WO2000039546A1 - Dispositif permettant de mesurer a distance les parametres optiques et physiques d'objets - Google Patents

Dispositif permettant de mesurer a distance les parametres optiques et physiques d'objets Download PDF

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Nikolai Petrovich Akimov
Jury Mikhailovich Gektin
Jury Vyacheslavovich Kislyakov
Pavel Albertovich Osipov
Mikhail Borisovich Smelyansky
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Nikolai Petrovich Akimov
Jury Mikhailovich Gektin
Jury Vyacheslavovich Kislyakov
Pavel Albertovich Osipov
Mikhail Borisovich Smelyansky
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    • G01J4/00—Measuring polarisation of light
    • G01J4/04—Polarimeters using electric detection means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
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Abstract

Cette invention concerne un dispositif de polarimétrie qui permet de mesurer à distance les paramètres optiques et physiques d'objets. Ce dispositif comprend un premier et un second polariseurs linéaires (1, 2) qui sont montés rigidement, en même temps qu'un atténuateur (3) et qu'un polariseur circulaire (4), dans une tourelle (9) fixée sur l'axe d'un moteur (10) de rotation. Ce dispositif comprend également un filtre coloré (5), un objectif (6) et un récepteur de rayonnement (7) à plusieurs éléments qui sont montés en série et qui sont connectés entre eux par voie optique. La tourelle (9) comprenant le moteur (10) de rotation, le filtre coloré (5), l'objectif (6) et le récepteur (7) forme une unité optique qui est montée dans un corps (11). Ce corps (11) comprend une unité de connexion connectée rigidement à un mécanisme de rotation discrète. Le récepteur (7) est connecté par le biais d'un convertisseur analogique-numérique (8) à une mémoire RAM (13). Ce dispositif de polarimétrie possède des caractéristiques de taille et de poids réduites, ainsi qu'une base élémentaire d'un volume réduit. Il permet d'accroître ∑N fois la précision des mesures à effectuer, N étant le nombre de mesures angulaires, ce qui permet d'identifier des objets selon des paramètres de très fort rapprochement, et d'obtenir des données concernant les particularités structurelles microphysiques des objets.
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