WO1993006467A2 - Procede et dispositif d'inspection du verre - Google Patents

Procede et dispositif d'inspection du verre Download PDF

Info

Publication number
WO1993006467A2
WO1993006467A2 PCT/FR1992/000859 FR9200859W WO9306467A2 WO 1993006467 A2 WO1993006467 A2 WO 1993006467A2 FR 9200859 W FR9200859 W FR 9200859W WO 9306467 A2 WO9306467 A2 WO 9306467A2
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
glass
plane
piece
light curtain
observation
Prior art date
Application number
PCT/FR1992/000859
Other languages
English (en)
Other versions
WO1993006467A3 (fr
Inventor
Christophe Venaille
Denis Mischler
Philippe Le Roy
Original Assignee
Thomson-Csf
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Thomson-Csf filed Critical Thomson-Csf
Priority to JP5505828A priority Critical patent/JPH06510856A/ja
Priority to US08/196,212 priority patent/US5459330A/en
Priority to EP92920289A priority patent/EP0603311A1/fr
Publication of WO1993006467A2 publication Critical patent/WO1993006467A2/fr
Publication of WO1993006467A3 publication Critical patent/WO1993006467A3/fr

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens

Definitions

  • the invention relates to the field of automatic industrial inspection and more particularly relates to a process, and the corresponding device, for the inspection of glass.
  • the purpose of glass inspection is to detect and locate faults, called “inclusions", generated during the manufacturing phase in pieces of glass.
  • inclusions generated during the manufacturing phase in pieces of glass.
  • the impact of these defects on the quality of the glass produced depends on their number, their shape, and the standards imposed on glassmakers according to the intended application. These defects are of two types:
  • - "broth” type the defects are gas bubbles which remain in the molten material
  • - "stone” type the defects are defects in the homogeneity of the basic constituents, leading to the formation of a visible particle in the glass.
  • the size of these inclusions is generally less than a millimeter and their measurement must be carried out with great precision, at least for certain applications, the required precision possibly ranging from 1 / 10th to 1 / 100th of a millimeter.
  • the subject of the invention is a method of inspecting glass, and the corresponding device, which makes it possible to avoid the drawbacks of conventional methods by making it possible both to locate the defects on the surface as in the thickness of the glass and to know approximately their positions in the thickness of the glass, which allows very good discrimination between surface defects and inclusions.
  • the inspection method uses a three-dimensional treatment and for this performs localized lighting of the glass by a laser beam, and suitable detection which makes it possible to view the upper face of the glass and its lower face separately. and, between the two, its thickness.
  • a method of inspecting a glass by illumination by means of a light source external to its illuminating surface characterized in that it consists in illuminating the illuminating surface by an applied laser beam in a direction approximately perpendicular to the illumination face to form a light curtain in the form of a plane passing through the glass in its thickness, for detecting by a camera the reflected radiation emerging from the piece of glass in a direction of oblique observation with respect to the direction of the plane formed by the light curtain when inclusions are presented in the glass at the location of the light curtain, and visualize by the camera the image of the inclusions thus obtained, between two lines representing respectively the rays light weakly reflected by the entry and exit surfaces of the light beam during its passage through the thickness of the glass.
  • the invention also relates to the inspection device intended for the implementation of the method as described above.
  • the invention will be better understood and other features will appear with the aid of the description which follows with reference to the appended figures.
  • FIG. 1 is a diagram of the inspection device according to the invention
  • FIG. 2 is a detailed diagram of the device
  • the glass inspection device comprises, in one embodiment illustrated schematically in plan view in FIG. 1, two stations, a station 1 for detecting and locating faults in three dimensions, X, Y, Z and a station 2 for classification and measurement of these faults.
  • the piece of glass 3 is placed on a conveyor 4 and analyzed as it passes vertically from station 1 for the detection and location of faults, the movement of the conveyor taking place along the X axis.
  • Station 1 provides an image of successive sections of the piece of glass (in the YZ plane), such as that shown in Figure 1 where an inclusion has been represented between two lines corresponding respectively to the upper surface and the lower surface of the glass .
  • the first station is constituted as follows. It comprises a lighting source 10 of the neon helium laser type, HeNe illustrated in FIG. 2.
  • the beam emitted by the laser source is widened by an optical bar disposed at the output of this source so as to constitute a kind of light curtain , of suitable thickness, as illustrated in FIG. 2, which corresponds at all times to a YZ section of the piece of glass.
  • This light curtain therefore illuminates the glass perpendicular to the plane of the conveyor and therefore encountered successively:
  • a camera 20 placed above the glass and obliquely to the light curtain, as shown in section in FIG. 3, is intended to capture the radiation emerging from the piece of glass in its direction, called the direction of observation, and therefore sees these interruptions respectively as:
  • the corresponding lines can be lines if the intersection of the light curtain and the upper face of the glass is a straight line, or curved lines for a spherical or cylindrical face if the curvature extends in the direction of the light curtain.
  • the method of inspecting a piece of glass consists of scrolling this piece of glass over the conveyor belt 4 under the station 1 comprising the laser source and the camera system, the carpet being animated by a uniform translational movement.
  • the laser beam is chosen to be sufficiently spread; if the width of the room exceeds the possible width of expansion of the beam, the optical laser lighting device will be reproduced as many times as necessary.
  • station 1 is equipped with additional cameras to cover the useful field.
  • the images are acquired by the camera system at video frequency; the sequence of images thus obtained is processed in a computer processing device which makes it possible to detect and follow the two lines associated with the surfaces as well as one or more inclusions between these two lines.
  • the information provided by the station 1 is therefore a location by imaging of the defects in three dimensions X, Y and Z.
  • the luminance information of the defect also makes it possible to approximately quantify the size of the defects, and this information can be used by item 2 for classification and measurement.
  • the characteristics of the lighting system are such that the source is a neon helium laser source as indicated above, the means for expanding the beam from the source laser consist of an optical bar or a divergent lens, half cylinder plan / concave, so as to spread the laser beam in one direction; the thickness of the laser curtain must be greater than the size of the defects so as to guarantee detection of the defect in all cases.
  • the sensors used are of the CCD type; the number of sensors depends on the width of the piece of glass to be inspected and on the desired resolution.
  • the number of cameras is doubled so as to overcome parasitic phenomena due to multiple reflections of the laser beam in the glass , capable of generating on the image light lines of lesser energy inside the two lines described above.
  • the duplication of information processing makes the device more robust, especially in the case of a dusty atmosphere.
  • two cameras are placed symmetrically with respect to the laser whose axis is vertical.
  • the angle of incidence (i) between the laser and the optical axis of the camera is chosen so that one of the axes of the two cameras is always located on the side opposite the laser beam relative to the normal to the surface glass.
  • the camera 21 will be used while for the right part of the room the camera 22 will be used.
  • the camera's optical system at station 1 the problem is not precision but simply the detection and location of faults whose coordinates along the X, Y and Z axes are then communicated to station 2 for precise measurement.
  • the camera optics are therefore chosen as follows.
  • the camera's optical system includes an anamorphic element: in practice it is not necessary to have the same resolution along the two axes of the image. Good precision is required along the vertical axis so as to correctly separate the inclusions from the two surface lines (which are the two horizontal lines in the images in FIGS. 4a to 4d; on the other hand, it is desired to be able to cover the widest band possible glass along the horizontal axis (Y) in order to limit the number of cameras required and the power of computer processing. This is why an anamorphic optical system is used to ensure an anisotropic magnification in the image in both directions orthogonal X and Z.
  • the invention is not limited to the method and device for inspecting glass as described in detail above.
  • it was describes a conveyor on which is driven a piece of glass which scrolls vertically from an observation post.
  • a mobile observation post the material to be inspected remaining fixed. This arrangement is particularly interesting for large pieces of glass to be inspected.
  • the camera was provided in the example to form an image from the radiation emerging in the direction of observation.
  • an optic which would facilitate the formation of the useful image, in particular an optical filter transmitting to the detector the radiation emerging at the length d wave of the laser source used.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

Le procédé consiste: à illuminer par un rayonnement laser des plans de coupe (YZ) successifs du morceau de verre à inspecter, par déplacement relatif d'un rideau lumineux formé à partir d'une source d'éclairage de type laser et du morceau de verre à inspecter; à détecter, par une caméra, le rayonnement réfléchi émergeant du morceau de verre dans une direction d'observation oblique par rapport au plan (YZ) du rideau lumineux, de sorte que l'image formée par la caméra comporte deux lignes correspondant aux faces supérieure et inférieure du morceau de verre et éventuellement des points lumineux situés entre ces deux lignes correspondant à des inclusions dans l'épaisseur du verre. L'invention s'applique, notamment, au contrôle de qualité du verre en sortie de fabrication.

Description

Procédé et dispositif d'inspection du verre
L'invention se rapporte au domaine de l'inspection industrielle automatique et a plus particulièrement pour objet un procédé, et le dis¬ positif correspondant, pour l'inspection du verre.
D'une manière générale, l'inspection du verre a pour objet la détection et la localisation de défauts, appelés "inclusions", générés lors de la phase de fabrication dans des morceaux de verre. La répercussion de ces défauts sur la qualité du verre produit dépend de leur nombre, de leur forme, et des normes imposées aux verriers selon l'application visée. Ces défauts sont de deux types :
- type "bouillon" : les défauts sont des bulles gazeuses restées pri¬ sonnières dans le matériau en fusion ; - type "pierre" : les défauts sont des défauts d'homogénéité des constituants de base, entraînant la formation d'une particule visible dans le verre.
La taille de ces inclusions est en général inférieure au millimètre et leur mesure doit être effectuée avec une grande précision, au moins pour certaines applications, la précision requise pouvant aller de 1 /10ème à un 1/100ème de millimètre.
La détection automatique de ces défauts est d'une grande impor¬ tance pour les verriers : une solution à ce problème permet à la fois d'accroître la qualité du verre fabriqué (meilleur respect des normes de qualité) et de disposer de statistiques fiables sur le nombre et la taille des défauts afin de modifier en conséquence les différents paramètres de production du verre.
Les procédés d'inspection du verre actuellement connus se limitent à l'examen visuel du verre par un observateur humain. En effet, les ten- tatives d'utilisation de la vision artificielle pour l'inspection du verre n'ont, jusqu'à présent, pas donné de résultats car ces solutions effec¬ tuent un traitement de l'information bidimensionnel. Les procédés cor¬ respondants ne permettent donc pas de discriminer efficacement les défauts de surface, poussière et rayures etc., supprimés par un simple polissage du verre, des inclusions qui sont noyées dans la masse du verre.
L'invention a pour objet un procédé d'inspection du verre, et le dispositif correspondant, qui permet d'éviter les inconvénients des méthodes classiques en permettant à la fois de localiser les défauts à la surface comme dans l'épaisseur du verre et de connaître approximative¬ ment leurs positions dans l'épaisseur du verre, ce qui permet une très bonne discrimination entre défauts de surface et inclusions.
Selon l'invention le procédé d'inspection utilise un traitement tridî- mensionnel et pour cela effectue un éclairage localisé du verre par un faisceau laser, et une détection adaptée qui permet de visualiser séparé¬ ment la face supérieure du verre et sa face inférieure, et, entre les deux, son épaisseur.
Selon l'invention, un procédé d'inspection d'un verre par illumination au moyen d'une source lumineuse extérieure à sa surface d'éclairement, caractérisé en ce qu'il consiste à illuminer la surface d'éclairement par un faisceau laser appliqué dans une direction à peu près perpendiculaire à la face d'éclairement pour former un rideau lumineux sous ia forme d'un plan traversant le verre dans son épaisseur, pour détecter par une caméra le rayonnement réfléchi émergeant du morceau de verre dans une direction d'observation oblique par rapport à la direction du plan formé par le rideau lumineux lorsque des inclusions sont présentés dans le verre à l'endroit du rideau lumineux, et visualiser par la caméra l'image des inclusions ainsi obtenue, entre deux lignes représentant respectivement les rayons lumineux faiblement réfléchis par la surface d'entrée et celle de sortie du faisceau lumineux au cours de sa traversée dans l'épaisseur du verre.
L'invention a également pour objet le dispositif d'inspection des¬ tiné à la mise en oeuvre du procédé tel que décrit ci-dessus. L'invention sera mieux comprise et d'autres caractéristiques appa¬ raîtront à l'aide de la description qui suit en référence aux figures anne¬ xées.
- La figure 1 est un schéma du dispositif d'inspection selon l'inven¬ tion ; - La figure 2 est un schéma de détail du dispositif ;
- La figure 3 illustre le principe de l'éclairage du verre selon l'invention ;
- Les figures 4A, 4B, 4C et 4D sont des schémas explicatifs ; - La figure 5 est un schéma optique.
Le dispositif d'inspection du verre selon l'invention comporte, dans un mode de réalisation illustré schématiquement en vue de dessus sur la figure 1 , deux postes, un poste 1 de détection et de localisation des défauts en trois dimensions, X, Y, Z et un poste 2 de classification et de mesure de ces défauts. Le morceau de verre 3 est posé sur un convoyeur 4 et analysé au fur et à mesure qu'il passe à la verticale du poste 1 pour la détection et la localisation des défauts, le déplacement du convoyeur s'effectuant suivant l'axe X. Le poste 1 fournit une image des coupes successives du morceau de verre (dans le plan YZ), telle que celle montrée sur la figure 1 où une inclusion a été représentée entre deux lignes correspondant respectivement à la surface supérieure et à la surface inférieure du verre.
Pour cela le premier poste est constitué de la manière suivante. Il comporte une source d'éclairage 10 de type laser hélium néon, HeNe illustrée par la figure 2. Le faisceau émis par la source laser est élargi par un barreau optique disposé à la sortie de cette source de façon à constituer une sorte de rideau lumineux, d'épaisseur adaptée, comme illustré sur la figure 2, qui correspond à chaque instant à une coupe YZ du morceau de verre. Ce rideau lumineux éclaire donc le verre perpendi- culairement au plan du convoyeur et rencontrée donc successivement :
- la face supérieure du morceau de verre,
- éventuellement les inclusions à détecter,
- la face inférieure du morceau de verre.
Une caméra 20 placée au-dessus du verre et obliquement par rapport au rideau lumineux, comme illustré en coupe par la figure 3, est destinée à capter le rayonnement émergeant du morceau de verre dans sa direction, dite direction d'observation, et voit donc ces interruptions respectivement comme :
- une ligne Lsup correspondant à la face supérieure - éventuellement un point fortement lumineux Pinci en cas d'inclu¬ sion ;
- une ligne Linf correspondant à la face inférieure.
Les lignes correspondantes peuvent être des traits si l'intersection du rideau lumineux et de la face supérieure du verre est une droite, ou des lignes courbes pour une face sphérique ou cylindrique si la courbure s'étend dans le sens du rideau lumineux.
Dans cette configuration les défauts apparaissent de la manière suivante : - une inclusion produit un point lumineux situé dans l'image entre les deux lignes dues aux faces supérieure et inférieure, comme illustré sur la figure 4a r
- un défaut de surface produit un point lumineux qui se confond partiellement avec la ligne de la face supérieure, comme illustré par la figure *4b ;
- un défaut sur la surface du fond produit un point lumineux qui se confond partiellement avec la ligne de la face inférieure, comme illustré par la figure 4c ;
- enfin s'il n'y a pas de défaut seuls les deux traits correspondant aux faces supérieure et inférieure apparaissent sur l'image, comme illus¬ tré par la figure 4d.
Selon ce principe, le procédé d'inspection d'un morceau de verre, consiste à faire défiler ce morceau de verre sur le tapis du convoyeur 4 sous le poste 1 comportant la source laser et le système de caméra, le tapis étant animé d'un mouvement de translation uniforme. Pour couvrir la largeur de la pièce inspectée, le faisceau laser est choisi suffisamment épandu ; si la largeur de la pièce dépasse la largeur d'expansion possible du faisceau, le dispositif optique d'éclairement à laser sera reproduit autant de fois que nécessaire. De même si le champ de la caméra n'est pas assez large, le poste 1 est muni de caméras supplémentaires pour couvrir le champ utile.
Les images sont acquises par le système de caméras à la fréquence vidéo ; la séquence d'images ainsi obtenue fait l'objet d'un traitement dans un dispositif de traitement informatique qui permet de détecter et de suivre les deux lignes associées aux surfaces ainsi qu'une ou plusieurs inclusions entre ces deux lignes. L'information fournie par le poste 1 est donc une localisation par imagerie des défauts en trois dimensions X, Y et Z. L'information de luminance du défaut permet en outre de quantifier approximativement la taille des défauts, et cette information peut être exploitée par le poste 2 pour la classification et la mesure.
Dans un mode de réalisation du dispositif d'inspection, les carac¬ téristiques du système d'éclairage sont telles que la source est une source laser hélium néon comme indiqué ci-dessus, les moyens d'expan¬ sion du faisceau issu de la source laser sont constitués d'un barreau optique ou d'une lentille divergente, demi cylindre plan/concave, de façon à épandre le faisceau laser dans une seule direction ; l'épaisseur du rideau laser doit être supérieure à la taille des défauts de façon à garantir la détection du défaut dans tous les cas.
En ce qui concerne le système d'imagerie, les capteurs utilisés sont du type CCD ; le nombre de capteurs dépend de la largeur du mor¬ ceau de verre à inspecter et de la résolution désirée.
De plus, dans un mode de réalisation, dans le cas de surfaces courbes convexes, comme illustré par la figure 5, le nombre de caméras est doublé de façon à s'affranchir de phénomènes parasites dus à des réflexions multiples du faisceau laser dans le verre, susceptibles de générer sur l'image des lignes lumineuses d'énergie moindre à l'intérieur des deux lignes précédemment décrites. De manière plus générale, le dédoublement du traitement de l'information permet de rendre plus robuste le dispositif, notamment dans le cas d'une atmosphère poussiéreuse. Dans ce cas deux caméras sont placées symétriquement par rapport au laser dont l'axe est vertical. L'angle d'incidence (i) entre le laser et l'axe optique de la caméra est choisi de façon que l'un des axes des deux caméras soit toujours situé du côté opposé au faisceau laser par rapport à la normale à la surface du verre. Ainsi pour la partie gauche de la pièce la caméra 21 sera utilisée alors que pour la partie droite de la pièce la caméra 22 sera utilisée. En ce qui concerne le système optique de la caméra, au niveau du poste 1 le problème n'est pas la précision mais simplement la détection et la localisation des défauts dont les coordonnées suivant les axes X, Y et Z sont ensuite communiquées au poste 2 pour la mesure précise. L'optique de la caméra est donc choisie de la manière suivante.
Pour le grandissement, un compromis est réalisé entre une forte profondeur de champ qui permet d'observer nettement toute l'épaisseur du verre (faible grandissement) et un grandissement plus grand qui lui a l'intérêt de pouvoir séparer les inclusions des deux traits de surface. De plus, le système optique de la caméra comporte un anamorphoseur : en pratique il n'est pas nécessaire d'avoir la même résolution selon les deux axes de l'image. Une bonne précision est requise selon l'axe vertical de manière à séparer correctement les inclusions des deux lignes de surface (qui sont les deux lignes horizon- taies sur les images des figures 4a à 4d ; en revanche on souhaite pouvoir couvrir la plus large bande possible de verre selon l'axe horizontal (Y) de manière à limiter le nombre de caméras nécessaires et la puissance du traitement informatique. C'est pourquoi un système optique anamorphoseur est utilisé pour assurer un grandissement anîsotrope dans l'image selon les deux directions orthogonales X et Z.
L'analyse des images ainsi obtenues lors du défilement du mor¬ ceau de verre porté par le convoyeur à la verticale du poste d'observa¬ tion permet d'extraire les informations utiles et notamment :
- la luminance ; - la position des inclusions, c'est-à-dire les coordonnées (u,v) des points apparaissant en surbrillance dans l'image ;
- le mouvement de ces points sur une séquence de deux ou trois images consécutives ;
- la taille de ces points. Le traitement de ces informations et des informations connues a priori sur la forme et les dimensions de la pièce inspectée permettent un traitement automatique.
L'invention n'est pas limitée au procédé et au dispositif d'inspec¬ tion du verre tel que décrits en détails ci-dessus. En particulier, il a été décrit un convoyeur sur lequel est entraîné un morceau de verre qui défile à la verticale d'un poste d'observation. Mais il est possible d'utili¬ ser sans sortir du cadre de l'invention, un poste d'observation mobile, le matériau à inspecter restant fixe. Cette disposition est notamment inté- ressante pour les grosses pièces de verre à inspecter.
De plus, la caméra a été prévue dans l'exemple pour former une image à partir du rayonnement émergeant dans la direction d'observa¬ tion. Pour améliorer l'image obtenue sur le détecteur de la caméra il est possible d'introduire sur le trajet du rayonnement détecté une optique qui faciliterait la formation de l'image utile, notamment un filtre optique transmettant au détecteur le rayonnement émergeant à la longueur d'onde de la source laser utilisée.

Claims

REVENDICATIONS
1. Procédé d'inspection d'un verre (3) par illumination au moyen d'une source lumineuse extérieure (10) à sa surface d'éclairement, caractérisé en ce qu'il consiste à illuminer la surface d'éclairement par un faisceau laser appliqué dans une direction à peu près perpendiculaire à la face d'éclairement pour former un rideau lumineux sous la forme d'un plan (YZ) traversant le verre (3) dans son épaisseur, pour détecter par une caméra (20) le rayonnement réfléchi émergeant du morceau de verre (3) dans une direction d'observation oblique par rapport à la direction du plan (YZ) formé par le rideau lumineux lorsque des inclusions sont présentes dans le verre (3) à l'endroit du rideau lumineux, et visualiser par la caméra (20) l'image des inclusions (Pincl) ainsi obtenue, entre deux lignes (Lsup et Liπf) représentant respectivement les rayons lumineux faiblement réfléchis par la surface d'entrée et celle de sortie du faisceau lumineux au cours de sa traversée dans l'épaisseur du verre.
2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le mor¬ ceau de verre est posé sur un convoyeur qui défile dans un plan horizon¬ tal (XY), au droit du rideau lumineux laser vertical (YZ) créé par un poste d'observation fixe, l'image étant reprise par une caméra également fixe d'axe oblique par rapport au rideau lumineux.
3. Procédé selon l'une des revendications 1 et 2, caractérisé en ce que le rayonnement émergeant du morceau de verre est détecté dans une direction oblique telle que l'axe de la source laser et l'axe d'observa- tion soient situés de part et d'autre de la normale à la surface du mor¬ ceau de verre, de façon à éviter les réflexions parasites avant détection.
4. Dispositif d'inspection du verre pour la mise en oeuvre du procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce qu'il comporte un poste d'observation comportant une source d'éclai- rage, de type laser, couplée à des moyens d'expansion du faisceau dans une seule direction, Y, pour former un rideau lumineux dans un plan orthogonal (YZ) à un plan (XY) support pour le verre à inspecter, destiné à éclairer des plans de coupe successifs d'un morceau de verre. et au moins une caméra d'axe, oblique par rapport au plan du rideau lumineux pour capter le rayonnement réfléchi par le verre dans une direction d'observation.
5. Dispositif selon la revendication 4, caractérisé en ce que, pour permettre l'inspection de verres non pians, le dispositif comporte deux caméras situés de part et d'autre de la source d'éclairage, par rapport au plan du rideau lumineux.
6. Dispositif selon l'une des revendications 4 et 5, caractérisé en ce qu'il comporte, pour des morceaux de verre de grande largeur, plu- sieurs sources d'éclairage formant chacune un rideau lumineux, l'en¬ semble des rideaux iumineux créés éclairant un plan de coupe complet du morceau de verre.
7. Dispositif selon l'une des revendications 4 et 5, caractérisé en ce qu'un dispositif optique anamorphoseur est associé à la caméra pour permettre une observation d'un plan du verre sur une largeur aussi grande que possible, selon la direction Y, sans que l'observation de l'épaisseur selon la direction Z soit affectée.
PCT/FR1992/000859 1991-09-13 1992-09-14 Procede et dispositif d'inspection du verre WO1993006467A2 (fr)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5505828A JPH06510856A (ja) 1991-09-13 1992-09-14 ガラスの検査方法及び装置
US08/196,212 US5459330A (en) 1991-09-13 1992-09-14 Process and device for the inspection of glass
EP92920289A EP0603311A1 (fr) 1991-09-13 1992-09-14 Procede et dispositif d'inspection du verre

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9111315A FR2681429B1 (fr) 1991-09-13 1991-09-13 Procede et dispositif d'inspection du verre.
FR91/11315 1991-09-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
WO1993006467A2 true WO1993006467A2 (fr) 1993-04-01
WO1993006467A3 WO1993006467A3 (fr) 1993-05-13

Family

ID=9416923

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/FR1992/000859 WO1993006467A2 (fr) 1991-09-13 1992-09-14 Procede et dispositif d'inspection du verre

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5459330A (fr)
EP (1) EP0603311A1 (fr)
JP (1) JPH06510856A (fr)
FR (1) FR2681429B1 (fr)
RU (1) RU94026774A (fr)
WO (1) WO1993006467A2 (fr)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999012022A1 (fr) * 1997-09-03 1999-03-11 Vitro Flotado, S.A. De C.V. Appareil et procede de determination de la distorsion optique d'un substrat transparent
WO1999064845A1 (fr) * 1998-06-05 1999-12-16 Glaverbel Unite de detection de defauts
EP3304055A4 (fr) * 2015-06-03 2019-01-09 Saint-Gobain Glass France Dispositif optique pour détecter un défaut interne d'un substrat transparent et procédé associé

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3003562B2 (ja) * 1995-04-25 2000-01-31 関西日本電気株式会社 蛍光面検査装置
AU698522B2 (en) * 1995-09-29 1998-10-29 Johnson & Johnson Vision Products, Inc. Lens parameter measurement using optical sectioning
US6018159A (en) * 1997-12-10 2000-01-25 Honeywell Inc. Differential clear container sensor with improved noise immunity
CA2252308C (fr) 1998-10-30 2005-01-04 Image Processing Systems, Inc. Systeme d'inspection de vitrage
DE19858316C2 (de) * 1998-12-17 2000-11-30 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Verfahren zum Detektieren und Lokalisieren von auf einer lichtdurchlässigen Scheibe befindlichen, diffusreflektierenden Belägen sowie Vorrichtung
DE19929118C2 (de) * 1999-06-25 2001-05-10 Basler Ag Verfahren zum optischen Prüfen der Zwischenschicht eines wenigstens dreischichtigen flächigen Gegenstandes
AUPQ262299A0 (en) * 1999-09-02 1999-09-23 Resolve Engineering Pty Ltd Detection of inclusions in glass
US6633377B1 (en) 2000-04-20 2003-10-14 Image Processing Systems Inc. Dark view inspection system for transparent media
US6501546B1 (en) 2000-05-05 2002-12-31 Photon Dynamics Canada Inc. Inspection system for edges of glass
US6512239B1 (en) * 2000-06-27 2003-01-28 Photon Dynamics Canada Inc. Stereo vision inspection system for transparent media
WO2002018980A2 (fr) * 2000-09-01 2002-03-07 Applied Process Technologies Systeme optique permettant de visualiser les distorsions dans des feuilles reflechissantes en mouvement
DE10111907A1 (de) * 2001-03-13 2002-10-31 Giesecke & Devrient Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Entwertung von Blattgut
KR20030046616A (ko) * 2001-12-06 2003-06-18 삼성전자주식회사 레이져 광 산란을 이용한 고순도 글래스 튜브의 미세 기포분석 장치
US6690460B2 (en) * 2002-06-27 2004-02-10 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Real time detection of cracked quartz window
DE10301931A1 (de) * 2003-01-19 2004-07-29 Massen, Robert, Prof. Dr.-Ing. Automatische optische Oberflächeninspektion von farbig gemusterten Oberflächen, welche mit einer transparenten Schutzschicht versehen sind
JP2004325389A (ja) * 2003-04-28 2004-11-18 Renesas Technology Corp 端部検査装置
GB2415776B (en) * 2004-06-28 2009-01-28 Carglass Luxembourg Sarl Zug Investigation of vehicle glazing panels
US20060054843A1 (en) * 2004-09-13 2006-03-16 Electronic Design To Market, Inc. Method and apparatus of improving optical reflection images of a laser on a changing surface location
AT501080B1 (de) * 2005-01-12 2006-06-15 Schuller Thomas Verfahren zur prüfung auf nickelsulfideinschlüsse in einscheibensicherheitsglas und vorrichtung hierfür
DE102005022271B3 (de) * 2005-05-10 2006-08-17 Schott Ag Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren von Blasen in einem Glaskörper sowie zur Herstellung von Glaskörpern
DE102005050882B4 (de) * 2005-10-21 2008-04-30 Isra Vision Systems Ag System und Verfahren zur optischen Inspektion von Glasscheiben
DE102005052044A1 (de) * 2005-10-31 2007-05-03 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung eines transparenten Objekts
US7800749B2 (en) * 2007-05-31 2010-09-21 Corning Incorporated Inspection technique for transparent substrates
JPWO2009031420A1 (ja) * 2007-09-04 2010-12-09 旭硝子株式会社 透明板体内部の微小異物を検出する方法及びその装置
FR2933516B1 (fr) * 2008-07-07 2010-10-15 Tiama Procede et dispositif optique pour analyser une marque sur une paroi courbe translucide ou transparente
DE102010037788B4 (de) 2010-09-27 2012-07-19 Viprotron Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Anzeige von automatisiert ermittelten Fehlerstellen
RU2475726C1 (ru) * 2011-06-16 2013-02-20 Некоммерческая организация Научно-техническое учреждение "Инженерно-технический центр" открытого акционерного общества "Ижевский мотозавод "Аксион-холдинг" (НТУ "ИТЦ") Устройство контроля качества стекла
DE102013002602B4 (de) 2013-02-15 2022-05-05 Hegla Boraident Gmbh & Co. Kg Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Partikeln in Glas
JP2015034071A (ja) * 2013-08-08 2015-02-19 日本電気硝子株式会社 シート部材搬送装置、シート部材支持装置、シート部材検査装置、およびシート部材搬送方法
US10767977B1 (en) * 2019-02-28 2020-09-08 Lumina Instruments Inc. Scattered radiation defect depth detection

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6232345A (ja) * 1985-08-02 1987-02-12 Yaskawa Electric Mfg Co Ltd 欠点検出装置
JPS6256847A (ja) * 1985-09-06 1987-03-12 Toshiba Corp 光ビ−ム表面検査装置
FR2591341A1 (fr) * 1985-12-10 1987-06-12 Saint Gobain Vitrage Technique de detection de defauts optiques sur ligne de production de verre
US4847510A (en) * 1987-12-09 1989-07-11 Shell Oil Company Method for comparison of surfaces
DE3926349A1 (de) * 1989-08-09 1991-02-14 Sick Optik Elektronik Erwin Optische fehlerinspektionsvorrichtung

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1315654A (en) * 1969-05-21 1973-05-02 Pilkington Brothers Ltd Detection of faults in transparent material using lasers
CA1074756A (fr) * 1977-05-26 1980-04-01 Pilkington Glass Industries Limited/Les Industries Du Verre Pilkington L Imitee Appareil servant a verifier les elements en verre plat
EP0097724B1 (fr) * 1982-06-03 1985-10-02 DR.-ING. RUDOLF HELL GmbH Procédé et dispositif de balayage
US4601576A (en) * 1983-12-09 1986-07-22 Tencor Instruments Light collector for optical contaminant and flaw detector
DE3565893D1 (en) * 1984-12-14 1988-12-01 Flachglas Ag Method and device for inspecting transparent strip material, in particular flat glass ribbons

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6232345A (ja) * 1985-08-02 1987-02-12 Yaskawa Electric Mfg Co Ltd 欠点検出装置
JPS6256847A (ja) * 1985-09-06 1987-03-12 Toshiba Corp 光ビ−ム表面検査装置
FR2591341A1 (fr) * 1985-12-10 1987-06-12 Saint Gobain Vitrage Technique de detection de defauts optiques sur ligne de production de verre
US4847510A (en) * 1987-12-09 1989-07-11 Shell Oil Company Method for comparison of surfaces
DE3926349A1 (de) * 1989-08-09 1991-02-14 Sick Optik Elektronik Erwin Optische fehlerinspektionsvorrichtung

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
IBM TECHNICAL DISCLOSURE BULLETIN vol. 20, no. 11B, 1 Avril 1978, pages 4939 - 4940 W.HOPKINS 'OPTICAL SCANNER FOR SURFACE ANALYSIS' WHOLE DOCUMENT *
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 11, no. 211 (P-594)(2568) 9 Juillet 1987 & JP,A,62 032 345 ( YASKAWA ELECTRIC ) 12 Février 1987 *
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 11, no. 252 (P-605)(2699) 15 Août 1987 & JP,A,62 056 847 ( TOSHIBA CORP. ) 12 Mars 1987 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999012022A1 (fr) * 1997-09-03 1999-03-11 Vitro Flotado, S.A. De C.V. Appareil et procede de determination de la distorsion optique d'un substrat transparent
WO1999064845A1 (fr) * 1998-06-05 1999-12-16 Glaverbel Unite de detection de defauts
EP3304055A4 (fr) * 2015-06-03 2019-01-09 Saint-Gobain Glass France Dispositif optique pour détecter un défaut interne d'un substrat transparent et procédé associé

Also Published As

Publication number Publication date
FR2681429A1 (fr) 1993-03-19
WO1993006467A3 (fr) 1993-05-13
EP0603311A1 (fr) 1994-06-29
FR2681429B1 (fr) 1995-05-24
US5459330A (en) 1995-10-17
JPH06510856A (ja) 1994-12-01
RU94026774A (ru) 1996-06-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO1993006467A2 (fr) Procede et dispositif d'inspection du verre
EP0665951B1 (fr) Procede et dispositif d'inspection de materiau transparent
KR102386192B1 (ko) 워크 피스들에서의 결함 검출을 위한 장치, 방법 및 컴퓨터 프로그램 제품
EP2992315B1 (fr) Procédé et dispositif d'observation et d'analyse de singularités optiques portées par des récipients en verre
EP2732273B2 (fr) Procede d'acquisition de plusieurs images d'un meme emballage a l'aide d'une seule camera lineaire
FR3073044A1 (fr) Procede et dispositif de mesure de dimensions par rayons x, sur des recipients en verre vide defilant en ligne
FR2623789A1 (fr) Dispositif de controle des fonds de bouteilles
EP3055681B1 (fr) Procede et dispositif pour inspecter les soudures d'emballages
EP3963284B1 (fr) Ligne de contrôle de récipients vides en verre
CN103105403A (zh) 透明光学元件表面缺陷的检测方法及装置
WO2018007745A1 (fr) Procede, dispositif et ligne d'inspection pour la determination d'une bavure a l'endroit d'un bord interne d'une surface de bague
EP2356429B1 (fr) Dispositif d'analyse d'un melange polyphasique via un faisceau de lumiere retrodiffusee par celui-ci
EP1558919B1 (fr) Procede et dispositif pour detecter des defauts de surface presentes par une bague d'un recipient de revolution transparent ou translucide
CN203069531U (zh) 透明光学元件表面缺陷的检测装置
FR2562249A1 (fr) Cellule humide tres radio-active, blindee, pour une installation nucleaire, avec un dispositif pour la reconnaissance des fuites et procede pour l'utilisation d'une telle cellule
EP1617208B1 (fr) Machine pour détecter des défauts d'un objet transparent ou translucide
EP1602001B1 (fr) Dispositif optique et module d inspection
FR2816296A1 (fr) Dispositif de mise en defilement continu d'objet a symetrie de revolution-application a l'inspection visuelle et au controle
WO2012035257A1 (fr) Dispositif et procédé de mesure de la forme d'un miroir ou d'une surface speculaire
WO2010072912A1 (fr) Dispositif de numerisation tridimensionnelle a reconstruction dense
EP2742320B1 (fr) Procede et appareil optoelectronique pour mesurer le diametre interne d'un corps creux
WO2001055705A1 (fr) Installation et procede pour la detection de glacures
EP0692714A1 (fr) Procédé et dispositif de reconnaissance de particularités géométriques de pièces parallélépipédiques de section polygonale
FR2719119A1 (fr) Dispositif pour détecter par traitement d'images des défauts réfléchissant la lumière et présentés par un objet creux transparent.
JPS62274249A (ja) 板状物表面の自動検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): BR CS JP KR SU US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): AT BE CH DE DK ES FR GB GR IT LU NL SE

AK Designated states

Kind code of ref document: A3

Designated state(s): BR CS JP KR SU US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A3

Designated state(s): AT BE CH DE DK ES FR GB GR IT LU NL SE

DFPE Request for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed before 20040101)
EX32 Extension under rule 32 effected after completion of technical preparation for international publication

Ref country code: UA

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1992920289

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 08196212

Country of ref document: US

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 1992920289

Country of ref document: EP

WWR Wipo information: refused in national office

Ref document number: 1992920289

Country of ref document: EP

WWW Wipo information: withdrawn in national office

Ref document number: 1992920289

Country of ref document: EP