WO2011149178A3 - 니치 기술 영역 탐색, 분석 및 평가 지원 정보 처리 방법 및 그 시스템 - Google Patents

니치 기술 영역 탐색, 분석 및 평가 지원 정보 처리 방법 및 그 시스템 Download PDF

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Abstract

본 발명은 국제 공통, 미국, 일본, 유럽의 고유 특허 분류 체계와 인덱스 분류 등과 같은 다른 분류 체계를 활용하여 니치 기술 영역을 효과적으로 탐색할 수 있도록 지원하고, 다수의 니치 평가 요소의 평가 요소값으로 니치 기술 영역을 다면적으로 분석할 수 있도록 지원하며, 니치 평가 기준값 및 니치 평가 요소값으로 니치 평가 모델을 생성하고, 생성된 니치 평가 모델로 니치 기술 영역을 평가하는 정보 처리 방법 및 정보 처리 시스템에 관한 것이다. 본 발명을 실시하면 니치 기술 영역을 탐색, 분석 및 평가할 수 있어, 니치 기술 영역을 효과적으로 발견할 수 있는 장점이 있다.
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