WO2003073078A3 - Procédé d'évaluation des propretés de réflexion lumineuse d'une surface et dispositif pour sa mise en oeuvre - Google Patents

Procédé d'évaluation des propretés de réflexion lumineuse d'une surface et dispositif pour sa mise en oeuvre Download PDF

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Abstract

L'invention concerne un procédé d'évaluation des propriétés de réflexion lumineuse d'une surface (2) constituée de peau ou d'ongle recouvert(e) ou non d'un produit cosmétique et/ou thérapeutique, dans lequel on envoie un faisceau incident (1) de lumière sur une portion (2A) de la surface (2), ledit faisceau incident (1) se réfléchissant au moins en partie sur ladite portion (2A) pour former un faisceau réfléchi (3), et dans lequel on effectue en ensemble de mesures de l'intensité lumineuse sur une zone d'acquisition (3A) du faisceau réfléchi (3) que ledit faisceau réfléchi (3) vient éclairer directement à partir de la portion (2A) de la surface (2), ladite zone d'acquisition (3A) croisant la direction de réflexion spéculaire (S) du fiscaux incident (1), l'ensemble de mesures étant effectué simultanément sur toute la Zone d'acquisition (3A), cette dernière étant sensiblement de forme monodimensionelle ou bidimensionnelle, de façon à ce que le dit ensemble de mesures permette de fournir un signal représentatif de la distribution spatiale de l'intensité lumineuse pour ladite zone d'acquisition (3A), et en ce qui'il comprend, ensuite, une étape de traitement du signal pour qualifier les propriétés de ladite portion (2A) de la surface (2). - Caractérisation de surfaces.
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2123139A (en) * 1982-06-29 1984-01-25 Pentacon Dresden Veb A device for the fast measurement of the gloss of a surface
FR2579884A1 (fr) * 1985-04-09 1986-10-10 Sanofi Sa
EP0519409A2 (fr) * 1991-06-17 1992-12-23 Keyence Corporation Détecteur de brillant superficiel
GB2277148A (en) * 1993-04-07 1994-10-19 James William Feather Goniophotometer
EP0726456A1 (fr) * 1993-10-26 1996-08-14 Asahi Kasei Kogyo Kabushiki Kaisha Procede et appareil de mesure de la non uniformite de la brillance et de l'epaisseur d'une image imprimee
US5923434A (en) * 1994-09-24 1999-07-13 Byk-Gardner Gmbh Surface quality and color measuring device

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2123139A (en) * 1982-06-29 1984-01-25 Pentacon Dresden Veb A device for the fast measurement of the gloss of a surface
FR2579884A1 (fr) * 1985-04-09 1986-10-10 Sanofi Sa
EP0519409A2 (fr) * 1991-06-17 1992-12-23 Keyence Corporation Détecteur de brillant superficiel
GB2277148A (en) * 1993-04-07 1994-10-19 James William Feather Goniophotometer
EP0726456A1 (fr) * 1993-10-26 1996-08-14 Asahi Kasei Kogyo Kabushiki Kaisha Procede et appareil de mesure de la non uniformite de la brillance et de l'epaisseur d'une image imprimee
US5923434A (en) * 1994-09-24 1999-07-13 Byk-Gardner Gmbh Surface quality and color measuring device

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