WO2004042622A1 - Semiconductor integrated circuit development method and semiconductor integrated circuit development support program - Google Patents

Semiconductor integrated circuit development method and semiconductor integrated circuit development support program Download PDF

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WO2004042622A1
WO2004042622A1 PCT/JP2003/014191 JP0314191W WO2004042622A1 WO 2004042622 A1 WO2004042622 A1 WO 2004042622A1 JP 0314191 W JP0314191 W JP 0314191W WO 2004042622 A1 WO2004042622 A1 WO 2004042622A1
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circuit
layout
hierarchical
module
analog
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PCT/JP2003/014191
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Inventor
Hitoshi Sugihara
Toshiyuki Usui
Hiroaki Sugimoto
Original Assignee
Renesas Technology Corp.
Hitachi Engineering Co., Ltd.
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30Circuit design
    • G06F30/39Circuit design at the physical level

Definitions

  • the present invention relates to a method for developing an analog circuit or an analog / digital mixed semiconductor integrated circuit (LSI) and a development support program for the semiconductor integrated circuit.
  • the present invention relates to an automatic layout tool for analog circuit modules, a hierarchical layer for large analog modules. Technology that is applicable to the project. Background art
  • an analog module layout system that uses analog automatic layout, cell shape selection and placement / routing are performed based on layout constraints (pairs, symmetry, etc.).
  • layout constraints pitch, symmetry, etc.
  • the layout design of an analog module can be performed by the following procedure.
  • a shape plan (Variant) for each cell to be placed is created, and an appropriate one is automatically selected and placed from among the shape plans for each cell.
  • the proposed cell shape is a variation of the cell shape that can be created by changing the parameter values of the parameterized cells.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 8-246658 discloses an automatic wiring technique for improving design efficiency and area efficiency by using cells standardized for an analog circuit block.
  • a standardized analog cell has a fixed cell height, the power supply wiring is arranged at the upper and lower ends of the cell so as to run in the horizontal direction, and the input / output wiring runs in the cell in the vertical direction.
  • a guard ring is arranged so as to surround the periphery.
  • the standardized analog cell is laid out on a chip to obtain an LSI having an analog circuit block. Disclosure of the invention
  • the inventor has studied an automatic rate technology (a hierarchical rate method) for a large-scale analog circuit. According to this, a large number of layouts are required to obtain the required analog circuit characteristics by individually designating the size, shape, orientation, relationship with other circuit elements, and the like of the circuit elements. It takes a number. For example, the time and effort required to apply a rate constraint to each circuit element for each circuit element subject to the same rate constraint becomes enormous. On the other hand, in a system similar to the standard cell of Patent Document 1, it is considered that it is difficult to obtain required analog characteristics even if the number of layouts is reduced.
  • An object of the present invention is to reduce the number of analog circuit man-hours. Another object of the present invention is to provide a method for developing a semiconductor integrated circuit.
  • Another object of the present invention is to provide a development support program that can easily support the development of a semiconductor integrated circuit with a reduced number of analog circuit layout steps.
  • a first aspect of the present invention is a simplified input of a rate constraint.
  • the specification of layout constraints is grasped as a part of circuit design.
  • a method for developing a semiconductor integrated circuit according to the present invention includes a circuit design support process for an analog circuit, and a rate design support process for the analog circuit.
  • the circuit design support process includes an attribute batch designation process for batch designating a layout attribute for each of a plurality of types of circuit elements constituting the analog circuit.
  • the layout attributes specified in the attribute collective specification processing are input, and the layout attributes of the circuit elements are reflected when laying out the circuit elements.
  • the attribute collective designation process includes, for example, a process for designating a shape range of a circuit element, a process for designating a constraint on a relative arrangement of circuit elements, and a circuit when a region on the circuit diagram of the analog circuit is divided into a plurality. For example, a process of designating a restriction on the layout position of the terminal according to the division area including the terminal shown in the figure.
  • the batch designating process of the layout attribute can save the trouble of separately applying the same layout constraint to the same type of circuit element.
  • layout constraints since layout constraints are performed at the circuit design stage, layout constraints can be determined in consideration of the relationship with required circuit characteristics, and required circuit characteristics can be obtained. This makes it easy to set layout constraints so as not to hinder or optimize the layout.
  • the time required for setting the rate constraint for the analog circuit can be reduced.
  • a second aspect of the present invention is the adoption of a hierarchical rate method.
  • the first hierarchical layout method is a top-down hierarchical layout. That is, the rate design support processing includes inputting hierarchical circuit diagram data of the analog circuit, and converting an area of a module specified from the input hierarchical circuit diagram data into a circuit constant of a circuit element included in the module. Based on this, the shape is made into a rectangle with a variable aspect ratio, and the module is regarded as one circuit element, and the circuit elements are laid out top down.
  • the layout of the top-down can be made flexible. The layout of this top-down allows a layout plan to be easily created in the upper layer, which is effective for the initial stage floor plan design and the like.
  • the second hierarchical layout method is a bottom-up hierarchical layout. That is, the layout design support processing includes inputting hierarchical circuit diagram data of the analog circuit, performing layout of a module specified from the input hierarchical circuit data from a lower hierarchical module, and laying out a layout of the upper hierarchical module. Then, the lower layer modules already laid out are regarded as rectangular circuit elements having a variable aspect ratio, and the circuit elements are laid out from the bottom up.
  • This bottom-up hierarchical layout method estimates the module area by actually laying out circuit elements, and is therefore effective at the final stage of floor blank design and module layout execution.
  • the layout processing of the analog circuit employs a module P-cell having a variable aspect ratio with an estimated area, and a hierarchical layout.
  • a method for developing a semiconductor integrated circuit from this viewpoint includes a process of inputting hierarchical circuit diagram data of an analog circuit and supporting a hierarchical layout design of the analog circuit.
  • a layout attribute collectively designated for each circuit element is input to a plurality of types of circuit elements constituting the analog circuit, and a layout attribute of the circuit element is reflected when laying out the circuit element.
  • the layout attributes include restrictions on the shape range of the circuit element, restrictions on the relative arrangement of the circuit element, and the like.
  • the terminal layout is divided into a plurality of circuit diagram regions of the module for which the hierarchical layout is specified from the input hierarchical circuit diagram of the analog circuit, and the terminal layout is determined according to where the terminals of the circuit diagram fall into the divided regions. May be performed.
  • the hierarchical rate method may be understood separately from the circuit design.
  • a method of developing a semiconductor integrated circuit from this viewpoint includes a process of inputting hierarchical circuit diagram data of an analog circuit and supporting a hierarchical layout design of the analog circuit.
  • the supporting process estimates an area of a module specified from the input hierarchical circuit diagram data of the analog circuit based on a circuit constant of a circuit element included in the module,
  • the shape is defined as a rectangle with a variable aspect ratio, and the module is regarded as one circuit element, and the circuit elements are laid out in a top-down manner.
  • the supporting process includes: The hierarchical circuit data of the analog circuit is input, the layout of the module specified from the input hierarchical circuit data of the analog circuit is performed from the lower hierarchical module, and the layout of the upper hierarchical module is already the layout.
  • the lower-layer module thus determined is regarded as a rectangular circuit element having a variable aspect ratio, and the circuit elements are laid out from the bottom up.
  • An invention according to yet another aspect is a development support program for causing a computer device to execute a process for supporting a hierarchical layout design of an analog circuit.
  • the layout constraint is specified collectively, the top-down hierarchical layout or the bottom-up hierarchical layout is performed.
  • FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating an outline of a development system used in a method of developing a semiconductor integrated circuit according to the present invention.
  • FIG. 2 is an explanatory diagram of an input screen for collectively specifying device style constraints.
  • FIG. 3 is an explanatory diagram of area division for collectively specifying pin style constraints.
  • FIG. 4 is an explanatory view of an input screen for designating a metal wiring layer constituting a terminal assigned to each of the four sides.
  • FIG. 5 is an explanatory diagram of an input screen for collectively specifying the arrangement positions of circuit elements.
  • FIG. 6 is an explanatory diagram of an input screen that allows a layout direction to be designated collectively for each element type.
  • FIG. 4 is an explanatory diagram of the pin arrangement of the module cell.
  • FIG. 8 is an explanatory diagram exemplifying a manner in which an aspect ratio of a module cell is variable.
  • Figure 9 is a top-down hierarchical layout diagram that uses module cells for the original hierarchical layout diagram.
  • FIG. 10 is an explanatory diagram exemplifying a module arrangement result of the top hierarchy.
  • FIG. 11 is an explanatory diagram showing a wiring result between modules with respect to the module arrangement of FIG.
  • FIG. 12 is a flowchart illustrating a processing procedure of the bottom-up hierarchical layout processing.
  • FIG. 14 is an explanatory diagram showing the placement and routing results in a circuit hierarchical configuration.
  • FIG. 1 illustrates an outline of a development system used in a method for developing a semiconductor integrated circuit according to the present invention.
  • the development system shown in the figure includes, but is not limited to, a circuit editor 1 and a layout editor 2.
  • the circuit editor 1 and the layout editor 2 are configured by installing the circuit editor program and the layout editor program on separate computer devices or the same computer device, respectively.
  • Circuit Editor 1 is positioned as a circuit design tool for analog LSI
  • the target analog circuit is hierarchized, and it assists in designing a specific circuit to satisfy the required electrical characteristics for each hierarchical module.
  • a circuit diagram can be generated according to input operations by making it possible to ascertain the size of circuit elements, circuit element drive capability, circuit element connections, timing, operating margin, and the effect on chip size.
  • the circuit editor 1 performs, as a circuit design support process, an attribute batch designation process (layout constraint batch designation process) for batch designating layout attributes for each circuit element.
  • the layout editor 2 inputs the hierarchical circuit diagram data 3 and the collective constraint data 4 generated in the circuit editor 1.
  • Collective constraint data 4 is late constraint data obtained in the late constraint collective designation process.
  • the layout editor 2 supports the layout of the specific circuit elements, that is, the placement and routing based on the input hierarchical circuit diagram data 3 and the collective constraint data 4. At this time, the layout editor 2 performs a hierarchical layout process as the layout design support process
  • the late constraint batch designation process is a process for batch designating a layout attribute for each of a plurality of types of circuit elements constituting the analog circuit.
  • the late constraint collective designation process includes, for example, a process of designating a shape range of a circuit element, a process of designating a constraint relating to a relative arrangement of circuit elements, and a circuit diagram when an area on the circuit diagram of the analog circuit is divided into a plurality. For example, a process of designating a restriction on a layout position of a terminal according to a divided region including the terminal. This focuses on the fact that similar constraints are often specified for circuit elements of the same type, and rate constraints are collectively specified for each circuit element type. An example of rate constraint batch specification is shown below. (1) Batch specification of device style constraints
  • the average value of the resistance value Is 4.6 k ⁇ , so the reference resistance value is 4 k ⁇ .
  • the type and number of the resistive elements in the circuit module may be automatically extracted from the hierarchical circuit data. Selection of the standard resistance value with respect to the average value may be automatically performed.
  • the range of the minimum (M in) and the maximum (Max) for the standard size of each circuit element can be specified.
  • Selectable circuit elements are shown in the TargetCell (s) column.
  • the state in which the display of the circuit element name is inverted between white and black means that the circuit element is selected.
  • MN is an N-channel MOS transistor
  • MP is a P-channel MOS transistor
  • QN is a bipolar transistor
  • RP is a resistor
  • C CN is a capacitor.
  • the specified minimum (M in) and maximum (Max) values for the circuit elements MN and MP mean the gate width.
  • FIG. 4 shows an example of an input screen for designating a metal wiring layer constituting a terminal assigned to each of the four sides.
  • Top Pin indicates a terminal arranged on the top side
  • Bottom Pin indicates a terminal arranged on the bottom side
  • Left Pin indicates a terminal arranged on the left side
  • Right Pin indicates a terminal arranged on the right side.
  • CMOS circuit a P-channel MOS transistor is placed at the top, and an N-channel MOS transistor is placed at the bottom.
  • Fig. 5 shows an example of an input screen that allows the layout position to be specified collectively for each element type.
  • the circuit element can be selected from the column of Cel l (s), and the layout position can be selected from the column of Soft Box.
  • Top means upper side.
  • Fig. 6 shows an example of an input screen that allows the layout direction to be specified collectively for each element type.
  • the circuit element should be selected from the column of Cell (s), and the placement direction to be prohibited should be selected from the column of Orient (s).
  • R 180 means 180 degree rotation
  • MX means mirror inversion with respect to X axis
  • MXR 90 means 90 degree rotation after mirror inversion with respect to X axis.
  • restrictions that can be specified collectively include terminal distance restrictions, terminal symmetry restrictions, wiring width and wiring layer restrictions, wiring topology restrictions, wiring prohibited area crosstalk restrictions, and wiring electrical crosstalk restrictions.
  • the module P cell used for the hierarchical rate processing will be described.
  • the module P-cell is a parameterized cell (P-Ce 11) that can freely change the aspect ratio with a constant area (holding) to create a module shape proposal.
  • a module can be understood as a functional unit of any hierarchical level specified in the hierarchical circuit diagram.
  • the pin arrangement of the module P-cell is set based on the circuit diagram of the module (top level) or the circuit diagram symbol (middle level). This is because the pin arrangement by these is often the same as the pin arrangement in the layout design. As shown in Fig. 7, the pin arrangement of the module P-cell can be initialized using the relative position (ratio to the external shape) from the pin arrangement of the circuit diagram symbol.
  • 10 is a circuit diagram symbol
  • 11 is a module P cell.
  • the area estimation for the module P cell is performed in the following procedure.
  • the area of each circuit element constituting the module of the hierarchy is calculated from the element constant value. For example, in the case of a resistive element, the area is estimated based on the resistance value, and in the case of the MOS transistor, the area is estimated based on the gate width (W) and the gate length (L).
  • the process of step 1 is executed for all elements in the lower layer of the module, and the total area is calculated.
  • the total area obtained in steps 1 and 2 above is multiplied by a coefficient, taking into account the power supply, the space between elements, and the like, to obtain the area of the module.
  • the module P cell can be regarded as one rectangular circuit cell having a variable aspect ratio as illustrated in FIG.
  • a top-down hierarchical layout process which is one of the hierarchical layout processes, will be described.
  • hierarchical circuit data of an analog circuit is input, and an area of a module specified from the input hierarchical circuit data is estimated based on circuit constants of circuit elements included in the module.
  • the shape is a rectangle with a variable aspect ratio, and the module (module P cell) is regarded as one circuit element, and the circuit elements are laid out in a top-down manner.
  • Ask circuit module The flexibility of the top-down layout can be increased by considering the rectangular circuit element whose area is estimated with variable gate ratio. With this top-down layout, a layout plan can be easily created in the upper layer, which is effective for floor-blank design in the initial stage.
  • the top-down hierarchy rate processing will be described more specifically.
  • the top-down hierarchy layout process is performed in the following procedure.
  • step 1 create a module P-cell for each analog module in the top level (top level) circuit diagram.
  • step 3 change the analog module reference in the top-down hierarchical layout drawing to the module P-cell.
  • FIG. 9 exemplifies a top-down hierarchical layout diagram using module P-cells with respect to the original hierarchical layout diagram.
  • step 4 specify layout constraints (aspect ratio, placement position, etc.) for each module P-cell.
  • analog automatic layout DA design method
  • layout automated placement / wiring
  • NeoCell registered trademark
  • the inputs at this time are the hierarchical layout drawing, the architecture of the top hierarchical layout (area, pin position, etc.), and the layout constraints specified collectively.
  • the output is the placement / wiring result of the analog module.
  • the P cell parameterized cell of that circuit element is used. This allows the analog module and the basic Allows for mixed elements and eliminates restrictions on hierarchical structure.
  • FIG. 10 exemplifies the result of module placement in the top hierarchy
  • FIG. 11 shows the result of inter-module wiring for the module placement in FIG.
  • step 6 each analog module obtained in step 5 is used as a layout top layer, and steps 1 to 5 are repeated in order from the upper layer to the lower layer, until the analog module at the lowest layer is repeated. This completes the placement / wiring of all layers.
  • the layout area of an analog module greatly depends on its layout constraints (target layout, target wiring, device skew reduction dummy element layout, etc.), and even with the same circuit configuration, the layout area is equal to the total area of all elements. In many cases, there is a variation of 150% or more with respect to the total area of the diffusion layers. This method can easily determine the approximate layout in a short time as compared with the bottom-up hierarchical layout method described later, and is effective for floor blank design at the initial stage of chip layout.
  • the second hierarchical layout method is a bottom-up hierarchical layout.
  • the hierarchical circuit data of the analog circuit is input, the layout of the module specified from the input hierarchical circuit data is performed from the lower hierarchical module, and the layout of the upper hierarchical module is as follows.
  • the lower layer module already laid out is regarded as a rectangular circuit element having a variable aspect ratio, and the circuit elements are laid out from the bottom up. Since the bottom-up hierarchical layout method estimates the module area by actually performing the element layout, it is effective at the final stage of floor blank design and module layout execution.
  • FIG. 12 illustrates a processing procedure of the bottom-up hierarchical layout processing. According to this, the bottom-up hierarchy rate processing is performed in the following procedure.
  • step 1 trace the drawing hierarchy from the top-level schematic and create a tree structure.
  • a hierarchical number is assigned from the leaf (leaf) of the tree structure to the root (root).
  • the hierarchical level of the intermediate hierarchical circuit (node) shall be one greater than the hierarchical level of the referenced schematic.
  • step 2 a layout is performed for the lowest hierarchical level where no layout has been performed. That is, first, a layout constraint is input (S 1). The placement / routing is executed based on the result (S 2). For the lower rate completion hierarchy module, a module P cell is used. Create a module P cell from layout results (area, terminal position, etc.) (S3)
  • step 2 is repeated from the lower hierarchy to the uppermost hierarchy. This completes the layout for all layers.
  • module P-cells with variable area ratio with estimated area are adopted, batch setting of rate constraints is adopted, and hierarchical rate method (top-down, bottom-up) By adopting), the man-hours for layout of an analog-digital mixed LSI can be greatly improved, such as by 50%.
  • the above-described analog circuit layout processing by the development system of FIG. 1 is realized by executing a circuit editor program and a layout editor program installed in the computer.
  • a program is provided by a recording medium such as CD-ROM or a communication medium such as the Internet.
  • the layout constraints are collectively specified, the top-down hierarchical layout, or the bottom-up hierarchical layout is performed as processing for supporting the hierarchical layout design of the analog circuit.
  • a function of controlling the arrangement of dummy elements may be added in addition to the function of setting layout constraints in a lump.
  • the position and number of dummy elements to be added may be specified by radio buttons on the display screen.
  • It is also possible to promote the practical use of an analog automatic rate by combining a circuit analysis with a variation analysis method as one of the rate constraint sufficiency verification means, and by starting up and combining an actual load simulation environment. This is applicable not only to analog-digital mixed (analog / digital mixed) LSI, but also to new analog module development and process migration of system-on-chip (S ⁇ C) LSI. Industrial applicability
  • the present invention can be widely applied to automatic rate tools for analog circuit modules, hierarchical rates for large-scale analog modules, and the like.

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Abstract

A semiconductor integrated circuit development method includes an analog circuit design support processing and a layout design support processing for the analog circuit. The circuit design support processing includes an attribute batch specification processing for specifying in batch mode a layout attribute for each of circuit elements of a plurality of types constituting the analog circuit. The layout design support processing inputs the layout attribute specified by the attribute batch specification processing and reflects the layout attribute concerning the circuit element when performing the circuit element layout. With the batch specification of the layout attribute, it is possible to save the energy required for assigning the same layout restriction to the identical type of circuit elements separately. Since the layout restriction is performed in the circuit design stage, it is possible to decide the layout restriction while considering the relationship with the necessary circuit characteristic.

Description

明 細 書 半導体集積回路の開発方法及び半導体集積回路の開発支援プログラム  SPECIFICATION Semiconductor integrated circuit development method and semiconductor integrated circuit development support program
技術分野 Technical field
本発明は、 アナログ回路又はアナログ ·ディジタル混在の半導体集積 回路(L S I ) の開発方法及び半導体集積回路の開発支援プログラムに 関し、 例えば、 アナログ回路モジュールの自動レイアウトツール、 大規 摸なアナログモジュールの階層レイァゥ トに適用して有効な技術に関 する。 背景技術  The present invention relates to a method for developing an analog circuit or an analog / digital mixed semiconductor integrated circuit (LSI) and a development support program for the semiconductor integrated circuit. For example, the present invention relates to an automatic layout tool for analog circuit modules, a hierarchical layer for large analog modules. Technology that is applicable to the project. Background art
近年、 アナログ回路又はアナログ ·ディジタル混在の半導体集積回路 に対するレイァゥト設計においては、アナログ回路の大規模化に伴ない レイァゥト設計に要する工数の増大が顕著となってきている。 また、 ァ ナログ回路のレイァゥ ト設計は人手によるところが多く 自動化が殆ど 進んでいない分野であり、 早急な改善が必要とされていた。  In recent years, in the late design for analog circuits or analog-digital mixed semiconductor integrated circuits, the man-hour required for the late design has been remarkably increased with the increase in the scale of analog circuits. In addition, the layout design of analog circuits is a field in which automation is hardly advanced due to many manual steps, and urgent improvement was required.
アナログ自動レイァゥ トを用いたアナログモジュールのレイアウ ト システムでは、 レイァゥト制約(ペア、 対称等)に基づいてセル形状選択 及び配置/配線を実行する。例えば、 アナログモジュールのレイアウ ト 設計は、 以下の手順で行なうことができる。  In an analog module layout system that uses analog automatic layout, cell shape selection and placement / routing are performed based on layout constraints (pairs, symmetry, etc.). For example, the layout design of an analog module can be performed by the following procedure.
( 1 ) セルサイズ、 グリッ ド、 電源/グランドの位置や幅を指定し、 レ ィァゥト外形を設定する。  (1) Specify the cell size, grid, power / ground position and width, and set the outer dimensions.
( 2 ) 回路図上でアナログレイアウト制約を設定する。  (2) Set analog layout constraints on the circuit diagram.
( 3 )設定したアナログレイアウト制約とパラメタライズドセルを使用 し、 自動配置を実行する。 自動配置結果は複数作成可能であり、 その中 から最適なものをユーザが選択する。 (3) Execute automatic placement using the set analog layout constraints and parameterized cells. Multiple automatic placement results can be created, among which The user selects the most suitable one from.
( 4 )選択した配置結果のデザィンを自動配線する。 自動配置ではアナ ログレイアウト制約 (モジュールジェネレータ制約) に基づいて、 配置 する各セルの形状案 (Variant) を作成し、 各セルの形状案の中から適 切なものを自動選択し配置する。各セルの形状案は、 パラメタライズド セルのパラメ一夕値を変更することで作成できるセル形状のバリエー シヨンのことである。  (4) Automatically route the design of the selected placement result. In automatic placement, based on the analog layout constraints (module generator constraints), a shape plan (Variant) for each cell to be placed is created, and an appropriate one is automatically selected and placed from among the shape plans for each cell. The proposed cell shape is a variation of the cell shape that can be created by changing the parameter values of the parameterized cells.
特許文献 1 (特開平 8— 2 6 4 6 5 8号公報) にはアナログ回路プロ ックについて規格化したセルを用いて設計効率及び面積効率を向上さ せる自動配線技術が開示される。 これによれば、 規格化したアナログセ ルは、 セル高さが一定に固定され、 電源配線がセルの上下端に横方向に 走るように配置され、入出力配線はセル内を縦方向に走るように配置さ れ、 周囲を取り囲むようにガードリングが配置される。 このように規格 化されたアナログセルをチップにレイァゥ トしてアナログ回路ブロッ クを持つ L S Iを得る。 発明の開示  Patent Document 1 (Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 8-246658) discloses an automatic wiring technique for improving design efficiency and area efficiency by using cells standardized for an analog circuit block. According to this, a standardized analog cell has a fixed cell height, the power supply wiring is arranged at the upper and lower ends of the cell so as to run in the horizontal direction, and the input / output wiring runs in the cell in the vertical direction. And a guard ring is arranged so as to surround the periphery. The standardized analog cell is laid out on a chip to obtain an LSI having an analog circuit block. Disclosure of the invention
本発明者は、 大規模アナログ回路の自動レイァゥ ト技術(階層レイァ ゥト手法) について検討した。 これによれば、 必要なアナログ回路特性 を得るのに、 回路素子の大きさ、 形状、 向き、 他の回路素子との関係な どを個別に指定して、 レイアウトを行なう場合には多大のレイァゥトェ 数を要してしまう。例えば、 同じレイァゥト制約を受ける回路素子に対 して回路素子毎に逐一レイァゥト制約を付与する手間が膨大になる。そ の反面、 特許文献 1のスタンダ一ドセル類似の方式では、 レイアウトェ 数は低減しても、 所要のアナログ特性を得るのが難しいと考えられる。 本発明の目的は、アナログ回路のレイァゥト工数を低減することがで きる半導体集積回路の開発方法を提供することにある。 The inventor has studied an automatic rate technology (a hierarchical rate method) for a large-scale analog circuit. According to this, a large number of layouts are required to obtain the required analog circuit characteristics by individually designating the size, shape, orientation, relationship with other circuit elements, and the like of the circuit elements. It takes a number. For example, the time and effort required to apply a rate constraint to each circuit element for each circuit element subject to the same rate constraint becomes enormous. On the other hand, in a system similar to the standard cell of Patent Document 1, it is considered that it is difficult to obtain required analog characteristics even if the number of layouts is reduced. An object of the present invention is to reduce the number of analog circuit man-hours. Another object of the present invention is to provide a method for developing a semiconductor integrated circuit.
本発明の別の目的は、アナログ回路のレイァゥト工数を低減した半導 体集積回路の開発を容易に支援できるようにする開発支援プログラム を提供することにある。  Another object of the present invention is to provide a development support program that can easily support the development of a semiconductor integrated circuit with a reduced number of analog circuit layout steps.
本発明の前記並びにその他の目的と新規な特徴は本明細書の記述及 び添付図面から明らかになるであろう。  The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を簡単に説 明すれば下記の通りである。  The following is a brief description of an outline of typical inventions disclosed in the present application.
〔 1〕本発明の第 1の観点はレイァゥト制約の簡易入力である。 ここ では、 レイアウト制約の指定を回路設計の一貫として把握する。本発明 に係る半導体集積回路の開発方法は、アナログ回路の回路設計支援処理 と、 前記アナログ回路のレイァゥト設計支援処理とを含む。前記回路設 計支援処理は、前記アナログ回路を構成する複数種類の回路素子に対し、 回路素子毎にレイァゥ ト属性を一括指定するための属性一括指定処理 を含む。前記レイァゥト設計支援処理は、 属性一括指定処理で指定され たレイァゥト属性を入力し、回路素子のレイァゥトに際して当該回路素 子に関するレイァゥト属性を反映させる。  [1] A first aspect of the present invention is a simplified input of a rate constraint. Here, the specification of layout constraints is grasped as a part of circuit design. A method for developing a semiconductor integrated circuit according to the present invention includes a circuit design support process for an analog circuit, and a rate design support process for the analog circuit. The circuit design support process includes an attribute batch designation process for batch designating a layout attribute for each of a plurality of types of circuit elements constituting the analog circuit. In the layout design support processing, the layout attributes specified in the attribute collective specification processing are input, and the layout attributes of the circuit elements are reflected when laying out the circuit elements.
前記属性一括指定処理は、 例えば、 回路素子の形状範囲を指定する処 理、 回路素子の相対配置に関する制約を指定する処理、 前記アナログ回 路の回路図上の領域を複数に分割したとき、回路図の端子が含まれる分 割領域に従って端子のレイァゥ ト位置の制約を指定する処理などであ る。  The attribute collective designation process includes, for example, a process for designating a shape range of a circuit element, a process for designating a constraint on a relative arrangement of circuit elements, and a circuit when a region on the circuit diagram of the analog circuit is divided into a plurality. For example, a process of designating a restriction on the layout position of the terminal according to the division area including the terminal shown in the figure.
レイァゥト属性の一括指定処理により、同種の回路素子に対して別々 に同じレイァゥト制約を付与する手間を省くことができる。 また、 レイ アウ ト制約を回路設計段階で行なうから、必要な回路特性との関係を考 慮しながらレイァゥト制約を決めることが出来、所要の回路特性を得る のに支障にならないように若しくは最適となるようにレイアウ ト制約 を設定することが容易になる。要するに、 レイァゥト制約の一括設定を 採用することにより、アナログ回路に対するレイァゥ ト制約の設定に要 する時間を短縮することができる。 The batch designating process of the layout attribute can save the trouble of separately applying the same layout constraint to the same type of circuit element. In addition, since layout constraints are performed at the circuit design stage, layout constraints can be determined in consideration of the relationship with required circuit characteristics, and required circuit characteristics can be obtained. This makes it easy to set layout constraints so as not to hinder or optimize the layout. In short, by adopting the batch setting of the rate constraint, the time required for setting the rate constraint for the analog circuit can be reduced.
本発明の第 2の観点は階層レイァゥト手法の採用である。第 1の階層 レイァゥト手法は、 トップダウン階層レイァゥトである。 即ち、 前記レ ィァゥト設計支援処理は、前記アナログ回路の階層回路図データを入力 し、入力した前記階層回路図デ一夕から特定されるモジュールの面積を 当該モジュールに含まれる回路素子の回路定数に基づいて推定し、その 形状をァスぺク ト比可変の矩形とし、当該モジュールを一つの回路素子 と見なして、 トップダウンで回路素子のレイァゥトを行う。 回路モジュ 一ルをァスぺク ト比可変で面積が推定された矩形回路素子とみなすこ とによってトツプダゥンのレイアウトに融通性ができる。このトツプダ ゥンのレイアウ トにより上位側階層にて簡易にレイァゥ ト案を作成す ることができ、 初期段階のフロアプラン設計などに有効である。  A second aspect of the present invention is the adoption of a hierarchical rate method. The first hierarchical layout method is a top-down hierarchical layout. That is, the rate design support processing includes inputting hierarchical circuit diagram data of the analog circuit, and converting an area of a module specified from the input hierarchical circuit diagram data into a circuit constant of a circuit element included in the module. Based on this, the shape is made into a rectangle with a variable aspect ratio, and the module is regarded as one circuit element, and the circuit elements are laid out top down. By regarding the circuit module as a rectangular circuit element whose area is estimated with a variable aspect ratio, the layout of the top-down can be made flexible. The layout of this top-down allows a layout plan to be easily created in the upper layer, which is effective for the initial stage floor plan design and the like.
第 2の階層レイアウト手法はボトムアツプ階層レイアウトである。即 ち、 レイァゥ ト設計支援処理は、 前記アナログ回路の階層回路図データ を入力し、入力した前記階層回路図データから特定されるモジュールの レイァゥ トを下位階層モジュールから行ない、その上位階層モジュール のレイアウトでは、既にレイァゥ卜された下位階層モジュールをァスぺ ク ト比可変の矩形回路素子と見なして、ボトムアップで回路素子のレイ アウトを行う。このボトムアップ階層レイァゥト手法は回路素子のレイ アウトを実際に実行してモジュール面積を推定するので、最終段階での フロアブラン設計、 モジュールレイァゥ ト実行時に有効である。  The second hierarchical layout method is a bottom-up hierarchical layout. That is, the layout design support processing includes inputting hierarchical circuit diagram data of the analog circuit, performing layout of a module specified from the input hierarchical circuit data from a lower hierarchical module, and laying out a layout of the upper hierarchical module. Then, the lower layer modules already laid out are regarded as rectangular circuit elements having a variable aspect ratio, and the circuit elements are laid out from the bottom up. This bottom-up hierarchical layout method estimates the module area by actually laying out circuit elements, and is therefore effective at the final stage of floor blank design and module layout execution.
斯様に、 アナログ回路のレイァゥト処理に、 推定された面積をもって ァスぺク ト比可変とされるモジュール Pセルを採用し、階層レイアウ ト 手法 (トップダウン、 ボトムアップ) を採用することにより、 アナログ 回路のレイァゥ トを効率化することが可能となる。 In this way, the layout processing of the analog circuit employs a module P-cell having a variable aspect ratio with an estimated area, and a hierarchical layout. By adopting the method (top-down, bottom-up), it is possible to increase the efficiency of analog circuit layout.
〔2〕 レイァゥト制約の指定を回路設計とは切り離して把握してもよ レ、。 この観点による半導体集積回路の開発方法は、 アナログ回路の階層 回路図データを入力して、前記アナログ回路の階層レイァゥト設計を支 援する処理を含む。前記支援処理は、 前記アナログ回路を構成する複数 種類の回路素子に対し、回路素子毎に一括指定されたレイァゥト属性を 入力し、回路素子のレイァゥ卜に際して当該回路素子に関するレイァゥ ト属性を反映させる。  [2] The specification of the rate constraint may be grasped separately from the circuit design. A method for developing a semiconductor integrated circuit from this viewpoint includes a process of inputting hierarchical circuit diagram data of an analog circuit and supporting a hierarchical layout design of the analog circuit. In the support processing, a layout attribute collectively designated for each circuit element is input to a plurality of types of circuit elements constituting the analog circuit, and a layout attribute of the circuit element is reflected when laying out the circuit element.
前記レイアウ ト属性は、 回路素子の形状範囲に関する制約、 回路素子 の相対配置に関する制約等である。端子レイァゥトについては、 入力し た前記アナログ回路の階層回路図から特定される階層レイァゥ ト対象 モジュールの回路図領域を複数分割して、回路図の端子が分割領域のど こに入るかに従って端子のレイアウトを行なうようにしてよい。  The layout attributes include restrictions on the shape range of the circuit element, restrictions on the relative arrangement of the circuit element, and the like. The terminal layout is divided into a plurality of circuit diagram regions of the module for which the hierarchical layout is specified from the input hierarchical circuit diagram of the analog circuit, and the terminal layout is determined according to where the terminals of the circuit diagram fall into the divided regions. May be performed.
レイァゥト属性の一括指定により、同種の回路素子に対して別々に同 じレイァゥト制約を付与する手間を省くことができる。  By collectively specifying the layout attributes, it is possible to eliminate the need to separately apply the same layout constraints to the same type of circuit element.
〔 3〕 階層レイァゥト手法を回路設計とは切り離して把握してよい。 この観点による半導体集積回路の開発方法は、アナログ回路の階層回路 図データを入力して、前記アナログ回路の階層レイァゥト設計を支援す る処理を含む。 トップダウン階層レイアウトを採用する場合、 前記支援 する処理は、入力した前記アナログ回路の階層回路図データから特定さ れるモジュールの面積を当該モジュールに含まれる回路素子の回路定 数に基づいて推定し、 その形状をァスぺク ト比可変の矩形とし、 当該モ ジュールを一つの回路素子と見なして、 卜ップダウンで回路素子のレイ アウトを行う。  [3] The hierarchical rate method may be understood separately from the circuit design. A method of developing a semiconductor integrated circuit from this viewpoint includes a process of inputting hierarchical circuit diagram data of an analog circuit and supporting a hierarchical layout design of the analog circuit. When a top-down hierarchical layout is adopted, the supporting process estimates an area of a module specified from the input hierarchical circuit diagram data of the analog circuit based on a circuit constant of a circuit element included in the module, The shape is defined as a rectangle with a variable aspect ratio, and the module is regarded as one circuit element, and the circuit elements are laid out in a top-down manner.
ボトムアップ階層レイァゥトを採用する場合、 前記支援する処理は、 前記アナログ回路の階層回路図データを入力し、入力した前記アナログ 回路の階層回路図データから特定されるモジュールのレイァゥ トを下 位階層モジュールから行ない、その上位階層モジュールのレイァゥ卜で は、既にレイァゥトされた下位階層モジュールをァスぺク ト比可変の矩 形回路素子と見なして、 ボトムアップで回路素子のレイアウトを行う。 When the bottom-up hierarchical layout is adopted, the supporting process includes: The hierarchical circuit data of the analog circuit is input, the layout of the module specified from the input hierarchical circuit data of the analog circuit is performed from the lower hierarchical module, and the layout of the upper hierarchical module is already the layout. The lower-layer module thus determined is regarded as a rectangular circuit element having a variable aspect ratio, and the circuit elements are laid out from the bottom up.
〔4〕更に別の観点による発明はアナログ回路の階層レイァゥト設計 を支援する処理をコンピュータ装置に実行させる開発支援プログラム である。 前記支援する処理として、 前記レイァゥト制約の一括指定、 前 記トップダゥン階層レイアウト、又は前記ボトムアツプ階層レイアウ ト を行う。 この開発支援プログラムを実行することにより、 アナログ回路 のレイァゥ 卜工数を低減した半導体集積回路の開発を容易に行うこと が可能になる。 図面の簡単な説明  [4] An invention according to yet another aspect is a development support program for causing a computer device to execute a process for supporting a hierarchical layout design of an analog circuit. As the supporting process, the layout constraint is specified collectively, the top-down hierarchical layout or the bottom-up hierarchical layout is performed. By executing this development support program, it becomes possible to easily develop a semiconductor integrated circuit with a reduced number of analog circuit layout steps. BRIEF DESCRIPTION OF THE FIGURES
第 1図は本発明に係る半導体集積回路の開発方法に利用される開発 システムの概略を例示する説明図である。  FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating an outline of a development system used in a method of developing a semiconductor integrated circuit according to the present invention.
第 2図はデバイススタイル制約の一括指定のための入力画面の説明 図である。  FIG. 2 is an explanatory diagram of an input screen for collectively specifying device style constraints.
第 3図はピンスタイル制約の一括指定を行なうための領域分割の説 明図である。  FIG. 3 is an explanatory diagram of area division for collectively specifying pin style constraints.
第 4図は 4辺の各辺に割り当てられる端子を構成する金属配線層を 指定する入力画面の説明図である。  FIG. 4 is an explanatory view of an input screen for designating a metal wiring layer constituting a terminal assigned to each of the four sides.
第 5図は回路素子の配置位置の一括指定のための入力画面の説明図 である。  FIG. 5 is an explanatory diagram of an input screen for collectively specifying the arrangement positions of circuit elements.
第 6図は素子種毎に配置方向を一括指定可能にする入力画面の説明 図である。 第 Ί図はモジュール Ρセルのピン配置の説明図である。 FIG. 6 is an explanatory diagram of an input screen that allows a layout direction to be designated collectively for each element type. FIG. 4 is an explanatory diagram of the pin arrangement of the module cell.
第 8図はモジュール Ρセルのァスぺク ト比可変の様子を例示する説 明図である。  FIG. 8 is an explanatory diagram exemplifying a manner in which an aspect ratio of a module cell is variable.
第 9図はオリジナルの階層レイアウト図に対しモジュール Ρセルを 用いる トップダウン階層レイアウト図である。  Figure 9 is a top-down hierarchical layout diagram that uses module cells for the original hierarchical layout diagram.
第 1 0図はトツプ階層のモジュール配置結果を例示する説明図であ る。  FIG. 10 is an explanatory diagram exemplifying a module arrangement result of the top hierarchy.
第 1 1図は第 1 0図のモジュール配置に対するモジュール間配線結 果を示す説明図である。  FIG. 11 is an explanatory diagram showing a wiring result between modules with respect to the module arrangement of FIG.
第 1 2図はボトムアップ階層レイァゥト処理の処理手順を例示する フローチヤ一トである。  FIG. 12 is a flowchart illustrating a processing procedure of the bottom-up hierarchical layout processing.
第 1 3図は最上位階層 : l evel=3、 最下位階層 : l evel=l とされる回 路図階層構成の説明図である。  FIG. 13 is an explanatory diagram of a circuit diagram hierarchical structure in which the highest hierarchy is l evel = 3 and the lowest hierarchy is l evel = l.
第 1 4図は配置配線結果を回路階層構成で示す説明図である。  FIG. 14 is an explanatory diagram showing the placement and routing results in a circuit hierarchical configuration.
である。 発明を実施するための最良の形態 It is. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
《開発システム》  《Development system》
第 1図には本発明に係る半導体集積回路の開発方法に利用される開 発システムの概略が例示される。  FIG. 1 illustrates an outline of a development system used in a method for developing a semiconductor integrated circuit according to the present invention.
同図に示される開発システムは、 特に制限されないが、 回路エディタ 1とレイアウトエディタ 2を含む。回路エディタ 1 とレイアウトエディ 夕 2は、夫々別々のコンピュータ装置若しくは同一のコンピュータ装置 に、回路エディ夕プログラムとレイァゥトエディ夕プログラムがィンス トールされて構成される。  The development system shown in the figure includes, but is not limited to, a circuit editor 1 and a layout editor 2. The circuit editor 1 and the layout editor 2 are configured by installing the circuit editor program and the layout editor program on separate computer devices or the same computer device, respectively.
回路エディタ 1は、アナログ L S Iの回路設計ツールとして位置付け られ、 目的とするアナログ回路を階層化し、 階層モジュール毎に必要な 電気的特性を満足するように具体的な回路を設計するのを支援する。例 えば、 回路素子のサイズ、 回路素子の駆動能力、 回路素子の接続、 タイ ミング、 動作マージン、 チップサイズへの影響などを把握可能として、 入力操作に従って回路図を生成していく。 特に前記回路エディタ 1は、 回路設計支援処理として、回路素子毎にレイァゥト属性を一括指定する ための属性一括指定処理 (レイアウ ト制約一括指定処理) を行なう。 前記レイァゥトエディタ 2は、回路エディ夕 1で生成された階層回路 図データ 3と一括制約データ 4を入力する。一括制約データ 4は前記レ ィァゥト制約一括指定処理で得られるレイァゥト制約データである。前 記レイアウトエディタ 2は、入力した階層回路図データ 3と一括制約デ 一夕 4に基いて、 具体的な回路素子のレイァゥト、 即ち配置配線を行な うのを支援する。 このとき、 前記レイアウトエディタ 2は、 前記レイァ ゥト設計支援処理として階層レイァゥト処理を行なう。 Circuit Editor 1 is positioned as a circuit design tool for analog LSI In addition, the target analog circuit is hierarchized, and it assists in designing a specific circuit to satisfy the required electrical characteristics for each hierarchical module. For example, a circuit diagram can be generated according to input operations by making it possible to ascertain the size of circuit elements, circuit element drive capability, circuit element connections, timing, operating margin, and the effect on chip size. In particular, the circuit editor 1 performs, as a circuit design support process, an attribute batch designation process (layout constraint batch designation process) for batch designating layout attributes for each circuit element. The layout editor 2 inputs the hierarchical circuit diagram data 3 and the collective constraint data 4 generated in the circuit editor 1. Collective constraint data 4 is late constraint data obtained in the late constraint collective designation process. The layout editor 2 supports the layout of the specific circuit elements, that is, the placement and routing based on the input hierarchical circuit diagram data 3 and the collective constraint data 4. At this time, the layout editor 2 performs a hierarchical layout process as the layout design support process.
《レイァゥト制約一括指定》  《Late constraint batch specification》
レイァゥト制約一括指定処理は、前記アナログ回路を構成する複数種 類の回路素子に対し、回路素子毎にレイァゥト属性を一括指定するため の処理である。  The late constraint batch designation process is a process for batch designating a layout attribute for each of a plurality of types of circuit elements constituting the analog circuit.
前記レイァゥト制約一括指定処理は、 例えば、 回路素子の形状範囲を 指定する処理、 回路素子の相対配置に関する制約を指定する処理、 前記 アナログ回路の回路図上の領域を複数に分割したとき、回路図の端子が 含まれる分割領域に従って端子のレイァゥ ト位置の制約を指定する処 理などである。 これは、 同種の回路素子に対しては、 同様の制約を指定 する場合が多いことに着目し、回路素子種毎に一括してレイァゥト制約 を指定するようにしたものである。以下にレイァゥト制約一括指定の例 を示す。 ( 1 ) デバイススタイル制約の一括指定 The late constraint collective designation process includes, for example, a process of designating a shape range of a circuit element, a process of designating a constraint relating to a relative arrangement of circuit elements, and a circuit diagram when an area on the circuit diagram of the analog circuit is divided into a plurality. For example, a process of designating a restriction on a layout position of a terminal according to a divided region including the terminal. This focuses on the fact that similar constraints are often specified for circuit elements of the same type, and rate constraints are collectively specified for each circuit element type. An example of rate constraint batch specification is shown below. (1) Batch specification of device style constraints
これは、 素子定数 (抵抗値、 等) の情報から、 その素子の形状案 (バ リアント)制約を一括作成する処理である。形状変形範囲をユーザが直 接指定する方法、 又は、 その配置形状が標準形状となるように自動設定 する方法を採用可能である。 例えば、 抵抗素子に対し、 回路中にある抵 抗値の平均に近い抵抗素子を基準抵抗値として採用し、その素子形状を 標準形状とする。 具体例として、 R= 2 k Q x l個、 R= 4 k Q x l O 0個、 R= 8 k Q x 20個の合計 1 2 1個の抵抗が回路中にある場合、 抵抗値の平均値は、 4. 6 k Ωとなるので、 基準抵抗値を 4 k Ωとして 採用しする。 R= 8 k Ωの抵抗素子は、 4 Κ Ωの基準抵抗 2ケを折り返 した形状で作成する。 R = 4 k Qの抵抗素子は、 4 ΚΩの基準抵抗 1ケ で作成する。 これにより、 素子の高さが揃い、 素子間の隙間が少なくな る。回路モジュール中の抵抗素子の種類と数は階層回路データから自動 的に抽出すればよい。平均値に対する標準抵抗値の選択も自動で行なつ てよい。  This is a process to collectively create a plan (variant) constraint for the element from information on the element constants (resistance value, etc.). It is possible to adopt a method in which the user directly specifies the shape deformation range, or a method in which the arrangement shape is automatically set so as to be a standard shape. For example, a resistance element having a resistance value close to the average of the resistance values in the circuit is adopted as a reference resistance value, and the element shape is set as a standard shape. As a specific example, if R = 2 k Q xl, R = 4 k Q xl O 0, R = 8 k Q x 20 total 1 2 1 resistor is in the circuit, the average value of the resistance value Is 4.6 kΩ, so the reference resistance value is 4 kΩ. A resistance element with R = 8 kΩ is created by folding two 4 Ω reference resistors. A resistance element with R = 4 k Q is created with one 4 Ω reference resistance. Thereby, the heights of the elements are uniform, and the gap between the elements is reduced. The type and number of the resistive elements in the circuit module may be automatically extracted from the hierarchical circuit data. Selection of the standard resistance value with respect to the average value may be automatically performed.
第 2図のレイァゥト制約一括入力の支援画面の例は各回路素子の標 準サイズに対する最小 (M i n) 及び最大 (Max) の範囲を指定可能 にしたものである。 TargetCell(s)の欄には選択可能な回路素子が示さ れる。 図に示されるように回路素子名の表示が白 ·黒反転された状態は その回路素子が選択された状態を意味する。例えば、 図において MNは Nチャンネル型 MO Sトランジスタ、 MPは Pチャネル型 MO S トラン ジス夕、 QNはバイポーラ トランジスタ素子、 RPは抵抗素子、 C CN は容量素子を意味する。 回路素子 MN、 MPに対する最小 (M i n) 及 び最大 (Max) の指定値はゲート幅を意味する。  In the example of the support screen for rate constraint batch input in Fig. 2, the range of the minimum (M in) and the maximum (Max) for the standard size of each circuit element can be specified. Selectable circuit elements are shown in the TargetCell (s) column. As shown in the figure, the state in which the display of the circuit element name is inverted between white and black means that the circuit element is selected. For example, in the figure, MN is an N-channel MOS transistor, MP is a P-channel MOS transistor, QN is a bipolar transistor, RP is a resistor, and C CN is a capacitor. The specified minimum (M in) and maximum (Max) values for the circuit elements MN and MP mean the gate width.
( 2 ) ピンスタイル制約の一括指定  (2) Batch specification of pin style constraints
これは、 シンボルや、 回路図の外形を例えば対角線で 4分割し、 ピン を配置する辺の制約を一括で作成する処理である。例えば第 3図の回路 を一例とすれば、領域 E 1に入っている端子 I N 1 , I N 2 , V r e f , øはモジュールの左辺に、 領域 E 2に入っている端子 O U T 1 , O U T 2 , ø /はモジュールの右辺に、 領域 Ε 3に入っている端子 G N Dはモ ジュールの上辺に、領域 Ε 4に入っている端子 V C Cはモジュールの下 辺に配置する制約が生成される。対角線上にある端子については、 例え ば左、 右、 上、 下の順で最適なものを割り当てればよい。 端子がどの分 割領域に入るかは回路図上における端子の座標と、分割領域の頂点座標 との関係から自動的に判定可能である。端子の位置はその重心位置で把 握すればよい。 This is done by dividing the outline of the symbol or circuit diagram into four, for example, diagonally, This is a process of collectively creating restrictions on the sides where the is placed. For example, taking the circuit of Fig. 3 as an example, the terminals IN 1, IN 2, V ref and ø in the area E 1 are located on the left side of the module, and the terminals OUT 1, OUT 2 and The restriction that ø / is on the right side of the module, the terminal GND in area # 3 is on the upper side of the module, and the terminal VCC in area # 4 is on the lower side of the module is restricted. For the terminals on the diagonal line, for example, assign the optimal one in the order of left, right, top, and bottom. The division area into which the terminal enters can be automatically determined from the relationship between the coordinates of the terminal on the circuit diagram and the vertex coordinates of the division area. The position of the terminal may be grasped at the position of the center of gravity.
第 4図には 4辺の各辺に割り当てられる端子を構成する金属配線層 を指定する入力画面が例示される。 第 4図において、 Top Pinは上辺に 配置される端子、 Bottom Pinは底辺に配置される端子、 Left Pinは左 辺に配置される端子、 Right Pinは右辺に配置される端子を意味する。  FIG. 4 shows an example of an input screen for designating a metal wiring layer constituting a terminal assigned to each of the four sides. In FIG. 4, Top Pin indicates a terminal arranged on the top side, Bottom Pin indicates a terminal arranged on the bottom side, Left Pin indicates a terminal arranged on the left side, and Right Pin indicates a terminal arranged on the right side.
( 3 ) 回路素子の配置位置の一括指定  (3) Batch designation of circuit element placement positions
これは、 素子種毎に、 上部、 下部、 等の配置に関する制約を一括で作 成する処理である。例えば C M O S回路において Pチャン型 M O S トラ ンジス夕を上に配置し、 Nチャネル型 M〇 S トランジスタを下側に配置 する、 というような配置位置に関する制約の一括指定を行う。第 5図に は素子種毎に配置位置を一括指定可能にする入力画面が例示される。図 において Cel l ( s )の欄から回路素子を選び、 Soft Boxの欄から配置位置 を選べばよい。 Topは上側を意味している。  This is a process for creating restrictions on the arrangement of the top, bottom, etc. for each element type at once. For example, in the CMOS circuit, a P-channel MOS transistor is placed at the top, and an N-channel MOS transistor is placed at the bottom. Fig. 5 shows an example of an input screen that allows the layout position to be specified collectively for each element type. In the figure, the circuit element can be selected from the column of Cel l (s), and the layout position can be selected from the column of Soft Box. Top means upper side.
( 4 ) 回路素子の配置方向の一括指定  (4) Batch designation of circuit element placement direction
これは回路素子種毎に、 回転制御、 反転の可否、 等の配置方向に関す る制約を一括で作成する処理である。例えばソース · ドレインに対する ゲート電極配置にオフセッ 卜がある場合に反転及び回転を禁止する、 と いうような配置方向に関する制約の一括指定を行う。第 6図には素子種 毎に配置方向を一括指定可能にする入力画面が例示される。図において Cel l ( s )の欄から回路素子を選び、 Orient( s )の欄から禁止すべき配置方 向を選べばよい。 R 1 8 0は 1 8 0度回転、 M Xは X軸に対するミラー 反転、 M X R 9 0は X軸に対するミラー反転後の更に 9 0度回転を意味 する。 This is a process for collectively creating restrictions on the arrangement direction, such as rotation control, inversion, and the like, for each circuit element type. For example, when there is an offset in the arrangement of the gate electrode with respect to the source and drain, reversal and rotation are prohibited. Such restrictions on the placement direction are collectively specified. Fig. 6 shows an example of an input screen that allows the layout direction to be specified collectively for each element type. In the figure, the circuit element should be selected from the column of Cell (s), and the placement direction to be prohibited should be selected from the column of Orient (s). R 180 means 180 degree rotation, MX means mirror inversion with respect to X axis, and MXR 90 means 90 degree rotation after mirror inversion with respect to X axis.
( 5 ) 近接配置制約の一括指定  (5) Batch specification of proximity placement constraints
これは、 基板ノードが共通な素子 (例: M O S トランジス夕の基板ノ ード) グループに対し、 Group Form 制約 (近接配置制約) を一括で指 定する処理である。例えば、 Nチャネル型 M O S トランジス夕を P型ゥ エル領域に形成する、というような近接配置に関する制約の一括指定を 行う o  This is a process to specify Group Form constraints (constrained placement constraints) for a group of devices with a common board node (eg, a board node at the MOS transistor). For example, specify the restrictions on the proximity arrangement such as forming an N-channel MOS transistor in the P-type well region o
その他の一括指定可能な制約として、 端子の距離制約、 端子のシンメ トリ制約、 配線幅や配線レイヤの制約、 配線のトポロジ制約、 配線の禁 止領域クロストーク制約, 配線の電気的クロス トーク制約などがある。 上記レイァゥ ト制約の一括指定処理によれば、レイァゥ 卜制約の指定 に要する時間を短縮することができる。例えばオペアンプ回路( 6 0素 子)に対して素子毎にレイァゥト制約を入力するのに 5時間程度を要し ていたところ、 一括制約指定では 0 . 5時間程度まで処理時間を短縮す ることが可能となった。  Other restrictions that can be specified collectively include terminal distance restrictions, terminal symmetry restrictions, wiring width and wiring layer restrictions, wiring topology restrictions, wiring prohibited area crosstalk restrictions, and wiring electrical crosstalk restrictions. There is. According to the batch designating process of the layout constraints, it is possible to reduce the time required to specify the layout constraints. For example, it took about 5 hours to input a rate constraint for each element to an operational amplifier circuit (60 elements), but the batch constraint specification can reduce the processing time to about 0.5 hours. It has become possible.
《モジュール Pセル》  《Module P cell》
前記階層レイァゥト処理に用いるモジュール Pセルについて説明す る。 モジュール Pセルとは、 モジュールの形状案を作成するために、 面 積一定(保持) でァスぺク ト比を自由に変更出来るパラメ夕ライズドセ リレ (P— C e 1 1 ) である。 モジュールとは階層回路図デ一夕で特定さ れる階層化された任意階層の機能単位として把握することが可能であ る o The module P cell used for the hierarchical rate processing will be described. The module P-cell is a parameterized cell (P-Ce 11) that can freely change the aspect ratio with a constant area (holding) to create a module shape proposal. A module can be understood as a functional unit of any hierarchical level specified in the hierarchical circuit diagram. O
モジュール Pセルのピン配置は、 モジュールの回路図 (トップ階層) 又は、 回路図シンボル (中間階層) に基づいて設定する。 それらによる ピン配置はレイァゥ ト設計でのピン配置と同様な配置とされている場 合が多いからである。モジュール Pセルのピン配置は、 第 7図に例示さ れるように、 回路図シンボルのピン配置から、 相対位置 (外形との比) を用いて初期設定することが可能である。第 7図において 1 0が回路図 シンボル、 1 1がモジュール Pセルである。  The pin arrangement of the module P-cell is set based on the circuit diagram of the module (top level) or the circuit diagram symbol (middle level). This is because the pin arrangement by these is often the same as the pin arrangement in the layout design. As shown in Fig. 7, the pin arrangement of the module P-cell can be initialized using the relative position (ratio to the external shape) from the pin arrangement of the circuit diagram symbol. In FIG. 7, 10 is a circuit diagram symbol, and 11 is a module P cell.
モジュール Pセルに対する面積推定は以下の手順で行われる。第 1ス テツプとして、当該階層のモジュールを構成する各回路素子の面積を素 子定数値から計算する。例えば抵抗素子の場合には抵抗値、 M O S トラ ンジス夕の場合にはゲート幅 (W) とゲート長 (L ) に基づいて面積の 推定を行う。第 2ステップとして、モジュールの下位階層全素子に対し、 ステップ 1の処理を実行し、 その総面積を計算する。第 3ステップとし て、 電源、 素子間のスペース等を考慮し、 上記ステップ 1及び 2で得ら れた総面積に係数を乗じ、 モジュールの面積とする。 モジュール Pセル は、 第 8図に例示されるように、 ァスぺク ト比可変の一つの矩形の回路 セルと見なすことができる。  The area estimation for the module P cell is performed in the following procedure. As a first step, the area of each circuit element constituting the module of the hierarchy is calculated from the element constant value. For example, in the case of a resistive element, the area is estimated based on the resistance value, and in the case of the MOS transistor, the area is estimated based on the gate width (W) and the gate length (L). As a second step, the process of step 1 is executed for all elements in the lower layer of the module, and the total area is calculated. As a third step, the total area obtained in steps 1 and 2 above is multiplied by a coefficient, taking into account the power supply, the space between elements, and the like, to obtain the area of the module. The module P cell can be regarded as one rectangular circuit cell having a variable aspect ratio as illustrated in FIG.
《トヅプダウン階層レイァゥト処理》  << Top down hierarchy layout processing >>
前記階層レイァゥ ト処理の一つである トップダウン階層レイァゥ ト 処理について説明する。 トップダウン階層レイアウト処理は、 アナログ 回路の階層回路図データを入力し、入力した前記階層回路図データから 特定されるモジュールの面積を当該モジュールに含まれる回路素子の 回路定数に基づいて推定し、 その形状をァスぺク ト比可変の矩形とし、 当該モジュール (モジュール Pセル) を一つの回路素子と見なして、 ト ヅプダウンで回路素子のレイァゥトを行う。回路モジュールをァスぺク ト比可変で面積が推定された矩形回路素子とみなすことによってト ッ プダウンのレイアウトに融通性がでる。このトップダウンのレイアウト により上位側階層にて簡易にレイアウト案を作成することができ、初期 段階のフロアブラン設計などに有効である。 A top-down hierarchical layout process, which is one of the hierarchical layout processes, will be described. In the top-down hierarchical layout processing, hierarchical circuit data of an analog circuit is input, and an area of a module specified from the input hierarchical circuit data is estimated based on circuit constants of circuit elements included in the module. The shape is a rectangle with a variable aspect ratio, and the module (module P cell) is regarded as one circuit element, and the circuit elements are laid out in a top-down manner. Ask circuit module The flexibility of the top-down layout can be increased by considering the rectangular circuit element whose area is estimated with variable gate ratio. With this top-down layout, a layout plan can be easily created in the upper layer, which is effective for floor-blank design in the initial stage.
トップダウン階層レイァゥト処理について更に具体的に説明する。 ト ップダウン階層レイァゥ ト処理は以下の手順で行う。  The top-down hierarchy rate processing will be described more specifically. The top-down hierarchy layout process is performed in the following procedure.
( 1 ) ステップ 1 として、 最上位階層 (トヅプ階層) 回路図にある各 アナログモジュールに対し、 モジュール Pセルを作成する。  (1) As step 1, create a module P-cell for each analog module in the top level (top level) circuit diagram.
( 2 ) ステップ 2として、 トヅプ階層回路図 (ォリジナル) をトップ ダウン階層レイァゥト用図面にコピーする。 これにより、 オリジナル回 路図の階層情報を保存できる (運用オプション) 。  (2) As a step 2, copy the top hierarchical schematic (original) to the top-down hierarchical layout drawing. As a result, the hierarchy information of the original circuit diagram can be saved (operation option).
( 3 ) ステップ 3として、 トップダウン階層レイァゥト用図面.のアナ 口グモジュール参照先をモジュール Pセルに変更する。第 9図には、 ォ リジナルの階層レイァゥ ト図に対し、モジュール Pセルを用いる トップ ダウン階層レイアウト図が例示される。  (3) In step 3, change the analog module reference in the top-down hierarchical layout drawing to the module P-cell. FIG. 9 exemplifies a top-down hierarchical layout diagram using module P-cells with respect to the original hierarchical layout diagram.
( 4 ) ステップ 4として、 各モジュール Pセルに対し、 レイアウト制 約 (アスペク トレシオ、 配置位置、 等) を指定する。  (4) As step 4, specify layout constraints (aspect ratio, placement position, etc.) for each module P-cell.
( 5 ) ステップ 5として、 アナログ自動レイアウ ト D A (デザイン ' ォ一トメ一ション)例えば、 株式会社ソリ トンシステムズのアナログセ ルレベル配置配線ツールである NeoCel l (登録商標) でレイアウト (自 動配置/配線) を実行する。 このときの入力は、 階層レイアウト図面、 トップ階層レイァゥ卜のアーキテクチャ (面積、 ピン位置、 等) 、 及び 前記一括指定されたレイァゥ ト制約とされる。出力はアナログモジユー ルの配置/配線結果とされる。 この時、 本階層にアナログ基本素子が有 れば、 その回路素子の Pセル (パラメタライズドセル) を使用する。 これにより、 トップダウン階層図面中に、 アナログモジュールと基本 素子の混在を許し、 階層構成の制限を無く している。第 1 0図にはトッ プ階層のモジュール配置結果が例示され、第 1 1図には第 1 0図のモジ ユール配置に対するモジュール間配線結果が示される。 (5) As step 5, analog automatic layout DA (design method) For example, layout (automatic placement / wiring) using NeoCell (registered trademark), an analog cell level placement and routing tool of Soliton Systems Co., Ltd. ). The inputs at this time are the hierarchical layout drawing, the architecture of the top hierarchical layout (area, pin position, etc.), and the layout constraints specified collectively. The output is the placement / wiring result of the analog module. At this time, if there is an analog basic element in this layer, the P cell (parameterized cell) of that circuit element is used. This allows the analog module and the basic Allows for mixed elements and eliminates restrictions on hierarchical structure. FIG. 10 exemplifies the result of module placement in the top hierarchy, and FIG. 11 shows the result of inter-module wiring for the module placement in FIG.
( 6 ) ステップ 6として、 ステップ 5で得られた、 各アナログモジュ —ルを、 レイアウト トツプ階層として、 ステップ 1〜ステップ 5を上位 階層から下位階層に順次、 最下層のアナ口グモジュールまで繰り返す。 これにより、 全ての階層の配置/配線を完了する。  (6) As step 6, each analog module obtained in step 5 is used as a layout top layer, and steps 1 to 5 are repeated in order from the upper layer to the lower layer, until the analog module at the lowest layer is repeated. This completes the placement / wiring of all layers.
アナログモジュールのレイァゥト面積は、 そのレイアウ ト制約 (対象 配置、 対象配線、 デバイススキュー低減用ダミー素子配置、 等) に大き く依存し、 同一の回路構成であっても、 そのレイァゥト面積は、 全素子 拡散層面積の総和に対し、 1 5 0 %以上のバラツキを持つ場合が多い。 本手法は、 後述のボトムアップ階層レイァゥト手法と比較し、 短時間 で容易にその概略配置を求めることが出来るので、チエップレイアウト 初期段階でのフロアブラン設計に有効となる。  The layout area of an analog module greatly depends on its layout constraints (target layout, target wiring, device skew reduction dummy element layout, etc.), and even with the same circuit configuration, the layout area is equal to the total area of all elements. In many cases, there is a variation of 150% or more with respect to the total area of the diffusion layers. This method can easily determine the approximate layout in a short time as compared with the bottom-up hierarchical layout method described later, and is effective for floor blank design at the initial stage of chip layout.
《ボトムアップ階層レイアウト処理》  << Bottom-up hierarchical layout processing >>
第 2の階層レイアウト手法はボトムアツプ階層レイアウトである。ボ トムアツプ階層レイアウトは、前記アナ口グ回路の階層回路図データを 入力し、入力した前記階層回路図データから特定されるモジュールのレ ィアウトを下位階層モジュールから行ない、その上位階層モジュールの レイァゥトでは、既にレイァゥ卜された下位階層モジュールをァスぺク ト比可変の矩形回路素子と見なして、ボトムアツプで回路素子のレイァ ゥトを行う。このボトムアップ階層レイァゥト手法は素子のレイァゥト を実際に実行してモジュール面積を推定するので、最終段階でのフロア ブラン設計、 モジュールレイァゥ ト実行時に有効である。  The second hierarchical layout method is a bottom-up hierarchical layout. In the bottom-up hierarchical layout, the hierarchical circuit data of the analog circuit is input, the layout of the module specified from the input hierarchical circuit data is performed from the lower hierarchical module, and the layout of the upper hierarchical module is as follows. The lower layer module already laid out is regarded as a rectangular circuit element having a variable aspect ratio, and the circuit elements are laid out from the bottom up. Since the bottom-up hierarchical layout method estimates the module area by actually performing the element layout, it is effective at the final stage of floor blank design and module layout execution.
ボトムアツプ階層レイァゥト処理について更に具体的に説明する。第 The bottom-up hierarchical layout process will be described more specifically. No.
1 2図にはボトムアップ階層レイァゥ ト処理の処理手順が例示される。 これによればボトムアップ階層レイァゥト処理は以下の手順で行われ る。 FIG. 12 illustrates a processing procedure of the bottom-up hierarchical layout processing. According to this, the bottom-up hierarchy rate processing is performed in the following procedure.
( 1 ) ステップ 1 として、 トップ階層回路図から図面階層をトレース し、 木構造を作成する。 ここで、 木構造の端点 (leaf) から、 根 (root) に向かい、 階層番号を割り付ける。 最下位回路図 (leaf) の階層レベル を 1 とする (level=l ) 。 中間階層回路図 (node) の階層レベルは、 参 照する回路図の階層レベルに 1 大きい数とする。 ボトムアップ階層レ ィァゥト処理は、 最上位階層まで、 即ち最下位回路図から最上位回路図 まで、 順次実行する。第 1 3図に例示された回路図階層構成では、 最上 位階層 : level=3、 最下位階層: level二 1 となる。  (1) As step 1, trace the drawing hierarchy from the top-level schematic and create a tree structure. Here, a hierarchical number is assigned from the leaf (leaf) of the tree structure to the root (root). The hierarchy level of the lowest schematic (leaf) is set to 1 (level = l). The hierarchical level of the intermediate hierarchical circuit (node) shall be one greater than the hierarchical level of the referenced schematic. The bottom-up hierarchy rate processing is sequentially executed from the top hierarchy, that is, from the lowest circuit diagram to the highest circuit diagram. In the circuit diagram hierarchical configuration illustrated in FIG. 13, the uppermost hierarchy is level = 3, and the lowermost hierarchy is level21.
( 2 ) ステップ 2として、 レイァゥト未実施の最下位階層レベルに対 し、 レイァゥトを実施する。 即ち、 先ずレイアウト制約を入力する (S 1 ) 。 それに基づいて配置/配線を実行する (S 2 ) 。 下位のレイァゥ ト完了階層モジュールについては、 モジュール Pセルを用いる。 レイァ ゥト結果(面積、端子位置、 等)から、 モジュール Pセルを作成する ( S 3 )  (2) As step 2, a layout is performed for the lowest hierarchical level where no layout has been performed. That is, first, a layout constraint is input (S 1). The placement / routing is executed based on the result (S 2). For the lower rate completion hierarchy module, a module P cell is used. Create a module P cell from layout results (area, terminal position, etc.) (S3)
( 3 ) ステップ 3として、 前記ステップ 2を下位階層から順次、 最上 位階層まで繰り返す。 これにより、 全階層のレイァゥトを完了する。 第 1 4図には配置配線結果が回路階層構成で例示される。 このとき、 最上 位階層は level=3、 最下位階層は level=l とされている。  (3) As step 3, step 2 is repeated from the lower hierarchy to the uppermost hierarchy. This completes the layout for all layers. FIG. 14 illustrates the arrangement and wiring results in a circuit hierarchical configuration. At this time, the highest level is level = 3, and the lowest level is level = l.
本手法では、 実際に、 前記アナログ自動レイァゥト D Aの配置/配線 ェンジンを実行しているので回路規模に応じた処理時間はかかるもの の、フロアプラン設計においてアナログモジュールの面積推定値の確度 は高いものになっている。前記トップダウン階層レイァゥト処理の併用 によって初期段階のフロアブラン設計を先に行うことができるからで ある。 また、 処理完了時には、 アナログモジュールのレイアウトが完了 していると共に、前記アナログ自動レイァゥト D Aによる配置/配線の 実行制御ファイルが各アナログモジュールについて全て作成されるこ とになる。 このため、 本実行結果を基に、 レイアウト制約を追加し、 ァ ナログモジュールの最終レイァゥトを容易に完成することができる。 アナログ回路のレイァゥト処理に、推定された面積をもってァスぺク ト比可変とされるモジュール Pセルを採用し、レイァゥト制約の一括設 定を採用し、 また、 階層レイァゥト手法(トップダウン、 ボトムアップ) を採用することにより、 アナデジ混在 L S Iのレイアウト工数を、 5 0 %低減のように大幅に効率化することが可能となる。 In this method, although the placement / wiring engine for the analog automatic rate DA is actually executed, the processing time according to the circuit scale is required, but the accuracy of the area estimation value of the analog module in the floor plan design is high. It has become. This is because the floor blank design in the initial stage can be performed first by using the top-down hierarchical layout processing in combination. When the processing is completed, the layout of the analog module is completed. At the same time, an execution control file for placement / wiring by the analog automatic rate DA is created for each analog module. For this reason, a layout constraint can be added based on the execution result, and the final layout of the analog module can be easily completed. For the rate processing of analog circuits, module P-cells with variable area ratio with estimated area are adopted, batch setting of rate constraints is adopted, and hierarchical rate method (top-down, bottom-up) By adopting), the man-hours for layout of an analog-digital mixed LSI can be greatly improved, such as by 50%.
《開発支援プログラム》  《Development support program》
第 1図の開発システムによる上記アナログ回路のレイァゥト処理は、 コンピュー夕装置にィンス トールされた回路エディ夕プログラム及び レイアウトエディ夕プログラムが実行されることにより実現される。そ のようなプログラムは C D— R O Mなどの記録媒体、或いはインタ一ネ ッ トなどの通信媒体によって提供される。そのプログラムを実行するこ とにより、 アナログ回路の階層レイァゥ ト設計を支援する処理として、 前記レイァゥト制約の一括指定、 前記トップダウン階層レイァゥト、 又 は前記ボトムアツプ階層レイアウトを行う。この開発支援プログラムが 提供されることにより、アナログ回路のレイァゥト工数を低減した半導 体集積回路の開発を容易に行うことが可能になる。  The above-described analog circuit layout processing by the development system of FIG. 1 is realized by executing a circuit editor program and a layout editor program installed in the computer. Such a program is provided by a recording medium such as CD-ROM or a communication medium such as the Internet. By executing the program, the layout constraints are collectively specified, the top-down hierarchical layout, or the bottom-up hierarchical layout is performed as processing for supporting the hierarchical layout design of the analog circuit. By providing this development support program, it becomes possible to easily develop a semiconductor integrated circuit with a reduced number of analog circuit layout steps.
以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づいて具体的に 説明したが、 本発明はそれに限定されるものではなく、 その要旨を逸脱 しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。  Although the invention made by the inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited thereto, and it is needless to say that various modifications can be made without departing from the gist of the invention.
例えば、 レイアウ ト制約の一括設定機能に加えて、 ダミー素子の配置 を制御する機能を加えてもよい。例えば、 ダミー素子を加える位置、 加 える個数を表示画面のラジオボタンで指定可能に構成してよい。 回路設計に、 レイァゥト制約十分性検証手段の 1つとしてバラツキ解 析手法を、 また、 実負荷シミュレーション環境を立上げ組み合わせるこ とにより、アナログ自動レイァゥ卜の実用化を進めることも可能である 本発明はアナデジ混在 (アナログ ·ディジタル混載) L S Iはもちろ ん、 システム ' オン .チップ (S〇 C ) L S Iのアナログモジュール新 規開発、 プロセスマイグレーションへも適用可能である。 産業上の利用可能性 For example, a function of controlling the arrangement of dummy elements may be added in addition to the function of setting layout constraints in a lump. For example, the position and number of dummy elements to be added may be specified by radio buttons on the display screen. It is also possible to promote the practical use of an analog automatic rate by combining a circuit analysis with a variation analysis method as one of the rate constraint sufficiency verification means, and by starting up and combining an actual load simulation environment. This is applicable not only to analog-digital mixed (analog / digital mixed) LSI, but also to new analog module development and process migration of system-on-chip (S〇C) LSI. Industrial applicability
本発明は、 アナログ回路モジュールの自動レイァゥトツール、 大規模 なアナログモジュールの階層レイァゥト等に広く適用することができ  The present invention can be widely applied to automatic rate tools for analog circuit modules, hierarchical rates for large-scale analog modules, and the like.

Claims

請 求 の 範 囲 The scope of the claims
1 . アナログ回路の回路設計支援処理と、 前記アナログ回路のレイァゥ ト設計支援処理とを含み、 1. Includes circuit design support processing for an analog circuit, and rate design support processing for the analog circuit,
前記回路設計支援処理は、前記アナログ回路を構成する複数種類の回 路素子に対し、回路素子毎にレイァゥト属性を一括指定するための属性 一括指定処理を含み、  The circuit design support processing includes attribute collective specification processing for collectively specifying a layout attribute for each circuit element for a plurality of types of circuit elements constituting the analog circuit,
前記レイアウト設計支援処理は、属性一括指定処理で指定されたレィ ァゥト属性を入力し、回路素子のレイァゥ卜に際して当該回路素子に関 するレイァゥト属性を反映させる、ことを特徴とする半導体集積回路の 開発方法。  The layout design support processing is characterized in that a layout attribute specified in the attribute batch specification processing is input, and a layout attribute of the circuit element is reflected when laying out the circuit element. Method.
2 . 前記属性一括指定処理は、 回路素子の形状範囲を指定する処理であ ることを特徴とする請求項 1記載の半導体集積回路の開発方法。  2. The method for developing a semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the attribute collective designation process is a process of designating a shape range of a circuit element.
3 . 前記属性一括指定処理は、 回路素子の相対配置に関する制約を指定 する処理であることを特徴とする請求項 1記載の半導体集積回路の開 発方法。  3. The method for developing a semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the attribute collective designation process is a process of designating a constraint on a relative arrangement of circuit elements.
4 .前記属性一括指定処理は、 前記アナログ回路の回路図上の領域を複 数に分割したとき、回路図の端子が含まれる分割領域に従って端子のレ ィァゥ ト位置を制約することを特徴とする請求項 1記載の半導体集積 回路の開発方法。  4. The attribute collective designation process is characterized in that, when an area on the circuit diagram of the analog circuit is divided into a plurality of parts, a terminal position is restricted according to a divided area including a terminal of the circuit diagram. A method for developing a semiconductor integrated circuit according to claim 1.
5 . 前記レイァゥト設計支援処理は、 回路設計された前記アナログ回路 の階層回路図データを入力し、入力した前記階層回路図データで特定さ れるモジュールの面積を当該モジュールに含まれる回路素子の回路定 数に基づいて推定し、 その形状をァスぺク ト比可変の矩形とし、 当該モ ジュールを一つの回路素子と見なして、 トップダウンで回路素子のレイ ァゥ トを行うことを特徴とする請求項 1記載の半導体集積回路の開発 方法。 5. The late design support processing includes inputting hierarchical circuit diagram data of the analog circuit for which a circuit is designed, and determining an area of a module specified by the input hierarchical circuit diagram data in a circuit definition of a circuit element included in the module. Estimated based on the number, the shape is made a rectangle with a variable aspect ratio, the module is regarded as one circuit element, and the circuit elements are laid out top-down. Development of the semiconductor integrated circuit according to claim 1 Method.
6 . 前記レイァゥト設計支援処理は、 前記アナログ回路の階層回路図デ 一夕を入力し、入力した前記階層回路図データで特定されるモジュール のレイアウトを下位階層モジュールから行ない、その上位階層モジユー ルのレイアウ トでは、既にレイァゥ卜された下位階層モジュールをァス ぺク ト比可変の矩形回路素子と見なして、ボトムアップで回路素子のレ ィアウ トを行うことを特徴とする請求項 1記載の半導体集積回路の開 発方法。  6. The late design support processing includes inputting a hierarchical circuit data of the analog circuit, laying out a module specified by the input hierarchical circuit data from a lower hierarchical module, and executing a layout of an upper hierarchical module. 2. The semiconductor device according to claim 1, wherein in the layout, the layout of the circuit elements is performed in a bottom-up manner, assuming that the lower layer modules already laid out are rectangular circuit elements having a variable aspect ratio. How to develop integrated circuits.
7 . アナログ回路の階層回路図データを入力して、 前記アナログ回路の 階層レイァゥト設計を支援する処理を含み、  7. Includes processing to input hierarchical circuit diagram data of an analog circuit and support hierarchical layout design of the analog circuit,
前記支援処理は、前記アナログ回路を構成する複数種類の回路素子に 対し、 回路素子毎に一括指定されたレイァゥト属性を入力し、 回路素子 のレイアウ トに際して当該回路素子に関するレイァゥ ト属性を反映さ せる、 ことを特徴とする半導体集積回路の開発方法。  In the support processing, a layout attribute collectively designated for each circuit element is input to a plurality of types of circuit elements constituting the analog circuit, and a layout attribute related to the circuit element is reflected when the circuit element is laid out A method for developing a semiconductor integrated circuit, characterized in that:
8 . 前記レイァゥト属性は、 回路素子の形状範囲に関する制約であるこ とを特徴とする請求項 7記載の半導体集積回路の開発方法。 8. The method for developing a semiconductor integrated circuit according to claim 7, wherein the late attribute is a constraint on a shape range of a circuit element.
9 . 前記レイァゥト属性は、 回路素子の相対配置に関する制約であるこ とを特徴とする請求項 7記載の半導体集積回路の開発方法。 9. The method for developing a semiconductor integrated circuit according to claim 7, wherein the late attribute is a constraint on a relative arrangement of circuit elements.
1 0 .入力した前記アナログ回路の階層回路図データから特定される階 層レイァゥト対象モジュールの回路図領域を複数分割して、回路図の端 子が分割領域のどこに入るかに従って端子のレイアウ トを行うことを 特徴とする請求項 7記載の半導体集積回路の開発方法。 10.The circuit diagram area of the hierarchical layout target module specified from the input hierarchical circuit diagram data of the analog circuit is divided into a plurality of parts, and the layout of the terminals is determined according to where the terminal of the circuit diagram is located in the divided area. 8. The method for developing a semiconductor integrated circuit according to claim 7, wherein the method is performed.
1 1 . アナログ回路の階層回路図データを入力して、 前記アナログ回路 の階層レイァゥト設計を支援する処理を含み、 11. A process for inputting hierarchical circuit diagram data of an analog circuit and supporting a hierarchical layout design of the analog circuit,
前記支援する処理は、入力した前記アナログ回路の階層回路図データ から特定されるモジュールの面積を当該モジュールに含まれる回路素 子の回路定数に基づいて推定し、その形状をァスぺクト比可変の矩形と し、 当該モジュールを一つの回路素子と見なして、 トップダウンで回路 素子のレイァゥトを行うことを特徴とする半導体集積回路の開発方法。The assisting process is performed by converting the area of a module specified from the input hierarchical circuit diagram data of the analog circuit into a circuit element included in the module. The semiconductor is characterized in that it is estimated based on the circuit constants of the elements, the shape is made into a rectangle with a variable aspect ratio, the module is regarded as one circuit element, and the circuit elements are laid out top down. How to develop integrated circuits.
1 2 . アナログ回路の階層回路図データを入力して、 前記アナログ回路 の階層レイァゥト設計を支援する処理を含み、 12. A process for inputting hierarchical circuit diagram data of an analog circuit and supporting a hierarchical layout design of the analog circuit,
前記支援する処理は、入力した前記アナログ回路の階層回路図データ で特定されるモジュールのレイアウ トを下位階層モジュールから行な い、 その上位階層モジュールのレイァゥトでは、 既にレイァゥトされた 下位階層モジュールをアスペク ト比可変の矩形回路素子と見なして、ボ トムアップで回路素子のレイァゥ トを行うことを特徴とする半導体集 積回路の開発方法。  In the supporting process, the layout of the module specified by the input hierarchical circuit diagram data of the analog circuit is performed from the lower hierarchical module, and in the layout of the upper hierarchical module, the lower hierarchical module already laid out is aspected. A method of developing a semiconductor integrated circuit, characterized in that circuit elements are laid out by bottom-up, assuming that the circuit elements are variable rectangular circuit elements.
1 3 . アナログ回路の階層回路図データを入力して、 前記アナログ回路 の階層レイアウ ト設計を支援する処理をコンピュータ装置に実行させ る半導体集積回路の開発支援プログラムであって、  13. A semiconductor integrated circuit development support program for inputting hierarchical circuit diagram data of an analog circuit and causing a computer device to execute a process for supporting a hierarchical layout design of the analog circuit,
前記支援する処理は、前記アナログ回路を構成する複数種類の回路素 子に対し、 回路素子毎に一括指定されたレイァゥト属性を入力し、 回路 素子のレイァゥ 卜に際して当該回路素子に関するレイァゥ卜属性を反 映させる、 ことを特徴とする半導体集積回路の開発支援プログラム。 In the supporting process, a layout attribute collectively designated for each circuit element is input to a plurality of types of circuit elements constituting the analog circuit, and when laying out the circuit element, the layout attribute related to the circuit element is inverted. A program for supporting the development of semiconductor integrated circuits.
1 4 . 前記レイァゥト属性は、 回路素子の形状範囲に関する制約である ことを特徴とする請求項 1 3記載の半導体集積回路の開発支援プログ フム。 14. The semiconductor integrated circuit development support program according to claim 13, wherein the late attribute is a constraint on a shape range of a circuit element.
1 5 . 前記レイァゥト属性は、 回路素子の相対配置に関する制約である ことを特徴とする請求項 1 3記載の半導体集積回路の開発支援プログ ラム。  15. The semiconductor integrated circuit development support program according to claim 13, wherein the late attribute is a constraint on a relative arrangement of circuit elements.
1 6 .入力した前記アナログ回路の階層回路図データで特定される階層 レイアウト対象モジュールの回路図領域を複数分割して、回路図の端子 が分割領域のどこに入るかに従って端子のレイァゥ トを行うことを特 徴とする請求項 1 3記載の半導体集積回路の開発支援プログラム。 1 6. Divide the circuit diagram area of the hierarchical layout target module specified by the input hierarchical circuit diagram data of the analog circuit into a plurality 14. The program for supporting the development of a semiconductor integrated circuit according to claim 13, wherein the terminal is laid out in accordance with where in the divided area.
1 7 . アナログ回路の階層回路図デ一夕を入力して、 前記アナログ回路 の階層レイァゥト設計を支援する処理をコンピュータ装置に実行させ る半導体集積回路の開発支援プログラムであって、  17. A semiconductor integrated circuit development support program for inputting a hierarchical circuit diagram of an analog circuit and causing a computer device to execute a process for supporting a hierarchical layout design of the analog circuit,
前記支援する処理は、入力した前記アナログ回路の階層回路図データ で特定されるモジュールの面積を当該モジュールに含まれる回路素子 の回路定数に基づいて推定し、その形状をァスぺク ト比可変の矩形とし、 当該モジュールを一つの回路素子と見なして、 トップダウンで回路素子 のレイアウトを行うことを特徴とする半導体集積回路の開発支援プロ グラム。  In the supporting process, the area of a module specified by the input hierarchical circuit diagram data of the analog circuit is estimated based on the circuit constants of the circuit elements included in the module, and the shape is variable. A development support program for semiconductor integrated circuits, characterized in that the module is regarded as one circuit element and the circuit elements are laid out from the top down.
1 8 . アナログ回路の階層回路図データを入力して、 前記アナログ回路 の階層レイアウト設計を支援する処理をコンピュータ装置に実行させ る半導体集積回路の開発支援プログラムであって、  18. A semiconductor integrated circuit development support program for inputting hierarchical circuit diagram data of an analog circuit and causing a computer device to execute a process of supporting a hierarchical layout design of the analog circuit,
前記支援する処理は、入力した前記アナログ回路の階層回路図データ で特定されるモジュールのレイァゥ トを下位階層モジュールから行な い、 その上位階層モジュールのレイァゥトでは、 既にレイアウトされた 下位階層モジュールをァスぺク ト比可変の矩形回路素子と見なして、ボ トムアツブで回路素子のレイァゥトを行うことを特徴とする半導体集 積回路の開発支援プログラム。  In the supporting process, the layout of the module specified by the input hierarchical circuit diagram data of the analog circuit is performed from the lower hierarchical module. In the layout of the upper hierarchical module, the layout of the lower hierarchical module already laid out is performed. A program for supporting the development of semiconductor integrated circuits, characterized in that circuit elements are laid out by means of bottom-up, assuming that the circuit elements are variable rectangular circuit elements.
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