WO2007006772A2 - Optomechanische vorrichtung zur positionserfassung und zur bestimmung eines winkels - Google Patents
Optomechanische vorrichtung zur positionserfassung und zur bestimmung eines winkels Download PDFInfo
- Publication number
- WO2007006772A2 WO2007006772A2 PCT/EP2006/064062 EP2006064062W WO2007006772A2 WO 2007006772 A2 WO2007006772 A2 WO 2007006772A2 EP 2006064062 W EP2006064062 W EP 2006064062W WO 2007006772 A2 WO2007006772 A2 WO 2007006772A2
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- plane
- axis
- light
- angle
- rotation
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/042—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by opto-electronic means
- G06F3/0421—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by opto-electronic means by interrupting or reflecting a light beam, e.g. optical touch-screen
- G06F3/0423—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by opto-electronic means by interrupting or reflecting a light beam, e.g. optical touch-screen using sweeping light beams, e.g. using rotating or vibrating mirror
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
Definitions
- the present invention relates to an optomechanical device for determining an angle (alpha) between a reference point defined in the pivoting plane of a measuring beam and a reflector object movable in the same plane onto which the measuring beam is further projected when it is swept over the plane.
- the measuring beam is guided by the axis of rotation of a partially transparent Drehreflektors reflected from the object through this partially transmitting Drerehflektor on a series of coaxial with the axis of rotation arranged, photosensitive elements meets and there on the element, which corresponds to the instantaneous angular position of the object in the beam plane, causes a defining state, which could be, for example, storing a charge corresponding to the amount of incident light in a CCD element.
- devices proposed here according to the invention make it possible to determine and mark the position of an object in the beam plane.
- a partially transmissive rotating mirror such as a partially transmissive mirror, is provided rotatable about the axis (Z) such that it receives a light beam from a light source (H) conditioned by the element (M1) ( Ll) in the pivoting plane as a light beam (L2) deflects, wherein the pivoting plane of the beam plane (G) of the light beam (L2) corresponds.
- the photosensitive elements such as discrete photodiodes, (Al), here provided as a discrimination element for a read operation, and (A2), provided here as Referenznullelement for the angle measurement
- the photosensitive elements (B) For example, consisting of a coaxial with the axis of rotation (Z) arranged juxtaposition of CCD sensors, and an object (D), preferably with a spherically trained reflection surface (E), as a component, for example, a prepared for it ballpoint pen.
- a light beam (L 1) coming from the light source (H), is guided into the axis of rotation (Z) of a partially transmissive rotary reflector (C 1) and via a beam-conditioning element (M 1) arranged also in the axis of rotation (Z) a Drehreflektor ein (Cl), as shown in the drawing, as a beam (L2) in the beam plane (G) projected.
- M 1 beam-conditioning element
- the measuring beam is from this in the beam axis of (L2) back to the partially transmissive rotary reflector (Cl) and through this and the beam-shaping element (M2) as a partial beam (L3) on the photosensitive elements (B), in which case exactly the element is exposed, which angle of rotation is currently in the common beam axis of the light beams (L2, L3) opposite the object (E).
- the incident light quantity is stored here, for example, as an electric charge in the exposed individual element of the element row (B) and from there, when the light beam (L2) during its pivoting about the axis (Z) by irradiation of the photosensitive element (A 1) a retrieval process in the Evaluation unit (X) triggers, queried. For example, this retrieval operation takes place serially, so that the angle (alpha) between the reference point (A2) and the object (E) is determined by the element of the photosensitive element row (B) which has a charge caused by the incident light amount of the beam (L3 ) contains.
- the angle information is available in the desired format.
- FIG. II Using the schematic diagram (FIG. II), the geometric conditions necessary for calculating the position of the object (D) are shown in detail.
- This light filter for example, lets through only a portion of the light frequencies contained in (L2).
- This light filter has an inner bore which is larger than the outer diameter of the reflector body (E), which is normally unaffected by the filter (Fl) in the plane (G) outside it.
- the object (D) is arranged in its longitudinal axis direction to the reflector (E), for example against spring force, movable, so that the reflector (E) on pressure on the object (D) in the direction of beam plane (G) behind the light filter (Fl) occurs.
- the filter (F2) acts as a blocking filter, for example, so that the reflected sub-frequencies are blocked and now the element (J) no longer receives light, so light only falls in the direction of the elements (B). This creates a state that allows not only to determine the position of the object (D) but also to mark its position
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Optomechanische Vorrichtung zur Positionserfassung und zur Bestimmung eines Winkels zwischen einem, in der Schwenkebene eines Mess-Strahls definierten Referenzpunkt und einem in der selben Ebene beweglichen Objekt, auf welches der Mess-Strahl weiter bei seiner Überstreichung der Ebene projiziert wird, wobei der Messstrahl, der durch die Drehachse eines teildurchlässigen Drehreflektors geführt wird, vom Objekt reflektiert zurück durch diesen teildurchlässigen Reflektor hindurch auf eine Reihe von koaxial zur Drehachse angeordneten, photoempfindlichen Elementen geleitet wird und dort auf dem Element, welches der momentanen Winkelstellung des Objekts in der Strahlebene entspricht, einen definierenden Zustand auslöst. Eine, an die photoempfindlichen Elemente angeschlossene Auswerteinheit bestimmt dann den Winkel zwischen dem Referenzpunkt und dem reflektierenden Objekt durch Auslesen des Zustande der photoempfindlichen Elemente. Dieser Vorgang wiederholt sich bei jedem Durchfahren des Schwenkbereichs des teildurchlässigen Drehreflektors, sodass eine kontinuierliche Winkelnachführung dann gewährleistet ist, wenn die Winkelgeschwindigkeit des teildurchlässigen Drehreflektors hoch ist gegenüber der Winkeländerungsgeschwindigkeit des Objekts. Unter Verwendung von zwei der hier vorgestellten Vorrichtungen lässt sich die Position eines Objekts in einer Ebene bestimmen.
Description
Beschreibung
Die vorliegende Erfindung betrifft eine optomechanische Vorrichtung zur Bestimmung eines Winkels ( Alpha ) zwischen einem, in der Schwenkebene eines Mess-Strahls definierten Referenzpunkt und einem in der selben Ebene beweglichen Reflektorobjekt, auf welches der Mess-Strahl weiter bei seiner Überstreichung der Ebene projiziert wird, wobei der Messstrahl, durch die Drehachse eines teildurchlässigen Drehreflektors geführt wird, vom Objekt reflektiert durch diesen teildurchlässigen Drehreflektor hindurch auf eine Reihe von koaxial zur Drehachse angeordneten, photoempfindlichen Elementen trifft und dort auf dem Element, was der momentanen Winkelstellung des Objekts in der Strahlebene entspricht, einen definierenden Zustand auslöst, der beispielsweise das Speichern einer der einfallenden Lichtmenge entsprechenden Ladung in einem CCD Element sein könnte.
Weiter wird es durch die Verwendung von zwei, in einem bekannten Abstand von einander in einer gemeinsamen Strahlebene wirkenden, hier erfindungsgemäß vorgestellten Vorrichtungen möglich die Position eines Objekts in der Strahlebene zu bestimmen und zu markieren.
Ein Ausführungsbeispiel wird anhand der beigefügten Zeichnung erläutert :
In der beispielhaften Anordnung ist ein teildurchlässiger Drehreflektor ( Cl ) , wie beispielweise ein teildurchlässiger Spiegel, drehbar um die Achse ( Z ) in der Art vorgesehen, dass er einen von einer Lichtquelle ( H ) kommenden, durch das Element ( Ml ) konditionierten Lichtstrahl ( Ll ) in die Schwenkebene als Lichtstrahl ( L2 ) umlenkt, wobei die Schwenkebene der Strahlebene ( G ) des Lichtstrahls ( L2 ) entspricht.
In der Strahlebene des Lichtstrahls ( L2 ) befinden sich die photoempfindlichen Elemente, beispielsweise diskrete Photodioden, ( Al ) , hier als Diskriminierungselement für einen Auslesevorgang vorgesehen, und ( A2 ) , hier als Referenznullelement für die Winkelmessung vorgesehen , sowie die photoempfindlichen Elemente ( B ), beispielsweise bestehend aus einer koaxial zur Drehachse ( Z ) angeordneten Aneinanderreihung von CCD Sensoren, und ein Objekt ( D ), mit vorzugsweise sphärisch ausgebildeter Reflektionsflache ( E ), als Bestandteil, beispielsweise eines dafür vorbereiteten Kugelschreibers.
Erfindungsgemäß wird ein Lichtstrahl ( Ll ) , von der Lichtquelle ( H ) kommend, in die Drehachse ( Z ) eines teildurchlässigen Drehreflektors ( Cl ) geleitet und über ein, auch in der Drehachse ( Z ) angeordnetes, strahlkonditionierendes Element ( M l ), bei einer Drehreflektorstellung ( Cl ) , wie in der Zeichnung festgehalten, als Strahl ( L2 ) in die Strahlebene ( G ) projiziert. Für den Fall, dass sich dort an einer Position das Objekt ( D ) mit der Reflektionsflache ( E ) befindet, wird der Messstrahl von dieser in der Strahlachse von ( L2 ) zurück auf den teildurchlässigen Drehreflektor ( Cl ) und durch diesen und das strahlformende Element ( M2 ) hindurch als Teilstrahl ( L3 ) auf die photoempfindlichen Elemente ( B ) reflektiert, wobei dann genau das Element belichtet wird, welches drehwinkelentsprechend momentan in der gemeinsamen Strahlachse der Lichtstrahlen ( L2,L3 ) gegenüber dem Objekt ( E ) steht. Die einfallende Lichtmenge wird hier beispielsweise als elektrische Ladung im belichteten Einzelelement der Elementreihe ( B ) gespeichert und von dort, wenn der Lichtstrahl ( L2 ) bei seiner Schwenkung um die Achse ( Z ) durch Bestrahlung des photoempfindlichen Einzelelements ( A 1 ) einen AbrufVorgang in der Auswerteinheit ( X ) auslöst, abgefragt. Dieser Abrufvorgang findet beispielsweise seriell statt, sodass der Winkel ( Alpha ) zwischen Referenzpunkt ( A2 ) und dem Objekt ( E ) durch das Element aus der photoempfindlichen Elementreihe ( B ) bestimmt ist, welches eine Ladung, hervorgerufen durch die einfallende Lichtmenge des Strahls ( L3 ) , enthält. An einer Schnittstelle, die von der Auswerteinheit ( X ) bedient wird, steht die Winkelinformation im jeweils gewünschten Format zur Verfügung.
Beim Überstreichen des Referenznullelements ( A2 ) durch den Lichtstrahl ( L2 ) werden die Elemente ( B ) in den Bereitschaftsstand zurückgesetzt, dies gilt dann gleichzeitig als Referenznullpunkt für eine erneute Winkelmessung der Position von Objekt ( D ).
Ordnet man zwei Vorrichtungen ( Fig. II Sl, S2 ) der voran beschriebenen Art in einem definierten Abstand der Drehachsen ( Y ) so zu einander an, dass sich deren Strahlebenen in einer einzigen ( G ) vereinen, so erhält man bei jedem Überstreichen der Messstrahle ( L2 ) von den Vorrichtungen Sl und S2 über den Reflektor ( E ) von diesen je einen Winkelwert ( Fig. II (1, (2 ) zu jeweils bekannten Referenznullpunkten hin ausgegeben.
Zusammen mit der Information der Basisentfernung ( Y ) zwischen den Drehachsen der Vorrichtungen ( Sl, S2 ) ist damit eine Positionsbestimmung des Reflektors ( E ) in der Ebene ( G ) im Verhältnis zu den zwei Vorrichtungen ( Sl ) und ( S2 ) möglich.
Unter Verwendung der Prinzipskizze ( Fig. II ) werden die zur Berechnung der Position des Objekts ( D ) notwendigen geometrischen Verhältnisse im einzelnen dargestellt.
Mit Hilfe der konstruktiven Vorgabe für die Basisentfernung ( Y ) und den Winkeln ( Alphal und Alpha2 ) , unter denen das Objekt ( D ) jeweils zur entsprechenden Vorrichtung ( Sl ) und ( S2 ) in der Ebene ( G ) erscheint, lassen sich die Orthogonale ( h ) vom Objekt ( D ) zur Basisstrecke ( Y ), sowie die Streckenabschnitte ( yl ) und ( y2 ) der Basisstrecke ( Y ), somit die Koordinaten von ( D ) in der Ebene ( G ), nach den Regeln der Geometrie folgendermaßen errechnen, nämlich y2 = Y/ ( 1+ ( tg(Alpha2) / tg (Alphal) )) h = y2 * tg(Alpha2)
Es sei angemerkt, dass die hier angegebene Berechnung lediglich eine von vielen Möglichkeiten zur Ermittlung der Position von dem Objekt ( D ) in der Ebene ( G ) darstellt.
An dem Ende des Objekts ( D ) welches der Ebene ( G ) zugewandt ist, sitzt ein Lichtfilter
( Fl ) , der beispielsweise nur einen Teilbereich der in ( L2 ) enthaltenen Lichtfrequenzen durchlässt. Dieser Lichtfilter hat eine Innenbohrung, die größer ist, als der Außendurchmesser des Reflektorkörpers ( E ), der normalerweise von dem Filter ( Fl ) unbeeinflusst sich außerhalb von diesem in der Ebene ( G ) befindet.
Das Objekt ( D ) ist jedoch in seiner Längsachsrichtung zum Reflektor ( E ) hin, beispielsweise gegen Federkraft, beweglich angeordnet, sodass der Reflektor ( E ) bei Druck auf das Objekt ( D ) in Richtung Strahlebene ( G ) hinter den Lichtfilter ( Fl ) tritt.
Dies bewirkt hier im Beispiel, dass nunmehr nur dieser Teilfrequenzbereich zum teildurchlässigen Drehreflektor ( Cl ) , den Elementen ( B ) und über den teildurchlässigen Reflektor ( C2 ) und den Filter ( F2 ) zum photoempfindlichen Element ( J ) reflektiert wird. Der Filter ( F2 ) wirkt beispielweise als Sperrfilter, sodass die reflektierten Teilfrequenzen gesperrt werden und nunmehr das Element ( J ) kein Licht mehr erhält, also Licht nur in Richtung der Elemente ( B ) fällt. Dadurch entsteht ein Zustand, der es ermöglicht neben der Bestimmung der Position des Objekts ( D ) auch dessen Position noch zu markieren
Claims
1. Vorrichtung zur Bestimmung eines Winkels ( Alpha ) zwischen einem Referenzpunkt ( A2 ) , repräsentiert durch einen in der Ebene ( G ), die durch den zu ermittelnden Winkel ( Alpha ) bestimmt ist, eingefügten optoelektischen Sensor ( A2 ) , der von einem Mess-Strahl ( L2 ) , der die Ebene ( G ) wiederkehrend überstreicht, ausgelöst wird und einem mit einer reflektierenden Fläche ( E ) versehenen Objekt, auf welche der Messstrahl ( L2 ) bei seiner Überstreichung der Ebene ( G ) projiziert wird, wobei der Messstrahl ( L2 ) den Anteil des Strahls ( Ll ) beinhaltet, der durch einen drehbar um eine Achse
( Z ) gelagerten teildurchlässigen Drehreflektor ( Cl ) in diese Ebene ( G ) umgelenkt wird und der Lichtstrahl ( Ll ) in der Drehachse ( Z ), von einer Lichtquelle ( H ) erzeugt, über ein sich auch in der Drehachse ( Z ) befindliches strahlkonditionierendes Element ( Ml ) dem teildurchlässigen Drehreflektor ( Cl ) , dessen Drehpunkt in der Drehachse ( Z ) liegt, zugeführt wird, dadurch gekennzeichnet, dass der Messstrahl ( L2 ) beim Auftreffen auf eine reflektierende Fläche ( E ), die sich in der durch den zu ermittelnden Winkel ( Alpha ) bestimmten Ebene ( G ) befindet, in sich reflektiert wird und durch den teildurchlässigen Drehreflektor ( Cl ) als axialer Teilstrahl ( L3 ) von Strahl ( L2 ) zum strahlkonditionierenden Element ( M2 ) geführt wird und von dort auf photoelektrische Elemente ( B ) projiziert wird, die koaxial zur Drehachse ( Z ) angeordnet sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass sich in der Ebene ( G ) ein photoelektrischer Sensor ( Al ) befindet, der bei Bestrahlung durch den Strahl ( L2 ) eine vorangegangene Messung beendet und den Auswertvorgang initiiert .
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass sich in der Ebene ( G ) ein photoelektrischer Sensor ( A2 ) befindet, der bei Bestrahlung durch den Strahl ( L2 ) als Referenznullpunkt für eine neue Messung dient.
4. Vorrichtung nach einem der vorgenannten Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensoren ( Al ) oder ( A2 ) integrierter Bestandteil der photoelektrischen Elemente ( B ) sind.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Lichtstrahl ( Ll ) polychromatisches Licht enthält.
6. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die reflektierende Oberfläche ( E ) eines in der Ebene ( G ) zu erfassenden Objekts ( D ) Bestandteil eines Körpers mit gekrümmter Oberfläche ist.
7. Vorrichtung nach einem der vorgenannten Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass sich an dem Ende des Objekts ( D ), welches der Strahlebene ( G ) zugewandt ist, ein Lichtfilter ( Fl ) befindet, der auf mindestens eine Frequenz des einfallenden Lichts des Mess-Strahls ( L2 ) wirkt.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass der Lichtfilter ( Fl ) eine Innenbohrung in Längsachsrichtung des Objekts ( D ) aufweist, die größer ist als der Außendurchmesser des Körpers der die reflektierenden Oberfläche ( E ) trägt.
9. Vorrichtung nach einem der vorgenannten Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Objekt ( D ) dergestalt ausgebildet ist, dass es sich gegen den Körper der reflektierenden Oberfläche ( E ) derart bewegen lässt, dass die reflektierende Oberfläche ( E ) hinter den Lichtfilter ( Fl ) tritt, sodass der einfallende Messstrahl ( L2 ) dann nur durch diesen Filter ( Fl ) hindurch auf die reflektierende Oberfläche ( E ) gelangt.
10. Vorrichtung nach einem der vorgenannten Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass sich im Strahlengang zwischen der Lichtquelle ( H ) und dem strahlkonditionierenden Element ( Ml ) in der Drehachse ( Z ) ein feststehender teildurchlässiger Reflektor ( C2 ) befindet, der den Strahl ( Ll ) , von der Lichtquelle ( H ) kommend, in Richtung Drehreflektor ( Cl ) durchlässt und den von der reflektierenden Oberfläche ( E ) über den Drehreflektor ( Cl ) reflektierten Strahl durch einen Lichtfilter ( F2 ) auf das photoelektrische Element ( J ) leitet.
11. Vorrichtung bestehend aus zwei Vorrichtungen ( Fig. II Sl, S2 ), von der jede einzelne durch einen der vorgenannten Ansprüche bestimmt ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Drehachsen der Vorrichtungen ( Sl ) und ( S2 ) in einem bekannten Basisabstand ( Fig. II Y ) zueinander angeordnet sind.
12. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtungen ( Sl ) und ( S2 ) so angeordnet sind, dass ihre jeweiligen Strahlebenen in einer gemeinsamen Strahlebene ( G ) vereint sind.
13. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass mit Hilfe des Basisabstands ( Y ) und der gemessenen Winkel ( Alphal, Alpha2) der Vorrichtungen ( Sl ) und ( S2 ) die Position eines Objekts ( D ) in der Ebene
( G ) bestimmt wird.
14. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass nur eine der Vorrichtungen Sl oder S2 die Elemente : teildurchlässiger Reflektor ( C2 ) , Filter ( F2 ) und photoelektrisches Element ( J ) enthält.
15. Vorrichtung nach einem der vorgenannten Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der teildurchlässige Drehreflektor ( Cl ) eine oszillierende Bewegung um die Achse ( Z ) ausführt.
2
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102005032697.8 | 2005-07-12 | ||
| DE102005032697 | 2005-07-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| WO2007006772A2 true WO2007006772A2 (de) | 2007-01-18 |
| WO2007006772A3 WO2007006772A3 (de) | 2007-04-19 |
Family
ID=37637526
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PCT/EP2006/064062 WO2007006772A2 (de) | 2005-07-12 | 2006-07-10 | Optomechanische vorrichtung zur positionserfassung und zur bestimmung eines winkels |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| WO (1) | WO2007006772A2 (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8890842B2 (en) | 2008-06-13 | 2014-11-18 | Steelcase Inc. | Eraser for use with optical interactive surface |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3613066A (en) * | 1968-10-22 | 1971-10-12 | Cii | Computer input equipment |
| US4980547A (en) * | 1985-05-24 | 1990-12-25 | Wells-Gardner Electronics Corp. | Light distribution and detection apparatus |
| EP0600576A1 (de) * | 1992-10-07 | 1994-06-08 | MICROFIELD GRAPHICS, Inc. | Elektromagnetisches graphisches Datenerfassungssystem auf einem Kode basierend |
| US5525764A (en) * | 1994-06-09 | 1996-06-11 | Junkins; John L. | Laser scanning graphic input system |
| US6437314B1 (en) * | 1999-03-31 | 2002-08-20 | Hitachi Software Engineering Co., Ltd. | Coordinate input pen, and electronic board, coordinate input system and electronic board system using the coordinate input pen |
| US6714311B2 (en) * | 2000-08-04 | 2004-03-30 | Xiroku Inc. | Position detection device, position pointing device, position detecting method and pen-down detecting method |
| US6825922B2 (en) * | 2002-09-26 | 2004-11-30 | Metron Systems, Inc. | Determination of the angular position of a laser beam |
-
2006
- 2006-07-10 WO PCT/EP2006/064062 patent/WO2007006772A2/de unknown
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3613066A (en) * | 1968-10-22 | 1971-10-12 | Cii | Computer input equipment |
| US4980547A (en) * | 1985-05-24 | 1990-12-25 | Wells-Gardner Electronics Corp. | Light distribution and detection apparatus |
| EP0600576A1 (de) * | 1992-10-07 | 1994-06-08 | MICROFIELD GRAPHICS, Inc. | Elektromagnetisches graphisches Datenerfassungssystem auf einem Kode basierend |
| US5525764A (en) * | 1994-06-09 | 1996-06-11 | Junkins; John L. | Laser scanning graphic input system |
| US6437314B1 (en) * | 1999-03-31 | 2002-08-20 | Hitachi Software Engineering Co., Ltd. | Coordinate input pen, and electronic board, coordinate input system and electronic board system using the coordinate input pen |
| US6714311B2 (en) * | 2000-08-04 | 2004-03-30 | Xiroku Inc. | Position detection device, position pointing device, position detecting method and pen-down detecting method |
| US6825922B2 (en) * | 2002-09-26 | 2004-11-30 | Metron Systems, Inc. | Determination of the angular position of a laser beam |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8890842B2 (en) | 2008-06-13 | 2014-11-18 | Steelcase Inc. | Eraser for use with optical interactive surface |
| US9189107B2 (en) | 2008-06-13 | 2015-11-17 | Steelcase Inc. | Eraser for use with optical interactive surface |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2007006772A3 (de) | 2007-04-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP2458363B1 (de) | Messung der Positionen von Krümmungsmittelpunkten optischer Flächen eines mehrlinsigen optischen Systems | |
| EP1420264B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung eines Messsystems | |
| EP2150780B1 (de) | Optoelektronisches lagemessverfahren und lagemesseinrichtung | |
| DE102007003024A1 (de) | Triangulationssensor mit Entfernungsbestimmung aus Lichtfleckposition und -form | |
| DE3007125A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur bestimmung der brechungseigenschaften einer testlinse | |
| DE19911419A1 (de) | Digitales Bereichssensorsystem | |
| DE112006001713T5 (de) | Winkelmessvorrichtung und -verfahren | |
| EP3168642B1 (de) | Optoelektronischer sensor und verfahren zur erfassung eines objekts | |
| DE202012004886U1 (de) | Messvorrichtung zum Messen von Winkeln zwischen optischen Flächen | |
| DE102011078833A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren einer Markierung an einem Objekt | |
| DE102011012611A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Messung eines Winkels | |
| EP1034413B1 (de) | Ellipsometer-messvorrichtung | |
| EP0245198A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines telezentrischen Lichtstrahls und Verfahren zur Herstellung eines holographischen Elements | |
| DE4434203C2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Messen visueller Eigenschaften von Oberflächen | |
| DE10041182C2 (de) | Optoelektronische Vorrichtung | |
| WO2007006772A2 (de) | Optomechanische vorrichtung zur positionserfassung und zur bestimmung eines winkels | |
| WO1999057513A1 (de) | Optischer neigungsmesser | |
| DE102013111256B4 (de) | Vorrichtung zur Messung der Lichtstreuung und Verfahren zum Prüfen einer Empfangsoptik | |
| WO2012163921A1 (de) | Biegewinkelsensor | |
| DE4426272C2 (de) | Druckmeßdose zur Messung des Druckes eines Strömungsmediums | |
| DE3611896A1 (de) | Vorrichtung zum beruehrungslosen messen geometrischer groessen | |
| EP0600048A1 (de) | Verfahren zur messung von relativen winkeln | |
| DE102009052739A1 (de) | Messsystem zur Bestimmung der Position und/oder Lage einer reflektiven optischen Komponente | |
| DE102020112489A1 (de) | Optische Messvorrichtung | |
| DE102009015627A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zu Bestimmung von Innendurchmesser, Außendurchmesser und der Wandstärke von Körpern |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 06777670 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A2 |