Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Украинская Инженерно-Педагогическая АкадемияfiledCriticalУкраинская Инженерно-Педагогическая Академия
Priority to UAU201302048UpriorityCriticalpatent/UA82823U/uk
Publication of UA82823UpublicationCriticalpatent/UA82823U/uk
Testing Of Individual Semiconductor Devices
(AREA)
Abstract
Випробувальна установка високої напруги містить сполучені за допомогою системи шин з контактним виведенням для підключення до об'єкта випробувань джерело високої напруги, градуровочний пристрій, який виконаний у вигляді низьковольтного термокомпенсованого градуровочного конденсатора, одне виведення якого сполучене з генератором градуровочних імпульсів, а другий - з одним з контактів роз’єднувача, другий контакт якого сполучений з системою шин, сполучний конденсатор, одним виведенням сполучений з системою шин. Додатково введено еталонний конденсатор, який підключений до другого виведення сполучного конденсатора та системи шин, паралельно еталонному конденсатору підключений вимірник часткових розрядів.
UAU201302048U2013-02-192013-02-19Випробувальна установка високої напруги
UA82823U
(uk)