WO2004034578A1 - Variable delay line - Google Patents

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WO2004034578A1
WO2004034578A1 PCT/JP2003/013060 JP0313060W WO2004034578A1 WO 2004034578 A1 WO2004034578 A1 WO 2004034578A1 JP 0313060 W JP0313060 W JP 0313060W WO 2004034578 A1 WO2004034578 A1 WO 2004034578A1
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WO
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variable delay
delay line
variable
reactance
output
Prior art date
Application number
PCT/JP2003/013060
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French (fr)
Japanese (ja)
Inventor
Itsuaki Katsumata
Tokumi Kobayashi
Masahiko Yokoyama
Original Assignee
Soshin Electric Co., Ltd.
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Filing date
Publication date
Application filed by Soshin Electric Co., Ltd. filed Critical Soshin Electric Co., Ltd.
Priority to US10/529,671 priority Critical patent/US7336143B2/en
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P1/00Auxiliary devices
    • H01P1/18Phase-shifters
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H7/00Multiple-port networks comprising only passive electrical elements as network components
    • H03H7/30Time-delay networks
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P1/00Auxiliary devices
    • H01P1/18Phase-shifters
    • H01P1/185Phase-shifters using a diode or a gas filled discharge tube
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H7/00Multiple-port networks comprising only passive electrical elements as network components
    • H03H7/30Time-delay networks
    • H03H7/32Time-delay networks with lumped inductance and capacitance
    • H03H7/325Adjustable networks

Definitions

  • the present invention relates to a variable delay line having a variable reactance element.
  • the variable delay line changes an absolute value (hereinafter, referred to as an absolute delay time) of a delay time of the variable delay line by changing a coupling capacitance of the bandpass filter to change the pass band. It has the feature of.
  • the conventional variable delay line 100 has a capacitor 106, 108 and a variable capacitor 110 between the input terminal 102 and the output terminal 104. Are connected in series, and the first and second resonance circuits 112, 114 are connected between one end and the other end of the variable capacitance capacitor 110 and the ground, respectively. (See Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-119206).
  • variable delay time When a predetermined input signal is supplied from the input terminal 102 of the variable delay line 100, an output signal having a predetermined absolute delay time shown in FIG. 16 is output from the output terminal 104.
  • the coupling capacitance C of the variable capacitor 110 shown in FIG. 17 changes, the absolute delay time changes as shown in FIG.
  • changing the coupling capacitance C from C1 to C2 or C3 increases the absolute delay time.
  • variable delay time the range of the variation of the absolute delay time in the variable delay line 100 (hereinafter, referred to as variable delay time) is also widened.
  • the coupling capacitance C when the coupling capacitance C is reduced, the passband bandwidth of the variable delay line 100 becomes narrower, and the transmission characteristic of the variable delay line 100 shown in FIG. 17 is attenuated.
  • the indicated mismatch attenuation increases.
  • the coupling capacitance C changes, the capacitor 106 on the input terminal 102 and the first resonance circuit 112 shown in FIG. 15 and the capacitor 108 on the output terminal 104 shown in FIG.
  • the balance with the second resonance circuit 114 is lost, and the value of the input impedance and the value of the output impedance in the variable delay line 100 fluctuate. This makes it difficult to obtain impedance matching in the variable delay line 100. Therefore, the mismatch attenuation shown in Fig. 18 increases.
  • the transmission characteristics shown in FIG. 17 are greatly attenuated, the transmission loss in the variable delay line 100 increases, and the deviation of the absolute delay time shown in FIG. 16 increases.
  • variable delay line 100 shown in FIG. 15 and other electronic components are connected via the input terminal 102 and the output terminal 104, the variable delay line 100 It is difficult to match the impedance with the other electronic components. Therefore, the transmission loss of the variable delay line 100 and the wireless communication device further increases. Further, since the above-mentioned deviation is large, the pass band of the variable delay line 100 is reduced, and the distortion of the output signal output from the output terminal 104 becomes remarkable.
  • variable delay line 100 when a variable delay line 100 is mounted on an actual wireless communication device, a variable delay time of at least about 0.5 ns is required.
  • the variable delay time of about 0.4 ns causes a decrease in the transmission characteristics and an increase in the mismatch attenuation, so that the variable delay line 1 having the desired characteristics can be obtained. It is difficult to achieve 0. Disclosure of the invention
  • the present invention suppresses fluctuations in input impedance and output impedance by mounting a hybrid coverl and a variable reactance element on a variable delay line, and connecting the variable reactance elements to two output terminals of the eight hybrid coverr, respectively.
  • the variable delay line of the present invention has an object to provide a variable delay line capable of reducing the deviation of the absolute delay time, increasing the variable delay time and widening the pass band.
  • the input terminal to which the signal is supplied has a phase difference of 9 First and second output terminals for outputting first and second output signals at 0 °, and isolation for outputting a reflected signal based on the first and second output signals as a third output signal
  • a first and second reactance sections connected to the first and second output terminals and having substantially the same reactance. Is characterized in that it comprises first and second variable reactance elements having substantially the same reactance.
  • one ends of the first and second reactance portions having substantially the same reactance as each other are connected to the first and second output terminals, and the other ends of the first and second reactance portions are connected to the ground. Connected and grounded.
  • a first output signal having the same phase as the input signal is output to the first output terminal.
  • a second output signal having a phase difference of 90 ° with respect to the input signal is output to the second output terminal. Therefore, the phase difference between the first and second output signals is 90 °.
  • the first and second output signals allow the first and second output signals to be connected.
  • the first and second reflected signals are generated at the output terminal.
  • a reflection signal that is a composite signal of the first and second reflection signals is output to the isolation terminal.
  • This reflected signal has a 180 ° phase difference with respect to the input signal. Since the portion between the isolation terminal and the input terminal functions as an isolation terminal, the reflected wave due to the reflected signal is attenuated while propagating from the isolation terminal to the input terminal. There is no output.
  • the hybrid coupler and the first and second reactance units can suppress the fluctuation of the input impedance and the output impedance of the variable delay line. Therefore, the deviation of the absolute delay time can be reduced, and a variable delay line having low transmission loss, a wide passband, and a third output signal with little distortion can be realized. Therefore, the reliability of the wireless communication device equipped with the variable delay line can be improved.
  • first and second variable resistors included in the first and second reactance units are provided.
  • the reactances of the first and second reactance units can be changed by the same amount.
  • the reflected signal changes by a desired value
  • the absolute delay time of the variable delay line changes by a predetermined amount. Therefore, by changing the reactance of the first and second variable reactance elements by a predetermined amount, a variable delay line having a desired absolute delay time and a variable delay time can be realized.
  • first and second reactance units include first and second capacitors having substantially the same capacitance, and first and second variable capacitances as the first and second variable reactance elements. It is desirable to form a series circuit of the element and the first and second resonance circuits.
  • the admittance of the first and second variable capacitance elements changes.
  • the reactance and admittance of the first and second reactance sections change, so that the absolute delay time and the variable delay time can be adjusted to desired values.
  • the first and second resonance circuits each have a resonance frequency, a center frequency in a pass band of the variable delay line is determined by the resonance frequency. Therefore, with the configuration of the series circuit, it is possible to obtain a variable delay line having a desired pass band, an absolute delay time, and a variable delay time.
  • the phase of the variable delay line changes by changing the absolute delay time. Further, in the circuit configuration, even if the resonance frequencies of the first and second resonance circuits are changed, the absolute delay time hardly changes if the bandwidth of the variable delay line is wide, but the variable delay line Only the phase of changes.
  • a series circuit of the third and fourth capacitors and the third and fourth variable capacitance elements as variable reactance elements includes It is desirable that the two resonance circuits be connected in parallel. Thus, even if the absolute delay time of the variable delay line and the resonance frequency of the first and second resonance circuits change, the capacitances of the third and fourth variable capacitance elements can be adjusted. Thus, the change in the phase of the third output signal due to the change in the absolute delay time and the resonance frequency can be compensated. Therefore, the absolute delay time and the resonance frequency can be changed without changing the phase.
  • the first and second resonance circuits are LC resonance circuits, resonance circuits based on distributed constant circuits, or dielectric resonators.
  • the first to fourth variable capacitance elements are desirably circuit elements capable of changing the capacitance, and such circuit elements include a varactor diode, a trimmer capacitor and the like.
  • variable delay line a plurality of ceramic layers are stacked to form an integrated structure of ceramics, and the integrated structure of ceramics is a ceramic layer on which the hybrid cover is formed; It may have a ceramic layer on which a second resonance circuit is formed, and at least a ceramic layer on which the first and second capacitors are formed. Accordingly, most of the circuit elements constituting the variable delay line are formed inside the ceramics integrated structure, so that a more miniaturized variable delay line can be realized.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a variable delay line according to the present embodiment.
  • FIG. 2 is a circuit diagram showing first and second reactance units constituting the variable delay line of FIG.
  • FIG. 3 is a circuit diagram showing a variable delay line of the first specific example.
  • FIG. 4 is a diagram showing a simulation result of an absolute delay time in the variable delay line of FIG.
  • FIG. 5 is a diagram showing a simulation result of transmission characteristics in the variable delay line of FIG.
  • FIG. 6 is a diagram showing a simulation result of mismatch attenuation in the variable delay line of FIG.
  • FIG. 7 is a circuit diagram showing a variable delay line of the second specific example.
  • Fig. 8 shows the simulation result of the absolute delay time in the variable delay line of Fig. 7.
  • FIG. 9 is a diagram showing a simulation result of the phase in the variable delay line of FIG.
  • FIG. 10 is a circuit diagram showing a variable delay line of the third specific example.
  • FIG. 11 is a perspective view showing the variable delay line of FIG.
  • FIG. 12 is a perspective view showing the variable delay line of FIG. 10 without a case.
  • FIG. 13 is an exploded perspective view showing the variable delay line of FIG.
  • FIG. 14 is a cross-sectional view showing the variable delay line of FIG.
  • FIG. 15 is a circuit diagram showing a conventional variable delay line.
  • FIG. 16 is a diagram showing a simulation result of an absolute delay time in the variable delay line of FIG.
  • FIG. 17 is a diagram showing a simulation result of transmission characteristics in the variable delay line of FIG.
  • FIG. 18 is a diagram showing a simulation result of mismatch attenuation in the variable delay line of FIG. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • variable delay line 10 of the present embodiment includes a hybrid cover 12 and first and second output terminals 14 and 16 connected to the hybrid force bra 12. And second reactance sections 18 and 20.
  • the hybrid power bracket 12 includes, in addition to the first and second output terminals 14 and 16, an input terminal 22 to which an input signal is supplied, and first and second output terminals 14 and 16. And an isolation terminal 24 that outputs a reflected signal based on the first and second output signals output from the variable delay line 10 as an output signal (third output signal) of the variable delay line 10.
  • the first output terminal 14 is a 0 ° output terminal from which the first output signal in phase with the input signal supplied to the input terminal 22 is output
  • the second output terminal 16 outputs a second output signal having a phase difference of 90 ° with respect to the input signal. 90 ° output terminal.
  • the first and second reactance sections 18 and 20 have substantially the same reactance X, and one end thereof is connected to the first and second output terminals 14 and 16 and the other end is grounded. Grounded.
  • first and second variable capacitance elements 26 and 28 as variable reactance elements, and first and second variable capacitance elements 26 and 28. It is composed of a series circuit with the second resonance circuits 30 and 32.
  • the first and second variable capacitance elements 26 and 28 only need to be able to change the reactance X by changing the coupling capacitance C.
  • Such circuit elements include a paraductor diode. , Trimmer capacitors, etc.
  • the first and second resonance circuits 30 and 32 are desirably a resonance circuit composed of an LC resonance circuit and a distributed constant circuit or a dielectric resonator.
  • variable delay line 10 of the present embodiment will be described.
  • the input signal is supplied to the input terminal 34 of the variable delay line 10 shown in FIG. 1, the input signal is supplied to the hybrid coupler 12 via the input terminal 22. At this time, the first and second output signals are output to the first and second output terminals 14 and 16. In this case, the phase difference between the first and second output signals is 90 °. Since the first and second output terminals 14 and 16 are grounded via the first and second reactance sections 18 and 20, the first and second output terminals 14 and 16 Generates the first and second reflected signals. Then, a reflection signal that is a composite signal of the first and second reflection signals is output to the isolation terminal 24, and the reflection signal is output as an output signal of the variable delay line 10, that is, a third output signal. Output to terminals 36. The reflected signal has a phase difference of 180 ° with respect to the input signal.
  • the reflected wave of the reflected signal propagates from the isolation terminal 24 to the input terminal 22 but is attenuated on the way. It is not output to input terminal 22. That is, the reflected wave does not affect the input impedance and the output impedance of the variable delay line 10. Therefore, the input impedance of the variable delay line 10 is controlled by the hybrid force brass 12 and the first and second reactance sections 18 and 20. Source and output impedance fluctuations. Thereby, impedance matching in the variable delay line 10 can be easily performed.
  • the first and second The reactance X of the reactance sections 18 and 20 can be changed by the same amount.
  • the absolute delay time of the third output signal of the variable delay line 10 can be changed by a predetermined amount, and the variable delay time can be set to a desired value. Therefore, by changing the coupling capacitance C of the first and second variable capacitance elements 26 and 28 by a predetermined amount, the variable delay line 10 having the desired absolute delay time and variable delay time can be realized. Becomes possible.
  • first and second resonance circuits 30 and 32 each have a resonance frequency.
  • the center frequency in the pass band of the variable delay line 10 is determined by the resonance frequency. That is, by setting the resonance frequency to a desired value, it becomes possible to obtain a variable delay line 10 having a desired pass band.
  • variable delay line 10 of the present embodiment Although the configuration and operation of the variable delay line 10 of the present embodiment are as described above, the variable delay lines 10 A to 10 C of the first to third specific examples as the configuration examples will be described with reference to FIG. This will be described below with reference to FIGS.
  • variable delay line 10A of the first specific example shown in FIG. 3 has substantially the same configuration as the variable delay line 10 of the present embodiment shown in FIGS. 1 and 2, but has the following points. different.
  • the first and second reactance sections 18 and 20 are composed of first and second capacitors 38 and 40 and first and second variable capacitance elements 26 and 28, respectively.
  • the first and second paramagnetic diodes 42, 44 replaced by the first and second ⁇ ⁇ 4 dielectrics replaced by the first and second resonant circuits 30, 32 This is a series circuit having resonators 46 and 48. .
  • first and second capacitors 38 and 40 are connected to the first and second output terminals 14 and 16, and the other ends are the first and second Barak diode 42, 4 4 Sword terminal Kl, connected to ⁇ ⁇ 2.
  • first and second roses The anode terminals Al and A2 of the collector diodes 42 and 44 are connected to the first and second ⁇ 4 dielectric resonators 46 and 48, respectively.
  • first and second voltage control terminals 50 and 52 are connected to the force source terminals Kl and ⁇ 2 so that a DC voltage can be supplied.
  • the first and second voltage control terminals 50 and 52 are connected to the first and second varactor diodes 42 and 44 by a resistor or a resistor (not shown).
  • a DC voltage having substantially the same value is supplied through each of the varactor diodes, the coupling capacitance C of the first and second varactor diodes 42, 44 changes by the same amount corresponding to the DC voltage value. I do. Specifically, as the DC voltage increases, the coupling capacitance C of the first and second varactor diodes 42, 44 decreases.
  • the admittance in the first and second reactance sections 18, 20 changes.
  • the absolute delay time of the variable delay line 1OA increases.
  • the first and second varactor diodes 42, 44 capable of varying the coupling capacitance C in a wide range are mounted on the variable delay line 10A shown in FIG. 3, a wider variable delay time can be obtained.
  • the variable delay line 1 OA can be obtained.
  • the first and second reactance sections 18 and 20 are configured so that the minimum value of the absolute delay time is about 1 ns.
  • the deviation of the absolute delay time for the frequency band of 100 MHz or more can be suppressed to 0.1 Ins or less, and the variable delay time can be reduced. It can be increased to 1 ns.
  • variable delay line 10A of the first specific example even if the absolute delay time changes to about 2 ns, the transmission characteristics shown in FIG. 5 and the mismatch attenuation shown in FIG. 6 hardly change. Therefore, the pass band of the variable delay line 1OA can be set to a wide bandwidth of 60 MHz or more.
  • variable delay line 1OA of the first specific example when the absolute delay time is changed by changing the coupling capacitance C, the phase of the third output signal of the variable delay line 10A changes. Also, the resonance frequencies of the first and second ⁇ / 4 dielectric resonators 46 and 48 are changed. Even if the center frequency in the pass band of the variable delay line 1OA is changed, the absolute delay of the third output signal hardly changes if the bandwidth of the variable delay line 1OA is wide, but the variable delay Only the phase of the third output signal of line 1 OA changes.
  • variable delay line 10B of the second specific example shown in FIG. 7 has substantially the same configuration as the variable delay line 1OA of the first specific example shown in FIG.
  • the first and second ⁇ ⁇ ⁇ are the capacitors 54, 56 of the first and second and the third and fourth parameter diodes 58, 60, which are the third and fourth variable capacitance elements as variable reactance elements.
  • the four dielectric resonators 46 and 48 are connected in parallel.
  • one end of the third and fourth capacitors 54, 56 is connected to the anode terminals Al, ⁇ 2 of the first and second varactor diodes 42, 44, and the other end is connected to the third and fourth capacitors 54, 56.
  • the anode terminals A 3, ⁇ 4 of the third and fourth varactor diodes 58, 60 are connected to ground and are grounded.
  • the third and fourth voltage control terminals 62 are connected to the power source terminals ⁇ 3 and ⁇ 4 of the third and fourth varactor diodes 58 and 60 so that a DC voltage can be supplied. , 6 4 are connected.
  • the third and fourth varactor diodes 58, 60 are connected to the third and fourth varactor diodes 58, 60 from the third and fourth voltage control terminals 62, 64, respectively.
  • the coupling capacitance of the third and fourth varactor diodes 58 and 60 corresponds to the value of the DC voltage. Change by the same amount.
  • the change in the absolute delay time due to the change in the coupling capacitance C of the first and second varactor diodes 42, 44, and the change in the first and second ⁇ 4 dielectric resonators 46, 4 8, the phase change in the third output signal of the variable delay line 10 # based on the change in the center frequency due to the change in the resonance frequency can be compensated for.
  • the variable delay line 10B can be realized.
  • variable delay line 10C of the third specific example shown in FIGS. 10 to 14 has substantially the same circuit configuration as the variable delay line 1OA of the first specific example shown in FIG.
  • first and second voltage control terminals 50 and 52 are connected to first and second parasitic diodes via resistors 74 and 76, respectively.
  • 4 2 and 4 4 are connected to the terminal Kl, ⁇ 2.
  • the variable delay line 10 C is formed by laminating a plurality of ceramic layers S 1 to S 11, and then firing and sintering the ceramic substrate ( (Integral structure) 7 8.
  • variable delay line 10 C of the third specific example has a plurality of wiring patterns formed on the surface of a ceramic substrate 78.
  • the first and second varactor diodes 42, 44 and the resistors 74, 76 are mounted on the pattern, and the circuit elements other than the circuit elements described above are formed in the ceramic substrate 78. '
  • a metal case 80 serving as an upper lid for the ceramic substrate 78.
  • legs 80a to 80d are formed at the center thereof. Therefore, when the ceramic substrate 78 and the case 80 are overlapped so that the legs 80a to 80d are in contact with the upper surface 78e, as described above, almost the entire upper surface 78e is formed. Is covered with case 80, but of the four side surfaces of case 80, there are four corners where legs 80a to 80d are not formed, and four corners of top surface 78e. A gap 81 is formed between them.
  • first to fourth side surfaces 78 a to 78 d which are the surface of the ceramic substrate 78
  • first and fourth side surfaces 78 a and 78 d are provided on the upper surface of the ceramic substrate 78. It is formed from 7 8 e to the bottom 7 8 f.
  • an input terminal 34 is formed from the top surface 78e to the bottom surface 78f of the ceramic substrate 78. .
  • the portion near the third side surface 78 c facing the second side surface 78 b is connected to the output terminal 36 from the upper surface 78 e of the ceramic substrate 78. It is formed over the bottom surface 7 8 f.
  • the first voltage control terminal 50 is located at a position near the second side 78 b of the fourth side 78 d facing the first side 78 a, and the upper surface 7 It is formed from 8 e to the bottom surface 7 8 f.
  • the fourth side surface 78 d at a position near the third side surface 78 c, the second voltage control terminal 52 extends from the upper surface 78 e to the bottom surface 78 f of the ceramic substrate 78. Is formed.
  • the input terminal 34, the output terminal 36, the first and second voltage control terminals 50 and 52, and the surface ground electrodes 8 2a and 8 2d are shown in FIG. 12 and FIG. As shown in FIG. 3, the first to fourth side surfaces 78 a to 78 d extend to the top surface 78 e and the bottom surface 78 f, respectively.
  • a surface ground electrode 82 b is provided with an input terminal 34, an output terminal 36, and first and second voltage control terminals. It is formed so that it does not directly contact 50, 52. Further, of the upper surface 78 e, a center ground electrode 82 c near the third side surface 78 c is provided with an input terminal 34, an output terminal 36, and first and second voltages. The control terminals 50 and 52 are formed so as not to come into direct contact with the control terminals.
  • the surface earth electrodes 82 a to 82 d and the case 80 are overlapped.
  • the legs 80a to 80d of the variable delay line 10C are in direct contact, and all the circuit elements of the variable delay line 10C are shielded from the outside.
  • the gap 81 formed when the case 80 and the ceramic substrate 78 are overlapped is formed by the input terminal 34, the output terminal 36, and the first and second voltage control terminals 50 to the case 80. Acts as an escape part for the 52.
  • the bottom surface 78 f The electrode 82 e is formed.
  • the input terminal 34, the output terminal 36, and the first and second voltage control terminals 50, 52 are separated from each other by a predetermined distance without directly contacting the surface ground electrodes 82a to 82e. It is arranged in.
  • terminals 84 a to 84 h are provided at the center of the upper surface 78 e at the input terminal 34, the output terminal 36, and the first and second terminals.
  • the voltage control terminals 50 and 52 and the surface earth electrodes 82 a to 82 d are formed in parallel at a predetermined interval without directly contacting each other.
  • the first and second varactor diodes 42 and 44 and the resistors 74 and 76 are mounted on the upper surface 78 e having the terminals 84 a to 84 h as described above.
  • the power source terminals K 1, K 2 (see FIG. 10) of the first and second Barak diode 42, 44 are connected to the terminals 84a, 84d, and the anode terminals Al, A 2 (see Figure 11) is connected to terminals 84e and 84h.
  • Resistors 74 and 76 are connected to terminals 84b, 84c, 84f and 84g. Note that the resistors 74 and 76 are composed of, for example, chip resistors.
  • variable delay line 10 C of the third specific example is formed by stacking and firing and integrating the above-described plurality of ceramic layers (S 1 to S 11).
  • the ceramic substrate 78 is constituted.
  • the ceramic substrate 78 is formed by stacking a first ceramic layer S1 to a first ceramic layer S11 in order from the top.
  • These first to eleventh ceramic layers S1 to S11 are composed of one or a plurality of layers.
  • a capacitor electrode 86a is formed on one main surface of the second ceramic layer S2 in the ceramic substrate 78 so as to face the terminals 84a and 84b.
  • the capacitor electrode 86a has a substantially convex shape in which a portion facing the terminal 84a is formed with a large area and a portion facing the terminal 84b is formed with a small area.
  • a straight line bisecting line m () connecting the second and third side surfaces 78b and 78c with respect to the capacitor electrode 86a is provided.
  • a capacitor electrode 86 b is formed. In other words, the capacitor electrodes 86a and 86b are formed so that portions having a small area face each other across the bisector m.
  • connection electrode 88 faces the terminals 84f and 84g so as not to come into direct contact with the capacitor electrodes 86a and 86b. It is formed.
  • a capacitor electrode 86c having substantially the same shape as the capacitor electrode 86a is formed to face the capacitor electrode 86a
  • a capacitor electrode 86 d having substantially the same shape as the capacitor electrode 86 b is formed to face the capacitor electrode 86 b. Therefore, the first capacitor 38 is constituted by the capacitor electrodes 86a and 86c opposed to each other with the second ceramic layer S2 interposed therebetween, and is opposed to the second ceramic layer S2 with the second ceramic layer S2 interposed therebetween.
  • a second capacitor 40 is constituted by the formed capacitor electrodes 86 b and 86 d.
  • a central portion of one main surface of the fifth ceramic layer S5 includes first and second capacitors.
  • the first and second resonance electrodes 90a, 90b as the dielectric resonators 46, 48 are formed from the fourth side surface 78d toward the first side surface 78a, respectively. Have been.
  • the first and second resonance electrodes 90a and 90b are formed axially symmetric with respect to the bisector m.
  • one end of the first resonance electrode 90a is a short-circuit end 92a connected to the fourth side surface 78d, and the other end of the first resonance electrode 90a is a surface earth electrode.
  • the open end 94a is formed so as not to come into direct contact with 82a and 82d.
  • the first resonance electrode 90a is formed in a substantially J-shaped wiring pattern on one main surface of the fifth ceramic layer S5. That is, this wiring pattern extends from the fourth side surface 78 d to which the short-circuit end 92 a is connected to the first side surface 78 a, and is formed at the center of the fifth ceramic layer S 5.
  • the portion bends and extends toward the second side surface 78d, and further bends and extends toward the fourth side surface 78d. Then, the end of the portion bent toward the fourth side surface 78d faces the fourth side surface 78d. Open end 94a.
  • the second resonance electrode 9 Ob is a substantially J-shaped wiring pattern formed axially symmetric with the first resonance electrode 90a with respect to the bisector m. That is, one end of the second resonance electrode 90 b is a short-circuit end 92 b connected to the fourth side surface 78 d, and the other end of the second resonance electrode 90 b is a surface ground electrode 8. An open end 94b that is formed so as not to directly contact 2a and 82d, and faces the fourth side surface 78d.
  • One main surface of the eighth ceramic layer S8 has a starting point at a position closer to the second side surface 78b of the first side surface 78a, and the third to seventh ceramic layers S3 to S A substantially J-shaped first wiring pattern 96a ending at a location facing the capacitor electrode 86d with the 7 interposed therebetween is formed.
  • the start point is connected to the input terminal 34, and the end point is formed so as not to directly contact the surface ground electrodes 82a and 82d.
  • one main surface of the seventh ceramic layer S7 has a starting point at a position closer to the third side surface 78c of the first side surface 78a, and the third to seventh ceramic layers S3 A substantially abbreviated second wiring pattern 96b is formed ending at a point facing the capacitor electrode 86c with respect to S7.
  • the start point is connected to the output terminal 36, and the end is formed so as not to directly contact the surface ground electrodes 82a and 82d.
  • the first and second wiring patterns 96 a and 96 b constitute a hybrid coupler 12.
  • the start point of the first wiring pattern 96 a is the input terminal 22 of the hybrid camera 12, and the end point corresponds to the second output terminal 16.
  • the starting point of the second wiring pattern 96 b is the isolation terminal 24 of the hybrid coupler 12, and the ending point corresponds to the first output terminal 14.
  • a DC voltage supply electrode (D) is provided on almost the entire main surface of the 10th ceramic layer S10.
  • the C electrode 98 is formed so as not to directly contact the surface ground electrodes 82a and 82d.
  • the DC electrode 98 is connected to the first and second pressure control terminals 50 and 52 formed on the fourth side surface 78d. 13060
  • inner-layer ground electrodes 82f to 82h are formed over substantially the entire surface, respectively.
  • the fourth and fifth ceramic layers S 4 and S 5 (resonant circuit layer 68) constituting the ⁇ 4 dielectric resonators 46 and 48 are electrically separated.
  • the fourth and fifth ceramic layers S 4, S 5 (resonant circuit layer 6 8) constituting the first and second ⁇ / 4 dielectric resonators 46, 48 are formed by the inner layer earth electrode 82 g. )
  • the sixth to eighth ceramic layers S 6 to S 8 (hybrid cover layer 66) constituting the hybrid power brass 12 are electrically separated from each other.
  • Insulation regions are provided in the portion of 82 g opposite to the connection electrode 88, the end of the first wiring pattern 96 a and the end of the second wiring pattern 96 b, respectively.
  • the sixth to eighth ceramic layers S 6 to S 8 constituting the hybrid force bra 12 by the inner layer earth electrode 82 h and the DC electrode
  • the first ceramic layer S1 functions as a varactor diode layer 72 on which the varactor diodes 42 and 44 are mounted on the upper surface 78e.
  • connection electrode 88 and the DC electrode 98 are connected via a via hole 99a formed through an insulating region in the inner-layer ground electrodes 82f to 82h. Further, the connection electrode 88 and the terminal 84 are connected via a via hole 99b. Furthermore, the terminal 84 f and the capacitor electrode 86 a are connected via a via hole 99 c. Furthermore, the terminal 84a and the capacitor electrode 86a are connected via a via hole 99d.
  • the terminal 84 e and the open end 94 a of the first resonance electrode 90 a are connected via a via hole 99 e formed through an insulating region in the inner-layer ground electrode 82 f. .
  • the capacitor electrode 86 c and the end of the second wiring pattern 96 b are connected via a via hole 99 ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ formed through the insulating region in the inner-layer ground electrodes 82 f and 82 g. Have been.
  • a series circuit including the first capacitor 38, the first varactor diode 42, and the first ⁇ 4 dielectric resonator 46 is formed.
  • connection electrode 88 and the terminal 84 g are connected via a via hole 99 g. Further, the terminal 84c and the capacitor electrode 86b are connected via a via hole 99h. Furthermore, the capacitor electrode 86b and the terminal 84d are connected via a via hole 99i.
  • the terminal 84 h and the open end 94 b of the second resonance electrode 90 b are connected via a via hole 99 j formed through an insulating region in the inner-layer ground electrode 82 f. . Further, the capacitor electrode 86 d and the end of the first wiring pattern 96 a are connected to each other through a via hole 99 k formed through an insulating region in the inner-layer ground electrodes 82 f and 82 g. I have. Thus, a series circuit including the second capacitor 40, the second diode 44, and the second ⁇ 4 dielectric resonator 48 is formed.
  • the surface earth electrode 82b and the inner layer earth electrode 82f to 82h are connected via two via holes 99 to 99m formed through the first to eighth ceramic layers S1 to S8. Connected.
  • the via hole 991 is formed so as to extend from the portion near the first side surface 78a of the surface earth electrode 82b to the bottom surface 78f. Have been.
  • the via hole 99 m is formed so as to extend from the portion of the surface ground electrode 82 b closer to the fourth side surface 78 d to the bottom surface 78 f.
  • the surface ground electrode 82c and the inner layer ground electrode 82f to 82h are formed by two via holes 99n, 990 formed through the first to eighth ceramic layers S1 to S8. Connected through.
  • the via hole 9.9 ⁇ is formed so as to extend from the portion of the surface ground electrode 82 c closer to the first side surface 78 a to the bottom surface 78 f.
  • the via hole 99 o is formed so as to extend from the portion of the surface ground electrode 82 c closer to the fourth side surface 78 d to the bottom surface 78 f.
  • variable delay line 10 C of the third specific example each circuit element except the first and second varactor diodes 42, 44 and the resistors 74, 76 is connected to the above-described ceramic substrate 78 internal part.
  • the variable delay line 10 C can be reduced in size.
  • variable delay lines 10A and 10B (see FIGS. 3 and 7) of the first and second specific examples, similarly to the variable delay line 10C described above, Forming the first and second ⁇ / 4 dielectric resonators 46, 48 and the first to fourth capacitors 38, 40, 54, 56 inside the ceramic substrate 78, It goes without saying that the first to fourth varactor diodes 42, 44, 58, and 60 can be mounted on the ceramic substrate 78 from outside.
  • variable delay line of the present invention is not limited to the above-described embodiment, but may adopt various configurations without departing from the gist of the present invention.
  • variable delay line of the present invention the hybrid delay and the variable reactance element are mounted on the variable delay line, and the variable reactance elements are connected to the two output terminals of the hybrid coupler, respectively. Therefore, it is possible to suppress the fluctuation of the input impedance and the output impedance in the variable delay line, and it is possible to set the absolute delay time and the variable delay time to desired values, thereby increasing the passband. .

Abstract

First and second reactance parts (18, 20) are connected with the first and second output terminals (14, 16) of a hybrid coupler (12). The first and second reactance parts (18, 20) have a substantially identical reactance X.

Description

可変遅延線 技術分野 Variable delay line technology
本発明は、 可変リアクタンス素子を有する可変遅延線に関する。 明  The present invention relates to a variable delay line having a variable reactance element. Light
背景技術 Background art
田 1  Field 1
近年、 商用の無線通信機器に用いられている可変遅延線は、 前記無線通信機器 書  In recent years, variable delay lines used in commercial wireless communication devices
が有する送受信周波数帯を、 信号の通過帯域とするバンドパスフィル夕である。 前記可変遅延線は、 前記バンドパスフィルタの結合容量を変化して前記通過帯域 を変化させることにより、 当該可変遅延線が有する遅延時間の絶対値 (以下、 絶 対遅延時間と記す) を変化させるという特徴を備えている。 This is a bandpass filter in which the transmission / reception frequency band included in is used as a signal pass band. The variable delay line changes an absolute value (hereinafter, referred to as an absolute delay time) of a delay time of the variable delay line by changing a coupling capacitance of the bandpass filter to change the pass band. It has the feature of.
従来の可変遅延線 1 0 0は、 図 1 5に示すように、 入力端子 1 0 2と出力端子 1 0 4との間に、 コンデンサ 1 0 6、 1 0 8と可変容量コンデンサ 1 1 0とが直 列に接続され、 可変容量コンデンサ 1 1 0の一端及び他端とアースとの間には、 第 1及び第 2の共振回路 1 1 2、 1 1 4がそれぞれ接続されることによって構成 されている (特開 2 0 0 1— 1 1 9 2 0 6号公報参照) 。  As shown in Fig. 15, the conventional variable delay line 100 has a capacitor 106, 108 and a variable capacitor 110 between the input terminal 102 and the output terminal 104. Are connected in series, and the first and second resonance circuits 112, 114 are connected between one end and the other end of the variable capacitance capacitor 110 and the ground, respectively. (See Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-119206).
そして、 可変遅延線 1 0 0の入力端子 1 0 2から所定の入力信号を供給したと き、 出力端子 1 0 4からは、 図 1 6に示す所定の絶対遅延時間を有する出力信号 が出力される。 この場合、 図 1 7に示す可変容量コンデンサ 1 1 0の結合容量 C が変化すると、 前記絶対遅延時間は、 図 1 8に示すように変化する。 例えば、 結 合容量 Cを C 1から C 2又は C 3 ( C 1 > C 2 > C 3 ) に変化させると絶対遅延 時間が増加する。 結合容量 Cの調整範囲が広ければ、 可変遅延線 1 0 0における 絶対遅延時間の変化量 (以下、 可変遅延時間と記す) の範囲も拡大する。  When a predetermined input signal is supplied from the input terminal 102 of the variable delay line 100, an output signal having a predetermined absolute delay time shown in FIG. 16 is output from the output terminal 104. You. In this case, when the coupling capacitance C of the variable capacitor 110 shown in FIG. 17 changes, the absolute delay time changes as shown in FIG. For example, changing the coupling capacitance C from C1 to C2 or C3 (C1> C2> C3) increases the absolute delay time. If the adjustment range of the coupling capacitance C is wide, the range of the variation of the absolute delay time in the variable delay line 100 (hereinafter, referred to as variable delay time) is also widened.
一方、 結合容量 Cを減少させた場合、 可変遅延線 1 0 0の通過帯域の帯域幅が 狭くなり、 図 1 7に示す可変遅延線 1 0 0の伝送特性が減衰するとともに、 図 1 8に示す不整合減衰量が増加する。 この場合、 結合容量 Cが変化すると、 図 1 5に示す入力端子 1 0 2側のコンデ ンサ 1 0 6及び第 1の共振回路 1 1 2と、 出力端子 1 0 4側のコンデンサ 1 0 8 及び第 2の共振回路 1 1 4とのバランスが崩れ、 可変遅延線 1 0 0における入力 インピーダンスの値と出力インピーダンスの値とが変動する。 これによつて、 可 変遅延線 1 0 0において、 インピーダンスマッチングを取ることが困難となる。 そのため、 図 1 8に示す不整合減衰量が増加する。 また、 図 1 7に示す伝送特性. が大幅に減衰して可変遅延線 1 0 0における伝送損失が増加し、 図 1 6に示す絶 対遅延時間の偏差が増加する。 On the other hand, when the coupling capacitance C is reduced, the passband bandwidth of the variable delay line 100 becomes narrower, and the transmission characteristic of the variable delay line 100 shown in FIG. 17 is attenuated. The indicated mismatch attenuation increases. In this case, when the coupling capacitance C changes, the capacitor 106 on the input terminal 102 and the first resonance circuit 112 shown in FIG. 15 and the capacitor 108 on the output terminal 104 shown in FIG. The balance with the second resonance circuit 114 is lost, and the value of the input impedance and the value of the output impedance in the variable delay line 100 fluctuate. This makes it difficult to obtain impedance matching in the variable delay line 100. Therefore, the mismatch attenuation shown in Fig. 18 increases. In addition, the transmission characteristics shown in FIG. 17 are greatly attenuated, the transmission loss in the variable delay line 100 increases, and the deviation of the absolute delay time shown in FIG. 16 increases.
このような状態で、 図 1 5に示す可変遅延線 1 0 0と他の電子部品とを入力端 子 1 0 2及び出力端子 1 0 4を介して接続しても、 可変遅延線 1 0 0と他の電子 部品とのインピーダンスマッチングを取ることは困難である。 従って、 可変遅延 線 1 0 0及び無線通信機器の伝送損失は、 より一層増加する。 また、 上記した偏 差が大きいので、 可変遅延線 1 0 0の通過帯域が縮小され、 出力端子 1 0 4から 出力される出力信号の歪みが顕著になる。  In this state, even if the variable delay line 100 shown in FIG. 15 and other electronic components are connected via the input terminal 102 and the output terminal 104, the variable delay line 100 It is difficult to match the impedance with the other electronic components. Therefore, the transmission loss of the variable delay line 100 and the wireless communication device further increases. Further, since the above-mentioned deviation is large, the pass band of the variable delay line 100 is reduced, and the distortion of the output signal output from the output terminal 104 becomes remarkable.
例えば、 実際の無線通信機器に可変遅延線 1 0 0を搭載する場合、 少なくとも 0 . 5 n s程度の可変遅延時間が必要である。 しかしながら、 図 1 6〜図 1 8に 示すように、 0 . 4 n s程度の可変遅延時間で伝送特性の低下と不整合減衰量の 増加とが発生するので、 所望の特性を有する可変遅延線 1 0 0を実現することは 困難である。 発明の開示  For example, when a variable delay line 100 is mounted on an actual wireless communication device, a variable delay time of at least about 0.5 ns is required. However, as shown in FIGS. 16 to 18, the variable delay time of about 0.4 ns causes a decrease in the transmission characteristics and an increase in the mismatch attenuation, so that the variable delay line 1 having the desired characteristics can be obtained. It is difficult to achieve 0. Disclosure of the invention
本発明は、 可変遅延線にハイブリツドカブラと可変リアクタンス素子とを搭載 し、 この八イブリッドカブラの 2つの出力端子にそれぞれ可変リアクタンス素子 を接続することによって、 入力インピーダンスと出力インピーダンスとの変動を 抑制して、 絶対遅延時間の偏差を低下できるとともに、 可変遅延時間の増加と通 過帯域の広帯域化とを図ることができる可変遅延線を提供することを目的とする 本発明の可変遅延線は、 入力信号が供給される入力端子と、 互いの位相差が 9 0 ° である第 1及び第 2の出力信号を出力する第 1及び第 2の出力端子と、 前記 第 1及び第 2の出力信号に基づく反射信号を第 3の出力信号として出力するアイ ソレーション端子とを備えたノ\ィプリッドカブラと、 前記第 1及び第 2の出力端 子に接続され、 略同一のリアクタンスを有する第 1及び第 2のリアクタンス部と 、 を有し、 前記第 1及び第 2のリアクタンス部は、 略同一のリアクタンスを有す る第 1及び第 2の可変リアクタンス素子を具備することを特徴とする。 The present invention suppresses fluctuations in input impedance and output impedance by mounting a hybrid coverl and a variable reactance element on a variable delay line, and connecting the variable reactance elements to two output terminals of the eight hybrid coverr, respectively. In addition, the variable delay line of the present invention has an object to provide a variable delay line capable of reducing the deviation of the absolute delay time, increasing the variable delay time and widening the pass band. The input terminal to which the signal is supplied has a phase difference of 9 First and second output terminals for outputting first and second output signals at 0 °, and isolation for outputting a reflected signal based on the first and second output signals as a third output signal And a first and second reactance sections connected to the first and second output terminals and having substantially the same reactance. Is characterized in that it comprises first and second variable reactance elements having substantially the same reactance.
この場合、 互いに略同一のリアクタンスを有する第 1及び第 2のリアクタンス. 部の一端が第 1及び第 2の出力端子に接続され、 前記第 1及び第 2のリアクタン ス部の他端はアースに接続され接地されている。  In this case, one ends of the first and second reactance portions having substantially the same reactance as each other are connected to the first and second output terminals, and the other ends of the first and second reactance portions are connected to the ground. Connected and grounded.
前記入力端子に入力信号を供給したとき、 第 1の出力端子には入力信号とは同 相の第 1の出力信号が出力される。 一方、 第 2の出力端子には入力信号に対して 9 0 ° の位相差を有する第 2の出力信号が出力される。 従って、 第 1及び第 2の 出力信号の位相差は 9 0 ° である。  When an input signal is supplied to the input terminal, a first output signal having the same phase as the input signal is output to the first output terminal. On the other hand, a second output signal having a phase difference of 90 ° with respect to the input signal is output to the second output terminal. Therefore, the phase difference between the first and second output signals is 90 °.
このとき、 前記第 1及び第 2の出力端子に対し前記第 1及び第 2のリアクタン ス部が接続されているので、 前記第 1及び第 2の出力信号によって、 前記第 1及 び第 2の出力端子には第 1及び第 2の反射信号が発生する。 また、 前記アイソレ ーション端子には、 前記第 1及び第 2の反射信号の合成信号である反射信号が出 力される。 この反射信号は入力信号に対し 1 8 0 ° の位相差を持つ。 前記アイソ レ一ション端子と前記入力端子との間はアイソレー夕として機能するため、 前記 反射信号による反射波は、 前記アイソレーション端子から前記入力端子に伝搬す る途中で減衰し、 前記入力端子で出力されることはない。  At this time, since the first and second reactance units are connected to the first and second output terminals, the first and second output signals allow the first and second output signals to be connected. The first and second reflected signals are generated at the output terminal. In addition, a reflection signal that is a composite signal of the first and second reflection signals is output to the isolation terminal. This reflected signal has a 180 ° phase difference with respect to the input signal. Since the portion between the isolation terminal and the input terminal functions as an isolation terminal, the reflected wave due to the reflected signal is attenuated while propagating from the isolation terminal to the input terminal. There is no output.
これによつて、 前記ハイプリッドカブラと前記第 1及び第 2のリアクタンス部 とによって、 前記可変遅延線における入力インピーダンス及び出力インピーダン スの変動を抑制することができる。 そのため、 絶対遅延時間の偏差を低下させる ことができるとともに、 低い伝送損失と広い通過帯域と歪みの少ない第 3の出力 信号とを有する可変遅延線を実現することができる。 従って、 前記可変遅延線が 搭載された無線通信機器の信頼性を高めることができる。  Thus, the hybrid coupler and the first and second reactance units can suppress the fluctuation of the input impedance and the output impedance of the variable delay line. Therefore, the deviation of the absolute delay time can be reduced, and a variable delay line having low transmission loss, a wide passband, and a third output signal with little distortion can be realized. Therefore, the reliability of the wireless communication device equipped with the variable delay line can be improved.
また、 前記第 1及び第 2のリアクタンス部が有する前記第 1及び第 2の可変リ ァクタンス素子のリアクタンスをそれぞれ同一量だけ変化させることによって、 前記第 1及び第 2のリアクタンス部のリアクタンスを同一量だけ変化させること ができる。 これにより、 前記反射信号が所望の値だけ変化し、 前記可変遅延線の 絶対遅延時間が所定量だけ変化する。 従って、 前記第 1及び第 2の可変リアクタ ンス素子のリアクタンスを所定量だけ変化させることにより、 所望の絶対遅延時 間と可変遅延時間とを有する可変遅延線を実現することが可能となる。 Further, the first and second variable resistors included in the first and second reactance units are provided. By changing the reactances of the reactance elements by the same amount, the reactances of the first and second reactance units can be changed by the same amount. Thereby, the reflected signal changes by a desired value, and the absolute delay time of the variable delay line changes by a predetermined amount. Therefore, by changing the reactance of the first and second variable reactance elements by a predetermined amount, a variable delay line having a desired absolute delay time and a variable delay time can be realized.
また、 前記第 1及び第 2のリアクタンス部は、 略同一の静電容量を有する第 1 及び第 2のコンデンサと、 前記第 1及び第 2の可変リアクタンス素子としての第 1及び第 2の可変容量素子と、 第 1及び第 2の共振回路との直列回路とすること が望ましい。  Further, the first and second reactance units include first and second capacitors having substantially the same capacitance, and first and second variable capacitances as the first and second variable reactance elements. It is desirable to form a series circuit of the element and the first and second resonance circuits.
この場合、 前記第 1及び第 2の可変容量素子の静電容量を変化させることによ つて、 前記第 1及び第 2の可変容量素子のアドミタンスが変化する。 これによつ て、 前記第 1及び第 2のリアクタンス部のリアクタンス及びァドミ夕ンスが変化 するので、 絶対遅延時間及び可変遅延時間を所望の値に調整することができる。 また、 第 1及び第 2の共振回路は、 それぞれ共振周波数を有しているので、 前 記共振周波数によって前記可変遅延線の通過帯域における中心周波数が決定され る。 従って、 前記直列回路の構成により、 所望の通過帯域と絶対遅延時間及び可 変遅延時間とを有する可変遅延線を得ることが可能となる。  In this case, by changing the capacitance of the first and second variable capacitance elements, the admittance of the first and second variable capacitance elements changes. Thereby, the reactance and admittance of the first and second reactance sections change, so that the absolute delay time and the variable delay time can be adjusted to desired values. Further, since the first and second resonance circuits each have a resonance frequency, a center frequency in a pass band of the variable delay line is determined by the resonance frequency. Therefore, with the configuration of the series circuit, it is possible to obtain a variable delay line having a desired pass band, an absolute delay time, and a variable delay time.
また、 上記した可変遅延線の回路構成では、 絶対遅延時間を変化させることに よって可変遅延線の位相が変化する。 また、 前記回路構成では、 前記第 1及び第 2の共振回路における共振周波数を変化させたとしても、 前記可変遅延線の帯域 幅が広ければ前記絶対遅延時間はほとんど変化しないが、 前記可変遅延線の位相 だけは変化する。  In the above-described circuit configuration of the variable delay line, the phase of the variable delay line changes by changing the absolute delay time. Further, in the circuit configuration, even if the resonance frequencies of the first and second resonance circuits are changed, the absolute delay time hardly changes if the bandwidth of the variable delay line is wide, but the variable delay line Only the phase of changes.
そこで、 可変遅延線における位相の変化を抑制するために、 第 3及び第 4のコ ンデンザと、 可変リアクタンス素子としての第 3及び第 4の可変容量素子との直 列回路が、 第 1及び第 2の共振回路に対して並列に接続されることが望ましい。 これによつて、 可変遅延線の絶対遅延時間及び第 1及び第 2の共振回路の共振周 波数が変化しても、 第 3及び第 4の可変容量素子が有する静電容量を調整するこ とによって、 前記絶対遅延時間及び前記共振周波数の変化による第 3の出力信号 の位相の変化を補償することができる。 従って、 前記位相を変化させることなく 、 前記絶対遅延時間と前記共振周波数とを変化させることができる。 Therefore, in order to suppress the phase change in the variable delay line, a series circuit of the third and fourth capacitors and the third and fourth variable capacitance elements as variable reactance elements includes It is desirable that the two resonance circuits be connected in parallel. Thus, even if the absolute delay time of the variable delay line and the resonance frequency of the first and second resonance circuits change, the capacitances of the third and fourth variable capacitance elements can be adjusted. Thus, the change in the phase of the third output signal due to the change in the absolute delay time and the resonance frequency can be compensated. Therefore, the absolute delay time and the resonance frequency can be changed without changing the phase.
また、 前記第 1及び第 2の共振回路は、 L C共振回路、 分布定数回路による共 振回路又は誘電体共振器であることが望ましい。 また、 前記第 1〜第 4の可変容 量素子は、 静電容量を可変できるような回路素子であることが望ましく、 このよ うな回路素子にはバラクタダイオード、 トリマコンデンサ等がある。  Further, it is preferable that the first and second resonance circuits are LC resonance circuits, resonance circuits based on distributed constant circuits, or dielectric resonators. Further, the first to fourth variable capacitance elements are desirably circuit elements capable of changing the capacitance, and such circuit elements include a varactor diode, a trimmer capacitor and the like.
さらに、 上述した可変遅延線において、 複数のセラミック層を積層してセラミ ックスの一体構造体を形成し、 このセラミックスの一体構造体が、 前記ハイプリ ッドカブラが形成されるセラミック層と、 前記第 1及び第 2の共振回路が形成さ れるセラミック層と、 少なくとも前記第 1及び第 2のコンデンサが形成されるセ ラミック層とを有するようにしてもよい。 これにより、 可変遅延線を構成する回 路素子の大部分が、 前記セラミックスの一体構造体の内部に形成されるので、 よ り小型化された可変遅延線を実現することができる。 図面の簡単な説明  Further, in the variable delay line described above, a plurality of ceramic layers are stacked to form an integrated structure of ceramics, and the integrated structure of ceramics is a ceramic layer on which the hybrid cover is formed; It may have a ceramic layer on which a second resonance circuit is formed, and at least a ceramic layer on which the first and second capacitors are formed. Accordingly, most of the circuit elements constituting the variable delay line are formed inside the ceramics integrated structure, so that a more miniaturized variable delay line can be realized. BRIEF DESCRIPTION OF THE FIGURES
図 1は、 本実施形態の可変遅延線を示す回路図である。  FIG. 1 is a circuit diagram showing a variable delay line according to the present embodiment.
図 2は、 図 1の可変遅延線を構成する第 1及ぴ第 2のリアクタンス部を示す回 路図である。  FIG. 2 is a circuit diagram showing first and second reactance units constituting the variable delay line of FIG.
図 3は、 第 1の具体例の可変遅延線を示す回路図である。  FIG. 3 is a circuit diagram showing a variable delay line of the first specific example.
図 4は、 図 3の可変遅延線における絶対遅延時間のシミュレーション結果を示 す図である。  FIG. 4 is a diagram showing a simulation result of an absolute delay time in the variable delay line of FIG.
図 5は、 図 3の可変遅延線における伝送特性のシミュレーション結果を示す図 である。  FIG. 5 is a diagram showing a simulation result of transmission characteristics in the variable delay line of FIG.
図 6は、 図 3の可変遅延線における不整合減衰量のシミュレーション結果を示 す図である。  FIG. 6 is a diagram showing a simulation result of mismatch attenuation in the variable delay line of FIG.
図 7は、 第 2の具体例の可変遅延線を示す回路図である。  FIG. 7 is a circuit diagram showing a variable delay line of the second specific example.
図 8は、 図 7の可変遅延線における絶対遅延時間のシミユレーション結果を示 す図である。 Fig. 8 shows the simulation result of the absolute delay time in the variable delay line of Fig. 7. FIG.
図 9は、 図 7の可変遅延線における位相のシミユレ一ション結果を示す図であ る。  FIG. 9 is a diagram showing a simulation result of the phase in the variable delay line of FIG.
図 1 0は、 第 3の具体例の可変遅延線を示す回路図である。  FIG. 10 is a circuit diagram showing a variable delay line of the third specific example.
図 1 1は、 図 1 0の可変遅延線を示す斜視図である。  FIG. 11 is a perspective view showing the variable delay line of FIG.
図 1 2は、 図 1 0の可変遅延線において、 ケースを除いた状態を示す斜視図で ある。  FIG. 12 is a perspective view showing the variable delay line of FIG. 10 without a case.
図 1 3は、 図 1 0の可変遅延線を示す分解斜視図である。  FIG. 13 is an exploded perspective view showing the variable delay line of FIG.
図 1 4は、 図 1 0の可変遅延線を示す断面図である。  FIG. 14 is a cross-sectional view showing the variable delay line of FIG.
図 1 5は、 従来の可変遅延線を示す回路図である。  FIG. 15 is a circuit diagram showing a conventional variable delay line.
図 1 6は、 図 1 5の可変遅延線における絶対遅延時間のシミュレーション結果 を示す図である。  FIG. 16 is a diagram showing a simulation result of an absolute delay time in the variable delay line of FIG.
図 1 7は、 図 1 5の可変遅延線における伝送特性のシミュレ一ション結果を示 す図である。  FIG. 17 is a diagram showing a simulation result of transmission characteristics in the variable delay line of FIG.
図 1 8は、 図 1 5の可変遅延線における不整合減衰量のシミュレーション結果 を示す図である。 発明を実施するための最良の形態  FIG. 18 is a diagram showing a simulation result of mismatch attenuation in the variable delay line of FIG. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
本実施形態の可変遅延線 1 0は、 図 1に示すように、 ハイプリッドカブラ 1 2 と、 ハイブリッド力ブラ 1 2の第 1及び第 2の出力端子 1 4、 1 6に接続された 第 1及び第 2のリアクタンス部 1 8、 2 0とを有する。  As shown in FIG. 1, the variable delay line 10 of the present embodiment includes a hybrid cover 12 and first and second output terminals 14 and 16 connected to the hybrid force bra 12. And second reactance sections 18 and 20.
ハイブリッド力ブラ 1 2は、 第 1及び第 2の出力端子 1 4、 1 6のほかに、 入 力信号が供給される入力端子 2 2と、 第 1及び第 2の出力端子 1 4、 1 6から出 力された第 1及び第 2の出力信号に基づく反射信号が、 可変遅延線 1 0の出力信 号 (第 3の出力信号) として出力されるアイソレーション端子 2 4とを備えてい る。 この場合、 第 1の出力端子 1 4は、 入力端子 2 2に供給される入力信号に対 して同相の第 1の出力信号が出力される 0 ° の出力端子であり、 第 2の出力端子 1 6は、 前記入力信号に対して 9 0 ° の位相差を有する第 2の出力信号が出力さ れる 9 0 ° の出力端子である。 The hybrid power bracket 12 includes, in addition to the first and second output terminals 14 and 16, an input terminal 22 to which an input signal is supplied, and first and second output terminals 14 and 16. And an isolation terminal 24 that outputs a reflected signal based on the first and second output signals output from the variable delay line 10 as an output signal (third output signal) of the variable delay line 10. In this case, the first output terminal 14 is a 0 ° output terminal from which the first output signal in phase with the input signal supplied to the input terminal 22 is output, and the second output terminal 16 outputs a second output signal having a phase difference of 90 ° with respect to the input signal. 90 ° output terminal.
第 1及び第 2のリアクタンス部 1 8、 2 0は、 略同一のリアクタンス Xを有す るとともに、 その一端は第 1及び第 2の出力端子 1 4、 1 6に接続され、 他端は アースで接地されている。 第 1及び第 2のリアクタンス部 1 8、 2 0の内部には 、 図 2に示すように、 可変リアクタンス素子としての第 1及び第 2の可変容量素 子 2 6、 2 8と、 第 1及び第 2の共振回路 3 0、 3 2との直列回路から構成され ている。 第 1及び第 2の可変容量素子 2 6、 2 8は、 その結合容量 Cを変化させ ることによって、 リアクタンス Xを変化できるものであればよく、 このような回 路素子としては、 パラクタダイオード、 トリマコンデンサ等がある。 また、 第 1 及び第 2の共振回路 3 0、 3 2は、 L C共振回路、 分布定数回路からなる共振回 路又は誘電体共振器が望ましい。  The first and second reactance sections 18 and 20 have substantially the same reactance X, and one end thereof is connected to the first and second output terminals 14 and 16 and the other end is grounded. Grounded. As shown in FIG. 2, inside the first and second reactance sections 18 and 20 are first and second variable capacitance elements 26 and 28 as variable reactance elements, and first and second variable capacitance elements 26 and 28. It is composed of a series circuit with the second resonance circuits 30 and 32. The first and second variable capacitance elements 26 and 28 only need to be able to change the reactance X by changing the coupling capacitance C. Such circuit elements include a paraductor diode. , Trimmer capacitors, etc. Also, the first and second resonance circuits 30 and 32 are desirably a resonance circuit composed of an LC resonance circuit and a distributed constant circuit or a dielectric resonator.
次に、 本実施形態の可変遅延線 1 0の動作について説明する。  Next, the operation of the variable delay line 10 of the present embodiment will be described.
先ず、 図 1に示す可変遅延線 1 0の入力端子 3 4に入力信号を供給すると、 入 力端子 2 2を介してハイプリッドカブラ 1 2に前記入力信号が供給される。 この とき、 第 1及び第 2の出力端子 1 4、 1 6には、 第 1及び第 2の出力信号が出力 される。 この場合、 前記第 1及び第 2の出力信号の位相差は 9 0 ° である。 第 1及び第 2の出力端子 1 4、 1 6は、 第 1及び第 2のリアクタンス部 1 8、 2 0を介して接地されているので、 第 1及び第 2の出力端子 1 4、 1 6には、 第 1及び第 2の反射信号が発生する。 そして、 前記第 1及び第 2の反射信号の合成 信号である反射信号がアイソレーション端子 2 4に出力され、 前記反射信号が可 変遅延線 1 0の出力信号、 すなわち第 3の出力信号として出力端子 3 6に出力さ れる。 前記反射信号は、 前記入力信号に対し 1 8 0 ° の位相差を持つ。  First, when an input signal is supplied to the input terminal 34 of the variable delay line 10 shown in FIG. 1, the input signal is supplied to the hybrid coupler 12 via the input terminal 22. At this time, the first and second output signals are output to the first and second output terminals 14 and 16. In this case, the phase difference between the first and second output signals is 90 °. Since the first and second output terminals 14 and 16 are grounded via the first and second reactance sections 18 and 20, the first and second output terminals 14 and 16 Generates the first and second reflected signals. Then, a reflection signal that is a composite signal of the first and second reflection signals is output to the isolation terminal 24, and the reflection signal is output as an output signal of the variable delay line 10, that is, a third output signal. Output to terminals 36. The reflected signal has a phase difference of 180 ° with respect to the input signal.
アイソレーション端子 2 4と入力端子 2 2との間は、 アイソレー夕として機能 するので、 前記反射信号の反射波は、 アイソレーション端子 2 4から入力端子 2 2に伝搬するが途中で減衰するので、 入力端子 2 2に出力されることはない。 つ まり、 前記反射波は、 可変遅延線 1 0の入力インピーダンス及び出力インピーダ ンスに影響を及ぼさない。 従って、 ハイブリッド力ブラ 1 2と第 1及び第 2のリ ァクタンス部 1 8、 2 0とによって、 可変遅延線 1 0における入力インピーダン ス及び出力インピーダンスの変動を抑制することができる。 これによつて、 可変 遅延線 1 0におけるインピーダンスマッチングを容易に行うことができる。 また、 第 1及び第 2のリアクタンス部 1 8、 2 0が有する第 1及び第 2の可変 容量素子 2 6、 2 8の結合容量 Cをそれぞれ同一量だけ変化させることによって 、 第 1及び第 2のリアクタンス部 1 8、 2 0のリアクタンス Xを同一量だけ変化 させることができる。 これにより、 第 3の出力信号を所望の値だけ変化させるこ とが可能となる。 そのため、 可変遅延線 1 0の前記第 3の出力信号が有する絶対 遅延時間を所定量だけ変化させることができるとともに、 可変遅延時間を所望の 値に設定することができる。 従って、 第 1及び第 2の可変容量素子 2 6, 2 8の 結合容量 Cを所定量だけ変化させることにより、 所望の絶対遅延時間と可変遅延 時間とを有する可変遅延線 1 0を実現することが可能となる。 Since the portion between the isolation terminal 24 and the input terminal 22 functions as an isolator, the reflected wave of the reflected signal propagates from the isolation terminal 24 to the input terminal 22 but is attenuated on the way. It is not output to input terminal 22. That is, the reflected wave does not affect the input impedance and the output impedance of the variable delay line 10. Therefore, the input impedance of the variable delay line 10 is controlled by the hybrid force brass 12 and the first and second reactance sections 18 and 20. Source and output impedance fluctuations. Thereby, impedance matching in the variable delay line 10 can be easily performed. Further, by changing the coupling capacitance C of the first and second variable capacitance elements 26 and 28 of the first and second reactance sections 18 and 20 by the same amount, the first and second The reactance X of the reactance sections 18 and 20 can be changed by the same amount. This makes it possible to change the third output signal by a desired value. Therefore, the absolute delay time of the third output signal of the variable delay line 10 can be changed by a predetermined amount, and the variable delay time can be set to a desired value. Therefore, by changing the coupling capacitance C of the first and second variable capacitance elements 26 and 28 by a predetermined amount, the variable delay line 10 having the desired absolute delay time and variable delay time can be realized. Becomes possible.
また、 第 1及び第 2の共振回路 3 0、 3 2は、 それぞれ共振周波数を有してい る。 この共振周波数によって可変遅延線 1 0の通過帯域における中心周波数が決 定される。 つまり、 前記共振周波数を所望の値に設定することで、 所望の通過帯 域を有する可変遅延線 1 0を得ることが可能となる。  Further, the first and second resonance circuits 30 and 32 each have a resonance frequency. The center frequency in the pass band of the variable delay line 10 is determined by the resonance frequency. That is, by setting the resonance frequency to a desired value, it becomes possible to obtain a variable delay line 10 having a desired pass band.
本実施形態の可変遅延線 1 0の構成及び動作は上記した通りであるが、 その構 成例である第 1〜第 3の具体例の可変遅延線 1 0 A〜1 0 Cについて、 図 3〜図 1 4を参照しながら以下に説明する。  Although the configuration and operation of the variable delay line 10 of the present embodiment are as described above, the variable delay lines 10 A to 10 C of the first to third specific examples as the configuration examples will be described with reference to FIG. This will be described below with reference to FIGS.
図 3に示す第 1の具体例の可変遅延線 1 0 Aは、 図 1及び図 2に示す本実施形 態の可変遅延線 1 0と略同じ構成を有しているが、 以下の点で異なる。  The variable delay line 10A of the first specific example shown in FIG. 3 has substantially the same configuration as the variable delay line 10 of the present embodiment shown in FIGS. 1 and 2, but has the following points. different.
図 3に示すように、 第 1及び第 2のリアクタンス部 1 8、 2 0が、 第 1及び第 2のコンデンサ 3 8、 4 0と、 第 1及び第 2の可変容量素子 2 6、 2 8から置き 換えられた第 1及び第 2のパラク夕ダイオード 4 2、 4 4と、 第 1及び第 2の共 振回路 3 0、 3 2から置き換えられた第 1及び第 2の λ Ζ 4誘電体共振器 4 6、 4 8とを有する直列回路である。 .  As shown in FIG. 3, the first and second reactance sections 18 and 20 are composed of first and second capacitors 38 and 40 and first and second variable capacitance elements 26 and 28, respectively. The first and second paramagnetic diodes 42, 44 replaced by the first and second λ Ζ 4 dielectrics replaced by the first and second resonant circuits 30, 32 This is a series circuit having resonators 46 and 48. .
この場合、 第 1及び第 2のコンデンサ 3 8、 4 0の一端は第 1及び第 2の出力 端子 1 4、 1 6に接続され、 その他端は第 1及び第 2のバラク夕ダイオード 4 2 、 4 4の力ソード端子 K l、 Κ 2に接続されている。 また、 第 1及び第 2のバラ クタダイオード 4 2、 4 4のアノード端子 A l、 A 2は第 1及び第 2の λ Ζ 4誘 電体共振器 4 6、 4 8に接続されている。 さらに、 前記力ソード端子 K l、 Κ 2 には、 直流電圧が供給可能となるように、 第 1及び第 2の電圧制御端子 5 0、 5 2が接続されている。 In this case, one ends of the first and second capacitors 38 and 40 are connected to the first and second output terminals 14 and 16, and the other ends are the first and second Barak diode 42, 4 4 Sword terminal Kl, connected to 接 続 2. In addition, the first and second roses The anode terminals Al and A2 of the collector diodes 42 and 44 are connected to the first and second λΖ4 dielectric resonators 46 and 48, respectively. Further, first and second voltage control terminals 50 and 52 are connected to the force source terminals Kl and Κ2 so that a DC voltage can be supplied.
第 1の具体例の可変遅延線 1 0 Αでは、 第 1及び第 2の電圧制御端子 5 0、 5 2から第 1及び第 2のパラクタダイオード 4 2、 4 4に、 図示しない抵抗又はコ ィルを介して、 それぞれ略同一値の直流電圧を供給したとき、 前記直流電圧の値 に対応して該第 1及び第 2のバラクタダイオード 4 2、 4 4の結合容量 Cが同一 量だけ変化する。 具体的には、 前記直流電圧が増加すると第 1及び第 2のバラク 夕ダイオード 4 2、 4 4の結合容量 Cが減少する。  In the variable delay line 10 # of the first specific example, the first and second voltage control terminals 50 and 52 are connected to the first and second varactor diodes 42 and 44 by a resistor or a resistor (not shown). When a DC voltage having substantially the same value is supplied through each of the varactor diodes, the coupling capacitance C of the first and second varactor diodes 42, 44 changes by the same amount corresponding to the DC voltage value. I do. Specifically, as the DC voltage increases, the coupling capacitance C of the first and second varactor diodes 42, 44 decreases.
結合容量 Cが C = C 1から C = C 2又は C = C 3まで変化すると (C 1 > C 2 > C 3 ) 、 第 1及び第 2のリアクタンス部 1 8、 2 0におけるアドミタンスが変 化して、 図 4に示すように、 可変遅延線 1 O Aの絶対遅延時間が増加する。 この 場合、 結合容量 Cを広い範囲で可変できる第 1及び第 2のバラクタダイォード 4 2、 4 4を、 図 3に示す可変遅延線 1 0 Aに搭載すれば、 より広い可変遅延時間 を有する可変遅延線 1 O Aを得ることができる。  When the coupling capacitance C changes from C = C1 to C = C2 or C = C3 (C1> C2> C3), the admittance in the first and second reactance sections 18, 20 changes. Thus, as shown in FIG. 4, the absolute delay time of the variable delay line 1OA increases. In this case, if the first and second varactor diodes 42, 44 capable of varying the coupling capacitance C in a wide range are mounted on the variable delay line 10A shown in FIG. 3, a wider variable delay time can be obtained. The variable delay line 1 OA can be obtained.
例えば、 出力端子 3 6に出力される第 3の出力信号について、 その絶対遅延時 間の最小値が 1 n s程度となるように、 第 1及び第 2のリアクタンス部 1 8、 2 0を構成する回路素子の値を適宜調整すれば、 図 4に示すように、 1 0 0 MH z 以上の周波数帯域に対する絶対遅延時間の偏差を 0 . I n s以下に抑制すること ができるとともに、 可変遅延時間を 1 n sにまで増加することができる。  For example, for the third output signal output to the output terminal 36, the first and second reactance sections 18 and 20 are configured so that the minimum value of the absolute delay time is about 1 ns. By appropriately adjusting the values of the circuit elements, as shown in FIG. 4, the deviation of the absolute delay time for the frequency band of 100 MHz or more can be suppressed to 0.1 Ins or less, and the variable delay time can be reduced. It can be increased to 1 ns.
また、 第 1の具体例の可変遅延線 1 0 Aにおいて、 絶対遅延時間が 2 n s程度 まで変化しても、 図 5に示す伝送特性及び図 6に示す不整合減衰量はほとんど変 化しない。 そのため、 可変遅延線 1 O Aの通過帯域を 6 0 MH z以上の広い帯域 幅とすることが可能となる。  Also, in the variable delay line 10A of the first specific example, even if the absolute delay time changes to about 2 ns, the transmission characteristics shown in FIG. 5 and the mismatch attenuation shown in FIG. 6 hardly change. Therefore, the pass band of the variable delay line 1OA can be set to a wide bandwidth of 60 MHz or more.
ところで、 第 1の具体例の可変遅延線 1 O Aにおいて、 結合容量 Cを変化させ て絶対遅延時間を変化させると、 可変遅延線 1 0 Aの第 3の出力信号の位相が変 化する。 また、 第 1及び第 2の λ / 4誘電体共振器 4 6、 4 8の共振周波数を変 化させて可変遅延線 1 O Aの通過帯域における中心周波数を変化させても、 可変 遅延線 1 O Aの帯域幅が広いと第 3の出力信号の絶対遅延量はほとんど変化しな いが、 可変遅延線 1 O Aの第 3の出力信号の位相だけは変化する。 By the way, in the variable delay line 1OA of the first specific example, when the absolute delay time is changed by changing the coupling capacitance C, the phase of the third output signal of the variable delay line 10A changes. Also, the resonance frequencies of the first and second λ / 4 dielectric resonators 46 and 48 are changed. Even if the center frequency in the pass band of the variable delay line 1OA is changed, the absolute delay of the third output signal hardly changes if the bandwidth of the variable delay line 1OA is wide, but the variable delay Only the phase of the third output signal of line 1 OA changes.
図 7に示す第 2の具体例の可変遅延線 1 0 Bは、 図 3に示す第 1の具体例の可 変遅延線 1 O Aと略同じ構成を有しているが、 第 3及び第 4のコンデンサ 5 4、 5 6と可変リアクタンス素子としての第 3及び第 4の可変容量素子である第 3及 び第 4のパラクタダイオード 5 8、 6 0とが、 第 1及び第 2の λ Ζ 4誘電体共振 器 4 6、 4 8に対し並列に接続されて構成されている。  The variable delay line 10B of the second specific example shown in FIG. 7 has substantially the same configuration as the variable delay line 1OA of the first specific example shown in FIG. The first and second λ Ζ Ζ are the capacitors 54, 56 of the first and second and the third and fourth parameter diodes 58, 60, which are the third and fourth variable capacitance elements as variable reactance elements. The four dielectric resonators 46 and 48 are connected in parallel.
この場合、 第 3及び第 4のコンデンサ 5 4、 5 6の一端は第 1及び第 2のバラ クタダイオード 4 2、 4 4のアノード端子 A l、 Α 2に接続され、 その他端は第 3及び第 4のバラクタダイオード 5 8、 6 0のカソード端子 1、 Κ 2に接続さ れている。 また、 第 3及び第 4のバラクタダイオード 5 8、 6 0のアノード端子 A 3、 Α 4は、 アースに接続されて接地されている。 さらに、 第 3及び第 4のバ ラクタダイオード 5 8、 6 0の力ソード端子 Κ 3、 Κ 4には、 直流電圧が供給可 能となるように、 第 3及び第 4の電圧制御端子 6 2、 6 4が接続されている。 第 2の具体例の可変遅延線 1 0 Βでは、 第 3及び第 4の電圧制御端子 6 2、 6 4から第 3及び第 4のバラクタダイオード 5 8、 6 0に、 図示しない抵抗又はコ ンデンサを介して、 それぞれ略同一値の直流電圧を供給したとき、 前記直流電圧 の値に対応して該第 3及び第 4のバラクタダイオード 5 8、 6 0の結合容量。が 同一量だけ変化する。 これによつて、 第 1及び第 2のバラクタダイオード 4 2、 4 4の結合容量 Cの変化による絶対遅延時間の変化と、 第 1及び第 2の λ Ζ 4誘 電体共振器 4 6、 4 8の共振周波数の変化による中心周波数の変化とに基づく、 可変遅延線 1 0 Βの第 3の出力信号における位相の変化を補償することができる 具体的には、 第 3及び第 4のバラクタダイオード 5 8、 6 0の結合容量〇 を 、 C v = C 4から C v = C 5又は C v = C 6に変化させることによって (C 4〉 C 5 > C 6 ) 、 図 8及び図 9に示すように、 可変遅延線 1 0 Bの絶対遅延時間に 影響を与えることなく、 第 3の出力信号の位相を変化させることが可能である。 これによつて、 可変遅延線 1 0 Bにおける第 3の出力信号の位相を所定の値に保 持させながら絶対遅延時間を変化させることができ、 所望の絶対遅延時間と可変 遅延時間とを有する可変遅延線 1 0 Bを実現することができる。 In this case, one end of the third and fourth capacitors 54, 56 is connected to the anode terminals Al, Α2 of the first and second varactor diodes 42, 44, and the other end is connected to the third and fourth capacitors 54, 56. Connected to the cathode terminals 1 and 2 of the fourth varactor diodes 58 and 60. Further, the anode terminals A 3, Α 4 of the third and fourth varactor diodes 58, 60 are connected to ground and are grounded. Furthermore, the third and fourth voltage control terminals 62 are connected to the power source terminals Κ3 and Κ4 of the third and fourth varactor diodes 58 and 60 so that a DC voltage can be supplied. , 6 4 are connected. In the variable delay line 10 # of the second specific example, the third and fourth varactor diodes 58, 60 are connected to the third and fourth varactor diodes 58, 60 from the third and fourth voltage control terminals 62, 64, respectively. When a DC voltage having substantially the same value is supplied via the first and second varactor diodes 58 and 60, the coupling capacitance of the third and fourth varactor diodes 58 and 60 corresponds to the value of the DC voltage. Change by the same amount. As a result, the change in the absolute delay time due to the change in the coupling capacitance C of the first and second varactor diodes 42, 44, and the change in the first and second λΖ4 dielectric resonators 46, 4 8, the phase change in the third output signal of the variable delay line 10 # based on the change in the center frequency due to the change in the resonance frequency can be compensated for. Specifically, the third and fourth varactor diodes By changing the coupling capacitance の of 58, 60 from C v = C 4 to C v = C 5 or C v = C 6 (C 4> C 5> C 6), FIG. 8 and FIG. As shown, it is possible to change the phase of the third output signal without affecting the absolute delay time of the variable delay line 10B. With this, the absolute delay time can be changed while maintaining the phase of the third output signal in the variable delay line 10B at a predetermined value, and the desired delay time and the variable delay time are provided. The variable delay line 10B can be realized.
図 1 0〜図 1 4に示す第 3の具体例の可変遅延線 1 0 Cは、 図 3に示す第 1の 具体例の可変遅延線 1 O Aと略同じ回路構成を有しているが、 以下の点で異なる 先ず、 図 1 0に示すように、 第 1及び第 2の電圧制御端子 5 0、 5 2は、 抵抗 7 4、 7 6を介して、 第 1及び第 2のパラクタダイオード 4 2、 4 4の力ソード 端子 K l、 Κ 2に接続されている。 そして、 図 1 1〜図 1 5に示すように、 可変 遅延線 1 0 Cは、 複数のセラミック層 S 1〜S 1 1を積層してから、 焼成して一 体ィ匕されたセラミック基板 (一体構造体) 7 8を有している。  The variable delay line 10C of the third specific example shown in FIGS. 10 to 14 has substantially the same circuit configuration as the variable delay line 1OA of the first specific example shown in FIG. First, as shown in FIG. 10, first and second voltage control terminals 50 and 52 are connected to first and second parasitic diodes via resistors 74 and 76, respectively. 4 2 and 4 4 are connected to the terminal Kl, Κ2. As shown in FIGS. 11 to 15, the variable delay line 10 C is formed by laminating a plurality of ceramic layers S 1 to S 11, and then firing and sintering the ceramic substrate ( (Integral structure) 7 8.
具体的には、 第 3の具体例の可変遅延線 1 0 Cは、 図 1 1及び図 1 2に示すよ うに、 セラミック基板 7 8の表面に複数の配線パターンが形成され、 これらの配 線パターン上に第 1及び第 2のバラク夕ダイオード 4 2、 4 4及び抵抗 7 4、 7 6が実装されると共に、 上述した回路素子以外の回路素子はセラミック基板 7 8 内に形成されている。 '  Specifically, as shown in FIGS. 11 and 12, the variable delay line 10 C of the third specific example has a plurality of wiring patterns formed on the surface of a ceramic substrate 78. The first and second varactor diodes 42, 44 and the resistors 74, 76 are mounted on the pattern, and the circuit elements other than the circuit elements described above are formed in the ceramic substrate 78. '
セラミック基板 7 8の上面 7 8 eの略全面は、 該セラミック基板 7 8に対する 上蓋である金属製のケース 8 0によって覆われている。 このケース 8 0の 4つの 側面の下部には、 その中央部分に脚部 8 0 a〜8 0 dが形成されている。 そのた め、 脚部 8 0 a〜8 0 dが上面 7 8 eと当接するように、 セラミック基板 7 8と ケース 8 0とを重ね合わせると、 上述したように、 上面 7 8 eの略全面がケース 8 0で覆われるが、 ケース 8 0の 4つの側面のうち、 脚部 8 0 a〜 8 0 dが形成 されていない四隅のコーナ部分と、 上面 7 8 eの四隅のコーナ部分との間には、 隙間 8 1が形成される。  Almost the entire upper surface 78 e of the ceramic substrate 78 is covered by a metal case 80 serving as an upper lid for the ceramic substrate 78. In the lower part of the four side surfaces of the case 80, legs 80a to 80d are formed at the center thereof. Therefore, when the ceramic substrate 78 and the case 80 are overlapped so that the legs 80a to 80d are in contact with the upper surface 78e, as described above, almost the entire upper surface 78e is formed. Is covered with case 80, but of the four side surfaces of case 80, there are four corners where legs 80a to 80d are not formed, and four corners of top surface 78e. A gap 81 is formed between them.
セラミック基板 7 8の表面である第 1〜第 4の側面 7 8 a〜7 8 dのうち、 第 Of the first to fourth side surfaces 78 a to 78 d which are the surface of the ceramic substrate 78,
1及び第 4の側面 7 8 a、 7 8 dの中央部分には、 図 1 1及び図 1 2に示すよう に、 表面アース電極 8 2 a、 8 2 dが、 該セラミック基板 7 8の上面 7 8 eから 底面 7 8 f にかけて、. それぞれ形成されている。 また、 第 1の側面 7 8 aのうち、 第 2の側面 7 8 b寄りの箇所には、 入力端子 3 4が、 セラミック基板 7 8の上面 7 8 eから底面 7 8 f にかけて形成されてい る。 一方、 第 1の側面 7 8 aのうち、 第 2の側面 7 8 bに対向する第 3の側面 7 8 c寄りの箇所には、 出力端子 3 6がセラミック基板 7 8の上面 7 8 eから底面 7 8 f にかけて形成されている。 At the center of the first and fourth side surfaces 78 a and 78 d, as shown in FIGS. 11 and 12, surface earth electrodes 82 a and 82 d are provided on the upper surface of the ceramic substrate 78. It is formed from 7 8 e to the bottom 7 8 f. In the first side surface 78a, near the second side surface 78b, an input terminal 34 is formed from the top surface 78e to the bottom surface 78f of the ceramic substrate 78. . On the other hand, among the first side surface 78 a, the portion near the third side surface 78 c facing the second side surface 78 b is connected to the output terminal 36 from the upper surface 78 e of the ceramic substrate 78. It is formed over the bottom surface 7 8 f.
第 1の側面 7 8 aに対向する第 4の側面 7 8 dのうち、 第 2の側面 7 8 b寄り の箇所には、 第 1の電圧制御端子 5 0が、 セラミック基板 7 8の上面 7 8 eから 底面 7 8 f にかけて形成されている。 一方、 第 4の側面 7 8 dのうち、 第 3の側 面 7 8 c寄りの箇所には、 第 2の電圧制御端子 5 2がセラミック基板 7 8の上面 7 8 eから底面 7 8 f にかけて形成されている。  The first voltage control terminal 50 is located at a position near the second side 78 b of the fourth side 78 d facing the first side 78 a, and the upper surface 7 It is formed from 8 e to the bottom surface 7 8 f. On the other hand, of the fourth side surface 78 d, at a position near the third side surface 78 c, the second voltage control terminal 52 extends from the upper surface 78 e to the bottom surface 78 f of the ceramic substrate 78. Is formed.
そして、 これらの入力端子 3 4と出力端子 3 6と第 1及び第 2の電圧制御端子 5 0、 5 2と表面ァ一ス電極 8 2 a、 8 2 dとは、 図 1 2及び図 1 3に示すよう に、 第 1〜第 4の側面 7 8 a〜 7 8 dから上面 7 8 e及び底面 7 8 f にそれぞれ 延在している。  The input terminal 34, the output terminal 36, the first and second voltage control terminals 50 and 52, and the surface ground electrodes 8 2a and 8 2d are shown in FIG. 12 and FIG. As shown in FIG. 3, the first to fourth side surfaces 78 a to 78 d extend to the top surface 78 e and the bottom surface 78 f, respectively.
また、 上面 7 8 eのうち、 第 2の側面 7 8 b寄りの中央部分には、 表面アース 電極 8 2 bが、 入力端子 3 4、 出力端子 3 6並びに第 1及び第 2の電圧制御端子 5 0、 5 2と直接接触しないように形成されている。 さらに、 上面 7 8 eのうち 、 第 3の側面 7 8 c寄りの中央部分には、 表面ァ一ス電極 8 2 cが、 入力端子 3 4、 出力端子 3 6並びに第 1及び第 2の電圧制御端子 5 0 , 5 2と直接接触しな いように形成されている。  In the center of the top surface 78 e near the second side surface 78 b, a surface ground electrode 82 b is provided with an input terminal 34, an output terminal 36, and first and second voltage control terminals. It is formed so that it does not directly contact 50, 52. Further, of the upper surface 78 e, a center ground electrode 82 c near the third side surface 78 c is provided with an input terminal 34, an output terminal 36, and first and second voltages. The control terminals 50 and 52 are formed so as not to come into direct contact with the control terminals.
これにより、 ケース 8 0とセラミック基板 7 8の上面 7 8 eとを重ね合わせた 際に、 図 1 1及び図 1 4に示すように、 表面アース電極 8 2 a〜8 2 dとケース 8 0の脚部 8 0 a〜8 0 dとが直接接触し、 可変遅延線 1 0 Cの全ての回路素子 が外部からシールドされることになる。 なお、 ケース 8 0とセラミック基板 7 8 とを重ね合わせた際に形成される隙間 8 1は、 ケース 8 0に対する入力端子 3 4 、 出力端子 3 6並びに第 1及び第 2の電圧制御端子 5 0、 5 2の逃げの部分とし て機能する。  Thus, when the case 80 and the upper surface 78 e of the ceramic substrate 78 are overlapped, as shown in FIGS. 11 and 14, the surface earth electrodes 82 a to 82 d and the case 80 are overlapped. The legs 80a to 80d of the variable delay line 10C are in direct contact, and all the circuit elements of the variable delay line 10C are shielded from the outside. The gap 81 formed when the case 80 and the ceramic substrate 78 are overlapped is formed by the input terminal 34, the output terminal 36, and the first and second voltage control terminals 50 to the case 80. Acts as an escape part for the 52.
底面 7 8 f には、 図 1 1及び図 1 3に示すように、 略全面にわたって表面ァー ス電極 8 2 eが形成されている。 なお、 入力端子 3 4と出力端子 3 6と第 1及び 第 2の電圧制御端子 5 0、 5 2とは、 表面アース電極 8 2 a〜8 2 eに直接接触 することなく、 所定の間隔をおいて配置されている。 As shown in Figs. 11 and 13, the bottom surface 78 f The electrode 82 e is formed. The input terminal 34, the output terminal 36, and the first and second voltage control terminals 50, 52 are separated from each other by a predetermined distance without directly contacting the surface ground electrodes 82a to 82e. It is arranged in.
また、 図 1 2及び図 1 3に示すように、 上面 7 8 eの中央部分には、 端子 8 4 a〜8 4 hが、 入力端子 3 4、 出力端子 3 6、 第 1及び第 2の電圧制御端子 5 0 、 5 2並びに表面アース電極 8 2 a〜8 2 dに直接接触することなく、 所定の間 隔で並行して形成されている。 そして、 端子 8 4 a〜8 4 hを有する上面 7 8 e には、 上述したように第 1及び第 2のバラクタダイオード 4 2、 4 4及び抵抗 7 4、 7 6が実装されている。  In addition, as shown in FIGS. 12 and 13, terminals 84 a to 84 h are provided at the center of the upper surface 78 e at the input terminal 34, the output terminal 36, and the first and second terminals. The voltage control terminals 50 and 52 and the surface earth electrodes 82 a to 82 d are formed in parallel at a predetermined interval without directly contacting each other. The first and second varactor diodes 42 and 44 and the resistors 74 and 76 are mounted on the upper surface 78 e having the terminals 84 a to 84 h as described above.
この場合、 第 1及び第 2のバラク夕ダイオード 4 2、 4 4の力ソード端子 K 1 、 K 2 (図 1 0参照) が端子 8 4 a、 8 4 dに接続され、 アノード端子 A l、 A 2 (図 1 1参照) が端子 8 4 e、 8 4 hに接続されている。 抵抗 7 4、 7 6は端 子 8 4 b、 8 4 c、 8 4 f 、 8 4 gに接続されている。 なお、 抵抗 7 4、 7 6は 、 例えばチップ抵抗から構成されている。  In this case, the power source terminals K 1, K 2 (see FIG. 10) of the first and second Barak diode 42, 44 are connected to the terminals 84a, 84d, and the anode terminals Al, A 2 (see Figure 11) is connected to terminals 84e and 84h. Resistors 74 and 76 are connected to terminals 84b, 84c, 84f and 84g. Note that the resistors 74 and 76 are composed of, for example, chip resistors.
そして、 第 3の具体例の可変遅延線 1 0 Cは、 図 1 3及び図 1 4に示すように 、 上述した複数のセラミック層 (S 1〜S 1 1 ) が積層、 焼成一体化されて前記 セラミック基板 7 8を構成している。  As shown in FIGS. 13 and 14, the variable delay line 10 C of the third specific example is formed by stacking and firing and integrating the above-described plurality of ceramic layers (S 1 to S 11). The ceramic substrate 78 is constituted.
セラミック基板 7 8は、 上から順に、 第 1のセラミック層 S 1〜第 1 1のセラ ミック層 S 1 1が積み重ねられて構成されている。 これら第 1〜第 1 1のセラミ ック層 S 1〜S 1 1は 1枚あるいは複数枚の層にて構成される。  The ceramic substrate 78 is formed by stacking a first ceramic layer S1 to a first ceramic layer S11 in order from the top. These first to eleventh ceramic layers S1 to S11 are composed of one or a plurality of layers.
セラミック基板 7 8内のうち、 第 2のセラミック層 S 2の一主面には、 コンデ ンサ用電極 8 6 aが端子 8 4 a、 8 4 bに対向して形成されている。 このコンデ ンサ用電極 8 6 aは、 端子 8 4 aに対向する部分が大きな面積で形成され、 端子 8 4 bに対向する部分が小さな面積で形成された略凸状の形状を有する。  A capacitor electrode 86a is formed on one main surface of the second ceramic layer S2 in the ceramic substrate 78 so as to face the terminals 84a and 84b. The capacitor electrode 86a has a substantially convex shape in which a portion facing the terminal 84a is formed with a large area and a portion facing the terminal 84b is formed with a small area.
また、 第 2のセラミック層 S 2の一主面には、 コンデンサ用電極 8 6 aに対し て、 第 2及び第 3の側面 7 8 b、 7 8 cを結ぶ直線の二等分線 m (第 1及び第 4 の側面 7 8 a、 7 8 dを結ぶ垂直線:代表的に第 3のセラミック層 S 3の一主面 に記載) を挾んで軸対称な箇所で、 且つ端子 8 4 c、 8 4 dに対向する箇所に、 コンデンサ用電極 8 6 bが形成されている。 すなわち、 コンデンサ用電極 8 6 a 、 8 6 bは、 二等分線 mを挟んで小さな面積の部分が対向するように形成されて いる。 Further, on one principal surface of the second ceramic layer S2, a straight line bisecting line m () connecting the second and third side surfaces 78b and 78c with respect to the capacitor electrode 86a is provided. A vertical line connecting the first and fourth side surfaces 78a and 78d: representatively described on one main surface of the third ceramic layer S3) at a location axially symmetrical with the terminal 84c therebetween. , At the point opposite 8 4 d, A capacitor electrode 86 b is formed. In other words, the capacitor electrodes 86a and 86b are formed so that portions having a small area face each other across the bisector m.
さらに、 第 2のセラミック層 S 2の一主面には、 コンデンサ用電極 8 6 a、 8 6 bと直接接触しないように、 接続用電極 8 8が、 端子 8 4 f、 8 4 gに対向し て形成されている。  Further, on one main surface of the second ceramic layer S2, the connection electrode 88 faces the terminals 84f and 84g so as not to come into direct contact with the capacitor electrodes 86a and 86b. It is formed.
第 3のセラミック層 S 3の一主面には、 コンデンサ用電極 8 6 aと略同一形状 を有するコンデンサ用電極 8 6 cが、 コンデンサ用電極 8 6 aに対向して形成さ れ、 且つ、 コンデンサ用電極 8 6 bと略同一形状を有するコンデンサ用電極 8 6 dが、 コンデンサ用電極 8 6 bに対向して形成されている。 そのため、 第 2のセ ラミック層 S 2を挾んで対向配置されたコンデンサ用電極 8 6 a , 8 6 cにより 第 1のコンデンサ 3 8が構成され、 第 2のセラミック層 S 2を挟んで対向配置さ れたコンデンサ用電極 8 6 b、 8 6 dにより第 2のコンデンサ 4 0が構成される 第 5のセラミック層 S 5の一主面のうち、 その中央部分には、 第 1及び第 2の 入74誘電体共振器4 6、 4 8としての第 1及び第 2の共振電極 9 0 a、 9 0 b が、 第 4の側面 7 8 dから第 1の側面 7 8 aに向けてそれぞれ形成されている。 この第 1及び第 2の共振電極 9 0 a、 9 0 bは、 前記二等分線 mに関し軸対称に 形成されている。  On one main surface of the third ceramic layer S3, a capacitor electrode 86c having substantially the same shape as the capacitor electrode 86a is formed to face the capacitor electrode 86a, and A capacitor electrode 86 d having substantially the same shape as the capacitor electrode 86 b is formed to face the capacitor electrode 86 b. Therefore, the first capacitor 38 is constituted by the capacitor electrodes 86a and 86c opposed to each other with the second ceramic layer S2 interposed therebetween, and is opposed to the second ceramic layer S2 with the second ceramic layer S2 interposed therebetween. A second capacitor 40 is constituted by the formed capacitor electrodes 86 b and 86 d.A central portion of one main surface of the fifth ceramic layer S5 includes first and second capacitors. The first and second resonance electrodes 90a, 90b as the dielectric resonators 46, 48 are formed from the fourth side surface 78d toward the first side surface 78a, respectively. Have been. The first and second resonance electrodes 90a and 90b are formed axially symmetric with respect to the bisector m.
この場合、 第 1の共振電極 9 0 aの一端は、 第 4の側面 7 8 dに接続された短 絡端 9 2 aとし、 第 1の共振電極 9 0 aの他端は、 表面アース電極 8 2 a、 8 2 dと直接接触しないように形成された開放端 9 4 aとしている。 そして、 第 1の 共振電極 9 0 aは、 第 5のセラミック層 S 5の一主面において、 略 J字状の配線 パターンに形成されている。 すなわち、 この配線パターンは、 短絡端 9 2 aが接 続された第 4の側面 7 8 dから第 1の側面 7 8 aに向けて延在し、 第 5のセラミ ック層 S 5の中心部分で第 2の側面 7 8 bに向けて折れ曲がって延在し、 さらに 第 4の側面 7 8 dに向けて折れ曲がって延在するようにしている。 そして、 第 4 の側面 7 8 dに向けて折れ曲がった部分の先端を、 該第 4の側面 7 8 dに対向す る開放端 9 4 aとしている。 In this case, one end of the first resonance electrode 90a is a short-circuit end 92a connected to the fourth side surface 78d, and the other end of the first resonance electrode 90a is a surface earth electrode. The open end 94a is formed so as not to come into direct contact with 82a and 82d. The first resonance electrode 90a is formed in a substantially J-shaped wiring pattern on one main surface of the fifth ceramic layer S5. That is, this wiring pattern extends from the fourth side surface 78 d to which the short-circuit end 92 a is connected to the first side surface 78 a, and is formed at the center of the fifth ceramic layer S 5. The portion bends and extends toward the second side surface 78d, and further bends and extends toward the fourth side surface 78d. Then, the end of the portion bent toward the fourth side surface 78d faces the fourth side surface 78d. Open end 94a.
一方、 第 2の共振電極 9 O bは、 上述したように、 二等分線 mに対して第 1の 共振電極 9 0 aと軸対称に形成された略 J字状の配線パターンである。 すなわち 、 第 2の共振電極 9 0 bの一端は、 第 4の側面 7 8 dに接続された短絡端 9 2 b であり、 第 2の共振電極 9 0 bの他端は、 表面アース電極 8 2 a、 8 2 dに直接 接触しないように形成され、 且つ第 4の側面 7 8 dに対向する開放端 9 4 bであ る。  On the other hand, as described above, the second resonance electrode 9 Ob is a substantially J-shaped wiring pattern formed axially symmetric with the first resonance electrode 90a with respect to the bisector m. That is, one end of the second resonance electrode 90 b is a short-circuit end 92 b connected to the fourth side surface 78 d, and the other end of the second resonance electrode 90 b is a surface ground electrode 8. An open end 94b that is formed so as not to directly contact 2a and 82d, and faces the fourth side surface 78d.
第 8のセラミック層 S 8の一主面には、 第 1の側面 7 8 aのうち、 第 2の側面 7 8 b寄りの箇所を始点とし、 第 3〜第 7のセラミック層 S 3〜S 7を挟んでコ ンデンサ用電極 8 6 dに対向する箇所を終点とする、 略 J字状の第 1の配線パタ ーン 9 6 aが形成されている。 この場合、 前記始点は入力端子 3 4と接続され、 前記終点は表面アース電極 8 2 a、 8 2 dに直接接触しないように形成されてい る。  One main surface of the eighth ceramic layer S8 has a starting point at a position closer to the second side surface 78b of the first side surface 78a, and the third to seventh ceramic layers S3 to S A substantially J-shaped first wiring pattern 96a ending at a location facing the capacitor electrode 86d with the 7 interposed therebetween is formed. In this case, the start point is connected to the input terminal 34, and the end point is formed so as not to directly contact the surface ground electrodes 82a and 82d.
一方、 第 7のセラミック層 S 7の一主面には、 第 1の側面 7 8 aのうち、 第 3 の側面 7 8 c寄りの箇所を始点とし、 第 3〜第 7のセラミック層 S 3〜S 7を挟 んでコンデンサ用電極 8 6 cに対向する箇所を終点とする、 略し字状の第 2の配 線パターン 9 6 bが形成されている。 この場合、 前記始点は出力端子 3 6と接続 され、 前記終端は表面アース電極 8 2 a、 8 2 dに直接接触しないように形成さ れている。  On the other hand, one main surface of the seventh ceramic layer S7 has a starting point at a position closer to the third side surface 78c of the first side surface 78a, and the third to seventh ceramic layers S3 A substantially abbreviated second wiring pattern 96b is formed ending at a point facing the capacitor electrode 86c with respect to S7. In this case, the start point is connected to the output terminal 36, and the end is formed so as not to directly contact the surface ground electrodes 82a and 82d.
これらの第 1及び第 2の配線パターン 9 6 a、 9 6 bによりハイブリッドカプ ラ 1 2が構成される。 この場合、 第 1の配線パターン 9 6 aの始点はハイプリッ ドカブラ 1 2の入力端子 2 2であり、 終点は第 2の出力端子 1 6に対応する。 ま た、 第 2の配線パターン 9 6 bの始点はハイプリッドカプラ 1 2のアイソレーシ ョン端子 2 4であり、 終点は第 1の出力端子 1 4に対応する。  The first and second wiring patterns 96 a and 96 b constitute a hybrid coupler 12. In this case, the start point of the first wiring pattern 96 a is the input terminal 22 of the hybrid camera 12, and the end point corresponds to the second output terminal 16. In addition, the starting point of the second wiring pattern 96 b is the isolation terminal 24 of the hybrid coupler 12, and the ending point corresponds to the first output terminal 14.
第 1 0のセラミック層 S 1 0の一主面の略全面には、 直流電圧供給用電極 (D A DC voltage supply electrode (D) is provided on almost the entire main surface of the 10th ceramic layer S10.
C電極) 9 8が、 表面アース電極 8 2 a、 8 2 dと直接接触しないように形成さ れている。 この D C電極 9 8は、 第 4の側面 7 8 dに形成された第 1及び第 2の 饈圧制御端子 5 0、 5 2と接続されている。 13060 The C electrode 98 is formed so as not to directly contact the surface ground electrodes 82a and 82d. The DC electrode 98 is connected to the first and second pressure control terminals 50 and 52 formed on the fourth side surface 78d. 13060
1 6 1 6
第 4、 第 6及び第 9のセラミック層 S 4、 S 6、 S 9の一主面には、 内層ァー ス電極 8 2 f〜8 2 hが、 略全面にわたってそれぞれ形成されている。  On one main surface of the fourth, sixth, and ninth ceramic layers S4, S6, and S9, inner-layer ground electrodes 82f to 82h are formed over substantially the entire surface, respectively.
内層アース電極 8 2 f により、 第 1及び第 2のコンデンサ 3 8、 4 0を構成す る第 2及び第 3のセラミック層 S 2、 S 3 (コンデンサ層 7 0 ) と、 第 1及び第 2の λ Ζ 4誘電体共振器 4 6、 4 8を構成する第 4及び第 5のセラミック層 S 4 、 S 5 (共振回路層 6 8 ) とが、 電気的に分離される。 そして、 内層アース電極 8 2 f のうち、 端子 8 4 e、 8 4 h、 コンデンサ用電極 8 6 c、 8 6 d及び接続 用電極 8 8に対向する箇所には、 電極が形成されていない電気的に絶縁された領 域 (絶縁領域) がそれぞれ設けられている。  The second and third ceramic layers S2, S3 (capacitor layer 70) constituting the first and second capacitors 38, 40 and the first and second The fourth and fifth ceramic layers S 4 and S 5 (resonant circuit layer 68) constituting the λΖ4 dielectric resonators 46 and 48 are electrically separated. In the inner-layer ground electrode 82 f, there are no electrodes formed at locations facing the terminals 84 e and 84 h, the capacitor electrodes 86 c and 86 d, and the connection electrode 88. Insulated areas (insulated areas) are provided respectively.
また、 内層アース電極 8 2 gにより、 第 1及び第 2の λ / 4誘電体共振器 4 6 、 4 8を構成する第 4及び第 5のセラミック層 S 4、 S 5 (共振回路層 6 8 ) と 、 ハイブリッド力ブラ 1 2を構成する第 6〜第 8のセラミック層 S 6〜S 8 (ハ イブリツドカブラ層 6 6 ) とが、 電気的に分離される。 そして、 内層アース電極 Also, the fourth and fifth ceramic layers S 4, S 5 (resonant circuit layer 6 8) constituting the first and second λ / 4 dielectric resonators 46, 48 are formed by the inner layer earth electrode 82 g. ) And the sixth to eighth ceramic layers S 6 to S 8 (hybrid cover layer 66) constituting the hybrid power brass 12 are electrically separated from each other. And the inner layer ground electrode
8 2 gのうち、 接続用電極 8 8、 第 1の配線パターン 9 6 aの終端及び第 2の配 線パターン 9 6 bの終端に対向する箇所には、 絶縁領域がそれぞれ設けられてい る。 Insulation regions are provided in the portion of 82 g opposite to the connection electrode 88, the end of the first wiring pattern 96 a and the end of the second wiring pattern 96 b, respectively.
さらに、 内層アース電極 8 2 hにより、 ハイブリッド力ブラ 1 2を構成する第 6〜第 8のセラミック層 S 6〜S 8 (ハイブリッド力プラ層 6 6 ) と、 D C電極 Furthermore, the sixth to eighth ceramic layers S 6 to S 8 (hybrid force plastic layer 66) constituting the hybrid force bra 12 by the inner layer earth electrode 82 h and the DC electrode
9 8とが、 電気的に分離される。 そして、 内層アース電極 8 2 hのうち、 接続用 電極 8 8に対向する箇所には、 絶縁領域がそれぞれ設けられている。 9 and 8 are electrically separated. And, in the inner layer ground electrode 82 h, an insulating region is provided at a position facing the connection electrode 88.
さらにまた、 第 1のセラミック層 S 1は、 バラクタダイオード 4 2、 4 4が上 面 7 8 eに実装されるバラクタダイオード層 7 2として機能する。  Furthermore, the first ceramic layer S1 functions as a varactor diode layer 72 on which the varactor diodes 42 and 44 are mounted on the upper surface 78e.
接続用電極 8 8と D C電極 9 8とは、 内層アース電極 8 2 f〜8 2 h内の絶縁 領域を通して形成されたビアホール 9 9 aを介して接続されている。 また、 接続 用電極 8 8と端子 8 4 ίとは、 ビアホール 9 9 bを介して接続されている。 さら に、 端子 8 4 f とコンデンサ用電極 8 6 aとは、 ビアホール 9 9 cを介して接続 されている。 さらにまた、 端子 8 4 aとコンデンサ用電極 8 6 aとは、 ビアホー ル 9 9 dを介して接続されている。 これにより、 第 1の電圧制御端子 5 0を介して、 D C電極 9 8に直流電圧を供 給すると、 第 1のバラク夕ダイオード 4 2の力ソード端子 K 1に前記直流電圧が 供給される。 The connection electrode 88 and the DC electrode 98 are connected via a via hole 99a formed through an insulating region in the inner-layer ground electrodes 82f to 82h. Further, the connection electrode 88 and the terminal 84 are connected via a via hole 99b. Furthermore, the terminal 84 f and the capacitor electrode 86 a are connected via a via hole 99 c. Furthermore, the terminal 84a and the capacitor electrode 86a are connected via a via hole 99d. Thus, when a DC voltage is supplied to the DC electrode 98 via the first voltage control terminal 50, the DC voltage is supplied to the power source terminal K1 of the first diode 42.
また、 端子 8 4 eと第 1の共振電極 9 0 aの開放端 9 4 aとは、 内層アース電 極 8 2 f 内の絶縁領域を通して形成されたビアホール 9 9 eを介して接続されて いる。 さらに、 コンデンサ用電極 8 6 cと第 2の配線パターン 9 6 bの終端とは 、 内層アース電極 8 2 f 、 8 2 g内の絶縁領域を通して形成されたビアホ一ル 9 9 ίを介して接続されている。 これにより、 第 1のコンデンサ 3 8と、 第 1のバ ラクタダイオード 4 2と、 第 1の λ Ζ 4誘電体共振器 4 6とを有する直列回路が 構成される。  The terminal 84 e and the open end 94 a of the first resonance electrode 90 a are connected via a via hole 99 e formed through an insulating region in the inner-layer ground electrode 82 f. . Furthermore, the capacitor electrode 86 c and the end of the second wiring pattern 96 b are connected via a via hole 99 を 通 し て formed through the insulating region in the inner-layer ground electrodes 82 f and 82 g. Have been. Thus, a series circuit including the first capacitor 38, the first varactor diode 42, and the first λΖ4 dielectric resonator 46 is formed.
一方、 接続用電極 8 8と端子 8 4 gとは、 ビアホール 9 9 gを介して接続され ている。 さらに、 端子 8 4 cとコンデンサ用電極 8 6 bとは、 ビアホール 9 9 h を介して接続されている。 さらにまた、 コンデンサ用電極 8 6 bと端子 8 4 dと は、 ビアホール 9 9 iを介して接続されている。  On the other hand, the connection electrode 88 and the terminal 84 g are connected via a via hole 99 g. Further, the terminal 84c and the capacitor electrode 86b are connected via a via hole 99h. Furthermore, the capacitor electrode 86b and the terminal 84d are connected via a via hole 99i.
これにより、 第 2の電圧制御端子 5 2を介して、 D C電極 9 8に直流電圧を供 給すると、 第 2のパラクタダイオード 4 4のカソ一ド端子 K 2に前記直流電圧が 供給される。  Thus, when a DC voltage is supplied to the DC electrode 98 via the second voltage control terminal 52, the DC voltage is supplied to the cathode terminal K2 of the second varactor diode 44. .
また、 端子 8 4 hと第 2の共振電極 9 0 bの開放端 9 4 bとは、 内層アース電 極 8 2 f内の絶縁領域を通して形成されたビアホール 9 9 jを介して接続されて いる。 さらに、 コンデンサ用電極 8 6 dと第 1の配線パターン 9 6 aの終端とは 、 内層アース電極 8 2 f 、 8 2 g内の絶縁領域を通して形成されたビアホール 9 9 kを介して接続されている。 これにより、 第 2のコンデンサ 4 0と、 第 2のバ ラク夕ダイオード 4 4と、 第 2の λ Ζ4誘電体共振器 4 8とを有する直列回路が 構成される。  The terminal 84 h and the open end 94 b of the second resonance electrode 90 b are connected via a via hole 99 j formed through an insulating region in the inner-layer ground electrode 82 f. . Further, the capacitor electrode 86 d and the end of the first wiring pattern 96 a are connected to each other through a via hole 99 k formed through an insulating region in the inner-layer ground electrodes 82 f and 82 g. I have. Thus, a series circuit including the second capacitor 40, the second diode 44, and the second λΖ4 dielectric resonator 48 is formed.
さらに、 表面アース電極 8 2 bと内層アース電極 8 2 f 〜8 2 hとは、 第 1〜 第 8のセラミック層 S 1〜S 8を通して形成された 2つのビアホール 9 9 し 9 9 mを介して接続されている。 この場合、 ビアホール 9 9 1は、 表面アース電極 8 2 bのうち、 第 1の側面 7 8 a寄りの部分から底面 7 8 f に向うように形成さ れている。 また、 ビアホール 9 9 mは、 表面アース電極 8 2 bのうち、 第 4の側 面 7 8 d寄りの部分から底面 7 8 f に向うように形成されている。 Further, the surface earth electrode 82b and the inner layer earth electrode 82f to 82h are connected via two via holes 99 to 99m formed through the first to eighth ceramic layers S1 to S8. Connected. In this case, the via hole 991 is formed so as to extend from the portion near the first side surface 78a of the surface earth electrode 82b to the bottom surface 78f. Have been. The via hole 99 m is formed so as to extend from the portion of the surface ground electrode 82 b closer to the fourth side surface 78 d to the bottom surface 78 f.
さらにまた、 表面アース電極 8 2 cと内層アース電極 8 2 f 〜8 2 hとは、 第 1〜第 8のセラミック層 S 1〜S 8を通して形成された 2つのビアホール 9 9 n 、 9 9 0を介して接続されている。 この場合、 ビアホール 9 9 ηは、 表面アース 電極 8 2 cのうち、 第 1の側面 7 8 a寄りの部分から底面 7 8 f に向うように形 成されている。 また、 ビアホール 9 9 οは、 表面アース電極 8 2 cのうち、 第 4 の側面 7 8 d寄りの部分から底面 7 8 f に向うように形成されている。  Furthermore, the surface ground electrode 82c and the inner layer ground electrode 82f to 82h are formed by two via holes 99n, 990 formed through the first to eighth ceramic layers S1 to S8. Connected through. In this case, the via hole 9.9 η is formed so as to extend from the portion of the surface ground electrode 82 c closer to the first side surface 78 a to the bottom surface 78 f. The via hole 99 o is formed so as to extend from the portion of the surface ground electrode 82 c closer to the fourth side surface 78 d to the bottom surface 78 f.
第 3の具体例の可変遅延線 1 0 Cでは、 第 1及び第 2のバラクタダイォード 4 2、 4 4と抵抗 7 4、 7 6を除く各回路素子を、 上述したセラミック基板 7 8内 部に形成することにより、 可変遅延線 1 0 Cの小型化を実現することが可能とな る。  In the variable delay line 10 C of the third specific example, each circuit element except the first and second varactor diodes 42, 44 and the resistors 74, 76 is connected to the above-described ceramic substrate 78 internal part. Thus, the variable delay line 10 C can be reduced in size.
一方、 第 1及び第 2の具体例の可変遅延線 1 0 A、 1 0 B (図 3及び図 7参照 ) においても、 上記した可変遅延線 1 0 Cと同様に、 ハイブリッド力ブラ 1 2と 、 第 1及び第 2の λ / 4誘電体共振器 4 6、 4 8と、 第 1〜第 4のコンデンサ 3 8、 4 0、 5 4、 5 6とをセラミック基板 7 8内部に形成し、 第 1〜第 4のバラ クタダイオード 4 2、 4 4、 5 8、 6 0を外部から前記セラミック基板 7 8に実 装可能であることはもちろんである。  On the other hand, also in the variable delay lines 10A and 10B (see FIGS. 3 and 7) of the first and second specific examples, similarly to the variable delay line 10C described above, Forming the first and second λ / 4 dielectric resonators 46, 48 and the first to fourth capacitors 38, 40, 54, 56 inside the ceramic substrate 78, It goes without saying that the first to fourth varactor diodes 42, 44, 58, and 60 can be mounted on the ceramic substrate 78 from outside.
なお、 本発明の可変遅延線は、 上述の実施形態に限らず、 この発明の要旨を逸 脱することなく、 種々の構成を採り得ることは勿論である。 産業上の利用可能性  Note that the variable delay line of the present invention is not limited to the above-described embodiment, but may adopt various configurations without departing from the gist of the present invention. Industrial applicability
以上説明したように、 本発明の可変遅延線によれば、 可変遅延線にハイブリツ ドカブラと可変リアクタンス素子とを搭載し、 前記ハイプリッドカブラの 2つの 出力端子にそれぞれ可変リアクタンス素子を接続しているので、 可変遅延線にお ける入力インピーダンスと出力インピーダンスとの変動を抑制することができる とともに、 絶対遅延時間及び可変遅延時間を所望の値に設定でき、 通過帯域の広 帯域化を図ることができる。  As described above, according to the variable delay line of the present invention, the hybrid delay and the variable reactance element are mounted on the variable delay line, and the variable reactance elements are connected to the two output terminals of the hybrid coupler, respectively. Therefore, it is possible to suppress the fluctuation of the input impedance and the output impedance in the variable delay line, and it is possible to set the absolute delay time and the variable delay time to desired values, thereby increasing the passband. .

Claims

請求の範囲 The scope of the claims
1. 入力信号が供給される入力端子 (22) と、 互いの位相差が 90° である 第 1及び第 2の出力信号を出力する第 1及び第 2の出力端子 (14、 16) と、 前記第 1及び第 2の出力信号に基づく反射信号を第 3の出力信号として出力する アイソレーション端子 (24) とを備えたハイブリッド力ブラ (12) と、 前記第 1及び第 2の出力端子 (14、 16) に接続され、 略同一のリアクタン スを有する第 1及び第 2のリアクタンス部 (18、 20) と、 1. an input terminal (22) to which an input signal is supplied; first and second output terminals (14, 16) for outputting first and second output signals having a phase difference of 90 ° from each other; A hybrid power brass (12) having an isolation terminal (24) for outputting a reflected signal based on the first and second output signals as a third output signal; and the first and second output terminals ( First and second reactance sections (18, 20) connected to each other and having substantially the same reactance,
を有し、  Has,
前記第 1及び第 2のリアクタンス部 (18、 20) は、 略同一のリアクタンス を有する第 1及び第 2の可変リアクタンス素子を具備する  The first and second reactance units (18, 20) include first and second variable reactance elements having substantially the same reactance.
ことを特徴とする可変遅延線。  A variable delay line, characterized in that:
2. 請求項 1記載の可変遅延線において、 2. In the variable delay line according to claim 1,
前記第 1及び第 2のリアクタンス部 (18、 20) は、 略同一の静電容量を有 する第 1及び第 2のコンデンサ (38、 40) と、 前記第 1及び第 2の可変リア クタンス素子としての第 1及び第 2の可変容量素子 (26、 42) と、 第 1の共 振回路 (30、 46) 及び第 2の共振回路 (32、 48) との直列回路である ことを特徴とする可変遅延線。  The first and second reactance sections (18, 20) are composed of first and second capacitors (38, 40) having substantially the same capacitance, and the first and second variable reactance elements. And a series circuit of the first and second variable capacitance elements (26, 42), the first resonance circuit (30, 46), and the second resonance circuit (32, 48). Variable delay line.
3. 請求項 2記載の可変遅延線において、 3. In the variable delay line according to claim 2,
第 3及び第 4のコンデンサ (54、 56) と、 可変リアクタンス素子としての 第 3及び第 4の可変容量素子 (58、 60) との直列回路が、 前記第 1の共振回 路 (30、 46) 及び第 2の共振回路 (32、 48) に対して並列に接続される ことを特徴とする可変遅延線。  The series circuit of the third and fourth capacitors (54, 56) and the third and fourth variable capacitance elements (58, 60) as variable reactance elements is connected to the first resonance circuit (30, 46). ) And the second resonance circuit (32, 48) are connected in parallel with each other.
4. 請求項 2又は 3記載の可変遅延線において、 4. In the variable delay line according to claim 2 or 3,
複数のセラミック層が積層されてセラミックスの一体構造体 (78) が形成さ れ、 Multiple ceramic layers are stacked to form a ceramic monolithic structure (78). And
該セラミックスの一体構造体 (78) は、 前記ハイブリッド力ブラ (12) が 形成されるセラミック層 (66) と、 前記第 1の共振回路 (30、 46) 及び第 2の共振回路 (32、 48) が形成されるセラミック層 (68) と、 少なくとも 前記第 1及び第 2のコンデンサ (38、 40) が形成されるセラミック層 (70 ) とを有する  The ceramic integrated structure (78) includes a ceramic layer (66) on which the hybrid force bra (12) is formed, the first resonance circuit (30, 46), and the second resonance circuit (32, 48). ), And a ceramic layer (70) on which at least the first and second capacitors (38, 40) are formed.
ことを特徴とする可変遅延線。  A variable delay line, characterized in that:
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006254114A (en) * 2005-03-10 2006-09-21 Soshin Electric Co Ltd Delay line
JP2011130430A (en) * 2009-11-19 2011-06-30 Toyohashi Univ Of Technology Detection/rectifying circuit
CN102185574A (en) * 2011-03-11 2011-09-14 京信通信系统(中国)有限公司 Electrically tunable gain equalizer circuit
EP2500977B1 (en) * 2011-03-16 2015-09-16 Alcatel Lucent Phase shifting device
US9660605B2 (en) * 2014-06-12 2017-05-23 Honeywell International Inc. Variable delay line using variable capacitors in a maximally flat time delay filter
US10018716B2 (en) * 2014-06-26 2018-07-10 Honeywell International Inc. Systems and methods for calibration and optimization of frequency modulated continuous wave radar altimeters using adjustable self-interference cancellation
US10181833B2 (en) * 2017-03-16 2019-01-15 Infineon Technologies Ag Reflection type phase shifter with active device tuning
US10573950B2 (en) * 2017-04-11 2020-02-25 Qualcomm Incorporated Directional coupler
US20190044501A1 (en) * 2017-08-01 2019-02-07 Huawei Technologies Co., Ltd. High-linearity quadrature hybrid attenuator
JP6867322B2 (en) 2018-03-08 2021-04-28 日本電信電話株式会社 Circuits and radios

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54124655A (en) * 1978-03-20 1979-09-27 Yagi Antenna Variable phase shifter
JPH05206703A (en) * 1992-01-30 1993-08-13 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor phase shifter
JPH088673A (en) * 1994-06-17 1996-01-12 Murata Mfg Co Ltd Voltage variable resonator
JPH1168409A (en) * 1997-08-18 1999-03-09 Kokusai Electric Co Ltd Delay circuit
JP2000059105A (en) * 1998-08-11 2000-02-25 Murata Mfg Co Ltd Frequency variable type filter, duplexer and communication equipment

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5270671A (en) * 1992-08-07 1993-12-14 Westinghouse Electric Corp. Negative slope phase skewer
KR100247005B1 (en) * 1997-05-19 2000-04-01 윤종용 Impedance matching apparatus which is controled by electric signal in rf amplifier
US6333683B1 (en) * 1998-09-04 2001-12-25 Agere System Optoelectronics Guardian Corp. Reflection mode phase shifter
JP3405286B2 (en) 1999-10-20 2003-05-12 松下電器産業株式会社 Dielectric filter and distortion-compensated amplifier using it
JP2001313501A (en) * 2000-04-28 2001-11-09 Murata Mfg Co Ltd Phase shifter and wireless unit using it
JP2002009573A (en) 2000-06-26 2002-01-11 Mitsubishi Electric Corp Tunable filter
US6958665B2 (en) * 2003-04-02 2005-10-25 Raytheon Company Micro electro-mechanical system (MEMS) phase shifter

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54124655A (en) * 1978-03-20 1979-09-27 Yagi Antenna Variable phase shifter
JPH05206703A (en) * 1992-01-30 1993-08-13 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor phase shifter
JPH088673A (en) * 1994-06-17 1996-01-12 Murata Mfg Co Ltd Voltage variable resonator
JPH1168409A (en) * 1997-08-18 1999-03-09 Kokusai Electric Co Ltd Delay circuit
JP2000059105A (en) * 1998-08-11 2000-02-25 Murata Mfg Co Ltd Frequency variable type filter, duplexer and communication equipment

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