WO2008136058A1 - Plaque d'échantillon pour ionisation par désorption laser et spectromètre de masse utilisant la plaque d'échantillon - Google Patents

Plaque d'échantillon pour ionisation par désorption laser et spectromètre de masse utilisant la plaque d'échantillon Download PDF

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Kuniaki Kanamaru
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Shimadzu Corporation
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Abstract

La présente invention concerne une plaque d'échantillon (20) pour ionisation par désorption laser qui est obtenue en superposant une couche d'Al2O3 (22), présentant une multiplicité de pores (23) d'environ 20 à 30 nm de diamètre, en tant que couche d'isolation thermique sur un substratum de plaque d'Al (21) et en superposant sur sa surface un film mince métallique à deux couches (24) composé d'une couche de Ti (24a) et d'une couche de Pt (24b). Lorsque l'association de métaux dissimilaires Ti/Pt exerce une capacité de catalyse d'ajout de H+ importante, il est possible d'obtenir une efficacité d'ionisation importante même en l'absence de pores (23) de diamètre important comme dans l'art antérieur. En conséquence, la durée de traitement d'anodisation lors de la formation de la couche d'Al2O3 (22) peut être courte, et aucun traitement particulier pour former les pores (23) de diamètre important n'est nécessaire. De ce fait, la production peut être facilitée, et le coût peut être réduit.
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