WO2011158342A1 - 環境放射線測定装置 - Google Patents

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茂行 和田
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    • G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
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Definitions

  • the present invention relates to an apparatus for measuring environmental radiation.
  • a conventional radiation measuring apparatus for measuring environmental radiation for example, a plurality of sub-detectors having high sensitivity to radiation coming from the front are provided on the four outer peripheral sides of the direction switching unit on which the radiation detection unit is mounted. Some are arranged so that the front faces outward, the direction of incident radiation is specified from their count ratio, the turntable is rotated, and the front of the radiation detector is directed in that direction (for example, (See Patent Document 1).
  • a rotatable support member is attached to the main body supporting the radiation detector, and the movable support member is moved upward so that it can be moved by a wheel attached to the lowermost part of the main body.
  • Patent Document 3 or 4 a device using a semiconductor as a radiation detection means is known (see, for example, Patent Document 3 or 4).
  • Patent Document 1 The environmental radiation dose meter described in Patent Document 1 is complicated in structure, takes time for operation, is large, and is expensive to manufacture.
  • Patent Document 2 only describes the configuration of the environmental radiation dose meter for transportation, and does not describe the specific structure of the radiation detector.
  • radiation detectors using conventional semiconductors as described in Patent Documents 3 and 4 are less sensitive than NaI (Tl) scintillation detectors and are not suitable for use in environmental radiation measurement devices. Has been.
  • the present invention uses a semiconductor radiation detection element, which has been conventionally unsuitable, from a natural radiation level (on the order of 0.01 ⁇ Gy / h) to a high dose level (
  • An object of the present invention is to provide an environmental radiation measuring apparatus capable of measuring a wide range of environmental radiation up to 100 mGy / h) with high accuracy, and which can be reduced in size and weight and can reduce manufacturing costs.
  • a support body having a plurality of support surfaces in which the environmental radiation measurement device is arranged at an equal distance around a predetermined reference point, and one or a plurality of radiations provided on each support surface of the support body
  • a semiconductor device for detection and a measuring means that is electrically connected to each of the semiconductor elements for radiation detection, and measures measurement values caused by incidence of radiation on each of the semiconductor elements for radiation detection, or a plurality of measurement values collectively
  • data processing means for determining and outputting the output information based on the measurement value of the measurement means and the condition setting information stored in the memory.
  • each semiconductor element for radiation detection has poor sensitivity
  • a plurality of them are provided on a plurality of support surfaces arranged at equal distances around a predetermined reference point.
  • the radiation incident on the space formed by the semiconductor element can be accurately caught, and the environmental radiation can be measured with high accuracy over a wide measurement range.
  • the individual semiconductor elements are small, so the overall measuring device can be reduced in size and weight, not only reducing manufacturing costs, but also being excellent in portability and during radiation disasters. It can be installed urgently.
  • the radiation environment around the reactor facility can be monitored over time during normal times and when disasters occur, and the radiation exposure dose of the residents around the facility can be estimated and the cause of the disaster clarified. And so on.
  • the support body has at least four support surfaces provided on the front, rear, left and right outer surfaces and one support surface provided on the upper surface.
  • the measuring means is one or more radiation detecting semiconductor elements for each support surface, or predetermined measurement values of a plurality of radiation detecting semiconductor elements. It is assumed that a sub-measuring unit that measures the above and a main measuring unit that adds the measurement values of all the sub-measuring units are provided.
  • a radiation filter that covers the entire support surface of the support provided with the radiation detecting semiconductor element and prevents the entry of radiation below a predetermined energy level. And provided on the support.
  • a transmitter is connected to the data processing means so that the output data of the data processing means can be transmitted from the transmitter.
  • environmental radiation measurement device data can be received at a remote location, so multiple environmental radiation measurement devices can be installed at remote locations to collect a wide range of environmental radiation at one location. Status monitoring.
  • environmental radiation can be measured with high accuracy over a wide measurement range by using a semiconductor radiation detection element that has been conventionally unsuitable, and can be reduced in size and weight. It is possible to provide an environmental radiation measurement apparatus that can reduce the cost.
  • this environmental radiation measurement apparatus has a horizontal circular base plate 1, a plurality of spacers 2 and fixing screws 3 on the base plate 1, and is spaced upward from the base plate 1.
  • a support body 6 comprising a circular support plate 4 having a smaller diameter than the base plate 1 and a rectangular parallelepiped support frame 5 provided at the center of the upper surface of the support plate 4 is provided.
  • the support frame 5 includes four columns 7 having lower ends fixed to the support plate 4 with fixing screws, and four horizontal rods 8 that connect the upper ends of the columns 7 so as to form a square in plan view. Yes. Note that the lower portions of the columns 7 may be connected to each other with a horizontal surface (not shown) similar to the horizontal surface 8.
  • a square substrate 9 is attached to the upper surface of the support frame 5, and a vertically long rectangular substrate 10 is attached to the front, rear, left and right side surfaces of the support frame 5 by screwing four corners with fixing screws 11. Yes.
  • each of the surfaces forms a support surface disposed at an equal distance around the reference point when the center O of the regular cube is determined as the reference point.
  • semiconductor elements 12 Four radiation detecting semiconductor elements (hereinafter simply referred to as “semiconductor elements”) 12 are arranged in the same pattern of two vertically and two horizontally on the upper surface of the substrate 9 which is a supporting surface and on the outer surface of the square portion of each substrate 10. It is fastened.
  • Each semiconductor element 12 is formed by forming an electrode on a plate-like silicon semiconductor by aluminum vapor deposition or the like. When a reverse bias voltage is applied to the semiconductor element 12, a depletion layer is formed inside the semiconductor, and the dose is measured by counting electrons and holes generated by the interaction of ⁇ radiation incident on this region. It has become.
  • a counter block 14 having four counters 14a for counting the number of pulses generated in response to radiation incidence from the semiconductor element 12 is provided.
  • An auxiliary substrate 15 is attached below the substrate 10 on the front surface (or the rear surface or side surface) of the support frame 5, and four semiconductor elements 12 provided on the substrate 9 are electrically connected to the four semiconductor elements 12 via the lead wires 16.
  • a counter block 14 having four counters 14a for counting the number of pulses generated from each semiconductor element 12 corresponding to the incidence of radiation.
  • a control box 17 is detachably provided at the center of the upper surface of the base plate 1, and as shown in FIG. 4, all 20 counters 14 a for counting the measurement values of the semiconductor elements 12 are provided in the control box 17. Are connected to each other via a lead wire 18 and act to add up the measured values of the counters 14a, a memory 20 for storing various condition setting information, measured values of the CPU 19, and stored in the memory 20
  • the data processing means 21 for determining and outputting the output information based on the condition setting information, and the transmission connected to the data processing means 21 for converting the output data of the data processing means 21 into a radio wave for transmission
  • a machine 22, a power source 23 for supplying power to each of the above-mentioned electric and electronic components, and the like are provided.
  • 20 counters 14a constitute sub-measurement means for measuring the measurement values of each semiconductor element 12, and the CPU 19 serves as main measurement means for adding up the measurement values of all the sub-measurement means. None, the measuring means is formed by the sub-measuring means and the main measuring means.
  • the condition setting information stored in the memory 20 includes, for example, a count value, a length of a unit time to be counted, a radiation dose rate, a device-specific correction value, and the like.
  • the lead wire 18 is led from each counter block 14 to the control box 17 through a vertical insertion hole 24 formed in the center of the support plate 4.
  • an upward step 4a having a diameter larger than a diagonal line in plan view of the support frame 5 is provided, and the upper end of the upward step 4a is closed with an upper surface plate 25a.
  • the lower end of the cylindrical radiation filter 25 is tightly fitted.
  • the radiation filter 25 is for preventing the entry of radiation having a predetermined energy level (for example, 50 keV) or less, and is made of, for example, copper. In order to change the energy level of the radiation that prevents entry, the thickness and material of the radiation filter 25 may be changed as appropriate. In addition, the radiation filter 25 may be omitted, or may be provided integrally with an exterior case 26 described below.
  • a predetermined energy level for example, 50 keV
  • the thickness and material of the radiation filter 25 may be changed as appropriate.
  • the radiation filter 25 may be omitted, or may be provided integrally with an exterior case 26 described below.
  • the outside of the radiation filter 25 is further covered with a cylindrical outer case 26 whose upper end is closed with an upper surface plate 26a.
  • the outer case 26 is detachably attached to the base plate 1 by fixing an enlarged flange 26 b provided at the lower end to the outer peripheral edge of the base plate 1 with a fixing screw 27.
  • this environmental radiation measuring apparatus is configured as described above, when radiation that is higher than a predetermined energy level passes through the radiation filter 25 and enters one of the semiconductor elements 12, the semiconductor element 12 A pulse is generated in response to the incidence of the radiation, and the pulse is counted by each counter 14a which is a sub-measurement means.
  • the counts counted by the counters 14a are all added and output by the CPU 19 which is the main measuring means. At this time, since each count is added up as a numerical value, there is no fear of the erroneous measurement as described above in the counter 14a.
  • the output data of the CPU 19 is processed in the data processing means 21 based on the condition setting information stored in the memory 20, and the output data is converted into radio waves and transmitted by the transmitter 22.
  • the output data converted into radio waves and transmitted can be received at a remote place by a receiver. Therefore, by installing multiple environmental radiation measurement devices at points distant from each other and receiving output data transmitted from each environmental radiation measurement device at one location, a wide range of environmental radiation is collected at one location to monitor the condition can do.
  • a plurality of supports are arranged at equal distances around a predetermined reference point.
  • the individual semiconductor elements 12 may be small, so that the overall measurement apparatus can be reduced in size and weight, not only reducing the manufacturing cost, but also being excellent in portability, It can be installed urgently during a radiation disaster.
  • the radiation environment around the reactor facility can be monitored over time during normal times and when disasters occur. And so on.
  • the support 6 has at least four support surfaces provided on the front, back, left, and right side surfaces and one support surface provided on the upper surface, the semiconductor element 12 is disposed on the entire outer periphery except the bottom surface.
  • a three-dimensional space having the simplest structure can be formed, the structure can be simplified, and the manufacturing cost can be reduced.
  • the radiation filter 25 If the radiation filter 25 is provided, detection of radiation with a low energy level can be discarded and an averaging process can be achieved.
  • the present invention is not limited to the above embodiment, and can be implemented in the following modified modes.
  • the support surface of the support 6 is five surfaces including the front, back, left, and right side surfaces and the upper surface.
  • each surface of a regular octahedron, each surface of another regular polyhedron, or mirror ball It can also be each side.
  • four radiation detecting semiconductor elements 12 are arranged on one supporting surface, but the number of semiconductor elements 12 arranged on each supporting surface is one or It can be a plurality other than four. However, it is desirable to reduce the number of semiconductor elements 12 arranged on one support surface.
  • the measurement value of one semiconductor element 12 is counted by one counter 14a which is a sub-measurement unit.
  • one counter 14a is used to count one measurement value.
  • the measurement values of the four semiconductor elements 12 disposed on the support surface are collectively measured, or the measurement values of the plurality of semiconductor elements 12 disposed on the plurality of support surfaces are collectively measured. Also good.
  • a solar cell 28 is provided on the upper surface plate 26 a of the outer case 26 or on other parts, and the power source 23 is charged by the solar cell 28. Good.

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Abstract

　従来は不向きとされていた半導体放射線検出素子を用いて、自然放射線レベルから高線量レベルまでの広範囲の環境放射線を、高精度で測定することができ、しかも小型軽量化が可能で、製造コストを低減できるようにした環境放射線測定装置を提供する。　予め定めた基準点を中心として等距離に配設した複数の支持面を有する支持体と、前記支持体の各支持面に設けた１個または複数個の放射線検出用半導体素子と、前記各放射線検出用半導体素子に電気的に接続され、各放射線検出用半導体素子への放射線の入射に起因する計測値を、それぞれ、または複数分まとめて計測する計測手段と、前記計測手段の計測値と、メモリに記憶させた条件設定情報とに基づいて、出力情報を決定して出力するデータ処理手段とを備えるものとする。

Description

環境放射線測定装置
　本発明は、環境放射線を測定する装置に関する。
　環境放射線を測定する従来の放射線測定装置としては、例えば、放射線検出部を搭載する方向切替部の外周四辺に、正面から飛来する放射線に対して大きな感度をもつ複数のサブ検出器を、それぞれの正面が外側に向くように配置し、それらの計数値比から入射放射線の方向を特定し、ターンテーブルを回転させて、放射線検出部の正面をその方向に向かせるようにしたものがある(例えば特許文献１参照)。
　また、放射線検出器を支持する本体部に、可回動型支持部材を取付け、この可回動型支持部材を上方に移動させて、本体部の最下部に取付けた車輪により、移動しうるようにしたものもある(例えば特許文献２参照)。
　さらに、放射線検出手段として、半導体を用いたものは公知である(例えば特許文献３または４参照)。
特開２００５－２６５４７１号公報 特開２００３－０５７３４７号公報 国際公開ＷＯ２００２／０６３３４０パンフレット 特開２００９－２４６０７３号公報
　特許文献１に記載されている環境放射線量計は、構造が複雑な上に、操作に手間が掛かり、また、大型で、製造コストが高くつく。
　特許文献２には、環境放射線量計の、搬送のための構成が記載されているだけで、放射線検出器の具体的な構造に関しては記載されていない。
　また、特許文献３および４に記載されているような従来の半導体を用いた放射線検出器は、ＮａＩ（Ｔｌ）シンチレーション検出器に比較すると感度が悪く、環境放射線測定装置に使用するには不向きとされている。
　本発明は、従来の技術が有する上記のような問題点に鑑み、従来は不向きとされていた半導体放射線検出素子を用いて、自然放射線レベル(0.01μＧy/hのオーダ)から、高線量レベル(100mＧy/h)までの広範囲の環境放射線を、高精度で測定することができ、しかも小型軽量化が可能で、製造コストを低減できるようにした環境放射線測定装置を提供することを目的としている。
　本発明によると、上記課題は、次のようにして解決される。
　(１)　環境放射線測定装置を、予め定めた基準点を中心として等距離に配設した複数の支持面を有する支持体と、前記支持体の各支持面に設けた１個または複数個の放射線検出用半導体素子と、前記各放射線検出用半導体素子に電気的に接続され、各放射線検出用半導体素子への放射線の入射に起因する計測値を、それぞれ、または複数分まとめて計測する計測手段と、前記計測手段の計測値と、メモリに記憶させた条件設定情報とに基づいて、出力情報を決定して出力するデータ処理手段とを備えるものとする。
　このような構成とすると、個々の感度が悪い放射線検出用半導体素子であっても、複数個を、予め定めた基準点を中心として等距離に配設した複数の支持面に設けることにより、それらの半導体素子によって形成された空間内に入射する放射線を的確にキャッチすることができ、環境放射線を、広範囲の測定レンジに亘って、高精度で測定することができる。
　また、複数の半導体素子を寄せ集めるとしても、個々の半導体素子は小型のため、測定装置全体としての小型軽量化が可能であり、製造コストを低減できるだけでなく、可搬性に優れ、放射線災害時等に緊急に設置可能である。
　さらに、原子炉施設周辺に設置することにより、平常時および災害発生時の原子炉施設周辺の放射線環境を経時的に監視することができ、設備周辺住民の放射線被ばく線量の推定や災害原因の解明等に寄与することができる。
　(２)　上記(１)項において、支持体を、少なくとも、前後左右の外側面に設けた４個の支持面と、上面に設けた１個の支持面とを有するものとする。
　このような構成とすると、底面を除く全外周に放射線検出用半導体素子が配設された最も単純な構造の立体空間を形成することができ、構造を簡素化でき、製造コストを低減することができる。
　(３)　上記(１)または(２)項において、計測手段を、各支持面ごとの１個または複数個の放射線検出用半導体素子、または予め定めた複数個の放射線検出用半導体素子の計測値を計測するサブ計測手段と、すべてのサブ計測手段の計測値を合算するメイン計測手段とを備えるものとする。
　このような構成とすると、放射線検出用半導体素子に、非常に多くの放射線が入射したときに、誤って少なく計測することを可及的に減少することができる。
　(４)　上記(１)～(３)項のいずれかにおいて、放射線検出用半導体素子を設けた支持体の全支持面を覆い、予め定めたエネルギーレベル以下の放射線の進入を阻止する放射線フィルタを、前記支持体に設ける。
　このような構成とすると、エネルギーレベルの小さい放射線の検出を捨象し、平均化処理を図ることができる。
　(５)　上記(１)～(４)項のいずれかにおいて、データ処理手段に送信機を接続し、データ処理手段の出力データを送信機より送信しうるようにする。
　このような構成とすると、環境放射線測定装置のデータを遠隔地において受信することができるので、複数の環境放射線測定装置を互いに離れた地点に設置して、広範囲の環境放射線を一箇所で集約して状態監視することができる。
　本発明によると、従来は不向きとされていた半導体放射線検出素子を用いて、環境放射線を、広範囲の測定レンジに亘って、高精度で測定することができ、しかも小型軽量化が可能で、製造コストを低減できるようにした環境放射線測定装置を提供することができる。
本発明の一実施形態を斜め前方より見た分解斜視図である。 ケースと放射線フィルタとを中央で縦断して示す縦断正面図である。 １枚の基板の正面図である。 電気系統をブロックで示すブロック図である。
　以下、本発明の一実施形態を、添付図面に基づいて説明する。
　図１および図２に示すように、この環境放射線測定装置は、水平の円形とした台板１と、台板１上に複数のスペーサ２と固定ねじ３とをもって、台板１から上方に離間するようにして水平に支持された、台板１より小径の円形の支持板４と、この支持板４の上面中央に設けた直方体状の支持フレーム５とからなる支持体６を備えている。
　支持フレーム５は、下端を支持板４上に固定ねじをもって固着した４本の支柱７と、各支柱７の上端同士を平面視正方形をなすように連結する４個の横杆８とをそなえている。なお、各支柱７の下部同士を、横杆８と同様の横杆(図示略)をもって互いに連結してもよい。
　支持フレーム５の上面には、正方形の基板９が、また、支持フレーム５の前後左右の側面には、縦長の長方形の基板１０が、それぞれ四隅を固定ねじ１１をもってねじ止めすることにより取付けられている。
　基板９の上面、および各基板１０における上端から上辺を一辺とする正方形部分(図３における２点鎖線参照)の外側面は、正立方体における底面を除く各面をなしている。
　したがって、上記各面は、上記正立方体の中心Ｏを基準点と定めたとき、この基準点を中心として等距離に配設された支持面をなしている。
　支持面である基板９の上面、および各基板１０における上記正方形部分の外側面には、４個の放射線検出用半導体素子(以下単に半導体素子という)１２が、縦横２個ずつの同一パターンでそれぞれ止着されている。
　各半導体素子１２は、板状のシリコン半導体にアルミ蒸着などにより電極を形成したものである。この半導体素子１２に逆バイアス電圧を印加すると、半導体内部に空乏層が形成され、この領域に入射したγ放射線の相互作用により発生した電子と正孔を計数することにより線量が測定されるようになっている。
　図３に示すように、各基板１０における上記正方形部分を除く下部には、各基板１０に止着した４個の半導体素子１２にプリント配線１３(またはリード線)をもって電気的に接続され、各々の半導体素子１２から、放射線の入射に対応して発生するパルス数をカウントする４個のカウンタ１４ａを備えるカウンタブロック１４が設けられている。
　支持フレーム５の前面(または後面もしくは側面でもよい)における基板１０の下方には、補助基板１５が取付けられ、これに、基板９に設けた４個の半導体素子１２にリード線１６を介して電気的に接続され、その各々の半導体素子１２から、放射線の入射に対応して発生するパルス数をカウントする４個のカウンタ１４ａを備えるカウンタブロック１４が設けられている。
　台板１の上面中央には、制御ボックス１７が着脱自在に設けられ、この制御ボックス１７内には、図４に示すように、各半導体素子１２の計測値をカウントする２０個すべてのカウンタ１４ａにリード線１８を介して接続され、それらのカウンタ１４ａの計測値を合算する作用をするＣＰＵ１９、各種の条件設定情報を記憶させておくためのメモリ２０、ＣＰＵ１９の計測値と、メモリ２０に記憶させた条件設定情報とに基づいて、出力情報を決定して出力するデータ処理手段２１、このデータ処理手段２１に接続され、データ処理手段２１の出力データを、電波に化体して送信する送信機２２、上記各電気、電子部品に給電する電源２３等が設けられている。
　この実施形態においては、２０個のカウンタ１４ａが、１個ごとの半導体素子１２の計測値を計測するサブ計測手段をなし、ＣＰＵ１９が、すべてのサブ計測手段の計測値を合算するメイン計測手段をなし、そのサブ計測手段とメイン計測手段とによって、計測手段が形成されている。
　メモリ２０に記憶させておく条件設定情報は、例えばカウント値、カウントする単位時間の長さ、放射線量率、機器固有の補正値等が含まれる。
　　図２に示すように、リード線１８は、支持板４の中央に穿設した上下方向の挿通孔２４を通して、各カウンタブロック１４から制御ボックス１７に導いている。
　支持板４の中央には、支持フレーム５の平面視における対角線より大径の円形をなす上向き段部４ａが設けられており、この上向き段部４ａには、上端が上面板２５ａをもって閉塞された筒状の放射線フィルタ２５の下端部がきつめに外嵌されている。
　この放射線フィルタ２５は、予め定めたエネルギーレベル(例えば５０ｋｅＶ)以下の放射線の進入を阻止するためのもので、例えば、銅によって形成されている。進入を阻止する放射線のエネルギーレベルを変更したい場合は、放射線フィルタ２５の厚さや材質を適宜変更すればよい。
　また、この放射線フィルタ２５を省略して実施したり、次に説明する外装ケース２６と一体に設けたりすることもできる。
　放射線フィルタ２５の外側は、さらに、上端が上面板２６ａをもって閉塞された筒状の外装ケース２６により覆われている。
　この外装ケース２６は、下端に設けた拡径フランジ２６ｂを、固定ねじ２７をもって、台板１の外周縁に固定することにより、台板１に着脱可能として装着されている。
　この環境放射線測定装置は、以上のような構成としてあるので、予め定めたエネルギーレベルより高い放射線が、放射線フィルタ２５を通過して、いずれかの半導体素子１２に入射すると、その半導体素子１２から、その放射線の入射に対応してパルスを発生し、そのパルスが、サブ計測手段である個々のカウンタ１４ａによりカウントされる。
　各半導体素子１２に、計数回路の計数限界を超えた非常に多くの放射線が入射すると、本来計数すべき計数値より少ない値しかカウントしないおそれがある。そのため、高線量率(100mGy/h)に相当する放射線数が入射しても半導体素子が計数回路の計数限界に収まるよう半導体素子の大きさを抑えてある。このようにして誤って少なく計測することを可及的に減少させることができる。
　各カウンタ１４ａでカウントされた計数は、メイン計測手段であるＣＰＵ１９においてすべて加算されて出力される。このときは、各計数は数値として合算されるので、カウンタ１４ａにおける上記のような誤計測のおそれはない。
　ＣＰＵ１９の出力データは、データ処理手段２１において、メモリ２０に記憶させた条件設定情報に基づいて、データ処理され、出力データは、送信機２２により、電波に化体されて送信される。
　電波に化体されて送信された上記出力データは、受信機により、遠隔地において受信することができる。
　したがって、複数の環境放射線測定装置を互いに離れた地点に設置し、各環境放射線測定装置より送信された出力データを一箇所で受信することにより、広範囲の環境放射線を一箇所で集約して状態監視することができる。
　以上から明らかなように、本発明によると、個々の感度が不十分な放射線検出用半導体素子であっても、複数個を、予め定めた基準点を中心として等距離に配設した複数の支持面に設けることにより、それらの半導体素子によって形成された空間内に入射する放射線を的確に捕捉することができ、環境放射線を、広範囲の測定レンジに亘って、高精度で測定することができる。
　また、複数の半導体素子１２を寄せ集めるとしても、個々の半導体素子１２は小型でよいので、測定装置全体としての小型軽量化が可能であり、製造コストを低減できるだけでなく、可搬性に優れ、放射線災害時等に緊急に設置可能である。
　さらに、原子炉施設周辺に設置することにより、平常時及び災害発生時の原子炉施設周辺の放射線環境を経時的に監視することができ、設備周辺住民の放射線被ばく線量の推定や災害原因の解明等に寄与することができる。
　支持体６が、少なくとも前後左右の側面に設けた４個の支持面と、上面に設けた１個の支持面とを有するものとしてあるので、底面を除く全外周に半導体素子１２が配設された最も単純な構造の立体空間を形成することができ、構造を簡素化でき、製造コストを低減することができる。
　放射線フィルタ２５を設けると、エネルギーレベルの小さい放射線の検出を捨象し、平均化処理を図ることができる。
　本発明は、上記実施形態のみに限定されるものではなく、以下のような変形した態様での実施が可能である。
　(１)　上記実施形態においては、支持体６における支持面を、前後左右の側面と上面との５面としてあるが、例えば、正八面体の各面、その他の正多面体の各面、またはミラーボールの各面とすることもできる。
　(２)　上記実施形態においては、１個の支持面に４個の放射線検出用半導体素子１２を配設してあるが、各支持面に配設する半導体素子１２の数は、１個、または４個を除く複数個とすることができる。ただ、１個の支持面に配設する半導体素子１２の数は、少なくするのが望ましい。
　(３)　上記実施形態においては、サブ計測手段である１個のカウンタ１４ａにより、１個の半導体素子１２の計測値を計数するようにしてあるが、たとえば、１個のカウンタ１４ａにより、１個の支持面に配設した４個の半導体素子１２の計測値をまとめて計測するようにしたり、複数の支持面に配設された複数の半導体素子１２の計測値をまとめて計測するようにしてもよい。
　(４)　図２に２点鎖線で示すように、外装ケース２６の上面板２６ａ上、またはその他の部位に、太陽電池２８を設け、この太陽電池２８により、電源２３を充電するようにしてもよい。

Claims (5)

  1. 　予め定めた基準点を中心として等距離に配設した複数の支持面を有する支持体と、
    　前記支持体の各支持面に設けた１個または複数個の放射線検出用半導体素子と、
    　前記各放射線検出用半導体素子に電気的に接続され、各放射線検出用半導体素子への放射線の入射に起因する計測値を、それぞれ、または複数分まとめて計測する計測手段と、
    　前記計測手段の計測値と、メモリに記憶させた条件設定情報とに基づいて、出力情報を決定して出力するデータ処理手段
    とを備えることを特徴とする環境放射線測定装置。
  2. 　支持体を、少なくとも前後左右の側面に設けた４個の支持面と、上面に設けた１個の支持面とを有するものとした請求項１記載の環境放射線測定装置。
  3. 　計測手段を、各支持面ごとの１個または複数個の放射線検出用半導体素子、または予め定めた複数個の放射線検出用半導体素子の計測値を計測するサブ計測手段と、すべてのサブ計測手段の計測値を合算するメイン計測手段とを備えるものとした請求項１または２記載の環境放射線測定装置。
  4. 　放射線検出用半導体素子を設けた支持体の全支持面を覆い、予め定めエネルギーレベル以下の放射線の進入を阻止する放射線フィルタを、前記支持体に設けた請求項１～３のいずれかに記載の環境放射線測定装置。
  5. 　データ処理手段に送信機を接続し、データ処理手段の出力データを送信機より送信しうるようにした請求項１～４のいずれかに記載の環境放射線測定装置。
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