WO2009050349A4 - Procede d'inspection de cartes electroniques par analyse multispectrale - Google Patents

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Abstract

Le procédé d'inspection de cartes électroniques comporte les étapes de : - exposer une carte électronique (8) successivement ô des rayonnements ayant des longueurs d'onde (λ1, λ2, λ3, λ4) différentes les unes des autres, - établir des images réfléchies (4) de la carte électronique pour les rayonnements successifs, - subdiviser les images (4) en zones d'analyse (5) et affecter aux zones d'analyse des valeurs de rayonnement réfléchi, - réaliser une signature de chaque zone d'analyse (5) en associant à chaque zone d'analyse les valeurs de rayonnement réfléchies correspondantes obtenues pour les rayonnements successifs, - comparer les signatures à des signatures de référence.

Claims

REVENDICATIONS MODIFIÉES reçues par le Bureau international le 07 août 2009 (07.08.09)
1. -Procédé d'inspection de cartes électroniques, caractérisé en ce qu'il comporte les étapes de : - exposer une carte électronique (8) successivement à des rayonnements ayant des longueurs d'onde (λl, X2 , λ3 , λ4) différentes les unes des autres et des angles d'incidence différents les uns des autres,
- établir des images réfléchies (4) de la carte électronique pour les rayonnements successifs,
- subdiviser les images (4) en zones d'analyse (5) et affecter aux zones d'analyse des valeurs de rayonnement réfléchi,
- réaliser une signature de chaque zone d'analyse (5) en associant à chaque zone d'analyse les valeurs de rayonnement réfléchi correspondantes obtenues pour les rayonnements successifs,
- comparer les signatures à des signatures de référence (18) .
2. Procédé d'inspection selon la revendication lf caractérisé en ce que l'un des rayonnements est émis avec une longueur d'onde infrarouge ou proche infrarouge.
3. Procédé d'inspection selon' la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce qu'il comporte une phase d'apprentissage comportant les étapes de :
- exposer une carte électronique de référence successivement à des rayonnements ayant des longueurs d'ondes (λl, λ2, λ3, λ4) différentes les unes des autres,
- établir des images réfléchies de la carte électronique de référence pour les rayonnements successifs,
- subdiviser les images (4) en zones d'analyse (5) et affecter aux zones d'analyse des valeurs de rayon- nement réfléchi,
- réaliser une signature de référence de chaque zone d'analyse (5) en associant à chaque zone d'analyse 14
les valeurs de rayonnement réfléchi correspondantes obtenues pour les rayonnements successifs,
- et mémoriser les signatures de référence.
4. Procédé d'inspection selon la revendication 3, caractérisé en ce que les signatures de référence .sont réalisées en affectant aux valeurs de rayonnement réfléchi pour chaque zone un coefficient en fonction d'un écart type de valeurs de rayonnement réfléchi pour des zones d'analyse correspondant à des éléments de même na- ture.
5. Dispositif d'inspection de cartes électroniques caractérisé en ce qu'il comporte :
- des moyens (10, 11, 12, 13) pour exposer une carte électronique (8) successivement à des rayonnements ayant des longueurs d'ondes (λl, λ2, λ3, λ4) différentes les unes des autres et des angles d'incidence différents les uns des autres,
- des moyens (3) pour établir des images réfléchies (4) de la carte électronique pour les rayonnements successifs,
- des moyens (3) pour subdiviser les images (4) en zones d'analyse (5) et affecter aux zones d'analyse (5) des valeurs de rayonnement réfléchi,
- des moyens (14) pour réaliser une signature de chaque zone d'analyse en associant à chaque zone d'analyse les valeurs de rayonnement réfléchi correspondantes obtenues pour les rayonnements successifs, et
- des moyens (14) et comparer les signatures à des signatures de référence.
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