WO2008138687A1 - Objektivanordnung für eine bildverarbeitung und verfahren zur reduzierung von bildfehlern bei dieser objektivanordnung - Google Patents

Objektivanordnung für eine bildverarbeitung und verfahren zur reduzierung von bildfehlern bei dieser objektivanordnung Download PDF

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Matthias Fleischer
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    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/22Telecentric objectives or lens systems
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/005Diaphragms

Definitions

  • the invention relates to an objective arrangement for image processing which has an objective with at least one lens for imaging an object, an aperture diaphragm being arranged on the image side at a distance from the focal length of the objective.
  • the invention further relates to a method for reducing image aberrations of such an objective arrangement in image processing.
  • Image processing is often used for size measurement of components.
  • the light intensity of the object is differentiated from the light intensity of the background by a suitable illumination arrangement in order to generate an intensity jump at the edge of the object.
  • telecentric lenses are used in particular in optical micrometers or profile projectors. They are characterized by the fact that the object distance can be varied and the image size nevertheless remains constant. One distinguishes between
  • An object-side telecentric is used to add objects without perspective distortion to capture.
  • the main rays run in the object space all parallel to the optical axis.
  • the front lens with object-side telecentricity must be at least as large as the object to be imaged.
  • the simplest structure for this consists of a single converging lens with an aperture in the image-side focal point. This type of telecentricity is used in particular for the measurement of objects.
  • the object edge is not sharply displayed or a part of the beam path is shaded, which is e.g.
  • the use of so-called telecentric objectives results in a displacement of the edge in the camera image and thus a measurement error.
  • the object is achieved in that the aperture diaphragm is designed as a diaphragm group with variable aperture.
  • the object relating to the method is achieved by changing the aperture of the aperture diaphragm in the beam path and detecting a change in the image.
  • a depth measurement error which can occur in the case of a partial shading of the beam path, can be compensated.
  • this is in the measurement of narrow, deep recesses, e.g. Holes or openings, advantageous in which these Sectionabschattitch may occur.
  • a variant of the method provides that the image changes are detected from at least two measurements with different apertures and an angle error between a theoretical principal ray and an actual principal ray is determined by extrapolation to a point aperture.
  • the change of the angle error at different apertures can be Polation on a point stop, which is to be seen as a theoretical limit case, to be closed on the angle error at this ideal aperture.
  • this angular error determined here is used as the depth correction of the objective arrangement. If more than two different aperture diaphragms are used, a more accurate extrapolation can be achieved.
  • the aperture diaphragm is reversible, whereby an adjustment of the aperture is made possible.
  • the aperture diaphragm is designed to be mechanically switchable between at least two diaphragms. This is a particularly simple approach in connection with the described method.
  • the aperture diaphragm is switchable between a simple circular diaphragm and a diaphragm, different angular errors of the main radiation can be detected and evaluated in the case of partial shading by means of an object edge.
  • At least one of the diaphragms of the aperture stop is designed as an adjustable diaphragm, a continuous change of the aperture with respect to e.g. the diameter and / or the shape brought about and thus a continuous change of the angle error can be observed, which in particular facilitates the evaluation of the resulting signals.
  • At least one of the diaphragms of the aperture diaphragm is designed on the basis of an LCD, DMD and / or another SLM technique.
  • the aperture of the aperture can be changed in any desired way, digitally controlled.
  • the shape of the aperture as well as the size can be arbitrarily determined by a computer, which allows a high degree of flexibility with respect to the measuring task. Similar aperture flexibility is provided by aperture masks based on Digital Micromirror Devices (DMD) technology or Spatial Light Modulation (SLM) technology.
  • DMD Digital Micromirror Devices
  • SLM Spatial Light Modulation
  • the lens is designed as a telecentric lens, which in particular results in the advantages described above in terms of image evaluation. - A -
  • FIG. 1 shows a schematic representation of a telecentric objective arrangement
  • FIG. 3a and 3b show two examples of a beam path with an angle error and Figure 4 is a schematic representation of the angle error as a function of the used A- perturblende.
  • FIG. 1 shows, by way of example, a schematic depiction of a telecentric object arrangement 1 with an object-side telecentric beam path.
  • the basic principle of the telecentric imaging consists of the arrangement of an aperture stop 30 or the entrance or exit pupil in the front or rear focal plane at a distance of the focal length 11 of an objective 10.
  • all major rays are guided parallel to the optical axis in the object or image space.
  • all object or image angles are zero, and the object or image size is theoretically constant over an infinitely large area.
  • the aperture diaphragm 30 is arranged in the image-side space at a distance of the focal length 11 of the objective 10. This is the entrance pupil of the lens assembly 1 and thus the perspective center at infinity. All main rays passing through the diaphragm center are aligned in the object space parallel to the optical axis. While keeping the image intersection constant, a fixed distance between the lens 10 and, for example, a projection screen or an image sensor surface, an object displacement 21 of the object 20 leads to a slight blurring in the image 40, but the effective image size, given by the height of the main beam, and thus the effective magnification constant.
  • the objective 10 may be formed as a single lens or as a lens group. Thus, lateral sizes of objects 20 can also be measured very accurately at different depths or distances from the objective 10.
  • FIG. 2 a schematically shows a circular diaphragm 31 as an exemplary embodiment of the aperture diaphragm 30.
  • FIG. 2 b shows an annular diaphragm 32 as an aperture diaphragm 30. In an embodiment according to the invention, it is provided to switch between these two diaphragms.
  • FIGS. 3a and 3b schematically show the situation when partial shading occurs due to an object edge of the object 20. Shown is a theoretical principal ray 22 which, starting from the trailing edge of the object, passes through the objective 10 and passes through the aperture stop 30 as a firing beam. Depending on the aperture of the aperture diaphragm 30, different angular errors 24 of the main beams occur because the light beams on average run at different angles.
  • the objective arrangement 1 described above is particularly suitable for camera surveying systems with corresponding image processing systems.
  • the measurement of spray holes is mentioned, in which such a depth-corrected lens assembly 1 has been found to be advantageous.
  • the system can be used for direct distance measurement.
  • the method described can also be applied to non-telecentric lens arrangements 1.

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Objektivanordnung (1) für eine Bildverarbeitung, welche ein Objektiv (10) mit mindestens einer Linse zur Abbildung eines Objektes (20) aufweist, wobei im Abstand der Brennweite (11) des Objektives (10) bildseitig eine Aperturblende (30) angeordnet ist, wobei die Aperturblende (30) als Blendengruppe mit variabler Apertur ausgebildet ist. Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zur Reduzierung von Bildfehlern einer Objektivanordnung bei einer Bildverarbeitung, wobei die Objektivanordnung (1) ein Objektiv (10) mit mindestens einer Linse zur Abbildung eines Objektes (20) aufweist, wobei im Abstand der Brennweite (11) des Objektives (10) bildseitig eine Aperturblende (30) angeordnet ist, wobei die Apertur der Aperturblende (30) im Strahlengang verändert und eine Bildänderung detektiert wird. Die zuvor beschriebene Objektivanordnung (1) eignet sich insbesondere für Kameravermessungssysteme mit entsprechenden Bildverarbeitungssystemen. Mit der speziellen Anordnung und dem erfindungsgemäßen Verfahrensansatz kann erreicht werden, dass insbesondere ein Tiefenmessfehler, der bei einer Teilabschattung des Strahlengangs auftreten kann, kompensiert werden kann. Insbesondere ist dies bei der Vermessung von engen, tiefen Aussparungen, z.B. Bohrungen bzw. Öffnungen, vorteilhaft, bei denen diese Teilabschattungen auftreten können. Mit geeigneten Blenden kann das System zur direkten Abstandsmessung eingesetzt werden.

Description

ROBERT BOSCH GMBH
Beschreibung
Obiektivanordnung für eine Bildverarbeitung und Verfahren zur Reduzierung von Bildfehlern bei dieser Objektivanordnung
Stand der Technik
Die Erfindung betrifft eine Objektivanordnung für eine Bildverarbeitung, welche ein Objektiv mit mindestens einer Linse zur Abbildung eines Objektes aufweist, wobei im Abstand der Brennweite des Objektives bildseitig eine Aperturblende angeordnet ist.
Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zur Reduzierung von Bildfehlern einer derartigen Objektivanordnung bei einer Bildverarbeitung.
Eine Bildverarbeitung wird oft zur Größenvermessung von Bauteilen eingesetzt. Dazu wird durch eine geeignete Beleuchtungsanordnung die Lichtintensität des Objektes von der Lichtintensität des Hintergrunds differenziert, um an der Kante des Objektes einen Intensitätssprung zu erzeugen.
Zum Einsatz kommen dabei häufig so genannte telezentrische Objektive. Diese werden insbeson- dere in optischen Mikrometern oder Profilprojektoren eingesetzt. Sie zeichnen sich dadurch aus, dass der Objektabstand variiert werden kann und die Bildgröße trotzdem konstant bleibt. Man unterscheidet zwischen
• objektseitiger Telezentrik, • bildseitiger Telezentrik und
• beidseitiger Telezentrik.
Eine objektseitige Telezentrik wird verwendet, um Objekte ohne perspektivische Verzerrung zu erfassen. Die Hauptstrahlen laufen im Objektraum alle parallel zur optischen Achse. Die Frontlinse bei objektseitiger Telezentrik muss mindestens so groß sein wie das abzubildende Objekt. Der einfachste Aufbau dazu besteht aus einer einzelnen Sammellinse mit einer Aperturblende im bildseitigen Brennpunkt. Diese Art der Telezentrik findet insbesondere Anwendung bei der Ver- messung von Objekten.
Wird dabei die Objektkante nicht scharf abgebildet oder ist ein Teil des Strahlenganges abgeschattet, was z.B. bei Messungen an einer Hinterkante des Objektes der Fall sein kann, tritt bei Verwendung von so genannten telezentrischen Objektiven eine Verschiebung der Kante im Kame- rabild und somit ein Messfehler auf.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, eine Objektivanordnung bereitzustellen, mit der Messfehler erfasst werden können. Es ist weiterhin Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren zur Reduzierung von Bildfehlern bei dieser Objektivanordnung zur Verfügung zu stellen.
Offenbarung der Erfindung
Vorteile der Erfindung
Die Aufgabe wird dadurch gelöst, dass die Aperturblende als Blendengruppe mit variabler Apertur ausgebildet ist. Die das Verfahren betreffende Aufgabe wird dadurch gelöst, dass die Apertur der Aperturblende im Strahlengang verändert und eine Bildänderung detektiert wird. Mit der speziellen Anordnung und dem erfindungsgemäßen Verfahrensansatz kann erreicht werden, dass insbe- sondere ein Tiefenmessfehler, der bei einer Teilabschattung des Strahlengangs auftreten kann, kompensiert werden kann. Insbesondere ist dies bei der Vermessung von engen, tiefen Aussparungen, z.B. Bohrungen bzw. Öffnungen, vorteilhaft, bei denen diese Teilabschattungen auftreten können.
Eine Verfahrensvariante sieht dabei vor, dass die Bildänderungen aus mindestens zwei Messungen mit unterschiedlicher Apertur erfasst und durch Extrapolation auf eine Punktblende ein Winkelfehler zwischen einem theoretischen Hauptstrahl und einem tatsächlichen Hauptstrahl bestimmt wird. Aus der Änderung des Winkelfehlers bei unterschiedlicher Apertur kann durch die Extra- polation auf eine Punktblende, die als theoretischer Grenzfall zu sehen ist, auf den Winkelfehler bei dieser idealen Aperturblende geschlossen werden. In bevorzugter Verfahrensvariante wird dieser dabei ermittelte Winkelfehler als Tiefenkorrektur der Objektivanordnung verwendet. Werden mehr als zwei unterschiedliche Aperturblenden eingesetzt, kann damit eine genauere Extrapolation erreicht werden.
In vorteilhafter Ausgestaltung ist die Aperturblende umschaltbar ausgebildet, wodurch eine Anpassung der Apertur ermöglicht wird. Für viele Messzwecke ausreichend hat sich herausgestellt, wenn die Aperturblende zwischen mindestens zwei Blenden mechanisch umschaltbar ausgeführt ist. Dies ist ein besonders einfacher Lösungsansatz in Verbindung mit dem beschriebenen Verfahren.
Ist die Aperturblende zwischen einer einfachen Kreisblende und einer Ringblende umschaltbar ausgeführt, können bei einer Teilabschattung durch eine Objektkante unterschiedliche Winkel- fehler der Hauptstrahlen detektiert und ausgewertet werden.
Ist mindestens eine der Blenden der Aperturblende als verstellbare Blende ausgeführt, kann eine stufenlose Änderung der Apertur hinsichtlich z.B. des Durchmessers und / oder der Form herbeigeführt und damit eine kontinuierliche Veränderung des Winkelfehlers beobachtet werden, was insbesondere die Auswertung der daraus resultierenden Signale erleichtert.
In einer weiteren bevorzugten Ausführungsvariante ist mindestens eine der Blenden der Aperturblende auf Basis einer LCD-, DMD- und / oder einer anderen SLM-Technik ausgeführt. Bei auf LCD-Technik (Liquid Crystal Display) basierenden Aperturblenden kann die Apertur der Blende beliebig, digital angesteuert, verändert werden. Die Form der der Apertur als auch die Größe kann beliebig über einen Computer festgelegt werden, was eine hohe Flexibilität hinsichtlich der Messaufgabe ermöglicht. Eine ähnliche Flexibilität ermöglichen Aperturblenden, die auf der DMD- Technologie (Digital Micromirror Devices) oder auf der SLM-T echnologie (Spatial Light Modulation) basieren.
In bevorzugter Ausführungsvariante ist das Objektiv als telezentrisches Objektiv ausgeführt, womit sich insbesondere die eingangs beschriebenen Vorteile hinsichtlich der Bildauswertung ergeben. - A -
Kurze Beschreibung der Zeichnungen
Die Erfindung wird im Folgenden anhand der in den Figuren dargestellten Ausführungsbeispiele näher erläutert. Es zeigen:
Figur 1 eine schematische Darstellung einer telezentrischen Objektivanordnung,
Figur 2a und Figur 2b zwei Ausführungen einer Aperturblende,
Figur 3a und Figur 3b zwei Beispiele für einen Strahlengang mit einem Winkelfehler und Figur 4 eine schematische Darstellung des Winkelfehlers in Abhängigkeit der verwendeten A- perturblende.
Ausführungsformen der Erfindung
Figur 1 zeigt beispielhaft in schematischer Darstellung eine telezentrische Objekivanordnung 1 mit objektseitig telezentrischem Strahlengang. Das grundlegende Prinzip der telezentrischen Abbildung besteht aus der Anordnung einer Aperturblende 30 bzw. der Eintritts- oder Austrittspupille in der vorderen oder hinteren Brennebene im Abstand der Brennweite 11 eines Objektives 10. Dadurch werden im Objekt- oder Bildraum alle Hauptstrahlen parallel zur optischen Achse geführt. Im telezentrischen Raum sind demnach alle Objekt- bzw. Bildwinkel null, und die Objekt- bzw. Bildgröße ist theoretisch konstant über einen unendlich großen Bereich.
Im gezeigten Beispiel ist die Aperturblende 30 im bildseitigen Raum im Abstand der Brennweite 11 des Objektives 10 angeordnet. Damit liegt die Eintrittspupille der Objektivanordnung 1 und somit das perspektivische Zentrum im Unendlichen. Alle durch die Blendenmitte verlaufenden Hauptstrahlen sind im Objektraum parallel zur optischen Achse ausgerichtet. Bei konstant gehaltener Bildschnittweite, einem festen Abstand zwischen Objektiv 10 und beispielsweise einem Projektionsschirm oder einer Bildsensorfläche, führt eine Objektverschiebung 21 des Objektes 20 zwar zu einer leichten Unscharfe im Bild 40, jedoch bleibt die effektive Bildgröße, gegeben durch die Höhe des Hauptstrahls, und damit der effektive Abbildungsmaßstab konstant. Das Objektiv 10 kann dabei als Einzellinse oder als Linsengruppe ausgebildet sein. Es können somit laterale Größen von Objekten 20 auch in unterschiedlichen Tiefen bzw. Abstände vom Objektiv 10 sehr genau vermessen werden.
Figur 2a zeigt schematisch eine Kreisblende 31 als Ausführungsbeispiel der Aperturblende 30. In Figur 2b ist eine Ringblende 32 als Aperturblende 30 dargestellt. In erfindungsgemäßer Ausgestaltung ist vorgesehen, zwischen diesen beiden Blenden umzuschalten.
Figur 3a und 3b zeigt schematisch die Situation, wenn durch eine Objektkante des Objektes 20 eine Teilabschattung auftritt. Gezeigt ist ein theoretischer Hauptstrahl 22, der von der Hinterkante des Objektes ausgehend durch das Objektiv 10 tritt und als Brennstrahl durch die Aperturblende 30 tritt. Abhängig von der Apertur der Aperturblende 30 treten unterschiedliche Winkelfehler 24 der Hauptstrahlen auf, da die Lichtstrahlen im Mittel unter unterschiedlichen Winkeln verlaufen.
Durch Extrapolation der Winkelfehler 24 kann, wie dies Figur 4 schematisch zeigt, auf den Win- kelfehler 24 einer Punktblende 33, welche einen theoretischen Grenzfall ohne Fehler darstellt, geschlossen werden und der Fehler somit kompensiert werden. Dargestellt sind in Figur 4 gemessene Winkelfehler 24 in Abhängigkeit der Aperturblende 30. Dabei ist der gemessene Winkelfehler 24 für eine Kreisblende 31 und eine Ringblende 32 dargestellt.
Die zuvor beschriebene Objektivanordnung 1 eignet sich insbesondere für Kameravermessungssysteme mit entsprechenden Bildverarbeitungssystemen. Als Anwendungsbeispiel ist das Vermessen von Spritzlöchern zu nennen, bei dem sich eine derart tiefenkorrigierte Objektivanordnung 1 als vorteilhaft herausgestellt hat. Mit geeigneten Blenden kann das System zur direkten Abstandsmessung eingesetzt werden. Das beschriebene Verfahren kann auch bei nicht telezentrischen Objektivanordnungen 1 angewendet werden.

Claims

ROBERT BOSCH GMBHAnsprüche
1. Objektivanordnung (1) für eine Bildverarbeitung, welche ein Objektiv (10) mit mindestens einer Linse zur Abbildung eines Objektes (20) aufweist, wobei im Abstand der Brennweite (11) des Objektives (10) bildseitig eine Aperturblende (30) angeordnet ist, dadurch gekenn- zeichnet, dass die Aperturblende (30) als Blendengruppe mit variabler Apertur ausgebildet ist.
2. Objektivanordnung (1) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Aperturblende (30) umschaltbar ausgebildet ist.
3. Objektivanordnung (1) nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Aperturblende (30) zwischen mindestens zwei Blenden mechanisch umschaltbar ausgeführt ist.
4. Objektivanordnung (1) nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Aperturblende (30) zwischen einer einfachen Kreisblende (31) und einer Ringblende (32) umschaltbar ist.
5. Objektivanordnung (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine der Blenden der Aperturblende (30) als verstellbare Blende ausgeführt ist.
6. Objektivanordnung (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass min- destens eine der Blenden der Aperturblende (30) auf Basis einer LCD-, DMD- und / oder einer anderen SLM-Technik ausgeführt ist.
7. Objektivanordnung (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass das Objektiv (10) als telezentrisches Objektiv (10) ausgeführt ist.
8. Verfahren zur Reduzierung von Bildfehlern einer Objektivanordnung (1) bei einer Bildverarbeitung, wobei die Objektivanordnung (1) ein Objektiv (10) mit mindestens einer Linse zur Abbildung eines Objektes (20) aufweist, wobei im Abstand der Brennweite (11) des Objek- tives (10) bildseitig eine Aperturblende (30) angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Apertur der Aperturblende (30) im Strahlengang verändert und eine Bildänderung detektiert wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Bildänderungen aus mindestens zwei Messungen mit unterschiedlicher Apertur erfasst und durch Extrapolation auf eine Punktblende (33) ein Winkelfehler (24) zwischen einem theoretischen Hauptstrahl (22) und einem tatsächlichen Hauptstrahl (23) bestimmt wird.
10. Verfahren nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Winkelfehler (24) als
Tiefenkorrektur der Objektivanordnung (1) verwendet wird.
PCT/EP2008/054131 2007-05-11 2008-04-07 Objektivanordnung für eine bildverarbeitung und verfahren zur reduzierung von bildfehlern bei dieser objektivanordnung WO2008138687A1 (de)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104422395A (zh) * 2013-09-11 2015-03-18 中国石油大学(华东) 一种小孔光阑定标的方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB201017506D0 (en) * 2010-10-15 2010-12-01 Rolls Royce Plc Hole inspection
FI128407B (en) * 2017-06-02 2020-04-30 Dispelix Oy Projection lens and waveguide display device
DE102021118327B4 (de) 2021-07-15 2023-03-30 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Messkamera zur zweidimensionalen Vermessung von Gegenständen
DE102021118429B4 (de) 2021-07-16 2023-06-01 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren und Gerät zur 3D-Koordinatenmessung nach dem Autofokusverfahren
CN114279360B (zh) * 2021-12-27 2023-08-11 天津大学 基于远心成像系统的多目相位偏折测量方法及装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19644662A1 (de) * 1996-10-25 1998-04-30 Leica Mikroskopie & Syst Beleuchtungseinrichtung für ein Mikroskop
JPH11125849A (ja) * 1997-10-22 1999-05-11 Nikon Corp 光学絞り
EP1207415A1 (de) * 1997-10-29 2002-05-22 MacAulay, Calum, E. Gerät und Verfahren zur Mikroskopie unter Verwendung räumlich modulierten Lichtes
EP1336886A2 (de) * 2002-02-13 2003-08-20 Mitutoyo Corporation Telezentrisches System und Bildmessvorrichtung
US20060140470A1 (en) * 2003-01-24 2006-06-29 Tsukasa Watanabe Inspection device for mouth of container
EP1744149A1 (de) * 1994-04-07 2007-01-17 Owens-Brockway Glass Container Inc. Optische Inspektion von dimensionalen Behälterparametern

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1744149A1 (de) * 1994-04-07 2007-01-17 Owens-Brockway Glass Container Inc. Optische Inspektion von dimensionalen Behälterparametern
DE19644662A1 (de) * 1996-10-25 1998-04-30 Leica Mikroskopie & Syst Beleuchtungseinrichtung für ein Mikroskop
JPH11125849A (ja) * 1997-10-22 1999-05-11 Nikon Corp 光学絞り
EP1207415A1 (de) * 1997-10-29 2002-05-22 MacAulay, Calum, E. Gerät und Verfahren zur Mikroskopie unter Verwendung räumlich modulierten Lichtes
EP1336886A2 (de) * 2002-02-13 2003-08-20 Mitutoyo Corporation Telezentrisches System und Bildmessvorrichtung
US20060140470A1 (en) * 2003-01-24 2006-06-29 Tsukasa Watanabe Inspection device for mouth of container

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104422395A (zh) * 2013-09-11 2015-03-18 中国石油大学(华东) 一种小孔光阑定标的方法

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Publication number Publication date
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