WO2008061562A1 - Electronic ballast, luminaire and method for determining a characteristic variable relating to the life of an electronic ballast - Google Patents

Electronic ballast, luminaire and method for determining a characteristic variable relating to the life of an electronic ballast Download PDF

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WO2008061562A1
WO2008061562A1 PCT/EP2006/068762 EP2006068762W WO2008061562A1 WO 2008061562 A1 WO2008061562 A1 WO 2008061562A1 EP 2006068762 W EP2006068762 W EP 2006068762W WO 2008061562 A1 WO2008061562 A1 WO 2008061562A1
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temperature
life
electronic
ballast
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Andreas Huber
Thomas Mudra
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Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH
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    • H05B41/14—Circuit arrangements
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Definitions

  • the invention relates to an electronic ballast and a lamp with such electronic ballast. It also relates to a method for Ermit ⁇ stuffs a parameter relating to the life of an e- lektronischen ballast.
  • an electronic ballast is not always subject to standard operating conditions. Even with one and the same electronic ballast, the operating conditions can change. Thus, the electronic ballast may operate for a time under such operating conditions that it ages relatively quickly, but at other times operates to age relatively slowly.
  • the object is achieved by an electronic ballast according to claim 1, a luminaire according to claim 8 and a method according to claim 9.
  • the electronic ballast includes: a micro processor, a memory, a time measuring device and at least one further measuring device, which the Al ⁇ gelatinization of the electronic ballast measures a determined size.
  • the microprocessor is adapted to query Sig nal ⁇ by the time measuring means and any other measuring means and a parameter concerning a service life of the electronic ballast in the signals based on data stored in the memory with information about the dependence of the Nennle- derive from the size measured by the measuring device size.
  • the invention provides an electronic ballast which determines for itself which aging process it is subject to.
  • the temperature measured by the further measuring device size is Raets the temperature of the electronic Vorschaltge-, the further measuring device is thus a tempera ⁇ tower bulb.
  • the temperature probe can be used to continuously measure the temperature so that the temperature load on the instrument can be calculated over time as an integral of a value that depends on the temperature.
  • the temperature load can also be described as a temperature dose.
  • the just mentioned temperature-dependent value can be determined based on the known behavior of the individual components of the electro ⁇ African ballast. Weakest component in an electronic ballast is übli ⁇ chate a capacitor. If it is known that this capacitor has a lifetime of 50,000 hours at 7O 0 C and a lifetime of 25,000 hours at 8O 0 C, the contribution calculated in calculating the parameter for a given unit of time is 8O 0 C twice as high as 7O 0 C.
  • At least one characteristic curve of the temperature dependence of the nominal service life of the electronic ballast can be stored in the memory as information, it being insignificant whether the characteristic in the form of a table of individual points of the Characteristic is stored or in the form of a (proximity) formula.
  • a further developed, are also preferred exporting ⁇ approximate shape of the electronic ballast uses two temperature sensors, which measure at different points of the electronic ballast the temperature (and may between them, a temperature difference may in such different locations). It can no longer un- dingt a characteristic of the temperature dependence of the nominal service life ⁇ be used, but it must be used for a whole map.
  • the at least one further measuring device can measure the supply voltage of the electronic ballast, the number of short circuits, the number of switching operations, the extent of vibrations, the number of parameterization operations and / or a variable indicating the pollution of the electronic ballast ,
  • the nominal residual life could be given in hours, this would then be based on a standard operating ⁇ temperature. This is particularly useful when the standard operating temperature actually occurs regularly.
  • the disadvantage is the specification of the remaining life in hours because it may be that after elapse of one hour at a temperature other than the standard operating temperature, the remaining life indicated as the characteristic changes by an amount different from one hour.
  • USAGE ⁇ det As a percentage of the total service life of the electronic ballast is preferred USAGE ⁇ det as a parameter.
  • a percentage of 50% means that the remaining life is exactly half of the rated life. In the example above, this would mean that the remaining lifetime at 7O 0 C operating temperature of 50,000 hours, ie 25,000 hours, is half, and at 8O 0 C operating temperature ⁇ tur half of 25,000 hours, ie 12,500 hours, is.
  • the conversion of the percentage value into a Restle ⁇ service life thus depends on future operating temperatures. The percentage is a good measure of the be ⁇ already occurred by the operating temperatures in the past aging processes.
  • the microprocessor is designed sor preferred to determine a percentage of Ge ⁇ fellebensdauer the electronic ballast once and regularly update and store the percentage obtained in each case in the memory.
  • the parameter that is to say, for example, the percentage value
  • the parameter can be queriable in some form.
  • It can be provided to attach a display to the electronic ballast which constantly indicates the characteristic.
  • the parameter can be queried from outside the electronic ballast via an interface.
  • a bus Typically, a DALI bus, DALI for "digital addressable light interface", digitally addressable light interface is connected
  • DALI digital addressable light interface
  • the bus control central to each electronic ballast from the parameter ask ⁇ so that it provides an overview over the remaining lifetimes of each electronic ballasts are.
  • the invention finds its realization as a lamp with an electronic ballast according to the invention and at least one lamp.
  • the inventive method for determining a parameter relating comprises the life of an electronic ballast that during the entire loading ⁇ operating time of the electronic ballast the time Liehe behavior of the aging of the electric ballast determined size (preferably, the temperature of the electronic ballast) is measured and based on knowledge of the temperature dependence of the nominal life of the electronic ballast on the characteristic is concluded.
  • the invention uses the concept of continuously measuring a quantity such as the temperature of the electronic ballast for determining the aging for the first time in an electronic ballast.
  • a quantity such as the temperature of the electronic ballast for determining the aging for the first time in an electronic ballast.
  • the possible ⁇ ness gives a precise indication of the expected single equipment life with the plant operator as part of an installation analysis. It facilitates the thermal examinations within the framework of luminaire development, and finally the parameter can also be used for this purpose. subsequently to the operating conditions of the electronic ballast which it is inferior. The latter can be useful in particular for the diagnosis of possible errors.
  • the temperature is preferably measured by means of a built-in electronic ballast temperature sensor, and here is preferably a percentage of the total ⁇ life as a parameter using a microprocessor of the electronic ballast derived from characteristics of the temperature dependence of the rated life. It should be mentioned, moreover, that the percentage value is preferably determined currently and updated regularly. However, it is also possible to store data on the temperature behavior as a function of time and to determine the parameter (the percentage value) only on request.
  • a designated as a whole with 8 light consists of egg ⁇ nem electronic ballast 10 and a lamp 12.
  • the electronic ballast 10 is accessible via an interface 14 and, for example, be connected to a DALI bus.
  • the electronic ballast 10 includes a microprocessor 16.
  • a time measuring device 18 see ⁇ seen, which is shown in the figure as separate from the microprocessor 16, within the scope of the invention, however, may be provided within the microprocessor 16 as a functionality thereof.
  • the electronic ballast 10 includes a temperature sensor 20 that is mounted at a suitable location to measure a temperature that determines the aging behavior of the electronic ballast 10.
  • the signals from the time measuring device 18 and the temperature sensor 20 are available in the microprocessor 16. This constantly or at regular intervals, or possibly only on request via the interface, from these signals from a characteristic. Ov ⁇ SHORT- is in dependence on the measured temperature Tem ⁇ a weighting factor determined (temperature stress per unit time), which is integrated over time. The weighting factor is taken in a memory 22, which is connected to the microprocessor 16, stored data (usually a file), for example, derived from a characteristic stored in the memory 22.
  • the microprocessor 16 can now communicate directly via the interface 14, for example on request, the determined parameter (the percentage of the total service life) to external devices.
  • the microprocessor 16 may also store the characteristic in the memory 22.
  • the value of the parameter stored in the memory 22 can then be interrogated via the interface 14.
  • the invention first provides an electronic control gear 10 in a light 8 provides that a parameter concerning his own aging process ermit ⁇ telt. Statements about a residual life of individual electronic ballasts can now be made individually.

Abstract

An electronic ballast (10) is equipped with a temperature sensor (20), which constantly measures the temperature of the electronic ballast. On the basis of information on the temperature dependence of the rated life, a duration in which the temperature prevails is weighted with a weighting factor specifying the thermal loading and a characteristic variable is derived which gives an indication of the life of the electronic ballast, preferably as a percentage value of the total life. For the first time the invention individualizes the estimation of the life of an electronic ballast (10).

Description

Beschreibung description
Elektronisches Vorschaltgerät , Leuchte sowie Verfahren zum Ermitteln einer Kenngröße betreffend die Lebensdauer eines elektronischen VorschaltgerätsElectronic ballast, luminaire and method for determining a parameter relating to the life of an electronic ballast
Technisches GebietTechnical area
Die Erfindung betrifft ein elektronisches Vorschaltgerät und eine Leuchte mit einem solchen elektronischen Vorschaltgerät. Sie betrifft auch ein Verfahren zum Ermit¬ teln einer Kenngröße betreffend die Lebensdauer eines e- lektronischen Vorschaltgeräts.The invention relates to an electronic ballast and a lamp with such electronic ballast. It also relates to a method for Ermit ¬ stuffs a parameter relating to the life of an e- lektronischen ballast.
Stand der TechnikState of the art
Für die Lebensdauern von elektronischen Vorschaltgeräten lassen sich in der Regel nur grobe Schätzwerte angeben. Um diese Schätzwerte zu ermitteln, wird ein Musterexemplar eines bestimmten Typs eines elektronischen Vorschaltgeräts von außen mit einem Temperaturmessfühler versehen. Das Musterexemplar wird in Betriebszustand versetzt, und mithilfe des Temperaturmessfühlers wird die Temperatur des elektronischen Vorschaltgeräts gemessen. Es ist eine Nennlebensdauer für die Einzelbauteile des elektronischen Vorschaltgeräts üblicherweise bekannt, und zwar für un¬ terschiedliche Temperaturen. Aus der einmal gemessenen Temperatur unter Betriebsbedingungen wird nun geschlossen, dass diese Temperatur üblicherweise bei Betriebsbe¬ dingungen des elektronischen Vorschaltgeräts des Typs herrscht, zu dem das Musterexemplar vermessen wird. Mit dem Wissen über die Nennlebensdauer der Einzelbauteile lässt sich dann eine Nennlebensdauer für den Typus des elektronischen Vorschaltgeräts abschätzen. Das bisherige Vorgehen hat den Nachteil, dass bei der Schätzung der Nennlebensdauer von Standardbetriebsbedingungen ausgegangen wird. Ein elektronisches Vorschaltge- rät unterliegt aber nicht immer den Standardbetriebsbe- dingungen. Auch bei ein und demselben elektronischen Vor- schaltgerät können die Betriebsbedingungen wechseln. So kann es sein, dass das elektronische Vorschaltgerät eine Zeit lang unter solchen Betriebsbedingungen betrieben wird, dass es relativ schnell altert, ein andermal aber so betrieben wird, dass es relativ langsam altert.For the life of electronic ballasts can usually specify only rough estimates. To determine these estimates, a sample of a particular type of electronic ballast is externally provided with a temperature sensor. The sample is put into operating condition and the temperature sensor is used to measure the temperature of the electronic ballast. There is a nominal life for the individual components of the electronic ballast usually known, and indeed for un ¬ ferent temperatures. From the measured temperature even under operating conditions will now be concluded that this temperature usually prevails at ¬ ready for operation conditions of the electronic ballast of the type to which the sample specimen is measured. With knowledge of the rated service life of the individual components, a nominal service life for the type of electronic ballast can then be estimated. The previous procedure has the disadvantage that it is assumed in the estimation of the rated service life of standard operating conditions. However, an electronic ballast is not always subject to standard operating conditions. Even with one and the same electronic ballast, the operating conditions can change. Thus, the electronic ballast may operate for a time under such operating conditions that it ages relatively quickly, but at other times operates to age relatively slowly.
Darstellung der ErfindungPresentation of the invention
Es ist Aufgabe der Erfindung, einen Weg aufzuzeigen, wie individuell bei einem bestimmten elektronischen Vorschaltgerät eine Information über die Alterung und somit über die Restlebensdauer des EVG bereitgestellt werden kann.It is an object of the invention to show a way how individually in a given electronic ballast information about the aging and thus over the remaining life of the TOE can be provided.
Die Aufgabe wird durch ein elektronisches Vorschaltgerät nach Patentanspruch 1, eine Leuchte nach Patentanspruch 8 und ein Verfahren nach Patentanspruch 9 gelöst.The object is achieved by an electronic ballast according to claim 1, a luminaire according to claim 8 and a method according to claim 9.
Das elektronische Vorschaltgerät weist auf: Einen Mikro- prozessor, einen Speicher, eine Zeitmesseinrichtung und zumindest eine weitere Messeinrichtung, die eine die Al¬ terung des elektronischen Vorschaltgeräts bestimmende Größe misst. Der Mikroprozessor ist dazu ausgelegt, Sig¬ nale von der Zeitmesseinrichtung und jeder weiteren Mess- einrichtung abzufragen und eine Kenngröße betreffend eine Lebensdauer des elektronischen Vorschaltgeräts aus den Signalen anhand von in dem Speicher gespeicherten Daten mit einer Information über die Abhängigkeit der Nennle- bensdauer von der von der Messeinrichtung gemessenen Größe abzuleiten.The electronic ballast includes: a micro processor, a memory, a time measuring device and at least one further measuring device, which the Al ¬ gelatinization of the electronic ballast measures a determined size. The microprocessor is adapted to query Sig nal ¬ by the time measuring means and any other measuring means and a parameter concerning a service life of the electronic ballast in the signals based on data stored in the memory with information about the dependence of the Nennle- derive from the size measured by the measuring device size.
Die Erfindung stellt erstmals ein elektronisches Vor- schaltgerät zur Verfügung, das für sich selbst ermittelt, welchem Alterungsprozess es unterliegt.For the first time, the invention provides an electronic ballast which determines for itself which aging process it is subject to.
Bevorzugt ist die von der weiteren Messeinrichtung gemessene Größe die Temperatur des elektronischen Vorschaltge- räts, die weitere Messeinrichtung ist also ein Tempera¬ turmessfühler. Mithilfe des Temperaturmessfühlers kann ständig die Temperatur gemessen werden, so dass die Temperaturbelastung des Geräts als Integral eines Werts, der von der Temperatur abhängig ist, über die Zeit berechenbar ist. Die Temperaturbelastung lässt sich auch als Temperaturdosis bezeichnen.Preferably, the temperature measured by the further measuring device size is Raets the temperature of the electronic Vorschaltge-, the further measuring device is thus a tempera ¬ tower bulb. The temperature probe can be used to continuously measure the temperature so that the temperature load on the instrument can be calculated over time as an integral of a value that depends on the temperature. The temperature load can also be described as a temperature dose.
Der eben genannte temperaturabhängige Wert kann aufgrund des bekannten Verhaltens der Einzelbauteile des elektro¬ nischen Vorschaltgeräts festgelegt werden. Schwächstes Bauteil in einem elektronischen Vorschaltgerät ist übli¬ cherweise ein Kondensator. Weiß man, dass dieser Konden- sator eine Lebensdauer von 50000 Stunden bei 7O0C hat und eine Lebensdauer von 25000 Stunden bei 8O0C hat, so ist der Beitrag, der bei der Berechnung der Kenngröße für eine bestimmte Zeiteinheit berechnet wird, bei 8O0C doppelt so hoch wie bei 7O0C.The just mentioned temperature-dependent value can be determined based on the known behavior of the individual components of the electro ¬ African ballast. Weakest component in an electronic ballast is übli ¬ cherweise a capacitor. If it is known that this capacitor has a lifetime of 50,000 hours at 7O 0 C and a lifetime of 25,000 hours at 8O 0 C, the contribution calculated in calculating the parameter for a given unit of time is 8O 0 C twice as high as 7O 0 C.
Um diese Beiträge festzulegen, kann in dem Speicher als Information zumindest eine Kennlinie der Temperaturabhängigkeit der Nennlebensdauer des elektronischen Vorschaltgeräts abgespeichert sein, wobei unerheblich ist, ob die Kennlinie in Form einer Tabelle einzelner Punkte der Kennlinie abgespeichert ist oder in Form einer (Nähe- rungs-) Formel .In order to determine these contributions, at least one characteristic curve of the temperature dependence of the nominal service life of the electronic ballast can be stored in the memory as information, it being insignificant whether the characteristic in the form of a table of individual points of the Characteristic is stored or in the form of a (proximity) formula.
Eine weiter entwickelte, ebenfalls bevorzugte Ausfüh¬ rungsform des elektronischen Vorschaltgeräts verwendet gleich zwei Temperaturmessfühler, die an unterschiedlichen Stellen des elektronischen Vorschaltgeräts die Temperatur messen (und zwar an solchen unterschiedlichen Stellen, zwischen denen unter Umständen eine Temperaturdifferenz herrschen kann) . Es kann dann nicht mehr unbe- dingt eine Kennlinie der Temperaturabhängigkeit der Nenn¬ lebensdauer verwendet werden, sondern es muss ein ganzes Kennfeld verwendet werden.A further developed, are also preferred exporting ¬ approximate shape of the electronic ballast uses two temperature sensors, which measure at different points of the electronic ballast the temperature (and may between them, a temperature difference may in such different locations). It can no longer un- dingt a characteristic of the temperature dependence of the nominal service life ¬ be used, but it must be used for a whole map.
Zusätzlich oder alternativ zur Temperaturmessung kann die zumindest eine weitere Messeinrichtung die Versorgungs- Spannung des elektronischen Vorschaltgeräts, die Zahl der Kurzschlüsse, die Zahl der Schaltvorgänge, das Ausmaß von Erschütterungen, die Zahl von Parametrierungsvorgängen und/oder eine die Verschmutzung des elektronischen Vorschaltgeräts angebende Größe messen.In addition to or as an alternative to the temperature measurement, the at least one further measuring device can measure the supply voltage of the electronic ballast, the number of short circuits, the number of switching operations, the extent of vibrations, the number of parameterization operations and / or a variable indicating the pollution of the electronic ballast ,
Auch hier kann gegebenenfalls mit Kennlinien der Abhängigkeit der Nennlebensdauer des elektronischen Vorschaltgeräts von einer oder mehreren bestimmten Größen gearbeitet werden.Here as well, it is possible to work with characteristic curves of the dependence of the rated service life of the electronic ballast on one or more specific variables.
Es sind verschiedene Arten von Kenngrößen denkbar. So könnte beispielsweise die Nenn-Restlebensdauer in Stunden angegeben werden, wobei dies dann auf eine Standardbe¬ triebstemperatur bezogen wäre. Dies ist insbesondere dann sinnvoll, wenn die Standardbetriebstemperatur tatsächlich regelmäßig auftritt. Nachteilig ist die Angabe der Rest- lebensdauer in Stunden deswegen, weil es sein kann, dass nach Verstreichen einer Stunde bei einer anderen Temperatur als der Standardbetriebstemperatur die Restlebensdauer, die als Kenngröße angegeben wird, sich um einen von einer Stunde verschiedenen Betrag ändert.There are various types of characteristics conceivable. Thus, for example, the nominal residual life could be given in hours, this would then be based on a standard operating ¬ temperature. This is particularly useful when the standard operating temperature actually occurs regularly. The disadvantage is the specification of the remaining life in hours because it may be that after elapse of one hour at a temperature other than the standard operating temperature, the remaining life indicated as the characteristic changes by an amount different from one hour.
So wird bevorzugt ein Prozentwert der Gesamtlebensdauer des elektronischen Vorschaltgeräts als Kenngröße verwen¬ det. Hierbei wird davon ausgegangen, dass die Alterungs¬ prozesse konstant über die Zeit verteilt auftreten. Ein Prozentwert von 50% bedeutet, dass die Restlebensdauer genau die Hälfte der Nennlebensdauer ist. Im obigen Beispiel würde dies heißen, dass die Restlebensdauer bei 7O0C Betriebstemperatur die Hälfte von 50000 Stunden, also 25000 Stunden, beträgt, und bei 8O0C Betriebstempera¬ tur die Hälfte von 25000 Stunden, also 12500 Stunden, be- trägt. Die Umrechnung des Prozentwerts in eine Restle¬ bensdauer ist somit von zukünftigen Betriebstemperaturen abhängig. Der Prozentwert ist ein gutes Maß für die be¬ reits durch die Betriebstemperaturen in der Vergangenheit aufgetretenen Alterungsprozesse. So ist der Mikroprozes- sor bevorzugt dazu ausgelegt, einen Prozentwert der Ge¬ samtlebensdauer des elektronischen Vorschaltgeräts einmal zu ermitteln und regelmäßig zu aktualisieren und den jeweils erhaltenen Prozentwert in dem Speicher abzulegen.As a percentage of the total service life of the electronic ballast is preferred USAGE ¬ det as a parameter. Here, it is assumed that the aging ¬ processes occur constantly distributed over time. A percentage of 50% means that the remaining life is exactly half of the rated life. In the example above, this would mean that the remaining lifetime at 7O 0 C operating temperature of 50,000 hours, ie 25,000 hours, is half, and at 8O 0 C operating temperature ¬ tur half of 25,000 hours, ie 12,500 hours, is. The conversion of the percentage value into a Restle ¬ service life thus depends on future operating temperatures. The percentage is a good measure of the be ¬ already occurred by the operating temperatures in the past aging processes. Thus, the microprocessor is designed sor preferred to determine a percentage of Ge ¬ samtlebensdauer the electronic ballast once and regularly update and store the percentage obtained in each case in the memory.
Sinnvollerweise sollte die Kenngröße (also zum Beispiel der Prozentwert) in irgendeiner Form abfragbar sein. Es kann vorgesehen sein, an dem elektronischen Vorschaltge- rät eine Anzeige anzubringen, die die Kenngröße ständig angibt. Bevorzugt ist die Kenngröße von außerhalb des e- lektronischen Vorschaltgeräts über eine Schnittstelle ab- fragbar. Sind beispielsweise mehrere elektronische Vor- schaltgeräte über eine solche Schnittstelle an einem Bus (typischerweise einem DALI-Bus, wobei DALI für "digital addressable light interface", digital adressierbare Lichtschnittstelle steht) angeschlossen, zu dem eine Bussteuerung existiert, so kann die Bussteuerung zentral zu jedem elektronischen Vorschaltgerät die Kenngröße ab¬ fragen, so dass es einen Überblick über die Restlebensdauern der einzelnen elektronischen Vorschaltgeräte gibt.It makes sense to have the parameter (that is to say, for example, the percentage value) be queriable in some form. It can be provided to attach a display to the electronic ballast which constantly indicates the characteristic. Preferably, the parameter can be queried from outside the electronic ballast via an interface. For example, are several electronic ballasts over such an interface to a bus (Typically, a DALI bus, DALI for "digital addressable light interface", digitally addressable light interface is connected), to which a bus control exists, so the bus control central to each electronic ballast from the parameter ask ¬ so that it provides an overview over the remaining lifetimes of each electronic ballasts are.
Die Erfindung findet ihre Verwirklichung auch als Leuchte mit einem erfindungsgemäßen elektronischen Vorschaltgerät und zumindest einer Lampe.The invention finds its realization as a lamp with an electronic ballast according to the invention and at least one lamp.
Das erfindungsgemäße Verfahren zum Ermitteln einer Kenngröße betreffend die Lebensdauer eines elektronischen Vorschaltgeräts umfasst, dass während der gesamten Be¬ triebsdauer des elektronischen Vorschaltgeräts das zeit- liehe Verhalten einer die Alterung des elektrischen Vorschaltgeräts bestimmenden Größe (bevorzugt der Temperatur des elektronischen Vorschaltgeräts) gemessen wird und daraus anhand von Kenntnissen über die Temperaturabhängigkeit der Nennlebensdauer des elektronischen Vorschalt- geräts auf die Kenngröße geschlossen wird.The inventive method for determining a parameter relating comprises the life of an electronic ballast that during the entire loading ¬ operating time of the electronic ballast the time Liehe behavior of the aging of the electric ballast determined size (preferably, the temperature of the electronic ballast) is measured and based on knowledge of the temperature dependence of the nominal life of the electronic ballast on the characteristic is concluded.
Auch hierzu sei darauf hingewiesen, dass die Erfindung das Konzept, eine ständige Messung einer Größe wie der Temperatur des elektronischen Vorschaltgeräts zur Ermittlung der Alterung erstmals bei einem elektronischen Vor- schaltgerät verwendet. Dadurch ergibt sich die Möglich¬ keit einer präzisen Angabe der voraussichtlichen Einzelgerätelebensdauer beim Anlagenbetreiber im Rahmen einer Anlagenanalyse. Es werden die thermischen Untersuchungen im Rahmen der Leuchtenentwicklung erleichtert, und schließlich kann die Kenngröße auch dazu verwendet wer- den, nachträglich auf die Betriebsbedingungen des elektronischen Vorschaltgeräts, denen es unterlegen ist, zu schließen. Letzteres kann insbesondere bei der Diagnose auf mögliche Fehler sinnvoll sein.Again, it should be noted that the invention uses the concept of continuously measuring a quantity such as the temperature of the electronic ballast for determining the aging for the first time in an electronic ballast. Thus, the possible ¬ ness gives a precise indication of the expected single equipment life with the plant operator as part of an installation analysis. It facilitates the thermal examinations within the framework of luminaire development, and finally the parameter can also be used for this purpose. subsequently to the operating conditions of the electronic ballast which it is inferior. The latter can be useful in particular for the diagnosis of possible errors.
Auch bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird die Temperatur bevorzugt mithilfe eines in das elektronische Vor- schaltgerät integrierten Temperaturmessfühlers gemessen, und auch hier wird bevorzugt ein Prozentwert der Gesamt¬ lebensdauer als Kenngröße mithilfe eines Mikroprozessors des elektronischen Vorschaltgeräts aus Kennlinien der Temperaturabhängigkeit der Nennlebensdauer abgeleitet. Es sei im Übrigen erwähnt, dass der Prozentwert bevorzugt jeweils aktuell ermittelt und regelmäßig aktualisiert wird. Es ist jedoch auch möglich, Daten über das Tempera- turverhalten in Abhängigkeit von der Zeit abzuspeichern und die Kenngröße (den Prozentwert) erst auf Abfrage zu ermitteln .Also in the method according to the invention, the temperature is preferably measured by means of a built-in electronic ballast temperature sensor, and here is preferably a percentage of the total ¬ life as a parameter using a microprocessor of the electronic ballast derived from characteristics of the temperature dependence of the rated life. It should be mentioned, moreover, that the percentage value is preferably determined currently and updated regularly. However, it is also possible to store data on the temperature behavior as a function of time and to determine the parameter (the percentage value) only on request.
Kurze Beschreibung der ZeichnungShort description of the drawing
Nachfolgend wird eine bevorzugte Ausführungsform der Er¬ findung unter Bezug auf die Figur beschrieben, welche ei- ne erfindungsgemäße Leuchte veranschaulicht.Hereinafter, a preferred embodiment of the invention ¬ He will be described with reference to the figure, illustrating a lamp according to the invention.
Bevorzugte Ausführung der ErfindungPreferred embodiment of the invention
Eine im Ganzen mit 8 bezeichnete Leuchte besteht aus ei¬ nem elektronischen Vorschaltgerät 10 und einer Lampe 12. Das elektronische Vorschaltgerät 10 ist über eine Schnittstelle 14 zugänglich und zum Beispiel an einen DALI-Bus anschließbar. Das elektronische Vorschaltgerät 10 umfasst einen Mikroprozessor 16. Im elektronischen Vorschaltgerät 10 ist eine Zeitmesseinrichtung 18 vorge¬ sehen, welche in der Figur als von dem Mikroprozessor 16 getrennt gezeichnet ist, im Rahmen der Erfindung jedoch auch innerhalb des Mikroprozessors 16 als Funktionalität desselben bereitgestellt sein kann.A designated as a whole with 8 light consists of egg ¬ nem electronic ballast 10 and a lamp 12. The electronic ballast 10 is accessible via an interface 14 and, for example, be connected to a DALI bus. The electronic ballast 10 includes a microprocessor 16. In the electronic Ballast 10 is a time measuring device 18 see ¬ seen, which is shown in the figure as separate from the microprocessor 16, within the scope of the invention, however, may be provided within the microprocessor 16 as a functionality thereof.
Als Besonderheit umfasst das elektronische Vorschaltgerät 10 einen Temperaturmessfühler 20, der an geeigneter Stelle angebracht ist, damit er eine Temperatur misst, die das Alterungsverhalten des elektronischen Vorschaltgeräts 10 bestimmt.As a special feature, the electronic ballast 10 includes a temperature sensor 20 that is mounted at a suitable location to measure a temperature that determines the aging behavior of the electronic ballast 10.
Die Signale von der Zeitmesseinrichtung 18 und dem Temperaturmessfühler 20 stehen im Mikroprozessor 16 zu Verfügung. Dieser leitet ständig oder in regelmäßigen Abständen, oder gegebenenfalls auch erst auf Anfrage über die Schnittstelle, aus diesen Signalen eine Kenngröße ab. Üb¬ licherweise wird in Abhängigkeit von der gemessenen Tem¬ peratur ein Gewichtungsfaktor bestimmt (Temperaturbelastung pro Zeiteinheit) , der über die Zeit integriert wird. Der Gewichtungsfaktor wird in einem Speicher 22, der mit dem Mikroprozessor 16 verbunden ist, gespeicherten Daten (in der Regel einer Datei) entnommen, zum Beispiel aus einer in dem Speicher 22 gespeicherten Kennlinie abgeleitet. Der Mikroprozessor 16 kann nun direkt über die Schnittstelle 14, zum Beispiel auf Abfrage, die ermittel- te Kenngröße (den Prozentwert der Gesamtlebensdauer) an externe Geräte mitteilen. Der Mikroprozessor 16 kann die Kenngröße auch in den Speicher 22 ablegen. Auf dem Umweg über den Mikroprozessor 16 oder direkt aus dem Speicher 22 (siehe gestrichelte Linie) ist dann über die Schnitt- stelle 14 der im Speicher 22 gespeicherte Wert der Kenngröße abfragbar. Die Erfindung stellt erstmals ein elektronisches Vor- schaltgerät 10 im Rahmen einer Leuchte 8 bereit, das eine Kenngröße betreffend seinen eigenen Altersprozess ermit¬ telt. Aussagen über eine Restlebensdauer von einzelnen elektronischen Vorschaltgeräten können nunmehr individuell getroffen werden. The signals from the time measuring device 18 and the temperature sensor 20 are available in the microprocessor 16. This constantly or at regular intervals, or possibly only on request via the interface, from these signals from a characteristic. Ov ¬ SHORT- is in dependence on the measured temperature Tem ¬ a weighting factor determined (temperature stress per unit time), which is integrated over time. The weighting factor is taken in a memory 22, which is connected to the microprocessor 16, stored data (usually a file), for example, derived from a characteristic stored in the memory 22. The microprocessor 16 can now communicate directly via the interface 14, for example on request, the determined parameter (the percentage of the total service life) to external devices. The microprocessor 16 may also store the characteristic in the memory 22. On the detour via the microprocessor 16 or directly from the memory 22 (see dashed line), the value of the parameter stored in the memory 22 can then be interrogated via the interface 14. The invention first provides an electronic control gear 10 in a light 8 provides that a parameter concerning his own aging process ermit ¬ telt. Statements about a residual life of individual electronic ballasts can now be made individually.

Claims

Ansprüche claims
1. Elektronisches Vorschaltgerät (10), mit1. Electronic Ballast (10), with
- einem Mikroprozessor (16),a microprocessor (16),
- einem Speicher (22),a memory (22),
- einer Zeitmesseinrichtung (18), - zumindest einer weiteren Messeinrichtung (20), die eine von der Zeit verschiedene, die Alterung des elektronischen Vorschaltgeräts bestimmende Größe misst , wobei der Mikroprozessor (16) dazu ausgelegt ist, Signale von der Zeitmesseinrichtung (18) und jeder weiteren Messeinrichtung (20) abzufragen und eine Kenngröße betreffend eine Lebensdauer des elektroni¬ schen Vorschaltgeräts aus den Signalen anhand von in dem Speicher (22) gespeicherten Daten mit einer In- formation über die Abhängigkeit einer Nennlebensdauer des elektronischen Vorschaltgeräts von der bestimmenden Größe abzuleiten.- a time measuring device (18), - at least one further measuring device (20), which measures a time different, the aging of the electronic ballast determining size, wherein the microprocessor (16) is adapted to receive signals from the time measuring means (18) and query any further measuring device (20) and a parameter relating to a lifetime of the electronic ¬'s ballast from the signals based on in the memory (22) data stored at a home formation about the dependency of a rated life of the electronic ballast of the determined size derive.
2. Elektronisches Vorschaltgerät nach Anspruch 1, bei dem eine weitere Messeinrichtung ein Temperaturmess¬ fühler ist, der die Temperatur des elektronischen Vorschaltgeräts misst.2. Electronic ballast according to claim 1, wherein a further measuring device is a temperature measuring ¬ sensor, which measures the temperature of the electronic ballast.
3. Elektronisches Vorschaltgerät (10) nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass in dem Speicher (22) als Information zumindest eine Kennlinie der Temperaturabhängigkeit der Nennlebens¬ dauer des elektronischen Vorschaltgeräts abgespei¬ chert ist. 3. Electronic ballast (10) according to claim 2, characterized in that in the memory (22) as information at least one characteristic of the temperature dependence of the rated life ¬ duration of the electronic ballast is saved ¬ chert.
4. Elektronisches Vorschaltgerät nach Anspruch 2 oder 3, bei dem zwei Temperaturmessfühler an unterschiedlichen Stellen des elektronischen Vorschaltgeräts die Temperatur messen.4. Electronic ballast according to claim 2 or 3, wherein the two temperature sensors measure the temperature at different points of the electronic ballast.
5. Elektronisches Vorschaltgerät nach einem der vorher¬ gehenden Ansprüche, bei dem zumindest eine weitere Messeinrichtung die Versorgungsspannung des elektronischen Vorschaltgeräts, die Zahl der Kurzschlüsse, die Zahl der Schaltvorgänge, das Ausmaß von Erschüt¬ terungen, die Zahl von Parametrierungsvorgängen und/oder eine die Verschmutzung des elektronischen Vorschaltgeräts angebende Größe misst.5. Electronic ballast according to one of the preceding ¬ claims, wherein at least one further measuring device, the supply voltage of the electronic ballast, the number of short circuits, the number of switching operations, the extent of shaking ¬ meetings, the number of Parametrierungsvorgängen and / or one Measuring pollution of the electronic ballast indicating size.
6. Elektronisches Vorschaltgerät nach einem der vorher¬ gehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Mikroprozessor (16) dazu ausgelegt ist, einen Prozentwert der Gesamtlebensdauer des elektronischen Vorschaltgeräts einmal zu ermitteln und regelmäßig zu aktualisieren und den jeweils erhaltenen Prozentwert in dem Speicher (22) abzulegen.6. Electronic ballast according to one of the preceding ¬ previous claims, characterized in that the microprocessor (16) is adapted to determine a percentage of the total service life of the electronic ballast once and regularly update and the percentage obtained in each case in the memory (22) store.
7. Elektronisches Vorschaltgerät nach einem der vorher¬ gehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Kenngröße von außerhalb des elektronischen Vor¬ schaltgeräts (10) über eine Schnittstelle (14) ab¬ fragbar ist. 7. Electronic ballast according to one of the preceding ¬ claims, characterized in that the characteristic from outside the electronic on ¬ switching device (10) via an interface (14) from ¬ is questionable.
8. Leuchte (8) mit einem elektronischen Vorschaltgerät (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche und zumindest einer Lampe (12) .8. luminaire (8) with an electronic ballast (10) according to one of the preceding claims and at least one lamp (12).
9. Verfahren zum Ermitteln einer Kenngröße betreffend die Lebensdauer eines elektronischen Vorschaltgeräts (10), bei dem während der gesamten Betriebsdauer des elektronischen Vorschaltgeräts (10) das zeitliche Verhalten einer die Alterung des elektronischen Vor- schaltgeräts bestimmenden Größe gemessen wird und daraus anhand von Kenntnissen über die Temperaturab¬ hängigkeit der Nennlebensdauer des elektronischen Vorschaltgeräts auf die Kenngröße geschlossen wird.9. A method for determining a parameter relating to the life of an electronic ballast (10), wherein during the entire operating time of the electronic ballast (10) the temporal behavior of the aging of the electronic ballast determining size is measured and therefrom on the basis of knowledge of the Temperaturab ¬ dependence of the rated life of the electronic ballast is closed to the characteristic.
10. Verfahren nach Anspruch 9, bei dem das zeitliche Verhalten der Temperatur des elektronischen Vorschaltgeräts gemessen und ausgewertet wird.10. The method of claim 9, wherein the temporal behavior of the temperature of the electronic ballast is measured and evaluated.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Temperatur mithilfe eines in das elektronische Vorschaltgerät (10) integrierten Temperaturmessfühlers (20) gemessen wird.11. The method according to claim 10, characterized in that the temperature with the aid of a in the electronic ballast (10) integrated temperature sensor (20) is measured.
12. Verfahren nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass ein Prozentwert der Gesamtlebensdauer als Kenngröße mithilfe eines Mikroprozessors (16) des elektroni¬ schen Vorschaltgeräts aus zumindest einer Kennlinie der Temperaturabhängigkeit der Nennlebensdauer abge- leitet wird. 12. The method of claim 10 or 11, characterized in that a percentage of the total service life as a characteristic variable by means of a microprocessor (16) of the electronic ¬'s ballast from off at least one characteristic of the temperature dependence of the nominal life passes is.
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