故障懸念台数は、前記第２の閾値以下であり、
    　前記交換部は、第１の前記アレイに含まれる、複数の前記故障懸念ストレージを、特定された複数の第２の前記アレイの前記健全ストレージと交換する請求項６記載のアレイ管理装置。
  8. 　当該アレイ管理装置は、前記第１の住居に設けられたデジタルレコーダーと、前記第２の住居に設けられたデジタルレコーダーと、１つの前記ストレージとの中の１つである請求項７記載のアレイ管理装置。
  9. 　複数のストレージを所定のＲＡＩＤ構成で管理するアレイを、複数管理するアレイ管理方法であって、
    　前記各アレイのＲＡＩＤ構成から、前記各アレイが許容する、ストレージの故障台数を示す故障許容台数を前記アレイ毎に算出し、
    　故障する可能性がある故障懸念ストレージの台数を示す故障懸念台数を前記アレイ毎に算出し、
    　前記複数のアレイの中から、前記故障懸念台数が、前記故障許容台数を超える故障懸念アレイを特定する故障懸念アレイ特定ステップと、
    　特定された前記故障懸念アレイが管理する前記複数のストレージの中から、前記故障懸念ストレージを特定する故障懸念ストレージ特定ステップと、
    　特定された前記故障懸念ストレージと交換するためのストレージであって、特定された前記故障懸念ストレージよりも、故障する可能性が低いストレージである健全ストレージを特定する健全ストレージ特定ステップと、
    　特定された前記故障懸念ストレージと、特定された前記健全ストレージとを交換する交換ステップとを含むアレイ管理方法。
  10. 　複数のストレージを所定のＲＡＩＤ構成で管理するアレイを、複数管理する集積回路であって、
    　前記各アレイのＲＡＩＤ構成から、前記各アレイが許容する、ストレージの故障台数を示す故障許容台数を前記アレイ毎に算出し、
    　故障する可能性がある故障懸念ストレージの台数を示す故障懸念台数を前記アレイ毎に算出し、
    　前記複数のアレイの中から、前記故障懸念台数が、前記故障許容台数を超える故障懸念アレイを特定する故障懸念アレイ特定部と、
    　特定された前記故障懸念アレイが管理する前記複数のストレージの中から、前記故障懸念ストレージを特定する故障懸念ストレージ特定部と、
    　特定された前記故障懸念ストレージと交換するためのストレージであって、特定された前記故障懸念ストレージよりも、故障する可能性が低いストレージである健全ストレージを特定する健全ストレージ特定部と、
    　特定された前記故障懸念ストレージと、特定された前記健全ストレージとを交換する交換部とを備える集積回路。
  11. 　コンピュータに、複数のストレージを所定のＲＡＩＤ構成で管理するアレイを、複数管理させるためのコンピュータプログラムであって、
    　前記各アレイのＲＡＩＤ構成から、前記各アレイが許容する、ストレージの故障台数を示す故障許容台数を前記アレイ毎に算出し、
    　故障する可能性がある故障懸念ストレージの台数を示す故障懸念台数を前記アレイ毎に算出し、
    　前記複数のアレイの中から、前記故障懸念台数が、前記故障許容台数を超える故障懸念アレイを特定する故障懸念アレイ特定ステップと、
    　特定された前記故障懸念アレイが管理する前記複数のストレージの中から、前記故障懸念ストレージを特定する故障懸念ストレージ特定ステップと、
    　特定された前記故障懸念ストレージと交換するためのストレージであって、特定された前記故障懸念ストレージよりも、故障する可能性が低いストレージである健全ストレージを特定する健全ストレージ特定ステップと、
    　特定された前記故障懸念ストレージと、特定された前記健全ストレージとを交換する交換ステップとを前記コンピュータに実行させるためのコンピュータプログラム。
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